pobierz katalog - PDF

system obróbki obrazu
QUICK IMAGE
system obróbki obrazu
QUICK SCOPE manualny
system obróbki obrazu
QUICK SCOPE CNC
system obróbki obrazu 3D CNC
QUICK VISION ELF
system obróbki obrazu 3D CNC
QUICK VISION APEX / HYPER QUICK VISION
QUICK VISION HYBRID
system obróbki obrazu 3D CNC
QUICK VISION ACCEL
system obróbki obrazu 3D CNC
ULTRA QUICK VISION
systemy UMAP VISION
M-NanoCoord
Systemy obróbki obrazu
423
strona 424
strona 425
strona 425
strona 426
strony 426–427
strona 427
strona 428
strona 429
strona 430

system obróbki obrazu QUICK IMAGE
Duża głębia ostrości, ekstra duże pole widzenia, włącznie z oprogramowaniem.
• Podwójny system telecentryczny
Dzięki dużemu zakresowi głębi ostrości można prosto i bez ponownego ogniskowania
zmierzyć detale o różnorodnej wysokości lub stopniowanej powierzchni, na przykład części
toczone lub narzędzia skrawające.
• Ekstra duże pole widzenia
Pole widzenia 32 x 24 mm pozwala na całkowite wykrycie małych detali w jednym spojrzeniu –
do szybkich, prostych i automatycznych pomiarów.
• Seryjne oprogramowanie
Wygodne powtórzeniowe, programowalne przebiegi pomiarowe jak również duża prędkość
analizy dzięki zintegrowanemu oprogramowaniu QIPAK. Dla uzyskania najlepszych wyników
z różnorodnych analiz i jakości.
• Do połączenia z Desktop-PC lub Notebook.
QI-A2010B
QI-B4020B
Model QI-A505B QI-A1010B QI-A2010B QI-A2017B QI-A3017B QI-A4020B
Powiększenie 0,2 x 0,2 x 0,2 x 0,2 x 0,2 x 0,2 x
Model QI-B505B QI-B1010B QI-B2010B QI-B2017B QI-B3017B QI-B4020B
Powiększenie 0,5 x 0,5 x 0,5 x 0,5 x 0,5 x 0,5 x
Zakres pomiarowy X, Y (mm) 50 x 50 100 x 100 200 x 100 200 x 170 300 x 170 400 x 200
Z (mm) 25 100 100 100 100 100
Tryb pomiarowy tryb wysokiej rozdz. i tryb normalny
Odchylenie
długości
w obrazie QI-A: ± 5 µm (tryb wysokiej rozdz.), ± 8 µm (tryb normalny)
QI-B: ± 2,7 µm (tryb wysokiej rozdz.), ± 4 µm (tryb normalny)
(U1 xy) ± (5 + 0,08L) µm L = w mm
Kamera 1,3 Mega-Pixel 1 /2” kamera
System optyczny odstęp roboczy 90 mm
ostrość tryb wysokiej rozdz.: ± 0,6 mm,
tryb normalny: ± 11 mm (± 1,8 mm) ( ): QI-B
Oświetlenie LED - światło przechodzące, światło halogenowe współosiowe,
4 segmentowe światło pierścieniowe-LED
Max. masa detalu 5 kg 5 kg 10 kg 20 kg 20 kg 15 kg
424
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!

