08.08.2013 Views

Лекция 18 - Научно-образовательный центр по ...

Лекция 18 - Научно-образовательный центр по ...

Лекция 18 - Научно-образовательный центр по ...

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

Оптика наносистем<br />

Тимошенко Виктор Юрьевич<br />

Московский Государственный Университет<br />

им. М. В. Ломоносова, Физический факультет<br />

<strong>Научно</strong>-Образовательный Центр <strong>по</strong> нанотехнологиям


Содержание курса<br />

<strong>Лекция</strong> 1. Основные <strong>по</strong>нятия оптики конденсированных фаз вещества.<br />

<strong>Лекция</strong> 2. Взаимодействие света с металлами и диэлектриками.<br />

<strong>Лекция</strong> 3. Поглощение света в <strong>по</strong>лупроводниках.<br />

<strong>Лекция</strong> 4. Экситонное и примесное <strong>по</strong>глощение света.<br />

<strong>Лекция</strong> 5. Эмиссия излучения из твердых тел.<br />

<strong>Лекция</strong> 6. Оптические явления в неоднородных твердотельных системах.<br />

<strong>Лекция</strong> 7. Оптические свойства твердотельных наноком<strong>по</strong>зитов.<br />

<strong>Лекция</strong> 8. Фотонные кристаллы и микрорезонаторы.<br />

<strong>Лекция</strong> 9. Рассеяние света в твердых телах.<br />

Лекции 10,11. Влияние размеров тел на их оптические свойства.<br />

Лекции 12-14. Экситоны в <strong>по</strong>лупроводниковых наноструктурах.<br />

<strong>Лекция</strong> 15. Оптические свойства и применения <strong>по</strong>лупроводниковых<br />

наноструктур.<br />

<strong>Лекция</strong> 16. Элементы спиновой оптики и спинтроники.<br />

<strong>Лекция</strong> 17. Нелинейные оптические явления в твердотельных<br />

системах.<br />

<strong>Лекция</strong> <strong>18</strong>. Элементы нелинейной оптики наноструктур и<br />

наноком<strong>по</strong>зитов.


<strong>Лекция</strong> <strong>18</strong>.<br />

Элементы нелинейной оптики<br />

наносистем и наноком<strong>по</strong>зитов.<br />

Примеры наноструктурированнх сред и их<br />

эффективных оптических характеристик.<br />

Фактор локального <strong>по</strong>ля и нелинейная<br />

<strong>по</strong>ляризуемость среды. Механизмы усиления<br />

оптических нелинейностей в твердотельных<br />

наноком<strong>по</strong>зитах. Генерация оптических<br />

гармоник в анизотропных наноструктурах.<br />

Особенности фазового синхронизма в<br />

наноструктурах с двулучепреломлением<br />

формы. Фазовый синхронизм и генерация<br />

гармоник в фотонных кристаллах. Примеры<br />

применения фотонных кристаллов и<br />

анизотропных наноматериалов.


