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Da der gewählte kalibrierte Messbereich mit einer Untergrenze von 200°C versehen ist, wird jeder Wert darunter<br />
automatisch auf dieses Minimum referenziert. Sobald das Bauteil wie im vorliegenden Fall eine bestimmte<br />
Höhe erreicht hat, entfällt dieser Effekt. Selbes gilt für den zweiten Messzyklus für das besagte Pixel,<br />
wenn die Bauteilvorderseite im Fokus steht.<br />
1500<br />
1250<br />
ΔΔΔΔT max WWWWSSSSSSSSSSSSSSSS<br />
Simulation<br />
Qualifizierungsexperiment<br />
schematisch<br />
dargestellte<br />
Messposition<br />
Temperatur in °C<br />
1000<br />
750<br />
500<br />
Δtttt max WWWWSSSSSSSSSSSSSSSS<br />
Brenner<br />
250<br />
200<br />
0<br />
500 600 700 800 900 1000 1100 1200 1300<br />
Prozesszeit in s<br />
Abbildung 5. Ausschnitt aus dem Qualifizierungsvorgang der Untersuchungsmethodik<br />
Lenkt man neben den genannten Besonderheiten den Fokus auf die jeweiligen Abkühlphasen und Zwischenlagentemperaturen,<br />
ist festzustellen, dass eine sehr gute Übereinstimmung von Simulations- und Messdaten<br />
vorliegt. Während die Heiz- und Abkühlphasen bis auf die zeitliche Diskrepanz nahezu identisch sind, liegen<br />
für die Zwischenlagentemperaturen ab dem zweiten Zyklus weniger als 50°C Differenz vor. Mit zunehmender<br />
Zyklusanzahl und Prozesszeit nehmen die vorhandenen Abweichungen weiter ab, bis sie sich in einem vernachlässigbaren<br />
Bereich befinden. Folglich kann die verwendete Methodik für eine numerische Untersuchung<br />
einer Substratplattentemperierung bei einem WAAM-Verfahren als geeignet angesehen werden.<br />
Im Rahmen der ersten numerischen Untersuchungen des vorgestellten Temperierungskonzeptes der Substratplatte<br />
als Teil eines temperaturgeführten WAAM-Prozesses standen Versuche zur Kühlung, Vorwärmung<br />
und lokalen Temperierung bei konstanten Strahlungs- und Konvektionsbedingungen im Fokus. Insgesamt<br />
wurden zwölf verschiedene Einzelsimulationen ausgeführt, welche nachfolgend aufgelistet sind:<br />
Tabelle 1. Übersicht der Einzelsimulationen<br />
Vorwärmtemperaturen<br />
der Substratplatte<br />
Kühlung<br />
Lokale Temperierung<br />
TTTT AAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA,SSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSS = 20°C; 150°C; 300°C; 500°C; 800°C (ohne Schweißtisch)<br />
TTTT AAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA,SSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSS = 300°C; 500°C (mit Schweißtisch)<br />
TTTT AAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA,SSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSS = 10°C (ohne Schweißtisch);<br />
TTTT AAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA,SSSSSSSShwwwwSSSSwwwwßSSSSSSSSSSSSSSSSh = 10°C und TTTT AAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA,SSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSS = 20°C;<br />
gekühlter Schweißtisch (10°C) bei TTTT AAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA,SSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSS = 10°C und TTTT UUUUUUUUAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA = 10°C<br />
200 W Wärmeabfuhr mit 20 mm Nachlauf zum Brenner (ohne Schweißtisch);<br />
200 W Wärmezufuhr mit 20 mm Nachlauf zum Brenner (ohne Schweißtisch)<br />
Das Simulationsmodell (vgl. Abbildung 6) blieb überwiegend unverändert zum Qualifikationsversuch. Lediglich<br />
die Schweißparameter wurden variiert (ca. 80 A, ca. 11 V, ca. 10 mm/s) und blieben über alle 70 Schichten<br />
konstant. Optional wurde der Schweißtisch aus Aluminium in die Simulation integriert. Die Zwischenlagentemperaturen<br />
und Abkühlraten wurden zu Beginn jeder fünften Schicht je ein Inkrement vor Überlagerung erfasst.<br />
Lokale Netzverfeinerung<br />
im<br />
Wurzelbereich<br />
exemplarische<br />
Messstelle für<br />
jede 5. Schicht<br />
Abbildung 6. Simulationsmodell zur Untersuchung einer Substratplattentemperierung<br />
6<br />
<strong>DVS</strong> 394