Sony SLT-A65V - SLT-A65V Consignes d’utilisation Polonais
Sony SLT-A65V - SLT-A65V Consignes d’utilisation Polonais
Sony SLT-A65V - SLT-A65V Consignes d’utilisation Polonais
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
Regulowanie jasnoœci obrazu<br />
Korekcja błysku<br />
Podczas fotografowania z lampą błyskową można wyregulować samo<br />
natężenie błysku, bez zmiany kompensacji ekspozycji. Możliwa jest<br />
tylko zmiana ekspozycji głównego obiektu, który znajduje się w<br />
zasięgu błysku.<br />
Przycisk Fn t (Korekcja błysku) t Wybór<br />
właœciwego ustawienia<br />
W stronę +: zwiększa natężenie błysku.<br />
W stronę –: zmniejsza natężenie błysku.<br />
Uwagi<br />
• Tej opcji nie można ustawić, gdy tryb ekspozycji jest ustawiony na AUTO,<br />
AUTO+, Rozległa panorama, Rozległa panorama 3D lub Wybór sceny.<br />
• Z uwagi na ograniczony strumień światła, efekt mocniejszego błysku może nie<br />
być zauważalny, jeżeli obiekt znajduje się poza zasięgiem lampy błyskowej.<br />
Jeżeli obiekt jest bardzo blisko, efekt słabszego błysku również może nie być<br />
zauważalny.<br />
Kompensacja ekspozycji i korekcja błysku<br />
Kompensacja ekspozycji zmienia czas otwarcia migawki, przysłonę i czułość<br />
ISO (gdy wybrane jest [AUTO]), aby dokonać kompensacji.<br />
Korekcja błysku zmienia jedynie ilość światła emitowanego podczas błysku.<br />
Reg.błysku<br />
Przycisk MENU t 2 t [Reg.błysku] t Wybór<br />
właœciwego ustawienia<br />
Błysk ADI<br />
Przedbłysk TTL<br />
W tej metodzie natężenie błysku jest regulowane z<br />
uwzględnieniem informacji o nastawionej ostrości i<br />
danych o pomiarze światła uzyskanych na podstawie<br />
przedbłysku. Ta metoda pozwala na dokładną korektę<br />
błysku z praktycznie pomijalnym efektem odbicia od<br />
obiektu.<br />
W tej metodzie natężenie błysku jest regulowane tylko z<br />
uwzględnieniem danych o pomiarze światła uzyskanych<br />
na podstawie przedbłysku. Ta metoda jest wrażliwa na<br />
odbicia od obiektu.<br />
132