Elektronika 2012-11.pdf - Instytut Systemów Elektronicznych ...
Elektronika 2012-11.pdf - Instytut Systemów Elektronicznych ...
Elektronika 2012-11.pdf - Instytut Systemów Elektronicznych ...
Transform your PDFs into Flipbooks and boost your revenue!
Leverage SEO-optimized Flipbooks, powerful backlinks, and multimedia content to professionally showcase your products and significantly increase your reach.
ok LIII nr 11/<strong>2012</strong><br />
• MATERIAŁY • KONSTRUKCJE • UKŁADY<br />
• SYSTEMY • MIKROELEKTRONIKA<br />
• OPTOELEKTRONIKA • FOTONIKA<br />
konstrukcje technologie zastosowania<br />
MIESIECZNIK NAUKOWO-TECHNICZNY<br />
• ELEKTRONIKA MIKROFALOWA<br />
• MECHATRONIKA<br />
• ENERGOELEKTRONIKA • INFORMATYKA<br />
ZESPÓŁ REDAKCYJNY<br />
prof. dr hab. inż. Jerzy Klamka – redaktor naczelny<br />
Bożena Lachowicz – sekretarz redakcji<br />
Stały współpracownik: mgr inż. Cezary Rudnicki<br />
Redaktorzy tematyczni: mgr inż. Wiesław Jabłoński,<br />
mgr inż. Krzysztof Kowalski<br />
Adres redakcji: ul. Chmielna 6 m.6, 00-020 Warszawa,<br />
tel./fax (22) 827 38 79; tel.: (22) 826 65 64,<br />
e-mail: elektronika@red.pl.pl, www.elektronika.orf.pl<br />
Zamówienia na reklamę przyjmuje redakcja lub Dział Reklamy<br />
i Marketingu, ul. Ratuszowa 11, 00-950 Warszawa, skr. 1004,<br />
tel./fax (22) 827 43 65, e-mail: reklama@sigma-not.pl<br />
Kolportaż: ul. Ku Wiśle 7, 00-716 Warszawa, tel. (22) 840 35 89;<br />
tel./fax: (22) 840 59 49, (22) 891 13 74<br />
RADA PROGRAMOWA<br />
prof. dr hab. inż. Władysław Torbicz (PAN) – przewodniczący<br />
prof. dr hab. inż. Leonard Bolc, dr hab. inż. Jerzy Czajkowski, prof.<br />
dr hab. inż. Andrzej Dziedzic, prof. Orla Feely, prof. dr hab. inż. Jerzy<br />
Frączek, dr hab inż. Krzysztof Górecki, dr inż. Józef Gromek, mgr inż.<br />
Jan Grzybowski, prof. dr hab. Ryszard Jachowicz, prof. dr hab. Włodzimierz<br />
Janke, prof. dr hab. Włodzimierz Kalita, inż. Stefan Kamiński,<br />
prof. dr hab. inż. Marian P. Kaźmierkowski, dr inż. Wojciech Kocańda,<br />
dr Elias B. Kpodzo, prof. dr hab. Bogdan Kosmowski, mgr inż. Zbigniew<br />
Lange, dr inż. Zygmunt Łuczyński, dr hab. inż. Wiesław Marszałek,<br />
prof. dr hab. inż. Józef Modelski, prof. dr hab. Tadeusz Morawski,<br />
prof. Spyridon G. Mouroutsos, prof. dr hab. Bohdan Mroziewicz, prof.<br />
dr hab. Andrzej Napieralski, prof. Yul Yunazwin Nazaruddion, prof. dr<br />
hab. Tadeusz Pałko, prof. dr hab. inż. Marian Pasko, prof. dr hab. Józef<br />
Piotrowski, prof. Roberto Rojas-Cessa, prof. dr hab. inż. Ryszard Romaniuk,<br />
dr hab. inż. Grzegorz Różański, prof. dr hab. inż. Edward Sędek,<br />
prof. dr hab. Ludwik Spiralski, prof. dr hab. inż. Zdzisław Trzaska,<br />
prof. dr hab. inż. Marian Wnuk, prof. dr hab. inż. Janusz Zarębski<br />
Ministerstwo Nauki i Szkolnictwa Wyższego,<br />
za opublikowane artykuły przyznaje 6 punktów.<br />
IEEE<br />
WYDAWNICTWO<br />
CZASOPISM I KSIĄŻEK<br />
TECHNICZNYCH<br />
SIGMA - NOT<br />
Spółka z o.o.<br />
00-950 Warszawa<br />
skrytka pocztowa 1004<br />
ul. Ratuszowa 11<br />
tel.: (0-22) 818 09 18, 818 98 32<br />
fax: (022) 619 21 87<br />
Internet<br />
http://www.sigma-not.pl<br />
Prenumerata<br />
e-mail: kolportaz@sigma-not.pl<br />
Informacje<br />
e-mail: informacja@sigma-not.pl<br />
Redakcja współpracuje<br />
z Polską Sekcją IEEE<br />
„<strong>Elektronika</strong>” jest notowana<br />
w międzynarodowej bazie IEE<br />
Inspec<br />
Publikowane artykuły naukowe były<br />
recenzowane przez samodzielnych<br />
pracowników nauki<br />
Redakcja nie ponosi odpowiedzialności<br />
za treść ogłoszeń. Zastrzega<br />
sobie prawo do skracania i adiustacji<br />
nadesłanych materiałów.<br />
Indeks 35722<br />
Nakład do 2000 egz.<br />
Skład i druk: Drukarnia SIGMA-NOT Sp. z o.o.<br />
Wersja papierowa ELEKTRONIKI jest wersją pierwotną.<br />
Spis treści ● Contents<br />
Mach-Zehnder non-zero chirp intensity modulator static characteristics<br />
parameters estimation based on intensity data<br />
(Estymacja parametrów charakterystyki statycznej modulatora<br />
amplitudowego Mach-Zehndera typu non-zero chirp na podstawie<br />
pomiarów mocy optycznej) – Lach Z. . . . . . . . . . . . . . . . . 12<br />
Simulation of magnetically controlled elements for optoelectronic<br />
systems on the basis of liquid crystals (Symulacja<br />
magnetycznie sterowanych elementów optoelektronicznych<br />
wykorzystujących ciekłe kryształy) – Hotra Z., Fechan A.,<br />
Sushynskyy O., Shymchyshyn O., Chaban O. . . . . . . . . . . . . 15<br />
Charakteryzacja światłowodowych siatek Bragga metodą<br />
reflektometrii optycznej w dziedzinie częstotliwości (Characterization<br />
of fiber Bragg gratings using optical frequency<br />
domain reflectometry (OFDR) – Osuch T., Jędrzejewski K.,<br />
Lewandowski L., Anders K., Gdula P., Piramidowicz R. . . . . . 17<br />
Światłowodowe skośne siatki Bragga (Tilted fiber Bragg gratings)<br />
– Jędrzejewski K., Osuch T., Lewandowski L., Jasiewicz W. . . . 21<br />
Sterowanie odpowiedzią czujników opartych na światłowodowych<br />
siatkach długookresowych (LPG) poprzez zastosowanie<br />
cienkich pokryć (Long-period Grating (LPG) sensor<br />
spectral response tuning by deposition of thin overlays) – Śmietana<br />
M., Bock W.J., Mikulic P. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23<br />
Analiza możliwości wykorzystania siatek długookresowych<br />
w strukturach gradientowych światłowodów planarnych<br />
(Analysis of Long Period Gratings usage possibility in planar<br />
gradient waveguides) – Kotyczka T., Rogoziński R. . . . . . . . . 25<br />
Światłowody mPOF do zastosowań telekomunikacyjnych<br />
(mPOF fibers for telecommunication applications) – Gdula P.,<br />
Welikow K., Buczyński R., Szczepański P., Piramidowicz R.: 29<br />
Badanie dyspersji chromatycznej serii włókien mikrostrukturalnych<br />
o silnie nieliniowych właściwościach do generacji<br />
typu supercontinuum (Investigation of dispersion characteristics<br />
of highly nonlinear microstructured fibre series for customized<br />
supercontinuum generation) – Hołdyński Z., Szymański<br />
M., Murawski M., Mergo P., Merta I., Gawrońska M., Marć P.,<br />
Jaroszewicz L.R., Nasiłowski T. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33<br />
Wykorzystanie światła rozproszonego do wyznaczania dwójłomności<br />
modowej światłowodów planarnych (The use<br />
of scattered light to the determination of modal birefringence<br />
of planar optical waveguides) – Gut K., Herzog T. . . . . . . . . . . 36<br />
Właściwości czujnikowe światłowodowych siatek Bragga<br />
na kilkumodowych wysoce dwójłomnych włóknach mikrostrukturalnych<br />
(Sensing properties of fiber Bragg gratings<br />
written in few‐mode highly birefringent microstructured<br />
fibers) – Tenderenda T., Murawski M., Szymański M., Becker<br />
M., Rothhardt M., Bartelt H., Mergo P., Poturaj K., Makara M.,<br />
Skorupski K., Marć P., Jaroszewicz L.R., Nasiłowski T. . . . . . . 38<br />
Projekt i wykonanie eksperymentalnej światłowodowej sieci<br />
odniesienia DWDM o przepływności 80 Gbit/s (The project<br />
and realization of the experimental DWDM optical fiber reference<br />
network with 80 Gbit/s bit rate) – Żegliński G., Gajda J. . . . 40<br />
Światłowodowy czujnik temperatury progowej na bazie wypełnionego<br />
włókna mikrostrukturalnego (Optical temperature<br />
switch based on filled microstructured optical fibre) – Marć<br />
P., Piliszek P., Nasiłowski T., Murawski M., Szymański M., Jaroszewicz<br />
L.R., Pawlik K. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44<br />
Światłowodowy demodulator fazy – model i wyniki eksperymentalne<br />
(Fibre optics phase demodulator – modeling and experimental<br />
results) – Hołdyński Z., Merta I., Jaroszewicz L.R.,<br />
Świłło R. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
Konstrukcja A-FORS-3 – autonomicznego światłowodowego<br />
sejsmometru rotacyjnego (The construction of A-FORS-3 –<br />
Autonomous-Fiber Optic Rotational Seismograph) – Krajewski<br />
Z., Jaroszewicz L.R., Kowalski H. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48<br />
System do pomiaru Apertury Numerycznej w światłowodach<br />
specjalnych (Numerical Aperture Measurement System for<br />
Specialty Optical Fibres) – Ostrowski Ł., Murawski M., Szymański<br />
M., Hołdyński Z., Tenderenda T., Mergo P., Marć P.,<br />
Jaroszewicz L.R., Nasiłowski T. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50<br />
Pomiar czułości włókien mikrostruturalnych przy wykorzystaniu<br />
interferometru Macha-Zehndera (Sensitivity measurement<br />
in microstructured fibers with use Mach-Zehnder interefometer)<br />
– Murawski M., Szymański M., Hołdyński Z., Tenderenda<br />
T., Ostrowski T., Pawlik K., Łukowski A., Krisch H., Marć<br />
P., Jaroszewicz L.R., Nasiłowski T. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52<br />
Właściwości modowe światłowodu mikrostrukturalnego<br />
z podwójnym płaszczem do zastosowań w nieliniowych<br />
układach diagnostycznych (Modal properties of double clad<br />
microstructured fiber for nonlinear diagnostic systems) – Stawska<br />
H., Bereś-Pawlik E. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55<br />
Wpływ dipu na właściwości propagacyjne solitonów jasnych<br />
w światłowodzie skokowym (Effect of dip on the propagation<br />
properties of bright solitons in step index optical fiber) –<br />
Kaczmarek T. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58<br />
Światłowody fotoniczne jako materiał na lasery światłowodowe<br />
ze zdefiniowanym stanem polaryzacji (Photonic crystal<br />
fibers as material for fiber lasers with defined state of polarization)<br />
– Bereś-Pawlik E., Sójka Ł., Pilszak M., Pajewski Ł.,<br />
Sujecki S., Poturaj K., Skorupski K., Klimek J. . . . . . . . . . . . . . 62<br />
Technologia wytwarzania i pomiary absorpcji szkieł chalkogenidkowych<br />
domieszkowanych jonami ziem rzadkich (Fabrication<br />
and absorption measurements chalcogenide glasses<br />
doped with rear earth) – Sójka Ł., Bereś-Pawlik E., Tang Z.,<br />
Furniss D., Seddon A.B., Benson T.M., Sujecki S. . . . . . . . . . . . 64<br />
TECHNIKA SENSOROWA: Światłowodowy czujnik siły bazujący<br />
na interferometrze Sagnaca z dwójłomnym światłowodem<br />
fotonicznym (Fiber optic force sensor based on the<br />
Sagnac interferometer with a birefringent photonic crystal fiber)<br />
– Kaczmarek C. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67<br />
TECHNIKA MIKROFALOWA I RADIOLOKACJA: Sprzętowy generator<br />
kluczy kryptograficznych dedykowany dla systemów<br />
pomiarowo-sterujących o asymetrycznych zasobach<br />
(Hardware cryptographic keys generator dedicated to measuring<br />
and control systems with asymmetric resourc) – Czernik P. . . . 70<br />
TECHNIKI INFORMATYCZNE: Techniki multimodalne zwiększające<br />
dostępność grafiki na stronach WWW i w elektronicznych<br />
dokumentach (Multimodal technologies for increasing<br />
the availability of graphics on Web pages and in the electronic<br />
documents) – Brzostek-Pawłowska J., Mikułowski D. . . 77<br />
Światłowodowy generator supercontinuum zakresu średniej<br />
podczerwieni – przykład technologii podwójnego<br />
zastosowania (Mid-infrared fiber supercontinuum generator<br />
– an example of double application technology) – Świderski J.,<br />
Michalska M., Pichola W., Mamajek M. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85<br />
System pomiarowy do dynamicznej spektroskopii widma<br />
emisyjnego plazmy TR-OES do diagnostyki plazmy wyładowania<br />
jarzeniowego w układzie magnetronowym zasilanym<br />
impulsowo (The Time-Resolved Optical Emission<br />
Spectroscopy (TR-OES) measurement system for diagnostics<br />
of pulsed magnetron sputtering plasma) – Wiatrowski A. . . . . 89<br />
Multimedialny bezprzewodowy system alarmowy (Multimedia<br />
Wireless Alarm System) – Bratek P., Majcherczyk D., Brzozowski<br />
I., Kos A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95<br />
Automatyczny pomiar pojemności złączowej półprzewodnikowego<br />
złącza p-n (Automatic measuring system for junction<br />
capacitance of semiconductor p-n junction) – Brzozowski I.,<br />
Wawszczak Sz., Bratek P., Kos A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97<br />
Barierowe struktury detekcyjne – nowe możliwości (Barrier<br />
structures – new possibilities) – Martyniuk P., Kowaleski A.,<br />
Gawron W., Rogalski A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 102<br />
Zastosowanie dedykowanych układów scalonych w systemach<br />
wyszukiwania punktu mocy maksymalnej (Application<br />
of dedicated integrated circuits in maximum power<br />
point tracking systems) – Grzesiak W., Piekarski J., Cież M.,<br />
Grzesiak P. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106<br />
Luminescencja izolatorów ceramicznych sieci energetycznych<br />
średnich napięć (Luminescence of ceramic insulators<br />
of middle voltage power networks) – Sobota R., Mandowski A.,<br />
Mandowska E. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109<br />
Dobór mikrokontrolera do sterowania inwerterem napięcia<br />
w systemach UPS (The choice of the microcontroller<br />
for the voltage source inverter control in UPS systems)<br />
– Rymarski Z. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111<br />
Technologia i Zastosowania Laserów <strong>2012</strong> (Laser Technology<br />
and Applications <strong>2012</strong>) – Gajda J., Romaniuk R.S. . . . . . . . . . 115<br />
Stan aktualny i rozwój systemu INMARSAT (Actual status and<br />
development of the INMARSAT system) – Czajkowski J. . . . 122<br />
Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />
LACH Z.: Estymacja parametrów charakterystyki statycznej modulatora<br />
amplitudowego Mach-Zehndera typu non-zero chirp na podstawie<br />
pomiarów mocy optycznej<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 12<br />
Zaproponowano parametryzację charakterystyki statycznej modulatora<br />
amplitudowego Mach-Zehndera typu non-zero chirp za pomocą pięciu<br />
parametrów wraz z metodą ich estymacji z próbek mocy optycznej. Praktyczną<br />
użyteczność parametryzacji i metody ich estymacji zweryfikowano<br />
w eksperymencie laboratoryjnym.<br />
Słowa kluczowe: modulator Mach-Zehdera, światłowód jednomodowy,<br />
monitorowanie dyspersji chromatycznej, estymacja parametru<br />
HOTRA Z., FECHAN A., SUSHYNSKYY O., SHYMCHYSHYN O., CHA-<br />
BAN O.: Symulacja magnetycznie sterowanych elementów optoelektronicznych<br />
wykorzystujących ciekłe kryształy<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 15<br />
W pracy opisano możliwość opracowania sterowanych magnetycznie<br />
elementów ciekłokrystalicznych do zastosowań w systemach optycznych.<br />
Przy pomocy oprogramowania GBMOLDD przeprowadzono symulację<br />
rozkładu pola direktora dla cienkiej warstwy ciekłego kryształu początkowej<br />
homeotropowej orientacji odpowiadającej rozkładowi w przekroju<br />
koncentrycznej struktury włókna. Przeprowadzono symulację (z wykorzystaniem<br />
oprogramowania ZEMAX) propagacji światła we włóknie i zmiany<br />
rozkładu modów w zależności od amplitudy pola magnetycznego.<br />
Słowa kluczowe: ciekłe kryształy, sterowane magnetycznie elementy systemów<br />
optoelektronicznych<br />
<br />
LACH Z.: Mach-Zehnder non-zero chirp intensity modulator static<br />
characteristics parameters estimation based on intensity data<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 12<br />
Five parameters that describe a static characteristics of a non-zero chirp<br />
Mach-Zehnder intensity modulator and a method for their estimation from<br />
intensity samples are proposed. The practical value of the parameters and<br />
of the method of their estimation is examined in laboratory experiments.<br />
Keywords: Mach-Zehnder modulator, single mode fibre, chromatic dispersion<br />
monitoring, parameter estimation<br />
HOTRA Z., FECHAN A., SUSHYNSKYY O., SHYMCHYSHYN O., CHA-<br />
BAN O.: Simulation of magnetically controlled elements for optoelectronic<br />
systems on the basis of liquid crystals<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 15<br />
In this work it is described the possibility of development of magnetically controlled<br />
elements for optical systems on the basis of liquid crystals (LC). There<br />
was carried out the simulation of distribution of director field for the case of<br />
thin liquid crystal layer with initial homeotropic orientation which corresponds<br />
to the distribution of cross-section of coaxial structure of the fiber by the means<br />
of GBMOLDD software. There was conducted simulation of the light<br />
propagation in the fiber and the change the mode composition with respect<br />
to the amplitude of magnetic field by the means of ZEMAX software.<br />
Keywords: liquid crystals, magnetically controlled elements, optoelectronic<br />
systems<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />
OSUCH T., JĘDRZEJEWSKI K., LEWANDOWSKI L., ANDERS K., GDU-<br />
LA P., PIRAMIDOWICZ R.: Charakteryzacja światłowodowych siatek<br />
Bragga metodą reflektometrii optycznej w dziedzinie częstotliwości<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 17<br />
Technika reflektometrii optycznej w dziedzinie częstotliwości (ang. Optical<br />
Frequency Domain Reflectometry) z uwagi wysoka rozdzielczość oraz<br />
dużą dynamikę jest jedną z podstawowych metod detekcji, stosowaną<br />
w rozproszonych systemach czujnikowych. Kolejną zaletą OFDR jest<br />
możliwość pomiaru i rozróżnialność odbić wstecznych od podzespołów<br />
światłowodowych pracujących na tej samej długości fali (np. światłowodowe<br />
siatki Bragga). W pracy przedstawiono wyniki badań rozpraszania<br />
wstecznego dla różnych typów światłowodowych siatek Bragga (tj. jednorodne,<br />
siatki na światłowodzie utrzymującym polaryzację, skośne i siatki<br />
z chirpem wykonane na przewężeniu światłowodowym). Wysoka rozdzielczość<br />
metody (10 µm) pozwoliła na uzyskanie rozkładu odbicia wstecznego<br />
w funkcji długości siatek. Ponadto wyznaczono i porównano charakterystyki<br />
spektralne odbiciowe badanych struktur braggowskich metodą<br />
reflektometrii optycznej w dziedzinie częstotliwości oraz konwencjonalną<br />
metoda pomiaru przy użyciu optycznego analizatora widma i źródła szerokopasmowego.<br />
Słowa kluczowe: światłowodowa siatka Bragga, reflektometria optyczna<br />
w dziedzinie częstotliwości, charakterystyka spektralna, odbicie wsteczne<br />
OSUCH T., JĘDRZEJEWSKI K., LEWANDOWSKI L., ANDERS K., GDU-<br />
LA P., PIRAMIDOWICZ R.: Characterization of fiber Bragg gratings<br />
using optical frequency domain reflectometry (OFDR)<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 17<br />
Optical frequency domain reflectometry technique (Optical Frequency Domain<br />
Reflectometry) due to the high resolution and high dynamic is one<br />
of the main methods of detection used in distributed sensing systems.<br />
Another advantage of OFDR is the possibility of measuring and distinguishing<br />
backscattered signals from optical components operating at the same<br />
wavelength (for example, fiber Bragg gratings). This paper presents the<br />
measurement results of backscattering from various types of fiber Bragg<br />
gratings (i.e. uniform, tilted, written in polarization maintaining fiber, as well<br />
as “chirped” – inscribed in fiber-optic taper). High resolution of this method<br />
(10 µm) made it possible to obtain a distribution of backscattered light<br />
along the fiber Bragg grating. Moreover, spectral (reflectance) characteristics<br />
of studied Bragg structures were measured (using OFDR technique<br />
and conventional method with broadband source and optical spectrum<br />
analyzer) and compared.<br />
Keywords: fiber Bragg grating, Optical Frequency Domain Reflectometry,<br />
spectral characteristic, backscatter<br />
JĘDRZEJEWSKI K., OSUCH T., LEWANDOWSKI L., JASIEWICZ W.:<br />
Światłowodowe skośne siatki Bragga<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 21<br />
Skośne siatki Bragga stanowią technologiczną modyfikację siatek tradycyjnych.<br />
Periodyczne zmiany współczynnika załamania w rdzeniu<br />
przebiegają w nich pod pewnym niezerowym kątem w stosunku do osi<br />
włókna. Odbite światło przechodzi częściowo do płaszcza w postaci modów<br />
płaszczowych i radiacyjnych. Takie siatki wykazują przez to inne,<br />
specyficzne własności spektralne. Ich pierwotne przeznaczenie związane<br />
było z zastosowaniem we wzmacniaczach erbowych dla spłaszczania ich<br />
charakterystyk spektralnych. Obecnie siatki takie stosuje się również m.in.<br />
w metrologii jako czujniki chemiczne (np. refraktometry), mechaniczne np.<br />
skręcenia, wygięcia i przesunięcia, ponadto wykazują własności polaryzacyjne.<br />
W artykule przedstawiono sposoby realizacji takich siatek oraz pokazano<br />
technologię ich wykonania w ISE PW. Zmierzono charakterystyki<br />
spektralne wykonanych siatek w funkcji kąta nachylenia prążków siatki<br />
względem osi włókna oraz współczynnika załamania otoczenia pokazując<br />
ich unikalne właściwości. Przedstawiono możliwości praktycznego wykorzystania<br />
siatek skośnych w zastosowaniach czujnikowych przy zmianach<br />
współczynnika załamania ośrodka otaczającego.<br />
Słowa kluczowe: skośna światłowodowa siatka Bragga, mody płaszczowe<br />
i radiacyjne, współczynnik załamania otoczenia<br />
JĘDRZEJEWSKI K., OSUCH T., LEWANDOWSKI L., JASIEWICZ W.:<br />
Tilted fiber Bragg gratings<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 21<br />
Tilted fiber Bragg gratings are technical modification of standard uniform<br />
Bragg structures. Periodic variation of refractive index in a fiber core is<br />
at a certain, non-zero angle to the optical fiber axis. Reflected light is<br />
coupled to the cladding as well as radiation modes. This kind of gratings<br />
have the other specific spectral properties. Their initial purpose was associated<br />
with the use as a spectral gain flattening element in erbium doped<br />
fiber amplifiers. Currently tilted Bragg gratings are also utilized in metrology<br />
as chemical) sensors and exhibit polarization properties. In this article,<br />
the technology of tilted fiber Bragg gratings fabrication used in ISE PW<br />
is shown. Spectral characteristics of fabricated gratings were measured<br />
as a function of tilt angle as well as surrounding refractive index showing<br />
their unique properties. The possibilities of practical use of tilted gratings<br />
in sensing applications where the surrounding refractive index changes<br />
are shown.<br />
Keywords: tilted fiber Bragg grating, cladding and radiation modes, surrounding<br />
refractive index<br />
ŚMIETANA M., BOCK W.J., MIKULIC P.: Sterowanie odpowiedzią<br />
czujników opartych na światłowodowych siatkach długookresowych<br />
(LPG) poprzez zastosowanie cienkich pokryć<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 23<br />
Przedstawiono wyniki badań nad zastosowaniem cienkich warstw pokryciowych<br />
do sterowania czułością światłowodowych siatek długookresowych<br />
(ang. Long-period Grating, LPG) na zmiany współczynnika<br />
załamania otoczenia. Do pokrycia struktur LPG wykorzystano metodę<br />
chemicznego osadzania z fazy gazowej wspomaganą plazmą wysokiej<br />
częstotliwości (ang. Radio Frequency Plasma Enhanced Chemical Vapor<br />
Deposition, RF PECVD), której użycie umożliwia uzyskania cienkich i jednorodnych<br />
pokryć na powierzchni światłowodu. Właściwości pokryć mogą<br />
być determinowane poprzez odpowiedni dobór parametrów procesu osadzania.<br />
Przedstawiono możliwości wykorzystania warstw diamentopodobnych<br />
(DLC) i azotku krzemu (SiN x<br />
) do sterowania odpowiedzią struktur na<br />
zmiany współczynnika załamania otoczenia, co umożliwia ich późniejsze<br />
zastosowania, choćby jako wysokoczułych biosensorów, czujników wilgotności,<br />
ciśnienia hydrostatycznego lub temperatury.<br />
Słowa kluczowe: światłowodowe siatki długookresowe (LPG), cienkie<br />
warstwy diamentopodobne (DLC) i azotku krzemu (SiN x<br />
), metoda RF<br />
PECVD, czujnik zmian współczynnika załamania<br />
ŚMIETANA M., BOCK W.J., MIKULIC P.: Long-period Grating (LPG)<br />
sensor spectral response tuning by deposition of thin overlays<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 23<br />
The work presents results on application of thin overlays for tuning sensitivity<br />
of Long-period Gratings (LPGs) to variations in external refractive<br />
index. For deposition of thin films there has been applied Radio Frequency<br />
Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (RF PECVD) method,<br />
which allows for obtaining thin and uniform overlays on the surface of the<br />
fiber. Properties of the films can be determined in wide range by selection<br />
of certain set of deposition process parameters. There has been shown<br />
application of diamond-like carbon (DLC) and silicon nitride (SiN x<br />
) thin<br />
films for spectral response tuning of the gratings to variations in external<br />
refractive index. The effect can be applied for developing highly sensitive<br />
biosensors, as well as humidity, hydrostatic pressure, and temperature<br />
sensors.<br />
Keywords: Long-period grating (LPG), thin diamond-like carbon (DLC)<br />
and silicon nitride (SiN x<br />
) films, RF PECVD method, refractive index sensing<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />
KOTYCZKA T., ROGOZIŃSKI R.: Analiza możliwości wykorzystania<br />
siatek długookresowych w strukturach gradientowych światłowodów<br />
planarnych<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 25<br />
W niniejszym artykule przedstawiono analizę możliwości wykorzystania<br />
siatek długookresowych w strukturach gradientowych światłowodów planarnych<br />
(LPWG – Long Period Waveguide Grating) jako filtrów widmowych<br />
w zakresie widzialnym. Zaprezentowano wpływ procesów technologicznych<br />
oraz parametrów siatek na otrzymywane w wyniku symulacji<br />
numerycznych charakterystyki rezonansowe oraz widma transmisyjne<br />
układów LPWG. Całość obliczeń wykonywana była z uwzględnieniem rzeczywistych<br />
właściwości materiałowych (szkło BK7 domieszkowane jonami<br />
potasu) w oparciu o konkretne procesy technologiczne.<br />
Słowa kluczowe: wymiana jonowa, siatki długookresowe, LPWG, gradientowe<br />
światłowody planarne, metoda macierzowa, teoria modów<br />
sprzężonych.<br />
GDULA P., WELIKOW K., BUCZYŃSKI R., SZCZEPAŃSKI P., PIRA-<br />
MIDOWICZ R.: Światłowody mPOF do zastosowań telekomunikacyjnych<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 29<br />
Niniejsza praca koncentruje się na wybranych zagadnieniach projektowania<br />
włókien mikrostrukturalnych POF (mPOF) o stosunkowo dużym<br />
rdzeniu, ograniczonej dyspersji modalnej oraz poprawionej odporności<br />
na straty zgięciowe, dyskutowanych w kontekście zastosowania w systemach<br />
FTTH.<br />
Słowa kluczowe: światłowody mikrostrukturalne, światłowody polimerowe,<br />
mPOF, straty zgięciowe, dyspersja modowa<br />
HOŁDYŃSKI Z., SZYMAŃSKI M., MURAWSKI M., MERGO P., MERTA I.,<br />
GAWROŃSKA M., MARĆ P., JAROSZEWICZ L.R., NASIŁOWSKI T.: Badanie<br />
dyspersji chromatycznej serii włókien mikrostrukturalnych o silnie<br />
nieliniowych właściwościach do generacji typu supercontinuum<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 33<br />
Zjawiska nieliniowe występujące we włóknach mikrostrukturalnych mają<br />
charakter kompleksowy. Aplikacyjne wykorzystanie zjawisk nieliniowych<br />
wiąże się z umiejętnością ich kontroli. Jednym z głównych zagadnień<br />
dotyczących nieliniowej optyki światłowodowej jest opracowanie optymalnych<br />
parametrów geometrycznych włókien do uzyskania poprawy efektu<br />
poszerzenia widma – supercontinuum. Bezpośredni związek własności<br />
dyspersyjnych i efektów nieliniowych otwiera możliwości pozwalające<br />
na opracowanie szeroko- spektralnych źródeł. Włókna mikrostrukturalne<br />
prezentowane w artykule utrzymują kompatybilność ze standardowymi<br />
włóknami komercjalnymi zarówno w przypadku łączenia jak spawania itd.<br />
Wykorzystanie zróżnicowanych nieliniowych właściwości włókien mikrostrukturalnych<br />
pozwala na rozwinięcie nowych możliwości aplikacyjnych.<br />
W artykule prezentujemy teoretyczne i eksperymentalne wyniki badań<br />
dyspersji chromatycznej w serii włókien mikrostrukturalnych o zróżnicowanych<br />
parametrach geometrycznych. Rezultaty badań pozwalają na<br />
opracowanie włókien o odpowiednich własnościach dyspersyjnych do<br />
uzyskania źródła typu supercontinuum. Stosowana interferometryczna<br />
metoda pomiaru dyspersji chromatycznej umożliwia charakteryzację krótkich<br />
odcinków badanych włókien z ekstremalną precyzją. Proces pomiaru<br />
wspomagany jest oprogramowaniem użytkowym do analizy rozkładów<br />
prążkowych. Prezentowany układ interferometryczny umożliwia porównanie<br />
uzyskanych wyników pomiaru z danymi uzyskanymi w procesie<br />
modelowania. Wysoki stopień korelacji między rezultatami modelowania<br />
i pomiaru pozwala na kontrolę poziomu dyspersji włókien w procesie produkcji.<br />
Dodatkowo, precyzyjny pomiar dyspersji chromatycznej (w szczególności<br />
w obszarze zerowego poziomu dyspersji) pozwala na znacznie<br />
efektywniejszą kontrolę zachodzących efektów nieliniowych, a tym samym<br />
na zwiększenie efektywności w procesie poszerzenia widma.<br />
Słowa kluczowe: dyspersja chromatyczne, mikrostrukturalne włókna,<br />
włókno fotoniczne, numeryczne modelowanie, interferometryczny pomiar<br />
KOTYCZKA T., ROGOZIŃSKI R.: Analysis of Long Period Gratings<br />
usage possibility in planar gradient waveguides<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 25<br />
In this analysis the possibility of long period gratings usage as visible range<br />
spectrum filters on planar gradient waveguides (LPWG) was presented.<br />
The influence of technological proceses as well as gratings parameters<br />
on received resonance profiles and spectrum characteristics was shown.<br />
These calculations was based on the real material properties (BK7 glass<br />
doped with potassium ions) as well as specific technological processes.<br />
Keywords: D ion Exchange metod, long period gratings, LPWG, gradient<br />
planar waveguides, matrix metod, coupled mode theory<br />
GDULA P., WELIKOW K., BUCZYŃSKI R., SZCZEPAŃSKI P., PIRAMI-<br />
DOWICZ R.: mPOF fibers for telecommunication applications<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 29<br />
This following works is focused on selected issues of designing microstructured<br />
polymer optical fibers (mPOFs) with relatively large modal area,<br />
limited modal dispersion and improved bending losses discussed in the<br />
context of telecommunication applications<br />
Keywords: microstructured fibres, plastic optical fibres POF, mPOF, bending<br />
losses, modal dispersion<br />
HOŁDYŃSKI Z., SZYMAŃSKI M., MURAWSKI M., MERGO P., MERTA I.,<br />
GAWROŃSKA M., MARĆ P., JAROSZEWICZ L.R., NASIŁOWSKI T.: Investigation<br />
of dispersion characteristics of highly nonlinear microstructured<br />
fibre series for customized supercontinuum generation<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 33<br />
Nonlinear effects in microstructured fibres have complex nature. Dispersion<br />
characteristics are the fundamental properties of microstructured fibres<br />
(MSFs) with respect to the nonlinear applications. The changes of<br />
fibre dispersion may strongly influence the whole chain of diverse nonlinear<br />
effects resulting in supercontinuum generation (SG). Transferring the<br />
experience from the topics related to tailoring different properties of MSFs<br />
to investigate the potential design freedom of dispersion opens novel possibilities<br />
of building the customized, all-fibre broadband and bright light<br />
sources. The silica nonlinear microstructured fibres, as presented in this<br />
paper, become compatible with standard fibre components and technologies<br />
(e.g. splicing, connectorization etc). Supercontinuum generated in<br />
a small-core MSF is a very interesting nonlinear phenomenon from application-oriented<br />
point of view. A development of tailored dispersion of highly<br />
non-linear silica MSF offers us the possibility of constructing a customized<br />
broadband light source. Therefore, in the paper we present a theoretical<br />
and experimental investigation of dispersion characteristics of several<br />
different MSFs. Our studies are leading to the development of adapted<br />
dispersion properties, allowing construction of customized supercontinuum<br />
sources. White light interferometry set-up, resulting in extremely high<br />
precision measurement of chromatic dispersion, is demonstrated, together<br />
with fully computer controlled fringe pattern analysis. Constructed set-up<br />
permitted comparison of chromatic dispersion measurements of microstructured<br />
fibres with modified fibre cross-section dimensions during the<br />
production process. High correlation between modelling and measured<br />
data gives possibility to control dispersion level in manufacturing process.<br />
Additionally, precisely designed and measured chromatic dispersion,<br />
especially around the zero dispersion wavelength, enables superior estimation<br />
of MSF nonlinear effects.<br />
Keywords: chromatic dispersion, microstructured fibre, photonic crystal<br />
fibre, numerical modelling, interferometric measurement<br />
<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />
GUT K., HERZOG T.: Wykorzystanie światła rozproszonego do wyznaczania<br />
dwójłomności modowej światłowodów planarnych<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 36<br />
W ostatnich latach intensywnie rozwijane czujniki światłowodowe. W grupie<br />
tych czujników szczególne miejsce zajmują czujniki interferometryczne.<br />
W interferometrach różnicowych wykorzystuje się zjawisko zmiany<br />
fazy pomiędzy prowadzonymi modami na skutek zmian parametrów optycznych<br />
toru światłowodowego. Przy konstrukcji tego typu sensorów podstawowym<br />
parametrem jest dwójłomność modowa światłowodu. W pracy<br />
przedstawiono metodę wyznaczania dwójłomności modowej światłowodu.<br />
Pomiar dwójłomności modowej światłowodów wymaga równoczesnego<br />
pobudzenia ortogonalnych modów TE i TM których stałe propagacji są<br />
zbliżone. Realizuje się to ustalając odpowiedni stan polaryzacji wiązki wejściowej<br />
i kąt wprowadzenia jej do pryzmatu sprzęgającego. Kamera CCD<br />
nad światłowodem (poprzez odpowiedni ustawiony polaryzator) rejestruje<br />
światło rozproszone. Analiza rozkładu natężenia światła pozwala na wyznaczenie<br />
dwójłomności modowej badanego światłowodu.<br />
Słowa kluczowe: Planarne czujniki światłowodowe, dwójłomność modowa,<br />
interferometr różnicowy<br />
TENDERENDA T., MURAWSKI M., SZYMAŃSKI M., BECKER M.,<br />
ROTHHARDT M., BARTELT H., MERGO P., POTURAJ K., MAKARA<br />
M., SKORUPSKI K., MARĆ P., JAROSZEWICZ L.R., NASIŁOWSKI T.:<br />
Właściwości czujnikowe światłowodowych siatek Bragga na kilkumodowych<br />
wysoce dwójłomnych włóknach mikrostrukturalnych<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 38<br />
Połączenie unikalnych właściwości włókien mikrostrukturalnych z czujnikowymi<br />
możliwościami światłowodowych siatek Bragga daje bardzo<br />
obiecujące i ciekawe perspektywy na aplikacyjne wykorzystanie tego typu<br />
struktur w metrologii. Dzięki odpowiedniemu zaprojektowaniu geometrii<br />
włókna mikrostrukturalnego możliwe jest uzyskanie czujnika o bardzo<br />
wysokiej czułości na naprężenia (w szczególności dla modów wyższych<br />
rzędów), przy jednoczesnej pomijalnie małej czułości na temperaturę,<br />
a zatem niewymagającego dodatkowych mechanizmów kompensacji temperatury.<br />
W tej pracy przedstawiamy wyniki teoretycznej charakteryzacji<br />
kilkumodowego dwójłomnego włókna mikrostrukturalnego dedykowanego<br />
do zapisu siatek Bragga. Prezentujemy również charakterystyki spektralne<br />
siatek Bragga zapisanych laserem femtosekundowym na tym włóknie<br />
oraz porównanie eksperymentalnie wyznaczonych wartości efektywnego<br />
współczynnika załamania dwóch pierwszych modów z wynikami symulacji<br />
numerycznej. We wnioskach przedstawiamy wstępne wyniki pomiaru czułości<br />
polarymetrycznej na naprężenia oraz możliwe zastosowania aplikacyjne<br />
opracowanej przez nas technologii i wykonanych struktur.<br />
Słowa kluczowe: czujniki światłowodowe, światłowodowe siatki Bragga<br />
(FBG), światłowody mikrostrukturalne, światłowody kilku-modowe, światłowody<br />
dwójłomne<br />
ŻEGLIŃSKI G., GAJDA J.: Projekt i wykonanie eksperymentalnej<br />
światłowodowej sieci odniesienia DWDM o przepływności 80 Gbit/s<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 40<br />
Prezentowana praca została zrealizowana w Laboratorium Technologii Teleinformatycznych<br />
i Fotoniki (LTTiF) na Wydziale Elektrycznym w Zachodniopomorskim<br />
Uniwersytecie Technologicznym. Projekt transportowej sieci<br />
odniesienia pracującej w paśmie telekomunikacyjnym C (1530…1565<br />
nm) został wykonany w oparciu o modelowanie numeryczne wykorzystujące<br />
układ nieliniowych równań Schroedingera rozwiązywanych techniką<br />
FDTD (Finite Difference Time Domain). Projekt zrealizowano w latach<br />
2009-2010 w oparciu o osprzęt Alcatel Lucent umożliwiający programowe<br />
przestrajanie kanałów transpondera na dowolną długość fali z pasma ITU-<br />
T C. W zrealizowanym projekcie użyto 8 przestrajalnych transponderów<br />
o przepływności 10Gbit/s. Każdy z transponderów jest dostrajany niezależnie.<br />
Do realizacji transmisji użyto światłowód SM 28e+ firmy Corning<br />
zgodny ze standardem ITU-T G.652D. Zrealizowano transmisję na odcinku<br />
140 km z wykorzystaniem wzmacniaczy optycznych EDFA, światłowodowych<br />
modułów kompensujących dyspersję chromatyczną oraz dwóch<br />
przestrajalnych optycznych multiplekserów TOADM (Tunable Optical Add/<br />
Drop Multiplexer). System może w chwili obecnej pracować dla długości<br />
linii do 340 km. W pracy prezentowane są wybrane wyniki modelowania<br />
numerycznego oraz wyniki pochodzące z punktów pomiarowych zestawionego<br />
układu. Stworzony system ma charakter badawczy i posiada<br />
połączenie z innymi stanowiskami badawczymi w LTTiF (np.: stanowisko<br />
do badań parametrów światłowodów mikrostrukturalnych) z możliwością<br />
podłączenia badanych elementów w dowolnych punktach pomiarowych<br />
systemu. Zbudowany system posiada możliwość rozbudowy i realizacji<br />
do 88 kanałów w pasmach C i L z możliwością uzyskania przepływności<br />
do 3,2 Tbit/s.<br />
Słowa kluczowe: sieć światłowodowa, zwielokrotnienie DWDM (Dense<br />
Wavelenght Divison Multiplexing), kompensacja dyspersji chromatycznej<br />
GUT K., HERZOG T.: The use of scattered light to the determination of<br />
modal birefringence of planar optical waveguides<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 36<br />
Summary: In recent years, optical waveguide sensors developed intensively.<br />
Among these sensors occupy a special place interferometric sensors.<br />
The interferometers are used to the phenomenon of differential phase shift<br />
between the ongoing mods due to changes in the optical parameters of<br />
waveguide. The design of this type of sensor is a fundamental parameter<br />
of the modal birefringence. The paper presents a method for determining<br />
the modal birefringence waveguide. Measurement of modal birefringence<br />
requires simultaneous excitation of orthogonal modes TE and TM propagation<br />
constants which are similar. This is done by setting the appropriate<br />
polarization state of the input beam and the angle of the prism is put into<br />
the coupling. CCD camera over waveguide (through a polarizer set) records<br />
the scattered light Analysis of the scattered light intensity distribution<br />
allows us to determine the modal birefringence of the waveguide.<br />
Keywords: Planar optical sensors, modal birefringence, differential interferometer<br />
TENDERENDA T., MURAWSKI M., SZYMAŃSKI M., BECKER M.,<br />
ROTHHARDT M., BARTELT H., MERGO P., POTURAJ K., MAKARA<br />
M., SKORUPSKI K., MARĆ P., JAROSZEWICZ L.R., NASIŁOWSKI T.:<br />
Sensing properties of fiber Bragg gratings written in few‐mode highly<br />
birefringent microstructured fibers<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 38<br />
The possibility of manufacturing highly birefringent (HB) microstructured<br />
optical fibers (MOF) made these fiber types very attractive for use in sensing<br />
applications. In contrary to traditional optical fibre sensors, properly<br />
designed MOF based components do not need temperature compensation<br />
as their birefringence remains insensitive to temperature changes. Furthermore<br />
the polarimetric strain sensitivity can significantly increase (even<br />
two orders of magnitude according to our previously reported results) for<br />
higher order modes, as their mode maxima get closer to the holey region<br />
of the fiber, hence are subjected to higher strain distribution. In this paper<br />
we present the results of numerical modeling of the propagation conditions<br />
in the HB dual-mode MOF. Furthermore we show and discuss the spectral<br />
characteristics of fiber Bragg grating (FBG) structures written in the dedicated<br />
fiber with a femtosecond UV laser. A comparison of the theoretical<br />
and experimental values of effective refractive index of the fundamental<br />
and second order modes is also included. We show the preliminary results<br />
of the fabricated structures strain response measurements and discuss<br />
ideas of increasing the structures strain sensitivity.<br />
Keywords: optical fiber sensors, fiber Bragg gratings (FBG), microstructured<br />
optical fiber (MOF), few-mode fiber, birefringent optical fiber<br />
ŻEGLIŃSKI G., GAJDA J.: The project and realization of the experimental<br />
DWDM optical fiber reference network with 80 Gbit/s bit rate<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 40<br />
The presented work was realized in Laboratory of Teleinformatic Technologies<br />
and Photonics (LTTIF), The Electric Department at West Pomeranian<br />
Univeristy of Technology Szczecin. The project of transport reference network<br />
working in the telecommunication band: C (1530-1565nm) became<br />
executed in the support about modelling numeric using the arrangement<br />
non-linear Schroedinger equation solved by FDTD technique (Finite Difference<br />
Time Domain). The project was realized in years 2009-2010 in<br />
the support Alcatel Lucent device platform enabling program retunes the<br />
transponders channels on the any wavelenght from the band ITU-T C. 8<br />
tunable transponders was used in the realized project with 10 Gbit/s bit<br />
rate. Every from each is tuned up independently. Optical Corning fibre SM<br />
28 e+ was used to the realization of the broadcast (the standard ITU-T<br />
G.652D). The broadcast was realized on the section 140 kilometers with<br />
EDFA optical amplifiers, optical modules for chromatic dispersion compensation<br />
and two tunable optical multiplexers TOADM (Tunable Optical<br />
Add/The bustard Multiplexer). The system can work the present moment<br />
for the length of the fiber line to 340 kilometers. In the work the chosen<br />
results of modelling are presented numeric results coming from the measuring<br />
points of the taken down arrangement. The created system has the<br />
investigative character and the connection possesses with different measurements<br />
points and setups in LTTIF with the possibility of connecting<br />
of studied elements in the any measuring points of the system. The built<br />
system possesses possibility of extension and realization to 88 channels<br />
in C and L bands with possibility of obtainment 3.2 Tbit/s bit rate.<br />
Keywords: optical fiber network, DWDM (Dense Wavelenght Divison Multiplexing),<br />
chromatic dispersion compensation.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />
MARĆ P., PILISZEK P., NASIŁOWSKI T., MURAWSKI M., SZYMAŃSKI<br />
M., JAROSZEWICZ L.R., PAWLIK K.: Światłowodowy czujnik temperatury<br />
progowej na bazie wypełnionego włókna mikrostrukturalnego<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 44<br />
W artykule przedstawiono technologię i wyniki eksperymentalne światłowodowego<br />
czujnika temperatury progowej zbudowanego na bazie wypełnionego<br />
substancją organiczną włókna mikrostrukturalnego. Do konstrukcji<br />
czujnika wybrano najprostszą konfigurację natężeniowego czujnika<br />
światłowodowego. Czujnik składa się ze źródła światła, patchcordu światłowodowego<br />
z wypełnionym włóknem mikrostrukturalnym oraz fotodetektora.<br />
Patchcord światłowodowy będący optodą tego czujnika to częściowo<br />
wypełniony odcinek włókna mikrostrukturalnego wspawany pomiędzy dwa<br />
odcinki standardowego włókna światłowodowego. Mieszanina wypełniająca<br />
został przygotowana tak, aby zmiany temperatury w czasie ogrzewania<br />
lub chłodzenia wypełnionej części włókna zmieniały jej współczynnika<br />
załamania dając w efekcie zerowe natężenie wiązki świetlnej poniżej<br />
temperatury progowej oraz dużą wartość tego natężenia powyżej tej temperatury.<br />
Efekt skokowej zmiany współczynnika załamania wypełniającej<br />
substancji organicznej osiągany jest w trakcie jej zmiany stanu skupienia<br />
ze stałej na ciekłą. Dzięki temu możliwe jest rozróżnienie stanu włączenia<br />
dla niskiego współczynnika załamania cieczy oraz stanu wyłączenia dla<br />
wysokiego współczynnika załamania substancji w stanie stałym.<br />
Słowa kluczowe: światłowód mikrostrukturalny, światłowód fotoniczny,<br />
technologia wypełniania światłowodów mikrostrukturalnych, przestrajalny<br />
tłumik optyczny, przełącznik optyczny<br />
HOŁDYŃSKI Z., MERTA I., JAROSZEWICZ L.R., ŚWIŁŁO R.: Światłowodowy<br />
demodulator fazy – model i wyniki eksperymentalne<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 46<br />
W pracy przedstawiono model i wyniki badań interferencyjnego światłowodowego<br />
demodulatora fazy w układzie interferometru Younga z dwuelementowym<br />
fotodetektorem w płaszczyźnie Fouriera. Oszacowano błąd<br />
metody pomiaru fazy i podano warunek jego minimalizacji w powiązaniu<br />
z parametrami geometrycznymi demodulatora pokazano związek odległości<br />
między fotodetektorami z liniowością światłowodowego demodulatora<br />
fazy. Wyniki eksperymentalne pozostają w wysokim stopniu korelacji<br />
z przyjętym modelem demodulatora fazy.<br />
Słowa kluczowe: interferometry, interferometryczna demodulacja, demodulator<br />
fazy, dwuelementowy fotodetektor<br />
KRAJEWSKI Z., JAROSZEWICZ L.R., KOWALSKI H.: Konstrukcja A-<br />
FORS-3 – autonomicznego światłowodowego sejsmometru rotacyjnego<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 48<br />
Przedstawiono zrealizowaną koncepcję czujnika światłowodowego A-FORS-<br />
3 (Autonomous-Fiber Optic Rotational Seismometer) przeznaczonego do<br />
detekcji efektów rotacyjnych występujących podczas zdarzeń sejsmicznych.<br />
Głównymi cechami charakteryzującymi układ A-FORS-3 jest jego bardzo<br />
wysoka czułości oraz możliwość zdalnej kontroli parametrów systemu<br />
detekcyjnego. Układ zbudowano na bazie światłowodowego interferometru<br />
Sagnaca, z zastosowaniem specyficznych rozwiązań optoelektronicznych<br />
mających na celu maksymalizację czułości, specyfikację pod konkretne<br />
zastosowanie oraz zapewnienie mobilności i niezależności. W prezentowanym<br />
czujniku wyróżniającymi się elementami są elektroniczny układ detekcji<br />
synchronicznej, w którym zastosowano nowoczesne 24-bitowe przetworniki<br />
ADC oraz system sterowania urządzeniem i zapisu danych oparty o sieć<br />
internetową. Zaprezentowano też procedurę i wyniki skalowania układu<br />
w oparciu o pomiar składowej prędkości obrotowej Ziemni.<br />
Słowa kluczowe: światłowodowy interferometr Sagnaca, czułość, fale rotacyjne<br />
OSTROWSKI Ł., MURAWSKI M., SZYMAŃSKI M., HOŁDYŃSKI Z.,<br />
TENDERENDA T., MERGO P., MARĆ P., JAROSZEWICZ L.R., NASIŁO-<br />
WSKI T.: System do pomiaru Apertury Numerycznej w światłowodach<br />
specjalnych<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 50<br />
Apertura numeryczna (NA) jest jedną z podstawowych właściwości włókien optycznych.<br />
Określa ona zdolność włókien do sprzęgania światła oraz łączenia ich<br />
z możliwie niskimi stratami. NA odgrywa kluczową role podczas charakteryzowania<br />
nowo produkowanych włókien. Wprowadzając podział na włókna światłowodowe<br />
w których światło uwięzione jest dzięki prowadzeniu materiałowemu<br />
oraz na takie w którym występuje prowadzenie geometryczne. W wypadku<br />
prowadzenia materiałowego nie obserwowany jest dyspersyjny charakter NA.<br />
Natomiast we włóknach mikrostrukturalnych (o prowadzeniu geometrycznym)<br />
apertura numeryczna wykazuje właściwości dyspersyjne. Aby móc badać NA<br />
w szerokim zakresie spektralnym oraz dla szerokiej gamy włókien światłowodowych<br />
zbudowany został przez nas układ do pomiaru NA w funkcji długości fali.<br />
Ponadto dzięki proponowanemu przez nas układowi oraz umiejętności wypełniania<br />
otworów we włóknach mikrostrukturalnych istnieje możliwość określenia<br />
współczynnika załamania n dla różnych materiałów.<br />
Słowa kluczowe: Apertura numeryczna, światłowody mikrostrukturalne,<br />
zastosowania czujnikowe<br />
<br />
MARĆ P., PILISZEK P., NASIŁOWSKI T., MURAWSKI M., SZYMAŃSKI<br />
M., JAROSZEWICZ L.R., PAWLIK K.: Optical temperature switch based<br />
on filled microstructured optical fibre<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 44<br />
Variable optical attenuators (VOAs) play an important role in optical communications<br />
as equalizers for dynamic channel power and wavelength<br />
division multiplexing in a transmission system. Controlling and monitoring<br />
of optical power are also necessary in sensing applications, and especially,<br />
in optical systems which require high power laser operation or critical<br />
temperature threshold monitoring. Various types of VOA have been developed<br />
based on different mechanisms, such as bending loss control,<br />
light leaking from the fibre cladding, temperature tuning of the polymer<br />
incorporated into the tapered microstructured fibre or electrical tuning of<br />
the liquid crystal layers.In this paper we would like to discuss the highly<br />
dynamic VOA based on a tuneable microstructured fibre filled with different<br />
chemical mixtures used as an on/off temperature switch. Furthermore,<br />
the technology of low loss coupling and splicing of the applied MSF with<br />
a standard single mode fibre has been developed. Therefore, in the proposed<br />
application an optical signal can be transmitted to and from the switch<br />
by a standard telecom fibre which considerably reduces transmission losses<br />
and allows for the use of standard off-the-shelf components reducing<br />
costs of the overall system.<br />
Keywords: microstructured optical fibre, photonic crystal fibre, microstructured<br />
fibres filling technology, variable optical attenuator, optical switch<br />
HOŁDYŃSKI Z., MERTA I., JAROSZEWICZ L.R., ŚWIŁŁO R.: Fibre optics<br />
phase demodulator – modeling and experimental results<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 46<br />
In work we present fibre optics phase demodulator modeling and experimental<br />
results based on Young interferometric configuration with bicell<br />
photodetector in Fourier focal plane. We experimentally estimated measurements’<br />
method errors and explained minimum condition of errors because<br />
of their directly connection with demodulator geometric parameters. We<br />
explained influence of gap size between photodetectors on linearization<br />
condition of phase demodulator. Experimental results are in high correlation<br />
with described model of phase demodulator.<br />
Key words: interferometers, interferometric demodulation, phase demodulator,<br />
bicell photodetector<br />
KRAJEWSKI Z., JAROSZEWICZ L.R., KOWALSKI H.: The construction<br />
of A-FORS-3 – Autonomous-Fiber Optic Rotational Seismograph<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 48<br />
In the paper the concept of fiber-optic sensor A-FORS-3 (Autonomous-<br />
Fiber Optic Rotational Seismograph) application for detection of rotation<br />
effects occur during seismic events is presented. The main feature of the<br />
A-FORS-3 is its very high sensitivity and ability to be remotely-controlled.<br />
The device is based on fiber-optic Sagnac interferometer, involving specific<br />
optoelectronic solutions leading to maximum sensitivity, custom-designed<br />
for concrete applications and providing mobility and independence.<br />
Electronic synchronous detection system, based on modern 24-bits ADC<br />
converters, wireless control and collection of data system are the main advantages<br />
of the sensor. Finally, the process of calibration and its outcome,<br />
based on measuring Earth speed rotation, is presented.<br />
Keywords: fibre-optic Sagnac interferometer, sensitivity, rotational waves<br />
OSTROWSKI Ł., MURAWSKI M., SZYMAŃSKI M., HOŁDYŃSKI Z.,<br />
TENDERENDA T., MERGO P., MARĆ P., JAROSZEWICZ L.R., NASI-<br />
ŁOWSKI T.: Numerical Aperture Measurement System for Specialty<br />
Optical Fibres<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 50<br />
Numerical Aperture (NA) is one of the fundamental properties of optical<br />
fibres. It determines the ability of efficient light coupling into the fibre and<br />
low loss splicing with other fibres. NA is essential when novel fibres are<br />
manufactured. Moreover, dispersive behaviour of geometrical guiding mechanisms,<br />
existing in microstructured fibres, is completely different comparing<br />
with material guiding mechanisms of classical fibres. Therefore we<br />
constructed measurement system, for characterization the dispersive properties<br />
of NA of specialty fibres in broad wavelength range. Additionally,<br />
presented setup can be applied for measurements in broad wavelength<br />
range of refractive index of different materials (including highly absorbing)<br />
filling the holes of microstructured fibre.<br />
Keywords: Numerical Aperture, microstructured fibres, fibre sensing<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />
MURAWSKI M., SZYMAŃSKI M., HOŁDYŃSKI Z., TENDERENDA T.,<br />
OSTROWSKI T., PAWLIK K., ŁUKOWSKI A., KRISCH H., MARĆ P., JA-<br />
ROSZEWICZ L.R., NASIŁOWSKI T.: Pomiar czułości włókien mikrostruturalnych<br />
przy wykorzystaniu interferometru Macha-Zehndera<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 52<br />
Właściwości włókien mikrostrukutralnych takie jak: jednomodowe prowadzenie<br />
światła w szerokim zakresie spektralnym (od ultrafioletu do podczerwieni),<br />
bardzo wysoka dwójłomność, bardzo duże lub bardzo małe<br />
pole modu są przedmiotem badań wielu zespołów naukowych na świecie.<br />
Właściwości te wynikają przede wszystkim z rozmiaru, kształtu oraz<br />
lokalizacji otworów powietrznych w strukturze włókna mikrostrukturalnego.<br />
Zmiana tych parametrów pozwala na zastosowania takich włókien do<br />
różnych aplikacji. Sprawia to rosnące zainteresowanie włóknami mikrostrukturalnymi<br />
które widoczne jest w powstających czujnikach opartych<br />
na ich bazie – m. in. Czujniki interferometryczne do detekcji rozmaitych<br />
parametrów fizycznych. Jednym z takich czujników jest światłowodowy<br />
interferometr Macha-Zehndera wykorzystujący jako gałąź czujnikową<br />
włókno mikrostrukturalne. Interferometr ten jest jednym z układów który<br />
nie został opisany w fachowej literaturze. Czujnik zbudowany w oparciu<br />
o taki interferometr może być użyty do pomiarów wibracji, dynamicznego<br />
lub statycznego nacisku, rozciągania lub skręcania.<br />
W pracy tej przedstawione zostało porównanie czułości temperaturowej<br />
oraz mechanicznej włókien mikrostrukturalnych ze standardowymi włóknami<br />
jednomodowymi. Do tego celu wykorzystaliśmy interferometr Macha-<br />
Zehndera z wymiennym ramieniem czujnikowym. Zastosowanie takiego<br />
rozwiązania pozwoliło na zbadanie wielu światłowodów w jednym układzie<br />
pomiarowym. Czułość temperaturowa jest najistotniejszym czynnikiem<br />
przy projektowaniu czujników. Włókna mikrostrukturalne zbudowane są<br />
z czystego szkła krzemiankowego z heksagonalną macierzą otworów powietrznych<br />
co powoduje brak naprężeń termicznych pomiędzy płaszczem<br />
a rdzeniem jak w przypadku włókien z domieszkowanym rdzeniem.<br />
Słowa kluczowe: PCF, MOF, interferometr Mach-Zehnder, światłowody,<br />
czułość włókien światłowodowych<br />
STAWSKA H., BEREŚ-PAWLIK E.: Właściwości modowe światłowodu<br />
mikrostrukturalnego z podwójnym płaszczem do zastosowań w nieliniowych<br />
układach diagnostycznych<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 55<br />
Dwufotonowy mikroskop fluorescencyjny TPM (Two-photon Fluorescence<br />
Microscope) jest przykładem nowoczesnego, nieliniowego układu diagnostycznego,<br />
umożliwiającego nieinwazyjne badanie komórek i tkanek.<br />
W celu wzbudzenia cząsteczki w dwufotonowej mikroskopii fluoroscencyjnej,<br />
używa sie laserów femtosekundowych w bliskiej podczerwieni- near<br />
infrared (NIR). Obecnie badania koncentrują sie na rozwoju układów diagnostycznych<br />
o niewielkich wymiarach, które umożliwią diagnostykę in vivo,<br />
przy jednoczesnym zachowaniu zdolności obrazowania, podobnej do standardowych<br />
mikroskopów dwufotonowych. Właściwe zaprojektowanie światłowodu,<br />
umożliwiającego jednoczesne przesyłanie ultraszybkiego sygnału<br />
oraz odbieranie sygnału fluoroscencyjnego z badanej tkanki, stanowi więc<br />
kluczowy punkt w rozwoju nieliniowych układów diagnostycznych.<br />
W pracy przedstawiono konstrukcję światłowodu mikrostrukturalnego<br />
z podwójnym płaszczem, zbudowanego z pierścieni wykonanych z prętów<br />
ze szkła kwarcowego domieszkowanego germanem. Światłowód o takiej<br />
konstrukcji charakteryzuje się niewielką dyspersją przy długości fali równej<br />
800nm, co zapewnia, że femtosekundowy impuls propagowany w tym<br />
światłowodzie nie ulega rozmyciu. W pracy przede wszystkim skoncentrowano<br />
się na przebadaniu właściwości modowych proponowanego światłowodu.<br />
Zoptymalizowano jego konstrukcję, aby uzyskać maksymalnie dużą<br />
różnicę w tłumieniu miedzy modem podstawowym a modami wyższych<br />
rzędów, co przy założeniu, że światłowód ma około 2 m długości zapewnia<br />
jednomodowy tryb pracy na długości fali 800 nm.<br />
Słowa kluczowe: fluorescencja dwufotonowa, światłowód mikrostrukturalny<br />
z podwójnym płaszczem<br />
KACZMAREK T.: Wpływ dipu na właściwości propagacyjne solitonów<br />
jasnych w światłowodzie skokowym<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 58<br />
W artykule przedstawiono wyniki modelowania numerycznego właściwości<br />
propagacyjnych solitonów jasnych w światłowodzie pierścieniowym pierwszego<br />
rodzaju SP1. Pierwszy rdzeń SP1 odpowiada dipowi występującemu<br />
w rdzeniu światłowodu skokowego. Drugi rdzeń SP1 odpowiada rdzeniowi<br />
w światłowodzie skokowym. Okazuje się, że zarówno głębokość dipu jak<br />
i jego szerokość mają wpływ na właściwości propagacyjne solitonu podstawowego<br />
generowanego i propagowanego w badanym światłowodzie.<br />
Szczególnie czuła na zmiany głębokości i szerokości dipu jest charakterystyka<br />
dyspersyjna modu podstawowego, która w optymalnym przypadku<br />
posiada dwa miejsca zerowe w zakresie od 1 do 2 μm oraz ekstremum<br />
lokalne w okolicach trzeciego okna transmisyjnego. Zwiększanie szerokości<br />
dipu powoduje szybszą degradację zoptymalizowanych właściwości<br />
propagacyjnych solitonu podstawowego niż zwiększanie jego głębokości.<br />
Słowa kluczowe: soliton, światłowód skokowy, światłowód pierścieniowy<br />
pierwszego rodzaju, dyspersja<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong><br />
MURAWSKI M., SZYMAŃSKI M., HOŁDYŃSKI Z., TENDERENDA T.,<br />
OSTROWSKI T., PAWLIK K., ŁUKOWSKI A., KRISCH H., MARĆ P., JA-<br />
ROSZEWICZ L.R., NASIŁOWSKI T.: Sensitivity measurement in microstructured<br />
fibers with use Mach-Zehnder interefometer<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 52<br />
Microstructured fibres (MSFs) reveal unique properties including endlessly<br />
single-mode operation from ultraviolet to infrared wavelengths, very high<br />
birefringence or nonlinearity, very large or very small effective mode field<br />
area, and many others. The size, shape and the location of the air holes<br />
allow for tailoring MSF parameters in a very wide range, way beyond the<br />
classical fibres, what opens up the possibilities for various applications.<br />
Due to their advantages MSFs obtain growing attention for their perspectives<br />
in sensing applications. Different MSF sensors have already been<br />
investigated, including interferometric transducers for diverse physical<br />
parameters. Until now, there have not been any publications reporting on<br />
the sensing applications of MSF Mach-Zehnder interferometers, targeting<br />
the mechanical measurements of vibrations, dynamic or static pressure,<br />
strain, bending and lateral force.<br />
Moreover, a critical feature opening the prospective of optical fibre transducer<br />
to successfully accomplish a particular sensing task remains its<br />
cross-sensitivity to temperature. Studied MSF is made of pure silica glass<br />
in the entire cross-section with a hexagonal structure of the holes. Consequently,<br />
there is no thermal stress induced by the difference in thermal<br />
expansion coefficients between the doped core region and the pure silica<br />
glass cladding, in contrast to standard fibres.<br />
Keywords: PCF, MOF, Mach-Zehnder interferometer, fibers, fiber sensitivity<br />
STAWSKA H., BEREŚ-PAWLIK E.: Modal properties of double clad<br />
microstructured fiber for nonlinear diagnostic systems<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 55<br />
Two-photon Fluorescence Microscope (TPM) is an example of a modern,<br />
nonlinear diagnostic system, which allows for non-invasive examination<br />
of cells and tissues. To exitate molecules in TPM, femtosecond lasers are<br />
used in the near infrared. Current research focuses on the development<br />
of diagnostic systems of small dimensions, which allow diagnosis in vivo,<br />
while maintaining the capability of imaging, similar to standard two-photon<br />
microscopes. Proper design of the fiber, which allows simultaneous transmission<br />
of ultrafast signals and reception of fluorescence response from<br />
the test tissue is therefore a key point in the development of nonlinear<br />
diagnostics.<br />
This paper presents the design of double clad microstructure fiber, which<br />
consist of hexagonal inner clad made up of rings built of rods of germanium-doped<br />
silica glass. Such a fiber has a low dispersion at a wavelength<br />
of 800nm, which ensures that the femtosecond pulse propagated in the<br />
optical fiber is not broadened. The study primarily focused on examining<br />
the modal properties of the proposed fiber. Its design has been optimized<br />
in order to obtain a maximum difference between attenuation of fundamental<br />
mode and higher order modes which, assuming that the fiber has<br />
a length of about 2 m, ensure single-mode operation at a wavelength of<br />
800nm.<br />
Keywords: two-photon fluorescence, double clad microstructure fiber<br />
KACZMAREK T.: Effect of dip on the propagation properties of bright<br />
solitons in step index optical fiber<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 58<br />
This paper presents the results of numerical modeling of propagation properties<br />
of bright solitons in M-profile optical fiber. The first core of M-profile<br />
optical fiber corresponds to the dip occurring in the core of step index<br />
fiber. The second core of M-profile optical fiber corresponds to the core<br />
of step index optical fiber. It appears that both depth and width of the dip<br />
affect the propagation characteristics of the fundamental soliton generated<br />
and propagated inside the tested fiber. Particularly sensitive to changes of<br />
depth and width of the dip is dispersion characteristic of the fundamental<br />
mode, which in the optimal case has two zeros in the range from 1 to 2<br />
μm and a local extremum in the vicinity of the third transmission window.<br />
Increasing the width of the dip causes faster degradation of optimized propagation<br />
characteristics of fundamental soliton than increasing its depth.<br />
Keywords: soliton, step index optical fiber, M-profile optical fiber,<br />
dispersion
Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />
BEREŚ-PAWLIK E., SÓJKA Ł., PILSZAK M., PAJEWSKI Ł., SUJECKI<br />
S., POTURAJ K., SKORUPSKI K., KLIMEK J.: Światłowody fotoniczne<br />
jako materiał na lasery światłowodowe ze zdefiniowanym stanem<br />
polaryzacji<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 62<br />
W ostatnich latach szczególnie interesujące wydają się być konstrukcje laserów<br />
z wykorzystaniem włókien fotonicznych, utrzymujących polaryzację.<br />
Stan polaryzacji generowanego światła lasera jest istotnym parametrem<br />
dla większości zastosowań. W pracy opisano światłowody mikrostrukturalne,<br />
dwójłomne, domieszkowane jonami ziem rzadkich. Przedstawiono<br />
podstawowe wyniki pomiarów absorpcji, emisji oraz modelowania numerycznego<br />
w celu określenia wymaganej długości włókna aktywnego do<br />
zastosowania w układach laserujących.<br />
W pracy przedstawiono również zagadnienia związane z uzyskaniem sygnałów<br />
jedno i wielofalowych w laserach światłowodowych. Zaprezentowano<br />
także możliwość przestrajania tych sygnałów w laserach światłowodowych<br />
pracy ciągłej.<br />
Słowa kluczowe: lasery oparte na światłowodach fotonicznych, stan polaryzacji<br />
sygnału<br />
SÓJKA Ł., BEREŚ-PAWLIK E., TANG Z., FURNISS D., SEDDON A.B.,<br />
BENSON T.M., SUJECKI S.: Technologia wytwarzania i pomiary absorpcji<br />
szkieł chalkogenidkowych domieszkowanych jonami ziem rzadkich<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 64<br />
Szkła chalkogenidkowe charakteryzują się niską energią fononów dlatego<br />
też są obiecującym materiałem dla realizacji światłowodów na zakres<br />
średniej podczerwieni. W pracy przedstawiono technologię wykonania<br />
szkieł chalkogenidkowych (Ge 16.5<br />
As 16<br />
Ga 3<br />
Se 64.5<br />
) domieszkowanych jonami<br />
ziem rzadkich (Dy 3+ , Tb 3+ , Pr 3+ ). Wyniki eksperymentalne absorpcji otrzymano<br />
za pomocą spektroskopii furierowskiej w zakresie podczewieni (ang.<br />
FTIR). Podstawowe parametry domieszkowanych szkieł chalkogenidkowych<br />
takie jak: promieniste czasy życia poziomów energetycznych oraz<br />
współczynniki rozgałęzienia luminescencji beta obliczono metodą Judda-<br />
Ofelta. Na podstawie otrzymanych wyników omówiono wpływ linii bazowej<br />
na błędy metody pomiarowej. Na podstawie otrzymanych wyników zaprezentowano<br />
zastosowanie szkieł chalkogenidkowych do realizacji laserów<br />
światłowodowych na zakres średniej podczerwieni.<br />
Słowa kluczowe: szkła chalkogenidkowe, lasery światłowodowe, średnia<br />
podczerwień<br />
KACZMAREK C.: Światłowodowy czujnik siły bazujący na interferometrze<br />
Sagnaca z dwójłomnym światłowodem fotonicznym<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 67<br />
W artykule przedstawiono światłowodowy czujnik siły, w którym zastosowano<br />
krótki odcinek dwójłomnego światłowodu fotonicznego (PM-PCF)<br />
jako przetwornik ugięcia elementu sprężystego, umieszczony w pętli<br />
interferometru Sagnaca. Element sprężysty czujnika stanowi belka stalowa<br />
o jednakowej wytrzymałości, jednostronnie utwierdzona. Odcinek<br />
światłowodu PM-PCF zamocowano jednym końcem do belki w pobliżu jej<br />
swobodnego końca, a drugim końcem do mocowania belki. Z pomiarów<br />
wynika, że przesunięcie widma wiązki wyjściowej czujnika, wywołane siłą<br />
działającą na swobodny koniec belki, następuje z czułością 33 pm/N w zakresie<br />
0-50 N. Czułość ta odniesiona do 1 m odcinka PM-PCF wynosi 94<br />
pm/N·m. Ze względu na bardzo małą czułość temperaturową tego czujnika<br />
nie wymaga on kompensacji temperaturowej.<br />
Słowa kluczowe: czujnik światłowodowy, czujnik siły, interferometr Sagnaca,<br />
dwójłomny światłowód fotoniczny (PM-PCF)<br />
BEREŚ-PAWLIK E., SÓJKA Ł., PILSZAK M., PAJEWSKI Ł., SUJECKI<br />
S., POTURAJ K., SKORUPSKI K., KLIMEK J.: Photonic crystal fibers<br />
as material for fiber lasers with defined state of polarization<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 62<br />
In recent years especially interesting seem to be constructions of lasers<br />
using polarization maintaining photonic crystal fibers. State of polarization<br />
of the generated laser light is an important parameters for the majority<br />
of applications. In the paper were described microstructure birefringence<br />
doped with rare earths ions. Basic measurements results of absorption,<br />
emission and numerical modeling were presented in order to determine<br />
required length of active fiber for laser set-up applications. In the paper<br />
issues connected with obtaining single- and multiwavelength signals in<br />
fiber lasers were presented. Also tuning possibilities of these laser signals<br />
in fiber lasers were presented.<br />
Keywords: lasers base on photonic crystal fibers, polarization state of<br />
signal<br />
SÓJKA Ł., BEREŚ-PAWLIK E., TANG Z., FURNISS D., SEDDON A.B.,<br />
BENSON T.M., SUJECKI S.: Fabrication and absorption measurements<br />
chalcogenide glasses doped with rear earth<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 64<br />
One of the promising materials for the construction of mid-infrared fiber<br />
lasers is the chalcogenide glass. The chalcogenide glass has low phonon<br />
energy (below 400 cm -1 ) when compared with standard materials used to<br />
produce fiber lasers, i.e. ZBLAN and silica glass.We present a comprehensive<br />
study of chalcogenide glass fiber lasers doped with Dy 3+ , Pr 3+ or Tb 3+<br />
that operate in the mid-infrared wavelength range. A set of chalcogenide<br />
glass samples doped with different concentrations of rare earth ions was<br />
fabricated. The modeling parameters are directly extracted from FTIR absorption<br />
measurements performed on the fabricated bulk glass samples<br />
using Judd-Ofelt theory. Results show that, for all the dopants considered,<br />
an efficient mid-infrared laser action is possible if optical losses are kept at<br />
the level of 1dB/m or below.<br />
Keywords: chalcogenide glasses, fiber laser, mid infrared<br />
KACZMAREK C.: Fiber optic force sensor based on the Sagnac interferometer<br />
with a birefringent photonic crystal fiber<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 67<br />
A fiber optic force sensor is presented, in which a short segment of a polarization<br />
maintaining – photonic crystal fiber (PM-PCF) was used as a transducer<br />
of the deflection of an elastic element, and was placed in the loop of<br />
the Sagnac interferometer. The elastic element of the sensor is constituted<br />
by a steal cantilever beam of constant strength. A section of a PM-PCF<br />
was fixed by one end to the beam near its free end and by the second end<br />
to the anchorage of the beam. From the measurements it follows, that the<br />
shift of the spectrum of the sensor output, caused by the force acting on<br />
the free end of the beam occurs with a sensitivity of 33 pm/N over a range<br />
of 0-50N. This sensitivity corresponding to a 1 m long section of PM-PCF is<br />
94 pm/N. Due to the very low temperature sensitivity of the sensor it does<br />
not require any temperature compensation.<br />
Keywords: fiber optic sensor, force sensor, Sagnac interferometer, birefringent<br />
photonic crystal fiber (PM-PCF)<br />
CZERNIK P.: Sprzętowy generator kluczy kryptograficznych dedykowany<br />
dla systemów pomiarowo-sterujących o asymetrycznych<br />
zasobach<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 70<br />
W artykule przedstawiono układ generatora wartości losowych, bazujący<br />
na teorii nieliniowych układów dynamicznych do zastosowań w kryptograficznie<br />
bezpiecznych rozproszonych systemach pomiarowo-sterujących<br />
o asymetrycznych zasobach. Celem realizacji tego układu jest opracowanie<br />
wysokiej jakości generatora kluczy kryptograficznych. Prezentowany<br />
generator został zaprojektowany, oprogramowany oraz przebadany pod<br />
względem bezpieczeństwa kryptograficznego. Rzeczywiste bezpieczeństwo<br />
kryptograficzne zostało przetestowane na bazie autorskiego oprogramowania<br />
oraz środowiska RDieHarder [1]. Uzyskane najistotniejsze<br />
wyniki badań zostały przedstawione oraz przeanalizowane. Zaprezentowano<br />
także oprogramowany autorski proces akwizycji danych losowych<br />
z układu pomiarowego do komputera, poprzez specjalizowany oscyloskop<br />
cyfrowy.<br />
Słowa kluczowe: kryptografia, rozproszone systemy pomiarowo-sterujące,<br />
generatory liczb losowych, teoria chaosu, sygnały chaotyczne<br />
CZERNIK P.: Hardware cryptographic keys generator dedicated to<br />
measuring and control systems with asymmetric resource<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 70<br />
In this article was presented the random number generator, based on the<br />
theory of nonlinear dynamical systems for applications in cryptographically<br />
secure distributed systems of measurement and control systems with<br />
asymmetric resources. The purpose to build this device is implement the<br />
high-quality cryptographic keys generator. The presented generator was<br />
designed, programmed and thoroughly tested in terms of cryptographic<br />
security. The cryptographic security was tested based on the author’s<br />
software and the software environment called RDieHarder [1]. The most<br />
important results was presented and analyzed. There was presented the<br />
random data acquisition process from the measurement system to a computer,<br />
realized via the specialized digital oscilloscope.<br />
Keywords: cryptography, distributed measurement and control systems,<br />
random number generators, chaotic theory, chaotic signals<br />
<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />
BRZOSTEK-PAWŁOWSKA J., MIKUŁOWSKI D.: Techniki multimodalne<br />
zwiększające dostępność grafiki na stronach WWW i w elektronicznych<br />
dokumentach<br />
<strong>Elektronika</strong> nr 11/<strong>2012</strong>, s. 77<br />
Wraz z upowszechnieniem się urządzeń mobilnych coraz większe znaczenie<br />
zyskuje problem dostępności grafiki na stronach WWW i w dokumentach<br />
elektronicznych. Obejmuje on nie tylko użytkowników nie mogących<br />
posługiwać się myszą takich jak osoby niewidome, ale również większość<br />
użytkowników urządzeń o niewielkich ekranach takich jak smartfony.<br />
Badania podjęte w celu rozwiązania tego problemu koncentrują się z jednej<br />
strony na tworzeniu dedykowanych urządzeń, które byłyby dostępne<br />
dla niewidomego użytkownika, a z drugiej strony na przystosowaniu<br />
powszechnie używanych rozwiązań do użytku przez takie osoby. Artykuł<br />
przedstawia przede wszystkim problematykę zwiększania dostępności<br />
grafiki i możliwości interaktywnego poznawania jej szczegółów przez<br />
niewidomego użytkownika lub użytkownika zminiaturyzowanego sprzętu<br />
mobilnego.<br />
Słowa kluczowe: dostępność grafiki, haptyczne urządzenia, przeglądarki<br />
tekstowe, DAISY XML, SVG, EPUB<br />
ŚWIDERSKI J., MICHALSKA M., PICHOLA W., MAMAJEK M.: Światłowodowy<br />
generator supercontinuum zakresu średniej podczerwieni<br />
– przykład technologii podwójnego zastosowania<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 85<br />
W artykule omówiono ideę generacji promieniowania superciągłego (SC)<br />
w zakresie średniej podczerwieni oraz przedstawiono szeroki wachlarz<br />
potencjalnych zastosowań takiego promieniowania. Zaprezentowano<br />
również praktyczną realizację generatora SC na zakres średniej podczerwieni,<br />
w którym to generację promieniowania SC uzyskano w układzie:<br />
krzemionkowy światłowód jednomodowy (SMF-28) – jednomodowy światłowód<br />
fluorkowy, pompowanym impulsami promieniowania o długości fali<br />
1550 nm. Opracowany układ generował 0.85 W średniej mocy wyjściowej<br />
w paśmie widmowym ~0,9…3,2 µm, z czego 106 mW odpowiadało falom<br />
dłuższym niż 2,4 µm.<br />
Słowa kluczowe: promieniowanie superciągłe, wzmacniacz światłowodowy,<br />
generacja impulsowa<br />
WIATROWSKI A.: System pomiarowy do dynamicznej spektroskopii<br />
widma emisyjnego plazmy TR-OES do diagnostyki plazmy wyładowania<br />
jarzeniowego w układzie magnetronowym zasilanym impulsowo<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 89<br />
Artykuł podejmuje tematykę budowy systemu pomiarowego do dynamicznej<br />
spektroskopii optycznego widma emisyjnego plazmy (ang. Time-Resolved<br />
Optical Emission Spectroscopy – TR-OES). Przedstawione rozwiązanie<br />
projektowano pod kątem zastosowania tego układu do diagnostyki<br />
plazmy wyładowania jarzeniowego wytwarzanego przez magnetronowy<br />
układ rozpylający zasilany impulsowo. W artykule omówiono zasadę działania,<br />
nakreślono podstawy konstrukcji oraz przedstawiono przykładowe<br />
wyniki zarejestrowane przy użyciu zaproponowanego rozwiązania.<br />
Słowa kluczowe: spektroskopia widma emisyjnego plazmy, diagnostyka<br />
plazmy, impulsowe rozpylanie magnetronowe<br />
BRATEK P., MAJCHERCZYK D., BRZOZOWSKI I., KOS A.: Multimedialny<br />
bezprzewodowy system alarmowy<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 95<br />
Artykuł przedstawia multimedialny bezprzewodowy system alarmowy<br />
przesyłający wiadomości graficzne MMS z wykorzystaniem modemu<br />
GSM/GPRS. Przedstawiono środowisko sprzętowo-programowe niezbędne<br />
do tworzenia wiadomości MMS.<br />
Słowa kluczowe: GSM, GPRS, MMS, komendy AT, system alarmowy<br />
BRZOSTEK-PAWŁOWSKA J., MIKUŁOWSKI D.: Multimodal technologies<br />
for increasing the availability of graphics on Web pages and in<br />
the electronic documents<br />
<strong>Elektronika</strong> no 11/<strong>2012</strong>, p. 77<br />
Since use of mobile applications become general practice the problem of<br />
graphics availability in the Internet and electronic documents gained greater<br />
importance. It concerns not only users who aren’t able to use of the<br />
mouse such us the blind but also another one who are using of small-screen<br />
devices such as smartphones. The researches according to this area<br />
conducted on the one hand in developing of devices that are especially<br />
dedicated, and on the other, in adaptation of commonly used solutions for<br />
the use by a blind people.<br />
In this article, the newest researches going to improve better accessibility<br />
of graphic for the blind users in the electronic documents and in the mobile<br />
devices are presented.<br />
Keywords: available graphics, haptic devices, text-based browser, DAISY<br />
XML, SVG, EPUB<br />
ŚWIDERSKI J., MICHALSKA M., PICHOLA W., MAMAJEK M.: Mid-infrared<br />
fiber supercontinuum generator – an example of double application<br />
technology<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 85<br />
The article outlines the idea of supercontinuum (SC) generation in midinfrared<br />
spectral band as well as presents a wide spectrum of its potential<br />
applications. Practical realization of mid-infrared SC generator built with<br />
the use of a tandem: a conventional single mode fiber (SMF-28) – single<br />
mode fluoride fiber pumped by pulses at the wavelength of 1550 nm is<br />
also presented. The system developed delivered 0.85 W of average output<br />
power in the spectral band of ~0.9…3.2 µm, out of which 106 mW corresponded<br />
to wavelengths longer than 2.4 µm.<br />
Keywords: supercontinuum, fiber amplifier, pulse generation<br />
WIATROWSKI A.: The Time-Resolved Optical Emission Spectroscopy<br />
(TR-OES) measurement system for diagnostics of pulsed magnetron<br />
sputtering plasma<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), 11/<strong>2012</strong>, p. 89<br />
The article discusses the construction of measurement system for Time<br />
Resolved Optical Emission Spectroscopy (TR-OES). The described solution<br />
was designed in terms of its application for diagnostics of glow discharge<br />
plasma in a pulsed magnetron sputtering deposition system. This<br />
article discusses the principle of operation, outlines the basis of the electronic<br />
circuitry design, shows sample results obtained using the proposed<br />
solution.<br />
Keywords: Optical Emission Spectroscopy, Time-Resolved Optical Emission<br />
Spectroscopy, plasma diagnostics, pulsed magnetron sputtering<br />
BRATEK P., MAJCHERCZYK D., BRZOZOWSKI I., KOS A.: Multimedia<br />
Wireless Alarm System<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 95<br />
Paper presents a Multimedia Wireless Alarm System transmitting MMS<br />
picture messaging using GSM/GPRS modem. Hardware and software environment<br />
required to complete the creation of MMS picture message has<br />
been described.<br />
Keywords: GSM, GPRS, AT commands, alarm system<br />
BRZOZOWSKI I., WAWSZCZAK SZ., BRATEK P., KOS A.: Automatyczny<br />
pomiar pojemności złączowej półprzewodnikowego złącza p-n<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 97<br />
W artykule przedstawiono automatyczne stanowisko pomiarowe pozwalające<br />
na pomiary pojemności złączowej półprzewodnikowych złącz p-n.<br />
System pomiarowy został zbudowany w oparciu o standardowe przyrządy<br />
laboratoryjne uzupełnione o dedykowany generator pomiarowy, którego<br />
projekt i realizacja została opisana. W celu konfiguracji systemu, sterowania<br />
pomiarami i archiwizacji danych napisano specjalną aplikację w środowisku<br />
LabVIEW.<br />
Słowa kluczowe: pojemność złącza p-n, system pomiarowy, generator<br />
pomiarowy, LabVIEW<br />
BRZOZOWSKI I., WAWSZCZAK SZ., BRATEK P., KOS A.: Automatic<br />
measuring system for junction capacitance of semiconductor p-n<br />
junction<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 97<br />
The paper presents automatic measuring system allowing to measure of<br />
junction capacitance of semiconductor p-n junction. The system was build<br />
based on standard laboratory equipment supplemented with dedicated<br />
measuring generator, which design and realization was described. For the<br />
system configuration, controlling of measurements and data acquisition<br />
and saving special application in LabVIEW environment was made.<br />
Keywords: p-n junction capacitance, measuring system, measuring generator,<br />
LabVIEW<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />
MARTYNIUK P., KOWALESKI A., GAWRON W., ROGALSKI A.: Barierowe<br />
struktury detekcyjne – nowe możliwości<br />
Elektrobnika (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 102<br />
Detektory promieniowania podczerwonego z wąską przerwą energetyczną<br />
wymagają chłodzenia celem ograniczenia prądów ciemnych generowanych<br />
w strukturze detekcyjnej wśród których najważniejszymi są:<br />
procesy generacyjno – rekombinacyjne Shockley-Read-Halla i procesy<br />
Augera. Obecnie, zwiekszenie temperatury pracy urządzeń detekcyjnych<br />
bez ograniczenia ich osiągów jest głównym celem wielu zespołów badawczych.<br />
Procesy generacyjno – rekombinacyjne Augera można ograniczyc<br />
poprzez budowę urządzęń detekcyjnych z supersieci II rodzaju (type II<br />
superlattice – T2SLs) z związków A III B V należących do rodziny 6.1 Ĺ. Implementacja<br />
barier do struktur detekcyjnych pozwala zredukowac niekorzystny<br />
wpły procesów Shockley-Read-Halla. Ograniczenie wpływu obu<br />
mechanizmów pozwoli zwiekszyć temperaturę pracy detektora. Artykuł<br />
przedstawia osiągi unipolarnych detektorów nBn z T2SLs InAs/GaSb/B-<br />
Al 0.2<br />
Ga 0.8<br />
Sb i HgCdTe oraz ich potencjalne możliwości w rozwoju detektorów<br />
promieniowania podczerwonego.<br />
Słowa kluczowe: barierowe struktury detekcyjne, supersieci, InAs/GaSb,<br />
HgCdTe, fotodetektory<br />
GRZESIAK W., PIEKARSKI J., CIEŻ M., GRZESIAK P.: Zastosowanie<br />
dedykowanych układów scalonych w systemach wyszukiwania<br />
punktu mocy maksymalnej<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 106<br />
Implementacja techniki MPPT (Maximum Power Point Tracking) w systemach<br />
fotowoltaicznych pozwala na zwiększenie efektywności przetwarzania<br />
energii słonecznej na elektryczną. W ostatnich latach wiele wiodących<br />
firm produkujących półprzewodnikowe układy scalone opracowało i wdrożyło<br />
do produkcji dedykowane układy pozwalające na realizację tej techniki.<br />
W artykule dokonano przeglądu takich układów i dokonano wyboru<br />
kilku, zdaniem autorów, najciekawszych rozwiązań. Dla wybranych rozwiązań<br />
zaprojektowano i wykonano modele. Ograniczono się do rozwiązań<br />
relatywnie prostych, a co za tym idzie, niskokosztowych, przeznaczonych<br />
dla systemów o mocy do 200 W. Przy wyborze rozwiązań kierowano się<br />
również możliwością ich miniaturyzacji poprzez zastosowanie technologii<br />
SMD. Wykonane modele poddano badaniom na specjalistycznych stanowiskach<br />
badawczych, a ich wyniki zaprezentowano w artykule.<br />
Słowa kluczowe: układ scalony, system fotowoltaiczny, technika MPPT,<br />
technologia grubowarstwowa<br />
SOBOTA R., MANDOWSKI A., MANDOWSKA E.: Luminescencja izolatorów<br />
ceramicznych sieci energetycznych średnich napięć<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 109<br />
W pracy przedstawiono wyniki pomiarów termoluminescencji (TL) izolatorów<br />
ceramicznych sieci energetycznych średnich napięć. Materiał do<br />
badań pobrano z izolatorów pracujących wiele lat. Badano próbki pochodzące<br />
z różnych części izolatora. Zmierzono termoluminescencję naturalną<br />
oraz po napromienieniu promieniowaniem beta. W obu przypadkach<br />
otrzymano wyraźne piki termoluminescencyjne, powiązane ze strukturą<br />
defektową ceramiki.<br />
Słowa kluczowe: luminescencja, termoluminescencja, sieć energetyczna,<br />
izolator ceramiczny, pułapki, centra rekombinacji<br />
MARTYNIUK P., KOWALESKI A., GAWRON W., ROGALSKI A.: Barrier<br />
structures – new possibilities<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 102<br />
The narrow band gap infrared detectors require cryogenic cooling to suppress<br />
dark current, which is typically limited by Shockley-Read-Hall (SRH)<br />
and Auger generation-recombination processes. Currently, increasing the<br />
operating temperature of the infrared detection systems without sacrificing<br />
its performance remains to be a crucial objective of the research groups.<br />
Intrinsic Auger thermal generation recombination process could be controlled<br />
by implementation of the type II superlattices (T2SLs) A III B V 6.1 Ĺ<br />
family to the detectors architecture while extrinsic SRH process could be<br />
suppressed by the barrier’s incorporation into detector’s structure respectively.<br />
Both SHR and Auger suppression lead to increase of the device’s<br />
operating temperature. The paper reports on the unipolar barrier infrared<br />
detector (UBIRD) medium wavelength infrared (MWIR) HgCdTe nBn/B-n<br />
type and T2SLs nBn InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />
Ga 0.8<br />
Sb detector’s photoelectrical<br />
performance and their potential possibilities in the field of infrared detectors<br />
development.<br />
Keywords: barrier detectors, unipolar barrier, superlattice, InAs/GaSb,<br />
HgCdTe, photodetectors<br />
GRZESIAK W., PIEKARSKI J., CIEŻ M., GRZESIAK P.: Application of<br />
dedicated integrated circuits in maximum power point tracking systems<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 106<br />
Implementation of MPPT technology (Maximum Power Point Tracking) in<br />
photovoltaic systems can increase the efficiency of converting solar energy<br />
into electricity. In recent years many leading companies specializing in<br />
production of semiconductors has developed dedicated integrated circuits<br />
to implement that technique. The article reviews these systems and selects,<br />
according to the authors knowledge, several of the most interesting<br />
solutions. For selected solutions appriopriate models have been designed<br />
and manufactured. Only simple as well as low-cost solutions, intended for<br />
systems up to 200W, have been choosen. Process of solutions selection<br />
has been guided by the possibility of miniaturization by the SMD technology.<br />
Models were tested on specialized research station. The results are<br />
presented in the article.<br />
Keywords: integrated circuit, the photovoltaic system, MPPT technology,<br />
thick-layer technology<br />
SOBOTA R., MANDOWSKI A., MANDOWSKA E.: Luminescence of ceramic<br />
insulators of middle voltage power networks<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 109<br />
The paper presents results of thermoluminescence (TL) measurements<br />
of ceramic insulators of medium-power energy networks. Samples for the<br />
measurements were taken from insulators working many years. The samples<br />
under study originated from different parts of insulator. Thermoluminescence<br />
was measured for natural samples as well as beta-irradiated. In<br />
both cases pronounced thermoluminescence peaks were obtained, related<br />
to defect structure of the ceramics.<br />
Keywords: luminescence, thermoluminescence, power network, ceramic<br />
insulator, traps, recombination centres<br />
RYMARSKI Z.: Dobór mikrokontrolera do sterowania inwerterem napięcia<br />
w systemach UPS<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 111<br />
Sterowanie inwerterami napięcia stosowanymi w systemach UPS wymaga<br />
doboru specyficznych cech mikrokontrolerów. Podstawowym wymaganiem<br />
jest wysoka częstotliwość wejściowa komparatorów modulatora PWM.<br />
Jedno lub dwuzboczowy sposób modulacji wpływa zarówno na dyskretny<br />
model zastępczy inwertera, a pośrednio na algorytm sterowania, jak i na<br />
zawartość niskich harmonicznych w widmie napięcia wyjściowego. Musi<br />
istnieć możliwość uzyskania stałego (bez impulsów) niskiego lub wysokiego<br />
poziomu na wyjściu modulatora PWM. Wymagana jest także wysoka<br />
szybkość przełączania portów wyjściowych. Jak najkrótszy czas równoległego<br />
przetwarzania przez 2 lub 3 przetworniki AC jest niezbędny w sterowaniu<br />
nadążnym o kilku zmiennych wejściowych. Przy rozbudowanym,<br />
w szczególności 3-fazowym sterowaniu istotna jest sprzętowa realizacja<br />
operacji matematycznych. O wyborze mikrokontrolera decyduje także dostępność<br />
oprogramowania – kompilatorów języka C i bibliotek funkcji.<br />
Słowa kluczowe: inwerter napięcia, modulacja PWM, schemat modulacji<br />
PWM, mikrokontroler, systemy bezprzerwowego zasilania UPS<br />
RYMARSKI Z.: The choice of the microcontroller for the voltage source<br />
inverter control in UPS systems<br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 111<br />
The voltage source inverter control in UPS systems requires the selection<br />
of the specific features of microcontrollers. The high input frequency of the<br />
comparator of the PWM modulator is the basic requirement. The choice of<br />
the single or double edge PWM influences as well on the discrete model<br />
of the VSI and indirectly on the control algorithm as on the low frequency<br />
harmonics presence in the output voltage spectrum. It should be the<br />
posibility of the low or high steady level (without pulses) of the PWM unit<br />
output voltage. The high speed of output ports switching is demanded. The<br />
short time of the conversion and parallel operation of 2 or 3 AD converters<br />
is necessary in multi-input instanteneous control. The hardware based<br />
mathematical operations implemented in the microcontroller are important<br />
in 3-phase control. The choice of the microcontroller finally depends on<br />
software avialability – C compilators and hardware dedicated functions<br />
libraries.<br />
Keywords: voltage source inverter, PWM, PWM scheme, microcontroller,<br />
UPS systems<br />
10<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Streszczenia artykułów ● Summaries of the articles<br />
