Avtomatizirana analiza - Univerza v Ljubljani

Predavatelj: prof. dr. Boris Pihlar
Univerza v Ljubljani
Fakulteta za kemijo in kemijsko tehnologijo
Univerzitetni študijski program Kemija
Izbirni sklop analizna in anorganska kemija
Avtomatizirana analiza
Seminar 2010
Seminarska naloga je izdelana v okviru študijskih obvez dodiplomskega izbirnega predmeta Avtomatizirana analiza
(30-0641). Delo ni lektorirano ali vsebinsko korigirano s strani predavatelja ali drugih univerzitetnih inštitucij. Avtor in
inštitucija ne jamčita za pravilnost podatkov in navedb ter ne izključujeta možnosti, da so v objavljenem gradivu
napake ali druge nepravilnosti.
Gradivo predstavljeno v tem delu je avtorska lastnina, oziroma last navedenih virov, iz katerih je bilo povzeto.

FAKULTETA ZA KEMIJO IN KEMIJSKO TEHNOLOGIJO
NANAŠANJE PIKOLITERSKIH KAPLJIC Z UPORABO
PIKOLITERSKE PIPETE: KONTROLNI PARAMETRI IN APLIKACIJE
V MXRF
Seminarska naloga pri predmetu avtomatizirana analiza, naloga je povzeta po članku:
Picoliter Droplet Deposition Using a Prototype Picoliter Pipette: Control Parameters and
Application in Micro X-ray Fluorescence (Fittschen U. E. A.; Havrilla G. J.)
Pripravila: Andreja Kunc
Profesor: Prof. dr. Boris Pihlar
Maj, 2010

UVOD................................................................................................................................................. 3
REZULTATI IN DISKUSIJA..................................................................................................................... 4
1. IZHLAPEVANJE........................................................................................................................ 4
2. KARAKTERIZACIJA SUHIH OSTANKOV...................................................................................... 5
2.1. VELIKOST ........................................................................................................................ 5
2.2. OBLIKA............................................................................................................................ 7
2.3. ELEMENTNA PORAZDELITEV............................................................................................ 8
3. MXRF...................................................................................................................................... 8
3.1. LINEARNI ODZIV.............................................................................................................. 8
3.2. UPORABA RAZLIČNIH SUBSTRATOV................................................................................. 9
3.3. MEJA DETEKCIJE............................................................................................................ 10
4. PRIMERJAVA MED PIKAMI GENERIRANIMI S TIPS IN Z NIST 1833 IN 1832 ............................. 10
ZAKLJUČEK ....................................................................................................................................... 12
LITERATURA..................................................................................................................................... 13
2 (13)

UVOD
V članku je predstavljen Hewlett-Packard-ov prototip pikoliterske pipete, ki služi v analitske namene.
Tehnologija brizganja (inkjet) je široko uporabljana v nanotehnologiji, biotehnologiji in pri raziskavah
elektronskih naprav. Več različic tehnologije brizganja je bilo uspešno uporabljenih na teh področjih.
Čeprav ima ta način nanašanja več prednosti pri naštetih aplikacijah, pa ni bil sistematično ocenjen za
analitske aplikacije.
Uporaba modificiranih brizgalnih tiskalnikov je omejila nadzor nad porabo energije in časa, ki
spremlja proces nastajanja kapljice. Zato natančnejše vrednotenje parametrov, ki spremenijo
rezultat, ni bilo mogoče. To omejitev so avtorji članka presegli z uporabo HP-jevega prototipa
pikoliterske pipete, ki temelji na termalni »inkjet« tehnologiji HP-jevih tiskalnikov (thermal inkjet
picofluidic system – v nadaljevanju TIPS). Ta naprava omogoča kontrolo energije in časa. Avtorji
članka so z uporabo tega sistema pokazali, da je izhlapevanje pomemben parameter pri kontroli
količine analita, ki smo ga nanesli. Seveda pa veliko parametrov še vedno ostaja neraziskanih.
MXRF (micro X-ray fluorescence) je danes zelo zaželjena tehnika, saj je nedestruktivna, priprava
vzorca pa ni zahtevna. Uporabljajo jo na več področjih, v medicini, biologiji in pri analizah objektov, ki
so del kulturne dediščine. Morda najbolj poznana uporaba MXRF pa je pri določanju prstnih odtisov.
Kljub vsestranski uporabi pa največji problem predstavlja pomankanje kalibracijskih metod in
materialov, zato so to tehniko lahko opredelili le kot semikvantitativno. Standardi ki so bili do sedaj v
uporabi so bile npr. folije, na katere je nanešen en sam element, ali pa tanke plasti, ki vsebujejo okoli
sedem elementov (NIST 1832 in 1833). Seveda pa se je vedno pojavil problem pri primerjavi vzorca z
elementno sestavo, ki je drugačna od tiste na standardu.
Avtorji članka, ki ga predstavljam so količino nanešenega vzorca s TIPS določili z MXRF. Pokazali so, da
MXRF zagotavlja zadostno natančnost, da lahko detektiramo tudi pikogramske količine elementov,
posledično lahko nanosi narejeni s TIPS služijo kot referenca pri MXRF. To pa, glede na malo
komercialno dostopnih mikro-homogenih referenc, pomeni velik napredek.
3 (13)