Пористый кремний какэффективная оптическая среда<br />

Пористый кремний может<br />

быть <strong>по</strong>лучен<br />

электрохимическим<br />

травлением<br />

(анодированием)<br />

монокристаллов кремния в<br />

растворах плавиковой<br />

кислоты (HF)<br />

Microporous<br />

Silicon<br />

20nm<br />

l visible light>> d Si,<br />

d pores<br />

Mesoporous Si<br />

300 nm<br />

12<br />

Dielectric<br />

constant<br />

1<br />

Пористый кремний с размерами<br />

нанокристаллов кремния от 1 до<br />

5 нм (микро<strong>по</strong>ристый кремний)<br />

и 5-50 нм (мезо<strong>по</strong>ристый<br />

кремний) может быть<br />

рассмотрен как эффективная<br />

оптическая среда для света<br />

видимого и ИК диапазонов<br />

спектра l > 400 нм<br />

100 nm<br />

10 nm 50 nm 100 nm<br />

eff ( Si , Pores , P )<br />

x


Porosity (%)<br />

Управление величиной <strong>по</strong>казателя<br />

преломления <strong>по</strong>ристого кремния<br />

80<br />

70<br />

60<br />

50<br />

40<br />

p-Si (10 mWcm)<br />

0 50 100 150 200 250 300<br />

Current Density (mA/cm 2 )<br />

W.Theiss, Surf. Sci. Rep. (1997).<br />

1.4<br />

1.6<br />

1.8<br />

2.0<br />

2.2<br />

2.4<br />

2.6<br />

Refractive index<br />

Приближение эффективной<br />

среды (модель Бругемана)<br />

P<br />

eff для неу<strong>по</strong>рядоченной<br />

гетерогенной смеси:<br />

d<br />

d<br />

<br />

eff<br />

<br />

2<br />

<br />

eff<br />

( 1<br />

P)<br />

Si<br />

Si<br />

где P- <strong>по</strong>ристость<br />

Показатель преломления: eff<br />

n <br />

<br />

eff<br />

<br />

2<br />

<br />

eff<br />

0


Флуктуации локального <strong>по</strong>ля как причина<br />

роста эффективной оптической нелинейности<br />

в наноструктурированных средах<br />

<br />

10<br />

eff<br />

1<br />

10 nm 50 nm 100 nm<br />

E(r) = [1+(r)] E a<br />

Среднее (эффективное) <strong>по</strong>ле:<br />

E a = = E ext/ eff<br />

Отклонения (флуктуации) от E a :<br />

=0, < 2 > 0<br />

Для ГВГ : < P(2) > (2) = (2) [1+2] E a 2<br />

N-я гармоника: < P(N) > = [1+ N ] E a N<br />

( N) ( N)<br />

2<br />

eff 1N <br />

x<br />

Эффективная нелинейная<br />

восприимчивость возрастает вследствие<br />

флуктуаций локального электрического<br />

<strong>по</strong>ля в наноструктурах тем больше, чем<br />

выше <strong>по</strong>рядок нелиейности.


TH intensity (arb. units)<br />

1.5<br />

1.0<br />

0.5<br />

0.0<br />

1.8<br />

1.2<br />

0.6<br />

0.0<br />

Генерация третьей гармоники в слоях <strong>по</strong>ристого<br />

кремния ориентации (110)<br />

[001] [110] <br />

s<br />

E()<br />

p<br />

s-polarized third harmonic<br />

PS<br />

25 mA/cm 2<br />

50 mA/cm 2<br />

100 mA/cm 2<br />

c-Si<br />

E( )<br />

p-polarized<br />

third harmonic<br />

0 30 60 90 120 150 <strong>18</strong>0 210<br />

Polarization angle (degree)<br />

ITHG<br />

Sample Porosity<br />

%<br />

Refractive<br />

index<br />

(no+ne)/2<br />

Birefringence<br />

n = no - ne<br />

c-Si 0 3.4 10 -5<br />

Nonlinearoptical<br />

anisotropy<br />

/ <br />

0.05<br />

PS 25<br />

mA/cm 2 65 1.74 0.08 0.14<br />

PS 50<br />

mA/cm 2 75 1.54 0.13 0.65<br />

PS 100<br />

mA/cm 2 82 1.50 0.15 0.68<br />

( 3)<br />

3 ( 3)<br />

Pi Ei 1111<br />

) Ei<br />

( E<br />

( 3)<br />

( 3)<br />

( 3)<br />

(<br />

(<br />

<br />

<br />

1111<br />

1212<br />

1221<br />

2<br />

3)<br />

1122<br />

3 ( 3)<br />

2<br />

( cos ( 1111<br />

) cos<br />

)<br />

Рост эффективности ГТГ и изменение<br />

анизотропии тензора коррелируют с<br />

величиной двулучеперломления при<br />

изменении <strong>по</strong>ристости слоя<br />

)<br />

( 3)<br />

1111


Оптическая анизотропия пленок <strong>по</strong>ристого<br />

кремния с ориентацией <strong>по</strong>верхности (100) и (110)<br />

c-Si (100)<br />

[100]<br />

Positive crystal ( ne > no )<br />

O p t i c a l a x i s<br />

[001]<br />

c-Si (110)<br />

[010]<br />

[110]<br />

Negative crystal ( no > ne )<br />

[100]


