Espectroscopía de electrones fotoemitidos (X-ray ... - CNyN - UNAM

PRIMERA SEMANA DE CIENCIA, TECNOLOGÍA Y CULTURA
CICATA-ALTAMIRA
Background:
dispersiones inelásticas
Tougaard desarrolló un
procedimiento de ajuste a la
“cola” inelástica, la cual da
información de la
morfología de las capas
superficiales. Tal como, el
recubrimiento, alturas de
partículas (o películas)
Análisis de espectros XPS usando QUASES
• La cuantificación tradicional por XPS asume que:
• El área de análisis es homogénea.
• La concentración atómica superficial es directamente
proporcional a la intensidad del pico.
• Para una mayor exactitud en la cuantificación se debería
tener en cuenta la intensidad del pico, la forma del pico y la
energía del background.
• En XPS los electrones detectados resultan de dos
procesos:
• Los electrones intrínseco (los fotoelectrones).
• Los electrones extrínsecos (los fotoelectrones
dispersados inelásticamente).
• Los electrones extrínsecos dependen fuertemente de la
profundidad a la que fueron emitidos y de la distribución lateral.
• La figura muestra un cálculo teórico de la porción extrínseca
del espectro 2p de Cu, como una función de la posición y
distribución de los átomos de Cu en una cierta matriz.
Wencel De La Cruz
Centro de Nanociencias y Nanotecnología de la UNAM.
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