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Medición del módulo de Young en el hule látex usando ... - E-journal

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INSTRUMENTACIÓN REVISTA MEXICANA DE FÍSICA 49 (6) 555–564 DICIEMBRE 2003<strong>Medición</strong> <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> <strong>en</strong> <strong>el</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong> <strong>usando</strong> ESPIJ.A. Rayas, R. Rodríguez-Vera y A. MartínezC<strong>en</strong>tro <strong>de</strong> Investigaciones <strong>en</strong> Óptica, A.C.,Apartado Postal 1-948, 37150 León, Gto. México,e-mail: jrayas@cio.mx, rarove@cio.mx y amalia@cio.mxRecibido <strong>el</strong> 28 <strong>de</strong> abril <strong>de</strong> 2003; aceptado <strong>el</strong> 18 <strong>de</strong> julio <strong>de</strong> 2003Es conocido que <strong>el</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>el</strong>asticidad o <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> r<strong>el</strong>aciona <strong>el</strong> esfuerzo con la <strong>de</strong>formación unitaria que experim<strong>en</strong>ta un objeto alser sometido a cargas externas. En este trabajo se pres<strong>en</strong>ta la implem<strong>en</strong>tación <strong>de</strong> la interferometría <strong>el</strong>ectrónica <strong>de</strong> patrones <strong>de</strong> moteado (ESPI)como técnica para medir las <strong>de</strong>formaciones que sufre <strong>el</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong> al ser sometido a cargas <strong>de</strong> t<strong>en</strong>sión. Aunado a la medición <strong>de</strong> las cargast<strong>en</strong>sionantes (mediante un dinamómetro digital), se <strong>de</strong>termina <strong>el</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> <strong><strong>de</strong>l</strong> objeto bajo prueba. El valor <strong>de</strong>terminado mediant<strong>el</strong>a técnica ESPI es comparado con uno obt<strong>en</strong>ido mediante un <strong>en</strong>sayo a t<strong>en</strong>sión realizado <strong>en</strong> un dispositivo diseñado y construido <strong>en</strong> <strong>el</strong>laboratorio (<strong>el</strong> cual es equival<strong>en</strong>te a una máquina <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayos comercial); corroborando así la veracidad <strong>de</strong> la técnica ESPI usada comoext<strong>en</strong>sómetro interferométrico.Descriptores: Metrología óptica; interferometría <strong>de</strong> moteado; constantes <strong>el</strong>ásticas.It is w<strong>el</strong>l know that the module of <strong>el</strong>asticity or <strong>Young</strong>’s module r<strong>el</strong>ates the stress to the strain that suffers a object, which is yi<strong>el</strong><strong>de</strong>d toexternal loads. In this work we show the implem<strong>en</strong>tation of the Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI) as a technique to measure<strong>de</strong>formations on a piece of latex wh<strong>en</strong> it is subjected to external loads. Along with the measurem<strong>en</strong>t of t<strong>en</strong>sion loads (by means of a digitaldynamometer), we <strong>de</strong>termine the <strong>Young</strong>’s module of the object un<strong>de</strong>r test. The value <strong>de</strong>termined by using the ESPI technique is comparedwith that obtained in a <strong>de</strong>vice <strong>de</strong>signed and constructed in our laboratory (which is equival<strong>en</strong>t to a commercial testing machine). It is<strong>de</strong>monstrated the veracity of the ESPI technique applied as an interferometric ext<strong>en</strong>someter.Keywords: Optical metrology; speckle interferometry; <strong>el</strong>astic constants.PACS: 06.20; 07.60.Ly; 62.20.Dc1. IntroducciónCuando se habla sobre mecánica <strong>de</strong> materiales y <strong>módulo</strong> <strong>de</strong><strong>Young</strong>, es fácil imaginarse gran<strong>de</strong>s máquinas <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayos,probetas estandarizadas, mordazas y sobre todo una gran variedad<strong>de</strong> ext<strong>en</strong>sómetros (mecánicos, <strong>el</strong>éctricos, <strong>el</strong>ectrónicos,<strong>en</strong>tre otros).Para comparar las cualida<strong>de</strong>s mecánicas <strong>en</strong>tre los materiales,se hac<strong>en</strong> evaluaciones numéricas por medio <strong>de</strong> pruebasllamadas <strong>en</strong>sayos (t<strong>en</strong>sión, compresión, torsión, etc.). Exist<strong>en</strong>máquinas mo<strong>de</strong>rnas, controladas por computadora, que aplicant<strong>en</strong>sión al material <strong>de</strong> una manera sumam<strong>en</strong>te controlada.La medición <strong>de</strong> los resultados <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>en</strong>sayo la realizan aparatosespecíficos; para medir las cargas aplicadas se usan transductores<strong>de</strong> fuerza llamados c<strong>el</strong>das o células <strong>de</strong> carga; para cuantificarlas <strong>de</strong>formaciones g<strong>en</strong>eradas por la acción <strong>de</strong> las cargasaplicadas, se usan instrum<strong>en</strong>tos llamados ext<strong>en</strong>sómetros (vi<strong>de</strong>oext<strong>en</strong>sómetros, galgas ext<strong>en</strong>siométricas, calibradores; losmismos <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>tos que realiza la máquina <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayosal aplicar la carga sirv<strong>en</strong> para t<strong>en</strong>er una i<strong>de</strong>a g<strong>en</strong>eral <strong>de</strong> las<strong>de</strong>formaciones <strong>en</strong> toda la muestra, <strong>en</strong>tre otros). Su funcionami<strong>en</strong>topue<strong>de</strong> estar basado <strong>en</strong> principios mecánicos, ópticoso <strong>el</strong>éctricos.A partir <strong>de</strong> la medición <strong>de</strong> cargas aplicadas y <strong>de</strong>formacionesresultantes, es posible <strong>de</strong>terminar características mecánicas<strong>de</strong> los materiales como <strong>el</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> y la r<strong>el</strong>acióno razón <strong>de</strong> Poisson, los cuales son importantes <strong>en</strong> <strong>el</strong> estudio,caracterización y aplicación <strong>de</strong> los materiales.Los ext<strong>en</strong>sómetros ópticos ti<strong>en</strong><strong>en</strong> la v<strong>en</strong>taja <strong>de</strong> medir <strong>de</strong>formacionessobre toda la superficie <strong><strong>de</strong>l</strong> espécim<strong>en</strong> (siemprey cuando esté <strong>en</strong> su campo <strong>de</strong> visión), a<strong>de</strong>más <strong>de</strong> hacer medidasmás fi<strong>el</strong>es <strong>de</strong> las <strong>de</strong>formaciones, pues no ti<strong>en</strong><strong>en</strong> contactodirecto con <strong>el</strong> objeto. Son i<strong>de</strong>ales para materiales sumam<strong>en</strong>tefrágiles y super<strong>el</strong>ásticos como <strong>en</strong> <strong>el</strong> caso que nos ocupa.Los vi<strong>de</strong>o-ext<strong>en</strong>sómetros son sistemas <strong>de</strong> visión digital que,junto a una computadora, amplifican la imag<strong>en</strong> <strong><strong>de</strong>l</strong> espécim<strong>en</strong>mi<strong>en</strong>tras está si<strong>en</strong>do <strong>de</strong>formado; <strong>el</strong> material bajo prueba<strong>de</strong>be ser marcado con anterioridad para po<strong>de</strong>r localizar fácilm<strong>en</strong>t<strong>el</strong>as <strong>de</strong>formaciones. Estos ext<strong>en</strong>sómetros alcanzan unaalta resolución, pero al aum<strong>en</strong>tar ésta disminuye <strong>el</strong> área <strong>de</strong>visión (0.6µm <strong>en</strong> un área <strong>de</strong> 6mm 2 ) [1].Por su parte, la metrología óptica (rama <strong>de</strong> la óptica queti<strong>en</strong>e como propósito efectuar medidas <strong>usando</strong> las ondas <strong><strong>de</strong>l</strong>a luz como escala [2]) da solución a los inconv<strong>en</strong>i<strong>en</strong>tes quepres<strong>en</strong>tan los vi<strong>de</strong>o-ext<strong>en</strong>sómetros, pues realiza las medicionespor medio <strong>de</strong> instrum<strong>en</strong>tos llamados interferómetros queoperan sobre <strong>el</strong> principio <strong>de</strong> interfer<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> las ondas luminosas.Esto hace in<strong>de</strong>p<strong>en</strong>di<strong>en</strong>te la resolución <strong><strong>de</strong>l</strong> área <strong>de</strong>visión.En la actualidad, la mecánica <strong>de</strong> materiales y la metrologíaóptica pudieran t<strong>en</strong>er, <strong>en</strong> conjunto, una aplicación importantísima<strong>en</strong> la caracterización <strong>de</strong> materiales y <strong>en</strong> su valoracióna sus posibles aplicaciones industriales.En este contexto, la interferometría <strong>el</strong>ectrónica <strong>de</strong> patrones<strong>de</strong> moteado [3] (ESPI, por sus siglas <strong>en</strong> inglés: ElectronicSpeckle Pattern Interferometry), como prueba óptica no <strong>de</strong>s-


