Лекция 18 - Научно-образовательный центр по ...
Лекция 18 - Научно-образовательный центр по ...
Лекция 18 - Научно-образовательный центр по ...
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
Оптика наносистем<br />
Тимошенко Виктор Юрьевич<br />
Московский Государственный Университет<br />
им. М. В. Ломоносова, Физический факультет<br />
<strong>Научно</strong>-Образовательный Центр <strong>по</strong> нанотехнологиям
Содержание курса<br />
<strong>Лекция</strong> 1. Основные <strong>по</strong>нятия оптики конденсированных фаз вещества.<br />
<strong>Лекция</strong> 2. Взаимодействие света с металлами и диэлектриками.<br />
<strong>Лекция</strong> 3. Поглощение света в <strong>по</strong>лупроводниках.<br />
<strong>Лекция</strong> 4. Экситонное и примесное <strong>по</strong>глощение света.<br />
<strong>Лекция</strong> 5. Эмиссия излучения из твердых тел.<br />
<strong>Лекция</strong> 6. Оптические явления в неоднородных твердотельных системах.<br />
<strong>Лекция</strong> 7. Оптические свойства твердотельных наноком<strong>по</strong>зитов.<br />
<strong>Лекция</strong> 8. Фотонные кристаллы и микрорезонаторы.<br />
<strong>Лекция</strong> 9. Рассеяние света в твердых телах.<br />
Лекции 10,11. Влияние размеров тел на их оптические свойства.<br />
Лекции 12-14. Экситоны в <strong>по</strong>лупроводниковых наноструктурах.<br />
<strong>Лекция</strong> 15. Оптические свойства и применения <strong>по</strong>лупроводниковых<br />
наноструктур.<br />
<strong>Лекция</strong> 16. Элементы спиновой оптики и спинтроники.<br />
<strong>Лекция</strong> 17. Нелинейные оптические явления в твердотельных<br />
системах.<br />
<strong>Лекция</strong> <strong>18</strong>. Элементы нелинейной оптики наноструктур и<br />
наноком<strong>по</strong>зитов.
<strong>Лекция</strong> <strong>18</strong>.<br />
Элементы нелинейной оптики<br />
наносистем и наноком<strong>по</strong>зитов.<br />
Примеры наноструктурированнх сред и их<br />
эффективных оптических характеристик.<br />
Фактор локального <strong>по</strong>ля и нелинейная<br />
<strong>по</strong>ляризуемость среды. Механизмы усиления<br />
оптических нелинейностей в твердотельных<br />
наноком<strong>по</strong>зитах. Генерация оптических<br />
гармоник в анизотропных наноструктурах.<br />
Особенности фазового синхронизма в<br />
наноструктурах с двулучепреломлением<br />
формы. Фазовый синхронизм и генерация<br />
гармоник в фотонных кристаллах. Примеры<br />
применения фотонных кристаллов и<br />
анизотропных наноматериалов.
