Dentin Komposit - OPUS - Universität Würzburg

2 Material und Methoden 32
Jede Probe wurde für 80 Sekunden unter kreisenden, drucklosen Bewegungen poliert.
Nach der Hälfte der Zeit wurde die Stellung der jeweiligen Probe um 180° im Kreis
verändert. Dafür wurde die Probe kurzzeitig abgehoben und auf dem Schleifpapier
vorsichtig neu angesetzt. Für diesen Vorgang waren 5 Sekunden zusätzlich eingeplant.
Das Ergebnis des Poliervorganges wurde jeweils unter dem Lichtmikroskop
begutachtet.
Nun schlossen sich die Messungen plastisch-elastischer Parameter und die
bildgebenden Verfahren am TriboScope an.
2.2 Messungen elastisch-plastischer Parameter am AFM
2.2.1 Aufbau der Messvorrichtung
2.2.1.1 Die AFM-Basis
Das gesamte Messsystem befand sich während der Versuchsdurchführung auf einem
Luftkissentisch, um unerwünschte Schwingungen, Erschütterungen und Vibrationen
von der Probe fernzuhalten.
Die Basis stellt ein NanoScope Contact Atomic Force Microscope dar, das über
einen NanoScope Controller (Autoprobe CP, Veeco Instruments GmbH) angesteuert
wird. Ein piezoelektrischer Röhrenscanner mit einem lateralen Scanbereich von 125 x
125 μm und einem vertikalen Scanbereich von 5 μm wird darauf fixiert. Dieser
„vertical engage scanner“ neutralisiert Drift und seitliche Bewegungen der Probe
während ihrer Annäherung an die Messspitze. Dadurch ist es möglich, die Lokalisation
von einmal ausgewählten Oberflächen oder Indents auf einer Probe zu reproduzieren.
Ein magnetisches Plättchen, das am oberen Ende des Röhrenscanners befestigt ist, hält
die Probe.
Der Scanner kann vertikal über einen stufenlos steuerbaren Schrittmotor grob an die
Probe angenähert werden. Der letzte Teil der Wegstrecke bis zum Erreichen des
Nullpunktes auf der Probenoberfläche, dem sogenannten „Setpoint“, sollte aber mit