GAJDA J., ROMANIUK R.S.: Technologia i Zastosowania Laserów <strong>2012</strong><br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 115<br />
Wyniki badań i osiągnięcia techniczne w zakresie laserów są podsumowywane<br />
co trzy lata w czasie Krajowego Sympozjum Techniki Laserowej<br />
STL, organizowanego od prawie trzydziestu lat w Świnoujściu we wrześniu<br />
przez WAT, PW i ZUT. Artykuł przedstawia przegląd prac prezentowanych<br />
i dyskutowanych na STL. Pokazano tendencje rozwojowe materiałów<br />
laserowych i technologii oraz dziedzin związanych z techniką laserową<br />
i optoelektroniką w kraju, włączając w to wysiłki środowiska akademickiego,<br />
instytutów PAN i resortowych, oraz przemysłowych ośrodków badawczych.<br />
Obok rozwoju laserów, druga część STL jest poświęcona zastosowaniom<br />
laserów, gdzie operatorzy systemów laserowych przedstawiają<br />
własne osiągnięcia aplikacyjne. Przedstawiono zakresy tematyczne sesji<br />
STL oraz plenarne referaty zaproszone wygłoszone przez kluczowych reprezentantów<br />
przemysłu laserowego.<br />
Słowa kluczowe: lasery, technologia laserów, zastosowania laserów, materiały<br />
laserowe, optyczne materiały aktywne, światłowody aktywne, lasery<br />
światłowodowe, lasery dużej mocy, atomowe zegary laserowe, fotonika<br />
nieliniowa, lasery półprzewodnikowe, laser kaskadowe<br />
CZAJKOWSKI J.: Stan aktualny i rozwój systemu INMARSAT<br />
<strong>Elektronika</strong> (L(III), nr 11/<strong>2012</strong>, s. 122<br />
W artykule opisano aktualny status satelitarnego systemu radiokomunikacyjnego<br />
INMARSAT. Przedstawione dane dotyczą okresu od listopada<br />
2010 roku do października 2011 roku. Opisano główne składowe systemu<br />
INMARSAT, tj. satelity umieszczone na orbicie geostacjonarnej nad czterema<br />
obszarami oceanicznymi, operacyjne centrum zarządzania, naziemne<br />
stacje lądowe, stacje koordynacyjne oraz stacje statkowe. Stwierdzono<br />
iż system spełnia wszystkie oczekiwania systemu GMDSS – obejmując<br />
alarmowanie w niebezpieczeństwie, rozpowszechnianie morskich informacji<br />
bezpieczeństwa – MSI oraz zapewniając łączność ogólną.<br />
Słowa kluczowe: LES – Lądowa Stacja Naziemna, SES – Statkowa Stacja<br />
Naziemna, NCS – Stacja Koordynacyjna, OCC – Operacyjne Centrum<br />
Kontroli i Zarządzania<br />
GAJDA J., ROMANIUK R.S.: Laser Technology and Applications <strong>2012</strong><br />
<strong>Elektronika</strong> (LIII), no 11/<strong>2012</strong>, p. 115<br />
The research and technical achievements in the area of lasers are summarized<br />
every three years by the National Symposium on Laser Technology<br />
held in the Baltic See Resort Świnoujście near Szczecin, Poland.<br />
The paper presents a preview of the symposium works to be shown and<br />
debated during this key event in September <strong>2012</strong>. There are shown development<br />
tendencies of laser materials and technologies and laser associated<br />
branches of optoelectronics in this country, including the efforts of<br />
academia, governmental institutes, research businesses and industry. The<br />
second branch of the symposium works are laser applications, where the<br />
laser systems operators and laser users present their achievements. Topical<br />
tracks of the meeting are presented, as well as the keynote and invited<br />
subjects delivered by key representatives of the laser industry.<br />
Keywords: lasers, laser technology, lasing materials, optoelectronics, laser<br />
theory, laser design, laser components, kinds of lasers, semiconductor<br />
lasers, VCSEL, laser applications, photonics, nonlinear photonics, active<br />
optical fibers, optical fiber lasers, high power lasers, high intensity lasers,<br />
laser atomic clocks<br />
CZAJKOWSKI J.: Actual status and development of the INMARSAT<br />
system<br />
<strong>Elektronika</strong> (L(III), no 11/<strong>2012</strong>, p. 122<br />
The article presents actual status of the INMARSAT system. The information<br />
covers the period from November 2010 to October 2011. The<br />
operational status of key elements of the space and ground segments is<br />
summarized. The availability of all GMDSS components, including distress<br />
alerting, Maritime Safety Information and general communication is shown<br />
in the article.<br />
Keywords: LES – Land Earth Station, SES – Ship Earth Station, NCS<br />
– Network Coordination Station, OCC – Operational Control Centre<br />
Szanowni Autorzy,<br />
zgodnie z zaleceniem Ministerstwa Nauki i Szkolnictwa Wyższego<br />
przedstawiamy procedurę przeciwdziałania przypadkom<br />
ghostwriting i guest authorship.<br />
Definicje<br />
– ghostwriting – przypadek, gdy ktoś wniósł istotny wkład<br />
w powstanie publikacji, bez ujawnienia swojego udziału jako jeden<br />
z autorów lub bez wymienienia jego roli w podziękowaniach<br />
zamieszczonych w publikacji,<br />
– guest authorship (honorary authorship) – przypadek,<br />
gdy udział autora jest znikomy lub w ogóle nie miał miejsca,<br />
a pomimo to jest autorem/współautorem publikacji.<br />
Działania mające na celu przeciwdziałanie powyższym<br />
przypadkom (zgodnie z zaleceniami Ministerstwa Nauki i Szkolnictwa<br />
Wyższego) są następujące:<br />
● Redakcja wymaga od autorów publikacji ujawnienia wkładu<br />
poszczególnych autorów w powstanie publikacji (z podaniem<br />
ich afiliacji oraz kontrybucji, tj. informacji kto jest autorem koncepcji,<br />
założeń, metod, protokołu itp. wykorzystywanych przy<br />
przygotowaniu publikacji), przy czym główną odpowiedzialność<br />
ponosi autor zgłaszający manuskrypt.<br />
● Redakcja wyjaśnia w „Informacji dla autorów”, że ghostwriting<br />
i guest authorship są przejawem nierzetelności<br />
naukowej, a wszelkie wykryte przypadki będą demaskowane,<br />
włącznie z powiadomieniem odpowiednich podmiotów (instytucje<br />
zatrudniające autorów, towarzystwa naukowe, stowarzyszenia<br />
edytorów naukowych itp.).<br />
● Redakcja wymaga informacji o źródłach finansowania<br />
publikacji, wkładzie instytucji naukowo-badawczych, stowarzyszeń<br />
i innych podmiotów (financial disclosure).<br />
● Redakcja dokumentuje wszelkie przejawy nierzetelności<br />
naukowej, zwłaszcza łamania i naruszania zasad etyki obowiązujących<br />
w nauce.<br />
* * *<br />
W związku ze zmianami dotyczącymi oceny parametrycznej<br />
czasopism, Ministerstwo Nauki i Szkolnictwa Wyższego wprowadziło<br />
następujące kryteria oceny publikacji:<br />
1. Oryginalność<br />
– czy artykuł zawiera nowości w zakresie prezentowanej tematyki<br />
– czy wnosi wkład w stan wiedzy<br />
– czy odpowiada poziomowi merytorycznemu czasopisma<br />
– czy opisywane zagadnienia są istotne dla rozwoju nauki<br />
lub zastosowań praktycznych<br />
2. Układ<br />
– czy artykuł prezentuje logiczny układ treści i jasność wywodu<br />
a) Tytuł: czy odpowiada treści artykułu<br />
b) Streszczenie: czy odzwierciedla treść artykułu<br />
c) Wprowadzenie: czy opisuje co autor zamierzał osiągnąć<br />
i jasno przedstawia zagadnienia poruszane w artykule (zwykle<br />
wprowadzenie powinno zawierać przegląd literatury dotyczącej<br />
danego tematu, opis eksperymentu, hipotezy, ogólny plan eksperymentu<br />
lub stosowanych metod),<br />
d) Metody badań: czy autor dokładnie wyjaśnia w jaki sposób<br />
otrzymał wyniki Czy metody badań są odpowiednio dobrane,<br />
jeśli metody są nowe, to czy są dokładnie opisane, czy autor<br />
wystarczająco dokładnie opisał sposób wykonywania badań/pomiarów<br />
e) Wyniki: czy autor w logiczny i jasny sposób wyjaśnia co<br />
stwierdził w wyniku przeprowadzonych badań, czy dokonał<br />
prawidłowej analizy wyników<br />
f) Podsumowanie/Wnioski: czy zamieszczone stwierdzenia/wnioski<br />
są poparte wynikami badań, czy autor wykazał jak<br />
wyniki odnoszą się do oczekiwań i wcześniejszych badań, czy<br />
wyniki badań potwierdzają czy zaprzeczają wcześniejszym teoriom<br />
g) Rysunki i tabele: czy zamieszczone rysunki i tabele jasno<br />
ilustrują wyniki badań i czy są zrozumiałe dla czytelnika, czy<br />
są istotne dla zilustrowania treści artykułu<br />
3. Wcześniejsze badania<br />
– jeśli artykuł zawiera wcześniejsze wyniki badań, to czy zamieszczono<br />
odpowiednie odnośniki literaturowe<br />
4. Zagadnienia etyczne<br />
– Plagiat: czy artykuł nie jest kopią innej pracy<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 11
Mach-Zehnder non-zero chirp intensity modulator static<br />
characteristics parameters estimation based on intensity data<br />
(Estymacja parametrów charakterystyki statycznej modulatora<br />
amplitudowego Mach-Zehndera typu non-zero chirp na podstawie<br />
pomiarów mocy optycznej)<br />
dr Zbigniew LACH, Lublin University of Technology, Institute of Electronics and Information Technology<br />
The fundamental concept for the on-off keying signaling (OOK)<br />
signaling in optical lines is to modulate intensity of an optical<br />
signal in the binary manner and then to use direct detection<br />
in a receiver to recover transmitted data. Optical phase is<br />
relevant in detection of an OOK signal. However, any phase<br />
modulation accompanying the intensity modulation affects the<br />
shape of the received signal if it is propagated through a dispersive<br />
medium, hence influences quality of reception. Such<br />
phase variations produced by an intensity modulator can result<br />
from imperfection of fabrication which exists even in modulators<br />
claimed to be zero-chirp, or can be the effect of the nonzero-chirp<br />
design [1, 6] which aims at compensation of some<br />
defined amount of chromatic dispersion to be encountered in<br />
an optical link. It is usually sufficient to know chirp parameter of<br />
the modulator in order to be able to calculate effects of optical<br />
field distortions exerted by interaction of phase variations and<br />
chromatic dispersion of a fiber for a typical shape of an optical<br />
pulse. This may not be the case in optical link measurements<br />
in which parameters of interest are estimated on the basis of<br />
fitting the shape of a photodetected signal to it’s “exact” model.<br />
In this case complete knowledge on how modulating signal is<br />
transformed to optical field, i.e. on static characteristics of the<br />
modulator, is indispensable. On such occasion the modulator<br />
characteristics shall be learned from some extra measurements,<br />
possibly while the component is “in-service”, before the<br />
measurements of interest are performed. Taking into account<br />
the non-coherent OOK context an appropriate measurement<br />
method shall not resort to coherent ones and retrieve phase<br />
from intensity data instead.<br />
In the following parameters that describe a static characteristics<br />
of a Mach-Zehnder intensity modulator and a method for their<br />
estimation from a collection of intensity samples are proposed.<br />
The practical value of the parameters and of the method is examined<br />
in laboratory experiments.<br />
Parameters of input-output static characteristics<br />
of a Mach-Zehnder intensity modulator<br />
It will be easier to show possible sources of imperfection in a single<br />
drive Mach-Zehnder intensity modulator analysing first the more<br />
general dual drive structure. A typical dual-drive Mach-Zehnder<br />
modulator is schematically depicted in the Fig. 1 [2].<br />
The two arms are independently controlled via electrodes by<br />
V A<br />
and V B<br />
voltage signals. V A0<br />
and V B0<br />
provide biasing which shall<br />
maintain the two arms in quadrature. Let V A0<br />
be a voltage providing<br />
Ľπ phase shift in an upper arm. Ideally optical power is equally<br />
split between the arms, V B<br />
=-V A<br />
=-V i<br />
(t) and V B0<br />
=-V A0<br />
which ensures<br />
that the modulator does not exhibit spurious phase modulation.<br />
In this ideal case the modulator is zero-chirp and is reduced to<br />
the single-drive type. The ideal input-output static relation for the<br />
single drive modulator is given by [3]:<br />
(1)<br />
where: V i<br />
(t) is a control signal, E o<br />
(t) is an optical field and, K is an<br />
arm responsitivity (voltage-to-phase conversion coefficient). Taking<br />
into account possible imperfections the generalized version of<br />
the relation in (1) can be expressed by [5]:<br />
(2)<br />
which defines the general static characteristics of a Mach-Zehnder<br />
modulator. It shall be observed that (2) is a mapping from real valued<br />
control voltage V i<br />
(t) to complex valued (envelope and phase)<br />
optical field. In particular, from (2) it flows that intensity of an optical<br />
field can be expressed as:<br />
(3)<br />
The presence of a phase modulation at the output of the modulator<br />
means that no longer it is zero-chirp.<br />
The following four parameters in (2) characterize the imperfection<br />
of the input-output static characteristics of a Mach-Zehnder<br />
intensity modulator: α – is related to power split between arms<br />
Fig. 1. A general schematic of a Mach-Zehnder modulator [2]<br />
Rys. 1. Ogólny schemat modulatora Mach-Zehndera [2]<br />
Fig. 2. The measurement set-up for measuring parameters of a static<br />
characteristics of a Mach-Zehnder intensity modulator<br />
Rys. 2. Układ pomiarowy do pomiaru parametrów charakterystyki<br />
statycznej modulatora amplitudowego Mach-Zehndera<br />
12<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
(sin 2 (α) and cos 2 (α) correspond to the portion of power injected to<br />
the respective arm), V 0<br />
– is build-in internal bias common for both<br />
arms (it explains a shift of the input-output characteristics along<br />
the voltage axis), δ K<br />
– represents relative mismatch between<br />
responsitivities to the control voltage of the two arms, δ 0<br />
– represents<br />
relative mismatch of the two arms between the build-in<br />
internal bias.<br />
The four above parameters together with the responsitivity K<br />
completely parametrize the input-output static characteristics of a<br />
Mach-Zehnder modulator. Given the values of the parameters the<br />
intensity modulation and associating phase modulation can be<br />
determined from control signal V i<br />
(t).<br />
Measurement set-up<br />
The goal is to determine the five parameters defined the from<br />
measurements of an intensity at modulator output performed with<br />
no access to modulator input (control signal is unknown). This<br />
can be a typical scenario in “in-service” monitoring of an optical<br />
line. For the goal to be achieved the output intensity data alone is<br />
not sufficient and information on the output phase shall be gained<br />
from measurements. Inspection of (3) helps to explain this fact.<br />
The expressions K (2 + δ K<br />
) and (2 + δ 0<br />
)V 0<br />
each can be replaced<br />
there by a single parameter, say a = K (2 + δ K<br />
) and b = (2 + δ 0<br />
)V 0<br />
.<br />
Even if a and b were determined from intensity measurements using<br />
the relation (3), the component coefficients: K, δ K<br />
, δ 0<br />
, V 0<br />
could<br />
not, unless there were additional independent information. This<br />
information can be sourced only from phase data. While interferometric<br />
measurements in direct detection systems can suffer<br />
from effects of limited coherency due to the light sources used as<br />
well as from permanent modulation in “in-service” links an indirect<br />
determination of phase based on instantaneous frequency to intensity<br />
conversion can be the method of choice.<br />
The measurement set corresponding to the considered method<br />
is depicted in the Fig. 2. The modulator under investigation is<br />
fed by an unknown binary data signal to be transported over an<br />
optical line. A portion of the output field is dropped to the measurement<br />
set where it is further equally split into two paths: a direct<br />
one, where optical intensity is sampled “as it is” at the output<br />
of the modulator and, a path where the optical field passes a component<br />
with known chromatic dispersion (CD), before it’s intensity<br />
is sampled. The dynamics of phase changes in the latter path in<br />
combination with chromatic dispersion results in distortions of intensity<br />
with respect to the direct path. This effect allows to capture<br />
the required phase data. The two sequences of intensity samples<br />
are recorded and passed to a computer in order to calculate the<br />
parameters of interest. The calculation algorithm uses a model of<br />
intensity data in both paths. The estimated values of the parameters<br />
of interest correspond to that model which fits the best to<br />
the recorded data.<br />
Calculations of a modulator parameters from<br />
intensity data<br />
The algorithm assumes that uncertainty of measurements (noise)<br />
in the direct path can be neglected. The validity of this assumption,<br />
at least in the experiments made by the author, can be<br />
backed by measurement data presented in the next section. In<br />
addition, the control signal V i<br />
(t) is not allowed to leave the scope<br />
where the relation (3) is bijective. This in turn is a typical case for<br />
system designers normally avoid intensity distortions in a modulator<br />
which distortions would otherwise occur. Consideration of the<br />
more general case exceeds the scope of this paper.<br />
Upon the above assumptions, the relation (3) could be inverted,<br />
if the parameters were known:<br />
<br />
(4)<br />
where: I 1<br />
(t) is the intensity recorded in the direct path normalized<br />
to it’s maximum. This through (2) could allow to know the magnitude<br />
and phase of the optical field at the output of the modulator<br />
(the complex envelope ) and then to calculate intensity in<br />
the lower arm after the field had propagated the component with<br />
known chromatic dispersion:<br />
(5)<br />
where h(t) is the complex impulse of the CD component (optical<br />
loss was omitted for presentation simplicity):<br />
(6)<br />
with ω g<br />
related to the dispersion D:<br />
(7)<br />
In (7), λ is the optical carrier wavelength and c is the light velocity<br />
in vacuum. The tildas over V i<br />
(t), E o<br />
(t) and I 2<br />
(t) in (4)–(7) differentiate<br />
the calculated values from the measured ones (unmarked).<br />
It is allowed that I 2<br />
(t) differs from due to measurement<br />
noise. The lower path presents greater attenuation than the upper<br />
one in the result of inclusion of an additional component. Then<br />
the I 2<br />
(t) recordings are more susceptible to instrument noise than<br />
those of I 1<br />
(t).<br />
The formulas (4), (2), (5), (6) and (7) constitute the mathematical<br />
model allowing to calculate samples of the intensity in<br />
the lower path of the measurement set from the corresponding<br />
samples measured in the direct path, provided the modulator<br />
static characteristics parameters are known, i.e. allowing to formulate<br />
the forward problem. In order to solve the inverse problem<br />
a least-squares method is proposed. According to the method the<br />
estimated values of the parameters<br />
minimize (in the space of the parameters) the distance between<br />
the sequence of sample values of intensity I 2<br />
(t) obtained from<br />
measurements and those calculated from the model:<br />
(8)<br />
In the above formula t n<br />
is the sequence of sampling instances<br />
while N is the total number of samples used in calculations. A<br />
global search algorithm is necessary, for the model is nonlinear<br />
and local minima are likely. If the instrument noise is Gaussian<br />
and dominant minimum of can be found the estimate is<br />
optimum in the sense of likelihood.<br />
Experiments<br />
To verify practical value of the parameters and the method of<br />
their estimation a laboratory model of the proposed measurement<br />
set was arranged and two experiments were carried. In<br />
the first one the parameters of the static characteristics of the<br />
modulator under investigation were estimated. In the second<br />
experiment the estimated data was used as an input for estimation<br />
of chromatic dispersion in some test links. The result of this<br />
estimation was compared against the known dispersion values<br />
of the tested links.<br />
The model was built of the LeCroy 100G optical sampling<br />
oscilloscope which performed the photodetecting, sampling and<br />
recording functions and a length of standard single mode fibre<br />
which emulated a component of a defined chromatic dispersion.<br />
The modulator under investigation was the JDSU X5 single<br />
drive 10Gbps Mach-Zehnder intensity modulator. Although the<br />
modulator is zero-chirp according to the catalogue data apparent<br />
presence of some residual phase modulation was revealed<br />
in measurements for the modulator under test. Pseudorandom<br />
(PRBS-7) data generated by the oscilloscope was used to modulate<br />
light from standard telecom WDM source. Output power was<br />
approximately 500 μW.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 13
Fig. 3. Recorded intensity waveforms in the measurement<br />
set; red – direct (upper) path, blue<br />
– lower path<br />
Rys. 3. Zarejestrowane w układzie pomiarowym<br />
przebiegi mocy optycznej; czerwony – tor bezpośredni<br />
(górny), niebieski – tor dolny<br />
Tabl. 1. Estimated parameters of the static characteristics of the single<br />
drive Mach-Zehnder intensity modulator<br />
Tab. 1. Estymowane wartości parametrów charakterystyki statycznej modulatora<br />
amplitudowego Mach-Zehndera typu single drive<br />
14<br />
Lower arm dispersion<br />
[ps/nm]<br />
K<br />
[rad/V]<br />
V 0<br />
[V]<br />
δ K<br />
[-]<br />
δ 0<br />
[-]<br />
α<br />
[-]<br />
385 1.0 0.1 0.4 0.0 0.86<br />
549 1.0 0.1 0.4 0.0 0.86<br />
874 1.0 0.1 0.4 0.0 0.83<br />
An example of recorded waveforms in the two paths of the<br />
measurement set is given in the Fig. 3. The visible temporal evolution<br />
of the signals in the on- and off-states was not attributed<br />
to the presence of noise but to the dynamics of the modulating<br />
signal. This conclusion was drawn from the observation (not evidenced<br />
in the Fig. 3 due to space limitation) that within each I 1<br />
(t n<br />
)<br />
and I 2<br />
(t n<br />
) sequences the signals representing the same data subsequences<br />
were repeatable, i.e. instrument noise was negligible.<br />
The recorded data was off-line processed in a computer. 2048<br />
samples were acquired which corresponded to 128 bits. A hybrid<br />
genetic search algorithm (random search plus local climb) was adopted<br />
for the global minimization task. There were 50 genes in each<br />
generation. Every solution, as coded by a corresponding gene, was<br />
locally optimized with the use of the quasi-Newton method before<br />
crossing and mutation were applied. The crossing rule and mutation<br />
probability and mutation strength parameters were fixed through all<br />
generations. After 10 generations the result was selected from the<br />
50 candidates based on the minimum distance .<br />
The calculations were performed on a personal computer with<br />
2.8 GHz four core i7 processor. A single estimation run took approximately<br />
90 minutes. While this may seem unsatisfactory in many application<br />
scenarios one shall note that evolutionary algorithms are<br />
ideally suited for parallel processing. With recent advances in this<br />
technique [4] the processing time can drop to acceptable limits.<br />
The method was tested with three lengths of standard single<br />
mode fibre as emulators of a component with known chromatic<br />
dispersion: +382 ps/nm, +546 ps/nm and +874 ps/nm, respectively.<br />
The results of the least-squares estimation of the parameters<br />
of the modulator’s static characteristic are presented in the<br />
Tabl 1. with precision up to one decimal position. The estimated<br />
values showed reasonable repeatability irrespective of the CD<br />
value used (at least in the investigated range).<br />
In order to check applicability of the parametrization of the inputoutput<br />
characteristics of a Mach-Zehder modulator the estimated<br />
values of the parameters were used in estimation of an optical<br />
link chromatic dispersion from intensity data. In this experiment<br />
the link under investigation was being located in the place of the<br />
CD component in the measurement set from the Fig. 2. The I 1<br />
(t n<br />
)<br />
and I 2<br />
(t n<br />
) waveforms were recorded and off-line processed like in<br />
the previous experiment. That time however, in the global minimization<br />
algorithm the parameters of the modulator were kept constant<br />
at the values estimated in the first experiment while the CD<br />
value was searched for that minimizing the distance between the<br />
sequence of intensity samples I 2<br />
(t n<br />
) obtained from measurements<br />
and those calculated from the model. This experiment was performed<br />
for four lengths of standard single mode fibre 6.5 km, 12.5<br />
km, 23.5 km and, 33.5 km which corresponded to +107 ps/nm,<br />
+205ps/nm, +385 ps/nm, +549 ps/nm. The results of the estimation<br />
are shown in the Tabl. 2.<br />
Tabl. 2. Estimated chromatic dispersion of a link under test compared to<br />
values calculated from catalogue data<br />
Tab. 2. Estymowane wartości dyspersji chromatycznej testowanego łącza<br />
w zestawieniu z wartościami obliczonymi z danych katalogowych<br />
Fibre length<br />
[km]<br />
Estimated CD<br />
[ps/nm]<br />
Catalogue CD<br />
[ps/nm]<br />
6.5 103 107<br />
12.5 185 205<br />
23.5 390 385<br />
33.5 571 549<br />
The estimated values of chromatic dispersion showed consistency<br />
with the catalogue data for the four lengths of fibre in<br />
the test. The relative error was less than 4%. This supports the<br />
usefulness of the parametrization of the static characteristic of a<br />
Mach-Zehnder intensity modulator and possibility to estimate the<br />
parameters from intensity data.<br />
Conclusions<br />
Intensity data can be used to estimate parameters of an inputoutput<br />
static (real-to-complex) characteristics of a Mach-Zehnder<br />
non-zero chirp intensity modulator while it is “in-service”. The<br />
lacking phase information can be retrieved from intensity samples<br />
with the use of a model of frequency-to-intensity conversion in a<br />
known CD component. The respective measurement set is relatively<br />
easy to implement and uses techniques that are standard<br />
in direct detection optical communication. The parameter estimation<br />
task is let to a computer and involves global minimization<br />
which can be performed by an evolutionary algorithm. Once the<br />
parameters’ values had been found acquiring samples of output<br />
intensity is sufficient to estimate CD of an OOK optical link.<br />
References<br />
[1] André P., Pinto J.: Optimising the Operation Characteristics of a LiNbO3<br />
based Mach-Zehnder Modulator for 10 Gbit/s Lightwave Systems,<br />
Journal of Optical Communication, Vol. 22, (2001).<br />
[2] Ho K., Cuei H.: Generation of Arbitrary Quadrature Signals Using<br />
One Dual-Drive Modulator, Journal of Lightwave Technology, Vol. 23,<br />
No. 2, (2005).<br />
[3] Kim H., Gnauck A.: Chirp Characteristics of Dual-Drive Mach–Zehnder<br />
Modulator With a Finite DC Extinction Ratio, IEEE Photonics<br />
Technology Letters, Vol. 14, No 3, (2002).<br />
[4] Kołodziejczyk J., Tomaszewska A.: Fast implementation of multi-population<br />
(1+1)-ES, <strong>Elektronika</strong> (XLVIII), No. 7, (2007).<br />
[5] Shangyuan L., Xiaoping Z., Hanyi Z., Bingkun Z.: Highly Linear Radio-Over-Fiber<br />
System Incorporating a Single-Drive Dual-Parallel<br />
Mach–Zehnder Modulator, IEEE Photonics Technology Letters, Vol<br />
22, No 24 (2010).<br />
[6] Yuxin W., Yong Z., Jianyi Y., Minghua W., Xiaoqing J.: Chirp Characteristics<br />
of Silicon Mach–Zehnder Modulator Under Small-Signal<br />
Modulation, Journal of Lightwave Technology, Vol. 29, No. 7, (2011).<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Simulation of magnetically controlled elements<br />
for optoelectronic systems on the basis of liquid crystals<br />
(Symulacja magnetycznie sterowanych elementów optoelektronicznych<br />
wykorzystujących ciekłe kryształy)<br />
prof. dr hab. inż. Zenon HOTRA 1,2 , dr hab. inż. Andriy FECHAN 2 ,<br />
dr inż. Orest SUSHYNSKYY 2 , dr inż. Olga SHYMCHYSHYN 2 , mgr Ostap CHABAN 2<br />
1<br />
Rzeszow University of Technology, 2 Lviv Polytechnic National University, Lviv, Ukraine<br />
One of the possible ways of cost reduction of optical networking<br />
is the use of multimode optical fibers. However, their application<br />
is significantly restricted by dispersion phenomena that lead to<br />
distortion of information transmission in telecommunication fiber<br />
networks. In addition, in fiber networks there is an issue of coordination<br />
of connection in fiber systems [1, 3]. One of possible solutions<br />
of these problems is the application of phase compensators<br />
which can reduce the effect of dispersion phenomena.<br />
Molecular models<br />
In this work we review the possibility of development of magnetically<br />
controlled cells on the basis of liquid crystals for optical fiber<br />
systems. Magnetically controlled liquid crystalline element is<br />
alight guide with a radial distribution of the director profile. The<br />
application of an external magnetic field with a magnetic induction<br />
vector directed along the axis of the fiber leads to the formation<br />
in the center of the coaxial liquid crystalline fiber an are a with<br />
distribution of liquid crystal director field in the direction of applied<br />
magnetic field.<br />
In order to analyze the possibility of the development of LC<br />
structure with necessary characteristics there was carried out<br />
a computer simulation of molecular models by the means of GB-<br />
MOLDD software [4]. Molecular models considered in classicalmechanical<br />
level and are described by force fields. Bounding interactions<br />
in the molecule as a following form [2]:<br />
E<br />
bon<br />
m<br />
=<br />
+<br />
n<br />
b<br />
∑<br />
i<br />
=<br />
1<br />
n<br />
z<br />
∑<br />
i<br />
=<br />
1<br />
1<br />
k<br />
2<br />
1<br />
k<br />
2<br />
(<br />
b<br />
)<br />
i<br />
(<br />
z<br />
)<br />
i<br />
where, n b<br />
– number of bounds, n a<br />
– number of corners, n z<br />
– number<br />
of additional corners at the end of molecule m where mesogen<br />
groups are attached. l i<br />
, θ i<br />
, ζ i<br />
– index of these values, l i<br />
(0)<br />
, θ i<br />
(0)<br />
, ζ i<br />
(0)<br />
– their equilibrium values. Elastic coefficients of harmonic forces<br />
– k i<br />
(b)<br />
, k i<br />
(a)<br />
and k i<br />
(z)<br />
. ζ i<br />
is measured as an angle between long and<br />
axis of a mesogen and a bound between its center and a next LJ<br />
pseudoatom. The effect of the surface is defined by an equation:<br />
where e r – the vector of initial orientation; S r – the rotation vector<br />
with respect to the normal; Z – the thickness of a layer; l d<br />
– penetration<br />
length.<br />
Simulation results<br />
(<br />
l<br />
−<br />
l<br />
i<br />
(<br />
ζ<br />
i<br />
(0)<br />
2<br />
i<br />
−<br />
ζ<br />
sl<br />
)<br />
+<br />
(0)<br />
i<br />
a<br />
∑<br />
i<br />
=<br />
1<br />
n<br />
2<br />
t<br />
∑<br />
Software tool GBMOLDD provides an ability to obtain the distribution<br />
of director field in capillary, and thus the value of the order<br />
parameter which is directly related to the value of refractive index<br />
in pseudolayer. During the computer simulation we considered<br />
a rectangular area of a capillary with an axis of capillary in<br />
the middle of this area. An external magnetic field was applied<br />
in the direction parallel to the axis of capillary. The liquid crystal<br />
molecule in the model has a ratio of diameter to length of 1:3.<br />
The order parameter of the system was 0.5, which correspond to<br />
n<br />
)<br />
+<br />
1<br />
k<br />
2<br />
i<br />
=<br />
1<br />
r<br />
r<br />
2<br />
V<br />
= −<br />
f<br />
(<br />
e<br />
⋅<br />
S<br />
)<br />
e<br />
(<br />
a<br />
)<br />
i<br />
U<br />
Z<br />
−<br />
l<br />
d<br />
(<br />
θ<br />
i<br />
(<br />
tors<br />
)<br />
i<br />
−<br />
θ<br />
)<br />
+<br />
(0)<br />
2<br />
i<br />
nematic mesophase of simulated liquid crystal. Fig. 1 shows the<br />
initial homeotropic nematic texture, nematic texture in applied external<br />
magnetic field as well as nematic texture in applied external<br />
magnetic field of maximum magnitude. The maximum magnitude<br />
of external magnetic field was chosen below the value which destroys<br />
gradient distribution of refractive index in capillary.<br />
a) b) c)<br />
Fig. 1. Simulated initial homeotropic nematic texture (a), nematic texture<br />
in applied external magnetic field (b), nematic texture in applied<br />
external magnetic field of maximum magnitude (c)<br />
Rys. 1. Symulowana początkowa nematyczna tekstura homeotropowa<br />
(a), nematyczna tekstura w zewnętrznym polu magnetycznym (b),<br />
nematyczna tekstura w zewnętrznym polu magnetycznym o maksymalnym<br />
natężeniu (c)<br />
The simulation of director field deformation show that the application<br />
of magnetic field at first leads to a small deformation<br />
director field and then causes reorientation of the central part of<br />
a liquid crystal layer. Further increase of applied field leads to the<br />
expansion of reoriented area. The way of the change of refractive<br />
index in the transitional region and the thickness of near-surface<br />
homeotropicly aligned layer is defined by the ratio of surface anchoring<br />
forces and elastic properties of LC material, which enables<br />
to change the distribution of refractive index profile from<br />
stepped to gradient.<br />
The experimental investigation of the process of light propagation<br />
in LC structures with magnetically controlled distribution of<br />
refractive index is difficult to carry out because of a number of<br />
methodological aspects. For example, the way of introduction of<br />
radiation into a LC layer as well as difficulties of stabilization of the<br />
structure near liquid crystal – air interface significantly affect the<br />
reproducibility of experimental results. Thus, before the beginning<br />
of actual experiment we have carried out a computer simulation of<br />
light propagation in such structures. Computer simulation of light<br />
propagation in LC capillaries with a nonlinear way of distribution<br />
of the refractive index was performed by the means of specialized<br />
software product Zemax [5, 6]. Zemax − is software which is widely<br />
used for optical simulations. However, a standard set of optical<br />
media in this software does not provide materials with a varying<br />
refractive index. In order to be able to define the distribution of<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 15
a)<br />
b)<br />
c)<br />
Fig. 2. Calculated distributions of the refractive index for different values of the applied magnetic field distribution and distribution of the<br />
intensity of light beam at the out put of a gradient light guide: a)initial homeotropic orientation b) B = Bmin – deformation threshold of initial<br />
homeotropic texture c) the maximum value of magnetic field<br />
Rys. 2. Rozkłady współczynnika załamania wyznaczone symulacyjnie dla różnych wartości rozkładu pola magnetycznego oraz rozkłady<br />
natężenia światła na wyjściu światłowodu gradientowego: a) orientacja początkowa, b) B = Bmin – próg deformacji tekstury początkowej,<br />
c) maksymalna wartość natężenia pola magnetycznego<br />
the refractive index in liquid crystal Dynamic Link Libraries (DLL)<br />
which describe the distribution function for the described below<br />
cases were created.<br />
The initial parameters for the simulation were distributions of<br />
refractive index in the layer of LC obtained with above described<br />
computer simulation. We consider the propagation of light in<br />
a gradient light guide with a different refractive index profile by<br />
the expression:<br />
2<br />
2<br />
r<br />
q<br />
n<br />
(<br />
r<br />
)<br />
=<br />
n<br />
1<br />
[1<br />
−<br />
2<br />
∆<br />
(<br />
)<br />
],<br />
r<br />
<<br />
a<br />
a<br />
2<br />
2<br />
2<br />
n<br />
(<br />
r<br />
)<br />
=<br />
n<br />
[1<br />
−<br />
2<br />
∆<br />
]<br />
=<br />
n<br />
,<br />
r<br />
≥<br />
a<br />
Simulation results are presented in Fig. 2. At the beginning we<br />
considered light propagation in initially homeotropic nematic texture<br />
confined by a glass with a smaller refractive index (n LC<br />
= 1.6,<br />
n Glass<br />
= 1.5) without the application of external electric field. In this<br />
case the structure of capillary with a LC core is stepped light guide.<br />
In such a structure the beam of light propagates straight within the<br />
layer of LC and is reflected from the glass-LC interface.<br />
16<br />
1<br />
0<br />
Figures 2 shows distributions of the refractive index in LC capillary<br />
in the direction perpendicular to the direction of light propagation,<br />
as well as distribution and intensity of light beam at the<br />
output of gradient light guide for different values of applied field (0<br />
on the horizontal axis corresponds to the axis of LC capillary). It is<br />
shown that with the increase of applied magnetic field the gradient<br />
light guide changes the refractive index profile, which shape<br />
is approaching to the Gaussian distribution. During this the trajectory<br />
of beams is changing form broken lines to sinusoidal.<br />
At the out put of a gradient light guide with a refractive index<br />
profile close to the Gaussian distribution the growth of focusing<br />
action of fiber is observed. Thus, the obtained structure is alight<br />
guide formed directly in the LC capillary, and the magnitude of the<br />
applied magnetic field allows changing the mode composition of<br />
radiation, which propagates in this structure.<br />
However, for more accurate results an additional deformation<br />
of director field, caused by influence of cylindrical confining surface<br />
should be considered, which is our next task.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Conclusion<br />
The possibility of development of magnetically controlled structure<br />
on the basis of liquid crystals for optical fiber systems are<br />
established. By mens of specialized software product GBMOLDD<br />
the distribution of refractive index in capillary with initial homeotropic<br />
nematic texture and with applied external magnetic field of<br />
maximum magnitude are simulaled. Computer simulation of light<br />
propagation in LC capillaries with a nonlinear way of distribution<br />
of the refractive index was performed by the means of specialized<br />
software product Zemax.<br />
References<br />
[1] Hotra Z. at all: The field stabilization of optic-active medium of harmful<br />
substances sensors, <strong>Elektronika</strong>, 2010, nr 6, s. 162–163.<br />
[2] Israelachvili J.: Intermolecular and surface forces, San Diego: Academic<br />
Press, 1992.<br />
[3] Kaminow Ivan P., Tingye Li, Willner Alan E.: Optical Fiber Telecommunications<br />
B: Systems and Networks: London, Academic Press.,<br />
2008.<br />
[4] Mykytyuk Z.M. at all.: Forming the profile of the refractive index of<br />
liquid crystal layer, 1-st National Scientific Conference “Physical and<br />
technological problems of radio devices, telecommunication, nanoand<br />
microelectronics”, 13–15 October, 2011, Chernivtsi, Ukraine.,<br />
p. 127–130.<br />
[5] Mykytyuk Z.M. at all.: Simulation of light propagation process in<br />
glass-cholesteric liquid crystal-glass structure. Issue of Lviv Polytechnic<br />
National University “Physical-Mathematical Sciences”, No. 3,<br />
2011, p. 1–6.<br />
[6] Mykytyuk Z. at all.: The Current Phenomenon In The Indium-Tin Oxide-Alignment<br />
Layer-Liquid Crystal Structure, Acta Physica Polonica,<br />
Vol. 117, No. 1, 2010, p. 248–250.<br />
Charakteryzacja światłowodowych siatek Bragga metodą<br />
reflektometrii optycznej w dziedzinie częstotliwości<br />
dr inż. Tomasz OSUCH 1, 2 , doc. dr inż. Kazimierz JĘDRZEJEWSKI 1 , dr inż. Lech LEWANDOWSKI 1 ,<br />
mgr inż. Krzysztof Anders 3 , mgr inż. Paweł GDULA 2,3 , dr inż. Ryszard PIRAMIDOWICZ 3<br />
1<br />
Politechnika Warszawska, <strong>Instytut</strong> Systemów <strong>Elektronicznych</strong>, Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych ,<br />
2<br />
<strong>Instytut</strong> Łączności – Państwowy <strong>Instytut</strong> Badawczy, Warszawa<br />
3<br />
Politechnika Warszawska, <strong>Instytut</strong> Mikroelektroniki i Optoelektroniki, Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych<br />
Jedną z najbardziej popularnych technik pomiaru charakterystyk<br />
spektralnych komponentów światłowodowych jest metoda z użyciem<br />
przestrajalnego bądź szerokopasmowego źródła oraz optycznego<br />
analizatora widma. Jednakże nie jest to jedyny sposób<br />
pomiaru parametrów widmowych podzespołów światłowodowych,<br />
np. światrłowodowych siatek Bragga. Istnieją bowiem techniki reflektometryczne<br />
takie jak OLCR (ang. Optical Low-Coherent Reflectometry)<br />
lub wykorzystywana w reflektometrach optycznych<br />
wysokiej rozdzielczości metoda OFDR (ang. Optical Frequency<br />
Domain Reflectometry) [1, 2]. W artykule przedstawiono wyniki<br />
badań nad zastosowaniem i ograniczeniami metody OFDR w pomiarach<br />
siatek Bragga.<br />
Eksperyment<br />
Wszystkie badane siatki wykonano na włóknach światłowodowych<br />
poddawanych wcześniej procesowi wodorowania w temperaturze<br />
pokojowej pod ciśnieniem rzędu 120 bar. Do nanoszenia<br />
siatek wykorzystano metodę skanowania maski fazowej [3]. Siatki<br />
wykonano na następujących światłowodach:<br />
a) cztery 3…4,5 dB siatki o zbliżonej długości fali Bragga ok.<br />
1535 nm (wynikającej z użytej maski fazowej o okresie<br />
1061 nm), naniesione na jednym odcinku standardowego<br />
światłowodu jednomodowego,<br />
b) siatka Bragga na światłowodzie utrzymującym polaryzację<br />
typu PANDA,<br />
c) siatka skośna o kącie skosu ok. 4 0 wykonana na standardowym<br />
jednomodowym światłowodzie telekomunikacyjnym,<br />
d) siatka Bragga na stożku przewężenia wykonanego ze standardowego<br />
światłowodu jednomodowego.<br />
Siatki mierzone były na układach pomiarowych przedstawionych<br />
na rys. 1. W stanowiskach z rys. 1a i 1b wykorzystano jako<br />
szerokopasmowe źródło światła (BBS) diodę superluminescencyjną<br />
o zakresie spektralnym rzędu 1500…1560 nm oraz optyczny<br />
analizator widma (OSA) o rozdzielczości spektralnej 10 pm.<br />
W układzie do pomiaru widma odbitego dodatkowo zastosowano<br />
cyrkulator optyczny trójportowy (rys. 1b). Z kolei w stanowisku<br />
z rys. 1c) OBR (ang. Optical Backscatter Reflectometer) jest to<br />
precyzyjny reflektometr o rozdzielczości pomiaru dystansu 10 µm,<br />
dynamice 90 dB oraz zakresie pomiarowym do 2 km wykorzystujący<br />
metodę pomiaru OFDR.<br />
Rys. 1. Schematy stanowisk do pomiaru charakterystyk spektralnych<br />
siatek Bragga z użyciem szerokopasmowego źródła (BBS) oraz<br />
optycznego analizatora widma (OSA) w układzie a) transmisyjnym,<br />
b) odbiciowym oraz c) układ z wykorzystaniem precyzyjnego reflektometru<br />
optycznego (OBR)<br />
Fig. 1. Setups for measurement spectral characteristics of fiber Bragg<br />
gratings using broadband source (BBS) and optical spectrum analyzer<br />
(OSA) in a) transmission and b) reflective regime as well as c) setup<br />
with using high precision optical backscatter reflectometer (OBR)<br />
Wyniki<br />
Szeregowe połączenie siatek o podobnej długości<br />
fali Bragga<br />
W przypadku szeregowego połączenia czterech siatek Bragga<br />
o podobnych charakterystykach spektralnych, widmo zmierzone<br />
w układach 1a oraz 1b przedstawiono na rys. 2a oraz 2b.<br />
W wyniku nałożenia się widm od poszczególnych siatek o podobnych<br />
długościach fali Bragga, wynikowa charakterystyka przypomina<br />
widmo siatki z przesunięciem fazowym i nie daje możliwości<br />
wyselekcjonowania charakterystyk poszczególnych siatek.<br />
W przypadku pomiarów szeregu siatek metodą OFDR przy<br />
użyciu reflektometru optycznego wysokiej rozdzielczości, istnieje<br />
możliwość wyznaczenia charakterystyk spektralnych poszczególnych<br />
elementów braggowskich. Jednakże, jedynie charakterystyka<br />
pierwszej siatki od strony przyrządu pomiarowego (OBR) (rys. 4)<br />
posiada niemalże identyczne kształt jak zmierzona w układzie<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 17
Rys. 2. Charakterystyki spektralne: a) transmisyjna i b) odbiciowa czterech siatek połączonych szeregowo o podobnej długości fali zmierzone<br />
w przy pomocy szerokopasmowego źródła oraz optycznego analizatora widma<br />
Fig. 2. Spectral: a) transmission and b) reflectance characteristics of series of four Bragg gratings with similar Bragg wavelengths, measured<br />
using broadband source and optical spectrum analyzer<br />
Rys. 3. Charakterystyka spektralna odbiciowa pierwszej z szeregu<br />
czterech siatek Bragga zmierzona przy użyciu OSA oraz BBS (układ<br />
z rys. 1b)<br />
Fig. 3. Spectral (reflectance) characteristic of the first of the four fiber<br />
Bragg gratings measured using OSA and BBS (setup from Fig. 1b)<br />
z rys. 1b (rys. 3). Różnica jest jedynie zauważalna w przypadku<br />
niewielkich poziomów mocy odbitej, gdzie uwidacznia się przewaga<br />
metody OFDR, w której uzyskuje się lepszą dynamikę pomiaru<br />
w porównaniu zastosowania układu z optycznym analizatorem<br />
widma, źródłem szerokopasmowym i cyrkulatorem optycznym.<br />
Ograniczenie metody reflektometrycznej związane jest z odbiciami<br />
wstecznymi od połączeń w układzie pomiarowym (m.in. na<br />
połączeniach cyrkulatora optycznego ze źródłem szerokopasmowym<br />
oraz optycznym analizatorem widma i siatką Bragga).<br />
Dla porównania, na rysunku 5 przedstawiono charakterystykę<br />
spektralną odbiciową tej samej siatki, jednakże przy odwrotnym<br />
podłączeniu włókna do OBR (jako ostatnia z szeregu czterech).<br />
W tym przypadku zauważalne stają różnice w widmie w porównaniu<br />
z charakterystykami z rysunków 3 i 4, szczególnie w obszarze<br />
Rys. 4. Charakterystyka spektralna odbiciowa pierwszej z szeregu czterech siatek Bragga zmierzona metodą OFDR przy użyciu OBR (układ z rys. 1c)<br />
Fig. 4. Spectral (reflectance) characteristic of the first of the four fiber Bragg gratings measured using OBR and OFDR method (setup from Fig. 1c)<br />
Rys. 5. Charakterystyka spektralna odbiciowa tej samej siatki co na rys. 4 oraz 5 przy odwrotnym podłączeniu włókna do OBR (układ z rys. 1c)<br />
Fig. 5. Spectral (reflectance) characteristic of the same grating as in Fig. 4 and 5 when OBR is connected to the other end of the optical fiber<br />
with the series of four gratings (setup from Fig. 1c)<br />
18<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
piku centralnego oraz pierwszego maksimum bocznego po stronie<br />
fal dłuższych niż długość fali Bragga.<br />
Siatka Bragga na światłowodzie dwójłomnym<br />
Na rysunku 6 pokazano krzywą reflektometryczną odcinka siatki<br />
Bragga naniesionej na światłowód dwójłomny typu PANDA. Wyznaczoną<br />
przy pomocy OBR charakterystykę spektralną odbiciową<br />
siatki przedstawiono na rysunku 7.<br />
Na krzywej reflektometrycznej widoczne są dwa charakterystyczne<br />
maksima odpowiadające braggowskim maksimom reflektancji<br />
w krzywej spektralnej, które z kolei wynikają z różnych<br />
współczynników załamania światła we włóknie dwójłomnym (dla<br />
osi szybkiej i wolnej). Prawostronne poszerzenie krzywej reflektometrycznej<br />
wynika z wielokrotnych odbić od prążków siatki,<br />
a w konsekwencji opóźnienia fali, która dociera do detektora reflektometru<br />
OBR.<br />
Rys. 6. Krzywa reflektometryczna dla siatki na światłowodzie utrzymującym polaryzację zmierzona metodą OFDR przy użyciu OBR<br />
Fig. 6. Characteristic of backscattered light from fiber Bragg grating written in the polarization maintaining fiber measured using OBR and<br />
OFDR method<br />
Rys. 7. Charakterystyka spektralna odbiciowa siatki na światłowodzie utrzymującym polaryzację zmierzona metodą OFDR przy użyciu OBR<br />
Fig. 7. Spectral reflectance characteristic of fiber Bragg grating written in polarization maintaining optical fiber measured usign OBR and<br />
OFDR method<br />
Rys. 8. Krzywa reflektometryczna dla siatki skośnej zmierzona metodą OFDR przy użyciu OBR<br />
Fig. 8. Characteristic of backscattered light from tilted fiber Bragg grating measured using OBR and OFDR method<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 19
Rys. 9. Krzywe reflektometryczne dla siatki Bragga na przewężeniu światłowodowym zmierzone metodą OFDR przy użyciu OBR wykonane<br />
przy podłączeniu dwóch różnych końców światłowodu do urządzenia pomiarowego<br />
Fig. 9. Characteristics of backscattered light from Bragg grating on taper measured using OBR and OFDR method from both ends of optical fiber<br />
Siatka skośna<br />
Rysunek 8 zawiera krzywą reflektometryczną siatki skośnej.<br />
Kształt charakterystyki jest znacząco różny od pozostałych<br />
przypadków z uwagi na brak poszerzenia od strony większych<br />
odległości. W konsekwencji długość siatki 15 mm odczytana<br />
z charakterystyki jest równa rzeczywistej (fizycznej) wielkości<br />
tego parametru. Brak poszerzenia wynika z nachylenia prążków<br />
siatki w stosunku do standardowej struktury braggowskiej, dzięki<br />
czemu nie powstają wielokrotne odbicia, a zatem i dodatkowe<br />
opóźnienia światła rozproszonego wstecznie i docierającego do<br />
detektora reflektometru OBR.<br />
Siatka Bragga na przewężeniu światłowodowym<br />
W przypadku siatki Bragga wykonanej na przewężeniu światłowodowym<br />
[4] pomiarów krzywych reflektometrycznych dokonano<br />
przy podłączeniu każdego z końców włókna do OBR (rys. 9a<br />
i 9b). Mimo, że obie krzywe posiadają widoczne maksima reflektancji<br />
(wynikające z odbicia światła od prążków siatki) jak i poszerzenie<br />
od strony odległości większych od odległości OBR-siatka<br />
Bragga (efekt Fabry-Perota), to kształty charakterystyk zdecydowanie<br />
się różnią. Różnica wynika z niesymetryczności badanego<br />
podzespołu światłowodowego. Po pierwsze, przewężenie nie jest<br />
symetryczne i długości oraz profile stożków się różnią. Po drugie,<br />
siatka naniesiona jest na jednym (dłuższym) stożku przewężenia,<br />
a zatem w zależności od podłączenia światłowodu z siatką do<br />
OBR, impulsy z reflektometru najpierw napotykają stożek krótki,<br />
a następnie długi z siatką lub odwrotnie. To z kolei jest przyczyną<br />
różnic w rozkładzie rozproszenia wstecznego w funkcji odległości,<br />
a zatem krzywych reflektometrycznych z rys. 9a i 9b.<br />
Jednakże jedynie z krzywej A można wyznaczyć długość siatki<br />
Bragga równą 10 mm. Warto zwrócić również uwagę na fakt, że<br />
20<br />
z racji efektu chirpu w siatce Bragga na przewężeniu (szersze<br />
spektrum odbiciowe), należy tak dobrać zakres spektralny pomiaru<br />
metodą OFDR, aby pokrywał pełen zakres widmowy siatki.<br />
Podsumowanie<br />
W artykule zaprezentowano wyniki badań mających na celu porównanie<br />
dwóch metod pomiaru charakterystyk siatek Bragga, ze<br />
szczególnym uwzględnieniem ich wad i ograniczeń. Przedstawiono<br />
możliwość pomiaru przy użyciu metody OFDR widm poszczególnych<br />
szeregowo połączonych siatek o niemalże identycznym<br />
zakresie widmowym, na co nie pozwala standardowa technika<br />
wykorzystująca optyczny analizator widma i źródło przestrajalne<br />
bądź szerokopasmowe. Ponadto metoda OFDR umożliwia wyznaczenie<br />
fizycznej długości siatki Bragga dzięki przekształceniu<br />
i reprezentacji wyników pomiarów w dziedzinie odległości w postaci<br />
krzywej reflektometrycznej. Technika wykorzystująca metodę<br />
OFDR okazuję się więc być szczególnie przydatna, gdy konieczne<br />
jest uzyskanie informacji o położeniu siatki względem końca<br />
światłowodu, długości siatki oraz charakterystykach widmowych<br />
siatek stanowiących na przykład rezonator Fabry-Perot’a.<br />
Literatura<br />
[1] Derickson D.: Fiber Optic Test and Measurement, Hewlett-Packard<br />
Company 1998.<br />
[2] Hui R., O’Sullivan M.: Fiber Optic Measurement Techniques, Elsevier<br />
Academic Press, 2009.<br />
[3] Osuch T., Gąsior P., Lewandowski L.: System for modification of exposure<br />
time in fiber Bragg gratings fabrication with using scanning<br />
phase mask method, Proc. SPIE, Vol. 5775, 222–226, 2005.<br />
[4] Tenderenda T., Jędrzejewski K.: Charakterystyki spektralne siatek<br />
Bragga na przewężeniach światłowodowych poddawanych działaniu<br />
naprężeń i temperatury, <strong>Elektronika</strong> – konstrukcje, technologie, zastosowania,<br />
Vol. 8, 162–166, 2009.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Światłowodowe skośne siatki Bragga<br />
doc. dr inż. Kazimierz JĘDRZEJEWSKI 1 , dr inż. Tomasz OSUCH 1,2 ,<br />
dr inż. Lech LEWANDOWSKI 1 , mgr inż. Wiesław JASIEWICZ 1<br />
1<br />
Politechnika Warszawska, <strong>Instytut</strong> Systemów <strong>Elektronicznych</strong>, Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych<br />
2<br />
<strong>Instytut</strong> Łączności – Państwowy <strong>Instytut</strong> Badawczy, Warszawa<br />
W metodzie maski fazowej modyfikację charakterystyk spektralnych<br />
siatek Bragga uzyskuje się wieloma sposobami. Może<br />
być to zmiana długości siatki, czasu naświetlania (głębokości<br />
zmian współczynnika załamania), wprowadzenia chirpu lub<br />
apodyzacji. W pracy przedstawiono realizację siatek skośnych,<br />
które obok siatek apodyzowanych i zmienno-okresowych, stanowią<br />
jeden ze standardowych rodzajów siatek opisywanych<br />
w dostępnych monografiach [3, 7]. Skośne ustawienie prążków<br />
interferencyjnych względem osi włókna powoduje znaczącą<br />
zmianę charakterystyki spektralnej siatek Bragga. Siatki skośne<br />
maja bardzo rozbudowana charakterystykę transmisyjną po<br />
stronie niższych od braggowskiej długości fal. Jest to rezultat<br />
pojawienia się, w wyniku zmian w propagacji sygnału pobudzającego,<br />
modów radiacyjnych i płaszczowych w kierunkach<br />
zgodnym lub przeciwnym do kierunku propagacji, które mogą<br />
zostać odbite, zaabsorbowane lub wypromieniowane. Wraz ze<br />
wzrostem kąta skosu zjawisko to jest coraz bardziej widoczne,<br />
a podstawowe minimum braggowskie zanika i jest widoczne<br />
tylko w pomiarach sygnału odbitego. Zjawisko takie występuje,<br />
gdy współczynnik załamania otoczenia jest niższy niż szkła np.<br />
przy pomiarach w powietrzu.<br />
Jednym z powszechniejszych zastosowań siatek skośnych<br />
jest spłaszczanie charakterystyki wzmocnienia w funkcji długości<br />
fali poprzez umieszczenie siatki w torze wzmacniacza, która pracuje<br />
w reżimie transmisyjnym [4, 5].<br />
W pracy przedstawiono technologię realizacji takich siatek,<br />
ich charakterystyki spektralne w zależności od kąta ustawienia<br />
włókna światłowodowego względem maski fazowej podczas procesu<br />
nanoszenia oraz zmiany tych charakterystyk w zależności<br />
od współczynnika załamania otoczenia, co oznacza możliwość<br />
zastosowania takich siatek jako czujnika zmian współczynnika<br />
załamania otoczenia.<br />
Opis eksperymentu<br />
Siatki skośne realizowane były w ISE PW techniką skanowania<br />
maski fazowej na światłowodach jednomodowych poddanych<br />
wcześniej procesowi wodorowania [2]. Metoda ta, stosowana<br />
w naszym laboratorium, opisywana była już wcześniej [1]. Źródłem<br />
światła jest laser argonowy pracujący na długości fali 244 nm<br />
przy standardowej mocy wyjściowej 100 mW. W tej technologii<br />
w przypadku nanoszenia standardowych – jednorodnych siatek<br />
Bragga światłowód jest umieszczany tuż przy powierzchni maski<br />
i równolegle do niej, prostopadle do obrazu prążków interferencyjnych.<br />
Kąt prosty między włóknem i prążkami za maską<br />
jest uzyskiwany za pomocą mechanicznych stolików liniowych<br />
regulowanych w trzech osiach. Na stolikach umieszczone są<br />
odpowiednie elementy układu. Dzięki takiemu ustawieniu prążki<br />
interferencyjne pojawiające się w obszarze za maską fazową<br />
są prawie idealnie równoległe do osi światłowodu, a naniesiona<br />
siatka Bragga posiada charakterystykę widmową podobną do tej<br />
z rysunku 1.<br />
Pojawiający się grzebień po lewej stronie głównego minimum<br />
wynika z niedokładności ustawienia (prostopadłości prążków<br />
maski fazowej względem osi włókna). Szeroki zakres spektralny<br />
pomiaru został celowo wybrany, aby zilustrować minimalny<br />
wkład modów płaszczowych i radiacyjnych w charakterystyce<br />
spektralnej siatki.<br />
Warto nadmienić, że na skutek różnych współczynników załamania<br />
otoczenia i światłowodu, kąt skosu Θ nie jest równy kątowi<br />
nachylenia prążków siatki względem osi włókna φ (rys. 2).<br />
Rys. 1. Charakterystyka transmisyjna typowej jednorodnej siatki<br />
Bragga dla Θ = 0 0<br />
Fig. 1. Spectral transmission characteristic of typical uniform fiber<br />
Bragg grating at Θ = 0 0<br />
Rys. 2. Ilustracja charakterystycznych parametrów siatki skośnej: Λ g<br />
– okres siatki wynikający z obrazu interferencyjnego, Λ – okres siatki<br />
wzdłuż osi włókna, φ – kąt nachylenia prążków siatki względem osi<br />
włókna<br />
Fig. 2. Illustration of characteristic parameters of tilted Bragg grating,<br />
Λ g<br />
– grating period resulting from interference pattern, Λ – grating<br />
period along the optical fiber axis, φ – tilt angle<br />
Wyniki<br />
Na rysunku 3 przedstawiono przykładową charakterystykę transmisyjną<br />
siatki Bragga dla kąta skosu Θ = 3 0 w przypadku gdy<br />
otoczeniem jest powietrze. Charakterystyczny szeroki grzebień<br />
pików po stronie fal mniejszych od długości fali Bragga wynika<br />
z odbicia światła od pochylonych względem osi włókna prążków<br />
siatki oraz z wnikania światła w płaszcz (mody płaszczowe).<br />
Zmiana współczynnika załamania ośrodka otaczającego wpływa<br />
na kształt charakterystyki siatki skośnej [6], co zilustrowano<br />
na rysunkach 3 i 4. Interesujące miejsce zniekształcenia części<br />
grzebieniowej charakterystyki transmisyjnej tzw. „punkt charakterystyczny”<br />
zaznaczono na rysunku 4 strzałką.<br />
Na rysunku 3 przedstawiono przykładową charakterystykę<br />
transmisyjną siatki Bragga o kącie skosu Θ = 3 0 umieszczoną<br />
w powietrzu. Jest ona zgodna z licznymi wynikami dostępnymi<br />
w literaturze [5]. Zgodnie z oczekiwaniami w widmie transmisyjnym<br />
pojawił się szeroki spektralnie grzebień, którego niektóre minima<br />
posiadając więcej niż 10 dB. Taka typowa charakterystyka<br />
zostaje zakłócona podczas zmiany współczynnika załamania otaczającego<br />
ośrodka [6]. Przykład takiego zakłócenia przedstawiono<br />
na rysunku 4. Interesujące miejsce skokowej zmiany kształtu<br />
charakterystyki transmisyjnej zostało zaznaczone strzałką.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 21
Rys. 3. Charakterystyka transmisyjna siatki Bragga dla Θ = 3 0 , współczynnik<br />
załamania ośrodka n = 1,0<br />
Fig. 3. Transmission spectral characteristic of tilted fiber Bragg grating<br />
for Θ = 3 0 , surrounding refractive index n = 1,0<br />
Rys. 4. Charakterystyka transmisyjna siatki Bragga dla Θ = 3 0 , współczynnik<br />
załamania ośrodka n = 1,41<br />
Fig. 4. Transmission spectral characteristic of tilted fiber Bragg grating<br />
for Θ = 3 0 , surrounding refractive index n = 1,41<br />
Rys. 5. Długość fali „punktu charakterystycznego” w charakterystyce<br />
spektralnej transmisyjnej siatki skośnej w funkcji współczynnika<br />
załamania ośrodka dla Θ = 2 0<br />
Fig. 5. Wavelength of characteristic point in transmission spectral<br />
characteristic of tilted fiber Bragg grating with Θ = 2 0 as a function of<br />
surrounding refractive index<br />
Rys. 6. Długość fali „punktu charakterystycznego” w charakterystyce<br />
spektralnej transmisyjnej siatki skośnej w funkcji współczynnika<br />
załamania ośrodka dla Θ = 3 0<br />
Fig. 6. Wavelength of characteristic point in transmission spectral<br />
characteristic of tilted fiber Bragg grating with Θ = 2 0 as a function of<br />
surrounding refractive index<br />
Wynik zbiorczy określający położenie spektralne „punktu charakterystycznego”<br />
zmiany kształtu grzebieniowej części widma<br />
transmisyjnego siatki skośnej w funkcji współczynnika załamania<br />
ośrodka otaczającego przedstawiono na rysunkach 5 i 6 dla<br />
dwóch kątów skosu Θ = 2 0 i Θ = 3 0 . Obserwowane zmiany mają<br />
charakter liniowy w zakresie zmian wartości współczynnika załamania<br />
otoczenia 1,40…1,43. Przy dalszym zwiększaniu tego<br />
współczynnika krzywa ulega nasyceniu, a charakterystyczna<br />
zmiana kształtu widma transmisyjnego siatki przestaje być widoczna.<br />
Przekroczenie warunków propagacji dla poszczególnych<br />
modów radiacyjnych i płaszczowych powoduje zanik grzebieniowego<br />
charakteru przebiegu krzywej spektralnej.<br />
Podsumowanie<br />
Zaburzenie warunku prostopadłości prążków siatki Bragga względem<br />
osi włókna już przy bardzo małych kątach nachylenia prążków<br />
powoduje pojawienie się niepożądanych minimów transmisji<br />
po stronie fal mniejszych niż długość fali. Zatem w celu wykonywania<br />
siatek jednorodnych o dużej wartości reflektancji (duży<br />
czas naświetlania) istotne jest odpowiednie wyjustowanie układu<br />
maska fazowa-włókno optyczne. Z drugiej jednak strony charakter<br />
(kształt) „grzebienia” (odpowiadającego modom płaszczowym)<br />
po stronie fal λ
Sterowanie odpowiedzią czujników opartych<br />
na światłowodowych siatkach długookresowych (LPG)<br />
poprzez zastosowanie cienkich pokryć<br />
dr inż. Mateusz ŚMIETANA 1 , prof. dr inż. Wojtek J. BOCK 2 , inż. Predrag MIKULIC 2<br />
1<br />
<strong>Instytut</strong> Mikroelektroniki i Optoelektroniki, Politechnika Warszawska<br />
2<br />
Centre de recherche en photonique, Université du Québec en Outaouais, 101 rue Saint-Jean-Bosco Gatineau, Québec (Kanada)<br />
Od kilkunastu lat intensywnie rozwijana jest nowa klasa czujników<br />
światłowodowych opartych na długookresowych siatkach światłowodowych<br />
(ang. Long-Period Grating, LPG) [14]. Siatki światłowodowe<br />
charakteryzują się periodyczną zmianą współczynnika<br />
załamania obszaru rdzenia światłowodu. W odróżnieniu od znanych<br />
wcześniej światłowodowych siatek braggowskich (ang. Fibre<br />
Bragg Grating, FBG), gdzie okres modulacji współczynnika załamania<br />
(Λ) wynosi ok. 1 μm, dla LPG jest on typowo w zakresie<br />
150…700 μm, co umożliwia ich wytworzenie z wykorzystaniem<br />
szeregu metod [13]. Obecność siatki powoduje sprzężenie między<br />
modem propagującym się w rdzeniu i modami płaszczowymi,<br />
co jest obserwowane jako seria rezonansowych pików tłumienia<br />
w ich widmie transmisyjnym. Zależność między efektywnymi<br />
współczynnikami załamania modu rdzeniowego LP 01<br />
(n (01) ) i m-<br />
eff<br />
tego modu płaszczowego LP 0 m<br />
(n (0 m) ), a rezonansową długością<br />
fali wynikającą ze sprzężenia kolejnego mody płaszczowego<br />
eff<br />
(λ (0 m) ) przedstawia równanie 1.<br />
rez<br />
( ) rez<br />
(01)<br />
(0<br />
m<br />
)<br />
(0<br />
m<br />
)<br />
n<br />
eff<br />
−<br />
n<br />
eff<br />
⋅Λ =<br />
λ<br />
(1)<br />
Demonstruje się wiele zastosowań LPG w zakresie telekomunikacyjnym,<br />
jak i czujnikowym (temperatury, naprężenia, ciśnienia<br />
i współczynnika załamania) [6]. Najczęściej spotykanym w literaturze<br />
dotyczącej wykorzystania struktur LPG do zastosowań<br />
czujnikowych czynnikiem mierzonym jest współczynnik załamania<br />
medium otaczającego siatkę (RI) [5]. Z faktu, że siatka LPG<br />
wywołuje sprzęganie modów płaszczowych wynika, że odpowiedź<br />
spektralna struktur silnie zależy od właściwości optycznych<br />
otaczającego medium. Autorzy prac z tego zakresu najczęściej<br />
koncentrują się na pomiarze przesunięcia piku rezonansowego<br />
w funkcji długości fali, choć zdarzają się też rozwiązania oparte<br />
na pomiarze zmian transmisji w zakresie rezonansu wywołanych<br />
zmianami czynnika zewnętrznego. Wraz ze wzrostem RI wzrasta<br />
efektywny współczynnik załamania modów płaszczowych, co<br />
zgodnie z równaniem 1 powoduje przesunięcie rezonansowej długości<br />
fali w kierunku fal krótszych. Dopóki współczynnik załamania<br />
płaszcza jest wyższy od RI, mody płaszczowe są prowadzone<br />
w strukturze. Największą czułość na zmiany RI struktury LPG bez<br />
pokryć osiągają jednak w zakresie RI bliskiego wartości określonej<br />
dla płaszcza światłowodu [3]. Przy spełnieniu tego warunku<br />
dochodzi do maksymalnego przesunięcia pików rezonansowych.<br />
Kiedy RI jest bardzo zbliżony do współczynnika załamania płaszcza,<br />
można przyjąć taki model struktury, gdzie rdzeń zaczyna<br />
być otoczony przez ośrodek nieskończony, co uniemożliwia powstawanie<br />
struktury modów płaszczowych i tym samym ich rezonansu<br />
z modem rdzeniowym. Zakres RI bliski określonemu dla<br />
materiału światłowodu warunkuje bardzo wysoką czułość rzędu<br />
dλ/dRI = 2000 nm/RIU (ang. Refractive Index Unit), co pozwala<br />
na detekcje zmian RI na poziomie 10 -5 RIU [4].<br />
Struktury LPG często pokrywa się warstwami mającymi na<br />
celu zwiększenie czułości na jakiś czynnik zewnętrzny, ograniczenie<br />
wpływu innych czynników poza mierzonym lub uczynienie<br />
struktury czułą na czynnik, na który struktura bez pokrycia nie<br />
była wrażliwa [np. 1, 4, 12]. Dla efektywnych zastosowań czujnikowych<br />
podjęto próby zwiększenia czułości struktur LPG nie<br />
tylko w zakresie zewnętrznego współczynnika załamania bliskiego<br />
współczynnikowi płaszcza, lecz także w innych zakresach.<br />
Możliwość taką daje pokrycie siatki LPG odpowiednio dobraną<br />
warstwą. Najistotniejszymi parametrami warstw pokryciowych<br />
jest ich grubość i właściwości optyczne. Po pokryciu siatki warstwą<br />
o wyższym współczynniku załamania od określonego dla<br />
płaszcza, zachodzi interakcja między prowadzonym modem<br />
płaszczowym i warstwą. Można wykazać [1], że istnieje taka<br />
grubość, która daje maksymalne przesunięcie długości fali rezonansowej,<br />
zależne także od współczynnika załamania warstwy<br />
i jej otoczenia. Tak więc refraktometry o dużej czułości można<br />
projektować dla wąskich zakresów zmian współczynnika załamania<br />
otoczenia.<br />
W pracy przedstawiono przykłady zastosowania cienkich<br />
pokryć wytwarzanych w technikach plazmowych, które dzięki<br />
swoim właściwościom optycznym mogą sterować odpowiedzią<br />
struktur LPG na zmiany RI. W przeciwieństwie do warstw wytwarzanych<br />
w innych technikach (np. Langmiur-Blodgett, osadzanie<br />
warstw samoorganizujących, zol-żel), dzięki wysokiej<br />
twardości i odporności chemicznej warstwy te mogą świetnie<br />
chronić strukturę przed niszczącym wpływem mechanicznym<br />
lub chemicznym.<br />
Opis eksperymentu<br />
Na potrzeby eksperymentu wytworzono w światłowodzie jednomodowym<br />
Corning SMF28 serię siatek LPG o okresie Λ=400 µm.<br />
Do uzyskania struktur siatkowych wykorzystano łuk elektryczny<br />
[9]. Widmo transmisyjne struktur zmierzono z wykorzystaniem<br />
źródła szerokopasmowego i analizatora widma optycznego. Następnie<br />
na strukturach siatkowych osadzono z użyciem stanowisk<br />
do chemicznego osadzania z fazy gazowej wspomaganego<br />
plazmą wysokiej częstotliwości (ang. Radio Frequency Plasma<br />
Enhanced Chemical Vapor Deposition, RF PECVD) warstwy diamentopodobne<br />
(ang. Diamond-like Carbon) [7] i warstwy azotku<br />
krzemu (SiN x<br />
) [8]. Właściwości warstw uzyskanych na podłożach<br />
krzemowych, towarzyszących strukturom LPG podczas procesów<br />
osadzania, zmierzono z wykorzystaniem elipsometru spektroskopowego<br />
[11].<br />
Wpływ zmian RI w otoczeniu struktur LPG badano poprzez<br />
zanurzenie siatek w wodnych roztworach gliceryny o różnej koncentracji.<br />
Współczynnik załamania mieszanin (n D<br />
) w zakresie<br />
1,33…1,47 RIU określono z wykorzystaniem refraktometru.<br />
Wyniki<br />
Warstwy otrzymane na strukturach LPG charakteryzują się<br />
współczynnikiem załamania wyższym od materiału światłowodu<br />
(rys. 1). Dla DLC i SiN x<br />
współczynnik załamania w zakresie<br />
podczerwieni sięga odpowiednio 2 i 2,4 RIU. Należy także<br />
zauważyć bardzo niski lub wręcz pomijalny współczynnik ekstynkcji<br />
we wspomnianym zakresie widmowym, który świadczy<br />
o bardzo małej absorpcji optycznej badanych materiałów. Właściwości<br />
optyczne warstw, wraz z odpowiednio dobraną ich grubością<br />
pozwalają więc na sterowanie czułością struktur LPG na<br />
zmiany RI [4].<br />
Na rysunku 2 przedstawiono odpowiedź widmową struktur<br />
LPG na zmiany współczynnika załamania otoczenia. Widać<br />
wyraźnie, że wraz ze wzrostem RI widmo doznaje przesunięcia<br />
w stronę fal krótszych. Dla struktury bez pokrycia cienkowarstwowego<br />
efekt ten występuje aż do RI zbliżonego od materiału<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 23
Rys. 1. Właściwości optyczne warstw osadzonych na próbkach krzemowych<br />
towarzyszącym LPG podczas procesu osadzania. Grubość<br />
warstw określono na 87 i 182 nm odpowiednio dla SiN x<br />
i DLC<br />
Fig. 1. Optical properties of thin films deposited on silicon substrate<br />
accompanying LPGs during the deposition processes. Thickness of<br />
the films was 87 and 182 nm of SiNx and DLC films, respectively<br />
a)<br />
Rys. 3. Przesunięcie rezonansowej długości fali odpowiadającej modom<br />
płaszczowym LP 04<br />
(romby), LP 05<br />
(kwadraty), LP 06<br />
(koła) i LP 07<br />
(trójkąty) pod wpływem zmian RI w zakresie od 1 do 1,47 RIU, gdzie<br />
kolorem czarnym oznaczono LPG bez pokrycia, ciemnoszarym LPG<br />
z pokryciem DLC i jasnoszarym LPG z pokryciem SiN x<br />
Fig. 3. Resonance wavelength shift corresponding to coupling of LP 04<br />
(diamonds), LP 05<br />
(squares), LP 06<br />
(circles), and LP 07<br />
(triangles) cladding<br />
modes induced by variations in RI in range from 1 to 1.47 RIU,<br />
where black curve shows response of LPG without any overlay, and<br />
dark and light gray for LPGs with the DLC and the SiNx overlays,<br />
respectively<br />
b)<br />
c )<br />
Rys. 2. Przesunięcie widma transmisyjnego siatki LPG pod wpływem<br />
zmian RI w zakresie 1… 1,47 RIU, gdzie: (a) siatka bez pokrycia cienkowarstwowego,<br />
(b) siatka z pokryciem DLC (c) siatka z pokrycie SiN x<br />
Fig. 2. Shift of the LPG transmission spectra induced by variations<br />
in external RI in range from 1 to 1.47 RIU, where (a) shows response<br />
for structure without any overlay, (b) for LPG with DLC and (c) for<br />
SiNx overlays<br />
24<br />
światłowodu (1,47 RIU), przy którym następuje stopniowy zanik<br />
rezonansu wywołany istotnym zaburzeniem warunków propagacji<br />
modów płaszczowych (rys. 2a). Dla tych warunków przesunięcie<br />
długości fali rezonansu w funkcji RI jest największe. Po<br />
osadzeniu na LPG pokrycia cienkowarstwowego o wysokim n,<br />
efekt ten jest obserwowany dla niższych wartości RI niż w przypadku<br />
struktury bez warstwy. Po osadzeniu DLC o grubości na<br />
płytce referencyjnej wynoszącej 182 nm, dla RI ok. 1,39…1,4 RIU<br />
można zaobserwować najwyższą dynamikę przesunięcia widma<br />
(rys. 2b). Podwyższone na skutek osadzenia warstwy efektywne<br />
współczynniki załamania modów płaszczowych rosną przez co<br />
dochodzi do przesunięcia rezonansów w stronę krótszych długości<br />
fali zgodnie ze równaniem 1. Dalszy wzrost współczynnika<br />
załamania otoczenia prowadzi do zaburzenia warunków propagacji<br />
dla modu płaszczowego najniższego rzędu (LP 02<br />
), który<br />
zaczyna być prowadzony w warstwie. Pozostałe mody doznają<br />
spektralnego przesunięcia zajmując pozycję modów bezpośrednio<br />
niższego rzędu, czyli np. LP 06<br />
do LP 05<br />
widoczne dla struktury<br />
z warstwą DLC. Gdy warstwa pokryciowa jest odpowiednio gruba<br />
i posiada wysoki współczynnik załamania, jak choćby dla badanej<br />
struktury LPG z warstwą SiN x<br />
, mod najniższego rzędu jest prowadzony<br />
w warstwie w pełnym zakresie analizowanego współczynnika<br />
załamania otoczenia (rys. 2c). Dla tego przypadku przesunięcie<br />
rezonansów spowodowane zmianą RI jest minimalne. Na<br />
rys. 3 zestawiono pomiary przesunięcia rezonansowej długości<br />
fali odpowiadającej każdemu z modów płaszczowych wywołane<br />
zmianą RI.<br />
Podsumowanie i wnioski<br />
W pracy przedstawiono możliwość efektywnego sterowania zakresem<br />
czułości struktur LPG na zmiany RI poprzez zastosowanie<br />
warstw osadzanych w technikach plazmowych. Odpowiedni<br />
dobór właściwości optycznych warstwy i jej grubości pozwala na<br />
dostosowanie maksymalnej czułości struktur do wybranego zakresu<br />
RI. Wykorzystanie cienkich pokryć pozwala więc na wykorzystanie<br />
struktur LPG choćby w funkcji bezznacznikowych (ang.<br />
label-free) biosensorów (RI ~1,33 RIU), czy do pomiaru wilgotności<br />
(RI~1 RIU) [2]. Ponadto, poprzez osadzenie warstwy o odpowiednich<br />
parametrach, możliwe jest silne zredukowanie czułości<br />
na zmiany RI i zastosowanie struktur LPG do pomiaru innych parametrów<br />
takich jak ciśnienie [8], czy temperatura [10], przy braku<br />
zaburzającego pomiar wpływu zmian RI.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Autorzy pracy dziękują na wsparcie finansowe badań udzielone<br />
przez Natural Sciences and Engineering Research Council of<br />
Canada, Canada Research Chairs Program, Narodowe Centrum<br />
Badań i Rozwoju w ramach programu LIDER oraz Unię Europejską<br />
ramach Europejskiego Funduszu Społecznego, projekt<br />
„Program Rozwojowy Politechniki Warszawskiej” i Programu<br />
Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka w ramach programu<br />
Fundacji na rzecz Nauki Polskiej „Homing Plus”.<br />
Literatura<br />
[1] Del Villar I., Martias I.R., Arregui F.J.: Nanorefractometer Based on<br />
Deposition of an Overlay on a Long Period Fiber Grating, Proc. SPIE<br />
Vol. 5855, 2005, pp. 840–843.<br />
[2] Eftimov T. at all.: Efficient distributed moisture-ingress sensing using<br />
diamond-like carbon-nanocoated long period gratings, Optics Communications<br />
Vol. 284, 2011, pp. 4470–4472.<br />
[3] Falate R. at all.: Fiber optic sensors for hydrocarbon detection, Sensors<br />
and Actuators B 105, 2005, pp. 430–436.<br />
[4] Ishaq I.M. at all.: Modification of the refractive index response of long<br />
period gratings using thin film overlays, Sensors and Actuators B107,<br />
2005, pp. 738–741.<br />
[5] Patrick H.J., Kersey A.D., Bucholtz F.: Analisis of the Response of<br />
Long Period Fiber Gratings to External Index Refraction, J.Lightwave<br />
Tech. Vol. 16, no. 9, 1998, pp. 1606–1612.<br />
[6] Shu X., Zhang L.: Sensitivity Characteristics of Long-Period Fiber<br />
Gratings, J. Lightwave Technol. Vol. 20, no. 2, 2002, pp. 255–266.<br />
[7] Smietana M. at all.: Application of diamond-like carbon films in optical<br />
fibre sensors based on long-period gratings, Diamond and Related<br />
Materials Vol. 16, 2007, pp. 1374–1377.<br />
[8] Smietana M. at all.: Pressure Sensing in High-Refractive-Index Liquids<br />
Using Long-Period Gratings Nanocoated with Silicon Nitride,<br />
Sensors Vol. 10, no. 12, 2010, pp. 11301–11310.<br />
[9] Smietana M., Bock W.J., Mikulic P.: Comparative study of long-period<br />
gratings written in a boron co-doped fiber by an electric arc and<br />
UV irradiation, Measurement Science and Technology Vol. 21, 2010,<br />
025309.<br />
[10] Smietana M., Bock W.J., Mikulic P.: Temperature sensitivity of silicon<br />
nitride nanocoated long-period gratings working in various surrounding<br />
media, Measurement Science and Technology Vol. 22, 2011,<br />
115203.<br />
[11] Smietana M., Bock W.J., Szmidt J.: Evolution of optical properties<br />
with thickness of silicon nitride and diamond-like carbon films<br />
deposited by RF PECVD method, Thin Solid Films Vol. 519, 2011,<br />
pp. 6339–6343.<br />
[12] Sun J., Li Y., Liu D.: Widely tunable long-period fiber gratings with interpolymers<br />
as sensitivity-enhanced materials, Opt. Comm. Vol. 249,<br />
2005, pp. 193–200.<br />
[13] Vasilev SA at all.: Fibre gratings and their applications, Quantum<br />
Electronics Vol. 35, no. 12, 2005, pp. 1085–1103.<br />
[14] Vengsarkar A.M. at all.: Long-Period Fiber Gratings as Band-Rejection<br />
Filters, J. Lightwave Tech. Vol. 14, no. 1, 1996, pp. 58–65.<br />
Analiza możliwości wykorzystania siatek<br />
długookresowych w strukturach gradientowych<br />
światłowodów planarnych<br />
mgr inż. Tomasz Kotyczka, dr hab. inż. Roman Rogoziński Prof. nadzw. Pol. Śl.<br />
Politechnika Śląska, Departament Optoelektroniki<br />
Obecnie w przemyśle elektronicznym wraz z dynamicznym<br />
rozwojem technologii, obserwować można nieustanne dążenie<br />
do miniaturyzacji układów, a tym samym redukcji kosztów ich<br />
produkcji. Układy elektroniczne stają się coraz mniejsze, tańsze<br />
oraz bardziej energooszczędne. Coraz popularniejsze stają się<br />
jednostki zintegrowane, w których poszczególne komponenty<br />
urządzenia elektronicznego produkowane są w postaci pojedynczego<br />
układu. Podobną tendencję widać w dziedzinie układów<br />
optycznych. Z dobrze opanowanymi technologiami produkcji,<br />
bazując na materiałach wysokiej jakości, można wytwarzać układy<br />
optoelektroniczne z dużą precyzją oraz w sposób wysoce powtarzalny.<br />
Urządzenia optyczne w stosunku do swoich elektronicznych<br />
odpowiedników charakteryzują się przede wszystkim<br />
niewrażliwością na obecność oraz zmiany pola elektrycznego<br />
i magnetycznego. Mogą pracować w skrajnie trudnych warunkach,<br />
a także często dzięki swojej budowie ich czas życia znacząco<br />
się wydłuża. Głównym motorem ciągłego postępu oraz<br />
poszukiwania nowych rozwiązań jest potrzeba automatyzacji<br />
oraz kontroli i nadzoru wszelkiego rodzaju procesów. Dotyczy<br />
to zarówno wszystkich gałęzi przemysłu jak również technologii<br />
medycznych gdzie główny nacisk kładzie się na niezawodność<br />
oraz precyzję działania. Wszędzie gdzie występują trudne<br />
warunki lub wymagana jest nieustanna kontrola projektuje<br />
się czujniki, które z duża dokładnością oraz w krótkim czasie<br />
pozwolą na detekcję pożądanych parametrów. W raz z rozwojem<br />
telekomunikacji znaczącą role zaczęły odgrywać układy<br />
wytwarzane bezpośrednio na włóknach. Do przykładów takich<br />
rozwiązań należą chociażby lasery światłowodowe [16], pompy<br />
optyczne, wszelkiego rodzaju czujniki płynów oraz gazów, a także<br />
filtry [3, 5, 6, 13, 15]. Te ostatnie oparte są na siatkach długookresowych<br />
LPG (Long Period Fiber Grating) [13]. Umożliwiają<br />
one sprzęganie mocy poszczególnych modów propagujących<br />
się w światłowodzie. Ze względu jednak na ograniczenia materiałowe,<br />
z których wykonywane są włókna transmisyjne oraz<br />
trudności technologiczne z odsłonięciem rdzenia i fizycznym<br />
osadzeniu siatki, w odniesieniu do układów LPG uwagę skierowano<br />
w kierunku struktur planarnych [2, 8, 9, 12]. Szeroka<br />
gama dostępnych materiałów o znanych parametrach jak również<br />
dobrze poznane i opanowane procesy technologiczne, pozwalają<br />
modelować oraz wykonywać pożądane układny w wielu<br />
konfiguracjach. W niniejszej pracy zaprezentowano analizę<br />
wykorzystania siatek długookresowych w oparciu o gradientowe<br />
światłowody planarne z głównym naciskiem na struktury typowo<br />
gradientowe (gradient + gradient). Rozdział drugi przedstawia<br />
propozycję konfiguracji układu LPWG. Kolejny rozdział zawiera<br />
podstawy teoretyczne oraz pokazuje model, na którym bazowały<br />
obliczenia. Rozdział czwarty to analiza układu planarnego<br />
w strukturze gradientowej i prezentacja krzywych rezonansowych<br />
oraz widm transmisji dla różnych procesów technologicznych<br />
oraz parametrów siatki. Ostatnia część pracy zawiera podsumowanie<br />
i wnioski dotyczące otrzymanych wyników, a także<br />
propozycje dalszych badań w tym zakresie.<br />
Propozycja konfiguracji układu planarnego<br />
Ideą pracy układu LPWG jest sprzęganie modów propagujących<br />
się w obszarze światłowodu z modami pokrycia (propagującymi się<br />
w obszarze bezpośrednio przylegającym do obszaru falowodu).<br />
Realizuje się to poprzez wytworzenie zaburzenia (fizycznego lub<br />
okresowych zmian wsp. załamania). Warunkiem odprzęgania jest<br />
spełnienie równania Bragga:<br />
r<br />
r<br />
r<br />
cl<br />
β +<br />
qK<br />
= β<br />
(1)<br />
0 m<br />
gdzie: β r cl<br />
0<br />
i β r m – wektory propagacji modów rzędu zerowego i m-<br />
tego, q – rząd sprzężenia (q = ±1, ±2 …) oraz wektor falowy K r<br />
który bezpośrednio daje powiązanie z okresem zaburzenia.<br />
r<br />
K = 2 π /<br />
Λ<br />
(2)<br />
gdzie: Λ – okres wytworzonego zaburzenia.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 25
Ponieważ jak już wspomniano analiza dotyczy konkretnego szkła<br />
(BK7), które w wyniku wymiany jonowej staje się szkłem dwójłomnym,<br />
podczas symulacji brano pod uwagę tylko polaryzację<br />
TE. W niniejszej pracy jako obszar falowodowy przyjęto obszar<br />
jednomodowy, a co za tym idzie sprzęganie mocy odbywa się<br />
między modem podstawowym TE 0<br />
, a modami wyższych rzędów<br />
propagującymi się w obszarze otaczającym falowód i spełniającymi<br />
relację: β<br />
cl<br />
m<br />
< β<br />
0. Rząd sprzężenia przyjmuje zatem wartości<br />
ujemne (q < 0). W przypadku q = -1 równanie (1) przyjmuje<br />
postać:<br />
cl<br />
N<br />
−<br />
N<br />
Λ = λ<br />
(3)<br />
( )<br />
0 m r<br />
gdzie: λ r<br />
– oznacza rezonansową długość fali dla sprzężenia modów<br />
rzędu 0 i m.<br />
Ponieważ efektywne współczynniki załamania modów N0<br />
( λ )<br />
cl<br />
i Nm<br />
( λ ) to wielkości dyspersyjne więc na równanie (2) wpływ<br />
mają również dyspersje refrakcji ośrodka światłowodowego i obszaru<br />
pokrycia. W literaturze istnieje wiele przykładów konfiguracji<br />
struktur LPWG. Jednym z podstawowych są typowe struktury<br />
step-index [14]. Można spotkać struktury mieszane, w których<br />
obszar gradientowy pełni funkcję falowodu natomiast moc odprzęgana<br />
jest do modów propagujących się w wielomodowym<br />
obszarze jedno- rodnym naniesionym bezpośrednio na strukturę<br />
gradientu. Zaproponowano także [4] układ w konfiguracji gradient<br />
+ gradient, gdzie zarówno falowód jedomodowy jak i struktura<br />
wielomodowa są obszarami gradientowymi.<br />
Na rysunku 1 przedstawiono graficzną propozycję takiego<br />
układu. Jednomodowy światłowód gradientowy posiada zaburzoną<br />
powierzchnię w postaci reliefu. Z kolei wielomodowy obszar<br />
odsprzęgający powstaje w efekcie dodatkowej dyfuzji domieszki<br />
do szkła poprzez strefę zaburzenia. W tym przypadku obszar odsprzęgający<br />
znajduje się w szkle podłożowym.<br />
Na rysunku 2 przedstawiona została sekwencja procesów<br />
technologicznych umożliwiających realizację struktury z rys. 1.<br />
Rys. 1. Struktura LPWG w konfiguracji gradient + gradient<br />
Fig. 1. LPWG structure in gradient+gradient configuration<br />
Pierwszym etapem technologicznym jest wytworzenie zaburzenia<br />
(reliefu) w podłożu szklanym (rys. 2a). Realizuje się to metodą<br />
trawienia chemicznego szkła przed jego domieszkowaniem.<br />
W kolejnym etapie przez powierzchnię szkła (relief) przeprowadza<br />
się proces selektywnej wymiany jonowej (rys. 2b). Powstający<br />
w ten sposób światłowód planarny jest strukturą wielomodową.<br />
Po etapie tym możliwy jest jeszcze opcjonalny etap wygrzewania.<br />
Umożliwia on dodatkowe rozdyfundowanie wprowadzonej<br />
do szkła domieszki. W efekcie ulega obniżeniu profil refrakcyjny<br />
światłowodu. Jednocześnie zwiększa się zasięg domieszki<br />
w szkle (wzrasta głębokość światłowodu). Zabieg ten pozwala na<br />
kształtowanie charakterystyk sprzęgania rezonansowego modów<br />
w końcowej strukturze LPWG. Ostatnim etapem technologicznym<br />
jest wytworzenie gradientowego światłowodu jednomodowego<br />
przy całej powierzchni szkła podłożowego (rys. 2c). Realizuje się<br />
go poprzez krótki proces dyfuzji wtórnej. W tym procesie wzrasta<br />
również współczynnik załamania w obszarze wielomodowym.<br />
Czas trwania procesu dyfuzji wtórnej musi być tak dobrany, aby<br />
powstający światłowód był jednomodowy w całym zakresie stosowanego<br />
widma. Profile refrakcyjne będące efektem procesów<br />
dyfuzji i wygrzewania zostały obliczone w oparciu o model dwuskładnikowej<br />
wymiany jonowej. W modelu tym przyjęta została<br />
zależność współczynników dyfuzji wymienianych jonów od ich<br />
unormowanych koncentracji [7, 10, 11]. Z wykorzystaniem tego<br />
modelu wyznaczono eksperymentalnie zależności temperaturowe<br />
współczynników dyfuzji wymienia- nych jonów. Temperaturowe<br />
zależności współczynników dyfuzji jonów K + (D A<br />
) i Na + (D B<br />
) dla<br />
wymiany K + ↔Na + w szkle BK7 przedstawiają równania:<br />
2<br />
⎛<br />
8945,1 ⎞<br />
⎛<br />
µ<br />
m<br />
⎞<br />
D A<br />
( T )<br />
= exp ⎜<br />
− + 16,6<br />
⎟<br />
⎜ ⎟<br />
⎝ T<br />
⎠ ⎝ h<br />
⎠<br />
(4)<br />
2<br />
⎛<br />
43,9 ⎞<br />
⎛<br />
µ<br />
m<br />
⎞<br />
D B<br />
( T )<br />
= exp ⎜<br />
− + 3,5<br />
⎟<br />
⎜ ⎟<br />
⎝ T<br />
⎠ ⎝ h<br />
⎠<br />
Metody symulacji i obliczenia<br />
Symulacje numeryczne na podstawie założeń przedstawionych<br />
w poprzednim rozdziale zostały przeprowadzone w oparciu o rzeczywiste<br />
procesy technologiczne. Symulowano strukturę LPWG na<br />
bazie światłowodu gradientowego z wykorzystaniem procesów dyfuzji<br />
wstępnej oraz wtórnej jonów K + oraz Na + w szkle BK7. Wybór<br />
materiału podyktowany był bardzo dobrymi parametrami optycznymi<br />
szkła oraz faktem, iż jest ono dobrze opisane, ogólnie dostępne<br />
i produkowane seryjnie. Oprócz procesów dyfuzji rozpatrywano<br />
również wpływ procesu wygrzewania, który jest częścią procedury<br />
technologicznej wytwarzania proponowanej struktury planarnej.<br />
W przypadku tych procesów opierano się o model dwuskładnikowej<br />
wymiany jonowej [11]. Szkło BK7 w przypadku wymiany jonów<br />
K + ↔ Na + charakteryzuje się dwójłomnością optyczną [11]. W przedstawionych<br />
badaniach, symulacje ograniczono do polaryzacji TE.<br />
Na podstawie obliczonych profili refrakcyjnych (rys. 3) stosując ma-<br />
Rys. 2. Sekwencja procesów technologicznych realizacji struktury<br />
z rys. 1<br />
Fig. 2. Sequence of technological processes during creation of the<br />
structure from Fig. 1<br />
26<br />
Rys. 3. Profil refrakcyjny struktury LPWG w konfiguracji gradient +<br />
gradient<br />
Fig. 3. Refractive indem profile of the LPWG structure In gradient +<br />
gradient configuration<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
cierzową metodę analizy światłowodów planarnych [1], wyznaczano<br />
zmiany efektywnych współczynników załamania prowadzonych<br />
modów w funkcji długości fali.<br />
Na podstawie tych zależności oraz za pomocą równania (3)<br />
wyznaczano charakterystyki rezonansowego sprzęgania modów<br />
TE 0<br />
→TE m<br />
. Uwzględniając także relację N m<br />
(λ) obliczano również<br />
spektralne zależności rozkładów pól modowych E y0<br />
(x,λ) i E ym<br />
(x,λ)<br />
dla obszarów odsprzęgania modów w strukturach LPWG. Rozkłady<br />
tych pól pozwalają na obliczenia współczynników sprzęgania a) b)<br />
modów w obszarze zaburzonym [14].<br />
h<br />
2 2<br />
Ey,0 ( x, λ) ⋅Ey,m ( x, λ) ⋅ ⎡ng ( x, λ) − nc<br />
( λ)<br />
⎤ dx<br />
1 sin( aπ)<br />
∫<br />
Rys. 4. ⎣a) Przykładowa krzywa ⎦ rezonansowa; b) Przykładowa charak-<br />
0<br />
terystyka transmisyjna<br />
κ −<br />
1,TE<br />
( )<br />
0 →TE<br />
λ = ⋅ ⋅<br />
m<br />
λ ∞ Fig. 4. ∞a) Exemplary resonance profle; b) Exemplary transmission<br />
N<br />
0 ( λ ) N<br />
m ( λ<br />
)<br />
2 2<br />
∫ Ey,0 ( x, λcharacteristic<br />
) dx ⋅<br />
(5)<br />
∫ Ey,m<br />
( x, λ)<br />
dx<br />
h<br />
2 2<br />
−∞<br />
−∞<br />
Ey,0 ( x, λ) ⋅Ey,m ( x, λ) ⋅<br />
( )<br />
⎡ng ( x, λ) − nc<br />
( λ)<br />
⎤ dx<br />
1 sin aπ<br />
∫<br />
⎣<br />
⎦<br />
0<br />
⋅<br />
⋅<br />
λ ∞<br />
∞<br />
N<br />
0 ( λ ) N<br />
m ( λ<br />
)<br />
2 2<br />
E x, λ dx ⋅ E x, λ<br />
dx<br />
∫<br />
−∞<br />
( ) ∫<br />
( )<br />
y,0 y,m<br />
−∞<br />
gdzie: κ -1<br />
− współczynnik sprzężenia dla rzędu sprzężenia (q = -1),<br />
a = δ/Λ – współczynnik wypełnienia (duty-cycle) zaburzenia,<br />
h – głębokość zaburzenia, n g<br />
(x, λ) – dyspersyjna zależność refrakcji<br />
obszaru gradientowego w szkle, n c<br />
(λ) – dyspersyjna zależność<br />
refrakcji pokrycia światłowodu. Na podstawie wyznaczonych<br />
współczynników sprzężenia (5) obliczana jest [14] transmisja<br />
spektralna w modzie podstawowym związana ze spektrum odsprzęgania<br />
do modu m-tego rzędu.<br />
2 2 2<br />
sin<br />
( κ<br />
−<br />
1,TE<br />
)<br />
0 →TE<br />
+ ∆ ⋅ L<br />
m<br />
T<br />
TE ( )<br />
0 →TE λ,h m g,a, Λ ,L = 1−<br />
2<br />
∆<br />
(6)<br />
1<br />
+ κ<br />
2<br />
−<br />
1,TE<br />
0 →<br />
TE<br />
m<br />
gdzie: L – długość obszaru zaburzonego na kierunku propagacji,<br />
Δ – współczynnik opisujący odstępstwo od dopasowania fazowgo<br />
według równania Bragga (1) wyrażony równaniem:<br />
⎛<br />
N<br />
m ( λ ) −<br />
N 0<br />
( λ<br />
)<br />
1<br />
⎞<br />
∆ ( λ ,<br />
Λ )<br />
= π<br />
⎜<br />
−<br />
⎟<br />
(7)<br />
⎝<br />
λ<br />
Λ<br />
⎠<br />
Analiza zaproponowanej struktury<br />
Uwzględniając zależności przedstawione w poprzednich rozdziałach,<br />
symulowano strukturę planarną przedstawioną na rys. 1.<br />
W pierwszej kolejności badano wpływ procesów technologicznych<br />
na kształt krzywych rezonansowych, co z kolei miało swoje<br />
przełożenie na charakterystyki transmisyjne. Jak już wspomniano<br />
zakłada się w tym przypadku przeprowadzenie procesu dyfuzji<br />
wstępnej jonów K + oraz Na + do szkła podłożowego BK7 w ograniczonym<br />
obszarze tworząc w ten sposób obszar wielomodowy<br />
znajdujący się bezpośrednio pod zaburzeniem. W następnej<br />
kolejności symulowano przeprowadzenie procesu wygrzewania.<br />
Ostatnim procesem jest dyfuzja wtórna, w wyniku której otrzymuje<br />
się jednomodowy obszar falowodowy. We wszystkich obliczeniach<br />
numerycznych symulujących procesy dyfuzji, wygrzewania<br />
i dyfuzji wtórnej przyjęto jednakową temperaturę tych procesów<br />
wynoszącą T = 400°C. Dle tej wartości temperatury obliczane<br />
były współczynniki dyfuzji na podstawie równań (4). Biorąc pod<br />
uwagę dyfuzję wstępną jak i wygrzewanie każdorazowo podczas<br />
obliczeń zmianie ulegał czas trwania procesu. Rozpatrując proces<br />
dyfuzji wtórnej za każdym razem czas tego procesu wynosił<br />
t wtór<br />
= 1h. Rys. 4a przedstawia przykładową charakterystykę rezonansową.<br />
Pokazuje ona zależność między długością fali rezonansowej,<br />
a okresem zaburzenia wynikającą ze wzoru (3). Dobierając<br />
odpowiedni okres zaburzenia dla symulowanej struktury<br />
wyznaczyć możemy widmo transmisyjne (przykład na rys. 4b)<br />
którego minimum przypada dla wartości wybranej wcześniej λ r<br />
.<br />
Dobroć układu wyraża stosunek (8):<br />
D<br />
⎡<br />
1<br />
⎤<br />
Q<br />
=<br />
(8)<br />
S<br />
⎢<br />
⎣<br />
nm<br />
⎥<br />
⎦<br />
Rys. 5. Krzywe rezonansowe sprzęgania modówTE 0<br />
→TE 1<br />
w zależności<br />
od czasu dyfuzji wstępnej<br />
Fig. 5. Resonance profile of the TE 0<br />
→TE 1<br />
modes coupling in dependence<br />
to the time of preliminary diffusion process<br />
gdzie: D określa „głębokość” minimum, S natomiast to szerokość<br />
połówkowa wyrażona w nm.<br />
Ponieważ proces wytwarzania zaproponowanej struktury<br />
zakładał występowanie kilku następujących po sobie procesów<br />
postanowiono rozdzielić metodykę badań. W pierwszej kolejności<br />
badano wpływ zmian czasu dyfuzji wstępnej t dyf<br />
(rys. 5)<br />
na krzywe rezonansowe. Przeprowadzono szereg symulacji<br />
każdorazowo zmieniając czas dyfuzji wstępnej, przy czym temperatura<br />
