26.12.2014 Views

Logické obvody CMOS v2

Logické obvody CMOS v2

Logické obvody CMOS v2

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Logické <strong>obvody</strong> <strong>CMOS</strong><br />

2012, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha<br />

J. Fischer<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 1


Polovodiče pro logické <strong>obvody</strong>, silně zjednodušený pohled<br />

detaily viz. kniha- Vobecký, Záhlava: Elektronika<br />

Polovodičový materiál pro log. <strong>obvody</strong> - křemík, Si, čtyřmocný<br />

4 elektrony v el. obalu. atomu křemíku<br />

intrinzický polovodičový materiál - krystalová struktura bez defektů,<br />

kovalentní vazba - silná, dodáním energie - přibl. 1,1 eV uvolnění el. z el.<br />

obalu, generace párů, rekombinace - zánik v rovnováze.<br />

vznik volného páru elektron - díra, za pokojové teploty - malý počet párů<br />

Působení napětí - proud- vodivost způsobují elektrony i díry<br />

vlastní (intrinzická) vodivost polovodiče, za pokojové teploty - velmi nízkávodivost,<br />

s rostoucí teplotou - vlastní vodivost roste, tepelná aktivace<br />

intrinzický polovodič<br />

díra<br />

elektron<br />

U<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 2


Polovodič Si<br />

Intrinzický polovodič, pouze jeden prvek, čistý materiál, ideální krystalová<br />

struktury bez poruch (dislokací) krystalové struktury<br />

Vodivost – intrinzická vodivost – pouze tepelně generovanými páry elektron<br />

díra<br />

Si<br />

Si<br />

Si Si Si<br />

Si<br />

Si<br />

Si<br />

Si<br />

společné valenční<br />

elektrony<br />

Si<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 3


Polovodič Si<br />

Dodání tepelné energie<br />

– kmity, možnost uvolnění elektronu<br />

z elektronového obalu,<br />

vznik páru elektron - díra<br />

Si<br />

díra<br />

volný<br />

elektron<br />

Intrinzická vodivost<br />

– pouze tepelně generovanými páry elektron - díra<br />

elektron při působení vnějšího elektrického pole<br />

– pohyb ve směru el. pole.<br />

Růst intr. vodivosti s teplotou<br />

Uspořádaný pohyb elektronů – elektrický proud,<br />

Díry – též pohyb při působení vnějšího el. pole,<br />

Si<br />

tepelná<br />

energie<br />

Pohyblivost elektronu - trojnásobná oproti pohyblivosti díry v (Si materiálu)<br />

(důsledek – vliv na volbu šířky tranzistoru NMOS a PMOS ve struktuře <strong>CMOS</strong><br />

(PMOS – volby 3x širší pro dosažení stejného odporu)<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 4


Nevlastní polovodič typu N a P<br />

Dotace prvky V nebo III skupiny , zvýšení vodivosti (5 el. v obalu, 3 el. v<br />

obalu)<br />

nevlastní vodivost, nevlastní polovodič<br />

způsobená působením příměsí<br />

Polovodič typu N (pátý elektron atomu dopantu – vázán slabě k jádru, dodání<br />

malé energie – možnost uvolnění elektronu, za pokojové teploty – atom<br />

dopantu – volný elektron)<br />

Polovodič typu P (3 elektrony v obalu, chybí jeden el. pro kovalentní vazbu,<br />

toto místo může zastoupit jiný elektron (analogie – hra s chybějící židlí).<br />

Pohyb díry<br />

Si<br />

volný<br />

elektron<br />

Si díra<br />

Si As Si<br />

Si B<br />

Si<br />

Si<br />

Si<br />

a) b)<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 5


Nevlastní polovodič typu N<br />

Zvýšení vodivosti polovodiče - zvýšení počtu volných nosičů náboje<br />

polovodič typu N, příměsi ze skupiny V (5- mocné, 5 el. v obalu)<br />

Dopant - donor - dárce- poskytuje elektron<br />

Přidání příměsí - difuzí, iontovou implantací,…<br />

4 el. vázané ve struktuře pevně, pátý el. vázán slabě,<br />

dodání malé ionizační energie (řádu desítek meV) na uvolnění elektronu<br />

Za pokojové teploty - všechny atomy donorů - ionizovány<br />

Elektronová vodivost materiálu, nevlastní polovodič typu N<br />

Polovodič N - majoritní nosiče - elektrony, minoritní nosiče díry<br />

Polovodič N je navenek ale stále elektricky neutrální<br />

počet kladně a záporně nabitých částic je shodný<br />

Pokud elektron opustí atom donoru - ionizovaný atom donoru - představuje<br />

místo kladného „fixovaného“ náboje<br />

Vyšší koncentrace volných elektronů- vyšší vodivost<br />

Velmi vysoká koncentrace dopantů, degenerovaný polovodič N +<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 6


Nevlastní polovodič typu P<br />

Polovodič typu P, příměsi - ze skupiny III (3- mocné, 3 el. v obalu)<br />

Dopant - akceptor - příjemce, může přijmout elektron - příjemce<br />

není úplná kovalentní vazba, chybí pro ni elektron<br />

Elektron se může přijmout z vedlejšího atomu Si, zde pak chybí elektron ve<br />

vazbě- díra se posune, tato díra se takto může pohybovat dále<br />

Děrová vodivost, materiál typu P<br />

Pohyblivost díry je 1/3 oproti pohyblivosti elektronu - vodivost materiálu typu<br />

P je 1/3 oproti typu N při stejné koncentraci volných nosičů<br />

polovodič P - majoritní nosiče - díry, minoritní nosiče - elektrony<br />

Polovodič P je ale stále elektricky neutrální, počet kladně a záporně<br />

nabitých částic je opět shodný<br />

Pohyb díry - Ionizovaný atom akceptoru - představuje místo záporného<br />

„fixovaného“ náboje<br />

Velmi vysoká koncentrace dopantů akceptorů - degener. polovodič P +<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 7


Přechod PN<br />

Polovodiče P a N na sobě<br />

difůze elektronů z oblasti N do oblasti P, děr z P do N, rekombinace<br />

(difůzní délka - střední dráha nosiče, než rekombinuje )<br />

Vznik chuzené oblasti - bez volných nosičů - elektronů, nebo děr, oblast<br />

prostorového náboje (OPN) vyprázdněná oblast, (depletion region)<br />

- oblast PN přechodu<br />

Po „odešlých“ děrách a elektronech zůstávají ionizované atomy donorů<br />

a akceptorů, představují místa „fixovaných“ záporných a kladných<br />

nábojů, elektrická dvouvrstva<br />

PN přechod - uspořádání i P + na N, nebo N + na P<br />

čím vyšší koncentrace dopantů- kratší dif. délka, menší OPN<br />

difuze el. a děr<br />

ochuzená oblast<br />

P N P N<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha elektrická dvouvrstva<br />