Dane techniczne
Rozdzielczość: 0,0001 mm
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): (3 + 2 L/100) µm
Powiększenie
na monitorze (17“): z obiektywem stałym 1 x:
42 x
z obiektywem stałym 2,5 x:
105 x
z obiektywem stałym 5 x:
210 x
z Powerzoom:
21 x do 147 x
Dane techniczne
Rozdzielczość: 0,0001 mm
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): (2,5 + 0,6 L/100) µm
Powiększenie
na monitorze (17“): z obiektywem stałym 1 x:
42 x
z obiektywem stałym 2,5 x:
105 x
z obiektywem stałym 5 x:
210 x
z Powerzoom:
21 x do 147 x
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
system obróbki obrazu QUICK SCOPE manualny
QUICK SCOPE manualny:
• Kompaktowy, przemysłowy przyrząd stołowy do łatwych, manualnych pomiarów pojedyńczych części.
Urządzenie ze stałym obiektywem:
• Bardzo precyzyjne obiektywy pomiarowe 1 x, 2,5 x i 5 x.
Urządzenie z Powerzoom:
• Programowalny „Powerzoom“ z automatycznym dopasowaniem natężenia światła i wielkości pixel.
QUICK SCOPE
Model Sterowanie Zakres
pomiarowy
X : Y : Z (mm)
system obróbki obrazu QUICK SCOPE CNC
QUICK SCOPE CNC:
• Przyrząd stołowy ze sterowaniem cyfrowym i dobrym stosunkiem ceny do wydajności. Idealny do
pomiarów małych i średnich serii.
Przyrząd ze stałym obiektywem:
• Bardzo precyzyjne obiektywy pomiarowe 1 x, 2,5 x i 5 x.
Przyrząd z Powerzoom:
• Programowalny „Powerzoom“ z automatycznym dopasowaniem natężenia światła i wielkości pixel.
QUICK SCOPE CNC
Odchylenie
długości
E1 (XY)
Obiektyw
stały
425
Obiektyw
Zoom
Światło
przechodz.
Światło
współosiow.
Światło Auto-
pierścien. fokus
QS-E 1020 manualne 200 : 100 : 150 (3 + 2,0 L/100) µm – – –
QS-L 1020AF manualne 200 : 100 : 150 (3 + 2,0 L/100) µm –
QS-L 1020Z manualne 200 : 100 : 150 (3 + 2,0 L/100) µm – –
QS-L 1020Z/AF manualne 200 : 100 : 150 (3 + 2,0 L/100) µm –
Model Sterowanie Zakres
pomiarowy
X : Y : Z (mm)
Odchylenie
długości
E1 (XY)
Obiektyw
stały
Obiektyw
Zoom
QS 200 CNC 200 : 200 : 100 (2,5 + 0,6 L/100) µm –
QS 250 CNC 200 : 250 : 100 (2,5 + 0,6 L/100) µm –
QS 200 Z CNC 200 : 200 : 100 (2,5 + 0,6 L/100) µm –
QS 250 Z CNC 200 : 250 : 100 (2,5 + 0,6 L/100) µm –
Światło
przechodz.
Światło
współosiow.
Światło Auto-
pierścien. fokus

system obróbki obrazu QUICK VISION ELF
Kompaktowy, przyrząd stołowy ze sterowaniem CNC przeznaczony do wydajnych,
przemysłowych pomiarów obróbki obrazu.
Wersja PT:
• światłowód halogenowy.
Wersja Pro:
• światłowód halogenowy.
• programowalne oświetlenie pierścionowe „4 segmentowe“-LED.
QUICK VISION ELF
system obróbki obrazu
QUICK VISION APEX / HYPER QUICK VISION
Stanowiskowy model do wymagających zadań w pomiarach przy wykorzystaniu technik
obróbki obrazu. Czterokolorowe współosiowe i pierścieniowe oświetlenie -LED.
QUICK VISION
Model Zakres pomiarowy Odchylenie długości
X : Y : Z (mm) E1 (XY)
QUICK VISION APEX
QVX 302 PRO 300 : 200 : 200 (1,5 + 0,3 L/100) µm
QVX 404 PRO 400 : 400 : 250 (1,5 + 0,3 L/100) µm
QVX 606 PRO 600 : 650 : 250 (1,5 + 0,3 L/100) µm
426
Model Zakres pomiarowy Odchylenie długości
X : Y : Z (mm) E1 (XY)
QVE 202 PRO 200 : 250 : 100 (2 + 0,3 L/100) µm
Model Zakres pomiarowy Odchylenie długości
X : Y : Z (mm) E1 (XY)
HYPER QUICK VISION
HQV 302 PRO 300 : 200 : 200 (0,8 + 0,2 L/100) µm
HQV 404 PRO 400 : 400 : 250 (0,8 + 0,2 L/100) µm
HQV 606 PRO 600 : 650 : 250 (0,8 + 0,2 L/100) µm
Dane techniczne
Rozdzielczość: 0,0001 mm
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): (2 + 0,3 L/100) µm
Dane techniczne
Rozdzielczość: 0,0001 mm (APEX),
0,00002 mm (HYPER)
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): 1,5 + 0,3 L/100 µm (APEX),
0,8 + 0,2 L/100 µm (HYPER)
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
Wskazówka: Produkty tej serii zostały wyposażone w system
zabezpieczeń rozpoznawania, negatywnie wpływających na system
pomiarowy, wibracji. Wywołanie systemu prowadzi do zatrzymania
przyrządu. Wskazana funkcja przyrządu może zostać wyłączona przez
serwis Mitutoyo, dzięki czemu nie dojdzie do przestojów.