REZULTATI IN DISKUSIJA
1. IZHLAPEVANJE
Rezultati kažejo, da ima izhlapevanje glavni vpliv na natančnost rezultatov pri uporabi »TIPS«. Opazili
so, da se tako velikost nanosa, kot tudi odziv z MXRF spreminja glede na »tihi« čas (čas brizganja
kapljice). Daljši ko je čas, večji je nanos. Opazili so tudi, da sta intenziteta in premer prvega nanosa
vedno večja od vseh naslednjih, če se vmes ne očisti šobe. Da bi potrdili ta opažanja, so avtorji članka
natančno preiskali območja, ki so jih natisnili s tihim časom 1000 milisekund in 77 milisekund.
Uporabili so nikljeve raztopine. Krajši, ko je bil tihi čas, manjša je bila intenziteta nanosov opazovanih
z MXRF. Ta pojav lahko razložimo z izhlapevanjem topila (najpogosteje vode) med tihim časom. Manj
topila namreč vodi do povečane koncentacije raztopine elementa v šobi in zato tudi do višjih signalov
pri MXRF analizi. Ta hipoteza je bila potrjena še z dodatnimi analizami: brizganje vzorcev so izvedli pri
različnih relativnih vlažnostih. Rezultati, ki jih je dala MXRF analiza so na slikah 1 in 2.
Nanosi z dolgim tihim časom (1s) nam kažejo dve značilnosti: količina nanešenega Ni narašča od prve
nanešene kapljice pa do zadnje, manjša pa se z večanjem relativne vlažnosti. Nanosi s krajšim tihim
časom pa nam dajejo manjše intenzitete. Naraščanje signala z številom nanosov ni bilo opaženo,
razlike intenzitet nanosov pri različnih relativnih vlažnostih pa so prav tako zanemarljive.
Slika 1: Slike Ni Kα flourescence nanosov na ultralenski film. Nanešen je bil Ni s koncentracijo 10 g/L,
volumen kapljice je bil 10 pL v skupinah 10 x 10. Zgornje slike prikazijejo rezultate pri tihem času 1000
ms, spodnje pa pri 77 ms. Relativna vlažnost narašča od leve proti desni (18%, 35%, 65% in 99%).
4 (13)

Slika 2: Signali sedmih nanosov znotraj skupine (1, 9, 19, 29, 60, 89 in99). Modri rombi – 1000 ms in
18%, roza kvadrati – 1000 ms in 35%, rumeni trikotniki – 1000 ms in 65%, svetlomodri križi – 1000 ms
in 99%. 77 ms: vijolična – 18%, rjava – 35%, zelena – 65% in modra – 99%.
V suhi atmosferi postaneta izhlapevanje topila iz šobe in čas med brizganjem pomembna. Hitrejše ko
je vbrizgavanje, manj se izgubi topila zaradi izhlapevanja.
Iz opisanega je jasno, da izhlapevanje znatno vpliva na analizo. Intenziteta nanosa s tihim časom 1000
ms, pri relativni vlažnosti 18% je bila kar 3 krat višja od nanosa s tihim časom 77 ms. Trikatno
povečanje intenzitete pa odraža trikratno povečanje koncentracije. Če bi torej tihi čas povečali na
nekaj minut, bi to pomenilo povečanje koncentracije za kar desetkrat.
Da bi obdržali izhlapevanje pod nadzorom, bi morali povečati relativno vlažnost. Redki laboratoriji so
opremljeni s komorami za nadzor relativne vlažnosti, poleg tega pa bi velik problem povzročali tudi
korozija in nastajanje aerosola, ki bi lahko kontaminiral vzorce. Torej je najbolj priročen parameter, s
katerim bi zreducirali izhlapevanje, zmanjšanje tihega časa.
V ta namen so brizgali vzorce z različnimi tihimi časi. Ugotovili so, da ni bistvenih razlik v intenzitetah,
tako v suhi kot v vlažni atmosferi, če je tihi čas največ 130 ms.
2. KARAKTERIZACIJA SUHIH OSTANKOV
Velikost suhih ostankov je pomembna lastnost, ki nam pomaga pri razumevanju analitskega
rezultata. Ko ti ostanki služijo kot referenčni material, nam bo njihova velikost povedala, ali za analizo
lahko uporabimo celoten vzorec ali pa le del. V članku so raziskovali premer, obliko in elementno
porazdelitev nanosov.
2.1. VELIKOST
Velikost suhih ostankov so raziskovali s pomočjo svetlobnega mikroskopa. Nanosi so vsebovali 2040,
1020, 408, 204, 102, 20.4, 10.2 in 2 pg niklja. Raztopine so bile naslednjih koncentracij: 10, 5, 2, 1,
0.1, 0.05 in 0.01 g/L, nanašali pa so jih v volumnih po 204 pL na polipropilenski film. Za primerjavo so
5 (13)

