MICROSCOPÍA OPTICA DE MINERALES

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Microscopía Óptica de Minerales 17 CORRECCIONES AL MICROSCOPIO DE POLARIZACIÓN Con el uso del microscopio algunas de sus partes se aflojan y descentran y por ello es necesario regularmente hacer ciertas correcciones, siendo las principales el centrado de objetivos, centrado de fuente luminosa y la corrección de perpendicularidad entre polarizador y analizador. Corrección de objetivos descentrados Cuando el eje del objetivo no coincide exactamente con el eje del microscopio decimos que el objetivo se encuentra descentrado. Al girar la platina veremos que el objeto ubicado en el centro del campo visual no gira sobre su propio eje sino que sale del centro y hace una órbita circular. Si el objetivo está muy descentrado la órbita sale del campo visual. Si la órbita tiene forma de «e» es porque además del objetivo, la platina también está descentrada, para lo cual se requiere la intervención de un técnico especialista en mantenimiento de microscopios. Para corregir objetivos descentrados se empieza con el de menor aumento procediendo de la siguiente manera (ver figura 1.19): 1) Enfocar una sección delgada y ubicar algún detalle puntual en el cruce de los retículos. 2) Girar la platina hasta que el detalle esté lo más alejado posible del cruce reticular. 3) Con ayuda de los tornillos para centrar objetivos, mover el detalle hasta la mitad de su distancia con el cruce reticular 4) A mano llevar el detalle hasta el cruce de los retículos. 5) Girar la platina y si el objetivo aun no está centrado volver al paso 1. Corrección de fuente luminosa Cuando el eje del haz de luz transmitida no coincide con el del microscopio decimos que la fuente luminosa está descentrada. El campo visual no se ve homogéneamente iluminado y los minerales presentan sombras hacia un lado. Para corregir ello se procede de la siguiente manera (ver figura 1.19): 1) Colocar el objetivo de menor aumento correctamente centrado. 2) Retirar el filtro azul, vidrio mate, polarizador y condensador de alto poder. 3) Cerrar diafragmas de apertura y de campo luminoso. 4) Ver la proyección del filamento de la fuente luminosa en el diafragma de apertura y centrar moviendo la fuente luminosa o el prisma de la base o el conjunto subplatina, según el modelo del microscpio. 5) Enfocar una sección delgada y retirarla. 6) Centrar el punto luminoso con los tornillos moleteados del conjunto subplatina, o del prisma de la base, según el modelo del microscopio. 7) Abrir diafragma de campo luminoso hasta que el polígono quede circunscrito al campo visual. 8) Colocar filtro azul, vidrio mate y sección delgada. 9) Graduar diafragma de apertura e intensidad. Corrección de perpendicularidad de polarizadores Cuando la dirección privilegiada del polarizador y la del analizador no son perfectamente perpendiculares, las observaciones entre nícoles cruzados no serán las correctas (los minerales isótropos no se ven oscuros y los anisótropos presentan colores diferentes a los correspondientes a su birrefringencia). Para corregir ello se procede de la siguiente manera: 1) Enfocar una sección delgada y ubicar algún medio isótropo (vidrio, bálsamo) o retirar la sección. 2) Colocar el analizador en secuencia (nícoles cruzados). No debe pasar luz. 3) Si pasa luz entonces girar el polarizador hasta conseguir la oscuridad. PREPARACIÓN DE LA MUESTRA (SECCIONES DELGADAS Y PULIDAS) El microscopio de polarización requiere de una preparación adecuada de la muestra que empieza con una rigurosa selección de la zona a estudiar; esto puede ser una venilla, una capa, la masa fundamental de una roca, etc. Si el objetivo es estudiar minerales transparentes se debe preparar una sección delgada y si se quiere estudiar minerales opacos se preparará una sección pulida. En la figura 1.20 se representa el proceso de preparación de secciones delgadas o pulidas. Si la muestra es deleznable o muy delicada, será recomendable impregnarla con resina o bálsamo de Canadá al vacío, con lo cual la muestra adquiere mayor cohesión. Luego se realiza el corte de la porción seleccionada. Si se trata de una sección delgada se deberán realizar dos cortes paralelos con una separación de aproximadamente 1 mm, pulir una cara y pegarla sobre una lámina
18 Humberto Chirif CORRECCIÓN Corrección DE de OBJETIVOS Objetivos Descentrados DESCENTRADOS (1) (2) (3) (4) (5) CORRECCIÓN Corrección DEde FUENTE Fuente LUMINOSA Luminosa Descentrada DESCENTRADA Figura 1.19 Esquema de la corrección de objetivos descentrados (arriba) y de fuente luminosa descentrada (abajo). porta objeto. Si se desea preparar una sección pulida, el trozo cortado se engastará en una briqueta de resina epoxy u otro producto similar. Luego las muestras se desgastarán sobre superficies de pulido con abrasivos cada vez más finos empezando con carburundum y culminando con alúminas o, mejor aún, con polvo fino de diamante. Con cada abrasivo se trabajará hasta que desaparezcan las irregularidades obtenidas con el abrasivo anterior. En el caso de las secciones delgadas se deberá obtener un espesor de 30 µm, lo cual se comprueba con la coloración del cuarzo visto entre nícoles cruzados. Finalmente la sección delgada deberá ser cubierta con una lámina cubre objeto.
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