Deutscher Kalibrierdienst - der Trescal GmbH.
Deutscher Kalibrierdienst - der Trescal GmbH.
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<strong>Deutscher</strong> <strong>Kalibrierdienst</strong> (DKD)<br />
Akkreditierungsstelle<br />
vertreten im<br />
Deutschen AkkreditierungsRat<br />
Akkreditierung<br />
Die Akkreditierungsstelle des Deutschen <strong>Kalibrierdienst</strong>es akkreditiert hiermit<br />
<strong>Trescal</strong> <strong>GmbH</strong><br />
Borsigstraße 11<br />
64291 Darmstadt<br />
nach DIN EN ISO/IEC 17025: 2005 für Kalibrierungen im Bereich / in den Bereichen:<br />
dimensionelle Größen, elektrische Gleichstrom- und NF-Größen, elektrische<br />
HF-Größen, Zeit und Frequenz<br />
Bestandteil <strong>der</strong> Urkunde ist: Anlage 18 (6 Seiten), 2007-05-25<br />
DAR-Registriernummer: DKD-K-04201<br />
Akkreditiert im DKD seit: 1983-05-31<br />
Braunschweig, 2007-05-25<br />
Dr.-Ing. Wolfgang Bosch<br />
Leiter <strong>der</strong> Ak£reditierungsstelle<br />
Siehe Hinweise auf <strong>der</strong> Rückseite
<strong>Deutscher</strong> <strong>Kalibrierdienst</strong><br />
Akkreditierungsstelle<br />
Anlage 18<br />
vom 2007-05-25 zur Akkreditierungsurkunde des Kalibrierlaboratoriums<br />
bei<br />
<strong>Trescal</strong> <strong>GmbH</strong><br />
Borsigstraße 11<br />
64291 Darmstadt<br />
Telefon: 06151 9 344-451<br />
Telefax: 06151 9 344-444<br />
E-Mail: Roland.Moeller@trescal.com<br />
Leiter<br />
Stellvertreter:<br />
Akkreditiert seit:<br />
Dipl.-Ing. Henner Mittag<br />
Dipl.-Ing. Boguslaw Kalandyk<br />
Dipl.-Ing. (FH) Roland Möller<br />
Günter Bleith<br />
1983-05-31<br />
Permanentes Laboratorium<br />
Messgröße /<br />
Kalibriergegenstand<br />
Gleichspannung<br />
Gleichstromstärke<br />
Stromquellen<br />
Stromstärkemessgeräte<br />
Gleichstromwi<strong>der</strong>stand<br />
Normalwi<strong>der</strong>stände<br />
Messbereich /<br />
Messspanne<br />
0,1 V<br />
1 V<br />
10 V, 100V.1000V<br />
ov<br />
1 pV bis 0,12 V<br />
> 0,12 V bis 1,2 V<br />
>1,2V bis 12 V<br />
> 12 V bis 100 V<br />
> 100 V bis 200 V<br />
>200V bis 500 V<br />
>500V bis 700 V<br />
>700V bis 1000 V<br />
iMAbis 120 pA<br />
>120MAbis 1,2 mA<br />
> 1,2 mA bis 12 mA<br />
> 12 mA bis 120 mA<br />
> 120 mA bis 1,05 A<br />
> 1.05A bis 12 A<br />