O p t i c a l<br />

a x i s<br />

Электронная микроскопия (110) слоев<br />

<strong>по</strong>ристого кремния<br />

Поры (светлые области) и кремниевые нанокристаллы (светлые области)<br />

имеют преимущественную ориентацию в плоскости слоя в направлениях<br />

[001] и [1`10]


ИК спектры двулучепреломляющих слоев<br />

<strong>по</strong>ристого кремния в не<strong>по</strong>ляризованном свете<br />

Transmittance, arb.units<br />

1.2<br />

1.0<br />

0.8<br />

0.6<br />

0.4<br />

0.2<br />

0.0<br />

Wavelength, mm<br />

1712 7 2<br />

1<br />

n1<br />

<br />

d( n n )<br />

1<br />

n 2 <br />

2d<br />

n n<br />

n 2<br />

n 1<br />

R<br />

1000 2000 3000 4000 5000<br />

o<br />

o<br />

e<br />

e<br />

Wavenumber, cm -1<br />

T<br />

d=16mm<br />

0.24<br />

0.20<br />

0.16<br />

0.12<br />

0.08<br />

0.04<br />

0.00<br />

Reflectance, arb.units<br />

n o = 1.76, n e = 1.58<br />

=(n o+n e)/2=1.67<br />

n=0.<strong>18</strong>


Refractive index<br />

n o -n e<br />

2.0<br />

1.8<br />

1.6<br />

1.4<br />

1.2<br />

0.4<br />

0.3<br />

0.2<br />

0.1<br />

0.0<br />

Влияние плотности тока травления на<br />

двулучепреломление <strong>по</strong>ристого кремния<br />

60%<br />

65%<br />

porosity<br />

n e<br />

n o<br />

80%<br />

25 50 75 100<br />

Current density, mA/cm 2<br />

For layers prepared<br />

at j =100 mA/cm 2 :<br />

Δn=0.24<br />

= (n o+n e)/2 = 1.3<br />

δn=Δn/ = 0.<strong>18</strong><br />

at l=1-10 μm<br />

medium Δn<br />

Crystalline Si 5 10 -6<br />

Iceland Spar(CaCO3) 0.15<br />

Por-Si (110) 0.24<br />

Анизотропные наноструктурированные слои <strong>по</strong>ристого кремния обладают сильным<br />

двулучепреломлением, большим, чем, например, в исландском шпате, и в более<br />

широком спектральном диапазоне !


