Produktionsmesstechnik für die Praxis Neue Wege gehen - ntb ...

Institut für Produktionsmesstechnik, Werkstoffe und Optik (PWO)
NEU
mit Zusatz-Event
à la carte am
4. September 2013
Produktionsmesstechnik für die Praxis
Neue Wege gehen - Werte schaffen
Erfolg ist messbar - modernste Geräte und
Methoden helfen Ihnen dabei.
www.ntb.ch

Sehr geehrte Damen und Herren,
liebe Interessierte der Messtechnik
Unsere unabhängige und internationale Fachtagung
„Produktionsmesstechnik für die Praxis“ hat schon
Tradition. Sie findet seit 2005 regelmässig alle
zwei Jahre an der NTB statt.
Sich neues Wissen in 15 unabhängigen Vorträgen aneignen, 50 weltweit führende
Hersteller aus der Messtechnikbranche direkt ansprechen und noch dazu
mit kompetenten Spezialisten über EU- bzw. nationale Fördermöglichkeiten
Ihrer Projekte vertraulich zu sprechen – das alles können Sie hier bei uns an
der NTB am 3. bzw. 4. September 2013.
An der kommenden Fachtagung im September 2013 wollen wir mit drei
weiteren innovativen Ideen um Ihre Aufmerksamkeit bitten:
• Mit dem Motto „Neue Wege gehen – Werte schaffen“ werden wir neben
den bekannten Themenschwerpunkten Koordinaten- und Oberflächenmesstechnik
auch die Beschichtungsmesstechnik und Prozessoptimierung
zu Wort kommen lassen.
• Wir haben unser Angebot noch praxisgerechter gestaltet. Neu bieten wir
Ihnen an, ohne weitere Eintrittsgebühren einen weiteren Halbtag mit unseren
50 Ausstellern hier an der NTB Kontakt aufzunehmen. Am 4. September
2013 bleibt die NTB für Sie und die Aussteller geöffnet. Die Mehrzahl der
Aussteller wird selber Vorträge halten, Usermeetings durchführen und ihre
Produkte präsentieren. Eine genaue Auflistung der Vorträge ist auf unserer
Homepage veröffentlicht.
• Ebenfalls am 4. September 2013 haben wir Vertreter von Euresearch
und der Schweizer Kommission für Technologie und Innovation (KTI) eingeladen,
die Sie über Fördermöglichkeiten innovativer messtechnischer
Projekte informieren werden. Anschliessend können Sie ihre Projektideen
in separaten Räumen ganz individuell auf eine mögliche Förderung
prüfen lassen.
Ich wünsche uns allen eine spannende Zeit an der NTB.
Mit freundlichem Gruss
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein
Instituts- und Veranstaltungsleiter
Buchs, im April 2013

Tagungskonzept
Zielpublikum
Teilnahmebedingungen
Sprache
Tagungsort
Leitung
Ansprechpartner
Praktiker/innen, Techniker und Ingenieure
aus der Qualitätssicherung, Fertigung und
Montage, Arbeitsvorbereitung, Konstruktion &
Entwicklung. Leiter/innen von Messräumen,
Qualitätsverantwortliche, Messtechniker/
innen aus Entwicklung und Produktion,
Qualitätsfachleute und Studierende mit
Studienrichtung Maschinenbau, Mechatronik,
Optik und Systemtechnik.
Die Zahl der Teilnehmer ist beschränkt.
Anmeldungen werden in der Reihenfolge ihres
Eingangs berücksichtigt.
deutsch
NTB, Campus Buchs SG, Schweiz
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein
Volker Anton, volker.anton@ntb.ch,
+41 (0)81 755 33 71.
Weitere Informationen, das aktuelle Programm für beide Tage sowie das
Anmeldeformular finden Sie auf unserer Homepage
www.ntb.ch/pwo/fachtagung.
Unsere Hauptsponsoren

Tagesablauf - Dienstag, 3. September 2013
Plenary-Session
Ort:
Sessionleiter:
Hörsaal G1
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein
Ab 08.00
Registrierung, Empfang, Kaffee,
Gebäck, Ausstellung
09.00 - 09.10 Begrüssung durch den Rektor der NTB
Prof. Lothar Ritter
09.10 - 09.35 Neue Wege in der Präzisions- und
Prozessmesstechnik
Schnell, genau, preiswert und prozessnah
– Widersprüche, Ergänzungen oder
neues Denken?
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein, Institutsleiter
und Professor an der NTB,
Buchs (CH)
09.35 - 10.10 Aufgaben eines nationalen Metrologieinstituts
heute und morgen
Das METAS als Aufsichtsbehörde,
Dienstleister für die Industrie und in der
internationalen Spitzenforschung
Dr. Christian Bock, Direktor des Eidgenössischen
Instituts für Metrologie,
Bern (CH)