>12A bis 20 A<br />
>12A bis 20 A<br />
0,01 Q<br />
1 Q;10kO<br />
1 mQ bis 12 mQ<br />
> 12 mQ bis 120 mQ<br />
> 0,12 Q bis 1,2 Q<br />
> 1,2 Q bis 12 Q<br />
>12Qbis 120 Q<br />
> 120 Q bis 1,2 kQ<br />
>1,2kQbis 12 kQ<br />
>12kQbis 120 kQ<br />
>120kQbis 1,2 MQ<br />
>1,2MQbis 12 MQ<br />
> 12 MQ bis 120 MQ<br />
Messbedingungen /<br />
Verfahren<br />
kleinste angebbare<br />
Messunsicherheit 1><br />
16-10" 6 - U<br />
2-10- 6 t7<br />
2,5 -lO^-U<br />
2 MV<br />
5 10" 6 U+ 2 MV<br />
4,5 • 10" 6 L/+ 2 MV<br />
4,5-lO"^^* 3 MV<br />
6-10- 6 (7+ 40 MV<br />
6- 10" 6 - U+0,17 mV<br />
9- 10" 6 - U+0,17 mV<br />
13- 10"*- U+0,17 mV<br />
20 • 10"* U +0,17 mV<br />
20-10~"-/+ 2nA<br />
20-10"*/+ 8nA<br />
20-10" 6 /* 80 nA<br />
40-10"*/+ 0,7 MA<br />
0,12-10" 3 /+ 15 MA<br />
40 • 10" 6 - /+ 0,2 mA<br />
35- 10^/+ 0,2 mA<br />
35 10" 6 - /+0,22mA<br />
27 • 10"* • R<br />
5,2 10"* R<br />
40- 10" 6 - R + 0,3 MQ<br />
40 •1(T e -R+ 25 MQ<br />
35-10^R + 60 MQ<br />
19-10~ 6 R + 70 MQ<br />
13 • 10" 6 R + 0,7 mQ<br />
11 • 10"*- R+ 0,7 mQ<br />
11 • 10" 6 - R+ 7mQ<br />
11 • 10" 6 - R+ 70 mQ<br />
15-10" 6 R+ 4Q<br />
60- 10"*R + 0,20kQ<br />
0,6 • 10~ 3 -R+ 2kQ<br />
Registriemummer<br />
DKD-K-04201<br />
Seite 1 von 6<br />
Messgrößen:<br />
Gleichspannung *)<br />
Gleichstromstärke *)<br />
Gleichstromwi<strong>der</strong>stand *)<br />
Wechselspannung *)<br />
Wechselstromstärke *)<br />
Kapazität<br />
Induktivität<br />
Oszilloskop *)<br />
Bandbreite *)<br />
Anstiegszeit *)<br />
HF-Spannung<br />
Frequenz *)<br />
Zeitintervall *)<br />
Länge: Durchmesser,<br />
Längenmessmittel<br />
*) auch Vor-Ort-<br />
Kalibrierungen<br />
Bemerkungen<br />
Kalibrieren<br />
mit Fluke 752A<br />
U = Messwert<br />
U = Messwert<br />
/ = Messwert<br />
mit Fluke Y 5020<br />
mit Fluke Y 5020<br />
mit Fluke Y 5020<br />
R = Messwert<br />
" Die kleinsten angebbaren Messunsicherheiten sind nach DKD-3 (EA-4/02) festgelegt. Diese sind erweiterte Messunsicherheiten mit<br />
einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von 95 % und haben, sofern nichts an<strong>der</strong>es angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k = 2.<br />
Messunsicherheiten ohne Einheitenangabe sind auf den Messwert bezogene Relativwerte, sofern nichts an<strong>der</strong>es vermerkt ist.
