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2 Theoretische Grundlagen - Institut für Kernphysik - Johannes ...

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3 Verbesserung der Zeitauflösung<br />

kleiner als ist als die Frequenz des Masteroszillators, weshalb ein Frequenzteiler zwischengeschaltet<br />

werden muss. Sowohl dieser Frequenzteiler als auch die Synchro-Lock-<br />

Einheit sind Temperaturschwankungen unterworfen, die zu einer Verschiebung zwischen<br />

Referenzphasen-Input und Synchro-Lock-Output führen können. Dadurch variiert die<br />

ablenkende Phase im Resonator von Bunch zu Bunch, und führt zu einer Verschmierung<br />

des Pulsprofils am Analysierspalt (schematisch in Abbildung 3.1 angedeutet).<br />

In Rot sieht man den HF-Zweig, der Signale mit einer Frequenz von 2,45 GHz transportiert,<br />

der LF-Zweig mit 76 MHz ist in Blau gehalten. Gepulste Signale sind gestrichelt<br />

gezeichnet, wobei die Wiederholrate 2,45 GHz bzw. 76 MHz beträgt. Das Laserlicht ist<br />

dukelblau dargestellt. Über den Phasenschieber rechts oben im Bild kann die Phase<br />

zwischen Klystron und Laserpuls geändert werden, ohne dass die Synchro-Lock-Einheit<br />

versucht gegenzuregeln. Er wird benutzt, um den Eintrittszeitpunkt des Strahls in den<br />

Resonator definiert zu verschieben. Da die transversale Ablenkung vom Feldintegral und<br />

damit auch vom Eintrittszeitpunkt abhängt (vgl. Abbildung 3.2), werden durch die Phasenvariation<br />

unterschiedliche Pulsteile durch den Spalt transmittiert und ein Abtasten<br />

des Strahls erst möglich. Zwei Photodioden führen das Lasersignal sowohl zur Synchro-<br />

Lock-Einheit, die daraus ihr Regelsignal generiert, als auch zu einem Mischer. Dieser<br />

von M. Weis installierte Mischer vergleicht das Signal der Synchro-Lock-Einheit mit<br />

dem Referenzsignal des MAMI-HF-Master und gibt eine proportionale Spannung aus.<br />

Der Handphasenschieber unten im Bild dient zur Ausregelung von ungewollten Phasendrifts,<br />

die durch diese anfallende Spannung erkannt werden können.<br />

Ein weiterer Faktor, der die Phasenbeziehung massiv stören kann, ist der Spannungsteiler<br />

zwischen Kathode, Zwischenelektrode und Anode. Durch Feldemission an Verschmutzungen<br />

kann es zu Sprühströmen kommen, die das Verhältnis der beiden Spannungen<br />

U1 und U2 und damit auch das des Extraktionsfeldes im oberen und unteren Teil<br />

ändern. Abbildung 3.4 skizziert diesen Zustand.<br />

26<br />

Abbildung 3.4: Beschleunigungsstrecke der Testquelle mit Sprühströmen

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