Partikelgrößenanalyse mit Statischer ... - Farbeundlack.de
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Statische Laserlichtstreuung<br />
Das Laser-Streulichtspektrometer LA-950<br />
Messbereich von<br />
0,01 µm bis 3000 µm<br />
Vorteile im Überblick<br />
■ Extrem weiter Messbereich:<br />
0,01 µm – 3000 µm<br />
■ Sehr hohe Auflösung im<br />
Submikronbereich<br />
■ Sehr gute Reproduzierbarkeit<br />
■ Messdauer: < 1 Minute<br />
(Probe zu Probe)<br />
■ Messzellenwechsel in<br />
Sekun<strong>de</strong>nschnelle<br />
■ Nass- und Trockenmessungen<br />
möglich<br />
■ Vollautomatische Analyse<br />
■ 21 CFR Part 11 konform (optional)<br />
Das Laser-Streulichtspektrometer LA-950 wur<strong>de</strong> für höchste Anfor<strong>de</strong>rungen<br />
in Bezug auf Sicherheit, Genauigkeit, Flexibilität und<br />
Bedienbarkeit für eine große Bandbreite unterschiedlicher Applikationen<br />
entwickelt.<br />
Eingebaute System- und Softwareautomatisierung sichern einfache Bedienung und<br />
exzellente Reproduzierbarkeit <strong>de</strong>r Messergebnisse. Für eine Vielzahl unterschiedlicher<br />
Applikationen sind verschie<strong>de</strong>ne Dispergiereinheiten erhältlich. Die einzigartige Messzellenaufnahme<br />
erlaubt es, die Dispergiereinheiten innerhalb weniger Sekun<strong>de</strong>n zu<br />
wechseln.<br />
Das Gerät bietet neben <strong>de</strong>m großen Messbereich von 0,01 µm bis 3000 µm sehr kurze<br />
Messzeiten und ein leistungsfähiges Zirkulationssystem. Dank <strong>de</strong>r erhöhten Empfindlichkeit<br />
liegt die Nachweisgrenze bei 10 nm. Das optische System in Verbindung <strong>mit</strong> <strong>de</strong>r<br />
Auswertesoftware setzt Maßstäbe in Genauigkeit, Präzision und Auflösungsvermögen.<br />
Standardisierte Messungen<br />
Der international gültige Standard für<br />
<strong>Partikelgrößenanalyse</strong> durch Laser-Streulichtverfahren,<br />
ISO 13320-1, liefert klare<br />
Vorgaben für die Anfor<strong>de</strong>rungen an Messtechnik,<br />
Auswertemetho<strong>de</strong> und Wie<strong>de</strong>rholbarkeit.<br />
Das LA-950 verfügt über standardisierte<br />
Messroutinen (SOPs), über die die Parameter<br />
Probenvorbereitung, Art <strong>de</strong>r Messung<br />
und Auswertemetho<strong>de</strong> <strong>de</strong>finiert wer<strong>de</strong>n.<br />
Dadurch ist sichergestellt, dass <strong>de</strong>r<br />
Anwen<strong>de</strong>r durch einmal <strong>de</strong>finierte SOPs<br />
auch später je<strong>de</strong>rzeit normgerechte und<br />
wie<strong>de</strong>rholbare Ergebnisse erhält.<br />
Exzellente Performance im<br />
Nano-Bereich<br />
Die Messung einer Probe Fällungs-<br />
Kiesel säure <strong>mit</strong> einem d 50<br />
-Wert von<br />
29 nm zeigt, wie <strong>de</strong>r Messbereich <strong>de</strong>s<br />
LA-950 bis 10 nm an realen Proben ausgeschöpft<br />
wer<strong>de</strong>n kann.<br />
Sechs Kalibrierstützpunkte<br />
Mittels zertifizierter Standards wird bei je<strong>de</strong>m<br />
Gerät das optische System an insgesamt<br />
6 Punkten über <strong>de</strong>n gesamten Messbereich<br />
werkseitig kalibriert und in <strong>de</strong>r<br />
Software hinterlegt. Den Feinabgleich <strong>de</strong>s<br />
optischen Systems führt das Gerät selbsttätig<br />
vor je<strong>de</strong>r Messung innerhalb weniger<br />
Sekun<strong>de</strong>n durch.<br />
Messungen unter 100 nm – Fällungs-Kieselsäure<br />
Die oben gezeigten Ergebnisse wur<strong>de</strong>n <strong>mit</strong> 6 separaten<br />
Messungen erzielt (100 nm – 500 nm – 1 µm<br />
– 10 µm – 100 µm – 1000 µm).<br />
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