SPECTRO iQ II - Interempresas

SPECTRO iQ II
Con un manejo simple y prestaciones analíticas
La Vía Rápida para Resultados Analíticos Precisos
excelentes, el analizador de fluorescencia de rayos-x
SPECTRO iQ II ofrece de forma rápida y precisa
resultados analíticos fiables para aplicaciones
exigentes en el control de procesos.

SPECTRO iQ II
La Vía Rápida para Resultados Analíticos Precisos
Colimador
Muestra
Fuente de Excitación
Cristal Bragg
El cristal curvado en el sistema óptico de polarización
Fuerza-C explota de manera óptima la salida de
radiación de tubo, consiguiendo una sensbilidad jamás
antes conseguida para los elementos Na, Mg, Al, Si, P,
S y Cl.
La sensibilidad, precisión y velocidad de un equipo analítico son de particular importancia en aplicaciones de control de
proceso industrial. El SPECTRO iQ ya fijó un estándar en este sentido. El nuevo SPECTRO iQ II mantiene este rumbo con
tecnologías mejoradas y un acercamiento hacia la simplicidad y disponibilidad en el funcionamiento.
Excitación
La combinación de un tubo de rayos-x de
baja potencia y el nuevo sistema óptico de
polarización Fuerza -C asegura la
excitación óptima de los elementos en la
muestra. El cristal HOPG de acoplamiento
próximo optimizado en forma y utilizado
para reflejar la excitación de la radiación
está localizado extremadamente próximo a
la muestra resultando de ello una mejora
significativa de prestaciones analíticas para
elementos ligeros tales como Na, Mg, Al,
Si, P, S y Cl. Para mejorar aún más las
prestaciones de los elementos ligeros la
cámara de muestreo puede ser evacuada
o barrida con Helio.
Presentación de Muestra
El SPECTRO iQ II está diseñado para
permitir el empleo de una nueva
generación de cubetas de muestra. Se
pueden posicionar de forma muy precisa,
contribuyendo a una mejora en la
precisión de la medición. Al analizar
líquidos, polvos o incluso pastillas
prensadas una ventana de seguridad
puede ajustarse a la cubeta para evitar la
contaminación del equipo. Un obturador
de haz de rayos X integrado permite que
las muestras puedan cambiarse con
seguridad sin desconectar el tubo de rayos
X, aumentando la fiabilidad, capacidad de
muestreo y prestaciones del equipo.
Detector
Se emplea un detector de deriva de silicio
excepcionalmente potente – derivado
tecnológicamente del equipo de alta gama
SPECTRO XEPOS. La elevada resolución y
a buena relación pico fondo son la base de
loa bajos límites de detección,
especialmente en matrices difíciles. Con la
elevada capacidad de proceso del conteo,
el operario se beneficia simultáneamente
de una excelente reproducibilidad y
exactitud con tiempos de medición cortos.
Análisis
Para muchas aplicaciones la precisión
cuando se miden elementos mayoritarios
y la sensibilidad para determinación de
elementos de traza posicionan al
SPECTRO iQ en el mismo nivel de
prestaciones que muchos de los
espectrómetros de fluorescencia rayos X
por energías dispersivas de longitudes de
onda. Las aplicaciones donde previamente
dominaban este tipo de equipos pueden
ser ahora realizadas empleando la
tecnología única de dispersión de energías
de SPECTRO. Utilizando un colimador de Pd
el SPECTRO iQ II es capaz de analizar bajos
niveles de concentración de elementos
como Zr y Mo. Con un tiempo de análisis
de unos pocos cientos de segundos,
puede determinar niveles de azufre en
fueles extremadamente bajos. Para un
amplio rango de procesos de producción
el SPECTRO iQ II ofrece prestaciones
analíticas excepcionales para números
atómicos bajos de elementos importantes.

Paquetes de aplicación
El SPECTRO iQ II se puede suministrar con
paquetes de aplicación preparados para
• Azufre ultrabajo en fueles
• Aditivos en Aceites
• Cemento y
• Escorias
Software
Claridad, simplicidad y enfoque: todas las
características del software SPECTRO iQ.
Solo la información que usted necesita
cuando la necesita es visualizada. Solo se
necesitan tres pasos para realizar una
medición, selección de método,
identificación de muestra y apretar el
botón “Start”. Los paquetes de aplicación
calibrados de fábrica cumpliendo normas
y estándares permiten la personalización
para cumplir los requisitos analíticos
individuales. Un método de aplicación
completamente personalizado se puede
desarrollar en cinco pasos simples con la
ayuda del guía de métodos. Si no hay
disponible información o patrones sobre el
contenido de la muestra, el método de
parámetros fundamentales opcional
puede utilizarse para realizar un análisis de
screeming.
Una mirada al nuevo interface de usuario
revela toda la información importante para
el manejo de rutina.

Especificaciones Técnicas
Excitación
Sistema de detección
• Tubo de ventana de rayos X con ánodo de
paladio.
• Refrigeración por aire.
• Potencia máxima 50 W
• Voltaje máximo 48 kV
• Óptica Fuerza-C, empleando un cristal HOPG
de doble curvatura.
• Detector de deriva de silicio con refrigeración
Peltier (=25ºC/-13ºF)
• Amplia area de detección activa
• Ventana de 8 µm de Moxtek Dura-Be
• Posiciones estables de pico y resolución
espectral hasta un conteo de entrada de
120 cps
• Relación pico fondo en la línea
MgKα >5000:1.
• Resolución de energía: FWHM