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Untersuchung des reaktiven Sputterprozesses zur Herstellung von ...

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6 2. Physikalische und technologische Grundlagen<br />

tive Masse der Leitungsband-Elektronen [Freeman et al. (2000), Gordon (2000)]. Diese Kriterien<br />

werden zum Beispiel <strong>von</strong> den Oxiden der Metalle Zink, Cadmium, Indium und Zinn erfüllt. In<br />

den letzten Jahren wurden in der Literatur auch ternäre Oxide wie Cadmiumstannat (CdSn2O4)<br />

oder Zinkstannat (ZnSn2O4) als interessante Materialien hervorgehoben.<br />

Seit der ersten Veröffentlichung über transparente und gleichzeitig leitfähige Schichten<br />

auf der Basis <strong>von</strong> Metalloxiden [Bädeker (1907)] hat sich ein breites Anwendungsspektrum<br />

für diese Materialien entwickelt. Neben der Lastverteilung durch Antistatik-, Antireflex- oder<br />

Wärmedämm-Beschichtungen werden sie auch als transparente Kontaktschichten für optoelektronische<br />

Bauelemente verwendet. Dazu gehören neben Flachbildschirmen und Photodetektoren<br />

insbesondere Dünnschichtsolarzellen.<br />

In Solarzellen kommen hauptsächlich Zinkoxid (ZnO) für Kupfer-Indium(-Gallium)-Sulfidoder<br />

-Selenid-Solarzellen (CIS oder CIGS) und Zinndioxid (SnO2) für amorphe Siliziumsolarzellen<br />

zum Einsatz. Die Solarzellen enthalten TCO-Schichten als transparente Frontkontakte<br />

oder als spezielle Zwischenschichten, die beispielsweise die Reflektivität <strong>des</strong> Rückkontaktes<br />

verbessern. Seit einigen Jahren wird daran gearbeitet, das oft fluordotierte Zinndioxid (SnO2:F)<br />

in Dünnschichtsolarzellen auf der Basis <strong>des</strong> amorphen Siliziums durch Zinkoxid zu ersetzen<br />

[van den Berg et al. (1993), Löffl et al. (1997), Rech et al. (1997), Kluth et al. (1997), Anna<br />

Selvan (1998), Müller et al. (2001), Faÿ et al. (2004)].<br />

2.2 Zinkoxid<br />

Diese Arbeit beschäftigt sich mit der <strong>Untersuchung</strong> <strong>des</strong> TCO-Materials Zinkoxid, <strong>des</strong>sen physikalischen<br />

Eigenschaften im Folgenden vorgestellt werden. Viele Details zu den Eigenschaften<br />

<strong>von</strong> Zinkoxid geben die Überblicksarbeiten <strong>von</strong> Pearton et al. (2005), Hirschwald (1981) und<br />

Hartnagel et al. (1995) sowie, speziell für die elektronischen Eigenschaften, die Arbeit <strong>von</strong> Ellmer<br />

(2001).<br />

2.2.1 Kristallstruktur<br />

Zinkoxid kristallisiert in der Wurtzitstruktur, bei der die beiden beteiligten Atomsorten jeweils<br />

vierfach koordiniert sind. Abb. 2.1 zeigt die aus zwei überlagerten Hexagonalgittern bestehende<br />

Kristallstruktur. Die c-Achse ist die Symmetrieachse <strong>des</strong> hexagonalen Gitters. Beide Valenzelektronen<br />

<strong>des</strong> Zinks sind in einer Atombindung mit 50–60 % ionischem Bindungsanteil [Hirschwald<br />

(1981)] an den Sauerstoff gebunden. Die Struktur <strong>des</strong> Zinkoxids kann als eine Abfolge <strong>von</strong> atomaren<br />

Doppelschichten senkrecht <strong>zur</strong> c-Achse beschrieben werden. Die Doppelschichten bestehen<br />

aus je einer Lage Zink- und einer dazu versetzten Lage <strong>von</strong> Sauerstoffatomen. Innerhalb

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