14.01.2015 Views

Elektronika 2012-11.pdf - Instytut Systemów Elektronicznych ...

Elektronika 2012-11.pdf - Instytut Systemów Elektronicznych ...

Elektronika 2012-11.pdf - Instytut Systemów Elektronicznych ...

SHOW MORE
SHOW LESS

Transform your PDFs into Flipbooks and boost your revenue!

Leverage SEO-optimized Flipbooks, powerful backlinks, and multimedia content to professionally showcase your products and significantly increase your reach.

ok LIII nr 11/<strong>2012</strong><br />

• MATERIAŁY • KONSTRUKCJE • UKŁADY<br />

• SYSTEMY • MIKROELEKTRONIKA<br />

• OPTOELEKTRONIKA • FOTONIKA<br />

konstrukcje technologie zastosowania<br />

MIESIECZNIK NAUKOWO-TECHNICZNY<br />

• ELEKTRONIKA MIKROFALOWA<br />

• MECHATRONIKA<br />

• ENERGOELEKTRONIKA • INFORMATYKA<br />

ZESPÓŁ REDAKCYJNY<br />

prof. dr hab. inż. Jerzy Klamka – redaktor naczelny<br />

Bożena Lachowicz – sekretarz redakcji<br />

Stały współpracownik: mgr inż. Cezary Rudnicki<br />

Redaktorzy tematyczni: mgr inż. Wiesław Jabłoński,<br />

mgr inż. Krzysztof Kowalski<br />

Adres redakcji: ul. Chmielna 6 m.6, 00-020 Warszawa,<br />

tel./fax (22) 827 38 79; tel.: (22) 826 65 64,<br />

e-mail: elektronika@red.pl.pl, www.elektronika.orf.pl<br />

Zamówienia na reklamę przyjmuje redakcja lub Dział Reklamy<br />

i Marketingu, ul. Ratuszowa 11, 00-950 Warszawa, skr. 1004,<br />

tel./fax (22) 827 43 65, e-mail: reklama@sigma-not.pl<br />

Kolportaż: ul. Ku Wiśle 7, 00-716 Warszawa, tel. (22) 840 35 89;<br />

tel./fax: (22) 840 59 49, (22) 891 13 74<br />

RADA PROGRAMOWA<br />

prof. dr hab. inż. Władysław Torbicz (PAN) – przewodniczący<br />

prof. dr hab. inż. Leonard Bolc, dr hab. inż. Jerzy Czajkowski, prof.<br />

dr hab. inż. Andrzej Dziedzic, prof. Orla Feely, prof. dr hab. inż. Jerzy<br />

Frączek, dr hab inż. Krzysztof Górecki, dr inż. Józef Gromek, mgr inż.<br />

Jan Grzybowski, prof. dr hab. Ryszard Jachowicz, prof. dr hab. Włodzimierz<br />

Janke, prof. dr hab. Włodzimierz Kalita, inż. Stefan Kamiński,<br />

prof. dr hab. inż. Marian P. Kaźmierkowski, dr inż. Wojciech Kocańda,<br />

dr Elias B. Kpodzo, prof. dr hab. Bogdan Kosmowski, mgr inż. Zbigniew<br />

Lange, dr inż. Zygmunt Łuczyński, dr hab. inż. Wiesław Marszałek,<br />

prof. dr hab. inż. Józef Modelski, prof. dr hab. Tadeusz Morawski,<br />

prof. Spyridon G. Mouroutsos, prof. dr hab. Bohdan Mroziewicz, prof.<br />

dr hab. Andrzej Napieralski, prof. Yul Yunazwin Nazaruddion, prof. dr<br />

hab. Tadeusz Pałko, prof. dr hab. inż. Marian Pasko, prof. dr hab. Józef<br />

Piotrowski, prof. Roberto Rojas-Cessa, prof. dr hab. inż. Ryszard Romaniuk,<br />

dr hab. inż. Grzegorz Różański, prof. dr hab. inż. Edward Sędek,<br />

prof. dr hab. Ludwik Spiralski, prof. dr hab. inż. Zdzisław Trzaska,<br />

prof. dr hab. inż. Marian Wnuk, prof. dr hab. inż. Janusz Zarębski<br />

Ministerstwo Nauki i Szkolnictwa Wyższego,<br />

za opublikowane artykuły przyznaje 6 punktów.<br />

IEEE<br />

WYDAWNICTWO<br />

CZASOPISM I KSIĄŻEK<br />

TECHNICZNYCH<br />

SIGMA - NOT<br />

Spółka z o.o.<br />

00-950 Warszawa<br />

skrytka pocztowa 1004<br />

ul. Ratuszowa 11<br />

tel.: (0-22) 818 09 18, 818 98 32<br />

fax: (022) 619 21 87<br />

Internet<br />

http://www.sigma-not.pl<br />

Prenumerata<br />

e-mail: kolportaz@sigma-not.pl<br />

Informacje<br />

e-mail: informacja@sigma-not.pl<br />

Redakcja współpracuje<br />

z Polską Sekcją IEEE<br />

„<strong>Elektronika</strong>” jest notowana<br />

w międzynarodowej bazie IEE<br />

Inspec<br />

Publikowane artykuły naukowe były<br />

recenzowane przez samodzielnych<br />

pracowników nauki<br />

Redakcja nie ponosi odpowiedzialności<br />

za treść ogłoszeń. Zastrzega<br />

sobie prawo do skracania i adiustacji<br />

nadesłanych materiałów.<br />

Indeks 35722<br />

Nakład do 2000 egz.<br />

Skład i druk: Drukarnia SIGMA-NOT Sp. z o.o.<br />

Wersja papierowa ELEKTRONIKI jest wersją pierwotną.<br />

Spis treści ● Contents<br />

Mach-Zehnder non-zero chirp intensity modulator static characteristics<br />

parameters estimation based on intensity data<br />

(Estymacja parametrów charakterystyki statycznej modulatora<br />

amplitudowego Mach-Zehndera typu non-zero chirp na podstawie<br />

pomiarów mocy optycznej) – Lach Z. . . . . . . . . . . . . . . . . 12<br />

Simulation of magnetically controlled elements for optoelectronic<br />

systems on the basis of liquid crystals (Symulacja<br />

magnetycznie sterowanych elementów optoelektronicznych<br />

wykorzystujących ciekłe kryształy) – Hotra Z., Fechan A.,<br />

Sushynskyy O., Shymchyshyn O., Chaban O. . . . . . . . . . . . . 15<br />

Charakteryzacja światłowodowych siatek Bragga metodą<br />

reflektometrii optycznej w dziedzinie częstotliwości (Characterization<br />

of fiber Bragg gratings using optical frequency<br />

domain reflectometry (OFDR) – Osuch T., Jędrzejewski K.,<br />

Lewandowski L., Anders K., Gdula P., Piramidowicz R. . . . . . 17<br />

Światłowodowe skośne siatki Bragga (Tilted fiber Bragg gratings)<br />

– Jędrzejewski K., Osuch T., Lewandowski L., Jasiewicz W. . . . 21<br />

Sterowanie odpowiedzią czujników opartych na światłowodowych<br />

siatkach długookresowych (LPG) poprzez zastosowanie<br />

cienkich pokryć (Long-period Grating (LPG) sensor<br />

spectral response tuning by deposition of thin overlays) – Śmietana<br />

M., Bock W.J., Mikulic P. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23<br />

Analiza możliwości wykorzystania siatek długookresowych<br />

w strukturach gradientowych światłowodów planarnych<br />

(Analysis of Long Period Gratings usage possibility in planar<br />

gradient waveguides) – Kotyczka T., Rogoziński R. . . . . . . . . 25<br />

Światłowody mPOF do zastosowań telekomunikacyjnych<br />

(mPOF fibers for telecommunication applications) – Gdula P.,<br />

Welikow K., Buczyński R., Szczepański P., Piramidowicz R.: 29<br />

Badanie dyspersji chromatycznej serii włókien mikrostrukturalnych<br />

o silnie nieliniowych właściwościach do generacji<br />

typu supercontinuum (Investigation of dispersion characteristics<br />

of highly nonlinear microstructured fibre series for customized<br />

supercontinuum generation) – Hołdyński Z., Szymański<br />

M., Murawski M., Mergo P., Merta I., Gawrońska M., Marć P.,<br />

Jaroszewicz L.R., Nasiłowski T. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33<br />

Wykorzystanie światła rozproszonego do wyznaczania dwójłomności<br />

modowej światłowodów planarnych (The use<br />

of scattered light to the determination of modal birefringence<br />

of planar optical waveguides) – Gut K., Herzog T. . . . . . . . . . . 36<br />

Właściwości czujnikowe światłowodowych siatek Bragga<br />

na kilkumodowych wysoce dwójłomnych włóknach mikrostrukturalnych<br />

(Sensing properties of fiber Bragg gratings<br />

written in few‐mode highly birefringent microstructured<br />

fibers) – Tenderenda T., Murawski M., Szymański M., Becker<br />

M., Rothhardt M., Bartelt H., Mergo P., Poturaj K., Makara M.,<br />

Skorupski K., Marć P., Jaroszewicz L.R., Nasiłowski T. . . . . . . 38<br />

Projekt i wykonanie eksperymentalnej światłowodowej sieci<br />

odniesienia DWDM o przepływności 80 Gbit/s (The project<br />

and realization of the experimental DWDM optical fiber reference<br />

network with 80 Gbit/s bit rate) – Żegliński G., Gajda J. . . . 40<br />

Światłowodowy czujnik temperatury progowej na bazie wypełnionego<br />

włókna mikrostrukturalnego (Optical temperature<br />

switch based on filled microstructured optical fibre) – Marć<br />

P., Piliszek P., Nasiłowski T., Murawski M., Szymański M., Jaroszewicz<br />

L.R., Pawlik K. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44<br />

Światłowodowy demodulator fazy – model i wyniki eksperymentalne<br />

(Fibre optics phase demodulator – modeling and experimental<br />

results) – Hołdyński Z., Merta I., Jaroszewicz L.R.,<br />

Świłło R. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46


Konstrukcja A-FORS-3 – autonomicznego światłowodowego<br />

sejsmometru rotacyjnego (The construction of A-FORS-3 –<br />

Autonomous-Fiber Optic Rotational Seismograph) – Krajewski<br />

Z., Jaroszewicz L.R., Kowalski H. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48<br />

System do pomiaru Apertury Numerycznej w światłowodach<br />

specjalnych (Numerical Aperture Measurement System for<br />

Specialty Optical Fibres) – Ostrowski Ł., Murawski M., Szymański<br />

M., Hołdyński Z., Tenderenda T., Mergo P., Marć P.,<br />

Jaroszewicz L.R., Nasiłowski T. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50<br />

Pomiar czułości włókien mikrostruturalnych przy wykorzystaniu<br />

interferometru Macha-Zehndera (Sensitivity measurement<br />

in microstructured fibers with use Mach-Zehnder interefometer)<br />

– Murawski M., Szymański M., Hołdyński Z., Tenderenda<br />

T., Ostrowski T., Pawlik K., Łukowski A., Krisch H., Marć<br />

P., Jaroszewicz L.R., Nasiłowski T. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52<br />

Właściwości modowe światłowodu mikrostrukturalnego<br />

z podwójnym płaszczem do zastosowań w nieliniowych<br />

układach diagnostycznych (Modal properties of double clad<br />

microstructured fiber for nonlinear diagnostic systems) – Stawska<br />

H., Bereś-Pawlik E. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55<br />

Wpływ dipu na właściwości propagacyjne solitonów jasnych<br />

w światłowodzie skokowym (Effect of dip on the propagation<br />

properties of bright solitons in step index optical fiber) –<br />

Kaczmarek T. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58<br />

Światłowody fotoniczne jako materiał na lasery światłowodowe<br />

ze zdefiniowanym stanem polaryzacji (Photonic crystal<br />

fibers as material for fiber lasers with defined state of polarization)<br />

– Bereś-Pawlik E., Sójka Ł., Pilszak M., Pajewski Ł.,<br />

Sujecki S., Poturaj K., Skorupski K., Klimek J. . . . . . . . . . . . . . 62<br />

Technologia wytwarzania i pomiary absorpcji szkieł chalkogenidkowych<br />

domieszkowanych jonami ziem rzadkich (Fabrication<br />

and absorption measurements chalcogenide glasses<br />

doped with rear earth) – Sójka Ł., Bereś-Pawlik E., Tang Z.,<br />

Furniss D., Seddon A.B., Benson T.M., Sujecki S. . . . . . . . . . . . 64<br />

TECHNIKA SENSOROWA: Światłowodowy czujnik siły bazujący<br />

na interferometrze Sagnaca z dwójłomnym światłowodem<br />

fotonicznym (Fiber optic force sensor based on the<br />

Sagnac interferometer with a birefringent photonic crystal fiber)<br />

– Kaczmarek C. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67<br />

TECHNIKA MIKROFALOWA I RADIOLOKACJA: Sprzętowy generator<br />

kluczy kryptograficznych dedykowany dla systemów<br />

pomiarowo-sterujących o asymetrycznych zasobach<br />

(Hardware cryptographic keys generator dedicated to measuring<br />

and control systems with asymmetric resourc) – Czernik P. . . . 70<br />

TECHNIKI INFORMATYCZNE: Techniki multimodalne zwiększające<br />

dostępność grafiki na stronach WWW i w elektronicznych<br />

dokumentach (Multimodal technologies for increasing<br />

the availability of graphics on Web pages and in the electronic<br />

documents) – Brzostek-Pawłowska J., Mikułowski D. . . 77<br />

Światłowodowy generator supercontinuum zakresu średniej<br />

podczerwieni – przykład technologii podwójnego<br />

zastosowania (Mid-infrared fiber supercontinuum generator<br />

– an example of double application technology) – Świderski J.,<br />

Michalska M., Pichola W., Mamajek M. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85<br />

System pomiarowy do dynamicznej spektroskopii widma<br />

emisyjnego plazmy TR-OES do diagnostyki plazmy wyładowania<br />

jarzeniowego w układzie magnetronowym zasilanym<br />

impulsowo (The Time-Resolved Optical Emission<br />

Spectroscopy (TR-OES) measurement system for diagnostics<br />

of pulsed magnetron sputtering plasma) – Wiatrowski A. . . . . 89<br />

Multimedialny bezprzewodowy system alarmowy (Multimedia<br />

Wireless Alarm System) – Bratek P., Majcherczyk D., Brzozowski<br />

I., Kos A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95<br />

Automatyczny pomiar pojemności złączowej półprzewodnikowego<br />

złącza p-n (Automatic measuring system for junction<br />

capacitance of semiconductor p-n junction) – Brzozowski I.,<br />

Wawszczak Sz., Bratek P., Kos A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97<br />

Barierowe struktury detekcyjne – nowe możliwości (Barrier<br />

structures – new possibilities) – Martyniuk P., Kowaleski A.,<br />

Gawron W., Rogalski A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 102<br />

Zastosowanie dedykowanych układów scalonych w systemach<br />

wyszukiwania punktu mocy maksymalnej (Application<br />

of dedicated integrated circuits in maximum power<br />

point tracking systems) – Grzesiak W., Piekarski J., Cież M.,<br />

Grzesiak P. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106<br />

Luminescencja izolatorów ceramicznych sieci energetycznych<br />

średnich napięć (Luminescence of ceramic insulators<br />

of middle voltage power networks) – Sobota R., Mandowski A.,<br />

Mandowska E. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109<br />

Dobór mikrokontrolera do sterowania inwerterem napięcia<br />

w systemach UPS (The choice of the microcontroller<br />

for the voltage source inverter control in UPS systems)<br />

– Rymarski Z. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111<br />

Technologia i Zastosowania Laserów <strong>2012</strong> (Laser Technology<br />

and Applications <strong>2012</strong>) – Gajda J., Romaniuk R.S. . . . . . . . . . 115<br />

Stan aktualny i rozwój systemu INMARSAT (Actual status and<br />

development of the INMARSAT system) – Czajkowski J. . . . 122<br />

Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />

LACH Z.: Estymacja parametrów charakterystyki statycznej modulatora<br />

amplitudowego Mach-Zehndera typu non-zero chirp na podstawie<br />

pomiarów mocy optycznej<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 12<br />

Zaproponowano parametryzację charakterystyki statycznej modulatora<br />

amplitudowego Mach-Zehndera typu non-zero chirp za pomocą pięciu<br />

parametrów wraz z metodą ich estymacji z próbek mocy optycznej. Praktyczną<br />

użyteczność parametryzacji i metody ich estymacji zweryfikowano<br />

w eksperymencie laboratoryjnym.<br />

Słowa kluczowe: modulator Mach-Zehdera, światłowód jednomodowy,<br />

monitorowanie dyspersji chromatycznej, estymacja parametru<br />

HOTRA Z., FECHAN A., SUSHYNSKYY O., SHYMCHYSHYN O., CHA-<br />

BAN O.: Symulacja magnetycznie sterowanych elementów optoelektronicznych<br />

wykorzystujących ciekłe kryształy<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 15<br />

W pracy opisano możliwość opracowania sterowanych magnetycznie<br />

elementów ciekłokrystalicznych do zastosowań w systemach optycznych.<br />

Przy pomocy oprogramowania GBMOLDD przeprowadzono symulację<br />

rozkładu pola direktora dla cienkiej warstwy ciekłego kryształu początkowej<br />

homeotropowej orientacji odpowiadającej rozkładowi w przekroju<br />

koncentrycznej struktury włókna. Przeprowadzono symulację (z wykorzystaniem<br />

oprogramowania ZEMAX) propagacji światła we włóknie i zmiany<br />

rozkładu modów w zależności od amplitudy pola magnetycznego.<br />

Słowa kluczowe: ciekłe kryształy, sterowane magnetycznie elementy systemów<br />

optoelektronicznych<br />

<br />

LACH Z.: Mach-Zehnder non-zero chirp intensity modulator static<br />

characteristics parameters estimation based on intensity data<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 12<br />

Five parameters that describe a static characteristics of a non-zero chirp<br />

Mach-Zehnder intensity modulator and a method for their estimation from<br />

intensity samples are proposed. The practical value of the parameters and<br />

of the method of their estimation is examined in laboratory experiments.<br />

Keywords: Mach-Zehnder modulator, single mode fibre, chromatic dispersion<br />

monitoring, parameter estimation<br />

HOTRA Z., FECHAN A., SUSHYNSKYY O., SHYMCHYSHYN O., CHA-<br />

BAN O.: Simulation of magnetically controlled elements for optoelectronic<br />

systems on the basis of liquid crystals<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 15<br />

In this work it is described the possibility of development of magnetically controlled<br />

elements for optical systems on the basis of liquid crystals (LC). There<br />

was carried out the simulation of distribution of director field for the case of<br />

thin liquid crystal layer with initial homeotropic orientation which corresponds<br />

to the distribution of cross-section of coaxial structure of the fiber by the means<br />

of GBMOLDD software. There was conducted simulation of the light<br />

propagation in the fiber and the change the mode composition with respect<br />

to the amplitude of magnetic field by the means of ZEMAX software.<br />

Keywords: liquid crystals, magnetically controlled elements, optoelectronic<br />

systems<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />

OSUCH T., JĘDRZEJEWSKI K., LEWANDOWSKI L., ANDERS K., GDU-<br />

LA P., PIRAMIDOWICZ R.: Charakteryzacja światłowodowych siatek<br />

Bragga metodą reflektometrii optycznej w dziedzinie częstotliwości<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 17<br />

Technika reflektometrii optycznej w dziedzinie częstotliwości (ang. Optical<br />

Frequency Domain Reflectometry) z uwagi wysoka rozdzielczość oraz<br />

dużą dynamikę jest jedną z podstawowych metod detekcji, stosowaną<br />

w rozproszonych systemach czujnikowych. Kolejną zaletą OFDR jest<br />

możliwość pomiaru i rozróżnialność odbić wstecznych od podzespołów<br />

światłowodowych pracujących na tej samej długości fali (np. światłowodowe<br />

siatki Bragga). W pracy przedstawiono wyniki badań rozpraszania<br />

wstecznego dla różnych typów światłowodowych siatek Bragga (tj. jednorodne,<br />

siatki na światłowodzie utrzymującym polaryzację, skośne i siatki<br />

z chirpem wykonane na przewężeniu światłowodowym). Wysoka rozdzielczość<br />

metody (10 µm) pozwoliła na uzyskanie rozkładu odbicia wstecznego<br />

w funkcji długości siatek. Ponadto wyznaczono i porównano charakterystyki<br />

spektralne odbiciowe badanych struktur braggowskich metodą<br />

reflektometrii optycznej w dziedzinie częstotliwości oraz konwencjonalną<br />

metoda pomiaru przy użyciu optycznego analizatora widma i źródła szerokopasmowego.<br />

Słowa kluczowe: światłowodowa siatka Bragga, reflektometria optyczna<br />

w dziedzinie częstotliwości, charakterystyka spektralna, odbicie wsteczne<br />

OSUCH T., JĘDRZEJEWSKI K., LEWANDOWSKI L., ANDERS K., GDU-<br />

LA P., PIRAMIDOWICZ R.: Characterization of fiber Bragg gratings<br />

using optical frequency domain reflectometry (OFDR)<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 17<br />

Optical frequency domain reflectometry technique (Optical Frequency Domain<br />

Reflectometry) due to the high resolution and high dynamic is one<br />

of the main methods of detection used in distributed sensing systems.<br />

Another advantage of OFDR is the possibility of measuring and distinguishing<br />

backscattered signals from optical components operating at the same<br />

wavelength (for example, fiber Bragg gratings). This paper presents the<br />

measurement results of backscattering from various types of fiber Bragg<br />

gratings (i.e. uniform, tilted, written in polarization maintaining fiber, as well<br />

as “chirped” – inscribed in fiber-optic taper). High resolution of this method<br />

(10 µm) made it possible to obtain a distribution of backscattered light<br />

along the fiber Bragg grating. Moreover, spectral (reflectance) characteristics<br />

of studied Bragg structures were measured (using OFDR technique<br />

and conventional method with broadband source and optical spectrum<br />

analyzer) and compared.<br />

Keywords: fiber Bragg grating, Optical Frequency Domain Reflectometry,<br />

spectral characteristic, backscatter<br />

JĘDRZEJEWSKI K., OSUCH T., LEWANDOWSKI L., JASIEWICZ W.:<br />

Światłowodowe skośne siatki Bragga<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 21<br />

Skośne siatki Bragga stanowią technologiczną modyfikację siatek tradycyjnych.<br />

Periodyczne zmiany współczynnika załamania w rdzeniu<br />

przebiegają w nich pod pewnym niezerowym kątem w stosunku do osi<br />

włókna. Odbite światło przechodzi częściowo do płaszcza w postaci modów<br />

płaszczowych i radiacyjnych. Takie siatki wykazują przez to inne,<br />

specyficzne własności spektralne. Ich pierwotne przeznaczenie związane<br />

było z zastosowaniem we wzmacniaczach erbowych dla spłaszczania ich<br />

charakterystyk spektralnych. Obecnie siatki takie stosuje się również m.in.<br />

w metrologii jako czujniki chemiczne (np. refraktometry), mechaniczne np.<br />

skręcenia, wygięcia i przesunięcia, ponadto wykazują własności polaryzacyjne.<br />

W artykule przedstawiono sposoby realizacji takich siatek oraz pokazano<br />

technologię ich wykonania w ISE PW. Zmierzono charakterystyki<br />

spektralne wykonanych siatek w funkcji kąta nachylenia prążków siatki<br />

względem osi włókna oraz współczynnika załamania otoczenia pokazując<br />

ich unikalne właściwości. Przedstawiono możliwości praktycznego wykorzystania<br />

siatek skośnych w zastosowaniach czujnikowych przy zmianach<br />

współczynnika załamania ośrodka otaczającego.<br />

Słowa kluczowe: skośna światłowodowa siatka Bragga, mody płaszczowe<br />

i radiacyjne, współczynnik załamania otoczenia<br />

JĘDRZEJEWSKI K., OSUCH T., LEWANDOWSKI L., JASIEWICZ W.:<br />

Tilted fiber Bragg gratings<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 21<br />

Tilted fiber Bragg gratings are technical modification of standard uniform<br />

Bragg structures. Periodic variation of refractive index in a fiber core is<br />

at a certain, non-zero angle to the optical fiber axis. Reflected light is<br />

coupled to the cladding as well as radiation modes. This kind of gratings<br />

have the other specific spectral properties. Their initial purpose was associated<br />

with the use as a spectral gain flattening element in erbium doped<br />

fiber amplifiers. Currently tilted Bragg gratings are also utilized in metrology<br />

as chemical) sensors and exhibit polarization properties. In this article,<br />

the technology of tilted fiber Bragg gratings fabrication used in ISE PW<br />

is shown. Spectral characteristics of fabricated gratings were measured<br />

as a function of tilt angle as well as surrounding refractive index showing<br />

their unique properties. The possibilities of practical use of tilted gratings<br />

in sensing applications where the surrounding refractive index changes<br />

are shown.<br />

Keywords: tilted fiber Bragg grating, cladding and radiation modes, surrounding<br />

refractive index<br />

ŚMIETANA M., BOCK W.J., MIKULIC P.: Sterowanie odpowiedzią<br />

czujników opartych na światłowodowych siatkach długookresowych<br />

(LPG) poprzez zastosowanie cienkich pokryć<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 23<br />

Przedstawiono wyniki badań nad zastosowaniem cienkich warstw pokryciowych<br />

do sterowania czułością światłowodowych siatek długookresowych<br />

(ang. Long-period Grating, LPG) na zmiany współczynnika<br />

załamania otoczenia. Do pokrycia struktur LPG wykorzystano metodę<br />

chemicznego osadzania z fazy gazowej wspomaganą plazmą wysokiej<br />

częstotliwości (ang. Radio Frequency Plasma Enhanced Chemical Vapor<br />

Deposition, RF PECVD), której użycie umożliwia uzyskania cienkich i jednorodnych<br />

pokryć na powierzchni światłowodu. Właściwości pokryć mogą<br />

być determinowane poprzez odpowiedni dobór parametrów procesu osadzania.<br />

Przedstawiono możliwości wykorzystania warstw diamentopodobnych<br />

(DLC) i azotku krzemu (SiN x<br />

) do sterowania odpowiedzią struktur na<br />

zmiany współczynnika załamania otoczenia, co umożliwia ich późniejsze<br />

zastosowania, choćby jako wysokoczułych biosensorów, czujników wilgotności,<br />

ciśnienia hydrostatycznego lub temperatury.<br />

Słowa kluczowe: światłowodowe siatki długookresowe (LPG), cienkie<br />

warstwy diamentopodobne (DLC) i azotku krzemu (SiN x<br />

), metoda RF<br />

PECVD, czujnik zmian współczynnika załamania<br />

ŚMIETANA M., BOCK W.J., MIKULIC P.: Long-period Grating (LPG)<br />

sensor spectral response tuning by deposition of thin overlays<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 23<br />

The work presents results on application of thin overlays for tuning sensitivity<br />

of Long-period Gratings (LPGs) to variations in external refractive<br />

index. For deposition of thin films there has been applied Radio Frequency<br />

Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (RF PECVD) method,<br />

which allows for obtaining thin and uniform overlays on the surface of the<br />

fiber. Properties of the films can be determined in wide range by selection<br />

of certain set of deposition process parameters. There has been shown<br />

application of diamond-like carbon (DLC) and silicon nitride (SiN x<br />

) thin<br />

films for spectral response tuning of the gratings to variations in external<br />

refractive index. The effect can be applied for developing highly sensitive<br />

biosensors, as well as humidity, hydrostatic pressure, and temperature<br />

sensors.<br />

Keywords: Long-period grating (LPG), thin diamond-like carbon (DLC)<br />

and silicon nitride (SiN x<br />

) films, RF PECVD method, refractive index sensing<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />

KOTYCZKA T., ROGOZIŃSKI R.: Analiza możliwości wykorzystania<br />

siatek długookresowych w strukturach gradientowych światłowodów<br />

planarnych<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 25<br />

W niniejszym artykule przedstawiono analizę możliwości wykorzystania<br />

siatek długookresowych w strukturach gradientowych światłowodów planarnych<br />

(LPWG – Long Period Waveguide Grating) jako filtrów widmowych<br />

w zakresie widzialnym. Zaprezentowano wpływ procesów technologicznych<br />

oraz parametrów siatek na otrzymywane w wyniku symulacji<br />

numerycznych charakterystyki rezonansowe oraz widma transmisyjne<br />

układów LPWG. Całość obliczeń wykonywana była z uwzględnieniem rzeczywistych<br />

właściwości materiałowych (szkło BK7 domieszkowane jonami<br />

potasu) w oparciu o konkretne procesy technologiczne.<br />

Słowa kluczowe: wymiana jonowa, siatki długookresowe, LPWG, gradientowe<br />

światłowody planarne, metoda macierzowa, teoria modów<br />

sprzężonych.<br />

GDULA P., WELIKOW K., BUCZYŃSKI R., SZCZEPAŃSKI P., PIRA-<br />

MIDOWICZ R.: Światłowody mPOF do zastosowań telekomunikacyjnych<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 29<br />

Niniejsza praca koncentruje się na wybranych zagadnieniach projektowania<br />

włókien mikrostrukturalnych POF (mPOF) o stosunkowo dużym<br />

rdzeniu, ograniczonej dyspersji modalnej oraz poprawionej odporności<br />

na straty zgięciowe, dyskutowanych w kontekście zastosowania w systemach<br />

FTTH.<br />

Słowa kluczowe: światłowody mikrostrukturalne, światłowody polimerowe,<br />

mPOF, straty zgięciowe, dyspersja modowa<br />

HOŁDYŃSKI Z., SZYMAŃSKI M., MURAWSKI M., MERGO P., MERTA I.,<br />

GAWROŃSKA M., MARĆ P., JAROSZEWICZ L.R., NASIŁOWSKI T.: Badanie<br />

dyspersji chromatycznej serii włókien mikrostrukturalnych o silnie<br />

nieliniowych właściwościach do generacji typu supercontinuum<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 33<br />

Zjawiska nieliniowe występujące we włóknach mikrostrukturalnych mają<br />

charakter kompleksowy. Aplikacyjne wykorzystanie zjawisk nieliniowych<br />

wiąże się z umiejętnością ich kontroli. Jednym z głównych zagadnień<br />

dotyczących nieliniowej optyki światłowodowej jest opracowanie optymalnych<br />

parametrów geometrycznych włókien do uzyskania poprawy efektu<br />

poszerzenia widma – supercontinuum. Bezpośredni związek własności<br />

dyspersyjnych i efektów nieliniowych otwiera możliwości pozwalające<br />

na opracowanie szeroko- spektralnych źródeł. Włókna mikrostrukturalne<br />

prezentowane w artykule utrzymują kompatybilność ze standardowymi<br />

włóknami komercjalnymi zarówno w przypadku łączenia jak spawania itd.<br />

Wykorzystanie zróżnicowanych nieliniowych właściwości włókien mikrostrukturalnych<br />

pozwala na rozwinięcie nowych możliwości aplikacyjnych.<br />

W artykule prezentujemy teoretyczne i eksperymentalne wyniki badań<br />

dyspersji chromatycznej w serii włókien mikrostrukturalnych o zróżnicowanych<br />

parametrach geometrycznych. Rezultaty badań pozwalają na<br />

opracowanie włókien o odpowiednich własnościach dyspersyjnych do<br />

uzyskania źródła typu supercontinuum. Stosowana interferometryczna<br />

metoda pomiaru dyspersji chromatycznej umożliwia charakteryzację krótkich<br />

odcinków badanych włókien z ekstremalną precyzją. Proces pomiaru<br />

wspomagany jest oprogramowaniem użytkowym do analizy rozkładów<br />

prążkowych. Prezentowany układ interferometryczny umożliwia porównanie<br />

uzyskanych wyników pomiaru z danymi uzyskanymi w procesie<br />

modelowania. Wysoki stopień korelacji między rezultatami modelowania<br />

i pomiaru pozwala na kontrolę poziomu dyspersji włókien w procesie produkcji.<br />

Dodatkowo, precyzyjny pomiar dyspersji chromatycznej (w szczególności<br />

w obszarze zerowego poziomu dyspersji) pozwala na znacznie<br />

efektywniejszą kontrolę zachodzących efektów nieliniowych, a tym samym<br />

na zwiększenie efektywności w procesie poszerzenia widma.<br />

Słowa kluczowe: dyspersja chromatyczne, mikrostrukturalne włókna,<br />

włókno fotoniczne, numeryczne modelowanie, interferometryczny pomiar<br />

KOTYCZKA T., ROGOZIŃSKI R.: Analysis of Long Period Gratings<br />

usage possibility in planar gradient waveguides<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 25<br />

In this analysis the possibility of long period gratings usage as visible range<br />

spectrum filters on planar gradient waveguides (LPWG) was presented.<br />

The influence of technological proceses as well as gratings parameters<br />

on received resonance profiles and spectrum characteristics was shown.<br />

These calculations was based on the real material properties (BK7 glass<br />

doped with potassium ions) as well as specific technological processes.<br />

Keywords: D ion Exchange metod, long period gratings, LPWG, gradient<br />

planar waveguides, matrix metod, coupled mode theory<br />

GDULA P., WELIKOW K., BUCZYŃSKI R., SZCZEPAŃSKI P., PIRAMI-<br />

DOWICZ R.: mPOF fibers for telecommunication applications<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 29<br />

This following works is focused on selected issues of designing microstructured<br />

polymer optical fibers (mPOFs) with relatively large modal area,<br />

limited modal dispersion and improved bending losses discussed in the<br />

context of telecommunication applications<br />

Keywords: microstructured fibres, plastic optical fibres POF, mPOF, bending<br />

losses, modal dispersion<br />

HOŁDYŃSKI Z., SZYMAŃSKI M., MURAWSKI M., MERGO P., MERTA I.,<br />

GAWROŃSKA M., MARĆ P., JAROSZEWICZ L.R., NASIŁOWSKI T.: Investigation<br />

of dispersion characteristics of highly nonlinear microstructured<br />

fibre series for customized supercontinuum generation<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 33<br />

Nonlinear effects in microstructured fibres have complex nature. Dispersion<br />

characteristics are the fundamental properties of microstructured fibres<br />

(MSFs) with respect to the nonlinear applications. The changes of<br />

fibre dispersion may strongly influence the whole chain of diverse nonlinear<br />

effects resulting in supercontinuum generation (SG). Transferring the<br />

experience from the topics related to tailoring different properties of MSFs<br />

to investigate the potential design freedom of dispersion opens novel possibilities<br />

of building the customized, all-fibre broadband and bright light<br />

sources. The silica nonlinear microstructured fibres, as presented in this<br />

paper, become compatible with standard fibre components and technologies<br />

(e.g. splicing, connectorization etc). Supercontinuum generated in<br />

a small-core MSF is a very interesting nonlinear phenomenon from application-oriented<br />

point of view. A development of tailored dispersion of highly<br />

non-linear silica MSF offers us the possibility of constructing a customized<br />

broadband light source. Therefore, in the paper we present a theoretical<br />

and experimental investigation of dispersion characteristics of several<br />

different MSFs. Our studies are leading to the development of adapted<br />

dispersion properties, allowing construction of customized supercontinuum<br />

sources. White light interferometry set-up, resulting in extremely high<br />

precision measurement of chromatic dispersion, is demonstrated, together<br />

with fully computer controlled fringe pattern analysis. Constructed set-up<br />

permitted comparison of chromatic dispersion measurements of microstructured<br />

fibres with modified fibre cross-section dimensions during the<br />

production process. High correlation between modelling and measured<br />

data gives possibility to control dispersion level in manufacturing process.<br />

Additionally, precisely designed and measured chromatic dispersion,<br />

especially around the zero dispersion wavelength, enables superior estimation<br />

of MSF nonlinear effects.<br />

Keywords: chromatic dispersion, microstructured fibre, photonic crystal<br />

fibre, numerical modelling, interferometric measurement<br />

<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />

GUT K., HERZOG T.: Wykorzystanie światła rozproszonego do wyznaczania<br />

dwójłomności modowej światłowodów planarnych<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 36<br />

W ostatnich latach intensywnie rozwijane czujniki światłowodowe. W grupie<br />

tych czujników szczególne miejsce zajmują czujniki interferometryczne.<br />

W interferometrach różnicowych wykorzystuje się zjawisko zmiany<br />

fazy pomiędzy prowadzonymi modami na skutek zmian parametrów optycznych<br />

toru światłowodowego. Przy konstrukcji tego typu sensorów podstawowym<br />

parametrem jest dwójłomność modowa światłowodu. W pracy<br />

przedstawiono metodę wyznaczania dwójłomności modowej światłowodu.<br />

Pomiar dwójłomności modowej światłowodów wymaga równoczesnego<br />

pobudzenia ortogonalnych modów TE i TM których stałe propagacji są<br />

zbliżone. Realizuje się to ustalając odpowiedni stan polaryzacji wiązki wejściowej<br />

i kąt wprowadzenia jej do pryzmatu sprzęgającego. Kamera CCD<br />

nad światłowodem (poprzez odpowiedni ustawiony polaryzator) rejestruje<br />

światło rozproszone. Analiza rozkładu natężenia światła pozwala na wyznaczenie<br />

dwójłomności modowej badanego światłowodu.<br />

Słowa kluczowe: Planarne czujniki światłowodowe, dwójłomność modowa,<br />

interferometr różnicowy<br />

TENDERENDA T., MURAWSKI M., SZYMAŃSKI M., BECKER M.,<br />

ROTHHARDT M., BARTELT H., MERGO P., POTURAJ K., MAKARA<br />

M., SKORUPSKI K., MARĆ P., JAROSZEWICZ L.R., NASIŁOWSKI T.:<br />

Właściwości czujnikowe światłowodowych siatek Bragga na kilkumodowych<br />

wysoce dwójłomnych włóknach mikrostrukturalnych<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 38<br />

Połączenie unikalnych właściwości włókien mikrostrukturalnych z czujnikowymi<br />

możliwościami światłowodowych siatek Bragga daje bardzo<br />

obiecujące i ciekawe perspektywy na aplikacyjne wykorzystanie tego typu<br />

struktur w metrologii. Dzięki odpowiedniemu zaprojektowaniu geometrii<br />

włókna mikrostrukturalnego możliwe jest uzyskanie czujnika o bardzo<br />

wysokiej czułości na naprężenia (w szczególności dla modów wyższych<br />

rzędów), przy jednoczesnej pomijalnie małej czułości na temperaturę,<br />

a zatem niewymagającego dodatkowych mechanizmów kompensacji temperatury.<br />

W tej pracy przedstawiamy wyniki teoretycznej charakteryzacji<br />

kilkumodowego dwójłomnego włókna mikrostrukturalnego dedykowanego<br />

do zapisu siatek Bragga. Prezentujemy również charakterystyki spektralne<br />

siatek Bragga zapisanych laserem femtosekundowym na tym włóknie<br />

oraz porównanie eksperymentalnie wyznaczonych wartości efektywnego<br />

współczynnika załamania dwóch pierwszych modów z wynikami symulacji<br />

numerycznej. We wnioskach przedstawiamy wstępne wyniki pomiaru czułości<br />

polarymetrycznej na naprężenia oraz możliwe zastosowania aplikacyjne<br />

opracowanej przez nas technologii i wykonanych struktur.<br />

Słowa kluczowe: czujniki światłowodowe, światłowodowe siatki Bragga<br />

(FBG), światłowody mikrostrukturalne, światłowody kilku-modowe, światłowody<br />

dwójłomne<br />

ŻEGLIŃSKI G., GAJDA J.: Projekt i wykonanie eksperymentalnej<br />

światłowodowej sieci odniesienia DWDM o przepływności 80 Gbit/s<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 40<br />

Prezentowana praca została zrealizowana w Laboratorium Technologii Teleinformatycznych<br />

i Fotoniki (LTTiF) na Wydziale Elektrycznym w Zachodniopomorskim<br />

Uniwersytecie Technologicznym. Projekt transportowej sieci<br />

odniesienia pracującej w paśmie telekomunikacyjnym C (1530…1565<br />

nm) został wykonany w oparciu o modelowanie numeryczne wykorzystujące<br />

układ nieliniowych równań Schroedingera rozwiązywanych techniką<br />

FDTD (Finite Difference Time Domain). Projekt zrealizowano w latach<br />

2009-2010 w oparciu o osprzęt Alcatel Lucent umożliwiający programowe<br />

przestrajanie kanałów transpondera na dowolną długość fali z pasma ITU-<br />

T C. W zrealizowanym projekcie użyto 8 przestrajalnych transponderów<br />

o przepływności 10Gbit/s. Każdy z transponderów jest dostrajany niezależnie.<br />

Do realizacji transmisji użyto światłowód SM 28e+ firmy Corning<br />

zgodny ze standardem ITU-T G.652D. Zrealizowano transmisję na odcinku<br />

140 km z wykorzystaniem wzmacniaczy optycznych EDFA, światłowodowych<br />

modułów kompensujących dyspersję chromatyczną oraz dwóch<br />

przestrajalnych optycznych multiplekserów TOADM (Tunable Optical Add/<br />

Drop Multiplexer). System może w chwili obecnej pracować dla długości<br />

linii do 340 km. W pracy prezentowane są wybrane wyniki modelowania<br />

numerycznego oraz wyniki pochodzące z punktów pomiarowych zestawionego<br />

układu. Stworzony system ma charakter badawczy i posiada<br />

połączenie z innymi stanowiskami badawczymi w LTTiF (np.: stanowisko<br />

do badań parametrów światłowodów mikrostrukturalnych) z możliwością<br />

podłączenia badanych elementów w dowolnych punktach pomiarowych<br />

systemu. Zbudowany system posiada możliwość rozbudowy i realizacji<br />

do 88 kanałów w pasmach C i L z możliwością uzyskania przepływności<br />

do 3,2 Tbit/s.<br />

Słowa kluczowe: sieć światłowodowa, zwielokrotnienie DWDM (Dense<br />

Wavelenght Divison Multiplexing), kompensacja dyspersji chromatycznej<br />

GUT K., HERZOG T.: The use of scattered light to the determination of<br />

modal birefringence of planar optical waveguides<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 36<br />

Summary: In recent years, optical waveguide sensors developed intensively.<br />

Among these sensors occupy a special place interferometric sensors.<br />

The interferometers are used to the phenomenon of differential phase shift<br />

between the ongoing mods due to changes in the optical parameters of<br />

waveguide. The design of this type of sensor is a fundamental parameter<br />

of the modal birefringence. The paper presents a method for determining<br />

the modal birefringence waveguide. Measurement of modal birefringence<br />

requires simultaneous excitation of orthogonal modes TE and TM propagation<br />

constants which are similar. This is done by setting the appropriate<br />

polarization state of the input beam and the angle of the prism is put into<br />

the coupling. CCD camera over waveguide (through a polarizer set) records<br />

the scattered light Analysis of the scattered light intensity distribution<br />

allows us to determine the modal birefringence of the waveguide.<br />

Keywords: Planar optical sensors, modal birefringence, differential interferometer<br />

TENDERENDA T., MURAWSKI M., SZYMAŃSKI M., BECKER M.,<br />

ROTHHARDT M., BARTELT H., MERGO P., POTURAJ K., MAKARA<br />

M., SKORUPSKI K., MARĆ P., JAROSZEWICZ L.R., NASIŁOWSKI T.:<br />

Sensing properties of fiber Bragg gratings written in few‐mode highly<br />

birefringent microstructured fibers<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 38<br />

The possibility of manufacturing highly birefringent (HB) microstructured<br />

optical fibers (MOF) made these fiber types very attractive for use in sensing<br />

applications. In contrary to traditional optical fibre sensors, properly<br />

designed MOF based components do not need temperature compensation<br />

as their birefringence remains insensitive to temperature changes. Furthermore<br />

the polarimetric strain sensitivity can significantly increase (even<br />

two orders of magnitude according to our previously reported results) for<br />

higher order modes, as their mode maxima get closer to the holey region<br />

of the fiber, hence are subjected to higher strain distribution. In this paper<br />

we present the results of numerical modeling of the propagation conditions<br />

in the HB dual-mode MOF. Furthermore we show and discuss the spectral<br />

characteristics of fiber Bragg grating (FBG) structures written in the dedicated<br />

fiber with a femtosecond UV laser. A comparison of the theoretical<br />

and experimental values of effective refractive index of the fundamental<br />

and second order modes is also included. We show the preliminary results<br />

of the fabricated structures strain response measurements and discuss<br />

ideas of increasing the structures strain sensitivity.<br />

Keywords: optical fiber sensors, fiber Bragg gratings (FBG), microstructured<br />

optical fiber (MOF), few-mode fiber, birefringent optical fiber<br />

ŻEGLIŃSKI G., GAJDA J.: The project and realization of the experimental<br />

DWDM optical fiber reference network with 80 Gbit/s bit rate<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 40<br />

The presented work was realized in Laboratory of Teleinformatic Technologies<br />

and Photonics (LTTIF), The Electric Department at West Pomeranian<br />

Univeristy of Technology Szczecin. The project of transport reference network<br />

working in the telecommunication band: C (1530-1565nm) became<br />

executed in the support about modelling numeric using the arrangement<br />

non-linear Schroedinger equation solved by FDTD technique (Finite Difference<br />

Time Domain). The project was realized in years 2009-2010 in<br />

the support Alcatel Lucent device platform enabling program retunes the<br />

transponders channels on the any wavelenght from the band ITU-T C. 8<br />

tunable transponders was used in the realized project with 10 Gbit/s bit<br />

rate. Every from each is tuned up independently. Optical Corning fibre SM<br />

28 e+ was used to the realization of the broadcast (the standard ITU-T<br />

G.652D). The broadcast was realized on the section 140 kilometers with<br />

EDFA optical amplifiers, optical modules for chromatic dispersion compensation<br />

and two tunable optical multiplexers TOADM (Tunable Optical<br />

Add/The bustard Multiplexer). The system can work the present moment<br />

for the length of the fiber line to 340 kilometers. In the work the chosen<br />

results of modelling are presented numeric results coming from the measuring<br />

points of the taken down arrangement. The created system has the<br />

investigative character and the connection possesses with different measurements<br />

points and setups in LTTIF with the possibility of connecting<br />

of studied elements in the any measuring points of the system. The built<br />

system possesses possibility of extension and realization to 88 channels<br />

in C and L bands with possibility of obtainment 3.2 Tbit/s bit rate.<br />

Keywords: optical fiber network, DWDM (Dense Wavelenght Divison Multiplexing),<br />

chromatic dispersion compensation.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />

MARĆ P., PILISZEK P., NASIŁOWSKI T., MURAWSKI M., SZYMAŃSKI<br />

M., JAROSZEWICZ L.R., PAWLIK K.: Światłowodowy czujnik temperatury<br />

progowej na bazie wypełnionego włókna mikrostrukturalnego<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 44<br />

W artykule przedstawiono technologię i wyniki eksperymentalne światłowodowego<br />

czujnika temperatury progowej zbudowanego na bazie wypełnionego<br />

substancją organiczną włókna mikrostrukturalnego. Do konstrukcji<br />

czujnika wybrano najprostszą konfigurację natężeniowego czujnika<br />

światłowodowego. Czujnik składa się ze źródła światła, patchcordu światłowodowego<br />

z wypełnionym włóknem mikrostrukturalnym oraz fotodetektora.<br />

Patchcord światłowodowy będący optodą tego czujnika to częściowo<br />

wypełniony odcinek włókna mikrostrukturalnego wspawany pomiędzy dwa<br />

odcinki standardowego włókna światłowodowego. Mieszanina wypełniająca<br />

został przygotowana tak, aby zmiany temperatury w czasie ogrzewania<br />

lub chłodzenia wypełnionej części włókna zmieniały jej współczynnika<br />

załamania dając w efekcie zerowe natężenie wiązki świetlnej poniżej<br />

temperatury progowej oraz dużą wartość tego natężenia powyżej tej temperatury.<br />

Efekt skokowej zmiany współczynnika załamania wypełniającej<br />

substancji organicznej osiągany jest w trakcie jej zmiany stanu skupienia<br />

ze stałej na ciekłą. Dzięki temu możliwe jest rozróżnienie stanu włączenia<br />

dla niskiego współczynnika załamania cieczy oraz stanu wyłączenia dla<br />

wysokiego współczynnika załamania substancji w stanie stałym.<br />

Słowa kluczowe: światłowód mikrostrukturalny, światłowód fotoniczny,<br />

technologia wypełniania światłowodów mikrostrukturalnych, przestrajalny<br />

tłumik optyczny, przełącznik optyczny<br />

HOŁDYŃSKI Z., MERTA I., JAROSZEWICZ L.R., ŚWIŁŁO R.: Światłowodowy<br />

demodulator fazy – model i wyniki eksperymentalne<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 46<br />

W pracy przedstawiono model i wyniki badań interferencyjnego światłowodowego<br />

demodulatora fazy w układzie interferometru Younga z dwuelementowym<br />

fotodetektorem w płaszczyźnie Fouriera. Oszacowano błąd<br />

metody pomiaru fazy i podano warunek jego minimalizacji w powiązaniu<br />

z parametrami geometrycznymi demodulatora pokazano związek odległości<br />

między fotodetektorami z liniowością światłowodowego demodulatora<br />

fazy. Wyniki eksperymentalne pozostają w wysokim stopniu korelacji<br />

z przyjętym modelem demodulatora fazy.<br />

Słowa kluczowe: interferometry, interferometryczna demodulacja, demodulator<br />

fazy, dwuelementowy fotodetektor<br />

KRAJEWSKI Z., JAROSZEWICZ L.R., KOWALSKI H.: Konstrukcja A-<br />

FORS-3 – autonomicznego światłowodowego sejsmometru rotacyjnego<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 48<br />

Przedstawiono zrealizowaną koncepcję czujnika światłowodowego A-FORS-<br />

3 (Autonomous-Fiber Optic Rotational Seismometer) przeznaczonego do<br />

detekcji efektów rotacyjnych występujących podczas zdarzeń sejsmicznych.<br />

Głównymi cechami charakteryzującymi układ A-FORS-3 jest jego bardzo<br />

wysoka czułości oraz możliwość zdalnej kontroli parametrów systemu<br />

detekcyjnego. Układ zbudowano na bazie światłowodowego interferometru<br />

Sagnaca, z zastosowaniem specyficznych rozwiązań optoelektronicznych<br />

mających na celu maksymalizację czułości, specyfikację pod konkretne<br />

zastosowanie oraz zapewnienie mobilności i niezależności. W prezentowanym<br />

czujniku wyróżniającymi się elementami są elektroniczny układ detekcji<br />

synchronicznej, w którym zastosowano nowoczesne 24-bitowe przetworniki<br />

ADC oraz system sterowania urządzeniem i zapisu danych oparty o sieć<br />

internetową. Zaprezentowano też procedurę i wyniki skalowania układu<br />

w oparciu o pomiar składowej prędkości obrotowej Ziemni.<br />

Słowa kluczowe: światłowodowy interferometr Sagnaca, czułość, fale rotacyjne<br />

OSTROWSKI Ł., MURAWSKI M., SZYMAŃSKI M., HOŁDYŃSKI Z.,<br />

TENDERENDA T., MERGO P., MARĆ P., JAROSZEWICZ L.R., NASIŁO-<br />

WSKI T.: System do pomiaru Apertury Numerycznej w światłowodach<br />

specjalnych<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 50<br />

Apertura numeryczna (NA) jest jedną z podstawowych właściwości włókien optycznych.<br />

Określa ona zdolność włókien do sprzęgania światła oraz łączenia ich<br />

z możliwie niskimi stratami. NA odgrywa kluczową role podczas charakteryzowania<br />

nowo produkowanych włókien. Wprowadzając podział na włókna światłowodowe<br />

w których światło uwięzione jest dzięki prowadzeniu materiałowemu<br />

oraz na takie w którym występuje prowadzenie geometryczne. W wypadku<br />

prowadzenia materiałowego nie obserwowany jest dyspersyjny charakter NA.<br />

Natomiast we włóknach mikrostrukturalnych (o prowadzeniu geometrycznym)<br />

apertura numeryczna wykazuje właściwości dyspersyjne. Aby móc badać NA<br />

w szerokim zakresie spektralnym oraz dla szerokiej gamy włókien światłowodowych<br />

zbudowany został przez nas układ do pomiaru NA w funkcji długości fali.<br />

Ponadto dzięki proponowanemu przez nas układowi oraz umiejętności wypełniania<br />

otworów we włóknach mikrostrukturalnych istnieje możliwość określenia<br />

współczynnika załamania n dla różnych materiałów.<br />

Słowa kluczowe: Apertura numeryczna, światłowody mikrostrukturalne,<br />

zastosowania czujnikowe<br />

<br />

MARĆ P., PILISZEK P., NASIŁOWSKI T., MURAWSKI M., SZYMAŃSKI<br />

M., JAROSZEWICZ L.R., PAWLIK K.: Optical temperature switch based<br />

on filled microstructured optical fibre<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 44<br />

Variable optical attenuators (VOAs) play an important role in optical communications<br />

as equalizers for dynamic channel power and wavelength<br />

division multiplexing in a transmission system. Controlling and monitoring<br />

of optical power are also necessary in sensing applications, and especially,<br />

in optical systems which require high power laser operation or critical<br />

temperature threshold monitoring. Various types of VOA have been developed<br />

based on different mechanisms, such as bending loss control,<br />

light leaking from the fibre cladding, temperature tuning of the polymer<br />

incorporated into the tapered microstructured fibre or electrical tuning of<br />

the liquid crystal layers.In this paper we would like to discuss the highly<br />

dynamic VOA based on a tuneable microstructured fibre filled with different<br />

chemical mixtures used as an on/off temperature switch. Furthermore,<br />

the technology of low loss coupling and splicing of the applied MSF with<br />

a standard single mode fibre has been developed. Therefore, in the proposed<br />

application an optical signal can be transmitted to and from the switch<br />

by a standard telecom fibre which considerably reduces transmission losses<br />

and allows for the use of standard off-the-shelf components reducing<br />

costs of the overall system.<br />

Keywords: microstructured optical fibre, photonic crystal fibre, microstructured<br />

fibres filling technology, variable optical attenuator, optical switch<br />

HOŁDYŃSKI Z., MERTA I., JAROSZEWICZ L.R., ŚWIŁŁO R.: Fibre optics<br />

phase demodulator – modeling and experimental results<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 46<br />

In work we present fibre optics phase demodulator modeling and experimental<br />

results based on Young interferometric configuration with bicell<br />

photodetector in Fourier focal plane. We experimentally estimated measurements’<br />

method errors and explained minimum condition of errors because<br />

of their directly connection with demodulator geometric parameters. We<br />

explained influence of gap size between photodetectors on linearization<br />

condition of phase demodulator. Experimental results are in high correlation<br />

with described model of phase demodulator.<br />

Key words: interferometers, interferometric demodulation, phase demodulator,<br />

bicell photodetector<br />

KRAJEWSKI Z., JAROSZEWICZ L.R., KOWALSKI H.: The construction<br />

of A-FORS-3 – Autonomous-Fiber Optic Rotational Seismograph<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 48<br />

In the paper the concept of fiber-optic sensor A-FORS-3 (Autonomous-<br />

Fiber Optic Rotational Seismograph) application for detection of rotation<br />

effects occur during seismic events is presented. The main feature of the<br />

A-FORS-3 is its very high sensitivity and ability to be remotely-controlled.<br />

The device is based on fiber-optic Sagnac interferometer, involving specific<br />

optoelectronic solutions leading to maximum sensitivity, custom-designed<br />

for concrete applications and providing mobility and independence.<br />

Electronic synchronous detection system, based on modern 24-bits ADC<br />

converters, wireless control and collection of data system are the main advantages<br />

of the sensor. Finally, the process of calibration and its outcome,<br />

based on measuring Earth speed rotation, is presented.<br />

Keywords: fibre-optic Sagnac interferometer, sensitivity, rotational waves<br />

OSTROWSKI Ł., MURAWSKI M., SZYMAŃSKI M., HOŁDYŃSKI Z.,<br />

TENDERENDA T., MERGO P., MARĆ P., JAROSZEWICZ L.R., NASI-<br />

ŁOWSKI T.: Numerical Aperture Measurement System for Specialty<br />

Optical Fibres<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 50<br />

Numerical Aperture (NA) is one of the fundamental properties of optical<br />

fibres. It determines the ability of efficient light coupling into the fibre and<br />

low loss splicing with other fibres. NA is essential when novel fibres are<br />

manufactured. Moreover, dispersive behaviour of geometrical guiding mechanisms,<br />

existing in microstructured fibres, is completely different comparing<br />

with material guiding mechanisms of classical fibres. Therefore we<br />

constructed measurement system, for characterization the dispersive properties<br />

of NA of specialty fibres in broad wavelength range. Additionally,<br />

presented setup can be applied for measurements in broad wavelength<br />

range of refractive index of different materials (including highly absorbing)<br />

filling the holes of microstructured fibre.<br />

Keywords: Numerical Aperture, microstructured fibres, fibre sensing<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />

MURAWSKI M., SZYMAŃSKI M., HOŁDYŃSKI Z., TENDERENDA T.,<br />

OSTROWSKI T., PAWLIK K., ŁUKOWSKI A., KRISCH H., MARĆ P., JA-<br />

ROSZEWICZ L.R., NASIŁOWSKI T.: Pomiar czułości włókien mikrostruturalnych<br />

przy wykorzystaniu interferometru Macha-Zehndera<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 52<br />

Właściwości włókien mikrostrukutralnych takie jak: jednomodowe prowadzenie<br />

światła w szerokim zakresie spektralnym (od ultrafioletu do podczerwieni),<br />

bardzo wysoka dwójłomność, bardzo duże lub bardzo małe<br />

pole modu są przedmiotem badań wielu zespołów naukowych na świecie.<br />

Właściwości te wynikają przede wszystkim z rozmiaru, kształtu oraz<br />

lokalizacji otworów powietrznych w strukturze włókna mikrostrukturalnego.<br />

Zmiana tych parametrów pozwala na zastosowania takich włókien do<br />

różnych aplikacji. Sprawia to rosnące zainteresowanie włóknami mikrostrukturalnymi<br />

które widoczne jest w powstających czujnikach opartych<br />

na ich bazie – m. in. Czujniki interferometryczne do detekcji rozmaitych<br />

parametrów fizycznych. Jednym z takich czujników jest światłowodowy<br />

interferometr Macha-Zehndera wykorzystujący jako gałąź czujnikową<br />

włókno mikrostrukturalne. Interferometr ten jest jednym z układów który<br />

nie został opisany w fachowej literaturze. Czujnik zbudowany w oparciu<br />

o taki interferometr może być użyty do pomiarów wibracji, dynamicznego<br />

lub statycznego nacisku, rozciągania lub skręcania.<br />

W pracy tej przedstawione zostało porównanie czułości temperaturowej<br />

oraz mechanicznej włókien mikrostrukturalnych ze standardowymi włóknami<br />

jednomodowymi. Do tego celu wykorzystaliśmy interferometr Macha-<br />

Zehndera z wymiennym ramieniem czujnikowym. Zastosowanie takiego<br />

rozwiązania pozwoliło na zbadanie wielu światłowodów w jednym układzie<br />

pomiarowym. Czułość temperaturowa jest najistotniejszym czynnikiem<br />

przy projektowaniu czujników. Włókna mikrostrukturalne zbudowane są<br />

z czystego szkła krzemiankowego z heksagonalną macierzą otworów powietrznych<br />

co powoduje brak naprężeń termicznych pomiędzy płaszczem<br />

a rdzeniem jak w przypadku włókien z domieszkowanym rdzeniem.<br />

Słowa kluczowe: PCF, MOF, interferometr Mach-Zehnder, światłowody,<br />

czułość włókien światłowodowych<br />

STAWSKA H., BEREŚ-PAWLIK E.: Właściwości modowe światłowodu<br />

mikrostrukturalnego z podwójnym płaszczem do zastosowań w nieliniowych<br />

układach diagnostycznych<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 55<br />

Dwufotonowy mikroskop fluorescencyjny TPM (Two-photon Fluorescence<br />

Microscope) jest przykładem nowoczesnego, nieliniowego układu diagnostycznego,<br />

umożliwiającego nieinwazyjne badanie komórek i tkanek.<br />

W celu wzbudzenia cząsteczki w dwufotonowej mikroskopii fluoroscencyjnej,<br />

używa sie laserów femtosekundowych w bliskiej podczerwieni- near<br />

infrared (NIR). Obecnie badania koncentrują sie na rozwoju układów diagnostycznych<br />

o niewielkich wymiarach, które umożliwią diagnostykę in vivo,<br />

przy jednoczesnym zachowaniu zdolności obrazowania, podobnej do standardowych<br />

mikroskopów dwufotonowych. Właściwe zaprojektowanie światłowodu,<br />

umożliwiającego jednoczesne przesyłanie ultraszybkiego sygnału<br />

oraz odbieranie sygnału fluoroscencyjnego z badanej tkanki, stanowi więc<br />

kluczowy punkt w rozwoju nieliniowych układów diagnostycznych.<br />

W pracy przedstawiono konstrukcję światłowodu mikrostrukturalnego<br />

z podwójnym płaszczem, zbudowanego z pierścieni wykonanych z prętów<br />

ze szkła kwarcowego domieszkowanego germanem. Światłowód o takiej<br />

konstrukcji charakteryzuje się niewielką dyspersją przy długości fali równej<br />

800nm, co zapewnia, że femtosekundowy impuls propagowany w tym<br />

światłowodzie nie ulega rozmyciu. W pracy przede wszystkim skoncentrowano<br />

się na przebadaniu właściwości modowych proponowanego światłowodu.<br />

Zoptymalizowano jego konstrukcję, aby uzyskać maksymalnie dużą<br />

różnicę w tłumieniu miedzy modem podstawowym a modami wyższych<br />

rzędów, co przy założeniu, że światłowód ma około 2 m długości zapewnia<br />

jednomodowy tryb pracy na długości fali 800 nm.<br />

Słowa kluczowe: fluorescencja dwufotonowa, światłowód mikrostrukturalny<br />

z podwójnym płaszczem<br />

KACZMAREK T.: Wpływ dipu na właściwości propagacyjne solitonów<br />

jasnych w światłowodzie skokowym<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 58<br />

W artykule przedstawiono wyniki modelowania numerycznego właściwości<br />

propagacyjnych solitonów jasnych w światłowodzie pierścieniowym pierwszego<br />

rodzaju SP1. Pierwszy rdzeń SP1 odpowiada dipowi występującemu<br />

w rdzeniu światłowodu skokowego. Drugi rdzeń SP1 odpowiada rdzeniowi<br />

w światłowodzie skokowym. Okazuje się, że zarówno głębokość dipu jak<br />

i jego szerokość mają wpływ na właściwości propagacyjne solitonu podstawowego<br />

generowanego i propagowanego w badanym światłowodzie.<br />

Szczególnie czuła na zmiany głębokości i szerokości dipu jest charakterystyka<br />

dyspersyjna modu podstawowego, która w optymalnym przypadku<br />

posiada dwa miejsca zerowe w zakresie od 1 do 2 μm oraz ekstremum<br />

lokalne w okolicach trzeciego okna transmisyjnego. Zwiększanie szerokości<br />

dipu powoduje szybszą degradację zoptymalizowanych właściwości<br />

propagacyjnych solitonu podstawowego niż zwiększanie jego głębokości.<br />

Słowa kluczowe: soliton, światłowód skokowy, światłowód pierścieniowy<br />

pierwszego rodzaju, dyspersja<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong><br />

MURAWSKI M., SZYMAŃSKI M., HOŁDYŃSKI Z., TENDERENDA T.,<br />

OSTROWSKI T., PAWLIK K., ŁUKOWSKI A., KRISCH H., MARĆ P., JA-<br />

ROSZEWICZ L.R., NASIŁOWSKI T.: Sensitivity measurement in microstructured<br />

fibers with use Mach-Zehnder interefometer<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 52<br />

Microstructured fibres (MSFs) reveal unique properties including endlessly<br />

single-mode operation from ultraviolet to infrared wavelengths, very high<br />

birefringence or nonlinearity, very large or very small effective mode field<br />

area, and many others. The size, shape and the location of the air holes<br />

allow for tailoring MSF parameters in a very wide range, way beyond the<br />

classical fibres, what opens up the possibilities for various applications.<br />

Due to their advantages MSFs obtain growing attention for their perspectives<br />

in sensing applications. Different MSF sensors have already been<br />

investigated, including interferometric transducers for diverse physical<br />

parameters. Until now, there have not been any publications reporting on<br />

the sensing applications of MSF Mach-Zehnder interferometers, targeting<br />

the mechanical measurements of vibrations, dynamic or static pressure,<br />

strain, bending and lateral force.<br />

Moreover, a critical feature opening the prospective of optical fibre transducer<br />

to successfully accomplish a particular sensing task remains its<br />

cross-sensitivity to temperature. Studied MSF is made of pure silica glass<br />

in the entire cross-section with a hexagonal structure of the holes. Consequently,<br />

there is no thermal stress induced by the difference in thermal<br />

expansion coefficients between the doped core region and the pure silica<br />

glass cladding, in contrast to standard fibres.<br />

Keywords: PCF, MOF, Mach-Zehnder interferometer, fibers, fiber sensitivity<br />

STAWSKA H., BEREŚ-PAWLIK E.: Modal properties of double clad<br />

microstructured fiber for nonlinear diagnostic systems<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 55<br />

Two-photon Fluorescence Microscope (TPM) is an example of a modern,<br />

nonlinear diagnostic system, which allows for non-invasive examination<br />

of cells and tissues. To exitate molecules in TPM, femtosecond lasers are<br />

used in the near infrared. Current research focuses on the development<br />

of diagnostic systems of small dimensions, which allow diagnosis in vivo,<br />

while maintaining the capability of imaging, similar to standard two-photon<br />

microscopes. Proper design of the fiber, which allows simultaneous transmission<br />

of ultrafast signals and reception of fluorescence response from<br />

the test tissue is therefore a key point in the development of nonlinear<br />

diagnostics.<br />

This paper presents the design of double clad microstructure fiber, which<br />

consist of hexagonal inner clad made up of rings built of rods of germanium-doped<br />

silica glass. Such a fiber has a low dispersion at a wavelength<br />

of 800nm, which ensures that the femtosecond pulse propagated in the<br />

optical fiber is not broadened. The study primarily focused on examining<br />

the modal properties of the proposed fiber. Its design has been optimized<br />

in order to obtain a maximum difference between attenuation of fundamental<br />

mode and higher order modes which, assuming that the fiber has<br />

a length of about 2 m, ensure single-mode operation at a wavelength of<br />

800nm.<br />

Keywords: two-photon fluorescence, double clad microstructure fiber<br />

KACZMAREK T.: Effect of dip on the propagation properties of bright<br />

solitons in step index optical fiber<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 58<br />

This paper presents the results of numerical modeling of propagation properties<br />

of bright solitons in M-profile optical fiber. The first core of M-profile<br />

optical fiber corresponds to the dip occurring in the core of step index<br />

fiber. The second core of M-profile optical fiber corresponds to the core<br />

of step index optical fiber. It appears that both depth and width of the dip<br />

affect the propagation characteristics of the fundamental soliton generated<br />

and propagated inside the tested fiber. Particularly sensitive to changes of<br />

depth and width of the dip is dispersion characteristic of the fundamental<br />

mode, which in the optimal case has two zeros in the range from 1 to 2<br />

μm and a local extremum in the vicinity of the third transmission window.<br />

Increasing the width of the dip causes faster degradation of optimized propagation<br />

characteristics of fundamental soliton than increasing its depth.<br />

Keywords: soliton, step index optical fiber, M-profile optical fiber,<br />

dispersion


Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />

BEREŚ-PAWLIK E., SÓJKA Ł., PILSZAK M., PAJEWSKI Ł., SUJECKI<br />

S., POTURAJ K., SKORUPSKI K., KLIMEK J.: Światłowody fotoniczne<br />

jako materiał na lasery światłowodowe ze zdefiniowanym stanem<br />

polaryzacji<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 62<br />

W ostatnich latach szczególnie interesujące wydają się być konstrukcje laserów<br />

z wykorzystaniem włókien fotonicznych, utrzymujących polaryzację.<br />

Stan polaryzacji generowanego światła lasera jest istotnym parametrem<br />

dla większości zastosowań. W pracy opisano światłowody mikrostrukturalne,<br />

dwójłomne, domieszkowane jonami ziem rzadkich. Przedstawiono<br />

podstawowe wyniki pomiarów absorpcji, emisji oraz modelowania numerycznego<br />

w celu określenia wymaganej długości włókna aktywnego do<br />

zastosowania w układach laserujących.<br />

W pracy przedstawiono również zagadnienia związane z uzyskaniem sygnałów<br />

jedno i wielofalowych w laserach światłowodowych. Zaprezentowano<br />

także możliwość przestrajania tych sygnałów w laserach światłowodowych<br />

pracy ciągłej.<br />

Słowa kluczowe: lasery oparte na światłowodach fotonicznych, stan polaryzacji<br />

sygnału<br />

SÓJKA Ł., BEREŚ-PAWLIK E., TANG Z., FURNISS D., SEDDON A.B.,<br />

BENSON T.M., SUJECKI S.: Technologia wytwarzania i pomiary absorpcji<br />

szkieł chalkogenidkowych domieszkowanych jonami ziem rzadkich<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 64<br />

Szkła chalkogenidkowe charakteryzują się niską energią fononów dlatego<br />

też są obiecującym materiałem dla realizacji światłowodów na zakres<br />

średniej podczerwieni. W pracy przedstawiono technologię wykonania<br />

szkieł chalkogenidkowych (Ge 16.5<br />

As 16<br />

Ga 3<br />

Se 64.5<br />

) domieszkowanych jonami<br />

ziem rzadkich (Dy 3+ , Tb 3+ , Pr 3+ ). Wyniki eksperymentalne absorpcji otrzymano<br />

za pomocą spektroskopii furierowskiej w zakresie podczewieni (ang.<br />

FTIR). Podstawowe parametry domieszkowanych szkieł chalkogenidkowych<br />

takie jak: promieniste czasy życia poziomów energetycznych oraz<br />

współczynniki rozgałęzienia luminescencji beta obliczono metodą Judda-<br />

Ofelta. Na podstawie otrzymanych wyników omówiono wpływ linii bazowej<br />

na błędy metody pomiarowej. Na podstawie otrzymanych wyników zaprezentowano<br />

zastosowanie szkieł chalkogenidkowych do realizacji laserów<br />

światłowodowych na zakres średniej podczerwieni.<br />

Słowa kluczowe: szkła chalkogenidkowe, lasery światłowodowe, średnia<br />

podczerwień<br />

KACZMAREK C.: Światłowodowy czujnik siły bazujący na interferometrze<br />

Sagnaca z dwójłomnym światłowodem fotonicznym<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 67<br />

W artykule przedstawiono światłowodowy czujnik siły, w którym zastosowano<br />

krótki odcinek dwójłomnego światłowodu fotonicznego (PM-PCF)<br />

jako przetwornik ugięcia elementu sprężystego, umieszczony w pętli<br />

interferometru Sagnaca. Element sprężysty czujnika stanowi belka stalowa<br />

o jednakowej wytrzymałości, jednostronnie utwierdzona. Odcinek<br />

światłowodu PM-PCF zamocowano jednym końcem do belki w pobliżu jej<br />

swobodnego końca, a drugim końcem do mocowania belki. Z pomiarów<br />

wynika, że przesunięcie widma wiązki wyjściowej czujnika, wywołane siłą<br />

działającą na swobodny koniec belki, następuje z czułością 33 pm/N w zakresie<br />

0-50 N. Czułość ta odniesiona do 1 m odcinka PM-PCF wynosi 94<br />

pm/N·m. Ze względu na bardzo małą czułość temperaturową tego czujnika<br />

nie wymaga on kompensacji temperaturowej.<br />

Słowa kluczowe: czujnik światłowodowy, czujnik siły, interferometr Sagnaca,<br />

dwójłomny światłowód fotoniczny (PM-PCF)<br />

BEREŚ-PAWLIK E., SÓJKA Ł., PILSZAK M., PAJEWSKI Ł., SUJECKI<br />

S., POTURAJ K., SKORUPSKI K., KLIMEK J.: Photonic crystal fibers<br />

as material for fiber lasers with defined state of polarization<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 62<br />

In recent years especially interesting seem to be constructions of lasers<br />

using polarization maintaining photonic crystal fibers. State of polarization<br />

of the generated laser light is an important parameters for the majority<br />

of applications. In the paper were described microstructure birefringence<br />

doped with rare earths ions. Basic measurements results of absorption,<br />

emission and numerical modeling were presented in order to determine<br />

required length of active fiber for laser set-up applications. In the paper<br />

issues connected with obtaining single- and multiwavelength signals in<br />

fiber lasers were presented. Also tuning possibilities of these laser signals<br />

in fiber lasers were presented.<br />

Keywords: lasers base on photonic crystal fibers, polarization state of<br />

signal<br />

SÓJKA Ł., BEREŚ-PAWLIK E., TANG Z., FURNISS D., SEDDON A.B.,<br />

BENSON T.M., SUJECKI S.: Fabrication and absorption measurements<br />

chalcogenide glasses doped with rear earth<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 64<br />

One of the promising materials for the construction of mid-infrared fiber<br />

lasers is the chalcogenide glass. The chalcogenide glass has low phonon<br />

energy (below 400 cm -1 ) when compared with standard materials used to<br />

produce fiber lasers, i.e. ZBLAN and silica glass.We present a comprehensive<br />

study of chalcogenide glass fiber lasers doped with Dy 3+ , Pr 3+ or Tb 3+<br />

that operate in the mid-infrared wavelength range. A set of chalcogenide<br />

glass samples doped with different concentrations of rare earth ions was<br />

fabricated. The modeling parameters are directly extracted from FTIR absorption<br />

measurements performed on the fabricated bulk glass samples<br />

using Judd-Ofelt theory. Results show that, for all the dopants considered,<br />

an efficient mid-infrared laser action is possible if optical losses are kept at<br />

the level of 1dB/m or below.<br />

Keywords: chalcogenide glasses, fiber laser, mid infrared<br />

KACZMAREK C.: Fiber optic force sensor based on the Sagnac interferometer<br />

with a birefringent photonic crystal fiber<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 67<br />

A fiber optic force sensor is presented, in which a short segment of a polarization<br />

maintaining – photonic crystal fiber (PM-PCF) was used as a transducer<br />

of the deflection of an elastic element, and was placed in the loop of<br />

the Sagnac interferometer. The elastic element of the sensor is constituted<br />

by a steal cantilever beam of constant strength. A section of a PM-PCF<br />

was fixed by one end to the beam near its free end and by the second end<br />

to the anchorage of the beam. From the measurements it follows, that the<br />

shift of the spectrum of the sensor output, caused by the force acting on<br />

the free end of the beam occurs with a sensitivity of 33 pm/N over a range<br />

of 0-50N. This sensitivity corresponding to a 1 m long section of PM-PCF is<br />

94 pm/N. Due to the very low temperature sensitivity of the sensor it does<br />

not require any temperature compensation.<br />

Keywords: fiber optic sensor, force sensor, Sagnac interferometer, birefringent<br />

photonic crystal fiber (PM-PCF)<br />

CZERNIK P.: Sprzętowy generator kluczy kryptograficznych dedykowany<br />

dla systemów pomiarowo-sterujących o asymetrycznych<br />

zasobach<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 70<br />

W artykule przedstawiono układ generatora wartości losowych, bazujący<br />

na teorii nieliniowych układów dynamicznych do zastosowań w kryptograficznie<br />

bezpiecznych rozproszonych systemach pomiarowo-sterujących<br />

o asymetrycznych zasobach. Celem realizacji tego układu jest opracowanie<br />

wysokiej jakości generatora kluczy kryptograficznych. Prezentowany<br />

generator został zaprojektowany, oprogramowany oraz przebadany pod<br />

względem bezpieczeństwa kryptograficznego. Rzeczywiste bezpieczeństwo<br />

kryptograficzne zostało przetestowane na bazie autorskiego oprogramowania<br />

oraz środowiska RDieHarder [1]. Uzyskane najistotniejsze<br />

wyniki badań zostały przedstawione oraz przeanalizowane. Zaprezentowano<br />

także oprogramowany autorski proces akwizycji danych losowych<br />

z układu pomiarowego do komputera, poprzez specjalizowany oscyloskop<br />

cyfrowy.<br />

Słowa kluczowe: kryptografia, rozproszone systemy pomiarowo-sterujące,<br />

generatory liczb losowych, teoria chaosu, sygnały chaotyczne<br />

CZERNIK P.: Hardware cryptographic keys generator dedicated to<br />

measuring and control systems with asymmetric resource<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 70<br />

In this article was presented the random number generator, based on the<br />

theory of nonlinear dynamical systems for applications in cryptographically<br />

secure distributed systems of measurement and control systems with<br />

asymmetric resources. The purpose to build this device is implement the<br />

high-quality cryptographic keys generator. The presented generator was<br />

designed, programmed and thoroughly tested in terms of cryptographic<br />

security. The cryptographic security was tested based on the author’s<br />

software and the software environment called RDieHarder [1]. The most<br />

important results was presented and analyzed. There was presented the<br />

random data acquisition process from the measurement system to a computer,<br />

realized via the specialized digital oscilloscope.<br />

Keywords: cryptography, distributed measurement and control systems,<br />

random number generators, chaotic theory, chaotic signals<br />

<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />

BRZOSTEK-PAWŁOWSKA J., MIKUŁOWSKI D.: Techniki multimodalne<br />

zwiększające dostępność grafiki na stronach WWW i w elektronicznych<br />

dokumentach<br />

<strong>Elektronika</strong> nr 11/<strong>2012</strong>, s. 77<br />

Wraz z upowszechnieniem się urządzeń mobilnych coraz większe znaczenie<br />

zyskuje problem dostępności grafiki na stronach WWW i w dokumentach<br />

elektronicznych. Obejmuje on nie tylko użytkowników nie mogących<br />

posługiwać się myszą takich jak osoby niewidome, ale również większość<br />

użytkowników urządzeń o niewielkich ekranach takich jak smartfony.<br />

Badania podjęte w celu rozwiązania tego problemu koncentrują się z jednej<br />

strony na tworzeniu dedykowanych urządzeń, które byłyby dostępne<br />

dla niewidomego użytkownika, a z drugiej strony na przystosowaniu<br />

powszechnie używanych rozwiązań do użytku przez takie osoby. Artykuł<br />

przedstawia przede wszystkim problematykę zwiększania dostępności<br />

grafiki i możliwości interaktywnego poznawania jej szczegółów przez<br />

niewidomego użytkownika lub użytkownika zminiaturyzowanego sprzętu<br />

mobilnego.<br />

Słowa kluczowe: dostępność grafiki, haptyczne urządzenia, przeglądarki<br />

tekstowe, DAISY XML, SVG, EPUB<br />

ŚWIDERSKI J., MICHALSKA M., PICHOLA W., MAMAJEK M.: Światłowodowy<br />

generator supercontinuum zakresu średniej podczerwieni<br />

– przykład technologii podwójnego zastosowania<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 85<br />

W artykule omówiono ideę generacji promieniowania superciągłego (SC)<br />

w zakresie średniej podczerwieni oraz przedstawiono szeroki wachlarz<br />

potencjalnych zastosowań takiego promieniowania. Zaprezentowano<br />

również praktyczną realizację generatora SC na zakres średniej podczerwieni,<br />

w którym to generację promieniowania SC uzyskano w układzie:<br />

krzemionkowy światłowód jednomodowy (SMF-28) – jednomodowy światłowód<br />

fluorkowy, pompowanym impulsami promieniowania o długości fali<br />

1550 nm. Opracowany układ generował 0.85 W średniej mocy wyjściowej<br />

w paśmie widmowym ~0,9…3,2 µm, z czego 106 mW odpowiadało falom<br />

dłuższym niż 2,4 µm.<br />

Słowa kluczowe: promieniowanie superciągłe, wzmacniacz światłowodowy,<br />

generacja impulsowa<br />

WIATROWSKI A.: System pomiarowy do dynamicznej spektroskopii<br />

widma emisyjnego plazmy TR-OES do diagnostyki plazmy wyładowania<br />

jarzeniowego w układzie magnetronowym zasilanym impulsowo<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 89<br />

Artykuł podejmuje tematykę budowy systemu pomiarowego do dynamicznej<br />

spektroskopii optycznego widma emisyjnego plazmy (ang. Time-Resolved<br />

Optical Emission Spectroscopy – TR-OES). Przedstawione rozwiązanie<br />

projektowano pod kątem zastosowania tego układu do diagnostyki<br />

plazmy wyładowania jarzeniowego wytwarzanego przez magnetronowy<br />

układ rozpylający zasilany impulsowo. W artykule omówiono zasadę działania,<br />

nakreślono podstawy konstrukcji oraz przedstawiono przykładowe<br />

wyniki zarejestrowane przy użyciu zaproponowanego rozwiązania.<br />

Słowa kluczowe: spektroskopia widma emisyjnego plazmy, diagnostyka<br />

plazmy, impulsowe rozpylanie magnetronowe<br />

BRATEK P., MAJCHERCZYK D., BRZOZOWSKI I., KOS A.: Multimedialny<br />

bezprzewodowy system alarmowy<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 95<br />

Artykuł przedstawia multimedialny bezprzewodowy system alarmowy<br />

przesyłający wiadomości graficzne MMS z wykorzystaniem modemu<br />

GSM/GPRS. Przedstawiono środowisko sprzętowo-programowe niezbędne<br />

do tworzenia wiadomości MMS.<br />

Słowa kluczowe: GSM, GPRS, MMS, komendy AT, system alarmowy<br />

BRZOSTEK-PAWŁOWSKA J., MIKUŁOWSKI D.: Multimodal technologies<br />

for increasing the availability of graphics on Web pages and in<br />

the electronic documents<br />

<strong>Elektronika</strong> no 11/<strong>2012</strong>, p. 77<br />

Since use of mobile applications become general practice the problem of<br />

graphics availability in the Internet and electronic documents gained greater<br />

importance. It concerns not only users who aren’t able to use of the<br />

mouse such us the blind but also another one who are using of small-screen<br />

devices such as smartphones. The researches according to this area<br />

conducted on the one hand in developing of devices that are especially<br />

dedicated, and on the other, in adaptation of commonly used solutions for<br />

the use by a blind people.<br />

In this article, the newest researches going to improve better accessibility<br />

of graphic for the blind users in the electronic documents and in the mobile<br />

devices are presented.<br />

Keywords: available graphics, haptic devices, text-based browser, DAISY<br />

XML, SVG, EPUB<br />

ŚWIDERSKI J., MICHALSKA M., PICHOLA W., MAMAJEK M.: Mid-infrared<br />

fiber supercontinuum generator – an example of double application<br />

technology<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 85<br />

The article outlines the idea of supercontinuum (SC) generation in midinfrared<br />

spectral band as well as presents a wide spectrum of its potential<br />

applications. Practical realization of mid-infrared SC generator built with<br />

the use of a tandem: a conventional single mode fiber (SMF-28) – single<br />

mode fluoride fiber pumped by pulses at the wavelength of 1550 nm is<br />

also presented. The system developed delivered 0.85 W of average output<br />

power in the spectral band of ~0.9…3.2 µm, out of which 106 mW corresponded<br />

to wavelengths longer than 2.4 µm.<br />

Keywords: supercontinuum, fiber amplifier, pulse generation<br />

WIATROWSKI A.: The Time-Resolved Optical Emission Spectroscopy<br />

(TR-OES) measurement system for diagnostics of pulsed magnetron<br />

sputtering plasma<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), 11/<strong>2012</strong>, p. 89<br />

The article discusses the construction of measurement system for Time<br />

Resolved Optical Emission Spectroscopy (TR-OES). The described solution<br />

was designed in terms of its application for diagnostics of glow discharge<br />

plasma in a pulsed magnetron sputtering deposition system. This<br />

article discusses the principle of operation, outlines the basis of the electronic<br />

circuitry design, shows sample results obtained using the proposed<br />

solution.<br />

Keywords: Optical Emission Spectroscopy, Time-Resolved Optical Emission<br />

Spectroscopy, plasma diagnostics, pulsed magnetron sputtering<br />

BRATEK P., MAJCHERCZYK D., BRZOZOWSKI I., KOS A.: Multimedia<br />

Wireless Alarm System<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 95<br />

Paper presents a Multimedia Wireless Alarm System transmitting MMS<br />

picture messaging using GSM/GPRS modem. Hardware and software environment<br />

required to complete the creation of MMS picture message has<br />

been described.<br />

Keywords: GSM, GPRS, AT commands, alarm system<br />

BRZOZOWSKI I., WAWSZCZAK SZ., BRATEK P., KOS A.: Automatyczny<br />

pomiar pojemności złączowej półprzewodnikowego złącza p-n<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 97<br />

W artykule przedstawiono automatyczne stanowisko pomiarowe pozwalające<br />

na pomiary pojemności złączowej półprzewodnikowych złącz p-n.<br />

System pomiarowy został zbudowany w oparciu o standardowe przyrządy<br />

laboratoryjne uzupełnione o dedykowany generator pomiarowy, którego<br />

projekt i realizacja została opisana. W celu konfiguracji systemu, sterowania<br />

pomiarami i archiwizacji danych napisano specjalną aplikację w środowisku<br />

LabVIEW.<br />

Słowa kluczowe: pojemność złącza p-n, system pomiarowy, generator<br />

pomiarowy, LabVIEW<br />

BRZOZOWSKI I., WAWSZCZAK SZ., BRATEK P., KOS A.: Automatic<br />

measuring system for junction capacitance of semiconductor p-n<br />

junction<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 97<br />

The paper presents automatic measuring system allowing to measure of<br />

junction capacitance of semiconductor p-n junction. The system was build<br />

based on standard laboratory equipment supplemented with dedicated<br />

measuring generator, which design and realization was described. For the<br />

system configuration, controlling of measurements and data acquisition<br />

and saving special application in LabVIEW environment was made.<br />

Keywords: p-n junction capacitance, measuring system, measuring generator,<br />

LabVIEW<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />

MARTYNIUK P., KOWALESKI A., GAWRON W., ROGALSKI A.: Barierowe<br />

struktury detekcyjne – nowe możliwości<br />

Elektrobnika (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 102<br />

Detektory promieniowania podczerwonego z wąską przerwą energetyczną<br />

wymagają chłodzenia celem ograniczenia prądów ciemnych generowanych<br />

w strukturze detekcyjnej wśród których najważniejszymi są:<br />

procesy generacyjno – rekombinacyjne Shockley-Read-Halla i procesy<br />

Augera. Obecnie, zwiekszenie temperatury pracy urządzeń detekcyjnych<br />

bez ograniczenia ich osiągów jest głównym celem wielu zespołów badawczych.<br />

Procesy generacyjno – rekombinacyjne Augera można ograniczyc<br />

poprzez budowę urządzęń detekcyjnych z supersieci II rodzaju (type II<br />

superlattice – T2SLs) z związków A III B V należących do rodziny 6.1 Ĺ. Implementacja<br />

barier do struktur detekcyjnych pozwala zredukowac niekorzystny<br />

wpły procesów Shockley-Read-Halla. Ograniczenie wpływu obu<br />

mechanizmów pozwoli zwiekszyć temperaturę pracy detektora. Artykuł<br />

przedstawia osiągi unipolarnych detektorów nBn z T2SLs InAs/GaSb/B-<br />

Al 0.2<br />

Ga 0.8<br />

Sb i HgCdTe oraz ich potencjalne możliwości w rozwoju detektorów<br />

promieniowania podczerwonego.<br />

Słowa kluczowe: barierowe struktury detekcyjne, supersieci, InAs/GaSb,<br />

HgCdTe, fotodetektory<br />

GRZESIAK W., PIEKARSKI J., CIEŻ M., GRZESIAK P.: Zastosowanie<br />

dedykowanych układów scalonych w systemach wyszukiwania<br />

punktu mocy maksymalnej<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 106<br />

Implementacja techniki MPPT (Maximum Power Point Tracking) w systemach<br />

fotowoltaicznych pozwala na zwiększenie efektywności przetwarzania<br />

energii słonecznej na elektryczną. W ostatnich latach wiele wiodących<br />

firm produkujących półprzewodnikowe układy scalone opracowało i wdrożyło<br />

do produkcji dedykowane układy pozwalające na realizację tej techniki.<br />

W artykule dokonano przeglądu takich układów i dokonano wyboru<br />

kilku, zdaniem autorów, najciekawszych rozwiązań. Dla wybranych rozwiązań<br />

zaprojektowano i wykonano modele. Ograniczono się do rozwiązań<br />

relatywnie prostych, a co za tym idzie, niskokosztowych, przeznaczonych<br />

dla systemów o mocy do 200 W. Przy wyborze rozwiązań kierowano się<br />

również możliwością ich miniaturyzacji poprzez zastosowanie technologii<br />

SMD. Wykonane modele poddano badaniom na specjalistycznych stanowiskach<br />

badawczych, a ich wyniki zaprezentowano w artykule.<br />

Słowa kluczowe: układ scalony, system fotowoltaiczny, technika MPPT,<br />

technologia grubowarstwowa<br />

SOBOTA R., MANDOWSKI A., MANDOWSKA E.: Luminescencja izolatorów<br />

ceramicznych sieci energetycznych średnich napięć<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 109<br />

W pracy przedstawiono wyniki pomiarów termoluminescencji (TL) izolatorów<br />

ceramicznych sieci energetycznych średnich napięć. Materiał do<br />

badań pobrano z izolatorów pracujących wiele lat. Badano próbki pochodzące<br />

z różnych części izolatora. Zmierzono termoluminescencję naturalną<br />

oraz po napromienieniu promieniowaniem beta. W obu przypadkach<br />

otrzymano wyraźne piki termoluminescencyjne, powiązane ze strukturą<br />

defektową ceramiki.<br />

Słowa kluczowe: luminescencja, termoluminescencja, sieć energetyczna,<br />

izolator ceramiczny, pułapki, centra rekombinacji<br />

MARTYNIUK P., KOWALESKI A., GAWRON W., ROGALSKI A.: Barrier<br />

structures – new possibilities<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 102<br />

The narrow band gap infrared detectors require cryogenic cooling to suppress<br />

dark current, which is typically limited by Shockley-Read-Hall (SRH)<br />

and Auger generation-recombination processes. Currently, increasing the<br />

operating temperature of the infrared detection systems without sacrificing<br />

its performance remains to be a crucial objective of the research groups.<br />

Intrinsic Auger thermal generation recombination process could be controlled<br />

by implementation of the type II superlattices (T2SLs) A III B V 6.1 Ĺ<br />

family to the detectors architecture while extrinsic SRH process could be<br />

suppressed by the barrier’s incorporation into detector’s structure respectively.<br />

Both SHR and Auger suppression lead to increase of the device’s<br />

operating temperature. The paper reports on the unipolar barrier infrared<br />

detector (UBIRD) medium wavelength infrared (MWIR) HgCdTe nBn/B-n<br />

type and T2SLs nBn InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />

Ga 0.8<br />

Sb detector’s photoelectrical<br />

performance and their potential possibilities in the field of infrared detectors<br />

development.<br />

Keywords: barrier detectors, unipolar barrier, superlattice, InAs/GaSb,<br />

HgCdTe, photodetectors<br />

GRZESIAK W., PIEKARSKI J., CIEŻ M., GRZESIAK P.: Application of<br />

dedicated integrated circuits in maximum power point tracking systems<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 106<br />

Implementation of MPPT technology (Maximum Power Point Tracking) in<br />

photovoltaic systems can increase the efficiency of converting solar energy<br />

into electricity. In recent years many leading companies specializing in<br />

production of semiconductors has developed dedicated integrated circuits<br />

to implement that technique. The article reviews these systems and selects,<br />

according to the authors knowledge, several of the most interesting<br />

solutions. For selected solutions appriopriate models have been designed<br />

and manufactured. Only simple as well as low-cost solutions, intended for<br />

systems up to 200W, have been choosen. Process of solutions selection<br />

has been guided by the possibility of miniaturization by the SMD technology.<br />

Models were tested on specialized research station. The results are<br />

presented in the article.<br />

Keywords: integrated circuit, the photovoltaic system, MPPT technology,<br />

thick-layer technology<br />

SOBOTA R., MANDOWSKI A., MANDOWSKA E.: Luminescence of ceramic<br />

insulators of middle voltage power networks<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 109<br />

The paper presents results of thermoluminescence (TL) measurements<br />

of ceramic insulators of medium-power energy networks. Samples for the<br />

measurements were taken from insulators working many years. The samples<br />

under study originated from different parts of insulator. Thermoluminescence<br />

was measured for natural samples as well as beta-irradiated. In<br />

both cases pronounced thermoluminescence peaks were obtained, related<br />

to defect structure of the ceramics.<br />

Keywords: luminescence, thermoluminescence, power network, ceramic<br />

insulator, traps, recombination centres<br />

RYMARSKI Z.: Dobór mikrokontrolera do sterowania inwerterem napięcia<br />

w systemach UPS<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 111<br />

Sterowanie inwerterami napięcia stosowanymi w systemach UPS wymaga<br />

doboru specyficznych cech mikrokontrolerów. Podstawowym wymaganiem<br />

jest wysoka częstotliwość wejściowa komparatorów modulatora PWM.<br />

Jedno lub dwuzboczowy sposób modulacji wpływa zarówno na dyskretny<br />

model zastępczy inwertera, a pośrednio na algorytm sterowania, jak i na<br />

zawartość niskich harmonicznych w widmie napięcia wyjściowego. Musi<br />

istnieć możliwość uzyskania stałego (bez impulsów) niskiego lub wysokiego<br />

poziomu na wyjściu modulatora PWM. Wymagana jest także wysoka<br />

szybkość przełączania portów wyjściowych. Jak najkrótszy czas równoległego<br />

przetwarzania przez 2 lub 3 przetworniki AC jest niezbędny w sterowaniu<br />

nadążnym o kilku zmiennych wejściowych. Przy rozbudowanym,<br />

w szczególności 3-fazowym sterowaniu istotna jest sprzętowa realizacja<br />

operacji matematycznych. O wyborze mikrokontrolera decyduje także dostępność<br />

oprogramowania – kompilatorów języka C i bibliotek funkcji.<br />

Słowa kluczowe: inwerter napięcia, modulacja PWM, schemat modulacji<br />

PWM, mikrokontroler, systemy bezprzerwowego zasilania UPS<br />

RYMARSKI Z.: The choice of the microcontroller for the voltage source<br />

inverter control in UPS systems<br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 111<br />

The voltage source inverter control in UPS systems requires the selection<br />

of the specific features of microcontrollers. The high input frequency of the<br />

comparator of the PWM modulator is the basic requirement. The choice of<br />

the single or double edge PWM influences as well on the discrete model<br />

of the VSI and indirectly on the control algorithm as on the low frequency<br />

harmonics presence in the output voltage spectrum. It should be the<br />

posibility of the low or high steady level (without pulses) of the PWM unit<br />

output voltage. The high speed of output ports switching is demanded. The<br />

short time of the conversion and parallel operation of 2 or 3 AD converters<br />

is necessary in multi-input instanteneous control. The hardware based<br />

mathematical operations implemented in the microcontroller are important<br />

in 3-phase control. The choice of the microcontroller finally depends on<br />

software avialability – C compilators and hardware dedicated functions<br />

libraries.<br />

Keywords: voltage source inverter, PWM, PWM scheme, microcontroller,<br />

UPS systems<br />

10<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />

GAJDA J., ROMANIUK R.S.: Technologia i Zastosowania Laserów <strong>2012</strong><br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 115<br />

Wyniki badań i osiągnięcia techniczne w zakresie laserów są podsumowywane<br />

co trzy lata w czasie Krajowego Sympozjum Techniki Laserowej<br />

STL, organizowanego od prawie trzydziestu lat w Świnoujściu we wrześniu<br />

przez WAT, PW i ZUT. Artykuł przedstawia przegląd prac prezentowanych<br />

i dyskutowanych na STL. Pokazano tendencje rozwojowe materiałów<br />

laserowych i technologii oraz dziedzin związanych z techniką laserową<br />

i optoelektroniką w kraju, włączając w to wysiłki środowiska akademickiego,<br />

instytutów PAN i resortowych, oraz przemysłowych ośrodków badawczych.<br />

Obok rozwoju laserów, druga część STL jest poświęcona zastosowaniom<br />

laserów, gdzie operatorzy systemów laserowych przedstawiają<br />

własne osiągnięcia aplikacyjne. Przedstawiono zakresy tematyczne sesji<br />

STL oraz plenarne referaty zaproszone wygłoszone przez kluczowych reprezentantów<br />

przemysłu laserowego.<br />

Słowa kluczowe: lasery, technologia laserów, zastosowania laserów, materiały<br />

laserowe, optyczne materiały aktywne, światłowody aktywne, lasery<br />

światłowodowe, lasery dużej mocy, atomowe zegary laserowe, fotonika<br />

nieliniowa, lasery półprzewodnikowe, laser kaskadowe<br />

CZAJKOWSKI J.: Stan aktualny i rozwój systemu INMARSAT<br />

<strong>Elektronika</strong> (L(III), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 122<br />

W artykule opisano aktualny status satelitarnego systemu radiokomunikacyjnego<br />

INMARSAT. Przedstawione dane dotyczą okresu od listopada<br />

2010 roku do października 2011 roku. Opisano główne składowe systemu<br />

INMARSAT, tj. satelity umieszczone na orbicie geostacjonarnej nad czterema<br />

obszarami oceanicznymi, operacyjne centrum zarządzania, naziemne<br />

stacje lądowe, stacje koordynacyjne oraz stacje statkowe. Stwierdzono<br />

iż system spełnia wszystkie oczekiwania systemu GMDSS – obejmując<br />

alarmowanie w niebezpieczeństwie, rozpowszechnianie morskich informacji<br />

bezpieczeństwa – MSI oraz zapewniając łączność ogólną.<br />

Słowa kluczowe: LES – Lądowa Stacja Naziemna, SES – Statkowa Stacja<br />

Naziemna, NCS – Stacja Koordynacyjna, OCC – Operacyjne Centrum<br />

Kontroli i Zarządzania<br />

GAJDA J., ROMANIUK R.S.: Laser Technology and Applications <strong>2012</strong><br />

<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 115<br />

The research and technical achievements in the area of lasers are summarized<br />

every three years by the National Symposium on Laser Technology<br />

held in the Baltic See Resort Świnoujście near Szczecin, Poland.<br />

The paper presents a preview of the symposium works to be shown and<br />

debated during this key event in September <strong>2012</strong>. There are shown development<br />

tendencies of laser materials and technologies and laser associated<br />

branches of optoelectronics in this country, including the efforts of<br />

academia, governmental institutes, research businesses and industry. The<br />

second branch of the symposium works are laser applications, where the<br />

laser systems operators and laser users present their achievements. Topical<br />

tracks of the meeting are presented, as well as the keynote and invited<br />

subjects delivered by key representatives of the laser industry.<br />

Keywords: lasers, laser technology, lasing materials, optoelectronics, laser<br />

theory, laser design, laser components, kinds of lasers, semiconductor<br />

lasers, VCSEL, laser applications, photonics, nonlinear photonics, active<br />

optical fibers, optical fiber lasers, high power lasers, high intensity lasers,<br />

laser atomic clocks<br />

CZAJKOWSKI J.: Actual status and development of the INMARSAT<br />

system<br />

<strong>Elektronika</strong> (L(III), no 11/<strong>2012</strong>, p. 122<br />

The article presents actual status of the INMARSAT system. The information<br />

covers the period from November 2010 to October 2011. The<br />

operational status of key elements of the space and ground segments is<br />

summarized. The availability of all GMDSS components, including distress<br />

alerting, Maritime Safety Information and general communication is shown<br />

in the article.<br />

Keywords: LES – Land Earth Station, SES – Ship Earth Station, NCS<br />

– Network Coordination Station, OCC – Operational Control Centre<br />

Szanowni Autorzy,<br />

zgodnie z zaleceniem Ministerstwa Nauki i Szkolnictwa Wyższego<br />

przedstawiamy procedurę przeciwdziałania przypadkom<br />

ghostwriting i guest authorship.<br />

Definicje<br />

– ghostwriting – przypadek, gdy ktoś wniósł istotny wkład<br />

w powstanie publikacji, bez ujawnienia swojego udziału jako jeden<br />

z autorów lub bez wymienienia jego roli w podziękowaniach<br />

zamieszczonych w publikacji,<br />

– guest authorship (honorary authorship) – przypadek,<br />

gdy udział autora jest znikomy lub w ogóle nie miał miejsca,<br />

a pomimo to jest autorem/współautorem publikacji.<br />

Działania mające na celu przeciwdziałanie powyższym<br />

przypadkom (zgodnie z zaleceniami Ministerstwa Nauki i Szkolnictwa<br />

Wyższego) są następujące:<br />

● Redakcja wymaga od autorów publikacji ujawnienia wkładu<br />

poszczególnych autorów w powstanie publikacji (z podaniem<br />

ich afiliacji oraz kontrybucji, tj. informacji kto jest autorem koncepcji,<br />

założeń, metod, protokołu itp. wykorzystywanych przy<br />

przygotowaniu publikacji), przy czym główną odpowiedzialność<br />

ponosi autor zgłaszający manuskrypt.<br />

● Redakcja wyjaśnia w „Informacji dla autorów”, że ghostwriting<br />

i guest authorship są przejawem nierzetelności<br />

naukowej, a wszelkie wykryte przypadki będą demaskowane,<br />

włącznie z powiadomieniem odpowiednich podmiotów (instytucje<br />

zatrudniające autorów, towarzystwa naukowe, stowarzyszenia<br />

edytorów naukowych itp.).<br />

● Redakcja wymaga informacji o źródłach finansowania<br />

publikacji, wkładzie instytucji naukowo-badawczych, stowarzyszeń<br />

i innych podmiotów (financial disclosure).<br />

● Redakcja dokumentuje wszelkie przejawy nierzetelności<br />

naukowej, zwłaszcza łamania i naruszania zasad etyki obowiązujących<br />

w nauce.<br />

* * *<br />

W związku ze zmianami dotyczącymi oceny parametrycznej<br />

czasopism, Ministerstwo Nauki i Szkolnictwa Wyższego wprowadziło<br />

następujące kryteria oceny publikacji:<br />

1. Oryginalność<br />

– czy artykuł zawiera nowości w zakresie prezentowanej tematyki<br />

– czy wnosi wkład w stan wiedzy<br />

– czy odpowiada poziomowi merytorycznemu czasopisma<br />

– czy opisywane zagadnienia są istotne dla rozwoju nauki<br />

lub zastosowań praktycznych<br />

2. Układ<br />

– czy artykuł prezentuje logiczny układ treści i jasność wywodu<br />

a) Tytuł: czy odpowiada treści artykułu<br />

b) Streszczenie: czy odzwierciedla treść artykułu<br />

c) Wprowadzenie: czy opisuje co autor zamierzał osiągnąć<br />

i jasno przedstawia zagadnienia poruszane w artykule (zwykle<br />

wprowadzenie powinno zawierać przegląd literatury dotyczącej<br />

danego tematu, opis eksperymentu, hipotezy, ogólny plan eksperymentu<br />

lub stosowanych metod),<br />

d) Metody badań: czy autor dokładnie wyjaśnia w jaki sposób<br />

otrzymał wyniki Czy metody badań są odpowiednio dobrane,<br />

jeśli metody są nowe, to czy są dokładnie opisane, czy autor<br />

wystarczająco dokładnie opisał sposób wykonywania badań/pomiarów<br />

e) Wyniki: czy autor w logiczny i jasny sposób wyjaśnia co<br />

stwierdził w wyniku przeprowadzonych badań, czy dokonał<br />

prawidłowej analizy wyników<br />

f) Podsumowanie/Wnioski: czy zamieszczone stwierdzenia/wnioski<br />

są poparte wynikami badań, czy autor wykazał jak<br />

wyniki odnoszą się do oczekiwań i wcześniejszych badań, czy<br />

wyniki badań potwierdzają czy zaprzeczają wcześniejszym teoriom<br />

g) Rysunki i tabele: czy zamieszczone rysunki i tabele jasno<br />

ilustrują wyniki badań i czy są zrozumiałe dla czytelnika, czy<br />

są istotne dla zilustrowania treści artykułu<br />

3. Wcześniejsze badania<br />

– jeśli artykuł zawiera wcześniejsze wyniki badań, to czy zamieszczono<br />

odpowiednie odnośniki literaturowe<br />

4. Zagadnienia etyczne<br />

– Plagiat: czy artykuł nie jest kopią innej pracy<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 11


Mach-Zehnder non-zero chirp intensity modulator static<br />

characteristics parameters estimation based on intensity data<br />

(Estymacja parametrów charakterystyki statycznej modulatora<br />

amplitudowego Mach-Zehndera typu non-zero chirp na podstawie<br />

pomiarów mocy optycznej)<br />

dr Zbigniew LACH, Lublin University of Technology, Institute of Electronics and Information Technology<br />