10.10 - 10.45 Forschung und Entwicklung
„Precision Engineering & Metrology“
Überblick über weltweite F&E-Aktivitäten
aus Sicht der CIRP, der „Internationalen
Akademie für Produktionstechnik“
Dr. sc. techn., Dipl.-Ing. ETH Wolfgang
Knapp, Leiter Messtechnik IWF,
ETH Zürich (CH)
10.45 - 11.30 Pause mit Kaffee und Gebäck,
Ausstellung
11.30 - 12.05 Stand und Tendenzen in der
Oberflächenmesstechnik
Oberfläche und Funktionsbezug, profiloder
flächenhaft, optisch oder taktil
messen? Philosophie der ISO-Normung
Dipl.-Ing. Tobias Hercke, Verantwortlicher
für die Oberflächenmesstechnik
bei der Daimler AG, Stuttgart (D)
12.05 - 12.40 Beschichtungsmesstechnik heute
und morgen
Zielgrössen, Randbedingungen
und dazu passende Messverfahren –
ein Überblick
Prof. Dr. Nikolaus Herres, Leiter des
Kompetenzfeldes Werkstoffe und
Professor an der NTB, Buchs (CH)
12.40 - 14.25 Stehlunch, Ausstellung

Session 1
Oberflächen- und Beschichtungsmesstechnik
Ort:
Sessionleiter:
Hörsaal G1
Prof. Dr. Nikolaus Herres
14.25 - 14.50 Weisslichtinterferometrie produktionsnah
zur
Oberflächenmessung
Vergleichbarkeit taktil-optisch, Rauheits-
Kenngrössen, VDA 5 – 2010 Prüfprozesseignung,
ein Forschungs- und Anwenderbericht
Dipl.-Ing. (FH) Rolf Ofen, IO-MQS Consulting,
Oberhaid (D)
14.50 - 15.15 Defekterkennung an spiegelnden
Oberflächen mit Bildverarbeitung
Es werden Methoden zur Inspektion spiegelnder
Oberflächen vorgestellt, die auf
deflektometrischen Verfahren und der
Wavelet-Theorie aufbauen
Dr. Mathias Ziebarth, wissenschaftlicher
Mitarbeiter am Karlsruher Institut
für Technologie, Karlsruhe (D)
15.15 - 15.40 Messmethoden und Qualitätswerkzeuge
bei der PVD-Beschichtung
Es werden die Messmethoden und
Qualitätswerkzeuge vorgestellt, die bei
der PVD-Beschichtung von Serienbauteilen
in der Automobilindustrie
zum Einsatz kommen
Dr. tech. Johann Karner, Projektmanager
Coating Development Automotive
OC Oerlikon Balzers AG, Balzers (LI)

Session 2
Koordinaten- und In-Prozessmesstechnik
Ort:
Sessionleiter:
Hörsaal G2
Prof. Dr. Carlo Bach
14.25 - 14.50 Multisensorik – Messgerät prüft
Mikroteile aus Feinkeramik
Praxisbeispiel: wie anspruchsvollste
Messaufgaben an schwierigen Materialien
gelöst werden
Microtechnic Ing. FH Herbert Augustiny,
Project Engineer SPT Roth AG, Lyss (CH)
14.50 - 15.15 Lasertracer-Technologie und messtechnische
Anwendungen
Mobile 3D-Volumenkompensation und
Abnahme von Werkzeugmaschinen und
Koordinatenmessgeräten
Dipl.-Ing. (FH) Wolfram Meyer, Geschäftsführer
der AfM Technology
GmbH, Aalen (D)
15.15 - 15.40 Optische Koordinatenmesstechnik in
der Automobilindustrie
Integration, Rückführung und Einbindung
optischer KMG und Gelenkarme in Produktion
und QM
Dipl.-Wirtsch.-Ing. Christian Neukirch,
Fachreferent bei der Volkswagen AG
und Leiter des DKD-Labors für den
Bereich „Länge“, Wolfsburg (D)

Session 3
Integrierte Prozesskette
Ort:
Sessionleiter:
Hörsaal H4
Prof. Dr.-Ing. Andreas Ettemeyer
14.25 - 14.50 Berührungslos optische In-Prozess-
Messtechnik im industriellen Einsatz
Beispiele, wie bei widrigen Umgebungsbedingungen
schnelle und genaue Messtechnik
z.B. an glühenden Werkstücken in
den Prozess integriert werden kann
Prof. Dr. Silvano Balemi, Leiter Technik
der Zumbach Electronic AG, Orpund (CH)
14.50 - 15.15 Fertigungsmesstechnikwissen von
der Produktentwicklung bis zur
Serienfertigung
Erfahrungen mit einem Schulungskonzept
für Konstrukteure, Entwickler,
Fertiger und Messtechniker
Ing. (FH) & Msc. Daniel Seitz, Leiter Konstruktion
Grosse Transferventile bei VAT
Vakuumventile AG, Haag (CH)
15.15 - 15.40 Was muss ich wie prüfen - Prüfstrategien
zur Null-Fehler-Produktion
Nachvollziehbare Regeln und Vorgehensweisen
zur effektiven Prüfplanung
Dr.-Ing. Alexander Schloske, Senior
Expert Quality Management, Leiter
Stuttgarter Produktionsakademie, Mitglied
des Führungskreises, Fraunhofer
Institut IPA, Stuttgart (D)
15.40 - 16.25 Pause mit Kaffee und Gebäck,
Ausstellung

