Návrh a konstrukce elektronických přÃÂstrojů - UMEL - Vysoké uÄÂenà...
Návrh a konstrukce elektronických přÃÂstrojů - UMEL - Vysoké uÄÂenà...
Návrh a konstrukce elektronických přÃÂstrojů - UMEL - Vysoké uÄÂenà...
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
Prof. Ing. Vladislav Musil, CSc.<br />
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů<br />
Vysoké učení technické v Brně 2011
Tento učební text byl vypracován v rámci projektu Evropského sociálního fondu č. CZ.1.07/2.2.00/07.0391<br />
s názvem Inovace a modernizace bakalářského studijního oboru Mikroelektronika a technologie<br />
a magisterského studijního oboru Mikroelektronika (METMEL). Projekty Evropského sociálního fondu jsou<br />
financovány Evropskou unií a státním rozpočtem České republiky.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 1<br />
Obsah<br />
1 ZAŘAZENÍ PŘEDMĚTU VE STUDIJNÍM PROGRAMU ........................................4<br />
1.1 ÚVOD DO PŘEDMĚTU ...................................................................................................4<br />
1.2 VSTUPNÍ TEST..............................................................................................................4<br />
2 NÁVRH A KONSTRUKCE ELEKTRONICKÝCH ZAŘÍZENÍ A JEJICH<br />
ZAVÁDĚNÍ DO VÝROBY .....................................................................................................6<br />
2.1 DOKUMENTACE ELEKTRONICKÝCH ZAŘÍZENÍ ............................................................14<br />
2.2 EKONOMICKÝ VÝZNAM ELEKTRONICKÉHO PRŮMYSLU..............................................17<br />
2.3 VÝROBA PROGRAMOVÉHO VYBAVENÍ (SOFTWARE)...................................................19<br />
3 METODIKA NÁVRHU ELEKTRONICKÝCH ZAŘÍZENÍ. SYSTÉMOVÉ<br />
INŽENÝRSTVÍ. .....................................................................................................................20<br />
3.1 INOVAČNÍ PROCESY V ELEKTRONICE .........................................................................25<br />
3.2 CONCURRENT ENGINEERING .....................................................................................29<br />
4 ŘÍZENÍ JAKOSTI .........................................................................................................30<br />
4.1 JAKOST V ELEKTRONICE ............................................................................................30<br />
4.2 POJEM STANDARDIZACE ............................................................................................30<br />
4.3 TECHNICKÁ NORMALIZACE........................................................................................31<br />
4.4 METROLOGIE.............................................................................................................32<br />
4.5 ZKUŠEBNICTVÍ...........................................................................................................33<br />
4.6 STANDARDIZAČNÍ ČINNOSTI V PODNIKU ....................................................................34<br />
4.7 KOMPLEXNÍ SYSTÉMY ŘÍZENÍ JAKOSTI.......................................................................35<br />
4.8 STANDARDIZACE V MEZINÁRODNÍM MĚŘÍTKU...........................................................36<br />
5 DUŠEVNÍ VLASTNICTVÍ A JEHO OCHRANA......................................................38<br />
5.1 VÝVOJ OCHRANY DUŠEVNÍHO VLASTNICTVÍ - PATENTOVÉ PRÁVO.............................38<br />
5.2 VYNÁLEZY, PRŮMYSLOVÉ VZORY A ZLEPŠOVACÍ NÁVRHY VE ZNĚNÍ ZÁKONA Č.<br />
527/1990 SB..........................................................................................................................39<br />
5.2.1 Vynálezy............................................................................................................39<br />
5.2.2 Průmyslové vzory..............................................................................................42<br />
5.2.3 Zlepšovací návrhy.............................................................................................43<br />
5.3 UŽITNÝ VZOR ............................................................................................................44<br />
5.4 PRÁVA NA OZNAČOVÁNÍ............................................................................................45<br />
5.4.1 Ochranné známky .............................................................................................45<br />
5.4.2 Označení původu ..............................................................................................48<br />
5.4.3 Obchodní jméno................................................................................................49<br />
5.5 OCHRANA TOPOGRAFIE POLOVODIČOVÝCH VÝROBKŮ...............................................49<br />
5.6 AUTORSKÉ PRÁVO .....................................................................................................50<br />
6 ELEKTROMAGNETICKÁ KOMPATIBILITA .......................................................53<br />
6.1 ELEKTROSTATICKÉ VÝBOJE ......................................................................................71<br />
7 ELEKTRICKÁ KONSTRUKCE..................................................................................76<br />
7.1 SOUČÁSTKY A JEJICH VLASTNOSTI.............................................................................76<br />
7.2 KONSTRUKCE SIGNÁLOVÝCH SPOJŮ ..........................................................................77<br />
7.2.1 Konstrukce spojů ..............................................................................................77<br />
7.2.2 Klasifikace spojů v digitálních systémech ........................................................81<br />
7.2.3 Vedení ...............................................................................................................82
2 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
7.3 ROZVOD NAPÁJENÍ.................................................................................................... 87<br />
7.4 OCHRANA PROTI PRONIKÁNÍ NEŽÁDOUCÍCH SIGNÁLŮ (PARAZITNÍ JEVY A JEJICH<br />
POTLAČENÍ)........................................................................................................................... 92<br />
7.4.1 Jevy vyvolané nenulovým odporem spojů ........................................................ 93<br />
7.4.2 Termoelektrická napětí .................................................................................... 98<br />
7.4.3 Reaktance vodičů ............................................................................................. 98<br />
7.4.4 Parazitní kapacitní vazba................................................................................. 99<br />
7.4.5 Parazitní induktivní vazba ............................................................................. 101<br />
7.4.6 Filtrace napětí ve vodičích............................................................................. 107<br />
7.4.7 6.4.7 Souosé tlumivky.................................................................................... 111<br />
7.5 PŘENOS IMPULSŮ VEDENÍM..................................................................................... 113<br />
7.5.1 6.5.1 Metoda Bergeronova diagramu........................................................... 115<br />
7.5.2 Metoda Bergeronova diagramu pro nelineárně zakončené vedení ............... 118<br />
7.5.3 Zakončovací (přizpůsobovací) články pro vedení.......................................... 123<br />
7.6 RUŠENÍ V DIGITÁLNÍCH SYSTÉMECH........................................................................ 130<br />
7.6.1 Přeslechy u jednoduchých spojů.................................................................... 130<br />
7.6.2 Přeslechy u vázaných vedení.......................................................................... 134<br />
8 MECHANICKÁ KONSTRUKCE ............................................................................. 141<br />
8.1 PŘÍSTROJOVÁ SKŘÍŇ................................................................................................ 142<br />
8.1.1 Hledisko mobility ........................................................................................... 142<br />
8.1.2 Provozní hlediska........................................................................................... 143<br />
8.1.3 Jiné specifické požadavky .............................................................................. 143<br />
8.2 PŘÍSTROJOVÁ ZÁSTAVBA ........................................................................................ 143<br />
8.2.1 Základní koncepce vnitřní zástavby ............................................................... 144<br />
8.2.2 Topologie vnitřní zástavby............................................................................. 145<br />
8.3 VOLBA, ROZMÍSTĚNÍ A GRAFICKÉ OZNAČENÍ OBSLUŽNÝCH PRVKŮ......................... 146<br />
8.3.1 Kritérium četnosti manipulace....................................................................... 149<br />
8.3.2 Kritérium významu......................................................................................... 149<br />
8.3.3 Kritérium kolize ............................................................................................. 151<br />
8.3.4 Kritérium subjektivního vjemu....................................................................... 152<br />
8.4 KLIMATICKÁ A MECHANICKÁ ODOLNOST................................................................ 153<br />
8.5 CHLAZENÍ POLOVODIČOVÝCH SOUČÁSTEK A KONSTRUKČNÍCH CELKŮ ................... 154<br />
8.5.1 Základní způsoby přenosu tepla..................................................................... 155<br />
8.5.2 Konstrukční uspořádání chlazení................................................................... 160<br />
8.5.3 Chlazení polovodičových součástek............................................................... 174<br />
8.6 KONSTRUKCE A TECHNOLOGIE DESEK PLOŠNÝCH SPOJŮ......................................... 197<br />
8.6.1 Typy plošných spojů....................................................................................... 197<br />
8.6.2 Drátové plošné spoje...................................................................................... 215<br />
8.6.3 Vlastnosti desek plošných spojů..................................................................... 217<br />
8.6.4 Konečné povrchové úpravy............................................................................ 223<br />
8.6.5 Osazování desek plošných spojů součástkami ............................................... 224<br />
8.6.6 Konektory pro plošné spoje............................................................................ 228<br />
8.7 NÁVRH DESEK PLOŠNÝCH SPOJŮ ............................................................................. 230<br />
8.7.1 Jednodušší metoda ručního návrhu ............................................................... 235<br />
8.7.2 Složitější metoda ručního návrhu................................................................... 237<br />
8.7.3 Podrobnosti k návrhu vodivého obrazce........................................................ 240<br />
8.7.4 Návrh DPS počítačem.................................................................................... 251<br />
8.7.5 Postup pří návrhu DPS počítačem................................................................. 256<br />
8.8 PÁJENÍ V ELEKTRONICE........................................................................................... 258
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 3<br />
8.8.1 Měkké pájky ....................................................................................................264<br />
8.8.2 Tavidla............................................................................................................267<br />
8.8.3 Postup pájení ..................................................................................................271<br />
8.8.4 Technologické operace a zařízení pro hromadné pájení ...............................281<br />
8.9 TECHNOLOGIE POVRCHOVÉ MONTÁŽE.....................................................................287<br />
8.9.1 Zvláštnosti návrhu DPS pro techniku povrchové montáže.............................295<br />
8.10 STÍNĚNÍ ...................................................................................................................302<br />
8.10.1 Elektromagnetické stínění ..............................................................................305<br />
8.10.2 Magnetostatické stínění ..................................................................................314<br />
8.10.3 Vícenásobné stínění ........................................................................................318<br />
8.10.4 Stínění nízkofrekvenčních a napájecích transformátorů ................................322<br />
8.10.5 Stínění cívek a vysokofrekvenčních obvodů....................................................323<br />
8.10.6 Elektrické stínění ............................................................................................326<br />
8.10.7 Stínění síťových transformátorů .....................................................................330<br />
8.10.8 Současné stínění magnetického a elektrického pole.......................................331<br />
8.10.9 Stínění vodičů .................................................................................................333<br />
8.10.10 Stínění vodičů proti vlivu magnetických polí..............................................337<br />
9 SPOLEHLIVOST ELEKTRONICKÝCH ZAŘÍZENÍ............................................340<br />
9.1 ZÁKLADNÍ POJMY ....................................................................................................342<br />
9.2 ROZBOR KŘIVKY INTENZITY PORUCH.......................................................................344<br />
10 TECHNICKÁ DIAGNOSTIKA A OŽIVOVÁNÍ ELEKTRONICKÝCH<br />
ZAŘÍZENÍ ............................................................................................................................345<br />
10.1 ZÁKLADNÍ ÚLOHY TECHNICKÉ DIAGNOSTIKY ..........................................................345<br />
10.2 DIAGNOSTIKA ELEKTRONICKÝCH SOUČÁSTEK A ZAŘÍZENÍ ......................................346<br />
10.2.1 Testování a třídění integrovaných obvodů .....................................................347<br />
10.2.2 Testování propojovací sítě..............................................................................354<br />
10.2.3 Testování osazených desek .............................................................................357<br />
10.2.4 Diagnostika při uvádění do provozu, servis ...................................................361<br />
11 BEZPEČNOSTNÍ POŽADAVKY NA ELEKTRONICKÁ ZAŘÍZENÍ ............363<br />
11.1 LEGISLATIVA A UŽITÍ VÝROBKŮ ..............................................................................363<br />
12 PŘÍLOHA: KONTROLA KONSTRUKČNÍHO ..................................................366<br />
NÁVRHU...............................................................................................................................366<br />
13 LITERATURA .........................................................................................................371<br />
13.1 VÝSLEDKY TESTŮ....................................................................................................378<br />
13.1.1 Vstupní test .....................................................................................................378
4 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
1<br />
Zařazení předmětu ve studijním programu<br />
Tento text je určen především jako studijní materiál pro výuku předmětu „Návrh a<br />
<strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů (BNKP)“ v 3. ročníku studia tříletého bakalářského<br />
studijního programu ELEKTROTECHNIKA, ELEKTRONIKA, KOMUNIKAČNÍ A ŘÍDÍCÍ<br />
TECHNIKA oboru MIKROELEKTRONIKA A TECHNOLOGIE. Volně navazuje na<br />
předměty předchozích ročníků „Elektrotechnika1-2“, „Analogové elektronické obvody“ a<br />
„Mikroelektronika a technologie součástek“ se zaměřením na integrované obvody. Výhodou<br />
lze využít případných předchozích znalostí z volitelného předmětu „Diagnostika a testování<br />
elektronických systémů“.<br />
1.1<br />
Úvod do předmětu<br />
Náplní předmětu je seznámení jednak s historií a rozdělením integrovaných obvodů, ale<br />
především s aspekty návrhu a nároky kladenými na analogové integrované obvody (AIO).<br />
Používané technologie (bipolární, CMOS a BiCMOS) -jejich vlastnosti a srovnání.<br />
Seznámení s modelováním integrovaných obvodů a s modely jednotlivých prvků (obvodové<br />
modely bipolárních a unipolárních tranzistorů, rezistory). Návrh a simulace základních bloků<br />
AIO (proudové zrcadla a referenční obvody, zesilovače, děliče napětí, spínače ). Postupy a<br />
pravidla pro návrh topologií (masek) AIO.<br />
Seznámení s pokročilejšími technikami kompenzací analogových obvodů na čipech.<br />
Cvičení na počítačích zaměřená na simulaci a návrh funkčních bloků I0. K této části výuky<br />
doporučujeme skriptum Laboratorní cvičení z předmětu, kde naleznete manuály k ovládání<br />
používaných výukových programů „OrCAD Pspice“ pro simulaci obvodů a „Microwind“<br />
určený k návrhu topologie obvodu (layoutu).<br />
1.2<br />
Vstupní test<br />
Jako základ pro snadné zvládnutí učiva tohoto skripta se předpokládá jistá znalost ze<br />
studia předchozích elektrotechnických předmětů. Nezbytná je znalost základních<br />
elektrotechnických zákonů a pouček, schopnost matematického řešení jednoduchých<br />
elektrických a elektronických obvodů a alespoň základní znalost vlastností a chování<br />
primitivních elektronických prvků a součástek. Pro velmi stručnou autoevaluaci vašich<br />
znalostí lze využít následující krátké otázky a příklady. První část je zaměřena na základní<br />
znalosti z obvodové techniky, druhá na znalosti elektronických součástek. Odpovědi a<br />
případná řešení naleznete na konci tohoto skripta.<br />
1. Nakreslete základní strukturu bipolárního tranzistoru a vysvětlete podstatu<br />
tranzistorového jevu.<br />
2. Uveďte složky proudu v bipolárním tranzistoru typu NPN.<br />
3. Do čtyř kvadrantů souřadného systému zakreslete základní charakteristiky<br />
bipolárního tranzistoru.<br />
4. Uveďte používané pracovní režimy tranzistoru.<br />
5. Uveďte tři základní zapojení bipolárního tranzistoru a jejich vlastnosti.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 5<br />
6. Jak jsou vyjádřeny zesilovací schopnosti tranzistoru ?<br />
7. Nakreslete Ebersův-Mollův model tranzistoru a uveďte význam jeho<br />
jednotlivých prvků.<br />
8. Co je to bezpečná pracovní oblast tranzistoru – jak ji lze vyjádřit ve výstupních<br />
charakteristikách ?<br />
9. Za jakých okolností dochází k průrazům tranzistorové struktury<br />
10. Co je to Earlyho jev ?<br />
11. Co jsou linearizované modely tranzistoru a jaký mají vztah k parametrům<br />
dvojbranu ?<br />
12. Jak jsou vyjádřeny mezní kmitočty bipolárního tranzistoru ?<br />
13. Jak pracuje bipolární tranzistor ve funkci spínače ?<br />
14. Jak se provede volba a nastavení pracovního bodu zesilovače s bipolárním<br />
tranzistorem.
6 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
2 NÁVRH A KONSTRUKCE ELEKTRONICKÝCH<br />
ZAŘÍZENÍ A JEJICH ZAVÁDĚNÍ DO VÝROBY<br />
Výroba elektronických přístrojů a zařízení tvoří významnou součást průmyslové výroby, ať<br />
již jako samostatný obor, nebo součást jiných oborů. Vyznačuje se vysokou dynamikou<br />
vědeckotechnického rozvoje a její produkty se musí prosazovat v náročných konkurenčních<br />
podmínkách, neboť trh elektronických přístrojů a zařízení je charakteristický svou otevřeností<br />
v mezinárodním měřítku. K dosažení ekonomického úspěchu na trhu vzrůstá význam<br />
technické tvůrčí práce, ale současně i požadavky na větší provázanost s takovými disciplinami<br />
jako je obchod, marketing, ekonomika a organizace. Současný trend se projevuje tím, že<br />
vzrůstá podíl řídících pracovníků s vysokoškolskou kvalifikací ve dvou oblastech - v<br />
technické a v ekonomické (vč. obchodu).<br />
Nezbytné interdisciplinární znalosti se však stávají nutností i ve výkonných inženýrskotechnických<br />
profesích (tj. i pro výzkumné a vývojové pracovníky). Rozumět celému procesu<br />
vzniku a zavedení nového výrobku, ekonomickým souvislostem jak v průběhu přípravy, tak<br />
při výrobě, je účinnou cestou dosažení vysoké efektivity práce a následného ekonomického<br />
úspěchu.<br />
Z pohledu tvůrce "sebedokonalejší a sebezdařilejší, příp. sebekrásnější" řešení postrádá smysl,<br />
nelze-li jej ekonomicky zavést do výroby, či vyrábět, nesplňuje-li konkrétní potřeby uživatele,<br />
není-li se schopno prosadit parametry, spolehlivostí, designem a cenou v konkurenci jiných<br />
výrobků.<br />
Celý proces vzniku elektronického přístroje zahrnuje řadu činností od vzniku námětu, záměru<br />
až po rozběh sériové výroby, jejichž cílem je až splnění ekonomických záměrů na straně<br />
dodavatele (podnikatelského subjektu) uspokojením potřeb odběratelů (zákazníků).<br />
Návrh řešení a zhotovení vzorku, který v zásadě splňuje očekávané funkce (často za<br />
podmínky, že je obsluhován a udržován v provozu svým tvůrcem) je jen malou částí z<br />
celkového objemu prací nutných k dosažení uvedeného cíle. Tento stav ještě nezajišťuje ani<br />
neprokazuje dosažení technických a ekonomických parametrů ani ve výrobě ani v užití.<br />
Soubor všech činností od stanovení záměru - formulace zadání až po rozběh seriové výroby<br />
bývá označován jako technická příprava výroby (někdy také jako příprava nové výroby či<br />
předvýrobní činnosti). Je zřejmé, že rozsah a náplň jednotlivých činností je v konkrétních<br />
případech různá a závisí na<br />
a) výrobku - jeho charakteru a složitosti, na situaci na trhu,<br />
b) řešiteli/výrobci - na vnitřních podmínkách, tj. schopnostech, zkušenostech pracovníků,<br />
technických prostředcích, organizační struktuře.<br />
Technická příprava výroby probíhá v řadě etap; za základní můžeme označit<br />
1. Stanovení záměru (zadání).<br />
2. Výzkumná etapa.<br />
3. Vývojová etapa.<br />
4. Technologická příprava výroby.<br />
5. Náběh sériové výroby.<br />
Poznámka: Termínem technická příprava výroby bývá někdy v užším smyslu označována<br />
pouze etapa technologické přípravy výroby.<br />
Organizace a řízení technické přípravy výroby jsou firemně specifické. Jinak budou<br />
postupovat malí výrobci omezeného sortimentu, jinak velké společnosti pokrývající několik<br />
výrobních oborů.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 7<br />
Předpokládejme proto, že modelovým příkladem bude firma působící dlouhodobě v oboru<br />
výroby elektronických přístojů a trvale zajišťující svůj technický rozvoj i přímý odbyt své<br />
produkce.<br />
Pro takovou firmu je typické, že má zavedenou propracovanou vnitřní organizaci, posloupnost<br />
a náplň činností technické přípravy výroby má popsánu vnitřními akty řízení (organizačními<br />
směrnicemi, normami apod.). Jejich význam spočívá mimo jiné v tom, že poskytují konkrétní<br />
informace a návody pro práci odborných útvarů i jednotlivých pracovníků a zavádějí<br />
potřebnou terminologii, neboť význam některých obecně používaných termínů není v praxi (v<br />
různých podnicích) jednotný.<br />
Náplň etap technické přípravy výroby<br />
1. Zadání úkolu<br />
Zadání úkolu soustřeďuje požadavky a náměty, popř. údaje k zakázce (1.1). Vychází se<br />
přitom zejména z dlouhodobé strategie firmy, ze záměrů na udržení či rozšíření podílu na trhu<br />
v daném sortimentu. Pojem strategické plánování je u zavedených výrobců jedním z<br />
klíčových a pohybuje se v horizontu jednotek až desítek let. Od strategického plánování se<br />
odvíjí investiční politika, tj. zejména obnova a rozšiřování technologií (instalovaných<br />
zařízení, strojů, výstavba). Vyžaduje to hluboké znalosti vývoje techniky, trhu, pracuje se s<br />
dlouhodobými prognózami. Záměry a rozhodnutí vycházející ze strategického plánování jsou<br />
často orientovány na vlastní nebo externí základní výzkum. Vedoucí firmy oboru se vyznačují<br />
tím, že realizace záměrů dlouhodobé strategie tvoří rozhodující náplň jejich technického<br />
rozvoje.<br />
Postup středních a menších firem je jiný, je založený na vysoké inovační pohotovosti. Firmy<br />
organizují svůj technický rozvoj na znalosti okamžitých nebo časově blízkých potřeb trhu a<br />
soustřeďují se na velmi rychlý průběh technické přípravy výroby, na rychlé uspokojení<br />
poptávky.<br />
Firemní koncepci ovlivňuje podstatně charakter výrobků z pohledu užití. Typické je rozdělení<br />
na výrobky určené pro konečnou spotřebu a na výrobky pro další zpracování.<br />
Konkretizace požadovaných vlastností, parametrů a ceny do zadání úkolu se provádí na<br />
úrovni hospodářského vedení (managementu) firmy. Základními podklady pro rozhodování<br />
jsou studie, zprávy a informace pracovníků marketinku, obchodu, výzkumu a vývoje,<br />
technologie (1.1).<br />
Obsahové a časové členění úkolu (1.2) je připraveno pro písemný akt řízení (zadávací<br />
protokol), který obsahuje tyto údaje:<br />
- kdo bude úkol řešit (hlavní řešitelé, spoluřešitelé), tj. které útvary budou řešit včetně jmen<br />
odpovědných pracovníků,<br />
- cílové požadavky (parametry, vlastnosti nového výrobku),<br />
- náplň a termíny jednotlivých etap řešení,<br />
- přidělené prostředky k řešení úkolu,<br />
- rozčlenění nákladů.<br />
Současně se vypracovává technicko-ekonomický rozbor (1.3), který rozvádí stručné<br />
informace obsažené v zadávacím protokolu, a který slouží jako podklad k rozhodnutí (1.4) o<br />
zařazení úkolu technického rozvoje (výzkumného, vývojového) do plánu (1.5). Rozhodnutí<br />
patří vrcholovému vedení (managementu) firmy.<br />
Technicko-ekonomický rozbor souhrnně hodnotí marketinkovou situaci a popisuje po<br />
technické i ekonomické stránce podnikatelský záměr zamýšlený vstupem výrobku na trh.<br />
Obsahuje
8 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
- popis výrobku (jeho účel, funkci, použití),<br />
- základní parametry a jejich srovnání s konkurencí,<br />
- všeobecné a specifické požadavky (oblast bezpečnosti, spolehlivost, soulad s normami a<br />
předpisy),<br />
- rozvahy o technicko-ekonomické životnosti (době, po kterou se udrží výrobek na trhu),<br />
předpokládané množství prodaných (vyrobených) výrobků v této době,<br />
- odhad nákladů na vývoj výrobku, na nářadí a měřící vybavení, na speciální technologie,<br />
hardwarové (HW) a softwarové (SW) prostředky,<br />
- předpokládané náklady na technickou přípravu (zavedení) výroby, výrobní náklady ve<br />
vztahu k ceně, cenový limit, vyčíslení přínosů, zisku, ...<br />
- návrh časového harmonogramu základních etap, případné upřesnění jejich nestandardního<br />
průběhu,<br />
- navrhovaný počet vzorků, prototypů, rozsahů zkoušek, rozsah konstrukční a technologické<br />
dokumentace.<br />
Poznámka: Průběh řešení zpravidla nesleduje celý vývojový diagram (obr. 1).<br />
- v etapě zadání se již přihlíží k náplni úkolu, např. při dílčí inovaci spočívající jen v návrhu<br />
nového designu (vnějšího provedení) bez podstatného dotčení původního obvodového řešení,<br />
nebude jistě zařazována výzkumná etapa, ani všechny vývojové etapy,<br />
- v průběhu řešení může pod vlivem získaných poznatků nebo změn na trhu docházet v<br />
časovém rozvrhu ke skluzům i záměrnému urychlování, může docházet ke změnám v čerpání<br />
nákladů. Průběh řešení je proto trvale sledován a vyhodnocován a v dílčích etapách<br />
rozhodováno o jeho dalším průběhu.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 9<br />
Obr.1.1 Náplň a návaznosti jednotlivých etap technické přípravy výroby
10 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
2. Výzkumná etapa<br />
Výzkumná etapa se zařazuje tehdy, nejsou-li známy některé principy nebo nejsou-li ověřeny<br />
do té míry, aby je bylo možno přímo použít při konkrétním řešení výrobku. Výzkumná etapa<br />
je charakteristická pro výrobky, které představují vysoký stupeň inovace oproti svým<br />
předchůdcům, nebo zavádění nové techniky.<br />
V průběhu řešení je nutné se seznámit s nejnovějším stavem techniky formou studia odborné<br />
literatury, patentových spisů a rešerší (2.1). Dále se provádí potřebné výpočty a návrh<br />
klíčových obvodů příp. i s nezbytným SW a jejich experimentální ověření (2.2). Získané<br />
poznatky a výsledky prací se shrnují ve výzkumné zprávě (2.3). O splnění cílů výzkumné<br />
eta py a dalším postupu (pokračování podle vývojového diagramu nebo "opakování"<br />
výzkumné etapy) rozhodne technické vedení firmy při oponentním jednání (2.4).<br />
3. Vývojová etapa<br />
3.1. Studium a funkční ověření. Tato etapa se nezařazuje, pokud se jedná o řešení poměrně<br />
propracovaných problémů, popř. když byly propracovány natolik v etapě výzkumu, že<br />
rozhodnutím v bodu 2.4 byla vynechána.<br />
V průběhu studia (3.1.1.) řešitel vytváří vlastní koncepci řešení, stanovuje dílčí části řešení,<br />
vymezuje technické, technologické, materiálové i výrobní podmínky pro úspěšné ověření a<br />
přípravu nového výrobku.<br />
Účelem etapy funkčního ověření (3.1.2.) je prokázat na navrženém a zhotoveném<br />
funkčním vzorku reálnost dosažení zadaných parametrů. Pojem funkční vzorek je myšlen jako<br />
takový "model", který se ještě nemusí blížit vzhledově konečnému výrobku, ale ověřuje jeho<br />
perspektivní funkčnost po stránce především vybraných technických parametrů a vlastností<br />
(zejm. základních obvodových a SW řešení).<br />
Ověření (kontrolu) splnění zadaných technických parametrů provede typová zkušebna.<br />
Uvedený postup nezávislé kontroly je příznačný pro zavedené systémy řízení jakosti.<br />
Zkušebnou vystavený protokol o typové zkoušce I (3.1.3) je podkladem pro rozhodnutí o<br />
pokračování vývojových prací, příp. opakování etapy (3.1.4).<br />
3.2. Vývojový vzorek. V etapě vývojového vzorku je cílem dopracovat řešení i po<br />
konstrukční a SW stránce do takového stavu, aby jej bylo možno ověřit i po stránce<br />
technologičnosti provedení. Při řešení úzce spolupracuje s vývojovým pracovníkem<br />
konstruktér.<br />
Poznámka: Zejména ve strojírenských podnicích se někdy neužívá označení funkce<br />
výzkumně-vývojového pracovníka pro tvůrce elektrického (obvodového) návrhu, ale označuje<br />
se jako elektrokonstruktér, popř. jen konstruktér. V rámci tohoto textu je pod pojmem<br />
konstruktér myšlen pracovník, který navrhuje mechanickou konstrukci přístroje, vypracovává<br />
konstrukční podklady; výzkumně-vývojovými pracovníky jsou označováni tvůrci<br />
obvodového řešení a programového vybavení.<br />
Podle pokynů a podkladů vývojového pracovníka a konstruktéra je zhotoven vývojový<br />
vzorek (3.2.1), pomocí něhož je již v dílně vzorkovny ověřováno jeho obvodové a<br />
konstrukční řešení, jsou stanoveny nároky na potřebné technologie a měřící zařízení a<br />
předběžně se odhaduje potřebný čas ke zhotovení výrobku. V této fázi již musí být k dispozici<br />
SW nutný pro zajištění vlastní funkce výrobku (specifické "firmware"). Dopracování a<br />
optimalizace uživatelského SW, které již nevede k úpravám obvodového (HW) řešení může<br />
probíhat souběžně s výrobou prototypů (3.4).
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 11<br />
Na vývojovém vzorku provádí typová zkušebna typovou zkoušku II (3.2.2). Typová zkouška<br />
II je poměrně obsáhlým ověřením vlastností vzorku i správnosti dokumentace. Ze zkoušky<br />
obvykle vyvstává řada připomínek, které musí vývojový pracovník a konstruktér vyřešit<br />
(3.2.4). Následuje rozhodnutí o ukončení etapy (3.2.5).<br />
3.3. Zhotovení výrobní dokumentace pro prototypy. V této etapě se již zpracovává výrobní<br />
dokumentace se všemi náležitostmi tak, aby podle ní mohly být vyráběny prototypy - tj.<br />
vzorky výrobků, které provedením i parametry plně odpovídají budoucím výrobkům.<br />
Výkresová dokumentace prochází kontrolou, zda je v souladu s normami a předpisy, zda jsou<br />
správně voleny materiály a díly s přihlédnutím ke standardizaci a typizaci. Stanovuje se<br />
technologie zhotovení prototypů, vypracovávají se návrhy uživatelské dokumentace.<br />
3.4. Zhotovení prototypů. Je-li to účelné, vypracovávají se některé technologie výroby tak,<br />
aby byly použitelné již i pro realizaci prototypů (3.4.1).<br />
Poznámka: Výsledkem technologické přípravy výroby je určení výchozí podoby a<br />
množství materiálu, vypracování technologických postupů (pro zhotovení, montáž, nastavení,<br />
kontrolu), stanovují se časové normy na jednotlivé operace. Zadává se příp. výroba<br />
speciálního nářadí, měřícího zařízení apod.<br />
Podle požadavku zadání se vyrobí stanovený počet prototypů (3.4.2). Všechny poznatky a<br />
připomínky z průběhu výroby prototypů se evidují. Připravují se všechny materiály, které<br />
budou kontrolovány spolu s prototypem (prototypy) v průběhu typové zkoušky III (3.4.3).<br />
Typová zkouška III prověřuje dosažení zadaných parametrů a vlastností včetně funkcí<br />
interního a externího řízení, uživatelského SW, úplnost a správnost výrobní a uživatelské<br />
dokumentace (návody, ...). Při kladném výsledku typové zkoušky jsou připomínky z jejího<br />
průběhu spolu s připomínkami z výroby prototypů promítnuty do dokumentace (3.5), která se<br />
tím stává konstrukční dokumentací pro výrobu (výrobní dokumentace v užším slova smyslu).<br />
Jde o takový soubor podkladů, z nichž je možno přizpůsobením se instalovaným technologiím<br />
začít vyvinutý výrobek vyrábět a dodávat na trh. Tím také končí etapa vývoje a nastává etapa<br />
osvojení výroby.<br />
4. Osvojení výroby<br />
je procesem, jehož cílem je co nejekonomičtěji připravit výrobu a vyrábět produkt<br />
předchozího vývoje.<br />
4.1. Technologická příprava výroby (TgPV)<br />
Podklady pro TgPV se skládají z<br />
- technických podkladů - schémat, SW, konstrukčních výkresů a rozpisek (kusovníků), popisu<br />
funkce, metody elektrického nastavení a kontrol (testování); prototypu(ů) vč. připomínek a<br />
poznatků z jeho výroby,<br />
- ekonomických a organizačních údajů - nákladového limitu konečného výrobku,<br />
předpokládané sériovosti, stanovených termínů a nákladů pro etapu TgPv.<br />
Správné stanovení podkladů v etapě TgPV působí výrazně na ekonomiku produkce (v<br />
ovlivnění výše nákladů je TgPV hned za vlastním vyvojově-konstrukčním řešením výrobku).<br />
Musí být proto voleny nejvhodnější výrobní postupy, optimální volba výrobního zařízení,<br />
organizace práce a pracovišť, stanovení norem spotřeby materiálu a času.<br />
4.1.1. Předběžná materiálová norma je souborem všech komponentů, které je nutno pořídit<br />
(zakoupit) a které při výrobě vstupují do daného výrobku. Sestavuje se z konstrukční<br />
dokumentace a je podkladem pro zajištění dodávek u dodavatelů a pro stanovení tzv.<br />
materiálových nákladů výrobku.
12 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
4.1.2. Technologické postupy vycházejí z technologických postupů zhotovení jednotlivých<br />
dílů až po technologické postupy kompletace celého výrobku vč. operací nastavení a<br />
testování. Např. na úrovni dílu se stanovuje výchozí rozměr materiálu, pořadí výrobních<br />
operací, použité nářadí, stroje, zařízení, pracoviště. Podobně se stanovují postupy montáží,<br />
nastavení, kontrol. Podle potřeby zadává technolog úpravy či pořízení potřebných<br />
technických zařízení a programového vybavení pro technologické a řídící procesy.<br />
4.1.3. Normy času stanovují nutnou míru pracovního času k vykonání určité operace (dle<br />
technologického postupu). Jejich objektivní stanovení provádí technologové-normovači, a to<br />
technickým propočtem z údajů v technologickém postupu, využitím normativů nebo měřením<br />
(tzv. snímkem pracovního času).<br />
Poznámka Vypracované technologické postupy s normami času jsou základním podkladem<br />
pro plánování výroby - kapacitní a ekonomické propočty, harmonogramy výroby, atd.<br />
4.1.4. Konstrukce a výroba účelového nářadí (prostředků) patří mezi nákladově náročné<br />
položky, proto se s požadavky technologa na konstrukci a výrobu nářadí prověřuje možnost<br />
využití modifikovaného standardniho nářadí, typizovaných prvků, apod. Jeho výroba, úprava,<br />
či nákup se uskutečňuje v termínech dle harmonogramu technologické přípravy výroby tak,<br />
aby jeho konečné ověření proběhlo při výrobě ověřovací série.<br />
4.1.5. Konstrukce a výroba měřících (testovacích, zkušebních) zařízení je "elektrickým"<br />
ekvivalentem <strong>konstrukce</strong> a výroby nářadí pro zhotovení mechanických částí výrobku (tj. pro<br />
výrobu elektrických bloků, sestav a finálního výrobku). Technolog určuje technologický<br />
postup elektrického nastavení, kontrolní a testovací operace a určuje potřebná zařízení. Podle<br />
ekonomických kriterií volí stávající nebo nákup nové měřící techniky, či zadává konstrukci a<br />
zhotovení účelových přípravků a zařízení.<br />
4.1.6. Příprava SW. Příprava programových prostředků technologického procesu závisí na<br />
technologickém vybavení a vnitřní organizaci firmy. Zajišťuje se pořízení či úprava SW pro<br />
jednotlivé programově řízené technické prostředky, příp. pro ucelené výrobní linky až po<br />
přípravu dat pro úplné výrobní systémy.<br />
Poznámka: Úplné výrobní systémy bývají organickou součástí systému technickoekonomického<br />
řízení celé firmy. Jednotlivé relativně procesně autonomní subsystémy jsou<br />
pak propojovány pomocí on-line datových sítí.<br />
Např. subsystém materiálového hospodaření může automatizovaně zabezpečovat po zavedení<br />
souboru výrobních podkladů výrobku a příkazu k jeho výrobě<br />
- vystavení objednávek pro dodavatele vč. optimalizace rozložení dodávek<br />
- evidenci dodávek, vč. propojení na subsystém ekonomiky (ceny, platby)<br />
- evidenci pohybu materiálu a dispozice k jeho přesunu na výrobní pracoviště v potřebném<br />
složení, množství a čase<br />
Např. subsystém řízení výroby zajišťuje<br />
- optimalizaci výrobního plánu (termíny, průchodnost, náklady)<br />
- vlastní řízení výrobního procesu - dispozice k průchodu přes jednotlivé technologické<br />
operace, evidence, provázanost se subsystémem ekonomiky (výrobní náklady, mzdy,...)<br />
SW těchto systémů je produktem specializovaných firem. V procesu technologické přípravy<br />
výroby hlavní náplň činností spočívá v přípravě dat předepsaným způsobem.<br />
Po kontrolním aktu (4.1.7) je rozhodnuto o výrobě ověřovací série.<br />
4.2 Ověřovací série (OS) má za cíl prověření konstrukční dokumentace, technologických<br />
postupů, sledu a náplně jednotlivých operací, ověření nasazené techniky a programového<br />
vybavení, postupů elektrického nastavení, kontrolních a testovacích operací a norem času na<br />
výrobních pracovištích, včetně ověření předpokládaných ekonomických parametrů produkce.<br />
V průběhu mechanické výroby (4.2.1), montáže (4.2.2) a elektrického nastavení a testování<br />
(4.2.3) se vede evidence připomínek - optimalizují se technologické postupy, provádí se
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 13<br />
operativní úpravy konstrukční a technologické dokumentace, nářadí, měřícího zařízení,<br />
technických a programových prostředků. O průběhu OS se vypracuje technická zpráva<br />
(4.2.4), provede se řádná úprava výrobní dokumentace (4.2.5) a definitivní úpravy nářadí a<br />
měřícího zařízení (4.2.6). Podle průběhu a výsledku OS a z posouzení připravenosti pro<br />
zahájení sériové výroby se rozhodne o uvolnění do opakované (sériové) výroby (4.2.7).<br />
Tím byl ukončen celý proces technické přípravy výroby v širším slova smyslu. V praxi<br />
úspěšných firem se ukazuje, že účinnou metodou rychlých inovací je vytvoření podmínek,<br />
kdy schopný řešitelský vývojový tým neuzavírá svou činnost ukončením etapy "vývoj", ale<br />
aktivně řídí proces přípravy výroby až po zahájení opakované výroby.<br />
Vybrané metody a zásady výzkumně vývojových prací<br />
a) Plánování práce. Termínová a obsahová náplň úkolu se rozplánovává až na úroveň<br />
jednotlivých řešitelů. Formulace úkolů musí být jednoznačná, zadání písemné.<br />
b) Studium a shromažďování informací. Základními zdroji informací jsou:<br />
- patentové a literární rešerše,<br />
- odborné časopisy a knižní publikace,<br />
- konference, semináře a sborníky z nich,<br />
- výrobní dokumentace výrobků vlastní produkce,<br />
- obchodně technická a uživatelská dokumentace výrobků jiných výrobců,<br />
- katalogy, aplikační návody a doporučení výrobců a dodavatelů součástek, dílů nebo<br />
funkčních bloků,<br />
- odborné konzultace.<br />
Doporučuje se, aby si pracovník vedl vlastní kartotéku (lístkový systém - s uvedením tématu,<br />
krátkého popisu, autora, pramene). Podrobnější informace nalezneme např. v knihách Jiřího<br />
Tomana.<br />
c) Vedení pracovní dokumentace. Propracování vlastního systému vedení pracovní<br />
dokumentace je účinnou metodou pro dosažení potřebné efektivity práce. Pečlivé vedení<br />
pracovních poznámek, teoretických výpočtů, výsledků experimentů, atd. formou pracovního<br />
deníku urychluje vlastní řešení a usnadňuje vypracování konstrukční, uživatelské a servisní<br />
dokumentace výrobku.<br />
d) Ekonomika výrobku. Zahraniční prameny uvádějí, že podíl vývoje a <strong>konstrukce</strong> na<br />
výrobních nákladech výrobku činí typicky 70%. Znalost cenových relací použitých prvků a<br />
schopnost kvalifikovaného odhadu pracnosti (např. analogií se srovnatelnými výrobky) je<br />
jedním ze základních požadavků na vývojového pracovníka, příp. konstruktéra. Typickým<br />
trendem snižování výrobních nákladů je odstraňování podílu lidské práce - eliminací<br />
dostavovacích operací, optimalizací obvodového řešení toleranční analýzou, automatizací<br />
kontrolních a kalibračních prací apod.<br />
e) Kvalita výrobku. Ovlivnění kvality výrobku ve fázi vývoje je podobné jako v d) a je dané<br />
zejména<br />
- výběrem a dimenzováním použitých prvků,<br />
- volbou obvodového řešení,<br />
- konstrukcí (technologičností) výrobku,<br />
- metodami kontrol testování,<br />
- použitím dynamického namáhání, resp. zahořování (stress screening).<br />
Mezi základní postupy patří teoretické výpočty spolehlivosti (střední doby bezporuchového<br />
chodu) výrobku, provádění typových zkoušek v jednotlivých vývojových etapách, praktické<br />
provádění zkoušek spolehlivosti na skupině výrobků a komplexní metrologické zajištění<br />
produkce.<br />
Poznámka: Předmětem typové zkoušky jsou mimo jiné zkoušky mechanické (rázy,<br />
chvění), zkoušky klimatické odolnosti, kontrola parametrů<br />
na hranicích pracovních podmínek
14 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
(v okrajových teplotách, při mezních napájecích napětích ap.). Provádí se i interní zkoušky<br />
bezpečnosti, odrušení, kontroly správnosti a úplnosti dokumentace.<br />
Nejvyšším stupněm je zavedení úplného systému zajištění jakosti organizaci na úrovni<br />
certifikace (dle ISO řady 9000) - viz kapitola Řízení jakosti.<br />
f) Užitné vlastnosti výrobku rozhodují spolu s cenou (d) a kvalitou (e) o úspěšnosti výrobku<br />
na trhu. Technické zadání nemůže plně postihnout všechny "prvky" úspěšnosti. Pro dosažení<br />
co největší úrovně užitných vlastností je předpokladem především hluboká znalost potřeb<br />
uživatele a stavu techniky - zejména znalost konkurenčních výrobků a vývojového trendu<br />
trhu. Kromě technických parametrů sem patří zejména vzhledové provedení vč. důsledného<br />
uplatňování zásad ergonomie - při volbě a rozložení ovládacích prvků a přípojových míst<br />
(design přístroje).<br />
g) Bezpečnostní požadavky musí vycházet ze splnění závazných předpisů a norem platných v<br />
zemi uživatele. Typickým trendem je mezinárodní sjednocování normativních požadavků,<br />
přičemž v oblasti technických vlastností mají charakter doporučení, kdežto v oblastech<br />
bezpečnosti a ekologie jsou závazné. Jejich znalost je základním předpokladem pro úspěšné<br />
prosazení na zahraničních trzích. Při konstrukci výrobků, zejména síťových částí, je nutno<br />
počítat s použitím prvků, které jsou typovány u pověřených národních organizací - síťové<br />
přívody, pojistková pouzdra a vložky, síťové spínače apod.<br />
Úvodní kapitola měla za cíl objasnit souvislosti celého procesu vzniku nového výrobku v<br />
rozsahu potřebných znalostí jeho tvůrců. Je zřejmé, že hluboká a komplexní znalost<br />
problematiky nebude převážně soustředěna ve vědomostech jediného pracovníka, ale cíleně<br />
rozdělena na členy řešitelského kolektivu. Vznik a organizace práce tvůrčího týmu -<br />
typického představitele technického rozvoje - je neméně složitým úkolem než vlastní vývoj a<br />
zavedení výroby nového produktu. Toto téma je již nad rámec této publikace, ale nemělo by<br />
být opominuto.<br />
2.1 Dokumentace elektronických zařízení<br />
Výsledky vývojových prací musí být dokumentovány tak, aby další pracoviště mohla výrobu<br />
připravit a aby nová zařízení mohla být vyrobena, vyzkoušena a uvedena do provozu. K<br />
tomuto cíli slouží výrobní a uživatelská dokumentace. Tato dokumentace má části prováděcí,<br />
definující výrobní proces, a části vysvětlující, které umožňují pochopení činnosti zařízení při<br />
výrobě, provozu i údržbě. Dokumentace bývá značně obsáhlá (zvl. u velkých elektronických<br />
zařízení), obsahuje tyto části:<br />
1. Konstrukční dokumentace:<br />
- výrobní výkresy a rozpisky sestav, podsestav a polotovarů včetně dokumentů pro výrobu<br />
desek plošných spojů,<br />
- výrobní dokumentace vnitřních propojovacích kabeláží, ev. zadních panelů,<br />
- výkresy pro zhotovení vnějších připojovacích kabeláží,<br />
- dokumentace pro balení,<br />
- dokumentace definující kompletaci dodávky a její příslušenství.<br />
2. Elektrická dokumentace:<br />
- funkční, principiální a obvodová schémata,<br />
- zkušební a různé další předpisy pro celek, díly, desky a kabeláže,<br />
- elektrické rozpisky,<br />
- tabulky a slovníky signálů,<br />
- funkční a časové diagramy.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 15<br />
3. Uživatelská a obchodně-technická dokumentace (stručně: Průvodní dokumentace):<br />
- technický popis,<br />
- návod k použití (návod k obsluze),<br />
- servisní dokumentace,<br />
- předpis pro instalaci<br />
- katalogový list.<br />
Vytvoření této dokumentace a její udržování ve stavu odpovídajícím měnícím se podmínkám<br />
výrobního procesu i vzrůstající technické úrovni, představuje značný podíl objemu<br />
vývojových prací. Některé činnosti při vytváření této dokumentace mají opakující se<br />
charakter a jsou proto vhodné pro počítačové zpracování.<br />
Zvláštní pozornost se musí věnovat uživatelské a obchodně-technické dokumentaci, jejichž<br />
zpracování po obsahové stránce náleží tvůrci zařízení. Při zpracování<br />
dokumentace musí být uplatněna zásada plné konkurenceschopnosti dokumentace v<br />
- obsahové náplni - správná a úplná specifikace parametrů, perfektní textové (slohové)<br />
zpracování i v cizím jazyce (prioritně angličtina a němčina),<br />
- grafické úpravě a kvalitě tisku.<br />
Podrobněji si nyní všimněme návodu k použití, jehož úroveň u domácích výrobců je obecně<br />
nedostačující až špatná. Forma a obsah návodu nemohou být vždy stejné. Měly by však<br />
záviset více na potenciálním uživateli výrobku a jeho vztahu k němu než na typu zařízení.<br />
Složitost zařízení bude podmiňovat jen rozsah návodu. Z tohoto hlediska můžeme<br />
dokumentaci k výrobku rozdělit do čtyř kategorií:<br />
A. návod k obsluze spotřební elektroniky pro laického uživatele;<br />
B. návod k obsluze laboratorní a speciální elektroniky pro odborné pracovníky neelektronické<br />
(např. lékařská elektronika, mikropočítače);<br />
C. návod ke speciálním využitím laboratorní a průmyslové elektroniky pro pracovníky<br />
erudované v elektronice (např. přístrojové stavebnice);<br />
Je třeba pouze zdůraznit, že z hlediska uživatele obvykle návod k obsluze velmi<br />
znehodnocuje, jestliže je prolnut detailními konstrukčními popisy obvodů, mezi kterými je<br />
nutno vlastní obsluhu zařízení složitě hledat. Technický popis je třeba uvádět samostatně.<br />
Bez ohledu na typ (A až C) by měl každý návod obsahovat tyto složky:<br />
1. Úvodní list (jméno nebo ochranná značka výrobce, název, typové označení a výrobní číslo<br />
přístroje),<br />
2. Úvodní údaje<br />
2.1 Obsah, tj. seznam kapitol a odstavců s odkazy na strany.<br />
2.2 Abecední rejstřík hlavních termínů a klíčových slov s odkazy na strany.<br />
2.3 Výčet příslušenství dodaného se zařízením.<br />
2.4 Základní technická data.<br />
Všechny tyto informace je nejvhodnější uvádět na začátku návodu, kde se nejsnadněji při<br />
časté potřebě vyhledávají. Jako by dnes neměla být vydána jakákoliv odborná kniha bez<br />
věcného rejstříku, tak by měl být rejstřík i součástí každého rozsáhlejšího návodu k obsluze.<br />
Je totiž nutno si uvědomit, že návod se obvykle systematicky studuje jen jednou, zato velmi<br />
často je využíván pro vyhledání určité konkrétní<br />
informace.
16 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Bod 2.4 obsahuje popis vlastností zařízení, zejména zaručované údaje o technických<br />
vlastnostech zařízení, chybách a třídách přesnosti, vlivech vnějšího prostředí, referenčních a<br />
pracovních podmínkách.<br />
3. Princip a použití zařízení<br />
3.1 Účel zařízení a rozsah jeho použití (druhy měření, rozsahy měřených hodnot, provozní<br />
podmínky zařízení, příklady a schémata měřicích obvodů).<br />
3.2 Teorie funkce nebo metody využití.<br />
3.3 Principiální popis, blokové schéma.<br />
Bod 3.2 nebude samozřejmě většinou nutný u návodů typu A, zato by neměl nikdy chybět u<br />
dalších dvou typů. V případě, že zařízení umožňuje více funkčních režimů, ke kterým je<br />
účelné uvádět příslušnou teorii (např. návod k měřiči impedancí), bude tento bod obsažen i v<br />
odstavci 6.<br />
4. Přehled ovládacích prvků a přípojných míst se stručnou charakteristikou jejich funkce<br />
Tento přehled sice částečně supluje popisy uvedené v odstavcích 5. a 6., ale u složitějších<br />
zařízení je nezbytný pro rychlé ovládnutí obsluhy a pro usnadnění dodatečného ověřování její<br />
správnosti. Může být řešen formou tabulky a uspořádán nejlépe podle čísel označujících<br />
jednotlivé prvky v obrázcích (viz dále).<br />
5. Uvedení do chodu<br />
5.1 Podmínky instalace, zapojení, požadavky na napájecí zdroje.<br />
5.2 Příprava pro činnost, kontrola výchozích nastavení.<br />
5.3 Zapnutí, principiální kontrola správnosti funkce.<br />
6. Obsluha pro jednotlivé funkční režimy<br />
Popisy v odstavcích 4. až 6. se musí odvolávat na obrázky zařízení (fotografie, schematické<br />
kresby) s označenými ovládacími a přípojnými prvky, nejlépe čísly. Pokud jsou funkce<br />
zařízení a s tím spojená obsluha značně složité, je výhodné jejich pochopení usnadnit pomocí<br />
vývojových diagramů. Vzhledem k tomu, obrázky budou využívány vícekrát v různých<br />
místech návodu, je možno je umístit na záložce tužšího obalu návodu tak, aby po vyklopení<br />
byl obrázek trvale po straně všech stran textu. Sled dílčích úkonů obsluhy je účelné popisovat<br />
v postupně číslovaných bodech, neboť se tak nejspolehlivěji zajistí jejich dodržení. (I v<br />
návodech typu B a C: snad se ani nejkvalifikovanějšího pracovníka nedotkne, když obdrží<br />
pokyny ve formě "proveď za prvé, za druhé, za třetí...). Pokud je funkčních režimů velmi<br />
mnoho (např. analogový počítač), musí být u jejich popisů zajištěno logické a přehledné<br />
rozdělení a jednotná struktura textů. Patrně nejpřehlednější je důsledně dodržovat označování<br />
všech kapitol, odstavců a bodů desetinnými čísly.<br />
7. Závěrečné informace<br />
7.1 Pokyny pro bezpečnost obsluhy a provozu.<br />
7.2 Údržba.<br />
7.3 Přehled běžných funkčních závad zaviněných obsluhou nebo vnějšími vlivy a jejich<br />
odstranění.<br />
7.4 Seznam dalších možných doplňků zařízení s objednacími čísly.<br />
7.5 Záruční podmínky (pokud se liší od běžných), adresy servisních míst.<br />
7.6 Podmínky pro skladování.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 17<br />
Po formální stránce je nezbytnou podmínkou návodu jeho přehlednost. Zahraniční výrobci se<br />
často snaží jí dosahovat mezi jiným též nejrůznějšími typy tisku, včetně barevného. V tomto<br />
srovnání těžko obstojí forma návodů s textem psaným na psacím stroji (byť elektronickém) či<br />
zpracovaným běžným textovým procesorem a vytištěným 9ti jehličkovou tiskárnou..<br />
Nepřehledný však může být i tištěný text, pokud nejsou využity možnosti, které tisk<br />
poskytuje, a též vinou nemístného šetření papírem.<br />
Nový přístroj je uživatele obvykle více či méně "černou" skříňkou. Jistě není žádoucí, aby k<br />
jeho poznávání musel používat kybernetických metod identifikace, spočívajících např. v<br />
hledání vztahů mezi podněty a reakcemi a vytváření hypotéz o jeho vnitřní struktuře. Bez<br />
kvalitního návodu k obsluze však vlastně k podobnému postupu často dochází (točí se<br />
náhodně knoflíky a zjišťuje se, co to udělá), což nepochybně nepřispívá hodnotnému využití<br />
přístroje nebo jej dokonce ohrožuje. Na druhé straně špatná kvalita návodů spolu i další vlivy<br />
vedly k formulaci tzv. Cahnova axiomu: "Selže-li všechno, přečti návod" (je z kategorie<br />
Murphyho zákonů).<br />
Úměrně platí výše uvedené i pro dokumentaci počítačových programů.<br />
2.2 Ekonomický význam elektronického průmyslu<br />
Aplikace elektroniky a mikroelektroniky v elektronických výrobcích v "neelektronických<br />
oborech", působí dvojím směrem<br />
- inovačním efektem (nové generace výrobků)<br />
- racionalizačním efektem (změna výrobních prostředků a technologických procesů, tj. nový<br />
způsob výroby a další tím vynucené změny)<br />
Moderní elektronika umožňuje realizaci dosud obtížně řešitelných nebo vůbec neřešitelných<br />
po žadavků uživatelů. Také pracnost se přesouvá od výrobců elektronických přístrojů a<br />
zařízení k výrobcům součástek (integrovaných obvodů). Výrobci elektronických přístrojů a<br />
zařízení se potom orientují na systémové řešení.<br />
Racionalizační a inovační dopady nasazování IO velké integrace nepůsobí ve stejných<br />
dimenzích jako běžné činitele hospodářského rozvoje, poněvadž v řadě případů dochází k tak<br />
zásad nímu zvýšení užitné hodnoty výrobků, že vzniká dodatečná poptávka, která přesahuje<br />
řádově potřebu původního výrobku, v jiných případech dochází na základě pronikavé<br />
generační inovace k výrobě a nabídce zcela nových výrobků (jako příklad je možné uvést<br />
digitální hodinky a kapesní kalkulátor nebo osobní počítač).<br />
Důsledky mikroelektronických inovací pro podniky a pro trh<br />
Průbě žným snižováním cen zařízení (relativním, někdy i absolutním) a rychlým inovačním<br />
cyklem se urychluje proces morálního opotřebení výrobních prostředků a vytváří se značný<br />
tlak na přezbrojení výrobních kapacit, ke kterému dochází v cyklech determinovaných ve<br />
značné míře inovačním cyklem integrovaných obvodů.<br />
Na jedné straně vzrůstá užitná hodnota výrobků a na druhé straně klesá jejich hodnota - to<br />
vyvolává zvýšenou poptávku u spotřebitelů a tlak na rozšiřování výroby. Tím se na různé<br />
výroby přenáší trend vznikající ve výrobě integrovaných obvodů a vzrůstá současně význam<br />
mikroelektroniky<br />
jako stimulátoru rozvoje průmyslu a celého hospodářství státu.<br />
Důsledky mikroelektronických inovací na výrobní program podniků:<br />
- snižuje se podíl vlastní výroby na finálním výrobku<br />
- zvyšuje se závislost na kooperacích
18 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
- v hodnotě finálního výrobku se zvyšuje podíl nehmotných dodávek (software)<br />
- snižuje se stabilita výrobních programů<br />
Další důsledky pro neelektrotechnické podniky: Snižuje se význam výrobní tradice. O<br />
generační úrovni a funkci výrobku včetně jeho spolehlivosti rozhoduje elektronika a<br />
programové vybavení (software) - tedy netradiční kooperace a netradiční profese. To<br />
usnadňuje přístup na trh netradičním výrobcům, což vede k obohacení nabídky na trhu.<br />
Inovace využívající výpočetní techniku, vyžadují změny celkové funkční kvality výrobku.<br />
Nahrazení dosavadní řídicí části mikroelektronickým systémem při zachování dosavadní<br />
užitné hodnoty je neperspektivní.<br />
Důsledky mikroelektronických inovací pro řízení podniku<br />
Zrychlený inovační rytmus a vyšší závislost podniku na vlivy z vnějšího prostředí vyvolávají<br />
nutnost změn ve stylu řízení a podnikání vč. plánování výrobního programu a zabezpečování<br />
výrobního procesu.<br />
Řízení podniku přechází od zajišťování produkce, produktivity práce a nákladů v globálu<br />
na vyhledávání a stanovení koncepce a odbytové strategie jednotlivých inovovaných výrobků.<br />
Předmětem výrobkového plánování je cena, termín dodávek na trh, užitná hodnota,<br />
spolehlivost a vnější vzhled.<br />
V organizační struktuře podniků se vytvářejí předpoklady pro technické řízení výrobkových<br />
projektů. Útvary, které jsou řízením projektu pověřeny, jsou vybaveny i příslušnými<br />
kompetencemi.<br />
U pracovníků větší význam než dlouholeté zkušenosti v oboru má tvůrčí přístup, důležitá je<br />
schopnost týmové spolupráce. Plynule probíhá doškolování a přeškolování pracovníků na<br />
všech úrovních.<br />
Zcela novou problematikou je testování složitých přístrojů a zařízení. U finálních výrobců<br />
těžiště testování leží na vstupní kontrole, protože platí, že náklady na testování a opravy<br />
vadných dílů na úrovni: součástka - plošný spoj - zařízení = 1:10:100.<br />
Zvláštní pozornost je nutno věnovat financování. Prodejní ceny relativně klesají. Pokud má<br />
být udržena obvyklá míra zisku, je nutno zvyšovat objem výroby. K tomu je nutno zabezpečit<br />
dodatečné finanční zdroje, a to buď dalšími úvěry nebo postupně dochází ke koncentraci<br />
kapacit (převzetí finančně silnými podniky).<br />
Obr. 3.2. Charakteristika japonských firem zabývajících se výrobou a prodejem<br />
elektrotechnických výrobků z hlediska počtu zaměstnanců.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 19<br />
Některé důležité pojmy:<br />
1. Leasing. Je to úvěrový pronájem strojů, přístrojů, zařízení i budov. Ve světě je podíl<br />
leasing na celkové hodnotě investic do strojů a zařízení kolem 20%. Výhoda: Nejsou<br />
odpisy, ale nájemné (vyšší než odpisy), hradí se z nákladů, ne ze zisku (jako když si<br />
vypůjčíme peníze z banky).<br />
2. Joint venture. Je to rizikové společenství (podnikání), jako to odpovídá přibližnému<br />
překladu "sdružené riziko". Do "podnikatelské" češtiny se překládá jako "společnost se<br />
zahraniční účastí" nebo "smíšená společnost".<br />
3. Logistika. Je to průřezová vědní a technická disciplína zabývající se optimalizací<br />
materiálových, finančních a informačních toků ve složitých systémech. Logistika se<br />
zabývá dopravou, obchodem, manipulací s materiálem, skladováním, financováním a<br />
všemi doprovodnými informačními toky.<br />
Původně byla rozpracována pro zásobování armády. V elektronickém průmyslu je základem<br />
logistiky metoda JIT ("just-in-time") - způsob přísunu materiálu v přesně termínovaných<br />
dodávkách, vytvářející materiálový tok synchronizovaný s potřebami dílčích operací a<br />
především finální montáže. Tím se výrazně redukují výrobní zásoby. Dalším problémem<br />
logistiky je organizace podniků, nové struktury mají delegovanou pravomoc i odpovědnost na<br />
nižší složky.<br />
2.3<br />
Výroba programového vybavení (software)<br />
Výroba (užívá se spíše termínu tvorba) programového vybavení (software) se stala v<br />
posledních asi deseti letech průmyslovou činností a programové vybavení zbožím.<br />
Hlav ní cíl vývoje software: vytvoření takového produktu, který by byl dobře prodejný a<br />
přinesl zisk.<br />
Aby software obstál na trhu, musí mít dostatečnou kvalitu a být na trhu včas. Při tvorbě<br />
soft ware se uplatňují "průmyslové" postupy, což je předmětem oboru "softwarové<br />
inženýrství".<br />
Poznámka: "Výrobní" činnost je u software totožná s tím, co se u klasických výrobků nazývá<br />
vývojem. Vlastní výroba, tj. vytváření kopií není<br />
problémem.
20 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
3 METODIKA NÁVRHU ELEKTRONICKÝCH ZAŘÍZENÍ. SYSTÉMOVÉ<br />
INŽENÝRSTVÍ.<br />
V první kapitole jsme nastínili postup jednotlivých etap technické přípravy výroby: zadání<br />
- výzkum - vývoj - funkční vzorek - vývojový vzorek - prototyp - ověřovací série - sériová<br />
výroba (tj. z hlediska organizačního a časového).<br />
V této kapitole pojednáme o postupu prací v jednotlivých etapách (především v etapě<br />
vývoje) z hlediska věcného, tj. jako metodiku návrhu.<br />
Chceme-li formulovat metodiku návrhu elektronických zařízení, je nejprve třeba sledovat<br />
systémový aspekt elektronických výrobků. Již bylo uvedeno, elektronické zařízení můžeme<br />
obvykle charakterizovat jako systém složený z řady funkčních prvků (subsystémů) spojených<br />
definovanými vztahy. Navíc přistupují vztahy k okolí (žádoucí i nežádoucí). Proto také práce<br />
spojená s vývojem a přípravou nového výrobku musí mít systémový charakter, tj. musí být<br />
účelně řízena a organizačně rozdělena podle struktury a vzájemné závislosti dílčích problémů,<br />
které je třeba řešit.<br />
Elektronická zařízení, mezi něž patří několik tisíc druhů výrobků sloužících přenosu a<br />
zpracování informací, k účelu měřícím a řídícím, k účelu dopravním, lékařským nebo k<br />
účelům kulturním a zábavním, jsou vesměs zařízení relativně složitá, složená z řady<br />
funkčních systémů a obsahující stovky až desetitisíce součástek.<br />
Situaci ještě komplikuje hledisko prostorové: můžeme konstatovat, že v praxi se setkáváme<br />
se třemi typy elektronických zařízení.<br />
První typ tvoří prostorově rozlehlá zařízení (rozlehlé systémy, dálkové systémy), jejichž<br />
podsystémy jsou navzájem geograficky vzdálené. Jde např. o telekomunikační zařízení,<br />
zařízení pro sběr a zpracování dat, systém protivzdušné obrany státu apod.<br />
Druhým typem jsou lokální zařízení (lokální systémy), jejichž podsystémy jsou umístěny v<br />
rámci jednoho areálu, budovy či místnosti. Jsou to např. výpočetní centra, informační systémy<br />
podniků, dispečerská centra, měřicí a řídicí zařízení pro experimenty v atomové fyzice apod.<br />
Třetím typem jsou elektronická zařízení přístrojového typu, která jsou realizována jako<br />
kompaktní celky. Jsou to např. přístroje spotřební elektroniky, měřící přístroje, osobní<br />
počítače aj. V tomto textu se zaměřujeme právě na návrh elektronických zařízení<br />
přístrojového typu. Je ovšem zřejmé, že zařízení zbývajících dvou typů zahrnují tyto přístroje<br />
jako své podsystémy a při návrhu se navíc musí mnoho pozornosti věnovat systémovému<br />
aspektu celého zařízení.<br />
Konkrétně uveďme, že většina elektronických zařízení (přístrojového typu) obsahuje<br />
následující systémové struktury vzájemně provázané a závislé:<br />
- hlavní systém elektronických obvodů a funkčních dílů, zabezpečující požadovanou<br />
funkci výrobku (výkon, citlivost, jakostní parametry přenosu, apod.)<br />
- systém elektrických spojů, vedení, kontaktů apod, podmiňující funkci výrobku a<br />
ovlivňující podstatně spolehlivost výrobku a výrobní náklady,<br />
- systém mechanických nosných dílů a ochranných krytů, ovlivňující prostorové řešení<br />
výrobku, mechanickou odolnost a výrobní náklady,<br />
- systém zabezpečovacích a ochranných prvků, vytvářející podmínky pro nerušenou<br />
činnost zařízení, tj. stínění, filtry, jističe, pojistky apod., ovlivňující spolehlivost provozu<br />
a zajišťující bezpečnost obsluhy i zařízení,<br />
- systém ovládacích a signalizačních<br />
prvků, zabezpečující komunikaci mezi zařízením a<br />
člověkem, který ovlivňuje podstatně spolehlivost a bezporuchovost provozu,
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 21<br />
- systém chlazení, případně jiné tepelné funkce elektronického zařízení, který podstatně<br />
ovlivňuje spolehlivost a<br />
životnost zařízení.<br />
Vidíme tedy, že elektronické<br />
zařízení je ze systémového<br />
pohledu paralelně strukturováno.<br />
Obr.4.1. Elektronická zařízení<br />
nalezneme na souši, na moři, ve<br />
vzduchu i v kosmu<br />
Nabízí se ještě další (tentokrát<br />
hierarchická) strukturace zařízení:<br />
1. Prvek (synonyma: součástka,<br />
komponent, člen, element, struktura - např. tranzistorová struktura v IO)<br />
2. Funkční blok. Na elektrické úrovni je to elektronický obvod -účelné spojení několika<br />
prvků tak, aby celek plnil požadovanou funkci (angl. circuit, rus. cep). Synonyma: síť<br />
(network), okruh (kontur).<br />
3. Zařízení (tj. výsledný celek). Synonyma: přístroj, systém, soustava.<br />
Z hlediska výrobního můžeme obvykle prvky a zařízení označovat jako výrobky.<br />
V následujících odstavcích se budeme zabývat metodikou návrhu hlavní části<br />
elektronického zařízení, tj. elektronických obvodů. To je úkolem vývojových inženýrů<br />
(vývojářů, návrhářů, konstruktérů elektrické části). Zbývající subsytémy navrhují konstruktéři<br />
- technologové. Je třeba poznamenat, že tímto způsobem technologové postatnou měrou<br />
ovlivňují jakost, spolehlivost, provozní vlastnosti i výrobní náklady nového výrobku. Navíc<br />
pak musí vytvořit systémovou koncepci potřebných výrobních procesů.<br />
Návrh elektronického subsystému (méně přesně můžeme říci přímo návrh elektronického<br />
zařízení - když zanedbáme další subsystémy) je také strukturován, probíhá jako<br />
několikaúrovňový hierarchický iterační proces.<br />
První fáze návrhu je dostatečně jasná specifikace požadavků na chování a další vlastnosti<br />
navrhovaného zařízení. Následuje návrh na systémové úrovni (systémový návrh neboli návrh<br />
architektury systému, kde se rozhoduje např. o tom, které z požadovaných funkcí bude<br />
vhodnější zajišťovat analogově a které digitálně či programově, jak bude systém rozdělen na<br />
subsystémy, jakým způsobem bude mezi subsystémy zajištěna vzájemná komunikace,<br />
vlastnosti rozhraní (impedanční úrovně, napěťové úrovně), požadavky na elektromagnetickou<br />
kompatibilitu apod.<br />
Potom návrh pokračuje směrem "shora-dolů". Následuje bloková úroveň. Bloky mohou<br />
mít charakter obvodů analogových, digitálních nebo impulsních, mohou to být i různé<br />
převodníky apod. V případě čistě digitálních systémů (např. počítačů) se bloková úroveň<br />
označuje jako logická.<br />
Na obvodové neboli elektrické úrovni návrhu jsou chování a struktura jednotlivých bloků<br />
již převedeny do podoby elektrických obvodů. Jako proměnné jsou zde uvažovány reálné<br />
elektrické veličiny (na vyšších úrovních to bývají signály bez uvažování reálného elektrického<br />
nositele).<br />
Konstrukční úroveň návrhu se již týká konkrétního provedení desek plošných spojů,<br />
kabeláží a příp. zakázkových integrovaných obvodů.<br />
U složitých systémů systémů můžeme mezi úrovněmi systémovou a blokovou rozeznat<br />
úroveň subsystémovou, což reprezentuje skutečnost, že systém může sestávat ze subsystémů.
22 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Jednotlivé úrovně (systémová - (subsystémová) - bloková - elektrická - konstrukční) na sebe<br />
hierarchicky navazují. Práce vývojáře spočívá v "přechodu" od systémové úrovně na úroveň<br />
konstrukční. Tento postup není<br />
přímočarý, ale má řadu smyček, kde se nevyhovující část<br />
návrhu musí přepracovat (jde tedy o iterační proces, jak je uvedeno výše).<br />
Je zřejmé, že nejvíce požadavků musí návrhář respektovat v etapě vývoje. Řešení v této<br />
etapě tedy bude metodicky nejsložitější, poněvadž úkoly zde budou mít několik stupňů<br />
volnosti nebo naopak budou přeurčené a bude nutno řešit rozpory mezi jednotlivými dílčími<br />
požadavky.<br />
V současné době jsou při návrhu používány počítačové metody. Různé typy programů (a<br />
potřebné technické prostředky) jsou vydatnými pomocníky návrháře a osvobozují jej<br />
především od rutinní práce. Dobře jsou zvládnuty programy pro analýzu a optimalizaci na<br />
elektrické úrovni (např. PSpice, CIA, SIC) a na konstrukční úrovni (pro návrh desek plošných<br />
spojů). Na blokové úrovni jsou k dispozici programy pro návrh digitálních obvodů. Další<br />
činnosti musí vykonávat člověk; jde především o rozhodování.<br />
Počítačové metody se označují zkratkou CAD (Computer Aided Design). Postupným<br />
vývojem vznikla řada dílčích počítačem podporovaných disciplín. Obvykle je označujeme<br />
zkratkami začínajícími písmeny CA (Computer Aided nebo také Computer Assisted), za<br />
kterými následuje další písmeno (nebo písmena). Nejčastěji se vyskytují následující disciplíny<br />
a zkratky:<br />
CAD - původně systémy navrhování především elektronických obvodů za pomoci počítače<br />
(Computer Aided Design),<br />
- nyní převážně výklad užší Computer Aided Drafting (kreslení), tj. návrh na<br />
grafické úrovni - tedy to, co lze vyjádřit ve formě výkresu<br />
- někdy Computer Aided Dispatch (dispečink),<br />
CAE - Computer Aided Engineering, obsahem je podpora tvůrčí inženýrské práce,<br />
inženýrských výpočtů, analýz, ověřování platnosti návrhu; v oblasti návrhu<br />
integrovaných obvodů jde o systémový, logický a elektrický návrh obvodu včetně<br />
verifikace,<br />
- existuje i širší výklad této zkratky; podpora technické práce vůbec, paralela pojmu<br />
AIP a CIE,<br />
CAW - Computer Aided Writing (kreslení dokumentace a výrobních podkladů),<br />
CAM - Computer Aided Manufacturing (nebo Manufacture, výroba),<br />
CAP - Computer Aided Production (výroba), ale též Programming (programování) nebo<br />
Planning (plánování),<br />
CAQ - Computer Aided Quality assurance (potvrzování jakosti),<br />
CAR - Computer Aided Research (výzkum), ale též Retrieval (vyhledávání informací),<br />
CAT - Computer Aided Testing (testování), ale též Training (výcvik) nebo ...Translation<br />
(překlad).<br />
Často nacházíme také kombinace těchto zkratek, např. CAD/CAM, nebo tvary vytvořené<br />
ze čtyř písmen, např. CACA (Circuit Analysis), CADD (Design and Drafting), CAPP<br />
(Process Planing, tj. plánování postupů) nebo CASC (System Design, tj. vývoj či <strong>konstrukce</strong><br />
systému).<br />
Jak z předchozího vyplývá, vznik uvedených pojmů (zejména zkratek), byl včetně jejich<br />
vnitřní náplně ve světě zcela živený a bez pokusu o systémové hierarchické členění. Vnitřní<br />
náplň zaváděných pojmů má často různou interpretaci. Objevují se ovšem snahy o<br />
hierarchickou systematizaci:
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 23<br />
- pojem CIE (Computer Integrated Engineering), který shrnuje základní počítačově<br />
podporované činnosti do hierarchicky vyššího pojmu (CIE = CAE + CAD + CAT) a<br />
- pojem CIM (Computer Integrated Manufacturing, integrovaná počítači řízená výroba)<br />
shrnující všechny počítačově podporované systémy včetně systému automatizovaného<br />
řízení (ASŘ) do jednoho komplexu (z věcného hlediska je to integrovaný systém řízení<br />
výroby zahrnující celý komplex činností od návrhu a technologie výroby, technologické<br />
přípravy a plánování výroby, vlastní výroby, zkoušení a měření výrobku až po ev. servis<br />
u zákazníka), tj. CIM = CIE + CAM + ASŘ.<br />
Poznamenáme ještě, že v Československu byl již asi od roku 1970 jako paralela pojmu<br />
CAD zaveden pojem SAPR (Systémy Automatického PRojektování). Jako paralela k pojmu<br />
CIE se užívá pojem AIP (Automatizace Inženýrských Prací).<br />
Systémový přístup a systémové inženýrství. Potřeba systémovosti při řešení složitých<br />
úloh je dána jejich podstatou. Kromě vlastní technické úlohy se musíme vypořádat s aspekty<br />
ekonomickými, sociálními i ekologickými. Přitom ovšem nelze vydávat systémový přístup za<br />
jediný správný a všechny ostatní za příliš zjednodušující. Systémový přístup musí být<br />
uplatňován ve správných relacích k ostatním přístupům. Složité zkoumání prostého problému<br />
komplikuje řešení; přílišné zjednodušování může ovšem způsobit řadu nesnází v dalších<br />
etapách návrhu. Konkrétní řešení je vždy časově limitováno, volba adekvátního přístupu<br />
závisí proto na kvalifikaci a osobnosti řešitele. Volba přístupu musí proto odpovídat jak<br />
složitosti a chakteru problému, tak přípustné době řešení. Pokus o systematizaci jednotlivých<br />
přístupů k řešení problémů je v tabulce č. 1. Jako klasifikační hlediska byla zvolena:<br />
- po horizontální linii - způsob řešení, jmenovitě jeho úplnost, hloubka a postup;<br />
- po vertikální linii - stupeň objektivizace, ukazující, zda se jedná o přístup subjektivní,<br />
praktický či objektivní.
24 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Tab. 1.1. Systematizace různých přístupů k řešení problémů
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 25<br />
Je třeba zdůaznit, že těžiště systémového inženýrství leží v metodologii a v koncepční<br />
práci (především ve vývojové fázi). Existence systémového inženýrství je vlastně reakcí na<br />
stále se prohlubující a diferencující specializaci. Proto se zabývá řešením vazeb mezi částmi,<br />
zajištěním interdisciplinárního přístupu a týmového způsobu práce.<br />
Systémové inženýrství chápeme jako metodologii návrhu (příp. též výstavby a provozu)<br />
složitých a vícenásobně členěných (strukturovaných) úkolů. Přesná náplň tohoto pojmu není<br />
ovšem ještě celosvětově ustálena, zejména nejsou dostatečně vymezeny jeho hranice vůči<br />
dílčím disciplínám, ale zásadní náplň je jasná: jde o nauku, která má umožnit účelné a<br />
efektivní řízení výzkumu a vývoje složitých systémů a zařízení pomocí analýzy strukturálních<br />
vz tahů mezi prvky každého systému. Stručně lze říci, že systémové inženýrství je založené na<br />
těchto principech:<br />
- systémový přístup<br />
- alternativnost řešení<br />
- respektování časového hlediska (vč. požadavků modularity a adaptivity řešení)<br />
- respektování okolí, vč. elektromagnetické kompatibility a humanizace systému<br />
- ekonomická efektivnost systému.<br />
Zabývá se též zabudováním cílů do chování složitých celků.<br />
Systémové inženýrství tedy "řeší návrh celku na rozdíl od návrhu částí". Ve složitých<br />
systémech bude často dominovat velký počet interakcí, ale stejně často překvapuje hromadění<br />
individuálně významných činitelů, které má pak značný vliv na vlastnosti celku. Rozsáhlý<br />
systém s mnoha relativně přesnými částmi se ve výsledku může ukázat jako nepřesný s<br />
nesnadno zjistitelným zdrojem nepřesnosti. Systém z mnoha zdánlivě spolehlivých částí může<br />
jako celek být nespolehlivý. Systém obvykle zahrnuje mnoho nezbytných zpětnovazebních<br />
smyček. Jejich přítomnost také může vytvořit neočekávané jevy, které návrhář vůbec<br />
nezamýšlel nebo neuvažoval.<br />
Pojmy a metody systémového inženýrství mohou někdy působit jako samozřejmé a<br />
vyplývající z prostého zdravého rozumu. Jejich systematizace a formalizace má však výhodu<br />
v tom, že vytváří předpoklady pro vznik algoritmů pro jednotlivé dílčí úkoly a pro přechod k<br />
počítačovým metodám návrhu.<br />
V oblasti návrhu elektronických zařízení musí být nositelem systémové práce každý<br />
pracovník, který se na řešení podílí. U rozsáhlých projektů bývá vyčleněna speciální funkce<br />
systémových inženýrů. Např. se uvádí, že v USA byl program Apollo první nevojenský státní<br />
program, v němž byla uznána funkce systémového inženýrství jako podstatná.<br />
3.1 Inovační procesy v elektronice<br />
Každý elektronický výrobek, každý jeho prvek i každý technologický proces se stane<br />
jednou zastaralý, a bude nahrazen novým a dokonalejším. Takové nahrazovací procesy<br />
(nazývají se inovace) probíhají v časových intervalech více-méně pravidelných a ekonomická<br />
věda zkoumá jejich průběh a závislosti. Jde o tzv. teorii inovací, která uvádí, že<br />
- inovace můžeme rozlišovat podle řádů, přičemž nejnižším řádem inovací jsou drobné<br />
změny materiálů a součástí beze změny celkové sestavy výrobku, vyšší řády zavádějí<br />
postupně hlubší a hlubší změny, nejvyšším řádem inovace je pak zavedení nové, dříve
26 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
neznámé třídy výrobků, užívající nově objevených fyzikálních jevů a plnící zcela nové<br />
společenské potřeby (např. laserový koagulátor nebo družicový navigační systém);<br />
- inovace se vzájemně podmiňují a stimulují, a to jak vertikálně (souvislosti mezi<br />
inovacemi v materiálech, v součástech a systémech), tak i horizontálně (inovace v<br />
materiálu vyvolá inovace ve výrobní technologii a ve výrobním zařízení) a mohou být<br />
pomocí těchto vztahů předvídány a řízeny;<br />
- primární inovace vznikají jednak aplikacemi nových objevů přírodních věd, jednak<br />
vlivem změn ve společenských potřebách, souvisejících se změnami životního stylu<br />
společnosti;<br />
- inovace nižších řádů jsou v<br />
elektronice velmi časté, s intervaly v<br />
řádu 1 roku, zatímco inovace<br />
zásadnější mají interval u většiny<br />
zařízení 5 až 8 let;<br />
- interval zásadnějších inovací určuje<br />
tzv. dobu životnosti výrobku.<br />
Obr.4.2 Životní cyklus inovace<br />
V souvislosti s inovačními procesy výrobků rozeznáváme tyto charakteristické časové<br />
údaje:<br />
- doba fyzické životnosti výrobku - je doba, po kterou je technicky možné udržet výrobek v<br />
uživání; u elektronických zařízení bývá 20 až 30 let,<br />
- doba ekonomické životnosti výrobku - je doba, po kterou je ekonomicky výhodné<br />
udržovat výrobek v užívání, tj. po kterou jsou úhrnné provozní náklady na jednotku<br />
výkonu (včetně umořovacích) u starého výrobku nižší než u výrobku nového; u<br />
elektronických zařízení bývá 5 až 8 let,<br />
- doba výrobní (též morální) životnosti výrobku - je doba, po kterou je možno vyrábět a<br />
prodávat určitý typ výrobku než se stane zastaralým (ve srovnání s jinými výrobci); u<br />
elektronických zařízení bývá 5 až 8 let, ale u některých však pouze 2 až 3 roky,<br />
- doba zpoždění nového výrobku - je doba uplynulá mezi prvním uvedením ekvivalentního<br />
typu výrobku na světový trh a objevením se podobného nového výrobku u jiného výrobce<br />
(např. v předlistopadové ČSSR bývala 3 až 8 let).<br />
Bariéry při zavádění inovací. Při zavádění inovací (tj. např. i zcela nového výrobku) se<br />
setkáváme s mnoha překážkami, které se staví mezi nápad, jeho rozpracování a realizaci<br />
výrobku. Jde o tyto bariéry:<br />
1.<br />
2.<br />
Motivační bariéra. V podstatě jde o nedostatek vůle prosazovat tvůrčí myšlenku. Realizace<br />
každé tvůrčí myšlenky totiž vyžaduje od svého původce vynaložení námahy, času,<br />
finančních prostředků a je obvykle spojena s mnoha riziky.<br />
Komunikační bariéra. V podstatě jde o schopnost (resp. neschopnost) sdělit tvůrčí<br />
myšlenku. Obvykle je někoho (např. vedoucího oddělení) potřeba přesvědčit o reálnosti a<br />
užitečnosti projektu. V první fázi může jít také o získání tzv. grantu.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 27<br />
3. Ekonomická bariéra. Jde o schopnost (resp. neschopnost) stanovit nutné, ale postačující<br />
náklady a termín realizace projektu. Realizace každého tvůrčího nápadu vyžaduje určité<br />
množství energie, která je směnitelná za hmotné (obvykle peněžní) prostředky. Realizací<br />
projektu (nápadu) se získá (nebo má získat) určitá výhoda, materiální nebo ideální, obvykle<br />
vyjádřitelná v peněžních jednotkách. Aby realizace projektu byla společensky prospěšná,<br />
musí být zisk z realizace větší, než je součet nákladů na realizaci vynaložených. Tato<br />
zákonitost je jasná a jednoznačná, ale méně jasné je, jak předem stanovit potřebný objem<br />
prostředků, nutných pro realizaci projektu.<br />
Práce při projektování jsou dvojího druhu: tvůrčí a netvůrčí. Při plánování týmové práce<br />
je vhodné vycházet z netvůrčí části práce. Tvůrčí část se pak stanoví jako určitý násobek<br />
doby potřebné pro netvůrčí práci. Objem netvůrčí práce se stanoví relativně snadněji podle<br />
objemu práce na obdobných projektech porovnatelného rozsahu, realizovaných v<br />
minulosti.<br />
Například dobu potřebnou pro napsání pojednání, knihy nebo zprávy lze stanovit jako<br />
určitý násobek doby potřebné pro strojopis předpokládaného počtu stránek. Doba potřebná<br />
pro konstrukci určitého strojního zařízení bývá určitým násobkem doby potřebné k<br />
nakreslení předpokládaného počtu konstrukčních výkresů. Dobu potřebnou pro sestavení<br />
určitého programu (např. pro počítač) je možno sestavit jako násobek doby, kterou<br />
vyžaduje zápis předpokládaného počtu řádek zvoleného programovacího jazyka. Zde např.<br />
P.Bruks ("Datamation", 20, 1974, č. 12, s. 45-52) uvádí pro přípravu programů pro počítač<br />
toto složení potřebné pracovní doby: 200% pro přípravu, 100% pro zápis programu (část<br />
kvantitativně postižitelná), 150% pro kontrolu dílčích částí, 150% pro kontrolu programu<br />
jako celku.<br />
Častou příčinou zpožďování projektů je zcela nereálný předpoklad stoprocentního<br />
využití pracovní doby. I pracovníci s velmi vysokou pracovní morálkou mohou využít za<br />
příznivých okolností jen 50% pracovní doby a zcela výjimečně až 70% pracovní doby.<br />
Kromě vlastní práce na právě realizovaném projektu musí obvykle pracovat na doplnění již<br />
ukončených projektů, na přípravě budoucích projektů, zúčastnit se porad a schůzí, musí<br />
zařizovat svoje osobní záležitosti, jsou někdy nemocní nebo jsou přechodně indisponováni.<br />
Pokud není plán stanoven dostatečně bohatě a jsou-li náklady odhadnuty příliš nízko,<br />
dochází nutně ke ztrátám; výsledné výdaje pak bývají mnohonásobně větší, než by byly<br />
správně stanovené nutné, ale také postačující náklady na realizaci projektu. Neplnění<br />
plánovaných termínů realizace vede často ke ztrátám, připravené prostředky, stroje a
28 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
materiál určený k realizaci projektu zůstanou nevyužity. Vzniklé ztráty jsou obvykle<br />
mnohonásobkem "úspor", kterých bylo dosaženo nedostatečnou dotací projektu.<br />
Přirozeným průvodním jevem plánování realizace každého projektu je optimismus<br />
tvůrce, podcenění možných překážek a přecenění očekávaných výhod realizace. Tvůrčí<br />
optimismus je přirozený - bez něho by se neuskutečnila většina tvůrčích záměrů. Jen zcela<br />
výjimečně a shodou příznivých okolností bylo dosaženo realizace význačných projektů za<br />
náklady a za dobu, jak je předpokládal jejich tvůrce (tvůrcové) na začátku práce.<br />
Protože nedostatečná dotace projektů by se nakonec velmi prodražila, je nutné původně<br />
odhadnuté náklady a dobu projektu násobit vhodným koeficientem, který kompenzuje<br />
"tvůrčí" optimismus.<br />
4. Časová bariéra. V podstatě jde o schopnost (ev. neschopnost) odhadnout a zajistit možnou<br />
a postačitelnou dobu realizace projektu.<br />
Objem práce na projektu se obvykle vyčísluje v pracovních hodinách (nověji i v<br />
"člověko-dnech, člověko-týdnech nebo člověko-rocích"). To dosti často svádí k<br />
předpokladu, že počet hodin potřebný pro realizaci je možno podělit počtem pracovníků,<br />
kteří jsou k dispozici, a získat tak průběžnou dobu projektu.<br />
A následně, je-li znám termín započetí práce na projektu, stanovit i termín jeho<br />
ukončení. To je však představa naivní a nereálná. Neplatí plně ani pro činnost reprodukční<br />
(viz. známou poučku: když 10 zedníků staví zeď ...), ale při činnosti tvůrčí je vztah mezi<br />
počtem pracovníků, objemem práce a průběžnou dobou projektu značně nelineární.<br />
Obecně platí, že nejmenší množství energie, tedy nejmenší počet pracovních hodin<br />
vyžaduje projekt, který může realizovat jeden člověk, jež je zároveň původcem tvůrčího<br />
záměru projektu. Tak tomu bývá u uměleckého díla. Při realizaci vědeckého nebo<br />
technického projektu je však nutná spolupráce týmu odborníků - specialistů. Je tomu tak z<br />
mnoha důvodů, ale především proto, realizace libovolného projektu je společensky<br />
užitečná, jen je-li uskutečněna v určitém termínu. Je to dáno především tím, že to přinese<br />
úspory proti dosavadnímu stavu, nebo protože existuje jiný, konkurenční projekt a<br />
realizace má společenský význam jen tehdy, dosáhne-li se prioritního řešení. Obvykle je<br />
možné více nebo méně přesně vyčíslit, jakých úspor se dosáhne, zkrátí-li se doba realizace.<br />
Zkrácení termínu je užitečné, jen když úspory dosažené ze zkrácení průběžné doby<br />
realizace jsou větší než náklady způsobené zkrácením realizace projektu. Obecně platí, že<br />
náklady rostou (mnohem) rychleji, než se zkracuje doba realizace.<br />
Vliv počtu pracovníků, daný především složitostí projektu, se projeví v účinnosti práce.<br />
Účinnost práce v závislosti na složitosti projektu byla studována podrobně při realizaci<br />
programů pro počítače. Literatura (Namus, B. - Farr, L.: Some cost contribution to largescale<br />
programs. AFIPS Proceedings, SICC 25, 1966, s. 239-248) uvádí, že doba potřebná k<br />
vytvoření programu vzrůstá přibližně podle vztahu<br />
t = (C.N) 1,5 ,<br />
kde T je doba vytvoření programu, C je konstanta určující typ práce, N je počet<br />
instrukcí.<br />
Podle J. Arona od firmy IBM je schopen jeden pracovník produkovat ročně při<br />
jednoduchém programu (kdy pracuje na programu sám) 10 000 instrukcí, při středně<br />
složitém programu, kdy dochází ke spolupráci několika programátorů, asi 5 000 instrukcí,<br />
ale jen 1 500 instrukcí při realizaci velmi složitého programu, jako byl např. operační<br />
systém pro počítače IBM 360, kdy spolupracuje několik set programátorů.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 29<br />
Obvyklou chybou při plánování projektů je stanovení příliš malého počtu<br />
spolupracovníků, a teprve když dochází k prodlužování plánovaných termínů, jsou pro<br />
realizaci projektu nasazováni další pracovníci, kteří se musí začleňovat do práce "za<br />
pochodu". Potom pracovníci, kteří pracovali na projektu od počátku, musí část své<br />
kapacity věnovat na zaučování nových pracovníků a termíny se dále posouvají.<br />
Další chybou, častou při složitých a rozsáhlých projektech, je práce na částech projektu,<br />
které navazují na části dosud nevyřešené. To má za následek nutnost změn a výskyt chyb,<br />
které se často kumulují. Zásadou má být postupné provádění prací, jak na sebe navazují.<br />
Jen tak je zaručeno, že každá práce se dělá jen jednou.<br />
I při vynaložení neomezených prostředků nelze průběžnou dobu projektu zkracovat bez<br />
omezení. Naopak pro každý projekt existuje určitá minimální doba realizace; nasazení<br />
většího počtu pracovníků, než je nutné pro dosažení tohoto minima, způsobí naopak<br />
prodloužení průběžné doby nad minimální délku.<br />
Jen velmi málo projektů připouští časově neomezený termín. Ale některé projekty<br />
bývají realizovány dříve, než se pro jejich použití vytvoří ekonomické, technické nebo<br />
společenské podmínky (např. při zásadních změnách - jako např. uplatnění elektroniky ve<br />
zpracování dat apod. - dochází ve vývoji k jistému zvratu, až nové způsoby zvládne<br />
přibližně čtvrtina těch, jichž se změny týkají; teprve potom pochopí i ti ostatní, že nezbývá<br />
než se vžít do nových poměrů).<br />
5. Bariéra směnnosti prostředků. V podstatě jde o schopnost (ev. neschopnost) získat za<br />
pohotové finanční prostředky potřebnou živou práci, materiál a výrobní prostředky. Jde o<br />
to, že zajištění finančních prostředků neznamená obvykle ještě zajištění realizace projektu.<br />
Zajištění směnitelnosti finančních prostředků vyžaduje organizační schopnosti a umění<br />
získávat lidi (a obvykle velkou dávku trpělivosti).<br />
3.2<br />
Concurrent engineering<br />
V osmdesátých letech začaly velké firmy hledat nové metody vývoje svých výrobků.<br />
Vedla je k tomu rychlá inovace výrobních technologií, vzrůstající složitost výroby a také<br />
velikost vlastní organizace. V roce 1986 Institut pro obranné analýzy (Institute for Defense<br />
Analyses - IDA) publikoval zprávu (Report R-338: The Role of Concurrent Engineering in<br />
Weapons System Acquisition), kde byla následující definice: "a systematic approach to the<br />
integrated, concurrent design of products and their related processes, including manufacture<br />
and support. This approach is intended to cause the developers, from the outset, to consider all<br />
elements of the product life cycle from conception through disposal, including quality, cost,<br />
schedule, and user requirements." Tato definice je obecně přijímána. Bližší podrobnosti<br />
nalezneme v literatuře, např.<br />
SHINA, S.G.: Concurrent Engineering and Design for Manufacture of Electronics<br />
Products. New York, Van Nostrand Reinhold Book 1991, ISBN 0-442-00616-0<br />
CARTER, D.E. - BAKER, B.C.: Concurrent Engineering. The Product Development<br />
Environment for the 1990s. Addison-Wesley, Reading (Mass.),<br />
1992, ISBN 0-201-56349-5
30 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
4 ŘÍZENÍ JAKOSTI<br />
4.1 Jakost v elektronice<br />
Rozvoj elektronické výroby a vývoj trhu elektronických výrobků je úzce svázán s pojmem<br />
řízení jakosti. Elektronika jako jeden z oborů průmyslové (materiální) výroby prošla také<br />
historickými stadii sjednocování požadavků na výrobky až po dnešní stav, kdy požadavky na<br />
jakost v největším slova smyslu jsou klíčovou podmínkou prosazení na trhu.<br />
Pojmem jakost není v současnosti myšleno jen zajištění, aby výrobek splňoval udávané<br />
parametry a funkčnost po dobu jeho předpokládané životnosti, i když je to jeden z hlavních<br />
cílů.<br />
Zajištění jakosti je složitým procesem probíhajícím od formulace záměru na vznik nového<br />
výrobku (řada jeho parametrů a vlastností musí odpovídat určitým standardům - normám i<br />
zvyklostem daných stavem techniky), přes etapy jeho realizace, kdy se uplatňuje řízení jakosti<br />
zejména standardizací výrobních procesů, po dobu použití. Musí tedy být zajištěna jeho plná<br />
funkce až k jeho zániku např. předepsaným způsobem likvidace.<br />
Ve všech procesech se prolíná jakost s ekonomikou. Podobně jako v ekonomice její<br />
systémové uplatnění neznamená aplikaci uzavřeného okruhu znalostí, ale způsob myšlení.<br />
Hlavním znakem řízení kvality ve výrobním podniku je komplexnost - aby byly<br />
podchyceny vlivy působící na výrobní proces. Klíčovou roli ve volbě, zavedení a provozování<br />
systému řízení jakosti firmy sehrává její vrcholové vedení - management. Přes firemní<br />
specifika, např. rozdíly výrobce součástek a výrobce elektronických zařízení obecně platí a<br />
tedy i v elektronickém průmyslu - výstižný slogan firmy Volkswagen<br />
JAKOST JE VÝSLEDEK ŘÍZENÍ<br />
Současným trendem je uplatňování systémů řízení jakosti zasahujících do veškerých<br />
činností firmy, označených TQM (Total Quality Management).<br />
4. 2 Pojem standardizace<br />
Termín řízení napovídá, že jde o proces, u kterého musí působit zpětná vazba. Tedy i v<br />
procesu řízení jakosti nacházíme podobnost s fyzikálními či biologickými principy.<br />
Každá činnost vychází z určité úrovně poznatků, které se opakováním optimalizují a<br />
stávají se standardem (vzorem, normou) určité činnosti - princip nejen technického, ale i<br />
biologického vývoje.<br />
Elementární proces se v řízení kvality vždy opakuje (a řetězí) v návazných činnostech, na<br />
mikro i makro úrovni. Je-li cílem kvalitní a ekonomický výrobek, zpětné vazby se uzavírají až<br />
u uživatele - hlavním kritériem z hlediska podnikatelského subjektu je přitom zisk. Není-li<br />
zajištěna jakost veškerých činností,, nelze dosáhnout plného zisku, přičemž samozřejmě<br />
některé činnosti mohou mít vliv menší, některé zásadní.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 31<br />
Čtenář sám může posoudit vliv špatně provedeného marketingového průzkumu, vývoje, při<br />
kterém výrobek nedosáhne potřebných parametrů, použití nekvalitních, nespolehlivých<br />
součástek, vlivem špatné organizace příliš nákladné výroby, důsledek podpisu kontraktu s<br />
nevýhodně stanovenými cenami, vysoké náklady záručních oprav, neprodejnosti výrobku z<br />
důvodu nesplnění ekologických norem apod. Nejúčinnějším prostředkem pro dosažení<br />
nejlepších výsledků je na základě poznatků optimalizovat opakovaně prováděné činnosti -<br />
vytvářet jejich vzor - standard.<br />
Zatímco vliv standardizace předmětové po stránce výhod přinášejících uživatelům je<br />
všeobecně znám - od historického stanovení jednotných uživatelských měr a vah, později<br />
např. záměnnosti dílů zbraní, až po dnešní kompatibilitu výrobků výpočetní techniky díky<br />
použití jednotných sběrnic - méně již je známo, že při řešení problému se až 60% času ztrácí<br />
hledáním vhodného algoritmu řešení. Je zřejmé, že existuje velká pestrost standardů a také<br />
jejich hierarchie - od prakticky celosvětové působnosti (fyzikální jednotky) až po např.<br />
technologický postup, předpisující určitou technologickou operaci ve výrobku na konkrétním<br />
stroji nebo vnitroútvarový formulář.<br />
Tomu i odpovídá jejich rozsah použití, závaznost - na úrovni regionu . např. u Evropské<br />
normy, nebo na úrovni firmy - vnitřní předpis, podniková norma.<br />
Standardizace je tedy nástrojem řízení jakosti.<br />
Protože jednotkou společnosti s legislativní pravomocí je stát, spadá na jeho území pod<br />
jeho pravomoci standardizace. Na této úrovni význam slova standardizace zahrnuje oblasti<br />
normalizace, metrologie a zkušebnictví včetně jejich institucí.<br />
Pozn.: v užším slova smyslu se používá pojmu standardizace pro označení normalizace<br />
(standardizace pochází z angličtiny, normalizace z francouzštiny). Státní správa v této oblasti<br />
vykonává v rozsahu ministerstva hospodářství České republiky, Úřad pro normalizaci,<br />
metrologii a zkušebnictví.<br />
K tvorbě, vydávání a distribuci technických norem je zřízen Český institut pro technickou<br />
normalizaci, pro akreditaci zkušeben a certifikačních orgánů podle mezinárodníéch předpisů<br />
Český institut pro akreditaci, dále organizace pro legální metrologii a metrologický výzkum -<br />
Český metrologický institut a šest státem autorizovaných zkušeben.<br />
Hlavní náplň státní správy v normalizaci, metrologii a zkušebnictví, tvoří zejména<br />
- vydávání, aktualizace státních technických norem<br />
- zajištění správnosti měření, uchovávání a ověřování etalonů<br />
- výkon funkce státních zkušeben a současně jejich provázanost v mezinárodním měřítku.<br />
4.3 Technická normalizace<br />
Technická normalizace je činností, kterou se pro opakující se technické úkoly stanoví<br />
nejvýhodnější řešení zejména z hlediska hospodárnosti, jakosti a bezpečnosti. Výsledkem<br />
normalizační činnosti je technická norma nebo normalizační doporučení.
32 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
V praxi lze uvažovat o výskytu<br />
- mezinárodních či zahraničních norem<br />
- státních norem<br />
- oborových norem<br />
- podnikových norem<br />
Trendem je sjednocování státní a mezinárodní normy, tzv. harmonizace vč. přímého<br />
zavádění jeho normy státní a ústup od oborových mnorem tzn. základní struktura předchozí se<br />
dvoustupňovou - podniková/státní norma.<br />
Příkladem mezinárodních norem jsou evropské normy (EN), zahraničních - německé DIN.<br />
Po rozdělení ČSFR byly akceptovány nástupnickými státy původní československé normy<br />
ČSN. Typickými oborovými normami byly normy TESLA (NTN). Vnitropodnikové jsou již<br />
firemně specifické včetně jejich označení.<br />
V Evropě patřily k nejvýznačnějším normalizačním organizacím ISO (International<br />
Organisation for Standardization) obnovená 1946 z původní ISA (International Federation of<br />
the National Standardizing Associations) založené 1928 v Praze. a IEC (International<br />
Electrotechnical Commission) založená 1906, nyní přičleněné k ISO.<br />
Normalizační instituce vznikaly v důsledku potřeb technického rozvoje jednotlivých zemí<br />
a mezinárodního obchodu. O jejich vážnosti svědčí skutečnost, že normativní produkty IEC<br />
mají charakter doporučení, přesto se jimi výrobci prakticky automaticky řídí a soulad svých<br />
výrobků s nimi je vždy v obchodně technických dokumentech uveden.<br />
Integrační proces v Evropě - vytváření Evropského společenství - se odrráží i v<br />
normalizační činnosti. Normalizační orgány Evropský výbor pro normalizaci (CEN -<br />
European Committee for Standards) a Evropský výbor pro normalizaci v elektrotechnice<br />
(CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization) sjednocují<br />
normalizační činnost v Evropě. V době jejího vzniku , v roce 1992, bylo vydáno již 1500 EN -<br />
evropských norem. Členské státy ES a státy přidružené postupně uvádějí své národní normy<br />
do souladu s nimi.<br />
4.4 Metrologie<br />
Zajišťuje jednotnost a správnost měření. Prostředkem tomu je systém návaznosti měřidel, v<br />
němž jsou měřidla pravidelně porovnávána - kalibrována. Jednotlivé kontrolní prostředky jsou<br />
opět kontrolovány vyššími úrovněmi kontrol () až po nějvyšší úroveň - státní etalon.<br />
Udržování výchozí (primární) etalonáže a zajištění kalibračních služeb je hlavní funkcí státní<br />
metrologie. Výkonnými místy provádějícími kalibraci měřidel jsou středisko kalibračních<br />
služeb (SKS). Jako střediska kalibračních služeb podobně jako v zahraničí pracují i orgány<br />
státní správy pověřená (akreditovaná pracoviště) vybraných organizací a podniků.<br />
Střediska kalibračních služeb vystavují doklad o provedené kalibraci - kalibrační list, atest,<br />
uvádějící i dobu platnosti. Po tuto dobu, tzv. mezikalibrační interval, nedojde-li k poškození<br />
měřidla, může být používáno v hospodářské činnosti. Graficky vyznačená hierarchie<br />
prostředků měření (etalonů, měřidel) - např. od státního etalonu až např. po výrobek - které<br />
poskytuje rychlou informaci o zajištěné správnosti měření se nazývá schéma návaznosti<br />
(Traceability Chart).
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 33<br />
Úplné schéma návaznosti - tj. včetně chyb navázání (kalibrací) na jednotlivých úrovních a<br />
vč. metodik kalibrací prokazuje schopnost výrobce zajistit správnost měření vůči státnímu<br />
orgánu.<br />
Vzhledem k významu zajištění správného měření v hospodářské činnosti je řada povinností<br />
orgánů a organizací a jiných majitelů zakotvena v legislativě - zákonu o metrologii.<br />
Porušování zákona, zejména používání neověřených měřidel ve výrobě a obchodu je<br />
sankčně postižitelné. Zvýšené nároky se proto kladou na výrobce, dovozce a opravce měřidel.<br />
V praxi se na měřicích prostředcích vyznačuje, že byly zkalibrovány vhodnou značkou,<br />
obsahující - termín/dobu platnosti používání do nového ověření.<br />
4.5<br />
Zkušebnictví<br />
Na úrovni státu jde nejen o výkonnou složku - provádění legislativou předepsaných<br />
zkou šek státními resp. státem autorizovanými zkušebnami, ale o řízení celého procesu<br />
prosazování státní politiky v této oblasti a jejího souladu v mezinárodním měřítku.<br />
Zkušebny mohou být současně místy certifikačními, homologačními apod. Příkladem jsou<br />
homologační zkoušky telekomunikačních zařízení, bez kterých daný typ výrobku nesmí být<br />
připojen do jednotné telekomunikační sítě. V oblasti certifikace má největší význam<br />
certifikace výrobců a výrobků, dokládající splnění podmínek zavedení systému jakosti - viz<br />
kap. 3.7.<br />
Výkonná složka zkušebnictví v elektronice a v elektrotechnice má význam zejména při<br />
legislativou stanovených zkouškách bezpečnosti - schválení výrobků před uvedením do<br />
provozu (na trh). Jen u schváleného výrobku je možno uvádět, že prošel zkouškami s<br />
odvoláním na konkrétní zkušební normu a označit jej schvalovací značkou.<br />
Význam<br />
dosažení schválení výrobku dle normativních předpisů platných v zemi užití má<br />
dalekosáhlý dopad pro výrobce, resp. dovozce. V legislativě evropských států je dosažena
34 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
zákonná odpovědnost za škody. Není-li výrobce, resp. dovozce schopen prokázat, že výrobek,<br />
který uvedl na trh, prošel úspěšně schvalovacími zkouškami a jakost a bezpečnost je zajištěna<br />
v seriové výrobě (dodávkách), nemůže se žádném případě vyvinit z náhrady vzniklých škod z<br />
užití výrobku, a to přímých i následných (při zapřičinění požáru - přímé škody, i např. ušlý<br />
zisk).<br />
Nejčastěji se v praxi vyskytuje problematika bezpečnosti u přístrojů napájených ze sítě. Je<br />
třeba dbát na skutečnost, že při zkouškách se ověřuje, zda díly v síťových obvodech pro dané<br />
použití vyhovují, jsou schváleny. týká se zejména síťových šňůr, přívodek, držáků<br />
pojistkových vložek, síťových voličů, spínačů apod. Výrobci v technických údajích těchto<br />
dílů vždy uvádějí odkazy, kterým národním předpisům výrobek vyhovuje (VDE...)<br />
4. 6 Standardizační činnosti v podniku<br />
a) normalizace<br />
1. Provozování knihovny norem - státních, podnikových i jiných norem a předpisů,<br />
opatřování, zápůjčky, průběžná aktualizace<br />
2. Koordinace a řízení normalizačních činností<br />
- typizace, unifikace - ve vývoji, konstrukci<br />
- zpracování vnitropodnikových (technických ) norem (pozn. organizační normy<br />
zpracovávají obvykle útvary organizace a řízení)<br />
3. Kontrolní činnosti<br />
- provádění normalizačních prověrek - shody výrobní dokumentace s normami<br />
závaznými v podniku.<br />
Organizačně zajišťuje zpravidla útvar normalizace<br />
b) metrologie<br />
1. Udržování hlavních podnikových etalonů vč. jejich<br />
návaznosti na státní etalonáž
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 35<br />
2. Provádění kalibrace měřidel používaných v podniku<br />
3. Projektové a kontrolní činnosti - zpracování metodiky měření, rozbory, analýzy<br />
Organizačně zajišťuje zpravidla útvar metrologie či kontrolního měrového střediska<br />
c) zkušebnictví<br />
1. Provádění zkoušek nových výrobků (typové zkoušky)<br />
2. Provádění průběžných kontrol, zkoušek ve výrobním procesu<br />
3. Statistiky, rozbory, analýzy<br />
Organizačně zajišťují útvary Typové zkoušky a OTK (oddělení technické kontroly).<br />
4.7<br />
Komplexní systémy řízení jakosti<br />
Komplexní systémy řízení jakosti se zakládají na realizaci organizačních a technických<br />
opatření ve firmě, jejich výsledkem má být eliminace výskytu systémových a maximální<br />
potlačení vzniku nahodilých poruch. Jeden ze systémů a nejvýznamnější v evropském regionu<br />
byl zpracován normativně jako normy ISO řady 9000, (Převzatými jako Evropské normy řady<br />
EN 29000), v českých zemích je systém zaveden státní normou jako norma přímo převzatá -<br />
viz. obr.<br />
Přičemž soubor norem tvoří:<br />
ISO 9000 - Normy pro všeobecné řízení a zabezpečení jakosti -směrnice pro jejich volbu a<br />
používání<br />
ISO 9001 - Systémy zabezpečování jakosti - Model zabezpečování jakosti výrobků při<br />
jejich navrhování, vývoji, výrobě, uvádění do provozu a servisu<br />
ISO 9002 - Systémy zabezpečování jakosti - Model zabezpečování jakosti při jejich výrobě<br />
a uvádění do provozu<br />
ISO 9003 - Systémy zabezpečování jakosti - Model zabezpečování jakosti výrobků při<br />
vstupní kontrole a zkoušení<br />
ISO 9004 - Všeobecné řízení jakosti a prvky systému řízení jakosti - směrnice<br />
Pozn: - ISO 9004 popisuje ucelený systém, jak by měl být zaveden uvnitř organizace k<br />
dosažení co nejlepších výsledků<br />
ISO 9001-3 charakterizuje požadavky na výrobce, ketré by měl splňovat z pohledu<br />
zákazníka<br />
Principy uplatňované v systému, praktické příklady:<br />
a) jednoznačně popsaný obsah / náplň činností<br />
b) adresná odpovědnost
36 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
c) dokladovanost činností<br />
d) ověřování, kontrola procesů<br />
Př. a) Jakost v opatřování materiálu<br />
- vypracovaná kritéria výběru dodavatele<br />
- správná formulace, specifikace požadavků, vlastností materiálu<br />
- předepsané požadavky na pracovníky - odborná kvalifikace, zaškolení<br />
- stanovená organizační struktura, zodpovědnosti na všech stupních<br />
- vypracovaná metodika přejímky<br />
- metodika vedení evidence, zpracování a přenosu dat apod.<br />
Př. b) Jakost hlavní výrobní činnosti<br />
- jakost manipulace s materiálem a výrobky, logistika<br />
- jakost výrobního procesu (včetně stanovení způsobu, jak vyhodnotit proces, jak<br />
postupovat při jištění rozporu), neshody<br />
- požadavky na pracovníky, kvalifikace, zaškolení, praxe<br />
- zpracování dokladů, popis, způsob ověřování<br />
- použití předepsaných prostředků, ověřená měřidla<br />
Certifikace výrobce<br />
Nejvyšším cílem výrobce je dosáhnout po zavedení systému jakosti certifikace.<br />
Certifikační orgán na základě úspěšného certifikačního řízení, při kterém detailně ověřit<br />
splnění věcných i formálních podmínek a funkčnost systému, vystaví certifikát.<br />
V tržním, vysoce konkurenčním prostředí, je certifikovaný výrobce výrazně zvýhodněn<br />
proti ostatním dodavatelům. Zákazník při volbě dodavatele upřednostňuje certifikované firmy,<br />
neboť jimi garantovaná jakost omězuje či vylučuje potřebu ověřování dodavatele. Podmínky<br />
certifikace stanovují povinnost trvalého chodu systému jakosti včetně dalšího průběžného<br />
ověřování certifikačním orgánem. Při neplnění kritérií výrobce certifikát pozbývá.<br />
Certifikační řízení je relativně nákladné. Certifikující organizace (zpravidla s mezinárodní<br />
působností) se často podílí na zpracování a zavedení systému jakosti v následně certifikované<br />
firmě.<br />
4.8 Standardizace v mezinárodním měřítku<br />
Hlavními úkoly standardizace v mezinárodním měřítku jsou<br />
- legislativní, organizační a technická opatření k odstraňování překážek obchodu<br />
- zvyšování ochrany zákazníků s orientací zejména na bezpečnost a ochranu zdraví,<br />
ochranu životního prostředí.<br />
Vytvářením otevřených trhů s volným pohybem zboží je podporováno:<br />
- sjednocováním norem a normativních materiálů s mezinárodními normami (např.<br />
evropskými - EN)<br />
- sjednocováním zkušebních metod<br />
- vzájemným porovnáváním etalonáže
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 37<br />
- vzájemným uznáváním výsledků zkoušek, zaváděním mezinárodních certifikačních<br />
systémů ...<br />
Činnost mezinárodních standardizačních organizací (ISO, IEC) je založena na zastoupení<br />
všech zemí, které jsou v organizaci zapojeny. Nosnými organizačními jednotkami jsou sekce,<br />
komise pro jednotlivé obory, podobory. Vypracováním návrhů normativních materiálů jsou<br />
zpravidla pověřeny jednotlivé členské země. Normy poté procházejí připomínkovým řízením<br />
dalších zúčastněných zemí.
38 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
5<br />
DUŠEVNÍ VLASTNICTVÍ A JEHO OCHRANA<br />
Jedním z klíčových podmínek úspěchu v hospodářské soutěži je nakládání s duševním<br />
vlastnictvím.<br />
V obecném pojetí je nutno do duševního vlastnictví podnikatelského subjektu zahrnout<br />
nejen běžně známé instituty jako jsou majetková práva k patentům, průmyslovým vzorům, k<br />
ochranné známce ..., ale veškeré souborné znalosti z oblastí hospodářské činnosti<br />
oz načovaných jako "know how".<br />
Je zřejmé, že v úspěchu na trhu bude hrát roli i například způsob vnitřní organizace a<br />
říz ení firmy; metody získávání, zpracovávání a uchovávání informací o trhu, zákaznících,<br />
dodavatelích, konkurenci, výrobní podklady výrobků, technologické postupy, příslušné<br />
ekonomické údaje a další statky nehmotné povahy, o jejichž významu svědčí, nakolik jsou<br />
předmětem otevřenějších či skrytějších forem průmyslové špionáže.<br />
V dalším se budeme zabývat těmi instituty duševního vlastnictví, kterým je poskytována<br />
legislativní ochrana konkrétními zákonnými normami (bývá označováno pojmem průmyslové<br />
vlastnictví), zejména těmi, které jsou produktem tvůrčí technické práce.<br />
Pozn. Ochrana ostatních je záležitostí výhradně hospodářského subjektu - jeho<br />
organizačních a technických opatření. K narušení práva může ovšem dojít ve spojitosti s<br />
tímto duševním majetkem nepřímo - např. získáním informací cestou kriminálního činu,<br />
zneužití formou nekalé soutěže...<br />
5. 1 Vývoj ochrany duševního vlastnictví - patentové právo<br />
Nesporný přínos tvůrčí práce pro rozvoj společnosti vedl již v historii k vývoji právních<br />
norem, poskytujícím původci vynálezu ochranu před cizím zneužitím.<br />
Na svou dobu značně pokrokový zákon byl přijat 19. března 1474 v Benátské republice.<br />
Stanovoval např. "ohlášení" vynálezu obecnímu úřadu, původce získával právo popohnat<br />
před úřad kohokoli, kdo by porušil jeho výsadní právo platné po dobu 10 let a vyrobil<br />
jakékoli jiné zařízení ve tvaru a podobě tohoto hlášeného zařízení.<br />
Zákon nepřestoupil hranice Benátské republiky, na území Evropy se zatím uplatňovalo<br />
udělování privilegií a monopolů.<br />
V roce 1623 byl v Anglii přijat zákon o monopolech (Status of Monopolies), který k datu<br />
nabytí účinnosti (květen 1624) zrušil všechny dosud udělené monopoly, přičemž neplatnost<br />
se nevztahovala na v budoucnu udělené patenty a výsady - a to na ty, které "budou uděleny<br />
na období 14 let nebo kraší prvnímu vynálezci na výlučné provozování nového druhu výroby<br />
v tomto království; jiné osoby nesmí v této době patentů a výsad využívat, přičemž tyto<br />
výsady nesmějí odporovat zákonu nebo být na újmu státu tím, že by doma vedly ke<br />
zvyšování cen nebo poškozovaly podnikání nebo byly všeobecně nevhodné".<br />
Toto ustanovení bývá někdy nazýváno "Chartou vynálezeckého práva" a vycházejí z něho<br />
prakticky všechny moderní patentové zákony. Objevuje se zde nahrazení pojmů privilegium<br />
či monopol pojmem patent (Letters Patent), vzniklým z latinského názvu "literae patentes",<br />
otevřené listiny, kterými původně římští císařové pronášeli svou vůli, jež se měla stát obecně<br />
závazným předpisem.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 39<br />
Na území našeho státu byla původně též udělována privilegia, první doložené bylo<br />
uděleno panu Konrádovi z Kamene roku 1315 na zařízení k odvodňování dolů .<br />
První zákonnou úpravou však byl až císařský patent (literae patentes) vydaný 1832<br />
Františkem II, dle nějž byla vydávána privilegia na vynálezy až do vydání patentového<br />
zákona č. 30 říšského zákoníku z 11. ledna 1897. Ten v zásadě po aktualizaci zákonem č.<br />
305/1919 Sb. platil až do 31.3.1952, kdy se uplatňuje zákon č. 6/1952 Sb.. V dalším období<br />
byly základními legislativními akty zákon č. 34/1957 Sb. o vynálezech, objevech a<br />
zlepšovacích návrzích, poté zákon č. 84/1972 Sb. o objevech, vynálezech, průmyslových<br />
vzorech a zlepšovacích návrzích.<br />
Aktuální právní úprava je dána zákonem č. 527/1990 Sb. o vynálezech, průmyslových<br />
vzorech a zlepšovacích návrzích, schváleným 27. listopadu 1990. Zákon č. 527/1990 Sb.<br />
přinesl zejména tyto změny:<br />
- zavedl patent jako jedinou formu ochrany vynálezu (z toho plyne výlučné dispoziční<br />
právo majitele patentu), odložený průzkum vynálezu, institut podnikového vynálezu a<br />
průmyslového vzoru, úplatnost řízení, odměňování na smluvním principu ..<br />
- vypustil ochranu objevů, původní definiční vymezení pojmu vynález, tématické<br />
plánování ..<br />
5.2<br />
Vynálezy, průmyslové vzory a zlepšovací návrhy ve znění zákona č.<br />
527/1990 Sb.<br />
5.2.1 Vynálezy<br />
Ochranným dokumentem na vynález může být výhradně patent.<br />
Patentovatelnost vynálezu je vymezena splněním čtyř kriterií:<br />
a) předmětu ochrany<br />
b) novosti<br />
c) vynálezecké činnosti<br />
d) průmyslové využitelnosti<br />
ad a) - předmětem ochrany je vynález, nutno tedy stanovit, jaké řešení je vynálezem.<br />
Vymezení je dáno negativně tj. výčtem příkladů řešení, jež nelze za vynález<br />
považovat :<br />
- objevy, vědecké teorie a matematické metody ( ve vědeckém světě se ochrana resp.<br />
přiznání autorství uplatňuje jejich publikací v odborném tisku )<br />
- pouhé vnější úpravy výrobků<br />
- plány, pravidla a způsoby vykonávání duševní činnosti<br />
- programy počítačů ( Software splňující pojmové znaky autorského díla může být<br />
chráněno dle autorského zákona resp. být předmětem zlepšovacího návrhu. )<br />
- pouhé uvedení informace<br />
ad b) - aby bylo splněno kriterium novosti, nesmí být vynález součástí stavu techniky.<br />
Stavem techniky je vše, co bylo přede dnem, od něhož přísluší přihlašovateli právo<br />
přednosti, zveřejněno ve vlastní zemi a v zahraničí. Do stavu techniky se zahrnuje i<br />
obsah přihlášek vynálezů podaných do výše uvedeného data. (Případ, kdy by došlo
40 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
ke zveřejnění vynálezu zřejmým zneužitím vůči přihlašovateli nebo jeho právnímu<br />
zástupci je ošetřen existencí tzv. ochranné lhůty ).<br />
ad c) - vynález musí být výsledkem vynálezecké činnosti. Kriterium vylučuje z patentové<br />
ochrany taková řešení, která nejsou skutečným přínosem ve smyslu obohacení<br />
stavu techniky, z hlediska pohledu odborníka. (Řada řešení, byť nových a v<br />
průmyslu použitelných, nemůže být patentovatelná, nejde-li o výrazný kvalitativní<br />
posun vnášený právě vynálezeckou činností. Příkladně se uplatní pouze metody<br />
agregace, ekvivalence, kinematického obrácení, analogie, zvětšení, zmenšení,<br />
zmnožení, náhrada materiálu apod.)<br />
ad d) - vynález je průmyslově použitelný, může-li být opakovaně využíván při<br />
hospodářské činnosti. Posuzuje se obecná použitelnost, ne ojedinělá za jedinečných<br />
podmínek a skutečná reprodukovatelnost efektu. (Důkazní břemeno splnění<br />
kriteria leží na přihlašovateli, který ji musí řádně zdůvodnit, resp. vhodnou formou<br />
prokázat.)<br />
Výluky z patentovatelnosti<br />
Řešení, která by jinak mohla splňovat výše vedená kriteria, ale která nebudou považována<br />
za vynálezy, stanoví zákon takto:<br />
- vynálezy, které jsou v rozporu s obecnými zájmy, zejména se zásadami lidskosti a<br />
obecné morálky<br />
- způsoby prevence, diagnostiky chorob a léčení lidí a zvířat<br />
- odrůdy rostlin nebo plemen zvířat a na biologické způsoby jejich pěstování a šlechtění<br />
(Omezení neplatí pro průmyslové mikroorganismy a biotechnologické postupy a jejich<br />
produkty. )<br />
Právo na patent<br />
Vynález je výhradně dílem fyzické osoby (nebo skupiny fyzických osob), která je<br />
označována zákonem jako původce vynálezu. Původci vynálezu vzniká právo na patent,<br />
jehož základní uplatnění je přihlášení vynálezu k ochraně. (Vynález obecně k ochraně<br />
přihlášen být nemusí, ale původce se vystavuje nebezpečí, že s vynálezem bude moci každý i<br />
bez jeho souhlasu nakládat.) Původce může právo na patent převést na jinou osobu -<br />
fyzickou i právnickou, totéž platí pro práva vyplývající z již podané přihlášky či již<br />
uděleného patentu.<br />
Realizace patentové ochrany<br />
Výchozím aktem je podání přihlášky vynálezu na Úřadu průmyslového vlastnictví, který<br />
je jediným přihlašovacím místem. Aby mohlo úspěšně probíhat následné řízení, musí být<br />
splněny věcné i formální požadavky na její obsah. Uvedení základních údajů je zpravidla<br />
splněno tím, že je úplně a správně vyplněn předepsaný tikopis přihlášky tj. tyto údaje:<br />
- příjmení, jméno, bydliště, státní příslušnost přihlašovatele ( jde-li o právnickou osobu,<br />
její název a sídlo)<br />
- příjmení, jméno, bydliště, státní příslušnost původce vynálezu ( není-li přihlašovatelem )<br />
- příjmení, jméno, sídlo zástupce ( je-li přihlašovatel zastupován )<br />
- název vynálezu<br />
- projev vůle přihlašovatele, že žádá o udělení patentu<br />
- podpis přihlašovatele nebo jeho zástupce<br />
Značný význam pak má popis vynálezu, který musí obsahovat takové náležitosti jako<br />
charakteristiku dosavadního stavu techniky; vysvětlení podstaty vynálezu se specifikovanými<br />
patentovými nároky a srovnáním se stavem techniky, min. jeden příklad aplikace atd. a to v<br />
definované, relativně náročné formální<br />
úpravě.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 41<br />
Pozn. Prakticky se proto užívá, analogicky s praxí vyspělých zemí, služeb patentových<br />
zástupců, poskytujících úplatně pomoc s vypracováním přihlášky až po možnost zastupování<br />
v patentovém řízení.<br />
Podáním přihlášky vynálezu na Úřadu průmyslového vlastnictví, kde je zaevidována s<br />
datem podání v rejstříku přihlášek vynálezů (splnila-li stanovené náležitosti ), nabíhá<br />
právo přednosti.<br />
Úřad podrobí každou přihlášku tzv. předběžnému průzkumu, kterým prověřuje zejména<br />
zda neobsahuje nepatentovatelný předmět vynálezu, nedostatky bránící jejímu zveřejnění,<br />
zjevné vady obsahového a formálního charakteru, ale i zaplacení správních poplatků.<br />
Neshledá-li nedostatků, zveřejní přihlášku po uplynutí 18 měsíců od vzniku práva<br />
přednosti (na žádost přihlašovatele možno dříve) a toto zveřejnění oznámí v jím vydávané<br />
veřejné publikaci (Věstníku). Od tohoto aktu může kdokoli vznášet připomínky k<br />
patentovatelnosti.<br />
Pozn. Do zveřejnění přihlášky neexistuje ochrana proti třetím osobám z hlediska<br />
využívání předmětu vynálezu, proto je vhodné zachovat utajení. Po tomto termínu existuje<br />
tzv. prozatímní ochrana (do doby kdy nastanou účinky uděleného patentu) a za využívání<br />
vynálezu lze požadovat přiměřenou náhradu.<br />
Pro udělení patentu je podmínkou provedení úplného průzkumu. Zákon podobně jako v<br />
řadě jiných zemí kodifikuje odložený průzkum, tj. provedení úplného průzkumu se uskuteční<br />
až na základě žádosti podané nejpozději do 36 měsíců od vzniku práva přednosti ( jinak se<br />
řízení o přihlášce vynálezu zastavuje).<br />
Pokud nejsou průzkumem shledány překážky a jsou splněny všechny náležitosti vč.<br />
zaplacení správních poplatků, je udělen přihlašovateli patent. Je mu vydána patentová listina<br />
a udělení patentu je oznámeno ve Věstníku. Aktem zveřejnění ve Věstníku nastává účinek<br />
patentu.<br />
Doba platnosti patentu činí 20 let (od podání přihlášky vynálezu) a zaniká překročením<br />
této lhůty, nezaplacením stanovených poplatků za udržování v průběhu této lhůty, či<br />
prohlášením majitele, že se patentu vzdává.<br />
Jiný charakter má zrušení patentu, které Úřad provede, jestliže se dodatečně zjistí, že<br />
nebyly splněny podmínky zákona pro jeho udělení.<br />
Majitel patentu jej může využívat sám, nebo umožnit využití jinému zájemci formou<br />
licence, ( ta musí mít písemnou formu a nabude účinnosti zápisem do patentového rejstříku),<br />
případně svá práva převést na jiného - prodat.<br />
Prohlásí-li u úřadu přihlašovatel resp. majitel patentu, že poskytne komukoliv právo k<br />
využití vynálezu (tzv. nabídka licence), vznikne toto právo každému, kdo tuto nabídku příjme<br />
a písemně mu to sdělí. Nabídka licence se vyznačuje v patentovém rejstříku, je<br />
neodvolatelná; není však narušeno právo majitele na úhradu ceny licence.<br />
Za určitých podmínek může Úřad udělit tzv. nucenou licenci. Jde však spíše o institut<br />
bránící zneužití patentových práv.<br />
Podnikový vynález<br />
Institut podnikového vynálezu zavedl zákon pro ty případy, kdy původce vytvořil vynález<br />
ke splnění úkolu z pracovního, členského, či podobného vztahu k zaměstnavateli. Právo na<br />
patent v těchto případech přechází na zaměstnavatele, není-li smlouvou upraveno jinak, právo<br />
na původcovství vynálezu není dotčeno.<br />
Zákon ukládá původci písemně oznámit zaměstnavateli vytvoření vynálezu a poskytnout<br />
potřebné podklady. Zaměstnavateli je poskytnuta tříměsíční lhůta pro posouzení vynálezu a<br />
uplatnění práva na patent; přihlásit vynález k ochraně mu však neukládá, záleží pouze na jeho
42 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
uvážení např. z hlediska hospodářského efektu, existence konkurence apod. Původci také<br />
náleží přiměřená odměna, která není na udělení patentu vázaná, a pro jejíž výši je rozhodný<br />
technický a hospodářský význam, s přihlédnutím k materiálnímu podílu zaměstnavatele na<br />
vytvoření vynálezu a rozsahu pracovních úkolů původce.<br />
5.2.2 Průmyslové vzory<br />
Zákon výslovně uvádí :<br />
Za průmyslový vzor se považuje vnější úprava výrobku, která je nová a průmyslově<br />
využitelná.<br />
Průmyslovým vzorem není :<br />
- technické a konstrukční řešení<br />
- přenesení známé vnější úpravy z jednoho výrobku na výrobek jiného druhu, nebo vnější<br />
úprava vytvořená zvětšením či zmenšením známé úpravy výrobku<br />
- záměna materiálu pro vnější úpravu výrobku<br />
- architektonické řešení stavby<br />
- vnější úprava výrobku zjistitelná jen při zvláštní pozornosti<br />
- barva, není-li jí užito ve spojení s tvarem, s obrysem nebo s kresbou<br />
Vnější úpravou výrobku je plošná nebo prostorová úprava, spočívající ve tvaru, v obrysu,<br />
v kresbě nebo v uspořádání barev či v kombinaci těchto znaků.<br />
Jak je z uvedeného zřejmé, v průmyslové praxi jde převážně o ochranu ztvárnění výrobku,<br />
které bývá hlavní náplní průmyslového designu.<br />
Požadavek novosti je vázán tím, že nebyl znám doma nebo v zahraničí z veřejně<br />
dostupných pramenů, zejména nebyl zobrazen nebo popsán ve zveřejněných tiskovinách,<br />
veřejně využíván, vystaven, přednesen nebo předveden.<br />
Požadavek průmyslové využitelnosti je splněn, mohou-li se podle něj opakovaně<br />
zhotovovat výrobky.<br />
(Není splněno např. u originálních uměleckých děl, neboť jejich vyrobení je podmíněno<br />
individuálním schopnostmi určité osoby.)<br />
Řízení je u průmyslového vzoru podobné jako u vynálezu. Vyžaduje se podání přihlášky<br />
průmyslového vzoru s definovaným obsahem. Dnem podání se uplatňuje právo přednosti, lze<br />
aplikovat i tzv. výstavní priority ( při splnění podmínek nebude zveřejnění vystavením před<br />
podáním přihlášky na úkor novosti a ke dni vystavení se začne uplatňovat právo přednosti).<br />
Přihlášku podrobí Úřad průzkumu, na rozdíl od vynálezu jednorázovému. V případě<br />
ús pěšně proběhlého řízení zapíše průmyslový vzor do rejstříku průmyslových vzorů a<br />
vy staví osvědčení o zápisu tj. doklad, který vydá majiteli.<br />
Zápis průmyslového vzoru platí 5 let ode dne podání a lhůta platnosti může být až dvakrát<br />
vždy o 5 let prodloužena.<br />
S průmyslovým vzorem může majitel nakládat analogicky jako s patentem, tedy i<br />
poskytnout licenci.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 43<br />
Stejně jako u vynálezu rozlišuje zákon podnikový průmyslový vzor. Zaměstnavatel má<br />
opět tříměsíční lhůtu na posouzení, neuplatníli však v této době své právo podáním přihlášky<br />
prů myslového vzoru, může po jejím uplynutí průmyslový vzor přihlásit původce.<br />
5.2.3 Zlepšovací návrhy<br />
Zákon stanoví :<br />
Za zlepšovací návrhy se pokládají technická, výrobní nebo provozní zdokonalení, jakož i<br />
řešení problémů bezpečnosti a ochrany zdraví při práci a životního prostředí, s nimiž má<br />
zlepšovatel právo nakládat.<br />
Práva ze zlešovacích návrhů nevzniknou, brání-li jim práva z patentu nebo ze zapsaného<br />
průmyslového vzoru.<br />
Za zlepšovací návrh se tedy prakticky považuje každé zdokonalení, které zaměstnavatel<br />
přijme. Hlavním kritériem je přínos pro zaměstnavatele. Zaměstnavatel má možnost upravit<br />
resp. upřesnit pravidla zlepšovatelské činnosti vnitřním aktem řízení vydáním firemního<br />
předpisu, např. zlepšovatelského statutu.<br />
Zlepšovatel není oprávněn nakládat se zdokonaleními, která vytvořil plněním pracovního<br />
úkolu vyplývajícího z uzavřené pracovní smlouvy se zaměstnavatelem; s těmi, která již jsou<br />
majetkem zaměstnavatele, či která jsou předmětem obchodního tajemství zaměstnavatele.<br />
Překážkou jsou samozřejmě práva vyššího účinku - u patentu a průmyslového vzoru v celé<br />
zemi.<br />
Zlepšovatel je povinen nabídnout zlepšovací návrh svému zaměstnavateli, jestliže se<br />
zlepšovací návrh týká oboru práce nebo činnosti zaměstnavatele.<br />
Zlepšovatel má právo se zlepšovacím návrhem nakládat bez omezení, jestliže s ním<br />
zaměstnavatel ve lhůtě dvou měsíců od nabídky zlepšovacího návrhu neuzavřel smlouvu o<br />
přijetí nabídky zlepšovacího návrhu a odměně za něj.<br />
Právo využívat zlepšovací návrh vzniká uzavřením smlouvy se zlepšovatelem o přijetí<br />
nabídky zlepšovacího návrhu a odměně za něj.<br />
Z uvedeného vyplývá priorita smluvních vztahů, tedy i význam vnitřních předpisů, způsobů<br />
řízení, jejichž kvalita a uplatněné metody určují, nakolik bude ve firmě vytvořeno tvůrčí<br />
motivační prostředí, charakteristické pro úspěšné vedoucí firmy.