556 J.A.RAYAS,R.RODRÍGUEZ-VERAYA.MARTÍNEZtructiva, es una técnica i<strong>de</strong>al para la medición <strong>de</strong> <strong>de</strong>formacionesmicrométricas <strong>en</strong> materiales que ti<strong>en</strong><strong>en</strong> un bajo <strong>módulo</strong><strong>de</strong> <strong>el</strong>asticidad (materiales super<strong>el</strong>ásticos). Esto se <strong>de</strong>be a quebasa su funcionami<strong>en</strong>to <strong>en</strong> la iluminación especial <strong><strong>de</strong>l</strong> objetobajo prueba; por lo que no modifica la forma y la evaluación<strong>de</strong> éste al int<strong>en</strong>tar medirlo. A<strong>de</strong>más, ESPI permite la <strong>de</strong>tección<strong>de</strong> la <strong>de</strong>formación <strong><strong>de</strong>l</strong> objeto completo (técnica <strong>de</strong> campocompleto) <strong>en</strong> tantos puntos como lo permita <strong>el</strong> sistema <strong>de</strong>visión [3].En este trabajo se <strong>de</strong>scribe la implem<strong>en</strong>tación <strong>de</strong> la técnicaESPI, usada como “ext<strong>en</strong>sómetro interferométrico”. Semi<strong>de</strong>n las <strong>de</strong>formaciones <strong>de</strong> una membrana <strong>de</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong> apartir <strong>de</strong> los mapas <strong>de</strong> <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>tos obt<strong>en</strong>idos <strong>en</strong> un <strong>en</strong>sayoa t<strong>en</strong>sión. Aunado a la medición <strong>de</strong> las cargas aplicadas,se <strong>de</strong>termina <strong>el</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> (por ser este parámetro unabu<strong>en</strong>a refer<strong>en</strong>cia <strong>en</strong> <strong>el</strong> uso <strong>de</strong> materiales super<strong>el</strong>ásticos como<strong>el</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong>). El tipo <strong>de</strong> interferómetro ESPI usado correspon<strong>de</strong>a uno <strong>de</strong> iluminación dual, <strong>el</strong> cual es s<strong>en</strong>sible a <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>tos<strong>en</strong> plano y pue<strong>de</strong> alcanzar una resolución <strong>de</strong>0.4 µm [4]. Los valores obt<strong>en</strong>idos para <strong>el</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong>por la técnica ESPI, son comparados con los valores <strong>de</strong> refer<strong>en</strong>ciaobt<strong>en</strong>idos a partir <strong>de</strong> un dispositivo diseñado y construido,<strong>el</strong> cual es equival<strong>en</strong>te a una máquina <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayos comercial.Se usa <strong>el</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong> como material <strong>de</strong> prueba por su bajo<strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>el</strong>asticidad y dada la gran importancia que ha tomado<strong>en</strong> la fabricación <strong>de</strong> diversos productos industriales yla poca información que hay sobre este material; <strong>en</strong> comparacióncon <strong>el</strong> acero y <strong>el</strong> concreto.2. Fundam<strong>en</strong>tosteóricos2.1. Esfuerzoy<strong>de</strong>formaciónunitariaElesfuerzoesunaconsecu<strong>en</strong>cia<strong><strong>de</strong>l</strong>asfuerzasinternasqueseproduc<strong>en</strong><strong>en</strong>uncuerpoporlaaplicación<strong>de</strong>cargasexteriores.Alaint<strong>en</strong>sidad<strong><strong>de</strong>l</strong>afuerzaporunidad<strong><strong>de</strong>l</strong>áreatransversals<strong>el</strong>e llama esfuerzo unitario [5]:σ = dPdA , (1)don<strong>de</strong> σ es <strong>el</strong> esfuerzo unitario (N/m 2 ), P es la carga aplicada(N) y A es <strong>el</strong> área sobre la cual actúa la carga (m 2 ). Sila resultante <strong>de</strong> las fuerzas aplicadas pasa por <strong>el</strong> c<strong>en</strong>troi<strong>de</strong> <strong><strong>de</strong>l</strong>a sección consi<strong>de</strong>rada, se pue<strong>de</strong> usar la sigui<strong>en</strong>te expresiónpara calcular <strong>el</strong> esfuerzo:σ = P A . (2)El cambio <strong>de</strong> longitud que sufre un objeto bajo esfuerzo,se conoce como <strong>de</strong>formación. La <strong>de</strong>formación unitaria se <strong>de</strong>finecomo <strong>el</strong> cambio <strong>en</strong> la longitud por unidad <strong>de</strong> longitud:ε = dδdL , (3)don<strong>de</strong> ε es la <strong>de</strong>formación unitaria (m/m), δ es la <strong>de</strong>formacióntotal (m) y L la longitud original (m). Si se cumpl<strong>en</strong> lassigui<strong>en</strong>tes condiciones:<strong>el</strong> <strong>el</strong>em<strong>en</strong>to sometido a t<strong>en</strong>sión <strong>de</strong>be t<strong>en</strong>er una seccióntransversal recta constante;<strong>el</strong> material <strong>de</strong>be ser homogéneo; yla fuerza o carga <strong>de</strong>be ser axial, es <strong>de</strong>cir, producir unesfuerzo uniforme.De esta manera, la <strong>de</strong>formación unitaria se pue<strong>de</strong> expresarcomo2.2. Ley <strong>de</strong>Hookey<strong>módulo</strong><strong>de</strong><strong>Young</strong>ε = δ L . (4)Los resultados <strong>de</strong> un <strong>en</strong>sayo a t<strong>en</strong>sión su<strong>el</strong><strong>en</strong> repres<strong>en</strong>tarse<strong>en</strong> un gráfico XY, don<strong>de</strong> los esfuerzos se repres<strong>en</strong>tan <strong>en</strong> <strong>el</strong>eje <strong>de</strong> las or<strong>de</strong>nadas y la <strong>de</strong>formación unitaria <strong>en</strong> <strong>el</strong> <strong>de</strong> lasabscisas; a este gráfico se le <strong>de</strong>nomina diagrama esfuerzo<strong>de</strong>formación[6]. Por otro lado, la <strong>el</strong>asticidad es la propiedadque hace que un objeto, que ha sido <strong>de</strong>formado, regrese a suforma original <strong>de</strong>spués <strong>de</strong> que se han removido las fuerzas<strong>de</strong>formadoras. Según esta <strong>de</strong>finición, casi todos los materialesson <strong>el</strong>ásticos (hasta cierto límite <strong>de</strong> carga). Robert Hookeestableció que <strong>el</strong> esfuerzo es proporcional a la <strong>de</strong>formación(σ ∝ ε); a esto se le conoce como ley <strong>de</strong> Hooke [6]. Estar<strong>el</strong>ación es fácilm<strong>en</strong>te i<strong>de</strong>ntificable <strong>en</strong> <strong>el</strong> diagrama esfuerzo<strong>de</strong>formación<strong>de</strong>s<strong>de</strong> <strong>el</strong> orig<strong>en</strong> y hasta llegar al límite <strong>de</strong> <strong>el</strong>asticidad.La p<strong>en</strong>di<strong>en</strong>te <strong>de</strong> este segm<strong>en</strong>to <strong>de</strong> la gráfica es <strong>el</strong> <strong>módulo</strong><strong>de</strong> <strong>el</strong>asticidad <strong><strong>de</strong>l</strong> material <strong>en</strong> cuestión y se repres<strong>en</strong>ta por laletra E [6]. Por consigui<strong>en</strong>te,E = σ ε . (5)Aunque da la impresión <strong>de</strong> ser una medida <strong>de</strong> las propieda<strong>de</strong>s<strong>el</strong>ásticas <strong>de</strong> los materiales, E es una medida <strong>de</strong> surigi<strong>de</strong>z; <strong>en</strong>tre mayor es <strong>el</strong> valor <strong>de</strong> esta constante, mayor es larigi<strong>de</strong>z <strong><strong>de</strong>l</strong> material. Esta constante <strong>de</strong> proporcionalidad fuecalculada a principios <strong><strong>de</strong>l</strong> siglo XIV por Thomas <strong>Young</strong> [6];por lo que también es llamada <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> y correspon<strong>de</strong>a la constante <strong>de</strong> proporcionalidad que r<strong>el</strong>aciona <strong>el</strong> esfuerzoy la <strong>de</strong>formación unitaria (mi<strong>en</strong>tras <strong>el</strong> material no excedasu límite <strong>el</strong>ástico). El <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> <strong>de</strong> un material cualquierapue<strong>de</strong> cambiar con la temperatura2.3. Elf<strong>en</strong>óm<strong>en</strong>o<strong>de</strong>moteadoCuando utilizamos un haz <strong>de</strong> luz coher<strong>en</strong>te para iluminar unobjeto rugoso, es posible apreciar <strong>en</strong> su superficie un patrónaleatorio <strong>de</strong> manchas. En la Fig. 1a se muestra una probeta <strong>de</strong><strong>hule</strong> <strong>látex</strong> si<strong>en</strong>do iluminada con un haz láser, y <strong>en</strong> la Fig. 1bla misma probeta, pero ahora está si<strong>en</strong>do iluminada con unalámpara incan<strong>de</strong>sc<strong>en</strong>te. En <strong>el</strong> caso <strong>de</strong> la iluminación láser sepue<strong>de</strong> notar fácilm<strong>en</strong>te este f<strong>en</strong>óm<strong>en</strong>o que se conoce como“patrón <strong>de</strong> moteado”. Dicho patrón no aparece <strong>en</strong> <strong>el</strong> caso <strong><strong>de</strong>l</strong>a iluminación con la lámpara incan<strong>de</strong>sc<strong>en</strong>te.Rev. Mex. Fís. 49 (6) (2003) 555–564


MEDICIÓNDELMÓDULODEYOUNGENELHULE LÁTEXUSANDOESPI 557Después <strong>de</strong> un cambio <strong>en</strong> la fase <strong>en</strong>tre los dos fr<strong>en</strong>tes <strong>de</strong>ondas, esta distribución estará dada porI f (x, y) = I A (x, y) + I B (x, y)+ 2 √ I A I B cos(Ψ + ∆φ), (8)FIGURA 1. a) Iluminación con láser y b) Iluminación con lámparaincan<strong>de</strong>sc<strong>en</strong>te.La aparición <strong>de</strong> este f<strong>en</strong>óm<strong>en</strong>o se <strong>de</strong>be a la coher<strong>en</strong>cia <strong><strong>de</strong>l</strong>a fu<strong>en</strong>te <strong>de</strong> iluminación y a que la variación <strong>de</strong> rugosidad <strong><strong>de</strong>l</strong>a superficie es mayor que la longitud <strong>de</strong> onda (λ) <strong>de</strong> la luzláser con que es iluminada [7]. Esta iluminación es reflejada<strong>de</strong>s<strong>de</strong> la superficie rugosa <strong>de</strong> la probeta hacia todas las direccioneshaci<strong>en</strong>do interfer<strong>en</strong>cia aleatoria y formando <strong>el</strong> patrón<strong>de</strong> moteado. Exist<strong>en</strong> dos maneras para po<strong>de</strong>r obt<strong>en</strong>er patrones<strong>de</strong> moteado [7]; <strong>en</strong> los arreglos objetivos existe una propagaciónlibre <strong>de</strong> las ondas reflejadas <strong>de</strong>s<strong>de</strong> la muestra rugosahasta <strong>el</strong> plano <strong>de</strong> registro <strong><strong>de</strong>l</strong> patrón <strong>de</strong> moteado. Los arreglossubjetivos usan un sistema óptico (l<strong>en</strong>te <strong>de</strong> vi<strong>de</strong>o) para hacer<strong>el</strong> registro <strong><strong>de</strong>l</strong> patrón.Cada mota pres<strong>en</strong>ta un perfil casi gaussiano <strong>en</strong> <strong>el</strong> planoimag<strong>en</strong> y ti<strong>en</strong>e una diámetro que está dado por [4]S ≈ 1.22λF # (M + 1), (6)don<strong>de</strong> F # es la apertura numérica <strong><strong>de</strong>l</strong> sistema óptico y Mes la amplificación <strong><strong>de</strong>l</strong> sistema óptico. A su vez, la aperturanumérica <strong>de</strong> la l<strong>en</strong>te <strong>de</strong> vi<strong>de</strong>o está dada por F # = f/D,don<strong>de</strong>f es la distancia focal <strong>de</strong> la l<strong>en</strong>te y D <strong>el</strong> diámetro <strong>de</strong> supupila <strong>de</strong> <strong>en</strong>trada.2.4. Interferometría <strong>el</strong>ectrónica <strong>de</strong> patrones <strong>de</strong> moteado(ESPI)Los métodos <strong>de</strong> interferometría <strong>de</strong> moteado se basan <strong>en</strong> laadición <strong>de</strong> un segundo fr<strong>en</strong>te <strong>de</strong> onda (<strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia), quepue<strong>de</strong> ser especular o moteado, al patrón <strong>de</strong> moteado <strong><strong>de</strong>l</strong> objeto[8]. Como la finalidad es hacerlos interferir, <strong>el</strong> haz objetoy <strong>el</strong> <strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia <strong>de</strong>b<strong>en</strong> proce<strong>de</strong>r <strong>de</strong> la misma fu<strong>en</strong>te láser.Como resultado, <strong>el</strong> patrón <strong>de</strong> moteado estará formado por lainterfer<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> dos haces coher<strong>en</strong>tes <strong>en</strong>tre sí.Cuando <strong>el</strong> objeto sufre <strong>de</strong>formaciones, la adición <strong>de</strong> unhaz <strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia ti<strong>en</strong>e como consecu<strong>en</strong>cia un cambio <strong>en</strong> <strong>el</strong>comportami<strong>en</strong>to <strong><strong>de</strong>l</strong> patrón <strong>de</strong> moteado. La int<strong>en</strong>sidad <strong>en</strong> <strong>el</strong>patrón resultante <strong>de</strong>p<strong>en</strong><strong>de</strong> <strong>de</strong> la distribución r<strong>el</strong>ativa <strong>de</strong> la fase<strong>de</strong> la adición <strong>de</strong> los haces. Si <strong>el</strong> objeto es <strong>de</strong>formado, la faser<strong>el</strong>ativa <strong>de</strong> los dos campos cambia, ca<strong>usando</strong> una variación<strong>de</strong> int<strong>en</strong>sidad <strong><strong>de</strong>l</strong> patrón resultante.Consi<strong>de</strong>rando <strong>el</strong> interferómetro <strong>de</strong> la Fig. 2, la int<strong>en</strong>sidad<strong>de</strong> algún punto P(x,y) <strong><strong>de</strong>l</strong> objeto <strong>en</strong> <strong>el</strong> plano imag<strong>en</strong> (superficie<strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>de</strong>tector) está dada por [8]I i (x, y) = I A (x, y) + I B (x, y) + 2 √ I A I B cos(Ψ). (7)don<strong>de</strong> I A e I B son las int<strong>en</strong>sida<strong>de</strong>s <strong>de</strong> los haces y ψ es ladifer<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> la fase aleatoria <strong>en</strong>tre los haces. La difer<strong>en</strong>cia<strong>de</strong> fase adicional ∆φ pue<strong>de</strong> ser introducida por <strong>de</strong>formacióno <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>to <strong><strong>de</strong>l</strong> objeto bajo prueba.El patrón <strong>de</strong> moteado <strong>de</strong>formado es comparado con <strong>el</strong> patróninicial (corr<strong>el</strong>ación), mediante la suma o sustracción <strong>de</strong>int<strong>en</strong>sida<strong>de</strong>s. La corr<strong>el</strong>ación <strong>de</strong> estos patrones da como resultadola aparición <strong>de</strong> un conjunto <strong>de</strong> franjas claras y obscurasque correspon<strong>de</strong>n a los sitios <strong>de</strong> difer<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> la fase igual<strong>en</strong>tre los fr<strong>en</strong>tes <strong>de</strong> onda. Esta difer<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> fase (∆φ) se r<strong>el</strong>acionacon la difer<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> camino óptico introducido por <strong>el</strong>movimi<strong>en</strong>to <strong>de</strong> la superficie [9], haci<strong>en</strong>do posible su cuantificación.Una mejor visibilidad <strong><strong>de</strong>l</strong> patrón <strong>de</strong> franjas se pue<strong>de</strong> observar<strong>usando</strong> la corr<strong>el</strong>ación por sustracción [10]. Ésta consiste<strong>en</strong> calcular <strong>el</strong> valor absoluto <strong>de</strong> la sustracción <strong>en</strong>tre <strong>el</strong>patrón inicial y <strong>el</strong> patrón <strong>de</strong>formado. Esto da como resultadola sigui<strong>en</strong>te r<strong>el</strong>ación:|I f −I i | =4 √ ( I A I B ·2ψ+∆φ∣ s<strong>en</strong> 2)s<strong>en</strong>( )∣ ∆φ ∣∣∣. (9)2Esta ecuación ti<strong>en</strong>e dos términos que son funciones moduladas<strong>en</strong>tre sí: la primera, con una frecu<strong>en</strong>cia espacial alta (<strong>el</strong>ruido <strong><strong>de</strong>l</strong> moteado); y la segunda, con una frecu<strong>en</strong>cia espacialmás baja (las franjas <strong>de</strong> corr<strong>el</strong>ación). Un mínimo <strong>de</strong> la franjaaparece siempre que ∆φ = 2Nπ, don<strong>de</strong> N=0,1,2,. . . , es <strong>de</strong>cir,don<strong>de</strong> quiera que la int<strong>en</strong>sidad <strong><strong>de</strong>l</strong> patrón <strong>de</strong> moteado haregresado a su valor original.Como se m<strong>en</strong>cionó anteriorm<strong>en</strong>te, esta técnica permitehacer mediciones <strong>de</strong> campo completo y <strong>en</strong> tantos puntos comolo <strong>de</strong>termine <strong>el</strong> sistema <strong>de</strong> vi<strong>de</strong>o, haci<strong>en</strong>do posible la medición<strong>de</strong> los <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>tos <strong>en</strong>tre cada uno <strong>de</strong> estos puntos,FIGURA 2. Interferómetro s<strong>en</strong>sible a <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>tos <strong>en</strong> <strong>el</strong> plano.Rev. Mex. Fís. 49 (6) (2003) 555–564