The fundamental concept for the on-off keying signaling (OOK)<br />

signaling in optical lines is to modulate intensity of an optical<br />

signal in the binary manner and then to use direct detection<br />

in a receiver to recover transmitted data. Optical phase is<br />

relevant in detection of an OOK signal. However, any phase<br />

modulation accompanying the intensity modulation affects the<br />

shape of the received signal if it is propagated through a dispersive<br />

medium, hence influences quality of reception. Such<br />

phase variations produced by an intensity modulator can result<br />

from imperfection of fabrication which exists even in modulators<br />

claimed to be zero-chirp, or can be the effect of the nonzero-chirp<br />

design [1, 6] which aims at compensation of some<br />

defined amount of chromatic dispersion to be encountered in<br />

an optical link. It is usually sufficient to know chirp parameter of<br />

the modulator in order to be able to calculate effects of optical<br />

field distortions exerted by interaction of phase variations and<br />

chromatic dispersion of a fiber for a typical shape of an optical<br />

pulse. This may not be the case in optical link measurements<br />

in which parameters of interest are estimated on the basis of<br />

fitting the shape of a photodetected signal to it’s “exact” model.<br />

In this case complete knowledge on how modulating signal is<br />

transformed to optical field, i.e. on static characteristics of the<br />

modulator, is indispensable. On such occasion the modulator<br />

characteristics shall be learned from some extra measurements,<br />

possibly while the component is “in-service”, before the<br />

measurements of interest are performed. Taking into account<br />

the non-coherent OOK context an appropriate measurement<br />

method shall not resort to coherent ones and retrieve phase<br />

from intensity data instead.<br />

In the following parameters that describe a static characteristics<br />

of a Mach-Zehnder intensity modulator and a method for their<br />

estimation from a collection of intensity samples are proposed.<br />

The practical value of the parameters and of the method is examined<br />

in laboratory experiments.<br />

Parameters of input-output static characteristics<br />

of a Mach-Zehnder intensity modulator<br />

It will be easier to show possible sources of imperfection in a single<br />

drive Mach-Zehnder intensity modulator analysing first the more<br />

general dual drive structure. A typical dual-drive Mach-Zehnder<br />

modulator is schematically depicted in the Fig. 1 [2].<br />

The two arms are independently controlled via electrodes by<br />

V A<br />

and V B<br />

voltage signals. V A0<br />

and V B0<br />

provide biasing which shall<br />

maintain the two arms in quadrature. Let V A0<br />

be a voltage providing<br />

Ľπ phase shift in an upper arm. Ideally optical power is equally<br />

split between the arms, V B<br />

=-V A<br />

=-V i<br />

(t) and V B0<br />

=-V A0<br />

which ensures<br />

that the modulator does not exhibit spurious phase modulation.<br />

In this ideal case the modulator is zero-chirp and is reduced to<br />

the single-drive type. The ideal input-output static relation for the<br />

single drive modulator is given by [3]:<br />

(1)<br />

where: V i<br />

(t) is a control signal, E o<br />

(t) is an optical field and, K is an<br />

arm responsitivity (voltage-to-phase conversion coefficient). Taking<br />

into account possible imperfections the generalized version of<br />

the relation in (1) can be expressed by [5]:<br />

(2)<br />

which defines the general static characteristics of a Mach-Zehnder<br />

modulator. It shall be observed that (2) is a mapping from real valued<br />

control voltage V i<br />

(t) to complex valued (envelope and phase)<br />

optical field. In particular, from (2) it flows that intensity of an optical<br />

field can be expressed as:<br />

(3)<br />

The presence of a phase modulation at the output of the modulator<br />

means that no longer it is zero-chirp.<br />

The following four parameters in (2) characterize the imperfection<br />

of the input-output static characteristics of a Mach-Zehnder<br />

intensity modulator: α – is related to power split between arms<br />

Fig. 1. A general schematic of a Mach-Zehnder modulator [2]<br />

Rys. 1. Ogólny schemat modulatora Mach-Zehndera [2]<br />

Fig. 2. The measurement set-up for measuring parameters of a static<br />

characteristics of a Mach-Zehnder intensity modulator<br />

Rys. 2. Układ pomiarowy do pomiaru parametrów charakterystyki<br />

statycznej modulatora amplitudowego Mach-Zehndera<br />

12<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


(sin 2 (α) and cos 2 (α) correspond to the portion of power injected to<br />

the respective arm), V 0<br />

– is build-in internal bias common for both<br />

arms (it explains a shift of the input-output characteristics along<br />

the voltage axis), δ K<br />

– represents relative mismatch between<br />

responsitivities to the control voltage of the two arms, δ 0<br />

– represents<br />

relative mismatch of the two arms between the build-in<br />

internal bias.<br />

The four above parameters together with the responsitivity K<br />

completely parametrize the input-output static characteristics of a<br />

Mach-Zehnder modulator. Given the values of the parameters the<br />

intensity modulation and associating phase modulation can be<br />

determined from control signal V i<br />

(t).<br />

Measurement set-up<br />

The goal is to determine the five parameters defined the from<br />

measurements of an intensity at modulator output performed with<br />

no access to modulator input (control signal is unknown). This<br />

can be a typical scenario in “in-service” monitoring of an optical<br />

line. For the goal to be achieved the output intensity data alone is<br />

not sufficient and information on the output phase shall be gained<br />

from measurements. Inspection of (3) helps to explain this fact.<br />

The expressions K (2 + δ K<br />

) and (2 + δ 0<br />

)V 0<br />

each can be replaced<br />

there by a single parameter, say a = K (2 + δ K<br />

) and b = (2 + δ 0<br />

)V 0<br />

.<br />

Even if a and b were determined from intensity measurements using<br />

the relation (3), the component coefficients: K, δ K<br />

, δ 0<br />

, V 0<br />

could<br />

not, unless there were additional independent information. This<br />

information can be sourced only from phase data. While interferometric<br />

measurements in direct detection systems can suffer<br />

from effects of limited coherency due to the light sources used as<br />

well as from permanent modulation in “in-service” links an indirect<br />

determination of phase based on instantaneous frequency to intensity<br />

conversion can be the method of choice.<br />

The measurement set corresponding to the considered method<br />

is depicted in the Fig. 2. The modulator under investigation is<br />

fed by an unknown binary data signal to be transported over an<br />

optical line. A portion of the output field is dropped to the measurement<br />

set where it is further equally split into two paths: a direct<br />

one, where optical intensity is sampled “as it is” at the output<br />

of the modulator and, a path where the optical field passes a component<br />

with known chromatic dispersion (CD), before it’s intensity<br />

is sampled. The dynamics of phase changes in the latter path in<br />

combination with chromatic dispersion results in distortions of intensity<br />

with respect to the direct path. This effect allows to capture<br />

the required phase data. The two sequences of intensity samples<br />

are recorded and passed to a computer in order to calculate the<br />

parameters of interest. The calculation algorithm uses a model of<br />

intensity data in both paths. The estimated values of the parameters<br />

of interest correspond to that model which fits the best to<br />

the recorded data.<br />

Calculations of a modulator parameters from<br />

intensity data<br />

The algorithm assumes that uncertainty of measurements (noise)<br />

in the direct path can be neglected. The validity of this assumption,<br />

at least in the experiments made by the author, can be<br />

backed by measurement data presented in the next section. In<br />

addition, the control signal V i<br />

(t) is not allowed to leave the scope<br />

where the relation (3) is bijective. This in turn is a typical case for<br />

system designers normally avoid intensity distortions in a modulator<br />

which distortions would otherwise occur. Consideration of the<br />

more general case exceeds the scope of this paper.<br />

Upon the above assumptions, the relation (3) could be inverted,<br />

if the parameters were known:<br />

<br />

(4)<br />

where: I 1<br />

(t) is the intensity recorded in the direct path normalized<br />

to it’s maximum. This through (2) could allow to know the magnitude<br />

and phase of the optical field at the output of the modulator<br />

(the complex envelope ) and then to calculate intensity in<br />

the lower arm after the field had propagated the component with<br />

known chromatic dispersion:<br />

(5)<br />

where h(t) is the complex impulse of the CD component (optical<br />

loss was omitted for presentation simplicity):<br />

(6)<br />

with ω g<br />

related to the dispersion D:<br />

(7)<br />

In (7), λ is the optical carrier wavelength and c is the light velocity<br />

in vacuum. The tildas over V i<br />

(t), E o<br />

(t) and I 2<br />

(t) in (4)–(7) differentiate<br />

the calculated values from the measured ones (unmarked).<br />

It is allowed that I 2<br />

(t) differs from due to measurement<br />

noise. The lower path presents greater attenuation than the upper<br />

one in the result of inclusion of an additional component. Then<br />

the I 2<br />

(t) recordings are more susceptible to instrument noise than<br />

those of I 1<br />

(t).<br />

The formulas (4), (2), (5), (6) and (7) constitute the mathematical<br />

model allowing to calculate samples of the intensity in<br />

the lower path of the measurement set from the corresponding<br />

samples measured in the direct path, provided the modulator<br />

static characteristics parameters are known, i.e. allowing to formulate<br />

the forward problem. In order to solve the inverse problem<br />

a least-squares method is proposed. According to the method the<br />

estimated values of the parameters<br />

minimize (in the space of the parameters) the distance between<br />

the sequence of sample values of intensity I 2<br />

(t) obtained from<br />

measurements and those calculated from the model:<br />

(8)<br />

In the above formula t n<br />

is the sequence of sampling instances<br />

while N is the total number of samples used in calculations. A<br />

global search algorithm is necessary, for the model is nonlinear<br />

and local minima are likely. If the instrument noise is Gaussian<br />

and dominant minimum of can be found the estimate is<br />

optimum in the sense of likelihood.<br />

Experiments<br />

To verify practical value of the parameters and the method of<br />

their estimation a laboratory model of the proposed measurement<br />

set was arranged and two experiments were carried. In<br />

the first one the parameters of the static characteristics of the<br />

modulator under investigation were estimated. In the second<br />

experiment the estimated data was used as an input for estimation<br />

of chromatic dispersion in some test links. The result of this<br />

estimation was compared against the known dispersion values<br />

of the tested links.<br />

The model was built of the LeCroy 100G optical sampling<br />

oscilloscope which performed the photodetecting, sampling and<br />

recording functions and a length of standard single mode fibre<br />

which emulated a component of a defined chromatic dispersion.<br />

The modulator under investigation was the JDSU X5 single<br />

drive 10Gbps Mach-Zehnder intensity modulator. Although the<br />

modulator is zero-chirp according to the catalogue data apparent<br />

presence of some residual phase modulation was revealed<br />

in measurements for the modulator under test. Pseudorandom<br />

(PRBS-7) data generated by the oscilloscope was used to modulate<br />

light from standard telecom WDM source. Output power was<br />

approximately 500 μW.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 13


Fig. 3. Recorded intensity waveforms in the measurement<br />

set; red – direct (upper) path, blue<br />

– lower path<br />

Rys. 3. Zarejestrowane w układzie pomiarowym<br />

przebiegi mocy optycznej; czerwony – tor bezpośredni<br />

(górny), niebieski – tor dolny<br />

Tabl. 1. Estimated parameters of the static characteristics of the single<br />

drive Mach-Zehnder intensity modulator<br />

Tab. 1. Estymowane wartości parametrów charakterystyki statycznej modulatora<br />

amplitudowego Mach-Zehndera typu single drive<br />

14<br />

Lower arm dispersion<br />

[ps/nm]<br />

K<br />

[rad/V]<br />

V 0<br />

[V]<br />

δ K<br />

[-]<br />

δ 0<br />

[-]<br />

α<br />

[-]<br />

385 1.0 0.1 0.4 0.0 0.86<br />

549 1.0 0.1 0.4 0.0 0.86<br />

874 1.0 0.1 0.4 0.0 0.83<br />

An example of recorded waveforms in the two paths of the<br />

measurement set is given in the Fig. 3. The visible temporal evolution<br />

of the signals in the on- and off-states was not attributed<br />

to the presence of noise but to the dynamics of the modulating<br />

signal. This conclusion was drawn from the observation (not evidenced<br />

in the Fig. 3 due to space limitation) that within each I 1<br />

(t n<br />

)<br />

and I 2<br />

(t n<br />

) sequences the signals representing the same data subsequences<br />

were repeatable, i.e. instrument noise was negligible.<br />

The recorded data was off-line processed in a computer. 2048<br />

samples were acquired which corresponded to 128 bits. A hybrid<br />

genetic search algorithm (random search plus local climb) was adopted<br />

for the global minimization task. There were 50 genes in each<br />

generation. Every solution, as coded by a corresponding gene, was<br />

locally optimized with the use of the quasi-Newton method before<br />

crossing and mutation were applied. The crossing rule and mutation<br />

probability and mutation strength parameters were fixed through all<br />

generations. After 10 generations the result was selected from the<br />

50 candidates based on the minimum distance .<br />

The calculations were performed on a personal computer with<br />

2.8 GHz four core i7 processor. A single estimation run took approximately<br />

90 minutes. While this may seem unsatisfactory in many application<br />

scenarios one shall note that evolutionary algorithms are<br />

ideally suited for parallel processing. With recent advances in this<br />

technique [4] the processing time can drop to acceptable limits.<br />

The method was tested with three lengths of standard single<br />

mode fibre as emulators of a component with known chromatic<br />

dispersion: +382 ps/nm, +546 ps/nm and +874 ps/nm, respectively.<br />

The results of the least-squares estimation of the parameters<br />

of the modulator’s static characteristic are presented in the<br />

Tabl 1. with precision up to one decimal position. The estimated<br />

values showed reasonable repeatability irrespective of the CD<br />

value used (at least in the investigated range).<br />

In order to check applicability of the parametrization of the inputoutput<br />

characteristics of a Mach-Zehder modulator the estimated<br />

values of the parameters were used in estimation of an optical<br />

link chromatic dispersion from intensity data. In this experiment<br />

the link under investigation was being located in the place of the<br />

CD component in the measurement set from the Fig. 2. The I 1<br />

(t n<br />

)<br />

and I 2<br />

(t n<br />

) waveforms were recorded and off-line processed like in<br />

the previous experiment. That time however, in the global minimization<br />

algorithm the parameters of the modulator were kept constant<br />

at the values estimated in the first experiment while the CD<br />

value was searched for that minimizing the distance between the<br />

sequence of intensity samples I 2<br />

(t n<br />

) obtained from measurements<br />

and those calculated from the model. This experiment was performed<br />

for four lengths of standard single mode fibre 6.5 km, 12.5<br />

km, 23.5 km and, 33.5 km which corresponded to +107 ps/nm,<br />

+205ps/nm, +385 ps/nm, +549 ps/nm. The results of the estimation<br />

are shown in the Tabl. 2.<br />

Tabl. 2. Estimated chromatic dispersion of a link under test compared to<br />

values calculated from catalogue data<br />

Tab. 2. Estymowane wartości dyspersji chromatycznej testowanego łącza<br />

w zestawieniu z wartościami obliczonymi z danych katalogowych<br />

Fibre length<br />

[km]<br />

Estimated CD<br />

[ps/nm]<br />

Catalogue CD<br />

[ps/nm]<br />

6.5 103 107<br />

12.5 185 205<br />

23.5 390 385<br />

33.5 571 549<br />

The estimated values of chromatic dispersion showed consistency<br />

with the catalogue data for the four lengths of fibre in<br />

the test. The relative error was less than 4%. This supports the<br />

usefulness of the parametrization of the static characteristic of a<br />

Mach-Zehnder intensity modulator and possibility to estimate the<br />

parameters from intensity data.<br />

Conclusions<br />

Intensity data can be used to estimate parameters of an inputoutput<br />

static (real-to-complex) characteristics of a Mach-Zehnder<br />

non-zero chirp intensity modulator while it is “in-service”. The<br />

lacking phase information can be retrieved from intensity samples<br />

with the use of a model of frequency-to-intensity conversion in a<br />

known CD component. The respective measurement set is relatively<br />

easy to implement and uses techniques that are standard<br />

in direct detection optical communication. The parameter estimation<br />

task is let to a computer and involves global minimization<br />

which can be performed by an evolutionary algorithm. Once the<br />

parameters’ values had been found acquiring samples of output<br />

intensity is sufficient to estimate CD of an OOK optical link.<br />

References<br />

[1] André P., Pinto J.: Optimising the Operation Characteristics of a LiNbO3<br />

based Mach-Zehnder Modulator for 10 Gbit/s Lightwave Systems,<br />

Journal of Optical Communication, Vol. 22, (2001).<br />

[2] Ho K., Cuei H.: Generation of Arbitrary Quadrature Signals Using<br />

One Dual-Drive Modulator, Journal of Lightwave Technology, Vol. 23,<br />

No. 2, (2005).<br />

[3] Kim H., Gnauck A.: Chirp Characteristics of Dual-Drive Mach–Zehnder<br />

Modulator With a Finite DC Extinction Ratio, IEEE Photonics<br />

Technology Letters, Vol. 14, No 3, (2002).<br />

[4] Kołodziejczyk J., Tomaszewska A.: Fast implementation of multi-population<br />

(1+1)-ES, <strong>Elektronika</strong> (XLVIII), No. 7, (2007).<br />

[5] Shangyuan L., Xiaoping Z., Hanyi Z., Bingkun Z.: Highly Linear Radio-Over-Fiber<br />

System Incorporating a Single-Drive Dual-Parallel<br />

Mach–Zehnder Modulator, IEEE Photonics Technology Letters, Vol<br />

22, No 24 (2010).<br />

[6] Yuxin W., Yong Z., Jianyi Y., Minghua W., Xiaoqing J.: Chirp Characteristics<br />

of Silicon Mach–Zehnder Modulator Under Small-Signal<br />

Modulation, Journal of Lightwave Technology, Vol. 29, No. 7, (2011).<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Simulation of magnetically controlled elements<br />

for optoelectronic systems on the basis of liquid crystals<br />

(Symulacja magnetycznie sterowanych elementów optoelektronicznych<br />

wykorzystujących ciekłe kryształy)<br />

prof. dr hab. inż. Zenon HOTRA 1,2 , dr hab. inż. Andriy FECHAN 2 ,<br />

dr inż. Orest SUSHYNSKYY 2 , dr inż. Olga SHYMCHYSHYN 2 , mgr Ostap CHABAN 2<br />

1<br />

Rzeszow University of Technology, 2 Lviv Polytechnic National University, Lviv, Ukraine<br />

One of the possible ways of cost reduction of optical networking<br />

is the use of multimode optical fibers. However, their application<br />

is significantly restricted by dispersion phenomena that lead to<br />

distortion of information transmission in telecommunication fiber<br />

networks. In addition, in fiber networks there is an issue of coordination<br />

of connection in fiber systems [1, 3]. One of possible solutions<br />

of these problems is the application of phase compensators<br />

which can reduce the effect of dispersion phenomena.<br />

Molecular models<br />

In this work we review the possibility of development of magnetically<br />

controlled cells on the basis of liquid crystals for optical fiber<br />

systems. Magnetically controlled liquid crystalline element is<br />

alight guide with a radial distribution of the director profile. The<br />

application of an external magnetic field with a magnetic induction<br />

vector directed along the axis of the fiber leads to the formation<br />

in the center of the coaxial liquid crystalline fiber an are a with<br />

distribution of liquid crystal director field in the direction of applied<br />

magnetic field.<br />

In order to analyze the possibility of the development of LC<br />

structure with necessary characteristics there was carried out<br />

a computer simulation of molecular models by the means of GB-<br />

MOLDD software [4]. Molecular models considered in classicalmechanical<br />

level and are described by force fields. Bounding interactions<br />

in the molecule as a following form [2]:<br />

E<br />

bon<br />

m<br />

=<br />

+<br />

n<br />

b<br />

∑<br />

i<br />

=<br />

1<br />

n<br />

z<br />

∑<br />

i<br />

=<br />

1<br />

1<br />

k<br />

2<br />

1<br />

k<br />

2<br />

(<br />

b<br />

)<br />

i<br />

(<br />

z<br />

)<br />

i<br />

where, n b<br />

– number of bounds, n a<br />

– number of corners, n z<br />

– number<br />

of additional corners at the end of molecule m where mesogen<br />

groups are attached. l i<br />

, θ i<br />

, ζ i<br />

– index of these values, l i<br />

(0)<br />

, θ i<br />

(0)<br />

, ζ i<br />

(0)<br />

– their equilibrium values. Elastic coefficients of harmonic forces<br />

– k i<br />

(b)<br />

, k i<br />

(a)<br />

and k i<br />

(z)<br />

. ζ i<br />

is measured as an angle between long and<br />

axis of a mesogen and a bound between its center and a next LJ<br />

pseudoatom. The effect of the surface is defined by an equation:<br />

where e r – the vector of initial orientation; S r – the rotation vector<br />

with respect to the normal; Z – the thickness of a layer; l d<br />

– penetration<br />

length.<br />

Simulation results<br />

(<br />

l<br />

−<br />

l<br />

i<br />

(<br />

ζ<br />

i<br />

(0)<br />

2<br />

i<br />

−<br />

ζ<br />

sl<br />

)<br />

+<br />

(0)<br />

i<br />

a<br />

∑<br />

i<br />

=<br />

1<br />

n<br />

2<br />

t<br />

∑<br />

Software tool GBMOLDD provides an ability to obtain the distribution<br />

of director field in capillary, and thus the value of the order<br />

parameter which is directly related to the value of refractive index<br />

in pseudolayer. During the computer simulation we considered<br />

a rectangular area of a capillary with an axis of capillary in<br />

the middle of this area. An external magnetic field was applied<br />

in the direction parallel to the axis of capillary. The liquid crystal<br />

molecule in the model has a ratio of diameter to length of 1:3.<br />

The order parameter of the system was 0.5, which correspond to<br />

n<br />

)<br />

+<br />

1<br />

k<br />

2<br />

i<br />

=<br />

1<br />

r<br />

r<br />

2<br />

V<br />

= −<br />

f<br />

(<br />

e<br />

⋅<br />

S<br />

)<br />

e<br />

(<br />

a<br />

)<br />

i<br />

U<br />

Z<br />

−<br />

l<br />

d<br />

(<br />

θ<br />

i<br />

(<br />

tors<br />

)<br />

i<br />

−<br />

θ<br />

)<br />

+<br />

(0)<br />

2<br />

i<br />

nematic mesophase of simulated liquid crystal. Fig. 1 shows the<br />

initial homeotropic nematic texture, nematic texture in applied external<br />

magnetic field as well as nematic texture in applied external<br />

magnetic field of maximum magnitude. The maximum magnitude<br />

of external magnetic field was chosen below the value which destroys<br />

gradient distribution of refractive index in capillary.<br />

a) b) c)<br />

Fig. 1. Simulated initial homeotropic nematic texture (a), nematic texture<br />

in applied external magnetic field (b), nematic texture in applied<br />

external magnetic field of maximum magnitude (c)<br />

Rys. 1. Symulowana początkowa nematyczna tekstura homeotropowa<br />

(a), nematyczna tekstura w zewnętrznym polu magnetycznym (b),<br />

nematyczna tekstura w zewnętrznym polu magnetycznym o maksymalnym<br />

natężeniu (c)<br />

The simulation of director field deformation show that the application<br />

of magnetic field at first leads to a small deformation<br />

director field and then causes reorientation of the central part of<br />

a liquid crystal layer. Further increase of applied field leads to the<br />

expansion of reoriented area. The way of the change of refractive<br />

index in the transitional region and the thickness of near-surface<br />

homeotropicly aligned layer is defined by the ratio of surface anchoring<br />

forces and elastic properties of LC material, which enables<br />

to change the distribution of refractive index profile from<br />

stepped to gradient.<br />

The experimental investigation of the process of light propagation<br />

in LC structures with magnetically controlled distribution of<br />

refractive index is difficult to carry out because of a number of<br />

methodological aspects. For example, the way of introduction of<br />

radiation into a LC layer as well as difficulties of stabilization of the<br />

structure near liquid crystal – air interface significantly affect the<br />

reproducibility of experimental results. Thus, before the beginning<br />

of actual experiment we have carried out a computer simulation of<br />

light propagation in such structures. Computer simulation of light<br />

propagation in LC capillaries with a nonlinear way of distribution<br />

of the refractive index was performed by the means of specialized<br />

software product Zemax [5, 6]. Zemax − is software which is widely<br />

used for optical simulations. However, a standard set of optical<br />

media in this software does not provide materials with a varying<br />

refractive index. In order to be able to define the distribution of<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 15


a)<br />

b)<br />

c)<br />

Fig. 2. Calculated distributions of the refractive index for different values of the applied magnetic field distribution and distribution of the<br />

intensity of light beam at the out put of a gradient light guide: a)initial homeotropic orientation b) B = Bmin – deformation threshold of initial<br />

homeotropic texture c) the maximum value of magnetic field<br />

Rys. 2. Rozkłady współczynnika załamania wyznaczone symulacyjnie dla różnych wartości rozkładu pola magnetycznego oraz rozkłady<br />

natężenia światła na wyjściu światłowodu gradientowego: a) orientacja początkowa, b) B = Bmin – próg deformacji tekstury początkowej,<br />

c) maksymalna wartość natężenia pola magnetycznego<br />

the refractive index in liquid crystal Dynamic Link Libraries (DLL)<br />

which describe the distribution function for the described below<br />

cases were created.<br />

The initial parameters for the simulation were distributions of<br />

refractive index in the layer of LC obtained with above described<br />

computer simulation. We consider the propagation of light in<br />

a gradient light guide with a different refractive index profile by<br />

the expression:<br />

2<br />

2<br />

r<br />

q<br />

n<br />

(<br />

r<br />

)<br />

=<br />

n<br />

1<br />

[1<br />

−<br />

2<br />

∆<br />

(<br />

)<br />

],<br />

r<br />

<<br />

a<br />

a<br />

2<br />

2<br />

2<br />

n<br />

(<br />

r<br />

)<br />

=<br />

n<br />

[1<br />

−<br />

2<br />

∆<br />

]<br />

=<br />

n<br />

,<br />

r<br />

≥<br />

a<br />

Simulation results are presented in Fig. 2. At the beginning we<br />

considered light propagation in initially homeotropic nematic texture<br />

confined by a glass with a smaller refractive index (n LC<br />

= 1.6,<br />

n Glass<br />

= 1.5) without the application of external electric field. In this<br />

case the structure of capillary with a LC core is stepped light guide.<br />

In such a structure the beam of light propagates straight within the<br />

layer of LC and is reflected from the glass-LC interface.<br />

16<br />

1<br />

0<br />

Figures 2 shows distributions of the refractive index in LC capillary<br />

in the direction perpendicular to the direction of light propagation,<br />

as well as distribution and intensity of light beam at the<br />

output of gradient light guide for different values of applied field (0<br />

on the horizontal axis corresponds to the axis of LC capillary). It is<br />

shown that with the increase of applied magnetic field the gradient<br />

light guide changes the refractive index profile, which shape<br />

is approaching to the Gaussian distribution. During this the trajectory<br />

of beams is changing form broken lines to sinusoidal.<br />

At the out put of a gradient light guide with a refractive index<br />

profile close to the Gaussian distribution the growth of focusing<br />

action of fiber is observed. Thus, the obtained structure is alight<br />

guide formed directly in the LC capillary, and the magnitude of the<br />

applied magnetic field allows changing the mode composition of<br />

radiation, which propagates in this structure.<br />

However, for more accurate results an additional deformation<br />

of director field, caused by influence of cylindrical confining surface<br />

should be considered, which is our next task.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Conclusion<br />

The possibility of development of magnetically controlled structure<br />

on the basis of liquid crystals for optical fiber systems are<br />

established. By mens of specialized software product GBMOLDD<br />

the distribution of refractive index in capillary with initial homeotropic<br />

nematic texture and with applied external magnetic field of<br />

maximum magnitude are simulaled. Computer simulation of light<br />

propagation in LC capillaries with a nonlinear way of distribution<br />

of the refractive index was performed by the means of specialized<br />

software product Zemax.<br />

References<br />

[1] Hotra Z. at all: The field stabilization of optic-active medium of harmful<br />

substances sensors, <strong>Elektronika</strong>, 2010, nr 6, s. 162–163.<br />

[2] Israelachvili J.: Intermolecular and surface forces, San Diego: Academic<br />

Press, 1992.<br />

[3] Kaminow Ivan P., Tingye Li, Willner Alan E.: Optical Fiber Telecommunications<br />

B: Systems and Networks: London, Academic Press.,<br />

2008.<br />

[4] Mykytyuk Z.M. at all.: Forming the profile of the refractive index of<br />

liquid crystal layer, 1-st National Scientific Conference “Physical and<br />

technological problems of radio devices, telecommunication, nanoand<br />

microelectronics”, 13–15 October, 2011, Chernivtsi, Ukraine.,<br />

p. 127–130.<br />

[5] Mykytyuk Z.M. at all.: Simulation of light propagation process in<br />

glass-cholesteric liquid crystal-glass structure. Issue of Lviv Polytechnic<br />

National University “Physical-Mathematical Sciences”, No. 3,<br />

2011, p. 1–6.<br />

[6] Mykytyuk Z. at all.: The Current Phenomenon In The Indium-Tin Oxide-Alignment<br />

Layer-Liquid Crystal Structure, Acta Physica Polonica,<br />

Vol. 117, No. 1, 2010, p. 248–250.<br />

Charakteryzacja światłowodowych siatek Bragga metodą<br />

reflektometrii optycznej w dziedzinie częstotliwości<br />

dr inż. Tomasz OSUCH 1, 2 , doc. dr inż. Kazimierz JĘDRZEJEWSKI 1 , dr inż. Lech LEWANDOWSKI 1 ,<br />

mgr inż. Krzysztof Anders 3 , mgr inż. Paweł GDULA 2,3 , dr inż. Ryszard PIRAMIDOWICZ 3<br />

1<br />

Politechnika Warszawska, <strong>Instytut</strong> Systemów <strong>Elektronicznych</strong>, Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych ,<br />

2<br />

<strong>Instytut</strong> Łączności – Państwowy <strong>Instytut</strong> Badawczy, Warszawa<br />

3<br />

Politechnika Warszawska, <strong>Instytut</strong> Mikroelektroniki i Optoelektroniki, Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych<br />

Jedną z najbardziej popularnych technik pomiaru charakterystyk<br />

spektralnych komponentów światłowodowych jest metoda z użyciem<br />

przestrajalnego bądź szerokopasmowego źródła oraz optycznego<br />

analizatora widma. Jednakże nie jest to jedyny sposób<br />

pomiaru parametrów widmowych podzespołów światłowodowych,<br />

np. światrłowodowych siatek Bragga. Istnieją bowiem techniki reflektometryczne<br />

takie jak OLCR (ang. Optical Low-Coherent Reflectometry)<br />

lub wykorzystywana w reflektometrach optycznych<br />

wysokiej rozdzielczości metoda OFDR (ang. Optical Frequency<br />

Domain Reflectometry) [1, 2]. W artykule przedstawiono wyniki<br />

badań nad zastosowaniem i ograniczeniami metody OFDR w pomiarach<br />

siatek Bragga.<br />

Eksperyment<br />

Wszystkie badane siatki wykonano na włóknach światłowodowych<br />

poddawanych wcześniej procesowi wodorowania w temperaturze<br />

pokojowej pod ciśnieniem rzędu 120 bar. Do nanoszenia<br />

siatek wykorzystano metodę skanowania maski fazowej [3]. Siatki<br />

wykonano na następujących światłowodach:<br />

a) cztery 3…4,5 dB siatki o zbliżonej długości fali Bragga ok.<br />

1535 nm (wynikającej z użytej maski fazowej o okresie<br />

1061 nm), naniesione na jednym odcinku standardowego<br />

światłowodu jednomodowego,<br />

b) siatka Bragga na światłowodzie utrzymującym polaryzację<br />

typu PANDA,<br />

c) siatka skośna o kącie skosu ok. 4 0 wykonana na standardowym<br />

jednomodowym światłowodzie telekomunikacyjnym,<br />

d) siatka Bragga na stożku przewężenia wykonanego ze standardowego<br />

światłowodu jednomodowego.<br />

Siatki mierzone były na układach pomiarowych przedstawionych<br />

na rys. 1. W stanowiskach z rys. 1a i 1b wykorzystano jako<br />

szerokopasmowe źródło światła (BBS) diodę superluminescencyjną<br />

o zakresie spektralnym rzędu 1500…1560 nm oraz optyczny<br />

analizator widma (OSA) o rozdzielczości spektralnej 10 pm.<br />

W układzie do pomiaru widma odbitego dodatkowo zastosowano<br />

cyrkulator optyczny trójportowy (rys. 1b). Z kolei w stanowisku<br />

z rys. 1c) OBR (ang. Optical Backscatter Reflectometer) jest to<br />

precyzyjny reflektometr o rozdzielczości pomiaru dystansu 10 µm,<br />

dynamice 90 dB oraz zakresie pomiarowym do 2 km wykorzystujący<br />

metodę pomiaru OFDR.<br />

Rys. 1. Schematy stanowisk do pomiaru charakterystyk spektralnych<br />

siatek Bragga z użyciem szerokopasmowego źródła (BBS) oraz<br />

optycznego analizatora widma (OSA) w układzie a) transmisyjnym,<br />

b) odbiciowym oraz c) układ z wykorzystaniem precyzyjnego reflektometru<br />

optycznego (OBR)<br />

Fig. 1. Setups for measurement spectral characteristics of fiber Bragg<br />

gratings using broadband source (BBS) and optical spectrum analyzer<br />

(OSA) in a) transmission and b) reflective regime as well as c) setup<br />

with using high precision optical backscatter reflectometer (OBR)<br />

Wyniki<br />

Szeregowe połączenie siatek o podobnej długości<br />

fali Bragga<br />

W przypadku szeregowego połączenia czterech siatek Bragga<br />

o podobnych charakterystykach spektralnych, widmo zmierzone<br />

w układach 1a oraz 1b przedstawiono na rys. 2a oraz 2b.<br />

W wyniku nałożenia się widm od poszczególnych siatek o podobnych<br />

długościach fali Bragga, wynikowa charakterystyka przypomina<br />

widmo siatki z przesunięciem fazowym i nie daje możliwości<br />

wyselekcjonowania charakterystyk poszczególnych siatek.<br />

W przypadku pomiarów szeregu siatek metodą OFDR przy<br />

użyciu reflektometru optycznego wysokiej rozdzielczości, istnieje<br />

możliwość wyznaczenia charakterystyk spektralnych poszczególnych<br />

elementów braggowskich. Jednakże, jedynie charakterystyka<br />

pierwszej siatki od strony przyrządu pomiarowego (OBR) (rys. 4)<br />

posiada niemalże identyczne kształt jak zmierzona w układzie<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 17


Rys. 2. Charakterystyki spektralne: a) transmisyjna i b) odbiciowa czterech siatek połączonych szeregowo o podobnej długości fali zmierzone<br />

w przy pomocy szerokopasmowego źródła oraz optycznego analizatora widma<br />

Fig. 2. Spectral: a) transmission and b) reflectance characteristics of series of four Bragg gratings with similar Bragg wavelengths, measured<br />

using broadband source and optical spectrum analyzer<br />

Rys. 3. Charakterystyka spektralna odbiciowa pierwszej z szeregu<br />

czterech siatek Bragga zmierzona przy użyciu OSA oraz BBS (układ<br />

z rys. 1b)<br />

Fig. 3. Spectral (reflectance) characteristic of the first of the four fiber<br />

Bragg gratings measured using OSA and BBS (setup from Fig. 1b)<br />

z rys. 1b (rys. 3). Różnica jest jedynie zauważalna w przypadku<br />

niewielkich poziomów mocy odbitej, gdzie uwidacznia się przewaga<br />

metody OFDR, w której uzyskuje się lepszą dynamikę pomiaru<br />

w porównaniu zastosowania układu z optycznym analizatorem<br />

widma, źródłem szerokopasmowym i cyrkulatorem optycznym.<br />

Ograniczenie metody reflektometrycznej związane jest z odbiciami<br />

wstecznymi od połączeń w układzie pomiarowym (m.in. na<br />

połączeniach cyrkulatora optycznego ze źródłem szerokopasmowym<br />

oraz optycznym analizatorem widma i siatką Bragga).<br />

Dla porównania, na rysunku 5 przedstawiono charakterystykę<br />

spektralną odbiciową tej samej siatki, jednakże przy odwrotnym<br />

podłączeniu włókna do OBR (jako ostatnia z szeregu czterech).<br />

W tym przypadku zauważalne stają różnice w widmie w porównaniu<br />

z charakterystykami z rysunków 3 i 4, szczególnie w obszarze<br />

Rys. 4. Charakterystyka spektralna odbiciowa pierwszej z szeregu czterech siatek Bragga zmierzona metodą OFDR przy użyciu OBR (układ z rys. 1c)<br />

Fig. 4. Spectral (reflectance) characteristic of the first of the four fiber Bragg gratings measured using OBR and OFDR method (setup from Fig. 1c)<br />

Rys. 5. Charakterystyka spektralna odbiciowa tej samej siatki co na rys. 4 oraz 5 przy odwrotnym podłączeniu włókna do OBR (układ z rys. 1c)<br />

Fig. 5. Spectral (reflectance) characteristic of the same grating as in Fig. 4 and 5 when OBR is connected to the other end of the optical fiber<br />

with the series of four gratings (setup from Fig. 1c)<br />

18<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


piku centralnego oraz pierwszego maksimum bocznego po stronie<br />

fal dłuższych niż długość fali Bragga.<br />

Siatka Bragga na światłowodzie dwójłomnym<br />

Na rysunku 6 pokazano krzywą reflektometryczną odcinka siatki<br />

Bragga naniesionej na światłowód dwójłomny typu PANDA. Wyznaczoną<br />

przy pomocy OBR charakterystykę spektralną odbiciową<br />

siatki przedstawiono na rysunku 7.<br />

Na krzywej reflektometrycznej widoczne są dwa charakterystyczne<br />

maksima odpowiadające braggowskim maksimom reflektancji<br />

w krzywej spektralnej, które z kolei wynikają z różnych<br />

współczynników załamania światła we włóknie dwójłomnym (dla<br />

osi szybkiej i wolnej). Prawostronne poszerzenie krzywej reflektometrycznej<br />

wynika z wielokrotnych odbić od prążków siatki,<br />

a w konsekwencji opóźnienia fali, która dociera do detektora reflektometru<br />

OBR.<br />

Rys. 6. Krzywa reflektometryczna dla siatki na światłowodzie utrzymującym polaryzację zmierzona metodą OFDR przy użyciu OBR<br />

Fig. 6. Characteristic of backscattered light from fiber Bragg grating written in the polarization maintaining fiber measured using OBR and<br />

OFDR method<br />

Rys. 7. Charakterystyka spektralna odbiciowa siatki na światłowodzie utrzymującym polaryzację zmierzona metodą OFDR przy użyciu OBR<br />

Fig. 7. Spectral reflectance characteristic of fiber Bragg grating written in polarization maintaining optical fiber measured usign OBR and<br />

OFDR method<br />

Rys. 8. Krzywa reflektometryczna dla siatki skośnej zmierzona metodą OFDR przy użyciu OBR<br />

Fig. 8. Characteristic of backscattered light from tilted fiber Bragg grating measured using OBR and OFDR method<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 19


Rys. 9. Krzywe reflektometryczne dla siatki Bragga na przewężeniu światłowodowym zmierzone metodą OFDR przy użyciu OBR wykonane<br />

przy podłączeniu dwóch różnych końców światłowodu do urządzenia pomiarowego<br />

Fig. 9. Characteristics of backscattered light from Bragg grating on taper measured using OBR and OFDR method from both ends of optical fiber<br />

Siatka skośna<br />

Rysunek 8 zawiera krzywą reflektometryczną siatki skośnej.<br />

Kształt charakterystyki jest znacząco różny od pozostałych<br />

przypadków z uwagi na brak poszerzenia od strony większych<br />

odległości. W konsekwencji długość siatki 15 mm odczytana<br />

z charakterystyki jest równa rzeczywistej (fizycznej) wielkości<br />

tego parametru. Brak poszerzenia wynika z nachylenia prążków<br />

siatki w stosunku do standardowej struktury braggowskiej, dzięki<br />

czemu nie powstają wielokrotne odbicia, a zatem i dodatkowe<br />

opóźnienia światła rozproszonego wstecznie i docierającego do<br />

detektora reflektometru OBR.<br />

Siatka Bragga na przewężeniu światłowodowym<br />

W przypadku siatki Bragga wykonanej na przewężeniu światłowodowym<br />

[4] pomiarów krzywych reflektometrycznych dokonano<br />

przy podłączeniu każdego z końców włókna do OBR (rys. 9a<br />

i 9b). Mimo, że obie krzywe posiadają widoczne maksima reflektancji<br />

(wynikające z odbicia światła od prążków siatki) jak i poszerzenie<br />

od strony odległości większych od odległości OBR-siatka<br />

Bragga (efekt Fabry-Perota), to kształty charakterystyk zdecydowanie<br />

się różnią. Różnica wynika z niesymetryczności badanego<br />

podzespołu światłowodowego. Po pierwsze, przewężenie nie jest<br />

symetryczne i długości oraz profile stożków się różnią. Po drugie,<br />

siatka naniesiona jest na jednym (dłuższym) stożku przewężenia,<br />

a zatem w zależności od podłączenia światłowodu z siatką do<br />

OBR, impulsy z reflektometru najpierw napotykają stożek krótki,<br />

a następnie długi z siatką lub odwrotnie. To z kolei jest przyczyną<br />

różnic w rozkładzie rozproszenia wstecznego w funkcji odległości,<br />

a zatem krzywych reflektometrycznych z rys. 9a i 9b.<br />

Jednakże jedynie z krzywej A można wyznaczyć długość siatki<br />

Bragga równą 10 mm. Warto zwrócić również uwagę na fakt, że<br />

20<br />

z racji efektu chirpu w siatce Bragga na przewężeniu (szersze<br />

spektrum odbiciowe), należy tak dobrać zakres spektralny pomiaru<br />

metodą OFDR, aby pokrywał pełen zakres widmowy siatki.<br />

Podsumowanie<br />

W artykule zaprezentowano wyniki badań mających na celu porównanie<br />

dwóch metod pomiaru charakterystyk siatek Bragga, ze<br />

szczególnym uwzględnieniem ich wad i ograniczeń. Przedstawiono<br />

możliwość pomiaru przy użyciu metody OFDR widm poszczególnych<br />

szeregowo połączonych siatek o niemalże identycznym<br />

zakresie widmowym, na co nie pozwala standardowa technika<br />

wykorzystująca optyczny analizator widma i źródło przestrajalne<br />

bądź szerokopasmowe. Ponadto metoda OFDR umożliwia wyznaczenie<br />

fizycznej długości siatki Bragga dzięki przekształceniu<br />

i reprezentacji wyników pomiarów w dziedzinie odległości w postaci<br />

krzywej reflektometrycznej. Technika wykorzystująca metodę<br />

OFDR okazuję się więc być szczególnie przydatna, gdy konieczne<br />

jest uzyskanie informacji o położeniu siatki względem końca<br />

światłowodu, długości siatki oraz charakterystykach widmowych<br />

siatek stanowiących na przykład rezonator Fabry-Perot’a.<br />

Literatura<br />

[1] Derickson D.: Fiber Optic Test and Measurement, Hewlett-Packard<br />

Company 1998.<br />

[2] Hui R., O’Sullivan M.: Fiber Optic Measurement Techniques, Elsevier<br />

Academic Press, 2009.<br />

[3] Osuch T., Gąsior P., Lewandowski L.: System for modification of exposure<br />

time in fiber Bragg gratings fabrication with using scanning<br />

phase mask method, Proc. SPIE, Vol. 5775, 222–226, 2005.<br />

[4] Tenderenda T., Jędrzejewski K.: Charakterystyki spektralne siatek<br />

Bragga na przewężeniach światłowodowych poddawanych działaniu<br />

naprężeń i temperatury, <strong>Elektronika</strong> – konstrukcje, technologie, zastosowania,<br />

Vol. 8, 162–166, 2009.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Światłowodowe skośne siatki Bragga<br />

doc. dr inż. Kazimierz JĘDRZEJEWSKI 1 , dr inż. Tomasz OSUCH 1,2 ,<br />

dr inż. Lech LEWANDOWSKI 1 , mgr inż. Wiesław JASIEWICZ 1<br />

1<br />

Politechnika Warszawska, <strong>Instytut</strong> Systemów <strong>Elektronicznych</strong>, Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych<br />

2<br />

<strong>Instytut</strong> Łączności – Państwowy <strong>Instytut</strong> Badawczy, Warszawa<br />

W metodzie maski fazowej modyfikację charakterystyk spektralnych<br />

siatek Bragga uzyskuje się wieloma sposobami. Może<br />

być to zmiana długości siatki, czasu naświetlania (głębokości<br />

zmian współczynnika załamania), wprowadzenia chirpu lub<br />

apodyzacji. W pracy przedstawiono realizację siatek skośnych,<br />

które obok siatek apodyzowanych i zmienno-okresowych, stanowią<br />

jeden ze standardowych rodzajów siatek opisywanych<br />

w dostępnych monografiach [3, 7]. Skośne ustawienie prążków<br />

interferencyjnych względem osi włókna powoduje znaczącą<br />

zmianę charakterystyki spektralnej siatek Bragga. Siatki skośne<br />

maja bardzo rozbudowana charakterystykę transmisyjną po<br />

stronie niższych od braggowskiej długości fal. Jest to rezultat<br />

pojawienia się, w wyniku zmian w propagacji sygnału pobudzającego,<br />

modów radiacyjnych i płaszczowych w kierunkach<br />

zgodnym lub przeciwnym do kierunku propagacji, które mogą<br />

zostać odbite, zaabsorbowane lub wypromieniowane. Wraz ze<br />

wzrostem kąta skosu zjawisko to jest coraz bardziej widoczne,<br />

a podstawowe minimum braggowskie zanika i jest widoczne<br />

tylko w pomiarach sygnału odbitego. Zjawisko takie występuje,<br />

gdy współczynnik załamania otoczenia jest niższy niż szkła np.<br />

przy pomiarach w powietrzu.<br />

Jednym z powszechniejszych zastosowań siatek skośnych<br />

jest spłaszczanie charakterystyki wzmocnienia w funkcji długości<br />

fali poprzez umieszczenie siatki w torze wzmacniacza, która pracuje<br />

w reżimie transmisyjnym [4, 5].<br />

W pracy przedstawiono technologię realizacji takich siatek,<br />

ich charakterystyki spektralne w zależności od kąta ustawienia<br />

włókna światłowodowego względem maski fazowej podczas procesu<br />

nanoszenia oraz zmiany tych charakterystyk w zależności<br />

od współczynnika załamania otoczenia, co oznacza możliwość<br />

zastosowania takich siatek jako czujnika zmian współczynnika<br />

załamania otoczenia.<br />

Opis eksperymentu<br />

Siatki skośne realizowane były w ISE PW techniką skanowania<br />

maski fazowej na światłowodach jednomodowych poddanych<br />

wcześniej procesowi wodorowania [2]. Metoda ta, stosowana<br />

w naszym laboratorium, opisywana była już wcześniej [1]. Źródłem<br />

światła jest laser argonowy pracujący na długości fali 244 nm<br />

przy standardowej mocy wyjściowej 100 mW. W tej technologii<br />

w przypadku nanoszenia standardowych – jednorodnych siatek<br />

Bragga światłowód jest umieszczany tuż przy powierzchni maski<br />

i równolegle do niej, prostopadle do obrazu prążków interferencyjnych.<br />

Kąt prosty między włóknem i prążkami za maską<br />

jest uzyskiwany za pomocą mechanicznych stolików liniowych<br />

regulowanych w trzech osiach. Na stolikach umieszczone są<br />

odpowiednie elementy układu. Dzięki takiemu ustawieniu prążki<br />

interferencyjne pojawiające się w obszarze za maską fazową<br />

są prawie idealnie równoległe do osi światłowodu, a naniesiona<br />

siatka Bragga posiada charakterystykę widmową podobną do tej<br />

z rysunku 1.<br />

Pojawiający się grzebień po lewej stronie głównego minimum<br />

wynika z niedokładności ustawienia (prostopadłości prążków<br />

maski fazowej względem osi włókna). Szeroki zakres spektralny<br />

pomiaru został celowo wybrany, aby zilustrować minimalny<br />

wkład modów płaszczowych i radiacyjnych w charakterystyce<br />

spektralnej siatki.<br />

Warto nadmienić, że na skutek różnych współczynników załamania<br />

otoczenia i światłowodu, kąt skosu Θ nie jest równy kątowi<br />

nachylenia prążków siatki względem osi włókna φ (rys. 2).<br />

Rys. 1. Charakterystyka transmisyjna typowej jednorodnej siatki<br />

Bragga dla Θ = 0 0<br />

Fig. 1. Spectral transmission characteristic of typical uniform fiber<br />

Bragg grating at Θ = 0 0<br />

Rys. 2. Ilustracja charakterystycznych parametrów siatki skośnej: Λ g<br />

– okres siatki wynikający z obrazu interferencyjnego, Λ – okres siatki<br />

wzdłuż osi włókna, φ – kąt nachylenia prążków siatki względem osi<br />

włókna<br />

Fig. 2. Illustration of characteristic parameters of tilted Bragg grating,<br />

Λ g<br />

– grating period resulting from interference pattern, Λ – grating<br />

period along the optical fiber axis, φ – tilt angle<br />

Wyniki<br />

Na rysunku 3 przedstawiono przykładową charakterystykę transmisyjną<br />

siatki Bragga dla kąta skosu Θ = 3 0 w przypadku gdy<br />

otoczeniem jest powietrze. Charakterystyczny szeroki grzebień<br />

pików po stronie fal mniejszych od długości fali Bragga wynika<br />

z odbicia światła od pochylonych względem osi włókna prążków<br />

siatki oraz z wnikania światła w płaszcz (mody płaszczowe).<br />

Zmiana współczynnika załamania ośrodka otaczającego wpływa<br />

na kształt charakterystyki siatki skośnej [6], co zilustrowano<br />

na rysunkach 3 i 4. Interesujące miejsce zniekształcenia części<br />

grzebieniowej charakterystyki transmisyjnej tzw. „punkt charakterystyczny”<br />

zaznaczono na rysunku 4 strzałką.<br />

Na rysunku 3 przedstawiono przykładową charakterystykę<br />

transmisyjną siatki Bragga o kącie skosu Θ = 3 0 umieszczoną<br />

w powietrzu. Jest ona zgodna z licznymi wynikami dostępnymi<br />

w literaturze [5]. Zgodnie z oczekiwaniami w widmie transmisyjnym<br />

pojawił się szeroki spektralnie grzebień, którego niektóre minima<br />

posiadając więcej niż 10 dB. Taka typowa charakterystyka<br />

zostaje zakłócona podczas zmiany współczynnika załamania otaczającego<br />

ośrodka [6]. Przykład takiego zakłócenia przedstawiono<br />

na rysunku 4. Interesujące miejsce skokowej zmiany kształtu<br />

charakterystyki transmisyjnej zostało zaznaczone strzałką.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 21


Rys. 3. Charakterystyka transmisyjna siatki Bragga dla Θ = 3 0 , współczynnik<br />

załamania ośrodka n = 1,0<br />

Fig. 3. Transmission spectral characteristic of tilted fiber Bragg grating<br />

for Θ = 3 0 , surrounding refractive index n = 1,0<br />

Rys. 4. Charakterystyka transmisyjna siatki Bragga dla Θ = 3 0 , współczynnik<br />

załamania ośrodka n = 1,41<br />

Fig. 4. Transmission spectral characteristic of tilted fiber Bragg grating<br />

for Θ = 3 0 , surrounding refractive index n = 1,41<br />

Rys. 5. Długość fali „punktu charakterystycznego” w charakterystyce<br />

spektralnej transmisyjnej siatki skośnej w funkcji współczynnika<br />

załamania ośrodka dla Θ = 2 0<br />

Fig. 5. Wavelength of characteristic point in transmission spectral<br />

characteristic of tilted fiber Bragg grating with Θ = 2 0 as a function of<br />

surrounding refractive index<br />

Rys. 6. Długość fali „punktu charakterystycznego” w charakterystyce<br />

spektralnej transmisyjnej siatki skośnej w funkcji współczynnika<br />

załamania ośrodka dla Θ = 3 0<br />

Fig. 6. Wavelength of characteristic point in transmission spectral<br />

characteristic of tilted fiber Bragg grating with Θ = 2 0 as a function of<br />

surrounding refractive index<br />

Wynik zbiorczy określający położenie spektralne „punktu charakterystycznego”<br />

zmiany kształtu grzebieniowej części widma<br />

transmisyjnego siatki skośnej w funkcji współczynnika załamania<br />

ośrodka otaczającego przedstawiono na rysunkach 5 i 6 dla<br />

dwóch kątów skosu Θ = 2 0 i Θ = 3 0 . Obserwowane zmiany mają<br />

charakter liniowy w zakresie zmian wartości współczynnika załamania<br />

otoczenia 1,40…1,43. Przy dalszym zwiększaniu tego<br />

współczynnika krzywa ulega nasyceniu, a charakterystyczna<br />

zmiana kształtu widma transmisyjnego siatki przestaje być widoczna.<br />

Przekroczenie warunków propagacji dla poszczególnych<br />

modów radiacyjnych i płaszczowych powoduje zanik grzebieniowego<br />

charakteru przebiegu krzywej spektralnej.<br />

Podsumowanie<br />

Zaburzenie warunku prostopadłości prążków siatki Bragga względem<br />

osi włókna już przy bardzo małych kątach nachylenia prążków<br />

powoduje pojawienie się niepożądanych minimów transmisji<br />

po stronie fal mniejszych niż długość fali. Zatem w celu wykonywania<br />

siatek jednorodnych o dużej wartości reflektancji (duży<br />

czas naświetlania) istotne jest odpowiednie wyjustowanie układu<br />

maska fazowa-włókno optyczne. Z drugiej jednak strony charakter<br />

(kształt) „grzebienia” (odpowiadającego modom płaszczowym)<br />

po stronie fal λ


Sterowanie odpowiedzią czujników opartych<br />

na światłowodowych siatkach długookresowych (LPG)<br />

poprzez zastosowanie cienkich pokryć<br />

dr inż. Mateusz ŚMIETANA 1 , prof. dr inż. Wojtek J. BOCK 2 , inż. Predrag MIKULIC 2<br />

1<br />

<strong>Instytut</strong> Mikroelektroniki i Optoelektroniki, Politechnika Warszawska<br />

2<br />

Centre de recherche en photonique, Université du Québec en Outaouais, 101 rue Saint-Jean-Bosco Gatineau, Québec (Kanada)<br />

Od kilkunastu lat intensywnie rozwijana jest nowa klasa czujników<br />

światłowodowych opartych na długookresowych siatkach światłowodowych<br />

(ang. Long-Period Grating, LPG) [14]. Siatki światłowodowe<br />

charakteryzują się periodyczną zmianą współczynnika<br />

załamania obszaru rdzenia światłowodu. W odróżnieniu od znanych<br />

wcześniej światłowodowych siatek braggowskich (ang. Fibre<br />

Bragg Grating, FBG), gdzie okres modulacji współczynnika załamania<br />

(Λ) wynosi ok. 1 μm, dla LPG jest on typowo w zakresie<br />

150…700 μm, co umożliwia ich wytworzenie z wykorzystaniem<br />

szeregu metod [13]. Obecność siatki powoduje sprzężenie między<br />

modem propagującym się w rdzeniu i modami płaszczowymi,<br />

co jest obserwowane jako seria rezonansowych pików tłumienia<br />

w ich widmie transmisyjnym. Zależność między efektywnymi<br />

współczynnikami załamania modu rdzeniowego LP 01<br />

(n (01) ) i m-<br />

eff<br />

tego modu płaszczowego LP 0 m<br />

(n (0 m) ), a rezonansową długością<br />

fali wynikającą ze sprzężenia kolejnego mody płaszczowego<br />

eff<br />

(λ (0 m) ) przedstawia równanie 1.<br />

rez<br />

( ) rez<br />

(01)<br />

(0<br />

m<br />

)<br />

(0<br />

m<br />

)<br />

n<br />

eff<br />

−<br />

n<br />

eff<br />

⋅Λ =<br />

λ<br />

(1)<br />

Demonstruje się wiele zastosowań LPG w zakresie telekomunikacyjnym,<br />

jak i czujnikowym (temperatury, naprężenia, ciśnienia<br />

i współczynnika załamania) [6]. Najczęściej spotykanym w literaturze<br />

dotyczącej wykorzystania struktur LPG do zastosowań<br />

czujnikowych czynnikiem mierzonym jest współczynnik załamania<br />

medium otaczającego siatkę (RI) [5]. Z faktu, że siatka LPG<br />

wywołuje sprzęganie modów płaszczowych wynika, że odpowiedź<br />

spektralna struktur silnie zależy od właściwości optycznych<br />

otaczającego medium. Autorzy prac z tego zakresu najczęściej<br />

koncentrują się na pomiarze przesunięcia piku rezonansowego<br />

w funkcji długości fali, choć zdarzają się też rozwiązania oparte<br />

na pomiarze zmian transmisji w zakresie rezonansu wywołanych<br />

zmianami czynnika zewnętrznego. Wraz ze wzrostem RI wzrasta<br />

efektywny współczynnik załamania modów płaszczowych, co<br />

zgodnie z równaniem 1 powoduje przesunięcie rezonansowej długości<br />

fali w kierunku fal krótszych. Dopóki współczynnik załamania<br />

płaszcza jest wyższy od RI, mody płaszczowe są prowadzone<br />

w strukturze. Największą czułość na zmiany RI struktury LPG bez<br />

pokryć osiągają jednak w zakresie RI bliskiego wartości określonej<br />

dla płaszcza światłowodu [3]. Przy spełnieniu tego warunku<br />

dochodzi do maksymalnego przesunięcia pików rezonansowych.<br />

Kiedy RI jest bardzo zbliżony do współczynnika załamania płaszcza,<br />

można przyjąć taki model struktury, gdzie rdzeń zaczyna<br />

być otoczony przez ośrodek nieskończony, co uniemożliwia powstawanie<br />

struktury modów płaszczowych i tym samym ich rezonansu<br />

z modem rdzeniowym. Zakres RI bliski określonemu dla<br />

materiału światłowodu warunkuje bardzo wysoką czułość rzędu<br />

dλ/dRI = 2000 nm/RIU (ang. Refractive Index Unit), co pozwala<br />

na detekcje zmian RI na poziomie 10 -5 RIU [4].<br />

Struktury LPG często pokrywa się warstwami mającymi na<br />

celu zwiększenie czułości na jakiś czynnik zewnętrzny, ograniczenie<br />

wpływu innych czynników poza mierzonym lub uczynienie<br />

struktury czułą na czynnik, na który struktura bez pokrycia nie<br />

była wrażliwa [np. 1, 4, 12]. Dla efektywnych zastosowań czujnikowych<br />

podjęto próby zwiększenia czułości struktur LPG nie<br />

tylko w zakresie zewnętrznego współczynnika załamania bliskiego<br />

współczynnikowi płaszcza, lecz także w innych zakresach.<br />

Możliwość taką daje pokrycie siatki LPG odpowiednio dobraną<br />

warstwą. Najistotniejszymi parametrami warstw pokryciowych<br />

jest ich grubość i właściwości optyczne. Po pokryciu siatki warstwą<br />

o wyższym współczynniku załamania od określonego dla<br />

płaszcza, zachodzi interakcja między prowadzonym modem<br />

płaszczowym i warstwą. Można wykazać [1], że istnieje taka<br />

grubość, która daje maksymalne przesunięcie długości fali rezonansowej,<br />

zależne także od współczynnika załamania warstwy<br />

i jej otoczenia. Tak więc refraktometry o dużej czułości można<br />

projektować dla wąskich zakresów zmian współczynnika załamania<br />

otoczenia.<br />

W pracy przedstawiono przykłady zastosowania cienkich<br />

pokryć wytwarzanych w technikach plazmowych, które dzięki<br />

swoim właściwościom optycznym mogą sterować odpowiedzią<br />

struktur LPG na zmiany RI. W przeciwieństwie do warstw wytwarzanych<br />

w innych technikach (np. Langmiur-Blodgett, osadzanie<br />

warstw samoorganizujących, zol-żel), dzięki wysokiej<br />

twardości i odporności chemicznej warstwy te mogą świetnie<br />

chronić strukturę przed niszczącym wpływem mechanicznym<br />

lub chemicznym.<br />

Opis eksperymentu<br />

Na potrzeby eksperymentu wytworzono w światłowodzie jednomodowym<br />

Corning SMF28 serię siatek LPG o okresie Λ=400 µm.<br />

Do uzyskania struktur siatkowych wykorzystano łuk elektryczny<br />

[9]. Widmo transmisyjne struktur zmierzono z wykorzystaniem<br />

źródła szerokopasmowego i analizatora widma optycznego. Następnie<br />

na strukturach siatkowych osadzono z użyciem stanowisk<br />

do chemicznego osadzania z fazy gazowej wspomaganego<br />

plazmą wysokiej częstotliwości (ang. Radio Frequency Plasma<br />

Enhanced Chemical Vapor Deposition, RF PECVD) warstwy diamentopodobne<br />

(ang. Diamond-like Carbon) [7] i warstwy azotku<br />

krzemu (SiN x<br />

) [8]. Właściwości warstw uzyskanych na podłożach<br />

krzemowych, towarzyszących strukturom LPG podczas procesów<br />

osadzania, zmierzono z wykorzystaniem elipsometru spektroskopowego<br />

[11].<br />

Wpływ zmian RI w otoczeniu struktur LPG badano poprzez<br />

zanurzenie siatek w wodnych roztworach gliceryny o różnej koncentracji.<br />

Współczynnik załamania mieszanin (n D<br />

) w zakresie<br />

1,33…1,47 RIU określono z wykorzystaniem refraktometru.<br />

Wyniki<br />

Warstwy otrzymane na strukturach LPG charakteryzują się<br />

współczynnikiem załamania wyższym od materiału światłowodu<br />

(rys. 1). Dla DLC i SiN x<br />

współczynnik załamania w zakresie<br />

podczerwieni sięga odpowiednio 2 i 2,4 RIU. Należy także<br />

zauważyć bardzo niski lub wręcz pomijalny współczynnik ekstynkcji<br />

we wspomnianym zakresie widmowym, który świadczy<br />

o bardzo małej absorpcji optycznej badanych materiałów. Właściwości<br />

optyczne warstw, wraz z odpowiednio dobraną ich grubością<br />

pozwalają więc na sterowanie czułością struktur LPG na<br />

zmiany RI [4].<br />

Na rysunku 2 przedstawiono odpowiedź widmową struktur<br />

LPG na zmiany współczynnika załamania otoczenia. Widać<br />

wyraźnie, że wraz ze wzrostem RI widmo doznaje przesunięcia<br />

w stronę fal krótszych. Dla struktury bez pokrycia cienkowarstwowego<br />

efekt ten występuje aż do RI zbliżonego od materiału<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 23


Rys. 1. Właściwości optyczne warstw osadzonych na próbkach krzemowych<br />

towarzyszącym LPG podczas procesu osadzania. Grubość<br />

warstw określono na 87 i 182 nm odpowiednio dla SiN x<br />

i DLC<br />

Fig. 1. Optical properties of thin films deposited on silicon substrate<br />

accompanying LPGs during the deposition processes. Thickness of<br />

the films was 87 and 182 nm of SiNx and DLC films, respectively<br />

a)<br />

Rys. 3. Przesunięcie rezonansowej długości fali odpowiadającej modom<br />

płaszczowym LP 04<br />

(romby), LP 05<br />

(kwadraty), LP 06<br />

(koła) i LP 07<br />

(trójkąty) pod wpływem zmian RI w zakresie od 1 do 1,47 RIU, gdzie<br />

kolorem czarnym oznaczono LPG bez pokrycia, ciemnoszarym LPG<br />

z pokryciem DLC i jasnoszarym LPG z pokryciem SiN x<br />

Fig. 3. Resonance wavelength shift corresponding to coupling of LP 04<br />

(diamonds), LP 05<br />

(squares), LP 06<br />

(circles), and LP 07<br />

(triangles) cladding<br />

modes induced by variations in RI in range from 1 to 1.47 RIU,<br />

where black curve shows response of LPG without any overlay, and<br />

dark and light gray for LPGs with the DLC and the SiNx overlays,<br />

respectively<br />

b)<br />

c )<br />

Rys. 2. Przesunięcie widma transmisyjnego siatki LPG pod wpływem<br />

zmian RI w zakresie 1… 1,47 RIU, gdzie: (a) siatka bez pokrycia cienkowarstwowego,<br />

(b) siatka z pokryciem DLC (c) siatka z pokrycie SiN x<br />

Fig. 2. Shift of the LPG transmission spectra induced by variations<br />

in external RI in range from 1 to 1.47 RIU, where (a) shows response<br />

for structure without any overlay, (b) for LPG with DLC and (c) for<br />

SiNx overlays<br />

24<br />

światłowodu (1,47 RIU), przy którym następuje stopniowy zanik<br />

rezonansu wywołany istotnym zaburzeniem warunków propagacji<br />

modów płaszczowych (rys. 2a). Dla tych warunków przesunięcie<br />

długości fali rezonansu w funkcji RI jest największe. Po<br />

osadzeniu na LPG pokrycia cienkowarstwowego o wysokim n,<br />

efekt ten jest obserwowany dla niższych wartości RI niż w przypadku<br />

struktury bez warstwy. Po osadzeniu DLC o grubości na<br />

płytce referencyjnej wynoszącej 182 nm, dla RI ok. 1,39…1,4 RIU<br />

można zaobserwować najwyższą dynamikę przesunięcia widma<br />

(rys. 2b). Podwyższone na skutek osadzenia warstwy efektywne<br />

współczynniki załamania modów płaszczowych rosną przez co<br />

dochodzi do przesunięcia rezonansów w stronę krótszych długości<br />

fali zgodnie ze równaniem 1. Dalszy wzrost współczynnika<br />

załamania otoczenia prowadzi do zaburzenia warunków propagacji<br />

dla modu płaszczowego najniższego rzędu (LP 02<br />

), który<br />

zaczyna być prowadzony w warstwie. Pozostałe mody doznają<br />

spektralnego przesunięcia zajmując pozycję modów bezpośrednio<br />

niższego rzędu, czyli np. LP 06<br />

do LP 05<br />

widoczne dla struktury<br />

z warstwą DLC. Gdy warstwa pokryciowa jest odpowiednio gruba<br />

i posiada wysoki współczynnik załamania, jak choćby dla badanej<br />

struktury LPG z warstwą SiN x<br />

, mod najniższego rzędu jest prowadzony<br />

w warstwie w pełnym zakresie analizowanego współczynnika<br />

załamania otoczenia (rys. 2c). Dla tego przypadku przesunięcie<br />

rezonansów spowodowane zmianą RI jest minimalne. Na<br />

rys. 3 zestawiono pomiary przesunięcia rezonansowej długości<br />

fali odpowiadającej każdemu z modów płaszczowych wywołane<br />

zmianą RI.<br />

Podsumowanie i wnioski<br />

W pracy przedstawiono możliwość efektywnego sterowania zakresem<br />

czułości struktur LPG na zmiany RI poprzez zastosowanie<br />

warstw osadzanych w technikach plazmowych. Odpowiedni<br />

dobór właściwości optycznych warstwy i jej grubości pozwala na<br />

dostosowanie maksymalnej czułości struktur do wybranego zakresu<br />

RI. Wykorzystanie cienkich pokryć pozwala więc na wykorzystanie<br />

struktur LPG choćby w funkcji bezznacznikowych (ang.<br />

label-free) biosensorów (RI ~1,33 RIU), czy do pomiaru wilgotności<br />

(RI~1 RIU) [2]. Ponadto, poprzez osadzenie warstwy o odpowiednich<br />

parametrach, możliwe jest silne zredukowanie czułości<br />

na zmiany RI i zastosowanie struktur LPG do pomiaru innych parametrów<br />

takich jak ciśnienie [8], czy temperatura [10], przy braku<br />

zaburzającego pomiar wpływu zmian RI.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Autorzy pracy dziękują na wsparcie finansowe badań udzielone<br />

przez Natural Sciences and Engineering Research Council of<br />

Canada, Canada Research Chairs Program, Narodowe Centrum<br />

Badań i Rozwoju w ramach programu LIDER oraz Unię Europejską<br />

ramach Europejskiego Funduszu Społecznego, projekt<br />

„Program Rozwojowy Politechniki Warszawskiej” i Programu<br />

Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka w ramach programu<br />

Fundacji na rzecz Nauki Polskiej „Homing Plus”.<br />

Literatura<br />

[1] Del Villar I., Martias I.R., Arregui F.J.: Nanorefractometer Based on<br />

Deposition of an Overlay on a Long Period Fiber Grating, Proc. SPIE<br />

Vol. 5855, 2005, pp. 840–843.<br />

[2] Eftimov T. at all.: Efficient distributed moisture-ingress sensing using<br />

diamond-like carbon-nanocoated long period gratings, Optics Communications<br />

Vol. 284, 2011, pp. 4470–4472.<br />

[3] Falate R. at all.: Fiber optic sensors for hydrocarbon detection, Sensors<br />

and Actuators B 105, 2005, pp. 430–436.<br />

[4] Ishaq I.M. at all.: Modification of the refractive index response of long<br />

period gratings using thin film overlays, Sensors and Actuators B107,<br />

2005, pp. 738–741.<br />

[5] Patrick H.J., Kersey A.D., Bucholtz F.: Analisis of the Response of<br />

Long Period Fiber Gratings to External Index Refraction, J.Lightwave<br />

Tech. Vol. 16, no. 9, 1998, pp. 1606–1612.<br />

[6] Shu X., Zhang L.: Sensitivity Characteristics of Long-Period Fiber<br />

Gratings, J. Lightwave Technol. Vol. 20, no. 2, 2002, pp. 255–266.<br />

[7] Smietana M. at all.: Application of diamond-like carbon films in optical<br />

fibre sensors based on long-period gratings, Diamond and Related<br />

Materials Vol. 16, 2007, pp. 1374–1377.<br />

[8] Smietana M. at all.: Pressure Sensing in High-Refractive-Index Liquids<br />

Using Long-Period Gratings Nanocoated with Silicon Nitride,<br />

Sensors Vol. 10, no. 12, 2010, pp. 11301–11310.<br />

[9] Smietana M., Bock W.J., Mikulic P.: Comparative study of long-period<br />

gratings written in a boron co-doped fiber by an electric arc and<br />

UV irradiation, Measurement Science and Technology Vol. 21, 2010,<br />

025309.<br />

[10] Smietana M., Bock W.J., Mikulic P.: Temperature sensitivity of silicon<br />

nitride nanocoated long-period gratings working in various surrounding<br />

media, Measurement Science and Technology Vol. 22, 2011,<br />

115203.<br />

[11] Smietana M., Bock W.J., Szmidt J.: Evolution of optical properties<br />

with thickness of silicon nitride and diamond-like carbon films<br />

deposited by RF PECVD method, Thin Solid Films Vol. 519, 2011,<br />

pp. 6339–6343.<br />

[12] Sun J., Li Y., Liu D.: Widely tunable long-period fiber gratings with interpolymers<br />

as sensitivity-enhanced materials, Opt. Comm. Vol. 249,<br />

2005, pp. 193–200.<br />

[13] Vasilev SA at all.: Fibre gratings and their applications, Quantum<br />

Electronics Vol. 35, no. 12, 2005, pp. 1085–1103.<br />

[14] Vengsarkar A.M. at all.: Long-Period Fiber Gratings as Band-Rejection<br />

Filters, J. Lightwave Tech. Vol. 14, no. 1, 1996, pp. 58–65.<br />

Analiza możliwości wykorzystania siatek<br />

długookresowych w strukturach gradientowych<br />

światłowodów planarnych<br />

mgr inż. Tomasz Kotyczka, dr hab. inż. Roman Rogoziński Prof. nadzw. Pol. Śl.<br />

Politechnika Śląska, Departament Optoelektroniki<br />

Obecnie w przemyśle elektronicznym wraz z dynamicznym<br />

rozwojem technologii, obserwować można nieustanne dążenie<br />

do miniaturyzacji układów, a tym samym redukcji kosztów ich<br />

produkcji. Układy elektroniczne stają się coraz mniejsze, tańsze<br />

oraz bardziej energooszczędne. Coraz popularniejsze stają się<br />

jednostki zintegrowane, w których poszczególne komponenty<br />

urządzenia elektronicznego produkowane są w postaci pojedynczego<br />

układu. Podobną tendencję widać w dziedzinie układów<br />

optycznych. Z dobrze opanowanymi technologiami produkcji,<br />

bazując na materiałach wysokiej jakości, można wytwarzać układy<br />

optoelektroniczne z dużą precyzją oraz w sposób wysoce powtarzalny.<br />

Urządzenia optyczne w stosunku do swoich elektronicznych<br />

odpowiedników charakteryzują się przede wszystkim<br />

niewrażliwością na obecność oraz zmiany pola elektrycznego<br />

i magnetycznego. Mogą pracować w skrajnie trudnych warunkach,<br />

a także często dzięki swojej budowie ich czas życia znacząco<br />

się wydłuża. Głównym motorem ciągłego postępu oraz<br />

poszukiwania nowych rozwiązań jest potrzeba automatyzacji<br />

oraz kontroli i nadzoru wszelkiego rodzaju procesów. Dotyczy<br />

to zarówno wszystkich gałęzi przemysłu jak również technologii<br />

medycznych gdzie główny nacisk kładzie się na niezawodność<br />

oraz precyzję działania. Wszędzie gdzie występują trudne<br />

warunki lub wymagana jest nieustanna kontrola projektuje<br />

się czujniki, które z duża dokładnością oraz w krótkim czasie<br />

pozwolą na detekcję pożądanych parametrów. W raz z rozwojem<br />

telekomunikacji znaczącą role zaczęły odgrywać układy<br />

wytwarzane bezpośrednio na włóknach. Do przykładów takich<br />

rozwiązań należą chociażby lasery światłowodowe [16], pompy<br />

optyczne, wszelkiego rodzaju czujniki płynów oraz gazów, a także<br />

filtry [3, 5, 6, 13, 15]. Te ostatnie oparte są na siatkach długookresowych<br />

LPG (Long Period Fiber Grating) [13]. Umożliwiają<br />

one sprzęganie mocy poszczególnych modów propagujących<br />

się w światłowodzie. Ze względu jednak na ograniczenia materiałowe,<br />

z których wykonywane są włókna transmisyjne oraz<br />

trudności technologiczne z odsłonięciem rdzenia i fizycznym<br />

osadzeniu siatki, w odniesieniu do układów LPG uwagę skierowano<br />

w kierunku struktur planarnych [2, 8, 9, 12]. Szeroka<br />

gama dostępnych materiałów o znanych parametrach jak również<br />

dobrze poznane i opanowane procesy technologiczne, pozwalają<br />

modelować oraz wykonywać pożądane układny w wielu<br />

konfiguracjach. W niniejszej pracy zaprezentowano analizę<br />

wykorzystania siatek długookresowych w oparciu o gradientowe<br />

światłowody planarne z głównym naciskiem na struktury typowo<br />

gradientowe (gradient + gradient). Rozdział drugi przedstawia<br />

propozycję konfiguracji układu LPWG. Kolejny rozdział zawiera<br />

podstawy teoretyczne oraz pokazuje model, na którym bazowały<br />

obliczenia. Rozdział czwarty to analiza układu planarnego<br />

w strukturze gradientowej i prezentacja krzywych rezonansowych<br />

oraz widm transmisji dla różnych procesów technologicznych<br />

oraz parametrów siatki. Ostatnia część pracy zawiera podsumowanie<br />

i wnioski dotyczące otrzymanych wyników, a także<br />

propozycje dalszych badań w tym zakresie.<br />

Propozycja konfiguracji układu planarnego<br />

Ideą pracy układu LPWG jest sprzęganie modów propagujących<br />

się w obszarze światłowodu z modami pokrycia (propagującymi się<br />

w obszarze bezpośrednio przylegającym do obszaru falowodu).<br />

Realizuje się to poprzez wytworzenie zaburzenia (fizycznego lub<br />

okresowych zmian wsp. załamania). Warunkiem odprzęgania jest<br />

spełnienie równania Bragga:<br />

r<br />

r<br />

r<br />

cl<br />

β +<br />

qK<br />

= β<br />

(1)<br />

0 m<br />

gdzie: β r cl<br />

0<br />

i β r m – wektory propagacji modów rzędu zerowego i m-<br />

tego, q – rząd sprzężenia (q = ±1, ±2 …) oraz wektor falowy K r<br />

który bezpośrednio daje powiązanie z okresem zaburzenia.<br />

r<br />

K = 2 π /<br />

Λ<br />

(2)<br />

gdzie: Λ – okres wytworzonego zaburzenia.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 25


Ponieważ jak już wspomniano analiza dotyczy konkretnego szkła<br />

(BK7), które w wyniku wymiany jonowej staje się szkłem dwójłomnym,<br />

podczas symulacji brano pod uwagę tylko polaryzację<br />

TE. W niniejszej pracy jako obszar falowodowy przyjęto obszar<br />

jednomodowy, a co za tym idzie sprzęganie mocy odbywa się<br />

między modem podstawowym TE 0<br />

, a modami wyższych rzędów<br />

propagującymi się w obszarze otaczającym falowód i spełniającymi<br />

relację: β<br />

cl<br />

m<br />

< β<br />

0. Rząd sprzężenia przyjmuje zatem wartości<br />

ujemne (q < 0). W przypadku q = -1 równanie (1) przyjmuje<br />

postać:<br />

cl<br />

N<br />

−<br />

N<br />

Λ = λ<br />

(3)<br />

( )<br />

0 m r<br />

gdzie: λ r<br />

– oznacza rezonansową długość fali dla sprzężenia modów<br />

rzędu 0 i m.<br />

Ponieważ efektywne współczynniki załamania modów N0<br />

( λ )<br />

cl<br />

i Nm<br />

( λ ) to wielkości dyspersyjne więc na równanie (2) wpływ<br />

mają również dyspersje refrakcji ośrodka światłowodowego i obszaru<br />

pokrycia. W literaturze istnieje wiele przykładów konfiguracji<br />

struktur LPWG. Jednym z podstawowych są typowe struktury<br />

step-index [14]. Można spotkać struktury mieszane, w których<br />

obszar gradientowy pełni funkcję falowodu natomiast moc odprzęgana<br />

jest do modów propagujących się w wielomodowym<br />

obszarze jedno- rodnym naniesionym bezpośrednio na strukturę<br />

gradientu. Zaproponowano także [4] układ w konfiguracji gradient<br />

+ gradient, gdzie zarówno falowód jedomodowy jak i struktura<br />

wielomodowa są obszarami gradientowymi.<br />

Na rysunku 1 przedstawiono graficzną propozycję takiego<br />

układu. Jednomodowy światłowód gradientowy posiada zaburzoną<br />

powierzchnię w postaci reliefu. Z kolei wielomodowy obszar<br />

odsprzęgający powstaje w efekcie dodatkowej dyfuzji domieszki<br />

do szkła poprzez strefę zaburzenia. W tym przypadku obszar odsprzęgający<br />

znajduje się w szkle podłożowym.<br />

Na rysunku 2 przedstawiona została sekwencja procesów<br />

technologicznych umożliwiających realizację struktury z rys. 1.<br />

Rys. 1. Struktura LPWG w konfiguracji gradient + gradient<br />

Fig. 1. LPWG structure in gradient+gradient configuration<br />

Pierwszym etapem technologicznym jest wytworzenie zaburzenia<br />

(reliefu) w podłożu szklanym (rys. 2a). Realizuje się to metodą<br />

trawienia chemicznego szkła przed jego domieszkowaniem.<br />

W kolejnym etapie przez powierzchnię szkła (relief) przeprowadza<br />

się proces selektywnej wymiany jonowej (rys. 2b). Powstający<br />

w ten sposób światłowód planarny jest strukturą wielomodową.<br />

Po etapie tym możliwy jest jeszcze opcjonalny etap wygrzewania.<br />

Umożliwia on dodatkowe rozdyfundowanie wprowadzonej<br />

do szkła domieszki. W efekcie ulega obniżeniu profil refrakcyjny<br />

światłowodu. Jednocześnie zwiększa się zasięg domieszki<br />

w szkle (wzrasta głębokość światłowodu). Zabieg ten pozwala na<br />

kształtowanie charakterystyk sprzęgania rezonansowego modów<br />

w końcowej strukturze LPWG. Ostatnim etapem technologicznym<br />

jest wytworzenie gradientowego światłowodu jednomodowego<br />

przy całej powierzchni szkła podłożowego (rys. 2c). Realizuje się<br />

go poprzez krótki proces dyfuzji wtórnej. W tym procesie wzrasta<br />

również współczynnik załamania w obszarze wielomodowym.<br />

Czas trwania procesu dyfuzji wtórnej musi być tak dobrany, aby<br />

powstający światłowód był jednomodowy w całym zakresie stosowanego<br />

widma. Profile refrakcyjne będące efektem procesów<br />

dyfuzji i wygrzewania zostały obliczone w oparciu o model dwuskładnikowej<br />

wymiany jonowej. W modelu tym przyjęta została<br />

zależność współczynników dyfuzji wymienianych jonów od ich<br />

unormowanych koncentracji [7, 10, 11]. Z wykorzystaniem tego<br />

modelu wyznaczono eksperymentalnie zależności temperaturowe<br />

współczynników dyfuzji wymienia- nych jonów. Temperaturowe<br />

zależności współczynników dyfuzji jonów K + (D A<br />

) i Na + (D B<br />

) dla<br />

wymiany K + ↔Na + w szkle BK7 przedstawiają równania:<br />

2<br />

⎛<br />

8945,1 ⎞<br />

⎛<br />

µ<br />

m<br />

⎞<br />

D A<br />

( T )<br />

= exp ⎜<br />

− + 16,6<br />

⎟<br />

⎜ ⎟<br />

⎝ T<br />

⎠ ⎝ h<br />

⎠<br />

(4)<br />

2<br />

⎛<br />

43,9 ⎞<br />

⎛<br />

µ<br />

m<br />

⎞<br />

D B<br />

( T )<br />

= exp ⎜<br />

− + 3,5<br />

⎟<br />

⎜ ⎟<br />

⎝ T<br />

⎠ ⎝ h<br />

⎠<br />

Metody symulacji i obliczenia<br />

Symulacje numeryczne na podstawie założeń przedstawionych<br />

w poprzednim rozdziale zostały przeprowadzone w oparciu o rzeczywiste<br />

procesy technologiczne. Symulowano strukturę LPWG na<br />

bazie światłowodu gradientowego z wykorzystaniem procesów dyfuzji<br />

wstępnej oraz wtórnej jonów K + oraz Na + w szkle BK7. Wybór<br />

materiału podyktowany był bardzo dobrymi parametrami optycznymi<br />

szkła oraz faktem, iż jest ono dobrze opisane, ogólnie dostępne<br />

i produkowane seryjnie. Oprócz procesów dyfuzji rozpatrywano<br />

również wpływ procesu wygrzewania, który jest częścią procedury<br />

technologicznej wytwarzania proponowanej struktury planarnej.<br />

W przypadku tych procesów opierano się o model dwuskładnikowej<br />

wymiany jonowej [11]. Szkło BK7 w przypadku wymiany jonów<br />

K + ↔ Na + charakteryzuje się dwójłomnością optyczną [11]. W przedstawionych<br />

badaniach, symulacje ograniczono do polaryzacji TE.<br />

Na podstawie obliczonych profili refrakcyjnych (rys. 3) stosując ma-<br />

Rys. 2. Sekwencja procesów technologicznych realizacji struktury<br />

z rys. 1<br />

Fig. 2. Sequence of technological processes during creation of the<br />

structure from Fig. 1<br />

26<br />

Rys. 3. Profil refrakcyjny struktury LPWG w konfiguracji gradient +<br />

gradient<br />

Fig. 3. Refractive indem profile of the LPWG structure In gradient +<br />

gradient configuration<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


cierzową metodę analizy światłowodów planarnych [1], wyznaczano<br />

zmiany efektywnych współczynników załamania prowadzonych<br />

modów w funkcji długości fali.<br />

Na podstawie tych zależności oraz za pomocą równania (3)<br />

wyznaczano charakterystyki rezonansowego sprzęgania modów<br />

TE 0<br />

→TE m<br />

. Uwzględniając także relację N m<br />

(λ) obliczano również<br />

spektralne zależności rozkładów pól modowych E y0<br />

(x,λ) i E ym<br />

(x,λ)<br />

dla obszarów odsprzęgania modów w strukturach LPWG. Rozkłady<br />

tych pól pozwalają na obliczenia współczynników sprzęgania a) b)<br />

modów w obszarze zaburzonym [14].<br />

h<br />

2 2<br />

Ey,0 ( x, λ) ⋅Ey,m ( x, λ) ⋅ ⎡ng ( x, λ) − nc<br />

( λ)<br />

⎤ dx<br />

1 sin( aπ)<br />

∫<br />

Rys. 4. ⎣a) Przykładowa krzywa ⎦ rezonansowa; b) Przykładowa charak-<br />

0<br />

terystyka transmisyjna<br />

κ −<br />

1,TE<br />

( )<br />

0 →TE<br />

λ = ⋅ ⋅<br />

m<br />

λ ∞ Fig. 4. ∞a) Exemplary resonance profle; b) Exemplary transmission<br />

N<br />

0 ( λ ) N<br />

m ( λ<br />

)<br />

2 2<br />

∫ Ey,0 ( x, λcharacteristic<br />

) dx ⋅<br />

(5)<br />

∫ Ey,m<br />

( x, λ)<br />

dx<br />

h<br />

2 2<br />

−∞<br />

−∞<br />

Ey,0 ( x, λ) ⋅Ey,m ( x, λ) ⋅<br />

( )<br />

⎡ng ( x, λ) − nc<br />

( λ)<br />

⎤ dx<br />

1 sin aπ<br />

∫<br />

⎣<br />

⎦<br />

0<br />

⋅<br />

⋅<br />

λ ∞<br />

∞<br />

N<br />

0 ( λ ) N<br />

m ( λ<br />

)<br />

2 2<br />

E x, λ dx ⋅ E x, λ<br />

dx<br />

∫<br />

−∞<br />

( ) ∫<br />

( )<br />

y,0 y,m<br />

−∞<br />

gdzie: κ -1<br />

− współczynnik sprzężenia dla rzędu sprzężenia (q = -1),<br />

a = δ/Λ – współczynnik wypełnienia (duty-cycle) zaburzenia,<br />

h – głębokość zaburzenia, n g<br />

(x, λ) – dyspersyjna zależność refrakcji<br />

obszaru gradientowego w szkle, n c<br />

(λ) – dyspersyjna zależność<br />

refrakcji pokrycia światłowodu. Na podstawie wyznaczonych<br />

współczynników sprzężenia (5) obliczana jest [14] transmisja<br />

spektralna w modzie podstawowym związana ze spektrum odsprzęgania<br />

do modu m-tego rzędu.<br />

2 2 2<br />

sin<br />

( κ<br />

−<br />

1,TE<br />

)<br />

0 →TE<br />

+ ∆ ⋅ L<br />

m<br />

T<br />

TE ( )<br />

0 →TE λ,h m g,a, Λ ,L = 1−<br />

2<br />

∆<br />

(6)<br />

1<br />

+ κ<br />

2<br />

−<br />

1,TE<br />

0 →<br />

TE<br />

m<br />

gdzie: L – długość obszaru zaburzonego na kierunku propagacji,<br />

Δ – współczynnik opisujący odstępstwo od dopasowania fazowgo<br />

według równania Bragga (1) wyrażony równaniem:<br />

⎛<br />

N<br />

m ( λ ) −<br />

N 0<br />

( λ<br />

)<br />

1<br />

⎞<br />

∆ ( λ ,<br />

Λ )<br />

= π<br />

⎜<br />

−<br />

⎟<br />

(7)<br />

⎝<br />

λ<br />

Λ<br />

⎠<br />

Analiza zaproponowanej struktury<br />

Uwzględniając zależności przedstawione w poprzednich rozdziałach,<br />

symulowano strukturę planarną przedstawioną na rys. 1.<br />

W pierwszej kolejności badano wpływ procesów technologicznych<br />

na kształt krzywych rezonansowych, co z kolei miało swoje<br />

przełożenie na charakterystyki transmisyjne. Jak już wspomniano<br />

zakłada się w tym przypadku przeprowadzenie procesu dyfuzji<br />

wstępnej jonów K + oraz Na + do szkła podłożowego BK7 w ograniczonym<br />

obszarze tworząc w ten sposób obszar wielomodowy<br />

znajdujący się bezpośrednio pod zaburzeniem. W następnej<br />

kolejności symulowano przeprowadzenie procesu wygrzewania.<br />

Ostatnim procesem jest dyfuzja wtórna, w wyniku której otrzymuje<br />

się jednomodowy obszar falowodowy. We wszystkich obliczeniach<br />

numerycznych symulujących procesy dyfuzji, wygrzewania<br />

i dyfuzji wtórnej przyjęto jednakową temperaturę tych procesów<br />

wynoszącą T = 400°C. Dle tej wartości temperatury obliczane<br />

były współczynniki dyfuzji na podstawie równań (4). Biorąc pod<br />

uwagę dyfuzję wstępną jak i wygrzewanie każdorazowo podczas<br />

obliczeń zmianie ulegał czas trwania procesu. Rozpatrując proces<br />

dyfuzji wtórnej za każdym razem czas tego procesu wynosił<br />

t wtór<br />

= 1h. Rys. 4a przedstawia przykładową charakterystykę rezonansową.<br />

Pokazuje ona zależność między długością fali rezonansowej,<br />

a okresem zaburzenia wynikającą ze wzoru (3). Dobierając<br />

odpowiedni okres zaburzenia dla symulowanej struktury<br />

wyznaczyć możemy widmo transmisyjne (przykład na rys. 4b)<br />

którego minimum przypada dla wartości wybranej wcześniej λ r<br />

.<br />

Dobroć układu wyraża stosunek (8):<br />

D<br />

⎡<br />

1<br />

⎤<br />

Q<br />

=<br />

(8)<br />

S<br />

⎢<br />

⎣<br />

nm<br />

⎥<br />

⎦<br />

Rys. 5. Krzywe rezonansowe sprzęgania modówTE 0<br />

→TE 1<br />

w zależności<br />

od czasu dyfuzji wstępnej<br />

Fig. 5. Resonance profile of the TE 0<br />

→TE 1<br />

modes coupling in dependence<br />

to the time of preliminary diffusion process<br />

gdzie: D określa „głębokość” minimum, S natomiast to szerokość<br />

połówkowa wyrażona w nm.<br />

Ponieważ proces wytwarzania zaproponowanej struktury<br />

zakładał występowanie kilku następujących po sobie procesów<br />

postanowiono rozdzielić metodykę badań. W pierwszej kolejności<br />

badano wpływ zmian czasu dyfuzji wstępnej t dyf<br />

(rys. 5)<br />

na krzywe rezonansowe. Przeprowadzono szereg symulacji<br />

każdorazowo zmieniając czas dyfuzji wstępnej, przy czym temperatura<br />

tego procesu T dyf<br />

, temperatura oraz czas procesu wygrzewania<br />

T wyg<br />

, t wyg<br />

jak i procesu dyfuzji wtórnej T wtór<br />

, t wtór<br />

pozostawały<br />

stałe.<br />

Na rysunku 5 przedstawiono charakterystyki rezonansowe,<br />

w których odprzęganie następuje z modu podstawowego propagującego<br />

się w obszarze falowodowym, do modu pierwszego<br />

rzędu. Widać zatem, iż wraz ze wzrostem czasu dyfuzji wstępnej<br />

krzywe rezonansowe nieznacznie przesuwają się względem siebie.<br />

Dla tego samego okresu zaburzenia, wraz ze zwiększeniem<br />

czasu dyfuzji wstępnej, zmniejszeniu ulega długość fali rezonansowej<br />

(rys. 6a).<br />

Na rysunku 6b przedstawiono z kolei zależność zmiany dobroci<br />

układu wraz ze zmianą czasu procesu dyfuzji wstępnej.<br />

Zwiększając czas dyfuzji, dobroć struktury ulega zmniejszeniu.<br />

Oznacza to, że dla procesów dyfuzji, które trwają dłużej, minimum<br />

transmisji staje się bardziej płytkie i szersze. Widać zatem, że<br />

proces dyfuzji wstępnej (w analizowanym przedziale czasu jego<br />

trwania) ma niewielki wpływ na dobroć filtru widmowego.<br />

Rysunek 7 przedstawia wpływ zmian czasu procesu wygrzewania<br />

na kształt krzywych rezonansowych. Podobnie jak w poprzednim<br />

przypadku wykres przedstawia rezonanse, dla których<br />

następuje odsprzęganie mocy w obszarze zaburzenia z modu<br />

podstawowego do modu pierwszego rzędu (TE 0<br />

→TE 1<br />

). Symulacje<br />

przeprowadzano analogicznie, każdorazowo zmieniając tylko<br />

czas procesu wygrzewania t wyg<br />

. Czas procesu dyfuzji wstępnej<br />

t dyf<br />

= 12h, jak również temperatura procesów dyfuzji i wygrzewa-<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 27


a) b)<br />

Rys. 6 a) Zmiana długości fali rezonansowej w funkcji zmian czasu dyfuzji<br />

wstępnej; b) Zmiana dobroci struktury wraz ze zmianą czasu dyfuzji<br />

Fig. 6. a) Change of resonant wavelength with changes of duration of<br />

preliminary diffusion, b) Structure efficiency changes with preliminary<br />

diffusion time changes<br />

a) b)<br />

Rys. 8. a) Zmiana długości fali rezonansowej w funkcji zmian czas<br />

procesu wygrzewania; b) Zmiana dobroci struktury wraz ze zmianą<br />

czasu procesu wygrzewania<br />

Fig. 8. a)Change of resonant wavelength with changes of heating processes<br />

duration, b) Structure efficiency changes with heating time<br />

changes<br />

a) b)<br />

Rys. 9. Wpływ wypełnienia okresu zaburzenia na kształt widma transmisyjnego<br />

struktury proponowanej struktury planarnej<br />

Fig. 9. The influence of grating duty cycle on the transmission spectrum<br />

of the presented gradient structure<br />

Rys. 7. Krzywe rezonansowe wraz ze zmianą czasu wygrzewania<br />

Fig. 7. Resonance profile of the TE 0<br />

→TE 1<br />

modes coupling in dependence<br />

to the time of heating process<br />

nia pozostawały stałe. Czas oraz temperatura procesu dyfuzji<br />

wtórnej podobnie jak poprzednio wynosiły odpowiednio t wtór<br />

= 1h,<br />

T wtór<br />

= 400°C.<br />

Z rysunku 7 widać dość znaczny wpływ czasu procesu wygrzewania<br />

na charakterystyki rezonansowe. Wraz z wydłużeniem<br />

tego procesu krzywe stają się bardziej płaskie, co w efekcie dla<br />

tego samego okresu zaburzenia Λ daje rezonanse w zakresie fal<br />

krótszych (rys. 8a). Dodatkowo zmiany dobroci struktury w tym<br />

przypadku są bardziej widoczne i odbywają się w większym zakresie.<br />

Z obliczeń przedstawionych na rys. 8b wynika, że wraz<br />

z wydłużeniem czasu wygrzewania struktury, zwiększa się dobroć<br />

układu. Oznacza to, że przy dłuższym wygrzewaniu, charakterystyki<br />

transmisyjne stają się bardziej smukłe (węższe), a minimum<br />

dla λ r<br />

osiąga mniejszą wartość.<br />

Podczas badań przeanalizowano także wpływ wypełniania<br />

zaburzenia a na kształt widma transmisyjnego na wyjściu<br />

układu (rys. 9a). Przeprowadzone obliczenia wykazują, że wypełnienie<br />

może znacząco wpływać na dobroć układu. Rys. 9b<br />

przedstawia zmiany parametru D dla struktur w takiej samej<br />

konfiguracji(Λ = 575 μm, λ r<br />

= 700 μm, L = 10000 μm) przy różnych<br />

wartościach współczynnika wypełnienia a. Widać zatem<br />

że najbardziej optymalnym wypełnieniem będzie a = 0,5. Dla<br />

takiej wartości minimum transmisji dla konkretnej długości fali<br />

rezonansowej będzie osiągało najmniejszą wartość. Uwzględniając<br />

otrzymane wyniki, analizując wpływ procesów technologicznych<br />

na pracę układu oraz tendencje jakie przedstawiają,<br />

można zaprojektować strukturę planarną w układzie gradientowym<br />

jako filtru widmowego. Rys. 10 przedstawia charakterystykę<br />

widmową struktury planarnej działającą jako filtr w zakresie<br />

widzialnym. Projektowana struktura jest symulowana jako<br />

efekt procesów technologicznych o następujących parametrach<br />

t dyf<br />

= 24 h, T dyf<br />

= 400°C, t wyg<br />

= 49 h, T wyg<br />

= 400°C, t wtór<br />

= 1h,<br />

T wtór<br />

= 400°C. Współczynnik wypełnienia a = 0,5, głębokość<br />

zaburzenia h g<br />

= 50 nm, okres zaburzenia Λ = 700 μm, długość<br />

zaburzenia L = 10500 nm (15 okresów).<br />

28<br />

Rys. 10. Przykładowa struktura gradient + gradient jako filtr widmowy<br />

w zakresie widzialnym oraz wpływ współczynnika załamania otoczenia<br />

na kształt widma transmisyjnego<br />

Fig. 10. Exemplary gradient + gradient structure as spectrum filter<br />

In the visible spectrum range and the influence of the environment<br />

index changes on its transmission<br />

Na rysunku 10 pokazano możliwość pracy zaprojektowanego<br />

układu jako filtr natężeniowy w zakresie widzialnym. Wykorzystując<br />

charakterystykę widmową diody LED o λ = 610 nm oraz<br />

bazując na wynikach przedstawionych w niniejszym artykule, tak<br />

dobrano procesy technologiczne oraz parametry zaburzenia aby<br />

minimum transmisyjne filtru pokrywało się ze szczytową długością<br />

fali źródła promieniowania. Przedstawiono także wpływ zmian<br />

współczynnika załamania otoczenia (n = 1,33) na charakterystykę<br />

widmową, co jest przedmiotem dalszych badań. Ponieważ diody<br />

LED są ogólnie dostępne oraz tanie, a dodatkowo nie wymaga<br />

się w ich przypadku analizatora widma, podczas badań fizycznej<br />

realizacji struktury możliwe będzie zweryfikowanie pracy układu<br />

jako filtr za pomocą zwykłego detektora.<br />

Wnioski i podsumowanie<br />

Przedstawiona w niniejszym artykule analiza pokazuje, iż możliwe<br />

jest wykorzystanie siatek długookresowych w strukturach<br />

gradientowych jako filtrów widmowych. Badania uwzględniały<br />

wyznaczone drogą eksperymentalną zależności temperaturowe<br />

współczynników dyfuzji w procesach wymiany jonów w szkle<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


BK7. Szkło to jest wytwarzane komercyjnie i posiada dobrze opisane<br />

właściwości dyspersyjne, które były uwzględniane w przeprowadzanych<br />

analizach. Przedstawione rezultaty pozwalają<br />

stwierdzić, iż możliwe jest zaprojektowanie struktury planarnej<br />

w układzie gradient + gradient jako filtru widmowego poprzez<br />

odpowiedni dobór procesów technologicznych oraz przez właściwe<br />

dostosowanie opartych na badaniach parametrów samego<br />

zaburzenia. Dzięki elastyczności procesów dyfuzji oraz wygrzewania<br />

można projektować tego typu struktury pod kątem wykorzystanego<br />

źródła światła. Jak pokazano w [4] oraz w niniejszym<br />

artykule rezonanse mogą zachodzić w zakresie widzialnym co<br />

znacząco poszerza możliwości doboru źródła promieniowania<br />

od zwykłych diod LED po lasery z tego zakresu widmowego.<br />

W dalszej analizie przewiduje się badania nad wpływem zmian<br />

współczynnika załamania otoczenia na charakterystyki transmisyjne<br />

struktury pod kątem zastosowania jej jako czujnika<br />

amplitudowego. Brane są pod uwagę także badania nad tego<br />

typu strukturami w konfiguracjach bardziej złożonych. Mowa tutaj<br />

o układach wielokrotnych LPWG na strukturach planarnych.<br />

Analiza przewiduje badanie transmisji w szeregowo wytworzonych<br />

zaburzeniach. W dalszej perspektywie rozpatrywane będą<br />

także badania wpływu dodatkowych procesów technologicznych<br />

(powtórne wygrzewanie) na charakterystyki rezonansowe oraz<br />

widma transmisyjne.<br />

Praca została sfinansowana ze środków Narodowego Centrum<br />

Nauki przyznanych na podstawie decyzji DEC-2011/01/B/<br />

ST7/06525<br />

Literatura<br />

[1] Chen C. at all.: Efficient and accurate numerical analysis of multilayer<br />

planar optical waveguides in lossy anisotropic media, Optics Express<br />

Vol. 7, No. 8, 2000, 260–272.<br />

[2] Chiang K.S. at all.: Widely tunable long-period gratings fabricated<br />

in polymer-clad ion-exchanged glass waveguides, IEEE Photonics<br />

Technology Letters Vol. 15, No. 8, 2003, 1094–1096.<br />

[3] Duhem O.at all.: Long period copper-coated grating as an electrically<br />

tunable wavelength-selective filter, IEEE Electronics Letters Vol. 35,<br />

No. 12, 1999, 1014–1016.<br />

[4] Kotyczka T., Rogoziński R.: Long Period Waveguide Gratings on planar<br />

gradient waveguides, (Wysłane do druku w Acta Physica Polonica A)<br />

[5] Lemaire P.J.at all.: High pressure H 2<br />

loading as a technique for<br />

achieving ultrahigh UV photosensitivity and thermal sensitivity in<br />

GeO 2<br />

doped optical fibres, IEEE Electronics Letters Vol. 29, No. 13,<br />

1993, 1191–1193.<br />

[6] Lin C.Y., Wang L.A.: A wavelength- and loss-tunable band-rejection<br />

filter based on corrugated long-period fiber grating, IEEE Photonics<br />

Technology Letters Vol. 13 No. 4, 2001, 332–334.<br />

[7] Opilski A. at all.: Present state and perspectives involving application<br />

of ion exchange in glass, Opto-Electronics Review Vol. 8, No. 2,<br />

2000, 117–127.<br />

[8] Pal S., Singh B.R.: Analysis and Design of Corrugated Long-Period<br />

Gratings in Silica-on-Silicon Planar Waveguides, IEEE Journal of<br />

Lightwave Technology Vol. 25, No. 8, 2007, 2260–2267.<br />

[9] Rastogi V., Chiang K.S.: Long-period gratings in planar optical<br />

waveguides, Applied Optics Vol. 41, No. 30, 2002, 6351–6355.<br />

[10] Rogoziński R.: Electrodiffusion processes with the conversion<br />

of polarization direction of electric field in the formation of planar<br />

waveguide structures using ion exchange technique in glass, Optica<br />

Applicata Vol. 28, No. 4, 1998, 331–343.<br />

[11] Rogoziński R.: Planar waveguide structures produced by ion exchange<br />

in glasses – Selected aspects of production technology,<br />

measurement of optical properties and numerical modelling of structures,<br />

Monograph 135 (in polish), Gliwice 2007.<br />

[12] Tsoi H.C., Wong W.H., Pun E.Y.B.: Polymeric long-period waveguide<br />

gratings IEEE Photonics Technology Letters Vol. 15, No. 5, 2003,<br />

721–723.<br />

[13] Vengsarkar A.M.at all.: Long Period Fiber Gratings Gratings as Band<br />

Rejection Filters, IEEE Journal of Lightwave Technology Vol. 14,<br />

No. 1, 1996, 58–65.<br />

[14] Zhang D-L. at all.: Long period grating in/on planar and channel<br />

waveguides: A theory description, Optics & Laser Technology Vol.<br />

39, 2007, 1204–1213.<br />

[15] Szustakowski M., Grabiec W., Pałka N., Wójcik J.: Wykorzystanie<br />

światłowodu fotonicznego do budowy czujnika perymetrycznego,<br />

<strong>Elektronika</strong> (XLVIII), nr 3/2007, s. 15.<br />

[16] CICHOŃ J., DOROSZ D., ZAJĄC A.: Podwójne domieszkowanie<br />

jonami pierwiastków ziem rzadkich w światłowodach włókowych,<br />

<strong>Elektronika</strong> (XLIX), nr 10/2008, s. 34.<br />

Światłowody mPOF do zastosowań telekomunikacyjnych<br />

mgr inż. Paweł Gdula 1,2 , mgr inż. Katrin Welikow 1 ,dr hab. inż. Ryszard Buczyński 3,4 ,<br />

prof. dr hab. inż. Paweł Szczepański 1,2 , dr inż. Ryszard Piramidowicz 1<br />

1<br />

Politechnika Warszawska, <strong>Instytut</strong> Mikroelektroniki i Optoelektroniki<br />

2<br />

<strong>Instytut</strong> Łączności, Państwowy <strong>Instytut</strong> Badawczy, Warszawa<br />

3<br />

Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki, 4 <strong>Instytut</strong> Technologii Materiałów <strong>Elektronicznych</strong>, Warszawa<br />

Dynamiczny rozwój technologii informacyjnych i telekomunikacyjnych,<br />

obserwowany w ostatnich latach doprowadził do znaczących<br />

zmian w sieciach telekomunikacyjnych, wymuszając ich ewolucję<br />

w kierunku transparentnych, w pełni optycznych systemów.<br />

W sieciach dostępowych, stanowiących najniższą warstwę<br />

systemów telekomunikacyjnych, włókna optyczne systematycznie<br />

wypierają rozwiązania miedziane, pozwalając na radykalne<br />

zwiększenie przepustowości i niezawodności przy jednoczesnej<br />

redukcji kosztów. Należy jednak podkreślić, że o ile w przypadku<br />

sieci dalekiego zasięgu i metropolitalnych nie ma alternatywy dla<br />

włókien jednomodowych, to specyficzne wymagania nakładane<br />

przez sieci dostępowe, a w szczególności systemy wewnątrz-budynkowe<br />

sprawiają, że włókna dla tych sieci stanowią przedmiot<br />

intensywnych badań i analiz, prowadzonych zarówno w jednostkach<br />

R&D największych operatorów i producentów włókien jak<br />

też wiodących ośrodków naukowych. W sytuacji, kiedy istotną<br />

rolę zaczynają odgrywać straty mikro- i makro-zgięciowe, problemy<br />

odporności mechanicznej, łatwości rekonfigurowania połączeń,<br />

koszty instalacji i utrzymania sieci, czy wreszcie aspekty<br />

bezpieczeństwa, coraz częściej rozważa się zastosowanie światłowodów<br />

wielomodowych czy plastikowych o dużym rdzeniu [1,2].<br />

Te ostatnie, oferujące dużą elastyczność równocześnie z niskim<br />

kosztem produkcji i prostotą obróbki wydają się być szczególnie<br />

obiecujące w kontekście sieci dostępowych, a przede wszystkim<br />

systemów Fiber To The Home (FTTH). Światłowody polimerowe<br />

zapewniają również większe bezpieczeństwo użytkownikom<br />

w przypadku przerwania ciągłości włókna – nie łamią się tak jak<br />

włókna szklane, które pozostawiają drobne, ostre odłamki. Ponadto,<br />

pracują w zakresie bezpiecznej dla oczu części widma optycznego,<br />

przypadającej zwykle na obszar czerwieni [3].<br />

Głównymi czynnikami ograniczającymi powszechne wdrożenie<br />

włókien polimerowych w systemach transmisyjnych są stosunkowo<br />

duże tłumienie oraz, być może nawet bardziej krytyczne w systemach<br />

dostępowych, duże wartości dyspersji modalnej, wynikającej<br />

z rozmiarów rdzenia światłowodu. Wydaje się, że obydwa problemy<br />

mogłyby być skutecznie wyeliminowane poprzez wprowadzenie<br />

w obrębie włókna obszarów mikrostrukturalnych. Odpowiednio<br />

zaprojektowana geometria przekroju poprzecznego polimerowego<br />

światłowodu mikrostrukturalnego pozwoliłaby obniżyć tłumienie<br />

włókna, liczbę prowadzonych modów i straty zgięciowe [4]. Połączenie<br />

tego podejścia z jednoczesnym obniżeniem tłumienia<br />

poprzez fluorowanie lub deuterowanie polimeru, powinno dopro-<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 29


wadzić do opracowania światłowodu będącego w stanie zastąpić<br />

włókna kwarcowe we wszystkich typach systemów dostępowych.<br />

Niniejsza praca podsumowuje dotychczasowe prace nad zaprojektowaniem<br />

włókna mikrostrukturalnego POF (mPOF) o stosunkowo<br />

dużym rdzeniu, ograniczonej dyspersji modalnej oraz<br />

poprawionej odporności na straty zgięciowe, dyskutowanych<br />

w kontekście zastosowania w systemach FTTH.<br />

Modelowanie włókien mPOF<br />

Proces projektowania włókna mikrostrukturalnego jest nierozerwalnie<br />

związany z dokładną analizą wszystkich czynników mających<br />

wpływ na jego parametry końcowe, takich jak optyczne<br />

właściwości materiału bazowego, geometria przekroju poprzecznego<br />

– rozkład powietrznych otworów, odpowiedni dobór stałej<br />

sieci etc. Wstępne prace, koncentrujące się na możliwości uzyskania<br />

wszystkich postulowanych cech w klasycznej strukturze<br />

heksagonalnej zdefiniowanej w polimetakrylenie metylu (PMMA)<br />

zostały zakończone i opisane w pracach [5–7]. We wszystkich<br />

rozważanych przypadkach wprowadzana mikrostrukturyzacja zapewniała<br />

propagację ograniczonej ilości modów przy zachowaniu<br />

stosunkowo dużych rozmiarów rdzenia. Pierwsze założenia dotyczące<br />

modelowania, określały takie cechy włókna jak akceptowal-<br />

Rys. 1. Przekroje poprzeczne włókien omówionych w pracy: A) włókno<br />

z pojedynczym pierścieniem powiększonych otworów, B) gwiazda<br />

Davida<br />

Fig. 1. The cross sections of mPOF fibers discussed in this work: A)<br />

fiber with single ring of enlarged holes, B) David’s star design<br />

na średnica pola modowego na poziomie 20…25 µm dla długości<br />

fali 650 nm, straty propagacyjne na poziomie nieprzekraczającym<br />

strat materiałowych PMMA (ok. 100 dB/km) oraz straty makrozgięciowe<br />

porównywalne do wartości określonych w specyfikacji<br />

G.652 dla włókien kwarcowych.<br />

Wyniki przeprowadzonych badań dowiodły, że niemożliwe jest<br />

zaproponowanie regularnej struktury heksagonalnej, spełniającej<br />

postulowane wymagania. Mogą one zostać osiągnięte przy wprowadzeniu<br />

pomiędzy obszar rdzenia i płaszcza pierścienia o obniżonym<br />

współczynniku załamania [8–10]. We włóknie tego typu<br />

mody są silniej skupiane w obszarze rdzenia, dzięki otaczającemu<br />

je pierścieniowi powiększonych otworów. Klasyczna wersja takiego<br />

rozwiązania została przedstawiona na rys. 1 wraz z zaproponowaną<br />

najnowszą modyfikacją, noszącą nazwę „gwiazdy Dawida”. Obydwa<br />

zaprojektowane włókna zostały przetestowane w symulacjach numerycznych.<br />

Uzyskane wyniki przedstawiono w kolejnych sekcjach.<br />

Włókno z pojedynczym pierścieniem powiększonych<br />

otworów<br />

Przeprowadzone modelowanie włókna z pojedynczym pierścieniem<br />

powiększonych otworów miało na celu uzyskanie informacji<br />

o wpływie wprowadzonego „trencza” na jego parametry<br />

transmisyjne. Stała sieci Λ była zmieniana w szerokim zakresie<br />

2…20 μm, współczynnik wypełnienia zewnętrznych otworów d 1<br />

/Λ<br />

ustawiono na odpowiednio 40% oraz 60%, podczas gdy współczynnik<br />

d 2<br />

/Λ zmieniał się od 20…90% z krokiem 5%. Straty propagacyjne,<br />

przedstawione na rys. 2, obniżają się, kiedy stała sieci<br />

rośnie i mogą zostać dodatkowo zmniejszone przez zwiększenie<br />

współczynnika wypełnienia zewnętrznych otworów.<br />

Przykładowe wyniki modelowania liczby modów prowadzonych<br />

we włóknie zostały przedstawione na rys. 3, przy stałej sieci równej<br />

20 μm. Rezultaty modelowania potwierdzają możliwość ograniczenia<br />

liczby prowadzonych modów przez odpowiednie zaprojektowanie<br />

mikrostrukturalnego płaszcza. Wyniki pokazują, że dla zaproponowanej<br />

struktury możliwe jest wydzielenie przestrzeni parametrów<br />

geometrycznych, dla których włókno jest zaledwie kilkumodowe<br />

(a nawet jednomodowe). Maksymalna wartość współczynnika<br />

wypełnienia zewnętrznych otworów to 60%. Dalsze zwiększanie<br />

Rys. 2. Straty propagacyjne w funkcji stałej sieci, d 1<br />

/Λ = 40% (wykres po lewej stronie), d 1<br />

/Λ = 60% (wykres po prawej stronie)<br />

Fig. 2. The set of the curves representing propagation losses in function of lattice constant for d 1<br />