44 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
5.3<br />
Užitný vzor<br />
Užitný vzor je novým institutem v oblasti průmyslových práv, zavedený přijetím zákona<br />
č.478/1992 Sb. o užitných vzorech z 24.září 1992.<br />
Na rozdíl od patentového práva neexistují pro užitné vzory žádné mnohostranné<br />
me zinárodní smlouvy, takže se jednotlivé národní úpravy dosti liší. Pro přípravu zákona byl<br />
vz orem německý systém existující již více než 100 let.<br />
Základní předností ochrany užitným vzorem, významným v konkurenčním prostředí<br />
tržního hospodářství je, že umožňuje chránit taková technická řešení, která by z nedostatku<br />
potřebné úrovně vynálezecké činnosti byla vyloučena z ochrany patentem, tedy např. širokou<br />
oblast produktů firemních inovačních kroků - nových výrobků.<br />
Analogicky s patentovým právem musí užitný vzor splňovat čtyři kriteria (viz 4.2.1) :<br />
- předmět ochrany - musí jím být technické řešení<br />
- novost - nesmí být součástí stavu techniky<br />
- tvůrčí úroveň - požaduje se překročení rámce pouhé odborné dovednosti<br />
- průmyslová využitelnost - možnost opakovaného využití v hospodářské činnosti<br />
Z ochrany jsou vyloučena<br />
- technická řešení, která jsou v rozporu s obecnými zájmy, zejména se zásadami lidskosti a<br />
veřejné morálky<br />
- odrůdy rostlin a plemena zvířat, jakož i biologické reproduktivní materiály<br />
- způsoby výroby nebo pracovní činnosti<br />
V případě vytvoření<br />
užitného vzoru původcem v pracovním poměru musí zaměstnavatel<br />
uplatnit právo na užitný vzor do tří měsíců, jinak přejde zpět na původce.<br />
Přihláška definovaného obsahu a úpravy se podává na Úřadu průmyslového vlastnictví.<br />
Řízení o přihláškách užitných vzorů je založeno na tzv. registračním principu, kdy Úřad<br />
zapíše užitný vzor do rejstříku po úvodním formálním průzkumu (k vyloučení těch přihlášek,<br />
která zjevně nesplňují požadavky na zápis), aniž zkoumá zda předmět přihlášky vyhovuje<br />
kriteriím novosti a tvůrčí úrovně. Tento omezený průzkum zápisné způsobilosti vede k<br />
rychlému zápisu a tedy dosažení účinků ochrany. To je výhodné např. u předmětů již<br />
připravených k uvedení na trh.<br />
Bez souhlasu majitele užitného vzoru totiž nikdo nesmí (analogie patentu) technické<br />
řešení chráněné užitným vzorem při své hospodářské činnosti vyrábět, uvádět do oběhu nebo<br />
upotřebit.<br />
V některých případech je naopak v zájmu přihlašovatele, aby nedošlo k zápisu a tím<br />
zveřejnění ihned po ověření zápisné způsobilosti. Může proto požádat o odklad zápisu až do<br />
uplynutí 15 měsíců ode dne podání přihlášky.<br />
Velmi zajímavým pro přihlašovatele může být institut tzv. odbočení. Umožňuje "odbočit"<br />
z přihlášky vynálezu na přihlášku užitného vzoru s tím, že mu Úřad přizná právo přednosti z<br />
původní přihlášky vynálezu. Podmínkou je, aby<br />
- šlo o stejná technická řešení<br />
- přihláška užitného vzoru byla podána nejpozději do dvou měsíců od rozhodnutí o<br />
přihlášce vynálezu, nejpozději však do deseti let od jejího podání
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 45<br />
- do dvou měsíců od podání přihlášky užitného vzoru předloží stejnopis přihlášky<br />
vynálezu, jehož práva přednosti se dovolává<br />
Prakticky je tak umožněno přihlašovateli reagovat v kterémkoli okamžiku během řízení o<br />
přihlášce vynálezu na výskyt překážek patentovatelnosti nevylučujících však ochranu užitným<br />
vzorem, změnu situace na trhu apod. Může však využít cíleně rychlé získání ochrany i tím, že<br />
podá současně přihlášky vynálezu i užitného vzoru a až je např. dosaženo udělení patentu,<br />
nechá užitný vzor zaniknout.<br />
Užitný vzor platí čtyři roky ode dne podání přihlášky popř. od podání dřívější přihlášky<br />
vynálezu se stejným předmětem. Dobu platnosti zápisu užitného vzoru prodlouží Úřad na<br />
žádost majitele vzoru až dvakrát vždy o tři roky.<br />
( Ve srovnání s patentem jsou náklady na udržování za toto období, tj. max. 10 let,<br />
podstatně nižší. )<br />
Výmaz užitného vzoru z rejstříku provede Úřad na návrh kohokoliv, pokud<br />
- technické řešení není způsobilé k ochraně ( zejména z důvodů novosti a tvůrčí úrovně )<br />
- předmět užitného vzoru je již chráněn patentem či užitným vzorem s dřívějším právem<br />
přednosti<br />
- přihlašovatelem byla osoba, která neměla právo na ochranu<br />
- předmět užitného vzoru jde nad rámec původního podání přihlášky průmyslového vzoru<br />
Výmaz užitného vzoru z rejstříku má účinek, jako by k zápisu nikdy nedošlo.<br />
5.4 Práva na označování<br />
Ochrana práv na označování má na našem území dlouhou tradici - již od roku 1858 ji<br />
upravoval císařský patent.<br />
U označování výrobků (nebo služeb) se užívají tři druhy označení :<br />
- ochranné známky<br />
- označení původu<br />
- obchodní (firemní) jméno<br />
5.4.1 Ochranné známky<br />
Aktuální právní normou je v současnosti zákon č.174/1988 Sb. o<br />
ochranných známkách.<br />
Ochrannou známkou je slovní, obrazové, prostorové nebo kombinované označení, které je<br />
způsobilé odlišit výrobky nebo služby od různých výrobců nebo poskytovatelů služeb a je<br />
zapsáno do rejstříku ochranných známek.<br />
Slovní ochranné známky jsou označení vytvořená z jednoho nebo více slov nebo souhrnu<br />
písmen, které lze za slovo považovat, lze je vyslovit.<br />
Obrazové ochranné známky jsou označení utvořená z realistického či abstraktního<br />
zobrazení lidí, zvířat, věcí, různých symbolů či obrazových motivů. Tato označení nejsou<br />
provázena textem.
46 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 47
48 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Prostorové ochranné známky jsou označení, která tvoří trojrozměrné (plastické)<br />
vyobrazení.<br />
Předmětem ochrany bývá např. zvláštní tvar výrobků či jeho obalů. Tvar prostorové<br />
ochranné známky může být i chráněn jako průmyslový vzor.<br />
Zápisným místem do rejstříku ochranných známek je Úřad průmyslového vlastnictví.<br />
Přihlášku může podat každá fyzická nebo právnická osoba, která vykonává hospodářskou<br />
činnost, a to pro výrobky nebo služby, které jsou předmětem její činnosti.<br />
Řízení o přihlášce posuzuje splnění formálních a věcných požadavků. Nesplnění vede na<br />
zamítnutí přihlášky, splnění na zápis do rejstříku, který je zveřejněn ve Věstníku a majiteli je<br />
vydáno osvědčení, že je majitelem ochranné známky.<br />
A bsolutními překážkami pro zápis jsou :<br />
- pouhý běžný název, vyobrazení obecného charakteru<br />
- úřední resp. všeobecně známé zeměpisné označení<br />
- klamavé nebo nepravdivé označení<br />
- označení shodné s proslulou ochrannou známkou (bez ohledu na výrobky, služby)<br />
- označení shodné s již zapsanou ochrannou známkou na výrobky a služby téhož druhu<br />
Relativními překážkami jsou označení :<br />
- postrádající rozlišovací způsobilost zejm. běžně užívaná<br />
- se spojitostí ke znakům svrchovanosti států<br />
- obsahující úřední, zkušební, záruční, puncovní nebo dopravní značky<br />
- název, jméno, vyobrazení osoby odlišné od přihlašovatele<br />
- s údaji shodnými či zaměnitelnými s označením původu<br />
Ochranná doba platí 10 let od data podání přihlášky, zápis lze obnovit v závěru platnosti<br />
na dalších 10 let. Není-li známka používána, může být po 5 letech z rejstříku vymazána.<br />
5.4.2 Označení původu<br />
Základní ustanovení zákona č.159/1973 Sb. o ochraně označení původu výrobků jsou v<br />
souladu s mezinárodní ochrannou podle Lisabonské dohody na ochranu označení původu a<br />
jejich mezinárodním zápisu.<br />
Zápisným místem je Úřad průmyslového vlastnictví.<br />
Označení původu je institutem aplikovaným nejčastěji na výrobky zemědělského resp.<br />
potravinářského charakteru, jak vyplývá z definice :<br />
"Označení původu výrobků je zeměpisný název země, oblasti nebo místa, který se stal<br />
obecně známý jako údaj o tom, odkud pochází výrobek, jehož jakost nebo znaky jsou dány<br />
výlučně, nebo podstatně zeměpisným prostředím včetně činitelů přírodních nebo lidských."<br />
Příklad - Pražská šunka,<br />
Karlovarská hořká, ale i Vítkovická ocel.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 49<br />
5.4.3 Obchodní jméno<br />
Tvoří významný znak individualizace podnikatele. Má výrazný dopad v hospodářské<br />
soutěži a hraje podstatnou roli v tržním ocenění firmy. V praxi se uplatňuje zejména u firem,<br />
které si vybudovaly a dlouhodobě udržují dobrou pozici na trhu - zavedeným termínem je<br />
"good will" - pověst, věhlas firmy.<br />
Právní ochrana obchodního jména je dána obchodním zákoníkem č. 513/1991 Sb.,<br />
narušení práv je postiženo převážně v ustanoveních o nekalé soutěži.<br />
Obchodní jméno právnických osob je zapsáno při jejich ustavení v obchodním rejstříku<br />
(vedeným místně příslušným rejstříkovým soudem) včetně jejich formy (akciová společnost,<br />
komanditní společnost, veřejná obchodní společnost ..), sídla a dalších předepsaných údajů.<br />
Smyslem ochrany obchodního jména je, že nesmí být zaměnitelné s obchodním jménem<br />
jiného podnikatele. U fyzických osob postačuje k rozlišení uvedení jiného místa podnikání,<br />
tedy nepřípustným stavem je podnikání dvou živnostníků stejného obchodního jména na<br />
stejné adrese. U právnických osob rozlišení vyžaduje uvedení různého sídla firem, přičemž<br />
firmy nesmí podnikat ve stejném oboru nebo v oborech zaměnitelných při hospodářské<br />
soutěži.<br />
Převod obchodního jména bez současného převodu podniku je nepřípustný - nelze tedy<br />
prodat obchodní jméno bez firmy.<br />
5.5<br />
Ochrana topografie polovodičových výrobků<br />
Zavedení právní normy - zákona č. 529/1991 Sb. o ochraně topografií polovodičových<br />
výrobků - je příkladem právní úpravy, slučitelné se zeměmi ES - právním rámcem pro něj<br />
byla Směrnice Rady ES o právní ochraně polovodičových výrobků ze dne 16. prosince 1986.<br />
Základní principy vyplývají z výtahu vybraných částí zákona :<br />
Předmětem ochrany jsou podle zákona topografie polovodičových výrobků, které jsou<br />
výsledkem tvůrčí činnosti původce a které nejsou v průmyslu polovodičových výrobků<br />
běžné. Ochrana se vztahuje rovněž na části topografie, které jsou využitelné samostatně,<br />
jakož i na zobrazení sloužící k výrobě topografie.<br />
Jestliže je topografie tvořena z prvků všeobecně známých, je chráněna pouze tehdy,<br />
splňuje-li kombinace těchto prvků výše uvedené podmínky.<br />
Topografií se pro účely zákona rozumí série jakkoli zafixovaných nebo zakódovaných<br />
vzájemně souvisejících zobrazení, znázorňujících trojrozměrné trvalé uspořádání vrstev, z<br />
nichž se polovodičový výrobek skládá, přičemž každé zobrazení znázorňuje vzor jedné<br />
vrstvy polovodičového výrobku nebo jeho části, popřípadě povrchu polovodičového výrobku<br />
v jednotlivých stupních výroby nebo jeho částí.<br />
Polovodičovým výrobkem se pro účely zákona rozumí konečná nebo mezitímní forma<br />
mikroelektronického výrobku, který je určen k plnění elektronické funkce a který se skládá<br />
ze základního tělesa obsahujícího vrstvu polovodičového materiálu a opatřeného alespoň
50 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
jednou vrstvou vodivého, izolačního nebo polovodičového materiálu v předem daném<br />
uspořádání.<br />
Právo na ochranu topografie náleží jejímu původci nebo jeho právnímu nástupci.<br />
Byla-li vytvořena ke splnění úkolu z pracovního poměru nebo obdobného vztahu, přísluší<br />
prá vo na ochranu zaměstnavateli, nebo tomu, pro koho byla na základě smlouvy vytvořena,<br />
pokud smlouva nestanoví jinak.<br />
Kdo chce uplatnit právo na ochranu podá na Úřadu průmyslového vlastnictví přihlášku<br />
topografie s následujícím obsahem :<br />
- žádost o zápis do rejstříku topografií s uvedením názvu topografie<br />
- podklady umožňující identifikaci topografie a případně i samotný polovodičový výrobek<br />
obsahující topografii (část lze označit za obchodní nebo výrobní tajemství a definovaně<br />
ve zveřejňovaných podkladech utajit)<br />
- datum prvního, nikoli však skrytého obchodního využití topografie, je-li dřívější než<br />
datum podání přihlášky (to určuje počátek platnosti ochrany, bez předchozího<br />
obchodního využití je jím datum podání přihlášky)<br />
- další doklady svědčící o právu přihlašovatele na ochranu topografie<br />
Splňuje-li přihláška stanovené podmínky, zapíše Úřad topografii do rejstříku, vydá<br />
přihlašovateli osvědčení o zápisu a zveřejní oznámení o zápisu ve Věstníku. Podklady<br />
uvedené v předchozím odstavci jsou po zápisu zpřístupněny k nahlédnutí třetím osobám.<br />
Bez souhlasu (licence) majitele topografie nikdo nesmí :<br />
- reprodukovat topografii nebo její samostatně využitelné části<br />
- vyrábět polovodičový výrobek, ve kterém je chráněná topografie obsažena<br />
- obchodně využívat topografii nebo polovodičový výrobek, který obsahuje chráněnou<br />
topografii nebo její samostatně využitelné části, jakož i zobrazení topografie, sloužící k<br />
jeho výrobě (zákon specifikuje i případy, na které se účinky ochrany nevztahují, např.<br />
využití k neobchodním účelům, studiu ...)<br />
Na návrh kohokoli provede Úřad výmaz z rejstříku, jestliže není splněna některá z<br />
vyjmenovaných podmínek. Doba trvání ochrany skončí uplynutím 10 let od konce<br />
kalendářního roku, v němž vznikla.<br />
5.6 Autorské právo<br />
Autorské právo zahrnuje i ochranu děl, vzniklých jako tvůrčí produkt pracovníků<br />
technického zaměření, jak to vyplývá z dále uvedených výtahů z ustanovení autorského<br />
zákona.<br />
Úplné znění autorského zákona, tj. zákona č. 35/1965 Sb. o dílech literárních, vědeckých a<br />
uměleckých se změnami a doplněními provedenými zákonem č. 89/1990 je obsaženo v<br />
zákoně<br />
č. 247/1990 Sb.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 51<br />
P ředmětem autorského práva jsou díla literární, vědecká a umělecká, která jsou výsledkem<br />
tvůrčí činnosti autora, zejména díla slovesná, divadelní, hudební, výtvarná včetně děl umění<br />
architektonického a děl umění užitého, díla filmová, fotografická a kartografická. Za předmět<br />
ochrany se považují i programy počítačů, pokud splňují pojmové znaky děl podle tohoto<br />
zákona.<br />
Ustanovení tohoto zákona se nevztahují na právní předpisy a rozhodnutí, veřejné listiny,<br />
úřední spisy, denní zprávy ani na projevy přednesené při projednávání veřejných záležitostí;<br />
soubornému vydání takových projevů nebo k jejich zařazení do sborníku je však třeba svolení<br />
toho, kdo je proslovil.<br />
Pro autorské dílo je charakteristické, že je svou povahou individuálním, neopakovatelným,<br />
takže nemohou existovat dvě shodná autorská díla. Jakmile by existovalo dvě a více shodných<br />
děl různých autorů, pak jedno z nich je dílem autorským a další kopie či plagiáty. Z tohoto<br />
pojetí autorského zákona vyplývá, že každé autorské dílo je nové, že nemohou být vytvořena<br />
stejná autorská díla dvěma různými autory jako je tomu u vynálezů, kde může vzniknout<br />
nezávisle na sobě dvě nebo více stejných řešení.<br />
Znak jedinečnosti, neopakovatelnosti autorského díla má za následek, že v oblasti<br />
autorského práva není třeba vymezovat pojem novosti a že autorské právo nezná pojem<br />
priority, na rozdíl od patentového práva.<br />
Předmětem autorského práva jsou také :<br />
- nová díla původní, která vznikla osobitým tvůrčím zpracováním díla jiného<br />
- překlady děl do cizích jazyků. Zpracování či překlad díla vyžaduje souhlas autora.<br />
- souborná díla jako sborníky, časopisy, pásma, výstavy a jiná, je-li jejich uspořádání<br />
výsledkem tvůrčí činnosti . Zařadit dílo do díla souborného lze jen se svolením autora.<br />
Vznik autorského práva k dílu je definován okamžikem, kdy<br />
písmem, náčrtem, skicou nebo v jakékoli vnímatelné podobě.<br />
je dílo vyjádřeno slovem,<br />
Vznik autorskoprávní ochrany je ochranou neformální na rozdíl od tzv. formální ochrany<br />
u institutů , které procházejí řízením, jehož výsledkem je poskytnutí či odmítnutí ochrany.<br />
Tato forma ochrany je charakteristická pro evropské státy, výjimku tvoří autorské právo<br />
angloamerického systému, zejména USA, které stanoví určité formální podmínky pro vznik<br />
ochrany (např. doložku o výhradě autorského práva, registraci díla, zaplacení registračních<br />
poplatků...).<br />
K usnadnění vzniku autorskoprávní ochrany v těchto státech došlo k dohodě, obsažené ve<br />
Všeobecné úmluvě o právu autorském, podle které bude daný stát považovat požadované<br />
formální podmínky za splněné, jestliže se na všech exemplářích prvního vydání autorského<br />
díla uvede tzv. copyrightová<br />
doložka, tj. C, jméno subjektu autorského práva a rok prvního<br />
vydání. Všechny tyto tři údaje musí být uvedeny tak, aby byly dostatečně zřejmé. Nejčastěji se<br />
proto uvádějí na první stránce publikace. Podmínkou je i uvedení na všech exemplářích<br />
prvního vydání, jinak je ochrana nenávratně ztracena i pro další vydání.<br />
Právo na ochranu autorství je nepřevoditelné, práva k užití jsou převoditelná formou<br />
smlouvy a to jen na osobu oprávněnou uvádět díla na veřejnost příslušným způsobem (např.<br />
smlouvou nakladatelskou, smlouvou o veřejném provozování díla apod ).<br />
Zanikne-li právnická osoba nebo zemře-li fyzická osoba, na niž bylo převedeno právo užít<br />
díla bez právního nástupce,<br />
nabude opět autor práva rozhodovat o dalším osudu díla.
52 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Autorské právo tj. doba ochrany díla trvá pokud není stanoveno jinak po dobu života<br />
autorova a 50 let po jeho smrti. Pro autorské právo u sborníků a časopisů vydaných<br />
organizacemi<br />
činí např. lhůta ochrany 10 let od uveřejnění díla a platí pro vydavatele -<br />
práva autora obsažených článků nejsou dotčena.<br />
Autorské právo přechází na dědice.<br />
Za užití díla náleží autorovi autorská odměna ( logické je její stanovení ve smlouvě o užití<br />
díla ).<br />
Po uplynutí doby ochrany se stává dílo volným, k jeho užití není potřeba svolení a není<br />
povinnost platit autorskou odměnu.<br />
Právo na autorství je však třeba respektovat tzn. uvádět jméno autora (je-li znám), uvádět<br />
dílo způsobem odpovídajícím jeho hodnotě.<br />
Právní normy o ochraně duševního vlastnictví postihují i řadu specifických případů např.<br />
spoluautorství, používaná terminologie může v některých případech vyžadovat seznámení s<br />
úplným zněním zákona, které rozsah této kapitoly nemohl postihnout. Podobně je třeba vzít v<br />
úvahu, že zákony jsou průběžně aktualizovány, jsou doplňovány dalšími právními akty<br />
(vyhláškami, nařízeními...) a proto v konkrétních případech je třeba seznámit se s jejich<br />
aktuálním zněním.<br />
V těchto případech lze doporučit i využití služeb patentových zástupců sdružených v<br />
Komoře patentových zástupců, vykonávajících svou činnost samostatně, nebo<br />
specializovaných advokátních či komerčně právních kanceláří.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 53<br />
6 ELEKTROMAGNETICKÁ KOMPATIBILITA<br />
Elektromagnetická kompatibilita je (mezioborová) disciplína zabývající se otázkami<br />
nežádoucího ovlivňování činnosti různých technických i biologických systémů účinky<br />
elektromagnetického pole, přičemž jednotlivé systémy mohou, ale nemusejí mít vzájemnou<br />
funkční souvislost. Disciplína zkoumá též cesty vedoucí k minimalizaci uvedeného<br />
ovlivňování. Stejným termínem (tj. elektromagnetická kompatibilita) označujeme také<br />
vlastnost charakterizující schopnost současné správné činnosti jednotlivých systémů daného<br />
souboru, svázaných spolu prostřednictvím elektromagnetických vazeb. (Tato vlastnost<br />
elektronických zařízení je dosažena konstrukcí těchto zařízení - to je hlavní důvod, proč se<br />
zabýváme elektromagnetickou kompatibilitou jako vědní disciplínou.) Název<br />
elektromagnetická kompatibilita pochází z angl. electromagnetic compatibility (rus.<br />
elektromagnitnaja sovmestimosť, něm. Systemverträglichkeit nebo Elektromagnetische<br />
Verträglichkeit), další možný překlad elektromagnetická slu čitelnost nepovažuje většina čs.<br />
odborníků pracujících v této oblasti za vhodný. Mezinárodně uznávanou zkratkou je EMC<br />
(příp. EMV v německy mluvících oblastech).<br />
Základní schéma<br />
strukturálních souvislostí<br />
mezi elektrotechnickými<br />
systémy<br />
člověkem a<br />
vytvořenými<br />
přírodními<br />
zdroji elektromagnetického<br />
rušení ukazuje obr. 5.1.<br />
Dráhy označené šipkami<br />
představují nežádoucí<br />
elektromagnetické vazby. Z<br />
obecného hlediska se může<br />
ovlivnění čili interference<br />
(mezinárodně používaná<br />
zkratka EMI, eletromagnetic interference) určitého systému projevovat v různých formách od<br />
zhoršení kvality<br />
přes částečné<br />
nebo úplné<br />
omezení funkce<br />
až k havarijním<br />
stavům, ať už z<br />
hlediska<br />
technologického<br />
nebo<br />
bezpečnostního. I<br />
když EMC vždy<br />
řeší vzájemné<br />
vztahy dvou nebo<br />
více systémů,<br />
považujeme<br />
postupně vždy<br />
jeden z nich za<br />
systém sledovaný
54 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
(ovlivňovaný, interferovaný). Ostatní systémy jsou pak systémy ovlivňující (interferující),<br />
které též můžeme označit za interferenční zdroje.<br />
Vznik EMC souvisí s rozšiřováním elektroniky v nejrůznějších oborech lidské činnosti.<br />
Jedna z prvních aplikací se objevila v letectví a námořnictví, protože právě v letadlech a na<br />
lodích se soustřeďuje v malém prostoru velké množství rádiových prostředků současně s<br />
celou řadou elektronických a elektrických zařízení (vč. silových). Přitom bylo nutné zajistit<br />
jejich spolehlivou činnost bez vzájemného rušení a nepříjemného ovlivňování, neboli vytvořit<br />
stav jejich elektromagnetické kompatibility.<br />
Členění problematiky EMC. Jakožto mezioborová disciplína má EMC značně široký záběr<br />
zahrnující řadu oblastí. Z praktického hlediska je vhodné uvažovat elektromagnetickou<br />
kompatibilitu<br />
- na čipu integrovaného obvodu<br />
- uvnitř jednoho přístroje<br />
- ve složitějších systémech (viz obr. 5.4)<br />
Elektromagnetickou kompatibilitou na čipu se v tomto textu nebudeme zabývat.<br />
Ve všech těchto případech problematika EMC zahrnuje:
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 55<br />
1. zdroje rušivých signálů,<br />
2. cesty přenosu rušivých signálů,<br />
3. přijímače rušivých signálů,<br />
4. snižování úrovně rušivých (interferenčních) signálů,<br />
5. zlepšování odolnosti zařízení vůči rušivým signálům.<br />
1. Zdroje rušivých signálů. V oblasti zdrojů rušivých signálů se zkoumají zejména<br />
obecné otázky mechanismů vzniku rušení, jeho charakteru a intenzity. Z přehledu na obr. 5.3<br />
vidíme, že rušivé signály mimo jiné vznikají všude tam, kde dochází k rychlým změnám<br />
napětí nebo proudu.<br />
Mezi přirozené zdroje rušení patří hlavně elektrické výboje v ovzduší, prudké změny<br />
zemského magnetického i elektrického pole (elektromagnetické bouře, polární záře apod.) a<br />
elektromagnetická vlnění produkované produkovaná kosmickými tělesy.<br />
Tab. 5.1. Kmitočtový rozsah některých zdrojů rušivých signálů<br />
Zdroj<br />
Kmitočtové pásmo<br />
poruch šířících se po<br />
vedení<br />
Kmitočtové pásmo<br />
poruch šířících se<br />
prostorem<br />
zářivka 0,1 Hz až 3 MHz 100 Hz až 3 MHz<br />
rtuťová výbojka<br />
0,1 Hz až 1 MHz<br />
kolektorové motory 2 Hz až 4 MHz 10 Hz až 400 kHz<br />
síťové vypínače<br />
0,5 Hz až 25 MHz<br />
výkonové spínače 10 Hz až 25 MHz 0,1 Hz až 20 MHz<br />
spínačové zdroje 0,1 Hz až 30 MHz 0,1 Hz až 30 MHz<br />
koronový výboj<br />
0,1 Hz až 10 MHz<br />
klopné obvody<br />
15 kHz až 400 MHz<br />
kontakty termostatů<br />
30 Hz až 1000 MHz<br />
neuzemněné kovové<br />
10 Hz až 10 MHz<br />
skříně přístrojů<br />
Pro velkou rozmanitost umělých<br />
zdrojů rušení lze uvést pouze typické příklady.<br />
V elektrických provozech jde hlavně o<br />
generátory, vypínače, odpojovače a<br />
transformátory velkých elektrických výkonů,<br />
vedení velmi vysokého a vysokého napětí, ale<br />
také o náhodné zdroje jako sršení na<br />
znečištěných izolátorech a uvolněných<br />
připojovacích svorkách, korona, různá jiskření<br />
apod. V průmyslových provozech k tomu<br />
přistupují usměrňovače, obloukové pece,<br />
zařízení pro vf ohřev, stykače, svářecí agregáty<br />
a zvláště výkonové polovodičové měniče. Z<br />
dalších zdrojů možno jmenovat některé<br />
lékařské přístroje, zářivkové osvětlení,<br />
spalovací motory, elektrickou trakci, ale i<br />
domácí elektrické spotřebiče a některá zařízení<br />
spotřební elektroniky. Řadí se k nim též zdroje<br />
vytvářející magnetostatická i elektrostatická pole. Všechny zmíněné zdroje je pak možno
56 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
třídit podle různých hledisek, jako je kmitočtová oblast, časový průběh rušivého napětí, doba<br />
trvání, aj. Kmitočtový rozsah některých zdrojů je v tab. 5.1. Obr. 5.5. ilustruje typy poruch,<br />
které se šíří po napájecí síti.<br />
Závažné mohou být i vnitřní zdroje rušení. Jako "vysílací antény" slouží veškeré dlouhé<br />
přívody, podlouhlé konstrukční díly zařízení, ale i dlouhé vodiče na deskách plošných spojů.<br />
Jsou-li na deskách rychlé integrované obvody, potom proudové impulsy na takové desce
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 57<br />
vyzařují signály se spektrem až v oblasti GHz. Dalším zdrojem rušení jsou spínané napájecí<br />
zdroje používané běžně pro napájení digitálních obvodů. Obr. 5.6. ilustruje vliv tvaru pulsů na<br />
spektrální hustotu.<br />
Zcela zvláštní zdroj rušení by představoval nukleární elektromagnetický impuls (EMP,<br />
častěji NEMP = Nuclear Electromagnetic Pulse). Každý jaderný výbuch je kromě běžně<br />
známých účinků provázen i vznikem intenzívního elektromagnetického impulsu. Jeho<br />
parametry jsou závislé především na velikosti nálože a místě výbuchu vůči zemskému<br />
povrchu. Při pozemním jaderném výbuchu je nutno počítat s rušivými i destruktivními účinky<br />
na elektrická i elektronická zařízení v okruhu 10 až 100 km od epicentra. Strmost vzrůstu<br />
NEMP je 20 až 100-krát vyšší než strmost nárůstu elektromagnetického pole vyvolaného<br />
bleskem. Indukované proudy, ať již v pláštích letadel, či dlouhých pozemních vedeních,<br />
mohou dosáhnout i stovky, ba dokonce i několik tisíc ampérů.<br />
2. Cesty přenosu rušivých signálů. Vazba mezi zdrojem a příjemcem může být<br />
galvanická, kapacitní, induktivní nebo elektromagnetická (nebo jejich kombinace).<br />
Galvanické vazby se uplatňují na společných vodičích, kterými jsou nejčastěji vodiče<br />
napájecí nebo uzemňovací. Průtokem proudu, který je zdrojem rušení (např. impulsy ze<br />
střídačového zdroje, z hodinového oscilátoru, apod.), vzniká na odporu a při vyšších<br />
kmitočtech i na indukčnosti vodiče parazitní napětí, které se tak dostává do rušeného obvodu,<br />
má-li tento obvod s rušícím obvodem část společného vedení.<br />
Kapacitní vazby vznikají mezi vodiči vedenými blízko sebe, hlavně pak mezi vodiči<br />
vedenými ve větší délce paralelně, např. ve svazcích vodičů, v kabelech nebo na deskách<br />
plošných spojů.<br />
Induktivní vazbu pozorujeme tam, kde rušící proud protéká smyčkou a rušený obvod<br />
obsahuje také smyčku (prostorově blízkou). Vazba je tím silnější, čím je větší plocha obou<br />
smyček. Induktivní vazba však také vzniká, když přijímací smyčkou prochází rozptylové<br />
magnetické pole transformátoru nebo tlumivky.<br />
Elektromagnetickou vazbu působí šíření elektromagnetické vlny buď po vedení nebo<br />
volným prostorem. Jako vedení poslouží elektromagnetické vlně elektrovodná síť, napájecí<br />
vodiče, ba někdy i vodiče uzemňovací nebo signálové (které přenášejí žádaný signál z jedné<br />
části do jiné). Jako anténa fungují jednak vodiče, jednak proudové smyčky. Elektromagnetická<br />
vazba je typická pro přenos rušivých signálů mezi prostorově oddělenými zařízeními,<br />
zatímco vazba galvanická je spíše typická pro přenos rušivých signálů v rámci jednoho<br />
zařízení (tato problematika bude probrána v kapitole o elektrické konstrukci).<br />
3. Přijímače rušivých signálů. Na cesty přenosu rušivých signálů úzce navazuje<br />
problematika přijímačů rušení. Jde především o klasifikaci jednotlivých typů a podrobnou<br />
specifikaci rušivých účinků. To spolu s rozborem konstrukčních a technologických parametrů<br />
umožňuje např. objevovat příčiny malé odolnosti.<br />
Nejcitlivější na rušení jsou elektronická zařízení, která zpracovávají malé analogové<br />
signály. Jedná se především o rozhlasové a televizní přijímače, jejichž antény zachycují vedle<br />
žádaných signálů i signály poruchové, které se šíří prostorem ve formě elektromagnetických<br />
vln. Poruchy se šíří i po elektrorozvodné síti a pronikají do vf a nf obvodů elektronických<br />
zařízení, které jsou ze sítě napájeny (především elektroakustická zařízení a měřící přístroje).<br />
Méně citlivé na rušení jsou zařízení digitální techniky. Tato odolnost byla jedním z hlavních<br />
důvodů digitalizace v elektronice (přístrojů i přenosových cest). Intenzivní zdroje rušení však
58 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
mohou rušit i digitální přístroje tím, že silná jednorázová porucha změní hodnotu některého<br />
přenášeného bitu.<br />
Další dvě důležité oblasti EMC řeší otázky směřující ke zvýšení elektromagnetické<br />
kompatibility elektrotechnických systémů (tj. metody omezování působení rušivých signálů a<br />
omezením cest, kterými se rušivé signály šíří).<br />
4. Snižování úrovně rušivých signálů. V této podkapitole se budeme zabývat dvěma<br />
problémy: jednak snižováním úrovně generovaných rušivých signálů v místě jejich vzniku a<br />
jednak na jejich cestě od zdroje k přijímači. Jde tedy o oblast odpovídající prvním dvěma<br />
bodům výše uvedené klasifikace (nemělo by praktický smysl vyšetřovat tyto dvě oblasti<br />
odděleně).<br />
Oblast zabývající se způsoby snižování úrovně (omezování) rušivých napětí a polí<br />
produkovaných zdroji rušení se často označuje jako odrušování zdrojů rušení. Zmíněná činnost<br />
se prakticky projevuje ve dvou hlavních směrech. Prvním z nich je snaha omezit vznik<br />
parazitních produktů přímo vhodnou konstrukcí. Ukazuje se, že v řadě případů se při<br />
zachování požadované funkce může docílit podstatného snížení rušivých produktů jen za cenu<br />
poměrně jednoduchých úprav a nepatrně zvýšených výrobních nákladů. Tato opatření závisí<br />
na druhu odrušovaného zařízení. V napájecích obvodech může pomoci použití spínačů<br />
spínajících v nule, změna režimu fázového řízení výkonových měničů, použití síťového
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 59<br />
transformátoru s toroidním jádrem (který má malé rozptylové pole) apod. Startéry zářivek<br />
jsou přemostěny odrušovacími kondenzátory, které zkratují vysokofrekvenční složky,<br />
vznikající při rozpojení startérového kontaktu. Další šíření do sítě pak omezuje tlumivka, jejíž<br />
hlavní funkcí je udržování stabilního výboje. Obdobně potlačujeme rušení od komutátorových<br />
motorků (jiskření kartáčů) zapojením kondenzátoru přímo mezi kartáče, další dva<br />
kondenzátory spojují kartáče s rušivým signálem s ochranným vodičem, statorové vinutí bývá<br />
rozděleno na dvě části, které svou indukčností dále brání šíření poruch. I jiné spínací kontakty<br />
přemosťujeme kondenzátory nebo členy RC. Přístroje rozdělujeme na zóny s různou úrovní<br />
rušení (často navzájem stíněné - viz další bod).<br />
Druhým směrem je doplnění již vyráběných zařízení vhodnými filtry. Největším<br />
problémem bývá samotný návrh filtru, vzhledem k obvyklému širokopásmovému charakteru<br />
zdroje rušení a značně se měnící impedanci zátěže a i vlastní realizace, v důsledku nedostatku<br />
vhodných součástek.<br />
Zvláštní pozornost se věnuje hospodaření spektrem (spectrum management) a otázkám<br />
spektrální čistoty signálu (kmitočtová syntéza a analýza, šum oscilátorů, synchronizace,<br />
filtrace). Snížení vzájemného rušení může vést i ke snižování vysílaných výkonů u<br />
sdělovacích systémů.<br />
Snahy po zmenšování zařízení i součástek, stejně jako zvyšování jejich operační rychlosti<br />
a snižování signálových úrovní ztěžuje úspěšné odrušování.<br />
Oblast zahrnující problematiku omezování nežádoucích elektromagnetických vazeb se<br />
štěpí do mnoha různorodých směrů. Zkoumají se tu účinky elektromagnetických polí na<br />
konkrétní rozmístění interferovaných systémů, způsoby stínění a materiály pro stínění, vazby<br />
vznikající souběhem dálkových silnoproudých a telekomunikačních vedení, šíření rušivých<br />
napětí distribučními energetickými i trakčními sítěmi, vazby mezi napájecími a signálovými<br />
obvody v objektech, redukční účinky jednotlivých druhů sdělovacích kabelů, způsoby uzemnění<br />
a vytváření uzemňovacích sítí ap.<br />
Nezbytný je také pečlivý návrh spojů a desek plošných spojů. Rušivé signály, pronikající<br />
galvanickými vazbami od zdroje k přijímači, se omezí nejlépe tím způsobem, že uspořádáme<br />
vodiče tak, aby rušící a rušený okruh neměly žádnou společnou část. Jedná se nejčastěji o<br />
okruhy napájecí a zemnicí. Když není úplné oddělení okruhů možné, musí mít společná část<br />
minimální impedanci, tj. ohmický odpor a indukčnost. Odpor vodiče snížíme zvětšením jeho<br />
průřezu, přičemž na tvaru průřezu příliš nezáleží. Indukčnost se sníží použitím vodiče většího<br />
průměru. Lepšího efektu však dosáhneme použitím třeba i tenkého, ale širokého vodiče s<br />
průřezem obdélníkovým.<br />
Kapacitní přenosové cesty se omezí jednak umístěním rušeného okruhu co nejdále od<br />
okruhu rušícího, jednak použitím kovového stínění. Vestavění stínící přepážky z mědi nebo<br />
hliníku představuje účinné přerušení cesty rušivého signálu, ale bývá prostorově náročné.<br />
Použití stínících krytů nebo stíněných vodičů je z hlediska účinnosti rovnocenné, avšak<br />
zpravidla dochází ke zvýšení kapacit stíněných prvků proti zemi, což může nepříznivě<br />
ovlivňovat funkci zařízení.<br />
Zdrojem induktivních vazeb jsou jednak rozptylová pole transformátorů nebo tlumivek,<br />
jednak magnetická pole generovaná proudovými smyčkami. Pole smyček se omezí<br />
zmenšením jejich plochy. To platí pro smyčku "vysílací" i "přijímací". Při hledání přijímacích<br />
smyček si musíme uvědomit, že každý proud teče uzavřeným okruhem (nezapomenout na<br />
zemní a napájecí vodiče), tedy zpětné vodiče mají vést v těsné blízkosti vodičů přívodních (a<br />
z hlediska parazitní zpětné vazby by zemní část smyčky měla být samostatná, neměl by tu<br />
protékat žádný jiný proud). Na DPS se napájecí vodiče navrhují co nejširší, vedou se<br />
planparalelně nebo těsně vedle sebe, jejich součástí jsou blokovací kondenzátory.
60 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Rozptylová pole transformátorů a tlumivek se dají potlačit např. použitím hrníčkových<br />
nebo ještě lépe toroidních jader. Magnetickou vazbu lze omezit rovněž vhodným natočením<br />
zdroje rušivého pole tak, aby napětí indukované tímto polem do rušeného obvodu bylo<br />
minimální. Konečně je možné i magnetické stínění. Pro nízké kmitočty vyhovuje stínění z<br />
materiálu s velkou permeabilitou, pro kmitočty vysoké je často účinnější stínění měděné,<br />
které brání průniku vysokofrekvenčního magnetického pole tím, že se ve stínění indukují vířivé<br />
proudy. Nejdokonalejší stínění pro magnetické pole je pak vícenásobné stínění pomocí<br />
přepážek či krytů, sestavených z několika vrstev střídavě vodivých a magnetických.<br />
Aby mohlo docházet k přenosu rušivých signálů pomocí elektromagnetických vln, musí<br />
být jednak kmitočet dost vysoký, jednak musí být jak vysílač, tak přijímač vybaven anténou.<br />
Jako anténa ovšem funguje každý vodič, který vede od zdroje poruch a také každý vodič,<br />
který vede k místu citlivému na poruchy. Anténa, která je na opačném konci otevřená<br />
(samozřejmě pro vysílaný nebo přijímaný kmitočet), rezonuje na vlnové délce odpovídající<br />
lichému počtu čtvrtvln na anténě a na svých rezonančních kmitočtech vysílá i přijímá nejlépe.<br />
Naopak anténa, která je na opačném konci uzemněna, rezonuje na vlnové délce, odpovídající<br />
sudému počtu čtvrtvln. Rovněž vodivá smyčka může působit jako tzv. rámová anténa.<br />
Elektromagnetické rušení se pokusíme odstranit řádným stíněním. Elektromagnetické vlny<br />
se ovšem mohou šířit i po vedení, např. po elektrovodné síti. Zde si pak pomáháme síťovými<br />
filtry, které jsou zapojeny v síťovém přívodu zařízení a chrání před vnějším rušení (a naopak<br />
u vysílačů omezuje výstup rušení - viz dříve).<br />
Obvody, kterými protékají střídavé proudy je nutno umístit tak, aby zabíraly co nejmenší<br />
plochu a aby veškeré spoje byly co nejkratší. Tyto obvody (oscilátory, zesilovače) odebírají i<br />
z napájecího zdroje střídavou složku, je třeba tuto střídavou složku co nejblíže u odebírajícího<br />
obvodu vyfiltrovat blokovacím kondenzátorem. Podobně se omezuje šíření poruch od<br />
spínaných zdrojů nebo od regulačních obvodů tyristorových regulátorů elektrických pohonů.<br />
5. Zlepšování odolnosti zařízení vůči rušivým signálům je vlastně jedním z důležitých<br />
směrů obecné problematiky zvyšování spolehlivosti elektronických zařízení. Zahrnuje nejen<br />
způsoby filtrace napájecích přívodů a přepěťové ochrany na vstupech, ale též konstrukční a<br />
technologické uspořádání částí elektronických zařízení omezující vnitřní interferenci<br />
(naznačené v předchozí kapitole) a také zkoumá vlastnosti jednotlivých elektronických prvků<br />
z hlediska odolnosti proti rušivým vlivům (např. účinky statické elektřiny a náhodných<br />
přechodových jevů na polovodičové součástky).<br />
Měření rušivých polí a rušivých napětí. Velmi rozsáhlou a důležitou je oblast měření<br />
rušivých polí a rušivých napětí. Zabývá se kvantitativním zjišťováním vybraných parametrů,<br />
které reprezentují elektromagnetické pole na všech třech základních článcích EMC (zdroj -<br />
cesta - přijímač). Rušivá elektromagnetická pole je nutno z hlediska metod měření zásadně<br />
rozdělit na pole krátkodobého a ustáleného charakteru.<br />
Rušivá pole krátkodobého charakteru (elektrické výboje přirozeného nebo umělého<br />
původu) se měří buď přímými nebo nepřímými metodami. Přímé metody využívají nejčastěji<br />
čítačů rušivých impulsů s rozlišením podle amplitudy, doby trvání či kmitočtového pásma,<br />
někdy spřažené se záznamovým zařízením časového průběhu (paměťový osciloskop, rychlá<br />
digitální paměť). Nepřímé metody využívají ke zhodnocení interference, např. speciální<br />
měřiče krátkodobých přerušení okruhů a měřiče krátkodobých poklesů úrovně.<br />
Rušivá elektromagnetická pole ustáleného charakteru dělíme na časově neproměnná<br />
(statická) pole a časově proměnná (střídavá) pole. Magnetostatická pole nejčastěji hodnotíme<br />
pomocí měřičů intenzity magnetického pole, elektrostatická pak obvykle pomocí měřičů<br />
intenzity elektrického pole.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 61<br />
Při měření střídavých elektromagnetických polí se v praxi užívá různých druhů měřicích<br />
přístrojů. V nízkofrekvenční oblasti jsou to zejména selektivní voltmetry či měřiče úrovně a<br />
analyzátory, dále pak voltmetry se zhodnocovacími (psofometrickými) filtry. Měřicí přístroje<br />
a metodiky nejsou pro zmíněnou oblast jednotně definovány a jsou závislé na tom, zda slouží<br />
pro odvětví energetiky, spojů, automatizačních zařízení ap.<br />
Z hlediska měření rušení rádiového příjmu je oblast kmitočtově definována od 10 kHz do<br />
1000 MHz (a nověji až do 12,5 GHz). V pásmu od 10 kHz do 30 MHz se měří magnetická<br />
nebo elektrická složka intenzity elektromagnetického pole pomocí přesně definovaných antén<br />
a tzv. měřičů rušení. Jsou to v podstatě selektivní elektronické voltmetry cejchované v<br />
decibelech se vztažnou hodnotou 1 µV.m -1 . V pásmu 30 až 1000 MHz se měří pouze<br />
elektrická složka intenzity rušivého pole.<br />
Přímé měření intenzity elektromagnetického pole se však vždy nehodí pro hodnocení<br />
vysokofrekvenčních rušivých napětí, zejména pak v podmínkách průmyslových závodů. Proto<br />
je též definována zjednodušená měřicí metoda, která vychází z toho, že působení vnějšího<br />
elektromagnetického pole se projevuje vznikem rušivého napětí na svorkách sledovaného<br />
elektrického systému. Měří se stejnými měřiči rušení jako v předchozím případě. Metoda<br />
přirozeně předpokládá, že rušivá napětí vstupují do sledovaného systému pouze definovanými<br />
cestami. Přitom se však může jednat o svorky vstupní, výstupní, napájecí, zemnicí ap. Její<br />
použití je tedy závislé na konkrétním konstrukčním a technologickém uspořádání přijímače<br />
rušení. V případech měření na síťových svorkách, používá se obvykle zvláštní měřicí doplněk<br />
- umělá síť. V principu je to speciální výkonový filtr s přesně definovanou impedancí, který<br />
zaručuje srovnatelnost měření v různých bodech napájecí sítě.<br />
Kromě měření se rozvíjí v současné době velmi rychle oblast testování odolnosti<br />
potenciálních přijímačů rušení (převážně elektronických přístrojů). Metoda testování je založena<br />
na tom, že zkoušený objekt je ovlivňován rušivým napětím, generovaným tzv.<br />
simulátorem rušení. Ten simuluje působení skutečných rušivých napětí na svorkách reálných<br />
přístrojů a umožní tak ověřovat jejich funkci ať už z kvantitativního nebo kvalitativního<br />
hlediska.<br />
Simulují se např. rušivá napětí generovaná mechanickými spínači či napodobující statické<br />
výboje (rušivé impulsy s krátkým čelem, nízkým energetickým obsahem a s měnitelnou<br />
amplitudou, šířkou a polaritou). Podobně se simulují napěťové impulsy s velkou energií<br />
superponované na síťové napětí, dále pak krátkodobé výpadky a kolísání síťového napětí, syna<br />
signálové vedení, souběh rušícího napájecího a<br />
metrická a nesymetrická interference<br />
rušeného signálového vedení aj. Simulátory rušení se vyrábějí buď jako jednoúčelové testery<br />
nebo jako stavebnicové testovací soupravy. Uvedená zařízení se stávají čím dále, tím více<br />
nepostradatelnou pomůckou jak při vývoji a výrobě elektronických zařízení, tak i při jejich<br />
uvádění do provozu.<br />
Na všechny dosud popsané oblasti úzce navazuje oblast tvorby norem a předpisů EMC.<br />
Podobně jako v jiných oborech, jedná se i tady o soubor norem podnikových, resortních,<br />
státních i mezinárodních. Nejdůležitější bývají normy určující metodiky měření rušivých<br />
vlivů a přípustné hladiny rušivých polí i napětí v jednotlivých prostředích. (Poznamenejme, že<br />
tyto normy a předpisy se netýkají EMC na čipu integrovaného obvodu nebo uvnitř jednoho<br />
zařízení, ale pouze chování zařízení jako zdroje nebo přijímače rušení).<br />
Prudce vzrůstající množství zařízení produkujících rušení a také rostoucí počet zařízení<br />
citlivých na rušivé signály vedou k potřebě mezinárodního sjednocení požadavků na<br />
elektromagnetickou kompatibilitu. Státy Evropského společenství proto v roce 1985 ustavily<br />
komisi, která vypracovala základní směrnice pro elektromagnetickou kompatibilitu. Směrnice<br />
dostala jméno EMC Directive 89/336 EEC a budou jí muset vyhovovat veškerá elektronická<br />
zařízení z hlediska minimalizace vzájemného rušení nebo nepříznivého ovlivňování.
62 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Direktiva obsahuje kromě technických i řadu právních požadavků. Nejvýznamnější je<br />
předpis, vyžadující od každého výrobce jmenovat pracovníka, který je osobně zodpovědný za<br />
to, že zařízení dodávané na trh odpovídá všem odrušovacím předpisům. Nedodržení<br />
uvedených podmínek bude mít za následek stíhání zodpovědného pracovníka. Výrobek<br />
nebude možné uplatnit na trhu a používat ho. EMC se musí respektovat již při návrhu<br />
výrobku. Dodatečné odrušení bude velmi drahé, protože si často vyžádá rozsáhlou<br />
rekonstrukci.<br />
Re<strong>konstrukce</strong> bude nutná u mnoha starších zařízení, která bude chtít výrobce prodávat od<br />
roku 1996 (původně uvažováno od 1992). Právě tak nebude možné uvést na trh žádné<br />
zařízení z dovozu, které by nebylo úspěšně vyzkoušeno podle norem. Direktiva dovoluje dvě<br />
cesty.<br />
Prvá cesta spočívá ve vlastní certifikaci. Ta je možná, spadá-li výrobek do příslušné<br />
euronormy EN. Výrobce je v tom případě povinen:<br />
a) vyzkoušet výrobek podle příslušné normy vlastními prostředky nebo v oprávněné<br />
specializované laboratoři mimo podnik a vyzkoušení zaplatit,<br />
b) vydat prohlášení o tom, že výrobek stanovené normě vyhovuje; prohlášení podepíše<br />
zodpovědný pracovník,<br />
c) opatřit výrobek značkou CE v oválu (Certified Europe).<br />
Druhá cesta je vytvoření tak zvaného "technického file", což je detailní technický popis<br />
výrobku. Podrobné údaje od počátku vývoje až po výrobu jsou doplněny výkresovou<br />
dokumentací, diagramy a podrobnými výsledky měření jednotlivých částí zařízení, z nichž<br />
jednoznačně vyplývá, že výrobek splňuje požadavky EMC. Měření provádí k tomu akreditovaná<br />
osoba a soulad s technickým file kontroluje zástupce nadřízeného národního úřadu.<br />
Požadavky Direktivy se nutně musí projevit také na našich výrobcích, zejména budeme-li<br />
je chtít vyvážet do zemí ES. Nebude to ovšem pro nikoho záležitost levná.<br />
Uveďme příklad vybavení laboratoře pro kvalitativní sledování rušivých signálů. Takové<br />
měření vyžaduje analyzátor spektra s kmitočtovým rozsahem 2 GHz, sondu na detekování<br />
rušivých polí a napěťovou sondu ke zjišťování rušivých signálů na vedení. Kvalifikované<br />
měření emisí v definovaných podmínkách vyžaduje pracoviště rozšířit o antény (pro pásmo<br />
30 až 300 MHz bikonická anténa, pro rozsah 300 až 1000 MHz anténa logaritmickoperiodická).<br />
Pracoviště musí být dostatečně prostorné a ploché, s kovovou základnou z plného<br />
materiálu nebo z mřížky s oky, menšími než 30 mm (0,1 # pro 1 GHz). Předpisy stanoví, že<br />
základna přesahuje nejméně 1 m za měřený objekt na jedné straně a 1 m za anténu na straně<br />
druhé. K měření rušivých signálů po vedení jsou také nutné filtry. Těmi se zajistí stálá<br />
definovaná impedance měřeného objektu v místě připojení na síť.<br />
Nejmodernější centrum pro měření EMC v Evropě bylo vybudováno v roce 1988 v<br />
Grendingu, SRN. Má k dispozici řadu stíněných prostor (stínící účinek je asi 100 dB), které<br />
mají výrazně sníženu odrazivost pomocí absorbérů (na 30 MHz 16 dB a na 1 GHz více než 40<br />
dB). Centrum může sledovat vyzařování do 40 GHz a odolnost proti rušení do 18 GHz. V<br />
centru se ověřuje i odolnost zařízení proti bleskům a odolnost munice proti působení<br />
elektromagnetického rušení. Největší hala má rozměry 45 x 20 x 18 m! Podobnou zkušebnu<br />
postavila v Japonsku firma TOYOTA, ve Francii DESSAULT.<br />
Domácí pracoviště, které se dlouhodobě zabývá elektromagnetickou kompatibilitou,<br />
působí ve Výzkumném ústavu silnoproudé elektrotechniky v Praze 9-Běchovicích. Rozsah<br />
měření v kmitočtové oblasti je od 0 do 1000 MHz, napěťové od 50 mV do 400 kV. Pracoviště<br />
se zaměřuje především na silnoproudé aplikace.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 63<br />
Odrušování zásahem u zdroje<br />
Jak již bylo uvedeno, rušení lze (více či méně) omezit několika cestami (záleží na zdroji<br />
rušení a přenosové cestě). Ovšem potlačení rušivé energie v místě jejího vzniku je zpravidla<br />
nejsnazší a nejúčinnější cestou.<br />
Podle charakteru rušivého zdroje je možné cíle dosáhnout různými způsoby. Rušivé<br />
vyzařování komutátorových motorků lze odstranit například připojením složitého<br />
odrušovacího filtru nebo úpravou mechanického stavu (výměnou ložisek, uhlíků, kotvy) a<br />
ponecháním původního jednoduchého odrušení. Rušící termostat je snazší nahradit typem,<br />
který rozepíná mžikově než dodatečně zapojovat do obvodu odrušovací filtr. Jindy, zejména u<br />
složitých elektronických zařízení, je nejefektivnější cestou stínit celé zařízení, což omezí<br />
rušivé vyzařování a funkci zařízení neovlivňuje. Souhrnně to můžeme charakterizovat jako<br />
udržování zařízení v náležitém technickém stavu.<br />
Použití odrušovacích prostředků je však hlavním způsobem jak potlačit rušení. Důležitá je<br />
nejen volba odrušovacího prostředku, ale především způsob a místo připojení v rušícím<br />
zařízení. Moderní elektronická zařízení (především ta, která obsahují mikropočítače) mohou s<br />
odrušením obstát jen tehdy, když se tato problematika sledovala již při jejich vývoji.<br />
Dodatečné zásahy jsou nejen složité a nákladné, ale mohou nekontrolovatelně ovlivnit jejich<br />
spolehlivost i funkci.<br />
Zdroje rušení lze rozdělit na dvě charakteristické skupiny. Širokospektrální zdroje<br />
produkují souvislé rušivé spektrum v širokém kmitočtovém rozsahu jako nežádoucí produkt<br />
funkčních pochodů. Patří sem tyristorová zařízení, spínané zdroje, komutátorové motorky,<br />
kontakty, linky vysokého napětí, rozkladové části televizních přijímačů a řada dalších.<br />
Úzkopásmové zdroje produkují vf energii v úzkém kmitočtovém pásmu kolem základního<br />
kmitočtu, případně jeho násobků. Takovými zdroji jsou oscilátory přijímačů, rádiové vysílače<br />
všeho druhu, výkonové průmyslové generátory. Vf energie v nich vzniká v souvislosti se<br />
základní funkcí. Při odrušování se k oběma skupinám přistupuje specificky.<br />
Odrušení mechanických kontaktů<br />
V technické praxi jsou mechanické kontakty častým zdrojem rušení. Lokalizace tohoto<br />
druhu rušení nebývá jednoduchou záležitostí a ani odrušení není jednoduché. Příčinou rušení<br />
je jiskření na kontaktech, které vzniká přerušováním proudového obvodu se zátěží indukčního<br />
charakteru. Rušivá vf energie zabírá široké spektrum od akustických kmitočtů někdy až do<br />
IV. TV pásma.<br />
Na obr. 5.9a je jednoduchý obvod s cívkou L a spínačem S. Po sepnutí spínače protéká<br />
obvodem proud a v cívce L se hromadí magnetická energie úměrná vztahu LI 2 /2. Po<br />
rozpojení obvodu se na kontaktech s objeví indukované napětí<br />
di<br />
U<br />
L<br />
≈ L<br />
dt<br />
Ze vztahu vyplývá, že napětí je úměrné indukčnosti cívky a rychlosti rozpojení. Vzniklé<br />
jiskření nebo i oblouk mezi kontakty jsou vlastní příčinou vzniku vf rušení. Aby se<br />
nežádoucímu jevu zabránilo, je třeba pro energii nahromaděnou v cívce nalézt jinou, paralelní<br />
cestu. V jednoduchých případech k tomu stačí rezistor (obr. 5.9b). Při stejnosměrném proudu<br />
lze výhodně místo odporu zapojit polovodičovou diodu (obr. 5.9c). Při sepnutí S neteče<br />
diodou "paralelní" proud, jako v předchozím případě. Při střídavém proudu a malém napětí se<br />
využívá Zenerových diod (obr. 5.9d).
64 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Nejčastěji se k potlačení jiskření na kontaktech používá článek RC (zhášecí obvod), který<br />
se připojuje buď ke kontaktu, nebo k cívce (obr. 5.9e). Při rozpojeném kontaktu S se<br />
kondenzátor C nabíjí a vytváří pro magnetickou<br />
energii cívky paralelní cestu, při sepnutém kontaktu<br />
se přes něj vybíjí, čímž by přispíval k většímu<br />
jiskření. Proto se do série zařazuje odpor R, který<br />
vybíjecí proud omezuje. Zhášecí obvod RC tedy není<br />
odrušovacím prvkem v pravém slova smyslu.<br />
Vzniklou vf energii netlumí, ale mění charakter<br />
spínacího pochodu. Optimální kapacita kondenzátoru<br />
a hodnota odporu a zejména jejich vzájemný poměr<br />
závisí na indukčnosti a odporu cívky, na materiálu<br />
kontaktů, na proudu v obvodu i na velikosti<br />
indukovaného napětí. Pro odrušení kontaktů členem RC podle obr. 5.9e se volí C v mezích<br />
0,05 až 1 uF a R 5 až 200 X. V síťových obvodech 220 V, 50 Hz se potom nejčastěji používá<br />
kombinace 0,1 uF/380 V + 50 X (vyráběla se v n. p. TESLA pod označením TC 11108). Na<br />
obr. 5.10 je zhášecí obvod použit k ochraně kontaktů a k omezení rušení u spínače<br />
transformátorové pájky.<br />
Na obr. 5.11 je tzv. Larsenovo zapojení pro odrušení kontaktů. Proti členu RC má výraznější<br />
odrušovací účinek. Velmi účinného odrušení kontaktu na obr. 5.12 je dosaženo kombinací<br />
odrušovacích prostředků a stínění. Používá se při zvláštních nárocích na odrušení.<br />
Odrušování komutátorových motorků<br />
Tyto motorky patří k nejčastějším zdrojům průmyslového rušení, protože jsou v<br />
nejrůznějších zařízeních v průmyslu, kancelářích, ústavech i obchodech; jsou i základní<br />
součástí většiny domácích spotřebičů. Komutátorové motorky nalezneme ve vysavačích,<br />
šicích strojích, holicích strojcích, pračkách, odstředivkách, mixerech, ručním elektrickém<br />
nářadí, vysoušečích vlasů, leštičích parket nebo i dětské autodráze. Jimi vyvolané rušení má<br />
širokospektrální charakter se složkami až do TV pásem.<br />
Předpokladem úspěšného odrušení je dobrý mechanický stav samotného motorku.<br />
Zkontroluje se nejdříve opotřebení uhlíků; při náhradě se dodrží původní typ. Příčinou<br />
zvětšeného rušení mohou být také opotřebovaná ložiska, vystupující lamely nebo<br />
mezilamelová izolace, případně neokrouhlý komutátor. Je-li k tomu možnost, vyplatí se<br />
přetočit kotvu v hrotech na soustruhu. Z elektrických závad podstatně zvětšují úroveň rušení<br />
závitové zkraty v kotvě nebo svody vinutí na kostru, což se však obvykle zjevně projeví na<br />
funkci. Zde pokusy o odrušení zpravidla ztroskotají. K samotnému odrušení lze přejít až po<br />
odstranění mechanických závad. Prvým a velmi účinným zásahem je přepojení statorových<br />
vinutí, často zapojených podle obr. 5.13a. symetricky podle obr. 5.13b. Dále lze rušení<br />
zmenšit nejjednodušeji zapojením širokopásmového kondenzátoru 50 až 100 nF + 2x 2,5 nF<br />
podle obr. 5.14. Tuto kombinaci dodává výrobce v pouzdru s pěti vývody, např. pod<br />
označením TC 240 (dříve WK 724 21 nebo WK 724 92). Náhrada třemi samostatnými<br />
kondenzátory je možná na úkor širokopásmovosti. Kondenzátory 2,5 nF však musí být na<br />
provozní napětí 220 V, 50 Hz. U těchto tzv. bezpečnostních kondenzátorů je třeba dodržet<br />
kapacitu vzhledem k velikosti proudu, unikajícího do kostry<br />
zařízení.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 65<br />
Širokopásmový kondenzátor tohoto typu účinně potlačuje jak symetrickou, tak<br />
nesymetrickou složku rušení, takže postačí k dokonalému odrušení řady domácích spotřebičů,<br />
např. vysavačů a ručního nářadí. Rušivé složky v I. až III. TV pásmu se výrazně potlačí<br />
rozšířením obvodu o další kondenzátor a vf tlumivku s indukčností řádu desítek uH podle obr.<br />
5.15. Tlumivky lze realizovat navinutím 15 až 20 závitů lakovaného drátu o o 0,5 mm na<br />
feritovou tyčinku o o 2 až 3 mm. Optimální je vf ferit (postačí však i materiál pro nízké<br />
kmitočty). Změníme-li předchozí zapojení podle obr. 5.16, můžeme použít k účinnému<br />
odrušení filtr vyráběný pod označením TC 241 (dříve WK 724 22, WK 724 23).<br />
Na obr. 5.13 je zapojení odrušovacích<br />
prostředků komutátorového motoru v<br />
rotátoru směrové antény. Odrušení je<br />
širokopásmové.<br />
Při montáži odrušovacích součástek je<br />
třeba dodržovat zásadu co nejkratších<br />
přívodů. Doporučuje se používat<br />
keramické kondenzátory, umožňující<br />
účinné odrušení tam, kde je nedostatek<br />
místa pro svitkové. Při odrušovacích
66 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
pracích je třeba vždy sledovat i hlediska bezpečnostní, tj. po odrušení kontrolovat střídavý<br />
proud unikající do kostry zařízení a odrušovací prostředky zapojovat až za síťový spínač.<br />
Odrušování polovodičových usměrňovačů, regulátorů apod.<br />
Vznik rušení u křemíkových usměrňovacích diod. Depletiční vrstva polovodičové diody je<br />
při průtoku v propustném směru "zaplavena" nosiči nábojů obojího znaménka. Při průchodu<br />
napětí nulou proud nepřestává téci, po několik mikrosekund prochází v závěrném směru.<br />
Tento zpětný proud se přeruší a přejde do závěrného proudu, až když jsou nosiče nábojů,<br />
shromážděné v hradlové vrstvě "odsáty" přiloženým záporným napětím. Špička zpětného<br />
proudu je tím větší, čím větší byl procházející proud. Zpětný proud při začátku půlvlny<br />
závěrného napětí velmi rychle mění svou velikost. Polovodičová dioda se v tomto okamžiku<br />
chová jako rozpojující se spínač, což má za následek při indukčním charakteru obvodu prudké<br />
zvětšení indukovaného napětí (které může diodu i poškodit) a vznik vyšších harmonických<br />
složek proudu spektrálního charakteru až k rozsahu krátkých vln.<br />
Vznik rušení u tyristorů a triaků<br />
Triaky a tyristory jsou nejčastěji používány jako regulátory příkonu různých, ze sítě<br />
napájených silnoproudých zařízení. Princip regulace spočívá v tom, že zátěž je tyristorem<br />
(triakem) připojována k síti jen po část půlperiody. Střední hodnota proudu, a tím i odebíraný<br />
výkon, lze tak v širokých mezích měnit. Toto tzv. fázové řízení se vyznačuje velkou účinností<br />
a možností regulovat výkon spojitě. Tyristor (triak) pracuje jako elektrický spínač a vytváří vf<br />
rušivé složky spektra právě tak, jako spínač mechanický. Krátké spínací časy polovodičových<br />
prvků jsou příčinou vzniku složek spektra i nad 30 MHz.<br />
Jak je známo, tyristor sepne, převedeme-li krátký proudový impuls do řídicí elektrody. Při<br />
střídavém proudu vypne tyristor těsně před průchodem proudu nulou samočinně, u<br />
stejnosměrného obvodu je nutný vnější zásah pomocí "zhášecího" zařízení; takové zařízení<br />
zpravidla obsahuje rovněž tyristor. K zapnutí a vypnutí proudu do zátěže působí nejméně dva<br />
tyristory, střídavě otevírané řídicími impulsy.<br />
Vf rušení vzniká při otevření a při opětném uzavření tyristoru. Amplituda a šířka rušivého<br />
spektra při otevření tyristoru je dána dynamickými vlastnostmi spínacího prvku i elektrickými<br />
parametry vnějšího obvodu. Vf rušení vznikající při vypnutí má stejné příčiny jako u<br />
křemíkových diod. U tyristorů a triaků se zpravidla sleduje rušení vznikající při spínání<br />
prvku, protože je podstatně větší, než rušení při vypínání. Při zapnutí a vypnutí vzniká i<br />
napěťová špička (zakmitávání vnějšího obvodu; tyristor je také ohrožován napěťovým<br />
průrazem). To, co bylo řečeno o tyristorech, se vztahuje i na triaky.<br />
Na obr. 5.18 jsou různé možnosti odrušení stmívače s triakem. Zleva doprava se zlepšuje<br />
úroveň odrušení. [2/80].
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 67<br />
Odrušení elektronických přístrojů<br />
Zdrojem rušení u elektronických přístrojů bývá hlavně spínaný zdroj. Dále ruší přístroje,<br />
které obsahují oscilátory. Běžné je rušení osmibitovými<br />
domácími mikropočítači s jednou deskou ve skříni z<br />
plastu (známý Sinclair ZX-Spectrum i další typy). Ruší<br />
také amatérské vysílače, různá průmyslová zařízení (pro<br />
vf ohřev apod.), lékařská zařízení atd. Problémy bývají i<br />
s televizními přijímači. Staré typy rušily pouze<br />
neúměrným vyzařováním koncového stupně řádkového<br />
rozkladu nebo oscilátoru kanálového voliče, nové<br />
televizory však mají další obvody, z nichž se může šířit<br />
nežádoucí vf energie. Je to nejen spínaný zdroj,<br />
ovládání řízené mikroprocesorem, modul teletextu,<br />
obvody pro digitální zpracování signálu, ale i např.<br />
směšovač pro druhou zvukovou normu.<br />
Mezi základní podmínky malého vyzařování patří<br />
solidní kovová skříň (problém u zařízení spotřební<br />
elektroniky), kterou nelze plnohodnotně<br />
nahradit pokoveným krytem z plastu. Je-li skříň<br />
dělená, doporučuje se pro zmírnění vyzařování<br />
styčné plochy dobře očistit a po celé délce<br />
spáry vložit měděnou fólii (tzv. gasket).<br />
Užitečné je také vnitřní stínění funkčních<br />
bloků kovovými fóliemi (též tenkým plechem).<br />
Propojovací kabely mezi jednotlivými díly<br />
mají být co nejkratší a vždy stíněné. Napájecí<br />
přívody je vhodné blokovat na obou stranách<br />
keramickými kondenzátory 100nF (TK 782),<br />
velkou úroveň rušivých signálů na ostatních<br />
propojovacích vodičích lze omezit protažením<br />
svazku vodičů nebo jednotlivých drátů<br />
feritovým toroidem a vytvořením 2 až 5 závitů<br />
(obr. 5.19).<br />
Prvním předpokladem omezení rušivého<br />
vyzařování je síťový filtr. Obr. 5.19 ukazuje,<br />
jak má být síťový filtr do skříně počítače<br />
vestavěn.<br />
Z obr. 5.20 je zřejmé zapojení typického filtru,<br />
který dnes používá většina výrobců. Obsahuje<br />
tři kondenzátory a dvojitou proudově<br />
kompenzovanou tlumivku. Kondenzátor C 3<br />
potlačuje symetrickou složku, kondenzátory<br />
C 1 , C 2 a tlumivka zabraňuje šíření<br />
nesymetrické složky rušení. Je-li filtr umístěn<br />
ideálně, je účinný až do 100 MHz. Příkladem<br />
provedení je filtr na obr. 5.21. Je konstruován
68 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
jako jednofázový s maximálním proudem 6 A ve společném pouzdře se síťovou zástrčkou<br />
IEC (obr. 5.23). Kovový kryt umožňuje ideální spojení se skříní rušícího zařízení. Podobný<br />
filtr má i televizor TESLA Color 110 (obr. 5.22).<br />
Filtr WN 852 02 (TESLA) je rozměrově podstatně větší, má však dobré elektrické<br />
vlastnosti. Je uložen v krabici ze zinkohliníkové slitiny a ucpávkovými přírubami.<br />
Bezpečnostní kondenzátory jsou spojeny s krabicí filtru (obr. 5.25).<br />
Popsané filtry vyhoví u těch přístrojů, které jsou umístěny v kovové skříni a mají klasický<br />
(tj. nespínaný) síťový zdroj. Spínané zdroje vyžadují náročnější odrušení.<br />
Na obr. 5.26 a 5.27 jsou odrušovací filtry z výrobků firmy HYUNDAI (Jižní Korea). Filtr<br />
na obr. 5.28 může být jednodušší, protože daný fax má další odrušovací prostředky v<br />
jednotlivých blocích.<br />
Vzhledem k tomu, že v odrušovacích filtrech se běžně používá proudově kompenzovaná<br />
tlumivka, pokusíme se objasnit její funkci.<br />
Uvažujme konfiguraci podle obr. 5.29 (a odpovídající rozkreslené náhradní schéma dle<br />
obr. 5.30). Zdroj rušení produkuje vf rušivou energii, která se šíří po napájecím přívodu<br />
jako symetrická a nesymetrická složka. Symetrická složka vytváří rušivé napětí mezi oběma<br />
přívody, které vyvolává rušivé proudy tekoucí shodně s napájecím proudem. Kondenzátory<br />
C 3 , C 4 , případně samostatné tlumivky, zařazené v každém přívodu, tuto složku potlačují.<br />
Nesymetrická složka se projevuje jako rušivé napětí mezi nulovým vodičem nebo zemí a<br />
jedním nebo oběma napájecími vodiči. Na odrušení se podílejí kondenzátory C 1 , C 2 , C 5 , C 6 ,<br />
protože však z bezpečnostních důvodů je jejich kapacita omezena na několik nF, není jejich<br />
účinek veliký. Volí se proto jiná cesta a nesymetrická složka rušení se potlačuje sériově<br />
zařazenými tlumivkami L 1 a L 2 . Při jejich návrhu však narazíme na další problém.<br />
Aby byla tlumivka účinná v celém kmitočtovém rozsahu 0,15 až 30 MHz, musí mít feritové<br />
jádro, a to nejlépe ve tvaru toroidu. Pro nejnižší kmitočty však vychází velký počet závitů a<br />
jimi protéká celý napájecí proud. Bude-li jádro nesprávně dimenzováno, přesytí se, jeho<br />
indukčnost se značně zmenší a tlumivka ztratí odrušovací účinek (obr. 5.31).<br />
U spotřebičů s velkým odběrem proudu by správně navržená feritová toroidní tlumivka vyšla<br />
neúměrně velká. Navinou-li se však obě cívky L 1 a L 2 na společné toroidní jádro podle obr.<br />
5.29 a zapojí tak, aby se magnetický tok v jádře, vyvolaný napájecím proudem, vzájemně<br />
kompenzoval,<br />
může mít tlumivka velmi malé rozměry. To však není zadarmo. Ideálně<br />
navinutá proudově kompenzovaná tlumivka nebude potlačovat symetrickou složku rušení,<br />
protože ta se šíří stejnou cestou jako napájecí proud.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 69<br />
Vrátíme-li se k obr. 5.30 a sledujeme-li směr nesymetrické složky, potvrdí se, že<br />
odrušovací účinky L 1 a L 2 se sčítají a dvojitá tlumivka na společném jádře je pro tuto složku<br />
účinná. I při velmi pečlivém vinutí dvojité toroidní tlumivky se nedosáhne úplné kompenzace<br />
magnetického pole od napájecího proudu.<br />
Vždy existuje rozptylové magnetické pole, které v obr.<br />
5.30 představují rozptylové indukčnosti L 3 a L 4 . To<br />
však nemusí být na závadu. Vhodným konstrukčním<br />
uspořádáním lze rozptylových indukčností využít ke zvětšení odrušovacího účinku pro<br />
symetrickou složku rušení. Pokud jejich indučnost nestačí, doplňuje se odrušovací obvod jen<br />
malými tlumivkami s indukčností 10 až<br />
100 uH na feritových tyčinkách.
70 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Odrušování dalších zařízení<br />
Zdrojem rušení mohou být i zářivková svítidla,<br />
neonové reklamy a výbojky. K odrušení použijeme vhodné filtry. Dalším zdrojem rušení<br />
mohou být výboje statické elektřiny (např. u hnacích řemenů z plastických hmot). Také<br />
vedení vn a vvn může být zdrojem rušení (obvykle kapacitní výboje). Všeobecně známe je<br />
také rušení pocházející ze zapalovací soustavy zapalovacích motorů. Podrobnosti lze nalézt v<br />
[2/80] a [4/92].<br />
Odrušování zásahem u přijímače rušení<br />
Při návrhu nových přístrojů musíme věnovat velkou pozornost možnému vnějšímu rušení.<br />
S potřebou odrušení se můžeme setkat také u přístroje již vyrobeného a příp. i používaného.<br />
Obecně můžeme potom hovořit o odolnosti přístroje vůči rušení (je tím myšlena schopnost<br />
pracovat v daném elektromagnetickém prostředí, aniž by se významně zhoršila funkce).<br />
Především je třeba si uvědomit, že opatření, která zmenšují rušivé vyzařování přístroje (viz<br />
dříve), přispívají také ke zlepšení odolnosti přístroje proti vnějšímu elektromagnetickému poli<br />
a/nebo poruchám přicházejícím po síti.<br />
Pro účely odrušování hovoříme o přijímači rušení, přičemž termín přijímač je chápán<br />
široce (nejenom jako rozhlasový nebo televizní). Při řešení konkrétního případu se snažíme<br />
nejdříve nalézt mechanismus, kterým rušení proniká do přístroje. Běžně rušivý signál proniká<br />
po síťových přívodech, bráníme se zařazením vhodného filtru. Rušivé signály mohou vnikat i<br />
cestou s užitečným signálem, např. anténním vstupem do přijímačů, vstupními přívody nebo<br />
reproduktorovými přívody do zesilovače.<br />
Při odrušování zařazujeme vhodné filtry do anténních přívodů nebo konektorů nf přívodů<br />
zesilovačů. Napájecí<br />
přívody blokujeme na obou stranách keramickými kondenzátory. Velkou
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 71<br />
úroveň rušivých signálů lze omezit protažením vodičů feritovým toroidem, na rozdíl od obr.<br />
5.19 zde není obvykle nutné vinout několik závitů, spíše se použijí 2 až 3 toroidy za sebou<br />
(nebo feritová trubička).<br />
Na obr. 5.32 je také několik příkladů odstranění rušivého ovlivňování nf stupňů vf<br />
signálem. Další informace budou uvedeny v příslušných částech skripta.<br />
Zde ještě uvedeme poznámku k institucionálnímu odrušování rádiového příjmu.<br />
Vzhledem k častým případům rušení rozhlasového a televizního příjmu je v ČR zřízena<br />
odrušovací služba, která řeší stížnosti posluchačů. V praxi této služby se rozlišují pojmy<br />
rušení a rušivé ovlivňování.<br />
Podstata rádiového rušení spočívá v tom, že rádiový příjem na daném kmitočtu je<br />
omezován elektrickým zařízením, jehož vf energie spadá do vf přenosového kanálu. Při<br />
rušivém ovlivňování elektrická zařízení (hlavně vysílače) omezují příjem ve své blízkosti,<br />
aniž by jejich pracovní kmitočet ležel v příjímaném kanálu. Rušený příjem může být<br />
způsoben nedostatečnou odolností nebo jiným funkčním nedostatkem přijímacího zařízení.<br />
V této souvislosti ještě poznamenejme, že rádiový příjem může být omezen nejen<br />
provozem elektrických zařízení, ale i tzv. rádiovým zastíněním, kdy je příjem omezen v<br />
důsledku překážky mezi vysílací a přijímací anténou, čímž dojde ke zhoršení odstupu mezi<br />
užitečným a rušivým signálem.<br />
6.1 Elektrostatické výboje<br />
Nebezpečí ze statické elektřiny je známé již dávno [ST 8/65]. Elektrostatické problémy se<br />
objevují takřka ve všech odvětvích. Nejvíce jsou vidět v textilním, papírenském a tiskařském<br />
průmyslu, jakož i všude tam, kde se zachází se snadno výparnými hořlavinami a jednak se<br />
snadno zápalnými jemnými prachy (uhlí, mouka, cukr). Vznik statických nábojů a případných<br />
jisker je v praxi záludný a těžko předvídatelný. Objevují se i bez zjevného tření (např. při<br />
čerpání benzínu - proto používané kanystry nemají být z plastických hmot). Novou oblastí<br />
jsou destrukční vlivy statické elektřiny na spolehlivost a parametry polovodičových<br />
součástek, ta nabývá s rozvojem mikroelektroniky stále více na významu. Hlavním<br />
problémem zde je elektrické nabíjení osob. Poznamenejme, že v elektronice se přetěžování<br />
součástek vlivem elektrostatických výbojů (a i jiných rychlých přechodných jevů) označuje<br />
jako stres. Značný vliv v této oblasti má zejména rozsáhlé (a stále rostoucí) používání nových<br />
nových druhů umělých vláken a hmot (oblečení, podlahy, dekorace, nábytek, koberce apod.),
72 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
zvláště při používání ústředního topení, které zajišťuje trvale teplý a suchý vzduch v<br />
prostorách, kde se provozují elektronická zařízení (sklady, dílny, byty apod.). Značný význam<br />
má měrný elektrický odpor jednotlivých látek - obr. 5.33. V elektronice se tato problematika<br />
označuje jako ESD (electrostatic discharge), příklady vidíme na obr. 5.34.<br />
a) Podmínky určující velikost náboje<br />
Elektrické náboje vznikají (resp. oddělují se) při některých fyzikálně chemických<br />
procesech. Zvláštní význam má případ dotyku a následujícího oddálení dvou materiálů, z<br />
nichž alespoň jeden je izolant.<br />
Velikost náboje je přímo úměrná kvalitě opracování povrchu, rychlosti oddalování a<br />
velikosti styčné plochy.<br />
Elektrické náboje vznikají dále při tření dvou látek o sebe, při dělení materiálů, drcení,<br />
mletí, rozprašování, změně skupenství, průtoku potrubím, výtokem kapalin a plynu z potrubí,<br />
při plnění a vyprazdňování nádob, pohybu obuvi po podlaze, tření šatů o tělo a o nábytek<br />
apod.<br />
Vzniklé náboje se shromažďují na předmětech, které mají vysoký odpor vůči zemi.<br />
Současně s procesem nabíjení obvykle probíhá i proces vybíjení, a to přes svodový odpor<br />
do země.<br />
Jako příklad uveďme vzrůst náboje při chůzi člověka po koberci ze syntetických materiálů,<br />
kdy napětí může dosáhnout až hodnoty 30 kV - obr. 5.35.<br />
Pohyby člověka na židli<br />
(nekovové) v oděvu ze<br />
s yntetických tkanin vyvolá<br />
vznik napětí až 10 kV, napětí<br />
řádu kV stačí vyvolat pouhé<br />
pohyby člověka takto<br />
oděného.<br />
Lidské tělo je z hlediska<br />
elektrostatistiky<br />
vodičem<br />
proto, že při napětí vyšším<br />
než 50 V dochází k<br />
elektrickému<br />
průrazu<br />
položky, takže se na<br />
celkovém odporu těla výrazně nepodílí - obr. 5.36.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 73<br />
K apacita lidského těla se obvykle pohybuje mezi 100 až 500 pF, při napětí 10 kV a<br />
kapacitě 200 pF je tedy náboj člověka roven 2 µC.<br />
Vliv vlhkosti vzduchu na rychlost vybíjení náboje lidského těla ukazuje obr. 5.35.<br />
Při dotyku nabitého lidského těla s<br />
uzemněným vodičem dojde k<br />
rázovému vybití, energie je dána<br />
známým výrazem<br />
W = 1 2<br />
2 CU<br />
(7.21)<br />
V našem případě (C = 200 pF, U =<br />
10 kV) je W = 10 mJ. Typický<br />
průběh rázového vybití lidského<br />
těla (U = 5 kV) ukazuje obr. 5.37.<br />
Z obrázku je zřejmé, že (při napětí 5 kV) se strmost náběhu vybíjeného proudu pohybuje<br />
mezi 0,5 až 50 ns a jeho špičková hodnota může být až 60 A. Špičkový výkon pak může<br />
dosáhnout i řádů jednotek až desítek kW.<br />
b) Přetěžování polovodičových součástek statickou elektřinou<br />
Pro toto přetěžování (a pro podobné přechodové děje s rychlostmi řádově us a většími) se<br />
v literatuře ujímá pojem "stres".<br />
Jde o přetěžování součástek, jehož následkem jsou mikroprůrazy funkčních oblastí<br />
aktivních prvků IO nebo odpaření tenké vrstvy Al spojující (či spoluvytvářející) funkční<br />
oblasti. Náchylnost k závadám IO se zvyšuje při jejich nedokonalé výrobní technologii<br />
(základní materiál IO je nehomogenní, okraje elektrod elementů a spojů čipu neodpovídají<br />
přesně předloze apod.).<br />
Nehomogenity mají za následek mikroprůrazy v důsledku lokálních změn gradientu<br />
intenzity elektrického pole.<br />
Nerovné okraje spojů a elektrod tranzistorů<br />
způsobí nehomogenní proudové rozložení<br />
(zesilovací činitel tranzistoru je v různých<br />
místech různý), tj. růst proudu v místě s větším<br />
zesilovacím činitelem až na hodnotu, která<br />
přetížené místo nadměrně ohřeje (až k bodu<br />
varu či k odpaření tenké Al vrstvy).<br />
Velmi rychlý průběh výboje vyžaduje<br />
uvažovat i rychlost šíření impulsu po vedení<br />
(zemnícím vodiči).<br />
Je-li např. uvažovaná doba 10 ns a rychlost<br />
šíření po vedení 20 cm/ns, pak je uzemňovací<br />
vedení délky větší než 1 m účinné jen tehdy, je-li jeho charakteristická impedance menší než<br />
cca<br />
200 Ohm.
74 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Zacházení s elektrostaticky citlivými součástkami.<br />
Moderní polovodičové součástky,<br />
zejména vyrobené technologií MOS, v diskrétní nebo integrované formě, mohou být<br />
elektrostatickým napětím při dotyku nabitého povrchu zničeny. Takové součástky<br />
označujeme jako elektrostaticky citlivé. Za napětí, ohrožující funkci součástek, považujeme ss<br />
napětí 50 V nebo střídavé napětí s vrcholovou hodnotou nad 50 V nebo efektivní hodnotu nad<br />
35 V. S elektrostaticky citlivými součástkami mají pracovat pouze oprávnění pracovníci ve<br />
vyhrazeném prostoru a v předepsaném oděvu. Vyhrazený prostor je prostor, v němž je<br />
omezen vznik elektrostatického napětí pod hodnotu napětí, ohrožujícího funkci součástek.<br />
Podrobně je otázka zacházení s elektrostaticky citlivými součástkami řešena v BS 5783 -<br />
"British Standard Code of Practice for Handling of Electrostatic Sensitive Devices" z roku<br />
1984 a v NT 8551 "Předpisy pro zacházení s elektrostaticky citlivými součástkami", platné od<br />
r. 1987, ze které budeme dále čerpat.<br />
NT 8551 určuje technické požadavky na dokumentaci a konstrukci pro vyhrazený prostor,<br />
oblečení pracovníků, dodávání, balení, skladování, zpracování, měření součástek, oživování a<br />
opravy zařízení, provoz ve vyhrazeném prostoru. Prostředky, zajišťující ochranu součástek,<br />
jsou podle ČSN 34 1382 tříděny na elektrostaticky vodivé, které nechrání před úrazem<br />
elektrickým proudem o průchozím nebo povrchovém odporu menším než 50 kW,<br />
elektrostaticky vodivé s odporem 50 kW až 1 MW, které lze užít jako součást<br />
elektrostatického svodu a antistatické s odporem 1 až 1000 MW, které se nenabíjejí, ale<br />
nemohou být součástí elektrostatického svodu. Označení součástí, zařízení a pracovišť<br />
citlivých na elektrostatický náboj udává norma NT 1051. Základní výstražný symbol podle<br />
této normy ukazuje obr. 5.38.<br />
Zacházení se součástkami a jejich skladování. Součástky mají být co nejdéle (do okamžiku<br />
montáže) ponechány v původním elektrostaticky vodivém obalu výrobce nebo dodavatele.<br />
Správný obal musí zabraňovat hromadění statické elektřiny. Může být ze speciální<br />
elektrostaticky vodivé hmoty, kovové fólie nebo se zkratovacími spojkami. Jednotlivé<br />
součástky se z balení, v němž jsou dodávány, oddělují včetně ochranného obalu, mimo<br />
vývody součástky. Citlivé součástky mají být skladovány odděleně od ostatních součástek.<br />
Nesmí se používat běžné polyetylénové sáčky (mají povrchový odpor větší než 1011 W).<br />
Oblečení pracovníků. Vrchní oděv má být z elektrostaticky vodivých nebo alespoň<br />
antistatických materiálů a nemá být vlající (raději kombinézy, než pracovní pláště).<br />
Vyhovující jsou látky bavlněné a lněné. Obuv má být elektrostaticky vodivá s průchozím<br />
odporem 5.104 až 106W. Rukavice, pokud musí být použity, mají být bavlněné.<br />
Pracoviště. Na pracovištích se používá nábytek a podlahová krytina elektrostaticky vodivé.<br />
Všechny předměty jsou vhodným způsobem připojeny do společného referenčního bodu.<br />
Doporučuje se větší vlhkost (>60%) a užití ionizátorů vzduchu. Na elektrickou instalaci jsou<br />
přísné požadavky. Podstata spočívá ve vytvoření dokonale izolačně odděleného síťového<br />
rozvodu ve vyhrazeném prostoru. Napájecí napětí je odděleno ochranným oddělovacím<br />
elektrostaticky stíněným transformátorem. Páječka nesmí být transformovaná. Musí být na<br />
malé napětí a hrot musí být přes rezistorovou sérioparalelní kombinaci 100 kW, složenou ze<br />
čtyř rezistorů, připojen izolovaným lankem ke společnému referenčnímu bodu.<br />
Pro udržení elektrostatického napětí blízkého k nule používají pracovníci elektrostaticky<br />
vodivý náramek s rezistorovou kombinací 100 kW. Připomínáme, že síťový rozvod<br />
vyhrazeného prostoru nelze improvizovat a musí být proveden přesně podle NT 8551, aby<br />
nemohlo dojít k úrazu elektrickým proudem.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 75<br />
Před vstupem do vyhrazeného prostoru se pracovník zbaví případného elektrostatického<br />
náboje vybitím rezistorovou kombinací 100 kW. Pracovníci musí mít patřičné školení.<br />
Při montáži se doporučuje rozmísťovat citlivé součástky jako poslední. Součástky se<br />
vyjímají z obalů, umístěných na elektrostaticky vodivé ploše jednotlivě, bezprostředně před<br />
montáží, uchopením za pouzdro. Holé vývody se nesmí dotknout žádného nevodivého<br />
předmětu (zvl. ne prstů rukou).<br />
Vývody součástek mají být zkratovány, a to i během montáže. Doporučuje se používat<br />
zkratovací konektory. K čištění se nesmí používat utěrky z textilu nebo plastu ani štětce.<br />
Nářadí se odkládá na elektrostaticky vodivou plochu stolu. Citlivé součástky nezkoušíme<br />
ohmmetrem.<br />
Při užití (provozu) však již musí být hotové výrobky odolné proti působení elektrostatické<br />
elektřiny, která má ke svému vzniku v současných bytových, kancelářských a laboratorních<br />
prostorách velmi vhodné podmínky. Je to dáno širokým použitím plastů, tkanin z umělých<br />
hmot, malou vlhkostí v prostorách s ústředním topením atd. Hotový výrobek musí vestavěné<br />
elektrostaticky citlivé součásti chránit vhodným zapojením, konstrukcí a zapouzdřením<br />
(krytováním) - viz později.<br />
Poznámka: Tyto zásady musíme úměrně dodržovat i v improvizovaných podmínkách, např. v<br />
amatérské praxi. Např. praktici někdy před vyjmutím součástky do sáčku dýchnou.
76 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
7 ELEKTRICKÁ KONSTRUKCE<br />
7.1 Součástky a jejich vlastnosti<br />
Při návrhu elektronických přístrojů je třeba mít podrobnou představu o vlastnostech a<br />
činnosti součástek a obvodů. Správná volba použitých součástek a dodržení aplikačních<br />
pravidel je nezbytnou podmínkou úspěšné <strong>konstrukce</strong>.<br />
Pro volbu typů součástek je mnoho hledisek. Je požadovaná funkce, cena, dostupnost,<br />
parametry, rozměry, atd. Podrobné údaje o jednotlivých součástkách poskytují příslušné<br />
konstrukční katalogy výrobců. Ovšem obecné základní vlastnosti jednotlivých skupin prvků<br />
je třeba znát (pamatovat si) a využívat je.<br />
Vlastnosti součástek je třeba znát i při opravách přístrojů nebo jejich úpravách či<br />
modernizaci. Je zapotřebí rozumět funkci obvodu, vědět, proč je použita ta či ona součást a<br />
jak ovlivňují její vlastnosti celkovou funkci obvodu.<br />
Velký pokrok se v posledních letech dosahuje nejen u aktivních součástek, ale i u<br />
součástek pasivních, kde vývoj je zaměřen na zmenšení rozměrů při zlepšení užitných<br />
vlastností, delší životnost, přizpůsobení montážní technice, která rovněž prodělává vývoj<br />
(nástup povrchové pájivé montáže), a dosažení nízké ceny.<br />
Podrobné informace o součástkách nalezneme v katalozích výrobců. Celkový přehled lze<br />
získat v práci [21] a některé další informace v [22] až [282].
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 77<br />
7.2 Konstrukce signálových spojů<br />
Při realizaci zařízení musíme velkou pozornost věnovat konstrukci spojů mezi součástkami a<br />
vzájemné poloze součástek. Vlivů, které mohou ovlivnit nebo dokonce ohrozit elektrickou<br />
funkci přístroje či zařízení je celá řada, avšak nejčastější příčinou jsou nežádoucí vazby mezi<br />
jednotlivými stupni a funkčními celky.<br />
Ke správnému pochopení zásad elektrické <strong>konstrukce</strong> je třeba si především uvědomit<br />
rozdíly v účincích mezi stejnosměrným signálem, signálem<br />
síťového kmitočtu a vysokofrekvenčním signálem. V<br />
zařízeních, která pracují se stejnosměrnými signály, příliš<br />
nezáleží na tom, jak jsou součástky a vodiče vůči sobě<br />
vzájemně uspořádány a jednotlivé prvky lze téměř<br />
libovolně sestavovat do různých bloků podle potřeby a dbát<br />
na úhlednost zapojení. Naproti tomu u zařízení pracujících<br />
se signály o vyšších kmitočtech je základní podmínkou<br />
nutnost dosáhnout při daném kmitočtu, daných rozměrech a<br />
dané součástky základně co nejmenšího vzájemného<br />
působení mezi jednotlivými částmi zařízení.<br />
Vzájemné ovlivňování se může nežádoucím způsobem<br />
projevit v kterékoli části zařízení, kde se pracuje se<br />
zesílením signálu. Může se uplatnit ve vysokofrekvenčních,<br />
mezifrekvenčních či nízkofrekvenčních obvodech a může<br />
působit i přes několik stupňů zařízení, pokud pracují na<br />
stejném kmitočtu a nejsou od sebe dostatečně vzdáleny<br />
nebo stíněny. Specifickým způsobem se projevuje<br />
vzájemné ovlivňování v číslicových obvodech. Při<br />
konstrukci je potom třeba dodržet řadu opatření, která se týkají způsobu provedení spojů mezi<br />
jednotlivými obvody, způsobu umístění těchto obvodů v systému, vlastností napájecích zdrojů<br />
systému, jeho zemnění, stínění, popř. dalších podrobností konstrukčního uspořádání systému.<br />
Nutný rozsah takových opatření není jednoznačný, ale záleží velmi na druhu systému. Obecně<br />
lze říci, že roste se zvyšováním pracovního kmitočtu.<br />
7.2.1 Konstrukce spojů<br />
V zařízení je možno rozlišit obvykle dvě soustavy spojů (vodičů). Je to soustava<br />
napájecího rozvodu a soustava signálových spojů (nazývaná také soustavou funkčních spojů).<br />
Na obě soustavy jsou kladeny rozdílné požadavky. Soustavy napájecího rozvodu si<br />
povšimneme později. Nyní probereme některé vlastnosti signálových spojů, způsoby jejich<br />
realizace a související doporučení pro realizaci.<br />
V praxi se používá pro rozvod signálu řada způsobů:<br />
a) Jednodrátové vodiče. Používají se běžné druhy měděných spojovacích drátů nebo lanek o<br />
průměru asi 0,3 až 0,5 mm v obvyklé izolaci (měkčený PVC, silikon, teflon aj.).<br />
Někdy se užívají i vodiče holé (tj. bez izolace), obvykle pocínované, nebo s pájitelnou<br />
smaltovou izolací. Jednoduchý vodič může být i stíněný (viz později).<br />
Jednodrátový vodič má z hlediska vztahu k zemnící rovině 3 varianty: volný vodič<br />
(nedefinovaně vzdálený od zemnící roviny), vodič v blízkosti zemnící roviny a vodič v<br />
páskové vedení (nebo můžeme přímo říci páskové vedení).
78 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
b) Dvojlinka, trojlinka a plochý kabel (který nahrazuje klasické svazky jednodrátových<br />
vodičů).<br />
c) Kroucený dvojitý vodič (kroucený pár, kroucená dvojlinka). Je realizován pomocí dvou<br />
zkroucených jednodrátových vodičů. Obvykle jedno otočení proběhne v délce 1 až 2 cm.<br />
Jinak je třeba zkroucený vodič řešit podle požadavku na charakteristickou impedanci, neboť<br />
pro vf signály se zkroucený vodič chová jako vedení. Užívá se v telefonních kabelech i v<br />
digitální technice. Pro svoji odolnost proti rušení (viz později) je v mnoha<br />
případech dobrou<br />
(a levnější) náhradou koaxiálních kabelů.V literatuře je označován názvem twisted pair,<br />
zkráceně twist. Na větší vzdálenosti se užívá ve stíněném provedení.<br />
d) Koaxiální kabel. Nejčastěji se používá miniaturní (tenký) koaxiální kabel s polyetylenovým<br />
nebo teflonovým dielektrikem. Koaxiální kabel je z řady příčin nejlepším druhem vodiče pro<br />
delší spoje. Pro značnou cenu a problémy s připojováním (nelze použít techniku ovíjených<br />
spojů) se však používá jen tam, kde je to nezbytně nutné a nelze jej nahradit zkrouceným<br />
dvojitým vodičem. Je třeba rozlišovat mezi koaxiálním kabelem a stíněným vodičem (viz.<br />
obr. 6.5). Stíněný vodič nemá definován vztah mezi vnitřním vodičem a stíněním. Stínění<br />
bývá často násuvné (je vytvořeno na izolační bužírce, někdy i samonosné), nemá vnější<br />
izolaci.<br />
e) Plošné spoje. Klasické je použití neohebných plošných spojů (desek). Ohebné plošné spoje<br />
(film wire) se používají v řadě aplikací namísto plochých vodičů a nahrazují i klasické plošné<br />
spoje pro montáž součástek (většinou při nedostatku místa - letectví, kosmický výzkum,<br />
fotoaparáty).<br />
f) Optické spoje, což je speciální problematika.<br />
Při volbě použitých signálových spojů vycházíme z následujících hledisek:<br />
1. Signálové (elektrické) parametry: charakteristická impedance, útlum signálu a interakce s<br />
okolím (rušení a přeslechy).<br />
2. Konstrukční složitost a cena.<br />
Z hlediska buzení a příjmu se v praxi užívají dva systémy spojů: nesymetrické (nevyvážené,<br />
jeden vodič je uzemněn) a symetrické (vyvážené, rozdílové). Volíme je především z hlediska<br />
odolnosti proti rušení.<br />
Materiál pro vlastní vodiče je výhradně elektrolytická měď, povrchově často upravená<br />
pocí nováním. Smyslem povrchového pokrytí je lepší technologická zpracovatelnost. Pro<br />
vedení nepohyblivá (nenamáhaná na ohyb a krut) se používá vodič v průřezu homogenní<br />
(plný), nejčas těji kruhového profilu. Ploché tvary mají své zdůvodnění v parametrech<br />
elektrických i mechanických. Pro ohebné kabely je třeba použít (zpravidla kroucené) lanko z<br />
řady tenkých vodičů (tzv. licna).
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 79
80 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Materiál izolantu zahrnuje širokou škálu zejména<br />
plastů, které se liší vlastnostmi elektrickými (svod,<br />
dielektrická konstanta, elektrická pevnost),<br />
mechanickými (pevnost, ohebnost), odolností proti<br />
ohřevu (při pájení) a taky cenou.<br />
Signálové spoje uvažujeme v rámci jedné desky<br />
plošných spojů, mezi deskami (kabeláž) a spoje v<br />
částech bez plošných spojů.<br />
Při šíření elektrických signálů (elektromagnetické<br />
vlny) po metalických spojích dochází obecně ke třem nežádoucím jevům.<br />
1. K útlumu signálu (část jeho energie se mění v teplo nebo jinou formu energie, které není<br />
přiřazena informace),<br />
2. K disperzi (dílčí harmonické vlny se šíří různou rychlostí, což vede k deformaci signálu,<br />
změně jeho časového a prostorového rozložení,<br />
3. K rozptylu energie signálu do okolního prostoru.<br />
Poslední jev znamená kromě poklesu intenzity signálu i nárust rušení. U optických spojů jsou<br />
významné jen první dva jevy.<br />
U signálových spojů požadujeme, aby se signál šířil po předepsaných trajektoriích (směrové<br />
vedení) a aby jeho vedení v prostoru bylo možno technologicky jednoduchými prostředky<br />
zaručit. Ideálně by měla být intenzita signálu různá od nuly (u digitálních obvodů dokonce<br />
rovná jen dohodnutým úrovním pro 0 a 1) jen v místech na spojové cestě, v ostatních místech<br />
prostoru nulová. Spojová cesta (spoj) je charakterizována odlišnými látkovými parametry<br />
prostředí (vodivost, index lomu, permitivita aj.)<br />
Směrové vedení elektromagnetických vln v prostoru lze zajistit tím, že se vlna šíří v prostoru<br />
mezi dvěma vodiči s nulovým odporem (bezeztrátové vedení). Relativně dobrého vedení<br />
signálu v prostoru lze dosáhnout koaxiálním uspořádáním spoje. Za určitých podmínek se<br />
tomuto uspořádání blíží 2 zkroucené vodiče - twist.<br />
V integrovaných<br />
obvodech a deskách PS nelze jednoduše koaxiální provedení ani zkroucenou<br />
dvojlinku použít; snadno se ale realizuje páskový nebo válcový vodič nad zemí nebo mezi
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 81<br />
ekvipotenciálními rovinami. U těchto uspořádání není ovšem intenzita signálu v okolí spojové<br />
cesty nulová, takže montážní hustota je v důsledku rušení omezena. Další nepříznivý faktor u<br />
všech spojů (vedení) jsou odrazy, k nimž dochází vlivem nedokonalého přizpůsobení (např.<br />
digitální obvody jsou nelineární, proto přizpůsobení obecně není možné). Odrazy zvyšují<br />
úroveň rušení.<br />
Při konstrukci zařízení s integrovanými obvody má konstruktér elektrické části velmi<br />
usnadněnou práci tím, že přebírá hotovou a velmi výkonnou stavebnici logických členů.<br />
Problémy se však objeví na jiném místě: jaké zvolit provedení spojů, aby bylo využito<br />
vlastností logických členů z hlediska jejich vysoké rychlosti a nedošlo k znehodnocení jejich<br />
vlastností vlivem přeslechů, odrazů a vnitřního rušení na velkém množství dlouhých spojů.<br />
7.2.2 Klasifikace spojů v digitálních systémech<br />
Požadavky na spoje vyplývají z vlastností číslicových signálů. Horní mezní kmitočet ve<br />
spektru impulsových signálů s dobou hran tr je běžně určován jako:<br />
fmax = 0,35/tr<br />
Tento vztah je odvozen z integračního článku RC, kde 2pfmax = 1/RC, tr = 2,2RC. Spoj<br />
musí přenášet ideálně, tj. s nulovým útlumem a fázovým posuvem úměrným kmitočtu,<br />
všechny kmitočty až do fmax, aby nedošlo ke zkreslení tvaru impulsu. Pokud je délka vlny l<br />
min odpovídající kmitočtu fmax alespoň 100-krát větší než fyzikální délka přenosové cesty h,<br />
stačí spoj realizovat jednodrátovým vodičem vedeným vzduchem, který nemá definovanou<br />
vzdálenost od zemnícího vodiče a tudíž nemá definovanou impedanci (případ soustředěných<br />
parametrů). Jelikož lmin = v/fmax, kde v je rychlost šíření signálu (v £ 0,3 m/ns), je kritická<br />
doba náběhu<br />
0,35 35<br />
t r<br />
= = . hmax<br />
= 116. hmax<br />
[ns, m] (6.1)<br />
f 0,3<br />
max<br />
Tato závislost je znázorněna na obr. 6.9 v logaritmických souřadnicích. U obvodů TTL je<br />
tr = 10 ns, takže propojování "vzduchem" vyhoví dle (6.1) do délek několika cm (funkční<br />
vzorky malých celků z několika IO). Nad přímkou v obr. 6.9 jsou problémy se spoji<br />
minimální, vyhovuje konvenční propojování bez definované impedance.
82 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Používají se běžné druhy měděných spojovacích drátů o průměru d = 0,4 až 0,5 mm. Pod<br />
přímkou se dostáváme do oblasti rozložených parametrů, kde je nutné použít spojů s<br />
definovanou impedancí - vedení. Vedení nezkresluje příliš tvar impulsů, pouze je zpožďuje.<br />
Současně se přiblížením signálového a zemního vodiče k sobě do malé definované<br />
vzdálenosti zmenší plocha smyčky tvořené těmito vodiči, takže se i výrazně zmenší přeslechy<br />
z podobných sousedních smyček. Kdyby se v oblasti pod plnou přímkou na obr. 6.9.<br />
nepoužilo propojení pomocí vedení, chovaly by se běžné spoje zcela nevyhovujícím<br />
způsobem - zkreslení impulsů by bylo nepřípustně velké.<br />
Při analýze vlivu spojů na celkovou činnost zařízení je důležité trvání hran přenášených<br />
impulsů v relaci k celkovému zpoždění vedení T. Je-li T kratší než délka hrany tr, zaniknou<br />
odražené vlny již v době této hrany. V tomto případě stačí vedení popsat soustředěnou<br />
kapacitou C = T/Zo (když RG > Zo , RZ > Zo ) nebo indukčností L =Zo.T (když RG < Zo ,<br />
RZ < Zo ), anebo jejich kombinací, kde RG a RZ jsou odpory zdroje signálu a zátěže na<br />
vedení a Zo je charakteristická impedance vedení. Taková vedení nazýváme krátkými. Ve<br />
většině případů je není nutno zakončovat. Obvykle se mezní délka krátkého vedení hmax bere<br />
tak, aby doba šíření tam a zpět byla právě rovna délce hrany,<br />
tr = 2 t hmax (6.2)<br />
kde t je zpoždění na jednotku délky. Přímka (6.2) rozděluje oblast krátkých a dlouhých<br />
vedení; na obr. 6.9 je vynesena čárkovaně pro t = 5 ns/m, což je typické zpoždění většiny<br />
vedení. Pro obvody TTL je tr = 10 ns, takže hmax = 1,0 m, zatímco u obvodů ECL bude<br />
hmax = 0, 1 m.<br />
7.2.3 Vedení<br />
Signálové spoje (vodiče) je třeba v<br />
mnoha případech (jsou-li elektricky<br />
"dlouhé") posuzovat jako vedení. Z<br />
hlediska analýzy i syntézy lze použít<br />
poznatky známé z vysokofrekvenční<br />
techniky, tedy z techniky analogových<br />
obvodů. V technice digitálních obvodů<br />
však řada aspektů nabývá většího,<br />
někdy naopak zanedbatelného významu.<br />
Vedením nazýváme soustavu dvou<br />
(nebo více) vodičů, jejíž jeden rozměr<br />
(délka) je podstatně větší než ostatní<br />
rozměry. Vlastnosti vedení závisejí na<br />
jeho tvaru a geometrických rozměrech i<br />
na vlastnostech prostředí (dielektrika),<br />
obklopujícího vodiče, především na<br />
jeho permitivitě e=eoer a permeabilitě<br />
m=momr, kde<br />
F/m<br />
10 −9<br />
ε =<br />
36. π<br />
−7<br />
µ<br />
0<br />
= 4π<br />
. 10<br />
H/m<br />
jsou permitivita a permeabilita vakua, er mr jsou relativní parametry prostředí.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 83<br />
Vedení představuje systém s rozloženými parametry; indukčnost, kapacita, odpor a svodová<br />
vodivost jsou rozloženy spojitě podél vedení, udáváme proto jejich hodnoty na jednotku délky<br />
(L, C, R, G).<br />
Vedení se popisuje buď těmito prvky náhradního schématu R, L, C a G (obr.6.10), jež<br />
označuje jako primární veličiny, nebo charakteristickou impedancí Zo a mírou přenosu gama<br />
(zvaná též konstanta šíření).<br />
Reálné složce míry přenosu říkáme měrný vlnový útlum nebo též konstanta útlumu (dB/km),<br />
imaginární složka se nazývá měrný fázový posuv nebo též fázová konstanta (rad/km). Tyto<br />
veličiny se nazývají sekundární a jsou uvedenými vztahy vázány na veličiny primární.<br />
Vedení dělíme na elektricky krátké, dlouhé a nekonečně dlouhé také podle útlumu (obr. 6.11).<br />
Z hlediska aplikací (vedení zajišťuje přenos signálu mezi vysílačem a přijímačem, které jsou<br />
umístěny na jeho koncích), tj. z hlediska kvality přenosu signálu, definujeme tzv. signálové<br />
parametry vedení (odvislé od elektrických parametrů): zkreslení, zeslabení a zpoždění signálu<br />
podél vedení a interakce okolí (rušení). Zkreslení signálu způsobuje deformaci časového<br />
průběhu signálu (měřeno porovnáním výstupu a vstupu). Je zapříčiněno jednak odrazy signálu<br />
na nepřizpůsobených koncích, eventuálně nehomogenitách samotného vedení (energie signálu<br />
se v místě nepřizpůsobení nepředá, ale odrazí), jednak vlivem ztrát (energie signálu je<br />
převedena na teplo, zejména v odporu vedení). Ztráty ve vedení v prvé řadě způsobují<br />
frekvenční omezení signálu - mezní přenášený kmitočet je určován délkou vedení. Vliv<br />
odrazů na zkreslení signálu je odvislý od vzájemného poměru celkového zpoždění na vedení a<br />
charakteru samotného odrazu. Kvalitativní odlišení dvou mezních případů je nejlépe patrné<br />
při nespojitém charakteru budicího signálu. V jednom krajním případě nelze na výstupu<br />
nespojitosti prakticky pozorovat (jako by vedení frekvenčně omezovalo; i zde je mezní<br />
frekvence odvislá od délky vedení), v opačném případě jsou na výstupu patrné dílčí skokové<br />
změny až do ustálení. Po zkreslení signálu je třeba uvažovat vedení s rozloženými parametry,<br />
odrazy se zpravidla vyšetřují na bezdrátovém vedení. Tato analýza však nemá smysl tehdy, jeli<br />
délka náběžné i sestupné hrany reálného sigálu delší než doba každého z výše uvedených<br />
přechodných dějů.<br />
Zpoždění signálu podél vedení je dáno konečnou rychlostí šíření elektromagnetického<br />
signálu (interval mezi vysláním a přijetím jmenovité hodnoty). Pro vodič i zemnicí rovinu<br />
umístěné ve vakuu (vodič od zemnicí roviny "dostatečně" vzdálen) je rychlost šíření největší<br />
(odpovídá rychlosti šíření světla c). Reálné prostředí má permeabilitu µ = µr.µ o a permitivu<br />
1<br />
ε = εr.εo, ε<br />
0<br />
µ<br />
0<br />
= a εr.µ r>1. Zde je rychlost šíření menší. Celkové zpoždění signálu od<br />
c
84 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
vysílače k přijímači, umístěných na opačných koncích vodiče, je pak určené nejen celkovou<br />
délkou vodiče, ale také charakterem zkreslení (např. počtem odrazů potřebných k dosažení<br />
jmenovité úrovně). Pro určení zpoždění signálu je opět třeba uvažovat vedení s rozloženými<br />
parametry.<br />
Rušení signálu je superpozice rušivých složek cizím elektromagnetickým polem (tj. buzeným<br />
od jiného zdroje než je připojen na sledované vedení). U "dosti krátkého" vedení lze pro<br />
usnadnění výpočtu uvažovat soustředěné parametry vedení i parazitních vazeb.<br />
Zeslabení signálu (útlum) je zmenšení úrovně nebo logického zdvihu signálu. U dlouhých<br />
vedení se předpokládá, že signál vysoké i nízké úrovně na přijímací straně může být mimo<br />
"běžné" toleranční pásmo. Zeslabení signálu a zkreslení vlivem ztrát spolu úzce souvisí.<br />
Vyšetřuje se na velmi dlouhém vedení s rozloženými parametry.<br />
Elektrické parametry vedení jsou určovány na jednotku délky - odpovídá to jednak jejich<br />
spojitému rozložení podél vedení, jednak lze snadno určovat charakteristické zpoždění t (jako<br />
zpoždění signálu vztažené na délkovou jednotku). Parametry homogenního bezdrátového<br />
vedení jsou jednoznačně určeny geometrickým uspořádáním a dále relativní permitivitou µr a<br />
permeabilitou µr prostředí, ve kterém se vodič nachází. Při uvažování ztrát je podstatný<br />
měrný odpor vodiče r, svod dielektrika je zpravidla zanedbatelný. Pro drtivou většinu aplikací<br />
je také mr = 1.<br />
Zanedbáme-li ohmické parametry homogenního vedení R a G, což je oprávněno zejména u<br />
krátkých vedení, dostáváme bezeztrátové vedení, charakterizované parametry L, C a<br />
popřípadě též charakteristickým odporem Z o<br />
= L / C a zpožděním na jednotku délky t,<br />
které jak dále uvidíme je = LC. Dá se ukázat, že u vedení s homogenním dielektrikem<br />
jsou kapacita a indukčnost vedení reciprokými funkcemi geometrických rozměrů průřezu<br />
vedení. Je-li indukčnost L = m.F(x,y), kde F je bezrozměrná funkce geometrických rozměrů,<br />
pak kapacita je C = e/F(x,y), takže jejich součin LC a tedy i zpoždění<br />
ε<br />
rµ<br />
r<br />
τ = LC = εµ = ε<br />
oµ<br />
o<br />
⋅ ε<br />
rµ<br />
r<br />
= = 3, 3 ε<br />
rµ<br />
r<br />
[ns/m] (6.3)<br />
c<br />
je na rozměrech (na geometrickém uspořádání) nezávislé a je určen pouze vlastnostmi<br />
dielektrika kde c =1/ <br />
o o<br />
310 8 m/s je rychlost šíření elektromagnetických vln ve vakuu.<br />
Vlivem rozložených kapacitních zátěží s celkovou hodnotou Cext se měrné zpoždění zvětší na<br />
hodnotu t'<br />
( C + C / h) = τ 1+<br />
C h ⋅C<br />
τ ′ = L<br />
/<br />
Charakteristický odpor Zo je<br />
kde<br />
Z<br />
ext<br />
0<br />
0 r<br />
r<br />
r<br />
0<br />
= . F = . . F = η0<br />
. F = 377. . F(<br />
x,<br />
y)<br />
C ε<br />
0<br />
ε<br />
0<br />
ε<br />
r<br />
ε<br />
r<br />
ε<br />
r<br />
ext<br />
L µ µ µ µ<br />
µ<br />
= (6.4)<br />
µ<br />
0<br />
η<br />
0<br />
= = 377Ω<br />
je vlnová impedance vakua. Pro většinu dielektrik je r<br />
=1.<br />
ε<br />
0<br />
Parametry obvykle používaných vedení jsou uvedeny na obr. 6.12.<br />
Měrné zpoždění lze ve všech uvedených případech počítat jako =3,3 ef<br />
ns/m, jelikož<br />
mr = 1. V praxi bývá eef = 5 až 8. Pouze v případě 1, 6 a 7 (na obr. 6.12) je dielektrikum<br />
homogenní, v ostatních případech nehomogenní. Používáme proto efektivní relativní<br />
permitivity eef.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 85<br />
Vodič ve větší vzdálenosti od země reprezentuje vedení o velké charakteristické<br />
impedanci, které je velmi citlivé na přeslechy (velká plocha smyčky). Vodič by měl být blízko<br />
země, aby Zo bylo malé. Typické vedení typu drát ve vzduchu nad zemí s Zo = 100 W, H/d<br />
@1,3 má L = 3,6 nH/cm a C = 0,3 až 0,4 pF/cm. Kapacita je malá ve srovnání s kapacitou<br />
zátěží<br />
(8-10 pF na vstup hradla). Proto se uplatňuje hlavně indukčnost spojů.<br />
Hlavním konstrukčním prvkem pro realizaci funkčních spojů a umístění IO jsou laminátové<br />
desky. Nevýhodou běžně používaných dvoustranně plátovaných desek je nedefinovaná<br />
vzdálenost od zemnícího vodiče; spoje jsou totiž umisťovány na obou stranách desky a chybí<br />
souvislá zemní rovina. Při délce spojů v rámci desky o rozměrech 100 x 200 mm (kdy
86 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
nejdelší spoj bude vždy kratší než 300 mm) a standardní řadě obvodů TTL lze toto propojení<br />
ještě připustit. U rychlejší řady S-TTL však spoje již vyžadují homogenní mikropáskové<br />
vedení realizované s pomocí dalších vnitřních, pokud možno souvislých, kovových vrstev.<br />
Signální vodič pak tvoří se souvislými rovinami buď nesymetrické nebo symetrické vedení.<br />
Nejuniverzálnější druh vedení používaný pro delší spoje je kroucená dvojlinka, twist. S<br />
běžnými izolovanými vodiči lze získat impedanci Zo kolem 100 W, s tenkou izolací až 50 W.<br />
Tolerance Zo ve svazcích bývá kolem 8%. Kroucená dvojlinka je málo citlivá na přeslechy,<br />
jejich kompenzace je tím lepší, čím lépe se kroucené dráty vzájemně dotýkají. Počet zkrutů na<br />
jednotku délky nemá při dotyku výrazný vliv na charakteristickou impedanci (Zo = 70 - 120)<br />
W, ovlivňuje hlavně měrné zpoždění. Poněkud větší útlum kroucené dvojlinky proti<br />
koaxiálnímu kabelu nevadí při délkách použití do několika metrů. Doba šíření je v rozmezí 4<br />
až 5,25 ns/m ± 5%. Dobře se kroucená dvojlinka hodí pro ovíjené spoje.<br />
U většího počtu paralelních spojů je nutno dbát na dovolené meze přeslechů. Není např.<br />
možné spojovat kroucené dvojlinky v těsné svazky, neboť pak míra přeslechů překročí<br />
přípustné hodnoty.<br />
Používají se proto ploché ohebné kabely, které jsou mechanicky úhlednější a levnější na<br />
instalaci. Tyto kabely se vyrábějí buď s kruhovými nebo plochými vodiči. Dielektrikum bývá<br />
různé, od PVC až po telefon. Charakteristická impedance ná užší tolerance než u kroucených<br />
dvojlinek. Dá se použít řada různých konfigurací (obr. 6.13). V nejjednodušší verzi sdílí<br />
sousední signálové vodiče zemní vodič. Přeslechy lze dále snížit použitím oddělených<br />
zemních vodičů nebo ještě dále přidáním zemních vodičů nebo zvětšením rozestupů mezi<br />
trojlinkami.<br />
U sdílených zemních<br />
vodičů je úroveň přeslechů<br />
až pouhých 1,5%, se<br />
dvěma zemními vodiči<br />
mezi signálovými vodiči i<br />
méně než 1%.<br />
Ploché kabely s vodiči<br />
o kruhovém průřezu mají<br />
rozsah charakteristických<br />
impedancí od 50 do 200 W<br />
, s plochými vodiči nebývá<br />
však Zo menší než 90 W.<br />
Výhodou plochých vodičů<br />
je lepší chlazení, které<br />
dovoluje pro daný proud<br />
použít 2-3 krát menší rozměr než u kruhového průřezu. Také u kmitočtů nad 1 GHz je plochý<br />
vodič výhodnější, má při stejném průřezu asi 2 krát větší povrch než vodič kruhového<br />
průřezu. Vyskytují se také ploché kabely vytvořené z řady kroucených dvojlinek<br />
(zalisovaných např. do polyethylenového pásu nebo příčně protkaných jako textilní stužka).<br />
Rozteč vodičů v plochých kabelech bývá přizpůsobena konektorům, nejčastěji bývá 1,25 mm<br />
(1,27 mm vychází-li se z palcové míry).<br />
Nejlepší z hlediska přeslechů, ale také nejdražší vedení pro delší spoje je koaxiální kabel.<br />
Používá se miniaturní koaxiální kabel o celkovém průměru 3 až 3,5 mm s polyethylenovým<br />
nebo<br />
teflonovým dielektrikem. Koaxiální kabely lze spojovat v těsné svazky. Útlum je menší<br />
než u ostatních druhů vedení. Doba šíření je asi 4 - 4,5 ns/m. Charakteristická impedance<br />
bývá opět v rozmezí 50 až 200 W.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 87<br />
Poslední poznámka se bude týkat provedení rozvodu řídicích a synchronizačních signálů v<br />
číslicových zařízeních, kdy je na jeden zdroj (vysílač) napojen větší počet přijímačů. Vlastní<br />
spoj je realizován jako ostatní funkční spoje nejlépe mikropáskovým vedením. Zátěže jsou<br />
umístěny buď podél vedení nebo vějířově (obr. 6.14). Nemají-li u rozvodu s odbočkami<br />
vznikat značné odrazy, musí být impedance zátěže mnohem větší než charakteristická<br />
impedance vedení. Postupné odrazy podél vedení v místech připojení jednotlivých zátěží a<br />
tvar signálu na těchto zátěžích je úloha řešitelná pouze na číslicovém počítači. Nejhorší<br />
poměry jsou v místě první zátěže od zdroje, neboť na ní se uplatní všechny odrazy a časový<br />
rozptyl odrazů bude největší.<br />
Vějířový rozvod je vhodné použít tam, kde přijímače mají nízkou vstupní impedanci a na<br />
rozvodu s odbočkami by vznikaly příliš velké odrazy. K přijímačům je ev. možné připojit<br />
přizpůsobovací odpor optimální velikosti, zatímco odpor zdroje by měl být Rg = Zo/n.<br />
Jsou-li spoje krátké nebo dlouhé je důležité především v impulsních a digitálních<br />
obvodech. U krátkého spoje odražený signál zanikne ještě v době trvání hrany budicího<br />
signálu. Termín "krátký vodič" je vázán na vzájemný poměr jeho délky a doby náběhu signálu<br />
tr. "Délka l v palcích nesmí přesáhnout dobu náběhu tr měřenou v ns. Pro obvody typu TTL<br />
(tr = 20 ns) je většina vodičů na desce krátkých (1 < 50 cm). Pro rychlejší obvody (STTL,<br />
ECL) je však třeba uvažovat kritickou délku 10 cm. Všechny vodiče, které nejsou krátké, je<br />
třeba ošetřit z hlediska odrazů a přeslechů.<br />
7.3 Rozvod napájení<br />
Jak již bylo uvedeno, spoje v elektronických přístrojích jsou dvojího druhu. Po signálových<br />
spojích se předává informace, zatímco napájecí vodiče přivádějí k prvkům energii ze zdrojů<br />
konstantních napětí. V případě zdroje jednoho napětí se<br />
napájení přivádí k prvkům pomocí přímého a zpětného vodiče;<br />
je-li se obvykle skládá ze dvou částí. Jednou<br />
napájecích napětí několik, spojují se zpětné vodiče do<br />
jednoho společného zemního vodiče (s určitými riziky - viz<br />
později).<br />
Napájecí rozvod<br />
částí je vedení napájecího napětí od zdroje k jednotlivým dílům<br />
systému nebo k jednotlivým montážním deskám. Přechod k<br />
těmto částem se obvykle děje pomocí vhodných konektorů,<br />
kte ré musí mít zanedbatelný přechodový odpor a musí být<br />
dimenzovaný<br />
tak, aby byly schopny přenést značné proudy (někdy se kontakty konektorů<br />
spojují paralelně). Druhou částí je pak vedení napájecího napětí k jednotlivým obvodům.