Dane techniczne
Rozdzielczość: 0,0001 mm,
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): 1,5 + 0,3 L/100 µm,
Dane techniczne
Rozdzielczość: 0,0001 mm
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): od 2,5 + 0,4 L/100 µm
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
Wskazówka: Produkty tej serii zostały wyposażone w system
zabezpieczeń rozpoznawania, negatywnie wpływających na system
pomiarowy, wibracji. Wywołanie systemu prowadzi do zatrzymania
przyrządu. Wskazana funkcja przyrządu może zostać wyłączona przez
serwis Mitutoyo, dzięki czemu nie dojdzie do przestojów.
system obróbki obrazu
QUICK VISION STREAM PLUS
Pomiar ciągły szczegółów detalu.
Intensywne oświetlenie LED
Specyfikacja:
• Duża wydajność w pracy ciągłej dzięki pomiarowi optycznemu.
• Opcjonalnie Autofokus laserowy do szybkiego ogniskowania.
• Prędkość przesuwu max. 400 mm/s.
• Możliwość zaprogramowania zmiany powiększenia.
system obróbki obrazu QUICK VISION ACCEL
Urządzenie stanowiskowe ze stałym stołem pomiarowym o dużym przyśpieszeniu
i prędkości przesuwu. Dynamiczne rozwiązanie optymalizujące czas kontroli serii.
Wersja Pro:
• programowalne czterokolorowe oświetlenie pierścieniowe LED.
QUICK VISION ACCEL 808 PRO
Model Zakres pomiarowy Odchylenie długości
X : Y : Z (mm) E1 (XY)
QVSP 302 PRO 300 : 200 : 200 (1,5 + 0,3 L/100) µm
QVSP 404 PRO 400 : 400 : 250 (1,5 + 0,3 L/100) µm
QVSP 606 PRO 600 : 650 : 250 (1,5 + 0,3 L/100) µm
QVSP 302 PRO5 300 : 200 : 200 (1,5 + 0,3 L/100) µm
QVSP 404 PRO5 400 : 400 : 250 (1,5 + 0,3 L/100) µm
QVSP 606 PRO5 600 : 650 : 250 (1,5 + 0,3 L/100) µm
Model Zakres pomiarowy Odchylenie długości
X : Y : Z (mm) E2 (XY)
QVA 808 PRO 800 : 800 : 150 (2,5 + 0,4 L/100) µm
QVA 1212 PRO 1250 : 1250 : 100 (3,5 + 0,4 L/100) µm
QVA 1517 PRO 1500 : 1500 : 100 (3,5 + 0,4 L/100) µm
QVA 2021 PRO 2000 : 2000 : 100 (4,5 + 0,5 L/100) µm
427

system obróbki obrazu ULTRA QUICK VISION
Stacjonarny system z napędem CNC- i powietrznym ułożyskowaniem osi dla wysoko
postawionych wymagań w zakresie odchylenia długości, także przy kontroli seryjnej.
ULTRA QUICK VISION 350 PRO
Model Zakres pomiarowy Odchylenie długości
X : Y : Z (mm)
E1 (XY)
UQV 350 PRO 350 : 350 : 150 (0,3 + 0,1 L/100) µm
428
Dane techniczne
Rozdzielczość: 0,00001 mm
Odchylenie długości
(E1) przy 20 °C (XY): (0,3 + 0,1 L/100) µm
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
Wskazówka: Produkty tej serii zostały wyposażone w system
zabezpieczeń rozpoznawania, negatywnie wpływających na system
pomiarowy, wibracji. Wywołanie systemu prowadzi do zatrzymania
przyrządu. Wskazana funkcja przyrządu może zostać wyłączona przez
serwis Mitutoyo, dzięki czemu nie dojdzie do przestojów.

Sensor optyczny do pozycjonowania i obróbki
obrazu
Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
Wskazówka: Produkty tej serii zostały wyposażone w system
zabezpieczeń rozpoznawania, negatywnie wpływających na system
pomiarowy, wibracji. Wywołanie systemu prowadzi do zatrzymania
przyrządu. Wskazana funkcja przyrządu może zostać wyłączona przez
serwis Mitutoyo, dzięki czemu nie dojdzie do przestojów.
system obróbki obrazu UMAP VISION
Pomiar dotykowy ekstra małą końcówką do drobnych krawędzi
„UMAP 103“ umożliwia pomiar dotykowy ekstra małą końcówką bardzo wąskich otworów –
średnica kulki 30 µm – długość trzpienia 2 mm – stosunek dł. 66,7.
Sensor optyczny umżliwia powiększenie dowolnego miejsca detalu i jego pomiar przy
pomocy technik obróbki obrazu.
• Dzięki sensorowi optycznemu końcówka może łatwo i dokładnie pozycjonować trudno
rozpoznawalne okiem miejsca na detalu. W ten sposób sensor znalazł zastosowanie w
systemach obróbki obrazu.
Pomiar krawędzi poprzez Scanning dotykowy
• Sonda UMAP umożliwia pomiar detali o zwartych kształtach geometrycznych metodą punkt po
punkcie oraz poprzez Scanning.
0,2 mm
Ø 15 µm
UMAP101
Stylus
Ø 15 µm
2 mm
Ø 30 µm
UMAP103
Stylus
Ø 30 µm
5 mm
Ø 70 µm
UMAP107
Stylus
Ø 70 µm
System UMAP VISION HYPER 302 Typ 1
429
10 mm
Ø 100 µm
UMAP110
Stylus
Ø 100 µm
16 mm
Ø 300 µm
UMAP130
Stylus
Ø 300 µm