eno od koncentacij (10 g/L) nanesli v različnih volumnih in so tako dosegli različne količine niklja v
nanosih. Rezultati so predstavljeni na sliki 3.
Slika 3: Premer suhih ostankov (določen iz 6-10 pik) proti absolutni vsebnosti niklja. Roza kvadati
prikazujejo konstanten volumen nanosa, modri rombi pa konstantno koncentracijo.
Graf nam razkrije logaritemsko odvisnost premera od količine nanosa. Vidimo tudi, da se premeri ne
razlikujejo bistveno pri nanašanju s konstantnim volumnom oz. s konstantno koncentracijo. Samo pri
najmanjši količini nanosa niklja je opaziti bistveno razliko, premer je namreč pri seriji s konstantnim
volumnom (204 pL) večji.
Velikost suhih ostankov zavisi tudi od lastnosti in hrapavosti površine substrata, na katerega
nanašamo elemente. Da bi si razjasnili tudi to, so nikljeve raztopine nanašali na različne substrate.
Uporabili so: ultralenski film, AP1 film, akrilno steklo in Si-ploščico. Poleg tega, bi na velikost suhega
ostanka lahko vplival tudi volumen kapljice, zato so isto količino niklja nanesli z 204 in 10 pL šobo na
isti substrat. Rezultati so podani na sliki 4.
100 pg- 100 pg- 100 pg- 100 pg- 100 pg- 10 pg- 10 pg-
10 pL- 10 pL- 10 pL- 10 pL- 204 pL- 204 pL- 10 pL-
Si-ploščica akrilno steklo ultralen Ap1 Ap1 Ap1 ultralen
Slika 4: Premer suhih nanosov brizganih v volumnih 204 in 10 pL na različnih substratih.
6 (13)

Rezultati nam razkrijejo, da so suhi nanosi na Si-ploščici večjih premerov kot na polimernih filmih.
Tudi nanosi na akrilnem steklu so večji kot nanosi na polimernih filmih. Ta pojav lahko razložimo z
različnimi kemijskimi lastnostmi substratov. Si-ploščica je prekrita s Si-oksidno plastjo, ki je dokaj
hidrofilna. Akrilno steklo je polimer metil metakrilata, ki je manj hidrofoben kot polipropilenski film,
zaradi esterske skupine. Kamijske lastnosti substrata imajo torej velik vpliv na velikost suhega
ostanka – kapljica hidrofilno površino dobro omoči in se torej bolj razširi.
Skoraj pa ne opazimo razlike, če 100 pg niklja nanesemo na površino v volumnu 10 pL ali pa v
volumnu 204 pL, je pa premer 10 pg niklja nanešenega z 10 ali 204 pL manjši, kar se ujema z rezultati,
ki smo jih že spoznali na sliki 3. Ta lastnost bi se verjetno spremenila, če bi npr. 100 pg nanesli v veliko
večjem volumnu (100 nL).
2.2. OBLIKA
Debelino in obliko suhega ostanka so določili na nikljevih nanosih na Si ploščici, v volumnu 10 pL so
nanesli koncentracije: 0.01, 0.05, 0.1, 0.5, 1, 2, 5 in 10 g/L, uporabili so AFM (atomic force
microscopy). Rezultati so predstavljeni na sliki 5. Na sliki 6a je prikazana slika nanosa 0,1 pg niklja, na
sliki 6b pa višinski profil le tega.
Slika 5: Povprečna višina nanosa (µg) proti količini niklja (pg).
a b
Slika 6: Nikljev nanos (0,1 pg).
7 (13)