88 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Napájecí rozvod má mít obecně co možná malou impedanci; zejména zemní vodič.<br />
Impedance vedení má především odporovou a induktivní složku. Z pohledu minimální<br />
impedance jsou optimální rozvodové pásnice obdélníkového profilu (obr. 6.15), které jsou<br />
typické pro rozvod v rámu. Pásový rozvod má příznivé vlastnosti nejen proto, že samotný<br />
profil zajišťuje minimalizací indukčnosti (osamoceného) vodiče, ale umožňuje také snadnou<br />
montáž dvojice vedení, což k minimalizaci indukčnosti napájecí smyčky rozvodu jen přispívá.<br />
Poznámka: Pro lepší představu, proč obdélníkový profil má menší hodnotu vlastní<br />
indukčnosti než stejný průřez kruhového tvaru je postačující zakreslit siločáry magnetického<br />
pole<br />
několika<br />
rovnoběžných vodičů<br />
protékaných stejnými<br />
proudy:<br />
Siločáry mezi vodiči<br />
se vzájemně ruší.<br />
Pro homogení montáž<br />
se dvojice pásnic izoluje<br />
pouze tenkou izolační<br />
vrstvou, tzv. páskové<br />
vedení. Páskové vedení<br />
má velmi malou<br />
charakteristickou<br />
impedanci Zo a je tedy<br />
pro rozvod napájecích<br />
napětí nanejvýš vhodné.<br />
Nedodrží-li se malá<br />
impedance napájecích<br />
vodičů může být<br />
ohrožena správná funkce<br />
digitálních<br />
i<br />
analogových obvodů. Na<br />
ohmickém odporu<br />
rozvodu vzniká ss<br />
úbytek napětí, který<br />
snižuje napájecí napětí digitálních obvodů vzdálenějších od zdroje; úbytek na zemním vodiči<br />
navíc snižuje odolnost proti rušení v úrovni L. U analogových obvodů vede nenulový odpor<br />
napájecích vodičů ke vzniku parazitních vazeb (viz. kap.6.4).<br />
Kromě těchto statických rušivých napětí vznikají provozem digitálních obvodů v<br />
napájecím rozvodu dynamické (impulsní) poruchy vlivem špiček v odběru proudu. Rozvod<br />
napájecího napětí musí mít proto i malou impedanci pro vf signály. Jde hlavně o indukčnost<br />
přívodů. Indukčnost napájecí soustavy je dána výhradně geometrickou konfigurací<br />
jednotlivých částí. Proto se snažíme, aby napájecí a zemní vodič vedly blízko sebe, aby<br />
plocha smyček napájecích obvodů a tím jejich indukčnost byla malá. Smyčky se pak ještě<br />
zmenšují zapojením kondenzátorů, které působí na vysokých kmitočtech jako zkrat a tím<br />
zmenšují velikost smyček. Pro tento účel je třeba vybrat kondenzátor s malou seriovou<br />
indukčností a odporem na vysokých kmitočtech. Z tohoto důvodu se užívají tantalové<br />
elektrolytické kondenzátory nebo se běžné elektrolytické kondenzátory přemosťují<br />
keramickými kondenzátory o velikosti desítek nF. Napájecí a zemní vodič vedené blízko sebe
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 89<br />
lze pak chápat rovněž jako vedení s určitou rozložnou indukčností a kapacitou (včetně<br />
zmíněných blokovacích kondenzátorů).<br />
V první části rozvodu požadavek malé impedance realizujeme kromě již uvedených pásnic<br />
použitím dostatečně tlustých měděných vodičů (viz obr. 6.16a), v některých případech pásem<br />
oboustraně plátovaného plošného spoje (obr. 6.16b - je to varianta pásnicového rozvodu),<br />
šířky cca 10 mm. Při konstrukci složitých digitálních zařízení s velkou hustotou součástek<br />
vzrůstají nároky především na kvalitní rozvod zemních vodičů. Je to dáno tím, že rušivé<br />
napětí na zemním rozvodu může snadno dosáhnout rozhodovací úrovně klopených obvodů a<br />
změnit jejich stav. Proto je někdy u těchto zařízení zemní vodič tvořen tzv. potenciálovou<br />
mříží (obr. 6.16c).<br />
Ve druhé části napájecího rozvodu na deskách plošných spojů se musíme zabývat<br />
dynamickým rušením vlivem indukčnosti napájecích vodičů a rychlých změn v odebíraném<br />
proudu. Záporné napěťové špičky na sběrnici +UCC jsou při tom méně nebezpečné než<br />
kladné napěťové špičky na zemním vodiči, které mohou snadno překročit hodnotu prahového<br />
napětí (1,35 V). Jde o proudové špičky při nabíjení parazitních kapacitorů z napětí logické<br />
"O" na "l", změny v odběru při změně stavu (ICC(0) ¹ ICC(1)), proudové špičky při průchodu<br />
vstupního napětí rozhodovací úrovní (1,35V) a konečně i přechodné proudy do vedení. Nemáli<br />
následkem takto vzniklých proudových špiček dojít k rušivým úbytkům napětí na napájecím<br />
rozvodu, je třeba v maximální blízkosti integrovaných obvodů připojit kondenzátory, které<br />
potřebný proud po jeho krátkou dobu trvání zajistí. Jsou to vlastně individuální zdroje<br />
napájecího napětí pro jednotlivé IO nebo malé skupinky IO. Uvažujeme-li např. proudovou<br />
špičku DICC = 50 mA po dobu Dt = 20 ns a připustíme-li rušivé napětí DUCC = 0,1 V,<br />
vychází hodnota kapacity 10 nF. Přívod napětí od<br />
takového kondenzátoru k digitálnímu obvodu musí<br />
mít malou impedanci a nesmí být příliš dlouhý. Jinak<br />
⎛ ∆i<br />
⎞<br />
se totiž zase uplatní indukčnost přívodu ⎜ L ⎟ .<br />
⎝ ∆t<br />
⎠<br />
Použitý kondenzátor musí mít sám zanedbatelnou<br />
indukčnost (keramický). Přibližně se můžeme řídit<br />
pravidlem, že na každé synchronně pracující hradlo je třeba počítat s kapacitou 10 nF (5 nF na<br />
asynchronně pracující). Nejlépe je umístit několik blokovacích kondenzátorů (např. o<br />
velikosti 68 nF) v pravidelných vzdálenostech po celé desce. Kromě toho je ještě třeba na<br />
vstupu desky blokovat napájení větším kondenzátorem (10-50 uF), nejlépe tantalovým<br />
(vyznačuje se malou parazitní indukčností). Tyto kondenzátory potlačují kmitavé děje při<br />
změnách odběru desky (obr. 6.17), omezují také případné rušivé signály, které se indukují do<br />
první části rozvodu. Napájecí přívody desky jsou reprezentovány prvky R, L. Aby přechodný<br />
děj při změně proudu desky dI měl aperiodický charakter, je třeba volit CB ³ 4 L/R2.<br />
Při konstrukci napájecího rozvodu na deskách se vyskytuje v praxi několik řešení, jejich<br />
společným znakem je dosažení co nejmenší impedance (malého odporu a indukčnosti)
90 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
napájecího a zemního vodiče. V zásadě platí, že čím je systém rychlejší, tím je <strong>konstrukce</strong><br />
desek náročnější.<br />
Optimální napájecí rozvod je na čtyřvrstvých deskách plošných spojů (obr. 6.18c). Na<br />
rozvod jsou vyčleněny dvě vnitřní vrstvy. Ponechává se vodivá celá plocha desky (až na<br />
izolační prstence). Výhodou je také, že vnější (signálové) vrstvy jsou stíněny a signálová<br />
vedení mají definovány zemnící rovinu. Vzájemná kapacita vnitřních vrstev je řádu nF a<br />
zpravidla nejsou potřebné blokovací kondenzátory.<br />
Tzv. nepravé čtyřvrstvé desky používají pro rozvod napájení páskové sběrnice (tzv.<br />
hřebínky), umístěné vně desky (ze strany součástek). Běžné uspořádání je znázorněno na obr.<br />
6.19 - toto uspořádání zjednodušuje pouze spoje, ale nikoliv problematiku rušení (hřebínky<br />
jsou daleko od sebe). Lepší uspořádání má páskové sběrnice těsně vedle sebe (oddělené jen<br />
izolací). Páskové sběrnice mohou být vedené i pod pouzdry IO (obr. 6.18a,b). Ovšem<br />
nesprávné čtyřvrstvé desky nejsou vhodné pro strojové osazování a pájení.<br />
Na montážní úrovni bloku (modulu) je možno analogicky použít vodivou plochu, ke které<br />
se připojují zpětné vodiče a zemní špičky všech konektorů. Signální spoje vedené těsně nad<br />
touto rovinou mají charakter vedení, což je rovněž žádoucí.<br />
Složitější je realizace<br />
rozvodu napájení v jedné<br />
nebo dvou vrstvách. Možné<br />
řešení jsou na obr. 6.20. K<br />
zajištění malé impedance je<br />
nutné zamezit vzniku<br />
impedančních smyček. To je<br />
možné při důsledném<br />
souběžném rozvodu<br />
napájecích větví, jak je<br />
znázorněno na obr. 6.20a (tzv.<br />
dvoukmenový<br />
rozvod).<br />
Možné umístění pouzder IO<br />
je vyznačeno čárkovaně.<br />
Pouzdro umístěné napříč<br />
vodičů nedovoluje větší<br />
průřezy. Rozvod lze snadno<br />
modifikovat na síťové uspořádání, viz obr. 6.20b.<br />
Jiné možné umístění pouzder je na obr. 6.20c. V tom případě se však vyžaduje důsledné<br />
používání blokovacích kondenzátorů. Zapojení uvedené na obr. 6.20d je ze všech uvedených<br />
po elektrické stránce nejkvalitnější, zajímá všek relativně velkou plochu. Typografickým<br />
zjednodušením varianty c) v uspořádání uvedeném jako e) je sice rozvod realizován v jediné<br />
vrstvě, úplně se však ztrácí výhoda důsledného dvoukmenového rozvodu. Na jednu stranu<br />
plošného spoje (stranu součástek) se umístí širší vodiče pro rozvod napájení (a také signálové<br />
vodiče v tomto směru) a na druhou stranu plošné ve směru kolmém. Tento rozvod je znám od<br />
rok u 1965 pod názvem "Weinberger layout" a byl navržen pro rozvod napětí na čipu IO. Na<br />
obr. 6.20g je nakresleno chybné umístění blokovacích kondenzátorů pro tuto variantu, kdy<br />
vzniká velká smyčka a blokování je neučinné.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 91
92 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
7.4 Ochrana proti pronikání nežádoucích signálů (parazitní jevy a jejich<br />
potlačení)<br />
Při návrhu elektronických zařízení se zabýváme vždy v prvé řadě návrhem obvodů a<br />
funkčních dílů zařazených do hlavní cesty primárního signálu. V průběhu dalšího<br />
konstrukčního a vývojového propracování návrhu musíme však řešit ještě úlohu další, stejně<br />
důležitou: zajistit, aby se signál nešířil jinými cestami než je třeba, a zabránit dalším<br />
nežádoucím signálům, polím a radiačním vlivům v jejich rušivém působení. Tato obecná<br />
úloha se nám pak v praxi rozpadá na řadu konkrétních problémů:<br />
- odstranění nežádoucích galvanických vazeb (conductance interference) na napájecích a<br />
zemních vodičích,<br />
- odstranění induktivních a kapacitních cest nežádoucího přenosu signálu (radiated<br />
interference),<br />
- odstranění vlivů nežádoucích elektromagnetických polí<br />
- odstranění vlivů magnetických polí stálých a nízkofrekvenčních,<br />
- odstranění vlivů vnějších rušivých signálů, přicházejících po přívodech napájecího napětí,<br />
- odstranění termoelektrických napětí, přechodových odporů apod.<br />
Je třeba znát tyto jevy, jejich příčiny a následky a konstrukci přístroje od počátku<br />
navrhovat tak, aby byly potlačeny na co nejmenší míru. Tím omezíme dlouhé a časově<br />
náročné laborování na nesprávně pracujících vzorcích, případně nutnost větších úprav vzorků,<br />
než se dosáhne požadované funkce a parametrů.<br />
Všechny tyto jevy jsou v jádře jednoduché a dají se řešit pomocí základních vztahů z<br />
teoretické elektrotechniky a teorie obvodů. V dalších odstavcích si připomeneme jejich<br />
zákonitosti a to v souvislosti s konkrétními praktickými úlohami a potřebami.<br />
Poznamenejme ještě, že studium těchto parazitních jevů je také důležitou částí<br />
elektromagnetické kompatibility, proto jsou již zmíněny v kap. 5. Na obr. 6.21 je pokus<br />
zachytit souvislost mezi jednotlivými parazitními vazbami a cestami na jejich odstranění.<br />
V jednotlivých kapitolách uvidíme, že celým komplikovaným výkladem parazitních jevů s<br />
táhne problematika správného zemnění. Navíc z praktických důvodů budou problémy<br />
induktivních a kapacitních přeslechů znovu probírány v kapitole o vázaných vedeních.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 93<br />
7.4.1 Jevy vyvolané nenulovým odporem spojů<br />
Nenulový odpor spojů (signálových i napájecích) event. jejich impedance (indukčnost) je<br />
zdrojem mnoha problémů. Jednak se nepříznivě projevují (nebo mohou projevovat) úbytky<br />
napětí na vodičích (výstupní obvody zesilovačů, přechodové odpory), jednak vznikají tyto<br />
parazitní vazby:<br />
- vazba signálových a napájecích obvodů na společném rezistoru,<br />
- vazba signálových obvodů na společném rezistoru,<br />
- vazba přes napájecí rozvody a zdroje.<br />
1. Vazba obvodů na společném rezistoru. Odpor vodičů může způsobit nežádoucí vazby.<br />
Zvláště je to zřetelné u vodičů, přes které tekou napájecí proudy, a to především zemních<br />
vodičů (obr. 6.22). Je třeba si uvědomit, že zem není totéž co nulový potenciál. Půl metru<br />
měděného drátu o průměru 0,5 mm má odpor 45 mW a proud 5 mA na něm vyvolá napěťový<br />
úbytek 225 mV. Je-li tento úbytek na výstupní straně zesilovače, obvykle nevadí. Objeví-li se<br />
však na vstupních obvodech (obr. 6.23a), způsobuje<br />
- rušivé ss napětí, je-li rušivý úbytek stálý,<br />
- přídavný šum, mění-li se náhodně,<br />
- zápornou nebo kladnou zpětnou vazbu, je-li nějak úměrný zpracovávanému (vstupnímu)<br />
signálu, tj. vyskytne-li se v obvodu část zemního vodiče společná pro vstupní i výstupní<br />
obvod zesilovače.<br />
Ochrana před touto vazbou je v tom, že<br />
nedovolíme, aby různé proudy (vstupní a<br />
napájecí, vstupní a výstupní) procházely stejnou<br />
částí společného vodiče.<br />
Rušivý napěťový úbytek ur, vyvolaný<br />
průtokem cizího proudu přes společný zemní<br />
vodič, se odstraní změněným uzemněním (obr.<br />
6.23b). Na obr. 6.24a je ukázáno, jak špatným<br />
zeměním mohou vzniknout nežádoucí vazby ve<br />
vícestupňovém zesilovači. Napájení v bodech A a<br />
B není vhodné. Vidíme, že střídavý okruh třetího<br />
stupně je uzavřen přes části zemního vodiče 1, 2,<br />
3, které jsou společné pro tranzistory T1 a T2, ... Je třeba, bby proudy stupňů s vyšší úrovní<br />
signálu neprotékaly vstupními obvody. Takové řešení je na obr. 6.24b. Obecně můžeme říci:<br />
signálovými vodiči má procházet jen proud signálu (pokud možno jen jednoho), napájecí<br />
obvody mají mít pokud možno samostatné vodiče. V rozsáhlejších zařízeních se vyplatí<br />
paralelní rozvod signálové a výkonové země (obr. 6.25c, 6.26b). Obě země se pak propojí na<br />
zemní svorce napájecího zdroje.
94 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
U digitálních obvodů procházejí zemním vodičem při spínání hradel tytéž špičky jako<br />
napájecím vodičem (viz později). Při přechodu digitálního obvodu ze stavu H do L se vybíjí<br />
mimo to to přes zemní vodič i parazitní kapacitor, jehož kapacita je dána součtem kapacity<br />
spojů a vstupní kapacity členu, který je z tohoto obvodu buzen. Vybitím tohoto kapacitoru se<br />
proud společným zemním vodičem zvětší na dobu asi 10 ns na trojnásobek až čtyřnásobek<br />
klidové hodnoty, může být až 20 mA u jednoho logického členu. S počtem synchronně<br />
pracujících obvodů se tento proud opět zvětšuje a může pak způsobit další úbytek napětí na<br />
společném zemním vodiči. Takovým úbytkem pak může nepřípustně narůst úroveň na<br />
vstupech obvodů připojených přímo na zemní vodič. Požadavky na malou impedanci jsou<br />
tedy u společného zemního vodiče ještě přísnější než u vedení napájecího napětí. Obdobné<br />
problémy přináší spínání výkonových členů připojených k digitálním obvodům. Kromě<br />
rozdělení země na digitální a výkonovou se přijímají i takové úpravy zapojení, které snižují<br />
prudké měny odběru z napájecího zdroje (na obr.26 "předžhavení" žárovek).
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 95<br />
Složitý systém je možno rozdělit na dílčí části, které vykonávají určitou účelovou činnnost.<br />
Typické zařízení průmyslové regulace se může např. skládat z těchto dílů: zdroj signálu, který<br />
je zpracováván (snímač, čidlo), přizpůsobovací obvod (např. zesilovač s tvarovačem signálu,<br />
převodník), číslicový systém (logické členy, paměti, čítače, převodníky kódů), zesilovač<br />
(např. výkonové spínací tranzistory, tyristory, lineární zesilovače) a výkonový orgán (relé,<br />
stykač, ventil, signalizace atd.). Doporučuje se, aby každý z těchto nebo podobných dílů byl<br />
řešen jako samostatný blok, opatřený vlastním zdrojem. Zásadně není vhodné, aby z<br />
napájecího zdroje číslicové části byly napájeny ještě jiné díly, zejména elektromagnetické<br />
součástky (relé, stykače, motory) a polovodičové spínače. Stejně tak není vhodné, aby z<br />
napájecího zdroje analogové části byly napájeny číslicové obvody.<br />
Všechny díly řetězce zařízení (příp. i jejich stínící skříně) je třeba spojit do společného<br />
bodu, který se uzemní. Svod do společného bodu a svod zemnění je třeba provést vodiči o<br />
extrémně malé impedanci (tlusté měděné vodiče, měděné pásy, lana apod.). Jako společný<br />
bod se obvykle volí vstupní zemní svorka výkonově nejvíce namáhaného napájecího zdroje.<br />
Poněvadž je zemnění u každého dílu samostatné, nemohou se úbytky vzniklé na zemnících<br />
spojích projevit pro sousední díly rušivě.<br />
Někdy je účelné rozdělit rozsáhlé zařízení na několik sekcí, které nemají společné zemnění<br />
a které jsou signálově vázány způsobem nevyžadujícím galvanické propojení jejich<br />
společných (zemních) vodičů. Signálová vazba je v těchto případech zprostředkována obvykle<br />
magnetickým polem (nízkofrekvenční popř. impulsový transformátor), elektromechanickými<br />
prostředky (elektromagnetické relé) anebo světelnými paprsky (optoelektronický vazební<br />
člen, optron). Tímto způsobem se za cenu větší složitosti zařízení obcházejí potíže spojené s<br />
propojováním zemních vodičů především v soustavách prostorově značně rozlehlých a<br />
propojovaných dlouhými signálovými kabely. Každá ze sekcí zpracovávajících signál může<br />
přitom být připojena na libovolný "zemní" potenciál. Taková sekce (část) zařízení, která je jak<br />
napájením, tak i signálem galvanicky oddělena od ostatních částí zařízení, se často označuje<br />
jako "plovoucí" sekce (část).<br />
2. Vazba přes napájecí rozvody a zdroje. Odpor a impedance přivodů k napájecím<br />
zdrojům a také odpor (impedance) vlastního zdroje (především elektrolytického<br />
kondenzátoru na výstupu) mohou být dalším zdrojem nežádoucích vazeb. Obtíže jsou
96 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
způsobeny tím, že výstupní proud zesilovače musí vždy protékat smyčkou, uzavřenou přes<br />
napájecí zdroj. Proud vyvolává úbytky na odporech napájecího vedení, které jsou<br />
superponovány na napájecí napětí a mohou se přenášet do nežádoucích míst zapojení.<br />
Abychom se zbavili těchto obtíží, snažíme se zmenšit možnost výskytu nežádoucí vazby<br />
některým z následujících opatření:<br />
a) citlivé vstupní stupně<br />
napájíme ze samostatných<br />
zdrojů nebo stabilizátorů,<br />
b) každý zesilovač napájíme<br />
po samostatném vedení od<br />
napájecího zdroje,<br />
c) každý zesilovač napájíme<br />
ze samostatného zdroje,<br />
d) pro střídavé signály<br />
použijeme<br />
transformátorovou<br />
vazbu.<br />
Volba vhodného opatření závisí na složitosti a citlivosti zařízení. Ve velkých a náročných<br />
přístrojích se nedá šetřit na napájecích zdrojích, jejich provedení a stabilizaci, má-li být plně<br />
využito dosažitelných vlastností.<br />
Stále více se používají zesilovače (včetně integrovaných obvodů), které jsou svým<br />
principem širokopásmové. Jejich vlastnosti jsou definovány při napájení ze zdrojů s malým<br />
vnitřním odporem. Běžné stabilizátory napětí mají pro kmitočty vyšší než 100 kHz výstupní<br />
impedanci indukčního charakteru, která se proti impedanci na nižších kmitočtech zvětšuje. Je<br />
to způsobeno zmenšením zisku v elektronické části stabilizátoru, který již nestačí udržet malý<br />
výstupní odpor zdroje, a indukčním charakterem reaktance elektrolytických kondenzátorů na<br />
vyšších kmitočtech. Také přívody od zdroje delší než 10 cm se mohou projevit u<br />
širokopásmových zesilovačů svým indukčním charakterem. Abychom se vyhnuli<br />
nekontrolovatelným vazbám na výstupní impedanci zdroje na vyšších kmitočtech, blokujeme<br />
vývody napájení každého operačního zesilovače (co nejblíže pouzdru) keramickými<br />
kondenzátory s kapacitou 100 nF (kapacita 10 nF může vyvolat rezonanci s indukčnostmi<br />
přívodů v kritické oblasti 1 až 10 MHz a<br />
způsobit rozkmitání zesilovače přes napájecí<br />
zdroje), obr. 6.28, příp. u hybridních<br />
operačních zesilovačů se doporučují<br />
tantalové kapacitory s kapacitou 1 µF. U<br />
obvodů s diskrétními součástkami se obvykle<br />
blokuje napájení jednotlivých funkčních<br />
celků elektrolytickými kapacitory, náročnější<br />
celky pak kapacitory tantalovými.<br />
Mimořádně závažná je otázka napájecích<br />
rozvodů pro digitální obvody, které při<br />
spínání hradel a vybíjení kapacitních zátěží<br />
vyvolávají v napájecích rozvodech proudové<br />
špičky. Podle impedance napájecího rozvodu<br />
vyvolávají tyto proudové špičky i změny<br />
napětí na napájecích svorkách součástek (obr. 6.29). Poznamenejme, že v literatuře se pro<br />
"namáhání" součástek přechodnými ději s rychlostmi ř ádově µs a většími ujímá<br />
název "stres".<br />
K omezení těchto stresových změn je třeba v těsné blízkosti integrovaných obvodů připojit do<br />
napájení kapacitory, které představují zkrat pro vysoké kmitočty (obr. 6.30). Doporučená
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 97<br />
kapacita blokovacího kapacitoru je 1 až 10 nF na jeden obvod. Při návrhu desek plošných<br />
spojů pro číslicové systémy se doporučuje, aby bylo blokováno bezindukčními kapacitory s<br />
kapacitou 10 až 100 nF (keramika) u každých 5 až 10 pouzder integrovaných obvodů.<br />
3. Úbytky napětí na vodičích mohou být na závadu, i když se nejedná o zemní vodič.<br />
Typickým příkladem je zpětnovazební zesilovač podle obr. 6.31. Podle připojené zpětné<br />
vazby mohou nastat dva základní případy:<br />
a) zpětná vazba je vedena z bodu připojeného co nejblíže k zátěži, obr. 6.31a. Je potlačen<br />
vliv impedance přívodů.<br />
b) zpětná vazba je vedena z vnitřního bodu zesilovače, zátěž je oddělena oddělovacím<br />
rezistorem Rv, obr. 6.31b. Toto řešení se používá u koncových stupňů generátorů k<br />
dosažení definovaného výstupního odporu na výstupních svorkách. Rv obvykle slouží<br />
také jako ochrana zesilovače.<br />
Na<br />
obr.<br />
6.32 je
98 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
konkrétní zapojení s operačním zesilovačem, které realizuje principy podle obr. 6.31.<br />
Výstupní odpor Ro je dán vztahem (pro obr. 6.32a)<br />
R<br />
o<br />
≅<br />
Rv<br />
⎛ R<br />
⋅<br />
⎜<br />
− A ⎝ R<br />
2<br />
1<br />
⎞<br />
⎟<br />
⎠<br />
Např. pro Rv = 10 W, A = -105 a R2/R1<br />
= 10, je Ro = 1 mW pro zpětnou vazbu<br />
vztaženou až na výstupní svorky. Je-li Rv<br />
mimo smyčku zpětné vazby, pak určuje<br />
převážnou část výstupního odporu celého<br />
obvodu. Proto, chceme-li definovat<br />
výstupní signál zesilovače nebo např.<br />
výstupní napětí stabilizátoru v určitém<br />
bo dě, vedeme zpětnou vazbu z tohoto bodu (obr. 6.33).<br />
4 . Přechodové odpory se vyskytují u rozpojitelných spojů, nejčastěji u přepínačů a relé.<br />
Činí problémy, protéká-li jimi větší proud. V měřící technice se proto užívá čtyřdrátového<br />
připojení rezistorů s malým odporem nebo bočníky k ampérmetrům typu Ayrton-Perry.<br />
Velmi závažná je také problematika čištění, konzervace a mazaní kontaktů přepínačů<br />
(čelních i smykových) a relé. Materiálem kontaktů jsou slitiny stříbra s mědí nebo niklem a<br />
další měděné slitiny, které se často postříbřují.<br />
Za skladování nebo provozu se kontakty po určité době pokryjí černou nevodivou<br />
vrstvičkou oxidů nebo sirníků stříbra, popřípadě mědi. Toto černání je působeno oxidem<br />
siřičitým, jímž je znečištěna každá průmyslová atmosféra, nebo sirovodíkem.<br />
K čištění se v praxi používá nejčastěji benzin, trichloretylén nebo tetrachlormetan. Tato<br />
rozpouštědla sice kontakty částečně vyčistí, současně je však i vysuší, a to je nežádoucí<br />
zejména u smykových kontaktů, které pak nejsou vůbec mazány. Potom dochází ke<br />
zvýšenému odírání stříbrného povlaku přepínačů a u potenciometrů ke zvýšenému odírání<br />
odporové dráhy (což se potom projevuje tzv. chrastěním). Proto je lépe používat přípravků<br />
typu KONTOX a RENOL, které mají účinky čistící, mazací a konzervační.<br />
7.4.2 Termoelektrická napětí<br />
Při zpracování velmi malých stejnosměrných napětí se mohou rušivě projevit<br />
termoelektrická napětí. Vznikají na místě styku dvou různých kovů vlivem teploty. Teplotní<br />
rozdíl může být způsoben ohřevem ztrátovým výkonem použitých součástek, ale také např.<br />
třením v přepínači při přepínání. Termoelektrická napětí vztahujeme proti mědi a jsou<br />
přibližně -0,5 µV/K pro zlato, stříbro, manganin,-2,5 µV/K pro mosaz a fosforbronz, -3,2<br />
µV/K pro cín, ale např. -41,5 µV/K pro konstantan. Vliv termoelektrického napětí<br />
potlačujeme použitím vhodných materiálů a zamezením teplotních rozdílů v citlivé části<br />
obvodu.<br />
7.4.3 Reaktance vodičů<br />
Dosud probírané parazitní jevy můžeme v podstatě považovat za "jevy s odporovým<br />
charakterem", a to dvojího druhu: jednak jsou založeny na existenci parazitního odporu<br />
vodičů (kterým protéká jeden proud), jednak na existenci parazitní odporové vazby (vodičem<br />
s nenulovým odporem protéká více proudů). Podobně existují parazitní reaktance vodičů
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 99<br />
(indukčnost vodiče, kapacita a vzájemná indukčnost mezi vodiči), které mohou vést ke vzniku<br />
parazitních vazeb.<br />
Příkladem může být indukčnost vodičů, které vadí na vysokých kmitočtech a také např. u<br />
napájecích vodičů digitálních integrovaných obvodů (jak již bylo uvedeno). Parazitní kapacity<br />
vůči zemi mají za následek pokles zesílení na vyšších kmitočtech. Pokud bude existovat<br />
parazitní kapacita mezi vstupem a výstupem invertujícího zesilovače, uplatní se Millerův jev.<br />
V praxi proto na vysokých frekvencích zkracujeme přívody součástek jen na nezbytnou<br />
délku, volíme krátké spoje, zapojujeme několik rezistorů paralelně, neužíváme drátové<br />
rezistory. Snaha zmenšit Millerovu kapacitu vedla k vývoji nových aktivních prvků (např.<br />
pentody místo triody), tranzistorů řízených polem se dvěma elektrodami G, speciálních typů<br />
bipolárních tranzistorů se zmenšenou kapacitou kolektor-báze (jako např. KF167 a KF173 aj.)<br />
nebo zapojení, v nichž je vliv nežádoucí kapacity potlačen (např. kaskódové zapojení stupně s<br />
uzemněným emitorem a uzemněnou bází). Možností, jak zmenšit vnější parazitní<br />
zpětnovazební kapacity (za cenu zvětšení méně nebezpečných kapacit proti zemi), je použít<br />
stínění (viz dále).<br />
Problematiku kapacitních a induktivních vazeb mezi vodiči probereme vzhledem k jejich<br />
závažnosti samostatně v následujících dvou kapitolách (a potom zmíníme ještě v souvislosti s<br />
vázanými vedeními).<br />
Pro správný odhad vlivu parazitních reaktancí je třeba umět odhadnout řádově parazitní<br />
vlastnosti vodičů. V tab. 6.1 jsou uvedeny tyto orientační údaje pro měděné vodiče podle [58].<br />
7.4.4 Parazitní kapacitní vazba<br />
Existuje-li mezi dvěma vodiči prostor, kudy mohou procházet siločáry elektrostatického<br />
pole, pak je možno též definovat kapacitu mezi nimi. Tato<br />
kapacita se pak může uplatnit jako
100 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
přenosová cesta signálu z jednoho vodiče na druhý.<br />
Kapacitní vazby vznikají mezi vodiči vedenými blízko sebe, hlavně pak mezi vodiči<br />
vedenými ve větší délce paralelně, např. ve svazcích vodičů, v kabelech nebo na deskách<br />
plošných spojů.<br />
Obr. 6.34 ukazuje kapacitní vazbu mezi dvěma volnými vodiči (abychom potlačili úvahy o<br />
možné induktivní vazbě, není napájený vodič uzemněn). Jde ukázat, že pro parazitní přenos<br />
napětí (přeslech) platí<br />
U<br />
2<br />
jωR2C12<br />
=<br />
≅ jωR2C12<br />
(6.5)<br />
U + jωR<br />
C + C<br />
1<br />
1<br />
2<br />
( )<br />
12<br />
Důležitý je vztah pro přenos při nízkých kmitočtech, kdy podle obr. 6.34c můžeme tento<br />
pře nos popsat proudovým zdrojem j• C 12 U 1 Vidíme, že rušivé napětí na obou koncích<br />
ovlivňovaného vodiče má stejnou polaritu. To je typický rys kapacitní parazitní vazby (na<br />
rozdíl od induktivní).<br />
V praxi je také častý případ, kdy se váže zdroj rušivého napětí, pracující na kmitočtu wo, s<br />
laděným obvodem naladěným rovněž na kmitočet wo Potom jde ukázat, že přenos rušivého<br />
napětí je vyjádřen výrazem K = QC12/C2G, kde C2G je kapacita v paralelním laděném<br />
obvodu LC.<br />
Ze vztahu (6.5) je zřejmé, že pro zmenšení<br />
parazitní kapacitní vazby je třeba<br />
- udržovat vazební kapacitu C12 co možno<br />
nejmenší,<br />
- udržovat ekvivalentní odpor zátěže R2 též<br />
co nejmenší.<br />
Na obvodu podle obr. 6.35 lze ukázat, jak i<br />
malé parazitní kapacity již mohou zhoršit<br />
vlastnosti zesilovače. Uvažujme vstupní obvod zesilovače, který má zpracovat vstupní signál<br />
10 mV s odstupem alespoň -60 dB. Odpor zdroje signálu uvažujme např. 10 kW. Odstupu -60<br />
dB od 10 mV odpovídá největší přípustný rušivý signál 10 uV. Zkusme zjistit, jaká může být<br />
největší kapacita mezi napájecími obvody, v nichž je napětí 10 V/50 Hz, aby byl dodržen<br />
odstup -60 dB. To znamená, že 10 V z napájecího zdroje může vyvolat na 10 kW vnitřního<br />
odporu zdroje úbytek napětí nejvýše 10 uV. Úbytku 10 mV na 10 kW odpovídá proud 1 nA.<br />
Reaktance kapacity, kterou protéká při kmitočtu 50 Hz proud 1 nA, musí být 1010 W. Z toho<br />
vyplývá, že kapacita C = 1/ ωX<br />
C<br />
může být až 0,3 pF. Vidíme, že přípustná kapacita je velmi<br />
malá i u zesilovače s běžnými středními impedancemi. Proto se většinou v náročnějších<br />
vstupních obvodech neobejdeme bez speciálních opatření, popsaných dále.<br />
Výše uvedené se týkalo kmitočtové oblasti. Dále je třeba se zabývat kapacitní vazbou v<br />
časové oblasti, při uvažování pulsního signálu. Ze vztahu (6.5) plyne, že rušivé napětí je<br />
úměrné časové derivaci vstupního napětí; objeví se tedy jen při časových změnách vstupního<br />
signálu (při změnách logických úrovní digitálního signálu). Obvykle se uvažuje aproximace<br />
lichoběžníkovým signálem s délkou hrany tr. Rušivý signál narůstá i klesá exponenciálně se<br />
stejnou časovou konstantou τ = ( C C )<br />
R2 12<br />
+<br />
2G<br />
. Pro praxi je důležité, že digitální obvody jsou<br />
většinou nízkoohmové, takže s kapacitním rušením počítáme jen u vodičů v tzv. třetím stavu.<br />
Z praxe je známo, že kapacitní přenosové cesty se omezí jednak umístěním rušeného<br />
okruhu co nejdále od okruhu rušícího, jednak použitím kovového stínění. Vestavění stínící<br />
přepážky z mědi nebo hliníku představuje účinné přerušení cesty rušivého signálu, ale bývá<br />
prostorově náročné. Použití stínících krytů nebo stíněných vodičů je z hlediska účinnosti<br />
2G
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 101<br />
rovnocenné, avšak zpravidla dochází ke zvýšení kapacit stíněných prvků proti zemi, což může<br />
nepříznivě ovlivňovat funkci zařízení ( např. snížení mezního kmitočtu). Na deskách<br />
plošných spojů a v plochých kabelech z důvodů stínění vedeme často mezi "živými" vodiči<br />
vodiče uzemněné.<br />
V některých případech je stínění neproveditelné, např. uvnitř aktivních prvků apod. V<br />
takových případech je třeba pomoci tzv. neutralizací, tj. umělým zavedením stejně velké<br />
kapacitní vazby opačně působící. K tomu je ovšem nutné, aby alespoň jeden z obvodů, buď<br />
vstupní nebo výstupní, dával souměrné napětí. V obvodech určených pro přenos úzkého<br />
pásma kmitočtu je možné neutralizovat vliv vazební kapacity paralelně zapojenou cívkou,<br />
naladěnou do rezonance na středu pásma; pak souměrné napětí není nutné.<br />
V každém případě a při návrhu jakéhokoli zařízení je však nutné posoudit všechny<br />
možnosti kapacitních vazeb mezi jednotlivými stupni zařízení, vyčíslit přípustné velikosti<br />
vazebních kapacit a podle toho pak rozhodovat o zásadním rozložení součástí a způsobech<br />
stínění. Obvykle stíníme nejpečlivěji vstupní obvody s nejnižší úrovní signálu, a pak obvody s<br />
největší úrovní, kde je nebezpečí vyzařování.<br />
7.4.5 Parazitní induktivní vazba<br />
Každý vodič protékaný proudem vytváří magnetické pole; je-li v jeho dosahu jiný vodič,<br />
vytváří společná část magnetického pole<br />
mezi nimi vzájemnou indukčnost. Ta se<br />
ovšem uplatňuje též jako cesta<br />
nežádoucích přenosů signálu (a to<br />
samozřejmě za předpokladu, že jde o<br />
časově proměnný proud, obvykle střídavý).<br />
Princip vazby ilustruje obr. 6.37.
102 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Ve vodičích, které jsou v časově proměnném magnetickém poli, se indukuje napětí,<br />
vzrůstající se zvyšováním kmitočtu. Je-li takový vodič součástí uzavřené smyčky, prochází<br />
touto smyčkou střídavý proud takového směru, že magnetické pole vyvolané tímto proudem,<br />
působí proti původnímu poli (princip vzájemné indukčnosti).<br />
Φ12<br />
Vzájemnou indukčnost můžeme definovat vztahem M<br />
12<br />
=<br />
I<br />
1<br />
Potom indukované napětí v rušeném obvodu (smyčce) bude<br />
di2<br />
() t<br />
u2 () t = M<br />
12<br />
dt<br />
nebo pro případ harmonického napětí U<br />
2<br />
= jωM<br />
12<br />
I1<br />
(6.5)<br />
Jde ukázat, že platí M12 = M21 = M a z rovnic podle druhého Kirchhoffova zákona pro<br />
obě smyčky dostaneme pro harmonické signály<br />
U<br />
2<br />
2<br />
= (6.6)<br />
1 +<br />
jωM<br />
/ R<br />
jωL<br />
2<br />
/ R<br />
2<br />
kde R2 = R21+R22. Formálně jde o stejný vztah jako platí pro kapacitní vazbu (6.5).<br />
Ovšem v tomto případě jsou napětí na rezistorech R11 a R22 opačné polarity.<br />
Jak již bylo uvedeno, induktivní vazbu pozorujeme tam, kde rušící proud protéká smyčkou<br />
a rušený obvod obsahuje také smyčku (prostorově blízkou). Vazba je tím silnější, čím je větší<br />
plocha obou smyček. Induktivní vazba však také vzniká, když přijímací smyčkou prochází<br />
rozptylové magnetické pole transformátoru nebo tlumivky. Induktivní vazba se uplatňuje<br />
nejvíce v obvodech s malými impedancemi.<br />
Podobně jako v předchozím případě, také zde můžeme těmto vlivům čelit jednak stíněním,<br />
které působí jako zkratový závit a zmenšuje činitel vazby, jednak účelným rozmístěním<br />
obvodů. Hlavní zásadou je ovšem takové vedení spojů, aby plochy vymezené každým<br />
proudovým obvodem (smyčkou) byly co nejmenší, tj. spoje co nejkratší a co možno blízko<br />
sebe, pokud patří k téže proudové smyčce.<br />
Na obr. 6.38 je znázorněna induktivní vazba na deskách plošných spojů. Jako stínění zde<br />
působí uzemněný vodič mezi dvěma souběžnými vodiči. Souvislá zemnící plocha výrazně<br />
zmenší vazbu magnetickým polem.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 103<br />
Obr. 6.38. Parazitní induktivní vazba na deskách plošných spojů
104 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Např. na obr. 6.32b musí být co nejmenší plocha smyčky 1-2-3-4-5-1. Každá změna<br />
magnetického pole, procházející smyčkou, je zesilovačem zpracovávána jako vstupní signál.<br />
Proto se má vést zpětnovazební vodič 1-2 přes R2 blízko s vodičem 4-5.<br />
Na obr 6.39a vidíme, že smyčka ve vstupním obvodu vlivem nesprávného umístění<br />
kapacitorů C 1 a C 2 je velká. Správné řešení ukazuje obr. 6.39b.<br />
Při hledání přijímacích smyček si musíme uvědomit, že každý proud teče uzavřeným<br />
okruhem (nezapomenout na zemní a napájecí vodiče), tedy zpětné vodiče mají vést v těsné<br />
blízkosti vodičů přívodních (a z hlediska parazitní zpětné vazby by zemní část smyčky měla<br />
být samostatná, neměl by tu protékat žádný jiný proud). Na DPS se napájecí vodiče navrhují<br />
co nejširší, vedou se planparalelně nebo těsně vedle sebe, jejich součástí jsou blokovací<br />
kondenzátory.<br />
Na obr. 6.40 vidíme, jak v napájecích obvodech pro<br />
dvě a více desek plošných spojů mohou vzniknout<br />
smyčky. Plocha smyčky S by měla být co nejmenší.<br />
Obdobně velikost společné impedance Z2 (na ní může<br />
vzniknout parazitní galvanická vazba).<br />
Velmi důležitá je problematika uzemnění stíněných<br />
vodičů. Zde se držíme zásady, že spojnice stínícího<br />
pláště se zemí nesmí tvořit uzvřenou smyčku a musí<br />
být co nejkratší. Viz příklad na obr. 6.41a,b. Pro<br />
magnetické stínění ovšem musí být spojeny oba konce<br />
se zemí. Nebo může jít o spojení přes napájecí síť (viz<br />
kapitola o souosé tlumivce).<br />
Druhou zásadou je pak patřičná vzdálenost mezi<br />
obvody, které nemají na sebe působit. Další možnost snížení vazby je takové uspořádání<br />
obvodů, aby jejich magnetická pole probíhala vzájemně kolmo; tato možnost se ovšem nedá<br />
realizovat na běžných jednovrstvových plošných spojích (je to typické pro transformátory a<br />
tlumivky, zde se navíc snažíme potlačit jejich rozptylová pole použitím hrníčkových nebo<br />
ještě lépe toroidních jader). Poslední možností je pak řešení podobné neutralizaci, kdy jeden z<br />
obvodů v části působící vazbu rozdělíme na dvě stejné části a spoje prokřížíme, aby se<br />
indukční účinky obou částí vzájemně rušily. Zde je třeba zdůraznit použití kroucené dvojlinky<br />
(obr. 6.42).
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 105<br />
V těchto dvou kapitolách jsme uvažovali kapacitní a induktivní parazitní vazbu odděleně.<br />
V praxi působí obě společně. Záleží na geometrické konfiguraci (C12 a M) a na odporech<br />
vodičů, která z těchto vazeb se více projeví. Poznamenejme, že v řadě případů, musíme tyto<br />
vazby vyšetřovat jako vazby vázaných vedení (kap. 6.7). Na nižších kmitočtech lze mnoho<br />
obtíží odstranit užitím symetrického vedení signálu a diferenciálních zesilovačů.<br />
Metoda je založena na použití diferenčního stupně na vstupu příjmače. Symetrický přenos<br />
se realizuje dvěma vázanými vedeními, přičemž užitečný signál je diferenční a veškeré rušení,<br />
i kapacitní, má charakter součtového signálu (obr. 6.43). Induktivní rušení je reprezentováno<br />
zdroji napětí , kapacitní rušení je reprezentováno zdroji u4 C = . Při úplné<br />
symetrii nevyvolá rušení diferenční signál. Příjmač zesiluje diferen 〉〉1 a<br />
zeslabuje součtový signál<br />
u<br />
1<br />
= u 2<br />
(<br />
1<br />
C 2<br />
)<br />
ční signál ( )<br />
( 〈1)<br />
A .<br />
diferenčních zesilovačů typicky 80 dB.<br />
s<br />
Činitel potlačení součtového signálu<br />
A<br />
s<br />
A d<br />
d<br />
H = bývá u<br />
A
106 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Stíněný vodič v magnetickém poli<br />
Jak bude později uvedeno, často se užívá stíněných vodičů. Je-li stínící obal ("punčoška")<br />
na obou koncích uzemněna, působí<br />
jako elektromagnetické stínění.<br />
Situaci ilustruje obr.6.44. Účinnost<br />
stínění závisí na zpětné cestě proudu<br />
(zemí, stíněním). Obě smyčky<br />
(vnitřní vodič, stínění) mají svoji<br />
indukčnost (Li,Ls) a existuje také<br />
jejich vzájemná indukčnost M. Dá<br />
se ukázat, že platí M = Ls. Z<br />
uvedeného vztahu plyne, že v<br />
případě, že RG = 0 (ideální země) se<br />
pro kmitočty vyšší než<br />
(RG + Rs)/Ls<br />
všechen proud vrací stíněním. Obr. 6.43. Symetrické vedení signálu<br />
Kmitočet Rs/Ls se nazývá mezním kmitočtem stínění.<br />
Na DPS se nevyhneme paralelně vedeným spojům. U nízkoimpedančních obvodů (např.<br />
digitálních obvodů) se bude objevovat rušení (přeslechy) převážně prostřednictvím vzájemné<br />
indukčnosti. Velikost přenosu se zmenšuje s poklesem charakteristické impedance obou<br />
vzájemně vázaných vedení. Charakteristická impedance je tím menší, čím menší je vlastní<br />
indukčnost a čím větší je vlastní kapacita na jednotku délky vedení, čili čím větší je šířka<br />
spojové dráhy. Proto není vhodné užívat zbytečně úzkých spojů, pokud to vzhledem k<br />
okolnostem není zcela nevyhnutelné. Velmi účinného zmenšení vzájemné induktivní vazby<br />
mezi signálovými spoji lze dosáhnout umístěním vodivé roviny rovnoběžně s rovinou spojů,<br />
ve vzdálenosti od roviny spojů rovné nejvýše dvojnásobku šířky mezery mezi spoji. Působí<br />
zde dva vlivy současně: jednak zmenšení charakteristické impedance jednotlivých vedení
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 107<br />
zvětše ním kapacity na jednotku délky, jednak zmenšení vzájemné indukčnosti soustředěním<br />
elektromagnetického pole signálu do prostoru mezi spojem a vodivou rovinou.<br />
7.4.6 Filtrace napětí ve vodičích<br />
Rušivé signály mohou do zařízení vnikat vstupními vodiči, napájecími vodiči (ze síťového<br />
rozvodu nebo z jiných obvodů téhož zařízení), výjimečně také po výstupních vodičích. Proto<br />
bývá nutné opatřit tyto vodiče filtry zadržující nežádoucí pásmo kmitočtů. Návrh filtrů zde<br />
nebudeme uvádět, je již znám z teorie obvodů. Zde stačí připomenout, že obvykle užíváme<br />
RC nebo LC nesouměrných filtrů v zapojení T nebo p s charakterem dolní propusti,<br />
jednočlenných až tříčlenných, podle požadovaného činitele útlumu rušivého signálu.<br />
U síťových přívodů užíváme často filtrů souměrných, zejména tam, kde vytváříme pro<br />
zemnění přístrojů zvláštní zemní systém, nespojený přímo s nulovým vodičem sítě.<br />
Pokud je kmitočet rušivého napětí různý od kmitočtů pracovních (užitečných) signálů,<br />
můžeme i zde navrhnout a realizovat potřebné filtry např. typu pásmových propustí a zádrží.<br />
Je-li však rušivý kmitočet přímo v pásmu signálů pracovních, je nutné především zabránit<br />
jeho vniknutí do vstupního signálu. K tomu nám slouží opět stínění a zemnění.<br />
Typickým příkladem rušivého signálu přicházejícího po vstupních vodičích je příchod vf<br />
signálu na vstup nf zesilovačů. Pokud je amplitudově modulován, může se usměrnit<br />
nelinearitou vstupního tranzistoru a z reproduktoru slyšíme signál silného místního vysílače.<br />
V jiných případech může jít o rušení TV přijímačů jiskřením komutátorových motorů apod.<br />
Nelze také zanedbávat parazitní vazby, kterými přichází rušivé signály mimo<br />
zpracovávané pásmo kmitočtů. Moderní (i nízkofrekvenční) křemíkové tranzistory, ať již v<br />
diskrétní formě nebo jako součást integrovaného obvodu, mají mezní kmitočty řádu desítek až<br />
stovek MHz.<br />
Vstupní obvody citlivějších zařízení obvykle pečlivě stíníme (viz další kapitolu). Praktické<br />
a často užívané jsou filtry RC na vstupu citlivých obvodů. Skládají se z rezistoru, zařazeného<br />
v sérii se vstupem a všech kapacit proti zemi (včetně parazitních), uplatňujících se za tímto<br />
rezistorem.<br />
Máme-li odstranit vf nežádoucí rušení z nf nebo ss vstupních přívodů, nestačí přívody<br />
spojit mezi sebou nebo se zemí kondenzátorem, představujícím pro vysoké kmitočty malou<br />
impedanci. Na vstupní vedení musíme pohlížet jako na vf vedení, v němž se energie<br />
šíříelektromagnetickým polem okolo vodičů. Jakákoli nehomogenita vedení, např. zmíněným<br />
blokováním vodičů, způsobí odrazy vf energie a její šíření v různých formách po celém<br />
obvodu. Přitom nežádoucí vf energie proniká do přístroje nejen ze strany vstupů, ale<br />
pozornost je nutno věnovat i napájecímu rozvodu.<br />
Na obr. 6.45 je filtr zamezující pronikání nf<br />
rušení do přístroje. Charakteristická impedance<br />
napájecích a vstupních vedení bývá 50 až 1000 W.<br />
Pro 1 M Hz pak součástkám na obr. 218 odpovídá L<br />
= 10 µH a C = 1 nF.<br />
K blokování se používají průchodkové<br />
kondenzátory, upevněné v kovové stínicí stěně. Tato<br />
stěna se nemá používat současně k zamezení šíření<br />
vf signálů a k elektrostatickému stínění signálu.<br />
Správné je použít dva paralelní stínící systémy;<br />
první proti vf rušení a druhý pro signálové stínění.
108 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Vf stínění může být uzemněno v několika bodech, kdežto signálové stínění pouze v jednom<br />
bodě (viz dále).<br />
Filtry RC se také užívají v napájecím rozvodu, kde oddělují jednotlivé stupně nebo jejich<br />
skupiny (obvykle první stupeň zesilovače a zbývající obvody). Čím jsou pracovní kmitočty<br />
vyšší, tím menší sériovou indukčnost smí mít použité filtrační a zemnící kondenzátory, ovšem<br />
tím menší může být jejich kapacita. Proto užíváme kondenzátorů keramických pro VKV v<br />
průchodkovém provedení (protože jednotlivé stupně jsou odděleny stínícími přepážkami).<br />
Obdobnými filtry také řešíme opačnou úlohu, tj. zabránění odchodu rušivého signálu z<br />
obvodu nebo z celého zařízení. V prvním případě často filtrujeme vývody ze stíněných částí,<br />
abychom zabránili pronikání rušivého signálu ven (do jiných obvodů). V druhém případě jde<br />
o již zmíněné odrušování.<br />
Poznámky k návrhu filtrů<br />
Návrh filtrů zde nebudeme probírat, ovšem je třeba připomenout nutnost jejich pečlivého<br />
návrhu a především vlastního sestavení. Zvláštní pozornost si zasluhují tlumivky. Jak je<br />
známo, mají<br />
tlumivky vlastní rozloženou kapacitu a vlastní rezonanční kmitočet. Proto<br />
impedance tlumivky m á induktivní charakter pouze do určitého kmitočtu, od něhož má potom<br />
charakter kapacitní. Tento kmitoče t je vlastní rezonanční kmitočet tlumivky. Vlastních<br />
rezonančních kmitočtů zjistíme na určité tlumivce několik, proto filtr s tlumivkami může být<br />
na některých kmitočtech neúčinný.<br />
Aby byl filtr účinný v celém potřebném pásmu<br />
kmitočtů, nemáme volit jeho indukčnosti příliš<br />
velké. Volíme proto takové tlumivky, jejichž vlastní<br />
rezonanční kmitočet leží výše než nejvyšší kmitočet<br />
filtrovaný. Pro kmitočty v oblasti horního konce<br />
krátkých vln a vln metrových se používají<br />
jednovrstvové cívky s malým průměrem, které mají<br />
minimální kapacitu. Je-li tlumivka navinuta na<br />
tělísku z izolátoru, je (v souhlase s pokusy) její<br />
vlastní vlnová délka lo dána vztahem<br />
kde l je délka vodiče vinutí.<br />
λ<br />
o<br />
≈ 3⋅l<br />
(6.7)
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 109<br />
Často se používají jednovrstvé cívky, navinuté na tyčince z feromagnetického materiálu<br />
(práškové železo, ferit). Tyto tlumivky mají při stejné indukčnosti podstatně menší rozměry<br />
než tlumivky vzduchové, bez jádra.<br />
Při konstrukci tlumivky nesmíme zapomínat na délku přívodů, která se připočítává k<br />
celkové délce vinutí [viz vztah (6.7)]. Na kmitočtech blízkých vlastnímu rezonančnímu<br />
kmitočtu tlumivky nezlepší funkci sériové spojení tlumivek; naopak, toto spojení může vést<br />
ke zmenšení podélné impedanc e filtru. Aby tento jev nenastal, je zapotřebí k oběma koncům<br />
každé tlumivky připojit svodový kondenzátor.<br />
Jako příčné větve filtru se používají kondenzátory s pokud možno minimální impedancí.<br />
Při výběru kondenzátoru není důležitá jenom kapacita, nýbrž i parazitní indukčnost, neboť za<br />
určitých podmínek se tato indukčnost uplatňuje více než žádoucí kapacita kondenzátoru. Pro<br />
nízkofrekvenční oblast a pro oblast dlouhých vln vyhoví každý svitkový kondenzátor. V<br />
oblasti vln krátkých a velmi krátkých pracují uspokojivě kondenzátory slídové, keramické,<br />
speciální bezindukční svitkové a kondenzátory ze syntetických folií. V této oblasti kmitočtů<br />
se používají průchodkové kondenzátory (keramické a svitkové), které nemají přívody. Při<br />
filtraci v široké oblasti kmitočtů se používá několik kondenzátorů různých typů, spojených<br />
paralelně.<br />
Stejný útlum lze získat různou velikostí indukčností a kapacit filtru. Při racionálním výběru<br />
indukčnosti a kapacity se vychází z předpokladů, že<br />
a) <strong>konstrukce</strong> tlumivek je jednodušší a levnější pro malé proudy,<br />
b) <strong>konstrukce</strong> kondenzátorů je jednodušší a levnější pro malá napětí.<br />
Z toho vypl ývá, že pro filtrování obvodu s velkým proudem při malém napětí se hodí filtr s<br />
malými indukčnostmi a velkými kapacitami. Pro filtrovaný obvod s vysokým napětím se<br />
naopak hodí maximální přípustné indukčnosti a malé kapacity.<br />
Při návrhu schématu a <strong>konstrukce</strong> filtru usilujeme o nejmenší počet součástek. Je to nutné<br />
jak z ekonomických důvodů, tak i proto, že každá zbytečná součástka, pájecí bod, kontakt,<br />
izolátor, snižují spolehlivost přístroje, neboť čím je víc součástek, tím větší je<br />
pravděpodobnost, že dojde k poruše některé z nich.<br />
Správné sestavení filtrů je nejdůležitější. Při špatné montáži i velmi složitý filtr netlumí<br />
filtrované napětí. Jako příklad probereme nesprávně sestavený dvoučlánkový filtr (obr. 6.47),<br />
pracující na kmitočtu f0 = 6 MHz přitom L1= L2 = L = 100 µH; C1 = C2 = C = 50 000 pF;<br />
vnitřní odpor generátoru R1 = 100 W.<br />
Vypočítáme útlum<br />
Z Z Z<br />
b ω<br />
Z Z Z<br />
2 4 6 5 3 2<br />
10 10<br />
= = C L Ri<br />
≈<br />
1<br />
3<br />
5<br />
tzn. útlum filtru na kmitočtu 6 MHz je 200 dB. V praxi zjistíme útlum mnohem menší, což<br />
je způsobeno některou z níže uvedených chyb.<br />
1. Celé filtrované napětí je přivedeno k obvodu a, b, c. Má-li spoj b-c délku 30 mm, je jeho<br />
indukčnost rovna přibližně 0,03 µH a reaktance ω L C<br />
= 1Ω<br />
. Jestliže při vnitřním odporu<br />
zdroje 100 • zanedbáme reaktanci kondenzátoru 0,5 W, je úbytek napětí na spoji b-c 1%<br />
napětí generátoru. Toto napětí se přivádí kondenzátorem C3 (jehož reaktanci lze zanedbat)<br />
na výstup filtru. Potom je útlum filtru jen 40 dB. Vinou jediného nesprávně voleného spoje<br />
klesá útlum filtru až o 160 dB, což ovšem nelze připustit.
110 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
2. Mezi tlumivkami L1 a L2 je induktivní vazba. Proud procházející tlumivkou L1 vybudí v<br />
tlumivce L2 přídavné napětí a útlum filtru dále klesá.<br />
3. Mezi body A a D s největším potenciálním rozdílem je parazitní kapacitní vazba, která také<br />
zhoršuje účinnost filtru. Snadno vypočítáme, že při parazitní kapacitě 5.10-3 pF (5 fF)<br />
klesne útlum filtru o 60 dB.<br />
4. Kondenzátory v příčných větvích filtru, zvláště kondenzátory, se kterými jsou spojeny delší<br />
vodiče, nejsou správně zamontovány. Protože reaktance kondenzátorů je 0,05 W a<br />
reaktance 10 mm spojovacího vodiče je 0,3 W, postačí spoj délky 20 až 30 mm, aby se<br />
zvětšila impedance kapacitní větve a zhoršil se út lum filtru (ob r . 66) .<br />
5. Vodič f-h, zamontovaný podle chybných úvah o zmenšení proudu, procházejícího kostrou<br />
přístroje, prochází v blízkosti bodů s velkým vysokofrekvenčním potenciálem. Vzhledem<br />
ke kapacitní vazbě se ve vodiči indukuje střídavé napětí, procházející přímo na výstup<br />
filtru. Tak se dostává na vysokofrekvenční potenciál nejen vodič vedoucí proud, nýbrž i<br />
vodič spojený s kostrou.<br />
Obr. 6.49 znázorňuje správnou montáž dvoučlánkového filtru, bez popisovaných vad. Tato<br />
<strong>konstrukce</strong> může při správném výběru tlumivek a kondenzátorů a při respektování parazitní<br />
kapacity mezi vstupem a výstupem filtru zajistit útlum vysokofrekvenčního napětí v řádu 120<br />
až 160 dB.<br />
Při montáži filtrů a také při montáži celých přístrojů se dost často obvody spojují s kostrou<br />
v jednom bodě (obr. 6.50), a to podle chybného názoru, že kostrou přístroje nemá procházet<br />
proud. Jak je známo, následkem povrchového jevu procházejí kostrou přístroje proudy po<br />
povrchu a za stejných podmínek jako vodičem. Proto takové uspořádání nepředstavuje žádné<br />
zlepšení. Abychom naopak mohli spojit všechny součástky s kostrou v jediném bodě, musíme<br />
prodloužit vývody kondenzátorů, což zhoršuje účinnost filtru. V literatuře vůbec, zvláště v<br />
radioamatérské, se často doporučuje uzemnit různé výhodné kombinace v jednom bodě. Ve<br />
většině případů tyto kombinace nemají účinek, neboť je téměř nemožné určit hlavní směr<br />
proudu v přístroji (tj. proudu, procházejícího vodiči a součástkami) a směr proudu,<br />
vznikajícího parazitními vazbami. Proto je základním pravidlem montáže připojit součástky a<br />
vodiče v nejbližším bodě. Při připojování ke kostře se nesmí zapomenout na indukčnost<br />
pájecího očka, ať je vytvořeno jakkoli. Tato indukčnost může vyvolat nevypočitatelnou a<br />
nežádoucí vazbu typu znázorněného na obr. 6.47 (spoj b-c), proto má mít každý spoj s kostrou<br />
své vlastní pájecí očko.<br />
Z hlediska správného sestavení filtru je tedy radno připomenout tyto zásady<br />
- vývody součástek volit co nejkratší,<br />
- příčné kondenzátory filtrů zapojovat tak, aby indukčnost spojů společná různým<br />
článkům filtru, byla co nejmenší (obr. 6.48, 6.49),<br />
- uzemňování a stínění jednotlivých článků filtru provést tak, aby nevznikaly společné<br />
proudové cesty nebo aby byly co nejkratší,<br />
- cívky různých článků filtru vzájemně stínit nebo otočit tak, aby vzájemná vazba byla co<br />
nejmenší (viz obr. 6.49),<br />
- hrubý návrh filtrů tohoto druhu (příčkových článků LC) vychází z poznatku, že útlum<br />
jednoho článku filtru s rezonančním kmitočtem f0 při kmitočtu f je přibližně<br />
U<br />
2 =<br />
celkový útlum se pak rovná součinu dílčích útlumů jednotlivých článků.<br />
U<br />
1<br />
f<br />
2<br />
2<br />
f o
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 111<br />
7.4.7<br />
6.4.7 Souosé tlumivky<br />
Kovové skříně přístrojů, napájených ze sítě, jsou přes síťové přívody spojeny se zemí. Při<br />
tom většinou svorka nulového potenciálu přístroje bývá spojena s kovovou kostrou přístroje.<br />
Spojíme-li takové dva přístroje mezi sebou, vznikne zemní smyčka ze síťových přípojek a<br />
zemních spojů v cestě signálu (obr. 6.51). Smyčka má malé impedance a velkou plochu.<br />
Nejsou-li oba přístroje napájeny z jedné síťové rozvodky, rozměry smyčky se ještě podstatně<br />
zvětší. Zemní smyčkou obvykle protéká indukovaný rušivý proud. Může to být např. proud<br />
indukovaný rozptylovým magnetickým polem transformátoru do uzavřené zemní smyčky,<br />
nebo proud způsobený filtračními kondenzátory v síťových přívodech, tedy proud o kmitočtu<br />
50 Hz. Dále to může být rušivý proud zemními obvody vznikající ve výkonovém stupni<br />
některého z přístrojů, tedy s kmitočtem odlišným od kmitočtu sítě. Všechny tyto vlivy<br />
znázorňuje zdroj UG.<br />
Matematicky lze situaci podchytit takto:<br />
1.Uvažujme, že zemí protéká proud IG, který na odporu RG odpovídající části země vyvolá<br />
rušivé napětí.<br />
2. Uvažujme, že rušivé magnetické pole B = B0 exp(jwt) prochází smyčkou, kde se indukuje<br />
napětí U = jωB<br />
A ⋅ cos( Θ ) ⋅ exp( jωt)<br />
G o<br />
, kde A je plocha smyčky a Q je úhel pod kterým<br />
siločáry protínají smyčku. Výsledky rozboru jsou na obr. 6.51. Rušivé napětí se objevuje<br />
jako symetrické (common mode), proto k jeho odstranění můžeme použít symetrického<br />
přenosu, optoizolačního prvku nebo použít souosé tlumivky (common mode choke).<br />
Mezi přístroji A-B na obr.156 je dvouvodičové vedení, vytvářející cestu pro přenos<br />
signálu. Toto vedení (nejčastěji je to souosý kabel) navineme na jádro s velkou magnetickou<br />
vodivostí. Volba materiálu jádra závisí na kmitočtu rušivých proudů, protékajících zemními<br />
spoji. Při síťovém nebo nízkofrekvenčním rušení je nejvhodnější jádro z permalloye, při<br />
vyšších kmitočtech vyhoví ferit.<br />
Pro nižší kmitočty se snažíme navinout na jádro co nejvíce závitů, u vysokých kmitočtů<br />
může pomoci i jediný průvlek kabelu feritovým kroužkem. Vznikne zapojení naznačené na<br />
obr. 6.52. Vinutí souosým kabelem vytváří vlastně transformátor s převodem 1:1, jehož<br />
primární vinutí je tvořeno uzemněným pláštěm kabelu, sekundární vinutí tvoří vnitřní vodič<br />
kabelu, přenášející užitečný signál. Rušivé napětí uG, mezi konci primárního vinutí se<br />
přetransformuje do sekundárního vinutí a mezi svorkami 3-6 se neprojeví. Země 1 a 2 jsou<br />
tedy střídavě odděleny. Předpokladem správné funkce je, že reaktance primárního vinutí na<br />
kmitočtu rušení je podstatně větší než odpor zemní smyčky.<br />
Popsaného principu souosé tlumivky je možno využít i uvnitř složitějšího přístroje,<br />
tvořeného několika funkčními bloky. Je však nutno vždy uvážit, že tento princip může<br />
pomoci jen tam, kde se uplatňuje rušení vznikající ve smyčce<br />
s malou impedancí. Je-li např.<br />
rušení způsobeno nedokonalým stíněním obvodu s velkou impedancí, je použití souosé<br />
tlumivky neúčinné.<br />
Jednou z aplikací je připojení zátěže ve vysokofrekvenčních aplikacích. Zde se (obr.6.53a)<br />
jen část proudu vrací pláštěm kabelu, zbytek se vrací různými parazitními cestami. Při použití<br />
vyrovnávacího transformátoru 1:1 musí celý proud téci zpět pláštěm kabelu (obr.6.53b).<br />
Poznamenejme, že stejného principu (cívka z koaxiálního kabelu, nyní však bez jádra) se<br />
užívá u anténních svodů k potlačení nesymetrických proudů.
112 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 113<br />
7.5 Přenos impulsů vedením<br />
Přenos impulsů elektricky dlouhým vedením je složitý děj - vedení způsobuje zpoždění<br />
signálu, dochází k odrazům, vedení se nabíjí a vybíjí, někdy se objevují přeslechy z jiných<br />
vedení. Bohužel v mnoha případech se použití vedení (dlouhých spojů) nelze vyhnout.<br />
Přivedeme-li na vstup vedení impuls, neobjeví se na výstupu vedení okamžitě, ale až po<br />
určité době - dojde ke zpoždění impulsu. U koaxiálních kabelů je možné počítat s největší<br />
dobou zpoždění asi 5 ns na metr délky, u krouceného dvouvodiče je zpoždění asi o 20 %<br />
větší. Za vedení musíme považovat i plošné spoje, protože již u dvouvrstvé desky s hustě<br />
rozmístěnými spínacími saturačními logickými obvody je dostatek plošných vodičů s malou<br />
impedancí proti zemi, tedy vodičů představujících dobrou aproximaci zemnicí vrstvy. U<br />
vícevrstvých desek, u kterých obvykle bývá jedna celá vrstva u kterých obvykle bývá jedna<br />
celá vrstva vyhrazena zemnění, je souvislost s vedením zcela zřejmá. Typická hodnota<br />
kapacity činí řádově 0,1 pF na 1 cm délky vodiče, hodnota indukčnosti řádově 1nH/cm. Např.<br />
pro C = 0,6 pF/cm a L = 4 nH/cm je Zo = 80 • a zpoždění t = 5 ns/m. Zpoždění doby<br />
průchodu signálu u desek plošného spoje s uzemňovací vrstvou lze orientačně určit z grafu<br />
uvedeného na obr. 6.54.<br />
Přenáší-li se signál prostřednictvím vedení, dochází<br />
k přenosu signálu bez odrazu jen v těch případech, kdy<br />
vedení je zakončeno rezistorem s odporem rovným<br />
charakteristické impedanci vedení Zo. V ostatních<br />
případech dochází k odrazům.<br />
Vlastnosti odraženého signálu záleží na impedanci<br />
vedení a na druhu zakončení vedení. Signál odražený<br />
na výstupu vedení se vrací na vstup vedení, odtud zpět<br />
na výstup atd. Velikost odraženého signálu se<br />
postupně zmenšuje, až je zanedbatelně malá. Odražené<br />
signály se superponují s užitečným signálem a<br />
zkreslují jeho tvar. Toto zkreslení může dosáhnout<br />
takové velikosti, že signál může překročit na určitou<br />
dobu rozmezí povolených napěťových úrovní.<br />
Fyzikální podstatu odrazu signálu na vedení lze (značně zjednodušeně) vysvětlit z chování<br />
sériového RLC obvodu na obr. 6.55. K nejrychlejšímu ustálení výstupního napětí u (po<br />
sepnutí spínače S) dojde na mezi aperiodicity, kdy<br />
napěťové a proudové poměry v obvodu zajišťují v<br />
celém sledovaném časovém intervalu rovnost energií<br />
WC na kondenzátoru a WL na induktoru. Podmínkou<br />
tedy je, aby i<br />
2<br />
2 u<br />
L = u C , tj.<br />
i<br />
1<br />
= R =<br />
Je-li L / C 〈 R , přebytek energie na kondezátoru<br />
je příčinou napěťového překmitu. Část energie WC se<br />
musí vracet do induktoru. Naopak pro L / C >R<br />
musí být chybějící energie kondenzátoru průběžně<br />
hrazena z přebytku na induktoru (opět na úkor zátěže).<br />
L<br />
C<br />
.
114 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
U vedení s rozloženými parametry je hodnota<br />
L<br />
o =<br />
vedení (viz později), a situaci, kdy Zo > R odpovídá překmit proudové i napěťové vlny, pro<br />
Zo < R je narůstání výstupního napětí i proudu postupné. V obou případech dochází jen k<br />
částečnému předání energie do zátěže R - na nep řizpůsobeném zakončení se nepředaná<br />
energie vrací vedením ve formě odražené proudové a napěťové vlny. V ideálním případě<br />
přizpůsobeného zakončení se do zátěže předá celková energie dílčího obvodu LoCo v<br />
C<br />
o<br />
Z<br />
o<br />
charakteristickou impedancí<br />
intervalu τ = L o<br />
C úměrnému jedné periodě kmitání nezatíženého obvodu. Tolik pro náš<br />
o<br />
jednoduchý model.<br />
Pro další výklad uvažujeme bezeztrátové homogenní vedení (odpor nulový, svod nulový).<br />
Za tohoto předpokladu bude analýza přenosu impulsů jednoduchá.<br />
Na obr. 6.56 je elementární výsek délky Dx homodenního bezeztrátového vedení s<br />
vyznačenými proudovými i napěťovými poměry při přenosu signálu.<br />
Charakteristická impedance vedení je určena<br />
definováno zpožděním signálu na jednotku délky a platí τ =<br />
délky x a času t takové, že<br />
d<br />
dt<br />
d<br />
dx<br />
dt<br />
L<br />
o<br />
Z<br />
o<br />
= a charakteristické zpoždění t je<br />
Co<br />
L o<br />
Co<br />
1<br />
= , platí v souřadnici x = konst ± t / τ<br />
τ<br />
( u + Z<br />
o<br />
i)<br />
= 0 pro x = konst + t / τ<br />
(6.8)<br />
. Pro zvolené jednotky<br />
( u − Z<br />
o<br />
i)<br />
= 0 pro x = konst − t / τ<br />
(6.9)<br />
dt<br />
Součet (u+Zoi) se nazývá přímá vlna, při šíření ve směru x se její velikost nemění (nejsou<br />
ztráty!). Rozdíl (u-Zoi) je tzv. zpětná vlna, její velikost se nemění při šíření ve směru -x.<br />
Odvození vychází ze základních vztahů proudu a napětí na elementárním úseku<br />
∂i<br />
∂u<br />
∂u<br />
∂i<br />
= −C<br />
= −L<br />
(6.10)<br />
∂x<br />
o ∂t<br />
∂x<br />
o ∂t<br />
Platí<br />
di ∂i<br />
∂i<br />
dx du ∂u<br />
∂u<br />
dx<br />
= + ⋅ a = + ⋅<br />
dt ∂t<br />
∂x<br />
dt dt ∂t<br />
∂x<br />
dt<br />
∂i<br />
∂u<br />
Po dosazení do (6.10) za a vyjde<br />
∂t<br />
∂t<br />
di ∂i<br />
dx 1 ∂u<br />
du ∂u<br />
dx 1 ∂i<br />
= ⋅ − ⋅ , = ⋅ − ⋅<br />
(6.11)<br />
dt ∂x<br />
dt L ∂x<br />
dt ∂x<br />
dt C ∂x<br />
o<br />
o<br />
Po zavedení hodnot Zo, t a vzájemným odečtením (6.11) se určí<br />
d<br />
dt<br />
∂i<br />
⎛ dx 1 ⎞ ∂u<br />
⎛ dx 1 ⎞<br />
( u + Z<br />
o<br />
i)<br />
= Z<br />
o<br />
⋅ ⎜ − ⎟ + ⎜ − ⎟<br />
(6.12)<br />
∂x<br />
⎝ dt τ ⎠ ∂x<br />
⎝ dt τ ⎠
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 115<br />
d<br />
∂i<br />
⎛ dx 1 ⎞ ∂u<br />
⎛ dx 1 ⎞<br />
( u − Z<br />
o<br />
i) = −Z<br />
o ⎜ + ⎟ + ⎜ + ⎟ (6.13)<br />
dt<br />
∂x<br />
⎝ dt τ ⎠ ∂x<br />
⎝ dt τ ⎠<br />
Rovnice (6.12) a (6.13) korespondují s (6.8) a (6.9).<br />
Na obr. 6.57 je vyznačen celý úsek vedení délky l mezi body A a B (A - začátek, B - konec<br />
vedení).<br />
Celkové zpoždění signálu mezi body A, B je T = 1⋅τ<br />
. Pokud tedy přímá vlna startuje v A<br />
v čase t-T, dorazí do bodu B právě včase t. Obdobně i pro vlnu zpětnou. S ohledem na (6.8) a<br />
(6.9) platí pro přímou vlnu z A do B:<br />
u Z<br />
o<br />
i = u + Z<br />
x t T<br />
o<br />
i<br />
, − x+1,<br />
t<br />
+ (6.14)<br />
a zpětnou vlnu z B do A<br />
neboli<br />
u<br />
u<br />
u<br />
Z<br />
i<br />
u Z i<br />
(6.15)<br />
,<br />
−<br />
o<br />
= −<br />
x t<br />
o x+<br />
1,<br />
t−T<br />
B<br />
A<br />
() t u<br />
A<br />
( t − T ) = −Z<br />
o<br />
⋅ [ iB<br />
( t) − i<br />
A<br />
( t − T )]<br />
() t u ( t − T ) = Z ⋅ [ i ( t) − i ( t − T )]<br />
− (6.16)<br />
− (6.17)<br />
B<br />
o<br />
A<br />
B<br />
pro u,i(x+1,t)=uB, iB(t) a u, i(x,1)=uA, iA(t)<br />
formálního přepisu na konci a začátku vedení. Grafická<br />
interpretace (4.7) a (4.8) se nazývá Bergeronův diagram.<br />
Rovnice (4.16) a (6.17) jsou vhodné pro výpočet<br />
přechodných dějů na počítači. Z rovnic (A) a (B) můžeme<br />
také konstatovat náhradní obvod vedení podle obr. 6.58.<br />
Napěťové zdroje e1(t) a e2(t) jsou závislé na<br />
předchozích hodnotách proudů, napětí nebo napětí zdrojů<br />
e<br />
1<br />
= u −<br />
t 2<br />
Z<br />
o<br />
i = e Z<br />
t T<br />
o<br />
i<br />
− 2<br />
−<br />
2 t−T<br />
2<br />
2 (6.18)<br />
e2 2 (6.19)<br />
= u<br />
t 1<br />
+ Z<br />
o<br />
i1<br />
= e + Z<br />
t T<br />
o<br />
i<br />
− 1 1 t−T<br />
7.5.1 6.5.1 Metoda Bergeronova diagramu<br />
Uvažujeme situaci podle obr. 6.59. Vedení má charakteristiku impedanci Zo a celkové<br />
zpoždění t. Z hlediska vedení je obvod na začátku vedení vysílačem, obvod na konci vedení<br />
příjmačem. Z rovnic (6.16) a (6.17) je vidět, že v rovině u-i leží body odpovídající starým a<br />
novým hodnotán proudů a napětí na přímkách se sklonem ± Zo. Z toho plyne jednoduchá
116 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
grafická <strong>konstrukce</strong> přechodného děje (tzv. Bergeronův diagram): je-li vedení<br />
zakončenonesetrvačnými (lineárními nebo nelineárními) dvojpóly A, B (obr. 6.67), stačí<br />
vynést jejich voltampérové charakteristiky v souladu s orientací proudů a napětí podle obr. 3.5<br />
a potom z bodu daného počátečními podmínkami přejít po paprscích se sklonem střídavě ±<br />
Zo, jejichž sklon se mění v průsečících s charakteristikami zakončovacích dvojpólů, do<br />
průsečíku charakteristik, který odpovídá ustálenému stavu (obr. 6.60). Časové průběhy napětí<br />
ua a ub snadno sestrojíme časovým rozvinutím Bergeronova diagramu. Na obr. 6.61 - 6.65<br />
jsou odvozeny časové průběhy napětí výstupu vysílače a vstupu příjmače při sepnutí spínače<br />
v čase t = 0 pro různé podmínky. Z grafické analýzy vidíme, že kmitové průběhy dostáváme<br />
pro případ, že<br />
R1 < Zo < R2 nebo R1 > Zo > R2<br />
a monotonně narůstající průběhy pro případ R1 < Zo, R2 < Zo nebo R1 > Zo, R2 > Zo.<br />
při Z = R2 (přizpůsobení na konci - viz. obr. 6.66b).<br />
Je zřejmé, že na<br />
velikosti Zo závisí<br />
charakter ustálení<br />
signálu<br />
nejen<br />
kvantitativně, ale i<br />
kvalitativně. Nejmenšího<br />
zpoždění výstup - vstup<br />
je dosažen při Z = R1<br />
(přizpůsobení na začátku<br />
- viz. obr. 6.66a anebo<br />
Z toho ovšem k ustálení na začátku kabelu při nepřizpůsobeném konci dojde až po době 2 t<br />
.<br />
Naopak<br />
mnohonásobke<br />
m T je doba TK<br />
= (TK = k.t, k<br />
>> 1) potřebná k<br />
ustálení napětí<br />
na obou koncích<br />
vedení pro<br />
hodnotu Zo >><br />
R1, R2 (viz obr.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 117<br />
4.8) Zkreslení signálu způsobené mnohanásobnými odrazy se ovšem nemůže projevit, je-li<br />
délka náběžné/sestupné hrany (tr/tf) podstatně delší než doba t přeběhu signálu z jednoho<br />
konce vedení na opačný.<br />
Jednoduchý vodič (např. volný drátový spoj) v nedefinované vzdálenosti od zemnící<br />
roviny (H >> d - viz obr. 4.1) má τ → 1/ c (tj. 3,3 ns/m). Nárůst signálu na konci vodiče se<br />
kvalitativně téměř neliší od frekvenčního omezení jednokapacitního článku. Pomalý nárůst je<br />
dán velkým počtem odrazů (koeficient k řádově desítky až sta).<br />
Krátký<br />
(vedení)<br />
vodič<br />
má<br />
definovanou hodnotu<br />
vzdálenosti H od<br />
zemnící roviny (např.<br />
plošné spoje), vlivem<br />
vloženého izolantu je<br />
typicky t @ 5 ns/m a Zo<br />
se pohybuje v rozmezí<br />
50 až 200 W. Vedení je<br />
zpravidla<br />
nepřizpůsobené a je<br />
možné bez újmy na<br />
rychlosti několik málo<br />
odrazů (k
118 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Pro úplnost se<br />
ješ tě zmíníme o<br />
vypnutí vedení<br />
(vysílače), viz. obr.<br />
6.68. Odrazy na<br />
vedení a časový<br />
průvěh napětí<br />
ukazuje obr. 6.69.<br />
Půjde-li o vedení<br />
přizpůsobené na<br />
konci, napětí<br />
okamžitě klesne na<br />
nulu. Dále častým<br />
případem v praxi je<br />
buzení ze<br />
dvoustavového<br />
vysílače -tj. je<br />
střídavě<br />
připojováno nulové<br />
napětí (zkrat) a<br />
nenulové napětí,<br />
obr. 6.70.<br />
Konkrétně se takto<br />
chovájí výstupy<br />
digitálních obvodů<br />
(v příští kapitole<br />
budeme zkoumat<br />
včetně uvažování<br />
nelinearit). Situaci ilustruje obr. 6.71, kde je zachyceno vybíjení vedení.<br />
7.5.2 Metoda Bergeronova diagramu pro nelineárně zakončené<br />
vedení<br />
Přednosti Bergeronova diagramu vyniknou při nelineárních charakteristikách vysílače resp.<br />
přijímače. Zde se budeme zabývat případem, kdy vedení je buzeno a zatěžováno digitálními<br />
obvody (obr. 6.72). Budeme uvažovat digitální obvody typu 74AS, závěry jsou samozřejmě<br />
platné obecně. Na obr. 6.74 je grafická analýza přechodných dějů na začátku a na konci<br />
vedení, budičem (vysílačem) i přijímačem je běžné hradlo TTL. Vstupní i výstupní<br />
charakteristiky mají orientaci zvolenou tak, aby bylo možné časové průběhy kreslit v ustálené<br />
konvenci (časová osa vodorovně). Spojovací vedení na uvedeném obrázku má Zo = 50 W.<br />
Z obr. 5.5 a 5.6 lze učinit některé praktické závěry. Nejprve si všimněme přechodu L ® H.<br />
Optimální hodnota je Zo = 50 až 100 W (kolem 90 W pro TTL, kolem 50 W pro AS), tato<br />
hodnota je optimální i z hlediska realizovatelnosti. V tomto případě se jedná o přizpůsobení<br />
na začátku vedení. Napětí na vysílacím hradle má prodlevu trvající dvojnásobek průchodu<br />
signálu vedením. Proto není vhodné připojovat na vysílací hradlo další logické členy - neměly<br />
by v době prodlevy žádnou odolnost proti rušení. Příliš malá anebo příliš velká hodnota Zo je<br />
příčinou mnohonásobných odrazů, jak je uvedeno na obr. 6.76.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 119
120 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 121
122 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obr. 8.75. Odrazy na vedení pro přechod a) L → H a b) H→ L<br />
Obr. 8.76. Mnohonásobné odrazy na nepřizpůsobeném vedení (přechod L→ H)<br />
Na opačný přechod (H ® L) má impedance Zo malý vliv, výstup vysílače je totiž<br />
nepřizpůsoben. Výstupní i vstupní impedance hradla TTL ve stavu L je výrazně menší než ve<br />
stavu H a současně obojí přizpůsobení není takto jednoduše možné. Dále je pro tento přechod<br />
typický záporný podkmit na vstupu přijímacího hradla, jehož velikost (asi -1,5 V) je určena<br />
substrátovou diodou na vstupu. Podkmit by mohl být nebezpečný v případě ostatních vstupů<br />
připojených na + UCC. (Přechody EB těchto vstupů by v záporném překmitu (podkmitu)<br />
mohly být namáhány napětím vyšším než odpovídá jejich průraznému napětí - tj. standardní<br />
připojení nepoužitých vstupů na UCC není vhodné). Proto se raději vstupy přijímacího hradla<br />
spojují paralelně a ještě se připojuje ochranná spínací dioda (KA 206, KA 207), která<br />
zápornou špičku omezí asi na 0,8 V. Některé typy integrovaných obvodů mají přímo tyto<br />
diody zabudovány uvnitř (74S).
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 123<br />
Po záporném podkmitu se na vstupu přijímacího hradla může objevit překmit (na obr.<br />
6.75b není), který může znamenat snížení imunity, případně chybu přijímacího hradla.<br />
Z grafické analýzy lze také snadno najít velikost přechodných proudů nabíjejících a<br />
vybíjejících vedení. Na obr. 6.77 vidíme proudy nabíjecí (i01 při přechodu L ® H) a vybíjecí<br />
(i10v, i10p vysílače a přijímače při přechodu H -> L). S ohledem na relativně velké amplitudy<br />
těc hto proudových špiček (s dobou trvání 2T) je potřeba impedanci i plochu odpovídajících<br />
proudových smyček minimalizovat zapojením blokovacích kondenzátorů. Blokovací<br />
kondenzátor C1 na vysílací straně má typickou hodnotu 100 nF, navíc je třeba oboustranné<br />
připojení zemnícího vodiče k zemnícím (napájecím) svorkám hradel. Amplitudu proudů na<br />
str aně vysílače lze zmenšit sériovým rezistorem R - to ovšem za cenu zhoršení úrovně L. Na<br />
přijímací straně je vhodné ke vstupu zapojit spínací diodu D, obvody v Schotkyho provedení<br />
ji již mají na čipu.<br />
7.5.3 Zakončovací (přizpůsobovací) články pro vedení<br />
Spoje mezi obvody TTL o délce větší než asi 1 m (twisty, ploché kabely a pod.) musí být<br />
přizpůsobeny pro oba přechody signálu, aby se vyloučily odrazy. Vlivem odrazů může totiž<br />
docházet k dočasnému zvýšení úrovně L nebo snížení úrovně H o nepřípustnou hodnotu. Při<br />
délce spojů 1 m je doba "stupínků" napětí již 10 ns, takže takové dočasné výkyvy začínají být<br />
nebezpečné i z hlediska statické odolnosti proti rušení. Záleží také na zatížení vedení, při<br />
malém zatížení je nutno ošetřit i kratší spoje (0,7 m). Zhruba se vedení, která je nutno<br />
zakončovat, kryjí s oblastí dlouhých vedení na obr. 6.<br />
Jednoduché zakončení vedení pomocí rezistoru R = Zo na zem, obr. 6.78a nelze použít,<br />
když je vedení buzeno běžným hradlem. Výstup v úrovni H by byl totiž zatížen odporem Zo,<br />
čímž by došlo k poklesu úrovně H pod minimální přípustnou hodnotu 2 V, potřebnou na<br />
vstupu přijímacího hradla. Stačí však použít hradlo následované tranzistorem (75451) s<br />
externím rezistorem (20 W na +5 V) a bude vše v pořádku. Další možnost, připojení rezistoru<br />
na +5 V místo na zem na konci vedení by představovalo mezní zátěž výkonového hradla v<br />
úrovni L a nelze je proto rovněž doporučit. Situaci při přizpůsobení pomocí rezistoru ukazuje<br />
obr. 6.79.<br />
Používáme-li na za čátku i konci vedení logická hradla, je vhodné nezatěžovat výstup<br />
vysílacího hradla v úrovni H, kde je zatížitelnost malá, ale raději v úrovni L.<br />
Použijeme-li např. děliče R1/R2, obr. 6.78b., můžeme jeho napětí naprázdno nastavit na<br />
hodnotu typické úrovně H. Současně pro přizpůsobení je třeba, aby R1||R2 = Zo. Máme tedy<br />
dvě podmínky (Zo = 100 Ω):<br />
R1<br />
R2<br />
R + R<br />
1<br />
2<br />
= 100 Ω<br />
U CC<br />
R2 ⋅ = 3,5 V<br />
(6.20)<br />
R + R<br />
1<br />
Vzhledem k normalizovaným hodnotám odporu je nejlépe vybrat R1 = 180 W, R2 = 220<br />
W takže R1||R2 = 99 W a napětí naprázdno je 2,75 V. Ve stavu L teče do výstupu vysílacího<br />
hradla proud kolem 2,5 V/100 W = 25 mA, takže je nutné použít výkonového hradla, které<br />
má zatížitelnost 48 mA. Uvedený odporový dělič zajistí dokonalé přizpůsobení vedení s Zo<br />
=100 W (pro obvody 74N) a odstraní všechny překmity i prodlevu na začátku vedení při<br />
změně L ® H.<br />
2
124 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 125
126 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Nevýhodou děliče R1/R2 je trvalý odběr 12,5 mA ze zdroje UCC = +5 V a snížení logického<br />
zisku o 17-20. Situaci na vstupu příjmacího hradla ukazuje obr. 6.80.<br />
Obvody TTL mají dosti velkou šumovou im unitu (obr. 6.81), lze tedy volit neúplné<br />
(částečné) přízpůsobeví, volit rezistory s větším odporem, čimž dojde k úspoře napájecího<br />
R − Z<br />
příkonu a také logického zisku. Dobře lze připustit činitel odrazu 20 %, tj. o<br />
= 0, 2 ,<br />
R + Z<br />
o
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 127<br />
z toho R = 1 , 5⋅<br />
Z o<br />
. Průběhy napětí pro toto nepřizpůsobení 20% jsou na obr. 6.82. Pro<br />
obvody TTL se užívalo částečné přizpůsobení děličem 390/470 W (snížení logického zisku<br />
jen o 8-10) anebo dvou diod dle obr. 6.78c. Diody sice nezabrání odrazům, ale omezí je na<br />
přijatelnou míru. Na rozdíl od odporového děliče však v žádném stavu nerozptylují výkon a<br />
nesnižují logický zisk, což může být někdy důležité.<br />
Zakončení vedení pomocí seriového rezistoru na začátku, obr. 6.78d, nevyžaduje užití<br />
výkonového hradla. Seriový odpor včetně výstupního odporu hradla má být roven Zo. Změnu<br />
(posuv) charakteristik vysílacího hradla ukazuje obr. 6.83. Nevýhodou tohoto přizpůsobení je<br />
zvýšení úrovně L a snížení logického zisku (N = 4). Při překlopení vysílacího hradla se šíří po<br />
vedení signál poloviční amplitudy a po odrazu na konci (rozpojený obvod) se teprve
128 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
amplituda zdvojnásobí na plný logický rozkmit. Zakončení na začátku vedení je vhodné jen u<br />
kratších spojů, jinak dáváme přednost děliči R1/R2 na konci vedení.<br />
Na obr. 6.78c je zakončovací článek pro vedení, jehož funkcí je nepřipustit na vstupu<br />
přijímacího hradla záporná napětí. Používá se k tomu dvou diod, jedné jako spínače<br />
s úbytkem napětí 0,7 V, druhé jako zdroje napětí 0,7 V, kterým se úbytek na spínači
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 129<br />
kompenzuje. Záporné podkmity jsou tak likvidovány a kladné překmity po přechodu H -> L<br />
sníženy. Podobně jako v případě na obr. 6.78c, nejde však o přizpůsobení vedení.Úroveň H je<br />
také možno vyrovnat na 2,6 - 2,8 V pomocí čtyř diod zapojených v serii ke vstupu přijímacího<br />
hradla. To má význam tehdy, když se na úrovni H objevují kmity. Hrany impulsů se přitom<br />
nezhorší.<br />
Následující obrázk y ukazují Bergamontovy diagramy pro různé<br />
druhy přizpůsobení, a to<br />
pro obvody 74AS00. Obr. 6.90 a 6.91 ukazují přizpůsobování obvodů ECL.
130 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
7. 6 Rušení v digitálních systémech<br />
Elektronické přístroje pracují se signály, které by se měly šířit po předepsaných<br />
trajektoriích. Energie elektrických signálů se však šíří v prostoru mezi vodiči a není tudíž<br />
zcela přesně lokalizována. Může tedy docházet k různým nežádoucím interakcím s dalšími<br />
vedeními nebo součástkami. Jde o problematiku elektromagnetické kompatibility (jak již bylo<br />
uvedeno).<br />
Přenos rušivého signálu mezi dvěm a vedeními závisí na vzájemném poměru vazební a<br />
vlastní kapacity vedení (vůči zemi) při přenosu napěťového signálu anebo poměru vzájemné a<br />
vlastní indukčnosti při přenosu signálu proudového. Přenesenému rušivému signálu se pak<br />
říká kapacitní resp. induktivní přeslech. Pokud je být zdrojem rušení silnoproudé vedení, je<br />
rušení typicky jednosměrné.<br />
Rušení je důsledkem šíření energie prostřednictvím elektromagnetického pole, určeného<br />
vektory E, H elektrického a magnetického pole. Vektorový součin S=ExH je mírou<br />
vyzařování energie do daného prostoru a nazývá se Poytingův vektor. Výkon, který pronikne<br />
do daného objemu je určen integrálem Poytingova vektoru po celém povrchu tohoto objemu.<br />
Převažuje-li v součinu složka intenzity magnetické nad elektrickou, je zdrojem rušení rušivý<br />
proud, v opačném případě jde o napěťové rušení. Průniku energie lze zabránit pomocí stínění,<br />
což je uzavření prostoru do elektricky vodivého krytu (známá Faradayova klec). Povrch<br />
vodivých těles je ekvipotenciální plochou a uvnitř (ideálního) dutého vodiče není<br />
elektromagnetické pole. Je-li opatřen rušený vodič vodivým (kovovým) pláštěm, je vodič<br />
odstíněn i tehdy, když tento plášť není uzemněn. Na kapacitě mezi vodičem a stíněním<br />
nebude žádné napětí. Jiná situace je u stínění rušícího vodiče, které (pokud není uzemněno)<br />
nemá nulový potenciál, ale potenciál určený poměrem kapacity stínění k rušícímu vodiči a<br />
kapacity stínění k okolí. Vzhledem k tomu, že signálový vodič může plnit obojí funkci (rušící<br />
i rušený), je žádoucí stínění vždy uzemnit.<br />
Vhodným stíněním vodiče je např. plášť koaxiálního kabelu. Z konstrukčních důvodů je<br />
však třeba používat i jiné typy vedení, které nejsou stíněny. V tomto případě je třeba rozlišit,<br />
zda vazební indukčnosti resp. kapacity jsou soustředěny do krátkého úseku vedení (tj. na<br />
délce, kdy se ještě neuplatní zpoždění signálu), anebo v opačném případě rozloženy podél<br />
dlouhého vedení (tehdy jsou vedení vázaná). U krátkého vedení stačí vyšetřovat amplitudu a<br />
časový průběh přeslechu, u vázaných vedení je třeba vyšetřovat amplitudu a časový průběh<br />
přeslechu, u vázaných vedení je třeba vyšetřovat navíc odrazy na nepřizpůsobených koncích a<br />
eventuálně stanovit, jak jim zabránit.<br />
Cílem dalších podkapitol je analýza přeslechů a rušení v číslicových systémech,<br />
prob<br />
lematika vazebního media, tj. způsob přenosu rušivého signálu (induktivní, kapacitní<br />
nebo galvanická vazba) a způsoby potlačování rušení. Téma je důležité zejména pro návrh a<br />
oživování číslicových systémů.<br />
7.6.1 Přeslechy u jednoduchých spojů<br />
Krátké funkční spoje v rámci jedné desky integrovaných<br />
obvodů představují buď vodiče s<br />
proměnnou vzdáleností od zemního vodiče nebo krátká nezakončená vedení s dobou šíření<br />
signálu T
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 131<br />
Uvažujeme okruhy dvou různých signálů podle obr. 6.92 a nechť K a M je celková<br />
vzájemná kapacita a indukčnost obou okruhů.<br />
Budeme hledat poruchu v pasivním okruhu<br />
vyvolanou signálem v aktivním okruhu. Pro<br />
jednoduchost budeme analyzovat kapacitní a<br />
induktivní rušení odděleně a zanedbáme zpětný vliv<br />
pasivního okruhu na aktivní (přeslech je proti<br />
signálu malý).<br />
Náhradní schema pro kapacitní rušení je na obr.<br />
6.93. Rezistoryna vstupu i výstupu hradla<br />
uvažujeme lineární RB (blízký) a RD (daleký).<br />
Nahradíme-li zdroj napětí ua v sérii s<br />
kondenzátorem K ekvivalentním zdrojem proudu,<br />
získáme obvod podle obr. 6.93b. Kapacita C' označuje součet vazební kapacity K a vlastní<br />
kapacity pasivního okruhu proti zemi včetně parazitních kapacit na vstupu a výstupu hradel.<br />
Přeslechové napětí up = uB = uD je na obou rezistorech RB a RD stejné polarity.<br />
Podobně pro induktivní přeslech máme náhradní obvod na obr. 6.94a a po transformaci<br />
zdroje proudu ia na zdroj napětí získáme ekvivalentní obvod podle obr. 6.94b.<br />
Záměnou konců rušícího vedení lze zjistit, který přeslech dominuje (u kapacitního<br />
přeslechu je přeslechové napětí uB i uD stejné polarity, u přeslechu induktivního polarity<br />
opačné).<br />
Obrátí-li se popsanou záměnou konců vedení polarita mapětí uB i uD, převažuje
132 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
přeslech induktivní, v opačném případě je přeslech kapacitní. Průběh napěťového a<br />
proudového přeslechu popisují diferenciální rovnice<br />
du u<br />
du<br />
a p<br />
p<br />
K ⋅ = + ( K + C)<br />
⋅<br />
(6.21)<br />
dt R R<br />
dt<br />
B<br />
D<br />
di<br />
di<br />
a<br />
p<br />
M ⋅ = ( RB<br />
+ RD<br />
) ⋅ ip<br />
+ ( L + M ) ⋅ (6.22)<br />
dt<br />
dt<br />
kde C, L, K a M jsou dány primárními parametry a délkami aktuálních úseků vedení.<br />
Průběh přeslechového napětí up u<br />
kapacitního přeslechu a přeslechového proudu<br />
ip u induktivního přeslechu je shodný<br />
(rovnice (6.21) a (6.22) mají kvalitativně<br />
shodné řešení) a pro lineární náběh<br />
odpovídajících veličin u a, ia<br />
v aktivním<br />
obvodu je znázorněn v obr. 6.95. Největší<br />
hodnotu dosahuje přeslechový proud či napětí<br />
na konci náběžné hrany průběhu aktivní<br />
ve ličiny. V mezním případě, když je doba<br />
náběžné hrany delší než trojnásobek časové<br />
konstanty náhradních obvodů, bude téměř<br />
dosaženo ustáleného stavu, takže<br />
∆i a<br />
1<br />
ip<br />
max<br />
= M ⋅<br />
t R + R<br />
u<br />
h<br />
∆u<br />
B<br />
D<br />
( R R )<br />
a<br />
p max<br />
= K ⋅<br />
D B<br />
(6.23)<br />
th<br />
(Stejný výsledek získáme pro L' = C'= 0). Jelikož u všech logických obvodů je Rvst >><br />
Rv yst, platí<br />
RB<br />
RD<br />
≅ Rvýst<br />
RB<br />
RD<br />
≅ Rvst<br />
+ (4.2)<br />
takže maximální hodnoty přeslechových veličin jsou<br />
∆ia<br />
ip<br />
max<br />
= M<br />
t R<br />
u<br />
h<br />
∆u<br />
vst<br />
a<br />
p max<br />
= K ⋅ Rvýst<br />
(6.25)<br />
th<br />
Pro obvody TTL můžeme použít Rvst = 1 kW , Rvyst (0) = 15-30 W, Rvyst (1) = 100-200<br />
W. Při úrovni H na pasivním okruhu bude tedy u p < 0 a hodnota |u max| zhruba 10-krát větší<br />
než při úrovni L na pasivním okruhu a up > 0. Záporný kapacitní přeslech je tedy mnohem<br />
nebezpečnější než kladný. Pro konečné zhodnocení vlivu rušení by bylo nutné uvážit šířku<br />
rušících impulsů Dt v obr. 6.95 a přihlédnout k dynamické odolnosti proti rušení. U obvodů<br />
TTL ani impulsy amplitudy větší než 400 mV nemusí vadit, jsou-li dostatečně úzké.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 133<br />
Zůstaňme však raději u pesimističtějšího odhadu a požadujeme, aby rušivá napětí byla menší<br />
než statická odolnost proti rušení obvodů TTL, tj. 400mV.<br />
Vychází<br />
th<br />
0, 4V<br />
K〈<br />
⋅<br />
R ∆u<br />
výst<br />
a<br />
th<br />
M 〈<br />
∆i<br />
a<br />
⋅ 0,4V<br />
(6.26)<br />
Bereme-li Rvýst = 150 W, u a = 3,5 V, t h = 10 ns, Di a = n . 1,6 mA, dostáváme K < 7,6<br />
pF, M < 2,5 mH/n.<br />
Z rozboru také plynou následující podmínky, které jsou příznivé při vzniku přeslechu:<br />
- kapacitní přeslech: velký rozkmit napětí ua, malé C, velké Zo, velké RB<br />
- induktivní přeslech: velký rozkmit proudu ia, malé L, malé Zo, malé RD<br />
Zatím jsme uvažovali oba přeslechy izolovaně. Ve skutečnosti dochází k oběma současně a<br />
vhodný náhradní obvod se soustředěnými parametry, který by věrně modeloval situaci<br />
neexistuje. Často se celkový přeslech bere jako součet dříve odvozených dílčích přeslechů.<br />
Nejhorší případ vzniká při úrovni H na pasivním okruhu a změně H -> L v aktivním. Pak je<br />
up < O, Dia > 0 a ip > 0 v obr. 6.94a, takže na rezistoru RB se sčítají přeslechová napětí up a<br />
RBip záporné polarity. Je-li tedy R B = R vst (tzv. nesouběžné zapojení), může být výsledný<br />
přeslech na vstupu blízkého hradla pasivního okruhu<br />
1<br />
u<br />
p max<br />
+ RBip<br />
max<br />
= ( M∆ia<br />
+ K∆uaRvýst<br />
() 1 )<br />
(6.27)<br />
t<br />
h<br />
Při souběžném zapojení (R B = R vyst, R D = R vst) se na vstupu hradla pasivního okruhu<br />
přeslechly částečně kompenzují, takže jde o příznivější případ. Jelikož parametry M a K jsou<br />
při dané konfiguraci spojů přímo úměrné délce spojů, lze pro zadanou velikost přeslechového<br />
napětí najít z rovnice (4.5) maximální přípustnou délku spojů.<br />
U obvodů TTL je kapacitní rušení vzhledem k malému výstupnímu odporu hradel obvykle<br />
zanedbatelné (snad jen s výjimkou hradel s otevřeným kolektorem, když je použito většího<br />
externího odporu), ale významný je induktivní přeslech. Ke zmenšení induktivního rušení je<br />
třeba omezit propojování jednoduchými vodiči na délku 20 cm, resp. do 50 cm, pokud jde<br />
vodič těsně nad zemí (platí i pro plošné spoje). Pro delší spoje je nutno použít plochý kabel,<br />
kroucenou dvojlinku (do 3 m), nebo koaxiální kabel (do 30 m), kde je induktivní přeslech<br />
víceméně potlačený (nejlépe u koaxiálního kabelu).<br />
Základní způsoby potlačení přeslechu jsou<br />
- vedení spojů v sousedních vrstvách ve směrech na sebe kolmých<br />
- používají souběžného zapojení obvodů<br />
- zvětšení vzdálenosti mezi paralelními vodiči<br />
- zmenšení délky paralelních úseků vodičů<br />
- změnšení společné plochy signálových smyček<br />
Poslední vazební impedance, na které může vznikat rušení, je ohmický odpor společných<br />
vodičů dvou nebo více signálních okruhů, nejčastěji zemních nebo napájecích vodičů. Např.<br />
již proudový impuls o velikosti 100 mA vyvolá na odpor 4 W úbytek 400 mV, který může<br />
způsobit chybné překlopení hradla. Proto je nejlepším řešením souvislá zemnící rovina a<br />
funkční spoje umístěné v jiné rovině (rovinách). Totéž co bylo řečeno o zemním vodiči, platí i<br />
o napájecím vodiči +UCC. Podrobněji bylo o napájecím rozvodu pojednáno v kap. 6.3.
134 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
7.6.2 Přeslechy u vázaných vedení<br />
Uvažujeme přenos signálů po dvou blízkých vedeních, přičemž vzájemné ovlivňování<br />
nelze vyšetřovat metodou soustředěných parametrů. Uvažujeme také, že vedení jsou<br />
bezeztrátová.<br />
Poznámka: Interakci většího počtu vedení s vedením jediným pak lze určit prostou<br />
superpozicí. Tomuto zjednodušení dobře odpovídá i uspořádání plochého kabelu, který je v<br />
konstrukci číslicových zařízení stále více prosazován.<br />
Na obr. 6.96 je elementární výsek délky x dvojice 1, 2 (homogenních, rozměrově<br />
sh odných) vázaných vedení. Parametry K, C, M a L jsou uvažovány na jednotku délky<br />
vedení. Základní vztahy na elementárním výseku lze popsat soustavu diferenciálních rovnic<br />
(C' = C + K značí paralelní kombinaci měrné kapacity vlastní a vzájemné):<br />
∂i<br />
∂u<br />
∂u<br />
1 1<br />
2<br />
C K<br />
∂x<br />
∂t<br />
+<br />
∂i<br />
∂u<br />
∂u<br />
= − ′<br />
2 2<br />
1<br />
= −C′<br />
K<br />
∂t<br />
∂ x ∂<br />
+ t ∂t<br />
∂u<br />
∂i<br />
∂i<br />
1 1<br />
2<br />
L M<br />
∂x<br />
∂t<br />
−<br />
∂u2 ∂i2<br />
∂i1<br />
= −<br />
= −L<br />
− M (6.28)<br />
∂t<br />
∂x<br />
∂t<br />
∂t<br />
Sečtením a odečtením těchto rovnic vyjde<br />
∂ ( i1 i2<br />
) ∂ ( u1<br />
+ u2<br />
)<br />
= −(<br />
C′<br />
− K)<br />
⋅<br />
∂x<br />
∂t<br />
(6.29)<br />
∂ ( i1 i2<br />
) ∂ ( u1<br />
− u2<br />
)<br />
= −(<br />
C′<br />
+ K)<br />
⋅<br />
∂x<br />
∂t<br />
+ ( u + u ) ∂ ( i + i )<br />
− ( u − u )<br />
∂<br />
1 2<br />
1 2<br />
= −(<br />
L + M ) ⋅<br />
∂t<br />
∂t<br />
( i i )<br />
∂<br />
1 2<br />
∂<br />
1<br />
+<br />
2<br />
= −( L − M ) ⋅<br />
∂x<br />
∂t<br />
Srovnáme-li rovnice (6.29) s rovnicemi ( ), vidíme, že místo dvou vázaných vedení stačí<br />
uvažovat dvě jednoduchá nevázaná vedení, ve kterých se nešíří reálné signály, nýbrž tzv.<br />
diferenční (d) a součtový (s) signál
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 135<br />
us = u1 + u2, is = i1 + i2<br />
ud = u1 - u2, id = i1 - i2<br />
Analogicky s řešením jednoduchého (bezeztrátového) dlouhého vedení také po dvojici<br />
vedení vázaných šíří se (se zpožděním t) vlny přímé:<br />
E ( u + Z i ),<br />
E = u + Z i ( (6.30)<br />
zpětné:<br />
E<br />
s<br />
s<br />
= ( )<br />
s<br />
os s<br />
d<br />
d<br />
od d<br />
= ( u − Z i ),<br />
E = ( u − Z i ) (6.31)<br />
s<br />
os s<br />
d<br />
d<br />
od d<br />
součtového a rozdílového signálu, které si zachovají svoji amplitudu. Odpovídající<br />
charakteristické impedance jsou<br />
(6.32)<br />
Z<br />
od<br />
=<br />
L − M<br />
C + K<br />
= Z<br />
o<br />
⋅<br />
1 − k<br />
1 + k<br />
a zpoždění na jednotku délky vedení<br />
τ<br />
d<br />
s<br />
( L − M ) ⋅ ( C + K ) = ⋅ ( 1 − k ) ⋅ ( 1 + )<br />
= τ<br />
L<br />
C<br />
Z<br />
os<br />
L<br />
k C<br />
( L + M ) ⋅ ( C − K ) = τ ⋅ ( 1 + k ) ⋅ ( − k )<br />
L<br />
C<br />
=<br />
L + M<br />
C − K<br />
= Z<br />
o<br />
⋅<br />
1 + k<br />
1 − k<br />
τ = 1<br />
(6.33)<br />
L<br />
C<br />
kde Z<br />
o<br />
= Lo<br />
/ C′<br />
o<br />
, τ = LoC′ o<br />
a kde k<br />
C<br />
= Ko<br />
/ C′<br />
o<br />
značí koeficient kapacitní vazby a kde<br />
k = M / L značí koeficient induktivní vazby.<br />
L<br />
o<br />
o<br />
Obecně je Zos > Zod, td ¹ ts, pouze pro kL = kC dostáváme td = ts. Celkové zpoždění obou<br />
vedení označíme td = htd, ts = hts, analogicky jako u jednoho vedení, h je délka buzeného<br />
vedení.<br />
Rychlost šíření součtového a rozdílového signálu je zpravidla různá a nemá-li na konci<br />
vedení dojít k odrazu signálu, musí být zakončení přizpůsobenou oběma signálům. Možná<br />
bezodrazová zakončení pomocí trojice rozistorů jsou na obr. 6.97. Hodnoty odporu těchto<br />
rezistorů se najdou tak, aby vztahy mezi proudem a napětím při šíření diferenčního a<br />
součtového signálu,<br />
u1 - u2 = Zod (i1 - i2)<br />
u1 + u2 = Zos (i1 + i2)<br />
platily současně i na zakončovacím obvodu.<br />
Šíří-li se vázanými vedeními pouze diferenční signál (zdroj signálu mezi body 1, 2), je i1 =<br />
-12 = i, takže na konci musí platit<br />
( i − i ) = ⋅ Z ⋅ i<br />
u − u = Z 2<br />
1<br />
2<br />
od<br />
1<br />
2<br />
od<br />
takže mezi body 1, 2 je zřejmě odpor (u1 - u2)/i = 2 Zod. Podobně, šíří-li se vázanými<br />
vedeními pouze součtový signál (zdroj signálu mezi spojenými body 1, 2 a zemí), je u1 = u2<br />
= u a na konci vedení musí platit
136 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
u<br />
1<br />
+ u2<br />
= 2<br />
( i i )<br />
⋅ u = Zos +<br />
1<br />
2<br />
takže mezi spojenými body 1,2 a zemí je odpor u/(i1 + i2) = Zos/2. Z uvedených podmínek<br />
dostaneme pro dvě varianty článek p a T, vztahy uvedené na obr. 6.97.<br />
Jestliže vázaná vedení nejsou zakončena uvedenými články, objevují se odrazy a také<br />
konverze jednoho signálu na druhý. Např. jestliže diferenční signál dosáhne konce vedení,<br />
vznikne jak diferenční, tak součtový odražený signál a oba se šíří různou rychlostí zpět na<br />
začátek vedení. Pro přenos údajů na delší vzdálenosti používáme diferenční signál, rušení má<br />
charakter součtového signálu. Jde o tzv. symetrický přenos údajů, zatímco přenos pomocí<br />
jednoduchého vedení se označuje jako nesymetrický.<br />
Uspořádání vedení a obvodů při indikaci přeslechů na vstupu do přijímače je na obr. 9.98a<br />
u přímého a na obr. 6.98b u zpětného přeslechu.<br />
Průvod přeslechů u vázaných vedeních je v podstatě týž, jako u vedení se soustředěnými<br />
parametry. Jsou způsoby signálovou změnou u1, i1, která se šíří podél rušícího vedení a<br />
vlivem vazby obou vedení se přenáší i do vedení rušeného. Ve fázi se signálem vedení<br />
rušícího (ve směru šíření vlny u1 + Zo .i1) tak vzniká přímý přeslech, v opačném směru<br />
přeslech zpětný.<br />
Vzhledem k tomu, že skutečné (měřitelné) hodnoty napětí a proudů na vedení jsou<br />
u1 = (us + ud)/2<br />
u2 = (us - ud)/2<br />
i1 = (is + id)/2<br />
i2 = (is - id)/2<br />
(6.34)<br />
je třeba k jejich určení znát hodnoty součtového (us, is) a rozdílového (ud, id) napětí i<br />
proudu v daných souřadnicích času a délky.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 137<br />
Poznámka: Vlivem vzájemné vazby napětí u1, u2 a proudu i1, i2 obou vedení dojde při<br />
libovolné změně (napětí či proudu) k interakci s ostatními signály. Prvotní příčinou takové<br />
změny je buď signálová změna u1, i1 anebo odraz signálů us, ud, is, id na nepřizpůsobeném<br />
konci. Při odrazu v důsledku uvedené vazby pak dochází i ke vzájemné konverzi mezi<br />
součtovým a rozdílovým signálem, vznikají podružné součtové a rozdílové signály. Při<br />
roz dílné rychlosti šíření (td ¹ ts) je však jejich vznik vzájemně časově posunut. I při relativně<br />
jednoduchém výpočtu jsou poměry na vedeních natolik nepřehlené, že řešení v celém<br />
časovém intervalu (až do ustálení po signálové změně u1, i1) je naopak poměrně obtížné.<br />
Naštěstí v praxi je zapotřebí znát především největší amplitudu signálu rušeného vedení, tj.<br />
zpravidla až do prvního odrazu na konci nepřizpůsobených vedení.<br />
Poznámka: Výjimečná situace vzniká např. na nepřizpůsobeném vedení délky l takovém,<br />
že zpoždění 2t = 2tl @ t r, kdy u zpětného přeslechu dochází k rezonanci se signálovou<br />
změnou.
