1.说明书下载（简体中文）

c):S1,S2=10 V3.0此 测 试 模 式 介 于 快 速 测 试 和 全 面 测 试 之 间 。 对 于 133M 正 式 版外 频 的 内 存 条 , 每 测 试 128M 约 需 要 30 秒 钟 。d):S1,S2=11此 模 式 用 来 进 行 电 脑 兼 容 性 测 试 。 主 要 针 对 内 存 条 在 操 作 系 统 下 的 稳 定 性 和 兼 容 性进 行 测 试 。3:5X8 显 示 阵 列 :5X8 显 示 阵 列 是 用 来 显 示 内 存 条 上 哪 颗 IC 是 坏 的 。 在 PCB 板 上 , 该 显 示 阵 列 右 边 标 有1,2,3,4 四 个 数 来 表 示 四 行 。 用 来 对 应 内 存 条 的 不 同 面 。 注 意 显 示 阵 列 中 间 一 行 没 有 使用 。 因 此 在 PCB 板 上 没 作 标 识 。a): 显 示 待 测 内 存 的 正 面待 测 内 存 的 正 面 用 第 2 行 来 表 示 , 用 来 代 表 内 存 正 面 的 8 颗 IC.( 注 意 : 对 于 SDR,内 存 的 正 面 是 指 内 存 PCB 上 标 有 1。。。84 这 一 面 , 见 图 示 )显 示 阵 列 (5X8 显 示 阵 列 第 2 行 )1 2 3 4 5 6 7 8其 中 1-8 与 经 过 编 排 后 的 内 存 IC 序 号 相 对 应 ( 内 存 IC 编 排 方 法 见 系 统 测 试 环 境 中的 IC 编 排 方 法 )。 假 如 某 内 存 编 排 后 顺 序 如 下 , 如 果 显 示 阵 列 第 3 盏 灯 亮 , 则 表 明 内 存上 序 号 和 3 对 应 的 第 4 颗 IC 出 错 。内 存 条 ( 正 面 )1 2 4 3 6 5 7 8Pin1 Pin10 Pin40 Pin84b): 显 示 待 测 内 存 的 背 面待 测 内 存 的 背 面 用 第 1 行 来 表 示 , 用 来 代 表 内 存 反 面 的 8 颗 IC.( 注 意 : 对 于 SDR,内 存 的 背 面 是 指 内 存 PCB 上 标 有 85。。。168 这 一 面 , 见 图 示 )显 示 阵 列 (5X8 显 示 阵 列 第 1 行 )1 2 3 4 5 6 7 8其 中 1-8 和 经 过 编 排 后 的 内 存 IC 序 号 相 对 应 ( 内 存 IC 编 排 方 法 见 系 统 测 试 环 境 中的 IC 编 排 方 法 )。 假 如 某 内 存 编 排 后 顺 序 如 下 , 如 果 显 示 阵 列 第 6 盏 灯 亮 , 则 表 明 内 存上 序 号 和 6 对 应 的 第 5 颗 IC 出 错 。内 存 条 ( 反 面 )1 2 4 3 6 5 7 8Pin85 Pin94 Pin124 Pin1682