Пористый кремний какэффективная оптическая среда<br />
Пористый кремний может<br />
быть <strong>по</strong>лучен<br />
электрохимическим<br />
травлением<br />
(анодированием)<br />
монокристаллов кремния в<br />
растворах плавиковой<br />
кислоты (HF)<br />
Microporous<br />
Silicon<br />
20nm<br />
l visible light>> d Si,<br />
d pores<br />
Mesoporous Si<br />
300 nm<br />
12<br />
Dielectric<br />
constant<br />
1<br />
Пористый кремний с размерами<br />
нанокристаллов кремния от 1 до<br />
5 нм (микро<strong>по</strong>ристый кремний)<br />
и 5-50 нм (мезо<strong>по</strong>ристый<br />
кремний) может быть<br />
рассмотрен как эффективная<br />
оптическая среда для света<br />
видимого и ИК диапазонов<br />
спектра l > 400 нм<br />
100 nm<br />
10 nm 50 nm 100 nm<br />
eff ( Si , Pores , P )<br />
x
Porosity (%)<br />
Управление величиной <strong>по</strong>казателя<br />
преломления <strong>по</strong>ристого кремния<br />
80<br />
70<br />
60<br />
50<br />
40<br />
p-Si (10 mWcm)<br />
0 50 100 150 200 250 300<br />
Current Density (mA/cm 2 )<br />
W.Theiss, Surf. Sci. Rep. (1997).<br />
1.4<br />
1.6<br />
1.8<br />
2.0<br />
2.2<br />
2.4<br />
2.6<br />
Refractive index<br />
Приближение эффективной<br />
среды (модель Бругемана)<br />
P<br />
eff для неу<strong>по</strong>рядоченной<br />
гетерогенной смеси:<br />
d<br />
d<br />
<br />
eff<br />
<br />
2<br />
<br />
eff<br />
( 1<br />
P)<br />
Si<br />
Si<br />
где P- <strong>по</strong>ристость<br />
Показатель преломления: eff<br />
n <br />
<br />
eff<br />
<br />
2<br />
<br />
eff<br />
0
Флуктуации локального <strong>по</strong>ля как причина<br />
роста эффективной оптической нелинейности<br />
в наноструктурированных средах<br />
<br />
10<br />
eff<br />
1<br />
10 nm 50 nm 100 nm<br />
E(r) = [1+(r)] E a<br />
Среднее (эффективное) <strong>по</strong>ле:<br />
E a = = E ext/ eff<br />
Отклонения (флуктуации) от E a :<br />
=0, < 2 > 0<br />
Для ГВГ : < P(2) > (2) = (2) [1+2] E a 2<br />
N-я гармоника: < P(N) > = [1+ N ] E a N<br />
( N) ( N)<br />
2<br />
eff 1N <br />
x<br />
Эффективная нелинейная<br />
восприимчивость возрастает вследствие<br />
флуктуаций локального электрического<br />
<strong>по</strong>ля в наноструктурах тем больше, чем<br />
выше <strong>по</strong>рядок нелиейности.
TH intensity (arb. units)<br />
1.5<br />
1.0<br />
0.5<br />
0.0<br />
1.8<br />
1.2<br />
0.6<br />
0.0<br />
Генерация третьей гармоники в слоях <strong>по</strong>ристого<br />
кремния ориентации (110)<br />
[001] [110] <br />
s<br />
E()<br />
p<br />
s-polarized third harmonic<br />
PS<br />
25 mA/cm 2<br />
50 mA/cm 2<br />
100 mA/cm 2<br />
c-Si<br />
E( )<br />
p-polarized<br />
third harmonic<br />
0 30 60 90 120 150 <strong>18</strong>0 210<br />
Polarization angle (degree)<br />
ITHG<br />
Sample Porosity<br />
%<br />
Refractive<br />
index<br />
(no+ne)/2<br />
Birefringence<br />
n = no - ne<br />
c-Si 0 3.4 10 -5<br />
Nonlinearoptical<br />
anisotropy<br />
/ <br />
0.05<br />
PS 25<br />
mA/cm 2 65 1.74 0.08 0.14<br />
PS 50<br />