138 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Náhradní zapojení dvojice vázaných vedení (uspořádání z obr. 6.96, na koncích vedení<br />
uk ončena impedancemi R1, R2, R3, R4) je na obr. 9.99. Na začátku Z i na konci K je zde<br />
dv ojice vedení nahrazena bezodrazovým T článkem (podle obr. 6.98). Jedno vedení je buzeno<br />
zdrojem e; skutečná napětí u1, u2 pak určují jeho náhradu zdroji fiktivními<br />
e<br />
e<br />
d<br />
s<br />
= u<br />
1<br />
− Z<br />
= u − Z i<br />
2<br />
2 d odi t −T d<br />
d1<br />
d 2 od d t −Td<br />
= u + Z i<br />
1<br />
2 s1<br />
os s t −T s<br />
s1<br />
s2<br />
os s t −Ts<br />
e<br />
e<br />
= u + Z i<br />
2<br />
Hodnoty us, ud podle (6.34) svou časovou změnou jsou prvotní příčinou vzniku (nejprve)<br />
přímé (a poté) i zpětné vlny součtového a rozdílového signálu s hodnotami určovanými (6.30)<br />
a (6.31).<br />
Poznámka: Náhradní zapojení z obr. 6.99 neplatí pro stejnosměrnou složku signálu.<br />
du<br />
Předpokladem je ≠ 0.<br />
dt<br />
Zpětný přeslech u2 (Z, t) je závislý na signálové změně e(t) (předpokládané v čase t = 0) a<br />
poměrech impedančního děliče na začátku vedení (R1, R2, Zod, Rt)<br />
Pro kC @kL @ 0 je Rt = 0 a u2 (Z, t) = 0 v celém intervalu t Î(0, ∞)<br />
Pro kC . kL > 0 je u2 (Z,t) podílem amplitudy signálu e(t).<br />
Tuto hodnotu podrží až do příchodu zpětné vlny součtového resp. rozdílového signálu.<br />
Délka pulzu zpětného přeslechu je tedy přibližně 2lt(pro běžná kC, kL l×t<br />
0, ∞ , přičemž<br />
tj. přenos ideálním, nevázaným vedením.<br />
Pro kC ¹ kL je rychlost šíření součtové a rozdílové vlny různá a jejich superpozicí dochází<br />
k deformaci čela přenášeného signálu u1 a ke vzniku přímého přeslechu, který má tvar pulzu s<br />
polaritou závislou na charakteru vazby. Pro typické kC, kL td a přímý přeslech je záporné polarity<br />
s maximem
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 139<br />
u2 (K)max = -u2(K, Ts) v okamžiku t = Ts = ts.l příchodu vlny e = 0 :<br />
u2 (K)max = ed(Ts).k/2; k = R4/(R4 + Zo)<br />
s<br />
Při dominující kapacitní vazbě (kC > kL) platí td > ts a přímý přeslech je kladný s<br />
maximem<br />
u2 (K)max = es(Td).k/2 v okamžiku t = Td = td.l příchodu vlny e = 0 . Při uvedeném kC,<br />
kL lkrit s délkou l dále narůstá pouze šířka pulzu,<br />
amplituda je na délce nezávislá. Kritická délka je přímo úměrná hodnotě<br />
tr/(kL-kC), tr doba náběhu rušícího pulzu. Z toho je vidět, že je nevhodné užívat rychlejší<br />
rodiny digitálních obvodů (AS, ECL) než je pro dané zařízení potřeba (neboť s kratšími<br />
hranami vzrůstá<br />
amplituda přímého přeslechu).
140 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Jiná možnost je zařídit rovnost vazebních koeficientů kL = kC (tj. Td = Ts), kdy tyto<br />
impulsy zcela vymizí. Např. u plošných páskových vedení toho lze dosáhnout pokrytím<br />
tištěných spojů další vrstvou dielektrika.<br />
Na obr. 6.101. jsou typické průběhy napětí<br />
na aktivním a pasivním vedení při převládajícím<br />
induktivním přeslechu.<br />
Ještě ukážeme, že absolutní hodnotě<br />
k − k , k , k 〈〈 1 je úměrný rozdíl zpoždění<br />
L<br />
Tq.<br />
q<br />
C<br />
L<br />
C<br />
( 1− k ) ⋅ ( 1+<br />
k ) − ( 1−<br />
k ) ⋅ ( 1+<br />
k ) ≅ τ ⋅1/<br />
2 ⋅ ( 1−<br />
k + k ) − ( 1−<br />
k k )<br />
T = l ⋅ τ −τ<br />
= l ⋅τ<br />
+<br />
s<br />
d<br />
L<br />
C<br />
C<br />
L<br />
L<br />
C<br />
C<br />
L<br />
Při přenosu informace na větší vzdálenost je<br />
tře ba volit vedení mezi nimiž navzájem existují<br />
jen malé induktivní vazby - např. kroucené<br />
dvojlinky nebo koaxiální kabely. U koaxiálních<br />
kabelů jsou přeslechy téměř úplně odstraněny,<br />
ovšem tyto kabely jsou relativně drahé. Hodí se<br />
proto jen pro největší rušení. Jinak vesměs<br />
vyhovují kroucené dvojlinky nebo plochý<br />
kabel. Jsou levnější a lépe se s nimi<br />
pracuje.<br />
Obr.6.101. Typické průběhy napětí na<br />
aktivním a pasivním vedenípři<br />
převládajícím induktivním přeslechu<br />
(k L =0,5, k C =0,4, Z 0d =0,84, Z 0s =0,95,<br />
R 1 =0, R 2 =R 3 =R 4 =Z 0 )
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 141<br />
8 MECHANICKÁ KONSTRUKCE<br />
Při návrhu mechanické <strong>konstrukce</strong> se uplatňují hlediska: provozní, výtvarné (tzv. design),<br />
technické a technologické. Zde si všimneme jen některých hlavních problémů.<br />
Konstrukční koncepce zařízení znamená v zásadě prostorové a mechanické uspořádání<br />
všech funkčních dílů zařízení ve vymezeném prostoru příp. ve vhodné skříni, kostře ap.<br />
Vyřešit konstrukční koncepci tedy znamená uspořádat účelně všechny díly zařízení a vytvořit<br />
k tomu vhodnou konstrukci nosných dílů, skříní, mechaniku ovládacích prvků, převodů,<br />
chlazení atd. Technologická koncepce zařízení pak znamená určení způsobu výroby<br />
funkčních i mechanických dílů zařízení s ohledem na minimální výrobní náklady a na<br />
technologické možnosti uvažovaného výrobního podniku. Technologická koncepce tedy úzce<br />
souvisí s konstrukční koncepcí a musí být vytvářena současně s ní.<br />
Konstrukční a technologická koncepce elektronického zařízení musí splňovat tyto<br />
požadavky:<br />
- jednotlivé funkční díly zařízení musí být umístěny v takové vzájemné poloze, která<br />
umožňuje jejich optimální funkci (minimální délka spojů)<br />
- funkční díly, které by se mohly vzájemně nepříznivě ovlivňovat, musí být vzájemně<br />
vzdáleny nebo vhodně odděleny stíněním<br />
- celkový objem zařízení má být co nejmenší<br />
- přitom však musí být jednotlivé díly dobře přístupné v zájmu snadné údržby a oprav<br />
- vnější tvar a úprava zařízení musí být přizpůsobeny požadavkům uživatele a jeho provozu<br />
(mechanická odolnost)<br />
- umístění ovládacích, signalizačních a indikačních prvků musí vyhovovat ergonomickým<br />
zásadám<br />
- odvod tepla ze zařízení musí být vyřešen s ohledem na maximální teploty okolí v místě<br />
použití<br />
- technologická koncepce musí respektovat klimatické vlivy v místě použití<br />
- konstrukční koncepce musí zajistit bezpečnost provozu zařízení (respektovat příslušné<br />
normy)<br />
- musí být respektována ekonomie výroby (využití materiálů, pracnost montáže, dědičnost<br />
součástek ap.).<br />
Z tohoto souboru požadavků je zřejmé, že celkovou konstrukční a technologickou<br />
koncepci zařízení je možno řešit až po vytvoření konstrukční koncepce všech funkčních dílů<br />
zařízení, po ergonomickém vyřešení jeho ovládacích a indikačních prvků, po vyřešení otázek<br />
odvodu tepla, potřebných stínění a po vyřešení systému bezpečnostních opatření. Při vývoji<br />
zařízení, které se funkčně príliš neliší od zařízení dosavadních, může ovšem zkušený<br />
konstruktér a technolog vytvořit celkovou koncepci zařízení předem, ale její upřesnění a<br />
detailní propracování probíhá pak současně s vývojem a konstrukcí funkčních dílů.<br />
Vytváření konstrukční a technologické koncepce probíhá obecně v těchto etapách:<br />
- soustředění vstupních informací o jednotlivých funkčních dílech a jejich rozměrech a<br />
vzájemných vztazích<br />
- soustředění informací o ovládacích a indikačních prvcích a jejich ergonomicky optimálním<br />
uspořádání na čelních plochách zařízení, a o odpovídajících ovládacích prvcích<br />
(potenciometrech, kondenzátorech ap.) ve funkčních dílech<br />
- vytvoření několika možných variant prostorového a mechanického uspořádání funkčních<br />
dílů a k nim příslušné koncepce nosných prvků, skříně a ovládacích převodů
142 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
- srovnávací hodnocení vytvořených variant z hlediska využití prostoru, přístupnosti, délky<br />
spojů, odvodu tepla, jednoduchostí mechan. převodů a výrobní pracnosti<br />
- volba optimální varianty příp. sestavení optimální varianty kombinací jednotlivých<br />
vhodných částí vytvořených variant, a její konstrukční a technologické propracování<br />
Při této práci se řídíme zásadami systémového iženýrství.<br />
Zvolená koncepce provedení přístroje sestává z dílčích konstrukčních řešení<br />
- přístrojové skříně<br />
- vnitřní zástavby<br />
- umístění obslužných prvků<br />
8.1 Přístrojová skříň<br />
Podkladem pro volbu/řešení přístrojové skříně je rozsah použití přístroje, provozní<br />
podmínky, specifické požadavky - zákaznické i promítání výsledků elektrické <strong>konstrukce</strong><br />
(vývoje). Příklady hledisek ke kterým se přihlíží:<br />
8.1.1 Hledisko mobility<br />
Základní členění - stacionární, mobilní, přenosná zařízení<br />
a) Zástavba do jednotných stojanů, rámů. Přístroj řešen jako zásuvná jednotka, s jednotnou<br />
šířkou čelního (ovládacího) panelu. V přístrojové technice je nejrozšířenější použití šířkového<br />
modulu 19". Výškový rozměr je již variabilní - často v násobcích zvoleného výškového<br />
modulu.<br />
b) Samostatné přístroje. Kritériem řešení je především mechanická pevnost v závislosti na<br />
hmotnosti přístroje. Tomu odpovídají i manipulační prvky - vlastní tvar přístroje, použití<br />
držadel, úchytek u rozměrných zařízení i jeřábových ok resp. pojezdových koleček.<br />
U souborů přístrojů laboratorního typu (stolní provedení) se přístroje vestavují do skříní<br />
(jednotek) typizovaných řad/systémů přístrojových skříní. Tj. přístrojových skříní jednotného<br />
vzhledu, jednotné koncepce nabízených specializovanými výrobci. Zpravidla je možno volit z<br />
řad s odstupňovanou výškou, šířkou či hloubkou skříně.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 143<br />
8.1.2 Provozní hlediska<br />
Chlazení - přirozeným prouděním vzduchu přes větrací otvory v plásti - dolních, horních či<br />
bočních stěnách je možné u přístrojů, které jsou umístěny v prostoru, který proudění nebrání a<br />
umožňuje odvedení veškerého nežádoucího tepla. Při větších ztrátových výkonech, omezené<br />
zástavbě, kumulovaných sestavách přístrojů se umístí přídavné prvky - profilované chladiče<br />
na zadní panel, využívá se nuceného vzduchového chlazení (ventilátory), příp. kapalinové<br />
chlazení.<br />
Elektromagnetická kompatibilita - u přístrojů, které jsou zdroji elektromagnetického<br />
vyzařování nebo které jsou jeho účinky ovlivňovány, se vyžadují od přístrojové skříně stínící<br />
účinky. Pro nízké kmitočty se proto jako konstrukčního materiálu používají magnety měkké<br />
oceli, jinak především z důvodů hmotnosti hliníkové slitiny. Při požadavcích na vf stínění<br />
musí být zajištěno vodivé propojení všech dílů, krytů - nepřípustná je nevodivá povrchová<br />
ochrana v místech styku; výskyt větracích otvorů s rozměry srovnatelnými s vlnovou délkou.<br />
Nelze-li docílit požadovaných stínících účinků pouze provedením přístrojové skříně, řeší se<br />
další doplňkové stínění v rámci vnitřní zástavby.<br />
Konstrukční a mechanické požadavky - přístroj musí odolávat mechanickému namáhání v<br />
souladu s jeho používáním. Jeho skříň musí svým konstrukčním řešením chránit vestavěné<br />
části a díly před vnějšími vlivy (např. před znečištěním prachem nebo mechanickým<br />
poškozením) jak při provozu ve jmenovitých podmínkách, tak i při dopravě a skladování.<br />
U přístrojů s dynamickým namáháním, požadavky na mobilitu, s nebezpečím pádu apod.<br />
se volí mechanická pevnost pro nejnevýhodnější provozní stav. Tj. tuhost <strong>konstrukce</strong>, volba<br />
konstrukčních materiálů. Odolnost proti nežádoucím poškozením/ deformacím se ověřuje<br />
zkouškami.<br />
8.1.3 Jiné specifické požadavky<br />
E stetické hledisko - vzhledové stránce přístrojů - tvarovému i barevnému řešení se věnuje<br />
z hlediska provozních i konkurenčních důvodů velká pozornost. Profesionálně přísluší řešení<br />
do oboru průmyslového designu, který také zahrnuje i řešení obslužných prvků vč. grafiky -<br />
popisu a značek použitých na přístroji - viz dále.<br />
Doba provozu. Přístroj by měl být schopen pracovat při stanovených podmínkách a<br />
přípustné zátěži bez přerušení nejméně 8 hodin.<br />
8.2<br />
Přístrojová zástavba<br />
Konstrukční provedení vnitřní zástavby odpovídá charakteru přístroje a vývoji techniky.<br />
Typickými požadavky jsou:<br />
- vysoká hustota zástavby k dosažení minimálních celkových rozměrů<br />
- vnitřní elektromagnetická kompatibilita - potlačení vzájemného nežádoucího ovlivňování<br />
obvodů<br />
- snadná efektivní montáž při výrobě, demontáž při opravách, údržbě<br />
- přístup k vnitřním nastavovacím, kalibračním prvkům
144 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
8.2.1 Základní koncepce vnitřní zástavby<br />
Vývoj techniky prošel následujícími stadii:<br />
a) chasis nesoucí většinu<br />
elektromechanických prvků<br />
vč. součástek upevněných na<br />
samostatných nebo<br />
skupinových pájecích<br />
bodech. Vnitřní propojení<br />
jednotlivými vodiči.<br />
b) nosný systém pro<br />
upevnění jednotlivých<br />
funkčních bloků na deskách s<br />
plošnými spoji (DPS).<br />
Vzájemné<br />
propojení<br />
kabeláží.<br />
c) použití velkoplošných<br />
desek s plošnými spoji<br />
- koncentrující prakticky<br />
všechny elektrické obvody<br />
- nebo tvořící nosnou<br />
jednotku a současně propojovací pole pro jednotlivé moduly vnitřní zástavby (DPS)<br />
- resp. kombinace - obsahuje jak elektronické obvody, tak k ní upevněné moduly/jednotky<br />
Pozn. používá se termínu matečná deska - motherboard.<br />
Specifické požadavky - např. ve vf technice - vedou na zástavbu samostatných funkčních<br />
bloků (uzavřené, stíněné jednotky) nebo samotný princip modulové stavby přístroje
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 145<br />
(uživatelsky volitelná konfigurace jednotek - viz obr 7.3) - v tomto případě vertikálního<br />
zesilovače, časové základny apod.<br />
8.2.2 Topologie vnitřní zástavby<br />
Topologie vnitřní zástavby musí respektovat signálový tok, dostatečné odstupy zdrojů<br />
rušení (např. magnetické pole síťového transformátoru,<br />
rušivé pole obvodů číslicové techniky, vyzařování<br />
oscilátorů...), odstupy zdrojů tepla a teplotně závislých<br />
obvodů.<br />
Řešení vnitřní zástavby vychází i z designového<br />
řešení tj. z jím stanoveného rozložen ovládacích a<br />
indikačních prvků, vstupů, výstupů. Stanovuje způsob<br />
jejich upevnění a propojení.<br />
Dále je třeba sledovat některé doplňující požadavky.<br />
Především jd e o přístupnost kontrolních měříc<br />
ích bodů a<br />
nastavovacíc h (příp. kalibračních) prvků .<br />
Nastavo vací prvky je třeba umístit tak, aby byly dobře<br />
viditelné a především rozlišitelné, je-li jich více. Jsou-li<br />
velmi blízko sebe, je velká pravděpodobnost, že dojde k manipulaci s jiným prvkem než je<br />
potřeba.<br />
Prázdné desky. V některých zařízeních je nutné vytvořit určitý volný prostor pro budoucí<br />
rozšiřování jejich funkčních možností. Proto se ponechávají v kostře (vaně) volná místa, kam<br />
lze dodatečně osadit novou desku PS. Aby nemohlo dojít k nežádoucímu zasouvání desek do<br />
těchto neobsazených míst, je vhodné je vyplnit krytem, panelem nebo výplňovou jednotkou.
146 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
8.3 Volba, rozmístění a grafické označení obslužných prvků<br />
Obsluha elektronických zařízení v podstatě říd í a kontroluje činnost těchto zařízení. Proto<br />
tyto mají na různých úrovních signalizační světla (žárovky, svítící diody), výchylkové<br />
indikátory a měřicí přístroje se stupnicemi a v poslední době i různé druhy číslicových<br />
displejů, alfanumerických a grafických zobrazovacích jednotek. Patří sem i různé druhy<br />
bzučáků, zvonků a mechanických signalizačních prvků. Všechny shora uvedené moduly<br />
můžeme nazývat souhrnně "sdělovače". Podle smyslu, kterým informace sdělovačů<br />
přijímáme, dělíme je na: optické, akustické a dotykové.<br />
Na druhé straně elektronická zařízení obsahují "ovladače", kterými obsluha zařízení<br />
za píná, vypíná, nastavuje potřebné hodnoty veličin a reaguje na údaje výše uvedených<br />
sdělovačů.<br />
Designový návrh v této oblasti patří k nejnáročnějším tvůrčím činnostem při vývoji<br />
přístroje. Mimo designera se na něm podílí i konstruktér a vývojový pracovník. Jde o hledání<br />
optimálního řešení z hlediska:<br />
- technického<br />
- ergonomického<br />
- estetického<br />
Obor ergonomie - vědě o práci - se uplatňuje v přístrojové technice v optimalizaci<br />
uživatelských vlastností, v efektivno sti, subjektivním hledisku snadné, ale i bezpečné obsluhy.<br />
Jde o to, že téměř všechna elektronická zařízení jsou při svém praktickém nasazení<br />
obsluhována člověkem, a je účelné, aby uspořádání styčných prvků mezi zařízením a<br />
člověkem bylo přizpůsobeno co nejvíce přirozeným schopnostem a vlastnostem člověka. Je to<br />
tím důležitější, čím delší je pracovní doba člověka u těchto zařízení a čím větší je objem<br />
vzájemně předávaných informací a povelů. Přizpůsobení zařízení člověku je třeba sledovat<br />
hlavně ve třech směrech:<br />
- přizpůsobení zařízení a jeho prvků rozměrům lidského těla<br />
- přizpůsobení indikačních a ovládacích prvků lidským rukám<br />
- přizpůsobení pohybu ovládacích prvků lidským zvyklostem
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 147<br />
Pokud jde o rozměry lidského těla, máme k dispozici data antropometrických tabulek.<br />
U průměrného muže máme tato data:<br />
Vstoje: výška těla 170 cm, očí 157 cm, dosah ruky od osy těla 65 cm vpřed, 87 cm na<br />
stranu, 208 cm do výšky.<br />
V sedě: výška těla 135 cm, očí 122 cm, dosah ruky od osy těla 65 cm vpřed, 87 cm na<br />
stranu, 173 cm do výšky.<br />
Optimální výška pracovní plochy 70-80 cm v sedě, 90-110 cm ve stoje, dle druhu práce.<br />
Pro ženy platí všechny rozměry zmenšené o 8%.<br />
Při návrhu indikačních a ovládacích prvků elektronických zařízení je třeba dále respektovat<br />
způsob a časovou náročnost jejich obsluhy (občas neb stále, laický nebo školený pracovník),<br />
psychologický stav pracovníka (jeho další povinnosti) a běžné zvyklosti lidí. Většina lidí<br />
např. podvědomě počítá s tím, že:<br />
- při otáčení ovládacího prvku doprava ovládaná veličina roste<br />
- při posunu ovládací páky vzhůru nebo od sebe ovládaná veličina roste<br />
- při otáčení ovládacího prvku doprava se ovládaný ukazatel pohybuje též doprava nebo<br />
nahoru<br />
- barvy signálních světel připomínají význam daný dopravními předpisy<br />
- světlé a modravé odstíny barev se podvědomě spojují s pohybem dolů<br />
- červená a žlutá připomínají teplo, modrá a bílá chlad<br />
- hlasité a kolísavé tóny a mihotavá světla budí pocit nebezpečí<br />
- řeč působí přirozeně, přichází-li zepředu v úrovni hlavy
148 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
- sedadla a schody budou mít všude stejnou výšku<br />
- ovládací prvky vyžadující velké síly se budou ovládat spíše nohou než rukou pevnost<br />
dorazů v mezních polohách ovládacích prvků vydrží i největší sílu, kterou jsme schopni na<br />
prvek působit.<br />
Přistupujeme-li tedy k úkolu řešit vnější úpravu elektronického zařízení, musíme<br />
především analyzovat, za jakých podmínek bude zařízení provozováno, jaké požadavky<br />
kladou lidé na zařízení a jaké požadavky klade zařízení na lidi. Je třeba poznat všechny běžné<br />
i méně běžné provozní<br />
situace, roztřídit je z<br />
hlediska četnosti a<br />
důležitosti a přizpůsobit<br />
konstrukci výrobku a<br />
jeho ovládací a<br />
indikační prvky tak, aby<br />
prvky nejčastěji<br />
potřebné byly též<br />
nejsnáze přístupné, aby<br />
všechny provozní<br />
situace byly řešitelné<br />
bez zbytečných<br />
komplikací, a aby<br />
uspořádání prvků na<br />
pracovní ploše mělo<br />
snadno pochopitelnou<br />
logiku, vyplývající např.<br />
z posloupnosti členů v<br />
přenosové cestě signálu<br />
nebo nejčastějšího<br />
pořádku obvyklých<br />
pracovních úkonů. Je<br />
třeba též brát v úvahu<br />
činitele pracovní<br />
psychologie, počítat i s<br />
únavou obsluhujícího<br />
pracovníka a zmenšovat<br />
pravděpodobnost<br />
chybných úkonů např.<br />
tím, že ovládací prvky<br />
budou označeny nejen<br />
symboly a nápisy, ale<br />
také odlišeny barevně i<br />
tvarově, že počet<br />
ovládacích prvků bude<br />
co nejmenší, že zařízení<br />
bude vybaveno pojistnými opatřeními apod.<br />
Posuzujeme též pořadí důležitosti zobrazovaných nebo indikovaných stavů, popřípadě<br />
hodnot obvodových veličin. Je nutno také zvážit, jak rychle se sledované hodnoty mění a zda<br />
je bude operátor schopen sledovat. V případě neúnosných požadavků na člověka uvážit<br />
možnosti změny koncepce zařízení. Moderní mikroprocesorová technika umožňuje
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 149<br />
automatické sledování kritických veličin a stavů a jejich zapisování do protokolů<br />
prostřednictvím připojené tiskárny.<br />
Vnější úprava zařízení musí též svým stylem a estetickým řešením odpovídat prostředí, v<br />
němž bude zařízení provozováno. Charakteristické barvy a konstrukční styly zařízení např.<br />
pro účely vojenské nebo lékařské jsou dostatečně<br />
známy a mají svůj účel. Totéž platí v menší míře o všech zařízeních ostatních, v neposlední<br />
řadě o spotřební elektronice, kde musíme brát v úvahu současný styl v nábytku, v bytovém<br />
textilu, v životním stylu různých skupin lidí atd. a okolnost, že tento styl se neustále vyvíjí a<br />
mění.<br />
U ovládacích prvků požadujeme, že musí být dobře ovladatelné, pohodlně uchopitelné a<br />
uspořádány tak, aby umožňovaly snadnou obsluhu.<br />
Mimořádný význam nabývá ergonomika při řešení složitých systémů, např. v pilotní<br />
kabině letadla. Pilot - umístění, dostupnost a provedení ovládacích prvků musí respektovat<br />
fyziologické schopnosti organismu. Podobně množství poskytovaných optických informací<br />
musí provedením indikačních prvků a jejich rozmístěním v zorném poli respektovat význam,<br />
informační hodnotu, provozní potřeby. Moderní systémy umožňují mnoho informací<br />
integrovat na obrazovk u a uživatal nebo systém sám může vybírat hlavní informace (např.<br />
ve lín elektrárny, personální měřicí přístroj, osciloskop).<br />
I v méně náročných provozních podmínkách užití přístrojové techniky je třeba při<br />
designovém řešení přihlédnout k následujícím kritériím:<br />
8.3.1 Kritérium četnosti manipulace<br />
- prvky s největší četností zásahů, nejčastější manipulací mají být:<br />
- snadno přístupné (tj. na čelní straně přístroje)<br />
- rozměrově, vizuálně odlišené<br />
Příklady:<br />
a) prvek jemné regulace s nejvyšší četností použití ladění přijímače - viz obr. 7.8. Velký<br />
průměr a povrch točítka navržen pro citlivé ovládání 2 - 3 prsty pravé ruky (poloha zcela<br />
vpravo).<br />
b) jednorázově použitá přípojná místa a ovládací prvky - síťová přívodka, pojistková<br />
pouzdra, konektory, propojení apod. Jsou převážně rozmístěny na zadní stěně (zadním<br />
panelu).<br />
U přístrojů určených k vestavění do skříní nebo stojanů musí být všechny prvky určené pro<br />
ovládání přístroje umístěny na jeho čelní straně. U větších zařízení (např. elektrárna) se<br />
ovládací prvky i sdělovače zpravidla umisťují na řídicí panely nebo pult operátora.<br />
8.3.2 Kritérium významu<br />
- prvky s největší informační hodnotou či prioritou ovládání tvoří dominanty zorného pole<br />
Příklady:<br />
a) síťový vypínač
150 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
- z důvodů bezpečnosti zvýrazňován velikostí, barevným odlišením. Požadavek na rychlou<br />
identifikaci, snadné ovládání, rozlišení stavu (vypnuto/ zapnuto) i při výpadku signalizace<br />
provozního stavu - viz dále.<br />
Tlačítkové spínače<br />
- výškové rozlišení stavu<br />
zamáčknutý/ vymáčknutý a<br />
vyznačením stavu na popisu<br />
nebo viditelná značka O ve<br />
vymáčknuté/ vypnuté poloze<br />
na boční straně hmatníku.<br />
Podobně u kolébkového<br />
vypínače. Jiná verze - dvojice<br />
spřažených tlačítek se<br />
vzájemnou aretací - jedno<br />
spíná, druhé vypíná.<br />
b) Indikace provozního stavu<br />
- zejm. zapnutí přístroje. Převážně zvýrazněno barevně, jasově. Běžný provozní stav -<br />
zeleně; poruchový stav, výstraha - červeně; ostatní indikace např. oranžově. Pokud je indikace<br />
zapnutí provedena signálkou, napomáhá rychlé identifikaci vypínače v ovládacím poli, je-li<br />
umístěna v jeho těsné blízkosti vč. grafického vyznačení.<br />
c) Disple j multimetru<br />
- hlavní údaj tj. měřená hodnota odlišená velikostí od vedlejších údajů - zvolených<br />
jednotek, rozsahů. Podobně je dominantní obrazovka osciloskopu vůči dalším indikačním<br />
prvkům.<br />
Polohy ovládacích prvků jsou předepsány takto:<br />
- "zapnuto" nebo "start" - stisknuté tlačítko, poloha páčky nahoru, napravo nebo od sebe;<br />
- "vypnuto", "odpojeno" nebo "stop" - uvolněné tlačítko, poloha páčky dolů, nalevo nebo k<br />
so bě;<br />
- zvětšení v nastavení veličiny - pootočením ovládacích, regulačních a nastavovacích prvků<br />
ve směru hodinových<br />
ručiček;<br />
- zmenšení v nastavení veličiny - pootočením ovládacích, regulačních a nastavovacích<br />
prvků proti směru hodinových ručiček.<br />
Jsou-li polohy ovládacích prvků vyznačeny čísly nebo písmeny, musí růst čísel nebo<br />
abecední sled písmen souhlasit se zvětšováním regulované veličiny (výjimky z tohoto<br />
ustanovení jsou dovoleny jen tehdy, jsou-li stupnice kalibrovány v řadě převrácených hodnot<br />
nebo záporných čísel nebo vyžaduje-li to konstrukční řešení).<br />
Zajištění poloh ovládacích prvků:<br />
- u ovládacích prvků nesmí dojít k samovolnému přestavení nebo ke změně nastavené<br />
polohy; je účelné, aby ovládací prvky byly opatřeny zarážkami. U přepínačů musí být výrazná<br />
aretace jednotlivých poloh.<br />
Trvanlivost ovládacích prvků<br />
- musí být taková, aby vydržely při běžném používání přístroje po dobu jeho použitelnosti.<br />
Obvykle se žádá, že musí vydržet nejméně 10 000 pracovních cyklů přepnutí, změn nebo<br />
přestavení.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 151<br />
8.3.3 Kritérium kolize<br />
při ovládání je nežádoucí kolize ovládacích prvků resp. ovládacích indikačních prvků.<br />
Příklady:<br />
a) umístění zobrazovacích a indikačních prvků (displejů, obrazovek, ručkových měřidel,<br />
signálek) nad ovládacími prvky případně stranově tak, aby při manipulaci zůstaly v zorném<br />
poli, nerzakrývány rukou.<br />
b) vzdálenosti ovládacích prvků, velikost tlačítek, hmatníků voleny tak, aby vzájemně<br />
nebránily snadné obsluze.<br />
c) umístění přípojných míst - do prostorů, kde nezpůsobují překážku v pracovním prostoru<br />
přímo ani přípojnými vodiči (konektory, kabely)<br />
Přípojná místa pro vstupní signály (např. u měřících přístrojů - tedy často používané - viz.<br />
též 7.3.1.b) mají být umístěna pokud možno vlevo na čelní straně přístroje, přípojná místa pro<br />
výstupní signály vpravo na čelní straně přístroje, pokud toto řešení nezhoršuje použitelnost<br />
nebo elektrické vlastnosti přístroje. Je-li třeba, lze přípojná místa umístit i na ostatních stěnách<br />
přístroje (např. přímé vývody u vychylovacích desek obrazovek osciloskopů, rozebíratelné<br />
souosé a vlnovodné vedení).<br />
Pokud by záměnou konektorů mohlo dojít ke škodě, musí být zajištěna jejich nezáměnnost.<br />
U konektorů vestavěných uvnitř přístroje stačí, jsou-li jednoznačně označeny. Konektorová<br />
spojení je možné kromě identifikačních označení (např. štítků) označit i barevně, např.<br />
barevnou návlečkou. Barevný odstín této návlečky na kabelovém konektoru souhlasí s<br />
barevným odstínem pole kolem panelového kolektoru. Barevné označení se nedává přímo na<br />
konektory, protože při jeho výměně by došlo ke zrušení barevného kódu.<br />
Délky<br />
vnějších přívodů musí být úměrné jejich používání, délka síťového přívodu musí být<br />
nejméně 1,5 m.
152 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
8.3.4 Kritérium subjektivního vjemu<br />
můžeme demonstrovat na následujících příkladech:<br />
a) přiměřený mechanický odpor otočných prvků - přepínačů, potenciometrů. Tj. vhodnou<br />
volbou typu otočného prvku, točítek správné velikosti a provedení.<br />
b) prvky ovládané stlačením<br />
Přednostní ovládání nízkozdvižnými tlačítky s vjemem sepnutí/ přepnutí.<br />
Příklad koncepce vnitřní zástavby: Jako příklad uvedeme stručný popis řešení dnes již<br />
klasického počítače CRAY 1S.<br />
Integrované obvody zde použité jsou z 95% stejného typu - dvojitý NAND v zapojení ECL<br />
s dobou přenosu impulzu 750ps a se ztrátovým výkonem 2 x 60 W na křemíkovém plátku 1<br />
mm2, v keramickém pouzdru 10 x 7 x 2 mm se 16 vývody v rastru 1.25 mm. Dále se zde<br />
požívají dvojité D-klopné obvody, registry 16 x 4 bity a paměti RAM 4 kB v keramických<br />
plochých pouzdrech s 18 vývody; rezistory se užívají tenkovrstvové s vrstvou nitridu tantalu,<br />
o rozměrech cca 1 x 2 x 2 mm a se zatížením 20 mW. Tyto součástky jsou umístěny na<br />
pětivrstvových deskách s plošnými spoji, kde na desce 15 x 20 cm je až 144 pouzder s<br />
integrovanými obvody. Svrchní a spodní strana desek obsahuje signálové spoje, mezilehlé 3<br />
vrstvy jsou zemní a napájecí. Prokovené otvory mají vnitřní průměr 0,55 mm.<br />
Poněvadž náběhové časy impulzů jsou kratší než nanosekunda, musí být signálové spoje<br />
(pokud jsou delší než 2 cm) zakončeny charakteristickou impedancí, tj. bezodrazově.<br />
Signálové spoje mají šířky i mezery 0,2 mm, tloušťka izolantu mezi nimi a zemnící plochou je<br />
též 0,2 mm, takže charakteristická impedance je cca 60 W, a zpoždění signálu cca 60 ps/cm.<br />
Tyto pětivrstvé desky jsou spojeny po dvou do zásuvných modulů tak, že jejich spodní<br />
strany (kde nejsou součástky0 jsou přitmeleny zalévací izolační hmotou k oběma stranám<br />
střední měděné desky silné 2 mm, která slouží jako společná zemní plocha a současně<br />
zajišťuje odvod tepla do okrajů desky, které jsou chlazeny. Řadový konektor každého modulu<br />
má 2 x 96 kontaktů.<br />
Propojení modulů se provádí symetrickými zkroucenými dvojlinkami, kde vodiče mají<br />
vzájemně opačnou polaritu signálu. Tím se podstatně sníží rušivé přeslechy a vazby mezi<br />
spoji. Celé zařízení má téměř 1600 modulů, propojovací vodiče mají celkovou délku cca 100<br />
km.<br />
Zajímavé je též řešení napájení a chlazení počítače. Každý modul zde popsaný má ztátový<br />
výkon 25 až 38 W, paměťové moduly se 64 obvody RAM 4 KB mají ztrátový výkon cca 70<br />
W, takže celkový výkon převyšuje 100 kW. Celý tento výkon se odebírá ze sítě a prochází<br />
stabilizovaným měničem, dávajícím stabilizované napětí 200 V 400 Hz. Jednotlivé funkční<br />
díly počítače mají pak jednoduché napájecí zdroje s lehkými transformátory, usměrňovači a<br />
filtry pro 400 Hz bez stabilizace napětí.<br />
Jednotlivé moduly jsou pak zasouvány do koster z masívních dutých hliníkových profilů,<br />
které jsou protékány chladící směsí. Moduly jsou orientovány svisle s mezerami cca 1 cm.<br />
Chladící směs je udržována na teplotě cca 18°C, takže teplotra okrajů modulů nepřestoupí 25<br />
°C a teplota pouzder IO je pak max. 55°C.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 153<br />
8.4 Klimatická a mechanická odolnost<br />
Na celá zařízení i na jejich součásti působí v provozu řada vnějších vlivů. Ke klimatickým<br />
účinkům řadíme vliv vlhkosti, prašnosti, exhalátů, extrémně nízkých nebo vysokých teplot,<br />
příp. střídání teplot. Může jít také o vliv tlaku vzduchu, deště, plísní, slaného aerosolu, písku,<br />
slunečního záření, hmyzu a různých zvířat. Patří k nim i působení větru a tvoření námraz<br />
Klimatické vlivy lze analyzovat podle míst na povrchu Země. Tyto vlivy jsou<br />
charakteristické a jen pomalu proměnné.<br />
Problémem mohou být tzv. umělé klimatické vlivy,<br />
obvykle způsobené dopravou (změny tlaku a<br />
teploty při pohybu letadla nebo družice), nebo již<br />
zmíněné exhaláty (nejenom v průmyslu, ale i v<br />
kravíně apod.), samostatnou kapitolou jsou i<br />
zařízení v armádě a námořnictvu. Působením<br />
klimatu na technická zařízení a řešením jejich<br />
klimatické odolnosti včetně třídění do jednotlivých<br />
kategorií se zabývá klimotechnologie (u nás<br />
uvedená pod normou ČSN 03 8203).<br />
Eliminace těchto vlivů se provádí následnými opatřeními:<br />
1. Povrchová úprava. Jedná se o nanesení chránícího povlaku - chemicky, elektrochemicky,<br />
mechanicky a termomechanicky. Do této kategorie patří například zlacení kontaktů.<br />
2. Technologické úpravy.<br />
a) Sušení a impregnace jsou typické zejména při výrobě transformátorů.<br />
b) Zalévání (či zalisování) je použito např. při výrobě IO.<br />
c) Těsnění se používá ve spojení s rozebíratelným uspořádáním, schématicky podle obr.<br />
7.13.<br />
d) Hermetizace je zatavení do skla. Typické použití je pro elektronky a kontakty relé. .<br />
3. Klimatizace. Zabezpečuje pro zařízení žádoucí okolní klima - v uzavřené budově,<br />
místnosti, skříni (obecně v prostorách). Je to opatření nákladné.<br />
Pro omezení vlivu vodních par se vkládají do utěsněných prostor vysoušedla, která vážou<br />
vodní páry. Známým vysoušedlem byl porézní kysličník křemičitý (silikagel). Je schopen<br />
pojmout až 40% vody své suché váhy. Dnes se hojně užívá molekulových sít a bentonitu.<br />
Nejnáročnější je výroba zařízení pro vlhké tropické klima, jde o tzv. tropikalizaci. V<br />
posledních letech se situace zjednodušuje - jak se ustupuje od užívání organických materiálů,<br />
především na bázi papíru. Odpadá tím nebezpečí plísní, zmenšuje se vliv vlhkosti i střídání<br />
teplot.<br />
Mechanická pevnost a otřesuvzdornost<br />
Z hlediska mechanických účinků je třeba sledovat<br />
- vnitřní pnutí<br />
- manipulaci při dopravě a provozu<br />
- chvění při vlastním provozu<br />
Vnitřní pnutí je vnitřní mechanické napětí, které vzniká technologickými operacemi,<br />
zejména při deformaci a lokálním ohřevu. Vyžaduje se proto vhodná montáž pájených<br />
součástek.
154 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Vliv mechanických otřesů a rázů (způsobených vnějšími vlivy při dopravě či při provozu)<br />
může být několikerý. Jejich působením může dojít k prasknutí nebo zlomení některých<br />
součástí, při provozu pak může dojít k vibracím součástí, které působí periodické změny<br />
přenosových vlastností zařízení nebo vznik rušivých signálů (tzv. mikrofoničnost).<br />
Máme-li se těmto poruchám vyhnout, musíme konstruovat zařízení tak, aby bylo jednak<br />
dostatečně pevné, jednak otřesuvzdorné, tj. aby v něm nebyla taková uspořádání (upevnění)<br />
součástí, která by byla schopna samostatného kmitání a rezonance s vnějšími otřesy. Uvádí se,<br />
že každá součást má být (pokud možno) montáží upevněna tak, aby upevnění vydrželo sílu<br />
rovnou stonásobku její tíhy.<br />
Pokud jde o otřesuvzdornost, je třeba ji zajišťovat doslova při každém konstrukčním kroku<br />
tím, že sledujeme možnosti vlastních mechanických kmitů každé součásti a jejího upevnění a<br />
volíme taková konstrukční uspořádání, která nám v daných podmínkách zaručují patřičnou<br />
odolnost.<br />
Chvění vzniká při vlastním provozu zařízení (větrání, transformátory, motory). Vliv chvění<br />
a rázů je možné do jisté míry potlačit pružným uchycením modulů například pomocí<br />
gumových tlumičů.<br />
8.5 Chlazení polovodičových součástek a konstrukčních celků<br />
Při návrhu elektronických zařízení se musíme vypořádat s vlivem vnějších a vnitřních<br />
zdrojů tepla, přitom v naprosté většině případů půjde o chlazení součástek a konstrukčních<br />
celků.<br />
Vnější zdroje tepla jsou především klimatické podmínky, které mohou způsobovat tepelné<br />
změny v rozsahu až ± 70°C. Těmto extrémním podmínkám čelíme umístěním zařízení do<br />
uzavřených, víceméně klimatizovaných prostor s teplotou okolo 20°C. To je typické pro velké<br />
počítače, laboratorní měřicí přístroje apod.<br />
Nebezpečí nízkých teplot je především v možnosti selhání (zamrznutí) mechanických dílů<br />
zařízení. Na druhé straně kryogenní prvky musí být provozovány při teplotě blízké 0K, také<br />
některé mikrovlnné zesilovače bývají chlazeny kapalným dusíkem.<br />
Vyhřívání modulů je užíváno u krystalových oscilátorů a u zařízení pro provoz v oblastech<br />
s velkou vlhkostí, aby se zabránilo kondenzaci vlhkosti uvnitř. Snad i někdy na satelitech v<br />
kosmickém prostoru.<br />
Vnitřním zdrojem tepla je ztrátové teplo součástek, vznikající při jejich činnosti.<br />
Chlazením budeme rozumět proces odvodu tohoto tepla při provozu zařízení. "Klasické"<br />
způsoby chlazení jsou založeny na principu samovolného přestupu tepelné energie ve směru<br />
teplotního gradientu. Provozní teplota součástek a konstrukčních celků pak musí být vyšší než<br />
teplota okolí. Tento druh chlazení je v anglické literatuře označován jako "cooling" nebo<br />
"thermal management". Opačný případ, tj. kdy provozní teplota součástek je nižší než teplota<br />
okolní se nazývá "refrigerating" (tímto případem se zde nebudeme zabývat).<br />
Chlazení má rozhodující vliv nejen na funkční vlastnosti zařízení, ale i na jeho životnost a<br />
provozní spolehlivost, spoluurčuje tedy konstrukční koncepci každého elektronického<br />
zařízení, a to tím více, čím větší výkon zařízení má a čím větší je množství tepla, které je třeba<br />
odvádět.<br />
Vývojový trend směřuje k používání složitých digitálních obvodů VLSI a tyto obvody je<br />
třeba spojovat na deskách plošných spojů nebo nosičích čipů co nejkratšími plošnými vodiči<br />
(aby nevzniklo další přídavné zpoždění). Nepříznivým důsledkem je pak značné soustředění<br />
ztrátového výkonu. Obdobně se rozšiřuje používání výkonových polovodičových součástek.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 155<br />
Technické možnosti odvodu tepla se v takových případech stávají omezujícím faktorem při<br />
elektrickém návrhu.<br />
8.5.1 Základní způsoby přenosu tepla<br />
Teplo se přenáší z jednoho bodu prostoru do druhého vlivem rozdílu jejich teplot a to z místa<br />
vyšší teploty do místa s nižší teplotou (dle druhé věty termodynamiky).<br />
Přenos (odvod, přestup, sdílení) tepla je zásadně možný těmito způsoby :<br />
a) vedením (kondukcí),<br />
b) prouděním (konvekcí)<br />
c) zářením (radiací, sáláním)<br />
Fyzikální princip kondukce spočívá ve vzájemném předávání kinetické energie sousedících<br />
molekul. Při konvekci dochází k přemisťování zahřáté hmoty. Radiace je elektromagnetické<br />
záření. První dva způsoby jsou vázány na hmotné prostředí. Záření je možné i ve vakuu.<br />
Množství přeneseného tepla je obecně funkcí teplotního spádu DJ, činné plochy S a<br />
součinitele přenosu, specifického pro každý jednotlivý způsob.<br />
Kvalitativně pro všechny uvedené způsoby lze nalézt analogii s Ohmovým zákonem. Ve<br />
shodném pořadí výše uvedených způsobů platí :<br />
dϑ<br />
P = −λ<br />
⋅ S ⋅<br />
Fourierův zákon (7.1a)<br />
dx<br />
P = α ⋅ S ⋅ ∆ϑ Newtonův zákon (7.1b)<br />
P = C ⋅ S ⋅ f ( ∆ϑ)<br />
Stefanův-Boltzmannův zákon (7.1c)<br />
I = σ ⋅S⋅<br />
dU Ohmův zákon (7.1d)<br />
dx<br />
o 2 o<br />
2 o<br />
o<br />
W , W / m⋅<br />
C , m , C / m,<br />
W / m ⋅ C , m<br />
2 , C<br />
[ ( ) ( ) ]<br />
V (7.1a), (7.1b), (7.1c) je P = dQ/dt tepelný tok plochou S při teplotním gradientu dJ/dx < 0<br />
x 1<br />
dx<br />
resp, teplotním spádu DJ. Hodnota integrálu Rt<br />
= ∫ se nazývá tepelný odpor, na kterém<br />
λ ⋅ S<br />
x 1<br />
∫<br />
je při toku P úbytek teploty ∆ϑ<br />
= dϑ , měřeno mezi souřadnicemi x0, x1 předpokládaného<br />
x o<br />
lineárního uspořádání. Koeficient l se nazývá tepelná vodivost, a je součinitel přenosu tepla.<br />
Pojem tepelného odporu je sice abstrakcí pro přenos tepla vedením, avšak v tomto pojetí je<br />
možné zobecnění i pro ostatní způsoby přenosu. Při přenosu prouděním představuje tepelný<br />
odpor hodnotu (a×S)-1 a v případě vyzařování je tepelný odpor nelineární, vyjádřený funkcí f.<br />
V praxi se na odvodu tepla podílejí různou měrou všechny uvedené způsoby. Tepelné odpory<br />
je možné řadit podle pravidel shodných pro ohmické odpory.<br />
Pro hlubší pochopení je zapotřebí jednotlivé zákony vysvětlit detailněji.<br />
Přenos tepla vedením<br />
K vedení tepla dochází uvnitř tuhého tělesa nebo na styčné ploše tuhých těles. Teplo se<br />
sdílí působením vzájemného dotyku jednotlivých molekul. V kapalinách nepředstavuje vedení<br />
tepla hlavní složku jeho přenosu.<br />
x<br />
o
156 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Tepelný tok P[W] je určen množstvím tepla dQ [J], které projde plochou S [m2] za dobu dt<br />
[s]. Množství tepla prošlé za jednotku času jednotkovou plochou udává hustotu tepelného<br />
toku p, která je určena<br />
Fourierovou rovnicí ve tvaru:<br />
P ⎛ dϑ<br />
⎞<br />
p = = -λ⎜<br />
⎟<br />
(7.2)<br />
S ⎝ dn ⎠<br />
⎛ dϑ ⎞<br />
kde ⎜ ⎟ je gradient teploty ve směru kolmém k ploše S.<br />
⎝ dn ⎠<br />
Měrná tepelná vodivost l [W/m.K] je mírou schopnosti dané látky vést teplo, tj. přenášet<br />
kinetickou energii neuspořádaného pohybu mezi molekulami bez proudění látky. Je funkcí<br />
teploty a materiálu prostředí, nezávisí na gradientu teploty.<br />
Integrací vztahu (7.2) pro průchod tepelného toku jedním směrem prostředím délky l [m] o<br />
stálém průřezu S [m•] dostaneme pro rozdíl teplot vztah:<br />
l<br />
∆ϑ = ⋅ P<br />
(7.3)<br />
λ ⋅ S<br />
Na základě tohoto vztahu je pak tepelný odpor Rt prostředí definován rovnicí :<br />
l<br />
R t<br />
= [K/W] (7.4)<br />
λ ⋅ S<br />
Fourierův zákon je speciálním případem obecné rovnice šíření tepla vedením. V<br />
třírozměrném prostředí charakterizovaným tepelnou vodivostí l, měrnou hustotou r [kg/m3] a<br />
měrným teplem c [J/(kg.K)] platí v objemu dx.dy.dz:<br />
dQ ∂ϑ<br />
e = ρ ⋅C<br />
⋅ − ∇( λ ⋅∇ϑ)<br />
(7.5)<br />
dt ∂t<br />
Poznámka: Operátor Ñ v třírozměrném prostoru souřadnic symbolizuje následující operaci<br />
∂a<br />
∂a<br />
∂a<br />
∇ a = + + ; Qe je teplo produkované v objemu dx.dy.dz. První člen výrazu (7.5)<br />
∂x<br />
∂y<br />
∂z<br />
respektuje akumulaci tepla ve hmotě, druhý člen respektuje vlastní odvod tepla do směrů<br />
všech tří souřadnic.<br />
K prvnímu zjednodušení dojde za předpokladu, že teplo Q se šíří převážně jedním směrem.<br />
Dále je vhodné tepelný odpor i akumulované teplo diskretizovat na jednotku délky. Připadá-li<br />
na jednotku délky hmotnost m a úbytek teploty DJ, přejde obecná rovnice šíření tepla do tvaru<br />
obyčejné diferenciální rovnice<br />
dQ dϑ<br />
∆ϑ<br />
= m ⋅ c ⋅ +<br />
(7.6)<br />
dt dt<br />
Pokud je dQ/dt konstantní, je řešení (7.6) triviální. Plný výkon je odváděn až poté, kdy se<br />
tepelný vodič ustálí na teplotě zdroje - viz (7.1a).<br />
Z hlediska návrhu elektronického obvodu je podstatná aplikace (7.6) při analýze tepelného<br />
režimu tranzistoru v rámci čipu IO. Hmotnost m je určena křemíkovou podložkou čipu,<br />
tepelný odpor Rt reprezentuje vnitřní uspořádání a zajištění odvodu tepla z čipu do pouzdra. V<br />
dQ<br />
tomto<br />
případě je = f ( ϑ ) ≠ konst.<br />
dt<br />
R t
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 157<br />
U bipolárního tranzistoru se vzrůstající teplotou narůstá i vodivost (teplotní koeficient<br />
kolektorového proudu je záporný) a při daném kolektorovém napětí také ztrátový výkon na<br />
2<br />
d Q 1<br />
tranzistoru. Hranici tepelné stability představuje hodn ota = . Pro hodnoty větší jak<br />
dϑ ⋅ dt R t<br />
1/Rt nastane tepelný průraz tranzistoru - teplota přechodu tranzistoru narůstá až do zničení<br />
tranzistoru. Vzhledem k tomu, že hmota křemíkové destičky způsobuje zpoždění 1. řádu,<br />
nedojde k tepelnému průrazu okamžitě. Krátkodobé přetížení tranzistoru nemusí tedy vést k<br />
jeho zničení.<br />
Unipolární tranzistory mají při běžných pracovních teplotách teplotní koeficient<br />
kolektorového proudu kladný. Tato skutečnost zajišťuje autostabilní režim - vzrůstáním<br />
teploty se tranzistor přivírá.<br />
Uvedené vlastnosti omezují možnost libovolného řazení tranzistorů. Bipolární tranzistory<br />
nelze snadno řadit paralelně, unipolární sériově.<br />
V ustáleném režimu přenosu tepla je dJ/dt =0 a rovnice (7.6) přejde do tvaru (7.1a).<br />
Hodnoty vodivosti l některých vybraných materiálů nalezneme v tabulce.<br />
Přenos tepla prouděním<br />
Přenos tepla prouděním je charakterizován přestupem tepla mezi povrchem tuhého tělesa a<br />
kapalinou či plynem (chladicí medium), který je obklopuje. Volným prouděním (konvekcí)<br />
nazýváme děj, při němž dochází k pohybu jednotlivých částic chladicího media v důsledku sil<br />
způsobených rozdílem hustot teplejšího a chladnějšího místa tohoto media. K nucené<br />
konvekci dochází, použijeme-li k vytvoření rozdílu tlaků v mediu vnější zařízení, jako je<br />
ventilátor nebo čerpadlo.<br />
Hraniční vrstva plynu (resp. kapaliny) je vlivem molekulárních sil nepohyblivá a přenos<br />
tepla v ní se děje vedením. Součinitel a výrazu (7.1b) zahrnuje jednak tepelnou vodivost v této<br />
vrstvě, jednak vliv její tloušťky e. Teplotní rozdíl DJ je měřen mezi povrchem chladiče a<br />
chladicím mediem.
158 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Průběh teploty a rychlosti chladicího media jako funkce vzdálenosti od ochlazované stěny<br />
tělesa pro volné proudění je schématicky znázorněno na obr. 7.13. Při samovolném proudění<br />
je pohyb chladicího media laminární a hraniční vrstva je nepříznivě tlustá. Vynuceným<br />
prouděním se tloušťka hraniční vrstvy zmenšuje až k extrémnímu případu turbulentního<br />
proudění.<br />
Poznámka: Rozeznáváme tedy dva druhy proudění. Při laminárním proudění se jednotlivé<br />
částice pohybují paralelně, tzn. vektory popisující rychlost částic jsou v každém okamžiku<br />
rovnoběžné. Ke sdílení tepla dochází vedením mezi molekulami kapaliny (plynu) a povrchem<br />
tělesa a vzájemně mezi molekulami chladícího media. Turbulentní proudění se naopak<br />
vyznačuje neuspořádaností pohybu molekul. Vznikají víry, jejichž působením se medium<br />
stále promíchává, takže se zvětšuje intenzita sdílení tepla a množství tepelné energie<br />
přenášené do míst vzdálených od chlazeného předmětu.<br />
Rozdíl teplot mezi povrchem tělesa a chladicím mediem je pro daný tepelný tok P a povrch<br />
tělesa S dán vztahem:<br />
P<br />
∆ϑ = [K] (3.4)<br />
α ⋅ S<br />
a je součinitel přestupu tepla [W/(m2.K)]. Vyjadřuje vlastnosti rozhraní dvou látek<br />
odlišných skupenství z hlediska šíření tepla, které se zde uskutečňuje převážně prouděním.<br />
Závisí na druhu látek, jejich skupenstvích, teplotách a na tvaru rozhraní. Hodnotu tepelného<br />
odporu lze pak vypočítat jako
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 159<br />
1<br />
R t<br />
= [K/W] (3.5)<br />
α ⋅ S<br />
Pro použití rovnice (7.7) k výpočtu tepla přeneseného prouděním je nutné znát velikost<br />
součinitele přestupu tepla a. Jeho velikost závisí na vlastnostech chladicího media, typu<br />
proudění, geometrickém uspořádání a jakosti povrchu. Přímé určení jeho velikosti je obtížné.<br />
V následující tabulce jsou uvedeny prakticky používané intervaly velikosti součinitelů<br />
přestupu tepla pro některá chladicí media.<br />
Je zřejmé, že největší účinnosti odvodu tepla z povrchu chladiče (pevné látky) lze<br />
dosáhnout při odpařování varem chladicí kapaliny.<br />
Podmínka pro vznik turbulentního proudění je vázána na vzájemný poměr rychlosti<br />
pohybujícího se media, jeho hustoty a viskozity při daném průřezu SP a kvalitě povrchu<br />
obtékané plochy. Vyjadřuje se tzv. Reynoldsovým kriteriem.<br />
Přenos tepla zářením<br />
Přenos tepla zářením ze zdroje umístěného v nekonečném vyprázdněném prostoru je přímo<br />
úměrný čtvrté mocnině jeho absolutní teploty (Stefanův-Boltzmannův zákon). Ve skutečnosti<br />
je zdroj umístěn v prostředí, které rovněž vyzařuje teplo a tepelný tok zdroje je určen<br />
rozdílem těchto dvou složek. Pro přenos zářením platí<br />
4 4<br />
( T 1<br />
− T )<br />
P = c ⋅ ε ⋅ S ⋅ , kde<br />
T1 ... absolutní teplota vyzařujícího povrchu [K],<br />
T 2 ... absolutní teplota povrchu ozařovaného [K],<br />
S ... plocha povrchu [m2],<br />
2<br />
c ... konstanta 5,67.10-8 W/m2K4,<br />
konstanta e je nazývána hodnota pohltivosti (emisní schopnosti, sálavosti) povrchu -<br />
relativní míra "černoty" povrchu (pro absolutně černé těleso je e = 1), některé hodnoty jsou v<br />
tabulce 7.6.<br />
Termoelektrické chlazení<br />
Termoelektrické chlazení je založeno na tzv. Peltierově jevu. Jeho podstatou je absorbce<br />
nebo generace tepla elektrickým proudem ve styku dvou kovů s různým koeficientem<br />
termoelektrického napětí nebo polovodiči s různým typem vodivosti. Prochází-li<br />
stejnosměrný elektrický proud spojem dvou různých vodivých materiálů A a B, dochází na<br />
jednom spoji těchto materiálů (např. A-B) k pohlcování tepla, na druhém spoji (s opačným<br />
směrem průtoku proudu (tj. B-A)) k uvolňování stejného množství tepla.
160 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Směr převodu tepla závisí tedy na směru průtoku proudu. (Poněvadž však tyto materiály<br />
mají nenulový elektrický odpor R, vzniká na nich též Jouleovo teplo, které se šíří oběma<br />
směry a odvádí se do okolí též oběma zmíněnými spoji.)<br />
Materiály, které se dnes nejčastěji používají, jsou v zásadě polovodivé sloučeniny typu P a<br />
typu N na bázi teluridu vizmutu a selenu a dosahují maximálního ochlazení (DJ)max = 40oC.<br />
Chladicí účinnost je tedy nižší než u chladicích soustav kompresorových nebo absorpčních,<br />
ale hlavní výhoda je v možnosti realizace malých chladicích jednotek bez pohyblivých<br />
součástí a bez kapalného nebo plynného media.<br />
Další výhoda je pak v možnosti snadné záměny směru funkce (chlazení za ohřívání)<br />
pouhým přepnutím směru napájecího proudu. Optimální hustota napájecího proudu bývá v<br />
řádu 1 A/mm 2 průřezu aktivního materiálu, spád napětí na jednom článku je asi 0,08 V. Proto<br />
zapojujeme obvykle větší počet článků do série, aby napájecí napětí této chladicí baterie bylo<br />
alespoň 1-2 V a dalo se hospodárně získat z galvanických článků nebo usměrňovačů.<br />
Schematický řez jednostupňové baterie několika článků je na obr. 7.14. Kostky z<br />
chladicích materiálů typu P a N, které jsou na protilehlých stranách pokoveny pro lepší<br />
kontakt nebo alespoň zabroušeny a leštěny, se podkládají na obou stranách plastickými<br />
vložkami z olova nebo vizmutu a propojují měděnými foliemi s dilatačními záhyby. Celá<br />
baterie se vkládá mezi dvě hliníkové desky, které jsou na styčné straně eloxované, aby byly<br />
elektricky izolovány vůči proudu, který prochází články a na volné straně jsou opatřeny žebry<br />
pro lepší převod tepla. Obě desky jsou k sobě staženy mírným tlakem pomocí pružin tepelně<br />
izolovaných, které nejsou na obrázku znázorněny (byly by totiž před a za nákresnou, aby<br />
jejich spojnice byla rovnoběžně se směrem žeber, pro nejmenší průhyb desek).<br />
Seriové řazení článků je pro znásobení napájecího napětí, Optimální hodnota<br />
procházejícího proudu Iopt je určena na obr. 7.15 tak, aby z chladného konce byl maximální<br />
odvod tepla. Efekt chlazení je zmenšován Jouleovým teplem.<br />
Převodní účinnost (činitel ochlazení) h stanoví poměr mezi odváděným teplem a<br />
přiváděnou energií. Maximum dosahuje činitel chlazení pro I -> 0. Jednostupňovou baterií lze<br />
dosáhnout h = 30% a DJ = 40°C (nikoliv současně).<br />
V současné době je však použití termoelektrických chladičů omezeno pro jejich velkou<br />
váhu, rozměry, velký příkon a cenu. Jde hlavně o chlazení polovodičových laserů.<br />
8.5.2 Konstrukční uspořádání chlazení<br />
Konstrukční uspořádání chlazení (chladicí soustavy) závisí zejména na následujících<br />
parametrech:<br />
1. Hustota tepelného toku. Tato určuje odváděný tepelný výkon jednotkou plochy. Je<br />
zpravidla úměrná hustotě montáže.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 161<br />
2. Celkový odváděný výkon.<br />
3. Provozní teplota.<br />
4. Cena.<br />
Celkové schéma chladicí soustavy zpravidla kombinuje více způsobů chlazení. Součástka<br />
specializovaná na vyzáření (resp. jiný způsob odvodu) tepla se nazývá chladič. Volba způsobu<br />
chlazení vychází buď jednoznačně nebo s variantami. Schematické znázornění možných<br />
variant celkového chlazení je na obr. 7.16. Výjimečnou situací kryogenních prvků se na tomto<br />
místě nezabýváme. Pořadí jednotlivých variant na uvedeném obrázku 7.17 je podle<br />
dosahované hustoty tepelného toku. Kvantitativni orientaci pro volbu chlazení ukazuje<br />
obr.7.17.<br />
Přehled nejčastěji se vyskytujících případů odvodu tepla ze zařízení je uvedeno na<br />
obr.7.18. U každého způsobu je připojen řádový odhad objemové hustoty tepelného toku, se<br />
kterou lze počítat při teplotním rozdílu 40°C mezi vlastním zařízením a okolním prostředím.<br />
Podle způsobu odvodu uvolňovaného tepla z povrchu systému a způsobu předání tepla<br />
mimo zařízení můžeme chladicí systémy rozdělit takto :<br />
a) přirozené chlazení,<br />
b) chlazení nuceným oběhem vzduchu,<br />
c) chlazení kapalinou a odpařováním kapaliny,<br />
d) termoelektrické chlazení.
162 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Přirozené chlazení<br />
Přirozené chlazení elektronických součástek je nejjednodušším, spolehlivým a levným<br />
chlazením. Odvod tepla je zejména volným prouděním. Nosné desky PS a rovněž i plochy<br />
chladičů je třeba umístit svisle. Část tepla je vyzařována a je účelné tedy vhodně upravit<br />
povrch chladicích ploch. Chlazení předpokládá odvod relativně malých ztrátových výkonů<br />
(řádu jednotek až desítek Wattů), vysoké mezní teploty součástek a zpravidla i použití<br />
chladičů.<br />
Teplo se odvádí ze skříně větráním, k němuž se využívá přirozeného oběhu vzduchu ve<br />
skříni s větracími otvory. Horní a spodní kryt přístroje (obvykle i boční a zadní kryt) musí být<br />
opatřeny dostatečným počtem otvorů pro přívod a odvod chladicího vzduchu. Přístroj musí<br />
být konstrukčně řešen tak, aby byl zajištěn potřebný přívod studeného vzduchu (např.<br />
použitím nožiček).<br />
Při návrhu vnitřní<br />
zástavby ve skříni musíme<br />
dbát na to, aby desky<br />
plošných spojů, příp. použité<br />
chladiče a konstrukční prvky<br />
nebránily přirozenému<br />
proudění vzduchu a aby<br />
(pokud možno) umožnily<br />
vznik tzv. komínového<br />
efektu, který zvyšuje<br />
ventilační účinky. Především<br />
se snažíme odstranit
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 163<br />
vodorovné plochy a přepážky v cestě proudícího vzduchu. Na deskách plošných spojů<br />
(nejlépe svisle umístěných) je potřeba rozměrnější součástky umístit tak, aby nebránily<br />
proudění vzduchu. Možné rozložení teplot na desce PS (dva možné návrhy) je na obr. 7.19.<br />
Při rozmisťování jednotlivých součástek je vhodné respektovat osvědčenou zásadu co<br />
nejlépe vzájemně tepelně izolovat součástky, které pracují s velkými ztrátami a součástky,<br />
které jsou citlivé na zvýšení své teploty. Postupuje se dvěma způsoby: buď se součástky s<br />
velkým ztrátovým výkonem umístí do větší vzdálenosti, aby teplý vzduch, který kolem nich<br />
proudí, neovlivňoval nepříznivě součástky citlivé na zvýšenou teplotu, nebo se výkonové<br />
sou částk y (tj. zdroje tepelného výkonu)<br />
umístí přímo na zvláštní kovový chladič, připevněný<br />
na šasi přístroje, čímž se jednak zlepší sdílení tepla vedením, jednak zvětší celková plocha<br />
přestupu tepla volnou konvekcí a sáláním.<br />
V současné době je ovšem tato osvědčená zásada obtížněji aplikovatelná vzhledem ke stále<br />
rostoucí snaze umístit do daného objemu čím dál větší počet součástek. Tím se jednak<br />
zmenšuje objem chladicího vzduchu, jednak vyvolává vznik teplotních spádů, které způsobují<br />
v různých případech větší či menší obtíže.<br />
Všimněme si jako příkladu velmi<br />
často se vyskytujícího uspořádání z praktických<br />
aplikací - rovnoběžně svisle umístěných desek PS (obr.7.20a). Pomocí grafů uvedených na
164 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
obr. 7.20b je možno stanovit maximální oteplení vzhledem k okolnímu prostředí při zvolené<br />
vzdálenosti od sousedních desek dané výšky h a při různé hustotě tepelného toku p [W/m2].<br />
Přitom se předpokládá, že teplo se rozptyluje na všech místech plochy desek rovnoměrně,<br />
hustota tepelného toku je tedy na obou stranách stejná (p1=p2). Dále se předpokládá, že výška<br />
desek h = 180 mm. Z naznačených průběhů vyplývá, že oteplení se rychle zvětšuje, jestliže se<br />
vzdálenost sousedních desek zmenšuje. Na druhé straně se oteplení i při různé hustotě<br />
tepelného toku p příliš nemění, jestliže vzdálenost d zvolíme dostatečně velkou, cca d ³ 20<br />
mm.<br />
Konstrukce "malých" zařízení používá jednoúčelové skříňky nebo vychází z vhodné<br />
modulové stavebnice. Uzavření prostoru vznikne potom prostým zakrytováním standardního<br />
panelu. Pro umožnění proudění vzduchu jsou nutné ventilační otvory ve dnu a horním krytu.<br />
Markantní rozdíl v rozložení teplotního pole zcela uzavřené a ideálně větrané skříňky je na<br />
obr.7.21.<br />
Při montáži do stojanu se musí zajistit přívod chladného vzduchu ke každému zásuvnému<br />
bloku (obr. 7.22b). Musí se však dbát na to, aby spodní zásuvné bloky nebyly zdrojem<br />
nadměrného tepla, které by zbytečně ohřívalo horní zásuvné jednotky. Lepších výsledků se dá<br />
dosáhnout při použití rozváděcích plechů (obr. 7.22c), které zabraňují, aby ohřátý vzduch z<br />
dolních částí soustavy přicházel do styku s horní zásuvnou deskou. Tvar rozváděcích plechů<br />
musí být zvolen tak, aby nezhoršoval podmínky pro proudění chladicího vzduchu.<br />
Doporučuje se sklon plechů < 20°.<br />
Odvod tepla z uzavřeného provedení elektronického zařízení<br />
Uzavřené provedení se používá tehdy, jestliže se vyžaduje stínění před elektrickým nebo<br />
magnetickým polem nebo jestliže obvody musí být chráněny před prašným nebo chemicky<br />
agresivním prostředím. Hovoříme o hermetickém uzavření.<br />
Vzduch v bezprostřední blízkosti součástek obvodu předává pohlcené teplo vnitřním<br />
stěnám krytu. Teplo se sdílí prouděním a sáláním. Stěnou krytu prostupuje teplo účinkem<br />
vedení, kdežto do vnějšího okolí se sdílí vnějším povrchem krytu opět prouděním a sáláním.<br />
Z celkového tepelného toku odváděného vnějším povrchem krytu ve tvaru krychle<br />
přechází sáláním do vnějšího okolí asi 40 až 50% tohoto toku. Odvod tepla je výrazně<br />
ovlivněn tvarem krytu. Nejvhodnější jsou plochá pouzdra (skříně), např. kryt, u něhož poměr
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 165<br />
mezi výškou a délkou je 0,17, odvede do okolí o 30% více tepla než kryt tvaru krychle<br />
stejného objemu. Povrch skříně je možné zvětšit žebrováním.<br />
V praxi tedy volíme skříně tvaru rovnoběžnostěnu, jehož vodorovné stěny mají co největší<br />
plochu. K tomuto poznatku lze snadno dojít i prostým fyzikálním názorem, protože tepelný<br />
tok odváděný prouděním má snahu se pohybovat vzhůru, je pro odvedení tepla do okolí<br />
nejdůležitější horní stěna krytu. Z hlediska systému pracujícího v krytu je proto značně<br />
nevýhodné, jestliže nad touto stěnou je vedena kabeláž elektrického vedení či rúzná potrubí<br />
nebo je-li tu uložena další nosná <strong>konstrukce</strong>. V tom případě totiž dochází k tepelnému stínění<br />
horní plochy krytu.<br />
Při konstrukci přístroje určeného k provovu v uzavřené skříni musíme dbát na to, aby v<br />
soustavě nevznikla tzv. horká místa. Jejich vzniku lze zabránit několika způsoby: Výkonové<br />
sučástky se umístí pokud možno odděleně od součástek, které pracují s menšími tepelnými<br />
ztrátami. Uvnmitř uzavřeného prostoru stoupá chladný vzduch vzhůru, proto je výhodné<br />
uložit výkonové součástky do horní části krytu, kdežto ostatní rozmístit ve spodní části, kde je<br />
poměrně nízká teplota. Jestliže je z nějakého důvodu žádoucí, aby v celém uzavřeném<br />
prostoru byla pokud možno stejná teplota, rozmístí se součástky opačně, tzn. výkonové v<br />
dolní části.<br />
Z hlediska chlazení celého zařízení (skříně) i z hlediska rozložení teploty uvnitř je<br />
nejúčinnější umístění výkonových součástek přímo na stěny skříně (např. přes připevňovací<br />
chladič, viz str. ), eventuálně největší zdroje tepla pospojovat tepelným vodičem, vyvedeným<br />
na vnější chladič. Zvětší se tak množství tepla sdíleného vedením a omezí se tepelný tok,<br />
který přenáší prouděním teplo do vnitřního prostoru zařízení. Schématické znázornění je na<br />
obr. 7.23.<br />
Konečně lze využít nucené<br />
konvekce ve vnitřním prostoru.<br />
Je potvrzeno praktickými<br />
zkouškami, že ventilace uvnitř<br />
pouzdra či skříně, kde je<br />
umístěno elektronické zařízení,<br />
snižuje teplotu v bezprostřední<br />
blízkosti součástek a poněkud<br />
snižuje (asi o 10%) i průměrnou<br />
teplotu prostředí. Je-li třeba<br />
odvést do okolí přístroje větší<br />
tepelný výkon, musíme do<br />
vnitřního prostoru uložit vhodné<br />
výměníky tepla, které ochlazují<br />
pohybující se vzduch, či jiné<br />
chladicí medium.<br />
Chlazení s nuceným oběhem<br />
vzduchu<br />
Tento způsob výrazně zlepšuje<br />
chlazení a je typický u<br />
otevřených<br />
provedení<br />
elektronických zařízení. Nucenou<br />
ventilací se zvětšuje součinitel přestupu tepla prouděním a zlepšuje se výměna chladicího<br />
vzduchu v prostoru zařízení. Existuje totiž určitá hranice pro množství tepla, které může být z
166 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
omezeného prostoru odebráno způsobem přirozeného chlazení (více než 400 W/m2).<br />
Zmenšování rozměrů elektronických zařízení a zvětšování počtu aktivních součástek vyžaduje<br />
od konstruktérů stále častěji používat účinných nucených způsobů chlazení. Při nuceném<br />
proudění se činitel tepelného přenosu určuje aerodynamickými podmínkami obtékání tělesa a<br />
je závislý na rozdílu teplot mezi prostředím a tělesem, na rychlosti pohybu chladicího media a<br />
na jeho hustotě.<br />
Vliv hustoty v otevřených skříních nevyužijeme (v uzavřeném prostředí můžeme použít<br />
vodík, helium nebo fluorid sírový SF6, ten hlavně v silnoproudé elekrotechnice ke zhasínání<br />
výbojů), tento vliv oceníme u kapalinového chlazení (viz příští podkapitolu).<br />
Jsou tři základní způsoby proudění plynu: laminární, turbulentní a přechodový od<br />
laminárního k turbulentnímu. Činitel přenosu tepla při turbulentním pohybu chladicího<br />
vzduchu je mnohem větší než při laminárním<br />
proudění a proto je nutné dosahovat při chlazení<br />
turbulentního pohybu. K vytvoření tahu potřebného<br />
k nucenému proudění vzduchu se používají buď<br />
axiální (obr. 7.24a) nebo radiální (obr. 7.24b)<br />
ventilátory.<br />
Při návrhu je potřeba určit potřebnou konfiguraci<br />
skříně a určit průtok (m3/min) a rychlost proudícího<br />
vzduchu. Také je potřebné vědět, jaké rychlosti<br />
vzduchu jsou maximálně dosažitelné s ohledem na<br />
účinnost, ekonomická a další hlediska. Na obr. 7.25<br />
vidíme změřenou závislost teploty přechodu Si<br />
tranzistoru v závislosti na rychlosti proudícího<br />
vzduchu. Při prvním hodnocení je zřejmé, že přínos<br />
nízkých hodnot rychlosti v je je výraznější než<br />
přínos vyšších hodnot. Při rychlosti 2 m/s se<br />
dosáhne zhruba 80% poklesu teploty přechodu.<br />
Volba větších rychlostí než 2 až 3 m/s bude v praxi<br />
s ohledem na průvodní nepříznivé okolnosti (značná<br />
hlučnost, cena) přicházet v úvahu jen ojediněle.<br />
Ovšem pouhá instalace ventilátoru - bez zajištění<br />
potřebného směrování proudícího vzduchu,<br />
zamazení nežádoucích ztrát apod. - nemusí ještě znamenat ekonomický přínos, který se<br />
očekává od nuceného vzduchového chlazení. Zvláštní pozornost se musí věnovat pečlivému<br />
těsnění proti vnikání falešného vzduchu do skříně.<br />
U jednodušších přístrojů lze použít jen jeden ventilátor, bývá umístěn v zadní části<br />
přístroje. Proud vzduchu má působit na součástky, které jsou v přístroji největším zdrojem<br />
tepla. V moderních přístrojích to bývá napájecí zdroj (viz osobní počítač). U malých přístrojů<br />
nevadí, že vynucené proudění je napříč přirozenému proudění (tj. kdy teplý vzduch stoupá<br />
nahoru). Složitější je situace u zařízení ve stojanech.<br />
Klasické uspořádání je při svislém proudění, ventilátor je společný pro rám (stojan) a je<br />
umístěn dole. Chladný vzduch nasávaný při podlaze ventilátorem (který je ve funkci<br />
kompresoru) napomáhá přirozenému proudění, viz obr. 7.27. Toto uspořádání je nevýhodné z<br />
následujících důvodů:<br />
1. Chlazení je nerovnoměrné. Chladicí vzduch se ohřívá ve spodních partiích a část uniká<br />
netěsnostmi skříně. Rozdíl teploty horní a dolní části skříně<br />
může činit desítky °C.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 167<br />
2. Odsávaný vzduch vstupující do skříně je třeba pečlivě filtrovat. Nečistoty, které nejsou<br />
filtrem zachyceny se vlivem turbulentního proudění usazují za hranami a ostrými přechody<br />
(napříč proudění).<br />
Umístění ventilátoru nahoře (ve funkci<br />
vysavače) částečně zlepšuje nerovnoměrné<br />
chlazení, zejména se však snižuje usazování<br />
nečistot. Získání potřebného podtlaku je však<br />
oproti předchozímu případu energeticky<br />
náročnější. Používá se proto v kombinaci s<br />
ventilátorem dole (obr. 7.27b).<br />
Při velkých rozptylových výkonech je<br />
nejvhodnější používat samostatné chlazení každé<br />
zásuvné jednotky (obr. 7.28), nebo uspořádat ve<br />
stojanu rozvod chladicího vzduchu dodávaného<br />
centrálním ventilátorem tak, aby nedocházelo k<br />
jeho ohřívání v jiných zásuvných jednotkách (obdobně jako na obr. 7.22c).<br />
Chlazení kapalinou a odpařováním kapaliny<br />
Tyto způsoby se používají spíše výjimečně. Ovšem vzhledem k tomu, že se stále zvětšuje<br />
počet zařízení a součástek s velkým výkonem v daném objemu, jsou kapalinové chladiče stále<br />
atraktivnější. Jejich nevýhody jsou zřejmé - chladicí kapalina musí být přivedena ať už v<br />
otevřeném nebo uzavřeném chladicím systému. Je-li systém otevřený, musí být k dispozici<br />
stálý zdroj a jímač. Je-li systém uzavřený, musí obsahovat výměník tepla, sekundární chladič<br />
a pumpu.<br />
Nicméně však výhody ve smyslu maximálního rozptylu tepla na jednotku objemu<br />
nemohou být popřeny. Se<br />
standardním typem takového chladiče může být výkon 1 kW<br />
rozptýlen v objemu kolem 700 cm3.
168 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Chlazení v otevřeném okruhu je typické např, pro polovodičové lasery, kde se užívá<br />
chlazení vodpou z veřejného vodovodu.<br />
Chlazení v uzavřeném okruhu je časté u<br />
výkonových polovodičových součástek.<br />
Např. pro tyristory a diody s proudovou<br />
zatížitelností 300 A a více jsou již<br />
požadavky na chladiče tak vysoké, že<br />
chladiče pak vycházejí rozměrné a těžké.<br />
Tato skutečnost se projevuje zvláště u<br />
aplikací pro velké výkony, kde je obvykle paralelně zapojena řada součástek (např. v<br />
zařízeních pro těžké pohony, elektrolýzu). Kapalinové chlazení umožní snížit montážní<br />
rozměry zařízení, přičemž odvod tepla ze součástek je velmi účinný. Součástky jsou umístěny<br />
na chladiči, uvnitř kterého cirkuluje chladicí kapalina a pohlcuje uvolněné teplo (viz obr.<br />
7.29). Použitím vody místo vzduchu při stejné rychlosti pohybu se přenos tepla zvětší více<br />
než stonásobně.<br />
Na obr. 7.30. je uvedena varianta chlazení desek PS. Teplo je odváděno do rámu<br />
chlazeného vodou. Prostor mezi vodícími drážkami desky a rámu je třeba vyplnit vhodnou<br />
vazelinou. Chladicí systém musí zajišťovat práci součástky při libovolné provozní teplotě<br />
zařízení, musí mít velkou tepelnou vodivost a kapacitu, musí mít antikorozní a antitoxické<br />
vlastnosti. Tyto vlastnosti, které má mít chladicí kapalina, splňuje voda, avšak má omezený<br />
rozsah pracovních teplot a schopnost vyvolávat korozi. Používají se dále různé směsi<br />
mrazuvzdorných kapalin s vodou. Pracuje-li<br />
polovodičová součástka při teplotě pod bodem<br />
mrazu vody nebo nad bodem varu, používají se freonové kapaliny.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 169<br />
Při chlazení vodou užíváme rychlosti až 5 m/s, připouštíme ohřátí vody o max. 15 K a<br />
teplotní spád též max. 15 K, zejména u výkonových elektronek, kde z izolačních důvodů<br />
užíváme vody destilované. Tuto pak chladíme vzduchem nebo sekundární vodou, což<br />
potřebuje tepelný spád alespoň 10 K. Za těchto okolností potřebujeme pro převedení<br />
tepelného výkonu 1 kW plochu jen 140 cm2 a proud vody 1 litr/min.<br />
Při chlazen í odparném, které užíváme běžně u větších elektronek se ztrátovým výkonem<br />
50 až 300 kW, dochází k ohřátí anody ve vodě na teplotu asi 110°C, což působí bouřlivý var s<br />
přenosem tepla až 100 W/cm2, takže pro tepelný tok 1 kW stačí plocha anody 10 cm2.<br />
Poněvadž skupenské teplo varu vody je 0,7 kWh/kg, stačí pro tepelný tok 1 kW přívod<br />
vody asi 1,4 litru/hod., což ovšem na druhé straně znamená odvod páry ve stejné váze, tj. o<br />
objemu asi 2 m3/hod. Páru vedeme do srážníku, odkud kondenzovaná voda stéká vlastní<br />
vahou opět do varné nádoby k elektronce.<br />
Hlavní výhodou tohoto způsobu chlazení je úspora čerpadla a malé množství chladicího<br />
media.<br />
Tepelné trubice<br />
V posledních letech zaznamenal značné rozšíření nový prvek v oblasti odparného chlazení<br />
- tepelné trubice ("heat pipe"). Vyznačuje se pozoruhodnou schopností odvádět teplo z jeho<br />
zdroje na jiné místo.<br />
Tepelná trubice je definována jako uzavřený dvoufázový teplonosný systém, ve kterém je<br />
vysoce intenzivní přenos tepla dosahován v uzavřeném tepelném oběhu s fázovými změnami<br />
při odpařování a kondenzaci pracovní látky.<br />
Tepelná trubice umožňuje odvedení tepelného výkonu v řádu desítek až stovek Wattů na<br />
vzdálenost několika decimetrů ke vhodné chladicí ploše bez spojení elektricky vodivého při<br />
malém průměru trubky (5 - 20 mm). Tepelná trubice sestává ze tří částí :<br />
- dolní část, která je kovová a spojená s chlazenou součástkou, je krátká (5-15 mm) a<br />
naplněná chladicí kapalinou,<br />
- střední část, nejčastěji z izolačního materiálu (sklo, laminát, plastická hmota),<br />
- horní část, která je kovová, opatřená chladícími křídly nebo spojené se žebrovaným<br />
chlazením, v níž pára kapaliny kondenzuje a odevzdává své teplo do okolí.<br />
Vnitřní prostor trubica je evakuován a částečně zaplněn pevnou nebo kapalnou fází<br />
teplonosné pracovní látky. Zahřívá-li se výparná část tepelné trubice, pracovní látka se<br />
odpařuje a pára proudí do kondenzační (ochlazovací) části tepelné trubice, kde kondenzuje a<br />
předává své teplo okolnímu prostředí. Pracovní cyklus se uzavírá návratem zkondenzované<br />
pracovní látky do výparné části tepelné trubice.
170 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Na straně odpařovací je možno snadno docílit pracovního výkonu 10-15 W na 1 cm2<br />
chladicího povrchu (vnitřního povrchu dolní části trubice), na straně chladicí (kondenzační) je<br />
však potřebná plocha značně větší, protože kondenzační teplo se uvolňuje s plošnou hustotou<br />
pouze 0,1 W/cm2. Proto musí být kondenzační část trubice delší příp. i širší a opatřená<br />
vnitřními žebry na rozdíl od podstatně menší části odpařovací.<br />
Jednotlivé druhy tepelných trubic lze rozdělit podle jejich :<br />
- pracovní funkce,<br />
- typu a složení pracovní látky,<br />
- způsobu čerpání kondenzátu,<br />
- jiných specifických vlastností.<br />
Náplň trubice se řídí podle teplotního rozsahu, ve kterém bude pracovat. Metanolová náplň<br />
umožň uje činnost od -20°C do 100°C, vodní náplň od 40°C do 150°C, ale např. sodíková<br />
náplň pracuje do teplot přibližně 1500°C. Díky podtlaku, který je v trubici, dochází k<br />
vypařování a k varu teplonosného media ve výparné části při nižších teplotách, než při<br />
atmosferickém tlaku. Vzniklé páry proudí vnitřním prostorem trubice do kondenzační části,<br />
kde se srážejí (kondenzují) a předávají teplo vnějšímu okolí. Návrat kondenzátu se<br />
uskutečňuje stékáním působením zemské tíže u trubic gravitačních (obdoba knotu u<br />
petrolejové lampy) nebo kapilárními silami, které vznikají v kapilární soustavě na vnitřním<br />
povrchu tepelné trubice.<br />
Gravitační trubice mají vnitřní povrch hladký. Trubice v tomto provedení musí<br />
samozřejmě směřovat při provozu svisle nebo šikmo vzhůru od chlazené součástky, aby<br />
kondenzovaná kapalina stékala zpět vlastní vahou, nedá se tedy použít u mobilních zařízení, u<br />
nichž by tato poloha nebyla zajištěna. Opatříme-li však vnitřní povrch trubice pórovitým<br />
povlakem tkaniny nebo spec. keramiky, bude kondenzovaná kapalina pronikat zpět<br />
kapilárními silami, takže trubice bude schopna plnit svou funkci i v obecné poloze s poněkud<br />
sníženým výkonem. Kapilární soustavy lze použít tedy i pro odvod tepla shora dolů<br />
(antigravitační poloha).<br />
Základní vlastností, pro kterou jsou trubice využívány, je schopnost odvádět značné<br />
množství tepla (vysoká efektivní tepelná vodivost), mnohonásobně převyšující vedení tepla<br />
mědí stejného průřezu na danou vzdálenost (obr 7.32) a také to, že teplo je odváděno<br />
bezprostředně z horkého místa a že je vyzařováno dostatečně daleko od chlazeného prostoru.<br />
Další výhodné vlastnosti jsou :<br />
- nízká hmotnost,<br />
- jednoduchost, neobsahuje žádné pohyblivé součásti,
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 171<br />
- bezhlučnost,<br />
- tvarová různorodost,<br />
- spolehlivost.<br />
Využití tepelných trubic není omezeno pouze na obor elektroniky. Dá se jich použít i k<br />
chlazení transormátorů, elektromotorů, brzd a spojek ve strojích<br />
Termostaty<br />
Termostaty jsou zařízení pro udržování konstantní teploty; používáme je v elektronických<br />
zařízeních všude tam, kde chceme zajistit stálé pracovní podmínky a stálé funkční vlastnosti<br />
zařízení a zabránit působení teplotních změn parametrů choulostivých součástí. Nejčastější<br />
aplikace termostatů jsou u oscilátorů, u nichž mají zajistit stálost kmitočtu, dále u referenčních<br />
normálů v měřicích zařízeních atd.<br />
Samotný název "termostat" se používá ve dvojím významu; znamená buď úplné zařízení<br />
udržující konstantní teplotu v daném prostoru, nebo jen klíčovou část tohoto zařízení, tj.<br />
tepelné čidlo, nejčastěji kontaktní teploměr (tepelný spínač). Zde budeme tohoto názvu užívat<br />
v širším smyslu.<br />
Každý termostat se skládá ze čtyř funkčních součástí a to :<br />
1. tepelně izolovaný prostor, v němž je uložena část elektronického zařízení, která má být<br />
udržována na stálé teplotě (chráněný objekt),<br />
2. zdroj tepla nebo chladu,<br />
3. teplotní čidlo,<br />
4. elektrický aktivní obvod, který podle údajů čidla řídí tepelný nebo chladicí výkon<br />
zdroje tepla.<br />
Tepelně izolovaný prostor omezený svými stěnami má dvojí úkol: jednak zamezit vlivu<br />
okolní teploty na chráněný objekt a jednak rozvést tepelný tok dodávaný zdrojem do celého<br />
izolovaného prostoru.<br />
Konstruuje se proto jako soustředěné příp. souosé uspořádání dvou kovových krytů<br />
vzájemně tepelně izolovaných vrstvou pórovitých materiálů, např. pěnových<br />
makromolekulárních hmot (pro teploty do 50 - 60°C) nebo vrstvou skleněných vláken nebo
172 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
jiné anorganické izolace pro teploty vyšší. Vnitřní kovový kryt bývá z materiálu s dobrou<br />
tepelnou vodivostí (měď, hliník), vnější kryt může být i z ocelového plechu, poněvadž jeho<br />
hlavní funkcí je mechanická ochrana tepelné izolace.<br />
Velikost vnitřního prostoru je určena nelikostí elektronického funkčního dílu, který má být<br />
v něm umístěn, velikost vnějšího krytu je pak určena požadavkem na dodkonalost tepelné<br />
izolace vůči okolí, tj. na požadovanou velikost tepelného odporu izolace Rti.<br />
Zdrojem tepla v termostatu bývá nejčastěji topný odpor, protékaný elektrickým proudem,<br />
někdy též chladicí vložka (spojena s chladicím soustrojím) nebo soustava Peltierových článků<br />
(Peltierova baterie).<br />
Volba zdroje tepla určuje též pracovní teplotu termostatu; volíme-li topný odpor (který<br />
nemůžeme chladit), musí být pracovní teplota termostatu vyšší než maximální teplota okolí,<br />
tj. obvykle 50°C i výše, pro tropy minimálně 70°C. Volíme-li chlazený termostat (tzv.<br />
kry ostat), musí být jeho pracovní teplota vždy nižší než teplota okolí, obvykle -20 až -30°C.<br />
Pouze při použití Peltierových článků, u nichž je možno dosáhnout chladicí i ohřívací funkce<br />
pouze změnou směru el. proudu, je možno volit pracovní teplotu termostatu v intervalu<br />
běžných teplot okolí a tak snížit potřebný topný nebo chladicí výkon na minimum.<br />
Důležitým činitelem je umístění zdroje tepla v termostatu. Aby uvnitř chráněného prostoru<br />
byly co nejmenší rozdíly teploty, je nutné rozvést přivedené teplo co nejrovnoměrněji po<br />
celém prostoru. Proto umisťujeme zdroj tepla vždy těsně na vnitřní kryt termostatu, případně<br />
rozkládáme jej rovnoměrně po větší části tohoto krytu, aby přestup tepla byl co nejlepší.<br />
Topné odpory např. vineme obvykle izolovaným odporovým drátem rovnoměrně rozloženým<br />
na vnější povrch vnitřního krytu termostatu. Peltierovy články rozkládáme po celé stěně nebo<br />
do dvou protilehlých stěn termostatu. U malých termostatů může být zdrojem tepla výkonový<br />
tranzistor přišroubovaný ke hliníkové kostce, která obsahuje chráněný objekt.<br />
Teplotním čidlem pak může být v nejjednodušším případě rtuťový kontaktní teploměr (se<br />
zataveným drátkem v poloze příslušné teploty) nebo dvojkovová spirála s kontaktem, pro<br />
přesnější stabilizaci teploty pak platinový teploměr, drátové odporové čidlo (můstkové<br />
uspořádání) nebo termistor.<br />
Také u tepelného čidla je důležité umístění, poněvadž vlastní tepelná kapacita čidla ve<br />
spojení s přechodovým odporem tvoří zpožďovací časovou konstantu, určující dobu odezvy<br />
regulace teploty. Aby tato byla co nejkratší, je opět nutné dosáhnout co nejmenšího tepelného<br />
odporu mezi čidlem a vnitřní stěnou termostatu.<br />
Elektronický obv od, který řídí topný výkon v závislosti na údaji teplotního čidla, může pak<br />
pracovat nespojitě (jako spínač) nebo spojitě (jako regulátor výkonu). V prvém případě při<br />
použití kontaktního prvku čidla stačí splnit požadovanou funkci aktivního obvodu jednoduché<br />
relé (obvykle se zesilovačem [SO 12/1960:719] nebo spínací tranzistor, ve druhém případě<br />
potřebujeme spojitě pracující zesilovač. V tomto případě můžeme při pečlivém návrhu a<br />
konstrukci realizovat termostaty se stálostí teploty lepší než 10 až 1 mK.<br />
Abychom mohli správně hodnotit a respektovat všechny vlivy a vyšetřit jejich účinky na<br />
ustálenou funkci termostatu i na přechodové vlivy při změnách pracovních podmínek,<br />
můžeme využít popsané metody elektrotepelných analogií a pro každé konstrukční uspořádání<br />
odvodit tepelné náhradní<br />
schema.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 173<br />
Příklad takového schématu je na obr. 7.34.<br />
Kde značí :<br />
Z - zdroj tepla v termostatu<br />
Č - čidlo<br />
A0 - aktivní obvod řídící topení<br />
Cc - tepelná kapacita čidla<br />
Rzk - tepelný odpor mezi zdrojem a<br />
přilehlou částí vnitřního krytu<br />
Rck - tepelný odpor mezi čidlem a<br />
krytem<br />
Ckl - tepelná kapacita jedné části vnitřního<br />
krytu<br />
Rk - tepelný odpor mezi oběma částmi<br />
vnitřního krytu<br />
Ck2 - tepelná kapacita druhé části vnitřního krytu<br />
CO - tepelná kapacita chráněného objektu<br />
R1, R2 - tepelné odpory mezi chráněným objektem a částmi krytu<br />
R11, R12 - tepelné odpory mezi částmi vnitřního krytu a vnějším krytem<br />
RV - tepelný odpor mezi vnějším krytem a okolím<br />
CKV - tepelná kapacita vnějšího krytu<br />
ZO - zdroj tepla v teplotě okolí<br />
Chování tohoto náhradního zapojení můžeme pak analyzovat běžnými metodami analýzy<br />
elektrických obvodů, modelovat na počítači apod. Mnohdy však stačí prostý pohled na<br />
náhradní zapojení, abychom si uvědomili základní funkční souvislosti. Tak například z<br />
uvedeného schématu můžeme odvodit, že za předpokladů<br />
Rk > Rzk<br />
můžeme odhadnout časovou konstantu tepelné regulace na<br />
tr = Rzk (Ck1 + Ck2) + Rck Cc<br />
dále časovou konstantu pronikání vnější teploty<br />
tV = RV CKV + R11 Ck1 + 1/2 R1 Co<br />
dále součinitel pronikání změn vnější teploty na objekt<br />
K = Rk /2 R11<br />
a řadu dalších vztahů užitečných pro optimalizaci návrhu.<br />
Z uvedených vztahů je např. jasné, že časovou konstantu tR je třeba vytvořit co nejkratší, a<br />
to snížením odporů Rzk a Rck, tj. těsnou blízkostí<br />
topného členu a čidla.<br />
Dále je zřejmě výhodné, aby ostatní časové konstanty, zejména tV byly podstatně větší než<br />
tR. Změnou umístění čidla mezi oběma polovinami vnitřního krytu, tj. mezi koncovými body<br />
rezistoru Rk, je možné ovlivnit nebo úplně vykompenzovat pronikání vnější teploty na<br />
chráněný objekt v termostatu.
174 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Ze schématu je dále zřejmé, že je výhodné zajistit splnění nerovností shora naznačených,<br />
tj. co nejmenší velikost tepelných odporů Rk mezi oběma částmi vnitřního krytu, dále Rzk<br />
mezi topným prvkem a vnitřním krytem a Rck mezi vnitřním krytem a čidlem.<br />
Dále je zřejmé, že odpory Rzk a Rck by měly mít co nejmenší vlastní tepelnou kapacitu,<br />
poněvadž jinak by hrozila ztráta stability zpětnovazební smyčky a nebezpečí teplotních<br />
oscilací.<br />
8.5.3 Chlazení polovodičových součástek<br />
Součástky jsou vždy konstruovány pro vhodný způsob chlazení, které zajistí, aby při<br />
běžných provozních podmínkách nepřekročila teplota udanou hodnotu. Malé součástky (do<br />
výkonu cca 1 W) jsou navrženy tak, aby se vznikající teplo stačilo odvést sáláním z povrchu<br />
krytu a konvekcí podél přívodů. Někdy se k odvodu tepla užívá i měděná fólie plošného<br />
spoje, ke kterému je součástka upevněna. Například u diod v plastikovém pouzdru typové<br />
řady KY130 a KY132 nebo u referenčních diod ve skleněném pouzdru typové řady KZ260<br />
výrobce doporučuje ponechat vývody dostatečně dlouhé a ke zvýšení účinnosti odvodu tepla<br />
ponechat v místě připájení vývodů pokud možno velkou plochu měděné fólie plošného spoje<br />
(použít metodu dělicích čar při návrhu plošných spojů).<br />
U součástek určených pro větší výkony vzniká takové množství tepla, že se nemůže odvést<br />
do okolního prostředí přes povrch pouzdra popř. přívody k nim připojenými. Tyto součástky<br />
je nutno montovat na chladiče, které vzniklé teplo převádějí do okolního prostředí.<br />
Je proto třeba zabývat se odvodem tepla z výkonových polovodičových diod, výkonových<br />
tranzistorů a výkonových integrovaných obvodů. Pozornost je třeba věnovat velikosti<br />
vznikajícího tepla (ztrátovému elektrickému výkonu), tepelnému odporu, omezení teploty<br />
pře chodu(ů) PN a odvodu tepla chladičem (je-li použit). K úvahám použijeme<br />
elektrotepelných analogií (tj. modelování tepelných obvodů analogickými obvody<br />
elektrickými-což plyne z matematické podobnosti rovnic vedení tepla a Ohmova zákona).<br />
U polovodičových prvků jsou zdrojem tepla přechody PN a také Jouleovo teplo na<br />
ohmických oblastech polovodiče. Maximální tepelná energie, kterou součástka zvládne, aniž<br />
je teplem poškozena nebo zničena (tj. především tepelný průraz v důsledku vnitřního vývinu<br />
tepla nebo by mohlo dojít k dosažení tzv. druhé aktivační teploty polovodiče; u germaniových<br />
součástek docházelo k odtavení indiové pájky), závisí na polovodičovém materiálu a na<br />
opatřeních podniknutých pro obvod tepla z vlastního systému. Zvýšená teplota má ovšem vliv<br />
i na vlastnosti obvodu (posun pracovního bodu) a jeho spolehlivost.<br />
Z grafu na obr. 7.35 lze vyčíst, že v praktickém rozmezí provozních teplot (do 200 oC)<br />
znamená teplotní rozdíl na přechodu součástky 40 až 50 oC změnu v intenzitě poruch<br />
přibližně o 1 řád. U složitých zařízení je to již podstatný rozdíl. Proto je účelné zajistit teplotu<br />
součástek nižší, než je výrobcem uváděná maximální teplota Jjmax. Ta bývá u germania cca<br />
100 oC a u křemíku cca 200 oC. Tím se myslí teplota čipu, maximální teplota pouzdra je<br />
nižší. Index j pochází od slova junction (přechod), původně označoval teplotu kolektorového<br />
přechodu tranzistoru; též se užívá indexu v (vnitřní), tj. např. Jvmax.<br />
V následujících odstavcích budeme zkoumat tepelné poměry při chlazení výkonových<br />
polovodičových součástek (z ostatních součástek se občas chladí rezistory, někdy<br />
tra nsformátory a ovšem také elektronky, pokud se ještě používají), a to zejména výkonových<br />
tranzistorů. Je třeba rozlišit stacionární a nestacionární případ.<br />
Při řešení odvodu tepla z polovodiče měl by konstruktér zařízení v prvé řadě zjistit, kolik<br />
energie bude rozptylováno při jeho k onkrétní aplikac i, a to buď při provozu trvalém,<br />
jednorázovém nebo impulsním. Potom by měl stanovit maximální teplotu okolí, a to jak
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 175<br />
mimo zařízení, tak i uvnitř zařízení v bezprostřední blízkosti polovodičů, což je ještě<br />
důležitější.<br />
Tepelné pochody v soustavě výkonová součástka - okolí<br />
Zatěžovací schopnosti výkonové sou částky (dále VS) jsou při různých pracovních<br />
podmínkách určovány především charakterem tepelných pochodů probíhajících v soustavě<br />
VS - okolí.<br />
Působením elektrického výkonu P, který je rozptylován na čipu součástky, se vytváří<br />
tepelný tok, který proudí z tohoto čipu na pouzdro součástky a odtud do okolního prostředí.<br />
Součástka klade procházejícímu tepelnému toku určitý odpor, který závisí na fyzikálních<br />
vlastnostech materiálu a povrchu součástky, na jeho teplotě a na vlastnostech prostředí.<br />
Přesný model tepelných poměrů v takovéto soustavě by vedl k řešení tepelné soustavy s<br />
velkým počtem nez námých a obtížně zjistitelných parametrů. Na základě úvah však můžeme<br />
dospět k jednoduchému modelovému řešení pomocí lineárního elektrického obvodu, v němž<br />
jsou tepelné veličiny zaměněny analogickými veličinami elektrickými. Musíme však zavést<br />
několik předpokladů:<br />
- polovodičový materiál (čip) a kryt VS jsou dvě stejnorodá tělesa s tepelnými kapacitami<br />
C1 a C2<br />
- teplota na celém čipu je stejná a rovna Jj<br />
- teplota celého pouzdra je stejná a rovna Jc<br />
- tok tepelné energie je obdobou toku elektrického náboje, tj. elektrického proudu v<br />
náhradním obvodu<br />
- rozdíl teploty je obdobou elektrického napětí v náhradním obvodu<br />
- tepelný odpor je obdobou lineárního elektrického odporu v náhradním obvodu<br />
Pro nestacionární režim soustavy VS-okolí s uvažováním přijatých předpokladů lze<br />
odvodit vztah pro výpočet převýšení teploty čipu nad teplotu okolí:<br />
∆ ϑ<br />
⎛<br />
⎜1<br />
− e<br />
⎜<br />
⎝<br />
⎞<br />
⎟ + P<br />
⎟<br />
⎠<br />
⎡ 1 ⎛<br />
⎢1<br />
− ⎜e<br />
⎢ τ + ⎜<br />
2<br />
τ<br />
1<br />
⎣ ⎝<br />
t<br />
t<br />
t<br />
−<br />
−<br />
−<br />
= − = ⋅<br />
τ 2<br />
τ1<br />
τ 2<br />
nest. ϑ<br />
j<br />
ϑa<br />
P<br />
C<br />
Rti<br />
C<br />
⋅ Rta<br />
+ τ<br />
2e<br />
− 2τ<br />
1<br />
e<br />
t<br />
−<br />
τ<br />
2<br />
⎞⎤<br />
⎟⎥<br />
⎟<br />
⎠⎥<br />
⎦<br />
(7.9)<br />
kde Jj [oC] je teplota kolektorového přechodu, Ja [oC] - teplota okolí (a = ambient, okolní).<br />
Pc [W] - výkonová ztráta VS, Rti [K/W] - tepelný odpor mezi čipem a pouzdrem VS, Rta<br />
[K/W] - tepelný odpor mezi pouzdrem VS a okolím, t1; t2 [1/s] - časová konstanta ohřátí čipu<br />
a pouzdra VS<br />
Rozbor rovnice (7.9) ukazuje, že proces ohřevu VS je podřízen zákonu superposice složek<br />
s časovými konstantami t1 a t2.<br />
Pro t2 >> t1 mizí za velmi krátkou dobu složka obsahující časovou konstantu t1 a rovnice<br />
(7.9) přechází na přibližný vztah<br />
ϑ<br />
⎛ − t ⎞<br />
⎜ τ<br />
= P ⋅ + ⋅ ⋅ 1−<br />
⎟<br />
C<br />
Rt1<br />
PC<br />
Rt<br />
2<br />
e<br />
(7.10)<br />
⎜ ⎟<br />
⎝ ⎠<br />
2<br />
∆<br />
nest.
176 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Rovnice (7.10) dovoluje stanovit<br />
maximální hodnotu výkonové ztráty PCmax pro<br />
nestacionární tepelný režim s trváním ohřevu<br />
srovnatelným s časovou konstantou<br />
ϑ<br />
j max<br />
−ϑaτ 2<br />
PC<br />
max<br />
= (7.11)<br />
−t<br />
/ τ 2<br />
R + R ⋅ 1−<br />
e<br />
t1<br />
t 2<br />
( )<br />
kde Tjmax je maximální teplota přechodu<br />
udávaná výrobcem VS. Náhradní<br />
schema<br />
tepelného obvodu VS pro nestacionární režim při<br />
t2 >> t1 nalezneme na obr. 7.36b.<br />
Při ohřevu VS jednotlivými krátkodobými<br />
impulsy srovnatelnými s časovou konstantou t1<br />
přejde rovnice (7.9) na tvar<br />
odtud<br />
∆ ϑ<br />
nest. = PC<br />
⋅ Rt1<br />
1<br />
(7.12)<br />
−t<br />
/ τ1<br />
( − e )<br />
P<br />
C max<br />
ϑ<br />
j max<br />
−ϑa<br />
= (7.13)<br />
R<br />
t1<br />
−t<br />
/ τ1<br />
( 1−<br />
e )<br />
V případě stacionárního tepelného režimu VS-okolí (t -> ¥) bude celkové převýšení teploty<br />
čipu nad okolní teplotu rovno<br />
∆ϑ = ϑ −ϑ<br />
= P R + R<br />
(7.14)<br />
( )<br />
st. j a C t1<br />
t 2<br />
Rovnice (7.14) umožňuje sestavit náhradní elektrické schema stacionárního tepelného děje<br />
soustavy VS-okolí, které je uvedeno na obr. 7.36a. Maximální přípustnou výkonovou ztrátu v<br />
ustáleném stavu lze zjistit z rovnice (7.14), dosadíme-li za Tj maximální teplotu přechodu J<br />
jmax, udávanou výrobcem<br />
ϑ<br />
j max<br />
−ϑa<br />
PC<br />
max<br />
=<br />
(7.15)<br />
R + R<br />
ti<br />
ta<br />
Hodnota tepelného odporu Rti je určena typem tranzistoru (je udávána v katalogu).<br />
Velikost povolené výkonové ztráty je proto možno zvýšit jedině zmenšením odporu Rta (při<br />
téže teplotě okolí). Toho lze dosáhnout vhodným chlazením VS. Pouze u nestacionárního<br />
režimu, v případě, že platí rovnice (7.13), v níž není obsažen člen Rta, není VS chráněna<br />
přídavným chlazením před výkonovým přetížením.<br />
Přetěžovací charakteristika výkonového tranzistoru<br />
Jak vyplývá z rozboru nestacionárního tepelného děje a je potvrzeno průzkumem, nemá<br />
velikost chladicí plochy podstatný vliv na přetěžovací schopnost výkonového transistoru.<br />
Znalost přetěžovací charakteristiky výkonových transistorů dává předpoklady pro správnou<br />
volbu jejich jmenovitého výkonu. Měření přetěžovací charakteristiky je prováděno<br />
jednotlivými impulsy napájecího napětí s délkou od 10 ms do cca 1s.<br />
Výsledky ukazují, že koeficient dovoleného přetížení výkonového tranzistoru<br />
krátkodobými jednotlivými impulsy je dán hlavně délkou impulsu a prakticky nezávisí na
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 177<br />
způsobu chlazení. V praxi můžeme počítat s přetížením 5x pro impuls délky 10 ms, 3x pro<br />
impuls 50ms a 2x pro impuls 500 ms.<br />
Ustálený stav při chlazení polovodičových součástek<br />
V dalším výkladu budeme uvažovat ustálený stav, tj. nastalou rovnováhu mezi teplem<br />
přiváděným (vyvinutým) a odváděným. Tento stav odpovídá podmínkám normálního<br />
zatěžování součástky stejnosměrným výkonem.<br />
Může to být i zatěžování periodicky se opakující, pokud je doba periody mnohem kratší,<br />
než je nejmenší tepelná časová konstanta kdekoliv v soustavě.<br />
U diody (tyristoru, triaku) je ztrátový výkon roven součinu UDID. U bipolárního<br />
tranzistoru jde o ztrátový výkon na emitorovém a kolektorovém přechodu. Ztrátu na<br />
emitorovém přechodu můžeme obvykle zanedbat a uvažovat pouze PC = UCEIC. Za zmínku<br />
stojí, že symbolem PC se často obecně označuje výkonová ztráta (také značená PT, T = total).<br />
U unipolárního tranzistoru jde o ztrátový výkon UDSID.<br />
V náhradním<br />
schématu není třeba<br />
uvažovat tepelné<br />
kapacity (obr. 7.36).<br />
Tepelný tok P(i)<br />
vychází ze zdroje, který<br />
má teplotní rozdíl Jj - J<br />
a, kde Ja je teplota<br />
okolního prostředí.<br />
Tepelný tok prochází<br />
sériově a paralelně<br />
zapojenými tepelnými rezistory Rtx (které vytvářejí celkový tepelný odpor). Tepelné odpory<br />
vyjadřují schopnost vést teplo pro jednotlivé dílčí materiály a spoje, kterými tepelný tok<br />
prochází do okolního prostředí o teplotě Ja.<br />
Je-li ztrátový výkon konstantní, bude teplota přechodu Jj tím menší, čím menší je celkový<br />
tepelný odpor Rt soustavy a čím menší je teplota prostředí.<br />
Procházející tepelný tok vytváří na jednotlivých tepelných odporech úbytky teploty.<br />
Největší teplota, tj. teplota čipu j je u zdroje tepelného toku. Za každým tepelný odporem se<br />
teplota snižuje o hodnotu danou součinem tepelného toku a hodnoty tohoto tepelného odporu.<br />
Hodnotu každého tepelného odporu v náhradním schématu můžeme vyjádřit jako podíl<br />
úbytku teploty na tomto odporu a tepelného toku. Protože se celý ztrátový výkon součástky<br />
mění v tepelný tok, můžeme tento tok vyjádřit přímo v hodnotách elektrického ztrátového<br />
výkonu, kterým je součástka zatěžována. Velikost tepelného toku pak udáváme ve wattech.<br />
Pro výpočet kteréhokoliv tepelného odporu potom stačí znalost úbytku teploty, tj. rozdílu<br />
teplot na tomto odporu ve stupních Celsia [oC]. Tepelný odpor se vyjadřuje v jednotkách<br />
[oC/W] nebo [K/W].<br />
Znalost kvantitativních hodnot tepelných odporů je pro praxi velmi důležitá, neboť<br />
umožňuje technické výpočty zatížitelnosti tranzistoru. Dříve uvedeným způsobem lze ovšem<br />
v praxi určit jen ty tepelné odpory nebo skupiny těchto odporů, na kterých můžeme nějakým
178 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
způsobem, např. měřením, určit rozdíl teplot. Pro použití v praxi se tedy řetězec tepelných<br />
odporů Rt rozděluje do několika částí, které se definují samostatně jako vlastnost tranzistoru a<br />
jeho chladicího zařízení.<br />
Provoz bez chladiče - vnitřní a vnější tepelný odpor<br />
Uvažujeme, že polovodičová součástka (např. tranzistor) je provozována bez chladiče. Na<br />
obr. 7.37a je znázorněn model takovéto soustavy a na obr. 7.37b je pak nakreslen příslušný<br />
náhradní obvod. V obr. 7.37 značí: Jj teplotu přechodu polovodiče, JC teplotu pouzdra<br />
součástky, Ja<br />
teplotu okolního prostředí (teplota je udávána buď ve oC nebo v K), dále it = P<br />
značí tepelný proud, daný rozptylovaným ztrátovým výkonem [W]. Zavádí se tzv. teplotní<br />
napětí, které je udáváno ve oC, popř. v K, přičemž uto = Ja značí teplotní napětí (= teplota)<br />
okolního prostředí, uti = Jj - Jc tepelný spád na vnitřní tepelném odporu součástky.<br />
Mezi teplotou čipu Jj a teplotou pouzdra JC vzniká určitý teplotní spád Jj - Jc. Přístup tepla<br />
mezi systémem a pouzdrem závisí pro určitý typ součástky na její konstrukci. Je<br />
charakterizován tzv. vnitřním tepelným odporem<br />
ϑ<br />
j<br />
−ϑc<br />
Rti<br />
= [K/W, oC, W]<br />
P<br />
který je uváděn jako katalogový údaj.<br />
C<br />
Teplota pouzdra a tím i samozřejmě čipu je závislá na teplotě okolního prostředí. Tepelný<br />
tok P vytvoří teplotní spád mezi teplotou pouzdra TC a teplotou prostředí Ta. V ustáleném<br />
režimu lze proto stanovit druhý, vnější tepelný odpor součástky<br />
ϑc<br />
−ϑa<br />
Rta<br />
= [K/W, oC, W]<br />
P<br />
C<br />
závislý na tepelných vlastnostech pouzdra (plocha povrchu, materiál) a charakteru<br />
prostředí.<br />
Celkový ztrátový výkon součástky, užívané bez chladiče, je roven součtu jeho vnitřního<br />
Rti a vnějšího Rta tepelného odporu
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 179<br />
R<br />
t<br />
= R<br />
ti<br />
+ R<br />
ta<br />
ϑ<br />
j<br />
− ϑa<br />
=<br />
P<br />
který charakterizuje přenos tepla z čipu do okolního prostředí celkově. Tepelný odpor Rt<br />
udává, o kolik se zvýší teplota čipu nad teplotou okolí při výkonové ztrátě 1 W.<br />
C<br />
Provoz s chladičem<br />
Ze způsobu šíření tepla uvnitř (převážně vedením) a vně (sáláním, konvekcí) součástky<br />
vyplývá, že vnitřní tepelný odpor Rti je vždy výrazně menší než Rta, tj.<br />
Rti
180 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
dosahuje hodnot asi 0,2 až 1 oC/W. V mnoha případech, kde je tepelný odpor chladiče<br />
podstatně větší, můžeme tento tepelný odpor Rts zanedbat. Tam, kde pracujeme s velkými<br />
výkony a s chladiči o malém tepelném odporu (tj. odpory Rts a Rtr jsou zhruba srovnatelné),<br />
se však tepelný odpor Rts uplatňuje výrazně, a proto je nutno mu věnovat z hlediska jeho<br />
(mechanického) provedení zvýšenou pozornost.Za typické lze považovat údaje o stykových<br />
tepelných odporech dle tab. 7.3.<br />
Tab.7.3 Typické stykové odpory Rts<br />
Stykové plochy<br />
[oC/W]<br />
Přímý kontakt pouzdro-chladič Al, hladké plochy 0,4<br />
Dtto, stykové plochy potřeny silikonovou vazelínou 0,2<br />
Tepelný kontakt s elektrickou izolací (slídová podložka, hladké stykové 0,8<br />
plochy)<br />
Dtto, stykové plochy potřeny silikonovou vazelínou 0,6<br />
Naopak, považujeme-li malý chladič (tj. s velkým tepelným odporem), může se při odvodu<br />
tepla zčásti uplatňovat i vnější tepelný odpor (viz též obr. 7.38, kde je vyznačen čárkovaně).<br />
Dříve uvedených vztahů je možné použít k výpočtu tepelných odporů, které udávají<br />
chladicí podmínky tranzistoru zatíženého určitým výkonem P. V praxi nejčastěji počítáme<br />
velikost tepelného odporu chladiče, jaký je potřebný pro dané podmínky provozu. K tomuto<br />
odporu Rtr potom určíme velikost zvoleného typu chladiče. Postup je následující:<br />
1. Uvažujeme polovodičovou součástku upevněnou na chladiči. Platí tedy<br />
Rt = Rti + Rts + Rtr<br />
2. Současně platí, že celkový tepelný odpor, který odpovídá požadovanému výkonu PC, lze<br />
určit pomocí maximální přípustné teploty čipu Tjmax a nejvyšší uvažované teploty<br />
okolního prostředí Tamax, při které bude součástka (zařízení) pracovat. Platí<br />
R<br />
t<br />
ϑ<br />
=<br />
j max<br />
−ϑ<br />
P<br />
C<br />
a max<br />
3. Zbývá tedy určit tepelný odpor chladiče<br />
ϑ −ϑ<br />
R<br />
tr<br />
= Rt<br />
−<br />
ti ts<br />
ti<br />
+<br />
P<br />
j max a max<br />
( R + R ) =<br />
− ( R R )<br />
a pro tuto hodnotu navrhnout chladič.<br />
4. Dbáme, aby byla zachována dostatečně rezerva z hlediska spolehlivosti.<br />
C<br />
ts<br />
Rts<br />
Mějme např. tranzistor, jehož vnitřní tepelný odpor Rti = 1 oC/W. Chceme jej zatěžovat<br />
výkonem 30 W při teplotě okolí Ja = 50 oC tak, aby teplota přechodu Jj<br />
nepřesáhla 130 oC. K<br />
tomu potřebujeme, aby celkový tepelný odpor Rt byl nejvýše<br />
130 − 50<br />
R t<br />
= = 2,6<br />
30<br />
o<br />
C / W
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 181<br />
V této hodno tě jsou zahrnuty všechny složky podle obr. 7.38.<br />
Tepelný odpor Rti je udán, tepelný odpor Rts odhadneme na 0,3 oC/W. Musíme tedy<br />
použít chladič, jehož tepelný odpor bude nejvýše<br />
o<br />
R = R − R − R = 2 ,6 −1<br />
− 0,3 = 1,3 C W .<br />
tr t ti ts<br />
/<br />
Povšimněte si, že na výsledné vnitřní teplotě se podílí i teplota okolí Ja podle vztahu<br />
Naopak, ze vztahu<br />
ϑ = ϑ + R P<br />
P<br />
j<br />
C max<br />
a<br />
t<br />
C<br />
ϑ<br />
j max<br />
−ϑ<br />
=<br />
R<br />
vypočítáme maximální přípustnou výkonovou ztrátu PCmax, nemá-li teplota čipu Jj<br />
přestoupit svoji maximální hodnotu Tjmax<br />
ani při největší očekávané teplotě okolí J amax.<br />
Z předchozích vztahů je vidět, že maximální zatížení součástky můžeme zvýšit, snížíme-li<br />
teplotu okolního<br />
prostředí. Toto<br />
zvyšování je<br />
omezeno absolutní<br />
mezní hodnotu<br />
udávanou pro<br />
každý typ<br />
součástky, která je<br />
stanovena z<br />
hlediska životnosti<br />
a spolehlivosti<br />
součástky.<br />
Kontrola<br />
ověření tepelného režimu součástky můžeme provést určením teploty čipu Jj, která odpovídá<br />
známému výkonu P rozptylovanému v součástce. Protože pro celkový tepelný odpor mezi<br />
čipem a okolním prostředím platí R t<br />
= ( ϑ j<br />
−ϑ<br />
a<br />
) P C<br />
, bude mít čip teplotu ϑ<br />
j<br />
= ϑa<br />
+ Rt<br />
PC<br />
. Máli<br />
být dodržen tepelný režim součástky, musí platit Jj < Jjmax, P < Pmax, přičemž Jjmax a<br />
Pmax jsou mezní parametry uvedené pro daný typ součástky v katalogu.<br />
Při výpočtech je však třeba mít na zřeteli, že naznačený postup výpočtu je oprávněn pouze<br />
pro takové režimy chlazeného prvku, které lze uvažovat jako stejnosměrné. Je-li uvažovaný<br />
prvek zatěžován střídavým proudem nebo impulsy, je třeba pro správný návrh chlazení<br />
vycházet z tzv. přetěžovacích charakteristik, resp. z přechodového tepelného odpru. Bližší<br />
údaje nalezne zájemce v literatuře. Dále uvedené vztahy pro chladiče jsou ovšem použitelné<br />
obecně.<br />
Z hlediska návrhu rozměrů chladiče vyplývá z dosavadních úvah rozhodující význam<br />
požadovaného tepelného odporu Rtr. Pro jeho stanovení platí obecná úměra R ≈<br />
1 ,<br />
tr<br />
F ⋅h⋅η<br />
kde<br />
F je plocha chladiče<br />
h je součinitel přestupu tepla<br />
h je účinnost chladiče<br />
t<br />
a max
182 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
V tomto vztahu jsou skryty všechny zásadní problémy, spojené s návrhem chladiče. Jeho<br />
vnější tepelný odpor je především nepřímo úměrný chladicí ploše. Druhým rozhodujícím<br />
parametrem je komplexní činitel přestupu tepla mezi chladičem a okolím, ke kterému<br />
většinou dochází sáláním a konvekcí. Činitel h proto závisí na mnoha okolnostech. K<br />
nejdůležitějším patří konstrukční provedení chladiče (rovná nebo profilovaná deska, materiál,<br />
barva povrchu), charakter (přirozený nebo nucený oběh vzduchu, volný nebo uzavřený<br />
prostor, komínový efekt) a teplota prostředí, orientace desky nebo žeber (vodorovná, svislá) v<br />
prostoru atd. Stanovení činitele h je největším problémem při návrhu chladiče. Účinnost<br />
chladiče y vyjadřuje nerovnoměrné rozložení teploty chladiče směrem od zdroje (výkonové<br />
součástky). Závisí na materiálu chladiče (Cu, Al, Fe...) a na poměru plochy a tloušťky<br />
chladiče.<br />
Tepelný odpor není konstantní veličinou ani při dané<br />
určité konstrukci, závisí na proudění vzduchu kolem chladiče<br />
a na vyzařovaném výkonu z něho. Z příkladu na obr. 7.39<br />
který je uvažován pro vějířovitý chladič středního výkonu, je<br />
patrno, že tepelný odpor Ptrůže kolísat až o 75 % v závislosti<br />
na vyzářeném výkonu a až o 250 % v závislosti na proudu<br />
vzduchu. Proto není postačující uvádět pouze tepelné odpory<br />
chladiče - konstruktérovi je nutno poskytnout soustavu křivek<br />
růstu teploty přechodu a pouzdra nad okolní teplotu s<br />
ohledem na rozptyl energie pro různá prostředí.<br />
Pro polovodičové prvky bylo navrženo velké množství<br />
různých druhů chladičů. Řadu z nich je možno zakoupit, buď<br />
již jako hotový chladič, nebo jako tažený profil (hutní<br />
materiál), ze kterého se odřízne kus patřičné délky. Tyto<br />
chladiče mohou být rozděleny zhruba do pěti skupin podle funkce a množství energie, kterou<br />
jsou schopny rozptylovat:<br />
a) násuvné (sponkové nebo přítlačné), pro součástky s drátovými vývody (0,5 až 2 W)<br />
b) upevňovací (k připevnění na plošný spoj nebo šasi) pro součástky s drátovými vývody<br />
(0,5 až 3 W)<br />
c) deskové (do cca 30 W)<br />
d) vějířové<br />
e) žebrované (tři až několik set wattů)<br />
Údaje o rozptýlených výkonech jsou přibližné při přirozeném chlazení vzduchem.<br />
Pro větší výkony (250 W a výše) je třeba použít kapalinové chladiče (včetně jejich<br />
speciálního případu - tepelných trubic). Jak již bylo uvedeno, chlazení polovodičových<br />
součástek je ovlivňováno celou řadou vlivů, které lze velmi obtížně brát v úvahu (lokální<br />
proudění, způsobem umístění, jinými teplými předměty v blízkosti atd.). V praxi se při<br />
návrzích chladicích zařízení většina těchto jevů zanedbává. Pouze některé nejvýznamnější<br />
vlivy bývají brány v úvahu ve formě korekčních činitelů. Podle druhu provedených<br />
zjednodušení se mohou poněkud lišit i výsledné vztahy pro výpočet chlazení. V literatuře se<br />
skutečně setkáváme s různými víceméně přesnými vzorci, které někdy dávají i značně<br />
rozdílné výsledky.<br />
Násuvné chladiče (sponkové či přítlačné) jsou používány u součástek s relativně malými<br />
výkony ( 0,5 až 2 W), které jsou napevno připájeny do desky s plošnými spoji.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 183<br />
Tvarově jde o<br />
různé<br />
kroužky,<br />
praporky,<br />
hvězdičky nebo<br />
"větrníky"<br />
stočené z plechu<br />
(obr. 7.40).<br />
Už ívají se pro chlazení tranzistorů v pouzdrech TO-5, TO-8, TO-18 apod., někdy i pro<br />
součástky v plastových pouzdrech. Vzhledem k tomu, že chladič je umístěn na pouzdře v<br />
oblasti "čepičky" a čip je v oblasti základny (vývodů), vyznačují se velkým vnitřním<br />
tepelným odporem a nejsou vhodné pro ztrátové výkony nad 2 W. Jejich výhodou je levnost a<br />
snadná montáž a to, že nezabírají žádnou plochu na desce plošných spojů. Navíc je možná i<br />
stabilizace teploty dvou součástek sponkami, konstruovanými tak, aby obě součástky byly<br />
vedle sebe. Někdy se setkáváme s násuvnými chladiči z tažených hliníkových profilů (obr.<br />
5.37)<br />
Nejvhodnějším materiálem pro sponkové a přítlačné<br />
chladiče je beryliová měď nebo fosforbronz. Mosaz nebo<br />
hliník slouží jako náhražky.<br />
Upevňovací chladiče jsou podobné násuvným, jsou<br />
však hmotnější a proto musí být upevněny k desce<br />
plošných spojů nebo k šasi (přišroubováním,<br />
přinýtováním). Název upevňovací pochází od toho, že<br />
chladič také součástku upevňuje (součástka již nemůže být držena jen svými vývody). Dvě<br />
běžná provedení ukazuje obr. 7.41.<br />
Jako upevňovací chladič<br />
je možné použít točených profilů podle obr. 7.42. Současně je<br />
uvedena křivka zvýšení<br />
teploty chladiče nad<br />
okolní prostředí<br />
∆ ϑ = ϑ j<br />
− ϑ a<br />
v<br />
závislosti na ztrátovém<br />
výkonu součástky, a to<br />
pro různé délky (výšky)<br />
chladiče. Tyto křivky<br />
využijeme při návrhu. Je<br />
uvažován chladič pro<br />
součástky v pouzdru<br />
TO-18 a TO-5. Střední<br />
otvor je nutno vyvrtat.<br />
Upevňovací chladič<br />
může také sloužit k<br />
přenosu tepla na masívní část <strong>konstrukce</strong> přístroje (šasi). Zde potom působí jako nositel<br />
stykového tepelného odporu Rts<br />
- bude to limitující faktor chlazení. Příklady řešení jsou na<br />
obr. 7.43.<br />
Aby se dosáhlo dobrého styku chladiče se součástkou, je nejvhodnějším materiálem<br />
beryliová měď (nebo v menší míře fosforbronz). Požadujeme-li ekonomické řešení, lze použít
184 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
i mosaz nebo hliník, avšak musíme počítat se zhoršenými vlastnostmi (hliníkové bývají<br />
chladicí kostky - obr. 7.41b a 7.43a - a též profilové chladiče - obr. 7.42). Většina<br />
upevňovacích chladičů je určena pro odvod tepla ze součástek s malým výkonem (0,5 až 3<br />
W), dá se však použít i pro součástky s větším výkonem, pokud je zaručen v dostatečné míře<br />
odvod tepla do masivní <strong>konstrukce</strong> zařízení.<br />
Pro větší výkony je<br />
rozumnější použít<br />
chladičů žebrovaných<br />
nebo vějířových (viz<br />
pozděj).<br />
Jinou aplikací<br />
"upevňovacího"<br />
chladiče je jeho spojení<br />
s izolační podložkou<br />
vyrobenou z berylia<br />
(kysličníku), která je na<br />
tento chladič připájena<br />
nebo přišroubována.<br />
Toto spojení má velmi<br />
malý tepelný odpor a malou kapacitu vůči okolí, což je velmi důležité ve vysokofrekvenčních<br />
obvodech, jako jsou např. přenosné radiostanice pro velmi krátké vlny.<br />
S pouzdrem TO-5 lze dosáhnout mezi tranzistorem a šasi kapacity 4 pF na kmitočtu 100<br />
MHz, s tranzistory v pouzdru TO-18 může být tato kapacita menší než 1,5 pF. Zvyšování<br />
kmitočtu přes 2 GHz vyvolalo požadavek ještě menší kapacity mezi pouzdrem a okolím.<br />
Jedním z řešení je použít dvě podložky z kysličníku berylia, zapojené do série na<br />
"upevňovacím" chladiči. Kapacita se tímto způsobem zmenší asi na 2,5 pF pro součástky v<br />
pouzdrech TO-5.<br />
Deskové chladiče<br />
Velká pozornost v literatuře je věnována návrhu deskových chladičů - uvažuje se přibližně<br />
čtvercová, rovná chladicí deska s rovným povrchem, umístěná buď svisle nebo vodorovně, s<br />
oboustranným přístupem vzduchu (přirozený oběh). Předpokládá se chlazená součástka ve<br />
středu desky.<br />
Pro řešení tepelných poměrů chladiče ve tvaru desky se v praxi dobře osvědčuje v<br />
literatuře uváděný přibližný vzorec:<br />
3,3<br />
C + 650<br />
0,25<br />
R tr<br />
= ⋅ ⋅ C [K/W, W/K cm, mm, cm2]<br />
λ ⋅ d F<br />
(7.20)<br />
kde je R tr - tepelný odpor chladicí desky<br />
l- tepelná vodivost<br />
materiálu desky<br />
d - tloušťka de sky v mm<br />
C - korekčn í konstanta, závislá na poloze a povrchu<br />
F - plocha d esky v cm2<br />
Vzorec platí za předpokladu, že tranzistor je jediným zdrojem tepla, který působí na<br />
chladicí desku. Dále se předpokládá, že je deska přibližně čtvercového tvaru a že je tranzistor<br />
montová n přibližně v jejím středu. Tepelný odpor se pak rozumí od středu desky do okolního
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 185<br />
prostředí, kterým je klidný vzduch. Tepelné vodivosti nejpoužívanějších materiálů chlad.<br />
desek jsou v tab. 7.4. Minimální potřebnou tloušťku desky udává vztah<br />
6<br />
d ≅ [mm, K/W]<br />
Tab.7.4. Hodnoty tepelné vodivosti<br />
min<br />
R tr<br />
materiál l [W\K cm]<br />
měď 3,8<br />
hliník 2,1<br />
mosaz 1,1<br />
ocel 0,46<br />
Tab. 7.5. Hodnoty C pro hliníkovou desku<br />
povrch poloha C<br />
lesklý vodorovná 1,00<br />
lesklý svislá 0,85<br />
černěn vodorovná 0,50<br />
černěn svislá 0,43<br />
Korekční faktor C vyjadřuje vliv polohy a způsobu opracování chladicí desky. Korekční<br />
faktory C pro nejčastější případy jsou v tab. 7.5. Ze vztahu (7.20) je zřejmé, že se hodnoty l a<br />
d uplatňují pouze u velkých desek, tj. jsou-li tepelné odpory desek malé. Pro malé desky tedy<br />
není nutno hodnoty l a d uvažovat. K výpočtu je pak možno použít zjednodušeného tvaru:<br />
⋅C<br />
R tr<br />
≅ 650 [K/W, cm2] (7.21)<br />
F<br />
Z toho vyplývá, že pro malé chladicí desky je možno použít vcelku libovolného kovu a že<br />
ani tloušťka materiálu není důležitá. Zato je důležitá poloha a povrchové opracování desek.<br />
Vzorec 7.21 je graficky znázorněn na obr. 7.44a může ho být použito k určení tepelného<br />
odporu desek do velikosti 20 až 30 cm2. Pro větší desky platí grafy na obr. 7.45a .