tego procesu T dyf<br />
, temperatura oraz czas procesu wygrzewania<br />
T wyg<br />
, t wyg<br />
jak i procesu dyfuzji wtórnej T wtór<br />
, t wtór<br />
pozostawały<br />
stałe.<br />
Na rysunku 5 przedstawiono charakterystyki rezonansowe,<br />
w których odprzęganie następuje z modu podstawowego propagującego<br />
się w obszarze falowodowym, do modu pierwszego<br />
rzędu. Widać zatem, iż wraz ze wzrostem czasu dyfuzji wstępnej<br />
krzywe rezonansowe nieznacznie przesuwają się względem siebie.<br />
Dla tego samego okresu zaburzenia, wraz ze zwiększeniem<br />
czasu dyfuzji wstępnej, zmniejszeniu ulega długość fali rezonansowej<br />
(rys. 6a).<br />
Na rysunku 6b przedstawiono z kolei zależność zmiany dobroci<br />
układu wraz ze zmianą czasu procesu dyfuzji wstępnej.<br />
Zwiększając czas dyfuzji, dobroć struktury ulega zmniejszeniu.<br />
Oznacza to, że dla procesów dyfuzji, które trwają dłużej, minimum<br />
transmisji staje się bardziej płytkie i szersze. Widać zatem, że<br />
proces dyfuzji wstępnej (w analizowanym przedziale czasu jego<br />
trwania) ma niewielki wpływ na dobroć filtru widmowego.<br />
Rysunek 7 przedstawia wpływ zmian czasu procesu wygrzewania<br />
na kształt krzywych rezonansowych. Podobnie jak w poprzednim<br />
przypadku wykres przedstawia rezonanse, dla których<br />
następuje odsprzęganie mocy w obszarze zaburzenia z modu<br />
podstawowego do modu pierwszego rzędu (TE 0<br />
→TE 1<br />
). Symulacje<br />
przeprowadzano analogicznie, każdorazowo zmieniając tylko<br />
czas procesu wygrzewania t wyg<br />
. Czas procesu dyfuzji wstępnej<br />
t dyf<br />
= 12h, jak również temperatura procesów dyfuzji i wygrzewa-<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 27
a) b)<br />
Rys. 6 a) Zmiana długości fali rezonansowej w funkcji zmian czasu dyfuzji<br />
wstępnej; b) Zmiana dobroci struktury wraz ze zmianą czasu dyfuzji<br />
Fig. 6. a) Change of resonant wavelength with changes of duration of<br />
preliminary diffusion, b) Structure efficiency changes with preliminary<br />
diffusion time changes<br />
a) b)<br />
Rys. 8. a) Zmiana długości fali rezonansowej w funkcji zmian czas<br />
procesu wygrzewania; b) Zmiana dobroci struktury wraz ze zmianą<br />
czasu procesu wygrzewania<br />
Fig. 8. a)Change of resonant wavelength with changes of heating processes<br />
duration, b) Structure efficiency changes with heating time<br />
changes<br />
a) b)<br />
Rys. 9. Wpływ wypełnienia okresu zaburzenia na kształt widma transmisyjnego<br />
struktury proponowanej struktury planarnej<br />
Fig. 9. The influence of grating duty cycle on the transmission spectrum<br />
of the presented gradient structure<br />
Rys. 7. Krzywe rezonansowe wraz ze zmianą czasu wygrzewania<br />
Fig. 7. Resonance profile of the TE 0<br />
→TE 1<br />
modes coupling in dependence<br />
to the time of heating process<br />
nia pozostawały stałe. Czas oraz temperatura procesu dyfuzji<br />
wtórnej podobnie jak poprzednio wynosiły odpowiednio t wtór<br />
= 1h,<br />
T wtór<br />
= 400°C.<br />
Z rysunku 7 widać dość znaczny wpływ czasu procesu wygrzewania<br />
na charakterystyki rezonansowe. Wraz z wydłużeniem<br />
tego procesu krzywe stają się bardziej płaskie, co w efekcie dla<br />
tego samego okresu zaburzenia Λ daje rezonanse w zakresie fal<br />
krótszych (rys. 8a). Dodatkowo zmiany dobroci struktury w tym<br />
przypadku są bardziej widoczne i odbywają się w większym zakresie.<br />
Z obliczeń przedstawionych na rys. 8b wynika, że wraz<br />
z wydłużeniem czasu wygrzewania struktury, zwiększa się dobroć<br />
układu. Oznacza to, że przy dłuższym wygrzewaniu, charakterystyki<br />
transmisyjne stają się bardziej smukłe (węższe), a minimum<br />
dla λ r<br />
osiąga mniejszą wartość.<br />
Podczas badań przeanalizowano także wpływ wypełniania<br />
zaburzenia a na kształt widma transmisyjnego na wyjściu<br />
układu (rys. 9a). Przeprowadzone obliczenia wykazują, że wypełnienie<br />
może znacząco wpływać na dobroć układu. Rys. 9b<br />
przedstawia zmiany parametru D dla struktur w takiej samej<br />
konfiguracji(Λ = 575 μm, λ r<br />
= 700 μm, L = 10000 μm) przy różnych<br />
wartościach współczynnika wypełnienia a. Widać zatem<br />
że najbardziej optymalnym wypełnieniem będzie a = 0,5. Dla<br />
takiej wartości minimum transmisji dla konkretnej długości fali<br />
rezonansowej będzie osiągało najmniejszą wartość. Uwzględniając<br />
otrzymane wyniki, analizując wpływ procesów technologicznych<br />
na pracę układu oraz tendencje jakie przedstawiają,<br />
można zaprojektować strukturę planarną w układzie gradientowym<br />
jako filtru widmowego. Rys. 10 przedstawia charakterystykę<br />
widmową struktury planarnej działającą jako filtr w zakresie<br />
widzialnym. Projektowana struktura jest symulowana jako<br />
efekt procesów technologicznych o następujących parametrach<br />
t dyf<br />
= 24 h, T dyf<br />
= 400°C, t wyg<br />
= 49 h, T wyg<br />
= 400°C, t wtór<br />
= 1h,<br />
T wtór<br />
= 400°C. Współczynnik wypełnienia a = 0,5, głębokość<br />
zaburzenia h g<br />
= 50 nm, okres zaburzenia Λ = 700 μm, długość<br />
zaburzenia L = 10500 nm (15 okresów).<br />
28<br />
Rys. 10. Przykładowa struktura gradient + gradient jako filtr widmowy<br />
w zakresie widzialnym oraz wpływ współczynnika załamania otoczenia<br />
na kształt widma transmisyjnego<br />
Fig. 10. Exemplary gradient + gradient structure as spectrum filter<br />
In the visible spectrum range and the influence of the environment<br />
index changes on its transmission<br />
Na rysunku 10 pokazano możliwość pracy zaprojektowanego<br />
układu jako filtr natężeniowy w zakresie widzialnym. Wykorzystując<br />
charakterystykę widmową diody LED o λ = 610 nm oraz<br />
bazując na wynikach przedstawionych w niniejszym artykule, tak<br />
dobrano procesy technologiczne oraz parametry zaburzenia aby<br />
minimum transmisyjne filtru pokrywało się ze szczytową długością<br />
fali źródła promieniowania. Przedstawiono także wpływ zmian<br />
współczynnika załamania otoczenia (n = 1,33) na charakterystykę<br />
widmową, co jest przedmiotem dalszych badań. Ponieważ diody<br />
LED są ogólnie dostępne oraz tanie, a dodatkowo nie wymaga<br />
się w ich przypadku analizatora widma, podczas badań fizycznej<br />
realizacji struktury możliwe będzie zweryfikowanie pracy układu<br />
jako filtr za pomocą zwykłego detektora.<br />
Wnioski i podsumowanie<br />
Przedstawiona w niniejszym artykule analiza pokazuje, iż możliwe<br />
jest wykorzystanie siatek długookresowych w strukturach<br />
gradientowych jako filtrów widmowych. Badania uwzględniały<br />
wyznaczone drogą eksperymentalną zależności temperaturowe<br />
współczynników dyfuzji w procesach wymiany jonów w szkle<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
BK7. Szkło to jest wytwarzane komercyjnie i posiada dobrze opisane<br />
właściwości dyspersyjne, które były uwzględniane w przeprowadzanych<br />
analizach. Przedstawione rezultaty pozwalają<br />
stwierdzić, iż możliwe jest zaprojektowanie struktury planarnej<br />
w układzie gradient + gradient jako filtru widmowego poprzez<br />
odpowiedni dobór procesów technologicznych oraz przez właściwe<br />
dostosowanie opartych na badaniach parametrów samego<br />
zaburzenia. Dzięki elastyczności procesów dyfuzji oraz wygrzewania<br />
można projektować tego typu struktury pod kątem wykorzystanego<br />
źródła światła. Jak pokazano w [4] oraz w niniejszym<br />
artykule rezonanse mogą zachodzić w zakresie widzialnym co<br />
znacząco poszerza możliwości doboru źródła promieniowania<br />
od zwykłych diod LED po lasery z tego zakresu widmowego.<br />
W dalszej analizie przewiduje się badania nad wpływem zmian<br />
współczynnika załamania otoczenia na charakterystyki transmisyjne<br />
struktury pod kątem zastosowania jej jako czujnika<br />
amplitudowego. Brane są pod uwagę także badania nad tego<br />
typu strukturami w konfiguracjach bardziej złożonych. Mowa tutaj<br />
o układach wielokrotnych LPWG na strukturach planarnych.<br />
Analiza przewiduje badanie transmisji w szeregowo wytworzonych<br />
zaburzeniach. W dalszej perspektywie rozpatrywane będą<br />
także badania wpływu dodatkowych procesów technologicznych<br />
(powtórne wygrzewanie) na charakterystyki rezonansowe oraz<br />
widma transmisyjne.<br />
Praca została sfinansowana ze środków Narodowego Centrum<br />
Nauki przyznanych na podstawie decyzji DEC-2011/01/B/<br />
ST7/06525<br />
Literatura<br />
[1] Chen C. at all.: Efficient and accurate numerical analysis of multilayer<br />
planar optical waveguides in lossy anisotropic media, Optics Express<br />
Vol. 7, No. 8, 2000, 260–272.<br />
[2] Chiang K.S. at all.: Widely tunable long-period gratings fabricated<br />
in polymer-clad ion-exchanged glass waveguides, IEEE Photonics<br />
Technology Letters Vol. 15, No. 8, 2003, 1094–1096.<br />
[3] Duhem O.at all.: Long period copper-coated grating as an electrically<br />
tunable wavelength-selective filter, IEEE Electronics Letters Vol. 35,<br />
No. 12, 1999, 1014–1016.<br />
[4] Kotyczka T., Rogoziński R.: Long Period Waveguide Gratings on planar<br />
gradient waveguides, (Wysłane do druku w Acta Physica Polonica A)<br />
[5] Lemaire P.J.at all.: High pressure H 2<br />
loading as a technique for<br />
achieving ultrahigh UV photosensitivity and thermal sensitivity in<br />
GeO 2<br />
doped optical fibres, IEEE Electronics Letters Vol. 29, No. 13,<br />
1993, 1191–1193.<br />
[6] Lin C.Y., Wang L.A.: A wavelength- and loss-tunable band-rejection<br />
filter based on corrugated long-period fiber grating, IEEE Photonics<br />
Technology Letters Vol. 13 No. 4, 2001, 332–334.<br />
[7] Opilski A. at all.: Present state and perspectives involving application<br />
of ion exchange in glass, Opto-Electronics Review Vol. 8, No. 2,<br />
2000, 117–127.<br />
[8] Pal S., Singh B.R.: Analysis and Design of Corrugated Long-Period<br />
Gratings in Silica-on-Silicon Planar Waveguides, IEEE Journal of<br />
Lightwave Technology Vol. 25, No. 8, 2007, 2260–2267.<br />
[9] Rastogi V., Chiang K.S.: Long-period gratings in planar optical<br />
waveguides, Applied Optics Vol. 41, No. 30, 2002, 6351–6355.<br />
[10] Rogoziński R.: Electrodiffusion processes with the conversion<br />
of polarization direction of electric field in the formation of planar<br />
waveguide structures using ion exchange technique in glass, Optica<br />
Applicata Vol. 28, No. 4, 1998, 331–343.<br />
[11] Rogoziński R.: Planar waveguide structures produced by ion exchange<br />
in glasses – Selected aspects of production technology,<br />
measurement of optical properties and numerical modelling of structures,<br />
Monograph 135 (in polish), Gliwice 2007.<br />
[12] Tsoi H.C., Wong W.H., Pun E.Y.B.: Polymeric long-period waveguide<br />
gratings IEEE Photonics Technology Letters Vol. 15, No. 5, 2003,<br />
721–723.<br />
[13] Vengsarkar A.M.at all.: Long Period Fiber Gratings Gratings as Band<br />
Rejection Filters, IEEE Journal of Lightwave Technology Vol. 14,<br />
No. 1, 1996, 58–65.<br />
[14] Zhang D-L. at all.: Long period grating in/on planar and channel<br />
waveguides: A theory description, Optics & Laser Technology Vol.<br />
39, 2007, 1204–1213.<br />
[15] Szustakowski M., Grabiec W., Pałka N., Wójcik J.: Wykorzystanie<br />
światłowodu fotonicznego do budowy czujnika perymetrycznego,<br />
<strong>Elektronika</strong> (XLVIII), nr 3/2007, s. 15.<br />
[16] CICHOŃ J., DOROSZ D., ZAJĄC A.: Podwójne domieszkowanie<br />
jonami pierwiastków ziem rzadkich w światłowodach włókowych,<br />
<strong>Elektronika</strong> (XLIX), nr 10/2008, s. 34.<br />
Światłowody mPOF do zastosowań telekomunikacyjnych<br />
mgr inż. Paweł Gdula 1,2 , mgr inż. Katrin Welikow 1 ,dr hab. inż. Ryszard Buczyński 3,4 ,<br />
prof. dr hab. inż. Paweł Szczepański 1,2 , dr inż. Ryszard Piramidowicz 1<br />
1<br />
Politechnika Warszawska, <strong>Instytut</strong> Mikroelektroniki i Optoelektroniki<br />
2<br />
<strong>Instytut</strong> Łączności, Państwowy <strong>Instytut</strong> Badawczy, Warszawa<br />
3<br />
Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki, 4 <strong>Instytut</strong> Technologii Materiałów <strong>Elektronicznych</strong>, Warszawa<br />
Dynamiczny rozwój technologii informacyjnych i telekomunikacyjnych,<br />
obserwowany w ostatnich latach doprowadził do znaczących<br />
zmian w sieciach telekomunikacyjnych, wymuszając ich ewolucję<br />
w kierunku transparentnych, w pełni optycznych systemów.<br />
W sieciach dostępowych, stanowiących najniższą warstwę<br />
systemów telekomunikacyjnych, włókna optyczne systematycznie<br />
wypierają rozwiązania miedziane, pozwalając na radykalne<br />
zwiększenie przepustowości i niezawodności przy jednoczesnej<br />
redukcji kosztów. Należy jednak podkreślić, że o ile w przypadku<br />
sieci dalekiego zasięgu i metropolitalnych nie ma alternatywy dla<br />
włókien jednomodowych, to specyficzne wymagania nakładane<br />
przez sieci dostępowe, a w szczególności systemy wewnątrz-budynkowe<br />
sprawiają, że włókna dla tych sieci stanowią przedmiot<br />
intensywnych badań i analiz, prowadzonych zarówno w jednostkach<br />
R&D największych operatorów i producentów włókien jak<br />
też wiodących ośrodków naukowych. W sytuacji, kiedy istotną<br />
rolę zaczynają odgrywać straty mikro- i makro-zgięciowe, problemy<br />
odporności mechanicznej, łatwości rekonfigurowania połączeń,<br />
koszty instalacji i utrzymania sieci, czy wreszcie aspekty<br />
bezpieczeństwa, coraz częściej rozważa się zastosowanie światłowodów<br />
wielomodowych czy plastikowych o dużym rdzeniu [1,2].<br />
Te ostatnie, oferujące dużą elastyczność równocześnie z niskim<br />
kosztem produkcji i prostotą obróbki wydają się być szczególnie<br />
obiecujące w kontekście sieci dostępowych, a przede wszystkim<br />
systemów Fiber To The Home (FTTH). Światłowody polimerowe<br />
zapewniają również większe bezpieczeństwo użytkownikom<br />
w przypadku przerwania ciągłości włókna – nie łamią się tak jak<br />
włókna szklane, które pozostawiają drobne, ostre odłamki. Ponadto,<br />
pracują w zakresie bezpiecznej dla oczu części widma optycznego,<br />
przypadającej zwykle na obszar czerwieni [3].<br />
Głównymi czynnikami ograniczającymi powszechne wdrożenie<br />
włókien polimerowych w systemach transmisyjnych są stosunkowo<br />
duże tłumienie oraz, być może nawet bardziej krytyczne w systemach<br />
dostępowych, duże wartości dyspersji modalnej, wynikającej<br />
z rozmiarów rdzenia światłowodu. Wydaje się, że obydwa problemy<br />
mogłyby być skutecznie wyeliminowane poprzez wprowadzenie<br />
w obrębie włókna obszarów mikrostrukturalnych. Odpowiednio<br />
zaprojektowana geometria przekroju poprzecznego polimerowego<br />
światłowodu mikrostrukturalnego pozwoliłaby obniżyć tłumienie<br />
włókna, liczbę prowadzonych modów i straty zgięciowe [4]. Połączenie<br />
tego podejścia z jednoczesnym obniżeniem tłumienia<br />
poprzez fluorowanie lub deuterowanie polimeru, powinno dopro-<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 29
wadzić do opracowania światłowodu będącego w stanie zastąpić<br />
włókna kwarcowe we wszystkich typach systemów dostępowych.<br />
Niniejsza praca podsumowuje dotychczasowe prace nad zaprojektowaniem<br />
włókna mikrostrukturalnego POF (mPOF) o stosunkowo<br />
dużym rdzeniu, ograniczonej dyspersji modalnej oraz<br />
poprawionej odporności na straty zgięciowe, dyskutowanych<br />
w kontekście zastosowania w systemach FTTH.<br />
Modelowanie włókien mPOF<br />
Proces projektowania włókna mikrostrukturalnego jest nierozerwalnie<br />
związany z dokładną analizą wszystkich czynników mających<br />
wpływ na jego parametry końcowe, takich jak optyczne<br />
właściwości materiału bazowego, geometria przekroju poprzecznego<br />
– rozkład powietrznych otworów, odpowiedni dobór stałej<br />
sieci etc. Wstępne prace, koncentrujące się na możliwości uzyskania<br />
wszystkich postulowanych cech w klasycznej strukturze<br />
heksagonalnej zdefiniowanej w polimetakrylenie metylu (PMMA)<br />
zostały zakończone i opisane w pracach [5–7]. We wszystkich<br />
rozważanych przypadkach wprowadzana mikrostrukturyzacja zapewniała<br />
propagację ograniczonej ilości modów przy zachowaniu<br />
stosunkowo dużych rozmiarów rdzenia. Pierwsze założenia dotyczące<br />
modelowania, określały takie cechy włókna jak akceptowal-<br />
Rys. 1. Przekroje poprzeczne włókien omówionych w pracy: A) włókno<br />
z pojedynczym pierścieniem powiększonych otworów, B) gwiazda<br />
Davida<br />
Fig. 1. The cross sections of mPOF fibers discussed in this work: A)<br />
fiber with single ring of enlarged holes, B) David’s star design<br />
na średnica pola modowego na poziomie 20…25 µm dla długości<br />
fali 650 nm, straty propagacyjne na poziomie nieprzekraczającym<br />
strat materiałowych PMMA (ok. 100 dB/km) oraz straty makrozgięciowe<br />
porównywalne do wartości określonych w specyfikacji<br />
G.652 dla włókien kwarcowych.<br />
Wyniki przeprowadzonych badań dowiodły, że niemożliwe jest<br />
zaproponowanie regularnej struktury heksagonalnej, spełniającej<br />
postulowane wymagania. Mogą one zostać osiągnięte przy wprowadzeniu<br />
pomiędzy obszar rdzenia i płaszcza pierścienia o obniżonym<br />
współczynniku załamania [8–10]. We włóknie tego typu<br />
mody są silniej skupiane w obszarze rdzenia, dzięki otaczającemu<br />
je pierścieniowi powiększonych otworów. Klasyczna wersja takiego<br />
rozwiązania została przedstawiona na rys. 1 wraz z zaproponowaną<br />
najnowszą modyfikacją, noszącą nazwę „gwiazdy Dawida”. Obydwa<br />
zaprojektowane włókna zostały przetestowane w symulacjach numerycznych.<br />
Uzyskane wyniki przedstawiono w kolejnych sekcjach.<br />
Włókno z pojedynczym pierścieniem powiększonych<br />
otworów<br />
Przeprowadzone modelowanie włókna z pojedynczym pierścieniem<br />
powiększonych otworów miało na celu uzyskanie informacji<br />
o wpływie wprowadzonego „trencza” na jego parametry<br />
transmisyjne. Stała sieci Λ była zmieniana w szerokim zakresie<br />
2…20 μm, współczynnik wypełnienia zewnętrznych otworów d 1<br />
/Λ<br />
ustawiono na odpowiednio 40% oraz 60%, podczas gdy współczynnik<br />
d 2<br />
/Λ zmieniał się od 20…90% z krokiem 5%. Straty propagacyjne,<br />
przedstawione na rys. 2, obniżają się, kiedy stała sieci<br />
rośnie i mogą zostać dodatkowo zmniejszone przez zwiększenie<br />
współczynnika wypełnienia zewnętrznych otworów.<br />
Przykładowe wyniki modelowania liczby modów prowadzonych<br />
we włóknie zostały przedstawione na rys. 3, przy stałej sieci równej<br />
20 μm. Rezultaty modelowania potwierdzają możliwość ograniczenia<br />
liczby prowadzonych modów przez odpowiednie zaprojektowanie<br />
mikrostrukturalnego płaszcza. Wyniki pokazują, że dla zaproponowanej<br />
struktury możliwe jest wydzielenie przestrzeni parametrów<br />
geometrycznych, dla których włókno jest zaledwie kilkumodowe<br />
(a nawet jednomodowe). Maksymalna wartość współczynnika<br />
wypełnienia zewnętrznych otworów to 60%. Dalsze zwiększanie<br />
Rys. 2. Straty propagacyjne w funkcji stałej sieci, d 1<br />
/Λ = 40% (wykres po lewej stronie), d 1<br />
/Λ = 60% (wykres po prawej stronie)<br />
Fig. 2. The set of the curves representing propagation losses in function of lattice constant for d 1<br />
/Λ = 40% (on the left), d 1<br />
/Λ = 60% (on the right)<br />
Rys. 3. Liczba prowadzonych modów w funkcji współczynnika wypełnienia wewnętrznych otworów, współczynnik wypełnienia d 1<br />
/Λ jest równy:<br />
40% (wykres po lewej stronie), 60% (wykres po prawej stronie); obszar propagacji ograniczonej liczby modów został zaznaczony szarym<br />
kolorem<br />
Fig. 3. The set of the curves presenting the number of guided modes in function of the filling factor of internal air holes, the filling factor d 1<br />
/Λ<br />
is fixed at: 40% (left hand side), 60% (right hand side); the “window” of limited number of guided modes was marked with grey areas<br />
30<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys. 4. Zestaw krzywych pokazujący wpływ współczynnika wypełnienia<br />
wewnętrznych otworów na straty zgięciowe, stała sieci =20 μm,<br />
d 1<br />
/Λ = 60%<br />
Fig. 4. The set of the curves representing the influence of filling factor<br />
of internal air holes on bending losses, the pitch = 20 μm, d 1<br />
/Λ = 60%<br />
współczynnika wypełnienia zewnętrznych otworów nie wydaje się<br />
rozsądne, ponieważ liczba modów również gwałtownie narasta.<br />
Kluczowy parametr – straty zgięciowe, zostały przesymulowane<br />
w funkcji współczynnika wypełnienia wewnętrznych otworów.<br />
Stałą sieci ustalono na 20 μm, podczas gdy współczynnik d 1<br />
/Λ<br />
wynosił 60%. Ta ostatnia wartość wynika z poprzednio przeprowadzonych<br />
symulacji, dokładniej przedyskutowanych w [5, 6].<br />
Zewnętrzne otwory zapobiegają wzrostowi strat zgięciowych dla<br />
małych promieni gięcia, więc powinny być tak duże jak to możliwe.<br />
Jednakże, należy zachować równowagę pomiędzy wartością strat<br />
zgięciowych a liczbą prowadzonych modów, która równocześnie<br />
wzrasta. Wybrana do dalszych obliczeń wartość współczynnika<br />
wypełnienia zewnętrznych otworów zapewnia zarówno ograniczoną<br />
liczbę prowadzonych modów jak też niskie straty zgięciowe.<br />
Straty zgięciowe pokazane na rys. 4, są niezwykle wrażliwe na<br />
wartość współczynnika wypełnienia wewnętrznych otworów (nale-<br />
żących do pierwszego pierścienia otaczającego rdzeń). Porównanie<br />
krzywych uzyskanych dla dwóch wartości współczynnika wypełnienia<br />
wewnętrznych otworów wskazuje, że im są one większe,<br />
tym bardziej efektywnie blokują wzrost strat zgięciowych, szczególnie<br />
dla małych promieni gięcia. Ich powiększanie nie wpływa<br />
jednak znacząco na strukturę modową włókna.<br />
Wydaje się, że najbardziej optymalna struktura powinna łączyć<br />
60% współczynnik wypełnienia zewnętrznych otworów z 90%<br />
współczynnikiem wypełnienia wewnętrznych. Wyniki pokazują,<br />
że taki przekrój zapewnia niskie straty propagacyjne oraz duże<br />
pole modowe przy niewielkiej liczbie prowadzonych modów. Jednakże,<br />
straty zgięciowe wciąż są zbyt wysokie, szczególnie przy<br />
zmianie płaszczyzny gięcia dla małych promieni. Mod podstawowy<br />
może wtedy przenikać przez mostki polimerowe wokół rdzenia<br />
i ulegać wypromieniowaniu.<br />
Włókno o geometrii „gwiazdy Dawida”<br />
Początkowa propozycja została zmodyfikowana, jak pokazano na<br />
rys. 1b. Wybrane otwory należące do drugiego pierścienia zostały<br />
powiększone, aby zredukować straty zgięciowe przy zmianie płaszczyzny<br />
gięcia, całość tworzy geometrię przypominającą gwiazdę<br />
Dawida. Straty propagacyjne tego włókna nie różnią się znacząco<br />
od wyników uzyskanych dla struktury A, dlatego nie będą szerzej<br />
omawiane. Wprowadzona zmiana ma natomiast niewielki wpływ<br />
na strukturę modów, ponieważ lepiej propagują się mody wyższego<br />
rzędu Jak można zaobserwować na rysunku poniżej w dalszym<br />
ciągu daje się wyróżnić kombinacje parametrów geometrycznych,<br />
dla których liczba prowadzonych modów jest ograniczona.<br />
Omówiona właściwość włókna jest akceptowalna, dopóki<br />
struktura zapewnia poprawę strat zgięciowych. Analiza wpływu<br />
współczynnika wypełnienia zewnętrznych otworów na straty zgięciowe<br />
została pokazana na rys. 6. Okazuje się, że powiększenie<br />
wybranych otworów, wpływa na obniżenie strat zgięciowych bardziej<br />
skutecznie niż w przypadku struktury A.<br />
Rys. 5. Zestaw krzywych reprezentujących liczbę prowadzonych modów w funkcji współczynnika wypełnienia wewnętrznych otworów:<br />
d 1<br />
/Λ = 40% (wykres po lewej stronie), d 1<br />
/Λ = 60% (wykres po prawej stronie); przestrzeń o ograniczonej liczbie prowadzonych modów została<br />
zaznaczona szarym kolorem<br />
Fig. 5. The set of the curves presenting the number of guided modes in function of the filling factor of internal air holes, the filling factor d 1<br />
/Λ<br />
is fixed at: 40% (left hand side), 60% (right hand side); the „window” of limited number of guided modes was marked with grey areas<br />
R = 10 cm R = 5 cm R = 2 cm R = 1 cm<br />
Promień<br />
gięcia<br />
Struktura A<br />
d 2 /Λ=90%<br />
1.7117E-11<br />
dB/zwój<br />
1.0786E-10<br />
dB/zwój<br />
2.4910E-8 dB/zwój<br />
8.3315E-07<br />
dB/zwój<br />
Struktura B<br />
d 2 /Λ=90%<br />
2.3739E-12<br />
dB/zwój<br />
4.1739E-13<br />
dB/zwój<br />
1.0553E-13<br />
dB/zwój<br />
9.1106E-13<br />
dB/zwój<br />
Struktura B<br />
d 2 /Λ=80%<br />
5.9757E-10<br />
dB/zwój<br />
1.1914E-08<br />
dB/zwój<br />
0.0422 dB/zwój 0.1608 dB/zwój<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 31
Rys. 6. Zestaw krzywych obrazujących wpływ współczynnika wypełnienia<br />
wewnętrznych otworów na straty zgięciowe, Λ = 20 μm, współczynnik<br />
wypełnienia d 1<br />
/Λ = 60%<br />
Fig. 6. Bending losses vs. bending radius for David’s star fiber, each<br />
curve corresponds to different filling factor of internal air holes, the<br />
pitch = 20μm, d 1<br />
/Λ = 60%<br />
Wyniki dokładnych obliczeń strat zgięciowych dla różnych<br />
promieni gięcia wraz z odpowiadającymi im rozkładami pola dla<br />
modu podstawowego pokazano w tabeli.<br />
Straty zgięciowe w przeliczeniu na 1 pętlę dla włókna z pojedynczym<br />
pierścieniem powiększonych otworów oraz „gwiazdy<br />
Dawida”, dla każdej struktury: Λ = 20 μm, d 1<br />
/Λ = 60%<br />
Bending losses per turn for structures structure with single<br />
ring of enlarged air holes and “David’s star,” for each structure:<br />
Λ = 20 μm, d 1<br />
/Λ = 60%<br />
Porównanie wartości ujętych w tabeli potwierdza, że w przypadku<br />
gwiazdy Dawida mod podstawowy jest lepiej prowadzony<br />
w rdzeniu. W ostatnim wierszu tabeli pokazano wartości strat<br />
zgięciowych dla geometrii gwiazdy Dawida, kiedy współczynnik<br />
wypełnienia wynosi wewnętrznych otworów zostanie zmniejszony<br />
do 80%. Należy zwrócić uwagę, że straty zgięciowe ulegają wtedy<br />
znacznemu pogorszeniu, nawet o kilka rzędów wielkości.<br />
Projekt włókna<br />
32<br />
Rys. 7. Stanowisko do pomiaru strat zgięciowych światłowodów<br />
mPOF wraz z przekrojem poprzecznym włókna (lewy górny róg)<br />
Fig. 7. Cross section of microstructured POF manufactured by Kiriama<br />
along with setup for bending losses measurements<br />
Kolejny etap prac przewidywał wykonanie włókna o geometrii<br />
„gwiazdy Dawida”, dla którego otrzymano najbardziej obiecujące<br />
wyniki teoretyczne. Struktura uznana za optymalną składa się<br />
z sześciu pierścieni otworów powietrznych tworzących sieć heksagonalną<br />
o stałej sieci równej 20 μm. Współczynnik wypełnienia<br />
zewnętrznych i wewnętrznych otworów jest równy odpowiednio 60<br />
oraz 90%. Proponowane włókno oferuje straty zgięciowe na poziomie<br />
10 -8 dB/zwój przy promieniu gięcia około 0,5 cm, równocześnie<br />
zapewniając propagację jedynie 3 modów oraz pole modowe o wielkości<br />
170 μm 2 . Początkowo zakładano wykonanie włókna metodą<br />
zestawiania z kapilar i pręcików w Instytucie Technologii Materiałów<br />
<strong>Elektronicznych</strong>, co narzuciło geometrię heksagonalną rozważanych<br />
struktur. Wstępne próby technologiczne, choć obiecujące, nie<br />
pozwoliły uzyskać włókien o wystarczająco stabilnych parametrach.<br />
Pierwsze włókno testowe zostało więc wykonane przez australijską<br />
firmę Kiriama, jednego z niewielu na świecie komercyjnych producentów<br />
polimerowych włókien mikrostrukturalnych.<br />
Z przyczyn technologicznych Kiriama nie była w stanie dostarczyć<br />
włókna o zamówionych parametrach, dlatego współczynnik<br />
wypełnienia wewnętrznych otworów został zmniejszony do 80%.<br />
Jak pokazano w tabeli taka zmiana powoduje znaczące pogorszenie<br />
strat zgięciowych, natomiast prawie nie ma wpływu na dyspersję<br />
modową. Przekrój poprzeczny dostarczonego przez Kiriamę<br />
włókna został pokazany na rys. 7 wraz ze stanowiskiem do pomiaru<br />
strat zgięciowych.<br />
Wstępne testy pokazały, że zaprojektowane włókno zapewnia<br />
propagacje zaledwie kilku modów, jednak straty zgięciowe są<br />
znacznie wyższe niż to wynika z obliczeń i mogą wynosić nawet<br />
do 5 dB na zwój o promieniu 1 cm. Takie zachowanie parametrów<br />
może wynikać z kilku czynników. Przede wszystkim geometria<br />
otrzymanego włókna różni się od oryginalnej, stała sieci wynosi<br />
21µm zamiast 20 µm, współczynniki wypełnienia d 1<br />
/Λ oraz d 2<br />
/Λ<br />
wynoszą odpowiednio 62 i 78% zamiast 60 i 80%. Ponadto, rozmiary<br />
otworów nie są stabilne i zmieniają się wzdłuż włókna, co<br />
dodatkowo zaburza mechanizm propagacji. Także stosunek mikrostrukturalnego<br />
obszaru płaszcza do obszaru bez mikro-strukturyzacji<br />
jest zbyt duży, co skutkuje silnymi deformacjami otworów<br />
podczas zginania i znacząco podnosi zarówno straty zgięciowe<br />
jak i tłumienie we włóknie. Zgodnie z wynikami pomiarów tłumienie<br />
wynosi około 1,7 dB/m na długości fali 650 nm i jest ponad 10<br />
razy większe niż wartość założona na potrzeby symulacji.<br />
Podsumowanie<br />
Wyniki obliczeń przeprowadzonych dla wybranych geometrii włókien<br />
mPOF potwierdzają możliwość efektywnej kontroli zarówno<br />
strat propagacyjnych i zgięciowych jak i manipulacji liczbą prowadzonych<br />
modów, przy zachowaniu stosunkowo dużych rozmiarów<br />
pola modowego.<br />
Zaprojektowane włókno o optymalnych parametrach zostało<br />
wykonane przez firmę Kiriama, co pozwoliło na weryfikację wyników<br />
teoretycznych. Chociaż rezultaty pierwszych eksperymentów<br />
odbiegają od oczekiwanych, stanowią one ważny materiał, który<br />
posłuży do opracowania nowych rozwiązań i dalszych prac. Uzyskane<br />
informacje pozwolą w przyszłości dopracować założenia<br />
projektowe i zoptymalizować zarówno nową geometrię włókna<br />
jak i technologię jego wytwarzania. Wyniki prowadzonych prac<br />
będą przedmiotem kolejnych publikacji.<br />
Niniejszy artykuł powstał w wyniku realizacji prac badawczych<br />
prowadzonych w ramach projektu Inżynieria Internetu Przyszłości,<br />
POIG 01.01.02-00-045/09.<br />
Literatura<br />
[1] Dainese P. i in.: Fiber innovation optimizes FTTH reach, reduces installation<br />
cost, Lightwave, 2008.<br />
[2] Boivin D. i in.: Design and performances of trench-assisted G.657.<br />
A&B fiber optimized towards more space savings and miniaturization of<br />
components, Optical Components and Materials VI, Proc. of SPIE, Vol.<br />
7212, 2009.<br />
[3] Ziemann O. i in.: POF Polymer Optical Fibers for Data Communication,<br />
Berlin: Springer, ISBN-10: 3540420096, 2002.<br />
[4] Tsuchida Y., Mukasa K., Sugizaki R.: Demonstrating Novel Functionality<br />
of Air-holes to Realize Large-mode-area Optical Fibers, Proc OSA/OFC/<br />
NFOEC, 2011.<br />
[5] Gdula P. i in.: Modelowanie parametrów propagacyjnych polimerowych<br />
światłowodów mikrostrukturalnych do zastosowań w sieciach FTTH,<br />
<strong>Elektronika</strong>: konstrukcje, technologie, zastosowania, Wydawnictwo<br />
SIGMA-NOT, nr 2, 2011, 11–17.<br />
[6] Gdula P. i in.: Modeling transmission parameters of polymer microstructured<br />
fibers for applications in FTTH networks, Proc. of SPIE, Vol. 8008<br />
800816-1, 2011.<br />
[7] Welikow K. i in.: Microstructured Plastic Optical Fibers for Applications in<br />
FTTH Systems, Proc. of SPIE Vol. 8426, 84261A, <strong>2012</strong>.<br />
[8] Zhou J. i in.: Application of PCF to optical fiber wiring in residential and<br />
business premises, Inst. Elect. Inform. and Commun. Engineers of Japan<br />
Tech. Rep. IEICE OFT2002-81, 2003<br />
[9] Hasegawa T. i in.: Novel hole-assisted lightguide fiber exhibiting large<br />
anomalous dispersion and low loss below 1 dB/km, Tech. Dig. Optical<br />
Fiber Communication, 2001.<br />
[10] Zhou J. i in.: Application of hole-assisted type PCF with good bending loss<br />
performance”,Proc. 52nd Int. Wire and Cable Symp. IWCS/Focus, 2003.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Badanie dyspersji chromatycznej serii włókien<br />
mikrostrukturalnych o silnie nieliniowych właściwościach<br />
do generacji typu supercontinuum<br />
mgr inż. Zbigniew Hołdyński 1 , mgr inż. Michał Szymański 1,3 , mgr inż. Michał Murawski 1,3 ,<br />
dr inż. Paweł Mergo 2 , dr inż. Idzi Merta 1 , mgr inż. Małgorzata Gawrońska 1 ,<br />
dr inż. Paweł Marć 1 , prof. dr hab. inż. Leszek R. Jaroszewicz 1 , dr inż. Tomasz Nasiłowski 1,3<br />
1<br />
Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Technicznych Zastosowań Fizyki,Warszawa,<br />
2<br />
Uniwersytet Marii Curie Skłodowskiej, Laboratorium Technologii Światłowodów, Lublin, 3 InPhoTech Ltd., Warszawa<br />
Włókna mikrostrukturalne (MSFs) posiadają niezwykle atrakcyjne<br />
własności umożliwiające badanie efektów nieliniowych [1].<br />
Jednym z stosunkowo niedawno odkrytych najbardziej znanych<br />
efektów nieliniowych jest proces generacji typu superconinuum.<br />
Tego typu generacja została opisana teoretycznie z dodatkowym<br />
numerycznym opisem zachodzących zjawisk z uwzględnieniem<br />
parametrów geometrycznych włókien [1].<br />
Precyzyjne opracowanie własności dyspersyjnych pozwala na<br />
określenie wpływu na poszczególne efekty nieliniowe [13]. Istotna<br />
jest możliwość szerokiego przestrajania własności dyspersyjnych<br />
w kierunku normalnym lub anomalnym [6, 9, 11]. Tolerancje technologiczne<br />
decydują o uzyskiwanych właściwościach dyspersyjnych<br />
włókien dlatego muszą spełniać odpowiednie poziomy<br />
korelacji z numerycznymi rezultatami w celu zachowania odpowiednich<br />
parametrów.<br />
Większość prezentowanych dotychczas rezultatów charakteryzacji<br />
dyspersji chromatycznej w MSFs dotyczy jednego lub<br />
dwóch włókien które są weryfikowane z numerycznymi rezultatami<br />
[2, 3, 4, 8, 10, 12, 14]. Wpływ tolerancji technologicznych dla<br />
licznych serii włókien nie był obiektem badań.<br />
Interferometryczna metoda pozwala na charakteryzację bardzo<br />
krótkich odcinków włókien wykorzystywanych do generacji<br />
typu supercontinuum z ekstremalną precyzją [3, 12].<br />
W artykule przedstawiamy podstawy zasad charakteryzacji<br />
własności dyspersyjnych włókien wraz z eksperymentalnymi rezultatami<br />
z wykorzystaniem metody interferometrycznej. W rozdziale<br />
drugim prezentujemy rezultaty pomiaru dyspersji chromatycznej<br />
oraz numerycznych obliczeń. Wyniki pomiaru dla serii<br />
światłowodów o zróżnicowanych parametrach geometrycznych<br />
pozwolą na uzyskanie informacji na temat możliwości modyfikacji<br />
własności dyspersyjnych. Możliwości sterowania parametrami<br />
geometrycznymi wiążą się ze zmianą warunków generacji efektów<br />
nieliniowych w tego typu strukturach (rys. 1b).<br />
Teoretyczne podstawy charakteryzacji własności<br />
dyspersyjnych<br />
Dyspersja chromatyczna włókien mikrostrukturalnych może być<br />
wyrażona przy pomocy stałej propagacji modu prowadzonego<br />
[13]. Dyspersja chromatyczna wyraża się następująco:<br />
2<br />
πc<br />
D<br />
=<br />
−<br />
β<br />
(1)<br />
2<br />
2<br />
λ<br />
gdzie: β 2<br />
jest stałą propagacji drugiego rzędu, c – prędkość światła,<br />
λ – długość fali<br />
Wykorzystanie równania interferencyjnego dla interferometru Michelsona<br />
pozwoli na późniejsze wyodrębnienie stałej propagacji:<br />
( ) ( ) ( ) ( ( )<br />
)<br />
I<br />
λ<br />
=<br />
E<br />
λ<br />
+<br />
E<br />
λ<br />
≈<br />
1<br />
+<br />
cos<br />
φ<br />
λ<br />
(2)<br />
s<br />
r<br />
gdzie: E s<br />
oraz E r<br />
– amplitudy sygnału oraz referencji.<br />
Informacja na temat stałej propagacji zawarta jest w członie<br />
fazowym φ(λ) równania (2). Rozwinięcie w szereg Taylora członu<br />
fazowego pozwala na zapis funkcji fazowej w następującej<br />
postaci:<br />
2<br />
⎡<br />
d<br />
⎤<br />
⎛<br />
2<br />
πc<br />
2<br />
πc<br />
⎞<br />
φ<br />
( λ<br />
) =<br />
φ<br />
0 +<br />
⎢<br />
β<br />
1( ω<br />
0)<br />
L<br />
−<br />
⎥<br />
⎜ ⎟<br />
−<br />
+<br />
⎣ c ⎦<br />
⎝ λ λ<br />
0<br />
⎠<br />
(3)<br />
2<br />
3<br />
1<br />
⎛<br />
2<br />
πc<br />
2<br />
πc<br />
⎞<br />
1<br />
⎛<br />
2<br />
πc<br />
2<br />
πc<br />
⎞<br />
+<br />
β<br />
( ) ⎜<br />
2<br />
ω0<br />
L<br />
⎟<br />
+<br />
3( 0) ⎜<br />
⎟<br />
+ ...<br />
2<br />
−<br />
β ω L<br />
0<br />
6<br />
−<br />
⎝ λ λ ⎠<br />
⎝ λ λ<br />
0<br />
⎠<br />
gdzie: L – długość testowanego włókna, β 1<br />
, β 2<br />
, β 3<br />
– stałe propagacji,<br />
d – długość ramienia referencyjnego. Równanie (3) opisuje<br />
zmianę fazy prowadzonego modu w strukturze włókna.<br />
Układ interferometryczny do pomiaru dyspersji<br />
chromatycznej<br />
Testowany układ do pomiaru dyspersji chromatycznej przedstawiono<br />
na (rys. 1a). Wybrano konfigurację objętościową interferometru<br />
Michelsona. Układ interferometryczny poddano pomiarowej<br />
procedurze kalibracyjnej (opisanej szczegółowo w [5])<br />
z wykorzystaniem standardowego włókna telekomunikacyjnego<br />
SMF-28 (rys. 2). Istotny wpływ na wyniki pomiaru dyspersji ma<br />
poziom sygnału interferencyjnego. Do wyrównania poziomów<br />
sygnału ramion interferometru użyto tłumika optycznego VOA<br />
(Variable Optical Attenuator). W celu uzyskania prawidłowego<br />
wyniku należało precyzyjnie kontrolować położenie zwierciadła<br />
ruchomego w ramieniu odniesienia. Zmiana położenia zwierciadła<br />
ruchomego pozwala na uzyskiwanie równoważenia fazy dla<br />
kolejnych długości fali.<br />
W ramach weryfikacji poprawności stosowanej metody układ<br />
interferometryczny poddano pomiarowej procedurze kalibracyjnej<br />
z wykorzystaniem standardowego włókna telekomunikacyjnego<br />
SMF-28 o znanej charakterystyce dyspersyjnej (rys. 2) [5]. Wyniki<br />
pomiaru uzupełniono obliczeniami symulacyjnymi przy wykorzystaniu<br />
oprogramowania ModeSolution firmy Lumerical.<br />
Pomiar dyspersji chromatycznej i dane katalogowe firmy<br />
Corning są w bardzo wysokiej korelacji ze współczynnikiem<br />
R 2 = 0.99975. Wyniki symulacji zachowują bardzo dobra zgod-<br />
Rys. 1. Interferometr światła białego w konfiguracji Michelsona do<br />
pomiaru dyspersji chromatycznej (gdzie: FUT- pomiarowe włókno,<br />
VOA – tłumik optyczny, BS – kostka światło-dzieląca) (a). Typ geometrii<br />
analizowanych włókien –zdjęcie mikroskopowe SEM (b)<br />
Fig.1. White light Michelson interferometer for chromatic dispersion<br />
measurement (where: FUT- Fibre Under Test, VOA – Variable Optical<br />
Attenuator, BS – Beam Splitter) (a). Geometry type of tested fibremicroscopic<br />
SEM image (b)<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 33
Średnie parametry geomatryczne testowanych włókien<br />
Average geometrical parameters of tested fibres<br />
Rys. 2. Pomiar dyspersji chromatycznej włókna SMF-28 metoda interferometryczną<br />
(punkty) wraz z danymi katalogowymi firmy Corning<br />
i obliczeniami numerycznymi metodą (FDTD)<br />
Fig. 2. Chromatic Dispersion measurement results of SMF-28 obtained<br />
with free space optics interferometer (points) compared with<br />
Corning catalogue data (solid line) and calculation results based on<br />
FDTD method<br />
ność z pomiarem pod kątem zachowania trendu charakterystyki<br />
co warunkuje możliwość kontrolowanego modelowania struktur<br />
światłowodowych.<br />
Sygnał interferencyjny rejestrowano na analizatorze widma.<br />
Obserwowane prążki interfer encyjne tworzą sygnał typu chirp<br />
(zmienno-częstotliwościowy). Centralny prążek (o najniższej częstotliwości)<br />
spektralnie określa wartość długości fali λ o<br />
dla której<br />
interferometr jest w równowadze fazowej: φ(λ)= 0.<br />
Możliwość obserwacji sygnału interferencyjnego ograniczona<br />
jest pojawianiem się wyższych modów w zakresie krótkofalowym.<br />
Użyteczność sygnału interferencyjnego w zakresie krótko-falowym<br />
określa się na 100…150 nm poniżej ZDW (zero dyspersji)<br />
włókna ze względu na pojawiające się szumy pochodzące od<br />
wyższych modów.<br />
Pomiar dyspersji obejmował włókna nieliniowe [5] przy wykorzystaniu<br />
interferometru objętościowego. Parametry geometryczne<br />
testowanych włókien zestawiono w tabeli.<br />
Wyniki pomiaru dyspersji włókien porównano z rezultatami symulacji<br />
(rys. 3). Obliczenia numeryczne wykonano przy wykorzystaniu<br />
oprogramowania ModeSolution.<br />
Grupa h [um] Λ [µm] h/Λ (2Λ-h) [µm]<br />
A1 1.94 3.80 0.51 5.66<br />
A2 1.61 3.16 0.43 4.71<br />
B1 1.46 3.92 0.37 6.38<br />
B2 1.24 3.21 0.38 5.18<br />
C1 1.13 3.17 0.36 5.21<br />
C2 0.96 2.59 0.37 4.22<br />
C3 0.84 2.14 0.39 3.44<br />
D1 1.93 4.55 0.42 7.17<br />
D2 1.81 3.91 0.46 6.01<br />
D3 1.46 3.06 0.48 4.66<br />
h – średnica otworu powietrznego, Λ – stała sieci, h/Λ – współczynnik<br />
wypełnienia, (2Λ-h) – średnica rdzenia<br />
Zgodność wyników modelowania oraz pomiaru dla układu<br />
objętościowego pozwala na modelowanie własności dyspersyjnych<br />
włókien nieliniowych. W grupie C widoczne jest przegięcie<br />
charakterystyki dyspersyjnej (C3). Parametry geometryczne włókien<br />
grupy C są minimalne w analizowanej serii włókien. Dalsza<br />
minimalizacja wymiarów powodowała by pojawienie się drugiego<br />
ZDW w zakresie długofalowym natomiast ZDW krótkofalowe odpowiednio<br />
przesunęło by się w kierunku fal krótszych. Możliwość<br />
oszacowania długości fali dla zerowego poziomu dyspersji stanowi<br />
podstawę do powiązania własności dyspersyjnych i efektów<br />
nieliniowych wynikających z położenia pompy źródła względem<br />
ZDW (Zero Dispersion Wavelength). Istotną rolę odgrywa możliwość<br />
sterowania efektami nieliniowymi poprzez zmianę własności<br />
dyspersyjnych ośrodka z poziomu parametrów geometrycznych.<br />
Analiza pomiarowych charakterystyk dyspersyjnych pozwala na<br />
oszacowanie położenia punktów o zerowym poziomie dyspersji<br />
(ZDW). Rezultat analizy charakterystyk pod kątem położenia<br />
ZDW przedstawiono na (rys. 4).<br />
Rys. 3. Pomiar dyspersji chromatycznej (punkty) oraz symulacja numeryczna dla serii światłowodów A, B, C oraz D przy wykorzystaniu interferometru<br />
objętościowego<br />
Fig. 3. Chromatic dispersion measurements (points) and calculation (solid lines) results of microstructured fibre series: A, B, C and D by using<br />
bulk optics interferometer<br />
34<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys. 4. ZDW analizowanych grup światłowodów mikrostrukturalnych<br />
(A, B, C, D). Linia ciągła stanowi długość fali pompy (164nm) do uzyskania<br />
nieliniowych efektów<br />
Fig. 4. ZDW for measurement groups of fibres (A, B, C, D).Solid line described<br />
pump laser source (1064nm) for nonlinear effect generation<br />
Rys. 6. Przykład efektu poszerzenia spektralnego w grupie D; obserwowanego<br />
przy użyciu spektrometru<br />
Fig. 6. Example of spectral broadening in group D; observed by using<br />
spectrometer<br />
Rys. 5. Ewolucja efektu poszerzenia spektralnego dla włókna C2 (lewy), A2 (prawy) przy wzroście sygnału pompy (1064 nm)<br />
Fig. 5. Evolution of spectral broadening for: C2 (left), A2 (right) fibres after increasing pump (1064 nm) power<br />
Wyniki pomiaru (rys. 4) pozwalają na oszacowanie zakresu<br />
zmian parametrów geometrycznych włókien w celu uzyskania<br />
przesunięcia charakterystyki dyspersyjnej. Zmiana lokalizacji<br />
ZDW w stosunku do długości fali pompy warunkuje możliwość<br />
uzyskiwania charakterystyk poszerzenia spektralnego w różnym<br />
zakresie (rys. 5).<br />
Wyniki pomiaru i symulacji prezentują dobrą zgodność. Widoczną<br />
różnicę wyników pomiarów i symulacji tworzy stały czynnik<br />
wynikający z obliczeń numerycznych (wpływ numerycznych<br />
odchyleń potwierdzono obliczeniami dla standardowego włókna<br />
SMF28 o znanej dyspersji). Jest to istotny czynnik mający wpływ<br />
na możliwość projektowania światłowodów o zadanym i oczekiwanym<br />
poziomie dyspersji.<br />
Podsumowanie<br />
Prezentowane rezultaty pomiaru dyspersji chromatycznej we<br />
włóknach mikrostrukturalnych przedstawiają wysoka zgodność<br />
z danymi symulacyjnymi. Ważnym wnioskiem wynikającym<br />
z otrzymanych rezultatów jest możliwość kontroli dyspersyjnych<br />
własności włókien mikrostrukturalnych ze względu na parametry<br />
procesu wytwarzania. Prezentowana metoda pomiaru pozwala<br />
na uzyskanie precyzyjnych wyników z błędem maksymalnym poniżej<br />
3%. Możliwość modyfikowania parametrów geometrycznych<br />
włókien nieliniowych pozwala na kształtowanie charakterystyk<br />
dyspersji oraz jej istotnego parametru ZDW (zerowy poziom dyspersji)<br />
w ramach optymalizacji efektów nieliniowych (rys. 6).<br />
Widoczne poszerzenie spektralne w zakresie krótkofalowym<br />
(poniżej długości fali pompy (1064 nm) różni się dla włókien D1,<br />
D2 D3. Optymalizacja efektów nieliniowych zachodzących we<br />
włóknach mikrostrukturalnych wiąże się z uzyskiwaniem szeroko<br />
spektralnych źródeł typu supercontinuum o dedykowanym zakresie<br />
widma.<br />
Prace badawcze zostały sfinansowane ze środków Ministerstwa<br />
Nauki i Szkolnictwa Wyższego w ramach projektu Kluczo-<br />
wego: EU FP7 jako COST TD1001, POIG.01.03.01 14 016/08 03<br />
oraz rozwojowego NR02 0074 10, POIG.01.04.00 06 017/11oraz<br />
POIG.01.04.00 18 008/10.<br />
Literatura<br />
[1] Dudley J. M., Taylor J. R.: Supercontinuum generation in optical fibres,<br />
Cambridge University Press, 2010, pp. 3–81.<br />
[2] Falk P., Frosz M. H., Bang O.: Supercontinuum generation in a photonic<br />
crystal fiber with two zero-dispersion wavelengths tapered to normal<br />
dispersion at all wavelengths, Optics Express. 13, No. 19, 2005, pp.<br />
7535–7540.<br />
[3] Galle. M.A. at all.: Single-arm three-wave interferometer for measuring<br />
dispersion of short lengths of fibre, Optics Express. Vol. 15, No. 25,<br />
2007, pp. 16896–16908.<br />
[4] Harun S. W., Limb K. S., Ahmad H.: Investigation of Dispersion Characteristic<br />
in Tapered Fibre, Laser Physics. Vol. 21, No. 5, 2011, pp. 945–947.<br />
[5] Holdynski Z. at all.: Investigation of dispersion characteristics of highly<br />
nonlinear microstructured fibre series for customized supercontinuum<br />
generation, 25 April <strong>2012</strong> (Proceedings Paper).<br />
[6] Laegsgaar J. D, Roberts P. J.: Dispersive pulse compression in hollow-core<br />
photonic bandgap fibers, Opt. Express 16 (13), 2008, pp.<br />
9628–9644.<br />
[7] Lim H., Wise F.: Control of dispersion in a femtosecond ytterbium laser<br />
by use of hollow-core photonic bandgap fiber, Opt. Express 12 (10),<br />
2004, pp. 2231–2235.<br />
[8] Lu P., Ding H., Mihailov S.J.: Direct measurement of the zero-dispersion<br />
wavelength of tapered fibres using broadband-light interferometry,<br />
Meas. Sci. Technol. 16, 2005, pp. 1631–1636.<br />
[9] Matos C. at all.: All-fiber chirped pulse amplification using highly-dispersive<br />
air-core photonic bandgap fiber, Opt. Express 11, 2003, pp. 2832–2837.<br />
[10] Merritt P., Tatam R. P., Jackson D. A.: Interferometric Chromatic Dispersion<br />
Measurements on Short Lengths of Monomode Optical Fibre,<br />
Journal Of Lightwave Technology. 7, No. 4, 1989, pp. 703-716.<br />
[11] Ouzounov D. G. at all.: Generation of megawatt optical solitons in<br />
hollow-core photonic band-gap fibers, Science 301(5640), 2003, pp.<br />
1702–1704.<br />
[12] Peterka P. at all.: Measurement of chromatic dispersion of microstructure<br />
optical fibres using interferometric method, Optica Applicata. Vol.<br />
38, No. 2, 2008, pp. 295–303.<br />
[13] Ranka J. K., Windele R. S., Stentz A. J.: Visible continuum generation<br />
in air-silica microstructure optical fibers with anomalous dispersion at<br />
800 nm, Optics Letters. Vol. 25, Issue 1, 2000, pp. 25–27.<br />
[14] Thevenaz L., Pellaux J.-P., Weid J.-P.: All-Fibre Interferometer for Chromatic<br />
Dispersion Measurements, Journal Of Lightwave Technology. 6,<br />
No. I, 1988, pp. 1–7.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 35
Wykorzystanie światła rozproszonego do wyznaczania<br />
dwójłomności modowej światłowodów planarnych<br />
dr inż. Kazimierz GUT, Tomasz HERZOG (student)<br />
Politechnika Śląska, Katedra Optoelektroniki, Gliwice<br />
Światłowodowe struktury optyczne wytwarzane technologią<br />
optyki planarnej obok zastosowań w dziedzinie telekomunikacji<br />
(pracujące m.in. jako modulatory, multi- i demultipleksery),<br />
ze względu na liczne zalety nieosiągalne w technologii włókien<br />
optycznych znajdują coraz szersze wykorzystanie w budowie<br />
układów sensorowych monitorujących wielkości fizyczne, procesy<br />
biologiczne i chemiczne, a także liczne parametry w różnych<br />
gałęziach nauki i przemysłu. Świadczy o tym stale rosnąca liczba<br />
publikacji naukowych prezentujących nowe rozwiązania i udoskonalenia<br />
czujników optycznych wykorzystujących planarne struktury<br />
światłowodowe [4]. Jednym z najważniejszych parametrów<br />
charakteryzujących wytworzony falowód optyki zintegrowanej jest<br />
tłumienność, definiowana jako strata mocy optycznej na jednostkową<br />
drogę propagacji [3].<br />
W przypadku układów optyki zintegrowanej właściwy dobór<br />
metody pomiaru tłumienia jest znacznie bardziej skomplikowany<br />
niż w przypadku włókien optycznych, przede wszystkim ze względu<br />
na inną geometrię, budowę, przeznaczenie wytworzonego<br />
układu oraz zróżnicowany przedział badanych strat, z tego też<br />
powodu nie jest możliwe opracowanie jednej uniwersalnej metody<br />
pomiaru tłumienności, a większość dotychczas stosowanych<br />
metod to przede wszystkim projekty przeznaczone do wykonywania<br />
pomiarów w warunkach laboratoryjnych.<br />
Generalnie rzecz biorąc możemy wyróżnić dwie podstawowe<br />
techniki pomiaru różniące się przede wszystkim sposobem<br />
wyprowadzenia wyjściowego światła z falowodu: metody transmisyjne<br />
– bazujące na pomiarze na wyjściu światłowodu mocy<br />
światła transmitowanego w funkcji odległości propagacji oraz<br />
metody pomiaru światła rozproszonego – polegające na skanowaniu<br />
wyjściowego światła rozproszonego z falowodu w funkcji<br />
odległości. Uzupełnienie techniki pomiaru tłumienności stanowi<br />
odrębna grupa metod, z której każda bazuje na wykorzystaniu<br />
innego zjawiska fizycznego np. efektu fototermicznego ugięcia<br />
wiązki, interferencji bądź fluorescencji.<br />
Innym istotnym parametrem charakteryzującym planarne<br />
struktury światłowodowe jest dwójłomność modowa [5]. Ortogonalne<br />
mody m-tego rzędu propagują się z różna prędkością fazową<br />
(posiada różne stałe propagacji β TEm<br />
≠ β ). Po przebyciu<br />
TMm<br />
drogi x różnica fazy Δφ miedzy modami TE m<br />
i TM m<br />
jest określona<br />
zależnością [5]:<br />
∆<br />
φ<br />
=<br />
β<br />
TE −<br />
β<br />
(1)<br />
x<br />
m TM m<br />
×<br />
<br />
Jeżeli różnica fazy pomiędzy modami po przebyciu drogi x wynosi<br />
2π odległość x oznaczamy jako L Bm<br />
nazywamy drogą zdudnień<br />
(bicia) pary modów TE m<br />
i TM m<br />
[5].<br />
2<br />
π =<br />
β<br />
TE<br />
−<br />
β<br />
(2)<br />
m TM<br />
× L<br />
m<br />
B<br />
ponieważ<br />
m<br />
2<br />
π<br />
β<br />
=<br />
N<br />
eff<br />
(3)<br />
otrzymujemy:<br />
λ<br />
λ<br />
N eff<br />
−<br />
N<br />
(4)<br />
TE eff<br />
=<br />
TM<br />
L<br />
B<br />
m<br />
N effTE<br />
(N effTM<br />
) – efektywny współczynnik załamania modu TE(TM),<br />
N effTE<br />
– N effTM<br />
– dwójłomność modowa, λ − długość fali.<br />
Wiele czujników światłowodowych wykorzystuje w swojej zasadzie<br />
działania interferencje różnicową. Różnica fazy pomiędzy<br />
ortogonalnymi modami TE m<br />
i TM m<br />
jest funkcją wielkości mierzonej<br />
czujnika.<br />
Opracowano klika metod pomiaru dwójłomności modowej<br />
planarnych struktur światłowodowych. Jedna z nich polega na<br />
36<br />
wyznaczeniu efektywnych współczynników załamania prowadzonych<br />
modów N effTE<br />
i N effTM<br />
(stosując sprzęgacz pryzmatyczny),<br />
a następnie ich różnicę [1]. Inna metoda jest oparta na analizie<br />
stanu polaryzacji na wyjściu światłowodu [7]. Stosując diody superluminescencyjne<br />
i przeprowadzając analizę wzoru interferencyjnego<br />
można wyznaczyć dwójłomność modową [2]. Sprzęgacz<br />
immersyjny, który umożliwia wyprowadzenie światła z obu modów<br />
falowodowych w sposób ciągły i co pozwala na wyznaczenie<br />
drogi bicia [5]. Pobudzając tylko jeden mod i stosując punktowe<br />
przemieszczjące się zaburzenie, które sprzęga część energii do<br />
ortogonalnego modu również wyznaczamy tą ważną wielkość [6].<br />
Do wyznaczenia dwójłomności modowej można wykorzystać także<br />
światło rozproszone.<br />
Stanowisko badawcze i pomiary<br />
Stanowisko przedstawione na rys. 1 składa się z źródła laserowego,<br />
2 filtrów polaryzacyjnych, kamery CCD, sprzęgacza pryzmatycznego,<br />
przesłony i badanego jednomodowego światłowodu<br />
planarnego otrzymanego technika wymiany jonowej K + -Na + .<br />
Rys. 1. Schemat stanowiska pomiarowego<br />
Fig. 1. Scheme of measurement<br />
Aby uzyskać obraz interferencji polaryzacyjnej należy zapewnić<br />
jednakowe natężenie światła w modach TE i TM. W tym celu<br />
ustawiamy odpowiednio polaryzacje wiązki wejściowej oraz kąt<br />
wprowadzania światła do pryzmatu. Maksimum mocy w modach<br />
TE i TM uzyskuje się dla różnych kątów wprowadzania światła.<br />
Należały ustawić taki kąt aby natężenie światła w obu modach<br />
było porównywalne. Dodatkowo w celu korekty polaryzacji<br />
światła laserowego umieszczono polaryzator krystaliczny na<br />
drodze wiązki. który umożliwia wprowadzenie zmian natężenia<br />
światła w ortogonalnych modach. Przesłona została użyta do<br />
zmniejszenia rozmiarów wiązki laserowej, aby zminimalizować<br />
natężenie światła rozproszonego. Źródło laserowe, polaryzator<br />
i przesłona umieszczone były na obrotowym ramieniu z mikroregulacją,<br />
co pozwala na łatwą zmianę kąta wprowadzania światła<br />
do światłowodu. Obraz światła rozproszonego obserwowany był<br />
przez kamerę CCD z umieszczony polaryzatorem. Zmieniając<br />
kąt płaszczyzny polaryzacji w zakresie 0…90° obserwowano<br />
natężenie światła rozproszonego modów TE i TM. Uzyskane<br />
zdjęcia przedstawiono na rys. 2 i 3. Następnie ustawiono kąt<br />
płaszczyzny polaryzacji 45° uzyskane zdjęcie przedstawia<br />
rys. 4. Dla lepszego uwidocznienia zmian natężenia światła pokazano<br />
negatyw zdjęć.<br />
Ten obraz poddano dalszej obróbce. Dzięki programowi do<br />
zamiany skali szarości na wartość natężenia światła otrzymano<br />
20 rozkładów natężenia światła wzdłuż równoległych linii wzdłuż<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys. 2. Obraz światła rozproszonego zarejestrowany przez kamerę<br />
przy pobudzeniu modu TE<br />
Fig. 2. Scattered light image captured by the camera at the TE mode<br />
excitation<br />
Rys. 3. Obraz światła rozproszonego zarejestrowany przez kamerę<br />
przy pobudzeniu modu TM<br />
Fig. 3. Scattered light image captured by the camera at the TM mode<br />
excitation<br />
Rys. 5. Zależność natężenia światła rozproszonego od drogi propagacji<br />
Fig. 5. Dependence of the intensity of scattered light from the propagation<br />
path length<br />
Dla badanego światłowodu otrzymano wartość drogi zdudnień<br />
0,84 milimetra. Pomiary przeprowadzono dla długości fali λ = 635<br />
nm. Dwójłomność modowa badanego światłowodu dla pary modów<br />
TE 0<br />
i TM 0<br />
wynosi 7,5 × 10 -4 (λ = 635 nm). Takie same wartości<br />
dwójłomność modowej otrzymano przeprowadzając pomiary<br />
z wykorzystaniem sprzęgacza immersyjnego.<br />
Podsumowanie<br />
W pracy przestawiono metodę pomiarową które pozwalają wyznaczyć<br />
dwójłomność modową. Dla światłowodów półprzewodnikowych<br />
gdzie straty są znaczne metoda to może być trudna<br />
w praktycznym zastosowaniu. W światłowodach o dużej dwójłomności<br />
może być trudno pobudzić równocześnie oba ortogonalne<br />
mody TE i TM. Jednak dla wielu pozostałych światłowodów planarnych<br />
przedstawiona metoda pozwala wyznaczyć dwójłomność<br />
modową w stosunkowo prostym cyklu pomiarowym.<br />
Praca była realizowana w ramach projektu badawczego MNiSzW<br />
numer: O R00 0179 12<br />
Rys. 4. Obraz światła rozproszonego zarejestrowany przez kamerę<br />
przy pobudzeniu obydwu modów i ustawieniu polaryzatora pod katem<br />
45 0<br />
Fig. 4. Scattered light image captured by the camera at the excitation<br />
of both modes and setting the polarizer at 45 0<br />
drogi propagacji światła. Następnie uśredniono wszystkie pomiary<br />
i i unormowano. W celu zmiany odległości z pikseli na milimetry<br />
dokonano pomiarów rozkładu natężenia światła na skali<br />
milimetrowej. Uzyskane pomiary umożliwiły przeliczenie pikseli<br />
na milimetry Wyniki rozkładu natężenia światła w światłowodzie<br />
od drogi propagacji w milimetrach przedstawiono na rys. 5. Drogę<br />
bicia modów wyznaczono mierząc odległości pomiędzy pierwszym<br />
i ostatnim minimum i dzieląc uzyskaną wartość przez ilość<br />
przedziałów.<br />
Literatura<br />
[1] Cheng S. Y., Chiang K. S.: Birefringence in benzocyclobutene strip<br />
optical waveguides, IEEE Photon. Technol. Lett. 15, 2003.<br />
[2] Golojuch G. at all.: Investigation of birefringence in PMMA channel<br />
waveguides inscribed with DUV radiation, Meas. Sci. Technol. 19,<br />
2008.<br />
[3] Gut K.: Metody pomiaru tłumienia światłowodów planarnych, Mat.<br />
Konf. TAL, 2009, str. 227–234.<br />
[4] Gut K., Pustelny T., Drewniak S.: Analiza czułości planarnych, polimerowych<br />
światłowodów rewersyjnych, <strong>Elektronika</strong>, 6, 2010.<br />
[5] Gut K., Zakrzewski A., Pustelny T.: Sensitivity of polarimetric<br />
waveguide interferometer for different wavelengths, Acta Phys. Pol.<br />
A 118, 2010.<br />
[6] Hu W. W., Inagaki K., Mizuguchi Y.: Measurement of birefringence<br />
in integrated optical waveguides by use of a microwave-modulated<br />
optical wave, Opt. Lett. 26, 2001.<br />
[7] Ren Z. B., Robert Ph., Paratte P. A.: Linear birefringence measurement<br />
in single-mode optical fibre with circularly polarised input light,<br />
J. Phys. E, Sci. Instrum. 18, 1985.<br />
Przypominamy o prenumeracie miesięcznika <strong>Elektronika</strong> na 2013 r.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 37
Właściwości czujnikowe światłowodowych siatek Bragga<br />
na kilkumodowych wysoce dwójłomnych włóknach<br />
mikrostrukturalnych<br />
mgr inż. Tadeusz Tenderenda 1,2 , mgr inż. Michał Murawski 1,2 ,<br />
mgr inż. Michał Szymański 1,2 , dr Martin Becker 3 , dr Manfred Rothhardt 3 ,<br />
prof. dr Hartmut Bartelt 3 , dr Paweł Mergo 4 , mgr Krzysztof Poturaj 2,4 ,<br />
mgr Mariusz Makara 4 , mgr inż. Krzysztof Skorupski 2,4 , dr inż. Paweł Marć 1 ,<br />
prof. dr hab. inż. Leszek R. Jaroszewicz 1 , dr inż. Tomasz Nasiłowski 1,2<br />
1<br />
Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Fizyki Technicznej, Warszawa, 2 InPhoTech Sp. z o.o., Warszawa<br />
3<br />
Institute of Photonic Technology, Jena, Niemcy, 4 Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej, Lublin<br />
Jednym z najciekawszych tematów w dziedzinie fotoniki i technologii<br />
światłowodowej w ostatnich latach stały się włókna mikrostrukturalne<br />
MSF (ang. Microstructured Fibers), zwane również włóknami<br />
fotonicznymi PCF (ang. Photonic Crystal Fibre) [1]. Dzięki praktycznie<br />
nieograniczonym możliwościom doboru parametrów i właściwości<br />
propagacyjnych poprzez odpowiednie zaprojektowanie<br />
geometrii i domieszkowania, znalazły one zastosowania w bardzo<br />
wielu dziedzinach fotoniki (w generacji supercontinuum [2], w laserach<br />
światłowodowych [3], jako włókna kompensujące dyspersje<br />
lub jako włókna o zmniejszonej wrażliwości na makrozgięcia [4, 5]).<br />
Ponadto włókna MSF doskonale nadają się do zastosowań metrologicznych<br />
w światłowodowych czujnikach interferometrycznych<br />
oraz polarymetrycznych różnych wielkości fizycznych (między innymi<br />
temperatury, ciśnienia, wydłużenia, wygięcia oraz współczynnika<br />
załamania otoczenia [6–8]). W [9] przedstawiono teoretyczną<br />
oraz eksperymentalną analizę wpływu rozkładu oraz rozmiaru otworów<br />
powietrznych w trzech wysoce dwójłomnych włóknach mikrostrukturalnych<br />
dedykowanych do zastosowań czujnikowych na<br />
ich polarymetryczną czułość na temperaturę (K T<br />
). Okazało się, że<br />
dzięki odpowiednio zaprojektowanej geometrii włókna możliwe jest<br />
nie tylko znaczące wpływanie na wartość czułości temperaturowej,<br />
ale również zmiana jej znaku, co z kolei umożliwiło zaprojektowanie<br />
włókna o zerowej czułości temperaturowej. Wyniki te potwierdzają,<br />
że możliwe jest zaprojektowanie włókna do zastosowań w czujnikach<br />
mechanicznych niewymagających dodatkowych układów do<br />
kompensacji temperatury. W naszej niedawnej pracy [10] przedstawiliśmy<br />
inne włókno o innowacyjnej geometrii charakteryzujące<br />
się z kolei bardzo wysoką i stabilną dwójłomnością drugiego<br />
modu (~ 1,7 × 10 -3 na 1550 nm). Jako że maksima modu drugiego<br />
rzędu znajdują się bliżej otworów powietrznych (rys. 1b) i tym samym<br />
są narażone na większe naprężenia niż mod podstawowy,<br />
czułość polarymetryczna modu drugiego rzędy znacząco wzrasta<br />
(K ε<br />
= 4,94 × 10 4 rad/(strain × m) na długości fali 1550 nm) w porównaniu<br />
z czułością modu podstawowego (K ε<br />
= ‐3,0 × 10 2 rad/<br />
(strain × m) mierzone również na λ = 1550 nm). Z drugiej strony<br />
czułość temperaturowa zarówno modu podstawowego jak i drugiego<br />
rzędu była na pomijalnie niskim poziomie (K T<br />
= 5,8 × 10 ‐2 rad/<br />
(K × m) dla modu podstawowego oraz K T<br />
= 4,3 × 10 -1 rad/(K × m)<br />
dla modu drugiego rzędu). Połączenie wspomnianych powyżej<br />
unikalnych właściwości czujnikowych włókien mikrostrukturalnych<br />
ze specyficznymi właściwościami światłowodowych siatek Bragga<br />
(między innymi bezpośredniemu pomiarowi temperatury i naprężeń<br />
poprzez pomiar przesunięcia długości fali Bragga, możliwości<br />
łączenia siatek pomiarowych w szeregi, multipleksacji mierzonych<br />
sygnałów oraz przesyłaniu mierzonego sygnału na duże odległości<br />
standardowymi włóknami telekomunikacyjnymi) daje bardzo<br />
obiecujące i ciekawe perspektywy na aplikacyjne wykorzystanie<br />
tego typu struktur, jako bardzo wrażliwych czujników naprężeń mechanicznych<br />
i ciśnienia niezależnych od temperatury. W tej pracy<br />
przedstawiamy wyniki badań teoretycznej charakteryzacji kilkudomowego<br />
dwójłomnego włókna mikrostrukturalnego dedykowanego<br />
do zapisu siatek Bragga. Prezentujemy również charakterystyki<br />
Rys. 1. Zdjęcie SEM badanego włókna (a) oraz rozkład pola elektrycznego czterech propagowanych we włóknie modów (b)<br />
Fig. 1. SEM image of a cross-section of the investigated HB microstructured fiber with a detailed view of the air-hole region (a) and electric<br />
field distribution of the first four modes (b)<br />
38<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
spektralne siatek Bragga zapisanych laserem femtosekundowym<br />
w układzie interferometru Talbot w zaprojektowanych włóknach,<br />
które pozwalają zweryfikować wyliczone numerycznie wartości<br />
efektywnych współczynników załamania modu podstawowego<br />
i drugiego rzędu. Na koniec przedstawiamy analizę możliwości<br />
zastosowania aplikacyjnego opracowanej przez nas technologii<br />
i wykonanych struktur.<br />
Modelowanie oraz charakteryzacja badanego<br />
włókna<br />
Dwumodowe włókno mikrostrukturalne wykorzystywane w naszych<br />
eksperymentach miało strukturę „linijki” (rys. 1a) i dzięki silnemu<br />
domieszkowaniu rdzenia germanem (na poziomie 7 mol%)<br />
pozwalało na efektywny zapis siatek Bragga (eksperyment z zapisem<br />
FBG na włóknie jednomodowym o podobnej strukturze<br />
został opisany przez Geernaerta w [11]). Modelowanie i analiza<br />
właściwości propagacyjnych we włóknie przeprowadzona była na<br />
dostępnym komercyjnie oprogramowaniu MODE Solution firmy<br />
Lumerical wykorzystującym metodę różnic skończonych do rozwiązywania<br />
równania falowego. Wykonana analiza numeryczna<br />
potwierdza stabilną (ze stratami prowadzenia – ang. confinement<br />
loss – dla długości fali λ=1,55 μm rzędu kilku dB/km) propagację<br />
modu podstawowego (E 11<br />
) i drugiego rzędu (E 21<br />
) oraz słabą propagację<br />
modów wyższych rzędów (ze stratami sięgającymi kilku<br />
dB/m dla modu trzeciego E 31<br />
i czwartego rzędu E 12<br />
oraz osiągającymi<br />
100 dB/m dla modów wyższych rzędów). W naszych<br />
eksperymentach wykorzystywaliśmy krótkie (0,5 m) odcinki włókna<br />
MSF, dlatego spodziewaliśmy się zaobserwować propagację<br />
pierwszych czterech modów (E 11<br />
, E 21<br />
, E 31<br />
, E 12<br />
z przestrzennym<br />
rozkładem pola przedstawionym na rys. 1b.<br />
Przygotowanie próbek oraz technologia<br />
naświetlania siatek Bragga<br />
Półmetrowe próbki włókna mikrostrukturalnego przedstawionego<br />
na rys. 1a zostały zespawane na obydwu końcach z standardowym<br />
jednomodowym włóknem telekomunikacyjnym (Corning<br />
SMF-28). Ze względu na fakt, iż liczba pików Bragga widocznych<br />
Rys. 2. Schemat interferometru Talbot’a do zapisu siatek Bragga laserem<br />
femtosekundowym [15]<br />
Fig. 2. Femtosecond laser Talbot interferometer setup for FBG inscription<br />
[15]<br />
w charakterystyce FBG zapisanej we włóknie kilku- lub wielomodowym<br />
zależy silnie od warunków pobudzenia [12], technologia<br />
niskostratnego spawania została zoptymalizowana do odpowiedniego<br />
pobudzenia modów wyższych rzędów. Siatki Bragga na<br />
trzecie okno telekomunikacyjne były nanoszone w układzie interferometru<br />
Talbot’a (rys. 2) femtosekudowym laserem UV [13]<br />
technologią opisaną szerzej w [14].<br />
Wyniki<br />
Typowa charakterystyka widmowa uzyskanych próbek przedstawiona<br />
została na rys. 3a. W światłowodzie kilkumodowym każdemu<br />
z propagowanych modów odpowiada jeden pik Bragga.<br />
Ponadto w światłowodzie wysoce dwójłomnym każdy z pików<br />
Rys. 3. Typowa charakterystyka spektralna siatki Bragga zapisanej<br />
na dwójłomnym kilkudomowym włóknie mikrostrukturalnym (a) oraz<br />
porównanie efektywnych współczynników załamania modu podstawowego<br />
i drugiego rzędu obliczonych na podstawie charakterystyk<br />
spektralnych FBG (oznaczone ‘x’ – eksperyment) i wyliczonych numerycznie<br />
na podstawie symulacji (oznaczone linią ciągłą – symulacja)<br />
(b)<br />
Fig. 3. Typical spectra characteristic of an FBG written in a few-mode<br />
HB MSF (a); theoretical („symulacja”) and experimental („eksperyment”)<br />
values of effective refractive index of the fundamental and<br />
second (E 21<br />
) order mode (b)<br />
Bragga ma podwójną strukturę, w której każdy z pików odpowiada<br />
jednemu z dwóch modów polaryzacyjnych. Dwa piki oznaczone,<br />
jako E 21(sym.)<br />
oraz E 21(asym.)<br />
odpowiadają według nas symetrycznemu<br />
i asymetrycznemu modowi drugiego rzędu (E 21<br />
). W naszych<br />
próbkach nie zaobserwowaliśmy modu czwartego rzędu (E 31<br />
).<br />
Jest to prawdopodobnie związane z jednej strony ze stosunkowo<br />
dużymi stratami prowadzenia tego modu (zgodnie z naszymi symulacjami<br />
rzędu 2 dB/m) oraz dodatkowymi stratami na spawie<br />
MSF-SMF dla (dla naszych spawów rzędu 3 dB/spaw), a z drugiej<br />
strony z trudnościami związanymi ze wzbudzeniem tego modu<br />
i jego bardzo niestabilną propagacją.<br />
Charakterystyki spektralne siatek Bragga pozwalają na eksperymentalne<br />
wyznaczenie efektywnego współczynnika załamania<br />
(n eff<br />
) propagowanych w światłowodzie modów (zgodnie ze wzorami<br />
podanymi w [14]), a tym samym potwierdzenie dokładności symulacji<br />
i obliczeń numerycznych. W tym celu naświetlony został<br />
szereg FBG na długości fali Bragga 850…2000 nm, a porównanie<br />
wyników eksperymentu i symulacji przedstawione zostały na<br />
rys. 3b. Wyniki eksperymentalne są w dobrej zgodności z wynikami<br />
teoretycznymi, przy czym większe rozbieżności zostały zaobserwowane<br />
dla modu drugiego rzędu. Wynika to po pierwsze<br />
z faktu, że mod E 21<br />
dochodzi bliżej granicy obszaru symulacji,<br />
a więc jest obciążony większym błędem numerycznym niż mod<br />
podstawowy. Po drugie w modelu teoretycznym nie były brane<br />
pod uwagę zmiany współczynnika załamania rdzenia, powstałe<br />
pod wpływem promieniowania UV w trakcie procesu zapisu siatki<br />
Bragga.<br />
Wnioski<br />
W tej pracy zademonstrowaliśmy wyniki zapisu siatek Bragga<br />
na kilkumodowym wysoce dwójłomnym włóknie mikrostrukturalnym.<br />
Eksperymentalne wartości dwójłomności modu podstawowego<br />
(B E11<br />
= 0,35×10 -3 dla λ = 1,55 μm) oraz drugiego rzędu<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 39
(B E21<br />
= 0,46×10 -3 dla λ = 1,55 μm) obliczone na podstawie separacji<br />
pików Bragga (dwóch prostopadłych modów polaryzacyjnych)<br />
są ponad dwa razy mniejsze niż wartości dwójłomności podobnego<br />
włókna zaprezentowanego przez nas wcześniej w [10]. Tak<br />
duże różnice dwójłomności potwierdzają dużo mniejszy wpływ<br />
otworów powietrznych na prowadzone w analizowanym włóknie<br />
światło (w porównaniu do włókna zaprezentowanego w [10]).<br />
Ponadto przeprowadzone pomiary zmian położenia pików Bragga<br />
pod wpływem przyłożonej siły rozciągającej włókno (zmiana<br />
odstępu między pikami Bragga modów polaryzacyjnych poniżej<br />
0,01 pm/µε) pokazały, że czułość polarymetryczna na naprężenia<br />
wzdłużne zarówno podstawowego jak i drugiego modu jest<br />
porównywalna z czułością w tradycyjnych światłowodach dwójłomnych,<br />
co również potwierdziło niewystarczający wpływ mikrostruktury<br />
płaszcza na właściwości włókna. Zwiększenie wpływu<br />
mikrostruktury na propagowane bliżej rdzenia mody jest możliwe<br />
poprzez zbliżenie otworów powietrznych do obszaru rdzenia.<br />
Celem naszych kolejnych badań jest zaprojektowanie włókna<br />
o strukturze linijki (zapewniającej nieczułość dwójłomności na<br />
zmiany temperatury) oraz o podwyższonej czułości na naprężenia<br />
modów wyższego rzędu, a następnie wykonanie na nim siatek<br />
Bragga zgodnie z przedstawioną w tej pracy metodologią.<br />
Literatura<br />
[1] Russell P.: Photonic crystal fibers; Science vol. 299 (5605), 2003,<br />
s. 358–362.<br />
[2] Dudley J. M. i in.: Supercontinuum generation in photonic crystal<br />
fiber, Rev. Mod. Phys. vol. 78(4), 2006, s. 1135–1184.<br />
[3] Wadsworth W. i in.: High power air-clad photonic crystal fibre laser,<br />
Opt. Express vol. 11(1), 2003, s. 48–53.<br />
[4] Bjarklev A. i in.: Photonic Crystal Fibres, 2003.<br />
[5] Russell, P.: Photonic-Crystal Fibers, J. Lightwave Technol. vol.<br />
24(12), 2006, s. 4729–4749.<br />
[6] Nasilowski T. i in.: Sensing with photonic crystal fibres, Proc. Of IEEE<br />
International Symposium on Intelligent Signal Processing (WISP),<br />
2007, s. 1–6.<br />
[7] Frazăo O. i in.: Optical sensing with photonic crystal fibers, Laser<br />
Photon. Rev. vol. 2(6), 2008, s. 449–59.<br />
[8] Cusano A. i in.: Fiber Bragg Grating Sensors: Recent Advancements,<br />
Industrial Applications and Market Exploitation, 2011.<br />
[9] Martynkien, T. i in.: Birefringent photonic crystal fibers with zero polarimetric<br />
sensitivity to temperature, Appl. Phys. B vol. 94(4), 2009,<br />
s. 635–640.<br />
[10] Nasilowski T. i in.: Very high polarimetric sensitivity to strain of second<br />
order mode of highly birefringent microstructured fibre, Proc. SPIE<br />
7753, 2011, s. 77533O.<br />
[11] Geernaert T. i in.: Fiber Bragg gratings in germanium-doped highly<br />
birefringent microstructured optical fibers, IEEE Photon. Technol.<br />
Lett. 20(8), 2008, s. 554–556.<br />
[12] Mizunami T. i in.: Bragg Gratings in Multimode and Few-Mode Optical<br />
Fibers, J. Lightwave Technol. vol. 18(2), 2000, s. 230–235.<br />
[13] Becker M. i in.: Fiber Bragg grating inscription combining DUV subpicosecond<br />
laser pulses and two-beam interferometry, Opt. Express<br />
vol. 16(23), 2008, s. 19169–19178.<br />
[14] Tenderenda T. i in.: Fibre Bragg gratings written in highly birefringent<br />
microstructured fiber as very sensitive strain sensors, Proc. SPIE vol.<br />
8426, <strong>2012</strong>, s. 84260D.<br />
[15] Becker M. i in.: Inscription of fiber Bragg grating arrays in pure silica<br />
suspended core fibers, IEEE Photon. Technol. Lett. vol. 21(19), 2009,<br />
s. 1453–1455.<br />
Projekt i wykonanie eksperymentalnej światłowodowej<br />
sieci odniesienia DWDM o przepływności 80 Gbit/s<br />
dr inż. Grzegorz Żegliński, dr inż. Jerzy Gajda<br />
Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie, Katedra Telekomunikacji i Fotoniki<br />
Zapotrzebowanie na usługi związane z transmisją danych i obrazów<br />
wymagających dużych przepływności stymuluję większe zapotrzebowanie<br />
na instalacje sieciowe dostępowe i transportowe<br />
dla Internetu optycznego. Jak również rozwój telekomunikacji<br />
radiowej opartej na transporcie poprzez szybkie sieci światłowodowe<br />
(np.: Internet szybki LTE o przepływności 100 Mbit/s) wpływa<br />
na zmianę architektury transportowej sieci światłowodowych.<br />
Prace z ostatnich kilku lat o wymienionej tematyce wskazują na<br />
znaczący postęp naukowy w zakresie sieci DWDM (Dense Wavelenght<br />
Division Multiplexing) na co wskazuję nowe podejście<br />
do tematu modulacji i uzyskiwanie coraz większych efektywności<br />
spektralnych źródeł laserowych stosowanych w nadajnikach<br />
DWDM [1–5]. Z drugiej strony rozwój optycznych pasywnych<br />
sieci dostępowych wskazuje na potrzebę tworzenia i wdrażania<br />
nowych standardów teleinformatycznych wykorzystujących<br />
zwielokrotnienie falowe: sieci WDM-PON (Wavelenght Division<br />
Multiplexing Passive Optical Network) [6–8]. W niniejszej pracy<br />
została zrealizowana zaawansowana technologicznie i naukowo,<br />
zaprojektowana w 2008 roku numerycznie w środowisku RSOFT-<br />
OPTSIM i zainstalowana w latach 2009–2010 w Laboratorium<br />
Technologii Teleinformatycznych i Fotoniki propozycja uniwersalnej<br />
transportowej sieci odniesienia pozwalającej na testowanie<br />
i pomiary wielu różnych standardów sieci wykorzystujących zwielokrotnienie<br />
falowe. W roku 2011 wykonano sprawdzenia zrealizowanego<br />
projektu w ramach pracy dyplomowej przez studentów<br />
kierunku <strong>Elektronika</strong> i Telekomunikacja (Wydział Elektryczny Zachodniopomorskiego<br />
Uniwersytetu Technologicznego) [9].<br />
Transportowa sieć odniesienia DWDM<br />
40<br />
Sieć odniesienia została zrealizowania w Pracowni Optycznych<br />
Teleinformatycznych Sieci Odniesienia (Laboratorium Technologii<br />
Teleinformatycznych i Fotoniki) składa się z dwóch rekonfigurowanych<br />
węzłów sieciowych Alcatel-Lucent 1830 PSS-32, szafy<br />
przełącznic światłowodowych OptiTel 19/45U, dwóch szaf bębnów<br />
i szpul ze światłowodami w standardzie ITU-T G.652 (część<br />
transportowa) i ITU-T G.657 (część dostępowa) oraz szafy z pasywną<br />
siecią optyczną GEPON (Gigabit Ethernet Passive Optical<br />
Network). Szafa przełącznic światłowodowych składa się z 12<br />
półek DWDM. Szafa przełącznic światłowodowych odpowiada za<br />
zakończenia klienckie oraz liniowe dla poszczególnych węzłów<br />
sieciowych. Ponadto stanowi wejście/wyjście dla układu rozbiegowego<br />
bębnów ITU-T G.652.D włókna firmy Corning. Szafa<br />
bębnów z tymi światłowodami składa się z dwudziestu bębnów,<br />
których poszczególna długość wynosi od 17 do 18 km. Możemy<br />
zestawić całkowitą długość toru światłowodowego z 20 kawałków<br />
dla badanego systemu na poziomie ponad 340 km. Zdjęcia systemu<br />
pokazano na rys. 1.<br />
Każdy moduł zainstalowany w systemie posiada dwuportowe<br />
wejście/wyjście monitorujące MON, do którego mogą być podłączane<br />
przyrządy pomiarowe.<br />
Schemat zrealizowanego systemu DWDM wraz z zaznaczonym<br />
przykładowym punktem pomiarowym przedstawiono na<br />
rys. 2.<br />
Transpondery użyte w systemie wspierają takie protokoły<br />
transmisji jak OC-192, STM-64, 10G Ethernet czy 10G Fibre<br />
Channel. Mogą być użyte jako regeneratory sygnałów (3R<br />
– odtwarzanie kształtu, amplitudy i zegara sygnału). Wspierają<br />
transparentną transmisję do 11 Gb/s, monitorowanie poziomu<br />
kanałów optycznych oraz zarządzanie błędami przez funkcja<br />
FEC (Forward Error Correction) używaną do detekcji błędów<br />
i ich korekcji. Mechanizm ten zapobiega ponownej retransmisji<br />
uszkodzonych danych dzięki czemu dostarcza 8.5 dB OSNR<br />
zysku, więcej niż w standardzie ITU. Każdy transponder jest<br />
przestrajalny dla jednego 88 kanałów optycznych w zakresie<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
technika Wavelenght Tracker pozwala na automatyczną i programową<br />
kontrolę poziomu mocy i widma optycznego transmitowanych<br />
kanałów w różnych punktach systemu.<br />
W systemie zastosowano 8 wzmacniaczy optycznych pozwalających<br />
na zastosowanie różnych schematów kompensacji dyspersji<br />
oraz regeneracji sygnału w kolejnych odcinkach światłowodowych.<br />
W tabeli 2 zestawiono parametry użytych wzmacniaczy<br />
optycznych, a w tabeli 3. światłowodów kompensujących dyspersję<br />
chromatyczną obliczony dla projektowanego odcinka toru<br />
światłowodowego o długości 140 km. W ramach projektu obliczono<br />
kompensatory dla transmisji w pętli światłowodowej 2×70 km.<br />
Kompensatory pokazano na rys. 3.<br />
Tab. 2. Parametry stosowanych wzmacniaczy optycznych<br />
Tabl. 2. The Parameters of applied optical amplifiers<br />
Typ<br />
wzmacniacza<br />
Zysk<br />
[dB]<br />
Minimalna moc<br />
wejściowa<br />
[dBm]<br />
Maksymalna<br />
moc wejściowa<br />
[dBm]<br />
Maksymalna<br />
moc wyjściowa<br />
[dBm]<br />
ALPHG 10–26 -30 +7 17<br />
AHPLG 16–24 -30 +7 20<br />
Tab. 3. Właściwości kompensatorów dyspersji chromatycznej w węzłach<br />
systemu<br />
Tabl. 3. The properties of the chromatic dispersion compensators applied<br />
in the the system<br />
Rys. 1. Sieć Odniesienia zrealizowana w LTTiF<br />
Fig. 1. Reference optical fiber network realized in LTTiF<br />
od 191.70 THz do 196.05 THz z odstępem międzykanałowym<br />
50 GHz zgodnie ze standardami telekomunikacyjnymi ITU-T.<br />
Wybrane parametry nadajnika transponderów znajdujących się<br />
po stronie portów klienckich przedstawiano tab. 1.<br />
Parametr<br />
Kompensowana długość transmisyjna<br />
[km]<br />
Średnie straty tłumiennościowe<br />
[dB]<br />
Długość włókna DCF<br />
[km]<br />
Moduły DCF<br />
30,0 110,0<br />
2,1 5,7<br />
3,0 11,0<br />
Typ włókna SSMF SSMF<br />
Opóźnienie PMD<br />
[ps]<br />
0,13 0,39<br />
Tab. 1. Parametry nadajników transpondera<br />
Tabl. 1. The transmitter parameters of transponders<br />
Typ<br />
modułu<br />
Szybkość<br />
[Gb/s]<br />
Typ<br />
lasera<br />
Wyjściowy<br />
zakres mocy<br />
[dBm]<br />
11STAR1 11 MSA 2,5 do +5<br />
Wyjściowy<br />
zakres dł. fal<br />
[nm]<br />
1529,55 do<br />
1568,36<br />
Wejściowy<br />
zakres<br />
mocy [dBm]<br />
-24 do +8<br />
Moduły posiadają wiele funkcji takich jak Wavelength Tracker<br />
Encoder oraz Alien Wavelength. Wavelength Tracker Encoder<br />
dodaje unikatowy klucz WaveKey do transmitowanej długości<br />
fali, natomiast Alien Wavelength jest to funkcja pozwalająca na<br />
akceptacje dowolnego sygnału optycznego i konwertująca go do<br />
wymaganego sygnału DWDM według siatki ITU-T. Zastosowana<br />
Rys. 3. Zainstalowane moduły kompensacji dyspersji chromatycznej<br />
Fig. 3. The installed modules of chromatic dispersion compensation<br />
Rys. 2. Schemat sieci z punktem pomiarowym widma optycznego przed wzmacniaczem optycznym w jednym z węzłów<br />
Fig. 2. Network setup with the measuring point of optical spectrum before optical amplifier in one of crossover points<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 41
Rys. 4. Schemat projektowanego systemu w programie RSOFT OptSim<br />
Fig. 4. The setup of the designing system in RSOFT-OPTSIM programme<br />
42<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Wyniki obliczeń i pomiarów w projektowanej<br />
sieci DWDM<br />
Projekt i obliczenia numeryczne (rys. 4) zostały przeprowadzone<br />
w oprogramowaniu RSOFT OptSim w Pracowni Badań Numerycznych<br />
(LTTiF). Celem projektu było porównanie wyników analizy<br />
numerycznej z pomiarami zaprojektowanego systemu. Analizie<br />
została poddana elementowa stopa błędów BER oraz jakość sygnału<br />
Q, które zostały odczytane z diagramów oka z oscyloskopów<br />
na poszczególnych odbiornikach. Ponadto, ważnym aspektem<br />
sieci była moc optyczna poszczególnych kanałów optycznych na<br />
wyjściu wzmacniaczy.<br />
Ważniejsze założone parametry transmisyjne projektowanej<br />
sieci DWDM:<br />
● przepływność – 80 Gbit/s (8×10 Gb/s),<br />
● moc optyczna nadajników,<br />
● minimalna moc odbierana w odbiorniku,<br />
● FWHM [MHz] – szerokość połówkowa krzywej widmowej charakterystyki<br />
laserów w nadajniku (1000 MHz),<br />
● BER – elementowa stopa błędów. Określa prawdopodobieństwo<br />
wystąpienia przekłamania bitu informacji.<br />
● Q [dB] – parametr obliczeniowy diagramu oka po stronie elektrycznej<br />
systemu pozwalający na oszacowanie elementowej<br />
stopy.<br />
Na rysunku 5 pokazano widmo pomiarowe systemu, którego<br />
3 kanały zajmują początkową część pasma telekomunikacyjnego<br />
C, 2 kanały środkową część pasma C oraz 3 kanały końcową<br />
część tego pasma. Kanały mogą być rekonfigurowane na siatce<br />
ITU-T w paśmie C. Przykładowe wyniki mocy przed regeneracją<br />
po przejściu drugiego odcinka 70 km.<br />
Przykładowe obliczenia parametrów BER i Q dla wybranych<br />
kanałów pokazano w tabeli 5.<br />
Podsumowanie<br />
Przeprowadzono obliczenia numeryczne z użyciem modelu, którego<br />
elementy składowe zawierają parametry elementów rzeczywistych<br />
użytych w systemie (wzmacniacze optyczne, kompensatory<br />
dyspersji, filtry optyczne). Przygotowane oprogramowanie pozwala<br />
na zastosowanie utworzonego stanowiska do analizy przestrajalnego<br />
systemu oraz do rekonfiguracji parametrów systemu<br />
z ewentualnymi nowymi elementami do badań takimi jak: światłowody<br />
mikrostrukturalne, kompensatory dyspersji chromatycznej<br />
i polaryzacyjnej. Dzięki oprogramowaniu możliwe jest również<br />
prześledzenie między innymi wpływu wzmacniaczy optycznych<br />
na jakość transmitowanego widma w kontekście zarządzania<br />
dyspersją chromatyczną. Otrzymane wyniki obliczeń numerycznych<br />
przy uzyciu oprogramowania RSOFT OptSim wskazują na<br />
dużą porównywalność z wynikami pomiaru i wyniki analizy numerycznej<br />
parametru Q oraz wykonane<br />
pomiary BER wskazują na akceptowalny<br />
poziom transmisji o zasięgu<br />
140 km, dla przepływności 80 Gb/s.<br />
System posiada możliwość rozbudowy<br />
do 88 kanałów o przepływności<br />
ponad 3 Tb/s. System jest użyteczny<br />
zarówno do testowania istniejących<br />
rozwiązań komercyjnych, jak również<br />
rozwiązań naukowych, poprzez połączenie<br />
światłowodowe z innymi pracowniami<br />
Laboratorium Technologii<br />
Teleinformatycznych i Fotoniki.<br />
Rys. 5. Pomiarowe widmo optyczne przed wzmacniaczem ALPHG w węźle systemu<br />
Fig. 5. Measuring optical spectrum before amplifier ALPHG in the system<br />
Tab. 4. Parametry kanałów optycznych pomiaru przed wzmacniaczem<br />
ALPHG w węźle systemu po przejściu odcinka 70 km<br />
Tabl. 4. Parameters of optical channels of measurement before amplifier<br />
ALPHG in the system after 70 km transmission<br />
Kanał<br />
f<br />
[THz]<br />
Długość fali<br />
[nm]<br />
Moc optyczna<br />
[dBm]<br />
OSNR<br />
[dB]<br />
1 196,00 1529,52 -16,57 35,28<br />
2 195,90 1530,30 -17,72 33,67<br />
3 195,80 1531,09 -16,77 35,29<br />
4 193,90 1546,09 -17,35 35,61<br />
5 193,80 1546,88 -17,89 35,56<br />
6 191,90 1562,20 -18,30 36,09<br />
7 191,80 1563,02 -18,30 36,01<br />
8 191,70 1563,83 -18,59 36,21<br />
Tab. 5. Parametry diagramów oka dla wybranych częstotliwości systemu<br />
Tabl. 5. The eye diagrams results for the chosen frequencies of the system<br />
f<br />
[THz]<br />
BER<br />
191.70 193.90 195.80 196.00<br />
Q [dB] 16.09 16.03 15.72 15.52<br />
Literatura<br />
Laboratorium zostało wybudowane<br />
i wyposażone w aparturę naukowo-<br />
-badawczą w ramach projektu Programu<br />
Operacyjnego Innowacyjna<br />
Gospodarka POIG.02.01.00-32-024/08.<br />
[1] Le Roux P. at all.: 25 GHz spaced DWDM 160x10.66 Gbit/s<br />
(1.6 Tbit/s) unrepeatered transmission over 380 km, Alcatel-Lucent,<br />
2002.<br />
[2] Xiang Liu, Chandrasekhar S.: High Spectral-Efficiency Mixed<br />
10G/40G/100G Transmission, Bell Laboratories, 2008.<br />
[3] Xia Verizon T. J., Winzer P. J.: Transmission of 107-Gb/s DQPSK<br />
over Verizon 504-km Commercial LambdaXtreme Transport System,<br />
Alcatel-Lucent, 2008.<br />
[4] Hidenori T. at all.: Highly Spectrally Efficient DWDM Transmission<br />
at 7.0 b/s/Hz Using 8 x 65.1-Gb/s Coherent PDM-OFDM, Journal<br />
of Lightwave Technology, Vol. 28, No. 4, 2010.<br />
[5] Dorosz J., Romaniuk R.: Rozwój techniki światłowodowej w kraju<br />
2009–2011, ELEKTRONIKA – KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE,<br />
ZASTOSOWANIA, 2011-4.<br />
[6] Weiwei Z., Hongwei Z., Hanyu Z.: Study on WDM-PON Schemes,<br />
International Conference on Business Computing and Global Informatization,<br />
2011.<br />
[7] Zaineb Al-Qazwini, Hoon Kim: DC-Balanced Line Coding<br />
for Downlink Modulation in Bidirectional WDM PONs Using<br />
Remodulation, IEE Photonics Technology Letters, Vol. 23, No.<br />
18, 2011.<br />
[8] Applied Optoelectronics: 32-Channel, Injection-Locked WDM-PON<br />
SFP Transceivers for Symmetric 1.25 Gbps Operation, NFOEC,<br />
2011.<br />
[9] Kubczyk K.: Praca magisterska, Katedra Telekomunikacji i Fotoniki,<br />
2011.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 43
Światłowodowy czujnik temperatury progowej na bazie<br />
wypełnionego włókna mikrostrukturalnego<br />
dr inż. Paweł Marć 1 , mgr Paweł Piliszek 1 , dr inż. Tomasz Nasiłowski 1,2 ,<br />
mgr inż. Michał Murawski 1,2 , mgr inż. Michał Szymański 1,2 ,<br />
prof. dr hab. inż. Leszek R. Jaroszewicz 1 , dr inż. Katarzyna Pawlik 2<br />
1<br />
Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Fizyki Technicznej, Wydział Nowych Technologii i Chemii, Warszawa<br />
2<br />
InPhoTech Sp. z o.o., Warszawa<br />
Fotoniczne włókna światłowodowe (PCF) lub inaczej mikrostrukturalne<br />
(MSF) są coraz częściej wykorzystywane w telekomunikacji<br />
i czujnikach światłowodowych. Możliwość zmiany<br />
geometrii otworów wewnętrznych,tworzących mikrostrukturę<br />
włókna prowadzącą wiązkę świetlną, pozwala modyfikować<br />
jego dyspersję, strukturę modową, dwójłomność czy też nieliniowość,<br />
a dzięki tym nowym własnościom stosować je tam<br />
gdzie wcześniej nie było to możliwe. Łatwy dostęp do otworów<br />
powietrznych pozwala również na wprowadzanie różnego typu<br />
materiałów do jego wnętrza. Najczęściej stosowane materiały<br />
to polimery [1], ciekłe kryształy [2, 3], specjalizowane ciecze<br />
immersyjne [4], ciecze z nanocząstakim [5], czy też złożone<br />
substancje organiczne [6]. Wykorzystanie procesu zwilżania<br />
kapilarnego jest najczęściej stosowaną techniką wypełniania<br />
mikrostruktury włókna [1-6]. Tak przygotowane włókna stają się<br />
podstawą konstrukcji różnego typu elementów światłowodowych<br />
takich jak przełączniki optyczne, tłumiki optyczne czy też<br />
optody czujników chemicznych.<br />
W niniejszej pracy do wytworzenia czujnika temperatury progowej<br />
wykorzystano komercyjnie dostępne włókno światłowodowe<br />
typu LMA10 produkowane przez firmę NKT Photonics [7].<br />
Zostało ono wypełnione substancją organiczną wykorzystując<br />
do tego celu wyżej wspomnianą technikę, a optodę czujnika<br />
tworzy patchcord światłowodowy zakończony standardowymi<br />
złączami FC/PC.<br />
Światłowodowy czujnik progowej wartości<br />
temperatury<br />
44<br />
Opracowana w Zakładzie Technicznych Zastosowań Fizyki WAT<br />
aparatura pozwala na wypełnianie włókien mikrostrukturalnych<br />
różnego typu materiałami ciekłymi. O ile substancja wypełniająca<br />
posiada niską wartość współczynnika lepkości to siły kapilarne<br />
są wystarczające do wypełnienia przygotowanego włókna. Natomiast<br />
wypełnienie włókna materiałem o dużej lepkości wymaga<br />
zastosowania podzespołu zewnętrznego ciśnienia. Układ ten został<br />
przystosowany również do wprowadzania materiałów, które<br />
w warunkach normalnych są w stanie stałym, ale posiadają niską<br />
wartość współczynnika topnienia i można je przeprowadzić do<br />
stanu ciekłego w temperaturach do 80°C. Materiały organiczny<br />
tego typu stał się podstawą budowy prezentowanego czujnika<br />
temperatury progowej. Wypełniając kanały powietrzne mikrostruktury<br />
materiałem o innym współczynnika załamania niż powietrze<br />
wpłynąć można na jakość wiązki świetlnej prowadzonej<br />
we włóknie, a w prezentowanej pracy przede wszystkim na wielkość<br />
strat. Biorąc pod uwagę fakt wykorzystania w badaniach<br />
włókna mikrostrukturalnego o stałym rdzeniu wartość współczynnika<br />
załamania substancji wypełniającej ma bezpośredni wpływ<br />
na mechanizm prowadzenia światła w tego typu włóknie. Jeżeli<br />
współczynnik załamania materiału wypełniającego jest niższy<br />
niż współczynnik załamania materiału, to mechanizm propagacji<br />
jest podobny do prowadzenia wiązki w standardowych włóknach<br />
światłowodowych. Jeżeli jest inaczej to włókno prowadzi światło<br />
na zasadzie istnienia przerwy wzbronionej [8], podobnie jak we<br />
włóknach z powietrznym rdzeniem.<br />
W prezentowanej pracy zastosowano wypełnienie, które<br />
zmienia nie tylko wartość współczynnika załamania w zależności<br />
od temperatury oddziałującej na materiał wypełniający, ale<br />
także stan skupienia ze stałego na ciekły. Stan włączenia czujnika<br />
uzyskuje się dla temperatur powyżej temperatury progowej,<br />
w której substancja jest w stanie ciekłym natomiast stan wyłączenia<br />
występuje poniżej tej temperatury, kiedy substancja jest<br />
w stanie stałym.<br />
W pracy wykorzystano włókno typu LMA, które pozwala na<br />
konstrukcję czujnika pracującego w szerokim zakresie długości<br />
fali. W przypadku prezentowanego układu wykorzystane zostało<br />
źródło światła typu VCSEL generujące wiązkę świetlną<br />
w okolicach 850nm. Ogólnie czujnik zbudowany został w oparciu<br />
o prostą konfigurację transmisyjnego czujnika natężenia,<br />
w którym wiązka świetlna ze źródła przechodzi przez odpowiednio<br />
przygotowany patchcord z wypełnionym włóknem LMA10<br />
i padając na fotodetektor daje informacje o stanie czujnika.<br />
Długość zastosowanego włókna mikrostrukturalnego była około<br />
50 cm natomiast długość wypełniania zawierała się w przedziale<br />
10...30 mm. Materiał wypełniający włókno w procesie wypełniania<br />
został przetransportowany mniej więcej do połowy długości<br />
włókna mikrostrukturalnego. Włókno to zostało z obyu stron zamknięte<br />
spawami z jednomodowym włóknem światłowodowym<br />
typu SMF28 wykonanymi przy pomocy platformy przetwarzania<br />
szkła GPX-3400 (VYTRAN).<br />
Rozważając pracę czujnika od strony teoretycznej dokonano<br />
badania mechanizmu strat tak przygotowanego elementu<br />
światłowodowego. Przeprowadzone zostały symulacyjne na bazie<br />
oprogramowania Lumerical. Symulacje wykonano oceniając<br />
straty na połączeniach SMF28-LMA10 oraz LMA10 bez wypełnienia<br />
z LMA10 z wypełnieniem oraz straty prowadzenia w części<br />
wypełnionego włókna mikrostrukturalnego. W pierwszym przypadku<br />
obliczano całkę przekrycia pól modowych powstających<br />
w strukturze wypełnionej oraz pola modowego struktury bez wypełnienia.<br />
Wykonując stosowne obliczenie dla różnych wartości<br />
współczynnika załamania substancji wypełniającej okazało się,<br />
że dominujące są straty na połączeniu włókna mikrostrukturalnego<br />
z wypełnianiem i bez wypełnienia (rys. 1).<br />
Rys. 1. Straty na połączeniu włókna wypełnionego i niewypełnionego<br />
w zależności od współczynnika załamania<br />
Fig. 1. Coupling losses vs. refractive index of filled material for interface<br />
between empty and filled fibre<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Z rysunku wynika, że straty są tym większe im bardziej współczynnik<br />
załamania materiału zbliża się do współczynnika załamania<br />
szkła krzemionkowego, z którego został wytworzony<br />
światłowodów. Straty związane z prowadzeniem wiązki świetlnej<br />
w strukturze wypełnionej były niższe o rząd wielkości od strat prezentowanych<br />
na rys. 1.<br />
Wyniki eksperymentalne<br />
We wstępnej fazie eksperymentów do badań wykorzystano źródło<br />
