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Maitrise Statistique de Procédés

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BTS IPM INDUSTRIALISATION<br />

<strong>Maitrise</strong> <strong>Statistique</strong> <strong>de</strong> <strong>Procédés</strong> : MSP<br />

NF X 06-031<br />

Statistical Process Control : SPC<br />

1 DOMAINE D'APPLICATION<br />

Lorsque la fabrication est "sous contrôle" c'est à dire statistiquement stable et que l'on veut suivre<br />

graphiquement et chronologiquement la qualité d'un caractère mesurable ou non d’une pièce ou d’un produit.<br />

2 BUT<br />

3 TYPE<br />

⇒ Surveiller la fabrication.<br />

⇒ S'assurer <strong>de</strong> la stabilité <strong>de</strong> la qualité tout au long du processus.<br />

⇒ Enregistrer les variations du caractère contrôlé.<br />

⇒ Prévenir d'un déréglage éventuel et d'une intervention.<br />

-Carte <strong>de</strong> contrôle par mesure :<br />

-<strong>de</strong> la tendance centrale : Moyenne<br />

-<strong>de</strong> la variabilité : Etendue , Ecart-type<br />

-Carte <strong>de</strong> contrôle par attribut :<br />

4 PRINCIPE<br />

-du nombre <strong>de</strong> défectueux.<br />

-<strong>de</strong> la proportion <strong>de</strong> défectueux.<br />

-du nombre <strong>de</strong> défauts.<br />

⇒ Calculer les limites <strong>de</strong> surveillance et <strong>de</strong> contrôle pour un risque donné.<br />

⇒ Calculer les caractéristiques <strong>de</strong>s échantillons.<br />

⇒ Reporter les valeurs trouvées sur le graphique<br />

⇒ Déci<strong>de</strong>r d'une intervention ou non.(Nouvel échantillon,réglage ,tri)<br />

5 CALCUL DES LIMITES DE CONTROLE ET DE SURVEILLANCE<br />

On choisit généralement les niveaux <strong>de</strong> confiance suivants :<br />

0.998 pour l'intervalle entre les limites <strong>de</strong> contrôle ...: Lc1 et Lc2<br />

0.95 pour l'intervalle entre les limites <strong>de</strong> surveillance.: Ls1 et Ls2<br />

6 CARTES DE CONTROLE DE LA MOYENNE<br />

1 /9


BTS IPM INDUSTRIALISATION<br />

1 er Cas : m et σ sont connus<br />

LSC= m + Ac x s<br />

LSC= m - Ac x s<br />

2 ème Cas : m et σ sont inconnus<br />

Dans ce cas il faut en estimer les valeurs.(Voir estimations.)<br />

Limites provisoires :<br />

L’écart type est estimé à partir <strong>de</strong> la moyenne <strong>de</strong>s étendues <strong>de</strong>s échantillons :<br />

LSC = X + A’c x R<br />

LIC = X - A’c x R<br />

L’écart type est estimé à partir <strong>de</strong> la moyenne <strong>de</strong>s écarts types <strong>de</strong>s échantillons :<br />

LSC = X + A’’c x s<br />

LIC = X - A’’c x s<br />

Limites définitives :<br />

Après détermination <strong>de</strong>s limites provisoires, l’examen attentif <strong>de</strong>s premiers résultats permettra <strong>de</strong><br />

confirmer ou <strong>de</strong> modifier les limites par <strong>de</strong> nouvelles estimations <strong>de</strong> l’écart type.<br />