8


Dioda s přechodem PN<br />

Dioda s přechodem PN, Si materiál, napětí v předním směru, 0,6 až 0,7 V<br />

Zapojení diody v propustném směru – nutnost překonat působení<br />

elektrického -elektrické dvouvrstvy v oblasti přechodu.<br />

Průchod elektronů a děr do oblasti přechodu PN, rekombinace. uvolnění<br />

energie ve formě tepelné energie.<br />

Schottkyho dioda přechod Kov – polovodič, napětí v předním směru 0, 3<br />

V ( příklad Schottkyho diody –např.m dioda BAT 46)<br />

Závěrný proud Si diody s přechodem PN, roste s teplotou, způsoben<br />

tepelnou genereací párů elektron – díra<br />

problém klidových proudů obvodů <strong>CMOS</strong> s bateriovým napájením. ( i<br />

omezení funkce obrazových senzorů <strong>CMOS</strong>)<br />

Světloemitující dioda – LED, zapojení v předním směru – působení<br />

vnějšího pole – napájecí obvod - příchod elektronů a děr do oblasti<br />

přechodu PN, rekombinace, uvolnění energie - částečně ve formě<br />

optické – nebo světlo, částečně ve formě tepelné<br />

napětí v předním směru LED – přibl. 2 V ( červená LED),<br />

zelená – vyšší 2 – 2, 5 V, bílá LED – 3 V a více<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 9


Návrh obvodu s diodami a LED<br />

Návrhvýstupní<br />

napětí obvodu, napětí v předním směru LED, volby proudu,<br />

výpočet odporu zvoleného rezistoru.<br />

Dioda Si – jako ochranný prvek<br />

dioda do série s napájením<br />

dioda antiparalelně<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 10


MOS tranzistor s indukovaným kanálem N<br />

Substrát , polovodič P, izolant SiO 2 , Gate - polykrystalická Si elektroda<br />

MOS Tranzistor<br />

M - Metal poly Si (dříve i Al), izolant O - Oxid, S- Silicon substrát křemík<br />

U G kladné, „přitahování“ elektronů, až počet elektronů přesáhne počet děr,<br />

Při U G > U T - prahové napětí, vznik inverzní vrstvy pod G<br />

indukovaný kanál n<br />

tranzistor NMOS elektrody G- gate, S - Source („zdroj nosičů!), D – Drain<br />

(„odvaděč nosičů“), pomocí oblastí N+ , kontakt –substrát P +<br />

U G =0<br />

poly - Si<br />

G SiO 2<br />

U G > U T<br />

G<br />

N + - Si N + - Si<br />

substrát<br />

P - Si<br />

substrát<br />

P - Si<br />

inverzní<br />

oblast<br />

indukovaný<br />

kanál n<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 11


Tranzistor NMOS s indukovaným kanálem - vlastnosti<br />

Napětí mezi elektrodami Gate a Source<br />

U GS > U T (prahové napětí - threshold)<br />

V log. obvodech - MOS tranzistor jako spínač<br />

spínač „proti zemi“, U G - U GS = U G - 0 > U T,<br />

elementární N- MOS invertor<br />

I DS<br />

U T<br />

U GS<br />

S -source<br />

U GS<br />

= U G<br />

- U S<br />

> U T<br />

D - drain<br />

U G<br />

N + - Si N + - Si<br />

U S<br />

+ Ucc<br />

D<br />

P - Si<br />

substrát<br />

U 1<br />

S<br />

U 2<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 12


Tranzistor NMOS jako spínač ve vzorkovači<br />

+ Ucc<br />

G<br />

D<br />

D<br />

S<br />

S<br />

D<br />

G<br />

B- sub.<br />

U 2<br />

S<br />

U 1<br />

Kanál n, elektrony, U S nižší napětí oproti U D , symetrická<br />

konstrukce, záměna funkce S a D podle připojeného napětí<br />

NMOS jako spínač - vzorkovač U G - U S > U T , pozor U G > U S + U T<br />

! Diody tvořené D a S proti substrátu- musí být v záv. směru- substrát<br />

zapojit na „ nejzápornější“ napětí vyskytující se v obvodu tranzistoru<br />

Spínání napětí (-2 V až +2 V), substrát -2V, napětí U G ( -2V vyp, + 5 V zap.)<br />

Pro přepínač, vzorkovač - použitelný pouze typ se samostatně vyvedeným<br />

substrátem,<br />

Pozor - substrátová dioda MOS tranzistorů<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 13


Tranzistor PMOS s indukovaným kanálem P jako spínač<br />

S -source<br />

D - drain<br />

U G<br />

S<br />

P + - Si P + - Si<br />

U 1<br />

U S<br />

D<br />

R<br />

+ Ucc<br />

B- sub. + Ucc<br />

S<br />

D<br />

U 2<br />

G<br />

substrát<br />

N - Si<br />

0<br />

Kanál P, nosiče náboje díry, zdroj nosičů source S - na vyšší (kladné) napětí<br />

oproti D - drain,<br />

Symetrická konstrukce, záměna funkce S a D podle orientace připojeného<br />

napětí mezi elektrodami<br />

U 1 = Ucc PMOS rozepnut - nevede , U 1 = 0 PMOS sepnut - vede<br />

! Diody tvořené D a S proti B -substrátu- musí být v záv. směru-<br />

B - zapojit na „ nejkladnější“ napětí vyskytující se v obvodu tranzistoru<br />

PMOS s kanálem P<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 14


Invertor <strong>CMOS</strong><br />

<strong>CMOS</strong> - komplementární MOS logika využívající kombinaci<br />

NMOS a PMOS tranzistorů<br />

invertor <strong>CMOS</strong><br />

(není <strong>CMOS</strong> tranzistor !)<br />

+ Ucc<br />

S p<br />

D p<br />

D n<br />

n kanál,<br />

p kanál<br />

nosiče - díry<br />

nosiče - el.<br />

S n<br />

+ Ucc<br />

vstup<br />

U G<br />

výstup<br />

invertoru<br />

GND<br />

P +<br />

P + N +<br />

N +<br />

N + P - kanál<br />

(N - kanál)<br />

P +<br />

(kontakt)<br />

vana P - Si<br />

(kontakt)<br />

substrát<br />

N - Si<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 15


Invertor <strong>CMOS</strong><br />

<strong>CMOS</strong> - komplementární MOS logika využívající kombinaci<br />

NMOS a PMOS tranzistorů<br />

<strong>CMOS</strong> invertor<br />

( není <strong>CMOS</strong> tranzistor !)<br />

S p<br />

D n<br />

D n<br />

D 3<br />

D 2<br />

+ Ucc<br />

D 1<br />

S n<br />

+ Ucc<br />

vstup<br />

U G<br />

výstup<br />

invertoru<br />

P +<br />

P + N +<br />

D 2<br />

GND<br />

N +<br />

N + D 1<br />

P - kanál<br />

(N - kanál)<br />

P +<br />

(kontakt) D 3<br />

vana P - Si<br />

(kontakt)<br />

substrát<br />

N - Si<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 16


Invertor <strong>CMOS</strong><br />

Důsledky<br />

V každém logickém obvodu <strong>CMOS</strong> je záporně polarizovaný PN přechod<br />

mezi svorkami Ucc – napájení a GND – zem.<br />

Při přepólování napájení – v propustném směru<br />

Pro uživení zařízení – použít zdroj s omezením proudu<br />

<strong>CMOS</strong> - komplementární MOS logika využívající kombinaci<br />

Tyto závěrně polarizované přechody PN- závěrný proud – problém<br />

klidového odběru – „Stand By“ režim procesorů pro bateriové<br />

napájení- při požadavku na etrémně malé klidové odběry- řádu uA.<br />

(Příklad- měřidla, rozpočítávací měřidlo topných nákladů - požadavek na<br />

funkci 10 let z jediné baterie, el. vodoměr,…)<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 17