Debelina suhih nanosov se spreminja od 100 nm (0,1 pg Ni) pa do 2 µg (100 pg Ni). Debelina znotraj
samega nanosa variira za ±70 nm. Odraz tega je visoka relativna deviacija za majhne količine
nanosov. Krivulja, ki jo dobimo, ko nanašamo debelino v odvisnosti od količine, je podobna tisti na
sliki 3.
2.3. ELEMENTNA PORAZDELITEV
Za mikroskopske analizne tehnike, ki ponujajo višjo prostorsko resolucijo kot je npr. 10 – 50 µm, je
homogenost posušenega nanosa kritična. Elementna porazdelitev vsakega suhega ostanka zahteva
boljšo prostorsko resolucijo kot jo dosežemo Auger-jevim elektronskim mikroskopom, ki so ga
uporabili avtorji članka. Začetni rezultati raziskav nikljevih nanosov (25 fg Ni) na Si ploščici so
pokazali homogeno porazdelitev elementov. Če uporabimo analizo Si, lahko debelino nanosa
ocenimo. Si v vzorcu ni prisoten, je pa vseeno na območju vzorca prisoten signal za Si, domnevajo, da
ta signal izhaja iz substrata. To pa namiguje, da je nanos tanjši od 2 nm, kolikor prodre Auger.
3. MXRF
3.1. LINEARNI ODZIV
Suhe ostanke, generirane s »TIPS«, bi lahko uporabili kot referenco pri analizah z MXRF, vendar pa
sta tu natančen nanos in točen odziv izredno pomembna. Avtorji članka so preverili linearnost odziva
MXRF. Uporabili so nikljeve raztopine različnih koncentracij, ki so jih brizgali v istem volumnu (204 pL)
in raztopine iste koncentracije, ki so jih brizgali v različnih volumnih. Poleg tega so uporabili tudi
multielementni standard (vseboval je Ca, Cs, Ir, Mn, K in Fe), ki so ga nanesli v različnih volumnih.
Multielementni standard je vseboval 0,27 g/L K, 0,28 g/L Ca, 0,93 g/L Cs, 0,39 g/L Mn, 0,39 g/L Fe in
1,35 g/L Ir. Analizirali so 6-10 pik na vsakem območju. Rezultati, ki so jih pridobili so prikazani v tabeli
1 in na sliki 7 (območje štetja je povezano z volumni, ki so jih določili s tehtanjem). Vse kapljice so
nanesli na AP1 film. Rezultati so pokazali zelo dobro linearnost (tabela 1). Velika natančnost analize
posameznih kapljic (4-14%) in linearnost signala na območju 2 pg do 2 ng mase elementa kaže na to,
da postavitev kapljic ni izvor signifikantnih napak.
Tabela 1: Linearni odziv
element/substrat korelacijski koeficient relativna standardna deviacija
Ni/AP1 film 0,9991 25% (2 pg) – 1% (1 ng)
K, Ca, Cs, Mn, Fe, Ir/AP1 film K: 0,9999 40% (1,5 pg) – 7% (56 pg)
Ca: 0,9999 31% (2,8 pg) – 8% (57 pg)
Cs: 0,9998 14% (5 pg) – 4% (190 pg)
Mn: 0,9999 9% (2 pg) – 5% (79 pg)
Fe: 0,9999 7% (2 pg) – 4% (80 pg)
Ir: 0,9919 17% (8 pg) – 7% (275)
8 (13)