558 J.A.RAYAS,R.RODRÍGUEZ-VERAYA.MARTÍNEZpudi<strong>en</strong>do así <strong>de</strong>terminar conc<strong>en</strong>traciones <strong>de</strong> esfuerzos antes<strong>de</strong> sobrepasar <strong>el</strong> límite <strong>de</strong> <strong>el</strong>asticidad <strong>de</strong> los materiales. Éstaes una gran v<strong>en</strong>taja, pues otras técnicas sólo mi<strong>de</strong>n la difer<strong>en</strong>cia<strong>de</strong> la distancia <strong>en</strong>tre dos puntos <strong><strong>de</strong>l</strong> objeto y supon<strong>en</strong>una distribución uniforme <strong>de</strong> las <strong>de</strong>formaciones <strong>en</strong>tre estospuntos; t<strong>en</strong>i<strong>en</strong>do que llegar al punto <strong>de</strong> ruptura <strong><strong>de</strong>l</strong> materialpara saber <strong>en</strong> qué parte se conc<strong>en</strong>traban los esfuerzos. Si alsometer a cargas a algún material, sus posibles fallas internasrepercut<strong>en</strong> <strong>en</strong> la <strong>de</strong>formación <strong>de</strong> su superficie, ESPI tambiénes capaz <strong>de</strong> <strong>de</strong>tectar fallas internas [11].2.5. Interferómetros<strong>en</strong>siblea<strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>tos<strong>en</strong><strong>el</strong>planoExist<strong>en</strong> arreglos interferométricos para la medición <strong>de</strong> <strong>de</strong>formacionesfuera <strong>de</strong> plano, <strong>de</strong>formaciones <strong>en</strong> plano y la <strong>de</strong>rivada<strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>to, <strong>en</strong>tre otros, cuya s<strong>en</strong>sibilidad <strong>de</strong>p<strong>en</strong><strong>de</strong><strong>de</strong> las geometrías <strong>de</strong> iluminación y observación[12,13].La dirección <strong>de</strong> s<strong>en</strong>sibilidad pue<strong>de</strong> ser <strong>de</strong>finida por un vectorunitario ⃗ S llamado vector <strong>de</strong> s<strong>en</strong>sibilidad. Si establecemos unsistema <strong>de</strong> coor<strong>de</strong>nadas sobre <strong>el</strong> objeto (ver Fig. 2), la s<strong>en</strong>sibilida<strong>de</strong>n plano se refiere a la capacidad <strong><strong>de</strong>l</strong> interferómetropara <strong>de</strong>tectar los <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>tos medidos sobre los ejes x ey, la s<strong>en</strong>sibilidad fuera <strong>de</strong> plano a la capacidad para <strong>de</strong>tectarlos <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>tos sobre <strong>el</strong> eje z.Dado que es <strong>de</strong> nuestro interés la medición <strong><strong>de</strong>l</strong> alargami<strong>en</strong>to<strong>en</strong> la probeta <strong>de</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong>, se utilizará un interferómetros<strong>en</strong>sible <strong>en</strong> plano para po<strong>de</strong>r realizar dichas medidas. Enla Fig. 2 se muestra <strong>el</strong> diagrama <strong>de</strong> un interferómetro s<strong>en</strong>siblea <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>tos <strong>en</strong> <strong>el</strong> plano. La difer<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> fase (∆φ),<strong>de</strong>bida a un <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>to ( ⃗ d) <strong><strong>de</strong>l</strong> punto P, se <strong>de</strong>terminapor [4]∆φ = 2π λ(⃗k1 − ⃗ k 2)· ⃗d, (10)don<strong>de</strong> ⃗ k 1 y ⃗ k 2 son los vectores <strong>de</strong> iluminación y ( ⃗ k 1 − ⃗ k 2 ) es<strong>el</strong> vector s<strong>en</strong>sibilidad <strong><strong>de</strong>l</strong> arreglo, <strong>el</strong> cual es paral<strong>el</strong>o al plano<strong><strong>de</strong>l</strong> objeto. Según esta geometría y para iluminación colimada,<strong>el</strong> cambio <strong>de</strong> fase pue<strong>de</strong> calcularse como [10]∆φ = 2π u (2 sin θ) , (11)λdon<strong>de</strong> u es la compon<strong>en</strong>te <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>to <strong>en</strong> la direcciónx, θ es <strong>el</strong> ángulo <strong>de</strong> iluminación y λ la longitud <strong>de</strong> onda <strong>de</strong> laluz <strong>de</strong> iluminación.Debido a la periodicidad <strong>de</strong> las franjas <strong>de</strong> interfer<strong>en</strong>cia,la compon<strong>en</strong>te <strong>en</strong> <strong>el</strong> plano pue<strong>de</strong> ser calculada comou =λ2 sin θ , (12)que es la expresión que utilizaremos para <strong>de</strong>terminar, a partir<strong>de</strong> un patrón <strong>de</strong> franjas, <strong>el</strong> <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>to <strong>de</strong> cada punto <strong><strong>de</strong>l</strong>objeto <strong>en</strong> <strong>el</strong> plano.3. Cálculo <strong>de</strong> la refer<strong>en</strong>cia <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong><strong>Young</strong>3.1. ElmaterialbajopruebaExiste una infinidad <strong>de</strong> materiales con los cuales <strong>de</strong>sarrollaralguna aplicación práctica. Sean materiales vírg<strong>en</strong>es o reciclados,puros o mezclados; para <strong>de</strong>cidir sobre sus posiblesaplicaciones, es necesario estudiar sus propieda<strong>de</strong>s mecánicas,<strong>el</strong>éctricas, químicas, etc. En <strong>el</strong> caso que nos ocupa,los materiales <strong>de</strong>nominados <strong>el</strong>astómeros o materiales super<strong>el</strong>ásticos,ti<strong>en</strong><strong>en</strong> las características necesarias para <strong>de</strong>sarrollarnuestros experim<strong>en</strong>tos y <strong>de</strong>mostrar que ESPI es una exc<strong>el</strong><strong>en</strong>tetécnica para medir <strong>de</strong>formaciones <strong>en</strong> <strong>el</strong>los.Los <strong>el</strong>astómeros son una sustancia polimérica que pose<strong>el</strong>a cualidad <strong>de</strong> ser muy <strong>el</strong>ásticos (<strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> r<strong>el</strong>ativam<strong>en</strong>tebajo). De los materiales super<strong>el</strong>ásticos usaremos <strong>el</strong>más común y <strong>de</strong> mayor uso: <strong>el</strong> caucho, mejor conocido como“<strong>hule</strong> <strong>látex</strong>”.Las propieda<strong>de</strong>s físicas <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong> (<strong>en</strong>tre <strong>el</strong>las <strong>el</strong><strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong>) varían drásticam<strong>en</strong>te con la temperatura.A bajas temperaturas se vu<strong>el</strong>ve rígido y cal<strong>en</strong>tando a más <strong>de</strong>100 ◦ C se ablanda y sufre alteraciones perman<strong>en</strong>tes. Debidoa esto se estableció una temperatura <strong>de</strong> 24 ◦ C (temperaturaambi<strong>en</strong>te) para realizar los experim<strong>en</strong>tos.Como la finalidad <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>en</strong>sayo es calcular <strong>el</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong><strong>Young</strong> <strong><strong>de</strong>l</strong> material <strong>en</strong> cuestión y esto se pue<strong>de</strong> hacer sin pasar<strong>de</strong> su límite <strong>de</strong> <strong>el</strong>asticidad, se usó una membrana <strong>en</strong> formarectangular <strong>en</strong> lugar <strong>de</strong> una probeta estandarizada. Estamembrana se obtuvo <strong>de</strong> un globo como los que se usan <strong>en</strong> lasfiestas infantiles.3.2. Diseño<strong><strong>de</strong>l</strong>dispositivo<strong>de</strong><strong>en</strong>sayoObviam<strong>en</strong>te, la manera más s<strong>en</strong>cilla <strong>de</strong> realizar la medición<strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> <strong>de</strong> un material por medio <strong>de</strong> un <strong>en</strong>sayoa t<strong>en</strong>sión, es “con una máquina <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayos a t<strong>en</strong>sión”. Por lafalta <strong>de</strong> una máquina <strong>de</strong> este tipo, se diseñó y construyó undispositivo capaz <strong>de</strong> realizar dicho <strong>en</strong>sayo. Los <strong>el</strong>em<strong>en</strong>tos utilizados<strong>en</strong> la construcción <strong><strong>de</strong>l</strong> dispositivo son:Dinamómetro digital (marca EXTECH INSTRU-MENTS mo<strong><strong>de</strong>l</strong>o FG-5000):Se usó para cuantificar las cargas aplicadas <strong>en</strong> <strong>el</strong> <strong>en</strong>sayo;<strong>el</strong> principio <strong>de</strong> funcionami<strong>en</strong>to es con base <strong>en</strong>una c<strong>el</strong>da <strong>de</strong> carga que pue<strong>de</strong> usarse a t<strong>en</strong>sión y compresión.El intervalo <strong>de</strong> medición es <strong>de</strong> 0 a 49 N conuna precisión (a 23 ◦ C) <strong>de</strong> ±0.4 % y una resolución <strong>de</strong>0.01N. La frecu<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> medición es <strong>de</strong> 1.6 muestraspor segundo.Calibrador digital (marca MITUTOYO mo<strong><strong>de</strong>l</strong>oCD-6”C):Como ext<strong>en</strong>sómetro se usó un calibrador digital. El intervalo<strong>de</strong> medición es <strong>de</strong> 0 a 150 mm con una precisión(a 20 ◦ C) <strong>de</strong> ±0.02 mm y una resolución <strong>de</strong>Rev. Mex. Fís. 49 (6) (2003) 555–564


MEDICIÓNDELMÓDULODEYOUNGENELHULE LÁTEXUSANDOESPI 5590.01 mm. Según <strong>el</strong> fabricante, la v<strong>el</strong>ocidad <strong>de</strong> respuestaes ilimitada.Montura <strong>de</strong> translación motorizada (marca STANDAmo<strong><strong>de</strong>l</strong>o 8MT173-100):La montura <strong>de</strong> translación lineal que se usó para aplicarla t<strong>en</strong>sión es una plataforma <strong>de</strong>slizable (sobre balines)con corre<strong>de</strong>ras laterales <strong>en</strong> forma <strong>de</strong> “V” (haci<strong>en</strong>do posiblesu uso tanto <strong>en</strong> forma horizontal como vertical).La transmisión <strong><strong>de</strong>l</strong> movimi<strong>en</strong>to es a base <strong>de</strong> un tornillosinfín que está conectado directam<strong>en</strong>te a un motor apasos. Este tornillo ti<strong>en</strong>e un paso <strong>de</strong> 0.5 mm y está precargadocon un resorte con <strong>el</strong> propósito <strong>de</strong> proporcionarmovimi<strong>en</strong>tos suaves y finos <strong>en</strong> ambas direcciones.La capacidad <strong>de</strong> carga <strong>de</strong> la montura <strong>en</strong> posición verticales <strong>de</strong> 5 Kg. El motor cu<strong>en</strong>ta con 200 pasos porrevolución y es controlado <strong>de</strong>s<strong>de</strong> una PC.manera se obtuvieron las dos variables (cargas y <strong>de</strong>formación)al mismo tiempo. En la Fig. 4 se muestra la probetaantes y <strong>de</strong>spués <strong>de</strong> ser <strong>de</strong>formada.Por la forma <strong>en</strong> la que está dispuesto <strong>el</strong> dinamómetro,éste mi<strong>de</strong> la fuerza que se cu<strong>el</strong>ga <strong>de</strong> su “c<strong>el</strong>da <strong>de</strong> carga” ydicha fuerza está compuesta por <strong>el</strong> peso <strong>de</strong> la parte móvil <strong><strong>de</strong>l</strong>dispositivo <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayo y <strong>el</strong> esfuerzo <strong>de</strong> la probeta. Como <strong>el</strong>peso <strong>de</strong> la parte móvil es constante <strong>en</strong> todo <strong>el</strong> experim<strong>en</strong>to,simplem<strong>en</strong>te se aplicó una pequeña precarga a la probeta yVarias monturas mecánicas:La estructura <strong>de</strong> la “máquina <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayos a t<strong>en</strong>sión” seconstruyó con bases, postes, porta postes, nueces, <strong>en</strong>treotros <strong>el</strong>em<strong>en</strong>tos mecánicos, que g<strong>en</strong>eralm<strong>en</strong>te se usanpara armar arreglos ópticos <strong>en</strong> <strong>el</strong> laboratorio.Como resultado <strong>de</strong> la integración <strong>de</strong> estos instrum<strong>en</strong>tos y<strong>el</strong>em<strong>en</strong>tos estructurales, t<strong>en</strong>emos la pequeña máquina <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayosa t<strong>en</strong>sión pres<strong>en</strong>tada <strong>en</strong> la Fig. 3 y que cu<strong>en</strong>ta con lassigui<strong>en</strong>tes características:Capacidad <strong>de</strong> carga: 49 NResolución <strong>de</strong> carga: 0.01 NIntervalo <strong>de</strong> v<strong>el</strong>ocidad: 0.001 a 45 mm/min4. G<strong>en</strong>eración<strong>de</strong>datos experim<strong>en</strong>talesEn la búsqueda bibliográfica realizada no se <strong>en</strong>contró un valor<strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> para <strong>el</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong> con<strong>el</strong> cual corroborar <strong>el</strong> obt<strong>en</strong>ido por la técnica <strong>de</strong> ESPI. Entoncesse propone la técnica <strong>de</strong> diseñar una máquina <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayopara la medición <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong>.FIGURA 3. Esquema <strong>de</strong> construcción <strong>de</strong> la pequeña máquina <strong>de</strong><strong>en</strong>sayos a t<strong>en</strong>sión construida.4.1. <strong>Medición</strong><strong><strong>de</strong>l</strong><strong>módulo</strong><strong>de</strong><strong>Young</strong>utilizandolamáquina<strong>de</strong><strong>en</strong>sayoconstruidaDespués <strong>de</strong> recortar la membrana <strong>de</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong> <strong><strong>de</strong>l</strong> globo(forma rectangular <strong>de</strong> 63mm por 100mm y un espesor <strong>de</strong>0.33mm), fue colocada <strong>en</strong> la máquina <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayo; t<strong>en</strong>i<strong>en</strong>docuidado <strong>de</strong> que los lados más largos fueran paral<strong>el</strong>os con ladirección <strong>de</strong> aplicación <strong>de</strong> las cargas. Las cargas son controladas<strong>de</strong>s<strong>de</strong> una PC y aplicadas mediante <strong>el</strong> dinamómetrodigital que es <strong>de</strong>splazado por la montura motorizada. Pararealizar <strong>el</strong> <strong>en</strong>sayo se s<strong>el</strong>eccionó una v<strong>el</strong>ocidad <strong>de</strong> 30 mm/min.El registro <strong>de</strong> los datos <strong>de</strong> salida <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>en</strong>sayo, tanto <strong>de</strong> lascargas aplicadas como <strong>de</strong> las <strong>de</strong>formaciones obt<strong>en</strong>idas, se hizomediante una cámara <strong>de</strong> vi<strong>de</strong>o <strong>en</strong>focada sobre los indicadoresdigitales <strong>de</strong> los dos instrum<strong>en</strong>tos <strong>en</strong> cuestión. De estaFIGURA 4. Probeta; a) antes y b) <strong>de</strong>spués <strong>de</strong> aplicar las cargas.Rev. Mex. Fís. 49 (6) (2003) 555–564


