MICROSCOPIA ELECTRÓNICA

Microscopia Electrónica
MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA (AFM)
El principio es mostrado en la Fig. 1
Una punta fina de la sonda, fijado al final del voladizo, escanea la
superficie del espécimen y el movimiento de la sonda que va de arriba
hacia abajo es detectado por la luz del láser reflejado, y el movimiento
es convertido para hacer la imagen como la topografía del espécimen.
Por una relación entre la superficie del espécimen y la punta de la sonda,
existen algunos sistemas modificados, tales como modo “contacto”,
modo “no contacto” y otros por el estilo sucesivamente.
En comparación con STM, AFM es aplicable a especímenes electro
conductivos y no-conductivos, incluso en algunos líquidos.
El Microscopio de Fuerza Atómica fue inventado por G. Binnig con
Calvin F. Quate y Christoph Gerber, en 1985.
Principio de AFM
Cromosomas Humanos en metafase observados por AFM
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