Дисперсия <strong>по</strong>казателя преломления света в por-Si<br />

2<br />

2<br />

L 1/(<br />

1<br />

x ) [((<br />

1<br />

x)<br />

arcsin( 1<br />

x )) / 1<br />

x<br />

||<br />

P<br />

<br />

a<br />

o,<br />

e<br />

eff<br />

b<br />

<br />

M<br />

L<br />

o,<br />

e<br />

<br />

( <br />

x=a/b<br />

2L + L || = 1<br />

o,<br />

e<br />

eff<br />

M<br />

<br />

o,<br />

e<br />

eff<br />

M<br />

( 1<br />

P)<br />

o<br />

) <br />

eff<br />

, e<br />

<br />

L<br />

Si<br />

o,<br />

e<br />

<br />

( <br />

o,<br />

e<br />

eff<br />

Si<br />

Refractive Index<br />

2<br />

<br />

]<br />

o,<br />

e<br />

eff<br />

1.7 experiment<br />

Salzberg Eq.<br />

Bruggeman EMA<br />

1.6<br />

no 1.5<br />

1.4<br />

1.3<br />

0<br />

)<br />

0.5<br />

Generalized Bruggeman model (EMA):<br />

0.7<br />

1<br />

n e<br />

Wavelength (mm)<br />

2<br />

o,<br />

e<br />

o,<br />

e<br />

2<br />

For c-Si :<br />

o,<br />

e<br />

3<br />

4<br />

5<br />

6<br />

7<br />

2<br />

l Bo,<br />

e)<br />

Co,<br />

e<br />

n A K /( l<br />

2


Два типа синхронизма в отрицательном<br />

двулучепреломляющем кристалле<br />

Sin 2 <br />

E 2<br />

<strong>18</strong>0<br />

150<br />

210<br />

120<br />

240<br />

90<br />

270<br />

1 type (ooe):<br />

n e(2) = n o()<br />

60<br />

300<br />

E 1<br />

30<br />

330<br />

0<br />

Sin 4 2<br />

E 2<br />

<strong>18</strong>0<br />

150<br />

210<br />

2 type (oee):<br />

120<br />

240<br />

E 1<br />

n e(2) = 1/2(n o() + n e())<br />

90<br />

270<br />

60<br />

300<br />

30<br />

330<br />

0


Угловые зависимости фазовой расcтройки для ГВГ в слоях por-Si<br />

-1<br />

m<br />

m<br />

-1<br />

I kI, m m<br />

I kI,<br />

1,2<br />

1,0<br />

0,8<br />

0,6<br />

0,4<br />

1,0<br />

0,8<br />

0,6<br />

0,4<br />

0,2<br />

oee -interaction<br />

in ethanol (n = 1.36) in glycerol (n = 1.44)<br />

oee -interaction<br />

ooe -interaction<br />

Porous Si (110)<br />

P=60%<br />

0,2<br />

ooe -interaction<br />

0,0<br />

0 10 20 30 40 50 60<br />

Angle of incidence, deg<br />

P=65%<br />

0,0<br />

0 10 20 30 40 50 60<br />

Angle of incidence, deg<br />

in vacuum<br />

1,2<br />

1,0<br />

0,8<br />

0,6<br />

0,4<br />

0,2<br />

0,0<br />

0 10 20 30 40 50 60<br />

1,0<br />

0,8<br />

0,6<br />

0,4<br />

ooe -interaction<br />

oee -interaction<br />

oee -interaction<br />

0,2 ooe -interaction<br />

P=65%<br />

Angle of incidence, deg<br />

P=65%<br />

0,0<br />

0 10 20 30 40 50 60<br />

Angle of incidence, deg


SH intensity (arb. un.)<br />

Управление эффективностью генерации второй<br />

гармоники путем за<strong>по</strong>лнения <strong>по</strong>р диэлектрическими<br />

жидкостями<br />

100<br />

10<br />

1<br />

0.1<br />

ГВГ : = 2 0<br />

0.01<br />

-60 -40 -20 0 20 40 60<br />

angle of incidence (deg)<br />

l 0 =1,064 мкм<br />

SH Intensity (arb. units)<br />

10 0<br />

10 -1<br />

10 -2<br />

10 -3<br />

10 -3<br />

10 -2<br />

10 -1<br />

10 0<br />

Вследствие реализации условий фазового<br />

синхронизма для определенных углов падения света<br />

в <strong>по</strong>ристых матрицах, за<strong>по</strong>лненных молекулами<br />