mA/cm 2 75 1.54 0.13 0.65<br />
PS 100<br />
mA/cm 2 82 1.50 0.15 0.68<br />
( 3)<br />
3 ( 3)<br />
Pi Ei 1111<br />
) Ei<br />
( E<br />
( 3)<br />
( 3)<br />
( 3)<br />
(<br />
(<br />
<br />
<br />
1111<br />
1212<br />
1221<br />
2<br />
3)<br />
1122<br />
3 ( 3)<br />
2<br />
( cos ( 1111<br />
) cos<br />
)<br />
Рост эффективности ГТГ и изменение<br />
анизотропии тензора коррелируют с<br />
величиной двулучеперломления при<br />
изменении <strong>по</strong>ристости слоя<br />
)<br />
( 3)<br />
1111
Оптическая анизотропия пленок <strong>по</strong>ристого<br />
кремния с ориентацией <strong>по</strong>верхности (100) и (110)<br />
c-Si (100)<br />
[100]<br />
Positive crystal ( ne > no )<br />
O p t i c a l a x i s<br />
[001]<br />
c-Si (110)<br />
[010]<br />
[110]<br />
Negative crystal ( no > ne )<br />
[100]
O p t i c a l<br />
a x i s<br />
Электронная микроскопия (110) слоев<br />
<strong>по</strong>ристого кремния<br />
Поры (светлые области) и кремниевые нанокристаллы (светлые области)<br />
имеют преимущественную ориентацию в плоскости слоя в направлениях<br />
[001] и [1`10]
ИК спектры двулучепреломляющих слоев<br />
<strong>по</strong>ристого кремния в не<strong>по</strong>ляризованном свете<br />
Transmittance, arb.units<br />
1.2<br />
1.0<br />
0.8<br />
0.6<br />
0.4<br />
0.2<br />
0.0<br />
Wavelength, mm<br />
1712 7 2<br />
1<br />
n1<br />
<br />
d( n n )<br />
1<br />
n 2 <br />
2d<br />
n n<br />
n 2<br />
n 1<br />
R<br />
1000 2000 3000 4000 5000<br />
o<br />
o<br />
e<br />
e<br />
Wavenumber, cm -1<br />
T<br />
d=16mm<br />
0.24<br />
0.20<br />
0.16<br />
0.12<br />
0.08<br />
0.04<br />
0.00<br />
Reflectance, arb.units<br />
n o = 1.76, n e = 1.58<br />
=(n o+n e)/2=1.67<br />
n=0.<strong>18</strong>
Refractive index<br />
n o -n e<br />
2.0<br />
1.8<br />
1.6<br />
1.4<br />
1.2<br />
0.4<br />
0.3<br />
0.2<br />
0.1<br />
0.0<br />
Влияние плотности тока травления на<br />
двулучепреломление <strong>по</strong>ристого кремния<br />
60%<br />
65%<br />
porosity<br />
n e<br />
n o<br />
80%<br />
25 50 75 100<br />
Current density, mA/cm 2<br />
For layers prepared<br />
at j =100 mA/cm 2 :<br />
Δn=0.24<br />
= (n o+n e)/2 = 1.3<br />
δn=Δn/ = 0.<strong>18</strong><br />
at l=1-10 μm<br />
medium Δn<br />
Crystalline Si 5 10 -6<br />
Iceland Spar(CaCO3) 0.15<br />
Por-Si (110) 0.24<br />
Анизотропные наноструктурированные слои <strong>по</strong>ристого кремния обладают сильным<br />
двулучепреломлением, большим, чем, например, в исландском шпате, и в более<br />
широком спектральном диапазоне !
Дисперсия <strong>по</strong>казателя преломления света в por-Si<br />
2<br />
2<br />
L 1/(<br />
1<br />
x ) [((<br />
1<br />
x)<br />
arcsin( 1<br />
x )) / 1<br />
x<br />
||<br />
P<br />
<br />
a<br />
o,<br />
e<br />
eff<br />
b<br />
<br />
M<br />
L<br />
o,<br />
e<br />
<br />
( <br />
x=a/b<br />
2L + L || = 1<br />
o,<br />
e<br />
eff<br />
M<br />
<br />
o,<br />
e<br />
eff<br />
M<br />
( 1<br />
P)<br />
o<br />
) <br />
eff<br />
, e<br />
<br />
L<br />