Limites modifiées :<br />

Si la tolérance <strong>de</strong> fabrication est large par rapport à la dispersion, un décalage <strong>de</strong> la moyenne peut être<br />

accepté.<br />

LSC = TS – 3.09 x s + Ac x s<br />

LIC = TI + 3.09 x s - Ac x s<br />

7 CARTES DE CONTROLE DE L'ETENDUE (n ≤ 12)<br />

LSC= m + As x s<br />

LSC= m - As x s<br />

LSS = X + A’s x R<br />

LIS = X - A’s x R<br />

LSS = X + A’’s x s<br />

LIS = X - A’’s x s<br />

2 /9<br />

LSS = TS – 3.09 x s + As x s<br />

LIS = TS + 3.09 x s - As x s


BTS IPM INDUSTRIALISATION<br />

Elles sont souvent associées aux cartes <strong>de</strong> contrôle <strong>de</strong> la moyenne et surtout utilisées en raison <strong>de</strong><br />

leur simplicité.<br />

1 er cas : m et s sont connus :<br />

2 ème cas : m et s sont inconnus :<br />

l’écart type est estimé à partir <strong>de</strong> la moyenne <strong>de</strong>s étendues <strong>de</strong>s échantillons :<br />

Les coefficients D’ sont donnés par la loi <strong>de</strong> l'étendue réduite.(Voir tableau)<br />

8 CARTES DE CONTROLE DE L'ECART-TYPE<br />

1 er cas : m et s sont connus :<br />

n ≥ 30 n < 30<br />

LSC = s + Ac x s<br />

LSS = s + As x s<br />

LIS = s - As x s<br />

LIC = s - Ac x s<br />

LSC = Dc2 x s<br />

LIC = Dc1 x s<br />

LSC = D’c2 x R<br />

LIC = D’c1 x R<br />

2 ème cas : m et s sont inconnus :<br />

L’écart type est estimé à partir <strong>de</strong> la moyenne <strong>de</strong>s écarts types :<br />

LSC = s x B’c2<br />

LIC = s x B’c1<br />

9 INTERPRETATION <strong>de</strong>s CARTES <strong>de</strong> CONTROLE<br />

3 /9<br />

LSS = Ds2 x s<br />

LIS = Ds1 x s<br />

LSS = D’s2 x R<br />

LIS = D’s1 x R<br />

LSS = s x B’s2<br />

LIS = s x B’s1<br />

LSC = s x Bc2<br />

LSS = s x Bs2<br />

LIS = s x Bs1<br />

LIC = s x Bc1


BTS IPM INDUSTRIALISATION<br />

Une carte <strong>de</strong> contrôle (<strong>de</strong> la moyenne), d'un processus "sous contrôle" doit présenter une répartition <strong>de</strong>s<br />

points équilibrée autour <strong>de</strong> la ligne moyenne.<br />

Lorsque ce n'est plus le cas ,cela signifie qu'un changement s'est produit et il faut en rechercher les causes<br />

assignables.<br />

a) 1 point en <strong>de</strong>hors <strong>de</strong>s limites.<br />

b) 8 points ou plus au <strong>de</strong>ssus ou en <strong>de</strong>ssous <strong>de</strong> la moyenne.<br />

c) 2 séries <strong>de</strong> points éloignés <strong>de</strong> la ligne moyenne.<br />

d) Tous les points sont très proches <strong>de</strong> la ligne moyenne.<br />

e) Tendances ascendantes ou <strong>de</strong>scendantes.<br />

f) Répartition cyclique <strong>de</strong>s points.<br />

TABLEAUX DES CONSTANTES : 1)Ecart type connu :<br />

4 /9


BTS IPM INDUSTRIALISATION<br />

Contrôle <strong>de</strong> la<br />

moyenne<br />

Contrôle <strong>de</strong> l’étendue Contrôle <strong>de</strong> l’écart-type<br />