/Λ = 40% (on the left), d 1<br />

/Λ = 60% (on the right)<br />

Rys. 3. Liczba prowadzonych modów w funkcji współczynnika wypełnienia wewnętrznych otworów, współczynnik wypełnienia d 1<br />

/Λ jest równy:<br />

40% (wykres po lewej stronie), 60% (wykres po prawej stronie); obszar propagacji ograniczonej liczby modów został zaznaczony szarym<br />

kolorem<br />

Fig. 3. The set of the curves presenting the number of guided modes in function of the filling factor of internal air holes, the filling factor d 1<br />

/Λ<br />

is fixed at: 40% (left hand side), 60% (right hand side); the “window” of limited number of guided modes was marked with grey areas<br />

30<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys. 4. Zestaw krzywych pokazujący wpływ współczynnika wypełnienia<br />

wewnętrznych otworów na straty zgięciowe, stała sieci =20 μm,<br />

d 1<br />

/Λ = 60%<br />

Fig. 4. The set of the curves representing the influence of filling factor<br />

of internal air holes on bending losses, the pitch = 20 μm, d 1<br />

/Λ = 60%<br />

współczynnika wypełnienia zewnętrznych otworów nie wydaje się<br />

rozsądne, ponieważ liczba modów również gwałtownie narasta.<br />

Kluczowy parametr – straty zgięciowe, zostały przesymulowane<br />

w funkcji współczynnika wypełnienia wewnętrznych otworów.<br />

Stałą sieci ustalono na 20 μm, podczas gdy współczynnik d 1<br />

/Λ<br />

wynosił 60%. Ta ostatnia wartość wynika z poprzednio przeprowadzonych<br />

symulacji, dokładniej przedyskutowanych w [5, 6].<br />

Zewnętrzne otwory zapobiegają wzrostowi strat zgięciowych dla<br />

małych promieni gięcia, więc powinny być tak duże jak to możliwe.<br />

Jednakże, należy zachować równowagę pomiędzy wartością strat<br />

zgięciowych a liczbą prowadzonych modów, która równocześnie<br />

wzrasta. Wybrana do dalszych obliczeń wartość współczynnika<br />

wypełnienia zewnętrznych otworów zapewnia zarówno ograniczoną<br />

liczbę prowadzonych modów jak też niskie straty zgięciowe.<br />

Straty zgięciowe pokazane na rys. 4, są niezwykle wrażliwe na<br />

wartość współczynnika wypełnienia wewnętrznych otworów (nale-<br />

żących do pierwszego pierścienia otaczającego rdzeń). Porównanie<br />

krzywych uzyskanych dla dwóch wartości współczynnika wypełnienia<br />

wewnętrznych otworów wskazuje, że im są one większe,<br />

tym bardziej efektywnie blokują wzrost strat zgięciowych, szczególnie<br />

dla małych promieni gięcia. Ich powiększanie nie wpływa<br />

jednak znacząco na strukturę modową włókna.<br />

Wydaje się, że najbardziej optymalna struktura powinna łączyć<br />

60% współczynnik wypełnienia zewnętrznych otworów z 90%<br />

współczynnikiem wypełnienia wewnętrznych. Wyniki pokazują,<br />

że taki przekrój zapewnia niskie straty propagacyjne oraz duże<br />

pole modowe przy niewielkiej liczbie prowadzonych modów. Jednakże,<br />

straty zgięciowe wciąż są zbyt wysokie, szczególnie przy<br />

zmianie płaszczyzny gięcia dla małych promieni. Mod podstawowy<br />

może wtedy przenikać przez mostki polimerowe wokół rdzenia<br />

i ulegać wypromieniowaniu.<br />

Włókno o geometrii „gwiazdy Dawida”<br />

Początkowa propozycja została zmodyfikowana, jak pokazano na<br />

rys. 1b. Wybrane otwory należące do drugiego pierścienia zostały<br />

powiększone, aby zredukować straty zgięciowe przy zmianie płaszczyzny<br />

gięcia, całość tworzy geometrię przypominającą gwiazdę<br />

Dawida. Straty propagacyjne tego włókna nie różnią się znacząco<br />

od wyników uzyskanych dla struktury A, dlatego nie będą szerzej<br />

omawiane. Wprowadzona zmiana ma natomiast niewielki wpływ<br />

na strukturę modów, ponieważ lepiej propagują się mody wyższego<br />

rzędu Jak można zaobserwować na rysunku poniżej w dalszym<br />

ciągu daje się wyróżnić kombinacje parametrów geometrycznych,<br />

dla których liczba prowadzonych modów jest ograniczona.<br />

Omówiona właściwość włókna jest akceptowalna, dopóki<br />

struktura zapewnia poprawę strat zgięciowych. Analiza wpływu<br />

współczynnika wypełnienia zewnętrznych otworów na straty zgięciowe<br />

została pokazana na rys. 6. Okazuje się, że powiększenie<br />

wybranych otworów, wpływa na obniżenie strat zgięciowych bardziej<br />

skutecznie niż w przypadku struktury A.<br />

Rys. 5. Zestaw krzywych reprezentujących liczbę prowadzonych modów w funkcji współczynnika wypełnienia wewnętrznych otworów:<br />

d 1<br />

/Λ = 40% (wykres po lewej stronie), d 1<br />

/Λ = 60% (wykres po prawej stronie); przestrzeń o ograniczonej liczbie prowadzonych modów została<br />

zaznaczona szarym kolorem<br />

Fig. 5. The set of the curves presenting the number of guided modes in function of the filling factor of internal air holes, the filling factor d 1<br />

/Λ<br />

is fixed at: 40% (left hand side), 60% (right hand side); the „window” of limited number of guided modes was marked with grey areas<br />

R = 10 cm R = 5 cm R = 2 cm R = 1 cm<br />

Promień<br />

gięcia<br />

Struktura A<br />

d 2 /Λ=90%<br />

1.7117E-11<br />

dB/zwój<br />

1.0786E-10<br />

dB/zwój<br />

2.4910E-8 dB/zwój<br />

8.3315E-07<br />

dB/zwój<br />

Struktura B<br />

d 2 /Λ=90%<br />

2.3739E-12<br />

dB/zwój<br />

4.1739E-13<br />

dB/zwój<br />

1.0553E-13<br />

dB/zwój<br />

9.1106E-13<br />

dB/zwój<br />

Struktura B<br />

d 2 /Λ=80%<br />

5.9757E-10<br />

dB/zwój<br />

1.1914E-08<br />

dB/zwój<br />

0.0422 dB/zwój 0.1608 dB/zwój<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 31


Rys. 6. Zestaw krzywych obrazujących wpływ współczynnika wypełnienia<br />

wewnętrznych otworów na straty zgięciowe, Λ = 20 μm, współczynnik<br />

wypełnienia d 1<br />

/Λ = 60%<br />

Fig. 6. Bending losses vs. bending radius for David’s star fiber, each<br />

curve corresponds to different filling factor of internal air holes, the<br />

pitch = 20μm, d 1<br />

/Λ = 60%<br />

Wyniki dokładnych obliczeń strat zgięciowych dla różnych<br />

promieni gięcia wraz z odpowiadającymi im rozkładami pola dla<br />

modu podstawowego pokazano w tabeli.<br />

Straty zgięciowe w przeliczeniu na 1 pętlę dla włókna z pojedynczym<br />

pierścieniem powiększonych otworów oraz „gwiazdy<br />

Dawida”, dla każdej struktury: Λ = 20 μm, d 1<br />

/Λ = 60%<br />

Bending losses per turn for structures structure with single<br />

ring of enlarged air holes and “David’s star,” for each structure:<br />

Λ = 20 μm, d 1<br />

/Λ = 60%<br />

Porównanie wartości ujętych w tabeli potwierdza, że w przypadku<br />

gwiazdy Dawida mod podstawowy jest lepiej prowadzony<br />

w rdzeniu. W ostatnim wierszu tabeli pokazano wartości strat<br />

zgięciowych dla geometrii gwiazdy Dawida, kiedy współczynnik<br />

wypełnienia wynosi wewnętrznych otworów zostanie zmniejszony<br />

do 80%. Należy zwrócić uwagę, że straty zgięciowe ulegają wtedy<br />

znacznemu pogorszeniu, nawet o kilka rzędów wielkości.<br />

Projekt włókna<br />

32<br />

Rys. 7. Stanowisko do pomiaru strat zgięciowych światłowodów<br />

mPOF wraz z przekrojem poprzecznym włókna (lewy górny róg)<br />

Fig. 7. Cross section of microstructured POF manufactured by Kiriama<br />

along with setup for bending losses measurements<br />

Kolejny etap prac przewidywał wykonanie włókna o geometrii<br />

„gwiazdy Dawida”, dla którego otrzymano najbardziej obiecujące<br />

wyniki teoretyczne. Struktura uznana za optymalną składa się<br />

z sześciu pierścieni otworów powietrznych tworzących sieć heksagonalną<br />

o stałej sieci równej 20 μm. Współczynnik wypełnienia<br />

zewnętrznych i wewnętrznych otworów jest równy odpowiednio 60<br />

oraz 90%. Proponowane włókno oferuje straty zgięciowe na poziomie<br />

10 -8 dB/zwój przy promieniu gięcia około 0,5 cm, równocześnie<br />

zapewniając propagację jedynie 3 modów oraz pole modowe o wielkości<br />

170 μm 2 . Początkowo zakładano wykonanie włókna metodą<br />

zestawiania z kapilar i pręcików w Instytucie Technologii Materiałów<br />

<strong>Elektronicznych</strong>, co narzuciło geometrię heksagonalną rozważanych<br />

struktur. Wstępne próby technologiczne, choć obiecujące, nie<br />

pozwoliły uzyskać włókien o wystarczająco stabilnych parametrach.<br />

Pierwsze włókno testowe zostało więc wykonane przez australijską<br />

firmę Kiriama, jednego z niewielu na świecie komercyjnych producentów<br />

polimerowych włókien mikrostrukturalnych.<br />

Z przyczyn technologicznych Kiriama nie była w stanie dostarczyć<br />

włókna o zamówionych parametrach, dlatego współczynnik<br />

wypełnienia wewnętrznych otworów został zmniejszony do 80%.<br />

Jak pokazano w tabeli taka zmiana powoduje znaczące pogorszenie<br />

strat zgięciowych, natomiast prawie nie ma wpływu na dyspersję<br />

modową. Przekrój poprzeczny dostarczonego przez Kiriamę<br />

włókna został pokazany na rys. 7 wraz ze stanowiskiem do pomiaru<br />

strat zgięciowych.<br />

Wstępne testy pokazały, że zaprojektowane włókno zapewnia<br />

propagacje zaledwie kilku modów, jednak straty zgięciowe są<br />

znacznie wyższe niż to wynika z obliczeń i mogą wynosić nawet<br />

do 5 dB na zwój o promieniu 1 cm. Takie zachowanie parametrów<br />

może wynikać z kilku czynników. Przede wszystkim geometria<br />

otrzymanego włókna różni się od oryginalnej, stała sieci wynosi<br />

21µm zamiast 20 µm, współczynniki wypełnienia d 1<br />

/Λ oraz d 2<br />

/Λ<br />

wynoszą odpowiednio 62 i 78% zamiast 60 i 80%. Ponadto, rozmiary<br />

otworów nie są stabilne i zmieniają się wzdłuż włókna, co<br />

dodatkowo zaburza mechanizm propagacji. Także stosunek mikrostrukturalnego<br />

obszaru płaszcza do obszaru bez mikro-strukturyzacji<br />

jest zbyt duży, co skutkuje silnymi deformacjami otworów<br />

podczas zginania i znacząco podnosi zarówno straty zgięciowe<br />

jak i tłumienie we włóknie. Zgodnie z wynikami pomiarów tłumienie<br />

wynosi około 1,7 dB/m na długości fali 650 nm i jest ponad 10<br />

razy większe niż wartość założona na potrzeby symulacji.<br />

Podsumowanie<br />

Wyniki obliczeń przeprowadzonych dla wybranych geometrii włókien<br />

mPOF potwierdzają możliwość efektywnej kontroli zarówno<br />

strat propagacyjnych i zgięciowych jak i manipulacji liczbą prowadzonych<br />

modów, przy zachowaniu stosunkowo dużych rozmiarów<br />

pola modowego.<br />

Zaprojektowane włókno o optymalnych parametrach zostało<br />

wykonane przez firmę Kiriama, co pozwoliło na weryfikację wyników<br />

teoretycznych. Chociaż rezultaty pierwszych eksperymentów<br />

odbiegają od oczekiwanych, stanowią one ważny materiał, który<br />

posłuży do opracowania nowych rozwiązań i dalszych prac. Uzyskane<br />

informacje pozwolą w przyszłości dopracować założenia<br />

projektowe i zoptymalizować zarówno nową geometrię włókna<br />

jak i technologię jego wytwarzania. Wyniki prowadzonych prac<br />

będą przedmiotem kolejnych publikacji.<br />

Niniejszy artykuł powstał w wyniku realizacji prac badawczych<br />

prowadzonych w ramach projektu Inżynieria Internetu Przyszłości,<br />

POIG 01.01.02-00-045/09.<br />

Literatura<br />

[1] Dainese P. i in.: Fiber innovation optimizes FTTH reach, reduces installation<br />

cost, Lightwave, 2008.<br />

[2] Boivin D. i in.: Design and performances of trench-assisted G.657.<br />

A&B fiber optimized towards more space savings and miniaturization of<br />

components, Optical Components and Materials VI, Proc. of SPIE, Vol.<br />

7212, 2009.<br />

[3] Ziemann O. i in.: POF Polymer Optical Fibers for Data Communication,<br />

Berlin: Springer, ISBN-10: 3540420096, 2002.<br />

[4] Tsuchida Y., Mukasa K., Sugizaki R.: Demonstrating Novel Functionality<br />

of Air-holes to Realize Large-mode-area Optical Fibers, Proc OSA/OFC/<br />

NFOEC, 2011.<br />

[5] Gdula P. i in.: Modelowanie parametrów propagacyjnych polimerowych<br />

światłowodów mikrostrukturalnych do zastosowań w sieciach FTTH,<br />

<strong>Elektronika</strong>: konstrukcje, technologie, zastosowania, Wydawnictwo<br />

SIGMA-NOT, nr 2, 2011, 11–17.<br />

[6] Gdula P. i in.: Modeling transmission parameters of polymer microstructured<br />

fibers for applications in FTTH networks, Proc. of SPIE, Vol. 8008<br />

800816-1, 2011.<br />

[7] Welikow K. i in.: Microstructured Plastic Optical Fibers for Applications in<br />

FTTH Systems, Proc. of SPIE Vol. 8426, 84261A, <strong>2012</strong>.<br />

[8] Zhou J. i in.: Application of PCF to optical fiber wiring in residential and<br />

business premises, Inst. Elect. Inform. and Commun. Engineers of Japan<br />

Tech. Rep. IEICE OFT2002-81, 2003<br />

[9] Hasegawa T. i in.: Novel hole-assisted lightguide fiber exhibiting large<br />

anomalous dispersion and low loss below 1 dB/km, Tech. Dig. Optical<br />

Fiber Communication, 2001.<br />

[10] Zhou J. i in.: Application of hole-assisted type PCF with good bending loss<br />

performance”,Proc. 52nd Int. Wire and Cable Symp. IWCS/Focus, 2003.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Badanie dyspersji chromatycznej serii włókien<br />

mikrostrukturalnych o silnie nieliniowych właściwościach<br />

do generacji typu supercontinuum<br />

mgr inż. Zbigniew Hołdyński 1 , mgr inż. Michał Szymański 1,3 , mgr inż. Michał Murawski 1,3 ,<br />

dr inż. Paweł Mergo 2 , dr inż. Idzi Merta 1 , mgr inż. Małgorzata Gawrońska 1 ,<br />

dr inż. Paweł Marć 1 , prof. dr hab. inż. Leszek R. Jaroszewicz 1 , dr inż. Tomasz Nasiłowski 1,3<br />

1<br />

Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Technicznych Zastosowań Fizyki,Warszawa,<br />

2<br />

Uniwersytet Marii Curie Skłodowskiej, Laboratorium Technologii Światłowodów, Lublin, 3 InPhoTech Ltd., Warszawa<br />

Włókna mikrostrukturalne (MSFs) posiadają niezwykle atrakcyjne<br />

własności umożliwiające badanie efektów nieliniowych [1].<br />

Jednym z stosunkowo niedawno odkrytych najbardziej znanych<br />

efektów nieliniowych jest proces generacji typu superconinuum.<br />

Tego typu generacja została opisana teoretycznie z dodatkowym<br />

numerycznym opisem zachodzących zjawisk z uwzględnieniem<br />

parametrów geometrycznych włókien [1].<br />

Precyzyjne opracowanie własności dyspersyjnych pozwala na<br />

określenie wpływu na poszczególne efekty nieliniowe [13]. Istotna<br />

jest możliwość szerokiego przestrajania własności dyspersyjnych<br />

w kierunku normalnym lub anomalnym [6, 9, 11]. Tolerancje technologiczne<br />

decydują o uzyskiwanych właściwościach dyspersyjnych<br />

włókien dlatego muszą spełniać odpowiednie poziomy<br />

korelacji z numerycznymi rezultatami w celu zachowania odpowiednich<br />

parametrów.<br />

Większość prezentowanych dotychczas rezultatów charakteryzacji<br />

dyspersji chromatycznej w MSFs dotyczy jednego lub<br />

dwóch włókien które są weryfikowane z numerycznymi rezultatami<br />

[2, 3, 4, 8, 10, 12, 14]. Wpływ tolerancji technologicznych dla<br />

licznych serii włókien nie był obiektem badań.<br />

Interferometryczna metoda pozwala na charakteryzację bardzo<br />

krótkich odcinków włókien wykorzystywanych do generacji<br />

typu supercontinuum z ekstremalną precyzją [3, 12].<br />

W artykule przedstawiamy podstawy zasad charakteryzacji<br />

własności dyspersyjnych włókien wraz z eksperymentalnymi rezultatami<br />

z wykorzystaniem metody interferometrycznej. W rozdziale<br />

drugim prezentujemy rezultaty pomiaru dyspersji chromatycznej<br />

oraz numerycznych obliczeń. Wyniki pomiaru dla serii<br />

światłowodów o zróżnicowanych parametrach geometrycznych<br />

pozwolą na uzyskanie informacji na temat możliwości modyfikacji<br />

własności dyspersyjnych. Możliwości sterowania parametrami<br />

geometrycznymi wiążą się ze zmianą warunków generacji efektów<br />

nieliniowych w tego typu strukturach (rys. 1b).<br />

Teoretyczne podstawy charakteryzacji własności<br />

dyspersyjnych<br />

Dyspersja chromatyczna włókien mikrostrukturalnych może być<br />

wyrażona przy pomocy stałej propagacji modu prowadzonego<br />

[13]. Dyspersja chromatyczna wyraża się następująco:<br />

2<br />

πc<br />

D<br />

=<br />

−<br />

β<br />

(1)<br />

2<br />

2<br />

λ<br />

gdzie: β 2<br />

jest stałą propagacji drugiego rzędu, c – prędkość światła,<br />

λ – długość fali<br />

Wykorzystanie równania interferencyjnego dla interferometru Michelsona<br />

pozwoli na późniejsze wyodrębnienie stałej propagacji:<br />

( ) ( ) ( ) ( ( )<br />

)<br />

I<br />

λ<br />

=<br />

E<br />

λ<br />

+<br />

E<br />

λ<br />

≈<br />

1<br />

+<br />

cos<br />

φ<br />

λ<br />

(2)<br />

s<br />

r<br />

gdzie: E s<br />

oraz E r<br />

– amplitudy sygnału oraz referencji.<br />

Informacja na temat stałej propagacji zawarta jest w członie<br />

fazowym φ(λ) równania (2). Rozwinięcie w szereg Taylora członu<br />

fazowego pozwala na zapis funkcji fazowej w następującej<br />

postaci:<br />

2<br />

⎡<br />

d<br />

⎤<br />

⎛<br />

2<br />

πc<br />

2<br />

πc<br />

⎞<br />

φ<br />

( λ<br />

) =<br />

φ<br />

0 +<br />

⎢<br />

β<br />

1( ω<br />

0)<br />

L<br />

−<br />

⎥<br />

⎜ ⎟<br />

−<br />

+<br />

⎣ c ⎦<br />

⎝ λ λ<br />

0<br />

⎠<br />

(3)<br />

2<br />

3<br />

1<br />

⎛<br />

2<br />

πc<br />

2<br />

πc<br />

⎞<br />

1<br />

⎛<br />

2<br />

πc<br />

2<br />

πc<br />

⎞<br />

+<br />

β<br />

( ) ⎜<br />

2<br />

ω0<br />

L<br />

⎟<br />

+<br />

3( 0) ⎜<br />

⎟<br />

+ ...<br />

2<br />

−<br />

β ω L<br />

0<br />

6<br />

−<br />

⎝ λ λ ⎠<br />

⎝ λ λ<br />

0<br />

⎠<br />

gdzie: L – długość testowanego włókna, β 1<br />

, β 2<br />

, β 3<br />

– stałe propagacji,<br />

d – długość ramienia referencyjnego. Równanie (3) opisuje<br />

zmianę fazy prowadzonego modu w strukturze włókna.<br />

Układ interferometryczny do pomiaru dyspersji<br />

chromatycznej<br />

Testowany układ do pomiaru dyspersji chromatycznej przedstawiono<br />

na (rys. 1a). Wybrano konfigurację objętościową interferometru<br />

Michelsona. Układ interferometryczny poddano pomiarowej<br />

procedurze kalibracyjnej (opisanej szczegółowo w [5])<br />

z wykorzystaniem standardowego włókna telekomunikacyjnego<br />

SMF-28 (rys. 2). Istotny wpływ na wyniki pomiaru dyspersji ma<br />

poziom sygnału interferencyjnego. Do wyrównania poziomów<br />

sygnału ramion interferometru użyto tłumika optycznego VOA<br />

(Variable Optical Attenuator). W celu uzyskania prawidłowego<br />

wyniku należało precyzyjnie kontrolować położenie zwierciadła<br />

ruchomego w ramieniu odniesienia. Zmiana położenia zwierciadła<br />

ruchomego pozwala na uzyskiwanie równoważenia fazy dla<br />

kolejnych długości fali.<br />

W ramach weryfikacji poprawności stosowanej metody układ<br />

interferometryczny poddano pomiarowej procedurze kalibracyjnej<br />

z wykorzystaniem standardowego włókna telekomunikacyjnego<br />

SMF-28 o znanej charakterystyce dyspersyjnej (rys. 2) [5]. Wyniki<br />

pomiaru uzupełniono obliczeniami symulacyjnymi przy wykorzystaniu<br />

oprogramowania ModeSolution firmy Lumerical.<br />

Pomiar dyspersji chromatycznej i dane katalogowe firmy<br />

Corning są w bardzo wysokiej korelacji ze współczynnikiem<br />

R 2 = 0.99975. Wyniki symulacji zachowują bardzo dobra zgod-<br />

Rys. 1. Interferometr światła białego w konfiguracji Michelsona do<br />

pomiaru dyspersji chromatycznej (gdzie: FUT- pomiarowe włókno,<br />

VOA – tłumik optyczny, BS – kostka światło-dzieląca) (a). Typ geometrii<br />

analizowanych włókien –zdjęcie mikroskopowe SEM (b)<br />

Fig.1. White light Michelson interferometer for chromatic dispersion<br />

measurement (where: FUT- Fibre Under Test, VOA – Variable Optical<br />

Attenuator, BS – Beam Splitter) (a). Geometry type of tested fibremicroscopic<br />

SEM image (b)<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 33


Średnie parametry geomatryczne testowanych włókien<br />

Average geometrical parameters of tested fibres<br />

Rys. 2. Pomiar dyspersji chromatycznej włókna SMF-28 metoda interferometryczną<br />

(punkty) wraz z danymi katalogowymi firmy Corning<br />

i obliczeniami numerycznymi metodą (FDTD)<br />

Fig. 2. Chromatic Dispersion measurement results of SMF-28 obtained<br />

with free space optics interferometer (points) compared with<br />

Corning catalogue data (solid line) and calculation results based on<br />

FDTD method<br />

ność z pomiarem pod kątem zachowania trendu charakterystyki<br />

co warunkuje możliwość kontrolowanego modelowania struktur<br />

światłowodowych.<br />

Sygnał interferencyjny rejestrowano na analizatorze widma.<br />

Obserwowane prążki interfer encyjne tworzą sygnał typu chirp<br />

(zmienno-częstotliwościowy). Centralny prążek (o najniższej częstotliwości)<br />

spektralnie określa wartość długości fali λ o<br />

dla której<br />

interferometr jest w równowadze fazowej: φ(λ)= 0.<br />

Możliwość obserwacji sygnału interferencyjnego ograniczona<br />

jest pojawianiem się wyższych modów w zakresie krótkofalowym.<br />

Użyteczność sygnału interferencyjnego w zakresie krótko-falowym<br />

określa się na 100…150 nm poniżej ZDW (zero dyspersji)<br />

włókna ze względu na pojawiające się szumy pochodzące od<br />

wyższych modów.<br />

Pomiar dyspersji obejmował włókna nieliniowe [5] przy wykorzystaniu<br />

interferometru objętościowego. Parametry geometryczne<br />

testowanych włókien zestawiono w tabeli.<br />

Wyniki pomiaru dyspersji włókien porównano z rezultatami symulacji<br />

(rys. 3). Obliczenia numeryczne wykonano przy wykorzystaniu<br />

oprogramowania ModeSolution.<br />

Grupa h [um] Λ [µm] h/Λ (2Λ-h) [µm]<br />

A1 1.94 3.80 0.51 5.66<br />

A2 1.61 3.16 0.43 4.71<br />

B1 1.46 3.92 0.37 6.38<br />

B2 1.24 3.21 0.38 5.18<br />

C1 1.13 3.17 0.36 5.21<br />

C2 0.96 2.59 0.37 4.22<br />

C3 0.84 2.14 0.39 3.44<br />

D1 1.93 4.55 0.42 7.17<br />

D2 1.81 3.91 0.46 6.01<br />

D3 1.46 3.06 0.48 4.66<br />

h – średnica otworu powietrznego, Λ – stała sieci, h/Λ – współczynnik<br />

wypełnienia, (2Λ-h) – średnica rdzenia<br />

Zgodność wyników modelowania oraz pomiaru dla układu<br />

objętościowego pozwala na modelowanie własności dyspersyjnych<br />

włókien nieliniowych. W grupie C widoczne jest przegięcie<br />

charakterystyki dyspersyjnej (C3). Parametry geometryczne włókien<br />

grupy C są minimalne w analizowanej serii włókien. Dalsza<br />

minimalizacja wymiarów powodowała by pojawienie się drugiego<br />

ZDW w zakresie długofalowym natomiast ZDW krótkofalowe odpowiednio<br />

przesunęło by się w kierunku fal krótszych. Możliwość<br />

oszacowania długości fali dla zerowego poziomu dyspersji stanowi<br />

podstawę do powiązania własności dyspersyjnych i efektów<br />

nieliniowych wynikających z położenia pompy źródła względem<br />

ZDW (Zero Dispersion Wavelength). Istotną rolę odgrywa możliwość<br />

sterowania efektami nieliniowymi poprzez zmianę własności<br />

dyspersyjnych ośrodka z poziomu parametrów geometrycznych.<br />

Analiza pomiarowych charakterystyk dyspersyjnych pozwala na<br />

oszacowanie położenia punktów o zerowym poziomie dyspersji<br />

(ZDW). Rezultat analizy charakterystyk pod kątem położenia<br />

ZDW przedstawiono na (rys. 4).<br />

Rys. 3. Pomiar dyspersji chromatycznej (punkty) oraz symulacja numeryczna dla serii światłowodów A, B, C oraz D przy wykorzystaniu interferometru<br />

objętościowego<br />

Fig. 3. Chromatic dispersion measurements (points) and calculation (solid lines) results of microstructured fibre series: A, B, C and D by using<br />

bulk optics interferometer<br />

34<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys. 4. ZDW analizowanych grup światłowodów mikrostrukturalnych<br />

(A, B, C, D). Linia ciągła stanowi długość fali pompy (164nm) do uzyskania<br />

nieliniowych efektów<br />

Fig. 4. ZDW for measurement groups of fibres (A, B, C, D).Solid line described<br />

pump laser source (1064nm) for nonlinear effect generation<br />

Rys. 6. Przykład efektu poszerzenia spektralnego w grupie D; obserwowanego<br />

przy użyciu spektrometru<br />

Fig. 6. Example of spectral broadening in group D; observed by using<br />

spectrometer<br />

Rys. 5. Ewolucja efektu poszerzenia spektralnego dla włókna C2 (lewy), A2 (prawy) przy wzroście sygnału pompy (1064 nm)<br />

Fig. 5. Evolution of spectral broadening for: C2 (left), A2 (right) fibres after increasing pump (1064 nm) power<br />

Wyniki pomiaru (rys. 4) pozwalają na oszacowanie zakresu<br />

zmian parametrów geometrycznych włókien w celu uzyskania<br />

przesunięcia charakterystyki dyspersyjnej. Zmiana lokalizacji<br />

ZDW w stosunku do długości fali pompy warunkuje możliwość<br />

uzyskiwania charakterystyk poszerzenia spektralnego w różnym<br />

zakresie (rys. 5).<br />

Wyniki pomiaru i symulacji prezentują dobrą zgodność. Widoczną<br />

różnicę wyników pomiarów i symulacji tworzy stały czynnik<br />

wynikający z obliczeń numerycznych (wpływ numerycznych<br />

odchyleń potwierdzono obliczeniami dla standardowego włókna<br />

SMF28 o znanej dyspersji). Jest to istotny czynnik mający wpływ<br />

na możliwość projektowania światłowodów o zadanym i oczekiwanym<br />

poziomie dyspersji.<br />

Podsumowanie<br />

Prezentowane rezultaty pomiaru dyspersji chromatycznej we<br />

włóknach mikrostrukturalnych przedstawiają wysoka zgodność<br />

z danymi symulacyjnymi. Ważnym wnioskiem wynikającym<br />

z otrzymanych rezultatów jest możliwość kontroli dyspersyjnych<br />

własności włókien mikrostrukturalnych ze względu na parametry<br />

procesu wytwarzania. Prezentowana metoda pomiaru pozwala<br />

na uzyskanie precyzyjnych wyników z błędem maksymalnym poniżej<br />

3%. Możliwość modyfikowania parametrów geometrycznych<br />

włókien nieliniowych pozwala na kształtowanie charakterystyk<br />

dyspersji oraz jej istotnego parametru ZDW (zerowy poziom dyspersji)<br />

w ramach optymalizacji efektów nieliniowych (rys. 6).<br />

Widoczne poszerzenie spektralne w zakresie krótkofalowym<br />

(poniżej długości fali pompy (1064 nm) różni się dla włókien D1,<br />

D2 D3. Optymalizacja efektów nieliniowych zachodzących we<br />

włóknach mikrostrukturalnych wiąże się z uzyskiwaniem szeroko<br />

spektralnych źródeł typu supercontinuum o dedykowanym zakresie<br />

widma.<br />

Prace badawcze zostały sfinansowane ze środków Ministerstwa<br />

Nauki i Szkolnictwa Wyższego w ramach projektu Kluczo-<br />

wego: EU FP7 jako COST TD1001, POIG.01.03.01 14 016/08 03<br />

oraz rozwojowego NR02 0074 10, POIG.01.04.00 06 017/11oraz<br />

POIG.01.04.00 18 008/10.<br />

Literatura<br />

[1] Dudley J. M., Taylor J. R.: Supercontinuum generation in optical fibres,<br />

Cambridge University Press, 2010, pp. 3–81.<br />

[2] Falk P., Frosz M. H., Bang O.: Supercontinuum generation in a photonic<br />

crystal fiber with two zero-dispersion wavelengths tapered to normal<br />

dispersion at all wavelengths, Optics Express. 13, No. 19, 2005, pp.<br />

7535–7540.<br />

[3] Galle. M.A. at all.: Single-arm three-wave interferometer for measuring<br />

dispersion of short lengths of fibre, Optics Express. Vol. 15, No. 25,<br />

2007, pp. 16896–16908.<br />

[4] Harun S. W., Limb K. S., Ahmad H.: Investigation of Dispersion Characteristic<br />

in Tapered Fibre, Laser Physics. Vol. 21, No. 5, 2011, pp. 945–947.<br />

[5] Holdynski Z. at all.: Investigation of dispersion characteristics of highly<br />

nonlinear microstructured fibre series for customized supercontinuum<br />

generation, 25 April <strong>2012</strong> (Proceedings Paper).<br />

[6] Laegsgaar J. D, Roberts P. J.: Dispersive pulse compression in hollow-core<br />

photonic bandgap fibers, Opt. Express 16 (13), 2008, pp.<br />

9628–9644.<br />

[7] Lim H., Wise F.: Control of dispersion in a femtosecond ytterbium laser<br />

by use of hollow-core photonic bandgap fiber, Opt. Express 12 (10),<br />

2004, pp. 2231–2235.<br />

[8] Lu P., Ding H., Mihailov S.J.: Direct measurement of the zero-dispersion<br />

wavelength of tapered fibres using broadband-light interferometry,<br />

Meas. Sci. Technol. 16, 2005, pp. 1631–1636.<br />

[9] Matos C. at all.: All-fiber chirped pulse amplification using highly-dispersive<br />

air-core photonic bandgap fiber, Opt. Express 11, 2003, pp. 2832–2837.<br />

[10] Merritt P., Tatam R. P., Jackson D. A.: Interferometric Chromatic Dispersion<br />

Measurements on Short Lengths of Monomode Optical Fibre,<br />

Journal Of Lightwave Technology. 7, No. 4, 1989, pp. 703-716.<br />

[11] Ouzounov D. G. at all.: Generation of megawatt optical solitons in<br />

hollow-core photonic band-gap fibers, Science 301(5640), 2003, pp.<br />

1702–1704.<br />

[12] Peterka P. at all.: Measurement of chromatic dispersion of microstructure<br />

optical fibres using interferometric method, Optica Applicata. Vol.<br />

38, No. 2, 2008, pp. 295–303.<br />

[13] Ranka J. K., Windele R. S., Stentz A. J.: Visible continuum generation<br />

in air-silica microstructure optical fibers with anomalous dispersion at<br />

800 nm, Optics Letters. Vol. 25, Issue 1, 2000, pp. 25–27.<br />

[14] Thevenaz L., Pellaux J.-P., Weid J.-P.: All-Fibre Interferometer for Chromatic<br />

Dispersion Measurements, Journal Of Lightwave Technology. 6,<br />

No. I, 1988, pp. 1–7.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 35


Wykorzystanie światła rozproszonego do wyznaczania<br />

dwójłomności modowej światłowodów planarnych<br />

dr inż. Kazimierz GUT, Tomasz HERZOG (student)<br />

Politechnika Śląska, Katedra Optoelektroniki, Gliwice<br />

Światłowodowe struktury optyczne wytwarzane technologią<br />

optyki planarnej obok zastosowań w dziedzinie telekomunikacji<br />

(pracujące m.in. jako modulatory, multi- i demultipleksery),<br />

ze względu na liczne zalety nieosiągalne w technologii włókien<br />

optycznych znajdują coraz szersze wykorzystanie w budowie<br />

układów sensorowych monitorujących wielkości fizyczne, procesy<br />

biologiczne i chemiczne, a także liczne parametry w różnych<br />

gałęziach nauki i przemysłu. Świadczy o tym stale rosnąca liczba<br />

publikacji naukowych prezentujących nowe rozwiązania i udoskonalenia<br />

czujników optycznych wykorzystujących planarne struktury<br />

światłowodowe [4]. Jednym z najważniejszych parametrów<br />

charakteryzujących wytworzony falowód optyki zintegrowanej jest<br />

tłumienność, definiowana jako strata mocy optycznej na jednostkową<br />

drogę propagacji [3].<br />

W przypadku układów optyki zintegrowanej właściwy dobór<br />

metody pomiaru tłumienia jest znacznie bardziej skomplikowany<br />

niż w przypadku włókien optycznych, przede wszystkim ze względu<br />

na inną geometrię, budowę, przeznaczenie wytworzonego<br />

układu oraz zróżnicowany przedział badanych strat, z tego też<br />

powodu nie jest możliwe opracowanie jednej uniwersalnej metody<br />

pomiaru tłumienności, a większość dotychczas stosowanych<br />

metod to przede wszystkim projekty przeznaczone do wykonywania<br />

pomiarów w warunkach laboratoryjnych.<br />

Generalnie rzecz biorąc możemy wyróżnić dwie podstawowe<br />

techniki pomiaru różniące się przede wszystkim sposobem<br />

wyprowadzenia wyjściowego światła z falowodu: metody transmisyjne<br />

– bazujące na pomiarze na wyjściu światłowodu mocy<br />

światła transmitowanego w funkcji odległości propagacji oraz<br />

metody pomiaru światła rozproszonego – polegające na skanowaniu<br />

wyjściowego światła rozproszonego z falowodu w funkcji<br />

odległości. Uzupełnienie techniki pomiaru tłumienności stanowi<br />

odrębna grupa metod, z której każda bazuje na wykorzystaniu<br />

innego zjawiska fizycznego np. efektu fototermicznego ugięcia<br />

wiązki, interferencji bądź fluorescencji.<br />

Innym istotnym parametrem charakteryzującym planarne<br />

struktury światłowodowe jest dwójłomność modowa [5]. Ortogonalne<br />

mody m-tego rzędu propagują się z różna prędkością fazową<br />

(posiada różne stałe propagacji β TEm<br />

≠ β ). Po przebyciu<br />

TMm<br />

drogi x różnica fazy Δφ miedzy modami TE m<br />

i TM m<br />

jest określona<br />

zależnością [5]:<br />

∆<br />

φ<br />

=<br />

β<br />

TE −<br />

β<br />

(1)<br />

x<br />

m TM m<br />

×<br />

<br />

Jeżeli różnica fazy pomiędzy modami po przebyciu drogi x wynosi<br />

2π odległość x oznaczamy jako L Bm<br />

nazywamy drogą zdudnień<br />

(bicia) pary modów TE m<br />

i TM m<br />

[5].<br />

2<br />

π =<br />

β<br />

TE<br />

−<br />

β<br />

(2)<br />

m TM<br />

× L<br />

m<br />

B<br />

ponieważ<br />

m<br />

2<br />

π<br />

β<br />

=<br />

N<br />

eff<br />

(3)<br />

otrzymujemy:<br />

λ<br />

λ<br />

N eff<br />

−<br />

N<br />

(4)<br />

TE eff<br />

=<br />

TM<br />

L<br />

B<br />

m<br />

N effTE<br />

(N effTM<br />

) – efektywny współczynnik załamania modu TE(TM),<br />

N effTE<br />

– N effTM<br />

– dwójłomność modowa, λ − długość fali.<br />

Wiele czujników światłowodowych wykorzystuje w swojej zasadzie<br />

działania interferencje różnicową. Różnica fazy pomiędzy<br />

ortogonalnymi modami TE m<br />

i TM m<br />

jest funkcją wielkości mierzonej<br />

czujnika.<br />

Opracowano klika metod pomiaru dwójłomności modowej<br />

planarnych struktur światłowodowych. Jedna z nich polega na<br />

36<br />

wyznaczeniu efektywnych współczynników załamania prowadzonych<br />

modów N effTE<br />

i N effTM<br />

(stosując sprzęgacz pryzmatyczny),<br />

a następnie ich różnicę [1]. Inna metoda jest oparta na analizie<br />

stanu polaryzacji na wyjściu światłowodu [7]. Stosując diody superluminescencyjne<br />

i przeprowadzając analizę wzoru interferencyjnego<br />

można wyznaczyć dwójłomność modową [2]. Sprzęgacz<br />

immersyjny, który umożliwia wyprowadzenie światła z obu modów<br />

falowodowych w sposób ciągły i co pozwala na wyznaczenie<br />

drogi bicia [5]. Pobudzając tylko jeden mod i stosując punktowe<br />

przemieszczjące się zaburzenie, które sprzęga część energii do<br />

ortogonalnego modu również wyznaczamy tą ważną wielkość [6].<br />

Do wyznaczenia dwójłomności modowej można wykorzystać także<br />

światło rozproszone.<br />

Stanowisko badawcze i pomiary<br />

Stanowisko przedstawione na rys. 1 składa się z źródła laserowego,<br />

2 filtrów polaryzacyjnych, kamery CCD, sprzęgacza pryzmatycznego,<br />

przesłony i badanego jednomodowego światłowodu<br />

planarnego otrzymanego technika wymiany jonowej K + -Na + .<br />

Rys. 1. Schemat stanowiska pomiarowego<br />

Fig. 1. Scheme of measurement<br />

Aby uzyskać obraz interferencji polaryzacyjnej należy zapewnić<br />

jednakowe natężenie światła w modach TE i TM. W tym celu<br />

ustawiamy odpowiednio polaryzacje wiązki wejściowej oraz kąt<br />

wprowadzania światła do pryzmatu. Maksimum mocy w modach<br />

TE i TM uzyskuje się dla różnych kątów wprowadzania światła.<br />

Należały ustawić taki kąt aby natężenie światła w obu modach<br />

było porównywalne. Dodatkowo w celu korekty polaryzacji<br />

światła laserowego umieszczono polaryzator krystaliczny na<br />

drodze wiązki. który umożliwia wprowadzenie zmian natężenia<br />

światła w ortogonalnych modach. Przesłona została użyta do<br />

zmniejszenia rozmiarów wiązki laserowej, aby zminimalizować<br />

natężenie światła rozproszonego. Źródło laserowe, polaryzator<br />

i przesłona umieszczone były na obrotowym ramieniu z mikroregulacją,<br />

co pozwala na łatwą zmianę kąta wprowadzania światła<br />

do światłowodu. Obraz światła rozproszonego obserwowany był<br />

przez kamerę CCD z umieszczony polaryzatorem. Zmieniając<br />

kąt płaszczyzny polaryzacji w zakresie 0…90° obserwowano<br />

natężenie światła rozproszonego modów TE i TM. Uzyskane<br />

zdjęcia przedstawiono na rys. 2 i 3. Następnie ustawiono kąt<br />

płaszczyzny polaryzacji 45° uzyskane zdjęcie przedstawia<br />

rys. 4. Dla lepszego uwidocznienia zmian natężenia światła pokazano<br />

negatyw zdjęć.<br />

Ten obraz poddano dalszej obróbce. Dzięki programowi do<br />

zamiany skali szarości na wartość natężenia światła otrzymano<br />

20 rozkładów natężenia światła wzdłuż równoległych linii wzdłuż<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys. 2. Obraz światła rozproszonego zarejestrowany przez kamerę<br />

przy pobudzeniu modu TE<br />

Fig. 2. Scattered light image captured by the camera at the TE mode<br />

excitation<br />

Rys. 3. Obraz światła rozproszonego zarejestrowany przez kamerę<br />

przy pobudzeniu modu TM<br />

Fig. 3. Scattered light image captured by the camera at the TM mode<br />

excitation<br />

Rys. 5. Zależność natężenia światła rozproszonego od drogi propagacji<br />

Fig. 5. Dependence of the intensity of scattered light from the propagation<br />

path length<br />

Dla badanego światłowodu otrzymano wartość drogi zdudnień<br />

0,84 milimetra. Pomiary przeprowadzono dla długości fali λ = 635<br />

nm. Dwójłomność modowa badanego światłowodu dla pary modów<br />

TE 0<br />

i TM 0<br />

wynosi 7,5 × 10 -4 (λ = 635 nm). Takie same wartości<br />

dwójłomność modowej otrzymano przeprowadzając pomiary<br />

z wykorzystaniem sprzęgacza immersyjnego.<br />

Podsumowanie<br />

W pracy przestawiono metodę pomiarową które pozwalają wyznaczyć<br />

dwójłomność modową. Dla światłowodów półprzewodnikowych<br />

gdzie straty są znaczne metoda to może być trudna<br />

w praktycznym zastosowaniu. W światłowodach o dużej dwójłomności<br />

może być trudno pobudzić równocześnie oba ortogonalne<br />

mody TE i TM. Jednak dla wielu pozostałych światłowodów planarnych<br />

przedstawiona metoda pozwala wyznaczyć dwójłomność<br />

modową w stosunkowo prostym cyklu pomiarowym.<br />

Praca była realizowana w ramach projektu badawczego MNiSzW<br />

numer: O R00 0179 12<br />

Rys. 4. Obraz światła rozproszonego zarejestrowany przez kamerę<br />

przy pobudzeniu obydwu modów i ustawieniu polaryzatora pod katem<br />

45 0<br />

Fig. 4. Scattered light image captured by the camera at the excitation<br />

of both modes and setting the polarizer at 45 0<br />

drogi propagacji światła. Następnie uśredniono wszystkie pomiary<br />

i i unormowano. W celu zmiany odległości z pikseli na milimetry<br />

dokonano pomiarów rozkładu natężenia światła na skali<br />

milimetrowej. Uzyskane pomiary umożliwiły przeliczenie pikseli<br />

na milimetry Wyniki rozkładu natężenia światła w światłowodzie<br />

od drogi propagacji w milimetrach przedstawiono na rys. 5. Drogę<br />

bicia modów wyznaczono mierząc odległości pomiędzy pierwszym<br />

i ostatnim minimum i dzieląc uzyskaną wartość przez ilość<br />

przedziałów.<br />

Literatura<br />

[1] Cheng S. Y., Chiang K. S.: Birefringence in benzocyclobutene strip<br />

optical waveguides, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 2003.<br />

[2] Golojuch G. at all.: Investigation of birefringence in PMMA channel<br />

waveguides inscribed with DUV radiation, Meas. Sci. Technol. 19,<br />

2008.<br />

[3] Gut K.: Metody pomiaru tłumienia światłowodów planarnych, Mat.<br />

Konf. TAL, 2009, str. 227–234.<br />

[4] Gut K., Pustelny T., Drewniak S.: Analiza czułości planarnych, polimerowych<br />

światłowodów rewersyjnych, <strong>Elektronika</strong>, 6, 2010.<br />

[5] Gut K., Zakrzewski A., Pustelny T.: Sensitivity of polarimetric<br />

waveguide interferometer for different wavelengths, Acta Phys. Pol.<br />

A 118, 2010.<br />

[6] Hu W. W., Inagaki K., Mizuguchi Y.: Measurement of birefringence<br />

in integrated optical waveguides by use of a microwave-modulated<br />

optical wave, Opt. Lett. 26, 2001.<br />

[7] Ren Z. B., Robert Ph., Paratte P. A.: Linear birefringence measurement<br />

in single-mode optical fibre with circularly polarised input light,<br />

J. Phys. E, Sci. Instrum. 18, 1985.<br />

Przypominamy o prenumeracie miesięcznika <strong>Elektronika</strong> na 2013 r.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 37


Właściwości czujnikowe światłowodowych siatek Bragga<br />

na kilkumodowych wysoce dwójłomnych włóknach<br />

mikrostrukturalnych<br />

mgr inż. Tadeusz Tenderenda 1,2 , mgr inż. Michał Murawski 1,2 ,<br />

mgr inż. Michał Szymański 1,2 , dr Martin Becker 3 , dr Manfred Rothhardt 3 ,<br />

prof. dr Hartmut Bartelt 3 , dr Paweł Mergo 4 , mgr Krzysztof Poturaj 2,4 ,<br />

mgr Mariusz Makara 4 , mgr inż. Krzysztof Skorupski 2,4 , dr inż. Paweł Marć 1 ,<br />

prof. dr hab. inż. Leszek R. Jaroszewicz 1 , dr inż. Tomasz Nasiłowski 1,2<br />

1<br />

Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Fizyki Technicznej, Warszawa, 2 InPhoTech Sp. z o.o., Warszawa<br />

3<br />

Institute of Photonic Technology, Jena, Niemcy, 4 Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej, Lublin<br />

Jednym z najciekawszych tematów w dziedzinie fotoniki i technologii<br />

światłowodowej w ostatnich latach stały się włókna mikrostrukturalne<br />

MSF (ang. Microstructured Fibers), zwane również włóknami<br />

fotonicznymi PCF (ang. Photonic Crystal Fibre) [1]. Dzięki praktycznie<br />

nieograniczonym możliwościom doboru parametrów i właściwości<br />

propagacyjnych poprzez odpowiednie zaprojektowanie<br />

geometrii i domieszkowania, znalazły one zastosowania w bardzo<br />

wielu dziedzinach fotoniki (w generacji supercontinuum [2], w laserach<br />

światłowodowych [3], jako włókna kompensujące dyspersje<br />

lub jako włókna o zmniejszonej wrażliwości na makrozgięcia [4, 5]).<br />

Ponadto włókna MSF doskonale nadają się do zastosowań metrologicznych<br />

w światłowodowych czujnikach interferometrycznych<br />

oraz polarymetrycznych różnych wielkości fizycznych (między innymi<br />

temperatury, ciśnienia, wydłużenia, wygięcia oraz współczynnika<br />

załamania otoczenia [6–8]). W [9] przedstawiono teoretyczną<br />

oraz eksperymentalną analizę wpływu rozkładu oraz rozmiaru otworów<br />

powietrznych w trzech wysoce dwójłomnych włóknach mikrostrukturalnych<br />

dedykowanych do zastosowań czujnikowych na<br />

ich polarymetryczną czułość na temperaturę (K T<br />

). Okazało się, że<br />

dzięki odpowiednio zaprojektowanej geometrii włókna możliwe jest<br />

nie tylko znaczące wpływanie na wartość czułości temperaturowej,<br />

ale również zmiana jej znaku, co z kolei umożliwiło zaprojektowanie<br />

włókna o zerowej czułości temperaturowej. Wyniki te potwierdzają,<br />

że możliwe jest zaprojektowanie włókna do zastosowań w czujnikach<br />

mechanicznych niewymagających dodatkowych układów do<br />

kompensacji temperatury. W naszej niedawnej pracy [10] przedstawiliśmy<br />

inne włókno o innowacyjnej geometrii charakteryzujące<br />

się z kolei bardzo wysoką i stabilną dwójłomnością drugiego<br />

modu (~ 1,7 × 10 -3 na 1550 nm). Jako że maksima modu drugiego<br />

rzędu znajdują się bliżej otworów powietrznych (rys. 1b) i tym samym<br />

są narażone na większe naprężenia niż mod podstawowy,<br />

czułość polarymetryczna modu drugiego rzędy znacząco wzrasta<br />

(K ε<br />

= 4,94 × 10 4 rad/(strain × m) na długości fali 1550 nm) w porównaniu<br />

z czułością modu podstawowego (K ε<br />

= ‐3,0 × 10 2 rad/<br />

(strain × m) mierzone również na λ = 1550 nm). Z drugiej strony<br />

czułość temperaturowa zarówno modu podstawowego jak i drugiego<br />

rzędu była na pomijalnie niskim poziomie (K T<br />

= 5,8 × 10 ‐2 rad/<br />

(K × m) dla modu podstawowego oraz K T<br />

= 4,3 × 10 -1 rad/(K × m)<br />

dla modu drugiego rzędu). Połączenie wspomnianych powyżej<br />

unikalnych właściwości czujnikowych włókien mikrostrukturalnych<br />

ze specyficznymi właściwościami światłowodowych siatek Bragga<br />

(między innymi bezpośredniemu pomiarowi temperatury i naprężeń<br />

poprzez pomiar przesunięcia długości fali Bragga, możliwości<br />

łączenia siatek pomiarowych w szeregi, multipleksacji mierzonych<br />

sygnałów oraz przesyłaniu mierzonego sygnału na duże odległości<br />

standardowymi włóknami telekomunikacyjnymi) daje bardzo<br />

obiecujące i ciekawe perspektywy na aplikacyjne wykorzystanie<br />

tego typu struktur, jako bardzo wrażliwych czujników naprężeń mechanicznych<br />

i ciśnienia niezależnych od temperatury. W tej pracy<br />

przedstawiamy wyniki badań teoretycznej charakteryzacji kilkudomowego<br />

dwójłomnego włókna mikrostrukturalnego dedykowanego<br />

do zapisu siatek Bragga. Prezentujemy również charakterystyki<br />

Rys. 1. Zdjęcie SEM badanego włókna (a) oraz rozkład pola elektrycznego czterech propagowanych we włóknie modów (b)<br />

Fig. 1. SEM image of a cross-section of the investigated HB microstructured fiber with a detailed view of the air-hole region (a) and electric<br />

field distribution of the first four modes (b)<br />

38<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


spektralne siatek Bragga zapisanych laserem femtosekundowym<br />

w układzie interferometru Talbot w zaprojektowanych włóknach,<br />

które pozwalają zweryfikować wyliczone numerycznie wartości<br />

efektywnych współczynników załamania modu podstawowego<br />

i drugiego rzędu. Na koniec przedstawiamy analizę możliwości<br />

zastosowania aplikacyjnego opracowanej przez nas technologii<br />

i wykonanych struktur.<br />

Modelowanie oraz charakteryzacja badanego<br />

włókna<br />

Dwumodowe włókno mikrostrukturalne wykorzystywane w naszych<br />

eksperymentach miało strukturę „linijki” (rys. 1a) i dzięki silnemu<br />

domieszkowaniu rdzenia germanem (na poziomie 7 mol%)<br />

pozwalało na efektywny zapis siatek Bragga (eksperyment z zapisem<br />

FBG na włóknie jednomodowym o podobnej strukturze<br />

został opisany przez Geernaerta w [11]). Modelowanie i analiza<br />

właściwości propagacyjnych we włóknie przeprowadzona była na<br />

dostępnym komercyjnie oprogramowaniu MODE Solution firmy<br />

Lumerical wykorzystującym metodę różnic skończonych do rozwiązywania<br />

równania falowego. Wykonana analiza numeryczna<br />

potwierdza stabilną (ze stratami prowadzenia – ang. confinement<br />

loss – dla długości fali λ=1,55 μm rzędu kilku dB/km) propagację<br />

modu podstawowego (E 11<br />

) i drugiego rzędu (E 21<br />

) oraz słabą propagację<br />

modów wyższych rzędów (ze stratami sięgającymi kilku<br />

dB/m dla modu trzeciego E 31<br />

i czwartego rzędu E 12<br />

oraz osiągającymi<br />

100 dB/m dla modów wyższych rzędów). W naszych<br />

eksperymentach wykorzystywaliśmy krótkie (0,5 m) odcinki włókna<br />

MSF, dlatego spodziewaliśmy się zaobserwować propagację<br />

pierwszych czterech modów (E 11<br />

, E 21<br />

, E 31<br />

, E 12<br />

z przestrzennym<br />

rozkładem pola przedstawionym na rys. 1b.<br />

Przygotowanie próbek oraz technologia<br />

naświetlania siatek Bragga<br />

Półmetrowe próbki włókna mikrostrukturalnego przedstawionego<br />

na rys. 1a zostały zespawane na obydwu końcach z standardowym<br />

jednomodowym włóknem telekomunikacyjnym (Corning<br />

SMF-28). Ze względu na fakt, iż liczba pików Bragga widocznych<br />

Rys. 2. Schemat interferometru Talbot’a do zapisu siatek Bragga laserem<br />

femtosekundowym [15]<br />

Fig. 2. Femtosecond laser Talbot interferometer setup for FBG inscription<br />

[15]<br />

w charakterystyce FBG zapisanej we włóknie kilku- lub wielomodowym<br />

zależy silnie od warunków pobudzenia [12], technologia<br />

niskostratnego spawania została zoptymalizowana do odpowiedniego<br />

pobudzenia modów wyższych rzędów. Siatki Bragga na<br />

trzecie okno telekomunikacyjne były nanoszone w układzie interferometru<br />

Talbot’a (rys. 2) femtosekudowym laserem UV [13]<br />

technologią opisaną szerzej w [14].<br />

Wyniki<br />

Typowa charakterystyka widmowa uzyskanych próbek przedstawiona<br />

została na rys. 3a. W światłowodzie kilkumodowym każdemu<br />

z propagowanych modów odpowiada jeden pik Bragga.<br />

Ponadto w światłowodzie wysoce dwójłomnym każdy z pików<br />

Rys. 3. Typowa charakterystyka spektralna siatki Bragga zapisanej<br />

na dwójłomnym kilkudomowym włóknie mikrostrukturalnym (a) oraz<br />

porównanie efektywnych współczynników załamania modu podstawowego<br />

i drugiego rzędu obliczonych na podstawie charakterystyk<br />

spektralnych FBG (oznaczone ‘x’ – eksperyment) i wyliczonych numerycznie<br />

na podstawie symulacji (oznaczone linią ciągłą – symulacja)<br />

(b)<br />

Fig. 3. Typical spectra characteristic of an FBG written in a few-mode<br />

HB MSF (a); theoretical („symulacja”) and experimental („eksperyment”)<br />

values of effective refractive index of the fundamental and<br />

second (E 21<br />

) order mode (b)<br />

Bragga ma podwójną strukturę, w której każdy z pików odpowiada<br />

jednemu z dwóch modów polaryzacyjnych. Dwa piki oznaczone,<br />

jako E 21(sym.)<br />

oraz E 21(asym.)<br />

odpowiadają według nas symetrycznemu<br />

i asymetrycznemu modowi drugiego rzędu (E 21<br />

). W naszych<br />

próbkach nie zaobserwowaliśmy modu czwartego rzędu (E 31<br />

).<br />

Jest to prawdopodobnie związane z jednej strony ze stosunkowo<br />

dużymi stratami prowadzenia tego modu (zgodnie z naszymi symulacjami<br />

rzędu 2 dB/m) oraz dodatkowymi stratami na spawie<br />

MSF-SMF dla (dla naszych spawów rzędu 3 dB/spaw), a z drugiej<br />

strony z trudnościami związanymi ze wzbudzeniem tego modu<br />

i jego bardzo niestabilną propagacją.<br />

Charakterystyki spektralne siatek Bragga pozwalają na eksperymentalne<br />

wyznaczenie efektywnego współczynnika załamania<br />

(n eff<br />

) propagowanych w światłowodzie modów (zgodnie ze wzorami<br />

podanymi w [14]), a tym samym potwierdzenie dokładności symulacji<br />

i obliczeń numerycznych. W tym celu naświetlony został<br />

szereg FBG na długości fali Bragga 850…2000 nm, a porównanie<br />

wyników eksperymentu i symulacji przedstawione zostały na<br />

rys. 3b. Wyniki eksperymentalne są w dobrej zgodności z wynikami<br />

teoretycznymi, przy czym większe rozbieżności zostały zaobserwowane<br />

dla modu drugiego rzędu. Wynika to po pierwsze<br />

z faktu, że mod E 21<br />

dochodzi bliżej granicy obszaru symulacji,<br />

a więc jest obciążony większym błędem numerycznym niż mod<br />

podstawowy. Po drugie w modelu teoretycznym nie były brane<br />

pod uwagę zmiany współczynnika załamania rdzenia, powstałe<br />

pod wpływem promieniowania UV w trakcie procesu zapisu siatki<br />

Bragga.<br />

Wnioski<br />

W tej pracy zademonstrowaliśmy wyniki zapisu siatek Bragga<br />

na kilkumodowym wysoce dwójłomnym włóknie mikrostrukturalnym.<br />

Eksperymentalne wartości dwójłomności modu podstawowego<br />

(B E11<br />

= 0,35×10 -3 dla λ = 1,55 μm) oraz drugiego rzędu<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 39


(B E21<br />

= 0,46×10 -3 dla λ = 1,55 μm) obliczone na podstawie separacji<br />

pików Bragga (dwóch prostopadłych modów polaryzacyjnych)<br />

są ponad dwa razy mniejsze niż wartości dwójłomności podobnego<br />

włókna zaprezentowanego przez nas wcześniej w [10]. Tak<br />

duże różnice dwójłomności potwierdzają dużo mniejszy wpływ<br />

otworów powietrznych na prowadzone w analizowanym włóknie<br />

światło (w porównaniu do włókna zaprezentowanego w [10]).<br />

Ponadto przeprowadzone pomiary zmian położenia pików Bragga<br />

pod wpływem przyłożonej siły rozciągającej włókno (zmiana<br />

odstępu między pikami Bragga modów polaryzacyjnych poniżej<br />

0,01 pm/µε) pokazały, że czułość polarymetryczna na naprężenia<br />

wzdłużne zarówno podstawowego jak i drugiego modu jest<br />

porównywalna z czułością w tradycyjnych światłowodach dwójłomnych,<br />

co również potwierdziło niewystarczający wpływ mikrostruktury<br />

płaszcza na właściwości włókna. Zwiększenie wpływu<br />

mikrostruktury na propagowane bliżej rdzenia mody jest możliwe<br />

poprzez zbliżenie otworów powietrznych do obszaru rdzenia.<br />

Celem naszych kolejnych badań jest zaprojektowanie włókna<br />

o strukturze linijki (zapewniającej nieczułość dwójłomności na<br />

zmiany temperatury) oraz o podwyższonej czułości na naprężenia<br />

modów wyższego rzędu, a następnie wykonanie na nim siatek<br />

Bragga zgodnie z przedstawioną w tej pracy metodologią.<br />

Literatura<br />

[1] Russell P.: Photonic crystal fibers; Science vol. 299 (5605), 2003,<br />

s. 358–362.<br />

[2] Dudley J. M. i in.: Supercontinuum generation in photonic crystal<br />

fiber, Rev. Mod. Phys. vol. 78(4), 2006, s. 1135–1184.<br />

[3] Wadsworth W. i in.: High power air-clad photonic crystal fibre laser,<br />

Opt. Express vol. 11(1), 2003, s. 48–53.<br />

[4] Bjarklev A. i in.: Photonic Crystal Fibres, 2003.<br />

[5] Russell, P.: Photonic-Crystal Fibers, J. Lightwave Technol. vol.<br />

24(12), 2006, s. 4729–4749.<br />

[6] Nasilowski T. i in.: Sensing with photonic crystal fibres, Proc. Of IEEE<br />

International Symposium on Intelligent Signal Processing (WISP),<br />

2007, s. 1–6.<br />

[7] Frazăo O. i in.: Optical sensing with photonic crystal fibers, Laser<br />

Photon. Rev. vol. 2(6), 2008, s. 449–59.<br />

[8] Cusano A. i in.: Fiber Bragg Grating Sensors: Recent Advancements,<br />

Industrial Applications and Market Exploitation, 2011.<br />

[9] Martynkien, T. i in.: Birefringent photonic crystal fibers with zero polarimetric<br />

sensitivity to temperature, Appl. Phys. B vol. 94(4), 2009,<br />

s. 635–640.<br />

[10] Nasilowski T. i in.: Very high polarimetric sensitivity to strain of second<br />

order mode of highly birefringent microstructured fibre, Proc. SPIE<br />

7753, 2011, s. 77533O.<br />

[11] Geernaert T. i in.: Fiber Bragg gratings in germanium-doped highly<br />

birefringent microstructured optical fibers, IEEE Photon. Technol.<br />

Lett. 20(8), 2008, s. 554–556.<br />

[12] Mizunami T. i in.: Bragg Gratings in Multimode and Few-Mode Optical<br />

Fibers, J. Lightwave Technol. vol. 18(2), 2000, s. 230–235.<br />

[13] Becker M. i in.: Fiber Bragg grating inscription combining DUV subpicosecond<br />

laser pulses and two-beam interferometry, Opt. Express<br />

vol. 16(23), 2008, s. 19169–19178.<br />

[14] Tenderenda T. i in.: Fibre Bragg gratings written in highly birefringent<br />

microstructured fiber as very sensitive strain sensors, Proc. SPIE vol.<br />

8426, <strong>2012</strong>, s. 84260D.<br />

[15] Becker M. i in.: Inscription of fiber Bragg grating arrays in pure silica<br />

suspended core fibers, IEEE Photon. Technol. Lett. vol. 21(19), 2009,<br />

s. 1453–1455.<br />

Projekt i wykonanie eksperymentalnej światłowodowej<br />

sieci odniesienia DWDM o przepływności 80 Gbit/s<br />

dr inż. Grzegorz Żegliński, dr inż. Jerzy Gajda<br />

Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie, Katedra Telekomunikacji i Fotoniki<br />

Zapotrzebowanie na usługi związane z transmisją danych i obrazów<br />

wymagających dużych przepływności stymuluję większe zapotrzebowanie<br />

na instalacje sieciowe dostępowe i transportowe<br />

dla Internetu optycznego. Jak również rozwój telekomunikacji<br />

radiowej opartej na transporcie poprzez szybkie sieci światłowodowe<br />

(np.: Internet szybki LTE o przepływności 100 Mbit/s) wpływa<br />

na zmianę architektury transportowej sieci światłowodowych.<br />

Prace z ostatnich kilku lat o wymienionej tematyce wskazują na<br />

znaczący postęp naukowy w zakresie sieci DWDM (Dense Wavelenght<br />

Division Multiplexing) na co wskazuję nowe podejście<br />

do tematu modulacji i uzyskiwanie coraz większych efektywności<br />

spektralnych źródeł laserowych stosowanych w nadajnikach<br />

DWDM [1–5]. Z drugiej strony rozwój optycznych pasywnych<br />

sieci dostępowych wskazuje na potrzebę tworzenia i wdrażania<br />

nowych standardów teleinformatycznych wykorzystujących<br />

zwielokrotnienie falowe: sieci WDM-PON (Wavelenght Division<br />

Multiplexing Passive Optical Network) [6–8]. W niniejszej pracy<br />

została zrealizowana zaawansowana technologicznie i naukowo,<br />

zaprojektowana w 2008 roku numerycznie w środowisku RSOFT-<br />

OPTSIM i zainstalowana w latach 2009–2010 w Laboratorium<br />

Technologii Teleinformatycznych i Fotoniki propozycja uniwersalnej<br />

transportowej sieci odniesienia pozwalającej na testowanie<br />

i pomiary wielu różnych standardów sieci wykorzystujących zwielokrotnienie<br />

falowe. W roku 2011 wykonano sprawdzenia zrealizowanego<br />

projektu w ramach pracy dyplomowej przez studentów<br />

kierunku <strong>Elektronika</strong> i Telekomunikacja (Wydział Elektryczny Zachodniopomorskiego<br />

Uniwersytetu Technologicznego) [9].<br />

Transportowa sieć odniesienia DWDM<br />

40<br />

Sieć odniesienia została zrealizowania w Pracowni Optycznych<br />

Teleinformatycznych Sieci Odniesienia (Laboratorium Technologii<br />

Teleinformatycznych i Fotoniki) składa się z dwóch rekonfigurowanych<br />

węzłów sieciowych Alcatel-Lucent 1830 PSS-32, szafy<br />

przełącznic światłowodowych OptiTel 19/45U, dwóch szaf bębnów<br />

i szpul ze światłowodami w standardzie ITU-T G.652 (część<br />

transportowa) i ITU-T G.657 (część dostępowa) oraz szafy z pasywną<br />

siecią optyczną GEPON (Gigabit Ethernet Passive Optical<br />

Network). Szafa przełącznic światłowodowych składa się z 12<br />

półek DWDM. Szafa przełącznic światłowodowych odpowiada za<br />

zakończenia klienckie oraz liniowe dla poszczególnych węzłów<br />

sieciowych. Ponadto stanowi wejście/wyjście dla układu rozbiegowego<br />

bębnów ITU-T G.652.D włókna firmy Corning. Szafa<br />

bębnów z tymi światłowodami składa się z dwudziestu bębnów,<br />

których poszczególna długość wynosi od 17 do 18 km. Możemy<br />

zestawić całkowitą długość toru światłowodowego z 20 kawałków<br />

dla badanego systemu na poziomie ponad 340 km. Zdjęcia systemu<br />

pokazano na rys. 1.<br />

Każdy moduł zainstalowany w systemie posiada dwuportowe<br />

wejście/wyjście monitorujące MON, do którego mogą być podłączane<br />

przyrządy pomiarowe.<br />

Schemat zrealizowanego systemu DWDM wraz z zaznaczonym<br />

przykładowym punktem pomiarowym przedstawiono na<br />

rys. 2.<br />

Transpondery użyte w systemie wspierają takie protokoły<br />

transmisji jak OC-192, STM-64, 10G Ethernet czy 10G Fibre<br />

Channel. Mogą być użyte jako regeneratory sygnałów (3R<br />

– odtwarzanie kształtu, amplitudy i zegara sygnału). Wspierają<br />

transparentną transmisję do 11 Gb/s, monitorowanie poziomu<br />

kanałów optycznych oraz zarządzanie błędami przez funkcja<br />

FEC (Forward Error Correction) używaną do detekcji błędów<br />

i ich korekcji. Mechanizm ten zapobiega ponownej retransmisji<br />

uszkodzonych danych dzięki czemu dostarcza 8.5 dB OSNR<br />

zysku, więcej niż w standardzie ITU. Każdy transponder jest<br />

przestrajalny dla jednego 88 kanałów optycznych w zakresie<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


technika Wavelenght Tracker pozwala na automatyczną i programową<br />

kontrolę poziomu mocy i widma optycznego transmitowanych<br />

kanałów w różnych punktach systemu.<br />

W systemie zastosowano 8 wzmacniaczy optycznych pozwalających<br />

na zastosowanie różnych schematów kompensacji dyspersji<br />

oraz regeneracji sygnału w kolejnych odcinkach światłowodowych.<br />

W tabeli 2 zestawiono parametry użytych wzmacniaczy<br />

optycznych, a w tabeli 3. światłowodów kompensujących dyspersję<br />

chromatyczną obliczony dla projektowanego odcinka toru<br />

światłowodowego o długości 140 km. W ramach projektu obliczono<br />

kompensatory dla transmisji w pętli światłowodowej 2×70 km.<br />

Kompensatory pokazano na rys. 3.<br />

Tab. 2. Parametry stosowanych wzmacniaczy optycznych<br />

Tabl. 2. The Parameters of applied optical amplifiers<br />

Typ<br />

wzmacniacza<br />

Zysk<br />

[dB]<br />

Minimalna moc<br />

wejściowa<br />

[dBm]<br />

Maksymalna<br />

moc wejściowa<br />

[dBm]<br />

Maksymalna<br />

moc wyjściowa<br />

[dBm]<br />

ALPHG 10–26 -30 +7 17<br />

AHPLG 16–24 -30 +7 20<br />

Tab. 3. Właściwości kompensatorów dyspersji chromatycznej w węzłach<br />

systemu<br />

Tabl. 3. The properties of the chromatic dispersion compensators applied<br />

in the the system<br />

Rys. 1. Sieć Odniesienia zrealizowana w LTTiF<br />

Fig. 1. Reference optical fiber network realized in LTTiF<br />

od 191.70 THz do 196.05 THz z odstępem międzykanałowym<br />

50 GHz zgodnie ze standardami telekomunikacyjnymi ITU-T.<br />

Wybrane parametry nadajnika transponderów znajdujących się<br />

po stronie portów klienckich przedstawiano tab. 1.<br />

Parametr<br />

Kompensowana długość transmisyjna<br />

[km]<br />

Średnie straty tłumiennościowe<br />

[dB]<br />

Długość włókna DCF<br />

[km]<br />

Moduły DCF<br />

30,0 110,0<br />

2,1 5,7<br />

3,0 11,0<br />

Typ włókna SSMF SSMF<br />

Opóźnienie PMD<br />

[ps]<br />

0,13 0,39<br />

Tab. 1. Parametry nadajników transpondera<br />

Tabl. 1. The transmitter parameters of transponders<br />

Typ<br />

modułu<br />

Szybkość<br />

[Gb/s]<br />

Typ<br />

lasera<br />

Wyjściowy<br />

zakres mocy<br />

[dBm]<br />

11STAR1 11 MSA 2,5 do +5<br />

Wyjściowy<br />

zakres dł. fal<br />

[nm]<br />

1529,55 do<br />

1568,36<br />

Wejściowy<br />

zakres<br />

mocy [dBm]<br />

-24 do +8<br />

Moduły posiadają wiele funkcji takich jak Wavelength Tracker<br />

Encoder oraz Alien Wavelength. Wavelength Tracker Encoder<br />

dodaje unikatowy klucz WaveKey do transmitowanej długości<br />

fali, natomiast Alien Wavelength jest to funkcja pozwalająca na<br />

akceptacje dowolnego sygnału optycznego i konwertująca go do<br />

wymaganego sygnału DWDM według siatki ITU-T. Zastosowana<br />

Rys. 3. Zainstalowane moduły kompensacji dyspersji chromatycznej<br />

Fig. 3. The installed modules of chromatic dispersion compensation<br />

Rys. 2. Schemat sieci z punktem pomiarowym widma optycznego przed wzmacniaczem optycznym w jednym z węzłów<br />

Fig. 2. Network setup with the measuring point of optical spectrum before optical amplifier in one of crossover points<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 41


Rys. 4. Schemat projektowanego systemu w programie RSOFT OptSim<br />

Fig. 4. The setup of the designing system in RSOFT-OPTSIM programme<br />

42<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Wyniki obliczeń i pomiarów w projektowanej<br />

sieci DWDM<br />

Projekt i obliczenia numeryczne (rys. 4) zostały przeprowadzone<br />

w oprogramowaniu RSOFT OptSim w Pracowni Badań Numerycznych<br />

(LTTiF). Celem projektu było porównanie wyników analizy<br />

numerycznej z pomiarami zaprojektowanego systemu. Analizie<br />

została poddana elementowa stopa błędów BER oraz jakość sygnału<br />

Q, które zostały odczytane z diagramów oka z oscyloskopów<br />

na poszczególnych odbiornikach. Ponadto, ważnym aspektem<br />

sieci była moc optyczna poszczególnych kanałów optycznych na<br />

wyjściu wzmacniaczy.<br />

Ważniejsze założone parametry transmisyjne projektowanej<br />

sieci DWDM:<br />

● przepływność – 80 Gbit/s (8×10 Gb/s),<br />

● moc optyczna nadajników,<br />

● minimalna moc odbierana w odbiorniku,<br />

● FWHM [MHz] – szerokość połówkowa krzywej widmowej charakterystyki<br />

laserów w nadajniku (1000 MHz),<br />

● BER – elementowa stopa błędów. Określa prawdopodobieństwo<br />

wystąpienia przekłamania bitu informacji.<br />

● Q [dB] – parametr obliczeniowy diagramu oka po stronie elektrycznej<br />

systemu pozwalający na oszacowanie elementowej<br />

stopy.<br />

Na rysunku 5 pokazano widmo pomiarowe systemu, którego<br />

3 kanały zajmują początkową część pasma telekomunikacyjnego<br />

C, 2 kanały środkową część pasma C oraz 3 kanały końcową<br />

część tego pasma. Kanały mogą być rekonfigurowane na siatce<br />

ITU-T w paśmie C. Przykładowe wyniki mocy przed regeneracją<br />

po przejściu drugiego odcinka 70 km.<br />

Przykładowe obliczenia parametrów BER i Q dla wybranych<br />

kanałów pokazano w tabeli 5.<br />

Podsumowanie<br />

Przeprowadzono obliczenia numeryczne z użyciem modelu, którego<br />

elementy składowe zawierają parametry elementów rzeczywistych<br />

użytych w systemie (wzmacniacze optyczne, kompensatory<br />

dyspersji, filtry optyczne). Przygotowane oprogramowanie pozwala<br />

na zastosowanie utworzonego stanowiska do analizy przestrajalnego<br />

systemu oraz do rekonfiguracji parametrów systemu<br />

z ewentualnymi nowymi elementami do badań takimi jak: światłowody<br />

mikrostrukturalne, kompensatory dyspersji chromatycznej<br />

i polaryzacyjnej. Dzięki oprogramowaniu możliwe jest również<br />

prześledzenie między innymi wpływu wzmacniaczy optycznych<br />

na jakość transmitowanego widma w kontekście zarządzania<br />

dyspersją chromatyczną. Otrzymane wyniki obliczeń numerycznych<br />

przy uzyciu oprogramowania RSOFT OptSim wskazują na<br />

dużą porównywalność z wynikami pomiaru i wyniki analizy numerycznej<br />

parametru Q oraz wykonane<br />

pomiary BER wskazują na akceptowalny<br />

poziom transmisji o zasięgu<br />

140 km, dla przepływności 80 Gb/s.<br />

System posiada możliwość rozbudowy<br />

do 88 kanałów o przepływności<br />

ponad 3 Tb/s. System jest użyteczny<br />

zarówno do testowania istniejących<br />

rozwiązań komercyjnych, jak również<br />

rozwiązań naukowych, poprzez połączenie<br />

światłowodowe z innymi pracowniami<br />

Laboratorium Technologii<br />

Teleinformatycznych i Fotoniki.<br />

Rys. 5. Pomiarowe widmo optyczne przed wzmacniaczem ALPHG w węźle systemu<br />

Fig. 5. Measuring optical spectrum before amplifier ALPHG in the system<br />

Tab. 4. Parametry kanałów optycznych pomiaru przed wzmacniaczem<br />

ALPHG w węźle systemu po przejściu odcinka 70 km<br />

Tabl. 4. Parameters of optical channels of measurement before amplifier<br />

ALPHG in the system after 70 km transmission<br />

Kanał<br />

f<br />

[THz]<br />

Długość fali<br />

[nm]<br />

Moc optyczna<br />

[dBm]<br />

OSNR<br />

[dB]<br />

1 196,00 1529,52 -16,57 35,28<br />

2 195,90 1530,30 -17,72 33,67<br />

3 195,80 1531,09 -16,77 35,29<br />

4 193,90 1546,09 -17,35 35,61<br />

5 193,80 1546,88 -17,89 35,56<br />

6 191,90 1562,20 -18,30 36,09<br />

7 191,80 1563,02 -18,30 36,01<br />

8 191,70 1563,83 -18,59 36,21<br />

Tab. 5. Parametry diagramów oka dla wybranych częstotliwości systemu<br />

Tabl. 5. The eye diagrams results for the chosen frequencies of the system<br />

f<br />

[THz]<br />

BER<br />

191.70 193.90 195.80 196.00<br />

Q [dB] 16.09 16.03 15.72 15.52<br />

Literatura<br />

Laboratorium zostało wybudowane<br />

i wyposażone w aparturę naukowo-<br />

-badawczą w ramach projektu Programu<br />

Operacyjnego Innowacyjna<br />

Gospodarka POIG.02.01.00-32-024/08.<br />

[1] Le Roux P. at all.: 25 GHz spaced DWDM 160x10.66 Gbit/s<br />

(1.6 Tbit/s) unrepeatered transmission over 380 km, Alcatel-Lucent,<br />

2002.<br />

[2] Xiang Liu, Chandrasekhar S.: High Spectral-Efficiency Mixed<br />

10G/40G/100G Transmission, Bell Laboratories, 2008.<br />

[3] Xia Verizon T. J., Winzer P. J.: Transmission of 107-Gb/s DQPSK<br />

over Verizon 504-km Commercial LambdaXtreme Transport System,<br />

Alcatel-Lucent, 2008.<br />

[4] Hidenori T. at all.: Highly Spectrally Efficient DWDM Transmission<br />

at 7.0 b/s/Hz Using 8 x 65.1-Gb/s Coherent PDM-OFDM, Journal<br />

of Lightwave Technology, Vol. 28, No. 4, 2010.<br />

[5] Dorosz J., Romaniuk R.: Rozwój techniki światłowodowej w kraju<br />

2009–2011, ELEKTRONIKA – KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE,<br />

ZASTOSOWANIA, 2011-4.<br />

[6] Weiwei Z., Hongwei Z., Hanyu Z.: Study on WDM-PON Schemes,<br />

International Conference on Business Computing and Global Informatization,<br />

2011.<br />

[7] Zaineb Al-Qazwini, Hoon Kim: DC-Balanced Line Coding<br />

for Downlink Modulation in Bidirectional WDM PONs Using<br />

Remodulation, IEE Photonics Technology Letters, Vol. 23, No.<br />

18, 2011.<br />

[8] Applied Optoelectronics: 32-Channel, Injection-Locked WDM-PON<br />

SFP Transceivers for Symmetric 1.25 Gbps Operation, NFOEC,<br />

2011.<br />

[9] Kubczyk K.: Praca magisterska, Katedra Telekomunikacji i Fotoniki,<br />

2011.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 43


Światłowodowy czujnik temperatury progowej na bazie<br />

wypełnionego włókna mikrostrukturalnego<br />

dr inż. Paweł Marć 1 , mgr Paweł Piliszek 1 , dr inż. Tomasz Nasiłowski 1,2 ,<br />

mgr inż. Michał Murawski 1,2 , mgr inż. Michał Szymański 1,2 ,<br />

prof. dr hab. inż. Leszek R. Jaroszewicz 1 , dr inż. Katarzyna Pawlik 2<br />

1<br />

Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Fizyki Technicznej, Wydział Nowych Technologii i Chemii, Warszawa<br />

2<br />

InPhoTech Sp. z o.o., Warszawa<br />

Fotoniczne włókna światłowodowe (PCF) lub inaczej mikrostrukturalne<br />

(MSF) są coraz częściej wykorzystywane w telekomunikacji<br />

i czujnikach światłowodowych. Możliwość zmiany<br />

geometrii otworów wewnętrznych,tworzących mikrostrukturę<br />

włókna prowadzącą wiązkę świetlną, pozwala modyfikować<br />

jego dyspersję, strukturę modową, dwójłomność czy też nieliniowość,<br />

a dzięki tym nowym własnościom stosować je tam<br />

gdzie wcześniej nie było to możliwe. Łatwy dostęp do otworów<br />

powietrznych pozwala również na wprowadzanie różnego typu<br />

materiałów do jego wnętrza. Najczęściej stosowane materiały<br />

to polimery [1], ciekłe kryształy [2, 3], specjalizowane ciecze<br />

immersyjne [4], ciecze z nanocząstakim [5], czy też złożone<br />

substancje organiczne [6]. Wykorzystanie procesu zwilżania<br />

kapilarnego jest najczęściej stosowaną techniką wypełniania<br />

mikrostruktury włókna [1-6]. Tak przygotowane włókna stają się<br />

podstawą konstrukcji różnego typu elementów światłowodowych<br />

takich jak przełączniki optyczne, tłumiki optyczne czy też<br />

optody czujników chemicznych.<br />

W niniejszej pracy do wytworzenia czujnika temperatury progowej<br />

wykorzystano komercyjnie dostępne włókno światłowodowe<br />

typu LMA10 produkowane przez firmę NKT Photonics [7].<br />

Zostało ono wypełnione substancją organiczną wykorzystując<br />

do tego celu wyżej wspomnianą technikę, a optodę czujnika<br />

tworzy patchcord światłowodowy zakończony standardowymi<br />

złączami FC/PC.<br />

Światłowodowy czujnik progowej wartości<br />

temperatury<br />

44<br />

Opracowana w Zakładzie Technicznych Zastosowań Fizyki WAT<br />

aparatura pozwala na wypełnianie włókien mikrostrukturalnych<br />

różnego typu materiałami ciekłymi. O ile substancja wypełniająca<br />

posiada niską wartość współczynnika lepkości to siły kapilarne<br />

są wystarczające do wypełnienia przygotowanego włókna. Natomiast<br />

wypełnienie włókna materiałem o dużej lepkości wymaga<br />

zastosowania podzespołu zewnętrznego ciśnienia. Układ ten został<br />

przystosowany również do wprowadzania materiałów, które<br />

w warunkach normalnych są w stanie stałym, ale posiadają niską<br />

wartość współczynnika topnienia i można je przeprowadzić do<br />

stanu ciekłego w temperaturach do 80°C. Materiały organiczny<br />

tego typu stał się podstawą budowy prezentowanego czujnika<br />

temperatury progowej. Wypełniając kanały powietrzne mikrostruktury<br />

materiałem o innym współczynnika załamania niż powietrze<br />

wpłynąć można na jakość wiązki świetlnej prowadzonej<br />

we włóknie, a w prezentowanej pracy przede wszystkim na wielkość<br />

strat. Biorąc pod uwagę fakt wykorzystania w badaniach<br />

włókna mikrostrukturalnego o stałym rdzeniu wartość współczynnika<br />

załamania substancji wypełniającej ma bezpośredni wpływ<br />

na mechanizm prowadzenia światła w tego typu włóknie. Jeżeli<br />

współczynnik załamania materiału wypełniającego jest niższy<br />

niż współczynnik załamania materiału, to mechanizm propagacji<br />

jest podobny do prowadzenia wiązki w standardowych włóknach<br />

światłowodowych. Jeżeli jest inaczej to włókno prowadzi światło<br />

na zasadzie istnienia przerwy wzbronionej [8], podobnie jak we<br />

włóknach z powietrznym rdzeniem.<br />

W prezentowanej pracy zastosowano wypełnienie, które<br />

zmienia nie tylko wartość współczynnika załamania w zależności<br />

od temperatury oddziałującej na materiał wypełniający, ale<br />

także stan skupienia ze stałego na ciekły. Stan włączenia czujnika<br />

uzyskuje się dla temperatur powyżej temperatury progowej,<br />

w której substancja jest w stanie ciekłym natomiast stan wyłączenia<br />

występuje poniżej tej temperatury, kiedy substancja jest<br />

w stanie stałym.<br />

W pracy wykorzystano włókno typu LMA, które pozwala na<br />

konstrukcję czujnika pracującego w szerokim zakresie długości<br />

fali. W przypadku prezentowanego układu wykorzystane zostało<br />

źródło światła typu VCSEL generujące wiązkę świetlną<br />

w okolicach 850nm. Ogólnie czujnik zbudowany został w oparciu<br />

o prostą konfigurację transmisyjnego czujnika natężenia,<br />

w którym wiązka świetlna ze źródła przechodzi przez odpowiednio<br />

przygotowany patchcord z wypełnionym włóknem LMA10<br />

i padając na fotodetektor daje informacje o stanie czujnika.<br />

Długość zastosowanego włókna mikrostrukturalnego była około<br />

50 cm natomiast długość wypełniania zawierała się w przedziale<br />

10...30 mm. Materiał wypełniający włókno w procesie wypełniania<br />

został przetransportowany mniej więcej do połowy długości<br />

włókna mikrostrukturalnego. Włókno to zostało z obyu stron zamknięte<br />

spawami z jednomodowym włóknem światłowodowym<br />

typu SMF28 wykonanymi przy pomocy platformy przetwarzania<br />

szkła GPX-3400 (VYTRAN).<br />

Rozważając pracę czujnika od strony teoretycznej dokonano<br />

badania mechanizmu strat tak przygotowanego elementu<br />

światłowodowego. Przeprowadzone zostały symulacyjne na bazie<br />

oprogramowania Lumerical. Symulacje wykonano oceniając<br />

straty na połączeniach SMF28-LMA10 oraz LMA10 bez wypełnienia<br />

z LMA10 z wypełnieniem oraz straty prowadzenia w części<br />

wypełnionego włókna mikrostrukturalnego. W pierwszym przypadku<br />

obliczano całkę przekrycia pól modowych powstających<br />

w strukturze wypełnionej oraz pola modowego struktury bez wypełnienia.<br />

Wykonując stosowne obliczenie dla różnych wartości<br />

współczynnika załamania substancji wypełniającej okazało się,<br />

że dominujące są straty na połączeniu włókna mikrostrukturalnego<br />

z wypełnianiem i bez wypełnienia (rys. 1).<br />

Rys. 1. Straty na połączeniu włókna wypełnionego i niewypełnionego<br />

w zależności od współczynnika załamania<br />

Fig. 1. Coupling losses vs. refractive index of filled material for interface<br />

between empty and filled fibre<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Z rysunku wynika, że straty są tym większe im bardziej współczynnik<br />

załamania materiału zbliża się do współczynnika załamania<br />

szkła krzemionkowego, z którego został wytworzony<br />

światłowodów. Straty związane z prowadzeniem wiązki świetlnej<br />

w strukturze wypełnionej były niższe o rząd wielkości od strat prezentowanych<br />

na rys. 1.<br />

Wyniki eksperymentalne<br />

We wstępnej fazie eksperymentów do badań wykorzystano źródło<br />

typu VCSEL oraz miernik mocy optycznej, a część patchcordu<br />

z wypełnieniem była umieszczona wewnątrz komory cieplnej.<br />

Źródło i miernik mocy umieszczone były na zewnątrz komory. Badania<br />

były prowadzone dla kilkunastu próbek z wypełnieniem 10,<br />

20 i 30 mm. Przykładowe charakterystyki zmiany mierzonej mocy<br />

optycznej na wyjściu miernika mocy dla trzech przykładowych<br />

próbek zostały przedstawione na rys. 2.<br />

a)<br />

b)<br />

c)<br />

Rys. 2. Zależność mocy optycznej w funkcji temperatury dla trzech<br />

próbek o długości wypełnienia: a) 10 mm, b) 20 mm i c) 30 mm<br />

Fig. 2. Optical power vs. temparature for three samples with different<br />

filling lenghts: a) 10 mm, b) 20 mm and c) 30 mm<br />

Sumaryczną ocenę charakterystyk przedstawionych na rysunku<br />

zaprezentowano w tabeli. Dla wszystkich próbek zmierzona<br />

został inna temperatura przejścia określana jako punkt, dla której<br />

wartość sygnału jest średnią jego minimalnego i maksymalnego<br />

poziomu. Zakres zmian pomiędzy stanem wyłączenia i włączenia,<br />

jak również nachylenia charakterystyki wskazane zostały jako te<br />

parametry, które decydowały będą o szybkości z jaką czujnik<br />

może zadziałać.<br />

Sumaryczna ocena parametrów przebadanych<br />

The overall evaluation of the studied parameters<br />

Długość wypełnienia [mm] 10 20 30<br />

Temperatura przejścia [°C] 67 63,5 61,8<br />

Zakres zmiany sygnału [°C] 2 1 1<br />

Nachylenie charakterystyki [µW/°C] 24 31 31<br />

Straty całkowite [dB] 5,9 6,4 7,9<br />

Temperatura przejścia dla wszystkich próbek różni się. W tym<br />

wypadku problemem podstawowym mogła być niestabilna prac<br />

komory cieplnej. W drugim przybliżeniu wpływ na to mogła mieć<br />

także niejednorodności materiału wypełniającego będącego bogatą<br />

mieszaniną organicznych związków chemicznych, a zatem<br />

w badanych próbkach mogły znajdować się nieco odmienne frakcje.<br />

Zakres zmiany temperatury jest zgodny z oczekiwaniami,<br />

gdyż dla krótszych wypełnień wiązka świetlna łatwiej przechodzi<br />

przez ten materiał nawet jeśli wartość współczynnika załamania<br />

jest duża. Natomiast dla wypełnienia powyżej 20 mm zakres ten<br />

zmniejsza się do 1°C i pozostaje taki sam dla dłuższych wypełnień.<br />

Nachylenie charakterystyki termicznej ma przeciwny charakter.<br />

Dla wypełnienia 10 mm jest mniniejsze i nieznacznie rośnie dla<br />

dłuższych wypełnień uzyskując stałą wartość dla wypełnień powyżej<br />

20 mm. Straty całkowite mierzone metodą wtrąceniową są<br />

zgodne z oczekiwaniami rosnąc wraz z długością wypełnienia.<br />

Podsumowanie<br />

Zaprezentowany specjalizowany patchcord światłowodowy z częściowym<br />

wypełnionym włóknem mikrostrukturalnym jest elementem<br />

pozwalającym na budową światłowodowego czujnika temperatury<br />

progowej. Przykładowe charakterystyki termiczne pozwalają<br />

stwierdzić, że 20 mm wypełnienie włókna mikrostrukturalnego jest<br />

wystarczające dla uzyskania efektu przejścia pomiędzy stanami<br />

włączenia i wyłączenia. Stosunkowo wysokie straty tak przygotowanego<br />

patchcordu mogą być wyeliminowane w procesie przygotowania<br />

nowego typu wypełnień, jak również uzyskana temperatur<br />

progowa może być modyfikowana zmianą kompozycji mieszanych<br />

substancji. Zaprezentowany patchcord z odpowiednio przygotowanym<br />

wypełnieniem może być wykorzystany również jako przełącznik<br />

optyczny, czy też regulowany tłumik optyczny.<br />

Prace badawcze zostały sfinansowane ze środków Ministerstwa<br />

Nauki i Szkolnictwa Wyższego w ramach Projektu Kluczowego<br />

POIG.01.03.01-14-016/08-03 oraz rozwojowego NR02-0074-10.<br />

Literatura<br />

[1] Eggleton B.J. i in.: Microstrictured optical fiber devices, Opt. Express,<br />

9, 13, 2001, 698.<br />

[2] Woliński T. R. i in.: Propagation properties of photonic crystal fibers<br />

filled with nematic liquid crystals, Opto-Elect. Rev., 13, 2, 2005, 177.<br />

[3] Piliszek P. P. i in.: Microstructural optic fibres filled liquid crystals, and<br />

other substances, IV International interdisciplinary technical conference<br />

of young scientists, Poznań, May 2011.<br />

[4] Wang Y. i in.: Thermo-optic switching effect based on fluid-filled photonic<br />

crystal fibre, IEEE Photonics Technology Letters, 22, 3, 2010, 88.<br />

[5] Yinping M. i in.: Temperature tunability of photonic crystal fiber<br />

filled with Fe3O4 nanoparticle fluid, Appl. Phys. Lett., 98, 2, 2011,<br />

021103.<br />

[6] Marc P. i in.: Optical temperature switch based on microstructuredfibrefilled<br />

with different chemical mixtures, Proc. SPIE, 8426, <strong>2012</strong>, 842605.<br />

[7] http://www.nktphotonics.com/files/files/LMA-10.pdf<br />

[8] Kuhlemey B.T. i in.: Fluid-filled solid-core photonic bandgap fibers, J.<br />

Lightwave Techn., 27, 11, 2009, 1617.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 45


Światłowodowy demodulator fazy – model<br />

i wyniki eksperymentalne<br />

mgr inż. Zbigniew HOŁDYŃSKI, dr inż. Idzi MERTA, prof. dr hab. inż. Leszek R. JAROSZEWICZ,<br />

dr inż. Rafał ŚWIŁŁO, Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Fizyki Technicznej, Warszawa<br />

Model światłowodowego demodulatora fazy<br />

Różne metody analizy obrazów prążkowych a także modulacji i demodulacji<br />

sygnałów świetlnych w tym w światłowodach zaprezentowane<br />

są w pracach [1–5]. Optyczna demodulacja fazy jest trudna<br />

w realizacji i w dalszym ciągu jest przedmiotem zainteresowania<br />

szczególnie w dziedzinie czujników światłowodowych [5]. Idea<br />

i pierwsze symulacje numeryczne prezentowanego demodulatora<br />

zaprezentowano w pracy [6]. Wykorzystano w nim: klasyczne interferencyjne<br />

doświadczenie Younga, własności transformacyjne<br />

cienkiej soczewki sferycznej oraz dwuelementowy fotodetektor<br />

z przerwą q – rys. 1. Rolę punktowych źródeł światła stanowią dwa<br />

światłowody zakończone kolimatorami na wyjściu których znajdują<br />

się pinhole o średnicy d. Wiązki po złożeniu na pryzmacie są do<br />

siebie równoległe i znajdują się obok siebie w odległości 2b [7–9].<br />

W płaszczyźnie ogniskowej przedmiotowej soczewki skupiającej<br />

położone są pinhole, a w płaszczyźnie ogniskowej obrazowej powstaje<br />

ich dyfrakcyjny obraz Airy’ego zmodulowany przestrzennie.<br />

Zmiana różnicy fazy Δφ w obu światłowodach powoduje przesunięcie<br />

rozkładu dyfrakcyjnego na powierzchniach dwuelementowego<br />

fotodetektora (FD). Na powierzchniach FD zachodzi całkowanie<br />

rozkładu intensywności pola dyfrakcyjnego a sygnały wychodzące<br />

z lewego i prawego FD, tj. S L<br />

i S P<br />

zawierają informacje o różnicy<br />

fazy Δφ. S L<br />

i S P<br />

i ich kombinacja odpowiednio suma i różnica P sum<br />

,<br />

P diff<br />

oraz wyznaczona na ich podstawie różnica fazy Δφ są opisane<br />

następującymi zależnościami:<br />

Rys. 1. Idea światłowodowego demodulatora fazy<br />

Fig. 1. Fibre optics phase demodulator concept<br />

S L<br />

= a1<br />

+ a2<br />

cos ∆φ<br />

+ a3<br />

sin ∆φ<br />

P sum<br />

= 2a1<br />

+ 2a2<br />

cos∆φ<br />

(1)<br />

S R<br />

= a1<br />

+ a2<br />

cos ∆φ<br />

− a3<br />

sin ∆φ<br />

P diff<br />

= 2a<br />

3<br />

sin∆φ<br />

a P<br />

2 diff<br />

tg( ∆ φ)<br />

=<br />

gdzie: a<br />

a ( − 2a<br />

)<br />

1<br />

, a 2<br />

, a 3<br />

– pewne stałe [6, 9] (2)<br />

46<br />

3<br />

P sum<br />

1<br />

Istota zaprezentowanego powyżej prostego światłowodowego<br />

demodulatora fazy w układzie homodynowym zawarta jest w zależnościach<br />

(1) i (2) a jego możliwości wynikają z odpowiedniego<br />

ich wykorzystania. I tak w przypadku modulacji cyfrowej monitorując<br />

chwilowe wartości sygnałów sumy i różnicy z obu FD wzór<br />

(1), można wnioskować o typie modulacji fazowej. Znając stałe:<br />

a 1<br />

, a 2<br />

, a 3<br />

z wcześniejszego wyskalowania układu i korzystając<br />

z prostego układu logicznego z odpowiednim oprogramowaniem<br />

można na bieżąco demodulować sygnały. Aby znaleźć wartość<br />

różnicy faz Δφ należy skorzystać z równania (2) podstawiając<br />

wartości sumy P sum<br />

i różnicy sygnałów P diff<br />

z obu FD.<br />

Błąd metody wyznaczenia różnicy faz<br />

By znaleźć błąd metody wyznaczenia różnicy fazy zakładamy, że<br />

sygnały z obu FD obarczone są szumami addytywnymi Gaussa n l<br />

i n p<br />

. Wtedy wyrażenie (2) można zapisać:<br />

a [ P<br />

2 diff<br />

+ ( nL<br />

− nR<br />

)]<br />

tg( ∆φ<br />

+ ε)<br />

=<br />

; (3)<br />

a ( P + ( n + n )) − 2a<br />

)<br />

gdzie:<br />

σ – jest standardowym odchylenie pomiaru sygnałów z FD.<br />

Przeprowadzając analizę podobną do zaprezentowanej<br />

w pracach [10–11] można otrzymać wyrażenia na błąd średni <br />

i średni kwadratowy < ε 2 >:<br />

2<br />

⎛<br />

2<br />

2<br />

⎞<br />

2 σ<br />

⎜<br />

sin ∆φ<br />

cos ∆φ<br />

ε = + ⎟ ,<br />

2<br />

2<br />

2 ⎝ a2<br />

a3<br />

⎠<br />

(4)<br />

2<br />

σ<br />

⎛ 1 1 ⎞<br />

ε = sin ( ∆φ) cos ( ∆φ)<br />

⎜ − ⎟<br />

2<br />

2 2<br />

a a<br />

⎝ 3 3 ⎠<br />

Dobierając tak odległości q między fotodetektorami, można<br />

zapewnić równość współczynników a 2<br />

= a 3<br />

, a wtedy powyższe<br />

formuły na błąd średni i średni kwadratowy upraszczają się i są<br />

niezależne od mierzonej wartości różnicy fazy Δφ. W przypadku<br />

niespełnienia warunku a 2<br />

= a 3<br />

błąd bezwzględny ε będzie zależał<br />

od współczynników a 2<br />

, a 3<br />

oraz Δφ i będzie wynosił:<br />

⎛ a ⎞<br />

3<br />

⎜ −1<br />

a<br />

⎟<br />

ε<br />

⎝ 2<br />

=<br />

⎠<br />

sin( 2∆φ)<br />

(5)<br />

2<br />

Powyższe wnioski mają istotne znaczenie w realizacji eksperymentalnej<br />

światłowodowego demodulatora fazy.<br />

Wyniki eksperymentalne<br />

3<br />

sum<br />

2 2 2<br />

〈 nL 〉 = 〈 nP〉<br />

= σ , 〈 n L<br />

〉 = 〈 nL〉<br />

= 0<br />

Układ pomiarowy i stosowana metodyka pomiaru fazy opisane są<br />

w pracach [7–9]. W badanym układzie demodulatora ogniskowa<br />

soczewki f = 200 mm, odległość między pinholami 2b =1270 μm,<br />

apertura pinholi d = 400 μm. Spójne źródło światła miało długość<br />

fali λ = 532 nm. Na rys. 2 pokazane są wyniki pomiaru sygnału<br />

sumy i różnicy na tle przebiegów teoretycznych dla przypadku,<br />

w którym odległość miedzy FD wynosiła q = 60,45 µm. W przeprowadzonym<br />

eksperymencie, dla tej wartości q odpowiadają<br />

najbardziej zbliżone do siebie wartości współczynników a i a 2 3<br />

(a 3<br />

/a 2<br />

wynosi 0,95). Jak wynika ze wzoru (5) w tym przypadku<br />

błąd bezwzględny pomiaru fazy będzie najmniejszy.<br />

Na rysunku 3 pokazano wyznaczone eksperymentalnie wartości<br />

współczynników a 1<br />

, a 2<br />

, a 3<br />

na tle charakterystyk wynikających<br />

z przyjętego modelu w funkcji połowy odległości miedzy fotodetektorami<br />

q/2 [mm]. Wyniki pomiaru są w bardzo dobrej zgodności<br />

z wartościami uzyskanymi na etapie modelowania.<br />

Na rysunku 4. pokazany jest współczynnik korelacji liniowej<br />

Pearsona R 2 dla dwóch przypadków kiedy wartości bezwzględne<br />

współczynników |a 2<br />

|, |a 3<br />

| są najbardziej zbliżone do siebie, co ma<br />

miejsce dla q = 50,2 μm, lub wartości tych współczynników są<br />

jeszcze bardziej zbliżone tj. dla q = 60,45 μm.<br />

Współczynnik korelacji wynosi R 2 = 0,9916 dla q = 50,2 μm,<br />

dla q = 60,45 μm jest nieznacznie większy i wynosi R 2 = 0,9965.<br />

Patrząc na zmierzone charakterystyki należy podkreślić liniowe<br />

zachowanie zmierzonych charakterystyk demodulatora w dużym<br />

zakresie różnicy faz. Dla małych wartości różnicy faz widać lepsze<br />

dopasowanie punktów eksperymentalnych do prostej niż dla<br />

większych wartości różnicy faz. I tak dla q = 50,2 μm sięga różnicy<br />

faz wynoszącej π/2, a dla q = 60,45 μm zbieżność ta zachowana<br />

do wartości różnicy faz wynoszącej π. Z uwagi na to, iż pomiar<br />

L<br />

P<br />

( ) ( )<br />

1<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys. 3. Wyznaczone eksperymentalnie wartości współczynników a 1<br />

,<br />

a 2<br />

, a 3<br />

w funkcji połowy odległości miedzy fotodetektorami q/2 [mm]<br />

na tle charakterystyk wynikających z przyjętego modelu<br />

Fig. 3. Experimentally obtained value (points) of coefficient a 1<br />

, a 2<br />

, a 3<br />

in function of half gap between photodetectors q/2 [mm] and numerically<br />

calculated characteristics based on model<br />

charakterystyk wykonywano<br />

dla wolnozmiennego sygnału<br />

modulującego (cały cykl pomiaru<br />

trwał 2 s), a układ nie<br />

był specjalnie izolowany termicznie,<br />

to na wynik pomiaru<br />

miał wpływ dryf termiczny<br />

pola prążkowego. Przejawia<br />

się to większymi odchyleniami<br />

od wartości liniowej dla<br />

większych wartości różnicy<br />

faz i jest on bardziej widoczny<br />

im wartość współczynnika<br />

a 2<br />

odbiega od a 3<br />

(ma to miejsce<br />

dla odległości między<br />

FD q = 50,2 μm począwszy<br />

od Δφ > π/2). Dla q = 60,45<br />

μm mamy lepsze dopasowanie<br />

współczynników a 2<br />

i a 3<br />

i efekt ten widoczny jest dopiero dla<br />

różnicy faz większej od π.<br />

Z przeprowadzonego eksperymentu i analizy błędu modelu<br />

światłowodowego demodulatora fazy jasno wynika rola odległości<br />

q między FD w płaszczyźnie Fouriera i jej wpływ na niepewność<br />

wyznaczenia różnicy faz i liniowość charakterystyk demodulatora.<br />

Rys. 2. Suma i różnica sygnałów w funkcji różnicy faz dla odległości między FD q = 60 µm<br />

