1ª prova

PMT-5858 – Técnicas de Microscopia Eletrônica de Varredura para
Caracterização de Materiais - 1ª prova – 16/04/2013 - 4/2013
1. Explique porque é difícil obter imagens com alta resolução, no
microscópio eletrônico de varredura utilizando elétrons retroespalhados.
2. O que você faria para otimizar as condições operacionais em um MEV
para observação de uma superfície inclinada a 45º que apresenta relevo.
Explique utilizando um diagrama que mostra o feixe incidente sobre a
amostra e o efeito das variáveis que você julga importante otimizar.
3. Porque um microscópio eletrônico de varredura com canhão de emissão
de campo – FEG permite trabalhar com maior resolução que um MEV com
filamento de tungstênio?
4. Qual a função das lentes eletromagnéticas existentes na coluna dos
microscópios eletrônicos de varredura? Como elas atuam para obter
aumentos típicos de trabalho de 10.000 X?
5. Identifique os picos encontrados na espectrometria EDS de raios-X abaixo.
6. Kanaya e Okayama desenvolveram uma expressão muito utilizada em
microscopia, que permite otimizar as condições operacionais do
microscópio eletrônico de varredura, para análise química de precipitados
submicrométricos, por espectrometria de raios-X. Discuta o efeito das
principais varIáveis na resolução de medidas de composição química por
espectrometria de raios-X.

7. Num laboratório de microscopia eletrônica de varredura e microanálise o
operador tem que analisar a composição química de um precipitado
esférico com 500 nm de diâmetro em uma liga Al-Cu. Sugira as condições
operacionais para realizar essas medidas sem erros, utilizando o software
Cassino.
8. Deseja-se analisar a composição química de uma chapa de aço
galvanizada por processo eletrolítico. A espessura da camada é de
somente 1 µm. O software do espectrômetro possui padrões
Standardless levantados para 20 KV. É possível fazer a análise utilizando
esses padrões? Se não, qual seria a voltagem indicada para fazer essa
análise? Qual a resolução lateral para trabalho com a voltagem escolhida?
9. Discuta a diferença de energias entre elétrons retroespalhados e elétrons
secundários e a facilidade com que esses elétrons podem ser detectados
no interior da câmara do MEV.
10. Explique porque no espectro EDS de raios-X do chumbo, obtido sob
voltagem de aceleração 10 KV somente aparecem os picos referentes à
radiação M.