Produktionsmesstechnik für die Praxis Neue Wege gehen - Werte ...
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Schlussvortrag im Plenum und Schlusswort<br />
Ort:<br />
Sessionleiter:<br />
Hörsaal G1<br />
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein<br />
16.25 - 17.00 Leistungsfähigkeit der Nanomess- und<br />
Nanopositioniertechnik<br />
Das Abbe-Komparatorprinzip und Planspiegelinterferometer<br />
als fundamentale<br />
Basis. Aufbau von Nanomessmaschinen<br />
Prof. Dr.-Ing. habil. Prof. h.c. Dr. h.c.<br />
mult. Gerd Jäger, Professor an der<br />
TU Ilmenau (D)<br />
17.00 - 17.10 Zusammenfassung, Schlusswort<br />
Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein,<br />
Institutsleiter und Professor an<br />
der NTB, Buchs (CH)<br />
Ab 17.10<br />
Apéro, Ausstellung<br />
gesponsert von<br />
Vorträge - Mittwoch, 4. September 2013,<br />
08.00 - 12.00 Uhr<br />
ELYT: Form grüsst Rauheit<br />
ELYT: Das neue CCI sieht<br />
blitzschnell, berührungslos<br />
den Picometer<br />
Compar: Flexible 3D-Masskontrolle<br />
in der Produktion<br />
Schaefer-Tec: Was Tisch-<br />
Elektronenmikroskope<br />
heute können<br />
ZOLLER: Die Zukunft<br />
des Messens<br />
WYLER: Neigungsmessgeräte<br />
in der Produktion: Effiziente<br />
Qualitätssteigerung<br />
NanoFocus: Konfokale<br />
Messsysteme für<br />
technische Oberflächen<br />
Duwe-3d: Hybride<br />
Koordinatenmesstechnik<br />
in PolyWorks<br />
OGP: Does Metrology<br />
Increase costs?<br />
Ryf: Computer Tomography<br />
in der Industrie<br />
Euresearch/KTI: Wie<br />
komme ich zu Fördergeldern<br />
(EU und national)?<br />
WZW: Super-Polierte<br />
Spiegelsubstrate für<br />
Laser Anwendungen<br />
WENZEL:<br />
Computertomographie<br />
WENZEL: Intuitive<br />
Benutzerführung<br />
der Messsoftware<br />
amtec: In-situ-Analyse<br />
von Beschichtungen<br />
Cyber Technologies: High<br />
accurate metrology on<br />
large surface areas<br />
Schaefer-Tec: Kontaktlose<br />
Rauheitsmessung<br />
und Formmessung<br />
Fraunhofer IFF: Inline<br />
3D-Messtechnik für <strong>die</strong><br />
Prozesssteuerung<br />
und Qualitätskontrolle<br />
SCHUNK Intec: Prozessoptimierung<br />
mit innovativer<br />
Werkstückspanntechnik<br />
NTB: Diskussionsforum:<br />
Die Zukunft der Messtechnikausbildung<br />
auf Hochschulniveau<br />
in der Schweiz<br />
Renishaw: Späne<br />
kosten Geld – Gutteile<br />
bringen Geld<br />
DRE: Messung der Oberflächenkontamination<br />
zur Vorbereitung einer<br />
verlässlichen Klebung<br />
NOVAMART: Aufbau eines<br />
Qualitätssicherungslabors<br />
in der Oberflächentechnik<br />
Aktuelle Informationen:<br />
www.ntb.ch/pwo/fachtagung<br />
Stand April 2013
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