Anlage 18 zur Akkreditierungsurkunde des Kalibrierlaboratoriums DKD-K-04201<br />
Seite 2 von 6<br />
Messgröße /<br />
Kalibriergegenstand<br />
Gleichstromwi<strong>der</strong>stand<br />
Wi<strong>der</strong>standsmessgeräte<br />
Wechselspannung<br />
Wechselstromstä rke<br />
Kapazität<br />
Kondensatoren<br />
Messbereich /<br />
Messspanne<br />
0,01 D<br />
0,1 Q<br />
1 n<br />
1,9Q<br />
10 0<br />
19Q<br />
100 Q<br />
190 O<br />
1 kQ<br />
1,9 kO<br />
10 kQ<br />
19 kQ<br />
100 kO<br />
190 kQ<br />
1 MO<br />
1,9 MO<br />
10 MO<br />
19 MO<br />
100 MD<br />
0,1 V bis 0,22 V<br />
> 0,22 V bis 2,2 V<br />
>2,2V bis 22 V<br />
>22V bis 220 V<br />
>220V bis 1100 V<br />
>220uA bis 2,2 mA<br />
> 2£ mA bis 22 mA<br />
>22mA bis 220 mA<br />
>220mA bis 2,2A<br />
>2£A bis 11 A<br />
1A bis 11 A<br />
>11A bis 20 A<br />
1 pF;10pF<br />
100 pF; 1000 pF<br />
10 nF; 100 nF<br />
Messbedingungen /<br />
Verfahren<br />
20 Hz bis 20kHz bis 50 kHz<br />
>50kHz bis 100 kHz<br />
20 Hz bis 20kHz bis 50 kHz<br />
>50kHz bis 100 kHz<br />
>100kHz bis 300 kHz<br />
>300kHz bis 500 kHz<br />
>500 kHz bis 1 MHz<br />
20 Hz bis 20kHz bis 50 kHz<br />
>50kHz bis 100 kHz<br />
>100kHz bis 300 kHz<br />
>300kHz bis 500 kHz<br />
>500 kHz bis 1 MHz<br />
20 Hz bis 20kHz bis 50 kHz<br />
>50kHz bis 100 kHz<br />
40 Hz bis 1 kHz bis 20 kHz<br />
40 Hz bis 1 kHz<br />
10 kHz<br />
1 kHz und 10 kHz<br />
100 kHz<br />
1 kHz<br />
1 kHz<br />
kleinste angebbare<br />
Messunsicherheit 1)<br />
33 • 10"* • R<br />
27 10"* R<br />
5,2 • 10"* R<br />
0,12 • 10"* R<br />
25- lO^-R<br />
49- 10"* R<br />
16-10"*R<br />
24- 10* R<br />
14 • 10"* • R<br />
18 • 10"* R<br />
5,2- 10"* R<br />
18- 10"* R<br />
14-10"*-R<br />
29- 10"*- R<br />
18-10"*R<br />
0,12 • 10"* R<br />
69- 10"* R<br />
0,64 • 10" 3 • R<br />
0,59 • 10^ R<br />
0,19- 10" 3 17+10 MV<br />
0,16- 10"*C/+10MV<br />
0,31 • 10"* U+10 MV<br />
0,31 • 10"*U+30MV<br />
0,10-lO" 3 ^ 30 MV<br />
70- 10" 6 U+7MV<br />
0,11 • 10"* U+ 20 MV<br />
0,12- 10"* U+80 MV<br />
0,38-10^ +0,15 mV<br />
1,6- 10"* U+0,40 mV<br />
1,6 • 10"* U+ 1,0 mV<br />
90- 10"* U+ 0,30 mV<br />
60-10"*U+70MV<br />
0,11 -lO^U + O^OmV<br />
0,12 • lO" 3 ^ 0,40 mV<br />
0,40-10" s U+1,7mV<br />
1,3- 10"*U+5mV<br />
i^-IO^U + gniV<br />
0,10- lO^U+SmV<br />
80-10"*U+1 mV<br />
0,22- 10"*l/ + 4mV<br />
0,27- lO^U+IOmV<br />
0,31 • 10"*C/ + 4mV<br />
0,14-10- 3 U + 4mV<br />
0,24- 10"*U + 6mV<br />
0,20-10^/ + 40nA<br />
0,20- IO^Z+O^OUA<br />
0,20- 10" 3 / + 4MA<br />
0,20-10^/ +40 MA<br />
0,31 • 10^/+0,17 mA<br />
0,32-10-*/ +0,17 mA<br />
0,38- 10" 3 / +0,57 mA<br />
0,63 • 10" 3<br />