186 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Z nich plyne, že u velkých desek (cca nad 4 dm2) již nemá zvětšování nad určitou mez<br />
praktický význam. Ze vztahu 7.20 můžeme také určit výpočtový vzorec pro plochu<br />
650 ⋅ C ⋅ λd<br />
F =<br />
⎡ϑ<br />
j<br />
− ϑa<br />
⎤<br />
0, 25<br />
λd<br />
⎢ − ( Rti<br />
+ Rts<br />
) ⎥ − 3,3 ⋅ C<br />
⎣ P<br />
⎦<br />
Příklad: Na diodě KY12 vzniká ztrátový výkon 6 W. K dispozici máme čistou hliníkovou<br />
desku silnou 2 mm, kterou do zařízení hodláme umístit svisle. Dioda může být k chladiči<br />
připevněna neizolovaně a teplota okolí bude 45 oC. Z katalogových údajů platí pro diodu KY<br />
712: Jjmax = 155 oC a Rti = 2 K/W. V tabulkách nalezneme l = 2,1 W/Kcm a C = 0,85.<br />
Odhadneme Rts podle textu = 0,3 W/K. Výpočtem nebo z grafu zjistíme F = 38 cm2. Při<br />
použití černěné měděné desky a zachování všech ostatních údajů dostaneme plochu F = 19<br />
cm2.<br />
V literatuře je někdy uváděn i jednodušší vztah<br />
⎛ 7,6 ⎞<br />
Rtr = Cm<br />
⎜1<br />
, 73 + ⋅ C ⎟<br />
⎝ F ⎠<br />
který vyhovuje pro desky s tloušťkou větší než 2 mm, kde materiálová konstanta Cm = 1<br />
pro hliníkový plech a<br />
Cm = 0,75 pro měděný plech.<br />
Pro hliníkový plech se také uvádí vzorec [AR-B 4/82:125]<br />
700 ⋅ ( 1 + 0,2 ⋅ d<br />
min<br />
)<br />
F = C ⋅<br />
R tr
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 187<br />
Protože deskové chladiče zabírají mnoho místa, nebývá tvar chladicí desky obvykle<br />
rovinný, bývá zahnut do tvaru písmene U nebo L. Příklady různých tvarů deskových chladičů<br />
jsou uvedeny na obr. 7.46.
188 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Chladič musí být vždy v přístroji umístěn tak, aby umožňoval volné proudění chladicího<br />
vzduchu. Poznámka: Při tvarování chladiače se musí zajistit dostatečná vzdálenost ohybů od<br />
sebe tak, aby nedocházelo k vzájemnému ovlivňování (tzv. tepelné stínění). V opačném<br />
případě je nutno počítat se snížením účinnosti chladiče.<br />
V praxi se často řeší případ chlazení integrovaných stabilizátorů napětí typu 78xx. Odvod<br />
tepla pomocí přídavného chladiče je nutný, jestliže průměrný ztrátový výkon překročí<br />
ϑ<br />
j max<br />
−ϑa<br />
max<br />
hodnotu<br />
Pmax<br />
= , kde Jjmax je teplota počátku funkce tepelné ochrany<br />
P<br />
sta bilizátoru. Pro používané pouzdro TO-3 platí Rti = 4 K/W a R ta = 35 K/W.<br />
Pro rychlou orientaci je na obr. 7.47 k dispozici graf, podle kterého lze určit výsledný<br />
tepelný odpor nutný pro odvod tepla monolitického stabilizátoru. Tento graf dává informaci o<br />
tepelném odporu R ta v závislosti na odebíraném proudu,<br />
rozdílu vstupního a výstupního napětí a na okolí teplotě. V<br />
grafu na obr. 7.47 je uveden příklad:<br />
Je dán proud stabilizátorem 275 mA, rozdíl výstupního a<br />
vstupního napětí 6 V při okolní teplotě 50 0C. Bod 275 mA<br />
na stupnici "A" spojíme s bodem 6 V na stupnici "D".<br />
Pr ůsečík se stupnicí "B" udává ztrátový výkon 1,7 W. Ten<br />
spojíme s bodem 50° na stupnici "C" a spojnici prodloužíme<br />
až protne stupnici "E" v bodě 45 K/W, který je<br />
požadovaným tepelným odporem. Odečtením získané<br />
hodnoty od tabulkové (uvedeno výše) tj. 45-4 dostaneme<br />
výsledný tepelný odpor. Ze skutečnosti, že Rtc pouzdra (35 K/W) je menší než tepelný odpor<br />
požadovaný, usoudíme, že je nutný přídavný odvod tepla o celkové hodnotě tepelného odporu<br />
41 K/W.<br />
Pro názornost je na obr. 7.48 uveden graf závislosti velikosti chladicí plochy a tepelných<br />
odporů na druhu chladicího materiálu a jeho tloušťce. Odpovídající hodnoty najdeme na<br />
svislici.<br />
Vějířové chladiče (staggered finger) (obr. 7.49) zasluhují zvláštní pozornost, neboť poměr<br />
výkon-hmotnost a výkon-rozměr, a to zejména u větších typů, nanejvýš efektivně konkuruje s<br />
tímto poměrem u chladičů žebrových, o nichž se zmíníme později.<br />
Vějíře jsou uspořádány tak, že nevyzařují teplo jeden k druhému, jak to vyplývá z obr.<br />
7.50. Tím je umožněno volné proudění média. U žebrových chladičů je ovlivňováno jedno<br />
žebro žebrem druhým a omezený prostor mezi žebry ztěžuje volný pohyb média.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 189<br />
Ještě větší efektivnosti se u vějířových chladičů dosahuje při nuceném chlazení vzduchem,<br />
protože vířivý proud vzduchu kolem vějířů překonává vzdušnou bariéru v blízkosti kovu (obr.<br />
7.50b). To je hlavní důvod pro podstatné zlepšení rozptylovacích vlastností pomocí hnaného<br />
vzduchu. U žebrovitých chladičů dochází k laminárnímu, nikoli však k vířivému proudění<br />
vzduchu, vzduch teče paralelně se žebry, vzdušná povrchová bariéra zůstává nepřekonána.<br />
Vějířovitý chladič o straně 78 mm, který má výšku 25 mm, upevněný na desce s plošnými<br />
spoji, dovoluje při přirozeném proudění, při oteplení asi o 100 oC, rozptýlit výkon 35 W. Při<br />
ochlazování proudem vzduchu s rychlostí 350 m/min a při stejných podmínkách se rozptýlí<br />
výkon 80 W.<br />
Upevníme-li tranzistor 2N3055 na desku s plošnými spoji o straně 150 mm, bude při<br />
rozptýlení ztrátového výkonu 5 W oteplení pouzdra asi 100 oC. S vějířovitým chladičem o<br />
straně 78 mm a<br />
výšce 25 mm na<br />
stejné desce s<br />
plošnými spoji byla<br />
teplota pouzdra 20<br />
oC (tzn. snížení<br />
teploty o 80 % při<br />
přirozeném<br />
proudění vzduchu).<br />
Při nuceném proudění vzduchu<br />
150 m/min bude oteplení nižší než 10 oC.
190 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Vějířovité chladiče mohou být montovány do sebe, aniž by zaujímaly další plochu; tím<br />
však dosáhneme jen 30 % zvýšení rozptylované energie při oteplení o 100 oC a při<br />
přirozeném oběhu vzduchu. Tyto chladiče se vyrábějí pro většinu dnes vyráběných součástek<br />
i pro integrované obvody.<br />
Žebrované chladiče<br />
vyráběné z hliníku jsou<br />
v současné době<br />
nejčastějším druhem<br />
chladičů. Profil<br />
chladiče je obvykle<br />
členitě žebrován pro<br />
dosažení potřebného<br />
povrchu. Používají se v<br />
mnoha profilech a v<br />
různých délkách.<br />
Avšak bylo by mylné<br />
se domnívat, že tepelný<br />
odpor chladiče se<br />
zmenšuje přímo<br />
úměrně s délkou. Tak<br />
např. u chladiče šířky<br />
114 mm a výšky 64<br />
mm se dosáhne pouze<br />
50 % zvýšení rozptylu<br />
tepla, zdvojnásobí-li se<br />
jeho délka z 38 mm na<br />
75 mm. Všechny<br />
žebrované chladiče by<br />
měly být upevněny z<br />
hlediska maximální<br />
efektivnosti tak, aby<br />
osa žebra byla<br />
vertikální. Na obr. 7.52<br />
je jednostranný chladič<br />
pro výkonové<br />
polovodiče. Na obr. 7.53 jsou dvoustranné chladiče pro výkonové tranzistory.<br />
Chladič na obr. 7.54 je určen pro součástky se šroubovým upevněním (diody, tyristory,<br />
triaky, vf výkonové tranzistory). Otvory pro upevnění k plošnému spoji (příp. ke konstrukci)<br />
je nutno vyvrtat ve středu dosedací plochy chladiče.<br />
Při návrhu postupujeme tak, že pro daný ztrátový výkon a povolené oteplení ∆ ϑ = ϑ r<br />
− ϑ a<br />
určíme vhodnou délku chladiče. Vztahy mezi ztrátovým výkonem a oteplením pro typizované<br />
délky jsou uvedeny na obrázcích (viz. tzv. křivky chlazení). Volíme vždy délku nejblíže vyšší.<br />
Křivky platí pro svislou montáž chladicích žeber a pro matně černě eloxovaný povrch. Vliv<br />
odporů Rti a Rts zahrneme pomocí vztahu<br />
ϑ<br />
max<br />
+ ∆ϑ<br />
+ P<br />
( R ti<br />
+ R ts<br />
) ≤ ϑ<br />
j max
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 191<br />
a z toho<br />
∆ϑ<br />
≥ ϑ<br />
j max<br />
−ϑ<br />
a max<br />
( R R )<br />
− P +<br />
Celkové zkoušky ukázaly, že zvýšení teploty tranzistoru a chladiče bude sledovat zvýšení<br />
teploty okolí s přesností až ±2 oC. Abychom dostali celkovou teplotu pouzdra, postačí přidat<br />
uvažovanou teplotu okolí k teplotě pouzdra, zjištěné z grafů.<br />
Některé integrované obvody, především integrované nízkofrekvenční výkonové zesilovače<br />
(např. MDA 2010, MDA 2020) jsou určeny k provozování pouze ve spojení s chladičem.<br />
Příklad provedení takového chladiče a způsob jeho upevnění je uveden na obr. 7.55. Výrobce<br />
integrovaných obvodů dodává obvykle společně s obvodem i kovovou montážní podložku,<br />
která se vkládá pod integrovaný obvod a zprostředkovává intenzivní odvod tepla ze spodní<br />
strany součástky. Pro chlazení IO v pouzdrech DIL většinou stačí jednoduché chladiče podle<br />
obr. 7.56. Pro chlazení keramických nosičů je k dispozici řada chladičů (např. dle obr. 7.57).<br />
Komplikované tvary chladičů se používají pro vysokovýkonové součástky ( obr. 7.58)<br />
nebo v případě úspory místa (obr. 7.59), kde chladičem je zadní panel přístroje (viz též obr.<br />
).<br />
Chladiče podobné žebrovým je také možno sestavovat z profilovaných (různě ohnutých)<br />
plechů, které se spájejí nebo stáhnou šrouby (obr. 7.56). Při použití složitějších tvarů je třeba<br />
počítat s tzv. tepelným stíněním, které zhoršuje odvod tepla. Tepelné stínění je tím větší, čím<br />
blíže jsou jednotlivé desky (žebra) u sebe.<br />
ti<br />
ts
192 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 193<br />
Technologické provedení chladičů<br />
Většina výkonových součástek je určena pro montáž na přídavný chladič a jejich pouzdra<br />
jsou uzpůsobena k tomuto účelu, tj. jsou opatřena otvory pro upevňovací šrouby nebo<br />
svorníkovým šroubem. Montáž na chladič není vždy jednoduchou záležitostí a její nevhodné<br />
provedení může být příčinou poruch. Konstruktér se snaží navrhnout chladič z hlediska<br />
nejmenšího tepelného odporu, při dosazení nízké ceny, nízké hmotnosti a malých nároků na<br />
prostor.<br />
Je-li zvolen typ chladiče, může konstruktér zvolit<br />
tepelný odpor těmito způsoby:<br />
- volbou materiálu (obvykle se volí hliník)<br />
- úpravou povrchu chladiče (u chlazení vzduchem)<br />
- změnou rozměrů chladiče<br />
- správným provedením stykových ploch<br />
- volbou jiného chladicího prostředí (vzduchu,<br />
vody, oleje)<br />
- změnou množství přiváděného chladicího<br />
prostředí (vzduchu, oleje, vody)<br />
a) Výběr materiálu<br />
Z hlediska maximální účinnosti chlazení je nejvhodnějším materiálem měď, která má<br />
vysokou tepelnou<br />
vodivost. Měď je ovšem<br />
poměrně nákladná, a tak v<br />
praxi přichází v úvahu<br />
především hliník, někdy i<br />
ocel. Zvláště v případech<br />
použití hliníku je nutno<br />
vzít v úvahu dvě důležité<br />
okolnosti:<br />
1) V případě, kdy na<br />
namontovaný<br />
tranzistor působí<br />
vlhko nebo korozívní<br />
výpary, dochází mezi<br />
hliníkem a mědí<br />
základny tranzistoru<br />
(pokud je měděná)<br />
ke vzniku<br />
galvanických článků,<br />
což má za následek<br />
zvášenou<br />
korozi,<br />
porušení styku, a<br />
tedy zhoršení<br />
přenosu tepla. V<br />
takových případech<br />
je vhodné vkládat mezi tranzistor a chladič tenké niklové nebo stříbrné vložky, nebo
194 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
použít speciálních látek pro zamezení koroze. Aby se zamezilo nepříznivým vlivům<br />
působeným korozí, bývají moderní tranzistory niklovány nebo jinak povrchově<br />
upraveny.<br />
2) Tranzistory bývají k chladiči připevňovány šrouby (má-li pouzdro upevňovací otvory)<br />
nebo matici (je-li pouzdro opatřeno svorníkem). Změny teploty, kterým je namontovaný<br />
tranzistor vystavován (oteplení ztrátovým výkonem za provozu, vychladnutí, je-li<br />
zařízení vypnuto), mohou způsobit postupné uvolňování šroubových spojů. Tento jev<br />
souvisí s nestejným teplotním koeficientem roztažnosti materiálu tranzistoru a chladiče<br />
a lze jej značně omezit použitím pérových podložek pod upevňovacími šrouby.<br />
b) Úprava povrchu chladiče<br />
Úprava povrchu chladiče je důležitá z<br />
hlediska přenosu tepla, estetického vzhledu,<br />
příp. i povrchové ochrany a elektrické izolace<br />
(spíše výjimečně).<br />
Při chlazení přirozeným prouděním se<br />
podstatně uplatňuje radiační složka celkového<br />
přenosu tepla. Tato radiační složka (záření) je<br />
velmi závislá na vlastnostech povrchu plochy,<br />
která vyzařuje. Vyzařování je možno<br />
kvantitativně posoudit pomocí tzv. povrchové<br />
emisní schopnosti e. Čím větší je e (je max.<br />
rovno jednotce), tím více daná plocha vyzařuje.<br />
V tab. 1 jsou uvedeny hodnoty pro některé<br />
druhy úpravy vyzařovacích ploch. Z tabulky<br />
jsou zřejmé extrémní rozdíly v emisní<br />
schopnosti leštěných povrchů a povrchů<br />
zdrsněných nebo opatřených barevnými nátěry.<br />
Nejvhodnější barva je černá, avšak i jiné barvy<br />
vysoce zlepšují povrchovou em isní schopnost.<br />
Proto je vhodné použít pro chladič matný hrubý<br />
povrch, např. černěný. To umožní určité<br />
zmenšení rozměru chladiče. Výše uvedená<br />
úprava se ovšem netýká místa styku s dosedací<br />
plochou součástky.<br />
Tab. 1. Hodnoty součinitele povrchové emise epsilon<br />
Povrch<br />
součinitel e<br />
leštěný hliník 0,05<br />
leštěná měď 0,07<br />
nikl (leštěný elektronicky) 0,17<br />
hliník (opískovaný) 0,40<br />
oxidovaná měď 0,70<br />
válcovaná ocel 0,66<br />
oxidovaná ocel 0,87<br />
eloxovaný hliník 0,15 - 087<br />
smalt (barevný) 0,85 - 0,91<br />
Nátěr<br />
součinitel e<br />
černý lesklý 0,88<br />
černý matný 0,97<br />
bílý matný 0,90<br />
šedý 0,84 - 0,91
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 195
196 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Poznamenejme ještě, že z optiky známe pojem "černé těleso", které se používá v případě<br />
ideálního (nebo absorpčního) tělesa, které má jednotkovou emisní schopnost-souvislost<br />
ter mínu s barvou v optickém slova smyslu je pouze vzdálená. Tak např. černý lak, nanesený<br />
na ploše, má při 150 oC emisní schopnost např. 0,96 kdežto bílý lak pouze např. 0,92. Pro<br />
chladič je vhodný matný hrubý povrch, avšak rozdíl v emisi mezi žiravinou leptanými a bíle<br />
anodizovanými povrchy není tak velký, jak se všeobecně předpokládá.<br />
c) Úprava povrchu a děr v místě montáže tranzistoru<br />
Přenos tepla z tranzistoru na chladič závisí velmi na dobrém kontaktu obou ploch. Je třeba,<br />
aby montážní plocha na chladiči byla co největší a rovná, bez rýh nebo výstupků, které se<br />
mohou v praxi často vyskytovat zvláště kolem otvorů. Jsou-li otvory v chladiči vytlačovány,<br />
je třeba plochu dodatečně hladit. U vrtaných otvorů je třeba odstranit třísky. Před konečnou<br />
montáží je nutné plochy dobře očistit. I drobná zrnka prachu mezi plochami mohou způsobit<br />
zhoršení přenosu tepla.<br />
d) Zdokonalení styku<br />
V praxi není vyhlazení stykových ploch nikdy dokonalé. Mezi namontovaným<br />
tranzistorem a chladičem jsou proto vždy miniaturní vzduchové mezery. Vzduch je špatným<br />
vodičem tepla a tyto mezery tedy zhoršují tepelné vlastnosti styku. Styk je však možno<br />
zdokonalit tím způsobem, že se vzduchové mezery vyplní nějakým materiálem s dobrou<br />
tepelnou vodivostí. K tomu se používá silikonová vazelína, která se v tenké vrstvě nanese na<br />
stykové plochy před konečnou montáží. V použité vazelíně může být obsažen rovněž již<br />
vhodný antikorozní prostředek.<br />
e) UtaženíDobrý tepelný kontakt mezi tranzistorem a chladičem vyžaduje dostatečný tlak<br />
mezi oběma plochami. Tento tlak se vyvozuje utažením upevňovacích šroubů, resp. matice.<br />
Přenos tepla se s rostoucím tlakem zvětšuje až do určité hodnoty, nad kterou již další<br />
zvyšování tlaku nemá smysl a může nadto způsobit mechanické poškození upevňovacích<br />
součástí. U prvků, které jsou opatřeny upevňovacím svorníkem, bývá proto někdy výrobci<br />
udávám potřebný kroutící moment [Nm nebo kp.cm] který je potřebný pro dobrý přenos tepla<br />
z prvku na chladič. Není-li tato hodnota dodržena, má to za následek zhoršení přenosu tepla;<br />
značné překročení dané hodnoty může způsobit porušení závitu šroubu.<br />
f) Izolace tranzistoru a chladiče<br />
Až dosud bylo hovořeno o takovém způsobu montáže, kdy je pouzdro tranzistoru vodivě<br />
spojeno s chladičem. Některé aplikace však vyžadují, aby bylo pouzdro od chladiče<br />
odizolováno (elektricky, nikoli však tepelně). K tomu se používá nejčastěji slídových<br />
podložek, které se vkládají mezi styčné plochy. Aby se přenos tepla touto izolací příliš<br />
nezhoršil, je třeba použít podložek co možná tenkých. Podložky je vhodné po obou stranách<br />
potřít silikonovou vazelínou. Rovněž je třeba pamatovat na dobré odizolování upevňovacích<br />
šroubů. K tomu se používá vhodných izolačních vložek. Příklad montáže je uveden na obr. 2.<br />
K odizolování tranzistoru je možno použít také jiných materiálů, např. teflonové fólie,<br />
beryliové keramiky nebo i tenkého pertinaxu. Přenos tepla je však zpravidla horší, než při<br />
použití slídy. Na obr. 7.62 vidíme obvyklou konfiguraci výkonového zesilovače, kde dva<br />
tranzistory ze čtyř musí být montovány izolovaně na společný chladič. Někdy je výhodnější<br />
izolovat chladič od šasi, než chlazenou součástku od chladiče (typické pro vysokovýkonové<br />
součástky).
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 197<br />
8.6 Konstrukce a technologie desek plošných spojů<br />
Plošné spoje se od padesátých let běžně používají jako hlavní prostředek realizace spojů<br />
elektronických zařízení. Jejich výroba a návrh se postupně dostaly na vysoký stupeň<br />
dokonalosti. Miniaturizace součástek a pokročilá technologie plošných spojů vede k tzv.<br />
technologii povrchové montáže.<br />
Deska plošných spojů (DPS) má dvě hlavní funkce:<br />
- mechanickou, nese jednotlivé součástky<br />
- elektrickou, zprostředkuje potřebné elektrické vodivé spoje.<br />
Pomocná funkce je informační, deska je obvykle opatřena nějakým popisem nebo<br />
označením pro identifikaci jednotlivých součástek. Se dvěma hlavními funkcemi DPS souvisí<br />
problematika jejich<br />
- technologie výroby, včetně normalizace rozměrů<br />
- <strong>konstrukce</strong>, která sestává z nalezení spojovacího obrazce (rozmístění a propojení<br />
součástek), "návrhu" elektrických parametrů spojů, návrhu konektorů.<br />
8.6.1 Typy plošných spojů<br />
Plošné spoje se v elektronických zařízeních užívají přes 40 let. Z historie je známo, že v<br />
únoru 1943 Dr. Paul Eisler ve Velké Británii patentoval plošné spoje s leptaným vodivým<br />
vzorem na laminátové desce. Plošné spoje s prokovenými otvory se datují cca od r. 1961, kdy<br />
byl v USA udělen patent firmě Hazeltyne. Plošné spoje se prosazovaly postupně a zpočátku<br />
přinášely také mnoho problémů, hlavně opravářům (jeden si např. stěžoval, že jde o hnízdo<br />
měděných hadů přejetých parním válcem, ve kterém se nejde vyznat). V současné době se<br />
používá mnoho druhů plošných spojů ve velikosti cca 1x2 cm až 60x60 cm, obvyklá velikost<br />
je 10x15 cm (Eurocard). Na průměrné desce bývá 100 až 200 součástek, na jedné z největších<br />
desek bylo cca 2000 součástek. Na hustotu součástek také ukazuje počet děr pro vývody, na<br />
desce s jednostranným plošným spojem bývá 3 - 10 děr na čtvereční palec, se dvoustranným<br />
obrazcem bývá 10 - 20 děr a na vícevrstvé desce bývá 20 i více děr na čtvereční palec.<br />
Plošné spoje obvykle dělíme podle počtu vrstev, typu použitého základního<br />
materiálu a<br />
podle technologie výroby.
198 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Podle počtu vrstev jsou to:<br />
- jedno a dvouvrstvé PS bez pokovených otvorů,<br />
- dvou a vícevrstvé PS s pokovenými otvory.<br />
Podle použitého základního materiálu jsou to PS na bázi:<br />
- tvrzeného papíru,<br />
- tvrzené skleněné tkaniny,<br />
- ostatních materiálů (teflon, materiály pro ohebné PS).<br />
První dva typy se mohou vyskytovat v klasické nebo samozhášivé úpravě.<br />
Podle technologie výroby jde o desky vyráběné<br />
- subtraktivní technologií,<br />
- aditivní technologií,<br />
- semiaditivní technologií.<br />
1. Výroba plošných spojů subtraktivní metodou<br />
Základním materiálem pro subtraktivní metodu výroby plošných spojů je izolační materiál<br />
plátovaný měděnou fólií. Izolačním materiálem je buď tvrzený papír většinou s fenolickou<br />
pryskyřicí nebo sklotextil s epoxidovou pryskyřicí. Oba uvedené typy je možné vyrobit se<br />
samozhášivou úpravou. Měděná fólie je jednostranně anodicky oxidovaná pro zvýšení adheze<br />
k základnímu materiálu. Požadavky na kvalitu fólie jsou velmi přísné, především z hlediska<br />
čistoty mědi (elektrolytická měď čistoty 99,5%) a její mechanické neporušenosti.<br />
Základní izolační materiál se většinou charakterizuje podle normy NEMA (americké<br />
sdružení výrobců - Americal National Electrical Manufactures Association). V ČSFR byly<br />
dostupné materiály z tvrzeného papíru (Cuprexcart). Nyní jsou užívány skloepoxidové<br />
materiály, konkrétně Cuprextit SEA, Cuprextit SEB a Cuprextit SEC (Kablo Gumon<br />
Bratislava). Tloušťka bývá 0,5 , 0,8 , 1,0 , 1,5 , 2,0 a 2,5 mm, obvykle se dodávají a používají<br />
po dtržené hodnoty. V anglosaských zemích jsou rozměry v palcové míře. Pro dvouvrstvou<br />
desku je typická tloušťka 1,524 mm. Pro tento rozměr jsou také vyráběny přímé konektory.<br />
Měděná vrstva je nanesena z jedné nebo z obou stran. Tloušťka je 35 um (tzv.<br />
jednouncová, 1 unce je 28,35 g), někdy také 70 um (dvouuncová) a 105 um (tříuncová). Pro<br />
desky s jemnými motivy se užívají také fólie tloušťky 17 um a 5 um (v ČR se nevyrábí).<br />
Světlocitlivé rezisty. K vytvoření masky pro leptání vodivého motivu se obvykle užívá<br />
fotolitografických metod. Dále se užívají sítotiskové metody (historicky byly první a od toho<br />
pochází dřívější název "tištěné spoje") i některé další (hlavně v amatérské praxi).<br />
Fotolitografie využívá reprodukci předlohy do vrstvy rezistu, vyvolává rezistové vrstvy a<br />
leptání měděné fólie podle vyvolané masky. (Alternativně je zde možnost fólii neleptat,<br />
naopak galvanicky nanést na místa, která nejsou zakryta rezistem, vrstvičku kovu (obvykle<br />
Sn-Pb nebo Au), rezist odstranit a leptat místa, která nejsou pokryta tímto kovem - hovoříme<br />
o technologii s kovovým rezistem). Používají se mokré rezisty (kapalné rezisty, světlocitlivé<br />
roztoky) a nověji suché rezisty.<br />
Světlocitlivé<br />
roztoky jsou roztoky organických světlocitlivých látek a filmotvorných<br />
polymerů v rozpouštědlech, pomocí kterých lze připravit na různých podložkách vrstvu
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 199<br />
citlivou k UV světlu. Po expozici a vyvolání těchto vrstev se získá na podložce reprodukce<br />
exponované předlohy. Vrstva, která zůstala na podložce, slouží jako ochrana proti leptadlu,<br />
zatímco místa obnažená vyvoláním jsou odleptána.<br />
Podle způsobu zpracování rozdělujeme světlocitlivé roztoky na negativně pracující a<br />
pozitivně pracující.<br />
V prvém případě exponovaná místa účinkem světla polymerují a zůstávají po vyvolání na<br />
podložce, zatímco místa, kde světlo nedopadlo, se ve vývojce rozpustí. Naopak u roztoků<br />
pozitivních dochází osvitem ke vzniku kyselých látek a ke zvýšení rozpustnosti ve vývojce,<br />
takže osvětlené plochy se vyvoláním obnaží.<br />
Negativně pracující světlocitlivé roztoky jsou vhodné při použití agresivních leptadel,<br />
alkalických leptadel a při leptu ploch relativně menších než jsou plochy neleptané. Pozitivně<br />
pracující roztoky jsou vhodné při použití mírnějších leptadel a při leptu ploch relativně větších<br />
než jsou plochy neleptané. Nehodí se pro leptání pomocí alkalických roztoků (ty se užívají<br />
jako vývojka).<br />
Ve výrobě se přechází na pozitivní rezisty, především s ohledem na snadnost zpracování ve<br />
slabě alkalických roztocích. Naopak negativní je nutné zpracovávat ve vývojkách na bázi<br />
aromatických sloučenin, což vyžaduje určité opatření hygienického charakteru (např.<br />
odsávání).<br />
Desky s negativním rezistem se většinou polévají krátce před výrobou, kdežto desky s<br />
pozitivním rezistem lze skladovat a často je kupujeme od výrobce s již nanesenou vrstvou<br />
rezistu (tzv. polité).<br />
Pro plošné spoje s jemným motivem se v posledních letech používají tzv. suché rezisty.<br />
Suchý rezist je v podstatě laminát, který se skládá z modře, červeně nebo jinak zbarvené<br />
vrstvy filmu, uložené na nosné 25 um folii polyesteru a chráněné shora polyetylénovou fólií.<br />
Suchý rezist se dodává v různých tloušťkách od 18 do 70 um a ve svitcích a délce 50 až 100<br />
m, širokých 10 až 60 cm. Skladovací doba neosvětleného rezistu je až 6 měsíců. Nanáší se<br />
nalaminováním za tepla.<br />
Vlastní film se skládá z monoméru s různými přísadami, citlivými na ultrafialové světlo,<br />
které při osvitu způsobují jeho polymeraci. To znamená, že neosvětlená část obrazce, ta, která<br />
je nezpolymerovaná, je rozpustná ve vývojce. Je to tedy negativní rezist. Pozitivní suché<br />
rezisty jsou ve vývoji.<br />
Leptadla a chemismus leptání. Při výrobě plošných spojů rozlišujeme několik technologií<br />
z hlediska uplatnění leptacího prostředku. V současném stavu výroby se uplatňují dvě<br />
základní metody tvorby spojového obrazce: metoda organického a kovového rezistu. Těmito<br />
způsoby je možno vyrábět jednak nenáročné desky plošných spojů (tolerance u šíře plošných<br />
vodičů) nebo desky s požadavky na vysokou hustotu propojení. Z těchto hledisek na finální<br />
výrobek je nutno volit vhodný leptací prostředek a leptací zařízení.<br />
Leptadla pro výrobu plošných spojů mají splňovat tyto požadavky:<br />
- rychlé a dokonalé rozpouštění leptaného kovu,<br />
- snadná odstranitelnost leptadla ze základního materiálu,<br />
- minimální podleptání spojů,<br />
- snadná regenerace leptadla,<br />
- maximální leptací kapacita,<br />
- snadné zneškodnění oplachů a koncentrátů,<br />
- nesmí napadat rezist.
200 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 201
202 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 203<br />
Z hlediska pracovní oblasti lze rozdělit leptadla na dvě skupiny:<br />
- Kyselá leptadla: FeCl3, FeCl3 + 2-3 obj.% HCl, FeCl3 + 10-30 vah.% NH4Cl, CuCl2,<br />
CuCl2 + HCl, CuCl2 + KCl, CuCl2 + NaCl, (NH4)2S2O8, (NH4)2S2O8 + HgCl2,<br />
(NH4)2S2O8 + FeSO4, (NH4)2S2O8 + NH4OH + NH4Cl, H2O2 + HCl, H2O2 + H2SO4,<br />
CrO3 + H2SO4 + Na2SO4<br />
- Alkalická leptadla: NaClO2 + NH4Cl + NH4OH, NaClO 2 + NH4NO 3+ NH4OH,<br />
NaClO2 + NH4Cl + NH4HCO3 a jiné kombinace.<br />
a) leptací prostředky převážně používané pro leptání za použití organických rezistů<br />
1. Chlorid železitý<br />
Ze skupiny kyselých leptacích prostředků pro běžné i náročné aplikace má široké použití<br />
chlorid železitý FeCl3. Běžně dodávaný leptací roztok obsahuje 400-500 g chloridu železitého<br />
v 1 litru.<br />
Přednosti leptadla: vysoká kapacita rozpouštění mědi (60-120 g/l), snadná dostupnost,<br />
nízká cena, vysoká leptací rychlost, poměrně dobrý faktor podleptání, nenáročná likvidace<br />
odpadních vod.<br />
Nevýhody leptadla: obtížná regenerace, při vyšší koncentraci mědi se tvoří kal, nastává<br />
hydrolýza železitých solí.<br />
Chemismus leptání<br />
FeCl3 + Cu = FeCl2 + CuCl (7.22)<br />
FeCl3 + CuCl = FeCl2 + CuCl2 (7.23)<br />
CuCl2 + Cu = CuCl<br />
(7.24)<br />
FeCl3 + 3H2O = Fe(OH)3 + 3HCl<br />
(7.25)<br />
Při leptání je 80% mědi leptáno podle rovnice (7.24). Pro potlačení hydrolýzy je nutno<br />
přidat volnou kyselinu HCl do objemu 10%. Při nasazení leptadla do tryskových leptacích<br />
zařízení se pracovní teplota pohybuje v rozmezí 40-50oC a leptací čas v tomto případě by<br />
neměl při vrstvě 35 mm mědi překročit 5 minut.<br />
Pro relativně vysokou rychlost leptání, dobrou výtěžnost a nízkou cenu je chlorid železitý<br />
běžně používaný leptací prostředek pro plošné spoje.<br />
2. Chlorid měďnatý<br />
Dalším<br />
leptadlem kyselého typu je chlorid měďnatý CuCl2. Leptací roztok se používá v<br />
koncentracích 150-400 g CuCl2/l s přídavkem chloridů.
204 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Přednosti leptadla: snadn á regenerace, dobrá leptací rychlost, snadná dostupnost.<br />
Nevýhoda leptadla: malá leptací kapacita rozpouštění mědi (30-50 g Cu/l).<br />
Chemismus leptání: Cu + CuCl2 = 2CuCl<br />
Chloridové ionty přidávané do leptacího roztoku ve formě HCl, NaCl nebo NH4Cl<br />
umožňují tvorbu komplexu CuCl3 -2 a tím stabilizují leptací poměry:<br />
CuCl2 + 4Cl- = 2CuCl3 -2<br />
Při nasazení do tryskových leptacích zařízení se pracuje při teplotě 25 až 35oC. V důsledku<br />
intenzívního pohybu leptadla nastává částečná oxidace Cu+1 na Cu+2 podle reakce<br />
4CuCl + 4HCl + O2 = 4CuCl2 + 2H2O<br />
Vlastní regenerace probíhá ve speciálním zařízení, kde na základě měření redox potenciálu<br />
se přidávají do leptadla regenerační činidla. K regeneraci se používá peroxid vodíku a<br />
kyselina chlorovodíková:<br />
2CuCl + 2HCl + H2O2 = 2CuCl2 + 2H2O<br />
Z chemismu reakce je zřejmé, že leptací roztok nabývá na objemu. Tato skutečnost není na<br />
závadu, když si uvědomíme, že leptadlo můžeme zpracovat elektrolyticky nebo po úpravě<br />
použít jako čistou základní chemikálii.<br />
b) Leptací prostředky převážně používané pro leptání za použití kovových rezistů<br />
Tato technologie se používá při výrobě vícevrstvých plošných spojů s pokovenými otvory.<br />
Je možno dosáhnout přesných tolerancí šířek vodičů obrazce a tím vysoké hustoty propojení.<br />
Zesílený obrazec plošných spojů vrstvou elektrolytické mědi je pokryt buď redukčně, nebo<br />
elektrolyticky vrstvičkou kovového rezistu. Tento rezist je odolný příslušnému leptacímu<br />
prostředku. Používané kovové rezisty při výrobě plošných spojů jsou zlato, cín, cín-olovo,<br />
cín-nikl.<br />
1. Leptadlo na bázi chromu (Cr)<br />
Pro běžně používaný cínový rezist je možno pracovat s leptadlem na bázi chromu. Složení<br />
leptacího prostředku:<br />
CrO3+ H2SO4 + Na2SO4
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 205<br />
Nevýhody leptadla: malá leptací kapacity, jedovaté pro životní prostředí, vyšší cena.<br />
Chemismus leptání:<br />
3Cu + 2CrO3 + 6H2SO4 = Cr2(SO4)3 + 3CuSO4 + 6H2O<br />
Při provozní teplotě leptání 30•C je výtěžnost leptadla kolem 50 g Cu/l. Průběh leptání a<br />
vyčerpanost leptadla můžeme sledovat měřením hustoty nebo kolorimetrickou metodou.<br />
c) Univerzální leptací prostředky<br />
V poslední době se ve světě přechází na alkalické leptací prostředky. Důvody jejich použití<br />
jsou ve vysoké výtěžnosti rozpuštěné mědi, snadné regeneraci a minimálním podleptání<br />
obrazce. Tato leptadla jsou použita jak pro leptání za pomoci organického, tak kovového<br />
rezistu. Používány jsou různé kombinace přísad s výtěžností od 60 - 300 g Cu/l. Leptání<br />
probíhá za tvorby diamokomplexu jednomocné mědi s následnou oxidací na<br />
tetramonokomplex vzdušným kyslíkem.<br />
Chemismus reakce za použití chloritanu sodného, uhličitanu amonného a amoniaku<br />
2Cu + NaClO2 + 4NH4Cl + 4NH4OH = 2Cu(NH3)4Cl2 + NaCl + 6H2O<br />
Cu + Cu(NH3)4Cl2 = Cu(NH3)2Cl<br />
Regenerace<br />
2Cu(NH3)2Cl + 2O2 + 2NH4Cl + 2NH4OH = 2Cu(NH3)4Cl2 + 3H2O<br />
Koncentrace H+ iontů se udržuje v rozmezí 9-12 pH. Pokles hodnoty pH na 7,5 může být<br />
příčinou explosivního rozkladu leptadla. S alkalickým leptadlem je výhodné pracovat v<br />
uzavřeném systému regenerace.<br />
Subtraktivní způsob výroby plošných spojů s pokovenými otvory<br />
Podle literatury se subtraktivním způsobem vyrábí nejméně 90% světové produkce<br />
plošných spojů a i v příštích letech bude převládat. Popíšeme tedy stručně princip<br />
subtraktivního způsobu výroby plošných spojů. Budeme se zabývat klasickou technologií s<br />
deskami s měděnou fólií tloušťky 35 um. Výroba s použitím tenkých fólií je mírně odlišná.<br />
Poznamenejme ještě, že některé technologické kroky jsou stejné pro aditivní nebo<br />
semiaditivní technologii, event. drátové plošné spoje.<br />
Vychází se z mědí plátovaného skloepoxidového materiálu, kvality G1O (podle NEMA),<br />
resp. SEB. Materiál musí splňovat uvedenou normu a především je třeba dbát na neporušenost<br />
fólie, musí být zachovány všechny nejdůležitější<br />
mechanické vlastnosti.
206 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
1. Nastříhání přířezů. Materiál se nastříhá, resp. nařeže, na tzv. technologický rozměr. Tento<br />
je přibližně o 15-20 mm (na každou stranu výsledné desky) větší a slouží k uchycení desky<br />
do závěsů při pokovování, dále k vrtání technologických děr atd.<br />
2. Vrtání otvorů. Na vrtačce, vesměs souřadnicově řízené, se pomocí tvrdokovových vrtáků s<br />
vysokými obrátkami (od 20.000 do 80.000 ot/min - podle průměru vrtáků) vyvrtají<br />
všechny otvory pro pokovení.<br />
3. Po vrtání je třeba desku dokonale očistit a obrousit. Operace se provádí na speciálních<br />
brousicích zařízeních pomocí speciálních kartáčů (např. fy 3M), vyrobených z<br />
polyesterových vláken, na kterých je zafixováno brusné médium (např. SiC). Kartáče<br />
vykonávají jak radiální, tak axiální pohyb a proces je prováděn pod vodní sprchou. Tím<br />
dojde k odstranění nečistot z povrchu fólie, které ulpí v otvorech. Součástí zařízení může<br />
být i odmašťovací sekce.<br />
4. Pokovení otvorů. Do vyvrtaných otvorů se musí bezproudově zanést vrstva kovu, která<br />
vodivě propojí obě strany desky. Vrstva mědi se nanáší ve speciálních lázních a celý<br />
chemismus spočívá ve vyredukování mědi na zárodečných centrech (využívá se paladia).<br />
Vzhledem k zaměření a rozsahu skript nebude proces dále rozebírán. Nanesená vrstva (0,5<br />
- 1 um) je mechanicky velmi neodolná a pro zlepšení manipulace se ihned částečně zesiluje<br />
galvanicky, jak ihned uvidíme. Užívají se kyselé roztoky.<br />
5. Vytvoření obrazce. Tuto operaci je možno realizovat dvěma metodami:<br />
A ) Metoda pokovování panelu ("Pannel plating")<br />
a) Jako rezistu proti leptání je použito organického rezistu. Musí se použít speciální rezist,<br />
který dokáže ochránit i pokovenou stěnu obrazce. Výsledné spoje jsou měděné. Sled operací:<br />
1 - Pokovení celého panelu na tloušťku min. 15 um Cu v otvorech.<br />
2 - Vytvoření obrazce.<br />
3 - Leptání.<br />
b) Jako rezistu proti leptání je použito bezproudově vyloučené zlato. Výsledné spoje jsou<br />
chráněné zlatem. Sled operací:<br />
1 - Pokovení celého panelu na tloušťku min. 15 um Cu v otvorech.<br />
2 - Vytvoření obrazce.<br />
3 - Pokovení obrazce bezproudovým zlatem o minimální tloušťce 1,5 až 2 um.<br />
4 - Leptání (např. chlorid železitý).<br />
B) Metoda pokovování obrazce ("Pattern plating")<br />
Jako rezistu proti leptání je použito cínu nebo jeho slitin (Sn-Pb, Sn-Ni). Výsledné spoje<br />
jsou chráněny cínem nebo jiným použitým rezistem. Tato technologie je nejvíce užívána. Sled<br />
operací:<br />
1 - Pokovení celého panelu mědí v tloušťce 5 um v otvorech.<br />
2 - Vytvoření obrazce.<br />
3 - Zesílení tloušťky Cu pouze v obrazci (včetně otvorů) na minimálně 15 um v otvorech.<br />
4 - Pokovení obrazce cínem (apod.) na minimální tloušťku 12 um v otvorech.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 207<br />
4 - Leptání (v případě cínového rezistu může být použito kyseliny chromsírové).<br />
Nanášení fotocitlivé vrstvy. Na desku se nanese fotocitlivá vrstva, a to:<br />
- z roztoku (kapalná fáze)<br />
- nanesením světlocitlivé fólie za tepla - použitím suchého rezistu.<br />
Kapalné světlocitlivé materiály lze nanášet:<br />
a) pomalým vytahováním desky z roztoku - natahováním
208 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
b) nanášením na odstředivce<br />
c) navalováním na válcích.<br />
Každý z uvedených způsobů má svoje specifické stránky a to vyžaduje i určité vlastnosti<br />
světlocitlivých roztoků (definovaná viskozita, atd.). První dva způsoby se využívají pro<br />
malosériové a laboratorní výroby a určitou nevýhodou je i určitá klínovitost u natahovaných<br />
vrstev. Pro průmyslové využití je nejvhodnější nanášení na válcích. Pro dosažení silnější<br />
vrstvy je možné proces nanášení opakovat. Získá se tím potřebná síla organického rezistu pro<br />
další<br />
Expozice fotocitlivé vrstvy (přenesení tvaru spojového obrazce). Nanesená a vysušená<br />
světlocitlivá vrstva (sušicí tunel bývá součástí nanášecího zařízení) se dále zpracovává přes
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 209<br />
filmovou předlohu motivu, pozitivní nebo negativní podle použitého světlocitlivého<br />
materiálu. Filmová předloha výrazně ovlivňuje kvalitu výsledné desky PS. Musí být dokonale<br />
kontrastní a musí být zabezpečen přímý kontakt emulze filmové předlohy s vrstvou<br />
světlocitlivého materiálu. Exponuje se světlem z oblasti UV. Zabezpečuje se tím větší<br />
rozlišovací schopnost a také dobrá manipulovatelnost s polotovarem desky při<br />
technologickém procesu.<br />
Určitými formami chlazení se také zabraňuje nadměrnému<br />
tepelnému namáhání světlocitlivé vrstvy a filmové předlohy při osvitu.
210 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Exponovaná světlocitlivá vrstva je zpracovávána ve vývojkách podle charakteru výroby:<br />
manuálně nebo v ostřikových, většinou průběžných zařízeních. Podle typu použitého<br />
světlocitlivého materiálu je třeba používat speciálních vývojek, které v některých případech<br />
jsou i ve výparech zdraví škodlivé (týká se především vývojek pro negativní materiály).<br />
Retuš a mezioperační kontrola je v této fázi nezbytným technologickým krokem a na jejím<br />
provedení záleží výsledná kvalita a případná zmetkovitost celé produkce. Pomocí speciálních<br />
retušovacích nástrojů a štětečků se opravují poškození naneseného rezistu a nevyvolané<br />
zbytky emulze atd. Pokud se podaří v této fázi výroby zachytit potenciálně vadné desky, které<br />
jsou většinou opravitelné, markantně se tím snižuje zmetkovitost. Výrobci této fázi výroby<br />
věnují velkou pozornost, což se projevuje i v počtu pracovníků.<br />
Po skončení galvanických procesů se musí odstranit organický rezist.<br />
Technologie je<br />
závislá na typu rezistu a podle toho jsou vybírány i tzv. stripovací roztoky. Princip je obdobný<br />
jako u vyvíjení, navíc je účinek chemického prostředku u některých zařízení zvyšován kartáči.<br />
Dokonalé odstranění všech zbytků rezistu zabezpečí bezpečné odkrytí měděné vrstvy bez<br />
kovového rezistu.<br />
Obnažená měděná fólie se odstraňuje leptáním (ponorem nebo v ostřikovacích zařízeních).<br />
Pro leptací proces platí difuzní Fickovy zákony a chemická reakce probíhá na rozhraní<br />
kapalina-kov všemi směry stejně. Při nevhodném leptacím procesu dochází k podleptání a<br />
odpadávání především tenkých vodičů. K tomuto dochází především při leptání ponorem.<br />
Pokud bude jako rezist proti leptání použit organický rezist [(viz případ Aa) a běžné<br />
technologie jedno a dvoustranných desek bez pokovených otvorů], pak samozřejmě bude<br />
rezist odstraňován až po ukončeném leptání.<br />
7. Konečné mechanické operace. Obvykle odstřižení desky na konečný rozměr, úprava<br />
přímých konektorů, potisk, nanesení ochranného laku.<br />
Celý takto popsaný technologický proces je nutné doplnit důkladnými mezioperačními<br />
kontrolami, aby se nezvyšovaly výrobní náklady pokračováním na kusech s vadami (ať už<br />
odstranitelnými, tak neodstranitelnými). Důsledně se musí provádět retuše a případné opravy<br />
zamezí zvyšování normální technologické zmetkovitosti. Nezbytností pro složitější desky je<br />
dokonalá vstupní kontrola na:<br />
- kvalitu pokovení otvorů a jejich elektrické parametry,<br />
- vodivost, popř. přerušení vodičů,<br />
- tolerance vnějších rozměrů atd.<br />
Podle technické úrovně vybavení kontrolních pracovišť se kontrola provádí:<br />
- vizuálně<br />
- pomocí jednoduchých měřičů a přípravků<br />
- na automatických testovacích zařízeních.<br />
Součástí každé desky plošného spoje by měl být tzv. atest, to je osvědčení o kvalitě a<br />
výstupní kontrole
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 211
212 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Výroba vícevrstvých plošných spojů<br />
Výchozím materiálem jsou tenké lamináty oboustranně plátované měděnou fólií. Tloušťka<br />
bývá podle charakteru desek 0,2 až 0,6 mm. Se zmenšující se tloušťkou výchozího materiálu<br />
rostou samozřejmě nároky na jeho výrobu a zároveň se zvyšují nároky na vstupní kontrolu u<br />
výrobce plošných spojů.<br />
Technologický proces lze stručně popsat takto:<br />
1. Kontrola základního materiálu - tloušťky, naporušenosti fólie atd., nařezání na<br />
technologický rozměr včetně ražení sesazovacích otvorů.<br />
2. Nanesení (na očištěný povrch) světlocitlivé vrstvy.<br />
3. Expozice přes filmovou předlohu motivu vnitřních vrstev s následným vyvoláním.<br />
4. Vyleptání motivu v kyselých leptacích lázních (např. v FeCl3, popř. v CuCl2 ).<br />
5. Pečlivá kontrola a retuš polotovarů.<br />
6. Příprava lepicích listů (tzv. prepregů).<br />
7. Sesazení všech polotovarů do sestavy:<br />
- horní list s měděnou fólií<br />
- lepicí list
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 213<br />
- zpracovaný polotovar podle bodů 1-5<br />
- lepicí list atd.<br />
Poslední vrstvou je dolní list s měděnou fólií.<br />
8. Slaminování v laminačním lisu za definovaných podmínek, tj. při zachování teplotního<br />
diagramu, tlakově-časového diagramu. Vše je závislé na základním materiálu, především<br />
na typu pryskyřice.<br />
9. Ostřižení přetoků pryskyřice a kontrola slaminování (podle rovnoměrnosti přetoků).<br />
10. Vyvrtání otvorů na numericky řízených strojích (podobně jako při výrobě dvouvrstvých<br />
plošných spojů s pokovenými otvory) se zvláštním zřetelem na přesnost a kvalitu vrtání.<br />
11. Pokovení otvorů podobnou technologií jako pro dvouvrstvé plošné spoje s pokovenými<br />
otvory.<br />
12. Nanesení světlocitlivé vrstvy.<br />
13. Fotolitografické zpracování, tj. expozice a vyvolání.<br />
14. Galvanické zesílení chemické mědi včetně nanesení kovového rezistu (cín nebo cínolovo).<br />
15. Snímání (stripování) organického rezistu.<br />
16. Odleptání přebytečné mědi v průběžných leptacích zařízeních v amoniakálních leptadlech.<br />
17. Ostřižní desky na výsledný rozměr na speciálních nůžkách se zobrazením roviny řezu.<br />
18. Kontrola se provádí většinou na automatických zařízeních, která jsou schopna bezpečně<br />
rozlišit zkraty, popř. nepropojená místa. Nevystačí se již s manuálními nebo optickými<br />
pomůckami.<br />
Výroba vícevrstvých plošných spojů vyžaduje velmi kvalitní investiční vybavení. Týká se<br />
to nejen vlastního technologického zařízení, ale i vybavení stavebního. Oproti klasické výrobě<br />
plošných spojů jsou zde kladeny zvýšené požadavky na čistotu a klimatizaci výrobního<br />
prostoru. Mnohem větší důležitosti nabývají mezioperační kontroly, neboť zde se mnohem<br />
ma rkantněji projevuje úspěšnost a kvalita kontroly a následné retuše. Pokračování výrobního<br />
procesu na vadném polotovaru znamená zvyšování už tak dost vysoké technologické<br />
zmetkovitosti. Uvádí se, že i u významných výrobců dosahuje zmetkovitost několika desítek<br />
procent (u 8-vrstvých 40-60%).
214 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Vysoká zmetkovitost a velké nároky na materiály včetně potřeby kvalitního investičního<br />
vybavení jsou jednou z překážek rozvoje výroby vícevrstvých plošných spojů. Přesto se<br />
objevují ve světě výrobci, kteří vyrábějí plošné spoje až do 24 vrstev.<br />
Použití plátovaných materiálů s malou tloušťkou měděné fólie<br />
Při požadavku vysoké hustoty vodičů jsou problémy s podleptáním, pokud se používají<br />
plátované materiály s tloušťkou fólie 35 um. Řešení je jednak v nových technologiích, jednak<br />
v menší tloušťce výchozí Cu fólie ve spojení s technologií pokovování obrazce. Konkrétně se<br />
vyrábí materiál s tloušťkou Cu fólie 5 um. Fólie se připravuje elektrolytickým vylučováním<br />
mědi na Al fólii, která slouží jako dočasný nosič a ochrana proti oxidaci a při manipulaci.<br />
Materiál je dodáván např. švédskou firmou Perstorp AB. Buď je použito krycí hliníkové fólie<br />
o tloušťce 40 um, která se po vyvrtání bez potíží odleptá v kyselině solné, nebo se může<br />
objednávat materiál s tloušťkou Al fólie 80 um. Tento materiál je z hlediska výrobního<br />
zpracování teoreticky výhodnější pro snadné mechanické odstraňování Al fólie (možno<br />
provádět i po vrtání). Cu fólie 5 um je prakticky bezporézní, s vysokým stupněm tažnosti a s<br />
dobrými vazebními vlastnostmi na základní sklolaminát.<br />
Výhody se dají shrnout takto: možnost obdobného zpracování jako u dosavadních<br />
materiálů<br />
s 35 um Cu fólií, snížené podleptání, snížená leptací doba, možnost výroby desek s<br />
vodiči o šíři až 0,15 mm, menší spotřeba leptacího prostředku, menší množství odpadních<br />
vod.<br />
Zvýšená cena základního materiálu je nepodstatná v celkové ceně náročné desky plošných<br />
spojů s pokovenými otvory.<br />
2. Výroba plošných spojů semiaditivní metodou<br />
Obdobné výhody a přednosti jako v případě popsaného výrobního procesu s 5 um Cu fólií<br />
má i tzv. semiaditivní netoda výroba PS. Při této metodě se vychází ze speciálního<br />
neplátovaného materiálu (bez Cu fólie), který se po vyvrtání a úpravě povrchu (sledující co<br />
nejvyšší adhezi následného povlaku) pokoví celý včetně otvorů, vrstvou mědi o tloušťce cca 5<br />
um. Další postup je obdobný jako v případě výroby desek metodou pokovování obrazce.<br />
Semiaditivní technologie představuje důležitý mezistupeň k plně aditivní technologii, která<br />
je perspektivní pro budoucnost.<br />
Jestliže subtraktivní technikou se dá běžně vyrábět plošný spoj s šířkou vodičů 0,3 mm,<br />
mimořádně a s obtížemi 0,2 mm, pak semiaditivní technikou se dá dobře vyrobit spoj šířky<br />
0,15 mm.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 215<br />
3. Výroba plošných spojů aditivní metodou<br />
Velice zajímavý je aditivní proces zhotovování spojů s pokovenými otvory, kde úplně<br />
odpadá leptání a problémy s touto operací spojené (podleptání, zkraty způsobené oddělenými<br />
převisy, zpracování odpadů z leptání). Při tomto procesu se rovněž vychází z neplátovaného<br />
základního mate riálu, na kterém se po vrtání otvorů přímo vytváří požadovaný vodivý<br />
obrazec včetně pokovení otvorů.<br />
Měď, případně další kovové povlaky, se nanáší chemicky (bezproudově). Proces má i další<br />
výhody. Výchozí materiál není na rozdíl od substraktivního procesu tepelně zpracován s Cu<br />
fólií. Tím nedochází při výrobě desek k uvolňování vnitřního pnutí, které je jinak příčinou<br />
prohnutí a zkroucení desek. Při chemickém vylučování mědi se dnes již existujícími vysoce<br />
náročnými, ale kvalitními lázněmi dosahuje podstatně lepší rovnoměrnosti jak na ploše, tak i<br />
v otvorech desky. Tím nastávají i příznivější poměry při pokovování materiálů různé tloušťky<br />
ve vztahu k průměru otvorů. Dají se pokovovat i otvory malých průměrů (0,3 mm). Při<br />
aditivním procesu lze plně respektovat přání zákazníka v otázce tloušťky vodičů a dochází při<br />
něm k úsporám mědi.<br />
Proti těmto nesporným výhodám je však na druhé straně nutné uvést, že se jedná o velmi<br />
složitý proces, který přináší řadu problémů. Výzkum a vývoj těchto procesů představuje<br />
vysoké finanční náklady a řadu let usilovné práce.<br />
To je také důvod, proč se aditivním způsobem výroby zabývá jen několik větších<br />
světových firem a proč se tento proces zatím podstatně nerozšířil do sériové výroby.<br />
Aditivní technikou se dají zhotovovat spoje šíře 0,1 až 0,07 mm. Užší spoje jsou z jiných<br />
příčin (např. přilnavost) technicky nerealizovatelné.<br />
8.6.2 Drátové plošné spoje<br />
Drátové plošné spoje v sobě spojují všechny vlastnosti plošných spojů a drátových<br />
propojení. Vnějším provedením je deska zhotovená touto technologií velmi podobná klasické<br />
desce s vícevrstvým plošným spojem s prokovenými otvory. Proti vícevrstvým plošným<br />
spojům má uvedená technologie<br />
výhodu v tom, že odstraňuje složitost a nákladnost výroby<br />
vícevrstvých desek, snižuje konstrukční kapacity potřebné pro vypracování výrobní<br />
dokumentace vícevrstvých desek, zkracuje dobu potřebnou na zhotovení desky, dovoluje
216 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
vysokou hustotu propojení a snižuje výrobní náklady, zejména u složitých desek vyráběných<br />
v malých a středních sériích.<br />
Vlastní proces výroby desek využívá speciálního souřadnicového kladecího zařízení, které<br />
podle předlohy klade vodiče na předem stanovené pozice. V nich se v další výrobní fázi<br />
vyvrtají otvory, které se prokoví. Do takto upravených otvorů se již přímo osazují součástky.<br />
K propojování se používají velmi tenké vlasové vodiče izolované polysterimidovým lakem.<br />
Díky tomu se mohou vodiče vzájemně křížit, a to bez obavy, že by mohlo dojít k<br />
elektrickému zkratu. Proto může být minimalizována signálová cesta mezi jednotlivými<br />
spojovanými body, čímž se snižuje doba přenosu.<br />
Deska vyrobená uvedenou propojovací technologií může být ekvivalentní až čtyř až<br />
šestivrstvé desce vyrobené běžnou technologií plošných spojů. Další výhodou výrobního<br />
procesu je, že změny uložení vodičů mohou být provedeny během výroby, zatímco u desky s<br />
plošnými spoji musí být změna udělána drátovými propojkami nebo se musí předělat maska,<br />
podle které byla deska vyrobena.<br />
Základní desku tvoří, stejně jako v případě klasických plošných spojů, sklolaminátová<br />
deska plátovaná mědí, která je v místech budoucích prokovených otvorů odleptána. Měděná<br />
fól ie slouží jako zemní a napájecí vedení. Na tuto desku se pak nanese adhezní fólie. Do ní se<br />
ukládají jednotlivé vodiče zvláštní kladecí hlavou. Všechny úkony jsou řízeny počítačem<br />
podle předem stanoveného programu.<br />
Přesnost kladení vodičů o průměru 0,15 mm je postačující k tomu, aby mezi dva vývody<br />
pouzdra standardního integrovaného<br />
obvodu mohly být uloženy ještě dva<br />
takové vodiče. V další výrobní fázi<br />
se základní deska překryje<br />
skleněnou tkanino u, která je<br />
impregnována speciální epoxidovou<br />
pryskyřicí. Krycí adhezní vrstva se<br />
následně vytvrdí v laminačním lisu.<br />
V požadovaných místech se vyvrtají<br />
otvory, které plní dvě funkce.<br />
Jednak tvoří spojovací body pro<br />
každý vodič a dále pak místo, do<br />
kterého jsou vsazovány součástky.<br />
Další operací je chemické čištění<br />
otvorů a odstranění izolace vodičů.<br />
Potom následuje pokovení otvorů,<br />
jehož cílem je získat propojení<br />
vodičů.<br />
Od kladecího stroje jsou<br />
vyžadovány extrémní strojařské<br />
parametry. Např. výrobek firmy Aritma ZPA měl pracovní plochu velikosti 540x540 mm.<br />
Dvě nezávislé kladecí hlavy se pohybují maximální rychlostí 10 cm/s, absolutní přesnost je<br />
0,1 mm. Základem stroje je žulový blok o hmotnosti 2t.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 217<br />
8.6.3 Vlastnosti desek plošných spojů<br />
Používané materiály pro plošné spoje již byly uvedeny. Jejich vlastnosti jsou<br />
normalizovány. Nejčastěji se užívají normy NEMA ("American National Electrical<br />
Manufacture Association"). Většina moderních materiálů je samozhášivých. Mechanické<br />
vlastnosti desek (pevnost, tvrdost, nasáklivost, tepelná roztažnost, odolnost při pájení) jsou<br />
důležité pro technology. Pro konstruktéry je třeba uvést základní elektrické vlastnosti.<br />
Nejprve si povšimněme proudové zatížitelnosti. Všeobecně můžeme konstatovat, že plošné<br />
spoje lze zatěžkávat mnohem většími proudy než drátové spoje odpovídajícího průřezu. Je to<br />
dáno mnohem větší ochlazovací plochou plošného spoje při stejném průřezu. Jako příklad je<br />
možno uvést plošný spoj, vytvořený měděnou fólií tloušťky 35µm, široký 10mm a dlouhý<br />
100mm. Jeho průřez je 0.35 mm2 a plocha, která může vyzařovat teplo je 2 x 10mm x 100mm<br />
= 2000 mm2. Průřezu 0,35 mm2 odpovídá drát o průměru 0,67 mm a tomuto průměru<br />
odpovídá při délce 100 mm plocha 210 mm2. Z tohoto srovnání plyne, že ochlazovaná plocha<br />
plošného spoje je přibližně 10krát větší než u běžného drátového spoje.<br />
Zatížitelnost plošných spojů závisí jednak na tloušťce měděné fólie, z níž jsou plošné spoje<br />
zhotoveny, jednak na izolantu, z něhož je vyrobena základní deska. Experimentálně bylo<br />
zjištěno, že plošný spoj šířky 1,5 mm a tloušťky 50µm se proudem 2 A ohřeje z 20oC na<br />
30oC. Tabulka závislosti mezního proudu (spoj se přetaví), dovoleného trvalého proudu a<br />
odporu na šířce spoje při tloušťce fólie 35 µm je v tabulce 7.6.
218 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Graf oteplení plošného spoje v závislosti na protékajícím proudu při různých šířkách spoje<br />
je uveden na obr. 7.93 a 7.94. Tyto údaje je třeba považovat za orientační.<br />
Izolační a povrchový odpor je min. 103 až 104 MW podle druhu materiálu desky. Typické<br />
hodnoty jsou větší. Vzhledem k tomu postačuje obvykle minimální mezera mezi vodiči (pro<br />
IO 0,25 mm).<br />
Přípustné napětí mezi sousedními plošnými vodiči v závislosti na mezeře udává obr.7.9.5.<br />
V kritických případech vyšetřujeme někdy i<br />
odpor plošného spoje. V závislosti na šířce spoje<br />
(tloušťka vrstvy 0,035 mm) a teplotě můžeme<br />
tuto informaci odečíst z grafu na obr. 7.96.<br />
Indukčnost L plošných vodičů v závislosti na<br />
tloušťce Cu fólie, šířce vodiče a tloušťce<br />
dielektrika na deskách se zemnící vrstvou je<br />
udána grafem na obr. 7.97. Platí pro materiál G<br />
10 (obdoba náš GE).<br />
Na DPS je možné vytvářet plošné cívky s<br />
indukčností do fodnoty asi 10µH. Směrem k<br />
vyšším hodnotám indukčnosti jsme omezeni<br />
plochou, kterou máme k dispozici. Šířku<br />
plošného vodiče volíme kompromisem (Čím<br />
menší, tím vejde více závitů - současně je ovšem<br />
menší kvalita Q). Cívky jsou spirálové, a to<br />
kruhové nebo čtvercové, někdy obdélníkové.<br />
Čtvercové cívky mají při stejném počtu závitů<br />
přibližně o 12% větší indukčnost než cívky<br />
kruhové, avšak nižší kvalitu Q (vliv ztrát na hranách). Dosažitelná kvalita v pásmu kmitočtů<br />
10 až 100 MHz je přibližně 50 až 150 podle druhu izolantu základní desky.<br />
V literatuře jsou uvedeny experimentálně stanovené vzorce, které můžeme použít. Vzorce<br />
uvedené u obr. 7.99 jsou podle [RK6/69:7]. V [Klabal:69] je konstanta K=0,0215 pro
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 219<br />
kruhovou cívku a K=0,0241 pro čtvercovou nebo obdélníkovou cívku. Zde ovšem a je délka<br />
středního závitu v cm.<br />
Pro praktický návrh jde s výhodou<br />
využít diagramu na obr. 7.101a pro<br />
kruhovou cívku a 7.101b pro<br />
čtvercovou nebo obdélníkovou cívku.<br />
U obou diagramů je vyznačen postup<br />
odečtu. Tak např. u obdélníkové<br />
cívky s delší stranou 5 m<br />
[A=(5+3)/2=4 cm] a vnitřní 3 cm a 1<br />
cm (a=2 cm) bude při počtu závitů<br />
N=3 indukčnost L : z úsečky A=4<br />
vedeme přímku na A/a=2/4=0,5. V<br />
místě, kde tato přímka protne přímku<br />
P, vedeme úsečku na úsečku N=3 a<br />
na úsečce L odečteme 0,40µH, což je<br />
indukčnost této cívky.<br />
Plošné cívky lze také realizovat se<br />
dvěma vodiči (obr. 7.100), nap ř. pro vstupní obvody VKV přijímače. Mezi oběma vodiči<br />
existuje vzájemná indukčnost a lze vypočítat činitel<br />
vazby.
220 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Kapacitu C jednoduchého plošného vodiče lze vypočítat, výpočet však činí nejistým<br />
blízkost ostatních vodičů, nutnost odhadů vazeb vzduchem a materiálem. V podstatě lze<br />
uvažovat pět možností vzniku nežádoucích kapacit.<br />
1) Kapacita mezi dvěma paralelními vodiči, umístěnými na jedné straně DPS. Tento druh<br />
parazitní kapacity je nejčastějším případem. Vzájemnou kapacitu dvou spojů lze určit ze<br />
vztahu :<br />
C = 8,85 ⋅ ε<br />
r<br />
⋅ K<br />
1<br />
(7.26)<br />
l<br />
kde er je permitivita (dielektrická konstanta), určená jako aritmetický průměr mezi<br />
permitivitou vzduchu (=1) a permitivitou použitého izolantu eri :<br />
1 + ε<br />
ri<br />
ε<br />
r<br />
= (7.27)<br />
2<br />
K1 je konstanta závislá na rozměrech vodičů a jejich vzájemné vzdálenosti. Tyto<br />
konstantu můžeme určit z grafu. Kapacita C vypočítaná podle uvedeného vztahu (7.26)<br />
bude v [pF/m]. Je také možné použít grafu na obr.7.103.<br />
2) Kapacita mezi vodičem a vodivou plochou na téže straně desky (obr. 7.104)
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 221
222 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
3) Kapacita mezi vodiči stejné šířky umístěných proti sobě na protějších stranách destičky<br />
(obr. 7.105). Za předpokladu, že šířka vodičů je podstatně větší než tloušťka destičky, lze<br />
kapacitu vypočítat stejně jako kapacitu deskového kondenzátoru C = 8,85 10-8 eps S/m.<br />
4) Kapacita mezi vodičem a souvislou vodivou plochou na protější straně destičky (obr.124)<br />
nebo v určité vzdálenosti na opačné straně (obr. 7.107).<br />
5) Kapacita mezi vodičem a kolmou vodivou plochou (obr. 7.108).
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 223<br />
8.6.4 Konečné povrchové úpravy<br />
Na obr. 7.108a až 7.108c jsou zachyceny vlastnosti mikropáskového vedení<br />
Pro dlouhodobé zajištění pájitelnosti je nutno před expedicí desek plošných spojů provést<br />
finální povrchové úpravy. Nejprve je nutno provést čištění desek tak, aby se odstranily<br />
nečistoty a oxidy a povrch mědi byl kovově čistý. Lze použít jakoukoliv vhodnou operaci,<br />
která zaručuje odmaštění a deoxidaci. Nejvhodnější je broušení pod vodou buď speciálními<br />
brusnými kartáči nebo brusnou suspenzí.<br />
Po usušení následuje nátisk značkovací barvou, nátisk nepájivé masky sítotiskem a pokrytí<br />
pájecím lakem, který pak zaručuje dlouhodobou pájitelnost na strojních zařízeních, která<br />
většinou pracují s vlnou. Většina v současné době dostupných pájecích laků je na bázi<br />
kalafuny v organických rozpouštědlech a jako filmotvorná složka, která slouží i k omezení<br />
lepivosti kalafuny, je přidán nízkotavitelný termoplast (polyakrylát, polystyren nebo<br />
polyvinylbutyral).<br />
Nanášení laku lze provést stříkáním, máčením nebo i nanášením na válcích. Takto<br />
provedená povrchová úprava je pouze úprava pro transport mezi výrobcem a spotřebitelem.<br />
Po pájení se většinou lak smývá i se zbytky tavidla.
224 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
V případě, že se požaduje dokonalejší povrchová<br />
úprava, je možno použít žárové ovrstvování slitinou<br />
Sn60Pb buď pomocí válců nebo metodou "Coating<br />
and Hot Air Leveling, tj. pokovování PS na<br />
speciálním zařízení a to následovně:<br />
- nanesení tavidla na hotovou desku PS,<br />
- ponoření do roztavené pájky,<br />
- odstranění přebytečné pájky pomocí tzv.<br />
vzduchového nože (air knife).<br />
8.6.5 Osazování desek<br />
plošných spojů součástkami<br />
Součástky jako základní prvky elektronických zařízení jsou propojovány většinou pomocí<br />
plošných spojů. Lze je osazovat buď:<br />
a) ručně<br />
b) poloautomaticky<br />
c) automaticky.<br />
Přesné hranice není možné určit, ale jednotlivé systémy musí splňovat vždy konkrétní<br />
podmínky. Vše je také dáno následným zpracováním osazených desek, především pájením.<br />
Vývody součástek je nutné z technologického hlediska upravovat především vhodným<br />
natvarováním pro zabezpečení vhodného upevnění v desce při pájecím procesu, dále pro<br />
snadné vymytí zbytků tavidla nesmí součástky ležet na desce PS. V neposlední řadě je<br />
potřebné z funkčního hlediska budoucího zařízení zabezpečit vhodné chlazení - dodržení stálé<br />
výšky součástek nad deskou PS.<br />
Úprava tvaru a délky vývodů se provádí ručně nebo na speciálních zařízeních, většinou<br />
automatických. Oběma uvedenými způsoby se dosáhne u diskretních součástek předpružení<br />
vývodů a jejich zkrácení.<br />
Osazování a tvarování součástek je určováno seriovostí; zařízení pro osazování může být<br />
založeno na několika principech:<br />
1. osazovací stůl je vybaven otočným karuselem se zásobníky součástek, místo osazení je<br />
indikováno pomocí projekčního zařízení; součástky jsou zakládány ručně.<br />
2. automatické osazovací zařízení je řízeno NC nebo CNC systémem a je většinou vybaveno<br />
speciálními hlavicemi a umožňuje osazování i nezapouzdřených součástek (resp.<br />
předpouzdřených).<br />
Existuje samozřejmě velké množství modifikací jednotlivých typů zařízení, ale obecně lze<br />
řici, že všechny typy zakládacích zařízení předpokládají větší či menší seriovost. Tato<br />
skutečnost brání ve většině případů zavedení jakéhokoliv zařízení. Automatická nebo<br />
poloautomatická osazovací zařízení vyžadují kromě velkoseriové výroby i
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 225<br />
nasazení výpočetní techniky pro přípravu dat. Užití je samozřejmě velmi náročné na<br />
organizaci výroby a plynulé zásobování jednotlivými součástkami.
226 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Poznámka. Pro pouzdření polovodičových součástek se užívá více než 100 různých<br />
pouzder. Podle [Leonida 6] existuje celkem kolem 600 pouzder. Norma JEDEC označuje<br />
pouzdra písmeny TO následovanými 1 až 3 číslicemi (a příp. 1 až 2 písmeny). JEDEC (Joint<br />
Electron Device Engineering Councils) je v USA součástí Electronic Industries Association<br />
(EIA). Zmíněných pouzder se týká publikace 12-F "Registered Outlines and Gauges for<br />
Semiconductor Devices". Některá pouzdra jsou vyobrazena na obr. 7.109 až 7.115.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 227
228 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
8.6.6 Konektory pro plošné spoje<br />
Konektory pro plošné spoje (printed board connectors) jsou dvou základních typů<br />
- přímé (one-part, edge board)<br />
- nepřímé (two-part, plug-and-receptacle)<br />
Přímé konektory mají stranu zástrčky provedenou jako součást spojovacího obrazce - viz<br />
obr. 7.117. Mohou být jednostranné (single-readout) nebo oboustranné (double-readout).<br />
Rozměrová řada rozteče d je palcová (0.1", 0.125", 0.150" a 0.2"). U nás se používá rozteče d<br />
= 2.54 mm. Výhody menší složitosti a montáže jsou vyváženy těmito nevýhodami:<br />
1. Je relativně úzké rozměrové toleranční pásmo desky, tj. provedení vývodů a stanovená<br />
tloušťka desky.<br />
2. Je nutné zkosení hrany desky (viz obr. 7.119) pro snadnější zasunování. Nezbroušená hrana<br />
při zasouvání desky nadměrně opotřebovává povrch kontaktů konektoru.<br />
3. Spolehlivé provedení kontaktu zásuvky vyžaduje fundovaný návrh kontaktních per. Užívají<br />
se pera různých tvarů.<br />
4. Hustota vývodů je silně omezena (maximálně 2 řady kontaktů).<br />
Velkou pozornost vyžaduje také úprava dotekových polí. Vyžaduje se, aby byl dlouhodobě<br />
zaručen přechodový odpor nižší než 15 mW. Pro takto náročné požadavky se používá<br />
výhradně galvanické pokovení drahými kovy. Většinou se používá zlato a nízkolegované<br />
slitiny zlata. Legurou bývá většinou nikl nebo kobalt, případně oba. Jako mezivrstva se<br />
používá vrstva galvanického niklu o tloušťce 5 až 10 mm z toho důvodu, aby se zabránilo<br />
difúzi mědi do zlata. Vrstva zlata pro přímé konektory pak stačí 1,5 - 2,0 mm pro zajištění<br />
potřebného přechodového odporu.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 229<br />
Obrázek 7.121:<br />
provedení FRB<br />
Nepřímé konektory jsou v provedení samostatné zásuvky i zástrčky (na straně desky). Za<br />
cenu větší složitosti potlačují nevýhody přímých konektorů. Lze dosáhnout vysoké hustoty<br />
vývodů při uspořádání konektorů do více řad. Kritické místo hustoty vývodů je v napojení<br />
zástrčky na vývody desky. Typické je provedení dvouřadé zástrčky (obr. 7.120, 7.121a).<br />
Dutinka moderní <strong>konstrukce</strong> (FRB provedení - obr. 7.121b) je složená z řady ocelových<br />
pozlacených drátků, zakotvených na koncích v pevném a otočném prstenci uvnitř krycí<br />
trubičky. Při zasunování kuželového kolíku zástrčky se prstenec natáčí - vnitřní průměr<br />
rotačního hyperboloidu (tvořeného povrchovými přímkami - drátky) těsně dolehne na styčnou<br />
plochu kolíku. Konektor je na straně rámu (resp. vany) připojen ovíjenými spoji.
230 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
8.7 Návrh desek plošných spojů<br />
Metodika návrhu desek plošných spojů závisí na<br />
- úrovni vybavení pracoviště (obvykle souvisí s počtem navrhovaných desek)<br />
- potřebách konstruktéra elektronického zařízení, tj. na složitosti desky, hustotě součástek,<br />
počtu vrstev atd.<br />
-možnostech budoucího výrobce<br />
Nebudeme zde samozřejmě uvádět amatérské způsoby zhotovování podkladů pro "výrobu<br />
PS", ale pouze ty, které jsou použitelné v průmyslové praxi. Návrh plošného spoje lze<br />
provádět:<br />
- ručně<br />
- pomocí poloautomatických zařízení<br />
- automatizovaně.<br />
Ruční návrh lze stručně popsat následovně:<br />
- návrh na papír s rastrem (milimetrový, reap. čtverečkovaný papír)<br />
- překreslení na speciální papír (s hliníkovou fólií uvnitř) s modře předtištěným rastrem<br />
matnou černí (kostní čerň)<br />
- fotografické převedení na filmovou položku s případným zvětšením nebo zmenšením a se<br />
zhotovením násobného motivu; předloha bývá opatřena kótou<br />
- výroba filmové předlohy motivu (matrice, klišé) podle požadavků výrobce PS, tj. předlohy<br />
negativní nebo positivní.<br />
Výrobci plošného spoje se obvykle pro výrobu dodává výkres výsledné desky s<br />
okótovanými rozměry, průměry děr a s označenými výřezy atd.<br />
Zvyšující se složitost si vyžádala postupné odstraňování pracného kreslení předloh<br />
klasickou cestou. Metoda poloautomatizovaného návrhu vychází z předchozí, ale ruční návrh<br />
vedení spojů je digitalizován, což umožňuje automatizaci kreslení pomocí speciálních<br />
zařízení, kde speciální hlava se clonkami (expoziční zařízení) nebo clonka (neměnná) vytvoří<br />
motiv spoje na film.<br />
Nedílnou součástí dokumentace u těchto složitějších desek je děrná páska (nebo data na<br />
disketě) pro numericky řízenou vrtačku. Existují převodní programy k vygenerování děrné<br />
pásky pro vrtačku z pásky motivu.<br />
Posledním stupněm je tzv. automatizovaný systém návrhu plošného spoje, který spočívá ve<br />
využití výpočetní techniky k odstranění ručního návrhu plošného spoje. Míra automatizace<br />
závisí na použitém programu. Téměř výhradně se pracuje v interaktivním režimu. Používají se<br />
počítače typu PC nebo pracovní stanice.<br />
Při návrhu musíme kromě elektrické funkce desky přehlížet též k faktorům, které mají vliv<br />
na životnost a stabili;tu desek, zejména:<br />
- teploty a zabezpečení odvodu tepla<br />
- vibrace a ochranu desek proti vzniku harmonických kmitočtů<br />
- pevnost <strong>konstrukce</strong> se správně volenými součástkami, jejich upevněním a polohou<br />
desek v přístroji
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 231<br />
- agresivnost výparů a stupeň ochrany<br />
- vlhkost a prach a klimaticko-technologickou ochranu<br />
- bezporuchovou dobu provozu s jednoduchou diagnostikou chyb a opatřením na<br />
zjednosušení oprav<br />
Pro většinu těchto veličin jsou zpracovány teoretické postupy výpočtů, grafy a konstanty.<br />
Důležité však je, aby konstruktér při návrhu desek přihlížel nejen k vlastní desce, ale i k její<br />
návaznosti na celý systém.<br />
Výkresová dokumentace pro plošné spoje je výsledkem návrhu. Na počátku musí musí<br />
návrhář sestavit:<br />
- skicu (náčrt) a popis návrhu desky<br />
- přijmout rozhodnutí o rozměrech (tj. bude-li použita normalizovaná velikost).<br />
Dále se zpracovává tzv. technologická část výkresová dokumentace, tj.<br />
- předloha a matrice vodivých a dalších obrazců<br />
- programová páska pro vrtání a příp. zkoušení<br />
a) Předlohy<br />
Mají funkci technologických přípravků a v jiných výrobních oborech je většinou<br />
konstruktér nezpracovává (navrhují se a zhotovují v technologické přípravě výroby).<br />
Především to jsou:<br />
- předlohy vodivých obrazců<br />
- předlohy otvorů<br />
- předlohy potisků<br />
- předloha napájivé masky<br />
- předloha ochranné masky<br />
Předlohy se na rozdíl od výkresů označují názvem a písmenem (např. "Předloha otvorů S",<br />
vodivé obrazce S = strana pájení, B = strana součástek, u vícevrstvých desek se připojuje ještě<br />
druhé písmeno Z, takže strana pájení pro vícevrstvou desku je označena AZ, BZ, ...atd.,<br />
zásadou je, že poslední vnější strana má vždy označení ZZ).<br />
Předlohy mohou být nahrazeny výchozími matricemi. Některé společné zásady:<br />
- předloha se zásadně zhotovuje z přímého pohledu na tu stranu desky, na které bude<br />
zhotoven odpovídající obrazec (vodivý nebo pomocný). Výjimku tvoří matrice pro<br />
vícevrstvé desky, které se zhotovují z průhledu od výchozího vodivého obrazce (tj. od<br />
strany pájení AZ)<br />
- popis na předlohách a matricích musí být orientován tak, aby při správné poloze matrice<br />
vůči ostatním matricím desky nebo referenčím otvorům byly všechny nápisy a čísla čitelá<br />
(orientována jednosměrně)<br />
- ke zhotovení předloh a matric se musí používat kvalitních, neroztažných podložek.<br />
Současně se doporučuje, aby podložky byly opatřeny přesným obrazem (v nevýrazné -<br />
modré barvě) základní sítě
232 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
- zhotovení obrazů na předlohách a matricích musí být co nejpřesnější s ostrými hranami<br />
tvarů vodivých prvků. Proto se při ručním zhotovení předloh (matric) doporučuje pracovat<br />
ve zvětšeném měřítku 2:1, 4:1. Kresba musí být tmavě černá, nelesklá.<br />
- kresba předlohy (matric) se zhotovuje pozitivním způsobem (vodivý obrazec černý). Ve<br />
zdůvodněných případech lze použít i negativní kresbu. Taková předloha musí být mimo<br />
plochu výsledné desky výrazně označena (těsně u obrysu výsledné desky) heslem<br />
"Negativní kresba".<br />
- předloha musí obsahovat následující údaje o rozměrech:<br />
a) kontrolní míru<br />
b) vyznačení obrysu výsledné desky (pomocí rohových značek<br />
c) kontrolní nebo zakládací body (mimo plochu výsledné desky)<br />
Poznámka:<br />
Na předloze (matrici) musí být v ploše výsledné desky umístěny dva kontrolní body (tvar<br />
určuje konstrukční směrnice). Tyto body musí ležet na průsečících základní sítě. Spojnice<br />
jejich středů musí být totožná s některou čarou základní sítě. Vzdálenost středů kontrolních<br />
bodů musí být kótována (mimo obrys výsledné desky) a tvoří kontrolní míru.<br />
b) Matrice<br />
Matrice je vyrobena z předloh a slouží k výrobě (kontaktním kopírováním). Je proto v<br />
měřítku 1:1 a je na průhledné předloze. Musí být zhotovena tak, aby se obrazec z matrice dal<br />
přenášet s minimálním podsvícením desky.<br />
Toho se dosáhne tím, že matrice má orientaci obrazce převrácenou, aby světelný paprsek<br />
při expozici procházel nejdříve podložkou a pak emulzí (emulze na emulzi). Z toho plyne, že<br />
výchozí matrice musí mít písmena a číslice nečitelná ze strany emulze (kresby). Neprůhledné<br />
plochy matric musí být proti průhledným výrazně kontrastní, bez kazů. Vnější rozměr matic<br />
musí min. o 30 mm na každé straně přesahovat obrys výsledné desky.<br />
Kresba spojového obrazce<br />
Základním úkolem při návrhu plošných spojů je zhotovení kvalitní předlohy (matrice) pro<br />
výrobu desky. Pokud nejde o vysloveně jednoduché zapojení, je téměř pravidlem, že každý<br />
návrh je tak časově náročný, že se nevyplatí navrhovat desku pro jediný výrobek. Proto někdy<br />
používáme univerzální zkušební desky i pro konečné provedení obvodu. Je-li zapojení určeno<br />
pro opakovaná zhotovení, je návrh desek s plošnými spoji zcela na místě.<br />
Cílem procesu návrhu je výchozí matrice s negativním či pozitivním obrazcem pájecích<br />
bodů a propojovacích plošných vodičů, příp. dalším popisem.<br />
Než přistoupíme k návrhu spojového obrazce, musíme se nejprve rozhodnout, ve které<br />
třídě konstrukčního provedení budeme plošný spoj realizovat (vedou k tomu požadavky<br />
hromadné výroby a také skutečnost, že rozteč vývodů integrovaných obvodů, konektorů a<br />
dalších součástek jsou normalizovány).<br />
Jednotlivé třídy konstrukčního provedení jsou charakterizovány :<br />
- minimální vzdáleností mezi středy dvou sousedních děr (vzájemně izolovaných pájecích<br />
plošek),<br />
- minimální velikostí pájecích plošek pro jednotlivé velikosti děr,<br />
- minimální šířkou plošných vodičů a mezer.<br />
Podrobné údaje jsou na obr. 7.122 a 7.123.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 233<br />
Obrázek 9.122: Třídy plošných spojů<br />
Obrázek 9.123: Rozměry pro 5. a 6. třídu konstrukčního provedení desek<br />
plošných spojů
234 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
I. třída: Minimální vzdálenost středů dvou otvorů v sousedních pájecích bodech vzájemně<br />
od sebe izolovaných je 5 mm. Vedení plošných vodičů mezi dvěma sousedními pájecími body<br />
se připouští. Maximální průměr sousedních pájecích bodů je 4,2 mm.<br />
II. třída: Pájecí body jsou rozloženy v základní síti s roztečí 2,5 mm. Minimální vzdálenost<br />
středů dvou otvorů v sousedních pájecích bodech vzájemně od sebe izolovaných je 3,54 mm<br />
(přes uhlopříčku základní sítě). Vedení plošných vodičů mezi dvěma sousedními pájecími<br />
body při rozteči 3,54 mm se nepřipouští. Maximální průměr sousedních pájecích bodů je 3,0<br />
mm.<br />
III. třída: Pájecí body jsou rozloženy v základní síti s roztečí 2,5 mm. Minimální<br />
vzdálenost středů dvou otvorů v sousedních pájecích bodech vzájemně od sebe izolovaných je<br />
2,5 mm. Vedení plošných vodičů mezi dvěma sousedními pájecími body při rozteči 2,5 mm<br />
se nepřipouští. Maximální průměr sousedních pájecích bodů je 2,1 mm.<br />
IV. třída: Minimální vzdálenost středů dvou otvorů v sousedních pájecích bodech<br />
vzájemně od sebe izolovaných je 2,5 mm. Vedení plošných vodičů mezi dvěma sousedními<br />
pájecími body se připouští, přičemž vodič musí být umístěn v polovině vzdálenosti mezi<br />
středy obou otvorů. Maximální průměr sousedních pájecích bodů je 1,5 mm.<br />
Ve všech těchto čtyřech třídách se připouští umístění středů sousedních otvorů za<br />
předpokladu, že pájecí plošký umístěné kolem těchto otvorů budou elektricky spojeny.<br />
V. a VI. třída: První a druhá třída konstrukčního provedení (přesnosti) jsou vhodné pro<br />
desky osazené běžnými pasivními prvky a tranzistory, do třetí třídy patří desky, obsahují-li<br />
pouzdra integrovaných obvodů s roztečí vývodů 2,5 mm, čtvrtá třída je určena především pro<br />
složité obvody výpočetní techniky. Vyznačuje se na první pohled tím, že spoje procházejí i<br />
"mezi vývody" pouzder číslicových integrovaných obvodů, tj. mezi ploškami s roztečí 2,5<br />
(2,54) mm.<br />
Ruční návrh jednoduchých plošných spojů<br />
Při návrhu volíme, bude-li obrazec nakreslen systémem spojovacích vodičů nebo dělicích<br />
čar (nazývané také soustava jednotných vodičů a jednotných mezer), a bude-li použita deska<br />
jednostranná nebo oboustranně plátována.<br />
U soustavy jednotných vodičů mají vodiče převážně jednotnou šířku a mezery mezi<br />
plošnými vodiči jsou různě široké. Při provedení vodivého obrazce soustavou jednotných<br />
mezer mají mezery mezi vodičí převážně jednotnou šířku a plošné vodiče jsou různě široké.<br />
Každý způsob provedení vodivého obrazce má svoje výhody a nevýhody.<br />
U soustavy dělicích čar tvoří spoje celé neodleptané plochy měděné fólie. I když je vodivý<br />
obrazec méně přehledný, má tento způsob řadu výhod. Zhotovení předlohy je poměrně snadné<br />
(kreslí se jen dělicí čáry a body v místech děr - pracujeme-li s negativním fotorezistem).<br />
Výhodná je také úspora leptací lázně, menší elektrický odpor plošných vodičů, větší<br />
mechanická pevnost pájeného vodiče a jeho odolnost proti přehřátí (zvláště při opravách se<br />
tak snadno neodlupuje. Přerušení spojovací cesty je nepravděpodobné.<br />
Nevýhodou může být nebezpečí vzniku neodleptaných můstků mezi vodiči a větší<br />
vzájemné kapacity.<br />
Soustava dělicích čar je vhodná pro zapojení v první a druhé třídě přesnosti, v<br />
jednodušších případech i ve třetí třídě.<br />
Soustava dělicích čar nemusí být vždy přirozeně pravoúhlá, ale může vytvářet i<br />
nepravidelné obrazce ("brambory") kolem série otvorů a může mít i různě protáhlé, rozšířené<br />
či zúžené tvary (obr.12). Tento typ předlohy má pak již blízko k soustavě jednotných vodičů.<br />
Soustava dělicích čar<br />
se používá především u jednovrstvých desk plošných spojů a u<br />
desek, na kterých jsou realizovány napájecí zdroje.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 235<br />
Desky s jednotnými mezerami lze navrhovat pouze ručně (počítačové programy to neumí)<br />
a nelze je pájet vlnou.<br />
Obr. 7.124. Soustava spojovacích vodičů<br />
a) v provedení s menšími pájecími ploškami<br />
b) s většími pájecími ploškami<br />
c) se společným zemním pólem (plochou)<br />
Obr. 7.125. Soustava dělicích čar<br />
a) pravoúhlých (fólie černě)<br />
b) nepravidelných (fólie bílá)<br />
c) kombinovanán se soustavou spojových čar<br />
Systém spojovacích vodičů používáme pro složitější zapojení odpovídající třídám přesnosti<br />
třetí až šesté, zejména obvodů číslicové techniky, vyznačujících se velkým množstvím úzkých<br />
spojovacích vodičů shodné šířky. Kresba je náročnější, musíme vykreslovat pájecí body a<br />
spojovací vodiče. Můžeme si však pomoci nalepováním speciálních suchých obtisků Propisot.<br />
Výkres fotografické předlohy lze přímo použít pro expozici pozitivních fotorezistů.<br />
Nevýhodou bývá větší opotřebení leptací lázně, náchylnost k přerušení vodičů snadno<br />
přehlédnutelnými trhlinkami, snadné přehřátí a uvolnění pájecí plošky při pájení.<br />
Výhodou je malá parazitní vazba mezi spoji. Spoje se vyznačují relativní přehledností.<br />
Na způsoby návrhu plošných spojů se názory různí. Proto popíšeme dva způsoby, které se<br />
často používají. Stále jde o metody ručního návrhu a předpokládá se výroba fotocestou.<br />
8.7.1 Jednodušší metoda ručního návrhu<br />
Nejprve podrobněji popíšeme metodu, která se ve více modifikacích používala (a snad i<br />
ještě používá) ve výrobních závodech k návrhu jednostranných i dvoustranných plošných<br />
spojů. Stále se používá v amatérské praxi.<br />
Výchozím podkladem je přehledné, funkčně ověřené schéma obvodu, v němž jsou všechny<br />
prvky označeny příslušnými písmeny s pořadovými čísly (R1,...,C12,..., T4, IO7) a rozpiska<br />
součástek s přesným označením typu. Musíme znát skutečné rozměry použitých součástek,<br />
rozteče upevňovacích děr a průměry vývodů. Proto si ve velikosti 1:1 a s vyznačením polohy<br />
a průměru vyznačíme všecny potřebné typy součástek na jeden arch milimetrového papíru.<br />
Potřebné údaje získáme z konstrukčního katalogu součástek nebo změřením vzorků. V<br />
katalogu bývají uvedeny jak doporučené rozteče, tak průměry děr. Pokud je stanovujeme<br />
sami, volíme rozteče v násobku 2,5 mm a průměry podle vývodů jako nejbližší vyšší z řady<br />
(0,6); 0,8; 1,0; 1,3; 1,6; ... mm. Každému otvoru přiřadíme značku. Tento výkres nekreslíme<br />
vždy, doplňujeme jen podle potřeby zakreslením nově použitých typů součástek.<br />
Pozn.: kreslíme vždy "ze strany součástek" - pozor na značení vývodů tranzistorů a<br />
lineárních integrovaných obvodů (viz zásada x na str. y).<br />
Návrh je nutno dělat v měřítku<br />
1:1 (jednodušší obvody) nebo 2:1. Větší měřítka užíváme<br />
pro plošné spoje v 5. a 6. třídě, pro povrchovou montáž (případně pro vrstvové integrované<br />
obvody).
236 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Pro návrh v měřítku 2:1 je nejlepší použít speciální čtverečkovaný papír, který má<br />
čtverečky 5x5 mm (nebo 5,08x5,08 mm). Vyhoví i normální čtverečkovaný papír s dobrým<br />
soutiskem obou stran. Pak odpovídá jeho rastr právě rastru 2,5x2,5 mm (nebo 2,54x2,54 mm)<br />
- rozteči vývodů konektorů, integrovaných obvodů a ostatních součástek. Pro návrh v měřítku<br />
1:1 si musíme rastr pomyslně dělit na poloviny.<br />
Užívají se dva způsoby. Někdo navrhuje oboustranné desky s plošnými spoji tak, že kreslí<br />
na jednu stranu papíru obě strany, jako kdyby viděl "skrz desku". Používají se barevné tužky:<br />
obvykle červená na stranu součástek a černá (obyčejná) na stranu spojů (tj. pájení) - těchto<br />
spojů je obvykle více. Pozor na to, že barevné pastelky se špatně gumují, zvláště tzv.<br />
inkoustové, ty jsou však nejlépe vidět. Žlutou pastelkou, nebo některou málo výraznou<br />
barvou, zakreslujeme již při návrhu rozložení součástek.<br />
Druhou možností je kreslit obyčejnou tužkou na obě strany papíru. Též je možno použít<br />
plných a přerušovaných čar kreslených obyčejnou tužkou a kreslit na jednu stranu papíru.<br />
Tento postup popíšeme podrobněji. Koordinace prací na obou stranách budoucí desky<br />
zajišťujeme tak, že jakmile nakreslíme nová kolečka na spodní stranu, překreslíme je hned i<br />
na horní, buď pohledem proti světlu nebo si polohu určíme pomocí již nakreslených bodů.<br />
Samozřejmě se snažíme dát všechny spoje na stranu pájení. Chceme-li však mít dobré vodiče<br />
zemí a napájení, musíme obvykle některé spoje umístit i na stranu součástek. U složitějších<br />
desek se pak oběma stranám nevyhneme, i když používáme k rozvodu napájení pásky<br />
(hřebínky), které se do desky zapájejí jako součástky.<br />
Určité množství spojů můžeme též nahradit drátovými propojkami (není vhodné pro<br />
automatizovanou montáž; drátové propojky dovolí někdy navrhnout desku jako<br />
jednostrannou, bez těchto propojek by musela být dvoustranná).<br />
Ve vf obvodech a měřicí technice někdy slouží fólie na jedné straně jako celistvá zemnící<br />
plocha. Pak nemusíme pro tuto stranu vykreslovat fotopředlohu, ale jen vrtací předpis, podle<br />
něhož při výrobě odstraníme (odvrtáme) fólii kolem děr, jimiž mají procházet vývody<br />
součástek nespojené se zemní plochou - např. vrtákem nabroušeným s větším úhlem břitů,<br />
případně s vybroušeným malým naváděcím hrotem, vrtačku použijeme se stojanem, u něhož<br />
lze nastavit hloubku vrtání.<br />
Při návrhu je vždy dobré si očíslovat rohové body integrovaného obvodu (např. 1,7,8,14),<br />
abychom se lépe orientovali. Spoje a pájecí body se kreslí jen symbolicky, bez ohledu na<br />
velikost. Širší spoje nebo plochy zemí kreslíme však tak, jak budou. Spoje, které jsme již<br />
zakreslili, si označíme ve schématu přeškrtnutím čáry u příslušného obvodu. Rovněž<br />
dopíšeme do schematu číslo špičky (vývodu) obvodu, kterou jsme použili.<br />
Při návrhu desky s plošnými spoji je důležité předem odhadnout, jak rozložit jednotlivé<br />
celky zařízení vzhledem k jejich propojení, k počtu spojů na konektory, atd. I když rozložení<br />
odhadneme, zakreslujeme do návrhu obvody po částech a podle toho, jak se návrh vyvíjí,<br />
přidáváme další.<br />
Součástky se umísťují na desky v pravoúhlém systému souřadnic. Toto umístění se zvlášť<br />
doporučuje pro konstrukci desek s integrovanými obvody v pouzdrech typu DIL. Při použití<br />
standardního tvaru a rozměru desek v jedné výsledné konstrukci se pro snadnější zhotovení<br />
předlohy a montáž doporučuje umisťovat pouzdra integrovaných obvodů do jednotných,<br />
předem určených řad a sloupců, navržených pro maximální počet uvažovaných pouzder na<br />
desce. Jednotlivé pozice pouzder je pak možno podle potřeby vynechávat.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 237<br />
U desek osazených diskrétními součástkami lze ve zdůvodněných případech umístit tyto<br />
součástky i mimo systém pravoúhlých souřadnic, pokud se tím umožní snadnější zapojení či<br />
montáž obvodů na deskách nebo to podmiňují elektrické požadavky konstruovaných obvodů.<br />
Snažíme se vždy využít všech hradel a klopných obvodů, a bychom potom neměli dvě<br />
nepoužitá hradla někde, kde jsou okolo již samé spoje. Někdy nás návrh přinutí použít<br />
dvouvstupové hradlo jako invertor apod., protože by jinak zbylo a k invertoru je daleko -<br />
proto při úvahách o počtu obvodů na desce si musíme nechat nějaké hradlo do rezervy.<br />
Největší potíže při návrhu pak máme samozřejmě při posledních spojích, kdy už není nikde<br />
volná ulička. Nakonec doplníma návrh o blokovací kondenzátory napájení a návrh<br />
překontrolujeme. Při kontrole je dobré každý zkontrolovaný spoj znázornit ve schématu<br />
obtažením spoje červenou tužkou.<br />
Jako pomůcku je vhodné mít při návrhu tři papíry. Na prvním si uděláme obrázky pouzder<br />
jed notlivých obvodů, aby bylo jasné jak jsou obsazeny jejich špičky (vývody). Tyto obrázky<br />
je vhodné mít na stejném čtverečkovaném papíře, jaký používáme při návrhu a mít je<br />
dvoustranně a doplňovat je o další obvody. Na druhém papíře si označíme, jaké rozteče<br />
pájecích bodů jsou potřeba pro tranzistor, pro rezistory jednotlivých typů, konektory, atd.<br />
Vyšrafovanou plochou si pak označíme, jakou plochu na desce součástka zabere. Také tento<br />
papír neustále doplňujeme a zpřesňujeme. Třetí papír je na poznámky a můžeme ho po návrhu<br />
zahodit. Na něj si píšeme, která hradla jsou ještě volná, které špičky u dlouhého spoje (třeba<br />
nulování) ještě chybí propojit, atd.<br />
Výsledný návrh překreslíme tuží na pauzovací (nebo speciálně k tomu určený - viz dříve)<br />
papír. Je nejvýhodnější, když toto překreslení (kresbu vodivého obrazce a pájivých bodů)<br />
bude ručně zhotovovat stejný pracovník, který zhotovil návrh. Druhou možností je návrh<br />
digitalizovat pro strojní vykreslení předlohy.<br />
Vícevrstvé desky se v současné době ručně nenavrhují (výrobce by takovouto zakázku<br />
nepřijal). Teoreticky to však možné je. Efektivní by to mohlo být jen u čtyřvrstvých desek, jde<br />
vnitřní vrstvy by sloužily k rozvodu napájení a země, jejich návrh je velmi snadný, jde pouze<br />
o návrh izolovaných oblastí kolem budoucích prokovených děr, které nemají být s vrstvou<br />
spojeny.<br />
8.7.2 Složitější metoda ručního návrhu<br />
Nyní popíšeme jinou metodu ručního návrhu. Je poměrně pracná, ale vede k velmi dobrým<br />
výsledkům, neboť jím získáme úplné výrobní podklady a možnost poměrně snadno nalézt a<br />
odstranit závady ještě v průběhu návrhu. To má význam při návrhu složitých obrazců. Postup<br />
je na obr. 7.126.<br />
Vychází se opět ze schématu obvodu a rozpisky součástek. Obdobně si vytvoříme výkres<br />
zachycující tvary a obrysy součástek - označíme si ho jako pomocný výkres 0. Tento výkres<br />
opět může sloužit pro řadu návrhů.<br />
Na podložku přilepíme samolepicí páskou za rohy arch milimetrového papíru, na který<br />
nakreslíme obrys desky, vyznačíme předem stanovenou polohu upevňovacích děr, ovládacích<br />
a nastavovacích prvků, míst, kde lze součástky umístit apod. Je výhodné nakreslit dva takové<br />
motivy vedle sebe. Dostáváme výkres označený 1.<br />
Překryjeme jej pauzovacím papírem, přilepíme a kreslíme návrh rozložení součástek a<br />
jejich propojení. Pro tuto činnost neexistuje žádný zvláštní obecný postup vedoucí rychle k<br />
úspěchu, svou roli zde hrají především zkušenosti. Pracujeme systémem "tužka - guma".<br />
Jeden z podkladových obrázků využíváme<br />
k hledání vhodného uspořádání třeba jen části
238 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
obvodu, navrženou část překreslujeme do druhého obrázku. Role obou kreseb se mohou<br />
během návrhu několikrát vystřídat.<br />
Součástky kreslíme ve skutečné velikosti podle 0, vývody umísťujeme do rastru 2,5 mm.<br />
Připomínáme, že kreslíme "ze strany součástek". Výsledkem je návrh rozložení a propojení 2.<br />
Podle 2 a s pomocí prosvítající milimetrové sítě výkresu 1, vykreslíme na nový<br />
milimetrový papír polohu součástek 3, z níž kopírováním vykreslíme všechny výrobní<br />
podklady. Proto je výhodné polohu děr zdůraznit křížky nebo tečkami (tuší), aby dobře<br />
prosvítaly. Dbáme na jejich přesné umístění v milimetrové síti, obrysy součástek kreslíme<br />
počlivě "od ruky".<br />
Po překrytí výkresu 3 a přelepení pauzovacím papírem si vyznačíme díry (nejlépe<br />
rýsovacímy pery) a podle návrhu propojení 2 nakreslíme detailní návrh obrazce plošných<br />
spojů (tužkou) 4. Podle potřeby volíme metodu dělicích čar nebo spojovacích vodičů.<br />
Přihlížíme již k tomu, že se liší velikost děr a tím i pájecích bodů. Napájecí a společné vodiče<br />
volíme co nejširší. Podle potřeby upravujeme polohu součástek na 3.<br />
Výkres 4 sejmeme, 3 překryjeme opět pauzovacím papírem a podle polohy děr na 3 a<br />
potřebné velikosti děr podle 0 kreslíme vrtací předpis 5. Pracujeme tuší.<br />
Sejmeme 5, překryjeme pauzovacím papírem a nakreslíme (narýsujeme) rozložení<br />
součástek<br />
6.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 239<br />
Obrázek 9.126
240 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Na závěr překryjeme 3 kvalitním pauzovacím papírem nebo některou ze speciálních<br />
plastových fólií, která má povrch upraven pro kresbu tuší, a narýsujeme fotografickou<br />
předlohu 7.<br />
Předlohou je výkres 4, podložený výkresem 6. Kresba musí být kontrastní, kvalitní tuší. Při<br />
metodě dělicích čar použijeme pro čáry pero o průměru hrotu 0,5 mm, pro body vyznačující<br />
díry asi 0,3 mm. Při metodě spojovacích vodičů nanášíme pájecí body z archů suchých<br />
obtisků Propisot.<br />
Ověříme přiložením :<br />
6 na 7 - správnost zapojení (podle schematu),<br />
5 na 6 - správnost vrtacího předpisu (podle 0),<br />
5 na 7 - správnost velikosti pájecích plošek fotografické předlohy.<br />
Výsledkem návrhu jsou tyto výkresy :<br />
7 - fotografická předloha<br />
6 - výkres rozložení součástek<br />
5 - vrtací předpis<br />
4 - návrh kresby fotografické předlohy<br />
3 - mateční rozložení součástek<br />
2 - prvotní návrh rozložení a propojení<br />
1 - obrys desky<br />
0 - výkres velikosti součástek, umístění upevnňovacích děr<br />
Výresy je možno rozdělit podle typu dokumentace následovně :<br />
7, 6, - výrobní dokumentace desky s plošnými spoji<br />
5,4,3,2 - pro uložení pro případnou úpravu při ověřování<br />
1 - u jednotných formátů použitelné pro další návrh<br />
0 - trvale použitelné pro další návrhy<br />
Pozn.: Při návrhu dvoustranné desky s plošnými spoji se zdvojují výkresy 4 a 7. S výhodou<br />
můžeme, díky pauzovacímu papíru, překrývat více vrstev, kreslíme stále "ze strany<br />
součástek". Návrhy obou kreseb můžeme barevně rozlišit.<br />
Chceme-li použít negativní fotorezist nebo zhotovit pracovní kopie originálu fotografické<br />
předlohy, pomáháme si kontaktním kopírováním na plochý film.<br />
8.7.3 Podrobnosti k návrhu vodivého obrazce<br />
Po obecném popisu možné metodiky celého návrhu si nyní podrobněji všimneme vlastního<br />
vodivého obrazce. Jde vlastně o styk<br />
- požadavků technologických (co je možné vyrobit, požadavky na testování a pájení),<br />
- požadavků funkce a eliminace parazitních vlivů (to jest elektromagnetické kompatibility),<br />
- požadavků na odvod tepla a také<br />
- hlediska estetického.<br />
Některé z těchto věcí probíráme odděleně na jiném místě tohoto skripta (jinak by chaos v<br />
této kapitole byl neúnosný). Potřebnou syntézu si musí provést čtenář sám.<br />
Rozmisťování součástek předchází návrhu vodivého obrazce. Jeho postup je přibližně tento<br />
:
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 241<br />
- nejprve je nutno rozmístit součástky, které vyžadují mechanické zabezpečení funkce<br />
(trimry, potenciometry, cívky s dolaďovacími jádry)<br />
- pak je nutno nahrubo rozmístit ostatní součástky přibližně dle schematu, a by se mohly<br />
zjistit vzájemně nežádoucí vazby<br />
- součástky válcového tvaru (R, C) umístit v jednom směru (příp. ve dvou směrech na sebe<br />
kolmých)<br />
Je vhodné si udělat návrh rozložení součástek a propojení v měřítku 1:1; taková skica<br />
(kreslená z pohledu na součástky) usnadní volbu velikosti desky, konečné rozložení součástek<br />
a kresbu budoucí předlohy<br />
Dále je vhodné dbát, kromě již uvedených požedavků i následujících zásad, aby :<br />
- výstup a vstup jednoho stupně nebyly příliš blízko sebe a aby tím nedocházelo k<br />
nežádoucím vazbám<br />
- spoje, které mezi jednotlivými součástkami povedou byly co nejkratší a aby se pokud<br />
možno nekřížily<br />
- křížení vodičů odstranit tím, že se přes toto místo vede součástka, která přemostí křížení<br />
- vývody z desky byly umístěny v takovém místě, aby napojení na zdroj případně ostatní<br />
desky a součástky bylo co nejkratší<br />
- u digitálních obvodů orientujeme pouzdro podle obr. 7.128 a rychlejší obvody umisťujeme<br />
u konektoru (obr. 7.129)<br />
- polovodičové součástky a ostatní součástky citlivé na teplotu byly co nejdále od zdrojů<br />
tepla<br />
- cívky a keramické kondenzátory laděných obvodů, jejichž parametry také většinou závisí<br />
na teplotě, byly také od tepelných zdrojů co nejdále<br />
Společný pól zdroje - většinou záporný ("zemní") - se snažíme vést tak, aby procházel<br />
mezi místy, mezi nimiž by neměla vzniknout nežádoucí vazba. Výjimečně si pomáháme při<br />
křížení vodičů tím, že dvě místa, která nejdou propojit na straně spojů, bychom propojili<br />
drátem na straně součástek. Je to sice funkčně nezávadné, avšak z technického hlediska<br />
nedokonalé a při trošce přemýšlení se vždycky najde cesta, jak spojení uskutečnit v obrazci<br />
plošných spojů. U vf a "živých" spojů, nejde-li to jinak, je však toto propojení vhodnější, než<br />
vést dlouhý spoj.<br />
Pokud se na desce vyskytnou spoje přenášející větší napětí, zvětšíme izolační mezeru mezi<br />
těmito spoji a ostatními okolními plochami a snažíme se aby spoje byly co nejkratší. Stejně<br />
tak dbáme, aby spoje přenášející signály nízké úrovně měly co nejmenší plochu, aby se<br />
omezila možnost indukování rušivých napětí a poruch. Platí to i u soustavy dělicích čar, kde<br />
by plocha omezená dělicími čarami, měla být v těchto případech co nejmenší.<br />
Je dobře vyhnout se souběžnému vedení dvou nebo několika rovnoběžných spojů, pokud<br />
jimi protéká střídavý proud (je to možné u napájecích přívodů stejnosměrného napětí). Je-li to<br />
nevyhnutelné, protáhneme mezi nimi alespoň jeden spoj, spojený se společným pólem zdroje.<br />
Základní doporučení pro návrh spojů:<br />
- použití dostatečně velkých izolačních mezer, šířek vodičů a velikost pájecích plošek<br />
- volit tvar pájecí plošky jednoduchý (nejlépe kruhový)<br />
- nepoužívat pro pájecí plošky různých krácených tvarů (např. seřezávání kruhů Cu fólie)<br />
- společné pájecí plošky pro více součástkových otvorů nezaručují dobrou pájitelnost
242 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
- pájecí body ve velkých plochách mědi se špatně pájí; proto radějiši kreslit normální pájecí<br />
plošku s izolačním prstencem a k propojení plošky s plochou mědí použít dvě až čtyři<br />
spojky (krátké proužky)<br />
- plynulé tvary plošných vodičů užívat jen u analogových obvodů, umožňují zkrátit délky<br />
vodičů; obtížně se kreslí<br />
- plošné vodiče u digitálních obvodů zakreslovat pouze tak, aby sledovaly souřadnice<br />
základní sítě, lomit vodiče pouze pod úhlem 45 stupňů, přičemž body zlomu se musí krýt s<br />
průsečíkem souřadné sítě<br />
- doporučená šířka vodičů 0,8 mm až 1,0 mm (u vodičů širokých přes 3 mm může<br />
vzniknoutr potíž při pájení vlnou)<br />
- šířka izolačních mezer se doporučuje 1 mm; na každých 150 V rozdílu potenciálu má být<br />
izolační mezera alespoň 0,75 mm<br />
- vodiče vzájemně nenapojovat v ostrých úhlech<br />
- zachovávat dostatečnou vzdálenost vodičů od hran desky<br />
- zúžení vodičů použít jen omezeně na nezbytně nutné délce<br />
- velké plochy mědi odlehčovat pravidelnými obrazci z izolačních plošek nebo mezer, může<br />
se zde uvést název desky nebo číslo<br />
- obrys označit rohovými značkami; nevykreslovat obrys (předlohy, matrice) přerušovanou<br />
čarou<br />
- doteky zúženým vodičem propojit na sběrný vodič pro pokovování nebo v celé šíři<br />
protáhnout kresbu přes obrys výsledné desky (méně vhodné) - nutno počítat s tím, že se při<br />
výrobě mění šířka plošného vodiče podleptáním v rozmezí 10 až 20 mm (u 35 mm Cu<br />
fólie) a při použití kovové leptuodolné masky se rozšiřuje horní část vodiče nárustem<br />
kovové masky o 20 až 30 mm při tloušťce vrstvy 15 mm, pokud není užito suchého rezistu<br />
Bezpodmínečně je však nutné si uvědomit, zda budeme předlohu kreslit ze strany spojů,<br />
což je téměř vždy, nebo ve speciálních případech ze strany součástek. Pro většinu případů se<br />
proto musíme dívat na skicu propojených součástek "zespodu". Je to nutné proto, abychom<br />
správně situovali vývody tranzistorů a integrovaných obvodů. Jinak by se mohlo stát, že<br />
vývody těchto součástek budou zapojeny obráceně, což nelze odstranit. Pokud se to stane a<br />
desku nechceme vyhodit, pak takové součástky musíme připojit (připájet) ze strany spojů (tj.<br />
stejně jako u plošné montáže. Uvidíme později, že u ní naopak, použijeme-li příslušné<br />
součástky, musíme spoje kreslit tak, jako by tyto součástky na spojích ležely.<br />
Rozhodnutí, zda kreslit ze strany spojů nebo součástek je tedy základním pro bezchybnou<br />
výrobu desky s plošnými spoji, zvláště u začínajících návrhářů. Chybná kresba předlohy se<br />
obvykle zjistí až při montáži součástek.<br />
Postup zakreslování drah plošných vodičů do náčrtu může být zčásti určován povahou<br />
obvodu nebo logického návrhu. Plošné vodiče, které jsou kritičtější z hlediska elektrických<br />
parametrů, je vhodné zakreslovat v přímých drahách a jejich polohu neměnit. Dobrou<br />
pomůckou je zakreslení takových plošných vodičů fixem, což připomíná, že se poloha těchto<br />
vodičů nesmí měnit. Při návrhu se doporučuje začít s plošnými vodiči ke konektoru desky,<br />
potom pokračovat u pouzdra v levém horním rohu desky (při umístění konektoru vlevo) a<br />
zakreslit všechny spoje k tomuto pouzdru. Potom přejít k dolnímu dalšímu pouzdru atd. až se<br />
zakreslí celý vodivý obrazec řada po řadě.<br />
Hlavní předností tohoto systému je, že v případě nejistoty kudy vést dráhu, je bezpečnější<br />
umístit jej směrem nahoru nebo doleva, tj. přes anebo v blízkosti dokončené části návrhu.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 243
244 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Existuje-li nějaké univerzální pravidlo pro zakreslování drah plošných spojů, potom zní asi<br />
takto : "Ať se zakreslí první dlouhý plošný vodič kamkoliv, bude jej stejně nutné později<br />
přemisťovat.<br />
Rozvody pro napájení a přívodní zem mohou být u vícevrstvých desek na vnitřních<br />
vrstvách a v tom případě je není třeba uvažovat. U dvouvrstvých desek však musí být na<br />
povrchu spolu se signálovými plošnými vodiči. Vzhledem k tomu, že tyto vodiče budou vždy<br />
spojovat známé vývody známým způsobem, je vhodné je do náčrtu zakreslit jako první. Ať se<br />
zvolí jakýkoli systém, je možné, že bude zapotřebí provést nějaké menší změny v umístění<br />
těchto plošných vodičů před dokončením celé kresby vodivého obrazce. Proto není vhodné<br />
uvádět tyto plošné vodiče v definitivní podobě. Do náčrtu se mohou zakreslit světlou barvou,<br />
která je však dostatečně jasná (aby se zakreslené plošné vodiče nemohly přehlédnout) a kterou<br />
je možné později po případných nezbytných změnách překreslit do definitivní podoby.<br />
Rozvodu napájení se budeme věnovat podrobně ještě později.<br />
Dále je třeba uvažovat plošné vodiče vedené na konektor desky. Jestliže pořadí kontaktů na<br />
desce bylo stanoveno předem, začínají plošné vodiče u kontaktů a procházejí přímo až k<br />
určenému pájecímu bodu.<br />
Pokusme se stručně shrnout zásady vedení spojů při návrhu plošného obrazce.<br />
Předpokládejme i nadále orientaci obrazce v tom smyslu, že strana součástek bude nahoře a<br />
kontakty vlevo. Nejprve je třeba zkusit dráhu plošného vodiče směrem nahoru nebo dolů po<br />
souřadnici základní sítě, která sousedí s místem vzniku. Souřadnice základní sítě, která je blíž<br />
cílovému bodu, se zkusí co nejdříve. Dráha plošného vodiče sleduje tuto souřadnici základní<br />
sítě až k poslední souřadnici před souřadnicí cílového bodu, projde propojovacím otvorem,<br />
potom se vede napříč deskou a konečně dalším propojovacím otvorem přejde na druhou<br />
stranu desky ke konečnému propojení s cílovou pájecí ploškou.<br />
Jak se postupně zaplňuje plocha desky, roste pravděpodobnost, že tento doporučovaný<br />
postup přestane být možný. Pro vertikální část dráhy se může vyhledat nejbližší volná<br />
souřadnice základní sítě, avšak musí se přitom dbát, aby byla také volná dráha napříč deskou<br />
(z místa vzniku dráhy k této souřadnici základní sítě). Je možné umístit propojovací otvor v<br />
průsečíku obou drah, aniž by překážel jinému otvoru.<br />
Je třeba si uvědomit, že při použití dosud uvažovaných rozměrů pájecích plošek (rovných<br />
nebo o něco větších než rozteč základní sítě) nemohou být propojovací otvory blíž k sobě než<br />
na diagonálně sousedících průsečících základní sítě. Je-li horizontální souřadnice základní sítě<br />
již obsazena, je třeba vyhledat jinou souřadnici ve stejné skupině mezi dvěma řadami pájecích<br />
plošek pouzdra.<br />
Pravděpodobně se dosáhne stadia, kdy jednoduchá dráha tvaru L s krátkými šikmými<br />
lomenými čarami na koncích již nebude možná. Tehdy je nutno umiťovat plošné vodiče<br />
schodovitě přes desku na krátkých úsecích základní sítě.<br />
Nutno poznamenat, že jedinými nevýhodami takové schodové dráhy je zvětšení počtu<br />
propojovacích otvorů a zvýšená obtížnost při sledování kresby vodivého obrazce pohledem.<br />
Celková délka dráhy plošného vodiče zůstane stejná.<br />
Může nastat případ, kdy se plošný vodič bude muset vzdálit od svého cílového bodu, aby<br />
se našla volná souřadnice základní sítě. To lze připustit, ale při návrhu obvodu se musí jasně<br />
stanovit omezení celkové dráhy plošných spojů.<br />
V pokročilejších stadiích návrhu vodivého obrazce můžeme zjistit, že je potřeba určitého<br />
počtu změn v předchozím návrhu. Plošné vodiče již umístěné je možné převádět pomocí<br />
šikmých lomených drah na další souřadnici základní sítě, aby se uvolnila dráha (mezera) pro
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 245<br />
nový plošný vodič. Je také možné přemístit propojovací otvory a použít lomených drah, aby<br />
se uvolnila mezera pro další propojovací otvor.<br />
Každý zkušenější návrhář musí poznat, kdy je nejvhodnější začít se změnami plošných<br />
vodičů již zakreslených. Není-li možné vést dráhu pomocí tří schodů nebo prodloužením<br />
nejjednodušší dráhy o 20%, pak je třeba uvažovat o změnách.<br />
Vhodné využití šikmo lomených drah může uspořit značnou část plochy desky. Naopak<br />
špatné lomy mohou vy7plýtvat hodně místa na desce. Jestliže jsou lomy vedeny přesně v úhlu<br />
45 stupňů a počátkem a koncem uprostřed mezi souřadnicemi základnísítě, je možné přemístit<br />
libovolný počet vodičů společně o jednu nebo několik souřadnic základní sítě (obr. 7.130a).<br />
Prochází-li dráha plošného vodiče v sousedství řady pájecích plošek pouzdra a ohýbá-li se<br />
tak , aby se vodič nesetkal s pájecí ploškou je zcela přirozené vést lom v úhlu 45 stupňů tak,<br />
aby mířil do středu pájecí plošky (obr. 7.130b).<br />
Těsnějšího rozmístění dosáhneme, když plošný vodič vedeme v úhlu 45 stupňů z bodu na<br />
okraji pájecí plošky, takže se zdá, že plošný vodič vstupuje do pájecí plošky téměř tečnou<br />
(obr. 7.130c).<br />
Jestliže vodiče opouštějí pájecí plošky radiálně, mohou se do mezery umístit pouze tři<br />
vodiče. Tangenciální umístění vodičů dovolí průchod čtyřem vodičům při zachování<br />
izolačních mezer. Tento způsob lze obvykle použít jen při ručním kreslení předlohy.<br />
Obr. 7.130: Způsoby vedení vodičů na plošném spoji s využitím šikmo lomených drah.<br />
Všechny plošné vodiče, které vycházejí z pájecích plošek pouzdra vertikálně k<br />
propojovacímu otvoru a křižují více než dvě souřadnice základní sítě se doporučují<br />
přezkoušet a zaměnit horizontální dráhu z propojovacího otvoru za dráhu sousedící s řadou<br />
pájecích plošek pouzdra. Je-li vodič sousedící s řadou pájecích plošek pouzdra kratší než<br />
zkoumaný vodič, a nepřesahuje-li jej ani na jednom konci, potom můžeme tento zkoumaný<br />
vodič přemístit na další souřadnici základní sítě rovnoběžnou s řadou pájecích plošek pouzdra<br />
s vložením lomů (vyhne se tak přítomnému kratšímu vodiči). Ostatní vodiče mezi původní<br />
drahou zkoumaného vodiče a její novou polohou musíme lomit obdobně. Stejným způsobem<br />
lze vkládat krátký úsek vodiče "dovnitř" delší dráhy s případnými lomy.<br />
Tam, kde zkoumaný vodič zčásti přesahuje délku dráhy již umístěného vodiče sousedícího<br />
s řadou pájecích plošek pouzdra, je žádoucí výměna polohy vodičů. To platí, jestliže první z<br />
nich má tři odbočky k řadě pájecích plošek pouzdra a druhý jen dvě. Není-li tomu tak,<br />
uvažovaný vodič lze přemístit rovnoběžně s řadou pájecích plošek s lomy na nejbližší další<br />
souřadnici základní sítě. Tím se vyhneme již přítomnému vodiči.<br />
Při takových změnách dráhy vodičů je třeba dávat pozor, aby se přitom neporušila žádná<br />
pravidla. Může se stát, že někde uprostřed plošného vodiče, který zamýšlíme přemístit, bude<br />
propojovací otvore v takové poloze, že přemístění by jej přemístilo k některému jinému<br />
otvoru, se kterým nesmí být spojen. V takovém případě je třeba se pokusit o přemístění<br />
otvoru podél dráhy uvažovaného vodiče na bezpečnější místo, nebo je nutné upustit od<br />
přemístění vodiče.<br />
Dalším důvodem, pro který nemůžeme přemístit vodič, je propojovací otvor na dráze<br />
plošného vodiče, který by se po přemístění mohl dostat do polohy uprostřed mezi dvě pájecí<br />
plošky pouzdra. Vodič můžeme buď vyměnit s jiným vodičem, anebo přesunout na novou<br />
souřadnici. Vodič, který byl umístěn na této souřadnici a všechny ostatní mezi touto<br />
souřadnicí a původní polohou zkoumaného vodiče se posunou o jednu rozteč aby uvolnily<br />
místo pro přemisťovaný vodič.
