modelo para resumo expandido - Boletim Técnico da FATEC-SP
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SISTEMA ELETRÔNICO DE PRECISÃO PARA A<br />
MEDIDA DE FREQUÊNCIAS EM MICRO-BALANÇAS DE<br />
CRISTAL DE QUARTZO<br />
Eduardo dos Santos Ferreira 1 , Maria Lucia Pereira <strong>da</strong> Silva 2<br />
1 Prof. Dr. do curso de Materiais <strong>da</strong> <strong>FATEC</strong>-<strong>SP</strong><br />
2 Profa. Dra. do curso de MPCE <strong>da</strong> <strong>FATEC</strong>-<strong>SP</strong><br />
ferreira@fatecsp.br, malu@lsi.usp.br<br />
Resumo<br />
Apresentaremos neste trabalho o projeto e a<br />
construção de um sistema eletrônico que permite a<br />
medição precisa <strong>da</strong> variação <strong>da</strong> frequência de um cristal<br />
de quartzo. O coração do sistema é um multiplicador<br />
analógico de quatro quadrantes <strong>da</strong> Texas Instruments, o<br />
MPY634. Com este sistema, é possível medir com<br />
precisão 1Hz em 4.000.000Hz.<br />
1. Introdução<br />
Os avanços na indústria microeletrônica permitiram<br />
a criação de sistemas computacionais mais complexos,<br />
bem como novos e mais eficientes softwares <strong>para</strong><br />
aquisição e tratamento de <strong>da</strong>dos experimentais. Tais<br />
avanços impulsionam a pesquisa científica e o<br />
desenvolvimento industrial, permitindo o<br />
desenvolvimento de novos e melhores produtos.<br />
Dentro deste contexto, a miniaturização de estruturas<br />
<strong>para</strong> o pré-tratamento de amostras, seja química ou<br />
biológica, é um bom exemplo <strong>da</strong>s vantagens de se<br />
integrar sensores a sistemas computacionais de análise<br />
de <strong>da</strong>dos [1]. A química é uma <strong>da</strong>s áreas mais afeta<strong>da</strong>s<br />
pela miniaturização de sensores. Da mesma forma como<br />
o progresso tecnológico <strong>da</strong> microeletrônica permitiu o<br />
desenvolvimento de novos e mais poderosos sistemas<br />
micro processados, ela também permitiu o<br />
desenvolvimento de sistemas micro eletromecânicos –<br />
MEMS (Microelectromechanical Systems -<br />
MEMS) [2],[3],[4]. Sistemas micro eletrônicos e micro<br />
mecânicos foram manufaturados e integrados, surgindo,<br />
assim, micro equipamentos e micro estruturas de grande<br />
eficiência <strong>para</strong> análise química. Isto é muito útil na<br />
instrumentação química, pois diminui o volume de<br />
amostra necessária e permite a criação de sistemas mais<br />
rápidos de análise. Nesta linha de pensamento, existem<br />
os sistemas de micro análise total – μTAS (micro total<br />
analysis system) [5].<br />
Sistemas μTAS têm duas importantes características:<br />
tempo necessário <strong>para</strong> análise química <strong>da</strong> ordem de<br />
segundos e quanti<strong>da</strong>de de amostra de poucos<br />
microlitros. Assim, o uso destes sistemas colabora <strong>para</strong><br />
o desenvolvimento de tecnologias mais sustentáveis,<br />
pois o uso de reagentes é mínimo e conseqüentemente o<br />
problema do descarte se torna menor.<br />
Um exemplo de integração entre materiais<br />
cerâmicos, microestruturas e sistemas eletrônicos é a<br />
microbalança de cristal de quartzo [1] (MCQ).<br />
Microbalanças de cristais de quartzo são utiliza<strong>da</strong>s em<br />
várias aplicações de baixo custo, como por exemplo,<br />
análise eletroquímica, caracterização de gases,<br />
miniaturização de sistemas de análise, etc.<br />