Náhradní schéma výstupu <strong>CMOS</strong><br />

Sériově zapojené tranzistory PMOS a NMOS,<br />

Klidový stav Rp,nebo Rn se blíží nekonečnu – rozepnutý stav<br />

+U<br />

Druhý tranzistor – sepnutý R CC ON<br />

<strong>CMOS</strong> invertor<br />

R P<br />

( není <strong>CMOS</strong> tranzistor !)<br />

U 2<br />

Náhradní schéma:<br />

Zdroj UCC do série R P_ON<br />

nebo GND ( 0 V) do série R N_ON<br />

u řady H<strong>CMOS</strong> a dalších ,<br />

odpory 100 Ohmů a nižší<br />

( 74LVCxxx R N_ON ~15 Ohmů, podle typu)<br />

R P_ON<br />

R N<br />

+U CC<br />

GND<br />

Při změně stavu,<br />

malý okamžik vedou oba tranzistory<br />

proudový impuls mezi U CC a GND<br />

R N_ON<br />

U 2<br />

GND<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 18


Logický obvod jako dvojbran- statické parametry 1<br />

U cc napájení ( U DD ), zem- GND- (ground)<br />

U cc<br />

I i<br />

I o<br />

Vstup, U i<br />

, I i<br />

vstupní napětí, proud<br />

U i U o<br />

Výstup U O<br />

, I O<br />

, výstupní napětí, proud<br />

Pozor na orientaci výstupního proudu.<br />

Kladný výstupní proud I O<br />

- „vtéká“ do výstupu (proud z výstupu přes rezistor<br />

do GND - záporný) důležité kvůli orientaci v katalogových údajích<br />

(pozn. v aglosaské lit. napětí onačeno jako V -Voltage, tedy V i , V O ,,....)<br />

(u STM32 a dalších proc. označení V DD - napájení , V SS - zem)<br />

Pomůcka pro zapamatování označení - Ucc ( bipolární log. <strong>obvody</strong>, NPN<br />

tranzistory, kolektory na kladné napět) U CC U - colector, colector<br />

Podobně NMOS logika, Drain na kladné napětí<br />

tedy U DD (napětí U -Drain, Drain - U DD<br />

, jako U CC<br />

kladné napájení)<br />

U STM32F103,..logika společné elektrody Source ( U SS - source, source) -<br />

ekvivalent GND.<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 19


Logický obvod jako dvojbran- statické parametry 2<br />

Charakteristické parametry obvodu<br />

U cc<br />

I i<br />

I o<br />

U i U o<br />

U iH<br />

- vstup. napětí pro vysokou log. úroveň - High<br />

U iHmin<br />

- minimální vstupní napětí pro vysokou log. úroveň - High !!!<br />

(které obvod vyhodnotí jako úroveň High)<br />

U iL<br />

- vstup. napětí pro nízkou log. úroveň - Low ,<br />

U iLmax<br />

- maximální vstupní napětí pro nízkou log. úroveň - Low !!!<br />

(které obvod vyhodnotí jako úroveň Low)<br />

U OH<br />

- napětí na výstupu obvodu generujícího vysokou úroveň - High<br />

U OL<br />

- napětí na výstupu obvodu generujícího nízkou úroveň - Low<br />

I iH<br />

- vstupní proud pro vysokou log. úroveň High připojenou na vstup<br />

I iL<br />

- vstupní proud pro nízkou log. úroveň Low připojenou na vstup<br />

I OH - výstupní proud při vysoké úrovni - H High<br />

I OL - výstupní proud při nízké úrovni - L Low<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 20


Dynamické parametry - odezva na změnu na vstupu<br />

vstup<br />

výstup<br />

ve fázi<br />

výstup<br />

v protifázi<br />

t PLH<br />

t PHL<br />

t PHL<br />

t PLH<br />

U i<br />

U m<br />

(3V - TTL )<br />

U m<br />

(1,5 V - TTL)<br />

0 V<br />

U m<br />

U OH<br />

U OL<br />

U OH<br />

U OL<br />

t PLH<br />

- zpoždění odezvy při změně z nízké na vysokou úroveň ( Low - High)<br />

t PHL<br />

- zpoždění odezvy při změně z vysoké na nízkou (High - Low)<br />

U m (nebo také U t ) rozhodovací úroveň<br />

t PLH<br />

Propagation delay time, low-to-high-level output<br />

t PHL<br />

Propagation delay time, high-to-low-level output<br />

t pd<br />

Propagation delay time, obecně doba zpoždění odezvy obvodu<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 21


Dynamické vlastnosti - předstih a přesah dat<br />

řídicí<br />

vstup<br />

datový<br />

vstup<br />

t S<br />

t H<br />

U H<br />

0 V<br />

U H<br />

0 V<br />

t s<br />

(set - up time) předstih datového signálu vůči hodinovému řídicímu) sig.<br />

t H<br />

(hold time) přesah datového signálu vůči hodinovému (řídícímu) signálu<br />

vyjadřuje dobu, po kterou musí být datový log. signál v klidu před<br />

testováním a po testování v okamžiku určeném příslušnou aktivní hranou<br />

hodinového signálu<br />

význam, specifikace klopné <strong>obvody</strong>, posuvné registry, paměti,...<br />

příklad specifikace u 74HCT595 ,<br />

SH_CP – hod. sig. ,DS- datový vstup<br />

posuvný registr (úloha - cvičení)<br />

(analogie – snímek – s bleskem,<br />

zde náběžná hrana hod. sig. - blesk)<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 22


Bipolární logické <strong>obvody</strong><br />

Logika TTL (nepoužívá se),<br />

význam - definice standardu a úrovní<br />

napájení Ucc = + 5V proti zemi - GND<br />

příklad - obvod NAND 7400<br />

vstupy A, B, výstup Y, Y = /(AxB)<br />

T1<br />

A<br />

B<br />

Ucc<br />

4k 1k6 130<br />

T4<br />

T2 D Y<br />

T3<br />

1k<br />

GND<br />

Vstup na U IL - nízká úroveň,<br />

vstupní proud I IL - záporný (= -1,6 mA) , vytéká<br />

z emitoru T1 a vtéká do výstupu budicího obvodu<br />

pro TTL logiku - kritický parametromezení<br />

počtu vstupů, které může výstup ve stavu L budit; snaha snížit I IL<br />

Vstup na U IH - úroveň H, vtéká nulový nebo malý kladný proud do vstupu<br />

U OH omezeno. Úbytek na U AK na diodě D a U CET4 (emitorový sledovač T 4 )<br />

U OH < U CC - U CET4 = 5 V - 0,7 V- 0,7 V= 3,6 V<br />

- důsledek na výstupu Y hradla TTL není ve stavu H napětí 5 V ale nižší<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 23


Bipolární logické <strong>obvody</strong> TTL -LS a TTL - ALS<br />

Snížení I IL i dalších proudů v obvodu, řady bipolárních log. obvodů<br />

TTL - LS ( Low Power Schottky) ALS (Advanced Low Power Schottky)<br />

Ucc<br />

Ucc<br />

20k 8k 120<br />

37k 50k 14k 50<br />

A<br />

Y<br />

B<br />

4k<br />

12k<br />

5k Y<br />

A<br />

1k5 3k<br />

B<br />

2k8 5k6<br />

GND<br />

GND<br />

I IL - záporný (= -0,4 mA) I IL - záporný (= -0,1 mA)<br />

Při definici paramtrů <strong>CMOS</strong> log obvodů ( např. i mikroprocesorů) často odkaz<br />

na parametry TTL, nebo TTL - LS, např. formou, že výstupu uP je schopen<br />

budit vstup jednoho TTL hradla ( „to drive one TTL load“),<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 24


Pouzdro log. obvodu, číslování vývodů<br />

Číslování vývodů na pouzdře logického obvodu<br />

proti směru hodinových ručiček<br />

Vývod č. 1 umístěn vlevo od indexové značky<br />

směr platí i u pouzder pro SMD (povrch. montáž)<br />

Přívody napájení U CC a GND u TTL, TTL - LS,...,<br />

CD4000, 74HC, 74HCT,..<br />

- vlevo dole GND, vpravo nahoře U CC ,<br />

pouzdro 14 vývodů GND pin 7, Ucc pin 14<br />

pouzdro 16 vývodů GND pin 8, Ucc pin 16<br />

platí také u některých procesorů ( AT89C51,...)<br />

pouzdro DIL 40 vývodů GND pin 20, Ucc pin 40<br />

neplatí však obecně, např. ATmega32,,,,,a další s vnitřním převodníkem A/D<br />

svorky U CC a GND uprostřed na stranách pouzdra, pro zkrácení vnitřních<br />

přívodů v nitřních přívodů v pouzdře a snížení jejich impedance<br />

1<br />

14<br />

7400<br />

GND<br />

indexová značka<br />

7 8<br />

U CC<br />

směr číslování<br />

vývodů<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 25


Parametry řad bipolárních log. obvodů<br />

Důležité údaje:<br />

U ILmax max. napětí pro úroveň L (nízká úroveň na vstupu)<br />

U IHmin min. napětí pro úroveň H (vysoká úroveň na vstupu)<br />

I ILmax - vstupní proud pro U IL - nízkou úroveň na vstupu<br />

U t - rozhodovací napěťová úroveň na vstupu<br />

U CC - napájecí napětí – typicky + 5 V ( + 4,75 až + 5,25 V)<br />

řada UILmax IILmax UIHmin IIH IOLmax UOLmax IOH UOHmin tPD U t ICCL<br />

[V] [mA] [V] [uA] [mA] [V] [mA] [V] [ns] [V] [mA]<br />

TTL 0,8 - 1,6 2 40 16 0,4 - 0,4 2,4 10 1,3 3<br />

LS - TTL 0,8 - 0,4 2 20 8 0,5 - 0,4 2,7 10 1,1 0,6<br />

S TTL 0,8 - 2 2 50 20 0,5 - 1 2,4 4,7 1,3 5<br />

FAST 0,8 - 0,6 2 20 20 0,4 - 2 3 3,3 1,5 1,4<br />

ALS 0,8 - 0,1 2 20 8 0,5 - 0,4 3 6 1,4 0,4<br />

pro TTL: U ILmax = 0,8 V, U IHmin = 2 V, I ILmax = 1,6mA,<br />

zpoždění t pd - jednotky ns, a více podle typu obvodu.<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 26


Bipolární log. <strong>obvody</strong><br />

Nevyužité vstupy – u TTL, TTL – LS, TTL – ALS<br />

Pro stav L – připojit na zem - GND,<br />

Pro stav H připojit na výstup hradla s definovanou úrovní H<br />

(invertor se vstupem na GND) nebo na UCC ( i přes odpor 2 - 5 kOhmů)<br />

Nezapojený vstup TTL, TTL – LS, TTL – ALS se chová jako by byl<br />

připojen na úroveň H – ale není to korektní stav<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 27


Logické <strong>obvody</strong> v technologii NMOS<br />

Snížení vstupní a napájecích proudů - logické <strong>obvody</strong> v technologii NMOS<br />

se využívalo pouze tranzistorů MOS s kanálem N<br />

používaná pouze pro specializované <strong>obvody</strong> a <strong>obvody</strong> velké integrace<br />

nejsou v <strong>obvody</strong> s funkcí analogickou obvodům TTL (není hradlo NAND,..)<br />

používáno také u mikroprocesorů Intel 8080, 8086,<br />

ale i jednočipových mikropočítačů Intel 8031, 8051,..<br />

(obdobné mikropočítače v technologii <strong>CMOS</strong> 80C31, 80C51, 89C51 -písmeno<br />

C označuje použitou technologii <strong>CMOS</strong>)<br />

Integrované <strong>obvody</strong> v technologii NMOS<br />

- stálý statický proudový odběr int. obvodu<br />

např. elementární invertor NMOS<br />

(nyní proto používána pouze technologie <strong>CMOS</strong>)<br />

U 1<br />

D<br />

S<br />

+ Ucc<br />

U 2<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 28


Logické <strong>obvody</strong> v technologii <strong>CMOS</strong>, řada CD4000<br />

Technologie <strong>CMOS</strong> s hliníkovým hradlem - elektroda Gate - hliníková<br />

logické <strong>obvody</strong> řady CD4000 (někdy označované jako high voltage <strong>CMOS</strong>)<br />

viz WWW.TI.COM<br />

v klidu I cc = 0, proudový odběr především při změnách stavu<br />

napájecí napětí Ucc = 3 až 15 V<br />

zpoždění invertoru - t pd roste s klesajícím napájecím napětím<br />

S p<br />

+ Ucc<br />

U CC [V] 5 10 15<br />

t PD [ns] 125 50 40<br />

Obvody pro „pomalé aplikace“<br />

U iHmin = 0,7 x Ucc,<br />

U iLmax = 0,3 x Ucc<br />

D p<br />

D n<br />

S n<br />

Řada CD 4000 - mnoho typů, široce rozšířené, nejsou kompatibilní s řadou TTL<br />

(jiné rozložení vývodů, jiné funkce)<br />

CD 4011 hradlo NAND rozložení vývodů jiné než u NAND TTL 7400<br />

obecné vlastnosti řady CD4000 viz. dokument family.hef4000.specification.pdf<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 29


Logické <strong>obvody</strong> v technologii <strong>CMOS</strong>, řada CD4000<br />

Nevyužité vstupy – připojit !!! na správnou log. úroveň, L, nebo H, svorka GND<br />

nebo Ucc,<br />

Nezapojený vstup – plovoucí – nepředvídatelné chování,<br />

výskyt napětí v zakázané oblasti – zvýšení klidového proudového odběru,<br />

částečně vedou oba tranzistory,<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 30


Logické <strong>obvody</strong> HC MOS<br />

Rychlé logické <strong>obvody</strong> <strong>CMOS</strong> - High Speed <strong>CMOS</strong> 74HCxx<br />

Technologie <strong>CMOS</strong> s křemíkovým hradlem (Poly Si Gate)<br />

náhrada za TTL, obdobné označení, funkce i rozložení vývodů<br />

TTL 7400, 74LC00, 74 ALS 00 funkční náhrada 74HC00, atd.<br />

Napájecí napětí U CC = + 2 až + 6V, typicky U CC = + 5V<br />

74HC – odlišné vstupní úrovně od TTL<br />

74HCxxx U m (U t ) = 0,5 Ucc rozhodovací úroveň polovina napájecího napětí<br />

U iHmin = 0,7 x Ucc, 3,5 V !!! (při U CC = 5V)<br />

U iLmax = 0,3 x Ucc 1,5 V (při U CC = 5V)<br />

Výstup TTL není možno připojit na vstup HC (U CC = +5 V)<br />

U OH TTL obvodu není kompatibilní s U IH min u HC obvodu !<br />

vstupní klidové proudy I IH , I IL velmi malé, typ. 100 nA, zaručováno- menší 1 uA<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 31


Logické <strong>obvody</strong> HCT MOS<br />

Rychlé logické <strong>obvody</strong> <strong>CMOS</strong> - High Speed <strong>CMOS</strong> 74HCTxx<br />

Úprava vstupu HCT obvodu - kompatibilní s výstupními úrovněmi TTL<br />

posun, zpětná vazba,..<br />

(úprava pouze ve vstup. obvodu, ostatní je jako u HC, žádné další diody)<br />

S p<br />

+ Ucc<br />

(Napájení standardně U CC = +5V, rozmezí + 4,5 V až +5,5 V)<br />

Výstupní obvod HCT – vlastnosti - jako výstup HC<br />

74HCTxxx U m (U t ) = 1,3 V rozhodovací úroveň na vstupu<br />

U iHmin = 2 V !!! U iLmax = 0,8 V<br />

D p<br />

D n<br />

S n<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 32


Logické <strong>obvody</strong> HCT MOS<br />

Pozor, na vstupu 74HCT může být U iH = 2,4 V,<br />

ale roste I CC (vysvětlení – tabule),<br />

Příčný proud- NMOS – již vede,<br />

PMOS – ještě není zcela vypnut<br />

S p<br />

+ Ucc<br />

D p<br />

D n<br />

∆I CC – změna napáj. proudu I CC ,<br />

pokud bude jeden vstup na U iH = 2,4 V<br />

u SN74HCT00 (Texas Instruments ∆I CC = typ. 1,4 mA, Philips – NXP 0,6 mA)<br />

S n<br />

Požadavek strmosti hran vstupního signálu – (stejný důvod) zamezit<br />

výskytu napětí na vstupu v oblasti rozhodovací úrovně, požadavek doba<br />

hran kratší než 500 ns - jinak – nárůst I CC<br />

Pro bateriové napájení – vstupy - úroveň 0, nebo U CC , jinak zvýšení odběru.<br />

Nevyužité vstupy – připojit na GND nebo U CC ,<br />

Vysokoimpedanční vstup- nepředvídatelné chování, elektrostatická indukce<br />

úroveň H nebo L.<br />

Nepředvídatelné chování obvodu <strong>CMOS</strong> - !!!! kontrola vstupů<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 33


Typické vstupní parametry obvodů HC, HCT<br />

74HCxxx<br />

U m (U t ) = 0,5 Ucc rozhodovací úroveň<br />

U cc<br />

I i<br />

I o<br />

U iHmin = 0,7 x Ucc, 3,5 V !!! (při U CC = 5V)<br />

U iLmax = 0,3 x Ucc 1,5 V<br />

U i U o<br />

74HCTxxx při Ucc= 5 V U m (U t ) = 1,4 V rozhodovací úroveň<br />

U iHmin = 2 V<br />

U iLmax = 0,8 V<br />

I i zbytkový vstupní proud (Input Leakage Current) typ. do 0,1 uA,<br />

<strong>CMOS</strong> prakticky nulový statický vstupní proud oproti TTL.<br />

(typicky i menší - řádu nA, určen svodovými proudy ochranných diod) (vstup<br />

připojen na Ucc, nebo GND)<br />

Vstupní kapacity C i = typ. řádově 5 - 10 pF<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 34


Typické výstupní parametry obvodů HC, HCT<br />

U OH<br />

- určen U CC a velikostí výstupního proudu,<br />

vnitřním odporem R P<br />

naprázdno přibližně U OH = U CC<br />

U OL<br />

určeno velikostí výstupního proudu<br />

a vnitřním odporem R N<br />

naprázdno přibližně U OL = 0 V (GND)<br />

Vnitřní odpory , pro odhad napětí - přibližně 100 Ohmů a méně<br />

(R - pro NMOS tranzistor typ 50 Ohmů a méně)<br />

I i<br />

U cc<br />

I o<br />

U i U o<br />

Náhradní schéma výstupu<br />

R P<br />

+U CC<br />

U OL = I O . R N<br />

U OH = U CC – (I O . R N )<br />

R N<br />

U O<br />

GND<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 35


Mezní parametry obvodů HC, HCT<br />

I CC , I GND , I O , I iK , I OK<br />

(absolute maximum) překročením hrozí poškození<br />

I i<br />

U cc<br />

I o<br />

I CC , I GND - proud svorkou U CC nebo GND<br />

= 50 mA (70mA - bus typy) !!!<br />

I O - výstupní proud = ± 25 mA (± 35 mA bus typy)<br />

(output source or sink current)<br />

I IK proud vstupními záchytnými diodami ±20 mA (input diode current)<br />

při (U Oi < −0.5 V nebo U Oi > U CC + 0.5 V)<br />

(vstup „zápornější“, než GND; „kladnější“ než Ucc)<br />

U i U o<br />

I OK output diode current (U O < −0.5 V to U O > U CC + 0.5 V)<br />

proud výstupními (parazitními) diodami − ±20 mA<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 36


Mezní parametry obvodů HC, HCT, důsledky<br />

I CC<br />

, I GND<br />

, I O<br />

, I iK<br />

, I OK<br />

U cc<br />

I i<br />

I o<br />

U i U o<br />

Příklad - posuvný registr 74HCT595 , (74HC_HCT595_4.pdf, hc595.pdf vysvětlení<br />

mezních parametrů absol, maximum ratings, vysvětlení klíč. slov na dokumentech)<br />

použit pro buzení 7- segment LED, výstupy buzení LED proti U CC (úloha cvič.)<br />

jak volit proud I O 10mA, katalog I Omax = 25 mA, ANO - OK<br />

10 mA méně než 25 mA,<br />

ale !!!<br />

7x 10 mA = 70 mA = I GND max .absolutní pro 74HCT595 je právě 70 mA NE!!!<br />

volit nižší proud, např. 5 mA (7x 5 mA = celkem 35 mA)<br />

analogicky úvahy u jednočip. mikropočítače<br />

D. úkol. - nalézt příslušné parametry a omezení pro AT89C2051 a AT89S8252,<br />

STM32F103.<br />

Jak by bylo možno budit připojené LED (max. velikost proudů)<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 37


Mezní parametry konkrétních obvodů<br />

Způsob orientace v katalogovém listu obvodu – přednáška s využitím<br />

katalogového listu HC00, 74HCT00, 74HCT595, AT89C2051, STM32F103<br />

viz. katalog - PDF<br />

Demonstrace typických a mezních parametrů U i , I ik , I Ok , I CCmax , I GND max , I Omax<br />

Vysvětlení způsobu specifikace parametrů obvodu a jak je nalézt v<br />

katalogovém listu viz vysvětlení na přednášce a příslušné katalogové listy.<br />

STM32F100,<br />

hesla: „Absolute maximum ratings“,<br />

General input/output characteristics<br />

Způsob zjištění dle katalogových údajů , zda vstup obvod je + 5 V tolerantní<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 38