Schlussvortrag im Plenum und Schlusswort
Ort:
Sessionleiter:
Hörsaal G1
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein
16.25 - 17.00 Leistungsfähigkeit der Nanomess- und
Nanopositioniertechnik
Das Abbe-Komparatorprinzip und Planspiegelinterferometer
als fundamentale
Basis. Aufbau von Nanomessmaschinen
Prof. Dr.-Ing. habil. Prof. h.c. Dr. h.c.
mult. Gerd Jäger, Professor an der
TU Ilmenau (D)
17.00 - 17.10 Zusammenfassung, Schlusswort
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein,
Institutsleiter und Professor an
der NTB, Buchs (CH)
Ab 17.10
Apéro, Ausstellung
gesponsert von
Vorträge - Mittwoch, 4. September 2013
ELYT: Form grüsst Rauheit
ELYT: Das neue CCI sieht
blitzschnell, berührungslos
den Picometer
Compar: Flexible 3D-Masskontrolle
in der Produktion
Schaefer-Tec: Was Tisch-
Elektronenmikroskope
heute können
ZOLLER: Die Zukunft
des Messens
WYLER: Neigungsmessgeräte
in der Produktion: Effiziente
Qualitätssteigerung
NanoFocus: Konfokale
Messsysteme für
technische Oberflächen
Duwe-3d: Hybride
Koordinatenmesstechnik
in PolyWorks
OGP: Does Metrology
Increase costs?
Ryf: Computer Tomography
in der Industrie
Euresearch/KTI: Wie
komme ich zu Fördergeldern
(EU und national)?
WZW: Super-Polierte
Spiegelsubstrate für
Laser Anwendungen
WENZEL:
Computertomographie
WENZEL: Intuitive
Benutzerführung
der Messsoftware
amtec: In-situ-Analyse
von Beschichtungen
Cyber Technologies: High
accurate metrology on
large surface areas
Schaefer-Tec: Kontaktlose
Rauheitsmessung
und Formmessung
Fraunhofer IFF: Inline
3D-Messtechnik für die
Prozesssteuerung
und Qualitätskontrolle
SCHUNK Intec: Prozessoptimierung
mit innovativer
Werkstückspanntechnik
NTB: Diskussionsforum:
Die Zukunft der Messtechnikausbildung
auf Hochschulniveau
in der Schweiz
Renishaw: Späne
kosten Geld – Gutteile
bringen Geld
DRE: Messung der Oberflächenkontamination
zur Vorbereitung einer
verlässlichen Klebung
NOVAMART: Aufbau eines
Qualitätssicherungslabors
in der Oberflächentechnik
Aktuelle Informationen:
www.ntb.ch/pwo/fachtagung
Stand April 2013

Einige unserer Aussteller und Sponsoren

CM T RAIN
saphirwerk.com

Warum Sie DIESE Tagung nicht
verpassen dürfen
99
In Referaten und der integrierten Fachausstellung können Sie sich effizient
über die neuesten Entwicklungen und Trends sowie Geräte und
Technologien informieren.
99
In 15 firmenunabhängigen und produktneutralen Übersichts- und
Vertiefungsvorträgen können Sie sich am 3. September 2013 fundiertes
und praxisorientiertes Verfahrens- und Anwendungswissen aneignen.
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Am 4. September 2013 können Sie Spezialvorträge der Aussteller besuchen
und in bilateralen, ausführlichen Gesprächen mit den Ausstellern
Ihre Mess- und Prüfstrategien sowie Investitionswünsche besprechen.
Tagungsgebühren / Anmeldung
Tagungsgebühr
CHF 240.- oder EUR 200.- inklusive MwSt.
inklusive Tagungsunterlagen, Kaffee/Getränke, Mittagessen, Apéro und
30% Rabatt auf ein Jahresabonnement der Zeitschrift Management
und Qualität (MQ).
Als Mitglied von SwissPhotonics oder weiterer Mitarbeiter einer
Ausstellerfirma erhalten Sie 10% Rabatt.
Studenten erhalten 50% Rabatt.
Rabatte sind nicht kumulierbar.
Die Anmeldefrist endet am 31. Juli 2013. Anmeldungen ab dem 1. August 2013
werden mit CHF 280.- oder EUR 235.- in Rechnung gestellt.
Ihr direkter Link zu weiteren Informationen und zur Online-Anmeldung
www.ntb.ch/pwo/fachtagung.
Übernachtungsmöglichkeiten in der Umgebung Buchs SG und den Lageplan
der NTB finden Sie auf www.ntb.ch/pwo/lageplan-uebernachtung.
Achtung: Die Teilnehmerzahl ist beschränkt.
NTB Interstaatliche Hochschule für Technik
Institut für Produktionsmesstechnik,
Werkstoffe und Optik (PWO)
Werdenbergstrasse 4
CH-9471 Buchs SG
pwo@ntb.ch
Telefon: +41 (0)81 755 34 50
Fax: +41 (0)81 755 33 08