560 J.A.RAYAS,R.RODRÍGUEZ-VERAYA.MARTÍNEZTABLE I. Valores <strong>de</strong> esfuerzo, <strong>de</strong>formación y <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong>para <strong>el</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong>.FIGURA 5. Resultados <strong>de</strong> los <strong>en</strong>sayos a t<strong>en</strong>sión, mostrando la repetibilidad<strong><strong>de</strong>l</strong> experim<strong>en</strong>to.se colocó <strong>en</strong> ceros <strong>el</strong> dinamómetro y <strong>el</strong> calibrador. El experim<strong>en</strong>tose realizó tres veces consecutivas para po<strong>de</strong>r obt<strong>en</strong>erun promedio <strong>de</strong> los resultados y así reducir errores. Los resultadosobt<strong>en</strong>idos <strong>de</strong> los 3 <strong>en</strong>sayos se pres<strong>en</strong>tan <strong>en</strong> la gráfica <strong><strong>de</strong>l</strong>a Fig. 5, don<strong>de</strong> se pue<strong>de</strong> observar que las variaciones <strong>en</strong>treestos <strong>en</strong>sayos son muy pequeñas, por lo que po<strong>de</strong>mos afirmarque <strong>el</strong> experim<strong>en</strong>to ti<strong>en</strong>e repetibilidad.En este experim<strong>en</strong>to tomaremos <strong>en</strong> cu<strong>en</strong>ta únicam<strong>en</strong>te laparte c<strong>en</strong>tral <strong>de</strong> la probeta para hacer nuestros cálculos. En laFig. 4 se observa fácilm<strong>en</strong>te que la geometría <strong>de</strong> la probetava cambiando a lo largo <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>en</strong>sayo; para t<strong>en</strong>er una medidamás precisa <strong><strong>de</strong>l</strong> área transversal <strong>de</strong> la probeta <strong>en</strong> cada punto<strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>en</strong>sayo, medimos su ancho y espesor antes y <strong>de</strong>spués <strong>de</strong>aplicar la totalidad <strong>de</strong> las cargas. Por estar trabajando <strong>en</strong> <strong>el</strong>intervalo <strong>el</strong>ástico <strong><strong>de</strong>l</strong> material, se supone que <strong>el</strong> cambio <strong>en</strong>dichas medidas es proporcional al alargami<strong>en</strong>to <strong>de</strong> la probeta(razón <strong>de</strong> Poisson). El espesor <strong>de</strong> la muestra al inicio <strong><strong>de</strong>l</strong><strong>en</strong>sayo es <strong>de</strong> 0.33 mm y al final es <strong>de</strong> 0.29 mm. El ancho alinicio es <strong>de</strong> 63.3 mm y al final es <strong>de</strong> 56.5 mm;T<strong>en</strong>i<strong>en</strong>do las cargas aplicadas y <strong>el</strong> área transversal <strong>de</strong> laprobeta <strong>en</strong> cada punto <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>en</strong>sayo, po<strong>de</strong>mos calcular <strong>el</strong> esfuerzounitario <strong>de</strong> la probeta <strong>de</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong> <strong>en</strong> la parte c<strong>en</strong>tral<strong>de</strong> la misma <strong>usando</strong> la Ec. (2).Para <strong>el</strong> cálculo <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> es necesario medirla <strong>de</strong>formación unitaria <strong>de</strong> la probeta; que se calcula <strong>usando</strong>la Ec. (4). La longitud original <strong>de</strong> la probeta es <strong>de</strong> 0.1m, pero<strong>de</strong>bido a la sujeción <strong>de</strong> las mordazas y la precarga, la longitudque tomaremos <strong>en</strong> cu<strong>en</strong>ta es <strong>de</strong> 0.0752m, que es la distancia<strong>en</strong>tre mordazas. En la Tabla I se muestran los valores <strong><strong>de</strong>l</strong>os esfuerzos, las <strong>de</strong>formaciones y <strong>el</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>el</strong>asticidad-calculado con la Ec. (5)- correspondi<strong>en</strong>te <strong>en</strong> cada parte <strong><strong>de</strong>l</strong><strong>en</strong>sayo. Con los datos <strong>de</strong> esta tabla, se construyó <strong>el</strong> diagramaesfuerzo-<strong>de</strong>formación correspondi<strong>en</strong>te, repres<strong>en</strong>tado <strong>en</strong>la Fig. 6. En esta gráfica también se ilustra una aproximaciónlineal a los valores <strong><strong>de</strong>l</strong> esfuerzo-<strong>de</strong>formación; con lo quecorroboramos que se está trabajando <strong>en</strong> la región <strong>el</strong>ástica <strong><strong>de</strong>l</strong>material.Esfuerzo Deformación Módulo <strong>de</strong>Unitaria Elasticidad(N/m 2 ) (m/m) (KPa)0.0000 0.0000000 0.05823.3039 0.0066489 875.811080.4883 0.0132979 833.316716.6975 0.0199468 838.121617.3536 0.0265957 812.826735.7090 0.0332447 804.231913.3234 0.0398936 800.036825.0893 0.0465426 791.242121.6593 0.0531915 791.946985.2614 0.0598404 785.251739.6307 0.0664894 778.256716.2019 0.0731383 775.561583.0753 0.0797872 771.866338.0321 0.0864362 767.570978.8119 0.0930851 762.575844.7554 0.0997340 760.580424.1273 0.1063830 756.084884.3719 0.1130319 751.089744.8560 0.1196809 749.993962.7428 0.1263298 743.898934.3763 0.1329787 744.0103610.6248 0.1396277 742.0107807.6030 0.1462766 737.0112591.9560 0.1529255 736.3116711.5595 0.1595745 731.4121787.3553 0.1662234 732.7126193.2378 0.1728723 730.0130467.7163 0.1795213 726.8135162.7866 0.1861702 726.0139913.9677 0.1928191 725.6144160.3761 0.1994681 722.7148834.2054 0.2061170 722.1153564.1168 0.2127660 721.8157778.5433 0.2194149 719.1162043.3747 0.2260638 716.8167132.1847 0.2327128 718.2171115.9968 0.2393617 714.9175734.5267 0.2460106 714.3180408.9064 0.2526596 714.0184743.4849 0.2593085 712.4189728.9014 0.2659574 713.4Rev. Mex. Fís. 49 (6) (2003) 555–564


MEDICIÓNDELMÓDULODEYOUNGENELHULE LÁTEXUSANDOESPI 561FIGURA 7. Esquema <strong><strong>de</strong>l</strong> arreglo interferométrico.FIGURA 6. Diagrama esfuerzo-<strong>de</strong>formación para <strong>el</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong>.Como se m<strong>en</strong>cionó anteriorm<strong>en</strong>te, <strong>el</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong><strong>Young</strong> (E) es la p<strong>en</strong>di<strong>en</strong>te <strong>de</strong> la línea esfuerzo-<strong>de</strong>formación.El valor <strong>de</strong> la p<strong>en</strong>di<strong>en</strong>te se calculará por <strong>el</strong> método <strong>de</strong> mínimoscuadrados [14] y está dado por la ecuaciónm = n ∑ xy − ( ∑ x) ( ∑ y)n ∑ x 2 − ( ∑ x) 2 , (13)don<strong>de</strong> m es la p<strong>en</strong>di<strong>en</strong>te, n <strong>el</strong> número <strong>de</strong> intervalos <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>en</strong>sayo,x repres<strong>en</strong>ta cada uno <strong>de</strong> los valores <strong>de</strong> la <strong>de</strong>formaciónunitaria y la y cada uno <strong>de</strong> los valores <strong><strong>de</strong>l</strong> esfuerzo.Aplicando la ecuación anterior t<strong>en</strong>emos que <strong>el</strong> valor <strong><strong>de</strong>l</strong><strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> es <strong>de</strong> 703.3 KPa. Para complem<strong>en</strong>tar <strong>el</strong> resultado,daremos un marg<strong>en</strong> <strong>de</strong> error que será la <strong>de</strong>sviaciónestándar <strong>de</strong> los valores <strong>de</strong> E <strong>en</strong> la Tabla I, y que está dada porn∑(x√ i − x) 2i=1S =; (14)n − 1con lo que se calcula una <strong>de</strong>sviación estándar igual a 39.7.Por lo tanto, <strong>el</strong> valor <strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> <strong><strong>de</strong>l</strong><strong>hule</strong> <strong>látex</strong>, a 24 ◦ C, es igual a 703.3 ± 39.7 KPa.4.2. <strong>Medición</strong> <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> utilizando la técnica<strong>de</strong>ESPILas <strong>de</strong>formaciones a medir son producidas por <strong>el</strong> mismo dispositivoque se usó para <strong>de</strong>terminar <strong>el</strong> valor <strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia.El objeto bajo prueba es, también, la misma probeta <strong>de</strong> hul<strong>el</strong>átex, por lo que únicam<strong>en</strong>te se tuvo que armar un interferómetros<strong>en</strong>sible a <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>tos <strong>en</strong> <strong>el</strong> plano (<strong>en</strong> <strong>el</strong> eje y).Cabe m<strong>en</strong>cionar que para este experim<strong>en</strong>to se <strong>el</strong>iminó <strong>el</strong> calibrador<strong><strong>de</strong>l</strong> arreglo. En la Fig. 7 se muestra <strong>el</strong> esquema <strong><strong>de</strong>l</strong>arreglo que se construyó para este fin.El ángulo <strong>de</strong> inci<strong>de</strong>ncia θ <strong>de</strong> los haces <strong>de</strong> iluminacióndiverg<strong>en</strong>te es <strong>de</strong> 16 ◦ . La fu<strong>en</strong>te <strong>de</strong> iluminación <strong>de</strong> este interferómetroes un diodo láser cuya longitud <strong>de</strong> onda es <strong>de</strong>657.6 nm con una pot<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> 25 mW. El sistema <strong>de</strong> vi<strong>de</strong>opara la captura <strong>de</strong> los patrones <strong>de</strong> moteado está constituidopor una cámara CCD con 640 x 480 pix<strong>el</strong>es, una tarjeta digitalizadoramonocromática <strong>de</strong> la marca Matrox y software quepermite guardar los datos <strong>en</strong> forma <strong>de</strong> arreglo <strong>de</strong> bits (8 bitspor <strong>el</strong>em<strong>en</strong>to) <strong>en</strong> 256 niv<strong>el</strong>es <strong>de</strong> gris.El objeto bajo prueba fue sometido a una fuerza <strong>de</strong>17.6 N con la finalidad <strong>de</strong> t<strong>en</strong>sarla y no t<strong>en</strong>er <strong>de</strong>formacionesfuera <strong>de</strong> plano. En esta posición se colocó <strong>en</strong> cero <strong>el</strong> dinamómetroy se grabó <strong>el</strong> patrón <strong>de</strong> moteado correspondi<strong>en</strong>te;al que llamaremos patrón <strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia.Como las cargas están si<strong>en</strong>do aplicadas por un motor <strong>de</strong>pasos (200 pasos por revolución y un <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>to lineal<strong>de</strong> ≈ 0.5mm por revolución), es posible aplicar <strong>de</strong>formacionesque estén <strong>de</strong>ntro <strong><strong>de</strong>l</strong> intervalo <strong>de</strong> medición <strong>de</strong> esta técnica.Cabe m<strong>en</strong>cionar que las cargas aplicadas por <strong>el</strong> motor actúanprimero sobre <strong>el</strong> dinamómetro y éste las trasmite a la probeta,ignorando qué <strong>de</strong>formación pueda existir <strong>en</strong> los <strong>el</strong>em<strong>en</strong>tosque constituy<strong>en</strong> <strong>el</strong> dinamómetro.Se aplicaron 20 <strong>de</strong>formaciones consecutivas <strong>en</strong> intervalos<strong>de</strong> dos pasos (<strong><strong>de</strong>l</strong> motor), cada una <strong>de</strong> las cuales está seguidapor <strong>el</strong> registro <strong><strong>de</strong>l</strong> patrón <strong>de</strong> moteado correspondi<strong>en</strong>te, <strong>de</strong>jando<strong>el</strong> proceso <strong>de</strong> los datos para <strong>de</strong>spués <strong>de</strong> finalizar <strong>el</strong> registro<strong>de</strong> todos los patrones. Las fuerzas medidas <strong>en</strong> <strong>el</strong> dinamómetrovan <strong>de</strong> cero al iniciar <strong>el</strong> experim<strong>en</strong>to hasta 1 gramo fuerza(0.00980665 N) <strong>de</strong>spués <strong>de</strong> aplicar los 20 intervalos. Comola resolución <strong><strong>de</strong>l</strong> dinamómetro es precisam<strong>en</strong>te <strong>de</strong> 1 gramofuerza, supondremos una r<strong>el</strong>ación lineal <strong>en</strong>tre intervalosy carga, <strong>de</strong>ntro <strong>de</strong> la parte lineal <strong>de</strong> la curva característicaesfuerzo-<strong>de</strong>formación. Una vez grabados los patrones <strong>de</strong> moteadose corr<strong>el</strong>acionan por sustracción. El patrón <strong>de</strong> moteado<strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia es corr<strong>el</strong>acionado con cada uno <strong>de</strong> los patronesque ti<strong>en</strong><strong>en</strong> una <strong>de</strong>formación. Este proceso se realizó <strong>en</strong>una PC.El resultado <strong>de</strong> la sustracción <strong>de</strong> los patrones <strong>de</strong> moteadoes un mapa <strong>de</strong> bits <strong>de</strong> valores muy bajos (regularm<strong>en</strong>te<strong>en</strong>tre 0 y 50), por lo que es necesario multiplicar <strong>el</strong> valor <strong>de</strong>Rev. Mex. Fís. 49 (6) (2003) 555–564


562 J.A.RAYAS,R.RODRÍGUEZ-VERAYA.MARTÍNEZcada pix<strong>el</strong> para aum<strong>en</strong>tar la visibilidad <strong><strong>de</strong>l</strong> patrón; <strong>en</strong> este casose usó un factor <strong>de</strong> 4. La Fig. 8 muestra los patrones <strong>de</strong>franjas resultantes. Dichos patrones están or<strong>de</strong>nados <strong>de</strong> maneraasc<strong>en</strong><strong>de</strong>nte, <strong>en</strong>tre mayor es la carga, mayor es <strong>el</strong> número<strong>de</strong> franjas. La transformación <strong>de</strong> mapas <strong>de</strong> franjas <strong>en</strong> mapas<strong>de</strong> <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>tos, don<strong>de</strong> cada <strong>el</strong>em<strong>en</strong>to (pix<strong>el</strong>) <strong><strong>de</strong>l</strong> maparepres<strong>en</strong>ta <strong>el</strong> valor <strong>de</strong> la <strong>de</strong>formación <strong>en</strong> <strong>el</strong> punto respectivo<strong><strong>de</strong>l</strong> objeto bajo prueba, se pue<strong>de</strong> realizar mediante técnicas<strong>de</strong> reconstrucción <strong>de</strong> la fase [15]. Estas técnicas son bastanteútiles para repres<strong>en</strong>taciones gráficas <strong>de</strong> <strong>de</strong>formaciones complicadas,don<strong>de</strong> se pue<strong>de</strong> observar a simple vista <strong>el</strong> tipo <strong>de</strong><strong>de</strong>formación resultante.Por la simpleza <strong>en</strong> los patrones <strong>de</strong> franjas obt<strong>en</strong>idos <strong>en</strong>nuestro caso, solam<strong>en</strong>te utilizaremos <strong>el</strong> “conteo <strong>de</strong> franjas”como técnica para dar un valor a la <strong>de</strong>formación total <strong><strong>de</strong>l</strong>a muestra <strong>en</strong> la dirección <strong>de</strong> s<strong>en</strong>sibilidad <strong><strong>de</strong>l</strong> interferómetro.El conteo <strong>de</strong> franjas por patrón se realizó <strong>en</strong> <strong>el</strong> paqueteMATHCAD con <strong>el</strong> algoritmo <strong>de</strong> la Fig. 9. Parámetros similaresse usan para todos los patrones.Para calcular <strong>el</strong> valor <strong>de</strong> <strong>de</strong>formación que repres<strong>en</strong>ta unafranja utilizaremos la Ec. (12), don<strong>de</strong> u es <strong>el</strong> valor buscado.Por lo tanto, la separación <strong>en</strong>tre franja y franja repres<strong>en</strong>tau =λ2 sin θ = 0.6576µm2 · sin (16) = 1.2µm.FIGURA 9. Algoritmo usado <strong>en</strong> <strong>el</strong> conteo <strong>de</strong> franjas.En la Tabla II se pres<strong>en</strong>ta <strong>el</strong> número <strong>de</strong> franjas y las <strong>de</strong>formacionescalculadas para cada uno <strong>de</strong> los patrones <strong>de</strong> laFig. 8. Cabe m<strong>en</strong>cionar que <strong>el</strong> número <strong>de</strong> franjas <strong><strong>de</strong>l</strong> patrónP20 es incontable por haber llegado a la <strong>de</strong>corr<strong>el</strong>ación total<strong>de</strong> los patrones <strong>de</strong> moteado.Por ser un <strong>en</strong>sayo <strong>en</strong> <strong>el</strong> que las cargas y <strong>de</strong>formacionesson r<strong>el</strong>ativam<strong>en</strong>te pequeñas, usaremos un área transversalconstante <strong>de</strong> 18.631 X10 −6 m 2 para po<strong>de</strong>r medir <strong>el</strong> esfuerzounitario. Las <strong>de</strong>formaciones unitarias se calculan <strong>de</strong> lamisma manera que para <strong>el</strong> valor <strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia. El valor <strong>de</strong> losesfuerzos, las <strong>de</strong>formaciones unitarias y <strong>el</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong>se pres<strong>en</strong>tan <strong>en</strong> la Tabla III. De la misma manera que se hizoanteriorm<strong>en</strong>te, <strong>el</strong> valor final <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> (E) será lap<strong>en</strong>di<strong>en</strong>te <strong>de</strong> la línea esfuerzo-<strong>de</strong>formación y la <strong>de</strong>sviaciónestándar <strong>de</strong> los valores <strong>de</strong> E, <strong>en</strong> la Tabla III, será <strong>el</strong> errorasignado a este método. Por lo tanto, <strong>el</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong>para <strong>el</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong> a 24 ◦ C es igual a 874.5 ± 14.5 KPa; quees muy aproximado al calculado con la máquina <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayoconstruida.5. ConclusionesFIGURA 8. Patrones <strong>de</strong> franjas <strong>de</strong> <strong>de</strong>formación <strong>de</strong> la probeta <strong>de</strong><strong>hule</strong> <strong>látex</strong>.Se <strong>de</strong>scribieron los principios fundam<strong>en</strong>tales <strong>de</strong> la mecánica<strong>de</strong> materiales para t<strong>en</strong>er un mejor <strong>en</strong>t<strong>en</strong>dimi<strong>en</strong>to <strong>de</strong> la partec<strong>en</strong>tral <strong><strong>de</strong>l</strong> trabajo. Se trató <strong>de</strong> hacer s<strong>en</strong>cilla y precisa estaRev. Mex. Fís. 49 (6) (2003) 555–564