Ochrana vstupů<br />

<strong>CMOS</strong> log <strong>obvody</strong>, průrazné napětí izolantu MOS tranzistorů - desítky V,<br />

působení statické elektřiny 10 -ky kV, vstupy bez ochrany - průraz<br />

poškození struktury<br />

U CC<br />

ochrana vstupů,<br />

- záporně polarizované PN přechody D 1<br />

, D 2<br />

Ideové schéma ochrany - obecně<br />

důsledky 0


Ochranné diody - model<br />

Ochrany vstupů, různé řešení,<br />

ochrany vstupu 74HCxx<br />

poly- Si<br />

rezistor<br />

100 Ω<br />

D2<br />

U CC<br />

U 1<br />

U 2<br />

D 1<br />

170 Ω<br />

HC MOS<br />

obvod<br />

difundovaný didový rezistor<br />

U CC<br />

D3<br />

D5<br />

<strong>CMOS</strong><br />

obvod<br />

U 1<br />

D4<br />

U 2<br />

D6 D7<br />

Obecně – model s diodami proti GND a U CC .<br />

zjednodušený model (pro zapamatování)<br />

obvodu <strong>CMOS</strong> z hlediska diod na vstupech a výstupech<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 40


Přídavná ochrana vstupů s rezistorem<br />

Situace s částmi obvodu s různými napájecími zdroji – nebezpečí<br />

částečného výpadku napájení nebo různě rychlého náběhu napájení.<br />

Nebezpečí poškození budicího i buzeného obvodu<br />

U CC1<br />

U CC2<br />

R 1<br />

1 1<br />

U CC1<br />

U CC2<br />

R 2<br />

D<br />

1 1<br />

Ochranný rezistor R 1 (470 Ohmů, - 1 kOhm) kompromis mezi ochranou a<br />

dynamikou, limitně R = 270 ( příp. 220) Ohmů<br />

(5V /270 Ohmů = méně než 20 mA)<br />

Zhoršení dynamiky pro výpočet. čas. konstanty C = 20 - 30 pF<br />

kapacita vstupu obvodu ( až 10 pF) + parazit kapacity krátkého spoje<br />

čas. konstanta (tau) τ = 470 Ohmů x 20 pF = přibl. 10 -8 s<br />

doba náběžné hrany t nab = 2,2 x τ = přibl. 2 x 10 -8 s = 20 ns<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 41


Řešení ochrany vstupů<br />

Pokud není možno zajistit správnou sekvenci náběhu napájení - v nouzi<br />

možno použít ochranné rezistory,<br />

U CC1<br />

U CC2<br />

R<br />

1 1<br />

U CC1<br />

U CC2<br />

D R<br />

1 1<br />

Využívat na cvičení, zamezení poškození procesoru !!!<br />

Volba velikosti ochranného odporu - omezení velikosti vstupního proudu na<br />

bezpečnou velikost, např. 5 mA,<br />

detaily- hledání v katalogu., absolute ---- max. ratings<br />

výpočet časové konstanty ochranného obvodu, parazitní kapacity vstupu<br />

obvodu a spojů<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 42


Působení diod ve vstupu obvodu <strong>CMOS</strong><br />

zdroj signálu funguje (nechtěně)<br />

jako napáječ obvodu<br />

zatěžování zdroje signálu<br />

jednocestný usměrňovač s D a C<br />

zdroj<br />

signálu<br />

U CC1<br />

= 5V U CC2<br />

< 5V<br />

C<br />

+<br />

i v<br />

U n<br />

D<br />

<strong>CMOS</strong><br />

log. obv.<br />

I n<br />

<strong>CMOS</strong><br />

log. obv.<br />

Pozor na připojení zdroje signálu na vstup procesoru bez napájení<br />

( !!! cvičení, připojení vstupů obvodu 74HC595 bez napájení na výstupy<br />

STM32F103, použít ochranné rezistory)<br />

parazitní napájení obvodu ze zdroje signálu , (příklad , čítač <strong>CMOS</strong>, viz. výklad)<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 43


Působení diod na výstupu obvodu <strong>CMOS</strong><br />

Působení diody D5 ve výstupní struktuře<br />

(důsledek přítomnosti tranzistoru PMOS ve<br />

výstupní struktuře)<br />

Výpadek napájení U CC2 nebo snížení<br />

napájecího napětí <strong>CMOS</strong> obvodu (např.<br />

s třístavovým výstupem) – kolize<br />

sběrnice<br />

Nelze paralelně spojit třístavové<br />

výstupy budičů (<strong>CMOS</strong>) s různým<br />

napájecím napětí, např. 5 V a 3,3V<br />

Obvod s U CC2 by působil jako parazitní<br />

napěťový omezovač.<br />

U CC1<br />

= 5V U CC2<br />

< 5V<br />

D D<br />

U CC<br />

D3<br />

D5<br />

<strong>CMOS</strong><br />

obvod<br />

U 1<br />

D4<br />

U 2<br />

D6 D7<br />

budič A budič B<br />

i v<br />

U CC3<br />

přijímač<br />

Řešení: použít <strong>obvody</strong> 74FCTxxx T, které mají koncový stupeň (analogicky<br />

jako TTL ) pouze s MOS tranzistory jednoho druhu vodivosti NMOS<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 44


Latch - UP efekt, parazitní tyristor ve struktuře <strong>CMOS</strong><br />

Přítomnost ochranných diod na vstupu<br />

i parazitních diod na výstupu ve struktuře<br />

<strong>CMOS</strong>, parazitní tyristor mezi U CC a GND<br />

P - gate<br />

T1<br />

U CC<br />

R - N sub.<br />

Vnucení nadměrného proudu do vstupu nebo<br />

výstupu a tekoucího PN přechody -<br />

nebezpečí sepnutí parazit. tyristoru mezi U CC<br />

a GND. Tyristor - zůstává sepnutý i po<br />

odeznění spínacího impulsu.<br />

Omezení proudu tyristoru - pouze odporem<br />

přívodů a zdrojem (spálení obvodu).<br />

Vypnutí tyristoru, pouze vypnutím napájení<br />

Latch UP free - struktura odolná Latch UPefektu,<br />

omezení proudu ochranným<br />

odporem. u HC - dřívejší zničení vstupní<br />

struktury.<br />

Pozor <strong>CMOS</strong> - převodníky, progr. <strong>obvody</strong>,...<br />

U1<br />

R - P obl.<br />

T2<br />

N - gate<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 45


Latch - UP efekt -<br />

Proudová injektáž – možná i výbojem statické elektřiny do vstupu – u jistých<br />

konstrukcí – možné vyvolání Latch UP a a zničení obvodu (zmínit přiklad<br />

obvodu ….7).<br />

Chránit <strong>obvody</strong> <strong>CMOS</strong> před výbojem statické elektřiny a před napěťovými<br />

špičkami , možnost částečného poškození vstup/výst bloku, zvýšení<br />

proudového odběru (ilustrační příklad se STM32F103 ---m.t. )<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 46


Ochrana vstupů 2<br />

Problém pro vstupní napětí U 1 = U i > U cc<br />

řešení v některých obvodech<br />

náhrada diody MOS tranzistorem<br />

vyšší napětí - otevření tranzistoru T 1<br />

U imax = 5 V (5,5 V)<br />

(využití u „5V tolerantních“ obvodů)<br />

pokud není explicitně uvedeno- počítat s diodou mezi vstupem a U CC<br />

<strong>CMOS</strong> <strong>obvody</strong> - paměti, mikroprocesory,<br />

jednočip. mikropočítače, převodníky A/D v <strong>CMOS</strong> technologii,...<br />

přivedení měřeného napětí ( ze zdroje s malým vnitřním odporem) na vstup A/D<br />

převodníku bez napájení - poškození obvodu nadměrným proudem<br />

nutné omezení vstupního proudu I I na 10 ( příp. 20 mA), ( proudová injektáž,<br />

