EspectroscopÃa de electrones fotoemitidos (X-ray ... - CNyN - UNAM

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PRIMERA SEMANA DE CIENCIA, TECNOLOGÍA Y CULTURA CICATA-ALTAMIRA Ejemplos de cuantificación: II Tabla II: Comparación de las concentraciones obtenidas por XPS y EPMA (SEM+EDS) para algunos minerales. Sección eficaz de fotoionización (σ i ) de Scofield Wencel De La Cruz Centro de Nanociencias y Nanotecnología de la UNAM. Pag. 14
PRIMERA SEMANA DE CIENCIA, TECNOLOGÍA Y CULTURA CICATA-ALTAMIRA Error en la cuantificación I i = El error principal que se comete durante la medición de la intensidad es debida a la mala substracción del background. σ i = Valores calculados teóricamente (se desconoce su magnitud). λ i = el error estimado puede ser de hasta un 50%. Asimetría de las picos de emisión La probabilidad de que un fotoelectrón salga en la dirección en la que se encuentra el analizador de electrones, requiere de la definición del término anisotrópico L, la cual está dada por la siguiente expresión (fuente no monocromática). L 3 ⎜ ⎝ 2 ⎛ ⎞ ( γ ) = 1+ 0.5β sen 2 γ −1⎟ ⎠ β es una constante para cada nivel de energía. γ es el ángulo entre la fuente de rayos x y el analizador. La ecuación anterior implica la existencia de un ángulo mágico de 54.7 grados, para el cual L es igual a 1 I ≈ I 0σλMED ( E) T ( E) ρ a L( γ ) Wencel De La Cruz Centro de Nanociencias y Nanotecnología de la UNAM. Pag. 15
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