MEDICIÓNDELMÓDULODEYOUNGENELHULE LÁTEXUSANDOESPI 563TABLE II. Deformaciones repres<strong>en</strong>tadas por los patrones <strong>de</strong> franjas<strong>de</strong> la Fig. 8Patrón Cargas Franjas Deformación(gr)(µm)P1 0.05 2.19 2.63P2 0.10 4.33 5.20P3 0.15 6.26 7.51P4 0.20 8.26 9.92P5 0.25 10.34 12.41P6 0.30 12.38 14.85P7 0.35 14.15 16.98P8 0.40 16.13 19.35P9 0.45 18.28 21.93P10 0.50 20.15 24.18P11 0.55 22.47 26.96P12 0.60 24.25 29.10P13 0.65 26.24 31.48P14 0.70 28.34 34.01P15 0.75 30.37 36.45P16 0.80 32.70 39.24P17 0.85 34.70 41.64P18 0.90 36.80 44.16P19 0.95 39.00 46.80P20 1.00 incontable incontableTABLE III. Resultados <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>en</strong>sayo (ESPI)Patrón Esfuerzo Deformación Módulo <strong>de</strong>Unitaria <strong>Young</strong>N/m2 m/m KPa0.000 0.0000000P1 26.318 0.0000304 866.72P2 52.636 0.0000641 820.99P3 78.954 0.0000926 852.26P4 105.272 0.0001223 860.92P5 131.590 0.0001530 860.01P6 157.909 0.0001831 862.31P7 184.227 0.0002094 879.97P8 210.545 0.0002387 882.22P9 236.863 0.0002705 875.76P10 263.181 0.0002982 882.71P11 289.499 0.0003324 870.85P12 315.817 0.0003588 880.16P13 342.135 0.0003882 881.30P14 368.453 0.0004193 878.63P15 394.771 0.0004494 878.38P16 421.090 0.0004838 870.29P17 447.408 0.0005134 871.39P18 473.726 0.0005445 870.00P19 500.044 0.0005771 866.53<strong>de</strong>scripción con la finalidad <strong>de</strong> no <strong>de</strong>sviar al lector <strong>en</strong> aspectos<strong>de</strong> dominio g<strong>en</strong>eral.Se calculó, <strong>de</strong> forma experim<strong>en</strong>tal, un valor <strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia<strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> para <strong>el</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong> mediante la construcción<strong>de</strong> una máquina <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayos y po<strong>de</strong>r comparar losresultados obt<strong>en</strong>idos con ESPI.La construcción <strong>de</strong> un dispositivo <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayo fue <strong>de</strong> sumaimportancia <strong>en</strong> esta parte <strong><strong>de</strong>l</strong> trabajo. El dispositivo para realizarlos <strong>en</strong>sayos a t<strong>en</strong>sión se construyó con <strong>el</strong>em<strong>en</strong>tos propios<strong>de</strong> laboratorio <strong>de</strong> metrología óptica, sin t<strong>en</strong>er que hacer algúngasto para la adquisición <strong>de</strong> equipos extras.El valor <strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> calculadoconcuerda con lo esperado, pues <strong>el</strong> <strong>hule</strong> <strong>látex</strong> es un materialsuper<strong>el</strong>ástico, por lo que su <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> <strong>de</strong>be serr<strong>el</strong>ativam<strong>en</strong>te bajo. La <strong>de</strong>terminación <strong><strong>de</strong>l</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong>,utilizando ESPI, es la contribución más importante <strong>de</strong> estetrabajo, pues se implem<strong>en</strong>ta una técnica óptica <strong>en</strong> una pruebamecánica. En la actualidad ninguna máquina <strong>de</strong> <strong>en</strong>sayosmecánicos comercial aplica técnicas interferométricas parala medición <strong>de</strong> las <strong>de</strong>formaciones.La difer<strong>en</strong>cia <strong>en</strong>tre <strong>el</strong> valor <strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia(703.3±39.7 KPa) y <strong>el</strong> valor calculado con ESPI(874.5±14.5 KPa) se pue<strong>de</strong> <strong>de</strong>ber a varios aspectos, algunospue<strong>de</strong>n ser:La resolución <strong><strong>de</strong>l</strong> dinamómetro no es lo sufici<strong>en</strong>tem<strong>en</strong>tebu<strong>en</strong>a para medir cargas pequeñas que <strong>de</strong>form<strong>en</strong> laprobeta <strong>de</strong>ntro <strong><strong>de</strong>l</strong> intervalo <strong>de</strong> medición <strong>de</strong> ESPI.La posición <strong><strong>de</strong>l</strong> punto <strong>de</strong> observación (cámara CCD)<strong>de</strong>be estar sobre <strong>el</strong> eje óptico (ver Fig. 7), pero por lageometría <strong><strong>de</strong>l</strong> interferómetro no fue posible colocar lacámara CCD <strong>en</strong> dicho lugar, introduci<strong>en</strong>do un error <strong>de</strong>perspectiva [16], <strong>el</strong> cual no es consi<strong>de</strong>rado <strong>en</strong> la medición.No fue consi<strong>de</strong>rado <strong>el</strong> error introducido por <strong>el</strong> uso <strong>de</strong>iluminación diverg<strong>en</strong>te [17], la cual fue supuesta colimada.Dada la mayor resolución <strong>en</strong> la medición <strong>de</strong> los <strong>de</strong>splazami<strong>en</strong>toscon <strong>el</strong> sistema ESPI respecto a un calibrador digital,<strong>el</strong> <strong>módulo</strong> <strong>de</strong> <strong>Young</strong> medido por ESPI pue<strong>de</strong> ser tomado comoun valor <strong>de</strong> refer<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> mayor precisión.Agra<strong>de</strong>cimi<strong>en</strong>tosLos autores agra<strong>de</strong>c<strong>en</strong> a CONCYTEG (03-04-K118-039,anexo 4) y a CONACYT (33106-E) por su apoyo económico.También se agra<strong>de</strong>ce al M.C. R<strong>en</strong>é Camacho sus aportacionesal pres<strong>en</strong>te trabajo.Rev. Mex. Fís. 49 (6) (2003) 555–564


564 J.A.RAYAS,R.RODRÍGUEZ-VERAYA.MARTÍNEZ1. Instron Corporation, Gui<strong>de</strong> to Advanced Materials Testing(Canton Massachusetts, 1997).2. D. Malacara, Óptica Tradicional y Mo<strong>de</strong>rna (Fondo <strong>de</strong> CulturaEconómica, México D.F., 1997).3. R.S. Sirohi y F. Siong Chau, Optical Methods of Measurem<strong>en</strong>t(Marc<strong>el</strong> Dekker, New York, 1999)4. A. Martínez, Iluminación Esférica <strong>en</strong> Interferometría <strong>de</strong> Moiré,Tesis Doctoral, C<strong>en</strong>tro <strong>de</strong> Investigaciones <strong>en</strong> Óptica A.C.,León, Guanajuato, (2001).5. R.W. Fitzgerald, Mecánica <strong>de</strong> Materiales (Alfaomega, MéxicoD.F., 1998).6. A. Pyt<strong>el</strong> y F.L. Singer, Resist<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> Materiales, Cuarta Edición(HARLA, México D.F., 1994).7. K. Gasvik, Optical Metrology (John Wiley & Sons, Great Britain,1987).8. R. Rodríguez-Vera, J.A. Rayas, Amalia Martínez y A. Dávila,“Algunas Aplicaciones Industriales <strong>de</strong> la Interferometría Electrónica<strong>de</strong> Patrones <strong>de</strong> Moteado”, Simposio <strong>de</strong> Metrología, CE-NAM, Querétaro, (2001) D3-6.9. R.S. Sirohi, Speckle Metrology, (editor) Marc<strong>el</strong> Dekker (NewYork, 1993).10. R. Martínez-C<strong>el</strong>orio, Técnicas Híbridas Espacio-Temporales<strong>en</strong> Interferometría <strong>de</strong> Moteado Para la Detección <strong>de</strong> F<strong>en</strong>óm<strong>en</strong>osContinuos, Tesis Doctoral, C<strong>en</strong>tro <strong>de</strong> Investigaciones <strong>en</strong>Óptica A.C., León, Guanajuato, (2001).11. N. Alcalá Ochoa, R. Rodríguez-Vera y B. Barri<strong>en</strong>tos, Rev. Mex.Fís. 46 (2000) 468.12. H.J. Puga, R. Rodríguez-Vera, Amalia Martínez, Optics & LaserTechnology 34 (2002) 81.13. A. Martínez, R. Rodríguez-Vera, J.A. Rayas, H.J. Puga, Optics& Laser in Engineering 39 (2003) 525.14. J. K<strong>en</strong>nedy, y A. Neville, Estadística Para Ci<strong>en</strong>cias e Ing<strong>en</strong>iería,Segunda Edición (HARLA, México D.F., 1993).15. D. Malacara, M. Servín, y Z. Malacara, Interferogram Analysisfor Optical Testing (Marc<strong>el</strong> Dekker, New York, 1998).16. H.J. Puga y R. Rodríguez-Vera, Optical Engineering 40 (2001)1598.17. A. Martínez, R. Rodríguez-Vera, J.A. Rayas y H.J. Puga, OpticsCommunications 223 (2003) 239.Rev. Mex. Fís. 49 (6) (2003) 555–564

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