246 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Jestliže všechno vylepšování, čištění a přemísťování drah plošných vodičů nestačí uvolnit<br />
prostor pro jinak obtížnou dráhu vodiče, je nutné uvažovat o změně rozmístění pouzder. Při<br />
návrhu obvodu by se mělo ponechat několik míst pro pouzdra volných. Jak pro případ<br />
přemísťování pouzder u obtížnější desky, tak pro případ budoucích modifikací.<br />
Jedním ze způsobů, jak uspořit prostor, je vedení dráhy vodiče přes nepoužitý vývod<br />
pouzdra. U některých integrovaných obvodů nejsou všechny vývody zapojeny uvnitř pouzdra<br />
(označeno NC) a dají se tudíž volně použít. U logických obvodů se někdy stává, že nejsou<br />
požity všechny vstupy hradla a součástkového otvoru nepoužitého vstupního vývodu se dá<br />
využít k vedení plošného vodiče, jímž prochází signál, který nemá vliv na logickou operaci<br />
dotyčného hradla. Použití takových živých vývodů je možné až po podrobném ověření<br />
obvodového řešení.<br />
Po umístění všech plošných vodičů se doporučuje prohlédnout kresbu obrazce, aby se<br />
zjistilo zda vytváření definitivní předlohy nebude příliš obtížné. Všechny dráhy by měly být<br />
co nejrovnější, lomy by měly být umístěny spíše v sousedství pájecích plošek než uprostřed<br />
dráhy vodičů. Měla by se omezit schodovitost lomů na jeden dlouhý lom a všude, kde je to<br />
možné, by se lomy a vodiče procházející kolem pájecích plošek měly posunout o jednu nebo<br />
dvě souřadnice od pájecích plošek, aby se zvětšily izolační mezery.<br />
Ruční kreslení předlohy spojovacího obrazce<br />
Překreslení návrhu do konečné formy je náročné na pečlivost a čistotu práce, avšak při<br />
vhodném zvětšení (2:1) nevyžaduje mimořádnou pozornost. Předlohy se zhotovují na<br />
jednostranně matovaných fóliích z plastických hmot (např. Astralon, Sicoprint, Reprolar) s<br />
minimální tepelnou roztažností. Pro snadnější zhotovení kresby vodivého obrazce se<br />
doporučuje rastr s roztečí 2,5 nebo 5 mm v barvě modré (rastr se při fotografickém zpracování<br />
odfiltruje).<br />
Kresba vodivých obrazců se na fólie z plastických hmot zhotovuje na jejich matované<br />
straně. Nevhodný je pauzovací papír, a to zejména v těch případech, kdy je zapotřebí tuší<br />
pokrýt větší plochy, protože dochází ke smršťování pauzovacího papíru.<br />
Na plastickou fólii lze kreslit i tužkou, lze mazat a škrábat. Pro opravu se může použít<br />
dobře krycí bílé barvy, na kterou se po zaschnutí obrazce překreslí. Širší vodiče se kreslí<br />
dvěma obrysovými čarami trubičkového pera a střed vodiče se vybarví. Plochy musí být<br />
kontrastně kryty bez vlasových přerušení a šedivých míst. Nutno kontrolovat při zvětšení.<br />
Barvy, kterými se kreslí předlohy a matrice musí být černé, nelesklé a dokonale přilnavé.<br />
Ke kreslení se nejvíce používá temperových barev, zlepšených přidáním arabské gumy a<br />
speciálních tuší na astralon. Pro kreslení se s výhodou požije prosvětlovacích stolů s<br />
neoslňujícími světelnými zdroji.<br />
Jinou metodou ručního pořízení předlohy je nalepování předtištěných samolepicích<br />
sy mbolů. Tyto předtisky nabízí celá řada specializovaných výrobců - u nás se vyrábějí pod<br />
označením "Propisot - elektrotechnika" v měřítku 1:1 i 2:1 (viz obr. 7.131 a 7.132). Tento<br />
způsob umožňuje relativně snadné zhotovení dokonalé předlohy, především pokud jde o<br />
ostrost hrany obrazce. Předtisky jsou tedy přínosem z hlediska urychlení kresby a zlepšení<br />
čistoty práce, nikoli přesnosti.<br />
Uveďme některé zásady při ručním zhotovení předlohy s využitím samolepicích symbolů.<br />
Obtisky je vhodné uchovávat zabalené v polyetylenovém sáčku; jinak lepidlo vysychá a<br />
obtisky pak špatně lepí. Při práci pokládáme stranu opatřenou lepidlem vždy na ochranný<br />
papír se silikonovou vrstvou (přiložený výrobcem). Nikdy nepokládáme obtisky lepicí stranou<br />
na pracovní stůl, protože se obvykle přichytí nečistoty, které pak způsobují trhání obtisků při
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 247<br />
Obrázek 9.131.: Obtisky Propisot Elektrotechnika
248 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 249<br />
snímání. K vlastnímu snímání obtisků používáme nejlépe kovový hrot se zaoblenou špičkou -<br />
dobře poslouží i nepíšící propisovací tužka. Místo, které chceme z obtisku sejmout, důkladně<br />
několikrát přitlačíme kovovým hrotem na předlohu až je zřejmé, že došlo k odlepení symbolu.<br />
Ob tisk pak z předlohy sejmeme nikoli trhem, ale postupným odlepováním. Po sejmutí obtisku<br />
je vhodné místo zafixovat zatlačením plochou nehtu přes uvedený ochranný papír. Osvědčilo<br />
se i zatlačení čepičkou prstu.<br />
Poznamenejme, že pro integrované obvody s kruhovým uspořádáním není vhodné používat<br />
pájecí body z Propisotu - elektrotechnika 517 ( obr. 7.132). To proto, že při vrtání otvorů<br />
do chází vzhledem k nevhodnému tvaru pájecích bodů k roztržení směrem do středu. Mimo to<br />
příliš malý průměr, na kterém jsou pájecí body uspořádány, neumožňuje vedení spojů pod<br />
integrovaným obvodem. Doporučujeme tento průměr volit dle průměru příslušné patice. V<br />
případě nutnosti lze pak pro realizaci funkčního vzorku použít patice. Taktéž úzké oválky pro<br />
pájecí body integrovaných obvodů v pouzdrech DIL užíváme pouze výjimečně v těch<br />
případech, kdy je zapotřebí mezi dvěma pájecími body vést signálový vodič. Potřebujeme-li<br />
vyznačit nestandardní otvor, např. otvory pro připevnění konektoru pomocí šroubků,<br />
vyznačíme pouze střed otvoru pomocí kruhového pájecího bodu, popřípadě ještě vnější<br />
průměr otvoru. Je nepraktické nakreslit jen vnější obvod bez vyznačení středu, protože při<br />
vrtání obvodu nelze nasadit vrták.<br />
V případě, že se při snímání symbolu odlepují i okolní symboly, je vhodné lehce<br />
proříznout (například zlomenou čepelkou)lepidlo kolem požadovaného symbolu. Největší<br />
problémy jsou při snímání čar, a proto je výhodnější raději čáry na předlohu kreslit tuší. Aby<br />
při snímání nedošlo k umašťení předlohy (například přirozenou mastnotou rukou), které by<br />
způsobilo špatnou přilnavost tuše, je vhodné předlohu neustále chránit čistým papírem před<br />
dotykem rukou. Při kreslení tuší je zapotřebí zajistit dobré krytí černých ploch a ostré obrysy.<br />
Kreslíme-li na průhlednou fólii, nesmí být při průhledu přes fólii za denního světla žádný spoj<br />
šedý. Zlepšení lze nejlépe dosáhnout přetažením čáry z druhé strany fólie.<br />
Při překreslování je zapotřebí dbát na potřebnou šířku plošných vodičů a na dodržení<br />
izolačních mezery mezi sousedními vodič. Šířka plošných vodičů se řídí :<br />
a) přípustnou (resp. požadovanou) kapacitou a indukčností mezi přilehlými nebo protilehlými<br />
plošnými vodiči,<br />
b) proudovou zatížitelností plošných vodičů,<br />
c) volnou plochou mezi jednotlivými prvky vodivého obrazce s přihlédnutím k požadovaným<br />
šířkám izolačních mezer mezi plošnými vodiči.<br />
Pro běžné signálové vodiče se doporučuje šířka 0,6 nebo 0,8 mm. Minimální šířka vodičů<br />
ve III. a IV. třídě je 0,3 mm. Doporučuje se však, aby tato minimální šířka byla používána<br />
pouze při průchodu mezi dvěma pájecími ploškami (obr. 7.133).<br />
Šířka izolačních mezer mezi sousedními plošnými vodiči (případně i jinými prvky<br />
vodivého obrazce) se řídí z hlediska přeskokového napětí. Pro běžné druhy desek se<br />
nedoporučuje, aby mezi sousedními dvěma vodiči bylo napětí vyšší než 500 V. Pokud je z<br />
konstrukčního hlediska nezbytné volit šířku izolační mezery menší než 0,65 mm (pro desky s<br />
pokovenými děrami je nutno tuto mezeru volit větší; při pokovení se mezery zúží), je tak<br />
možno učinit jen za předpokladu, že vodiče a mezery budou překryty vrstvou<br />
elektroizolačního laku. Tato vrstva musí zůstat neporušena po dobu životnosti zařízení, resp.<br />
dle potřeby obnovena.<br />
Minimální šířka izolační mezery na zhotovené výsledné desce smí být 0,25 mm. Pokud to<br />
rozmístění a elektrické parametry plošného spoje umožňují, je nutno volit šířky izolačnícj<br />
mezer co největší a pokud možno rovnoměrné mezi jednotlivými plošnými vodiči.
250 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obr. 7.133. Průchod plošného vodiče mezi dvěma pájecími body<br />
Při kreslení předlohy je vhodné, aby byly zakresleny i značkyh pro orientaci integrovaných<br />
obvodů . Dále se pomocí samolepicích obtisků uvede do plochy budoucí desky její označení.<br />
Předloha strany pájení se označuje navíc písmenem A; vodivý obrazec strany součástek<br />
písmenem B.<br />
Příhodné je také popsat některé významné vodiče, např +5V, 0V, +15 V,... Po sesazení<br />
obou předloh je nutné zakreslit do rohů předlohy (mimo spojový obrazec) body pro<br />
soukrytování. Aby nemohlo dojít k záměně, kreslí se jen tři body nebo se body očíslují na<br />
obou předlohách ve stejném pořadí.<br />
Bude-li se předloha zmenšovat fotograficky, je nutné na každé obvodové hraně desky<br />
vynést kóty normalizované délky (např. 100 a 150 mm), aby bylo možno při zmenšování<br />
provést na matnici korekci roviny fotografického přístroje. Protože ani při pečlivé práci<br />
nedojde ke zcela přesnému soukrytu pocelé ploše desky, nejsou u dvouvrstvých desek bez<br />
prokovených otvorů na předloze strany součástek vyznačeny středy pájecích plošek.<br />
Zhotovení matrice<br />
Posledním krokem je zhotovení matrice (někdy se používá termín klišé), která se použije<br />
pro výrobu desky s plošnými spoji (při vytváření leptuvzdorné masky). U nejjednoduššího<br />
způsobu se jako matrice použije přímo předloha nakreslená na vhodný průsvitný materiál.<br />
Připomeňme, že obrazec je třeba kreslit tak, aby byl v přímém styku se světlocitlivou vrstvou<br />
nanesenou na desku. Při zanedbání tohoto pravidla vyjdou plošné vodiče a pájecí plošky užší<br />
nebo širší (závisí na způsobu přenášení obrazce), protože dojde k podsvícení matrice.<br />
Desky určené pro montáž integrovaných obvodů vyžadují mnohem vyšší stupeň přesnosti,<br />
než se dá docílit přímým kreslením matrice. Obvyklou metodou je v takovém případě<br />
vytvoření předlohy s kresbou vodivého obrazce ve dvojnásobném zvětšení a potom její<br />
zmenšení fotografickou cestou na matrice v měřítku 1:1.<br />
Vedle zvětšení přesnosti má tento postup přednost i v tom, že lze matrice zhotovovat jako<br />
pozitivy nebo negativy s fotografickou emulsí na požadované straně. Pro dodržení vysoké<br />
přesnosti je zapotřebí co nejmenší počet optických transformací, tj. zmenšování a zvětšování.<br />
Optimální je použití velkoformátové kamery. "Běžné kamery" (Linhof Technik, Sinar) mají<br />
kazety na ploché filmy nebo desky nejvýše 18x24 cm. Na větší plošné spoje se užívaly<br />
precizní horizontální kamery.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 251<br />
Dobrých výsledků bylo docíleno ovšem i s přenosem přes kinofilm. Poznamenejme ještě,<br />
že filmové matrice lze retušovat (vyškrabáváním nebo dokreslováním na straně emulse).<br />
Strojní výroba matrice vodivého obr azce. Místo ručního překreslování návrhu vodivého<br />
obrazce na předlohu je možné užít strojní kreslení předloh nebo přímo matric.<br />
Přenos obrazce z navrženého náčrtu na číslicovou formu se provádí digitalizací.<br />
Souřadnice se přiřazují na hodnoty normalizované sítě 2,5x2,5 mm nebo 1,25x1,25 mm (nebo<br />
palcového ekvivalentu). Kresba se potom vytváří na kreslicím stole (např. klasický Digigraf),<br />
souřadnicovým zapisovačem nebo nejčastěji opticky přímo na film (tzv. expoziční zařízení<br />
nazývané též generátor matric nebo generátor obrazců).<br />
Tato zařízení dále umožňují pořizování příslušných značek a nápisů snadné opakování<br />
často používaných symbolů plošných prvků a používání děrné pásky pro následné operace,<br />
např. pro vrtání otvorů.<br />
Automatizovaný náv rh spojového obrazce. U stále složitějších desek je tvorba vodivého<br />
ob razce mnohem náročnější na čas a způsobuje vážné výrobní potíže. Proto se ve stále větší<br />
mí ře užívá i pro vlastní návrh obrazce spojů počítače.<br />
8.7.4 Návrh DPS počítačem<br />
V současné době se při návrhu DPS ustupuje od ručního návrhu a téměř výhradně se<br />
používají počítačové programy CAD (Computer Aided Design), které pracují na počítačích<br />
řady IBM-PC. Je třeba si uvědomit, že i když návrh provádíme ručně, většinou je třeba stejně<br />
v závěrečné fázi jej zdigitalizovat i a to i v případě, že je matrice zhotovena ofotografováním<br />
ručně kreslené předlohy, abychom získali podklady pro výrobu DPS, hlavně soubory vrtání na<br />
souřadnicové vrtačce, pro osazovací a automaty apod.<br />
Výhody počítačového návrhu<br />
- podstatné zrychlení návrhu, a to i v případě, že nepoužijeme autorouter<br />
- možnost použití normalizovaných knihoven pro pouzdra součástek, schématické značky<br />
apod.<br />
- zabezpečení stejných přesně definovaných podmínek v souladu s příslušnými normami<br />
- návrh není třeba dodatečně digitalizovat, snadno se dají utvořit soubory pro výrobu,<br />
osazování apod.<br />
- při návrhu jsou omezeny, nebo úplně vyloučeny chyby způsobené lidským faktorem<br />
- snadná archivace podkladů<br />
Je třeba si uvědomit, že návrhové systémy jsou značně drahé a jejich nelegální používání je<br />
většinou zamezeno používáním hardwareového klíče. Při jeho pořizování je třeba ekonomicky<br />
zvážit výhodnost nákupu.<br />
Struktura návrhového systému<br />
Návrhových systémů je k disposici celá řada. Jedná se o speciální systémy pro plošné<br />
spoje, nebo je návrhový systém součástí<br />
komplexního grafického systému. Mezi nejznámější
252 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
návrhové systémy pro plošné spoje patří programy EAGLE (PADS Software Inc.), ORCAD,<br />
REDCAD, smARTWORK, ARIADNE a další.<br />
Návrhový počítačový systém se většinou skládá z následujících funkčních bloků (které<br />
jsou tvořeny samostatnými programy, nebo jsou součástí jediného programu):<br />
- editor pro kreslení schémat<br />
- editor pro kreslení spojů<br />
- autorouter<br />
- knihovny pouzder, symbolů a součástek<br />
- programy pro tvorbu technologických výstupů<br />
- programy pro tisk<br />
- další pomocné programy<br />
Obrázek 9.134 : Schéma návrhu desek plošných spojů počítačem
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 253<br />
Editory pro kreslení schémat a spojů jsou základní částí, jejich obsluhu je třeba dobře<br />
zvládnout. Kreslí se většinou pomocí myši. Program umožňuje vybírání prvků z knihovny<br />
jejich rotaci a přemísťování po pracovní ploše, kreslení definovaných šířek čar a velikostí<br />
ploch, definici rastru (palcová i metrická míra), vkládání alfanumerických symbolů, mazání,<br />
rotaci, zrcadlení, změnu měřítka, zobrazování, definovaných pracovních vrstev apod. Editory<br />
pro kreslení spojů mohou pracovat v několika pracovních vrstvách, které jsou od sebe barevně<br />
odlišeny.<br />
Obrázek 9.135: Elektrické schéma vytvořené editorem schémat<br />
návrhového systému EAGLE<br />
Editor pro kreslení schémat<br />
Tato část systému slouží pro vytvoření schématu navrženého zapojení. Schéma je možno<br />
sestavovat z pevně nadefinovaných prvků vybíraných z knihovny, nebo je vytvářet<br />
individuálně. Umožňuje vytvářet sběrnicovou strukturu zapojení, označit popisem jednotlivé<br />
součástky a části zapojení. Jeho součástí je i automatická kontrola chyb elektrického<br />
propojení (zkraty výstupu proti zemi a napájení, zkraty napájení, propojení výstupu<br />
navzájem, neošetřené vstupy a výstupy apod.). Je většinou uzpůsoben tak, aby vylučoval při<br />
popisu možnost chyb a neurčitostí (nelze označit dvě součásti stejně). Schéma zapojení je<br />
možno použít buď samostatně, nebo jej použít pro návrh DPS. Dá se z něj většinou vytvořit<br />
rozpiska součástek. Příklad schéma- tu nakresleném v editoru programu EAGLE je uveden na<br />
obr.7.123.<br />
Editor pro kreslení spojů<br />
Umožňuje po umistění pouzder součastek vybíraných z knihovny do pracovního rozměru<br />
desky (pokud nepoužijeme autorouter) ručně vytvářet kresbu desky plošného spoje vodiči<br />
definované šířky. Ruční návrh předpokládá mít připraven návrh desky plošného spoje (nemusí<br />
být ve skutečném měřítku).<br />
Součástí editoru bývá stejně jako u kreslení schémat kontrola správnosti geometrie návrhu,<br />
což jsou kontroly izolačních vzdáleností mezi spoji, zkratů, použitých rozměrů pájecích
254 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
ploch, průměrů vrtaných děr, šířky spojů, lze provést kontroly umistění v rastru, úhly spojů,<br />
apod.<br />
Autorouter<br />
Jedná se o program, který automaticky navrhne plošný spoj tak, aby se vodiče nekřížily za<br />
dodržení předem definovaných podmínek návrhu (vzdálenosti mezi spoji, velikost a tvar<br />
plošek apod.). Pracuje většinou ve více etapách (tzv. průchodech). V prvních průchodech<br />
pokládá sběrnice, potom ostatní spoje a v dalších průchodech optimalizuje propojení.Téměř<br />
vždy je možno jeho činnost přerušit a ručně zasáhnout do návrhu. Předem nadefinované spoje<br />
autorouter nemění ( např, zemnění, choulostivé spoje z hlediska rušení, vazeb apod).<br />
Autorouterů se vyskytuje velké množství. Výsledná kvalita nezávisí pouze na jeho<br />
dokonalosti, je také do značné míry ovlivněna úrovní přípravy podkladů (rozmístění<br />
součástek) pro jeho činnost. Většinou trvá optimalizace několik desítek minut a výsledkem je<br />
návrh spojů na úrovni několikadenní práce zkušeného vývojáře. Při návrhu velmi složitých<br />
desek s velmi jemným rastrem trvá optimalizace i několik hodin a výsledkem je kvalita<br />
propojení, kterou lze těžko ručně dosáhnout. Konečný výsledek je v každém případě ovlivněn<br />
tvořivou činností člověka.<br />
Knihovny pouzder, symbolů a součástek<br />
Knihovna je samostatná část programu, ve které jsou uchovány používané tvary pouzder,<br />
symbolů a součástek, případně další často používané části.<br />
Pouzdro - jedná se o schématický nákres skutečného rozměru umísťovaného prvku na<br />
desku plošného spoje, včetně<br />
pájecích plošek umístěných ve<br />
správné rozteči.<br />
Symbol - jedná se o schématickou<br />
značku (rezistor, kondenzátor,<br />
tranzistor, hradlo NAND apod), v<br />
podobě v jaké ji chceme mít na<br />
schématu.<br />
Součástka - prvek v knihovně, ve<br />
kterém je jednoznačně zadefinováno<br />
přiřazení vývodu pouzdra k danému<br />
symbolu. Součástka může obsahovat<br />
více stejných symbolů. Např.<br />
součástka SN 7400 tj. čtveřice<br />
Obrázek 9.136: První varianta plošného spoje<br />
s „pružnými „ vodiči<br />
dvouvstupových hradel NAND má připojeny vstupy a výstupy jednotlivých hradel na<br />
definované přívody pouzdra DIL 14.<br />
Knihovny standardních prvků jsou většinou součástí každého návrhového systému. Při<br />
jeho používání je třeba počítat s tím, že téměř vždy je nezbytně nutné je doplnit o vlastní<br />
používaná pouzdra, symboly a součástky. Ve většině případů způsob kreslení prvků<br />
dodávaných v knihovně návrhového systému odpovídá normám a zvyklostem té země, ve<br />
které program vznikl.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 255<br />
Programy pro tvorbu technologických výstupů<br />
1. Podklady pro výrobu desky plošného spoje<br />
V případě, že máme k disposici soubor s navržený rozmístěním a propojením desky<br />
plošného spoje, je možno pomocí převodních programů vytvořit soubory vhodné pro výrobu<br />
DPS. Podle použitého technologického zařízení sestavíme vhodný konfigurační soubor a<br />
spustíme vhodný program. Pro výrobu desky plošného spoje požadují výrobci následující<br />
podklady:<br />
- soubory kresby spojů DPS (jednotlivé vrstvy)<br />
- soubory kresby nepájivé masky<br />
- soubory kresby popisu<br />
- soubory pro vrtání<br />
- soubory pro ostřih (pokud se nepoužívá technologie ražení)<br />
Pro výrobu DPS je třeba zhotovit transparentní předlohu (matrici, klišé) pro exposici<br />
použitých resistů případně pro výrobu síťky pro sítotisk. Matrice se zpravidla zhotovují<br />
vykreslováním na fotoploteru, tj zařízení, které na fotografický film s minimální délkovou<br />
roztažností vykresluje světelnou stopou motiv kresby. Pro fotoplotery je nejpoužívanější<br />
formát GERBER.<br />
2. Soubory pro kresbu motivu spojů, popisu a nepájivé masky<br />
Pro spoje a popis se matrice vykresluje positivním způsobem, tzn., že vodivé čáry a plochy<br />
jsou černé. Matrice pro nepájivou masku je kreslena zpravidla negativním způsobem, tj., že<br />
místa, kde nepájivá maska nebude, jsou černá. Při použití programu je možno zadat velikost<br />
přesahu ploch bez nepájivé masky přes pájecí plochy. Podle použitého kreslícího zařízení je<br />
možno zvolit kreslení bez emulace, nebo s emulací.<br />
Kreslení bez emulace - dá se použít v případě, že při návrhu jsou použity šířky čar a<br />
velikosti a tvary ploch, které odpovídají sortimentu kreslících clonek na fotoploteru. Čáry jsou<br />
kresleny exposicí pohybem požadované kruhové clony, plochy exposicí přes clonku<br />
požadovaného tvaru a velikosti. Je zřejmé, že kreslení probíhá rychle a velikost datového<br />
souboru je malá.<br />
Kreslení s emulací - používá se v případě, že šířky čar a velikosti a tvary ploch<br />
neodpovídají možnostem kreslícího zařízení. Libovolná čára případně plocha se vykreslí<br />
předem definovanou velikostí clony. Délka souboru je podstatně větší a tento způsob kreslení<br />
je velice zdlouhavý, zvláště v případě, že vykreslujeme velké vodivé plochy, proto je<br />
výhodnější použít pokud to jde kreslení bez emulace.<br />
3. Soubory vrtání a pro ostřih DPS<br />
Pro zhotovení souborů pro vrtání a ostřih DPS (pokud se používá numericky řízené strojů )<br />
bývají součástí návrhového systému programy určené pro specifická zařízení,které vygenerují<br />
patřičný soubor. Soubory mohou být samostatně pro pokovené a montážní otvory.<br />
4. Konstrukční podklady pro montáž a osazování desek plošných spojů<br />
Mezi konstrukční podklady pro montáž a osazování DPS patří:<br />
- pokládací výkres<br />
- rozpiska součástek<br />
- soubor pro osazení DPS automatem<br />
Pokládací výkres - slouží jako dokumentace pro osazování a kontrolu DPS. Je možno jej<br />
vytvořit tiskem vhodných vstev základního souboru navržené desky plošného spoje. Musí<br />
obsahovat obrysy desky s rozmístěním součástek a jejich označením (příp. polaritou,<br />
někdy i<br />
hodnotou) a kresbou motivu pločného spoje. Doporučuje se zobrazit pouze to ,co je nezbytně
256 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
nutné pro orientaci na desce, aby se výkres nestal nepřehledným. Příklad je uveden na obr.<br />
7.138.<br />
Rozpiska součástek - v případě potřeby se tiskne seznam součástek s uvedením počtu kusů,<br />
označením, hodnotou a typem.<br />
Soubory pro osazování DPS automatem - někteří výrobci návrhových systémů dodávají<br />
převodní programy, které umožní použít informací o součástkách (souřadnice, typ, označení,<br />
orientaci apod.) k vytvoření osazovacího programu pro přís- lušný osazovací automat.<br />
Pro techniku povrchové montáže to mohou být navíc podklady pro dávkování lepidla,<br />
případně pájecí pasty.<br />
5. Ostatní programy<br />
Jedná se o soubory, které umožňují tisk na různých typech tiskáren, drivery pro různé<br />
grafické karty počítače, programy pro převod datových formátů mezi návrhovými systémy<br />
apod.<br />
Velice často se používají programy s jednoduchým ovládá- ním, (např. PCGERBER), které<br />
mají charakter editorů a umožňují již připravený soubor pro výrobu DPS pro kontrolu<br />
zobrazit a provést na něm případné drobné změny, zrcadlit, násobit motiv, rotovat apod. Tyto<br />
programy je možno použít samostatně pro kreslení DPS.<br />
8.7.5 Postup pří návrhu DPS počítačem<br />
Postup navrhu DPS je uveden na obr. 7.134.<br />
Zadání a odzkoušení návrhu - provádí se i při ručním návrhu desky. Je vhodné si funkci<br />
navrženého zapojení odzkoušet s originálními součástkami na universální desce, případně si<br />
odsimulovat chování systému na počítači některým ze simulačních programů. Pro simulaci je<br />
třeba vytvořit na počítači schéma zapojení, které je ve většině případů použitelné i pro<br />
počítačový návrh DPS. Konstruktér by měl rovněž znát rozměr a konstrukci desky, rozměry<br />
pouzder použitých součástek a jejich typ. Teprve po těchto krocích je možno přistoupit k<br />
návrhu plošného spoje. Jakékoli dodatečné změny jsou obtížně realizovatelné a přináší<br />
problémy.<br />
Obrázek 9.137: Výsledný návrhozmístění<br />
Obrázek 9.138: Pokládací výkres
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 257<br />
Kreslení schématu a návrh propojení. Před započetím práce je třeba důkladně prostudovat<br />
manuál k příslušnému navrhovému systému.<br />
Způsoby ovládání se u jednotlivých výrobců<br />
software značně liší. Dále bude popsán<br />
pracovní postup, který je v u velké části<br />
vývojových systémů stejný, nebo podobný a<br />
uvedeny příklady vytvořené na návrhovém<br />
systému EAGLE.<br />
Návrh plošného spoje začíná sestavením<br />
elektrického schématu desky (obr. 7.135). Z<br />
knihoven se do pracovního prostoru přemístí<br />
prvky (symbol, nebo součástka) a myší se<br />
propojí do tvaru zapojení, které požadujeme.<br />
Přidávané součástky jsou automaticky nebo<br />
ručně číslovány.<br />
Obrázek 9.139: Kresba plošného spoje<br />
autorouter systému EAGLE 2.05<br />
Dále může následovat automatická kontrola chyb elektrického propojení.<br />
Je-li vše v pořádku, je možno obvykle provést převod ze schématu na návrh desky.<br />
Konstruktér automaticky obdrží první variantu plošného spoje, ve které se nachází všechny<br />
použité součástky, propojené "pružnými" spoji podle schématu (obr. 7.136).<br />
Tento postup lze použít pouze v případě , že bylo schéma kresleno knihovními prvky typu<br />
"součástka", tj.se zadefinovaným přiřazením vývodu k pájecí ploše. V opačném případě<br />
schéma nelze využít a je třeba ručně umístit a propojit jednotlivá pouzdra "pružnými" vodiči<br />
podle schématu.<br />
Potom může konstruktér uplatnit svou tvůrčí invenci a myší rozmístí pouzdra do<br />
definovaného rozměru desky podle své představy. Pružné spoje ho přitom dobře informují o<br />
hustotě signálů v daných oblastech desky. Možné rozmístění je uvedeno na obr. 7.137.<br />
Po rozmístění pouzder na desce je více možností. Buď je možno spoje vytvořit ručně<br />
postupnou přeměnou "pružných" spojů na plošné pomocí myši, nebo je možno použít<br />
autorouter. Většinou je také možno kombinovat práci autorouteru s ručními zásahy.<br />
Po nakreslení DPS lze ve většině případů spustit kontrolu geometrie návrhu (design rule<br />
check), což jsou kontroly izolačních vzdáleností mezi spoji,použitých rozměrů pájecích ploch,<br />
tloušťky spojů, umístění v rastru apod. Na obr.6 je uvedena kresba plošného spoje vytvořená<br />
autorouterem systému EAGLE 2.05.<br />
Je-li deska v pořádku, vygenerují se potřebné výrobní podklady. Data DPS je možno dodat<br />
výrobci, případně po domluvě vytvořit patřičné technologické soubory pro výrobu.
258 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
8. 8 Pájení v elektronice<br />
Základní metodou spojování součástek v elektronice je pájení. Jde o tzv. měkké pájení<br />
cínovými pájkami (existuje i tzv. tvrdé pájení a pájení sklem). Jde o proces spojování částí v<br />
tuhém stavu pomocí přídavného materiálu (pájky) ve stavu tekutém, která zatéká do mezery<br />
mezi spojovanými částmi, smáčí jejich povrchy a po ztuhnutí je spojuje. Pájením se tedy<br />
vytváří spoj na hranici základního kovu a pájiky, nejde tedy o hluboké protavení materiálů,<br />
jako je tomu při<br />
svařování. Kromě zvýšené<br />
teploty je třeba ještě splnit<br />
dva základní požadavky:<br />
Obr. 7.140 Schematické znázornění průběhu pokovení<br />
základního materiálu.<br />
1) základní pokovovaný a pájený materiál<br />
2) vrstva kysličníků<br />
3) tavidlo rozpouštějící vrstvu kysličníků<br />
4) vznikající mezní vrstva - legování<br />
5) pájka (větší měrnou vahou vytlačuje tavidlo)<br />
6) zhytky tavidla na povrchu pájky<br />
7) pokovený pájecí hrot páječky<br />
odstranit povrchové<br />
znečišťující vrstvy a<br />
zajistit podmínky pro<br />
vzájemnou reakci tuhého<br />
a roztaveného kovu. Na<br />
rozdíl od svařování lze<br />
proces pájení uskutečnit<br />
při libovolné teplotě<br />
(závisející ovšem na<br />
druhu pájky) nižší než je<br />
teplota<br />
tavení<br />
spojovaných materiálů. Ty<br />
mohou být velmi<br />
různorodé, i nekovové<br />
(vhodně pokovené).<br />
Pájení může být ruční<br />
nebo strojové (hromadné).<br />
U ručně pájeného spoje je<br />
spolehlivost přibližně<br />
5.10-9 hod-1. Strojní<br />
pájení s následnými<br />
kontrolami dokáže zlepšit statickou spolehlivost jednoho spoje o dva až tři řády. Je tedy<br />
strojní pájení nezbytností, neboť kvalita a spolehlivost spojů dnes určuje spolehlivost celého<br />
zařízení.<br />
I u velice kvalitně pájených zařízení je stále 50 % všech závad ve spojích. Navíc veliké<br />
procento poruch použitých součástek má svůj důvod opět v kontaktech a spojích. Např.<br />
určíme-li jako závadu vadný rezistor, tak opět z více než 50 % měl špatně "nakontaktovanou"<br />
čepičku na základním tělese, totéž platí i o integrovaných obvodech. Z rozborů plyne, že nelze<br />
zvětšovat spolehlivost v elektronice bez toho, aniž bychom nejprve nezlepšili spolehlivost<br />
spojů a propojů.<br />
Spolehlivé spojování předmětů pájením - obvykle konců drátů spojů se špičkám součástek,<br />
nebo konců vývodů součástek k plošným spojům - předpokládá z praktického hlediska dvě<br />
základní fáze pájení:<br />
a) pokovení povrchů spojovaných částí v místě pájení pájkou nebo cínem<br />
b) vyplnění spár mezi seskupenými spojovanými částicemi pájkou
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 259<br />
Pokovení povrchu základního materiálu pájkou nastane pouze na jeho dokonale očistěném<br />
povrchu, zbaveném nejen mechanických nečistot, ale hlavně vrstvy oxidů tavidlem, které<br />
současně během pájení chrání očistěný povrch i tekutou pájku před oxidací za zvýšené teploty<br />
- tzv. pracovní teploty pájení. Pájka smáčí ohřátý kov, roztéká se po jeho povrchu, proniká do<br />
spár a pórů povrchové vrstvy kovu, kterou rozpouští a nastalou difúzí tekuté pájky a tuhého<br />
základního materiálu vzniká na povrchu materiálu tzv. mezní (též dělící, přechodová) vrstva -<br />
pájka povrch kovu leguje (obr.7.140).<br />
Vzniklý spoj má určitou (nevelkou) mechanickou pevnost, malý elektrický přechodový<br />
odpor, který se nemění chvěním, otřesy nebo rázy, pokud spojení nebylo tepelně nebo<br />
mechanicky rozrušeno.<br />
Mechanismus tvorby spoje<br />
Pájení je složitý technologický proces a jeho náročnost se projevuje především v<br />
souvislosti se zaváděním hromadného pájení.<br />
Jak již bylo řečeno, pájením rozumíme spojování dvou kovových (nebo pokovených)<br />
součástí pomocí roztaveného kovu, kterému říkáme pájka. Při pájení probíhají složité<br />
fyzikálně-chemické pochody na rozhraní tuhé a tekuté fáze.<br />
Na počátku vzájemného působení tuhého a tekutého prostředí je snaha systému o snížení<br />
mezifázové energie. Při smáčení jsou dva volné povrchy nahrazovány jediným rozhraním s<br />
nízkou volnou energií. V tomto stadiu probíhající děje mají charakter dějů kvantových. Na<br />
mezifázovém rozhraní se vytvářejí vazby zprvu v izolovaných místech a postupně se rozšiřují<br />
na celou stykovou plochu.<br />
Přechod systému "základní kov - pájka" do nové rovnováhy není okamžitý, ale probíhá po<br />
určitý časový úsek. Ovšem dobu působení mezi tuhou a kapalnou fází je možné prodlužovat<br />
pouze tehdy, nedojde-li v jejím důsledku ke snížení kvality vytvořeného spoje (především<br />
jeho mechanické pevnosti).<br />
Roztavená pájka v oblasti slévání je charakterizována těsným uspořádáním. Atomy<br />
taveniny ve sféře působení atomů krystalové mříže tuhého kovu jsou na jeho povrchu<br />
krystalograficky uspořádány. Na rozhraní se tak vytváří vrstva uskutečňující vazbu mezi<br />
fázemi. Teplem se zvětšuje pohyb atomů obou fází a jejich vzájemná difúze zesiluje<br />
vytvořené vazby. Krystalizace při chladnutí pozastavuje a upevňuje probíhající jevy.<br />
Je-li pájení ukončené (přerušením ohřevu) ve stadiu tvorby chemických vazeb, kdy<br />
heterogenní difúze v objemu spoje je zanedbatelná, označuje se pájení jako bezdifúzní. Při<br />
delším smáčení základního materiálu tekutou pájkou probíhá rozpouštění a difúze - stejně se<br />
také tento druh pájení nazývá. Rozpouštění je omezené, neomezené, nebo se vytvářejí<br />
eutektické směsi, což závisí na výchozích materiálech.<br />
Existují kovy, které nevytvářejí<br />
vzájemně ani slitiny, ani se chemicky<br />
neváží (např. Fe-Pb, W-Cu, W-Ag). Při<br />
pájení vtékají lehčeji tavitelné<br />
komponenty do mikroskopických<br />
kapilár tuhých částí a vytvářejí pevné<br />
spojení. V důsledku snížení volné<br />
povrchové energie tuhého kovu se<br />
rozptylují jeho částice v pájce - vzniká<br />
disperzní spoj. Omezíme-li se pouze na<br />
pájení užívaná při spojování vodičů,<br />
případně na pájení mechanických dílů
260 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
bez zvýšených požadavků na pevnost spojů, připadá v úvahu především pájení provázené<br />
rozpouštěním a difúzí.<br />
Při<br />
smáčení základního materiálu probíhá současně s chemickou reakcí rozpouštění v<br />
roztavené pájce. Složení zóny se mění, pokud není dosaženo rovnovážné koncentrace<br />
(průsečík izotermy s čárou likvidu v rovnovážném diagramu soustavy pájka-kov, bod C na<br />
obr. 7.141). Součesně s rozpouštěním probíhá difúze z kapalné fáze do tuhé. Pokud je rychlost<br />
rozpouštění pevného kovu v tavenině větší než difúze v tuhé fázi, difúzní oblast se nevytvoří.<br />
S přibližováním složení kapalné fáze k rovnovážnému stavu se rychlost rozpouštění<br />
zmenšuje, podíl difúze na přenosu hmoty je výraznější a oblast difúze narůstá. Po dosažení<br />
rovnovážné koncentrace v tekuté fázi (C) bude rovnovážná koncentrace tuhé fáze v pájce (bod<br />
D) dosažena jednak v důsledku nasycení difúzní oblasti, jednak tuhým roztokem vytvořeným<br />
při izotermické krystalizaci. Bude-li teplota udržována po patřičně dlouhou dobu, bude<br />
složení celé oblasti pájení odpovídat nasycenému tuhéhu roztoku - bod D.<br />
Obr. 7.141 Rovnovážný<br />
diagram pájka-kov.<br />
Difúzí pájky do tuhého kovu se ochuzuje zóna pájky a nastává její přesycení základním<br />
kovem. Celý pochod pájení s difúzí a rozpouštěním lze rozdělit na tři stadia :<br />
1.stadium - koncentrace je v intervalu A-<br />
C, převažujícím dějem je rozpouštění,<br />
2.stadium - koncentrace je v intervalu C-<br />
D, mezi tuhou a kapalnou fází<br />
je dynamická rovnováha,<br />
probíhá izotermická<br />
krystalizace,<br />
3.stadium - koncentrace je v intervalu D-B, Obr.7.142 Smáčení povrchu kovu pájkou<br />
veškerá tekutá pájka je spotřebována<br />
na difúzi do tuhé fáze.<br />
.<br />
Rychlost dějů v 1.stadiu je omezována buď rychlostí rozpouštění nebo rychlostí difúze. Ve<br />
většině případů jsou děje limitovány difúzí základního kovu v tekuté pájce.<br />
Druhé stadium lze charakterizovat vzájemnou difúzí atomů a izotermickou krystalizací, při<br />
které dochází k vydělování buď pájky přesycené základním kovem nebo slitiny základního<br />
kovu a pájky.<br />
Třetí stadium je charakterizováno difúzí v pevné fázi.<br />
Při roztékání látky po povrchu tuhého tělesa nastane rovnováha sil povrchových napětí v<br />
bodech na okraji tekuté látky. Vzniká známá situace znázorněná na obr. 7.142. Úhel Q se<br />
nazývá úhel smáčení (stykový úhel). Funkce cos Q je někdy označována jako součinitel<br />
smáčení. Úhel smáčení musí být ostrý.<br />
Fyzikální pochody v pájeném spoji<br />
Vytvoření správně pájeného spoje záleží nejen na vlastnostech povrchů pájených<br />
předmětů, vlastnostech pájky a použitého tavidla, ale i na tvaru a rozměrech spoje. Souvisí to<br />
se skutečností, že tekutá pájka se řídí zákony hydrodynamiky platnými pro proudění<br />
laminárního typu. Relativně úzkou mezeru spoje vyplňuje pájka při pracovní teplotě<br />
působením kapilárních sil.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 261<br />
Podrobné úvahy lze nalézt v [12]. Především byl zkoumán klasický případ vývodu<br />
součástky (drátu) v pokovené díře v horizontálně umístěné desce plošných spojů. Vyšetřoval<br />
se vliv množství pájky a tloušťky desek plošných spojů. Došlo se k těmto závěrům :<br />
- malé množství pájky obvykle vede ke shodné geometrii horní a dolní výplně; horní i dolní<br />
profily jsou konkávní,<br />
- při vzrůstajícím oběmu pájky a jinak stejných podmínkách pájení zůstává horní profil<br />
konkávní, dolní postupně přechází na konvexní,<br />
- změny tloušťky desek plošných spojů dávají podobné výsledky.<br />
Objem výplní lze řídit buď množstvím dodané pájky při pájení přetavením nebo znalostí a<br />
řízením tlakových poměrů při pájení vlnou.<br />
Výše uvedené tendence spolu s respektováním velikosti tlaku v pájce (ve srovnání s<br />
okolním atmosférickým tlakem) umožní učinit tyto důležité závěry :<br />
1. konvexní tvar horní výplně je známkou špatného smáčení,<br />
2. konvexní tvar dolní výplně neznamená vždy špatné smáčení.<br />
Jestliže tedy byl pájený spoj konstruován tak, aby se dosáhlo konkávního profilu horní<br />
výplně a skutečný profil je konvexní, je příčinou rozporu špatné smáčení. Tyto závěry byly<br />
potvrzeny experimentálním ověřením.<br />
Mechanické a elektrické vlastnosti pájených spojů<br />
Mechanická pevnost pájených spojů závisí na vlastnostech základního kovu, konstrukci<br />
spoje, pájce, tavidlu a technologickému postupu při pájení. Největší vliv má velikost mezery<br />
mezi pájenými součástmi a plochy jejich překrytí. Obecně platí, že čím menší mezera (ale<br />
musí být), tím lepší spojení. Celá mezera musí být také pájkou zaplněna. Mechanické<br />
vlastnosti pájky se při tavení, slévání a opětné krystalizaci mění natolik, že lze jen velice<br />
hrubě usuzovat na pevnost spoje na základě znalostí hodnot mechanické pevnosti pájky<br />
zjištěných obvyklými postupy mechanických materiálových zkoušek.<br />
Nejzávažnější oblastí spoje z pevnostního hlediska je vrstva vytvořené difúzí. Její tloušťka<br />
se pohybuje v rozmezí 0,1 až 1000 mm, vzrůstá s teplotou a dobou pájení. Ve srovnání se<br />
základním materiálem i pájkou je obvykle křehčí. Je proto žádoucí vytvořit ji jen tak tlustou,<br />
aby spoj byl pevný, ale nikoli křehký.<br />
Z porovnání mechanické pevnosti spojů stejně konstruovaných, pájených různými<br />
pájkami, vyplývá, že jejich pevnost je úměrná mechanické pevnosti užité pájky.<br />
Pro pájky slitinové, sestávající ze dvou či více komponent, opět platí, že největší<br />
mechanickou pevnost mají pájky s eutektickým složením.<br />
Pevnost pájených spojů klesá s dobou stárnutí, s vyšší provozní teplotou a se stoupajícím<br />
dynamickým namáháním spoje.<br />
Z elektrických vlastností je nejzávažnější elektrický odpor pájených spojů. Elektrická<br />
vodivost pájek užívaných v elektrotechnice je o jeden až dva řády nižší než vodivost mědi.<br />
Průřez pájeného spoje musí proto být řádově větší než průřez pájených vodičů. To v praxi<br />
obvykle nečiní potíže. Odpor nepřesahuje hodnotu v řádu 0,1 až 1 mW.<br />
Pájecí vlastnosti předmětů určených k pájení<br />
Pájením připojujeme vývody součástek aktivních a pasivních, pomocné součásti (stínící<br />
kryty, držáky aj.) k částem vytvářejícím vnitřní spoje zařízení. Vzhledem k podstatně většímu<br />
po čtu spojů pájených na deskách plošných spojů ve srovnání s připojovanými drátovými<br />
for mami či kabely, budeme se v dalším zabývat především prvním z uvedených případů.
262 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Pájené předměty mají obecně různé vlastnosti mající vztah ke vzniku a kvalitě pájeného<br />
spoje. Sledujeme především smáčitelnost jako míru fyzikálně-chemického děje smáčení<br />
odrážející interakci na rozhraní alespoň dvou fází. Po smáčení probíhá rozpouštění, difúze,<br />
tuhnutí (krystalizace) a reakce v pevné fázi. Míru všech těchto pochodů nazýváme po<br />
při hlédnutí k dosaženým vlastnostem výsledného pájeného spoje pájitelností.<br />
Může nastat i případ, kdy roztavená pájka pájený předmět nesmáčí. Pak ovšem nemůže<br />
dojít k žádným interakcím. To proto, že práce adheze, charakterizující vzájemnou interakci<br />
dotýkajících se fází, je podstatně menší než práce koheze, charakterizující vzájemnou<br />
interakci částic jedné fáze.<br />
V průběhu pájení i po něm může nastat i odsmáčení. Příčinou je změna podmínek smáčení.<br />
V novém stavu není současná kapalná fáze ekvivalentní počáteční. Jestliže přitom práce<br />
koheze podstatně vzroste, dochází ke zpětnému pochodu - odsmáčení. Může k němu dojít i v<br />
průběhu krystalizace či dokonce v pevné fázi.<br />
Z těchto teoretických poznatků plyne pro praxi asi následující. Aby bylo spojení dokonalé,<br />
musí mít jak spojované kovy, tak pájka určité fyzikální vlastnosti. Základní podmínkou je, že<br />
pájka musí mít mnohem nižší bod tání než jsou body tání materiálů spojovaných součástí.<br />
Pájený spoj je dobrý jen tehdy, když se na hranici styku pájky se spojovacím kovem vytvoří<br />
souvislá mezivrstva. Ta vlastně utváří kvalitu spojení a určuje jeho mechanické i elektrické<br />
vlastnosti.<br />
Technický vtip, na kterém je vlastně založeno dobré spojení cínovými pájkami, je dán<br />
fyzickými vlastnostmi cínové taveniny. Cínová tavenina (s přísadou tavidel) představuje pro<br />
většinu kovů silné a agresívní rozpouštědlo (tj. jde o rozpouštění a difúzi, jak již bylo<br />
uvedeno).<br />
To znamená, že na povrchu kovu vznikne intermetalická sloučenina, která umožňuje dobré<br />
smáčení pájkou. S cínem dobře reaguje měď a všechny její slitiny, zejména mosaz a bronz.<br />
Dobrou smáčivost v cínové tavenině má zinek, zlato stříbro a samozřejmě i jejich slitiny.<br />
Dobře smáčivý je kupodivu i hliník, ovšem pokud jeho povrch není pokryt oxidovou<br />
vrstvou. Jak víme, hliník a jeho slitiny se oxidovou vrstvou pokrývají samovolně i na vzduchu<br />
a to prakticky ihned, jen za působení běžné vlhkosti a atmosférického kyslíku. Všechny<br />
pokusy o praktické pájení hliníku jsou z tohoto důvodu založeny na způsobech, jak zlepšit<br />
smáčivost hliníku tím, že se působení oxidové vrstvy na povrchu kovu neutralizuje.<br />
Nejlépe odolným kovem je kupodivu železo. To se z běžných kovů v cínové tavenině<br />
nejhůře rozpouští. To znamená, že nejdokonalejším materiálem na hrot páječky je "železo". Z<br />
praxe víme, jak často musíme opravovat nebo vyměňovat měděné hroty páječek - proto by byl<br />
hrot "železný optimální, má však horší tepelné vlastnosti a je hůře smáčivý.<br />
Záruku dobrého pájení tedy v podstatě určuje základní vlastnost pájky, kterou nazýváme<br />
smáčivost. Smáčivost je schopnost pájky spojit se spolu se základním pájeným materiálem při<br />
doporučené teplotě taveniny. Pájka musí mít dobrou vzlínavost, "zabíhavost", přilnavost se<br />
schopností vytvořit se základním materiálem tuhý roztok v tenké, souvislé mezivrstvě na<br />
celém povrchu. Smáčivost se číselně (stejně jako smáčivost jiných kapalin) určuje velikostí<br />
úhlu, který svírá tečna kapky roztavené pájky v místě styku se základním materiálem.<br />
Zkoušky pájitelnosti jsou určeny normami.<br />
Pájecí vlastnosti vývodů součástek a spojovacích vodičů<br />
Tvar a rozměry vývodů elektronických součástek a materiál použitý pro jejich výrobu jsou<br />
velmi rozličné. To stěžuje do značné míry volbu optimálního režimu pájecího procesu. Je to<br />
důsledek historického vývoje součástek původně určených výhradně k pájení ručnímu,
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 263<br />
individuálnímu, ale užívaných i při pájení strojním, hromadném. Moderní součástky již<br />
požadavky hromadného pájení respektují.<br />
Téměř všechny druhy vývodů mají charakter vrstvených materiálů. Podkladový kov<br />
zabezpečuje dobré vlastnsoti mechanické, tepelné a elektrické. Úkolem povlaků je, kromě<br />
zvýšení korozní a klimat ické odolnosti, zaručit dobré a stálé vlastnosti pájecí.<br />
Podkladovým i materiály je buď měď a její slitiny, nebo slitiny železa. Měď a její slitiny<br />
mají výhodné vlastnosti, užívají se především ve výrobě pasivních součástek. Slitin železa se<br />
užívá především při výrobě aktivních prvků. Mají obecně vlastnosti horší než měď, jejich<br />
užívání je vyvoláno řešením problémů odolnosti aktivních součástek proti cyklickým<br />
teplotním změnám (nízký teplotní součinitel délkové roztažnosti). Slitiny železa jsou špatně<br />
smáčivé, obtížně se pokovují galvanicky. Jejich používání je ale nezbytné, nejsou dosud k<br />
dispozici výhodnější materiály. Je zde nutné poznamenat, že vyřešením odolnosti součástek se<br />
zkomplikovaly dilatační poměry v pájeném spoji a ovlivnila negativně spolehlivost.<br />
Pájecí vlastnosti desek plošných spojů<br />
Pájecí plošky a pájecí otvory jsou většinou měděné, u jednovrstvých desek dále<br />
nepokovované, u dvou- a vícevrstvých desek s povlaky stříbra, zlata, cínu nebo slitiny Sn-Pb.<br />
Podstatným rozdílem proti vývodům součástek je okolnost, že desky plošných spojů<br />
obsahují jako základní materiál organický, (výjimečně anorganický) izolant. Tento materiál je<br />
obvykle méně tepelně odolný ve srovnání s kovy a dále může při zahřátí uvolňovat plyny.<br />
Otázkám odolnosti desek plošných spojů při pájení i výronům plynů je třeba věnovat<br />
zvýšenou pozornost, protože tyto příčiny jsou časté při hodnocení závad ve spojích.<br />
Na deskách se dále mohou vyskytovat ochranné organické povlaky, např. pájecí laky.<br />
Posledním podstatným rozdílem je, zvláště důležitým pro hromadné pájení, větší hmotnost<br />
desek a s tím související tepelná kapacita, určující množství tepla potřebného pro prohřátí<br />
spojovaných částí na potřebnou teplotu.<br />
Druhy a vlastnosti soustav "podkladový kov - kovový povlak"<br />
Úkolem kovových povlaků na přívodech součástek a na plošných spojích je zlepšení<br />
pájecích vlastností a zlepšení odolnosti proti klimatickým vlivům. Nanášejí se bezproudově,<br />
galvanicky nebo žárovým způsobem. S ohledem na jejich chování v roztavené pájce je<br />
klasifikujeme jako<br />
1) tavitelné v pájce,<br />
2) rozpustné v pájce,<br />
3) netavitelné a málo rozpustné v pájce.<br />
Do skupiny první patří Sn a jeho slitiny, do druhé povlaky Au a Ag, do třetí povlaky ze<br />
slitin Cu-Ni a Sn-Ni.<br />
Tloušťky povlaků se pohybují v rozmezí jednotek až několika málo desítek mikrometrů.<br />
Povlaky vytvářené galvanicky jsou, zejména při tloušťkách pod 10 um, pórovité. Odstranění<br />
pórovitosti, nutné zemnéna s ohledem na dobrou pájitelnost i po delším skladování, je možné<br />
použitím leskutvorných přísad do galvanických lázní nebo následným tavením (horkým<br />
vzduchem, infračerveným zářením aj.).<br />
Výběr vhodné kombinace soustavy podkladový kov - kovový povlak je velmi důležitý z<br />
hlediska spolehlivostího. Pro nejnáročnější provozní podmínky (v kosmonautice) se povolují<br />
pouze soustavy měď-slitina Sn6OPb, kde povlak o tlošťce 10um je nanesen žárově, případně<br />
slitina Cu-Sn - slitina Sn60OPb. Jako podkladový kov je možné výjimečně užít i kovaru.<br />
Povlakové kovy Au, Ag, Sn se zásadně nedoporučují.
264 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Pájecí vlastnosti cínu a jeho slitiny s olovem<br />
Povlaky se stávají stále užívanější nejen pro dobré pájecí vlastnosti, ale i pro možnost<br />
jejich uplatnění jako náhrady za povlaky z drahých kovů. Přitom platí obecný poznatek, že<br />
slitiny s olovem mají po delší době skladování lepší smáčivost než samotný cín. Vysvětlení je<br />
v odlišných charakterech oxidů.<br />
Náhrada za drahé kovy je omezována faktem, že slitiny železa jsou velmi málo smáčivé<br />
užívanými slitinami cínu. Pokud je základní kov elektrolyticky vyleštěn, je možné<br />
bezprostřední žárové pokovení za použití ostrých tavidel. Výhodnější je galvanické pokovení,<br />
a to lázněmi vylučujícími lesklé bezpórovité vrstvy bez jinak nutných mezivrstev. Pájitelnost<br />
je dobrá i po dlouhém skladování.<br />
Slitin cínu se užívá i pro závěrečnou úpravu zlatého povlaku na deskách plošných spojů a<br />
na vývodech součástek (IO). Účelem není zlepšení pájecích vlastností, ale zábrana znečištění<br />
pájecí lázně zlatem.<br />
Výběr kovového povlaku souvisí i s druhem používané pájecí slitiny. Je třeba respektovat<br />
skutečnost, že od zavedení hromadného pájení se přednostně používá binární slitina Sn -Pb<br />
složení eutektického nebo mírně podeutektického. Tato pájka byla převzata z technologie<br />
pájení ručního a má pro strojní pájení mnoho výhod (nejnižší pájecí teplota, nejvyšší<br />
mechanická pevnost spoje atd.). Snahy o nalezení vhodnější slitiny jsou motivovány stále<br />
stoupající cenou cínu na světových trzích.<br />
8.8.1 Měkké pájky<br />
Pro připojování vodičů v elektronice vystačíme s tzv. měkkým pájením charakterizovaným<br />
užitím pájek s teplotou tavení nižší než 450 oC. (Na rozdíl od pájení tvrdého, užívajícího<br />
pájky s teplotou tavení<br />
nad 600 oC.)<br />
Podstatnou složkou<br />
měkkých pájek jsou<br />
těžké kovy s nízkou<br />
teplotou tavení, zejména<br />
cín a olovo, příp.<br />
kadmium a zinek.<br />
Některé pájky obsahují i<br />
vizmut, antimon,<br />
indium.<br />
Tab. 7.6. Kovy obsaženév měkkých pájkách<br />
Většinou se užívá dvou- a třísložkových slitin, složitejších slitin či čistých kovů jen pro<br />
zvláštní účely. Přídavky malých množství kovů s vysokým bodem tání zlepšují mechanické<br />
vlastnosti pájených spojů. Základní údaje o užívaných kovech dává tab. 7.6<br />
Cínové pájky<br />
Jsou nejužívanějšími pájecími slitinami. Rovnovážný diagram je na obr. 6.20. Při obsahu<br />
61,9 %Sn vzniká slitina eutektická s teplotou tání 183,3 oC. Uvedený rovnovážný diagram
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 265<br />
platí pro čisté kovy, bez příměsí. Ty ovlivňují polohu čar likvidu a solidu, mechanické<br />
vlastnosti a technologické vlastnosti<br />
pájky.<br />
Cínových pájek se užívá v rozmezí<br />
obsahu cínu 4 až 99 %. Přesné složení a<br />
vlastnosi jsou uvedeny v příslušných<br />
normách. V tab. 7.7 jsou základní údaje o<br />
některých pájkách Sn-Pb.<br />
Nejlepší pájky mají kolem 60 % cínu.<br />
Často se užívá Sn60Pb40 nebo slabě<br />
nadeutektická pájka Sn63Pb37 s bodem<br />
tání 183 oC. Pájecí drát mívá složení<br />
Sn40Pb60 s bodem tání asi 220oC. Pájky<br />
s malým obsahem cínu se<br />
Obr. 7.147. Rovnovážný diagram slitiny Sn-Pb<br />
hodí zejména pro klempířské práce. pro elektroniku a zejména strojní pájení musí mít pájka<br />
kromě přesného složení také přesně stanovené (a také zaručované) množství nečistot.<br />
Nejméně nebezpečnou příměsí je antimon, jehož vliv není významný až do obsahu 6 % Sn.<br />
Pouze pro pájení slitin zinku, tedy i mosazi, musí být jeho obsah menší než 0,5 %. Stříbro při<br />
obsahu nad 1 % způsobuje zrnitost pájky. Obsah niklu, vizmutu a arzénu do 0,2 % není<br />
škodlivý. Limitem železa a mědi je množství 0,1 popř. 0,05 %. Nejnebezpečnější příměsí je<br />
hliník (nad 0,05 %) a zinek (nad 0,001 %). Podstatně zhoršují pájitelnost. Naopak vizmut a<br />
kadmium se někdy úmyslně přidávají, neboť snižují bod tání a na smáčivost relativně malý<br />
vliv.<br />
Pro pájení vývodů hybridních integrovaných obvodů se někdy užívá pájka s obsahem<br />
stříbra 3,5 až 4,5%, která zabraňuje rozpouštění stříbra z pájecí plošky.<br />
Běžná pájka Sn60Pb40 je v ČR vyráběna ve dvou kvalitách a to v litém a v tvářeném<br />
stavu. V elektrotechnice není vhodné používat pájku litou, která má už při nasazení vysoký<br />
obsah nečistot. Jejich obsah se potom při provozu rychle zvyšuje a působí problémy při<br />
pájení. Pro použití do pájecího zařízení je vhodná pájka tažená, se zaručovaným obsahem<br />
nečistot. Její cena je samozřejmě poněkud vyšší, ale to je vynahrazeno delší životností pájecí<br />
lázně.<br />
Pájky pro hromadné pájení<br />
O volbě pájky byla již zmínka v předcházejících odstavcích. Je třeba připomenout, že<br />
složení pájky při jejím používání se stále mění, neboť pájka se obohacuje příměsemi z<br />
rozpouštěných kovových částí pájených předmětů.<br />
Požadavky praxe se soustřeďují hlavně na tyto otázky :<br />
1) mechanická pevnost pájených spojů,<br />
2) příčiny rekrystalizace pájky během života pájeného spoje,<br />
3) přípustný obsah nečistot (příměsí) v pájce,<br />
4) zajištění vysoké a stálé smáčivosti pájky,<br />
5) složení a případně i tvar čerstvé pájky.
266 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Pevnost pájeného spoje záleží, mimo jiné, na mechanických vlastnostech pájecí slitiny. Pro<br />
pájku Sn60Pb se snižuje pevnost v tahu při provozní teplotě 100°C na 75% pevnosti při 20°C,<br />
při teplotě 140°C klesá již na 50%. Přitom je pevnost natolik nízká, že se spoj nesmí nejen<br />
trvale zatěžovat, ale je třeba zabránit i krátkodobému zatěžování. Zlepšení mechanických<br />
vlastností změnou složení nevedou jednoznačně k cíli. Významnější jsou konstrukční opatření<br />
zabraňující mechanickému namáhání zejména tíhou součástky, pnutím v přívodech, rázy,<br />
otřesy aj.<br />
K rekrystalizaci pájky (cín zešedne, ztratí mechanickou pevnost a drolí se) dochází z<br />
různých příč in. Jako možnou příčinu lze ale vyloučit jev známý pod označením "cínový mor",<br />
kdy při teplotě 13,2°C dochází ke změně alotropické modifikace cínu přechodem ze<br />
šesterečné soustavy na kubickou, což je provázeno jeho rozpadem. U slitin cínu nebyl tento<br />
jev prokázán ani při hlubokých podchlazeních (sledováno vzhledem k užívání pájených spojů<br />
v kosmonautice). Nebyl zjištěn ani u galvanicky nanášených povlaků.<br />
Cínovým morem trpí někdy nádobí na starých hradech a v muzeálních sbírkách.<br />
Rekrystalizace začíná obvykle po velkých tepelných šocích při trvale nízkých teplotách.<br />
Za určitých podmínek může dojít k rekrystalizaci pájky bezprostředně po pájení. Měkké<br />
pájky vykazují mezi teplotou solidu a teplotou 140°C oblast tepelné křehkosti. Tuto oblast je<br />
třeba při ochlazování pájených spojů rychle překonat, i za pomoci umělého ochlazování,<br />
zejména při pájení součástek s velkou hmotností a celkovou tepelnou kapacitou. K<br />
rekrystalizaci dojde i cyklickým tepelným a současně mechanickým namáháním. Zvýšená<br />
teplota vyvolá rekrystalizaci obecně u všech pájecích slitin. Dochází k ní při teplotě asi 2/3 T,<br />
kde T je teplota bodu tání v Kelvinech [12]. Jsou tedy nejvíce ohroženy spoje, u nichž byla<br />
cínová pájka "přehřáta".<br />
Poslední známou příčinou rekrystalizace je přítomnost nežádoucích příměsí v pájce.<br />
Tvrdost pájky roste a pájka křehne.<br />
Kontaminace kovovými příměsemi se uplatní při rekrystalizaci, ovlivní smáčivost a<br />
pevnost. Nejsou dosud stanoveny všeobecně platné hodnoty obsahu jednotlivých příměsí v<br />
pájce. Vliv jednotlivých příměsí na různé vlastnosti je komplikovaný. Je na místě<br />
připomenout, že na znečištění pájecí lázně má významný vliv i obsluha zařízení.<br />
Odstraňování součástek, které náhodně vypadnou do lázně, pájení pouze schválených typů<br />
desek a čištění lázně musí být samozřejmostí. Čištění lze provádět nejefektivněji ochlazením<br />
pájky na teplotu těsně nad bod solidu a vycezením vzniklých krystalitů. Důležitá je i<br />
pravidelná kontrola chemického složení lázně pájky. Doporučované maximální hodnoty<br />
příměsí v pájce pro hromadné pájení bývají stanoveny výrobcem pájecího zařízení.<br />
Smáčivost pájky ovlivňují kovové nečistoty. Snižuje se i růstem obsahu oxidů kovů pájky,<br />
zejména tehdy, není-li omezen přístup povlaku z oxidů k pájeným místům. Vhodnou<br />
ochranou je vrstva oleje na hladině pájky nebo olej čerpaný "do vlny" spolu s pájkou.<br />
Smáčivost dále ovlivňují i obsahy oxidů, sulfidů a jiných sloučenin obsažených i ve výchozí,<br />
čerstvé pájce. Proto se pro pájení vyžadují pájky zvláště čištěné s potlačeným obsahem<br />
strusky a plynů (tavením ve vakuu, dokonalým balením pro dopravu aj.).<br />
Pájky s nízkým bodem tání<br />
Pro připojování součástek, které se vyšší teplotou snadno poruší, používáme kadmiové<br />
pájky se značně nižšími pracovními teplotami. Kadmiové pájky však jsou vhodné pro<br />
individuální pájení páječkou, neboť trvale roztopená lázeň kadmiové pájky se velmi rychle<br />
znehodnocuje sklonem kadmia k nezadržitelné autooxidaci a již při malém přehřátí lázeň<br />
zamořuje jedovatými výpary okolí.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 267<br />
Slitina s eutektikem ve složení 50%Sn 32%Pb 18%Cd má teplotu tání kolem 170•C.<br />
Některé používané pájky jsou v tabulce 7.8. Obecně tyto pájky hůře smáčejí povrch než pájky<br />
cín ové, hůře se roztékají. Přítomnost kadmia a jeho sklon k oxidaci způsobují poróznost spojů<br />
a vylučují tyto pájky z aplikací ve vakuové technice.<br />
Tabulka 7.8 Pájky s nízkou teplotou tavení<br />
Pro ještě nižší teploty se používají pájky Bi-Sn-Pb nebo Bi-Sn-Pb-Cd, případně In-Sn. Pro<br />
pracovní teplotu kolem 90°C jde např. o pájku Bi8 Sn40 Pb52 [AR 8/74:295]. V amatérské<br />
praxi se také užívají tepelné pojistky k tlakovým hrncům zakoupené v kuchyňských potřebách<br />
[AR-A 1/77:7].<br />
Poznámka: Kadmiové pájky se také užívají, chceme-li minimalizovat termoelektrické<br />
napětí mezi spojovanými částmi. Na tuto skutečnost se musí upozornit v průvodní<br />
dokumentaci přístroje a musí být dodáno odpovídající množství pájky pro opravy.<br />
Pájky na hliník a jeho slitiny<br />
S hliníkem se velmi dobře spojuje zinek, který je proto obsažen ve většině pájek na hliník.<br />
Spoje jsou odolné proti korozi, vzhledem ke skoro nulovému stykovému potenciálu vůči<br />
hliníku. Posuzováno z tohoto hlediska je nežádoucí příměs olovo.<br />
Ze slitim Sn-Zn je nejvhodnější eutektikum Sn90-Zn s teplotou tavení 200°C. Ze soustavy<br />
Cd-Zn vyhoví slitiny s obsahem kadmia pod 70%, jejichž pracovní teploty se pohybují do 400<br />
°C.<br />
8.8.2 Tavidla<br />
Užívaní tavidel, která usnadňují pájení, je technicky nutné. Tavidlo působí především<br />
chemickou reakcí, která podporuje smáčivost pájky, chrání očištěné pájené kovy a pájku<br />
během pájení před oxidací. Musí mít takovou viskozitu, aby napomáhala roztékavosti pájky.<br />
Nejdůležitější vlastností je vliv tavidla na povrchové napětí roztavené pájky, které zabraňuje<br />
tvorbě můstků a krápníků. Povrchové napětí taveniny se mnohonásobně zmenšuje, takže<br />
tavenina se dobře rozlévá, netvoří se kuličky a tavenina dobře zatéká i stéká při namáčení.<br />
Děj pájení proběhne tehdy, smáčí-li čistý kovový povrch základního kovu čistá pájka.<br />
Povrchy obou složek jsou však vlivem okolního prostředí znečištěny.<br />
Tavidla slouží při pájecím procesu k odstranění nečistot (převážně kysličníků) z obou<br />
pájených částí. Účelem působení tavidla je také zlepšovat smáčivost pájeného povrchu<br />
pájkou. Úhel smáčení (obr.7.144) musí být co nejmenší a musí být menší než 90°. Pro větší<br />
úhly je materiál nesmáčitelný, tedy i nepájitelný.<br />
Účinek tavidel ale nelze zaměňovat s<br />
čištěním povrchu před pájením.
268 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obrázek 7.144 : K definici úhlu<br />
smáčení : 1-základní materiál,<br />
2-fólie, 3-tavidlo, a-úhel<br />
smočení<br />
Tavidla obsahují zpravidla<br />
základní nosnou hmotu, ve které je rozptýlen aktivační prostředek. Ten je většinou silně<br />
agresivní - proto jeho obsah obvykle nepřesahuje 5%. Ideální aktivátor by měl být :<br />
- neagresivní pro pájené kovy a slitiny,<br />
- dostatečně aktivní,<br />
- dobře rozpustný v nosné hmotě,<br />
- zdravotně nezávadný.<br />
Chemická reakce mezi tavidlem a povrchovou vrstvou (nejčastěji oxidem) nastává až po<br />
dosažení účinně teploty tavidla. Pro správný průběh pájení je nezbytné, aby tato teplota byla<br />
nižší (zpravidla asi o 100°C) než je teplota solidu použité pájky. Je-li tato teplota příliš<br />
vysoká, roztaví se pájka dříve, než je povrch dostatečně očištěn a tavidlo je vytlačeno stranou<br />
mimo účinnou oblast spoje. Je-li naopak teplota mnohem nižší, tavidlo se nasytí nebo odpaří<br />
dříve, než úplně odstraní povrchovou vrstvu.<br />
fáze,<br />
Obrázek 7.145: Vzájemné působení složek pájecího procesu PF – plynná<br />
KF – kapalná fáze, TF – tuhá fáze<br />
Během reakce tavidla dochází ke změnám jeho chemického složení a tím i ke změně<br />
teploty tuhnutí tavidla proti stavu před jeho použitím. Tavidlo musí tuhnout při teplotě nižší<br />
než je teplota solidu pájky, protože v opačném případě by mohly zůstávat zbytky tavidla v<br />
objemu pájky jako nežádoucí vměstky. Tyto snižují mechanickou pevnost spoje, elektrickou<br />
vodivost i odolnost proti korozi.<br />
Dalším úkolem tavidla je vytvoření ochranného povlaku na očištěném povrchu<br />
zabraňujícího následné oxidaci. Povlak však musí být snadno odstranitelný roztavenou<br />
pájkou.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 269<br />
Kromě působení na základní kov musí tavidlo čistit i povrch pájky a zabraňovat<br />
pohlcování plynů roztaveným kovem.<br />
Rozlišujeme dvě hlavní skupiny tavidel :<br />
1) tavidla anorganická<br />
2) tavidla organická<br />
První mají obvykle vyšší účinné teploty, mohutnější redukční schopnost, ale také způsobují<br />
ve větší míře korozi spojů a jejich okolí.<br />
Anorganická tavidla<br />
Základní složkou jsou chloridy, zejména chlorid zinečnatý ZnCl2 a chlorid amonný NH4Cl<br />
(sa lmiak). Účinná teplota prvního je 280°C, lze ji snížit přídavkem druhého až na 180°C.<br />
Často se užívá tavidla ze směsi chloridu zinečnatého, kyseliny chlorovodíkové a vody.<br />
Anorganická tavidla lze zahustit na pastovitou konzistenci vazelinou, olejem nebo škrobem.<br />
Spájená místa je nutné pečlivým omytím zbavit zbytků tavidla, jinak nastane silná koroze.<br />
Jejich používání je omezeno na značně znečištěné součástky nebo součásti z obtížně<br />
páji telných materiálů. Typickým příkladem je "klempířská voda".<br />
Obr. 7.145 Vzájemné působení složek pájecího procesu: PF-plynná fáze, KF-kapalná fáze,<br />
TF-tuhá fáze.<br />
Organická tavidla<br />
Tavidla lze obecně rozdělit na :<br />
- neaktivivaná,<br />
- mírně aktivovaná,<br />
- silně aktivivaná.<br />
Dalším možným kritériem je rozpustnost. Lze uvést :<br />
- tavidla vodná - rozpustná ve vodě (většinou s polyglykoly)<br />
- tavidla pryskyřičná - rozpustná v jiných rozpouštědlech.<br />
Nejrozšířenějším organickým tavidlem je přírodní pryskyřice - kalafuna. Je to směs<br />
pryskyřičných kyselin s převážným obsahem kyseliny abietové. Aplikuje se buď tuhá, nebo<br />
častěji rozpuštěná v benzenu nebo etylalkoholu denaturovaném metylalkoholem či benzinem.<br />
Alkohol denaturovaný pyridinem není vhodný, protože při pájení se pyridin rozkládá a<br />
vzniklé produkty snižují odolnost spoje proti korozi. Nevýhodou kalafuny samotné je malá<br />
aktivační schopnost, takže lze pájet pouze nepatrně znečištěné povrchy. Výhodou je její<br />
schopnost vytvářet na hotovém spoji a jeho okolí ochrannou vrstvu. Je zdravotně nezávadná.<br />
tvoří proto základní hmotu většiny pájecích prostředků.<br />
Zvýšené účinnosti se dosahuje přídavkem aktivátoru do roztoku kalafuny v rozpouštědle.<br />
Nejužívanějšími látkami jsou halové soli organických aminů, např. anilin hydrochlorid,<br />
ortotoluidin hydrochlorid. Při teplotách pájení se tyto látky rozkládají, uvolňují kyselinu<br />
chlorovodíkovou, která se s oxidy kovů slučuje na těkavé chloridy unikající do ovzduší. Tyto<br />
aktivátory jsou toxické!!!<br />
Z ostatních látek se užívá jako aktivátorů halových solí hydrazinu. Vyznačují se mohutným<br />
redukčním účinkem. Lze jich proto přidávat jen velmi malé množství, čímž se snižuje<br />
nebezpečí koroze i toxicita.
270 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Netoxickým aktivátorem je močovina (CH4N2O). Tvoří s halovými kyselinami adiční soli,<br />
které se při teplotách pájení snadno štěpí. Močovina sama se rozkládá na kysličník uhličitý a<br />
čpavek, unikající do ovzduší. Užívá se při ručním pájení, je účinnější než kalafuna. Přitom za<br />
studena nenapadá pájená místa.<br />
Zvláštní druhy tavidel<br />
Pro měkké pájení hliníku a jeho slitin se používají tavidla na základě fluoridů, zejména<br />
fluoridu boritého BF3. Ten je také jako aktivátor přidáván do tavidel sestávajících z<br />
primárních a terciárních aminů a jejich hydrofluoridů.<br />
Pájecí (redukční) laky byly původně vyvinuty pro pájení plošných spojů. Jejich úkolem je<br />
zachovat dobrou pájitelnost povrchů, které kryjí, a při pájení působí jako tavidlo. Sestávají z<br />
rozpustidla, tavidla a lakotvorné složky (např. solakryl).<br />
Tavidla pro hromadné pájení<br />
Mechanismus účinku tavidla je jak pro ruční, tak pro hromadné pájení obdobný, ale účinek<br />
tavidel pro hromadné pájení musí být podstatně vyšší.<br />
Rychlost působení musí být zvýšena tak, aby postačovala pro strojní pájení. Vliv na chyby<br />
pájení musí být maximálně potlačen. Jeho zbytky, včetně produktů rozkladu vzniklých při<br />
pájení, musí být snadno odstranitelné mytím. Poslední požadavek nelze někdy splnit, protože<br />
ne všechny součástky mytí dovolují.<br />
Operace mytí zvyšuje provozní náklady, některá rozpouštědla jsou hořlavá nebo škodlivá<br />
zdraví. Vývoj nových tavidel proto směřuje k takovým, která jsou odstranitelná vodou.<br />
Použití přírodních nebo umělých pryskyřic je potom problematické. Kvalita omytí se<br />
posuzuje podle množství iontových příměsí ve vodním výluhu, hodnocené měřením<br />
elektrického odporu tohoto výluhu.<br />
Základním tavidlem pro hromadné pájení je roztok kalafuny v organickém rozpouštědle.<br />
Roztok na deskách plošných spojů dobře ulpívá, lze ho dobře napěnit (při nanášení).<br />
Nezpůsobuje korozi, na deskách vytváří nelepivý tvrdý povrch. Aktivitu ovlivňuje přídavek<br />
aktivátoru. Potom je ale mytí nezbytné. Vzhledem ke složení je nutné mytí dvoustupňové:<br />
nepolární rozpouštědlo dobře odstraňující pryskyřici jako první lázeň, voda ke smytí<br />
iontových nečistot jako lázeň druhá.<br />
Dalším druhem jsou tavidla bezkalafunová, na bázi hydrochloridů organických kyselin.<br />
Vyžadují bezpodmínečně omytí vodou.<br />
Z anorganických tavidel se zásadně nepoužívají ta, která obsahují chlorid zinečnatý, cínatý<br />
a amonný (pozor na známá tavidla EU 2 a EU 3!).<br />
Používají se však tzv. "ostrá tavidla", obsahující jako aktivátor kyselinu chlorovodíkovou.<br />
Podmínkou je dokonalá rozpustnost ve vodě.<br />
Tavidla lze nanášet :<br />
- štětcem, případně jiným manuálním způsobem,<br />
- v pěně na speciálním zařízení a<br />
- nástřikem.<br />
Poznámka: Obecně platí, že tavidla pro ruční a strojní pájení nejsou vzájemně zaměnitelná.<br />
Příkladem jsou hojně používaná vodou rozpustná tavidla pro strojní pájení, která obsahují<br />
polyglykoly. Použijeme-li je při ručním pájení, tak teplota pájecího hrotu vyšší než 260°C,<br />
nutná pro vznik teplotního spádu při pájení, vyvolá polymeraci. Vzniklé sloučeniny pak už<br />
prakticky nelze ze spoje odstranit jinak než mechanicky.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 271<br />
Poznámka: Služ ba výzkumu dodává pro ruční pájení v elektrotechnice pájecí roztok<br />
LETOL a sedm přípravků řady EPSILON (účinné látky nepublikovaného složení jsou<br />
rozpuštěny v isopropylalkoholu) pro ruční i strojové pájení. Pro odstranění izolace<br />
smaltovaných vodičů se dodává přípravek DESMALTOL (užívá se při pájení jako "tavidlo")<br />
a De-IZOL (užívá se před pájením - ponořením do taveniny). Podobné přípravky dodávají i<br />
zahraniční firmy.<br />
8.8.3 Postup pájení<br />
Pájení lze vždy rozložit do těchto základních operací :<br />
1) odstranění povrchových nepájivých vrstev z pájených předmětů,<br />
2) umístění pájených částí do vhodné vzájemné polohy a jejich fixace,<br />
3) nanesení tavidla,<br />
4) ohřev spoje na pracovní teplotu,<br />
5) přivedení pájky do spoje,<br />
6) ochlazení pájeného spoje,<br />
7) očištění spoje a jeho okolí.<br />
Operace 4. a 5. jsou charakteristické pro jednotlivé technologie pájení.<br />
Podle způsobu provádění pájených spojů rozeznáváme pájení :<br />
a) ruční<br />
b) hromadné.<br />
Ruční pájení<br />
Zdrojem předávaného tepla místu spojovanému měkkým pájením je páječka (v praxi též<br />
nazývaná pájedlo nebo pájka, tj. stejně jako používaný materiál).<br />
Spojované části i pájka jsou ohřívány na pracovní teplotu hrotem páječky (upevněným v<br />
držáku tak, aby pájení bylo pohodlné, neunavující ruku). Ohřev hrotu je nejčastěji elektrickýá<br />
(topný element na síťové napětí nebo na napětí nízká), výjimečně plamenem. Kvalitní páječ ky<br />
umožňují regulaci teploty hrotu.<br />
Ruční pájení cínovou pájkou se jeví na první pohled jako velice jednoduchý úkon. Není<br />
tom u tak vždy. Je třeba mít určité znalosti a především dodržovat "technologickou kázeň".<br />
Obecně se doporučuje dodržovat tyto zásady :<br />
- pracovat s dobře prohřátou páječkou (nebo hrotem pistolové páječky),<br />
- pájecí hrot musí být pokryt tenkou vrstvou pájky; dosahuje se toho tak, že nejprve naneseme<br />
cín s tavidlem na zahřátou páječku a pak se hrot otírá hadříkem, který nelíná chlupy (běžná<br />
bavlněná tkanina nebo jemná kůže),<br />
- na větší spoj používat masívnější páječku,<br />
- předem součásti očistit, mechanicky i chemicky a pocínovat,<br />
- umístit pájené části do vhodné vzájemné polohy (a její fixace),<br />
- pájené části pokrýt malou vrstvou tavidla,
272 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
- dobře prohřát celý spoj (přitisknout na pájené místo hrot páječky, pokud možno tak, aby<br />
přenos tepla byl maximální v pájeném místě; do pájeného místa postupně přidávat cínovou<br />
pájku, která zároveň zprostředkovává lepší přenos tepla),<br />
- pozorovat, jak se cín po povrchu roztéká (doba pájení musí být krátká, 2 až 5 sekund; za tuto<br />
dobu se pájka musí roztéci a zaplnit všechny prohlubně),<br />
- ve vhodné chvíli oddálit páječku,<br />
- po ukončení pájení nechat spoj řádně vychladnout (během chladnutí se nesmí spojované<br />
části vzájemně pohnout - rozhýbáním vývodů při tuhnutí pájky vznikne hrubozrnný spoj, je<br />
třeba pájet znovu)<br />
- nedoporučuje se foukáním nebo přikládáním kovových předmětů chlazení urychlovat.<br />
Pro kvalitní spoj je<br />
důležité, aby páječka měla<br />
správnou teplotu, a aby<br />
množství tepla dodaného do<br />
pájeného spoje bylo právě<br />
takové, aby se pájka v celém<br />
spoji roztekla bez vytváření<br />
"špiček". Správný spoj musí<br />
být hladký a lesklý - to však<br />
závisí i na procentu cínu v<br />
pájce (na jakosti pájky).<br />
Pokud se při oddalování<br />
hrotu páječky od pájeného místa<br />
Obr. 7.146. Dobrý, přijatelný, špatný pájený spoj<br />
vytahují špičky, svědčí to o nízké teplotě při pájení. Někdy však je tento vzhledový<br />
nedodstatek spojen s jakostí pájky. V tomto případě prospěle dodat do pájeného místa více<br />
kalafuny.<br />
Obr. 7.147. Hájitelnost povrchu DPS<br />
Obrázek 7.148: Připájené vývody součástek na jednostranné DPS<br />
a dvoustranné DPS (s prokovenými otvory)
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 273<br />
Obr. 7.149. Postup při pájení vodiče k trubičkovému vývodu<br />
Zásada je, že ve spoji musí být dostatečné, nikoli však nadměrné množství cínu. Pájet je<br />
nutné rychle (obvykle 2 až 5 sekund), aby se cín nepřipálil a aby se teplo zbytečně<br />
nerozvádělo do okolí. Přenos tepla z hrotu zlepší kapka cínu. V pájeném místě by se neměly<br />
spalovat či "připékat" nečistoty a pájka musí vnitřek všech spojovaných částí dokonale smáčet<br />
bez "lunkrů".<br />
U některých typů spojů, například při pájení drátků do dutinek konektorů, ?pájení drátků<br />
do tenkých trubiček apod. je výhodné, jsou-li všechny díly vydatně pocínovány (příp. do<br />
dutinky vložíme ještě trochu tavidla i pájky) a spoj pak pouze na co nejkratší dobu ohřejeme<br />
(obr. 7.149).<br />
Kalafunou nelze při cínování a pájení šetřit. Spoléhat se na účinnost náplně kalafuny v<br />
trubičkovém cínu není radno, snadno vyrobíme studený spoj (vzniká při nedostatečném slinutí<br />
pájky s vývody součástek<br />
nebo<br />
plošným spojem; má velký<br />
přechodový odpor nebo dokonce<br />
žádný elektrický kontakt, ale navenek<br />
vypadá spolehlivě).<br />
Základní podmínkou jakostního<br />
spoje je, aby spojované součásti byly<br />
čerstvě pocínovány. Spoléhat na to, že<br />
vývody součástek byly pocínovány při<br />
jejich výrobě není správné; mezi<br />
okamžikem jejich výroby a pájením<br />
uplyne často dlouhá doba. Na povrchu<br />
pocínovaných vývodů se časem<br />
vytvoří vrstvička oxidu, která brání<br />
jejich dokonalému smáčení v<br />
roztavené pájce. Důsledkem toho je,<br />
že nedokonale odstraněný povlak<br />
oxidu spolu s atmosférickými vlivy<br />
způsobí vnitřní korozi spoje, který se Obrázek 7.150: Páječka s automatickou regulací<br />
potom po čase může projevit jako "<br />
teploty hrotu<br />
studený" spoj.
274 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
V praxi tedy u součástek, které nejsou zcela nové, přistoupíme k "oživení" pocínovaných<br />
vývodů, a to i těch, které jsou stříbřeny nebo zlaceny. Pocínování (oživení) se provádí v<br />
roztavené cínové pájce za použití dostatečného množství kalafuny. Nežádoucí oxidy potřebují<br />
někdy k rozpuštění pod kalafunou mnohem delší dobu, než je přípustná doba při pájení na<br />
plošných spojích. Proto není možno tuto operaci spojovat s vlastním pájením.<br />
U starších součástek musíme často dobrému pocínování napomáhat nechanicky "drhnutím"<br />
vývodů hrotem páječky pod<br />
vrstvou kalafuny. Přitom je nutno v některých případech odvádět ze součástky přebytečné<br />
teplo (např. pinzetou), pozor na kontakty a patice které obsahují termoplasty (deformují se<br />
teplem), a také u keramických kondenzátorů se mohou velkým teplem odpájet vnitřní vývody.<br />
(Pro úplnost uvádíme, že přepalování vlásenek u pistolové pájky je důkazem chemického<br />
čištění mědi kalafunou až do úplného odleptání vlásenky.)<br />
Výrobci spotřební elektroniky se<br />
zpravidla spokojují s tím, že ve výrobě<br />
využívají součástek, které nebyly dlouho<br />
skladovány. Při výrobě elektroniky<br />
investičního charakteru přijímají výrobci<br />
další opatření (viz poznámka).<br />
Poznámka: Při výrobě součástek<br />
leptáme (opalujeme) spojovaný materiál<br />
(špičky, dráty, plošné spoje) ještě ve<br />
stadiu základních polotovarů v kyselině,<br />
čímž dokonale odstaníme nejen tekké<br />
vrstvy oxidu na povrchu materiálu, ale i<br />
hrubší oxidy, hlouběji proniklé do<br />
povrchu materiálu válcováním nebo<br />
tažením. Leptaný materiál se<br />
mikroskopicky vrásní, čímž se až o<br />
100% zvětšuje aktivní povrch.<br />
Obrázek 7.151: Odsávačka cínu, kleště na<br />
odstraňování izolace, pistolová páječka<br />
a trubičkový cín<br />
Po dokonalém odstranění stop kyseliny se pak vzápětí (během 6 hodin) očištěný materiál<br />
buď pod tavidlem leguje (pokoví), obvykle v lázni, což je dlouhodobá konzervace povrchu.<br />
Krátkodobou konzervaci provedeme galvanickým pokovením (špičky) nebo nanesením vrstvy<br />
pájecího laku (ponořením konců odizolovaných konců drátů nebo postřikem desek plošných<br />
spojů).<br />
Materiál krátkodobě konzervovaný nutno pod tavidlem zahřát na pracovní teplotu, přiložit<br />
pájku a tekutou pájkou rozpustit galvanicky nanesenou vrstvu, nebo spálit vrstvu laku,<br />
základní kovy legovat a vyplnit spáry.<br />
Desky je třeba před pájením mechanicky očistit (v sériové výrobě kartáčováním, v kusové<br />
nejjemnějším smirkovým papírem, brusnou pastou, práškem na nádobí, pastou Silichrom<br />
apod.). Dále je potřeba desky odmastit. K tomu lze použít vídeňské vápno nebo různé<br />
odmašťovací přípravky (trichlóretylén, saponáty). Amatéři užívají<br />
i pastu na zuby. Po<br />
odmaštění je třeba chránit plošné spoje před opětnou oxidací. Často se k tomuto účelu
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 275<br />
používá lak, zhotovený rozpouštěním kalafuny v lihu (čistá kalafuna má dobré izolační<br />
vlastnosti). Tento lak je z hlediska pájení dobrý, avšak práce s ním je nepříjemná, neboť<br />
povrch je i po dlouhé době lepkavý. Spoje se pak při práci snadno znečistí ohmatáním ruky.<br />
Dále pak jsou k dispozici laky od různých výrobců. Amatéři s úspěchem vyzkoušeli i lak na<br />
vlasy.<br />
Posoudit kvalitu spoje je obtížné. Obvyklá je zkouška mechanickým namáháním. Malými<br />
plochými kleštěmi nebo pinzetou zatáhneme za připájenou součástku, a když spoj drží,<br />
považujeme ho za dobrý i po elektrické stránce. Hodně napoví i vzhled spoje. Cín musí být<br />
rovnoměrně rozteklý, na vývodech má mít plynulý přechod (konvexní tvar kužele), má být<br />
lesklý a hladký.<br />
Při opakovaném pájení na stejném místě postupujeme stejně, jako kdybychom pájeli<br />
poprvé. Nikdy "nelepíme" vrstvy cínu na sebe, tj. celý spoj musí být prohřátý.<br />
Při opravách je potřeba starý cín ze spoje odstranit. Běžně se užívá tzv. odsávačka. Kromě<br />
odsávačky lze použít i improvizované pomůcky. Ze zbytku (není podmínkou) měděného<br />
kablíku s co nejtenšími drátky (s výhodou pocínovaného nebo postříbřeného) odstraníme část<br />
izolace, vytvoříme tak malý "štěteček". Odizolovanou část ponoříme do roztoku kalafuny v<br />
lihu a necháme oschnout (nebo zahřejeme páječkou na kusu kalafuny). Přitlačí-li se lanko<br />
horkou páječkou na spoj, odsává (kapilární elevací) roztavenou pájku (asi jako "piják").<br />
Zacínovanou část lanka odstřihneme a se zbytkem pracujeme dále stejným způsobem.<br />
Pro dobré spojení cínovou pájkou si je třeba uvědomit i některé konstrukční zásady.<br />
Spojení cínovou pájkou má velmi malou mechanickou pevnost, žádnou odolnost proti<br />
dynamickému namáhání, nesnáší tepelné šoky a nadměrné oteplení. Statické namáhání by<br />
nemělo překročit asi 3,5 g na jeden spoj. Ale i u spojů, které vyhovují tomuto kritériu,<br />
musíme spoj chránit před dynamickým namáháním. To znamená, že každá "těžší" součástka<br />
by měla být na desce s plošnými spoji nějakým způsobem mechanicky upevněna. Pod mnohé<br />
součástky se vkládají podložky, které součástky mechanicky fixují (může přinášet problémy,<br />
pokud desky myjeme).<br />
Drátové vývody musí mít dostatečnou (ale ne nadměrnou) délku a mají být tak tvarově<br />
upraveny, aby neměly ostré rohy a záhyby. Dále používat např. rezistory v poloze na výšku<br />
(tzv. japonská montáž) se nedoporučuje.<br />
Součástka z hlediska tepelného namáhání nás zajímá dvakrát. Při pájení musíme některé<br />
druhy nejen polovodičových součástek, ale i rezistorů s krátkými vývody, apod. chránit<br />
růz nými typy měděných chladítek, abychom je teplem pájky nepoškodili. Naopak u součástek<br />
s příkonem větším než 0,5 až 1 W, bychom měli znát jejich maximální oteplení. U nich je<br />
nebezpečí ohřívání plošných spojů i cínového spojení. Na příklad v paměti s obvody 74S201<br />
docházelo k měknutí cínu a až k "vyletování" obvodů.<br />
Používané chladiče mají být od desky s plošnými spoji odděleny buď vzduchovou mezerou<br />
nebo izolační podložkou. Někdy ovšem používáme plošný spoj sám jako chladič.<br />
Spojujeme-li dva vodiče, tak pokud možno nepoužíváme tzv. spojení natupo. Ideální je, jsouli<br />
vodiče před pájením vzájemně ovinuty, nebo jinak mechanicky zafixovány.<br />
Páječky<br />
Ruční elektrická páječka pro trvalý provoz u níž pájecí hrot (obvykle měděný) je zahřívaný<br />
elektrickým topným článkem má mít vhodný tvar, malou hmotnost, přiměřený výkon a má<br />
být dobře ovládatelná izolační rukojetí. Vzhledem k trvalému zapojení páječky (po celou<br />
pracovní dobu) se klade důraz na ekonomii a účinnost.
276 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
U ruční páječky na nárazový provoz (např. pro opravy) není tak důležitá hmotnost a<br />
účinnost, ale pohotovost. Páječka se zapojuje jen v případě potřeby - na zcela krátkou dobu.<br />
Zde se plně uplatní transformátorová páječka, obr. 7.151 u níž pájecí hrot tvoří měděná<br />
smyčka. Průchodem proudu vyvolaném malým napětím 0,4 až 0,5 V se rozžhaví smyčka za<br />
dvě až pět sekund po zapnutí. Spínač i transformátor jsou v tělese páječky. Rozsvícení malé<br />
žárovky indikuje zapnutí páječky a současně slouží k osvětlení pájeného místa.<br />
Pistolovou páječkou lze pájet pouze menší spoje, ty větší se neprohřejí. V profesionální<br />
praxi se pistolové páječky přestávají používat. Jmenovitě vůbec nejsou ve specifikacích<br />
NASA.<br />
Zvláštní pozornost je potřeba věnovat hrotu, který musí:<br />
- zajistit dostatečný přenos tepla z topného elementu do pájeného spoje,<br />
- umožnit svým tvarem a rozměry potřebnou manipulaci v pracovním prostoru<br />
- malými nároky na údržbu při dlouhé životnosti zabezpečit stálé podmínky pro proces<br />
pájení.<br />
Dobrý přenos tepla je podmíněn smáčením pracovní oblasti hrotu pájkou, která v tekutém<br />
stavu na počátku pájení zprostředkuje styk s pájenými částmi v mnohem větší ploše než je<br />
čistá dotyková plocha hrotu a jednotlivých dílů. Tvar hrotu i stav jeho povrchu se mění jednak<br />
oxidací, jednak rozpuštěním materiálu hrotu v pájce. Oba faktory snižují životnost hrotu a<br />
zhoršují podmínky pro správné pájení.<br />
Podmínka dobré tepelné vodivosti hrotu vyžaduje použití mědi na jeho výrobu. Tvarovou<br />
stálost lze zajistit buď povrchovou úpravou kovem dobře pájkou smáčeným a přitom<br />
zanedbatelně v pájce rozpustným (Fe, Ni, Cr v tloušťkách 30 až 50 um), nebo zhotovením<br />
pracovní špičky hrotu z takového materiálu kompaktního. Miniaturní páječky na nízké napětí<br />
mají hroty celé ze slitiny např. Cu46Zn39Ni13, zbytek Pb, Mn, Fe; nebo ze slitiny Ni-Co. V<br />
dutině hrotu je umístěno vyhřívací tělísko.<br />
Čistota měděného hrotu a jeho rovnoměrné a čisté pocínování jsou předpokladem<br />
dokonalého pájení. Hrot (zvláště větší pájky) se musí pravidelně ošetřovat - očistit drátěným<br />
kartáčem nebo pilníkem, potom kalafunou a pocínovat kolem dokola. Některé hroty vyžadují<br />
k čištění použít salmiak (chlorid amonný) nebo obdobné razantní prostředky (pozor, jen pro<br />
pocínování hrotu, ne pro pájení na desce plošných spojů!). Stejnou operaci je nutno provést,<br />
když se na povrchu cínové kapky, uchycené na hrotu, začne tvořit šedá blanka. To je<br />
neklamná známka zvýšené teploty cínu a jeho přepalování. (Pro zamezení přepalování cínu<br />
při pájení s přestávkami se doporučuje snížit příkon páječky předřadným rezistorem,<br />
kapacitorem nebo triakovým regulátorem. Moderní pájky mají regulaci teploty. Někdy se pro<br />
chlazení hrotu užívá na odložení otvor v železné kostce (např. kusu kolejnice.))<br />
Obr. 7.152. Hrot s otvorem pro pájení integrovaných obvodů.<br />
Pro pájení integrovaných obvodů se osvědčil hrot pájky podle obr. 7.152. Hrot je vyroben<br />
z m ědi, zahřívá pouze to místo, kde bude spoj. Zároveň využívá kapilárních vlastností cínu.<br />
Hrot se nasune kolmo na vyčnívající konec<br />
vodiče (např. vývodu IO) a současně se přidá<br />
potřebné množství cínu. V případě, že se "podaří" na pájené místo dopravit více cínu než je
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 277<br />
třeba, stačí prudkým pohybem ruky vyčistit otvor v hrotu páječky a při dalším přiložení hrotu<br />
se přebytečný cín odsaje. Hrot se dosti rychle opotřebovává, proto použijeme pájku s regulací<br />
teploty.<br />
Nevýhodou obvyklých hrotů (smyček) pistolových páječek, zhotovených z měděného<br />
vodiče, je malá životnost a málo výrazné soustředění tepla na pracovní část smyčky. Na obr.<br />
7.154 vidíme skládaný hrot ze dvou měděných vodičů délky 50 mm, průměru 1,6 mm (a), s<br />
vloženou částí pozinkovaného železného drátu (b). Jednotlivé díly jsou natupo spájené<br />
stříbrnou pájkou (Ag450) s použitím boraxu.<br />
Po vytvarování upevníme hrot na transformátorovou páječku, železnou část ponoříme do<br />
roztoku ZnCl a pájku zapneme. Takto očištěnou část pracovního hrotu pocínujeme. Délka<br />
železného vodiče je asi 20 mm, závisí na příkonu páječky (ovlivňuje teplotu hrotu). Proto<br />
autor úpravy (ARA1977/12:455) doporučuje ověřit několik různých délek odstupňovaných po<br />
1 až 2 mm. Hroty tohoto typu je také možno koupit v některých obchodech (tzv. věčné hroty).<br />
Obr. 7.153. Úprava pistolové páječky<br />
Obr. 7.154. Smyčka pistolové páječky<br />
s vloženou železnou částí<br />
Obr. 7.155. Smyčky k pistolové páječce: a) z měděného plechu, b) k vypájení<br />
integrovaných obvodů v pouzdře DIL.<br />
Na obr. 7.155a vidíme smyčku k pistolové páječce vyrobené z měděného plechu o<br />
rozměrech 6x59x1,2 mm. K výrobě se použije lupénková pilka a pilník. Přívody mají<br />
čtvercový průřez o rozměrech 1,2x1,2 mm. Výhodou je zvýšená tepelná kapacita smyčky (AR<br />
1969/1:33). Na obr. 7.155b vidíme tvar smyčky určené k vypájení integrovaných obvodů v<br />
pouzdře DIL z desky plošného spoje (ARA 1984/11:410). Pomocí této smyčky lze současně<br />
nahřát všechny vývody a pomocí pinzety integrovaný obvod vytáhnout.<br />
Na obr. 7.153 je nakreslena úprava pistolové pájky, u které došlo ke stržení závitu, což je<br />
dosti častý případ. Páječkou 500 W připájíme vnitřek z lámací svorky (viz [AR1964/1:6]).<br />
Jiná úprava je v [AR1969/1:3].
278 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Hromadné pájení.<br />
Při hromadném pájení je zdrojem tepla přiváděného pokovovanému nebo pájenému<br />
materiálu přímo roztopená lázeň pájky. Její teplotu můžeme přesně nastavit a udržovat<br />
automatickou regulací příkonu topných elektrických článků (obvykle +-5°C).<br />
Pájené části, zajištěné proti vzájemnému pohybu po celý pájecí proces, opatřené tavidlem,<br />
se ponořují do lázně roztavené pájky.<br />
Pájené části se ohřívají rychle, za asi 1 až 2 s. Materiály pájených dílů musí tento tepelný<br />
šok snést bez škodlivých následků. Pracovní teplota se volí co nejnižší (eutektické pájky),<br />
snižuje se tak i tvorba oxidů na povrchu pájky. Oxidaci zabraňuje i ochranná atmosféra nebo<br />
vrstva oleje či jiného přípravku pokrývající hladinu. Případné povrch znečišťující vrstvy se<br />
musí před ponorem odstranit (mechanicky), aby neklesla kvalita spojů vlivem cizorodých<br />
částic v objemu spoje.<br />
Hromadné pájení desek plošných spojů je jedním z prostředků jak nejen racionalizovat<br />
proces, ale i jak zvyšovat spolehlivost celých systémů. Již bylo uvedeno, že spoje pájené<br />
hromadně vykazují přibližně o dva řády vyšší spolehlivost (za předpokladu dokonalého<br />
zvládnutí technologie). Je to dáno menším vlivem lidského faktoru a stále stejnými<br />
podmínkami.<br />
Pájecí zařízení využívají k zapájení několika různých principů, tj; vzájemného působení<br />
pájené desky a pájky (obr. 7.156) :<br />
a) kolmý ponor - před ponorem je třeba mechanicky odstranit vrstvy nečistot z hladiny pájky<br />
(stěrkou),<br />
b) postupný ponor - pájené části (desky plošných spojů) jsou ponořovány pod úhlem 5 až 7°<br />
a sklopeny do vodorovné polohy; z klínové mezery jsou povrchové nečistoty vytlačeny,<br />
c) kolmý ponor se stíráním - po ponoření je pájenými díly pohybováno rovnoběžně s<br />
hladinou; jsou tak odstaněny oxidy, zbytky tavidla i redukční zplodiny,<br />
d) vlečné pájení na plocho - pájené části vstupují do lázně pod úhlem 5 až 7•, probíhají lázní<br />
a opět šikmo vystupují; před pájenými částmi je stírán povrch lázně; ohřev je pozvolnější,<br />
tepelný šok menší,<br />
e) ponořování s kývavým pohybem - spojení varianty b) a c) při zachování výhod obou; není<br />
vhodné pro převážně rovinné útvary,<br />
f) ponor do lokálně vzduté hladiny - roztavená pájka je čerpadlem vháněna tryskami k<br />
hladině, kterou vzdouvá; pájené části jsou po přiblížení k hladině pájeny pouze v místech<br />
vzdutí,<br />
g) pájení kaskádou - roztavená pájka dopravená čerpadlem stéká po šikmé ploše s hradítky,<br />
na nichž vytváří vlny při svém přetékání; pájené části jsou posouvány proti směru toku<br />
pájky a procházejí jednotlivými vlnami; neustálým prouděním je povrch zbaven<br />
znečišťujících povlaků,<br />
h) pájení stojící vlnou - roztavená pájka je čerpadlem protlačována širokou tryskou a vytváří<br />
vlnu definovaného tvaru; pájené součásti procházejí vlnou ve výšce dané podmínkami<br />
pájení.<br />
Poslední z uvedených principů je v současné době nejrozšířenější.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 279<br />
Obr. 7.156 Princip pájení ponorem<br />
Pájení stojící vlnou<br />
V principu se jedná o pájení, kdy se osazená deska pohybuje po tečně k cínové vlně (resp.<br />
pájky cín-olovo). Vlna může mít různý tvar (viz obr. 7.157). Je také možné pro speciální<br />
použití vhodnými prostředky tvar vlny poněkud změnit - např. do tvaru dvojité vlny.<br />
Obr. 7.157. Různé typy vln pro hromadné pájení: a) dvoustranná vlna s parabolickým<br />
obrysem, b) jednostranná vlna, c) kombinace předchozích<br />
Výsledek pájení závisí na<br />
- technických parametrech zařízení<br />
- dodržování všech technologických zásad (teploty, čistoty aj.)<br />
- čistotě a složení pájky.<br />
Pochody probíhající na povrchu pájených složek jsou schematicky znázorněny na obr.<br />
7.158. Vzhledem k závažnosti je třeba se blíže zabývat vlivem čistoty pájky na výsledek<br />
celého procesu. Největší vliv mají některé kovové nečistoty.<br />
Obr. 7.158. Princip hromadného<br />
pájení plošných spojů.<br />
1) směr pohybu plošného spoje<br />
2) základní kov<br />
3) difuzní vrstva<br />
4) tuhá vrstva pájky<br />
5) olej<br />
6) tekutá pájka<br />
7) tavidlo a zbytky oleje<br />
8) tavidlo<br />
9) vrstva oxidu
280 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Blíže si všimneme vlivu některých prvků, které se mohou do lázně dostat z galvanických<br />
povlaků pájených součásti (Au, Ag) nebo z nevhodně volených konstrukčních dílů (Cd, Al,<br />
Zn).<br />
Zlato (Au) - do určité úrovně nevadí, ale při větších koncentracích způsobuje zvyšování<br />
tvrdosti a křehkosti pájky, zhoršuje se odolnost vůči vibracím (volba intermetalických<br />
sloučenin).<br />
Stříbro (Ag) - vesměs se uvádí, že nevadí, naopak pro náročnější aplikace se do pájky<br />
přidává až 2,5% stříbra.<br />
Měď (Cu) - celkový obsah mědi a stříbra nemá přestoupit 0,55%, při překročení působí<br />
zhoršení smáčivosti a zrnitosti.<br />
Kadmium (Cd) - je považováno za pájecí jed. Shromažďuje se většinou u dna a dostává se<br />
do lázní z nevhodné povrchové úpravy součástí.<br />
Zinek (Zn) - projevuje se nepříznivě už od koncentrací 0,001%, zhoršuje roztékavost<br />
pájky, zvyšuje možnost koroze.<br />
Antimon (Sb) - povolená hranice je 0,3%, má vliv na tavení pájky, při větším obsahu<br />
zhoršuje mechanické vlastnosti.<br />
Vizmut (Bi) - kladně podporuje smáčivost a roztékavost pájky. Příznivě působí na cín proti<br />
vlivu nízkých teplot (zamezuje cínovému moru).<br />
Lázeň se musí pravidelně kontrolovat. Je nutno provádět rozbory se zřetelem na výše<br />
uvedené prvky. Je samozřejmé, že s e v lázni vyskytuje také určitý obsah nekovových<br />
nečistot. Kladně se projevuje použití speciálních olejů, které se používají pro krytí povchu<br />
cínové pájky pro zabránění oxidace (někdy se mixují s pájkou), obsahují speciální aditiva,<br />
která působí příznivě na čistotu pájky. Z tohoto důvodu není také vhodné používat oleje<br />
rostlinného původu - tyto se jednak teplem rozkládají, dále neobsahují zmíněná aditiva a také<br />
u nich není zaručováno složení, tj. poměr nasycených a nenasycených uhlovodíků, což ztěžuje<br />
následné mycí procesy.<br />
Je třeba poznamenat, že u všech způsobů pájení s nuceným pohybem pájky vznikají potíže<br />
způsobené oxidací. Cirkulací pájky je mnohonásobně zvětšen volný povrch, na kterém<br />
dochází k reakci se vzdušným kyslíkem. Oxidační rychlost je až 20x vyšší než u roztavené<br />
pájky ponechané v klidu.<br />
Při oxidaci pájky typu Sn-Pb probíhají reakce<br />
2 Pb + O2 -> 2 PbO<br />
2 Sn + O2 -> 2 SnO<br />
PbO + SnO -> Pb + SnO2<br />
Cín má větší afinitu ke kyslíku než olovo a proto je jeho obsah v oxidové vrstvě větší.<br />
Lázeň se tak ochuzuje o cín, celkové složení pájky se mění se všemi důsledky.<br />
Olovo se v malé míře také vypařuje a zamořuje pracovní prostředí. Cínová pájka se<br />
znečišťuje tím, že do ní vnikají kovy z pájených předmětů.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 281<br />
8.8.4 Technologické operace a zařízení pro hromadné pájení<br />
Základními technologickými kroky při hromadném pájení jsou:<br />
- upevnění desky<br />
- nanášení tavidla a jeho sušení (většinou infraohřevem)<br />
- předehřívání osazených desek (může být totožné se sušením tavidla)<br />
- vlastní pájení<br />
- zkracování vývodů (pokud je tento krok potřebný)<br />
- čisticí procesy<br />
- lakování desek (pokud se používá)<br />
Operace (až po čištění) jsou většinou soustř eděny do jednoho zařízení. Mytí desek<br />
plošných spojů a jejic h případné lakování se provádí odděleně na speciálních zařízeních<br />
Nanášení tavidla<br />
Na začátku proce su se na zakládacím stanovišti deska plošného spoje (PS) vloží do<br />
zakládacího rámu nebo se přímo vloží do prstového dopravníku. V nanášecím modulu se<br />
většinou ve formě pěny nanese ta vidlo (je též možné použít nástřik nebo nanášení štětcem).<br />
Pokud má být zaručena vysoká spolehlivost osazené desky plošného spoje, musí být<br />
nanesení tavidla rovnoměrné a musí být před vlastním pájením vysušeno (v sušicím modulu).<br />
Tato operace je velmi důležitá při hromadném pájení PS, protože by mohlo při styku desky s<br />
pájecí lázní docházet k "prskání" a k možnosti tvorby můstků mezi vodiči.<br />
U hromadného pájení je důležitým parametrem tavidla teplota, při které dochází k aktivaci.<br />
Tato musí být nižší než teplota pájení, aby při procesu pájení nejdříve došlo k aktivaci tavidla<br />
a tím k odstranění kysličníků.<br />
Zkracování vývodů<br />
Moderní součástky pro osazování desek plošných spojů mají přívody upraveny tak, že jsou<br />
bez formování a zkracování vhodné k pájení. Vhodným tvarem se vyznačují např. IO v<br />
pouzdrech z polymerních hmot, jejíchž vývody jsou v částech zůstavajících na straně<br />
součástek rozšířené, takže poloha součástky ve vertikálním směru je po dosednutí rozšířené<br />
části přívodu přesně definována.<br />
Existuje však celá řada součástek s přívody, které vyžadují zkrácení a často i formování do<br />
potřebné délky a tvaru. Formování se děje většinou ještě před osazením daných prvků do<br />
desky PS na jednoúčelových strojích. Přitom jsou vývody již upravovány na potřebnou délku.<br />
To je však možné pouze u součástek upravených pro strojní vkládání.<br />
Po osazení se dají vývody odstřihnout a ohnout ručně, nebo pouze zkrátit frézováním.<br />
Frézováním se vývody zkracují buď před pájením nebo i po pájení. Přívody součástek, které<br />
se formují a zkracují předem, se dají vytvarovat tak, že není nutná další fixace před a při<br />
pájení; pohyb, resp. posun součástek je nežádoucí. U součástek, jejichž vývody takto upravit<br />
nelze, je po osazení jejich poloha zajištěna vhodně profilovanými závažími nebo zátěží<br />
působící přes pružnou umělou hmotu, v poslední době též přitmelením (speciálním tmelem<br />
naneseným na stranu součástek).<br />
Nejproduktivnějším způsobem zkracování vývodů je jejich frézování po zapájení. Odpadá<br />
upevňování součástek. Postup však vyžaduje vysokou vlnu pájecí slitiny, která pokrývá i části<br />
vývodů frézováním odstraňované. Zvyšuje se tak spotřeba pájky i příkon nutný k ohřevu
282 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
pájecí lázně. Dochází často i ke vzniku prasklin ve spojích. Oprava je možná pouze dalším<br />
přepájením celých desek. Tyto důvody vedou k tmelení součástek a jejich frézování před<br />
pájením. Tmel je odstraněn z desek při pájení. Výhodné je, když tmel vykazuje současně<br />
vlastnosti tavidla.<br />
Předehřívání osazených desek<br />
V první řadě se předehřátím odstraní rozpouštědla z tavidel nanesených v předchozí<br />
operaci. Dále se desky předehřejí, čímž se zrychlí vlastní pájení a sníží teplotní ráz, kterému<br />
je deska vystavena při postupném průchodu pájecí vlnou. Předehřátí odstraní částečně i<br />
snadno těkavé látky ze základního materiálu desek PS a ze součástek, zejména vodu. Únik<br />
těchto látek ve formě plynů se bez předehřívání děje až při a těsně po průchodu vlnou<br />
roztavené pájky v průběhu chladnutí pájky ve spojích. Vznikají bubliny, někdy i otevřené<br />
krátery. Tyto vady patří mezi velmi závažné.<br />
Pájení stojící vlnou roztavené pájky<br />
Nejrozšířenějším způsobem je pájení stojící vlnou roztavené pájky (viz obr. 7.156h). Asi<br />
80% pájecích zařízení používá tohoto principu. Pro potlačení jevu odsmáčení získává<br />
popularitu i vlečné pájení (obr. 7.156d).<br />
Pájení stojící vlnou umožnůje pájení přívodů součástek do desek PS jednostranných,<br />
oboustranných i vícevrstvých s pokovenými otvory. Pohybující se pájecí slitina proniká<br />
tlakem a kapilárními silami pokovenými otvory a vytváří pájecí kužel i na součástkové straně<br />
desky.<br />
Pájka je vzdutá čerpadlem, ponořeným do lázně. Čerpadlo nasává čistou pájku ze střední<br />
hloubky lázně, kterou žene vhodnou štěrbinou nad hladinu lázně. Vhodné přepady štěrbiny<br />
tvarují hřeben a tvar vlny, aby se docílil vhodný náběhový úhel a (odplavení zbytků tavidla) a<br />
výstupní úhel ß(zabránění tvoření "rampouchů" z přebytečné pájky). Velikost úhlů závisí na<br />
rychlosti, druhu a teplotě pájky i na rychlosti posuvu nosiče plošných spojů. Pájením ve dvou<br />
i třech za sebou následujících vlnách se snižuje pravděpodobnost výskytu špatného spoje na<br />
minimum. Velikost konstrukční jednotky je omezena pouze šířkou vlny.<br />
Obr. 7.159 Pájení v hřebenu vzduté vlny<br />
pájecí lázně.<br />
kj - konstrukční jednotka<br />
a - náběhový úhel<br />
ß - výstupní úhel<br />
š - štěrbina čerpadla<br />
Obr. 7.160 Princip pájení stojící vlnou<br />
roztavené pájky
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 283<br />
Obr. 7.161 Princip vzniku krápníků a jejich potlačení náklonem<br />
Obr. 7.162 Potlačení vzniku krápníků širokou vlnou a vlnou s olejem<br />
Hřeben vlny je prostý kysličníků pájky, protože roztavená pájka je v neustálém pohybu<br />
udržována čerpadlem, vhánějícím pájku do trysky formující vlnu. Osazená deska prochází<br />
vlnou rychlostí v1. Pájka smáčí dolní povrch desky a díky povrchovému napětí na ní ulpívá.<br />
Přebytečná pájka stéká zpět do vlny (do její týlové části) rychlostí v2. Přitom se vytváří závoj<br />
(jeho měřitelná délka y je vyznačena v obr. 7.160). Musí být splněna podmínka v1 < v2.<br />
Závoj vytváří na pájených spojích "krápníky" a "můstky". (Krápníky vznikají v místech při<br />
spojování součástek na vyčnívajících vývodech, můstky spojují sousední plošné spoje přes<br />
izolační mezery.) Rychlost stékání pájky do vlny lze ovlivnit snížením povrchového napětí, a<br />
to zvýšením teploty pájky. Změna rychlosti v1 není většinou možná, což je dáno výrobním<br />
zařízením.<br />
Pokud je možné naklonění dopravníku desek, lze tvorbu krápníků omezit náklonem asi 4<br />
až 10°. Podpoří se stékání pájky a závoj se zmenší. Situaci znázorňuje obr. 7.161. Tato úprava<br />
je v současnosti všeobecně rozšířena. Dalšího potlačení lze dosáhnout širokou vlnou. Desky<br />
se dotýkají vlny v místě, kde má proud pájky opačný smysl než pohyb desky. Spolu s<br />
náklonem lze krápníky téměř vyloučit (obr. 7.162a).<br />
Povrchové napětí snižuje i čerpání oleje do vlny (obr. 7.162b). Potíže však způsobují<br />
zbytky oleje na deskách a jeho odstraňování.<br />
Obr. 7.163. Princip reflexní vlny<br />
Podobně jako široká vlna působí i vlna<br />
reflexní, u níž proud pájky má také opačný<br />
smysl než pohyb desek plošných spojů -<br />
obr. 7.163.<br />
Odstranění již vzniklých krápníků lze<br />
provést odtavením další, nižší vlnou.