Si<br />
o,<br />
e<br />
<br />
( <br />
o,<br />
e<br />
eff<br />
Si<br />
Refractive Index<br />
2<br />
<br />
]<br />
o,<br />
e<br />
eff<br />
1.7 experiment<br />
Salzberg Eq.<br />
Bruggeman EMA<br />
1.6<br />
no 1.5<br />
1.4<br />
1.3<br />
0<br />
)<br />
0.5<br />
Generalized Bruggeman model (EMA):<br />
0.7<br />
1<br />
n e<br />
Wavelength (mm)<br />
2<br />
o,<br />
e<br />
o,<br />
e<br />
2<br />
For c-Si :<br />
o,<br />
e<br />
3<br />
4<br />
5<br />
6<br />
7<br />
2<br />
l Bo,<br />
e)<br />
Co,<br />
e<br />
n A K /( l<br />
2
Два типа синхронизма в отрицательном<br />
двулучепреломляющем кристалле<br />
Sin 2 <br />
E 2<br />
<strong>18</strong>0<br />
150<br />
210<br />
120<br />
240<br />
90<br />
270<br />
1 type (ooe):<br />
n e(2) = n o()<br />
60<br />
300<br />
E 1<br />
30<br />
330<br />
0<br />
Sin 4 2<br />
E 2<br />
<strong>18</strong>0<br />
150<br />
210<br />
2 type (oee):<br />
120<br />
240<br />
E 1<br />
n e(2) = 1/2(n o() + n e())<br />
90<br />
270<br />
60<br />
300<br />
30<br />
330<br />
0
Угловые зависимости фазовой расcтройки для ГВГ в слоях por-Si<br />
-1<br />
m<br />
m<br />
-1<br />
I kI, m m<br />
I kI,<br />
1,2<br />
1,0<br />
0,8<br />
0,6<br />
0,4<br />
1,0<br />
0,8<br />
0,6<br />
0,4<br />
0,2<br />
oee -interaction<br />
in ethanol (n = 1.36) in glycerol (n = 1.44)<br />
oee -interaction<br />
ooe -interaction<br />
Porous Si (110)<br />
P=60%<br />
0,2<br />
ooe -interaction<br />
0,0<br />
0 10 20 30 40 50 60<br />
Angle of incidence, deg<br />
P=65%<br />
0,0<br />
0 10 20 30 40 50 60<br />
Angle of incidence, deg<br />
in vacuum<br />
1,2<br />
1,0<br />
0,8<br />
0,6<br />
0,4<br />
0,2<br />
0,0<br />
0 10 20 30 40 50 60<br />
1,0<br />
0,8<br />
0,6<br />
0,4<br />
ooe -interaction<br />
oee -interaction<br />
oee -interaction<br />
0,2 ooe -interaction<br />
P=65%<br />
Angle of incidence, deg<br />
P=65%<br />
0,0<br />
0 10 20 30 40 50 60<br />
Angle of incidence, deg
SH intensity (arb. un.)<br />
Управление эффективностью генерации второй<br />
гармоники путем за<strong>по</strong>лнения <strong>по</strong>р диэлектрическими<br />
жидкостями<br />
100<br />
10<br />
1<br />
0.1<br />
ГВГ : = 2 0<br />
0.01<br />
-60 -40 -20 0 20 40 60<br />
angle of incidence (deg)<br />
l 0 =1,064 мкм<br />
SH Intensity (arb. units)<br />
10 0<br />
10 -1<br />
10 -2<br />
10 -3<br />
10 -3<br />
10 -2<br />
10 -1<br />
10 0<br />
Вследствие реализации условий фазового<br />
синхронизма для определенных углов падения света<br />
в <strong>по</strong>ристых матрицах, за<strong>по</strong>лненных молекулами<br />
воздуха или другим веществом (глицерином),<br />
интенсивность сигнала второй гармоники возрастает<br />
270<br />
300<br />
240<br />
330<br />
210<br />
Поры за<strong>по</strong>лнены:<br />
0<br />
<strong>18</strong>0<br />
30<br />
150<br />
глицерином<br />
воздухом<br />
=10 0<br />
60<br />
120<br />
90
k<br />
k<br />
2<br />
l<br />
ГТГ в окисленном <strong>по</strong>ристом кремнии в<br />
условиях фазового синхронизма<br />
ooe - e<br />