Fig. 2. Sum and difference signals in phase difference function, for gap between photodetectors q = 60 µm<br />

Wnioski<br />

Z modelu i przeprowadzonych badań eksperymentalnych własności<br />

dwuelementowego FD w płaszczyźnie Fouriera w układzie homodynowym<br />

wynika, że odległość miedzy fotodetektorami istotnie<br />

wpływa na właściwości światłowodowego demodulatora fazy. Pokazano,<br />

że dla pewnych wartości odległości między FD błąd metody<br />

pomiaru fazy osiąga wartość minimalną. Podano warunek jego<br />

minimalizacji, który sprowadza się do równości współczynników a 2<br />

i a 3<br />

. Współczynniki te zależą od odległości między fotodetektorami,<br />

długości fali świetlnej i ogniskowej soczewki fourierowskiej [6, 9].<br />

Pokazano, że spełnienie warunku minimalizacji błędu jest jednocześnie<br />

warunkiem liniowości charakterystyk demodulatora fazy.<br />

Prezentowany dwuelementowy FD w płaszczyźnie Fouriera może<br />

być z powodzeniem stosowany w światłowodowych układach pomiarowych<br />

gdzie wymagany jest pomiar fazy z dużą dokładnością.<br />

Rys. 4. Współczynnik korelacji liniowej Pearsona dla charakterystyk<br />

fazowych<br />

Fig. 4. Pearson correlation coefficient for phase characteristics<br />

Praca została wykonana w <strong>2012</strong> w ramach realizacji projektu kluczowego<br />

POIG.01.03.01-14-016/08 pt. „Nowe materiały fotoniczne<br />

i ich zaawansowane zastosowania”<br />

Literatura<br />

[1] Patorski K., Kujawińska M, Sałbut L.: Interferometria laserowa z automatyczna<br />

analizą obrazu pod redakcją Krzysztofa Patorskiego, Oficyna<br />

Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2005.<br />

[2] Udd E., Spillman W.B.: JR. Fiber Optic Sensors: An Introduction for Engineering<br />

and Scientists, Second Edition, John Wiley & Sons, 2006.<br />

[3] Wójcik J., Wójcik W.: Lightguides and their Applications III, Proceedings<br />

of SPIE, 6608, 2006.<br />

[4] Lopez-Higuera J.M.: Optical Fibre Sensing Technology, John Wiley<br />

&Sons, 2006.<br />

[5] Fernandes N., Gossner K., Krisch H.: Low power signal processing<br />

for demodulation of wide dynamic range of interferometric optical fibre<br />

sensor signals, Proc. of SPIE, 7653, 2010, pp. 765328.<br />

[6] Merta I., Jaroszewicz L. R.: Demodulator of phase signal for single<br />

mode fiber-optics. Proc. of SPIE, 6585, 2007, pp. 65852B (1–4).<br />

[7] Merta I., Jaroszewicz L.R., Hołdyński Z.: Światłowodowy demodulator<br />

fazy na bazie całkowania przestrzennego w układzie<br />

światłowodowego interferometru Younga, XI Konferencja Naukowa<br />

Czujniki Optoelektryczne i Elektryczne, Nałęczów, 20–23.06.2010.<br />

[8] Merta I., Jaroszewicz L.R., Hołdyński Z.: Światłowodowy demodulator<br />

fazy na bazie całkowania przestrzennego w układzie światłowodowego<br />

interferometru Younga, PAK, vol. 56, nr 6, 2010, pp. 538–540.<br />

[9] Hołdyński Z.: Modelowanie i badanie eksperymentalne<br />

światłowodowego demodulatora fazy z całkowaniem przestrzennym<br />

w płaszczyźnie Fouriera, praca magisterska, Warszawa 2010 r.<br />

[10] Sasaki O., Okazaki H., Sakai M.: Sinusoidal chase modulating interferometr<br />

using the integrating-bucket method, Appl. Opt., vol. 26,<br />

1987, 1089–1093.<br />

[11] Dubois A.: Phase-map measurements by interferometry with sinusoidal<br />

phase modulation and four integrating buckets. J. Opt. Soc. Am.<br />

A, 18 (8), 2001, 1972–1979.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 47


Konstrukcja A-FORS-3 – autonomicznego<br />

światłowodowego sejsmometru rotacyjnego<br />

dr inż. Zbigniew Krajewski 1 , prof. dr hab. inż. Leszek R. Jaroszewicz 1 ,<br />

mgr inż. Henryk Kowalski 2<br />

1<br />

Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Fizyki Technicznej, Warszawa, 2 Politechnika Warszawska, <strong>Instytut</strong> Informatyki<br />

Rejestracja efektów rotacyjnych [1, 2] występujących podczas<br />

zdarzeń sejsmicznych wymaga konstrukcji nowego rodzaju sejsmometrów,<br />

ponieważ klasyczne sejsmometry są bezwładnościowymi<br />

czujnikami przyśpieszenia liniowego (prędkości liniowej),<br />

dlatego nie mogą być bezpośrednio zastosowane do rejestracji<br />

ruchu obrotowego. Oczywistym rozwiązaniem tego problemu<br />

wydaje się zastosowanie jako sejsmometru rotacyjnego światłowodowego<br />

interferometru Sagnaca. Zasadniczym czynnikiem<br />

różniącym A-FORS-3 od klasycznych konstrukcji giroskopów<br />

światłowodowych jest fakt, iż mierzy on prędkość kątową a nie<br />

kąt [3, 4]. Dlatego też problem dryfu występujący w giroskopach<br />

optycznych jest tutaj praktycznie do pominięcia.<br />

Układ czujnika został zoptymalizowany pod kątem osiągnięcia<br />

jak największej czułość, z czym związana była maksymalizacji<br />

takich parametrów jako: promień pętli czujnika, moc optyczna<br />

źródła i długość użytego włókna. Zapewnienie mobilności takiego<br />

układu oraz bezawaryjnego przesyłania rejestrowanych danych<br />

to kolejne bardzo ważne elementy czujnika sejsmometrycznego.<br />

Budowa części optycznej A-FORS-3<br />

Na rysunku 1 przedstawiono schemat części optycznej zbudowanego<br />

sejsmografu rotacyjnego A-FORS-3. W czujniku jako źródło<br />

zastosowano diodę superluminescencyjną o mocy P = 17,34 mW,<br />

środkowej długości fali λ = 1311,2 nm i szerokości widmowej<br />

51,2 nm, pętlę światłowodową o promieniu R = 0,315 m zawierającą<br />

14360 m światłowodu jednomodowego. Podłoże pod pętlę<br />

wykonane jest z tekstolitu (rys. 2). Zastosowany światłowód jedno-<br />

domowy o katalogowej tłumienności 0.33 dB/km po nawinięciu na<br />

tak zaprojektowany korpus w wyniku występowania zagięcia toru<br />

oraz mikrozgięć na nierównościach wykazywał wzrost tłumienności<br />

do 0,379 dB/km (rys. 3). Całkowite straty części optycznej układu,<br />

zawierające straty wnoszone przez poszczególne elementy składowe<br />

interferometru oraz straty na ich połączeniach, ostatecznie<br />

wyniosły 17,2 dB. Teoretyczna czułość tak zbudowanego sejsmografu<br />

wyniosła 8,2×10 -9 [rad/s] dla 20 Hz pasma detekcyjnego.<br />

Rys. 3. Straty w pętli światłowodowej. Fig. 3. Losses in fiber loop<br />

Rys. 1. Schemat części optycznej A-FORS-3. Fig. 1. Scheme of optical part A-FORS-3<br />

System detekcji i archiwizacji danych<br />

Rys. 2. Podłoże pętli światłowodowej. Fig. 2. Base of fiber loop<br />

48<br />

Pomiar bazuje na detekcji synchronicznej o częstotliwości modulatora<br />

fazy wynoszącej 7,1 kHz. Przesunięcia fazy Sagnaca wyznaczane<br />

jest za pomocą pomiaru pierwszej (A ω1<br />

) i drugiej (A ω2<br />

)<br />

harmonicznej sygnału wyjściowego[5]:<br />

⎡<br />

A ⎤ ⎡<br />

ω1 u(<br />

t)<br />

⎤<br />

A<br />

∆<br />

ω1<br />

φ = arctan<br />

(1)<br />

⎢k<br />

⋅ ⎥ = arctan ⎢ ⎥,<br />

u(<br />

t)<br />

=<br />

⎣ Aω<br />

2 ⎦ ⎣ Se<br />

⎦ Aω<br />

2<br />

gdzie: k – stała związana z parametrami sygnału modulatora.<br />

Natomiast wartość prędkości kątowej z następującej zależności:<br />

⎡ u(<br />

t)<br />

⎤<br />

Ω = S<br />

o<br />

arctan ⎢ ⎥ (2)<br />

⎣ S<br />

e ⎦<br />

Ze względu na dużą rozbieżność amplitud pierwszej i drugiej<br />

harmonicznej wymagany jest bardzo duży zakres dynamiki<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


układu pomiarowego. Dlatego sygnał z diody detekcyjnej rozdzielany<br />

jest na dwa oddzielne tory pomiarowe, odpowiednio<br />

dla pierwszej i drugiej harmonicznej sygnału. Za pomocą odpowiedniej<br />

filtracji, różnej dla każdego toru, zapewniona jest<br />

wymagana dynamika pomiarowa. W obu torach użyto osobne<br />

przetworniki a/c typu ADS1675. Są to przetworniki typu sigma-delta<br />

ze słowem 24-bitowym i szybkością próbkowania do<br />

4 Msps. Przetworniki te pracują synchronicznie co umożliwia<br />

jednoczesne próbkowanie i przetwarzanie analogowo-cyfrowe<br />

dwóch sygnałów analogowych. Sygnał cyfrowy z każdego<br />

kanału przetwornika jest podawany przez dwa osobne cyfrowe<br />

łącza szeregowe do procesora DSP, którym jest 32-bitowy<br />

zmiennopozycyjny procesor sygnałowy TMS320C28346 firmy<br />

Texas Instruments. Procesor ten pracuje z zegarem systemowym<br />

o częstotliwości 300 MHz. Obliczenia wartości parametru<br />

Omega wykonywane są z zastosowaniem arytmetyki zmiennoprzecinkowej<br />

dla reprezentacji 32 oraz 64-bitowej pojedynczej<br />

i podwójnej dokładności.<br />

Moduł pomiarowy komunikuje się z modułem obliczeniowokontrolnym<br />

za pomocą dwóch wirtualnych portów szeregowych<br />

działających na jednym łączu USB2. Pierwszy kanał służy do<br />

przesyłania danych pomiarowych w trybie ciągłym. Drugi kanał<br />

służy do przesyłania dwukierunkowo poleceń sterowania i zwrotnie<br />

informacje o ustawieniach modułu pomiarowego.<br />

Wyniki obliczeń przesyłane są za pomocą modułu komunikacyjnego<br />

do zdalnego serwera służącego do archiwizacji danych.<br />

Moduł komunikacyjny jest wyposażony w interfejs umożliwiający<br />

komunikację z lokalnym komputerem PC oraz modem<br />

GSM/GPRS. Zarówno komputer lokalny jak i serwer zdalny<br />

mogą być używane do odbierania i gromadzenia wyników pomiaru<br />

oraz sterowania parametrami urządzenia.<br />

Takie rozwiązanie zapewnia, niezbędne przy rejestracji efektów<br />

rotacyjnych występujących podczas zdarzeń sejsmicznych,<br />

mobilność oraz niezależność czujnika.<br />

Kalibracja czujnika<br />

Do wyskalowania czujnika A-FORS-3 wymagane jest określenie<br />

stałych optycznej So i elektronicznej Se układu. Ponieważ układ<br />

nie rejestruje kąta a jedynie prędkość obrotu, możliwe jest wykorzystanie<br />

do tego celu pomiar prędkości obrotowej Ziemi [6]. Na<br />

rys. 4 przedstawiono układ podczas procesu kalibracji oraz przykładowy<br />

pomiar pierwszej harmonicznej dla orientacji czujnika dla<br />

pomiaru na kierunku N-S.<br />

Wnioski<br />

Prezentowany układ A-FORS-3 ze względu na zastosowanie<br />

nowego systemu detekcji elektronicznej oraz nowatorskiego rozwiązania<br />

do przesyłania danych wydaje się być idealnym rozwiązaniem<br />

do rejestracji zdarzeń sejsmicznych. Czujnik ten mierząc<br />

jedynie bezwzględny obrót wolny jest od zaburzeń spowodowanych<br />

przez liniowe przemieszczenia.<br />

Praca została zrealizowana w ramach dofinansowania przez<br />

Ministerstwo Nauki i Szkolnictwa Wyższego POIG.0103.01-<br />

14-016/08/00.<br />

Rys. 4. Układ do kalibracji czujnika i przykładowy wynik pomiaru<br />

Fig. 4. Scheme for A-FORS-3 calibration and example of measurement<br />

Literatura<br />

[1] Teisseyre R.: Earthquake processes in a micromorphic continuum,<br />

Pure Appl. Geophys., 102 (1973), 15–28.<br />

[2] Teisseyre R., Nagahama H.:Micro-inertia continuum: rotations and<br />

semi-waves, Acta Geophys. Pol., 47 (1999), 259–272.<br />

[3] Jaroszewicz L. R., Krajewski Z., Solarz L.:The fiber-optic Sagnac<br />

interferometer application for recognition of the rotational seismic<br />

events, Proc. of SPIE, 5459 (2004), 272–280.<br />

[4] Jaroszewicz L. R., Krajewski Z., Solarz L.: Fiber-optic Sagnac interferometer<br />

as a sensor of the seismic rotation waves, Proc. of SPIE,<br />

5855 (2005), 194–197.<br />

[5] Ostrzyżek A.: Analiza dokładności pomiaru prędkości kątowej w giroskopie<br />

światłowodowym, rozprawa doktorska, Wojskowa Akademia<br />

Techniczna, Warszawa, 1989.<br />

[6] Jaroszewicz L.R. at all.: AFORS Autonomous Fibre-Optic Rotational<br />

Seismograph: Design and Application, Acta Geophysica, vol. 59,<br />

no. 3, 578–596.<br />

www.sigma-not.pl<br />

Największa baza artykułów technicznych online!<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 49


System do pomiaru Apertury Numerycznej<br />

w światłowodach specjalnych<br />

mgr inż. ŁUKASZ Ostrowski 1,2 , mgr inż. MICHAŁ Murawski 1,2 , mgr inż. MICHAŁ Szymański 1,2 ,<br />

mgr inż. Zbigniew Hołdyński 1 , mgr inż. TADEUSZ Tenderenda 1,2 , dr PAWEŁ Mergo 3 ,<br />

dr inż. PAWEŁ Marć 1 , prof. dr hab. inż. Leszek R. Jaroszewicz 1 , dr inż. TOMASZ Nasiłowski 1,2<br />

1<br />

Wojskowa Akademia Techniczna, Zakład Technicznych Zastosowań Fizyki, Warszawa<br />

2<br />

InPhoTech Ltd., Warszawa, 3 Uniwersytet Marii Curie-Sklodowskiej, Lublin<br />

W światłowodach klasycznych, światło jest prowadzone w materiale<br />

na podstawie różnicy we współczynniku załamania pomiędzy<br />

rdzeniem a płaszczem. Apertura Numeryczna (NA) w tym typie<br />

światłowodów wykazuje niewielkie właściwości dyspersyjne w całym<br />

spektrum, zatem pomiar dla pojedynczej długości fali jest zupełnie<br />

wystarczający do scharakteryzowania NA. Inną sytuację mamy<br />

w przypadku światłowodów mikrostrukturalnych (MSF) gdzie światło<br />

jest prowadzone na podstawie geometrii wewnętrznych otworów.<br />

W tym typie światłowodów NA zmienia się wraz ze wzrostem<br />

długości fali. Właściwości NA w zależności od rodzaju prowadzenia<br />

przedstawione są na rysunku 1. Odmienny charakter NA dla<br />

różnych włókien był motywacją do stworzenia układu precyzyjnego<br />

wyznaczania NA w światłowodach specjalnych. Dzięki tak zdobytej<br />

wiedzy o aperturze numerycznej mierzonych światłowodów możliwe<br />

jest optymalizowanie efektywnego łączenia, sprzęgania oraz<br />

wprowadzania światła do różnorodnych typów światłowodów[1].<br />

Ponadto w światłowodach nie posiadających symetrii kołowej NA<br />

może się zmieniać nie tylko z długością fali ale, również z obrotem<br />

włókna wokół własnej osi. Dlatego system do pomiaru NA powinien<br />

posiadać możliwość obracania włókna wokół jego osi.<br />

Definicja Apertury Numerycznej<br />

Apertura Numeryczna światłowodu jest to liczba charakteryzująca<br />

wielkość maksymalnego kąta pod którym światło może zostać<br />

wprowadzone do światłowodu lub zostać z niego wyemitowane.<br />

Światło wprowadzone powyżej tego kąta nie będzie prowadzone<br />

w światłowodzie. NA światłowodu w powietrzu jest wyraża się poprzez<br />

równanie:<br />

(1)<br />

Rys. 1a. Schemat stożka akceptacji dla światłowodu klasycznego<br />

Fig. 1a. Diagram of the light acceptance cone for the classic optical fibre<br />

gdzie Θ jest połową maksymalnego kąta pod którym światło jest emitowane<br />

ze światłowodu (rys. 1), n c<br />

oraz n cl<br />

są odpowiednio współczynnikami<br />

załamania rdzenia i okładziny. Jak pokazuje wykres<br />

światło jest emitowane ze światłowodu pod katem Θ. Jeżeli weźmiemy<br />

sinus tego kąta uzyskamy wartość Apertury Numerycznej.<br />

Światłowody mikrostrukturalne zbudowane są z układu wielu<br />

kanalików powietrznych otaczających rdzeń. Rdzeń światłowodów<br />

fotonicznego może być stały, wtedy mówimy o propagacji<br />

TIR na zasadzie całkowitego wewnętrznego odbicia lub pusty,<br />

mamy wtedy do czynienia z propagacją PBG na zasadzie fotonicznej<br />

przerwy wzbronionej [2].<br />

Rys. 2. Porównanie Apertury Numerycznej klasycznego światłowodu<br />

SMF-28 (Cornig) o materiałowym mechanizmie prowadzenia światła<br />

oraz światłowodu mikrostrukturalnego LMA 8 (NKT Photonics)<br />

o geometryczny mechanizmie prowadzenia światła.<br />

Fig. 2. Numerical aperture comparison for classical optical fibre SMF-<br />

28 (Corninig) – material guiding mechanism and microstructured fibre<br />

LMA 8 (NKT Photonics) – geometrical guiding mechanism<br />

Układ do pomiaru Apertury Numerycznej<br />

Układ do pomiary apertury numerycznej został schematycznie<br />

przedstawiony na rysunku 3. Zasada pomiaru jest oparta na<br />

badaniu rozkładu kątowego mocy optycznej charakteryzującej<br />

światłowód. Realizowane jest to poprzez zastosowanie wielomodowego<br />

światłowodu jako detektora poruszającego się po okręgu<br />

po powierzchni prostopadłej do przekroju mierzonego światłowodu,<br />

co zostało przedstawione na rysunku 4. NA jest definiowana<br />

jako sinus połowy kąta z kątowego rozkładu mocy charakteryzujący<br />

światłowód powyżej ustalonego poziomu progu, który zwykle<br />

wynosi 10%, 5% lub 1% mierzonej mocy. Ponadto, nasz układ<br />

Rys. 1b. Schemat stożka akceptacji dla światłowodu mikrostrukturalnego<br />

Fig. 1b. Diagram of the light acceptance cone for the microstructure<br />

optical fibre<br />

50<br />

Rys. 3. Schemat układu pomiarowego<br />

Fig. 3. Schematic of measurement setup<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys. 4. Światłowód – NKT LMA8. Fig. 4. Optical Fibre – NKT LMA8<br />

Rys. 5. Charakterystyka Apertury Numerycznej wysoko-dwójłomnego MSF w zależności od długości fali dla różnych orientacji kątowych<br />

struktury światłowodu; zdj. Przekrój poprzeczny badanego MSF<br />

Fig. 5. Numerical aperture characterization of highly birefringent MSF vs. wavelength for different angular orientations of the fiber structure;<br />

inset: SEM picture of the studied MSF cross-section<br />

pomiarowy pozwala obracać włókno wokół jego osi. Szerokopasmowe<br />

źródło światła, w naszym przypadku jest to źródło supercontinuum,<br />

połączone z badanym włóknem w pełni wypełniając<br />

jego NA. Włókno odbiorcze znajdujące się w ustalonej odległości<br />

od włókna mierzonego przechwytuje światło pod danym położeniem<br />

kątowym i przesyła do analizatora widma optycznego. W ten<br />

sposób możemy mierzyć jednocześnie NA w całym badanym zakresie.<br />

Cały układ jest sterowany komputerowo, a NA jest automatycznie<br />

wyznaczana z uzyskanego rozkładu kątowego mocy<br />

optycznej w całym badanym zakresie przez własnoręcznie stworzony<br />

program w środowisku LabView.<br />

Wstępne wyniki z pomiarów Apertury<br />

Numerycznej<br />

Do pierwszych pomiarów oraz weryfikacji zbudowanego układu<br />

wybraliśmy standardowe włókno telekomunikacyjne SMF-28<br />

(Cornig) oraz włókno z domieszkowanym rdzeniem jednomodowe<br />

na 800 nm o klasycznym prowadzeniu światła (HP780 Nufren).<br />

Wyniki NA dla światłowodu SMF-28 (Cornig) mierzonego<br />

za pomocą opisanego układu idealnie pokrywały się z danym<br />

katalogowymi producenta i wynosiły 0,14 przy ustalonym progu<br />

na poziomie 1% z kątowego rozkładu mocy oraz 0.12 przy 5%<br />

progu. Ponadto te wyniki zgadzały się nie tylko dla pojedynczej<br />

długości fali ale dla całego badanego zakresu od 1250 nm do<br />

1700 nm. Wyniki pomiarów dla włókna jednodomowego (HP780<br />

Nufern) także potwierdziły dane katalogowe.<br />

Jak zauważyliśmy wcześniej, włókna mikrostrukturalne ze<br />

względu na swój mechanizm prowadzenia geometrycznego,<br />

ujawniają dyspersyjny charakter NA [3], która rośnie liniowo wraz<br />

z długością fali. Weryfikacja tego zjawiska była przeprowadzona<br />

przy użyciu komercyjnie dostępnego MSF z NKT Photonics<br />

– LMA8. Uzyskane wyniki, potwierdzają dyspersyjny charakter<br />

NA i zgadzają się z danymi katalogowymi producenta przedstawionymi<br />

na rysunku 4.<br />

Apertura Numeryczna światłowodu<br />

mikrostrukturalnego bez symetrii kołowej<br />

Włókna MSF zwłaszcza te wykazujące silna dwójłomność nie<br />

posiadają struktury o symetrii kołowej, zatem rozkład pola modu<br />

i w konsekwencji NA są niesymetryczne. Dlatego też charakterystyka<br />

NA takich światłowodów powinna zawierać również kierunek<br />

kątowy struktury światłowodu, dowiedliśmy tego faktu badając<br />

wysoce dwójłomny MSF przedstawiony na rysunku 5, który<br />

został wyprodukowany przez Zakład Technologii Światłowodów<br />

na Uniwersytecie Marii Skłodowskiej-Curie w Lublinie. Rysunek<br />

6 przedstawia zależność NA od długości fali dla różnych rotacji<br />

światłowodu i wyraźnie potwierdza silną zależność nie tylko<br />

pomiędzy NA a długością fali, ale również kierunkiem kątowym<br />

światłowodu.<br />

Wnioski oraz potencjalne zastosowania<br />

detekcyjne<br />

Przedstawiliśmy i zweryfikowaliśmy wszechstronny sterowany<br />

komputerowo układ do charakteryzacji Apertury Numerycznej zapewniający<br />

pomiary w szerokim zakresie długości fal dla różnych<br />

typów światłowodów klasycznych, mikrostrukturalnych i innych<br />

włókien specjalnych. Układ ten może być również wykorzystany do<br />

badania współczynnika załamania wysoko absorbujących materiałów,<br />

w szerokim zakresie wypełniając nimi kanały włókna MSF.<br />

Literatura<br />

1. Han Y., i in.: Novel Technique for the Measurement of Photonic Crystal<br />

Fiber Numerical Aperture Properties Proc. of SPIE-OSA-IEEE/Vol.<br />

7630 76302H-7(2009)<br />

2. Czapla A. i in.: Sensing applications of photonic crystal fibers infiltrated<br />

with liquid crystals, Instrumentation and Measurement, Technology<br />

Conference- IMTC 2007 Warsaw, Poland, May 1–3, 2007<br />

3. Andres, P. i in.: Dispersion and polarization properties in photonic<br />

crystal fibers Transparent Optical Networks, 2002. Proceedings of<br />

the 2002 4th International Conference on 98–103 vol. 2<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 51


Pomiar czułości włókien mikrostruturalnych<br />

przy wykorzystaniu interferometru Macha-Zehndera<br />

mgr inż. Michał Murawski 1,2 , mgr inż. Michał Szymański 1,2 , mgr inż. Zbigniew<br />

Hołdyński 1 , mgr inż. Tadeusz Tenderenda 1,2 , mgr inż. Łukasz Ostrowski 1,2 ,<br />

dr inż. Katarzyna Pawlik 2 , Ariel Łukowski 1,2 , Henryk Krisch 3 , dr inż. Paweł Marć 1 ,<br />

prof. Leszek R. Jaroszewicz 1 , dr inż. Tomasz Nasiłowski 1,2<br />

1<br />

Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Fizyki Technicznej, Warszawa<br />

2<br />

InPhoTech Ltd., Warszawa, 3 Krohne Messtechnik GmbH, Duisburg, Niemcy<br />

Unikalne właściwości światłowodów mikrostrukturalnych (MSF<br />

lub fotonicznych PCF), takie jak: nieskończona jednomodowa<br />

praca [1], niezwykłe właściwości dyspersyjne [2-5], bardzo duża<br />

średnica pola modu [6], wysoka dwójłomność [7] itd. Właściwości<br />

te wynikają z geometrycznego prowadzenia światła w światłowodzie.<br />

Zasadniczo PCFy zbudowane są z jednego materiału<br />

oraz z macierzy otworów powietrznych na całej długości włókna<br />

światłowodowego. Włókna takie maja szereg zalet w porównaniu<br />

do standardowych włókien światłowodowych (takich jak np. SMF-<br />

28). Największą zaletą takich włókien jest obniżona czułość na<br />

temperaturę takiego włókna. Wynika ona z braku naprężeń termicznych<br />

występujących pomiędzy rdzeniem (domieszkowanym<br />

Ge), a płaszczem włókna światłowodowego. Właściwość ta była<br />

naszą motywacją do wykorzystania włókien MSF(PCF) jako ramię<br />

czujnikowe w światłowodowym interferometrze Macha-Zhendera.<br />

MSF i PCF były rozważane jako elementy czujnikowe przez<br />

ostatnich parę lat ze względu na ich niezwyczajne właściwości<br />

i teoretycznie niższą czułością temperaturową. Włókna te były wykorzystywane<br />

w różnych układach czujnikowych [7–8]. Jednakże<br />

według naszej wiedzy nie istnieją publikacje opisujące czujnikowe<br />

aplikacje światłowodowych interferometrów Macha-Zhendera<br />

na włóknach MSF do pomiarów rozciągania, zginania, ciśnienia<br />

statycznego i dynamicznego etc.<br />

Wiele publikacja pokazuje nieczułe temperaturowo interferometryczne<br />

czujniki światłowodowe oparte o konfiguracje interferometru<br />

Sagnaca (lub Fiber Loop Mirror) [8–10] gdzie do pomiarów<br />

zastosowane są źródła o szerokim zakresie spektralnym oraz<br />

optyczny analizator widmowy, które są elementami drogimi. Należy<br />

pamiętać że interferometr Sagnaca jest często ograniczony<br />

warunkami polaryzacji (zastosowanie włókien trzymających polaryzację).<br />

Kolejnym przykładem wykorzystania włókien MSF jest<br />

interferometr dwu-modowy [11–13] który może być wykorzystany<br />

jako sprzęgacz między modowy, selektywny filtr modowy, czujnik<br />

temperatury lub naprężeń. Jednakże aby móc w pełni wykorzystać<br />

zalety tego typu interferometru należy zastosować specjalnie<br />

zaprojektowane światłowody np. dwumodowe, albo o bardzo<br />

niskiej dwójłomności. Z drugiej strony spotykamy się z czujnikami<br />

interferometrycznymi budowanymi na przewężonych włóknach<br />

PCF [14–15]. Takie interferometry wymagają zastosowania źródeł<br />

o szerokim spektrum oraz analizatorów widma jako detektorów.<br />

Jedną z ciekawszych propozycji jest interferometr Michelsona<br />

wykorzystujący białe światło jako źródło proponowany w [16].<br />

Jednakże pomiar oraz kalibracja takiego czujnika wydaje się być<br />

trudna, czasochłonna i niestety niepraktyczna do zastosowań.<br />

W literaturze można odnaleźć interferometry zbudowane w całości<br />

na włóknach PCF (all-PCF) [17] jako czujniki naprężeń.<br />

Podsumowując należy zwrócić uwagę na różnorodność czujników<br />

interferometrycznych wykorzystujących PCFy. Jednakże<br />

najczęściej aplikacje przemysłowe wymagają prostych i niezawodnych<br />

rozwiązań w konstrukcji i obsługi czujników. W tej pracy<br />

przedstawiamy standardowy interferometr Macha-Zhendera<br />

z możliwością wymiany ramienia czujnikowego MSF. Przedstawiony<br />

przez nas czujnik pozawala na wykorzystywanie wielu różnych<br />

włókien w tym samym układzie dzięki zakończeniu konektorami<br />

światłowodów w interferometrze.<br />

Budowa światłowodowego interferometru<br />

Macha-Zehndera w oparciu o włókna<br />

mikrostrukturalne<br />

Schematyczna konstrukcja proponowanego czujnika została<br />

przedstawiona na rysunku 1. Jako źródło światła wykorzystaliśmy<br />

VCSEL (Vertical Cavitty Surface Emitting Laser) ze względu na<br />

zalety jakie oferuje, wśród których można wymienić m.in.:<br />

1. Jednomodowy charakter pracy oraz długa droga kohernecji<br />

2. Bardzo niski prąd progowy (poniżej 1 mA) – niski pobór mocy<br />

elektrycznej<br />

3. Niski koszt (kilka euro za sztukę)<br />

4. Wiązka wychodząca o kształcie kołowym – pozwala to na<br />

efektywne sprzęganie z światłowodami<br />

5. Możliwość wykorzystania prądu do modulacji długości fali<br />

(pozwala na kompensację zmian długości fali występujących<br />

z temperaturą)<br />

Dodatkowo wybraliśmy długość fali 850 nm, jako że technologia<br />

VCSELi dla takiej długości fali jest najbardziej rozwinięta<br />

i pozwala na ominięcie problemów związanych z „mode hopping”<br />

oraz z przełączaniem polaryzacyjnym. Jako detektor wybraliśmy<br />

standardową didę PIN. Wykorzystaliśmy klasyczną konstrukcję<br />

interferometru Macha- Zehndera opartą na dwóch identycznych<br />

sprzęgaczach 50:50 zakończonych złączami FC/APC. W ramieniu<br />

odniesienia umieściliśmy patch cord na standardowym włóknie<br />

jednomodowy dla długości fali 850, natomiast w ramieniu czujnikowym<br />

wykorzystaliśmy patch cordy oparte na włóknach mikrostrukturalnych.<br />

Włókno odniesienia wraz z VCSELem, PIN diodą,<br />

sprzęgaczami oraz prostą elektroniką zostało umieszczone w specjalnie<br />

zaprojektowanej obudowie (rys. 2) izolującej układ od zewnętrznych<br />

zakłóceń (drgania, temperatura, itp.). Zarobienie złączy<br />

Rys. 1. Schematyczny układ wykorzystywanego układu. Fig. 1. Schematic construction of investigated fiber interferometer sensing setup<br />

52<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Odkształcenia mogą być definiowane jako:<br />

(1)<br />

gdzie L jest całkowitą długością włókna poddanego działaniu<br />

czynnikowi zewnętrznemu, natomiast ΔL to wydłużenie włókna.<br />

Aby określić wydłużenie włókna wykorzystaliśmy stolik ze<br />

śrubą mikrometryczną do przesuwu wzdłużnego. Sygnał z PIN<br />

diody podczas wydłużania przekazywany był do komputera<br />

z wystarczająco wysoką częstotliwością aby zrekonstruować<br />

zmianę fazy (rys. 4). Czułość na odkształcenie może być obliczona<br />

za pomocą następującego równania:<br />

(2)<br />

Rys. 2. Specjalnie zaprojektowna obudowa dla światłowodowego interferometru<br />

Macha-Zhendera<br />

Fig. 2. Specially designed housing for fiber Mach-Zehnder interferometer<br />

FC/APC na włóknach mikrostrukturalnych pozwoliło na łatwą<br />

wymianę włókien czujnikowych w układzie. Dzięki zastosowaniu<br />

źródła typu VCSEL różnica 10 cm w drogach optycznych nie powoduje<br />

znacznego spadku kontrastu prążków interferencyjnych.<br />

Dodatkowo wysokiej jakości złącza na włóknach mikrostrukturalnych<br />

[18–21] pozwalają na uzyskanie niskich strat w układzie.<br />

Opisany w tej pracy układ światłowodowego czujnika może być<br />

wykorzystany do pomiarów czułości mechanicznej oraz temperaturowej<br />

różnych włókien. Pozwala on na łatwy pomiar zmiany fazy na wyjściu<br />

interferometru wymuszonej zmianą temperatury lub naprężeń.<br />

Czułość temperaturowa i naprężeniowa<br />

światłowodów mikrostrukturalnych oraz<br />

klasycznych<br />

Rysunek 3 przedstawia przekroje porzeczne włókien wykorzystanych<br />

w eksperymencie. Standardowe włókno zaprojektowane dla<br />

jednomodowej transmisji na długości 850 nm ze rdzeniem domieszkowanym<br />

Ge (rys. 3a) pozwolił na porównanie ze włóknami<br />

MSF. Dodatkowo włókna mikrostrukturalne (rys. 3b-c) dostępne<br />

komercyjnie zostały wykorzystane do sprawdzenia wpływu czułości<br />

naprężeń i temperatury przy prowadzeniu geometrycznym.<br />

Podstawowe właściwości optyczne i geometryczne wykorzystanych<br />

włókien pokazane zostały w tabeli 1.<br />

a) b) c)<br />

Rys. 3. Przekroje poprzeczne uzyskane za pomocą SEM: a – 780HP,<br />

b – LMA8 NKT Photonics, c – LMA10 NKT Photonics<br />

Fig. 3. SEM pictures of cross-sections of investigated fibers:<br />

a – 780HP, b – LMA8 NKT Photonics, c – LMA10 NKT Photonics<br />

Tab. 1. Właściwości badanych włókien<br />

Tabl. 1. Properties of studied fibers<br />

780HP LMA8 LMA10<br />

Średnica rdzenia [μm] 4,5 8,6 10,1<br />

Średnica płaszcza[μm] 125 125 125<br />

MFD [μm] 5,0 7,5 8,8<br />

NA 0,13 0,12 0,9<br />

Second mode cut-off [nm] 730 Brak Brak<br />

gdzie dφ to zmiana fazy na wyjściu interferometru podczas zadawanego<br />

na włókno odkształcenia dε na długości L. Całkowita<br />

długość rozciąganego światłowodu to 9 cm.<br />

Wyniki pomiarów czułości na odkształcenie przedstawione<br />

zostały w tab. 2. Jak można łatwo zobaczyć najwyższą czułość<br />

uzyskało włókno LMA10 (rys. 3c), a najmniejszą włókno 780HP<br />

(rys. 3a).<br />

Tab. 2. Czułość odkształceniowa badanych włókien<br />

Tabl. 2. Strain sensitivity for tested fibers<br />

780HP LMA8 LMA10<br />

K Ɛ<br />

[rad/strain*m] *10 6 7,49 7,65 8,24<br />

Rys. 4. Przykładowy rozkład prążków interferencyjnych przy rozciąganiu<br />

włókna 780HP<br />

Fig. 4. Example of fringe patern of the interferometer with sensing<br />

fiber exposed to strain (780HP fiber)<br />

Dla pomiarów czułości temperaturowych wykorzystaliśmy moduł<br />

Peltier o wymiarach 15×15 mm jako obszar grzania lub chłodzenia<br />

oraz termoparę jaką czujnik aktualnej temperatury. Pomiary<br />

temperaturowe było prowadzone, co najmniej 5 razy w dwóch<br />

kierunkach (grzanie i chłodzenie). Pozwoliło to na zweryfikowanie<br />

efektu histerezy – który nie wystąpił.<br />

Sygnał z diody PIN podobnie jak poprzednio podawany był do<br />

komputera z częstotliwością pozwalającą na rekonstrukcję zmian<br />

fazy pokazane na rys. 5 – podzielono na małe zmiany temperatur<br />

rysunek 5a oraz duże 5b.<br />

Czułość temperaturowa została wyznaczona za pomocą wzoru:<br />

(3)<br />

gdzie φ to zmiana fazy na wyjściu interferometru w zależności od<br />

dT zmian temperatury na długości włókna L. Całkowita długość<br />

włókna poddawanego czynnikowi temperatury to 7,5 cm.<br />

Wyniki czułości temperaturowej dla różnych włókien zostały<br />

przedstawione w tabeli 3. Jak można łatwo zobaczyć, najwięk-<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 53


szą czułość temperaturową uzyskało włókno klasyczne 780HP<br />

(rys. 3a) a najmniejszą włókno LMA8 (rys. 3c). Różnica ta (50%<br />

większa czułość włókna z domieszkowanym rdzeniem) powodowana<br />

jest przez naprężenia termiczne pomiędzy dwoma regionami<br />

(domieszkowanym i niedomieszkowanym) włókna światłowodowego,<br />

które nie występują we włóknach mikrosturkturalnych.<br />

Tab. 3. Czułość temperaturowa badanych światłowodów<br />

Tabl. 3. Temperature sensitivity for studied fibers<br />

780HP LMA8 LMA10<br />

K T<br />

[rad/K*m] 144,87 91,37 107,69<br />

a)<br />

b)<br />

Rys. 5. Przykładowy rozkład prążków interferencyjnych włóknaLMA10<br />

(Figure 3c) dla dwóch różnic temperatur. a) ∆T = 5°C,<br />

b) ∆T = 30°C<br />

Fig. 5. Example of fringe patern of the interferometer with sensing<br />

fiber LMA10 (Figure 3c) exposed to temperature changes: a) smal<br />

∆T = 5°C, b) large ∆T = 30°C<br />

Podsumowanie<br />

Przedstawiliśmy po raz pierwszy aplikacje czujnikową włókien<br />

mikrostrukturalnych w światłowodowym interferometrze Macha-<br />

Zehndera pozwalający na pomiar wartości mechanicznych (ciśnieni,<br />

zginanie, wibracje etc.). Dodatkowo proponowane rozwiązanie<br />

urządzenia pozwala na łatwą i szybką wymianę włókna czujnikowego,<br />

co pozwala na wypełnienie wymagań aplikacyjnych.<br />

Wykazaliśmy również że dzięki takiemu układowi możliwa jest<br />

charakteryzacja nowych typów światłowodów standardowych<br />

oraz mikrostrukturalnych.<br />

Literatura<br />

[1] Russell P.S.J.: Photonic-Crystal Fibers, Journal of Lightwave Technology<br />

24, 2006, 4729–4749.<br />

[2] Birks T.A., Knight J.C., Russell P.S.J.: Endlessly single-mode photonic<br />

crystal fiber, Optics Letters 22, 1997, 961–963.<br />

[3] Ferrando A., i in.: Designing a photonic crystal fibre with flattened<br />

chromatic dispersion, Electronics Letters. 35, 1999, 325–326.<br />

[4] Renversez G., Kuhlmey B., McPhedran R.: Dispersion management<br />

with microstructured optical fibers: ultraflattened chromatic<br />

dispersion with low losses, Optics Letters, 28, 2003, 989–991.<br />

[5] Mogilevtsev D., Birks T.A., Russell P.S.J.: Group-velocity dispersion<br />

in photonic crystal fibers, Optics Letters 23, 1998, 1662–1664.<br />

[6] Knight J.C. i in.: Large mode area photonic crystal fibre, Electronics<br />

Letters, 34, 1998, 1347–1348.<br />

[7] Martynkien T. i in.: Measurements of polarimetric sensitivity to temperature<br />

in birefringent holey fibres, Measurement Science and<br />

Technology 18 (10), 2007, 3055–3060.<br />

[8] Nasilowski T. i in.: Sensing with photonic crystal fibres, 2007 IEEE<br />

International Symposium on Intelligent Signal Processing, WISP,<br />

Alcala de Henares, 2007.<br />

[9] Kim D.-H., Kang J.U.: Sagnac loop interferometer based on polarization<br />

maintaining photonic crystal fiber with reduced temperature<br />

sensitivity, Optics Express. 12, 2004, 4490–4495.<br />

[10] Bohnert K. i in.: Temperature and vibration insensitive fiber-optic<br />

current sensor, Journal of Lightwave Technology 20, 2002,<br />

267–276.<br />

[11] Dong X., Tam H.Y., Shum P.: Temperature-insensitive strain sensor<br />

with polarization-maintaining photonic crystal fiber based Sagnac<br />

interferometer, Applied Physics Letters 90, 2007, 151113–151116.<br />

[12] Villatoro J. i in.: Temperature-insensitive photonic crystal fiber interferometer<br />

for absolute strain sensing, Applied Physics Letters 91,<br />

2007, 091109–091112.<br />

[13] Dong B., Zhou Da-P., Wei L.: Temperature Insensitive All-Fiber<br />

Compact Polarization-Maintaining Photonic Crystal Fiber Based<br />

Interferometer and Its Applications in Fiber Sensors, Journal of<br />

Lightwave Technology 28, 2010, 1011–1015.<br />

[14] Tian Z., Yam S.S.-H.: In-Line Abrupt Taper Optical Fiber Mach Zehnder<br />

Interferometric Strain Sensor, IEEE Photonics Technology<br />

Letters, 21, 2009, 161–163.<br />

[15] Villatoro J., Minkovich V.P., Monzon-Hernandez D.: Compact modal<br />

interferometer built with tapered microstructured optical fiber,<br />

IEEE Photonics Technology Letters18, 2006, 1258–1260.<br />

[16] Bock W.J., Urbańczyk W., Wójcik J.: Measurements of sensitivity<br />

of the single-mode photonic crystal holey fibre to temperature,<br />

elongation and hydrostatic pressure, Meas. Sci. Technol. 15, 2004,<br />

1496–1500.<br />

[17] Choi H.Y., Kim M.J., Lee B.H.: All-fiber Mach-Zehnder type interferometers<br />

formed in photonic crystal fiber, Optics Express 15, 2007,<br />

5711–5720.<br />

[18] Jaroszewicz L.R. i in.: Methodology of splicing large air filling factor<br />

suspended core photonic crystal fibres, Opto-Electronics Review,<br />

19, 2011, 256–259.<br />

[19] Jaroszewicz L.R. i in.: Low-Loss Patch Cords by Effective Splicing<br />

of Various Photonic Crystal Fibers With Standard Single Mode<br />

Fiber, Journal of Lightwave Technology 29, 2011, 2940–2946.<br />

[20] Murawski M., Jaroszewicz L.R,, Stasiewicz K.: A photonic crystal<br />

fiber splice with a standard single mode fiber, Photonics Letters of<br />

Poland, 1, 2009, 115–117.<br />

[21] Murawski M., i in. Możliwość wytworzenia niskostratnych połączeń<br />

włókna telekomunikacyjnego z włóknem fotonicznym o zawieszonym<br />

rdzeniu (Low loss splicing between standard telecom fiber<br />

and photonic crystal fiber with suspended core), <strong>Elektronika</strong> ,LI nr<br />

6/2010, str 39–41.<br />

54<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Właściwości modowe światłowodu mikrostrukturalnego<br />

z podwójnym płaszczem do zastosowań w nieliniowych<br />

układach diagnostycznych<br />

mgr inż. Hanna Stawska, dr hab. Elżbieta Bereś-Pawlik, prof. P.Wr.<br />

Politechnika Wrocławska, Katedra Radiokomunikacji i Teleinformatyki,<br />

<strong>Instytut</strong> Telekomunikacji Teleinformatyki i Akustyki<br />

Obecnie wielofotonowe systemy endoskopowe stają się podstawowym<br />

narzędziem badawczym, ze względu na zdecydowanie<br />

mniejsze rozmiary oraz niższe koszty w porównaniu z konwencjonalnymi<br />

mikroskopami wielofotonowymi. Ponadto, endoskopy,<br />

ze względu na swój kształt, mogą być wykorzystywane w badaniach<br />

in vivo i aplikacjach klinicznych. Tak więc, w ostatnim czasie<br />

badania koncentrują się na rozwoju endoskopów o niewielkich<br />

wymiarach, które umożliwiają badania in vivo przy jednoczesnym<br />

zachowaniu zdolności obrazowania, podobnej do standardowych<br />

mikroskopów wielofotonowych. W chwili obecnej, istnieje kilka<br />

problemów związanych z budową takich endoskopów a mianowicie[1–4]:<br />

– skuteczne dostarczenie ultrakrótkich impulsów wzbudzających<br />

do próbki,<br />

– wydajne zbieranie sygnału fluoroscencyjnego badanej próbki,<br />

– miniaturyzacja sondy.<br />

Najczęściej stosowana konstrukcja sondy endoskopowej<br />

zakłada wykorzystanie światłowodu jednomodowego do dostarczenia<br />

ultraszybkiego sygnału pobudzającego, natomiast<br />

światłowodu wielomodomowego do odbierania sygnału fluoroscencyjnego<br />

z badanej próbki. Konstrukcja ta ma jednak<br />

ograniczenia, związane z tym, że światłowód nadawczy nie<br />

jest współosiowy z światłowodem odbiorczym, co powoduje<br />

zmniejszenie wydajności odbierania sygnału fluorescencyjnego<br />

badanej próbki. Aby zwiększyć wydajność odbierania stosuje<br />

się układy mikro-elektro -mechaniczne. Jednak takie układy są<br />

bardzo wrażliwe na kalibracje oraz zastosowanie ich powoduje<br />

zdecydowane zwiększenie wymiarów sondy. Dlatego jako alternatywę<br />

do przedstawionych wyżej konstrukcji stosuje się układ<br />

wyposażony w światłowód dwupłaszczowy. W tym przypadku,<br />

rdzeń tego światłowodu służy do przekazania sygnału wzbudzającego,<br />

natomiast wewnętrzny płaszcz służy do odbierania<br />

sygnału fluorescencyjnego. Niestety, wszystkie światłowody<br />

używane w wyżej wymienionych konstrukcjach charakteryzują<br />

się dużą dyspersją w okolicach 100 ps/nmkm. Dlatego też,<br />

konstruowane obecnie endoskopy są wyposażane w układy<br />

kompensujące dyspersję. Układy takie są budowane w oparciu<br />

o światłowody z przerwą fotoniczną PBF (Photonic Bandgap Fiber)<br />

lub z wykorzystywaniem optyki konwencjonalnej (soczewki,<br />

siatki). Jednakże wszystkie te układy posiadają pewne wady.<br />

I tak, układy wykorzystujące światłowody PBF charakteryzują<br />

się dużą straty mocy, wynoszącą nawet 60%, natomiast układy<br />

wykorzystujące dodatkową optykę są trudne w kalibracji oraz<br />

powodują, że układ endoskopowy staje się niewygodny do użycia<br />

przez lekarza.<br />

Przykładowe realizacje światłowodów<br />

z podwójnym płaszczem<br />

W artykule [5] zaprojektowano dwa światłowody mikrostrukturalne<br />

z podwójnym płaszczem oraz przeanalizowano ich właściwości<br />

dyspersyjne. Pierwszy światłowód został zbudowany<br />

z współosiowych okręgów zawierających rdzenie domieszkowane<br />

germanem, natomiast drugi zawierał współosiowe okręgi kanałów<br />

powietrznych. Struktura tych światłowodów została zdefiniowana<br />

przez siedem parametrów geometrycznych, takich jak<br />

między innymi: średnica rdzenia, średnica prętów domieszkowanych<br />

germanem, średnica kanałów powietrznych, odległości<br />

pomiędzy kanałami powietrznymi/prętami, liczba pierścieni itd.<br />

Obydwie konstrukcje światłowodów zostały przeanalizowane<br />

numerycznie za pomocą programu Lumerical. Wstępne symulacje<br />

tych światłowodów wykazały, że odpowiednio dobierając<br />

parametry geometryczne tych światłowodów można uzyskać<br />

taką charakterystykę dyspersyjną, aby ultraszybki impuls pracujący<br />

przy długości fali 800nm propagowany w rdzeniu tych<br />

światłowodach praktycznie nie ulegał rozmyciu. Dla światłowodu<br />

z prętami domieszkowanymi germanem uzyskano charakterystykę,<br />

zapewniającą wartość dyspersji na poziomie kilku ps/<br />

nm km. Jednakże wartość dyspersji tego światłowodu charakteryzowała<br />

się silną zależnością od długości fali, co zapewniało<br />

wąskie pasmo przenoszenia. Natomiast dla światłowodu z kanałami<br />

powietrznymi uzyskano większe pasmo przenoszenia,<br />

ale wartość dyspersji wynosiła około 20 ps/nm km. Obie konstrukcje<br />

światłowodu, umożliwiały przenoszenie sygnału o długości<br />

fali w zakresie 400 nm za pomocą wewnętrznego płaszcza,<br />

co mogłoby być wykorzystywane do odbierania sygnału<br />

autofluroscencyjnego tkanki. W pracy, przebadano dokładnie<br />

wpływ parametrów geometrycznych na dyspersję światłowodu<br />

mikrostrukturalnego z podwójnym płaszczem i rdzeniem powietrznym.<br />

W artykule między innymi wykazano, że największy<br />

wpływ na charakterystykę dyspersyjną takiego światłowodu,<br />

przy ustalonej średnicy rdzenia, ma liczba pierścieni powietrznych<br />

i średnica wewnętrznego płaszcza.<br />

Proponowana struktura światłowodu<br />

W niniejszej pracy przebadano właściwości światłowodu, którego<br />

strukturę przedstawiono na rys. 1. Światłowód ten składa<br />

się z rdzenia powietrznego otoczonego płaszczem zbudowanym<br />

z prętów domieszkowanych germanem. Pręty te tworzą siatkę<br />

hexagonalną. Parametrami definiującymi strukturę są promień<br />

rdzenia r, stała siatki Λ oraz średnica prętów d.<br />

Rys. 1. Struktura badanego światłowodu<br />

Fig. 1. The structure of the fiber<br />

Ze względu na to, że przy takiej konstrukcji współczynnik załamania<br />

płaszcza jest wyższy od współczynnika załamania rdzenia,<br />

światło w tym światłowodzie jest propagowane dzięki wykorzystaniu<br />

efektu fotonicznej przerwy wzbronionej PBG (Photonic Band-<br />

Gap). Światłowody wykorzystujące to zjawisko posiadają jedną<br />

główną wadę w postaci występowania modów wyższych rzędów<br />

HOM (Higher Order Modes). Straty tych modów porównywalne są<br />

ze stratami modu podstawowego.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 55


Rys. 2. Natężenie pola elektrycznego dla trzech kolejnych modów propagowanych w rdzeniu przy długości fali λ = 800 nm<br />

Fig. 2. The intensity of the electric field for three successive modes propagated in the core at a wavelength of λ = 800 nm<br />

Otrzymane wyniki numeryczne<br />

W niniejszej pracy przebadano światłowód o następujących parametrach<br />

geometrycznych: Λ = 246 μm, d = 6 μm, r = 16 μm.<br />

Na rysunku 2 przedstawiono natężenie pola elektrycznego trzech<br />

pierwszych modów propagowanych w rdzeniu. Tabela 1 przedstawia<br />

straty obliczone dla długości fali 800 nm.<br />

Tab. 1. Straty modów HE11, TE01 oraz TM01 na długości fali 800 nm<br />

Tabl. 1. The losses of the HE11, TE01 and TM01 modes at a wavelength<br />

of λ = 800 nm<br />

Oznaczenie modu<br />

Straty [dB/cm] przy λ = 800 nm<br />

HE11 2,3 ⋅10 -13<br />

TE01 1,4 ⋅10 -13<br />

TM01 3,5 ⋅10 -13<br />

Na rysunku 3A przedstawiono zależność dyspersji od długości<br />

fali dla różnych Λ, natomiast na rysunku 3B przedstawiono wpływ<br />

Λ na różnice w stratach pomiędzy modami. Jak widać na różnicę<br />

w startach pomiędzy modem podstawowym HE11, a modami<br />

wyższych rzędów zmiana Λ nie ma większego znaczenia. Podobne<br />

charakterystyki otrzymuje się w przypadku badania zmian liczby<br />

pierścieni, średnicy prętów itd. Oczywiście zmiana średnicy rdzenia<br />

ma znaczenie, ale ze względu na to, że światłowód ten ma mieć<br />

zastosowanie w przenoszeniu ultraszybkich sygnałów wybrano<br />

stosunkowo duży rdzeń ze względu na dużą gęstość energii.<br />

Optymalizacja konstrukcji światłowodu w celu<br />

zapewnienia jednomodowego trybu pracy<br />

W celu stłumienia modów wyższych rzędów wykorzystano zjawisko<br />

przedstawione w pracy [7]. Metoda polega na wprowadzeniu<br />

dodatkowych defektów tak, aby nastąpiło sprzężenie pomiędzy<br />

modami występującymi w tych defektach a modami wyższych<br />

rzędów generowanymi w rdzeniu. Metoda ta pozwala osiągnąć<br />

różnicę 2 rzędów wielkości pomiędzy startami modu podstawowego,<br />

a stratami modów wyższych rzędów [8]. Aby uzyskać efektywnie<br />

jednodomowy światłowód należy stłumić mody wyższych<br />

rzędów do poziomu kilkunastu [dB/m]. W tym celu dodatkowo<br />

wprowadzono pręty germanowe. charakteryzujące się dużym<br />

współczynnikiem załamania. Pręty takie wprowadzone w pobliżu<br />

dodatkowych kanałów powietrznych powodują przede wszystkim<br />

stłumienie modów, które powstały w tych kanałach. Oczywiście<br />

ma to również wpływ na straty modu podstawowego. Tak więc,<br />

w celu stłumienia modów wyższych rzędów wprowadzono dodatkowe<br />

kanały powietrzne oraz pręty germanowe. Następnie<br />

przeprowadzono optymalizację położenia dodatkowych kanałów<br />

powietrznych oraz rdzeni germanowych, wykorzystując algorytm<br />

optymalizacji rojem cząstki PSO (Particle Swarm Optimization).<br />

Jest to algorytm bazujący na idei inteligencji roju. Rój zdefiniowany<br />

jest jako zbiór cząstek, które samodzielnie podejmują decyzję<br />

co do kierunku i prędkości poruszania. Pojedyncza cząstka<br />

posiada informację na temat swojego najlepszego rozwiązania<br />

oraz na temat najlepszego rozwiązania sąsiada. Nie musi natomiast<br />

posiadać informacji o całym roju. Cząstki są inicjowane<br />

Rys. 3. Zależność dyspersji od długości fali dla różnych Λ oraz różnica w tłumieniu pomiędzy modem podstawowym oraz modami wyższych rzędów<br />

Fig. 3. Dependency between dispersion and the wavelength for different Λ and the difference in attenuation between the fundamental mode<br />

and the higher order modes<br />

56<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys. 4. Struktura światłowodu z dodatkowymi kanałami powietrznymi<br />

oraz prętami germanowymi<br />

Fig. 4. Fiber structure with additional air holes and germanium doped<br />

rods<br />

liczbami losowymi z zakresu od 0 do 1. Program Lumerical Mode<br />

Solution, w którym przeprowadzone zostały symulacje, używa domyślnych<br />

wartości c 1<br />

i c 2<br />

i ω, które są odpowiednie przy optymalizacji<br />

problemów związanych z kryształami fotonicznymi.<br />

W wyniku optymalizacji otrzymano strukturę przedstawioną na<br />

rysunku 4.<br />

Na rysunku 5 przedstawiono natężenie pola elektrycznego dla<br />

trzech podstawowych modów propagowanych w rdzeniu. Natomiast<br />

tabela 2 przedstawia straty wyliczone dla tych modów.<br />

Podsumowanie<br />

W celu zaprojektowania efektywnie jednomodowego światłowodu<br />

mikrostrukturalnego z podwójnym płaszczem, umożliwiającego<br />

przenoszenie ultraszybkich sygnałów, w konstrukcji<br />

światłowodu zastosowano dodatkowe kanały powietrzne oraz<br />

pręty germanowe. Taka struktura umożliwiła zwiększenie różnicy<br />

Rys. 5. Natężenie pola elektrycznego dla trzech kolejnych modów propagowanych w rdzeniu dla λ=800 nm przy zastosowaniu dodatkowych<br />

kanałów powietrznych oraz prętów germanowych<br />

Fig. 5. The intensity of the electric field for three successive modes propagated in the core at a wavelength of λ = 800 nm with additional air<br />

holes and germanium rods<br />

Tab. 2. Straty modów HE11, TE01 oraz TM01 przy długości fali 800 nm<br />

przy zastosowaniu dodatkowych kanałów powietrznych oraz prętów germanowych<br />

Tabl. 2. The losses of the HE11, TE01 and TM01 modes at a wavelength<br />

of λ = 800 nm with additional air holes and germanium rods<br />

Oznaczenie modu<br />

Straty [dB/cm] przy λ = 800 nm<br />

HE11 3,13⋅10 -6<br />

TE01 0,17<br />

TM01 0,18<br />

w losowych miejscach, a następnie przemieszczają się w poszukiwaniu<br />

najlepszego rozwiązania. Na cząstkę w takim układzie<br />

działają trzy siły [9]:<br />

1. Siła przyciągania w kierunku najlepszej własnej pozycji, p,<br />

2. Siła przyciągania w kierunku najlepszej pozycji w roju, g,<br />

3. Siła tarcia proporcjonalna do prędkości.<br />

W związku z tym algorytm składa się z następujących kroków<br />

[9]:<br />

1. Podać liczbę cząstek N oraz zainicjować pozycję x,<br />

2. Obliczyć współczynnik efektywności i znaleźć p i g,<br />

3. Obliczyć nowe prędkości v dla każdej z cząstek w oparciu<br />

o siły działające na cząstki,<br />

r r r r r r r<br />

vt<br />

= vt<br />

− 1<br />

+ c1η1<br />

( pt<br />

−1<br />

− xt<br />

−1)<br />

+ c2η2<br />

( pt<br />

−1<br />

− xt<br />

−1)<br />

+ ( ω + 1)<br />

vt<br />

−1<br />

(1)<br />

4. Zaktualizować pozycję każdej z cząstek korzystając z prędkości,<br />

r<br />

<br />

= r<br />

+ r<br />

xt<br />

xt<br />

− 1<br />

vt<br />

−1<br />

(2)<br />

5. Powtórzyć od kroku 2 aż osiągnięta zostanie zbieżność.<br />

W równaniu (1), t jest licznikiem iteracji, c 1<br />

, c 2<br />

, ω są współczynnikami<br />

algorytmu określanymi przez projektanta, η 1<br />

i η 2<br />

są<br />

pomiędzy stratami modu podstawowego, a stratami modów<br />

wyższych rzędów o nawet 4 rzędy. Ponadto, wprowadzenie<br />

prętów germanowych umożliwia skuteczne wytłumienie modów<br />

wyższych rzędów do wielkości 17 dB/m. Za pomocą algorytmu<br />

optymalizacji rojem cząstek zoptymalizowano konstrukcję światłowodu<br />

uzyskując oczekiwane wyniki.<br />

Obliczenia wykonano na komputerach Wrocławskiego Centrum<br />

Sieciowo-Superkomputerowego (http://www.wcss.wroc.pl), grant<br />

obliczeniowy Nr 184<br />

Literatura<br />

[1] Costa N., Cartaxo A. (edit.): Advances in Lasers and Electro Optics,<br />

Intech, 2010, pp. 751–769.<br />

[2] Yicong Wu et. al.: Scanning Fiber-optic Endomicroscope System for<br />

Nonlinear Optical Imaging of Tissue, OSA/BIOMED/ASSP, 2008.<br />

[3] Tang S. et al.: Design and implementation of fiber-based multiphoton<br />

endoscopy with microelectromechanical systems scanning, J Biomed<br />

Opt 14, 034005-1–034005-7.<br />

[4] Sadowski P., Jellonek K.: Sonda do bezkontaktowego pomiaru<br />

współczynnika kontrastu w terapii fotodynamicznej, <strong>Elektronika</strong> rok<br />

XLIX nr 6/2008, str. 257.<br />

[5] Stawska H., Bereś-Pawlik E.: Construction of double cladding small<br />

dispersion photonic crystal fiber to guide ultrashort pulse at 800 nm<br />

(w druku).<br />

[6] Stawska H., Bereś-Pawlik E.: Dispersion properties of double-clad<br />

hollow-core photonic bandgap fibers based on a circular lattice cladding,<br />

22nd International Conference on Optical Fiber Sensors (OFS-<br />

22), materiały konferencyjne SPIE (w druku).<br />

[7] Fini J.M.: Suppression of higher-order modes in aircore microstructure<br />

fiber designs, Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO),<br />

2006.<br />

[8] Saitoh K. at all.: Design of photonic band gap fibers with suppressed<br />

higher-order modes: Towards the development of effectively single<br />

mode large hollow-core fiber platforms, Optics Express, Vol. 14, Issue<br />

16, 2006, pp. 7342–7352.<br />

[9] Lumerical ModeSolution Reference Guide.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 57


Wpływ dipu na właściwości propagacyjne solitonów<br />

jasnych w światłowodzie skokowym<br />

dr inż. Tomasz KACZMAREK<br />

Politechniki Świętokrzyskiej,Zakład Telekomunikacji, Katedra Telekomunikacji, Fotoniki i Nanomateriałów,<br />

Wydział Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki, Kielce<br />

Światłowody jednomodowe są szeroko stosowane w technice<br />

sensorowej [1, 2] zarówno jako czujniki jak i medium transmisyjne<br />

oraz w technice informatycznej [3, 4] jako szerokopasmowe medium<br />

transmisyjne o nie w pełni wykorzystanych możliwościach<br />

propagacyjnych. Niniejszy artykuł również dotyczy światłowody<br />

jednomodowych ale w kontekście ich wykorzystania w transmisji<br />

solitonowej dalekiego zasięgu.<br />

W 2011 roku pojawił się cykl artykułów [5, 6, 7] dotyczących<br />

światłowodu skokowego, którego parametr geometryczny (promień<br />

rdzenia a) oraz parametr optyczny (różnica współczynników<br />

załamania pomiędzy rdzeniem i płaszczem Δn = n 1<br />

– n 2<br />

) były tak<br />

zoptymalizowane, aby umożliwić generację solitonu podstawowego,<br />

przy wykorzystaniu dostępnych komercyjnie laserów półprzewodnikowych<br />

w okolicach trzeciego okna transmisyjnego,<br />

przy zapewnieniu jednoczesnej maksymalizacji zakresu pracy<br />

jednomodowej oraz dyspersji anomalnej. Optymalizacja promienia<br />

rdzenia a pozwala uzyskać zrównanie się długości fali odcięcia<br />

modu drugiego (TE 01<br />

) λ C<br />

z długością fali zerowania się dyspersji<br />

chromatycznej λ ZD1<br />

, czyli równość λ ZD1<br />

= λ C<br />

i w ten sposób<br />

uzyskać maksymalizację zakresu długości fal, w którym można<br />

generować solitony jasne. W tym miejscu warto wspomnieć, że<br />

przy określonym składzie chemicznym rdzenia oraz płaszcza,<br />

czyli przy określonej wartości parametru Δn istnieje tylko jedna<br />

wartość a = a OPT<br />

gwarantująca spełnienie warunku λ ZD1<br />

= λ C<br />

.<br />

W przypadku, gdy a > a OPT<br />

, wówczas λ ZD1<br />

< λ C<br />

i zakres generacji<br />

solitonu jasnego jest ograniczony zakresem pracy jednomodowej.<br />

Natomiast, gdy a < a OPT<br />

, wówczas λ ZD1<br />

> λ C<br />

i zakres generacji<br />

solitonu jasnego jest ograniczony zakresem dyspersji anomalnej.<br />

Optymalizacja różnicy współczynników załamania pomiędzy<br />

rdzeniem i płaszczem światłowodu Δn umożliwia uzyskanie na<br />

charakterystyce dyspersji chromatycznej dwóch miejsc zerowych<br />

w zakresie od 1 do 2 μm oraz maksimum lokalnego w okolicach<br />

1,55 μm, którego wartość nie przekraczałaby 1 ps∙km -1 ∙nm -1 .<br />

W każdym z trzech artykułów [5, 6, 7] modelowany światłowód<br />

skokowy posiadał rdzeń wykonany ze szkła kwarcowego domieszkowanego<br />

dwutlenkiem germanu. W przypadku [5] płaszcz<br />

był wykonany z czystego szkła kwarcowego, w [6] ze szkła kwarcowego<br />

domieszkowanego 1 m% fluoru, natomiast w [7] płaszcz<br />

wykonany ze szkła kwarcowego domieszkowany był 2 m% fluoru.<br />

W każdym przypadku optymalne wartości promienia rdzenia<br />

a OPT<br />

oraz różnicy współczynników załamania pomiędzy rdzeniem<br />

i płaszczem Δn OPT<br />

nieco się od siebie różnią.<br />

Punktem odniesienia do wyliczeń zawartych w niniejszej<br />

publikacji był przypadek opisany w [7]. Wyznaczona w [7] a OPT<br />

= 1,658 μm, natomiast Δn OPT<br />

= 0,0395. Odpowiadający optymalnym<br />

warunkom zakres dyspersji anomalnej jest ograniczony<br />

miejscami zerowymi charakterystyki dyspersyjnej, które wynoszą<br />

λ ZD1<br />

= 1,469 μm, λ ZD2<br />

= 1,649 μm. Optymalizacja promienia rdzenia<br />

a gwarantuje spełnienie równości λ ZD1<br />

= λ C<br />

, czyli λ C<br />

= 1,469<br />

μm. Optymalizacja parametru Δn gwarantuje wystąpienie maksimum<br />

lokalnego na charakterystyce dyspersji chromatycznej D<br />

oraz minimum lokalnego na charakterystyce dyspersji prędkości<br />

grupowej β 2<br />

dla trzeciego okna transmisyjnego, czyli dla λ = 1,55<br />

μm, które wynoszą odpowiednio D = 0,224 ps∙km -1 ∙nm -1 oraz<br />

β 2<br />

= -0,286 ps 2 ∙km -1 . Korzystając z zależności zawartych w [8,<br />

9] i przyjmując, że λ = 1,55 μm wyznaczone zostały następujące<br />

parametry modu podstawowego w zoptymalizowanym światłowodzie:<br />

skuteczny promień pola modu HE 11<br />

, ω EFF<br />

= 1,870 μm,<br />

skuteczny przekrój pola modu HE 11<br />

, A EFF<br />

= 10,98 μm 2 . Wartość<br />

58<br />

parametru A EFF<br />

jednoznacznie determinuje wartość parametru<br />

nieliniowego γ = 8,120 km -1 W -1 również na podstawie wzoru zawartego<br />

w [8,9]. Przyjmując, że szerokość początkowa impulsu<br />

T 0<br />

= 1 ps, λ = 1,55 μm i ponownie korzystając z zależności zawartych<br />

w [8,9] można wyznaczyć wartość szczytową solitonu podstawowego<br />

P 0<br />

= 35,20 mW, długość dyspersyjną L D<br />

= 3,499 km<br />

oraz okres solitonowy z 0<br />

= 5,496 km.<br />

Metoda<br />

Przed przystąpieniem do wykonania światłowodu skokowego<br />

zoptymalizowanego zgodnie z [7] konieczne jest zbadanie wpływu<br />

dipu, który występuje w profilu współczynnika załamania już na<br />

etapie wytwarzania preformy, najczęściej metodą MCVD. Wpływ<br />

szerokości oraz głębokości dipu kształtu prostokątnego na właściwości<br />

propagacyjne zoptymalizowanego światłowodu skokowego<br />

można badać wykorzystując w tym celu światłowód dwuskokowy<br />

o profilu SP1 [10, 11]. Światłowód skokowy (SS) z dipem lub światłowód<br />

pierścieniowy pierwszego rodzaju (SP1) wraz z profilem<br />

współczynnika załamania został przedstawiony na rys. 1.<br />

Modelowanie światłowodu skokowego z dipem za pomocą modelu<br />

światłowodu dwuskokowego o profilu SP1 zostało wykonane<br />

przy uwzględnieniu następujących założeń: promień drugiego<br />

rdzenia światłowodu SP1 b jest równy optymalnemu promieniowi<br />

rdzenia światłowodu skokowego i wynosi b = 1,658 μm; różnica<br />

Δn’ współczynników załamania pomiędzy drugim rdzeniem n 2<br />

i płaszczem n 3<br />

jest równa optymalnej różnicy współczynników załamania<br />

pomiędzy rdzeniem i płaszczem światłowodu skokowego<br />

i wynosi Δn’ = n 2<br />

– n 3<br />

= 0,0395; płaszcz światłowodu dwuskokowego<br />

jest wykonany z czystego szkła kwarcowego tak jak płaszcz<br />

światłowodu skokowego i oznacza to, że wartość współczynnika<br />

załamania płaszcza światłowodu dwuskokowego n 3<br />

jest określona<br />

ze wzoru dyspersyjnego Sellmeiera dla szkła kwarcowego domieszkowanego<br />

fluorem na poziomie 2 m% [8, 9]; na podstawie<br />

znanej wartości współczynnika załamania płaszcza n 3<br />

oraz na<br />

podstawie określonej wartości różnicy współczynników załamania<br />

drugiego rdzenia i płaszcza Δn’ można określić współczynnik załamania<br />

drugiego rdzenia n 2<br />

następująco n 2<br />

= n 3<br />

+ Δn’; współczynnik<br />

załamania pierwszego rdzenia n 1<br />

światłowodu SP1 jest zmienną,<br />

która określa głębokość dipu w rdzeniu światłowodu skokowego<br />

i może być określona parametrem Δn’/Δn = (n 2<br />

– n 3<br />

)/(n 1<br />

– n 2<br />

);<br />

promień pierwszego rdzenia a światłowodu dwuskokowego jest<br />

zmienną określającą szerokość dipu w rdzeniu światłowodu skokowego,<br />

która może być określona parametrem c = b/a. Płytki dip<br />

w kontekście współczynnika Δn’/Δn to na przykład Δn’/Δn = –10,<br />

Rys. 1. Światłowód skokowy (SS) z dipem lub światłowód pierścieniowy<br />

pierwszego rodzaju (SP1) wraz z profilem współczynnika załamania.<br />

Oznaczenia: D – dip w SS lub pierwszy rdzeń SP1, R – rdzeń<br />

w SS lub drugi rdzeń w SP1, P – płaszcz w obydwu przypadkach<br />

Fig. 1. Step index fiber with a dip or M-profile fiber with the refractive<br />

index profile. Symbols: D – dip in the step index or the first core of M-<br />

profile fiber, R – the core of step index or the second core in M-profile<br />

fiber, P – cladding in both cases<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


przy czym znak – oznacza, że n 1<br />

< n 2<br />

, natomiast wartość 10 mówi<br />

o tym, że Δn’ = n 2<br />

– n 3<br />

jest 10 razy większe niż Δn = n 1<br />

– n 2<br />

, czyli<br />

innymi słowy głębokość dipu stanowi 0,1 głównego skoku współczynników<br />

załamania. Podobnie wąski dip to na przykład c = 10<br />

oznacza to, że szerokość dipu jest 10 razy mniejsza niż szerokość<br />

promienia rdzenia prowadzącego światło.<br />

W celu wyznaczenia parametrów modu HE 11<br />

(ω EFF<br />

, A EFF<br />

, D, β 2<br />

,<br />

γ, λ ZD1<br />

, λ ZD2<br />

), parametru modu TE 01<br />

(λ C<br />

) oraz parametrów solitonu<br />

podstawowego (P 0<br />

, L D<br />

, z 0<br />

) konieczne jest rozwiązanie równania<br />

wartości własnych światłowodu dwuskokowego o profilu SP1 następującej<br />

postaci [10, 11].<br />

2 2 2<br />

[ E( Y +V)( W + X ) − F( Y +U)( Z + X )][ F( Yn1<br />

+ n2U)(<br />

Zn<br />

2<br />

+<br />

2<br />

2 2 2 2<br />

+ n3 X) − E( Yn1<br />

+ n2V)( Wn<br />

2<br />

+ n3<br />

X )]=<br />

4 4<br />

2 2<br />

N m<br />

2 N m<br />

2<br />

= ( E −F) + 2EFn2<br />

( U −V)( W −Z<br />

)+<br />

4 2 4 2<br />

2 2<br />

u B w C<br />

u Bw C<br />

(1)<br />

2 2<br />

N m<br />

2 2<br />

2 2<br />

+ [ F( Z+X ) − E( W+ X )][ E ( Wn2<br />

+ n3<br />

X ) − F ( Zn2<br />

+ n3<br />

X )]+<br />

4 2<br />

u B<br />

2 2<br />

N m<br />

2 2<br />

2 2<br />

+ [ F( Y+U) − E( Y+V)<br />

][ E( Yn1<br />

+ n2V<br />

) − F( Yn1<br />

+ n2U<br />

)] ,<br />

4 2<br />

w C<br />

przy czym<br />

I m'<br />

( u)<br />

Y = Ym<br />

=<br />

uI ( u) , X = X<br />

dla n 1<br />


Tab. 1. Wartości parametrów modu HE 11<br />

oraz solitonu podstawowego w światłowodzie SP1 przy<br />

jednoczesnym zwiększaniu szerokości oraz głębokości dipu (rys. 2)<br />

Tabl. 1. Values of parameters of HE 11<br />

mode and fundamental soliton propagated inside M-profile<br />

optical fiber, while increasing width and depth of the dip (Fig. 2)<br />

Parametr Jednostka c=10 c=9 c=8 c=7 c=6 c=5 c=4<br />

60<br />

Δn’/Δn – -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4<br />

Δn – 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395<br />

V – 0,228 0,253 0,283 0,326 0,380 0,456 0,570<br />

b μm 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658<br />

ω EFF<br />

μm 1,869 1,870 1,872 1,875 1,880 1,889 1,909<br />

A EFF<br />

μm 2 10,97 10,99 11,01 11,04 11,10 11,21 11,45<br />

γ km -1 W -1 8,127 8,117 8,102 8,077 8,033 7,954 7,787<br />

λ C<br />

μm 1,469 1,469 1,469 1,469 1,469 1,468 1,467<br />

λ ZD1<br />

μm 1,464 1,461 1,458 1,453 1,448 1,444 1,452<br />

λ ZD1<br />

– λ C<br />

nm -5 -8 -11 -16 -21 -24 -15<br />

λ MAX<br />

μm 1,551 1,551 1,552 1,553 1,556 1,563 1,582<br />

λ ZD2<br />

μm 1,660 1,665 1,673 1,685 1,703 1,732 1,787<br />

D ps∙km -1 ∙nm -1 0,261 0,281 0,310 0,352 0,413 0,489 0,523<br />

β 2<br />

ps 2 ∙km -1 -0,333 -0,359 -0,395 -0,450 -0,527 -0,624 -0,667<br />

P 0<br />

mW 41,00 44,20 48,80 55,66 65,55 78,48 85,61<br />

A 0<br />

– 0,202 0,210 0,221 0,236 0,256 0,280 0,293<br />

L D<br />

km 3,001 2,787 2,529 2,224 1,899 1,602 1,500<br />

z 0<br />

km 4,714 4,378 3,973 3,494 2,983 2,516 2,356<br />

Tab. 2. Wartości parametrów modu HE 11<br />

oraz solitonu podstawowego w światłowodzie SP1 przy<br />

zwiększaniu szerokości dipu, podczas gdy jego głębokość była stała (rys. 3)<br />

Tabl. 2. Values of parameters of HE 11<br />

mode and fundamental soliton propagated inside M-profile<br />

optical fiber by increasing width of the dip, while its depth was constant (Fig. 3)<br />

Parametr Jednostka c=9 c=7 c=6 c=5 c=4 c=3 c=2<br />

Δn’/Δn – -9 -9 -9 -9 -9 -9 -9<br />

Δn – 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395<br />

V – 0,253 0,326 0,380 0,456 0,570 0,760 1,139<br />

b μm 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658<br />

ω EFF<br />

μm 1,870 1,873 1,854 1,879 1,885 1,898 1,924<br />

A EFF<br />

μm 2 10,99 11,02 11,05 11,09 11,17 11,32 11,63<br />

γ km -1 W -1 8,117 8,094 8,074 8,041 7,986 7,880 7,667<br />

λ C<br />

μm 1,469 1,469 1,469 1,468 1,468 1,466 1,458<br />

λ ZD1<br />

μm 1,461 1,456 1,452 1,448 1,443 1,440 1,458<br />

λ ZD1<br />

– λ C<br />

nm -8 -13 -17 -20 -25 -26 0<br />

λ MAX<br />

μm 1,551 1,552 1,553 1,555 1,559 1,567 1,587<br />

λ ZD2<br />

μm 1,665 1,678 1,686 1,700 1,722 1,758 1,794<br />

D ps∙km -1 ∙nm -1 0,281 0,325 0,359 0,408 0,475 0,552 0,462<br />

β 2<br />

ps 2 ∙km -1 -0,359 -0,414 -0,458 -0,520 -0,606 -0,703 -0,589<br />

P 0<br />

mW 44,20 51,17 56,77 64,73 75,85 89,27 76,89<br />

A 0<br />

– 0,210 0,226 0,238 0,254 0,275 0,299 0,277<br />

L D<br />

km 2,787 2,415 2,182 1,921 1,651 1,422 1,696<br />

z 0<br />

km 4,378 3,793 3,427 3,018 2,593 2,233 2,665<br />

Na rysunku 3 przedstawiono zestaw<br />

charakterystyk dyspersyjnych modu HE 11<br />

w światłowodzie dwuskokowym o profilu<br />

SP1 przy zwiększaniu szerokości dipu,<br />

podczas gdy jego głębokość była stała. Wykresy<br />

przedstawione na rys. 3 mają swoje<br />

odzwierciedlenie w tab. 2. Tabela 2 zawiera<br />

wartości parametrów modu HE 11<br />

oraz solitonu<br />

podstawowego w badanym światłowodzie<br />

przy zwiększaniu szerokości dipu, podczas<br />

gdy jego głębokość była stała.<br />

Na rysunku 4 przedstawiono zestaw<br />

charakterystyk dyspersyjnych modu HE 11<br />

w światłowodzie SP1 przy zwiększaniu<br />

głębokości dipu, podczas gdy jego szerokość<br />

była stała. Odzwierciedleniem wykresów<br />

przedstawionych na rys. 4 są wyniki<br />

numeryczne zawarte w tab. 3. W tabeli 3<br />

przedstawiono wartości parametrów modu<br />

HE 11<br />

oraz solitonu podstawowego w światłowodzie<br />

SP1 przy zwiększaniu głębokości<br />

dipu, podczas gdy jego szerokość była<br />

stała.<br />

Dyskusja<br />

Na podstawie zamieszczonych w artykule<br />

wykresów oraz tabel można stwierdzić, że<br />

zwiększaniu głębokości oraz szerokości<br />

dipu (tj. zmniejszaniu wartości parametru<br />

|Δn’/Δn| oraz c) towarzyszy zwiększanie<br />

się maksymalnej wartości dyspersji<br />

chromatycznej D oraz zmniejszanie się<br />

minimalnej wartości dyspersji prędkości<br />

grupowej β 2<br />

, przy czym wraz ze wzrostem<br />

szerokości oraz głębokości dipu maksimum<br />

długość fali przy której występuje<br />

ekstremum λ MAX<br />

przesuwa się w kierunku<br />

fal dłuższych. Towarzyszy temu zwiększanie<br />

się zakresu dyspersji anomalnej, gdyż<br />

długość fali, przy której występuje pierwsze<br />

miejsce zerowe na charakterystyce<br />

dyspersyjnej λ ZD1<br />

ulega zmniejszeniu, natomiast<br />

długość fali, przy której występuje<br />

drugie miejsce zerowe na charakterystyce<br />

dyspersyjnej λ ZD2<br />

ulega zwiększeniu. Zakres<br />

pracy jednomodowej, czyli długość<br />

fali zerowania się drugiego modu λ C<br />

w zasadzie<br />

nie ulega zmianie przy zmniejszaniu<br />

się wartości parametru |Δn’/Δn| oraz c<br />

i w związku z tym różnica λ ZD1<br />

– λ C<br />

ulega<br />

zwiększeniu. Wraz ze wzrostem szerokości<br />

oraz głębokości dipu zwiększeniu<br />

ulega promień oraz przekrój poprzeczny<br />

pola modu podstawowego (ω EFF<br />

, A EFF<br />

) natomiast<br />

zmniejsza się wartość parametru<br />

nieliniowego γ. W przypadku parametrów<br />

solitonowych to zmniejszaniu wartości<br />

parametru |Δn’/Δn| oraz c towarzyszy<br />

wzrost wartości mocy szczytowej P 0<br />

oraz<br />

amplitudy A 0<br />

solitonu podstawowego,<br />

a także zmniejszenie wartości długości<br />

dyspersyjnej L D<br />

i okresu solitonowego z 0<br />

.<br />

Porównując wyniki numeryczne zawarte<br />

w tab. 2 oraz 3, a także wykresy przedstawione<br />

na rys. 3 oraz 4 można stwierdzić,<br />

że zwiększanie szerokości dipu (zmniejszanie<br />

wartości parametru c) powoduje<br />

większe zmiany wartości zarówno parametrów<br />

modu podstawowego jak i para-<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Tab. 3. wartości parametrów modu HE 11<br />

oraz solitonu podstawowego w światłowodzie SP1 przy<br />

zwiększaniu głębokości dipu, podczas gdy jego szerokość była stała (rys. 4)<br />

Tabl. 3. Values of parameters of HE 11<br />

mode and fundamental soliton propagated inside M-profile<br />

optical fiber by increasing depth of the dip, while its width was constant (Fig. 4)<br />

Parametr Jednostka c=9 c=9 c=9 c=9 c=9 c=9 c=9<br />

Δn’/Δn – -8 -6 -5 -4 -3 -2 -1,5<br />

Δn – 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395<br />

V – 0,253 0,253 0,253 0,253 0,253 0,253 0,253<br />

b μm 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658<br />

ω EFF<br />

μm 1,871 1,872 1,873 1,875 1,878 1,885 1,891<br />

A EFF<br />

μm 2 10,99 11,01 11,03 11,05 11,09 11,16 11,23<br />

γ km -1 W -1 8,113 8,099 8,088 8,072 8,045 7,993 7,941<br />

λ C<br />

μm 1,469 1,469 1,469 1,469 1,469 1,469 1,469<br />

λ ZD1<br />

μm 1,460 1,457 1,455 1,453 1,451 1,451 1,456<br />

λ ZD1<br />

– λ C<br />

nm -9 -12 -14 -16 -18 -18 -13<br />

λ MAX<br />

μm 1,551 1,552 1,553 1,554 1,556 1,561 1,568<br />

λ ZD2<br />

μm 1,667 1,674 1,679 1,686 1,696 1,713 1,724<br />

D ps∙km -1 ∙nm -1 0,290 0,315 0,333 0,357 0,388 0,420 0,413<br />

β 2<br />

ps 2 ∙km -1 -0,370 -0,402 -0,424 -0,455 -0,495 -0,536 -0,527<br />

P 0<br />

mW 45,65 49,66 52,48 56,38 61,50 67,01 66,33<br />

A 0<br />

– 0,214 0,223 0,229 0,237 0,248 0,259 0,258<br />

L D<br />

km 2,700 2,487 2,356 2,197 2,021 1,867 1,899<br />

z 0<br />

km 4,241 3,906 3,700 3,451 3,175 2,933 2,982<br />

metrów solitonowych w porównaniu do zmian jakie powoduje<br />

zwiększanie głębokości dipu (zmniejszanie wartości parametru<br />

|Δn’/Δn|). Wynika z tego, że zwiększanie szerokości dipu ma<br />

bardziej niekorzystny wpływ na parametry modowe i solitonowe<br />

zoptymalizowanego zgodnie z [7] światłowodu skokowego<br />

niż zwiększanie głębokości dipu.<br />

Ponadto przy wzroście szerokości oraz głębokości dipu istnieje<br />

pewna progowa wartość po przekroczeniu której charakter<br />

krzywej dyspersyjnej ulega zmianie. Zmiana ta jest niekorzystna<br />

z punktu widzenia zakresu dyspersji anomalnej i liczby miejsc<br />

zerowych w zakresie od 1 do 2 μm. I tym razem niekorzystne<br />

zmiany charakterystyki dyspersyjnej zachodzą szybciej w przypadku<br />

zwiększania szerokości dipu niż przy zwiększaniu jego<br />

głębokości.<br />

Podsumowanie<br />

Wyniki modelowania dipu w światłowodzie skokowym przy pomocy<br />

modelu światłowodu dwuskokowego o profilu SP1 potwierdzają<br />

negatywny wpływ zarówno szerokości jak i głębokości<br />

dipu na parametry propagacyjne solitonu podstawowego.<br />

Z wyników obliczeń zamieszczonych w tabelach i z wykresów<br />

przestawionych na rysunkach wynika, że bardziej niekorzystnie<br />

na właściwości propagacyjne solitonu jasnego wpływa<br />

szerokość dipu niż jego głębokość. Wynika z tego, że mniej<br />

szkodliwy wpływ na pogorszenie właściwości propagacyjnych<br />

solitonu ma dip, którego głębokość jest większa niż szerokość.<br />

Warto podkreślić, że dip powstający w efekcie użycia metody<br />

MCVD do wytworzenia preformy ma<br />

takie właśnie korzystne proporcje, czyli<br />

głębokość dipu kilkakrotnie przewyższa<br />

jego szerokość. Wyniki uzyskane w niniejszym<br />

artykule w przypadku, gdy głębokość<br />

oraz szerokość dipu dążą do zera<br />

(tab. 1 przypadek Δn’/Δn = – 10 oraz<br />

c = 10) są zgodne z wynikami dotyczącymi<br />

zoptymalizowanego światłowodu skokowego<br />

zamieszczonymi w [7]. Może to<br />

świadczyć o poprawności zarówno równania<br />

wartości własnych dla światłowodu<br />

pierścieniowego pierwszego rodzaju jak<br />

i o poprawności wykonanych obliczeń,<br />

gdyż światłowód dwuskokowy o profilu<br />

SP1 staje się światłowodem skokowym po<br />

usunięciu pierwszego rdzenia, czyli dipu<br />

w światłowodzie skokowym. Wyniki przedstawione<br />

w [7] oraz w niniejszym artykule<br />

uzyskano przy wykorzystaniu dokładnych<br />

(a nie przybliżonych) równań wartości<br />

własnych dla modów hybrydowych HE mn<br />

,<br />

a nie liniowo spolaryzowanych LP mn<br />

.<br />

Literatura<br />

[1] Lewandowski J., Dziuda Ł., Jasiński P.:<br />

Mechanoakustyczny czujnik aktywności<br />

układu sercowo-naczyniowego, <strong>Elektronika</strong><br />

(LIII), nr 1/<strong>2012</strong>, s. 77–80.<br />

[2] Dziuda Ł. at all.: Czujnik czynności oddechowej<br />

oraz pracy serca oparty na<br />

światłowodowych siatkach Bragga, <strong>Elektronika</strong><br />

(LII), nr 8/2011, s. 98–106.<br />

[3] Romaniuk R.: Fotonika I inżynieria sieci<br />

Internet 2011, <strong>Elektronika</strong> (LII), nr 7/2011,<br />

s. 193–98.<br />

[4] Romaniuk R.: Rola optoelektroniki w Internecie przyszłości.<br />

Część 3, <strong>Elektronika</strong> (LII), nr 6/2011, s. 142–45.<br />

[5] Kaczmarek T.: Optimization of step index fiber for bright soliton<br />

propagation, 7 th International Conference New Electrical and<br />

Electronic Technologies and their Industrial Implementations<br />

NEET 2011, June 28 – July 1, Zakopane, (w druku).<br />

[6] Kaczmarek T.: Dostosowywanie światłowodu skokowego dla<br />

propagacji solitonów jasnych, Przegląd Telekomunikacyjny<br />

I Wiadomości Telekomunikacyjne, Nr 8–9/2011, 1062-7.<br />

[7] Kaczmarek T.: Single-Mode Step-Index Fiber as a Medium for<br />

Bright Soliton Propagation, XV Poznańskie Warsztaty Telekomunikacyjne<br />

PWT 2011, Poznań 9 grudnia 2011, 78–81.<br />

[8] Kaczmarek T.: Światłowód skokowy dedykowany dla propagacji<br />

solitonu jasnego, XII Konferencja Światłowody i Ich Zastosowania,<br />

14-17 października 2009, Krasnobród, str. 87–94.<br />

[9] Kaczmarek T.: Step index fiber modeling to soliton propagation,<br />

Advances in Electronics and Telecommunications, vol. 1 No. 2,<br />

November 2010, 59–62.<br />

[10] Kaczmarek T.: Zwarte równanie wartości własnych światłowodu<br />

dwuskokowego o dowolnym praktycznie użytecznym profilu<br />

współczynnika załamania, X Poznańskie Warsztaty Telekomunikacyjne<br />

PWT 2005, Poznań 8–9 grudnia 2005, str. 75–80.<br />

[11] Kaczmarek T.: Optimization of SP1-type double cladding fiber in<br />

order to ensure the propagation of bright solitons, Optical Fibers<br />

and Their Applications 2011, edited by Jan Dorosz, Ryszard S.<br />

Romaniuk, Proc. of SPIE Vol. 8010, 80100B1-8.<br />

[12] Press W.H. at all.: Numerical Recipes in Fortran 77, Cambridge<br />

University Press 1992, 104–107, 34–42.<br />

[13] Agrawal G.P.: Fiber-Optic Communication Systems, John Wiley<br />

& Sons, Third Edition, 2002, 7.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 61


Światłowody fotoniczne jako materiał na lasery<br />

światłowodowe ze zdefiniowanym stanem polaryzacji<br />

dr hab. Elżbieta Bereś-Pawlik 1 , prof. P.Wr. , mgr inż. Łukasz Sójka 1 , Michał Pilszak 1 ,<br />

Łukasz Pajewski 1 , dr hab. inż. Sławomir Sujecki 2 , dr Paweł Mergo 3 , mgr Krzysztof<br />

Poturaj 3 , mgr inż. Krzysztof Skorupski 3 , mgr inż. Jacek Klimek 3<br />

1<br />

Politechnika Wrocławska, <strong>Instytut</strong> Telekomunikacji, Teleinformatyki i Akustyki<br />

2<br />

University of Nottingham, George Green Institute for Electromagnetics Research, UK<br />

3<br />

Uniwersytet Marie Curie-Skłodowskiej, Pracownia Technologii Światłowodów, Lublin<br />

Lasery światłowodowe mają wiele zalet w porównaniu z półprzewodnikowymi,<br />

mają też więcej potencjalnych zastosowań w przemyśle<br />

i medycynie, w zastosowaniach, gdzie wymagane są wysokie<br />

wartości mocy wyjściowej sygnału lasera lub korzystne jest wyjście<br />

światłowodowe sygnału [1–3]. W ostatnich latach szczególnie interesujące<br />

wydają się być konstruowane lasery z wykorzystaniem<br />

włókien fotonicznych, utrzymujących polaryzację [4, 5]. W pracy<br />

zostaną przedstawione zagadnienia związane z uzyskaniem stabilnych<br />

sygnałów w laserach światłowodowych, także z możliwością<br />

przestrajania tych sygnałów w laserach światłowodowych pracy<br />

ciągłej, opartych na włóknach utrzymujących polaryzację PM (Polarization<br />

Maintaining), fotonicznych, PCF (Photonic Crystal Fiber),<br />

wytworzone w Pracowni Technologii Światłowodów UMCS.<br />

Światłowody fotoniczne domieszkowane<br />

jonami erbu i neodymu<br />

Poniżej przedstawiono przykładowe struktury światłowodów mikrostrukturalnych<br />

domieszkowanych jonami erbu PM-Er-PCF<br />

i neodymu HB-Nd-MOF, wytworzone w Pracowni Technologii<br />

Światłowodów. Światłowody te po wstępnych pomiarach i procesach<br />

optymalizacyjnych były wykorzystane w budowie laserów<br />

światłowodowych.<br />

Rys. 1. Przekrój włókna fotonicznego, domieszkowanego jonami<br />

erbu, PM-Er-PCF<br />

Fig. 1. Cross-section of the erbium ion doped photonic crystal fiber,<br />

PM-Er-PCF<br />

wiących strukturę fotoniczną) wokół domieszkowanego rdzenia.<br />

Rdzeń był wykonany konwencjonalną techniką MCVD uzupełnioną<br />

o proces domieszkowania na mokro jonami aktywnymi. Włókno<br />

przedstawione na rysunku 1 domieszkowano jonami erbu,<br />

a na rys. 2 jonami neodymu. Dodatkowo dla zabezpieczenia<br />

przed klasterowaniem jonów aktywnych oba włókna domieszkowano<br />

glinem. W celu umożliwienia zapisu siatek Bragga włókno<br />

przedstawione na rys. 1 domieszkowano germanem. Zwiększenie<br />

wartości współczynnika załamania, w domieszkowanym rdzeniu,<br />

skompensowano przez domieszkowanie fluorem. W konsekwencji<br />

średni współczynnik załamania rdzenia włókna przedstawionego<br />

na rysunku 1 jest zbliżony do wartości współczynnika załamania<br />

czystego szkła krzemionkowego. Światłowód przedstawiony<br />

na rys. 2 nie zawiera domieszek: germanu i fluoru. Średni współczynnik<br />

załamania rdzenia tego włókna jest nieznacznie wyższy<br />

od współczynnika załamania czystego szkła krzemionkowego.<br />

Pomiary absorpcji i emisji domieszkowanych<br />

włókien<br />

Kluczowymi parametrami niezbędnymi dla scharakteryzowania<br />

włókien domieszkowanych lantanowcami są przekroje czynne<br />

absorpcji i emisji. Widma absorpcyjne włókien mierzone były<br />

z wykorzystaniem źródła światła białego AQ4305 pracującego dla<br />

długości fali 400…1800 nm oraz analizatora spektrum optycznego<br />

ANDO AQ6370C. Do pomiaru wykorzystano 1,5 metrowy odcinek<br />

światłowodu domieszkowany jonami erbu oraz 5-metrowy<br />

odcinek światłowodu domieszkowanego jonami neodymu. Widma<br />

emisyjne mierzone były przy użyciu diody laserowej 980nm<br />

dla krótkiego odcinka włókna PM-Er-PCF oraz diody 808 nm dla<br />

krótkiego odcinka światłowodu HB-Nd-MOF i analizatora widma<br />

optycznego. Otrzymane widma absorpcyjne i emisyjne aproksymowane<br />

były sumami funkcji Gaussa.<br />

Widma przekrojów czynnych absorpcji otrzymane były zgodnie<br />

z teorią Ladenburga-Fuchbauera. Przykładowe obliczone<br />

przekroje czynne emisji są zaprezentowane na rys. 3 i 4 [6, 7].<br />

Rys. 2. Przekrój włókna fotonicznego domieszkowanego jonami neodymu<br />

HB-Nd-MOF<br />

Fig. 2. Cross-section of the neodymium ion doped photonic crystal<br />

fiber, HB-Nd-MOF<br />

Charakterystyki światłowodów PCF<br />

domieszkowanych jonami erbu i neodymu<br />

Włókna fotoniczne PM-Er-PCF i HB-Nd-MOF były wytworzone<br />

dobrze znaną i powszechnie wykorzystywaną metodą składania<br />

i wyciągania. Wykonano je przez umieszczenie kapilar (stano-<br />

Rys. 3. Przekrój czynny emisji światłowodu domieszkowanego jonami<br />

erbu<br />

Fig. 3. Emission cross- section of the erbium ion doped fiber<br />

62<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Na kolejnych rysunkach przedstawiono sygnały uzyskiwane<br />

z tego lasera: na rys. 7, sygnał jednofalowy o stałej wartości<br />

mocy, niezmiennej w czasie. Na rys. 8 przedstawiono widmo<br />

przestrajalne, uzyskane poprzez obrót polaryzatora wewnątrz<br />

wnęki lasera.<br />

Rys. 4. Przekrój czynny emisji dla włókna domieszkowanego jonami<br />

neodymu<br />

Fig. 4. Emission cross- section of the neodymium ion doped fiber<br />

Obliczenie całki pokrycia<br />

W celu znalezienia optymalnej długości włókna dla budowy lasera<br />

światłowodowego, przy znajomości parametrów przekrojów<br />

czynnych absorpcji i emisji należało obliczyć całkę pokrycia dla<br />

pompy i sygnału ze znajomości koncentracji jonów i czasów życia<br />

na poziomach energetycznych badanego pierwiastka. Wykonano<br />

odpowiednie obliczenia, a na rys. 5 zaprezentowano wynik, zależność<br />

całki pokrycia od długości fali dla światłowodu fotonicznego<br />

domieszkowanego jonami erbu oraz standardowego włókna<br />

jednomodowego domieszkowanego erbem.<br />

Rys. 7. Stabilność wyjściowego sygnału lasera w funkcji czasu. Pomiary<br />

wykonywano co 10 minut przez jedną godzinę<br />

Fig. 7. Stability of input laser signal in time function. Measurements<br />

were made in 10 minute intervals for one hour<br />

Rys. 5. Obliczona całka pokrycia w funkcji długości fali dla wybranych<br />

światłowodów<br />

Fig. 5. Calculated overlap factor for chosen fibers in wavelength function<br />

Budowa laserów światłowodowych<br />

Poniżej przedstawiono układ lasera światłowodowego z wykorzystaniem<br />

włókna fotonicznego domieszkowanego jonami erbu<br />

(rys. 6).<br />

Rys. 6. Układ lasera pierścieniowego z polaryzatorem umieszczonym<br />

wewnątrz rezonatora<br />

Fig. 6. Set-up ring laser with polarizer inside resonator<br />

Rys. 8. Przestrajanie sygnału wyjściowego lasera<br />

Fig. 8. Tuned output laser spectrum<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 63


a po ich zakończeniu zbudowano lasery światłowodowe z wykorzystaniem<br />

tych włókien. Prezentowane lasery charakteryzowały<br />

się bardzo dobrą stabilnością pracy. Dodatkowo pokazano,<br />

ze zastosowane włókna fotoniczne mają lepsze parametry<br />

konstrukcyjne niż tradycyjne, przy zastosowaniu w budowie laserów<br />

światłowodowych. Zaprezentowano przestrajanie widma<br />

wielofalowego w budowanych laserach. Określono możliwy do<br />

uzyskania zakres przestrajania widma badanych laserów światłowodowych.<br />

Literatura<br />

Rys. 9. Widmo laserowania wielofalowego uzyskane dla włókna domieszkowanego<br />

jonami neodymu<br />

Fig. 9. Multiwavelength laser action spectrum achieved for neodymium<br />

ion doped fiber<br />

Zbudowano laser światłowodowy typu liniowego z wykorzystaniem<br />

włókna fotonicznego, domieszkowanego neodymem. Widmo<br />

promieniowania wielofalowego przedstawiono na rys. 9.<br />

Podsumowanie<br />

W pracy przedstawiono włókna fotoniczne domieszkowane,<br />

o strukturach nieznanych w świecie. Prezentowane włókna wykorzystano<br />

do przeprowadzenia procedur optymalizacyjnych,<br />

[1] Yoon-Chan Jeong et all.: High-power air-clad large-mode-area<br />

photonic crystal fiber laser, Optics Express, Vol. 11, Issue 7, 2003,<br />

pp. 818–823.<br />

[2] Limpert J. et all.: Extended single-mode photonic crystal fiber lasers,<br />

Optics Express, Vol. 14, Issue 7, (2006), pp. 2715–2720.<br />

[3] Limpert J. et all.: High-power air-clad large-mode-area photonic crystal<br />

fiber laser, Optics Express, Vol. 11, Issue 7, (2003), pp. 818–823.<br />

[4] Kazunori Suzuki et all.: Optical properties of a low-loss polarizationmaintaining<br />

photonic crystal fiber, Optics Express, Vol. 9, Issue 13,<br />

2001, pp. 676–680.<br />

[5] Xumenig Liu et all.: Swichable and Tunable Multiwavelength Erbium-<br />

Doped Fiber Laser With Fiber Bragg Gratings and Photonic Crystal<br />

Fiber, IEEE Photonics Technology Letters, vol.17, No 8, 2005,<br />

pp. 1626–1628.<br />

[6] Sojka L. et all.: Polarization-Maintaining Erbium Doped Photonic<br />

Crystal Fiber, Laser Physics 22, <strong>2012</strong>, pp. 240–247.<br />

[7] Strek W. et all.: Optical properties of Nd 3+ doped silica fibers obtained<br />

by sol-gel method, Journal of Alloys and Compounds, 300, 2000,<br />

pp. 459–463.<br />

Technologia wytwarzania i pomiary absorpcji szkieł<br />

chalkogenidkowych domieszkowanych jonami ziem rzadkich<br />

mgr inż Łukasz Sójka 1,2 , prof. Elżbieta Bereś-Pawlik 1 , dr Zhuogi Tang 2 ,<br />

dr David Furniss 2 , prof. Angela Beth Seddon 2 , prof. Trevor Mark Benson 2 ,<br />

dr hab. Sławomir Sujecki 2<br />

1<br />

Politechnika Wrocławska, <strong>Instytut</strong> Telekomunikacji, Teleinformatyki i Akustyki,<br />

2<br />

University of Nottingham, George Green Institute for Electromagnetics Research,, University Park, UK<br />