284 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obr. 7.164. Základní druhy pájecích vln. Oboustranné vlny : a) úzká, b) zdvojená, c) široká<br />
Reflexní vlny : d) delta, e) dutá, f) turbulentní<br />
Základní druhy pájecích vln jsou přehledně uvedeny na obr. 7.164. Jsou rozděleny na dvě<br />
skupiny: vlny oboustranné a vlny reflexní. Z první skupiny je třeba upozornit na zdvojenou<br />
vln u odstraňující již vzniklé krápníky. Z reflexních vln má zajímavé vlastnosti vlna dutá, jejíž<br />
rychlost je ve srovnání s ostatními velmi vysoká. Dosahuje hodnot až 1 m/s. Tato vlna se<br />
snadno přizpůsobuje povrchu prohnutých desek. Tato vada bývá obvyklá u desek PS velkých<br />
rozměrů. Kromě toho, dutá vlna při svém styku s deskou a součástkami vytváří ve stykové<br />
oblasti zónu sání, takže desku i součástky stahuje směrem dolů. Mechanické přidržování<br />
součástek při pájení je tak možno omezit nebo zcela odstranit.<br />
Poznámka: Je zapotřebí, aby se při pájení vlnou desky pohybovaly ve směru převládajících<br />
spojů (ne "napříč"), zmenší se tím vznik zkratovacích "můstků" (bridging). Desky je vhodné<br />
již navrhovat z tohoto pohledu. Je to důležité u desek s digitálními obvody. U desek s<br />
analogovými obvody nelze dodržet "rovnoběžnost" spojů, jsou zde však naštěstí větší<br />
vzdálenosti mezi spoji.<br />
Čistící procesy po pájení<br />
Vzhledem k nutnosti použití agresivnějších (ostřejších) tavidel, přistupuje k pájecímu<br />
procesu další operace - odstranění zbytků tavidel po pájení. S ohledem na omezený rozsah<br />
skript není možné uvádět podrobnější rozbor.<br />
Obecnou zásadou při výběru vhodného čistícího media je charakter použitého tavidla. Platí<br />
pravidlo, že látky polární se rozpouštějí v polárních rozpouštědlech, nepolární v nepolárních.<br />
Dále je nutné respektovat :<br />
- technologickou použitelnost čistícího prostředku<br />
- toxicitu, případně nutnost likvidace odpadu ve speciálních neutralizačních stanicích<br />
- ekonomickou dostupnost<br />
- další nařízení pro ochranu životního prostředí<br />
V praxi se mytí provádí většinou ve speciálních zařízeních, jako jsou ultrazvukové pračky,<br />
karuselová mycí zařízení apod. Nejúčinnější a hlavně nejefektivnější<br />
je ostřikový oplach,
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 285<br />
který se ovšem zatím z důvodů potřeby speciálního zařízení (a především investičně<br />
náročného) zatím příliš nerozšířil.<br />
Pro zabezpečení dokonalého odstranění všech zbytků tavidel nesmí být na zapájené desce<br />
místa těžce přístupná čistícímu mediu. Dále musí být odzkoušena inertnost prostředku vůči<br />
použitým součástkám.<br />
K čištění se prakticky používají :<br />
a) freony (fluorované uhlovodíky ) jako azeotropické směsi s alkoholy a<br />
b) voda.<br />
Freonová media jsou velmi účinnými prostředky při použití pryskyřičných tavidel včetně<br />
aktivovaných, ale jejich použití je vá záno na přísné předpisy pro ochranu životního prostředí<br />
(v mnoha zemích je použití dokonce zakázáno); musí být použity pouze ve speciálních<br />
ultrazvukových pračkách s vymrazováním par.<br />
V celém světě vývoj tavidel směřuje k tavidlům vodným, tzn. rozpustným a umyvatelným<br />
ve vodě. Pro dosažení co nejlepších výsledků se uplatňuje právě tady mytí v kaskádových<br />
pračkách, kde poslední lázní je destilovaná voda. Součástí moderních zařízení je i vzduchový<br />
nůž (air knife), který odstraní po posledním oplachu kapalinu z desky plošného spoje včetně v<br />
ní rozpuštěných nečistot proudem horkého vzduchu.<br />
Míra úspěšnosti mycího procesu se hodnotí podle množství zbytků tavidel a vše se<br />
přepočítává na ekvivalent - µg NaCl/cm2 plochy desky. Dále se dá měřit vodivost výluhu. Na<br />
příklad deska pro počítač měla 9,8 µg NaCl/cm2, mezi vývody IO byl nános způsobený<br />
migrací iontů. Mytím se snížila kontaminace na 3,6 µg NaCl/cm2 a zvlášť pečlivým mytím na<br />
0,8 µg NaCl/cm2.<br />
Čistící proces je nezbytnou součástí techniky pájení. Objevují se proto snahy o zavedení<br />
nové generace tavidel. Vynechání odstraňování zbytků tavidel je možné připustit jedině pro<br />
nenáročná použití, např. ve spotřební elektrotechnice.<br />
Pokud by na desce zůstaly zbytky po pájení, může dojít ke korozi a potom k destrukci<br />
vývodů součástek. Korozní zplodiny mohou způsobovat migraci iontů po izolanti plošného<br />
spoje a tím dochází k těžko definovatelným poruchám zařízení (např. při změnách<br />
atmosferických podmínek, především při velké vlhkosti).<br />
Hodnocení pájecího procesu<br />
Jako u všech výrobních procesů, je kontrola na základě určitých kvalitativních kritérií<br />
nezbytností. U procesu pájení, a především u hromadného pájení, dosud není vypracována<br />
jednotná metodika.<br />
Obr. 7.165 Správně zapojené vývody součástek
286 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Pro hodnocení pájitelnosti platí norma ČSN 34 5770 - "Zkouška pájitelnosti a odolnosti při<br />
pájení". Podle ní se hodnotí vývody elektrických a elektronických prvků. Pájitelnost desek PS<br />
je uváděna v technických podmínkách výrobců PS.<br />
Hodnocení zapájeného spoje je velmi rozdílné. Platí však, že pájka musí být navzlínaná do<br />
otvoru, kde musí ztuhnout tak, aby nezůstaly žádné vzduchové mezery (bubliny). Důležitým<br />
hodnotícím kritériem je velikost a tvar pájecího kužele, kvalita povrchu pájky, který musí být<br />
bez vměstků, kráterů a bublin. Příklad správného zapájení je uveden na obr. 7.165, možné<br />
vady jsou na obr. 7.166.<br />
Množství povolených vad se liší u jednotlivých výrobců. Lze říci, že není vhodné trvat na<br />
"opravách" zdánlivých vad po hromadném pájení ručním přepajováním, protože tímto se<br />
zvyšuje výskyt tzv. studených spojů. Dojde totiž k odsmáčení pájky z přívodu součástky<br />
vlivem úplného rozpuštění galvanického povlaku a tím k obnažení nepájitelného základního<br />
kovu, většinou kovaru.<br />
Obr. 7.166 Špatně zapájené vývody součástek<br />
Nanášení laků a kaučuků<br />
Povlaky se nanášejí jako ochrana proti vlhku. Na desku se nalévají. Lakování se děje<br />
běžnými lakařskými postupy, požaduje se obvykle minimální i maximální přípustná tloušťka<br />
pokrytí. Tlustá vrstva laku způsobuje na členitých površích značná mechanická napětí a<br />
mohlo by docházet k destrukci drobnějších součástek. Obvykle se předepisované tloušťky<br />
pohybují v rozmezí 0,02 až 0,4 mm.<br />
Při konstrukci desek PS a jejich osazování se musí vytvořit pod všemi součástkami<br />
dostatečně veliké mezery, aby byl vytvořen povlak i pod nimi a mezi přívody.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 287<br />
8.9 Technologie povrchové montáže<br />
Technologie povrchové montáže se v současné době stává ve světě převládající výrobní<br />
technologií. Změny ve výrobě, vyvolané touto novou montážní technologií, jsou velice<br />
rozsáhlé a v mnohém převratné. Principiálně tato technologie není zcela nová. Je již po léta<br />
běžně užívána při výrobě hybridních integrovaných obvodů. Z historie je zajímavé, že firma<br />
Philips dělala první pokusy s povrchovou montáží koncem šedesátých let.<br />
Pod pojmem povrchové (plošné, planární) montáže součástek rozumíme montáž součástek<br />
bez drátových vývodů (čipů) nebo s vývody upravenými do roviny, přímo na tu stranu desky,<br />
na které jsou plošné spoje. Součástky se osazují na jejich povrch, takže nevyžadují vrtání,<br />
případně pokovené otvory. Obrazce plošného spoje musí však mít pájecí plošky, které jsou v<br />
souladu s tvarem kontaktů součástek.<br />
I mimo angloamerickou jazykovou oblast se pro technologii povrchové montáže používá<br />
zkratka SMT (Surface Mount Technology), a potřebným součástkám se obecně začalo říkat<br />
čipy nebo součástky pro povrchovou montáž (Surface Mounted Devices, zkratka SMD).<br />
Povrchová montáž součástek má před klasickými technologiemi, které nahrazuje, několik<br />
předností. Jsou to:<br />
- podstatná redukce potřebné plochy desky plošných spojů; zmenšení potřebné plochy je<br />
od 40% do 70% (průměrně o 50%), cena klesla až o 50 %<br />
- větší hustota osazené desky,<br />
- podstatné snížení nákladů na osazení desky,<br />
- možnost zcela automatizovaného osazení součástek na desku plošného spoje,<br />
- větší odolnost proti nárazům a vibracím (důsledek menší hmotnosti součástek a pevnější<br />
přichycení),<br />
- větší spolehlivost osazených desek se<br />
součástkami SMD v důsledku menšího počtu<br />
pájených spojů,<br />
- výhodnější vysokofrekvenční vlastnosti (odstranění parazitních kapacit a indukčnosti<br />
přívodů),<br />
- unifikace typů jednotlivých desek,<br />
- zvýšení uživatelských hodnot a kvality,<br />
- menší spotřeba materiálů a proto možnost nižší ceny,<br />
- menší prostor potřebný pro výrobu plošných spojů,<br />
- menší hmotnost a menší rozměry hotových výrobků,<br />
- levnější desky plošných spojů; není zapotřebí vrtání a pokovování otvorů (při aplikaci<br />
pasívních součástek a obvodů malé integrace).<br />
Necelá polovina desek plošných spojů je v současné době osazována čistou povrchovou<br />
montáží, zbytek je osazován tzv. smíšenou povrchovou montáží. Ceny součástek pro SMT na<br />
svě tovém trhu již dosáhly stejné hladiny jako u konvenčních součást ek s drátovými vývody.<br />
Některé typy součástek se již dokonce přestaly vyrábět v provedení s drátovými vývody a<br />
další výroba je zabezpečována pouze jako bezvývodové součástky pro SMT montáž.<br />
Vzhledem k pokračující miniaturizaci je nutné přecházet k menším rastrům zapojení, a tím<br />
i ke zvětšení<br />
hustoty osazených součástek na desce plošných spojů. Výhodou povrchové<br />
montáže součástek je i to, že mohou být osazovány na obou stranách desky.
288 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obrázek 9.167: Dvě provedení téhož obvodu – klasická a povrchová montáž<br />
Součástky pro povrchovou montáž. Klíčovou podmínkou povrchové montáže je dostatek<br />
povrchově montovatelných aktivních a pasivních součástek. Čipy pasívních součástek jsou<br />
dostatečně známy, vznikly pro potřebu hybridních obvodů. Teprve v posledních letech<br />
vznikly základní polovodičové součástky vhodné pro povrchovou montáž: integrované<br />
obvody, tranzistory a ostatní polovodiče v mikropouzdrech. V současné době je na světovém<br />
trhu takový sortiment součástek, že je možno v přístrojích spotřební elektroniky až 80%<br />
součástek možno povrchově montovat.<br />
Základním požadavkem na SPM je kromě ostatních normálních vlastností odolnost vůči<br />
tavidlům a teplotě 260°C po dobu 10 s. Tento požadavek je bezpodmínečně nutný kvůli<br />
pájení, kdy součástka je namáhána pájecí teplotou.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 289<br />
Obrázek 9.168: Tvary součástek pro povrchovou montáž<br />
Dá se říci, že dominantním polovodičovým prvkem pro povrchovou montáž jsou<br />
integrované obvody. Vyrábějí se ve třech provedeních: integrované obvody s malými rozměry<br />
(SO nebo SOIC, Small Outline Integrated Circuit), nosiče čipu na plastovém (příp. i<br />
keramickém) nosiči (PLCC, Plastic Leaded Chip Carrier, LCCC, Leadless Ceramic Chip<br />
Carrie rs), a zatím s méně používaným pouzdřením typu flat nebo quad pack.<br />
Tranzistory pro povrchovou montáž se vyrábějí ve třech modifikacích v plastickém<br />
pouzdru s malými rozměry: SOT-23, SOT-89 a SOT-143. V tomto pouzdru je možné<br />
zhotovovat tranzistory, diody a FET. SOT-143 je čtyřvývodová verze SOT-23 se stejnými
290 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obrázek 9.169: Porovnání způsobů osazování pouzder integrovaných obvodů<br />
rozměry a teplotními charakteristikami. SOT-89 je poněkud větší provedení se ztrátovým<br />
výkonem do 1 W.<br />
Diody a Zenerovy diody mohou být pouzdřeny v provedení Melf (metal-electrode face<br />
bo nding) a Mini Melf s malým válcovým tvarem o ztrátovém výkonu až do 0,5 až 1 W.<br />
Po polovodičích jsou u povrchové montáže nejvíce zastoupeny čipové odpory a<br />
kondenzátory. Rozmezí dodávaných odporů je od 10 W do 2,2 MW. Čipové kondenzátory se<br />
dělí do tří kategorií: keramické vícevrstvé (asi 80%) o kapacitě 1 pF až 1 µF, tantalové o<br />
kapacitě 0,1 až 100 µF a elektrolytické hliníkové o kapacitě od 1,5 až 47 µF.<br />
Dostupné jsou i další typy součástek, jako např. toroidní transformátory, relé, křemenné<br />
krystaly apod. Vývoj v této technologické oblasti neustále rychle pokračuje.<br />
Důležitou roli<br />
zejména pro další zpracování součástek pro povrchovou montáž hraje balení. Pro automatické<br />
osazování se součástky balí do různých zásobníků (tyčových, souřadnicových atd.) nebo do<br />
pásu a i sypané. V poslední době začali výrobci balit součástky do prohlubně vytlačené do<br />
pásu z plastu zakryté páskou (jako některé druhy léků - tzv. Blister-Pack). Tomuto druhu<br />
balení se předpovídá v budoucnu masové použití. Pásy jsou široké 8, 12, 16, 24 nebo 32 mm a<br />
jsou na jednom okraji perforované.<br />
Technologie povrchové montáže je označována zkratkou SMA (Surface Mount Assembly).<br />
Zjednodušeně můžeme mluvit o třech fázích technologie povrchové montáže:<br />
- osazování desek součástkami<br />
- pájení součástek na desky<br />
- kontrola
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 291
292 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Osazování desek součástkami se<br />
provádí vysokoproduktivními<br />
automaty nebo poloautomaty po<br />
jedné nebo obou stranách<br />
(oboustranná montáž). Aby<br />
součástky na povrchu držely až do<br />
zapájení, fixují se speciálním<br />
tmelem nebo lepící pájecí pastou.<br />
Pájecí pastu možno nanášet<br />
sítotiskem, lepicí tmel po kapkách<br />
dávkovacím zařízením.<br />
Obrázek 9.171: Metoda pájení dvojí vlnou<br />
Pájení probíhá tak, že se pocínované konce součástek zapájí s předcínovanými pájecími<br />
ploškami na obrazci plošného<br />
spoje. Pájecí plošky se<br />
předcínovávají již zmíněnou pájecí<br />
lepivou pastou. Pro samotné<br />
spájení osazených součástek je<br />
možno použít metodu přetavení<br />
(ohřev infra nebo v parách) nebo<br />
pájení speciální vlnou, což je<br />
nejčastěji používaná metoda.<br />
Pájecí vlna může být jednoduchá s<br />
turbulentním účinkem, dvojitá,<br />
popř. i trojitá.<br />
Kromě této tzv. čisté povrchové<br />
montáže, existuje ještě smíšená<br />
montáž. V případě, kdy nejsou k<br />
Obrázek 9.172: Metoda pájení v parách<br />
dispozici všechny součástky v<br />
provedení pro povrchovou montáž,<br />
je možno přechodně použít<br />
kombinovaného způsobu osazování<br />
součástek, kdy se součástky s<br />
drátovými vývody nebo kolíky<br />
osazují na stranu součástek desky<br />
plošného spoje a součástky pro Obrázek 9.173: Náčrtek desky plošných<br />
povrchovou montáž ze strany měděné spojů s přilepenými SMD: L-lepidlo,<br />
fólie. Oboje součástky se pájí najednou M-kontakt, P-pájecí ploška vodivé dráhy<br />
v pájecím zařízení s vlnou.<br />
Kontrola zapájené desky se v podstatě neliší od kontroly běžné desky plošného spoje<br />
osazené součástkami s drátovými nebo kolíkovými vývody. Vyžaduje však důkladnější<br />
vizuální kontrolu vzhledem k menším rozměrům obvodu.<br />
U povrchové montáže součástek se pro výrobu desek plošných spojů nevyžadují speciální<br />
materiály. Je tedy možné používat desky běžného provedení, jako např. FR4 (pro<br />
jednostranné desky i FR3) a pro<br />
vysokofrekvenční aplikace pak speciální materiály.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 293<br />
Obrázek 9.174:Pájecí plošky pro různé typy bezvývodových součástek<br />
Obrázek 9.175: Různé typy vývodů pouzder integrovaných obvodů<br />
Obrázek 9.176: Dvě používaná pouzdra typu flat-pack
294 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Materiál desky plošných spojů pro povrchovou montáž by měl mít součinitel délkové<br />
roztažnosti přibližně stejný jako materiál použitých součástek. Jinak by v důsledku rozdílných<br />
tepelných dilatací desky plošných spojů a součástek mohlo vzniknout nadměrné mechanické<br />
namáhání pájeného spoje. Velikost mechanického napětí je přitom dána rozdílem součinitelů<br />
délkové roztažnosti. Bezpečné osazování součástek nezávisí tedy jen na jejich velikosti, ale<br />
např. i na teplotách při provozu finálního zařízení, tj. zejména na mezních teplotách při<br />
provozu a na změnách teploty okolí. Odolnost zapájeného spoje proti prasknutí závisí také na<br />
jeho tvaru. V některých případech je tedy nutné použít speciálně upravené desky plošných<br />
spojů. Při běžné aplikaci povrchové montáže na skloepoxidové desce plošných spojů (FR4)<br />
mohou být podle zkušeností bez nebezpečí následujícího popraskání zapájených spojů<br />
osazovány miniaturná pasívní součástky (rezistory, keramické kondenzátory) až do velikosti<br />
10 mm, integrované obvody v provedení SO, plastové nosiče čipu, obvody flat pack, quad<br />
pack, TAB (Mikropack) atd. Nedoporučuje se osazovat keramické nosiče čipu, jejichž<br />
součinitel délkové roztažnosti neodpovídá roztažnosti desky.<br />
Tloušťky desek plošných spojů se neliší od běžných provedení. V současné době jsou u<br />
evropských výrobců k dispozici desky o tloušťkách 0,8 až 3,2 mm, přednostní rozměr je 1, 6<br />
mm. Měděná fólie se vyrábí v tloušťkách 35 um, 70 um a 105 um, popř. i více. Materiál FR4<br />
je dodáván s měděnou tólií o tloušťce 18 um, 9 um i 5um. Tyto nejtenčí fólie se používají pro<br />
nejjemnější spoje, což je právě případ některých speciálních aplikací povrchové montáže.<br />
Zhodnocení technologie povrchové montáže. Používání čipových součástek, vzhledem k<br />
jejich miniaturní velikosti, přináší úsporu místa, zvyšuje hustotu montáže tak, že je již<br />
ekvivalentní hybridním integrovaným obvodům. Ze součástek, které jsou zdrojem tepla, se<br />
zlepšuje jeho odvod.<br />
Úspory desek plošných spojů dosahují 30 až 50 % plochy, zmenšuje se spotřeba<br />
vícevrstvých desek a tím, že součástky nejsou opatřeny drátovými vývody, vzniká úspora Cu<br />
(210 kg na 1 milión kusů součástek).<br />
Samotná součástka PM je přechodně dražší než konvenční vývodová. Její ekonomie se<br />
projeví v souvislosti s automatickým osazováním. Kromě již zmíněných úspor odpadá nebo<br />
se snižuje potřeba vrtání otvorů. Náklady na osazování 1 součástky klesnou na 1/3 až 1/10<br />
oproti ručnímu osazování s prosvětlováním. Zároveň se zvyšuje spolehlivost osazení. Chyba<br />
osazení se zmenší z dosavadní hodnoty 200.10-6 až 500.10-6 na 50.10-6 (tj. 50 ppm).<br />
Automatické osazovací linky pro SPM jsou mnohem menší než linky pro součástky s vývody<br />
a uspoří 50 % zástavbové plochy.<br />
Elektronické obvody zhotovené technologií povrchové montáže mají lepší vlastnosti,<br />
zejména rychlé logické obvody. Krátké nebo žádné vývody nevytváří totiž tolik parazitních<br />
kapacit a indukčností. Nevýhodý technologie povrchové montáže spočívají v tom, že<br />
součástky jsou poněkud dražší (1,5 až 2x), je větší spotřeba cínu na jeden spoj, jsou větší<br />
nároky na obrazce plošného soje (požadují se tenčí dráhy), je nutné navíc používat<br />
speciálního lepícího epoxidového tmelu s rychlou vytvrzovací dobou nebo speciální pájecí<br />
viskózní lepící pastu (v případě pájení přetavením). Vzhledem k velké hustotě součástek na<br />
desce je nutné použít speciálně upravených pájecích zařízení s dvojí vlnou a používat<br />
neagresívních tavidel, které nenarušují povrchovou ochranu SPM.<br />
Počáteční investice na zavedení povrchové montáže je poměrně velká, neboť je nutno<br />
zakoupit nové osazovací a pájecí zařízení.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 295<br />
8.9.1 Zvláštnosti návrhu DPS pro techniku povrchové montáže<br />
Při návrhu kresby DPS pro povrchovou montáž je třeba dodržovat určité zásady, které<br />
přináší tato technologie. Jde předevší m o mi niaturizaci a o to, že se používají desky plošných<br />
spojů bez otvorů (kromě smíšené montáže). Je třeba si uvědomit, že použité součástky mají<br />
podstatně menší rozměry než klasické, proto jsou větší nároky na kvalitu a přesnost kresby.<br />
Kresba plošného spoje je umístěna téměř výhradně v rastru 1,27 mm, spoje se navrhují<br />
pokud to jde jako jednostranné bez prokovených otvorů. S ohledem na technologie pájení se<br />
téměř vždy používá nepájivá maska.<br />
Před započetím návrhu desky je třeba mít bezpečně ujasněno, které typy pouzder a součástí<br />
použijeme, nejlépe je mít předem připraveny. Dodatečná záměna typů pouzder je vzhledem k<br />
nemožnosti tvarovat vhodně přívody vyloučena.<br />
Pro ruční kreslení předlohy a matrice je možno používat stejné postupy jako při návrhu<br />
klasickém. Předloha se kreslí téměř vždy ve zvětšeném měřítku. Jelikož jsou součástky<br />
umístěny na desce ze strany spojů, předloha se kreslí výhradně ze strany spojů.<br />
Výhodnější je navrhovat kresbu spoje pro SMT počítačem pomocí návrhového systému.<br />
Většina novějších versí je již vybavena autorouterem, který umožňuje návrh pro SMT a<br />
kn ihovny obsahují většinu pouzder.<br />
Návrh kresby je ovlivněn následujícími faktory<br />
- technologií osazování<br />
- technologií pájení<br />
- požadavky na testování a oživování desek<br />
Speciálním případem jsou vysokofrekvenční zapojení při kterých vedení spojů a jejich<br />
vzdálenosti mají důležitý význam (přenosové vedení), a při návrhu spojů je na to nutné brát<br />
zřetel.<br />
Ovlivnění návrhu technologií osazování<br />
Při ručním osazování součástek nemusíme dbát na žádné odlišnosti, jiná je situace při<br />
osazování automatem. V tomto případě je třeba, aby součástky byly rozmístěny s ohledem na<br />
možnost přístupu osazovací hlavice a je třeba dbát na to, aby stroj vykonával co nejméně<br />
pohybů, což má vliv na rychlost osazování a na životnost automatu. V případě osazování<br />
dvoustranných desek by měla být snaha umístit součástky, které automat "nezvládne",<br />
všechny na jednu stranu.<br />
Vzhledem k tomu, že technika SMT je určena pro osazování automaty je vhodné s<br />
uvedenými pravidly počítat při každém návrhu.<br />
Ovlivnění návrhu technologií pájení<br />
Z hlediska technologie pájení musíme vzít v úvahu<br />
- typ osazované součástky; použitý typ součástky má vliv na postup pájení, a tím také na<br />
tvar pájecích plošek. Některé součástky SMD (flat pack, nosiče čipu, PGA atd.) vyžadují<br />
pájení přetavením, smíšená montáž naopak zase běžné pájení,<br />
- tolerance desky plošných spojů a součástek ovlivňují potřebné velikosti pájecích plošek,<br />
- při pájení ponorem (vlnou) nebo ručně je cín na příslušná pájecí místa (pájecí plošky)<br />
nanesen až při vlastním procesu pájení. Přitom je nutné zajistit, aby mezi sousedními<br />
součástkami byl dostatek prostoru. Také vzdálenost mezi sousedními vodiči a
296 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
součástkami nesmí být menší než minimální přípustné hodnoty, aby se zabránilo vzniku<br />
můstků nebo zkratů. Ze stejných důvodů nemohou být také součástky pro povrchovou<br />
montáž s malými roztečemi vývodů pájeny vlnou nebo ručně,<br />
Podle způsobu pájení se podstatně<br />
navzájem odlišují i tvary pájecích<br />
plošek. Na obr. 7.177 je uveden rozdíl<br />
umístění pájecích ploch pro pájení<br />
Obr. 7.177 Umístění pájecí plošky pro pájení vlnou<br />
a pájení přetavením<br />
vlnou a pájení přetavením<br />
(reflow). Při reflow procesu, je<br />
vhodné, aby pájecí plocha byla<br />
umístěna více pod přívod, na rozdíl od<br />
pájení vlnou, kdy proces probíhá<br />
"zvenku" a pájecí plocha by měla být<br />
větší a přesahovat více přes součástku.<br />
Pro lepší ilustraci jsou na obr. 7.178<br />
(vlevo) typické pájecí plošky pro<br />
kondenzátor (a) rezistor (b) a<br />
tranzistor (c) určené pro ruční pájení,<br />
kdežto na obr. 7.178 (vpravo) jsou<br />
pájecí plošky určené pro pájení<br />
přetavením. Pro pájení vlnou nebo<br />
ruční jsou plošky užší a delší, aby<br />
umožnily vznik meniskusu pájky,<br />
kdežto pro pájení přetavením jsou<br />
pájecí plošky širší a kratší. Plošky pro<br />
ruční pájení (a vlnou) jsou v tomto<br />
případě určené i pro ruční osazování<br />
součástek. Podobně na obr. 7.179,<br />
7.180 a 7.181.<br />
Při pájení vlnou musí být součásti<br />
před pájením přilepeny. Je nutno<br />
respektovat pravidla návrhu pro<br />
použití lepidla. V případě, že nejsou<br />
Obrázek 9.178: Kresba plošek pro pouzdra<br />
SOT-23, SOT-143, SOT-89, SOD-80<br />
mezi ploškami pro součástku taženy spoje je vhodné zde umistit slepou plošku (obr. 7.182).<br />
To umožní použití menšího množství lepidla. Větší množství lepidla může způsobit znečistění<br />
pájecích plošek, což je nežádoucí.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 297
298 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obr. 7.182 Umístění slepé plošky pod součástku<br />
Při pájení přetavením mají<br />
součástky v okamžiku, kdy se pájka<br />
taví, tendenci se pohybovat v<br />
důsledku toho, že soustava zaujímá<br />
termodynamicky stav s nejmenší<br />
povrchovou energií. Pokud jsou<br />
pájecí plošky stejně velké a jejich<br />
plo cha a plocha přívodů dobře<br />
pájitelná, součástka se sama<br />
vyrovná, v opačném případě může Obr. 7.183 Umístění testovacích plošek<br />
dojít k nežádoucímu posunu, přípa dně i k postavení součásti na hranu, tzv. "tombstoning"<br />
efekt (anglicky tombstone = náhrobní kámen). Obecně lze říci, že přívod k plošce součástky<br />
by měl být realizován vodičem podstatně menší šířky, než je šířka pájecí plocha pro součástku<br />
tak, jak je uveden o dále.<br />
Při aplikaci pasívních součástek SM D, tranzistorů v pouzdru SOT (small outline transistor<br />
- tranzistor malých rozměrů) a integrovaných obvodů v pouzdru SO je možné využít návrh v<br />
modulu 1,27 mm (1,25 mm). V případě použití aktivních součástek větší integrace, jako jsou<br />
nosiče čipu (obvody flat pack a obvody quad pack)<br />
je možné přejít ještě na menší moduly<br />
(0, 635 mm, 0,625 mm, 0,406 mm a 0,254 mm).<br />
Typická šířka spojů je dnes 0,25 mm a předpokládá se snížení šířky vodiče na 0,16 mm a<br />
mezery na 0,20 mm.<br />
Návrh plošného spoje s ohledem na testování<br />
Připojení testovacích hrotů vyžaduje téměř vždy umístění měřicích plošek, protože plocha<br />
pájecích plošek je malá (zvláště pouzdra PLCC) s roztečí 1.27 mm a menší. Zásady pro<br />
umístění měřicích plošek jsou uvedeny na obr. 7.183. Měly by být umístěny vždy z jedné<br />
strany desky v rastru 2.54 mm.<br />
Rozmístění součástek na desce<br />
Při pájení přetavením nezáleží na orientaci součástek, omezení jsou pouze ve vzdálenosti<br />
mezi ploškami a součástkami. Pro pouzdra SOIC může být minimální vzdálenost ploch mezi<br />
řadami 0.3mm, u pouzder s přívody tvaru "J" (pouzdra PLCC) se tato vzdálenost doporučuje<br />
několik mm z důvodů kontroly pájení a oprav. V případě, že budeme umísťovat na desku
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 299<br />
měřicí a testovací body, je třeba vzdálenost zvětšit, anebo testovací body umístit na druhé<br />
straně desky (pokud je oboustranná).<br />
Při pájení vlnou musí být vzdálenosti mezi součástkami větší, doporučené vzdálenosti jsou<br />
uvedeny na obr. 7.184.<br />
Obr. 7.184 Doporučené vzdálenosti mezi<br />
součástkami při pájení vlnou<br />
Obr. 7.185 Umístění vodičů mezi ploškami<br />
(pouzdra SO-14 a SOD8O).<br />
Při rozmísťování součástek je vhodné dodržovat, pokud to je možné, stejnou orientaci<br />
pouzder IO, tranzistorů, diod aj.<br />
P ři ručním osazování se snižuje pravděpodobnost chyb a při použití automatu se zvyšuje<br />
rychlost osazování.<br />
Zásady umísťování vodičů<br />
Plošný spoj pro SMT se převážně navrhuje v rastru 1,27 mm. Vodiče tedy umísťujeme v<br />
rastru 1,27 mm, pro jednodušší aplikace pak v rastru 2.54mm, stejně jako u klasických DPS.<br />
Umístění vodičů pod pouzdry SO-14, SOD80 a mezi ploškami s mezerou 0,635 mm v<br />
kombinaci s pájecími plochami ukazuje obr. 7.185.<br />
Návrh ploch pro součásti<br />
Plošky musí být navrženy dostatečně velké s ohledem na nepřesnosti při osazování<br />
součástí a nanášení pájecí pasty sítotiskem, na<br />
druhé straně nesmí docházet k tvoření můstků.
300 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Správný návrh ovlivňuje podstatnou měrou tepelné a mechanické vlastnosti desky a její<br />
spolehlivost. Šířka pájecích plošek se obvykle navrhuje stejná, jako jsou přívody součástek. U<br />
součástek, které mají přívody velmi úzké je možno šířku zvětšit, např. u SOT23. Doporučené<br />
rozměry jsou pro pájení vlnou i přetavením uváděny v katalozích. Obecně lze konstatovat, že<br />
pro pájení vlnou je plošky třeba navrhovat větší s dostatečným přesahem.<br />
Jako příklad jsou uvedeny typické rozměry pájecích plošek pro tranzistorová pouzdra (obr.<br />
7.178) a pasivní čipové součástky (obr. 7.186 a tab.7.8.1). Z důvodů již dříve uvedených jsou<br />
plošky pro pájení přetavením menší a jsou umístěny více pod přívody součástek. Pro čipové<br />
pasivní součástky se navrhuje šířka plošek pro pájení vlnou i přetavením stejná, větší o 0,2<br />
mm, než šířka součástky.<br />
Obr. 7.186 Kresba plošek pro pasivní součástky<br />
Tab. 7.10 Rozměry plošek pro pasivní součástky (čipové odpory a kondenzátory) [mm]<br />
Pájení vlnou<br />
Pájení přetavením<br />
typ a b B a b B<br />
0805 1,45 1,2 3,65 1,45 0,8 2,65<br />
1206 1,7 1,4 4,85 1,7 1,0 3,65<br />
1210 2,75 1,4 4,85 2,75 1,0 3,65<br />
1808 2,25 1,5 6,45 2,25 1,1 5,2<br />
1812 3,25 1,5 6,45 2,25 1,1 5,2<br />
2220 5,3 1,6 7,6 5,3 1,2 6,2<br />
Ostatní doporučení<br />
Vzhledem k malým rozměrům pouzder, mají spoje minimální šířku 200 µm. Spoj se<br />
navrhuje většinou jako jednostranný, pokud možno bez prokovených otvorů. Pokud je to<br />
nezbytně nutné, používají se otvory nejmenšího průměru 0,3mm. Při vedení spojů je nutné<br />
brát v úvahu ještě některé další okolnosti, které vyplývají z technologického procesu<br />
osazování součástek SMD.<br />
Při propojování plošek umístěných blízko sebe musí být propojka provedena tenkým<br />
vodičem. Při nesprávném propojení (obr. 7.187) dochází k nahromadění pájky na velké ploše<br />
a při ohybu desky může dojít k prasknutí spoje. V případě pájení přetavením může pájka,<br />
která se roztéká po ploše, způsobit posuv součástky. Při použití nepájivé masky tento jev<br />
nenastává, avšak v každém případě se doporučuje respektovat toto pravidlo.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 301<br />
Obdobně je nutno řešit připojení pájecího bodu (např. pro vodič, pájecí špičku) k pájecí<br />
plošce (obr. 7.188). Toto řešení navíc kromě důvodů uvedených v předchozím, brání<br />
nadměrnému ohřevu součástky při pájení přívodu. V případě, že se nepoužije nepájivá maska,<br />
doporučuje se použít šířku vodiče 0,25 mmm a délku nejméně 0,5mm.<br />
Obr. 7.188 Připojení pájecího bodu<br />
Obr. 7.187 Spojování pájecích plošek<br />
Návrh nepájivé masky<br />
Nepájivá maska je nepájivá vrstva<br />
nanesená na povrch plošného spoje a má za<br />
úkol zajistit ochranu části plošek a vodičů<br />
proti pokrytí pájkou. Je nezbytná při pájení<br />
vlnou. Na obr. 7.189 je zakreslen tvar<br />
nepájivé masky kolem pájecích plošek. V<br />
případě, že je mezi ploškami umístěn vodič,<br />
je třeba nánést nepájivou masku i mezi<br />
plošky, v ostatních případech to není<br />
bezpodmínečně nutné. Při navrhu DPS nízké<br />
a střední hustoty je možno nepájivou masku<br />
nanášet sítotiskem, při vysoké hustotě čar a<br />
plošek je třeba bez nebezpečí znečistění<br />
plošek použít masky fotolitografické.<br />
V současné době existuje mnoho různých<br />
doporučení pro návrh umístění spojů a<br />
pájecích plošek, které se v některých<br />
případech dosti podstatně odlišují. Postupně<br />
se však formulují potřebné šířeji platné<br />
zásady. Především je nutné zaměřit se v<br />
první řadě na způsob pájení součástek, a<br />
tomu pájecí plošky přizpůsobit. Kromě toho<br />
musí být pamatováno i na plošky<br />
pro hrotové testování a příp. i na vyvrtání<br />
otvorů pro smíšenou montáž. Dodržené<br />
musí být i minimální vzdálenosti mezi<br />
sousedními součástkami a vedenými spoji,<br />
které nesmějí překročit minimální hodnoty,<br />
jinak se mohou z pájky vytvářet propojovací<br />
můstky.<br />
Obr. 7.189 Tvar nepájivé masky
302 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
8.10 Stínění<br />
Stínění je účinným prostředkem na potlačení parazitních vazeb. Nejedná se o jeden typ<br />
fyzikálního působení, naopak uplatňuje se tu více fyzikálních mechanismů. Podle druhu<br />
rušivého pole a stínicího materiálu rozlišujeme :<br />
- magnetostatické stínění<br />
- elektromagnetické stínění<br />
- elektrické (elektrostatické) stínění<br />
Stínění můžeme definovat jako lokalizaci elektromagnetického pole v ohraničeném<br />
prostoru nebo (vlastně současně) zábrana šíření elektromagnetické energie jakoukoliv formou<br />
mimo uvažovaný ohraničený prostor.<br />
Intenzita blízkého elektrického a magnetického pole ve volném prostoru je nepřímo<br />
úměrná druhé mocnině geometrické vzdálenosti od vyzařujícího prvku. Intenzita<br />
elektromagnetického pole záření je nepřímo úměrná první mocnině geometrické vzdálenosti.<br />
Proto se zvětšováním vzdálenosti vymizejí (relativně vzato - při srovnatelném výkonu) vazby<br />
blízkým elektrickým a magnetickým polem.<br />
Poznámka: Podle obecně užívané terminologie jsou stíněním členy mechanické, nikoliv<br />
tedy obvody přístroje. Filtry a oddělovací obvody se považují za členy účinkující odděleně od<br />
stínění.<br />
Není tomu tak. Oddělení mechanické a elektrické <strong>konstrukce</strong> přístroje může vést k<br />
problematickým výsledkům. Je třeba zdůraznit nedílnou spoluúčast stínění a filtrů na<br />
potlačení parazitních vazeb (přenosů). Z důvodu pedagogických je však potřeba jednotlivé<br />
oblasti probírat postupně.<br />
Poznámka: Stínění je účinné pouze na parazitní kapacitní nebo indukční vazbu. Vazbě<br />
odporové se nebráníme stíněním, al e správným vedením vodičů, viz. dříve.<br />
Každý individuální případ musí být analyzován pečlivě a samostatně. V první řadě je nutno<br />
najít zdroje a příjímače rušení a možný způsob parazitní vazby. Analýza musí vycházet z<br />
jasných fyzikálních představ podpořených alespoň zjednodušenými výpočty. Nedokonalé a<br />
ne správně provedené stínění, založené na nesprávném pochopení problému, může situaci<br />
zhoršit a vyvolat nové problémy.<br />
a) Magnetostatické stínění využívá velké magnetické vodivosti (reluktance)<br />
feromagnetických materiálů (železo a jeho slitiny). Kryt s vysokou permeabilitou<br />
vytváří dobře vodivou cestu pro magnetické pole, které se koncentruje v tomto<br />
materiálu a nevniká do stíněného prostoru (vlastně "dutiny ve feromagnetickém tělese").<br />
Toto stínění je účinné na snížení rušivých vlivů stejnosměrných magnetických polí a<br />
také střídavých magnetických polí nízkých kmitočtů. Se zvyšujícím se kmitočtem<br />
zaniká účinnost magnetostatického stínění a projevuje se pouze účinek stínění<br />
elektrostatického (popřípadě také elektrického).<br />
Stejnosměrná magnetická pole jsou způsobena např. trvalými magnety reproduktorů<br />
a měřícich přístrojů, budicími cívkami relé, vodičů, elektromagnetických spínačů,<br />
zemským magnetismem apod. Jejich účinek se projevuje rušivě hlavně na výchylku<br />
citlivých měřicích přístrojů nebo na výchylku elektronového paprsku obrazovky apod.<br />
Hlavními zdroji střídavých magnetických polí jsou síťové transformátory a tlumivky,<br />
oscilátorové cívky, výstupní transformátory, motory apod. Jsou-li v blízkosti těchto
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 303<br />
střídavých polí umístěny vstupní transformátory, indukční cívky vinuté rezistory,<br />
magnetofonové hlavičky, kabelážní smyčky apod., mohou se v nich indukovat rušivá<br />
napětí projevující se bručením (brumem) nebo nežádoucími vazbami a kmitáním.<br />
b) Elektromagnetické stínění využívá zeslabení rušivého pole vlivem vířivých proudů<br />
(které vznikají ve stínění a vytvářejí pole opačného směru - to působí proti rušivému<br />
poli a zeslabuje jej). Toto stínění je účinné jen pro střídavá magnetická pole středních a<br />
vyšších kmitočtů. Jako stínicí materiál se hodí každá elektricky dobře vodivá látka. V<br />
praxi se užívají kryty z diamagnetických materiálů, a to z hliníku a z mědi. Z důvodu<br />
průtoku vířivých proudů se doporučuje stínicí kryt uzemnit.<br />
Obr. 7.190. Princip stínění magnetického pole : a) homogenní magnetické pole,<br />
b) magnetické pole vzniklé vířivými proudy, c) stínění magnetického pole na principu<br />
"vytlačování" magnetického pole, d) stínění magnetickým materiálem na principu<br />
"vstřebávání" magnetického pole<br />
c) Elektrické (elektrostatické) stínění se užívá k omezení kapacitní vazby. Může se použít<br />
libovolný kovový materiál, protože nerozhoduje magnetická ani elektrická vodivost, ani<br />
síla stěn krytu. V praxi se používá hliník a měď. Na povrchu elektrostatického stínění<br />
naindukovaný náboj je potřeba neutralizovat (zrušit). Proto pro správnou funkci<br />
elektrostatického stínění je nezbytné důkladně uzemnit stínicí kryt (obal), obvykle<br />
spojením se společnou vodivou kostrou zařízení.<br />
Ke stínění můžeme mít dva základní přístupy:<br />
a) Stíníme zdroj rušení. Snažíme se omezit a uzavřít prostor, ve kterém rušení působí a<br />
nedovolit jeho šíření mimo uzavřenou oblast. Napájecí a signální vodiče vedeme přes<br />
odrušovací filtry, které mají zamezit průniku nežádoucího signálu ze stíněné oblasti.<br />
Takto stíníme a odrušujeme různé motory, tyristorové usměrňovače, regulátory apod.<br />
b) Stíněním chráníme citlivé, zejména vstupní části zařízení. stínění má zamezit, aby se na<br />
obvod nedostal jiný signál, než požadovaný.<br />
Účelem stínění je v každém případě odstranit z prostoru citlivého objektu rušivé pole,<br />
přičemž je lhostejné, stíníme-li zdroj rušení, nebo rušený prvek. Zpravidla postupujeme tak,<br />
že když máme v přístroji více citlivých objektů a pouze jeden zdroj rušení (např. síťový
304 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
transformátor, odstíníme vzhledem k hospodárnosti zdroj rušení. Chceme-li však současně<br />
odstranit vzájemné ovlivňování citlivých objektů (mf transformátory, vf cívky apod.), je<br />
vhodné odstínit každou součást samostatně a zdroj rušení nestínit.<br />
Jakost stínění posuzujeme podle velikosti koeficientu stínění, který udává poměr intenzity<br />
magnetického pole vně (Ho) a uvnitř (Hi) stínicího krytu:<br />
H<br />
o<br />
S = (1)<br />
H<br />
Pro praktické účely je vhodné definovat jakost stínění tzv. stínicím útlumem, který udává v<br />
decibelech přímo zeslabení rušivého magnetického pole:<br />
b<br />
p<br />
i<br />
⎛ H ⎞<br />
= 20 ⋅ log<br />
(2)<br />
o<br />
( S ) = 20 ⋅ log<br />
⎜<br />
⎟ ⎝ H<br />
i ⎠<br />
Při analýze stínicích účinků vodivých krytů vycházíme obvykle z klasických<br />
Maxwellových rovnic, které pro případ vodivého stínicího krytu značně menšího než délka<br />
vlny mají tvar<br />
rot H = σ ⋅ E<br />
rot E = − j ⋅ ω ⋅ µ ⋅ H<br />
Pro řešení průběhu elektromagnetického pole uvnitř stěn krytu můžeme rovnice sloučit<br />
rot rot E = − j ⋅ ω ⋅ µ ⋅ σ ⋅ E<br />
a upravit známým způsobem do tvaru<br />
Poněvadž z prvé rovnice vyplývá, že<br />
grad div E − ∇<br />
2<br />
∇ E =<br />
2<br />
E = − j ⋅ ω ⋅ µ ⋅σ<br />
⋅ E<br />
div E = 0 , dostáváme jednoduchý vztah<br />
j ⋅ ω ⋅ µ ⋅ σ ⋅ E<br />
Řešením této základní rovnice dostáváme vztahy určující součinitel stínění S, definovaný<br />
jako poměr intenzit elektromagnetického pole vně a uvnitř stínicího krytu (za předpokladu<br />
homogenního pole vně krytu), pro různé tvary krytů a mezní podmínky.<br />
Přesný výpočet stínění je složitý a matematicky řešitelný pouze pro tři základní<br />
geometrická uspořádání: dvě rovnoběžné nekonečné desky (obr. 7.192a), nekonečně dlouhý<br />
dutý válec (obr. 7.192b,c) a dutou kouli (obr. 7.192d).<br />
Obr. 7.191. Základní typy stínění: a) dv ě rovnoběžné nekonečné desky, b) nekonečný válec<br />
v podélném magnetickém poli, c) nekonečný válec v příčném magnetickém poli. d) dutá<br />
koule
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 305<br />
Obr. 7.192. Náhrada technických tvarů stínění základními typy stínění<br />
Matematické řešení stínění základních geometrických útvarů ukazuje, že tvar stínění má na<br />
velikost stínicího účinku podřadný vliv a že rozhodujícími činiteli jsou permeabilita a<br />
vodivost stínicího materiálu a relativní velikost krytu. Tento poznatek umožňuje nahradit při<br />
výpočtu stínění v praxi běžné tvary stínicích krytů ekvivalentním stíněním některého ze<br />
základních typů podle obr. 7.191, přičemž se řídíme těmito směrnicemi:<br />
a) Úzké podélné stínicí kryty (obr. 7.191a), jejichž šířka D je zlomkem ostatních rozměrů,<br />
nahradíme ekvivalentní dvojicí rovnoběžných desek o vzdálenosti D.<br />
b) Podélné kruhové i hranolové kryty, jejichž poměr délky ke skutečnému nebo<br />
ekvivalentnímu poloměru je větší než 4 (obr. 7.191b,c) nahradíme nekonečným válcem.<br />
c) Všechny druhy stínicích krytů, jejichž rozměry jsou ve všech směrech přibližně stejné,<br />
nahradíme ekvivalentní koulí o přibližně stejném objemu (obr. 7.191d). V případě<br />
krychle má ekvivalentní koule poloměr R = 0,62a (a = hrana krychle), v případě hranolu<br />
R = 0 ,5 a ⋅ b ⋅ c a,<br />
b,<br />
c = hrany hranolu .<br />
( )<br />
8.10.1 Elektromagnetické stínění<br />
Elektromagnetické stínění využíváme k odstínění střídavých magnetických polí středních a<br />
vyšších kmitočtů. Toto stínění spočívá v<br />
tom, že rušivé střídavé magnetické pole<br />
induk uje ve stěnách stínicího krytu vířivé<br />
proudy (nazývané též Foucaltovy), které<br />
vyvolávají vlastní magnetické pole, jež<br />
působí proti původnímu rušivému poli a<br />
zeslabuje ho (vytlačuje ho, viz obr. 7.190<br />
). Toto zeslabení je tím dál větší, čím<br />
silnější vířivé proudy v materiálu<br />
vzniknou, tj. čím větší je frekvence<br />
rušivého pole, čím bude stínicí materiál
306 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
silnější a čím větší bude jeho elektrická vodivost. Pro elektromagnetické stínění možno<br />
použít každého elektricky dobře vo divého materiálu (tabulka 7.11).<br />
Je tedy použití feromagnetických materiálů při vyšších kmitočtech nevhodné vzhledem ke<br />
značným ztrátám ve stínění.<br />
Poznámka: Vířivé proudy jsou ve vodiči rozděleny nerovnoměrně následkem povrchového<br />
jevu (skinefektu, v překladu něco jako efekt kůže nebo slupky), který způsobuje že<br />
magnetické pole se úměrně hloubce vniku zeslabuje, neboť spodní vrstvy vodiče jsou stíněny<br />
vrchními vrstvami. Vlivem těchto vířivých proudů je magnetické pole vlastně vytlačováno z<br />
vnitřku materiálu k povrchu, takže jeho intenzita směrem od povrchu exponenciálně klesá<br />
(obr. 7.193). V libovolném bodě vodiče, ve vzdálenosti x od povrchu, klesne původní<br />
intenzita magnetického pole Ho na hodnotu:<br />
H<br />
x<br />
( − )<br />
= H ⋅ exp x /δ<br />
(3)<br />
o<br />
Veličina d, udávající "rychlost" ubývání intenzity magnetického pole, je funkcí frekvence a<br />
vlastností stínicího materiálu a je určena vztahem<br />
δ ≅<br />
ρ<br />
16 ⋅<br />
mm 2 / m, kHz<br />
(4)<br />
f ⋅ µ<br />
kde r je specifický odpor materiálu, µ relativní permeabilita a f je frekvence. Je také<br />
nazývána ekvivalentní hloubka vniku. Fyzikálně udává vzdálenost od povrchu vodiče, ve<br />
které je intenzita vnějšího magnetického pole zeslabena na 37%. Dosadíme-li totiž do výrazu<br />
(3) x = d, zjistíme, že v hloubce d klesne hustota proudu, popřípadě intenzita pole e-krát, tj. na<br />
0,37 (1/2,727..) hustoty na povrchu. Stejný průběh jako intenzita magnetického pole má i<br />
průběh proudové hustoty vířivých proudů. Z toho důvodu se často, v souhlase s teorií<br />
skinefektu, označuje d jako tloušťka ekvivalentní vodivé vrstvy (ekvivalentní hloubka vniku).<br />
V tomto případě značí d tloušťku vodiče, který by měl při konstantní proudové hustotě<br />
stejnou vodivost jako má vodič s proudovou hustotou podle obrázku 7.193. Pro daný materiál<br />
je hodnota d pouze funkcí frekvence.<br />
Obr. 7.193. Definice hloubky vniku, neboli tloušťky<br />
ekvivalentní vodivé vrstvy.<br />
Je zřejmé, že ekvivalentní hloubka vniku charakterizuje stínicí účinek vířivých proudů.<br />
Čím menší je ekvivalentní hloubka vniku d, tím větší proud teče ve vrchních vrstvách vodiče,<br />
a tím větší je také intenzita pole působícího proti původnímu poli zdroje rušení.<br />
Je-li stínění z feromagnetického materiálu, je jeho stínicí účinek větší (pokud příliš<br />
nevzroste měrný odpor), neboť vzrostou vířivé proudy. Stínicí účinek vytlačováním pole je<br />
pro libovolný materiál dán poměrem m/r .<br />
Protože zeslabení pole 2,727-krát v hloubce x0 je pro stínění nedostatečné, definujeme<br />
ještě hloubky vniku d0,1 a d0,01, kde je hustota proudu, resp. intenzita pole, zeslabena<br />
desetkrát či stokrát. Jde ukázat, že platí<br />
δ = 2, 3 ⋅δ<br />
0 ,1
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 307<br />
δ = 4, 6 ⋅δ<br />
0 ,01<br />
Důležitou charakteristikou elektromagnetického stínění je tzv. koeficient vířivých proudů<br />
p, který se objevuje v řešení Maxwellových rovnic ve formě výrazu:<br />
p = , 063 ⋅ d ⋅ f<br />
µ<br />
⋅<br />
ρ<br />
2<br />
0 [ mm , kHz,<br />
mm / m]<br />
Ω (7)<br />
Pokud je p < 1, jsou indukované vířivé proudy rozloženy rovnoměrně po celém průřezu<br />
stínění, jež působí jako závit nakrátko kolem stíněného prostoru. Je-li p > 1, způsobují vířivé<br />
proudy u povrchu materiálu jakousi "přehradu", omezující pronikání rušivého magnetického<br />
pole stíněním. Z fyzikálního hlediska udává koeficient vířivých proudů p, kolikrát je tloušťka<br />
materiálu d větší, než ekvivalentní tloušťka vodivé vrstvy d, tj.<br />
d<br />
p = (8)<br />
δ<br />
a je přímým měřítkem stínicího útlumu jednoduchého vodiče.<br />
bs = 8,7 p [dB] (9)<br />
Čím je hloubka vniku menší, tím tenčí plech postačí k dosažení stejných stínicích účinků<br />
krytu.<br />
Tab. 7.12 Hloubka vniku pro různé materiály a kmitočty.<br />
Převážná většina rušivých magnetických polí vzniká na síťovém kmitočtu a jeho<br />
násobcích. Jak plyne z tabulky, je pro tyto kmitočty nutno používat ke stínění feromagnetické<br />
materiály pokud možno s velkou permeabilitou (nesmí však dojít k jejich nasycení vlivem<br />
silných magnetických polí, pak by ztratily své výhodné vlastnosti).<br />
Tab. 7.13. Hloubka vniku pro různé materiály<br />
a kmitočty
308 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Z tabulky také vyplývá, že počínaje středními vlnami je efektivní stínění z jakéhokoli<br />
kovu, pokud je tlusté 0,5 až 1,5 mm. Proto se při návrhu tloušťky stínění a výběru materiálu<br />
nevychází z elektrických, nýbrž z mechanických vlastností materiálu (pevnosti, tvrdosti,<br />
odolnosti proti korozi, stykování materiálů, malého odporu kontaktů, pájitelnosti popř.<br />
sv ařitelnosti apod.). Pro kmitočty větší než 10 MHz poskytuje dostatečné stínění stříbrná fólie<br />
tlustá 0,1 mm. Proto je zde možné stínit např. i cuprextitem nebo cuprexcartem, popř. jiným<br />
izolačním materiálem, na němž je nanesena stříbrná nebo i měděná vodivá vrstva.<br />
Hloubka vniku pro oceli s relativní permeabilitou µr = 50 ukazuje, že ocel stíní i na vyšších<br />
kmitočtech více než nemagnetické materiály. Je-li stínění z oceli, musí se ovšem počítat se<br />
značnými ztrátami ve stíněném obvodu, a to působením velkého měrného odporu a hystereze.<br />
Proto se ocelová stínění používají pouze v těch případech, kdy lze zanedbat vznikající ztráty.<br />
Pro jádra vysokofrekvenčních cívek se nepoužívají plechy, protože plechy způsobují velké<br />
ztráty. V těchto případech se používají jádra z práškového železa nebo feritu, která mají menší<br />
ztráty.<br />
Obrázek 9.194: Útlum stínění
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 309<br />
Řešením Maxwellových rovnic dostáváme pro součinitel stínění ve vf<br />
elektromagnetických polích<br />
⎛ H<br />
o<br />
bs<br />
= 20 ⋅ log<br />
⎜<br />
⎝ Hi<br />
⎞ ⎛ d ⎛ k D<br />
8,69 ⎜<br />
⋅<br />
ln⎜<br />
⎟ ≅ ⋅ +<br />
⎠ ⎝ δ ⎝ µ<br />
r<br />
⋅δ<br />
⋅ 2 ⋅<br />
⎞⎞<br />
⎟⎟<br />
2<br />
⎠⎠<br />
kde d je síla stěny krytu, k součinitel tvaru krytu o velikosti k = 1 pro dvě nekonečné<br />
desky, k = 0,5 pro válec a k = 1/3 pro kouli, µr je relativní permeabilita materiálu krytu, D<br />
vzdálenost desek, popř. průměr válce nebo koule a konečně d je ekvivalentní hloubka vniku<br />
vf proudu určená vztahem (6).<br />
Poznámka: U vztahu (10) je hodnota v závorce rovna součiniteli stínění v neperech (Np).<br />
Platí 1 Np = ( 20 ⋅ log e) dB ≈ 8,686 dB . To je důvod pro výskyt koeficientu 8,69 v některých<br />
vztazích v dalším textu.<br />
Z tohoto jednoduchého vztahu (10), který platí ovšem za předpokladu d >> d, vyplývá, že<br />
součinitel stínění se skládá ze dvou složek, z nichž prvá závisí jen na síle stěny krytu a<br />
použitém materiálu a druhá na relativní velikosti krytu. Obě složky se v logaritmickém<br />
vyjádření sčítají, v numerickém vyjádření tedy násobí. Oba členy tedy rostou s kmitočtem.<br />
Obecnější tvar tohoto vztahu platný pro všechny kmitočty bude<br />
H<br />
o<br />
d D ⋅<br />
( )<br />
( 1 + j)<br />
d<br />
= cosh 1 + j ⋅ + ⋅ sinh( 1 + j) ⋅<br />
H<br />
δ 2 ⋅ µ ⋅ δ<br />
δ<br />
i<br />
z něhož můžeme pro nízké kmitočty, kde d < d, odvodit zjednodušený vztah<br />
H<br />
H<br />
o<br />
i<br />
=<br />
⎛ k ⋅ d ⋅ D ⎞<br />
1 +<br />
⎜<br />
⎟<br />
⎝ µ<br />
r<br />
⋅ d ⎠<br />
Za předpokladu, že Ho/Hi >> 1, vyplývá tedy pro nízké kmitočty dokonce lineární vztah<br />
H<br />
H<br />
o<br />
i<br />
= 1<br />
⋅ k ⋅ d ⋅ ω ⋅ ⋅ D<br />
2 ⋅ π<br />
δ<br />
Pro praxi je užitečné gra fické vyjádření útlumu v nejpoužívanější oblasti. Na obr. 7.194 je<br />
řada křivek, zobrazujících průběh součinitele stínění v závislosti na relativní síle stěny d/d a<br />
na činiteli velikosti krytu a = kD/µrd.<br />
Z grafu je zřejmé, že hlavním určujícím činitelem je síla stěny resp. poměr d/d, velikost<br />
krytu má vliv značně menší. V praxi proto často počítáme pouze s prvým členem, tj. jakoby a<br />
= 1, čímž vlastně považujeme druhý člen za jakousi rezervu nebo součinitel bezpečnosti. Platí<br />
tedy zjednodušený vztah<br />
d<br />
b s<br />
≅ 8,69 ⋅ [ dB]<br />
(13)<br />
δ<br />
Také pro určení hloubky vniku je užitečné grafické vyjádření podle obr. 7.195.<br />
Uvedené grafy ukazují, že na vyšších kmitočtech není obtížné dosáhnout činitelů stínění<br />
přes 100 dB při malé síle stěny stínicího krytu. Je však třeba si uvědomit, že požadavky praxe<br />
jsou často značně vysoké. Tak např. v koncových obvodech vysílačů máme často intenzity<br />
elektromagnetického pole v řádu 100 kV/m, zatímco vně<br />
skříně musí být podle<br />
bezpečnostních předpisů intenzita pole menší než 10 V/m, tj. snížená o 160 dB.<br />
r<br />
2<br />
[ dB]<br />
(10)<br />
(12)
310 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obr. 7.195: Ekvivalentní hloubka pronikání vf proudu v závislosti na materiálu<br />
a kmitočtu při 20oC.<br />
Také u měřicích přístrojů bývají požadavky na stínění v řádu 160 - 180 dB, úměrné<br />
požadované citlivosti a přesnosti přístroje. V takových případech bývá nutné použít stínění<br />
dvojité, v zásadě např. podle obr. 3. Vnitřní stínění smí být ovšem spojeno s vnějším pouze v<br />
jednom bodě, aby nedocházelo k vzájemné vazbě vířivých proudů.<br />
Dosud jsme předpokládali homogenní stínicí stěnu. Skutečné stínění se však často skládá z<br />
dílů, jejichž spojením vznikají ve stínicí stěně spáry, švy a štěrbiny, které při nevhodném<br />
umístění mohou nepříznivě ovlivnit průběh vířivých proudů a zhoršit kvalitu stínění.<br />
Při elektromagnetickém stínění vyniká stínicí účinek vlivem vířivých proudů, jež probíhají<br />
v rovinách kolmých ke směru magnetického pole. Nemá-li se stínicí účinek zhoršit, nesmí být<br />
průběh vířivých proudů porušen a proto musíme elektromagnetický stínicí kryt navrhnout tak,<br />
aby spáry a švy byly kolmé ke směru magnetického pole (obr. 7.196 a 7.197), eventuálně<br />
rovnoběžné s rovinou vinutí stíněné cívky nebo transformátoru. V každém případě volíme v<br />
místě spojení dostatečný přesah materiálu, a kde je to možné, spáru dokonale proletujeme,<br />
čímž zaručíme elektricky výborné spojení obou částí. Materiály, které nelze pájet, spojujeme<br />
lemováním, nýtováním, bodovým svářením apod.<br />
Nezbytnou součástí většiny stínicích krytů jsou víčka, která při vhodném provedení a<br />
umístění<br />
usnadňují cestu vířivým proudům a zlepšují tak stínicí účinek.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 311<br />
Při elektromagnetickém stínění se musíme ovšem postarat o dobré spojení mezi víčkem a<br />
krytem (zpravidla pájením). U hranatých krytů je nutné, aby víčko bylo kolmé ke směru<br />
magnetického pole, aby se nepřerušil okruh vířivých proudů, který má snahu se vytvořit na<br />
obvodu krytu (obr. 7.198). Použití víček je účelné zejména u kratších válců v příčném<br />
magnetickém poli (obr. 7.199), neboť zde vytvoří část dráhy vířivých proudů. Jestliže je délka<br />
válce větší než dvojnásobek jeho průměru, nepřináší použití víček podstatné zvýšení stínicího<br />
účinku. Lze si to vysvětlit tím, že v tomto případě je na koncích otevřeného válce dosti místa,<br />
aby se mohly proudové silokřivky uzavřít podél obvodu válce. Víčko ovšem v tomto případě<br />
může působit jako součást elektrického stínění.<br />
Obr. 7.196. Nesprávné umístění dělicí spáry<br />
elektromagnetického stínicího krytu (průběh vířivých<br />
proudů ve stěnách stínění je porušen).<br />
Obr. 7.197 Správné umístění dělicí spáry<br />
elektromagnetického stínicího krytu (průběh vířivých<br />
proudů je neporušen).<br />
krytu<br />
Obr. 7.198. Umístění víčka stínicího krytu : a)<br />
nesprávné - okruh vířivých proudů na obvodu krytu je<br />
porušen, b) správné - okruh vířivých proudů na obvodu<br />
je neporušen.<br />
Obr. 199. Vliv krycích víček na průběh vířivých<br />
proudů ve stěnách válcového stínění.<br />
Tyto zásady lze splnit u stínění menších dílů<br />
(typicky cívek), ale nemusí být snadné je splnit u větších celků (skříní). K utěsnění dveří,<br />
přírub apod. užíváme elektromagnetické těsnění (angl. gasket) různých tvarů. Známé jsou<br />
kontaktní pružiny (pružné hřebínky) z fosforové bronze nebo vodivé materiály skutečně<br />
připomínající těsnění. (Pokud jsou dveře nebo připevněné<br />
stěny skříní spojeny vodičem s<br />
kostrou, je to kvůli elektrické bezpečnosti, popřípadě kvůli elektrickému stínění, pro<br />
elektromagnetické stínění je to však spojení nedostatečné.)
312 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obrázek 9.200: Různé druhy elektromagnetického stínění<br />
Přístrojová skříň nebývá dokonale uzavřena (až na výjimky), protože musí mít otvory pro<br />
přívody a pro případné ovládací a zobrazovací prvky. Tyto otvory zhoršují činitel stínění, ale<br />
při účelné konstrukci je možno jejich vliv udržet v únosných mezích. Je třeba dodržovat tyto<br />
zásady :<br />
- otvory popř. kanály volit co nejmenší, nejvýše o průměru 1/100 délky vlny pracovního<br />
nebo rušivého signálu<br />
- otvory umístit co nejdále od bodů s pracovním a rušivým signálem<br />
- štěrbiny orientovat podélným směrem tak, aby byly rovnoběžné s dráhou vířivých proudů<br />
(nebo se siločárami elektrického pole pro elektrické stínění nebo magnetického pole pro<br />
magnetostatické stínění, viz později).<br />
Obrázek 9.201:<br />
Použití hřebenových pružin<br />
Nedodržíme-li shora uvedené zásady, může se nám otvor nebo štěrbina chovat jako<br />
štěrbinová anténa a vytvářet při poli E1 uvnitř krytu vnější pole o intenzitě<br />
d ⋅ l 4<br />
E<br />
2<br />
= E1<br />
⋅ ⋅<br />
(14)<br />
λ ⋅ R 3<br />
kde d, l jsou šířka a délka otvoru nebo štěrbiny, l délka vlny a R vzdálenost od štěrbiny, za<br />
předpokladu, že d > 1.<br />
U kanálů musíme opět uvážit, že se mohou chovat jako vlnovody s útlumem
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 313<br />
2<br />
53,5 ⎛ λo<br />
⎞<br />
α 1<br />
(15)<br />
=<br />
λ<br />
o<br />
− ⎜ ⎟<br />
⎝ λ ⎠<br />
[ dB / m,<br />
m]<br />
kde l je pracovní nebo rušivá délka vlny, lo je mezní vlnová délka, u kruhového průřezu lo<br />
= 1,7 D, u průřezu obdélníkového lo = 2 l (dvojnásobek délky delší strany).<br />
Obrázek 9.202: Nevhodné a vhodné umístění otvorů<br />
Příklad: V určitém výrobním procesu je průběžně<br />
měřena relativní permitivita a tangenta ztrátového<br />
úhlu jisté kapaliny. Navrhněte stínění pro měřící<br />
obvod, pracující na kmitočtu 10 MHz, s útlumem 120<br />
dB a stanovte přípustnou minimální délku stínění<br />
kanálu pro přívod a odvod měřené kapaliny. Potřebný<br />
objem stínění je 1 dm3, je vyrobeno z mosazi,<br />
součinitel tvaru k = 0,4, přívodní trubka má průměr<br />
25 mm.<br />
Řešení : Hloubka vniku podle obr.4-2 je d = 0,04 mm.<br />
k ⋅ D 0,4 ⋅100<br />
Činitel velikosti a = = = 1000 .<br />
µ r<br />
⋅δ<br />
1⋅<br />
0,04<br />
Obrázek 9.203: Měřící komůrka<br />
Z obr. 7.194 určíme d/d = 7, z toho potom nejmenší tloušťku stěny měřící komůrky d =<br />
0,28 mm. Přívodní trubka se chová jako vlnovod, platí tedy vztah (15). Pracovní délka vlny<br />
lambda = c/f = 30 m, mezní vlnová délka vlnovodu lo = 1,725 = 42,5 mm.<br />
53,5 ⎛ 0,0425 ⎞<br />
Měrný útlum α = 1 − ⎜ ⎟ = 1259 dB / m ,<br />
0,0425 ⎝ 30 ⎠<br />
2<br />
potom pro požadovaný útlum 120 dB vychází minimální délka potrubí l = 120/a = 95 mm.<br />
Závěr : Nejmenší tloušťka stínění je 0,28 mm, nejmenší délka stíněného kanálu pro přívod<br />
a odvod měřené kapaliny je 95 mm. Náčrt možného uspořádání<br />
je na obr.4-3.
314 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
8.10.2 Magnetostatické stínění<br />
Magnetostatické stínění se užívá k odstínění stejnosměrných a nízkofrekvenčních<br />
magnetických polí. Pro tento druh stínění jsou vhodné výhradně magneticky měkké materiály<br />
s vysokou počáteční permeabilitou, jako je železo s obsahem 3 až 4% křemíku, nebo speciální<br />
slitiny železa a niklu (permalloy), označované v ČR písmeny PY a číslem, udávajícím<br />
přibližný procentní obsah niklu. Přehled vlastností nejdůležitějších magneticky měkkých<br />
materiálů je uveden v tabulce 7.13.<br />
Princip magnetostatického stínění je naznačen v obr. 7.190. Stěny krytu z vysoce<br />
permabilního materiálu představují pro silokřivky rušivého magnetického pole mnohem<br />
menší magnetický odpor než vzduch. Umístíme-li takový kryt do homogenního magnetického<br />
pole, budou se magnetické silokřivky soustřeďovat do snadno vodivých stěn a uvnitř krytu<br />
vznikne prostor, v němž bude rušivé pole podstatně zeslabeno, takže stínicí kryt vytváří kolem<br />
stíněného objektu pro magnetické silokřivky vlastně magnetický zkrat.<br />
Tabulka 7.13. Vlastnosti feromagnetických látek<br />
Pro stínění nízkofrekvenčních elektromagnetických polí jsme již odvodili jednoduchý<br />
vztah (12), který platí za předpokladu, že Ho/Hi >> 1, že w > 1 a že uvnitř krytu je prostředí<br />
neferomagnetické, tj. µr @ 1. Potřebujeme však pro praxi vyšetřit ještě případ, kdy w -> 0 a<br />
kdy uvnitř krytu máme ferromagnetický předmět, který chceme chránit před vnějším polem<br />
Obrázek 9.204: Magnetostatické stínění<br />
.<br />
To je ovšem úloha magnetostatická, kterou můžeme řešit pouze aplikací Kirochhoffova<br />
zákona na magnetický tok. Vezmeme-li si za základ naší úvahy uspořádání podle obr.<br />
7.204,<br />
kde uvnitř krytu máme chráněný ferromagnetický předmět ve tvaru krychle o straně rovné
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 315<br />
jednotce, kde stínicí kryt má vnitřní rozměr a, vnější rozměr b, pak můžeme předpokládat, že<br />
vnější magnetický tok se při průchodu krytem rozdělí na dvě části, z nichž prvá půjde stěnami<br />
krytu a druhá chráněným předmětem. Z obrázku odvodíme, že průměrná délka magnetické<br />
d = b − a / .<br />
siločáry na prvé cestě bude 3/2 b a že síla stěny ( ) 2<br />
Můžeme pak vyjádřit velikost magnetického odporu obou cest, za zjednodušujících<br />
předpokladů, že materiál krytu má relativní permabilitu µr >> 1 a materiál vnitřního předmětu<br />
též, a že se v krytu neuplatňuje vliv vířivých proudů, takto :<br />
= a −1<br />
b<br />
R mo<br />
Rms<br />
2<br />
= 3/ 2 ⋅<br />
4 ⋅ a ⋅ d ⋅ µ<br />
Celkový tok se nyní rozdělí podle poměru vodivostí obou cest na dvě části, takže bude<br />
platit<br />
Φ = Φo + Φ s<br />
Φ<br />
s<br />
Rmo<br />
4 ⋅ µ<br />
r<br />
⋅ a ⋅<br />
= =<br />
Φ R<br />
3⋅<br />
b<br />
celkový činitel stínění můžeme pak vyjádřit<br />
Φ Φ<br />
s<br />
Ko<br />
= = = 4 ⋅<br />
Φ Φ + 1<br />
o<br />
ms<br />
1 µ r<br />
o o<br />
( b − a)( a −1)<br />
[ ⋅ a ⋅ ( b − a)( a −1)<br />
+ 3 ⋅ b]<br />
r<br />
1<br />
⋅<br />
3 ⋅ b<br />
Nyní vyšetříme podmínky, za nichž dosáhneme maximálního účinku. Nejprve přijmeme<br />
předpoklad stálého vnějšího rozměru b = konst. a vyšetříme při jakém rozměru a dosáhneme<br />
nejlepšího účinku. Derivací a anulováním výrazu v hranaté závorce zjistíme, že optimální<br />
rozměr<br />
2 ⋅ b + 1<br />
a =<br />
3<br />
z čehož vyplývá pro sílu stěny krytu<br />
d = b −1<br />
3<br />
a pro sílu vzduchové mezery<br />
m = b −1<br />
3<br />
Činitel stínění pak bude za těchto podmínek<br />
K<br />
s<br />
Φ 8 ⎛ 1 ⎞<br />
=<br />
1 = 1 + ⋅<br />
r ⎜2b<br />
+ 3b<br />
+ ⎟<br />
Φ 81<br />
µ 2<br />
⎝ b ⎠<br />
(17)<br />
o<br />
Síla vzduchové mezery má tedy být vždy dvojnásobkem síly stěny krytu, nezávisle na<br />
permabilitě použitého stínicího materiálu, pokud ovšem µr >> 1.<br />
Podle zkušeností nemá však tvar stínicího krytu podstatný vliv na stínicí účinek, který je<br />
určen pouze tloušťkou stěny a objemem krytu, materiálovými konstantami a frekvencí. To<br />
umožňuje nahradit např. technicky nejužívanější pravoúhlý kryt ekvivalentní koulí, jejíž<br />
průměr je geometrickým středem tří rozměrů pravoúhlého krytu.<br />
Pro činitel stínění duté koule o vnitřním průměru D, tloušťce stěny d a permeabilitě µr platí<br />
(za předpokladu d
316 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Ze vztahu (17) možno vypočítat, že stínicí kryt z železného plechu 1 mm o permeabilitě µ<br />
= 350, velikosti 50 x 60 x 70 mm, odpovídající ekvivalentní kouli o průměru 59,5 mm, zeslabí<br />
rušivé magnetické pole asi o 20 dB, T.j. na 10 % původní hodnoty. K zeslabení rušivého pole<br />
o 40 dB by bylo třeba tloušťky stěny 12,5 mm (potom ovšem již rovnice (17) neplatí přesně).<br />
Stejného stínicího účinku bychom dosáhli užitím permalloye (µ = 5000) s tloušťkou stěny asi<br />
0,9 mm.<br />
Z uvedeného příkladu plyne důležité pravidlo : Při daném vnějším tvaru stínicího krytu<br />
možno zvýšit magnetostatický stínicí ú činek vyšší permeabilitou nebo větší tloušťkou stínění,<br />
přičemž pro daný stínicí účinek je směrodatný součin permeability a tloušťky stínění.<br />
Je zde ovšem jedno omezení. Magnetostatické stínění je účinné pro stejnosměrná<br />
magnetické pole a pro pole střídavá, jejichž kmitočet je nižší než tzv. mezní kmitočet<br />
magnetického materiálu<br />
f ≅ ρ<br />
o<br />
[ kHz, mm,<br />
Ωmm<br />
m]<br />
d<br />
2 ⋅ µ<br />
/<br />
Při tomto kmitočtu se hloubka vniku vířivých proudů rovná síle stěny krytu. Chceme-li<br />
tedy plně využít magnetostatického stínění, nesmí být tloušťka stěny krytu pro odstínění<br />
rušivého magnetického pole daného<br />
kmitočtu větší než jistá mez (viz tabulka<br />
7.14)<br />
Tabulka 7.14. Maximální tloušťka<br />
různých magnetických materiálů, při niž<br />
je pro frekvence 50 nebo 100 Hz ještě<br />
plně využito magnetostatického stínicího<br />
účinku.<br />
Nedosáhneme-li s daným materiálem,<br />
při maximální dovolené tloušťce, potřebného stínicího účinku, nutno užít stínění, složeného<br />
ze vzájemně isolovaných vrstev. Tím se zmenší vířivé proudy a mezní frekvence se posune k<br />
vyšším hodnotám.<br />
Ovšem vícevrstvé stínicí kryty jsou výrobně problematické a drahé, proto se někdy<br />
zhotovují ze dvou částí(vinutých z pásového permalloye s oxidovaným povrchem), které se<br />
do sebe zasouvají (podobně jako se uzavírá krabička zápalek).<br />
Obrázek 9.205: Vinuté<br />
dvoudílné krabicové kryty<br />
I když jednotlivé závity ocelového nebo permalloyového pásu netvoří uzavřené kryty,<br />
celkový stínicí účinek se od mnohonásobného krytu příliš neliší. Je ovšem třeba si uvědomit,<br />
že stínicích vlastností permalloye plně využijeme jen tehdy, jestliže kryt po zhotovení tj.<br />
ohýbání, nýtování, svařování apod., tepelně zpracujeme žíháním ve vodíkové atmosféře
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 317<br />
přesně podle technologických předpisů výrobce (zpravidla při 800 - 900 oC), tím se materiál<br />
zbaví mechanického pnutí vzniklého při navíjení. Po provedeném žíhání smí být kryt<br />
namáhán jen v mezích pružných deformací.<br />
Jestliže magnetostaticky stíníme cívku nebo transformátor se železným jádrem, tvoří jádro<br />
vzhledem k stínicímu krytu magnetický bočník, který zhoršuje stínicí účinek. Čím menší je<br />
vzdálenost mezi jádrem a krytem, tím je vodivost tohoto magnetického bočníku větší a stínicí<br />
účinek menší, přičemž permeabilita hraje podřadnou úlohu(pokud není vzdálenost mezi<br />
jádrem a krytem příliš malá). Tento jev je zvláště nepříznivý u hranatých krytů a<br />
transformátorových jader, kde je na rozdíl od zaoblených krytů většina ploch rovnoběžná.<br />
Má-li být vliv ferromagnetického jádra stíněného objektu na velikost magnetostatického<br />
stínicího účinku zanedbatelný, má být vzdálenost mezi cívkou a stěnami krytu rovna<br />
minimálně 1/3 průměru cívky. Nemůžeme-li tuto podmínku splnit, musíme navrhnout stínicí<br />
kryt pro větší stínicí útlum (o 10 až 20 dB), než jaký skutečně potřebujeme, čímž případné<br />
zmenšení stínicího účinku vykompenzujeme.<br />
Při elektromagnetickém stínění se stínicí účinek vlivem feromagnetického jádra nepatrně<br />
zvětšuje. Při návrhu stínění však toto zvýšení nemusíme brát v úvahu a stačí spokojit se s<br />
větší bezpečností výpočtu.<br />
Obdobně jako v minulé kapitole i magnetostatické stínění nebývá homogenní, skládá se z<br />
dílů, jejichž spojením vznikají ve stínicí stěně spáry, švy a štěrbiny, které při nevhodném<br />
umístění mohou nepříznivě ovlivnit průběh magnetických silokřivek.<br />
U magnetického stínění, které vytváří kolem stíněného prostoru magnetický zkrat, nesmějí<br />
spáry a švy zvětšovat odpor tohoto zkratu, což by u vysoce permeabilního materiálu mohlo<br />
nastat již při velmi malých mezerách. Proto nutno navrhovat magnetostatické stínění tak, aby<br />
spáry a švy byly rovnoběžné se směrem magnetického pole (aby nebyl přerušen průběh<br />
siločar rušivého pole).<br />
Stíníme-li tedy cívku nebo transformátor, je účelné, aby byla dělicí spára krytu rovnoběžná<br />
s osou cívky, respektive kolmá k rovině vinutí (obr. 7.206), neboť je nutné zeslabit především<br />
ty složky magnetického pole, jež jsou rovnoběžné s osou cívky. Kde to nelze z výrobních<br />
důvodů provést, musí být švy provedeny s dostatečným přesahem materiálu. Vlastní spojení<br />
provádíme přiměřeně hustým nýtováním nebo svařováním (bodováním). Pájení není vhodné,<br />
neboť<br />
cínová vrstva působí pro magnetické pole jako vzduchová mezera.<br />
Obr. 7.206 Správné umístění spáry ve stěně stínicího krytu při<br />
magnetostatickém stínění (průběh magnetických silokřivek ve<br />
stěnách stínění je neporušen)<br />
Obr. 7.207 Vliv spár na průběh magnetického pole ve stínicí<br />
stěně
318 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
N ezbytnou součástí většiny stínicích krytů jsou víčka, která při vhodném provedení a<br />
umístění usnadňují cestu magnetickým silokřivkám (u elektromagnetického stínění - viz<br />
minulá kapitola - usnadňují cestu vířivým proudům) a zlepšují tak stínicí účinek. Při<br />
magnetostatickém stínění nutno provést víčka tak, aby se magnetický odpor obvodu v dělicí<br />
spáře pokud možno nezvětšil. Proto musí být víčko zhotoveno s přiměřeným přesahem<br />
materiálu a s minimální vzduchovou mezerou.<br />
8.10.3 Vícenásobné stínění<br />
Stínicí účinek lze značně zvýšit použitím vícenásobného stínění (obr. 5), neboť při<br />
dostatečné vzdálenosti mezi stíněním je výsledný stínicí účinek roven součinu jednotlivých<br />
stínicích účinků.<br />
Obr. 7.208. Vícenásobný stínicí kryt<br />
Jde o jiný problém než vrstvené stínění (obr. x), vytvořené kvůli potřebě stínit pole o<br />
kmitočtu vyšším než mezní kmitočet materiálu (při dané tloušťce). Zde musí být mezi<br />
vrstvami určitá mezera. Zpravidla se vine pás současně s izolační vložkou o dvojnásobné<br />
tloušťce.<br />
Dále vyšetříme za jakých podmínek dosáhneme nejlepšího účinku v nejmenším prostoru s<br />
minimálními náklady, tj. podmínky ekonomické optimalizace.<br />
a) U jednoduchého krytu je váha krytu úměrná výrazu b2(b-1), činitel stínění má pak<br />
optimální velikost v poměru k váze krytu při b = 1,8.<br />
Platí pak d = 0,13 m = 0,27<br />
b) Při použití n-násobných krytů roste celkový objem krytu s 3n-tou mocninou rozměru b,<br />
zatím co celkový činitel stínění roste s n-tou mocninou činitele stínění jednoho krytu.<br />
Pak můžeme naší úlohu formulovat tak, že při daném celkovém objemu n-násobného<br />
krytu<br />
V = a3n= konst.<br />
hledáme optimální relativní rozměr b a optimální počet krytů n, u nichž bude celkový<br />
součinitel stínění S maximální. Ze zadané podmínky vyplývá vztah mezi počtem krytů a<br />
relativním rozměrem b<br />
3n . ln b = ln V = konst.<br />
Φ1<br />
zatím co logaritmus součinitele stínění ln K = S = n ⋅ ln Φ<br />
Má-li tedy být celkový poměr S n<br />
maximální, musíme nalézt maximum poměru:<br />
ln V<br />
⎛ Φ ⎞<br />
1<br />
ln<br />
⎜<br />
ln⎢1<br />
+ ⋅<br />
r<br />
( 2b<br />
− 3b<br />
+ 1/ b)<br />
o 81<br />
⎥<br />
⎝ Φ ⎟ ⎡ 8 2 ⎤<br />
µ<br />
⎠<br />
=<br />
⎣<br />
⎦<br />
ln b<br />
ln b<br />
S<br />
n<br />
0
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 319<br />
Derivací a anulováním pravé strany výrazu získáme vztah<br />
−2<br />
( 4b<br />
− 3 + b )<br />
−1<br />
( 2b<br />
− 3b<br />
+ b )<br />
2<br />
−1<br />
( 2b<br />
− 3b<br />
b )<br />
µ<br />
r<br />
1 ⎡ 8<br />
⎤<br />
ln( b)<br />
⋅<br />
− ⋅ ln 1<br />
= 0<br />
81<br />
⎢ + ⋅ µ<br />
r<br />
+<br />
81<br />
⎥<br />
2<br />
+ µ<br />
b ⎣<br />
⎦<br />
r<br />
8<br />
Jeho řešením nalezneme podmínku optimálního dimenzování ve tvaru<br />
⎛ Φ ⎞<br />
1<br />
ln ⎜<br />
⎟ =1,6<br />
⎝ Φo<br />
⎠<br />
tj. nejúspornější prostorově i nákladově je kryt, který má součinitel stínění<br />
Φ<br />
1<br />
=e<br />
16 =S<br />
Φ<br />
2<br />
Větší činitel stínění je účelné realizovat jako vícenásobné kryty, jejichž počet bude<br />
Sn<br />
Sn<br />
n = [ Np] = [dB]<br />
1,6 13,9<br />
Rozměry (relativní) každého krytu nalezneme řešením rovnice určující činitel stínění.<br />
Získáme tak vztah<br />
−1<br />
[ m,<br />
]<br />
13,5<br />
b = 1+<br />
Hm<br />
µ r<br />
tj. pro běžný transformátorový plech µr = 400 bude b = 1,18, pro permalloy µr = 10,000 je<br />
b = 1,037.<br />
Potřebný objem stínicího materiálu pak vychází pro transformátorové plechy cca 0,25, pro<br />
permalloy je 0,040 stíněného objemu. Váha a objem materiálu stínicího krytu tedy vychází u<br />
permalloye šestkrát menší než u běžného transformátorového plechu pro stejný stínicí účinek.<br />
Poměr cen za 1kg je však větší, takže permalloyové stínění je ekonomicky výhodné jen tam,<br />
kde potřebujeme i úsporu prostoru.<br />
V praxi se od tohoto optimálního řešení často odchylujeme proto, že vícenásobné kryty<br />
jsou výrobně pracné. využíváme skutečnosti, že nalezené optimum je poměrně ploché.<br />
Volíme-li například pro potřebný součinitel stínění 25 jednoduchý kryt permalloyový s b =<br />
1,09 bude spotřeba materiálu jen o polovinu větší než u dvojitého krytu optimálního se<br />
součinitelem 5 a celkový objem bude větší jen o 5%, pracnost výroby však podstatně klesne.<br />
U jednoduchých krytů se použití permalloye vyplácí téměř vždy, poněvadž při optimálním<br />
rozměru (b = 1,8) je jeho stínicí účinek cca 25krát větší než u běžných materiálů.<br />
Při praktickém návrhu krytu vycházíme od optimálního řešení pro S1 = 1,6 Np, určíme<br />
rozměry a, b, d podle uvedených vztahů a podle použitelného materiálu a určíme počet<br />
potřebných krytů. Pak uvážíme jejich výrobní pracnost a optimalizujeme návrh přechodem na<br />
vyšší S1 a nižší n s cílem minimalizace nákladů.<br />
Poznámka: Na stínění objektů proti vnějším polím (v širokém rozsahu kmitočtů) je třeba<br />
užívat dvojvrstvé nebo vícevrstvé kombinované stínění. Sestavuje se z vrstev<br />
diamagnetických a feromagnetických materiálů. Nejvyšší stínicí účinek vykazuje kombinace<br />
měď - železo. Na druhé místo se zařazuje hliník - železo, potom olovo - železo. Tato poslední<br />
kombinace, i když zabezpečuje nepříliš dokonalé stínění, se v praxi používá na obaly kabelů,<br />
protože umožňuje hermetické utěsnění pláště olověným obalem.
320 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Příklad: Navrhněte jednoduché magnetické stínění pro vstupní transformátor rozměrů<br />
20x20x20 mm se součinitelem stínění KS = 50<br />
a) z šedé slitiny µr = 100,<br />
b) z transformátorových plechů µr = 400,<br />
c) z permalloye µr = 10 000.<br />
Řešení:<br />
a) dosazením do (4.8) pro KS = 50 dostáváme rovnici<br />
8 ⋅100<br />
⎛ 2 1 ⎞<br />
50 = 1 + ⎜2b<br />
− 3b<br />
+ ⎟<br />
81 ⎝ b ⎠<br />
jejimž řešením dostáváme b = 2,44, hledané rozměry krytu jsou b = 48,8 mm, a = 39,2 mm a<br />
d = 4,8 mm<br />
b) řešením pro µ r = 400 dostáváme b = 1,69 a rozměry b = 33,8 mm, a = 29,2 a d = 2,3<br />
mm,<br />
c) řešením pro µr = 10 000 dostáváme b = 1,13 a rozměry b= 22,6 mm, a = 21,8 mm a d =<br />
0,4 mm.<br />
Závěr: Rozměry stínicího krytu jsou v tabulce.<br />
Tabulka 7.15: Rozměry stínícího krytu<br />
Krom ě stínění máme ještě další možnosti, kterými můžeme snížit vyzařování a škodlivé<br />
vlivy magnetických polí, a to jejich kompenzací, jinak též neutralizací nebo astatizací (podle<br />
astatické magnetky známé z fyziky). U síťových transformátorů např. chceme snížit<br />
vyzařování jejich magnetického pole do okolí. Můžeme proto použít pro konstrukci<br />
transformátorů toroidálního vinutí rovnoměrně rozloženého na prstencovém jádře, což je<br />
nejdokonalejší a také nejdražší. Nejvíce vyzařuje běžné jádro tvaru E-I s vinutím na středním<br />
sloupku. Lepším řešením (jen o málo horší než toroid) je jádro rámové s dvěma cívkami se<br />
souměrně rozděleným primárem a sekundárem, jichž vyzařování se ve větší vzdálenosti<br />
vzájemně ruší. Účinným dalším prostředkem je navrhnout transformátor s malým sycením,<br />
např. o t řetinu sníženým proti normálu, což sníží vyzařování o 60 - 80% (vyzařování je totiž<br />
úměrné intenzitě pole H, nikoliv sycení B).<br />
U citlivých vstupních transformátorů užíváme též rámových jader složených z<br />
permalloyových řezů tvaru L, méně často toroidů. Je-li vinutí rozloženo na jádře souměrně,<br />
pak napě tí indukované vnějším polem do obou částí vinutí se vzájemně do značné míry ruší.<br />
Zbývající rušivé napětí bývá podle dokonalosti symetrie a homogenity rušivého pole o 20 - 40<br />
dB nižší než u transformátorů nesymetrických.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 321<br />
Dále je třeba vhodně orientovat nízkofrekvenční transformátory a vstupní obvody<br />
vzhledem k síťovému transformátoru nebo tlumivce tak, aby vzájemná indukčnost byla<br />
minimální (jejich silokřivky musí být navzájem kolmé).<br />
Především je ovšem potřeba pečlivě rozmístit vodiče a součástky obvodů s nízkou úrovní<br />
signálu vzhledem ke střídavým polím. Jmenovitě<br />
1. Citlivé obvody umisťujeme co nejdále od zdrojů rušivých magnetických polí (síťových<br />
transformátorů).<br />
2. Citlivé vodiče vedeme tak, aby naindukované napětí bylo co nejmenší, tj. rovnoběžné s<br />
magnetickými siločárami.<br />
Obráz ek 9.209: Připojení zátěže ke zdroji může být zdrojem rušivého magnetického pole:<br />
a) spr ávné připojení zátěže ke zdroji, které nevyvolává v okolí rušivé mag. pole, b) jsou-li<br />
zdroj a zátěž samostatně uzemněny, teče přes 1-2 rozdílový proud a kompenzace<br />
zkroucením vodičů není úplná<br />
Obrázek 9.210: Vedeme-li výkon k zátěži<br />
souosým kabelem, nevzniká vlivem<br />
procházejícího proudu žádné rušivé pole vně<br />
kabelu<br />
Obrázek 9.211: Příklad zapojení citlivého<br />
analogového vstupu a výkonového napájecího<br />
zařízení. Z napájecího zdroje mohou téci<br />
značné proudy, které by mohly být zdrojem<br />
rušení pro citlivé analogové obvody. Proto je<br />
zdroj připojen souosým kabelem, u něhož je<br />
plášť použit jako zpětný vodič. Analogový<br />
vstup je připojen souosým kabelem spojeným se zemí pouze na straně vstupu.<br />
3. Velice účinné je používat zkroucených vodičů pro vedení střídavých signálů, zvláště<br />
větších proudů. Dříve to bylo typické pro žhavicí přívody elektronek. Vzájemně opačný<br />
proud v obou vodičích a zkroucení vodičů způsobí kompenzaci magnetického pole pro<br />
každý závit. Nesmí však být vytvořena žádná jiná paralelní vodivá cesta. Nesprávné<br />
provedení je na obr. 7.209b. Spojením 1-2 vznikne nesymetrie, zemním spojením teče<br />
proud i3 = i1 - i2 a kompenzační účinek zkroucení vodičů se zmenší. Spojení 1-2<br />
nemusí být jen přímé, podobně působí např. i nesymetrie kapacity zátěže. Ke zmenšení<br />
parazitních nesymetrií se doporučuje vést zkroucené vodiče těsně podél zemní plochy a<br />
dodržovat minimální velikost plochy možných parazitních smyček.<br />
4.<br />
Pro vedení signálů velkých úrovní je vhodné použít souosý kabel (obr. 7.210). V tomto<br />
případě se nejedná o stínění, jak bylo popisováno dříve, ale o kompenzaci magnetického<br />
pole, vznikajícího průchodem proudu. Příklad použití souosého vedení pro stínění a<br />
kompenzaci rušení je na obr. 7.211. Pro napájení logických obvodů TTL (5 V) je použit
322 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
souosý kabel, připojený na obou koncích, aby bylo zabráněno vyzařování vlivem<br />
spínacích jevů. Pro citlivé obvody je užit souosý stíněný vodič.<br />
5. Indukované napětí je úměrné ploše smyčky a její orientace ke zdroji rušení. Plochu<br />
smyčky omezíme co nejvíce zmenšováním rozměrů a vzdáleností použitých vodičů.<br />
Orientaci pole můžeme ovlivnit umístěním vedení a zdrojů rušení (natočením<br />
transformátorů apod.).<br />
Shrnutí : Pro volbu materiálu stínicího krytu je směrodatná frekvence rušivého<br />
magnetického pole. Při nízkých frekvencích, případně při stejnosměrném magnetickém poli<br />
dosáhneme podstatného stínicího účinku pouze s vysoce permeabilními materiály (nesmí však<br />
dojít k nasycení vlivem silných magnetických polí, pak by ztratily své výhodné vlastnosti).<br />
Čím vyšší je permeabilita, tím nižší je mezní frekvence materiálu, takže v případě použití<br />
permalloye bývá vhodné i pro technické kmitočty stínění vrstvené např. svinuté z několika<br />
vrstev pásku.<br />
Při středních a vyšších frekvencích získáme velké stínicí útlumy i s tenkými<br />
nemagnetickými materiály. Zde se volí materiál stínění hlavně z hledisek výrobních a<br />
technologických (fólie, plech, odlitek). Použití feromagnetických látek při vyšších kmitočtech<br />
je nevhodné vzhledem k značným ztrátám ve stínění.<br />
Pro praktické použití byly vypracovány různé monogramy pro návrh stínění. Nomogram<br />
podle [ST 1956/6:192] je na obr. 7.212. Nomogram vychází z útlumu vrstvy čisté mědi 1 mm<br />
silné<br />
Pro jiný materiál platí vztah<br />
S Cu<br />
2<br />
= 1,314<br />
⋅10<br />
f [dB/mm, MHz].<br />
S = S Cu<br />
1,72<br />
⋅ µ /σ [dB/mm, µW/cm3]<br />
Výsledný útlum v dB je dán útlumem S dle výše uvedených vzorců a síly uvažované<br />
vrstvy v mm. Tj. jak odpovídá předchozímu textu, útlum je přímo úměrný síle vrstvy a druhé<br />
odmocnině ze součinu kmitočtu, odporu a permeability.<br />
Pro materiály s velkou vodivostí, jako je čistá měď apod., lze útlum SCu odečíst přímo v<br />
závislosti na kmitočtu na levé krajní stupnici nomogramu. Pro jiný materiál postupujeme<br />
podle klíče. Za permeabilitu nutno dosadit tu hodnotu, která odpovídá sycení materiálu v<br />
daném případě. K nomogramu je přidána tabulka hodnot specifických odporů r, počáteční a<br />
maximální permeability nejužívanějších materiálů.<br />
Příklad : Jaký bude účinek uzavřeného krytu cívky o síle 0,5 mm při 10 kHz, použijeme-li<br />
čisté mědi nebo permalloye. Pro útlum v mědi čteme okamžitě ACu = 13 dB/mm, v našem<br />
případě je útlum 0,5.13 = 6,5 dB. Pro permalloy nastavíme r = 21, µ = 50 000, f = 10 kHz a<br />
odečteme A = 7000 dB/mm. Skutečný útlum je 0,5.7000 = 3500 dB.<br />
8.10.4 Stínění nízkofrekvenčních a napájecích transformátorů<br />
V transformátorech s jádry z feromagnetických materiálů se podstatná část magnetického<br />
toku uzavírá v jádru. Pouze malá<br />
část toku (tzv. rozptylový tok) se dostává do okolního<br />
prostoru a může být příčinou parazitních indukcí. Jakékoli opatření, snižující rozptyl
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 323<br />
transformátoru, zmenšuje i parazitní indukci. Z toho plyne, že prvním a hlavním stíněním<br />
transformátoru je jeho magnetický obvod. Zlepšení magnetického obvodu použitím materiálů<br />
s velkou relativní permeabilitou a zmenšení vzduchové mezery zmenšuje parazitní indukci. Je<br />
výhodné užít jader typu C nebo ještě lépe toroidních.<br />
Je-li transformátor umístěn tak, že může být zdrojem nebo příjmačem rušení, řeší se jeho<br />
stínění. Někdy stačí vhodná orientace magnetického obvodu vzhledem k vnějšímu<br />
magnetickému poli. Problematika již byla řešena na straně. .<br />
Někdy je třeba řešit pouze elektrické stínění transformátoru, viz. str. .<br />
8.10.5 Stínění cívek a vysokofrekvenčních obvodů<br />
Stínění vysokofrekvenčních cívek, rezonančních obvodů a celých vf obvodů proti<br />
vyzařování a vnikání elektromagnetických polí je častou úlohou. Při návrhu těchto stínění je<br />
třeba uvážit nejen potřebu dosáhnout žádaného činitele stínění, ale současně též další vedlejší<br />
vlivy zejména změny velikosti indukčnosti a jakosti cívky.<br />
Každé stínění zejména u válcových cívek, můžeme chápat jako zkratový závit induktivně<br />
vázaný s cívkou, a jeho účinek pak snadno objasníme pomocí náhradního schématu na obr. .<br />
. Pro tento obvod zřejmě platí známé vztahy z teorie vázaných obvodů<br />
U<br />
= j ⋅ ω ⋅ L ⋅ I<br />
+ j ⋅ ω ⋅ M ⋅ I<br />
1<br />
1 1<br />
2<br />
= j ⋅ ω ⋅ M ⋅ L1<br />
+ ( j ⋅ ω ⋅ L2<br />
+ R)<br />
⋅<br />
2<br />
0 I<br />
Jejich řešením můžeme snadno nalézt, že<br />
2 2<br />
U<br />
M<br />
1 = j ⋅ ω ω<br />
⋅ L1<br />
+<br />
I j ⋅ L + R<br />
1<br />
⋅ ω<br />
2<br />
Dosazením známé definice vzájemné indukčnosti M = k L L 1 2<br />
w L2 >> R (tj. že činitel Q zkratového závitu >> 1) nalezneme<br />
2<br />
( − k )<br />
U<br />
1 I 1<br />
2 L1<br />
= j ⋅ω<br />
⋅ L1<br />
+ R ⋅ k<br />
1<br />
L 2<br />
a zavedením předpokladu<br />
což ukazuje, že účinkem krytu klesá indukčnost cívky úměrně činiteli (1-k2) a že její<br />
sériový ztrátový odpor roste o přídavnou složku, vyjadřující ztrátu energie vířivými proudy v<br />
krytu. Při praktickém výpočtu považujeme kryt za jednozávitovou cívku, jejíž indukčnost<br />
vypočteme z geometrických rozměrů podle známých vztahů.<br />
Odpor R vypočteme též z šířky a délky proudové dráhy, přičemž vycházíme z poznatku, že<br />
hloubka pronikání definovaná v předchozím odstavci je ekvivalentem tloušťky vodiče,<br />
protékaného homogenně rozloženým proudem, a že tedy součin této hloubky pronikání a<br />
šířky proudové dráhy nám udává průřez vodiče pro výpočet odporu. Činitel vzájemné vazby k<br />
počítáme též z geometrického rozložení.
324 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obrázek 9.212: Nomogram pro výpočet stínění
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 325<br />
Praktické zásady, které z těchto úvah vycházejí, můžeme shrnout asi takto :<br />
- stínicí kryty cívek nutno konstruovat z materiálů dobře vodivých (měď, hliník)<br />
- tloušťku krytu volit rovnou nejméně pětinásobku hloubky pronikání pracovního proudu<br />
při pracovním kmitočtu (jinými slovy tloušťka krytu<br />
nesmí být menší než hloubka vniku δ0,01.<br />
- průměr krytu volit nejméně dvakrát větší než průměr<br />
stíněné cívky.<br />
- vzdálenost čel krytu od cívky volit větší než poloměr<br />
cívky (t.j. rozměry válcového krytu se volí tak, aby<br />
mezera mezi cívkou a stíněním nebyla na všech<br />
stranách menší než polovina průměru cívky.<br />
Obr. 7.213. Kryt jako zkratový závit<br />
Tyto zásady platí pro válcové cívky bez feromagnetických jader. V případě feritových<br />
uzavřených jader rámových nebo hrníčkových, kde větší část magnetického toku probíhá<br />
jádrem, je možné volit kryt těsnější, například jen o 20% větší než rozměr jádra. Přípustnou<br />
mez zjistíme nejsnáze měřením změny činitele jakosti cívky po přiložení krytu.<br />
Poznamenejme, že u běžných cívek (dlouhých jeden až tři průměry) po vložení do krytu<br />
minimálních rozměrů (dle výše uvedených zásad) zmenší se indukčnost o cca 15%.<br />
U cívek velkých rozměrů (např. pro vysílače) se uplatňuje ještě další podružný jev, který u<br />
malých cívek těžko zjistíme. Má-li totiž stínicí kryt (který je v těchto případech tvořen<br />
obvykle hliníkovými stěnami skříně) vlastní činitel jakosti značně velký, zjistíme, že činitel<br />
jakosti cívky v krytu může být dokonce o několik procent vyšší než u cívky bez krytu. Tento<br />
paradoxní jev se vysvětluje tím, že velké cívky bez stínění již působí částečně jako antény a<br />
vyzařují energii, a dále tím, že rozložení proudu po obvodu vodiče cívky je ve stíněném stavu<br />
rovnoměrnější.<br />
Nakonec ještě poznámka o stínění rezonančních obvodů. Má-li být stínění účinné, je třeba,<br />
aby maximální část elektromagnetického pole obvodu byla uzavřena v krytu. Není proto<br />
účelné stínit pouze cívku, můžeme-li dovnitř krytu umístit i kondenzátor. Je-li jeden konec<br />
uzemněn, spojujeme jej s krytem pouze v jediném bodě.<br />
Cívky vyvolávají magnetický tok, orientovaný určitým způsobem, s čímž se musí počítat<br />
při návrhu stínění a při navrhování štěrbin pro vývody. Všechny štěrbiny musí být<br />
orientovány tak, aby nepřekážely průchodu vířivých proudů, vyvolávající stínicí jev. Na obr.<br />
55 a 56 jsou typické příklady stínění a přípustná i nepřípustná štěrbina.<br />
Stínění elektrického pole se v uvažované konstrukci dosáhne bez jakýchkoli dalších úprav.<br />
Stínění musí být dobře spojeno s kostrou přístroje.<br />
Obr. 7.214. Přípustná a nepřípustná štěrbina ve<br />
stínění pro vývody
326 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obr. 7.215. Správné a chybné umístění cívek ve stínění<br />
8.10.6 Elektrické stínění<br />
Elektrické stínění odstraňuje nežádoucí kapacitní vazby mezi jednotlivými obvody,<br />
případně vodiči. Elektrické stínění bývá nutné u vodičů s vysokým odporem vůči zemi,<br />
zejména pokud vedou signály nízké úrovně.<br />
Obrázek 9.216: Náhradní obvod pro parazitní kapacitní vazbu: a) bez stínění,<br />
b) se stíněním<br />
Na obr. 9.216a je u r napětí zdroje rušení (spínací tranzistor, hradlo TTL apod.). Cp je<br />
nežádoucí parazitní kapacita, R je vstupní odpor přijímače rušení, kterým může být např.<br />
ur<br />
vstupní obvod zesilovače apod. Obvodem pro téká proud ir<br />
= , který vyvolává na<br />
R + jX<br />
vstupním odporu R úbytek napětí u = u ( 1 + jX )<br />
ro<br />
r<br />
Zapojíme-li podle obr. 7.216b mezi body 1 a 2 nekonečně velkou dokonale vodivou desku 3-4<br />
spojenou v bodě 4 se společným potenciálem, rozdělí se Cp na Cp1 a Cp2. Smyčkou 1-3-4<br />
sice poteče proud přes kapacitu Cp1, ale vzhledem k dokonalé vodivosti desky 3-4 není ve<br />
smyčce 3-2-4 žádný zdroj napětí a tedy na odporu R není žádný rušivý signál od zdroje Up.<br />
p<br />
p<br />
, kde Xp je reaktance kondenzátoru Cp.<br />
Obrázek 9.217: Kapacitní přenos z bodu A do<br />
bodu B, není-li mezi těmito body stínění<br />
Obrázek 9.218: Přenos napětí z bodu A do B, je-li<br />
mezi těmito body stínění nespojené s kostrou
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 327<br />
V praxi ovšem stínění není realizováno nekonečně velkou vodivou deskou a z toho plynou<br />
různé problémy. Obr. 7.217 a 7.218 ilustrují vliv reálného stínění. Přenos rušivého napětí<br />
parazitním kapacitorem Cp na obr. 7.217 je dán funkcí kapacitního děliče. Pro snížení<br />
rušivého napětí Up je třeba zmenšovat kapacitu<br />
Cp a zvětšovat kapacitu C B .<br />
Obrázek 9.219: Účinek stínění spojeného<br />
s kostrou<br />
Jestliže umístíme mezi body A a B kovové stínění (obr. 7.218) nepropojené se zemnící<br />
svorkou, rozdělí se původní parazitní kapacita na dvě kapacity C1 a C2 zapojené v sérii, ke<br />
kterým je paralelně připojena nevelká zbytková kapacita Cp. Přenos rušivého napětí bez<br />
uvažování zbytkové kapacity Cp je dán vztahem:<br />
U<br />
p C1C<br />
2<br />
= (19)<br />
U<br />
( C + C )( C )<br />
r 1 3 B<br />
+ C2<br />
Ze vztahu (19) vyplývá, že se parazitní přenos napětí může snížit, ale i zvýšit !<br />
1. Je-li stínění instalováno tak, aby jeho kapacita byla proti bodu A velká a proti kostře<br />
malá, tzn., je-li kapacita C1 podstatně větší než kapacita C3, potom napětí na stínění je<br />
přibližně rovno napětí v bodu A. Jelikož kapacita C2 bývá vždy větší než kapacita Cp,<br />
je napětí Up po instalaci stínění větší než před instalací a stínění je neužitečné, ba<br />
škodlivé.<br />
2. Je-li stínění instalováno tak, že jeho kapacita C3 proti kostře přístroje je velká, je napětí<br />
po instalaci stínění menší než bez stínění. Stínění se stává účinné se zvětšováním<br />
kapacity C3.<br />
Zvětšování kapacity C3 nade všechny meze je ekvivalentní zkratu mezi stíněním a kostrou<br />
(obr. 34). Jestliže neuvažujeme zbytkovou parazitní kapacitu Cp mezi body A a B, je napětí<br />
Up rovno nule a stínění, znázorněné na obr. 7.219, dává ideální stínící účinek. Ve skutečnosti<br />
není napětí Up rovno nule, nýbrž je určeno výrazem<br />
U<br />
p<br />
= U<br />
r<br />
C′<br />
p<br />
C′<br />
+ C<br />
p<br />
2<br />
+ C<br />
ze kterého plyne, že napětí U p je podstatně menší než před instalací stínění, neboť kapacita<br />
Cp je podstatně menší než kapacita Cp. Podstatného zlepšení stínění tedy dosáhneme<br />
uzemněním stínění.<br />
Fyzikální smysl stínícího účinku kovového stínění, spojeného s kostrou přístroje, je ve<br />
zkratování velké části parazitních kapacit mezi odstiňovanými body na kostru.<br />
B<br />
≈ U<br />
r<br />
C<br />
2<br />
C′<br />
p<br />
+ C<br />
B<br />
(20)
328 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Zajímavé situace je uvedena na obr. 7.220. V blízkosti bodů A, B je umístěna deska z<br />
vodivého materiálu (obvykle víko). Z uvedeného obrázku vyplývá, že se podstatně zvětší<br />
parazitní přenos, je-li tato vodivá plocha neuzemněna a také hodnota C3 je malá. Naopak,<br />
když tuto desku uzemníme, projeví se příznivě její stínící účinek.<br />
Tehdy jsou kapacity C1 a C2 spojeny s kostrou a napětí v bodě B je určeno poměrem<br />
kapacity Cp k součtu kapacit Cp + C2 + CB. Protože Cp je menší než Cp a součet Cp + C2 +<br />
CB je větší než součet Cp + CB, je zřejmé, že víko, spojené s kostrou, dává určitý stínící<br />
účinek, bez zřetele na to, že není umístěno mezi body A a B. Stínící účinek může být dosti<br />
velký, je-li víko umístěno v blízkosti uvažovaných bodů.<br />
Různým účinkem kovového stínění, spojeného s<br />
kostrou nebo od ní izolovaného, lze vysvětlit jev známý<br />
z praxe, a to, že přiblížení ruky k odkrytým spojům<br />
zvětšuje nežádoucí přenosy a v zesilovačích vede často<br />
ke kmitání nebo k deformaci křivky propustnosti.<br />
Přibližujeme-li ruku ke spojům a současně i ke kostře,<br />
oscilace se zmenšují a často vůbec vysadí. Je zřejmé, že<br />
ruka nahrazuje kovové stínění, které, není-li spojeno s<br />
kostrou, zvětšuje vazbu mezi různými body spojů a při<br />
spojení s kostrou vazbu zmenšuje.<br />
Obrázek 9.221: Vliv indukčnosti<br />
stínění s kostrou<br />
Z vyložených fyzikálních jevů, které jsou základem stínění elektrického pole, vyplývá, že<br />
aby bylo stínění účinné, je třeba dodržovat několi zásad:<br />
1. Všechny vodiče přenášející signál mají být uvnitř stíněného prostoru.<br />
2. Stínění musí být připojeno ke společné svorce zapojení. Je-li signál spojen jednou svorkou<br />
se zemí, musí být i stínění spojeno se zemí. Důvod byl již vysvětlen (obr. 7.218). Praktický<br />
příklad je na obr. 7.222. Rušivé napětí se na stínění projeví dělené v závislosti na poměru<br />
kapacit C13 a C23. Stínění S toto napětí přenáší přes kapacitu C34 do vstupu obvodu.<br />
Stínění je málo účinné. Zkratujeme-li C13 spojením bodů 1 a 3, odstraníme průnik rušení<br />
přes kapacity C13 a C34. Na jakosti spoje stínění s kostrou závisí stínící účinek. Spoje<br />
Obrázek 9.222: Neuzemněné plovoucí stínění má omezený stínící účinek<br />
Obrázek 9.223: Každé stínění má být uzemněno v jednom referenčním bodě: a) připojení<br />
stínící krabičky na společný referenční potenciál v bodě 1, b) správné připojení stínění<br />
souosého kabelu
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 329<br />
mezi stíněním a kostrou nesmějí být dlouhé. Impedance takového spoje (obr. 7.222) roste s<br />
kmitočtem a svý účinkem odpovídá zmenšování kapacity C3 na obr. 7.218 a obr. 7.220. V<br />
pásmu krátkých vln a zvláště vln metrových i kratších mohou spoje dlouhé několik<br />
centimetrů podstatně zhoršit stínění přístroje.<br />
3. Úzké štěrbiny a otvory v kovové přepážce nezhoršují stínění elektrického pole, pokud jsou<br />
malé ve srovnání s délkou vlny. Štěrbiny a otvory změní totiž kapacity Cp, C2 a CB (viz<br />
obr. 7.219 a 7.220), jimiž je určeno napětí v bodě B, pouze nepodstatně.<br />
4. Účinnost stínění elektrického pole nezávisí na tloušťce stínění, neboť stíněním prochází jen<br />
malý proud. Jak je vidět na obr. 7.219, proud procházející obvodem ASK je určen<br />
impedancí kapacity C1, která je při dobrém spojení stínění s kostrou mnohem větší než<br />
odpor stínění a odpor kostry.<br />
Stínění obvodů rozdělených na několik sekcí<br />
Obzvlášť pečlivě je třeba řešit konstrukci vík, která současně přikrývají několik stíněných<br />
sekcí. Nechť jsou (viz obr. 7.224) A, B, C, D, čtyři sekce, vzájemně stíněné přepážkami, se<br />
společným víkem, které má na svém obvodu dobrý kontakt v bodech 1 a 6. Při sejmutém víku<br />
(obr. 7.224a) jsou zdroje rušení, označené V a umístěné v sekcích A a B, vázány s přijímači<br />
rušení v sekcích C a D parazitními kapacitami C1, C2, C3 a C4. Při nasazeném víku (obr.<br />
7.224b) mají body V a W proti víku kapacity C1, C2, C3 a C4. Při práci na poměrně nízkých<br />
kmitočtech, při nichž vlastně nemá vliv ani indukční víka, ani přechodový odpor v kontaktech<br />
1 a 6, jsou kapacity C1 až C4 spojeny s kostrou - víko odstraňuje parazitní přenosy.<br />
Obrázek 9.225 Náhradní schéma parazitního<br />
přenosu, zprostředkovaného víkem<br />
Obrázek 9.224: Parazitní vazba<br />
způsobená společným víkem<br />
Obrázek 9.226: Víko spojené s přepážkou<br />
kontaktními pružinami odstraní parazitní<br />
vazbu jen částečně
330 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
V pásmu vysokých kmitočtů a zvlášť při velmi vysokých kmitočtech jsou i při stínění<br />
víkem body V a W vázány kapacitami C1 až C4 a induktivním děličem, tvořeným víkem.<br />
Např. (obr. 7.224b) zdroj rušení v sekci A je spojen s přijímačem rušení v sekci C tak, jak<br />
ukazuje náhradní schéma na obr. 7.225. Protože kapacity C1 až C4 jsou mnohem větší než<br />
kapacity C1 až C4 může se snadno stát, že montáž víka parazitní vazbu nejen nepotlačí, nýbrž<br />
dokonce zvětší.<br />
Aby tento případ nemohl nastat, montují se na víko kontaktní pružiny zprostředkující<br />
dotyk víka s přepážkami. Takové řešení má však mnoho nevýhod, především:<br />
a) možnost deformace kontaktních pružin při montáži víka,<br />
b) nutnost přesné polohy přepážek a kontaktních pružin, aby bylo zaručeno jejich spojení,<br />
c) nutnost použít speciální, dobře pružící materiály,<br />
d) neúplné odstranění parazitní vazby, neboť část víka mezi body A a B má menší odpor<br />
než přechodové odpory čtyř kontaktů (obr. 7.226).<br />
Tyto nedostatky nemá řešení, znázorněné na obr. 7.224d, neboť každá sekce je zakryta<br />
vlastním víkem. Navíc toto provedení není tak náročné na dokonalost kontaktu kolem celé<br />
stíněné sekce; postačí, má-li víko kontakt alespoň v několika bodech.<br />
Je-li bezpečně známo, že zdroje rušení jsou v sekcích A a B a přijímače rušení v sekcích C<br />
a D, nebo že vazba mezi určitými úseky není tak nebezpečná jako mezi úseky jinými, lze<br />
konstrukci zjednodušit a použít víka společného pro dvě, event. i více sekcí, jak znázorňuje<br />
obr. 7.224e.<br />
8.10.7 Stínění síťových transformátorů<br />
Převážná část elektronických zařízení je napájena síťovým napětím. Po síti se však šíří<br />
nejen napájecí napětí, nezbytné pro provoz všech zařízení, ale i poruchy a rušivé signály.<br />
Elektronické zařízení obvykle obsahuje síťový transformátor, který má mezi primárním a<br />
sekundárním vinutím kapacitu řadu desítek až stovek pF. Tato kapacita je možným vstupem<br />
rušení do zařízení. Omezit její vliv můžeme síněním. Obvyklé stínění spočívá v tom, že mezi<br />
primár a sekundár vložíme měděnou fólii, spojenou s kostrou. Aby stínící fólie netvořila závit<br />
nakrátko, vkládá se pod ni v místě přesahu proužek izolačního papíru. Otevřený závit z<br />
měděné fólie můžeme nahradit jednou vrstvou drátu na jednom konci spojenou s kostrou.<br />
Toto stínění umožňuje zmenšit kapacitu mezi vinutím na méně než 10 pF.<br />
Dále lze kapacitu zmenšit o 1 až 2 řády dokonalejším provedením stínicích krytů okolo<br />
vinutí. Pozor, stínění nesmí tvořit závit nakrátko, aby neovlivňovalo magnetické vlastnosti<br />
transformátoru, ale pouze zmenšovalo kapacitní vazbu mezi vinutími. Na obr. 7.227 je přístroj<br />
v kovové skříni, se stíněním a jádrem síťového transformátoru spojenými se skříní.<br />
Sekundární napětí U12 vyvolá přes kapacitu C 23 proud smyčkou 1-2-3-4-5-6-7-1. Rušivý<br />
proud protéká spolu se signálem vodičem 6-1, což nelze připustit. Zkusme proto stínění 3<br />
zapojit do bodu 1, aby rušivý proud protékal pouze smyčkou 1-2-3-1 (obr. 7.227). V tomto<br />
případě se však projeví kapacita mezi primárním vinutím a stíněním a proud protéká smyčkou<br />
9-8-3-7-6-9 (a společně se signálem vodičem 7-6). Ani tento případ není příznivý. Optimální<br />
výsledky dává užití dvou stínění, které se užívá u citlivých přístrojů<br />
(obr. 7.228). Rušivé<br />
proudy protékají smyčkami 1-2-3-4-5 a 6-7-8-9-6 mimo vodiče, kterými prochází signál.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 331<br />
Obr. 7.227. Transformátor může do přístroje přenášet rušení ze sítě. Použijeme-li jedno<br />
stínění, prochází napětí ze sekundárního obvodu 1-2 přes kapacitu C23 do stínění a smyčka se<br />
uzavře signálovým vodičem 6-7. Ani připojením stínění do bodu 1 neodstraníme průchod<br />
nežádoucího signálu signálovými vodiči<br />
Obr. 7.228. Použití dvou stínění odstraní možnost pronikání parazitního rušení přes síťový<br />
transformátor<br />
8.10.8 Současné stínění magnetického a elektrického pole<br />
Srovnáme-li stínění magnetického a elektrického pole, jsou proudy procházející stíněním<br />
následkem magnetického pole mnohem větší než proudy vyvolané polem elektrickým.<br />
Proudy vyvolané ve stínění magnetickým polem tekou jenom v povrchových vrstvách stínění<br />
s velmi malým odporem, zatímco proudy vyvolané elektrickým polem pronikají vždy<br />
kapacitou mezi stíněním a stíněným obvodem, která je poměrně malá.<br />
Účinnost elektrického stínění je téměř výlučně dána stykem (odporem spoje) stínění s<br />
kostrou přístroje. Při stínění magnetického pole nemá spoj stínění s kostrou vliv na<br />
indukované proudy, a tím ani na účinek stínění.<br />
Změna kmitočtu nemá vliv na funkci elektrického stínění. Stejně tak má zanedbatelný vliv<br />
měrná vodivost materiálu, ze kterého je stínění vyrobeno. Magnetické stínění je zcela závislé<br />
na kmitočtu. Čím je kmitočet nižší, tím je magnetické stínění méně účinné, a tím musí mít<br />
tlustší stěny, aby bylo dosaženo stejného magnetického stínění.
332 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obrázek 9.229: Povrchový proud na Obrázek 9.230:<br />
ploše ideálního vodiče, protékaného<br />
střídavým proudem<br />
Obrázek 9.231: Obrázek 9.232:<br />
Obrázek 9.233:
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 333<br />
Pro dobré stínění je třeba uvážit tato hlediska:<br />
1. V ideálním vodiči (tj. ve vodiči s nekonečně velkou vodivostí nebo nulovým odporem)<br />
nemůže být ani elektrické, ani magnetické pole. Obr. 7.229 znázorňuje desku z ideálně<br />
vodivého materiálu, na kterou je přiloženo střídavé napětí. Proud teče jen po povrchu a<br />
nebude vnikat do průřezu vodiče, přesto, že cesta po povrchu je delší. Reálným vodičem<br />
s konečnou vodivostí prochází proud i jeho průřezem, přičemž dovnitř vodiče hustota<br />
proudu klesá. Čím je kmitočet vyšší, tím více se blíží reálný vodič vodiči ideálnímu.<br />
2. Vedeme-li otvorem v desce z ideálně vodivého materiálu vodič (obr. 7.230), jímž<br />
prochází střídavý proud, vybudí se na desce povrchové proudy takové, že součet proudů<br />
protékajících po průřezu otvoru je roven nule. Na tento poznatek nesmíme zapomínat<br />
při návrhu přepážek, dělících stíněný prostor na dva úseky (obr. 7.231). V takovém<br />
stínění vznikají bludné proudy a způsobují rozdíl potenciálů mezi jednotlivými body<br />
stínění.<br />
3. Je-li vložena do cesty časově proměnnému magnetickému toku deska z ideálního vodiče<br />
s otvorem (obr. 7.232), musí být celkový magnetický tok, procházející otvorem, roven<br />
nule. Malé otvory téměř nezhoršují jakost stínění, neboť magnetické pole může být<br />
zjištěno jen v blízkosti otvoru, jak to odpovídá obr. 7.232. Dlouhé úzké štěrbiny,<br />
přípustné v elektrickém stínění, jsou v magnetickém stínění nebezpečné svým zářením,<br />
pokud jsou kolmé na směr vířivých proudů. Při stínění složitějších elektrických obvodů,<br />
v nichž jsou magnetické toky orienovány nejrůznějším způsobem, se dlouhým<br />
štěrbinám vyhýbáme vůbec (obr. 7.233). Je proto žádoucí spojit díly stínění dobře<br />
navzájem a s kostrou tak, aby možné štěrbiny nebyly delší než 0,25 až 1 % vlnové<br />
délky. Dobré propojení dílů stínění je žádoucí i z hlediska stínění elektrického pole.<br />
Jakost stínění závisí na propojení jednotlivých dílů stínění.<br />
8.10.9 Stínění vodičů<br />
V praxi je velmi častá otázka stínění vodičů. V okolí vodiče, kteým protéká střídavý proud<br />
(obr. 7.234), vzniká časové proměnné pole elektrické a magnetické. Tato pole mohou v<br />
součástkách v blízkosti vodiče indukova t rušivé napětí. Stínění musí být spojeno se zemí v<br />
jednom bodě. Elektrické pole se koncentruje do prostoru mezi vodičem a stíněním, vně stínění<br />
pole nebude. Současně se však značně zvětšuje kapacita proud, procházející smyčkou<br />
generátor-vodič-stínění-kostra-generátor, mimo užitečnou zátěž Zz.<br />
Obrázek 9.234:<br />
Aby byl prostor mimo stínění úplně chráněn proti<br />
účinkům uvažovaného elektrického pole, musíme stínění spojit s kostrou velmi pečlivě, neboť<br />
tímto spojem prochází značný kapacitní proud. Tento spoj nesmí mít libovolnou délku, stínění<br />
se musí přímo připájet nebo i přivařit ke kostře (obr. 7.235). Stínění spojené v jednom bodě s<br />
kostrou však nezbavuje okolí vodiče magnetického pole. (viz později).
