Inovatif Kimya Dergisi Sayi 49
İnovatif Kimya Dergisi Sayi 49
İnovatif Kimya Dergisi Sayi 49
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
NMR<br />
X-Işını yöntemleri ile elementel analiz<br />
X-ışını yüksek enerjili ve düşük dalga boylu elektromanyetik<br />
ışınlardır.<br />
X-ışını spektrometri yöntemlerinden X-ışınları floresansı ( XRF )<br />
atom numarası sekizden büyük elementlerin nitel analizi, yarı-nicel ve<br />
nicel elementel analiz için sıkça kullanılırlar.<br />
Elektron mikroprobu yüzeylerin elementel bileşimini tayin etmek<br />
için önemli bir yöntem elektron mikroprobuna dayanır. Bu teknikte<br />
X-ışını emisyonu gözlenir. Bu emisyon dalga boyu- ayırımlı<br />
spektrometre ile saptanıp analiz edilir.<br />
XRF Yüzey Teknikleri ile Elementel Analiz<br />
Yüzey teknikleri ile elementel analiz<br />
yöntemlerinden bazıları geçmiş<br />
bölümlerde aktarıldı. Değinilmeyen<br />
tekniklere değinilecektir.<br />
XPS<br />
X-ışınları fotoelektron spektroskopi (<br />
XPS ) tekniği katı yüzeylerin, elementel<br />
bileşimi hakkında nitel ve nicel bilgi verir.<br />
Ayrıca yapı hakkında istenen bilgilere<br />
ulaşılabilir. Katıların yüzey bölgelerinin<br />
kimyasal bileşimini belirlemede kullanımı<br />
artmaktadır.<br />
Auger Elektron Spektroskopisi<br />
AES’de uyarıcı olarak bazen X-ışınları<br />
kullanılsa da, asıl önemli olan elektron<br />
demetidir.<br />
XPS ile benzerdir. Detayda farklılıkları<br />
vardır.<br />
Avantajları düşük atom numaralı<br />
elementlerde duyarlılığının iyi olması,<br />
matriks etkisinin minimum olması ve<br />
en önemlisi katı yüzeylerin ayrıntılı<br />
incelemesine olağan sağlamasıdır.<br />
29
Change language