近五年論文著述目錄

91/10/30 修 訂NSC 96-2622- E-155-005-CC3.63. C.-C. Huang, M.-Y. Chang-Chien, and Y.-H. Lin, “A new method for measuring characteristicimpedances of CMOS interconnect transmission lines,” in Proc. IEEE InternationalMicrosystems, Packaging, Assembly and Circuits Technology Conference (IMPACT), pp.709-712, Taipei, Taiwan, Oct. 2009, NSC 97-2221-E-155-009. (EI)64. 何 嘉 育 , 許 佑 丞 , 黃 建 彰 ,〈 利 用 六 角 型 電 磁 能 隙 結 構 進 行 小 型 化 微 波 雙 模 帶 通 濾 波 器設 計 〉,《 全 國 電 信 研 討 會 論 文 集 》, 高 雄 ,2009 年 12 月 。65. 林 聖 傑 , 古 鎧 維 , 黃 建 彰 ,〈 小 型 化 寬 頻 雙 平 衡 升 頻 混 頻 器 設 計 〉,《 全 國 電 信 研 討 會論 文 集 》, 高 雄 ,2009 年 12 月 。66. 古 鎧 維 , 林 俊 源 , 黃 建 彰 , 吳 紹 懋 ,〈 被 動 式 電 子 標 籤 電 路 設 計 與 測 試 〉,《 全 國 電 信研 討 會 論 文 集 》, 高 雄 ,2009 年 12 月 。67. C.-C. Huang, M.-Y. Chang-Chien, Y.-C. Hsu, K.-W. Ku, “Applying line, offset-series,offset-shunt calibration for on-wafer CMOS device characterizations,” in Proc. 2009 AsiaPacific Microwave Conference (APMC), Singapore, Dec. 2009, NSC 97-2221-E-155-009. (EI)68. C.-C. Huang and K.-W. Ku, “Analysis of loaded antennas for applications of backscatteringmodulation in RFID systems,” in Proc. 2009 Asian Pacific International Conference on RFID(APICOR), Taipei, Taiwan, Dec. 2009, CSIST-839-V101 (98).69. 黃 建 彰 , 古 鎧 維 , 張 祐 禎 ,〈 無 線 射 頻 辨 識 標 籤 設 計 與 測 試 〉,《2010 資 訊 科 技 國 際 研討 會 論 文 集 》, 台 中 ,2010 年 4 月 ,CSIST-839-V101 (98)。70. C.-C. Huang and Y.-C. Chen, “Differential- and common-mode characterization of coupledinterconnect transmission lines using four-port S-parameter measurements,” in Proc. IEEEInternational Microsystems, Packaging, Assembly and Circuits Technology Conference(IMPACT), Taipei, Taiwan, Oct. 2010, NSC 98-2221-E-155-010. (EI)71. 古 鎧 維 , 袁 名 宏 , 黃 建 彰 ,〈 無 線 感 測 網 路 低 功 耗 低 雜 訊 放 大 器 設 計 〉,《2010 民 生 電子 研 討 會 論 文 集 》, 台 南 ,2010 年 11 月 。72. 陳 嘉 全 , 涂 崴 迪 , 黃 建 彰 ,〈ZigBee 模 組 之 內 建 式 小 型 化 天 線 設 計 〉,《2010 民 生 電 子研 討 會 論 文 集 》, 台 南 ,2010 年 11 月 。73. 張 碧 香 、 陳 宥 全 、 黃 建 彰 ,〈 可 程 控 微 波 答 應 器 設 計 〉,《 全 國 電 信 研 討 會 論 文 集 》,桃 園 ,2010 年 12 月 。74. C.-C. Huang, “High frequency measurement and calibration techniques for nano devicecharacterization,” in Proc. Symposium on Nano Device Technology (SNDT), Hsin-Chu, Taiwan,Apr. 2011.75. C.-C. Huang and W.-D. Tu, “Characterization of probe pad and interconnect line for CMOSon-wafer scattering parameter measurements,” in Proc. 2011 Electronic TechnologySymposium (ETS), Kaohsiung, Taiwan, June 2011.表 C302共 15 頁 第 10 頁