vt11_nanotubos

lugar, reaccionan poco con la muestra cuando no están funcionalizados, lo que es una
ventaja cuando punta y muestra están en contacto, frente a sustancias más reactivas
que se usan en puntas y que pueden llegar a alterar la muestra al rastrearla.
En el artículo “Recent advances in scanning probe microscope” se comentan diferentes
contribuciones de los nanotubos de carbono al avance de los SPM.
Los tipos de SPM detectados en nuestras búsquedas como posibles aplicaciones de los
nanotubos de carbono son los siguientes:
· Microscopio de fuerza atómica (AFM – Atomic Force Microscope). Tiene resolución
de fracciones de Angstrom. Su sonda está formada por un cantilever microscópico
con una fina punta en su extremo encargada de rastrear la muestra. Puede trabajar
en modo “contacto” y en modo “sin contacto”. En el primer caso la punta toca la
muestra y ésta ejerce una fuerza sobre la primera a medida que la sonda se desplaza
sobre la muestra en el plano XY. Para mantener la fuerza constante se produce una
realimentación sobre la muestra que se mueve en la dirección Z y este movimiento
proporciona una imagen topográfica de la muestra. En el modo “sin contacto” el
cantilever oscila a una frecuencia próxima a la resonancia y son las interacciones
electrostáticas entre punta y muestra las que modifican la oscilación del cantilever
(en frecuencia, amplitud o fase). También en este caso se pretende mantener fija la
oscilación y para ello se mueve la muestra en el plano Z obteniendo con la
información del desplazamiento una imagen topográfica. En ambos casos la
información sobre el movimiento del cantilever se detecta mediante un haz láser que
se refleja en él y es recogido por unos fotodiodos. Se pude usar un nanotubo de
carbono como punta de sonda en este tipo de microscopios, con las ventajas ya
comentadas, en general, para todos los SPM. En el artículo “Carbon nanotube atomic
force microscopy tips: Direct growth by chemical vapor deposition and application to
high-resolution imaging” se comentan las mejoras que pueden introducir nanotubos
de carbono en los AFM.
· Microscopio de fuerza magnética (MFM – Magnetic Force Microscope). Su
estructura y funcionamiento es similar al del AFM trabajando en modo “sin
contacto” pero en este caso la interacción que se produce entre muestra y punta es
de tipo magnético. Para ello ambas tienen que estar fabricadas con materiales
magnéticos. En algunos textos se les considera como un tipo de AFM (generalizando
este concepto a otros tipos de interacción muestra-punta distintas a las fuerzas de
contacto y electrostáticas) y en otros como un sistema diferente de microscopía. Los
nanotubos de carbono cubiertos de un metal magnético totalmente o simplemente
en el extremo más próximo a la muestra pueden usarse como puntas para estos
microscopios. Las ventajas que presentan son las generales para todos los SPM.
Puede encontrarse más información sobre este tema en el artículo “Metal-coated
carbon nanotube tips for magnetic force microscopy”.
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CAPÍTULO 2 Aplicaciones
de los nanotubos de carbono