ZEISSKompetenztage - Carl Zeiss
ZEISSKompetenztage - Carl Zeiss
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Weltweit erste<br />
<strong>ZEISSKompetenztage</strong><br />
Technologien aus dem Hause ZEISS<br />
<strong>Carl</strong> <strong>Zeiss</strong> IMT<br />
ACCURA II / 3D-Koordinaten-Messtechnik: Auszeichnend für die ACCURA ® ist die hohe Präzision in allen Disziplinen der Multisensorik.<br />
Das Plattformkonzept der neuen ACCURA ermöglicht es auch, das Messgerät genau auf die Anforderungen und das Budget des Kunden anzupassen.<br />
Je nachdem ob der Schwerpunkt auf der Performance oder der Präzision liegt, werden abgestimmte Ausstattungspakete angeboten.<br />
Der modulare Aufbau gibt zusätzlich Investitionssicherheit: Wenn die Anforderungen an die Ausstattung, Sensorik und Software wachsen,<br />
wächst die neue ACCURA mit.<br />
<strong>Carl</strong> <strong>Zeiss</strong> IMT<br />
METROTOM 1500 / Computertomograph: Wo bisher nur geprüft oder gar keine Qualitätssicherung vorgenommen werden konnte – im<br />
Inneren von hochkomplexen Bauteilen – lässt sich jetzt hochgenau und zerstörungsfrei messen.<br />
<strong>Carl</strong> <strong>Zeiss</strong> OIM<br />
SurfMax / Oberflächenprüfgerät: SurfMax ist das erste konfigurierbare Inline-Prüfgerät zur Oberflächenbewertung an 3D-Teilen, um Sichtprüfungen<br />
zu automatisieren. Seine Ergebnisse sind objektiv, reproduzierbar und keinen Schwankungen unterworfen.<br />
<strong>Carl</strong> <strong>Zeiss</strong> MicroImaging<br />
Axio Imager Z2m / Lichtmikroskop: Axio Imager ist die Mikroskop-Plattform für alle Anwendungen in Materialanalyse, Werkstoffentwicklung<br />
und Qualitätskontrolle. Die Forschungsplattform Axio Imager Z2m ist voll motorisierbar und perfekt ausgerüstet für komplexe Forschungsund<br />
Routineanwendungen mit wechselnden Anforderungen.<br />
<strong>Carl</strong> <strong>Zeiss</strong> MicroImaging<br />
Korrelative Mikroskopie – “Shuttle & Find” Bridging the Micro and Nano World: “Shuttle & Find” in der Materialanalyse ist eine einfach zu<br />
bedienende Schnittstelle zwischen Licht- und Elektronenmikroskop. Neben lichtmikroskopischen Aufnahmen wie Reflexion, Transmission oder<br />
Fluoreszenz, bietet das Rasterelektronenmikroskop, neben der höheren Ortsauflösung, eine Vielzahl weiterführender Analysemöglich keiten ein<br />
und derselben Probe.<br />
<strong>Carl</strong> <strong>Zeiss</strong> NTS<br />
Elektronenmikroskop EVO MA 10 mit EDX System von Firma Oxford Instruments: Das Rasterelektronenmikroskop für die Materialforschung<br />
mit energiedispersiven Röntgenanalysesystem charakterisiert hochaufgelöste Oberflächen, Bruchflächen und metallographische<br />
Schliffe hinsichtlich Topographie und chemischer Zusammensetzung. So können an Werkstücken exakte Schlüsse hinsichtlich Schädigung nach<br />
der Fertigung sowie nach erfolgtem Einsatz gezogen werden.
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