A citação <strong>da</strong> incorporação de materiais piezelétricos<br />
a microestruturas é recorrente na literatura. Contudo, a<br />
fabricação de micro sistemas de análise sobre substrato<br />
cerâmicos (C-MEMS) 6 é mais recente, havendo poucas<br />
publicações na área.<br />
O princípio de operação <strong>da</strong> MCQ é o efeito<br />
piezoelétrico. Certos materiais geram um campo elétrico<br />
quando submetidos a deformações ou outras forças<br />
mecânicas externas. Quando a intensi<strong>da</strong>de e sentido <strong>da</strong><br />
perturbação mecânica variam, proporcionalmente,<br />
variam a intensi<strong>da</strong>de e o sentido do campo elétrico<br />
gerado no cristal. Da mesma forma, ao aplicarmos um<br />
campo elétrico ao material, ele sofre uma deformação<br />
mecânica. Este fenômeno é conhecido como<br />
piezoeletrici<strong>da</strong>de e materiais que apresentam este<br />
comportamento são chamados de piezoelétricos [7].<br />
Cristais piezoelétricos são utilizados em circuitos<br />
osciladores de alta estabili<strong>da</strong>de e precisão. Isto se<br />
consegue fazendo o corte preciso destes cristais, que<br />
passam a oscilar mecanicamente em frequências<br />
precisas.<br />
Na Figura 1, apresentamos o esquema de uma MCQ.<br />
Sobre a superfície do cristal, é depositado um filme<br />
adsorvente. A adsorção de massa no filme adsorvente<br />
provoca um desvio em sua frequência, que é descrito<br />
através <strong>da</strong> equação de Sauerbrey [8]:<br />
(1)<br />
onde Δf é a variação de frequência de ressonância do<br />
cristal em Hz, f 0 é a frequência de oscilação do cristal,<br />
‘A’ é a área exposta, Δm é a variação de massa e K é a<br />
constante de adsorção <strong>da</strong> superfície do cristal.<br />
Figura 1 – Princípio de funcionamento <strong>da</strong> MCQ.<br />
Para proteger o sensor e garantir precisão no sistema<br />
de medi<strong>da</strong>s, o cristal é colocado em um ambiente<br />
fechado, denominado cela, onde fica exposto a gases em<br />
<strong>Boletim</strong> Técnico <strong>da</strong> <strong>FATEC</strong>-<strong>SP</strong> - BT/ 28 – pág. 38 a 41 –Abril / 2010 38
fluxo constante. Nesta cela, com a passagem do gás<br />
através dela, a frequência de oscilação do cristal<br />
apresenta variação que, segundo a equação (1), é<br />
proporcional à massa gasosa existente sobre o cristal no<br />
momento <strong>da</strong> medi<strong>da</strong> [8],[9].<br />
Apresentaremos neste trabalho o projeto e a<br />
construção de um sistema eletrônico que permite a<br />
medição precisa <strong>da</strong> variação <strong>da</strong> frequência do cristal de<br />
quartzo.<br />
2. Metodologia<br />
Na Figura 1, apresentamos o diagrama do sistema de<br />
controle <strong>da</strong> microbalança. Um cristal é exposto à<br />
solução e o outro é reservado como referência de<br />
frequência.<br />
Figura 2: Sistema eletrônico <strong>para</strong> o controle <strong>da</strong> MCQ.<br />
Na Figura 3, apresentamos o circuito desenvolvido.<br />
Ca<strong>da</strong> cristal é ligado a um oscilador de on<strong>da</strong> quadra<strong>da</strong>.<br />
As saí<strong>da</strong>s dos osciladores são liga<strong>da</strong>s às entra<strong>da</strong>s de um<br />
multiplicador de quatro quadrantes que, por sua vez, é<br />
ligado em um filtro passa baixa. O sinal filtrado de<br />
baixa frequência é transformado em on<strong>da</strong> quadra<strong>da</strong> <strong>para</strong><br />
pode ser lido em um multímetro digital de baixo custo<br />