0,63-10" 3<br />
0,67 • 10" 3<br />
0,63- 10" 3<br />
0,61 • 10*<br />
Bemerkungen<br />
R = Messwert<br />
U= Messwert<br />
/ = Messwert<br />
Kalibrieren mit Fluke Y5020,<br />
ab 11 A nur Stromquellen<br />
Direktmessung von<br />
Kondensatoren<br />
1) Die kleinsten angebbaren Messunsicherheiten sind nach DKD-3 (EA-4/02) festgelegt. Diese sind erweiterte Messunsicherheiten mit<br />
einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von 95 % und haben, sofern nichts an<strong>der</strong>es angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k=2.<br />
Messunsicherheiten ohne Einheitenangabe sind auf den Messwert bezogene Relativwerte, sofern nichts an<strong>der</strong>es vermerkt ist
Anlage 18 zur Akkreditierungsurkunde des Kalibrierlaboratoriums DKD-K-04201<br />
Seite 3 von 6<br />
Messgröße /<br />
Kalibriergegenstand<br />
Kapazität<br />
Kondensatoren<br />
Kapazitäts-<br />
messbrücken<br />
Indukivität<br />
Induktivitäten<br />
Induktivitäten<br />
Induktivitätsmessbrücken<br />
Amplitude U<br />
Gleichspannung<br />
Impulsgeneratoren<br />
Rechteckspannung<br />
Impulsgeneratoren<br />
Oszilloskope<br />
Impulsamplitude<br />
Impulsgeneratoren<br />
Periodendauer f<br />
Impulsgeneratoren<br />
Oszilloskope<br />
Messbereich /<br />
Messspanne<br />
1 pF; 10 pF<br />
100 pF; 1000 pF<br />
10 nF; 100 nF; 1 uF<br />
1 pF;10pF<br />
100 pF; 1000 pF<br />
10 nF; 100 nF; 1 pF<br />
100 pH<br />
1 mH; 10 mH; 100 mH;<br />
1 H<br />
100 pH<br />
1 mH; 10 mH; 100 mH;<br />
1 H<br />
100 pH<br />
1 mH; 10 mH; 100 mH;<br />
1 H<br />
0 V bis < 0,12 V<br />
0,12 V bis 12V bis 120 V<br />
>120V bis 1000 V<br />
0 V bis < 0,12 V<br />
0,12 V bis 12V bis 120 V<br />
>120V bis 1000 V<br />
12 mV bis 50 V<br />
12 mV bis 3 V<br />
5 mV bis 50 V<br />
1 ns bis 1 s<br />
0,33 ns bis 1 s<br />
10 ns<br />
80 ns, 160 ns<br />
400 ns bis 5 s<br />
Messbedingungen /<br />
Verfahren<br />
10 kHz<br />
1 kHz und 10 kHz<br />
100 kHz<br />
1 kHz<br />
10 kHz<br />
1 kHz und 10 kHz<br />
100 kHz<br />
1 kHz<br />
1 kHz und 10 kHz<br />
100 Hz und 1 kHz<br />
1 kHz<br />
10 kHz<br />
100 Hz<br />
1 kHz<br />
1 kHz<br />
10 kHz<br />
100 Hz<br />
1 kHz<br />
0 Hz bis 1 kHz<br />
1 MQ<br />
(1kHz)<br />
50Q(1kHz)<br />
50 Q<br />
kleinste angebbare<br />
Messunsicherheit 1><br />
0,26- 10 3<br />
0,26- 10' 3<br />
0,36-10" 3<br />
0,26- 10" 3<br />
0,25- 10~ 3<br />
0,25- 10" 3<br />
0,30 • 10" 3<br />
0,25-10^<br />
1,5- irr 3<br />
1,5-10" 3<br />
0,40 • 10" 3<br />
0,47 10" 3<br />
0,43-10" 3<br />
0,40 • 10~ 3<br />
0,39 • 10" 3<br />
0,43 • 10" 3<br />
0,41 • 10" 3<br />
0,39- 10" 3<br />