Effectifs Ac As Dc1 Dc2 Ds1 Ds2 Bc1 Bc2 Bs1 Bs2<br />

2 2,185 1,386 0,00 4,65 0,04 3,17 0,001 2,327 0,022 1,585<br />

3 1,784 1,132 0,06 5,06 0,30 3,68 0,026 2,146 0,130 1,568<br />

4 1,545 0,980 0,20 5,31 0,59 3,98 0,078 2,017 0,232 1,529<br />

5 1,382 0,876 0,37 5,48 0,85 4,20 0,135 1,922 0,311 1,493<br />

6 1,262 0,800 0,54 5,62 1,06 4,36 0,187 1,849 0,372 1,462<br />

7 1,168 0,741 0,69 5,73 1,25 4,49 0,233 1,791 0,420 1,437<br />

8 1,092 0,693 0,83 5,82 1,41 4,61 0,274 1,744 0,459 1,415<br />

9 1,030 0,653 0,96 5,90 1,55 4,70 0,309 1,704 0,492 1,396<br />

10 0,977 0,620 1,08 5,97 1,67 4,79 0,339 1,670 0,520 1,379<br />

2)Ecart type estimé à partir <strong>de</strong> l’étendue R :<br />

Contrôle <strong>de</strong> la<br />

moyenne<br />

5 /9<br />

Contrôle <strong>de</strong> l’étendue<br />

Effectifs A’c A’s D’c1 D’c2 D’s1 D’s2<br />

2 1.937 1.229 0.00 4.12 0.04 2.81<br />

3 1.054 0.668 0.04 2.99 0.18 2.17<br />

4 0.750 0.476 0.10 2.58 0.29 1.93<br />

5 0.594 0.377 0.16 2.36 0.37 1.81<br />

6 0.498 0.316 0.21 2.22 0.42 1.72<br />

7 0.432 0.274 0.26 2.12 0.46 1.66<br />

8 0.384 0.244 0.29 2.04 0.50 1.62<br />

9 0.347 0.220 0.32 1.99 0.52 1.58<br />

10 0.317 0.202 0.35 1.94 0.54 1.56<br />

3)Ecart type estimé à partir <strong>de</strong> la moyenne <strong>de</strong>s écarts types<br />

Contrôle <strong>de</strong> la<br />

moyenne<br />

Contrôle <strong>de</strong> l’écart-type<br />

Effectifs A’’c A’’s B’c1 B’c2 B’s1 B’s2<br />

2 3.874 2.457 0.002 4.126 0.039 2.810<br />

3 2.464 1.564 0.036 2.964 0.180 2.166<br />

4 1.936 1.228 0.098 2.528 0.291 1.916<br />

5 1.643 1.042 0.161 2.285 0.370 1.775<br />

6 1.452 0.921 0.215 2.128 0.428 1.682<br />

7 1.315 0.834 0.262 2.017 0.473 1.618<br />

8 1.209 0.767 0.303 1.931 0.508 1.567<br />

9 1.127 0.714 0.338 1.864 0.538 1.527<br />

10 1.059 0.672 0.367 1.809 0.563 1.494<br />

Exemple 1 :<br />

4)Coefficient<br />

pour l’estimation<br />

<strong>de</strong> l’écart type :<br />

Effectifs dn<br />

2 1.128<br />

3 1.693<br />

4 1.2059<br />

5 2.326<br />

6 2.534<br />

7 2.704<br />

8 2.847<br />

9 2.97<br />

10 3.078


BTS IPM INDUSTRIALISATION<br />

Une machine à sciée est réglée pour débiter <strong>de</strong>s pièces dont la longueur est 40 ± 2 mm<br />

Tableau <strong>de</strong> prélèvements :<br />

Echantillon 1 2 3 4 5 6 7<br />

Dates 7h00 7h20 7h40 8h00 8h20 8h40 9h00<br />

pièce n° 1 39.90 39.80 39.70 39.70 39.80 39.50 40.50<br />

pièce n° 2 39.00 39.70 39.90 40.20 40.30 40.60 40.90<br />

pièce n° 3 40.00 40.10 40.20 40.60 40.80 40.70 39.70<br />

pièce n° 4 39.90 39.10 39.90 39.80 40.10 40.80 40.20<br />

pièce n° 5 39.10 40.00 39.40 39.90 40.50 39.90 40.80<br />

6 /9


BTS IPM INDUSTRIALISATION<br />

Exemple 2 :<br />

Un tour CN est réglé pour produire <strong>de</strong>s axes dont le diamètre est <strong>de</strong> 40 ±0,05 soit IT=0,1<br />

