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EFFET HALL DANS UN SEMI-CONDUCTEUR EXTRINSEQUE E ...

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<strong>EFFET</strong> <strong>HALL</strong> <strong>DANS</strong> <strong>UN</strong> <strong>SEMI</strong>-<strong>CONDUCTEUR</strong> <strong>EXTRINSEQUE</strong><br />

Cette manipulation a pour but la détermination de la nature des porteurs de charge majoritaires d'un semiconducteur<br />

extrinsèque et la mesure de leur concentration et de leur mobilité à la température ordinaire.<br />

1 - Rappel de l'effet Hall simple<br />

Considérons un solide non-isolant parallélépipédique placé dans une induction magnétique uniforme<br />

B r selon l'axe Oz, parcouru par un courant I perpendiculaire à B r (axe Ox) selon le schéma ci-contre.<br />

z<br />

O<br />

E r + v r ∧B r<br />

= 0 ==> E B<br />

H<br />

H<br />

= v<br />

y<br />

B<br />

- - - - - - - - - - - - - - - -<br />

E H<br />

+ + + + + + + + + + + +<br />

j<br />

x<br />

l y<br />

lz<br />

On constate qu'il existe une d.d.p. VH, dite tension<br />

de Hall, suivant Oy. L'explication du phénomène est liée<br />

au régime transitoire : au cours de celui-ci les trajectoires<br />

des porteurs (charge q) sont infléchies par la force de<br />

Laplace q r v ∧ B r<br />

et il apparaît une accumulation de<br />

charges opposées sur chacune des faces<br />

perpendiculaires à Oy (q>0 dans la figure ci-dessus).<br />

Cette polarisation crée un champ électrique qui s'oppose<br />

à l'action de l'induction. Le régime stationnaire est obtenu<br />

lorsque les lignes de courant sont parallèles à Ox, le<br />

champ ayant alors atteint la valeur telle que<br />

E H , v, B étant les mesures algébriques des vecteurs correspondants sur Oy, Ox, Oz.<br />

v =<br />

j<br />

n q = 1<br />

ly lz n q<br />

et E H =<br />

Semi-conducteurs – effet Hall -1<br />

Plate-forme Matière Condensée et Cristallographie ( MCC) --- C.E.S.I.R.E. Université J.Fourier Grenoble<br />

V<br />

l<br />

H<br />

y<br />

entraînent<br />

V H = R I B<br />

H où R<br />

lz<br />

H = 1<br />

n q<br />

La constante de Hall RH fournit la densité de charges mobiles n q, donc le signe de ces charges dans la<br />

mesure où VH a été correctement orienté par rapport à Oy.<br />

La loi d'Ohm j r = σ<br />

E r<br />

x<br />

2 - Limite de cette théorie<br />

= v r n q s'applique à ce régime permanent et µ = σ<br />

n q<br />

est appelé la mobilité.<br />

Cette interprétation simplifiée, classique (c'est à dire non quantique), s'applique bien à certains métaux<br />

(Cu, Ag,...) où le signe négatif de RH confirme une conduction par électrons. Pour d'autres métaux (Zn,<br />

Be,...) où RH est positive, il a fallu attendre la théorie des bandes qui, en introduisant la conduction par trous,<br />

est venue lever cette apparente contradiction.<br />

Dans les semi-conducteurs on peut considérer qu'il n'existe qu'un seul type de porteurs si le dopage est<br />

assez important c'est à dire si n > 10 16 atomes/cm3 et la température assez élevée : T > 300K. L'effet Hall<br />

est alors bien décrit par la théorie ci-dessus. Dans les semi-conducteurs faiblement dopés à température<br />

ambiante ou fortement dopés à basse température, il y a à la fois conduction par électrons et par trous. La<br />

théorie ci-dessus n'est plus applicable : on constate que leur résistance en présence du champ magnétigue est<br />

supérieure à la valeur dite "ohmique" en champ nul. Une résistance est dite ohmique si elle ne dépend ni du<br />

sens du courant, ni de la présence d'un champ magnétique.<br />

Dans ce cas, il faut tenir compte des 2 types de porteurs qui ont des mouvements différents (voir le<br />

paragraphe 4).