19- 10" 6 U+3uV<br />
10- 10"° U+Z\iV<br />
7 10" 6 17+ 3 uV<br />
10- IO^U+SOUV<br />
12-lO""^ 0,10 mV<br />
35- IO^U+SUV<br />
30-10-*C+3uV<br />
30- IQ-* U+ 3 MV<br />
30-10" 6 U+32|JV<br />
31 -lO" 6 17+0,10 mV<br />
5-10" 3 - U<br />
85 • 10" 3 • U<br />
3,5- 10" 3 f+0,2 ns<br />
1 • 10" 10 f+UTT<br />
35 • 10" 3 f<br />
5- 10" 3 - t<br />
3,5 • 10" 3 • t<br />
Bemerkungen<br />
Kalibrieren von Kondensatoren<br />
m Substitutionsverfahren<br />
Direktmessung von<br />
Induktivitäten<br />
Kalibrieren von Induktivitäten im<br />
Substitutionsverfahren<br />
Ermittlung mittels Sample DVM<br />
HP 3458<br />
Ermittlung mittels Sample DVM<br />
Die Messunsicherheit bezieht<br />
sich auf die Generierung <strong>der</strong><br />
Kalibriersignale inkl. einem<br />
Ablesefehler von 0,3 %<br />
Ermittlung mittels Oszilloskop<br />
fr, fH> 10 fr System<br />
fr Impulsanstiegszeit,<br />
tH Impulshalbwertbreite<br />
U, s»stem: Anstiegszeit des<br />
Messsystems<br />
Ermittlung mittels Oszilloskop<br />
Ermittlung über 1/Frequenz<br />
t/n: Triggerunsicherheit<br />
1) Die kleinsten angebbaren Messunsicherheiten sind nach DKD-3 (EA-4/02) festgelegt. Diese sind erweiterte Messunsicherheiten mit<br />
einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von 95 % und haben, sofern nichts an<strong>der</strong>es angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k = 2.<br />
Messunsicherheiten ohne Einheitenangabe sind auf den Messwert bezogene Relativwerte, sofern nichts an<strong>der</strong>es vermerkt ist.
Anlage 18 zur Akkreditierungsurkunde des Kalibrierlaboratoriums DKD-K-04201<br />
Seite 4 von 6<br />
Messgröße /<br />
Kalibriergegenstand<br />
Anstiegszeit t, 1<br />
Bandbreite b<br />
Impulsgeneratoren<br />
Oszilloskope<br />
HF-Spannung U<br />
HF-Spannungsmessgeräte<br />
Frequenz f<br />
Zeitintervall t<br />
Länge<br />
Einstellringe<br />
Einstelldome<br />
Prüfstifte<br />
Messschieber für<br />
Außen-, Innen- und<br />
Tiefenmessungen<br />
und Tiefenmessschieber<br />
Bügelmessschrauben<br />
Messuhren<br />
Feinzeiger<br />
Fühlhebelmessgeräte<br />
Messbereich /<br />
Messspanne<br />
825 ps bis 100 ms<br />
100 kHz bis 1 GHz<br />
128 ps<br />
0,5 V bis 1 V<br />
100 kHz; 1 MHz<br />
5 MHz; 10 MHz<br />
1 Hz bis 3 GHz<br />
3 GHz bis 26,5 GHz<br />
10 ms bis 10 s<br />
10 mm bis 160 mm<br />
1 mm bis 160 mm<br />
1 mm bis 20 mm<br />
0 mm bis 150 mm<br />
> 150 mm bis 500 mm<br />
0 mm bis 100 mm<br />
0 mm bis 100 mm<br />
0 mm bis 3 mm<br />
0 mm bis 1,6 mm<br />
Vor-Ort-Kalibrierung und Mobiles Laboratorium<br />
Messgröße /<br />
Kalibriergegenstand<br />
Gleichspannung<br />
Messbereich /<br />
Messspanne<br />
OV<br />
1 MV bis<br />
> 0,12 V bis<br />
>1,2V bis<br />
>12V bis<br />
> 100 V bis<br />
>200V bis<br />
>500V bis<br />
>700V bis<br />
0,12 V<br />
1,2V<br />
12V<br />
100 V<br />
200 V<br />
500 V<br />
700 V<br />
1000 V<br />
Messbedingungen /<br />
Verfahren<br />
0,5V bis IV<br />
Spannungsbereich<br />
20 mV bis 1 V<br />
R, = 50 D<br />
100 kHz bis 10 MHz<br />
>10 MHz bis 30 MHz<br />
>30 MHz bis 50 MHz<br />
>50MHzbis 500 MHz<br />
>500 MHz bis 1 GHz<br />
Phasenzeitdifferenzmessungen<br />
über<br />
Messzeiten ^ 2 h<br />
Digitale Frequenzmessung<br />
auf Zählbasis<br />
DKD-R 4-3, Blatt 4.1<br />
Abschn. 5.3.3, 5.3.4<br />
DKD-R 4-3, Blatt 4.1<br />
Abschn. 5.3.3, 5.3.4<br />
DKD-R 4-3, Blatt 4.2<br />
Abschn. 5.3.3<br />
DKD-R 4-3, Blatt 9.1<br />
DKD-R 4-3, Blatt 10.1<br />
DKD-R 4-3, Blatt 11.1<br />
DKD-R 4-3, Blatt 11.2<br />
DKD-R 4-3, Blatt 11.3<br />
Messbedingungen /<br />
Verfahren<br />
kleinste angebbare<br />
Messunsicherheit 1)<br />
60-10" 3 fr+UTf<br />
60- 10" 3 b<br />
10 ps<br />
2 • 10" 3 • U<br />
3- irr 3 - u<br />
5- 10" 4 - U<br />
10 lO^-U<br />
15 10" 3 - U<br />
5- 10"" f<br />
1 -10- 10 -f+^f<br />
2 • 10~ 10 • f+ 1 Hz<br />
6- 10" 11 f + 2ns + t/n<br />
0,8 Mm + 1 • 10" 6 d<br />
0,8 Mm+ 1 • 10" 6 • d<br />
0,8 Mm+ 1 • lO" 6 -^<br />
SOMm + SO-IO" 6 /<br />
SOMm + öO-IO" 6 -/<br />
3 Mm+10- 10" 6 /<br />
3 Mm + 10 • 10" 6 • /<br />
0,6 Mm<br />
0,9 Mm<br />
kleinste angebbare<br />
Messunsicherheit 1><br />
3 MV<br />
6-10-*-U+ 2 MV<br />
5,5 • 10"*- t/+ 2 MV<br />
5-10"*U+ 4 MV<br />
7 10"* U+ 80 MV<br />
7- 10" 6 - U +0,17 mV<br />
10 10" 6 - U +0,17 mV<br />
14- 10" 6 - U +0,17 mV<br />
21 -10^-U+0,17mV<br />
Bemerkungen<br />
Die Systemanstiegszeit muss<br />
sei <strong>der</strong> Ermittlung von i, mittels<br />
Oszilloskop berücksichtigt<br />
werden;<br />
Ermittlung des 3-dB-Punktes<br />
mittels Spannungs-T und<br />
HF-Spannungsmessung<br />
Wie<strong>der</strong>holrate 10 Hz bis 1 MHz<br />
Spannungsgenerierung über<br />
T-Stück,<br />
N-Konnektor, bei an<strong>der</strong>en<br />
Konnektoren erhöht sich die<br />
Messunsicherheit<br />
U-n: Triggerunsicherheit<br />
t/n: Triggerunsicherheit<br />
d ist <strong>der</strong> gemessene<br />
Durchmesser<br />
/ ist die gemessene Länge<br />
U = Messwert<br />
Bemerkungen<br />
1> Die kleinsten angebbaren Messunsicherheiten sind nach DKD-3 (EA-4/02) festgelegt. Diese sind erweiterte Messunsicherheiten mit<br />
einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von 95 % und haben, sofern nichts an<strong>der</strong>es angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k=2.<br />