typu VCSEL oraz miernik mocy optycznej, a część patchcordu<br />
z wypełnieniem była umieszczona wewnątrz komory cieplnej.<br />
Źródło i miernik mocy umieszczone były na zewnątrz komory. Badania<br />
były prowadzone dla kilkunastu próbek z wypełnieniem 10,<br />
20 i 30 mm. Przykładowe charakterystyki zmiany mierzonej mocy<br />
optycznej na wyjściu miernika mocy dla trzech przykładowych<br />
próbek zostały przedstawione na rys. 2.<br />
a)<br />
b)<br />
c)<br />
Rys. 2. Zależność mocy optycznej w funkcji temperatury dla trzech<br />
próbek o długości wypełnienia: a) 10 mm, b) 20 mm i c) 30 mm<br />
Fig. 2. Optical power vs. temparature for three samples with different<br />
filling lenghts: a) 10 mm, b) 20 mm and c) 30 mm<br />
Sumaryczną ocenę charakterystyk przedstawionych na rysunku<br />
zaprezentowano w tabeli. Dla wszystkich próbek zmierzona<br />
został inna temperatura przejścia określana jako punkt, dla której<br />
wartość sygnału jest średnią jego minimalnego i maksymalnego<br />
poziomu. Zakres zmian pomiędzy stanem wyłączenia i włączenia,<br />
jak również nachylenia charakterystyki wskazane zostały jako te<br />
parametry, które decydowały będą o szybkości z jaką czujnik<br />
może zadziałać.<br />
Sumaryczna ocena parametrów przebadanych<br />
The overall evaluation of the studied parameters<br />
Długość wypełnienia [mm] 10 20 30<br />
Temperatura przejścia [°C] 67 63,5 61,8<br />
Zakres zmiany sygnału [°C] 2 1 1<br />
Nachylenie charakterystyki [µW/°C] 24 31 31<br />
Straty całkowite [dB] 5,9 6,4 7,9<br />
Temperatura przejścia dla wszystkich próbek różni się. W tym<br />
wypadku problemem podstawowym mogła być niestabilna prac<br />
komory cieplnej. W drugim przybliżeniu wpływ na to mogła mieć<br />
także niejednorodności materiału wypełniającego będącego bogatą<br />
mieszaniną organicznych związków chemicznych, a zatem<br />
w badanych próbkach mogły znajdować się nieco odmienne frakcje.<br />
Zakres zmiany temperatury jest zgodny z oczekiwaniami,<br />
gdyż dla krótszych wypełnień wiązka świetlna łatwiej przechodzi<br />
przez ten materiał nawet jeśli wartość współczynnika załamania<br />
jest duża. Natomiast dla wypełnienia powyżej 20 mm zakres ten<br />
zmniejsza się do 1°C i pozostaje taki sam dla dłuższych wypełnień.<br />
Nachylenie charakterystyki termicznej ma przeciwny charakter.<br />
Dla wypełnienia 10 mm jest mniniejsze i nieznacznie rośnie dla<br />
dłuższych wypełnień uzyskując stałą wartość dla wypełnień powyżej<br />
20 mm. Straty całkowite mierzone metodą wtrąceniową są<br />
zgodne z oczekiwaniami rosnąc wraz z długością wypełnienia.<br />
Podsumowanie<br />
Zaprezentowany specjalizowany patchcord światłowodowy z częściowym<br />
wypełnionym włóknem mikrostrukturalnym jest elementem<br />
pozwalającym na budową światłowodowego czujnika temperatury<br />
progowej. Przykładowe charakterystyki termiczne pozwalają<br />
stwierdzić, że 20 mm wypełnienie włókna mikrostrukturalnego jest<br />
wystarczające dla uzyskania efektu przejścia pomiędzy stanami<br />
włączenia i wyłączenia. Stosunkowo wysokie straty tak przygotowanego<br />
patchcordu mogą być wyeliminowane w procesie przygotowania<br />
nowego typu wypełnień, jak również uzyskana temperatur<br />
progowa może być modyfikowana zmianą kompozycji mieszanych<br />
substancji. Zaprezentowany patchcord z odpowiednio przygotowanym<br />
wypełnieniem może być wykorzystany również jako przełącznik<br />
optyczny, czy też regulowany tłumik optyczny.<br />
Prace badawcze zostały sfinansowane ze środków Ministerstwa<br />
Nauki i Szkolnictwa Wyższego w ramach Projektu Kluczowego<br />
POIG.01.03.01-14-016/08-03 oraz rozwojowego NR02-0074-10.<br />
Literatura<br />
[1] Eggleton B.J. i in.: Microstrictured optical fiber devices, Opt. Express,<br />
9, 13, 2001, 698.<br />
[2] Woliński T. R. i in.: Propagation properties of photonic crystal fibers<br />
filled with nematic liquid crystals, Opto-Elect. Rev., 13, 2, 2005, 177.<br />
[3] Piliszek P. P. i in.: Microstructural optic fibres filled liquid crystals, and<br />
other substances, IV International interdisciplinary technical conference<br />
of young scientists, Poznań, May 2011.<br />
[4] Wang Y. i in.: Thermo-optic switching effect based on fluid-filled photonic<br />
crystal fibre, IEEE Photonics Technology Letters, 22, 3, 2010, 88.<br />
[5] Yinping M. i in.: Temperature tunability of photonic crystal fiber<br />
filled with Fe3O4 nanoparticle fluid, Appl. Phys. Lett., 98, 2, 2011,<br />
021103.<br />
[6] Marc P. i in.: Optical temperature switch based on microstructuredfibrefilled<br />
with different chemical mixtures, Proc. SPIE, 8426, <strong>2012</strong>, 842605.<br />
[7] http://www.nktphotonics.com/files/files/LMA-10.pdf<br />
[8] Kuhlemey B.T. i in.: Fluid-filled solid-core photonic bandgap fibers, J.<br />
Lightwave Techn., 27, 11, 2009, 1617.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 45
Światłowodowy demodulator fazy – model<br />
i wyniki eksperymentalne<br />
mgr inż. Zbigniew HOŁDYŃSKI, dr inż. Idzi MERTA, prof. dr hab. inż. Leszek R. JAROSZEWICZ,<br />
dr inż. Rafał ŚWIŁŁO, Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Fizyki Technicznej, Warszawa<br />
Model światłowodowego demodulatora fazy<br />
Różne metody analizy obrazów prążkowych a także modulacji i demodulacji<br />
sygnałów świetlnych w tym w światłowodach zaprezentowane<br />
są w pracach [1–5]. Optyczna demodulacja fazy jest trudna<br />
w realizacji i w dalszym ciągu jest przedmiotem zainteresowania<br />
szczególnie w dziedzinie czujników światłowodowych [5]. Idea<br />
i pierwsze symulacje numeryczne prezentowanego demodulatora<br />
zaprezentowano w pracy [6]. Wykorzystano w nim: klasyczne interferencyjne<br />
doświadczenie Younga, własności transformacyjne<br />
cienkiej soczewki sferycznej oraz dwuelementowy fotodetektor<br />
z przerwą q – rys. 1. Rolę punktowych źródeł światła stanowią dwa<br />
światłowody zakończone kolimatorami na wyjściu których znajdują<br />
się pinhole o średnicy d. Wiązki po złożeniu na pryzmacie są do<br />
siebie równoległe i znajdują się obok siebie w odległości 2b [7–9].<br />
W płaszczyźnie ogniskowej przedmiotowej soczewki skupiającej<br />
położone są pinhole, a w płaszczyźnie ogniskowej obrazowej powstaje<br />
ich dyfrakcyjny obraz Airy’ego zmodulowany przestrzennie.<br />
Zmiana różnicy fazy Δφ w obu światłowodach powoduje przesunięcie<br />
rozkładu dyfrakcyjnego na powierzchniach dwuelementowego<br />
fotodetektora (FD). Na powierzchniach FD zachodzi całkowanie<br />
rozkładu intensywności pola dyfrakcyjnego a sygnały wychodzące<br />
z lewego i prawego FD, tj. S L<br />
i S P<br />
zawierają informacje o różnicy<br />
fazy Δφ. S L<br />
i S P<br />
i ich kombinacja odpowiednio suma i różnica P sum<br />
,<br />
P diff<br />
oraz wyznaczona na ich podstawie różnica fazy Δφ są opisane<br />
następującymi zależnościami:<br />
Rys. 1. Idea światłowodowego demodulatora fazy<br />
Fig. 1. Fibre optics phase demodulator concept<br />
S L<br />
= a1<br />
+ a2<br />
cos ∆φ<br />
+ a3<br />
sin ∆φ<br />
P sum<br />
= 2a1<br />
+ 2a2<br />
cos∆φ<br />
(1)<br />
S R<br />
= a1<br />
+ a2<br />
cos ∆φ<br />
− a3<br />
sin ∆φ<br />
P diff<br />
= 2a<br />
3<br />
sin∆φ<br />
a P<br />
2 diff<br />
tg( ∆ φ)<br />
=<br />
gdzie: a<br />
a ( − 2a<br />
)<br />
1<br />
, a 2<br />
, a 3<br />
– pewne stałe [6, 9] (2)<br />
46<br />
3<br />
P sum<br />
1<br />
Istota zaprezentowanego powyżej prostego światłowodowego<br />
demodulatora fazy w układzie homodynowym zawarta jest w zależnościach<br />
(1) i (2) a jego możliwości wynikają z odpowiedniego<br />
ich wykorzystania. I tak w przypadku modulacji cyfrowej monitorując<br />
chwilowe wartości sygnałów sumy i różnicy z obu FD wzór<br />
(1), można wnioskować o typie modulacji fazowej. Znając stałe:<br />
a 1<br />
, a 2<br />
, a 3<br />
z wcześniejszego wyskalowania układu i korzystając<br />
z prostego układu logicznego z odpowiednim oprogramowaniem<br />
można na bieżąco demodulować sygnały. Aby znaleźć wartość<br />
różnicy faz Δφ należy skorzystać z równania (2) podstawiając<br />
wartości sumy P sum<br />
i różnicy sygnałów P diff<br />
z obu FD.<br />
Błąd metody wyznaczenia różnicy faz<br />
By znaleźć błąd metody wyznaczenia różnicy fazy zakładamy, że<br />
sygnały z obu FD obarczone są szumami addytywnymi Gaussa n l<br />
i n p<br />
. Wtedy wyrażenie (2) można zapisać:<br />
a [ P<br />
2 diff<br />
+ ( nL<br />
− nR<br />
)]<br />
tg( ∆φ<br />
+ ε)<br />
=<br />
; (3)<br />
a ( P + ( n + n )) − 2a<br />
)<br />
gdzie:<br />
σ – jest standardowym odchylenie pomiaru sygnałów z FD.<br />
Przeprowadzając analizę podobną do zaprezentowanej<br />
w pracach [10–11] można otrzymać wyrażenia na błąd średni <br />
i średni kwadratowy < ε 2 >:<br />
2<br />
⎛<br />
2<br />
2<br />
⎞<br />
2 σ<br />
⎜<br />
sin ∆φ<br />
cos ∆φ<br />
ε = + ⎟ ,<br />
2<br />
2<br />
2 ⎝ a2<br />
a3<br />
⎠<br />
(4)<br />
2<br />
σ<br />
⎛ 1 1 ⎞<br />
ε = sin ( ∆φ) cos ( ∆φ)<br />
⎜ − ⎟<br />
2<br />
2 2<br />
a a<br />
⎝ 3 3 ⎠<br />
Dobierając tak odległości q między fotodetektorami, można<br />
zapewnić równość współczynników a 2<br />
= a 3<br />
, a wtedy powyższe<br />
formuły na błąd średni i średni kwadratowy upraszczają się i są<br />
niezależne od mierzonej wartości różnicy fazy Δφ. W przypadku<br />
niespełnienia warunku a 2<br />
= a 3<br />
błąd bezwzględny ε będzie zależał<br />
od współczynników a 2<br />
, a 3<br />
oraz Δφ i będzie wynosił:<br />
⎛ a ⎞<br />
3<br />
⎜ −1<br />
a<br />
⎟<br />
ε<br />
⎝ 2<br />
=<br />
⎠<br />
sin( 2∆φ)<br />
(5)<br />
2<br />
Powyższe wnioski mają istotne znaczenie w realizacji eksperymentalnej<br />
światłowodowego demodulatora fazy.<br />
Wyniki eksperymentalne<br />
3<br />
sum<br />
2 2 2<br />
〈 nL 〉 = 〈 nP〉<br />
= σ , 〈 n L<br />
〉 = 〈 nL〉<br />
= 0<br />
Układ pomiarowy i stosowana metodyka pomiaru fazy opisane są<br />
w pracach [7–9]. W badanym układzie demodulatora ogniskowa<br />
soczewki f = 200 mm, odległość między pinholami 2b =1270 μm,<br />
apertura pinholi d = 400 μm. Spójne źródło światła miało długość<br />
fali λ = 532 nm. Na rys. 2 pokazane są wyniki pomiaru sygnału<br />
sumy i różnicy na tle przebiegów teoretycznych dla przypadku,<br />
w którym odległość miedzy FD wynosiła q = 60,45 µm. W przeprowadzonym<br />
eksperymencie, dla tej wartości q odpowiadają<br />
najbardziej zbliżone do siebie wartości współczynników a i a 2 3<br />
(a 3<br />
/a 2<br />
wynosi 0,95). Jak wynika ze wzoru (5) w tym przypadku<br />
błąd bezwzględny pomiaru fazy będzie najmniejszy.<br />
Na rysunku 3 pokazano wyznaczone eksperymentalnie wartości<br />
współczynników a 1<br />
, a 2<br />
, a 3<br />
na tle charakterystyk wynikających<br />
z przyjętego modelu w funkcji połowy odległości miedzy fotodetektorami<br />
q/2 [mm]. Wyniki pomiaru są w bardzo dobrej zgodności<br />
z wartościami uzyskanymi na etapie modelowania.<br />
Na rysunku 4. pokazany jest współczynnik korelacji liniowej<br />
Pearsona R 2 dla dwóch przypadków kiedy wartości bezwzględne<br />
współczynników |a 2<br />
|, |a 3<br />
| są najbardziej zbliżone do siebie, co ma<br />
miejsce dla q = 50,2 μm, lub wartości tych współczynników są<br />
jeszcze bardziej zbliżone tj. dla q = 60,45 μm.<br />
Współczynnik korelacji wynosi R 2 = 0,9916 dla q = 50,2 μm,<br />
dla q = 60,45 μm jest nieznacznie większy i wynosi R 2 = 0,9965.<br />
Patrząc na zmierzone charakterystyki należy podkreślić liniowe<br />
zachowanie zmierzonych charakterystyk demodulatora w dużym<br />
zakresie różnicy faz. Dla małych wartości różnicy faz widać lepsze<br />
dopasowanie punktów eksperymentalnych do prostej niż dla<br />
większych wartości różnicy faz. I tak dla q = 50,2 μm sięga różnicy<br />
faz wynoszącej π/2, a dla q = 60,45 μm zbieżność ta zachowana<br />
do wartości różnicy faz wynoszącej π. Z uwagi na to, iż pomiar<br />
L<br />
P<br />
( ) ( )<br />
1<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys. 3. Wyznaczone eksperymentalnie wartości współczynników a 1<br />
,<br />
a 2<br />
, a 3<br />
w funkcji połowy odległości miedzy fotodetektorami q/2 [mm]<br />
na tle charakterystyk wynikających z przyjętego modelu<br />
Fig. 3. Experimentally obtained value (points) of coefficient a 1<br />
, a 2<br />
, a 3<br />
in function of half gap between photodetectors q/2 [mm] and numerically<br />
calculated characteristics based on model<br />
charakterystyk wykonywano<br />
dla wolnozmiennego sygnału<br />
modulującego (cały cykl pomiaru<br />
trwał 2 s), a układ nie<br />
był specjalnie izolowany termicznie,<br />
to na wynik pomiaru<br />
miał wpływ dryf termiczny<br />
pola prążkowego. Przejawia<br />
się to większymi odchyleniami<br />
od wartości liniowej dla<br />
większych wartości różnicy<br />
faz i jest on bardziej widoczny<br />
im wartość współczynnika<br />
a 2<br />
odbiega od a 3<br />
(ma to miejsce<br />
dla odległości między<br />
FD q = 50,2 μm począwszy<br />
od Δφ > π/2). Dla q = 60,45<br />
μm mamy lepsze dopasowanie<br />
współczynników a 2<br />
i a 3<br />
i efekt ten widoczny jest dopiero dla<br />
różnicy faz większej od π.<br />
Z przeprowadzonego eksperymentu i analizy błędu modelu<br />
światłowodowego demodulatora fazy jasno wynika rola odległości<br />
q między FD w płaszczyźnie Fouriera i jej wpływ na niepewność<br />
wyznaczenia różnicy faz i liniowość charakterystyk demodulatora.<br />
Rys. 2. Suma i różnica sygnałów w funkcji różnicy faz dla odległości między FD q = 60 µm<br />
Fig. 2. Sum and difference signals in phase difference function, for gap between photodetectors q = 60 µm<br />
Wnioski<br />
Z modelu i przeprowadzonych badań eksperymentalnych własności<br />
dwuelementowego FD w płaszczyźnie Fouriera w układzie homodynowym<br />
wynika, że odległość miedzy fotodetektorami istotnie<br />
wpływa na właściwości światłowodowego demodulatora fazy. Pokazano,<br />
że dla pewnych wartości odległości między FD błąd metody<br />
pomiaru fazy osiąga wartość minimalną. Podano warunek jego<br />
minimalizacji, który sprowadza się do równości współczynników a 2<br />
i a 3<br />
. Współczynniki te zależą od odległości między fotodetektorami,<br />
długości fali świetlnej i ogniskowej soczewki fourierowskiej [6, 9].<br />
Pokazano, że spełnienie warunku minimalizacji błędu jest jednocześnie<br />
warunkiem liniowości charakterystyk demodulatora fazy.<br />
Prezentowany dwuelementowy FD w płaszczyźnie Fouriera może<br />
być z powodzeniem stosowany w światłowodowych układach pomiarowych<br />
gdzie wymagany jest pomiar fazy z dużą dokładnością.<br />
Rys. 4. Współczynnik korelacji liniowej Pearsona dla charakterystyk<br />
fazowych<br />
Fig. 4. Pearson correlation coefficient for phase characteristics<br />
Praca została wykonana w <strong>2012</strong> w ramach realizacji projektu kluczowego<br />
POIG.01.03.01-14-016/08 pt. „Nowe materiały fotoniczne<br />
i ich zaawansowane zastosowania”<br />
Literatura<br />
[1] Patorski K., Kujawińska M, Sałbut L.: Interferometria laserowa z automatyczna<br />
analizą obrazu pod redakcją Krzysztofa Patorskiego, Oficyna<br />
Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2005.<br />
[2] Udd E., Spillman W.B.: JR. Fiber Optic Sensors: An Introduction for Engineering<br />
and Scientists, Second Edition, John Wiley & Sons, 2006.<br />
[3] Wójcik J., Wójcik W.: Lightguides and their Applications III, Proceedings<br />
of SPIE, 6608, 2006.<br />
[4] Lopez-Higuera J.M.: Optical Fibre Sensing Technology, John Wiley<br />
&Sons, 2006.<br />
[5] Fernandes N., Gossner K., Krisch H.: Low power signal processing<br />
for demodulation of wide dynamic range of interferometric optical fibre<br />
sensor signals, Proc. of SPIE, 7653, 2010, pp. 765328.<br />
[6] Merta I., Jaroszewicz L. R.: Demodulator of phase signal for single<br />
mode fiber-optics. Proc. of SPIE, 6585, 2007, pp. 65852B (1–4).<br />
[7] Merta I., Jaroszewicz L.R., Hołdyński Z.: Światłowodowy demodulator<br />
fazy na bazie całkowania przestrzennego w układzie<br />
światłowodowego interferometru Younga, XI Konferencja Naukowa<br />
Czujniki Optoelektryczne i Elektryczne, Nałęczów, 20–23.06.2010.<br />
[8] Merta I., Jaroszewicz L.R., Hołdyński Z.: Światłowodowy demodulator<br />
fazy na bazie całkowania przestrzennego w układzie światłowodowego<br />
interferometru Younga, PAK, vol. 56, nr 6, 2010, pp. 538–540.<br />
[9] Hołdyński Z.: Modelowanie i badanie eksperymentalne<br />
światłowodowego demodulatora fazy z całkowaniem przestrzennym<br />
w płaszczyźnie Fouriera, praca magisterska, Warszawa 2010 r.<br />
[10] Sasaki O., Okazaki H., Sakai M.: Sinusoidal chase modulating interferometr<br />
using the integrating-bucket method, Appl. Opt., vol. 26,<br />
1987, 1089–1093.<br />
[11] Dubois A.: Phase-map measurements by interferometry with sinusoidal<br />
phase modulation and four integrating buckets. J. Opt. Soc. Am.<br />
A, 18 (8), 2001, 1972–1979.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 47
Konstrukcja A-FORS-3 – autonomicznego<br />
światłowodowego sejsmometru rotacyjnego<br />
dr inż. Zbigniew Krajewski 1 , prof. dr hab. inż. Leszek R. Jaroszewicz 1 ,<br />
mgr inż. Henryk Kowalski 2<br />
1<br />
Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Fizyki Technicznej, Warszawa, 2 Politechnika Warszawska, <strong>Instytut</strong> Informatyki<br />
Rejestracja efektów rotacyjnych [1, 2] występujących podczas<br />
zdarzeń sejsmicznych wymaga konstrukcji nowego rodzaju sejsmometrów,<br />
ponieważ klasyczne sejsmometry są bezwładnościowymi<br />
czujnikami przyśpieszenia liniowego (prędkości liniowej),<br />
dlatego nie mogą być bezpośrednio zastosowane do rejestracji<br />
ruchu obrotowego. Oczywistym rozwiązaniem tego problemu<br />
wydaje się zastosowanie jako sejsmometru rotacyjnego światłowodowego<br />
interferometru Sagnaca. Zasadniczym czynnikiem<br />
różniącym A-FORS-3 od klasycznych konstrukcji giroskopów<br />
światłowodowych jest fakt, iż mierzy on prędkość kątową a nie<br />
kąt [3, 4]. Dlatego też problem dryfu występujący w giroskopach<br />
optycznych jest tutaj praktycznie do pominięcia.<br />
Układ czujnika został zoptymalizowany pod kątem osiągnięcia<br />
jak największej czułość, z czym związana była maksymalizacji<br />
takich parametrów jako: promień pętli czujnika, moc optyczna<br />
źródła i długość użytego włókna. Zapewnienie mobilności takiego<br />
układu oraz bezawaryjnego przesyłania rejestrowanych danych<br />
to kolejne bardzo ważne elementy czujnika sejsmometrycznego.<br />
Budowa części optycznej A-FORS-3<br />
Na rysunku 1 przedstawiono schemat części optycznej zbudowanego<br />
sejsmografu rotacyjnego A-FORS-3. W czujniku jako źródło<br />
zastosowano diodę superluminescencyjną o mocy P = 17,34 mW,<br />
środkowej długości fali λ = 1311,2 nm i szerokości widmowej<br />
51,2 nm, pętlę światłowodową o promieniu R = 0,315 m zawierającą<br />
14360 m światłowodu jednomodowego. Podłoże pod pętlę<br />
wykonane jest z tekstolitu (rys. 2). Zastosowany światłowód jedno-<br />
domowy o katalogowej tłumienności 0.33 dB/km po nawinięciu na<br />
tak zaprojektowany korpus w wyniku występowania zagięcia toru<br />
oraz mikrozgięć na nierównościach wykazywał wzrost tłumienności<br />
do 0,379 dB/km (rys. 3). Całkowite straty części optycznej układu,<br />
zawierające straty wnoszone przez poszczególne elementy składowe<br />
interferometru oraz straty na ich połączeniach, ostatecznie<br />
wyniosły 17,2 dB. Teoretyczna czułość tak zbudowanego sejsmografu<br />
wyniosła 8,2×10 -9 [rad/s] dla 20 Hz pasma detekcyjnego.<br />
Rys. 3. Straty w pętli światłowodowej. Fig. 3. Losses in fiber loop<br />
Rys. 1. Schemat części optycznej A-FORS-3. Fig. 1. Scheme of optical part A-FORS-3<br />
System detekcji i archiwizacji danych<br />
Rys. 2. Podłoże pętli światłowodowej. Fig. 2. Base of fiber loop<br />
48<br />
Pomiar bazuje na detekcji synchronicznej o częstotliwości modulatora<br />
fazy wynoszącej 7,1 kHz. Przesunięcia fazy Sagnaca wyznaczane<br />
jest za pomocą pomiaru pierwszej (A ω1<br />
) i drugiej (A ω2<br />
)<br />
harmonicznej sygnału wyjściowego[5]:<br />
⎡<br />
A ⎤ ⎡<br />
ω1 u(<br />
t)<br />
⎤<br />
A<br />
∆<br />
ω1<br />
φ = arctan<br />
(1)<br />
⎢k<br />
⋅ ⎥ = arctan ⎢ ⎥,<br />
u(<br />
t)<br />
=<br />
⎣ Aω<br />
2 ⎦ ⎣ Se<br />
⎦ Aω<br />
2<br />
gdzie: k – stała związana z parametrami sygnału modulatora.<br />
Natomiast wartość prędkości kątowej z następującej zależności:<br />
⎡ u(<br />
t)<br />
⎤<br />
Ω = S<br />
o<br />
arctan ⎢ ⎥ (2)<br />
⎣ S<br />
e ⎦<br />
Ze względu na dużą rozbieżność amplitud pierwszej i drugiej<br />
harmonicznej wymagany jest bardzo duży zakres dynamiki<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
układu pomiarowego. Dlatego sygnał z diody detekcyjnej rozdzielany<br />
jest na dwa oddzielne tory pomiarowe, odpowiednio<br />
dla pierwszej i drugiej harmonicznej sygnału. Za pomocą odpowiedniej<br />
filtracji, różnej dla każdego toru, zapewniona jest<br />
wymagana dynamika pomiarowa. W obu torach użyto osobne<br />
przetworniki a/c typu ADS1675. Są to przetworniki typu sigma-delta<br />
ze słowem 24-bitowym i szybkością próbkowania do<br />
4 Msps. Przetworniki te pracują synchronicznie co umożliwia<br />
jednoczesne próbkowanie i przetwarzanie analogowo-cyfrowe<br />
dwóch sygnałów analogowych. Sygnał cyfrowy z każdego<br />
kanału przetwornika jest podawany przez dwa osobne cyfrowe<br />
łącza szeregowe do procesora DSP, którym jest 32-bitowy<br />
zmiennopozycyjny procesor sygnałowy TMS320C28346 firmy<br />
Texas Instruments. Procesor ten pracuje z zegarem systemowym<br />
o częstotliwości 300 MHz. Obliczenia wartości parametru<br />
Omega wykonywane są z zastosowaniem arytmetyki zmiennoprzecinkowej<br />
dla reprezentacji 32 oraz 64-bitowej pojedynczej<br />
i podwójnej dokładności.<br />
Moduł pomiarowy komunikuje się z modułem obliczeniowokontrolnym<br />
za pomocą dwóch wirtualnych portów szeregowych<br />
działających na jednym łączu USB2. Pierwszy kanał służy do<br />
przesyłania danych pomiarowych w trybie ciągłym. Drugi kanał<br />
służy do przesyłania dwukierunkowo poleceń sterowania i zwrotnie<br />
informacje o ustawieniach modułu pomiarowego.<br />
Wyniki obliczeń przesyłane są za pomocą modułu komunikacyjnego<br />
do zdalnego serwera służącego do archiwizacji danych.<br />
Moduł komunikacyjny jest wyposażony w interfejs umożliwiający<br />
komunikację z lokalnym komputerem PC oraz modem<br />
GSM/GPRS. Zarówno komputer lokalny jak i serwer zdalny<br />
mogą być używane do odbierania i gromadzenia wyników pomiaru<br />
oraz sterowania parametrami urządzenia.<br />
Takie rozwiązanie zapewnia, niezbędne przy rejestracji efektów<br />
rotacyjnych występujących podczas zdarzeń sejsmicznych,<br />
mobilność oraz niezależność czujnika.<br />
Kalibracja czujnika<br />
Do wyskalowania czujnika A-FORS-3 wymagane jest określenie<br />
stałych optycznej So i elektronicznej Se układu. Ponieważ układ<br />
nie rejestruje kąta a jedynie prędkość obrotu, możliwe jest wykorzystanie<br />
do tego celu pomiar prędkości obrotowej Ziemi [6]. Na<br />
rys. 4 przedstawiono układ podczas procesu kalibracji oraz przykładowy<br />
pomiar pierwszej harmonicznej dla orientacji czujnika dla<br />
pomiaru na kierunku N-S.<br />
Wnioski<br />
Prezentowany układ A-FORS-3 ze względu na zastosowanie<br />
nowego systemu detekcji elektronicznej oraz nowatorskiego rozwiązania<br />
do przesyłania danych wydaje się być idealnym rozwiązaniem<br />
do rejestracji zdarzeń sejsmicznych. Czujnik ten mierząc<br />
jedynie bezwzględny obrót wolny jest od zaburzeń spowodowanych<br />
przez liniowe przemieszczenia.<br />
Praca została zrealizowana w ramach dofinansowania przez<br />
Ministerstwo Nauki i Szkolnictwa Wyższego POIG.0103.01-<br />
14-016/08/00.<br />
Rys. 4. Układ do kalibracji czujnika i przykładowy wynik pomiaru<br />
Fig. 4. Scheme for A-FORS-3 calibration and example of measurement<br />
Literatura<br />
[1] Teisseyre R.: Earthquake processes in a micromorphic continuum,<br />
Pure Appl. Geophys., 102 (1973), 15–28.<br />
[2] Teisseyre R., Nagahama H.:Micro-inertia continuum: rotations and<br />
semi-waves, Acta Geophys. Pol., 47 (1999), 259–272.<br />
[3] Jaroszewicz L. R., Krajewski Z., Solarz L.:The fiber-optic Sagnac<br />
interferometer application for recognition of the rotational seismic<br />
events, Proc. of SPIE, 5459 (2004), 272–280.<br />
[4] Jaroszewicz L. R., Krajewski Z., Solarz L.: Fiber-optic Sagnac interferometer<br />
as a sensor of the seismic rotation waves, Proc. of SPIE,<br />
5855 (2005), 194–197.<br />
[5] Ostrzyżek A.: Analiza dokładności pomiaru prędkości kątowej w giroskopie<br />
światłowodowym, rozprawa doktorska, Wojskowa Akademia<br />
Techniczna, Warszawa, 1989.<br />
[6] Jaroszewicz L.R. at all.: AFORS Autonomous Fibre-Optic Rotational<br />
Seismograph: Design and Application, Acta Geophysica, vol. 59,<br />
no. 3, 578–596.<br />
www.sigma-not.pl<br />
Największa baza artykułów technicznych online!<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 49
System do pomiaru Apertury Numerycznej<br />
w światłowodach specjalnych<br />
mgr inż. ŁUKASZ Ostrowski 1,2 , mgr inż. MICHAŁ Murawski 1,2 , mgr inż. MICHAŁ Szymański 1,2 ,<br />
mgr inż. Zbigniew Hołdyński 1 , mgr inż. TADEUSZ Tenderenda 1,2 , dr PAWEŁ Mergo 3 ,<br />
dr inż. PAWEŁ Marć 1 , prof. dr hab. inż. Leszek R. Jaroszewicz 1 , dr inż. TOMASZ Nasiłowski 1,2<br />
1<br />
Wojskowa Akademia Techniczna, Zakład Technicznych Zastosowań Fizyki, Warszawa<br />
2<br />
InPhoTech Ltd., Warszawa, 3 Uniwersytet Marii Curie-Sklodowskiej, Lublin<br />
W światłowodach klasycznych, światło jest prowadzone w materiale<br />
na podstawie różnicy we współczynniku załamania pomiędzy<br />
rdzeniem a płaszczem. Apertura Numeryczna (NA) w tym typie<br />
światłowodów wykazuje niewielkie właściwości dyspersyjne w całym<br />
spektrum, zatem pomiar dla pojedynczej długości fali jest zupełnie<br />
wystarczający do scharakteryzowania NA. Inną sytuację mamy<br />
w przypadku światłowodów mikrostrukturalnych (MSF) gdzie światło<br />
jest prowadzone na podstawie geometrii wewnętrznych otworów.<br />
W tym typie światłowodów NA zmienia się wraz ze wzrostem<br />
długości fali. Właściwości NA w zależności od rodzaju prowadzenia<br />
przedstawione są na rysunku 1. Odmienny charakter NA dla<br />
różnych włókien był motywacją do stworzenia układu precyzyjnego<br />
wyznaczania NA w światłowodach specjalnych. Dzięki tak zdobytej<br />
wiedzy o aperturze numerycznej mierzonych światłowodów możliwe<br />
jest optymalizowanie efektywnego łączenia, sprzęgania oraz<br />
wprowadzania światła do różnorodnych typów światłowodów[1].<br />
Ponadto w światłowodach nie posiadających symetrii kołowej NA<br />
może się zmieniać nie tylko z długością fali ale, również z obrotem<br />
włókna wokół własnej osi. Dlatego system do pomiaru NA powinien<br />
posiadać możliwość obracania włókna wokół jego osi.<br />
Definicja Apertury Numerycznej<br />
Apertura Numeryczna światłowodu jest to liczba charakteryzująca<br />
wielkość maksymalnego kąta pod którym światło może zostać<br />
wprowadzone do światłowodu lub zostać z niego wyemitowane.<br />
Światło wprowadzone powyżej tego kąta nie będzie prowadzone<br />
w światłowodzie. NA światłowodu w powietrzu jest wyraża się poprzez<br />
równanie:<br />
(1)<br />
Rys. 1a. Schemat stożka akceptacji dla światłowodu klasycznego<br />
Fig. 1a. Diagram of the light acceptance cone for the classic optical fibre<br />
gdzie Θ jest połową maksymalnego kąta pod którym światło jest emitowane<br />
ze światłowodu (rys. 1), n c<br />
oraz n cl<br />
są odpowiednio współczynnikami<br />
załamania rdzenia i okładziny. Jak pokazuje wykres<br />
światło jest emitowane ze światłowodu pod katem Θ. Jeżeli weźmiemy<br />
sinus tego kąta uzyskamy wartość Apertury Numerycznej.<br />
Światłowody mikrostrukturalne zbudowane są z układu wielu<br />
kanalików powietrznych otaczających rdzeń. Rdzeń światłowodów<br />
fotonicznego może być stały, wtedy mówimy o propagacji<br />
TIR na zasadzie całkowitego wewnętrznego odbicia lub pusty,<br />
mamy wtedy do czynienia z propagacją PBG na zasadzie fotonicznej<br />
przerwy wzbronionej [2].<br />
Rys. 2. Porównanie Apertury Numerycznej klasycznego światłowodu<br />
SMF-28 (Cornig) o materiałowym mechanizmie prowadzenia światła<br />
oraz światłowodu mikrostrukturalnego LMA 8 (NKT Photonics)<br />
o geometryczny mechanizmie prowadzenia światła.<br />
Fig. 2. Numerical aperture comparison for classical optical fibre SMF-<br />
28 (Corninig) – material guiding mechanism and microstructured fibre<br />
LMA 8 (NKT Photonics) – geometrical guiding mechanism<br />
Układ do pomiaru Apertury Numerycznej<br />
Układ do pomiary apertury numerycznej został schematycznie<br />
przedstawiony na rysunku 3. Zasada pomiaru jest oparta na<br />
badaniu rozkładu kątowego mocy optycznej charakteryzującej<br />
światłowód. Realizowane jest to poprzez zastosowanie wielomodowego<br />
światłowodu jako detektora poruszającego się po okręgu<br />
po powierzchni prostopadłej do przekroju mierzonego światłowodu,<br />
co zostało przedstawione na rysunku 4. NA jest definiowana<br />
jako sinus połowy kąta z kątowego rozkładu mocy charakteryzujący<br />
światłowód powyżej ustalonego poziomu progu, który zwykle<br />
wynosi 10%, 5% lub 1% mierzonej mocy. Ponadto, nasz układ<br />
Rys. 1b. Schemat stożka akceptacji dla światłowodu mikrostrukturalnego<br />
Fig. 1b. Diagram of the light acceptance cone for the microstructure<br />
optical fibre<br />
50<br />
Rys. 3. Schemat układu pomiarowego<br />
Fig. 3. Schematic of measurement setup<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys. 4. Światłowód – NKT LMA8. Fig. 4. Optical Fibre – NKT LMA8<br />
Rys. 5. Charakterystyka Apertury Numerycznej wysoko-dwójłomnego MSF w zależności od długości fali dla różnych orientacji kątowych<br />
struktury światłowodu; zdj. Przekrój poprzeczny badanego MSF<br />
Fig. 5. Numerical aperture characterization of highly birefringent MSF vs. wavelength for different angular orientations of the fiber structure;<br />
inset: SEM picture of the studied MSF cross-section<br />
pomiarowy pozwala obracać włókno wokół jego osi. Szerokopasmowe<br />
źródło światła, w naszym przypadku jest to źródło supercontinuum,<br />
połączone z badanym włóknem w pełni wypełniając<br />
jego NA. Włókno odbiorcze znajdujące się w ustalonej odległości<br />
od włókna mierzonego przechwytuje światło pod danym położeniem<br />
kątowym i przesyła do analizatora widma optycznego. W ten<br />
sposób możemy mierzyć jednocześnie NA w całym badanym zakresie.<br />
Cały układ jest sterowany komputerowo, a NA jest automatycznie<br />
wyznaczana z uzyskanego rozkładu kątowego mocy<br />
optycznej w całym badanym zakresie przez własnoręcznie stworzony<br />
program w środowisku LabView.<br />
Wstępne wyniki z pomiarów Apertury<br />
Numerycznej<br />
Do pierwszych pomiarów oraz weryfikacji zbudowanego układu<br />
wybraliśmy standardowe włókno telekomunikacyjne SMF-28<br />
(Cornig) oraz włókno z domieszkowanym rdzeniem jednomodowe<br />
na 800 nm o klasycznym prowadzeniu światła (HP780 Nufren).<br />
Wyniki NA dla światłowodu SMF-28 (Cornig) mierzonego<br />
za pomocą opisanego układu idealnie pokrywały się z danym<br />
katalogowymi producenta i wynosiły 0,14 przy ustalonym progu<br />
na poziomie 1% z kątowego rozkładu mocy oraz 0.12 przy 5%<br />
progu. Ponadto te wyniki zgadzały się nie tylko dla pojedynczej<br />
długości fali ale dla całego badanego zakresu od 1250 nm do<br />
1700 nm. Wyniki pomiarów dla włókna jednodomowego (HP780<br />
Nufern) także potwierdziły dane katalogowe.<br />
Jak zauważyliśmy wcześniej, włókna mikrostrukturalne ze<br />
względu na swój mechanizm prowadzenia geometrycznego,<br />
ujawniają dyspersyjny charakter NA [3], która rośnie liniowo wraz<br />
z długością fali. Weryfikacja tego zjawiska była przeprowadzona<br />
przy użyciu komercyjnie dostępnego MSF z NKT Photonics<br />
– LMA8. Uzyskane wyniki, potwierdzają dyspersyjny charakter<br />
NA i zgadzają się z danymi katalogowymi producenta przedstawionymi<br />
na rysunku 4.<br />
Apertura Numeryczna światłowodu<br />
mikrostrukturalnego bez symetrii kołowej<br />
Włókna MSF zwłaszcza te wykazujące silna dwójłomność nie<br />
posiadają struktury o symetrii kołowej, zatem rozkład pola modu<br />
i w konsekwencji NA są niesymetryczne. Dlatego też charakterystyka<br />
NA takich światłowodów powinna zawierać również kierunek<br />
kątowy struktury światłowodu, dowiedliśmy tego faktu badając<br />
wysoce dwójłomny MSF przedstawiony na rysunku 5, który<br />
został wyprodukowany przez Zakład Technologii Światłowodów<br />
na Uniwersytecie Marii Skłodowskiej-Curie w Lublinie. Rysunek<br />
6 przedstawia zależność NA od długości fali dla różnych rotacji<br />
światłowodu i wyraźnie potwierdza silną zależność nie tylko<br />
pomiędzy NA a długością fali, ale również kierunkiem kątowym<br />
światłowodu.<br />
Wnioski oraz potencjalne zastosowania<br />
detekcyjne<br />
Przedstawiliśmy i zweryfikowaliśmy wszechstronny sterowany<br />
komputerowo układ do charakteryzacji Apertury Numerycznej zapewniający<br />
pomiary w szerokim zakresie długości fal dla różnych<br />
typów światłowodów klasycznych, mikrostrukturalnych i innych<br />
włókien specjalnych. Układ ten może być również wykorzystany do<br />
badania współczynnika załamania wysoko absorbujących materiałów,<br />
w szerokim zakresie wypełniając nimi kanały włókna MSF.<br />
Literatura<br />
1. Han Y., i in.: Novel Technique for the Measurement of Photonic Crystal<br />
Fiber Numerical Aperture Properties Proc. of SPIE-OSA-IEEE/Vol.<br />
7630 76302H-7(2009)<br />
2. Czapla A. i in.: Sensing applications of photonic crystal fibers infiltrated<br />
with liquid crystals, Instrumentation and Measurement, Technology<br />
Conference- IMTC 2007 Warsaw, Poland, May 1–3, 2007<br />
3. Andres, P. i in.: Dispersion and polarization properties in photonic<br />
crystal fibers Transparent Optical Networks, 2002. Proceedings of<br />
the 2002 4th International Conference on 98–103 vol. 2<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 51
Pomiar czułości włókien mikrostruturalnych<br />
przy wykorzystaniu interferometru Macha-Zehndera<br />
mgr inż. Michał Murawski 1,2 , mgr inż. Michał Szymański 1,2 , mgr inż. Zbigniew<br />
Hołdyński 1 , mgr inż. Tadeusz Tenderenda 1,2 , mgr inż. Łukasz Ostrowski 1,2 ,<br />
dr inż. Katarzyna Pawlik 2 , Ariel Łukowski 1,2 , Henryk Krisch 3 , dr inż. Paweł Marć 1 ,<br />
prof. Leszek R. Jaroszewicz 1 , dr inż. Tomasz Nasiłowski 1,2<br />
1<br />
Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Fizyki Technicznej, Warszawa<br />
2<br />
InPhoTech Ltd., Warszawa, 3 Krohne Messtechnik GmbH, Duisburg, Niemcy<br />
Unikalne właściwości światłowodów mikrostrukturalnych (MSF<br />
lub fotonicznych PCF), takie jak: nieskończona jednomodowa<br />
praca [1], niezwykłe właściwości dyspersyjne [2-5], bardzo duża<br />
średnica pola modu [6], wysoka dwójłomność [7] itd. Właściwości<br />
te wynikają z geometrycznego prowadzenia światła w światłowodzie.<br />
Zasadniczo PCFy zbudowane są z jednego materiału<br />
oraz z macierzy otworów powietrznych na całej długości włókna<br />
światłowodowego. Włókna takie maja szereg zalet w porównaniu<br />
do standardowych włókien światłowodowych (takich jak np. SMF-<br />
28). Największą zaletą takich włókien jest obniżona czułość na<br />
temperaturę takiego włókna. Wynika ona z braku naprężeń termicznych<br />
występujących pomiędzy rdzeniem (domieszkowanym<br />
Ge), a płaszczem włókna światłowodowego. Właściwość ta była<br />
naszą motywacją do wykorzystania włókien MSF(PCF) jako ramię<br />
czujnikowe w światłowodowym interferometrze Macha-Zhendera.<br />
MSF i PCF były rozważane jako elementy czujnikowe przez<br />
ostatnich parę lat ze względu na ich niezwyczajne właściwości<br />
i teoretycznie niższą czułością temperaturową. Włókna te były wykorzystywane<br />
w różnych układach czujnikowych [7–8]. Jednakże<br />
według naszej wiedzy nie istnieją publikacje opisujące czujnikowe<br />
aplikacje światłowodowych interferometrów Macha-Zhendera<br />
na włóknach MSF do pomiarów rozciągania, zginania, ciśnienia<br />
statycznego i dynamicznego etc.<br />
Wiele publikacja pokazuje nieczułe temperaturowo interferometryczne<br />
czujniki światłowodowe oparte o konfiguracje interferometru<br />
Sagnaca (lub Fiber Loop Mirror) [8–10] gdzie do pomiarów<br />
zastosowane są źródła o szerokim zakresie spektralnym oraz<br />
optyczny analizator widmowy, które są elementami drogimi. Należy<br />
pamiętać że interferometr Sagnaca jest często ograniczony<br />
warunkami polaryzacji (zastosowanie włókien trzymających polaryzację).<br />
Kolejnym przykładem wykorzystania włókien MSF jest<br />
interferometr dwu-modowy [11–13] który może być wykorzystany<br />
jako sprzęgacz między modowy, selektywny filtr modowy, czujnik<br />
temperatury lub naprężeń. Jednakże aby móc w pełni wykorzystać<br />
zalety tego typu interferometru należy zastosować specjalnie<br />
zaprojektowane światłowody np. dwumodowe, albo o bardzo<br />
niskiej dwójłomności. Z drugiej strony spotykamy się z czujnikami<br />
interferometrycznymi budowanymi na przewężonych włóknach<br />
PCF [14–15]. Takie interferometry wymagają zastosowania źródeł<br />
o szerokim spektrum oraz analizatorów widma jako detektorów.<br />
Jedną z ciekawszych propozycji jest interferometr Michelsona<br />
wykorzystujący białe światło jako źródło proponowany w [16].<br />
Jednakże pomiar oraz kalibracja takiego czujnika wydaje się być<br />
trudna, czasochłonna i niestety niepraktyczna do zastosowań.<br />
W literaturze można odnaleźć interferometry zbudowane w całości<br />
na włóknach PCF (all-PCF) [17] jako czujniki naprężeń.<br />
Podsumowując należy zwrócić uwagę na różnorodność czujników<br />
interferometrycznych wykorzystujących PCFy. Jednakże<br />
najczęściej aplikacje przemysłowe wymagają prostych i niezawodnych<br />
rozwiązań w konstrukcji i obsługi czujników. W tej pracy<br />
przedstawiamy standardowy interferometr Macha-Zhendera<br />
z możliwością wymiany ramienia czujnikowego MSF. Przedstawiony<br />
przez nas czujnik pozawala na wykorzystywanie wielu różnych<br />
włókien w tym samym układzie dzięki zakończeniu konektorami<br />
światłowodów w interferometrze.<br />
Budowa światłowodowego interferometru<br />
Macha-Zehndera w oparciu o włókna<br />
mikrostrukturalne<br />
Schematyczna konstrukcja proponowanego czujnika została<br />
przedstawiona na rysunku 1. Jako źródło światła wykorzystaliśmy<br />
VCSEL (Vertical Cavitty Surface Emitting Laser) ze względu na<br />
zalety jakie oferuje, wśród których można wymienić m.in.:<br />
1. Jednomodowy charakter pracy oraz długa droga kohernecji<br />
2. Bardzo niski prąd progowy (poniżej 1 mA) – niski pobór mocy<br />
elektrycznej<br />
3. Niski koszt (kilka euro za sztukę)<br />
4. Wiązka wychodząca o kształcie kołowym – pozwala to na<br />
efektywne sprzęganie z światłowodami<br />
5. Możliwość wykorzystania prądu do modulacji długości fali<br />
(pozwala na kompensację zmian długości fali występujących<br />
z temperaturą)<br />
Dodatkowo wybraliśmy długość fali 850 nm, jako że technologia<br />
VCSELi dla takiej długości fali jest najbardziej rozwinięta<br />
i pozwala na ominięcie problemów związanych z „mode hopping”<br />
oraz z przełączaniem polaryzacyjnym. Jako detektor wybraliśmy<br />
standardową didę PIN. Wykorzystaliśmy klasyczną konstrukcję<br />
interferometru Macha- Zehndera opartą na dwóch identycznych<br />
sprzęgaczach 50:50 zakończonych złączami FC/APC. W ramieniu<br />
odniesienia umieściliśmy patch cord na standardowym włóknie<br />
jednomodowy dla długości fali 850, natomiast w ramieniu czujnikowym<br />
wykorzystaliśmy patch cordy oparte na włóknach mikrostrukturalnych.<br />
Włókno odniesienia wraz z VCSELem, PIN diodą,<br />
sprzęgaczami oraz prostą elektroniką zostało umieszczone w specjalnie<br />
zaprojektowanej obudowie (rys. 2) izolującej układ od zewnętrznych<br />
zakłóceń (drgania, temperatura, itp.). Zarobienie złączy<br />
Rys. 1. Schematyczny układ wykorzystywanego układu. Fig. 1. Schematic construction of investigated fiber interferometer sensing setup<br />
52<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Odkształcenia mogą być definiowane jako:<br />
(1)<br />
gdzie L jest całkowitą długością włókna poddanego działaniu<br />
czynnikowi zewnętrznemu, natomiast ΔL to wydłużenie włókna.<br />
Aby określić wydłużenie włókna wykorzystaliśmy stolik ze<br />
śrubą mikrometryczną do przesuwu wzdłużnego. Sygnał z PIN<br />
diody podczas wydłużania przekazywany był do komputera<br />
z wystarczająco wysoką częstotliwością aby zrekonstruować<br />
zmianę fazy (rys. 4). Czułość na odkształcenie może być obliczona<br />
za pomocą następującego równania:<br />
(2)<br />
Rys. 2. Specjalnie zaprojektowna obudowa dla światłowodowego interferometru<br />
Macha-Zhendera<br />
Fig. 2. Specially designed housing for fiber Mach-Zehnder interferometer<br />
FC/APC na włóknach mikrostrukturalnych pozwoliło na łatwą<br />
wymianę włókien czujnikowych w układzie. Dzięki zastosowaniu<br />
źródła typu VCSEL różnica 10 cm w drogach optycznych nie powoduje<br />
znacznego spadku kontrastu prążków interferencyjnych.<br />
Dodatkowo wysokiej jakości złącza na włóknach mikrostrukturalnych<br />
[18–21] pozwalają na uzyskanie niskich strat w układzie.<br />
Opisany w tej pracy układ światłowodowego czujnika może być<br />
wykorzystany do pomiarów czułości mechanicznej oraz temperaturowej<br />
różnych włókien. Pozwala on na łatwy pomiar zmiany fazy na wyjściu<br />
interferometru wymuszonej zmianą temperatury lub naprężeń.<br />
Czułość temperaturowa i naprężeniowa<br />
światłowodów mikrostrukturalnych oraz<br />
klasycznych<br />
Rysunek 3 przedstawia przekroje porzeczne włókien wykorzystanych<br />
w eksperymencie. Standardowe włókno zaprojektowane dla<br />
jednomodowej transmisji na długości 850 nm ze rdzeniem domieszkowanym<br />
Ge (rys. 3a) pozwolił na porównanie ze włóknami<br />
MSF. Dodatkowo włókna mikrostrukturalne (rys. 3b-c) dostępne<br />
komercyjnie zostały wykorzystane do sprawdzenia wpływu czułości<br />
naprężeń i temperatury przy prowadzeniu geometrycznym.<br />
Podstawowe właściwości optyczne i geometryczne wykorzystanych<br />
włókien pokazane zostały w tabeli 1.<br />
a) b) c)<br />
Rys. 3. Przekroje poprzeczne uzyskane za pomocą SEM: a – 780HP,<br />
b – LMA8 NKT Photonics, c – LMA10 NKT Photonics<br />
Fig. 3. SEM pictures of cross-sections of investigated fibers:<br />
a – 780HP, b – LMA8 NKT Photonics, c – LMA10 NKT Photonics<br />
Tab. 1. Właściwości badanych włókien<br />
Tabl. 1. Properties of studied fibers<br />
780HP LMA8 LMA10<br />
Średnica rdzenia [μm] 4,5 8,6 10,1<br />
Średnica płaszcza[μm] 125 125 125<br />
MFD [μm] 5,0 7,5 8,8<br />
NA 0,13 0,12 0,9<br />
Second mode cut-off [nm] 730 Brak Brak<br />
gdzie dφ to zmiana fazy na wyjściu interferometru podczas zadawanego<br />
na włókno odkształcenia dε na długości L. Całkowita<br />
długość rozciąganego światłowodu to 9 cm.<br />
Wyniki pomiarów czułości na odkształcenie przedstawione<br />
zostały w tab. 2. Jak można łatwo zobaczyć najwyższą czułość<br />
uzyskało włókno LMA10 (rys. 3c), a najmniejszą włókno 780HP<br />
(rys. 3a).<br />
Tab. 2. Czułość odkształceniowa badanych włókien<br />
Tabl. 2. Strain sensitivity for tested fibers<br />
780HP LMA8 LMA10<br />
K Ɛ<br />
[rad/strain*m] *10 6 7,49 7,65 8,24<br />
Rys. 4. Przykładowy rozkład prążków interferencyjnych przy rozciąganiu<br />
włókna 780HP<br />
Fig. 4. Example of fringe patern of the interferometer with sensing<br />
fiber exposed to strain (780HP fiber)<br />
Dla pomiarów czułości temperaturowych wykorzystaliśmy moduł<br />
Peltier o wymiarach 15×15 mm jako obszar grzania lub chłodzenia<br />
oraz termoparę jaką czujnik aktualnej temperatury. Pomiary<br />
temperaturowe było prowadzone, co najmniej 5 razy w dwóch<br />
kierunkach (grzanie i chłodzenie). Pozwoliło to na zweryfikowanie<br />
efektu histerezy – który nie wystąpił.<br />
Sygnał z diody PIN podobnie jak poprzednio podawany był do<br />
komputera z częstotliwością pozwalającą na rekonstrukcję zmian<br />
fazy pokazane na rys. 5 – podzielono na małe zmiany temperatur<br />
rysunek 5a oraz duże 5b.<br />
Czułość temperaturowa została wyznaczona za pomocą wzoru:<br />
(3)<br />
gdzie φ to zmiana fazy na wyjściu interferometru w zależności od<br />
dT zmian temperatury na długości włókna L. Całkowita długość<br />
włókna poddawanego czynnikowi temperatury to 7,5 cm.<br />
Wyniki czułości temperaturowej dla różnych włókien zostały<br />
przedstawione w tabeli 3. Jak można łatwo zobaczyć, najwięk-<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 53
szą czułość temperaturową uzyskało włókno klasyczne 780HP<br />
(rys. 3a) a najmniejszą włókno LMA8 (rys. 3c). Różnica ta (50%<br />
większa czułość włókna z domieszkowanym rdzeniem) powodowana<br />
jest przez naprężenia termiczne pomiędzy dwoma regionami<br />
(domieszkowanym i niedomieszkowanym) włókna światłowodowego,<br />
które nie występują we włóknach mikrosturkturalnych.<br />
Tab. 3. Czułość temperaturowa badanych światłowodów<br />
Tabl. 3. Temperature sensitivity for studied fibers<br />
780HP LMA8 LMA10<br />
K T<br />
[rad/K*m] 144,87 91,37 107,69<br />
a)<br />
b)<br />
Rys. 5. Przykładowy rozkład prążków interferencyjnych włóknaLMA10<br />
(Figure 3c) dla dwóch różnic temperatur. a) ∆T = 5°C,<br />
b) ∆T = 30°C<br />
Fig. 5. Example of fringe patern of the interferometer with sensing<br />
fiber LMA10 (Figure 3c) exposed to temperature changes: a) smal<br />
∆T = 5°C, b) large ∆T = 30°C<br />
Podsumowanie<br />
Przedstawiliśmy po raz pierwszy aplikacje czujnikową włókien<br />
mikrostrukturalnych w światłowodowym interferometrze Macha-<br />
Zehndera pozwalający na pomiar wartości mechanicznych (ciśnieni,<br />
zginanie, wibracje etc.). Dodatkowo proponowane rozwiązanie<br />
urządzenia pozwala na łatwą i szybką wymianę włókna czujnikowego,<br />
co pozwala na wypełnienie wymagań aplikacyjnych.<br />
Wykazaliśmy również że dzięki takiemu układowi możliwa jest<br />
charakteryzacja nowych typów światłowodów standardowych<br />
oraz mikrostrukturalnych.<br />
Literatura<br />
[1] Russell P.S.J.: Photonic-Crystal Fibers, Journal of Lightwave Technology<br />
24, 2006, 4729–4749.<br />
[2] Birks T.A., Knight J.C., Russell P.S.J.: Endlessly single-mode photonic<br />
crystal fiber, Optics Letters 22, 1997, 961–963.<br />
[3] Ferrando A., i in.: Designing a photonic crystal fibre with flattened<br />
chromatic dispersion, Electronics Letters. 35, 1999, 325–326.<br />
[4] Renversez G., Kuhlmey B., McPhedran R.: Dispersion management<br />
with microstructured optical fibers: ultraflattened chromatic<br />
dispersion with low losses, Optics Letters, 28, 2003, 989–991.<br />
[5] Mogilevtsev D., Birks T.A., Russell P.S.J.: Group-velocity dispersion<br />
in photonic crystal fibers, Optics Letters 23, 1998, 1662–1664.<br />
[6] Knight J.C. i in.: Large mode area photonic crystal fibre, Electronics<br />
Letters, 34, 1998, 1347–1348.<br />
[7] Martynkien T. i in.: Measurements of polarimetric sensitivity to temperature<br />
in birefringent holey fibres, Measurement Science and<br />
Technology 18 (10), 2007, 3055–3060.<br />
[8] Nasilowski T. i in.: Sensing with photonic crystal fibres, 2007 IEEE<br />
International Symposium on Intelligent Signal Processing, WISP,<br />
Alcala de Henares, 2007.<br />
[9] Kim D.-H., Kang J.U.: Sagnac loop interferometer based on polarization<br />
maintaining photonic crystal fiber with reduced temperature<br />
sensitivity, Optics Express. 12, 2004, 4490–4495.<br />
[10] Bohnert K. i in.: Temperature and vibration insensitive fiber-optic<br />
current sensor, Journal of Lightwave Technology 20, 2002,<br />
267–276.<br />
[11] Dong X., Tam H.Y., Shum P.: Temperature-insensitive strain sensor<br />
with polarization-maintaining photonic crystal fiber based Sagnac<br />
interferometer, Applied Physics Letters 90, 2007, 151113–151116.<br />
[12] Villatoro J. i in.: Temperature-insensitive photonic crystal fiber interferometer<br />
for absolute strain sensing, Applied Physics Letters 91,<br />
2007, 091109–091112.<br />
[13] Dong B., Zhou Da-P., Wei L.: Temperature Insensitive All-Fiber<br />
Compact Polarization-Maintaining Photonic Crystal Fiber Based<br />
Interferometer and Its Applications in Fiber Sensors, Journal of<br />
Lightwave Technology 28, 2010, 1011–1015.<br />
[14] Tian Z., Yam S.S.-H.: In-Line Abrupt Taper Optical Fiber Mach Zehnder<br />
Interferometric Strain Sensor, IEEE Photonics Technology<br />
Letters, 21, 2009, 161–163.<br />
[15] Villatoro J., Minkovich V.P., Monzon-Hernandez D.: Compact modal<br />
interferometer built with tapered microstructured optical fiber,<br />
IEEE Photonics Technology Letters18, 2006, 1258–1260.<br />
[16] Bock W.J., Urbańczyk W., Wójcik J.: Measurements of sensitivity<br />
of the single-mode photonic crystal holey fibre to temperature,<br />
elongation and hydrostatic pressure, Meas. Sci. Technol. 15, 2004,<br />
1496–1500.<br />
[17] Choi H.Y., Kim M.J., Lee B.H.: All-fiber Mach-Zehnder type interferometers<br />
formed in photonic crystal fiber, Optics Express 15, 2007,<br />
5711–5720.<br />
[18] Jaroszewicz L.R. i in.: Methodology of splicing large air filling factor<br />
suspended core photonic crystal fibres, Opto-Electronics Review,<br />
19, 2011, 256–259.<br />
[19] Jaroszewicz L.R. i in.: Low-Loss Patch Cords by Effective Splicing<br />
of Various Photonic Crystal Fibers With Standard Single Mode<br />
Fiber, Journal of Lightwave Technology 29, 2011, 2940–2946.<br />
[20] Murawski M., Jaroszewicz L.R,, Stasiewicz K.: A photonic crystal<br />
fiber splice with a standard single mode fiber, Photonics Letters of<br />
Poland, 1, 2009, 115–117.<br />
[21] Murawski M., i in. Możliwość wytworzenia niskostratnych połączeń<br />
włókna telekomunikacyjnego z włóknem fotonicznym o zawieszonym<br />
rdzeniu (Low loss splicing between standard telecom fiber<br />
and photonic crystal fiber with suspended core), <strong>Elektronika</strong> ,LI nr<br />
6/2010, str 39–41.<br />
54<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Właściwości modowe światłowodu mikrostrukturalnego<br />
z podwójnym płaszczem do zastosowań w nieliniowych<br />
układach diagnostycznych<br />
mgr inż. Hanna Stawska, dr hab. Elżbieta Bereś-Pawlik, prof. P.Wr.<br />
Politechnika Wrocławska, Katedra Radiokomunikacji i Teleinformatyki,<br />
<strong>Instytut</strong> Telekomunikacji Teleinformatyki i Akustyki<br />
Obecnie wielofotonowe systemy endoskopowe stają się podstawowym<br />
narzędziem badawczym, ze względu na zdecydowanie<br />
mniejsze rozmiary oraz niższe koszty w porównaniu z konwencjonalnymi<br />
mikroskopami wielofotonowymi. Ponadto, endoskopy,<br />
ze względu na swój kształt, mogą być wykorzystywane w badaniach<br />
in vivo i aplikacjach klinicznych. Tak więc, w ostatnim czasie<br />
badania koncentrują się na rozwoju endoskopów o niewielkich<br />
wymiarach, które umożliwiają badania in vivo przy jednoczesnym<br />
zachowaniu zdolności obrazowania, podobnej do standardowych<br />
mikroskopów wielofotonowych. W chwili obecnej, istnieje kilka<br />
problemów związanych z budową takich endoskopów a mianowicie[1–4]:<br />
– skuteczne dostarczenie ultrakrótkich impulsów wzbudzających<br />
do próbki,<br />
– wydajne zbieranie sygnału fluoroscencyjnego badanej próbki,<br />
– miniaturyzacja sondy.<br />
Najczęściej stosowana konstrukcja sondy endoskopowej<br />
zakłada wykorzystanie światłowodu jednomodowego do dostarczenia<br />
ultraszybkiego sygnału pobudzającego, natomiast<br />
światłowodu wielomodomowego do odbierania sygnału fluoroscencyjnego<br />
z badanej próbki. Konstrukcja ta ma jednak<br />
ograniczenia, związane z tym, że światłowód nadawczy nie<br />
jest współosiowy z światłowodem odbiorczym, co powoduje<br />
zmniejszenie wydajności odbierania sygnału fluorescencyjnego<br />
badanej próbki. Aby zwiększyć wydajność odbierania stosuje<br />
się układy mikro-elektro -mechaniczne. Jednak takie układy są<br />
bardzo wrażliwe na kalibracje oraz zastosowanie ich powoduje<br />
zdecydowane zwiększenie wymiarów sondy. Dlatego jako alternatywę<br />
do przedstawionych wyżej konstrukcji stosuje się układ<br />
wyposażony w światłowód dwupłaszczowy. W tym przypadku,<br />
rdzeń tego światłowodu służy do przekazania sygnału wzbudzającego,<br />
natomiast wewnętrzny płaszcz służy do odbierania<br />
sygnału fluorescencyjnego. Niestety, wszystkie światłowody<br />
używane w wyżej wymienionych konstrukcjach charakteryzują<br />
się dużą dyspersją w okolicach 100 ps/nmkm. Dlatego też,<br />
konstruowane obecnie endoskopy są wyposażane w układy<br />
kompensujące dyspersję. Układy takie są budowane w oparciu<br />
o światłowody z przerwą fotoniczną PBF (Photonic Bandgap Fiber)<br />
lub z wykorzystywaniem optyki konwencjonalnej (soczewki,<br />
siatki). Jednakże wszystkie te układy posiadają pewne wady.<br />
I tak, układy wykorzystujące światłowody PBF charakteryzują<br />
się dużą straty mocy, wynoszącą nawet 60%, natomiast układy<br />
wykorzystujące dodatkową optykę są trudne w kalibracji oraz<br />
powodują, że układ endoskopowy staje się niewygodny do użycia<br />
przez lekarza.<br />
Przykładowe realizacje światłowodów<br />
z podwójnym płaszczem<br />
W artykule [5] zaprojektowano dwa światłowody mikrostrukturalne<br />
z podwójnym płaszczem oraz przeanalizowano ich właściwości<br />
dyspersyjne. Pierwszy światłowód został zbudowany<br />
z współosiowych okręgów zawierających rdzenie domieszkowane<br />
germanem, natomiast drugi zawierał współosiowe okręgi kanałów<br />
powietrznych. Struktura tych światłowodów została zdefiniowana<br />
przez siedem parametrów geometrycznych, takich jak<br />
między innymi: średnica rdzenia, średnica prętów domieszkowanych<br />
germanem, średnica kanałów powietrznych, odległości<br />
pomiędzy kanałami powietrznymi/prętami, liczba pierścieni itd.<br />
Obydwie konstrukcje światłowodów zostały przeanalizowane<br />
numerycznie za pomocą programu Lumerical. Wstępne symulacje<br />
tych światłowodów wykazały, że odpowiednio dobierając<br />
parametry geometryczne tych światłowodów można uzyskać<br />
taką charakterystykę dyspersyjną, aby ultraszybki impuls pracujący<br />
przy długości fali 800nm propagowany w rdzeniu tych<br />
światłowodach praktycznie nie ulegał rozmyciu. Dla światłowodu<br />
z prętami domieszkowanymi germanem uzyskano charakterystykę,<br />
zapewniającą wartość dyspersji na poziomie kilku ps/<br />
nm km. Jednakże wartość dyspersji tego światłowodu charakteryzowała<br />
się silną zależnością od długości fali, co zapewniało<br />
wąskie pasmo przenoszenia. Natomiast dla światłowodu z kanałami<br />
powietrznymi uzyskano większe pasmo przenoszenia,<br />
ale wartość dyspersji wynosiła około 20 ps/nm km. Obie konstrukcje<br />
światłowodu, umożliwiały przenoszenie sygnału o długości<br />
fali w zakresie 400 nm za pomocą wewnętrznego płaszcza,<br />
co mogłoby być wykorzystywane do odbierania sygnału<br />
autofluroscencyjnego tkanki. W pracy, przebadano dokładnie<br />
wpływ parametrów geometrycznych na dyspersję światłowodu<br />
mikrostrukturalnego z podwójnym płaszczem i rdzeniem powietrznym.<br />
W artykule między innymi wykazano, że największy<br />
wpływ na charakterystykę dyspersyjną takiego światłowodu,<br />
przy ustalonej średnicy rdzenia, ma liczba pierścieni powietrznych<br />
i średnica wewnętrznego płaszcza.<br />
Proponowana struktura światłowodu<br />
W niniejszej pracy przebadano właściwości światłowodu, którego<br />
strukturę przedstawiono na rys. 1. Światłowód ten składa<br />
się z rdzenia powietrznego otoczonego płaszczem zbudowanym<br />
z prętów domieszkowanych germanem. Pręty te tworzą siatkę<br />
hexagonalną. Parametrami definiującymi strukturę są promień<br />
rdzenia r, stała siatki Λ oraz średnica prętów d.<br />
Rys. 1. Struktura badanego światłowodu<br />
Fig. 1. The structure of the fiber<br />
Ze względu na to, że przy takiej konstrukcji współczynnik załamania<br />
płaszcza jest wyższy od współczynnika załamania rdzenia,<br />
światło w tym światłowodzie jest propagowane dzięki wykorzystaniu<br />
efektu fotonicznej przerwy wzbronionej PBG (Photonic Band-<br />
Gap). Światłowody wykorzystujące to zjawisko posiadają jedną<br />
główną wadę w postaci występowania modów wyższych rzędów<br />
HOM (Higher Order Modes). Straty tych modów porównywalne są<br />
ze stratami modu podstawowego.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 55
Rys. 2. Natężenie pola elektrycznego dla trzech kolejnych modów propagowanych w rdzeniu przy długości fali λ = 800 nm<br />
Fig. 2. The intensity of the electric field for three successive modes propagated in the core at a wavelength of λ = 800 nm<br />
Otrzymane wyniki numeryczne<br />
W niniejszej pracy przebadano światłowód o następujących parametrach<br />
geometrycznych: Λ = 246 μm, d = 6 μm, r = 16 μm.<br />
Na rysunku 2 przedstawiono natężenie pola elektrycznego trzech<br />
pierwszych modów propagowanych w rdzeniu. Tabela 1 przedstawia<br />
straty obliczone dla długości fali 800 nm.<br />
Tab. 1. Straty modów HE11, TE01 oraz TM01 na długości fali 800 nm<br />
Tabl. 1. The losses of the HE11, TE01 and TM01 modes at a wavelength<br />
of λ = 800 nm<br />
Oznaczenie modu<br />
Straty [dB/cm] przy λ = 800 nm<br />
HE11 2,3 ⋅10 -13<br />
TE01 1,4 ⋅10 -13<br />
TM01 3,5 ⋅10 -13<br />
Na rysunku 3A przedstawiono zależność dyspersji od długości<br />
fali dla różnych Λ, natomiast na rysunku 3B przedstawiono wpływ<br />
Λ na różnice w stratach pomiędzy modami. Jak widać na różnicę<br />
w startach pomiędzy modem podstawowym HE11, a modami<br />
wyższych rzędów zmiana Λ nie ma większego znaczenia. Podobne<br />
charakterystyki otrzymuje się w przypadku badania zmian liczby<br />
pierścieni, średnicy prętów itd. Oczywiście zmiana średnicy rdzenia<br />
ma znaczenie, ale ze względu na to, że światłowód ten ma mieć<br />
zastosowanie w przenoszeniu ultraszybkich sygnałów wybrano<br />
stosunkowo duży rdzeń ze względu na dużą gęstość energii.<br />
Optymalizacja konstrukcji światłowodu w celu<br />
zapewnienia jednomodowego trybu pracy<br />
W celu stłumienia modów wyższych rzędów wykorzystano zjawisko<br />
przedstawione w pracy [7]. Metoda polega na wprowadzeniu<br />
dodatkowych defektów tak, aby nastąpiło sprzężenie pomiędzy<br />
modami występującymi w tych defektach a modami wyższych<br />
rzędów generowanymi w rdzeniu. Metoda ta pozwala osiągnąć<br />
różnicę 2 rzędów wielkości pomiędzy startami modu podstawowego,<br />
a stratami modów wyższych rzędów [8]. Aby uzyskać efektywnie<br />
jednodomowy światłowód należy stłumić mody wyższych<br />
rzędów do poziomu kilkunastu [dB/m]. W tym celu dodatkowo<br />
wprowadzono pręty germanowe. charakteryzujące się dużym<br />
współczynnikiem załamania. Pręty takie wprowadzone w pobliżu<br />
dodatkowych kanałów powietrznych powodują przede wszystkim<br />
stłumienie modów, które powstały w tych kanałach. Oczywiście<br />
ma to również wpływ na straty modu podstawowego. Tak więc,<br />
w celu stłumienia modów wyższych rzędów wprowadzono dodatkowe<br />
kanały powietrzne oraz pręty germanowe. Następnie<br />
przeprowadzono optymalizację położenia dodatkowych kanałów<br />
powietrznych oraz rdzeni germanowych, wykorzystując algorytm<br />
optymalizacji rojem cząstki PSO (Particle Swarm Optimization).<br />
Jest to algorytm bazujący na idei inteligencji roju. Rój zdefiniowany<br />
jest jako zbiór cząstek, które samodzielnie podejmują decyzję<br />
co do kierunku i prędkości poruszania. Pojedyncza cząstka<br />
posiada informację na temat swojego najlepszego rozwiązania<br />
oraz na temat najlepszego rozwiązania sąsiada. Nie musi natomiast<br />
posiadać informacji o całym roju. Cząstki są inicjowane<br />
Rys. 3. Zależność dyspersji od długości fali dla różnych Λ oraz różnica w tłumieniu pomiędzy modem podstawowym oraz modami wyższych rzędów<br />
Fig. 3. Dependency between dispersion and the wavelength for different Λ and the difference in attenuation between the fundamental mode<br />
and the higher order modes<br />
56<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys. 4. Struktura światłowodu z dodatkowymi kanałami powietrznymi<br />
oraz prętami germanowymi<br />
Fig. 4. Fiber structure with additional air holes and germanium doped<br />
rods<br />
liczbami losowymi z zakresu od 0 do 1. Program Lumerical Mode<br />
Solution, w którym przeprowadzone zostały symulacje, używa domyślnych<br />
wartości c 1<br />
i c 2<br />
i ω, które są odpowiednie przy optymalizacji<br />
problemów związanych z kryształami fotonicznymi.<br />
W wyniku optymalizacji otrzymano strukturę przedstawioną na<br />
rysunku 4.<br />
Na rysunku 5 przedstawiono natężenie pola elektrycznego dla<br />
trzech podstawowych modów propagowanych w rdzeniu. Natomiast<br />
tabela 2 przedstawia straty wyliczone dla tych modów.<br />
Podsumowanie<br />
W celu zaprojektowania efektywnie jednomodowego światłowodu<br />
mikrostrukturalnego z podwójnym płaszczem, umożliwiającego<br />
przenoszenie ultraszybkich sygnałów, w konstrukcji<br />
światłowodu zastosowano dodatkowe kanały powietrzne oraz<br />
pręty germanowe. Taka struktura umożliwiła zwiększenie różnicy<br />
Rys. 5. Natężenie pola elektrycznego dla trzech kolejnych modów propagowanych w rdzeniu dla λ=800 nm przy zastosowaniu dodatkowych<br />
kanałów powietrznych oraz prętów germanowych<br />
Fig. 5. The intensity of the electric field for three successive modes propagated in the core at a wavelength of λ = 800 nm with additional air<br />
holes and germanium rods<br />
Tab. 2. Straty modów HE11, TE01 oraz TM01 przy długości fali 800 nm<br />
przy zastosowaniu dodatkowych kanałów powietrznych oraz prętów germanowych<br />
Tabl. 2. The losses of the HE11, TE01 and TM01 modes at a wavelength<br />
of λ = 800 nm with additional air holes and germanium rods<br />
Oznaczenie modu<br />
Straty [dB/cm] przy λ = 800 nm<br />
HE11 3,13⋅10 -6<br />
TE01 0,17<br />
TM01 0,18<br />
w losowych miejscach, a następnie przemieszczają się w poszukiwaniu<br />
najlepszego rozwiązania. Na cząstkę w takim układzie<br />
działają trzy siły [9]:<br />
1. Siła przyciągania w kierunku najlepszej własnej pozycji, p,<br />
2. Siła przyciągania w kierunku najlepszej pozycji w roju, g,<br />
3. Siła tarcia proporcjonalna do prędkości.<br />
W związku z tym algorytm składa się z następujących kroków<br />
[9]:<br />
1. Podać liczbę cząstek N oraz zainicjować pozycję x,<br />
2. Obliczyć współczynnik efektywności i znaleźć p i g,<br />
3. Obliczyć nowe prędkości v dla każdej z cząstek w oparciu<br />
o siły działające na cząstki,<br />
r r r r r r r<br />
vt<br />
= vt<br />
− 1<br />
+ c1η1<br />
( pt<br />
−1<br />
− xt<br />
−1)<br />
+ c2η2<br />
( pt<br />
−1<br />
− xt<br />
−1)<br />
+ ( ω + 1)<br />
vt<br />
−1<br />
(1)<br />
4. Zaktualizować pozycję każdej z cząstek korzystając z prędkości,<br />
r<br />
<br />
= r<br />
+ r<br />
xt<br />
xt<br />
− 1<br />
vt<br />
−1<br />
(2)<br />
5. Powtórzyć od kroku 2 aż osiągnięta zostanie zbieżność.<br />
W równaniu (1), t jest licznikiem iteracji, c 1<br />
, c 2<br />
, ω są współczynnikami<br />
algorytmu określanymi przez projektanta, η 1<br />
i η 2<br />
są<br />
pomiędzy stratami modu podstawowego, a stratami modów<br />
wyższych rzędów o nawet 4 rzędy. Ponadto, wprowadzenie<br />
prętów germanowych umożliwia skuteczne wytłumienie modów<br />
wyższych rzędów do wielkości 17 dB/m. Za pomocą algorytmu<br />
optymalizacji rojem cząstek zoptymalizowano konstrukcję światłowodu<br />
uzyskując oczekiwane wyniki.<br />
Obliczenia wykonano na komputerach Wrocławskiego Centrum<br />
Sieciowo-Superkomputerowego (http://www.wcss.wroc.pl), grant<br />
obliczeniowy Nr 184<br />
Literatura<br />
[1] Costa N., Cartaxo A. (edit.): Advances in Lasers and Electro Optics,<br />
Intech, 2010, pp. 751–769.<br />
[2] Yicong Wu et. al.: Scanning Fiber-optic Endomicroscope System for<br />
Nonlinear Optical Imaging of Tissue, OSA/BIOMED/ASSP, 2008.<br />
[3] Tang S. et al.: Design and implementation of fiber-based multiphoton<br />
endoscopy with microelectromechanical systems scanning, J Biomed<br />
Opt 14, 034005-1–034005-7.<br />
[4] Sadowski P., Jellonek K.: Sonda do bezkontaktowego pomiaru<br />
współczynnika kontrastu w terapii fotodynamicznej, <strong>Elektronika</strong> rok<br />
XLIX nr 6/2008, str. 257.<br />
[5] Stawska H., Bereś-Pawlik E.: Construction of double cladding small<br />
dispersion photonic crystal fiber to guide ultrashort pulse at 800 nm<br />
(w druku).<br />
[6] Stawska H., Bereś-Pawlik E.: Dispersion properties of double-clad<br />
hollow-core photonic bandgap fibers based on a circular lattice cladding,<br />
22nd International Conference on Optical Fiber Sensors (OFS-<br />
22), materiały konferencyjne SPIE (w druku).<br />
[7] Fini J.M.: Suppression of higher-order modes in aircore microstructure<br />
fiber designs, Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO),<br />
2006.<br />
[8] Saitoh K. at all.: Design of photonic band gap fibers with suppressed<br />
higher-order modes: Towards the development of effectively single<br />
mode large hollow-core fiber platforms, Optics Express, Vol. 14, Issue<br />
16, 2006, pp. 7342–7352.<br />
[9] Lumerical ModeSolution Reference Guide.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 57
Wpływ dipu na właściwości propagacyjne solitonów<br />
jasnych w światłowodzie skokowym<br />
dr inż. Tomasz KACZMAREK<br />
Politechniki Świętokrzyskiej,Zakład Telekomunikacji, Katedra Telekomunikacji, Fotoniki i Nanomateriałów,<br />
Wydział Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki, Kielce<br />
Światłowody jednomodowe są szeroko stosowane w technice<br />
sensorowej [1, 2] zarówno jako czujniki jak i medium transmisyjne<br />
oraz w technice informatycznej [3, 4] jako szerokopasmowe medium<br />
transmisyjne o nie w pełni wykorzystanych możliwościach<br />
propagacyjnych. Niniejszy artykuł również dotyczy światłowody<br />
jednomodowych ale w kontekście ich wykorzystania w transmisji<br />
solitonowej dalekiego zasięgu.<br />
W 2011 roku pojawił się cykl artykułów [5, 6, 7] dotyczących<br />
światłowodu skokowego, którego parametr geometryczny (promień<br />
rdzenia a) oraz parametr optyczny (różnica współczynników<br />
załamania pomiędzy rdzeniem i płaszczem Δn = n 1<br />
– n 2<br />
) były tak<br />
zoptymalizowane, aby umożliwić generację solitonu podstawowego,<br />
przy wykorzystaniu dostępnych komercyjnie laserów półprzewodnikowych<br />
w okolicach trzeciego okna transmisyjnego,<br />
przy zapewnieniu jednoczesnej maksymalizacji zakresu pracy<br />
jednomodowej oraz dyspersji anomalnej. Optymalizacja promienia<br />
rdzenia a pozwala uzyskać zrównanie się długości fali odcięcia<br />
modu drugiego (TE 01<br />
) λ C<br />
z długością fali zerowania się dyspersji<br />
chromatycznej λ ZD1<br />
, czyli równość λ ZD1<br />
= λ C<br />
i w ten sposób<br />
uzyskać maksymalizację zakresu długości fal, w którym można<br />
generować solitony jasne. W tym miejscu warto wspomnieć, że<br />
przy określonym składzie chemicznym rdzenia oraz płaszcza,<br />
czyli przy określonej wartości parametru Δn istnieje tylko jedna<br />
wartość a = a OPT<br />
gwarantująca spełnienie warunku λ ZD1<br />
= λ C<br />
.<br />
W przypadku, gdy a > a OPT<br />
, wówczas λ ZD1<br />
< λ C<br />
i zakres generacji<br />
solitonu jasnego jest ograniczony zakresem pracy jednomodowej.<br />
Natomiast, gdy a < a OPT<br />
, wówczas λ ZD1<br />
> λ C<br />
i zakres generacji<br />
solitonu jasnego jest ograniczony zakresem dyspersji anomalnej.<br />
Optymalizacja różnicy współczynników załamania pomiędzy<br />
rdzeniem i płaszczem światłowodu Δn umożliwia uzyskanie na<br />
charakterystyce dyspersji chromatycznej dwóch miejsc zerowych<br />
w zakresie od 1 do 2 μm oraz maksimum lokalnego w okolicach<br />
1,55 μm, którego wartość nie przekraczałaby 1 ps∙km -1 ∙nm -1 .<br />
W każdym z trzech artykułów [5, 6, 7] modelowany światłowód<br />
skokowy posiadał rdzeń wykonany ze szkła kwarcowego domieszkowanego<br />
dwutlenkiem germanu. W przypadku [5] płaszcz<br />
był wykonany z czystego szkła kwarcowego, w [6] ze szkła kwarcowego<br />
domieszkowanego 1 m% fluoru, natomiast w [7] płaszcz<br />
wykonany ze szkła kwarcowego domieszkowany był 2 m% fluoru.<br />
W każdym przypadku optymalne wartości promienia rdzenia<br />
a OPT<br />
oraz różnicy współczynników załamania pomiędzy rdzeniem<br />
i płaszczem Δn OPT<br />
nieco się od siebie różnią.<br />
Punktem odniesienia do wyliczeń zawartych w niniejszej<br />
publikacji był przypadek opisany w [7]. Wyznaczona w [7] a OPT<br />
= 1,658 μm, natomiast Δn OPT<br />
= 0,0395. Odpowiadający optymalnym<br />
warunkom zakres dyspersji anomalnej jest ograniczony<br />
miejscami zerowymi charakterystyki dyspersyjnej, które wynoszą<br />
λ ZD1<br />
= 1,469 μm, λ ZD2<br />
= 1,649 μm. Optymalizacja promienia rdzenia<br />
a gwarantuje spełnienie równości λ ZD1<br />
= λ C<br />
, czyli λ C<br />
= 1,469<br />
μm. Optymalizacja parametru Δn gwarantuje wystąpienie maksimum<br />
lokalnego na charakterystyce dyspersji chromatycznej D<br />
oraz minimum lokalnego na charakterystyce dyspersji prędkości<br />
grupowej β 2<br />
dla trzeciego okna transmisyjnego, czyli dla λ = 1,55<br />
μm, które wynoszą odpowiednio D = 0,224 ps∙km -1 ∙nm -1 oraz<br />
β 2<br />
= -0,286 ps 2 ∙km -1 . Korzystając z zależności zawartych w [8,<br />
9] i przyjmując, że λ = 1,55 μm wyznaczone zostały następujące<br />
parametry modu podstawowego w zoptymalizowanym światłowodzie:<br />
skuteczny promień pola modu HE 11<br />
, ω EFF<br />
= 1,870 μm,<br />
skuteczny przekrój pola modu HE 11<br />
, A EFF<br />
= 10,98 μm 2 . Wartość<br />
58<br />
parametru A EFF<br />
jednoznacznie determinuje wartość parametru<br />
nieliniowego γ = 8,120 km -1 W -1 również na podstawie wzoru zawartego<br />
w [8,9]. Przyjmując, że szerokość początkowa impulsu<br />
T 0<br />
= 1 ps, λ = 1,55 μm i ponownie korzystając z zależności zawartych<br />
w [8,9] można wyznaczyć wartość szczytową solitonu podstawowego<br />
P 0<br />
= 35,20 mW, długość dyspersyjną L D<br />
= 3,499 km<br />
oraz okres solitonowy z 0<br />
= 5,496 km.<br />
Metoda<br />
Przed przystąpieniem do wykonania światłowodu skokowego<br />
zoptymalizowanego zgodnie z [7] konieczne jest zbadanie wpływu<br />
dipu, który występuje w profilu współczynnika załamania już na<br />
etapie wytwarzania preformy, najczęściej metodą MCVD. Wpływ<br />
szerokości oraz głębokości dipu kształtu prostokątnego na właściwości<br />
propagacyjne zoptymalizowanego światłowodu skokowego<br />
można badać wykorzystując w tym celu światłowód dwuskokowy<br />
o profilu SP1 [10, 11]. Światłowód skokowy (SS) z dipem lub światłowód<br />
pierścieniowy pierwszego rodzaju (SP1) wraz z profilem<br />
współczynnika załamania został przedstawiony na rys. 1.<br />
Modelowanie światłowodu skokowego z dipem za pomocą modelu<br />
światłowodu dwuskokowego o profilu SP1 zostało wykonane<br />
przy uwzględnieniu następujących założeń: promień drugiego<br />
rdzenia światłowodu SP1 b jest równy optymalnemu promieniowi<br />
rdzenia światłowodu skokowego i wynosi b = 1,658 μm; różnica<br />
Δn’ współczynników załamania pomiędzy drugim rdzeniem n 2<br />
i płaszczem n 3<br />
jest równa optymalnej różnicy współczynników załamania<br />
pomiędzy rdzeniem i płaszczem światłowodu skokowego<br />
i wynosi Δn’ = n 2<br />
– n 3<br />
= 0,0395; płaszcz światłowodu dwuskokowego<br />
jest wykonany z czystego szkła kwarcowego tak jak płaszcz<br />
światłowodu skokowego i oznacza to, że wartość współczynnika<br />
załamania płaszcza światłowodu dwuskokowego n 3<br />
jest określona<br />
ze wzoru dyspersyjnego Sellmeiera dla szkła kwarcowego domieszkowanego<br />
fluorem na poziomie 2 m% [8, 9]; na podstawie<br />
znanej wartości współczynnika załamania płaszcza n 3<br />
oraz na<br />
podstawie określonej wartości różnicy współczynników załamania<br />
drugiego rdzenia i płaszcza Δn’ można określić współczynnik załamania<br />
drugiego rdzenia n 2<br />
następująco n 2<br />
= n 3<br />
+ Δn’; współczynnik<br />
załamania pierwszego rdzenia n 1<br />
światłowodu SP1 jest zmienną,<br />
która określa głębokość dipu w rdzeniu światłowodu skokowego<br />
i może być określona parametrem Δn’/Δn = (n 2<br />
– n 3<br />
)/(n 1<br />
– n 2<br />
);<br />
promień pierwszego rdzenia a światłowodu dwuskokowego jest<br />
zmienną określającą szerokość dipu w rdzeniu światłowodu skokowego,<br />
która może być określona parametrem c = b/a. Płytki dip<br />
w kontekście współczynnika Δn’/Δn to na przykład Δn’/Δn = –10,<br />
Rys. 1. Światłowód skokowy (SS) z dipem lub światłowód pierścieniowy<br />
pierwszego rodzaju (SP1) wraz z profilem współczynnika załamania.<br />
Oznaczenia: D – dip w SS lub pierwszy rdzeń SP1, R – rdzeń<br />
w SS lub drugi rdzeń w SP1, P – płaszcz w obydwu przypadkach<br />
Fig. 1. Step index fiber with a dip or M-profile fiber with the refractive<br />
index profile. Symbols: D – dip in the step index or the first core of M-<br />
profile fiber, R – the core of step index or the second core in M-profile<br />
fiber, P – cladding in both cases<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
przy czym znak – oznacza, że n 1<br />
< n 2<br />
, natomiast wartość 10 mówi<br />
o tym, że Δn’ = n 2<br />
– n 3<br />
jest 10 razy większe niż Δn = n 1<br />
– n 2<br />
, czyli<br />
innymi słowy głębokość dipu stanowi 0,1 głównego skoku współczynników<br />
załamania. Podobnie wąski dip to na przykład c = 10<br />
oznacza to, że szerokość dipu jest 10 razy mniejsza niż szerokość<br />
promienia rdzenia prowadzącego światło.<br />
W celu wyznaczenia parametrów modu HE 11<br />
(ω EFF<br />
, A EFF<br />
, D, β 2<br />
,<br />
γ, λ ZD1<br />
, λ ZD2<br />
), parametru modu TE 01<br />
(λ C<br />
) oraz parametrów solitonu<br />
podstawowego (P 0<br />
, L D<br />
, z 0<br />
) konieczne jest rozwiązanie równania<br />
wartości własnych światłowodu dwuskokowego o profilu SP1 następującej<br />
postaci [10, 11].<br />
2 2 2<br />
[ E( Y +V)( W + X ) − F( Y +U)( Z + X )][ F( Yn1<br />
+ n2U)(<br />
Zn<br />
2<br />
+<br />
2<br />
2 2 2 2<br />
+ n3 X) − E( Yn1<br />
+ n2V)( Wn<br />
2<br />
+ n3<br />
X )]=<br />
4 4<br />
2 2<br />
N m<br />
2 N m<br />
2<br />
= ( E −F) + 2EFn2<br />
( U −V)( W −Z<br />
)+<br />
4 2 4 2<br />
2 2<br />
u B w C<br />
u Bw C<br />
(1)<br />
2 2<br />
N m<br />
2 2<br />
2 2<br />
+ [ F( Z+X ) − E( W+ X )][ E ( Wn2<br />
+ n3<br />
X ) − F ( Zn2<br />
+ n3<br />
X )]+<br />
4 2<br />
u B<br />
2 2<br />
N m<br />
2 2<br />
2 2<br />
+ [ F( Y+U) − E( Y+V)<br />
][ E( Yn1<br />
+ n2V<br />
) − F( Yn1<br />
+ n2U<br />
)] ,<br />
4 2<br />
w C<br />
przy czym<br />
I m'<br />
( u)<br />
Y = Ym<br />
=<br />
uI ( u) , X = X<br />
dla n 1<br />
Tab. 1. Wartości parametrów modu HE 11<br />
oraz solitonu podstawowego w światłowodzie SP1 przy<br />
jednoczesnym zwiększaniu szerokości oraz głębokości dipu (rys. 2)<br />
Tabl. 1. Values of parameters of HE 11<br />
mode and fundamental soliton propagated inside M-profile<br />
optical fiber, while increasing width and depth of the dip (Fig. 2)<br />
Parametr Jednostka c=10 c=9 c=8 c=7 c=6 c=5 c=4<br />
60<br />
Δn’/Δn – -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4<br />
Δn – 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395<br />
V – 0,228 0,253 0,283 0,326 0,380 0,456 0,570<br />
b μm 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658<br />
ω EFF<br />
μm 1,869 1,870 1,872 1,875 1,880 1,889 1,909<br />
A EFF<br />
μm 2 10,97 10,99 11,01 11,04 11,10 11,21 11,45<br />
γ km -1 W -1 8,127 8,117 8,102 8,077 8,033 7,954 7,787<br />
λ C<br />
μm 1,469 1,469 1,469 1,469 1,469 1,468 1,467<br />
λ ZD1<br />
μm 1,464 1,461 1,458 1,453 1,448 1,444 1,452<br />
λ ZD1<br />
– λ C<br />
nm -5 -8 -11 -16 -21 -24 -15<br />
λ MAX<br />
μm 1,551 1,551 1,552 1,553 1,556 1,563 1,582<br />
λ ZD2<br />
μm 1,660 1,665 1,673 1,685 1,703 1,732 1,787<br />
D ps∙km -1 ∙nm -1 0,261 0,281 0,310 0,352 0,413 0,489 0,523<br />
β 2<br />
ps 2 ∙km -1 -0,333 -0,359 -0,395 -0,450 -0,527 -0,624 -0,667<br />
P 0<br />
mW 41,00 44,20 48,80 55,66 65,55 78,48 85,61<br />
A 0<br />
– 0,202 0,210 0,221 0,236 0,256 0,280 0,293<br />
L D<br />
km 3,001 2,787 2,529 2,224 1,899 1,602 1,500<br />
z 0<br />
km 4,714 4,378 3,973 3,494 2,983 2,516 2,356<br />
Tab. 2. Wartości parametrów modu HE 11<br />
oraz solitonu podstawowego w światłowodzie SP1 przy<br />
zwiększaniu szerokości dipu, podczas gdy jego głębokość była stała (rys. 3)<br />
Tabl. 2. Values of parameters of HE 11<br />
mode and fundamental soliton propagated inside M-profile<br />
optical fiber by increasing width of the dip, while its depth was constant (Fig. 3)<br />
Parametr Jednostka c=9 c=7 c=6 c=5 c=4 c=3 c=2<br />
Δn’/Δn – -9 -9 -9 -9 -9 -9 -9<br />
Δn – 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395<br />
V – 0,253 0,326 0,380 0,456 0,570 0,760 1,139<br />
b μm 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658<br />
ω EFF<br />
μm 1,870 1,873 1,854 1,879 1,885 1,898 1,924<br />
A EFF<br />
μm 2 10,99 11,02 11,05 11,09 11,17 11,32 11,63<br />
γ km -1 W -1 8,117 8,094 8,074 8,041 7,986 7,880 7,667<br />
λ C<br />
μm 1,469 1,469 1,469 1,468 1,468 1,466 1,458<br />
λ ZD1<br />
μm 1,461 1,456 1,452 1,448 1,443 1,440 1,458<br />
λ ZD1<br />
– λ C<br />
nm -8 -13 -17 -20 -25 -26 0<br />
λ MAX<br />
μm 1,551 1,552 1,553 1,555 1,559 1,567 1,587<br />
λ ZD2<br />
μm 1,665 1,678 1,686 1,700 1,722 1,758 1,794<br />
D ps∙km -1 ∙nm -1 0,281 0,325 0,359 0,408 0,475 0,552 0,462<br />
β 2<br />
ps 2 ∙km -1 -0,359 -0,414 -0,458 -0,520 -0,606 -0,703 -0,589<br />
P 0<br />
mW 44,20 51,17 56,77 64,73 75,85 89,27 76,89<br />
A 0<br />
– 0,210 0,226 0,238 0,254 0,275 0,299 0,277<br />
L D<br />
km 2,787 2,415 2,182 1,921 1,651 1,422 1,696<br />
z 0<br />
km 4,378 3,793 3,427 3,018 2,593 2,233 2,665<br />
Na rysunku 3 przedstawiono zestaw<br />
charakterystyk dyspersyjnych modu HE 11<br />
w światłowodzie dwuskokowym o profilu<br />
SP1 przy zwiększaniu szerokości dipu,<br />
podczas gdy jego głębokość była stała. Wykresy<br />
przedstawione na rys. 3 mają swoje<br />
odzwierciedlenie w tab. 2. Tabela 2 zawiera<br />
wartości parametrów modu HE 11<br />
oraz solitonu<br />
podstawowego w badanym światłowodzie<br />
przy zwiększaniu szerokości dipu, podczas<br />
gdy jego głębokość była stała.<br />
Na rysunku 4 przedstawiono zestaw<br />
charakterystyk dyspersyjnych modu HE 11<br />
w światłowodzie SP1 przy zwiększaniu<br />
głębokości dipu, podczas gdy jego szerokość<br />
była stała. Odzwierciedleniem wykresów<br />
przedstawionych na rys. 4 są wyniki<br />
numeryczne zawarte w tab. 3. W tabeli 3<br />
przedstawiono wartości parametrów modu<br />
HE 11<br />
oraz solitonu podstawowego w światłowodzie<br />
SP1 przy zwiększaniu głębokości<br />
dipu, podczas gdy jego szerokość była<br />
stała.<br />
Dyskusja<br />
Na podstawie zamieszczonych w artykule<br />
wykresów oraz tabel można stwierdzić, że<br />
zwiększaniu głębokości oraz szerokości<br />
dipu (tj. zmniejszaniu wartości parametru<br />
|Δn’/Δn| oraz c) towarzyszy zwiększanie<br />
się maksymalnej wartości dyspersji<br />
chromatycznej D oraz zmniejszanie się<br />
minimalnej wartości dyspersji prędkości<br />
grupowej β 2<br />
, przy czym wraz ze wzrostem<br />
szerokości oraz głębokości dipu maksimum<br />
długość fali przy której występuje<br />
ekstremum λ MAX<br />
przesuwa się w kierunku<br />
fal dłuższych. Towarzyszy temu zwiększanie<br />
się zakresu dyspersji anomalnej, gdyż<br />
długość fali, przy której występuje pierwsze<br />
miejsce zerowe na charakterystyce<br />
dyspersyjnej λ ZD1<br />
ulega zmniejszeniu, natomiast<br />
długość fali, przy której występuje<br />
drugie miejsce zerowe na charakterystyce<br />
dyspersyjnej λ ZD2<br />
ulega zwiększeniu. Zakres<br />
pracy jednomodowej, czyli długość<br />
fali zerowania się drugiego modu λ C<br />
w zasadzie<br />
nie ulega zmianie przy zmniejszaniu<br />
się wartości parametru |Δn’/Δn| oraz c<br />
i w związku z tym różnica λ ZD1<br />
– λ C<br />
ulega<br />
zwiększeniu. Wraz ze wzrostem szerokości<br />
oraz głębokości dipu zwiększeniu<br />
ulega promień oraz przekrój poprzeczny<br />
pola modu podstawowego (ω EFF<br />
, A EFF<br />
) natomiast<br />
zmniejsza się wartość parametru<br />
nieliniowego γ. W przypadku parametrów<br />
solitonowych to zmniejszaniu wartości<br />
parametru |Δn’/Δn| oraz c towarzyszy<br />
wzrost wartości mocy szczytowej P 0<br />
oraz<br />
amplitudy A 0<br />
solitonu podstawowego,<br />
a także zmniejszenie wartości długości<br />
dyspersyjnej L D<br />
i okresu solitonowego z 0<br />
.<br />
Porównując wyniki numeryczne zawarte<br />
w tab. 2 oraz 3, a także wykresy przedstawione<br />
na rys. 3 oraz 4 można stwierdzić,<br />
że zwiększanie szerokości dipu (zmniejszanie<br />
wartości parametru c) powoduje<br />
większe zmiany wartości zarówno parametrów<br />
modu podstawowego jak i para-<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Tab. 3. wartości parametrów modu HE 11<br />
oraz solitonu podstawowego w światłowodzie SP1 przy<br />
zwiększaniu głębokości dipu, podczas gdy jego szerokość była stała (rys. 4)<br />
Tabl. 3. Values of parameters of HE 11<br />
mode and fundamental soliton propagated inside M-profile<br />
optical fiber by increasing depth of the dip, while its width was constant (Fig. 4)<br />
Parametr Jednostka c=9 c=9 c=9 c=9 c=9 c=9 c=9<br />
Δn’/Δn – -8 -6 -5 -4 -3 -2 -1,5<br />
Δn – 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395 0,0395<br />
V – 0,253 0,253 0,253 0,253 0,253 0,253 0,253<br />
b μm 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658 1,658<br />
ω EFF<br />
μm 1,871 1,872 1,873 1,875 1,878 1,885 1,891<br />
A EFF<br />
μm 2 10,99 11,01 11,03 11,05 11,09 11,16 11,23<br />
γ km -1 W -1 8,113 8,099 8,088 8,072 8,045 7,993 7,941<br />
λ C<br />
μm 1,469 1,469 1,469 1,469 1,469 1,469 1,469<br />
λ ZD1<br />
μm 1,460 1,457 1,455 1,453 1,451 1,451 1,456<br />
λ ZD1<br />
– λ C<br />
nm -9 -12 -14 -16 -18 -18 -13<br />
λ MAX<br />
μm 1,551 1,552 1,553 1,554 1,556 1,561 1,568<br />
λ ZD2<br />
μm 1,667 1,674 1,679 1,686 1,696 1,713 1,724<br />
D ps∙km -1 ∙nm -1 0,290 0,315 0,333 0,357 0,388 0,420 0,413<br />
β 2<br />
ps 2 ∙km -1 -0,370 -0,402 -0,424 -0,455 -0,495 -0,536 -0,527<br />
P 0<br />
mW 45,65 49,66 52,48 56,38 61,50 67,01 66,33<br />
A 0<br />
– 0,214 0,223 0,229 0,237 0,248 0,259 0,258<br />
L D<br />
km 2,700 2,487 2,356 2,197 2,021 1,867 1,899<br />
z 0<br />
km 4,241 3,906 3,700 3,451 3,175 2,933 2,982<br />
metrów solitonowych w porównaniu do zmian jakie powoduje<br />
zwiększanie głębokości dipu (zmniejszanie wartości parametru<br />
|Δn’/Δn|). Wynika z tego, że zwiększanie szerokości dipu ma<br />
bardziej niekorzystny wpływ na parametry modowe i solitonowe<br />
zoptymalizowanego zgodnie z [7] światłowodu skokowego<br />
niż zwiększanie głębokości dipu.<br />
Ponadto przy wzroście szerokości oraz głębokości dipu istnieje<br />
pewna progowa wartość po przekroczeniu której charakter<br />
krzywej dyspersyjnej ulega zmianie. Zmiana ta jest niekorzystna<br />
z punktu widzenia zakresu dyspersji anomalnej i liczby miejsc<br />
zerowych w zakresie od 1 do 2 μm. I tym razem niekorzystne<br />
zmiany charakterystyki dyspersyjnej zachodzą szybciej w przypadku<br />
zwiększania szerokości dipu niż przy zwiększaniu jego<br />
głębokości.<br />
Podsumowanie<br />
Wyniki modelowania dipu w światłowodzie skokowym przy pomocy<br />
modelu światłowodu dwuskokowego o profilu SP1 potwierdzają<br />
negatywny wpływ zarówno szerokości jak i głębokości<br />
dipu na parametry propagacyjne solitonu podstawowego.<br />
Z wyników obliczeń zamieszczonych w tabelach i z wykresów<br />
przestawionych na rysunkach wynika, że bardziej niekorzystnie<br />
na właściwości propagacyjne solitonu jasnego wpływa<br />
szerokość dipu niż jego głębokość. Wynika z tego, że mniej<br />
szkodliwy wpływ na pogorszenie właściwości propagacyjnych<br />
solitonu ma dip, którego głębokość jest większa niż szerokość.<br />
Warto podkreślić, że dip powstający w efekcie użycia metody<br />
MCVD do wytworzenia preformy ma<br />
takie właśnie korzystne proporcje, czyli<br />
głębokość dipu kilkakrotnie przewyższa<br />
jego szerokość. Wyniki uzyskane w niniejszym<br />
artykule w przypadku, gdy głębokość<br />
oraz szerokość dipu dążą do zera<br />
(tab. 1 przypadek Δn’/Δn = – 10 oraz<br />
c = 10) są zgodne z wynikami dotyczącymi<br />
zoptymalizowanego światłowodu skokowego<br />
zamieszczonymi w [7]. Może to<br />
świadczyć o poprawności zarówno równania<br />
wartości własnych dla światłowodu<br />
pierścieniowego pierwszego rodzaju jak<br />
i o poprawności wykonanych obliczeń,<br />
gdyż światłowód dwuskokowy o profilu<br />
SP1 staje się światłowodem skokowym po<br />
usunięciu pierwszego rdzenia, czyli dipu<br />
w światłowodzie skokowym. Wyniki przedstawione<br />
w [7] oraz w niniejszym artykule<br />
uzyskano przy wykorzystaniu dokładnych<br />
(a nie przybliżonych) równań wartości<br />
własnych dla modów hybrydowych HE mn<br />
,<br />
a nie liniowo spolaryzowanych LP mn<br />
.<br />
Literatura<br />
[1] Lewandowski J., Dziuda Ł., Jasiński P.:<br />
Mechanoakustyczny czujnik aktywności<br />
układu sercowo-naczyniowego, <strong>Elektronika</strong><br />
(LIII), nr 1/<strong>2012</strong>, s. 77–80.<br />
[2] Dziuda Ł. at all.: Czujnik czynności oddechowej<br />
oraz pracy serca oparty na<br />
światłowodowych siatkach Bragga, <strong>Elektronika</strong><br />
(LII), nr 8/2011, s. 98–106.<br />
[3] Romaniuk R.: Fotonika I inżynieria sieci<br />
Internet 2011, <strong>Elektronika</strong> (LII), nr 7/2011,<br />
s. 193–98.<br />
[4] Romaniuk R.: Rola optoelektroniki w Internecie przyszłości.<br />
Część 3, <strong>Elektronika</strong> (LII), nr 6/2011, s. 142–45.<br />
[5] Kaczmarek T.: Optimization of step index fiber for bright soliton<br />
propagation, 7 th International Conference New Electrical and<br />
Electronic Technologies and their Industrial Implementations<br />
NEET 2011, June 28 – July 1, Zakopane, (w druku).<br />
[6] Kaczmarek T.: Dostosowywanie światłowodu skokowego dla<br />
propagacji solitonów jasnych, Przegląd Telekomunikacyjny<br />
I Wiadomości Telekomunikacyjne, Nr 8–9/2011, 1062-7.<br />
[7] Kaczmarek T.: Single-Mode Step-Index Fiber as a Medium for<br />
Bright Soliton Propagation, XV Poznańskie Warsztaty Telekomunikacyjne<br />
PWT 2011, Poznań 9 grudnia 2011, 78–81.<br />
[8] Kaczmarek T.: Światłowód skokowy dedykowany dla propagacji<br />
solitonu jasnego, XII Konferencja Światłowody i Ich Zastosowania,<br />
14-17 października 2009, Krasnobród, str. 87–94.<br />
[9] Kaczmarek T.: Step index fiber modeling to soliton propagation,<br />
Advances in Electronics and Telecommunications, vol. 1 No. 2,<br />
November 2010, 59–62.<br />
[10] Kaczmarek T.: Zwarte równanie wartości własnych światłowodu<br />
dwuskokowego o dowolnym praktycznie użytecznym profilu<br />
współczynnika załamania, X Poznańskie Warsztaty Telekomunikacyjne<br />
PWT 2005, Poznań 8–9 grudnia 2005, str. 75–80.<br />
[11] Kaczmarek T.: Optimization of SP1-type double cladding fiber in<br />
order to ensure the propagation of bright solitons, Optical Fibers<br />
and Their Applications 2011, edited by Jan Dorosz, Ryszard S.<br />
Romaniuk, Proc. of SPIE Vol. 8010, 80100B1-8.<br />
[12] Press W.H. at all.: Numerical Recipes in Fortran 77, Cambridge<br />
University Press 1992, 104–107, 34–42.<br />
[13] Agrawal G.P.: Fiber-Optic Communication Systems, John Wiley<br />
& Sons, Third Edition, 2002, 7.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 61
Światłowody fotoniczne jako materiał na lasery<br />
światłowodowe ze zdefiniowanym stanem polaryzacji<br />
dr hab. Elżbieta Bereś-Pawlik 1 , prof. P.Wr. , mgr inż. Łukasz Sójka 1 , Michał Pilszak 1 ,<br />
Łukasz Pajewski 1 , dr hab. inż. Sławomir Sujecki 2 , dr Paweł Mergo 3 , mgr Krzysztof<br />
Poturaj 3 , mgr inż. Krzysztof Skorupski 3 , mgr inż. Jacek Klimek 3<br />
1<br />
Politechnika Wrocławska, <strong>Instytut</strong> Telekomunikacji, Teleinformatyki i Akustyki<br />
2<br />
University of Nottingham, George Green Institute for Electromagnetics Research, UK<br />
3<br />
Uniwersytet Marie Curie-Skłodowskiej, Pracownia Technologii Światłowodów, Lublin<br />
Lasery światłowodowe mają wiele zalet w porównaniu z półprzewodnikowymi,<br />
mają też więcej potencjalnych zastosowań w przemyśle<br />
i medycynie, w zastosowaniach, gdzie wymagane są wysokie<br />
wartości mocy wyjściowej sygnału lasera lub korzystne jest wyjście<br />
światłowodowe sygnału [1–3]. W ostatnich latach szczególnie interesujące<br />
wydają się być konstruowane lasery z wykorzystaniem<br />
włókien fotonicznych, utrzymujących polaryzację [4, 5]. W pracy<br />
zostaną przedstawione zagadnienia związane z uzyskaniem stabilnych<br />
sygnałów w laserach światłowodowych, także z możliwością<br />
przestrajania tych sygnałów w laserach światłowodowych pracy<br />
ciągłej, opartych na włóknach utrzymujących polaryzację PM (Polarization<br />
Maintaining), fotonicznych, PCF (Photonic Crystal Fiber),<br />
wytworzone w Pracowni Technologii Światłowodów UMCS.<br />
Światłowody fotoniczne domieszkowane<br />
jonami erbu i neodymu<br />
Poniżej przedstawiono przykładowe struktury światłowodów mikrostrukturalnych<br />
domieszkowanych jonami erbu PM-Er-PCF<br />
i neodymu HB-Nd-MOF, wytworzone w Pracowni Technologii<br />
Światłowodów. Światłowody te po wstępnych pomiarach i procesach<br />
optymalizacyjnych były wykorzystane w budowie laserów<br />
światłowodowych.<br />
Rys. 1. Przekrój włókna fotonicznego, domieszkowanego jonami<br />
erbu, PM-Er-PCF<br />
Fig. 1. Cross-section of the erbium ion doped photonic crystal fiber,<br />
PM-Er-PCF<br />
wiących strukturę fotoniczną) wokół domieszkowanego rdzenia.<br />
Rdzeń był wykonany konwencjonalną techniką MCVD uzupełnioną<br />
o proces domieszkowania na mokro jonami aktywnymi. Włókno<br />
przedstawione na rysunku 1 domieszkowano jonami erbu,<br />
a na rys. 2 jonami neodymu. Dodatkowo dla zabezpieczenia<br />
przed klasterowaniem jonów aktywnych oba włókna domieszkowano<br />
glinem. W celu umożliwienia zapisu siatek Bragga włókno<br />
przedstawione na rys. 1 domieszkowano germanem. Zwiększenie<br />
wartości współczynnika załamania, w domieszkowanym rdzeniu,<br />
skompensowano przez domieszkowanie fluorem. W konsekwencji<br />
średni współczynnik załamania rdzenia włókna przedstawionego<br />
na rysunku 1 jest zbliżony do wartości współczynnika załamania<br />
czystego szkła krzemionkowego. Światłowód przedstawiony<br />
na rys. 2 nie zawiera domieszek: germanu i fluoru. Średni współczynnik<br />
załamania rdzenia tego włókna jest nieznacznie wyższy<br />
od współczynnika załamania czystego szkła krzemionkowego.<br />
Pomiary absorpcji i emisji domieszkowanych<br />
włókien<br />
Kluczowymi parametrami niezbędnymi dla scharakteryzowania<br />
włókien domieszkowanych lantanowcami są przekroje czynne<br />
absorpcji i emisji. Widma absorpcyjne włókien mierzone były<br />
z wykorzystaniem źródła światła białego AQ4305 pracującego dla<br />
długości fali 400…1800 nm oraz analizatora spektrum optycznego<br />
ANDO AQ6370C. Do pomiaru wykorzystano 1,5 metrowy odcinek<br />
światłowodu domieszkowany jonami erbu oraz 5-metrowy<br />
odcinek światłowodu domieszkowanego jonami neodymu. Widma<br />
emisyjne mierzone były przy użyciu diody laserowej 980nm<br />
dla krótkiego odcinka włókna PM-Er-PCF oraz diody 808 nm dla<br />
krótkiego odcinka światłowodu HB-Nd-MOF i analizatora widma<br />
optycznego. Otrzymane widma absorpcyjne i emisyjne aproksymowane<br />
były sumami funkcji Gaussa.<br />
Widma przekrojów czynnych absorpcji otrzymane były zgodnie<br />
z teorią Ladenburga-Fuchbauera. Przykładowe obliczone<br />
przekroje czynne emisji są zaprezentowane na rys. 3 i 4 [6, 7].<br />
Rys. 2. Przekrój włókna fotonicznego domieszkowanego jonami neodymu<br />
HB-Nd-MOF<br />
Fig. 2. Cross-section of the neodymium ion doped photonic crystal<br />
fiber, HB-Nd-MOF<br />
Charakterystyki światłowodów PCF<br />
domieszkowanych jonami erbu i neodymu<br />
Włókna fotoniczne PM-Er-PCF i HB-Nd-MOF były wytworzone<br />
dobrze znaną i powszechnie wykorzystywaną metodą składania<br />
i wyciągania. Wykonano je przez umieszczenie kapilar (stano-<br />
Rys. 3. Przekrój czynny emisji światłowodu domieszkowanego jonami<br />
erbu<br />
Fig. 3. Emission cross- section of the erbium ion doped fiber<br />
62<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Na kolejnych rysunkach przedstawiono sygnały uzyskiwane<br />
z tego lasera: na rys. 7, sygnał jednofalowy o stałej wartości<br />
mocy, niezmiennej w czasie. Na rys. 8 przedstawiono widmo<br />
przestrajalne, uzyskane poprzez obrót polaryzatora wewnątrz<br />
wnęki lasera.<br />
Rys. 4. Przekrój czynny emisji dla włókna domieszkowanego jonami<br />