3 - Partie pratique<br />

3-1) Tracer la courbe d'étalonnage de l'électroaimant : champ B dans l'entrefer en fonction de IB,<br />

intensité dans les bobines. L'appareil de mesure du champ est étalonné en Gauss : 1 Gauss vaut 10 -4 Tesla.<br />

Observer le sens des enroulements et la polarité du courant pour déterminer la direction de B r .<br />

3-2) Afin de déterminer la résistivité de l'échantillon utilisé, tracer la caractéristique I(V) de la sonde<br />

pour un courant IS parcourant la sonde variant de 0,5 à 3 mA. En déduire la résistance de la sonde et<br />

l'incertitude sur cette résistance.,<br />

Calculer la résistivité du matériau (silicium) constituant la sonde et son incertitude.<br />

On vérifiera que les contacts sont ohmiques et qu'il n'y a pas de magnétorésistance.<br />

3-3) Réaliser le montage ci-dessous<br />

C<br />

R<br />

A<br />

D<br />

Le curseur A du potentiomètre est réglé<br />

pour obtenir VH = 0 dans un champ nul, et<br />

ceci pour chaque valeur de IS.<br />

B<br />

Tracer VH en fonction de IS pour IB = 2 ampères.<br />

Tracer VH en fonction de B pour IS = 3 mA.<br />

Déduire de ces courbes la constante de Hall RH et son incertitude.<br />

Quel est le signe des porteurs majoritaires ? n ou p ?<br />

3-4) Calculer le nombre de porteurs par unité de volume.<br />

Effectuer, si nécessaire, les changements d'unités permettant de se reporter aux courbes du classeur<br />

donnant la résistivité ρ en fonction du nombre de porteurs. Conclusion ?<br />

3-5) En déduire la mobilité µ des porteurs majoritaires.<br />

4 - Complément sur l'effet Hall<br />

(conduction simultanée électrons/trous)<br />

La théorie classique simplifiée de l'effet Hall considère qu'il n'existe qu'un seul type de porteurs, c'est à<br />

dire que les effets des porteurs minoritaires sur la conduction peuvent être négligés. Lorsque cette hypothèse<br />

simplificatrice n'est pas justifiée, il faut une théorie plus élaborée.<br />

4-1) Cas de deux types de porteurs<br />

Soient qi= ± e, mi, v r ,<br />

i<br />

ni la charge, la masse effective, la vitesse moyenne et le nombre de porteurs i par<br />

unité de volume. Ces particules sont accélérées par le champ électrique extérieur, mais entrent en collision<br />

avec les autres composants du solide. Nous admettrons qu'entre deux chocs elles acquièrent leur vitesse<br />

moyenne en un temps τi supposé être le même pour toutes ( τi est appelé temps de relaxation ).<br />

On a alors:<br />

qi { E r + r v i ∧ r<br />

d'où la densité du courant de porteurs du type i:<br />

B } ≈ mi<br />

r<br />

v i<br />

t<br />

i<br />

Semi-conducteurs – effet Hall -2<br />

Plate-forme Matière Condensée et Cristallographie ( MCC) --- C.E.S.I.R.E. Université J.Fourier Grenoble


j<br />

i<br />

= n q<br />

i<br />

i<br />

r<br />

j i<br />

t<br />

iqi<br />

m<br />

v r<br />

= ni qi i<br />

r t<br />

iqi<br />

E +<br />

m<br />

i<br />

i<br />

r<br />

j<br />

i<br />

r<br />

B<br />

La mobilité des porteurs i est :<br />

µi =<br />

τi |qi |<br />

mi<br />

En choisissant les axes de sorte que E r ait pour composantes (Ex, Ey, 0) et B r ait pour composantes<br />

(0,0,B), on obtient :<br />

{ }<br />

jix = m<br />

n iq i m i<br />

1 + m i 2 B 2 E x ± m i B E y<br />

jiy = m<br />

{ }<br />

n iq i m i<br />

1+ m i 2 B 2 E y ± m i B E x<br />

Les signes du dessus sont relatifs aux électrons et ceux du dessous aux trous.<br />

