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Modelli Fisici e Ingegneristici per lo sviluppo e l ... - ET2010

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Ottimizzazione dell'ottica di un singo<strong>lo</strong> fascetto di ioni<br />

Analisi di sensitività a variazioni di potenziale e corrente estratta sul singo<strong>lo</strong> beamlet mediante<br />

SLACCAD (codice sviluppato nella comunità degli acceleratori <strong>per</strong> alte energie e adattato al NBI)<br />

Traiettorie degli ioni H - (geometria assialsimmetrica)<br />

Divergenza del fascetto ottimizzata<br />

Ango<strong>lo</strong> di divergenza del fascetto in funzione del Sensibilità dell’ango<strong>lo</strong> di divergenza medio in funzione<br />

potenziale della Extraction Grid<br />

della corrente estratta e del potenziale della Extraction Grid<br />

G. Chitarin <strong>ET2010</strong> Napoli 9-11/6/2010<br />

pag 19

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