system obróbki obrazu M-NanoCoord
System obróbki obrazu w wymiarze 3-D dla zakresów pomiarowych Nano.
• Urządzenie podstawowe wyposażone w różne sensory (np. UMAP) do każdego zadania.
• Wysoka dokładność MPE: (0,3 + L/1000) µm.
• Duży zakres pomiarowy: 300 x 200 x 100 mm.
M-NanoCoord
System pomiarowy M-NanoCoord
Sensor systemu obróbki obrazu
(standard)
• Bardzo dokładny system optyczny
• Ogniskowanie wzorcowe
• Możliwość zaprogramowania
zmiany powiększenia (3 stopnie)
Long Range Nano Probe LNP
• Umożliwia bardzo dokładny pomiar
powierzchni z małym naciskiem pomiarowym
• Rozdzielczość osi X 0,25 mm (0,00025 µm)
• Nacisk pomiarowy 10 µN - 750 µN
430
+
M-NanoCoord
Sonda przełączająca UMAP
• Szczególnie mała średnica końcówek
(np. UMAP 103: średnica 30 µm)
• Powtarzalność: 3s
= 0,1 µm
Wskazówka: Produkty tej serii zostały wyposażone w system
zabezpieczeń rozpoznawania, negatywnie wpływających na system
pomiarowy, wibracji. Wywołanie systemu prowadzi do zatrzymania
przyrządu. Wskazana funkcja przyrządu może zostać wyłączona przez
serwis Mitutoyo, dzięki czemu nie dojdzie do przestojów.

Zapytajcie o nasze szczegółowe prospekty!
Software QIPAK, QSPAK, QVPAK
Zdziwiająca wielostronność a mimo to przyjazne dla użytkownika oprogramowanie
bazowe do system obróbki obrazu.
• Przemyślana budowa, praktyczne „narzędzia“ i doskonałe przedstawienie ekranu otwierają
zupełnie nowy wymiar efektywnych pomiarów. Z programem QIPAK, QSPAK i QVPAK można
samodzielnie planować kompleksowe przebiegi pomiarowe,kontrolować je i analizować.
Dzięki zintegrowanej pomocy Online nawet nie przeszkolony użytkownik bezproblemowo,
w przeciągu krótkiego czasu wejdzie w świat systemu obróbki obrazu.
MeasurLink
System obróbki
obrazu
MCOSMOS QVPAK QV 2
Pakiet programów
Moduł do statystycznego zarządzania danymi pomiarowymi oraz analizy i zapisu danych
pomiarowych.
QV CAD-IMPORT/EXPORT
Konwertuje dane z QVPAK do systemu CAD. Bezproblemowy import i export formatów
plików IGES i DXF.
QV EIO
Służy do komunikacji systemów QUICK VISION z programowalnymi, zewnętrznymi
kontrolerami.
QV EIO PC
Program do komunikacji między systemem QUICK VISION, a zewnętrznym komputerem
PC przez złącze RS-232 C.
QV PARTMANAGER
Program zarządzający paletami umożliwi kontrolę większej ilości,także różnorodnych
detali po koleji w jednym przebiegu pomiarowym. Podczas pomiaru następuje ocena
„na pierwszy rzut“.
PAGPAK
Generuje programy częściowe specjalnie do pomiaru otworów. Czyta dane CNC- lub NC
z frezarek lub wiertarek i korzysta z tych danych podczas kontroli.
EASYPAG
Używa danych IGES- lub DXF do tworzenia Offline programów częściowych.
FORMPAK-QV
Efektywny, prosty w obsłudze program do analizy i oceny kształtu.
QV GEARPAK
Moduły uzupełniające
Tworzy program częściowy do pomiaru kół zębatych -włącznie z modułem analizy
parametrów koła zębatego.
431