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c´alculo de la impedancia normalizada de una línea rgw

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R1LR2ZrefZiZrefS11Fig. 2. Línea <strong>de</strong> transmisión formada por líneas <strong>de</strong> transmisión con<strong>impedancia</strong>s diferentes.re<strong>la</strong>cionada con el ancho <strong>de</strong> <strong>la</strong> guía <strong>de</strong> referencia, W ref , y <strong>la</strong><strong>impedancia</strong> Z i <strong>de</strong>sconocida está re<strong>la</strong>cionada con el ancho <strong>de</strong><strong>la</strong> guía W (En este proceso <strong>la</strong> altura <strong>de</strong> <strong>la</strong> guía h no varíapara que <strong>la</strong> <strong>impedancia</strong> sólo <strong>de</strong>penda <strong>de</strong>l parámetro W ).R1R2Fig. 4. Método <strong>de</strong> MWO para obtener el valor <strong>de</strong> <strong>la</strong> <strong>impedancia</strong> <strong>de</strong> unbloque conociendo sus parámetros S.TABLE IIMPEDANCIAS DE LA GUÍA RGW PARA W ref = 2.87mm.Fig. 3.WrefWLWrefGuía RGW formada por líneas con diferente ancho <strong>de</strong> pista.En primer lugar, mediante un simu<strong>la</strong>dor electromagnéticocomo HFSS <strong>de</strong> Ansoft, se construyen tanto <strong>la</strong>s estructurasnecesarias para llevar a cabo <strong>la</strong> calibración TRL (through, liney reflect), como también <strong>la</strong> línea <strong>de</strong> <strong>la</strong> cual se quiere averiguarsu <strong>impedancia</strong> re<strong>la</strong>tiva. Seguidamente, se ejecuta el método <strong>de</strong>calibración para obtener los parámetros S <strong>de</strong> <strong>la</strong> línea y γ. Conlos parámetros obtenidos y <strong>la</strong>s ecuaciones (1) se obtiene elvalor <strong>de</strong> <strong>la</strong> <strong>impedancia</strong> <strong>normalizada</strong>. Otro modo <strong>de</strong> obtenerel valor <strong>de</strong> Z i /Z ref , mediante un simu<strong>la</strong>dor circuital comoMicrowave Office (MWO) <strong>de</strong> AWR, es colocar los parámetrosS obtenidos entre dos líneas cuya <strong>impedancia</strong> se pueda variar(Fig. 4). La <strong>impedancia</strong> que minimize el parámetro S 11 es <strong>la</strong><strong>impedancia</strong> Z i /Z ref que estamos buscando y <strong>de</strong>be coincidircon <strong>la</strong> obtenida <strong>de</strong> forma analítica mediante <strong>la</strong>s ecuaciones(1).Hay que <strong>de</strong>stacar que normalmente, <strong>la</strong> longitud <strong>de</strong> <strong>la</strong> line<strong>de</strong> un kit <strong>de</strong> calibración TRL tiene que cumplir <strong>la</strong> condiciónL < λ/2, aconsejándose un valor óptimo <strong>de</strong> L = λ/4 paraque el cálculo <strong>de</strong> γ sea válido. Teniendo en cuenta que <strong>la</strong>longitud <strong>de</strong> <strong>una</strong> célu<strong>la</strong> básica <strong>de</strong> <strong>la</strong> guía RGW es superiora λ/4, se ha preferido utilizar líneas <strong>de</strong> L > λ/4 formadaspor un número entero <strong>de</strong> célu<strong>la</strong>s básicas. Por este motivo, elmétodo <strong>de</strong> calibración empleado ha sido modificado para queAncho guía RGW (W) Impedancia <strong>normalizada</strong> (Z i /Z ref )0.5 mm 1.7161 mm 1.4921.5 mm 1.3242 mm 1.1782.5 mm 1.0802.87 mm 1.0003 mm 0.9824 mm 0.8385 mm 0.7305.74 mm 0.6606 mm 0.6527 mm 0.5808 mm 0.5229 mm 0.494funcione con cualquier longitud <strong>de</strong> line mientras cump<strong>la</strong> <strong>la</strong>restricción L ≠ nλ/2.III. RESULTADOSRealizando el método <strong>de</strong>scrito en el apartado anterior paraW ref = 2.87mm y h = 1mm, se obtiene <strong>la</strong> Tab<strong>la</strong> I. Comose observa en <strong>la</strong> tab<strong>la</strong>, cuando el ancho <strong>de</strong> <strong>la</strong> guía (W ) esigual al <strong>de</strong> referencia (W ref ), <strong>la</strong> <strong>impedancia</strong> <strong>normalizada</strong> esZ i /Z ref = 1, como era <strong>de</strong> esperar.Posteriormente se sigue el mismo procedimiento pero,en este caso, para diferentes anchos <strong>de</strong> referencia W ref ,obteniéndose <strong>la</strong> Fig. 5. Cabe <strong>de</strong>stacar que el eje <strong>de</strong> abcisas estánormalizado respecto a <strong>la</strong> altura <strong>de</strong> <strong>la</strong> guía (h). Las gráficas<strong>de</strong> <strong>la</strong> figura satisfacen <strong>la</strong> siguiente expresiónZ iZ ref= A + B ln (W/h) (2)


don<strong>de</strong> A y B son constantes, W es el ancho <strong>de</strong> pista y h es<strong>la</strong> altura <strong>de</strong> <strong>la</strong> guía. Observando el comportamiento rectilíneo<strong>de</strong> <strong>la</strong>s constantes A y B para los distintos anchos <strong>de</strong> referencia,se concluye que dichas constantes pue<strong>de</strong>n ser aproximadasmediante <strong>la</strong>s siguientes ecuaciones:A = 0.689771 + 0.268331(W ref /h) (3)B = −0.206492 − 0.0826453(W ref /h) (4)Fig. 6.Impedancia <strong>normalizada</strong> para un ratio constante <strong>de</strong> W ref /h.Fig. 5. Impedancia <strong>normalizada</strong> re<strong>la</strong>tiva en función <strong>de</strong>l ratio W/h para distintosvalores <strong>de</strong> W ref (los * son datos y <strong>la</strong> línea continua <strong>una</strong> aproximación).Todas <strong>la</strong>s medidas se han generalizado normalizando W conh, aunque <strong>la</strong>s simu<strong>la</strong>ciones se han realizado para h = 1mm.A continuación, se proce<strong>de</strong> a comprobar que realmente estageneralización es correcta. Para ello, se repite el mismo procedimiento<strong>de</strong> cálculo <strong>de</strong> <strong>impedancia</strong>s, <strong>de</strong>scrito anteriormente,para tres ratios <strong>de</strong> W ref /h constantes:W ref= 1.435h 0.5 = 2.87 = 4.305 (5)1 1.5En <strong>la</strong> Fig. 6 se muestran <strong>la</strong>s <strong>impedancia</strong>s <strong>normalizada</strong>sobtenidas para cada ratio <strong>de</strong> los anteriores. Al normalizar eleje <strong>de</strong> <strong>la</strong>s abcisas <strong>de</strong> cada gráfica respecto a <strong>la</strong> altura <strong>de</strong> cada<strong>una</strong> <strong>de</strong> <strong>la</strong>s guías (h), <strong>la</strong>s tres gráficas obtenidas coinci<strong>de</strong>n. Sepue<strong>de</strong> concluir con esto, que para el mismo ratio <strong>de</strong> W ref /h<strong>la</strong> tab<strong>la</strong> <strong>de</strong> <strong>impedancia</strong>s