Messunsicherheiten ohne Einheitenangabe sind auf den Messwert bezogene Relativwerte, sofern nichts an<strong>der</strong>es vermerkt ist
Anlage 18 zur Akkreditierungsurkunde des Kalibrierlaboratoriums DKD-K-04201<br />
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Messgröße /<br />
Kalibriergegenstand<br />
Gleichstromstärke<br />
Gleichstromwi<strong>der</strong>stand<br />
Normalwi<strong>der</strong>stände<br />
Gleichstromwi<strong>der</strong>stand<br />
Wi<strong>der</strong>standsmessgeräte<br />
Wechselspannung<br />
Messbereich /<br />
Messspanne<br />
1uAbis 120 uA<br />
>120uAbis 1,2 mA<br />
> 1,2 mA bis 12 mA<br />
> 12 mA bis 120 mA<br />
> 120 mA bis 1.05A<br />
>1,05A bis 12A<br />
> 12 A bis 20 A<br />
> 12 A bis 20 A<br />
1 mQbis 12 mQ<br />
>12mQbis 120 mQ<br />
> 0,12 Q bis 1,2 Q<br />
> 1,2 Q bis 12 Q<br />
> 12 Q bis 120 Q<br />
> 120 Q bis 1,2 kQ<br />
?1,2kQbis 12 kQ<br />
>12kQbis 120 kQ<br />
>120kQbis 1,2 MQ<br />
>1,2 MQbis 12 MQ<br />
> 12 MQ bis 120 MQ<br />
0,01 Q<br />
1 Q<br />
1,9 Q<br />
10 Q<br />
19Q<br />
100 Q<br />
190 Q<br />
1 kQ<br />
1,9 kQ<br />
10 kQ<br />
19 kQ<br />
100 kQ<br />
190 kQ<br />
1 MQ<br />
1,9 MQ<br />
10 MQ<br />
19 MQ<br />
100 MQ<br />
0,1 V bis 0,22 V<br />
> 0,22 V bis 2,2 V<br />
>2,2V bis 22 V<br />
>22V bis 220 V<br />
Messbedingungen /<br />
Verfahren<br />
20 Hz<br />
40 Hz<br />
>20 kHz<br />
>50 kHz<br />
20 Hz<br />
40 Hz<br />
>20kHz<br />
>50kHz<br />
>100kHz<br />
>300 kHz<br />
>500 kHz<br />
20 Hz<br />
40 Hz<br />
>20 kHz<br />
>50kHz<br />
>100kHz<br />
>300kHz<br />
>500 kHz<br />
20 Hz<br />
40 Hz<br />
>20 kHz<br />
>50 kHz<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
bis<br />
Anlage 18 zur Akkreditierungsurkunde des Kalibrierlaboratoriums DKD-K-04201<br />
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Messgröße /<br />
Kalibriergegenstand<br />
Wechselspannung<br />
Wechselstromstärke<br />
Amplitude<br />
Gleichspannung<br />
Impulsgeneratoren<br />
Rechteckspannung<br />
Kalibrieren von<br />
Impulsgeneratoren<br />
Oszilloskope<br />
Impulsamplitude<br />
Impulsgeneratoren<br />
Periodendauer t<br />
Impulsgeneratoren<br />
Oszilloskope<br />
Anstiegszeit fr /<br />
Bandbreite b<br />
Impulsgeneratoren<br />
Oszilloskope<br />
Frequenz f<br />
Zeitintervall t<br />
Messbereich /<br />
Messspanne<br />
>220V bis 1100 V<br />
>220pA bis 2,2 mA<br />
> 2,2 mA bis 22 mA<br />
>22mA bis 220mA<br />
>220mA bis 2,2A<br />
>2,2A bis 11 A<br />
1A bis 11 A<br />
>11A bis 20 A<br />
0 V bis < 0,12 V<br />
0,12 V bis 12V bis 120 V<br />
> 120 V bis 1000 V<br />