воздуха или другим веществом (глицерином),<br />

интенсивность сигнала второй гармоники возрастает<br />

270<br />

300<br />

240<br />

330<br />

210<br />

Поры за<strong>по</strong>лнены:<br />

0<br />

<strong>18</strong>0<br />

30<br />

150<br />

глицерином<br />

воздухом<br />

=10 0<br />

60<br />

120<br />

90


k<br />

k<br />

2<br />

l<br />

ГТГ в окисленном <strong>по</strong>ристом кремнии в<br />

условиях фазового синхронизма<br />

ooe - e<br />

o<br />

3,<br />

e<br />

2 k1,<br />

o k1,<br />

e<br />

3n ( 3)<br />

2n<br />

( 3)<br />

n ( )<br />

<br />

e<br />

<br />

e<br />

o<br />

<br />

e<br />

В окисленном <strong>по</strong>ристом кремнии за счет перехода<br />

части кремниевых нанокристаллов в прозрачный<br />

оксид кремния при одновременном сохранении<br />

анизотропии формы (двулучепереломления)<br />

возможна генераций третьей гармоники (ГТГ) в<br />

условиях фазового синхронизма.<br />

k (mm -1 )<br />

0.15<br />

0.10<br />

0.05<br />

0.00<br />

-0.05<br />

-0.10<br />

@ 1.05 mm<br />

-0.15<br />

1.0 1.2 1.4 1.6 1.8 2.0<br />

Fundamental wavelength (mm)<br />

Phase matching


Генерация третьей гармоники<br />

Orientation<br />

dependence<br />

TH<br />

[001]<br />

OPS<br />

sample<br />

Fundamental<br />

Эксперимент<br />

TH signal (arb. units)<br />

10<br />

5<br />

0<br />

2<br />

0<br />

1<br />

Parallel polarization Perpendicular polarization<br />

0<br />

0 90 <strong>18</strong>0 270<br />

1.1 mm<br />

1.5 mm<br />

1.9 mm<br />

Azimuthal angle (degrees)<br />

x 0.4<br />

x 20<br />

0 90 <strong>18</strong>0 270 360


Current density (mA/cm 2 )<br />

Одномерные фотонные кристаллы на основе<br />

<strong>по</strong>ристого кремния<br />

100<br />

80<br />

60<br />

40<br />

20<br />

0<br />

c - S i<br />

0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100<br />

time (sec)<br />

Условие Брэгга:<br />

n 1d 1+n 2d 2=l/2<br />

Идеальное брэгговское зеркало<br />

12 pairs<br />

n 1=1.3, n 2=2


d<br />

Одномерные фотонные кристаллы на основе<br />

<strong>по</strong>ристого кремния<br />

Положение фотонных запрещенных<br />

зон зависит от толщин слоев и<br />

<strong>по</strong>казателей преломления:<br />

d 2<br />

d 1<br />

n 2<br />

n 1<br />

2 1 2 2<br />

( d n d n ) ml,<br />

m <br />

1,<br />

2,<br />

3,...<br />

Общий вид бокового скола 1D-фотонного<br />

кристалла из слоев <strong>по</strong>ристого кремния<br />

В сканирующем электронном микроскопе


Reflectivity<br />

1,0<br />

0,5<br />

0,0<br />

1,0<br />

0,5<br />

0,0<br />

1,0<br />

0,5<br />

Спектры отражения и дисперсия эффективного<br />

<strong>по</strong>казателя преломления 1D-фотонных<br />

кристаллов на основе a<strong>по</strong>ристого кремния<br />

Wavelength (mm)<br />

1,2 1 0,8 0,6 0,4<br />

(A)<br />

(B)<br />

(C)<br />

0,0<br />

8 11 14 17 20 23 26<br />

Wavenumber ( 10 3 cm -1 )<br />

Положение фотонной запрещенной<br />

зоны зависит от периода структуры,<br />

который различен для <strong>по</strong>казанных<br />

выше образцов А,В и С.<br />

При достаточно слабом <strong>по</strong>глощении,<br />

когда для коэффициента<br />

отражения при нормальном падении<br />

можно записать:<br />

n~ n<br />

R<br />

n eff<br />

n<br />

<br />

<br />

n<br />

eff<br />

eff<br />

Эффективный <strong>по</strong>казатель<br />

преломления для области вне<br />

фотонной запрещенной зоны :<br />

