REM - EDX - Schadensanalytik - k-labor

5 Partikelanalysen
Kleinste Partikel können
oft Schuld sein am
frühzeitigen Versagen eines
Bauteils.
Das IR-Mikroskop liefert uns
bei Partikeln bis zu 15 µm
brauchbare Ergebnisse.
Trotzdem ist der Einsatz eines
Rasterelektronenmikroskops und der
EDX-Analyse bei anorganischen Stoffen
unabdingbar.
Die EDX Analyse weist kleinste Elemente
nach, die in einer Produktprobe enthalten
sind. Hierzu werden Elektronenmikroskope
herangezogen, da sie eine deutliche höhere
Tiefenschärfe als die der Lichtmikroskope
ermöglichen.
So können wir zum Beispiel nachweisen, ob das
Partikel eine Verunreinigung (Fremdpartikel) oder ein
zu groß geratener Füllstoffpartikel ist.
Bild 20
EDX-Analyse einer Glaskugel in einem anorganischen Additiv
aus einem 1K-Kleber.
Bild 22
Bild 21
Eisenpartikel
Kleinste Partikel, die sich zum Beispiel auf eine Oberfläche von einem
Gleitlager festsetzen, können zu starkem Verschleiß führen.
Bei diesen beiden Beispielen handelt es sich in Bild 21 um einen
Eisenpartikel aus niedriglegiertem Stahl und in Bild 22 um einen
Eisenpartikel aus rostfreiem (hochlegiertem) Stahl.
Durch die EDX - Mikroanalytik sind wir in der Lage, neben der Erstellung
von topologischen Bilddaten auch Elementaranalysen durchzuführen.
Punktanalysen von Probendetails, Fremdpartikeln und Einschlüssen
können ab ca. 0,001 mm² Größe erstellt werden.
Daneben kann die Darstellung der Elementeverteilung entlang einer
vorgegebenen Linie oder auf einer vorgegebenen Fläche erfolgen.