unidade de arqueometría

Analizadores CNOSH
AAS (Espectroscopía de Absorción Atómica)
Técnicas elementales de incandescencia ICP-OES (Espectroscopía de emisión optica de plasma acoplado inductivamente)
ICP-MS (Espectroscopia de masas de plasma acoplado inductivamente)
LIBS (Espectroscopía de plasma inducido por Laser) /Ablación Láser
Técnicas elementales de rayos X
EPMA (Microsonda electrónica)
ANÁLISIS DE ELEMENTOS QUIMICOS
XRF (Fluorescencia de rayos X) / TXRF (reflexión total)
PIXE (Emisión de rayos X inducido por partículas) / PiXRF (variante fluorescencia)
PIGE (Emisión de rayos gamma inducido por partículas)
Técnicas elementales IBA
RBS (Espectroscopía de retrodispersión de Rutherford)
SIM (Espectrometría de masas de iones secundarios)
ERDA (Análsis por detección del retroceso elástico)
Técnicas elementales de Neutrones
NAA ( Anáisis de activación neutrónica)
NRA (Análisis de reacción nuclear)
TG (Termogravimetría) / TGEM (con espectrometría de masas)
Técnicas Térmicas
DTA (Análisis térmico diferencial)
DSC (Calorimetría diferencial de barrido)
Análisis mineralógicos
Ensayos clásicos mineralógicos
XRD (Difracción de rayos X)
ANÁLISIS DE COMPUESTOS Y MINERALES Análisis de grupos funcionales FTIR (Espectroscopía de infrarojos por tranformada de Fourier)
FT-RAMAN (Espectroscopía RAMAN por tranformada de Fourier)
Tecnicas XAS (XANES, EXAFS)
Análisis del ambiente químico
XPS (Espectroscopía de rayos X fotoelectrónica) (=ESCA)
AE (Espectroscopía Auger)
ME (Espectroscopía Mössbauer)
LB (Lupa binocular)
Técnicas microscópicas
MO (Microscopía optica)
SEM (Microscopía electrónica de barrido)
ANÁLSISIS MORFOLÓGICOS
TEM (Microscopía electrónica de transmisión)
Radiografía
Técnicas radiográficas
Emisiografía
Xerografía
TC (Tomografía computerizada)
Pirólisis-Gases-Masas
RMN (Resonancia magnética nuclear)
Análisis orgánicos
-Rápidas
Otras (FTIR, FTRAMAN)
-Sensibles
Antracología
-Multielementales
IR-RAMAN (Espectroscopías de InfrarojosRAMAN)
Espectroscopía óptica
Análisis del color
Colorímetros de sólidos
OTROS ANÁLISIS
Bird, J. R. & Williams, J. S. 1989. Ion Espectrofotómetros beams for materials. de sólidos Academic Press. London.
Dendrocronología
Campbel, J. L. & Malmqvist, K. G. C14 1995. (Calibración Particle-induced Radiocarbónica) X-ray spectrometry (PIXE). John Wiley & Sons, London.
Datación
TM (Termoluminiscencia)
Demortier, G. 2005. Ion Beam Techniques EPR for the Non-destructive Analysis of Archaeological Materials. In: Uda, M.;
Demortier, G. & Nakai, I. (eds.) X-rays Edafología for Archaeology. / Geología / Ed. Geografía Springer. Física Dordrecht. / Estratigrafía The Neetherlands.
Disciplinas para el entorno del objeto Paleoclimatología
Ontalba, M. A.; Ruvalcaba-Sil, J.L.; Paleobotánica Bucio, L.; Manzanilla, / Dendrología L. & Miranda, J. 2000. Ion bean analysis of pottery from
Teotihuacan, México. Nucl. Instrum. and Meth. B, v. 161-163, p. 762-768.
SE BASAN EN LA INCIDENCIA DE HACES DE IONES (PROTONES) SOBRE UNA MUESTRA