Slika 7: Rezultati MXRF analize kapljic multielementne raztopine nabrizganih v volumnih 1, 5, 10, 35,
220 pL na AP1 film.
3.2. UPORABA RAZLIČNIH SUBSTRATOV
Uporaba »TIPS« omogoča uporabo različnih substratov, torej tudi takih, ki se ujemajo s tistimi na
katerih so realni vzorci. Vzorci aerosolov so npr. navadno nanešeni na filtre, narejene iz PVC-ja,
papirja, teflona ali aluminija. Ti substrati so tanjši od AP1 filma, papir pa tudi zelo dobro absorbira.
Raztopino niklja (10 g/L) so nabrizgali v različnih volumnih (10, 28, 204 pL) na papirni filter, PVC filter,
aluminijasti filter in na teflonski filter, da bi raziskovali MXRF signal, ki ga dajo suhi ostanki nanešeni
na tipične substrate, uporabljene za zbiranje aerosolov. Rezultati so prikazani v tabeli 2. Relativna
standardna deviacija naraste do 24% za 90 pg niklja nanešenega na filter papir. Meritve so pokazale,
da je debelina nanosa v tem primeru okoli 100 µm, vendar je suhe ostanke še vedno moč detektirati
kot posamezne nanose z prej omenjeno natančnostjo. To pa ne bi bilo izvedljivo, če bi uporabili
nanoliterske oz. mikroliterske volumne, saj pride do prevelike migracije analita v vodni raztopini. PVC,
ki je največ uporabljen kot substrat pri lovljenju aerosolov, kaže dobro linearnost (R 2 =0,9997). Suhi
ostanki na teflonu se verjetno vežejo in gibljejo po površini, zato je avtorjem članka detektiranje
posameznih nanosov predstavljalo veliko težavo. Razlog se najverjetneje skriva v hidrofobičnosti
površine teflona. Detekcija nikljevih suhih ostankov na aluminiju je ovirana zaradi uklona signala na
aluminiju. Posledica tega je velika standardna deviacija za Al-substrat. Predvsem pri detekciji suhih
ostankov na teflonu in aluminiju bo potrebnih še več nadaljnih raziskav in izboljšav.
Tabela 2: Linearni odziv na različnih substratih
element/substrat korelacijski koeficient relativna standardna deviacija
Ni 10 g/L (9, 28, 204 pL)/filter papir 0,8517 24% (90 pg) – 8% (2 ng)
Ni 10 g/L (9, 28, 204 pL) Al-folija 0,9324 60% (90 pg) – 11% (280 pg)
Ni 10 g/L (9, 28, 204 pL)/Si-ploščica 0,9400 16% (2 ng) – 2% (90 pg)
Ni 10 g/L (9, 28, 204 pL)/PVC filter 0,9997 20% (2 ng) – 13% (280 pg)
9 (13)

3.3. MEJA DETEKCIJE
Mejo detekcije se je gibala med 3 pg in 600 fg, odvisna pa je bila od signala ozadja. Signal ozadja se
zmanjša z zmanjšanjem nanešene mase, torej tudi z zmanjšanjem nanosa. Na sliki 8 so meje detekcije
nanešene v odvisnosti od signala ozadja. Rezultati kažejo, da imajo nanosi, ki vsebujejo nižje količine
niklja tudi nižje signale ozadja. Izjema je le nanos 10 pg niklja, ki kaže nenavadno visoko ozadje. Pojav
lahko razložimo s tem, da je bil AP1 film poleg nanosa nekoliko raztrgan. Vendar pa nam to namigne,
da signal ozadja nastane iz celotnega osvetljenega območja (okoli 50 µm premera). 2040 pg skoraj v
celoti prekrije to območje, 20 pg pa zgolj 1/100. To nas vodi do zaključka, da je ozadje bolj odvisno od
samega nanosa, kot pa od substrata.
Slika 8: Meje detekcije
4. PRIMERJAVA MED PIKAMI GENERIRANIMI S TIPS IN Z NIST 1833 IN 1832
Pikoliterske kapljice so avtorji članka primerjali s tankimi filmi NIST 1833 in 1832, ki pogosto služijo
kot standardi pri analizah MXRF. Te materiale pripravijo z brizganjem elementov v steklenem
matriksu, da nastane približno 0,55 µm debela plast na polikarbonatnem filtru. Vsebnost elementov
proizvajalci podajajo v masnih procentih in se jih nato za posamezne primere izračuna. NIST 1832
sestavljajo Al (9,4%), Si (22,2%), Ca (12,1%), V (2,7%), Mn (2,8%), Co (0,62%) in Cu (1,5%), NIST 1833
pa Si (21,9%), K (10,9%), Ti (8,0%), Fe (9,1%), Zn (2,6%) in Pb (10,8%). Homogenost filma so preverili
in ugotovili, da odgovarja Gaussovi porazdelitvi.
»TIPS« NANOSI: Pripravili so multielementno raztopino (2 seriji), ki je imela podobne vsebnosti
elementov, kot NIST standarda. Raztopina je vsebovala Al, Ca, Ti, Fe, Zn in Pb, nanesli so jo na AP1
film z 204 pL šobo. Absolutne vsebnosti elementov so bile torej 298 pg Al, 384 pg Ca, 71 pg Ti, 267 pg
Fe, 76 pg Zn in 318 pg Pb. Povprečni premer suhega ostanka je bil 38,5±0,5 µm in je bil torej pri
meritvi v celoti osvetljen (nominalni premer žarka je 50µm). 6-10 suhih ostankov so nato analizirali z
MXRF in rezultate podali v nanogramih.
NIST STANDARDI: Ker je koncentracija standarda podana v µg/cm 2 , je potrebna točna določitev
osvetljene površine, da je možno primerjanje. Avtorji članka so ugotovili, da je bil rezultat veliko bolj
točen, če so to izvedli za vsak element posebej, torej so nanesli raztopine posameznih elementov na
10 (13)