0 V bis < 0,12 V<br />
0,12 V bis < 1,2 V<br />
1,2 V bis 12 V<br />
> 12 V bis 120 V<br />
> 120 V bis 1000 V<br />
12 mV bis 50 V<br />
12 mV bis 3 V<br />
5 mV bis 50 V<br />
1 ns bis 1 s<br />
0,33 ns bis 1 s<br />
10 ns<br />
80 ns, 160 ns<br />
400 ns bis 5 s<br />
825 ps bis 100 ms<br />
100 kHz bis 1 GHz<br />
128 ps<br />
1 Hz bis 3 GHz<br />
3 GHz bis 26,5 GH<br />
10 ms bis 10 s<br />
Messbedingungen /<br />
Verfahren<br />
40 Hz bis 1 kHz bis 20 kHz<br />
40 Hz bis 1 kHz<br />
0 Hz bis 1 kHz<br />
1 MD<br />
(1kHz)<br />
50 Q (1kHz)<br />
50 Q<br />
0,5 V bis 1 V<br />
Spannungsbereich<br />
20 mV bis 1 V<br />
Ri = 50 D<br />
Digitale<br />
Frequenzmessung auf<br />
Zählbasis<br />
kleinste angebbare<br />
Messunsicherheit 1 '<br />
0,31 • 10" 3 - U + 4mV<br />
0,14 10~ 3 -U+4mV<br />
0,24-10~ 3 U + 6mV<br />
0,20-10^/ + 40nA<br />
0,20 • 10~ 3 •/ + 0,4 uA<br />
0,20-10- 3 / + 4uA<br />
0,20 10" 3 - / + 40uA<br />
0,31 • 10" 3 /+0,17 mA<br />
0,33- 10" 3 - / +0,17 mA<br />
0,40- W 3 • 1+ 0,57 mA<br />
25-10- 6 U+5pV<br />
15 10" 6 - U+5\M<br />
10- 10" 6 t/+5uV<br />
15 10" 6 ü + 70 MV<br />
15- 10" 6 U+ 0,20 mV<br />
45- 10" 6 - U+5uV<br />
40- 10" 6 - U+5uV<br />
35- 10" 6 - U+5uV<br />
35- 10" 6 - U+70pV<br />
35- 10"*- U+ 0,20 mV<br />
5-10^-U<br />
85 10^ • U<br />
S.S-IO^f+O^ns<br />
2- 10" 10 f+L/Tf<br />
35- 10" 3 t<br />
5 • 10" 3 • f<br />
3,5 • 10" 3 • f<br />
6-10- 2 fr+UTT<br />
6-10" 2 b<br />
10 ps<br />
2[(10~ 10 /) 2 + UT, 2 ]" 2<br />
2 • [(10" 10 f) 2 + (1 Hz) 2 /3] 1 ' 2<br />
2[(10- 10 f) 2 +(1 ns) 2 /3+UTt 2 ] 1/2<br />
U = Messwert<br />
= Messwert<br />
Bemerkungen<br />
10(rS^tem<br />
t Impulsanstiegszeit,<br />
(H Impulshalbwertbreite<br />
t,, syaein: Anstiegszeit des<br />
Messsystems<br />
Ermittlung mittels Oszilloskop<br />
Ermittlung über 1/Frequenz<br />
l/n =Triggerunsicherheit<br />
Die Systemanstiegszeit muss<br />
bei <strong>der</strong> Ermittlung von U mittels<br />
Oszilloskop berücksichtigt<br />
werden.<br />
Ermittlung des 3-dB-Punktes<br />
mittels Spannungs-T und<br />
HF-Spannungsmessung<br />
Wie<strong>der</strong>holrate 10 Hz bis 1 MHz<br />
U-r,: Triggerunsicherheit<br />
L/n: Triggerunsicherheit<br />
1) Die kleinsten angebbaren Messunsicherheiten sind nach DKD-3 (EA-4/02) festgelegt. Diese sind erweiterte Messunsicherheiten mit<br />
einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von 95 % und haben, sofern nichts an<strong>der</strong>es angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k=2.<br />
Messunsicherheiten ohne Einheitenangabe sind auf den Messwert bezogene Relativwerte, sofern nichts an<strong>der</strong>es vermerkt ist.