Introducción a JTAG - Simposio Argentino de Sistemas Embebidos ...
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Test <strong>de</strong> ASICs<br />
De manera similar pue<strong>de</strong> testearse la lógica<br />
interna <strong>de</strong> los dispositivos<br />
Se inyectan vectores <strong>de</strong> test sobre las entradas<br />
<strong>de</strong>l diseño y se evalúan las salidas<br />
La lógica interna se<br />
mantiene aislada<br />
<strong>de</strong>l exterior<br />
Pue<strong>de</strong> usarse para<br />
verificación interna<br />
automática (BIST)