que, por sua vez, é ligado a um computador.<br />
Deste modo, teremos um sinal composto por dois<br />
harmônicos, sendo um deles a diferença de frequência<br />
entre os dois cristais. Utilizando um filtro passa baixa,<br />
se<strong>para</strong>mos o sinal de baixa frequência, que é<br />
proporcional à massa adsorvi<strong>da</strong> no cristal. A vantagem<br />
desta abor<strong>da</strong>gem é termos uma boa precisão na medi<strong>da</strong><br />
sem necessitarmos de frequencímetros e softwares de<br />
alto custo.<br />
3. Resultados e discussões<br />
Na figura 4, apresentamos os resultados do teste do<br />
filtro passa baixa. O filtro utilizado é um circuito R-C<br />
série, com resistência (R) de 1kΩ e capacitância (C) de<br />
100nF. A frequência de corte observa<strong>da</strong><br />
experimentalmente é de 2kHz, valor próximo à<br />
frequência projeta<strong>da</strong> de 1,59kHz. Esta frequência de<br />
corte foi estipula<strong>da</strong>, considerando o máximo desvio de<br />
frequência do cristal de quartzo, que ocorre quando a<br />
sua superfície fica satura<strong>da</strong> e, deste modo, não há mais<br />
adsorção. A variação máxima desta frequência devido à<br />
adsorção na superfície é de dezenas de Hertz [9].<br />
Porém, existe uma diferença de frequência de oscilação<br />
entre os cristais, que é de centenas de Hertz. Isto é<br />
devido à variação natural do processo de fabricação dos<br />
cristais osciladores. Assim, mesmo sem material<br />
adsorvido na superfície do cristal, o sistema apresenta<br />
uma frequência de saí<strong>da</strong> que pode variar de 10Hz a<br />
1.000Hz, o que justifica projetar o filtro com frequência<br />
de corte mais eleva<strong>da</strong> do que a variação <strong>da</strong> frequência<br />
devido à adsorção.<br />
1,0<br />
ganho<br />
(3)<br />
Av<br />
0,5<br />
0,0<br />
100 1000 10000 100000<br />
f (Hz)<br />
Figura 3: Esquema elétrico do sistema de medição.<br />
Figura 4 – Resposta do filtro RC.<br />
O multiplicador de quatro quadrantes é o MPY634.<br />
Sua função é fazer o batimento (multiplicação) dos<br />
sinais alternados aplicados em suas duas entra<strong>da</strong>s.<br />
Considerando que o primeiro harmônico dos sinais na<br />
entra<strong>da</strong> seja do tipo:<br />
e (2)<br />
onde ω 1 e ω 2 são as frequências angulares dos sinais<br />
retangulares de entra<strong>da</strong>. O resultado <strong>da</strong> multiplicação<br />
<strong>da</strong>s tensões será:<br />
Figura 5 – Testes de funcionamento do circuito<br />
multiplicador, do gerador de referência e do filtro passabaixa.<br />
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Na Figura 5, apresentamos a montagem <strong>para</strong> o teste<br />
do funcionamento do sistema. O Agilent 33210A é um<br />
gerador de sinais com precisão de 1mHz. Ele foi<br />
utilizado <strong>para</strong> simular a variação <strong>da</strong> frequência <strong>da</strong><br />
microbalança. Para a medi<strong>da</strong> <strong>da</strong> frequência de saí<strong>da</strong>, foi<br />
utilizado o multímetro Agilent 34410A, cuja precisão de<br />
medi<strong>da</strong> é de 0,1Hz. Na Figura 6, apresentamos o<br />
resultado do teste de funcionamento do sistema. A<br />
frequência do gerador foi varia<strong>da</strong> de 4.000.000Hz a<br />
4.010.000Hz. O valor máximo de frequência até o qual<br />
o sistema opera linearmente é de 4.006.000Hz. Isto é<br />
equivalente a uma diferença de frequência de 6kHz.<br />
Após esta frequência, o ganho do filtro passa baixa<br />
passa a ser pequeno o suficiente <strong>para</strong> que o sinal na<br />
entra<strong>da</strong> do inversor de saí<strong>da</strong> (Figura 5) não funcione<br />
mais.<br />
A Figura 8 exibe o resultado do teste de<br />
funcionamento do circuito completo (Figura 3) quando<br />
a célula de medição (sensor) foi submeti<strong>da</strong> a um fluxo<br />
de 2-propanol de 5sccm durante 60s. A medi<strong>da</strong> foi<br />
repeti<strong>da</strong> após 600s. Através dos resultados obtidos,<br />
verificamos que o tempo de resposta do circuito é<br />
adequado <strong>para</strong> as medições com a célula.<br />
8000<br />
diferença<br />
7000<br />
6000<br />
df (Hz)<br />
5000<br />
4000<br />
3000<br />
2000<br />
1000<br />
0<br />
3998000 4000000 4002000 4004000 4006000<br />
f (Hz)<br />
Figura 6 – Resposta do circuito multiplicador, usando<br />
como referência o oscilador com cristal de 4MHz.<br />
A Figura 7 apresenta uma simulação <strong>da</strong> resposta do<br />
circuito ao ser ligado ao sensor piezelétrico. Para a<br />
simulação, foi utiliza<strong>da</strong> a equação 1 e os <strong>da</strong>dos<br />
experimentais <strong>da</strong> Figura 6. Foram considera<strong>da</strong>s duas<br />
constantes de adsorção (K) obti<strong>da</strong>s <strong>da</strong> literatura [7],[9].<br />
A precisão do circuito e a lineari<strong>da</strong>de de operação<br />
permitem uma leitura precisa <strong>da</strong> adsorção na superfície<br />
do cristal, ficando as melhorias na sensibili<strong>da</strong>de do<br />
sistema limita<strong>da</strong>s apenas pela constante de adsorção <strong>da</strong>s<br />
superfícies.<br />
dm (ug)<br />
60<br />
40<br />
20<br />
0<br />
3998000 4000000 4002000 4004000 4006000<br />
f (Hz)<br />
BT25/Malu<br />
Quim. Nova<br />
Figura 7 – Simulação <strong>da</strong> resposta em massa do circuito<br />
usando <strong>da</strong>dos <strong>da</strong>s referencias 7 e 9.<br />
Figura 8 – Teste com fluxo de 2-propanol<br />
4. Conclusões<br />
O sistema eletrônico desenvolvido, de medição de<br />
frequência por batimento de sinais, permite a medição<br />
precisa <strong>da</strong> variação <strong>da</strong> frequência em um cristal<br />
piezelétrico de um microbalança de cristal de quartzo.<br />
Conseguiu-se medir com precisão 1Hz em 4.000.000Hz.<br />
Agradecimentos<br />
À <strong>FATEC</strong>-<strong>SP</strong>, pela aquisição dos equipamentos.<br />
Ao CNPq pelas bolsas concedi<strong>da</strong>s.<br />
À Texas Instruments do Brasil pelo fornecimento<br />
dos componentes eletrônicos utilizados.<br />
Referências Bibliográficas<br />
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digital <strong>para</strong> o controle de uma microbalança de<br />
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[3] Beeby, S. , et. Al.. MEMS – Mechanical Sensors.<br />
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[4] Webster, J. G. (Editor). Measurement,<br />
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[5] Goswami, A. e Han, B. Quantitative<br />
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<strong>Boletim</strong> Técnico <strong>da</strong> <strong>FATEC</strong>-<strong>SP</strong> - BT/ 28 – pág. 38 a 41 –Abril / 2010 40
[6] Vasilev, A.A. et. Al.. Alumina MEMS platform<br />
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<strong>Boletim</strong> Técnico <strong>da</strong> <strong>FATEC</strong>-<strong>SP</strong> - BT/ 28 – pág. 38 a 41 –Abril / 2010 41