Jednym z podstawowych problemów współczesnej fotoniki jest<br />

opracowanie efektywnych źródeł światła pracujących w zakresie<br />

średniej podczerwieni. Potencjalne źródła światła pracujące<br />

w tym zakresie mogą znaleźć wiele zastosowanie w branży medycznej<br />

oraz czujnikowej.<br />

Źródła pracujące w tym zakresie powinny się charakteryzować<br />

prostą konstrukcją, wysoką efektywnością, niezawodnością,<br />

przystępną ceną, dobrą jakością wiązki wyjściowej.<br />

Jednym z urządzeń, które spełniają te wymagania są lasery<br />

światłowodowe [1–3]. Sygnały generowane przez obecnie lasery<br />

światłowodowe oparte na szkle krzemionkowym oraz fluorkowym<br />

mogą pokryć zakres długości fali do około 3 µm. Barierą<br />

technologiczną która blokuje konstrukcje laserów światłowodowych<br />

powyżej 3 µm jest wysoka energia fononów szkła krzemionkowego<br />

(1100 cm -1 ) oraz szkła fluorkowego (560 cm -1 ) [4,<br />

5]. W celu osiągnięcia emisji powyżej 3 µm potrzebne jest szkło<br />

charakteryzujące się niską energią fononów. Jednym z materiałów<br />

który może spełnić to wymaganie jest szkło chalkogenidkowe.<br />

Szkła te charakteryzują się niską energią fononów poniżej<br />

400 cm -1 co predysponuje je do osiągnięcia emisji powyżej<br />

3 µm [6–9].<br />

Szkła chalkogenidkowe są to szkła oparte na materiałach z 16<br />

grupy układu okresowego pierwiastków tj. S (siarka), Se (Selen)<br />

oraz Te (Tellur), elementy te wraz z elementami z 14 oraz 15 grupy<br />

układu okresowego tj Ge (German), As (Arsen), Sb (Antymon),<br />

64<br />

Ga (Gal) tworzą stabilne szkła optyczne. Najprostsze dwuskładnikowe<br />

konfiguracje szkieł chalkogenidkowych to np. AsS oraz<br />

AsSe. Bardziej skomplikowane kilku składnikowe konfiguracje to<br />

np. GeAsS, GeAsSe, GeAsTe oraz GeGaAsSe. Generalny zakres<br />

transmisji dla szkieł opartych na S (Siarce) to 0,7…10 µm,<br />

na Se (Selenie) 1…16 µm oraz na Te (Tellurze) 2…20 µm. Oczywiście<br />

zakres transmisji może ulec zmianie w zależności od ostatecznego<br />

składu szkła.<br />

W pracy przeanalizujemy wyniki dla szkła domieszkowanego<br />

jonami ziem rzadkich (Dy 3+ , Pr 3+ , Tb 3+ ) o składzie GeGaAsSe.<br />

Konfiguracja ta została wybrana na drodze eksperymentalnej.<br />

Dodatek trójwartościowego Ga (Galu) znacznie zwiększa możliwość<br />

domieszkowania jonami ziem rzadkich.<br />

Domieszkowane szkła chalgodenidkowe charakteryzują się<br />

wysokimi wartościami przekrojów czynnych absorpcji oraz emisji,<br />

transparentnością dla pompy oraz sygnału, odpowiednio długimi<br />

czasami życia poziomów energetycznych, szerokim zakresem<br />

absorpcji oraz emisji i dużymi wartościami współczynników rozgałęzienia<br />

fotoluminescencji (Beta). Te czynniki predysponują<br />

je jako dobry materiał do konstrukcji laserów światłowodowych<br />

w zakresie średniej podczerwieni [6–9].<br />

W artykule przeanalizujemy również wyniki eksperymentalne<br />

uzyskane z szkieł chalkogenidkowych (GeGaAsSe) domieszkowanych<br />

jonami Dy 3+ , Pr 3+ , Tb 3+ . Zaprezentujemy możliwość<br />

uzyskania efektywnej akcji laserowej dla tych szkieł.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Technologia wytwarzania szkieł<br />

chalkogenidkowych<br />

Szkła GeGaAsSe o różnym stopniu domieszkowania (500,1000,<br />

1500 ppm) jonami Dy 3+ , Pr 3+ , Tb 3+ zostały wytworzone za pomocą<br />

techniki „melting-quenching”. Proces przygotowania szkieł<br />

odbywał się w obojętnej azotowej atmosferze przy śladowych<br />

ilościach tlenu oraz wody (≤ 0,1 ppm O 2<br />

, ≤ 0,1 ppm H 2<br />

O;).<br />

Wszystkie składniki używane do produkcji szkła były to składniki<br />

najwyższej czystości. Se oraz As były także dodatkowo<br />

oczyszczane przed procesem przygotowania szkła. Przykładowy<br />

walec szklany domieszkowany 500 ppm Pr 3+ został pokazany<br />

na rys. 1.<br />

współczynnik absorpcji/cm -1<br />

2.2<br />

2.0<br />

1.8<br />

1.6<br />

1.4<br />

1.2<br />

1.0<br />

1.0x10 -6 2.0x10 -6 3.0x10 -6 4.0x10 -6 5.0x10 -6 6.0x10 -6 7.0x10 -6<br />

długość fali/m<br />

Rys. 2. Absorpcja 1000 ppm Pr 3+ z wyznaczoną linią bazową<br />

Fig. 2. Absorption spectrum of Pr 3+ with the baseline<br />

1.0<br />

0.8<br />

Rys. 1. Domieszkowany jonami Pr 3+ walec szkła chalkogenidkowego<br />

Fig. 1. Praseodymium doped chalcogenide glass rod bulk sample<br />

Charakterystyka parametrów absorpcyjnych<br />

W celu przygotowania próbek do pomiarów spektrometrem typu<br />

FTIR (Spektroskopia Fourierowska w zakresie podczerwieni)<br />

z wytworzonych walców szklanych zostały wycięte 3 mm dyski<br />

szklane. Wycięty dysk szklany został poddany szlifowaniu oraz<br />

polerowaniu. Tak przygotowane próbki używane były do pomiarów<br />

spektroskopowych w zakresie 0,6…10 µm. Do pomiarów został<br />

użyty spektrometr Bruker IFS 66/S, źródło szeroko pasmowe<br />

typu Glovbar, pryzmat światło dzielący KBr oraz szerokopasmowy<br />

detektor typu DTGS.<br />

Wyniki eksperymentalne<br />

Opierając się na wynikach pomiaru absorpcji oraz obliczając<br />

wartości pól w obszarze pików absorpcyjnych mogą zostać wyznaczone<br />

parametry spektroskopowe domieszkowanych szkieł<br />

za pomocą analizy Judd-Ofelta. W celu minimalizacji błędów<br />

obliczenia obszarów pól absorpcyjnych, wyniki absorpcji otrzymane<br />

przy wykorzystaniu spektroskopu FTIR, zostały skorygowane<br />

o tak zwane linie bazowe. Linie bazowe wyznaczono<br />

przez wybranie około 40 punktów z pomierzonego spektrum<br />

absorpcyjnego, następnie wyznaczano przebieg funkcji, przechodzących<br />

przez wybrane punkty i aproksymowanych za pomocą<br />

wielomianów.<br />

Przykład tej procedury pokazano na rys. 2 i 3. Rysunek 2 jest<br />

to wynik pomiarów otrzymanych bezpośrednio z FTIR, czerwona<br />

linia symbolizuje linię bazową wyznaczoną dla tych pomiarów.<br />

Rysunek 3 otrzymano przez odjęcie wartości linii bazowej od rzeczywistych<br />

pomiarów. Procedura opisana powyżej jest kluczowa<br />

dla dokładności analizy Judd-Ofelta, ponieważ źle dobrana linia<br />

bazowa daje błędne wyniki pól pod krzywymi absorpcyjnymi od<br />

których zależą wyniki analizy Judd-Ofelta.<br />

Wyniki pomiarów absorpcji dla próbek domieszkowanych<br />

1000 ppm Dy 3+ , Pr 3+ oraz Tb 3+ zostały zaprezentowane kolejno<br />

na rys. 4, 5, 6.<br />

współczynnik absorpcji/cm -1<br />

współczynnik absorpcji/cm -1<br />

0.6<br />

0.4<br />

0.2<br />

0.0<br />

0.8<br />

0.6<br />

0.4<br />

0.2<br />

0.0<br />

1.0x10 -6 2.0x10 -6 3.0x10 -6 4.0x10 -6 5.0x10 -6 6.0x10 -6<br />

długość fali/m<br />

Rys. 3. Absorpcja 1000 ppm Pr 3+ po odjęciu lini bazowej<br />

Fig. 3. Absorption spectrum of 1000 ppm Pr 3+ after subtraction the<br />

baseline<br />

1.0x10 -6 2.0x10 -6 3.0x10 -6 4.0x10 -6<br />

długość fali/m<br />

Rys. 4. Spektrum absorpcyjne szkła chalkogenidkowego domieszkowanego<br />

1000 ppm Dy 3+<br />

Fig. 4. Absorption spectrum chalcogenide glass doped with 1000<br />

ppm Dy 3+<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 65


1.0<br />

0.30<br />

współczynnik absorpcji/cm -1<br />

0.8<br />

0.6<br />

0.4<br />

0.2<br />

współczynnik absorpcji/cm -1<br />

0.25<br />

0.20<br />

0.15<br />

0.10<br />

0.05<br />

0.0<br />

2.0x10 -6 4.0x10 -6 6.0x10 -6<br />

długość fali/m<br />

0.00<br />

1.0x10 -6 2.0x10 -6 3.0x10 -6 4.0x10 -6 5.0x10 -6 6.0x10 -6<br />

długość fali/m<br />

Rys. 5. Spektrum absorpcyjne szkła chalkogenidkowego domieszkowanego<br />

1000 ppm Pr 3+<br />

Fig. 5. Absorption spectrum chalcogenide glass doped with 1000<br />

ppm Pr 3+<br />

Obliczone parametry Judd-Ofelta dla szkieł chalkogenidkowych<br />

domieszkowanych jonami ziem rzadkich Dy 3+ , Pr 3+ oraz Tb 3+<br />

zostały zaprezentowane w tabeli.<br />

Obliczone parametry Judd-Ofelta dla szkła typu Ge 16.5<br />

As 16<br />

Ga 3<br />

Se 64.5<br />

, domieszkowanego<br />

jonami Dy 3+ , Pr 3+ oraz Tb 3+<br />

Calculated Judd-Ofelt parameters for Ge 16.5<br />

As 16<br />

Ga 3<br />

Se 64.5<br />

glass doped with<br />

Dy 3+ , Pr 3+ and Tb 3+<br />

Ω 2<br />

(10 -20 cm 2 ) Ω 4<br />

(10 -20 cm 2 ) Ω 6<br />

(10 -20 cm 2 )<br />

Dy 3+ 8,59 2,23 2,19<br />

Pr 3+ 9,77<br />

Tb 3+ 7,63<br />

6,10<br />

5,79<br />

6,73<br />

2,21<br />

Analizując uzyskane wyniki pomiarów absorpcji możemy<br />

stwierdzić że szkła chalkogenidkowe charakteryzują się szerokimi<br />

oraz wysokimi pikami absorpcyjnymi z zakresu bliskiej podczerwieni<br />

oraz średniej podczerwieni. Na podstawie tych wyników<br />

można stwierdzić, że pasma absorpcyjne znajdujące się w zakresie<br />

bliskiej podczerwieni mogą być wykorzystane do pompowania<br />

optycznego za pomocą szeroko dostępnych diod laserowych<br />

oraz laserów na ciele stałym. Silne pasma absorpcyjne znajdujące<br />

się w zakresie średniej podczerwieni sugerują, że istnieje<br />

także możliwość emisji w tym zakresie, ponieważ procesy emisji<br />

oraz absorpcji są proporcjonalne.<br />

Rys. 6. Spektrum absorpcyjne szkła chalkogenidkowego domieszkowanego<br />

1000 ppm Tb 3+<br />

Fig. 6. Absorption spectrum of chalcogenide glass doped with1000<br />

ppm Tb 3+<br />

Podsumowanie<br />

Wytworzone zostały domieszkowane szkła chalkogenidkowe. Została<br />

przeprowadzona optyczna charakteryzacja za pomocą spektroskopu<br />

FTIR. Na podstawie uzyskanych wyników zostały obliczone<br />

parametry Judd-Ofelta. Wyniki eksperymentu oraz obliczone<br />

parametry Judd-Ofelta sugerują że domieszkowane szkła chalkogenidkowe<br />

mogą być dobrym kandydatem do konstrukcji laserów<br />

światłowodowych pracujących w zakresie średniej podczerwieni.<br />

Literatura<br />

[1] Wójcik J. i in.: Światłowody fotoniczne ze szkła kwarcowego domieszkowane<br />

pierwiastkami ziem rzadkich, Przegląd Elektrotechniczny 86,<br />

2010, 140–142.<br />

[2] Dominik D. i in.: Światłowody aktywne ze szkieł fosforowych, <strong>Elektronika</strong><br />

49, 2008, 98–101.<br />

[3] Pichola W. i in.: Układ zasilania i sterowania impulsowej diody laserowej<br />

z rozłożonym sprzężeniem zwrotnym pracującej w paśmie<br />

widmowym bezpiecznym dla wzroku, <strong>Elektronika</strong>, 53, <strong>2012</strong>, 77–80.<br />

[4] Klimczak M. i in.: Badanie emisji krótkofalowej w domieszkowanych<br />

jonami Nd3+ szkłach niskofononowych, <strong>Elektronika</strong>, 49, 2008 52–56.<br />

[5] Wójcik J.: Technologia włókien fotonicznych z zawieszonym rdzeniem<br />

do konstrukcji czujników światłowodowych, <strong>Elektronika</strong> 49, 2008,<br />

224–226.<br />

[6] Seddon A.B et all.: Progress in rare-earth mid-infrared fiber laser,<br />

Opt. Exp. 18, 2010, 26704.<br />

[7] Show L. B. et all.: Mid-wave IR and long-wave IR laser potential of<br />

rare-earth doped chalcogenide glass fiber, IEEE J. Quantum. Electron,<br />

37, 2001, 1127.<br />

[8] Sujecki S. et all.: Modelling of a simple Dy3+ doped chalcogenide<br />

glass fiber for mid-infrared light generation, Opt. Quantum Electron,<br />

42, 2010, 69.<br />

[9] Sójka Ł. et all.: Study of mid-infrared laser action in chalcogenide<br />

rare-earth doped glass with Dy3+, Pr3+ and Tb3+, Opt. Mater. Express<br />

2, <strong>2012</strong>, 1632–1640.<br />

Przypominamy o prenumeracie miesięcznika <strong>Elektronika</strong> na 2013 r.<br />

66<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Światłowodowy czujnik siły bazujący na interferometrze<br />

Sagnaca z dwójłomnym światłowodem fotonicznym<br />

dr inż. Cezary Kaczmarek<br />

Politechnika Lubelska, <strong>Instytut</strong> Elektroniki i Technik Informacyjnych<br />

Interferometr Sagnaca zawierający odcinek światłowodu dwójłomnego<br />

ma wiele właściwości, które czynią go podzespołem<br />

o szerokim zastosowaniu zarówno w telekomunikacji jak<br />

i w sensoryce światłowodowej. Jedną z tych właściwości jest<br />

niezależność od polaryzacji wejściowej wiązki światła. Inną jest<br />

periodyczność widma wiązki wyjściowej i odbitej interferometru,<br />

którego okres zależy od długości odcinka światłowodu dwójłomnego,<br />

a nie od długości pętli. Interferometr Sagnaca ze światłowodem<br />

dwójłomnym jest wykorzystywany w telekomunikacji<br />

optycznej jako filtr WDM [1]. W sensoryce podzespół ten ma<br />

zastosowanie jako czujnik wielu wielkości fizycznych i chemicznych<br />

[2, 3] oraz jako dyskryminator długości fali dla czujników<br />

z siatkami Bragga [4].<br />

Zastosowanie w interferometrze Sagnaca dwójłomnego<br />

światłowodu fotonicznego zamiast konwencjonalnego światłowodu<br />

dwójłomnego, radykalnie poprawia parametry metrologiczne<br />

i użytkowe tego podzespołu. Ta poprawa wynika z właściwości<br />

dwójłomnych światłowodów fotonicznich, głównie<br />

bardzo małego wpływu zmian temperatury i znacząco większej<br />

dwójłomności modowej w porównaniu z konwencjonalnymi<br />

światłowodami dwójłomnymi. Dla interferometru ze światłowodem<br />

dwójłomnym produkowanego przez Blaze-Photonics<br />

zmiany okresu widma pod wpływem zmian temperatury wynoszą<br />

0,05 pm/K, natomiast przesunięcie widma pod wpływem<br />

zmian temperatury wynosi 0,25...0,3 pm/K [5, 6]. Duża wartość<br />

dwójłomności światłowodów fotonicznych pozwala znacząco<br />

zredukować ich wymaganą długość w czujnikach z interferometrem<br />

Sagnaca.<br />

W artykule przedstawiono czujnik siły o zakresie 0...50 N,<br />

w układzie interferometru Sagnaca z dwójłomnym światłowodem<br />

fotonicznym typu PM-1550-01 wyprodukowanym przez Blaze-Photonics.<br />

Zmierzona czułość wykonanego czujnika wynosi<br />

33 pm/N.<br />

Układ optyczny i sposób działania czujnika<br />

Na rysunkach 1 i 2 przedstawiono układ optyczny czujnika,<br />

sposób instalacji światłowodu fotonicznego i fotografię jego<br />

przekroju poprzecznego. Układ optyczny czujnika zawiera<br />

3-decybelowy sprzęgacz wykonany z konwencjonalnego<br />

światłowodu telekomunikacyjnego, odcinek utrzymującego<br />

polaryzację światłowodu fotonicznego PM-PCF oraz kontroler<br />

polaryzacji. Sprzęgacz 3 dB dzieli wejściową wiązkę światła<br />

na dwie równe amplitudowo wiązki propagujące w przeciwnych<br />

kierunkach. Wiązki te, po przejściu pętli, w tym światłowodu<br />

dwójłomnego, rekombinują w sprzęgaczu, tworząc obraz interferencyjny<br />

zależny od różnicy faz modów polaryzacji powstałych<br />

w odcinku PM-PCF. Elementem sprężystym czujnika jest<br />

Rys. 1. Czujnik siły: układ optyczny i przekrój poprzeczny dwójłomnego<br />

światłowodu fotonicznego PM-1550-01<br />

Fig. 1. Force sensor: optical configuration and cross section of the<br />

PM-1550-01 PM-PCF<br />

Rys. 2. Czujnik siły: sposób mocowania światłowodu<br />

Fig. 2. Force sensor: method of fixing the fiber<br />

jednostronnie utwierdzona belka o stałej wytrzymałości, której<br />

swobodny koniec przejmuje mierzoną siłę.<br />

Odcinek światłowodu PM-PCF jest przymocowany jednym końcem<br />

do górnej powierzchni mocowania belki, a drugim końcem do<br />

punktu belki w pobliżu jej końca przejmującego mierzona siłę. Mie-<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 67


zona siła wywołuje sprężyste ugięcie belki i w konsekwencji odkształcenie<br />

rozciągające światłowodu. Proponowane mocowanie<br />

światłowodu zapewnia kilkakrotnie większą czułość przetwarzania<br />

siły, w porównaniu z tradycyjnym jego mocowaniem na powierzchni<br />

belki oraz pozwala na stosownie również belek o jednakowej<br />

szerokości jako elementów sprężystych w tych czujnikach.<br />

Współczynnik transmisji T(λ) pętli Sagnaca ze światłowodem<br />

przenoszącym polaryzację jest periodyczną funkcją długości fali,<br />

daną wzorem [7]:<br />

T λ = 1−<br />

cos δ /<br />

(1)<br />

gdzie δ jest różnicą faz składowych polaryzacji propagujących<br />

w światłowodzie przenoszącym polaryzację o długości L, którą<br />

określa zależność δ = (2π/λ) B L, przy czym B i λ oznaczają odpowiednio<br />

modową dwójłomność fazową i długość fali.<br />

Okres funkcji T(λ) odpowiadający zmianie różnicy faz składowych<br />

polaryzacji równej δ = 2π określa zależność:<br />

2<br />

λ<br />

∆λ<br />

=<br />

(2)<br />

GL<br />

gdzie G oznacza modową dwójłomność grupową.<br />

Zmianę fazy δ powodowaną odkształceniem ε odcinka światłowodu<br />

PM-PCF można zapisać w postaci wzoru:<br />

2π<br />

∆δ<br />

= ( ∆L<br />

⋅ B + L ⋅ ∆B)<br />

(3)<br />

λ<br />

gdzie ΔL = εL. Ta zmiana fazy wywołuje przesunięcie widma T(λ),<br />

przy czym przesunięcie to wyniesie pełny okres, gdy:<br />

π<br />

2π<br />

= 2 ( ∆L<br />

⋅ B + L ⋅ ∆B)<br />

(4)<br />

λ<br />

Przesunięcie widma wywołane odkształceniem światłowodu<br />

dwójłomnego można zapisać na podstawie równania (4) w postaci<br />

relacji:<br />

L ⋅ ∆λ<br />

⎛ dB ⎞<br />

dλ<br />

= ⎜ B + ⎟ε<br />

λ ⎝ dε ⎠ (5)<br />

Odkształcenie światłowodu dwójłomnego zainstalowanego<br />

w czujniku siły można wyznaczyć na podstawie następujących<br />

zależności obowiązujących dla belki o jednakowej wytrzymałości.<br />

Dla belki o długości l, grubości h oraz szerokości b utwierdzonego<br />

końca, strzałkę ugięcia belki pod wpływem działania siły skupionej<br />

na jej swobodny koniec opisuje zależność [8]:<br />

3<br />

6l<br />

f =<br />

3<br />

(6)<br />

bh E<br />

gdzie E oznacza moduł Younga materiału belki. Równanie linii<br />

ugięcia belki dane jest wzorem:<br />

2<br />

⎛ 2x<br />

x ⎞<br />

y = f ⎜ ⎟<br />

1−<br />

+<br />

2<br />

(7)<br />

⎝ l l ⎠<br />

Dla ustalonej wartości x ugięcie belki y można zapisać w postaci:<br />

<br />

y<br />

1<br />

= af<br />

(8)<br />

gdzie a jest liczbą. Wydłużenie światłowodu wywołane ugięciem<br />

belki w punkcie jego mocowania wynosi:<br />

<br />

∆l<br />

= y<br />

(9)<br />

1<br />

sin α<br />

gdzie α jest kątem pomiędzy światłowodem a belką. Zatem<br />

odkształcenie światłowodu po uwzględnieniu (6), (8) i (9) wynosi:<br />

68<br />

( ) [ ( )] 2<br />

∆L<br />

6al<br />

3 sin α<br />

ε = = F<br />

(10)<br />

2<br />

L bELh<br />

Uwzględniając zależność (10) wyrażenie (5) przyjmuje postać:<br />

<br />

(11)<br />

Na podstawie relacji (11) można wyznaczyć zależność na czułość<br />

czujnika odkształcenia K f<br />

= dλ/dF<br />

<br />

L ⋅ ∆λ<br />

⎛ dB ⎞ 6al<br />

3 sin α<br />

λ = ⎜ B + ⎟ F<br />

λ ⎝ dε ⎠ bELh<br />

d<br />

2<br />

dλ<br />

dF<br />

L ⋅ ∆λ<br />

⎛ dB ⎞ 6al<br />

3 sin α<br />

= ⎜ B + ⎟<br />

2<br />

λ ⎝ dε ⎠ bELh<br />

(12)<br />

Z zależności (12) wynika, że dla niewielkich zmian długości<br />

fali, czułości oraz małego kąta α, K f<br />

można traktować jako<br />

stałą. Równanie przetwarzania czujnika siły można zapisać<br />

w postaci:<br />

λ λ + K F<br />

(13)<br />

= 0<br />

gdzie λ 0<br />

oznacza długość fali dla czujnika nie obciążonego.<br />

Do budowy czujnika wykorzystano odcinek dwójłomnego<br />

światłowodu fotonicznego PM-1550-01 o długości 350 mm.<br />

Światłowód ten ma nie cylindryczny rdzeń otoczony otowrami<br />

z powietrzem, z których dwa przy rdzeniu mają średnice większe<br />

od pozostałych. Przekrój światłowodu pokazano na fotografii zamieszczonej<br />

na rys 1.<br />

Podstawowe parametry tego światłowodu są następujące:<br />

rozmiary pól modowych wynoszą 3,6 μm na 3,1 μm, grupowa<br />

dwójłomność modowa dla długości fali 1,55 μm wynosi<br />

8,65×10 -4 , średnica światłowodu 125 μm, średnica pokrycia<br />

230 μm. Odcinek światłowodu PM-PCF został połączony<br />

z resztą układu przy pomocy złączy spawanych. Do spawania<br />

zastosowano konwencjonalną spawarkę wykorzystującą łuk<br />

elektryczny.<br />

Ze względu na niedopasowanie pól modowych i apertur numerycznych<br />

jednomodowego światłowodu SMF-28 i światłowodu<br />

PM-1550-01, starty na spawanych złączach są duże i wynoszą<br />

na dwóch złączach ≈ 6 dB. Straty te można zmniejszyć optymalizując<br />

proces spawania. Tak znaczne straty w układzie optycznym<br />

czujnika nie wpływają na jego dokładność przetwarzania<br />

ze względu na to, że sygnałem wyjściowym tego czujnika jest<br />

długość fali. Jako źródło światła w czujniku zastosowano diodę<br />

elektroluminescencyjną o centralnej długości fali 1522 nm, 3 dB<br />

paśmie 60 nm i nie spolaryzowanej wiązce wyjściowej. Pomiar<br />

widma wiązki transmitowanej czujnika wykonano analizatorem<br />

widma optycznego.<br />

Pomiary charakterystyk czujnika<br />

Pomiary charakterystyk czujnika przeprowadzono w układzie<br />

przedstawionym na rysunku 1. Zadawanie siły statycznej wykonywano<br />

przez obciążanie czujnika odważnikami o znanej<br />

masie. Zmiany widma wiązki wyjściowej czujnika pod wpływem<br />

obciążania go siłami o różnych wartościach przedstawiono na<br />

rysunku 3.<br />

Wzrost siły działającej na czujnik powoduje przesunięcie<br />

jego widma w kierunku dłuższych fal. Wyznaczone z pomiarów<br />

charakterystyki czujnika dla dwóch różnych wartości początkowej<br />

długości fali, za które przyjęto dwa sąsiednie minima widma<br />

czujnika, przedstawiono na rys. 4. Czułości czujnika, uzyskane<br />

F ⋅<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys. 3. Widmo wiązki wyjściowej czujnika przy działaniu na niego sił<br />

o różnych wartościach<br />

Fig. 3. Spectrum of the output beam of the sensor, when forces of<br />

different values are acting on it<br />

na podstawie liniowej aproksymacji wyników pomiarów, wynoszą<br />

odpowiednio K F<br />

= 33,04 pm/N dla λ 0<br />

= 1532,080 nm oraz<br />

K F<br />

= 33,19 pm/N dla λ 0<br />

= 1540,000 nm. Wyznaczone czułości,<br />

odniesione do odcinka światłowodu fotonicznego o długości<br />

jednego metra, wynoszą odpowiednio K F<br />

= 94,4 pm/N·m oraz<br />

K F<br />

= 94,82 pm/N·m.<br />

W warunkach laboratoryjnych nie stwierdza się wpływu zmian<br />

środowiska na charakterystyki czujnika. Wynika to z bardzo małej<br />

czułości temperaturowej światłowodu fotonicznego PM-PCF.<br />

Czułość temperaturowa interferometru Sagnaca ze światłowodem<br />

PM-1550-01 wynosi 0,25...03 pm/K [5, 6]. Zatem zmiany<br />

temperatury otoczenia o 20 K wywołują przesunięcie widma<br />

wiązki wyjściowej czujnika o 5...6 pm, co powoduje błąd pomiaru<br />

mniejszy niż 0,4% odniesiony do zakresu pomiarowego.<br />

Wnioski<br />

Z przeprowadzonych pomiarów wynika, że proponowany czujnik<br />

siły charakteryzuje się dużą czułością przetwarzania i bardzo dobrą<br />

stabilnością temperaturową. Poza tym, ze względu na prosty<br />

układ optyczny i mechaniczny oraz częstotliwościowy sygnał wyjściowy,<br />

może on znaleźć zastosowanie w zadaniach miernictwa<br />

sił i ważenia w procesach technologicznych o dużych zagrożeniach<br />

wybuchowych.<br />

Literatura<br />

Rys. 4. Charakterystyki czujnika dla dwóch różnych wartości początkowej<br />

długości fali<br />

Fig. 4. Conversion curves of the sensor for two different values of the<br />

initial wavelength<br />

[1] Libatique N. Jain R.: A broadly tunable wavelength-selectable WDM<br />

source using a fiber Sagnac loop filter, IEEE Photonics Technology<br />

Letters 11, No.12, 2001, 1283–1285.<br />

[2] Frazzao O., Baptista J., Santos J.: Recent advances in high-birefringence<br />

fiber loop mirror sensors, Sensors, No 7, 2007, 2970–2983.<br />

[3] Kaczmarek C.: Światłowodowy czujnik odkształcenia bazujący na<br />

interferometrze Sagnaca z dwójłomnym światłowodem fotonicznym,<br />

COE <strong>2012</strong>, Karpacz, przyjęty na konferencję.<br />

[4] Kaczmarek C.: Optical wavelength discriminator based on a Sagnac<br />

loop with a birefringent fiber, Electrical Review 87, No.10, 2011,<br />

325–327<br />

[5] Zhao Ch., in.: Temperature- insensitive interferometer using a highly<br />

birefringent photonic crystal fiber loop mirror. Photonics Technology<br />

Letters 16, No. 11 2004, 1535–1537.<br />

[6] Kim D., Kang J.: Sagnac loop interferometer based on polarization<br />

maintaining photonic crystal fiber with reduced temperature sensitivity,<br />

Optics Express 12, No. 19, 2004, 4490–4494.<br />

[7] Fang X., Claus R.: Polarization-independent fiber wavelength division<br />

multiplexer based o Sagnac interferometer, Optics Letters 20,<br />

No. 20, 1995, 2146–2148.<br />

[8] Roliński Z.: Tensometria oporowa. Podstawy teoretyczne i przykłady<br />

zastosowań. WNT, Warszawa 1981.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 69


Sprzętowy generator kluczy kryptograficznych<br />

dedykowany dla systemów pomiarowo-sterujących<br />

o asymetrycznych zasobach<br />

mgr inż. Paweł CZERNIK, Bumar <strong>Elektronika</strong> SA Warszawa<br />

Termin Rozproszone, Bezprzewodowe Systemy Pomiarowo-Sterujące<br />

o asymetrycznych zasobach odnosi się do sieci tworzonych<br />

w trybie ad hoc przez nieduże, autonomiczne urządzenia nazywane<br />

węzłami pomiarowo-sterującymi, które oprócz funkcji komunikacyjnych<br />

realizują funkcje pomiarowe, przetwarzania, a często także<br />

funkcje wykonawcze. Komunikacja w sieci odbywa się za pomocą<br />

fal radiowych (lub innej bezprzewodowej techniki transmisyjnej).<br />

Węzły poza elementami pomiarowymi, są wyposażone w niewielki<br />

mikrokontroler, pamięć, moduł radiowy oraz źródło zasilania. Ponieważ<br />

najczęściej są one zasilane bateryjnie, ich zasoby bywają<br />

znacznie ograniczone. Zastosowanie tych systemów nieustannie<br />

się poszerza. Urządzenia takie mogą być instalowane nie tylko na<br />

ziemi, ale też w wodzie i powietrzu. Bezpieczeństwo w większym<br />

lub mniejszym stopniu jest w zasadzie istotne we wszystkich rodzajach<br />

sieci. Ale biorąc pod uwagę, jak dużym ograniczeniom<br />

podlegają analizowane systemy pomiarowe, staje się oczywiste,<br />

że zapewnienie go w tego typu sieciach stanowi szczególnie trudne<br />

wyzwanie. Ograniczenia węzłów są konsekwencją wymagań co<br />

do ich rozmiarów, kosztów produkcji, lokalizacji, a przede wszystkim<br />

tego, aby stanowiły one autonomiczne terminale.<br />

Sygnały chaotyczne posiadają cechy w sposób znaczący odróżniające<br />

je od sygnałów używanych powszechnie do komunikacji<br />

w bezprzewodowych systemach pomiarowo-sterujących. Najistotniejszą<br />

cechą sygnału chaotycznego jest wrażliwość na warunki<br />

początkowe. Wrażliwość tą można utożsamić z tzw. „efektem motyla”,<br />

czyli zjawiskiem zachodzącym w tych układach, w których<br />

nawet niewielka zmiana warunków początkowych prowadzi do<br />

diametralnie różnych zachowań układu. Przy skończonej dokładności<br />

pomiaru bardzo trudno przewidzieć wartości sygnału w chwili<br />

odległej (zarówno w przyszłości, jak i w przeszłości) o pewien<br />

horyzont czasowy od momentu wykonania pomiaru. Odmienne<br />

właściwości tego typu przebiegu elektrycznego przekładają się na<br />

szereg potencjalnych korzyści, jakie powinno przynieść jego zastosowanie<br />

do rozproszonych systemów pomiarowo-sterujących.<br />

Są to m. in.: niskie prawdopodobieństwo detekcji (przechwycenia)<br />

transmisji, lepsze wykorzystanie pasma, odporność na błędy wynikłe<br />

na skutek propagacji wielodrogowej, mniejsza moc nadawania,<br />

możliwość transmisji koherentnej oraz prywatność komunikacji.<br />

Odpowiednio szerokie pasmo umożliwia transmisję poniżej poziomu<br />

szumu, a także w silnie zakłóconych kanałach komunikacyjnych.<br />

Aperiodyczność sygnału chaotycznego oznacza, że trudno<br />

zlokalizować wyższe prążki w widmie, co skutkuje niskim prawdopodobieństwem<br />

przechwycenia oraz sprawia, że sygnał taki ciężko<br />

jest zakłócić. Właściwości sygnału chaotycznego upodobniają<br />

go do losowego szumu. Wykorzystanie chaosu jest rozwiązaniem<br />

odmiennym oraz innowacyjnym zarówno w teorii przetwarzania<br />

sygnałów oraz kryptografii. Zagadnienie to wymaga opracowania<br />

nowych, specjalizowanych metodologii badań analitycznych oraz<br />

pomiarowych, bazującej na teorii w chaosu w układach dynamicznych.<br />

Do wytwarzania elektrycznych przebiegów chaotycznych<br />

konstruuje się generatory, wykorzystujące naturalne źródła szumu<br />

70<br />

(rezystory, diody), rejestry przesuwne lub nieliniowe systemy dynamiczne<br />

przejawiające chaotyczne zachowania. Jako generatory<br />

tego typu sygnałów wykorzystuje się m. in.: obwody RLC z nieliniową<br />

rezystancją oraz chaotyczne oscylatory LC. Celem artykułu jest<br />

przedstawienie zaprojektowanego oraz zrealizowanego generatora<br />

losowych dedykowanego dla systemów kryptograficznie bezpiecznych,<br />

rozproszonych systemów pomiarowych o asymetrycznych<br />

zasobach, jak również prezentacja i analiza uzyskanych wyników<br />

badań tego układu pod względem bezpieczeństwa kryptograficznego.<br />

Zakres pracy obejmuje także prezentację oprogramowanego<br />

autorskiego procesu akwizycji danych losowych z układu pomiarowego<br />

do komputera, poprzez specjalizowany oscyloskop cyfrowy.<br />

Generacja ciągów liczb losowych<br />

Bezpieczeństwo dzisiejszych systemów kryptograficznych jest<br />

ściśle związane z generacją pewnych nieprzewidywalnych wartości.<br />

Przykładem tutaj może być generacja klucza do szyfru „z kluczem<br />

jednorazowym” (ang. one-time pad), klucza do algorytmu<br />

DES, AES lub jakiegokolwiek innego szyfru symetrycznego, liczb<br />

pierwszych do algorytmu RSA i innych losowych wartości używanych<br />

w szyfrach asymetrycznych oraz przy tworzeniu podpisów<br />

cyfrowych, czy uwierzytelnieniu typu challenge-response.<br />

W kontekście generowania liczb losowych niezwykle istotnym<br />

pojęciem jest tzw. entropia (ang. entropy), odnosząca się do nieodłącznej<br />

„niepoznawalności” danych wejściowych dla obserwatorów<br />

zewnętrznych. W takim wypadku, jeżeli bajt danych jest prawdziwie<br />

losowy, wówczas każda z 2 8 (256) możliwości jest równie prawdopodobna<br />

i można oczekiwać, że napastnik podejmie 2 7 prób jego<br />

odgadnięcia, nim uda mu się poprawnie zidentyfikować wartość.<br />

W takim przypadku mówimy, że bajt zawiera 8 bitów entropii. Z drugiej<br />

strony, jeżeli osoba atakująca system kryptograficzny w pewien<br />

sposób odkryje, że bajt ma wartość parzystą, pozwoli jej to na<br />

zredukowanie liczby możliwych wartości do 2 7 (128) i w tym przypadku<br />

bajt posiada jedynie 7 bitów entropii. Możliwe jest wystąpienie<br />

entropii o wartościach ułamkowych. Jeżeli mamy jeden bit i istnieje<br />

25% prawdopodobieństwo, że będzie on miał wartość 0 oraz<br />

75%, że 1, włamywacz do systemu kryptograficznego ma większą<br />

szansę jej odgadnięcia niż w sytuacji, gdyby bit był całkowicie losowy.<br />

Jak ważną kwestią jest zapewnienie bezpieczeństwa systemu<br />

kryptograficznego opartego na produkcji entropii przez generator<br />

liczb losowych, powinien uświadomić następujący przykład. Stosujemy<br />

256-bitowe klucze algorytmu AES, jednak są one wybierane<br />

za pomocą generatora PRNG zainicjowanego 56 bitami entropii.<br />

Wówczas wszelkie dane zaszyfrowane za pomocą 256-bitowego<br />

klucza AES byłyby równie mało bezpieczne, jak w przypadku ich<br />

zaszyfrowania przy użyciu 56-bitowego klucza algorytmu DES.<br />

Niewystarczająca ilość entropii produkowanej przez generator<br />

liczb pseudolosowych jest częstym przypadkiem parktycznych nadużyć.<br />

Przykładem tego może być:. przeglądarka Netscape w 1995<br />

r, kiedy okazało się, że szyfrowanie tej przeglądarki może zostać<br />

łatwo złamane, ponieważ do szyfrowania kluczy 128-bitowych,<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


w których rzeczywista entropia wynosiła jedynie 47 bitów. Algorytm<br />

MIT-MAGIC-COOKIE używał generatora kluczy, który był inicjowany<br />

jedną z 256 wartości. W kartach zbliżeniowych (bezdotykowych)<br />

standardu Mifare Classic firmy Philips (wykorzystywanych m. in.<br />

systemie Warszawaskich Kart Miejskich), niewystarczająca ilość<br />

entropii generatora pozawala na atak przez „powtórzenie”.<br />

Generator liczb losowych (ang. random number generator) [2]<br />

jest to program komputerowy lub układ elektroniczny generujący<br />

liczby losowe. Ze względu na sposób generowania liczb losowych<br />

można wyróżnić dwa rodzaje stosowanych generatorów: sprzętowe<br />

(TRNG) działające na zasadzie ciągłego pomiaru procesu<br />

stochastycznego i programowe (PRNG).<br />

Generatory pseudolosowe<br />

Generator pseudolosowy [3] (PRNG) to deterministyczny algorytm,<br />

który mając daną sekwencję binarną długości k, daje<br />

w wyniku sekwencję binarną długości l >> k, która „wydaje się”<br />

być losowa. Ciąg wejściowy zwany jest zarodkiem (ang. seed).<br />

Liczby pochodzące z tego generatora zwane są liczbami pseudolosowymi,<br />

ponieważ faktycznie nie są dziełem przypadku, lecz<br />

wynikiem skomplikowanych procedur matematycznych. Programowe<br />

generowanie liczb prawdziwie losowych wymaga posłużenia<br />

się ciągłym strumieniem próbek uzyskanych ze świata<br />

zewnętrznego. Największą zaletą generatorów pseudolosowych<br />

jest ich szybkość, często też mają lepsze właściwości statystyczne<br />

niż generatory sprzętowe. Należy jednak zwrócić uwagę na<br />

fakt, że mając kontrolę lub znając wartości podawane na wejście<br />

generatora oraz jego stan wewnętrzny bez trudu można przewidzieć<br />

generowane przezeń liczby. Z tego powodu decydując się<br />

na zastosowanie w systemie kryptograficznym generatora liczb<br />

pseudolosowych należy zachować szczególną ostrożność przy<br />

doborze zarówno samego algorytmu, jak i sposobu inicjowania<br />

oraz rodzaju wartości podawanych na jego wejście.<br />

Generatory sprzętowe<br />

Olbrzymią zaletą generatora sprzętowego, szczególnie ważną<br />

w kryptografii, jest jego nieprzewidywalność, wynikająca z nieprzewidywalności<br />

samego procesu fizycznego. Dlatego też często<br />

w literaturze są one określane jako „prawdziwe” generatory<br />

liczb losowych (ang. True Random Number Generators, w skrócie<br />

TRNG). Najczęściej wykorzystywane procesy losowe to szum termiczny<br />

oraz rozpad pierwiastka promieniotwórczego, choć możliwe<br />

są również inne rozwiązania. W [4] można znaleźć opis różnych<br />

metod generowania ciągów prawdziwie losowych opartych<br />

m. in. na: pomiarze czasu spoczynku klawiatury, szumu termicznego<br />

diody półprzewodnikowej, rozpadu radioaktywnego, niestałości<br />

częstotliwości własnej oscylatora i ładunku gromadzonego<br />

w kondensatorze polowym w ustalonym czasie. Ciągi uzyskane<br />

z tych źródeł są zazwyczaj obarczone korelacją. Istnieją specjalne<br />

metody na usunięcie tej wady. Przy ich wykorzystywaniu<br />

należy pamiętać o wpływie środowiska zewnętrznego na jakość<br />

generacji. Odpowiednie urządzenia są produkowane przez różne<br />

firmy np. IBM, OMNISEC, SOPHOS.<br />

Generatory w systemach rozproszonych<br />

systemach pomiarowo-kontrolnych<br />

W rozważanych systemach wyłania się konieczność zastosowania<br />

programowej implementacji generatora liczb pseudolosowych<br />

o niewielskiej złożoności obliczeniowej. Taki sposób postępowania<br />

uzasadnia się uniwersalnością i przenośnością rozwiązania na niezliczoną<br />

gamę różnych typów węzłów. Z tego powodu generator ten<br />

powinien być możliwie minimalnych rozmiarów oraz masy. Powinien<br />

on umożliwić proste przyłączenie do istniejących już układów<br />

pomiarowych. Algorytm odbioru reprezentacji danych losowych<br />

oraz proces ich obróbki powinien być maksymalnie zoptymalizowany<br />

pod względem zapotrzebowania na moc obliczeniową oraz<br />

zajętość pamięci operacyjnej. Generator ten nie powinien wprowadzić<br />

istotnych zmian co do wymagań danego węzła pomiarowego<br />

zarówno pod względem mocy pobieranej ze źródła zasilania, jak<br />

i mocy obliczeniowej oraz zajętości pamięci operacyjnej.<br />

Układu generatora kluczy kryptograficznych<br />

Badany układ pomiarowy został zbudowany na bazie samodzielnie<br />

zaprojektowanego oscylatora Colpittsa. Oscylator ten został<br />

wcześniej przebadany na bazie symulacji w środowisku Ngspice.<br />

Wykonany układ pomiarowy generatora umożliwia bezpośrednie<br />

podłączenie do dowolnego komputera klasy PC poprzez port USB<br />

Host, za pośrednictwem specjalizowanego oscyloskopu cyfrowego.<br />

Oscyloskop ten musi być wyposażonego w interfejs USB Device<br />

oraz obsługiwać protokół komunikacyjny o nazwie: „Universal<br />

Serial Bus Test and Measurement Class” (w skrócie USBTMC).<br />

W związku z tym analizowany układ pomiarowy może zostać<br />

w dość prosty sposób poddany badaniom prawdziwej losowości<br />

na bazie zestawu testów stochastycznych, wchodzących w skład<br />

środowiska RDieHarder. Prawdziwa losowości rozumiana jest tu<br />

jako idealne losowy (wzorcowy) ciąg występujących po sobie wartości,<br />

poprawnie przechodzący wszystkie testy pakiety RDieHarder.<br />

W przypadku pozytywnego wyniku badań układ ten może zostać<br />

uznany za sprzętowy generator kluczy kryptograficznych dla<br />

systemów pomiarowo sterujących o asymetrycznych zasobach,<br />

stanowiący źródło losowości. Losowość ta jest niezbędna w zastosowaniu<br />

do m. in. aplikacji kryptograficznych, jakie mogą być realizowane<br />

poprzez rozproszone terytorialnie systemy pomiarowosterujące<br />

o asymetrycznych zasobach z przyłączonym poprzez<br />

przetwornik analogowo-cyfrowy badanym generatorem wartości<br />

losowych. Problematyka ta została opisana w [5], [6] i [7].<br />

Schemat elektryczny oraz projekt obwodu<br />

drukowanego zaprojektowanego układu generatora<br />

kluczy kryptograficznych<br />

W celu praktycznej realizacji układu urządzenia wykonany został<br />

schemat elektryczny płytki oraz projekt obwodu drukowanego<br />

PCB (ang. Printed Circuit Board) dedykowany dla technologii<br />

montażu powierzchniowego SMT (ang. Surface Mount Technology),<br />

zaprezentowane na poniższych rys. 1 i 2.<br />

Rys. 1. Schemat elektroniczny generatora kluczy kryptograficznych<br />

Fig. 1. Electronic diagram of the cryptographic keys generator<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 71


Oprogramowanie badanego układu pomiarowego<br />

generatora kluczy kryptograficznych<br />

W celu realizacji badań rzeczywistej losowości zaprojektowanego<br />

generatora należy najpierw odpowiednio oprogramować komputer<br />

PC, pracujący pod kontrolą systemu operacyjnego Linux.<br />

Oprogramowanie systemu badawczego jest złożone z dwóch zasadniczych<br />

funkcjonalnych modułów, tj.: modułu akwizycji danych<br />

losowych i modułu analizy bezpieczeństwa kryptograficznego zarejestrowanych<br />

wartości losowych.<br />

Rys. 2. Schemat obwodu drukowanego PCB zaprojektowanego generatora<br />

kluczy kryptograficznych<br />

Fig. 2. The printed circuit diagram PCB of the cryptographic keys<br />

generator<br />

Wykonanie płytki PCB oraz montaż elementów<br />

układu generatora kluczy kryptograficznych<br />

Na bazie schematu obwodu drukowanego PCB zaprojektowanego<br />

w programie EAGLE utworzony został plik Gerbera w formacie<br />

RS-274X oraz plik programu wiertarskiego Excellon ASCII,<br />

zgodnie z instrukcją w [8]. Tak utworzony projekt płytki PCB<br />

przekazany został do produkcji firmie Gama Obwody Drukowane<br />

przy Instytucie Łączności. Po otrzymaniu gotowej płytki oraz po<br />

skompletowaniu elementów elektronicznych wykonanych w technologii<br />

SMD (ang. Surface Mounted Devices) zrealizowany został<br />

montaż precyzyjny w Bumar <strong>Elektronika</strong> SA. Fotografia gotowego<br />

układu pomiarowego została zaprezentowana na rys. 3.<br />

72<br />

Rys. 3. Fotografia generatora<br />

kluczy kryptograficznych<br />

Fig. 3. Photography of the<br />

cryptographic keys generator<br />

System laboratoryjny do badania układu<br />

pomiarowego<br />

W celu wykonania badań układu pomiarowego TRNG został<br />

zaprojektowany system laboratoryjny, zgodny z rys. 4. Najistotniejszymi<br />

elementami zaprojektowanego systemu są: układ generatora<br />

liczb losowych, cyfrowy oscyloskop typu DS1052E firmy<br />

RIGOL oraz komputer PC. Układ generatora wartości losowych<br />

wraz z oscyloskopem i komputerem pełni rolę systemu akwizycji<br />

danych losowych. Natomiast sam komputer pełni także rolę<br />

analizatora bezpieczeństwa kryptograficznego danych losowych.<br />

Zastosowany zasilacz laboratoryjny typu ZT-980-2 M, firmy UNI-<br />

TRA, zapewnia funkcjonalność sterowania napięciem zasilania<br />

układu generatora liczb losowych. Umożliwia on badanie wpływu<br />

napięcia zasilania układu generatora na rzeczywistą losowość<br />

produkowanych wartości losowych.<br />

Rys. 4. Schemat systemu laboratoryjnego dedykowanego do badania<br />

układu generatora kluczy kryptograficznych<br />

Fig. 4. Diagram of the laboratory system dedicated to test of the cryptographic<br />

keys generator<br />

Oprogramowanie umożliwiające realizację badań<br />

zaimplementowane na komputerze PC<br />

Oprogramowanie zostało napisane w języku Python, wzorując się<br />

na projekcie pyusbtmc. Oprogramowanie zawarte w projekcie pyusbtmc<br />

umożliwia odbiór danych w „czasie rzeczywistym” z oscyloskopu<br />

po interfejsie USB z wykorzystaniem protokołu USBTMC<br />

oraz wyświetlanie odebranych tych danych w graficznej formie na<br />

bazie python’owej biblioteki Matplotlib. Ingerencja autora w projekt<br />

pyusbtmc polegała na zaimplementowaniu funkcjonalności<br />

zapisu odebranych danych z oscyloskopu do pliku w formacie<br />

zgodnym z środowiskiem Ngspice. Dzięki takiemu rozwiązaniu<br />

otrzymana została funkcjonalność badania bezpieczeństwa kryptograficznego<br />

zarejestrowanych danych losowych za pomocą<br />

oprogramowania RDieHarder sterowanego z poziomu autorskiego<br />

oprogramowania. Zapewniona została także możliwość graficznej<br />

wizualizacji danych za pomocą programu Gnuplot.<br />

Algorytm funkcjonowania systemu pomiarowego<br />

generatora kluczy kryptograficznych<br />

Połączenie jest realizowane poprzez zestawione komunikacji między<br />

komputerem i oscyloskopem, w oparciu o zadany port interfejs<br />

komunikacyjny USB. Do wyboru mamy na platformie Linux<br />

interfejsy komunikacyjne oznaczone (przy domyślnej konfiguracji)<br />

kolejno od „/dev/usbtmc0” do „/dev/usbtmcN”, gdzie N oznacza<br />

kolejny numer fizycznego interfejsu komunikacyjnego podłączonego<br />

do komputera, zgodnego ze standardem USBTMC, liczony<br />

od 0. Komunikacja z oscyloskopem jest realizowana poprzez<br />

nadawanie i odbieranie komend w formacie SCPI (ang. Standard<br />

Commands for Programmable Instruments). W celu zestawienia<br />

połączenia oraz rozpoczęcia rejestracji danych w „czasie rzeczywistym”<br />

do pliku zgodnego z formatem środowiska „Ngspice”, należy<br />

uruchomić autorskie oprogramowanie o nazwie „Arch_random”.<br />

Od tego momentu rozpoczyna się rejestracja danych, a bieżąca<br />

ilość zarejestrowanych danych jest co sekundę wyświetlana w oknie<br />

konsoli. Układ pomiarowy wytwarza, a oscyloskop przekazuje<br />

dane pomiarowe do komputera, który je rejestruje w postaci pliku<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


o zadanej nazwie. Ponowne uruchomienie tego oprogramowania,<br />

przy zachowaniu istniejącej już nazwy pliku, skutkuje automatycznym<br />

dopisanie kolejnych wygenerowanych losowych danych do<br />

istniejącego już wcześniej pliku. Umożliwia to łatwe zwiększenie<br />

zbioru danych poddawanych analizie oraz krokowe śledzenie poprawności<br />

oraz jakości „przechodzenia” określonych testów statystycznych<br />

przy zadanej ilości liczb losowych. W chwili zebrania<br />

żądanej ilości danych losowych należy uruchomić dedykowane<br />

oprogramowanie, zakładka SPICE (rys. 5). Następnie w tym oknie<br />

programu należy wprowadzić nazwę pliku z odczytywanymi<br />

Rys. 5. Główne okno oprogramowania, zakładka SPICE. Fig. 5. The main window of dedicated software, the SPICE tab<br />

Rys. 6. Graf algorytmu pracy<br />

systemu pomiarowego generatora<br />

kluczy kryptograficznych<br />

Fig. 6. Graph algorithm of the<br />

cryptographic keys generator<br />

measurement system<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 73


danymi. Wybrać liczbę bitów pobieranych z każdej próbki wartości<br />

losowej. Po czym należy rozpocząć proces generacji ostatecznego<br />

pliku wyjściowego, zawierającego wartości losowe zarejestrowane<br />

w formie binarnej. Po zakończeniu procesu generacji<br />

zostanie przeprowadzona automatyczna analiza losowości, zapisanych<br />

w pliku, na bazie środowiska RDieHarder. Po zakończeniu<br />

procesu analizy losowości zarejestrowanych danych automatycznie<br />

zostają utworzone gotowe pliki z wynikami badań, niezależnie<br />

dla poszczególnych testów środowiska DieHarder w formacie pdf<br />

oraz png. Graf algorytmu funkcjonowania zaprojektowanego systemu<br />

pomiarowego został przedstawiony na rys. 6.<br />

Badania generatora kluczy kryptograficznych<br />

Warunki realizacji badań systemu pomiarowego<br />

generatora kluczy kryptograficznych<br />

Badania bezpieczeństwa kryptograficznego układu pomiarowego<br />

generatora kluczy kryptograficznych zostały wykonane na bazie<br />

autorskiego oprogramowania. Otrzymane wyniki zostały obliczone<br />

przez „silnik” oprogramowania „DieHarder” [9], niezależnie dla<br />

25. testów, po zebraniu odpowiednio dużego, reprezentatywnego<br />

zbioru badanych danych, jaki stanowi 100 MB wartości losowych.<br />

Oscyloskop w systemie pomiarowym posiada wbudowany 8 bitowy<br />

przetwornik analogowo-cyfrowy o maksymalnej częstotliwości<br />

próbkowania wynoszącej 1 GSPS dla trybu próbkowania w czasie<br />

rzeczywistym, 25 GSPS dla trybu równoważnego czasu próbkowania<br />

oraz maksymalną szerokość pasma pomiarowego wynoszącą<br />

100 MHz. W związku z badaniem sygnału losowego oscyloskop<br />

ten został ustawiony w tryb próbkowania w czasie rzeczywistym,<br />

przy normalnym trybie akwizycji, dla wielkości bufora próbek wynoszącej<br />

16 kB oraz w warunkach interpolacji sygnałem funkcją sinx/<br />

x. Ustawiono czułość na 1 volt/dz, dla trybu sprzężenia wejścia na<br />

DC (sygnał przekazywany jest bezpośrednio z wejścia na układy<br />

analizy). Przed wykonaniem eksperymentów dokonano kalibracji<br />

oscyloskopu przy użyciu sądy pomiarowej oraz wbudowanego<br />

generatora sygnału prostokątnego. Badania zostały zrealizowane<br />

dla różnych wartości nastaw generatora podstawy czasu, przez<br />

co dla różnych odpowiadających im częstotliwości próbkowania<br />

sygnału. Ustawiona została wartość napięcia zasilania układu<br />

pomiarowego, na zasilaczu laboratoryjnym typu ZT-980-2 M, na<br />

wartość równą 6 V. Badania zrealizowane zostały przy założeniu,<br />

że zarówno że pełna 8-bitowa wartość z każdej próbki stanowi<br />

wartość losową oraz że jedynie dwa ostatnie bity wyniku pełnią<br />

rolę dwubitowej wartości losowej. Uzyskiwanie takiej ilości danych<br />

losowych, przy częstotliwości próbkowania przetwornika analogowo-cyfrowego<br />

wynoszącej ok. 13,65kSPS, odpowiadającej nastawie<br />

generatora podstawy czasu na wartość równą 100 ms/div jest<br />

procesem czasochłonnym. Oznacza to iż w warunkach wykorzystania<br />

wszystkich 8 bitów wyniku jako rejestrowana wartość losowa<br />

czas archiwacji wynosi ok. 7326 s, tj. 2 h i 2 min, natomiast dla<br />

wykorzystania jedynie dwóch ostatnich bitów jako rejestrowana<br />

wartość losowa czas ten wynosi ok. 29304, tj. 8 h i 9 min.<br />

Zostały także wykonane badania układu pomiarowego generatora<br />

kluczy kryptograficznych przy częstotliwości próbkowania wynoszącej<br />

ok. 1 MSPS, odpowiadającej nastawie generatora podstawy<br />

czasu na wartość równą 200 μs/div. Czas akwizycji 100 MB danych<br />

przy „wykorzystaniu” wszystkich 8 bitów wyniku jako wartość losowa<br />

wynosi ok. 100 s, natomiast dla „wykorzystania” jedynie dwóch<br />

ostatnich bitów jako wartość losowa wynosił ok. 400 s, tj. 7 min.<br />

Wyniki badań<br />

Na rysunkach zostały zaprezentowane wykresy p-wartości<br />

[10], na których zamieszczono na osi poziomej konkretne<br />

zrealizowane testy (oznaczona numerami, jednoznacznie je<br />

74<br />

identyfikujące na bazie tabeli), a na osi pionowej odpowiadające<br />

im p-wartości, odpowiednio dla testu Kuiper-Kolmogorov-<br />

Smirnov’a, testu Kolmogorov-Smirnov’a oraz testu Wilcoxon’a.<br />

P-wartość (ang. P-value) czyli prawdopodobieństwo testowe<br />

jest to w statystycznym testowaniu hipotez, najmniejszy poziom<br />

istotności testu dla którego hipoteza zerowa jest odrzucona. Na<br />

każdym z nich pozioma niebieska linia oznaczają dolną granicę<br />

poziomów istotności α równą 0.01, natomiast czerwona górną<br />

granice 1 – α równą 0,99. Rysunek 7 prezentuje otrzymane wyniki<br />

dla układu pomiarowego generatora kluczy kryptograficznych<br />

przy wykorzystaniu 8 bitów z każdej zarejestrowanej próbki<br />

jako wartość losowa w warunkach częstotliwości próbkowania<br />

wynoszącej ok. 13,65 kSPS. Rysunek 8 przedstawia wyniki dla<br />

układu pomiarowego generatora kluczy kryptograficznych przy<br />

wykorzystaniu jedynie dwóch ostatnich bitów z każdej zarejestrowanej<br />

próbki jako wartość losowa w warunkach częstotliwości<br />

próbkowania wynoszącej ok. 13,65 kSPS. Natomiast rysunek 9<br />

przedstawia wyniki dla układu pomiarowego generatora kluczy<br />

kryptograficznych uzyskane przy wykorzystaniu 8 bitów z każdej<br />

zarejestrowanej próbki jako wartość losowa w warunkach częstotliwości<br />

próbkowania wynoszącej ok. 1 MSPS. Rysunek 10<br />

przedstawia wyniki dla układu pomiarowego generatora kluczy<br />

Numery testów przypisane konkretnym testom pakietu DieHarder<br />

The numbers assigned to the concrete tests from the DieHarder suite<br />

Nazwa testu<br />

Numer<br />

testu<br />

diehard_birthdays 1<br />

diehard_operm5 2<br />

diehard_rank_32x32 3<br />

diehard_rank_6x8 4<br />

diehard_bitstream 5<br />

diehard_opso 6<br />

diehard_oqso 7<br />

diehard_dna 8<br />

diehard_count_1s_stream 9<br />

diehard_count_1s_byte 10<br />

diehard_parking_lot 11<br />

diehard_2dsphere 12<br />

diehard_3dsphere 13<br />

diehard_squeeze 14<br />

diehard_sums 15<br />

diehard_runs 16<br />

diehard_craps 17<br />

sts_monobit 18<br />

sts_runs 19<br />

sts_serial 20<br />

rgb_bitdist 21<br />

rgb_minimum_distance 22<br />

rgb_permutations 23<br />

rgb_lagged_sum 24<br />

rgb_kstest_test 25<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys. 7. Wykres p-wartości, prezentujący wyniki uzyskane z układu pomiarowego generatora kluczy kryptograficznych przy wykorzystaniu 8<br />

bitów z każdej zarejestrowanej próbki jako wartość losowa w warunkach częstotliwości próbkowania wynoszącej ok. 13,65 kSPS<br />

Fig. 7. The chart of p-value, showing the results obtained from the measurement system of the cryptographic keys generator using 8 bits<br />

of each registered sample as a random value by sampling frequency approximately equal 13,65 kSPS<br />

Rys. 8. Wykres p-wartości, prezentujący wyniki uzyskane z układu pomiarowego generatora kluczy kryptograficznych przy wykorzystaniu<br />

jedynie dwóch ostatnich bitów z każdej zarejestrowanej próbki jako wartość losowa w warunkach częstotliwości próbkowania wynoszącej<br />

ok. 13,65 kSPS<br />

Fig. 8. The chart of p-value, showing the results obtained from the measurement system of the cryptographic keys generator using only the<br />

last two bits of each registered sample as a random value by sampling frequency approximately equal 13,65 kSPS<br />

kryptograficznych przy wykorzystaniu jedynie dwóch ostatnich<br />

bitów z każdej zarejestrowanej próbki jako wartość losowa w warunkach<br />

częstotliwości próbkowania wynoszącej ok. 1 MSPS.<br />

Wnioski<br />

Na podstawie uzyskanych wyników można stwierdzić, że układ<br />

pomiarowy generatora kluczy kryptograficznych przechodzi większość<br />

testów zestawu DieHarder. Udowadnia to tezę, iż układ ten<br />

stanowi bezpieczny generator kluczy kryptograficznych dla systemów<br />

pomiarowo-sterujących o asymetrycznych zasobach.<br />

Najlepsze wyniki uzyskały testy układu generatora kluczy kryptograficznych<br />

w warunkach próbkowania sygnału analogowego<br />

z częstotliwością ok. 13,65 kSPS przy wykorzystaniu jedynie<br />

dwóch ostatnich bitów z każdej zarejestrowanej próbki jako wartość<br />

losowa. W analizowanym przypadku układ ten nie przechodzi<br />

poprawnie jednego testu pakietu, tj.: „diehard_operm5”. Natomiast<br />

ten sam układ, kiedy jako losowość zostały wykorzystane<br />

wszystkie 8 bitów każdej zarejestrowanej próbki, nie przechodzi<br />

dwóch testów, tj.: „diehard_operm5”, „rgb_lagged_sum”. Świadczyć<br />

to może o nierównomiernym rozłożeniu wartości losowych<br />

na wszystkich 8 bitach badanego modelu matematycznego.<br />

Analizowany układ w warunkach próbkowania sygnału analogowego<br />

z częstotliwością ok. 1 MSPS dla przypadku „wykorzystania”<br />

8 bitów każdej zarejestrowanej próbki, przejawia gorsze<br />

właściwości losowe. W analizowanym przypadku układ ten nie<br />

przechodzi poprawnie pięciu testów pakietu, tj.: „diehard_operm5”,<br />

„diehard_count_1s_stream”, „diehard_count_1s_byte” „rgb_lagged_sum”<br />

oraz „diehard_craps”. Natomiast ten sam układ pomiarowy,<br />

kiedy jako losowość zostały wykorzystane dwa najmniej<br />

znaczących bity każdej zarejestrowanej próbki, nie przechodzi<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 75


Rys. 9. Wykres p-wartości, prezentujący wyniki uzyskane z układu pomiarowego generatora kluczy kryptograficznych przy wykorzystaniu<br />

8 bitów z każdej zarejestrowanej próbki jako wartość losowa w warunkach częstotliwości próbkowania wynoszącej ok. 1 MSPS<br />

Fig. 9. The chart of p-value, showing the results obtained from the measurement system of the cryptographic keys generator using 8 bits<br />

of each registered sample as a random value by sampling frequency approximately equal 1 MSPS<br />

Rys. 10. Wykres p-wartości, prezentujący wyniki uzyskane z układu pomiarowego generatora kluczy kryptograficznych przy wykorzystaniu<br />

jedynie dwóch ostatnich bitów z każdej zarejestrowanej próbki jako wartość losowa w warunkach częstotliwości próbkowania wynoszącej<br />

ok. 1 MSPS<br />

Fig. 10. The chart of p-value, showing the results obtained from the measurement system of the cryptographic keys generator using only the<br />

last two bits of each registered sample as a random value by sampling frequency approximately equal 1 MSPS<br />

czterech testów, tj.: „diehard_oqso”, „diehard_rank_32x32”, „diehard_craps”<br />

oraz „rgb_lagged_sum”.<br />

Na tej podstawie można stwierdzić, że częstotliwość próbkowania<br />

ma istotny wpływ na rzeczywistą losowość uzyskiwanych<br />

danych, tj. im częstotliwość próbkowania wyższa, tym szacowana<br />

rzeczywista losowość generowanych danych jest mniejsza.<br />

Literatura<br />

76<br />

[1] Witryna internetowa środowiska do testowania generatorów wartości<br />

losowych o nazwie RDieHarder: <br />

[2] Zieliński R.: Generatory liczb losowych, WNT, Warszawa 1972.<br />

[3] Menezes A., P. van Oorschot, S. Yanstone: Handbook oj Applied<br />

Cryptography, WNP, 2005<br />

[4] Schneier B.: Kryptografta dla praktyków, WNT, 1995.<br />

[5] CzernikP., Olszyna J.: Cryptographic Random Number Generators<br />

for Low-Power Distributed Measurement System. Proc. SPIE Photonics,<br />

Web Engineering, Electronics for Astronomy and High Energy<br />

Physics Experiments (sierpień 2009), vol 7502, pp. 75022A-1<br />

– 75022A-7.<br />

[6] Czernik P.: Kryptograficzne generatory liczb losowych w rozproszonych<br />

systemach pomiarowo-sterujących małej mocy. Prace <strong>Instytut</strong>u<br />

Lotnictwa, ss. 5–19, nr 6/2009 (201).<br />

[7] Czernik P., Winiecki W.: Infrastruktura klucza publicznego do<br />

zastosowań w bezpiecznych Rozproszonych Systemach Pomiarowo–Sterujących.<br />

Przegląd Elektrotechniczny, nr 09a/2011,<br />

ss. 37–43.<br />

[8] Instrukcja tworzenia pliku Gerbera dla programu EAGLE: <br />

[9] Czernik P., Olszyna J., Winiecki W.: Methods for testing random number<br />

generators in low-power distributed measurement systems. Pomiary<br />

Automatyka Kontrola, numer 11, ss. 1339–1341, listopad 2010.<br />

[10] Czernik P.: Metodyka testowania bezpieczeństwa generatorów liczb<br />

pseudolosowych w systemach pomiarowo-sterujących. Prace <strong>Instytut</strong>u<br />

Lotnictwa, nr 6/2009 (201), ss. 20–34 (artykuł zgłoszony do<br />

druku w kwietniu 2010, wydany w sierpniu 2010).<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Techniki multimodalne zwiększające dostępność grafiki<br />

na stronach WWW i w elektronicznych dokumentach<br />

dr inż. Jolanta Brzostek-Pawłowska 1 , dr Dariusz Mikułowski 2<br />

1<br />

<strong>Instytut</strong> Maszyn Matematycznych, Warszawa, 2 Uniwersytet Przyrodniczo-Humanistyczny Siedlce<br />

Problem dostępności grafiki na stronach WWW i w dokumentach<br />

elektronicznych, w tym w e-bookach, nabrał większego znaczenia<br />

wraz z upowszechnieniem się urządzeń mobilnych i ich miniaturyzacją.<br />

Obejmuje on nie tylko użytkowników niewidzących i niedowidzących,<br />

(nie mogących posługiwać się myszą), ale również<br />

duże rzesze użytkowników smartfonów, na których grafika jest<br />

nieczytelna. Dodatkową barierą w dostępie do grafiki z urządzeń<br />

mobilnych są wymagania dotyczące wysokiej przepustowości łącza,<br />

które nie zawsze mogą być spełnione.<br />

Badania i rozwój technik zwiększających dostępność grafiki<br />

idą w dwóch kierunkach – z jednej strony chodzi o interaktywny<br />

udział osób niewidomych w percepcji i tworzeniu grafiki, zwłaszcza<br />

matematycznej, dla potrzeb edukacyjnych, z drugiej strony<br />

kołem napędowym są potrzeby użytkowników smartfonów, widzących<br />

i niewidzących, związane z efektywnym dostępem do<br />

grafik i ich szczegółów.<br />

Pierwszy kierunek łączy się z rozwojem technik haptycznych<br />

i z presją ekonomiczną na opracowanie taniego i dostępnego<br />

haptycznego urządzenia przenośnego, przy pomocy którego jest<br />

prezentowana i poznawana grafika. Podejmowane są obecnie<br />

m.in. próby uzyskania takiego urządzenia z coraz powszechniej<br />

używanego tabletu (opisane dalej w artykule). Bez względu na<br />

zmniejszanie kosztów nowych urządzeń haptycznych, techniki<br />

haptyczne wymagają jednak specjalnego przygotowania grafiki,<br />

specjalnego zaprojektowania, co stanowi barierę i ekonomiczną,<br />

i organizacyjną w powszechnym dostępie do grafiki.<br />

Drugi kierunek charakteryzuje się rozwojem technik nie wymagających<br />

wspomagania dodatkowym, specjalizowanym sprzętem,<br />

z tego powodu pod względem ekonomicznym – bardzo atrakcyjnych.<br />

Techniki te, i związane z nimi badania, opierają się na pozyskiwaniu<br />

i ewentualnym dalszym przetwarzaniu, tekstów zawartych<br />

w plikach grafiki i/lub towarzyszących grafice np. w strukturach<br />

tagów HTML5. Techniki te nie wymagają specjalnych projektów<br />

grafiki, operują na powszechnie stosowanych na stronach WWW<br />

i w e-dokumentach standardach zapisów grafiki. Wśród nich można<br />

wyróżnić techniki udostępniające teksty opisujące grafikę<br />

• bezpośrednio, w formie takiej, jak zostały zapisane w strukturach<br />

związanych z grafiką, nie gwarantujące w związku z tym<br />

opisu sięgającego do istoty informacyjnej grafiki ani opisu wg<br />

zasad składni języka naturalnego,<br />

• przetworzone pod kątem poprawności językowej i, przede<br />

wszystkim, skonstruowane tak, aby najwiarygodniej odzwierciedlały<br />

wywnioskowany główny komunikat informacyjny niesiony<br />

przez grafikę.<br />

Artykuł przedstawia przede wszystkim problematykę zwiększania<br />

dostępności grafiki i możliwości interaktywnego poznawania<br />

jej szczegółów przez niewidomego użytkownika lub użytkownika<br />

zminiaturyzowanego sprzętu mobilnego. Oddzielną problematyką<br />

są techniki, i ich rozwój, tworzenia/edytowania grafiki przez<br />

osobę niewidomą oraz współpraca wymagająca działań na grafice<br />

osoby niewidzącej z widzącą w trybie online. Ta problematyka<br />

zostanie poruszona w następnym artykule.<br />

Techniki haptyczne interaktywnego<br />

prezentowania grafiki<br />

Od kilku lat w wielu ośrodkach trwają prace nad wyposażaniem<br />

ekranów dotykowych w sprzężenia zwrotne naciskające skórę.<br />

W skrócie można powiedzieć, że w wyniku dotknięcia przez użytkownika<br />

określonych miejsc ekranu, ekran w sposób właściwy dla<br />

miejsca dotknięcia drga, dodatkowo może generować odpowiednią<br />

sygnalizację dźwiękową.<br />

Dla zwiększenia oddziaływania na zmysł dotyku i słuch użytkownika<br />

oraz jego doświadczeń w interaktywności wzbogaca się<br />

interfejs dotykowy o sprzężenie zwrotne, w odpowiedzi na dotyk<br />

ekranu, generowane nie tylko jako drgania o różnej częstotliwości,<br />

sile i odstępach czasowych, ale również jako sygnały akustyczne<br />

o różnych parametrach. Takie sprzężenie dotykające, naciskające<br />

skórę palców, na ogół generowane jako wibracje, umożliwia<br />

rozpoznanie (czucie) wirtualnego kształtu, np. dotkniętego przycisku<br />

na ekranie.<br />

Techniki haptyczne oparte są na generowaniu sprzężenia zwrotnego<br />

w wyniku dotyku ekranu lub nakładki, z wypukłym wydrukiem<br />

grafiki, na ekran dotykowy, czyli inaczej – odpowiedzi na dotyk.<br />

Sprzężenie zwrotne może być realizowane w formie:<br />

• języka naturalnego (tekstu i mowy),<br />

• oddziaływania siłowego, np. poprzez szpilki poruszające się<br />

pionowo (co w dalszej części jest opisane) albo wibrację, używaną<br />

do odtwarzania kropek (linii kropkowanych), powierzchni<br />

kształtów, tekstury w postaci siatki ortogonalnej (linie proste,<br />

prostokąty, wspomaganie lokalizacji dotyku) lub pionowej lub<br />

poziomej odtwarzającej wirtualnie ruch palców po falistej powierzchni,<br />

co ułatwia orientację w ruchu palców w pionie i poziomie<br />

na płaszczyźnie; ruch po przekątnej może być również<br />

wspomagany takimi formami tekstury – poprzez silniejsze lub<br />

słabsze wibracje odpowiadające ruchom w poprzek lub wzdłuż<br />

„grzbietów fal”,<br />

• akustycznie – sygnałami dźwiękowymi o różnych parametrach<br />

(barwa, głośność, częstotliwość),<br />

• mieszanej, łączącej na różny sposób język naturalny, wibracje<br />

i sygnały tonalne.<br />

Wymagania dotyczące prezentowania grafiki na<br />

urządzeniach haptycznych<br />

Techniki prezentowania grafiki z zastosowaniem urządzeń haptycznych<br />

niosą ze sobą wymagania co do sposobu przygotowania<br />

i prezentacji grafiki.<br />

Przykładowo, odległość między elementami rozpoznawanymi<br />

przez dotyk musi być równa co najmniej Ľ cala, jeszcze wićksza<br />

odlegůoúă powinna byă zachowana, gdy występuje różnica<br />

w wysokości prezentowanych elementów. Prezentacja grafiki, np.<br />

schematów na urządzeniach dotykowych wymaga większej powierzchni,<br />

co może się łączyć z koniecznością podziału i właściwej<br />

kolejności prezentacji poszczególnych części schematu oraz<br />

konieczności wyposażenia użytkownika w mechanizm nawigacji<br />

po częściach schematu i ich lokalizacji na schemacie.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 77


Symbole i inne graficzne kształty wyświetlane na urządzeniu<br />

haptycznym nie mogą być zbyt małe, ponieważ osoby niewidzące<br />

nie mogą ich powiększyć ani informatyczną lupą ani przybliżaniem<br />

oczu do obrazu, czy też zmianą ogniskowej. Względne<br />

położenie elementów na ekranie nie powinno się zmieniać, jeśli<br />

nie uzasadniają tego względy merytoryczne. Nie powinno być na<br />

ekranie elementów nieistotnych dla przekazywanej informacji.<br />

Podsumowując – rozłożenie elementów graficznych w urządzeniach<br />

haptycznych powinno zapewniać możliwie jak najszybszą<br />

ich rozpoznawalność dotykiem,. Wymaga to dokładnej analizy informacji<br />

i właściwego sformatowania przed wysłaniem jej na urządzenie<br />

haptyczne, co łączy się z dodatkowymi nakładami pracy<br />

projektantów grafiki i kosztami, tworzącymi barierę w dostępności<br />

grafiki przy pomocy technik haptycznych.<br />

Interfejs haptyczny jest wykorzystywany do przekazywania<br />

treści, zwłaszcza wizualnych, nieliniowych, osobom niewidzącym,<br />

przede wszystkim w edukacji szkolnej. Wraz z szeroko rozpowszechnionymi<br />

ekranami dotykowymi w smartfonach i tabletach,<br />

wyposażonych w możliwości sprzężenia zwrotnego dźwiękowego<br />

lub siłowego, jest nadzieja, że w coraz większym stopniu znajdą<br />

one zastosowanie w szkołach jako urządzenia wspomagające<br />

nauczanie niewidzących uczniów. Interfejs haptyczny coraz bardziej<br />

dominuje nie tylko w urządzeniach mobilnych, ale również<br />

w dużych ekranach i tablicach, również przemysłowych. Stwarza<br />

użytkownikom możliwości interaktywnego sposobu pobierania<br />

i przetwarzania informacji poprzez dotyk palcami.<br />

Techniki siłowego sprzężenia zwrotnego<br />

w haptycznych urządzeniach<br />

Istnieją różne technologie wibracyjnego, dotykowego sprzężenia<br />

zwrotnego. Najbardziej powszechną, stosowaną w urządzeniach<br />

mobilnych jest przekształcanie ruchu obrotowego na posuwistozwrotny<br />

(ang. eccentric mass), inne technologie to przekształcanie<br />

energii elektrycznej w mechaniczną pracę (dialektryczne elastomery)<br />

lub piezoceramiczne silniki krokowe przekształcające<br />

energię elektryczną w wibracje.<br />

Alternatywnymi rozwiązaniami w stosunku do tych, które pobudzają<br />

w ruch gładkie, sztywne (ale poddające się wibracjom)<br />

powierzchnie, są takie, które wykorzystują szpilkowe matryce,<br />

mogące dynamicznie zmieniać swoją powierzchnię, do przekazywania<br />

dotykająco-naciskającego skórę sprzężenia zwrotnego.<br />

Siła przekazywana na poruszające się wertykalnie szpilki może<br />

być generowana przez silniki krokowe, piezoceramiczne dwupłytki<br />

(mikrosilniki liniowe), solenoidy i SMA – Shape Memory Alloys,<br />

stopy metali odtwarzające swój pierwotny kształt, np. nitinol. Możliwe<br />

są też rozwiązania z bocznym naciskiem na skórę palców,<br />

na przykład ekrany o zmiennym tarciu powierzchni, regulowanym<br />

przez warstwę powietrza między powierzchnią ekranu a palcami,<br />

naciskającym bocznie, gdy są włączone ultradźwiękowe wibracje.<br />

Rozwiązania „szpilkowe” są wykorzystywane do przekazywania<br />

informacji w notacji brajla.<br />

Urządzenia „szpilkowe” można podzielić na 3 kategorie [1]:<br />

1. statycznie odświeżalne „ekrany” (powierzchnie), w których<br />

obraz, rozpoznawany przez dotyk palców poruszających się<br />

po ekranie, jest odświeżany poprzez ruch pionowy szpilek,<br />

tworząc kształty (najnowsze urządzenia z tej kategorii osiągają<br />

7200 × 10 szpilek [2]),<br />

2. ekrany z dynamicznie zmieniającym się obrazem pod nieruchomymi<br />

palcami (np. monitory vel linijki brajlowskie), mniej<br />

energochłonne, równie drogie jak urządzenia kategorii 1, ale<br />

o mniejszych rozmiarach,<br />

3. urządzenia z wejściem dla wizualnej informacji, np. z wbudowaną<br />

kamerą i dotykowym ekranem, które przekształcają wizualną<br />

informację w dotykową [2], dotychczasowe doświadczenia<br />

78<br />

wskazują na używanie tych urządzeń raczej do rozpoznawania<br />

statycznego obrazu graficznego, rozmiarem są mało poręczne.<br />

Tego typu urządzenia dotykowe, przenośne, z „ekranem” odświeżalnym,<br />

mogące prezentować grafikę, bardzo dobrze nadają<br />

się do nauczania matematyki osoby niewidzące. Zwiększają<br />

efektywność i skuteczność nauczania. Nauczyciele nie musieliby<br />

indywidualnie uczyć niewidzących uczniów, korzystając z takich<br />

mechanicznych pomocy, jak tablice korkowe ze szpikami i nitkami<br />

odtwarzającymi linie, kształty geometryczne, papier wytłaczany lub<br />

wcześniej przygotowane płaskie lub przestrzenne kształty, np. rzeźby,<br />

odlewy kształtów przestrzennych. Barierą w ich powszechnym<br />

stosowaniu są względy ekonomiczne (wysoka cena urządzeń).<br />

Mniej wiadomo, czy urządzenia „szpilkowe” sprawdzają się<br />

w dużych ekranach i/lub do przekazywania kształtów. Prowadzone<br />

są badania nad ich zastosowaniem do przekazywania<br />

i odbioru grafiki (obrazów, diagramów, rysunków, zdjęć i innych),<br />

zwłaszcza grafiki występującej w podręcznikach szkolnych, akademickich<br />

i książkach naukowych. Poszukiwane są ciągle rozwiązania<br />

dostępne ekonomicznie.<br />

Badania naukowe i wyniki dotyczące technik<br />

haptycznych zwiększających dostępność grafiki<br />

Pierwsze badania nad technologią zapisu i prezentowania grafiki<br />

w sposób dostępny dla wszystkich, w tym dla osób niewidzących,<br />

która byłaby szeroko stosowana, a więc nie kosztowna,<br />

datowane są z początku lat 90. XX w. Inspiracją były pionierskie<br />

badania nad zastosowaniem dotyku i dźwięku do przekazywania<br />

informacji graficznych prowadzone przez Parkes’a w 1991 r. [7].<br />

Jednym z kolejnych projektów (2005 r.), inspirowanym rozwiązaniami<br />

Parkes’a, był projekt Science Access Project [15], prowadzony<br />

na uniwersytecie stanowym w Oregon, rozpoczęty na<br />

przełomie wieków XX i XXI. Dotyczył on zwiększenia dostępności<br />

grafiki w publikacjach naukowych. Przy pomocy dołączonego do<br />

komputera tabletu dotykowego i nakładania na niego wypukłego<br />

druku wyświetlanej grafiki, poprzez dotyk elementów lub całego<br />

obiektu graficznego w miejscach oznaczonych etykietami, można<br />

było uzyskać mową w języku naturalnym (angielskim) ich opisy<br />

na różnym poziomie szczegółowości. Wymagało to dobrego opisywania<br />

grafiki meta danymi. Badana dostępność grafiki uzyskiwana<br />

taką metodą była wysoka, koszty również.<br />

Ze względu na upływ czasu od prowadzenia pierwszych tego<br />

typu badań i starzenia się technologicznego opracowanych rozwiązań,<br />

warto przedstawić nowsze badania i wyniki, dotyczące<br />

haptycznych rozwiązań zwiększających dostępność grafiki.<br />

• Accessible Graphic Calculator (prod. ViewPlus Technologies):<br />

oprogramowanie działające pod Windows, które wspomaga osoby<br />

niewidzące w przyswajaniu i kreowaniu treści matematycznych<br />

poprzez rozszerzony interfejs z użytkownikiem o dotyk (drukowanie<br />

rysunków), dźwięk i mowę. Umożliwia rozpoznawanie<br />

wykresów matematycznych poprzez emitowane dźwięki o różnej<br />

tonacji odpowiadającej różnym wartościom na wykresie.<br />

• Sensable Phantom (prod. Sensable – GeoMagic) – linia<br />

urządzeń dotykowych – ręcznych manipulatorów z “siłowym”<br />

sprzężeniem zwrotnym, które umożliwiają użytkownikom dotykanie<br />

wirtualnych obiektów i manipulowanie nimi; urządzenia<br />

te różnią się właściwościami zależnie od zastosowań naukowych<br />

i komercyjnych.<br />

• Logitech WingMan Force Feedback Mouse – urządzenie<br />

działające również jak joystic, zaprojektowane dla immersyjnych<br />

gier komputerowych; sprzężenie zwrotne w odpowiedzi<br />

na ruchy myszą i działania na jej przyciskach przekazywane<br />

jest jako drgania podstawki; może być zastosowane do tworzenia<br />

i zapoznawania się z grafami przez osoby niewidome,<br />

co zostało opisane w [3].<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys 1. Mysz Logitech WingMan Force Feedback Mouse, działająca<br />

również jak joystick (haptyczne sprzężenie zwrotne siłowe przekazywane<br />

jest przez drgania podstawki) Żródło: http://www.amazon.com/<br />

Logitech-WingMan-Force-Feedback-Mouse/dp/B00001W01Z<br />

Fig. 1. Logitech WingMan Force Feedback Mouse, It works as<br />

a joystick in which haptic feedback is translated to the user hand as<br />

a stand vibration<br />

• Zestaw ekranu dotykowego tabletu PC, matrycy szpilkowej,<br />

digitajzera 3D i rylca, którym na tablecie rysowana linia jest<br />

obrazowana układem szpilek na matrycy szpilkowej [4]. Haptyczny<br />

rylec, z wbudowanym wibracyjnym motorkiem, w odpowiedzi<br />

na ruch na ekranie dotykowym, wibracjami wskazujący<br />

ścieżkę śledzenia wyświetlanej grafiki na ekranie dotykowym.<br />

Przykład wibracyjnego rylca, opatentowanego, Nintendo 3DS<br />

przedstawia rys 3. Nintendo 3DS jest wyposażony w marker,<br />

którego położenie śledzi wbudowana w ekran kamera, motorek<br />

generujący wibracje umieszczony jest w górnej części rylca.<br />

• Program Earth+ (Robert Shelton, NASA): program przekształca<br />

kolory występujące w obrazie graficznym w różne dźwięki.<br />

Użytkownik, by zapoznać się z całym obrazem i go usłyszeć,<br />

przesuwa kursor po obrazie. Obraz mapy pogody będzie generował<br />

inne dźwięki dla chmur białych, inne dla granatowych<br />

burzowych, inne dla brązowego lądu.<br />

• Program MathTrax (Robert Shelton, NASA): program opisuje<br />

wykresy równań i inne wykresy za pomocą dźwięków i mowy<br />

w język naturalnym.<br />

• Aplikacja na tablet (Medical and Electromechanical Design<br />

Laboratory of Vanderbilt University): nienazwana jeszcze<br />

aplikacja opracowana przez młodych naukowców w ramach<br />

badań dysertacyjnych [14] obronionych w <strong>2012</strong> r. nad zastosowaniem<br />

wibracyjnych urządzeń w edukacji niewidomych uczniów;<br />

aplikacja wspomaga interaktywną pracę ucznia z grafiką<br />

matematyczną. Za pomocą tej aplikacji uczeń jest w stanie<br />

śledzić linie i poznawać geometryczne kształty wodząc po<br />

nich palcami na dotykowym ekranie tabletu, bo odpowiednie<br />

wibracje i sygnały dźwiękowe, generowane w odpowiedzi na<br />

dotyk, prowadzą go dokładnie po liniach i konturach kształtów.<br />

Kierunek ruchów palców oraz ogólną orientację w położeniu<br />

na ekranie zwiększa tekstura w postaci siatki ortogonalnej<br />

prezentowanej tonalnie. Aplikacja może okazać się bardzo<br />

użyteczna dla prezentacji i poznawania nieregularnych wykresów<br />

i kształtów. Są to pierwsze próby (z <strong>2012</strong> r.) zastosowania<br />

powszechnie używanych mobilnych urządzeń jako narzędzi<br />

pomocnych w prezentowaniu grafiki matematycznej osobom<br />

niewidzącym. Aplikacja jest stale rozwijana. Warto wspomnieć,<br />

że na podobnej zasadzie wibracyjno-dźwiękowego sprzężenia<br />

zwrotnego, ten sam zespół naukowców opracowuje zupełnie<br />

nową aplikację na urządzenia mobilne – graficzny kalkulator.<br />

Rys. 3 Aplikacja opracowana na Vanderbilt University w <strong>2012</strong> r. przekształcająca<br />

dotykowy tablet w urządzenie haptyczne ze sprzężeniem<br />

zwrotnym siłowo-akustycznym oraz ze wspomagającym tłem<br />

w postaci siatki ortogonalnej ułatwiającej interaktywne rozpoznawanie<br />

grafiki Żródło: http://research.vuse.vanderbilt.edu/MEDLab/<br />

Fig. 3. A dedicated software application developed in <strong>2012</strong> by Vanderbilt<br />

University. It enables to use a tablet with touch screen as<br />

a interactive display with acoustic and force feedback with support<br />

of additional background ortogonal grid for easier orientation of the<br />

blind user on the screen<br />

Rys 2. Działanie haptycznego zestawu play-station i rylca, wibracyjnego,<br />

bezdotykowego Nintendo 3DS, wyposażonego w marker,<br />

którego położenie śledzi wbudowana w ekran kamera; motorek generujący<br />

wibracje umieszczony jest w górnej części rylca. Żródło:<br />

http://www.nintendo.com/3ds/<br />

Fig. 2 Non contact stylus Nintendo 3DS equipped with a special marker<br />

which position is traced by camera builded into screen. Additional<br />

engine that generates vibrations filed by a user hand is placed at<br />

the top of the stylus<br />

Haptyczny ekran dotykowy rozszerzający możliwości interfejsu<br />

z użytkownikiem komputera klasy PC (TouchSense Immersion,<br />

Inc.): wyposażony jest w 4 silniczki krokowe, podobnie jak<br />

urządzenie we/wy podłączane przez 2 złącza USB i jedno złącze<br />

VGA na przekazywanie obrazu.<br />

Na tym urządzeniu, podłączonym do komputera PC, były prowadzone<br />

badania [5] nad stopniem rozpoznawania przez osoby<br />

niewidzące lokalizacji punktu na płaszczyźnie osi X-Y, znajdowania<br />

na płaszczyźnie współrzędnych wszystkich punktów wyświetlanych<br />

na ekranie oraz rozpoznawania linii i kształtów przy<br />

pomocy dotyku i sprzężenia zwrotnego w postaci wibracji i sygnałów<br />

akustycznych. Urządzenie ma możliwość przyporządkowania<br />

każdego typu sprzężenia (siłowego, akustycznego) do pojedynczego<br />

piksela (ekran ma rozmiary 270×222 mm i rozdzielczość<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 79


1024×768 px), co zostało wykorzystane w badaniach nad znajdowaniem<br />

i rozpoznawaniem kształtów. Do określania współrzędnych<br />

położenia zastosowano pomocniczą siatkę 7×7 (teksturę)<br />

wyświetlanych linii pionowych i poziomych, których przecięcia<br />

były punktami orientacyjnymi przy określaniu właściwego położenia.<br />

Dotknięcie ekranu w punkcie przecięcia generowało słowną<br />

informację o współrzędnych punktów.<br />

Badania wykazały, że nie ma istotnych różnic we wpływie rodzaju<br />

sprzężenia zwrotnego na skuteczność określania lokalizacji<br />

punktu lub rozpoznawania kształtów. Lekka przewaga dotyczy siłowego<br />

sprzężenia zwrotnego. Wiele zależy od osobistych upodobań<br />

użytkownika. Jednak w badaniach ankietowych ex post ich<br />

uczestnicy preferowali jednoczesność obu typów sprzężeń generowanych<br />

w odpowiedzi na dotyk.<br />

Techniki interaktywnego prezentowania grafiki<br />

w języku naturalnym<br />

Dla osób posługujących się przeglądarkami internetowymi opartymi<br />

na odczycie tekstów ze stron WWW – wykresy, schematy,<br />

rysunki i inne grafiki są elementami niedostępnymi lub dostępnymi<br />

informacyjnie w zakresie informacji zawartej w ewentualnie<br />

istniejącym tekście alternatywnym. Format zapisu grafiki wg standardu<br />

SVG (Scalable Vector Graphics) włączonego do HTML5<br />

nie ma tekstu alternatywnego (podobnie jak MathML), a wśród<br />

obecnych na rynku przeglądarek tekstowych – czytników ekranu,<br />

nie ma czytnika, który standardowo sięgałby w głąb struktury tagu<br />

, w której jest miejsce na tytuł i dokładny opis grafiki (tagi<br />

i ):<br />

<br />

To jest wykres słupkowy<br />

Wykres przedstawia zainteresowania Bonami na Innowacje w<br />

województwach<br />

<br />

...<br />

<br />

Tego mankamentu nie ma struktura canvas w HTML5, przy pomocy<br />

której można prezentować grafikę. Struktura canvas ma<br />

element alt na alternatywny tekst dla przeglądarek WWW nie<br />

akceptujących HTML5 oraz dla przeglądarek tekstowych (które<br />

akceptują HTML5 i znana im jest struktura canvas):<br />

<br />

<br />

<br />

Użytkownikami przeglądarek tekstowych i czytników ekranów są<br />

nie tylko osoby niewidome, ale również osoby z dysleksją lub niesprawnością<br />

rąk, nie mogące korzystać z myszy. Miniaturyzacja<br />

urządzeń mobilnych i niewielkie ekrany, w jakie są wyposażone,<br />

powoduje, że również dla użytkowników tych urządzeń grafika, jej<br />

szczegóły stają się niedostępne. Wraz ze zwiększającym się trendem<br />

wizualizacji informacji, grafika w dokumentach odgrywa coraz<br />

większą rolę. Często zawiera ona najistotniejsze informacje,<br />

nie zawsze alternatywnie podane w tekście strony lub dokumentu.<br />

Ponadto jej transmisja wymaga dużej przepustowości łączy.<br />

Jest wiele okoliczności i powodów, dla których prowadzone są<br />

badania nad alternatywnymi metodami prezentującymi grafikę.<br />

Naukowcy zajmujący się odtwarzaniem informacji zawartej<br />

w grafice naukowej i biznesowej wykorzystują dla udostępnienia<br />

grafiki różne techniki, m.in. dotyk i dźwięk i połączenie obu tych<br />

technik. Niosą one ze sobą poważne ograniczenia:<br />

80<br />

– konieczność posiadania sprzętu, i to mało przenośnego, jak<br />

drukarki druku wypukłego i tablety dotykowe,<br />

– wiele z tych rozwiązań wymaga specjalnego zaprojektowania<br />

i przygotowania grafiki w sposób mogący służyć odtwarzaniu<br />

zawartych w niej informacji przy pomocy dotyku i dźwięku.<br />

Z tego powodu, oraz ograniczonych możliwości przekazywania<br />

opisu grafiki za pomocą tekstu alternatywnego (i to tylko opisu<br />

statycznego), zauważyć można coraz większe zainteresowanie<br />

środowisk naukowych badaniami nad technikami lingwistycznymi<br />

prezentującymi nie lingwistycznie zapisane dane czyli na udostępnianiu<br />

grafiki w tekstowej formie. Tekst streszczający grafikę<br />

i opisujący ją na różnym poziomie szczegółowości jest odczytywany<br />

mową, techniką text-to-speech, używaną przez czytniki<br />

ekranów, jak na przykład najpopularniejszy JAWS. Pierwsze<br />

prace badawcze były prowadzone w kierunku dostarczania informacji<br />

o tym, jak grafika wygląda. W zależności od typu grafiki,<br />

np. wykres liniowy, słupkowy lub kołowy, pozyskiwano informacje<br />

o typie i właściwych dla danego typu podstawowych elementach<br />

z tekstów zawartych w plikach grafiki.<br />

Najnowsze badania, opisane dalej, mają dostarczyć inteligentnych<br />

technik tworzenia informacji o tym, jaki jest główny komunikat<br />

informacyjny zawarty w grafice. Chodzi o wygenerowanie<br />

tekstu w języku naturalnym streszczającego główny komunikat<br />

oraz dostarczenie informacji (również tekstem w języku naturalnym)<br />

bardziej szczegółowych, na różnych poziomach szczegółowości,<br />

generowanych na życzenie użytkownika. Dotychczasowe<br />

badania koncentrują się na technikach wydobywania i tworzenia<br />

informacji na podstawie wnioskowania specjalizujących się w obsłudze<br />

określonych typów grafik, takich jak schematy słupkowe,<br />

kołowe albo wykresy liniowe różnego rodzaju lub grafy liniowe.<br />

Brakuje rozwiązań kompleksowych, które poradziłyby sobie<br />

z tekstową prezentacją każdego typu grafiki, przynajmniej typu<br />

matematycznego (wykresy liniowe i punktowe, kształty geometryczne,<br />

grafy sieciowe w podręcznikach i wydawnictwach naukowych)<br />

albo biznesowego (wykresy słupkowe i kołowe w tygodnikach,<br />

raportach). O ile badania dotyczące niewizualnego<br />

udostępniania i tworzenia formuł matematycznych zaowocowały<br />

opracowaniem m.in. internetowych platform i bibliotek [16] wymiany<br />

narodowych/regionalnych formatów brajlowskich notacji<br />

matematycznych (np. amerykańska Nemeth Braille, francuska<br />

BrailleStar) oraz odczytu formuł w języku naturalnym, o tyle prace<br />

nad kompleksowym rozwiązaniem zwiększającym dostępność<br />

grafik matematycznych i biznesowych nie są zaawansowane.<br />

Jednym z takich kompleksowych rozwiązań może być internetowa<br />

platforma świadcząca e-usługi tekstowej prezentacji grafik<br />

na różnym poziomie szczegółowości, w wybranym języku naturalnym<br />

i technologii text-to-speech, z możliwością generowania<br />

tekstu alternatywnego streszczającego grafikę, wstawianego na<br />

stronę WWW lub do dokumentu elektronicznego.<br />

Warto zauważyć, że wyniki prac nad kompleksowymi rozwiązaniami<br />

udostępniania grafiki miałyby masowych odbiorców,<br />

zwłaszcza wśród użytkowników smartfonów.<br />

Badania naukowe i wyniki dotyczące interaktywnych<br />

technik udostępniania grafik w języku naturalnym<br />

Prace nad dostarczaniem informacji o schematach prezentowanych<br />

przez oprogramowanie prezentacyjne, na podstawie właściwości<br />

schematów (styl, etykiety i zakresy osi, liczba zestawów danych)<br />

były prowadzone już w 1995 r. przez Kurze’a [11] i w 1996 r.<br />

przez Kennel’a (system Audiograf [12]). Rozwiązania oparte na ich<br />

wynikach wymagały jednak od użytkowników zapamiętywania logiki<br />

układu schematu i/lub dodatkowego wyposażenia sprzętowego.<br />

Nowsze badania, z bardzo ciekawymi osiągnięciami opublikowanymi<br />

w 2007 r. w [13], dotyczą interpretacji grafik statystycznych<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


ukazujących się w głównym kanadyjskim wydawnictwie statystycznym<br />

„The Daily”. Opracowano system iGraph dostarczający użytkownikowi,<br />

w trybie interaktywnym, informacji prezentowanych<br />

na wykresach statystycznych. Użytkownik może współpracować<br />

z iGraph na dwa sposoby: otrzymywać streszczenie wykresu generowane<br />

wg opracowanego szablonu („protokołu komunikacji”)<br />

na podstawie tytułu, etykiet osi, najwyższych i najniższych wartości<br />

oraz może bardziej szczegółowo badać wykres za pomocą<br />

instrukcji klawiszowych, w wyniku których może otrzymać wartości<br />

wszystkich punktów wykresu (zaznaczonych na wykresie) oraz<br />

zmiany pomiędzy wartościami punktów. System iGraph jest bardzo<br />

użyteczny do zapoznawania się w trybie tekstowym i dogłębnie<br />

z wykresami statystycznymi, nie nadaje się jednak do pozyskiwania<br />

informacji o grafice charakterystycznej dla biznesowych<br />

wydawnictw i popularnych tygodników takich jak „Newsweek” czy<br />

„The Times”, które w grafice, często w postaci wykresów słupkowych,<br />

przekazują komunikat informacyjny. System iGraph nie<br />

potrafi „odczytać” takiego komunikatu (przesłania informacyjnego).<br />

Informuje wyłącznie o tym, jak wykres statystyczny wygląda,<br />

nie wyciągając wniosków czyli informacji z danych zawartych na<br />

wykresie ani nie robiąc syntezy informacyjnej. Powoduje to małą<br />

przyjazność systemu, ponieważ użytkownik musi w swej wyobraźni<br />

odtwarzać „mentalną mapę” wykresu.<br />

Od 2005 r. prowadzone są bardzo interesujące badania, m.in.<br />

publikowane w 2007 r. [9] i w dysertacji Seniza Demir’a z 2010 r.<br />

[9], nad systemem SIGHT tworzącym informacje tekstowe w języku<br />

naturalnym o grafice na stronach WWW (np. na stronach<br />

elektronicznych wydań tygodników „Newsweek” i „The Times”),<br />

ograniczone na razie do prostych wykresów słupkowych, tzn.<br />

obrazujących wartości jednego, niezależnego atrybutu i odpowiadające<br />

wartości atrybutu zależnego. Rozwiązanie zastosowane<br />

w systemie SIGHT nie wymaga ani specjalnego oprzyrządowania<br />

(wystarczy jedynie komputer z przeglądarką Web) ani pomocy<br />

osoby widzącej. Nie wymaga od użytkownika umysłowego wysiłku<br />

w zrozumieniu przekazu informacyjnego schematu, ponieważ<br />

system streszcza główny komunikat informacyjny schematu i dostarcza<br />

odpowiedzi na ewentualne zainteresowanie szczegółami<br />

schematu.<br />

Informacja tworzona jest na podstawie analizy tekstów nagłówków,<br />

etykiet osi oraz innych tekstów znajdujących się na<br />

zidentyfikowanym wykresie. Celem generowanej informacji jest<br />

jak najbardziej wiarygodne odtworzenie głównego przesłania<br />

(komunikatu) wykresu. W wyniku badań została opracowana<br />

aplikacja SIGHT (Summarizing Information GrapHics Textually)<br />

rozszerzająca działanie przeglądarki IE dla Windows, ukierunkowana<br />

na najbardziej popularny czytnik ekranu – JAWS (Freedom<br />

Scientific, Inc.). Planowane są i już realizowane dalsze badania<br />

obejmujące bardziej skomplikowaną grafikę jak wykresy kołowe<br />

i grupowe wykresy słupkowe, jak również rozszerzenie SIGHT<br />

w kierunku współpracy z innymi przeglądarkami oraz na innych<br />

platformach (MAC, Linux).<br />

SIGHT generuje wstępną informację o wykresie, w języku naturalnym<br />

(angielskim), na podstawie ważnych i wyróżniających się<br />

jego cech oraz w swej najnowszej wersji umożliwia konwersację<br />

z użytkownikiem chcącym dowiedzieć się więcej o wykresie, w wyniku<br />

której są generowane bardziej szczegółowe informacje.<br />

Dotychczasowe wyniki prac nad SIGHT, ewaluowane na grupie<br />

110 prostych wykresów słupkowych wybranych z popularnych<br />

czasopism i raportów dały wiarygodność odtworzenia głównego<br />

przesłania informacyjnego wykresu na poziomie 79,1%. SIGHT<br />

nie wymaga od użytkowników dodatkowej fatygi ani oprzyrządowania.<br />

Nie wymaga też od twórców stron WWW specjalnego modelowania<br />

i zapisu wykresów.<br />

Warto pokrótce poznać działanie aplikacji SIGHT.<br />

Zasady i algorytmy generowania informacji<br />

w języku naturalnym o schematach słupkowych<br />

w aplikacji SIGHT<br />

Użytkownik nawigując po stronie WWW przy pomocy wirtualnego<br />

wskaźnika czytnika ekranu JAWS, pełniącego rolę przeglądarki<br />

tekstowej WWW, i napotkawszy grafikę, tzn. jej alternatywny<br />

tekst, może uruchomić aplikację SIGHT klawiszami CTRL+Z., by<br />

dowiedzieć się, o czym informuje wykres (jeżeli jest to wykres<br />

słupkowy). Tekst streszczający podstawowy, główny komunikat<br />

przekazywany przez wykres jest podawany w dodatkowym oknie.<br />

Wygenerowanie tekstu streszczającego następuje w wyniku kilkuetapowego<br />

przetwarzania wykresu.<br />

Pierwszym etapem jest preprocessing strony WWW wykrywający<br />

wszystkie grafiki podejrzane o to, że są wykresami słupkowymi,<br />

i opatrzenie ich alternatywnym tekstem informującym, że<br />

dana grafika wydaje się być wykresem słupkowym. Rozpoznanie<br />

następuje w wyniku analizy specyficznych atrybutów, mogących<br />

wskazywać na wykres słupkowy, takich jak 20 lub więcej poziomów<br />

szarości, zawieranie co najmniej 2 prostokątów ze wspólnym<br />

początkowym wierszem lub kolumną. By zsynchronizować położenie<br />

wskaźnika czytnika ze wskaźnikiem przeglądarki, którym<br />

operuje model DOM przeglądarki IR i z którego korzysta SIGHT,<br />

wykorzystywana jest cecha nowszych wersji JAWS umożliwiająca<br />

taką synchronizację klawiszami CTRL+INSERT+DELETE.<br />

Gdy klawisze CTRL+Z są przez SIGHT rozpoznane, a wskaźnik<br />

wskazuje na wykres słupkowy, następuje analiza pliku z grafiką<br />

wykresu i na jej podstawie generowana jest struktura XML<br />

z uzyskanymi danymi o wykresie. Są nimi typ wykresu (prosty<br />

wykres słupkowy, wykres kołowy i inne) oraz elementy tekstowe<br />

wykresu takie jak tytuł, etykiety osi, teksty na/przy słupkach i inne<br />

napisy oraz liczba, wysokość i kolor słupków.<br />

Tak powstała struktura XML jest poddawana uzupełnieniom<br />

o dodatkowe informacje dotyczące wyróżnień na schemacie, np.<br />

wskazujące słupek wyróżniony kolorem wśród innych słupków, słupek<br />

opatrzony dodatkowym tekstem, słupek opatrzony kolorowym<br />

tekstem, gdy inne teksty towarzyszące słupkom są niekolorowe.<br />

Również jako dodatkowa, uzupełniająca, jest generowana informacja<br />

o zidentyfikowanych klasach czasowników i przymiotników<br />

o podobnym znaczeniu (rdzeniu) oraz występowaniu zidentyfikowanej<br />

klasy w tytule schematu. Chodzi o zidentyfikowanie<br />

najbardziej prawdopodobnej kategorii głównego komunikatu informacyjnego<br />

zawartego w schemacie (np. pokazanie trendu lub<br />

zmiany w trendzie lub wierzchołka wartości), a wprowadzonego<br />

przez projektanta schematu za pomocą opracowanego projektu<br />

schematu, na który składają się takie elementy jak kwadraty,<br />

ich gabaryty i kolor, ich ułożenie na osi, etykiety osi i wartości na<br />

osiach, tytuł, wyróżnienia i inne elementy. W najnowszej wersji<br />

SIGHT przyjęto 12 kategorii komunikatów informacyjnych.<br />

W celu dalszego przetwarzania uzupełnionej pierwotnej struktury<br />

XML, jakim jest zidentyfikowanie kategorii głównego komunikatu<br />

schematu, identyfikowane są 3 rodzaje „sygnałów komunikatywnych”,<br />

których można się dopatrzyć na schematach:<br />

• względny (mały, średni, duży) wysiłek użytkownika potrzebny<br />

dla dwóch różnych zadań – percepcji i zrozumienia przesłania<br />

informacyjnego wykresu; przykładem różnego wysiłku dla zrozumienia<br />

wykresu jest ułożenie słupków wg reprezentowanych<br />

wartości albo wg alfabetycznej kolejności etykiet słupków; przy<br />

ułożeniu alfabetycznym trudniej jest zauważyć trend lub jego<br />

zmianę;<br />

• wyróżnienie jednego ze słupków np. przez kolor albo dodatkowy<br />

napis, co jest zapisane jako wcześniej opisane uzupełnienie<br />

struktury XML;<br />

• występowanie w tytule określonych czasowników i przymiotników,<br />

jak również odczasownikowych rzeczowników i przymiot-<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 81


ników, podlegających ekstrakcji, mogących sugerować ogólną<br />

kategorię komunikatu zawartego w wykresie; dalsza analiza<br />

wyodrębnionych słów, m.in. wyodrębnianie wspólnych rdzeni<br />

i klasyfikowanie odbywa się za pomocą dostępnych w Internecie<br />

baz słownikowych m.in. WordNet i tezaurusów; wyniki<br />

przetwarzania tytułu (wyodrębnione słowa lub klasa słów sugerujące<br />

prawdopodobną kategorię komunikatu – np. o ocenie<br />

lub zmianie trendu lub względnej różnicy) umieszczane<br />

są w strukturze XML; tagowanie słów tworzących klasę jest<br />

przeprowadzane na strukturze XML.<br />

Na podstawie otrzymanej struktury tworzona jest dynamicznie<br />

sieć bayesowska, służąca, ogólnie definiując, do przedstawiania<br />

zależności pomiędzy zdarzeniami, i wnioskowaniu dotyczącego<br />

najbardziej prawdopodobnej hipotezy, w oparciu o rachunek<br />

prawdopodobieństwa. Klasycznym przykładem sieci Bayes’a jest<br />

reprezentowanie zależności pomiędzy symptomami a chorobą.<br />

W przypadku aplikacji SIGHT wierzchołkiem sieci są możliwe,<br />

przyjęte w SIGHT, kategorie komunikatu płynącego z wykresu<br />

(12 kategorii), zaś węzłami-dziećmi wyszukane dowody na występowanie<br />

cech danej kategorii (mało prawdopodobne, średnio<br />

prawdopodobne i bardzo prawdopodobne). Jako fakty wprowadzane<br />

są do sieci zidentyfikowane „sygnały komunikatywne”.<br />

Wybór najbardziej prawdopodobnej kategorii polega na ocenie<br />

prawdopodobieństwa sumarycznego dostarczonego przez dowody.<br />

W ten sposób wybierany jest typ (kategoria) komunikatu<br />

głównego (streszczającego schemat), a jego treść konstruowana<br />

jest z wartości parametrów zapisanych w strukturze XML.<br />

W wersji systemu z 2010 r. Interactive_SIGHT użytkownik, po<br />

otrzymaniu komunikatu streszczającego, może uzyskiwać dalsze<br />

bardziej szczegółowe informacje zawarte w schemacie, otrzymywane<br />

z głębszej analizy zgromadzonych danych w strukturze<br />

XML. Przykładowo: użytkownik prosi o informacje o tym, co jest<br />

najbardziej akcentowane w schemacie, system wybiera najbardziej<br />

adekwatną propozycję, przy czym do jej agregacji (z kawałków<br />

tekstów) i zorganizowania w logiczny i poprawny tekst<br />

włączane są specjalizowane moduły systemu odpowiedzialne za<br />

strukturyzację, agregację i porządkowanie (sekwencjonowanie)<br />

tekstu.<br />

Rozwiązanie zastosowane w systemie SIGHT nie wymaga<br />

ani specjalnego oprzyrządowania (komputer z przeglądarką<br />

Web), ani specjalnego przygotowywania grafiki ani pomocy osoby<br />

widzącej.<br />

Jest to bardzo obiecujący kierunek badań nad efektywnymi<br />

technikami niewizualnego prezentowania grafiki.<br />

Badania, standardy i techniki niewizualnego<br />

udostępniania grafiki na podstawie odczytu<br />

tekstów zawartych w strukturach XML<br />

Najnowsze badania i techniki, przybliżone w poprzedniej części<br />

artykułu, opisywania przy pomocy tekstu (i mowy) grafik z różną<br />

szczegółowością w sposób inteligentny zdaniami skonstruowanymi<br />

w języku naturalnym na podstawie wywnioskowanego najbardziej<br />

prawdopodobnego komunikatu informacyjnego zawartego<br />

w grafice są ograniczane, jak dotąd, do określonych typów grafiki<br />

na stronach WWW. Równolegle z tymi badaniami toczą się prace<br />

wokół standardów opartych na XML, i związanych z nim technikach,<br />

udostępniania w sposób multimodalny multimedialnych<br />

treści zawartych zarówno na stronach WWW, jak i w e-bookach.<br />

Rozwój istniejących standardów idzie w kierunku, opisanego dalej<br />

w artykule, większego zintegrowania m.in. standardów DAI-<br />

SY XML, MathML, SVG i standardu EPUB. Strony WWW w rozszerzonym<br />

standardzie DAISY XML i e-booki w EPUB 3 będą<br />

czytane przez nowe wersje czytników ekranów i nowe wersje<br />

czytników e-booków bez problemów z udostępnianiem zawartych<br />

82<br />

w nich grafik. Opisy grafik będą pobierane ze struktur XML zapisanych<br />

w plikach zgodnych ze standardem svg.<br />

Standard SVG<br />

Opracowany i rekomendowany w 2001 r. przez W3C (World Wide<br />

Web Consortium) język SVG, należący do rodziny XML, będący<br />

uniwersalnym formatem dwuwymiarowej grafiki wektorowej<br />

(statycznej i animowanej), nieobwarowany licencjami i patentami,<br />

umożliwia opisanie każdego obiektu graficznego i jego cech,<br />

wyłącznie za pomocą tekstu, zapisanego w kodzie Unicode. Pliki<br />

SVG, o rozszerzeniu svg, svgz, są dostępne zarówno dla osoby<br />

widzącej jak i niewidzącej.<br />

Na bazie tego języka, w 2005 r., firma ViewPlus, Inc opracowała<br />

edytor diagramów zapisywanych w SVG, konwerter formatów<br />

graficznych na SVG i przeglądarkę plików SVG w technice<br />

dotyk/mowa dostępne na rynku pod nazwą IVEO SVG Viewer.<br />

Diagramy i schematy blokowe utworzone przy pomocy tego oprogramowania<br />

mogą być drukowane bezpośrednio z jego poziomu<br />

na drukarkach brajlowsko-czarnodrukowych z serii Tiger View<br />

plus. Wydrukowane wypukłe rysunki mogą być także nakładane<br />

na dotykowy tablet. Przez dotyk elementów graficznych lub tekstu<br />

na tablecie, komputer, do którego jest podłączony tablet, w sprzężeniu<br />

zwrotnym może odczytywać tekst i na podstawie etykiet<br />

(meta danych) informować mową o elementach diagramu i ich<br />

cechach. Każdy dotknięty element tekstu powoduje odczytanie<br />

logicznego bloku tekstu. Dostępność grafiki matematycznej jest<br />

tym większa, im staranniejsze i dokładniejsze jest etykietowanie<br />

i opisanie elementów grafiki.<br />

Rys. 4. System IVEO SVG Viewer (View Plus Inc): Tablet dotykowy<br />

z nakładką będącą wypukłą kopią wyświetlanej grafiki na ekranie<br />

komputera PC służącą do znajdowania miejsc w grafice, po naciśnięciu<br />

których użytkownik usłyszy ich objaśnienia Źródło: [8]<br />

Fig. 4. IVEO SVG Viewer system (View Plus Inc.): a software application<br />

with optional touch screen tablet. It enables a blind user to explore<br />

a braille drawings that are placed on the screen. The graphical<br />

symbols that are touched by a user are described for him by a speech<br />

synthesizer<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Warto także dodać, że w odróżnieniu od innych starszych programów<br />

wspierających drukowanie tekstu i grafiki na drukarkach<br />

brajlowskich takich jak Winbraille czy Duxbury, zarówno płatne<br />

oprogramowanie do tworzenia rysunków IVEO, jak i darmowa<br />

przeglądarka IVEO Viever posiadają polskojęzyczny interfejs.<br />

Standard DAISY XML i jego rozwój<br />

W 2007 r. grupa robocza rozwijająca oparty na XML standard zapisu<br />

formuł matematycznych MathML opublikowała rekomendacje<br />

specjalnego rozszerzenia technologii DAISY XML o włączanie do<br />

jej dokumentów formuł matematycznych zapisanych w MathML.<br />

DAISY XML został opracowany pierwotnie w celu umożliwienia<br />

publikowania w sposób dostępny dla wszystkich literatury nie<br />

naukowej. Obecnie DAISY XML stał się podzbiorem standardu<br />

elektronicznych publikacji (e-booków), EPUB. Dzięki temu jest<br />

możliwe dostosowywanie przez czytniki EPUB treści dokumentów<br />

tworzonych w tym standardzie do ekranów różnych urządzeń.<br />

W 2009 r. DAISY SVG Working Group podjęła prace nad<br />

rozszerzeniem SVG dotyczącym opisu rysunków i dodatkowej<br />

struktury pól SVG dla jej atrybutów oraz nad włączeniem przestrzeni<br />

nazw (namespaces) z DAISY do SVG. Przykładem korzyści<br />

takiego rozszerzenia poprzez dodatkowe atrybuty jest<br />

umożliwienie opisu obiektów mogących być uwidacznianymi na<br />

wydrukach „atramentowych”, ale niewłaściwie prezentowanych<br />

na wydrukach wypukłych, przy zachowaniu obowiązujących konwencji<br />

druku wypukłego. Przykładowo, jasny nos, obiekt ze swej<br />

natury wypukły, na wydruku kolorowym – biały, jest prezentowany<br />

na druku wypukłym przez niską wysokość kropek, lub całkowity<br />

ich brak, czyli wklęsłość.<br />

Dodatkowe przestrzenie nazw w SVG przeznaczone są na zapis<br />

liczbowych danych występujących na wykresach w płaszczyźnie<br />

kartezjańskiej i dwuwymiarowych mapach GIS (Geographic<br />

Information System). Ich zapis wraz z grafiką zwiększa możliwości<br />

wyszukiwania, jak również dostępność przez możliwość odtworzenia<br />

danych liczbowych słownie lub tonowo. Takie tonowe<br />

odtwarzanie bazuje na mapowaniu wartości na częstotliwość<br />

dźwięku, co odbierane jest intuicyjnie.<br />

Prowadzony od 2009 r. projekt pn. The Enhanced Reading<br />

Project, przez grono amerykańskich firm wydawniczych i American<br />

Institute of Physics, wydawcę prestiżowych Physical Review<br />

Letters i Physical Review, ma na celu udostępnianie online publikacji<br />

w DAISY XML, w których rysunki są zapisywane w rozszerzonym<br />

SVG, bez zwiększania kosztów publikacji z jednoczesnym<br />

uzyskaniem większej ich dostępności za pomocą czytników<br />

ekranów.<br />

Standard EPUB<br />

Standard EPUB (skrót od electronic publication) otwarty standard,<br />

oparty na języku XML, stosowany do publikowania elektronicznych<br />

książek (e-booków). Format ten jest coraz szerzej stosowany<br />

w czytnikach książek elektronicznych. Jest nadzieja, że<br />

najnowszy standard EPUB 3, w skład którego wchodzi m.in. Daisy<br />

XML, MathML, obejmujący również SVG XML, stanie się powszechnym<br />

standardem dla publikacji elektronicznych, w których<br />

grafika, bez konieczności dodatkowego przetwarzania oraz specjalnego<br />

przygotowywania projektu, będzie mogła być multimodalnie<br />

udostępniana, m.in. na urządzeniach haptycznych. Czytniki<br />

EPUB i MathML odtwarzają formuły matematyczne i grafikę<br />

matematyczną tonowo i mową (na ogół w języku angielskim).<br />

Daisy Consortium rozpoczęło w <strong>2012</strong> r. prace przygotowawcze<br />

do badań nad przełomowym, jak twierdzi konsorcjum, projektem<br />

odświeżalnego ekranu brajlowskiego do czytania e-booków<br />

transformowanych na brajla przez czytniki brajla. Materiały na<br />

temat tego nowego projektu nie podają, jakie techniki haptyczne<br />

zostaną zastosowane do dynamicznego prezentowania treści na<br />

odświeżalnym ekranie. Można się domyśleć, że projekt opierać<br />

się będzie na standardzie EPUB3.<br />

Do końca nie wiadomo, czy EPUB 3 stanie się dominującym<br />

standardem dla e-booków, ponieważ jego groźna konkurencja<br />

– korporacyjny standard Kindle rozwija się równie dynamicznie<br />

i zapowiedziana przez Amazon wersja Kindle 8 może mieć wpływ<br />

na prace rozwojowe związane z EPUB 3.<br />

Dostępność grafiki w dokumentach<br />

tworzonych w środowisku TeX (LaTeX)<br />

Jedną z powszechniej stosowanych technologii, szczególnie<br />

w środowiskach naukowych, pozwalających na tworzenie profesjonalnych<br />

publikacji zawierających formuły matematyczne, jest<br />

system i język TeX, który z biegiem lat przekształcił się w LaTeX.<br />

Z uwagi na swoją uniwersalność (LaTeX działa niemal na wszystkich<br />

platformach takich jak Unix, MAC OS i Windows) jest on bardzo<br />

popularny wśród naukowców z dziedzin technicznych.<br />

Praca w tym środowisku odbywa się w sposób wsadowy polegający<br />

na tym, że źródłowy dokument tekstowy zawierający<br />

odpowiednie polecenia jest kompilowany do docelowej postaci,<br />

którą może być PDF (dostępny dla udźwiękowionych czytników<br />

takich jak AdobeReader od wersji 9) lub HTML.<br />

Ponieważ źródłowy dokument może być tworzony całkowicie<br />

w sposób tekstowy, już od dawna LaTeX-a zaczęły używać osoby<br />

niewidome. Jednakże początkowo był on zaprojektowany jako<br />

system, w którym bezpośrednio nie tworzy się grafiki. W czasach,<br />

kiedy powstawał, nie były znane tak powszechne dziś formaty<br />

graficzne jak PostScript, GIF, PNG, czy JPEG. Zamiast tego został<br />

w nim zaimplementowany prosty zbiór poleceń używanych<br />

w specjalnym otoczeniu „picture” pozwalający na rysowanie prymitywów<br />

graficznych takich jak punkty, odcinki, strzałki, wielokąty<br />

itp. Dzięki takiemu sposobowi użycia, osoba niewidoma może,<br />

znając odpowiednie polecenia oraz ich parametry, samodzielnie<br />

wykonać prosty rysunek czy wykres.<br />

Wszystkie bardziej skomplikowane twory graficzne w dokumentach<br />

LaTeX-owych muszą być tworzone przy pomocy zewnętrznych<br />

programów a następnie mogą być wstawiane do dokumentu<br />

źródłowego przy pomocy odpowiednich klas i pakietów.<br />

Pozwalają one z jednej strony na rysowanie grafik przy pomocy<br />

odpowiednich poleceń języka LaTeX, a z drugiej na wstawianie<br />

grafik przygotowanych w zewnętrznych programach a zapisanych<br />

w popularnych formatach takich jak BMP, GIF, PNG czy JPG.<br />

Niewidomy użytkownik, który chce umieścić w swoim dokumencie<br />

LaTeX grafikę, może postąpić na dwa sposoby:<br />

Po pierwsze, może wstawić do dokumentu grafikę przygotowaną<br />

przez osobę widzącą lub pozyskaną z innego źródła,<br />

mając jednocześnie możliwość jej odpowiedniego dopasowania<br />

– przeskalowania i umieszczenia w odpowiednim miejscu dokumentu<br />

przy pomocy poleceń takich otoczeń jak picture czy<br />

figure. Kontrolę nad poprawnością takiej operacji zapewniają<br />

komunikaty o błędach generowane przez kompilator LaTeX-a,<br />

które mówią o poprawnym rozmiarze i umiejscowieniu wstawionego<br />

rysunku.<br />

Przykładowo, aby wstawić swoje zdjęcie zapisane w pliku mojefoto.jpg,<br />

użytkownik może użyć poleceń:<br />

\begin{figure}[!ht]<br />

\includegraphics[scale=0.83]{mojefoto.jpg}<br />

\caption{Oto moje zdjęcie}<br />

\end{figure}<br />

Drugi sposób postępowania polega na samodzielnym narysowaniu<br />

przez niewidomego własnej grafiki przy pomocy poleceń<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 83