o<br />
3,<br />
e<br />
2 k1,<br />
o k1,<br />
e<br />
3n ( 3)<br />
2n<br />
( 3)<br />
n ( )<br />
<br />
e<br />
<br />
e<br />
o<br />
<br />
e<br />
В окисленном <strong>по</strong>ристом кремнии за счет перехода<br />
части кремниевых нанокристаллов в прозрачный<br />
оксид кремния при одновременном сохранении<br />
анизотропии формы (двулучепереломления)<br />
возможна генераций третьей гармоники (ГТГ) в<br />
условиях фазового синхронизма.<br />
k (mm -1 )<br />
0.15<br />
0.10<br />
0.05<br />
0.00<br />
-0.05<br />
-0.10<br />
@ 1.05 mm<br />
-0.15<br />
1.0 1.2 1.4 1.6 1.8 2.0<br />
Fundamental wavelength (mm)<br />
Phase matching
Генерация третьей гармоники<br />
Orientation<br />
dependence<br />
TH<br />
[001]<br />
OPS<br />
sample<br />
Fundamental<br />
Эксперимент<br />
TH signal (arb. units)<br />
10<br />
5<br />
0<br />
2<br />
0<br />
1<br />
Parallel polarization Perpendicular polarization<br />
0<br />
0 90 <strong>18</strong>0 270<br />
1.1 mm<br />
1.5 mm<br />
1.9 mm<br />
Azimuthal angle (degrees)<br />
x 0.4<br />
x 20<br />
0 90 <strong>18</strong>0 270 360
Current density (mA/cm 2 )<br />
Одномерные фотонные кристаллы на основе<br />
<strong>по</strong>ристого кремния<br />
100<br />
80<br />
60<br />
40<br />
20<br />
0<br />
c - S i<br />
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100<br />
time (sec)<br />
Условие Брэгга:<br />
n 1d 1+n 2d 2=l/2<br />
Идеальное брэгговское зеркало<br />
12 pairs<br />
n 1=1.3, n 2=2
d<br />
Одномерные фотонные кристаллы на основе<br />
<strong>по</strong>ристого кремния<br />
Положение фотонных запрещенных<br />
зон зависит от толщин слоев и<br />
<strong>по</strong>казателей преломления:<br />
d 2<br />
d 1<br />
n 2<br />
n 1<br />
2 1 2 2<br />
( d n d n ) ml,<br />
m <br />
1,<br />
2,<br />
3,...<br />
Общий вид бокового скола 1D-фотонного<br />
кристалла из слоев <strong>по</strong>ристого кремния<br />
В сканирующем электронном микроскопе
Reflectivity<br />
1,0<br />
0,5<br />
0,0<br />
1,0<br />
0,5<br />
0,0<br />
1,0<br />
0,5<br />
Спектры отражения и дисперсия эффективного<br />
<strong>по</strong>казателя преломления 1D-фотонных<br />
кристаллов на основе a<strong>по</strong>ристого кремния<br />
Wavelength (mm)<br />
1,2 1 0,8 0,6 0,4<br />
(A)<br />
(B)<br />
(C)<br />
0,0<br />
8 11 14 17 20 23 26<br />
Wavenumber ( 10 3 cm -1 )<br />
Положение фотонной запрещенной<br />
зоны зависит от периода структуры,<br />
который различен для <strong>по</strong>казанных<br />
выше образцов А,В и С.<br />
При достаточно слабом <strong>по</strong>глощении,<br />
когда для коэффициента<br />
отражения при нормальном падении<br />
можно записать:<br />
n~ n<br />
R<br />
n eff<br />
n<br />
<br />
<br />
n<br />
eff<br />
eff<br />
Эффективный <strong>по</strong>казатель<br />
преломления для области вне<br />
фотонной запрещенной зоны :<br />
1<br />
<br />
1<br />
Величина волнового вектора<br />
будет зависеть как от частоты<br />
света (частотная дисперсия),<br />
так и от направления :<br />
1<br />
<br />
1<br />
<br />