„injected current“ u STM32F10x do 5 mA)<br />

řešení - použití vnějšího rezistoru R = cca 1 kOhm (pozor, dynamika)<br />

Pamatovat pojem „5V tolerantní vstup“ , kdy má tento výraz smysl - pouze u<br />

obvodu s napájecím napětím nižším než 5 V.<br />

Umět nalézt tuto informaci v katalogu<br />

100 Ω<br />

<strong>CMOS</strong><br />

obvod<br />

U CC<br />

U 1<br />

U 2<br />

T 1<br />

D 1<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 47


Ochrana vstupů – max. proudová injektáž u STM32F10x<br />

Maxima<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 48


Logické <strong>obvody</strong> <strong>CMOS</strong>- „advanced“ varianty<br />

Vývoj log. obvodů řady pro zvýšení rychlosti<br />

AC - Advanced <strong>CMOS</strong>,<br />

ACT - Advanced <strong>CMOS</strong>, TTL compatible<br />

AC, AHC, VHC napájení Ucc = +2 až +5,5 V (příp +6 V)<br />

U iLmax = 0,3 x Ucc ; U iHmin = 0,7 x Ucc,<br />

ACT, AHCT, VHCT, FCT typické napájení má Ucc = + 5 V<br />

T značí - obvod je na vstupu kompatibilní s výstupními úrovněmi TTL<br />

U iHmin = 2 V; U iLmax = 0,8 V<br />

Doporučení – řada AHC, kompromis vyšší rychlost než HC, menší rušení a<br />

proudové impulsy než AC.<br />

AHC – má již specifikovány dyn. parametry i pro U CC = +3,3 V<br />

AHCT – vyšší rychlost oproti HCT, avšak ještě únosné proudové špičky<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 49


Parametry log. obvodů <strong>CMOS</strong> s napájením + 5 V<br />

U CCsp – napájecí nap.,při kterém jsou specifikovány dynamické parametry<br />

řada UCC<br />

[V]<br />

UCCsp Ut UIHmin UILmax IOLmax IOHmax<br />

5 V<br />

[V] [V] [V] [V] [mA] [mA] toler.<br />

HC 2 - 6 5 0,5 .UCC 3,5 1,5 + 4 -4 ne<br />

HCT 4,5 - 5,5 5 ≈ 1,4 2 0,8 +4 -4 -<br />

AHC 2 - 5,5 3,3; 5 0,5. UCC 3,5 1,5 +8 -8 ano<br />

AHCT 4,5-5,5 5 ≈ 1,4 2 0,8 +8 -8 -<br />

VHC 2 - 5,5 3,3; 5 0,5.UCC 3,5 1,5 +8 -8 ano<br />

VHCT 4,5 - 5,5 5 ≈ 1,4 2 0,8 +8 -8 -<br />

AC 2 - 6 3,3; 5 0,5 .UCC 3,5 1,5 +24 -24 ne<br />

ACT 4,5 - 5,5 5 ≈ 1,4 2 0,8 +24 -24 -<br />

FCT 4,75 -5,25 5 ≈ 1,4 2 0,8 +64 -15 -<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 50


Nízkonapěťová logika <strong>CMOS</strong><br />

Snižování dynamické výkonové ztráty – snižování napájecího napětí<br />

L – Low Voltage, nízkonapěťová logika.<br />

Významná hodnota napájení U CC = +3,3 V<br />

Např. sig. procesory, …jádro 1,2V, interface <strong>obvody</strong> 3,3 V<br />

otázka + 5 V tolerance vstupů<br />

existují řady i s nižším napájecím napětím<br />

Řada 74LVC – výhodná pro aplikace, rychlost, schopnost budit,<br />

+ 5 V tolerance vstupů<br />

LV řady – velmi často pouze v pouzdrech pro povrchovou montáž<br />

(není možno pro škol. lab.)<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 51


Nízkonapěťová logika <strong>CMOS</strong> – přehled vybraných řad<br />

řada UCC<br />

[V]<br />

UCCopt Ut IOLmax IOHmax<br />

[V] [V] [mA] [mA] vstup<br />

5V tol techn.<br />

LV 2 - 5,5 3,3 0,5*UCC +8 -8 ne <strong>CMOS</strong><br />

LVT 2,7 - 3,6 3,3 ≈1,4 +64 -32 ano Bi<strong>CMOS</strong><br />

ALVT 2,3 - 3,6 3,3; 2,5 ≈1,4 +64 -32 ano Bi<strong>CMOS</strong><br />

LVC 2 -3,6 3,3 0,5*UCC +24 -24 ano <strong>CMOS</strong><br />

ALVC 1,65 - 3,6 3,3; 2,5 0,5*UCC +24 -24 ne <strong>CMOS</strong><br />

FCT3 2,7 - 3,6 3,3 ≈1,4 +24 -8 ano <strong>CMOS</strong><br />

AVC 1,4 - 3,6 2,5 0,5*UCC +8 -8 ne <strong>CMOS</strong><br />

LVX 2 -3,6 3,3 0,5*UCC +4 -4 ano <strong>CMOS</strong><br />

LVQ 2 - 3,6 3,3 0,5*UCC +12 -12 ne <strong>CMOS</strong><br />

LCX 2- 3,6 3,3 0,5*UCC +24 -24 ano <strong>CMOS</strong><br />

VCX 1,4 - 3,6 2,5 0,5*UCC +24 -24 ne <strong>CMOS</strong><br />

AUC 1,1 - 2,7 1,8 0,5*UCC +8 -8 ne <strong>CMOS</strong><br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 52


Společné rysy logických obvodů <strong>CMOS</strong><br />

• U t = 0,5.U CC , U IH min = 0,7.U CC , U ILmax = 0,3.U CC (mimo 74**Txx s U CC =5 V)<br />

• U t ≈ 1,4 V , U IH min = 0,8 V, U ILmax = 2 V, pro <strong>CMOS</strong> TTL komp. ( 74**Txxx)<br />

• Výstup ve stavu H se chová jako zdroj napětí U out = U CC s vnitřním odporem<br />

25 Ω - 100 Ω (neplatí pro řady 74FCTxxxT se dvěma tranz. NMOS na výst.).<br />

• Výstup ve stavu L se chová jako zdroj napětí U out = 0 V s R V = 15 Ω až 70 Ω.<br />

• Vstupní klidové proudy jsou velmi malé I I < 1 µA.<br />

• Klidový napájecí proud I CC0 - je řádu jednotek, maximálně stovek<br />

mikroampér ( při mezních kladných teplotách +125 0 C).<br />

• Na vstupech jsou clamp-diody proti svorce GND (D 2 , D 4 dle ).<br />

• Část obvodů má na vstupech clamp-diody proti svorce U CC (jako D 1 , D 3 ).<br />

• Max. napětí na vstupu U Imax = U CC (s výjimkou 5 V, příp. 3,6 V toler. vstupů)<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 53