La densité de courant totale est :<br />

En particulier :<br />

r<br />

j<br />

v<br />

= je<br />

+<br />

⎪⎧ ne e µe<br />

⎪⎫<br />

jy = ⎨<br />

⎬<br />

⎩⎪ 1 + µe 2 B 2 + nt e µt<br />

1 + µt 2 B 2 Ey +<br />

⎭⎪ ⎩ ⎪ ⎨⎪⎧ ne e µe 2<br />

1 + µe 2 B 2 + nt e µt 2<br />

1 + µt 2 B 2 ⎭⎪ ⎬⎪⎫ B Ex<br />

v<br />

jt<br />

Le régime permanent est établi (équilibre électrique) lorsque jy = 0.<br />

ne e µe<br />

Posons Ke =<br />

1 + µe 2 B 2 et Kt =<br />

Le champ de Hall est la valeur de Ey à l'équilibre. Il vient:<br />

E H = µ t Kt - µe Ke<br />

Kt +<br />

B<br />

Ke<br />

Ex<br />

La constante de Hall est définie par le rapport R H = E H<br />

jx B<br />

De même la conductivité est<br />

σ = j x<br />

Ex<br />

nt e µt<br />

1 + µt 2 B 2<br />

On obtient<br />

R H =<br />

µt Kt - µe Ke<br />

(Kt + Ke) 2 + ( µt Kt - µe Ke ) 2 B 2<br />

σ = (K t + Ke) 2 + ( µt Kt - µe Ke ) 2 B 2<br />

Kt + Ke<br />

Dans le cas d'un seul type de porteur (µe = 0 ou µt = 0), on retrouve les expressions obtenues dans la<br />

théorie simplifiée. Par contre, il apparaît que la constante de Hall est maintenant reliée aux densités de<br />

porteurs par une fonction dépendant de B. Elle peut, suivant les valeurs des mobilités et des densités, avoir un<br />

signe quelconque. Qualitativement, le champ de Hall ne peut plus compenser la force de Laplace à la fois sur<br />

les deux types de porteurs. Les électrons et les trous sont déviés vers une même face du parallélépipède mais<br />

les densités de courant associées à ces mouvements transverses sont opposées.<br />

Semi-conducteurs – effet Hall -3<br />

Plate-forme Matière Condensée et Cristallographie ( MCC) --- C.E.S.I.R.E. Université J.Fourier Grenoble


y<br />

E x j<br />

+ -<br />

+ -<br />

x<br />

De même, la conductivité varie avec l'induction magnétique : c'est le phénomène dit de<br />

magnétorésistance.<br />

4-2) Approximation des champs faibles - trajectoires rectilignes<br />

Les expressions ci-dessus sont compliquées en particulier à cause des termes<br />

1 + µi 2 B 2 où µi B = e τ i<br />

=<br />

mi<br />

ωi τi<br />

ωi est la vitesse angulaire qu'aurait le porteur i dans le seul champ B r (trajectoire circulaire). La quantité<br />

1 / τi caractérise la fréquence des collisions subies dans le solide. Si cette fréquence est grande par rapport à<br />

ωi , la courbure de la trajectoire entre deux chocs successifs peut être négligée. Le produit µi B = ωi τi est<br />

alors négligeable devant 1. Un développement donne alors pour σ :<br />

σ = ne µe e + nt µt e - O(B 2)<br />

Le terme du 2ème ordre O(B2) est petit mais positif et a donc pour effet de diminuer la conductivité. Ce<br />

résultat est compatible avec le fait que les trajectoires entre deux chocs ne sont plus linéaires mais incurvées,<br />

donc allongées.<br />

En ce qui concerne R H , on arrive à:<br />

R H =<br />

nt µt 2 - ne µe 2<br />

e (nt µt + ne µe) 2<br />

Semi-conducteurs – effet Hall -4<br />

Plate-forme Matière Condensée et Cristallographie ( MCC) --- C.E.S.I.R.E. Université J.Fourier Grenoble

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