LaTeX. W tym wypadku może się on posłużyć jednym z dodatkowych<br />

programów, takich jak np. Gnuplot (http://www.gnuplot.<br />

info/). Za jego pomocą, pisząc odpowiedni plik skryptowy można<br />

narysować wykres funkcji czy rysunek figury geometrycznej, który<br />

jest eksportowany do formatu TEX LaTeX-a, GIF lub SVG.<br />

Przykładowo, prosty skrypt: złożony jest z następujących poleceń:<br />

set terminal svg<br />

set output „sinus.svg”<br />

plot [-3.14:3.14] sin(x)<br />

Po wykonaniu odpowiedniego polecenia z linii poleceń systemu<br />

operacyjnego spowoduje wygenerowanie pliku sinus.svg z rysunkiem<br />

wykresu funkcji sinus w zakresie od -pi do pi. Taki plik<br />

można następnie wstawić do dokumentu LaTeX. Ze źródłowego<br />

dokumentu LaTeX niewidomy użytkownik może wygenerować wynikowy<br />

dokument w formacie PDF lub HTML, którego zawartość<br />

tekstowa jest dostępna dla osoby widzącej. W tak wytworzonym<br />

formacie osoba niewidoma nie może jednak odczytać grafik a ma<br />

jedynie możliwość stwierdzenia, gdzie taka grafika się znajduje.<br />

Plik svg zawierający rysunek, a powstały w wyniku działania programu<br />

np. Gnuplot, można jednak wydrukować na drukarce brajlowskiej<br />

przy pomocy wspomnianego już programu IVEO Viewer.<br />

W ten nieco skomplikowany sposób można uzyskać równoległe<br />

postaci rysunków, które będą dostępne zarówno dla widzącego,<br />

jak i niewidomego użytkownika.<br />

Oba opisane wyżej sposoby uzyskania rysunku mają jednak<br />

podstawową niedogodność polegającą na tym, że niewidomy<br />

użytkownik nie ma pełnej kontroli nad wyglądem i formą jego wyjściowej<br />

postaci jedynie poza papierową, wypukłą wersją rysunków<br />

uzyskaną z drukarki brajlowskiej.<br />

Wadą tego rozwiązania dla polskich użytkowników (szczególnie<br />

początkujących takich jak np. uczniowie szkół podstawowych)<br />

jest również to, że aby go użyć, należy znać polecenia języka<br />

LaTeX, polecenia programu Gnuplot, a także sposoby użycia tych<br />

programów przeprowadzające przez proces kompilacji źródłowego<br />

dokumentu do graficznej postaci wyjściowej.<br />

Istnieje oprogramowanie dedykowane dla niewidomych pozwalające<br />

na eksportowanie formuł matematycznych zapisanych<br />

w formacie LaTeX do postaci notacji brajlowskiej. Takie funkcje<br />

posiadają programy Translator (http://www.sklep.altix.pl/str,prod_<br />

big,idk,627,kat,67,Euler__pakiet_programow_Homer_i_Translator_.html)<br />

oraz Duxbury (http://www.duxburysystems.com/).<br />

Jednakże jest w nich stosowana różna brajlowska notacja matematyczna<br />

np. w Duxbury jest to notacja amerykańska. Ponadto<br />

nie posiadają one funkcjonalności interpretowania poleceń tworzących<br />

rysunki i przekształcania ich na postać możliwą do wydrukowania<br />

na drukarkach brajlowskich.<br />

Z tych powodów potrzebne jest kompleksowe rozwiązanie,<br />

które pozwoli na w miarę łatwe tworzenie rysunków, np. wykresów<br />

samodzielnie przez niewidomego ucznia lub przez widzącego<br />

nauczyciela w taki sposób, aby były one dostępne dla obu<br />

omawianych grup użytkowników.<br />

Zakończenie<br />

84<br />

W artykule przedstawiono wybrane badania i powstałe lub nadal<br />

rozwijane dzięki nim techniki dotyczące alternatywnych sposobów<br />

prezentowania grafiki i zapoznawania się z nią. Badania mające<br />

na celu jak największą użyteczność wyników skupiają się na<br />

grafice matematycznej związanej z edukacją (np. wykresy liniowe,<br />

kształty geometryczne) oraz grafice biznesowej (np. wykresy<br />

słupkowe, wykresy statystyczne). Wybór badań i technik został<br />

dokonany pod kątem przedstawienia reprezentantów kierunków<br />

badawczych i poszukiwawczych dla poruszanej problematyki. Wybrano<br />

przykłady najnowsze, z okresu ostatnich kilku lat oraz tegoroczne.<br />

Badania nad multimedialnymi technikami udostępniania<br />

grafiki są prowadzone szerokim frontem, przez wiele światowych<br />

ośrodków naukowych i międzynarodowych zespołów. Wyniki<br />

publikowane są na rozlicznych międzynarodowych konferencjach<br />

i w materiałach pokonferencyjnych, zwłaszcza w wydawnictwach<br />

IEEE. Ich duża ilość zwróciła uwagę autorów artykułu na fakt,<br />

że zagadnienia, uogólniając, uniwersalności dostępu do zasobów<br />

informacyjnych, nie tylko graficznych, współcześnie nabierają dużego<br />

znaczenia, nie tylko ze względu na realizację idei Access<br />

for All, ale również ze względu na różnorodność źródeł (formaty)<br />

i nośników(urządzenia) informacji oraz potrzebę m.in. jej integrowania<br />

(mushup) w bazy wiedzy. Brakuje udziału krajowych badań<br />

i technik zwiększających dostępność grafik w badaniach światowych.<br />

Ich praktyczna potrzeba w Polsce istnieje ze względu na<br />

różnice językowe i różnice w standardach brajlowskich powodujące,<br />

że większość wyników badań światowych może być inspiracją<br />

dla polskich badań, ale nie jest użyteczna dla polskich odbiorców.<br />

Problematyka zwiększania dostępności do elektronicznych zasobów<br />

w Polsce jest traktowana jako niszowa. Znane autorom<br />

przypadki niedostępności zasobów na stronach WWW organów<br />

administracji państwowej potwierdzają ten wniosek…<br />

Literatura<br />

[1] Vidal-Verdu F.and Hafez M.: Graphical tactile displays for visually impaired<br />

people. IEEE Transactions on Neural Systems and Rehabilitation<br />

Engineering, 15: 119–130, 2007.<br />

[2] Volkel T., Weber G., and Baumann U.: Tactile graphics revised: The<br />

novel Brailledis 9000 pin-matrix device with multitouch input. Computers<br />

Helping People with Special Needs, 5105:835–842, 2008.<br />

[3] Rassmus-Grohn K., Magnusson C., and Eftring H.: User evaluations<br />

of a virtual haptic-audio line drawing prototype. Haptics and Audio<br />

Interaction Design, 4129: 81–91, 2006.<br />

[4] Watanabe T. I in.: Practical use of interactive tactile graphic display<br />

system at a school for the blind. Current Developments in Technology-Assisted<br />

Education, pages 1111–1115, 2006.<br />

[5] Toennies J.L. I in.: Toward Haptic/Aural Touchscreen Display of<br />

Graphical Mathematics for the Education of Blind Students, World<br />

Haptics Conference (WHC), 2011 IEEE<br />

[6] Gardner J., Bulatov V., Kelly R.: Making journals accessible to the<br />

visually impaired: The future is near, 2009, Learned Publishing, 22<br />

(4), pp. 314–319<br />

[7] Parkes D.: Nomad: enabling access to graphics and text based information<br />

for blind, visually impaired and other disability groups. Conference<br />

Proceedings, World Congress on Technology, Arlington, VA,<br />

Vol. 5. pp. 690–714, 1991<br />

[8] Gardner J.A., Bulatov V. and Stowell H.: The ViewPlus IVEO technology<br />

for universally usable graphical information. Proceedings of the<br />

2005 CSUN International Conference on Technology and People with<br />

Disabilities, Los Angeles, CA.<br />

[9] Elzer S. I in.: Bar Charts in Popular Media: Conveying Their Message<br />

to Visually Impaired Users via Speech, Book chapter in Advances<br />

in Intelligent Information Systems, Studies in Computational Intelligence<br />

Series, Springer, 2009.<br />

[10] Demir S.: Sight for visually impaired users: Summarized information<br />

graphics, dissertation, University of Delaware, 2010, http://www.<br />

eecis.udel.edu/~demir/web/dissertation.pdf<br />

[11] Kurze M.: Giving blind people access to graphics (example: Business<br />

graphics). In Proc. Software-Ergonomie ’95 Workshop Nicht-visuelle<br />

graphische enutzungsoberflchen, Darmstadt, Germany, 1995.<br />

[12] Kennel A. R.: Audiograf: A diagram-reader for the blind. In Second<br />

Annual ACM Conference on Assistive Technologies, p. 51–56, 1996.<br />

[13] Ferres L. i in: Improving accessibility to statistical graphs: the igraphlite<br />

system. In the Proceedings of the 9th International ACM SIGAC-<br />

CESS Conference on Computers and Accessibility, pages 67–74,<br />

2007.<br />

[14] http://research.vuse.vanderbilt.edu/MEDLab/<br />

[15] The Science Access Project, Department of Physics, Oregon State<br />

University http://dots.physics.orst.edu/<br />

[16] Archambault D.: Towards a universal maths conversion library, Lecture<br />

Notes in Computer Science (including subseries Lecture Notes<br />

in Artificial Intelligence and Lecture Notes in Bioinformatics), 3118,<br />

pp. 664–669, 2004<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Światłowodowy generator supercontinuum zakresu<br />

średniej podczerwieni – przykład technologii podwójnego<br />

zastosowania<br />

dr inż. Jacek Świderski, mgr inż. Maria Michalska, dr inż. Wiesław Pichola,<br />

inż. Marcin Mamajek<br />

Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Optoelektroniki, Warszawa<br />

Współczesne badania prowadzone w zakresie techniki laserowej<br />

ukierunkowane są na technologie i urządzenia będące udoskonaleniem<br />

lub alternatywą obecnie stosowanych o znaczącym<br />

potencjale cywilizacyjnym i szerokich możliwościach aplikacyjnych.<br />

Rozwój danej dziedziny nauki jest w bardzo dużym stopniu<br />

uwarunkowany zapotrzebowaniem na konkretne rozwiązania<br />

technologiczne i konstrukcyjne. Przykładem takiego zapotrzebowania<br />

mogą być światłowodowe układy laserowe generujące<br />

promieniowanie superciągłe (ang. supercontinuum) w paśmie<br />

widmowym ok. 1,5…5 µm. Układy te stanowią nowość naukową<br />

ostatnich kilku lat i mogą być przykładem technologii podwójnego<br />

zastosowania (zastosowania cywilne oraz wojskowe).<br />

Zjawisko generacji promieniowania supercontinuum po raz<br />

pierwszy zostało zaobserwowane na przełomie lat sześćdziesiątych<br />

i siedemdziesiątych ubiegłego wieku, jednakże dopiero na<br />

przestrzeni ostatnich dwóch dekad układy generatorów SC zyskały<br />

szczególne zainteresowanie – co miało miejsce za sprawą<br />

wykorzystania w procesie generacji SC włókien optycznych, w tym<br />

światłowodów fotonicznych, których zaletą jest przede wszystkim<br />

długa droga optyczna oddziaływania promieniowania z ośrodkiem<br />

oraz możliwość kształtowania charakterystyki dyspersyjnej<br />

i uzyskania wysokiego współczynnika nieliniowości włókna.<br />

Pomimo dość intensywnie prowadzonych prac nad źródłami<br />

promieniowania SC, zdecydowana większość doniesień literaturowych<br />

dotyczy generacji w widmowym zakresie widzialnym oraz<br />

w bliskiej podczerwieni [1–4], natomiast nieliczne doniesienia literaturowe<br />

dotyczące zakresu średniej podczerwieni [5–8] pokazują,<br />

iż są to rozwiązania nowe o dużym potencjale aplikacyjnym.<br />

Promieniowanie z zakresu średniej podczerwieni ma istotne zastosowanie<br />

militarne – m.in. do oślepiania rakiet ziemia-powietrze<br />

wyposażonych w głowice samonaprowadzające się na podczerwień<br />

– w tzw. układach DIRCAM (Direct Infrared Countermeasure).<br />

Zagrożenie rakietami śledzącymi detekującymi promieniowanie<br />

w zakresie średniej podczerwieni jest określane jako „70% niebezpieczeństwo”,<br />

co wynika z faktu, że w ostatnim ćwierćwieczu<br />

przeszło 70% wszystkich strat lotniczych poniesionych w prowadzonych<br />

działaniach zbrojnych spowodowane było rakietami tego<br />

typu. Temperatura gazów wylotowych w myśliwcu bojowym osiąga<br />

poziom ok. 1000 0 C, co oznacza, że maksimum widma emisji tak<br />

rozgrzanego obiektu przypada na pasmo ok. 2…4 µm. To powoduje,<br />

że głowice rakiet samonaprowadzających się na podczerwień<br />

wyposażone są w detektory promieniowania z tego przedziału<br />

widmowego. Metodą pozwalająca na „oszukanie” takiej rakiety jest<br />

zrzut z np. samolotu flar imitujących obiekty rozgrzane do wysokiej<br />

temperatury. Metodą bardziej skuteczną pozwalającą na efektywne<br />

oślepienie głowicy rakiety wydaje się zastosowanie źródła<br />

promieniowania supercontinuum na pasmo widmowe średniej podczerwieni<br />

zintegrowanego z jednocześnie działającym systemem<br />

śledzenia rakiety od momentu jej wystrzału.<br />

Niezwykle istotnym obszarem zastosowań promieniowania SC<br />

są również aplikacje medyczne – m.in. ablacja miękkich tanek biologicznych.<br />

Dla fal o długości powyżej 2 µm współczynnik absorpcji<br />

promieniowania w wodzie (zawartej m.in. w tkankach biologicznych)<br />

jest większy co najmniej o dwa rzędy wielkości w stosunku<br />

do współczynnika absorpcji dla fal o długości 1 µm. To powoduje,<br />

że te długości fal cieszą się szczególnym zainteresowaniem środowiska<br />

medycznego. Ponadto, warto tu zwrócić uwagę na fakt, że<br />

wiele tkanek biologicznych charakteryzuje się liniami absorpcyjnymi<br />

w paśmie średniej podczerwieni. Przykładowo, białka wykazują<br />

silną absorpcję w paśmie 2,8…3,2 µm, podczas gdy tłuszcze cechują<br />

się dużą absorpcją w paśmie 3,3...3,6 µm [9]. Według doniesień<br />

literaturowych [10] promieniowanie o mocy kilku W i długości<br />

fali 1 µm jest w stanie tylko rozgrzać np. próbkę tkanki tłuszczu do<br />

temperatury nieznacznie powyżej temperatury fizjologicznej, podczas<br />

gdy zaledwie kilkadziesiąt mW promieniowania z przedziału<br />

widmowego 3,2…3,6 µm wystarcza do ablacji tej samej tkanki [10].<br />

W tym kontekście zastosowanie źródła SC w medycynie jest wysoce<br />

korzystne, zwłaszcza mając na uwadze fakt, że różne części<br />

widma promieniowania SC mogą być wyselekcjonowane i wykorzystane<br />

do selektywnej ablacji różnych tkanek biologicznych (cechujących<br />

się różnymi charakterystykami absorpcyjnymi).<br />

Generatory SC mogą być również stosowane, jako źródła<br />

promieniowania w systemach detekcji różnych związków chemicznych<br />

i biologicznych, posiadających charakterystyczne linie<br />

absorpcji w paśmie średniej podczerwieni. Układy tego typu pozwalają<br />

na wykrywanie różnego rodzaju związków chemicznych<br />

– w wyniku spektralnej detekcji charakterystycznych dla danego<br />

związku linii widmowych. Zasadniczym elementem składowym takiego<br />

systemu detekcji jest źródło laserowe, którego promieniowanie<br />

po odbiciu od obiektów/cząstek rejestrowane jest przez układ<br />

odbiorczy. W widmie promieniowania powrotnego widać wybrane<br />

linie spektralne, które w wyniku absorpcji “nie powróciły” do układu<br />

odbiornika. Ponieważ różne związki chemiczne charakteryzują się<br />

różnymi sygnaturami spektralnymi, układy detekcji wykorzystujące<br />

generatory SC na zakres średniej podczerwieni mogą posłużyć<br />

do porównywania detekowanych związków z gotowymi/znanymi<br />

sygnaturami widmowymi, pozwalając tym samym na szybką<br />

i dokładną identyfikację różnych związków. W paśmie widmowym<br />

1…5 µm znajduje się większość linii absorpcyjnych wielu różnych<br />

związków chemicznych (np. H 2<br />

O, CO, CO 2<br />

, NO 2<br />

, NO, SO 2<br />

, H 2<br />

S).<br />

Ponadto, wiele składników np. prochów strzelniczych, ładunków<br />

wybuchowych, gazów bojowych oraz narkotyków wykazuje charakterystyczne<br />

linie absorpcji w zakresie średniej podczerwieni).<br />

Pomimo, że wiele z tych związków wykazuje również inne charakterystyczne<br />

linie absorpcyjne w długofalowym zakresie pasma<br />

średniej podczerwieni 8…12 µm, to każdy w wymienionych<br />

związków posiada co najmniej jedną linię absorpcyjną w paśmie<br />

2…5 µm. Bardzo istotną kwestią jest również fakt, że większość<br />

związków chemicznych posiada więcej niż jedną linię absorpcyjną.<br />

W tym kontekście stosując źródło promieniowania SC o szerokim<br />

widmie można jednocześnie detekować nie tylko pojedynczą linię<br />

lecz wiele linii widmowych, uzyskując tym samym wzorzec widmowy<br />

danego związku w obszarze generowanego widma. Oznacza<br />

to poprawę zarówno selektywności oraz czułości pomiarów.<br />

Innymi potencjalnymi zastosowaniami źródeł promieniowania<br />

SC pasma średniej podczerwieni mogą być: układy typu LIDAR/<br />

LADAR, testowanie podzespołów fotonicznych, kontrola jakości<br />

żywności, detekcja zanieczyszczeń.<br />

Charakterystyka rozwiązania układowego<br />

światłowodowego generatora supercontinuum<br />

Generacja SC jest procesem, w którym monochromatyczne promieniowanie<br />

laserowe, na skutek oddziaływania z ośrodkiem nieliniowym,<br />

jest konwertowane na promieniowanie o szerokim widmie.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 85


Generacja SC najczęściej zachodzi w wyniku pompowania odcinka<br />

światłowodu o dużej nieliniowości i o odpowiednich własnościach<br />

dyspersyjnych impulsami promieniowania o wysokiej mocy szczytowej.<br />

Za poszerzanie widma generacji odpowiedzialne są procesy<br />

nieliniowe zachodzące we włóknie optycznym (samomodulacja<br />

fazy, mieszanie czterofalowe oraz rozpraszanie Ramana) [11].<br />

Mając do dyspozycji silnie nieliniowy światłowód oraz odpowiednie<br />

źródło pompujące można uzyskać generację SC w obszarze widmowym<br />

ograniczonym absorpcją ośrodka użytego do generacji.<br />

Najczęściej, jako pompy optyczne generatorów SC, stosowane<br />

są lasery z synchronizacją modów (ang. mode-locked lasers)<br />

generujące impulsy promieniowania o krótkich czasach trwania<br />

(poniżej 100 fs) i wysokich mocach szczytowych rzędu dziesiątek,<br />

a nawet setek kW. Wymagania na moc szczytową impulsów<br />

pompujących są tutaj oczywiste, gdyż optyczne efekty nieliniowe<br />

ośrodka generatora SC (odpowiedzialne za szerokość generowanego<br />

widma) zależą silnie od mocy szczytowej impulsów pompujących.<br />

Z drugiej jednak strony lasery z synchronizacją modów są<br />

mało elastyczne pod względem skalowania wyjściowej mocy średniej,<br />

są skomplikowane w budowie, drogie oraz wymagają ciągłego<br />

okresowego serwisowania, co dodatkowo podnosi koszty eksploatacji<br />

całego układu. Z tego też względu bardzo interesującym<br />

rozwiązaniem wydaje się zastąpienie tych laserów układami typu<br />

półprzewodnikowy laser impulsowy – światłowodowy wzmacniacz<br />

mocy (ang. Master Oscillator Power Amplifier). W tym rozwiązaniu<br />

impulsy o czasie trwania pojedynczych ns lub setek ps generowane<br />

są przez laser półprzewodnikowy (przy czym czas trwania tych<br />

impulsów oraz ich częstotliwość powtarzania może być dobierana<br />

niezależnie względem siebie), a następnie wzmacniane w odpowiednio<br />

zaprojektowanej kaskadzie wzmacniaczy.<br />

W zaproponowanym rozwiązaniu układowym moc średnia<br />

generowanego promieniowania SC może być skalowana liniowo<br />

wraz ze wzrostem mocy średniej impulsów wprowadzanych do<br />

ośrodka nieliniowego. Ponieważ całe spektrum SC jest generowane<br />

w czasie trwania pojedynczego impulsu, który nie oddziaływuje<br />

z sąsiednimi impulsami, to moc średnia generowanego SC<br />

może być zwiększana poprzez zwiększanie liczby impulsów pompujących<br />

w danym przedziale czasu, przy czym kształt widma generacji<br />

pozostanie niezmienny pod warunkiem, że moc szczytowa<br />

impulsów pompujących pozostanie na tym samym niezmiennym<br />

poziomie. Aby tak się stało, każdorazowa zmiana częstotliwości<br />

lub czasu trwania impulsu musi pociągać za sobą zmianę mocy<br />

średniej promieniowania pompującego ośrodek nieliniowy, co<br />

w praktyce polega na odpowiednim doborze wzmocnienie w kaskadzie<br />

wzmacniaczy. W ten prosty koncepcyjnie sposób można<br />

zbudować niezawodne, stosunkowo tanie i wykonane całkowicie<br />

w technologii światłowodowej źródło promieniowania impulsowego<br />

o dużej mocy średniej (skalowanej liniowo) oraz o bardzo dobrej<br />

jakości generowanej wiązki.<br />

Istotnym zagadnieniem związanym z budową generatora<br />

SC na zakres średniej podczerwieni jest wybór odpowiedniego<br />

ośrodka nieliniowego. Idealny ośrodek nieliniowy powinien charakteryzować<br />

się jak największą wartością parametru nieliniowości<br />

γ proporcjonalnego do współczynnika nieliniowego materiału<br />

i odwrotnie proporcjonalnego do efektywnego pola modu wiązki<br />

laserowej propagującej się w tymże ośrodku. Im większa wartość<br />

parametr nieliniowości, tym krótszy ośrodek nieliniowy potrzebny<br />

do generacji promieniowania SC. Komercyjnie dostępne jednomodowe<br />

światłowody krzemionkowe wyróżniają się niewielką<br />

wartością tego parametru (ok. 1 W -1 km -1 ). Zastosowanie światłowodów<br />

o strukturze kryształów fotonicznych, cechujących się<br />

znacznie większą wartością parametru γ, wydaje się tutaj idealnym<br />

rozwiązaniem. Jednakże, biorąc pod uwagę długofalową<br />

granicę transmisji promieniowania szkieł krzemionkowych, to<br />

okazuje się, że światłowody krzemionkowe, nawet fotoniczne,<br />

pozwalają na transmisję promieniowania tylko do ok. 2,4 µm (co<br />

wynika z absorpcji molekularnej krzemionki). Dobrym kandydatem<br />

na ośrodek nieliniowy z zakresu średniej podczerwieni jest<br />

włókno optyczne wykonane ze szkła fluorocyrkonowego – ZBLAN<br />

86<br />

(ZrF 4<br />

-BaF 2<br />

-LaF 3<br />

-AlF 3<br />

-NaF), którego pasmo transmisji wynosi do<br />

ok. 200 nm do 4,5 µm lub fluoroindowego o paśmie transmisji do<br />

ok. 5,5 µm. Włókna te charakteryzują się stosunkowo dojrzałą<br />

technologią wytwarzania oraz niewielkimi stratami, co oznacza<br />

możliwość transmisji promieniowania o stosunkowo dużych mocach.<br />

Poza włóknami ze szkła fluorkowego, dobrymi kandydatami<br />

na generatory SC średniej podczerwieni są włókna ze szkła chalkogenidowego<br />

gwarantujące zakres transmisji znacznie powyżej<br />

6 µm. Jak dotychczas technologia wytwarzania włókien optycznych<br />

na bazie tych szkieł jest niedoskonała i wymaga poprawy.<br />

Praktyczna realizacja światłowodowego<br />

generatora supercontinuum na zakres<br />

średniej podczerwieni<br />

Opracowany generator SC składał się ze źródła promieniowania<br />

pompującego oraz światłowodowego toru do generacji promieniowania<br />

SC. Źródło pompujące stanowił impulsowy układ laserowy<br />

o konfiguracji MOPA z półprzewodnikowym generatorem<br />

impulsów promieniowania o długości fali 1550 nm wzmacnianych<br />

w kaskadzie wzmacniaczy światłowodowych. Schemat układu<br />

przedstawiony został na rys. 1.<br />

Rys. 1. Schemat światłowodowego generatora supercontinuum.<br />

OI – izolator optyczny, EDF – jednomodowy światłowód domieszkowany<br />

jonami erbu, BPF – filtr pasmowo-przepustowy, TC – sprzęgacz<br />

monitorujący, WDM – sprzęgacz telekomunikacyjny 980 nm/1550 nm,<br />

LD – dioda laserowa, EYDF – jednomodowy światłowód dwupłaszczowy<br />

domieszkowany jonami erbu i iterbu, PCS – tłumik promieniowania<br />

pompy propagującego się w płaszczu śwaitłowodu dwupłaszczowego,<br />

SMF – konwencjonalny krzemionkowy światłowód jednomodowy,<br />

ZBLAN – światłowód fluorocyrkonowy, L1, L2 – soczewki<br />

Fig. 1. Setup of fiber supercontinuum generator. OI – optical isolator,<br />

EDF – erbium-doped single-mode fiber, BPF – band-pass filter,<br />

TC – tap coupler, WDM – 980 nm/1550 nm wavelength division multiplexer,<br />

LD – laser diode, EYDF – erbium-ytterbium codoped double-clad singlemode<br />

fiber, PCS – power cladding stripper, SMF – conventional silica<br />

single-mode fiber, ZBLAN – fluorozirconium fiber, L1, L2 – lenses<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Jako źródło impulsów użyto lasera DFB generującego promieniowanie<br />

o długości fali 1550,12 nm i szerokości widmowej<br />

0,4 nm (mierzonej na poziomie –20 dB od maksimum widma<br />

emisji). Po integracji lasera z autorskim elektronicznym układem<br />

zasilania i sterowania umożliwiał on generację ciągu impulsów<br />

promieniowania o czasie od 400 ps do 7 ns przy częstotliwości<br />

pracy od 200 kHz do 2 MHz, regulowanych niezależnie względem<br />

siebie. W eksperymencie częstotliwość pracy ustawiona była na<br />

200 kHz, zaś czas trwania impulsu wynosił 1 ns. Dla takiego reżimu<br />

pracy laser generował moc średnią 3 µW, co odpowiadało<br />

energii impulsu 15 pJ i przy założeniu gausowskiego kształtu impulsu,<br />

mocy szczytowej – 14,1 mW.<br />

Pierwszy przedwzmacniacz zbudowany był na bazie komercyjnie<br />

dostępnego jednopłaszczowego światłowodu domieszkowanego<br />

jonami erbu (EDF) o średnicy rdzenia 4 µm i długości<br />

1,5 m, pompowanego współbieżnie promieniowaniem diody laserowej<br />

(LD) generującej maksymalnie 600 mW mocy ciągłej na<br />

długości fali 976,3 nm. W celu filtracji sygnału użytecznego na<br />

wyjściu przedwzmacniacza zastosowano światłowodowy filtr pasmowo-przepustowy<br />

(BPF) o paśmie 100 GHz. Wspawany izolator<br />

optyczny (OI) gwarantował izolację lasera DFB przed promieniowaniem<br />

wstecznym na poziomie 32 dB.<br />

W drugim przedwzmacniaczu zastosowano również jednomodowy<br />

światłowód erbowy (EDF) o parametrach takich samych<br />

jak w powyższym przypadku i długości 1,3 m. Włókno aktywne<br />

pompowane było obustronnie promieniowaniem diod laserowych<br />

o maksymalnej mocy 600 mW każda pracujących na długości<br />

fali 976,3 nm. Promieniowanie wprowadzane było do światłowodu<br />

EDF za pomocą dwóch sprzęgaczy WDM. Na wyjściu układu<br />

zastosowano izolator optyczny, filtr pasmowo-przepustowy oraz<br />

sprzęgacz monitorujący pozwalający na podgląd parametrów<br />

wzmacnianego promieniowania.<br />

Po dwóch przedwzmacniaczach, dla częstotliwości 200 kHz<br />

i impulsów o czasie trwania 1 ns, uzyskano 115 mW mocy średniej,<br />

co odpowiadało energii impulsu 574 nJ i mocy szczytowej<br />

540 W. Wzmocnienie sygnału wynosiło 45,8 dB.<br />

Do budowy wzmacniacza mocy użyto jednomodowego<br />

światłowodu dwupłaszczowego domieszkowanego jonami erbu<br />

i iterbu (EYDF) o długości 2.4 m. Średnica rdzenia/płaszcza<br />

światłowodu aktywnego wynosiła 6,5 μm/125 μm przy aperturze<br />

numerycznej (NA) odpowiednio 0,19/0,45. Światłowód<br />

ten pompowany był promieniowaniem o długości fali 976 nm<br />

i maksymalnej mocy ciągłej 11 W, generowanym przez diodę<br />

laserową wyposażoną w światłowód wielomodowy o średnicy<br />

rdzenia 105 μm. Promieniowanie to wprowadzane było do włókna<br />

aktywnego za pomocą sprzęgacza mocy (2×1)+1 z wbudowanym<br />

torem sygnałowym. Z uwagi na fakt, że światłowód<br />

EYDF pompowany był przeciwbieżnie i nie całe promieniowanie<br />

pompujące zostało zaabsorbowane przez domieszkę aktywną,<br />

na wejściu wzmacniacza mocy zastosowano światłowodowy<br />

tłumik promieniowania propagującego się w płaszczu włókna<br />

dwupłaszczowego. Gwarantował on tłumienie tego promieniowania<br />

na poziomie 12 dB przy stratach wtrąceniowych 0,3 dB.<br />

Dla mocy promieniowania pompy wprowadzonego do włókna<br />

aktywnego wynoszącej 9,14 W układ generował wiązkę laserową<br />

o mocy średniej 2,1 W i o bardzo dobrej jakości – parametr<br />

M 2 wynosił


Rys. 4. Widmo promieniowania SC generowanego ze światłowodu<br />

ZBLAN<br />

Fig. 4. Spectrum of the SC coming out of the ZBLAN fiber<br />

W układzie przedstawionym na rys. 1 uzyskano generację<br />

promieniowania SC o maksymalnej wyjściowej mocy średniej<br />

(w całym detekowanym paśmie widmowym) na poziomie 0,85<br />

W (rys. 2). W paśmie widmowym powyżej 1650 nm zawarte było<br />

0,51 W, co stanowiło 59% całkowitej mocy wyjściowej. Dla fal<br />

dłuższych niż 2,4 µm wyjściowa moc średnia wynosiła 106 mW<br />

(12,5% całkowitej mocy wyjściowej).<br />

W zaproponowanym rozwiązaniu układowym promieniowanie<br />

SC generowane jest w dwóch fazach. W pierwszym kroku<br />

promieniowanie emitowane przez laser półprzewodnikowy<br />

i wzmocnione w kaskadzie wzmacniaczy światłowodowych jest<br />

poszerzane w dziedzinie częstotliwości (głównie w kierunku<br />

fal dłuższych) w krótkim odcinku jednomodowego światłowodu<br />

pasywnego SMF-28, co przedstawione zostało na rys. 3.<br />

Ponieważ światłowód SMF jest pompowany promieniowaniem<br />

o długości fali odpowiadającej anomalnej części jego charakterystyki<br />

dyspersyjnej, to niestabilność modulacji interpretowana<br />

jako mieszanie czterofalowe (fali pompującej o częstotliwości<br />

ω 0<br />

=1550 nm i 2 fal ω =ω +Δω i ω =2ω -ω ) zachodzące w fazie<br />

1 0 2 0 1<br />

z samomodulacją fazy powoduje generowanie wstęg bocznych<br />

oddalonych od maksimum piku emisji o Δω≈25 nm. Impuls<br />

pompujący ulega podziałowi w dziedzinie czasu na kilka ultrakrótlich<br />

impulsów, które następnie formują się w solitony doznające<br />

przesunięcia, na skutek rozpraszanie Ramana w kierunku<br />

fal dłuższych [11]. W kolejnej fazie promieniowanie jest poszerzane<br />

dalej w kierunku fal dłuższych w światłowodzie ZBLAN.<br />

Warto tu podkreślić fakt, że zero dyspersji (ZDW) dla zastosowanego<br />

światłowodu fluorkowego przypadało na długość<br />

fali 1,55 µm, co oznacza, że przeważająca część sygnału za<br />

światłowodem SMF (rys. 3) odpowiadała dyspersji anomalnej<br />

światłowodu ZBLAN. W rezultacie promieniowanie SC jest poszerzane<br />

głównie w kierunku średniej podczerwieni. Jednakże,<br />

w momencie, gdy propagujące sie w światłowodzie fluorkowym<br />

solitony zaczynają spektralnie pokrywać się z długościami fal<br />

leżącymi w zakresie dyspersji normalnej materiału (przy założeniu<br />

spełnienia warunków fazowych dla mieszania czterofalowego),<br />

następuje transfer energii promieniowania do fal krótszych<br />

(leżących poniżej długości fali odpowiadającej zerowej<br />

dyspersji) [11]. Proces ten jest ściśle zależny od przesunięcia<br />

długości fali propagujących się solitonów w stosunku do ZDW<br />

materiału nieliniowego. W opracowany układzie tylko niewielka<br />

część promieniowania pompującego światłowód ZBLAN odpowiada<br />

dyspersji normalnej i biorąc pod uwagę fakt, że moc<br />

średnia promieniowania wprowadzanego do włókna nie jest<br />

wysoka, to w konsekwencji energia (moc szczytowa) propagujących<br />

się solitonów nie jest wystarczająca do generacji silnego<br />

sygnału w kierunku fal krótszych z dużą sprawnością.<br />

88<br />

Na rysunku 4 przedstawiono przykładowe widmo promieniowania<br />

SC generowanego ze światłowodu ZBLAN dla dostępnej<br />

mocy promieniowania pompującego układ MOPA. Widmo to,<br />

z charakterystycznym pikiem na długości fali pompy 1550 nm,<br />

rozciąga się od ok. 900…3200 nm. Płaskość widma na poziomie<br />

10 dB jest utrzymywana w przedziale 1600…2900 nm. Jak można<br />

zauważyć moc wyjściowa jest dystrybuowana głównie w kierunku<br />

średniej podczerwieni, nie mniej jednak w części krótkofalowej<br />

widma 900…1400 nm rejestrowany był niewielki sygnał, którego<br />

maksimum leżało ok. 30 dB poniżej amplitudy sygnału w okolicy<br />

2400 nm. Widmo to było również bardzo stabilne w czasie – z wahaniem<br />

amplitudy poniżej 5%.<br />

Podsumowanie<br />

W artykule zaprezentowany został światłowodowy generator<br />

supercontinuum generujący 0,85 W wyjściowej mocy średniej<br />

w paśmie widmowym ~900…3200 nm, z czego 106 mW<br />

(tj. 12,5% całkowitej mocy wyjściowej) odpowiadało falom dłuższym<br />

niż 2,4 µm. Widmo promieniowania wyjściowego cechowało<br />

się 10 dB płaskością dla zakresu fal 1600...2900 nm. Zarówno<br />

wyjściowa moc średnia jak i szerokość generowanego<br />

widma może być dalej skalowana, co będzie przedmiotem naszych<br />

dalszych prac badawczych. Zaprezentowany układ już na<br />

obecnym etapie konstrukcji może znaleźć liczne aplikacje praktyczne<br />

opisane na wstępie.<br />

Autorzy składają podziękowanie Janowi Karczewskiemu za<br />

ogromną pomoc przy budowie układów elektronicznych zastosowanych<br />

w opracowanym układzie oraz prof. Waldemarowi<br />

Żendzianowi za cenne uwagi.<br />

Praca realizowana w ramach Projektu LIDER (Lider 04/198/L-<br />

1/09/NCBiR/2010) finansowanego przez Narodowe Centrum Badań<br />

i Rozwoju<br />

Literatura<br />

[1] Abeeluck A.K., C. Headley: Continuous-wave pumping in the<br />

anomalous- and normal-dispersion regimes of nonlinear fibers<br />

for supercontinuum generation; Opt. Lett. 30, 61–63, 2005.<br />

[2] Moon S., D.Y. Kim: Generation of octave-spanning supercontinuum<br />

with 1550 nm amplified diode-laser pulses and a dispersion-shifted<br />

fiber; Opt. Express 14, 270–278, 2006.<br />

[3] Travers J.C., A.B. Rulkov, B.A. Cumberland, S.V. Popov, J.R.<br />

Taylor: Visible supercontinuum generation in photonic crystal fibers<br />

with a 400W continuous wave fiber laser; Opt. Express 16,<br />

14435–14447, 2008.<br />

[4] Cumberland B.A., J.C. Travers, S.V. Popov, J.R. Taylor: 29<br />

W High power CW supercontinuum source; Opt. Express 16,<br />

5954, 2008.<br />

[5] Chen Z., A.J. Taylor, A. Efimov: Coherent mid-infrared broadband<br />

continuum generation in non-uniform ZBLAN fiber taper;<br />

Opt. Express 17, 5852–5860, 2009.<br />

[6] Agger C., C. Petersen, S. Dupont, H. Steffensen, J.K. Lyngso,<br />

C.L. Thomsen, J. Thogersen, S.R. Keiding, and O. Bang: Supercontinuum<br />

generation in ZBLAN fibers – detailed comparison<br />

between measurement and simulation; J. Opt. Soc. Am. B 29,<br />

635–645, <strong>2012</strong>.<br />

[7] Gattass R.R., L.B Shaw, V.Q. Nguyen, P.C. Pureza, I.D. Aggarwal,<br />

J.S. Sanghera: All-fiber chalcogenide-based mid-infrared<br />

supercontinuum source; Opt. Fiber Technol. 18, 345–348, <strong>2012</strong>.<br />

[8] Xia Ch., M. Kumar, M.-Y. Cheng, R.S. Hegde, M.N. Islam, A.<br />

Galvanauskas, H.G. Winful, F.L. Terry Jr.: Power scalable midinfrared<br />

supercontinuumgeneration in ZBLAN fluoride fibers<br />

with up to 1.3 watts time-averaged power; Opt. Express 15,<br />

865–871, 2007.<br />

[9] Paluszkiewicz C., W.M. Kwiatek, A. Banas, A. Kisiel, A. Marcelli,<br />

A. Piccinini: SR-FTIR spectroscopic preliminary findings of noncancerous,<br />

cancerous, and hyperplastic human prostate tissues;<br />

Vib. Spectrosc. 43, 237–242, 2007.<br />

[10] Anderson R.R., et al.: Selective photothermolysis of lipid-rich<br />

tissues: A free electron laser study; Lasers Surg. Med. 38,<br />

913–919, 2006.<br />

[11] Agrawal G.P.: Nonlinear Fiber Optics, 4th edition; Academic<br />

Press, New York (2006).<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


System pomiarowy do dynamicznej spektroskopii widma<br />

emisyjnego plazmy TR-OES do diagnostyki plazmy<br />

wyładowania jarzeniowego w układzie magnetronowym<br />

zasilanym impulsowo<br />

dr inż. Artur Wiatrowski, adiunkt<br />

Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki<br />

Stale rosnące wymagania stawiane cienkim warstwom nanoszonym<br />

przy obniżonym ciśnieniu, a stosowanym m.in. w medycynie,<br />

mikroelektronice, magnetycznych i optycznych nośnikach<br />

danych, są motorem poszukiwań nowych sposobów ich wytwarzania.<br />

Celem poszukiwań są między innymi: 1) zwiększenie<br />

wydajności otrzymywania (poszukiwane są wysoce efektywne<br />

procesy rozpylania), 2) zwiększenie czystości warstw (wskazana<br />

eliminacja gazowej atmosfery roboczej procesów) oraz 3) możliwość<br />

wpływania na właściwości warstw przez zmianę parametrów<br />

technologicznych procesów nanoszenia – np. parametry sygnału<br />

elektrycznego pobudzającego wyrzutnię. W wypadku procesów<br />

rozpylania stałoprądowego jest to tylko wartość energii dostarczanej<br />

do źródła. Duże nadzieje wiązane są z metodami PVD<br />

(ang. Physical Vapor Deposition) wykorzystującymi impulsowe<br />

zasilanie źródła osadzanego materiału, w tym z metodą impulsowego<br />

rozpylania magnetronowego. Rozpylanie magnetronowe<br />

to obecnie jedna z najszerzej stosowanych metod otrzymywania<br />

cienkich warstw. Na jej atrakcyjność wpływa możliwość nanoszenia<br />

warstw na podłoża o dużych powierzchniach i szeroki zakres<br />

zmienności parametrów podczas procesów osadzania. Impulsowe<br />

odmiany tej metody np. HIPIMS (ang. High Power Impulse<br />

Magnetron Sputtering) [1–4], czy też metoda Impulsowego Magnetronowego<br />

Autorozpylania (ang. Pulsed Self-Sustained Magnetron<br />

Sputtering) [5, 6] otwierają nowe możliwości technologiczne<br />

pokazując, że rozwój technologii otrzymywania cienkich warstw<br />

za pomocą magnetronu jest kontynuowany.<br />

Charakterystyczną cechą procesów rozpylania impulsowego<br />

jest fakt, iż w czasie trwania każdego impulsu zasilającego wyrzutnię<br />

magnetronową (t ON<br />

) występuje faza inicjowania wyładowania<br />

(napięcie anoda-katoda rzędu pojedynczych kV), po czym<br />

ma miejsce faza właściwego rozpylania (wymagana stabilizacja/<br />

ograniczanie prądu katody). Natomiast w czasie każdego wyłączenia<br />

impulsu zasilającego (t OFF<br />

) występuje faza wygaszania<br />

wyładowania – zanik plazmy wyładowania jarzeniowego (rys. 1).<br />

W czasie t OFF<br />

napięcie anoda-katoda może być ustalone jako zerowe<br />

(procesy rozpylania niereaktywnego) lub o przeciwnej po-<br />

laryzacji niż w czasie t ON<br />

, tzw. impuls depolaryzacyjny (procesy<br />

reaktywnego nanoszenia warstw dielektrycznych). W procesach<br />

niereaktywnego rozpylania impulsowego, stosowane są różne<br />

częstotliwości przebiegu zasilającego magnetron 1/(t ON<br />

+t OFF<br />

)<br />

oraz skorelowane z nimi różne czasy trwania impulsu rozpylającego<br />

(t ON<br />

): 1 kHz, 200 μs; 10 kHz, 20 μs [10]; 50 Hz, 50÷100 μs<br />

[11]; 500 Hz, 50÷150 μs; 60 kHz, 15 µs [5]. Najczęściej stosowane<br />

czasy trwania impulsów zasilających zawierają się w przedziale<br />

50÷200 μs, przy częstotliwości ich powtarzania do ok.<br />

500 Hz [12]. W zależności od tzw. współczynnika wypełnienia<br />

przebiegu zasilającego wyrzutnię magnetronową δ = t ON<br />

/(t ON<br />

+<br />

t OFF<br />

) chwilowe wartości napięcia anoda-katoda i prądu katody<br />

wyrzutni magnetronowej, a określające chwilową gęstość mocy<br />

wydzielanej w targecie (źródle rozpylanego materiału), przyjmują<br />

wartości wielokrotnie większe niż wartości średnie tych parametrów<br />

[7]. Przy zachowaniu gęstości mocy targetu na poziomie<br />

typowych standardowych procesów rozpylania magnetronowego<br />

∼1÷50 W/cm 2 chwilowe gęstości mocy targetu podczas procesów<br />

HIPIMS są bardzo wysokie ∼0,7÷3 kW/cm 2 [7, 10].<br />

Napięcie i prąd wyrzutni magnetronowej (oraz ich iloczyn określający<br />

chwilową moc wyładowania) należą do grupy czynników<br />

determinujących parametry energetyczne wyładowania – decydują<br />

m.in. o koncentracji i temperaturze cząstek oraz składzie<br />

plazmy wyładowania. W odróżnieniu od wyładowań małej mocy,<br />

dla dużych gęstości mocy targetu (nawet jeśli są to wartości chwilowe)<br />

istotną rolę w plazmie wyładowania mogą odgrywać jony<br />

rozpylanego materiału: 1) mogą brać czynny udział w trawieniu<br />

targetu, a nawet być czynnikiem podtrzymującym wyładowanie<br />

po odcięciu dopływu gazu roboczego – procesy magnetronowego<br />

autorozpylania [6, 7, 8], 2) mogą wpływać na energie cząstek<br />

plazmy, tzw. zjawisko chłodzenia plazmy [9]. W odniesieniu do<br />

pierwszego zagadnienia dane w literaturze przedmiotu rozpylania<br />

impulsowego pokazują 25…35% spadek szybkości nanoszenia<br />

warstw (w odniesieniu do szybkości uzyskiwanej przy<br />

zasilaniu DC tą samą mocą średnią) na skutek różnicy wartości<br />

współczynników rozpylania Y Me/Ar+<br />

(metalu jednokrotnymi jonami<br />

Rys. 1. Przykładowe oscylogramy napięcia i prądu wyrzutni magnetronowej WMK-50 zasilanej z zasilacza DORA MF podczas rozpylania<br />

miedzi<br />

Fig. 1. Sample oscillograms of voltage and current of the WMK-50 magnetron source driven by DORA MF power supply during sputtering of<br />

copper<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 89


argonu) oraz Y Me/Me+<br />

(metalu jednokrotnymi jonami tego metalu)<br />

[13]. W odniesieniu do drugiego zagadnienia należy podkreślić,<br />

iż procesy rozpylania impulsowego typu HIPIMS (o średniej<br />

mocy targetu na poziomie standardowych procesów rozpylania<br />

stałoprądowego) umożliwiają uzyskanie stopnia jonizacji rozpylonego<br />

materiału, jak również udziału jonów rozpylanego metalu<br />

w procesie trawienia powierzchni targetu równie znacznych jak<br />

w wypadku stałoprądowych procesów rozpylania magnetronowego<br />

z bardzo dużą mocą targetu [7, 10]. Przykładowe dane literaturowe<br />

na temat stopnia jonizacji materiału przy podłożu mówią<br />

o wartościach: 70% [14], 80–95% [10] dla miedzi, 90% [11] dla<br />

tytanu oraz 9,5 i 4,5% odpowiednio dla aluminium i węgla [15].<br />

Charakteryzacja procesów impulsowego rozpylania magnetronowego<br />

pod kątem poszukiwań korelacji między właściwościami<br />

nanoszonych warstw, a parametrami technologicznymi procesów<br />

wiąże się z koniecznością pomiarów chwilowych wartości parametrów<br />

plazmy wyładowania jarzeniowego w układzie magnetronowym,<br />

tj. pomiarów wykonywanych z okresem próbkowania<br />

dużo krótszym niż czas trwania pojedynczego impulsu rozpylającego<br />

(t ON<br />

∼µs). Przyczyną tego jest fakt, iż średnie wartości parametrów<br />

plazmy wyładowania mogą być dalece różne od wartości<br />

chwilowych. Ponadto średnie wartości parametrów wyładowania<br />

nie niosą informacji o jego dynamice wynikającej z cyklicznie występujących<br />

faz inicjowania i wygaszania (rys. 1).<br />

Jednym z narzędzi diagnostyki plazmy wyładowania jarzeniowego<br />

w układzie magnetronowym pozwalającym na szacowanie<br />

wartości koncentracji (n e<br />

) i temperatury (T e<br />

) elektronów jest metoda<br />

sondy Langmuira. W odniesieniu do procesów o bardzo dużych<br />

mocach wyładowania (należą do nich procesy impulsowego rozpylania<br />

magnetronowego) stosowanie tej metody jest ograniczone<br />

z uwagi na błędy pomiaru składowej elektronowej prądu sondy,<br />

wynikające z faktu rozgrzewania grotu sondy i wstrzykiwania do<br />

badanego obszaru plazmy emitowanych z niej termoelektronów.<br />

Metodą pozwalającą ominąć niedogodności metody sond Langmuira<br />

w wyładowaniach dużej mocy jest szacowanie koncentracji<br />

(n e<br />

) i temperatury (T e<br />

) elektronów na podstawie parametrów widma<br />

emisyjnego plazmy (ang. Optical Emission Spectroscopy, OES),<br />

aczkolwiek obłożone jest to licznymi ograniczeniami i skomplikowanym<br />

aparatem matematycznym dotyczącym zagadnień spektralnej<br />

analizy atomowej [16]. Szacowanie chwilowych wartości<br />

n e<br />

, T e<br />

oraz dynamiki zmian wartości tych parametrów (w trakcie<br />

trwania pojedynczego impulsu zasilającego) umożliwia dynamiczna<br />

odmiana tej metody tj. Time-Resolved Optical Emission Spectroscopy,<br />

TR-OES [18]. Metoda ta pozwala również (na podstawie<br />

obserwacji zmian natężeń linii emisyjnych) na ocenę składu plazmy,<br />

tj. udziału atomów i jonów rozpylanego materiału w odniesieniu<br />

do udziału atomów i jonów gazu roboczego [17].<br />

W odniesieniu do procesów rozpylania impulsowego np. przy<br />

użyciu zasilaczy firmy DORA, gdzie moc dostarczana do magnetronu<br />

regulowana jest przez liczbę impulsów w grupie (modulacja<br />

DMP, ang. Pulse Density Modulation) [19], średnie wartości natężeń<br />

linii emisyjnych obserwowane przy użyciu systemu OES są<br />

znacznie niższe niż faktycznie występujące, tzn. mierzone tylko<br />

w czasie trwania grupy impulsów zasilających wyrzutnię (rys. 1).<br />

Wynik pomiaru systemem OES jest bowiem wartością średnią<br />

emisji rejestrowanej w czasie występowania impulsów zasilających<br />

i emisji zerowej, która ma miejsce w czasie między grupami<br />

impulsów zasilających (rys. 1). W celu wykonania poprawnej analizy<br />

(szacowania parametrów plazmy w poszczególnych fazach<br />

impulsu zasilającego) należy posłużyć się systemem TR-OES<br />

pozwalającym rejestrować dynamiczne zmiany natężeń linii emisyjnych<br />

z odpowiednio dużą rozdzielczością czasową, tj. z okresem<br />

próbkowania dużo krótszym niż czas trwania pojedynczego<br />

impulsu zasilającego źródło wytwarzające badaną plazmę.<br />

Założenia<br />

Podjęto próbę budowy systemu pomiarowego TR-OES bazując<br />

na monochromatorze M250 produkowanym przez krajowego producenta<br />

OPTEL Opole. Monochromator M250 pracuje w układzie<br />

90<br />

Czerny-Turner’a (ogniskowa 250 mm, rozdzielczość 0,5 nm) i wyposażony<br />

jest w fotopowielacz Hamamatsu R928 jako detektor<br />

promieniowania. Fotopowielacz umieszczony jest w gnieździe<br />

E717-21 zawierającym obwody polaryzacji dynod dla pracy impulsowej<br />

[21]. Z założenia budowa systemu TR-OES była prowadzona<br />

pod kątem możliwości badania wyładowań impulsowych<br />

wytwarzanych za pomocą zasilaczy MF i pulsed-DC jakimi dysponuje<br />

Laboratorium Technologii Próżniowych i Plazmowych Wydziału<br />

Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki PWr. Zasilacze MF<br />

(firmy DORA) pobudzają magnetron impulsami o częstotliwości<br />

z przedziału 90…120 kHz (czas trwania pojedynczego impulsu<br />

to ≈11,1÷8,3 µs), przebieg prądu wyładowania jest sinusoidalny<br />

(rys. 1). Zasilacz pulsed-DC daje możliwość pobudzania magnetronu<br />

sygnałem o płynnie regulowanej częstotliwości z przedziału<br />

10…100 kHz (przy wartości współczynnika wypełnienia powyżej<br />

60%), napięciowy sygnał pobudzający magnetron jest przebiegiem<br />

prostokątnym. Minimalny czas trwania impulsu sygnału pulsed-DC<br />

to około 6 µs.<br />

Założono, że dla poprawnego obrazowania dynamiki zmian natężenia<br />

wybranej linii spektralnej w czasie trwania jednego impulsu<br />

zasilającego magnetron system TR-OES powinien charakteryzować<br />

się rozdzielczością czasową nie gorszą niż 0,1 czasu trwania<br />

impulsu o minimalnej długości, czyli około 0,6 µs. W odniesieniu<br />

do przebiegu sinusoidalnego dało by to częstotliwość graniczną<br />

(-3 dB) toru wzmacniacza sygnału z detektora około 2 MHz. W odniesieniu<br />

do sygnału pulsed-DC (zakładając, że częstotliwość graniczna<br />

powinna być taka, aby móc rejestrować około 10 harmonicznych)<br />

dałoby to około 20 MHz. Przy zaproponowanej zasadzie<br />

działania (pkt. 3) bardziej wskazane jest jednak posługiwanie się<br />

odwrotnością tej częstotliwości i podkreślenie, że tor sygnałowy<br />

nie powinien wprowadzać poszerzenia wyjściowych impulsów<br />

prądowych fotopowielacza o więcej niż wymagana rozdzielczość<br />

czasowa projektowanego systemu, a więc około 50 ns. Parametry<br />

dynamiczne zastosowanego w M250 fotopowielacza R928 (dla<br />

napięć zasilających z przedziału 800..1250 V) nie będą tu czynnikiem<br />

ograniczającym, ponieważ czas narostu prądu anody jest<br />

mniejszy niż 3 ns; a czas przelotu elektronów mniejszy niż 25 ns<br />

(statystyczny rozkład czasu przelotu to 1,2 ns) [20].<br />

Budowa systemu TR-OES<br />

Niski poziom sygnału optycznego kierowany do fotopowielacza<br />

(za pomocą monochromatora selekcjonuje się wąski przedział<br />

długości fali ∆λ) skutkuje tym, że prąd wyjściowy fotopowielacza,<br />

rejestrowany przez wzmacniacz o małej pojemności wejściowej,<br />

jest ciągiem impulsów SER (ang. Single Electron Response) [21].<br />

Rejestrowana liczba impulsów prądu wyjściowego fotopowielacza<br />

jest wówczas proporcjonalna do natężenia sygnału optycznego.<br />

Zaproponowano ideę działania systemu pomiarowego TR-OES,<br />

którą można nazwać „analogowym zliczaniem fotonów”, przy<br />

czym zliczanie to odbywa się dzięki rozbudowanym możliwościom<br />

akwizycji sygnałów jakie oferują współczesne oscyloskopy<br />

cyfrowe – w szczególności chodzi tu o możliwość cyfrowego<br />

uśredniania dużej liczby rejestrowanych przebiegów [22].<br />

Zaproponowane rozwiązanie „analogowego zliczania fotonów”<br />

bazuje na spostrzeżeniu, iż dla ustalonej długości fali badanego<br />

promieniowania, statystycznie rzecz biorąc, prądowe impulsy<br />

wyjściowe fotopowielacza mają taki sam kształt, a ich liczba występująca<br />

w jednostce czasu zależna jest od natężenia badanego<br />

promieniowania. Zakładając, że wzmacniacz transimpedancyjny<br />

współpracujący z fotopowielaczem nie wprowadzi znacznego<br />

poszerzenia tych impulsów to wyznaczając średnią z wielu (kilkudziesięciu<br />

– kilkuset) oscylogramów sygnału wyjściowego<br />

wzmacniacza transimpedancyjnego rejestrowanych synchronicznie<br />

z pracą źródła badanego promieniowania otrzymamy wynikowy<br />

oscylogram reprezentujący zmienność natężenia badanego<br />

promieniowania w czasie [22].<br />

Klasyczna metoda zliczania fotonów z zastosowaniem wyspecjalizowanego<br />

dyskryminatora okienkowego, umożliwia wyeliminowanie<br />

niepożądanych impulsów związanych z prądem ciem-<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


nym fotopowielacza i obecnością promieniowania kosmicznego.<br />

Wynik zliczenia nie zależy silnie od statystycznych zmian parametrów<br />

fotopowielacza (powodujących zmiany kształtu impulsów<br />

prądu anody). W zaproponowanym rozwiązaniu „analogowego<br />

zliczania fotonów” z definicji występował będzie pewien poziom<br />

szumów związany z uwzględnianiem w wyniku impulsów prądu<br />

ciemnego, impulsów wywoływanych przez promieniowanie kosmiczne<br />

oraz cechą charakterystyczną fotopowielacza jaką jest<br />

statystyczna zmiana jego parametrów w czasie pracy [21]. Próbą<br />

minimalizacji wpływu tych efektów może być wydłużenie czasu<br />

analizy (dokonanie obliczeń uśredniających na większej liczbie<br />

danych). Ograniczeniem stosowalności tego podejścia jest jednak<br />

stabilność częstotliwości i kształtu impulsów pobudzających magnetron.<br />

Drugim czynnikiem wpływającym na poziom szumów występujący<br />

w wynikowym sygnale TR-OES są zakłócenia. W związku<br />

z tym podkreślenia wymaga w tym miejscu fakt, iż w systemie<br />

TR-OES dokonuje się pomiaru prądu fotodetektora o niewielkim<br />

natężeniu (poniżej 1 µA) za pośrednictwem toru wzmacniającego<br />

o szerokim paśmie i dużym wzmocnieniu (10 4 ÷10 6 V/A). Cały<br />

system pomiarowy znajduje się w niewielkiej odległości od impulsowego<br />

zasilacza dużej mocy, co skutkuje obecnością silnych pól<br />

zakłócających – elektrycznego i magnetycznego [23]. Niezmiernie<br />

istotne jest zatem skuteczne ekranowanie układu pomiarowego<br />

(ograniczenie indukowanych sygnałów zakłócających) oraz<br />

wyeliminowanie elektrycznego połączenia systemu pomiarowego<br />

z układem zasilacz-wyrzutnia magnetronowa (ograniczenie przewodzonych<br />

sygnałów zakłócających) [23].<br />

Na rysunku 2 przedstawiono schemat zbudowanego systemu<br />

TR-OES [22]. Badaniom podlega plazma wyładowania jarzeniowego<br />

wytwarzanego przez układ magnetronowy (1). Zasilacz<br />

magnetronu (2) dostarcza energii do wyładowania oraz jest źródłem<br />

sygnału synchronizującego pracę systemu pomiarowego<br />

(zasilacz MF firmy DORA wyposażony został w układ wysyłający<br />

sygnał optyczny o przebiegu prostokątnym i wypełnieniu 50%,<br />

odpowiadający sygnałowi wyjściowemu zasilacza). Sonda do<br />

pomiaru prądu magnetronu (3) dokonuje konwersji zmierzonego<br />

sygnału prądowego na proporcjonalny do niego strumień światła.<br />

Sygnały optyczne: synchronizujący i pomiaru prądu magnetronu<br />

są konwertowane na sygnały elektryczne w specjalnie do tego<br />

zaprojektowanych konwerterach (4). Wyjściowy sygnał prądowy<br />

fotopowielacza jest konwertowany do postaci napięciowej oraz<br />

wzmacniany we wzmacniaczu o regulowanym wzmocnieniu (5).<br />

Synchroniczna akwizycja danych oraz ich analiza dokonywana<br />

jest za pomocą oscyloskopu cyfrowego (6) Agilent DSO3062A.<br />

Do przesyłania sygnałów optycznych zastosowano popularne<br />

i szeroko dostępne światłowody systemu TOSLINK (ze względu<br />

na fakt, iż przesyłane sygnały optyczne nie są sygnałami cyfrowymi<br />

nie zastosowano nadajników i odbiorników systemu TOSLINK,<br />

a skonstruowano własne układy o charakterystyce liniowej).<br />

Wzmacniacz trans impedancyjny<br />

Wzmacniacz sygnału z fotopowielacza składa się z dwóch stopni:<br />

transimpedancyjnego i napięciowego o regulowanym wzmocnieniu.<br />

W wejściowym stopniu transimpedancyjnym ustalono wzmocnienie<br />

10 3 V/A, natomiast w stopniu napięciowym odpowiednio 10,<br />

100 i 1000 V/V. Uzyskano tym samym wynikowe zakresy wzmocnienia<br />

k = 10 3 , 10 4 , 10 5 V/A. Zastosowane wzmacniacze operacyjne<br />

dobrano pod kątem stabilności, odpowiedzi na przesterowanie,<br />

pola wzmocnienia, możliwie małych szumów i niewielkich<br />

prądów polaryzacji wejść [24]. Wzmacniacz zintegrowano z obudową<br />

mocującą fotopowielacz w monochromatorze M250 i filtrami<br />

(R-C, L-C) ograniczającymi przenikanie sygnałów zakłócających<br />

do obwodów wysokiego napięcia polaryzującego fotopowielacz<br />

(rys. 3a). Całość ekranowano od elektrycznych i magnetycznych<br />

pól zakłócających [23]. Wzmacniacz wyposażono w przełączane<br />

filtry dolnoprzepustowe pozwalające ograniczyć pasmo 10 lub<br />

1 MHz. Charakterystyki częstotliwościowe dla poszczególnych<br />

zakresów wzmocnienia całkowitego przedstawiono na rys. 3b.<br />

Zakresy 10 4 i 10 5 V/A charakteryzuje częstotliwość graniczna powyżej<br />

25 MHz (maksymalna częstotliwość wyjściowa generatora<br />

sygnału zastosowanego podczas pomiarów), z lekkim podbiciem<br />

wynikającym z niepełnego skompensowania wpływu pojemności<br />

obciążenia wzmacniaczy operacyjnych. Zakres pomiarowy 10 6<br />

V/A charakteryzuje częstotliwość graniczna około 4 MHz. Czas<br />

propagacji sygnału przez wzmacniacz to około 10 ns.<br />

a)<br />

b)<br />

Rys. 2. Schemat systemu TR-OES. Elementy składowe: 1) komora<br />

próżniowa, 2) MPS – zasilacz magnetronu, 3) sonda do pomiaru prądu<br />

magnetronu, 4) konwertery sygnału optycznego na elektryczny, 5)<br />

monochromator z detektorem i wzmacniaczem, 6) DSO – oscyloskop<br />

cyfrowy<br />

Fig. 2. The TR-OES system diagram. Components: 1) vacuum chamber,<br />

2) MPS – magnetron power supply, 3) magnetron current probe,<br />

4) converters of optical to electrical signals, 5) monochromator with<br />

detector and amplifier, 6) DSO – digital storage oscilloscope<br />

Rys. 3. Wzmacniacz do fotopowielacza: a) widok urządzenia, b) charakterystyki<br />

częstotliwościowe trzech zakresów wzmocnienia k<br />

Fig. 3. The PMT amplifier: a) photo of the unit, b) frequency response<br />

of three gain (k) ranges<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 91


Sonda prądowa z wyjściem optycznym<br />

Sonda jak na rysunku 4 wyposażona jest w rezystor pomiarowy<br />

o wartości 55 mΩ, maksymalna wartość mierzonego prądu<br />

to 20 A RMS<br />

. Sygnał wyjściowy sondy to strumień światła o natężeniu<br />

proporcjonalnym do mierzonego prądu. Sygnał z rezystora<br />

pomiarowego kierowany jest do przesuwnika poziomu [24] dodającego<br />

do tego sygnału stabilizowaną wartość stałą. Zabieg<br />

ten zastosowano w celu zapewnienia możliwości pomiaru prądu<br />

przemiennego. Sygnał z przesuwnika kierowany jest następnie<br />

do przetwornika U-I [24] sterującego wyjściową diodę LED. Częstotliwość<br />

graniczna sondy wynosi około 5 MHz. Na rys. 4b pokazano<br />

oscylogramy prądu magnetronu WMK-50 z katodą aluminiową<br />

zasilanego z zasilacza MF MSS-14. Przebieg U wy<br />

to sygnał<br />

wyjściowy mierzony na wyjściu konwertera sygnału elektrycznego<br />

na optyczny współpracującego z prezentowaną sondą. Dla czasu<br />

74 i 90 µs widoczne są zakłócenia przenikające do układu pomiarowego<br />

od zasilacza MF. W wypadku odłączenia oscyloskopu<br />

od rezystora pomiarowego (oscyloskop zostaje galwanicznie oddzielony<br />

od układu zasilacz-magnetron) zakłócenia tego typu nie<br />

są już rejestrowane.<br />

a)<br />

b)<br />

a)<br />

b)<br />

Rys. 4. Sonda prądowa z wyjściem optycznym: a) widok urządzenia,<br />

b) oscylogramy: UR_pom – sygnał wejściowy, Uwy – napięcie wyjściowe<br />

z konwertera sygnału optycznego na elektryczny<br />

Fig. 4. The current probe with optical output: a) photo of the unit,<br />

b) oscillograms: UR_pom – input signal, Uwy – output signal of the<br />

optical to electrical converter<br />

Synchronizacja<br />

Synchronizacja akwizycji danych za pomocą oscyloskopu z pracą<br />

zasilacza impulsowego odbywa się za pośrednictwem łącza<br />

optycznego. Zasilacz magnetronu wyposażony jest w nadajnik<br />

impulsów świetlnych taktowany sygnałem sterującym tranzystory<br />

stopnia mocy. Sygnał synchronizujący charakteryzuje<br />

się prostokątnym przebiegiem zmienności natężenia i wypełnieniem<br />

50%, odpowiadając fazie sygnału wyjściowego zasilacza.<br />

Impulsy świetlne przekształcane są w ciąg elektrycznych<br />

impulsów synchronizujących w zaprojektowanym konwerterze<br />

optyczno-elektrycznym. Konwerter stosowany w obwodzie syn-<br />

92<br />

Rys. 5. Konwertery optyczno-elektryczne: a) widok urządzeń,<br />

b) oscylogramy: ILED – przebieg prądu nadawczej diody LED, Uwy<br />

– napięcie wyjściowe konwertera pobudzanego sygnałem optycznym<br />

z diody nadawczej LED<br />

Fig. 5. Optical-electrical converters: a) photo of the units, b) oscillograms:<br />

ILED – current waveform of the transmitter LED, Uwy – output<br />

signal of the converter stimulated by the optical signal of transmitter<br />

LED<br />

chronizacji i konwerter współpracujący jako odbiornik z sondą<br />

prądu magnetronu (rys. 5a) to zasadniczo ta sama konstrukcja<br />

– stopień transimpedancyjny z fotodiodą p-i-n plus wtórnik<br />

napięciowy. Dla osiągnięcia lepszej pracy dynamicznej w konwerterze<br />

do synchronizacji zastosowano dwukrotnie mniejsze<br />

wzmocnienie transimpedancyjne, tj. około 10 5 V/A. Na rys. 5b<br />

pokazano schematycznie przebieg prądu diody LED pobudzającej<br />

konwerter oraz odpowiedź napięciową tego konwertera na<br />

strumień światła z diody.<br />

Pomiary zbudowanego systemu TR-OES<br />

Na potrzeby testów funkcjonalnych zbudowanego systemu zastosowano<br />

oświetlacz z diodą LED umożliwiający skierowanie<br />

do monochromatora strumienia światła o zadanym przebiegu<br />

zmienności natężenia (sinus, trójkąt, prostokąt). Testy przeprowadzono<br />

dla napięcia zasilającego fotopowielacz równego<br />

1 kV, wzmocnienia 10 5 V/A, z widma promieniowania diody LED<br />

wyselekcjonowano monochromatorem linię 510 nm, a poziom<br />

sygnału z oświetlacza ustalono tak, aby uzyskać sygnał wyjściowy<br />

TR-OES na poziomie rejestrowanym systemem OES<br />

podczas typowych procesów rozpylania. Częstotliwość sygnału<br />

ustalono na 250 kHz (dwukrotnie większą niż sygnały, jakimi<br />

będzie pobudzany magnetron). Na rys. 6 pokazano przebieg<br />

sygnału TR-OES dla kolejno zwiększanej liczby uśrednianych<br />

przebiegów (parametr AVG) w odniesieniu do prądu diody LED<br />

oświetlacza. Prąd diody mierzono pośrednio stosując rezystor<br />

180 Ω. Zaprezentowane oscylogramy pokazują, że zadowalający<br />

wynik otrzymuje się uśredniając już 64 przebiegi, natomiast<br />

zwiększenie do 256 uśrednień daje już bardzo dobry<br />

wynik odtworzenia zmienności badanej linii emisyjnej.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


a) b)<br />

c) d)<br />

Rys. 6. Wpływu liczby uśrednień (parametr AVG) na wynik pomiaru TR-OES (Uwy_wzm): a) AVG = 0, b) AVG = 8, c) AVG = 64, d) AVG = 256.<br />

Linią czerwoną zaznaczono przebieg prądu pobudzającej diody LED – prąd mierzono pośrednio za pomocą rezystora 180 Ω<br />

Fig. 6. The impact of averages number (AVG parameter) on the TR-OES result (Uwy_wzm). a) AVG = 0, b) AVG = 8, c) AVG = 64, d) AVG = 256.<br />

The red line indicates the current waveform of the stimulating LED diode – the current was measured indirectly using 180 Ω resistor<br />

a) b)<br />

Rys. 7. Ilustracja odwzorowania kształtu sygnałów o częstotliwości 250 kHz: a) trójkątnego, b) prostokątnego (widoczne pół okresu). Uśredniano<br />

AVG = 256 pomiarów<br />

Fig. 7. The results of measurements of 250 kHz signals: a) triangular, b) rectangular (visible half-wave). Averaging was done on AVG = 256<br />

measurements<br />

Na rysunku 7 przedstawiono wyniki pomiarów dla pobudzenia<br />

sygnałem trójkątnym (ilustracja liniowości działania systemu) oraz<br />

prostokątnym (ilustracja odpowiedzi na pobudzenie skokowe).<br />

Na podstawie pomiaru przedstawionego na rys. 7b określono, że<br />

czas narostu i opadania zbocza wynikowego sygnału TR-OES to<br />

odpowiednio około 100 i 300 ns, co jest bardzo dobrym rezultatem<br />

w stosunku do zakładanych 600 ns.<br />

Przykładowe pomiary TR-OES<br />

Na rysunku 8 pokazano wybrane rezultaty pomiarów TR-OES<br />

plazmy wyładowania jarzeniowego podczas rozpylania miedzi<br />

za pomocą magnetronu WMK-50. Czas zero to początek grupy<br />

impulsów z zasilacza MF Dora. Przebiegi zmienności linii Cu +<br />

oraz Ar + ilustrują zjawisko chłodzenia plazmy. W pierwszej fazie<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 93


Rys. 8. Przykładowe wyniki pomiarów TR-OES dla rozpylania miedzi<br />

Fig. 8. A sample TR-OES results for the copper target sputtering<br />

trwania impulsu zasilającego natężenie linii jonów argonu przyjmuje<br />

wartości maksymalne, po czym wraz z upływem czasu<br />

trwania impulsu zasilającego ich natężenie maleje. Sytuację odwrotną<br />

widać w przebiegu zmienności linii jonów miedzi, gdzie<br />

w początkowej fazie impulsu zasilającego natężenie jest minimalne<br />

i wzrasta z czasem. Można mówić tu zatem o wypieraniu<br />

z plazmy atomów gazu roboczego przez atomy rozpylanego materiału.<br />

Przyczyną tego jest fakt, iż atomy rozpylanego materiału<br />

(miedzi) mają niższy potencjał jonizacji niż atomy gazu roboczego<br />

(E j_Cu<br />

= 7,7 eV; E j_Ar<br />

= 15,6 eV). Dodatkowo w sytuacji,<br />

gdy w mechanizmach podtrzymywania wyładowania jony gazu<br />

roboczego zastępowane są przez jony rozpylanego materiału<br />

można mówić o występowaniu zjawiska autorozpylania. Widać<br />

tym samym, że procesy rozpylania impulsowego dużą mocą „w<br />

impulsie” są diametralnie odmienne od procesów stałoprądowych<br />

charakteryzowanych przez tę samą moc średnią wyładowania.<br />

W wypadku procesów impulsowych w trakcie trwania pojedynczego<br />

impulsu zasilającego następuje dynamiczna zmiana<br />

warunków technologicznych – w fazie początkowej mamy do<br />

czynienia z plazmą gazu roboczego, po czym następuje przejście<br />

do plazmy metalicznej (plazmy, w której istotną rolę odgrywają<br />

jony rozpylanego metalu). Dokładna analiza rezultatów<br />

otrzymywanych za pomocą prezentowanego systemu TR-OES<br />

będzie przedmiotem dalszych prac nad procesami impulsowego<br />

rozpylania magnetronowego w Laboratorium Technologii Próżniowych<br />

i Plazmowych Wydziału Elektroniki Mikrosystemów<br />

i Fotoniki PWr.<br />

Podsumowanie<br />

Zaproponowano ideę budowy systemu pomiarowego TR-OES<br />

bazującą na wielokrotnej akwizycji sygnału z detektora promieniowania<br />

dokonywanej synchronicznie z pracą źródła emitującego<br />

to promieniowanie. Opracowany system przetestowano podczas<br />

przykładowego procesu impulsowego rozpylania miedzi. Dzięki<br />

galwanicznemu oddzieleniu systemu pomiarowego od układu<br />

zasilacz-magnetron nie występuje problem zakłócania pracy systemu<br />

przez zasilacz magnetronu. Otrzymane rezultaty TR-OES<br />

ilustrują możliwość rejestracji zmian natężenia linii spektralnych<br />

z rozdzielczością czasową około 0,5 µs.<br />

94<br />

Badania były finansowane częściowo przez Unię Europejską<br />

w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego oraz w ramach<br />

zlecenia statutowego ze środków MNiSW.<br />

Literatura<br />

[1] Kouznetsov V., K. Macak, J.M. Schneider, U. Helmersson, I. Petrov:<br />

A novel pulsed magnetron sputter technique utilizing very high target<br />

power densities, Surface and Coatings Technology, 122, (1999),<br />

s. 290–293.<br />

[2] A.P. Ehiasarian, R. New, W.D. Munz, L. Hultman, U. Helmersson, V.<br />

Kouznetsov: Influence of high power densities on the composition of<br />

pulsed magnetron plasmas, Vacuum 65, (2002), s. 147–154.<br />

[3] Bohlmark J., J. Alami, Ch. Christou, A.P. Ehiasarian, U. Helmersson:<br />

Ionization of sputtered metals in high power pulsed magnetron sputtering,<br />

J. Vac. Sci. Technol. A 23(1), Jan/Feb 2005, s. 18–22.<br />

[4] Andersson J., A. Anders: Gasless sputtering: Opportunities for ultraclean<br />

metallization, coatings in space, and propulsion, Applied<br />

Physics Letters, 92, (2008), s. 221501-03.<br />

[5] Wiatrowski A., W. Posadowski, Z. Radzimski: Pulsed-dc self-sustained<br />

magnetron sputtering, J. Vac. Sci. Technol. A, 2008, 26(5),<br />

s. 1277–1281.<br />

[6] Wiatrowski A.: Medium frequency magnetron self-sputtering of copper,<br />

Vacuum 82(10), (2008), s. 1111–1114.<br />

[7] Anders A.: Fundamentals of pulsed plasmas for materials processing,<br />

Surface and Coatings Technology 183, (2004), s. 301–311.<br />

[8] Hosokawa N., T. Tsukada, H. Kitahara: Effect of discharge current<br />

and sustained self-sputtering, Proceedings of The 8th International<br />

Vacuum Congress, Cannes, France, 22–26 September 1980, Supplement<br />

LeVide-les Couches Minces, No.201, s. 11–14.<br />

[9] Hopwood L., F. Qian: Mechanisms for highly ionized magnetron<br />

sputtering, Journal Appl. Phys. 78, (1995), s. 758–765.<br />

[10] Vlĉek J., A.D. Pajdarova, P. Belsky, J. Lukas, P. Kudlacek, J. Musil:<br />

Characterization of High-power Pulsed DC Magnetron Discharges<br />

for Ionized High-rate Sputtering of Copper Films, Society of Vacuum<br />

Coaters, Proceedings of The 48th Annual Technical Conference<br />

(2005), s. 465–469.<br />

[11] Bohlmark J., J. Alami, C. Christou, A.P. Ehiasarian, U. Helmersson:<br />

Ionization of sputtered metals in high power pulsed magnetron sputtering,<br />

J. Vac. Sci. Technol. A 23, (2005), s. 18–22.<br />

[12] Helmersson U., M. Lattemann, J. Bohlmark, A.P. Ehiasarian, J.T.<br />

Gudmundsson; Ionized physical vapor deposition (IPVD): A review of<br />

technology and applications, Thin Solid Films, 513, (2006), s. 1–24.<br />

[13] Christie D.J., A. Pflug, V. Sittinger, F. Ruske, M. Siemers, B. Szyszka,<br />

M. Geisler: Model Prediction and Empirical Confirmation of Rate<br />

Scaling with Peak Power for High Power Pulse Magnetron Sputtering<br />

(HPPMS) Deposition of Thin Ag Films, Society of Vacuum Coaters,<br />

Proceedings of The 48th Annual Technical Conference (2005),<br />

s. 501–503.<br />

[14] Kouznetsov V., K. Macák, J. M. Schneider, U. Helmersson, I. Petrov:<br />

A novel pulsed magnetron sputter technique utilizing very high target<br />

power densities, Surface and Coatings Technology 122, (1999),<br />

s. 290–293.<br />

[15] DeKoven B. M., P. R. Ward, R. E. Weiss, D. J. Christie, R. A. Scholl,<br />

W. D. Sproul, F. Tomasel, A. Anders: Carbon Thin Film Deposition<br />

Using High Power Pulsed Magnetron Sputtering, Society of Vacuum<br />

Coaters, Proceedings of The 46th Annual Technical Conference<br />

(2003), s. 158–160.<br />

[16] Boboli K., i in.: Zagadnienia podstawowe spektralnej analizy atomowej,<br />

1972, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa.<br />

[17] Goyes C., F. Sequeda, and A. Neira: Magnetron Sputtering Deposition<br />

of Titanium Nitride Films Using Optical Emission Spectroscopy<br />

(OES) as In-Situ Technique for Plasma Diagnostics, 45th SVC Annual<br />

Technical Conference Proceedings (2002), ISSN 0737-5921.<br />

[18] Moiseev T., D.C. Cameron: Estimation of the Electron Temperature<br />

and Density from Space and Time-resolved O.E.S. During Pulsed<br />

DC Operation of an Opposed Target Magnetron, 48th SVC Annual<br />

Technical Conference Proceedings (2005) ISSN 0737-5921.<br />

[19] Zasilacz rezonansowy ze stabilizacją dobroci, J. Dora, patent RP nr<br />

313150, 1996.<br />

[20] Nota aplikacyjna, HAMAMATSU Photomultipier Tubes R928, R955.<br />

[21] Materiały szkoleniowe, Understanding photomultipliers, Ref:<br />

upmt/01, 2001, Electron Tubes Limited, www.electrontubes.com<br />

[22] Wiatrowski A.: Sposób pomiaru dynamiki zmian natężenia promieniowania<br />

świetlnego emitowanego przez źródła zasilane impulsowo,<br />

Zgłoszenie patentowe numer P.399950 z dnia 13.07.<strong>2012</strong> r.<br />

[23] Praca zbiorowa, Zakłócenia w aparaturze elektronicznej, Radioelektronik,<br />

Warszawa, 1995.<br />

[24] Free Samples Program, Texas Instruments, Analog Devices.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Multimedialny bezprzewodowy system alarmowy<br />

dr inż. Piotr Bratek, mgr inż. Dariusz Majcherczyk, dr inż. Ireneusz Brzozowski,<br />

prof. dr hab. inż. Andrzej Kos<br />

AGH Akademia Górniczo-Hutnicza, Katedra Elektroniki, Kraków<br />

Rozwój elektroniki i informatyki daje nam nieustannie nowe możliwości<br />

co przekłada się na upowszechnianie nowych technologii<br />

w codziennym życiu. Jedną z najważniejszych spraw do której,<br />

jako użytkownicy, przywiązujemy największą wagę jest przede<br />

wszystkim bezpieczeństwo osobiste oraz bezpieczeństwo mienia.<br />

Nowe coraz bardziej zawansowane rozwiązania pozwalają<br />

skuteczniej bronić się przed potencjalnymi zagrożeniami.<br />

Możliwość wykorzystania wiadomości obrazkowych MMS daje<br />

użytkownikowi znacznie cenniejszą informację, niż dotychczasowa<br />

wiadomość tekstowa, na temat zaistniałej sytuacji w miejscu<br />

zdarzenia. Dzięki zastosowaniu modemu GSM/GPRS nie ma<br />

ograniczenia nałożonego na miejsce realizacji ponieważ obecnie<br />

pokrycie sieci komórkową obejmuje cały teren kraju.<br />

Przedstawiony w artykule multimedialny system alarmowy<br />

(rys. 1) wysyła wiadomości graficzne MMS (ang. Multimedia<br />

Messaging Service) z wykorzystaniem modemu GSM/GPRS<br />

(ang. Global System for Mobile communication/General Packet<br />

Radio Service). Do tej pory na rynku dostępne były głównie systemy<br />

oparte na informacjach przesyłanych jako wiadomości<br />

SMS (ang. Short Message Service). Było tak ze względu na<br />

powszechność dostępu do tej usługi, a co za tym idzie niskich<br />

kosztów użytkowania oraz ówczesnych możliwości technicznych<br />

terminali komórkowych. Współczesne warunki życia promują tak<br />

zwane smartfony (ang. smartphones), czyli urządzenia telefoniczne<br />

łączące w sobie funkcje telefonu komórkowego i komputera<br />

kieszonkowego PDA (ang. Personal Digital Assistant) stąd rosnące<br />

wymagania, co do multimedialności oraz funkcjonalności<br />

rozwiązań z nimi współpracujących [1].<br />

Czujnik<br />

ruchu<br />

Kamera<br />

Mikrokontroler<br />

Moduł GSM/GPRS<br />

Rys. 1. Schemat systemu alarmowego. Fig. 1. Alarm System<br />

Odbiornik<br />

MMS<br />

MMS – architektura, interfejsy, budowa<br />

Standard MMS został opracowany w roku 2002 r. przez organizację<br />

OMA (ang. Open Mobile Alliance) przy wsparciu projektem<br />

3GPP (ang. 3rd Generation Partnership Project) [2]. Wiadomości<br />

multimedialne MMS, to rewolucyjne rozwiązanie w porównaniu<br />

ze swoim poprzednikiem, czyli wiadomościami SMS. MMS pozwala<br />

na przesyłanie wiadomości multimedialnych zawierających<br />

takie treści, jak: zdjęcia, dźwięk, obraz wideo i oczywiście tekst.<br />

Na rysunku 2 przedstawiono schemat architektury systemu MMS,<br />

natomiast szczegółowy opis można znaleźć w pracach [2, 3].<br />

Wiadomość MMS składa się z:<br />

● nagłówka:<br />

X-Mms-Message-Type: m-send-req<br />

X-MMS-Transaction-ID: 4663<br />

X-Mms-Version: 1.0<br />

From: +48123456789/TYPE=PLMN<br />

To: +48987654321/TYPE=PLMN<br />

Subject: MMS Test<br />

X-Mms-Message-Class: Personal<br />

X-Mms-Priority: Normal<br />

X-Mms-Delivery-Report: No<br />

X-Mms-Read-Reply: No<br />

Content-type: application/vnd.wap.multipart.related<br />

● ciała, które zawiera wybrane przez użytkownika treści opakowane<br />

językiem SMIL (ang. Synchronized Multimedia Integration<br />

Language). SMIL jest językiem opracowanym przez<br />

organizację W3C (ang. World Wide Web Consortium), który<br />

oparty jest na XML (ang. Extensible Markup Language). Wykorzystywany<br />

jest do opisywania prezentacji multimedialnych,<br />

określa między innymi znaczniki synchronizacji, układ, animację,<br />

przejścia obrazów oraz zagnieżdżenia [4].<br />

Środowisko sprzętowo-programowe<br />

Prototyp urządzenia składa się z dwóch modułów ewaluacyjnych<br />

połączonych ze sobą interfejsem RS-232, zewnętrznego czujnika ruchu,<br />

kamery internetowej, programu sterującego napisanego w językach<br />

C oraz Python osadzonego w środowisku Linux Embedded [5].<br />

Rys. 2. Architektura systemu MMS [3]<br />

Fig. 2. MMS architecture [3]<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 95


Rys. 3. Płyta ewaluacyjna „Mini Eval” [7]<br />

Fig. 3. „Mini Eval” evaluation board [7]<br />

Rys. 4. Płyta ewaluacyjna mikrokontrolera AT91SAM9260 [9]<br />

Fig. 4. AT91SAM9260 evaluation board [9]<br />

Rys. 6. Bezprzewodowy czujnik ruchu [11]<br />

Fig. 6. Wireless motion sensor [11]<br />

96<br />

Rys. 5. Kamerka internetowa<br />

Creative NX PD1110 [10]<br />

Fig. 5. Webcam Creative NX<br />

PD1110 [10]<br />

Płyta ewaluacyjna „Mini Eval” (rys. 3) wraz z modułem HiLo<br />

firmy Sagem [6] została szczegółowo opisana w pracach [7, 8].<br />

Drugą zastosowaną płytą ewaluacyjną do budowy prototypu jest<br />

płytka z mikroprocesorem AT91SAM9260 [9] – rys. 4.<br />

System operacyjny, który został zainstalowany na płytce z mikroprocesorem<br />

to linux embedded w dystrybucji OpenWRT wersja<br />

kamikaze r13340. Środowisko to oparte jest na wersji jądra<br />

2.6.29.3.<br />

Program do obsługi wysyłania wiadomości MMS został napisany<br />

w językach C oraz Python. Część kodu, która została napisana<br />

w języku C, była kompilowana za pomocą toolchaina: arm_gcc4.1.2.<br />

Kompilacja odbywała się w systemie Linux Ubuntu 11.04.<br />

Pozostała część kodu napisana w języku Python nie wymagała<br />

kompilacji, ponieważ jest to język interpretowany. Interpreter Pythona<br />

uruchamia programy natychmiast po ich wpisaniu lub załadowaniu.<br />

Dla potrzeb prezentowanego systemu, w układzie został<br />

zainstalowany Python w wersji 2.5.1 oraz pyserial w wersji 2.5.<br />

Kolejnym elementem układu, który zapewnia jego multimedialność,<br />

czyli pozwala na wykonywanie zdjęć, które następnie<br />

są odpowiednio przetwarzane przez program i wysyłane do<br />

użytkownika w formie wiadomości MMS jest kamera internetowa<br />

(rys. 5). Jako czujnik ruchu zastosowano bezprzewodowy komercyjny<br />

czujnik pozwalający na umieszczenie nadajnika w miejscu<br />

oddalonym do 100 m od odbiornika (rys. 6).<br />

Prototyp multimedialnego systemy alarmowego<br />

Według założeń układ ma realizować funkcję alarmu, w związku<br />

z tym czujnik ruchu został wybrany jako urządzenie uruchamiające<br />

cały proces. Zastosowany czujnik w podstawowej wersji<br />

wyzwalał głośnik, który dźwiękowo informował o wykryciu ruchu<br />

w monitorowanym obszarze. Zmiana stanu wygenerowana przez<br />

czujnik ruchu wykorzystywana jest przez port GPIO mikroprocesora<br />

do uruchomienia programu obsługującego procedurę wykonywania<br />

zdjęć kamerą internetową. Obsługa portu GPIO została<br />

zaprogramowana w języku C.<br />

Kamera internetowa Creative NX PD1110 w systemie linux<br />

wymaga zastosowania sterownika gspca_zc3xx. W układzie<br />

z mikroprocesorem nie ma tego sterownika, w związku z czym<br />

wymagane było przekompilowanie jądra linuksa z włączonym odpowiednim<br />

modułem.<br />

Procedurą odpowiedzialną za zapis zdjęć wykonanych przez<br />

kamerę jest procedura MJPG_streamer, oparta na licencji GNU<br />

V2. Pierwotna konfiguracja tej procedury zapisywała kolejne<br />

zdjęcia w nieskończonej pętli z nazwą odpowiednią do danej<br />

daty i godziny i tylko przerwanie przez użytkownika zatrzymywało<br />

wykonywanie zdjęć. Dla potrzeb systemu alarmowego jest to<br />

niewłaściwe funkcjonowanie, dlatego wprowadzono zmiany, które<br />

odpowiednio dostosowały pliki wyjściowe. Ograniczono działanie<br />

MJPG_streamer do realizacji dwóch zdjęć.<br />

Po zrobieniu zdjęć uruchamiana jest kolejna procedura nazwana<br />

„my_mms”. Pierwszym zadaniem tej procedury jest zamiana<br />

zrobionych wcześniej kamerką internetową zdjęć na wiadomość<br />

MMS. Program napisany jest w języku Python i korzysta z następujących<br />

bibliotek: mms, time, serial, os. Stworzenie zgodnej ze<br />

standardem wiadomości MMS, odbywa się dzięki bibliotece mms,<br />

w której zawarte są elementy niezbędne do odpowiedniego zakodowana<br />

nagłówka oraz ciała wiadomości obrazkowej. Biblioteki<br />

time i serial wykorzystane do są komunikacji z interfejsem UART,<br />

natomiast biblioteka os zapewnia konwersję danych.<br />

Kamera w jednym cyklu wykonuje dwa zdjęcia. Dzięki temu,<br />

w jednej wiadomości MMS, wysyłane są dwa zdjęcia, a tym samym<br />

zwiększana jest jakość otrzymanej informacji.<br />

Wynikiem działania procedury „my_mms” jest plik „alarm.<br />

mms’, który jest docelową wiadomością MMS. Dodatkowo sprawdzany<br />

jest rozmiar tego pliku, ponieważ jest to niezbędne przy<br />

przesyłaniu go do pamięci modemu Sagem HiLo.<br />

Komunikacja pomiędzy mikroprocesorem a modemem odbywa<br />

się za pomocą interfejsu UART. Za pomocą komend AT wysyłane<br />

są do modemu GSM informacje niezbędne do zestawienia<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Prototyp zrealizowanego multimedialnego bezprzewodowego<br />

systemu alarmowego przedstawia rys. 7.<br />

Podsumowanie<br />

Prezentowany multimedialny bezprzewodowy system alarmowy<br />

jest kompletnym środowiskiem sprzętowo-programowym do tworzenia<br />

wiadomości obrazkowych MMS ze zdjęć pochodzących<br />

z kamerki internetowej i przesyłania ich za pomocą modułu przemysłowego<br />

GSM/GPRS.<br />

Prezentowany system jest prostym i tanim rozwiązaniem<br />

wykorzystującym ogólnie dostępne podzespoły elektroniczne.<br />

Dalsze prace prowadzone będą w kierunku pełnej integracji mikrokontrolera,<br />

modułu GSM, kamery i czujnika ruchu w jednym<br />

autonomicznym urządzeniu alarmowym.<br />

Rys. 7. Prototyp multimedialnego bezprzewodowego systemu alarmowego<br />

Fig. 7. Prototype of Multimedia Wireless Alarm System<br />

połączenia GPRS i wysłania wiadomości MMS. Komendy AT są<br />

ściśle określone w specyfikacji modemu [12], natomiast podawane<br />

parametry zależą od danego operatora systemu GSM.<br />

Kolejnym krokiem jest zapisanie do modemu pliku „alarm.<br />

mms”, najpierw wysyłany jest rozmiar pliku, który został określony<br />

wcześniej. Po zapisaniu pliku odczytany zostaje obszar pamięci<br />

w którym modem go umieścił. Po czym następuje wysłanie wiadomości<br />

MMS z odczytanego obszaru pamięci.<br />

W ostatecznej wersji programu zawarto również usprawnienia<br />

takie jak, kasowanie zapisanych wiadomości MMS z pamięci modemu<br />

(ochrona układu przed brakiem pamięci magazynowej), informowanie<br />

użytkownika o kończących się środkach finansowych<br />

na koncie karty SIM.<br />

Program główny kończy się zamknięciem portu szeregowego,<br />

po czym następuje powrót do procedury GPIO.<br />

Praca realizowana w ramach Działalności Statutowej AGH nr<br />

umowy 11.11.120.184.<br />

Literatura<br />

[1] http://pl.wikipedia.org/wiki/Smartfon.<br />

[2] Henry-Labordere A., V. Jonack: SMS and MMS Interworking in Mobile<br />

Network. Artech House Publishers, 2004.<br />

[3] Gwanael Le Bodic: Mobile Technologies and Services: SMS, EMS<br />

and MMS. John Wiley & Sons Ltd., 2003.<br />

[4] http://pl.wikipedia.org/wiki/Synchronized_Multimedia_Integration_<br />

Language.<br />

[5] Bis M.: Linux w systemach embedded. Wydawnictwo BTC, 2011.<br />

[6] Sagem Communication, “HiLo Technical Specification” ed.06, 2009<br />

[7] Bratek P., K. Boroń, P. Dziurdzia, A. Kos: A New Didactic Equipment<br />

for Teaching of Industrial GSM/GPRS and Telemetry Systems. Proc.<br />

of XXXII international conference of IMAPS-CMPT IEEE Poland on<br />

CDROM, Pszczyna 21–24 September 2009, s 78–81.<br />

[8] Bratek P., A. Kos: LABGSM – system ewaluacyjny modułu GSM/<br />

GPRS. <strong>Elektronika</strong> – konstrukcje, technologie, zastosowania, nr<br />

5/<strong>2012</strong>, Wydawnictwo SIGMA-NOT <strong>2012</strong>, s. 74–77.<br />

