unidade de arqueometría

NALISIS DE COMPUESTOS Y MIERALES ANALISIS MINERALÓGICOS XRD (Difracción de rayos X)
NOMBRE: XRD (Difracción de rayos X)
(X ray diffraction)
TIPO DE ANÁLISIS: Análisis de compuestos y minerales.
FAMILIA DE ANALISIS: Análisis mineralógicos.
DESCRIPCIÓN DE LA TÉCNICA: un haz de rayos X incide sobre una muestra. Si estos están periódicamente ordenados en el espacio (cristal), las ondas dispersadas elásticamente
(=λ) por cada átomo producien interferencias que en ciertas direcciones son constructivas y en otras destructivas dando lugar a un patrón de difracción. Este patrón de difracción es
característico de los planos cristalográficos de las sustancias y por lo tanto de su naturaleza químico-cristalográfica (=mineralógica).
SONDA INCIDENTE: Haz de rayos X.
SEÑAL DETECTADA: Haz de rayos X.
TAMAÑO MUESTRA: < 5 mm2 / 50 µg.
PREPARACIÓN: bulk, polvo homogenizado, monocristal.
SENSIBILIDAD: 1 %.
RESOLUCIÓN LATERAL: 5 mm.
RESOLUCIÓN EN PROFUNDIDAD: