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Métodos analíticos en geoquímica (DRX-FRX) y Pegmatitas Trabajo ...

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Métodos analíticos <strong>en</strong> geoquímica (<strong>DRX</strong>-<strong>FRX</strong>) y <strong>Pegmatitas</strong>análisis; las diversas difracciones quedan cont<strong>en</strong>idas <strong>en</strong> la película como líneascurvas concéntricas <strong>en</strong>tre 2θ= 0º y 180º.Equipo Bruker D8-Advance con espejo Göebel (muestras no planas) con cámara de alta temperatura (hasta 900ºC), con ung<strong>en</strong>erador de rayos-x KRISTALLOFLEX K 760-80F (Pot<strong>en</strong>cia: 3000W, T<strong>en</strong>sión: 20-60KV y Corri<strong>en</strong>te: 5-80mA.Método del goniómetro o difractrómetro de rayos X: es actualm<strong>en</strong>te el másdifundido. La muestra, finam<strong>en</strong>te pulverizada, se coloca <strong>en</strong> un porta muestra concaladuras difer<strong>en</strong>tes según la cantidad de material disponible y se introduce <strong>en</strong> elequipo, donde es afectada a la trayectoria de un haz colimado de rayos X, undetector de los rayos difractados recoge la información y la gráfica para valores de2θ <strong>en</strong>tre 0º y 180º.Aplicando la Ley de Bragg a la lectura de los diagramas es posible calcular losvalores de d -<strong>en</strong> Å- para todos los valores angulares de radiación y así determinarlos d -hkl- del mineral que constituy<strong>en</strong> la huella dactilar de cada especie <strong>en</strong>particular.La id<strong>en</strong>tificación de la especie se realiza por comparación mediante el uso de lasfichas JCPDS -Joint Committee on Powder Diffraction Standards- recopiladas por elC<strong>en</strong>tro Internacional de Datos de Difracción. La determinación de los parámetros dered se realiza usualm<strong>en</strong>te aplicando programas computacionales a los datosobt<strong>en</strong>idos por difracción.Características y aplicación de rayos XConsiderando que el espaciami<strong>en</strong>to de longitud de onda de los rayos X y el de la redcristalina es similar, los cristales sirv<strong>en</strong> como red de difracción. La id<strong>en</strong>tificación deuna sustancia puede hacerse midi<strong>en</strong>do el ángulo de difracción de los rayos X <strong>en</strong> unared cristalina de la misma, así se puede determinar la estructura cristalina omolecular de una muestra desconocida.Análisis cualitativoLa técnica de difracción de rayos X realiza las caracterizaciones estructurales eid<strong>en</strong>tificaciones e faces cristalinas, tanto artificiales como sintéticas.El análisis cualitativo se puede realizar mediante el método d<strong>en</strong>ominado deid<strong>en</strong>tificación, comparando el espectro de difracción de la muestra desconocida conDra. Roquet María Belén-20124

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