es <strong>la</strong> misma y <strong>la</strong> generalización escorrecta.Por último se aña<strong>de</strong> <strong>una</strong> gráfica (Fig. 7 ) en <strong>la</strong> que se muestrael valor <strong>de</strong> β(rad/m) <strong>de</strong> <strong>la</strong> guía RGW <strong>de</strong> W ref = 2.87mmy <strong>de</strong> h = 1mm, entre 10−20GHz. En el<strong>la</strong> se pue<strong>de</strong> observarel bajo carácter dispersivo <strong>de</strong> <strong>la</strong> guía RGW por <strong>la</strong> linealidadque mantiene β.IV. APLICACIÓNUna posible aplicación que permite comprobar que losvalores <strong>de</strong> <strong>la</strong>s <strong>impedancia</strong>s obtenidas mediante el métodoanterior son correctos es un adaptador <strong>de</strong> <strong>impedancia</strong>s. LaFig. 8 muestra el diseño en MWO <strong>de</strong> un adaptador <strong>de</strong>Fig. 7.Valor <strong>de</strong> β (rad/m) <strong>de</strong> <strong>una</strong> guía RGW.<strong>impedancia</strong>s entre dos líneas <strong>de</strong> <strong>impedancia</strong>s <strong>normalizada</strong>s1 y 1.5, respectivamente. La adaptación se realiza mediantedos líneas <strong>de</strong> longitud 3λ/4 a <strong>la</strong> frecuencia <strong>de</strong> 15.8GHz,que coinci<strong>de</strong> con un número entero <strong>de</strong> celdas unidad en <strong>la</strong>RGW. Una vez simu<strong>la</strong>do con MWO y optimizado, el valor <strong>de</strong><strong>la</strong>s <strong>impedancia</strong>s que <strong>de</strong>ben tener <strong>la</strong>s líneas <strong>de</strong>l adaptador sonZ 1 = 1.086 y Z 2 = 1.294.El resultado que se obtiene en MWO <strong>de</strong> los parámetrosS 11 y S 21 es el mostrado en <strong>la</strong> Fig. 9. En el<strong>la</strong>, se observa<strong>una</strong> adaptación <strong>de</strong> aproximadamente −26dB entre un rango<strong>de</strong> frecuencias <strong>de</strong> 13.8 − 17.6GHz.Seguidamente se realiza el mismo adaptador <strong>de</strong> <strong>impedancia</strong>sempleando <strong>la</strong> guía RGW con <strong>una</strong> altura <strong>de</strong> h = 1mm yun ancho <strong>de</strong> pista <strong>de</strong> referencia <strong>de</strong> W ref = 2.87mm. Paraconocer el valor <strong>de</strong> los anchos <strong>de</strong> pista necesarios para obtener<strong>la</strong>s <strong>impedancia</strong>s Z 1 y Z 2 , basta con ir a <strong>la</strong> Fig. 5 y calcu<strong>la</strong>rel valor <strong>de</strong>l ancho <strong>de</strong> pista, ya sea mediante <strong>la</strong> ecuación oempleando <strong>la</strong> propia gráfica. Los anchos <strong>de</strong> pista calcu<strong>la</strong>dos


Fig. 8.Diseño <strong>de</strong> adaptador <strong>de</strong> <strong>impedancia</strong>s en MWO.Fig. 11. Parámetro S 11 <strong>de</strong>l adaptador <strong>de</strong> <strong>impedancia</strong>s (Línea discontinuaroja para el caso i<strong>de</strong>al en MWO y línea continua azul para <strong>la</strong> RGW).Fig. 9.Parámetro S 11 y S 21 <strong>de</strong>l adaptador <strong>de</strong> <strong>impedancia</strong>s en MWO.se introducen en el adaptador diseñado en HFSS, tal y comose muestra en <strong>la</strong> Fig. 10.Fig. 10.Diseño <strong>de</strong>l adaptador <strong>de</strong> <strong>impedancia</strong>s en HFSS.Los parámetros S referenciados a 1 se calcu<strong>la</strong>n haciendouso <strong>de</strong>l algoritmo TRL y posteriormente, se calcu<strong>la</strong>n referidosa 1.5 para el puerto dos y a 1 para el puerto uno. En <strong>la</strong> Fig.11 se observa <strong>la</strong> comparación entre el parámetro S 11 obtenidocon líneas i<strong>de</strong>ales en MWO y el obtenido con <strong>la</strong> RGW. Deesta manera se pue<strong>de</strong> apreciar <strong>la</strong> similitud <strong>de</strong> ambas gráficasy, por tanto, confirmar el buen funcionamiento <strong>de</strong> <strong>la</strong> ecuación<strong>de</strong> <strong>impedancia</strong>s (2).V. CONCLUSIONESMediante el método implementado, se han obtenido ecuacionescapaces <strong>de</strong> calcu<strong>la</strong>r el valor <strong>de</strong> <strong>la</strong> <strong>impedancia</strong> <strong>de</strong> <strong>la</strong> guíaRGW en función <strong>de</strong> W , W ref y h. Y posteriormente, se hapodido comprobar <strong>la</strong> fiabilidad y <strong>la</strong> utilidad <strong>de</strong> <strong>la</strong> expresión<strong>de</strong> <strong>la</strong> <strong>impedancia</strong> <strong>normalizada</strong> (2) en el proceso <strong>de</strong> fabricación<strong>de</strong> un adaptador <strong>de</strong> <strong>impedancia</strong>s con <strong>la</strong> guía RGW.AGRADECIMIENTOSEste trabajo ha sido financiado por el Ministerio <strong>de</strong> Cienciae Innovación mediante los proyectos TEC2007-6698-C04-03y CSD2008-00068.REFERENCES[1] P.-S- Kildal, “Wavegui<strong>de</strong>s and transmission lines in gaps between parallelconducting surfaces,” European patent application EP08159791.6, 7 <strong>de</strong>julio,2008.[2] Per-Simon Kidal, E. Alfonso, A. Valero-Nogueira, y Eva Rajo-Iglesias,“Local Metamaterial-Based Wavegui<strong>de</strong>s in Gaps Between Parallel MetalP<strong>la</strong>tes” IEEE Antennas and Wireless Propagation Letters, vol.8, pp.84-87,abril, 2009.[3] E. Alfonso, M. Baquero, P.-S. Kidal, A. Valero-Nogueira, Eva Rajo-Iglesias, J.I. Herranz “Design of Microwave Circuitos in Ridge-GapWavegui<strong>de</strong> Technology,” Accepted for publication in IEEE InternationalMicrowave Symposium (IMS), 2010.[4] E. Alfonso, P.-S. Kidal, A. Valero-Nogueria, M. Baquero, “Study ofthe characteristic impedance of a ridge gap wavegui<strong>de</strong>”, Antennas andPropagation Society International Symposium 2009, APSURSI’09 IEEE,pp. 1-4, 1-5 June 2009.[5] R.E. Collin, Foundations for Microwave Engineering, Sec. 8.1, Mc-GrawHill, 1966.[6] M.L. Edwards, MICROWAVES and RF CIRCUITS: Analysis, Design,Fabrication and Measurement.[7] M. G. Silveirinha, C. A. Fernan<strong>de</strong>s, and J. R. Costa, “Electromagneticcharacterization of textured surfaces formed by metallic pins”, IEEETrans. Antennas Propagat., vol. 56, no. 2, pp. 405-415, Feb. 2008.[8] E. Alfonso, P.-S. Kildal, A. Valero-Nogueira, J.I. Herranz, “Numerica<strong>la</strong>nalysis of a metamaterial-based ridge gap wavegui<strong>de</strong> with a bed of nailsas parallel-p<strong>la</strong>te mo<strong>de</strong> killer”, European Conference on Antennas andPropagation EUCAP 2009, pp. 23-27, Mar. 2009.

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