k n<br />
c<br />
<br />
<br />
R<br />
R<br />
eff<br />
2
Угловые зависимости спектров отражения<br />
одномерных фотонных кристаллов на<br />
основе <strong>по</strong>ристого кремния<br />
d<br />
При увеличении угла падения<br />
уменьшается проекция периода<br />
структуры на направления<br />
светового луча, что приводит к<br />
сдвигу фотонной запрещенной<br />
зоны в коротковолновую<br />
область спектра.<br />
Изменяя угол падения<br />
излучения можно управлять<br />
дисперсией и значением<br />
величины волнового вектора.<br />
Reflectivity<br />
1,0 = 0 A<br />
0,8<br />
o<br />
= 30 o<br />
= 60 o<br />
0,6<br />
0,4<br />
0,2<br />
0,0<br />
Wavelength (mm)<br />
1,2 1 0,8 0,6 0,4<br />
10 15 20 25 30<br />
Wavenumber ( 10 3 cm -1 )<br />
1<br />
k( )<br />
neff<br />
( )<br />
<br />
c c 1<br />
R(<br />
)<br />
R(<br />
)
Реализация фазового синхронизма в<br />
одномерных фотонных кристаллах для ГВГ<br />
Зависимость фазовой расстройки<br />
от угла падения<br />
k/2 (mm -1 )<br />
0.05<br />
0.04<br />
0.03<br />
0.02<br />
0.01<br />
0.00 0.0<br />
-0.5<br />
-1.0<br />
-1.5<br />
-2.0<br />
0 20 40 60 80<br />
A<br />
B<br />
C<br />
0 20 40 60 80<br />
Angle of incidence (degree)<br />
SH Intensity (arb. units)<br />
<br />
k<br />
0.5<br />
<br />
<br />
2k k<br />
1<br />
Зависимость интенсивности<br />
сигнала второй гармоники от<br />
угла падения на образец<br />
1.5 A<br />
B<br />
1.0 C<br />
2<br />
0.0<br />
0 10 20 30 40 50 60 70<br />
Angle of incidence (degree)<br />
Наблюдается рост сигнала второй<br />
гармоники при углах падения,<br />
соответствующих минимуму<br />
фазовой растройки
Reflectance<br />
1.0<br />
0.8<br />
0.6<br />
0.4<br />
0.2<br />
Фотонные кристаллы с <strong>по</strong>ляризационно -<br />
перестраиваемой запрещенной зоной<br />
(дихроичные 1D-фотонные кристаллы)<br />
1.6 1.3 1<br />
Wavelength (mm)<br />
0.7<br />
E [001] (n o )<br />
E || [001] (n e )<br />
0.0<br />
6000 11000 16000 21000<br />
Wave number (cm -1 )<br />
l<br />
d 1,n 1<br />
d 2,n 2<br />
[110] [110]<br />
[001]<br />
E <br />
[010] [100]<br />
o,<br />
e<br />
2(<br />
d n d<br />
n<br />
o,<br />
e<br />
o,<br />
e<br />
Bragg 1 1 2 2<br />
)
Применения анизотропного <strong>по</strong>ристого кремния<br />
•Волновые пластинки (l/2, l/4 : l=0.5-8 μm и 12 μm →∞ )<br />
•Фазовосогласующие среды для генерации гармоник<br />
•Дихроичные зеркала<br />
•Плоские «окна Брюстера»<br />
l 1<br />
l 2<br />
l 2
Образцы дихроичных 1D-фотонных кристаллов<br />
из анизотропно-наноструктурированного<br />
кремния
Контрольные вопросы к<br />
Лекции <strong>18</strong>:<br />
• Каковы причины усиления оптических<br />
нелинейностей в твердотельных<br />
наноком<strong>по</strong>зитах?<br />
• Как зависит эффективность генерации<br />
оптических гармоник от свойств<br />
наноком<strong>по</strong>зитов?<br />
• От чего зависит <strong>по</strong>ложение фотонной<br />
запрещенной зоны структур на основе<br />
<strong>по</strong>ристого кремния?<br />
• Какие возможны применения фотонных<br />
кристаллов?