1<br />

<br />

1<br />

Величина волнового вектора<br />

будет зависеть как от частоты<br />

света (частотная дисперсия),<br />

так и от направления :<br />

1<br />

<br />

1<br />

<br />

k n<br />

c<br />

<br />

<br />

R<br />

R<br />

eff<br />

2


Угловые зависимости спектров отражения<br />

одномерных фотонных кристаллов на<br />

основе <strong>по</strong>ристого кремния<br />

d<br />

При увеличении угла падения<br />

уменьшается проекция периода<br />

структуры на направления<br />

светового луча, что приводит к<br />

сдвигу фотонной запрещенной<br />

зоны в коротковолновую<br />

область спектра.<br />

Изменяя угол падения<br />

излучения можно управлять<br />

дисперсией и значением<br />

величины волнового вектора.<br />

Reflectivity<br />

1,0 = 0 A<br />

0,8<br />

o<br />

= 30 o<br />

= 60 o<br />

0,6<br />

0,4<br />

0,2<br />

0,0<br />

Wavelength (mm)<br />

1,2 1 0,8 0,6 0,4<br />

10 15 20 25 30<br />

Wavenumber ( 10 3 cm -1 )<br />

1<br />

k( )<br />

neff<br />

( )<br />

<br />

c c 1<br />

R(<br />

)<br />

R(<br />

)


Реализация фазового синхронизма в<br />

одномерных фотонных кристаллах для ГВГ<br />

Зависимость фазовой расстройки<br />

от угла падения<br />

k/2 (mm -1 )<br />

0.05<br />

0.04<br />

0.03<br />

0.02<br />

0.01<br />

0.00 0.0<br />

-0.5<br />

-1.0<br />

-1.5<br />

-2.0<br />

0 20 40 60 80<br />

A<br />

B<br />

C<br />

0 20 40 60 80<br />

Angle of incidence (degree)<br />

SH Intensity (arb. units)<br />

<br />

k<br />

0.5<br />

<br />

<br />

2k k<br />

1<br />

Зависимость интенсивности<br />

сигнала второй гармоники от<br />

угла падения на образец<br />

1.5 A<br />

B<br />

1.0 C<br />

2<br />

0.0<br />

0 10 20 30 40 50 60 70<br />

Angle of incidence (degree)<br />

Наблюдается рост сигнала второй<br />

гармоники при углах падения,<br />

соответствующих минимуму<br />

фазовой растройки


Reflectance<br />

1.0<br />

0.8<br />

0.6<br />

0.4<br />

0.2<br />

Фотонные кристаллы с <strong>по</strong>ляризационно -<br />

перестраиваемой запрещенной зоной<br />

(дихроичные 1D-фотонные кристаллы)<br />

1.6 1.3 1<br />

Wavelength (mm)<br />

0.7<br />

E [001] (n o )<br />

E || [001] (n e )<br />

0.0<br />

6000 11000 16000 21000<br />

Wave number (cm -1 )<br />

l<br />

d 1,n 1<br />

d 2,n 2<br />

[110] [110]<br />

[001]<br />

E <br />

[010] [100]<br />

o,<br />

e<br />

2(<br />

d n d<br />

n<br />

o,<br />

e<br />

o,<br />

e<br />

Bragg 1 1 2 2<br />

)


Применения анизотропного <strong>по</strong>ристого кремния<br />

•Волновые пластинки (l/2, l/4 : l=0.5-8 μm и 12 μm →∞ )<br />

•Фазовосогласующие среды для генерации гармоник<br />

•Дихроичные зеркала<br />

•Плоские «окна Брюстера»<br />

l 1<br />

l 2<br />

l 2


Образцы дихроичных 1D-фотонных кристаллов<br />

из анизотропно-наноструктурированного<br />

кремния


Контрольные вопросы к<br />

Лекции <strong>18</strong>:<br />

• Каковы причины усиления оптических<br />

нелинейностей в твердотельных<br />

наноком<strong>по</strong>зитах?<br />

• Как зависит эффективность генерации<br />

оптических гармоник от свойств<br />

наноком<strong>по</strong>зитов?<br />

• От чего зависит <strong>по</strong>ложение фотонной<br />

запрещенной зоны структур на основе<br />

<strong>по</strong>ристого кремния?<br />

• Какие возможны применения фотонных<br />

кристаллов?

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!