Obvody CBT<br />

„Crossbar Switches“, lit. Texas Instruments scdd001b_CBT_Log_Fam.pdf<br />

Tranzistor NMOS (induk. kanál N) symetrická struktura, funkce elektrody<br />

Drain, Source podle orientace napětí,<br />

podmínka sepnutí U GS větší než prahové napětí U T<br />

G<br />

Spínače sběrnic, převodníky napěťových úrovní<br />

S<br />

D<br />

B- sub.<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 54


Obvody CBT<br />

Elementární spínač SN74CBT1G125, SINGLE FET BUS SWITCH<br />

UCC= 5 V<br />

5 Ohmů v sepnutém stavu, pro napěťové úrovně L (0 V)<br />

10 Ohmů v sepnutém stavu, pro napěťové úrovně L (2,4 V)<br />

použitelné i jako rychlý „analogový“ spínač, videosignál,…<br />

(„obousměrný“) spínač sběrnic SN74CBT3245A<br />

pinově kompatibilní se obousměrným budičem<br />

sběrnic 74 HCT245, a dalšími ´245<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 55


CBT jako spínač sběrnice a převodník úrovní<br />

„Podmínka sepnutí tranzistoru U GS >U T (napětí na gate 4,3 V)<br />

vstupní napětí do 3 V – tranzistor vede<br />

- vstupní napětí 5 V – tranzistor „ reguluje (analogie emitorového sledovače)<br />

- na výstupu může být max. napětí U G - U T<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 56


Obvod Bus - Hold<br />

Definice logické úrovně na sběrnici při odpojení všech budičů, zamezení<br />

výskytu nežádoucí napěťové úrovně a případného vzniku kmitů<br />

podstata – bistabilní klopný obvod s invertory <strong>CMOS</strong>,<br />

zachovává poslední definovanou logická úroveň na sběrnici při použití<br />

obousměrných budičů sběrnic.<br />

Přepnutí budiče z režimu výstup do vstupního režimu, sběrnice je „plovoucí“<br />

– „floating“<br />

obvodem Bus – Hold, ekvivalent odporu 1 kOhm ve zpětné vazbě<br />

při změně úrovně je nutno budit ( překonat působení)<br />

obsažen v řadě obvodů obousměrných budičů sběrnic (řada obvodů ABT,<br />

LVT, ALVC, LVC,..)<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 57


Důvod použití obvodu Bus hold<br />

Vstup obvodu na napětí v okolí rozhodovací úrovně – částečně vedou oba<br />

tranzistory elementárního invertoru, zvýšení proudového odběru,<br />

změna napětí na vstupu – změna proudu svorkou U CC nebo GND, úbytky na<br />

parazitních indukčnostech přívodů (problém „ground bounce“)<br />

(vysvětlení působení imp. zemního vodiče,….tabule)<br />

vstup L do H, zvýšení proudu do GND, zvýšení úbytku na LGND, pokles<br />

napětí na vstupu (proti GND vývodu obvodu)<br />

je třeba zamezit dlouhodobému výskytu napětí na vstupu<br />

v okolí rozhodovací úrovně<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 58


Proudový odběr logických obvodů<br />

Bipolární log. <strong>obvody</strong> – statický proudový odběr a jeho růst s frekvencí<br />

Logické <strong>obvody</strong> <strong>CMOS</strong> – v klidu<br />

• buzení odporových zátěží – proud zátěží<br />

• zbytkové závěrné proudy přechodů PN, zbytkový proud tepelně<br />

generovanými nosiči, roste s teplotou<br />

Dynamický proudový odběr - přebíjení kapacit<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 59


Dynamická výkonová ztráta obvodů <strong>CMOS</strong><br />

Přebíjení kapacity C L frekvencí f<br />

Dynamická výkonová ztráta nezávislá je na velikosti odporů R P , R N (ovlivňují<br />

pouze dynamiku)<br />

+U CC<br />

C R<br />

i<br />

P<br />

C i<br />

C PD<br />

+U CC<br />

U 1 U 2<br />

C L<br />

GND<br />

R N<br />

U 2<br />

C L<br />

GND<br />

2<br />

2<br />

P = fU CC<br />

C<br />

P = f U<br />

CC ∑ C<br />

L<br />

Proud obvodu vyvolaný zatížením obvodu kapacitou C L<br />

I =<br />

fU CC<br />

C L<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 60


Dynamická výkonová ztráta obvodů <strong>CMOS</strong><br />

Ekvivalentní ztrátová kapacita CPD (power dissipation capacitace),<br />

C PD vyjadřuje parazitní vnitřní kapacity i ztráty proudovým impulsem mezi svorkami<br />

+U CC a GND<br />

P<br />

∑<br />

= f U C<br />

2<br />

CC<br />

P =<br />

2<br />

fU CC<br />

C<br />

L<br />

( )<br />

P = f U C + C + I U<br />

2<br />

D i CC<br />

( )<br />

PD L CC0 CC<br />

P = f C + f C U + I U<br />

2<br />

D i PD O L CC<br />

CC0 CC<br />

( C PD<br />

+ C L<br />

) CC0<br />

I +<br />

CC<br />

= f i<br />

U CC<br />

I<br />

I CC celkový proudový odběr<br />

obvodu z napájení U CC<br />

+U CC<br />

U 1<br />

U 2<br />

C L<br />

C i<br />

GND<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 61


Snižování dynamického odběru obvodů <strong>CMOS</strong><br />

Snižování proudového odběru:<br />

• snižování napájecího napětí<br />

• snižování pracovní frekvence<br />

• zkracování doby aktivní funkce obvodu<br />

(Viz. dig. hodinky, 1,5 V, 32768 Hz XTAL)<br />

Použití obvodů nízkonapětové logiky,<br />

P<br />

∑<br />

= f U C<br />

2<br />

CC<br />

Snížení odběru mikroprocesorů a mikrořadičů:<br />

Rozdělení – napájení jádra procesoru 2,5 V, 1,8 V, 1,2V ..<br />

napájení budičů výstupů – často stále 3,3 V – kvůli kompatibilitě s další<br />

logikou, ale možno i nižší napětí – viz STM32F103<br />

napájení jádra – nižší napětí, vnější vstup napájecího napětí, někdy vnitřní<br />

regulátor sníženého napětí<br />

Snížení taktovací frekvence jádra (PLL) na nutnou hodnotu, aktivace pouze<br />

periferií a sběrnic potřebných pro činnost (viz STM32F103)<br />

Volba dvou procesorů –výkonný (hlavní) a monitorovací (zap.) viz. výklad<br />

Problematika bateriového napájení, především snížení odběru<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 62


Další výklad příklady – kat. listy, orientace údajích a parametrech<br />

Pro další studium a pro pochopení problematiky logických obvodů <strong>CMOS</strong> je vhodné<br />

využít též katalogových příslušných pamětí, které jsou též umístěny na www<br />

stránkách předmětu.<br />

Tento materiál je určen pouze pro studenty předmětů A3B38MMP, při přednáškách<br />

a domácí přípravě 2012. Slouží především jako grafický podklad a přehled hesel<br />

k přednášce.<br />

Studium tohoto materiálu nenahrazuje účast na přednášce, která mimo jiné<br />

obsahuje výklad k prezentaci i další vysvětlení a výklad u tabule.<br />

Tento materiál nesmí být využíván k jiným účelům ani publikován jinou formou.<br />

Jan Fischer 2012<br />

A3B38MMP, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 63

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!