neodymu<br />
Fig. 4. Emission cross- section of the neodymium ion doped fiber<br />
Obliczenie całki pokrycia<br />
W celu znalezienia optymalnej długości włókna dla budowy lasera<br />
światłowodowego, przy znajomości parametrów przekrojów<br />
czynnych absorpcji i emisji należało obliczyć całkę pokrycia dla<br />
pompy i sygnału ze znajomości koncentracji jonów i czasów życia<br />
na poziomach energetycznych badanego pierwiastka. Wykonano<br />
odpowiednie obliczenia, a na rys. 5 zaprezentowano wynik, zależność<br />
całki pokrycia od długości fali dla światłowodu fotonicznego<br />
domieszkowanego jonami erbu oraz standardowego włókna<br />
jednomodowego domieszkowanego erbem.<br />
Rys. 7. Stabilność wyjściowego sygnału lasera w funkcji czasu. Pomiary<br />
wykonywano co 10 minut przez jedną godzinę<br />
Fig. 7. Stability of input laser signal in time function. Measurements<br />
were made in 10 minute intervals for one hour<br />
Rys. 5. Obliczona całka pokrycia w funkcji długości fali dla wybranych<br />
światłowodów<br />
Fig. 5. Calculated overlap factor for chosen fibers in wavelength function<br />
Budowa laserów światłowodowych<br />
Poniżej przedstawiono układ lasera światłowodowego z wykorzystaniem<br />
włókna fotonicznego domieszkowanego jonami erbu<br />
(rys. 6).<br />
Rys. 6. Układ lasera pierścieniowego z polaryzatorem umieszczonym<br />
wewnątrz rezonatora<br />
Fig. 6. Set-up ring laser with polarizer inside resonator<br />
Rys. 8. Przestrajanie sygnału wyjściowego lasera<br />
Fig. 8. Tuned output laser spectrum<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 63
a po ich zakończeniu zbudowano lasery światłowodowe z wykorzystaniem<br />
tych włókien. Prezentowane lasery charakteryzowały<br />
się bardzo dobrą stabilnością pracy. Dodatkowo pokazano,<br />
ze zastosowane włókna fotoniczne mają lepsze parametry<br />
konstrukcyjne niż tradycyjne, przy zastosowaniu w budowie laserów<br />
światłowodowych. Zaprezentowano przestrajanie widma<br />
wielofalowego w budowanych laserach. Określono możliwy do<br />
uzyskania zakres przestrajania widma badanych laserów światłowodowych.<br />
Literatura<br />
Rys. 9. Widmo laserowania wielofalowego uzyskane dla włókna domieszkowanego<br />
jonami neodymu<br />
Fig. 9. Multiwavelength laser action spectrum achieved for neodymium<br />
ion doped fiber<br />
Zbudowano laser światłowodowy typu liniowego z wykorzystaniem<br />
włókna fotonicznego, domieszkowanego neodymem. Widmo<br />
promieniowania wielofalowego przedstawiono na rys. 9.<br />
Podsumowanie<br />
W pracy przedstawiono włókna fotoniczne domieszkowane,<br />
o strukturach nieznanych w świecie. Prezentowane włókna wykorzystano<br />
do przeprowadzenia procedur optymalizacyjnych,<br />
[1] Yoon-Chan Jeong et all.: High-power air-clad large-mode-area<br />
photonic crystal fiber laser, Optics Express, Vol. 11, Issue 7, 2003,<br />
pp. 818–823.<br />
[2] Limpert J. et all.: Extended single-mode photonic crystal fiber lasers,<br />
Optics Express, Vol. 14, Issue 7, (2006), pp. 2715–2720.<br />
[3] Limpert J. et all.: High-power air-clad large-mode-area photonic crystal<br />
fiber laser, Optics Express, Vol. 11, Issue 7, (2003), pp. 818–823.<br />
[4] Kazunori Suzuki et all.: Optical properties of a low-loss polarizationmaintaining<br />
photonic crystal fiber, Optics Express, Vol. 9, Issue 13,<br />
2001, pp. 676–680.<br />
[5] Xumenig Liu et all.: Swichable and Tunable Multiwavelength Erbium-<br />
Doped Fiber Laser With Fiber Bragg Gratings and Photonic Crystal<br />
Fiber, IEEE Photonics Technology Letters, vol.17, No 8, 2005,<br />
pp. 1626–1628.<br />
[6] Sojka L. et all.: Polarization-Maintaining Erbium Doped Photonic<br />
Crystal Fiber, Laser Physics 22, <strong>2012</strong>, pp. 240–247.<br />
[7] Strek W. et all.: Optical properties of Nd 3+ doped silica fibers obtained<br />
by sol-gel method, Journal of Alloys and Compounds, 300, 2000,<br />
pp. 459–463.<br />
Technologia wytwarzania i pomiary absorpcji szkieł<br />
chalkogenidkowych domieszkowanych jonami ziem rzadkich<br />
mgr inż Łukasz Sójka 1,2 , prof. Elżbieta Bereś-Pawlik 1 , dr Zhuogi Tang 2 ,<br />
dr David Furniss 2 , prof. Angela Beth Seddon 2 , prof. Trevor Mark Benson 2 ,<br />
dr hab. Sławomir Sujecki 2<br />
1<br />
Politechnika Wrocławska, <strong>Instytut</strong> Telekomunikacji, Teleinformatyki i Akustyki,<br />
2<br />
University of Nottingham, George Green Institute for Electromagnetics Research,, University Park, UK<br />
Jednym z podstawowych problemów współczesnej fotoniki jest<br />
opracowanie efektywnych źródeł światła pracujących w zakresie<br />
średniej podczerwieni. Potencjalne źródła światła pracujące<br />
w tym zakresie mogą znaleźć wiele zastosowanie w branży medycznej<br />
oraz czujnikowej.<br />
Źródła pracujące w tym zakresie powinny się charakteryzować<br />
prostą konstrukcją, wysoką efektywnością, niezawodnością,<br />
przystępną ceną, dobrą jakością wiązki wyjściowej.<br />
Jednym z urządzeń, które spełniają te wymagania są lasery<br />
światłowodowe [1–3]. Sygnały generowane przez obecnie lasery<br />
światłowodowe oparte na szkle krzemionkowym oraz fluorkowym<br />
mogą pokryć zakres długości fali do około 3 µm. Barierą<br />
technologiczną która blokuje konstrukcje laserów światłowodowych<br />
powyżej 3 µm jest wysoka energia fononów szkła krzemionkowego<br />
(1100 cm -1 ) oraz szkła fluorkowego (560 cm -1 ) [4,<br />
5]. W celu osiągnięcia emisji powyżej 3 µm potrzebne jest szkło<br />
charakteryzujące się niską energią fononów. Jednym z materiałów<br />
który może spełnić to wymaganie jest szkło chalkogenidkowe.<br />
Szkła te charakteryzują się niską energią fononów poniżej<br />
400 cm -1 co predysponuje je do osiągnięcia emisji powyżej<br />
3 µm [6–9].<br />
Szkła chalkogenidkowe są to szkła oparte na materiałach z 16<br />
grupy układu okresowego pierwiastków tj. S (siarka), Se (Selen)<br />
oraz Te (Tellur), elementy te wraz z elementami z 14 oraz 15 grupy<br />
układu okresowego tj Ge (German), As (Arsen), Sb (Antymon),<br />
64<br />
Ga (Gal) tworzą stabilne szkła optyczne. Najprostsze dwuskładnikowe<br />
konfiguracje szkieł chalkogenidkowych to np. AsS oraz<br />
AsSe. Bardziej skomplikowane kilku składnikowe konfiguracje to<br />
np. GeAsS, GeAsSe, GeAsTe oraz GeGaAsSe. Generalny zakres<br />
transmisji dla szkieł opartych na S (Siarce) to 0,7…10 µm,<br />
na Se (Selenie) 1…16 µm oraz na Te (Tellurze) 2…20 µm. Oczywiście<br />
zakres transmisji może ulec zmianie w zależności od ostatecznego<br />
składu szkła.<br />
W pracy przeanalizujemy wyniki dla szkła domieszkowanego<br />
jonami ziem rzadkich (Dy 3+ , Pr 3+ , Tb 3+ ) o składzie GeGaAsSe.<br />
Konfiguracja ta została wybrana na drodze eksperymentalnej.<br />
Dodatek trójwartościowego Ga (Galu) znacznie zwiększa możliwość<br />
domieszkowania jonami ziem rzadkich.<br />
Domieszkowane szkła chalgodenidkowe charakteryzują się<br />
wysokimi wartościami przekrojów czynnych absorpcji oraz emisji,<br />
transparentnością dla pompy oraz sygnału, odpowiednio długimi<br />
czasami życia poziomów energetycznych, szerokim zakresem<br />
absorpcji oraz emisji i dużymi wartościami współczynników rozgałęzienia<br />
fotoluminescencji (Beta). Te czynniki predysponują<br />
je jako dobry materiał do konstrukcji laserów światłowodowych<br />
w zakresie średniej podczerwieni [6–9].<br />
W artykule przeanalizujemy również wyniki eksperymentalne<br />
uzyskane z szkieł chalkogenidkowych (GeGaAsSe) domieszkowanych<br />
jonami Dy 3+ , Pr 3+ , Tb 3+ . Zaprezentujemy możliwość<br />
uzyskania efektywnej akcji laserowej dla tych szkieł.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Technologia wytwarzania szkieł<br />
chalkogenidkowych<br />
Szkła GeGaAsSe o różnym stopniu domieszkowania (500,1000,<br />
1500 ppm) jonami Dy 3+ , Pr 3+ , Tb 3+ zostały wytworzone za pomocą<br />
techniki „melting-quenching”. Proces przygotowania szkieł<br />
odbywał się w obojętnej azotowej atmosferze przy śladowych<br />
ilościach tlenu oraz wody (≤ 0,1 ppm O 2<br />
, ≤ 0,1 ppm H 2<br />
O;).<br />
Wszystkie składniki używane do produkcji szkła były to składniki<br />
najwyższej czystości. Se oraz As były także dodatkowo<br />
oczyszczane przed procesem przygotowania szkła. Przykładowy<br />
walec szklany domieszkowany 500 ppm Pr 3+ został pokazany<br />
na rys. 1.<br />
współczynnik absorpcji/cm -1<br />
2.2<br />
2.0<br />
1.8<br />
1.6<br />
1.4<br />
1.2<br />
1.0<br />
1.0x10 -6 2.0x10 -6 3.0x10 -6 4.0x10 -6 5.0x10 -6 6.0x10 -6 7.0x10 -6<br />
długość fali/m<br />
Rys. 2. Absorpcja 1000 ppm Pr 3+ z wyznaczoną linią bazową<br />
Fig. 2. Absorption spectrum of Pr 3+ with the baseline<br />
1.0<br />
0.8<br />
Rys. 1. Domieszkowany jonami Pr 3+ walec szkła chalkogenidkowego<br />
Fig. 1. Praseodymium doped chalcogenide glass rod bulk sample<br />
Charakterystyka parametrów absorpcyjnych<br />
W celu przygotowania próbek do pomiarów spektrometrem typu<br />
FTIR (Spektroskopia Fourierowska w zakresie podczerwieni)<br />
z wytworzonych walców szklanych zostały wycięte 3 mm dyski<br />
szklane. Wycięty dysk szklany został poddany szlifowaniu oraz<br />
polerowaniu. Tak przygotowane próbki używane były do pomiarów<br />
spektroskopowych w zakresie 0,6…10 µm. Do pomiarów został<br />
użyty spektrometr Bruker IFS 66/S, źródło szeroko pasmowe<br />
typu Glovbar, pryzmat światło dzielący KBr oraz szerokopasmowy<br />
detektor typu DTGS.<br />
Wyniki eksperymentalne<br />
Opierając się na wynikach pomiaru absorpcji oraz obliczając<br />
wartości pól w obszarze pików absorpcyjnych mogą zostać wyznaczone<br />
parametry spektroskopowe domieszkowanych szkieł<br />
za pomocą analizy Judd-Ofelta. W celu minimalizacji błędów<br />
obliczenia obszarów pól absorpcyjnych, wyniki absorpcji otrzymane<br />
przy wykorzystaniu spektroskopu FTIR, zostały skorygowane<br />
o tak zwane linie bazowe. Linie bazowe wyznaczono<br />
przez wybranie około 40 punktów z pomierzonego spektrum<br />
absorpcyjnego, następnie wyznaczano przebieg funkcji, przechodzących<br />
przez wybrane punkty i aproksymowanych za pomocą<br />
wielomianów.<br />
Przykład tej procedury pokazano na rys. 2 i 3. Rysunek 2 jest<br />
to wynik pomiarów otrzymanych bezpośrednio z FTIR, czerwona<br />
linia symbolizuje linię bazową wyznaczoną dla tych pomiarów.<br />
Rysunek 3 otrzymano przez odjęcie wartości linii bazowej od rzeczywistych<br />
pomiarów. Procedura opisana powyżej jest kluczowa<br />
dla dokładności analizy Judd-Ofelta, ponieważ źle dobrana linia<br />
bazowa daje błędne wyniki pól pod krzywymi absorpcyjnymi od<br />
których zależą wyniki analizy Judd-Ofelta.<br />
Wyniki pomiarów absorpcji dla próbek domieszkowanych<br />
1000 ppm Dy 3+ , Pr 3+ oraz Tb 3+ zostały zaprezentowane kolejno<br />
na rys. 4, 5, 6.<br />
współczynnik absorpcji/cm -1<br />
współczynnik absorpcji/cm -1<br />
0.6<br />
0.4<br />
0.2<br />
0.0<br />
0.8<br />
0.6<br />
0.4<br />
0.2<br />
0.0<br />
1.0x10 -6 2.0x10 -6 3.0x10 -6 4.0x10 -6 5.0x10 -6 6.0x10 -6<br />
długość fali/m<br />
Rys. 3. Absorpcja 1000 ppm Pr 3+ po odjęciu lini bazowej<br />
Fig. 3. Absorption spectrum of 1000 ppm Pr 3+ after subtraction the<br />
baseline<br />
1.0x10 -6 2.0x10 -6 3.0x10 -6 4.0x10 -6<br />
długość fali/m<br />
Rys. 4. Spektrum absorpcyjne szkła chalkogenidkowego domieszkowanego<br />
1000 ppm Dy 3+<br />
Fig. 4. Absorption spectrum chalcogenide glass doped with 1000<br />
ppm Dy 3+<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 65
1.0<br />
0.30<br />
współczynnik absorpcji/cm -1<br />
0.8<br />
0.6<br />
0.4<br />
0.2<br />
współczynnik absorpcji/cm -1<br />
0.25<br />
0.20<br />
0.15<br />
0.10<br />
0.05<br />
0.0<br />
2.0x10 -6 4.0x10 -6 6.0x10 -6<br />
długość fali/m<br />
0.00<br />
1.0x10 -6 2.0x10 -6 3.0x10 -6 4.0x10 -6 5.0x10 -6 6.0x10 -6<br />
długość fali/m<br />
Rys. 5. Spektrum absorpcyjne szkła chalkogenidkowego domieszkowanego<br />
1000 ppm Pr 3+<br />
Fig. 5. Absorption spectrum chalcogenide glass doped with 1000<br />
ppm Pr 3+<br />
Obliczone parametry Judd-Ofelta dla szkieł chalkogenidkowych<br />
domieszkowanych jonami ziem rzadkich Dy 3+ , Pr 3+ oraz Tb 3+<br />
zostały zaprezentowane w tabeli.<br />
Obliczone parametry Judd-Ofelta dla szkła typu Ge 16.5<br />
As 16<br />
Ga 3<br />
Se 64.5<br />
, domieszkowanego<br />
jonami Dy 3+ , Pr 3+ oraz Tb 3+<br />
Calculated Judd-Ofelt parameters for Ge 16.5<br />
As 16<br />
Ga 3<br />
Se 64.5<br />
glass doped with<br />
Dy 3+ , Pr 3+ and Tb 3+<br />
Ω 2<br />
(10 -20 cm 2 ) Ω 4<br />
(10 -20 cm 2 ) Ω 6<br />
(10 -20 cm 2 )<br />
Dy 3+ 8,59 2,23 2,19<br />
Pr 3+ 9,77<br />
Tb 3+ 7,63<br />
6,10<br />
5,79<br />
6,73<br />
2,21<br />
Analizując uzyskane wyniki pomiarów absorpcji możemy<br />
stwierdzić że szkła chalkogenidkowe charakteryzują się szerokimi<br />
oraz wysokimi pikami absorpcyjnymi z zakresu bliskiej podczerwieni<br />
oraz średniej podczerwieni. Na podstawie tych wyników<br />
można stwierdzić, że pasma absorpcyjne znajdujące się w zakresie<br />
bliskiej podczerwieni mogą być wykorzystane do pompowania<br />
optycznego za pomocą szeroko dostępnych diod laserowych<br />
oraz laserów na ciele stałym. Silne pasma absorpcyjne znajdujące<br />
się w zakresie średniej podczerwieni sugerują, że istnieje<br />
także możliwość emisji w tym zakresie, ponieważ procesy emisji<br />
oraz absorpcji są proporcjonalne.<br />
Rys. 6. Spektrum absorpcyjne szkła chalkogenidkowego domieszkowanego<br />
1000 ppm Tb 3+<br />
Fig. 6. Absorption spectrum of chalcogenide glass doped with1000<br />
ppm Tb 3+<br />
Podsumowanie<br />
Wytworzone zostały domieszkowane szkła chalkogenidkowe. Została<br />
przeprowadzona optyczna charakteryzacja za pomocą spektroskopu<br />
FTIR. Na podstawie uzyskanych wyników zostały obliczone<br />
parametry Judd-Ofelta. Wyniki eksperymentu oraz obliczone<br />
parametry Judd-Ofelta sugerują że domieszkowane szkła chalkogenidkowe<br />
mogą być dobrym kandydatem do konstrukcji laserów<br />
światłowodowych pracujących w zakresie średniej podczerwieni.<br />
Literatura<br />
[1] Wójcik J. i in.: Światłowody fotoniczne ze szkła kwarcowego domieszkowane<br />
pierwiastkami ziem rzadkich, Przegląd Elektrotechniczny 86,<br />
2010, 140–142.<br />
[2] Dominik D. i in.: Światłowody aktywne ze szkieł fosforowych, <strong>Elektronika</strong><br />
49, 2008, 98–101.<br />
[3] Pichola W. i in.: Układ zasilania i sterowania impulsowej diody laserowej<br />
z rozłożonym sprzężeniem zwrotnym pracującej w paśmie<br />
widmowym bezpiecznym dla wzroku, <strong>Elektronika</strong>, 53, <strong>2012</strong>, 77–80.<br />
[4] Klimczak M. i in.: Badanie emisji krótkofalowej w domieszkowanych<br />
jonami Nd3+ szkłach niskofononowych, <strong>Elektronika</strong>, 49, 2008 52–56.<br />
[5] Wójcik J.: Technologia włókien fotonicznych z zawieszonym rdzeniem<br />
do konstrukcji czujników światłowodowych, <strong>Elektronika</strong> 49, 2008,<br />
224–226.<br />
[6] Seddon A.B et all.: Progress in rare-earth mid-infrared fiber laser,<br />
Opt. Exp. 18, 2010, 26704.<br />
[7] Show L. B. et all.: Mid-wave IR and long-wave IR laser potential of<br />
rare-earth doped chalcogenide glass fiber, IEEE J. Quantum. Electron,<br />
37, 2001, 1127.<br />
[8] Sujecki S. et all.: Modelling of a simple Dy3+ doped chalcogenide<br />
glass fiber for mid-infrared light generation, Opt. Quantum Electron,<br />
42, 2010, 69.<br />
[9] Sójka Ł. et all.: Study of mid-infrared laser action in chalcogenide<br />
rare-earth doped glass with Dy3+, Pr3+ and Tb3+, Opt. Mater. Express<br />
2, <strong>2012</strong>, 1632–1640.<br />
Przypominamy o prenumeracie miesięcznika <strong>Elektronika</strong> na 2013 r.<br />
66<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Światłowodowy czujnik siły bazujący na interferometrze<br />
Sagnaca z dwójłomnym światłowodem fotonicznym<br />
dr inż. Cezary Kaczmarek<br />
Politechnika Lubelska, <strong>Instytut</strong> Elektroniki i Technik Informacyjnych<br />
Interferometr Sagnaca zawierający odcinek światłowodu dwójłomnego<br />
ma wiele właściwości, które czynią go podzespołem<br />
o szerokim zastosowaniu zarówno w telekomunikacji jak<br />
i w sensoryce światłowodowej. Jedną z tych właściwości jest<br />
niezależność od polaryzacji wejściowej wiązki światła. Inną jest<br />
periodyczność widma wiązki wyjściowej i odbitej interferometru,<br />
którego okres zależy od długości odcinka światłowodu dwójłomnego,<br />
a nie od długości pętli. Interferometr Sagnaca ze światłowodem<br />
dwójłomnym jest wykorzystywany w telekomunikacji<br />
optycznej jako filtr WDM [1]. W sensoryce podzespół ten ma<br />
zastosowanie jako czujnik wielu wielkości fizycznych i chemicznych<br />
[2, 3] oraz jako dyskryminator długości fali dla czujników<br />
z siatkami Bragga [4].<br />
Zastosowanie w interferometrze Sagnaca dwójłomnego<br />
światłowodu fotonicznego zamiast konwencjonalnego światłowodu<br />
dwójłomnego, radykalnie poprawia parametry metrologiczne<br />
i użytkowe tego podzespołu. Ta poprawa wynika z właściwości<br />
dwójłomnych światłowodów fotonicznich, głównie<br />
bardzo małego wpływu zmian temperatury i znacząco większej<br />
dwójłomności modowej w porównaniu z konwencjonalnymi<br />
światłowodami dwójłomnymi. Dla interferometru ze światłowodem<br />
dwójłomnym produkowanego przez Blaze-Photonics<br />
zmiany okresu widma pod wpływem zmian temperatury wynoszą<br />
0,05 pm/K, natomiast przesunięcie widma pod wpływem<br />
zmian temperatury wynosi 0,25...0,3 pm/K [5, 6]. Duża wartość<br />
dwójłomności światłowodów fotonicznych pozwala znacząco<br />
zredukować ich wymaganą długość w czujnikach z interferometrem<br />
Sagnaca.<br />
W artykule przedstawiono czujnik siły o zakresie 0...50 N,<br />
w układzie interferometru Sagnaca z dwójłomnym światłowodem<br />
fotonicznym typu PM-1550-01 wyprodukowanym przez Blaze-Photonics.<br />
Zmierzona czułość wykonanego czujnika wynosi<br />
33 pm/N.<br />
Układ optyczny i sposób działania czujnika<br />
Na rysunkach 1 i 2 przedstawiono układ optyczny czujnika,<br />
sposób instalacji światłowodu fotonicznego i fotografię jego<br />
przekroju poprzecznego. Układ optyczny czujnika zawiera<br />
3-decybelowy sprzęgacz wykonany z konwencjonalnego<br />
światłowodu telekomunikacyjnego, odcinek utrzymującego<br />
polaryzację światłowodu fotonicznego PM-PCF oraz kontroler<br />
polaryzacji. Sprzęgacz 3 dB dzieli wejściową wiązkę światła<br />
na dwie równe amplitudowo wiązki propagujące w przeciwnych<br />
kierunkach. Wiązki te, po przejściu pętli, w tym światłowodu<br />
dwójłomnego, rekombinują w sprzęgaczu, tworząc obraz interferencyjny<br />
zależny od różnicy faz modów polaryzacji powstałych<br />
w odcinku PM-PCF. Elementem sprężystym czujnika jest<br />
Rys. 1. Czujnik siły: układ optyczny i przekrój poprzeczny dwójłomnego<br />
światłowodu fotonicznego PM-1550-01<br />
Fig. 1. Force sensor: optical configuration and cross section of the<br />
PM-1550-01 PM-PCF<br />
Rys. 2. Czujnik siły: sposób mocowania światłowodu<br />
Fig. 2. Force sensor: method of fixing the fiber<br />
jednostronnie utwierdzona belka o stałej wytrzymałości, której<br />
swobodny koniec przejmuje mierzoną siłę.<br />
Odcinek światłowodu PM-PCF jest przymocowany jednym końcem<br />
do górnej powierzchni mocowania belki, a drugim końcem do<br />
punktu belki w pobliżu jej końca przejmującego mierzona siłę. Mie-<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 67
zona siła wywołuje sprężyste ugięcie belki i w konsekwencji odkształcenie<br />
rozciągające światłowodu. Proponowane mocowanie<br />
światłowodu zapewnia kilkakrotnie większą czułość przetwarzania<br />
siły, w porównaniu z tradycyjnym jego mocowaniem na powierzchni<br />
belki oraz pozwala na stosownie również belek o jednakowej<br />
szerokości jako elementów sprężystych w tych czujnikach.<br />
Współczynnik transmisji T(λ) pętli Sagnaca ze światłowodem<br />
przenoszącym polaryzację jest periodyczną funkcją długości fali,<br />
daną wzorem [7]:<br />
T λ = 1−<br />
cos δ /<br />
(1)<br />
gdzie δ jest różnicą faz składowych polaryzacji propagujących<br />
w światłowodzie przenoszącym polaryzację o długości L, którą<br />
określa zależność δ = (2π/λ) B L, przy czym B i λ oznaczają odpowiednio<br />
modową dwójłomność fazową i długość fali.<br />
Okres funkcji T(λ) odpowiadający zmianie różnicy faz składowych<br />
polaryzacji równej δ = 2π określa zależność:<br />
2<br />
λ<br />
∆λ<br />
=<br />
(2)<br />
GL<br />
gdzie G oznacza modową dwójłomność grupową.<br />
Zmianę fazy δ powodowaną odkształceniem ε odcinka światłowodu<br />
PM-PCF można zapisać w postaci wzoru:<br />
2π<br />
∆δ<br />
= ( ∆L<br />
⋅ B + L ⋅ ∆B)<br />
(3)<br />
λ<br />
gdzie ΔL = εL. Ta zmiana fazy wywołuje przesunięcie widma T(λ),<br />
przy czym przesunięcie to wyniesie pełny okres, gdy:<br />
π<br />
2π<br />
= 2 ( ∆L<br />
⋅ B + L ⋅ ∆B)<br />
(4)<br />
λ<br />
Przesunięcie widma wywołane odkształceniem światłowodu<br />
dwójłomnego można zapisać na podstawie równania (4) w postaci<br />
relacji:<br />
L ⋅ ∆λ<br />
⎛ dB ⎞<br />
dλ<br />
= ⎜ B + ⎟ε<br />
λ ⎝ dε ⎠ (5)<br />
Odkształcenie światłowodu dwójłomnego zainstalowanego<br />
w czujniku siły można wyznaczyć na podstawie następujących<br />
zależności obowiązujących dla belki o jednakowej wytrzymałości.<br />
Dla belki o długości l, grubości h oraz szerokości b utwierdzonego<br />
końca, strzałkę ugięcia belki pod wpływem działania siły skupionej<br />
na jej swobodny koniec opisuje zależność [8]:<br />
3<br />
6l<br />
f =<br />
3<br />
(6)<br />
bh E<br />
gdzie E oznacza moduł Younga materiału belki. Równanie linii<br />
ugięcia belki dane jest wzorem:<br />
2<br />
⎛ 2x<br />
x ⎞<br />
y = f ⎜ ⎟<br />
1−<br />
+<br />
2<br />
(7)<br />
⎝ l l ⎠<br />
Dla ustalonej wartości x ugięcie belki y można zapisać w postaci:<br />
<br />
y<br />
1<br />
= af<br />
(8)<br />
gdzie a jest liczbą. Wydłużenie światłowodu wywołane ugięciem<br />
belki w punkcie jego mocowania wynosi:<br />
<br />
∆l<br />
= y<br />
(9)<br />
1<br />
sin α<br />
gdzie α jest kątem pomiędzy światłowodem a belką. Zatem<br />
odkształcenie światłowodu po uwzględnieniu (6), (8) i (9) wynosi:<br />
68<br />
( ) [ ( )] 2<br />
∆L<br />
6al<br />
3 sin α<br />
ε = = F<br />
(10)<br />
2<br />
L bELh<br />
Uwzględniając zależność (10) wyrażenie (5) przyjmuje postać:<br />
<br />
(11)<br />
Na podstawie relacji (11) można wyznaczyć zależność na czułość<br />
czujnika odkształcenia K f<br />
= dλ/dF<br />
<br />
L ⋅ ∆λ<br />
⎛ dB ⎞ 6al<br />
3 sin α<br />
λ = ⎜ B + ⎟ F<br />
λ ⎝ dε ⎠ bELh<br />
d<br />
2<br />
dλ<br />
dF<br />
L ⋅ ∆λ<br />
⎛ dB ⎞ 6al<br />
3 sin α<br />
= ⎜ B + ⎟<br />
2<br />
λ ⎝ dε ⎠ bELh<br />
(12)<br />
Z zależności (12) wynika, że dla niewielkich zmian długości<br />
fali, czułości oraz małego kąta α, K f<br />
można traktować jako<br />
stałą. Równanie przetwarzania czujnika siły można zapisać<br />
w postaci:<br />
λ λ + K F<br />
(13)<br />
= 0<br />
gdzie λ 0<br />
oznacza długość fali dla czujnika nie obciążonego.<br />
Do budowy czujnika wykorzystano odcinek dwójłomnego<br />
światłowodu fotonicznego PM-1550-01 o długości 350 mm.<br />
Światłowód ten ma nie cylindryczny rdzeń otoczony otowrami<br />
z powietrzem, z których dwa przy rdzeniu mają średnice większe<br />
od pozostałych. Przekrój światłowodu pokazano na fotografii zamieszczonej<br />
na rys 1.<br />
Podstawowe parametry tego światłowodu są następujące:<br />
rozmiary pól modowych wynoszą 3,6 μm na 3,1 μm, grupowa<br />
dwójłomność modowa dla długości fali 1,55 μm wynosi<br />
8,65×10 -4 , średnica światłowodu 125 μm, średnica pokrycia<br />
230 μm. Odcinek światłowodu PM-PCF został połączony<br />
z resztą układu przy pomocy złączy spawanych. Do spawania<br />
zastosowano konwencjonalną spawarkę wykorzystującą łuk<br />
elektryczny.<br />
Ze względu na niedopasowanie pól modowych i apertur numerycznych<br />
jednomodowego światłowodu SMF-28 i światłowodu<br />
PM-1550-01, starty na spawanych złączach są duże i wynoszą<br />
na dwóch złączach ≈ 6 dB. Straty te można zmniejszyć optymalizując<br />
proces spawania. Tak znaczne straty w układzie optycznym<br />
czujnika nie wpływają na jego dokładność przetwarzania<br />
ze względu na to, że sygnałem wyjściowym tego czujnika jest<br />
długość fali. Jako źródło światła w czujniku zastosowano diodę<br />
elektroluminescencyjną o centralnej długości fali 1522 nm, 3 dB<br />
paśmie 60 nm i nie spolaryzowanej wiązce wyjściowej. Pomiar<br />
widma wiązki transmitowanej czujnika wykonano analizatorem<br />
widma optycznego.<br />
Pomiary charakterystyk czujnika<br />
Pomiary charakterystyk czujnika przeprowadzono w układzie<br />
przedstawionym na rysunku 1. Zadawanie siły statycznej wykonywano<br />
przez obciążanie czujnika odważnikami o znanej<br />
masie. Zmiany widma wiązki wyjściowej czujnika pod wpływem<br />
obciążania go siłami o różnych wartościach przedstawiono na<br />
rysunku 3.<br />
Wzrost siły działającej na czujnik powoduje przesunięcie<br />
jego widma w kierunku dłuższych fal. Wyznaczone z pomiarów<br />
charakterystyki czujnika dla dwóch różnych wartości początkowej<br />
długości fali, za które przyjęto dwa sąsiednie minima widma<br />
czujnika, przedstawiono na rys. 4. Czułości czujnika, uzyskane<br />
F ⋅<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys. 3. Widmo wiązki wyjściowej czujnika przy działaniu na niego sił<br />
o różnych wartościach<br />
Fig. 3. Spectrum of the output beam of the sensor, when forces of<br />
different values are acting on it<br />
na podstawie liniowej aproksymacji wyników pomiarów, wynoszą<br />
odpowiednio K F<br />
= 33,04 pm/N dla λ 0<br />
= 1532,080 nm oraz<br />
K F<br />
= 33,19 pm/N dla λ 0<br />
= 1540,000 nm. Wyznaczone czułości,<br />
odniesione do odcinka światłowodu fotonicznego o długości<br />
jednego metra, wynoszą odpowiednio K F<br />
= 94,4 pm/N·m oraz<br />
K F<br />
= 94,82 pm/N·m.<br />
W warunkach laboratoryjnych nie stwierdza się wpływu zmian<br />
środowiska na charakterystyki czujnika. Wynika to z bardzo małej<br />
czułości temperaturowej światłowodu fotonicznego PM-PCF.<br />
Czułość temperaturowa interferometru Sagnaca ze światłowodem<br />
PM-1550-01 wynosi 0,25...03 pm/K [5, 6]. Zatem zmiany<br />
temperatury otoczenia o 20 K wywołują przesunięcie widma<br />
wiązki wyjściowej czujnika o 5...6 pm, co powoduje błąd pomiaru<br />
mniejszy niż 0,4% odniesiony do zakresu pomiarowego.<br />
Wnioski<br />
Z przeprowadzonych pomiarów wynika, że proponowany czujnik<br />
siły charakteryzuje się dużą czułością przetwarzania i bardzo dobrą<br />
stabilnością temperaturową. Poza tym, ze względu na prosty<br />
układ optyczny i mechaniczny oraz częstotliwościowy sygnał wyjściowy,<br />
może on znaleźć zastosowanie w zadaniach miernictwa<br />
sił i ważenia w procesach technologicznych o dużych zagrożeniach<br />
wybuchowych.<br />
Literatura<br />
Rys. 4. Charakterystyki czujnika dla dwóch różnych wartości początkowej<br />
długości fali<br />
Fig. 4. Conversion curves of the sensor for two different values of the<br />
initial wavelength<br />
[1] Libatique N. Jain R.: A broadly tunable wavelength-selectable WDM<br />
source using a fiber Sagnac loop filter, IEEE Photonics Technology<br />
Letters 11, No.12, 2001, 1283–1285.<br />
[2] Frazzao O., Baptista J., Santos J.: Recent advances in high-birefringence<br />
fiber loop mirror sensors, Sensors, No 7, 2007, 2970–2983.<br />
[3] Kaczmarek C.: Światłowodowy czujnik odkształcenia bazujący na<br />
interferometrze Sagnaca z dwójłomnym światłowodem fotonicznym,<br />
COE <strong>2012</strong>, Karpacz, przyjęty na konferencję.<br />
[4] Kaczmarek C.: Optical wavelength discriminator based on a Sagnac<br />
loop with a birefringent fiber, Electrical Review 87, No.10, 2011,<br />
325–327<br />
[5] Zhao Ch., in.: Temperature- insensitive interferometer using a highly<br />
birefringent photonic crystal fiber loop mirror. Photonics Technology<br />
Letters 16, No. 11 2004, 1535–1537.<br />
[6] Kim D., Kang J.: Sagnac loop interferometer based on polarization<br />
maintaining photonic crystal fiber with reduced temperature sensitivity,<br />
Optics Express 12, No. 19, 2004, 4490–4494.<br />
[7] Fang X., Claus R.: Polarization-independent fiber wavelength division<br />
multiplexer based o Sagnac interferometer, Optics Letters 20,<br />
No. 20, 1995, 2146–2148.<br />
[8] Roliński Z.: Tensometria oporowa. Podstawy teoretyczne i przykłady<br />
zastosowań. WNT, Warszawa 1981.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 69
Sprzętowy generator kluczy kryptograficznych<br />
dedykowany dla systemów pomiarowo-sterujących<br />
o asymetrycznych zasobach<br />
mgr inż. Paweł CZERNIK, Bumar <strong>Elektronika</strong> SA Warszawa<br />
Termin Rozproszone, Bezprzewodowe Systemy Pomiarowo-Sterujące<br />
o asymetrycznych zasobach odnosi się do sieci tworzonych<br />
w trybie ad hoc przez nieduże, autonomiczne urządzenia nazywane<br />
węzłami pomiarowo-sterującymi, które oprócz funkcji komunikacyjnych<br />
realizują funkcje pomiarowe, przetwarzania, a często także<br />
funkcje wykonawcze. Komunikacja w sieci odbywa się za pomocą<br />
fal radiowych (lub innej bezprzewodowej techniki transmisyjnej).<br />
Węzły poza elementami pomiarowymi, są wyposażone w niewielki<br />
mikrokontroler, pamięć, moduł radiowy oraz źródło zasilania. Ponieważ<br />
najczęściej są one zasilane bateryjnie, ich zasoby bywają<br />
znacznie ograniczone. Zastosowanie tych systemów nieustannie<br />
się poszerza. Urządzenia takie mogą być instalowane nie tylko na<br />
ziemi, ale też w wodzie i powietrzu. Bezpieczeństwo w większym<br />
lub mniejszym stopniu jest w zasadzie istotne we wszystkich rodzajach<br />
sieci. Ale biorąc pod uwagę, jak dużym ograniczeniom<br />
podlegają analizowane systemy pomiarowe, staje się oczywiste,<br />
że zapewnienie go w tego typu sieciach stanowi szczególnie trudne<br />
wyzwanie. Ograniczenia węzłów są konsekwencją wymagań co<br />
do ich rozmiarów, kosztów produkcji, lokalizacji, a przede wszystkim<br />
tego, aby stanowiły one autonomiczne terminale.<br />
Sygnały chaotyczne posiadają cechy w sposób znaczący odróżniające<br />
je od sygnałów używanych powszechnie do komunikacji<br />
w bezprzewodowych systemach pomiarowo-sterujących. Najistotniejszą<br />
cechą sygnału chaotycznego jest wrażliwość na warunki<br />
początkowe. Wrażliwość tą można utożsamić z tzw. „efektem motyla”,<br />
czyli zjawiskiem zachodzącym w tych układach, w których<br />
nawet niewielka zmiana warunków początkowych prowadzi do<br />
diametralnie różnych zachowań układu. Przy skończonej dokładności<br />
pomiaru bardzo trudno przewidzieć wartości sygnału w chwili<br />
odległej (zarówno w przyszłości, jak i w przeszłości) o pewien<br />
horyzont czasowy od momentu wykonania pomiaru. Odmienne<br />
właściwości tego typu przebiegu elektrycznego przekładają się na<br />
szereg potencjalnych korzyści, jakie powinno przynieść jego zastosowanie<br />
do rozproszonych systemów pomiarowo-sterujących.<br />
Są to m. in.: niskie prawdopodobieństwo detekcji (przechwycenia)<br />
transmisji, lepsze wykorzystanie pasma, odporność na błędy wynikłe<br />
na skutek propagacji wielodrogowej, mniejsza moc nadawania,<br />
możliwość transmisji koherentnej oraz prywatność komunikacji.<br />
Odpowiednio szerokie pasmo umożliwia transmisję poniżej poziomu<br />
szumu, a także w silnie zakłóconych kanałach komunikacyjnych.<br />
Aperiodyczność sygnału chaotycznego oznacza, że trudno<br />
zlokalizować wyższe prążki w widmie, co skutkuje niskim prawdopodobieństwem<br />
przechwycenia oraz sprawia, że sygnał taki ciężko<br />
jest zakłócić. Właściwości sygnału chaotycznego upodobniają<br />
go do losowego szumu. Wykorzystanie chaosu jest rozwiązaniem<br />
odmiennym oraz innowacyjnym zarówno w teorii przetwarzania<br />
sygnałów oraz kryptografii. Zagadnienie to wymaga opracowania<br />
nowych, specjalizowanych metodologii badań analitycznych oraz<br />
pomiarowych, bazującej na teorii w chaosu w układach dynamicznych.<br />
Do wytwarzania elektrycznych przebiegów chaotycznych<br />
konstruuje się generatory, wykorzystujące naturalne źródła szumu<br />
70<br />
(rezystory, diody), rejestry przesuwne lub nieliniowe systemy dynamiczne<br />
przejawiające chaotyczne zachowania. Jako generatory<br />
tego typu sygnałów wykorzystuje się m. in.: obwody RLC z nieliniową<br />
rezystancją oraz chaotyczne oscylatory LC. Celem artykułu jest<br />
przedstawienie zaprojektowanego oraz zrealizowanego generatora<br />
losowych dedykowanego dla systemów kryptograficznie bezpiecznych,<br />
rozproszonych systemów pomiarowych o asymetrycznych<br />
zasobach, jak również prezentacja i analiza uzyskanych wyników<br />
badań tego układu pod względem bezpieczeństwa kryptograficznego.<br />
Zakres pracy obejmuje także prezentację oprogramowanego<br />
autorskiego procesu akwizycji danych losowych z układu pomiarowego<br />
do komputera, poprzez specjalizowany oscyloskop cyfrowy.<br />
Generacja ciągów liczb losowych<br />
Bezpieczeństwo dzisiejszych systemów kryptograficznych jest<br />
ściśle związane z generacją pewnych nieprzewidywalnych wartości.<br />
Przykładem tutaj może być generacja klucza do szyfru „z kluczem<br />
jednorazowym” (ang. one-time pad), klucza do algorytmu<br />
DES, AES lub jakiegokolwiek innego szyfru symetrycznego, liczb<br />
pierwszych do algorytmu RSA i innych losowych wartości używanych<br />
w szyfrach asymetrycznych oraz przy tworzeniu podpisów<br />
cyfrowych, czy uwierzytelnieniu typu challenge-response.<br />
W kontekście generowania liczb losowych niezwykle istotnym<br />
pojęciem jest tzw. entropia (ang. entropy), odnosząca się do nieodłącznej<br />
„niepoznawalności” danych wejściowych dla obserwatorów<br />
zewnętrznych. W takim wypadku, jeżeli bajt danych jest prawdziwie<br />
losowy, wówczas każda z 2 8 (256) możliwości jest równie prawdopodobna<br />
i można oczekiwać, że napastnik podejmie 2 7 prób jego<br />
odgadnięcia, nim uda mu się poprawnie zidentyfikować wartość.<br />
W takim przypadku mówimy, że bajt zawiera 8 bitów entropii. Z drugiej<br />
strony, jeżeli osoba atakująca system kryptograficzny w pewien<br />
sposób odkryje, że bajt ma wartość parzystą, pozwoli jej to na<br />
zredukowanie liczby możliwych wartości do 2 7 (128) i w tym przypadku<br />
bajt posiada jedynie 7 bitów entropii. Możliwe jest wystąpienie<br />
entropii o wartościach ułamkowych. Jeżeli mamy jeden bit i istnieje<br />
25% prawdopodobieństwo, że będzie on miał wartość 0 oraz<br />
75%, że 1, włamywacz do systemu kryptograficznego ma większą<br />
szansę jej odgadnięcia niż w sytuacji, gdyby bit był całkowicie losowy.<br />
Jak ważną kwestią jest zapewnienie bezpieczeństwa systemu<br />
kryptograficznego opartego na produkcji entropii przez generator<br />
liczb losowych, powinien uświadomić następujący przykład. Stosujemy<br />
256-bitowe klucze algorytmu AES, jednak są one wybierane<br />
za pomocą generatora PRNG zainicjowanego 56 bitami entropii.<br />
Wówczas wszelkie dane zaszyfrowane za pomocą 256-bitowego<br />
klucza AES byłyby równie mało bezpieczne, jak w przypadku ich<br />
zaszyfrowania przy użyciu 56-bitowego klucza algorytmu DES.<br />
Niewystarczająca ilość entropii produkowanej przez generator<br />
liczb pseudolosowych jest częstym przypadkiem parktycznych nadużyć.<br />
Przykładem tego może być:. przeglądarka Netscape w 1995<br />
r, kiedy okazało się, że szyfrowanie tej przeglądarki może zostać<br />
łatwo złamane, ponieważ do szyfrowania kluczy 128-bitowych,<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
w których rzeczywista entropia wynosiła jedynie 47 bitów. Algorytm<br />
MIT-MAGIC-COOKIE używał generatora kluczy, który był inicjowany<br />
jedną z 256 wartości. W kartach zbliżeniowych (bezdotykowych)<br />
standardu Mifare Classic firmy Philips (wykorzystywanych m. in.<br />
systemie Warszawaskich Kart Miejskich), niewystarczająca ilość<br />
entropii generatora pozawala na atak przez „powtórzenie”.<br />
Generator liczb losowych (ang. random number generator) [2]<br />
jest to program komputerowy lub układ elektroniczny generujący<br />
liczby losowe. Ze względu na sposób generowania liczb losowych<br />
można wyróżnić dwa rodzaje stosowanych generatorów: sprzętowe<br />
(TRNG) działające na zasadzie ciągłego pomiaru procesu<br />
stochastycznego i programowe (PRNG).<br />
Generatory pseudolosowe<br />
Generator pseudolosowy [3] (PRNG) to deterministyczny algorytm,<br />
który mając daną sekwencję binarną długości k, daje<br />
w wyniku sekwencję binarną długości l >> k, która „wydaje się”<br />
być losowa. Ciąg wejściowy zwany jest zarodkiem (ang. seed).<br />
Liczby pochodzące z tego generatora zwane są liczbami pseudolosowymi,<br />
ponieważ faktycznie nie są dziełem przypadku, lecz<br />
wynikiem skomplikowanych procedur matematycznych. Programowe<br />
generowanie liczb prawdziwie losowych wymaga posłużenia<br />
się ciągłym strumieniem próbek uzyskanych ze świata<br />
zewnętrznego. Największą zaletą generatorów pseudolosowych<br />
jest ich szybkość, często też mają lepsze właściwości statystyczne<br />
niż generatory sprzętowe. Należy jednak zwrócić uwagę na<br />
fakt, że mając kontrolę lub znając wartości podawane na wejście<br />
generatora oraz jego stan wewnętrzny bez trudu można przewidzieć<br />
generowane przezeń liczby. Z tego powodu decydując się<br />
na zastosowanie w systemie kryptograficznym generatora liczb<br />
pseudolosowych należy zachować szczególną ostrożność przy<br />
doborze zarówno samego algorytmu, jak i sposobu inicjowania<br />
oraz rodzaju wartości podawanych na jego wejście.<br />
Generatory sprzętowe<br />
Olbrzymią zaletą generatora sprzętowego, szczególnie ważną<br />
w kryptografii, jest jego nieprzewidywalność, wynikająca z nieprzewidywalności<br />
samego procesu fizycznego. Dlatego też często<br />
w literaturze są one określane jako „prawdziwe” generatory<br />
liczb losowych (ang. True Random Number Generators, w skrócie<br />
TRNG). Najczęściej wykorzystywane procesy losowe to szum termiczny<br />
oraz rozpad pierwiastka promieniotwórczego, choć możliwe<br />
są również inne rozwiązania. W [4] można znaleźć opis różnych<br />
metod generowania ciągów prawdziwie losowych opartych<br />
m. in. na: pomiarze czasu spoczynku klawiatury, szumu termicznego<br />
diody półprzewodnikowej, rozpadu radioaktywnego, niestałości<br />
częstotliwości własnej oscylatora i ładunku gromadzonego<br />
w kondensatorze polowym w ustalonym czasie. Ciągi uzyskane<br />
z tych źródeł są zazwyczaj obarczone korelacją. Istnieją specjalne<br />
metody na usunięcie tej wady. Przy ich wykorzystywaniu<br />
należy pamiętać o wpływie środowiska zewnętrznego na jakość<br />
generacji. Odpowiednie urządzenia są produkowane przez różne<br />
firmy np. IBM, OMNISEC, SOPHOS.<br />
Generatory w systemach rozproszonych<br />
systemach pomiarowo-kontrolnych<br />
W rozważanych systemach wyłania się konieczność zastosowania<br />
programowej implementacji generatora liczb pseudolosowych<br />
o niewielskiej złożoności obliczeniowej. Taki sposób postępowania<br />
uzasadnia się uniwersalnością i przenośnością rozwiązania na niezliczoną<br />
gamę różnych typów węzłów. Z tego powodu generator ten<br />
powinien być możliwie minimalnych rozmiarów oraz masy. Powinien<br />
on umożliwić proste przyłączenie do istniejących już układów<br />
pomiarowych. Algorytm odbioru reprezentacji danych losowych<br />
oraz proces ich obróbki powinien być maksymalnie zoptymalizowany<br />
pod względem zapotrzebowania na moc obliczeniową oraz<br />
zajętość pamięci operacyjnej. Generator ten nie powinien wprowadzić<br />
istotnych zmian co do wymagań danego węzła pomiarowego<br />
zarówno pod względem mocy pobieranej ze źródła zasilania, jak<br />
i mocy obliczeniowej oraz zajętości pamięci operacyjnej.<br />
Układu generatora kluczy kryptograficznych<br />
Badany układ pomiarowy został zbudowany na bazie samodzielnie<br />
zaprojektowanego oscylatora Colpittsa. Oscylator ten został<br />
wcześniej przebadany na bazie symulacji w środowisku Ngspice.<br />
Wykonany układ pomiarowy generatora umożliwia bezpośrednie<br />
podłączenie do dowolnego komputera klasy PC poprzez port USB<br />
Host, za pośrednictwem specjalizowanego oscyloskopu cyfrowego.<br />
Oscyloskop ten musi być wyposażonego w interfejs USB Device<br />
oraz obsługiwać protokół komunikacyjny o nazwie: „Universal<br />
Serial Bus Test and Measurement Class” (w skrócie USBTMC).<br />
W związku z tym analizowany układ pomiarowy może zostać<br />
w dość prosty sposób poddany badaniom prawdziwej losowości<br />
na bazie zestawu testów stochastycznych, wchodzących w skład<br />
środowiska RDieHarder. Prawdziwa losowości rozumiana jest tu<br />
jako idealne losowy (wzorcowy) ciąg występujących po sobie wartości,<br />
poprawnie przechodzący wszystkie testy pakiety RDieHarder.<br />
W przypadku pozytywnego wyniku badań układ ten może zostać<br />
uznany za sprzętowy generator kluczy kryptograficznych dla<br />
systemów pomiarowo sterujących o asymetrycznych zasobach,<br />
stanowiący źródło losowości. Losowość ta jest niezbędna w zastosowaniu<br />
do m. in. aplikacji kryptograficznych, jakie mogą być realizowane<br />
poprzez rozproszone terytorialnie systemy pomiarowosterujące<br />
o asymetrycznych zasobach z przyłączonym poprzez<br />
przetwornik analogowo-cyfrowy badanym generatorem wartości<br />
losowych. Problematyka ta została opisana w [5], [6] i [7].<br />
Schemat elektryczny oraz projekt obwodu<br />
drukowanego zaprojektowanego układu generatora<br />
kluczy kryptograficznych<br />
W celu praktycznej realizacji układu urządzenia wykonany został<br />
schemat elektryczny płytki oraz projekt obwodu drukowanego<br />
PCB (ang. Printed Circuit Board) dedykowany dla technologii<br />
montażu powierzchniowego SMT (ang. Surface Mount Technology),<br />
zaprezentowane na poniższych rys. 1 i 2.<br />
Rys. 1. Schemat elektroniczny generatora kluczy kryptograficznych<br />
Fig. 1. Electronic diagram of the cryptographic keys generator<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 71
Oprogramowanie badanego układu pomiarowego<br />
generatora kluczy kryptograficznych<br />
W celu realizacji badań rzeczywistej losowości zaprojektowanego<br />
generatora należy najpierw odpowiednio oprogramować komputer<br />
PC, pracujący pod kontrolą systemu operacyjnego Linux.<br />
Oprogramowanie systemu badawczego jest złożone z dwóch zasadniczych<br />
funkcjonalnych modułów, tj.: modułu akwizycji danych<br />
losowych i modułu analizy bezpieczeństwa kryptograficznego zarejestrowanych<br />
wartości losowych.<br />
Rys. 2. Schemat obwodu drukowanego PCB zaprojektowanego generatora<br />
kluczy kryptograficznych<br />
Fig. 2. The printed circuit diagram PCB of the cryptographic keys<br />
generator<br />
Wykonanie płytki PCB oraz montaż elementów<br />
układu generatora kluczy kryptograficznych<br />
Na bazie schematu obwodu drukowanego PCB zaprojektowanego<br />
w programie EAGLE utworzony został plik Gerbera w formacie<br />
RS-274X oraz plik programu wiertarskiego Excellon ASCII,<br />
zgodnie z instrukcją w [8]. Tak utworzony projekt płytki PCB<br />
przekazany został do produkcji firmie Gama Obwody Drukowane<br />
przy Instytucie Łączności. Po otrzymaniu gotowej płytki oraz po<br />
skompletowaniu elementów elektronicznych wykonanych w technologii<br />
SMD (ang. Surface Mounted Devices) zrealizowany został<br />
montaż precyzyjny w Bumar <strong>Elektronika</strong> SA. Fotografia gotowego<br />
układu pomiarowego została zaprezentowana na rys. 3.<br />
72<br />
Rys. 3. Fotografia generatora<br />
kluczy kryptograficznych<br />
Fig. 3. Photography of the<br />
cryptographic keys generator<br />
System laboratoryjny do badania układu<br />
pomiarowego<br />
W celu wykonania badań układu pomiarowego TRNG został<br />
zaprojektowany system laboratoryjny, zgodny z rys. 4. Najistotniejszymi<br />
elementami zaprojektowanego systemu są: układ generatora<br />
liczb losowych, cyfrowy oscyloskop typu DS1052E firmy<br />
RIGOL oraz komputer PC. Układ generatora wartości losowych<br />
wraz z oscyloskopem i komputerem pełni rolę systemu akwizycji<br />
danych losowych. Natomiast sam komputer pełni także rolę<br />
analizatora bezpieczeństwa kryptograficznego danych losowych.<br />
Zastosowany zasilacz laboratoryjny typu ZT-980-2 M, firmy UNI-<br />
TRA, zapewnia funkcjonalność sterowania napięciem zasilania<br />
układu generatora liczb losowych. Umożliwia on badanie wpływu<br />
napięcia zasilania układu generatora na rzeczywistą losowość<br />
produkowanych wartości losowych.<br />
Rys. 4. Schemat systemu laboratoryjnego dedykowanego do badania<br />
układu generatora kluczy kryptograficznych<br />
Fig. 4. Diagram of the laboratory system dedicated to test of the cryptographic<br />
keys generator<br />
Oprogramowanie umożliwiające realizację badań<br />
zaimplementowane na komputerze PC<br />
Oprogramowanie zostało napisane w języku Python, wzorując się<br />
na projekcie pyusbtmc. Oprogramowanie zawarte w projekcie pyusbtmc<br />
umożliwia odbiór danych w „czasie rzeczywistym” z oscyloskopu<br />
po interfejsie USB z wykorzystaniem protokołu USBTMC<br />
oraz wyświetlanie odebranych tych danych w graficznej formie na<br />
bazie python’owej biblioteki Matplotlib. Ingerencja autora w projekt<br />
pyusbtmc polegała na zaimplementowaniu funkcjonalności<br />
zapisu odebranych danych z oscyloskopu do pliku w formacie<br />
zgodnym z środowiskiem Ngspice. Dzięki takiemu rozwiązaniu<br />
otrzymana została funkcjonalność badania bezpieczeństwa kryptograficznego<br />
zarejestrowanych danych losowych za pomocą<br />
oprogramowania RDieHarder sterowanego z poziomu autorskiego<br />
oprogramowania. Zapewniona została także możliwość graficznej<br />
wizualizacji danych za pomocą programu Gnuplot.<br />
Algorytm funkcjonowania systemu pomiarowego<br />
generatora kluczy kryptograficznych<br />
Połączenie jest realizowane poprzez zestawione komunikacji między<br />
komputerem i oscyloskopem, w oparciu o zadany port interfejs<br />
komunikacyjny USB. Do wyboru mamy na platformie Linux<br />
interfejsy komunikacyjne oznaczone (przy domyślnej konfiguracji)<br />
kolejno od „/dev/usbtmc0” do „/dev/usbtmcN”, gdzie N oznacza<br />
kolejny numer fizycznego interfejsu komunikacyjnego podłączonego<br />
do komputera, zgodnego ze standardem USBTMC, liczony<br />
od 0. Komunikacja z oscyloskopem jest realizowana poprzez<br />
nadawanie i odbieranie komend w formacie SCPI (ang. Standard<br />
Commands for Programmable Instruments). W celu zestawienia<br />
połączenia oraz rozpoczęcia rejestracji danych w „czasie rzeczywistym”<br />
do pliku zgodnego z formatem środowiska „Ngspice”, należy<br />
uruchomić autorskie oprogramowanie o nazwie „Arch_random”.<br />
Od tego momentu rozpoczyna się rejestracja danych, a bieżąca<br />
ilość zarejestrowanych danych jest co sekundę wyświetlana w oknie<br />
konsoli. Układ pomiarowy wytwarza, a oscyloskop przekazuje<br />
dane pomiarowe do komputera, który je rejestruje w postaci pliku<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
o zadanej nazwie. Ponowne uruchomienie tego oprogramowania,<br />
przy zachowaniu istniejącej już nazwy pliku, skutkuje automatycznym<br />
dopisanie kolejnych wygenerowanych losowych danych do<br />
istniejącego już wcześniej pliku. Umożliwia to łatwe zwiększenie<br />
zbioru danych poddawanych analizie oraz krokowe śledzenie poprawności<br />
oraz jakości „przechodzenia” określonych testów statystycznych<br />
przy zadanej ilości liczb losowych. W chwili zebrania<br />
żądanej ilości danych losowych należy uruchomić dedykowane<br />
oprogramowanie, zakładka SPICE (rys. 5). Następnie w tym oknie<br />
programu należy wprowadzić nazwę pliku z odczytywanymi<br />
Rys. 5. Główne okno oprogramowania, zakładka SPICE. Fig. 5. The main window of dedicated software, the SPICE tab<br />
Rys. 6. Graf algorytmu pracy<br />
systemu pomiarowego generatora<br />
kluczy kryptograficznych<br />
Fig. 6. Graph algorithm of the<br />
cryptographic keys generator<br />
measurement system<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 73
danymi. Wybrać liczbę bitów pobieranych z każdej próbki wartości<br />
losowej. Po czym należy rozpocząć proces generacji ostatecznego<br />
pliku wyjściowego, zawierającego wartości losowe zarejestrowane<br />
w formie binarnej. Po zakończeniu procesu generacji<br />
zostanie przeprowadzona automatyczna analiza losowości, zapisanych<br />
w pliku, na bazie środowiska RDieHarder. Po zakończeniu<br />
procesu analizy losowości zarejestrowanych danych automatycznie<br />
zostają utworzone gotowe pliki z wynikami badań, niezależnie<br />
dla poszczególnych testów środowiska DieHarder w formacie pdf<br />
oraz png. Graf algorytmu funkcjonowania zaprojektowanego systemu<br />
pomiarowego został przedstawiony na rys. 6.<br />
Badania generatora kluczy kryptograficznych<br />
Warunki realizacji badań systemu pomiarowego<br />
generatora kluczy kryptograficznych<br />
Badania bezpieczeństwa kryptograficznego układu pomiarowego<br />
generatora kluczy kryptograficznych zostały wykonane na bazie<br />
autorskiego oprogramowania. Otrzymane wyniki zostały obliczone<br />
przez „silnik” oprogramowania „DieHarder” [9], niezależnie dla<br />
25. testów, po zebraniu odpowiednio dużego, reprezentatywnego<br />
zbioru badanych danych, jaki stanowi 100 MB wartości losowych.<br />
Oscyloskop w systemie pomiarowym posiada wbudowany 8 bitowy<br />
przetwornik analogowo-cyfrowy o maksymalnej częstotliwości<br />
próbkowania wynoszącej 1 GSPS dla trybu próbkowania w czasie<br />
rzeczywistym, 25 GSPS dla trybu równoważnego czasu próbkowania<br />
oraz maksymalną szerokość pasma pomiarowego wynoszącą<br />
100 MHz. W związku z badaniem sygnału losowego oscyloskop<br />
ten został ustawiony w tryb próbkowania w czasie rzeczywistym,<br />
przy normalnym trybie akwizycji, dla wielkości bufora próbek wynoszącej<br />
16 kB oraz w warunkach interpolacji sygnałem funkcją sinx/<br />
x. Ustawiono czułość na 1 volt/dz, dla trybu sprzężenia wejścia na<br />
DC (sygnał przekazywany jest bezpośrednio z wejścia na układy<br />
analizy). Przed wykonaniem eksperymentów dokonano kalibracji<br />
oscyloskopu przy użyciu sądy pomiarowej oraz wbudowanego<br />
generatora sygnału prostokątnego. Badania zostały zrealizowane<br />
dla różnych wartości nastaw generatora podstawy czasu, przez<br />
co dla różnych odpowiadających im częstotliwości próbkowania<br />
sygnału. Ustawiona została wartość napięcia zasilania układu<br />
pomiarowego, na zasilaczu laboratoryjnym typu ZT-980-2 M, na<br />
wartość równą 6 V. Badania zrealizowane zostały przy założeniu,<br />
że zarówno że pełna 8-bitowa wartość z każdej próbki stanowi<br />
wartość losową oraz że jedynie dwa ostatnie bity wyniku pełnią<br />
rolę dwubitowej wartości losowej. Uzyskiwanie takiej ilości danych<br />
losowych, przy częstotliwości próbkowania przetwornika analogowo-cyfrowego<br />
wynoszącej ok. 13,65kSPS, odpowiadającej nastawie<br />
generatora podstawy czasu na wartość równą 100 ms/div jest<br />
procesem czasochłonnym. Oznacza to iż w warunkach wykorzystania<br />
wszystkich 8 bitów wyniku jako rejestrowana wartość losowa<br />
czas archiwacji wynosi ok. 7326 s, tj. 2 h i 2 min, natomiast dla<br />
wykorzystania jedynie dwóch ostatnich bitów jako rejestrowana<br />
wartość losowa czas ten wynosi ok. 29304, tj. 8 h i 9 min.<br />
Zostały także wykonane badania układu pomiarowego generatora<br />
kluczy kryptograficznych przy częstotliwości próbkowania wynoszącej<br />
ok. 1 MSPS, odpowiadającej nastawie generatora podstawy<br />
czasu na wartość równą 200 μs/div. Czas akwizycji 100 MB danych<br />
przy „wykorzystaniu” wszystkich 8 bitów wyniku jako wartość losowa<br />
wynosi ok. 100 s, natomiast dla „wykorzystania” jedynie dwóch<br />
ostatnich bitów jako wartość losowa wynosił ok. 400 s, tj. 7 min.<br />
Wyniki badań<br />
Na rysunkach zostały zaprezentowane wykresy p-wartości<br />
[10], na których zamieszczono na osi poziomej konkretne<br />
zrealizowane testy (oznaczona numerami, jednoznacznie je<br />
74<br />
identyfikujące na bazie tabeli), a na osi pionowej odpowiadające<br />
im p-wartości, odpowiednio dla testu Kuiper-Kolmogorov-<br />
Smirnov’a, testu Kolmogorov-Smirnov’a oraz testu Wilcoxon’a.<br />
P-wartość (ang. P-value) czyli prawdopodobieństwo testowe<br />
jest to w statystycznym testowaniu hipotez, najmniejszy poziom<br />
istotności testu dla którego hipoteza zerowa jest odrzucona. Na<br />
każdym z nich pozioma niebieska linia oznaczają dolną granicę<br />
poziomów istotności α równą 0.01, natomiast czerwona górną<br />
granice 1 – α równą 0,99. Rysunek 7 prezentuje otrzymane wyniki<br />
dla układu pomiarowego generatora kluczy kryptograficznych<br />
przy wykorzystaniu 8 bitów z każdej zarejestrowanej próbki<br />
jako wartość losowa w warunkach częstotliwości próbkowania<br />
wynoszącej ok. 13,65 kSPS. Rysunek 8 przedstawia wyniki dla<br />
układu pomiarowego generatora kluczy kryptograficznych przy<br />
wykorzystaniu jedynie dwóch ostatnich bitów z każdej zarejestrowanej<br />
próbki jako wartość losowa w warunkach częstotliwości<br />
próbkowania wynoszącej ok. 13,65 kSPS. Natomiast rysunek 9<br />
przedstawia wyniki dla układu pomiarowego generatora kluczy<br />
kryptograficznych uzyskane przy wykorzystaniu 8 bitów z każdej<br />
zarejestrowanej próbki jako wartość losowa w warunkach częstotliwości<br />
próbkowania wynoszącej ok. 1 MSPS. Rysunek 10<br />
przedstawia wyniki dla układu pomiarowego generatora kluczy<br />
Numery testów przypisane konkretnym testom pakietu DieHarder<br />
The numbers assigned to the concrete tests from the DieHarder suite<br />
Nazwa testu<br />
Numer<br />
testu<br />
diehard_birthdays 1<br />
diehard_operm5 2<br />
diehard_rank_32x32 3<br />
diehard_rank_6x8 4<br />
diehard_bitstream 5<br />
diehard_opso 6<br />
diehard_oqso 7<br />
diehard_dna 8<br />
diehard_count_1s_stream 9<br />
diehard_count_1s_byte 10<br />
diehard_parking_lot 11<br />
diehard_2dsphere 12<br />
diehard_3dsphere 13<br />
diehard_squeeze 14<br />
diehard_sums 15<br />
diehard_runs 16<br />
diehard_craps 17<br />
sts_monobit 18<br />
sts_runs 19<br />
sts_serial 20<br />
rgb_bitdist 21<br />
rgb_minimum_distance 22<br />
rgb_permutations 23<br />
rgb_lagged_sum 24<br />
rgb_kstest_test 25<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys. 7. Wykres p-wartości, prezentujący wyniki uzyskane z układu pomiarowego generatora kluczy kryptograficznych przy wykorzystaniu 8<br />
bitów z każdej zarejestrowanej próbki jako wartość losowa w warunkach częstotliwości próbkowania wynoszącej ok. 13,65 kSPS<br />
Fig. 7. The chart of p-value, showing the results obtained from the measurement system of the cryptographic keys generator using 8 bits<br />
of each registered sample as a random value by sampling frequency approximately equal 13,65 kSPS<br />
Rys. 8. Wykres p-wartości, prezentujący wyniki uzyskane z układu pomiarowego generatora kluczy kryptograficznych przy wykorzystaniu<br />
jedynie dwóch ostatnich bitów z każdej zarejestrowanej próbki jako wartość losowa w warunkach częstotliwości próbkowania wynoszącej<br />
ok. 13,65 kSPS<br />
Fig. 8. The chart of p-value, showing the results obtained from the measurement system of the cryptographic keys generator using only the<br />
last two bits of each registered sample as a random value by sampling frequency approximately equal 13,65 kSPS<br />
kryptograficznych przy wykorzystaniu jedynie dwóch ostatnich<br />
bitów z każdej zarejestrowanej próbki jako wartość losowa w warunkach<br />
częstotliwości próbkowania wynoszącej ok. 1 MSPS.<br />
Wnioski<br />
Na podstawie uzyskanych wyników można stwierdzić, że układ<br />
pomiarowy generatora kluczy kryptograficznych przechodzi większość<br />
testów zestawu DieHarder. Udowadnia to tezę, iż układ ten<br />
stanowi bezpieczny generator kluczy kryptograficznych dla systemów<br />
pomiarowo-sterujących o asymetrycznych zasobach.<br />
Najlepsze wyniki uzyskały testy układu generatora kluczy kryptograficznych<br />
w warunkach próbkowania sygnału analogowego<br />
z częstotliwością ok. 13,65 kSPS przy wykorzystaniu jedynie<br />
dwóch ostatnich bitów z każdej zarejestrowanej próbki jako wartość<br />
losowa. W analizowanym przypadku układ ten nie przechodzi<br />
poprawnie jednego testu pakietu, tj.: „diehard_operm5”. Natomiast<br />
ten sam układ, kiedy jako losowość zostały wykorzystane<br />
wszystkie 8 bitów każdej zarejestrowanej próbki, nie przechodzi<br />
dwóch testów, tj.: „diehard_operm5”, „rgb_lagged_sum”. Świadczyć<br />
to może o nierównomiernym rozłożeniu wartości losowych<br />
na wszystkich 8 bitach badanego modelu matematycznego.<br />
Analizowany układ w warunkach próbkowania sygnału analogowego<br />
z częstotliwością ok. 1 MSPS dla przypadku „wykorzystania”<br />
8 bitów każdej zarejestrowanej próbki, przejawia gorsze<br />
właściwości losowe. W analizowanym przypadku układ ten nie<br />
przechodzi poprawnie pięciu testów pakietu, tj.: „diehard_operm5”,<br />
„diehard_count_1s_stream”, „diehard_count_1s_byte” „rgb_lagged_sum”<br />
oraz „diehard_craps”. Natomiast ten sam układ pomiarowy,<br />
kiedy jako losowość zostały wykorzystane dwa najmniej<br />
znaczących bity każdej zarejestrowanej próbki, nie przechodzi<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 75
Rys. 9. Wykres p-wartości, prezentujący wyniki uzyskane z układu pomiarowego generatora kluczy kryptograficznych przy wykorzystaniu<br />
8 bitów z każdej zarejestrowanej próbki jako wartość losowa w warunkach częstotliwości próbkowania wynoszącej ok. 1 MSPS<br />
Fig. 9. The chart of p-value, showing the results obtained from the measurement system of the cryptographic keys generator using 8 bits<br />
of each registered sample as a random value by sampling frequency approximately equal 1 MSPS<br />
Rys. 10. Wykres p-wartości, prezentujący wyniki uzyskane z układu pomiarowego generatora kluczy kryptograficznych przy wykorzystaniu<br />
jedynie dwóch ostatnich bitów z każdej zarejestrowanej próbki jako wartość losowa w warunkach częstotliwości próbkowania wynoszącej<br />
ok. 1 MSPS<br />
Fig. 10. The chart of p-value, showing the results obtained from the measurement system of the cryptographic keys generator using only the<br />
last two bits of each registered sample as a random value by sampling frequency approximately equal 1 MSPS<br />
czterech testów, tj.: „diehard_oqso”, „diehard_rank_32x32”, „diehard_craps”<br />
oraz „rgb_lagged_sum”.<br />
Na tej podstawie można stwierdzić, że częstotliwość próbkowania<br />
ma istotny wpływ na rzeczywistą losowość uzyskiwanych<br />
danych, tj. im częstotliwość próbkowania wyższa, tym szacowana<br />
rzeczywista losowość generowanych danych jest mniejsza.<br />
Literatura<br />
76<br />
[1] Witryna internetowa środowiska do testowania generatorów wartości<br />
losowych o nazwie RDieHarder: <br />
[2] Zieliński R.: Generatory liczb losowych, WNT, Warszawa 1972.<br />
[3] Menezes A., P. van Oorschot, S. Yanstone: Handbook oj Applied<br />
Cryptography, WNP, 2005<br />
[4] Schneier B.: Kryptografta dla praktyków, WNT, 1995.<br />
[5] CzernikP., Olszyna J.: Cryptographic Random Number Generators<br />
for Low-Power Distributed Measurement System. Proc. SPIE Photonics,<br />
Web Engineering, Electronics for Astronomy and High Energy<br />
Physics Experiments (sierpień 2009), vol 7502, pp. 75022A-1<br />
– 75022A-7.<br />
[6] Czernik P.: Kryptograficzne generatory liczb losowych w rozproszonych<br />
systemach pomiarowo-sterujących małej mocy. Prace <strong>Instytut</strong>u<br />
Lotnictwa, ss. 5–19, nr 6/2009 (201).<br />
[7] Czernik P., Winiecki W.: Infrastruktura klucza publicznego do<br />
zastosowań w bezpiecznych Rozproszonych Systemach Pomiarowo–Sterujących.<br />
Przegląd Elektrotechniczny, nr 09a/2011,<br />
ss. 37–43.<br />
[8] Instrukcja tworzenia pliku Gerbera dla programu EAGLE: <br />
[9] Czernik P., Olszyna J., Winiecki W.: Methods for testing random number<br />
generators in low-power distributed measurement systems. Pomiary<br />
Automatyka Kontrola, numer 11, ss. 1339–1341, listopad 2010.<br />
[10] Czernik P.: Metodyka testowania bezpieczeństwa generatorów liczb<br />
pseudolosowych w systemach pomiarowo-sterujących. Prace <strong>Instytut</strong>u<br />
Lotnictwa, nr 6/2009 (201), ss. 20–34 (artykuł zgłoszony do<br />
druku w kwietniu 2010, wydany w sierpniu 2010).<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Techniki multimodalne zwiększające dostępność grafiki<br />
na stronach WWW i w elektronicznych dokumentach<br />
dr inż. Jolanta Brzostek-Pawłowska 1 , dr Dariusz Mikułowski 2<br />
1<br />
<strong>Instytut</strong> Maszyn Matematycznych, Warszawa, 2 Uniwersytet Przyrodniczo-Humanistyczny Siedlce<br />
Problem dostępności grafiki na stronach WWW i w dokumentach<br />
elektronicznych, w tym w e-bookach, nabrał większego znaczenia<br />
wraz z upowszechnieniem się urządzeń mobilnych i ich miniaturyzacją.<br />
Obejmuje on nie tylko użytkowników niewidzących i niedowidzących,<br />
(nie mogących posługiwać się myszą), ale również<br />
duże rzesze użytkowników smartfonów, na których grafika jest<br />
nieczytelna. Dodatkową barierą w dostępie do grafiki z urządzeń<br />
mobilnych są wymagania dotyczące wysokiej przepustowości łącza,<br />
które nie zawsze mogą być spełnione.<br />
Badania i rozwój technik zwiększających dostępność grafiki<br />
idą w dwóch kierunkach – z jednej strony chodzi o interaktywny<br />
udział osób niewidomych w percepcji i tworzeniu grafiki, zwłaszcza<br />
matematycznej, dla potrzeb edukacyjnych, z drugiej strony<br />
kołem napędowym są potrzeby użytkowników smartfonów, widzących<br />
i niewidzących, związane z efektywnym dostępem do<br />
grafik i ich szczegółów.<br />
Pierwszy kierunek łączy się z rozwojem technik haptycznych<br />
i z presją ekonomiczną na opracowanie taniego i dostępnego<br />
haptycznego urządzenia przenośnego, przy pomocy którego jest<br />
prezentowana i poznawana grafika. Podejmowane są obecnie<br />
m.in. próby uzyskania takiego urządzenia z coraz powszechniej<br />
używanego tabletu (opisane dalej w artykule). Bez względu na<br />
zmniejszanie kosztów nowych urządzeń haptycznych, techniki<br />
haptyczne wymagają jednak specjalnego przygotowania grafiki,<br />
specjalnego zaprojektowania, co stanowi barierę i ekonomiczną,<br />
i organizacyjną w powszechnym dostępie do grafiki.<br />
Drugi kierunek charakteryzuje się rozwojem technik nie wymagających<br />
wspomagania dodatkowym, specjalizowanym sprzętem,<br />
z tego powodu pod względem ekonomicznym – bardzo atrakcyjnych.<br />
Techniki te, i związane z nimi badania, opierają się na pozyskiwaniu<br />
i ewentualnym dalszym przetwarzaniu, tekstów zawartych<br />
w plikach grafiki i/lub towarzyszących grafice np. w strukturach<br />
tagów HTML5. Techniki te nie wymagają specjalnych projektów<br />
grafiki, operują na powszechnie stosowanych na stronach WWW<br />
i w e-dokumentach standardach zapisów grafiki. Wśród nich można<br />
wyróżnić techniki udostępniające teksty opisujące grafikę<br />
• bezpośrednio, w formie takiej, jak zostały zapisane w strukturach<br />
związanych z grafiką, nie gwarantujące w związku z tym<br />
opisu sięgającego do istoty informacyjnej grafiki ani opisu wg<br />
zasad składni języka naturalnego,<br />
• przetworzone pod kątem poprawności językowej i, przede<br />
wszystkim, skonstruowane tak, aby najwiarygodniej odzwierciedlały<br />
wywnioskowany główny komunikat informacyjny niesiony<br />
przez grafikę.<br />
Artykuł przedstawia przede wszystkim problematykę zwiększania<br />
dostępności grafiki i możliwości interaktywnego poznawania<br />
jej szczegółów przez niewidomego użytkownika lub użytkownika<br />
zminiaturyzowanego sprzętu mobilnego. Oddzielną problematyką<br />
są techniki, i ich rozwój, tworzenia/edytowania grafiki przez<br />
osobę niewidomą oraz współpraca wymagająca działań na grafice<br />
osoby niewidzącej z widzącą w trybie online. Ta problematyka<br />
zostanie poruszona w następnym artykule.<br />
Techniki haptyczne interaktywnego<br />
prezentowania grafiki<br />
Od kilku lat w wielu ośrodkach trwają prace nad wyposażaniem<br />
ekranów dotykowych w sprzężenia zwrotne naciskające skórę.<br />
W skrócie można powiedzieć, że w wyniku dotknięcia przez użytkownika<br />
określonych miejsc ekranu, ekran w sposób właściwy dla<br />
miejsca dotknięcia drga, dodatkowo może generować odpowiednią<br />
sygnalizację dźwiękową.<br />
Dla zwiększenia oddziaływania na zmysł dotyku i słuch użytkownika<br />
oraz jego doświadczeń w interaktywności wzbogaca się<br />
interfejs dotykowy o sprzężenie zwrotne, w odpowiedzi na dotyk<br />
ekranu, generowane nie tylko jako drgania o różnej częstotliwości,<br />
sile i odstępach czasowych, ale również jako sygnały akustyczne<br />
o różnych parametrach. Takie sprzężenie dotykające, naciskające<br />
skórę palców, na ogół generowane jako wibracje, umożliwia<br />
rozpoznanie (czucie) wirtualnego kształtu, np. dotkniętego przycisku<br />
na ekranie.<br />
Techniki haptyczne oparte są na generowaniu sprzężenia zwrotnego<br />
w wyniku dotyku ekranu lub nakładki, z wypukłym wydrukiem<br />
grafiki, na ekran dotykowy, czyli inaczej – odpowiedzi na dotyk.<br />
Sprzężenie zwrotne może być realizowane w formie:<br />
• języka naturalnego (tekstu i mowy),<br />
• oddziaływania siłowego, np. poprzez szpilki poruszające się<br />
pionowo (co w dalszej części jest opisane) albo wibrację, używaną<br />
do odtwarzania kropek (linii kropkowanych), powierzchni<br />
kształtów, tekstury w postaci siatki ortogonalnej (linie proste,<br />
prostokąty, wspomaganie lokalizacji dotyku) lub pionowej lub<br />
poziomej odtwarzającej wirtualnie ruch palców po falistej powierzchni,<br />
co ułatwia orientację w ruchu palców w pionie i poziomie<br />
na płaszczyźnie; ruch po przekątnej może być również<br />
wspomagany takimi formami tekstury – poprzez silniejsze lub<br />
słabsze wibracje odpowiadające ruchom w poprzek lub wzdłuż<br />
„grzbietów fal”,<br />
• akustycznie – sygnałami dźwiękowymi o różnych parametrach<br />
(barwa, głośność, częstotliwość),<br />
• mieszanej, łączącej na różny sposób język naturalny, wibracje<br />
i sygnały tonalne.<br />
Wymagania dotyczące prezentowania grafiki na<br />
urządzeniach haptycznych<br />
Techniki prezentowania grafiki z zastosowaniem urządzeń haptycznych<br />
niosą ze sobą wymagania co do sposobu przygotowania<br />
i prezentacji grafiki.<br />
Przykładowo, odległość między elementami rozpoznawanymi<br />
przez dotyk musi być równa co najmniej Ľ cala, jeszcze wićksza<br />
odlegůoúă powinna byă zachowana, gdy występuje różnica<br />
w wysokości prezentowanych elementów. Prezentacja grafiki, np.<br />
schematów na urządzeniach dotykowych wymaga większej powierzchni,<br />
co może się łączyć z koniecznością podziału i właściwej<br />
kolejności prezentacji poszczególnych części schematu oraz<br />
konieczności wyposażenia użytkownika w mechanizm nawigacji<br />
po częściach schematu i ich lokalizacji na schemacie.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 77
Symbole i inne graficzne kształty wyświetlane na urządzeniu<br />
haptycznym nie mogą być zbyt małe, ponieważ osoby niewidzące<br />
nie mogą ich powiększyć ani informatyczną lupą ani przybliżaniem<br />
oczu do obrazu, czy też zmianą ogniskowej. Względne<br />
położenie elementów na ekranie nie powinno się zmieniać, jeśli<br />
nie uzasadniają tego względy merytoryczne. Nie powinno być na<br />
ekranie elementów nieistotnych dla przekazywanej informacji.<br />
Podsumowując – rozłożenie elementów graficznych w urządzeniach<br />
haptycznych powinno zapewniać możliwie jak najszybszą<br />
ich rozpoznawalność dotykiem,. Wymaga to dokładnej analizy informacji<br />
i właściwego sformatowania przed wysłaniem jej na urządzenie<br />
haptyczne, co łączy się z dodatkowymi nakładami pracy<br />
projektantów grafiki i kosztami, tworzącymi barierę w dostępności<br />
grafiki przy pomocy technik haptycznych.<br />
Interfejs haptyczny jest wykorzystywany do przekazywania<br />
treści, zwłaszcza wizualnych, nieliniowych, osobom niewidzącym,<br />
przede wszystkim w edukacji szkolnej. Wraz z szeroko rozpowszechnionymi<br />
ekranami dotykowymi w smartfonach i tabletach,<br />
wyposażonych w możliwości sprzężenia zwrotnego dźwiękowego<br />
lub siłowego, jest nadzieja, że w coraz większym stopniu znajdą<br />
one zastosowanie w szkołach jako urządzenia wspomagające<br />
nauczanie niewidzących uczniów. Interfejs haptyczny coraz bardziej<br />
dominuje nie tylko w urządzeniach mobilnych, ale również<br />
w dużych ekranach i tablicach, również przemysłowych. Stwarza<br />
użytkownikom możliwości interaktywnego sposobu pobierania<br />
i przetwarzania informacji poprzez dotyk palcami.<br />
Techniki siłowego sprzężenia zwrotnego<br />
w haptycznych urządzeniach<br />
Istnieją różne technologie wibracyjnego, dotykowego sprzężenia<br />
zwrotnego. Najbardziej powszechną, stosowaną w urządzeniach<br />
mobilnych jest przekształcanie ruchu obrotowego na posuwistozwrotny<br />
(ang. eccentric mass), inne technologie to przekształcanie<br />
energii elektrycznej w mechaniczną pracę (dialektryczne elastomery)<br />
lub piezoceramiczne silniki krokowe przekształcające<br />
energię elektryczną w wibracje.<br />
Alternatywnymi rozwiązaniami w stosunku do tych, które pobudzają<br />
w ruch gładkie, sztywne (ale poddające się wibracjom)<br />
powierzchnie, są takie, które wykorzystują szpilkowe matryce,<br />
mogące dynamicznie zmieniać swoją powierzchnię, do przekazywania<br />
dotykająco-naciskającego skórę sprzężenia zwrotnego.<br />
Siła przekazywana na poruszające się wertykalnie szpilki może<br />
być generowana przez silniki krokowe, piezoceramiczne dwupłytki<br />
(mikrosilniki liniowe), solenoidy i SMA – Shape Memory Alloys,<br />
stopy metali odtwarzające swój pierwotny kształt, np. nitinol. Możliwe<br />
są też rozwiązania z bocznym naciskiem na skórę palców,<br />
na przykład ekrany o zmiennym tarciu powierzchni, regulowanym<br />
przez warstwę powietrza między powierzchnią ekranu a palcami,<br />
naciskającym bocznie, gdy są włączone ultradźwiękowe wibracje.<br />
Rozwiązania „szpilkowe” są wykorzystywane do przekazywania<br />
informacji w notacji brajla.<br />
Urządzenia „szpilkowe” można podzielić na 3 kategorie [1]:<br />
1. statycznie odświeżalne „ekrany” (powierzchnie), w których<br />
obraz, rozpoznawany przez dotyk palców poruszających się<br />
po ekranie, jest odświeżany poprzez ruch pionowy szpilek,<br />
tworząc kształty (najnowsze urządzenia z tej kategorii osiągają<br />
7200 × 10 szpilek [2]),<br />
2. ekrany z dynamicznie zmieniającym się obrazem pod nieruchomymi<br />
palcami (np. monitory vel linijki brajlowskie), mniej<br />
energochłonne, równie drogie jak urządzenia kategorii 1, ale<br />
o mniejszych rozmiarach,<br />
3. urządzenia z wejściem dla wizualnej informacji, np. z wbudowaną<br />
kamerą i dotykowym ekranem, które przekształcają wizualną<br />
informację w dotykową [2], dotychczasowe doświadczenia<br />
78<br />
wskazują na używanie tych urządzeń raczej do rozpoznawania<br />
statycznego obrazu graficznego, rozmiarem są mało poręczne.<br />
Tego typu urządzenia dotykowe, przenośne, z „ekranem” odświeżalnym,<br />
mogące prezentować grafikę, bardzo dobrze nadają<br />
się do nauczania matematyki osoby niewidzące. Zwiększają<br />
efektywność i skuteczność nauczania. Nauczyciele nie musieliby<br />
indywidualnie uczyć niewidzących uczniów, korzystając z takich<br />
mechanicznych pomocy, jak tablice korkowe ze szpikami i nitkami<br />
odtwarzającymi linie, kształty geometryczne, papier wytłaczany lub<br />
wcześniej przygotowane płaskie lub przestrzenne kształty, np. rzeźby,<br />
odlewy kształtów przestrzennych. Barierą w ich powszechnym<br />
stosowaniu są względy ekonomiczne (wysoka cena urządzeń).<br />
Mniej wiadomo, czy urządzenia „szpilkowe” sprawdzają się<br />
w dużych ekranach i/lub do przekazywania kształtów. Prowadzone<br />
są badania nad ich zastosowaniem do przekazywania<br />
i odbioru grafiki (obrazów, diagramów, rysunków, zdjęć i innych),<br />
zwłaszcza grafiki występującej w podręcznikach szkolnych, akademickich<br />
i książkach naukowych. Poszukiwane są ciągle rozwiązania<br />
dostępne ekonomicznie.<br />
Badania naukowe i wyniki dotyczące technik<br />
haptycznych zwiększających dostępność grafiki<br />
Pierwsze badania nad technologią zapisu i prezentowania grafiki<br />
w sposób dostępny dla wszystkich, w tym dla osób niewidzących,<br />
która byłaby szeroko stosowana, a więc nie kosztowna,<br />
datowane są z początku lat 90. XX w. Inspiracją były pionierskie<br />
badania nad zastosowaniem dotyku i dźwięku do przekazywania<br />
informacji graficznych prowadzone przez Parkes’a w 1991 r. [7].<br />
Jednym z kolejnych projektów (2005 r.), inspirowanym rozwiązaniami<br />
Parkes’a, był projekt Science Access Project [15], prowadzony<br />
na uniwersytecie stanowym w Oregon, rozpoczęty na<br />
przełomie wieków XX i XXI. Dotyczył on zwiększenia dostępności<br />
grafiki w publikacjach naukowych. Przy pomocy dołączonego do<br />
komputera tabletu dotykowego i nakładania na niego wypukłego<br />
druku wyświetlanej grafiki, poprzez dotyk elementów lub całego<br />
obiektu graficznego w miejscach oznaczonych etykietami, można<br />
było uzyskać mową w języku naturalnym (angielskim) ich opisy<br />
na różnym poziomie szczegółowości. Wymagało to dobrego opisywania<br />
grafiki meta danymi. Badana dostępność grafiki uzyskiwana<br />
taką metodą była wysoka, koszty również.<br />
Ze względu na upływ czasu od prowadzenia pierwszych tego<br />
typu badań i starzenia się technologicznego opracowanych rozwiązań,<br />
warto przedstawić nowsze badania i wyniki, dotyczące<br />
haptycznych rozwiązań zwiększających dostępność grafiki.<br />
• Accessible Graphic Calculator (prod. ViewPlus Technologies):<br />
oprogramowanie działające pod Windows, które wspomaga osoby<br />
niewidzące w przyswajaniu i kreowaniu treści matematycznych<br />
poprzez rozszerzony interfejs z użytkownikiem o dotyk (drukowanie<br />
rysunków), dźwięk i mowę. Umożliwia rozpoznawanie<br />
wykresów matematycznych poprzez emitowane dźwięki o różnej<br />
tonacji odpowiadającej różnym wartościom na wykresie.<br />
• Sensable Phantom (prod. Sensable – GeoMagic) – linia<br />
urządzeń dotykowych – ręcznych manipulatorów z “siłowym”<br />
sprzężeniem zwrotnym, które umożliwiają użytkownikom dotykanie<br />
wirtualnych obiektów i manipulowanie nimi; urządzenia<br />
te różnią się właściwościami zależnie od zastosowań naukowych<br />
i komercyjnych.<br />
• Logitech WingMan Force Feedback Mouse – urządzenie<br />
działające również jak joystic, zaprojektowane dla immersyjnych<br />
gier komputerowych; sprzężenie zwrotne w odpowiedzi<br />
na ruchy myszą i działania na jej przyciskach przekazywane<br />
jest jako drgania podstawki; może być zastosowane do tworzenia<br />
i zapoznawania się z grafami przez osoby niewidome,<br />
co zostało opisane w [3].<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys 1. Mysz Logitech WingMan Force Feedback Mouse, działająca<br />
również jak joystick (haptyczne sprzężenie zwrotne siłowe przekazywane<br />
jest przez drgania podstawki) Żródło: http://www.amazon.com/<br />
Logitech-WingMan-Force-Feedback-Mouse/dp/B00001W01Z<br />
Fig. 1. Logitech WingMan Force Feedback Mouse, It works as<br />
a joystick in which haptic feedback is translated to the user hand as<br />
a stand vibration<br />
• Zestaw ekranu dotykowego tabletu PC, matrycy szpilkowej,<br />
digitajzera 3D i rylca, którym na tablecie rysowana linia jest<br />
obrazowana układem szpilek na matrycy szpilkowej [4]. Haptyczny<br />
rylec, z wbudowanym wibracyjnym motorkiem, w odpowiedzi<br />
na ruch na ekranie dotykowym, wibracjami wskazujący<br />
ścieżkę śledzenia wyświetlanej grafiki na ekranie dotykowym.<br />
Przykład wibracyjnego rylca, opatentowanego, Nintendo 3DS<br />
przedstawia rys 3. Nintendo 3DS jest wyposażony w marker,<br />
którego położenie śledzi wbudowana w ekran kamera, motorek<br />
generujący wibracje umieszczony jest w górnej części rylca.<br />
• Program Earth+ (Robert Shelton, NASA): program przekształca<br />
kolory występujące w obrazie graficznym w różne dźwięki.<br />
Użytkownik, by zapoznać się z całym obrazem i go usłyszeć,<br />
przesuwa kursor po obrazie. Obraz mapy pogody będzie generował<br />
inne dźwięki dla chmur białych, inne dla granatowych<br />
burzowych, inne dla brązowego lądu.<br />
• Program MathTrax (Robert Shelton, NASA): program opisuje<br />
wykresy równań i inne wykresy za pomocą dźwięków i mowy<br />
w język naturalnym.<br />
• Aplikacja na tablet (Medical and Electromechanical Design<br />
Laboratory of Vanderbilt University): nienazwana jeszcze<br />
aplikacja opracowana przez młodych naukowców w ramach<br />
badań dysertacyjnych [14] obronionych w <strong>2012</strong> r. nad zastosowaniem<br />
wibracyjnych urządzeń w edukacji niewidomych uczniów;<br />
aplikacja wspomaga interaktywną pracę ucznia z grafiką<br />
matematyczną. Za pomocą tej aplikacji uczeń jest w stanie<br />
śledzić linie i poznawać geometryczne kształty wodząc po<br />
nich palcami na dotykowym ekranie tabletu, bo odpowiednie<br />
wibracje i sygnały dźwiękowe, generowane w odpowiedzi na<br />
dotyk, prowadzą go dokładnie po liniach i konturach kształtów.<br />
Kierunek ruchów palców oraz ogólną orientację w położeniu<br />
na ekranie zwiększa tekstura w postaci siatki ortogonalnej<br />
prezentowanej tonalnie. Aplikacja może okazać się bardzo<br />
użyteczna dla prezentacji i poznawania nieregularnych wykresów<br />
i kształtów. Są to pierwsze próby (z <strong>2012</strong> r.) zastosowania<br />
powszechnie używanych mobilnych urządzeń jako narzędzi<br />
pomocnych w prezentowaniu grafiki matematycznej osobom<br />
niewidzącym. Aplikacja jest stale rozwijana. Warto wspomnieć,<br />
że na podobnej zasadzie wibracyjno-dźwiękowego sprzężenia<br />
zwrotnego, ten sam zespół naukowców opracowuje zupełnie<br />
nową aplikację na urządzenia mobilne – graficzny kalkulator.<br />
Rys. 3 Aplikacja opracowana na Vanderbilt University w <strong>2012</strong> r. przekształcająca<br />
dotykowy tablet w urządzenie haptyczne ze sprzężeniem<br />
zwrotnym siłowo-akustycznym oraz ze wspomagającym tłem<br />
w postaci siatki ortogonalnej ułatwiającej interaktywne rozpoznawanie<br />
grafiki Żródło: http://research.vuse.vanderbilt.edu/MEDLab/<br />
Fig. 3. A dedicated software application developed in <strong>2012</strong> by Vanderbilt<br />
University. It enables to use a tablet with touch screen as<br />
a interactive display with acoustic and force feedback with support<br />
of additional background ortogonal grid for easier orientation of the<br />
blind user on the screen<br />
Rys 2. Działanie haptycznego zestawu play-station i rylca, wibracyjnego,<br />
bezdotykowego Nintendo 3DS, wyposażonego w marker,<br />
którego położenie śledzi wbudowana w ekran kamera; motorek generujący<br />
wibracje umieszczony jest w górnej części rylca. Żródło:<br />
http://www.nintendo.com/3ds/<br />
Fig. 2 Non contact stylus Nintendo 3DS equipped with a special marker<br />
which position is traced by camera builded into screen. Additional<br />
engine that generates vibrations filed by a user hand is placed at<br />
the top of the stylus<br />
Haptyczny ekran dotykowy rozszerzający możliwości interfejsu<br />
z użytkownikiem komputera klasy PC (TouchSense Immersion,<br />
Inc.): wyposażony jest w 4 silniczki krokowe, podobnie jak<br />
urządzenie we/wy podłączane przez 2 złącza USB i jedno złącze<br />
VGA na przekazywanie obrazu.<br />
Na tym urządzeniu, podłączonym do komputera PC, były prowadzone<br />
badania [5] nad stopniem rozpoznawania przez osoby<br />
niewidzące lokalizacji punktu na płaszczyźnie osi X-Y, znajdowania<br />
na płaszczyźnie współrzędnych wszystkich punktów wyświetlanych<br />
na ekranie oraz rozpoznawania linii i kształtów przy<br />
pomocy dotyku i sprzężenia zwrotnego w postaci wibracji i sygnałów<br />
akustycznych. Urządzenie ma możliwość przyporządkowania<br />
każdego typu sprzężenia (siłowego, akustycznego) do pojedynczego<br />
piksela (ekran ma rozmiary 270×222 mm i rozdzielczość<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 79
1024×768 px), co zostało wykorzystane w badaniach nad znajdowaniem<br />
i rozpoznawaniem kształtów. Do określania współrzędnych<br />
położenia zastosowano pomocniczą siatkę 7×7 (teksturę)<br />
wyświetlanych linii pionowych i poziomych, których przecięcia<br />
były punktami orientacyjnymi przy określaniu właściwego położenia.<br />
Dotknięcie ekranu w punkcie przecięcia generowało słowną<br />
informację o współrzędnych punktów.<br />
Badania wykazały, że nie ma istotnych różnic we wpływie rodzaju<br />
sprzężenia zwrotnego na skuteczność określania lokalizacji<br />
punktu lub rozpoznawania kształtów. Lekka przewaga dotyczy siłowego<br />
sprzężenia zwrotnego. Wiele zależy od osobistych upodobań<br />
użytkownika. Jednak w badaniach ankietowych ex post ich<br />
uczestnicy preferowali jednoczesność obu typów sprzężeń generowanych<br />
w odpowiedzi na dotyk.<br />
Techniki interaktywnego prezentowania grafiki<br />
w języku naturalnym<br />
Dla osób posługujących się przeglądarkami internetowymi opartymi<br />
na odczycie tekstów ze stron WWW – wykresy, schematy,<br />
rysunki i inne grafiki są elementami niedostępnymi lub dostępnymi<br />
informacyjnie w zakresie informacji zawartej w ewentualnie<br />
istniejącym tekście alternatywnym. Format zapisu grafiki wg standardu<br />
SVG (Scalable Vector Graphics) włączonego do HTML5<br />
nie ma tekstu alternatywnego (podobnie jak MathML), a wśród<br />
obecnych na rynku przeglądarek tekstowych – czytników ekranu,<br />
nie ma czytnika, który standardowo sięgałby w głąb struktury tagu<br />
, w której jest miejsce na tytuł i dokładny opis grafiki (tagi<br />
i ):<br />
<br />
To jest wykres słupkowy<br />
Wykres przedstawia zainteresowania Bonami na Innowacje w<br />
województwach<br />
<br />
...<br />
<br />
Tego mankamentu nie ma struktura canvas w HTML5, przy pomocy<br />
której można prezentować grafikę. Struktura canvas ma<br />
element alt na alternatywny tekst dla przeglądarek WWW nie<br />
akceptujących HTML5 oraz dla przeglądarek tekstowych (które<br />
akceptują HTML5 i znana im jest struktura canvas):<br />
<br />
<br />
<br />
Użytkownikami przeglądarek tekstowych i czytników ekranów są<br />
nie tylko osoby niewidome, ale również osoby z dysleksją lub niesprawnością<br />
rąk, nie mogące korzystać z myszy. Miniaturyzacja<br />
urządzeń mobilnych i niewielkie ekrany, w jakie są wyposażone,<br />
powoduje, że również dla użytkowników tych urządzeń grafika, jej<br />
szczegóły stają się niedostępne. Wraz ze zwiększającym się trendem<br />
wizualizacji informacji, grafika w dokumentach odgrywa coraz<br />
większą rolę. Często zawiera ona najistotniejsze informacje,<br />
nie zawsze alternatywnie podane w tekście strony lub dokumentu.<br />
Ponadto jej transmisja wymaga dużej przepustowości łączy.<br />
Jest wiele okoliczności i powodów, dla których prowadzone są<br />
badania nad alternatywnymi metodami prezentującymi grafikę.<br />
Naukowcy zajmujący się odtwarzaniem informacji zawartej<br />
w grafice naukowej i biznesowej wykorzystują dla udostępnienia<br />
grafiki różne techniki, m.in. dotyk i dźwięk i połączenie obu tych<br />
technik. Niosą one ze sobą poważne ograniczenia:<br />
80<br />
– konieczność posiadania sprzętu, i to mało przenośnego, jak<br />
drukarki druku wypukłego i tablety dotykowe,<br />
– wiele z tych rozwiązań wymaga specjalnego zaprojektowania<br />
i przygotowania grafiki w sposób mogący służyć odtwarzaniu<br />
zawartych w niej informacji przy pomocy dotyku i dźwięku.<br />
Z tego powodu, oraz ograniczonych możliwości przekazywania<br />
opisu grafiki za pomocą tekstu alternatywnego (i to tylko opisu<br />
statycznego), zauważyć można coraz większe zainteresowanie<br />
środowisk naukowych badaniami nad technikami lingwistycznymi<br />
prezentującymi nie lingwistycznie zapisane dane czyli na udostępnianiu<br />
grafiki w tekstowej formie. Tekst streszczający grafikę<br />
i opisujący ją na różnym poziomie szczegółowości jest odczytywany<br />
mową, techniką text-to-speech, używaną przez czytniki<br />
ekranów, jak na przykład najpopularniejszy JAWS. Pierwsze<br />
prace badawcze były prowadzone w kierunku dostarczania informacji<br />
o tym, jak grafika wygląda. W zależności od typu grafiki,<br />
np. wykres liniowy, słupkowy lub kołowy, pozyskiwano informacje<br />
o typie i właściwych dla danego typu podstawowych elementach<br />
z tekstów zawartych w plikach grafiki.<br />
Najnowsze badania, opisane dalej, mają dostarczyć inteligentnych<br />
technik tworzenia informacji o tym, jaki jest główny komunikat<br />
informacyjny zawarty w grafice. Chodzi o wygenerowanie<br />
tekstu w języku naturalnym streszczającego główny komunikat<br />
oraz dostarczenie informacji (również tekstem w języku naturalnym)<br />
bardziej szczegółowych, na różnych poziomach szczegółowości,<br />
generowanych na życzenie użytkownika. Dotychczasowe<br />
badania koncentrują się na technikach wydobywania i tworzenia<br />
informacji na podstawie wnioskowania specjalizujących się w obsłudze<br />
określonych typów grafik, takich jak schematy słupkowe,<br />
kołowe albo wykresy liniowe różnego rodzaju lub grafy liniowe.<br />
Brakuje rozwiązań kompleksowych, które poradziłyby sobie<br />
z tekstową prezentacją każdego typu grafiki, przynajmniej typu<br />
matematycznego (wykresy liniowe i punktowe, kształty geometryczne,<br />
grafy sieciowe w podręcznikach i wydawnictwach naukowych)<br />
albo biznesowego (wykresy słupkowe i kołowe w tygodnikach,<br />
raportach). O ile badania dotyczące niewizualnego<br />
udostępniania i tworzenia formuł matematycznych zaowocowały<br />
opracowaniem m.in. internetowych platform i bibliotek [16] wymiany<br />
narodowych/regionalnych formatów brajlowskich notacji<br />
matematycznych (np. amerykańska Nemeth Braille, francuska<br />
BrailleStar) oraz odczytu formuł w języku naturalnym, o tyle prace<br />
nad kompleksowym rozwiązaniem zwiększającym dostępność<br />
grafik matematycznych i biznesowych nie są zaawansowane.<br />
Jednym z takich kompleksowych rozwiązań może być internetowa<br />
platforma świadcząca e-usługi tekstowej prezentacji grafik<br />
na różnym poziomie szczegółowości, w wybranym języku naturalnym<br />
i technologii text-to-speech, z możliwością generowania<br />
tekstu alternatywnego streszczającego grafikę, wstawianego na<br />
stronę WWW lub do dokumentu elektronicznego.<br />
Warto zauważyć, że wyniki prac nad kompleksowymi rozwiązaniami<br />
udostępniania grafiki miałyby masowych odbiorców,<br />
zwłaszcza wśród użytkowników smartfonów.<br />
Badania naukowe i wyniki dotyczące interaktywnych<br />
technik udostępniania grafik w języku naturalnym<br />
Prace nad dostarczaniem informacji o schematach prezentowanych<br />
przez oprogramowanie prezentacyjne, na podstawie właściwości<br />
schematów (styl, etykiety i zakresy osi, liczba zestawów danych)<br />
były prowadzone już w 1995 r. przez Kurze’a [11] i w 1996 r.<br />
przez Kennel’a (system Audiograf [12]). Rozwiązania oparte na ich<br />
wynikach wymagały jednak od użytkowników zapamiętywania logiki<br />
układu schematu i/lub dodatkowego wyposażenia sprzętowego.<br />
Nowsze badania, z bardzo ciekawymi osiągnięciami opublikowanymi<br />
w 2007 r. w [13], dotyczą interpretacji grafik statystycznych<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
ukazujących się w głównym kanadyjskim wydawnictwie statystycznym<br />
„The Daily”. Opracowano system iGraph dostarczający użytkownikowi,<br />
w trybie interaktywnym, informacji prezentowanych<br />
na wykresach statystycznych. Użytkownik może współpracować<br />
z iGraph na dwa sposoby: otrzymywać streszczenie wykresu generowane<br />
wg opracowanego szablonu („protokołu komunikacji”)<br />
na podstawie tytułu, etykiet osi, najwyższych i najniższych wartości<br />
oraz może bardziej szczegółowo badać wykres za pomocą<br />
instrukcji klawiszowych, w wyniku których może otrzymać wartości<br />
wszystkich punktów wykresu (zaznaczonych na wykresie) oraz<br />
zmiany pomiędzy wartościami punktów. System iGraph jest bardzo<br />
użyteczny do zapoznawania się w trybie tekstowym i dogłębnie<br />
z wykresami statystycznymi, nie nadaje się jednak do pozyskiwania<br />
informacji o grafice charakterystycznej dla biznesowych<br />
wydawnictw i popularnych tygodników takich jak „Newsweek” czy<br />
„The Times”, które w grafice, często w postaci wykresów słupkowych,<br />
przekazują komunikat informacyjny. System iGraph nie<br />
potrafi „odczytać” takiego komunikatu (przesłania informacyjnego).<br />
Informuje wyłącznie o tym, jak wykres statystyczny wygląda,<br />
nie wyciągając wniosków czyli informacji z danych zawartych na<br />
wykresie ani nie robiąc syntezy informacyjnej. Powoduje to małą<br />
przyjazność systemu, ponieważ użytkownik musi w swej wyobraźni<br />
odtwarzać „mentalną mapę” wykresu.<br />
Od 2005 r. prowadzone są bardzo interesujące badania, m.in.<br />
publikowane w 2007 r. [9] i w dysertacji Seniza Demir’a z 2010 r.<br />
[9], nad systemem SIGHT tworzącym informacje tekstowe w języku<br />
naturalnym o grafice na stronach WWW (np. na stronach<br />
elektronicznych wydań tygodników „Newsweek” i „The Times”),<br />
ograniczone na razie do prostych wykresów słupkowych, tzn.<br />
obrazujących wartości jednego, niezależnego atrybutu i odpowiadające<br />
wartości atrybutu zależnego. Rozwiązanie zastosowane<br />
w systemie SIGHT nie wymaga ani specjalnego oprzyrządowania<br />
(wystarczy jedynie komputer z przeglądarką Web) ani pomocy<br />
osoby widzącej. Nie wymaga od użytkownika umysłowego wysiłku<br />
w zrozumieniu przekazu informacyjnego schematu, ponieważ<br />
system streszcza główny komunikat informacyjny schematu i dostarcza<br />
odpowiedzi na ewentualne zainteresowanie szczegółami<br />
schematu.<br />
Informacja tworzona jest na podstawie analizy tekstów nagłówków,<br />
etykiet osi oraz innych tekstów znajdujących się na<br />
zidentyfikowanym wykresie. Celem generowanej informacji jest<br />
jak najbardziej wiarygodne odtworzenie głównego przesłania<br />
(komunikatu) wykresu. W wyniku badań została opracowana<br />
aplikacja SIGHT (Summarizing Information GrapHics Textually)<br />
rozszerzająca działanie przeglądarki IE dla Windows, ukierunkowana<br />
na najbardziej popularny czytnik ekranu – JAWS (Freedom<br />
Scientific, Inc.). Planowane są i już realizowane dalsze badania<br />
obejmujące bardziej skomplikowaną grafikę jak wykresy kołowe<br />
i grupowe wykresy słupkowe, jak również rozszerzenie SIGHT<br />
w kierunku współpracy z innymi przeglądarkami oraz na innych<br />
platformach (MAC, Linux).<br />
SIGHT generuje wstępną informację o wykresie, w języku naturalnym<br />
(angielskim), na podstawie ważnych i wyróżniających się<br />
jego cech oraz w swej najnowszej wersji umożliwia konwersację<br />
z użytkownikiem chcącym dowiedzieć się więcej o wykresie, w wyniku<br />
której są generowane bardziej szczegółowe informacje.<br />
Dotychczasowe wyniki prac nad SIGHT, ewaluowane na grupie<br />
110 prostych wykresów słupkowych wybranych z popularnych<br />
czasopism i raportów dały wiarygodność odtworzenia głównego<br />
przesłania informacyjnego wykresu na poziomie 79,1%. SIGHT<br />
nie wymaga od użytkowników dodatkowej fatygi ani oprzyrządowania.<br />
Nie wymaga też od twórców stron WWW specjalnego modelowania<br />
i zapisu wykresów.<br />
Warto pokrótce poznać działanie aplikacji SIGHT.<br />
Zasady i algorytmy generowania informacji<br />
w języku naturalnym o schematach słupkowych<br />
w aplikacji SIGHT<br />
Użytkownik nawigując po stronie WWW przy pomocy wirtualnego<br />
wskaźnika czytnika ekranu JAWS, pełniącego rolę przeglądarki<br />
tekstowej WWW, i napotkawszy grafikę, tzn. jej alternatywny<br />
tekst, może uruchomić aplikację SIGHT klawiszami CTRL+Z., by<br />
dowiedzieć się, o czym informuje wykres (jeżeli jest to wykres<br />
słupkowy). Tekst streszczający podstawowy, główny komunikat<br />
przekazywany przez wykres jest podawany w dodatkowym oknie.<br />
Wygenerowanie tekstu streszczającego następuje w wyniku kilkuetapowego<br />
przetwarzania wykresu.<br />
Pierwszym etapem jest preprocessing strony WWW wykrywający<br />
wszystkie grafiki podejrzane o to, że są wykresami słupkowymi,<br />
i opatrzenie ich alternatywnym tekstem informującym, że<br />
dana grafika wydaje się być wykresem słupkowym. Rozpoznanie<br />
następuje w wyniku analizy specyficznych atrybutów, mogących<br />
wskazywać na wykres słupkowy, takich jak 20 lub więcej poziomów<br />
szarości, zawieranie co najmniej 2 prostokątów ze wspólnym<br />
początkowym wierszem lub kolumną. By zsynchronizować położenie<br />
wskaźnika czytnika ze wskaźnikiem przeglądarki, którym<br />
operuje model DOM przeglądarki IR i z którego korzysta SIGHT,<br />
