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Test et Consommation des Circuits N é i P blé ti t Numériques ...

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ECOFAC 2010 – Plestin les Grèves Test et Consommation des Circuits NNumériques é i : PProblématique blé ti et t Solutions Patrick GIRARD LIRMM - UMR 5506 Université Montpellier 2 / CNRS Montpellier, France Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices P. Girard; N. Nicolici; X. Wen (Eds.) 390 p., 222 illus., Hardcover ISBN: 978-1-4419-0927-5 November 2009 Springer web site: http://www.springer.com/engineering/circuits+%26+systems/book/978- 1-4419-0927-5 1 2 1

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