[9] http://www.atmel.com/devices/sam9260aspx.<br />

[10] http://support.creative.com/Products/ProductDetails.aspx<br />

[11] http://www.orno.pl/<br />

[12] Sagem Communication, “AT Command Set for HiLo/HiLoNC Modules”<br />

ed. 07, 2009.<br />

Automatyczny pomiar pojemności złączowej<br />

półprzewodnikowego złącza p-n<br />

dr inż. Ireneusz Brzozowski, mgr inż. Szymon Wawszczak, dr inż. Piotr Bratek,<br />

prof. dr hab. inż. Andrzej Kos<br />

AGH Akademia Górniczo-Hutnicza, Katedra Elektroniki, Kraków<br />

Pojemność złączowa (barierowa) jest jednym z ważniejszych parametrów<br />

diod półprzewodnikowych, a zwłaszcza w przypadku<br />

zastosowania w układach dużej częstotliwości. Pojemność złączowa<br />

jako główny parametr zaporowo spolaryzowanego złącza<br />

ma również znaczny udział w przypadku poboru energii w układach<br />

scalonych [1]. W wielu przypadkach sposobność szybkiego<br />

i możliwie dokładnego pomiaru tej pojemności jest nieoceniona.<br />

W przypadku warikapów i waraktorów jest to najważniejszy parametr.<br />

Co więcej, możliwość uzyskania charakterystyki pojemnościowo-napięciowej<br />

może być także bardzo cenna. Ponadto,<br />

oprócz wartości pojemności dla konkretnych napięć polaryzujących<br />

diodę taka charakterystyka pozwala na wyznaczenie innych<br />

ważnych parametrów złącza, np. potencjału barierowego czy profilu<br />

domieszkowania.<br />

W artykule przedstawiono stanowisko pomiarowe umożliwiające<br />

automatyczne wyznaczanie charakterystyk pojemnościowo-napięciowych<br />

złączy półprzewodnikowych i na tej podstawie<br />

ekstrakcję niektórych parametrów diod. Stanowisko składa się ze<br />

specjalnego układu pomiarowego oraz oprzyrządowania kontrolno-pomiarowego,<br />

które jest sterowane za pomocą aplikacji napisanej<br />

w środowisku LabVIEW, przez magistralę GPIB. W dedykowanym<br />

module pomiarowym zastosowano metodę rezonansową<br />

pomiaru pojemności.<br />

Wybór metody pomiarowej<br />

Z pośród wielu metod pomiaru pojemności kondensatorów można<br />

wymienić techniczną, mostkową, rezonansową i inne. Nie<br />

wszystkie z nich nadają się do zastosowania w przypadku pomiaru<br />

pojemności złączowej diody. Niektóre z nich wymagają dobrej<br />

liniowości elementu, dużej dobroci lub stałości napięcia do niego<br />

przyłożonego [2]. Tymczasem dioda półprzewodnikowa to element<br />

nieliniowy, a więc jej parametry zmieniają się wraz z napięciem<br />

polaryzującym. W szczególności pojemność złączowa, ale<br />

również rezystancja szeregowa, dobroć itd. W związku z tym dla<br />

uzyskania dobrej dokładności pomiarów należy zapewnić małą<br />

amplitudę składowej zmiennej napięcia na diodzie.<br />

Metoda techniczna wymaga dużej dobroci, a z tą w przypadku<br />

diody jest trochę gorzej. Metoda mostkowa, choć bardzo<br />

dokładna jest raczej trudna do zastosowania w przypadku<br />

automatycznych pomiarów i wymagałaby znacznej rozbudowy<br />

układu kontrolno-pomiarowego. Wydaje się, że najlepszą<br />

w naszym przypadku będzie metoda rezonansowa oparta na<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 97


generatorze, który jest przestrajany za pomocą badanej diody<br />

– VCO.<br />

W przypadku równoległego obwodu rezonansowego z dodatkową<br />

diodą (rys. 1) jego pulsacja jest opisana wzorem Thomsona:<br />

<br />

ω =<br />

1<br />

L(<br />

C p<br />

+ C j<br />

)<br />

gdzie: L – indukcyjność cewki generatora, C p<br />

– pojemność własna<br />

obwodu rezonansowego, C j<br />

– pojemność złączowa badanej diody.<br />

(1)<br />

L<br />

R<br />

C<br />

Dioda<br />

Gen.<br />

Rys. 1. Schemat do pomiaru pojemności diody metodą rezonansową<br />

Fig. 1. Circuit diagram for capacitance measurement with resonance<br />

method<br />

W celu pomiaru pojemności diody i wyznaczenia charakterystyki<br />

C j<br />

= f (U D<br />

) wystarczy skalibrować zbudowany generator za pomocą<br />

pojemności wzorcowych – wyznaczyć indukcyjność obwodu<br />

rezonansowego i pojemność własną, a następnie badając diodę,<br />

wykonać tylko pomiary częstotliwości w funkcji napięcia polaryzującego.<br />

Ostatecznie, po przekształceniu wzoru (1) z uwzględnieniem<br />

pojemności C p<br />

, obliczymy pojemność złączową diody C j<br />

.<br />

Z równania (1) wynika, że zmiana częstotliwości generatora<br />

– odstrojenie – będzie tym większa im większy będzie udział pojemności<br />

złączowej w całkowitej pojemności obwodu rezonansowego.<br />

Pojemność własna obwodu C p<br />

powinna być mała w stosunku<br />

do pojemności badanej diody. Z drugiej strony również<br />

indukcyjność powinna przyjmować małe wartości, co w połączeniu<br />

z typowymi wartościami pojemności złączowych (od kilkunastu<br />

do kilkuset pF) spowoduje, że generator pomiarowy będzie<br />

pracował przy dość dużych wartościach częstotliwości.<br />

System pomiarowy<br />

Budowa stanowiska pomiarowego do automatycznego pomiaru<br />

pojemności złączowej jest przedstawiona na rys. 2. System<br />

pomiarowy składa się z komputera z dedykowaną aplikacją<br />

kontrolno-sterującą napisaną w środowisku LabVIEW, przyrządów<br />

pomiarowych spiętych za pomocą magistrali GPIB<br />

oraz specjalnego generatora pomiarowego. W omawianym<br />

stanowisku pomiarowym zastosowano urządzenia Agilent. Są<br />

Rys. 2. System pomiarowy do wyznaczania wartości pojemności złączowej<br />

diody<br />

Fig. 2. Measuring system for measure of junction capacitance value<br />

of diode<br />

to: zasilacz (E3646A), multimetr (34401A) i częstościomierz<br />

(53131A).<br />

Z punktu widzenia dokładności pomiarów należy zbudować<br />

generator o możliwie dużym zakresie przestrajania, stosownej<br />

stabilności i liniowości. W praktycznej realizacji układu zastosowano<br />

układ generatora Seilera z tranzystorem bipolarnym włączonym<br />

w układzie wspólnego kolektora (rys. 3). Generator ten<br />

charakteryzuje się bardzo dobrą stabilnością. Dodatkowo zastosowano<br />

wtórnik emiterowy zbudowany na tranzystorze T2, co<br />

powoduje odseparowanie generatora od obciążenia i poprawia<br />

stabilność częstotliwości i amplitudy.<br />

Zastosowany generator został zmodyfikowany w stosunku do<br />

typowego układu Seilera [3] poprzez zmniejszenie sprzężenia<br />

pojemnościowego między emiterem i bazą. Zrezygnowano z kondensatora,<br />

wykorzystując jedynie pojemność złącza baza-emiter<br />

tranzystora. Takie posunięcie spowodowało dalszą poprawę stabilności<br />

oraz podniesienie poziomu napięcia wyjściowego.<br />

Jak już wcześniej wspomniano, aby zapewnić dokładne pomiary<br />

pojemności diody należy zadbać o możliwie najmniejszą<br />

amplitudę napięcia zmiennego na badanej diodzie. W związku<br />

z tym, pierwotny układ prototypowy uległ pewnym modyfikacjom.<br />

Obniżono napięcie zasilania do 5 V. Zastosowano równoległy<br />

kondensator o wartości 22 pF, co spowodowało dalszą redukcję<br />

amplitudy napięcia na diodzie. Zmniejszono również wartość<br />

Nap. polaryzujące diodę<br />

R 12<br />

1,2kΩ<br />

LED czer.<br />

R 11<br />

LED ziel.<br />

1,2kΩ<br />

L dławik<br />

pomiar napięcia<br />

diody<br />

R 10<br />

100kΩ<br />

V<br />

Badana dioda<br />

C 1<br />

22pF<br />

C 2<br />

22pF<br />

L<br />

R 3<br />

R 1 R 2<br />

10kΩ 10kΩ<br />

1nF<br />

T 1<br />

22pF<br />

C 4 R 4<br />

47pF<br />

470Ω<br />

470Ω<br />

R 5<br />

R 6<br />

C 6<br />

22pF<br />

R 7<br />

22kΩ 10kΩ<br />

22kΩ<br />

R 8<br />

T 2<br />

2,2kΩ<br />

C 7<br />

1nF<br />

R 9<br />

47Ω<br />

C 8<br />

V CC<br />

wyjście<br />

Rys. 3. Schemat generatora pomiarowego – VCO. Fig. 3. Circuit diagram of measuring generator – VCO<br />

98<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys. 4. Generator pomiarowy do badania pojemności złączowej diody<br />

Fig. 4. Measuring generator for tests of diode junction capacitance<br />

prądu w obwodzie kolektora. W efekcie tych zabiegów amplituda<br />

napięcia na diodzie osiągnęła wartość 25 mV, co jest wynikiem<br />

bardzo dobrym. Zabiegi te minimalnie obniżyły czułość pomiarową<br />

układu rozumianą tu jako zmiana częstotliwości pod wpływem<br />

zmiany pojemności diody. Jałowa częstotliwość pracy układu (tj.<br />

bez badanej diody) wyniosła 26 MHz, zaś wartość międzyszczytowa<br />

napięcia wyjściowego 1,5 V. Poniższe zdjęcie (rys. 4) przedstawia<br />

gotowy prototyp generatora pomiarowego.<br />

Układ generatora pomiarowego został dodatkowo wyposażony<br />

w sygnalizację, za pomocą diod LED, błędnego podpięcia<br />

napięcia zasilania oraz napięcia polaryzującego badaną diodę.<br />

Odwrotna polaryzacja diody nie spowoduje jej uszkodzenia, ponieważ<br />

prąd przez nią płynący został ograniczony przez rezystory<br />

szeregowe. Jedynie oscylacje w generatorze nie wzbudzą się<br />

i nie będzie możliwe wykonanie pomiarów.<br />

Aplikacja kontrolno-sterująca<br />

Program konfigurujący system pomiarowy, nadzorujący pomiary<br />

i archiwizujący wyniki został napisany w graficznym środowisku<br />

LabVIEW [4]. Pomiar składa się z dwóch etapów: kalibracji i pomiaru<br />

właściwego. Celem kalibracji układu pomiarowego jest wyznaczenie<br />

indukcyjności i pojemności własnej generatora. Na tej<br />

podstawie będą obliczane wartości pojemności złączowej badanej<br />

diody podczas pomiarów wykonywanych w drugim etapie.<br />

Struktura programu przedstawiona na schemacie blokowym<br />

(rys. 5) jest hierarchiczna z wykorzystaniem podprogramów. Program<br />

został podzielony na bloki funkcjonalne odpowiadające za<br />

poszczególne operacje. Główny vi (Virtual Instrument) zawiera<br />

w sobie bloki: INIT, CPU1, CPU2 oraz END. Ponadto cały program<br />

korzysta ze zmiennych globalnych – blok ZMIENNE. Blok<br />

INIT odpowiedzialny jest za inicjalizację instrumentów pomiarowych<br />

i zmiennych. Działanie analogiczne ma blok END, który zamyka<br />

połączenia z instrumentami i zwalnia pamięć. Blok CPU1<br />

realizuje wszystkie zadania wymagające komunikacji z aparaturą<br />

pomiarową, takie jak test polaryzacji, kalibracja czy pomiar właściwy.<br />

Podprogram CPU2 zajmuje się realizacją wszystkich pozostałych<br />

zadań, takich jak obsługa panelu użytkownika, drobne<br />

przeliczenia czy aktualizacja wykresów. Na schemacie dostrzec<br />

można jeszcze dwa bloki: SORTUJ oraz MIERZ. Są to podprogramy,<br />

odpowiednio, sortujący dwuwymiarową tabelę wyników<br />

oraz wykonujący pojedynczy pomiar. Na dole schematu przedstawiono<br />

bloki odpowiedzialne za odwołania do bibliotek dostarczonych<br />

przez producentów aparatury pomiarowej.<br />

Na rysunku 6 przedstawiono graficzny schemat funkcjonalny<br />

programu głównego. Jego struktura to sekwencja płaska, zapewniająca<br />

prawidłową kolejność wykonywania programu: inicjalizacja,<br />

zasadnicza aktywność i zakończenie programu. Wewnątrz<br />

Rys. 5. Schemat blokowy programu kontrolno-pomiarowego<br />

Fig. 5. Block diagram of controlling and measuring software<br />

środkowej klatki sekwencji znajdują się trzy pętle while oraz<br />

dynamiczna rejestracja zdarzeń. Należy pamiętać, że programy<br />

w środowisku LabVIEW wykonują się zgodnie z zasadą przepływu<br />

danych – każdy blok wykona się dopiero wtedy, gdy wszystkie<br />

dane na jego wejściach zostaną określone. Co więcej, o ile nie<br />

zostanie to oprogramowane inaczej, przepływ danych wykona się<br />

tylko jeden raz. Z powyższych prawidłowości wynikają konkretne<br />

wnioski. Zdarzenia zostaną zarejestrowane tylko raz, podczas<br />

gdy trzy pętlę będą się wykonywały niezależnie od siebie, aż<br />

do spełnienia warunku ich końca i wyjścia z programu. Wynika<br />

z tego możliwość podziału zadań na więcej niż jeden wątek, a co<br />

za tym idzie zrównoleglenia obliczeń. Ma to kolosalne znaczenie<br />

przy pełnym wykorzystaniu wieloprocesorowych systemów czasu<br />

rzeczywistego. Należy również pamiętać o oszczędności w wykorzystywaniu<br />

zasobów. Z tego względu pętla obsługująca panel<br />

czołowy, dzięki bloczkowi pauzy, wykonuje się z częstotliwością<br />

100 Hz, co w zupełności wystarcza, aby operator nie zaobserwował<br />

braku płynności np. odświeżania wykresów. W tym czasie,<br />

o ile nie została wydana dyspozycja np. wykonania pomiarów,<br />

dwie pozostałe pętle czekają, a więc nie zajmują niepotrzebnie<br />

czasu procesora. Wynika to z ich budowy wewnętrznej.<br />

Wewnątrz bloków CPU1 i CPU2 zastosowano strukturę przypadku<br />

(ang. case) reagującą i wykonującą przewidziane zadanie<br />

po zaistnieniu jednego z zarejestrowanych wcześniej zdarzeń.<br />

Opcja przeterminowania została celowo wyłączona, aby nie następowały<br />

jałowe przebiegi pętli głównej. W takiej sytuacji bardzo<br />

ważna jest obsługa zdarzenia, którego wynikiem jest koniec<br />

pętli while. W przeciwnym wypadku, przerwanie takiej konstrukcji<br />

(case + while) będzie niemożliwe. Podgląd przykładowego zdarzenia<br />

obsługiwanego przez CPU2 przestawiono na rys. 7.<br />

Interfejs graficzny użytkownika składa się z dwóch zakładek:<br />

KALIBRACJA i POMIAR. Pierwsza z nich pozwala na wyznaczenie<br />

indukcyjności i pojemności własnej generatora pomiarowego<br />

(rys. 8). W tym panelu znajdują się cztery grupy kontrolek oraz wykres<br />

obrazujący przebieg procesu kalibracji. Kalibracja polega na<br />

pomiarach częstotliwości dla kilku kondensatorów wzorcowych.<br />

Następnie program wylicza szukane parametry generatora, które<br />

później są wykorzystane w trakcie obliczania pojemności złączowej<br />

badanej diody i rysowania charakterystyk. Należy zatem umieścić<br />

kondensator w gnieździe pomiarowym układu, wpisać jego wartość<br />

w polu mierzona pojemność i wcisnąć przycisk MIERZ. Za pomocą<br />

kontrolki W TOKU program informuje o pomiarach. Te czynności<br />

powtarzane są dla kolejnych kondensatorów wzorcowych, a otrzy-<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 99


mane wyniki pomiarów są przedstawiane na wykresie. Im liczba<br />

kondensatorów jest większa, tym dokładniejsze są wyniki kalibracji.<br />

W każdej chwili możliwy jest reset kalibracji. Program wykazuje się<br />

pewną opiekuńczością – w przypadku błędnego pomiaru dla danej<br />

pojemności wystarczy tylko dla niej pomiar powtórzyć. Po wykonaniu<br />

kalibracji możliwy jest jej zapis do pliku tak, aby później można było<br />

ją odczytać i przejść do pomiarów. Przycisk WCZYTAJ KALIBRA-<br />

CJĘ powoduje odczytanie kalibracji z pliku. Powyżej, z rozwijanej<br />

listy użytkownik może wybrać rodzaj kalibracji: domyślną, zapisaną<br />

lub zmierzoną. Kolejna opcja pozwala na wybór rodzaju aproksymacji<br />

wykresu: odcinkami prostymi lub sklejaną (ang. spline).<br />

W zakładce jest jeszcze przycisk TESTUJ POLARYZACJĘ,<br />

którego rolą jest uruchomienie sprawdzania poprawności zasilania<br />

układu oraz polaryzacji badanej diody. Jeśli, po jego wciśnięciu, na<br />

około dwie sekundy zapalą się zielone diody LED to oznacza, że<br />

układ został prawidłowo zasilony. Zapalenie się diody czerwonej<br />

oznacza błędne podłączenie kabli zasilania lub polaryzacji diody.<br />

Druga zakładka w interfejsie użytkownika, przedstawiona na<br />

rysunku 9, dotyczy pomiarów. Po wybraniu parametrów pomiarów<br />

tj. zakresu napięć i rozdzielczości, oraz wciśnięciu przycisku<br />

ROZPOCZNIJ POMIAR program wysyła do zasilacza kolejne<br />

wartości napięć polaryzujących diodę. W odpowiedzi oczekuje na<br />

odczyty z woltomierza i częstościomierza. Podczas wykonywania<br />

pomiaru, program informuje o tym fakcie użytkownika poprzez zapalenie<br />

zielonej kontrolki POMIAR W TOKU. W każdym momencie<br />

istnieje możliwość przerwania pomiaru przez wciśnięcie przy-<br />

Rys. 6. Program główny aplikacji kontrolno-sterującej. Fig. 6. Main procedure of controlling software<br />

Rys. 7. Schemat funkcjonalny podprogramu CPU2. Fig. 7. Functional diagram of CPU2 procedure<br />

100<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys. 8. Graficzny interfejs użytkownika<br />

(GUI) – zakładka kalibracji<br />

Fig. 8. Graphical user interface<br />

– calibration panel<br />

Rys. 9. Graficzny interfejs użytkownika<br />

(GUI) – zakładka pomiaru<br />

Fig. 9. Graphical user interface<br />

– measurement panel<br />

cisku PRZERWIJ POMIAR. Zebrawszy napięcia oraz skojarzone<br />

z nimi częstotliwości, program wyświetla zależność na górnym<br />

wykresie. Następnie dokonuje przeliczenia zebranych wyników<br />

korzystając z wyników kalibracji układu i prezentuje gotową zależność<br />

pojemności od napięcia na wykresie dolnym. Zebrane<br />

dane pomiarowe mogą być zapisane do pliku po podaniu ścieżki<br />

dostępu i wciśnięciu przycisku ZAPISZ WYNIKI. Jeśli nazwa pliku<br />

nie zostanie podana program zapisze wyniki w pliku pod domyślną<br />

nazwą uzupełnioną aktualną datą.<br />

Program kontroluje ustawienia wpisywane przez użytkownika.<br />

Nie jest możliwe wpisanie większej wartości napięcia początkowego<br />

niż końcowego lub ułamkowej rozdzielczości itp.<br />

Podsumowanie<br />

W pracy przedstawiono kompletne stanowisko pomiarowe pozwalające<br />

na automatyczne pomiary charakterystyki pojemnościowo-napięciowej<br />

złącz półprzewodnikowych. System pomiarowy<br />

zbudowano w oparciu o fabryczne przyrządy pomiarowe<br />

współpracujące z magistralą GPIB uzupełnione o dedykowany<br />

układ generatora pomiarowego. Dołożono szczególnych starań<br />

w trakcie wykonywania układu prototypowego, tak aby zapewnić<br />

wymaganą dokładność pomiarów, niezawodność i wygodę<br />

pracy. Nad konfiguracją systemu oraz zarządzaniem pomiarami<br />

i archiwizacją wyników czuwa aplikacja pomiarowa wykonana w<br />

środowisku LabVIEW.<br />

Natychmiastowa prezentacja wyników pomiarowych w formie<br />

wykresów pozwala na szybką ocenę badanych diod. Ponadto<br />

takie podejście sprawia, że stanowisko pomiarowe jest przydatne<br />

w dydaktyce, gdyż pozwala studentom na szybką weryfikacje<br />

wyników pomiarowych z teorią. Wyniki zapisane na dysku<br />

komputera mogą być w późniejszym czasie wykorzystane do<br />

dalszych analiz i ekstrakcji parametrów badanych złącz.<br />

Wprowadzenie zabezpieczeń przed błędnym zasileniem i polaryzacją<br />

badanej diody oraz kontrola ustawień pomiarów w aplikacji<br />

sterującej znacząco podnosi walory użytkowe zbudowanego<br />

systemu pomiarowego. Dzięki temu stanowisko może być bezpieczne<br />

i efektywnie używane w laboratoriach studenckich.<br />

Praca została zrealizowana w ramach Działalności Statutowej<br />

AGH nr umowy 11.11.120.184.<br />

Literatura<br />

[1] Gołda A., Kos. A.: Temperature influence on energy losses in MOSFET<br />

capacitors, Microelectronics Reliability, vol. 44, 2004, ss. 1115–1121.<br />

[2] Dusza J., Gortat G., Leśniewski A.: Podstawy Miernictwa, Warszawa<br />

1998.<br />

[3] Praktyczny Elektronik, Marzec 2002, ss.15–19.<br />

[4] National Instruments, www.ni.com<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 101


Barierowe struktury detekcyjne – nowe możliwości<br />

dr inż. Piotr Martyniuk, mgr inż. Andrzej Kowaleski, dr inż. Waldemar Gawron,<br />

prof. dr hab. inż. Antoni Rogalski<br />

Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Fizyki Technicznej, Warszawa<br />

Konieczność chłodzenia kriogenicznego detektorów promieniowania<br />

podczerwonego IR (Infrared Radiation) jest główną<br />

przeszkodą ograniczającą ich szerokie zastosowania. Biorąc<br />

ten fakt pod uwagę, szczególne znaczenie mają prace dotyczące<br />

niechłodzonych HOT (Higher Operation Temperature)<br />

detektorów z zakresu średniej MWIR (Medium Wave Infrared<br />

Radiation) 3…8 µm i dalekiej podczerwieni LWIR (Long Wave<br />

Infrared Radiation) 8…16 µm. Kluczowym elementem w procesie<br />

projektowania wysokotemperaturowych struktur detekcyjnych<br />

pracujących w wymienionych zakresach IR jest maksymalizacja<br />

wydajności kwantowej i minimalizacja prądu ciemnego.<br />

Wśród mechanizmów generujących prąd ciemny w strukturze<br />

detekcyjnej należy wyróżnić mechanizmy tunelowe pasmo<br />

– pasmo BTB (Band – To – Band Tunneling), tunelowanie przez<br />

poziomy pułapkowe TAT (Trap Assisted Tunneling), procesy generacyjno<br />

– rekombinacyjne (GR) Augera, procesy GR przez<br />

centra pułapkowe Shockley-Read-Halla (SRH) i prądy upływności<br />

powierzchniowej. Prądy uwarunkowane procesami GR<br />

Augera i procesami tunelowymi BTB/TAT można teoretycznie<br />

ograniczyć poprzez konstrukcje elementów składowych detektora<br />

z supersieci (SLs) II rodzaju T2SLs (Type II Superlattices),<br />

szczególnie z zwiŕzków naleýŕcych do tzw. rodziny 6.1 Ĺ<br />

A III B V (InAs, GaSb i AlSb) [1]. Niekorzystne, z punktu widzenia<br />

konstrukcji wysokotemperaturowych detektorów, procesy GR<br />

SRH i prądy upływności powierzchniowej można zredukować<br />

poprzez implementację odpowiednio dopasowanych barier do<br />

struktury detekcyjnej. Dobór bariery odgrywa decydującą rolę<br />

ze względu na dopasowanie sieciowe, jak również wysokość<br />

bariery w paśmie przewodnictwa i paśmie walencyjnym. Często<br />

wysokość energetyczna barier jest przypadkowa i trudno ją<br />

kontrolować technologicznie.<br />

Pierwszymi strukturami barierowymi były detektory heterozłączowe<br />

HgCdTe stosowane w celu zwiększenia osiągów detektorów<br />

poprzez ograniczanie prądów dyfuzyjnych z obszaru<br />

aktywnego detektora. Kolejnym etapem w rozwoju struktur barierowych<br />

była struktura detekcyjna z podwójnym heterozłączem<br />

DLHJ (Double Layer Heterojunction) pozwalająca uzyskać lepsze<br />

właściwości detekcyjne w porównaniu do detektorów homozłączowych.<br />

Wśród barierowych struktur detekcyjnych BIRD (Barrier Infrared<br />

Detectors) obecnie wiodącą pozycję zajmują struktury<br />

unipolarne UBIRD (Unipolar Barrier Infrared Detectors) wytwarzane<br />

z związków A III B V (GaSb, InAs 1–z<br />

Sb z<br />

– warstwy kontaktowe,<br />

InAs 1-y<br />

Sb y<br />

– absorber, AlSb 1–x<br />

As x<br />

– bariera), 2TSLs z InAs/<br />

GaSb z barierą AlGaSb i HgCdTe, które dzięki zastosowanej<br />

barierze blokują transport nośników większościowych, a przy<br />

jej właściwym doborze (minimalizacja bariery w paśmie walencyjnym)<br />

nie ograniczają nośników wzbudzonych optycznie [2].<br />

Badania nad strukturami UBIRD zapoczątkowali Maimon i Wicks<br />

publikując pracę wskazującą na zalety struktur z pojedynczą<br />

barierą [3].<br />

Rysunek 1 przedstawia porównanie detektora fotowoltaicznego<br />

(złącze p-n) z UBIRD nBn. Wprowadzenie bariery zmienia<br />

własności obszaru zubożonego zwiększając przerwę energetyczną,<br />

a tym samym zmniejszając wpływ składowej prądu ciemnego<br />

związanej z GR SRH, zmieniającej się zgodnie z zależnością<br />

W porównaniu z detektorem fotowoltaicznym (ze złączączem<br />

p-n), zastosowanie struktury barierowej powinno zredukować<br />

prąd GR (przez centra SHR), którego głównym źródłem jest obszar<br />

zubożony złącza. Zmniejszenie prądu ciemnego pozwala<br />

jednocześnie na zwiększenie temperatury pracy detektora rys. 1b.<br />

Obliczenia przeprowadzone przez Tinga et al. wskazują, że szybkość<br />

procesów GR SHR (r SHR<br />

) zmniejsza się o osiem rzędów wielkości<br />

(z r SHRp-n<br />

= 10 12 cm –3 s –1 do r SHRnBn<br />

= 10 4 cm –3 s –1 ) po zastosowaniu<br />

bariery AlSbAs w UBIRD nBn z InAsSb w porównaniu do<br />

złącza p-n wykonanego z InAsSb [4]. Obecnie zainteresowanie<br />

wiodących grup badawczych skupia sić na T2SLs z InAs/GaS<br />

(rodzina 6.1 Ĺ A III B V ), których odpowiednia konfiguracja struktury<br />

pasmowej (inżynieria przerwy energetycznej) umożliwia zwiększenie<br />

osiągów detektorów. Sztandarowym przykładem detektora<br />

UBIRD jest struktura nBn składająca się z dwóch silnie domieszkowanych<br />

warstw kontaktowych n + , bariery (B) (typu: p lub n),<br />

obszaru aktywnego n z 2TSLs InAs/GaSb z barierą Al 0.2<br />

Ga 0.8<br />

Sb<br />

pozwalająca uzyskać wykrywalności rzędu 10 9 cmHz 1/2 /W w temperaturze<br />

pokojowej.<br />

Alternatywą do detektorów UBIRD są struktury komplementarne<br />

CBIRD (Complementary Barrier Infrared Detectors) zawierające<br />

dwie bariery blokujące transport nośników większościowych<br />

i mniejszościowych. Implementacja podwójnej bariery, właściwie<br />

dopasowanej do pozostałych elementów składowych detektora<br />

(dobór przerwy energetycznej, domieszkowania, składu i grubości)<br />

w sposób znaczący może zredukować prąd ciemny, zwiększyć<br />

wykrywalność i temperaturę pracy przyrządu [5]. Strukturę<br />

pasmową idealnego detektora CBIRD przedstawiono na rys. 2.<br />

.<br />

a) b)<br />

c)<br />

Rys. 1. Porównanie złącza p-n (a) z detektorem nBn (c), wpływ implementacji bariery na prąd ciemny (b)<br />

Fig. 1. Comparison of the p-n junction (a) with nBn detector (c), influence of the barrier’s implementation on the dark current (b)<br />

102<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys. 2. Struktura detektora CBIRD<br />

Fig. 2. Energy band diagram of CBIRD detector<br />

Unipolarne detektory z HgCdTe/B-typ n<br />

zakresu średniej podczerwieni<br />

Przed wprowadzeniem struktur nBn, głownie to roztwór stały<br />

z Hg 1–x<br />

Cd x<br />

Te był stosowany do wytwarzania detektorów HOT<br />

pracujących w zakresie średniej podczerwieni. Zasadność tego<br />

wyboru uwarunkowana jest wysoką wartością współczynnika absorpcji<br />

promieniowania IR (wydajności kwantowe rzędu η ≈ 60<br />

– 70%), niską generacją termiczną nośników, niską wartością<br />

stałej dielektrycznej oraz wysoką ruchliwością elektronów [6–9].<br />

Jednakże słabość wiązania rtęci i trudności technologiczne uzyskania<br />

właściwego poziomu domieszkowania typu p utrudniają<br />

wytworzenie struktur barierowych z HgCdTe<br />

Wymienione powyżej trudności można rozwiązać stosując unipolarną<br />

strukturę detekcyjną nBn z barierą typu n przedstawioną<br />

na rys. 3.<br />

Rys. 4. Struktura pasmowa UBIRD nBn z HgCdTe dla V = 0 V<br />

i T = 200K<br />

Fig. 4. Calculated energy band diagram of the UBIRD nBn HgCdTe for<br />

V = 0 V and T = 200K<br />

Rys. 3. Struktura detektora UBIRD nBn z HgCdTe<br />

Fig. 3. Cross-section of the UBIRD nBn HgCdTe detector<br />

Proponowany detektor składa się z warstwy kontaktowej<br />

(d = 0,16 µm) typu n (N D<br />

= 7×10 14 cm –3 ), absorbera typu n (d = 10<br />

µm, N D<br />

= 10 14 cm –3 ) i bariery (d = 0,15 µm) składającej się z trzech<br />

warstw z gradientem składu dopasowanych do absorbera i warstwy<br />

kontaktowej (o składzie x odpowiednio 0,33 – 0,6 – 0,275).<br />

Taka struktura pozwala zredukować składową prądu ciemnego<br />

GR SRH, zmniejszając całkowity prąd ciemny detektora, jak również<br />

ograniczyć ilość etapów w procedurze otrzymania struktury<br />

przyrządu (np. etap wygrzewania).<br />

Najważniejszym krokiem optymalizacyjnym z punktu widzenia<br />

konstrukcji UBIRD jest dobranie właściwego składu molowego<br />

bariery i jej domieszkowania. Poprzez dobór tych parametrów<br />

można zredukować niepożądaną barierę tworzącą się w paśmie<br />

walencyjnym (∆E v<br />

) blokującą nośniki mniejszościowe, a tym<br />

samym ograniczającą czułość detektora. Na rys. 4 i 5 przedstawiono<br />

obliczoną strukturę pasmową UBIRD nBn z HgCdTe<br />

(stoswano platformę obliczeniową APSYS). Przy braku zasilania<br />

struktury nBn wysokość bariery dla nośników większościowych<br />

wynosi ∆E c<br />

≈ 400 mV, natomiast dla nośników mniejszościowych<br />

∆E v<br />

≈ 150 mV. Zasilając strukturę napięciem V = 400 mV, bariery<br />

w paśmie przewodnictwa i walencyjnym zmniejszają się. Widzimy<br />

więc, że właściwy dobór napięcia zasilania jest istotny z punktu<br />

widzenia doboru warunków pracy detektora.<br />

Rys. 5. Struktura pasmowa UBIRD nBn z HgCdTe dla V = 0,4 V<br />

i T = 200K<br />

Fig. 5. Calculated energy band diagram of the UBIRD nBn HgCdTe for<br />

V = 1 V and T = 200K<br />

Rys. 6. Prąd ciemny w funkcji napięcia zasilania detektora nBn<br />

z HgCdTe dla wybranych temperatur pracy<br />

Fig. 6. Dark current versus applied voltage for different detector’s<br />

operating temperatures<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 103


Rys. 7. Wykrywalność w funkcji składu molowego bariery x dla wybranych<br />

napięć zasilania detektora nBn z HgCdTe<br />

Fig. 7. Detectivity versus barrier’s composition for different applied<br />

voltages<br />

Prąd ciemny unipolarnej struktury detekcyjnej z HgCdTe zależy<br />

w głównej mierze od właściwości blokujących bariery i absorbera.<br />

Wraz ze wzrostem napięcia zasilana (do V ≈ 200 mV)<br />

prąd gwałtownie rośnie, a następnie wzrasta łagodnie z napięciem,<br />

na co ma wpływ domieszkowana bariera typu n (N D<br />

=<br />

2×10 15 cm –3 ); dla T = 240K i V = 1 V wartość prądu ciemnego<br />

wynosi 7 A/cm 2 .<br />

Wysokość bariery w paśmie walencyjnym decyduje o czułości<br />

detektora. Dla napięcia zasilania V = 100 mV i składu molowego<br />

x < 0,54, bariera w paśmie przewodnictwa (∆E c<br />

) zmniejsza<br />

się przyczyniając się do zmniejszenia prądu ciemnego. Dla<br />

x > 0,54 czułość detektora maleje ze względu na blokowanie nośników<br />

mniejszościowych na barierze ∆E v<br />

. Dla napięcia zasilania<br />

V = 400 mV wykrywalność wynosi D * ≈ 3,5×10 9 cmHz 1/2 /W. Oszacowane<br />

wydajności kwantowe i czułości dla modelowanego detektora<br />

wynoszą odpowiednio R i<br />

= 2 A/W i η ≈ 50% (dla λ = 4,5<br />

µm). Przedstawione wyniki obliczeń detektora UBIRD nBn z Hg-<br />

CdTe zgadzają się z danymi eksperymentalnymi prezentowanymi<br />

w pracy [10].<br />

Unipolarne detektory z T2SLs InAs/GaSb/B-<br />

AlGaSb zakresu średniej podczerwieni<br />

Właściwości fizyczne T2SLs z InAs/GaSb wskazują na zalety tej<br />

grupy związków w porównaniu do HgCdTe. Współczynnik pochłaniania<br />

jest porównywalny do uzyskiwanego dla HgCdTe, choć wydajności<br />

kwantowe w zakresie MWIR są niższe (η = 15 – 30%)<br />

ze względu na małe grubości supersieci. Masy efektywne nośników<br />

są większe, co powoduje ograniczenie prądów tunelowych<br />

(m*/m o<br />

≈ 0,02 – 0,03, w porównaniu do m*/m o<br />

= 0,009 dla HgCdTe<br />

o przerwie energetycznej E g<br />

≈ 0,1 eV). Separacja przestrzenna<br />

elektronów i dziur w T2SLs wpływa na ograniczenie procesów<br />

GR Augera. Dodatkowo, ze względu na większy udział wiązania<br />

kowalencyjnego w wiązaniach T2SLs z InAs/GaSb, związki te są<br />

bardziej stabilne niż HgCdTe.<br />

Chociaż technologia T2SLs jest we wstępnej fazie rozwoju,<br />

teoretyczne oszacowania parametrów detekcyjnych fotodiod<br />

z T2SLs mogą być porównywalne a nawet większe niż te uzyskiwane<br />

dla HgCdTe. Zastosowanie barier z AlGaSb w strukturach<br />

UBIRD z absorberem i warstwą kontaktową z T2SLs InAs/GaSb<br />

pozwala zredukować niepożądaną barierę w paśmie walencyjnym,<br />

co jest niemożliwe w przypadku struktur z HgCdTe [12].<br />

Przykładowy detektor UBIRD nBn z T2SLs przedstawiono na<br />

rys. 8. Jego struktura składa się z silnie domieszkowanej warstwy<br />

kontaktowej typu n + z T2SLs InAs/GaSb (N D<br />

= 10 18 cm –3 ),<br />

bariery z AlGaSb typu p (N A<br />

= 5×10 17 cm –3 ) i absorbera typu n<br />

(N D<br />

= 6×10 16 cm –3 ).<br />

104<br />

Rys. 8. Przykładowa struktura UBIRD nBn (MWIR λ c<br />

= 4,95 µm)<br />

z T2SLs InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />

Ga 0.8<br />

Sb<br />

Fig. 8. Cross-section of the UBIRD nBn T2SLs InAs/GaSb/B-<br />

Al 0.2<br />

Ga 0.8<br />

Sb detector<br />

Rys. 9. Prąd ciemny detektora nBn T2SLs InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />

Ga 0.8<br />

Sb<br />

w funkcji napięcia zasilania dla wybranych temperatur pracy<br />

Fig. 9. Dark current versus temperature for nBn detector at different<br />

bias voltages<br />

Rys. 10. RA detektora nBn z T2SLs InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />

Ga 0.8<br />

Sb dla wybranych<br />

napięć zasilania<br />

Fig. 10. RA product versus temperature for nBn detector at different<br />

bias voltages<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Podsumowanie<br />

Implementacja warstw barierowych w struktury detekcyjne pozwala<br />

uzyskać osiągi porównywalne do tych uzyskiwanych dla fotodiod<br />

p-n z HgCdTe. Należy oczekiwać, że w miarę postępu w technologii<br />

uzyskiwania grubszych i jednorodnych warstw obszarów<br />

aktywnych, możliwe<br />

<br />

będzie osiągnięcie<br />

<br />

wydajności<br />

<br />

kwantowych<br />

<br />

60…70%, a osiągi struktur barierowych T2SLs z InAs/GaSb będą<br />

<br />

wyższe niż te uzyskiwane dla HgCdTe zarówno w średnim jak i długofalowym<br />

zakresie podczerwieni. Należy również wyrazić przeko-<br />

<br />

<br />

nanie, że zastosowanie struktury barierowej z HgCdTe z absorberem<br />

typu p (pBp) lub implementacja<br />

<br />

podwójnej<br />

<br />

bariery<br />

<br />

do struktury<br />

detekcyjnej zwiększy parametry detekcyjne przyrządu.<br />

<br />

Praca naukowa finansowana ze środków na naukę w latach<br />

2010–<strong>2012</strong> jako projekt badawczy. <br />

<br />

Literatura <br />

[1] Rogalski A. and P. Martyniuk: InAs/GaInSb superlattices as a promising<br />

material system for third generation infrared detectors. Infrared<br />

Physics & Technol. 48, 39–52 (2006). <br />

Rys. 11. RA i R o<br />

A dla nBn z T2SLs InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />

Ga 0.8<br />

Sb, nBn [2] Klipstein P.: XBn’ barrier photodetectors for high sensitivity and high<br />

z HgCdTe i fotodiod HOT z HgCdTe operating temperature infrared sensors. Proc. SPIE. 6940, 69402U-<br />

1–11 (2008). <br />

Fig. 11. Temperature dependence of the RA and R o<br />

A products for<br />

MWIR InAs/GaSb/B-Al [3] Maimon S.and G. Wicks: nBn detector, an infrared detector with reduced<br />

dark current and higher operating temperature. Appl. Phys.<br />

0.2<br />

Ga 0.8<br />

Sb T2SL nBn detector, HgCdTe bulk photodiodes<br />

<br />

<br />

and nBn<br />

<br />

HgCdTe<br />

<br />

detector<br />

Lett. 89, <br />

<br />

151109-1–3 (2006).<br />

[4] Ting D. Z., C. J. Hill, A. Soibel, J. Nguyen, S. Keo, M. C. Lee, J. M.<br />

Oszacowane wartości wydajności kwantowych detektorów dla Mumolo, J. K. Liu, S. D. Gunapala: Antimonide-based barrier infrared<br />

detectors. <br />

<br />

Proc. SPIE 7660, 76601R, (2010).<br />

długości fali λ = 4,5 µm wynoszą odpowiednio 24% dla T = 77K<br />

[5] Ting D. Z., A. Soibel, J. Nguyen, C.J. Hill, SA Keo, J.M. Mumolo and S.D.<br />

i 15% dla T = 300K. Ich małe wydajności kwantowe warunkowane<br />

są małą grubością obszaru aktywnego (d = 1,94 µm) [13]. mentary <br />

Gunapala: A high-performance long wavelength superlattice comple-<br />

<br />

<br />

barrier infrared detector. Appl. Phys. Lett. 95, 023508 (2009).<br />

<br />

[6] Rogalski A., K. Adamiec, and J. Rutkowski: Narrow-Gap Semiconductor<br />

Photodiodes. SPIE Press, Bellingham, (2000).<br />

Gęstości prądów są porównywalne z tymi uzyskiwanymi<br />

<br />

dla<br />

<br />

Hg-<br />

<br />

<br />

<br />

CdTe, jednakże należy zaznaczyć, że w przypadku nBn HgCdTe [7] Rogalski <br />

<br />

A.: Infrared Detectors, second edition, CRC Press, Boca<br />

<br />

nie brano pod uwagę wpływu efektu tunelowego na heterozłączu<br />

<br />

Raton, (2011). <br />

[8] Norton P.: HgCdTe infrared detectors. Opto-Electron. Rev. 10, 159–<br />

<br />

bariera<br />

<br />

– absorber.<br />

<br />

Iloczyn<br />

<br />

<br />

RA i wykrywalność D * kształtują 174 (2002).<br />

się odpowiednio na poziomie 0,01–1 <br />

<br />

Ωcm 2 i 10 9 –10 cmHz 1/2 /W [9] Rogalski A.: HgCdTe infrared detector material: history, status and<br />

outlook. Rep. Prog. Phys. 68, 2267–2336 (2005).<br />

w zakresie temperatur uzyskiwanych <br />

<br />

chłodziarkami termoelektrycznymi.<br />

<br />

<br />

<br />

[10] Velicu S., J. Zhao, M. Morley, A. M. Itsuno, J. D. Philips: Theoretical<br />

investigation of MWIR HgCdTe nBn detectors. Proc. SPIE. 8268,<br />

<br />

Na rysunku 11 przedstawiono porównanie iloczynu RA obliczonego<br />

dla UBIRD nBn z HgCdTe i nBn z InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />

82682X, (<strong>2012</strong>). <br />

<br />

<br />

[11] Ting D. Z.-Y., A. Soibel, L. Höglund, J. Nguyen, C.J. Hill, A. Khoshakhlagh,<br />

and S.D. Gunapala: <br />

Ga 0.8<br />

Sb<br />

<br />

<br />

Type-II superlattice infrared detectors. in<br />

przy zasilaniu V = 50 mV i długości fali λ = 4,95 µm z iloczynem Semiconductors and Semimetals, Vol. 84, pp. 1–57, <br />

<br />

edited by S.D. Gunapala,<br />

D.R. Rhiger, and C. Jagadish, Elsevier, Amsterdam, (2011).<br />

R o<br />

A fotodiod z HgCdTe (HOT) wytworzonych w Zakładzie Fizyki<br />

[12] Rodriguez J.B., E. Plis, G. Bishop, Y.D. Sharma, H. Kim, L.R. Dawson,<br />

Ciała Stałego WAT/Vigos System SA. Uzyskane wyniki symulacji<br />

<br />

and S. Krishna: nBn structure based on InAs/GaSb type-II strained<br />

pokazują, że RA i R o<br />

A dla wymienionych struktur detekcyjnych layer superlattices. Appl. Phys. Lett. 91, 043514-1–2 (2007).<br />

<br />

są porównywalne, jednakże wykrywalności fotodiod z HgCdTe są [13] Martyniuk P., J. Wróbel, E. Plis, P. Madejczyk, A. Kowalewski, W.<br />

Gawron, S. Krishna, A. Rogalski: Performance modelling of MWIR<br />

zdecydowanie<br />

<br />

wyższe ze<br />

<br />

względu<br />

<br />

na<br />

<br />

ich<br />

<br />

większe wartości wydajności<br />

kwantowych.<br />

for publishing by Semiconductor Science & Technology.<br />

InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />

Ga<br />

0.8 <br />

Sb type-II<br />

<br />

superlattice<br />

<br />

nBn<br />

<br />

detector.<br />

<br />

Accepted<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 105


Zastosowanie dedykowanych układów scalonych<br />

w systemach wyszukiwania punktu mocy maksymalnej<br />

dr inż. Wojciech Grzesiak, mgr inż. Jacek Piekarski, dr inż. Michał Cież<br />

<strong>Instytut</strong> Technologii Elektronowej, Oddział w Krakowie<br />

mgr inż. Paweł Grzesiak, Uniwersytet Ekonomiczny w Krakowie<br />

Implementacja techniki MPPT w systemach fotowoltaicznych pozwala<br />

na zwiększenie efektywności przetwarzania energii słonecznej<br />

na elektryczną nawet o 30%. Z reguły technika ta polega na<br />

wprowadzeniu do instalacji fotowoltaicznej stosownej, sterowalnej<br />

przetwornicy DC/DC, która w połączeniu z odpowiednim algorytmem<br />

bądź algorytmami wyszukiwania punktu mocy maksymalnej<br />

zapewnia odpowiednie dopasowanie energetyczne modułów PV do<br />

obciążenia. Najczęściej rozwiązania takie oparte są o powszechnie<br />

stosowaną technikę mikroprocesorową. W wielu przypadkach mogą<br />

one być zbyt kosztowne. Dla rozwiązania tego problemu w ostatnich<br />

latach wiele wiodących firm produkujących półprzewodnikowe układy<br />

scalone opracowało i wdrożyło do produkcji dedykowane układy,<br />

pozwalające na niskokosztową realizację techniki MPPT. W artykule<br />

dokonano przeglądu i oceny najciekawszych, zdaniem autorów,<br />

rozwiązań. W tym celu zaprojektowano i wykonano modele tych<br />

układów bazując na schematach aplikacyjnych zalecanych przez<br />

producentów. Dodatkowo przy ocenie tych rozwiązań kierowano się<br />

również możliwością ich miniaturyzacji poprzez zastosowanie technologii<br />

SMD oraz realizacji w technologii grubowarstwowej.<br />

Do testów zastosowano stanowisko badawcze zbudowane<br />

w oparciu o: oprogramowanie Solar Design Studio v.6.0, symulator<br />

modułów fotowoltaicznych firmy Agilent Technologies, interface,<br />

komputer oraz opracowane w ITE specjalizowane oprogramowanie<br />

pozwalające na zarządzanie systemem umożliwiającym symulację<br />

parametrów wyjściowych modułów fotowoltaicznych dla<br />

różnych warunków pogodowych oraz dla różnego ich położenia.<br />

Stanowisko to pozwala również na pomiar parametrów systemów<br />

oraz wizualizację ich funkcjonowania. Jest niezwykle pomocne<br />

przy ocenie działania systemów MPPT (Maximum Power Point<br />

Tracking), zwłaszcza przy ocenie czasu i precyzji wyszukiwania<br />

MPP. Więcej informacji na temat stanowiska [1].<br />

Przegląd rozwiązań układowych<br />

Na rysunku 1 przedstawiono schemat aplikacyjny układu typu<br />

TPS61200 firmy Texas Instruments umożliwiający realizację systemu<br />

ładowania akumulatora lub superkondensatora z jednego<br />

lub kilku ogniw PV.<br />

Jego zasada działania opiera się na obserwacji napięcia wyjściowego<br />

ogniw PV w punkcie mocy maksymalnej, przy założeniu<br />

niewielkich zmian tego napięcia w funkcji nasłonecznienia i temperatury.<br />

Układ tak dopasowuje obciążenie, aby napięcie na wyjściu<br />

systemu było na stałym poziomie. Uzyskane w ten sposób<br />

rezultaty odbiegają od optymalnych o kilka procent, jednak cena<br />

systemu pozostaje niska.<br />

W tabeli 1 przedstawiono podstawowe parametry tego układu<br />

i porównano je z parametrami układu LTC 3105 firmy Linear<br />

Technology, którego schemat aplikacyjny przedstawiono na<br />

rys. 2. W jego wypadku algorytm MPPT jest zaimplementowany<br />

bezpośrednio w układzie scalonym. Jak widać jest to rozwiązanie<br />

pełniące taką samą funkcję, jednocześnie prostsze i wymagające<br />

zastosowania wyłącznie elementów pasywnych.<br />

Tab. 1. Podstawowe parametry układów<br />

Tabl. 1. Basic parameters of ICs with implemented MPPT algorithm<br />

TPS61200 SPV1040 LTC3105<br />

Zakres napięć we. [V] 0,3–5,5 0,3–5,5 0,225–5<br />

Min. napięcie startu [V] 0,3 0,3 0,25<br />

Zakres napięć wy. [V] 1,8–5,5 2–5,5 1,5–5,25<br />

Prąd spoczynkowy [mA] 0,055 0,022 0,022<br />

Prąd obciążenia [mA] 300 2000 60<br />

Rys. 2. Prosty system ładowania akumulatora wykorzystujący jako<br />

źrodło energii ogniwa PV z zastosowaniem układu LTC3105 [3]<br />

Fig. 2. Simple battery charger powered by PV cell, based on LTC3105 [3]<br />

Na rysunku 3 przedstawiono podobne rozwiązanie z zastosowaniem<br />

układu SPV1040 firmy ST Microelectronics. Jest to układ<br />

zawierający wbudowaną preprogramowaną jednostkę centralną<br />

odpowiedzialną za realizację popularnego algorytmu P&O (Perturb-and-observe).<br />

Rozwiązanie to pozwala na wysoką precyzję<br />

wyszukiwania MPP. Podstawowe parametry tego układu przedstawiono<br />

w tabeli 1.<br />

Rys. 1. Prosty system ładowania akumulatora wykorzystujący jako<br />

źródło energii ogniwa PV z zastosowaniem układu TPS61200 [2]<br />

Fig. 1. Simple battery charger powered by PV cell, based on TPS61200 [2]<br />

106<br />

Rys. 3. Zaawansowany system ładowania akumulatora wykorzystujący<br />

jako źrodła energii ogniwa PV z zastosowaniem układu SPV1040 [4]<br />

Fig. 3. Advanced battery charger powered by PV cells, based on<br />

SPV1040 [4]<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Rys. 4. Prosty system ładowania akumulatora wykorzystujący jako źródło energii<br />

ogniwa PV z zastosowaniem układu LTC3652 [3]<br />

Fig. 4. Simple battery charger powered by PV cells, based on LT3652 [3]<br />

Do realizacji systemów o mocy do 40 W przeznaczony<br />

jest układ firmy Linear Technology typu<br />

LT3652. Schemat tego systemu przedstawiono<br />

na rys. 4. Pozwala on na ładowanie akumulatora<br />

prądem do 2 A. Możliwe jest zwiększenie wielkości<br />

tego prądu poprzez równoległe łączenie<br />

ze sobą kilku takich systemów. Dostosowanie<br />

się do wartości napięcia w punkcie mocy maksymalnej<br />

daje dzielnik R8+R11/R12. Po obniżeniu<br />

się napięcia wejściowego poniżej ustalonego<br />

tym dzielnikiem poziomu, wewnętrzny regulator<br />

ustala prąd wyjściowy tak, aby utrzymać żądaną<br />

wartość napięcia.<br />

Do tej samej grupy zalicza się układ typu<br />

bq24650 firmy Texas Instruments. Jego schemat<br />

aplikacyjny przedstawiono na rys. 5. Zasada jego<br />

działania jest podobna jak we wcześniej opisanym<br />

układzie LTC3652. Po osiągnięciu przez napięcie<br />

wejściowe wartości progowej następuje obniżenie<br />

prądu ładowania trwające do momentu powtórnego<br />

osiągnięcia zadanego napięcia.<br />

Na szczególną uwagę zasługuje system<br />

o mocy do 200 W, zbudowany w oparciu o układ<br />

SPV1020 firmy ST Microelectronics – rys. 6.<br />

Układ wyposażony jest w preprogramowaną jednostkę<br />

centralną pozwalającą na precyzyjne wyszukiwanie<br />

MPP. Zastosowana w nim czterofazowa<br />

przetwornica DC/DC typu step-up pozwala na<br />

wyeliminowanie kondensatorów elektrolitycznych.<br />

Wbudowany interfejs SPI daje możliwość równoległej<br />

pracy systemów.<br />

W tabeli 2 przedstawiono wybrane podstawowe<br />

parametry systemów przedstawionych na rys. 4–6.<br />

Tab. 2. Podstawowe parametry systemów<br />

Tabl. 2. Basic data of the medium power ICs<br />

LT3652 bq24650 SPV1020<br />

U we<br />

[V] 4.95–34 5–28 5–24<br />

I wy<br />

[A] 2 2 8<br />

Rys. 5. Prosty system ładowania akumulatora wykorzystujący jako źródła energii<br />

ogniwa PV z zastosowaniem układu bq24650 [2]<br />

Fig. 5. Simple battery charger powered by PV cells, based on bq24650 [2]<br />

Obciążenie<br />

Li-Ion,<br />

Li-FePO 4<br />

,<br />

AGM<br />

Li-Ion,<br />

Li-FePO 4<br />

,<br />

AGM<br />

Zależnie<br />

od modułu<br />

wyjścia<br />

Rys. 6. Zaawansowany system ładowania akumulatora wykorzystujący jako źródła energii ogniwa PV z zastosowaniem układu SPV1020 [4]<br />

Fig. 6. Advanced battery charger powered by PV cells, based on SPV1020 [4]<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 107


Rys. 7. Stanowisko badawcze do testowania systemów zbudowanych w oparciu o układy TPS61200, SPV1040 i LTC3105<br />

Fig. 7. Drawing of the test stand for testing devives based on TPS61200, SPV1040 and LTC3105<br />

Wyniki badań<br />

Ze względu na trudności w przystosowaniu symulatorów do pracy<br />

z sygnałami o niskim napięciu do testów niżej wymienionych układów<br />

zastosowano układ zestawiony według rys. 7.<br />

W układzie pomiarowym użyto barwnikowego modułu fotowoltaicznego<br />

wykonanego w technologii DSSC, gdyż jego wymiary<br />

są dobrze dopasowane do wymiarów oświetlacza.<br />

Wyniki pomiarów trzech pierwszych testowanych systemów<br />

małej mocy przedstawiono w tabeli 3. Pomiary przeprowadzono<br />

przy oświetleniu na poziomie 1000 W/m 2 .<br />

Przy wyliczeniu dokładności określenia punktu pracy wzięto<br />

pod uwagę moc pobieraną w tym punkcie charakterystyki modułu<br />

fotowoltaicznego. Moc powyżej 99% mocy maksymalnej osiągana<br />

jest w zakresie napięć między 1,050...1,160 V.<br />

Tab. 3. Wyniki pomiarów<br />

Tabl. 3. Test results for the low power systems<br />

TPS61200 LTC3105 SPV1040<br />

Napięcie wyjściowe modułu PV [V] 1,182 1,141 1,085<br />

Napięcie w punkcie mocy<br />

maksymalnej [V]<br />

1,132 1,132 1,132<br />

Dokładność wyszukania MPP [%] 97 99 99<br />

Sprawność [%] 37 83 73<br />

Minimalna ilość ogniw w module 2 2 2<br />

Rys. 8. Zrzut z ekranu symulatora dla systemów bazujących na układach SPV1020 i LT 3652<br />

Fig. 8. Screenshot of the display for the system based on SPV1020 and LT3652<br />

Pozostałe systemy zostały przetestowane z wykorzystaniem<br />

stanowiska badawczego opisanego w [1]. Z testów wynika, że dokładność<br />

wyszukiwania MPP mieściła się w przedziale 94…99%.<br />

Na rysunku 8 przedstawiono zrzut ekranu symulatora dla układów<br />

SPV1020 i LT 3652.<br />

Wnioski<br />

Przeprowadzona analiza ekonomiczna potwierdziła możliwość<br />

zastosowania prezentowanych układów do realizacji niskokosztowych<br />

systemów MPPT. Wszystkie zastosowane elementy aplikacyjne<br />

dostępne są również w wersji przeznaczonej do montażu<br />

powierzchniowego, co pozwala na realizację systemów również<br />

w technologii grubowarstwowej. Brak konieczności stosowania<br />

kondensatorów elektrolitycznych pozwala na uzyskanie ich wysokiej<br />

niezawodności oraz długiego czasu życia.<br />

Zaprojektowane i wykonane stanowiska badawcze pozwoliły<br />

na prowadzenie badań niezależnie od panujących w danej chwili<br />

warunków pogodowych. Przeprowadzone na nich badania potwierdziły<br />

zarówno szybkość jak i deklarowaną przez producentów<br />

precyzję wyszukiwania punktu mocy maksymalnej.<br />

Na szczególną uwagę zasługuje układ SPV1020, który doskonale<br />

nadaje się do realizacji regulatorów ładowania dla potrzeb<br />

autonomicznych systemów fotowoltaicznych. Jego wadą jest to,<br />

że wyposażony jest wyłącznie w przetwornicę step-up. Lepszym<br />

rozwiązaniem byłoby doposażenie go w dodatkową przetwornicę<br />

step-down, co zwiększyłoby jego uniwersalność. Uwaga ta została<br />

przekazana producentowi układu za pośrednictwem jego<br />

polskiego przedstawicielstwa.<br />

Literatura<br />

[1] Grzesiak W.: Solar Array Simulator System for Testing the Behaviour<br />

of PV Elements. Materiały Elektroniczne, 1/2009. pp. 124-131.<br />

[2] Witryna internetowa:www.ti.com<br />

[3] Witryna internetowa:www.linear.com<br />

[4] Witryna internetowa:www.st.com<br />

108<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Luminescencja izolatorów ceramicznych sieci<br />

energetycznych średnich napięć<br />

mgr Rafał Sobota, Politechnika Częstochowska, Wydział Elektryczny, Częstochowa<br />

dr hab. Arkadiusz Mandowski, dr Ewa Mandowska<br />

Akademia im. Jana Długosza, <strong>Instytut</strong> Fizyki, Częstochowa<br />

Zadaniem izolatorów w elektroenergetyce, oprócz funkcji czysto<br />

mechanicznych, jest skuteczne oddzielenie przewodów elektrycznych,<br />

znajdujących się pod wysokim napięciem, od otoczenia.<br />

Izolatory porcelanowe, podobnie jak ich szklani poprzednicy, sięgają<br />

historią do czasów drutów telegraficznych. Gdy ceny szkła<br />

zaczęły rosnąć, porcelana stała się atrakcyjną i niedrogą alternatywą.<br />

Izolatory porcelanowe są teraz łatwo dostępne i często<br />

stosowane.<br />

Wraz z pojawieniem się dystrybucji energii elektrycznej na<br />

przełomie XIX i XX wieku i koniecznością przesyłania prądu liniami<br />

energetycznymi w warunkach wysokich napięć, wzrosło zapotrzebowanie<br />

na większe i bardziej niezawodne izolatory. Ilość<br />

szkła w tym czasie była niewystarczająca, więc zaczęto eksperymentować<br />

z mieszaninami gliny. Ponadto pracowano nad nowymi<br />

wzorami izolatorów, spełniałyby swoje zadanie w każdych warunkach<br />

pogodowych.<br />

W dzisiejszych czasach, zakłady porcelany elektrotechnicznej<br />

oferują szeroki asortyment izolatorów do różnych zastosowań<br />

– począwszy od linii niskiego, średniego i wysokiego napięcia<br />

a skończywszy na konstrukcjach wsporczych, przepustowych<br />

oraz osłonowych. Niektóre firmy oferują również produkty typowo<br />

pod indywidualne zamówienia klientów, takie jak osłony do<br />

wyłączników, odgromników, przekładników napięciowych i prądowych,<br />

przepustów, kondensatorów, głowic kablowych, bezpieczników<br />

wysokonapięciowych, itp. Wysoka niezawodność eksploatacyjna<br />

oraz utrzymanie wymaganych parametrów, głównie<br />

w zakresie wytrzymałości mechanicznej i elektrycznej, jak również<br />

odporności na czynniki atmosferyczne oraz zanieczyszczenia,<br />

jest zapewniana przez stosowanie wysokiej jakości materiałów.<br />

W procesach produkcyjnych wykorzystuje się nowoczesne maszyny<br />

i urządzenia oraz wdrażane są nowe techniki wytwarzania.<br />

Dzisiejsze izolatory są wyrobami znormalizowanymi. Spełniają<br />

wymagania zarówno norm krajowych, jak i międzynarodowych.<br />

W elektroenergetyce izolatory można sklasyfikować następująco:<br />

liniowe, stacyjne, wsporcze, osłonowe oraz przepustowe.<br />

Skupimy się na pierwszym typie z uwagi na wykorzystanie<br />

porcelany elektrotechnicznej do ich produkcji oraz eksploatacji<br />

w newralgicznych miejscach sieci przesyłowej i dystrybucyjnej.<br />

W dalszej kolejności takie izolatory można podzielić na: stojące,<br />

wiszące kołpakowe oraz wiszące długopniowe. Poniższy artykuł<br />

skoncentruje się na charakterystyce i badaniach izolatorów stojących.<br />

Izolatory stojące są głównie stosowane w liniach niskiego napięcia<br />

sieci rozdzielczych. Można je również spotkać w sieciach<br />

średniego i wysokiego napięcia oraz rozdzielniach napowietrznych.<br />

Pełnią wówczas rolę wsporników szyn oraz części odłączników<br />

i bezpieczników. Izolatory stojące mają miano izolatorów<br />

sztywnych, których część izolacyjna służy do sztywnego mocowania<br />

na konstrukcji wsporczej. Część izolacyjną może stanowić<br />

jeden lub kilka elementów izolacyjnych na stałe połączonych ze<br />

sobą. Izolatory stojące mają małą wytrzymałość na złamanie.<br />

Toteż w przypadku sieci podlegającej kryterium wytrzymałości<br />

mechanicznej, gdy przekroje przewodów są małe, można je stosować.<br />

W przypadku wzrostu obciążenia linii oraz konieczności<br />

użycia przewodów o większym przekroju, należy wykluczyć możliwość<br />

ich stosowania. Izolatory te produkowane są dla określonych<br />

wartości napięcia. Najczęściej jest to napięcie poniżej 24 kV.<br />

Izolatory produkowane są ze specjalnego rodzaju tworzywa<br />

ceramicznego zwanego również porcelaną elektrotechniczną,<br />

w skład którego wchodzą surowce mineralne takie jak: skaleń,<br />

kaolin, glina, tlenek glinu oraz surowce specjalne będące tajemnicą<br />

spółek. Najczęściej można spotkać się z masą porcelanową<br />

o nazwie C130 [4]. Charakteryzuje się ona bardzo dobrymi<br />

właściwościami zarówno mechanicznymi, jak i elektrycznymi.<br />

Skład chemiczny takiego tworzywa przedstawia się następująco:<br />

55% Al 2<br />

O 3<br />

, 40% SiO 2<br />

, 0,5% Fe 2<br />

O 3<br />

, 4,5% TiO 2<br />

, CaO, MgO, K 2<br />

O,<br />

Na 2<br />

O. Wszystkie komponenty używane do produkcji mas i szkliw<br />

poddawane są kontroli jakości w zakresie ustalonym przez warunki<br />

techniczne surowców. Składniki dawkuje się przy pomocy<br />

automatycznego systemu naważania sterowanego komputerowo.<br />

Następnie wszystkie substraty trafiają do młyna kulowego<br />

z dodatkiem wody i mielników. Cykl ucierania trwa kilka godzin,<br />

aż do uzyskania odpowiedniego stopnia zmielenia wszystkich<br />

surowców zgodnego z warunkami technicznymi produkcji. Tak<br />

przygotowana masa w postaci szlamu kierowana jest do kadzi,<br />

gdzie mieszana jest z masą zwrotną pochodzącą z toczenia. Po<br />

wymieszaniu, szlam przepuszcza się przez układ sit oraz ferrofiltr<br />

magnetyczny. Następnie z masy odprowadzany jest nadmiar<br />

wody przy użyciu pras filtracyjnych. Kolejnym etapem jest<br />

homogenizacja powstałego tworzywa oraz jego odpowietrzenie<br />

w prasach próżniowych. Całość podsuszana jest elektrycznieoporowo<br />

w odpowiednich do tego boksach. Tak przygotowana<br />

masa porcelanowa gotowa jest do kształtowania. Formowanie<br />

odbywa się poprzez toczenie przy skrawaniu na różnego rodzaju<br />

tokarko-wytaczarkach, które sterowane są fotoelektrycznie lub<br />

numerycznie (CNC). Następnie wytoczone izolatory poddawane<br />

są końcowemu suszeniu w suszarniach typu rewersyjnego z wymuszonym<br />

obiegiem powietrza. Całością steruje automatyka według<br />

zadanych parametrów aż do uzyskania odpowiedniej niskiej<br />

wilgotności. Po tym etapie izolator sprawdzany jest wizualnie<br />

i w przypadku jakichkolwiek braków traktowany jest jako masa<br />

zwrotna. Kolejnym procesem jest szkliwienie. Do tego celu używa<br />

się najczęściej tlenków glinu. Na koniec przeprowadzone jest<br />

wypalanie w temperaturze 1300°C w piecach komorowych opalanych<br />

gazem. Ostatni etap ma istotne znaczenie w całym procesie<br />

produkcyjnym izolatora, gdyż uzyskuje on wtedy wszystkie odpowiednie<br />

parametry mechaniczne.<br />

Do podstawowych parametrów technicznych, z uwagi na wymagania<br />

stawiane izolatorom przez zakłady energetyczne, zalicza<br />

się przede wszystkim napięcie znamionowe oraz maksymalne<br />

napięcie robocze. Jak już wcześniej wspomniano, izolatory te<br />

produkowane są dla określonych wartości napięcia w zależności<br />

od miejsca montażu. Kolejnym parametrem jest częstotliwość<br />

prądu, przy jakim będzie pracował. Z technicznego punktu widzenia,<br />

ważnymi parametrami są również minimalna i maksymalna<br />

temperatura otoczenia, w jakiej będzie eksploatowany izolator.<br />

Następną, istotną rzeczą jest też rodzaj materiału z jakiego został<br />

wykonany oraz z jakim rodzajem spoiwa mamy do czynienia.<br />

W zależności czy dany izolator posiada okucie, podaje się rodzaj<br />

materiału z jakiego zostało wykonane oraz czy posiada powłokę<br />

antykorozyjną. Ponadto, izolator charakteryzują takie właściwości<br />

jak, minimalna droga upływu oraz strefa zabrudzenia.<br />

Metoda pomiaru<br />

Termoluminescencję (TL) można zaobserwować w różnych<br />

dielektrykach – zarówno organicznych, jak i nieorganicznych.<br />

Zjawisko to jest procesem dwuetapowym. Na początku materiał<br />

poddany jest ekscytacji – zazwyczaj wysokoenergetycznym<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 109


promieniowaniem jonizującym. W celu wywołaniu luminescencji<br />

używamy stymulacji termicznej. W odpowiednio wysokiej temperaturze<br />

wszystkie ciała emitują światło – jest to promieniowanie<br />

termiczne. Jednak w TL emisja światła znacznie przewyższa wartość<br />

promieniowania termicznego w danej temperaturze. TL nie<br />

występuje też, gdy nie ma ekscytacji.<br />

Wytłumaczenie zjawiska TL opiera się na istnieniu w materiale<br />

pułapek nośników ładunku. Pułapki są związane z defektami<br />

struktury krystalicznej (np. domieszki, dyslokacje itp.). Istnienie<br />

pułapki manifestuje się w postaci zlokalizowanego (przestrzennie<br />

i energetycznie) poziomu energetycznego w przerwie wzbronionej<br />

izolatora. W zależności od położenia względem poziomu<br />

Fermiego pułapka może wychwytywać elektrony lub dziury. Podczas<br />

ekscytacji generowane są przejścia pasmo-pasmo i część<br />

pułapek zapełnia się nośnikami ładunku. W tym metastabilnym<br />

stanie materiał może pozostawać przez bardzo długi czas – często<br />

liczony w latach. Dopiero podwyższona temperatura (czynnik<br />

stymulujący) uwalnia uwięzione w pułapkach nośniki ładunku<br />

(aktywne pułapki), które następnie rekombinują z uwięzionymi<br />

nośnikami przeciwnego znaku. Ten drugi rodzaj pułapek nazywamy<br />

centrami rekombinacji. Bardzo często taka rekombinacja<br />

bywa promienista, a więc możemy wtedy zaobserwować światło<br />

(luminescencję).<br />

Analizując krzywe TL możemy uzyskać wiele informacji dotyczących<br />

struktury energetycznej i koncentracji różnych defektów<br />

występujących w materiale. W szczególności możemy wyznaczyć<br />

energie aktywacji pułapek, czynniki częstotliwościowe itp. [5].<br />

Eksperyment<br />

Materiał do badań – próbki porcelany elektrotechnicznej o średnicy<br />

ok. 5 mm, pobierano w sposób mechaniczny z wcześniej ustalonych<br />

miejsc izolatora elektroenergetycznego. Przyjęto trzy newralgiczne<br />

punkty do badań: środek (rdzeń), część wewnętrzna<br />

kołpaka oraz osłonowa warstwa zewnętrzna, czyli szkliwo. Z tak<br />

przygotowanego materiału mierzono termoluminescencję naturalną,<br />

w której ekscytacja dokonywała się samorzutnie poprzez<br />

naturalne występujące promieniowanie jonizujące – tzw. promieniowanie<br />

tła.<br />

W celu wzmocnienia siły rejestrowanego sygnału część próbek<br />

ekscytowano dodatkowo źródłem promieniowania beta 90 Sr 90 Y.<br />

Do pomiaru próbka była montowana na stoliku grzewczym kriostatu.<br />

W celu uniknięcia niepożądanej deekscytacji materiału,<br />

czynności te, jak również samo przygotowanie próbki, wykonywano<br />

w ciemności, używając jedynie słabego czerwonego światła.<br />

Pomiaru TL dokonywano podczas liniowego ogrzewania próbki<br />

z szybkością β = 0,7 K/s w zakresie temperatur 300…600K. Rolę<br />

detektora pełnił fotopowielacz bialkaliczny firmy Hamamatsu działający<br />

w trybie zliczania fotonów (photon counting). W wysokich<br />

temperaturach (powyżej 450K) pomiar TL może być silnie zaburzony<br />

przez naturalne promieniowanie termiczne. Dlatego też, po<br />

zakończeniu właściwego pomiaru dokonywano też pomiaru tła,<br />

które w dalszym etapie odejmowano od zmierzonego widma.<br />

Pomiary spektralnie rozdzielczej TL dokonywano w znacznie<br />

bardziej złożonej konfiguracji. Światło luminescencji było zbierane<br />

przez światłowód do monochromatora M266 (Solar Laser Systems)<br />

skanującego widma w zakresie 250…600 nm, a następnie<br />

do fotopowielacza bialkalicznego. Cała aparatura sterowana jest<br />

komputerowo przez dedykowany system elektroniczny.<br />

Wyniki<br />

Do badania wybrano ceramiczne izolatory stojące na napięcie<br />

do 24 kV. Wyniki pomiaru TL dla naturalnych próbek pobranych<br />

z trzech różnych miejsc izolatora: z rdzenia, kołpaka i szkliwa,<br />

pokazane są na rys. 1. Na uwagę zasługuje wyraźny pik TL<br />

rdzenia położony w zakresie 310…375K. Co ciekawe – w dwu<br />

pozostałych próbkach ten pik nie występuje. Pomiary TL wykonywano<br />

w zakresie do 600K, niemniej zmierzony naturalny<br />

sygnał jest tak słaby, że dla T > 430K praktycznie ginie w szumie<br />

termicznym.<br />

110<br />

TL [a.u.]<br />

500<br />

400<br />

300<br />

200<br />

100<br />

0<br />

Izolator naturalny<br />

rdzeń<br />

kołpak<br />

szkliwo<br />

300 325 350 375 400 425 450 475 500<br />

Temperatura [K]<br />

Rys. 1. Termoluminescencja trzech naturalnych próbek (bez napromieniania)<br />

stojących izolatorów ceramicznych pobranych<br />

z różnych miejsc izolatora – rdzenia, kołpaka i szkliwa. Naniesione<br />

krzywe są wynikiem uśrednia numerycznego sąsiednich punktów<br />

pomiarowych<br />

Fig. 1. Thermoluminescence of three natural samples (without irradiation)<br />

of ceramic stand-insulators, taken from various places: core,<br />

cap and glaze. Curves represent running average approximation<br />

TL [a.u.]<br />

50000<br />

40000<br />

30000<br />

20000<br />

10000<br />

Izolator<br />

napromieniony<br />

rdzeń<br />

kołpak<br />

szkliwo<br />

0<br />

300 350 400 450 500 550 600<br />

Temperatura [K]<br />

Rys. 2. Termoluminescencja trzech próbek pobranych z izolatora stojącego<br />

– rdzenia, kołpaka i szkliwa. Przed pomiarem próbki naświetlono<br />

dawką 265 Gy<br />

Fig. 2. Thermoluminescence of three samples of ceramic stand-insulators,<br />

taken from various places: core, cap and glaze. The samples<br />

were irradiated with 265 Gy dose<br />

TL [a.u.]<br />

100<br />

80<br />

60<br />

40<br />

20<br />

0<br />

250 300 350 400 450 500 550 600<br />

Długość fali [nm]<br />

Rys. 3. Pomiary widmowe (czarne kropki) termoluminescencji scałkowane<br />

po temperaturze w zakresie 300…470K. Materiał naświetlony<br />

dawką 450 Gy. Linia przerywana jest poprowadzona dla połączenia<br />

punktów pomiaru<br />

Fig. 3. Spectral measurements (black dots) of thermoluminescence<br />

integrated over temperature from 300 to 470K. The materiał was irradiated<br />

with 450 Gy dose. Dotted line is shown to guide the eyes<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Znacznie lepsze wyniki uzyskano naświetlając próbki dawką<br />

265 Gy (rys. 2). Ponownie najsłabiej wypadło szkliwo izolatora.<br />

TL rdzenia i kołpaka ujawnia bardzo złożoną strukturę poziomów<br />

energetycznych w badanym izolatorze. Niskotemperaturowe (do<br />

470K) piki rdzenia i kołpaka występują w tych samych temperaturach,<br />

jednak różnią się intensywnością. W celu przeprowadzenia<br />

dokładnej analizy teoretycznej konieczna jest dekonwolucja<br />

krzywych. Do analizy pików wysokotemperaturowych konieczne<br />

jest zmniejszenie poziomu tła. Można to osiągnąć przy zastosowaniu<br />

filtrów optycznych, które jednak mogą też zmniejszyć TL<br />

– rezultat zależy od rozkładu widmowego luminescencji. Próba<br />

pomiaru spektralnego TL przedstawiona jest na rys. 3. Z uwagi<br />

na bardzo niski poziom sygnału TL, pomiar jest obarczony dużym<br />

błędem. Można jednak przypuszczać, że maksimum emisji<br />

przypada w okolicach 400 nm, co daje możliwość wyeliminowania<br />

części podczerwonej promieniowania termicznego.<br />

Podsumowanie<br />

W artykule przedstawiono wstępne badania termoluminescencji<br />

izolatorów ceramicznych sieci energetycznych średnich napięć.<br />

W toku badań stwierdzono, że izolatory wykazują słabą, lecz mierzalną<br />

luminescencję, nawet w stanie naturalnym – bez ekscytacji<br />

promieniowaniem jonizującym. Charakterystyka TL zależy od<br />

wielu czynników – m.in. miejsca pobrania materiału do badań,<br />

rodzaju masy użytej do wyrobu izolatora, jego wieku oraz prawdopodobnie<br />

warunków, w jakich pracował. Badania TL pozwalają<br />

więc określić strukturę defektową izolatorów ceramicznych. Z tego<br />

powodu, istnieją silne przesłanki, że metoda TL może służyć do<br />

testów jakościowych izolatorów ceramicznych.<br />

Praca naukowa finansowana częściowo ze środków na naukę<br />

w latach 2011–2013 jako projekt badawczy nr N N505 487640.<br />

Literatura<br />

[1] Horak J.: Sieci elektryczne – elementy sieci rozdzielczych cz.1.<br />

skrypty Politechniki Częstochowskiej, Wyd. PCz., Częstochowa,<br />

1997.<br />

[2] Marzecki J.: Miejskie sieci elektroenergetyczne. Oficyna Wydawnicza<br />

Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1996.<br />

[3] PN-EN 60383-1 „Izolatory do linii napowietrznych o znamionowym<br />

napięciu powyżej 1 kV. Ceramiczne i szklane izolatory do sieci prądu<br />

przemiennego”, Polska Norma, PKN 2005.<br />

[4] „Materiały konferencyjne i protokoły badawcze Zakładu Porcelany<br />

Elektrotechnicznej ZAPEL SA”, Boguchwała, 2009.<br />

[5] Chen R., S. W. S. McKeever: Theory of Thermoluminescence and<br />

Related Phenomena. World Scientific, Singapore, 1997.<br />

Dobór mikrokontrolera do sterowania inwerterem<br />

napięcia w systemach UPS<br />

dr hab inż. Zbigniew Rymarski<br />

Politechnika Śląska, Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki, <strong>Instytut</strong> Elektroniki, Gliwice<br />

Publikowane dotąd artykuły na ogół przedstawiały konkretne rozwiązania<br />

układów mikroprocesorowych sterujących inwerterami<br />

(autor stosuje określenie „inwerter”, rezerwując określenie „falownik”<br />

dla napędów silników indukcyjnych, gdzie należy uzyskiwać<br />

zmienną częstotliwość generowanego napięcia), nie starając się<br />

jednak uzasadnić wyboru danego układu. Trzeba zresztą przyznać,<br />

że przy obecnej doskonałości mikrokontrolerów i układów<br />

FPGA w większości przypadków uzyskuje się pożądany efekt.<br />

Jednak świadomy dobór, ogólnie mówiąc, układu sterującego<br />

(bez uwzględniania wpływu sprzężenia zwrotnego, które i tak nie<br />

zlikwiduje błędów spowodowanych sposobem generacji PWM)<br />

może pomóc w niewielkiej poprawie jakości przebiegu napięcia<br />

wyjściowego (poniżej 0,5% współczynnika zniekształceń harmonicznych<br />

THD). Współczynnik THD filtrowanego napięcia wyjściowego<br />

inwertera napięcia jest definiowany przez normy IEEE-519<br />

i PN-EN 62040-3. Określona przez PN-EN 62040-3 graniczna<br />

wartość THD dla obciążenia liniowego i nieliniowego (prostownikowego<br />

z filtrem RC o PF = 0,7) dla najlepszej tzw. opcji klasyfikacyjnej<br />

S systemu UPS licząc do 40. harmonicznej wynosi<br />

8%. Norma IEEE-519 mówi o zalecanym nie przekraczaniu 5%<br />

THD i wymaga, aby amplituda żadnej z harmonicznych napięcia<br />

nie przekroczyła 3% amplitudy podstawowej harmonicznej (f m<br />

).<br />

Omówione parametry dotyczyły filtrowanego napięcia wyjściowego<br />

i mogły służyć jako podstawa do doboru parametrów filtra<br />

wyjściowego [1–6]. Dobór rozwiązań konstrukcyjnych modulatora<br />

wymaga jednak analizy niefiltrowanego sygnału napięciowego<br />

PWM. Przy wysokim stosunku częstotliwości przebiegu modulowanego<br />

do modulującego f s<br />

/f m<br />

(w praktyce dla UPS powyżej<br />

kilkuset) niezbędny jest podział widma harmonicznych niefiltrowanego<br />

napięcia na dwa pasma – „niskich” harmonicznych<br />

w zakresie do połowy częstotliwości przełączania i „wysokich”<br />

harmonicznych – powyżej tej częstotliwości. Właściwy i rozsądny<br />

(o ograniczonych wymiarach) dobór filtra wyjściowego [1–6],<br />

mającego efektywnie tłumić najwyższą harmoniczną napięcia<br />

wyjściowego (o częstotliwościach f s<br />

lub f s<br />

±f m<br />

), a równocześnie nie<br />

zwiększającego nadmiernie mocy biernych w elementach filtra,<br />

powoduje, że filtr nie tłumi niskich harmonicznych. Dlatego należy<br />

je zminimalizować już w układzie otwartym poprzez odpo-<br />

a) b)<br />

Rys. 1. a) Współczynnik THD regularnej modulacji PWM 2- i 3-poziomowej dwuzboczowej dla współczynnika f s<br />

/f m<br />

= 512 i n T<br />

= ∞, b) Współczynnik<br />

LHD regularnej modulacji PWM 3-poziomowej jedno- i dwuzboczowej dla współczynnika f s<br />

/f m<br />

= 512 i n T<br />

= ∞<br />

Fig. 1. a) THD coefficient of the regular-sampled, 2- and 3-level, double-edge PWM for f s<br />

/f m<br />

= 512 and n T<br />

= ∞. b) LHD coefficient of the regularsampled,<br />

3-level, single- and double-edge PWM for f s<br />

/f m<br />

= 512 and n T<br />

= ∞<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 111


a) b)<br />

Rys. 2. a) Błąd względny regularnej modulacji PWM 3-poziomowej dwuzboczowej dla współczynnika f s<br />

/f m<br />

= 512 i M = 1 w funkcji połowy liczby<br />

zliczanych impulsów 0,5n T<br />

, b) Przyrost LHD regularnej modulacji PWM 3-poziomowej dwuzboczowej spowodowany niedostateczną liczbą<br />

połowy zliczanych impulsów 0,5n T<br />

Fig. 2. a) The relative error of the regular-sampled, 3-level, double-edge PWM for f s<br />

/f m<br />

= 512 and M = 1 as a function of the number of the half<br />

of counted pulses 0,5n T<br />

. b) LHD increase of the regular-sampled, 3-level, double-edge PWM caused by the insufficient number of the half of<br />

counted pulses 0,5n T<br />

wiednią modulację PWM i zastosowanie efektywnego sprzężenia<br />

zwrotnego. Równocześnie przed filtracją wartości skuteczne<br />

„wysokich” harmonicznych są wielokrotnie większe niż „niskich”<br />

harmonicznych, ale te „niskie” praktycznie nietłumione zostaną<br />

przeniesione przez filtr. Dlatego po analizach [5, 7] przyjęto jako<br />

znaczące w dalszych rozważaniach dwa współczynniki: LHD<br />

– stosunek wartości skutecznej harmonicznych od 2 do 9 do wartości<br />

podstawowej harmonicznej i całościowy współczynnik THD.<br />

Nieco inne podejście przedstawiono w [8], gdzie posłużono się<br />

„ważonym” współczynnikiem WTHD, odpowiednikiem THD w którym<br />

wartości skuteczne poszczególnych harmonicznych dzielone<br />

są przez ich rząd, co uwydatnia znaczenie niskich harmonicznych<br />

i wiąże współczynnik WTHD wprost z wartością skuteczną wyjściowego<br />

prądu tętnień.<br />

Na współczynnik THD (rys. 1a) bezpośredni wpływ ma ilość<br />

poziomów modulacji – im ich więcej, tym THD jest mniejszy (najgorszy,<br />

najwyższy współczynnik THD ma modulacja dwupoziomowa)<br />

i współczynnik głębokości modulacji M – im bardziej zbliżony<br />

do 1 tym THD mniejszy (ale wysoki współczynnik modulacji<br />

ogranicza dynamikę sterowania inwerterem [5]). Stąd wniosek<br />

o potrzebie stosowania, co najmniej modulacji trójpoziomowej<br />

dla układów jednofazowych, która nie wymaga innego mostka<br />

falownika (rys. 3) niż dwupoziomowa. Układy o większej ilości<br />

poziomów m niż 3 umożliwiają √(m-1) krotne obniżenie wielkości<br />

dławika w filtrze wyjściowym [5, 6] (i przez to polepszenie parametrów<br />

sterowania, [5, 9]), lecz przez zwiększenie ilości przełączników<br />

wzrastają straty statyczne i dynamiczne. Stąd w dalszych<br />

rozważaniach dla jednofazowych inwerterów napięcia, jako<br />

wystarczającą analizowano modulację regularną trójpoziomową.<br />

Analiza współczynnika LHD (rys. 1b) pozwala na uwidocznienie<br />

wpływu znaczenia mniej podstawowych parametrów modulacji<br />

PWM (modulacja jedno lub dwuzboczowa), umożliwiając przez to<br />

wskazanie pożądanych cech parametrów mikrokontrolerów sterujących<br />

inwerterami.<br />

W falownikach napięcia stosowanych w napędach indukcyjnych<br />

silników elektrycznych, gdzie dopuszczalna jest 3 harmoniczna<br />

i jej wielokrotności od lat stosowano metodę modulacji wektora<br />

przestrzennego – SVM wykorzystując dedykowane procesory<br />

DSP z zaimplementowanymi sprzętowo funkcjami transformat<br />

Clarke i Parka. Jednak uniwersalne procesory DSP są zaprojektowane<br />

pod kątem typowych operacji cyfrowego przetwarzania<br />

sygnałów (np. zawsze mają funkcję MAC), gdy zalecane jest<br />

programowanie synchroniczne [10] z ograniczonym wykorzystaniem<br />

przerwań (typowym w sterowaniu inwerterami napięcia dla<br />

sytemów UPS). Dopiero obecnie produkowane są mikroprocesory<br />

łączące zalety procesorów DSP i mikrokontrolerów (np. rodzina<br />

STM32F4), zawierające sprzętowe jednostki DSP i jednostki<br />

zmiennoprzecinkowe. Nie należy też zapominać, że inną wiedzą<br />

dysponuje inżynier zajmujący się cyfrowym przetwarzaniem sygnałów<br />

np. w akustyce, a inną inżynier projektujący układy mocy.<br />

112<br />

Dlatego przy wyborze procesora sterującego niebagatelną rolę<br />

odgrywają gotowe biblioteki funkcji przygotowane dla danego<br />

układu. W systemach UPS o mocy pozornej do 3 kVA (granica<br />

definiowana przez normę EN 62040-1-2, poniżej której typowym<br />

obciążeniem inwertera jest obciążenie nieliniowe prostownikowe<br />

z filtrem RC) stosuje się zwykle częstotliwości przełączania rzędu<br />

kilkudziesięciu kHz. W artykule przyjęto jako typową, dogodną<br />

z punktu widzenia mikroprocesorowego sterowania częstotliwość<br />

f s<br />

= 25600 Hz. Dobranie odpowiedniej dokładności generacji impulsów<br />

minimalizuje harmoniczne powstające w wyniku modulacji<br />

PWM. Maksymalna, możliwa do uzyskania rozdzielczość amplitudy<br />

generowanego sygnału, jest teoretycznie mniejsza lub równa<br />

rozdzielczości zapisu przebiegu w zakresie od 0 do π/2 – czyli dla<br />

przyjętego f s<br />

jest to 1/128 [13]. Przy określeniu rzeczywistej rozdzielczości<br />

należy uwzględnić dopuszczalną częstotliwość wejściową<br />

licznika f T<br />

komparatora z modulatora PWM (odpowiada jej<br />

maksymalna ilość impulsów n T<br />

= f T<br />

/f s<br />

zliczanych w jedym okresie<br />

przełączania), która musi być tak wysoka, aby kolejne wartości<br />

wpisywane do liczników w sąsiednich okresach przełączania<br />

różniły się od siebie. Dla preferowanej modulacji dwuzboczowej<br />

(rys. 1a, 1b, 2a, 2b) należy dla danej częstotliwości f T<br />

należy brać<br />

pod uwagę połowę impulsów n T<br />

. Rysunek 2a przedstawia dodatkowy<br />

błąd względny wprowadzany przez niedostateczną liczbę<br />

impulsów.<br />

Dla f s<br />

= 25600 Hz, dopiero maksymalna ilość zliczanych<br />

impulsów w okresie T s<br />

nie mniejsza niż n T<br />

= 2*1329 = 2658<br />

(f T<br />

= 68044800 Hz) nie wprowadza dodatkowego błędu aproksymacji<br />

funkcji sinus (rys. 2a). Przykładowo najwyższa dopuszczalna<br />

częstotliwość f T<br />

dla procesorów LPC2148 wynosi 60 MHz,<br />

a procesorów STM32F4 – 168 MHz (liczniki TIM1 i 8). Rysunek 2b<br />

ilustruje przyrost współczynnika LHD dla niedostatecznej ilości<br />

impulsów n T<br />

, praktycznie niezależny od współczynnika modulacji<br />

M. Dla 0,5n T<br />

≥ 1329, przyrost LHD na rysunku 2b jest praktycznie<br />

niemierzalny.<br />

Mikrokontrolery w sterowaniu inwerterami<br />

W rozwiązaniach z lat 90. [11] stosowano 8-bitowe mikrokontrolery<br />

oparte na rdzeniu z procesora MCS-51 z 12 MHz oscylatorem<br />

oraz z dodanymi przetwornikami AC (np. układy SAE80515/535<br />

firmy Siemens/Infineon) i układami komparatorów ułatwiających<br />

generację sygnału PWM o stałej częstotliwości. Wadą tych procesorów<br />

była niska częstotliwość wejściowa f T<br />

= 1 MHz układów<br />

licznikowych wykorzystywanych do modulacji PWM. Spełnienie<br />

wymogów normy EN 62040-3 w zakresie statycznych i dynamicznych<br />

obciążeń było niemożliwe do zrealizowania. Sinusoidę<br />

o regulowanej co okres podstawowy amplitudzie i ograniczonym<br />

zakresie zmian częstotliwości generowano na podstawie<br />

odczytu wyliczonych wcześniej tablic kolejnych szerokości impulsów<br />

dla przebiegów sinusoidalnych o różnych amplitudach,<br />

co powodowało niską przyjmowaną częstotliwość przełączania,<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


a) b)<br />

c)<br />

Rys. 3. a) Schemat modulacji PWM, b) oznaczenia przełączników w mostku, c) napięcie wyjściowe inwertera (L F<br />

= 2 mH, C F<br />

= 1 µF, f s<br />

= 25600<br />

Hz, 0,5n T<br />

= 1171, mikrokontroler LPC2148), THD = 1,89%<br />

Fig. 3. a) PWM schema, b) the power bridge switches description, c) VSI output voltage (L F<br />

= 2 mH, C F<br />

= 1 µF, f s<br />

= 25600 Hz, 0,5n T<br />

= 1171, microcontroller<br />

LPC2148), THD = 1,89%<br />

np. f s<br />

= 3 kHz (teoretyczna maksymalna rozdzielczość amplitudy<br />

6,7%). Stosowano najprostszą modulację dwupoziomową, jednozboczową.<br />

Oprogramowanie pisano w języku asemblera, ze<br />

względu na nieoptymalność dostępnych kompilatorów języka C<br />

np. firmy Archimedes Software. Wszystkie operacje wykonywano<br />

wykorzystując przerwania od komparatorów PWM, co jest istotną<br />

cechą wszystkich, aż do dziś stosowanych metod sterowania<br />

inwerterami. Jedyną możliwą do realizacji funkcją sterowania<br />

była prosta regulacja PI amplitudy, raz na okres podstawowy,<br />

oparta na jednokrotnym w podstawowym okresie T m<br />

pomiarze<br />

amplitudy napięcia wyjściowego. W stosunku do aktualnych niskonapięciowych<br />

układów korzystne było stosowanie 5 V zasilania<br />

procesora i układów logicznych, co zwiększało odporność<br />

na zakłócenia. Natomiast korzystanie z zewnętrznej pamięci<br />

programu zmniejszało tę odporność. Zawsze, również obecnie,<br />

sterując mikroprocesorowo inwerter należy stosować dodatkowe,<br />

zewnętrzne, szybkie, sprzętowe zabezpieczenia nadprądowe,<br />

np. wykrywając nadmierny wzrost napięcia na przewodzących<br />

tranzystorach MOS w mostku. W następnych latach zastosowano<br />

mikroprocesory firmy Dallas np. DS87C550 (z wewnętrzną<br />

pamięcią programu) oparty na liście instrukcji i architekturze<br />

MCS-51, o zwiększonej częstotliwości oscylatora do 24 MHz<br />

(maksymalnie 33 MHz) i jej wewnętrznemu podziałowi przez 4<br />

(tzw. cykl maszynowy), co radykalnie zwiększało częstotliwość<br />

wejściową f T<br />

liczników do 6 MHz, wykorzystywanych w komparatorach<br />

modulatora PWM oraz umożliwiło „bieżącą” (w każdym<br />

okresie przełączania) trzypoziomową, jednozboczową generację<br />

przebiegu PWM, uwzględniając mnożenie zapisanej referencyjnej<br />

sinusoidy w każdym generowanym okresie przełączania T s<br />

przez<br />

współczynnik modulacji M wyliczany raz na okres podstawowy<br />

T m<br />

. Przy zastosowanej częstotliwości przełączania f s<br />

= 25600 Hz<br />

(n T<br />

= 234), amplitudę napięcia wyznaczano poprzez odejmowanie<br />

od siebie całkowanego napięcia w czasie pierwszego półokresu<br />

podstawowej sinusoidy napięcia wyjściowego i napięcia całkowanego<br />

w czasie drugiego półokresu [12]. Wykonywano pomiar<br />

sinusoidalnego napięcia wyjściowego poprzez transformator obniżający<br />

napięcie, w każdym okresie przełączania, przesuwając<br />

poziom napięcia na wejściu przetwornika AC względem zera<br />

o stałą wartość, która zostawała w opisanych obliczeniach zerowana.<br />

Zastosowano ciekawy pomysł prezentowany przez firmę<br />

Infineon [13], zamieniający mnożenie na sumowanie dwóch<br />

wartości odczytanych z tablic. Wartość współczynnika M (jest to<br />

bezwymiarowa postać amplitudy) przedstawiano w postaci tablicy<br />

funkcji arccos(M).<br />

M sin( φ)<br />

= cos(arccos( M ))sin( φ)<br />

=<br />

= 0,5sin( φ − arccos( M )) + 0,5sin( φ + arccos( M )) (1)<br />

Należy zapisać w postaci tablic funkcję arccos(M) w zakresie<br />

od 0 do π/2 dla zmiany M od 0 do 1 i funkcję 0,5sin(φ) dla argumentu<br />

od –π/2 do 5π/2. Oprogramowanie pisano nadal w języku<br />

asemblera.<br />

Zastosowanie 8-bitowych procesorów AVR ATMega pracujących<br />

z napięciem zasilania 5 V (ze względu na zakłócenia), z częstotliwością<br />

f T<br />

= 16 MHz na wejściu liczników umożliwiło generację<br />

f s<br />

= 25600 Hz, przy maksymalnie 0,5n T<br />

= 312 dla sprzętowej<br />

modulacji dwuzboczowej PWM (nazywanej w ATMega − Phase<br />

and Frequency Correct PWM Mode). W przypadku procesorów<br />

ATMega korzystano z darmowych kompilatorów języka C − AVR<br />

GCC (z pakietu WinAVR) w ogólnie dostępnym środowisku AVR<br />

Studio.<br />

Dopiero 32-bitowe mikrokontrolery z rodziny ARM7TDMI, np.<br />

LPC2148 spełniają wymagania dotyczące regulacji nadążnej dla<br />

każdego okresu przełączania i dzięki temu sterowane przez nie<br />

inwertery mogą sprostać wymogom EN 62040-3. Przy częstotli-<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 113


wości pracy rdzenia 60 MHz i takiej samej częstotliwości wejściowej<br />

f T<br />

liczników komparatorów, dla częstotliwości przełączania<br />

f s<br />

= 25600 Hz w jednym okresie przełączania można uzyskać<br />

maksymalnie zliczenie do 0,5n T<br />

= 1171 dla jednego zbocza modulacji<br />

dwuzboczowej (nazywanej w LPC − double edge). Dwa<br />

10-bitowe przetworniki AC mogą równocześnie przetwarzać dane<br />

wejściowe przy wystarczająco krótkim minimalnym czasie 2,44 μs<br />

(dla okresu przełączania około T s<br />

= 39 µs). Dokładność pomiarów<br />

zwiększono (pomiar unipolarny napięcia w całym zakresie rozdzielczości,<br />

brak problemu ze składową stałą) stosując prostowniki<br />

operacyjne napięcia wyjściowego i komparatory jego znaku.<br />

Jednak procesor ten nie posiada sprzętowych operacji zmiennoprzecinkowych<br />

i przy sterowaniu trójfazowych inwerterów napięcia,<br />

gdy trzeba zdublować operacje inwertera jednofazowego stosując<br />

transformację Clarke, sprawdza się jedynie przy relatywnie<br />

prostym sterowaniu PID/CDM&RPC [5] z pomiarem tylko napięć<br />

wyjściowych. Oprogramowanie LPC2148 tworzono z wykorzystaniem<br />

kompilatora GNUARM języka C++ w środowisku Eclipse.<br />

Nowym rozwiązaniem jest zastosowanie 32-bitowych procesorów<br />

ARM Cortex-M4 z rodziny STM32F4 (np. STM32F407VGT6,<br />

o częstotliwości zegara 168 MHz, 210 DMIPS i licznikach TIM1<br />

oraz TIM8 pracujących z pełną częstotliwością zegara (dla f s<br />

=<br />

25600 Hz, 0,5n T<br />

= 3281). Modulacja PWM dwuzboczowa (nazywana<br />

w STM32 center-aligned) umożliwia uzyskanie negowanych<br />

impulsów PWM i wprowadzenie czasu martwego pomiędzy tymi<br />

impulsami. Nie jest to jednak bardzo istotne wobec powszechnego<br />

stosowania specjalizowanych drajwerów (automatycznie<br />

wprowadzających czas martwy) do sterowania tranzystorami<br />

MOSFET/IGBT (z układami bootstrap do sterowania „wysokich”<br />

tranzystorów w mostku oraz dużą impulsową wydajnością prądową),<br />

np. takich jak IR2184. Natomiast zarówno w procesorach<br />

LPC2148 jak i STM32F4 istnieje możliwość uzyskania ciągłego<br />

sygnału po odpowiednim ustawieniu liczników – na poziomie<br />

niskim lub wysokim – bez generacji impulsów, co ułatwia realizację<br />

przedstawionego na rys. 3a schematu modulacji. W wersji<br />

STM32F407VG zastosowano trzy 12-bitowe przetworniki AC,<br />

mogące równocześnie dokonywać pomiaru przy osiągalnych<br />

czasach przetwarzania poniżej 0,5 µs (2,4 MSPS). Do tworzenia<br />

programu wykorzystano profesjonalne środowisko Keil µVision<br />

V4.23, umożliwiające darmową kompilację do 32 kB kodu. Dużym<br />

ułatwieniem są gotowe biblioteki funkcji dostępne dla procesora<br />

STM32F4, wykorzystujące standard CMSIS. Należy zapewnić<br />

wymianę danych pomiędzy PC a kontrolerem inwertera<br />

przez dostępne łącza szeregowe, najlepiej USB, wystarczająco<br />

w klasie HID (nie potrzeba drajwerów w komputerze PC z systemem<br />

Windows), w celach testowych lub do ustawiania parametrów<br />

sterowania inwerterem. O ile dla procesora LPC2148 istnieją<br />

już gotowe biblioteki firmy Keil oprogramowujące łącze USB-HID<br />

w języku C, to w przypadku STM32F4 te biblioteki są chwilowo<br />

(luty <strong>2012</strong>) niekompletne. Przy budowie prototypu niezbędne jest<br />

dokładne określenie współczynnika normalizacji pomiaru napięcia<br />

wyjściowego k nor<br />

=(0,5n T<br />

-1)/V OUTmax<br />

, wpływającego na funkcję sterowania<br />

[5], gdzie V OUTmax<br />

jest maksymalną zmierzoną wartością<br />

wyprostowanego napięcia wyjściowego. Tylko wymiana danych,<br />

np. przez USB, pomiędzy PC a pracującym prototypem inwertera<br />

to umożliwia.<br />

Podsumowanie<br />

Najważniejsze z cech mikrokontrolerów (z wewnętrzną pamięcią<br />

programu) predyponujących je do sterowania inwerterami, to wystarczająca<br />

częstotliwość wejściowa liczników komparatorów modulatora<br />

PWM dla przyjętej czestotliwości przełączania, szybkie<br />

przetwarzanie, najlepiej równoległe w 2 lub 3 przetwornikach AC,<br />

szybka obsługa przerwań od układów PWM, typowe porty szeregowe<br />

(obecnie USB-HID) umożliwiające szybką wymianę danych<br />

z komputerem nadrzędnym w celu ustawienia parametrów<br />

inwertera. Przy obecnej komplikacji mikroprocesorów niezbędne<br />

są dostępne biblioteki funkcji w języku C dla konkretnego układu.<br />

Wniosek z praktycznych badań inwerterów był taki, że o ile<br />

procesory ARM7TDMI są wystarczające obecnie do sterowania<br />

jednofazowymi inwerterami, o tyle do bardziej zaawansowanego<br />

sterowania inwerterem 3-fazowym lepiej obecnie wykorzystać<br />

procesory ARM Cortex M4 w wersji z 3 przetwornikami AC i jednostką<br />

zmiennoprzecinkową.<br />

Literatura<br />

[1] Rymarski Z.: Zagadnienia projektowe jednofazowych inwerterów<br />

napięcia w układach UPS. <strong>Elektronika</strong> – Konstrukcje, Technologie,<br />

Zastosowania, Wydawnictwo SIGMA-NOT, nr 11/2007, str. 367–<br />

372.<br />

[2] Rymarski Z.: Projektowanie jednofazowego inwertera napięcia małej<br />

mocy dla nieliniowego obciążenia. <strong>Elektronika</strong> – Konstrukcje, Technologie,<br />

Zastosowania, Wyd. SIGMA-NOT, nr 11/2008, str. 48–51.<br />

[3] Rymarski Z.: Design Method of Single-Phase Inverters for UPS Systems.<br />

Journal TETN, International Journal of Electronics, vol. 96,<br />

No. 5, pp. 521–535, May 2009.<br />

[4] Rymarski Z.: The analysis of output voltage distortion minimization<br />

in the 3-phase VSI for the nonlinear rectifier ROCO load. Przegląd<br />

Elektrotechniczny (Electrical Review), R. 85 NR 4/2009, pp. 127–<br />

132.<br />

[5] Z. Rymarski, „Jednofazowe i trójfazowe inwertery napięcia stosowane<br />

w systemach UPS“. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej,<br />

monografia 238, Gliwice 2010.<br />

[6] Rymarski Z.: The discrete model of the power stage of the voltage<br />

source inverter for UPS. International Journal of Electronics, vol. 98,<br />

No. 10, pp. 1291–1304, October 2011.<br />

[7] Rymarski Z.: PWM-AC Signal Quality In Sinusoidal Inverters. International<br />

Conference on Signals and Electronic Systems ICSES’06,<br />

pp. 335–338, 17–20 September 2006, Łódź, Poland.<br />

[8] Broeck H. W.: Analytical calculation of the harmonic effects of single<br />

phase multilevel PWM inverters. The 29th Annual Conference of the<br />

IEEE Industrial Electronics Society IECON ‘03, vol. 1, pp. 243–248,<br />

2–6 November 2003.<br />

[9] Kim J., J. Choi, H. Hong: Output LC filter design of voltage source inverter<br />

considering the performance of controller. International Conference<br />

on Power System Technology, vol. 3, pp. 1659–1664, Dec.<br />

2000.<br />

[10] Stranneby D.: Cyfrowe przetwarzanie sygnałów. BTC, Warszawa,<br />

2004.<br />

[11] Rymarski Z.: Digital Control in the UPS with S-51 Family Microprocessors.<br />

Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems<br />

DDECS’98 Szczyrk, pp. 117–121, 2–4 August 1998.<br />

[12] Rymarski Z., M. Kulawik: The Low Cost Measuring of the Magnitude<br />

of the Sinusoidal Complex Waveform. IFAC Workshop on Programmable<br />

Devices and Systems, pp. 390–393, Ostrava, 11–13 February<br />

2003.<br />

[13] Infineon Technologies: Generating sinusoidal 3-Phase-Currents for<br />

Induction Machines with a time-optimized algorithm for the Capture<br />

Compare Unit. AP08022, Application Note, v 1.1, February 2004.<br />

Przypominamy o prenumeracie miesięcznika <strong>Elektronika</strong> na 2013 r.<br />

114<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Technologia i Zastosowania Laserów <strong>2012</strong><br />

dr inż. Jerzy Gajda<br />

Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie, Katedra Telekomunikacji i Fotoniki, Wydział Elektryczny<br />

prof. dr hab. inż. Ryszard S. Romaniuk<br />

Politechnika Warszawska, <strong>Instytut</strong> Systemów <strong>Elektronicznych</strong><br />