wykorzystywana jest cecha nowszych wersji JAWS umożliwiająca<br />
taką synchronizację klawiszami CTRL+INSERT+DELETE.<br />
Gdy klawisze CTRL+Z są przez SIGHT rozpoznane, a wskaźnik<br />
wskazuje na wykres słupkowy, następuje analiza pliku z grafiką<br />
wykresu i na jej podstawie generowana jest struktura XML<br />
z uzyskanymi danymi o wykresie. Są nimi typ wykresu (prosty<br />
wykres słupkowy, wykres kołowy i inne) oraz elementy tekstowe<br />
wykresu takie jak tytuł, etykiety osi, teksty na/przy słupkach i inne<br />
napisy oraz liczba, wysokość i kolor słupków.<br />
Tak powstała struktura XML jest poddawana uzupełnieniom<br />
o dodatkowe informacje dotyczące wyróżnień na schemacie, np.<br />
wskazujące słupek wyróżniony kolorem wśród innych słupków, słupek<br />
opatrzony dodatkowym tekstem, słupek opatrzony kolorowym<br />
tekstem, gdy inne teksty towarzyszące słupkom są niekolorowe.<br />
Również jako dodatkowa, uzupełniająca, jest generowana informacja<br />
o zidentyfikowanych klasach czasowników i przymiotników<br />
o podobnym znaczeniu (rdzeniu) oraz występowaniu zidentyfikowanej<br />
klasy w tytule schematu. Chodzi o zidentyfikowanie<br />
najbardziej prawdopodobnej kategorii głównego komunikatu informacyjnego<br />
zawartego w schemacie (np. pokazanie trendu lub<br />
zmiany w trendzie lub wierzchołka wartości), a wprowadzonego<br />
przez projektanta schematu za pomocą opracowanego projektu<br />
schematu, na który składają się takie elementy jak kwadraty,<br />
ich gabaryty i kolor, ich ułożenie na osi, etykiety osi i wartości na<br />
osiach, tytuł, wyróżnienia i inne elementy. W najnowszej wersji<br />
SIGHT przyjęto 12 kategorii komunikatów informacyjnych.<br />
W celu dalszego przetwarzania uzupełnionej pierwotnej struktury<br />
XML, jakim jest zidentyfikowanie kategorii głównego komunikatu<br />
schematu, identyfikowane są 3 rodzaje „sygnałów komunikatywnych”,<br />
których można się dopatrzyć na schematach:<br />
• względny (mały, średni, duży) wysiłek użytkownika potrzebny<br />
dla dwóch różnych zadań – percepcji i zrozumienia przesłania<br />
informacyjnego wykresu; przykładem różnego wysiłku dla zrozumienia<br />
wykresu jest ułożenie słupków wg reprezentowanych<br />
wartości albo wg alfabetycznej kolejności etykiet słupków; przy<br />
ułożeniu alfabetycznym trudniej jest zauważyć trend lub jego<br />
zmianę;<br />
• wyróżnienie jednego ze słupków np. przez kolor albo dodatkowy<br />
napis, co jest zapisane jako wcześniej opisane uzupełnienie<br />
struktury XML;<br />
• występowanie w tytule określonych czasowników i przymiotników,<br />
jak również odczasownikowych rzeczowników i przymiot-<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 81
ników, podlegających ekstrakcji, mogących sugerować ogólną<br />
kategorię komunikatu zawartego w wykresie; dalsza analiza<br />
wyodrębnionych słów, m.in. wyodrębnianie wspólnych rdzeni<br />
i klasyfikowanie odbywa się za pomocą dostępnych w Internecie<br />
baz słownikowych m.in. WordNet i tezaurusów; wyniki<br />
przetwarzania tytułu (wyodrębnione słowa lub klasa słów sugerujące<br />
prawdopodobną kategorię komunikatu – np. o ocenie<br />
lub zmianie trendu lub względnej różnicy) umieszczane<br />
są w strukturze XML; tagowanie słów tworzących klasę jest<br />
przeprowadzane na strukturze XML.<br />
Na podstawie otrzymanej struktury tworzona jest dynamicznie<br />
sieć bayesowska, służąca, ogólnie definiując, do przedstawiania<br />
zależności pomiędzy zdarzeniami, i wnioskowaniu dotyczącego<br />
najbardziej prawdopodobnej hipotezy, w oparciu o rachunek<br />
prawdopodobieństwa. Klasycznym przykładem sieci Bayes’a jest<br />
reprezentowanie zależności pomiędzy symptomami a chorobą.<br />
W przypadku aplikacji SIGHT wierzchołkiem sieci są możliwe,<br />
przyjęte w SIGHT, kategorie komunikatu płynącego z wykresu<br />
(12 kategorii), zaś węzłami-dziećmi wyszukane dowody na występowanie<br />
cech danej kategorii (mało prawdopodobne, średnio<br />
prawdopodobne i bardzo prawdopodobne). Jako fakty wprowadzane<br />
są do sieci zidentyfikowane „sygnały komunikatywne”.<br />
Wybór najbardziej prawdopodobnej kategorii polega na ocenie<br />
prawdopodobieństwa sumarycznego dostarczonego przez dowody.<br />
W ten sposób wybierany jest typ (kategoria) komunikatu<br />
głównego (streszczającego schemat), a jego treść konstruowana<br />
jest z wartości parametrów zapisanych w strukturze XML.<br />
W wersji systemu z 2010 r. Interactive_SIGHT użytkownik, po<br />
otrzymaniu komunikatu streszczającego, może uzyskiwać dalsze<br />
bardziej szczegółowe informacje zawarte w schemacie, otrzymywane<br />
z głębszej analizy zgromadzonych danych w strukturze<br />
XML. Przykładowo: użytkownik prosi o informacje o tym, co jest<br />
najbardziej akcentowane w schemacie, system wybiera najbardziej<br />
adekwatną propozycję, przy czym do jej agregacji (z kawałków<br />
tekstów) i zorganizowania w logiczny i poprawny tekst<br />
włączane są specjalizowane moduły systemu odpowiedzialne za<br />
strukturyzację, agregację i porządkowanie (sekwencjonowanie)<br />
tekstu.<br />
Rozwiązanie zastosowane w systemie SIGHT nie wymaga<br />
ani specjalnego oprzyrządowania (komputer z przeglądarką<br />
Web), ani specjalnego przygotowywania grafiki ani pomocy osoby<br />
widzącej.<br />
Jest to bardzo obiecujący kierunek badań nad efektywnymi<br />
technikami niewizualnego prezentowania grafiki.<br />
Badania, standardy i techniki niewizualnego<br />
udostępniania grafiki na podstawie odczytu<br />
tekstów zawartych w strukturach XML<br />
Najnowsze badania i techniki, przybliżone w poprzedniej części<br />
artykułu, opisywania przy pomocy tekstu (i mowy) grafik z różną<br />
szczegółowością w sposób inteligentny zdaniami skonstruowanymi<br />
w języku naturalnym na podstawie wywnioskowanego najbardziej<br />
prawdopodobnego komunikatu informacyjnego zawartego<br />
w grafice są ograniczane, jak dotąd, do określonych typów grafiki<br />
na stronach WWW. Równolegle z tymi badaniami toczą się prace<br />
wokół standardów opartych na XML, i związanych z nim technikach,<br />
udostępniania w sposób multimodalny multimedialnych<br />
treści zawartych zarówno na stronach WWW, jak i w e-bookach.<br />
Rozwój istniejących standardów idzie w kierunku, opisanego dalej<br />
w artykule, większego zintegrowania m.in. standardów DAI-<br />
SY XML, MathML, SVG i standardu EPUB. Strony WWW w rozszerzonym<br />
standardzie DAISY XML i e-booki w EPUB 3 będą<br />
czytane przez nowe wersje czytników ekranów i nowe wersje<br />
czytników e-booków bez problemów z udostępnianiem zawartych<br />
82<br />
w nich grafik. Opisy grafik będą pobierane ze struktur XML zapisanych<br />
w plikach zgodnych ze standardem svg.<br />
Standard SVG<br />
Opracowany i rekomendowany w 2001 r. przez W3C (World Wide<br />
Web Consortium) język SVG, należący do rodziny XML, będący<br />
uniwersalnym formatem dwuwymiarowej grafiki wektorowej<br />
(statycznej i animowanej), nieobwarowany licencjami i patentami,<br />
umożliwia opisanie każdego obiektu graficznego i jego cech,<br />
wyłącznie za pomocą tekstu, zapisanego w kodzie Unicode. Pliki<br />
SVG, o rozszerzeniu svg, svgz, są dostępne zarówno dla osoby<br />
widzącej jak i niewidzącej.<br />
Na bazie tego języka, w 2005 r., firma ViewPlus, Inc opracowała<br />
edytor diagramów zapisywanych w SVG, konwerter formatów<br />
graficznych na SVG i przeglądarkę plików SVG w technice<br />
dotyk/mowa dostępne na rynku pod nazwą IVEO SVG Viewer.<br />
Diagramy i schematy blokowe utworzone przy pomocy tego oprogramowania<br />
mogą być drukowane bezpośrednio z jego poziomu<br />
na drukarkach brajlowsko-czarnodrukowych z serii Tiger View<br />
plus. Wydrukowane wypukłe rysunki mogą być także nakładane<br />
na dotykowy tablet. Przez dotyk elementów graficznych lub tekstu<br />
na tablecie, komputer, do którego jest podłączony tablet, w sprzężeniu<br />
zwrotnym może odczytywać tekst i na podstawie etykiet<br />
(meta danych) informować mową o elementach diagramu i ich<br />
cechach. Każdy dotknięty element tekstu powoduje odczytanie<br />
logicznego bloku tekstu. Dostępność grafiki matematycznej jest<br />
tym większa, im staranniejsze i dokładniejsze jest etykietowanie<br />
i opisanie elementów grafiki.<br />
Rys. 4. System IVEO SVG Viewer (View Plus Inc): Tablet dotykowy<br />
z nakładką będącą wypukłą kopią wyświetlanej grafiki na ekranie<br />
komputera PC służącą do znajdowania miejsc w grafice, po naciśnięciu<br />
których użytkownik usłyszy ich objaśnienia Źródło: [8]<br />
Fig. 4. IVEO SVG Viewer system (View Plus Inc.): a software application<br />
with optional touch screen tablet. It enables a blind user to explore<br />
a braille drawings that are placed on the screen. The graphical<br />
symbols that are touched by a user are described for him by a speech<br />
synthesizer<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Warto także dodać, że w odróżnieniu od innych starszych programów<br />
wspierających drukowanie tekstu i grafiki na drukarkach<br />
brajlowskich takich jak Winbraille czy Duxbury, zarówno płatne<br />
oprogramowanie do tworzenia rysunków IVEO, jak i darmowa<br />
przeglądarka IVEO Viever posiadają polskojęzyczny interfejs.<br />
Standard DAISY XML i jego rozwój<br />
W 2007 r. grupa robocza rozwijająca oparty na XML standard zapisu<br />
formuł matematycznych MathML opublikowała rekomendacje<br />
specjalnego rozszerzenia technologii DAISY XML o włączanie do<br />
jej dokumentów formuł matematycznych zapisanych w MathML.<br />
DAISY XML został opracowany pierwotnie w celu umożliwienia<br />
publikowania w sposób dostępny dla wszystkich literatury nie<br />
naukowej. Obecnie DAISY XML stał się podzbiorem standardu<br />
elektronicznych publikacji (e-booków), EPUB. Dzięki temu jest<br />
możliwe dostosowywanie przez czytniki EPUB treści dokumentów<br />
tworzonych w tym standardzie do ekranów różnych urządzeń.<br />
W 2009 r. DAISY SVG Working Group podjęła prace nad<br />
rozszerzeniem SVG dotyczącym opisu rysunków i dodatkowej<br />
struktury pól SVG dla jej atrybutów oraz nad włączeniem przestrzeni<br />
nazw (namespaces) z DAISY do SVG. Przykładem korzyści<br />
takiego rozszerzenia poprzez dodatkowe atrybuty jest<br />
umożliwienie opisu obiektów mogących być uwidacznianymi na<br />
wydrukach „atramentowych”, ale niewłaściwie prezentowanych<br />
na wydrukach wypukłych, przy zachowaniu obowiązujących konwencji<br />
druku wypukłego. Przykładowo, jasny nos, obiekt ze swej<br />
natury wypukły, na wydruku kolorowym – biały, jest prezentowany<br />
na druku wypukłym przez niską wysokość kropek, lub całkowity<br />
ich brak, czyli wklęsłość.<br />
Dodatkowe przestrzenie nazw w SVG przeznaczone są na zapis<br />
liczbowych danych występujących na wykresach w płaszczyźnie<br />
kartezjańskiej i dwuwymiarowych mapach GIS (Geographic<br />
Information System). Ich zapis wraz z grafiką zwiększa możliwości<br />
wyszukiwania, jak również dostępność przez możliwość odtworzenia<br />
danych liczbowych słownie lub tonowo. Takie tonowe<br />
odtwarzanie bazuje na mapowaniu wartości na częstotliwość<br />
dźwięku, co odbierane jest intuicyjnie.<br />
Prowadzony od 2009 r. projekt pn. The Enhanced Reading<br />
Project, przez grono amerykańskich firm wydawniczych i American<br />
Institute of Physics, wydawcę prestiżowych Physical Review<br />
Letters i Physical Review, ma na celu udostępnianie online publikacji<br />
w DAISY XML, w których rysunki są zapisywane w rozszerzonym<br />
SVG, bez zwiększania kosztów publikacji z jednoczesnym<br />
uzyskaniem większej ich dostępności za pomocą czytników<br />
ekranów.<br />
Standard EPUB<br />
Standard EPUB (skrót od electronic publication) otwarty standard,<br />
oparty na języku XML, stosowany do publikowania elektronicznych<br />
książek (e-booków). Format ten jest coraz szerzej stosowany<br />
w czytnikach książek elektronicznych. Jest nadzieja, że<br />
najnowszy standard EPUB 3, w skład którego wchodzi m.in. Daisy<br />
XML, MathML, obejmujący również SVG XML, stanie się powszechnym<br />
standardem dla publikacji elektronicznych, w których<br />
grafika, bez konieczności dodatkowego przetwarzania oraz specjalnego<br />
przygotowywania projektu, będzie mogła być multimodalnie<br />
udostępniana, m.in. na urządzeniach haptycznych. Czytniki<br />
EPUB i MathML odtwarzają formuły matematyczne i grafikę<br />
matematyczną tonowo i mową (na ogół w języku angielskim).<br />
Daisy Consortium rozpoczęło w <strong>2012</strong> r. prace przygotowawcze<br />
do badań nad przełomowym, jak twierdzi konsorcjum, projektem<br />
odświeżalnego ekranu brajlowskiego do czytania e-booków<br />
transformowanych na brajla przez czytniki brajla. Materiały na<br />
temat tego nowego projektu nie podają, jakie techniki haptyczne<br />
zostaną zastosowane do dynamicznego prezentowania treści na<br />
odświeżalnym ekranie. Można się domyśleć, że projekt opierać<br />
się będzie na standardzie EPUB3.<br />
Do końca nie wiadomo, czy EPUB 3 stanie się dominującym<br />
standardem dla e-booków, ponieważ jego groźna konkurencja<br />
– korporacyjny standard Kindle rozwija się równie dynamicznie<br />
i zapowiedziana przez Amazon wersja Kindle 8 może mieć wpływ<br />
na prace rozwojowe związane z EPUB 3.<br />
Dostępność grafiki w dokumentach<br />
tworzonych w środowisku TeX (LaTeX)<br />
Jedną z powszechniej stosowanych technologii, szczególnie<br />
w środowiskach naukowych, pozwalających na tworzenie profesjonalnych<br />
publikacji zawierających formuły matematyczne, jest<br />
system i język TeX, który z biegiem lat przekształcił się w LaTeX.<br />
Z uwagi na swoją uniwersalność (LaTeX działa niemal na wszystkich<br />
platformach takich jak Unix, MAC OS i Windows) jest on bardzo<br />
popularny wśród naukowców z dziedzin technicznych.<br />
Praca w tym środowisku odbywa się w sposób wsadowy polegający<br />
na tym, że źródłowy dokument tekstowy zawierający<br />
odpowiednie polecenia jest kompilowany do docelowej postaci,<br />
którą może być PDF (dostępny dla udźwiękowionych czytników<br />
takich jak AdobeReader od wersji 9) lub HTML.<br />
Ponieważ źródłowy dokument może być tworzony całkowicie<br />
w sposób tekstowy, już od dawna LaTeX-a zaczęły używać osoby<br />
niewidome. Jednakże początkowo był on zaprojektowany jako<br />
system, w którym bezpośrednio nie tworzy się grafiki. W czasach,<br />
kiedy powstawał, nie były znane tak powszechne dziś formaty<br />
graficzne jak PostScript, GIF, PNG, czy JPEG. Zamiast tego został<br />
w nim zaimplementowany prosty zbiór poleceń używanych<br />
w specjalnym otoczeniu „picture” pozwalający na rysowanie prymitywów<br />
graficznych takich jak punkty, odcinki, strzałki, wielokąty<br />
itp. Dzięki takiemu sposobowi użycia, osoba niewidoma może,<br />
znając odpowiednie polecenia oraz ich parametry, samodzielnie<br />
wykonać prosty rysunek czy wykres.<br />
Wszystkie bardziej skomplikowane twory graficzne w dokumentach<br />
LaTeX-owych muszą być tworzone przy pomocy zewnętrznych<br />
programów a następnie mogą być wstawiane do dokumentu<br />
źródłowego przy pomocy odpowiednich klas i pakietów.<br />
Pozwalają one z jednej strony na rysowanie grafik przy pomocy<br />
odpowiednich poleceń języka LaTeX, a z drugiej na wstawianie<br />
grafik przygotowanych w zewnętrznych programach a zapisanych<br />
w popularnych formatach takich jak BMP, GIF, PNG czy JPG.<br />
Niewidomy użytkownik, który chce umieścić w swoim dokumencie<br />
LaTeX grafikę, może postąpić na dwa sposoby:<br />
Po pierwsze, może wstawić do dokumentu grafikę przygotowaną<br />
przez osobę widzącą lub pozyskaną z innego źródła,<br />
mając jednocześnie możliwość jej odpowiedniego dopasowania<br />
– przeskalowania i umieszczenia w odpowiednim miejscu dokumentu<br />
przy pomocy poleceń takich otoczeń jak picture czy<br />
figure. Kontrolę nad poprawnością takiej operacji zapewniają<br />
komunikaty o błędach generowane przez kompilator LaTeX-a,<br />
które mówią o poprawnym rozmiarze i umiejscowieniu wstawionego<br />
rysunku.<br />
Przykładowo, aby wstawić swoje zdjęcie zapisane w pliku mojefoto.jpg,<br />
użytkownik może użyć poleceń:<br />
\begin{figure}[!ht]<br />
\includegraphics[scale=0.83]{mojefoto.jpg}<br />
\caption{Oto moje zdjęcie}<br />
\end{figure}<br />
Drugi sposób postępowania polega na samodzielnym narysowaniu<br />
przez niewidomego własnej grafiki przy pomocy poleceń<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 83
LaTeX. W tym wypadku może się on posłużyć jednym z dodatkowych<br />
programów, takich jak np. Gnuplot (http://www.gnuplot.<br />
info/). Za jego pomocą, pisząc odpowiedni plik skryptowy można<br />
narysować wykres funkcji czy rysunek figury geometrycznej, który<br />
jest eksportowany do formatu TEX LaTeX-a, GIF lub SVG.<br />
Przykładowo, prosty skrypt: złożony jest z następujących poleceń:<br />
set terminal svg<br />
set output „sinus.svg”<br />
plot [-3.14:3.14] sin(x)<br />
Po wykonaniu odpowiedniego polecenia z linii poleceń systemu<br />
operacyjnego spowoduje wygenerowanie pliku sinus.svg z rysunkiem<br />
wykresu funkcji sinus w zakresie od -pi do pi. Taki plik<br />
można następnie wstawić do dokumentu LaTeX. Ze źródłowego<br />
dokumentu LaTeX niewidomy użytkownik może wygenerować wynikowy<br />
dokument w formacie PDF lub HTML, którego zawartość<br />
tekstowa jest dostępna dla osoby widzącej. W tak wytworzonym<br />
formacie osoba niewidoma nie może jednak odczytać grafik a ma<br />
jedynie możliwość stwierdzenia, gdzie taka grafika się znajduje.<br />
Plik svg zawierający rysunek, a powstały w wyniku działania programu<br />
np. Gnuplot, można jednak wydrukować na drukarce brajlowskiej<br />
przy pomocy wspomnianego już programu IVEO Viewer.<br />
W ten nieco skomplikowany sposób można uzyskać równoległe<br />
postaci rysunków, które będą dostępne zarówno dla widzącego,<br />
jak i niewidomego użytkownika.<br />
Oba opisane wyżej sposoby uzyskania rysunku mają jednak<br />
podstawową niedogodność polegającą na tym, że niewidomy<br />
użytkownik nie ma pełnej kontroli nad wyglądem i formą jego wyjściowej<br />
postaci jedynie poza papierową, wypukłą wersją rysunków<br />
uzyskaną z drukarki brajlowskiej.<br />
Wadą tego rozwiązania dla polskich użytkowników (szczególnie<br />
początkujących takich jak np. uczniowie szkół podstawowych)<br />
jest również to, że aby go użyć, należy znać polecenia języka<br />
LaTeX, polecenia programu Gnuplot, a także sposoby użycia tych<br />
programów przeprowadzające przez proces kompilacji źródłowego<br />
dokumentu do graficznej postaci wyjściowej.<br />
Istnieje oprogramowanie dedykowane dla niewidomych pozwalające<br />
na eksportowanie formuł matematycznych zapisanych<br />
w formacie LaTeX do postaci notacji brajlowskiej. Takie funkcje<br />
posiadają programy Translator (http://www.sklep.altix.pl/str,prod_<br />
big,idk,627,kat,67,Euler__pakiet_programow_Homer_i_Translator_.html)<br />
oraz Duxbury (http://www.duxburysystems.com/).<br />
Jednakże jest w nich stosowana różna brajlowska notacja matematyczna<br />
np. w Duxbury jest to notacja amerykańska. Ponadto<br />
nie posiadają one funkcjonalności interpretowania poleceń tworzących<br />
rysunki i przekształcania ich na postać możliwą do wydrukowania<br />
na drukarkach brajlowskich.<br />
Z tych powodów potrzebne jest kompleksowe rozwiązanie,<br />
które pozwoli na w miarę łatwe tworzenie rysunków, np. wykresów<br />
samodzielnie przez niewidomego ucznia lub przez widzącego<br />
nauczyciela w taki sposób, aby były one dostępne dla obu<br />
omawianych grup użytkowników.<br />
Zakończenie<br />
84<br />
W artykule przedstawiono wybrane badania i powstałe lub nadal<br />
rozwijane dzięki nim techniki dotyczące alternatywnych sposobów<br />
prezentowania grafiki i zapoznawania się z nią. Badania mające<br />
na celu jak największą użyteczność wyników skupiają się na<br />
grafice matematycznej związanej z edukacją (np. wykresy liniowe,<br />
kształty geometryczne) oraz grafice biznesowej (np. wykresy<br />
słupkowe, wykresy statystyczne). Wybór badań i technik został<br />
dokonany pod kątem przedstawienia reprezentantów kierunków<br />
badawczych i poszukiwawczych dla poruszanej problematyki. Wybrano<br />
przykłady najnowsze, z okresu ostatnich kilku lat oraz tegoroczne.<br />
Badania nad multimedialnymi technikami udostępniania<br />
grafiki są prowadzone szerokim frontem, przez wiele światowych<br />
ośrodków naukowych i międzynarodowych zespołów. Wyniki<br />
publikowane są na rozlicznych międzynarodowych konferencjach<br />
i w materiałach pokonferencyjnych, zwłaszcza w wydawnictwach<br />
IEEE. Ich duża ilość zwróciła uwagę autorów artykułu na fakt,<br />
że zagadnienia, uogólniając, uniwersalności dostępu do zasobów<br />
informacyjnych, nie tylko graficznych, współcześnie nabierają dużego<br />
znaczenia, nie tylko ze względu na realizację idei Access<br />
for All, ale również ze względu na różnorodność źródeł (formaty)<br />
i nośników(urządzenia) informacji oraz potrzebę m.in. jej integrowania<br />
(mushup) w bazy wiedzy. Brakuje udziału krajowych badań<br />
i technik zwiększających dostępność grafik w badaniach światowych.<br />
Ich praktyczna potrzeba w Polsce istnieje ze względu na<br />
różnice językowe i różnice w standardach brajlowskich powodujące,<br />
że większość wyników badań światowych może być inspiracją<br />
dla polskich badań, ale nie jest użyteczna dla polskich odbiorców.<br />
Problematyka zwiększania dostępności do elektronicznych zasobów<br />
w Polsce jest traktowana jako niszowa. Znane autorom<br />
przypadki niedostępności zasobów na stronach WWW organów<br />
administracji państwowej potwierdzają ten wniosek…<br />
Literatura<br />
[1] Vidal-Verdu F.and Hafez M.: Graphical tactile displays for visually impaired<br />
people. IEEE Transactions on Neural Systems and Rehabilitation<br />
Engineering, 15: 119–130, 2007.<br />
[2] Volkel T., Weber G., and Baumann U.: Tactile graphics revised: The<br />
novel Brailledis 9000 pin-matrix device with multitouch input. Computers<br />
Helping People with Special Needs, 5105:835–842, 2008.<br />
[3] Rassmus-Grohn K., Magnusson C., and Eftring H.: User evaluations<br />
of a virtual haptic-audio line drawing prototype. Haptics and Audio<br />
Interaction Design, 4129: 81–91, 2006.<br />
[4] Watanabe T. I in.: Practical use of interactive tactile graphic display<br />
system at a school for the blind. Current Developments in Technology-Assisted<br />
Education, pages 1111–1115, 2006.<br />
[5] Toennies J.L. I in.: Toward Haptic/Aural Touchscreen Display of<br />
Graphical Mathematics for the Education of Blind Students, World<br />
Haptics Conference (WHC), 2011 IEEE<br />
[6] Gardner J., Bulatov V., Kelly R.: Making journals accessible to the<br />
visually impaired: The future is near, 2009, Learned Publishing, 22<br />
(4), pp. 314–319<br />
[7] Parkes D.: Nomad: enabling access to graphics and text based information<br />
for blind, visually impaired and other disability groups. Conference<br />
Proceedings, World Congress on Technology, Arlington, VA,<br />
Vol. 5. pp. 690–714, 1991<br />
[8] Gardner J.A., Bulatov V. and Stowell H.: The ViewPlus IVEO technology<br />
for universally usable graphical information. Proceedings of the<br />
2005 CSUN International Conference on Technology and People with<br />
Disabilities, Los Angeles, CA.<br />
[9] Elzer S. I in.: Bar Charts in Popular Media: Conveying Their Message<br />
to Visually Impaired Users via Speech, Book chapter in Advances<br />
in Intelligent Information Systems, Studies in Computational Intelligence<br />
Series, Springer, 2009.<br />
[10] Demir S.: Sight for visually impaired users: Summarized information<br />
graphics, dissertation, University of Delaware, 2010, http://www.<br />
eecis.udel.edu/~demir/web/dissertation.pdf<br />
[11] Kurze M.: Giving blind people access to graphics (example: Business<br />
graphics). In Proc. Software-Ergonomie ’95 Workshop Nicht-visuelle<br />
graphische enutzungsoberflchen, Darmstadt, Germany, 1995.<br />
[12] Kennel A. R.: Audiograf: A diagram-reader for the blind. In Second<br />
Annual ACM Conference on Assistive Technologies, p. 51–56, 1996.<br />
[13] Ferres L. i in: Improving accessibility to statistical graphs: the igraphlite<br />
system. In the Proceedings of the 9th International ACM SIGAC-<br />
CESS Conference on Computers and Accessibility, pages 67–74,<br />
2007.<br />
[14] http://research.vuse.vanderbilt.edu/MEDLab/<br />
[15] The Science Access Project, Department of Physics, Oregon State<br />
University http://dots.physics.orst.edu/<br />
[16] Archambault D.: Towards a universal maths conversion library, Lecture<br />
Notes in Computer Science (including subseries Lecture Notes<br />
in Artificial Intelligence and Lecture Notes in Bioinformatics), 3118,<br />
pp. 664–669, 2004<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Światłowodowy generator supercontinuum zakresu<br />
średniej podczerwieni – przykład technologii podwójnego<br />
zastosowania<br />
dr inż. Jacek Świderski, mgr inż. Maria Michalska, dr inż. Wiesław Pichola,<br />
inż. Marcin Mamajek<br />
Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Optoelektroniki, Warszawa<br />
Współczesne badania prowadzone w zakresie techniki laserowej<br />
ukierunkowane są na technologie i urządzenia będące udoskonaleniem<br />
lub alternatywą obecnie stosowanych o znaczącym<br />
potencjale cywilizacyjnym i szerokich możliwościach aplikacyjnych.<br />
Rozwój danej dziedziny nauki jest w bardzo dużym stopniu<br />
uwarunkowany zapotrzebowaniem na konkretne rozwiązania<br />
technologiczne i konstrukcyjne. Przykładem takiego zapotrzebowania<br />
mogą być światłowodowe układy laserowe generujące<br />
promieniowanie superciągłe (ang. supercontinuum) w paśmie<br />
widmowym ok. 1,5…5 µm. Układy te stanowią nowość naukową<br />
ostatnich kilku lat i mogą być przykładem technologii podwójnego<br />
zastosowania (zastosowania cywilne oraz wojskowe).<br />
Zjawisko generacji promieniowania supercontinuum po raz<br />
pierwszy zostało zaobserwowane na przełomie lat sześćdziesiątych<br />
i siedemdziesiątych ubiegłego wieku, jednakże dopiero na<br />
przestrzeni ostatnich dwóch dekad układy generatorów SC zyskały<br />
szczególne zainteresowanie – co miało miejsce za sprawą<br />
wykorzystania w procesie generacji SC włókien optycznych, w tym<br />
światłowodów fotonicznych, których zaletą jest przede wszystkim<br />
długa droga optyczna oddziaływania promieniowania z ośrodkiem<br />
oraz możliwość kształtowania charakterystyki dyspersyjnej<br />
i uzyskania wysokiego współczynnika nieliniowości włókna.<br />
Pomimo dość intensywnie prowadzonych prac nad źródłami<br />
promieniowania SC, zdecydowana większość doniesień literaturowych<br />
dotyczy generacji w widmowym zakresie widzialnym oraz<br />
w bliskiej podczerwieni [1–4], natomiast nieliczne doniesienia literaturowe<br />
dotyczące zakresu średniej podczerwieni [5–8] pokazują,<br />
iż są to rozwiązania nowe o dużym potencjale aplikacyjnym.<br />
Promieniowanie z zakresu średniej podczerwieni ma istotne zastosowanie<br />
militarne – m.in. do oślepiania rakiet ziemia-powietrze<br />
wyposażonych w głowice samonaprowadzające się na podczerwień<br />
– w tzw. układach DIRCAM (Direct Infrared Countermeasure).<br />
Zagrożenie rakietami śledzącymi detekującymi promieniowanie<br />
w zakresie średniej podczerwieni jest określane jako „70% niebezpieczeństwo”,<br />
co wynika z faktu, że w ostatnim ćwierćwieczu<br />
przeszło 70% wszystkich strat lotniczych poniesionych w prowadzonych<br />
działaniach zbrojnych spowodowane było rakietami tego<br />
typu. Temperatura gazów wylotowych w myśliwcu bojowym osiąga<br />
poziom ok. 1000 0 C, co oznacza, że maksimum widma emisji tak<br />
rozgrzanego obiektu przypada na pasmo ok. 2…4 µm. To powoduje,<br />
że głowice rakiet samonaprowadzających się na podczerwień<br />
wyposażone są w detektory promieniowania z tego przedziału<br />
widmowego. Metodą pozwalająca na „oszukanie” takiej rakiety jest<br />
zrzut z np. samolotu flar imitujących obiekty rozgrzane do wysokiej<br />
temperatury. Metodą bardziej skuteczną pozwalającą na efektywne<br />
oślepienie głowicy rakiety wydaje się zastosowanie źródła<br />
promieniowania supercontinuum na pasmo widmowe średniej podczerwieni<br />
zintegrowanego z jednocześnie działającym systemem<br />
śledzenia rakiety od momentu jej wystrzału.<br />
Niezwykle istotnym obszarem zastosowań promieniowania SC<br />
są również aplikacje medyczne – m.in. ablacja miękkich tanek biologicznych.<br />
Dla fal o długości powyżej 2 µm współczynnik absorpcji<br />
promieniowania w wodzie (zawartej m.in. w tkankach biologicznych)<br />
jest większy co najmniej o dwa rzędy wielkości w stosunku<br />
do współczynnika absorpcji dla fal o długości 1 µm. To powoduje,<br />
że te długości fal cieszą się szczególnym zainteresowaniem środowiska<br />
medycznego. Ponadto, warto tu zwrócić uwagę na fakt, że<br />
wiele tkanek biologicznych charakteryzuje się liniami absorpcyjnymi<br />
w paśmie średniej podczerwieni. Przykładowo, białka wykazują<br />
silną absorpcję w paśmie 2,8…3,2 µm, podczas gdy tłuszcze cechują<br />
się dużą absorpcją w paśmie 3,3...3,6 µm [9]. Według doniesień<br />
literaturowych [10] promieniowanie o mocy kilku W i długości<br />
fali 1 µm jest w stanie tylko rozgrzać np. próbkę tkanki tłuszczu do<br />
temperatury nieznacznie powyżej temperatury fizjologicznej, podczas<br />
gdy zaledwie kilkadziesiąt mW promieniowania z przedziału<br />
widmowego 3,2…3,6 µm wystarcza do ablacji tej samej tkanki [10].<br />
W tym kontekście zastosowanie źródła SC w medycynie jest wysoce<br />
korzystne, zwłaszcza mając na uwadze fakt, że różne części<br />
widma promieniowania SC mogą być wyselekcjonowane i wykorzystane<br />
do selektywnej ablacji różnych tkanek biologicznych (cechujących<br />
się różnymi charakterystykami absorpcyjnymi).<br />
Generatory SC mogą być również stosowane, jako źródła<br />
promieniowania w systemach detekcji różnych związków chemicznych<br />
i biologicznych, posiadających charakterystyczne linie<br />
absorpcji w paśmie średniej podczerwieni. Układy tego typu pozwalają<br />
na wykrywanie różnego rodzaju związków chemicznych<br />
– w wyniku spektralnej detekcji charakterystycznych dla danego<br />
związku linii widmowych. Zasadniczym elementem składowym takiego<br />
systemu detekcji jest źródło laserowe, którego promieniowanie<br />
po odbiciu od obiektów/cząstek rejestrowane jest przez układ<br />
odbiorczy. W widmie promieniowania powrotnego widać wybrane<br />
linie spektralne, które w wyniku absorpcji “nie powróciły” do układu<br />
odbiornika. Ponieważ różne związki chemiczne charakteryzują się<br />
różnymi sygnaturami spektralnymi, układy detekcji wykorzystujące<br />
generatory SC na zakres średniej podczerwieni mogą posłużyć<br />
do porównywania detekowanych związków z gotowymi/znanymi<br />
sygnaturami widmowymi, pozwalając tym samym na szybką<br />
i dokładną identyfikację różnych związków. W paśmie widmowym<br />
1…5 µm znajduje się większość linii absorpcyjnych wielu różnych<br />
związków chemicznych (np. H 2<br />
O, CO, CO 2<br />
, NO 2<br />
, NO, SO 2<br />
, H 2<br />
S).<br />
Ponadto, wiele składników np. prochów strzelniczych, ładunków<br />
wybuchowych, gazów bojowych oraz narkotyków wykazuje charakterystyczne<br />
linie absorpcji w zakresie średniej podczerwieni).<br />
Pomimo, że wiele z tych związków wykazuje również inne charakterystyczne<br />
linie absorpcyjne w długofalowym zakresie pasma<br />
średniej podczerwieni 8…12 µm, to każdy w wymienionych<br />
związków posiada co najmniej jedną linię absorpcyjną w paśmie<br />
2…5 µm. Bardzo istotną kwestią jest również fakt, że większość<br />
związków chemicznych posiada więcej niż jedną linię absorpcyjną.<br />
W tym kontekście stosując źródło promieniowania SC o szerokim<br />
widmie można jednocześnie detekować nie tylko pojedynczą linię<br />
lecz wiele linii widmowych, uzyskując tym samym wzorzec widmowy<br />
danego związku w obszarze generowanego widma. Oznacza<br />
to poprawę zarówno selektywności oraz czułości pomiarów.<br />
Innymi potencjalnymi zastosowaniami źródeł promieniowania<br />
SC pasma średniej podczerwieni mogą być: układy typu LIDAR/<br />
LADAR, testowanie podzespołów fotonicznych, kontrola jakości<br />
żywności, detekcja zanieczyszczeń.<br />
Charakterystyka rozwiązania układowego<br />
światłowodowego generatora supercontinuum<br />
Generacja SC jest procesem, w którym monochromatyczne promieniowanie<br />
laserowe, na skutek oddziaływania z ośrodkiem nieliniowym,<br />
jest konwertowane na promieniowanie o szerokim widmie.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 85
Generacja SC najczęściej zachodzi w wyniku pompowania odcinka<br />
światłowodu o dużej nieliniowości i o odpowiednich własnościach<br />
dyspersyjnych impulsami promieniowania o wysokiej mocy szczytowej.<br />
Za poszerzanie widma generacji odpowiedzialne są procesy<br />
nieliniowe zachodzące we włóknie optycznym (samomodulacja<br />
fazy, mieszanie czterofalowe oraz rozpraszanie Ramana) [11].<br />
Mając do dyspozycji silnie nieliniowy światłowód oraz odpowiednie<br />
źródło pompujące można uzyskać generację SC w obszarze widmowym<br />
ograniczonym absorpcją ośrodka użytego do generacji.<br />
Najczęściej, jako pompy optyczne generatorów SC, stosowane<br />
są lasery z synchronizacją modów (ang. mode-locked lasers)<br />
generujące impulsy promieniowania o krótkich czasach trwania<br />
(poniżej 100 fs) i wysokich mocach szczytowych rzędu dziesiątek,<br />
a nawet setek kW. Wymagania na moc szczytową impulsów<br />
pompujących są tutaj oczywiste, gdyż optyczne efekty nieliniowe<br />
ośrodka generatora SC (odpowiedzialne za szerokość generowanego<br />
widma) zależą silnie od mocy szczytowej impulsów pompujących.<br />
Z drugiej jednak strony lasery z synchronizacją modów są<br />
mało elastyczne pod względem skalowania wyjściowej mocy średniej,<br />
są skomplikowane w budowie, drogie oraz wymagają ciągłego<br />
okresowego serwisowania, co dodatkowo podnosi koszty eksploatacji<br />
całego układu. Z tego też względu bardzo interesującym<br />
rozwiązaniem wydaje się zastąpienie tych laserów układami typu<br />
półprzewodnikowy laser impulsowy – światłowodowy wzmacniacz<br />
mocy (ang. Master Oscillator Power Amplifier). W tym rozwiązaniu<br />
impulsy o czasie trwania pojedynczych ns lub setek ps generowane<br />
są przez laser półprzewodnikowy (przy czym czas trwania tych<br />
impulsów oraz ich częstotliwość powtarzania może być dobierana<br />
niezależnie względem siebie), a następnie wzmacniane w odpowiednio<br />
zaprojektowanej kaskadzie wzmacniaczy.<br />
W zaproponowanym rozwiązaniu układowym moc średnia<br />
generowanego promieniowania SC może być skalowana liniowo<br />
wraz ze wzrostem mocy średniej impulsów wprowadzanych do<br />
ośrodka nieliniowego. Ponieważ całe spektrum SC jest generowane<br />
w czasie trwania pojedynczego impulsu, który nie oddziaływuje<br />
z sąsiednimi impulsami, to moc średnia generowanego SC<br />
może być zwiększana poprzez zwiększanie liczby impulsów pompujących<br />
w danym przedziale czasu, przy czym kształt widma generacji<br />
pozostanie niezmienny pod warunkiem, że moc szczytowa<br />
impulsów pompujących pozostanie na tym samym niezmiennym<br />
poziomie. Aby tak się stało, każdorazowa zmiana częstotliwości<br />
lub czasu trwania impulsu musi pociągać za sobą zmianę mocy<br />
średniej promieniowania pompującego ośrodek nieliniowy, co<br />
w praktyce polega na odpowiednim doborze wzmocnienie w kaskadzie<br />
wzmacniaczy. W ten prosty koncepcyjnie sposób można<br />
zbudować niezawodne, stosunkowo tanie i wykonane całkowicie<br />
w technologii światłowodowej źródło promieniowania impulsowego<br />
o dużej mocy średniej (skalowanej liniowo) oraz o bardzo dobrej<br />
jakości generowanej wiązki.<br />
Istotnym zagadnieniem związanym z budową generatora<br />
SC na zakres średniej podczerwieni jest wybór odpowiedniego<br />
ośrodka nieliniowego. Idealny ośrodek nieliniowy powinien charakteryzować<br />
się jak największą wartością parametru nieliniowości<br />
γ proporcjonalnego do współczynnika nieliniowego materiału<br />
i odwrotnie proporcjonalnego do efektywnego pola modu wiązki<br />
laserowej propagującej się w tymże ośrodku. Im większa wartość<br />
parametr nieliniowości, tym krótszy ośrodek nieliniowy potrzebny<br />
do generacji promieniowania SC. Komercyjnie dostępne jednomodowe<br />
światłowody krzemionkowe wyróżniają się niewielką<br />
wartością tego parametru (ok. 1 W -1 km -1 ). Zastosowanie światłowodów<br />
o strukturze kryształów fotonicznych, cechujących się<br />
znacznie większą wartością parametru γ, wydaje się tutaj idealnym<br />
rozwiązaniem. Jednakże, biorąc pod uwagę długofalową<br />
granicę transmisji promieniowania szkieł krzemionkowych, to<br />
okazuje się, że światłowody krzemionkowe, nawet fotoniczne,<br />
pozwalają na transmisję promieniowania tylko do ok. 2,4 µm (co<br />
wynika z absorpcji molekularnej krzemionki). Dobrym kandydatem<br />
na ośrodek nieliniowy z zakresu średniej podczerwieni jest<br />
włókno optyczne wykonane ze szkła fluorocyrkonowego – ZBLAN<br />
86<br />
(ZrF 4<br />
-BaF 2<br />
-LaF 3<br />
-AlF 3<br />
-NaF), którego pasmo transmisji wynosi do<br />
ok. 200 nm do 4,5 µm lub fluoroindowego o paśmie transmisji do<br />
ok. 5,5 µm. Włókna te charakteryzują się stosunkowo dojrzałą<br />
technologią wytwarzania oraz niewielkimi stratami, co oznacza<br />
możliwość transmisji promieniowania o stosunkowo dużych mocach.<br />
Poza włóknami ze szkła fluorkowego, dobrymi kandydatami<br />
na generatory SC średniej podczerwieni są włókna ze szkła chalkogenidowego<br />
gwarantujące zakres transmisji znacznie powyżej<br />
6 µm. Jak dotychczas technologia wytwarzania włókien optycznych<br />
na bazie tych szkieł jest niedoskonała i wymaga poprawy.<br />
Praktyczna realizacja światłowodowego<br />
generatora supercontinuum na zakres<br />
średniej podczerwieni<br />
Opracowany generator SC składał się ze źródła promieniowania<br />
pompującego oraz światłowodowego toru do generacji promieniowania<br />
SC. Źródło pompujące stanowił impulsowy układ laserowy<br />
o konfiguracji MOPA z półprzewodnikowym generatorem<br />
impulsów promieniowania o długości fali 1550 nm wzmacnianych<br />
w kaskadzie wzmacniaczy światłowodowych. Schemat układu<br />
przedstawiony został na rys. 1.<br />
Rys. 1. Schemat światłowodowego generatora supercontinuum.<br />
OI – izolator optyczny, EDF – jednomodowy światłowód domieszkowany<br />
jonami erbu, BPF – filtr pasmowo-przepustowy, TC – sprzęgacz<br />
monitorujący, WDM – sprzęgacz telekomunikacyjny 980 nm/1550 nm,<br />
LD – dioda laserowa, EYDF – jednomodowy światłowód dwupłaszczowy<br />
domieszkowany jonami erbu i iterbu, PCS – tłumik promieniowania<br />
pompy propagującego się w płaszczu śwaitłowodu dwupłaszczowego,<br />
SMF – konwencjonalny krzemionkowy światłowód jednomodowy,<br />
ZBLAN – światłowód fluorocyrkonowy, L1, L2 – soczewki<br />
Fig. 1. Setup of fiber supercontinuum generator. OI – optical isolator,<br />
EDF – erbium-doped single-mode fiber, BPF – band-pass filter,<br />
TC – tap coupler, WDM – 980 nm/1550 nm wavelength division multiplexer,<br />
LD – laser diode, EYDF – erbium-ytterbium codoped double-clad singlemode<br />
fiber, PCS – power cladding stripper, SMF – conventional silica<br />
single-mode fiber, ZBLAN – fluorozirconium fiber, L1, L2 – lenses<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Jako źródło impulsów użyto lasera DFB generującego promieniowanie<br />
o długości fali 1550,12 nm i szerokości widmowej<br />
0,4 nm (mierzonej na poziomie –20 dB od maksimum widma<br />
emisji). Po integracji lasera z autorskim elektronicznym układem<br />
zasilania i sterowania umożliwiał on generację ciągu impulsów<br />
promieniowania o czasie od 400 ps do 7 ns przy częstotliwości<br />
pracy od 200 kHz do 2 MHz, regulowanych niezależnie względem<br />
siebie. W eksperymencie częstotliwość pracy ustawiona była na<br />
200 kHz, zaś czas trwania impulsu wynosił 1 ns. Dla takiego reżimu<br />
pracy laser generował moc średnią 3 µW, co odpowiadało<br />
energii impulsu 15 pJ i przy założeniu gausowskiego kształtu impulsu,<br />
mocy szczytowej – 14,1 mW.<br />
Pierwszy przedwzmacniacz zbudowany był na bazie komercyjnie<br />
dostępnego jednopłaszczowego światłowodu domieszkowanego<br />
jonami erbu (EDF) o średnicy rdzenia 4 µm i długości<br />
1,5 m, pompowanego współbieżnie promieniowaniem diody laserowej<br />
(LD) generującej maksymalnie 600 mW mocy ciągłej na<br />
długości fali 976,3 nm. W celu filtracji sygnału użytecznego na<br />
wyjściu przedwzmacniacza zastosowano światłowodowy filtr pasmowo-przepustowy<br />
(BPF) o paśmie 100 GHz. Wspawany izolator<br />
optyczny (OI) gwarantował izolację lasera DFB przed promieniowaniem<br />
wstecznym na poziomie 32 dB.<br />
W drugim przedwzmacniaczu zastosowano również jednomodowy<br />
światłowód erbowy (EDF) o parametrach takich samych<br />
jak w powyższym przypadku i długości 1,3 m. Włókno aktywne<br />
pompowane było obustronnie promieniowaniem diod laserowych<br />
o maksymalnej mocy 600 mW każda pracujących na długości<br />
fali 976,3 nm. Promieniowanie wprowadzane było do światłowodu<br />
EDF za pomocą dwóch sprzęgaczy WDM. Na wyjściu układu<br />
zastosowano izolator optyczny, filtr pasmowo-przepustowy oraz<br />
sprzęgacz monitorujący pozwalający na podgląd parametrów<br />
wzmacnianego promieniowania.<br />
Po dwóch przedwzmacniaczach, dla częstotliwości 200 kHz<br />
i impulsów o czasie trwania 1 ns, uzyskano 115 mW mocy średniej,<br />
co odpowiadało energii impulsu 574 nJ i mocy szczytowej<br />
540 W. Wzmocnienie sygnału wynosiło 45,8 dB.<br />
Do budowy wzmacniacza mocy użyto jednomodowego<br />
światłowodu dwupłaszczowego domieszkowanego jonami erbu<br />
i iterbu (EYDF) o długości 2.4 m. Średnica rdzenia/płaszcza<br />
światłowodu aktywnego wynosiła 6,5 μm/125 μm przy aperturze<br />
numerycznej (NA) odpowiednio 0,19/0,45. Światłowód<br />
ten pompowany był promieniowaniem o długości fali 976 nm<br />
i maksymalnej mocy ciągłej 11 W, generowanym przez diodę<br />
laserową wyposażoną w światłowód wielomodowy o średnicy<br />
rdzenia 105 μm. Promieniowanie to wprowadzane było do włókna<br />
aktywnego za pomocą sprzęgacza mocy (2×1)+1 z wbudowanym<br />
torem sygnałowym. Z uwagi na fakt, że światłowód<br />
EYDF pompowany był przeciwbieżnie i nie całe promieniowanie<br />
pompujące zostało zaabsorbowane przez domieszkę aktywną,<br />
na wejściu wzmacniacza mocy zastosowano światłowodowy<br />
tłumik promieniowania propagującego się w płaszczu włókna<br />
dwupłaszczowego. Gwarantował on tłumienie tego promieniowania<br />
na poziomie 12 dB przy stratach wtrąceniowych 0,3 dB.<br />
Dla mocy promieniowania pompy wprowadzonego do włókna<br />
aktywnego wynoszącej 9,14 W układ generował wiązkę laserową<br />
o mocy średniej 2,1 W i o bardzo dobrej jakości – parametr<br />
M 2 wynosił
Rys. 4. Widmo promieniowania SC generowanego ze światłowodu<br />
ZBLAN<br />
Fig. 4. Spectrum of the SC coming out of the ZBLAN fiber<br />
W układzie przedstawionym na rys. 1 uzyskano generację<br />
promieniowania SC o maksymalnej wyjściowej mocy średniej<br />
(w całym detekowanym paśmie widmowym) na poziomie 0,85<br />
W (rys. 2). W paśmie widmowym powyżej 1650 nm zawarte było<br />
0,51 W, co stanowiło 59% całkowitej mocy wyjściowej. Dla fal<br />
dłuższych niż 2,4 µm wyjściowa moc średnia wynosiła 106 mW<br />
(12,5% całkowitej mocy wyjściowej).<br />
W zaproponowanym rozwiązaniu układowym promieniowanie<br />
SC generowane jest w dwóch fazach. W pierwszym kroku<br />
promieniowanie emitowane przez laser półprzewodnikowy<br />
i wzmocnione w kaskadzie wzmacniaczy światłowodowych jest<br />
poszerzane w dziedzinie częstotliwości (głównie w kierunku<br />
fal dłuższych) w krótkim odcinku jednomodowego światłowodu<br />
pasywnego SMF-28, co przedstawione zostało na rys. 3.<br />
Ponieważ światłowód SMF jest pompowany promieniowaniem<br />
o długości fali odpowiadającej anomalnej części jego charakterystyki<br />
dyspersyjnej, to niestabilność modulacji interpretowana<br />
jako mieszanie czterofalowe (fali pompującej o częstotliwości<br />
ω 0<br />
=1550 nm i 2 fal ω =ω +Δω i ω =2ω -ω ) zachodzące w fazie<br />
1 0 2 0 1<br />
z samomodulacją fazy powoduje generowanie wstęg bocznych<br />
oddalonych od maksimum piku emisji o Δω≈25 nm. Impuls<br />
pompujący ulega podziałowi w dziedzinie czasu na kilka ultrakrótlich<br />
impulsów, które następnie formują się w solitony doznające<br />
przesunięcia, na skutek rozpraszanie Ramana w kierunku<br />
fal dłuższych [11]. W kolejnej fazie promieniowanie jest poszerzane<br />
dalej w kierunku fal dłuższych w światłowodzie ZBLAN.<br />
Warto tu podkreślić fakt, że zero dyspersji (ZDW) dla zastosowanego<br />
światłowodu fluorkowego przypadało na długość<br />
fali 1,55 µm, co oznacza, że przeważająca część sygnału za<br />
światłowodem SMF (rys. 3) odpowiadała dyspersji anomalnej<br />
światłowodu ZBLAN. W rezultacie promieniowanie SC jest poszerzane<br />
głównie w kierunku średniej podczerwieni. Jednakże,<br />
w momencie, gdy propagujące sie w światłowodzie fluorkowym<br />
solitony zaczynają spektralnie pokrywać się z długościami fal<br />
leżącymi w zakresie dyspersji normalnej materiału (przy założeniu<br />
spełnienia warunków fazowych dla mieszania czterofalowego),<br />
następuje transfer energii promieniowania do fal krótszych<br />
(leżących poniżej długości fali odpowiadającej zerowej<br />
dyspersji) [11]. Proces ten jest ściśle zależny od przesunięcia<br />
długości fali propagujących się solitonów w stosunku do ZDW<br />
materiału nieliniowego. W opracowany układzie tylko niewielka<br />
część promieniowania pompującego światłowód ZBLAN odpowiada<br />
dyspersji normalnej i biorąc pod uwagę fakt, że moc<br />
średnia promieniowania wprowadzanego do włókna nie jest<br />
wysoka, to w konsekwencji energia (moc szczytowa) propagujących<br />
się solitonów nie jest wystarczająca do generacji silnego<br />
sygnału w kierunku fal krótszych z dużą sprawnością.<br />
88<br />
Na rysunku 4 przedstawiono przykładowe widmo promieniowania<br />
SC generowanego ze światłowodu ZBLAN dla dostępnej<br />
mocy promieniowania pompującego układ MOPA. Widmo to,<br />
z charakterystycznym pikiem na długości fali pompy 1550 nm,<br />
rozciąga się od ok. 900…3200 nm. Płaskość widma na poziomie<br />
10 dB jest utrzymywana w przedziale 1600…2900 nm. Jak można<br />
zauważyć moc wyjściowa jest dystrybuowana głównie w kierunku<br />
średniej podczerwieni, nie mniej jednak w części krótkofalowej<br />
widma 900…1400 nm rejestrowany był niewielki sygnał, którego<br />
maksimum leżało ok. 30 dB poniżej amplitudy sygnału w okolicy<br />
2400 nm. Widmo to było również bardzo stabilne w czasie – z wahaniem<br />
amplitudy poniżej 5%.<br />
Podsumowanie<br />
W artykule zaprezentowany został światłowodowy generator<br />
supercontinuum generujący 0,85 W wyjściowej mocy średniej<br />
w paśmie widmowym ~900…3200 nm, z czego 106 mW<br />
(tj. 12,5% całkowitej mocy wyjściowej) odpowiadało falom dłuższym<br />
niż 2,4 µm. Widmo promieniowania wyjściowego cechowało<br />
się 10 dB płaskością dla zakresu fal 1600...2900 nm. Zarówno<br />
wyjściowa moc średnia jak i szerokość generowanego<br />
widma może być dalej skalowana, co będzie przedmiotem naszych<br />
dalszych prac badawczych. Zaprezentowany układ już na<br />
obecnym etapie konstrukcji może znaleźć liczne aplikacje praktyczne<br />
opisane na wstępie.<br />
Autorzy składają podziękowanie Janowi Karczewskiemu za<br />
ogromną pomoc przy budowie układów elektronicznych zastosowanych<br />
w opracowanym układzie oraz prof. Waldemarowi<br />
Żendzianowi za cenne uwagi.<br />
Praca realizowana w ramach Projektu LIDER (Lider 04/198/L-<br />
1/09/NCBiR/2010) finansowanego przez Narodowe Centrum Badań<br />
i Rozwoju<br />
Literatura<br />
[1] Abeeluck A.K., C. Headley: Continuous-wave pumping in the<br />
anomalous- and normal-dispersion regimes of nonlinear fibers<br />
for supercontinuum generation; Opt. Lett. 30, 61–63, 2005.<br />
[2] Moon S., D.Y. Kim: Generation of octave-spanning supercontinuum<br />
with 1550 nm amplified diode-laser pulses and a dispersion-shifted<br />
fiber; Opt. Express 14, 270–278, 2006.<br />
[3] Travers J.C., A.B. Rulkov, B.A. Cumberland, S.V. Popov, J.R.<br />
Taylor: Visible supercontinuum generation in photonic crystal fibers<br />
with a 400W continuous wave fiber laser; Opt. Express 16,<br />
14435–14447, 2008.<br />
[4] Cumberland B.A., J.C. Travers, S.V. Popov, J.R. Taylor: 29<br />
W High power CW supercontinuum source; Opt. Express 16,<br />
5954, 2008.<br />
[5] Chen Z., A.J. Taylor, A. Efimov: Coherent mid-infrared broadband<br />
continuum generation in non-uniform ZBLAN fiber taper;<br />
Opt. Express 17, 5852–5860, 2009.<br />
[6] Agger C., C. Petersen, S. Dupont, H. Steffensen, J.K. Lyngso,<br />
C.L. Thomsen, J. Thogersen, S.R. Keiding, and O. Bang: Supercontinuum<br />
generation in ZBLAN fibers – detailed comparison<br />
between measurement and simulation; J. Opt. Soc. Am. B 29,<br />
635–645, <strong>2012</strong>.<br />
[7] Gattass R.R., L.B Shaw, V.Q. Nguyen, P.C. Pureza, I.D. Aggarwal,<br />
J.S. Sanghera: All-fiber chalcogenide-based mid-infrared<br />
supercontinuum source; Opt. Fiber Technol. 18, 345–348, <strong>2012</strong>.<br />
[8] Xia Ch., M. Kumar, M.-Y. Cheng, R.S. Hegde, M.N. Islam, A.<br />
Galvanauskas, H.G. Winful, F.L. Terry Jr.: Power scalable midinfrared<br />
supercontinuumgeneration in ZBLAN fluoride fibers<br />
with up to 1.3 watts time-averaged power; Opt. Express 15,<br />
865–871, 2007.<br />
[9] Paluszkiewicz C., W.M. Kwiatek, A. Banas, A. Kisiel, A. Marcelli,<br />
A. Piccinini: SR-FTIR spectroscopic preliminary findings of noncancerous,<br />
cancerous, and hyperplastic human prostate tissues;<br />
Vib. Spectrosc. 43, 237–242, 2007.<br />
[10] Anderson R.R., et al.: Selective photothermolysis of lipid-rich<br />
tissues: A free electron laser study; Lasers Surg. Med. 38,<br />
913–919, 2006.<br />
[11] Agrawal G.P.: Nonlinear Fiber Optics, 4th edition; Academic<br />
Press, New York (2006).<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
System pomiarowy do dynamicznej spektroskopii widma<br />
emisyjnego plazmy TR-OES do diagnostyki plazmy<br />
wyładowania jarzeniowego w układzie magnetronowym<br />
zasilanym impulsowo<br />
dr inż. Artur Wiatrowski, adiunkt<br />
Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki<br />
Stale rosnące wymagania stawiane cienkim warstwom nanoszonym<br />
przy obniżonym ciśnieniu, a stosowanym m.in. w medycynie,<br />
mikroelektronice, magnetycznych i optycznych nośnikach<br />
danych, są motorem poszukiwań nowych sposobów ich wytwarzania.<br />
Celem poszukiwań są między innymi: 1) zwiększenie<br />
wydajności otrzymywania (poszukiwane są wysoce efektywne<br />
procesy rozpylania), 2) zwiększenie czystości warstw (wskazana<br />
eliminacja gazowej atmosfery roboczej procesów) oraz 3) możliwość<br />
wpływania na właściwości warstw przez zmianę parametrów<br />
technologicznych procesów nanoszenia – np. parametry sygnału<br />
elektrycznego pobudzającego wyrzutnię. W wypadku procesów<br />
rozpylania stałoprądowego jest to tylko wartość energii dostarczanej<br />
do źródła. Duże nadzieje wiązane są z metodami PVD<br />
(ang. Physical Vapor Deposition) wykorzystującymi impulsowe<br />
zasilanie źródła osadzanego materiału, w tym z metodą impulsowego<br />
rozpylania magnetronowego. Rozpylanie magnetronowe<br />
to obecnie jedna z najszerzej stosowanych metod otrzymywania<br />
cienkich warstw. Na jej atrakcyjność wpływa możliwość nanoszenia<br />
warstw na podłoża o dużych powierzchniach i szeroki zakres<br />
zmienności parametrów podczas procesów osadzania. Impulsowe<br />
odmiany tej metody np. HIPIMS (ang. High Power Impulse<br />
Magnetron Sputtering) [1–4], czy też metoda Impulsowego Magnetronowego<br />
Autorozpylania (ang. Pulsed Self-Sustained Magnetron<br />
Sputtering) [5, 6] otwierają nowe możliwości technologiczne<br />
pokazując, że rozwój technologii otrzymywania cienkich warstw<br />
za pomocą magnetronu jest kontynuowany.<br />
Charakterystyczną cechą procesów rozpylania impulsowego<br />
jest fakt, iż w czasie trwania każdego impulsu zasilającego wyrzutnię<br />
magnetronową (t ON<br />
) występuje faza inicjowania wyładowania<br />
(napięcie anoda-katoda rzędu pojedynczych kV), po czym<br />
ma miejsce faza właściwego rozpylania (wymagana stabilizacja/<br />
ograniczanie prądu katody). Natomiast w czasie każdego wyłączenia<br />
impulsu zasilającego (t OFF<br />
) występuje faza wygaszania<br />
wyładowania – zanik plazmy wyładowania jarzeniowego (rys. 1).<br />
W czasie t OFF<br />
napięcie anoda-katoda może być ustalone jako zerowe<br />
(procesy rozpylania niereaktywnego) lub o przeciwnej po-<br />
laryzacji niż w czasie t ON<br />
, tzw. impuls depolaryzacyjny (procesy<br />
reaktywnego nanoszenia warstw dielektrycznych). W procesach<br />
niereaktywnego rozpylania impulsowego, stosowane są różne<br />
częstotliwości przebiegu zasilającego magnetron 1/(t ON<br />
+t OFF<br />
)<br />
oraz skorelowane z nimi różne czasy trwania impulsu rozpylającego<br />
(t ON<br />
): 1 kHz, 200 μs; 10 kHz, 20 μs [10]; 50 Hz, 50÷100 μs<br />
[11]; 500 Hz, 50÷150 μs; 60 kHz, 15 µs [5]. Najczęściej stosowane<br />
czasy trwania impulsów zasilających zawierają się w przedziale<br />
50÷200 μs, przy częstotliwości ich powtarzania do ok.<br />
500 Hz [12]. W zależności od tzw. współczynnika wypełnienia<br />
przebiegu zasilającego wyrzutnię magnetronową δ = t ON<br />
/(t ON<br />
+<br />
t OFF<br />
) chwilowe wartości napięcia anoda-katoda i prądu katody<br />
wyrzutni magnetronowej, a określające chwilową gęstość mocy<br />
wydzielanej w targecie (źródle rozpylanego materiału), przyjmują<br />
wartości wielokrotnie większe niż wartości średnie tych parametrów<br />
[7]. Przy zachowaniu gęstości mocy targetu na poziomie<br />
typowych standardowych procesów rozpylania magnetronowego<br />
∼1÷50 W/cm 2 chwilowe gęstości mocy targetu podczas procesów<br />
HIPIMS są bardzo wysokie ∼0,7÷3 kW/cm 2 [7, 10].<br />
Napięcie i prąd wyrzutni magnetronowej (oraz ich iloczyn określający<br />
chwilową moc wyładowania) należą do grupy czynników<br />
determinujących parametry energetyczne wyładowania – decydują<br />
m.in. o koncentracji i temperaturze cząstek oraz składzie<br />
plazmy wyładowania. W odróżnieniu od wyładowań małej mocy,<br />
dla dużych gęstości mocy targetu (nawet jeśli są to wartości chwilowe)<br />
istotną rolę w plazmie wyładowania mogą odgrywać jony<br />
rozpylanego materiału: 1) mogą brać czynny udział w trawieniu<br />
targetu, a nawet być czynnikiem podtrzymującym wyładowanie<br />
po odcięciu dopływu gazu roboczego – procesy magnetronowego<br />
autorozpylania [6, 7, 8], 2) mogą wpływać na energie cząstek<br />
plazmy, tzw. zjawisko chłodzenia plazmy [9]. W odniesieniu do<br />
pierwszego zagadnienia dane w literaturze przedmiotu rozpylania<br />
impulsowego pokazują 25…35% spadek szybkości nanoszenia<br />
warstw (w odniesieniu do szybkości uzyskiwanej przy<br />
zasilaniu DC tą samą mocą średnią) na skutek różnicy wartości<br />
współczynników rozpylania Y Me/Ar+<br />
(metalu jednokrotnymi jonami<br />
Rys. 1. Przykładowe oscylogramy napięcia i prądu wyrzutni magnetronowej WMK-50 zasilanej z zasilacza DORA MF podczas rozpylania<br />
miedzi<br />
Fig. 1. Sample oscillograms of voltage and current of the WMK-50 magnetron source driven by DORA MF power supply during sputtering of<br />
copper<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 89
argonu) oraz Y Me/Me+<br />
(metalu jednokrotnymi jonami tego metalu)<br />
[13]. W odniesieniu do drugiego zagadnienia należy podkreślić,<br />
iż procesy rozpylania impulsowego typu HIPIMS (o średniej<br />
mocy targetu na poziomie standardowych procesów rozpylania<br />
stałoprądowego) umożliwiają uzyskanie stopnia jonizacji rozpylonego<br />
materiału, jak również udziału jonów rozpylanego metalu<br />
w procesie trawienia powierzchni targetu równie znacznych jak<br />
w wypadku stałoprądowych procesów rozpylania magnetronowego<br />
z bardzo dużą mocą targetu [7, 10]. Przykładowe dane literaturowe<br />
na temat stopnia jonizacji materiału przy podłożu mówią<br />
o wartościach: 70% [14], 80–95% [10] dla miedzi, 90% [11] dla<br />
tytanu oraz 9,5 i 4,5% odpowiednio dla aluminium i węgla [15].<br />
Charakteryzacja procesów impulsowego rozpylania magnetronowego<br />
pod kątem poszukiwań korelacji między właściwościami<br />
nanoszonych warstw, a parametrami technologicznymi procesów<br />
wiąże się z koniecznością pomiarów chwilowych wartości parametrów<br />
plazmy wyładowania jarzeniowego w układzie magnetronowym,<br />
tj. pomiarów wykonywanych z okresem próbkowania<br />
dużo krótszym niż czas trwania pojedynczego impulsu rozpylającego<br />
(t ON<br />
∼µs). Przyczyną tego jest fakt, iż średnie wartości parametrów<br />
plazmy wyładowania mogą być dalece różne od wartości<br />
chwilowych. Ponadto średnie wartości parametrów wyładowania<br />
nie niosą informacji o jego dynamice wynikającej z cyklicznie występujących<br />
faz inicjowania i wygaszania (rys. 1).<br />
Jednym z narzędzi diagnostyki plazmy wyładowania jarzeniowego<br />
w układzie magnetronowym pozwalającym na szacowanie<br />
wartości koncentracji (n e<br />
) i temperatury (T e<br />
) elektronów jest metoda<br />
sondy Langmuira. W odniesieniu do procesów o bardzo dużych<br />
mocach wyładowania (należą do nich procesy impulsowego rozpylania<br />
magnetronowego) stosowanie tej metody jest ograniczone<br />
z uwagi na błędy pomiaru składowej elektronowej prądu sondy,<br />
wynikające z faktu rozgrzewania grotu sondy i wstrzykiwania do<br />
badanego obszaru plazmy emitowanych z niej termoelektronów.<br />
Metodą pozwalającą ominąć niedogodności metody sond Langmuira<br />
w wyładowaniach dużej mocy jest szacowanie koncentracji<br />
(n e<br />
) i temperatury (T e<br />
) elektronów na podstawie parametrów widma<br />
emisyjnego plazmy (ang. Optical Emission Spectroscopy, OES),<br />
aczkolwiek obłożone jest to licznymi ograniczeniami i skomplikowanym<br />
aparatem matematycznym dotyczącym zagadnień spektralnej<br />
analizy atomowej [16]. Szacowanie chwilowych wartości<br />
n e<br />
, T e<br />
oraz dynamiki zmian wartości tych parametrów (w trakcie<br />
trwania pojedynczego impulsu zasilającego) umożliwia dynamiczna<br />
odmiana tej metody tj. Time-Resolved Optical Emission Spectroscopy,<br />
TR-OES [18]. Metoda ta pozwala również (na podstawie<br />
obserwacji zmian natężeń linii emisyjnych) na ocenę składu plazmy,<br />
tj. udziału atomów i jonów rozpylanego materiału w odniesieniu<br />
do udziału atomów i jonów gazu roboczego [17].<br />
W odniesieniu do procesów rozpylania impulsowego np. przy<br />
użyciu zasilaczy firmy DORA, gdzie moc dostarczana do magnetronu<br />
regulowana jest przez liczbę impulsów w grupie (modulacja<br />
DMP, ang. Pulse Density Modulation) [19], średnie wartości natężeń<br />
linii emisyjnych obserwowane przy użyciu systemu OES są<br />
znacznie niższe niż faktycznie występujące, tzn. mierzone tylko<br />
w czasie trwania grupy impulsów zasilających wyrzutnię (rys. 1).<br />
Wynik pomiaru systemem OES jest bowiem wartością średnią<br />
emisji rejestrowanej w czasie występowania impulsów zasilających<br />
i emisji zerowej, która ma miejsce w czasie między grupami<br />
impulsów zasilających (rys. 1). W celu wykonania poprawnej analizy<br />
(szacowania parametrów plazmy w poszczególnych fazach<br />
impulsu zasilającego) należy posłużyć się systemem TR-OES<br />
pozwalającym rejestrować dynamiczne zmiany natężeń linii emisyjnych<br />
z odpowiednio dużą rozdzielczością czasową, tj. z okresem<br />
próbkowania dużo krótszym niż czas trwania pojedynczego<br />
impulsu zasilającego źródło wytwarzające badaną plazmę.<br />
Założenia<br />
Podjęto próbę budowy systemu pomiarowego TR-OES bazując<br />
na monochromatorze M250 produkowanym przez krajowego producenta<br />
OPTEL Opole. Monochromator M250 pracuje w układzie<br />
90<br />
Czerny-Turner’a (ogniskowa 250 mm, rozdzielczość 0,5 nm) i wyposażony<br />
jest w fotopowielacz Hamamatsu R928 jako detektor<br />
promieniowania. Fotopowielacz umieszczony jest w gnieździe<br />
E717-21 zawierającym obwody polaryzacji dynod dla pracy impulsowej<br />
[21]. Z założenia budowa systemu TR-OES była prowadzona<br />
pod kątem możliwości badania wyładowań impulsowych<br />
wytwarzanych za pomocą zasilaczy MF i pulsed-DC jakimi dysponuje<br />
Laboratorium Technologii Próżniowych i Plazmowych Wydziału<br />
Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki PWr. Zasilacze MF<br />
(firmy DORA) pobudzają magnetron impulsami o częstotliwości<br />
z przedziału 90…120 kHz (czas trwania pojedynczego impulsu<br />
to ≈11,1÷8,3 µs), przebieg prądu wyładowania jest sinusoidalny<br />
(rys. 1). Zasilacz pulsed-DC daje możliwość pobudzania magnetronu<br />
sygnałem o płynnie regulowanej częstotliwości z przedziału<br />
10…100 kHz (przy wartości współczynnika wypełnienia powyżej<br />
60%), napięciowy sygnał pobudzający magnetron jest przebiegiem<br />
prostokątnym. Minimalny czas trwania impulsu sygnału pulsed-DC<br />
to około 6 µs.<br />
Założono, że dla poprawnego obrazowania dynamiki zmian natężenia<br />
wybranej linii spektralnej w czasie trwania jednego impulsu<br />
zasilającego magnetron system TR-OES powinien charakteryzować<br />
się rozdzielczością czasową nie gorszą niż 0,1 czasu trwania<br />
impulsu o minimalnej długości, czyli około 0,6 µs. W odniesieniu<br />
do przebiegu sinusoidalnego dało by to częstotliwość graniczną<br />
(-3 dB) toru wzmacniacza sygnału z detektora około 2 MHz. W odniesieniu<br />
do sygnału pulsed-DC (zakładając, że częstotliwość graniczna<br />
powinna być taka, aby móc rejestrować około 10 harmonicznych)<br />
dałoby to około 20 MHz. Przy zaproponowanej zasadzie<br />
działania (pkt. 3) bardziej wskazane jest jednak posługiwanie się<br />
odwrotnością tej częstotliwości i podkreślenie, że tor sygnałowy<br />
nie powinien wprowadzać poszerzenia wyjściowych impulsów<br />
prądowych fotopowielacza o więcej niż wymagana rozdzielczość<br />
czasowa projektowanego systemu, a więc około 50 ns. Parametry<br />
dynamiczne zastosowanego w M250 fotopowielacza R928 (dla<br />
napięć zasilających z przedziału 800..1250 V) nie będą tu czynnikiem<br />
ograniczającym, ponieważ czas narostu prądu anody jest<br />
mniejszy niż 3 ns; a czas przelotu elektronów mniejszy niż 25 ns<br />
(statystyczny rozkład czasu przelotu to 1,2 ns) [20].<br />
Budowa systemu TR-OES<br />
Niski poziom sygnału optycznego kierowany do fotopowielacza<br />
(za pomocą monochromatora selekcjonuje się wąski przedział<br />
długości fali ∆λ) skutkuje tym, że prąd wyjściowy fotopowielacza,<br />
rejestrowany przez wzmacniacz o małej pojemności wejściowej,<br />
jest ciągiem impulsów SER (ang. Single Electron Response) [21].<br />
Rejestrowana liczba impulsów prądu wyjściowego fotopowielacza<br />
jest wówczas proporcjonalna do natężenia sygnału optycznego.<br />
Zaproponowano ideę działania systemu pomiarowego TR-OES,<br />
którą można nazwać „analogowym zliczaniem fotonów”, przy<br />
czym zliczanie to odbywa się dzięki rozbudowanym możliwościom<br />
akwizycji sygnałów jakie oferują współczesne oscyloskopy<br />
cyfrowe – w szczególności chodzi tu o możliwość cyfrowego<br />
uśredniania dużej liczby rejestrowanych przebiegów [22].<br />
Zaproponowane rozwiązanie „analogowego zliczania fotonów”<br />
bazuje na spostrzeżeniu, iż dla ustalonej długości fali badanego<br />
promieniowania, statystycznie rzecz biorąc, prądowe impulsy<br />
wyjściowe fotopowielacza mają taki sam kształt, a ich liczba występująca<br />
w jednostce czasu zależna jest od natężenia badanego<br />
promieniowania. Zakładając, że wzmacniacz transimpedancyjny<br />
współpracujący z fotopowielaczem nie wprowadzi znacznego<br />
poszerzenia tych impulsów to wyznaczając średnią z wielu (kilkudziesięciu<br />
– kilkuset) oscylogramów sygnału wyjściowego<br />
wzmacniacza transimpedancyjnego rejestrowanych synchronicznie<br />
z pracą źródła badanego promieniowania otrzymamy wynikowy<br />
oscylogram reprezentujący zmienność natężenia badanego<br />
promieniowania w czasie [22].<br />
Klasyczna metoda zliczania fotonów z zastosowaniem wyspecjalizowanego<br />
dyskryminatora okienkowego, umożliwia wyeliminowanie<br />
niepożądanych impulsów związanych z prądem ciem-<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
nym fotopowielacza i obecnością promieniowania kosmicznego.<br />
Wynik zliczenia nie zależy silnie od statystycznych zmian parametrów<br />
fotopowielacza (powodujących zmiany kształtu impulsów<br />
prądu anody). W zaproponowanym rozwiązaniu „analogowego<br />
zliczania fotonów” z definicji występował będzie pewien poziom<br />
szumów związany z uwzględnianiem w wyniku impulsów prądu<br />
ciemnego, impulsów wywoływanych przez promieniowanie kosmiczne<br />
oraz cechą charakterystyczną fotopowielacza jaką jest<br />
statystyczna zmiana jego parametrów w czasie pracy [21]. Próbą<br />
minimalizacji wpływu tych efektów może być wydłużenie czasu<br />
analizy (dokonanie obliczeń uśredniających na większej liczbie<br />
danych). Ograniczeniem stosowalności tego podejścia jest jednak<br />
stabilność częstotliwości i kształtu impulsów pobudzających magnetron.<br />
Drugim czynnikiem wpływającym na poziom szumów występujący<br />
w wynikowym sygnale TR-OES są zakłócenia. W związku<br />
z tym podkreślenia wymaga w tym miejscu fakt, iż w systemie<br />
TR-OES dokonuje się pomiaru prądu fotodetektora o niewielkim<br />
natężeniu (poniżej 1 µA) za pośrednictwem toru wzmacniającego<br />
o szerokim paśmie i dużym wzmocnieniu (10 4 ÷10 6 V/A). Cały<br />
system pomiarowy znajduje się w niewielkiej odległości od impulsowego<br />
zasilacza dużej mocy, co skutkuje obecnością silnych pól<br />
zakłócających – elektrycznego i magnetycznego [23]. Niezmiernie<br />
istotne jest zatem skuteczne ekranowanie układu pomiarowego<br />
(ograniczenie indukowanych sygnałów zakłócających) oraz<br />
wyeliminowanie elektrycznego połączenia systemu pomiarowego<br />
z układem zasilacz-wyrzutnia magnetronowa (ograniczenie przewodzonych<br />
sygnałów zakłócających) [23].<br />
Na rysunku 2 przedstawiono schemat zbudowanego systemu<br />
TR-OES [22]. Badaniom podlega plazma wyładowania jarzeniowego<br />
wytwarzanego przez układ magnetronowy (1). Zasilacz<br />
magnetronu (2) dostarcza energii do wyładowania oraz jest źródłem<br />
sygnału synchronizującego pracę systemu pomiarowego<br />
(zasilacz MF firmy DORA wyposażony został w układ wysyłający<br />
sygnał optyczny o przebiegu prostokątnym i wypełnieniu 50%,<br />
odpowiadający sygnałowi wyjściowemu zasilacza). Sonda do<br />
pomiaru prądu magnetronu (3) dokonuje konwersji zmierzonego<br />
sygnału prądowego na proporcjonalny do niego strumień światła.<br />
Sygnały optyczne: synchronizujący i pomiaru prądu magnetronu<br />
są konwertowane na sygnały elektryczne w specjalnie do tego<br />
zaprojektowanych konwerterach (4). Wyjściowy sygnał prądowy<br />
fotopowielacza jest konwertowany do postaci napięciowej oraz<br />
wzmacniany we wzmacniaczu o regulowanym wzmocnieniu (5).<br />
Synchroniczna akwizycja danych oraz ich analiza dokonywana<br />
jest za pomocą oscyloskopu cyfrowego (6) Agilent DSO3062A.<br />
Do przesyłania sygnałów optycznych zastosowano popularne<br />
i szeroko dostępne światłowody systemu TOSLINK (ze względu<br />
na fakt, iż przesyłane sygnały optyczne nie są sygnałami cyfrowymi<br />
nie zastosowano nadajników i odbiorników systemu TOSLINK,<br />
a skonstruowano własne układy o charakterystyce liniowej).<br />
Wzmacniacz trans impedancyjny<br />
Wzmacniacz sygnału z fotopowielacza składa się z dwóch stopni:<br />
transimpedancyjnego i napięciowego o regulowanym wzmocnieniu.<br />
W wejściowym stopniu transimpedancyjnym ustalono wzmocnienie<br />
10 3 V/A, natomiast w stopniu napięciowym odpowiednio 10,<br />
100 i 1000 V/V. Uzyskano tym samym wynikowe zakresy wzmocnienia<br />
k = 10 3 , 10 4 , 10 5 V/A. Zastosowane wzmacniacze operacyjne<br />
dobrano pod kątem stabilności, odpowiedzi na przesterowanie,<br />
pola wzmocnienia, możliwie małych szumów i niewielkich<br />
prądów polaryzacji wejść [24]. Wzmacniacz zintegrowano z obudową<br />
mocującą fotopowielacz w monochromatorze M250 i filtrami<br />
(R-C, L-C) ograniczającymi przenikanie sygnałów zakłócających<br />
do obwodów wysokiego napięcia polaryzującego fotopowielacz<br />
(rys. 3a). Całość ekranowano od elektrycznych i magnetycznych<br />
pól zakłócających [23]. Wzmacniacz wyposażono w przełączane<br />
filtry dolnoprzepustowe pozwalające ograniczyć pasmo 10 lub<br />
1 MHz. Charakterystyki częstotliwościowe dla poszczególnych<br />
zakresów wzmocnienia całkowitego przedstawiono na rys. 3b.<br />
Zakresy 10 4 i 10 5 V/A charakteryzuje częstotliwość graniczna powyżej<br />
25 MHz (maksymalna częstotliwość wyjściowa generatora<br />
sygnału zastosowanego podczas pomiarów), z lekkim podbiciem<br />
wynikającym z niepełnego skompensowania wpływu pojemności<br />
obciążenia wzmacniaczy operacyjnych. Zakres pomiarowy 10 6<br />
V/A charakteryzuje częstotliwość graniczna około 4 MHz. Czas<br />
propagacji sygnału przez wzmacniacz to około 10 ns.<br />
a)<br />
b)<br />
Rys. 2. Schemat systemu TR-OES. Elementy składowe: 1) komora<br />
próżniowa, 2) MPS – zasilacz magnetronu, 3) sonda do pomiaru prądu<br />
magnetronu, 4) konwertery sygnału optycznego na elektryczny, 5)<br />
monochromator z detektorem i wzmacniaczem, 6) DSO – oscyloskop<br />
cyfrowy<br />
Fig. 2. The TR-OES system diagram. Components: 1) vacuum chamber,<br />
2) MPS – magnetron power supply, 3) magnetron current probe,<br />
4) converters of optical to electrical signals, 5) monochromator with<br />
detector and amplifier, 6) DSO – digital storage oscilloscope<br />
Rys. 3. Wzmacniacz do fotopowielacza: a) widok urządzenia, b) charakterystyki<br />
częstotliwościowe trzech zakresów wzmocnienia k<br />
Fig. 3. The PMT amplifier: a) photo of the unit, b) frequency response<br />
of three gain (k) ranges<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 91
Sonda prądowa z wyjściem optycznym<br />
Sonda jak na rysunku 4 wyposażona jest w rezystor pomiarowy<br />
o wartości 55 mΩ, maksymalna wartość mierzonego prądu<br />
to 20 A RMS<br />
. Sygnał wyjściowy sondy to strumień światła o natężeniu<br />
proporcjonalnym do mierzonego prądu. Sygnał z rezystora<br />
pomiarowego kierowany jest do przesuwnika poziomu [24] dodającego<br />
do tego sygnału stabilizowaną wartość stałą. Zabieg<br />
ten zastosowano w celu zapewnienia możliwości pomiaru prądu<br />
przemiennego. Sygnał z przesuwnika kierowany jest następnie<br />
do przetwornika U-I [24] sterującego wyjściową diodę LED. Częstotliwość<br />
graniczna sondy wynosi około 5 MHz. Na rys. 4b pokazano<br />
oscylogramy prądu magnetronu WMK-50 z katodą aluminiową<br />
zasilanego z zasilacza MF MSS-14. Przebieg U wy<br />
to sygnał<br />
wyjściowy mierzony na wyjściu konwertera sygnału elektrycznego<br />
na optyczny współpracującego z prezentowaną sondą. Dla czasu<br />
74 i 90 µs widoczne są zakłócenia przenikające do układu pomiarowego<br />
od zasilacza MF. W wypadku odłączenia oscyloskopu<br />
od rezystora pomiarowego (oscyloskop zostaje galwanicznie oddzielony<br />
od układu zasilacz-magnetron) zakłócenia tego typu nie<br />
są już rejestrowane.<br />
a)<br />
b)<br />
a)<br />
b)<br />
Rys. 4. Sonda prądowa z wyjściem optycznym: a) widok urządzenia,<br />
b) oscylogramy: UR_pom – sygnał wejściowy, Uwy – napięcie wyjściowe<br />
z konwertera sygnału optycznego na elektryczny<br />
Fig. 4. The current probe with optical output: a) photo of the unit,<br />
b) oscillograms: UR_pom – input signal, Uwy – output signal of the<br />
optical to electrical converter<br />
Synchronizacja<br />
Synchronizacja akwizycji danych za pomocą oscyloskopu z pracą<br />
zasilacza impulsowego odbywa się za pośrednictwem łącza<br />
optycznego. Zasilacz magnetronu wyposażony jest w nadajnik<br />
impulsów świetlnych taktowany sygnałem sterującym tranzystory<br />
stopnia mocy. Sygnał synchronizujący charakteryzuje<br />
się prostokątnym przebiegiem zmienności natężenia i wypełnieniem<br />
50%, odpowiadając fazie sygnału wyjściowego zasilacza.<br />
Impulsy świetlne przekształcane są w ciąg elektrycznych<br />
impulsów synchronizujących w zaprojektowanym konwerterze<br />
optyczno-elektrycznym. Konwerter stosowany w obwodzie syn-<br />
92<br />
Rys. 5. Konwertery optyczno-elektryczne: a) widok urządzeń,<br />
b) oscylogramy: ILED – przebieg prądu nadawczej diody LED, Uwy<br />
– napięcie wyjściowe konwertera pobudzanego sygnałem optycznym<br />
z diody nadawczej LED<br />
Fig. 5. Optical-electrical converters: a) photo of the units, b) oscillograms:<br />
ILED – current waveform of the transmitter LED, Uwy – output<br />
signal of the converter stimulated by the optical signal of transmitter<br />
LED<br />
chronizacji i konwerter współpracujący jako odbiornik z sondą<br />
prądu magnetronu (rys. 5a) to zasadniczo ta sama konstrukcja<br />
– stopień transimpedancyjny z fotodiodą p-i-n plus wtórnik<br />
napięciowy. Dla osiągnięcia lepszej pracy dynamicznej w konwerterze<br />
do synchronizacji zastosowano dwukrotnie mniejsze<br />
wzmocnienie transimpedancyjne, tj. około 10 5 V/A. Na rys. 5b<br />
pokazano schematycznie przebieg prądu diody LED pobudzającej<br />
konwerter oraz odpowiedź napięciową tego konwertera na<br />
strumień światła z diody.<br />
Pomiary zbudowanego systemu TR-OES<br />
Na potrzeby testów funkcjonalnych zbudowanego systemu zastosowano<br />
oświetlacz z diodą LED umożliwiający skierowanie<br />
do monochromatora strumienia światła o zadanym przebiegu<br />
zmienności natężenia (sinus, trójkąt, prostokąt). Testy przeprowadzono<br />
dla napięcia zasilającego fotopowielacz równego<br />
1 kV, wzmocnienia 10 5 V/A, z widma promieniowania diody LED<br />
wyselekcjonowano monochromatorem linię 510 nm, a poziom<br />
sygnału z oświetlacza ustalono tak, aby uzyskać sygnał wyjściowy<br />
TR-OES na poziomie rejestrowanym systemem OES<br />
podczas typowych procesów rozpylania. Częstotliwość sygnału<br />
ustalono na 250 kHz (dwukrotnie większą niż sygnały, jakimi<br />
będzie pobudzany magnetron). Na rys. 6 pokazano przebieg<br />
sygnału TR-OES dla kolejno zwiększanej liczby uśrednianych<br />
przebiegów (parametr AVG) w odniesieniu do prądu diody LED<br />
oświetlacza. Prąd diody mierzono pośrednio stosując rezystor<br />
180 Ω. Zaprezentowane oscylogramy pokazują, że zadowalający<br />
wynik otrzymuje się uśredniając już 64 przebiegi, natomiast<br />
zwiększenie do 256 uśrednień daje już bardzo dobry<br />
wynik odtworzenia zmienności badanej linii emisyjnej.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
a) b)<br />
c) d)<br />
Rys. 6. Wpływu liczby uśrednień (parametr AVG) na wynik pomiaru TR-OES (Uwy_wzm): a) AVG = 0, b) AVG = 8, c) AVG = 64, d) AVG = 256.<br />
Linią czerwoną zaznaczono przebieg prądu pobudzającej diody LED – prąd mierzono pośrednio za pomocą rezystora 180 Ω<br />
Fig. 6. The impact of averages number (AVG parameter) on the TR-OES result (Uwy_wzm). a) AVG = 0, b) AVG = 8, c) AVG = 64, d) AVG = 256.<br />
The red line indicates the current waveform of the stimulating LED diode – the current was measured indirectly using 180 Ω resistor<br />
a) b)<br />
Rys. 7. Ilustracja odwzorowania kształtu sygnałów o częstotliwości 250 kHz: a) trójkątnego, b) prostokątnego (widoczne pół okresu). Uśredniano<br />
AVG = 256 pomiarów<br />
Fig. 7. The results of measurements of 250 kHz signals: a) triangular, b) rectangular (visible half-wave). Averaging was done on AVG = 256<br />
measurements<br />
Na rysunku 7 przedstawiono wyniki pomiarów dla pobudzenia<br />
sygnałem trójkątnym (ilustracja liniowości działania systemu) oraz<br />
prostokątnym (ilustracja odpowiedzi na pobudzenie skokowe).<br />
Na podstawie pomiaru przedstawionego na rys. 7b określono, że<br />
czas narostu i opadania zbocza wynikowego sygnału TR-OES to<br />
odpowiednio około 100 i 300 ns, co jest bardzo dobrym rezultatem<br />
w stosunku do zakładanych 600 ns.<br />
Przykładowe pomiary TR-OES<br />
Na rysunku 8 pokazano wybrane rezultaty pomiarów TR-OES<br />
plazmy wyładowania jarzeniowego podczas rozpylania miedzi<br />
za pomocą magnetronu WMK-50. Czas zero to początek grupy<br />
impulsów z zasilacza MF Dora. Przebiegi zmienności linii Cu +<br />
oraz Ar + ilustrują zjawisko chłodzenia plazmy. W pierwszej fazie<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 93
Rys. 8. Przykładowe wyniki pomiarów TR-OES dla rozpylania miedzi<br />
Fig. 8. A sample TR-OES results for the copper target sputtering<br />
trwania impulsu zasilającego natężenie linii jonów argonu przyjmuje<br />
wartości maksymalne, po czym wraz z upływem czasu<br />
trwania impulsu zasilającego ich natężenie maleje. Sytuację odwrotną<br />
widać w przebiegu zmienności linii jonów miedzi, gdzie<br />
w początkowej fazie impulsu zasilającego natężenie jest minimalne<br />
i wzrasta z czasem. Można mówić tu zatem o wypieraniu<br />
z plazmy atomów gazu roboczego przez atomy rozpylanego materiału.<br />
Przyczyną tego jest fakt, iż atomy rozpylanego materiału<br />
(miedzi) mają niższy potencjał jonizacji niż atomy gazu roboczego<br />
(E j_Cu<br />
= 7,7 eV; E j_Ar<br />
= 15,6 eV). Dodatkowo w sytuacji,<br />
gdy w mechanizmach podtrzymywania wyładowania jony gazu<br />
roboczego zastępowane są przez jony rozpylanego materiału<br />
można mówić o występowaniu zjawiska autorozpylania. Widać<br />
tym samym, że procesy rozpylania impulsowego dużą mocą „w<br />
impulsie” są diametralnie odmienne od procesów stałoprądowych<br />
charakteryzowanych przez tę samą moc średnią wyładowania.<br />
W wypadku procesów impulsowych w trakcie trwania pojedynczego<br />
impulsu zasilającego następuje dynamiczna zmiana<br />
warunków technologicznych – w fazie początkowej mamy do<br />
czynienia z plazmą gazu roboczego, po czym następuje przejście<br />
do plazmy metalicznej (plazmy, w której istotną rolę odgrywają<br />
jony rozpylanego metalu). Dokładna analiza rezultatów<br />
otrzymywanych za pomocą prezentowanego systemu TR-OES<br />
będzie przedmiotem dalszych prac nad procesami impulsowego<br />
rozpylania magnetronowego w Laboratorium Technologii Próżniowych<br />
i Plazmowych Wydziału Elektroniki Mikrosystemów<br />
i Fotoniki PWr.<br />
Podsumowanie<br />
Zaproponowano ideę budowy systemu pomiarowego TR-OES<br />
bazującą na wielokrotnej akwizycji sygnału z detektora promieniowania<br />
dokonywanej synchronicznie z pracą źródła emitującego<br />
to promieniowanie. Opracowany system przetestowano podczas<br />
przykładowego procesu impulsowego rozpylania miedzi. Dzięki<br />
galwanicznemu oddzieleniu systemu pomiarowego od układu<br />
zasilacz-magnetron nie występuje problem zakłócania pracy systemu<br />
przez zasilacz magnetronu. Otrzymane rezultaty TR-OES<br />
ilustrują możliwość rejestracji zmian natężenia linii spektralnych<br />
z rozdzielczością czasową około 0,5 µs.<br />
94<br />
Badania były finansowane częściowo przez Unię Europejską<br />
w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego oraz w ramach<br />
zlecenia statutowego ze środków MNiSW.<br />
Literatura<br />
[1] Kouznetsov V., K. Macak, J.M. Schneider, U. Helmersson, I. Petrov:<br />
A novel pulsed magnetron sputter technique utilizing very high target<br />
power densities, Surface and Coatings Technology, 122, (1999),<br />
s. 290–293.<br />
[2] A.P. Ehiasarian, R. New, W.D. Munz, L. Hultman, U. Helmersson, V.<br />
Kouznetsov: Influence of high power densities on the composition of<br />
pulsed magnetron plasmas, Vacuum 65, (2002), s. 147–154.<br />
[3] Bohlmark J., J. Alami, Ch. Christou, A.P. Ehiasarian, U. Helmersson:<br />
Ionization of sputtered metals in high power pulsed magnetron sputtering,<br />
J. Vac. Sci. Technol. A 23(1), Jan/Feb 2005, s. 18–22.<br />
[4] Andersson J., A. Anders: Gasless sputtering: Opportunities for ultraclean<br />
metallization, coatings in space, and propulsion, Applied<br />
Physics Letters, 92, (2008), s. 221501-03.<br />
[5] Wiatrowski A., W. Posadowski, Z. Radzimski: Pulsed-dc self-sustained<br />
magnetron sputtering, J. Vac. Sci. Technol. A, 2008, 26(5),<br />
s. 1277–1281.<br />
[6] Wiatrowski A.: Medium frequency magnetron self-sputtering of copper,<br />
Vacuum 82(10), (2008), s. 1111–1114.<br />
[7] Anders A.: Fundamentals of pulsed plasmas for materials processing,<br />
Surface and Coatings Technology 183, (2004), s. 301–311.<br />
[8] Hosokawa N., T. Tsukada, H. Kitahara: Effect of discharge current<br />
and sustained self-sputtering, Proceedings of The 8th International<br />
Vacuum Congress, Cannes, France, 22–26 September 1980, Supplement<br />
LeVide-les Couches Minces, No.201, s. 11–14.<br />
[9] Hopwood L., F. Qian: Mechanisms for highly ionized magnetron<br />
sputtering, Journal Appl. Phys. 78, (1995), s. 758–765.<br />
[10] Vlĉek J., A.D. Pajdarova, P. Belsky, J. Lukas, P. Kudlacek, J. Musil:<br />
Characterization of High-power Pulsed DC Magnetron Discharges<br />
for Ionized High-rate Sputtering of Copper Films, Society of Vacuum<br />
Coaters, Proceedings of The 48th Annual Technical Conference<br />
(2005), s. 465–469.<br />
[11] Bohlmark J., J. Alami, C. Christou, A.P. Ehiasarian, U. Helmersson:<br />
Ionization of sputtered metals in high power pulsed magnetron sputtering,<br />
J. Vac. Sci. Technol. A 23, (2005), s. 18–22.<br />
[12] Helmersson U., M. Lattemann, J. Bohlmark, A.P. Ehiasarian, J.T.<br />
Gudmundsson; Ionized physical vapor deposition (IPVD): A review of<br />
technology and applications, Thin Solid Films, 513, (2006), s. 1–24.<br />
[13] Christie D.J., A. Pflug, V. Sittinger, F. Ruske, M. Siemers, B. Szyszka,<br />
M. Geisler: Model Prediction and Empirical Confirmation of Rate<br />
Scaling with Peak Power for High Power Pulse Magnetron Sputtering<br />
(HPPMS) Deposition of Thin Ag Films, Society of Vacuum Coaters,<br />
Proceedings of The 48th Annual Technical Conference (2005),<br />
s. 501–503.<br />
[14] Kouznetsov V., K. Macák, J. M. Schneider, U. Helmersson, I. Petrov:<br />
A novel pulsed magnetron sputter technique utilizing very high target<br />
power densities, Surface and Coatings Technology 122, (1999),<br />
s. 290–293.<br />
[15] DeKoven B. M., P. R. Ward, R. E. Weiss, D. J. Christie, R. A. Scholl,<br />
W. D. Sproul, F. Tomasel, A. Anders: Carbon Thin Film Deposition<br />
Using High Power Pulsed Magnetron Sputtering, Society of Vacuum<br />
Coaters, Proceedings of The 46th Annual Technical Conference<br />
(2003), s. 158–160.<br />
[16] Boboli K., i in.: Zagadnienia podstawowe spektralnej analizy atomowej,<br />
1972, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa.<br />
[17] Goyes C., F. Sequeda, and A. Neira: Magnetron Sputtering Deposition<br />
of Titanium Nitride Films Using Optical Emission Spectroscopy<br />
(OES) as In-Situ Technique for Plasma Diagnostics, 45th SVC Annual<br />
Technical Conference Proceedings (2002), ISSN 0737-5921.<br />
[18] Moiseev T., D.C. Cameron: Estimation of the Electron Temperature<br />
and Density from Space and Time-resolved O.E.S. During Pulsed<br />
DC Operation of an Opposed Target Magnetron, 48th SVC Annual<br />
Technical Conference Proceedings (2005) ISSN 0737-5921.<br />
[19] Zasilacz rezonansowy ze stabilizacją dobroci, J. Dora, patent RP nr<br />
313150, 1996.<br />
[20] Nota aplikacyjna, HAMAMATSU Photomultipier Tubes R928, R955.<br />
[21] Materiały szkoleniowe, Understanding photomultipliers, Ref:<br />
upmt/01, 2001, Electron Tubes Limited, www.electrontubes.com<br />
[22] Wiatrowski A.: Sposób pomiaru dynamiki zmian natężenia promieniowania<br />
świetlnego emitowanego przez źródła zasilane impulsowo,<br />
Zgłoszenie patentowe numer P.399950 z dnia 13.07.<strong>2012</strong> r.<br />
[23] Praca zbiorowa, Zakłócenia w aparaturze elektronicznej, Radioelektronik,<br />
Warszawa, 1995.<br />
[24] Free Samples Program, Texas Instruments, Analog Devices.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Multimedialny bezprzewodowy system alarmowy<br />
dr inż. Piotr Bratek, mgr inż. Dariusz Majcherczyk, dr inż. Ireneusz Brzozowski,<br />
prof. dr hab. inż. Andrzej Kos<br />
AGH Akademia Górniczo-Hutnicza, Katedra Elektroniki, Kraków<br />
Rozwój elektroniki i informatyki daje nam nieustannie nowe możliwości<br />
co przekłada się na upowszechnianie nowych technologii<br />
w codziennym życiu. Jedną z najważniejszych spraw do której,<br />
jako użytkownicy, przywiązujemy największą wagę jest przede<br />
wszystkim bezpieczeństwo osobiste oraz bezpieczeństwo mienia.<br />
Nowe coraz bardziej zawansowane rozwiązania pozwalają<br />
skuteczniej bronić się przed potencjalnymi zagrożeniami.<br />
Możliwość wykorzystania wiadomości obrazkowych MMS daje<br />
użytkownikowi znacznie cenniejszą informację, niż dotychczasowa<br />
wiadomość tekstowa, na temat zaistniałej sytuacji w miejscu<br />
zdarzenia. Dzięki zastosowaniu modemu GSM/GPRS nie ma<br />
ograniczenia nałożonego na miejsce realizacji ponieważ obecnie<br />
pokrycie sieci komórkową obejmuje cały teren kraju.<br />
Przedstawiony w artykule multimedialny system alarmowy<br />
(rys. 1) wysyła wiadomości graficzne MMS (ang. Multimedia<br />
Messaging Service) z wykorzystaniem modemu GSM/GPRS<br />
(ang. Global System for Mobile communication/General Packet<br />
Radio Service). Do tej pory na rynku dostępne były głównie systemy<br />
oparte na informacjach przesyłanych jako wiadomości<br />
SMS (ang. Short Message Service). Było tak ze względu na<br />
powszechność dostępu do tej usługi, a co za tym idzie niskich<br />
kosztów użytkowania oraz ówczesnych możliwości technicznych<br />
terminali komórkowych. Współczesne warunki życia promują tak<br />
zwane smartfony (ang. smartphones), czyli urządzenia telefoniczne<br />
łączące w sobie funkcje telefonu komórkowego i komputera<br />
kieszonkowego PDA (ang. Personal Digital Assistant) stąd rosnące<br />
wymagania, co do multimedialności oraz funkcjonalności<br />
rozwiązań z nimi współpracujących [1].<br />
Czujnik<br />
ruchu<br />
Kamera<br />
Mikrokontroler<br />
Moduł GSM/GPRS<br />
Rys. 1. Schemat systemu alarmowego. Fig. 1. Alarm System<br />
Odbiornik<br />
MMS<br />
MMS – architektura, interfejsy, budowa<br />
Standard MMS został opracowany w roku 2002 r. przez organizację<br />
OMA (ang. Open Mobile Alliance) przy wsparciu projektem<br />
3GPP (ang. 3rd Generation Partnership Project) [2]. Wiadomości<br />
multimedialne MMS, to rewolucyjne rozwiązanie w porównaniu<br />
ze swoim poprzednikiem, czyli wiadomościami SMS. MMS pozwala<br />
na przesyłanie wiadomości multimedialnych zawierających<br />
takie treści, jak: zdjęcia, dźwięk, obraz wideo i oczywiście tekst.<br />
Na rysunku 2 przedstawiono schemat architektury systemu MMS,<br />
natomiast szczegółowy opis można znaleźć w pracach [2, 3].<br />
Wiadomość MMS składa się z:<br />
● nagłówka:<br />
X-Mms-Message-Type: m-send-req<br />
X-MMS-Transaction-ID: 4663<br />
X-Mms-Version: 1.0<br />
From: +48123456789/TYPE=PLMN<br />
To: +48987654321/TYPE=PLMN<br />
Subject: MMS Test<br />
X-Mms-Message-Class: Personal<br />
X-Mms-Priority: Normal<br />
X-Mms-Delivery-Report: No<br />
X-Mms-Read-Reply: No<br />
Content-type: application/vnd.wap.multipart.related<br />
● ciała, które zawiera wybrane przez użytkownika treści opakowane<br />
językiem SMIL (ang. Synchronized Multimedia Integration<br />
Language). SMIL jest językiem opracowanym przez<br />
organizację W3C (ang. World Wide Web Consortium), który<br />
oparty jest na XML (ang. Extensible Markup Language). Wykorzystywany<br />
jest do opisywania prezentacji multimedialnych,<br />
określa między innymi znaczniki synchronizacji, układ, animację,<br />
przejścia obrazów oraz zagnieżdżenia [4].<br />
Środowisko sprzętowo-programowe<br />
Prototyp urządzenia składa się z dwóch modułów ewaluacyjnych<br />
połączonych ze sobą interfejsem RS-232, zewnętrznego czujnika ruchu,<br />
kamery internetowej, programu sterującego napisanego w językach<br />
C oraz Python osadzonego w środowisku Linux Embedded [5].<br />
Rys. 2. Architektura systemu MMS [3]<br />
Fig. 2. MMS architecture [3]<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 95
Rys. 3. Płyta ewaluacyjna „Mini Eval” [7]<br />
Fig. 3. „Mini Eval” evaluation board [7]<br />
Rys. 4. Płyta ewaluacyjna mikrokontrolera AT91SAM9260 [9]<br />
Fig. 4. AT91SAM9260 evaluation board [9]<br />
Rys. 6. Bezprzewodowy czujnik ruchu [11]<br />
Fig. 6. Wireless motion sensor [11]<br />
96<br />
Rys. 5. Kamerka internetowa<br />
Creative NX PD1110 [10]<br />
Fig. 5. Webcam Creative NX<br />
PD1110 [10]<br />
Płyta ewaluacyjna „Mini Eval” (rys. 3) wraz z modułem HiLo<br />
firmy Sagem [6] została szczegółowo opisana w pracach [7, 8].<br />
Drugą zastosowaną płytą ewaluacyjną do budowy prototypu jest<br />
płytka z mikroprocesorem AT91SAM9260 [9] – rys. 4.<br />
System operacyjny, który został zainstalowany na płytce z mikroprocesorem<br />
to linux embedded w dystrybucji OpenWRT wersja<br />
kamikaze r13340. Środowisko to oparte jest na wersji jądra<br />
2.6.29.3.<br />
Program do obsługi wysyłania wiadomości MMS został napisany<br />
w językach C oraz Python. Część kodu, która została napisana<br />
w języku C, była kompilowana za pomocą toolchaina: arm_gcc4.1.2.<br />
Kompilacja odbywała się w systemie Linux Ubuntu 11.04.<br />
Pozostała część kodu napisana w języku Python nie wymagała<br />
kompilacji, ponieważ jest to język interpretowany. Interpreter Pythona<br />
uruchamia programy natychmiast po ich wpisaniu lub załadowaniu.<br />
Dla potrzeb prezentowanego systemu, w układzie został<br />
zainstalowany Python w wersji 2.5.1 oraz pyserial w wersji 2.5.<br />
Kolejnym elementem układu, który zapewnia jego multimedialność,<br />
czyli pozwala na wykonywanie zdjęć, które następnie<br />
są odpowiednio przetwarzane przez program i wysyłane do<br />
użytkownika w formie wiadomości MMS jest kamera internetowa<br />
(rys. 5). Jako czujnik ruchu zastosowano bezprzewodowy komercyjny<br />
czujnik pozwalający na umieszczenie nadajnika w miejscu<br />
oddalonym do 100 m od odbiornika (rys. 6).<br />
Prototyp multimedialnego systemy alarmowego<br />
Według założeń układ ma realizować funkcję alarmu, w związku<br />
z tym czujnik ruchu został wybrany jako urządzenie uruchamiające<br />
cały proces. Zastosowany czujnik w podstawowej wersji<br />
wyzwalał głośnik, który dźwiękowo informował o wykryciu ruchu<br />
w monitorowanym obszarze. Zmiana stanu wygenerowana przez<br />
czujnik ruchu wykorzystywana jest przez port GPIO mikroprocesora<br />
do uruchomienia programu obsługującego procedurę wykonywania<br />
zdjęć kamerą internetową. Obsługa portu GPIO została<br />
zaprogramowana w języku C.<br />
Kamera internetowa Creative NX PD1110 w systemie linux<br />
wymaga zastosowania sterownika gspca_zc3xx. W układzie<br />
z mikroprocesorem nie ma tego sterownika, w związku z czym<br />
wymagane było przekompilowanie jądra linuksa z włączonym odpowiednim<br />
modułem.<br />
Procedurą odpowiedzialną za zapis zdjęć wykonanych przez<br />
kamerę jest procedura MJPG_streamer, oparta na licencji GNU<br />
V2. Pierwotna konfiguracja tej procedury zapisywała kolejne<br />
zdjęcia w nieskończonej pętli z nazwą odpowiednią do danej<br />
daty i godziny i tylko przerwanie przez użytkownika zatrzymywało<br />
wykonywanie zdjęć. Dla potrzeb systemu alarmowego jest to<br />
niewłaściwe funkcjonowanie, dlatego wprowadzono zmiany, które<br />
odpowiednio dostosowały pliki wyjściowe. Ograniczono działanie<br />
MJPG_streamer do realizacji dwóch zdjęć.<br />
Po zrobieniu zdjęć uruchamiana jest kolejna procedura nazwana<br />
„my_mms”. Pierwszym zadaniem tej procedury jest zamiana<br />
zrobionych wcześniej kamerką internetową zdjęć na wiadomość<br />
MMS. Program napisany jest w języku Python i korzysta z następujących<br />
bibliotek: mms, time, serial, os. Stworzenie zgodnej ze<br />
standardem wiadomości MMS, odbywa się dzięki bibliotece mms,<br />
w której zawarte są elementy niezbędne do odpowiedniego zakodowana<br />
nagłówka oraz ciała wiadomości obrazkowej. Biblioteki<br />
time i serial wykorzystane do są komunikacji z interfejsem UART,<br />
natomiast biblioteka os zapewnia konwersję danych.<br />
Kamera w jednym cyklu wykonuje dwa zdjęcia. Dzięki temu,<br />
w jednej wiadomości MMS, wysyłane są dwa zdjęcia, a tym samym<br />
zwiększana jest jakość otrzymanej informacji.<br />
Wynikiem działania procedury „my_mms” jest plik „alarm.<br />
mms’, który jest docelową wiadomością MMS. Dodatkowo sprawdzany<br />
jest rozmiar tego pliku, ponieważ jest to niezbędne przy<br />
przesyłaniu go do pamięci modemu Sagem HiLo.<br />
Komunikacja pomiędzy mikroprocesorem a modemem odbywa<br />