AP1 film in nato izvedli meritev. Rezultati so pokazali, da odvisnost energije in premera osvetlitve ni
linearna, temveč eksponentna.
Rezultate analiz suhih ostankov multielementne raztopine, pripravljenih s TIPS so nato primerjali z
rezultati analize NIST standardov (slika 9). Vrednosti NIST 1833 in 1832, ki so jih izračunali iz
eksperimentalno določenih velikosti osvetljenega področja (s pomočjo suhih nanosov), se zelo dobro
ujemajo z rezultati suhih ostankov: razlika je manjša od 10%. Vrednosti, določene s pomočjo linearne
ekstrapolacije pa se razlikujejo za približno 30%. Ti rezulati nam razkrivajo možnost, da bi majhne
nanose različnih elementov lahko uporabili tudi v analitske namene.
Slika 9: MXRF odziv: NIST 1833, 1832 določen z linearno ekstrapolacijo (modrečrte), NIST 1833, 1832
določen eksperimentalno (modra barva), multielementna raztopina nanešena s TIPS, serija 1 (rdeče
črte), multielementna raztopina nanešena s TIPS, serija 2 (oranžna barva).
11 (13)

ZAKLJUČEK
V članku, ki ga predstavljam so avtorji pokazali, da suhi ostanki eno ali multielementnih raztopin, ki
jih generiramo s TIPS, lahko služijo kot referenca pri MXRF. MXRF, ki je bolj uporabljen za kvalitativni
»mapping«, bi tako služil tudi za kvantitativni »mapping«. Prednosti uporabe TIPS so predvsem v
tem, da reference lahko pripravimo na praktično kakteremkoli substratu. Slednje so avtorji dokazali
na primeru polimernega filma, filter papirja, aluminijeve folije in silicijeve ploščice.
Pristop s pomočjo pikoliterske pipete nam pri MXRF omogoča tudi določanje parametrov kot sta
meja detekcije in občutljivost. Natančnost doziranja so preverili z uporabo MXRF in ugotovili, da je od
4 do 14%. Standardna deviacija za nanose pripravljene na AP1 filmu je 1-5 pg za večino analiziranih
elementov.
Avtorji so nas tudi prepričali, da ima izparevanje topila iz šob TIPS-a velik vpliv na količino nanosa in
mora zato biti upoštevano pri kalibracijskih namenih. Minimalno izparevanje je prisotno, če kapljice
nanašamo s tihim časom 130 ms ali manj.
Karakterizacija suhih ostankov je pokazala, da so premeri od 5 do 50 µm in višine od 100 nm do 3 µm
za nikljeve nanose mase 1 pg do 2 ng. To nam pove, da so pikoliterske kapljice uporabne za
kalibracijo z MXRF instrumenti, ki imajo fokalno odprtino velikosti 10-50 µm, ti pa so tudi
najpogosteje v uporabi.
Natančnost meritev so pokazali s primerjavo z NIST 1833 in 1832 standardoma.
12 (13)

LITERATURA
1. Fittschen U. E. A.; Havrilla G. J.; Picoliter Droplet Deposition Using a Prototype Picoliter
Pipette: Control Parameters and Application in Micro X-ray Fluorescence, 2010, 82, 297-306
2. http://en.wikipedia.org/wiki/Micro-X-ray_fluorescence (1.6.2010)
3. http://en.wikipedia.org/wiki/Inkjet_printer (1.6.2010)
13 (13)