W jubileuszowym X Sympozjum Techniki Laserowej wzięło udział<br />

120 osób. Zaprezentowano 11 referatów przeglądowych, 42 komunikaty<br />

naukowo–techniczne oraz 59 plakatów. Technika laserowa<br />

rozwija się w Polsce intensywnie od początku lat sześćdziesiątych.<br />

Pierwszy laser w kraju został uruchomiony w roku<br />

1969. Pierwszymi krajowymi ośrodkami badawczymi, w których<br />

uruchomiono lasery były Wojskowa Akademia Techniczna (prof.<br />

Z. Puzewicz), Politechnika Warszawska (prof. W. Woliński) i Uniwersytet<br />

Adama Mickiewicza (prof. F. Kaczmarek).<br />

Krajowe środowisko naukowo-techniczne związane z techniką<br />

laserową spotyka się od prawie 30 lat na krajowych sympozjach<br />

laserowych. Prace prowadzone w kraju w dziedzinie<br />

techniki laserowej dotyczą obecnie technologii materiałów laserowych,<br />

konstrukcji nowych laserów i związanego z laserami<br />

sprzętu, a także nowych aplikacji laserów. Wiele zespołów technicznych<br />

uczestniczy w Europejskich laserowych programach<br />

badawczych i infrastrukturalnych, dzieląc się i rozpowszechniając<br />

wiedzę w tej dziedzinie fotoniki. Technika laserowa jest ważnym<br />

narzędziem praktycznym i jednocześnie siłą napędową dla<br />

rozwoju wielu dziedzin nauki, techniki, medycyny oraz przemysłu.<br />

Obejmuje ona materiały optyczne, materiały laserujące, konstrukcję<br />

laserów od gazowych po półprzewodnikowe oraz liczne<br />

dziedziny zastosowań. Zakres badanych materiałów jest bardzo<br />

szeroki: optyczne, optoelektroniczne, bierne, aktywne, nieliniowe,<br />

funkcjonalne, kryształy, półprzewodniki, szkła, metale, gazy<br />

i wiele innych.<br />

Konstrukcje laserowe obejmują optymalizację istniejących<br />

rozwiązań, oraz poszukiwania nowych rozwiązań. Badane są<br />

materiały, komponenty, urządzenia laserowe, technologie wytwarzania,<br />

techniki pomiarowe parametrów lasera i wiązki optycznej.<br />

Rodzaje badanych laserów obejmują: półprzewodnikowe, fotoniczne,<br />

gazowe, jonowe, na ciele stałym, na swobodnych elektronach<br />

i inne. Sygnały optyczne podlegają generacji, wzmocnieniu,<br />

synchronizacji, kompresji i rozciąganiu, mieszaniu, powielaniu<br />

częstotliwości, upkonwersji i downkonwersji, formowaniu w impulsy<br />

itp. Zastosowania laserów obejmują takie pola jak: obróbka<br />

materiałów, biologia i medycyna, przemysł, monitoring i ochrona<br />

środowiska, bezpieczeństwo. Sesje tematyczne sympozjum rozdzielono<br />

w dwie główne grupy zagadnień: teoria laserów, symulacje<br />

i analizy, materiały laserowe, technologie, konstrukcje i rozwój<br />

laserów, oraz zastosowania laserów z dwóch punktów widzenia<br />

– przez konstruktorów laserów i operatorów a głównie przez użytkowników<br />

laserów.<br />

Grafen i inne materiały laserowe<br />

Grafen, odmiana alotropowa węgla, tworzy obecnie, choć nie<br />

bez znacznych trudności, własną drogę zastosowań w elektronice<br />

i fotonice. Tutaj interesują nas właściwości optyczne grafenu<br />

dla zastosowań w optoelektronice, do budowy elementów fonicznych,<br />

komunikacji optycznej, techniki laserowej oraz fotonicznych<br />

układów zintegrowanych. Grafem wykazuje nasycalną absorpcję<br />

pod wpływem silnego pobudzenia w zakresie światła widzialnego<br />

i podczerwieni. To zjawisko jest wykorzystane do sprzęgania<br />

modów w laserach światłowodowych, poprzez zastosowanie grafenowego<br />

absorbera nasycalnego. Ultraszybka odpowiedź warstwy<br />

grafenowej, wbudowanej w światłowód, jest przestrajana<br />

elektrycznie. Gigantyczna wartość nieliniowego współczynnika<br />

Kerra grafemu jest przedmiotem badań stosowanych.<br />

Grafem jest testowany jako medium do budowy komponentów<br />

fotonicznych do propagacji solionów. Oddziaływanie grafenu<br />

z falą EM jest wyjątkowo silne, co inicjuje liczne badania stosowane<br />

nad ultraczułymi czujnikami bazującymi na grafenie sprzężonym<br />

ze światłowodem. Czujniki takie są badane w kierunku<br />

detekcji śladowych ilości gazów oraz dynamiki próżni. Grafenowe<br />

kropki kwantowe o wymiarach poniżej 100 nm są badane w celu<br />

budowy nowych elementów optoelektronicznych. Również ostatnio<br />

zainteresowanie wzbudził krzemowy analog grafemu, nazwany<br />

silicenem – także będący alotropową odmianą krzemu. Silicen<br />

jest produkowany, odmiennie od grafemu, z pomocą rozpylania<br />

laserowego materiału oraz wykorzystania zjawiska i techniki samoorganizacji<br />

pojedynczych atomów. Nowy alotrop krzemu jest<br />

przedmiotem zainteresowania także techniki laserowej. Prace<br />

nad zastosowaniami grafenu w technice laserowej są prowadzone<br />

na Politechnice Śląskiej (prof. T. Pustelny), Politechnice Wrocławskiej<br />

(prof. K. Abramski), w ITME (prof. J. Baranowski, prof. Z.<br />

Jankiewicz) oraz w kilku innych miejscach.<br />

Grafen jest dwuwymiarową płaszczyzną jednej warstwy zorganizowanych<br />

atomów. Krystaliczna struktura grafenu wynika<br />

z wiązań kowalentnych pomiędzy atomami C w hybrydyzacji sp2.<br />

Hybrydyzacja ta daje silne i krótkie wiązania w płaszczyźnie grafenu.<br />

Wiązania te są odpowiedzialne za dobre mechaniczne właściwości<br />

grafenu. Oprócz wiązań s, grafem posiada rezonansowe<br />

wiązania p, wynikające z orbitali p prostopadłych do płaszczyzny<br />

grafenu. Wiązania p są odpowiedzialne za strukturę elektronową<br />

grafenu, określającą jego właściwości elektryczne i optyczne.<br />

Pasma walencyjne i przewodnictwa, które są określone przez<br />

elektrony p, są zdegenerowane w K punktach sfery Brillouina,<br />

rezultatem czego jest zerowa szerokość przerwy energetycznej.<br />

Przejścia optyczne pomiędzy pasmami energetycznymi są<br />

proste. Istnieje liniowa zależność pomiędzy energią elektronów<br />

i dziur od wartości ich wektora falowego. Elektrony i dziury zachowują<br />

się w grafenie w sposób relatywistyczny. W rezultacie<br />

szczególną charakterystyką grafenu jest niezależność absorpcji<br />

od długości fali. Absorpcja jest stała od zakresu fal widzialnych do<br />

fal THz. Grafem jest używany jako nasycalny absorber w laserach<br />

z samosynchronizacją modów. Przewiduje się jego zastosowania<br />

jako matrycy aktywnej w kwantowych generatorach THz.<br />

Zintegrowane układy fotoniczne<br />

Główny wysiłek badawczy nad zintegrowanymi układami fotonicznymi<br />

(będącymi analogami układów scalonych VLSI) jest skoncentrowany<br />

wokół systemów telekomunikacji światłowodowej.<br />

Także zainteresowania budzą ostatnio zastosowania biomedyczne<br />

oraz fotonika obliczeniowa. Testowanych jest wiele architektur<br />

fotonicznych układów scalonych (PIC – Photonic Integrated<br />

Circuit), takich jak: AWG – matrycowych siatek falowodowych<br />

(Arrayed Waveguide Greting), DFBLD/EAM – dioda laserowa<br />

z rozłożonym sprzężeniem zwrotnym zintegrowana z modulatorem<br />

elektro-absorpcyjnym, i wiele innych bardziej i mniej skomplikowanych.<br />

Układy scalone typu PIC wymagają użycia różnych<br />

materiałów, w odróżnieniu od układów typu VLSI IC.<br />

W rezultacie prowadzone są badania nad integracją różnych<br />

materiałów w jednym układzie. Badania obejmują wybór materiałów<br />

i optymalizację architektury układu pod względem funkcjonalności.<br />

Badania nad układami PIC wykonanymi na podłożu InP przewidują<br />

możliwość uproszczenia projektu systemu scalonego, redukcję po-<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 115


oru mocy oraz zmniejszenie objętości, zwiększenie niezawodności<br />

oraz maksymalizację funkcjonalności, poszerzenie elastyczności<br />

usług, uproszczenie operacji sieciowych oraz obniżkę kosztów. Jak<br />

dotąd, praktyczne zastosowania układów PIC są bardzo skromne.<br />

Przewiduje się, że intensywne badania aplikacyjne mają zmienić tą<br />

sytuację. Potencjalne zastosowania układów PIC są bardzo szerokie.<br />

Jak dotąd rozwiązania są ograniczone np. do łączenia źródła<br />

z modulatorem oraz detektora z demultiplekserem.<br />

Znacznie bardziej skomplikowane architektury zawierają nie<br />

tylko bierną dystrybucję sygnału, na przykład dla celów detekcji<br />

kwadraturowej, ale również optyczny/fotoniczny komputing. Dodatek<br />

całkowicie optycznego w pełni cyfrowego i szeroko funkcjonalnego<br />

procesora sygnałowego na pokładzie PIC, wykonującego<br />

takie funkcje jak: operacje matematyczne, optyczną transformatę<br />

Fouriera wprost i odwrotną, posiada znaczny potencjał przyspieszenia<br />

obliczeń DSP nawet o wiele rzędów wielkości. Powodem<br />

przyspieszenia jest inherentnie równoległe przetwarzanie sygnału<br />

obrazowego w dziedzinie optyki. Wiele sygnałów szeregowych<br />

skorelowanych można przedstawić w postaci obrazu lub w postaci<br />

macierzowej. Prace teoretyczne i eksperymentalne nad zintegrowanymi<br />

układami fotonicznymi są prowadzone w IMIO PW (R.<br />

Piramidowicz, P. Szczepański, M. Malinowski).<br />

Układy typu PIC na obecnym początkowym etapie rozwoju<br />

(coś w rodzaju analogu do wczesnego etapu LSI klasycznych<br />

układów scalonych IC) składają się z wielu optycznych komponentów<br />

biernych i nawet kilku elementów aktywnych. Są zintegrowane<br />

na wspólnym, najczęściej półprzewodnikowym, podłożu.<br />

Tendencje rozwojowe idą w kierunku zwiększenia ilości indywidualnych<br />

elementów zintegrowanych w pojedynczym układzie.<br />

Obecnie liczba elementów zintegrowanych jedynie bardzo rzadko<br />

zbliża się do 100. Rekordowy układ eksperymentalny zawiera takich<br />

elementów kilkaset. Kilka takich układów połączonych w subsystem<br />

funkcjonalny pozwala już na budowę bardziej złożonych<br />

urządzeń fotonicznych. Zalety integracji fotonicznej są oczywiste:<br />

miniaturyzacja, mniejsze zużycie materiału i energii, odporność<br />

na środowisko, łatwiejsza standaryzacja, pewność nominalnych<br />

parametrów pracy, obniżenie kosztów, zwiększona funkcjonalność<br />

oraz efektywność. Prowadzone prace badawcze są ukierunkowane<br />

nie tylko na nowe efektywne architektury ale także na<br />

uogólniony i uniwersalny opis tych architektur istniejących obecnie<br />

i planowanych w nieodległej przyszłości.<br />

Zjawiska i procesy ultraszybkie i ultrakrótkie<br />

Technika laserowa odgrywa kluczową rolę w nauce o zjawiskach<br />

ultraszybkich i ultrakrótkich, odbywających się zazwyczaj w skali<br />

nano. Zjawiska takie, które są obecnie przedmiotem badań, zachodzą<br />

w skali czasu w przedziale od pikosekund do attosekund.<br />

Ultrakrótkie impulsy laserowe są podstawowym narzędziem do<br />

studiowania fundamentalnych mechanizmów w tej skali czasowej<br />

dotyczących np. oddziaływania promieniowania z materią.<br />

Specjalnie interesujące są ultraszybkie oddziaływania i procesy<br />

w nowych materiałach – tzw. ultraszybka inżynieria materiałowa,<br />

ale także ultraszybki nanomagnetyzm, dynamika atomowa i molekularna,<br />

indukowane światłem reakcje chemiczne, obrazowanie<br />

biomolekularne w nanoskali itp.<br />

Badania procesów ultraszybkich są nierozłącznie związane<br />

z laserami krótkofalowymi o dużych natężeniach impulsów.<br />

Impulsy attosekundowe są tworzone z zastosowaniem techniki<br />

generacji wysokich harmonicznych HHG oraz wykorzystania<br />

dynamiki w skali czasowej subokresowej, poniżej pojedynczego<br />

okresu fali optycznej. Attosekundy w skali czasowej są z kolei<br />

związane z femtometrami w skali wymiaru geometrycznego.<br />

Femtometry w przestrzeni i attosekundy w czasie, w połączeniu<br />

z optycznymi zegarami atomowymi, ustanawiają bardzo dokładne<br />

ramy odniesienia dla fazy, czasu i częstotliwości. Takie ramy<br />

odniesienia pozwalają na obserwacje i zapis chemicznych procesów<br />

wewnątrzmolekularnych, o znacznej dokładności czasowej<br />

i przestrzennej. Zbliżają się obecnie do skali obserwacyjnej procesów<br />

wewnątrzatomowych.<br />

116<br />

Światłowody aktywne, wzmacniacze i lasery<br />

światłowodowe<br />

Klasyczne, wysokiej jakości światłowody aktywne domieszkowane<br />

erbem EDFA są wysoce standaryzowane pod względem parametrów<br />

transmisyjnych i niezawodności. Są dostępne w kilku<br />

źródłach, wielu odmianach rozciągających się od tzw. SMF jednomodowych<br />

telekomunikacyjnych po specjalizowane o prostszej<br />

lub bardziej skomplikowanej budowie, a w szczególności<br />

dla zastosowań czujnikowych. Światłowody telekomunikacyjne<br />

są zazwyczaj pokryte hermetycznie dla zwiększenia odporności<br />

środowiskowej i czasu życia, zwiększenia odporności na indukowane<br />

wodorem straty optyczne i degradację stratnościową.<br />

Światłowody takie używane w celu budowy wzmacniaczy optycznych<br />

są wymiarowo i modowo wysoce kompatybilne ze standardowymi<br />

jednodomowymi światłowodami. Wykazują dzięki temu<br />

niewielkie straty sprzężenia ze światłowodami transmisyjnymi.<br />

Badania w tym zakresie są prowadzone nad światłowodami<br />

aktywnymi specjalnymi, z innych materiałów niż szkło krzemionkowe<br />

lub wysoko-krzemionkowe. Adekwatne materiały obejmują:<br />

ultra niskostratne szkła wieloskładnikowe, szkła halogenkowe<br />

i chalkogenkowe oraz aktywne materiały polimerowe. Z tych materiałów<br />

szklanych i polimerowych tworzone są eksperymentalne<br />

włókna aktywne o strukturze dwupłaszczowej a także niesymetrycznej<br />

do pompowania oraz mikrostrukturalne z kryształów fotonicznych.<br />

W kraju jest aktywnych kilka centrów technologicznych<br />

produkujących wysokiej jakości szkła światłowodowe aktywne<br />

i włókna optyczne aktywne. Są one zlokalizowane w Białymstoku<br />

na Politechnice, w Lublinie na UMCS, w Krakowie na AGH oraz<br />

w Warszawie w ITME i na PW.<br />

Aktywne szkła i polimery światłowodowe są oczywiście domieszkowane<br />

ziemiami rzadkimi oraz metalami przejściowymi.<br />

Wytwarzane są włókna analogiczne do EDFA, dla celów budowy<br />

źródeł ASE oraz wzmacniaczy Ramana. Wytwarzane szkła światłowodowe<br />

wykazują luminescencję w zakresie spektralnym 1,7…2,1<br />

µm. Szerokie linie luminescencyjne są otrzymywane poprzez jednoczesne<br />

domieszkowanie szkieł światłowodowych kilkoma lantanidami.<br />

Badane są wymagania i warunki techniczne produkcji oraz<br />

właściwości luminescencyjne i pasma absorpcyjne wytworzonych<br />

włókien ze światłowodowych szkieł matrycowych domieszkowanych<br />

parami jonów i trypletami jonowymi: Tm3+/Ho3+, Yb3+/Ho3+,<br />

Yb3+/Tm3+, Yb3+/Er3+/Tm3+. Badane są rodzaje matryc szklanych,<br />

ich parametry mechaniczne – decydujące o energii fononów,<br />

na rdzenie światłowodowe oraz na płaszcze i pokrycia zewnętrzne.<br />

Takie odpowiednie zestawy materiałów mają znaczenie dla<br />

ogólnych parametrów światłowodu aktywnego i wytworzonego<br />

z niego aktywnego elementu fotonicznego, pompowanego znaczną<br />

mocą optyczną, np. przy pomocy diod LED dużej mocy. Przedstawiane<br />

są konstrukcje aktywnych światłowodów i wzmacniaczy<br />

z efektywnymi metodami sprzęgania mocy optycznej pochodzącej<br />

z pomp. Niektóre z tych rozwiązań zawierają niesymetryczne<br />

światłowody z podwójnym rdzeniem oraz jednodomowe światłowody<br />

wielordzeniowe pracujące w warunkach dokładnie sfazowanego<br />

supermodu.<br />

Lasery i wzmacniacze światłowodowe, podobnie jak klasyczne<br />

lasery półprzewodnikowe i szklane, mogą być także budowane<br />

z materiałów strukturalnych – kryształów fotonicznych. Dla światłowodów<br />

fotonicznych (aktywnych i biernych) materiałem matrycy<br />

jest szkło lub ostatnio także polimer. Matrycą dla laserów półprzewodnikowych<br />

jest AlGaInAs/InP. Kryształy fotoniczne dla laserów<br />

posiadają szereg zalet dla zastosowań telekomunikacyjnych, takie<br />

jak: szeroki zakres pracy w modzie podstawowym (teoretycznie<br />

nieskończony, nieograniczony), skalowalność struktury z długością<br />

fali, możliwa redukcja prądu progowego, możliwy wzrost<br />

emitowanej mocy optycznej w modzie podstawowym, zawężenie<br />

szerokości spektralnej promieniowanej fali, możliwy wzrost szybkości<br />

modulacji cyfrowej.<br />

Szybki rozwój technologii laserów światłowodowych został<br />

spowodowany między innymi postępami w konstrukcji włókien<br />

optycznych ultra niskostratnych aktywnych o podwójnym płasz-<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


czu. Takie włókno ułatwia optyczne pompowanie lasera. Dopasowanie<br />

geometryczne i spektralne pozwala na stosunkowo łatwe<br />

pompowanie laserem półprzewodnikowym lub diodą DEL. Wprowadzenie<br />

asymetrii włókna, w pewnych przypadkach, dalej podnosi<br />

sprawność pompowania lasera światłowodowego.<br />

Lasery światłowodowe posiadają odmienne charakterystyki od<br />

rodziny laserów objętościowych i laserów półprzewodnikowych.<br />

Długość światłowodu aktywnego szklanego, polimerowego lub<br />

z kryształu fotonicznego zmienia się od kilkudziesięciu cm do<br />

kilkudziesięciu m w różnych typach laserów światłowodowych.<br />

Mimo tego, zagregowana objętość materiału aktywnego jest mała<br />

nawet dla laserów bardzo długich. Wynikają z tego konsekwencje,<br />

że promieniowana moc nie jest duża w podstawowym rozwiązaniu<br />

takiego lasera, oraz moc progowa dla optycznych zjawisk nieliniowych<br />

jest także niewielka. Niewielki jest także próg optycznej<br />

destrukcji włókna i lasera. Obecnie lasery światłowodowe promieniują<br />

w przybliżeniu 10 kW mocy ciągłej przy jakości wiązki określonej<br />

wielkością współczynnika M 2 ≈2. Dla laserów impulsowych,<br />

promieniowana energia w impulsie o czasie trwania rzędu ns wynosi<br />

około 10 mJ, a więc niezbyt dużo. Prace nad światłowodami<br />

aktywnymi dla laserów i nad fundamentalnymi ograniczeniami jakości<br />

wiązki są prowadzone na WAT i na PW oraz na PWr.<br />

Lasery IR kwantowo-kaskadowe<br />

QCL – kwantowe lasery kaskadowe są unipolarnymi laserami półprzewodnikowymi<br />

o transferze wewnątrzpasmowym swobodnych<br />

nośników. Klasyczne lasery półprzewodnikowe stosują przejścia i rekombinację<br />

międzypasmową. Długość promieniowanej fali w praktyce<br />

nie zależy od materiału, ale od geometrii studni kwantowych budujących<br />

rejon aktywny. Lasery QCL mogą być szeroko przestrajane<br />

od zakresu NIR, poprzez MIR do FIR i ogólnie działają w obszarze<br />

IR. Najczęściej wykonuje się je z GaAs oraz InP. Kaskadowy typ generacji,<br />

tzn. akumulacja mocy optycznej z każdej studni kwantowej<br />

prowadzi do uzyskiwania większych mocy wiązki. Obecnie lasery<br />

QCL są używane w spektroskopii THz zanieczyszczeń gazowych,<br />

spektroskopii molekularnej, komunikacji bliskiego zasięgu w otwartej<br />

przestrzeni i prześwietlania dielektryków. Eksperymenty technologiczne<br />

i laboratoryjna produkcja terahercowych laserów QCL są<br />

prowadzone w ITE w Warszawie (prof. M. Bugajski).<br />

Generacja terahercowej fali EM przy pomocy laserów może<br />

być wykonywana dwoma zasadniczymi metodami, odpowiednio<br />

w dziedzinie czasu i częstotliwości. Metoda w dziedzinie czasu<br />

wykorzystuje zjawisko w dziedzinie optyki analogiczne do prostowania<br />

przebiegu napięcia sinusoidalnego prądu elektrycznego<br />

(optical rectification). Metoda częstotliwościowa stosuje<br />

zjawisko mieszania podobnych liczbowo częstotliwości optycznych<br />

i ekstrakcji, np. częstotliwości różnicowych. Podstawowym<br />

problemem technologicznym dla takich rozwiązań jest konstrukcja<br />

lasera generującego dwie koherentne wiązki jednodomowe<br />

o przestrajanych częstotliwościach. Największy potencjał aplikacyjny<br />

w tym zakresie posiadają właśnie kwantowe lasery kaskadowe<br />

o zewnętrznej wnęce rezonansowej, które generują jednocześnie<br />

dwie przestrajalne wiązki w zakresie spektralnym MIR.<br />

Dwie wiązki mieszane muszą posiadać wspólną drogę koherencji.<br />

Zwiększanie długości generowanej fali metodą mieszania<br />

zwiększa długość wzajemnej drogi koherencji. Kaskadowe lasery<br />

kwantowe są budowane z podwójnym wzmacniaczem i wbudowanym<br />

w strukturę lasera optycznym rezonansowym elementem<br />

nieliniowym. Takie lasery generują i mieszają wewnętrznie dwa<br />

podłużne mody częstotliwościowe w zakresie spektralnym MIR,<br />

tak aby na wyjściu uzyskać falę EM w postaci wiązki THz. Otrzymywane<br />

obecnie parametry wiązek THz są: dziesiątki µW mocy<br />

w temperaturze 80 K i około 1 µW w temperaturze 300K.<br />

Optyczne grzebienie częstotliwości i optyczne<br />

zegary atomowe<br />

Technologia optycznych grzebieni częstotliwości jest rozwijana<br />

w kraju na UW-IFD oraz na PWr przez grupy laserowe używające<br />

wysoko stabilizowanych laserów półprzewodnikowych oraz<br />

światłowodów. Stosowane są efekty nieliniowe w celu konwertowania<br />

grzebieni częstotliwości optycznych z pasma telekomunikacyjnego<br />

do innych obszarów spektralnych, np. MIR. Grzebienie<br />

są generowane z zastosowaniem modulacji amplitudowej wiązki<br />

laserowej CW, jak i przez stabilizację ciągu impulsów generowanych<br />

przez laser z przełączaniem modów, a także przez generację<br />

super-kontinuum z pomocą głębokiej samo-modulacji fazowej<br />

fali propagowanej w nieliniowym światłowodzie fotonicznym.<br />

Grzebienie rozciągające się na więcej niż oktawę są używane<br />

do ultraprecyzyjnych pomiarów fazy i częstotliwości odniesienia.<br />

Optyczne grzebienie częstotliwości o kontrolowanej częstotliwości<br />

bazowej (podstawowej) f o<br />

oraz separacji (odległość pomiędzy<br />

zębami) f r<br />

są używane do mapowania częstotliwości optycznych<br />

aż do częstotliwości zakresu RF. Taka technika jest używana do<br />

bezpośrednich pomiarów częstotliwości optycznych. Precyzyjne<br />

techniki zegara optycznego z zastosowaniem grzebieni częstotliwości<br />

są stosowane w systemach pomiarowych. Częstotliwość<br />

optyczna nieznana jest składana z pojedynczym zębem grzebienia<br />

na fotodiodzie, w wyniku czego otrzymywany jest sygnał dudnienia<br />

w paśmie RF. Sygnał ten porównywany jest z wzorcem RF<br />

lub z sygnałem odniesienia RF.<br />

Precyzyjne pomiary czasu są fundamentem w takich technologiach<br />

jak: szerokopasmowe sieci komunikacyjne, nawigacja<br />

GPS i wiele innych. Optyczne zegary atomowe używają częstotliwości<br />

przejść elektronowych w atomie w optycznym regionie<br />

spectrum fal EM jako częstotliwości standardowych do budowy<br />

elementów odniesienia czasu. Obecne zegary stosują atomy<br />

w temperaturze bardzo bliskiej zera bezwzględnego, spowolnione<br />

przy pomocy promieniowania laserowego i próbkowane<br />

w tzw. fontannie atomowej (chmurze) pułapkowanej we wnęce.<br />

Najbardziej dokładny klasyczny zegar atomowy, bazujący na pojedynczych<br />

pułapkowanych jonach oraz ultrazimnych atomach<br />

neutralnych w czasie swobodnego spadku, posiada niedokładność<br />

określenia częstotliwości 2,3×10 -16 , co można transformować<br />

do ±1 s na około 140 MY.<br />

Optyczne grzebienie częstotliwości, które ustanawiają koherentne<br />

łącze pomiędzy częstotliwościami optycznymi i radiowymi<br />

RF, coraz częściej są uważane za nowo powstający standard ultraprecyzyjnej<br />

definicji czasu o zwiększonej precyzji wobec narzędzi<br />

dostępnych dzisiaj. Atomy można pułapkować w potencjalnej<br />

sieci (kratownicy) optycznej i używać jako odniesienie kwantowe.<br />

Kratownica optyczna z odseparowanymi pułapkami na pojedyncze<br />

atomy pozwala na budowę zegara o szerokości spektralnej<br />

częstotliwości odniesienia więcej niż jeden rząd wielkości węższej<br />

niż w klasycznych zegarach atomowych o najwyższej stabilności.<br />

Zastosowanie optycznego zegara atomowego z optycznie pułapkowanymi<br />

atomami i optycznych metod metrologicznych zimnych<br />

atomów (spektroskopia i pomiary częstotliwości) pozwala na<br />

ograniczenie względnej niepewności pomiaru częstotliwości do<br />

poziomu 10 -18 , a więc dwa rzędy wielkości bardziej precyzyjnie niż<br />

w klasycznych zegarach atomowych. Innymi słowy, częstotliwość<br />

optyczna 300 THz jest mierzona z dokładnością mHz.<br />

Zegary optyczne z zimnymi atomami składają się z:<br />

● pułapki atomowej, w której zimna chmura atomowa jest kontrolowana<br />

w szczególnym stanie kwantowym, ochłodzona klasycznie<br />

i optycznie oraz uwięziona permanentnie,<br />

● ultrastabilnego lasera o szerokości linii spektralnej poniżej 1<br />

Hz w celu próbkowania częstotliwości atomów,<br />

● optycznego grzebienia częstotliwości w celu precyzyjnych pomiarów<br />

odległości pomiędzy poszczególnymi komponentami<br />

spektrum.<br />

Prace nad takim zegarem są prowadzone przez konsorcjum<br />

złożone z UW-Warszawa, UMK-Toruń i UJ-Kraków.<br />

Laserowe przetwarzanie i obróbka materiałów<br />

Obok zastosowań medycznych, laserowe przetwarzanie i obróbka<br />

materiałów jest ich najszerszym polem praktycznych aplikacji.<br />

Do obróbki materiałów stosowane są różne lasery, takie jak: przestrajane<br />

lasery femtosekundowe, pompowane diodami lasery na<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 117


ciele stałym w tym lasery Nd:YAG, lasery z przełączaną dobrocią<br />

wnęki, lasery światłowodowe, lasery CO 2<br />

i inne. Konwencjonalne<br />

zastosowania w tym obszarze zawierają: wiercenie otworów<br />

w metalach i ceramice, spawanie, cięcie, modyfikacja i/lub obróbka<br />

powierzchni, teksturowanie, znakowanie, grawerowanie, rzeźbienie,<br />

wycinanie wzorów, czyszczenie, szybkie prototypowanie<br />

w metalach i ceramice, udarowe młotkowanie itp.<br />

Obszary mikro- i nanofabrykacji obejmują: laboratorium na<br />

układzie, czujniki elektroniczne i optoelektroniczne, czujniki<br />

światłowodowe, systemy mikrofluidyczne, okresowe wzory dla<br />

wyświetlaczy LCD, mikro- i nanostruktury funkcjonalne np. do<br />

celi paliwowych, matryce do kompozytów metalo–ceramicznych,<br />

węglowe siatki nanorurkowe, mikroimplanty do kości i naczyń, ultraszybkie<br />

laserowe wytwarzanie stentów do wieńcowych naczyń<br />

krwionośnych – w celu zwiększenia pokrywalności przez leki i narastania<br />

komórek nabłonkowych; wytwarzanie cienkich warstw<br />

i nakładanie wzorów z materiałów nadprzewodzących dla mikroelektroniki.<br />

W zastosowaniach biomedycznych oraz dotyczących<br />

bezpieczeństwa są to: obrazowanie wielofotonowe i spektralne<br />

dynamiczne oraz typu LIBS. W zastosowaniach dotyczących<br />

wytwarzania w nanoskali i obróbce materiałów lasery ukierunkowane<br />

są na wysoką jakość produktu, wysoką precyzję oraz jak<br />

najmniejsze wydzielanie ciepła.<br />

Jednym z najbardziej spektakularnych zastosowań laserów<br />

w obróbce materiałów jest modyfikacja powierzchni. Badania<br />

w tym zakresie prowadzi CTL na Politechnice Świętokrzyskiej<br />

a także AGH i Politechnika Śląska, oraz kilka innych zespołów<br />

akademickich. Modyfikacja powierzchni materiałów jest bardzo<br />

szerokim obszarem badawczym obejmującym kompozyty i metamateriały.<br />

W nowoczesnych materiałach warstwy powierzchniowe<br />

mogą być kompozytami. Na warstwy powierzchniowe stosuje<br />

się np. azotki tytanu zawieszone w matrycy metalowej. Twardość<br />

warstw powierzchniowych i odporność na zużycie zmęczeniowe<br />

silnie zależy od parametrów laserowego procesu technologicznego<br />

modyfikacji warstwy, parametrów atmosfery przetwarzania, jak<br />

np. cząstkowe ciśnienie mieszaniny gazowej argon-azot. Stopy<br />

tytanu są stosowane do budowy płytek w silnikach turbinowych.<br />

Wytrzymałość zmęczeniowa jest kluczowym parametrem określonym<br />

głównie przez wewnętrzne naprężenia w powierzchniowych<br />

warstwach azotkowych.<br />

Jakość obróbki powierzchni zależy od kształtu wiązki laserowej.<br />

Zastosowanie diod laserowych dużej mocy nie tylko czyni<br />

proces technologiczny bardziej standaryzowany, powtarzalny,<br />

odporny na oddziaływania zewnętrzne, niezawodny, bardziej miniaturowy<br />

i zużywający mniej energii ale także pozwala na kształtowanie<br />

wielomodowej wiązki do postaci prostokątnej – zamiast<br />

eliptycznej (jak w laserach SS YAG i gazowych), o znacznej jednorodności<br />

rozkładu mocy na powierzchni przekroju poprzecznego<br />

wiązki. Jednorodność rozkładu mocy jest bardzo korzystna<br />

podczas przetapiania powierzchni i tworzenia nowych stopów,<br />

ponieważ obrabiany materiał jest podgrzewany równomiernie,<br />

głębokość penetracji jest jednakowa, grubość i struktura warstwy<br />

powierzchniowej jest równomierna i jednakowa.<br />

Prace badawcze także dotyczą laserowego utwardzania powierzchni,<br />

przetapiania, wzbogacania powierzchni stali w chrom,<br />

tantal, wolfram, krzem, przetapiania Stellitu6 i wytwarzania cienkich<br />

warstw: CeO 2<br />

, Bi 2<br />

O 3<br />

, Al-Fe-C, Mg-Al, TiC przy pomocy ablacji<br />

laserowej. Technika laserowa pozwala na precyzyjne osadzanie,<br />

z użyciem ablacji i technik odparowywania, cienkich powłok wielowarstwowych<br />

na powierzchni ciężkich i dużych części maszyn,<br />

pracujących pod dużym obciążeniem.<br />

Przy całkowitej grubości około 1 µm, warstwa jest zbudowana<br />

z kilkuset subwarstw, każda o grubości nanometrowej. Obecnie<br />

wytwarzane subwarstwy mają grubość ok. 10 nm. Przeplatane<br />

warstwy ultracienkie o różnej twardości tworzą warstwę monolityczną<br />

o dużej adhezji do podłoża i znacznie bardziej odporną na<br />

pękanie niż warstwa pojedyncza. Używany jest przykładowo następujący<br />

zestaw materiałów: Ti/TiN, Cr/CrN, TiN/CrN, ale może<br />

on zawierać polimery, ceramikę i warstwy metalowe wzajemnie<br />

118<br />

przeplatane. Badane są i optymalizowane właściwości mechaniczne<br />

takich metamateriałów dla aplikacji w przemyśle maszynowym.<br />

Oprócz wzrostu odporności mechanicznej, niektóre z tych<br />

materiałów posiadają cechę samosmarowania.<br />

Lasery medyczne: diagnostyka i terapia<br />

Znaczne pole zastosowań laserów obejmuje badania i regularne<br />

aplikacje kliniczne, a także szerokie aplikacje w służbie zdrowia,<br />

np. w przychodniach i ambulatoriach. Rozwijane są nowe procedury<br />

chirurgiczne w połączeniu z technikami endoskopowymi<br />

oraz obrazowaniem. Dotyczy to w szczególności laserów światłowodowych<br />

w połączeniu z technikami terapeutycznymi fotodynamiki,<br />

a także terapią laserową wewnątrznaczyniową oraz laserową<br />

detekcją komórek rakowych. Medycyna laserowa rozwija<br />

się między innymi w kierunku chirurgii bezkrwawej. Badania nad<br />

nowymi generacjami sprzętu medycznego stosującego lasery są<br />

prowadzone na WAT we współpracy z WUM (A. Zając, J. Kasprzak).<br />

Optyczne metody diagnostyczne stosują często promieniowanie<br />

niekoherentne obejmujące zakresy spektralne UV, VIS,<br />

oraz IR, a także promieniowanie koherentne o długiej i krótkiej<br />

drodze koherencji. Sprzęt medyczny stosujący promieniowanie<br />

w zakresie światła białego o krótkiej drodze koherencji wzbudza<br />

specjalne zainteresowanie ze względu na bezpośrednią interakcję<br />

z układem wzrokowym człowieka. Rezultat badania diagnostycznego<br />

jest w postaci obrazu, różnego w każdym przypadku<br />

zastosowania innej metody obrazowania. Przetwarzanie obrazu<br />

jest inherentną częścią takich metod diagnostycznych.<br />

Oddzielną ważną grupą metod diagnostycznych jest tomografia<br />

optyczna, włączając metodę OCT. Inne metody tomograficzne<br />

są wykorzystywane do diagnostyki i łączone wzajemnie w celu<br />

uzyskania pełniejszych obrazów, jak: PET, tomografia rentgenowska,<br />

skaningowa tomografia ultrasonograficzna. Technologie<br />

laserowe dodają się do tych metod, wiele z nich rozszerzając<br />

i uzupełniając. Diagnostyka i laserowa terapia fotodynamiczna<br />

stosuje aktywne barwniki jak fotoporfiryna. Barwnik jest gromadzony<br />

poprzez kompleksowe reakcje z lipoproteidami w miejscach<br />

zmienionych patologicznie. Metody diagnostyczne poszukują<br />

tych miejsc poprzez oświetlenie aktywujące skóry, jam ciała<br />

lub z użyciem technik endoskopowych. Terapia używa większych<br />

mocy oświetleniowych w celu uwolnienia pojedynczych atomów<br />

tlenu (wolnych rodników), które zatruwają bardzo lokalnie zmienioną<br />

tkankę. Metoda jest używana w dermatologii, oftalmologii<br />

i innych specjalizacjach medycznych.<br />

Laserowe ultraczułe systemy metrologiczne<br />

Znaczna część fotonicznych systemów pomiarowych o dużej<br />

czułości bazuje na rozmaitych technikach interferometrycznych.<br />

Systemy takie mogą być objętościowe, jak i zintegrowane i miniaturyzowane.<br />

Pomiary są dokonywane punktowo lub w sposób<br />

rozłożony. Przykładem jest ultraprecyzyjne pozycjonowanie<br />

obiektów z wykorzystaniem interferometrii. Systemy automatycznego<br />

pozycjonowania masek i badania wafli półprzewodnikowych,<br />

bazujące na interferometrii laserowej będą wymagały<br />

rozdzielczości lepszej niż 100 pm już w następnej dekadzie.<br />

Odpowiadające tym wymaganiom techniki litograficzne będą bazowały<br />

na wymiarze standardowym rzędu kilku nm. Aby te wymagania<br />

spełnić, konieczne są badania nad stabilnymi laserami<br />

metrologicznymi o ultraniskich szumach, wyposażone w ultraprecyzyjne<br />

systemy sterowania i kontroli, posiadające odpowiednie<br />

detektory i metody interpolacji. Prace są prowadzone w Lasertex<br />

we współpracy z PWr.<br />

Inne precyzyjne systemy metrologiczne z wykorzystaniem<br />

ultra stabilnych laserów są badane na PŚl. (prof. T. Pustelny).<br />

Te systemy obejmują: spektroskopię ramanowską, skaningową<br />

laserową mikroskopię konfokalną, mikroskopię dwufotonową, mikroskopię<br />

laserową z detekcją fazy, mikroskopię fluorescencyjną<br />

kontrastu interferencyjnego, mikroskopię holograficzną, optyczną<br />

mikroskopię sił atomowych oraz spektroskopię fotoakustczną.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Teledetekcja laserowa<br />

Bardzo efektywnym polem zastosowań techniki laserowej są obszary<br />

obejmujące ogólnie zagadnienia bezpieczeństwa. Systemy<br />

teledetekcji wykorzystują szeroko technikę laserową w tzw. obszarach<br />

podwójnego zastosowania, w dziedzinach dotyczących<br />

bezpieczeństwa i obronności, a także do monitoringu i zabezpieczenia,<br />

np. znacznych regionów środowiska naturalnego czy obszarów<br />

przemysłowych. Stosowane metody teledetekcji wykonują<br />

jednocześnie akwizycję danych pomiarowych oraz ich analizę<br />

w czasie rzeczywistym.<br />

Monitorowanie odległych zagrożeń, takich jak gazy, aerozole,<br />

dymy, kurz itp., wymaga zastosowania dwóch podstawowych metod<br />

– z czujnikiem (czujnikami) lokalnymi lub zdalnymi. Pomiary<br />

bez kontaktu z zanieczyszczonym obszarem zagrażającym są realizowane<br />

w sposób aktywny lub bierny. Używane są lidary lub telewizja/termowizja<br />

multispektralna. Wąskopasmowe filtry optyczne<br />

są dopasowywane do zakresów absorpcyjnych oczekiwanych<br />

gazów i innych zanieczyszczeń. System pomiarowy eliminuje<br />

zmiany w transmisji wiązki laserowej wzdłuż analizowanego toru<br />

wewnątrz zanieczyszczonego obszaru. Charakterystyki pomiarowe<br />

lidaru zależą od zasięgu penetrującej wiązki, zakresu monitorowanego<br />

obszaru, pola widzenia oraz szybkości skanowania<br />

wiązki. Techniki pomiarowe z zastosowaniem sensorów lokalnych<br />

(lub sieci czujników) wymagają odczytu danych metodą przewodową<br />

lub bezprzewodową. Prace są prowadzone na WAT.<br />

Lasery bezpieczne dla oczu<br />

Prace nad specjalizowanymi laserami są także przedmiotem<br />

zainteresowania tzw. technologii podwójnych aplikacji. Lasery<br />

bezpieczne dla oczu są badane i rozwijane na WAT dla wielu<br />

odmiennych aplikacji a w tym: bezpieczeństwo, zabezpieczenie<br />

obszarów, środowisko naturalne, rolnictwo, budownictwo, przemysł<br />

i badania chemiczne, zastosowania biologiczne i medyczne.<br />

Optymalizacja konstrukcji lasera, tak aby był odpowiedni dla obu<br />

pól zastosowań, otwiera szersze możliwości produkcyjne i marketingowe,<br />

jak również ułatwia wymagania na kluczowe parametry<br />

lasera. Zastosowania obejmują: laserowe systemy poziomów odniesienia<br />

w przemyśle budowlanym, dalmierze laserowe, pointery<br />

laserowe, urządzenia dla przemysłu lotniczego i kosmicznego,<br />

a także przemysł maszynowy i obszary biomedyczne oraz teledetekcja.<br />

Bazujące na technice laserowej systemy teledetekcji są<br />

w szczególności stosowane praktycznie w sieciach obserwacyjnych<br />

zagrożenia pożarowego na dużych obszarach leśnych.<br />

Europejskie projekty laserowe<br />

Europejskim ekwiwalentem amerykańskiego laboratorium NIF<br />

(National Ignitron Facility) jest eksperyment HiPER (High Power<br />

Laser Energy Research Facility). Celem tych systemów jest laserowo<br />

wspomagana reakcja fuzji jądrowej metodą ograniczenia<br />

inercyjnego. Innym eksperymentem w Europie o podobnych charakterze<br />

jest Laser Megajoule. W pewnych fragmentach eksperymentu<br />

HiPER i jego podprojektach uczestniczą reprezentanci<br />

WAT oraz IFPiLM. W bardziej tradycyjny sposób, lasery dużej<br />

mocy są stosowane do: obróbki materiałów jak spawanie, cięcie,<br />

wiercenie, lutowanie, znaczenie, modyfikacja powierzchni,<br />

wielkoskalowe wyświetlacze laserowe, teledetekcja militarna, zastosowania<br />

medyczne w chirurgii, wojskowe aplikacje jako broń<br />

przeciw rakietowa; laserowo zasilane akceleratory cząstek, laserowa<br />

generacja plazmy, laserowo zasilana transmutacja materiałów<br />

i generacja neutronów.<br />

Badane lasery wielkiej mocy są zwykle zasilane przez dużej<br />

mocy matryce diod laserowych. Optymalizowana jest w takich<br />

układach laserowych całkowita efektywność energetyczna. Stosowane<br />

są metody unikania zniszczeń w optyce laserowej w laserach<br />

z przełączaną dobrocią pracujących z wielkimi natężeniami<br />

wiązki. Stosowane są adekwatne optyczne efekty nieliniowe<br />

do budowy laserów światłowodowych wielkiej mocy, takie jak:<br />

stymulowane rozpraszanie Ramana, Brillouina oraz mieszanie<br />

czterofalowe. Przedmiotem badań w laserach wielkiej mocy jest<br />

skalowalność generowanej mocy optycznej oraz optymalny dobór<br />

architektur skalowalnych.<br />

Krajowe zespoły badawcze (WAT, PW, IFPiLM, IF PAN, PWr<br />

i inne) biorą udział w kilku dużych Europejskich i międzynarodowych<br />

programach rozwojowych w zakresie techniki laserowej<br />

o zakresie globalnym. Te projekty zawierają np. ELI, HiPER, E-<br />

XFEL, FLASH i inne. Niektórzy badacze z kraju również współpracują<br />

z takimi wielkimi eksperymentami jak LIFE, NIF, ALMA<br />

itp.<br />

Projekt Ekstremalnej Infrastruktury Światła ELI dotyczy budowy<br />

systemu laserów eksawatowych generujących ultrakrótkie<br />

impulsy o czasie trwanie rzędu 10 fs i gęstości mocy powyżej 10 23<br />

W/cm 2 . Ten laser będzie używany do następujących celów: badanie<br />

interakcji promieniowania o ekstremalnej gęstości z materią,<br />

generacji cząsteczek naładowanych o dużej energii, generacji<br />

impulsów promieniowania rentgenowskiego, relatywistycznej<br />

kompresji impulsów optycznych w celu otrzymania intensywności<br />

rzędu 10 25 W/cm 2 oraz czasu trwania impulsów w zakresie attosekund<br />

i zeptosekund (10 -21 s).<br />

Projekt LaserLab Europe jest siecią naukową grupującą laboratoria<br />

posiadające infrastrukturę laserową – lasery impulsowe<br />

o dużej mocy. Celem działania sieci jest koordynacja wysiłków<br />

badawczych i wydatkowanych środków, aby uzyskać efekt synergii.<br />

Adekwatna infrastruktura i tematyka badawcza podlegająca<br />

koordynacji jest: lasery attosekundowe i ich zastosowania, lasery<br />

wysokiej mocy i średniej energii, laserowa akceleracja cząstek, lasery<br />

w medycynie, femtosekundowe źródła promieniowania X itp.<br />

Projekt HiPER dotyczy konstrukcji Europejskiej infrastruktury<br />

laserowej do celu fuzji termonuklearnej i badania ekstremalnych<br />

stanów materii. Głównym celem jest budowa demonstratora technologii<br />

zdolnego do produkcji energii z fuzji deuteru i trytu do helu.<br />

Jest to reakcja wysoce egzotermiczna. Projekt HiPER jest komplementarny<br />

do projektu ITER, który stosuje w tym celu nadprzewodzący,<br />

impulsowy tokamak plazmowy. System testowy do badania<br />

fuzji składa się z dwóch laserów: wielowiązkowego lasera<br />

nanosekundowego o energii rzędu 1 MJ oraz pikosekundowego<br />

lasera o energii 100 kJ i mocy 10 PW. Ten zestaw laserowy jest<br />

uzupełniony o badawczy laser femtosekundowy o mocy 1 TW.<br />

Laserowo indukowana fuzja termojądrowa jest przedmiotem<br />

intensywnych badań globalnych. W lipcu <strong>2012</strong>, po 15 latach prac<br />

nad budową eksperymentu NIF w laboratorium LLNF osiągnięto<br />

parametry krytyczne w systemie fuzyjnym z 192 wiązkami laserowymi.<br />

Parametry impulsu dostarczonego do tarczy DT były następujące:<br />

prawie 2 MJ energii światła UV oraz ponad 500 TW mocy<br />

szczytowej. Celem jest zapłon wodorowego paliwa fuzyjnego<br />

w warunkach laboratoryjnych oraz produkcja większej ilości energii<br />

niż dostarczona do tarczy. W czasie eksperymentu zapłonu,<br />

wodór w kapsule paliwowej musi być skompresowany do gęstości<br />

ponad 100 razy niż gęstość Pb. Centrum NIF jest obecnie w pełni<br />

operacyjne i przeprowadza eksperymenty związane z optymalizacją<br />

systemu zapłonowego. Alternatywnym eksperymentem<br />

w skali europejskiej jest LIFE (Laser Inertial Fusion Energy). LIFE<br />

prowadzi badania, między innymi, nad optyką odporną na wiązki<br />

o wielkim natężeniu światła.<br />

Projekt E-XFEL dotyczy budowy Europejskiego lasera rentgenowskiego<br />

typu FEL. Prekursorem tej wielkiej maszyny jest laser<br />

FLASH. Laser E-XFEL jest konstruowany w laboratorium DESY<br />

i początek jego działania jest przewidziany na 2013. Najkrótsza<br />

długość fali w modzie podstawowym będzie rzędu 50 pm. Efektywna<br />

praca tej maszyny jest przewidziana aż do piątej harmonicznej<br />

długości fali. Laser jest zasilany nadprzewodzącym liniakiem<br />

elektronowym o długości 3 km z wnękami niobowymi rezonansowymi<br />

typu TESLA pracującymi na częstotliwości 1,3 GHz. Rezonatory<br />

pracują z polem EM o natężeniu 35 MV/m pochodzącym<br />

z klistronów wielkiej mocy rzędu 10 MW. Projekt EuroFEL jest<br />

siecią naukową grupującą infrastruktury FEL w Europie. Sieć jest<br />

zgrupowana wokół największego europejskiego projektu E-XFEL<br />

ale gromadzi ośrodki FEL w Szwecji, Niemczech, Francji, Anglii,<br />

Włoszech itp.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 119


Główną ideą jest budowa sieci mniejszych maszyn FEL, które<br />

byłyby powiązane ze sobą pod względem komplementarnych<br />

celów badawczych i użytkowych. Sieć mniejszych maszyn FEL<br />

przygotowuje grupy użytkowników do nowatorskich eksperymentów,<br />

które będą możliwe na maszynie dużej. Spodziewane<br />

jest także, że sieć będzie multiplikować w sensie organizacyjnym<br />

i badawczym dostęp do maszyn FEL w Europie. Projekt<br />

PolFEL, jest z założenia częścią takiej właśnie sieci europejskiej,<br />

której celem jest budowa maszyn krajowych współpracujących<br />

w sposób komplementarny z maszyną E-XFEL. Przewidywana<br />

jest lokalizacja lasera POLFEL na terenie Narodowego Centrum<br />

Badań Jądrowych. Laser będzie pracował w modzie CW i impulsowym.<br />

Przestrajanie maszyny obejmuje zakres spektralny<br />

od THz do VUV.<br />

EuLasNet jest Europejską rozwojowo-biznesową siecią laserową<br />

zorganizowaną wewnątrz inicjatywy Eureka. Sieć gromadzi<br />

przedsiębiorstwa laserowe w Europie. Jest zorientowana na aplikacje<br />

laserów w badaniach, przemyśle, metrologii, medycynie,<br />

ochronie środowiska naturalnego, oraz zabezpieczeniu wartości<br />

o dużym znaczeniu kulturowym i innych podobnych. EuLasNet<br />

grupuje krajowe sieci laserowe. W Polsce adekwatną organizacją<br />

jest sieć PolLasNet. Polskie środowisko laserowe, naukowo-biznesowe<br />

jest zorganizowane w Klubie Laserowym. KL gromadzi<br />

obecnie około 100 ekspertów laserowych z takich środowisk jak<br />

uczelnie, PAN, instytuty resortowe, przemysł oraz agencje rządowe.<br />

Większość z członków Klubu jest zaangażowanych we współpracę<br />

międzynarodową, w ten sposób dodając istotną synergię<br />

do wzajemnej współpracy. Współpraca na tak szerokiej platformie<br />

eksperckiej ze znajomością odnośników międzynarodowych<br />

pozwala na dokładną wymianę wiedzy eksperckiej w dziedzinie<br />

techniki i nauki laserowej w kraju.<br />

Potencjał techniki laserowej<br />

120<br />

Potencjał badawczy w dziedzinie techniki laserowej w kraju jest<br />

znaczny, ale jego wykorzystanie jest ograniczone. W kraju istnieje<br />

około 20 większych zespołów badawczych aktywnych w obszarze<br />

techniki laserowej zlokalizowanych w centrach akademickich,<br />

instytutach resortowych oraz firmach, z których jedynie niektóre<br />

(nieliczne) posiadają oddziały badawcze. Niektóre z tych oddziałów<br />

prowadzą własne badania nad nowymi konstrukcjami i zastosowaniami<br />

laserów. Jedynie kilka z tych zespołów badawczych<br />

posiada większe możliwości naukowe oraz badawczy i techniczny<br />

potencjał. Większość z nich uczestniczy w europejskich programach<br />

infrastrukturalnych ramowych i posiada zaawansowaną<br />

współpracę międzynarodową. Prowadzone prace posiadają aktualny<br />

charakter, ale poza kilkoma wyjątkami, są to akcje o charakterze<br />

lokalnym i relatywnie niskim budżecie.<br />

Najważniejsze obszary tematyczne w dziedzinie technologii<br />

laserowych, o relatywnie większym finansowaniu, z zaangażowaniem<br />

zespołów krajowych to: technologia laserów półprzewodnikowych,<br />

lasery na ciele stałym i lasery gazowe, komponenty<br />

laserowe i kilka innych. W zakresie zastosowań laserów są aktywne<br />

następujące obszary badawcze: optyczny zegar atomowy,<br />

teledetekcja laserowa, bezpieczeństwo, monitorowanie i ochrona<br />

środowiska naturalnego, medycyna i kosmetyka oraz obróbka<br />

materiałów.<br />

Technologie laserowe w kraju podlegają systematycznemu<br />

rozwojowi. Aktywne zespoły wchodzą do ciągle nowych programów<br />

i sieci europejskich i uczestniczą w budowie Europejskiej<br />

Przestrzeni Badawczej w zakresie techniki laserowej. Uzyskują<br />

dostęp do dużej infrastruktury laserowej. Jak dotąd, próg budowy<br />

dużej infrastruktury laserowej, o wymiarach i ambicjach europejskich,<br />

w kraju nie został osiągnięty. Taka infrastruktura musi być<br />

połączona w sieć z infrastrukturą europejską. Wydaje się, że krajowe<br />

środowisko laserowe naukowo-przemysłowe mogłoby starać<br />

się stanowczo i efektywnie o jej budowę w kraju. Co najmniej<br />

kilka krajowych centrów naukowo-technicznych wydaje się być<br />

gotowych do podjęcia koordynacji inicjatyw i podołać znacznemu<br />

wysiłkowi budowy i utrzymania takiej infrastruktury. Budowa infrastruktury<br />

laserowej w Polsce jest ściśle związana z aktywnym<br />

uczestnictwem coraz większych krajowych zespołów w takich<br />

projektach, jak: ELI, HiPER, FLASH, E-XFEL, ALBA i podobnych.<br />

Jednym z najbardziej obiecujących projektów jest możliwość budowy<br />

lasera POLFEL. Nowoczesny part technologiczny może być<br />

zbudowany wokół takiej wielkiej maszyny prowadząc do rozwoju<br />

wielu gałęzi innowacyjnego przemysłu.<br />

Duża nowoczesna infrastruktura badawcza – w tym laserowa,<br />

spełnia w kraju kilka ważnych funkcji o charakterze lokalnym<br />

i globalnym. Ograniczając się jedynie do celów krajowych można<br />

wymienić: wzmocnienie krajowych centrów laserowych, kształcenie<br />

ekspertów o unikalnych specjalnościach i klasie europejskiej,<br />

kształcenie młodzieży, możliwość budowy parku technologicznego<br />

wokół dużej infrastruktury badawczej o unikalnym charakterze<br />

oraz wiele innych. Obowiązkiem środowiska naukowo-przemysłowego<br />

technologii laserowych jest czynienie starań o rozwój tej<br />

dziedziny w kraju w jak najszerszym zakresie, włączając w to budowę<br />

dużej infrastruktury badawczej. Celem takich okresowych<br />

zebrań środowiska jak Sympozjum Techniki Laserowej jest podsumowywanie<br />

dokonań w tej dziedzinie i przypominanie o tych<br />

obowiązkach.<br />

Literatura<br />

[1] Sympozjum Techniki Laserowej [http://www.stl.zut.edu.pl]<br />

[2] Gajda J., Romaniuk R.S.: Rozwój techniki laserowej w kraju. <strong>Elektronika</strong>,<br />

vol. 51, nr 4, 2010, str. 131–134.<br />

[3] Romaniuk R.S.: POLFEL – laser na swobodnych elektronach w Polsce.<br />

<strong>Elektronika</strong>, vol 51, nr 4, 2010, str 83–87.<br />

[4] Romaniuk R.S.: EuCARD i CARE – rozwój techniki akceleratorowej<br />

w Polsce. <strong>Elektronika</strong>, vol.49, nr 10, 2008, str 12–17.<br />

[5] Romaniuk R.: Manufacturing and characterization of ring-index optical<br />

fibers. Optica Applicata 31 (2), pp. 425–444 (2001).<br />

[6] Romaniuk R. et al.: Multicore single-mode soft-glass optical fibers.<br />

Optica Applicata 29 (1), pp. 15–49 (1999).<br />

[7] Dorosz J., Romaniuk R.: Fiber Optics Department of Biaglass Co.<br />

Twenty years of research activities. Optica Applicata 28 (4), pp. 267–<br />

291 (1998).<br />

[8] Dorosz J., Romaniuk R.: Multicrucible technology of tailored optical<br />

fibres. Optica Applicata 28 (4), pp. 293–322 (1998).<br />

[9] Romaniuk R.: Tensile strength of tailored optical fibres. Opto-electronics<br />

Review 8 (2), pp. 101–116 (2000).<br />

[10] Romaniuk R.: Capillary optical fiber – design, fabrication, characterization<br />

and application, Bulletin of the Polish Academy of Sciences:<br />

Technical Sciences 56 (2), pp. 87–102 (2008).<br />

[11] Romaniuk R. et al., Optical network and fpga/dsp based control system<br />

for free electon laser. Bulletin of the Polish Academy of Sciences:<br />

Technical Sciences 53 (2), pp. 123–138 (2005).<br />

[12] Dybko A. et al.: Assessment of water quality based on multiparmeter<br />

fiber optic probe, Sensors and Actuators, B: Chemical,.51 (1–3), pp.<br />

208–213 (1998).<br />

[13] Dybko A. et al.: Efficient reagent immobilization procedure for ionsensitive<br />

optomembranes, Sensors and Actuators, B: Chemical, 39<br />

(1–3), pp. 207–211 (1997).<br />

[14] Dybko A. et al.: Applications of optical fibres in oxidation-reduction titrations,<br />

Sensors and Actuators, B: Chemical, 29 (1–3), pp. 374–377<br />

(1995).<br />

[15] Dybko A. et al.: Polymer track membranes as a trap support for reagent<br />

in fiber optic sensors, Journal of Applied Polymer Sciences, 59<br />

(4), pp. 719–723 (1996).<br />

[16] Mukherjee B. et al.: Application of low-cost Gallium Arsenide lightemitting-diodes<br />

as kerma dosemeter and fluence monitor for highenergy<br />

neutrons, Radiation Protection Dosimetry, 126 (1– 4), pp.<br />

256–260 (2007).<br />

[17] Romaniuk R. et al.: Metrological aspects of accelerator technology<br />

and high energy physics experiments, Measurement Science and<br />

Technology, 18 (8), art.no.E01 (2008).<br />

[18] Fąfara P. et al.: FPGA-based implementation of a cavity field controller<br />

for FLASH and X-FEL, Measurement Science and Technology, 18<br />

(8), pp. 2365–2371 (2008).<br />

[19] Burd A. et al.: Pi of the sky – all-sky, real-time search for fast optical<br />

transients, New Astronomy, 10 (5), pp. 409–416 (2005).<br />

[20] Burd A. et al.: Pi of the sky’ – automated search for fast optical transients<br />

over the whole sky, Astronomische Nachrichten, 325 (6–8),<br />

p. 674 (2004).<br />

[21] Ackerman W. et al.: Operation of a free-electron laser from the<br />

extreme ultraviolet to the water window, Nature Photonics, 1 (6),<br />

pp. 336–342 (2007)<br />

[22] Czarski T. et al.: Superconducting cavity driving with fpga controller,<br />

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 568 (2),<br />

pp. 854–862 (2006).<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


[23] Czarski T. et al.: TESLA cavity modeling and digital implementation in<br />

fpga technology for control system development, Nuclear Instruments<br />

and Methods in Physics Research A, 556 (2), pp. 565–576 (2006).<br />

[24] Czarski T. et al.: Cavity parameters identification for TESLA control<br />

system development, Nuclear Instruments and Methods in Physics<br />

Research A, 548 (3), pp. 283–297 (2005).<br />

[25] Romaniuk R.S.: Petabit photonic internet, Photonics Letters of Poland,<br />

3 (2), pp. 91–93 (2011).<br />

[26] Obroślak P. et al.: Digital techniques for noise reduction in ccd detectors,<br />

Photonics Letters of Poland, 2 (3), pp. 134–136 (2010).<br />

[27] Romaniuk R.: Wilga photonics and web engineering 2010, Photonics<br />

Letters of Poland, 2 (2), pp. 55–57 (2010).<br />

[28] Romaniuk R.: Geometry design in refractive capillary optical fibers,<br />

Photonics Letters of Poland, 2 (2), pp. 64–66 (2010).<br />

[29] Romaniuk R.: Modal structure design in refractive capillary optical<br />

fibers, Photonics Letters of Poland, 2 (1), pp. 22–24 (2010).<br />

[30] Romaniuk R.: ‘The Photonics Letter of Poland’ A new peer-reviewed<br />

internet publication of the Photonics Society of Poland, Photonics<br />

Letters of Poland, 1 (1), pp. 1–3 (2009).<br />

[31] Kasprowicz G. et al.: CCD detectors for wide field optical astronomy,<br />

Photonics Letters of Poland, 1 (2), pp. 82–84 (2009).<br />

[32] Romaniuk R.: Wilga symposium on photonics applications, Photonic<br />

Letters of Poland, 1 (2), pp.46-48 (2009).<br />

[33] Romaniuk R.: POLFEL – A free electron laser in Poland, Photonics<br />

Letters of Poland, 1 (3), pp. 103–105 (2009).<br />

[34] Wolinski T.R., Romaniuk R.: Photonics Society of Poland established,<br />

Metrology and Measurement Systems 15 (2), pp. 241–245 (2008).<br />

[35] Romaniuk R.: Search for ultimate throughput in ultra-broadband photonic<br />

Internet, International Journal of Electronics and Telecommunications<br />

57 (4), pp. 523–528 (2011).<br />

[36] Romaniuk R.: Photonics and web engineering 2011, International<br />

Journal of Electronics and Telecommunications 57 (3), pp. 421–428<br />

(2011).<br />

[37] Romaniuk R.: Accelerator infrastructure in Europe EuCARD 2011,<br />

International Journal of Electronics and Telecommunications 57 (3),<br />

pp. 413–419 (2011).<br />

[38] Dorosz J., Romaniuk R.: Development of optical fiber technology in<br />

Poland, International Journal of Electronics and Telecommunications<br />

57 (2), pp. 191–197 (2011).<br />

[39] Romaniuk R.: Advanced photonic and electronic systems Wilga<br />

2010, International Journal of Electronics and Telecommunications<br />

56 (4), pp. 479–484 (2010).<br />

[40] Romaniuk R.: EuCARD 2010 accelerator technology in Europe, International<br />

Journal of Electronics and Telecommunications 56 (4), pp.<br />

485–488 (2010).<br />

[41] Wojcik W., Romaniuk R.: Development of optical fiber technology in<br />

Poland, International Journal of Electronics and Telecommunications<br />

56 (1), pp. 99–104 (2010).<br />

[42] Romaniuk R.S.: Wilga Photonics Applications and Web Engineering,<br />

January <strong>2012</strong>, Proc. SPIE 8454, art no 845401 (<strong>2012</strong>).<br />

[43] Romaniuk R.S.: Astronomy and Space Technologies, Photonics Applications<br />

and Web Engineering, Wilga May <strong>2012</strong>, Proc. SPIE 8454,<br />

art 845402 (<strong>2012</strong>).<br />

[44] Romaniuk R.S.: Accelerator Technology and High Energy Physics<br />

Experiments, Photonics Applications and Web Engineering, Wilga<br />

May <strong>2012</strong>, Proc. SPIE 8454, art 845403 (<strong>2012</strong>).<br />

[45] Romaniuk R.S.: Photon Physics and Plasma Research, Photonics<br />

Applications and Web Engineering, Wilga May <strong>2012</strong>, Proc. SPIE<br />

8454, art 845404 (<strong>2012</strong>).<br />

[46] Romaniuk R.S.: Optoelectronic Devices, Sensors, Communication<br />

and Multimedia, Photonics Applications and Web Engineering, Wilga<br />

May <strong>2012</strong>, Proc. SPIE 8454, art 845405 (<strong>2012</strong>).<br />

[47] Romaniuk R.S.: Biomedical, Artificial Intelligence and DNA Computing,<br />

Photonics Applications and Web Engineering, Wilga May <strong>2012</strong>,<br />

Proc. SPIE 8454, art 845406 (<strong>2012</strong>).<br />

[48] Romaniuk R.S.: Accelerator Science and Technology in Europe – Eu-<br />

CARD <strong>2012</strong>, Proc. SPIE 8454, art no. 845407 (<strong>2012</strong>).<br />

[49] Romaniuk R.S. Pozniak K.: Udział Politechniki Warszawskiej w programie<br />

CARE, <strong>Elektronika</strong>, vol. 46, nr 2–3, 2005, str 75.<br />

[50] Romaniuk R.S.: <strong>Instytut</strong> Systemów <strong>Elektronicznych</strong> w projektach<br />

CARE i EuCARD; Badania i zastosowania akceleratorów w Europie.<br />

<strong>Elektronika</strong>, vol 50, nr 8, 2009, str 157–162.<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 121


Stan aktualny i rozwój systemu INMARSAT<br />

dr hab. inż. Jerzy Czajkowski, prof. nadzw. Akademii Morskiej w Gdyni<br />

Satelitarny system INMARSAT jest nierozerwalnie związany ze<br />

Światowym Morskim Systemem Łączności Alarmowej i Bezpieczeństwa<br />

– GMDSS (Global Maritime Distress and Safety System)<br />

i od momentu jego powstania jego głównym zadaniem było<br />

polepszenie, tj. zwiększenie efektywności i niezawodności morskiej<br />

radiokomunikacji. W szczególności chodziło o podniesienie<br />

bezpieczeństwa i zapewnienie radiokomunikacji umożliwiającej<br />

szybkie i skuteczne alarmowanie. Dlatego też tworząc system<br />

GMDSS, jeden z obszarów morskich A3 [4] zdefiniowano jako<br />

akwen żeglugi w zasięgu satelitarnego systemu z wykorzystaniem<br />

satelitów geostacjonarnych nazwanego INMARSAT. System<br />

ten został w późniejszym czasie także wykorzystany w ruchomej<br />

służbie lądowej oraz aeronautycznej.<br />

Po ponad dwudziestu latach działania jako międzynarodowa<br />

organizacja, system INMARSAT w 2001 roku w wyniku prywatyzacji<br />

został przekształcony w organizację IMSO (International Mobile<br />

Satellite Organization) spełniając funkcje systemu GMDSS,<br />

jednak nazwa systemu jako całości pozostała niezmieniona.<br />

System INMARSAT składa się z trzech zasadniczych komponentów:<br />

– segmentu kosmicznego nadzorowanego przez INMARSAT,<br />

– naziemnych stacji lądowych LES (Land Earth Station), zwanych<br />

także CES (Coast Earth Stadion) nadzorowanych przez<br />

Administracje Morskie Państw będących sygnatariuszami IN-<br />

MARSAT-u,<br />

– oraz stacje statkowe SES (Ship Earth Station).<br />

Strukturę segmentu kosmicznego przedstawiono na rys. 1, gdzie<br />

na orbicie geostacjonarnej w odległości ok. 36000 km od równika<br />

usytuowane są satelity umożliwiające pokrycie radiokomunikacyjne<br />

czterech obszarów oceanicznych nazwanych: Obszar Wschodni<br />

Oceanu Atlantyckiego – (AOR-E – Atlantic Ocean Region East),<br />

Obszar Zachodni Oceanu Atlantyckiego – (AOR-W – Atlantic Ocean<br />

Region West), Obszar Oceanu Indyjskiego (IOR – Indian Ocean<br />

Region), Obszar Oceanu Spokojnego (POR – Pacific Ocean Region).<br />

Na rys. 2 przedstawiono obszary pokrycia radiowego, a na<br />

rys. 3 strukturę organizacyjną systemu INMARSAT.<br />

Rys. 1. Pokrycie Ziemi przez geostacjonarne satelity INMARSAT<br />

Rys. 2. Obszary pokrycia satelitów systemu INMARSAT<br />

Rys. 3. Struktura organizacyjna systemu INMARSAT (OCC – Operational Control Centre – Operacyjne Centrum Kontroli i Zarządzania, SCC<br />

– Satellite Control Centre – Centrum Zarządzania i Kontroli Satelitów, NCS – Network Coordination (Control) Station – Stacje Koordynacyjna/<br />

Zarządzająca, TT&C – Telemetry, Tracking Centre – Centrum Telemetrii i Śledzenia Satelitów, CES/LES – Coast/Land Earth Station – Nadbrzeżna/Lądowa<br />

Stacja Naziemna)<br />

122<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Jak wynika z rysunku 3, INMARSAT składa się z czterech niezależnych<br />

sieci telekomunikacyjnych w każdym z czterech obszarów<br />

oceanicznych. Każdy z nich zawiera geostacjonarnego satelitę<br />

operacyjnego, stacje statkowe SES, naziemne stacje lądowe<br />

LES oraz stację koordynacyjną NCS.<br />

Naziemne stacje lądowe LES zapewniają stacjom statkowym<br />

SES dostęp do naziemnych sieci telekomunikacyjnych oraz są<br />

odpowiedzialne za pracę kanału dostępu do wywołań.<br />

Stacje koordynacyjne NCS<br />

Stacja NCS odgrywa kluczową rolę w sieci i jest odpowiedzialna<br />

za koordynację i kontrolę dostępu do kanałów telekomunikacyjnych<br />

pomiędzy wszystkimi stacjami LES oraz SES w obrębie danej<br />

sieci zapewniając tym samym całkowitą łączność.<br />

Do głównych funkcji stacji NCS należą:<br />

− kontrola transmisji sygnałów we wszystkich rodzajach kanałów;<br />

− przetwarzanie połączeń: przydział częstotliwości dla kanałów<br />

SCPC (Single Channel Per Carrier) włączając w to transmisję<br />

i odbiór ramki oraz wyodrębnienie wiadomości sygnalizacyjnych;<br />

− sprawdzanie kanałów kontroli dostępu i sygnalizacji oraz żądania<br />

dostępu do kanału w niebezpieczeństwie.<br />

Swoje funkcje stacje NCS wykonują na podstawie kontraktu<br />

z konsorcjum INMARSAT. Spośród standardów INMARSAT: M,<br />

B, mini-M i Fleet obecnie wszystkie wykorzystują tę samą stację<br />

NCS w każdym z regionów oceanicznych. Centrum operacyjne<br />

OCC znajdujące się w siedzibie INMARSAT w Londynie prowadzi<br />

nadzór nad siecią każdego dnia 24 godziny na dobę. OCC<br />

utrzymuje kontakt poprzez dedykowane satelity oraz łącza naziemne<br />

ze stacjami NCS i MES (Mobile Earth Station) w każdym<br />

regionie oceanicznym.<br />

Stan aktualny systemu INMARSAT w przedziale<br />

czasowym od 1 października 2010 r. do<br />

listopada 2011 r.<br />

Segment kosmiczny<br />

Satelity operacyjne:<br />

− obszar wschodniej części Oceanu Atlantyckiego (AOR-E)<br />

– usytuowanie satelity na orbicie geostacjonarnej (a właściwie<br />

punktu podsatelitarnego satelity na równik) 15,5°W – satelita<br />

INMARSAT-3 – F2,<br />

− obszar zachodniej części Oceanu Atlantyckiego (AOR-W)<br />

– usytuowanie satelity na orbicie geostacjonarnej 53°W – satelita<br />

INMARSAT-3 – F4,<br />

− obszar Oceanu Indyjskiego – usytuowanie satelity na orbicie<br />

geostacjonarnej 64,5°E – satelita INMARSAT-3 – F1,<br />

− obszar Pacyfiku – usytuowanie satelity na orbicie geostacjonarnej<br />

178°E – satelita INMARSAT-3 – F3.<br />

Jako satelity zapasowe wykorzystywane są satelity stosowane<br />

dla obsługi usług innych niż serwisy dla systemu GMDSS<br />

i mogą być szybko uruchomione dla obsługi INMARSAT-u<br />

w przypadku awarii jednego z przedstawionych powyżej satelitów<br />

operacyjnych.<br />

Dostępność wszystkich rodzajów funkcji jakie INMARSAT oferuje<br />

dla systemu GMDSS, włącznie z alarmowaniem w niebezpieczeństwie,<br />

koordynacją działań poszukiwawczo-ratowniczych<br />

(SAR), transmisją informacji niezbędnych dla bezpieczeństwa<br />

żeglugi (MSI) oraz radiokomunikacji ogólnej w opisywanym przedziale<br />

czasowym przedstawiono w tab.1.<br />

Tab.1. Dostępność komunikacyjna w systemie INMARSAT<br />

Segment<br />

kosmiczny<br />

AOR-E IOR POR AOR-W<br />

100,0000% 99,9992% 99,8191% 100,0000%<br />

INMARSAT-B/F77 100,0000% 100,0000% 99,8301% 100,0000%<br />

INMARSAT-C 100,0000% 100,0000% 99,9172% 100,0000%<br />

Przedstawione liczby ilustrują efektywność i niezawodność<br />

wszystkich zasadniczych składowych dla systemu GMDSS<br />

i mogą być miarą dostępności dla połączeń w tym systemie<br />

łącznie z radiokomunikacją ogólną. Wyniki badań zamieszczonych<br />

w tabeli 1, wykazują iż dostępność do kanałów komunikacyjnych<br />

w istniejących standardach INMARSAT-u w badanym<br />

przedziale czasu jest bardzo dobra. Wyjątek stanowi obszar<br />

pokrycia satelitarnego INMARSAT-u w rejonie Pacyfiku, co wynikało<br />

z ograniczonej dostępności w ciągu jednego dnia w październiku<br />

2011 roku.<br />

Z tabeli 1 wynika, iż w odniesieniu do standardu INMARSAT-<br />

C, który jest obecnie uważany za podstawowy dla komunikacji<br />

i usług dla GMDSS, zarówno jeśli chodzi o możliwości alarmowania<br />

w niebezpieczeństwie, komunikacji koordynacyjnej dla<br />

działań służb SAR, rozpowszechnianie informacji niezbędnych<br />

dla bezpieczeństwa żeglugi (MSI) – nie zanotowano braku dostępności<br />

w żadnym z obszarów pokrycia satelitarnego AOR-E,<br />

AOR-W oraz IOR. Dotyczy to również standardu INMARSAT-B,<br />

INMARSAT-Fleet77, które również zapewniają realizację radiokomunikacji<br />

ogólnej.<br />

Stacje lądowe INMARSAT-u (Land Earth Station)<br />

realizujące komunikację GMDSS-u<br />

Na koniec 2011 roku, globalnie na wszystkich kontynentach usytuowane<br />

są naziemne lądowe stacje INMARSAT-u (LES), które<br />

obsługują poszczególne standardy terminali statkowych, i tak:<br />

− standard cyfrowy INMARSAT-u B oraz M – 76 stacji<br />

− standard cyfrowy INMARSAT-u Fleet77 – 66 stacji<br />

− standard INMARSAT-u C – 37 stacji.<br />

Stacje te umożliwiają dostęp międzynarodowym, lądowym<br />

sieciom telekomunikacyjnym do kanałów satelitarnych realizując<br />

komunikację niezbędną dla usług GMDSS-u, tj. telefoniczną, teleksową,<br />

e-mailową i transmisję danych.<br />

Przedstawiona liczba naziemnych lądowych stacji obsługi jest<br />

wystarczająca, aby zapewnić niezawodną pracę w każdym z istniejących<br />

standardów INMARSAT-u, obsługując segment kosmiczny<br />

i lądowy, zapewniając realizację łączności w niebezpieczeństwie,<br />

jak również rozgłaszanie informacji niezbędnych dla<br />

bezpieczeństwa żeglugi.<br />

Stacje statkowe (SES) INMARSAT-u<br />

Dane statystyczne uaktualnione na przełomie 2010 i 2011 roku<br />

wykazują, iż istnieje prawie 170000 ruchomych terminali spełniających<br />

wymagania systemu GMDSS, z czego więcej niż 139000<br />

terminali należało do standardów INMARSAT-C oraz mini-C.<br />

Wywołania dotyczące niebezpieczeństwa oraz<br />

pilności<br />

Wszystkie wywołania dotyczące alarmowania w niebezpieczeństwie<br />

oraz z priorytetem pilności, realizowane w przedziale od 1<br />

listopada 2010 r. do 31 października 2011 r., były zarejestrowane<br />

przez system i są wykazane w tabelach 2, 3 i 4.<br />

Tab. 2. Liczba wywołań alarmowych wykonanych w standardach INMAR-<br />

SAT-C oraz mini-C w relacjach statek-ląd<br />

AOR-E AOR-W IOR POR Total<br />

Nov 10 – Oct 11 411 216 309 196 1132<br />

Nov 09 – Oct 10 384 318 507 402 1117<br />

Tab. 3. Liczba wywołań z priorytetem – DISTRESS wykonanych w standardach<br />

INMARSAT-C oraz mini-C w relacjach ląd-statek<br />

AOR-E AOR-W IOR POR Total<br />

Nov 10 – Oct 11 205 87 587 868 1747<br />

Nov 09 – Oct 10 316 150 1074 1805 3345<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 123


Tab. 4. Liczba priorytetowych wywołań przeprowadzonych przez standard<br />

INMARSAT-F-77 w relacji statek-ląd<br />

Priorytet AOR-E AOR-W IOR POR<br />

Total<br />

(ubiegły<br />

rok)<br />

Bezpieczeństwo 44 26 55 37 162 (200)<br />

Pilność 158 103 193 105 559 (569)<br />

Alarm 105 31 78 22 236 (186)<br />

Podsumowując przedstawione wyniki można stwierdzić, że:<br />

− w odniesieniu do liczby wywołań alarmowych przeprowadzonych<br />

z wykorzystaniem standardu INMARSAT-C w obszarach<br />

AOR-E oraz AOR-W jest ona w zasadzie na tym samym poziomie<br />

jak w roku poprzednim, natomiast w obszarze POR widać<br />

znaczne zmniejszenie;<br />

− liczba wywołań priorytetowych w standardzie INMARSAT-<br />

Fleet77 znajduje się też na podobnym poziomie, jak notowane<br />

w latach poprzednich;<br />

− bardzo mała liczba wywołań alarmowych notowanych z wykorzystaniem<br />

INMARSAT-B we wszystkich obszarach pokrycia<br />

satelitarnego prawdopodobnie wynika z przekonania, iż<br />

system INMARSAT-B powoli kończy zapowiadaną przez<br />

INMARSAT działalność, która według danych systemu, ma dobiegać<br />

końca w grudniu 2014 r.<br />

Wiadomości transmitowane w serwisie SafetyNET<br />

Serwis Safety NET działający w ramach systemu Rozszerzonego<br />

Wywołania Grupowego – EGC (Enhanced Group Call) jest<br />

odpowiedzialny za transmisję Morskich Informacji niezbędnych<br />

do prowadzenia bezpiecznej żeglugi – MSI (Maritime Safety Information)<br />

– z wykorzystaniem standardu INMARSAT-C. Transmitowane<br />

w tym systemie informacje są przygotowywane przez<br />

autoryzowane źródła informacji, do których należą koordynatorzy<br />

obszarów NAVAREA oraz METAREA oraz niektóre Centra<br />

Koordynacji Ratownictwa. W 2008 r. IMO rozszerzyło liczbę<br />

16 takich obszarów – na które w momencie tworzenia systemu<br />

GMDSS podzielono obszary morskie świata – do 21, ustanawiając<br />

pięć nowych obszarów NAVAREA obejmujących obszary<br />

Morza Arktycznego.<br />

Większość komunikatów i informacji jest dostarczanych i firmowanych<br />

przez Międzynarodową Organizację Hydrograficzną<br />

– IHO (International Hydrographic Organization) oraz Światową<br />

Organizację Meteorologiczną – WMO (World Meteorological Organization).<br />

Liczba wiadomości transmitowanych przez serwis SafetyNET<br />

w obszarze światowym podlega fluktuacjom w zależności od sezonu,<br />

lecz średnio liczba informacji wydawanych w każdym miesiącu<br />

jest rzędu 28 do 30 tysięcy.<br />

Rozwój systemu INMARSAT<br />

Po umieszczeniu satelitów trzeciej generacji I-3, INMARSAT<br />

przy współpracy międzynarodowej rozpoczął międzynarodowy<br />

program budowy satelitów czwartej generacji. INMARSAT<br />

zakończył proces pozycjonowania swoich satelitów na orbicie<br />

GEO w celu optymalnej pracy całej sieci. Obecnie rozmieszczenie<br />

satelitów I-4 dostarcza szerokopasmowe usługi mobilne na<br />

Rys. 4. Podział obszaru Ziemi na „wiązki regionalne – wide beam”<br />

Rys. 5. Podział Obszaru Ziemi na „wiązki punktowe – spot beam”<br />

obszarze zamieszkałym przez 98% ludzkości (85% powierzchni<br />

kontynentalnej) oraz na większości powierzchni oceanicznej.<br />

Każdy satelita I-4 może generować 19 szerokich wiązek regionalnych<br />

(rys. 4) oraz ponad 254 wąskie wiązki punktowe (rys. 5).<br />

Wiązki te mogą być szeroko rekonfigurowane i mogą koncentrować<br />

się w dowolnym miejscu na Ziemi tak, aby zapewnić dodatkową<br />

przepustowość tam, gdzie jest to wymagane. Satelita I-4<br />

w porównaniu ze swoim poprzednikiem I-3 dysponuje 60-krotnie<br />

większą pojemnością dzięki antenom o wiązkach regionalnych<br />

i punktowych. Odbiorniki satelity są też 25-krotnie bardziej czułe,<br />

a efektywność widmowa satelity jest 12-krotnie większa.<br />

Literatura<br />

[1] Analysis and assessment of the GMDSS performance of Inmarsat<br />

Global Limited Sub-Committee on Radiocommunications and Search<br />

and Rescue, January <strong>2012</strong>, London.<br />

[2] Czajkowski J.: Standard cyfrowy INMARSAT-B kończący erę standardu<br />

B, Przegląd Telekomunikacyjny i Wiadomości Telekomunikacyjne,<br />

nr 12/2007.<br />

[3] Czajkowski J.: Inmarsat Fleet77 i F55, Przegląd Telekomunikacyjny<br />

i Wiadomości Telekomunikacyjne, nr 2–3/2009.<br />

[4] Czajkowski J., Korcz K.: Dziesięciolecie systemu GMDSS w świetle<br />

obrad Podkomitetu IMO-COMSAR, <strong>Elektronika</strong>, nr 5/2009.<br />

[5] Global Maritime Distress and Safety System – Admiralty List of Radio<br />

Signals, Vol. 5, 2010/11, U.K.<br />

[6] Inmarsat Maritime Handbook, London 2010, Issue 4.<br />

www.sigma-not.pl<br />

Największa baza artykułów technicznych online!<br />

124<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


SeeYou – przełom w świecie niewidomych<br />

Na świecie żyje 285 milionów osób, które mają problemy ze wzrokiem.<br />

Spośród nich 39 milionów to osoby niewidome. Statystyki<br />

wskazują, że większość niewidomych utraciła wzrok na pewnym<br />

etapie swego życia (choroba, wypadek). Upośledzenie tak ważnego<br />

zmysłu zdecydowanie obniża komfort bytowania, wydatnie<br />

ograniczając aktywność.<br />

Przy projekcie SeeYou pracowało wiele osób niewidomych<br />

i słabowidzących, dzięki czemu przygotowano rozwiązania dopasowane<br />

do ich realnych potrzeb. SeeYou Phone stał się prawdziwą<br />

rewolucją – tłumaczy Paweł Urbański, niewidomy alpinista, biorący<br />

udział w testach SeeYou Phone podczas wdrażania projektu.<br />

Rozwiązania oferowane w ramach całego przedsięwzięcia<br />

SeeYou obejmują:<br />

● SeeYou Phone – pierwszy na świecie smartfon w całości obsługiwany<br />

głosowo, przystosowany do potrzeb osób niewidomych<br />

i słabowidzących,<br />

● SeeYou Mobile – sieć komórkową uzupełnioną m.in. o usługę<br />

osobistego asystenta,<br />

● SeeYou Platform – system operacyjny, zastosowany w SeeYou<br />

Phone, umożliwiający przekształcenie określonych modeli<br />

telefonów z systemem Android w obsługiwane wyłącznie za<br />

pomocą głosu,<br />

● SeeYou Apps – wybrane aplikacje, wchodzące w skład<br />

SeeYou Platform, które pozwalają na udźwiękowienie konkretnych<br />

funkcji telefonu.<br />

Fundamentem SeeYou Phone jest system operacyjny Android<br />

stosowany w smartfonach Samsung Google Nexus. Zmiany<br />

wprowadzone w ramach projektu sprawiły, że wszystkie funkcje<br />

nowego smartfona, takie jak:<br />

● obsługa książki adresowej, SMS,<br />

● korzystanie z kalendarza i notatek głosowych,<br />

● obsługa Internetu, portali społecznościowych, poczty e-mail,<br />

● nawigacja piesza GPS,<br />

● lupa elektroniczna z systemem odczytu tekstu<br />

mogą być obsługiwane również za pomocą głosu. Proces ten odbywa<br />

się w chmurze za pośrednictwem rozwiązań internetowych,<br />

dzięki czemu nie obciąża systemu i pozwala na szybką analizę<br />

danych. Urządzenie współpracuje z zestawem słuchawkowym,<br />

dzięki czemu użytkownik może zachować prywatność „rozmawiając”<br />

z telefonem.<br />

Atrakcyjnym uzupełnieniem SeeYou Phone jest SeeYou<br />

Mobile, czyli wirtualny operator komórkowy, który umożliwia<br />

nie tylko wygodną komunikację – w pakiecie oferuje również<br />

wiele innych opcji, które ułatwią funkcjonowanie osobom słabowidzącym<br />

i niewidomym m.in.:<br />

● opiekę prywatnego asystenta, który może np. zarezerwować<br />

wizytę u lekarza, kupić bilety do kina, zamówić prezent, znaleźć<br />

i zarezerwować bilet na pociąg lub samolot.<br />

● ubezpieczenie telefonu i polisę OC<br />

● bezpłatne aktualizacje systemu<br />

● wsparcie techniczne.<br />

W ramach opłaty abonamentowej użytkownik otrzymuje pakiet<br />

minut wymiennych na SMS-y oraz pakiet transferu danych. Działa<br />

na terenie całego kraju, a dzięki roamingowi może działać również<br />

zagranicą.<br />

Nie tylko dla niewidomych<br />

Rozwiązania oferowane przez SeeYou mogą być przydatne także<br />

osobom widzącym. W wielu sytuacjach, np. podczas prowadzenia<br />

samochodu, kiedy trzeba wybrać numer telefonu lub napisać<br />

SMS. Wybrane aplikacje, tzw. SeeYou Apps, są dostępne do pobrania<br />

pojedynczo, udźwiękowiając tylko poszczególne funkcje<br />

telefonu z systemem operacyjnym Android.<br />

Spojrzenie w przyszłość SeeYou<br />

Firma Humann SA zamierza wprowadzić swoje rozwiązania także<br />

na inne rynki, w pierwszej kolejności w Hiszpanii i krajach<br />

skandynawskich, a docelowo również w USA. Kolejnym etapem<br />

rozwoju SeeYou ma być udostępnienie funkcji, które będą wykraczać<br />

daleko poza możliwości oferowane przez telefony komórkowe.<br />

Trwają prace nad rozwiązaniami, które dzięki zintegrowanej<br />

kamerze umożliwią identyfikację twarzy przechodniów na ulicy<br />

i poinformują np. o zbliżaniu się znajomej osoby. Będą też analizować<br />

drogę i ostrzegać przed przeszkodami, powiedział Marcin<br />

Łapa, założyciel SeeYou.<br />

Idea telefonu-przewodnika zrodziła się z potrzeby serca –<br />

mama Marcina Łapy, założyciela SeeYou, jest osobą słabowidzącą.<br />

Przez lata nie mogła wysyłać SMS-ów. Tak powstał pomysł<br />

stworzenia telefonu, a następnie sieci komórkowej, których celem<br />

jest ułatwianie życia osobom z dysfunkcjami wzroku.<br />

Misją Humann SA jest tworzenie innowacyjnych rozwiązań<br />

technicznych poprawiających jakość funkcjonowania szerokich<br />

grup społecznych we współczesnym świecie. W centrum uwagi<br />

firmy jest człowiek, jego potrzeby i oczekiwania. To z myślą o nim<br />

Humann SA tworzy nowe rozwiązania, poszerzające ludzkie możliwości,<br />

przełamujące bariery i pozwalające osiągać cele, które<br />

dotąd pozostawały poza zasięgiem. (cr)<br />

Microsoft Windows 8<br />

Microsoft poinformował, że system nowy system operacyjny do<br />

komputerów osobistych Windows 8 jest już dostępny dla klientów<br />

w Polsce i na całym świecie. Od piątku 26 października, odbiorcy<br />

z całego świata mogą przekonać się o tym co oferuje nowa wersja<br />

najpopularniejszego na świecie systemu operacyjnego Windows:<br />

nowy interfejs użytkownika oraz szeroką gamę aplikacji ze sklepu<br />

Windows Store. Obecnie na rynku jest ponad 1000 urządzeń certyfikowanych<br />

do działania w systemie Windows 8.<br />

System Windows 8 jest dostępny w ponad 140 krajach, został<br />

przetłumaczony na 37 wersji językowych. Wersję ewaluacyjną –<br />

trial (na 90 dni) można nieodpłatnie pobrać z internetu, ze strony:<br />

http://msdn.microsoft.com/pl-pl/evalcenter/jj554510.aspx<br />

Windows 8 będzie dostępny w tradycyjnych kanałach sprzedaży<br />

w dwóch wersjach: Windows 8 i Windows 8 Pro. Wersja biznesowa<br />

– Windows 8 Enterprise – oferuje nowe funkcje zwiększające produktywność,<br />

takie jak Windows To Go, DirectAccess i BranchCache,<br />

a także ulepszone, kompleksowe zabezpieczenia wyposażone<br />

w dodatkowe funkcje jak BitLocker czy AppLocker. W tym samym<br />

dniu swoją premierę miał także Windows RT, nowy członek rodziny<br />

Windows, stworzony z myślą o urządzeniach opartych na architekturze<br />

ARM.<br />

Windows 8 oferuje nowy, szybki i płynny Ekran Startowy zapewniający<br />

błyskawiczny dostęp do aplikacji i treści, na których najbardziej<br />

zależy użytkownikom. Wyposażony jest również w nową<br />

przeglądarkę Internet Explorer 10, zaprojektowaną do obsługi dotykowej,<br />

a także wbudowany moduł łączności z chmurą w postaci<br />

dostępu do aplikacji SkyDrive i innych usług Live.<br />

Wszyscy zainteresowani najnowszą wersją Windows mogą<br />

skorzystać z oferty nowych urządzeń lub zaktualizować swoje dotychczasowe<br />

komputery. Do końca stycznia użytkownicy komputerów<br />

z oryginalnym systemem Windows XP, Windows Vista lub<br />

Windows 7 mogą zaktualizować swój system do Windows 8 Pro<br />

w cenie detalicznej 249 zł. Ponadto użytkownicy komputerów zakupionych<br />

od 2 czerwca <strong>2012</strong> r. do 31 stycznia 2013 r. w ponad 140<br />

krajach mogą pobrać Windows 8 Pro w ramach specjalnej oferty,<br />

dostępnej, w cenie 69 zł, pod adresem http://windowsupgradeoffer.<br />

com/pl-PL/home/programinfo.<br />

Na zakończenie tej, z konieczności krótkiej, relacji z premiery<br />

Windows 8 wypada dodać, że firma Microsoft radykalnie zmieniła<br />

politykę w stosunku do dziennikarzy pism elektronicznych. Od czasu<br />

premiery Windows 95 (rok 1995), a następnie Windows 98, Millenium,<br />

2000 i XP (rok 2002) redakcje pism zajmujących się elektroniką<br />

były zapraszane na premiery nowych produktów, a tradycją stało<br />

się przekazywanie dziennikarzom płyt CD z wersjami instalacyjnymi<br />

nowych produktów. Na ich podstawie powstawały artykuły omawiające<br />

szczegółowo nowe produkty firmy. Nowa polityka firmy rozpoczęła<br />

się od premiery Windows Vista. Ten produkt jak i następny<br />

– Windows 7 były wprowadzane bez powiadomienia pism elektronicznych.<br />

Na premierze Windows 8 był obecny przedstawiciel redakcji,<br />

ale wersja instalacyjna produktu nie zostala udostępniona. (cr)<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 125


Doc. dr inż. Tomasz Postupolski<br />

(1931 – <strong>2012</strong>)<br />

Wybitny naukowiec, organizator, wizjoner.<br />

Pracował w dziedzinie magnetyków, ale<br />

widział naukę holistycznie.<br />

Pożegnaliśmy Go w piękny wrześniowy dzień. Na<br />

Uroczystość Pożegnalną przybyli licznie wszyscy,<br />

którzy zdołali. Byłby zażenowany tak dużą uwagą poświęconą<br />

Jego osobie – był skromny. A nie powinien<br />

– był wybitny. Tu, na łamach specjalistycznego pisma,<br />

z którym był przez długie lata związany jako członek<br />

Rady Programowej, chcemy przypomnieć Jego dokonania<br />

zawodowe, a także Jego drogę życiową.<br />

Tomasz Włodzimierz Postupolski urodził się 7 czerwca<br />

1931 r. w Warszawie w rodzinie Jana i Zofii z Petersów.<br />

Dzieciństwo spędził w Warszawie. Jego ojciec<br />

– Jan Postupolski był urzędnikiem w Ministerstwie Rolnictwa<br />

i Reform Rolnych i autorem m.in. opracowań<br />

dotyczących reformy rolnej w Polsce. Uczestniczył<br />

w Kampanii Wrześniowej i najprawdopodobniej zginął<br />

na Wschodzie. Reszta rodziny pozostała w Warszawie<br />

i tu, podczas okupacji, Tomasz Postupolski ukończył<br />

szkołę podstawową, biorąc również udział w tajnych<br />

kompletach. Był też członkiem podziemnej organizacji<br />

harcerzy młodszych „Zawiszacy ”.<br />

Po upadku Powstania Warszawskiego, wraz z matką<br />

i młodszym bratem został wysiedlony z Warszawy.<br />

Po kilkuletniej tułaczce rodzina osiadła w Gdańsku.<br />

W 1950 r. zdał maturę w znanym gdańskim liceum “Topolówka”<br />

i rozpoczął studia na Politechnice Gdańskiej<br />

na Wydziale Elektrycznym. Dyplom inżynierski uzyskał<br />

w 1953 r. na Wydziale Łączności Politechniki Gdańskiej,<br />

który rok wcześniej wydzielił się z Wydziału Elektrycznego.<br />

W tym też roku spotkał go bolesny cios, zmarła<br />

Jego matka.<br />

Studia magisterskie rozpoczął na Politechnice<br />

Wrocławskiej, skąd dość szybko przeniósł się do Warszawy.<br />

Dyplom magisterski uzyskał w 1956 r. na Wydziale<br />

Łączności Politechniki Warszawskiej. W tym samym<br />

roku ożenił się z Marią Nawrot (zmarła w 2009 r.);<br />

mieli dwóch synów, Andrzeja i Jacka.<br />

Tomasz Postupolski przez większość swego zawodowego<br />

życia związany był z Zakładem Materiałów<br />

Magnetycznych Polfer. Pracę zawodową rozpoczął<br />

w 1955 r., jeszcze jako student, w zaczątkach<br />

Polferu tworzonych na terenie Zakładów Radiowych<br />

im. M. Kasprzaka przez grupę młodych entuzjastów<br />

pod kierunkiem jednego z nas, poniżej podpisanych.<br />

Grupa ta przeniosła się następnie do Zakładów<br />

Ceramiki Radiowej, a od 1 kwietnia 1956 r. rozpoczęła<br />

oficjalnie działalność jako Zakład Materiałów<br />

Magnetycznych Polfer. W Polferze pracował aż do<br />

chwili zakończenia działalności Zakładu w Warszawie<br />

w 1999 r. (w chwili obecnej istnieje nadal Zakład<br />

Podzespołów Indukcyjnych Polfer w Woźnikach k.<br />

Łosic, poprzednio filia Zakładu w Warszawie). Karierę<br />

zawodową w Polferze zakończył na stanowisku<br />

Dyrektora do spraw Badawczo-Rozwojowych, które<br />

piastował od roku 1991.<br />

W trakcie swej pracy w Polferze uzyskał stopień<br />

doktorski na Wydziale Elektroniki Politechniki Warszawskiej<br />

(1968 rok), gdzie następnie był wykładowcą<br />

w latach 1970–1982. Odbył też blisko roczny staż<br />

w Centrum Badań Nuklearnych w Saclay pod Paryżem<br />

(1968-1969) w ramach stypendium ONZ. Po<br />

otrzymaniu przez Polfer prawa do zatrudniania pracowników<br />

naukowych, uzyskał tytuł docenta, przyznany<br />

Mu przez Państwową Komisję do spraw Stopni<br />

i Tytułów Naukowych w 1978 r. na podstawie oceny<br />

Jego dorobku naukowego.<br />

Jego praca naukowo-badawcza w Polferze koncentrowała<br />

się w kilku obszarach.<br />

– Po pierwsze były to badania stabilności czasowej<br />

oraz odporności na różnorodne narażenia ferrytów<br />

i wykonanych z nich podzespołów magnetycznych.<br />

– Drugą ważną grupą tematów było badanie procesów<br />

magnesowania w ferrytach magnetycznie miękkich,<br />

w powiązaniu z ich strukturą ziarnistą i wynikającą<br />

z niej strukturą domenową. Rezultaty były rozpatrywane<br />

w odniesieniu do składu chemicznego badanych<br />

rdzeni ferrytowych, ich warunków wytwarzania<br />

oraz właściwości użytkowych rdzeni.<br />

– Trzecią, bardzo istotną grupę tematów, stanowiło<br />

opracowywanie metod pomiarów właściwości ferrytów<br />

i ogólnie – magnetyków, a także związane z tym<br />

prace normalizacyjne zarówno o zasięgu krajowym,<br />

jak i międzynarodowym.<br />

126<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>


Począwszy od 1970 r. Tomasz Postupolski był aktywnie<br />

działającym ekspertem 51. Komitetu Technicznego<br />

„Magnetyczne podzespoły i materiały ferrytowe”<br />

Międzynarodowej Komisji Elektrotechnicznej (IEC)<br />

w grupach roboczych WG1 „Rdzenie ferrytowe i proszkowe”<br />

i WG9 „Podzespoły indukcyjne”. W ramach tej<br />

współpracy uczestniczył w opracowaniu wielu norm<br />

międzynarodowych dotyczących oceny własności materiałów<br />

magnetycznych i wykonanych z nich podzespołów.<br />

Był m. in. przewodniczącym grupy zadaniowej<br />

powołanej w celu przeprowadzenia rewizji przestarzałej<br />

normy IEC 367-1 „Rdzenie do cewek i transformatorów<br />

dla telekomunikacji. Metody pomiarowe” (obecnie<br />

grupa trzech norm IEC 62044-1,-2,-3).<br />

Zapoczątkował też prace nad grupą norm dotyczących<br />

oceny nieregularności powierzchniowych, objętościowych<br />

i kształtu rdzeni ferrytowych. W ramach<br />

tych prac przygotował projekt podstawowej normy<br />

związanej z tematyką nieregularności, dotyczącej definicji<br />

ogólnych (norma IEC 60401-1).<br />

W latach 1995–1998 kierował współpracą zespołu<br />

badawczego, złożonego z pracowników Polferu,<br />

z międzynarodowymi konsorcjami naukowymi, pod<br />

przewodnictwem Uniwersytetów w Trento i Cagliari<br />

(Włochy). Konsorcja te były zawiązane w celu<br />

wspólnego wykonywania grantów finansowanych<br />

przez Komisję Europejską. Tematyka grantów dotyczyła<br />

przygotowania zaawansowanych metod oceny<br />

niedoskonałości powierzchniowych i wymiarowych<br />

rdzeni ferrytowych.<br />

Po zakończeniu pracy w Polferze w 1999 r., Tomasz<br />

Postupolski rozpoczął aktywną współpracę<br />

z <strong>Instytut</strong>em Technologii Materiałów <strong>Elektronicznych</strong>.<br />

Dotyczyła ona głównie tworzenia narzędzi<br />

wspomagających wykorzystanie dorobku instytucji<br />

naukowych w dziedzinie zaawansowanych materiałów<br />

elektronicznych przez małe i średnie przedsiębiorstwa.<br />

Projekt ten był realizowany przez wiele<br />

lat. W jego ramach utworzono konsorcjum ADMA<br />

(ADvanced MAterials), skupiające wiele polskich instytutów<br />

naukowych, działających w dziedzinie zaawansowanych<br />

materiałów elektronicznych. W ramach<br />

projektu stworzono portal internetowy ADMA,<br />

będący zalążkiem narzędzia wspomagającego<br />

współpracę nauki z przemysłem.<br />

Tomasz Postupolski był autorem ponad 150 publikacji<br />

w czasopismach naukowych i technicznych,<br />

krajowych i zagranicznych. Przygotował też rozdział<br />

„Inductor” w książce „Fundamentals of Circuits and Filters”,<br />

wchodzącej w skład wielotomowego zbioru „The<br />

Circuits and Filters Handbook” pod redakcją prof. Wai<br />

Kai Chen, CRC Press/IEEE. Zbiór ten miał do chwili<br />

obecnej trzy wydania (ostatnie w 2009 r.); do każdego<br />

z wydań przygotowywał nową, uaktualnioną wersję.<br />

Był przewodniczącym lub współprzewodniczącym<br />

czterech międzynarodowych konferencji dotyczących<br />

materiałów i podzespołów magnetycznych. Na wielu<br />

konferencjach międzynarodowych związanych z tą tematyką<br />

wygłaszał referaty zaproszone.<br />

Tomasz Postupolski był członkiem wielu organizacji<br />

naukowych i technicznych, krajowych i zagranicznych<br />

takich, jak:<br />

− Stowarzyszenie Elektryków Polskich (od 1963 r.),<br />

− IEC, 51. Technical Committee (od 1970 r.),<br />

− Sekcja Technologii Elektronowej Komitetu Elektroniki<br />

i Telekomunikacji Polskiej Akademii Nauk (od<br />

1978 r.),<br />

− IEEE, Magnetic Society (od 1989 r.),<br />

− American Ceramic Society (od 1990 r.),<br />

− Polskie Towarzystwo Stereologiczne (od 1990 r.),<br />

− The New York Academy of Sciences (od 1993 r.).<br />

Był też laureatem wielu nagród, m.in.:<br />

− Nagrody Państwowej 1. stopnia, przyznanej 12-<br />

osobowemu zespołowi z Polferu za osiągnięcia<br />

techniczne (1980 r.),<br />

− pierwszej nagrody za najlepszy artykuł w polskich<br />

czasopismach elektrycznych, przyznanej przez Stowarzyszenie<br />

Elektryków Polskich (1990 r.),<br />

− nagrody IEC, honorującej wybitne osiągnięcia ekspertów<br />

(2006 r.).<br />

Otrzymał również jedno z najwyższych odznaczeń<br />

przyznawanych przez Stowarzyszenie Elektryków Polskich<br />

– medal im. Profesora Janusza Groszkowskiego<br />

(1993 r.).<br />

Tomasz Postupolski był bardzo zaangażowany<br />

w pracę zawodową, traktując ją nieomal jako hobby.<br />

Zasadami, manierami tkwił w międzywojniu, ale Jego<br />

wizje sięgały daleko w XXI wiek. Starał się realizować<br />

je w teraźniejszości. Pokonywał przeszkody, bo zdawał<br />

się ich nie zauważać. Tak udawało się Mu zdobywać<br />

poparcie dla ważnych projektów. W wielu gremiach<br />

w sposób naturalny stawał się osobą wiodącą. Był<br />

przy tym skromny, życzliwy ludziom, pełen ciepła i dobroci,<br />

otwarty na sprawy innych. Był też człowiekiem<br />

z natury pogodnym i obdarzonym poczuciem humoru.<br />

Był osobą wyjątkową, a mimo to roztaczał aurę... normalności.<br />

Współpraca z Nim była przyjemnością, a przyjacielska<br />

atmosfera, którą tworzył, sprzyjała rozwojowi.<br />

Jego entuzjazm udzielał się osobom z Nim współpracującym.<br />

Intensywna praca pod Jego kierownictwem<br />

nie nużyła, gdyż poczucie uczestnictwa w pracach<br />

istotnych, ciekawych i często odkrywczych sprawiało<br />

ogromną satysfakcję.<br />

Jego odejście jest wielką stratą dla polskiej nauki<br />

stosowanej i dla nas osobiście. Dwaj z nas stracili<br />

kochającego ojca, trzeci bliskiego przyjaciela i współpracownika,<br />

dwie pozostałe przyjaciela i przewodnika<br />

w całej karierze zawodowej. Będzie nam Go bardzo<br />

brakowało.<br />

Aleksander Bragiński, Alina Wiśniewska,<br />

Elżbieta Okoniewska-Pszczółkowska oraz<br />

Andrzej i Jacek Postupolscy<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 127


Zaprenumeruj wiedz fachow<br />

2013<br />

WWW.SIGMA-NOT.PL<br />

Nasze czasopisma według branż<br />

Ceny (brutto) podstawowej wersji prenumeraty rocznej na 2013 r. Prenumerata PLUS* – należy doliczyć 59,04 zł brutto (48 zł netto) do ceny podstawowej prenumeraty.<br />

*Prenumerata PLUS to prenumerata w wersji papierowej + roczny dostęp (poprzez Portal Informacji Technicznej) do publikacji z zaprenumerowanego tytułu.<br />

Cena brutto tej prenumeraty zawiera stawkę 5 lub 8 % VAT na czasopisma w wersji papierowej i 23 % VAT na dostęp do Portalu.<br />

Przemysł<br />

Spożywczy<br />

Budownictwo<br />

<strong>Elektronika</strong>,<br />

Energetyka,<br />

Elektrotechnika<br />

Hutnictwo,<br />

Górnictwo<br />

Czasopisma<br />

Ogólnotechniczne<br />

Czasopisma<br />

Wielobranżowe<br />

Chłodnictwo<br />

(miesięcznik)<br />

327,60 zł<br />

Gazeta Cukrownicza<br />

(dwumiesięcznik)<br />

214,20 zł<br />

Gospodarka Mięsna<br />

(miesięcznik)<br />

282,00 zł<br />

Przegląd<br />

Gastronomiczny<br />

(miesięcznik)<br />

226,80 zł<br />

Przegląd Piekarski<br />

i Cukierniczy<br />

(miesięcznik)<br />

204,00 zł<br />

Przegląd<br />

Zbożowo-Młynarski<br />

(miesięcznik)<br />

315,00 zł<br />

Przemysł Spożywczy<br />

(miesięcznik)<br />

289,80 zł<br />

Przemysł Fermentacyjny<br />

i Owocowo-Warzywny<br />

128<br />

(miesięcznik)<br />

289,80 zł<br />

Ciepłownictwo,<br />

Ogrzewnictwo, Wentylacja<br />

(miesięcznik)<br />

302,40 zł<br />

Gaz, Woda<br />

i Technika Sanitarna<br />

(miesięcznik)<br />

302,40 zł<br />

Materiały Budowlane<br />

(miesięcznik)<br />

264,60 zł<br />

Przegląd Geodezyjny<br />

(miesięcznik)<br />

289,80 zł<br />

Szkło i Ceramika<br />

(dwumiesięcznik)<br />

151,20 zł<br />

Wokół Płytek<br />

Ceramicznych<br />

(kwartalnik)<br />

79,80 zł<br />

<strong>Elektronika</strong> – Konstrukcje,<br />

Technologie, Zastosowania<br />

(miesięcznik)<br />

378,00 zł<br />

Przegląd Elektrotechniczny<br />

(miesięcznik)<br />

480,00 zł<br />

Przegląd Telekomunikacyjny<br />

+ Wiadomości Telekomunikacyjne<br />

(miesięcznik)<br />

315,00 zł<br />

Wiadomości<br />

Elektrotechniczne<br />

(miesięcznik)<br />

340,20 zł<br />

Przemysł<br />

Lekki<br />

Przegląd Włókienniczy<br />

– Włókno, Odzież, Skóra<br />

(miesięcznik)<br />

327,60 zł<br />

Hutnik<br />

+ Wiadomości Hutnicze<br />

(miesięcznik)<br />

340,20 zł<br />

Inżynieria Materiałowa<br />

(dwumiesięcznik)<br />

346,50 zł<br />

Rudy i Metale<br />

Nieżelazne<br />

(miesięcznik)<br />

340,20 zł<br />

Przemysł<br />

Pozostały<br />

Gospodarka Wodna<br />

(miesięcznik)<br />

340,20 zł<br />

Przegląd Papierniczy<br />

(miesięcznik)<br />

276,00<br />

Przemysł Chemiczny<br />

(miesięcznik)<br />

541,80 zł<br />

Atest<br />

– Ochrona Pracy<br />

(miesięcznik)<br />

264,60 zł<br />

Maszyny, Technologie,<br />

Materiały – Technika<br />

zagraniczna<br />

(dwumiesięcznik)<br />

94,50 zł<br />

Problemy Jakości<br />

(miesięcznik)<br />

327,60 zł<br />

Przegląd Techniczny<br />

(dwutygodnik)<br />

270,40 zł<br />

Zakład Kolportażu<br />

Wydawnictwa SIGMA-NOT<br />

ul. Ku Wiśle 7, 00-707 Warszawa, tel. (22) 840 35 89, 840 30 86, faks (22) 891 13 74<br />

e-mail: kolportaz@sigma-not.pl<br />

Aura<br />

– Ochrona Środowiska<br />

(miesięcznik)<br />

201,60 zł<br />

Dozór Techniczny<br />

(dwumiesięcznik)<br />

163,80 zł<br />

Ochrona Przed Korozją<br />

(miesięcznik)<br />

441,00 zł<br />

Opakowanie<br />

(miesięcznik)<br />

226,80 zł<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong><br />

NOWOŚĆ!<br />

Prenumerata PLUS<br />

z dostępem do<br />

e-publikacji


Wydział Elektroniki<br />

i Technik Informacyjnych<br />

Politechnika Warszawska<br />

FOTONIKA I TECHNOLOGIE<br />

TERAHERCOWE<br />

Wydziałowe Centrum Badawcze<br />

www.foteh.elka.pw.edu.pl<br />

W ramach realizowanego na Wydziale Elektroniki i Technik Informacyjnych<br />

Politechniki Warszawskiej projektu FOTEH powstaje kompleks trzynastu laboratoriów<br />

badawczych, wyposażonych w nowoczesną aparaturę pomiarową i technologiczną,<br />

przygotowanych do podejmowania przedsięwzięć badawczych<br />

z wiodącymi w świecie ośrodkami naukowymi oraz innowacyjnymi przedsię -<br />

bior stwami polskimi i europejskimi.<br />

Fotonika Instrumentalna i Fotonika Scalona Spektroskopia Laserowa Materiałów<br />

Fotonicznych Fotonika Obrazowa Badania Materiałowe w Zakresie GHz oraz THz<br />

Projektowanie i Prototypowanie Układów Przetwarzania Informacji w Strukturach<br />

Programowanych Robotyka Biometria i Uczenie Maszynowe Telekomunikacyjna<br />

Sieć Fotoniczna Analiza Danych Obrazowych i Wizualizacja Danych Wsparcie<br />

Informatyczne Badań w Obszarze Fotoniki Fotoniczne Systemy Pomiarowo-Kontrolne,<br />

Technika Terahercowa Laboratorium Antenowe<br />

IV<br />

<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!