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DVS_Bericht_394LP

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Da der gewählte kalibrierte Messbereich mit einer Untergrenze von 200°C versehen ist, wird jeder Wert darunter<br />

automatisch auf dieses Minimum referenziert. Sobald das Bauteil wie im vorliegenden Fall eine bestimmte<br />

Höhe erreicht hat, entfällt dieser Effekt. Selbes gilt für den zweiten Messzyklus für das besagte Pixel,<br />

wenn die Bauteilvorderseite im Fokus steht.<br />

1500<br />

1250<br />

ΔΔΔΔT max WWWWSSSSSSSSSSSSSSSS<br />

Simulation<br />

Qualifizierungsexperiment<br />

schematisch<br />

dargestellte<br />

Messposition<br />

Temperatur in °C<br />

1000<br />

750<br />

500<br />

Δtttt max WWWWSSSSSSSSSSSSSSSS<br />

Brenner<br />

250<br />

200<br />

0<br />

500 600 700 800 900 1000 1100 1200 1300<br />

Prozesszeit in s<br />

Abbildung 5. Ausschnitt aus dem Qualifizierungsvorgang der Untersuchungsmethodik<br />

Lenkt man neben den genannten Besonderheiten den Fokus auf die jeweiligen Abkühlphasen und Zwischenlagentemperaturen,<br />

ist festzustellen, dass eine sehr gute Übereinstimmung von Simulations- und Messdaten<br />

vorliegt. Während die Heiz- und Abkühlphasen bis auf die zeitliche Diskrepanz nahezu identisch sind, liegen<br />

für die Zwischenlagentemperaturen ab dem zweiten Zyklus weniger als 50°C Differenz vor. Mit zunehmender<br />

Zyklusanzahl und Prozesszeit nehmen die vorhandenen Abweichungen weiter ab, bis sie sich in einem vernachlässigbaren<br />

Bereich befinden. Folglich kann die verwendete Methodik für eine numerische Untersuchung<br />

einer Substratplattentemperierung bei einem WAAM-Verfahren als geeignet angesehen werden.<br />

Im Rahmen der ersten numerischen Untersuchungen des vorgestellten Temperierungskonzeptes der Substratplatte<br />

als Teil eines temperaturgeführten WAAM-Prozesses standen Versuche zur Kühlung, Vorwärmung<br />

und lokalen Temperierung bei konstanten Strahlungs- und Konvektionsbedingungen im Fokus. Insgesamt<br />

wurden zwölf verschiedene Einzelsimulationen ausgeführt, welche nachfolgend aufgelistet sind:<br />

Tabelle 1. Übersicht der Einzelsimulationen<br />

Vorwärmtemperaturen<br />

der Substratplatte<br />

Kühlung<br />

Lokale Temperierung<br />

TTTT AAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA,SSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSS = 20°C; 150°C; 300°C; 500°C; 800°C (ohne Schweißtisch)<br />

TTTT AAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA,SSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSS = 300°C; 500°C (mit Schweißtisch)<br />

TTTT AAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA,SSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSS = 10°C (ohne Schweißtisch);<br />

TTTT AAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA,SSSSSSSShwwwwSSSSwwwwßSSSSSSSSSSSSSSSSh = 10°C und TTTT AAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA,SSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSS = 20°C;<br />

gekühlter Schweißtisch (10°C) bei TTTT AAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA,SSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSSAAAASSSSSSSSSSSS = 10°C und TTTT UUUUUUUUAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAA = 10°C<br />

200 W Wärmeabfuhr mit 20 mm Nachlauf zum Brenner (ohne Schweißtisch);<br />

200 W Wärmezufuhr mit 20 mm Nachlauf zum Brenner (ohne Schweißtisch)<br />

Das Simulationsmodell (vgl. Abbildung 6) blieb überwiegend unverändert zum Qualifikationsversuch. Lediglich<br />

die Schweißparameter wurden variiert (ca. 80 A, ca. 11 V, ca. 10 mm/s) und blieben über alle 70 Schichten<br />

konstant. Optional wurde der Schweißtisch aus Aluminium in die Simulation integriert. Die Zwischenlagentemperaturen<br />

und Abkühlraten wurden zu Beginn jeder fünften Schicht je ein Inkrement vor Überlagerung erfasst.<br />

Lokale Netzverfeinerung<br />

im<br />

Wurzelbereich<br />

exemplarische<br />

Messstelle für<br />

jede 5. Schicht<br />

Abbildung 6. Simulationsmodell zur Untersuchung einer Substratplattentemperierung<br />

6<br />

<strong>DVS</strong> 394

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