EÜTAM KATALOG

1
1
1
1
1
1
1
1
1
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)
Teknik Özellikleri:
Büyütme: 6x-l .000.000x
Elektron kaynağı: Alan emisyonlu kaynak (FEG)
Elektron dedektörü: ETD, DBS, LFD, STEM, GSED ve X--ray
Numune tabla hareketleri : En az X= l 00 mm, Y= l 00 mm, Z= 50 mm,
Tilt açısı: -3 ° ve +70 °
EDXS (Enerji Dağılım X-ışını Spektrometre) sistemi mevcuttur.
Çalışma modlan: 3 farklı vakumda (Yüksek vakum, Düşük Vakum ve ESEM) çalışma özelliğine sahiptir.
Uygulama Alanlan:
Metal, bileşik, seramik, kompozit, ince film, jeolojik parçalar, polimer, doku, bitki materyalleri, ilaçlar, partikül ve lif gibi
malzemelerin yüzey karakterizasyonu çalışmalannın yanı sıra EDXS sistemi ile elemental analiz (haritalama, çizgisel haritalama) ve
noktasal analiz yapılabilmektedir.
2
1
1
1
1
1