się za pomocą interfejsu UART. Za pomocą komend AT wysyłane<br />
są do modemu GSM informacje niezbędne do zestawienia<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Prototyp zrealizowanego multimedialnego bezprzewodowego<br />
systemu alarmowego przedstawia rys. 7.<br />
Podsumowanie<br />
Prezentowany multimedialny bezprzewodowy system alarmowy<br />
jest kompletnym środowiskiem sprzętowo-programowym do tworzenia<br />
wiadomości obrazkowych MMS ze zdjęć pochodzących<br />
z kamerki internetowej i przesyłania ich za pomocą modułu przemysłowego<br />
GSM/GPRS.<br />
Prezentowany system jest prostym i tanim rozwiązaniem<br />
wykorzystującym ogólnie dostępne podzespoły elektroniczne.<br />
Dalsze prace prowadzone będą w kierunku pełnej integracji mikrokontrolera,<br />
modułu GSM, kamery i czujnika ruchu w jednym<br />
autonomicznym urządzeniu alarmowym.<br />
Rys. 7. Prototyp multimedialnego bezprzewodowego systemu alarmowego<br />
Fig. 7. Prototype of Multimedia Wireless Alarm System<br />
połączenia GPRS i wysłania wiadomości MMS. Komendy AT są<br />
ściśle określone w specyfikacji modemu [12], natomiast podawane<br />
parametry zależą od danego operatora systemu GSM.<br />
Kolejnym krokiem jest zapisanie do modemu pliku „alarm.<br />
mms”, najpierw wysyłany jest rozmiar pliku, który został określony<br />
wcześniej. Po zapisaniu pliku odczytany zostaje obszar pamięci<br />
w którym modem go umieścił. Po czym następuje wysłanie wiadomości<br />
MMS z odczytanego obszaru pamięci.<br />
W ostatecznej wersji programu zawarto również usprawnienia<br />
takie jak, kasowanie zapisanych wiadomości MMS z pamięci modemu<br />
(ochrona układu przed brakiem pamięci magazynowej), informowanie<br />
użytkownika o kończących się środkach finansowych<br />
na koncie karty SIM.<br />
Program główny kończy się zamknięciem portu szeregowego,<br />
po czym następuje powrót do procedury GPIO.<br />
Praca realizowana w ramach Działalności Statutowej AGH nr<br />
umowy 11.11.120.184.<br />
Literatura<br />
[1] http://pl.wikipedia.org/wiki/Smartfon.<br />
[2] Henry-Labordere A., V. Jonack: SMS and MMS Interworking in Mobile<br />
Network. Artech House Publishers, 2004.<br />
[3] Gwanael Le Bodic: Mobile Technologies and Services: SMS, EMS<br />
and MMS. John Wiley & Sons Ltd., 2003.<br />
[4] http://pl.wikipedia.org/wiki/Synchronized_Multimedia_Integration_<br />
Language.<br />
[5] Bis M.: Linux w systemach embedded. Wydawnictwo BTC, 2011.<br />
[6] Sagem Communication, “HiLo Technical Specification” ed.06, 2009<br />
[7] Bratek P., K. Boroń, P. Dziurdzia, A. Kos: A New Didactic Equipment<br />
for Teaching of Industrial GSM/GPRS and Telemetry Systems. Proc.<br />
of XXXII international conference of IMAPS-CMPT IEEE Poland on<br />
CDROM, Pszczyna 21–24 September 2009, s 78–81.<br />
[8] Bratek P., A. Kos: LABGSM – system ewaluacyjny modułu GSM/<br />
GPRS. <strong>Elektronika</strong> – konstrukcje, technologie, zastosowania, nr<br />
5/<strong>2012</strong>, Wydawnictwo SIGMA-NOT <strong>2012</strong>, s. 74–77.<br />
[9] http://www.atmel.com/devices/sam9260aspx.<br />
[10] http://support.creative.com/Products/ProductDetails.aspx<br />
[11] http://www.orno.pl/<br />
[12] Sagem Communication, “AT Command Set for HiLo/HiLoNC Modules”<br />
ed. 07, 2009.<br />
Automatyczny pomiar pojemności złączowej<br />
półprzewodnikowego złącza p-n<br />
dr inż. Ireneusz Brzozowski, mgr inż. Szymon Wawszczak, dr inż. Piotr Bratek,<br />
prof. dr hab. inż. Andrzej Kos<br />
AGH Akademia Górniczo-Hutnicza, Katedra Elektroniki, Kraków<br />
Pojemność złączowa (barierowa) jest jednym z ważniejszych parametrów<br />
diod półprzewodnikowych, a zwłaszcza w przypadku<br />
zastosowania w układach dużej częstotliwości. Pojemność złączowa<br />
jako główny parametr zaporowo spolaryzowanego złącza<br />
ma również znaczny udział w przypadku poboru energii w układach<br />
scalonych [1]. W wielu przypadkach sposobność szybkiego<br />
i możliwie dokładnego pomiaru tej pojemności jest nieoceniona.<br />
W przypadku warikapów i waraktorów jest to najważniejszy parametr.<br />
Co więcej, możliwość uzyskania charakterystyki pojemnościowo-napięciowej<br />
może być także bardzo cenna. Ponadto,<br />
oprócz wartości pojemności dla konkretnych napięć polaryzujących<br />
diodę taka charakterystyka pozwala na wyznaczenie innych<br />
ważnych parametrów złącza, np. potencjału barierowego czy profilu<br />
domieszkowania.<br />
W artykule przedstawiono stanowisko pomiarowe umożliwiające<br />
automatyczne wyznaczanie charakterystyk pojemnościowo-napięciowych<br />
złączy półprzewodnikowych i na tej podstawie<br />
ekstrakcję niektórych parametrów diod. Stanowisko składa się ze<br />
specjalnego układu pomiarowego oraz oprzyrządowania kontrolno-pomiarowego,<br />
które jest sterowane za pomocą aplikacji napisanej<br />
w środowisku LabVIEW, przez magistralę GPIB. W dedykowanym<br />
module pomiarowym zastosowano metodę rezonansową<br />
pomiaru pojemności.<br />
Wybór metody pomiarowej<br />
Z pośród wielu metod pomiaru pojemności kondensatorów można<br />
wymienić techniczną, mostkową, rezonansową i inne. Nie<br />
wszystkie z nich nadają się do zastosowania w przypadku pomiaru<br />
pojemności złączowej diody. Niektóre z nich wymagają dobrej<br />
liniowości elementu, dużej dobroci lub stałości napięcia do niego<br />
przyłożonego [2]. Tymczasem dioda półprzewodnikowa to element<br />
nieliniowy, a więc jej parametry zmieniają się wraz z napięciem<br />
polaryzującym. W szczególności pojemność złączowa, ale<br />
również rezystancja szeregowa, dobroć itd. W związku z tym dla<br />
uzyskania dobrej dokładności pomiarów należy zapewnić małą<br />
amplitudę składowej zmiennej napięcia na diodzie.<br />
Metoda techniczna wymaga dużej dobroci, a z tą w przypadku<br />
diody jest trochę gorzej. Metoda mostkowa, choć bardzo<br />
dokładna jest raczej trudna do zastosowania w przypadku<br />
automatycznych pomiarów i wymagałaby znacznej rozbudowy<br />
układu kontrolno-pomiarowego. Wydaje się, że najlepszą<br />
w naszym przypadku będzie metoda rezonansowa oparta na<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 97
generatorze, który jest przestrajany za pomocą badanej diody<br />
– VCO.<br />
W przypadku równoległego obwodu rezonansowego z dodatkową<br />
diodą (rys. 1) jego pulsacja jest opisana wzorem Thomsona:<br />
<br />
ω =<br />
1<br />
L(<br />
C p<br />
+ C j<br />
)<br />
gdzie: L – indukcyjność cewki generatora, C p<br />
– pojemność własna<br />
obwodu rezonansowego, C j<br />
– pojemność złączowa badanej diody.<br />
(1)<br />
L<br />
R<br />
C<br />
Dioda<br />
Gen.<br />
Rys. 1. Schemat do pomiaru pojemności diody metodą rezonansową<br />
Fig. 1. Circuit diagram for capacitance measurement with resonance<br />
method<br />
W celu pomiaru pojemności diody i wyznaczenia charakterystyki<br />
C j<br />
= f (U D<br />
) wystarczy skalibrować zbudowany generator za pomocą<br />
pojemności wzorcowych – wyznaczyć indukcyjność obwodu<br />
rezonansowego i pojemność własną, a następnie badając diodę,<br />
wykonać tylko pomiary częstotliwości w funkcji napięcia polaryzującego.<br />
Ostatecznie, po przekształceniu wzoru (1) z uwzględnieniem<br />
pojemności C p<br />
, obliczymy pojemność złączową diody C j<br />
.<br />
Z równania (1) wynika, że zmiana częstotliwości generatora<br />
– odstrojenie – będzie tym większa im większy będzie udział pojemności<br />
złączowej w całkowitej pojemności obwodu rezonansowego.<br />
Pojemność własna obwodu C p<br />
powinna być mała w stosunku<br />
do pojemności badanej diody. Z drugiej strony również<br />
indukcyjność powinna przyjmować małe wartości, co w połączeniu<br />
z typowymi wartościami pojemności złączowych (od kilkunastu<br />
do kilkuset pF) spowoduje, że generator pomiarowy będzie<br />
pracował przy dość dużych wartościach częstotliwości.<br />
System pomiarowy<br />
Budowa stanowiska pomiarowego do automatycznego pomiaru<br />
pojemności złączowej jest przedstawiona na rys. 2. System<br />
pomiarowy składa się z komputera z dedykowaną aplikacją<br />
kontrolno-sterującą napisaną w środowisku LabVIEW, przyrządów<br />
pomiarowych spiętych za pomocą magistrali GPIB<br />
oraz specjalnego generatora pomiarowego. W omawianym<br />
stanowisku pomiarowym zastosowano urządzenia Agilent. Są<br />
Rys. 2. System pomiarowy do wyznaczania wartości pojemności złączowej<br />
diody<br />
Fig. 2. Measuring system for measure of junction capacitance value<br />
of diode<br />
to: zasilacz (E3646A), multimetr (34401A) i częstościomierz<br />
(53131A).<br />
Z punktu widzenia dokładności pomiarów należy zbudować<br />
generator o możliwie dużym zakresie przestrajania, stosownej<br />
stabilności i liniowości. W praktycznej realizacji układu zastosowano<br />
układ generatora Seilera z tranzystorem bipolarnym włączonym<br />
w układzie wspólnego kolektora (rys. 3). Generator ten<br />
charakteryzuje się bardzo dobrą stabilnością. Dodatkowo zastosowano<br />
wtórnik emiterowy zbudowany na tranzystorze T2, co<br />
powoduje odseparowanie generatora od obciążenia i poprawia<br />
stabilność częstotliwości i amplitudy.<br />
Zastosowany generator został zmodyfikowany w stosunku do<br />
typowego układu Seilera [3] poprzez zmniejszenie sprzężenia<br />
pojemnościowego między emiterem i bazą. Zrezygnowano z kondensatora,<br />
wykorzystując jedynie pojemność złącza baza-emiter<br />
tranzystora. Takie posunięcie spowodowało dalszą poprawę stabilności<br />
oraz podniesienie poziomu napięcia wyjściowego.<br />
Jak już wcześniej wspomniano, aby zapewnić dokładne pomiary<br />
pojemności diody należy zadbać o możliwie najmniejszą<br />
amplitudę napięcia zmiennego na badanej diodzie. W związku<br />
z tym, pierwotny układ prototypowy uległ pewnym modyfikacjom.<br />
Obniżono napięcie zasilania do 5 V. Zastosowano równoległy<br />
kondensator o wartości 22 pF, co spowodowało dalszą redukcję<br />
amplitudy napięcia na diodzie. Zmniejszono również wartość<br />
Nap. polaryzujące diodę<br />
R 12<br />
1,2kΩ<br />
LED czer.<br />
R 11<br />
LED ziel.<br />
1,2kΩ<br />
L dławik<br />
pomiar napięcia<br />
diody<br />
R 10<br />
100kΩ<br />
V<br />
Badana dioda<br />
C 1<br />
22pF<br />
C 2<br />
22pF<br />
L<br />
R 3<br />
R 1 R 2<br />
10kΩ 10kΩ<br />
1nF<br />
T 1<br />
22pF<br />
C 4 R 4<br />
47pF<br />
470Ω<br />
470Ω<br />
R 5<br />
R 6<br />
C 6<br />
22pF<br />
R 7<br />
22kΩ 10kΩ<br />
22kΩ<br />
R 8<br />
T 2<br />
2,2kΩ<br />
C 7<br />
1nF<br />
R 9<br />
47Ω<br />
C 8<br />
V CC<br />
wyjście<br />
Rys. 3. Schemat generatora pomiarowego – VCO. Fig. 3. Circuit diagram of measuring generator – VCO<br />
98<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys. 4. Generator pomiarowy do badania pojemności złączowej diody<br />
Fig. 4. Measuring generator for tests of diode junction capacitance<br />
prądu w obwodzie kolektora. W efekcie tych zabiegów amplituda<br />
napięcia na diodzie osiągnęła wartość 25 mV, co jest wynikiem<br />
bardzo dobrym. Zabiegi te minimalnie obniżyły czułość pomiarową<br />
układu rozumianą tu jako zmiana częstotliwości pod wpływem<br />
zmiany pojemności diody. Jałowa częstotliwość pracy układu (tj.<br />
bez badanej diody) wyniosła 26 MHz, zaś wartość międzyszczytowa<br />
napięcia wyjściowego 1,5 V. Poniższe zdjęcie (rys. 4) przedstawia<br />
gotowy prototyp generatora pomiarowego.<br />
Układ generatora pomiarowego został dodatkowo wyposażony<br />
w sygnalizację, za pomocą diod LED, błędnego podpięcia<br />
napięcia zasilania oraz napięcia polaryzującego badaną diodę.<br />
Odwrotna polaryzacja diody nie spowoduje jej uszkodzenia, ponieważ<br />
prąd przez nią płynący został ograniczony przez rezystory<br />
szeregowe. Jedynie oscylacje w generatorze nie wzbudzą się<br />
i nie będzie możliwe wykonanie pomiarów.<br />
Aplikacja kontrolno-sterująca<br />
Program konfigurujący system pomiarowy, nadzorujący pomiary<br />
i archiwizujący wyniki został napisany w graficznym środowisku<br />
LabVIEW [4]. Pomiar składa się z dwóch etapów: kalibracji i pomiaru<br />
właściwego. Celem kalibracji układu pomiarowego jest wyznaczenie<br />
indukcyjności i pojemności własnej generatora. Na tej<br />
podstawie będą obliczane wartości pojemności złączowej badanej<br />
diody podczas pomiarów wykonywanych w drugim etapie.<br />
Struktura programu przedstawiona na schemacie blokowym<br />
(rys. 5) jest hierarchiczna z wykorzystaniem podprogramów. Program<br />
został podzielony na bloki funkcjonalne odpowiadające za<br />
poszczególne operacje. Główny vi (Virtual Instrument) zawiera<br />
w sobie bloki: INIT, CPU1, CPU2 oraz END. Ponadto cały program<br />
korzysta ze zmiennych globalnych – blok ZMIENNE. Blok<br />
INIT odpowiedzialny jest za inicjalizację instrumentów pomiarowych<br />
i zmiennych. Działanie analogiczne ma blok END, który zamyka<br />
połączenia z instrumentami i zwalnia pamięć. Blok CPU1<br />
realizuje wszystkie zadania wymagające komunikacji z aparaturą<br />
pomiarową, takie jak test polaryzacji, kalibracja czy pomiar właściwy.<br />
Podprogram CPU2 zajmuje się realizacją wszystkich pozostałych<br />
zadań, takich jak obsługa panelu użytkownika, drobne<br />
przeliczenia czy aktualizacja wykresów. Na schemacie dostrzec<br />
można jeszcze dwa bloki: SORTUJ oraz MIERZ. Są to podprogramy,<br />
odpowiednio, sortujący dwuwymiarową tabelę wyników<br />
oraz wykonujący pojedynczy pomiar. Na dole schematu przedstawiono<br />
bloki odpowiedzialne za odwołania do bibliotek dostarczonych<br />
przez producentów aparatury pomiarowej.<br />
Na rysunku 6 przedstawiono graficzny schemat funkcjonalny<br />
programu głównego. Jego struktura to sekwencja płaska, zapewniająca<br />
prawidłową kolejność wykonywania programu: inicjalizacja,<br />
zasadnicza aktywność i zakończenie programu. Wewnątrz<br />
Rys. 5. Schemat blokowy programu kontrolno-pomiarowego<br />
Fig. 5. Block diagram of controlling and measuring software<br />
środkowej klatki sekwencji znajdują się trzy pętle while oraz<br />
dynamiczna rejestracja zdarzeń. Należy pamiętać, że programy<br />
w środowisku LabVIEW wykonują się zgodnie z zasadą przepływu<br />
danych – każdy blok wykona się dopiero wtedy, gdy wszystkie<br />
dane na jego wejściach zostaną określone. Co więcej, o ile nie<br />
zostanie to oprogramowane inaczej, przepływ danych wykona się<br />
tylko jeden raz. Z powyższych prawidłowości wynikają konkretne<br />
wnioski. Zdarzenia zostaną zarejestrowane tylko raz, podczas<br />
gdy trzy pętlę będą się wykonywały niezależnie od siebie, aż<br />
do spełnienia warunku ich końca i wyjścia z programu. Wynika<br />
z tego możliwość podziału zadań na więcej niż jeden wątek, a co<br />
za tym idzie zrównoleglenia obliczeń. Ma to kolosalne znaczenie<br />
przy pełnym wykorzystaniu wieloprocesorowych systemów czasu<br />
rzeczywistego. Należy również pamiętać o oszczędności w wykorzystywaniu<br />
zasobów. Z tego względu pętla obsługująca panel<br />
czołowy, dzięki bloczkowi pauzy, wykonuje się z częstotliwością<br />
100 Hz, co w zupełności wystarcza, aby operator nie zaobserwował<br />
braku płynności np. odświeżania wykresów. W tym czasie,<br />
o ile nie została wydana dyspozycja np. wykonania pomiarów,<br />
dwie pozostałe pętle czekają, a więc nie zajmują niepotrzebnie<br />
czasu procesora. Wynika to z ich budowy wewnętrznej.<br />
Wewnątrz bloków CPU1 i CPU2 zastosowano strukturę przypadku<br />
(ang. case) reagującą i wykonującą przewidziane zadanie<br />
po zaistnieniu jednego z zarejestrowanych wcześniej zdarzeń.<br />
Opcja przeterminowania została celowo wyłączona, aby nie następowały<br />
jałowe przebiegi pętli głównej. W takiej sytuacji bardzo<br />
ważna jest obsługa zdarzenia, którego wynikiem jest koniec<br />
pętli while. W przeciwnym wypadku, przerwanie takiej konstrukcji<br />
(case + while) będzie niemożliwe. Podgląd przykładowego zdarzenia<br />
obsługiwanego przez CPU2 przestawiono na rys. 7.<br />
Interfejs graficzny użytkownika składa się z dwóch zakładek:<br />
KALIBRACJA i POMIAR. Pierwsza z nich pozwala na wyznaczenie<br />
indukcyjności i pojemności własnej generatora pomiarowego<br />
(rys. 8). W tym panelu znajdują się cztery grupy kontrolek oraz wykres<br />
obrazujący przebieg procesu kalibracji. Kalibracja polega na<br />
pomiarach częstotliwości dla kilku kondensatorów wzorcowych.<br />
Następnie program wylicza szukane parametry generatora, które<br />
później są wykorzystane w trakcie obliczania pojemności złączowej<br />
badanej diody i rysowania charakterystyk. Należy zatem umieścić<br />
kondensator w gnieździe pomiarowym układu, wpisać jego wartość<br />
w polu mierzona pojemność i wcisnąć przycisk MIERZ. Za pomocą<br />
kontrolki W TOKU program informuje o pomiarach. Te czynności<br />
powtarzane są dla kolejnych kondensatorów wzorcowych, a otrzy-<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 99
mane wyniki pomiarów są przedstawiane na wykresie. Im liczba<br />
kondensatorów jest większa, tym dokładniejsze są wyniki kalibracji.<br />
W każdej chwili możliwy jest reset kalibracji. Program wykazuje się<br />
pewną opiekuńczością – w przypadku błędnego pomiaru dla danej<br />
pojemności wystarczy tylko dla niej pomiar powtórzyć. Po wykonaniu<br />
kalibracji możliwy jest jej zapis do pliku tak, aby później można było<br />
ją odczytać i przejść do pomiarów. Przycisk WCZYTAJ KALIBRA-<br />
CJĘ powoduje odczytanie kalibracji z pliku. Powyżej, z rozwijanej<br />
listy użytkownik może wybrać rodzaj kalibracji: domyślną, zapisaną<br />
lub zmierzoną. Kolejna opcja pozwala na wybór rodzaju aproksymacji<br />
wykresu: odcinkami prostymi lub sklejaną (ang. spline).<br />
W zakładce jest jeszcze przycisk TESTUJ POLARYZACJĘ,<br />
którego rolą jest uruchomienie sprawdzania poprawności zasilania<br />
układu oraz polaryzacji badanej diody. Jeśli, po jego wciśnięciu, na<br />
około dwie sekundy zapalą się zielone diody LED to oznacza, że<br />
układ został prawidłowo zasilony. Zapalenie się diody czerwonej<br />
oznacza błędne podłączenie kabli zasilania lub polaryzacji diody.<br />
Druga zakładka w interfejsie użytkownika, przedstawiona na<br />
rysunku 9, dotyczy pomiarów. Po wybraniu parametrów pomiarów<br />
tj. zakresu napięć i rozdzielczości, oraz wciśnięciu przycisku<br />
ROZPOCZNIJ POMIAR program wysyła do zasilacza kolejne<br />
wartości napięć polaryzujących diodę. W odpowiedzi oczekuje na<br />
odczyty z woltomierza i częstościomierza. Podczas wykonywania<br />
pomiaru, program informuje o tym fakcie użytkownika poprzez zapalenie<br />
zielonej kontrolki POMIAR W TOKU. W każdym momencie<br />
istnieje możliwość przerwania pomiaru przez wciśnięcie przy-<br />
Rys. 6. Program główny aplikacji kontrolno-sterującej. Fig. 6. Main procedure of controlling software<br />
Rys. 7. Schemat funkcjonalny podprogramu CPU2. Fig. 7. Functional diagram of CPU2 procedure<br />
100<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys. 8. Graficzny interfejs użytkownika<br />
(GUI) – zakładka kalibracji<br />
Fig. 8. Graphical user interface<br />
– calibration panel<br />
Rys. 9. Graficzny interfejs użytkownika<br />
(GUI) – zakładka pomiaru<br />
Fig. 9. Graphical user interface<br />
– measurement panel<br />
cisku PRZERWIJ POMIAR. Zebrawszy napięcia oraz skojarzone<br />
z nimi częstotliwości, program wyświetla zależność na górnym<br />
wykresie. Następnie dokonuje przeliczenia zebranych wyników<br />
korzystając z wyników kalibracji układu i prezentuje gotową zależność<br />
pojemności od napięcia na wykresie dolnym. Zebrane<br />
dane pomiarowe mogą być zapisane do pliku po podaniu ścieżki<br />
dostępu i wciśnięciu przycisku ZAPISZ WYNIKI. Jeśli nazwa pliku<br />
nie zostanie podana program zapisze wyniki w pliku pod domyślną<br />
nazwą uzupełnioną aktualną datą.<br />
Program kontroluje ustawienia wpisywane przez użytkownika.<br />
Nie jest możliwe wpisanie większej wartości napięcia początkowego<br />
niż końcowego lub ułamkowej rozdzielczości itp.<br />
Podsumowanie<br />
W pracy przedstawiono kompletne stanowisko pomiarowe pozwalające<br />
na automatyczne pomiary charakterystyki pojemnościowo-napięciowej<br />
złącz półprzewodnikowych. System pomiarowy<br />
zbudowano w oparciu o fabryczne przyrządy pomiarowe<br />
współpracujące z magistralą GPIB uzupełnione o dedykowany<br />
układ generatora pomiarowego. Dołożono szczególnych starań<br />
w trakcie wykonywania układu prototypowego, tak aby zapewnić<br />
wymaganą dokładność pomiarów, niezawodność i wygodę<br />
pracy. Nad konfiguracją systemu oraz zarządzaniem pomiarami<br />
i archiwizacją wyników czuwa aplikacja pomiarowa wykonana w<br />
środowisku LabVIEW.<br />
Natychmiastowa prezentacja wyników pomiarowych w formie<br />
wykresów pozwala na szybką ocenę badanych diod. Ponadto<br />
takie podejście sprawia, że stanowisko pomiarowe jest przydatne<br />
w dydaktyce, gdyż pozwala studentom na szybką weryfikacje<br />
wyników pomiarowych z teorią. Wyniki zapisane na dysku<br />
komputera mogą być w późniejszym czasie wykorzystane do<br />
dalszych analiz i ekstrakcji parametrów badanych złącz.<br />
Wprowadzenie zabezpieczeń przed błędnym zasileniem i polaryzacją<br />
badanej diody oraz kontrola ustawień pomiarów w aplikacji<br />
sterującej znacząco podnosi walory użytkowe zbudowanego<br />
systemu pomiarowego. Dzięki temu stanowisko może być bezpieczne<br />
i efektywnie używane w laboratoriach studenckich.<br />
Praca została zrealizowana w ramach Działalności Statutowej<br />
AGH nr umowy 11.11.120.184.<br />
Literatura<br />
[1] Gołda A., Kos. A.: Temperature influence on energy losses in MOSFET<br />
capacitors, Microelectronics Reliability, vol. 44, 2004, ss. 1115–1121.<br />
[2] Dusza J., Gortat G., Leśniewski A.: Podstawy Miernictwa, Warszawa<br />
1998.<br />
[3] Praktyczny Elektronik, Marzec 2002, ss.15–19.<br />
[4] National Instruments, www.ni.com<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 101
Barierowe struktury detekcyjne – nowe możliwości<br />
dr inż. Piotr Martyniuk, mgr inż. Andrzej Kowaleski, dr inż. Waldemar Gawron,<br />
prof. dr hab. inż. Antoni Rogalski<br />
Wojskowa Akademia Techniczna, <strong>Instytut</strong> Fizyki Technicznej, Warszawa<br />
Konieczność chłodzenia kriogenicznego detektorów promieniowania<br />
podczerwonego IR (Infrared Radiation) jest główną<br />
przeszkodą ograniczającą ich szerokie zastosowania. Biorąc<br />
ten fakt pod uwagę, szczególne znaczenie mają prace dotyczące<br />
niechłodzonych HOT (Higher Operation Temperature)<br />
detektorów z zakresu średniej MWIR (Medium Wave Infrared<br />
Radiation) 3…8 µm i dalekiej podczerwieni LWIR (Long Wave<br />
Infrared Radiation) 8…16 µm. Kluczowym elementem w procesie<br />
projektowania wysokotemperaturowych struktur detekcyjnych<br />
pracujących w wymienionych zakresach IR jest maksymalizacja<br />
wydajności kwantowej i minimalizacja prądu ciemnego.<br />
Wśród mechanizmów generujących prąd ciemny w strukturze<br />
detekcyjnej należy wyróżnić mechanizmy tunelowe pasmo<br />
– pasmo BTB (Band – To – Band Tunneling), tunelowanie przez<br />
poziomy pułapkowe TAT (Trap Assisted Tunneling), procesy generacyjno<br />
– rekombinacyjne (GR) Augera, procesy GR przez<br />
centra pułapkowe Shockley-Read-Halla (SRH) i prądy upływności<br />
powierzchniowej. Prądy uwarunkowane procesami GR<br />
Augera i procesami tunelowymi BTB/TAT można teoretycznie<br />
ograniczyć poprzez konstrukcje elementów składowych detektora<br />
z supersieci (SLs) II rodzaju T2SLs (Type II Superlattices),<br />
szczególnie z zwiŕzków naleýŕcych do tzw. rodziny 6.1 Ĺ<br />
A III B V (InAs, GaSb i AlSb) [1]. Niekorzystne, z punktu widzenia<br />
konstrukcji wysokotemperaturowych detektorów, procesy GR<br />
SRH i prądy upływności powierzchniowej można zredukować<br />
poprzez implementację odpowiednio dopasowanych barier do<br />
struktury detekcyjnej. Dobór bariery odgrywa decydującą rolę<br />
ze względu na dopasowanie sieciowe, jak również wysokość<br />
bariery w paśmie przewodnictwa i paśmie walencyjnym. Często<br />
wysokość energetyczna barier jest przypadkowa i trudno ją<br />
kontrolować technologicznie.<br />
Pierwszymi strukturami barierowymi były detektory heterozłączowe<br />
HgCdTe stosowane w celu zwiększenia osiągów detektorów<br />
poprzez ograniczanie prądów dyfuzyjnych z obszaru<br />
aktywnego detektora. Kolejnym etapem w rozwoju struktur barierowych<br />
była struktura detekcyjna z podwójnym heterozłączem<br />
DLHJ (Double Layer Heterojunction) pozwalająca uzyskać lepsze<br />
właściwości detekcyjne w porównaniu do detektorów homozłączowych.<br />
Wśród barierowych struktur detekcyjnych BIRD (Barrier Infrared<br />
Detectors) obecnie wiodącą pozycję zajmują struktury<br />
unipolarne UBIRD (Unipolar Barrier Infrared Detectors) wytwarzane<br />
z związków A III B V (GaSb, InAs 1–z<br />
Sb z<br />
– warstwy kontaktowe,<br />
InAs 1-y<br />
Sb y<br />
– absorber, AlSb 1–x<br />
As x<br />
– bariera), 2TSLs z InAs/<br />
GaSb z barierą AlGaSb i HgCdTe, które dzięki zastosowanej<br />
barierze blokują transport nośników większościowych, a przy<br />
jej właściwym doborze (minimalizacja bariery w paśmie walencyjnym)<br />
nie ograniczają nośników wzbudzonych optycznie [2].<br />
Badania nad strukturami UBIRD zapoczątkowali Maimon i Wicks<br />
publikując pracę wskazującą na zalety struktur z pojedynczą<br />
barierą [3].<br />
Rysunek 1 przedstawia porównanie detektora fotowoltaicznego<br />
(złącze p-n) z UBIRD nBn. Wprowadzenie bariery zmienia<br />
własności obszaru zubożonego zwiększając przerwę energetyczną,<br />
a tym samym zmniejszając wpływ składowej prądu ciemnego<br />
związanej z GR SRH, zmieniającej się zgodnie z zależnością<br />
W porównaniu z detektorem fotowoltaicznym (ze złączączem<br />
p-n), zastosowanie struktury barierowej powinno zredukować<br />
prąd GR (przez centra SHR), którego głównym źródłem jest obszar<br />
zubożony złącza. Zmniejszenie prądu ciemnego pozwala<br />
jednocześnie na zwiększenie temperatury pracy detektora rys. 1b.<br />
Obliczenia przeprowadzone przez Tinga et al. wskazują, że szybkość<br />
procesów GR SHR (r SHR<br />
) zmniejsza się o osiem rzędów wielkości<br />
(z r SHRp-n<br />
= 10 12 cm –3 s –1 do r SHRnBn<br />
= 10 4 cm –3 s –1 ) po zastosowaniu<br />
bariery AlSbAs w UBIRD nBn z InAsSb w porównaniu do<br />
złącza p-n wykonanego z InAsSb [4]. Obecnie zainteresowanie<br />
wiodących grup badawczych skupia sić na T2SLs z InAs/GaS<br />
(rodzina 6.1 Ĺ A III B V ), których odpowiednia konfiguracja struktury<br />
pasmowej (inżynieria przerwy energetycznej) umożliwia zwiększenie<br />
osiągów detektorów. Sztandarowym przykładem detektora<br />
UBIRD jest struktura nBn składająca się z dwóch silnie domieszkowanych<br />
warstw kontaktowych n + , bariery (B) (typu: p lub n),<br />
obszaru aktywnego n z 2TSLs InAs/GaSb z barierą Al 0.2<br />
Ga 0.8<br />
Sb<br />
pozwalająca uzyskać wykrywalności rzędu 10 9 cmHz 1/2 /W w temperaturze<br />
pokojowej.<br />
Alternatywą do detektorów UBIRD są struktury komplementarne<br />
CBIRD (Complementary Barrier Infrared Detectors) zawierające<br />
dwie bariery blokujące transport nośników większościowych<br />
i mniejszościowych. Implementacja podwójnej bariery, właściwie<br />
dopasowanej do pozostałych elementów składowych detektora<br />
(dobór przerwy energetycznej, domieszkowania, składu i grubości)<br />
w sposób znaczący może zredukować prąd ciemny, zwiększyć<br />
wykrywalność i temperaturę pracy przyrządu [5]. Strukturę<br />
pasmową idealnego detektora CBIRD przedstawiono na rys. 2.<br />
.<br />
a) b)<br />
c)<br />
Rys. 1. Porównanie złącza p-n (a) z detektorem nBn (c), wpływ implementacji bariery na prąd ciemny (b)<br />
Fig. 1. Comparison of the p-n junction (a) with nBn detector (c), influence of the barrier’s implementation on the dark current (b)<br />
102<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys. 2. Struktura detektora CBIRD<br />
Fig. 2. Energy band diagram of CBIRD detector<br />
Unipolarne detektory z HgCdTe/B-typ n<br />
zakresu średniej podczerwieni<br />
Przed wprowadzeniem struktur nBn, głownie to roztwór stały<br />
z Hg 1–x<br />
Cd x<br />
Te był stosowany do wytwarzania detektorów HOT<br />
pracujących w zakresie średniej podczerwieni. Zasadność tego<br />
wyboru uwarunkowana jest wysoką wartością współczynnika absorpcji<br />
promieniowania IR (wydajności kwantowe rzędu η ≈ 60<br />
– 70%), niską generacją termiczną nośników, niską wartością<br />
stałej dielektrycznej oraz wysoką ruchliwością elektronów [6–9].<br />
Jednakże słabość wiązania rtęci i trudności technologiczne uzyskania<br />
właściwego poziomu domieszkowania typu p utrudniają<br />
wytworzenie struktur barierowych z HgCdTe<br />
Wymienione powyżej trudności można rozwiązać stosując unipolarną<br />
strukturę detekcyjną nBn z barierą typu n przedstawioną<br />
na rys. 3.<br />
Rys. 4. Struktura pasmowa UBIRD nBn z HgCdTe dla V = 0 V<br />
i T = 200K<br />
Fig. 4. Calculated energy band diagram of the UBIRD nBn HgCdTe for<br />
V = 0 V and T = 200K<br />
Rys. 3. Struktura detektora UBIRD nBn z HgCdTe<br />
Fig. 3. Cross-section of the UBIRD nBn HgCdTe detector<br />
Proponowany detektor składa się z warstwy kontaktowej<br />
(d = 0,16 µm) typu n (N D<br />
= 7×10 14 cm –3 ), absorbera typu n (d = 10<br />
µm, N D<br />
= 10 14 cm –3 ) i bariery (d = 0,15 µm) składającej się z trzech<br />
warstw z gradientem składu dopasowanych do absorbera i warstwy<br />
kontaktowej (o składzie x odpowiednio 0,33 – 0,6 – 0,275).<br />
Taka struktura pozwala zredukować składową prądu ciemnego<br />
GR SRH, zmniejszając całkowity prąd ciemny detektora, jak również<br />
ograniczyć ilość etapów w procedurze otrzymania struktury<br />
przyrządu (np. etap wygrzewania).<br />
Najważniejszym krokiem optymalizacyjnym z punktu widzenia<br />
konstrukcji UBIRD jest dobranie właściwego składu molowego<br />
bariery i jej domieszkowania. Poprzez dobór tych parametrów<br />
można zredukować niepożądaną barierę tworzącą się w paśmie<br />
walencyjnym (∆E v<br />
) blokującą nośniki mniejszościowe, a tym<br />
samym ograniczającą czułość detektora. Na rys. 4 i 5 przedstawiono<br />
obliczoną strukturę pasmową UBIRD nBn z HgCdTe<br />
(stoswano platformę obliczeniową APSYS). Przy braku zasilania<br />
struktury nBn wysokość bariery dla nośników większościowych<br />
wynosi ∆E c<br />
≈ 400 mV, natomiast dla nośników mniejszościowych<br />
∆E v<br />
≈ 150 mV. Zasilając strukturę napięciem V = 400 mV, bariery<br />
w paśmie przewodnictwa i walencyjnym zmniejszają się. Widzimy<br />
więc, że właściwy dobór napięcia zasilania jest istotny z punktu<br />
widzenia doboru warunków pracy detektora.<br />
Rys. 5. Struktura pasmowa UBIRD nBn z HgCdTe dla V = 0,4 V<br />
i T = 200K<br />
Fig. 5. Calculated energy band diagram of the UBIRD nBn HgCdTe for<br />
V = 1 V and T = 200K<br />
Rys. 6. Prąd ciemny w funkcji napięcia zasilania detektora nBn<br />
z HgCdTe dla wybranych temperatur pracy<br />
Fig. 6. Dark current versus applied voltage for different detector’s<br />
operating temperatures<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 103
Rys. 7. Wykrywalność w funkcji składu molowego bariery x dla wybranych<br />
napięć zasilania detektora nBn z HgCdTe<br />
Fig. 7. Detectivity versus barrier’s composition for different applied<br />
voltages<br />
Prąd ciemny unipolarnej struktury detekcyjnej z HgCdTe zależy<br />
w głównej mierze od właściwości blokujących bariery i absorbera.<br />
Wraz ze wzrostem napięcia zasilana (do V ≈ 200 mV)<br />
prąd gwałtownie rośnie, a następnie wzrasta łagodnie z napięciem,<br />
na co ma wpływ domieszkowana bariera typu n (N D<br />
=<br />
2×10 15 cm –3 ); dla T = 240K i V = 1 V wartość prądu ciemnego<br />
wynosi 7 A/cm 2 .<br />
Wysokość bariery w paśmie walencyjnym decyduje o czułości<br />
detektora. Dla napięcia zasilania V = 100 mV i składu molowego<br />
x < 0,54, bariera w paśmie przewodnictwa (∆E c<br />
) zmniejsza<br />
się przyczyniając się do zmniejszenia prądu ciemnego. Dla<br />
x > 0,54 czułość detektora maleje ze względu na blokowanie nośników<br />
mniejszościowych na barierze ∆E v<br />
. Dla napięcia zasilania<br />
V = 400 mV wykrywalność wynosi D * ≈ 3,5×10 9 cmHz 1/2 /W. Oszacowane<br />
wydajności kwantowe i czułości dla modelowanego detektora<br />
wynoszą odpowiednio R i<br />
= 2 A/W i η ≈ 50% (dla λ = 4,5<br />
µm). Przedstawione wyniki obliczeń detektora UBIRD nBn z Hg-<br />
CdTe zgadzają się z danymi eksperymentalnymi prezentowanymi<br />
w pracy [10].<br />
Unipolarne detektory z T2SLs InAs/GaSb/B-<br />
AlGaSb zakresu średniej podczerwieni<br />
Właściwości fizyczne T2SLs z InAs/GaSb wskazują na zalety tej<br />
grupy związków w porównaniu do HgCdTe. Współczynnik pochłaniania<br />
jest porównywalny do uzyskiwanego dla HgCdTe, choć wydajności<br />
kwantowe w zakresie MWIR są niższe (η = 15 – 30%)<br />
ze względu na małe grubości supersieci. Masy efektywne nośników<br />
są większe, co powoduje ograniczenie prądów tunelowych<br />
(m*/m o<br />
≈ 0,02 – 0,03, w porównaniu do m*/m o<br />
= 0,009 dla HgCdTe<br />
o przerwie energetycznej E g<br />
≈ 0,1 eV). Separacja przestrzenna<br />
elektronów i dziur w T2SLs wpływa na ograniczenie procesów<br />
GR Augera. Dodatkowo, ze względu na większy udział wiązania<br />
kowalencyjnego w wiązaniach T2SLs z InAs/GaSb, związki te są<br />
bardziej stabilne niż HgCdTe.<br />
Chociaż technologia T2SLs jest we wstępnej fazie rozwoju,<br />
teoretyczne oszacowania parametrów detekcyjnych fotodiod<br />
z T2SLs mogą być porównywalne a nawet większe niż te uzyskiwane<br />
dla HgCdTe. Zastosowanie barier z AlGaSb w strukturach<br />
UBIRD z absorberem i warstwą kontaktową z T2SLs InAs/GaSb<br />
pozwala zredukować niepożądaną barierę w paśmie walencyjnym,<br />
co jest niemożliwe w przypadku struktur z HgCdTe [12].<br />
Przykładowy detektor UBIRD nBn z T2SLs przedstawiono na<br />
rys. 8. Jego struktura składa się z silnie domieszkowanej warstwy<br />
kontaktowej typu n + z T2SLs InAs/GaSb (N D<br />
= 10 18 cm –3 ),<br />
bariery z AlGaSb typu p (N A<br />
= 5×10 17 cm –3 ) i absorbera typu n<br />
(N D<br />
= 6×10 16 cm –3 ).<br />
104<br />
Rys. 8. Przykładowa struktura UBIRD nBn (MWIR λ c<br />
= 4,95 µm)<br />
z T2SLs InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />
Ga 0.8<br />
Sb<br />
Fig. 8. Cross-section of the UBIRD nBn T2SLs InAs/GaSb/B-<br />
Al 0.2<br />
Ga 0.8<br />
Sb detector<br />
Rys. 9. Prąd ciemny detektora nBn T2SLs InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />
Ga 0.8<br />
Sb<br />
w funkcji napięcia zasilania dla wybranych temperatur pracy<br />
Fig. 9. Dark current versus temperature for nBn detector at different<br />
bias voltages<br />
Rys. 10. RA detektora nBn z T2SLs InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />
Ga 0.8<br />
Sb dla wybranych<br />
napięć zasilania<br />
Fig. 10. RA product versus temperature for nBn detector at different<br />
bias voltages<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Podsumowanie<br />
Implementacja warstw barierowych w struktury detekcyjne pozwala<br />
uzyskać osiągi porównywalne do tych uzyskiwanych dla fotodiod<br />
p-n z HgCdTe. Należy oczekiwać, że w miarę postępu w technologii<br />
uzyskiwania grubszych i jednorodnych warstw obszarów<br />
aktywnych, możliwe<br />
<br />
będzie osiągnięcie<br />
<br />
wydajności<br />
<br />
kwantowych<br />
<br />
60…70%, a osiągi struktur barierowych T2SLs z InAs/GaSb będą<br />
<br />
wyższe niż te uzyskiwane dla HgCdTe zarówno w średnim jak i długofalowym<br />
zakresie podczerwieni. Należy również wyrazić przeko-<br />
<br />
<br />
nanie, że zastosowanie struktury barierowej z HgCdTe z absorberem<br />
typu p (pBp) lub implementacja<br />
<br />
podwójnej<br />
<br />
bariery<br />
<br />
do struktury<br />
detekcyjnej zwiększy parametry detekcyjne przyrządu.<br />
<br />
Praca naukowa finansowana ze środków na naukę w latach<br />
2010–<strong>2012</strong> jako projekt badawczy. <br />
<br />
Literatura <br />
[1] Rogalski A. and P. Martyniuk: InAs/GaInSb superlattices as a promising<br />
material system for third generation infrared detectors. Infrared<br />
Physics & Technol. 48, 39–52 (2006). <br />
Rys. 11. RA i R o<br />
A dla nBn z T2SLs InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />
Ga 0.8<br />
Sb, nBn [2] Klipstein P.: XBn’ barrier photodetectors for high sensitivity and high<br />
z HgCdTe i fotodiod HOT z HgCdTe operating temperature infrared sensors. Proc. SPIE. 6940, 69402U-<br />
1–11 (2008). <br />
Fig. 11. Temperature dependence of the RA and R o<br />
A products for<br />
MWIR InAs/GaSb/B-Al [3] Maimon S.and G. Wicks: nBn detector, an infrared detector with reduced<br />
dark current and higher operating temperature. Appl. Phys.<br />
0.2<br />
Ga 0.8<br />
Sb T2SL nBn detector, HgCdTe bulk photodiodes<br />
<br />
<br />
and nBn<br />
<br />
HgCdTe<br />
<br />
detector<br />
Lett. 89, <br />
<br />
151109-1–3 (2006).<br />
[4] Ting D. Z., C. J. Hill, A. Soibel, J. Nguyen, S. Keo, M. C. Lee, J. M.<br />
Oszacowane wartości wydajności kwantowych detektorów dla Mumolo, J. K. Liu, S. D. Gunapala: Antimonide-based barrier infrared<br />
detectors. <br />
<br />
Proc. SPIE 7660, 76601R, (2010).<br />
długości fali λ = 4,5 µm wynoszą odpowiednio 24% dla T = 77K<br />
[5] Ting D. Z., A. Soibel, J. Nguyen, C.J. Hill, SA Keo, J.M. Mumolo and S.D.<br />
i 15% dla T = 300K. Ich małe wydajności kwantowe warunkowane<br />
są małą grubością obszaru aktywnego (d = 1,94 µm) [13]. mentary <br />
Gunapala: A high-performance long wavelength superlattice comple-<br />
<br />
<br />
barrier infrared detector. Appl. Phys. Lett. 95, 023508 (2009).<br />
<br />
[6] Rogalski A., K. Adamiec, and J. Rutkowski: Narrow-Gap Semiconductor<br />
Photodiodes. SPIE Press, Bellingham, (2000).<br />
Gęstości prądów są porównywalne z tymi uzyskiwanymi<br />
<br />
dla<br />
<br />
Hg-<br />
<br />
<br />
<br />
CdTe, jednakże należy zaznaczyć, że w przypadku nBn HgCdTe [7] Rogalski <br />
<br />
A.: Infrared Detectors, second edition, CRC Press, Boca<br />
<br />
nie brano pod uwagę wpływu efektu tunelowego na heterozłączu<br />
<br />
Raton, (2011). <br />
[8] Norton P.: HgCdTe infrared detectors. Opto-Electron. Rev. 10, 159–<br />
<br />
bariera<br />
<br />
– absorber.<br />
<br />
Iloczyn<br />
<br />
<br />
RA i wykrywalność D * kształtują 174 (2002).<br />
się odpowiednio na poziomie 0,01–1 <br />
<br />
Ωcm 2 i 10 9 –10 cmHz 1/2 /W [9] Rogalski A.: HgCdTe infrared detector material: history, status and<br />
outlook. Rep. Prog. Phys. 68, 2267–2336 (2005).<br />
w zakresie temperatur uzyskiwanych <br />
<br />
chłodziarkami termoelektrycznymi.<br />
<br />
<br />
<br />
[10] Velicu S., J. Zhao, M. Morley, A. M. Itsuno, J. D. Philips: Theoretical<br />
investigation of MWIR HgCdTe nBn detectors. Proc. SPIE. 8268,<br />
<br />
Na rysunku 11 przedstawiono porównanie iloczynu RA obliczonego<br />
dla UBIRD nBn z HgCdTe i nBn z InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />
82682X, (<strong>2012</strong>). <br />
<br />
<br />
[11] Ting D. Z.-Y., A. Soibel, L. Höglund, J. Nguyen, C.J. Hill, A. Khoshakhlagh,<br />
and S.D. Gunapala: <br />
Ga 0.8<br />
Sb<br />
<br />
<br />
Type-II superlattice infrared detectors. in<br />
przy zasilaniu V = 50 mV i długości fali λ = 4,95 µm z iloczynem Semiconductors and Semimetals, Vol. 84, pp. 1–57, <br />
<br />
edited by S.D. Gunapala,<br />
D.R. Rhiger, and C. Jagadish, Elsevier, Amsterdam, (2011).<br />
R o<br />
A fotodiod z HgCdTe (HOT) wytworzonych w Zakładzie Fizyki<br />
[12] Rodriguez J.B., E. Plis, G. Bishop, Y.D. Sharma, H. Kim, L.R. Dawson,<br />
Ciała Stałego WAT/Vigos System SA. Uzyskane wyniki symulacji<br />
<br />
and S. Krishna: nBn structure based on InAs/GaSb type-II strained<br />
pokazują, że RA i R o<br />
A dla wymienionych struktur detekcyjnych layer superlattices. Appl. Phys. Lett. 91, 043514-1–2 (2007).<br />
<br />
są porównywalne, jednakże wykrywalności fotodiod z HgCdTe są [13] Martyniuk P., J. Wróbel, E. Plis, P. Madejczyk, A. Kowalewski, W.<br />
Gawron, S. Krishna, A. Rogalski: Performance modelling of MWIR<br />
zdecydowanie<br />
<br />
wyższe ze<br />
<br />
względu<br />
<br />
na<br />
<br />
ich<br />
<br />
większe wartości wydajności<br />
kwantowych.<br />
for publishing by Semiconductor Science & Technology.<br />
InAs/GaSb/B-Al 0.2<br />
Ga<br />
0.8 <br />
Sb type-II<br />
<br />
superlattice<br />
<br />
nBn<br />
<br />
detector.<br />
<br />
Accepted<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 105
Zastosowanie dedykowanych układów scalonych<br />
w systemach wyszukiwania punktu mocy maksymalnej<br />
dr inż. Wojciech Grzesiak, mgr inż. Jacek Piekarski, dr inż. Michał Cież<br />
<strong>Instytut</strong> Technologii Elektronowej, Oddział w Krakowie<br />
mgr inż. Paweł Grzesiak, Uniwersytet Ekonomiczny w Krakowie<br />
Implementacja techniki MPPT w systemach fotowoltaicznych pozwala<br />
na zwiększenie efektywności przetwarzania energii słonecznej<br />
na elektryczną nawet o 30%. Z reguły technika ta polega na<br />
wprowadzeniu do instalacji fotowoltaicznej stosownej, sterowalnej<br />
przetwornicy DC/DC, która w połączeniu z odpowiednim algorytmem<br />
bądź algorytmami wyszukiwania punktu mocy maksymalnej<br />
zapewnia odpowiednie dopasowanie energetyczne modułów PV do<br />
obciążenia. Najczęściej rozwiązania takie oparte są o powszechnie<br />
stosowaną technikę mikroprocesorową. W wielu przypadkach mogą<br />
one być zbyt kosztowne. Dla rozwiązania tego problemu w ostatnich<br />
latach wiele wiodących firm produkujących półprzewodnikowe układy<br />
scalone opracowało i wdrożyło do produkcji dedykowane układy,<br />
pozwalające na niskokosztową realizację techniki MPPT. W artykule<br />
dokonano przeglądu i oceny najciekawszych, zdaniem autorów,<br />
rozwiązań. W tym celu zaprojektowano i wykonano modele tych<br />
układów bazując na schematach aplikacyjnych zalecanych przez<br />
producentów. Dodatkowo przy ocenie tych rozwiązań kierowano się<br />
również możliwością ich miniaturyzacji poprzez zastosowanie technologii<br />
SMD oraz realizacji w technologii grubowarstwowej.<br />
Do testów zastosowano stanowisko badawcze zbudowane<br />
w oparciu o: oprogramowanie Solar Design Studio v.6.0, symulator<br />
modułów fotowoltaicznych firmy Agilent Technologies, interface,<br />
komputer oraz opracowane w ITE specjalizowane oprogramowanie<br />
pozwalające na zarządzanie systemem umożliwiającym symulację<br />
parametrów wyjściowych modułów fotowoltaicznych dla<br />
różnych warunków pogodowych oraz dla różnego ich położenia.<br />
Stanowisko to pozwala również na pomiar parametrów systemów<br />
oraz wizualizację ich funkcjonowania. Jest niezwykle pomocne<br />
przy ocenie działania systemów MPPT (Maximum Power Point<br />
Tracking), zwłaszcza przy ocenie czasu i precyzji wyszukiwania<br />
MPP. Więcej informacji na temat stanowiska [1].<br />
Przegląd rozwiązań układowych<br />
Na rysunku 1 przedstawiono schemat aplikacyjny układu typu<br />
TPS61200 firmy Texas Instruments umożliwiający realizację systemu<br />
ładowania akumulatora lub superkondensatora z jednego<br />
lub kilku ogniw PV.<br />
Jego zasada działania opiera się na obserwacji napięcia wyjściowego<br />
ogniw PV w punkcie mocy maksymalnej, przy założeniu<br />
niewielkich zmian tego napięcia w funkcji nasłonecznienia i temperatury.<br />
Układ tak dopasowuje obciążenie, aby napięcie na wyjściu<br />
systemu było na stałym poziomie. Uzyskane w ten sposób<br />
rezultaty odbiegają od optymalnych o kilka procent, jednak cena<br />
systemu pozostaje niska.<br />
W tabeli 1 przedstawiono podstawowe parametry tego układu<br />
i porównano je z parametrami układu LTC 3105 firmy Linear<br />
Technology, którego schemat aplikacyjny przedstawiono na<br />
rys. 2. W jego wypadku algorytm MPPT jest zaimplementowany<br />
bezpośrednio w układzie scalonym. Jak widać jest to rozwiązanie<br />
pełniące taką samą funkcję, jednocześnie prostsze i wymagające<br />
zastosowania wyłącznie elementów pasywnych.<br />
Tab. 1. Podstawowe parametry układów<br />
Tabl. 1. Basic parameters of ICs with implemented MPPT algorithm<br />
TPS61200 SPV1040 LTC3105<br />
Zakres napięć we. [V] 0,3–5,5 0,3–5,5 0,225–5<br />
Min. napięcie startu [V] 0,3 0,3 0,25<br />
Zakres napięć wy. [V] 1,8–5,5 2–5,5 1,5–5,25<br />
Prąd spoczynkowy [mA] 0,055 0,022 0,022<br />
Prąd obciążenia [mA] 300 2000 60<br />
Rys. 2. Prosty system ładowania akumulatora wykorzystujący jako<br />
źrodło energii ogniwa PV z zastosowaniem układu LTC3105 [3]<br />
Fig. 2. Simple battery charger powered by PV cell, based on LTC3105 [3]<br />
Na rysunku 3 przedstawiono podobne rozwiązanie z zastosowaniem<br />
układu SPV1040 firmy ST Microelectronics. Jest to układ<br />
zawierający wbudowaną preprogramowaną jednostkę centralną<br />
odpowiedzialną za realizację popularnego algorytmu P&O (Perturb-and-observe).<br />
Rozwiązanie to pozwala na wysoką precyzję<br />
wyszukiwania MPP. Podstawowe parametry tego układu przedstawiono<br />
w tabeli 1.<br />
Rys. 1. Prosty system ładowania akumulatora wykorzystujący jako<br />
źródło energii ogniwa PV z zastosowaniem układu TPS61200 [2]<br />
Fig. 1. Simple battery charger powered by PV cell, based on TPS61200 [2]<br />
106<br />
Rys. 3. Zaawansowany system ładowania akumulatora wykorzystujący<br />
jako źrodła energii ogniwa PV z zastosowaniem układu SPV1040 [4]<br />
Fig. 3. Advanced battery charger powered by PV cells, based on<br />
SPV1040 [4]<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Rys. 4. Prosty system ładowania akumulatora wykorzystujący jako źródło energii<br />
ogniwa PV z zastosowaniem układu LTC3652 [3]<br />
Fig. 4. Simple battery charger powered by PV cells, based on LT3652 [3]<br />
Do realizacji systemów o mocy do 40 W przeznaczony<br />
jest układ firmy Linear Technology typu<br />
LT3652. Schemat tego systemu przedstawiono<br />
na rys. 4. Pozwala on na ładowanie akumulatora<br />
prądem do 2 A. Możliwe jest zwiększenie wielkości<br />
tego prądu poprzez równoległe łączenie<br />
ze sobą kilku takich systemów. Dostosowanie<br />
się do wartości napięcia w punkcie mocy maksymalnej<br />
daje dzielnik R8+R11/R12. Po obniżeniu<br />
się napięcia wejściowego poniżej ustalonego<br />
tym dzielnikiem poziomu, wewnętrzny regulator<br />
ustala prąd wyjściowy tak, aby utrzymać żądaną<br />
wartość napięcia.<br />
Do tej samej grupy zalicza się układ typu<br />
bq24650 firmy Texas Instruments. Jego schemat<br />
aplikacyjny przedstawiono na rys. 5. Zasada jego<br />
działania jest podobna jak we wcześniej opisanym<br />
układzie LTC3652. Po osiągnięciu przez napięcie<br />
wejściowe wartości progowej następuje obniżenie<br />
prądu ładowania trwające do momentu powtórnego<br />
osiągnięcia zadanego napięcia.<br />
Na szczególną uwagę zasługuje system<br />
o mocy do 200 W, zbudowany w oparciu o układ<br />
SPV1020 firmy ST Microelectronics – rys. 6.<br />
Układ wyposażony jest w preprogramowaną jednostkę<br />
centralną pozwalającą na precyzyjne wyszukiwanie<br />
MPP. Zastosowana w nim czterofazowa<br />
przetwornica DC/DC typu step-up pozwala na<br />
wyeliminowanie kondensatorów elektrolitycznych.<br />
Wbudowany interfejs SPI daje możliwość równoległej<br />
pracy systemów.<br />
W tabeli 2 przedstawiono wybrane podstawowe<br />
parametry systemów przedstawionych na rys. 4–6.<br />
Tab. 2. Podstawowe parametry systemów<br />
Tabl. 2. Basic data of the medium power ICs<br />
LT3652 bq24650 SPV1020<br />
U we<br />
[V] 4.95–34 5–28 5–24<br />
I wy<br />
[A] 2 2 8<br />
Rys. 5. Prosty system ładowania akumulatora wykorzystujący jako źródła energii<br />
ogniwa PV z zastosowaniem układu bq24650 [2]<br />
Fig. 5. Simple battery charger powered by PV cells, based on bq24650 [2]<br />
Obciążenie<br />
Li-Ion,<br />
Li-FePO 4<br />
,<br />
AGM<br />
Li-Ion,<br />
Li-FePO 4<br />
,<br />
AGM<br />
Zależnie<br />
od modułu<br />
wyjścia<br />
Rys. 6. Zaawansowany system ładowania akumulatora wykorzystujący jako źródła energii ogniwa PV z zastosowaniem układu SPV1020 [4]<br />
Fig. 6. Advanced battery charger powered by PV cells, based on SPV1020 [4]<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 107
Rys. 7. Stanowisko badawcze do testowania systemów zbudowanych w oparciu o układy TPS61200, SPV1040 i LTC3105<br />
Fig. 7. Drawing of the test stand for testing devives based on TPS61200, SPV1040 and LTC3105<br />
Wyniki badań<br />
Ze względu na trudności w przystosowaniu symulatorów do pracy<br />
z sygnałami o niskim napięciu do testów niżej wymienionych układów<br />
zastosowano układ zestawiony według rys. 7.<br />
W układzie pomiarowym użyto barwnikowego modułu fotowoltaicznego<br />
wykonanego w technologii DSSC, gdyż jego wymiary<br />
są dobrze dopasowane do wymiarów oświetlacza.<br />
Wyniki pomiarów trzech pierwszych testowanych systemów<br />
małej mocy przedstawiono w tabeli 3. Pomiary przeprowadzono<br />
przy oświetleniu na poziomie 1000 W/m 2 .<br />
Przy wyliczeniu dokładności określenia punktu pracy wzięto<br />
pod uwagę moc pobieraną w tym punkcie charakterystyki modułu<br />
fotowoltaicznego. Moc powyżej 99% mocy maksymalnej osiągana<br />
jest w zakresie napięć między 1,050...1,160 V.<br />
Tab. 3. Wyniki pomiarów<br />
Tabl. 3. Test results for the low power systems<br />
TPS61200 LTC3105 SPV1040<br />
Napięcie wyjściowe modułu PV [V] 1,182 1,141 1,085<br />
Napięcie w punkcie mocy<br />
maksymalnej [V]<br />
1,132 1,132 1,132<br />
Dokładność wyszukania MPP [%] 97 99 99<br />
Sprawność [%] 37 83 73<br />
Minimalna ilość ogniw w module 2 2 2<br />
Rys. 8. Zrzut z ekranu symulatora dla systemów bazujących na układach SPV1020 i LT 3652<br />
Fig. 8. Screenshot of the display for the system based on SPV1020 and LT3652<br />
Pozostałe systemy zostały przetestowane z wykorzystaniem<br />
stanowiska badawczego opisanego w [1]. Z testów wynika, że dokładność<br />
wyszukiwania MPP mieściła się w przedziale 94…99%.<br />
Na rysunku 8 przedstawiono zrzut ekranu symulatora dla układów<br />
SPV1020 i LT 3652.<br />
Wnioski<br />
Przeprowadzona analiza ekonomiczna potwierdziła możliwość<br />
zastosowania prezentowanych układów do realizacji niskokosztowych<br />
systemów MPPT. Wszystkie zastosowane elementy aplikacyjne<br />
dostępne są również w wersji przeznaczonej do montażu<br />
powierzchniowego, co pozwala na realizację systemów również<br />
w technologii grubowarstwowej. Brak konieczności stosowania<br />
kondensatorów elektrolitycznych pozwala na uzyskanie ich wysokiej<br />
niezawodności oraz długiego czasu życia.<br />
Zaprojektowane i wykonane stanowiska badawcze pozwoliły<br />
na prowadzenie badań niezależnie od panujących w danej chwili<br />
warunków pogodowych. Przeprowadzone na nich badania potwierdziły<br />
zarówno szybkość jak i deklarowaną przez producentów<br />
precyzję wyszukiwania punktu mocy maksymalnej.<br />
Na szczególną uwagę zasługuje układ SPV1020, który doskonale<br />
nadaje się do realizacji regulatorów ładowania dla potrzeb<br />
autonomicznych systemów fotowoltaicznych. Jego wadą jest to,<br />
że wyposażony jest wyłącznie w przetwornicę step-up. Lepszym<br />
rozwiązaniem byłoby doposażenie go w dodatkową przetwornicę<br />
step-down, co zwiększyłoby jego uniwersalność. Uwaga ta została<br />
przekazana producentowi układu za pośrednictwem jego<br />
polskiego przedstawicielstwa.<br />
Literatura<br />
[1] Grzesiak W.: Solar Array Simulator System for Testing the Behaviour<br />
of PV Elements. Materiały Elektroniczne, 1/2009. pp. 124-131.<br />
[2] Witryna internetowa:www.ti.com<br />
[3] Witryna internetowa:www.linear.com<br />
[4] Witryna internetowa:www.st.com<br />
108<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Luminescencja izolatorów ceramicznych sieci<br />
energetycznych średnich napięć<br />
mgr Rafał Sobota, Politechnika Częstochowska, Wydział Elektryczny, Częstochowa<br />
dr hab. Arkadiusz Mandowski, dr Ewa Mandowska<br />
Akademia im. Jana Długosza, <strong>Instytut</strong> Fizyki, Częstochowa<br />
Zadaniem izolatorów w elektroenergetyce, oprócz funkcji czysto<br />
mechanicznych, jest skuteczne oddzielenie przewodów elektrycznych,<br />
znajdujących się pod wysokim napięciem, od otoczenia.<br />
Izolatory porcelanowe, podobnie jak ich szklani poprzednicy, sięgają<br />
historią do czasów drutów telegraficznych. Gdy ceny szkła<br />
zaczęły rosnąć, porcelana stała się atrakcyjną i niedrogą alternatywą.<br />
Izolatory porcelanowe są teraz łatwo dostępne i często<br />
stosowane.<br />
Wraz z pojawieniem się dystrybucji energii elektrycznej na<br />
przełomie XIX i XX wieku i koniecznością przesyłania prądu liniami<br />
energetycznymi w warunkach wysokich napięć, wzrosło zapotrzebowanie<br />
na większe i bardziej niezawodne izolatory. Ilość<br />
szkła w tym czasie była niewystarczająca, więc zaczęto eksperymentować<br />
z mieszaninami gliny. Ponadto pracowano nad nowymi<br />
wzorami izolatorów, spełniałyby swoje zadanie w każdych warunkach<br />
pogodowych.<br />
W dzisiejszych czasach, zakłady porcelany elektrotechnicznej<br />
oferują szeroki asortyment izolatorów do różnych zastosowań<br />
– począwszy od linii niskiego, średniego i wysokiego napięcia<br />
a skończywszy na konstrukcjach wsporczych, przepustowych<br />
oraz osłonowych. Niektóre firmy oferują również produkty typowo<br />
pod indywidualne zamówienia klientów, takie jak osłony do<br />
wyłączników, odgromników, przekładników napięciowych i prądowych,<br />
przepustów, kondensatorów, głowic kablowych, bezpieczników<br />
wysokonapięciowych, itp. Wysoka niezawodność eksploatacyjna<br />
oraz utrzymanie wymaganych parametrów, głównie<br />
w zakresie wytrzymałości mechanicznej i elektrycznej, jak również<br />
odporności na czynniki atmosferyczne oraz zanieczyszczenia,<br />
jest zapewniana przez stosowanie wysokiej jakości materiałów.<br />
W procesach produkcyjnych wykorzystuje się nowoczesne maszyny<br />
i urządzenia oraz wdrażane są nowe techniki wytwarzania.<br />
Dzisiejsze izolatory są wyrobami znormalizowanymi. Spełniają<br />
wymagania zarówno norm krajowych, jak i międzynarodowych.<br />
W elektroenergetyce izolatory można sklasyfikować następująco:<br />
liniowe, stacyjne, wsporcze, osłonowe oraz przepustowe.<br />
Skupimy się na pierwszym typie z uwagi na wykorzystanie<br />
porcelany elektrotechnicznej do ich produkcji oraz eksploatacji<br />
w newralgicznych miejscach sieci przesyłowej i dystrybucyjnej.<br />
W dalszej kolejności takie izolatory można podzielić na: stojące,<br />
wiszące kołpakowe oraz wiszące długopniowe. Poniższy artykuł<br />
skoncentruje się na charakterystyce i badaniach izolatorów stojących.<br />
Izolatory stojące są głównie stosowane w liniach niskiego napięcia<br />
sieci rozdzielczych. Można je również spotkać w sieciach<br />
średniego i wysokiego napięcia oraz rozdzielniach napowietrznych.<br />
Pełnią wówczas rolę wsporników szyn oraz części odłączników<br />
i bezpieczników. Izolatory stojące mają miano izolatorów<br />
sztywnych, których część izolacyjna służy do sztywnego mocowania<br />
na konstrukcji wsporczej. Część izolacyjną może stanowić<br />
jeden lub kilka elementów izolacyjnych na stałe połączonych ze<br />
sobą. Izolatory stojące mają małą wytrzymałość na złamanie.<br />
Toteż w przypadku sieci podlegającej kryterium wytrzymałości<br />
mechanicznej, gdy przekroje przewodów są małe, można je stosować.<br />
W przypadku wzrostu obciążenia linii oraz konieczności<br />
użycia przewodów o większym przekroju, należy wykluczyć możliwość<br />
ich stosowania. Izolatory te produkowane są dla określonych<br />
wartości napięcia. Najczęściej jest to napięcie poniżej 24 kV.<br />
Izolatory produkowane są ze specjalnego rodzaju tworzywa<br />
ceramicznego zwanego również porcelaną elektrotechniczną,<br />
w skład którego wchodzą surowce mineralne takie jak: skaleń,<br />
kaolin, glina, tlenek glinu oraz surowce specjalne będące tajemnicą<br />
spółek. Najczęściej można spotkać się z masą porcelanową<br />
o nazwie C130 [4]. Charakteryzuje się ona bardzo dobrymi<br />
właściwościami zarówno mechanicznymi, jak i elektrycznymi.<br />
Skład chemiczny takiego tworzywa przedstawia się następująco:<br />
55% Al 2<br />
O 3<br />
, 40% SiO 2<br />
, 0,5% Fe 2<br />
O 3<br />
, 4,5% TiO 2<br />
, CaO, MgO, K 2<br />
O,<br />
Na 2<br />
O. Wszystkie komponenty używane do produkcji mas i szkliw<br />
poddawane są kontroli jakości w zakresie ustalonym przez warunki<br />
techniczne surowców. Składniki dawkuje się przy pomocy<br />
automatycznego systemu naważania sterowanego komputerowo.<br />
Następnie wszystkie substraty trafiają do młyna kulowego<br />
z dodatkiem wody i mielników. Cykl ucierania trwa kilka godzin,<br />
aż do uzyskania odpowiedniego stopnia zmielenia wszystkich<br />
surowców zgodnego z warunkami technicznymi produkcji. Tak<br />
przygotowana masa w postaci szlamu kierowana jest do kadzi,<br />
gdzie mieszana jest z masą zwrotną pochodzącą z toczenia. Po<br />
wymieszaniu, szlam przepuszcza się przez układ sit oraz ferrofiltr<br />
magnetyczny. Następnie z masy odprowadzany jest nadmiar<br />
wody przy użyciu pras filtracyjnych. Kolejnym etapem jest<br />
homogenizacja powstałego tworzywa oraz jego odpowietrzenie<br />
w prasach próżniowych. Całość podsuszana jest elektrycznieoporowo<br />
w odpowiednich do tego boksach. Tak przygotowana<br />
masa porcelanowa gotowa jest do kształtowania. Formowanie<br />
odbywa się poprzez toczenie przy skrawaniu na różnego rodzaju<br />
tokarko-wytaczarkach, które sterowane są fotoelektrycznie lub<br />
numerycznie (CNC). Następnie wytoczone izolatory poddawane<br />
są końcowemu suszeniu w suszarniach typu rewersyjnego z wymuszonym<br />
obiegiem powietrza. Całością steruje automatyka według<br />
zadanych parametrów aż do uzyskania odpowiedniej niskiej<br />
wilgotności. Po tym etapie izolator sprawdzany jest wizualnie<br />
i w przypadku jakichkolwiek braków traktowany jest jako masa<br />
zwrotna. Kolejnym procesem jest szkliwienie. Do tego celu używa<br />
się najczęściej tlenków glinu. Na koniec przeprowadzone jest<br />
wypalanie w temperaturze 1300°C w piecach komorowych opalanych<br />
gazem. Ostatni etap ma istotne znaczenie w całym procesie<br />
produkcyjnym izolatora, gdyż uzyskuje on wtedy wszystkie odpowiednie<br />
parametry mechaniczne.<br />
Do podstawowych parametrów technicznych, z uwagi na wymagania<br />
stawiane izolatorom przez zakłady energetyczne, zalicza<br />
się przede wszystkim napięcie znamionowe oraz maksymalne<br />
napięcie robocze. Jak już wcześniej wspomniano, izolatory te<br />
produkowane są dla określonych wartości napięcia w zależności<br />
od miejsca montażu. Kolejnym parametrem jest częstotliwość<br />
prądu, przy jakim będzie pracował. Z technicznego punktu widzenia,<br />
ważnymi parametrami są również minimalna i maksymalna<br />
temperatura otoczenia, w jakiej będzie eksploatowany izolator.<br />
Następną, istotną rzeczą jest też rodzaj materiału z jakiego został<br />
wykonany oraz z jakim rodzajem spoiwa mamy do czynienia.<br />
W zależności czy dany izolator posiada okucie, podaje się rodzaj<br />
materiału z jakiego zostało wykonane oraz czy posiada powłokę<br />
antykorozyjną. Ponadto, izolator charakteryzują takie właściwości<br />
jak, minimalna droga upływu oraz strefa zabrudzenia.<br />
Metoda pomiaru<br />
Termoluminescencję (TL) można zaobserwować w różnych<br />
dielektrykach – zarówno organicznych, jak i nieorganicznych.<br />
Zjawisko to jest procesem dwuetapowym. Na początku materiał<br />
poddany jest ekscytacji – zazwyczaj wysokoenergetycznym<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 109
promieniowaniem jonizującym. W celu wywołaniu luminescencji<br />
używamy stymulacji termicznej. W odpowiednio wysokiej temperaturze<br />
wszystkie ciała emitują światło – jest to promieniowanie<br />
termiczne. Jednak w TL emisja światła znacznie przewyższa wartość<br />
promieniowania termicznego w danej temperaturze. TL nie<br />
występuje też, gdy nie ma ekscytacji.<br />
Wytłumaczenie zjawiska TL opiera się na istnieniu w materiale<br />
pułapek nośników ładunku. Pułapki są związane z defektami<br />
struktury krystalicznej (np. domieszki, dyslokacje itp.). Istnienie<br />
pułapki manifestuje się w postaci zlokalizowanego (przestrzennie<br />
i energetycznie) poziomu energetycznego w przerwie wzbronionej<br />
izolatora. W zależności od położenia względem poziomu<br />
Fermiego pułapka może wychwytywać elektrony lub dziury. Podczas<br />
ekscytacji generowane są przejścia pasmo-pasmo i część<br />
pułapek zapełnia się nośnikami ładunku. W tym metastabilnym<br />
stanie materiał może pozostawać przez bardzo długi czas – często<br />
liczony w latach. Dopiero podwyższona temperatura (czynnik<br />
stymulujący) uwalnia uwięzione w pułapkach nośniki ładunku<br />
(aktywne pułapki), które następnie rekombinują z uwięzionymi<br />
nośnikami przeciwnego znaku. Ten drugi rodzaj pułapek nazywamy<br />
centrami rekombinacji. Bardzo często taka rekombinacja<br />
bywa promienista, a więc możemy wtedy zaobserwować światło<br />
(luminescencję).<br />
Analizując krzywe TL możemy uzyskać wiele informacji dotyczących<br />
struktury energetycznej i koncentracji różnych defektów<br />
występujących w materiale. W szczególności możemy wyznaczyć<br />
energie aktywacji pułapek, czynniki częstotliwościowe itp. [5].<br />
Eksperyment<br />
Materiał do badań – próbki porcelany elektrotechnicznej o średnicy<br />
ok. 5 mm, pobierano w sposób mechaniczny z wcześniej ustalonych<br />
miejsc izolatora elektroenergetycznego. Przyjęto trzy newralgiczne<br />
punkty do badań: środek (rdzeń), część wewnętrzna<br />
kołpaka oraz osłonowa warstwa zewnętrzna, czyli szkliwo. Z tak<br />
przygotowanego materiału mierzono termoluminescencję naturalną,<br />
w której ekscytacja dokonywała się samorzutnie poprzez<br />
naturalne występujące promieniowanie jonizujące – tzw. promieniowanie<br />
tła.<br />
W celu wzmocnienia siły rejestrowanego sygnału część próbek<br />
ekscytowano dodatkowo źródłem promieniowania beta 90 Sr 90 Y.<br />
Do pomiaru próbka była montowana na stoliku grzewczym kriostatu.<br />
W celu uniknięcia niepożądanej deekscytacji materiału,<br />
czynności te, jak również samo przygotowanie próbki, wykonywano<br />
w ciemności, używając jedynie słabego czerwonego światła.<br />
Pomiaru TL dokonywano podczas liniowego ogrzewania próbki<br />
z szybkością β = 0,7 K/s w zakresie temperatur 300…600K. Rolę<br />
detektora pełnił fotopowielacz bialkaliczny firmy Hamamatsu działający<br />
w trybie zliczania fotonów (photon counting). W wysokich<br />
temperaturach (powyżej 450K) pomiar TL może być silnie zaburzony<br />
przez naturalne promieniowanie termiczne. Dlatego też, po<br />
zakończeniu właściwego pomiaru dokonywano też pomiaru tła,<br />
które w dalszym etapie odejmowano od zmierzonego widma.<br />
Pomiary spektralnie rozdzielczej TL dokonywano w znacznie<br />
bardziej złożonej konfiguracji. Światło luminescencji było zbierane<br />
przez światłowód do monochromatora M266 (Solar Laser Systems)<br />
skanującego widma w zakresie 250…600 nm, a następnie<br />
do fotopowielacza bialkalicznego. Cała aparatura sterowana jest<br />
komputerowo przez dedykowany system elektroniczny.<br />
Wyniki<br />
Do badania wybrano ceramiczne izolatory stojące na napięcie<br />
do 24 kV. Wyniki pomiaru TL dla naturalnych próbek pobranych<br />
z trzech różnych miejsc izolatora: z rdzenia, kołpaka i szkliwa,<br />
pokazane są na rys. 1. Na uwagę zasługuje wyraźny pik TL<br />
rdzenia położony w zakresie 310…375K. Co ciekawe – w dwu<br />
pozostałych próbkach ten pik nie występuje. Pomiary TL wykonywano<br />
w zakresie do 600K, niemniej zmierzony naturalny<br />
sygnał jest tak słaby, że dla T > 430K praktycznie ginie w szumie<br />
termicznym.<br />
110<br />
TL [a.u.]<br />
500<br />
400<br />
300<br />
200<br />
100<br />
0<br />
Izolator naturalny<br />
rdzeń<br />
kołpak<br />
szkliwo<br />
300 325 350 375 400 425 450 475 500<br />
Temperatura [K]<br />
Rys. 1. Termoluminescencja trzech naturalnych próbek (bez napromieniania)<br />
stojących izolatorów ceramicznych pobranych<br />
z różnych miejsc izolatora – rdzenia, kołpaka i szkliwa. Naniesione<br />
krzywe są wynikiem uśrednia numerycznego sąsiednich punktów<br />
pomiarowych<br />
Fig. 1. Thermoluminescence of three natural samples (without irradiation)<br />
of ceramic stand-insulators, taken from various places: core,<br />
cap and glaze. Curves represent running average approximation<br />
TL [a.u.]<br />
50000<br />
40000<br />
30000<br />
20000<br />
10000<br />
Izolator<br />
napromieniony<br />
rdzeń<br />
kołpak<br />
szkliwo<br />
0<br />
300 350 400 450 500 550 600<br />
Temperatura [K]<br />
Rys. 2. Termoluminescencja trzech próbek pobranych z izolatora stojącego<br />
– rdzenia, kołpaka i szkliwa. Przed pomiarem próbki naświetlono<br />
dawką 265 Gy<br />
Fig. 2. Thermoluminescence of three samples of ceramic stand-insulators,<br />
taken from various places: core, cap and glaze. The samples<br />
were irradiated with 265 Gy dose<br />
TL [a.u.]<br />
100<br />
80<br />
60<br />
40<br />
20<br />
0<br />
250 300 350 400 450 500 550 600<br />
Długość fali [nm]<br />
Rys. 3. Pomiary widmowe (czarne kropki) termoluminescencji scałkowane<br />
po temperaturze w zakresie 300…470K. Materiał naświetlony<br />
dawką 450 Gy. Linia przerywana jest poprowadzona dla połączenia<br />
punktów pomiaru<br />
Fig. 3. Spectral measurements (black dots) of thermoluminescence<br />
integrated over temperature from 300 to 470K. The materiał was irradiated<br />
with 450 Gy dose. Dotted line is shown to guide the eyes<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Znacznie lepsze wyniki uzyskano naświetlając próbki dawką<br />
265 Gy (rys. 2). Ponownie najsłabiej wypadło szkliwo izolatora.<br />
TL rdzenia i kołpaka ujawnia bardzo złożoną strukturę poziomów<br />
energetycznych w badanym izolatorze. Niskotemperaturowe (do<br />
470K) piki rdzenia i kołpaka występują w tych samych temperaturach,<br />
jednak różnią się intensywnością. W celu przeprowadzenia<br />
dokładnej analizy teoretycznej konieczna jest dekonwolucja<br />
krzywych. Do analizy pików wysokotemperaturowych konieczne<br />
jest zmniejszenie poziomu tła. Można to osiągnąć przy zastosowaniu<br />
filtrów optycznych, które jednak mogą też zmniejszyć TL<br />
– rezultat zależy od rozkładu widmowego luminescencji. Próba<br />
pomiaru spektralnego TL przedstawiona jest na rys. 3. Z uwagi<br />
na bardzo niski poziom sygnału TL, pomiar jest obarczony dużym<br />
błędem. Można jednak przypuszczać, że maksimum emisji<br />
przypada w okolicach 400 nm, co daje możliwość wyeliminowania<br />
części podczerwonej promieniowania termicznego.<br />
Podsumowanie<br />
W artykule przedstawiono wstępne badania termoluminescencji<br />
izolatorów ceramicznych sieci energetycznych średnich napięć.<br />
W toku badań stwierdzono, że izolatory wykazują słabą, lecz mierzalną<br />
luminescencję, nawet w stanie naturalnym – bez ekscytacji<br />
promieniowaniem jonizującym. Charakterystyka TL zależy od<br />
wielu czynników – m.in. miejsca pobrania materiału do badań,<br />
rodzaju masy użytej do wyrobu izolatora, jego wieku oraz prawdopodobnie<br />
warunków, w jakich pracował. Badania TL pozwalają<br />
więc określić strukturę defektową izolatorów ceramicznych. Z tego<br />
powodu, istnieją silne przesłanki, że metoda TL może służyć do<br />
testów jakościowych izolatorów ceramicznych.<br />
Praca naukowa finansowana częściowo ze środków na naukę<br />
w latach 2011–2013 jako projekt badawczy nr N N505 487640.<br />
Literatura<br />
[1] Horak J.: Sieci elektryczne – elementy sieci rozdzielczych cz.1.<br />
skrypty Politechniki Częstochowskiej, Wyd. PCz., Częstochowa,<br />
1997.<br />
[2] Marzecki J.: Miejskie sieci elektroenergetyczne. Oficyna Wydawnicza<br />
Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1996.<br />
[3] PN-EN 60383-1 „Izolatory do linii napowietrznych o znamionowym<br />
napięciu powyżej 1 kV. Ceramiczne i szklane izolatory do sieci prądu<br />
przemiennego”, Polska Norma, PKN 2005.<br />
[4] „Materiały konferencyjne i protokoły badawcze Zakładu Porcelany<br />
Elektrotechnicznej ZAPEL SA”, Boguchwała, 2009.<br />
[5] Chen R., S. W. S. McKeever: Theory of Thermoluminescence and<br />
Related Phenomena. World Scientific, Singapore, 1997.<br />
Dobór mikrokontrolera do sterowania inwerterem<br />
napięcia w systemach UPS<br />
dr hab inż. Zbigniew Rymarski<br />
Politechnika Śląska, Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki, <strong>Instytut</strong> Elektroniki, Gliwice<br />
Publikowane dotąd artykuły na ogół przedstawiały konkretne rozwiązania<br />
układów mikroprocesorowych sterujących inwerterami<br />
(autor stosuje określenie „inwerter”, rezerwując określenie „falownik”<br />
dla napędów silników indukcyjnych, gdzie należy uzyskiwać<br />
zmienną częstotliwość generowanego napięcia), nie starając się<br />
jednak uzasadnić wyboru danego układu. Trzeba zresztą przyznać,<br />
że przy obecnej doskonałości mikrokontrolerów i układów<br />
FPGA w większości przypadków uzyskuje się pożądany efekt.<br />
Jednak świadomy dobór, ogólnie mówiąc, układu sterującego<br />
(bez uwzględniania wpływu sprzężenia zwrotnego, które i tak nie<br />
zlikwiduje błędów spowodowanych sposobem generacji PWM)<br />
może pomóc w niewielkiej poprawie jakości przebiegu napięcia<br />
wyjściowego (poniżej 0,5% współczynnika zniekształceń harmonicznych<br />
THD). Współczynnik THD filtrowanego napięcia wyjściowego<br />
inwertera napięcia jest definiowany przez normy IEEE-519<br />
i PN-EN 62040-3. Określona przez PN-EN 62040-3 graniczna<br />
wartość THD dla obciążenia liniowego i nieliniowego (prostownikowego<br />
z filtrem RC o PF = 0,7) dla najlepszej tzw. opcji klasyfikacyjnej<br />
S systemu UPS licząc do 40. harmonicznej wynosi<br />
8%. Norma IEEE-519 mówi o zalecanym nie przekraczaniu 5%<br />
THD i wymaga, aby amplituda żadnej z harmonicznych napięcia<br />
nie przekroczyła 3% amplitudy podstawowej harmonicznej (f m<br />
).<br />
Omówione parametry dotyczyły filtrowanego napięcia wyjściowego<br />
i mogły służyć jako podstawa do doboru parametrów filtra<br />
wyjściowego [1–6]. Dobór rozwiązań konstrukcyjnych modulatora<br />
wymaga jednak analizy niefiltrowanego sygnału napięciowego<br />
PWM. Przy wysokim stosunku częstotliwości przebiegu modulowanego<br />
do modulującego f s<br />
/f m<br />
(w praktyce dla UPS powyżej<br />
kilkuset) niezbędny jest podział widma harmonicznych niefiltrowanego<br />
napięcia na dwa pasma – „niskich” harmonicznych<br />
w zakresie do połowy częstotliwości przełączania i „wysokich”<br />
harmonicznych – powyżej tej częstotliwości. Właściwy i rozsądny<br />
(o ograniczonych wymiarach) dobór filtra wyjściowego [1–6],<br />
mającego efektywnie tłumić najwyższą harmoniczną napięcia<br />
wyjściowego (o częstotliwościach f s<br />
lub f s<br />
±f m<br />
), a równocześnie nie<br />
zwiększającego nadmiernie mocy biernych w elementach filtra,<br />
powoduje, że filtr nie tłumi niskich harmonicznych. Dlatego należy<br />
je zminimalizować już w układzie otwartym poprzez odpo-<br />
a) b)<br />
Rys. 1. a) Współczynnik THD regularnej modulacji PWM 2- i 3-poziomowej dwuzboczowej dla współczynnika f s<br />
/f m<br />
= 512 i n T<br />
= ∞, b) Współczynnik<br />
LHD regularnej modulacji PWM 3-poziomowej jedno- i dwuzboczowej dla współczynnika f s<br />
/f m<br />
= 512 i n T<br />
= ∞<br />
Fig. 1. a) THD coefficient of the regular-sampled, 2- and 3-level, double-edge PWM for f s<br />
/f m<br />
= 512 and n T<br />
= ∞. b) LHD coefficient of the regularsampled,<br />
3-level, single- and double-edge PWM for f s<br />
/f m<br />
= 512 and n T<br />
= ∞<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 111
a) b)<br />
Rys. 2. a) Błąd względny regularnej modulacji PWM 3-poziomowej dwuzboczowej dla współczynnika f s<br />
/f m<br />
= 512 i M = 1 w funkcji połowy liczby<br />
zliczanych impulsów 0,5n T<br />
, b) Przyrost LHD regularnej modulacji PWM 3-poziomowej dwuzboczowej spowodowany niedostateczną liczbą<br />
połowy zliczanych impulsów 0,5n T<br />
Fig. 2. a) The relative error of the regular-sampled, 3-level, double-edge PWM for f s<br />
/f m<br />
= 512 and M = 1 as a function of the number of the half<br />
of counted pulses 0,5n T<br />
. b) LHD increase of the regular-sampled, 3-level, double-edge PWM caused by the insufficient number of the half of<br />
counted pulses 0,5n T<br />
wiednią modulację PWM i zastosowanie efektywnego sprzężenia<br />
zwrotnego. Równocześnie przed filtracją wartości skuteczne<br />
„wysokich” harmonicznych są wielokrotnie większe niż „niskich”<br />
harmonicznych, ale te „niskie” praktycznie nietłumione zostaną<br />
przeniesione przez filtr. Dlatego po analizach [5, 7] przyjęto jako<br />
znaczące w dalszych rozważaniach dwa współczynniki: LHD<br />
– stosunek wartości skutecznej harmonicznych od 2 do 9 do wartości<br />
podstawowej harmonicznej i całościowy współczynnik THD.<br />
Nieco inne podejście przedstawiono w [8], gdzie posłużono się<br />
„ważonym” współczynnikiem WTHD, odpowiednikiem THD w którym<br />
wartości skuteczne poszczególnych harmonicznych dzielone<br />
są przez ich rząd, co uwydatnia znaczenie niskich harmonicznych<br />
i wiąże współczynnik WTHD wprost z wartością skuteczną wyjściowego<br />
prądu tętnień.<br />
Na współczynnik THD (rys. 1a) bezpośredni wpływ ma ilość<br />
poziomów modulacji – im ich więcej, tym THD jest mniejszy (najgorszy,<br />
najwyższy współczynnik THD ma modulacja dwupoziomowa)<br />
i współczynnik głębokości modulacji M – im bardziej zbliżony<br />
do 1 tym THD mniejszy (ale wysoki współczynnik modulacji<br />
ogranicza dynamikę sterowania inwerterem [5]). Stąd wniosek<br />
o potrzebie stosowania, co najmniej modulacji trójpoziomowej<br />
dla układów jednofazowych, która nie wymaga innego mostka<br />
falownika (rys. 3) niż dwupoziomowa. Układy o większej ilości<br />
poziomów m niż 3 umożliwiają √(m-1) krotne obniżenie wielkości<br />
dławika w filtrze wyjściowym [5, 6] (i przez to polepszenie parametrów<br />
sterowania, [5, 9]), lecz przez zwiększenie ilości przełączników<br />
wzrastają straty statyczne i dynamiczne. Stąd w dalszych<br />
rozważaniach dla jednofazowych inwerterów napięcia, jako<br />
wystarczającą analizowano modulację regularną trójpoziomową.<br />
Analiza współczynnika LHD (rys. 1b) pozwala na uwidocznienie<br />
wpływu znaczenia mniej podstawowych parametrów modulacji<br />
PWM (modulacja jedno lub dwuzboczowa), umożliwiając przez to<br />
wskazanie pożądanych cech parametrów mikrokontrolerów sterujących<br />
inwerterami.<br />
W falownikach napięcia stosowanych w napędach indukcyjnych<br />
silników elektrycznych, gdzie dopuszczalna jest 3 harmoniczna<br />
i jej wielokrotności od lat stosowano metodę modulacji wektora<br />
przestrzennego – SVM wykorzystując dedykowane procesory<br />
DSP z zaimplementowanymi sprzętowo funkcjami transformat<br />
Clarke i Parka. Jednak uniwersalne procesory DSP są zaprojektowane<br />
pod kątem typowych operacji cyfrowego przetwarzania<br />
sygnałów (np. zawsze mają funkcję MAC), gdy zalecane jest<br />
programowanie synchroniczne [10] z ograniczonym wykorzystaniem<br />
przerwań (typowym w sterowaniu inwerterami napięcia dla<br />
sytemów UPS). Dopiero obecnie produkowane są mikroprocesory<br />
łączące zalety procesorów DSP i mikrokontrolerów (np. rodzina<br />
STM32F4), zawierające sprzętowe jednostki DSP i jednostki<br />
zmiennoprzecinkowe. Nie należy też zapominać, że inną wiedzą<br />
dysponuje inżynier zajmujący się cyfrowym przetwarzaniem sygnałów<br />
np. w akustyce, a inną inżynier projektujący układy mocy.<br />
112<br />
Dlatego przy wyborze procesora sterującego niebagatelną rolę<br />
odgrywają gotowe biblioteki funkcji przygotowane dla danego<br />
układu. W systemach UPS o mocy pozornej do 3 kVA (granica<br />
definiowana przez normę EN 62040-1-2, poniżej której typowym<br />
obciążeniem inwertera jest obciążenie nieliniowe prostownikowe<br />
z filtrem RC) stosuje się zwykle częstotliwości przełączania rzędu<br />
kilkudziesięciu kHz. W artykule przyjęto jako typową, dogodną<br />
z punktu widzenia mikroprocesorowego sterowania częstotliwość<br />
f s<br />
= 25600 Hz. Dobranie odpowiedniej dokładności generacji impulsów<br />
minimalizuje harmoniczne powstające w wyniku modulacji<br />
PWM. Maksymalna, możliwa do uzyskania rozdzielczość amplitudy<br />
generowanego sygnału, jest teoretycznie mniejsza lub równa<br />
rozdzielczości zapisu przebiegu w zakresie od 0 do π/2 – czyli dla<br />
przyjętego f s<br />
jest to 1/128 [13]. Przy określeniu rzeczywistej rozdzielczości<br />
należy uwzględnić dopuszczalną częstotliwość wejściową<br />
licznika f T<br />
komparatora z modulatora PWM (odpowiada jej<br />
maksymalna ilość impulsów n T<br />
= f T<br />
/f s<br />
zliczanych w jedym okresie<br />
przełączania), która musi być tak wysoka, aby kolejne wartości<br />
wpisywane do liczników w sąsiednich okresach przełączania<br />
różniły się od siebie. Dla preferowanej modulacji dwuzboczowej<br />
(rys. 1a, 1b, 2a, 2b) należy dla danej częstotliwości f T<br />
należy brać<br />
pod uwagę połowę impulsów n T<br />
. Rysunek 2a przedstawia dodatkowy<br />
błąd względny wprowadzany przez niedostateczną liczbę<br />
impulsów.<br />
Dla f s<br />
= 25600 Hz, dopiero maksymalna ilość zliczanych<br />
impulsów w okresie T s<br />
nie mniejsza niż n T<br />
= 2*1329 = 2658<br />
(f T<br />
= 68044800 Hz) nie wprowadza dodatkowego błędu aproksymacji<br />
funkcji sinus (rys. 2a). Przykładowo najwyższa dopuszczalna<br />
częstotliwość f T<br />
dla procesorów LPC2148 wynosi 60 MHz,<br />
a procesorów STM32F4 – 168 MHz (liczniki TIM1 i 8). Rysunek 2b<br />
ilustruje przyrost współczynnika LHD dla niedostatecznej ilości<br />
impulsów n T<br />
, praktycznie niezależny od współczynnika modulacji<br />
M. Dla 0,5n T<br />
≥ 1329, przyrost LHD na rysunku 2b jest praktycznie<br />
niemierzalny.<br />
Mikrokontrolery w sterowaniu inwerterami<br />
W rozwiązaniach z lat 90. [11] stosowano 8-bitowe mikrokontrolery<br />
oparte na rdzeniu z procesora MCS-51 z 12 MHz oscylatorem<br />
oraz z dodanymi przetwornikami AC (np. układy SAE80515/535<br />
firmy Siemens/Infineon) i układami komparatorów ułatwiających<br />
generację sygnału PWM o stałej częstotliwości. Wadą tych procesorów<br />
była niska częstotliwość wejściowa f T<br />
= 1 MHz układów<br />
licznikowych wykorzystywanych do modulacji PWM. Spełnienie<br />
wymogów normy EN 62040-3 w zakresie statycznych i dynamicznych<br />
obciążeń było niemożliwe do zrealizowania. Sinusoidę<br />
o regulowanej co okres podstawowy amplitudzie i ograniczonym<br />
zakresie zmian częstotliwości generowano na podstawie<br />
odczytu wyliczonych wcześniej tablic kolejnych szerokości impulsów<br />
dla przebiegów sinusoidalnych o różnych amplitudach,<br />
co powodowało niską przyjmowaną częstotliwość przełączania,<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
a) b)<br />
c)<br />
Rys. 3. a) Schemat modulacji PWM, b) oznaczenia przełączników w mostku, c) napięcie wyjściowe inwertera (L F<br />
= 2 mH, C F<br />
= 1 µF, f s<br />
= 25600<br />
Hz, 0,5n T<br />
= 1171, mikrokontroler LPC2148), THD = 1,89%<br />
Fig. 3. a) PWM schema, b) the power bridge switches description, c) VSI output voltage (L F<br />
= 2 mH, C F<br />
= 1 µF, f s<br />
= 25600 Hz, 0,5n T<br />
= 1171, microcontroller<br />
LPC2148), THD = 1,89%<br />
np. f s<br />
= 3 kHz (teoretyczna maksymalna rozdzielczość amplitudy<br />
6,7%). Stosowano najprostszą modulację dwupoziomową, jednozboczową.<br />
Oprogramowanie pisano w języku asemblera, ze<br />
względu na nieoptymalność dostępnych kompilatorów języka C<br />
np. firmy Archimedes Software. Wszystkie operacje wykonywano<br />
wykorzystując przerwania od komparatorów PWM, co jest istotną<br />
cechą wszystkich, aż do dziś stosowanych metod sterowania<br />
inwerterami. Jedyną możliwą do realizacji funkcją sterowania<br />
była prosta regulacja PI amplitudy, raz na okres podstawowy,<br />
oparta na jednokrotnym w podstawowym okresie T m<br />
pomiarze<br />
amplitudy napięcia wyjściowego. W stosunku do aktualnych niskonapięciowych<br />
układów korzystne było stosowanie 5 V zasilania<br />
procesora i układów logicznych, co zwiększało odporność<br />
na zakłócenia. Natomiast korzystanie z zewnętrznej pamięci<br />
programu zmniejszało tę odporność. Zawsze, również obecnie,<br />
sterując mikroprocesorowo inwerter należy stosować dodatkowe,<br />
zewnętrzne, szybkie, sprzętowe zabezpieczenia nadprądowe,<br />
np. wykrywając nadmierny wzrost napięcia na przewodzących<br />
tranzystorach MOS w mostku. W następnych latach zastosowano<br />
mikroprocesory firmy Dallas np. DS87C550 (z wewnętrzną<br />
pamięcią programu) oparty na liście instrukcji i architekturze<br />
MCS-51, o zwiększonej częstotliwości oscylatora do 24 MHz<br />
(maksymalnie 33 MHz) i jej wewnętrznemu podziałowi przez 4<br />
(tzw. cykl maszynowy), co radykalnie zwiększało częstotliwość<br />
wejściową f T<br />
liczników do 6 MHz, wykorzystywanych w komparatorach<br />
modulatora PWM oraz umożliwiło „bieżącą” (w każdym<br />
okresie przełączania) trzypoziomową, jednozboczową generację<br />
przebiegu PWM, uwzględniając mnożenie zapisanej referencyjnej<br />
sinusoidy w każdym generowanym okresie przełączania T s<br />
przez<br />
współczynnik modulacji M wyliczany raz na okres podstawowy<br />
T m<br />
. Przy zastosowanej częstotliwości przełączania f s<br />
= 25600 Hz<br />
(n T<br />
= 234), amplitudę napięcia wyznaczano poprzez odejmowanie<br />
od siebie całkowanego napięcia w czasie pierwszego półokresu<br />
podstawowej sinusoidy napięcia wyjściowego i napięcia całkowanego<br />
w czasie drugiego półokresu [12]. Wykonywano pomiar<br />
sinusoidalnego napięcia wyjściowego poprzez transformator obniżający<br />
napięcie, w każdym okresie przełączania, przesuwając<br />
poziom napięcia na wejściu przetwornika AC względem zera<br />
o stałą wartość, która zostawała w opisanych obliczeniach zerowana.<br />
Zastosowano ciekawy pomysł prezentowany przez firmę<br />
Infineon [13], zamieniający mnożenie na sumowanie dwóch<br />
wartości odczytanych z tablic. Wartość współczynnika M (jest to<br />
bezwymiarowa postać amplitudy) przedstawiano w postaci tablicy<br />
funkcji arccos(M).<br />
M sin( φ)<br />
= cos(arccos( M ))sin( φ)<br />
=<br />
= 0,5sin( φ − arccos( M )) + 0,5sin( φ + arccos( M )) (1)<br />
Należy zapisać w postaci tablic funkcję arccos(M) w zakresie<br />
od 0 do π/2 dla zmiany M od 0 do 1 i funkcję 0,5sin(φ) dla argumentu<br />
od –π/2 do 5π/2. Oprogramowanie pisano nadal w języku<br />
asemblera.<br />
Zastosowanie 8-bitowych procesorów AVR ATMega pracujących<br />
z napięciem zasilania 5 V (ze względu na zakłócenia), z częstotliwością<br />
f T<br />
= 16 MHz na wejściu liczników umożliwiło generację<br />
f s<br />
= 25600 Hz, przy maksymalnie 0,5n T<br />
= 312 dla sprzętowej<br />
modulacji dwuzboczowej PWM (nazywanej w ATMega − Phase<br />
and Frequency Correct PWM Mode). W przypadku procesorów<br />
ATMega korzystano z darmowych kompilatorów języka C − AVR<br />
GCC (z pakietu WinAVR) w ogólnie dostępnym środowisku AVR<br />
Studio.<br />
Dopiero 32-bitowe mikrokontrolery z rodziny ARM7TDMI, np.<br />
LPC2148 spełniają wymagania dotyczące regulacji nadążnej dla<br />
każdego okresu przełączania i dzięki temu sterowane przez nie<br />
inwertery mogą sprostać wymogom EN 62040-3. Przy częstotli-<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 113
wości pracy rdzenia 60 MHz i takiej samej częstotliwości wejściowej<br />
f T<br />
liczników komparatorów, dla częstotliwości przełączania<br />
f s<br />
= 25600 Hz w jednym okresie przełączania można uzyskać<br />
maksymalnie zliczenie do 0,5n T<br />
= 1171 dla jednego zbocza modulacji<br />
dwuzboczowej (nazywanej w LPC − double edge). Dwa<br />
10-bitowe przetworniki AC mogą równocześnie przetwarzać dane<br />
wejściowe przy wystarczająco krótkim minimalnym czasie 2,44 μs<br />
(dla okresu przełączania około T s<br />
= 39 µs). Dokładność pomiarów<br />
zwiększono (pomiar unipolarny napięcia w całym zakresie rozdzielczości,<br />
brak problemu ze składową stałą) stosując prostowniki<br />
operacyjne napięcia wyjściowego i komparatory jego znaku.<br />
Jednak procesor ten nie posiada sprzętowych operacji zmiennoprzecinkowych<br />
i przy sterowaniu trójfazowych inwerterów napięcia,<br />
gdy trzeba zdublować operacje inwertera jednofazowego stosując<br />
transformację Clarke, sprawdza się jedynie przy relatywnie<br />
prostym sterowaniu PID/CDM&RPC [5] z pomiarem tylko napięć<br />
wyjściowych. Oprogramowanie LPC2148 tworzono z wykorzystaniem<br />
kompilatora GNUARM języka C++ w środowisku Eclipse.<br />
Nowym rozwiązaniem jest zastosowanie 32-bitowych procesorów<br />
ARM Cortex-M4 z rodziny STM32F4 (np. STM32F407VGT6,<br />
o częstotliwości zegara 168 MHz, 210 DMIPS i licznikach TIM1<br />
oraz TIM8 pracujących z pełną częstotliwością zegara (dla f s<br />
=<br />
25600 Hz, 0,5n T<br />
= 3281). Modulacja PWM dwuzboczowa (nazywana<br />
w STM32 center-aligned) umożliwia uzyskanie negowanych<br />
impulsów PWM i wprowadzenie czasu martwego pomiędzy tymi<br />
impulsami. Nie jest to jednak bardzo istotne wobec powszechnego<br />
stosowania specjalizowanych drajwerów (automatycznie<br />
wprowadzających czas martwy) do sterowania tranzystorami<br />
MOSFET/IGBT (z układami bootstrap do sterowania „wysokich”<br />
tranzystorów w mostku oraz dużą impulsową wydajnością prądową),<br />
np. takich jak IR2184. Natomiast zarówno w procesorach<br />
LPC2148 jak i STM32F4 istnieje możliwość uzyskania ciągłego<br />
sygnału po odpowiednim ustawieniu liczników – na poziomie<br />
niskim lub wysokim – bez generacji impulsów, co ułatwia realizację<br />
przedstawionego na rys. 3a schematu modulacji. W wersji<br />
STM32F407VG zastosowano trzy 12-bitowe przetworniki AC,<br />
mogące równocześnie dokonywać pomiaru przy osiągalnych<br />
czasach przetwarzania poniżej 0,5 µs (2,4 MSPS). Do tworzenia<br />
programu wykorzystano profesjonalne środowisko Keil µVision<br />
V4.23, umożliwiające darmową kompilację do 32 kB kodu. Dużym<br />
ułatwieniem są gotowe biblioteki funkcji dostępne dla procesora<br />
STM32F4, wykorzystujące standard CMSIS. Należy zapewnić<br />
wymianę danych pomiędzy PC a kontrolerem inwertera<br />
przez dostępne łącza szeregowe, najlepiej USB, wystarczająco<br />
w klasie HID (nie potrzeba drajwerów w komputerze PC z systemem<br />
Windows), w celach testowych lub do ustawiania parametrów<br />
sterowania inwerterem. O ile dla procesora LPC2148 istnieją<br />
już gotowe biblioteki firmy Keil oprogramowujące łącze USB-HID<br />
w języku C, to w przypadku STM32F4 te biblioteki są chwilowo<br />
(luty <strong>2012</strong>) niekompletne. Przy budowie prototypu niezbędne jest<br />
dokładne określenie współczynnika normalizacji pomiaru napięcia<br />
wyjściowego k nor<br />
=(0,5n T<br />
-1)/V OUTmax<br />
, wpływającego na funkcję sterowania<br />
[5], gdzie V OUTmax<br />
jest maksymalną zmierzoną wartością<br />
wyprostowanego napięcia wyjściowego. Tylko wymiana danych,<br />
np. przez USB, pomiędzy PC a pracującym prototypem inwertera<br />
to umożliwia.<br />
Podsumowanie<br />
Najważniejsze z cech mikrokontrolerów (z wewnętrzną pamięcią<br />
programu) predyponujących je do sterowania inwerterami, to wystarczająca<br />
częstotliwość wejściowa liczników komparatorów modulatora<br />
PWM dla przyjętej czestotliwości przełączania, szybkie<br />
przetwarzanie, najlepiej równoległe w 2 lub 3 przetwornikach AC,<br />
szybka obsługa przerwań od układów PWM, typowe porty szeregowe<br />
(obecnie USB-HID) umożliwiające szybką wymianę danych<br />
z komputerem nadrzędnym w celu ustawienia parametrów<br />
inwertera. Przy obecnej komplikacji mikroprocesorów niezbędne<br />
są dostępne biblioteki funkcji w języku C dla konkretnego układu.<br />
Wniosek z praktycznych badań inwerterów był taki, że o ile<br />
procesory ARM7TDMI są wystarczające obecnie do sterowania<br />
jednofazowymi inwerterami, o tyle do bardziej zaawansowanego<br />
sterowania inwerterem 3-fazowym lepiej obecnie wykorzystać<br />
procesory ARM Cortex M4 w wersji z 3 przetwornikami AC i jednostką<br />
zmiennoprzecinkową.<br />
Literatura<br />
[1] Rymarski Z.: Zagadnienia projektowe jednofazowych inwerterów<br />
napięcia w układach UPS. <strong>Elektronika</strong> – Konstrukcje, Technologie,<br />
Zastosowania, Wydawnictwo SIGMA-NOT, nr 11/2007, str. 367–<br />
372.<br />
[2] Rymarski Z.: Projektowanie jednofazowego inwertera napięcia małej<br />
mocy dla nieliniowego obciążenia. <strong>Elektronika</strong> – Konstrukcje, Technologie,<br />
Zastosowania, Wyd. SIGMA-NOT, nr 11/2008, str. 48–51.<br />
[3] Rymarski Z.: Design Method of Single-Phase Inverters for UPS Systems.<br />
Journal TETN, International Journal of Electronics, vol. 96,<br />
No. 5, pp. 521–535, May 2009.<br />
[4] Rymarski Z.: The analysis of output voltage distortion minimization<br />
in the 3-phase VSI for the nonlinear rectifier ROCO load. Przegląd<br />
Elektrotechniczny (Electrical Review), R. 85 NR 4/2009, pp. 127–<br />
132.<br />
[5] Z. Rymarski, „Jednofazowe i trójfazowe inwertery napięcia stosowane<br />
w systemach UPS“. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej,<br />
monografia 238, Gliwice 2010.<br />
[6] Rymarski Z.: The discrete model of the power stage of the voltage<br />
source inverter for UPS. International Journal of Electronics, vol. 98,<br />
No. 10, pp. 1291–1304, October 2011.<br />
[7] Rymarski Z.: PWM-AC Signal Quality In Sinusoidal Inverters. International<br />
Conference on Signals and Electronic Systems ICSES’06,<br />
pp. 335–338, 17–20 September 2006, Łódź, Poland.<br />
[8] Broeck H. W.: Analytical calculation of the harmonic effects of single<br />
phase multilevel PWM inverters. The 29th Annual Conference of the<br />
IEEE Industrial Electronics Society IECON ‘03, vol. 1, pp. 243–248,<br />
2–6 November 2003.<br />
[9] Kim J., J. Choi, H. Hong: Output LC filter design of voltage source inverter<br />
considering the performance of controller. International Conference<br />
on Power System Technology, vol. 3, pp. 1659–1664, Dec.<br />
2000.<br />
[10] Stranneby D.: Cyfrowe przetwarzanie sygnałów. BTC, Warszawa,<br />
2004.<br />
[11] Rymarski Z.: Digital Control in the UPS with S-51 Family Microprocessors.<br />
Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems<br />
DDECS’98 Szczyrk, pp. 117–121, 2–4 August 1998.<br />
[12] Rymarski Z., M. Kulawik: The Low Cost Measuring of the Magnitude<br />
of the Sinusoidal Complex Waveform. IFAC Workshop on Programmable<br />
Devices and Systems, pp. 390–393, Ostrava, 11–13 February<br />
2003.<br />
[13] Infineon Technologies: Generating sinusoidal 3-Phase-Currents for<br />
Induction Machines with a time-optimized algorithm for the Capture<br />
Compare Unit. AP08022, Application Note, v 1.1, February 2004.<br />
Przypominamy o prenumeracie miesięcznika <strong>Elektronika</strong> na 2013 r.<br />
114<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Technologia i Zastosowania Laserów <strong>2012</strong><br />
dr inż. Jerzy Gajda<br />
Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie, Katedra Telekomunikacji i Fotoniki, Wydział Elektryczny<br />
prof. dr hab. inż. Ryszard S. Romaniuk<br />
Politechnika Warszawska, <strong>Instytut</strong> Systemów <strong>Elektronicznych</strong><br />
W jubileuszowym X Sympozjum Techniki Laserowej wzięło udział<br />
120 osób. Zaprezentowano 11 referatów przeglądowych, 42 komunikaty<br />
naukowo–techniczne oraz 59 plakatów. Technika laserowa<br />
rozwija się w Polsce intensywnie od początku lat sześćdziesiątych.<br />
Pierwszy laser w kraju został uruchomiony w roku<br />
1969. Pierwszymi krajowymi ośrodkami badawczymi, w których<br />
uruchomiono lasery były Wojskowa Akademia Techniczna (prof.<br />
Z. Puzewicz), Politechnika Warszawska (prof. W. Woliński) i Uniwersytet<br />
Adama Mickiewicza (prof. F. Kaczmarek).<br />
Krajowe środowisko naukowo-techniczne związane z techniką<br />
laserową spotyka się od prawie 30 lat na krajowych sympozjach<br />
laserowych. Prace prowadzone w kraju w dziedzinie<br />
techniki laserowej dotyczą obecnie technologii materiałów laserowych,<br />
konstrukcji nowych laserów i związanego z laserami<br />
sprzętu, a także nowych aplikacji laserów. Wiele zespołów technicznych<br />
uczestniczy w Europejskich laserowych programach<br />
badawczych i infrastrukturalnych, dzieląc się i rozpowszechniając<br />
wiedzę w tej dziedzinie fotoniki. Technika laserowa jest ważnym<br />
narzędziem praktycznym i jednocześnie siłą napędową dla<br />
rozwoju wielu dziedzin nauki, techniki, medycyny oraz przemysłu.<br />
Obejmuje ona materiały optyczne, materiały laserujące, konstrukcję<br />
laserów od gazowych po półprzewodnikowe oraz liczne<br />
dziedziny zastosowań. Zakres badanych materiałów jest bardzo<br />
szeroki: optyczne, optoelektroniczne, bierne, aktywne, nieliniowe,<br />