Tableau <strong>de</strong> prélèvements :<br />

1. Déterminer :<br />

• X<br />

• R<br />

7h00 7h20 7h40 8h00 8h20 8h40 9h00<br />

39.981 39.990 39.980 39.988 39.997 40.005 40.007<br />

39.990 39.992 39.998 39.999 40.002 39.998 40.008<br />

39.970 39.985 39.999 39.997 40.006 40.007 40.011<br />

39.968 39.988 40.002 39.989 40.008 40.010 40.016<br />

39.970 39.978 39.989 40.003 39.998 40.011 40.015<br />

• σo<br />

• Cp<br />

• Cpks<br />

• Cpki<br />

• Cpk<br />

• LSC<br />

• LSS<br />

• LIS : Limites pour la moyenne et l’étendue d’ une carte <strong>de</strong> contrôle provisoire.<br />

• LIC<br />

2. Etablir la carte <strong>de</strong> contrôle<br />

3. Reporter les résultats du tableau <strong>de</strong>s relevés sur la carte<br />

4. Analyser la forme du graphique obtenue et interpréter.<br />

7 /9


BTS IPM INDUSTRIALISATION<br />

Exemple 3 :<br />

Mise sous contrôle <strong>de</strong> la réalisation <strong>de</strong> la cote Alésage :<br />

Fréquence <strong>de</strong> prélèvement : 30 min<br />

12H8 : mini = 12.000<br />

maxi = 12.027<br />

Numéro <strong>de</strong>s pièces<br />

Echantillons 1 2 3 4 5 X R<br />

1 12.012 12.016 12.012 12.010 12.014<br />

2 12.012 12.014 12.020 12.016 12.010<br />

3 12.014 12.012 12.016 12.022 12.014<br />

4 12.022 12.020 12.014 12.014 12.012<br />

5 12.016 12.016 12.020 12.006 12.020<br />

6 12.012 12.012 12.016 12.016 12.016<br />

7 12.010 12.018 12.018 12.024 12.018<br />

8 12.016 12.016 12.024 12.012 12.014<br />

9 12.014 12.016 12.014 12.022 12.014<br />

10 12.018 12.018 12.018 12.018 12.008<br />

Etablir une carte <strong>de</strong> contrôle provisoire <strong>de</strong> la moyenne et <strong>de</strong> l’étendue ( X, R)<br />

Exemple 4 :<br />

Un dispositif automatique <strong>de</strong> pesage <strong>de</strong> poudres est réglé pour obtenir <strong>de</strong>s doses <strong>de</strong> 300 grammes. La qualité<br />

<strong>de</strong> la fabrication nécessite <strong>de</strong> respecter un intervalle <strong>de</strong> tolérance <strong>de</strong> ± 1,5 g. L'écart-type du procédé est inconnu. Un<br />

agent du service qualité prélève toutes les 15 minutes un échantillon <strong>de</strong> cinq doses et en effectue le pesage sur une<br />

balance <strong>de</strong> précision. Les valeurs relevées sont les suivantes<br />

Echantillons :<br />

1 300,20 300,15 300,05 300,35 300,20<br />

2 300,00 300,20 300,30 300,25 300,30<br />

3 300,35 300,20 300,25 300,30 300,05<br />

4 300,20 300,20 300,00 300,35 300,30<br />

5 299,70 300,10 300,05 300,20 300,20<br />

6 300,05 300,15 299,85 299,85 300,05<br />

7 300,15 300,20 299,75 299,80 299,85<br />

8 299,95 300,00 300,20 300,15 300,15<br />

9 300,05 300,25 300,05 299,85 299,95<br />

10 300,25 300,10 299,75 299,80 299,85<br />

11 299,85 299,80 299,70 300,00 300,00<br />

12 300,05 300,101 300,15 299,95 300,10<br />

Pour chaque échantillon on calcule l'étendue et la moyenne arithmétique<br />

L'étendue: w<br />

0.3 0.3 0.3 0.35 0.5 0.3 0.45 0.25 0.4 0.5 0.3 0.2<br />

La moyenne :X<br />

300.19 300.21 300.23 300.21 300.05 299.99 299.95 300.09 300.03 299.95 299.87 300.07<br />

8 /9


BTS IPM INDUSTRIALISATION<br />

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