funkcjonalne, kryształy, półprzewodniki, szkła, metale, gazy<br />
i wiele innych.<br />
Konstrukcje laserowe obejmują optymalizację istniejących<br />
rozwiązań, oraz poszukiwania nowych rozwiązań. Badane są<br />
materiały, komponenty, urządzenia laserowe, technologie wytwarzania,<br />
techniki pomiarowe parametrów lasera i wiązki optycznej.<br />
Rodzaje badanych laserów obejmują: półprzewodnikowe, fotoniczne,<br />
gazowe, jonowe, na ciele stałym, na swobodnych elektronach<br />
i inne. Sygnały optyczne podlegają generacji, wzmocnieniu,<br />
synchronizacji, kompresji i rozciąganiu, mieszaniu, powielaniu<br />
częstotliwości, upkonwersji i downkonwersji, formowaniu w impulsy<br />
itp. Zastosowania laserów obejmują takie pola jak: obróbka<br />
materiałów, biologia i medycyna, przemysł, monitoring i ochrona<br />
środowiska, bezpieczeństwo. Sesje tematyczne sympozjum rozdzielono<br />
w dwie główne grupy zagadnień: teoria laserów, symulacje<br />
i analizy, materiały laserowe, technologie, konstrukcje i rozwój<br />
laserów, oraz zastosowania laserów z dwóch punktów widzenia<br />
– przez konstruktorów laserów i operatorów a głównie przez użytkowników<br />
laserów.<br />
Grafen i inne materiały laserowe<br />
Grafen, odmiana alotropowa węgla, tworzy obecnie, choć nie<br />
bez znacznych trudności, własną drogę zastosowań w elektronice<br />
i fotonice. Tutaj interesują nas właściwości optyczne grafenu<br />
dla zastosowań w optoelektronice, do budowy elementów fonicznych,<br />
komunikacji optycznej, techniki laserowej oraz fotonicznych<br />
układów zintegrowanych. Grafem wykazuje nasycalną absorpcję<br />
pod wpływem silnego pobudzenia w zakresie światła widzialnego<br />
i podczerwieni. To zjawisko jest wykorzystane do sprzęgania<br />
modów w laserach światłowodowych, poprzez zastosowanie grafenowego<br />
absorbera nasycalnego. Ultraszybka odpowiedź warstwy<br />
grafenowej, wbudowanej w światłowód, jest przestrajana<br />
elektrycznie. Gigantyczna wartość nieliniowego współczynnika<br />
Kerra grafemu jest przedmiotem badań stosowanych.<br />
Grafem jest testowany jako medium do budowy komponentów<br />
fotonicznych do propagacji solionów. Oddziaływanie grafenu<br />
z falą EM jest wyjątkowo silne, co inicjuje liczne badania stosowane<br />
nad ultraczułymi czujnikami bazującymi na grafenie sprzężonym<br />
ze światłowodem. Czujniki takie są badane w kierunku<br />
detekcji śladowych ilości gazów oraz dynamiki próżni. Grafenowe<br />
kropki kwantowe o wymiarach poniżej 100 nm są badane w celu<br />
budowy nowych elementów optoelektronicznych. Również ostatnio<br />
zainteresowanie wzbudził krzemowy analog grafemu, nazwany<br />
silicenem – także będący alotropową odmianą krzemu. Silicen<br />
jest produkowany, odmiennie od grafemu, z pomocą rozpylania<br />
laserowego materiału oraz wykorzystania zjawiska i techniki samoorganizacji<br />
pojedynczych atomów. Nowy alotrop krzemu jest<br />
przedmiotem zainteresowania także techniki laserowej. Prace<br />
nad zastosowaniami grafenu w technice laserowej są prowadzone<br />
na Politechnice Śląskiej (prof. T. Pustelny), Politechnice Wrocławskiej<br />
(prof. K. Abramski), w ITME (prof. J. Baranowski, prof. Z.<br />
Jankiewicz) oraz w kilku innych miejscach.<br />
Grafen jest dwuwymiarową płaszczyzną jednej warstwy zorganizowanych<br />
atomów. Krystaliczna struktura grafenu wynika<br />
z wiązań kowalentnych pomiędzy atomami C w hybrydyzacji sp2.<br />
Hybrydyzacja ta daje silne i krótkie wiązania w płaszczyźnie grafenu.<br />
Wiązania te są odpowiedzialne za dobre mechaniczne właściwości<br />
grafenu. Oprócz wiązań s, grafem posiada rezonansowe<br />
wiązania p, wynikające z orbitali p prostopadłych do płaszczyzny<br />
grafenu. Wiązania p są odpowiedzialne za strukturę elektronową<br />
grafenu, określającą jego właściwości elektryczne i optyczne.<br />
Pasma walencyjne i przewodnictwa, które są określone przez<br />
elektrony p, są zdegenerowane w K punktach sfery Brillouina,<br />
rezultatem czego jest zerowa szerokość przerwy energetycznej.<br />
Przejścia optyczne pomiędzy pasmami energetycznymi są<br />
proste. Istnieje liniowa zależność pomiędzy energią elektronów<br />
i dziur od wartości ich wektora falowego. Elektrony i dziury zachowują<br />
się w grafenie w sposób relatywistyczny. W rezultacie<br />
szczególną charakterystyką grafenu jest niezależność absorpcji<br />
od długości fali. Absorpcja jest stała od zakresu fal widzialnych do<br />
fal THz. Grafem jest używany jako nasycalny absorber w laserach<br />
z samosynchronizacją modów. Przewiduje się jego zastosowania<br />
jako matrycy aktywnej w kwantowych generatorach THz.<br />
Zintegrowane układy fotoniczne<br />
Główny wysiłek badawczy nad zintegrowanymi układami fotonicznymi<br />
(będącymi analogami układów scalonych VLSI) jest skoncentrowany<br />
wokół systemów telekomunikacji światłowodowej.<br />
Także zainteresowania budzą ostatnio zastosowania biomedyczne<br />
oraz fotonika obliczeniowa. Testowanych jest wiele architektur<br />
fotonicznych układów scalonych (PIC – Photonic Integrated<br />
Circuit), takich jak: AWG – matrycowych siatek falowodowych<br />
(Arrayed Waveguide Greting), DFBLD/EAM – dioda laserowa<br />
z rozłożonym sprzężeniem zwrotnym zintegrowana z modulatorem<br />
elektro-absorpcyjnym, i wiele innych bardziej i mniej skomplikowanych.<br />
Układy scalone typu PIC wymagają użycia różnych<br />
materiałów, w odróżnieniu od układów typu VLSI IC.<br />
W rezultacie prowadzone są badania nad integracją różnych<br />
materiałów w jednym układzie. Badania obejmują wybór materiałów<br />
i optymalizację architektury układu pod względem funkcjonalności.<br />
Badania nad układami PIC wykonanymi na podłożu InP przewidują<br />
możliwość uproszczenia projektu systemu scalonego, redukcję po-<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 115
oru mocy oraz zmniejszenie objętości, zwiększenie niezawodności<br />
oraz maksymalizację funkcjonalności, poszerzenie elastyczności<br />
usług, uproszczenie operacji sieciowych oraz obniżkę kosztów. Jak<br />
dotąd, praktyczne zastosowania układów PIC są bardzo skromne.<br />
Przewiduje się, że intensywne badania aplikacyjne mają zmienić tą<br />
sytuację. Potencjalne zastosowania układów PIC są bardzo szerokie.<br />
Jak dotąd rozwiązania są ograniczone np. do łączenia źródła<br />
z modulatorem oraz detektora z demultiplekserem.<br />
Znacznie bardziej skomplikowane architektury zawierają nie<br />
tylko bierną dystrybucję sygnału, na przykład dla celów detekcji<br />
kwadraturowej, ale również optyczny/fotoniczny komputing. Dodatek<br />
całkowicie optycznego w pełni cyfrowego i szeroko funkcjonalnego<br />
procesora sygnałowego na pokładzie PIC, wykonującego<br />
takie funkcje jak: operacje matematyczne, optyczną transformatę<br />
Fouriera wprost i odwrotną, posiada znaczny potencjał przyspieszenia<br />
obliczeń DSP nawet o wiele rzędów wielkości. Powodem<br />
przyspieszenia jest inherentnie równoległe przetwarzanie sygnału<br />
obrazowego w dziedzinie optyki. Wiele sygnałów szeregowych<br />
skorelowanych można przedstawić w postaci obrazu lub w postaci<br />
macierzowej. Prace teoretyczne i eksperymentalne nad zintegrowanymi<br />
układami fotonicznymi są prowadzone w IMIO PW (R.<br />
Piramidowicz, P. Szczepański, M. Malinowski).<br />
Układy typu PIC na obecnym początkowym etapie rozwoju<br />
(coś w rodzaju analogu do wczesnego etapu LSI klasycznych<br />
układów scalonych IC) składają się z wielu optycznych komponentów<br />
biernych i nawet kilku elementów aktywnych. Są zintegrowane<br />
na wspólnym, najczęściej półprzewodnikowym, podłożu.<br />
Tendencje rozwojowe idą w kierunku zwiększenia ilości indywidualnych<br />
elementów zintegrowanych w pojedynczym układzie.<br />
Obecnie liczba elementów zintegrowanych jedynie bardzo rzadko<br />
zbliża się do 100. Rekordowy układ eksperymentalny zawiera takich<br />
elementów kilkaset. Kilka takich układów połączonych w subsystem<br />
funkcjonalny pozwala już na budowę bardziej złożonych<br />
urządzeń fotonicznych. Zalety integracji fotonicznej są oczywiste:<br />
miniaturyzacja, mniejsze zużycie materiału i energii, odporność<br />
na środowisko, łatwiejsza standaryzacja, pewność nominalnych<br />
parametrów pracy, obniżenie kosztów, zwiększona funkcjonalność<br />
oraz efektywność. Prowadzone prace badawcze są ukierunkowane<br />
nie tylko na nowe efektywne architektury ale także na<br />
uogólniony i uniwersalny opis tych architektur istniejących obecnie<br />
i planowanych w nieodległej przyszłości.<br />
Zjawiska i procesy ultraszybkie i ultrakrótkie<br />
Technika laserowa odgrywa kluczową rolę w nauce o zjawiskach<br />
ultraszybkich i ultrakrótkich, odbywających się zazwyczaj w skali<br />
nano. Zjawiska takie, które są obecnie przedmiotem badań, zachodzą<br />
w skali czasu w przedziale od pikosekund do attosekund.<br />
Ultrakrótkie impulsy laserowe są podstawowym narzędziem do<br />
studiowania fundamentalnych mechanizmów w tej skali czasowej<br />
dotyczących np. oddziaływania promieniowania z materią.<br />
Specjalnie interesujące są ultraszybkie oddziaływania i procesy<br />
w nowych materiałach – tzw. ultraszybka inżynieria materiałowa,<br />
ale także ultraszybki nanomagnetyzm, dynamika atomowa i molekularna,<br />
indukowane światłem reakcje chemiczne, obrazowanie<br />
biomolekularne w nanoskali itp.<br />
Badania procesów ultraszybkich są nierozłącznie związane<br />
z laserami krótkofalowymi o dużych natężeniach impulsów.<br />
Impulsy attosekundowe są tworzone z zastosowaniem techniki<br />
generacji wysokich harmonicznych HHG oraz wykorzystania<br />
dynamiki w skali czasowej subokresowej, poniżej pojedynczego<br />
okresu fali optycznej. Attosekundy w skali czasowej są z kolei<br />
związane z femtometrami w skali wymiaru geometrycznego.<br />
Femtometry w przestrzeni i attosekundy w czasie, w połączeniu<br />
z optycznymi zegarami atomowymi, ustanawiają bardzo dokładne<br />
ramy odniesienia dla fazy, czasu i częstotliwości. Takie ramy<br />
odniesienia pozwalają na obserwacje i zapis chemicznych procesów<br />
wewnątrzmolekularnych, o znacznej dokładności czasowej<br />
i przestrzennej. Zbliżają się obecnie do skali obserwacyjnej procesów<br />
wewnątrzatomowych.<br />
116<br />
Światłowody aktywne, wzmacniacze i lasery<br />
światłowodowe<br />
Klasyczne, wysokiej jakości światłowody aktywne domieszkowane<br />
erbem EDFA są wysoce standaryzowane pod względem parametrów<br />
transmisyjnych i niezawodności. Są dostępne w kilku<br />
źródłach, wielu odmianach rozciągających się od tzw. SMF jednomodowych<br />
telekomunikacyjnych po specjalizowane o prostszej<br />
lub bardziej skomplikowanej budowie, a w szczególności<br />
dla zastosowań czujnikowych. Światłowody telekomunikacyjne<br />
są zazwyczaj pokryte hermetycznie dla zwiększenia odporności<br />
środowiskowej i czasu życia, zwiększenia odporności na indukowane<br />
wodorem straty optyczne i degradację stratnościową.<br />
Światłowody takie używane w celu budowy wzmacniaczy optycznych<br />
są wymiarowo i modowo wysoce kompatybilne ze standardowymi<br />
jednodomowymi światłowodami. Wykazują dzięki temu<br />
niewielkie straty sprzężenia ze światłowodami transmisyjnymi.<br />
Badania w tym zakresie są prowadzone nad światłowodami<br />
aktywnymi specjalnymi, z innych materiałów niż szkło krzemionkowe<br />
lub wysoko-krzemionkowe. Adekwatne materiały obejmują:<br />
ultra niskostratne szkła wieloskładnikowe, szkła halogenkowe<br />
i chalkogenkowe oraz aktywne materiały polimerowe. Z tych materiałów<br />
szklanych i polimerowych tworzone są eksperymentalne<br />
włókna aktywne o strukturze dwupłaszczowej a także niesymetrycznej<br />
do pompowania oraz mikrostrukturalne z kryształów fotonicznych.<br />
W kraju jest aktywnych kilka centrów technologicznych<br />
produkujących wysokiej jakości szkła światłowodowe aktywne<br />
i włókna optyczne aktywne. Są one zlokalizowane w Białymstoku<br />
na Politechnice, w Lublinie na UMCS, w Krakowie na AGH oraz<br />
w Warszawie w ITME i na PW.<br />
Aktywne szkła i polimery światłowodowe są oczywiście domieszkowane<br />
ziemiami rzadkimi oraz metalami przejściowymi.<br />
Wytwarzane są włókna analogiczne do EDFA, dla celów budowy<br />
źródeł ASE oraz wzmacniaczy Ramana. Wytwarzane szkła światłowodowe<br />
wykazują luminescencję w zakresie spektralnym 1,7…2,1<br />
µm. Szerokie linie luminescencyjne są otrzymywane poprzez jednoczesne<br />
domieszkowanie szkieł światłowodowych kilkoma lantanidami.<br />
Badane są wymagania i warunki techniczne produkcji oraz<br />
właściwości luminescencyjne i pasma absorpcyjne wytworzonych<br />
włókien ze światłowodowych szkieł matrycowych domieszkowanych<br />
parami jonów i trypletami jonowymi: Tm3+/Ho3+, Yb3+/Ho3+,<br />
Yb3+/Tm3+, Yb3+/Er3+/Tm3+. Badane są rodzaje matryc szklanych,<br />
ich parametry mechaniczne – decydujące o energii fononów,<br />
na rdzenie światłowodowe oraz na płaszcze i pokrycia zewnętrzne.<br />
Takie odpowiednie zestawy materiałów mają znaczenie dla<br />
ogólnych parametrów światłowodu aktywnego i wytworzonego<br />
z niego aktywnego elementu fotonicznego, pompowanego znaczną<br />
mocą optyczną, np. przy pomocy diod LED dużej mocy. Przedstawiane<br />
są konstrukcje aktywnych światłowodów i wzmacniaczy<br />
z efektywnymi metodami sprzęgania mocy optycznej pochodzącej<br />
z pomp. Niektóre z tych rozwiązań zawierają niesymetryczne<br />
światłowody z podwójnym rdzeniem oraz jednodomowe światłowody<br />
wielordzeniowe pracujące w warunkach dokładnie sfazowanego<br />
supermodu.<br />
Lasery i wzmacniacze światłowodowe, podobnie jak klasyczne<br />
lasery półprzewodnikowe i szklane, mogą być także budowane<br />
z materiałów strukturalnych – kryształów fotonicznych. Dla światłowodów<br />
fotonicznych (aktywnych i biernych) materiałem matrycy<br />
jest szkło lub ostatnio także polimer. Matrycą dla laserów półprzewodnikowych<br />
jest AlGaInAs/InP. Kryształy fotoniczne dla laserów<br />
posiadają szereg zalet dla zastosowań telekomunikacyjnych, takie<br />
jak: szeroki zakres pracy w modzie podstawowym (teoretycznie<br />
nieskończony, nieograniczony), skalowalność struktury z długością<br />
fali, możliwa redukcja prądu progowego, możliwy wzrost<br />
emitowanej mocy optycznej w modzie podstawowym, zawężenie<br />
szerokości spektralnej promieniowanej fali, możliwy wzrost szybkości<br />
modulacji cyfrowej.<br />
Szybki rozwój technologii laserów światłowodowych został<br />
spowodowany między innymi postępami w konstrukcji włókien<br />
optycznych ultra niskostratnych aktywnych o podwójnym płasz-<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
czu. Takie włókno ułatwia optyczne pompowanie lasera. Dopasowanie<br />
geometryczne i spektralne pozwala na stosunkowo łatwe<br />
pompowanie laserem półprzewodnikowym lub diodą DEL. Wprowadzenie<br />
asymetrii włókna, w pewnych przypadkach, dalej podnosi<br />
sprawność pompowania lasera światłowodowego.<br />
Lasery światłowodowe posiadają odmienne charakterystyki od<br />
rodziny laserów objętościowych i laserów półprzewodnikowych.<br />
Długość światłowodu aktywnego szklanego, polimerowego lub<br />
z kryształu fotonicznego zmienia się od kilkudziesięciu cm do<br />
kilkudziesięciu m w różnych typach laserów światłowodowych.<br />
Mimo tego, zagregowana objętość materiału aktywnego jest mała<br />
nawet dla laserów bardzo długich. Wynikają z tego konsekwencje,<br />
że promieniowana moc nie jest duża w podstawowym rozwiązaniu<br />
takiego lasera, oraz moc progowa dla optycznych zjawisk nieliniowych<br />
jest także niewielka. Niewielki jest także próg optycznej<br />
destrukcji włókna i lasera. Obecnie lasery światłowodowe promieniują<br />
w przybliżeniu 10 kW mocy ciągłej przy jakości wiązki określonej<br />
wielkością współczynnika M 2 ≈2. Dla laserów impulsowych,<br />
promieniowana energia w impulsie o czasie trwania rzędu ns wynosi<br />
około 10 mJ, a więc niezbyt dużo. Prace nad światłowodami<br />
aktywnymi dla laserów i nad fundamentalnymi ograniczeniami jakości<br />
wiązki są prowadzone na WAT i na PW oraz na PWr.<br />
Lasery IR kwantowo-kaskadowe<br />
QCL – kwantowe lasery kaskadowe są unipolarnymi laserami półprzewodnikowymi<br />
o transferze wewnątrzpasmowym swobodnych<br />
nośników. Klasyczne lasery półprzewodnikowe stosują przejścia i rekombinację<br />
międzypasmową. Długość promieniowanej fali w praktyce<br />
nie zależy od materiału, ale od geometrii studni kwantowych budujących<br />
rejon aktywny. Lasery QCL mogą być szeroko przestrajane<br />
od zakresu NIR, poprzez MIR do FIR i ogólnie działają w obszarze<br />
IR. Najczęściej wykonuje się je z GaAs oraz InP. Kaskadowy typ generacji,<br />
tzn. akumulacja mocy optycznej z każdej studni kwantowej<br />
prowadzi do uzyskiwania większych mocy wiązki. Obecnie lasery<br />
QCL są używane w spektroskopii THz zanieczyszczeń gazowych,<br />
spektroskopii molekularnej, komunikacji bliskiego zasięgu w otwartej<br />
przestrzeni i prześwietlania dielektryków. Eksperymenty technologiczne<br />
i laboratoryjna produkcja terahercowych laserów QCL są<br />
prowadzone w ITE w Warszawie (prof. M. Bugajski).<br />
Generacja terahercowej fali EM przy pomocy laserów może<br />
być wykonywana dwoma zasadniczymi metodami, odpowiednio<br />
w dziedzinie czasu i częstotliwości. Metoda w dziedzinie czasu<br />
wykorzystuje zjawisko w dziedzinie optyki analogiczne do prostowania<br />
przebiegu napięcia sinusoidalnego prądu elektrycznego<br />
(optical rectification). Metoda częstotliwościowa stosuje<br />
zjawisko mieszania podobnych liczbowo częstotliwości optycznych<br />
i ekstrakcji, np. częstotliwości różnicowych. Podstawowym<br />
problemem technologicznym dla takich rozwiązań jest konstrukcja<br />
lasera generującego dwie koherentne wiązki jednodomowe<br />
o przestrajanych częstotliwościach. Największy potencjał aplikacyjny<br />
w tym zakresie posiadają właśnie kwantowe lasery kaskadowe<br />
o zewnętrznej wnęce rezonansowej, które generują jednocześnie<br />
dwie przestrajalne wiązki w zakresie spektralnym MIR.<br />
Dwie wiązki mieszane muszą posiadać wspólną drogę koherencji.<br />
Zwiększanie długości generowanej fali metodą mieszania<br />
zwiększa długość wzajemnej drogi koherencji. Kaskadowe lasery<br />
kwantowe są budowane z podwójnym wzmacniaczem i wbudowanym<br />
w strukturę lasera optycznym rezonansowym elementem<br />
nieliniowym. Takie lasery generują i mieszają wewnętrznie dwa<br />
podłużne mody częstotliwościowe w zakresie spektralnym MIR,<br />
tak aby na wyjściu uzyskać falę EM w postaci wiązki THz. Otrzymywane<br />
obecnie parametry wiązek THz są: dziesiątki µW mocy<br />
w temperaturze 80 K i około 1 µW w temperaturze 300K.<br />
Optyczne grzebienie częstotliwości i optyczne<br />
zegary atomowe<br />
Technologia optycznych grzebieni częstotliwości jest rozwijana<br />
w kraju na UW-IFD oraz na PWr przez grupy laserowe używające<br />
wysoko stabilizowanych laserów półprzewodnikowych oraz<br />
światłowodów. Stosowane są efekty nieliniowe w celu konwertowania<br />
grzebieni częstotliwości optycznych z pasma telekomunikacyjnego<br />
do innych obszarów spektralnych, np. MIR. Grzebienie<br />
są generowane z zastosowaniem modulacji amplitudowej wiązki<br />
laserowej CW, jak i przez stabilizację ciągu impulsów generowanych<br />
przez laser z przełączaniem modów, a także przez generację<br />
super-kontinuum z pomocą głębokiej samo-modulacji fazowej<br />
fali propagowanej w nieliniowym światłowodzie fotonicznym.<br />
Grzebienie rozciągające się na więcej niż oktawę są używane<br />
do ultraprecyzyjnych pomiarów fazy i częstotliwości odniesienia.<br />
Optyczne grzebienie częstotliwości o kontrolowanej częstotliwości<br />
bazowej (podstawowej) f o<br />
oraz separacji (odległość pomiędzy<br />
zębami) f r<br />
są używane do mapowania częstotliwości optycznych<br />
aż do częstotliwości zakresu RF. Taka technika jest używana do<br />
bezpośrednich pomiarów częstotliwości optycznych. Precyzyjne<br />
techniki zegara optycznego z zastosowaniem grzebieni częstotliwości<br />
są stosowane w systemach pomiarowych. Częstotliwość<br />
optyczna nieznana jest składana z pojedynczym zębem grzebienia<br />
na fotodiodzie, w wyniku czego otrzymywany jest sygnał dudnienia<br />
w paśmie RF. Sygnał ten porównywany jest z wzorcem RF<br />
lub z sygnałem odniesienia RF.<br />
Precyzyjne pomiary czasu są fundamentem w takich technologiach<br />
jak: szerokopasmowe sieci komunikacyjne, nawigacja<br />
GPS i wiele innych. Optyczne zegary atomowe używają częstotliwości<br />
przejść elektronowych w atomie w optycznym regionie<br />
spectrum fal EM jako częstotliwości standardowych do budowy<br />
elementów odniesienia czasu. Obecne zegary stosują atomy<br />
w temperaturze bardzo bliskiej zera bezwzględnego, spowolnione<br />
przy pomocy promieniowania laserowego i próbkowane<br />
w tzw. fontannie atomowej (chmurze) pułapkowanej we wnęce.<br />
Najbardziej dokładny klasyczny zegar atomowy, bazujący na pojedynczych<br />
pułapkowanych jonach oraz ultrazimnych atomach<br />
neutralnych w czasie swobodnego spadku, posiada niedokładność<br />
określenia częstotliwości 2,3×10 -16 , co można transformować<br />
do ±1 s na około 140 MY.<br />
Optyczne grzebienie częstotliwości, które ustanawiają koherentne<br />
łącze pomiędzy częstotliwościami optycznymi i radiowymi<br />
RF, coraz częściej są uważane za nowo powstający standard ultraprecyzyjnej<br />
definicji czasu o zwiększonej precyzji wobec narzędzi<br />
dostępnych dzisiaj. Atomy można pułapkować w potencjalnej<br />
sieci (kratownicy) optycznej i używać jako odniesienie kwantowe.<br />
Kratownica optyczna z odseparowanymi pułapkami na pojedyncze<br />
atomy pozwala na budowę zegara o szerokości spektralnej<br />
częstotliwości odniesienia więcej niż jeden rząd wielkości węższej<br />
niż w klasycznych zegarach atomowych o najwyższej stabilności.<br />
Zastosowanie optycznego zegara atomowego z optycznie pułapkowanymi<br />
atomami i optycznych metod metrologicznych zimnych<br />
atomów (spektroskopia i pomiary częstotliwości) pozwala na<br />
ograniczenie względnej niepewności pomiaru częstotliwości do<br />
poziomu 10 -18 , a więc dwa rzędy wielkości bardziej precyzyjnie niż<br />
w klasycznych zegarach atomowych. Innymi słowy, częstotliwość<br />
optyczna 300 THz jest mierzona z dokładnością mHz.<br />
Zegary optyczne z zimnymi atomami składają się z:<br />
● pułapki atomowej, w której zimna chmura atomowa jest kontrolowana<br />
w szczególnym stanie kwantowym, ochłodzona klasycznie<br />
i optycznie oraz uwięziona permanentnie,<br />
● ultrastabilnego lasera o szerokości linii spektralnej poniżej 1<br />
Hz w celu próbkowania częstotliwości atomów,<br />
● optycznego grzebienia częstotliwości w celu precyzyjnych pomiarów<br />
odległości pomiędzy poszczególnymi komponentami<br />
spektrum.<br />
Prace nad takim zegarem są prowadzone przez konsorcjum<br />
złożone z UW-Warszawa, UMK-Toruń i UJ-Kraków.<br />
Laserowe przetwarzanie i obróbka materiałów<br />
Obok zastosowań medycznych, laserowe przetwarzanie i obróbka<br />
materiałów jest ich najszerszym polem praktycznych aplikacji.<br />
Do obróbki materiałów stosowane są różne lasery, takie jak: przestrajane<br />
lasery femtosekundowe, pompowane diodami lasery na<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 117
ciele stałym w tym lasery Nd:YAG, lasery z przełączaną dobrocią<br />
wnęki, lasery światłowodowe, lasery CO 2<br />
i inne. Konwencjonalne<br />
zastosowania w tym obszarze zawierają: wiercenie otworów<br />
w metalach i ceramice, spawanie, cięcie, modyfikacja i/lub obróbka<br />
powierzchni, teksturowanie, znakowanie, grawerowanie, rzeźbienie,<br />
wycinanie wzorów, czyszczenie, szybkie prototypowanie<br />
w metalach i ceramice, udarowe młotkowanie itp.<br />
Obszary mikro- i nanofabrykacji obejmują: laboratorium na<br />
układzie, czujniki elektroniczne i optoelektroniczne, czujniki<br />
światłowodowe, systemy mikrofluidyczne, okresowe wzory dla<br />
wyświetlaczy LCD, mikro- i nanostruktury funkcjonalne np. do<br />
celi paliwowych, matryce do kompozytów metalo–ceramicznych,<br />
węglowe siatki nanorurkowe, mikroimplanty do kości i naczyń, ultraszybkie<br />
laserowe wytwarzanie stentów do wieńcowych naczyń<br />
krwionośnych – w celu zwiększenia pokrywalności przez leki i narastania<br />
komórek nabłonkowych; wytwarzanie cienkich warstw<br />
i nakładanie wzorów z materiałów nadprzewodzących dla mikroelektroniki.<br />
W zastosowaniach biomedycznych oraz dotyczących<br />
bezpieczeństwa są to: obrazowanie wielofotonowe i spektralne<br />
dynamiczne oraz typu LIBS. W zastosowaniach dotyczących<br />
wytwarzania w nanoskali i obróbce materiałów lasery ukierunkowane<br />
są na wysoką jakość produktu, wysoką precyzję oraz jak<br />
najmniejsze wydzielanie ciepła.<br />
Jednym z najbardziej spektakularnych zastosowań laserów<br />
w obróbce materiałów jest modyfikacja powierzchni. Badania<br />
w tym zakresie prowadzi CTL na Politechnice Świętokrzyskiej<br />
a także AGH i Politechnika Śląska, oraz kilka innych zespołów<br />
akademickich. Modyfikacja powierzchni materiałów jest bardzo<br />
szerokim obszarem badawczym obejmującym kompozyty i metamateriały.<br />
W nowoczesnych materiałach warstwy powierzchniowe<br />
mogą być kompozytami. Na warstwy powierzchniowe stosuje<br />
się np. azotki tytanu zawieszone w matrycy metalowej. Twardość<br />
warstw powierzchniowych i odporność na zużycie zmęczeniowe<br />
silnie zależy od parametrów laserowego procesu technologicznego<br />
modyfikacji warstwy, parametrów atmosfery przetwarzania, jak<br />
np. cząstkowe ciśnienie mieszaniny gazowej argon-azot. Stopy<br />
tytanu są stosowane do budowy płytek w silnikach turbinowych.<br />
Wytrzymałość zmęczeniowa jest kluczowym parametrem określonym<br />
głównie przez wewnętrzne naprężenia w powierzchniowych<br />
warstwach azotkowych.<br />
Jakość obróbki powierzchni zależy od kształtu wiązki laserowej.<br />
Zastosowanie diod laserowych dużej mocy nie tylko czyni<br />
proces technologiczny bardziej standaryzowany, powtarzalny,<br />
odporny na oddziaływania zewnętrzne, niezawodny, bardziej miniaturowy<br />
i zużywający mniej energii ale także pozwala na kształtowanie<br />
wielomodowej wiązki do postaci prostokątnej – zamiast<br />
eliptycznej (jak w laserach SS YAG i gazowych), o znacznej jednorodności<br />
rozkładu mocy na powierzchni przekroju poprzecznego<br />
wiązki. Jednorodność rozkładu mocy jest bardzo korzystna<br />
podczas przetapiania powierzchni i tworzenia nowych stopów,<br />
ponieważ obrabiany materiał jest podgrzewany równomiernie,<br />
głębokość penetracji jest jednakowa, grubość i struktura warstwy<br />
powierzchniowej jest równomierna i jednakowa.<br />
Prace badawcze także dotyczą laserowego utwardzania powierzchni,<br />
przetapiania, wzbogacania powierzchni stali w chrom,<br />
tantal, wolfram, krzem, przetapiania Stellitu6 i wytwarzania cienkich<br />
warstw: CeO 2<br />
, Bi 2<br />
O 3<br />
, Al-Fe-C, Mg-Al, TiC przy pomocy ablacji<br />
laserowej. Technika laserowa pozwala na precyzyjne osadzanie,<br />
z użyciem ablacji i technik odparowywania, cienkich powłok wielowarstwowych<br />
na powierzchni ciężkich i dużych części maszyn,<br />
pracujących pod dużym obciążeniem.<br />
Przy całkowitej grubości około 1 µm, warstwa jest zbudowana<br />
z kilkuset subwarstw, każda o grubości nanometrowej. Obecnie<br />
wytwarzane subwarstwy mają grubość ok. 10 nm. Przeplatane<br />
warstwy ultracienkie o różnej twardości tworzą warstwę monolityczną<br />
o dużej adhezji do podłoża i znacznie bardziej odporną na<br />
pękanie niż warstwa pojedyncza. Używany jest przykładowo następujący<br />
zestaw materiałów: Ti/TiN, Cr/CrN, TiN/CrN, ale może<br />
on zawierać polimery, ceramikę i warstwy metalowe wzajemnie<br />
118<br />
przeplatane. Badane są i optymalizowane właściwości mechaniczne<br />
takich metamateriałów dla aplikacji w przemyśle maszynowym.<br />
Oprócz wzrostu odporności mechanicznej, niektóre z tych<br />
materiałów posiadają cechę samosmarowania.<br />
Lasery medyczne: diagnostyka i terapia<br />
Znaczne pole zastosowań laserów obejmuje badania i regularne<br />
aplikacje kliniczne, a także szerokie aplikacje w służbie zdrowia,<br />
np. w przychodniach i ambulatoriach. Rozwijane są nowe procedury<br />
chirurgiczne w połączeniu z technikami endoskopowymi<br />
oraz obrazowaniem. Dotyczy to w szczególności laserów światłowodowych<br />
w połączeniu z technikami terapeutycznymi fotodynamiki,<br />
a także terapią laserową wewnątrznaczyniową oraz laserową<br />
detekcją komórek rakowych. Medycyna laserowa rozwija<br />
się między innymi w kierunku chirurgii bezkrwawej. Badania nad<br />
nowymi generacjami sprzętu medycznego stosującego lasery są<br />
prowadzone na WAT we współpracy z WUM (A. Zając, J. Kasprzak).<br />
Optyczne metody diagnostyczne stosują często promieniowanie<br />
niekoherentne obejmujące zakresy spektralne UV, VIS,<br />
oraz IR, a także promieniowanie koherentne o długiej i krótkiej<br />
drodze koherencji. Sprzęt medyczny stosujący promieniowanie<br />
w zakresie światła białego o krótkiej drodze koherencji wzbudza<br />
specjalne zainteresowanie ze względu na bezpośrednią interakcję<br />
z układem wzrokowym człowieka. Rezultat badania diagnostycznego<br />
jest w postaci obrazu, różnego w każdym przypadku<br />
zastosowania innej metody obrazowania. Przetwarzanie obrazu<br />
jest inherentną częścią takich metod diagnostycznych.<br />
Oddzielną ważną grupą metod diagnostycznych jest tomografia<br />
optyczna, włączając metodę OCT. Inne metody tomograficzne<br />
są wykorzystywane do diagnostyki i łączone wzajemnie w celu<br />
uzyskania pełniejszych obrazów, jak: PET, tomografia rentgenowska,<br />
skaningowa tomografia ultrasonograficzna. Technologie<br />
laserowe dodają się do tych metod, wiele z nich rozszerzając<br />
i uzupełniając. Diagnostyka i laserowa terapia fotodynamiczna<br />
stosuje aktywne barwniki jak fotoporfiryna. Barwnik jest gromadzony<br />
poprzez kompleksowe reakcje z lipoproteidami w miejscach<br />
zmienionych patologicznie. Metody diagnostyczne poszukują<br />
tych miejsc poprzez oświetlenie aktywujące skóry, jam ciała<br />
lub z użyciem technik endoskopowych. Terapia używa większych<br />
mocy oświetleniowych w celu uwolnienia pojedynczych atomów<br />
tlenu (wolnych rodników), które zatruwają bardzo lokalnie zmienioną<br />
tkankę. Metoda jest używana w dermatologii, oftalmologii<br />
i innych specjalizacjach medycznych.<br />
Laserowe ultraczułe systemy metrologiczne<br />
Znaczna część fotonicznych systemów pomiarowych o dużej<br />
czułości bazuje na rozmaitych technikach interferometrycznych.<br />
Systemy takie mogą być objętościowe, jak i zintegrowane i miniaturyzowane.<br />
Pomiary są dokonywane punktowo lub w sposób<br />
rozłożony. Przykładem jest ultraprecyzyjne pozycjonowanie<br />
obiektów z wykorzystaniem interferometrii. Systemy automatycznego<br />
pozycjonowania masek i badania wafli półprzewodnikowych,<br />
bazujące na interferometrii laserowej będą wymagały<br />
rozdzielczości lepszej niż 100 pm już w następnej dekadzie.<br />
Odpowiadające tym wymaganiom techniki litograficzne będą bazowały<br />
na wymiarze standardowym rzędu kilku nm. Aby te wymagania<br />
spełnić, konieczne są badania nad stabilnymi laserami<br />
metrologicznymi o ultraniskich szumach, wyposażone w ultraprecyzyjne<br />
systemy sterowania i kontroli, posiadające odpowiednie<br />
detektory i metody interpolacji. Prace są prowadzone w Lasertex<br />
we współpracy z PWr.<br />
Inne precyzyjne systemy metrologiczne z wykorzystaniem<br />
ultra stabilnych laserów są badane na PŚl. (prof. T. Pustelny).<br />
Te systemy obejmują: spektroskopię ramanowską, skaningową<br />
laserową mikroskopię konfokalną, mikroskopię dwufotonową, mikroskopię<br />
laserową z detekcją fazy, mikroskopię fluorescencyjną<br />
kontrastu interferencyjnego, mikroskopię holograficzną, optyczną<br />
mikroskopię sił atomowych oraz spektroskopię fotoakustczną.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Teledetekcja laserowa<br />
Bardzo efektywnym polem zastosowań techniki laserowej są obszary<br />
obejmujące ogólnie zagadnienia bezpieczeństwa. Systemy<br />
teledetekcji wykorzystują szeroko technikę laserową w tzw. obszarach<br />
podwójnego zastosowania, w dziedzinach dotyczących<br />
bezpieczeństwa i obronności, a także do monitoringu i zabezpieczenia,<br />
np. znacznych regionów środowiska naturalnego czy obszarów<br />
przemysłowych. Stosowane metody teledetekcji wykonują<br />
jednocześnie akwizycję danych pomiarowych oraz ich analizę<br />
w czasie rzeczywistym.<br />
Monitorowanie odległych zagrożeń, takich jak gazy, aerozole,<br />
dymy, kurz itp., wymaga zastosowania dwóch podstawowych metod<br />
– z czujnikiem (czujnikami) lokalnymi lub zdalnymi. Pomiary<br />
bez kontaktu z zanieczyszczonym obszarem zagrażającym są realizowane<br />
w sposób aktywny lub bierny. Używane są lidary lub telewizja/termowizja<br />
multispektralna. Wąskopasmowe filtry optyczne<br />
są dopasowywane do zakresów absorpcyjnych oczekiwanych<br />
gazów i innych zanieczyszczeń. System pomiarowy eliminuje<br />
zmiany w transmisji wiązki laserowej wzdłuż analizowanego toru<br />
wewnątrz zanieczyszczonego obszaru. Charakterystyki pomiarowe<br />
lidaru zależą od zasięgu penetrującej wiązki, zakresu monitorowanego<br />
obszaru, pola widzenia oraz szybkości skanowania<br />
wiązki. Techniki pomiarowe z zastosowaniem sensorów lokalnych<br />
(lub sieci czujników) wymagają odczytu danych metodą przewodową<br />
lub bezprzewodową. Prace są prowadzone na WAT.<br />
Lasery bezpieczne dla oczu<br />
Prace nad specjalizowanymi laserami są także przedmiotem<br />
zainteresowania tzw. technologii podwójnych aplikacji. Lasery<br />
bezpieczne dla oczu są badane i rozwijane na WAT dla wielu<br />
odmiennych aplikacji a w tym: bezpieczeństwo, zabezpieczenie<br />
obszarów, środowisko naturalne, rolnictwo, budownictwo, przemysł<br />
i badania chemiczne, zastosowania biologiczne i medyczne.<br />
Optymalizacja konstrukcji lasera, tak aby był odpowiedni dla obu<br />
pól zastosowań, otwiera szersze możliwości produkcyjne i marketingowe,<br />
jak również ułatwia wymagania na kluczowe parametry<br />
lasera. Zastosowania obejmują: laserowe systemy poziomów odniesienia<br />
w przemyśle budowlanym, dalmierze laserowe, pointery<br />
laserowe, urządzenia dla przemysłu lotniczego i kosmicznego,<br />
a także przemysł maszynowy i obszary biomedyczne oraz teledetekcja.<br />
Bazujące na technice laserowej systemy teledetekcji są<br />
w szczególności stosowane praktycznie w sieciach obserwacyjnych<br />
zagrożenia pożarowego na dużych obszarach leśnych.<br />
Europejskie projekty laserowe<br />
Europejskim ekwiwalentem amerykańskiego laboratorium NIF<br />
(National Ignitron Facility) jest eksperyment HiPER (High Power<br />
Laser Energy Research Facility). Celem tych systemów jest laserowo<br />
wspomagana reakcja fuzji jądrowej metodą ograniczenia<br />
inercyjnego. Innym eksperymentem w Europie o podobnych charakterze<br />
jest Laser Megajoule. W pewnych fragmentach eksperymentu<br />
HiPER i jego podprojektach uczestniczą reprezentanci<br />
WAT oraz IFPiLM. W bardziej tradycyjny sposób, lasery dużej<br />
mocy są stosowane do: obróbki materiałów jak spawanie, cięcie,<br />
wiercenie, lutowanie, znaczenie, modyfikacja powierzchni,<br />
wielkoskalowe wyświetlacze laserowe, teledetekcja militarna, zastosowania<br />
medyczne w chirurgii, wojskowe aplikacje jako broń<br />
przeciw rakietowa; laserowo zasilane akceleratory cząstek, laserowa<br />
generacja plazmy, laserowo zasilana transmutacja materiałów<br />
i generacja neutronów.<br />
Badane lasery wielkiej mocy są zwykle zasilane przez dużej<br />
mocy matryce diod laserowych. Optymalizowana jest w takich<br />
układach laserowych całkowita efektywność energetyczna. Stosowane<br />
są metody unikania zniszczeń w optyce laserowej w laserach<br />
z przełączaną dobrocią pracujących z wielkimi natężeniami<br />
wiązki. Stosowane są adekwatne optyczne efekty nieliniowe<br />
do budowy laserów światłowodowych wielkiej mocy, takie jak:<br />
stymulowane rozpraszanie Ramana, Brillouina oraz mieszanie<br />
czterofalowe. Przedmiotem badań w laserach wielkiej mocy jest<br />
skalowalność generowanej mocy optycznej oraz optymalny dobór<br />
architektur skalowalnych.<br />
Krajowe zespoły badawcze (WAT, PW, IFPiLM, IF PAN, PWr<br />
i inne) biorą udział w kilku dużych Europejskich i międzynarodowych<br />
programach rozwojowych w zakresie techniki laserowej<br />
o zakresie globalnym. Te projekty zawierają np. ELI, HiPER, E-<br />
XFEL, FLASH i inne. Niektórzy badacze z kraju również współpracują<br />
z takimi wielkimi eksperymentami jak LIFE, NIF, ALMA<br />
itp.<br />
Projekt Ekstremalnej Infrastruktury Światła ELI dotyczy budowy<br />
systemu laserów eksawatowych generujących ultrakrótkie<br />
impulsy o czasie trwanie rzędu 10 fs i gęstości mocy powyżej 10 23<br />
W/cm 2 . Ten laser będzie używany do następujących celów: badanie<br />
interakcji promieniowania o ekstremalnej gęstości z materią,<br />
generacji cząsteczek naładowanych o dużej energii, generacji<br />
impulsów promieniowania rentgenowskiego, relatywistycznej<br />
kompresji impulsów optycznych w celu otrzymania intensywności<br />
rzędu 10 25 W/cm 2 oraz czasu trwania impulsów w zakresie attosekund<br />
i zeptosekund (10 -21 s).<br />
Projekt LaserLab Europe jest siecią naukową grupującą laboratoria<br />
posiadające infrastrukturę laserową – lasery impulsowe<br />
o dużej mocy. Celem działania sieci jest koordynacja wysiłków<br />
badawczych i wydatkowanych środków, aby uzyskać efekt synergii.<br />
Adekwatna infrastruktura i tematyka badawcza podlegająca<br />
koordynacji jest: lasery attosekundowe i ich zastosowania, lasery<br />
wysokiej mocy i średniej energii, laserowa akceleracja cząstek, lasery<br />
w medycynie, femtosekundowe źródła promieniowania X itp.<br />
Projekt HiPER dotyczy konstrukcji Europejskiej infrastruktury<br />
laserowej do celu fuzji termonuklearnej i badania ekstremalnych<br />
stanów materii. Głównym celem jest budowa demonstratora technologii<br />
zdolnego do produkcji energii z fuzji deuteru i trytu do helu.<br />
Jest to reakcja wysoce egzotermiczna. Projekt HiPER jest komplementarny<br />
do projektu ITER, który stosuje w tym celu nadprzewodzący,<br />
impulsowy tokamak plazmowy. System testowy do badania<br />
fuzji składa się z dwóch laserów: wielowiązkowego lasera<br />
nanosekundowego o energii rzędu 1 MJ oraz pikosekundowego<br />
lasera o energii 100 kJ i mocy 10 PW. Ten zestaw laserowy jest<br />
uzupełniony o badawczy laser femtosekundowy o mocy 1 TW.<br />
Laserowo indukowana fuzja termojądrowa jest przedmiotem<br />
intensywnych badań globalnych. W lipcu <strong>2012</strong>, po 15 latach prac<br />
nad budową eksperymentu NIF w laboratorium LLNF osiągnięto<br />
parametry krytyczne w systemie fuzyjnym z 192 wiązkami laserowymi.<br />
Parametry impulsu dostarczonego do tarczy DT były następujące:<br />
prawie 2 MJ energii światła UV oraz ponad 500 TW mocy<br />
szczytowej. Celem jest zapłon wodorowego paliwa fuzyjnego<br />
w warunkach laboratoryjnych oraz produkcja większej ilości energii<br />
niż dostarczona do tarczy. W czasie eksperymentu zapłonu,<br />
wodór w kapsule paliwowej musi być skompresowany do gęstości<br />
ponad 100 razy niż gęstość Pb. Centrum NIF jest obecnie w pełni<br />
operacyjne i przeprowadza eksperymenty związane z optymalizacją<br />
systemu zapłonowego. Alternatywnym eksperymentem<br />
w skali europejskiej jest LIFE (Laser Inertial Fusion Energy). LIFE<br />
prowadzi badania, między innymi, nad optyką odporną na wiązki<br />
o wielkim natężeniu światła.<br />
Projekt E-XFEL dotyczy budowy Europejskiego lasera rentgenowskiego<br />
typu FEL. Prekursorem tej wielkiej maszyny jest laser<br />
FLASH. Laser E-XFEL jest konstruowany w laboratorium DESY<br />
i początek jego działania jest przewidziany na 2013. Najkrótsza<br />
długość fali w modzie podstawowym będzie rzędu 50 pm. Efektywna<br />
praca tej maszyny jest przewidziana aż do piątej harmonicznej<br />
długości fali. Laser jest zasilany nadprzewodzącym liniakiem<br />
elektronowym o długości 3 km z wnękami niobowymi rezonansowymi<br />
typu TESLA pracującymi na częstotliwości 1,3 GHz. Rezonatory<br />
pracują z polem EM o natężeniu 35 MV/m pochodzącym<br />
z klistronów wielkiej mocy rzędu 10 MW. Projekt EuroFEL jest<br />
siecią naukową grupującą infrastruktury FEL w Europie. Sieć jest<br />
zgrupowana wokół największego europejskiego projektu E-XFEL<br />
ale gromadzi ośrodki FEL w Szwecji, Niemczech, Francji, Anglii,<br />
Włoszech itp.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 119
Główną ideą jest budowa sieci mniejszych maszyn FEL, które<br />
byłyby powiązane ze sobą pod względem komplementarnych<br />
celów badawczych i użytkowych. Sieć mniejszych maszyn FEL<br />
przygotowuje grupy użytkowników do nowatorskich eksperymentów,<br />
które będą możliwe na maszynie dużej. Spodziewane<br />
jest także, że sieć będzie multiplikować w sensie organizacyjnym<br />
i badawczym dostęp do maszyn FEL w Europie. Projekt<br />
PolFEL, jest z założenia częścią takiej właśnie sieci europejskiej,<br />
której celem jest budowa maszyn krajowych współpracujących<br />
w sposób komplementarny z maszyną E-XFEL. Przewidywana<br />
jest lokalizacja lasera POLFEL na terenie Narodowego Centrum<br />
Badań Jądrowych. Laser będzie pracował w modzie CW i impulsowym.<br />
Przestrajanie maszyny obejmuje zakres spektralny<br />
od THz do VUV.<br />
EuLasNet jest Europejską rozwojowo-biznesową siecią laserową<br />
zorganizowaną wewnątrz inicjatywy Eureka. Sieć gromadzi<br />
przedsiębiorstwa laserowe w Europie. Jest zorientowana na aplikacje<br />
laserów w badaniach, przemyśle, metrologii, medycynie,<br />
ochronie środowiska naturalnego, oraz zabezpieczeniu wartości<br />
o dużym znaczeniu kulturowym i innych podobnych. EuLasNet<br />
grupuje krajowe sieci laserowe. W Polsce adekwatną organizacją<br />
jest sieć PolLasNet. Polskie środowisko laserowe, naukowo-biznesowe<br />
jest zorganizowane w Klubie Laserowym. KL gromadzi<br />
obecnie około 100 ekspertów laserowych z takich środowisk jak<br />
uczelnie, PAN, instytuty resortowe, przemysł oraz agencje rządowe.<br />
Większość z członków Klubu jest zaangażowanych we współpracę<br />
międzynarodową, w ten sposób dodając istotną synergię<br />
do wzajemnej współpracy. Współpraca na tak szerokiej platformie<br />
eksperckiej ze znajomością odnośników międzynarodowych<br />
pozwala na dokładną wymianę wiedzy eksperckiej w dziedzinie<br />
techniki i nauki laserowej w kraju.<br />
Potencjał techniki laserowej<br />
120<br />
Potencjał badawczy w dziedzinie techniki laserowej w kraju jest<br />
znaczny, ale jego wykorzystanie jest ograniczone. W kraju istnieje<br />
około 20 większych zespołów badawczych aktywnych w obszarze<br />
techniki laserowej zlokalizowanych w centrach akademickich,<br />
instytutach resortowych oraz firmach, z których jedynie niektóre<br />
(nieliczne) posiadają oddziały badawcze. Niektóre z tych oddziałów<br />
prowadzą własne badania nad nowymi konstrukcjami i zastosowaniami<br />
laserów. Jedynie kilka z tych zespołów badawczych<br />
posiada większe możliwości naukowe oraz badawczy i techniczny<br />
potencjał. Większość z nich uczestniczy w europejskich programach<br />
infrastrukturalnych ramowych i posiada zaawansowaną<br />
współpracę międzynarodową. Prowadzone prace posiadają aktualny<br />
charakter, ale poza kilkoma wyjątkami, są to akcje o charakterze<br />
lokalnym i relatywnie niskim budżecie.<br />
Najważniejsze obszary tematyczne w dziedzinie technologii<br />
laserowych, o relatywnie większym finansowaniu, z zaangażowaniem<br />
zespołów krajowych to: technologia laserów półprzewodnikowych,<br />
lasery na ciele stałym i lasery gazowe, komponenty<br />
laserowe i kilka innych. W zakresie zastosowań laserów są aktywne<br />
następujące obszary badawcze: optyczny zegar atomowy,<br />
teledetekcja laserowa, bezpieczeństwo, monitorowanie i ochrona<br />
środowiska naturalnego, medycyna i kosmetyka oraz obróbka<br />
materiałów.<br />
Technologie laserowe w kraju podlegają systematycznemu<br />
rozwojowi. Aktywne zespoły wchodzą do ciągle nowych programów<br />
i sieci europejskich i uczestniczą w budowie Europejskiej<br />
Przestrzeni Badawczej w zakresie techniki laserowej. Uzyskują<br />
dostęp do dużej infrastruktury laserowej. Jak dotąd, próg budowy<br />
dużej infrastruktury laserowej, o wymiarach i ambicjach europejskich,<br />
w kraju nie został osiągnięty. Taka infrastruktura musi być<br />
połączona w sieć z infrastrukturą europejską. Wydaje się, że krajowe<br />
środowisko laserowe naukowo-przemysłowe mogłoby starać<br />
się stanowczo i efektywnie o jej budowę w kraju. Co najmniej<br />
kilka krajowych centrów naukowo-technicznych wydaje się być<br />
gotowych do podjęcia koordynacji inicjatyw i podołać znacznemu<br />
wysiłkowi budowy i utrzymania takiej infrastruktury. Budowa infrastruktury<br />
laserowej w Polsce jest ściśle związana z aktywnym<br />
uczestnictwem coraz większych krajowych zespołów w takich<br />
projektach, jak: ELI, HiPER, FLASH, E-XFEL, ALBA i podobnych.<br />
Jednym z najbardziej obiecujących projektów jest możliwość budowy<br />
lasera POLFEL. Nowoczesny part technologiczny może być<br />
zbudowany wokół takiej wielkiej maszyny prowadząc do rozwoju<br />
wielu gałęzi innowacyjnego przemysłu.<br />
Duża nowoczesna infrastruktura badawcza – w tym laserowa,<br />
spełnia w kraju kilka ważnych funkcji o charakterze lokalnym<br />
i globalnym. Ograniczając się jedynie do celów krajowych można<br />
wymienić: wzmocnienie krajowych centrów laserowych, kształcenie<br />
ekspertów o unikalnych specjalnościach i klasie europejskiej,<br />
kształcenie młodzieży, możliwość budowy parku technologicznego<br />
wokół dużej infrastruktury badawczej o unikalnym charakterze<br />
oraz wiele innych. Obowiązkiem środowiska naukowo-przemysłowego<br />
technologii laserowych jest czynienie starań o rozwój tej<br />
dziedziny w kraju w jak najszerszym zakresie, włączając w to budowę<br />
dużej infrastruktury badawczej. Celem takich okresowych<br />
zebrań środowiska jak Sympozjum Techniki Laserowej jest podsumowywanie<br />
dokonań w tej dziedzinie i przypominanie o tych<br />
obowiązkach.<br />
Literatura<br />
[1] Sympozjum Techniki Laserowej [http://www.stl.zut.edu.pl]<br />
[2] Gajda J., Romaniuk R.S.: Rozwój techniki laserowej w kraju. <strong>Elektronika</strong>,<br />
vol. 51, nr 4, 2010, str. 131–134.<br />
[3] Romaniuk R.S.: POLFEL – laser na swobodnych elektronach w Polsce.<br />
<strong>Elektronika</strong>, vol 51, nr 4, 2010, str 83–87.<br />
[4] Romaniuk R.S.: EuCARD i CARE – rozwój techniki akceleratorowej<br />
w Polsce. <strong>Elektronika</strong>, vol.49, nr 10, 2008, str 12–17.<br />
[5] Romaniuk R.: Manufacturing and characterization of ring-index optical<br />
fibers. Optica Applicata 31 (2), pp. 425–444 (2001).<br />
[6] Romaniuk R. et al.: Multicore single-mode soft-glass optical fibers.<br />
Optica Applicata 29 (1), pp. 15–49 (1999).<br />
[7] Dorosz J., Romaniuk R.: Fiber Optics Department of Biaglass Co.<br />
Twenty years of research activities. Optica Applicata 28 (4), pp. 267–<br />
291 (1998).<br />
[8] Dorosz J., Romaniuk R.: Multicrucible technology of tailored optical<br />
fibres. Optica Applicata 28 (4), pp. 293–322 (1998).<br />
[9] Romaniuk R.: Tensile strength of tailored optical fibres. Opto-electronics<br />
Review 8 (2), pp. 101–116 (2000).<br />
[10] Romaniuk R.: Capillary optical fiber – design, fabrication, characterization<br />
and application, Bulletin of the Polish Academy of Sciences:<br />
Technical Sciences 56 (2), pp. 87–102 (2008).<br />
[11] Romaniuk R. et al., Optical network and fpga/dsp based control system<br />
for free electon laser. Bulletin of the Polish Academy of Sciences:<br />
Technical Sciences 53 (2), pp. 123–138 (2005).<br />
[12] Dybko A. et al.: Assessment of water quality based on multiparmeter<br />
fiber optic probe, Sensors and Actuators, B: Chemical,.51 (1–3), pp.<br />
208–213 (1998).<br />
[13] Dybko A. et al.: Efficient reagent immobilization procedure for ionsensitive<br />
optomembranes, Sensors and Actuators, B: Chemical, 39<br />
(1–3), pp. 207–211 (1997).<br />
[14] Dybko A. et al.: Applications of optical fibres in oxidation-reduction titrations,<br />
Sensors and Actuators, B: Chemical, 29 (1–3), pp. 374–377<br />
(1995).<br />
[15] Dybko A. et al.: Polymer track membranes as a trap support for reagent<br />
in fiber optic sensors, Journal of Applied Polymer Sciences, 59<br />
(4), pp. 719–723 (1996).<br />
[16] Mukherjee B. et al.: Application of low-cost Gallium Arsenide lightemitting-diodes<br />
as kerma dosemeter and fluence monitor for highenergy<br />
neutrons, Radiation Protection Dosimetry, 126 (1– 4), pp.<br />
256–260 (2007).<br />
[17] Romaniuk R. et al.: Metrological aspects of accelerator technology<br />
and high energy physics experiments, Measurement Science and<br />
Technology, 18 (8), art.no.E01 (2008).<br />
[18] Fąfara P. et al.: FPGA-based implementation of a cavity field controller<br />
for FLASH and X-FEL, Measurement Science and Technology, 18<br />
(8), pp. 2365–2371 (2008).<br />
[19] Burd A. et al.: Pi of the sky – all-sky, real-time search for fast optical<br />
transients, New Astronomy, 10 (5), pp. 409–416 (2005).<br />
[20] Burd A. et al.: Pi of the sky’ – automated search for fast optical transients<br />
over the whole sky, Astronomische Nachrichten, 325 (6–8),<br />
p. 674 (2004).<br />
[21] Ackerman W. et al.: Operation of a free-electron laser from the<br />
extreme ultraviolet to the water window, Nature Photonics, 1 (6),<br />
pp. 336–342 (2007)<br />
[22] Czarski T. et al.: Superconducting cavity driving with fpga controller,<br />
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 568 (2),<br />
pp. 854–862 (2006).<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
[23] Czarski T. et al.: TESLA cavity modeling and digital implementation in<br />
fpga technology for control system development, Nuclear Instruments<br />
and Methods in Physics Research A, 556 (2), pp. 565–576 (2006).<br />
[24] Czarski T. et al.: Cavity parameters identification for TESLA control<br />
system development, Nuclear Instruments and Methods in Physics<br />
Research A, 548 (3), pp. 283–297 (2005).<br />
[25] Romaniuk R.S.: Petabit photonic internet, Photonics Letters of Poland,<br />
3 (2), pp. 91–93 (2011).<br />
[26] Obroślak P. et al.: Digital techniques for noise reduction in ccd detectors,<br />
Photonics Letters of Poland, 2 (3), pp. 134–136 (2010).<br />
[27] Romaniuk R.: Wilga photonics and web engineering 2010, Photonics<br />
Letters of Poland, 2 (2), pp. 55–57 (2010).<br />
[28] Romaniuk R.: Geometry design in refractive capillary optical fibers,<br />
Photonics Letters of Poland, 2 (2), pp. 64–66 (2010).<br />
[29] Romaniuk R.: Modal structure design in refractive capillary optical<br />
fibers, Photonics Letters of Poland, 2 (1), pp. 22–24 (2010).<br />
[30] Romaniuk R.: ‘The Photonics Letter of Poland’ A new peer-reviewed<br />
internet publication of the Photonics Society of Poland, Photonics<br />
Letters of Poland, 1 (1), pp. 1–3 (2009).<br />
[31] Kasprowicz G. et al.: CCD detectors for wide field optical astronomy,<br />
Photonics Letters of Poland, 1 (2), pp. 82–84 (2009).<br />
[32] Romaniuk R.: Wilga symposium on photonics applications, Photonic<br />
Letters of Poland, 1 (2), pp.46-48 (2009).<br />
[33] Romaniuk R.: POLFEL – A free electron laser in Poland, Photonics<br />
Letters of Poland, 1 (3), pp. 103–105 (2009).<br />
[34] Wolinski T.R., Romaniuk R.: Photonics Society of Poland established,<br />
Metrology and Measurement Systems 15 (2), pp. 241–245 (2008).<br />
[35] Romaniuk R.: Search for ultimate throughput in ultra-broadband photonic<br />
Internet, International Journal of Electronics and Telecommunications<br />
57 (4), pp. 523–528 (2011).<br />
[36] Romaniuk R.: Photonics and web engineering 2011, International<br />
Journal of Electronics and Telecommunications 57 (3), pp. 421–428<br />
(2011).<br />
[37] Romaniuk R.: Accelerator infrastructure in Europe EuCARD 2011,<br />
International Journal of Electronics and Telecommunications 57 (3),<br />
pp. 413–419 (2011).<br />
[38] Dorosz J., Romaniuk R.: Development of optical fiber technology in<br />
Poland, International Journal of Electronics and Telecommunications<br />
57 (2), pp. 191–197 (2011).<br />
[39] Romaniuk R.: Advanced photonic and electronic systems Wilga<br />
2010, International Journal of Electronics and Telecommunications<br />
56 (4), pp. 479–484 (2010).<br />
[40] Romaniuk R.: EuCARD 2010 accelerator technology in Europe, International<br />
Journal of Electronics and Telecommunications 56 (4), pp.<br />
485–488 (2010).<br />
[41] Wojcik W., Romaniuk R.: Development of optical fiber technology in<br />
Poland, International Journal of Electronics and Telecommunications<br />
56 (1), pp. 99–104 (2010).<br />
[42] Romaniuk R.S.: Wilga Photonics Applications and Web Engineering,<br />
January <strong>2012</strong>, Proc. SPIE 8454, art no 845401 (<strong>2012</strong>).<br />
[43] Romaniuk R.S.: Astronomy and Space Technologies, Photonics Applications<br />
and Web Engineering, Wilga May <strong>2012</strong>, Proc. SPIE 8454,<br />
art 845402 (<strong>2012</strong>).<br />
[44] Romaniuk R.S.: Accelerator Technology and High Energy Physics<br />
Experiments, Photonics Applications and Web Engineering, Wilga<br />
May <strong>2012</strong>, Proc. SPIE 8454, art 845403 (<strong>2012</strong>).<br />
[45] Romaniuk R.S.: Photon Physics and Plasma Research, Photonics<br />
Applications and Web Engineering, Wilga May <strong>2012</strong>, Proc. SPIE<br />
8454, art 845404 (<strong>2012</strong>).<br />
[46] Romaniuk R.S.: Optoelectronic Devices, Sensors, Communication<br />
and Multimedia, Photonics Applications and Web Engineering, Wilga<br />
May <strong>2012</strong>, Proc. SPIE 8454, art 845405 (<strong>2012</strong>).<br />
[47] Romaniuk R.S.: Biomedical, Artificial Intelligence and DNA Computing,<br />
Photonics Applications and Web Engineering, Wilga May <strong>2012</strong>,<br />
Proc. SPIE 8454, art 845406 (<strong>2012</strong>).<br />
[48] Romaniuk R.S.: Accelerator Science and Technology in Europe – Eu-<br />
CARD <strong>2012</strong>, Proc. SPIE 8454, art no. 845407 (<strong>2012</strong>).<br />
[49] Romaniuk R.S. Pozniak K.: Udział Politechniki Warszawskiej w programie<br />
CARE, <strong>Elektronika</strong>, vol. 46, nr 2–3, 2005, str 75.<br />
[50] Romaniuk R.S.: <strong>Instytut</strong> Systemów <strong>Elektronicznych</strong> w projektach<br />
CARE i EuCARD; Badania i zastosowania akceleratorów w Europie.<br />
<strong>Elektronika</strong>, vol 50, nr 8, 2009, str 157–162.<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 121
Stan aktualny i rozwój systemu INMARSAT<br />
dr hab. inż. Jerzy Czajkowski, prof. nadzw. Akademii Morskiej w Gdyni<br />
Satelitarny system INMARSAT jest nierozerwalnie związany ze<br />
Światowym Morskim Systemem Łączności Alarmowej i Bezpieczeństwa<br />
– GMDSS (Global Maritime Distress and Safety System)<br />
i od momentu jego powstania jego głównym zadaniem było<br />
polepszenie, tj. zwiększenie efektywności i niezawodności morskiej<br />
radiokomunikacji. W szczególności chodziło o podniesienie<br />
bezpieczeństwa i zapewnienie radiokomunikacji umożliwiającej<br />
szybkie i skuteczne alarmowanie. Dlatego też tworząc system<br />
GMDSS, jeden z obszarów morskich A3 [4] zdefiniowano jako<br />
akwen żeglugi w zasięgu satelitarnego systemu z wykorzystaniem<br />
satelitów geostacjonarnych nazwanego INMARSAT. System<br />
ten został w późniejszym czasie także wykorzystany w ruchomej<br />
służbie lądowej oraz aeronautycznej.<br />
Po ponad dwudziestu latach działania jako międzynarodowa<br />
organizacja, system INMARSAT w 2001 roku w wyniku prywatyzacji<br />
został przekształcony w organizację IMSO (International Mobile<br />
Satellite Organization) spełniając funkcje systemu GMDSS,<br />
jednak nazwa systemu jako całości pozostała niezmieniona.<br />
System INMARSAT składa się z trzech zasadniczych komponentów:<br />
– segmentu kosmicznego nadzorowanego przez INMARSAT,<br />
– naziemnych stacji lądowych LES (Land Earth Station), zwanych<br />
także CES (Coast Earth Stadion) nadzorowanych przez<br />
Administracje Morskie Państw będących sygnatariuszami IN-<br />
MARSAT-u,<br />
– oraz stacje statkowe SES (Ship Earth Station).<br />
Strukturę segmentu kosmicznego przedstawiono na rys. 1, gdzie<br />
na orbicie geostacjonarnej w odległości ok. 36000 km od równika<br />
usytuowane są satelity umożliwiające pokrycie radiokomunikacyjne<br />
czterech obszarów oceanicznych nazwanych: Obszar Wschodni<br />
Oceanu Atlantyckiego – (AOR-E – Atlantic Ocean Region East),<br />
Obszar Zachodni Oceanu Atlantyckiego – (AOR-W – Atlantic Ocean<br />
Region West), Obszar Oceanu Indyjskiego (IOR – Indian Ocean<br />
Region), Obszar Oceanu Spokojnego (POR – Pacific Ocean Region).<br />
Na rys. 2 przedstawiono obszary pokrycia radiowego, a na<br />
rys. 3 strukturę organizacyjną systemu INMARSAT.<br />
Rys. 1. Pokrycie Ziemi przez geostacjonarne satelity INMARSAT<br />
Rys. 2. Obszary pokrycia satelitów systemu INMARSAT<br />
Rys. 3. Struktura organizacyjna systemu INMARSAT (OCC – Operational Control Centre – Operacyjne Centrum Kontroli i Zarządzania, SCC<br />
– Satellite Control Centre – Centrum Zarządzania i Kontroli Satelitów, NCS – Network Coordination (Control) Station – Stacje Koordynacyjna/<br />
Zarządzająca, TT&C – Telemetry, Tracking Centre – Centrum Telemetrii i Śledzenia Satelitów, CES/LES – Coast/Land Earth Station – Nadbrzeżna/Lądowa<br />
Stacja Naziemna)<br />
122<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Jak wynika z rysunku 3, INMARSAT składa się z czterech niezależnych<br />
sieci telekomunikacyjnych w każdym z czterech obszarów<br />
oceanicznych. Każdy z nich zawiera geostacjonarnego satelitę<br />
operacyjnego, stacje statkowe SES, naziemne stacje lądowe<br />
LES oraz stację koordynacyjną NCS.<br />
Naziemne stacje lądowe LES zapewniają stacjom statkowym<br />
SES dostęp do naziemnych sieci telekomunikacyjnych oraz są<br />
odpowiedzialne za pracę kanału dostępu do wywołań.<br />
Stacje koordynacyjne NCS<br />
Stacja NCS odgrywa kluczową rolę w sieci i jest odpowiedzialna<br />
za koordynację i kontrolę dostępu do kanałów telekomunikacyjnych<br />
pomiędzy wszystkimi stacjami LES oraz SES w obrębie danej<br />
sieci zapewniając tym samym całkowitą łączność.<br />
Do głównych funkcji stacji NCS należą:<br />
− kontrola transmisji sygnałów we wszystkich rodzajach kanałów;<br />
− przetwarzanie połączeń: przydział częstotliwości dla kanałów<br />
SCPC (Single Channel Per Carrier) włączając w to transmisję<br />
i odbiór ramki oraz wyodrębnienie wiadomości sygnalizacyjnych;<br />
− sprawdzanie kanałów kontroli dostępu i sygnalizacji oraz żądania<br />
dostępu do kanału w niebezpieczeństwie.<br />
Swoje funkcje stacje NCS wykonują na podstawie kontraktu<br />
z konsorcjum INMARSAT. Spośród standardów INMARSAT: M,<br />
B, mini-M i Fleet obecnie wszystkie wykorzystują tę samą stację<br />
NCS w każdym z regionów oceanicznych. Centrum operacyjne<br />
OCC znajdujące się w siedzibie INMARSAT w Londynie prowadzi<br />
nadzór nad siecią każdego dnia 24 godziny na dobę. OCC<br />
utrzymuje kontakt poprzez dedykowane satelity oraz łącza naziemne<br />
ze stacjami NCS i MES (Mobile Earth Station) w każdym<br />
regionie oceanicznym.<br />
Stan aktualny systemu INMARSAT w przedziale<br />
czasowym od 1 października 2010 r. do<br />
listopada 2011 r.<br />
Segment kosmiczny<br />
Satelity operacyjne:<br />
− obszar wschodniej części Oceanu Atlantyckiego (AOR-E)<br />
– usytuowanie satelity na orbicie geostacjonarnej (a właściwie<br />
punktu podsatelitarnego satelity na równik) 15,5°W – satelita<br />
INMARSAT-3 – F2,<br />
− obszar zachodniej części Oceanu Atlantyckiego (AOR-W)<br />
– usytuowanie satelity na orbicie geostacjonarnej 53°W – satelita<br />
INMARSAT-3 – F4,<br />
− obszar Oceanu Indyjskiego – usytuowanie satelity na orbicie<br />
geostacjonarnej 64,5°E – satelita INMARSAT-3 – F1,<br />
− obszar Pacyfiku – usytuowanie satelity na orbicie geostacjonarnej<br />
178°E – satelita INMARSAT-3 – F3.<br />
Jako satelity zapasowe wykorzystywane są satelity stosowane<br />
dla obsługi usług innych niż serwisy dla systemu GMDSS<br />
i mogą być szybko uruchomione dla obsługi INMARSAT-u<br />
w przypadku awarii jednego z przedstawionych powyżej satelitów<br />
operacyjnych.<br />
Dostępność wszystkich rodzajów funkcji jakie INMARSAT oferuje<br />
dla systemu GMDSS, włącznie z alarmowaniem w niebezpieczeństwie,<br />
koordynacją działań poszukiwawczo-ratowniczych<br />
(SAR), transmisją informacji niezbędnych dla bezpieczeństwa<br />
żeglugi (MSI) oraz radiokomunikacji ogólnej w opisywanym przedziale<br />
czasowym przedstawiono w tab.1.<br />
Tab.1. Dostępność komunikacyjna w systemie INMARSAT<br />
Segment<br />
kosmiczny<br />
AOR-E IOR POR AOR-W<br />
100,0000% 99,9992% 99,8191% 100,0000%<br />
INMARSAT-B/F77 100,0000% 100,0000% 99,8301% 100,0000%<br />
INMARSAT-C 100,0000% 100,0000% 99,9172% 100,0000%<br />
Przedstawione liczby ilustrują efektywność i niezawodność<br />
wszystkich zasadniczych składowych dla systemu GMDSS<br />
i mogą być miarą dostępności dla połączeń w tym systemie<br />
łącznie z radiokomunikacją ogólną. Wyniki badań zamieszczonych<br />
w tabeli 1, wykazują iż dostępność do kanałów komunikacyjnych<br />
w istniejących standardach INMARSAT-u w badanym<br />
przedziale czasu jest bardzo dobra. Wyjątek stanowi obszar<br />
pokrycia satelitarnego INMARSAT-u w rejonie Pacyfiku, co wynikało<br />
z ograniczonej dostępności w ciągu jednego dnia w październiku<br />
2011 roku.<br />
Z tabeli 1 wynika, iż w odniesieniu do standardu INMARSAT-<br />
C, który jest obecnie uważany za podstawowy dla komunikacji<br />
i usług dla GMDSS, zarówno jeśli chodzi o możliwości alarmowania<br />
w niebezpieczeństwie, komunikacji koordynacyjnej dla<br />
działań służb SAR, rozpowszechnianie informacji niezbędnych<br />
dla bezpieczeństwa żeglugi (MSI) – nie zanotowano braku dostępności<br />
w żadnym z obszarów pokrycia satelitarnego AOR-E,<br />
AOR-W oraz IOR. Dotyczy to również standardu INMARSAT-B,<br />
INMARSAT-Fleet77, które również zapewniają realizację radiokomunikacji<br />
ogólnej.<br />
Stacje lądowe INMARSAT-u (Land Earth Station)<br />
realizujące komunikację GMDSS-u<br />
Na koniec 2011 roku, globalnie na wszystkich kontynentach usytuowane<br />
są naziemne lądowe stacje INMARSAT-u (LES), które<br />
obsługują poszczególne standardy terminali statkowych, i tak:<br />
− standard cyfrowy INMARSAT-u B oraz M – 76 stacji<br />
− standard cyfrowy INMARSAT-u Fleet77 – 66 stacji<br />
− standard INMARSAT-u C – 37 stacji.<br />
Stacje te umożliwiają dostęp międzynarodowym, lądowym<br />
sieciom telekomunikacyjnym do kanałów satelitarnych realizując<br />
komunikację niezbędną dla usług GMDSS-u, tj. telefoniczną, teleksową,<br />
e-mailową i transmisję danych.<br />
Przedstawiona liczba naziemnych lądowych stacji obsługi jest<br />
wystarczająca, aby zapewnić niezawodną pracę w każdym z istniejących<br />
standardów INMARSAT-u, obsługując segment kosmiczny<br />
i lądowy, zapewniając realizację łączności w niebezpieczeństwie,<br />
jak również rozgłaszanie informacji niezbędnych dla<br />
bezpieczeństwa żeglugi.<br />
Stacje statkowe (SES) INMARSAT-u<br />
Dane statystyczne uaktualnione na przełomie 2010 i 2011 roku<br />
wykazują, iż istnieje prawie 170000 ruchomych terminali spełniających<br />
wymagania systemu GMDSS, z czego więcej niż 139000<br />
terminali należało do standardów INMARSAT-C oraz mini-C.<br />
Wywołania dotyczące niebezpieczeństwa oraz<br />
pilności<br />
Wszystkie wywołania dotyczące alarmowania w niebezpieczeństwie<br />
oraz z priorytetem pilności, realizowane w przedziale od 1<br />
listopada 2010 r. do 31 października 2011 r., były zarejestrowane<br />
przez system i są wykazane w tabelach 2, 3 i 4.<br />
Tab. 2. Liczba wywołań alarmowych wykonanych w standardach INMAR-<br />
SAT-C oraz mini-C w relacjach statek-ląd<br />
AOR-E AOR-W IOR POR Total<br />
Nov 10 – Oct 11 411 216 309 196 1132<br />
Nov 09 – Oct 10 384 318 507 402 1117<br />
Tab. 3. Liczba wywołań z priorytetem – DISTRESS wykonanych w standardach<br />
INMARSAT-C oraz mini-C w relacjach ląd-statek<br />
AOR-E AOR-W IOR POR Total<br />
Nov 10 – Oct 11 205 87 587 868 1747<br />
Nov 09 – Oct 10 316 150 1074 1805 3345<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 123
Tab. 4. Liczba priorytetowych wywołań przeprowadzonych przez standard<br />
INMARSAT-F-77 w relacji statek-ląd<br />
Priorytet AOR-E AOR-W IOR POR<br />
Total<br />
(ubiegły<br />
rok)<br />
Bezpieczeństwo 44 26 55 37 162 (200)<br />
Pilność 158 103 193 105 559 (569)<br />
Alarm 105 31 78 22 236 (186)<br />
Podsumowując przedstawione wyniki można stwierdzić, że:<br />
− w odniesieniu do liczby wywołań alarmowych przeprowadzonych<br />
z wykorzystaniem standardu INMARSAT-C w obszarach<br />
AOR-E oraz AOR-W jest ona w zasadzie na tym samym poziomie<br />
jak w roku poprzednim, natomiast w obszarze POR widać<br />
znaczne zmniejszenie;<br />
− liczba wywołań priorytetowych w standardzie INMARSAT-<br />
Fleet77 znajduje się też na podobnym poziomie, jak notowane<br />
w latach poprzednich;<br />
− bardzo mała liczba wywołań alarmowych notowanych z wykorzystaniem<br />
INMARSAT-B we wszystkich obszarach pokrycia<br />
satelitarnego prawdopodobnie wynika z przekonania, iż<br />
system INMARSAT-B powoli kończy zapowiadaną przez<br />
INMARSAT działalność, która według danych systemu, ma dobiegać<br />
końca w grudniu 2014 r.<br />
Wiadomości transmitowane w serwisie SafetyNET<br />
Serwis Safety NET działający w ramach systemu Rozszerzonego<br />
Wywołania Grupowego – EGC (Enhanced Group Call) jest<br />
odpowiedzialny za transmisję Morskich Informacji niezbędnych<br />
do prowadzenia bezpiecznej żeglugi – MSI (Maritime Safety Information)<br />
– z wykorzystaniem standardu INMARSAT-C. Transmitowane<br />
w tym systemie informacje są przygotowywane przez<br />
autoryzowane źródła informacji, do których należą koordynatorzy<br />
obszarów NAVAREA oraz METAREA oraz niektóre Centra<br />
Koordynacji Ratownictwa. W 2008 r. IMO rozszerzyło liczbę<br />
16 takich obszarów – na które w momencie tworzenia systemu<br />
GMDSS podzielono obszary morskie świata – do 21, ustanawiając<br />
pięć nowych obszarów NAVAREA obejmujących obszary<br />
Morza Arktycznego.<br />
Większość komunikatów i informacji jest dostarczanych i firmowanych<br />
przez Międzynarodową Organizację Hydrograficzną<br />
– IHO (International Hydrographic Organization) oraz Światową<br />
Organizację Meteorologiczną – WMO (World Meteorological Organization).<br />
Liczba wiadomości transmitowanych przez serwis SafetyNET<br />
w obszarze światowym podlega fluktuacjom w zależności od sezonu,<br />
lecz średnio liczba informacji wydawanych w każdym miesiącu<br />
jest rzędu 28 do 30 tysięcy.<br />
Rozwój systemu INMARSAT<br />
Po umieszczeniu satelitów trzeciej generacji I-3, INMARSAT<br />
przy współpracy międzynarodowej rozpoczął międzynarodowy<br />
program budowy satelitów czwartej generacji. INMARSAT<br />
zakończył proces pozycjonowania swoich satelitów na orbicie<br />
GEO w celu optymalnej pracy całej sieci. Obecnie rozmieszczenie<br />
satelitów I-4 dostarcza szerokopasmowe usługi mobilne na<br />
Rys. 4. Podział obszaru Ziemi na „wiązki regionalne – wide beam”<br />
Rys. 5. Podział Obszaru Ziemi na „wiązki punktowe – spot beam”<br />
obszarze zamieszkałym przez 98% ludzkości (85% powierzchni<br />
kontynentalnej) oraz na większości powierzchni oceanicznej.<br />
Każdy satelita I-4 może generować 19 szerokich wiązek regionalnych<br />
(rys. 4) oraz ponad 254 wąskie wiązki punktowe (rys. 5).<br />
Wiązki te mogą być szeroko rekonfigurowane i mogą koncentrować<br />
się w dowolnym miejscu na Ziemi tak, aby zapewnić dodatkową<br />
przepustowość tam, gdzie jest to wymagane. Satelita I-4<br />
w porównaniu ze swoim poprzednikiem I-3 dysponuje 60-krotnie<br />
większą pojemnością dzięki antenom o wiązkach regionalnych<br />
i punktowych. Odbiorniki satelity są też 25-krotnie bardziej czułe,<br />
a efektywność widmowa satelity jest 12-krotnie większa.<br />
Literatura<br />
[1] Analysis and assessment of the GMDSS performance of Inmarsat<br />
Global Limited Sub-Committee on Radiocommunications and Search<br />
and Rescue, January <strong>2012</strong>, London.<br />
[2] Czajkowski J.: Standard cyfrowy INMARSAT-B kończący erę standardu<br />
B, Przegląd Telekomunikacyjny i Wiadomości Telekomunikacyjne,<br />
nr 12/2007.<br />
[3] Czajkowski J.: Inmarsat Fleet77 i F55, Przegląd Telekomunikacyjny<br />
i Wiadomości Telekomunikacyjne, nr 2–3/2009.<br />
[4] Czajkowski J., Korcz K.: Dziesięciolecie systemu GMDSS w świetle<br />
obrad Podkomitetu IMO-COMSAR, <strong>Elektronika</strong>, nr 5/2009.<br />
[5] Global Maritime Distress and Safety System – Admiralty List of Radio<br />
Signals, Vol. 5, 2010/11, U.K.<br />
[6] Inmarsat Maritime Handbook, London 2010, Issue 4.<br />
www.sigma-not.pl<br />
Największa baza artykułów technicznych online!<br />
124<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
SeeYou – przełom w świecie niewidomych<br />
Na świecie żyje 285 milionów osób, które mają problemy ze wzrokiem.<br />
Spośród nich 39 milionów to osoby niewidome. Statystyki<br />
wskazują, że większość niewidomych utraciła wzrok na pewnym<br />
etapie swego życia (choroba, wypadek). Upośledzenie tak ważnego<br />
zmysłu zdecydowanie obniża komfort bytowania, wydatnie<br />
ograniczając aktywność.<br />
Przy projekcie SeeYou pracowało wiele osób niewidomych<br />
i słabowidzących, dzięki czemu przygotowano rozwiązania dopasowane<br />
do ich realnych potrzeb. SeeYou Phone stał się prawdziwą<br />
rewolucją – tłumaczy Paweł Urbański, niewidomy alpinista, biorący<br />
udział w testach SeeYou Phone podczas wdrażania projektu.<br />
Rozwiązania oferowane w ramach całego przedsięwzięcia<br />
SeeYou obejmują:<br />
● SeeYou Phone – pierwszy na świecie smartfon w całości obsługiwany<br />
głosowo, przystosowany do potrzeb osób niewidomych<br />
i słabowidzących,<br />
● SeeYou Mobile – sieć komórkową uzupełnioną m.in. o usługę<br />
osobistego asystenta,<br />
● SeeYou Platform – system operacyjny, zastosowany w SeeYou<br />
Phone, umożliwiający przekształcenie określonych modeli<br />
telefonów z systemem Android w obsługiwane wyłącznie za<br />
pomocą głosu,<br />
● SeeYou Apps – wybrane aplikacje, wchodzące w skład<br />
SeeYou Platform, które pozwalają na udźwiękowienie konkretnych<br />
funkcji telefonu.<br />
Fundamentem SeeYou Phone jest system operacyjny Android<br />
stosowany w smartfonach Samsung Google Nexus. Zmiany<br />
wprowadzone w ramach projektu sprawiły, że wszystkie funkcje<br />
nowego smartfona, takie jak:<br />
● obsługa książki adresowej, SMS,<br />
● korzystanie z kalendarza i notatek głosowych,<br />
● obsługa Internetu, portali społecznościowych, poczty e-mail,<br />
● nawigacja piesza GPS,<br />
● lupa elektroniczna z systemem odczytu tekstu<br />
mogą być obsługiwane również za pomocą głosu. Proces ten odbywa<br />
się w chmurze za pośrednictwem rozwiązań internetowych,<br />
dzięki czemu nie obciąża systemu i pozwala na szybką analizę<br />
danych. Urządzenie współpracuje z zestawem słuchawkowym,<br />
dzięki czemu użytkownik może zachować prywatność „rozmawiając”<br />
z telefonem.<br />
Atrakcyjnym uzupełnieniem SeeYou Phone jest SeeYou<br />
Mobile, czyli wirtualny operator komórkowy, który umożliwia<br />
nie tylko wygodną komunikację – w pakiecie oferuje również<br />
wiele innych opcji, które ułatwią funkcjonowanie osobom słabowidzącym<br />
i niewidomym m.in.:<br />
● opiekę prywatnego asystenta, który może np. zarezerwować<br />
wizytę u lekarza, kupić bilety do kina, zamówić prezent, znaleźć<br />
i zarezerwować bilet na pociąg lub samolot.<br />
● ubezpieczenie telefonu i polisę OC<br />
● bezpłatne aktualizacje systemu<br />
● wsparcie techniczne.<br />
W ramach opłaty abonamentowej użytkownik otrzymuje pakiet<br />
minut wymiennych na SMS-y oraz pakiet transferu danych. Działa<br />
na terenie całego kraju, a dzięki roamingowi może działać również<br />
zagranicą.<br />
Nie tylko dla niewidomych<br />
Rozwiązania oferowane przez SeeYou mogą być przydatne także<br />
osobom widzącym. W wielu sytuacjach, np. podczas prowadzenia<br />
samochodu, kiedy trzeba wybrać numer telefonu lub napisać<br />
SMS. Wybrane aplikacje, tzw. SeeYou Apps, są dostępne do pobrania<br />
pojedynczo, udźwiękowiając tylko poszczególne funkcje<br />
telefonu z systemem operacyjnym Android.<br />
Spojrzenie w przyszłość SeeYou<br />
Firma Humann SA zamierza wprowadzić swoje rozwiązania także<br />
na inne rynki, w pierwszej kolejności w Hiszpanii i krajach<br />
skandynawskich, a docelowo również w USA. Kolejnym etapem<br />
rozwoju SeeYou ma być udostępnienie funkcji, które będą wykraczać<br />
daleko poza możliwości oferowane przez telefony komórkowe.<br />
Trwają prace nad rozwiązaniami, które dzięki zintegrowanej<br />
kamerze umożliwią identyfikację twarzy przechodniów na ulicy<br />
i poinformują np. o zbliżaniu się znajomej osoby. Będą też analizować<br />
drogę i ostrzegać przed przeszkodami, powiedział Marcin<br />
Łapa, założyciel SeeYou.<br />
Idea telefonu-przewodnika zrodziła się z potrzeby serca –<br />
mama Marcina Łapy, założyciela SeeYou, jest osobą słabowidzącą.<br />
Przez lata nie mogła wysyłać SMS-ów. Tak powstał pomysł<br />
stworzenia telefonu, a następnie sieci komórkowej, których celem<br />
jest ułatwianie życia osobom z dysfunkcjami wzroku.<br />
Misją Humann SA jest tworzenie innowacyjnych rozwiązań<br />
technicznych poprawiających jakość funkcjonowania szerokich<br />
grup społecznych we współczesnym świecie. W centrum uwagi<br />
firmy jest człowiek, jego potrzeby i oczekiwania. To z myślą o nim<br />
Humann SA tworzy nowe rozwiązania, poszerzające ludzkie możliwości,<br />
przełamujące bariery i pozwalające osiągać cele, które<br />
dotąd pozostawały poza zasięgiem. (cr)<br />
Microsoft Windows 8<br />
Microsoft poinformował, że system nowy system operacyjny do<br />
komputerów osobistych Windows 8 jest już dostępny dla klientów<br />
w Polsce i na całym świecie. Od piątku 26 października, odbiorcy<br />
z całego świata mogą przekonać się o tym co oferuje nowa wersja<br />
najpopularniejszego na świecie systemu operacyjnego Windows:<br />
nowy interfejs użytkownika oraz szeroką gamę aplikacji ze sklepu<br />
Windows Store. Obecnie na rynku jest ponad 1000 urządzeń certyfikowanych<br />
do działania w systemie Windows 8.<br />
System Windows 8 jest dostępny w ponad 140 krajach, został<br />
przetłumaczony na 37 wersji językowych. Wersję ewaluacyjną –<br />
trial (na 90 dni) można nieodpłatnie pobrać z internetu, ze strony:<br />
http://msdn.microsoft.com/pl-pl/evalcenter/jj554510.aspx<br />
Windows 8 będzie dostępny w tradycyjnych kanałach sprzedaży<br />
w dwóch wersjach: Windows 8 i Windows 8 Pro. Wersja biznesowa<br />
– Windows 8 Enterprise – oferuje nowe funkcje zwiększające produktywność,<br />
takie jak Windows To Go, DirectAccess i BranchCache,<br />
a także ulepszone, kompleksowe zabezpieczenia wyposażone<br />
w dodatkowe funkcje jak BitLocker czy AppLocker. W tym samym<br />
dniu swoją premierę miał także Windows RT, nowy członek rodziny<br />
Windows, stworzony z myślą o urządzeniach opartych na architekturze<br />
ARM.<br />
Windows 8 oferuje nowy, szybki i płynny Ekran Startowy zapewniający<br />
błyskawiczny dostęp do aplikacji i treści, na których najbardziej<br />
zależy użytkownikom. Wyposażony jest również w nową<br />
przeglądarkę Internet Explorer 10, zaprojektowaną do obsługi dotykowej,<br />
a także wbudowany moduł łączności z chmurą w postaci<br />
dostępu do aplikacji SkyDrive i innych usług Live.<br />
Wszyscy zainteresowani najnowszą wersją Windows mogą<br />
skorzystać z oferty nowych urządzeń lub zaktualizować swoje dotychczasowe<br />
komputery. Do końca stycznia użytkownicy komputerów<br />
z oryginalnym systemem Windows XP, Windows Vista lub<br />
Windows 7 mogą zaktualizować swój system do Windows 8 Pro<br />
w cenie detalicznej 249 zł. Ponadto użytkownicy komputerów zakupionych<br />
od 2 czerwca <strong>2012</strong> r. do 31 stycznia 2013 r. w ponad 140<br />
krajach mogą pobrać Windows 8 Pro w ramach specjalnej oferty,<br />
dostępnej, w cenie 69 zł, pod adresem http://windowsupgradeoffer.<br />
com/pl-PL/home/programinfo.<br />
Na zakończenie tej, z konieczności krótkiej, relacji z premiery<br />
Windows 8 wypada dodać, że firma Microsoft radykalnie zmieniła<br />
politykę w stosunku do dziennikarzy pism elektronicznych. Od czasu<br />
premiery Windows 95 (rok 1995), a następnie Windows 98, Millenium,<br />
2000 i XP (rok 2002) redakcje pism zajmujących się elektroniką<br />
były zapraszane na premiery nowych produktów, a tradycją stało<br />
się przekazywanie dziennikarzom płyt CD z wersjami instalacyjnymi<br />
nowych produktów. Na ich podstawie powstawały artykuły omawiające<br />
szczegółowo nowe produkty firmy. Nowa polityka firmy rozpoczęła<br />
się od premiery Windows Vista. Ten produkt jak i następny<br />
– Windows 7 były wprowadzane bez powiadomienia pism elektronicznych.<br />
Na premierze Windows 8 był obecny przedstawiciel redakcji,<br />
ale wersja instalacyjna produktu nie zostala udostępniona. (cr)<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 125
Doc. dr inż. Tomasz Postupolski<br />
(1931 – <strong>2012</strong>)<br />
Wybitny naukowiec, organizator, wizjoner.<br />
Pracował w dziedzinie magnetyków, ale<br />
widział naukę holistycznie.<br />
Pożegnaliśmy Go w piękny wrześniowy dzień. Na<br />
Uroczystość Pożegnalną przybyli licznie wszyscy,<br />
którzy zdołali. Byłby zażenowany tak dużą uwagą poświęconą<br />
Jego osobie – był skromny. A nie powinien<br />
– był wybitny. Tu, na łamach specjalistycznego pisma,<br />
z którym był przez długie lata związany jako członek<br />
Rady Programowej, chcemy przypomnieć Jego dokonania<br />
zawodowe, a także Jego drogę życiową.<br />
Tomasz Włodzimierz Postupolski urodził się 7 czerwca<br />
1931 r. w Warszawie w rodzinie Jana i Zofii z Petersów.<br />
Dzieciństwo spędził w Warszawie. Jego ojciec<br />
– Jan Postupolski był urzędnikiem w Ministerstwie Rolnictwa<br />
i Reform Rolnych i autorem m.in. opracowań<br />
dotyczących reformy rolnej w Polsce. Uczestniczył<br />
w Kampanii Wrześniowej i najprawdopodobniej zginął<br />
na Wschodzie. Reszta rodziny pozostała w Warszawie<br />
i tu, podczas okupacji, Tomasz Postupolski ukończył<br />
szkołę podstawową, biorąc również udział w tajnych<br />
kompletach. Był też członkiem podziemnej organizacji<br />
harcerzy młodszych „Zawiszacy ”.<br />
Po upadku Powstania Warszawskiego, wraz z matką<br />
i młodszym bratem został wysiedlony z Warszawy.<br />
Po kilkuletniej tułaczce rodzina osiadła w Gdańsku.<br />
W 1950 r. zdał maturę w znanym gdańskim liceum “Topolówka”<br />
i rozpoczął studia na Politechnice Gdańskiej<br />
na Wydziale Elektrycznym. Dyplom inżynierski uzyskał<br />
w 1953 r. na Wydziale Łączności Politechniki Gdańskiej,<br />
który rok wcześniej wydzielił się z Wydziału Elektrycznego.<br />
W tym też roku spotkał go bolesny cios, zmarła<br />
Jego matka.<br />
Studia magisterskie rozpoczął na Politechnice<br />
Wrocławskiej, skąd dość szybko przeniósł się do Warszawy.<br />
Dyplom magisterski uzyskał w 1956 r. na Wydziale<br />
Łączności Politechniki Warszawskiej. W tym samym<br />
roku ożenił się z Marią Nawrot (zmarła w 2009 r.);<br />
mieli dwóch synów, Andrzeja i Jacka.<br />
Tomasz Postupolski przez większość swego zawodowego<br />
życia związany był z Zakładem Materiałów<br />
Magnetycznych Polfer. Pracę zawodową rozpoczął<br />
w 1955 r., jeszcze jako student, w zaczątkach<br />
Polferu tworzonych na terenie Zakładów Radiowych<br />
im. M. Kasprzaka przez grupę młodych entuzjastów<br />
pod kierunkiem jednego z nas, poniżej podpisanych.<br />
Grupa ta przeniosła się następnie do Zakładów<br />
Ceramiki Radiowej, a od 1 kwietnia 1956 r. rozpoczęła<br />
oficjalnie działalność jako Zakład Materiałów<br />
Magnetycznych Polfer. W Polferze pracował aż do<br />
chwili zakończenia działalności Zakładu w Warszawie<br />
w 1999 r. (w chwili obecnej istnieje nadal Zakład<br />
Podzespołów Indukcyjnych Polfer w Woźnikach k.<br />
Łosic, poprzednio filia Zakładu w Warszawie). Karierę<br />
zawodową w Polferze zakończył na stanowisku<br />
Dyrektora do spraw Badawczo-Rozwojowych, które<br />
piastował od roku 1991.<br />
W trakcie swej pracy w Polferze uzyskał stopień<br />
doktorski na Wydziale Elektroniki Politechniki Warszawskiej<br />
(1968 rok), gdzie następnie był wykładowcą<br />
w latach 1970–1982. Odbył też blisko roczny staż<br />
w Centrum Badań Nuklearnych w Saclay pod Paryżem<br />
(1968-1969) w ramach stypendium ONZ. Po<br />
otrzymaniu przez Polfer prawa do zatrudniania pracowników<br />
naukowych, uzyskał tytuł docenta, przyznany<br />
Mu przez Państwową Komisję do spraw Stopni<br />
i Tytułów Naukowych w 1978 r. na podstawie oceny<br />
Jego dorobku naukowego.<br />
Jego praca naukowo-badawcza w Polferze koncentrowała<br />
się w kilku obszarach.<br />
– Po pierwsze były to badania stabilności czasowej<br />
oraz odporności na różnorodne narażenia ferrytów<br />
i wykonanych z nich podzespołów magnetycznych.<br />
– Drugą ważną grupą tematów było badanie procesów<br />
magnesowania w ferrytach magnetycznie miękkich,<br />
w powiązaniu z ich strukturą ziarnistą i wynikającą<br />
z niej strukturą domenową. Rezultaty były rozpatrywane<br />
w odniesieniu do składu chemicznego badanych<br />
rdzeni ferrytowych, ich warunków wytwarzania<br />
oraz właściwości użytkowych rdzeni.<br />
– Trzecią, bardzo istotną grupę tematów, stanowiło<br />
opracowywanie metod pomiarów właściwości ferrytów<br />
i ogólnie – magnetyków, a także związane z tym<br />
prace normalizacyjne zarówno o zasięgu krajowym,<br />
jak i międzynarodowym.<br />
126<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>
Począwszy od 1970 r. Tomasz Postupolski był aktywnie<br />
działającym ekspertem 51. Komitetu Technicznego<br />
„Magnetyczne podzespoły i materiały ferrytowe”<br />
Międzynarodowej Komisji Elektrotechnicznej (IEC)<br />
w grupach roboczych WG1 „Rdzenie ferrytowe i proszkowe”<br />
i WG9 „Podzespoły indukcyjne”. W ramach tej<br />
współpracy uczestniczył w opracowaniu wielu norm<br />
międzynarodowych dotyczących oceny własności materiałów<br />
magnetycznych i wykonanych z nich podzespołów.<br />
Był m. in. przewodniczącym grupy zadaniowej<br />
powołanej w celu przeprowadzenia rewizji przestarzałej<br />
normy IEC 367-1 „Rdzenie do cewek i transformatorów<br />
dla telekomunikacji. Metody pomiarowe” (obecnie<br />
grupa trzech norm IEC 62044-1,-2,-3).<br />
Zapoczątkował też prace nad grupą norm dotyczących<br />
oceny nieregularności powierzchniowych, objętościowych<br />
i kształtu rdzeni ferrytowych. W ramach<br />
tych prac przygotował projekt podstawowej normy<br />
związanej z tematyką nieregularności, dotyczącej definicji<br />
ogólnych (norma IEC 60401-1).<br />
W latach 1995–1998 kierował współpracą zespołu<br />
badawczego, złożonego z pracowników Polferu,<br />
z międzynarodowymi konsorcjami naukowymi, pod<br />
przewodnictwem Uniwersytetów w Trento i Cagliari<br />
(Włochy). Konsorcja te były zawiązane w celu<br />
wspólnego wykonywania grantów finansowanych<br />
przez Komisję Europejską. Tematyka grantów dotyczyła<br />
przygotowania zaawansowanych metod oceny<br />
niedoskonałości powierzchniowych i wymiarowych<br />
rdzeni ferrytowych.<br />
Po zakończeniu pracy w Polferze w 1999 r., Tomasz<br />
Postupolski rozpoczął aktywną współpracę<br />
z <strong>Instytut</strong>em Technologii Materiałów <strong>Elektronicznych</strong>.<br />
Dotyczyła ona głównie tworzenia narzędzi<br />
wspomagających wykorzystanie dorobku instytucji<br />
naukowych w dziedzinie zaawansowanych materiałów<br />
elektronicznych przez małe i średnie przedsiębiorstwa.<br />
Projekt ten był realizowany przez wiele<br />
lat. W jego ramach utworzono konsorcjum ADMA<br />
(ADvanced MAterials), skupiające wiele polskich instytutów<br />
naukowych, działających w dziedzinie zaawansowanych<br />
materiałów elektronicznych. W ramach<br />
projektu stworzono portal internetowy ADMA,<br />
będący zalążkiem narzędzia wspomagającego<br />
współpracę nauki z przemysłem.<br />
Tomasz Postupolski był autorem ponad 150 publikacji<br />
w czasopismach naukowych i technicznych,<br />
krajowych i zagranicznych. Przygotował też rozdział<br />
„Inductor” w książce „Fundamentals of Circuits and Filters”,<br />
wchodzącej w skład wielotomowego zbioru „The<br />
Circuits and Filters Handbook” pod redakcją prof. Wai<br />
Kai Chen, CRC Press/IEEE. Zbiór ten miał do chwili<br />
obecnej trzy wydania (ostatnie w 2009 r.); do każdego<br />
z wydań przygotowywał nową, uaktualnioną wersję.<br />
Był przewodniczącym lub współprzewodniczącym<br />
czterech międzynarodowych konferencji dotyczących<br />
materiałów i podzespołów magnetycznych. Na wielu<br />
konferencjach międzynarodowych związanych z tą tematyką<br />
wygłaszał referaty zaproszone.<br />
Tomasz Postupolski był członkiem wielu organizacji<br />
naukowych i technicznych, krajowych i zagranicznych<br />
takich, jak:<br />
− Stowarzyszenie Elektryków Polskich (od 1963 r.),<br />
− IEC, 51. Technical Committee (od 1970 r.),<br />
− Sekcja Technologii Elektronowej Komitetu Elektroniki<br />
i Telekomunikacji Polskiej Akademii Nauk (od<br />
1978 r.),<br />
− IEEE, Magnetic Society (od 1989 r.),<br />
− American Ceramic Society (od 1990 r.),<br />
− Polskie Towarzystwo Stereologiczne (od 1990 r.),<br />
− The New York Academy of Sciences (od 1993 r.).<br />
Był też laureatem wielu nagród, m.in.:<br />
− Nagrody Państwowej 1. stopnia, przyznanej 12-<br />
osobowemu zespołowi z Polferu za osiągnięcia<br />
techniczne (1980 r.),<br />
− pierwszej nagrody za najlepszy artykuł w polskich<br />
czasopismach elektrycznych, przyznanej przez Stowarzyszenie<br />
Elektryków Polskich (1990 r.),<br />
− nagrody IEC, honorującej wybitne osiągnięcia ekspertów<br />
(2006 r.).<br />
Otrzymał również jedno z najwyższych odznaczeń<br />
przyznawanych przez Stowarzyszenie Elektryków Polskich<br />
– medal im. Profesora Janusza Groszkowskiego<br />
(1993 r.).<br />
Tomasz Postupolski był bardzo zaangażowany<br />
w pracę zawodową, traktując ją nieomal jako hobby.<br />
Zasadami, manierami tkwił w międzywojniu, ale Jego<br />
wizje sięgały daleko w XXI wiek. Starał się realizować<br />
je w teraźniejszości. Pokonywał przeszkody, bo zdawał<br />
się ich nie zauważać. Tak udawało się Mu zdobywać<br />
poparcie dla ważnych projektów. W wielu gremiach<br />
w sposób naturalny stawał się osobą wiodącą. Był<br />
przy tym skromny, życzliwy ludziom, pełen ciepła i dobroci,<br />
otwarty na sprawy innych. Był też człowiekiem<br />
z natury pogodnym i obdarzonym poczuciem humoru.<br />
Był osobą wyjątkową, a mimo to roztaczał aurę... normalności.<br />
Współpraca z Nim była przyjemnością, a przyjacielska<br />
atmosfera, którą tworzył, sprzyjała rozwojowi.<br />
Jego entuzjazm udzielał się osobom z Nim współpracującym.<br />
Intensywna praca pod Jego kierownictwem<br />
nie nużyła, gdyż poczucie uczestnictwa w pracach<br />
istotnych, ciekawych i często odkrywczych sprawiało<br />
ogromną satysfakcję.<br />
Jego odejście jest wielką stratą dla polskiej nauki<br />
stosowanej i dla nas osobiście. Dwaj z nas stracili<br />
kochającego ojca, trzeci bliskiego przyjaciela i współpracownika,<br />
dwie pozostałe przyjaciela i przewodnika<br />
w całej karierze zawodowej. Będzie nam Go bardzo<br />
brakowało.<br />
Aleksander Bragiński, Alina Wiśniewska,<br />
Elżbieta Okoniewska-Pszczółkowska oraz<br />
Andrzej i Jacek Postupolscy<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong> 127
Zaprenumeruj wiedz fachow<br />
2013<br />
WWW.SIGMA-NOT.PL<br />
Nasze czasopisma według branż<br />
Ceny (brutto) podstawowej wersji prenumeraty rocznej na 2013 r. Prenumerata PLUS* – należy doliczyć 59,04 zł brutto (48 zł netto) do ceny podstawowej prenumeraty.<br />
*Prenumerata PLUS to prenumerata w wersji papierowej + roczny dostęp (poprzez Portal Informacji Technicznej) do publikacji z zaprenumerowanego tytułu.<br />
Cena brutto tej prenumeraty zawiera stawkę 5 lub 8 % VAT na czasopisma w wersji papierowej i 23 % VAT na dostęp do Portalu.<br />
Przemysł<br />
Spożywczy<br />
Budownictwo<br />
<strong>Elektronika</strong>,<br />
Energetyka,<br />
Elektrotechnika<br />
Hutnictwo,<br />
Górnictwo<br />
Czasopisma<br />
Ogólnotechniczne<br />
Czasopisma<br />
Wielobranżowe<br />
Chłodnictwo<br />
(miesięcznik)<br />
327,60 zł<br />
Gazeta Cukrownicza<br />
(dwumiesięcznik)<br />
214,20 zł<br />
Gospodarka Mięsna<br />
(miesięcznik)<br />
282,00 zł<br />
Przegląd<br />
Gastronomiczny<br />
(miesięcznik)<br />
226,80 zł<br />
Przegląd Piekarski<br />
i Cukierniczy<br />
(miesięcznik)<br />
204,00 zł<br />
Przegląd<br />
Zbożowo-Młynarski<br />
(miesięcznik)<br />
315,00 zł<br />
Przemysł Spożywczy<br />
(miesięcznik)<br />
289,80 zł<br />
Przemysł Fermentacyjny<br />
i Owocowo-Warzywny<br />
128<br />
(miesięcznik)<br />
289,80 zł<br />
Ciepłownictwo,<br />
Ogrzewnictwo, Wentylacja<br />
(miesięcznik)<br />
302,40 zł<br />
Gaz, Woda<br />
i Technika Sanitarna<br />
(miesięcznik)<br />
302,40 zł<br />
Materiały Budowlane<br />
(miesięcznik)<br />
264,60 zł<br />
Przegląd Geodezyjny<br />
(miesięcznik)<br />
289,80 zł<br />
Szkło i Ceramika<br />
(dwumiesięcznik)<br />
151,20 zł<br />
Wokół Płytek<br />
Ceramicznych<br />
(kwartalnik)<br />
79,80 zł<br />
<strong>Elektronika</strong> – Konstrukcje,<br />
Technologie, Zastosowania<br />
(miesięcznik)<br />
378,00 zł<br />
Przegląd Elektrotechniczny<br />
(miesięcznik)<br />
480,00 zł<br />
Przegląd Telekomunikacyjny<br />
+ Wiadomości Telekomunikacyjne<br />
(miesięcznik)<br />
315,00 zł<br />
Wiadomości<br />
Elektrotechniczne<br />
(miesięcznik)<br />
340,20 zł<br />
Przemysł<br />
Lekki<br />
Przegląd Włókienniczy<br />
– Włókno, Odzież, Skóra<br />
(miesięcznik)<br />
327,60 zł<br />
Hutnik<br />
+ Wiadomości Hutnicze<br />
(miesięcznik)<br />
340,20 zł<br />
Inżynieria Materiałowa<br />
(dwumiesięcznik)<br />
346,50 zł<br />
Rudy i Metale<br />
Nieżelazne<br />
(miesięcznik)<br />
340,20 zł<br />
Przemysł<br />
Pozostały<br />
Gospodarka Wodna<br />
(miesięcznik)<br />
340,20 zł<br />
Przegląd Papierniczy<br />
(miesięcznik)<br />
276,00<br />
Przemysł Chemiczny<br />
(miesięcznik)<br />
541,80 zł<br />
Atest<br />
– Ochrona Pracy<br />
(miesięcznik)<br />
264,60 zł<br />
Maszyny, Technologie,<br />
Materiały – Technika<br />
zagraniczna<br />
(dwumiesięcznik)<br />
94,50 zł<br />
Problemy Jakości<br />
(miesięcznik)<br />
327,60 zł<br />
Przegląd Techniczny<br />
(dwutygodnik)<br />
270,40 zł<br />
Zakład Kolportażu<br />
Wydawnictwa SIGMA-NOT<br />
ul. Ku Wiśle 7, 00-707 Warszawa, tel. (22) 840 35 89, 840 30 86, faks (22) 891 13 74<br />
e-mail: kolportaz@sigma-not.pl<br />
Aura<br />
– Ochrona Środowiska<br />
(miesięcznik)<br />
201,60 zł<br />
Dozór Techniczny<br />
(dwumiesięcznik)<br />
163,80 zł<br />
Ochrona Przed Korozją<br />
(miesięcznik)<br />
441,00 zł<br />
Opakowanie<br />
(miesięcznik)<br />
226,80 zł<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong><br />
NOWOŚĆ!<br />
Prenumerata PLUS<br />
z dostępem do<br />
e-publikacji
Wydział Elektroniki<br />
i Technik Informacyjnych<br />
Politechnika Warszawska<br />
FOTONIKA I TECHNOLOGIE<br />
TERAHERCOWE<br />
Wydziałowe Centrum Badawcze<br />
www.foteh.elka.pw.edu.pl<br />
W ramach realizowanego na Wydziale Elektroniki i Technik Informacyjnych<br />
Politechniki Warszawskiej projektu FOTEH powstaje kompleks trzynastu laboratoriów<br />
badawczych, wyposażonych w nowoczesną aparaturę pomiarową i technologiczną,<br />
przygotowanych do podejmowania przedsięwzięć badawczych<br />
z wiodącymi w świecie ośrodkami naukowymi oraz innowacyjnymi przedsię -<br />
bior stwami polskimi i europejskimi.<br />
Fotonika Instrumentalna i Fotonika Scalona Spektroskopia Laserowa Materiałów<br />
Fotonicznych Fotonika Obrazowa Badania Materiałowe w Zakresie GHz oraz THz<br />
Projektowanie i Prototypowanie Układów Przetwarzania Informacji w Strukturach<br />
Programowanych Robotyka Biometria i Uczenie Maszynowe Telekomunikacyjna<br />
Sieć Fotoniczna Analiza Danych Obrazowych i Wizualizacja Danych Wsparcie<br />
Informatyczne Badań w Obszarze Fotoniki Fotoniczne Systemy Pomiarowo-Kontrolne,<br />
Technika Terahercowa Laboratorium Antenowe<br />
IV<br />
<strong>Elektronika</strong> 11/<strong>2012</strong>