334 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obecné zásady pro elektrické stínění je třeba doplnit následujícími poznatky vztahujícími<br />
se ke stínění vodičů (číslování navazuje na str.234 ):<br />
3. Stínění má být připojeno k referenčnímu potenciálu na straně zdroje signálu, viz obr.<br />
7.223.<br />
4. Stínicí vodič nemá být používán současně<br />
jako vodič signálový. Správné propojení je<br />
na obr. 7.236. Společný vodič signálového<br />
obvodu je 4-5. Stínění S je spojeno souosým<br />
kabelem přes 2-6-1 s referenčním bodem 1<br />
zapojení na vstupu. Proud ze zdroje rušení ur<br />
prochází obvodem 3-2-6-1-3 a nemůže na<br />
společném vodiči 4-5 signálového obvodu<br />
vyvolat žádný úbytek napětí. Kdyby však<br />
nebyly dodrženy zásady stínění (např. při<br />
spojení 2 a 5), pak by proud ze zdroje rušení<br />
procházel i signálovým vodičem 4-5 a<br />
vyvolal by na něm nežádoucí úbytek<br />
rušivého napětí. Obrázek 9.235:<br />
5. Skládá-li se stínění z několika po sobě následujících částí, musí být jednotlivá stínění<br />
propojena za sebou a spojena se spo lečnou svorkou pouze v jednom bodě (obr. 7.237).<br />
6. Přicházejí-li na vstup zařízení signály z několika nezávislých zdrojů, je třeba pro každý z<br />
nich použít nezávislé stínění, připojené na referenční potenciál příslušného zdroje, obr.<br />
7.238, i když mezi společnými svorkami jednotlivých zdrojů může být rozdíl potenciálů<br />
UCM.<br />
7. Stínění má být spojeno s referenčním potenciálem jen v jednom bodě (obr. 7.236 a<br />
7.239).<br />
8. Stíněním nemá protékat proud. Mohl by indukovat napětí ve vodičích stíněného<br />
prostoru.<br />
9. Na stínění nemá být napětí proti referenční úrovni. Vázalo by se kapacitně do stíněného<br />
prostoru (obr. 7.240).<br />
10. Je třeba pečlivě pověřit, kudy se uzavírá dráha pro rušivý signál mezi stíněním a zemí.<br />
Obr. 139 ukazuje nevhodný způsob spojení stínění dvou systémů, analogového a<br />
číslicového, se zemí. Je-li např. na výstupu číslicového obvodu TTL skok napětí 5 V,<br />
výstupní odpor hradla 13 W, kapacita souosého vodiče mezi vnitřním vodičem a<br />
pláštěm 470 pF a spojení tohoto vodiče se zemí 1-2 má např. odpor 0,1 W a indukčnost<br />
0,1 mH, pak v bodě 2 se překlopení hradla projeví tlumenými kmity o kmitočtu 7,3<br />
MHz s počáteční amplitudou 5 V. Náhradní zapojení obvodu je na obr. 140.<br />
Obrázek 9.236: Obrázek 9.237:
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 335<br />
Uvedené zásady pro stínění se nesmí aplikovat mechanicky. Každý případ je třeba<br />
analyzovat a najít optimální řešení na základě pochopení vlastností a činnosti obvodu.<br />
Obr. 7.238. Má-li zařízení několik<br />
vstupních signálů, má být každé stínění<br />
připojeno na referenční potenciál<br />
příslušného zdroje<br />
Obr. 7.239. Stínění nesmí být spojeno se zemí v<br />
několika bodech. Nestejností referenčních potenciálů<br />
by tekl stíněním proud, který by přenesl rušení do<br />
stíněného obvodu<br />
Obr. 7.240. Vyskytne-li se na stínění napětí,<br />
působí přes kapacity do stíněného prostoru<br />
Obr. 7.241. Nevhodným spojením různých<br />
stínění může do stíněného prostoru pronikat<br />
rušivý signál<br />
Obr. 7.242. Náhradní zapojení pro<br />
příklad podle obr. 7.241
336 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obr. 7.243. Příklad k<br />
diskuzi hledání správné<br />
možnosti připojení stínění<br />
Příklad řešení je na obr. 7.243. Je na něm neuzemněný zdroj u1, který má proti zemi rušivé<br />
napětí ur1 a měřicí systém s diferenčním vstupem (uA a uB), spojený se zemí (např. přes<br />
síťovou šňůru při přístroji v bezpečnostní třídě I). Parazitní kapacity jsou označeny C1, C2,<br />
C3 a C4. Stínění propojovacího kabelu můžeme připojit čtyřmi způsoby:<br />
A - se společnou svorkou 2 na<br />
straně měřidla,<br />
B - se zemní svorkou 6 na straně<br />
měřidla,<br />
C - se zemní svorkou 5 na straně<br />
zdroje,<br />
D - se společnou svorkou 1 na stran<br />
zdroje.<br />
Všechny čtyři případy jsou na obr.<br />
7.244<br />
V případě A prochází rušivý proud z<br />
ur1 přes 1-2-3-C4-5 v úseku 1-2<br />
společně se signálem. Varianta A je<br />
nevhodná. Při variantě B - ur1 a ur2 v<br />
sérii se vytváří přes C3, C1 a C2 rušivé<br />
napětí u 1,2;<br />
C - má obdobné účinky jako případ<br />
B;<br />
D - je optimální varianta.<br />
Obr. 244. Náhradní zapojení k obr. 7.243
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 337<br />
8.10.10 Stínění vodičů proti vlivu magnetických polí<br />
Stínění vodičů proti vlivu magnetických polí je podstatně obtížnější než stínění proti vlivu<br />
elektrických polí.<br />
Pro stínění magnetického pole musíme vytvořit pole stejné intenzity a opačného smyslu.<br />
Proto vedeme do generátoru zpětný proud, který v uspořádání na obr. 7.234 a 7.235 prochází<br />
kostrou přístroje, stíněním vodiče. Tehdy magnetický tok Fv, vybuzený proudem Iv,<br />
procházejícím vodičem, je roven magnetickému toku Fs, vyvolanému proudem Iv,<br />
procházejícím stíněním, takže v libovolném bodu v okolí stíněného vodiče je splněna<br />
podmínka:<br />
Φv − Φ<br />
s<br />
= 0<br />
(21)<br />
Aby tato podmínka byla splněna skutečně všude, musí být stínění jediným spojem mezi<br />
kostrou generátoru a kostrou zátěže (obr. 7.245).<br />
Obrázek 9.245:<br />
Na nízkých kmitočtech může další spojení obou koster (obr. 7.246) stínící účinek částečně<br />
porušit, neboť část zpětného proudu prochází mimo stínění.<br />
Obrázek 9.246:
338 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obrázek 9.247:<br />
Na vysokých kmitočtech prochází zpětný proud<br />
především po vnitřní ploše stínění (povrchový jev, obr.<br />
7.247) a exponenciálně klesá směrem k vnějšímu<br />
povrchu. Čím je kmitočet vyšší, tím menší je hloubka<br />
vniku proudu do stínícího pláště a tím méně se<br />
uplatňuje vliv zkratování stínění. Je-li hloubka vzniku<br />
d0,01 menší než tloušťka stěny stínění, prochází po<br />
vnějším stínění méně než 1 % celkového proudu.<br />
Tento proud vytvoří mezi kostrami přístrojů tak malý<br />
potenciální rozdíl, že zkratování stínění lze pro kmitočty nad 10 MHz zanedbat.<br />
Před použitím stíněných vodičů musíme uvážit jejich některé zvláštnosti, které mohou vést<br />
k porušení normální funkce přístroje.<br />
Použití stíněných vodičů značně zvětšuje kapacitu vodiče proti kostře, což bývá mnohdy<br />
nežádoucí (např. v nf technice nesmí být vstupní odpor zesilovače příliš velký, aby nedošlo k<br />
omezení vyšších akustických kmitočtů).<br />
Stíněné vodiče mají větší průměr, špatně se s nimi zachází při montáži a musíme je chránit<br />
před nahodilými dotyky s jinými součástkami.<br />
Stíněný vodič musí být kratší než čtvrtina délky vlny přenášeného signálu s nejvyšším<br />
kmitočtem (při respektování činitele zkrácení vodiče). Není-li tato podmínka splněna, nelze<br />
na stínění pohlížet jako na zvětšení kapacity a stíněný vodič musíme považovat za souosé<br />
vedení. Stíněný vodič nebývá ovšem tak precisně vyroben, aby měl konstantní vlnovou<br />
impedanci.<br />
Značného zmenšení vnějších magnetických polí lze bez použití stíněných kabelů<br />
dosáhnout použitím dvouvodičového vedení. Dva vodiče se vzájemně definovanou polohou<br />
(tzv. dvoulinka) mají snížené vyzařování a tzv. kroucená dvoulinka se osvědčuje při vnějším<br />
rušivém poli.<br />
Ekvipotenciální stínění<br />
Připojíme-li na stínění potenciál stejný, jako má chráněný vodič ve stíněném prostoru,<br />
napájený ze zdroje s malou impedancí, získáme cenné výhody. Zmenší se proud izolační<br />
vodivostí stínění, čehož lze využít při návrhu obvodů s velkou vstupní impedancí. Na obr.<br />
7.248 je stíněný obvod s velkým vstupním odporem. Použijeme-li pro oddělovací zesilovač<br />
Z1 zesilovač s FET na vstupu a velkým vstupním odporem, např. MAC 155, závisí celkový<br />
vstupní odpor ve značné míře na izolaci, čistotě, teplotě a vlhkosti vstupního kabelu a desky s<br />
plošnými spoji, na níž je zesilovač umístěn. Vstupní odpor obvodu se vlivem nedokonalé<br />
izolace zmenšuje a není stabilní. Vstupní kapacita je zvětšena o kapacitu mezi jádrem a<br />
pláštěm použitého souosého vodiče.<br />
Podstatně jiná situace nastane, připojíme-li okolí neinvertujícího vstupu zesilovače a<br />
vstupní kabel na stejné napětí, jaké je na vstupu - obr. 7.249. Toto napětí je k dispozici na<br />
vývodu zpětné vazby na inv ertující vstup. Mezi středním vodičem a stíněním kabelu v tomto<br />
případě není napětí, to znamená, že neteče proud a podstatně se tedy zvětší vstupní odpor.<br />
Obdobně se zmenší vstupní kapacita. Parazitní vlastnosti jsou podstatně potlačeny. Protože<br />
připojením se zvětšila kapacita paralelně k R2 (obr. 7.249), je vhodné dělič R1 a R2<br />
kompenzovat kondenzátorem paralelně k R1.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 339<br />
Obrázek 9.248: Obrázek 9.249:<br />
Obrázek 9.250: Obrázek 9.251:<br />
Na aktivním stínění se nesmí projevit rušivé napětí z vnějšího elektrického pole. Dobrého<br />
stínicího účinku vůči vnějšímu elektrickému poli je možno dosáhnout, má-li zdroj pomocného<br />
napětí, na něž je stínění připojeno, malý vnitřní odpor. Na obr. 7.250 je např. jako pomocný<br />
zdroj pro stínění použít "rychlý" oddělovací stupeň s malým výstupním odporem.<br />
Jinou možnost je použít další vnější stínění (obr. 7.251). Vnitřní stínění působí jako aktivní<br />
ekvipotencionální stínění, vnější stínění chrání vnitřní stínění vůči účinkům vnějšího rušivého<br />
pole.
340 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
9 SPOLEHLIVOST ELEKTRONICKÝCH ZAŘÍZENÍ<br />
V době před druhou světovou válkou si nikdo nedělal větší starosti s problémem<br />
spolehlivosti. Dosahovaná spolehlivost součástek byla řádově lambda = 10-2až 10-3. To<br />
dobře dostačovalo pro radiopříjímače, které měly cca 100 součástek a při požadované (nebo<br />
přijatelné) střední době mezi poruchami několik set hodin tato spolehlivost stačila. Nejnižší<br />
byla spolehlivost elektronek (proto byly pro zajištění jejich snadné výměny v paticích).<br />
Výměna elektronky byla nejběžnější opravou té doby. Pro ilustraci jsou na obr. 8.1 přehledně<br />
uvedeny poruchy zjištěné na 500 opravovaných elektronkových přijímačích v r. 1953 a na<br />
stejném počtu opravovaných tranzistorových přijímačích začátkem sedmdesátých let [ST<br />
4/1975:145].<br />
Obrázek 10.1<br />
Spolehlivosti začala být věnována větší pozornost s nástupem radiolokátorů a televize.<br />
Řádové zvýšení počtu součástek vedlo k poklesu střední doby mezi poruchami na desítky,<br />
maximálně na stovky hodin.<br />
Spolehlivost jako obor se začala vytvářet od začátku padesátých let v USA. Velká<br />
pozornost se věnovala zejména zkouškám životnosti a problémům spolehlivosti<br />
elektronických zařízení a raket. Na rozvoji se podíleli jak matematikové, tak inženýři v<br />
průmyslu.<br />
Co všechno zahrnuje oblast spolehlivosti poměrně velmi dobře ukazuje původní zadání<br />
skupiny pro sledování spolehlivosti vojenských elektronických zařízení v USA v roce 1952:<br />
- získávání dat o spolehlivosti zařízení a součástek z provozu<br />
- vývoj nových spolehlivějších součástek<br />
- návrh metod umožňujících stanovit spolehlivost zařízení i součástek<br />
- provádění spolehlivostních testů před<br />
zahájením sériové výroby<br />
- zřízení stálé skupiny jako organizátora těchto prací<br />
Specializace a podrobnější výzkum charakterizovaly rozvoj oboru spolehlivost v<br />
šedesátých letech. Objevy poruchových mechanismů a procesů vedly ke vzniku tzv. fyziky<br />
poruch. Významného zlepšení spolehlivosti součástek se dosáhlo vyvinutím integrovaných<br />
obvodů.<br />
V sedmdesátých letech pokračuje zvyšování spolehlivosti elektronických součástek v<br />
důsledku zvyšujícího se stupně integrace. Objevuje se vliv jevů, které měly dříve malý
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 341<br />
význam pro spolehlivost - elektrostatického výboje a vliv částic alfa. Sleduje se odolnost<br />
součástek vůči elektromagnetickým interferencím, které vznikají hlavně vlivem činnosti<br />
blízkých výkonových součástek.<br />
V období začátku kosmických letů byly vyvinuty řídicí systémy a počítače s velmi<br />
vysokou spolehlivostí dosahovanou především několikanásobným zálohováním. Vzniká třída<br />
počítačů odolných vůči poruchám. Klesající cena integrovaných obvodů vedla postupně k<br />
tomu, že konstrukční principy takových systémů se uplatňují i v jiných oblastech, především<br />
v systémech pro vojenské účely i v některých systémech civilních. Velmi perspektivní jsou<br />
systémy, ve kterých je zavedeno samočinné testování jednotlivých částí. Předmětem výzkumu<br />
je také spolehlivost programových prostředků. Jiný směr inženýrské spolehlivosti je zaměřen<br />
na analýzu stromú poruch, hlavně v souvislosti s vyšetřováním bezpečnosti jaderných<br />
elektráren.<br />
Návrh a výroba spolehlivých zařízení úzce souvisí s ekonomickou stránkou. Zvyšování<br />
spolehlivosti znamená zvětšování nákladů na zařízení, což se projeví jednak na ceně a mělo<br />
by se projevit úsporami při provozu (nebo jinak).<br />
Cena výrobku je tedy dána i požadovanou (zaručovanou) spolehlivostí. K ilustraci<br />
použijeme vztah mezi nárůstem ceny za součástku a nárůstem její spolehlivosti. Uvažujme<br />
integrovaný obvod LSI v pouzdru z umělé hmoty, který stojí 1 dolar. Tentýž obvod, ale se<br />
zlepšenou a zaručovanou spolehlivostí - po zahoření a v keramickém pouzdru - stojí nejméně<br />
o dva řády více, asi 100 dolarů. Při použití tohoto obvodu pro kosmický program stojí o další<br />
řád více, tedy asi 1000 dolarů. Nárůst ceny o cca tři řády znamená vzrůst spolehlivosti o asi<br />
dva řády. Podobně rostou i ceny celých zařízení.<br />
Základní metodou analýzy spolehlivosti výrobků je systémový přístup. Znamená to, že na<br />
začátku analýzy se uvažují všechny možné informace o systému, které mohou spolehlivost<br />
ovlivnit. Kromě parametrů určujících vlastnosti a chování prvků a podsystémů a jejich<br />
vzájemných vazeb se uvažují možné změny těchto parametrů, účinky prostředí na systémy,<br />
působení vstupních veličin systému a případně další činitele. Vždy by se také měly uvažovat<br />
vlivy člověka, konstruktérů při návrhu, dělníků při výrobě, operátorů a údržbářů při provozu,<br />
uživatelů systémů a dalších lidí, kteří mohou stav a provoz systému ovlivnit. V průběhu další<br />
analýzy se působení některých činitelů neuvažuje, ale jejich existence má být stále v patrnosti.<br />
Z podstatných vlivů a závislostí se potom vytváří model poruch systému, popřípadě strom<br />
poruch jako grafické vyjádření soustavy logických rovnic.<br />
Dosud je rozšířena mylná představa, že otázku zvyšování spolehlivosti je možné řešit<br />
jednorázovými opatřeními nebo vytýčením za tím účelem krátkodobých úkolů (např.<br />
znásobením kontrolních opatření či zpřísněním dohledu kontrolních pracovišť na výrobu).<br />
Není doceněna potřeba větších investic v této oblasti. Ani sledování spolehlivosti není na<br />
potřebné úrovni, proto se nedostává potřebných zpětnovazebních informací nutných pro řízení<br />
procesu zvyšování spolehlivosti.<br />
Zvyšování spolehlivosti je technický, ekonomický a organizační problém. Vždy to musí<br />
být trvalý proces v rámci programu zvyšování kvality výrobku. Přitom jde o kompromis mezi<br />
v dané chvíli možným optimálním stavem technických a organizačních prostředků a opatření<br />
a výší dostupných finančních prostředků na tento účel.<br />
Zvyšování spolehlivosti nelze kvalitně řešit jinak než důsledným uplatněním systémového<br />
přístupu při návrhu, výrobě a provozu objektu. Řešení je nutné optimalizovat současně z<br />
hlediska technického, ekonomického a organizačního. Především je nutné na všech stupních<br />
zlepšit pracovní kázeň, především technologickou kázeň. Heslo firmy SPEA zní: Spolehlivost<br />
není dílem štěstí a náhody, ale souhrnem příčin a následků.
342 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
9.1 Základní pojmy<br />
Spolehlivost má jako každý obor zavedené pojmy, názvosloví a standardní metody, které<br />
jsou pro použití v technické praxi normalizovány. Jde především o tyto normy:<br />
ČSN 01 0102 Názvosloví spolehlivosti v technice<br />
IEC 271 List of basic terms, definitions and related mathematics for reliability<br />
ČSN 01 0101 Názvosloví z oboru řízení jakosti<br />
EOQC (Evropská organizace pro řízení jakosti): Glossary of terms used in Quality Control<br />
1. Jakost je souhrn vlastností výrobku, které charakterizují jeho schopnost<br />
uspokojovat požadované funkce v souladu s jeho určením.<br />
Jakost zahrnuje dílčí vlastnosti: technické a funkční vlastnosti, spolehlivost,<br />
technologičnost, materiálová a energetická náročnost, vlastnosti ergonomické, estetické,<br />
ekologické, bezpečnost, normalizace a unifikace a případné další.<br />
2. Spolehlivost je obecná vlastnost výrobku (souhrn vlastností) spočívající ve<br />
schopnosti plnit požadované funkce v definovaných podmínkách využití.<br />
Spolehlivost zahrnuje dílčí vlastnosti: bezporuchovost, životnost, opravitelnost,<br />
udržovatelnost, skladovatelnost, popř. přepravitelnost, a to jednotlivě nebo v souhrnu<br />
Obrázek 10.2
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 343<br />
těchto vlastností (pro konkrétní výrobky a konkrétní podmínky jejich využití mohou být<br />
tyto vlastnosti různě důležité).<br />
Kvantitativně (číselně) se spolehlivost vyjadřuje prvděpodobnostními<br />
charakteristikami a parametry, např. pravděpodobností bezporuchového provozu.<br />
Dříve se užívala užší definice spolehlivosti: Spolehlivost je pravděpodobnost, že<br />
činnost zařízení bude během určené doby a v daných provozních podmínkách přiměřená<br />
účelu zařízení. Z dnešního pohledu jde o jednu z charakteristik spolehlivosti:<br />
pravděpodobnost bezporuchového provozu.<br />
Shrnutí:<br />
Jakost = souhrnná vlastnost<br />
Spolehlivost =<br />
dílčí vlastnost (vzhledem k jakosti)<br />
souhrnná vlastnost<br />
- nebo dříve: pravděpodobnost ... tj. užší pojetí<br />
- a také název technického oboru, který bychom mohli dále dělit na<br />
Spolehlivost inženýrskou (technickou) a<br />
Spolehlivost matematickou<br />
3. Porucha je úplná nebo částečná ztráta schopnosti provozu výrobku (kritéria<br />
poruchy se stanoví technickou dokumentací).<br />
Třídění poruch:<br />
- podle povahy vzniku: náhlé a postupné<br />
- podle vlivu na provozuschopnost: úplné a částečné<br />
- podle kombinovaného hlediska:<br />
- havarijní (katastrofální) = náhlá a úplná<br />
- degradační = postupná a částečná<br />
- podle příčin: náhodné a závislé<br />
- podle výskytu v čase: časné poruchy<br />
poruchy dožitím<br />
poruchy ve středním období života výrobku<br />
- podle doby trvání: trvalé a občasné
344 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
9.2 Rozbor křivky intenzity poruch<br />
Charakteristický průběh intenzity poruch l(t) ukazuje tři charakteristické časové úseky<br />
poruchovosti výrobku (obr. 8.2).<br />
Obrázek 10.3:<br />
V prvním časovém úseku je intenzita poruch značná a má klesající tendenci. Příčinou jsou<br />
skryté vady výroby. Nejde většinou o poruchy náhodné, je proto možné a také užitečné zjistit<br />
příčiny poruch, poněvadž mohou vést k úpravám ve výrobě. Tyto poruchy označujeme jako<br />
tzv. časné poruchy. K jejich výraznému snížení používáme ve výrobě tzv. zahořování.<br />
V druhém časovém intervalu (zpravidla od 200 do 2000 až 4000 hodin provozu) je<br />
intenzita poruch lambda zhruba konstantní a poruchy mají charakter náhodný, s těžko<br />
sledovatelnými příčinami. Pro tento časový úsek platí exponenciální zákon<br />
t = exp − λ ⋅ t .<br />
R t<br />
() ( )<br />
Ve třetím časovém úseku stoupá intenzita poruch l(t) v důsledku opotřebení a zhoršování<br />
provozních vlastností. Jde o tzv. poruchy dožitím.<br />
Intenzita poruch závisí také na zatížení a na vnějších podmínkách. Příklad je na obr. 8.3. U<br />
vrstvových rezistorů je patrný vliv teploty a zatížení (jde o rezistor se jmenovitým zatížením 1<br />
W). Podobně se mění intenzita poruch u kondenzátorů s přiloženým napětím a provozní<br />
teplotou.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 345<br />
10 TECHNICKÁ DIAGNOSTIKA A OŽIVOVÁNÍ<br />
ELEKTRONICKÝCH ZAŘÍZENÍ<br />
Technická diagnostika je moderní metodou zjišťování technického stavu nejrůznějších<br />
objektů, s nimiž se setkáváme v technické praxi. Jak již naznačuje sám název diagnostika,<br />
převzatý z lékařství, je podstatou této metody nepřímé zkoumání objektu, založené na<br />
vyhodnocení jeho vnějších projevů, ať již během normální funkce, nebo v situaci, kterou<br />
experimentátor úmyslně vyvolal. To, že při využití diagnostických metod nemáme přímý<br />
přístup k jednotlivým součástkám (částem) zkoumaného objektu, se často zdůrazňuje též<br />
označením bezdemontážní (nedestruktivní) diagnostika, používaným zejména ve strojírenství.<br />
Hlavním cílem technické diagnostiky je náhrada intuitivního empirického přístupu k<br />
údržbě technických zařízení přístupem exaktním a systematickým, založeným na maximálním<br />
využití všech informací o zkoušeném objektu, které lze získat bez jeho rozebrání a detailního<br />
zkoumání jednotlivých částí nebo součástek. Tím se určení technického stavu objektu velmi<br />
usnadňuje a zlevňuje, takže můžeme technický stav stanovovat mnohem častěji (nebo na<br />
mnohem více objektech) než při použití demontážních a destruktivních metod, v mnoha<br />
případech i nepřetržitě. Navíc je možno na základě porovnávání hodnot sledovaných příznaků<br />
určit i tendenci dalšího vývoje technického stavu, konkrétně dobu, po kterou bude možno<br />
objekt ještě používat, případně okamžik, kdy bude nejvhodnější provést demontáž a opravu.<br />
Tím lze dosáhnou snížení nákladů na údržbu (diagnostické metody jsou všeobecně levnější<br />
než demontáže), a navíc vyššího stupně využití základních prostředků, zejména tam, kde by<br />
selhání za provozu mohlo vést k havárii, a tím i k velkým ztrátám.<br />
10.1 Základní úlohy technické diagnostiky<br />
Obecný požadavek určení technického stavu objektu diagnostiky bývá v praxi přesněji<br />
formulován jako detekce nebo lokalizace poruchy. Úkolem detekce poruchy je pouze rozlišit<br />
poruchový a bezporuchový stav objektu, tedy rozhodnout, zda je objekt schopen dalšího<br />
provozu. Naproti tomu lokalizace poruchy má upřesnit místo poruchy, případně určit, o jaký<br />
poruchový stav jde. Lokalizaci provádíme tehdy, chceme-li objekt diagnostiky opravit.<br />
Proces detekce nebo lokalizace poruch nazýváme krátce diagnostikováním, jeho<br />
výsledkem je diagnóza. Diagnostikování je prováděno s použitím určitých technických a<br />
programových prostředků, případně s přispěním obsluhy. Diagnostikované zařízení a tyto<br />
prostředky tvoří diagnostický systém. V něm se realizuje diagnostický algoritmus, a to buď<br />
automaticky, poloautomaticky (v interakčním režimu) nebo ručně. Diagnostický algoritmus je<br />
sled elementárních úkolů charakterizovaných vstupní akcí (stimulací, zapnutím) a výstupní<br />
akcí (odezvou na vstupní akci v místech měření).<br />
Rozeznáváme testovací diagnostikování, kdy přivádíme na vstup objektu speciální podněty<br />
(stimulační signály), a funkční diagnostikování, kdy objekt pracuje normálně a pouze<br />
pracovní signály používané během normální činnosti objektu působí jako vstupní signály.<br />
Testovací diagnostikování zpravidla realizuje algoritmy jak pro detekci, tak pro lokalizaci<br />
poruch. Naproti tomu hlavním posláním funkčního diagnostikování bývá zpravidla detekce<br />
poruchy, protože tento způsob umožňuje detekovat poruchu velmi brzy po jejím vzniku.<br />
Funkční diagnostikování totiž nebrání normálnímu provozu objektu, takže může být<br />
prováděno nepřetržitě. Testovací diagnostikování lze v některých<br />
výjimečných případech též
346 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
provádět průběžně, avšak musíme vyhovět podmínce, že vstupní testovací signál nesmí rušit<br />
normální činnost objektu.<br />
Prostředky používané při realizaci diagnostických algoritmů můžeme rozdělit do dvou<br />
skupin, a to na vnější a vestavěné (vnitřní, vlastní). Při testovacím diagnostikování jsou<br />
převážně používány vnější prostředky, při funkčním diagnostikování naopak převážně<br />
vestavěné prostředky. Vnější diagnostické prostředky jsou obvykle víceúčelové nebo dokonce<br />
univerzální, protože se používají pro několik objektů (někdy dokonce pro několik typů<br />
objektů). Naproti tomu vestavěné prostředky jsou úzce specializované na jeden objekt, takže<br />
mohou být poměrně jednoduché, mohou mít malé rozměry a nízkou cenu.<br />
Projektování diagnostických systémů je podobné jako u měřicích, sledovacích a řídicích<br />
systémů. Je nutné, aby diagnostikovaný objekt byl studován jak z hlediska " fyzikálního "<br />
(např. zkoumání struktury materiálu, měření hodnot fyzikálních veličin), tak i z hlediska<br />
funkce, což zahrnuje zejména studium projevu možných poruch a jejich příznaků. Důležitou<br />
pomůckou je zde matematické modelování jak vlastního systému, tak i projevů poruch. Z<br />
detailní analýzy modelu potom vyplývají nezbytné úpravy vlastního objektu diagnostiky i<br />
diagnostických prostředků.<br />
Z hlediska teorie řízení můžeme stanovit vztahy mezi diagnostikou, měřením,<br />
monitorováním (sledováním) a řízením:<br />
a) Měření je proces experimentálního určení číselného vztahu mezi měřenou veličinou a<br />
její hodnotou vyjádřenou v dohodnutých jednotkách.<br />
b) Monitorování (sledování) je procesem získávání a vyhodnocování dat o stavu zařízení<br />
za tím účelem, aby byl určen okamžik počátku nějaké akce.<br />
c) Řízení je působení na řízený objekt s cílem vyvolat takové chování, které směřuje k<br />
dosažení předem stanovených cílů.<br />
Popsané tři činnosti lze hierarchicky uspořádat tak, že řízení v sobě zahrnuje monitorování<br />
a monitorování zahrnuje měření. Diagnostický systém je specifickým případem systému<br />
monitorování nebo řízení. Systém testovací diagnostiky je vždy řídicí systém s uzavřenou<br />
smyčkou. Objekt má na vstupu testovací signály a jeho odezvy jsou sledovány, na základě<br />
vyhodnocení těchto odezev volí člověk nebo počítač nové testovací signály, atd. Existuje tedy<br />
zpětná vazba spojující objekt s diagnostickými prostředky. Systém funkční diagnostiky je<br />
obvykle monitorovací: pouze sbírá z objektu informace a odhaduje technický stav objektu,<br />
např. porovnává jeho odezvy s očekávanými nebo správnými.<br />
Proto každý diagnostický systém vždy zahrnuje monitorování, zatímco měření je nutné<br />
tehdy, jestliže technický stav objektu, např. porovnává jeho odezvy s očekávanými nebo<br />
správnými.<br />
Proto každý diagnostický systém vždy zahrnuje monitorování, zatímco měření je nutné<br />
tehdy, jestliže technický stav objektu je určen minimálně jedním kvantitativním parametrem.<br />
Táž situace existuje v kterémkoli systému monitorování nebo řízení.<br />
10.2 Diagnostika elektronických součástek a zařízení<br />
Jak již bylo uvedeno, problémy výrobního i servisního testování je nutno řešit současně s<br />
vývojem nového elektronického zařízení. Rozeznáváme čtyři (kontrolní) úrovně na kterých<br />
probíhá diagnostika (testování).
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 347<br />
1. Diagnostika výchozích prvků:<br />
- měření a výběr součástek,<br />
- kontrola desek plošných spojů,<br />
- kontrola kabeláže (obecně propojovací sítě), jako jsou zadní propojovací panely (pletr,<br />
back panel), vany rošty, skříně.<br />
2. Diagnostika desek plošných spojů osazených součástkami (tj. kontrola a oživení těchto<br />
desek; zde dochází již k průniku závad z jedné skupiny výchozích prvků do skupiny<br />
jiné), užívá se:<br />
- testování prvků v obvodu (in-circuit testing, inspekční testování),<br />
- funkční testování.<br />
3. Diagnostika podsystémů a celého systému. (Zkušební zařízení pracuje na principu<br />
funkčního testování, bývá zcela jednoúčelové nebo mají nevelkou míru univerzálnosti,<br />
pouze zkušební zařízení řízená počítači mají širší použitelnost, když se pro každý typ<br />
zkoušeného zařízení vypracuje specifické programové vybavení, případně propojovací<br />
modul (adaptér).)<br />
4. Diagnostika zařízení u odběratele (zákazníka). Jde o uvedení zařízení do provozu a<br />
následný servis zařízení.<br />
S postupující složitostí finálních zařízení rostou nároky na výrobní kapacity: přitom však<br />
nároky u diagnostických operací (oživování, zkoušení) rostou podstatně rychleji než u<br />
výrobních operací. Některé výrobní závody v ČR nyní stojí před problémem, jak zabezpečit<br />
růst kvality a užitné hodnoty své výroby. Při stávajících metodách oživování a zkoušení<br />
vyráběných zařízení by k tomu potřebovaly několikanásobky nynějších stavů svých<br />
pracovních sil, navíc s vyšší kvalifikací než dosud, což odporuje reálné situaci. Na určitou<br />
přechodnou dobu a při malých výrobních sériích mohou pomoci drobná racionalizační<br />
opatření, pečlivá volba technologie, důkladná technologická příprava výroby včetně měřicích<br />
přípravků, přístrojů a zařízení, nastavovacích a zkušebních předpisů atd. Zásadní řešení však<br />
přináší automatizace kontrolních operací.<br />
U elektronických zařízení byly totiž otázky zkoušení a kontroly jasné až do nástupu<br />
komplexních integrovaných obvodů, neboť bylo možno změřit jednoduše všechny parametry<br />
výrobku i ověřit všechny jeho funkce. Uplatnění mikroprocesorů, pamětí a obvodů velké<br />
integrace obecně vyvolalo však otázku co, kdy a jak zkoušet, pokud máme udržet náklady na<br />
kontrolní operace na ekonomicky přijatelné úrovni a přitom efektivně odstranit vady a<br />
nedostatky obvodů a zařízení před zahájením jejich provozu. K tomu přistupují otázky<br />
optimální metody vytřiďování vadných výrobků. Optimalizaci možno zde chápat buď<br />
vzhledem k nákladům při daném zvýšení kvality, nebo vzhledem k účinnosti třídění při<br />
daných nákladech. Přitom nutno počítat s tím, že o pravděpodobnosti odhalení vady či o<br />
existujícím mechanismu poruch máme k dispozici málo informací.<br />
10.2.1 Testování a třídění integrovaných obvodů<br />
Kontrolu integrovaných obvodů je nutno provádět podle jejich významu a vlivu na<br />
spolehlivost celého výrobku. U obvodů velké integrace (LSI) je podle zkušeností procento<br />
vadných výrobků 0,5 až 5 %. Zde se vyplatí stoprocentní přejímka, jak ukazuje obr. 9.1, kde
348 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
je uvedena závislost pravděpodobnosti vady P desky plošných spojů na počtu n integrovaných<br />
obvodů a procenta p vadných integrovaných obvodů.<br />
Zkušenosti ukazují,<br />
že žádná z používaných<br />
metod<br />
testování<br />
neposkytuje absolutní<br />
jistotu, a že zpravidla<br />
určitý počet vadných<br />
IO projde procesem<br />
testování, aniž by byl<br />
zjištěn a zjistí se teprve<br />
při testování osazených<br />
desek, případně ještě<br />
p ozději (má to<br />
nepříjemný<br />
ekonomický dopad -<br />
viz obr. 9.2).<br />
Obrázek 11.1:<br />
Vzhledem k rostoucímu počtu IO osazovaných na jedné desce má i malé procento vadných<br />
z celkového počtu použitých obvodů značný<br />
vliv na pravděpodobnou kvalitu desky. Např.<br />
u desek se 100 IO, u nichž se předpokládá 1<br />
% vadných, je pravděpodobnost vyhovující<br />
kvality 0,99100 = 0,366, tedy pouze 37 %,<br />
tzn., že pravděpodobně pouze jedna ze tří<br />
desek bude vyhovující. Při stejné kvalitě IO,<br />
ale pouze s 50 ks na jedné desce je<br />
pravděpodobné, že jedna ze tří desek bude<br />
vadná.<br />
Možnost vadných IO, které projdou všemi<br />
kontrolami, závisí především na úrovni<br />
testovacích zařízení. Přitom úroveň testerů je<br />
přímo úměrná jejich ceně. Pro většinu<br />
uživatelů IO je ekonomicky efektivní používat<br />
testery s parametrickým a funkčním<br />
testováním, které zachycuje 95 % vadných IO.<br />
Obrázek 11. 2:<br />
U některých uživatelů IO se uplatňuje i metoda namátkové kontroly, a to v případech, kdy<br />
se IO kupují podle tzv. přijatelné hladiny kvality (AQL). Např. při tomto způsobu vstupní<br />
kontroly má dodávka, ve které není více než 0,65 % vadných kusů, asi 95 % naději, že bude<br />
přijata. Při udávané kvalitě "2 % vadných" se šance na převzetí snižuje na 50 % a při "4,8 %<br />
vadných" pouze na 10 %. V případě, že jsou tyto hodnoty překročeny, se celá dodávka IO<br />
vrací výrobci a je nahrazena novou dodávkou, které podléhá stejné kontrole.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 349<br />
Současný trend směřuje ke stoprocentnímu testování. Rozhodnutí o použití namátkové<br />
nebo stoprocentní kontroly závisí na výsledku ekonomického rozboru. Především výrobce s<br />
vyšší potřebou IO má podstatně příznivější podmínky pro dosažení vysoké ekonomické<br />
efektivnosti testování než výrobce s nižší spotřebou. Přitom je nutno vzít také v úvahu, že<br />
větší výrobce má současně předpoklady pro dosažení kratší doby návratnosti prostředků<br />
vynaložených na nákup drahého testovacího zařízení, než je tomu u menšího výrobce,<br />
vybaveného méně nákladným testovacím zařízením.<br />
10.2.1.1 Testování integrovaných obvodů<br />
U integrovaných obvodů sledujeme<br />
- stejnosměrné parametry,<br />
- dynamické parametry,<br />
- funkci obvodu (u logického obvodu je to logická funkce) a<br />
- ukazatele spolehlivosti.<br />
V rámci statistických parametrů provádíme test připojení přívodů (continuity test), měříme<br />
svodové proudy (leakage current), měříme výstupní napětí U0L, U0H, provádíme test šumové<br />
imunity, měříme odběr z napájecích zdrojů. Statické parametry se mají měřit při normální<br />
teplotě okolí a při obou mezních teplotách, aby byla zaručena činnost obvodu v celém rozsahu<br />
zaručovaných teplot.<br />
U složitých integrovaných obvodů se obvykle jednotlivé dynamické parametry měří pouze<br />
u laboratorních vzorků, protože měření může být velmi zdlouhavé a jeho automatizace<br />
nesnadná. U číslicových obvodů můžeme dynamické parametry rozdělit na tři skupiny:<br />
parametry vstupního signálu, parametry výstupního signálu a parametry zátěže.<br />
Parametry vstupního signálu spolu s parametry zátěže a statickými podmínkami (napájecí<br />
napětí, úrovně signálů) tvoří podmínky pro měření parametrů výstupního signálu. Vzhledem k<br />
velkému počtu přívodů integrovaného obvodu, a tím i velkému počtu časových závislostí<br />
mezi nimi, se měření dynamických parametrů slučuje s testem logické funkce. Výsledkem je<br />
pak dynamický test logické funkce. Při tomto testu nastavíme nejkritičtější dynamické<br />
podmínky a provádí se komparační hodnocení odezvy integrovaného obvodu pro všechny<br />
kroky jeho testu. Zjišťujeme-li skutečné maximální nebo minimální hodnoty dynamických<br />
parametrů určujících podmínky testu, měníme po zvolených hodnotách (kroku) vybraný<br />
parametr a provádíme test logické funkce. Ostatní parametry musí být v průběhu testu<br />
konstantní. Zjišťujeme-li maximální zpoždění výstupního signálu, resp. vybavovací dobu,<br />
posouváme postupně impuls, kterým vzorkujeme výstupy integrovaného obvodu a provádíme<br />
test logické funkce. Zpoždění integrovaného obvodu je dáno zpožděním vzorkovacího<br />
impulsu, při jehož hodnotě test logické funkce ještě prošel (postupujeme-li od delších časů ke<br />
kratším).<br />
Je nutno si uvědomit, že veškerá dynamická měření jsou širokopásmová, sice s relativně<br />
nízkým opakovacím kmitočtem (max. 10 MHz), ale se strmostí hran impulsů v jednotkách<br />
nanosekund. Proto přístrojové vybavení i obvodová technika musí tomu odpovídat.<br />
Logickou funkci testujeme tak, že na vstupy testovaného obvodu přivádíme definovaný<br />
sled logických signálů a kontrolujeme odpovídající sled logických signálů z výstupů; přitom<br />
některé vstupy se mohou změnit na výstupy a naopak v průběhu jednoho kroku testu. Jedním<br />
krokem testu rozumíme jednu vstupní logickou kombinaci signálů a jim odpovídající<br />
kombinaci výstupních signálů. Podle způsobu kontroly sledu logických signálů z výstupů<br />
testovaného obvodu můžeme testování logické funkce rozdělit<br />
do tří skupin:
350 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Tabulka 11.1:<br />
Tabulka 11.2:<br />
Tabulka 11.3:
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 351<br />
1. Srovnání s referenčním vzorkem. Definovaný sled vstupních logických signálů se<br />
přivádí současně na testovaný i referenční obvod. Mezi výstupy obou obvodů jsou<br />
zapojeny komparátory. Z jejich výstupů dostáváme informaci o shodě mezi výstupními<br />
signály. Informaci na výstupech můžeme brát jako platnou až v ustáleném stavu.<br />
Metodu nemůžeme použít při dynamickém testu logické funkce, protože referenční i<br />
testovaný vzorek mají dynamické parametry obdobné. Dále je nebezpečí, že v<br />
referenčním vzorku nastane porucha a než se zjistí, dostáváme nepravdivou informaci.<br />
2. Srovnání s očekávanou odezvou uloženou ve vhodném paměťovém médiu testeru. Jako<br />
paměťové médium se používá paměť řídicího počítače, velmi rychlá polovodičová<br />
paměť, magnetický disk apod. Metoda je dnes propracována do značné hloubky.<br />
Nastává částečné prolínání s průběžným generováním testů.<br />
3. Vstupní a jemu odpovídající výstupní sled logických signálů je generován v průběhu<br />
testování (on line). Tento způsob testování se používá tam, kde je počet kroků testu<br />
příliš velký, např. u pamětí typu RAM.<br />
Generování testovacích posloupností patří k základním problémům diagnostiky. Každá<br />
testovací posloupnost musí nejprve přivést obvod do definovaného vnitřního stavu.<br />
Integrované obvody LSI bývají navrženy tak, že to obvykle nečiní potíže (i když u obecného<br />
sekvenčního obvodu, nacházejícího se v neznámém vnitřním stavu, je to komplikovanou<br />
záležitostí).<br />
Již u relativně jednoduchého kombinačního obvodu nelze použít tzv. triviální test, tj. test, u<br />
kterého se vystřídají všechny možné kombinace vstupních signálů, a to z toho důvodu, že<br />
těchto kombinací je velmi mnoho. Testujeme-li n-vstupový kombinační obvod, pak triviální<br />
test obsahuje 2n<br />
kroků. Takovýto test je zbytečně redundentní - každá z možných poruch se<br />
testuje několikrát.<br />
Existují metody, jak k dané poruše najít kombinaci vstupních signálů, aby se tato porucha<br />
projevila na výstupu. Jednou z nejprůhledějších metod je tzv. intuitivní zcitlivění cesty, při<br />
kterém se hledají takové hodnoty vstupních proměnných, aby se porucha projevila na<br />
výstupu. Pracuje se, jak název metody napovídá, intuitivně a postup nemusí vést k<br />
požadovanému výsledku (při určování hodnot dojdeme ke sporu).<br />
Existují i dokonalejší metody jako D-algoritmus, kde se pracuje s tzv. D-krychlemi nebo<br />
metoda booleovské diference, která vychází z formálního popisu obvodu. U sekvenčních<br />
obvodů je situace ještě komplikovanější. Jednou z metod je jejich nahrazení kaskádou<br />
kombinačních obvodů.<br />
Testy sestavené na základě znalosti struktury obvodu se nazývají strukturní. Na rozdíl od<br />
nich lze pro některé typy obvodů vygenerovat test nebo jeho část jako pseudonáhodnou<br />
posloupnost, zkontrolovat, jaké poruchy pokryje a teprve test zbývajících poruch doplnit<br />
pomocí jiných metod. Z nich jsou u obvodů LSI nejrozšířenější metody, vycházející ze<br />
znalosti požadované funkce obvodu, přičemž nerespektují, jakým způsobem je požadovaná<br />
funkce v obvodu realizována. Testy tímto způsobem sestavené se nazývají funkční.<br />
Přikláníme se k nim většinou tehdy, pokud ostatní metody selhávají. Jejich výhodou je<br />
relativně snadné získání testovacích posloupností a možnost testování obvodu v aplikačním<br />
zapojení. Nevýhodou je, že takovéto testy nedávají záruku úplnosti. Například obvod<br />
mikroprocesoru plně vyhovující v jednom aplikačním zapojení, může selhat v jiném<br />
aplikačním zapojení.<br />
Na diagnostiku s testování je třeba pamatovat od samého začátku návrhu integrovaného<br />
obvodu (lze, většinou za cenu většího počtu logických členů, získat snáze testovatelný<br />
obvod). Zvláště u sekvenčních obvodů se návrh testu i dagnostika značně usnadní,<br />
jestliže je
352 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
možné rozpojit všechny zpětnovazební smyčky, nebo v lepším případě dokonce vyvést<br />
informaci o vnitřním stavu obvodu a vnutit požadovaný vnitřní stav. Zde jsou nejznámější<br />
čtyři metody - LSSD, Scan Path, Scan/Set a RAS.<br />
Metoda LSSD (Level-Sensitive Scan Design) pochází od fy IBM a dovoluje přidáním asi<br />
15 % obvodů zapojit v diagnostickém režimu všechny klopné obvody do sériového řetězce a<br />
pomocí hodinových impulsů sériově přečíst původní stav vnitřních pamětí a sériovým<br />
diagnostickým vstupem zapsat novou informaci do vnitřních pamětí. Po provedené výměně<br />
informace je přepnuta struktura do normálního režimu a proveden jeden krok systémových<br />
hodin a znovu je opakováno sériové čtení a zápis vnitřních pamětí. Tím je oddělen test<br />
kombinační části logické struktury od paměťových členů a podstatně zjednodušeno zajištění<br />
citlivé cesty poruchy na výstup logické sítě.<br />
Metoda RAS (Random Access Scan) pochází od fy Fujitsu a dovoluje také přidáním<br />
dodatečného materiálu v diagnostickém režimu číst obsah a zapisovat nový stav do<br />
jednotlivých vnitřních paměťových členů testované logické struktury. Pomocí přídavného<br />
materiálu jsou zde všechny vnitřní paměťové členy zapojeny na pomocnou diagnostickou<br />
sběrnici. Přístup paměťových členů na diagnostickou sběrnici je v diagnostickém režimu<br />
zajišťován přídavnými adresovými dekodéry aktivovanými v diagnostickém režimu. Metoda<br />
RAS sice zapisuje a čte informaci z vnitřních paměťových členů v diagnostickém režimu<br />
jiným způsobem než metoda LSSD, avšak vliv na zjednodušení testovatelnosti logické<br />
struktury je u obou metod obdobný.<br />
Velké množství metod usnadňujících diagnostiku naznačuje, že žádná z nich není<br />
univerzálně použitelná, a také že žádnou z nich nelze jednoznačně prohlásit za nejlepší. Majíli<br />
být metody orientace na snadnou diagnostiku zahrnuty do návrhového systému, je třeba<br />
realizovat též mechanismus výběru nejlepší z nich podle určitých kritérií. Tato kritéria jsou v<br />
současné době natolik neurčitá, že jako nejpřijatelnější varianta se jeví svěřit rozhodování<br />
člověku. Pro spolupráci tohoto typu se v některých případech osvědčily expertní systémy.<br />
10.2.1.2 Třídění integrovaných obvodů<br />
Třídění je u integrovaných obvodů všech technologií důležitým předpokladem dosažení<br />
jejich spolehlivosti potřebné při provozu v zařízeních. Třídicí zkoušky se provádějí jak u<br />
výrobce, tak u uživatele součástek. Cílem je vytřídit součástky s možností výskytu časných<br />
poruch. Výrobce dodává součástky prošlé těmito zkouškami ve třídě s vyšší spolehlivostí.<br />
Tříděním (screening, Vorbehandlung) se přitom rozumí předem definované namáhání<br />
součástek, případně sled takových namáhání, které by vyvolaly časné poruchy. Třídicí<br />
zkouška se musí volit tak, aby se při ní nevyvolaly jiné degradační mechanismy než ty, ke<br />
kterým dochází ve skutečném provozu. Třídění je efektivní a vyplatí se jen tehdy, dosáhne-li<br />
se jím při malých nákladech dostatečného zvýšení spolehlivosti.<br />
V oboru třídění existuje dosud řada nejasností a nejednotnost pojmů. Nerozlišuje se např.<br />
mezi mechanismem poruch, jejich druhem (projevem) a příčinou. Údaje o velikosti<br />
aktivačních energií jednotlivých mechanismů se značně liší, neboť jsou ovlivňovány<br />
výchozím materiálem, technologií zpracování a <strong>konstrukce</strong> součástky. Příklady typických<br />
mechanismů poruch, příznaky a metody třídění ukazuje tab. 16. Některé mechanismy<br />
nevyvolávají časné poruchy a jejich vytřídění je proto obtížné (např. elektromigrace).<br />
Časné poruchy integrovaných obvodů se vyskytují do 100 až 2000 hodin provozu. Třídění<br />
při normální teplotě nemá tudíž velký význam. Je třeba zvolit takový postup a takové<br />
podmínky třídění, abychom je urychlili např. působením teploty, elektrického pole,<br />
proudového nebo napěťového zatížení, někdy i vlhkosti. Jde o tzv. zrychlené zkoušky.<br />
Vychází se přitom z faktu, že poruchové mechanismy<br />
lze zpravidla aktivovat zvýšeným
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 353<br />
namáháním. Cílevědomě zaměřenými zkouškami se nejdříve zjišťuje kvantitativní vzájemná<br />
souvislost mezi stupněm aktivity a velikostí namáhání, tj. činitel aktivace. Jak již bylo řečeno,<br />
je přitom třeba zajistit "pravou" aktivaci, tj. důsledkem zvýšeného namáhání nesmí být žádný<br />
stav, jež se nemůže nikdy objevit při normálních pracovních podmínkách. Druhým krokem je<br />
zjištění reakční rychlosti. Pro zjednodušení se často předpokládá, že časový průběh reakce je<br />
lineární. Po zjištění činitele aktivace a reakční rychlosti lze pak vypočítat zrychlující činitel a<br />
extrapolací intenzitu poruch při normálních provozních podmínkách.<br />
Poruchové mechanismy se aktivují v mnoha elektronických součástkách, zvláště<br />
polovodičových, zvýšením teploty. Přitom lze často použít Arrheniova modelu. Pro tento<br />
model je aktivační činitel A daný vztahem<br />
⎛ − Ea ⎞<br />
A = Ao<br />
⋅ exp ⎜ ⎟<br />
⎝ kT ⎠<br />
kde A0 je konstanta, Ea<br />
je aktivační energie, k je Boltzmannova konstanta (8,6.10-5 eV/K)<br />
a T je absolutní teplota v K.<br />
Obrázek 11.3:<br />
Je-li pro daný poruchový mechanismus reakce lineární v závislosti na čase a MTBF1 (= l1)<br />
a MTBF2 (= l2) jsou dané střední hodnoty bezporuchových provozních dob při teplotách<br />
(přechodů) T1 a T2, potom je<br />
Zrychlovací činitel je pak daný vztahem<br />
A λ = A λ resp. A ⋅ MTBF = A ⋅ MTBF<br />
1<br />
1<br />
2<br />
2<br />
MTBF λ2<br />
A<br />
= 1 2<br />
= = = exp ⎡ E ⎛<br />
a<br />
1 1<br />
F ⎢ ⎜ −<br />
⎟ ⎞⎤<br />
⎥<br />
MTBF2 λ1<br />
A1<br />
⎢⎣ k ⎝ T1<br />
T2<br />
⎠⎦<br />
Přitom je zvykem určovat teplotu přechodu T podle vztahu<br />
T = T + P O<br />
o<br />
d<br />
kde T o je teplota okolí, P d je ztrátový výkon a O je tepelný odpor pouzdra (např. 100 K/W<br />
bez proudění, 60 až 70 K/W při proudění vzduchu 2,5 m/s).<br />
Při známých hodnotách MTBF 1, MTBF 2, T1a T 2 lze obráceně určit aktivační energii<br />
jo<br />
1<br />
1<br />
2<br />
2
354 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
k MTBF1<br />
E a<br />
= ⋅ ln<br />
1 1 MTBF<br />
−<br />
2<br />
T 1<br />
T 2<br />
Na obr. 9.3 je závislost mezi zrychlovacím činitelem a teplotou v 2 pro různé aktivační<br />
energie pri v 1 = konst. = 35o C (plně vytažené průběhy) a v 1 = konst. = 55 oC (čárkované<br />
průběhy).<br />
Jedním z největších problémů při plánování a vyhodnocování zrychlených zkoušek je<br />
právě určení aktivační energie. Může se totiž měnit i u stejného typu součástky od dávky k<br />
dávce vlivem změn výrobního procesu. Často stačí však jen prověřit, je-li dosažená hodnota<br />
MTBF nad předem danou mezní hodnotou. Potom stačí analyzovat nejhorší případ a použít<br />
hodnoty aktivačních energií z literatury. Zajímavá a důležitá je zkušenost, že mnohdy je<br />
koroze povrchu čipu rychlejší při nízkých teplotách. Čím vyšší je aktivační energie<br />
mechanismu, tím je třídicí postup při vyšší teplotě účinnější.<br />
10.2.2 Testování propojovací sítě<br />
Testování propojovací sítě se v poslední době stává nedílnou fází technologie výroby<br />
elektronických zařízení. Typické poruchy v propojovacích sítích závisejí na provedení sítě. V<br />
drátových kabelážích (ovíjené spoje van a roštů, kabelové svazky, kabely) Bpřicházejí v<br />
úvahu téměř pouze poruchy typu "spoj chybí" a<br />
"spoj navíc". Počet spojů zde dosahuje tisíc až stovek tisíc. Při ručním ovíjení je v kabeláži<br />
1 až 5 % závad, při poloautomatickém 0,1 až 0,5 %, při automatickém 0,01 %.<br />
Na deskách plošných spojů mohou existovat poruchy následujících šesti typů:<br />
1) spoj chybí,<br />
2) spoj navíc,<br />
3) nekvalitní spoj (velký odpor),<br />
4) nekvalitní izolace mezi spoji,<br />
5) vodivost spoje závisí na proudu,<br />
6) svod mezi spoji závisí na napětí.<br />
Poměrně zastoupení jednotlivých typů poruch závisí na použité výrobní technologii,<br />
zvládnutí technologického procesu, technologické kázni, kvalitě výchozích surovin a na<br />
kvalitě procesu návrhu spojových motivů. Nejčastější jsou poruchy typu 1 a 2, poruchy typu 5<br />
a 6 se vyskytují zřídka. Zpravidla se běžné PS (např. pro spotřební elektroniku) testující jen na<br />
poruchy 1 a 2, prokovené vícevrstvé desky pro automatizaci a výpočetní techniku je vhodné<br />
testovat i na poruchy typu 3 a 4, zatímco testy na poruchy typu 5 a 6 jsou obvyklé pouze u<br />
velmi náročných aplikací, kde cena zaplacená za případné selhání opravňuje podstatně<br />
zvýšené náklady na testování. Zmetkovitost osmivrstvých desek dosahuje ve světě přibližně<br />
25 %. Cena složitých desek je tak vysoká, že zmetky je nutno opravovat a dále používat.<br />
Při řešení automatického testovacího systému (ATS) musíme brát v úvahu následující<br />
okruhy problémů:<br />
1) připojení měřené jednotky (objektu),<br />
2) přepínání měřených míst,<br />
3) měřicí metody,
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 355<br />
4) algoritmy testů,<br />
5) strategie testování.<br />
Řešení zmíněných problémů je potřeba optimalizovat vzhledem ke spolehlivosti testu a<br />
ceně testování vztažené na testovanou jednotku.<br />
Připojení měřeného objektu<br />
Řešení problému jak připojit testovanou propojovací síť k testeru vychází samozřejmě z<br />
mechanických vlastností sítě. Ovíjená kabeláž se obvykle testuje při svém vytváření. Pro<br />
spolehlivé připojení desek plošných spojů se používá převážně tzv. "fakirského lože" - pole<br />
nezávisle odpružených hrotů ("jehel"). Potřebná síla je 1 až 2 N na měřicí hrot (obr. ).<br />
Největším problémem je potřebné množství hrotů. Běžné měřicí hroty lze umisťovat ve<br />
vzájemné vzdálenosti 2,5 mm a větší, pouze několik výrobců zvládlo výrobu hrotů pro<br />
umístění v rozteči 1,25 mm. Je možno se rozhodnout mezi univerzálním jehlovým polem a<br />
účelovými adaptory.<br />
Přepínání měřených míst<br />
Volba prvků a obvodového řešení pro přepínání měřených míst úzce souvisí se zvolenou<br />
metodou měření. K přepínání lze využít relé, jejichž výhodou je malý odpor v sepnutém<br />
stavu, velký izolační odpor v rozepnutém stavu, nevýhodou pak velké rozměry, velký<br />
ovládací příkon, malá přepínací rychlost a menší spolehlivost. Dále lze využít polovodičových<br />
prvků - buď bipolárních nebo se strukturou MOS, kterým dáváme přednost všude tam, kde to<br />
dovolí technické podmínky navrhovaného zařízení.<br />
Měřicí metody<br />
Volba měřicí metody závisí na zvolené testovací strategii. Spolehlivost testu a diagnostické<br />
pokrytí poruch totiž závisí na tom, jakým proudem testujeme spoje, jakým napětím testujeme<br />
izolaci, zda používáme jeden vyhodnocovací práh odporu nebo dva (pro test souvislosti a test<br />
izolace zvlášť) a jaké minimální (maximální) hodnoty odporů dokážeme použitou metodou<br />
změřit.<br />
Při testech na poruchy 1 a 2 se pro stimulaci sítě i detekci poruch používá přímo logických<br />
obvodů TTL nebo MOS. Jde sice v podstatě (jako u všech ostatních metod) o měření odporů a<br />
komparaci naměřených hodnot se zvoleným odporovým prahem, ale parametry testu (proud,<br />
napětí, velikost prahového odporu) tady nelze volit - vycházejí obvykle z použitých logických<br />
prvků a rozsahu testovacné sítě. Další obtíž představuje nízké napětí při testu izolace (typicky<br />
3,5 až 5 V), které nezaručuje proražení mikroskopických izolačních filmů nečistot ve styku<br />
mezi povrchem měřené desky a měřicím hrotem.<br />
Testy na poruchy typu 1 až 4 lze dělat pomocí polovodičové spínací matice. Při kvalitním<br />
obvodovém řešení z kvalitní součástkové základny lze měřit při dvouvodičovém uspořádání<br />
odpory propojovací sítě v rozsahu 100 až 10 M , při čtyřvodičovém uspořádání v rozsahu 1 až<br />
10 M .<br />
Základní uspořádání pro testy na poruchy 1 až 6 je stejné jako pro poruchy 1 až 4, je však<br />
nutno použít odpovídajících spínacích prvků, aby bylo možno testy uskutečnit při napětí řádu<br />
stovek voltů a proudech v oblasti jednotek ampérů. Kromě relé vyhovují ještě tyristory, ale u<br />
nich je přikážkou malý odpor v rozepnutém stavu a složité ovládací obvody. Kromě toho jsou<br />
i uvedené součástky rozměrné a drahé.
356 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Obrázek 11.4:<br />
Obrázek 11.5:<br />
Obrázek 11.6:<br />
Poznámka: Mikroohmetry s akustickým výstupem se také používají při ručním hledání<br />
přerušených spojů a zkratů [SO 1984/9:452]. Lze také potřebné kontrolní pomůcky vyrobit.<br />
Na obr. 9.4 [AR-A 5/76:187] je zapojení, které umožní indikovat odpor menší než asi 1 W.<br />
Operační zesilovač porovnává malý rozdíl napětí na rezistoru 10 W. Zruší-li se tento<br />
napěťový rozdíl zkratováním měřicích hrotů, rozsvítí se svítivá dioda. Není-li zkrat dokonalý
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 357<br />
(odpor větší než cca 1 W), dioda svítí nepatrně nebo vůbec ne. Měřicí napětí je asi 2 mV,<br />
takže nemůže otevřít přechody polovodičových součástek. Tak nízké napětí (a proud) ukáže i<br />
ty špatné doteky kontaktů, které se při zkoušení vyšším napětím a proudem "prorazí" a<br />
vykazují dobrou vodivost. Trimr slouží k nastavení maximální citlivosti zapojení. Nastavuje<br />
se tak, aby při zkratovaném vstupu LED začala právě svítit. Rozsvícená dioda tedy signalizuje<br />
zkrat. Viz též [ST 6/1976:237, AR-A 9/1983:327].<br />
Na obr. 9.5 je zapojení testeru galvanického propojení s akustickým výstupem [ST<br />
12/1987]. Výška tónu je závislá na odporu mezi testovacími body (rozsah asi 10 W až 100 k<br />
W). Zapojení pro menší rozsah odporu je v [ST 6/1986:238].<br />
Na obr. 9.6 je třístavová (zkrat-odpor-přerušení) zkoušečka odporů a polovodičových<br />
součástek. Obě svítivé diody se navzájem blokují ve funkci. Podle zkoušeného odporu svítí<br />
buď jedna, nebo druhá, nebo žádná dioda. Diody se rozsv ěcují a zhasínají pozvolna.<br />
Jednodušší zkoušečky s optickou indikací jsou popsány v [AR-A 8/1988:286 a AR-A<br />
9/1990:327].<br />
Algoritmy testu<br />
Nejjednodušší je algoritmus "každý bod s každým", který vyžaduje (n 2 ) elementárních<br />
testů, když n je počet vývodů testované sítě (počet měřených bodů). Je možno jej<br />
implementovat velmi jednoduchými technickými prostředky; postačí sekvenční přístup k<br />
měřicím hrotům, jednoduchý řadič jako řídicí jednotka atd. Nevýhodou je velký počet<br />
elementárních testovacích kroků. Doba testu exponenciálně narůstá s počtem měřených bodů<br />
a může být řadu desítek minut. Proto byly navrženy algoritmy, které umožňují redukovat<br />
počet elementárních kroků velmi podstatně - obvykle za cenu ztráty lokalizační schopnosti<br />
testu, případně vyžadující dlouhou přípravnou dobu před měřením. Pro ATS se zdá být<br />
nejvhodnějším algoritmem rozdělení testu na dvě části: test souvislosti spojů a test izolace<br />
mezi spoji. Počet elementárních kroků pro první část je nejvýše n-1, počet elementárních<br />
kroků testu izolace je pak k/2, kde k je počet souvislých spojů propojovací desky (k je u<br />
běžných desek průměrně rovno n, takže proti algoritmu "každý s každým" je redukce počtu<br />
kroků značná).<br />
Strategie testování<br />
Testovací strategie je souhrn technických a organizačních opatření v oblasti kontrolních<br />
operací vedoucích k požadované kvalitě výsledné produkce. Testování propojovacích sítí je<br />
samozřejmě pouze částí všech operací, které je potřeba v průběhu výroby elektronických<br />
zařízení uskutečnit. Vedle požadované kvality produkce je druhým hlavním hlediskem<br />
ekonomie. Testování musí přijít levněji než netestování, jinak by nemělo smysl. Testování<br />
zvolenou<br />
strategií musí být levnější než použitím alternativních strategií. V případě testu<br />
propojovacích sítí je součástí návrhu testovací strategie volba testeru a jeho parametrů (např.<br />
v rámci rozhodnutí, zda je lepší jeden produktivnější nebo několik pomalých). Důležité je<br />
rozhodnutí mezi univerzálním řešením nebo účelovými adaptory a rozhodnutí o případném<br />
omezujícím zásahu do návrhu provedení sítí.<br />
10.2.3 Testování osazených desek<br />
Testování na úrovni osazené desky je vůbec nejdůležitější součástí kontrolních operací ve<br />
výrobě - nelze si představit ani jednu výrobní strategii, která by testování osazených desek<br />
vynechávala. Osazené desky testují i amatéři. Problém tedy není v otázce zda testovat, ale jak
358 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
testovat, jak draho, jak produktivně. Testování obvykle musí být spojeno s oživováním desek,<br />
protože nově osazené desky mají závady. Pro testování osazených desek se používají tyto<br />
metody:<br />
a) testování pomocí měřicích přístrojů vývojáře;<br />
b) testování pomocí jednoúčelových přípravků;<br />
c) testování pomocí částečně nebo plně automatizovaného měřicího pracoviště;<br />
d) testování automatickým testovacím systémem (ATS);<br />
e) ATS začleněný do systému CAD/CAM, tj. do systému automatizovaného<br />
projektování a výroby.<br />
Metody jsou seřazeny podle rostoucí účinnosti a zároveň i nákladů. Volba metody by<br />
neměla být ovlivňována jen snahou po "modernosti" za každou cenu - na prvním místě musí<br />
vhodnost účinnějších metod prokázat solidní ekonomická analýza stávající (nebo plánované)<br />
výroby. Na druhé straně nadměrné váhání v zavádění nových metod zbavilo naše výrobní<br />
závody schopnosti konkurence na světových trzích.<br />
Metody a) i b) jsou tradiční. V našich závodech jsou běžně používány a není potřeba se<br />
jimi podrobně zabývat. Metoda a) je částečně oprávněná při zahajování nové výroby tam, kde<br />
se pozapomnělo na to, že výrobek nestačí jen vyrábět; odčerpává drahé univerzální přístroje a<br />
pracovní síly z vývoje, má mizivou produktivitu. Metoda b) může být vhodná při takové<br />
skladbě výroby, kde není nutno příliš často měnit výrobní sortiment. Takových výrob však v<br />
elektronice, kde morální životnost zařízení nedosahuje ani tří let, v poslední době ubývá.<br />
Částečné řešení by mohla přinést metoda c) v kombinaci s důsledně modulárním návrhem<br />
přípravků tak, aby byly vícenásobně použitelné nebo jednoduše přestavitelné. Použití počítače<br />
přináší značné zvýšené produktivity. Nesmí se však zapomínat na nutnost pořizovat nové<br />
programové vybavení ke každému měřicímu přípravku. Cena pořízení programů může<br />
několikanásobně převýšit cenu pořízení přípravků. V některých případech (např. testování a<br />
nastavování analogových obvodů) se nabízí možnost využití přístrojové sběrnice IMS-2.<br />
Metody d) a e) jsou zatím nejúčinnější, i když jejich zavedení je nákladné.<br />
10.2.3.1 ATS pro osazené desky<br />
Automatický testovací systém (automatický tester) je zařízení vybavené technickými a<br />
programovými prostředky, které mu umožňují samostatně přivádět do testované jednotky<br />
naprogramované sekvence stimulačních signálů a vyhodnocovat odezvy na ně. Testování<br />
probíhá zcela bez zásahů nebo s minimálním počtem zásahů obsluhy (operátora) a je tedy<br />
velmi produktivní. Typické doby testu se pohybují podle typu i vybavenosti systému a podle<br />
typu i složitosti testované jednotky, od jedné do šedesáti minut. (Testem je zde míněn celý<br />
proces od připojení testované jednotky, přes zachycení a lokalizaci závady až po dokumentaci<br />
závady - vlastní test typu DOBRÁ/ŠPATNÁ trvá typicky řádově sekundy).<br />
K testování osazených desek pomocí ATS existují v současné době dva základní přístupy:<br />
funkční test a test prvků v obvodu (inspekční test, in-circuit test). Podle nich rozlišujeme<br />
testery funkční a testery prvků v obvodu (inspekční testery).<br />
Funkční tester (FT) sleduje činnost (funkci) celé zkoušené desky. Deska se vzhledem k<br />
testeru chová jako uzavřený systém charakterizovaný specifickou odezvou na výstupech na<br />
specifickou stimulaci vstupů. Metoda se dá aplikovat především na čistě číslicové desky,<br />
jejichž logickou síť je možno protestovat vysíláním logických stavů (vstupních vektorů) na<br />
vstupy, čtením logických stavů na výstupech a porovnáním se správnými (očekávanými)<br />
stavy<br />
výstupů vyhodnotit výsledek. Metodika funkčního testování logických sítí je teoreticky
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 359<br />
dobře propracované (viz dříve). Existují i metody strojního návrhu testovacích vektorů,<br />
optimalizace testů a metody pro počítačovou simulaci chování logické sítě. Také připojení<br />
testované desky k testeru je velmi jednoduché - přes konektor desky. Funkční tester, kromě<br />
detekce "tvrdých" závad, jako zkraty vnitřních uzlů do napájecí soustavy, dokáže snadno<br />
detekovat i závady způsobené posunem dynamických parametrů součástek mimo toleranční<br />
pole a ve spolupráci se simulací logických sítí i chyby návrhu (porušení pravidel návrhové<br />
" kuchařky"). Proti tomu má funkční testování některé nedostatky. Jsou spojeny zejména se<br />
dvěma problémy:<br />
- návrh optimálního testu,<br />
- lokalizace závad.<br />
Lokalizace závad je velmi důležitá v praxi, kdy chceme vadné desky zpravidla nejen<br />
vytřídit, ale i opravovat. U funkčního testeru je lokalizace obtížná právě proto, že test probíhá<br />
přes konektor desky a vnitřní uzly nejsou přístupné stimulaci ani měření. Při testování desek<br />
se obvykle požaduje lokalizace s přesností na vadnou součástku (např. pouzdro IO). K řešení<br />
problému se používá převážně dvou metod (případně jejich kombinaci):<br />
- slovníku poruch,<br />
- naváděné sondy.<br />
Slovník poruch se sestavuje na simulačním modelu zkoušené desky, případně se doplňuje<br />
praktickými zkušenostmi získanými v průběhu oživování série desek. V podstatě jde o<br />
tabulku, která přiřazuje projevům poruchy typ poruchy a tabulka může být uložena v paměti<br />
počítače, který řídí tester. Naváděná sonda je určitá náhrada přístupu do vnitřních uzlů desky.<br />
Pracuje se s ní v dialogovém režimu, kdy počítač testeru v průběhu lokalizace poruchy navádí<br />
operátora s ruční sondou do jednotlivých vnitřních uzlů zapojení a na základě sejmutých<br />
logických stavů rozhoduje o dalším postupu až do přesného určení místa poruchy. Postup není<br />
obtížný, ale může být zdlouhavý, např. při odhalování zkratu dvou signálových cest. Existují i<br />
systémy se strojním naváděním sondy, které vylučují možnost potenciálních omylů operátora.<br />
Tester prvků v obvodu (TPO) využívá odlišného přístupu k testu než FT. Pomocí metody<br />
aktivního stínění u pasivních prvků a metody vnucování logických stavů (backdriving) u<br />
číslicových prvků se snaží minimalizovat vzájemnou interakci součástek na desce a testovat<br />
jejich funkci součástku po součástce. Jako samostatnou<br />
součástku je možno testovat i propojovací síť desky. Dvě základní výhody zmíněného<br />
přístupu jsou okamžitě viditelné:<br />
- jednoduchá lokalizace poruchy s přesností na součástku,<br />
- snadné odhalení typických "výrobních" poruch, jako jsou zkraty nebo špatně osazené<br />
součástky.<br />
Mezi základní nevýhody naproti tomu patří:<br />
- obtížnější připojení testované jednotky - desky (nestačí přes konektor),<br />
- nepokrytí některých poruch (např. dynamické poruchy).<br />
Poznámka: Statistika výskytu jednotlivých druhů závad v produkci desek ukazuje, že<br />
daleko nejčastějšími poruchami jsou zkraty mezi spojovými cestami na obrazci plošného<br />
spoje, následují chyby montáže (nezaložené nebo nesprávně orietované součástky), dále<br />
nepropojené části obvodu i studené spoje a teprve na posledních místech statistiky figurují u<br />
běžné produkce poruchy aktivních součástek nebo dynamické poruchy. Součástky je potřeba<br />
testovat a zahořovat před osazením Samotné poruchy propojovací sítě - převážně zkraty -<br />
tvoří<br />
podle zkušenosti 50 až 80 % všech závad. Proto tester, který dokáže rychle odhalit a
360 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
lokalizovat běžné nebo "banální" závady, může značně zvýšit průchodnost celého výrobního<br />
procesu. Ze statistiky výskytu závad plyne i ten závěr, že testování obvykle není možné<br />
zahájit funkčním testem, tj. připojení napájecího napětí, při zkratech apod. by mohlo dojít k<br />
trvalému poškození některých součástek, především aktivních.<br />
Metody FT a TPO se v případě číslicových desek výhodně doplňují: TPO se hodí pro<br />
rychlou inspekci pro odstranění typických výrobních poruch, FT pro finální test funkce včetně<br />
dynamických parametrů. V případě analogových nebo kombinovaných desek je TPO<br />
nejvhodnějším prostředkem.<br />
Obrázek 11.7:<br />
Na obr. 11.7a je znázorněno použití samotného funkčního testeru (FT). Při větším objemu<br />
výroby by se však mohl stát úzkým místem výrobní linky, především z hlediska lokalizace<br />
závady. Na obr. 9.7b je znázorněno použití samotného testeru prvků v obvodu (TPO). Jeho<br />
nasazení do výrobní linky je typicky mírně výhodnější než použití samotného funkčního<br />
testeru z důvodů levnějšího programování a vyšší produktivity testování. Při použití testovací<br />
strategie podle obr. 9.7c je testeru prvků v obvodu použito jako inspekčního testeru před<br />
závěrečným funkčním testem. TPO odstraňuje "triviální" závady a urychluje průchod<br />
funkčním testerem. Kombinace nasazení zmíněné testovací strategie je výhodná především v<br />
prostředí výroby, kde je dosahováno nízké výtěžnosti desek. Na obr. 9.7d je znázorněn způsob<br />
testování, kde funkční tester je využíván v režimu GO/NOGO (bez lokalizace závady) a kde<br />
je provedení funkčního testu velmi rychlé. Tester prvků v obvodu se v takovém případě<br />
používá pro rychlou lokalizaci poruch na vadných deskách. Kombinace je výhodná v<br />
prostředí výroby s vysokou výtěžností desek. Na podkladě kombinací podle obr. 9.7c a 9.7d<br />
lze navrhnout další kombinace s více testovacími pracovišti a různým umístěním střediska<br />
opravy.<br />
Poznámka: U TPO je bezpodmínečně nutné mít možnost kontaktovat vnitřní uzly<br />
testované desky. Nestačí tedy jednoduché připojení přes konektor desky, jako v případě FT.<br />
Používá se metody "fakirského lože" a u jednodušších testerů orientovaných na číslicové<br />
desky existuje alternativní metoda připojení - vícepólovou sondou (klipem), která se ručně<br />
postupně připojuje na jednotlivá testovaná pouzdra IO.<br />
Existují desky, které se testují snáze a desky testovatelné nesnadno. Zásady snadné<br />
testovatelnosti přitom platí do jisté míry nezávisle na použité metodě testování. Mezi faktory,<br />
které komplikují testování, patří zejména:<br />
- logická redundance,<br />
- kombinování číslicových a analových obvodů nebo číslicových obvodů s různými<br />
principy činnosti na jedné desce,<br />
- složité nerozpojitelné zpětné vazby (znesnadňují lokalizaci poruchy),
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 361<br />
- používání nestandardních obvodových řešení,<br />
- používání více nesynchronizovaných generátorů na jedné desce,<br />
- nadměrné používání monostabilních a asynchronních obvodů.<br />
Každý návrhář obvodů však ví, že 100 % respektováním všech zásad dobré testovatelnosti<br />
by mohla vzniknout deska, která by byla sice dobře testovatelná, ale neplnila by dobře svou<br />
původní funkci nebo by byla nadměrně drahá. (Např. požadavek na rozpojitelnost zpětných<br />
vazeb může vést k požadavku uzavírat zásadně všechny vazby vně desky, přes konektor - co<br />
to znamená jen pro návrh plošného spoje a kabeláže, si lze lehce představit). Přesto by nebylo<br />
dobré návrh dobře testovatelných desek podceňovat. V mnoha případech nejsou požadavky<br />
testovatelnosti v rozporu s funkcí nebo hospodárností. Rozumným respektováním uvedených<br />
požadavků se získávají přehlednější a srozumitelnější zapojení a používají se spolehlivá,<br />
standardní zapojení. V případě TPO by mohlo vypracování konstrukčních zásad pro<br />
umisťování kontrolních bodů uvnitř desky uspořit značné náklady při návrhu a realizaci<br />
připojovacích adaptérů. Počet kontaktovaných bodů by mohl být asi o řád menší než u desek<br />
navrhovaných bez ohledu na testování.<br />
10.2.4 Diagnostika při uvádění do provozu, servis<br />
Obsahem poslední, čtvrté kontrolní úrovně je uvedení zařízení do provozu u odběratele<br />
(zákazníka). Jak už z názvu vyplývá, jedná se o ověřování funkce zařízení mimo prostory<br />
výrobního závodu. Ověřování záleží na charakteru zařízení:<br />
a) Zařízení je takového charakteru, že je dodáno jako celek k odběrateli s příslušnou<br />
dokumentací, podle které si uživatel dovede ověřit správnou funkci buď samostatného<br />
zařízení, nebo ve spojení s jiným zařízením vyráběným uživatelem (nebo někým<br />
jiným).<br />
b) Zařízení je charakteru, kdy je dodáno v rozebraném stavu na samostatné funkční bloky<br />
(jednotky), má příslušnou dokumentaci a uživatel po sestavení ověří správnou funkci<br />
zařízení stejně jako v bodě a).<br />
c) Zařízení je charakteru, kdy je dodáno v rozebraném stavu a na jeho uvedení do provozu<br />
je zapotřebí pracovníků tohoto výrobního<br />
závodu, které zařízení vyrobilo (nebo jiného<br />
pověřeného). Vlastní ověření provedou pracovníci výrobního závodu, mohou k tomu<br />
použít i zkušebního zařízení, které pro tento účel přivezli s sebou.<br />
d) Zařízení je opět charakteru, kdy je nutná montáž a uvedení do provozu u zákazníka, ale<br />
uvedení do provozu dělá jiná než výrobní organizace (obvykle specializovaná na<br />
poskytování servisu a zákaznických služeb). Taková organizace však obvykle úzce<br />
spolupracuje s výrobcem zařízení při výběru zkušebních metod a zařízení.<br />
Zvláštní částí zmiňované kontrolní úrovně je servis zařízení, a to jak v záruční době, tak<br />
i mimo záruční dobu. Servis zařízení mohou dělat:<br />
- obchodně-technické služby vlastního výrobního podniku, který má speciálně školené<br />
pracovníky pro opravu svých vyráběných zařízení;<br />
- jiná organizace mimo výrobní podnik, která přejímá veškerý servis počínaje doručením<br />
dodávky zařízení k odběrateli; přitom výrobní podnik školí pracovníky té organizace,<br />
která servis převzala.<br />
Přitom servis, ať je zabezpečován jakýmkoliv z uvedených způsobů, musí disponovat<br />
zkušebním a diagnostickým zařízením pro opravu zařízení. Servis lze dělat dvojím<br />
způsobem:
362 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
- při opravě takového charakteru, kdy je možné zařízení převést k organizaci zajišťující<br />
servis, nezáleží na to, jaká zkušební zařízení jsou k dispozici, není podmínka jejich<br />
snadného transportování;<br />
- při opravě, kdy je servis poskytován u uživatele, je nutné poskytnout servisní organizaci<br />
zkušební a diagnostické prostředky, které lze snadno transportovat a přitom zabezpečují<br />
možnost kvalitního testování jako zařízení stacionární.<br />
V zásadě je možno opírat servis buď o vysoce kvalifikovaný personál a poměrně<br />
jednoduché univerzální prostředky (přenosné logické analyzátory, servisní osciloskopy,<br />
multimetry, čítače) a smířit se s nutností udržovat poměrně rozsáhlý inventář náhradních dílů<br />
(desek), které je nutno skladovat a případně vozit k servisním zásahům, nebo zavést servisní<br />
ATS. Druhá metoda je racionálnější, umožňuje snížit invetář náhradních dílů na minimum a<br />
zkrátit dobu opravy. ATS vhodné pro servis obvykle vycházejí z velkých testerů používaných<br />
ve výrobě. Jsou zjednodušeny a miniaturizovány za cenu mnohem menší produktivity (v<br />
případě servisu to však nevadí). Zpravidla využívají testovacích programů sestavených pro<br />
testery ve výrobě, což snižuje provozní náklady.<br />
U některých vyspělých výrobců zejména v oblasti výpočetní techniky se prosazuje metoda<br />
tzv. dálkové diagnostiky, kde součástí dodaného zařízení je diagnostický modul, který může<br />
být po telefonní lince napojen na servisní středisko. Personál střediska provede dálkový test,<br />
který alespoň zhruba lokalizuje poruchu, takže pracovník vyslaný na opravu jenom vyměňuje<br />
vadný díl.<br />
Zvláštní pozornost zasluhuje metoda příznakové analýzy. Jde totiž o velmi jednoduchou<br />
testovací metodu použitelnou ve výrobě, ale zejména v servisu. Podstatou metody je vlastně<br />
porovnávání funkce zkoušeného zařízení s funkcí zařízení zaručeně bezchybného. K<br />
vyhodnocování funkce slouží jednoduchý přístroj - příznakový analyzátor. Analyzátorem<br />
snímáme logickou aktivitu ve všech důležitých uzlech zapojení zkoušeného zařízení. Aktivitu<br />
analyzátor zaznamenává, komprimuje data a výsledky udává ve formě šestnáctibitového<br />
" příznaku" zapsaného ve formě čtyř pseudohexadecimálních číslic (aby je bylo možno<br />
zobrazit na levných sedmisegmentových zobrazovacích prvcích).<br />
Z praxe jsou také známy mnohé heuristické metody, které je často užitečné kombinovat s<br />
metodami systematickými. Někdy jde o kuriózní postupy. Např. čichem lze někdy odkrýt<br />
závady v přístrojích, často i předejít větším škodám (např. požáru). Nejznámnějším případem<br />
využití čichu je zjištění pálícího se síťového transformátoru. Jiný, již méně nápadný zápach,<br />
lze cítit při přetížení rezistorů. Cítíme-li při závadě v přístroji pach pálícího se bakelitu,<br />
smaltu nebo jiné izolace, můžeme čichem vystopovat místo závady. Především v TV<br />
přijímačích se při koronových výbojích můžeme setkat se známým ozonem, připomínajícím<br />
svěží vzduch. Přítomnost ozonu nám může pomoci při hledání závady, není-li výboj tak silný,<br />
aby byl provázen světelnými efekty. Jeho průvodním zjevem je také syčení, to však může být<br />
slabé a překryto jinými zvuky. Příčinou koronového výboje bývá zvýšení napětí nad<br />
přípustnou mez, vlhkost nebo ostrý výstupek v blízkosti vodiče s vysokým potenciálem, např.<br />
nedostatečně uhlazené spájené místo. Je-li cítit ozon, je dobře neopomíjet tento varovný<br />
signál a přesvědčit se jak vzniká, protože může být předzvěstí závažné poruchy přístroje.[ST<br />
2/1958:72]
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 363<br />
11 BEZPEČNOSTNÍ POŽADAVKY NA<br />
ELEKTRONICKÁ ZAŘÍZENÍ<br />
Bezpečnost provozu elektronických zařízení lze posuzovat v jednak v rovině ohrožení osob<br />
úrazem, jednak z hlediska vzniku škod na samotném zařízení i jeho okolí. Ochrana před úrazy<br />
elektrickým proudem jako součást ochrany lidského zdraví je obsažena v zákonných normách<br />
států a její dodržování je striktně vyžadováno. Dokumenty specifikujících požadavky<br />
technického charakteru a vztahujících se na konkrétní okruh výrobků jsou převážně technické<br />
normy a podobné předpisy.<br />
11.1 Legislativa a užití výrobků<br />
Výrobci a prodejci výrobků mohou být vedeni k výrobě a prodeji výrobků splňujících<br />
bezpečnostní požadavky přímo - např. formou jejich povinného testování a schvalování - ale, i<br />
nepřímo např. důsledky zákonné odpovědnosti za škody vzniklé užitím výrobku. V našich<br />
podmínkách je přitom vhodné připomenout zákon č. 30/1968 Sb. o státním zkušenictví ve<br />
znění zákonů č.54/1978 Sb., č.194/1988 Sb. a č.479/92 Sb., který ukládá výrobci resp.<br />
dovozci povinnost přihlásit ke schválení - před uvedením na trh - stanovené elektrotechnické<br />
výrobky, materiály a zařízení, které jsou v České republice vyráběny nebo do ní dováženy.<br />
Smyslem tohoto zákona je ochrana uživatelů před nebezpečím úrazu elektrickým proudem a<br />
ochrana m ajetku a osob před škodami, které by užíváním těchto výrobků mohly vzniknout<br />
( formou jej ich nepřipuštění do užívání, nesplňují-li požadavky na ně kladené). Zákon zahrnuje<br />
i ochranu před rušením telekomunikací, škodlivým zářením, zdravotní nezávadností<br />
konstrukčních materiálů výrobků a hlediska ekologická. Seznam výrobků, materiálů a<br />
zařízení podléhající zkoušení stanovuje Úřad pro technickou normalizaci, metrologii a státní<br />
zkušebnictví. Bezpečnostní hledisko se prakticky uplatňuje u každého výrobku, je-li napájen<br />
napětím vyšším než bezpečným. Vlastní zkoušení je náplní zkušebních laboratoří, přičemž jen<br />
státem akreditované zkušebny mohou vydávat úředně uznávané dokumenty - osvědčení,<br />
certifikáty..., vystavené na základě provedených zkoušek k nimž je zmíněná zkušebna<br />
akreditována. Příkladem takové instituce s dlouholetou tradicí je EZÚ - Elektrotechnický<br />
zkušební ústav, Praha. Právo označovat výrobek mezinárodně registrovanou značkou<br />
bezpečnosti výrobku "ESČ" může získat ten výrobce, jehož výrobek byl schválen nebo<br />
certifikován v EZÚ a výrobce se podrobil inspekci výrobního závodu inspektory EZÚ<br />
("základní", dle pravidel CENELEC, dokument MC-6) a dále se podrobuje kontrolám<br />
následným (dle dokumentu MC-7) . Zkušebnictví v podstatě prověřuje shodu výrobků s<br />
požadavky konkrétních norem a předpisů platných na daném trhu, v dané zemi. Aby se zde<br />
budoucí výrobek mohl uplatnit, je třeba, aby parametry bezpečnosti, jimi vyžadované byly<br />
obsaženy již v zadání a přihlíželo se k nim již v etapě vývoje/<strong>konstrukce</strong>. 10.2 Bezpečnostní<br />
požadavky výrobkově-normativního charakteru Na výrobky nejširšího použití popř. třídy<br />
těchto výrobků (např. elektroinstalační výrobky, osvětlovací techniku, zařízení spotřební<br />
elektroniky) existují většinou technické normy; u výrobků, pro které normativní materiály<br />
neexistují, je vhodné hledat analogii s jinými výrobky a přihlédnout k jejich specifice. Např.<br />
na elektronové mikroskopy je možno pohlížet jako na výrobky třídy elektronických<br />
měřicích<br />
přístrojů, ovšem při jejich provozu může při dostatečné energii paprsku vznikat Röntgenovo<br />
záření, jehož velikost musí splňovat i hygienické předpisy na přípustnou expozici obsluhy.
364 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
Bezpečnostní požadavky na elektronické přístroje. Užitečným příkladem normy, která stanoví<br />
bezpečnostní požadavky a metody zkoušení výrobků přístrojového charakteru je ČSN<br />
356501, odpovídající IEC 348 - 1979. Norma platí pro elektronické měřicí přístroje a jejich<br />
příslušenství.<br />
Rozlišuje čtyři bezpečnostní třídy přístrojů<br />
třída 0 - přístroj má pouze základní izolaci a nemá ochrannou svorku<br />
třída I - přístroj má alespoň základní izolaci a ochrannou svorku (je-li připojen k síti<br />
ohebným kabelem, musí být ochranná svorka součástí síťové vidlice resp.<br />
přívodky)<br />
třída II - přístroj bez ochranného uzemnění, ale s jedním z následujících druhů izolace<br />
a) s dvojitou a (nebo) zesílenou izolací všech částí<br />
b) s dvojitou a (nebo) zesílenou izolací všech částí na těch částech, kde je to možné,<br />
a u těch, kde to možné není s ochrannou impedancí<br />
Pozn. má-li kromě izolace dle a), či b) ještě svorku pro ochranné uzemnění, pokládá se<br />
za přístroj třídy I<br />
Přístroje třídy II jsou označovány symbolem<br />
třída III - přístroj určený k připojování k bezpečnému napětí, který nemá vnitřní nebo<br />
vnější obvody na napětí větší než bezpečné<br />
Izolace proti nebezpečnému napětí se rozlišují na základní, přídavné (ochranné), dvojité a<br />
zesílené. Přídavná izolace doplňuje základní izolaci a chrání před úrazem při průrazu základní<br />
izolace. Dvojitá zahrnuje základní a přídavnou izolaci. Zesílená je taková izolace, která<br />
zabezpečuje stejnou ochranu jako dvojitá izolace.<br />
Dále se rozlišuje část přístroje přímo spojená s napájecí sítí, v níž při spojení této části s<br />
jiný pólem napájecí sítě vznikne proud nejméně 9A při neuzemněném přístroji, a část vodivě<br />
spojenou s napájecí sítí, v níž při spojení s jiným pólem napájecí sítě přes odpor 2kW proteče<br />
špičkový proud větší než 0,7 mA (při neuzemněném přístroji).<br />
Přístroj musí být konstruován a vyroben tak, aby nepředstavoval nebezpečí nejen při<br />
běžném používání, ale ani v případě poruch. Mimo ochrany osob před úrazem elektrickým<br />
proudem, musí být zajištěna ochrana i před nadměrnými teplotami, zářením, uvolněnými<br />
plyny, ultrazvukovým tlakem, důsledky exploze nebo imploze a nebezpečím ohně.<br />
Bezpečnostním požadavkům musí přístroj vyhovět v celém rozsahu vnějších podmínek,<br />
které jsou u něj výrobcem udávány. Tj. v celém rozpětí provozních teplot, vlhkosti, rozmezí<br />
napájecího napětí...<br />
K zajištění bezpečnosti patří tato konkrétní opatření eliminující škody vadnou osluhou a<br />
manipulací; požární nebezpečí, úrazy :<br />
- označení ovládacích prvků, přípojných míst - jednotnost (= jednoznačnost), úplnost,<br />
doplňkové informace obsluze<br />
Př. Označení měřicí zemnicí svorky , ochranné svorky, společné svorky měřicích a<br />
řídicích obvodů; svorky, na nichž se může vyskytnout nebezpečné napětí větší než 1kV jsou<br />
označeny červeným symbolem , u "plovoucích" vstupů a výstupů musí být uvedeno max.<br />
povolené připojené napětí. Napájcí napětí stejnosměrné se značí, střídavé, možnost<br />
napájení střídavým i stejnosměrným napětím; u držáku pojistek musí být uveden typ a<br />
jmenovitá hodnota proudu výměnných tavných vložek; vyžaduje se vyznačení poloh
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 365<br />
zapnuto/vypnuto síťoveho vypinače - nestačí indikace zapnutí signálkou. Údaj ! značí<br />
nutnost seznámit se s důležitými údaji, uvedenými v dokumentaci.<br />
Přihlíží se ke skutečnosti, že má být maximálně chráněna i osoba, která z přístroje za<br />
pomoci nástroje sejme vnější kryt. I ve vnitřní zástavbě se části pod nebezpečným napětím<br />
označují ( ).<br />
- dimenzování zatížení součástek z hlediska vyvíjeného tepla a chlazení, volba materiálů<br />
Př. Povolené oteplení činí až 35°C na povrchu vystavenému běžnému dotyku (ovládací<br />
panel, kryt...), u chladičů výkonových tranzistorů, stabilizátorů, kde není vyloučen možný<br />
dotyk obsluhy max.65°C. Použití jistících prvků - tepelných pojistek. vypinačů..- pro<br />
ochranu před přehřátím v provozním i poruchovém stavu. Použití nehořlavých resp.<br />
samozhášivých izolačních a konstrukčních materiálů, látek tepelně nedegradujících; krytí<br />
součástek s vysokou provozní teplotou.<br />
- izolace obvodů<br />
Výskyt nebezpečného napětí na přístupných částech přístroje je nepřípustný. Za<br />
dostatečnou izolaci se nepokládají povlaky z laku, oxidu, anodické vrstvy,<br />
neimpregnovaného papíru, zálivky z kompaudu apod. zejména z důvodu jejich snadného<br />
poškození, nízké životnosti. Od všech ostatních obvodů musí být dostatečně izolovány<br />
zejména síťové obvody; u přístrojů s napájecím napětím do 500V se požaduje izolace min.<br />
2MW pro základní izolaci přístrojů bezpečnostní třídy I a II, 5MW pro přídavnou izolaci a<br />
7MW pro dvojitou a zesílenou izolaci. Izolace síťové části vůči ostatním obvodům musí být<br />
podrobena zkoušce vysokým napětím. Zkušební napětí pro přístroje třídy I s napájecím<br />
napětím do 250V je 1500V, 50Hz; doba zkoušky 1 minuta.<br />
- jistící a ochranné obvody<br />
K nadproudové ochraně se užívají pojistky, jističe, elektromechanické a elektronické<br />
prvky a obvody. Jejich funkce se testuje pomocí zkušebních poruch a to tak, že se sleduje<br />
působení vždy jen jedné poruchy Příkladem je zkratování diody usměrňovače na<br />
sekundárním vinutí síťového transformátoru. Při systémovém návrhu je nutno dbát na<br />
zabránění situaci, kdy by došlo k nežádoucímu provoznímu stavu, či poruše, běžnou<br />
činností obsluhy. Řešení takových ochran přihlíží k logickým souvislostem činnosti<br />
přístroje a musí vyloučit např. nevhodný sled zapínání dílčích obvodů, hazardní stavy<br />
řízení (i SW)...
366 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
12 PŘÍLOHA: KONTROLA KONSTRUKČNÍHO<br />
NÁVRHU<br />
Všeobecné zásady<br />
1) Vyhovuje řešení platným normám ČSN (tč. je přechodné období, kdy platnost některých<br />
norem je sporná, ovšem normy týkající se bezpečnosti je třeba dodržovat), doporučením<br />
IEC a jiným aplikovaným předpisům?<br />
2) Byly zjištěny a vzaty v úvahu tyto faktory:<br />
- příkon<br />
- hmotnost a rozměry<br />
- materiálové a výrobní náklady<br />
- spolehlivost ("MTBF", "MTTR")?<br />
3) Jsou předvídatelné požadavky realizovatelné malými změnami již nyní? (např.<br />
přizpůsobené plošné spoje, rezervní svorky apod.)<br />
4) Jsou části a celý systém lehce testovatelný? Byly navrhnuté zkušební přípravky? Měla<br />
zkušebna připomínky k návrhu?<br />
5) Byly použité prvky vybrány z doporučeného sortimentu nebo ze standardních zásob<br />
podniku? Nebylo možné použít některé již vyvinuté nebo vyrobené celky z jiných<br />
výrobků?<br />
6) Byla zvážená "vyrobitelnost"? Měla výroba připomínky?<br />
7) Do jaké míry je řešení odolné vůči protichůdným příkazům obsluhy a vůči mechanickému<br />
poškození? (Použijte svoji představivost! Obsluha to určitě udělá.)<br />
8) Dají se jednotky nebo jiné celky lehce vyměňovat nebo demontovat?<br />
9) Nezpůsobí některá porucha řetězovou reakci dalších poruch?<br />
Polovodičové součástky<br />
1) Pracují tranzistory při napětí menším než 80% UCEmax, UBEmax a v mezích povolené<br />
výkonové ztráty? Mají dostatečně dimenzovaný chladič?<br />
2) Jsou v obvodech s tyristory požadovány adekvátní mezní hodnoty jednotlivých tyristorů?<br />
3) Jsou patřičně ošetřené indukční zátěže? (diody, členy RC, nelineární prvky.)<br />
4) Tam, kde je to potřebné, jsou tranzistory párované a vhodně chlazené?<br />
5) Dá se místo diskrétních prvků použít integrovaný obvod kvůli úspoře místa nebo nákladů?<br />
6) Překontrolovali jste skutečné zapojení vývodů prvků s návrhem plošného spoje? (umístění<br />
vývodů tranzistorů je v katalogu kresleno při pohledu zespodu, ale u pouzder DIL zhora!)<br />
7) Pro jištění a ochranu výkonových prvků byly použity rychlé tavné pojistky nebo napájecí<br />
zdroje s nadproudovou ochranou?<br />
Kondenzátory<br />
1) Jsou kondenzátory zatěžované na max 80% jmenovitého napětí?<br />
2) Jsou připojené součástky schopné zvládnout nabíjecí a vybíjecí proudy bez následků?<br />
3) Jsou paralelně k elektrolytickým kondenzátorům připojeny malé blokovací kondenzátory s<br />
pevným dielektrikem? Mají velkokapacitní kondenzátory připojeny vybíjecí reziztory?<br />
4) Byly dodrženy povolené teplotní tolerance?
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 367<br />
Rezistory<br />
1) Je výkonové zatížení rezistorů menší jako 80% jejich jmenovitého zatížení? Je uvážena<br />
jejich povolená napěťová zatížitelnost?<br />
2) Jsou v rychlých a vysokofrekvenčních obvodech použity rezistory s potlačenou<br />
indukčností?<br />
3) Byla přešetřena potřeba stability, přesnosti a šumu rezistorů? Je jejich výběr adekvátní<br />
použití?<br />
Proměnné prvky<br />
1) Je nastavitelnost něčeho skutečně nevyhnutelná?<br />
2) Jsou proměnné prvky vhodně označené? Zvětšuje se regulovaná veličina otáčením ve<br />
směru hodinových ručiček?<br />
3) Je podle možnosti jedno nastavení nezávislé na druhém? Změnou velikosti prvku se mění<br />
pouze jedna veličina?<br />
4) Je rozsah a citlivost proměnných prvků dostatečná? Jsou koncové dorazy dostatečně<br />
pevné?<br />
5) Jsou proměnné prvky přístupné i v sestaveném stavu zařízení? Je nastavovaný parametr<br />
sledovatelný?<br />
6) Jsou vhodně zajištěné prvky nastavené ve výrobě? Jsou umístěné tak, aby je obsluha<br />
nemohla svévolně měnit?<br />
7) Mají proměnné rezistory v sérii ochranný rezistor, aby nemohlo v koncové poloze dojít ke<br />
zkratu? Je u reostatů běžec spojený s jedním koncem rezistoru, aby nemohlo dojít k<br />
přerušení rezistoru?<br />
8) Nedá se plynule nastavitelný prvek nahradit fixními hodnotami a volit je pájenými<br />
propojkami?<br />
Analogové prvky<br />
1) Jsou vstupy a výstupy zesilovačů fyzicky i elektricky co nejvíce odděleny?<br />
2) Byla širokopásmovým a vysokoziskovým prvkům věnována zvláštní pozornost? Má každý<br />
zesilovač svoje vlastní vf blokovací kondenzátory v napájecích přívodech?<br />
3) Dají se lineární prvky vybudit do nelineárního stavu? Obnoví se jejich lineární provoz<br />
automaticky?<br />
4) Jaký má vliv nelineární provoz zesilovačů na přenos a zpracování signálu?<br />
5) Byl přešetřený efekt napěťové nesymetrie operačních zesilovačů na správnou činnost<br />
obvodu? Je rychlost přeběhu ("slew rate") a rozkmit výstupního napětí dostatečný pro<br />
danou aplikaci?<br />
Plošné spoje<br />
1) Bylo bezpodmínečně nutné použít vícevrstvou desku?<br />
2) Jsou jednotlivé desky klíčované proti zasunutí do nesprávné pozice?<br />
3)<br />
Jsou na klišé nebo potiskem označené napájecí přívody, směr diod, polarita kondenzátorů,<br />
čísla vývodů konektorů, orientace integrovaných obvodů a tranzistorů?<br />
4) Kde to bylo možné, byly konektorové špičky vynechány kvůli minimalizaci možných<br />
zkratů při opravách a oživování?<br />
5) Jsou označené nastavitelné prvky?
368 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
6) Pro pojistky a žárovky byly použity patice a objímky?<br />
7) Jsou citlivé přívody co nejkratší? Spoje vedoucí velký proud jsou dostatečně široké?<br />
8) Teplé součástky jsou vzdálené od desky kvůli snížení přenosu tepla přes desku na okolní<br />
prvky?<br />
9) Dostaly hotové spoje určené do těžkých provozních podmínek patřičnou úpravu?<br />
(lakování, zalévání apod.)<br />
10) Nemůže nastat zkrat kovových pouzder tranzistorů s jinými součástkami ne desce,<br />
případně se sousední deskou?<br />
11) Je na desce vynechaný prostor pro případné rozšiřování v budoucnosti?<br />
12) Je označení typu jednotky a výrobní číslo na klišé dobře viditelné a nezaměnitelné s<br />
jinými nápisy?<br />
Šum, vazby, poruchy<br />
1) Je poloha citlivých vodičů a součástek bezpečně fixovaná?<br />
2) Je vf blokování napájení v každé jednotce?<br />
3) Silové vodiče, obzvláště k cívkám a k motorům, jsou izolované a odstíněné od signálových<br />
(slaboproudých) obvodů a vodičů?<br />
4) Je přenos signálů na větší vzdálenosti řešený způsobem zaručujícím maximální šumovou<br />
imunitu? (diferenciální přenos, vyšší napětí, stínění vodičů apod.)<br />
5) Náběžné hrany spouštěcích impulsů jsou monotónní?<br />
6) Je síťový přívod filtrovaný a průřez vodičů dostatečný?<br />
7) Zemnění je vedené do jednoho bodu?<br />
8) Neovlivňují se různá napájecí napětí přes odbočky na transformátoru?<br />
Rozhraní a propojení<br />
1) Bylo použito standardizované rozmístění a označení vývodů?<br />
2) Dají se propojovací kabely budit bez ztráty kvality přenosu? Jsou všechny zatěžovací<br />
impedance přiměřené svým budičům?<br />
3) Jsou obvody odolné vůči zkratu na výstupu, příp. vůči výstupu naprázdno (odpojení<br />
zátěže)?<br />
4) Byla prošetřená časová zpoždění a mají nějaký vliv na správnou činnost?<br />
Napájení<br />
1) Nastavení počátečního stavu obvodů po zapnutí je automatické nebo manuální? Je potřeba<br />
určitá doba na ustálení teploty?<br />
2) Způsobí odpojení jednoho nebo více zdrojů nevratnou poruchu, např. zničení některých<br />
součástek?<br />
3) Je zapotřebí dodržovat určitou posloupnost připojování nebo odpojování napájecích napětí?<br />
Jestliže ano, je zabudované blokování?<br />
4) Je možné připojit nebo odpojit síť v libovolném okamžiku?<br />
5) Jaký má vliv opačné připojení stejnosměrného napětí?<br />
Teplota, chlazení<br />
1) Je zabezpečeno dostatečné chlazení ve všech pracovních režimech? Může být snížené<br />
nedbalostí obsluhy? (např. stohováním papírů na skříňce apod.)
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 369<br />
2) Vystačí přirozená konvekce vzduchu nebo je potřebný nucený oběh? Jestliže ano,<br />
vyzkoušejte účinnost ventilátorů v navrhnutém zařízení.<br />
3) Jsou osoby chráněné před dotykem na horké části?<br />
4) Jsou součástky citlivé na teplo (umělé hmoty, tranzistory, elektrolytické kondenzátory<br />
apod.) chráněné a dostatečně vzdálené od zdrojů tepla?<br />
5) Byla zjišťována max. teplota okolí a prašnost v místě konečného nasazení?<br />
6) Byly vyšetřované tepelné ztráty při nejhorších podmínkách (worst case conditions)?<br />
URelé, stykače, elektromagnetyU<br />
1) Byla prošetřena doba přítahu, odpadu a zakmitávání kontaktů?<br />
2) Je nutné potlačení jiskření kontaktů? Jestliže ano, je navržený způsob účinný?<br />
3) Jsou kontakty správně dimenzované?<br />
4) Použití bezkontaktních spínačů je výhodné/nevýhodné?<br />
5) Byl zjištěn záběrový a trvalý příkon cívky? Je cívka dimenzovaná na trvalé sepnutí?<br />
6) Je předepsaná montážní poloha prvku a má tato vliv na jeho životnost?<br />
UTlumivky, transformátoryU<br />
1) Není síťový transformátor předimenzovaný/poddimenzovaný?<br />
2) Neovlivňuje rozptylové magnetické pole jiné obvody? (např. vstupy nf zesilovačů)<br />
3) Nezpůsobuje stejnosměrná složka proudu saturaci jádra? Je magnetický obvod z tohoto<br />
hlediska dostatečně dimenzovaný?<br />
4) Provozní teplota jádra a vinutí je vyhovující?<br />
5) Je počítáno s odbočkami na sekundáru kvůli dodatečným malým úpravám výstupních<br />
napětí?<br />
UOvládací panely a rozvaděčeU<br />
1) Ovládací a signalizační panel je řešený z hlediska ergonomických, funkčních a estetických<br />
kritérií nebo byly prvky umístěné "tak, jak to vyšlo"?<br />
2) Budou signálky dostatečně viditelné při okolním osvětlení a akustická návěstí výrazně<br />
odlišná od okolního hluku? Bylo pro výstražnou signalizaci použito přerušované světlo?<br />
3) Tlačítka a vypínače je v případě potřeby možné ovládat i v rukavicích?<br />
4) Je dobrý přístup při opravách? Bylo pamatováno na montážní síťovou zásuvku, případně<br />
osvětlení?<br />
5) Při rozmisťování prvků do skříně byl zachovávaný určitý systém? Byl zkoumám vliv<br />
otřesů a vibrací na upevnění a funkci všech elementů?<br />
6) Svorkovnice jsou lehko přístupné a zřetelně označené? Je oddělena ovládací a signalizační<br />
část od silové?<br />
7) Je možná náhrada tavných pojistek jističi?<br />
8) Průřezy spojovacích vodičů jsou adekvátně dimenzované a vhodně fixované?<br />
9) Jsou sběrnice jednotlivých napětí označené zřetelně a ve smyslu platné ČSN?<br />
UMateriálové a výrobní nákladyU<br />
1) Je návrh podle možností bez speciálních elementů? (např. transformátory na zakázku,<br />
speciální mechanické díly, úzkotolerantní rezistory, exotické polovodiče)
370 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
2) Je sortiment použitých součástek minimální?<br />
3) Je jednotka nebo celek lehko sestavitelný a rychle testovatelný?<br />
4) Byly použity perspektivní součástky? Tam, kde to bylo možné, byly použity laciné<br />
součástky, případně s klesající tendencí ceny?<br />
5) Ruční drátování je omezeno na minimum?<br />
UZkoušení<br />
1) Je výkresová dokumentace úplná a odpovídající skutečnosti?<br />
2) Jsou měrné body umístěné tak, že jsou přístupné i v konečné sestavě?<br />
3) Mohou se měrné body zkratovat na zem bez nebezpečí?<br />
4) Jsou měrné body patřičně označené a shodně s výkresy? Je ze schémat zřejmá funkce<br />
obvodů?<br />
5) Byly vypracované měřicí předpisy a popis funkce a činnosti všech obvodů?
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 371<br />
13 LITERATURA<br />
[1] MUSIL, V.: Ekonomika a řízení II. Skriptum VUT FE, Brno, Ed. stř. VUT 1987.<br />
[2] VRBA, K. - VRBA, K.: Ekonomika a řízení II. Skriptum VUT FE, Praha, SNTL 1984.<br />
[3] FILKA, M. - VRBA, K.: Telekomunikační projekty. Specializované přednášky. Skriptum VUT FE, Brno, Ed. stř. VUT 1989.<br />
[4] FILKA, M. a kol.: Diplomní semináře - telekomunikace. Skriptum VUT FE. Ed. stř. VUT, Brno 1989.<br />
[5] BAKER, D. aj.: Physical Design of Electronic Systems. Vol. I. Design Technology. Vol. II. Materials Technology. Vol. III. Integrated<br />
Device and Connection Technology. Vol. IV. Design Process. Prentice - Hall, 1970.<br />
[6] PETŘINA, J.: Konstrukce a spolehlivost elektronických zařízení. Praha, SNTL 1964.<br />
[7] BEDNAŘÍK, J. a kol.: Elektronická zařízení. Zásady pro navrhování. Praha, SNTL 1967.<br />
[8] ČÁSENSKÝ, M. - MAÒAS, S.: Metodika konstruování. Skriptum ČVUT FS. Praha, Ed. stř. ČVUT 1990.<br />
[9] BRACHTL, I.: Konstrukce počítačù I. Skriptum ČVUT FEL. Praha, Ed. stř. ČVUT 1988.<br />
[10] BRACHTL, I.: Konstrukce počítačù II. Skriptum ČVUT FEL. Praha, Ed. stř. ČVUT 1986.<br />
[11] DVOŘÁK, V.: Konstrukce počítačù. Skriptum VUT FE. Praha, SNTL 1986.<br />
[12] URBÁNEK, J. - VACKÁŘ, J.: Technologie elektronických zařízení I. Skriptum ČVUT FEL. Praha, Ed. stř. ČVUT, 1982.<br />
[13] VACKÁŘ, J.: Technologie elektronických zařízení II. Skriptum ČVUT FEL. Praha, Ed. stř. ČVUT 1983.<br />
[14] TRNKA, J. - MOOS, P.: Návrh telekomunikačních zařízení. Skriptum ČVUT FEL. Praha, Ed. stř. ČVUT 1983.<br />
[15] NOVÁK, J.: Konstrukce a technologie spojovacích zařízení. Přednášky. Skriptum ČVUT FEL. Ed. stř. ČVUT, Praha 1986.<br />
[16] JÁNEŠOVÁ, E. - NOVÁK, J.: Konstrukce a technologie spojovacích zařízení. Cvičení. Skriptum ČVUT FEL. Ed. stř. ČVUT, Praha<br />
1984.<br />
[17] URBÁNEK, J.: Výroba sdělovacích zařízení drátových. Skriptum ČVUT FEL. Praha, Ed. stř. ČVUT 1981.<br />
[18] ŠAVEL, J.: Výrobní procesy II. Skriptum ČVUT FEL. Praha, Ed. stř. ČVUT 1987.<br />
[19] KALÁB, P. - KEBRLE, O. - ZATLOUKAL, M.: Výrobní procesy II. Skriptum VUT FE. Brno, Ed. stř. VUT 1986.<br />
[20] KRÁL, J.: Technologie výroby elektrických přístrojù. Skriptum VUT FE. Praha, SNTL 1982.<br />
[21] NEČÁSEK, S. - JANEČEK, J. - RAMBOUSEK, J.: Elektronické a elektroakustické součástky. Jejich volba a použití. Praha, SNTL/<br />
Alfa 1985.<br />
[22] CHARINSKIJ, A.L.: Konstrukce radiotechnických prvkù. Praha, SNTL 1962.<br />
[23] HOFT, H.: Pasívní součástky pro elektroniku. Praha, SNTL 1983.<br />
[24] RYŠÁNEK, V.: Součástková základna slaboproudá I. a II. Skripta ČVUT FEL. Praha, Ed. stř. ČVUT 1983.<br />
[25] URBÁNEK, J. a kol.: Technologie elektronických součástek. Laboratorní cvičení I. Skriptum ČVUT, Praha, Ed. stř. ČVUT 1987.<br />
[26] ŠEBOR, M.: Odstavce z technologie elektronických měřících přístrojù. ST, 1974, č. 5, s. 183 - 184.<br />
[27] HANLÍČEK, D.: Metaloxidové vrstvové odpory. ST, 1978, č. 3, s. 107 - 109.<br />
[28] GOGELA, J.: Zlepšená řada přesných stabilních odporù s kovovou vrstvou TR161 až TR164. ST, 1981, č. 4, s. 137- -138.<br />
[29] HANZLÍČEK, D.: Nová řada uhlíkových vrstvových odporù TR211 až TR217. ST, 1980, č. 1, s. 19 - 22.<br />
[30] HANZLÍČEK, D.: Metaloxidové vrstvové rezistory TR223 až TR226. ST, 1989, č. 2, s. 55 - 57.<br />
[31] BURIÁNEK, R.: Jak se chovají vrstvové odpory při frekvencích 10 - 200 Mc/s. ST, 1953, č. 6, s. 172 - 173.<br />
[32] BURIÁNEK, R.: Kmitočtová závislost vrstvových rezistorù. ST, 1963, č. 8, s. 314.<br />
[33] HANZLÍČEK, D.: Vysokoohmové a vysokonapěové rezistory. ST, 1991, č. 5, s. 175.<br />
[34] STÁREK, J.: O vlivu vlastního zahřívání rezistorù. SO, 40, 1979, č. 2, s. 88 - 90.<br />
[35] SMETANA, P.: Jednoduchá úprava prùběhu potenciometrù. AR-A, 1980, č. 9, s. 384 - 389.<br />
[36] DANČÍK, B. - BURSA, J.: Nové druhy odporových vrstev pro měnitelné odpory a potenciometry. ST, 1966, č. 12, s. 451.<br />
[37] STUPKA, J.: Přechodové odpory v radiotechnice. ST, 1960, č. 2, s. 56 - 57.<br />
[38] SZENDIUCH, I.: Proudový šum odporù a potenciometrù a zjištění jeho velikosti. ST, 1968, č. 6, s. 216.<br />
[39] SZENDIUCH, I.: Pùsobení kontaktního přechodu v elektronickém obvodu. ST, 1969, č. 5, s. 146 - 147.<br />
[40] KINSKÝ, V.: Některá neobvyklá použití žárovek. ST, 1957, č. 8, s. 242 - 244.<br />
[41] ANTOŠ, J.: Napěově závislé odpory. ST, 1965, č. 11, s. 414 - 415.<br />
[42] TUČEK, Z.: Provozní, špičkové, zkušební a prùrazné napětí kondenzátorù. ST, 1953, č. 12, s. 359 - 360.<br />
[43] ANTOŠ, J.: Volba kondenzátorù. ST, 1966, č. 1, s. 18 - - 19.<br />
[44] SELLNER, V.: Kondenzátor je když ... ST, 1984, č. 1 , s. 23 - 27.<br />
[45] SELLNER, R.: Ztrátový činitel kondenzátorù a spolehlivost elektronických přistrojù. ST, č. 4, s. 129 - 132.<br />
[46] RETÍK, J.: Monolitické keramické kondenzátory. AR-A, 1985, č. 6, s. 214 - 216.<br />
[47] RETÍK, J. - HUŠEK, B.: Keramické kondenzátory. AR, 1973, č. 8, s. 303 - 304.<br />
[48] SELLNER, V.: Ztrátový činitel kondenzátorù a spolehlivost elektronických přístrojù. ST, 1986, č. 4, s. 129 - 132.<br />
[49] KABEŠ, K.: Měření dielektrické absorpce kondenzátoru. ST, 1968, č. 9, s. 342.<br />
[50] STUPKA, J.: Dielektrická absorpce kondenzátorù. ST, 1975, č. 1, s. 12 - 13.<br />
[51] SEDLÁČEK, M.: Rozbor chyb integrace napětí elektronickým analogovým integrátorem v časové oblasti. SO, 40, 1979, č. 2, s. 57<br />
- 63.<br />
[52] NĚMEC, A.: Elektrolytické kondenzátory a jejich vlastnosti. Konstrukční příloha časopisu AR 1984, s. 69 - 74.<br />
[53] BĚLOHUBÝ, R. - KRUML, J.: Hliníkový elektrolytický kondenzátor s pevným elektrolytem. ST, 1968, č. 9, s. 337 - 338.<br />
[54] DRAŠAR, M.: Tantalový kondenzátor s tekutým elektrolytem. ST, 1971, č. 9, s. 291 - 294.<br />
[55] RUŽINSKÝ, M.: Dielektrické tenké vrstvy v elektrolytických kondenzátoroch. SO, 38, 1977, č. 5, s. 233 - 234.<br />
[56] OLACH, O.: Jednosmerná kapacita elektrolytických kondenzátorov. SO, 46, 1985, č. 12, s. 580 - 584.<br />
[57] POSLT, Z.: Co jsou to thermistory. ST, 1954, č. 3, s. 67 - 70.<br />
[58] ROTH, L.: Typy československých termistorù. ST, 1962, č. 3, s. 91 - 94<br />
[59] VEPŘEK, J.: Termistory a jejich použití pro měření neelektrických veličin. SO, 23, 1962, č. 4, s. P17 - - P24.<br />
[60] ROTH, L.: Termistory s kladným teplotním koeficientem. ST, 1964, č. 8, s. 284 - 287.<br />
[61] DOČKÁLEK, A.: Aplikace termistorù s kladným teplotním koeficientem. ST, 1964, č. 9, s. 343 - 345.<br />
[62] KOLOMAZNÍK, K. - NOVOTNÝ, M.: Nové typy perličkových termistorù čs. výroby pro měření teploty. ST, 1970, č. 10, s. 298 - 299.<br />
[63] JANSA, J.: Termistory. ST, 1983, č. 7, s. 259 - 262.<br />
[ ] REINBOTH, H.: Vlastnosti a použití magnetických materiálù. SNTL, Praha 1975.<br />
[64] ŠAVEL, J.: Přehled ferromagnetických materiálù. ST, 1957, č. 10, s. 302 - 306.<br />
[65] HROUDNÝ, L.: Kysličníkové magnetické materiály - ferrity. ST, 1961, č. 5, s. 176 - 178.<br />
[66] TISCHER, Z.: Druhy a vlastnosti magneticky měkkých materiálù naší výroby. ST, 1963, č. 5, s. 162 - 166.
372 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
[67] PETREK, J.: Čs. feritové materiály. AR, 1968, č. 7, s. 263 - 266.<br />
[68] KRISTOFOVIČ, G.: Vlastnosti magneticky měkkých feritù. AR, 1976, č. 1, s. 29 - 30, č. 2, s. 68 - 71, č. 3, s. 108 - 110.<br />
[69] MERHAUT, J.: Konstrukce a výpočet permanentních magnetù. ST, 1968, č. 6, s. 211 - 213.<br />
[70] TAMELE, J.: Miniaturní cívky na feritových tyčinkách. ST, 1963, č. 3, s. 338 - 342.<br />
[71] KOČÍ, L.: Dělení feritových tyček. AR, 1971, č. 8, s. 285.<br />
[72] KAŠŠA, V.: Miniatúrne feritové cievky pre rozhlasové prijímače. ST, 1964, č. 6, s. 218 - 219.<br />
[73] BENEDIKT, V.: Induktivní anténa s feritovým jádrem. ST, 1956, č. 6, s. 163 - 165.<br />
[74] HROUDNÝ, L.: Ferritové přijímací antény. ST, 1963, č. 4, s. 130 - 133.<br />
[75] BLABLA, J.: Prùchodkové prvky s ferritovým jádrem. ST, 1958, č. 8, s. 313.<br />
[76] DUŠÁNEK, V.: Feritové toroidní cívky. AR, 1975, č. 9, s. 355 - 356.<br />
[77] Toroidy z prodejny svazarmu. AR, 1974, č. 12, s. 469 - - 470.<br />
[78] PETREK, J.: Feritová hrníčková jádra. AR, 1975, č. 9 a č. 10.<br />
[79] PETREK, J.: Návrh cívek s feritovými hrníčkovými jádry. AR-A, 1976, č. 11, s. 419 - 422, č. 12, s. 457 - - 463.<br />
[80] PETŘÍK, P.: Návrh cívek s feritovými hrníčkovými jádry II. Konstrukční příloha AR, 1988, s. 56 - 65.<br />
[81] FAKTOR, Z. - REJMÁNEK, M. - ŠIMEK, B.: Transformátory a laděné cívky pro sdělovací techniku. Praha, SNTL 1968.<br />
[82] NEČÁSEK, S.: Radiotechnika do kapsy. Praha, SNTL 1981.<br />
[83] PROVAZ, J.: Význam teplotní kompenzace kmitočtu vf. obvodù. ST, 1956, č. 1, s. 11 - 14.<br />
[84] Teplotní koeficienty. ST, 1956, č. 3, s. 77 - 80.<br />
[85] Výpočet TK indukčnosti. ST, 1956, č. 8, s. 226 - 230.<br />
[86] PROVAZ, J.: Teplotní kompenzace kmitočtu vysokofrekvenčních obvodù. Praha, SNTL 1958.<br />
[87] REJMÁNEK, M.: Subminiaturní mezifrekvenční transformátor čs. výroby. ST, 1956, č. 7, s. 196 - 198.<br />
[88] REJMÁNEK, M.: Mezifrekvenční transformátor pro náročnější přijímače. ST, 1955, č. 9, s. 266 - 268.<br />
[89] ŠIMÙNEK, Z.: K laboratorní a výrobní praxi s mf. transformátory v rohlasových přijímačích. ST, 1961, č. 1, s. 19 - 22.<br />
[90] REJMÁNEK, M.: Mezifrekvenční trasformátor pro úzkopásmové mf zesilovače 10 až 40 MHz. ST, 1960, č. 5, s. 174 - 175.<br />
[91] REJMÁNEK, M.: Hermetisovaný mezifrekvenční transformátor. ST, 1960, č. 6, s. 213 - 214.<br />
[92] DOČEKAL, J.: Hermetisovaný mf. transformátor s uzavřeným magnetickým obvodem. ST, 1961, č. 6, s. 204 - - 205.<br />
[93] FAKTOR, Z.: Současný stav měřící techniky cívek. SO, 46, 1985, č. 2, s. 81 -83.<br />
[94] VÍAZ, I.: Širokopásmové transformátory. SO, 47, 1986, č. 1, s. 14 - 22.<br />
[95] LAÒKA, Z.: Význačné kmitočty rezonančních obvodù. SO, 46, 1985, č. 9, s. 424 - 427.<br />
[96] SHRBENÝ, S. - TRENDA, J.: Výroba vinutých transformátorových jader. ST, 1960, č. 9, s. 334.<br />
[97] POHANKA, J.: Stavba síových transformátorù. Praha, SNTL, 1960.<br />
[98] VAŠÍČEK, A.: Typizované napájecí transformátory a vyhlazovací tlumivky. Praha, SNTL 1963.<br />
[99] Návrh síových transformátorù. AR, 1975, č. 3, s. 90 - - 92.<br />
[100] Jak na to. AR, 1966, č. 2, s. 5 - 7, č. 3, s. 26 - - 27.<br />
[101] KABEŠ, K.: Výpočet normalizovaných transformátorù. ST, 1956, č. 2, s. 42 - 45.<br />
[102] TUČEK, Z.: Normalizované napájecí transformátory Adast. ST, 1960, č. 12, s. 462 - 464.<br />
[103] PACÁK, M.: Grafický postup návrhu napájecího transformátoru. ST, 1969, č. 1, s. 20 - 22.<br />
[104] SVOZIL, M.: Výpočet transformátorù na jádrech C. ST, 1959, č. 8, s. 284 - 288.<br />
[105] SVOZIL, M.: Ještě transformátory na jádrech C. ST, 1960, č. 2, s. 54 - 55.<br />
[106] SVOZIL, M.: Vlastnosti jader C v podmínkách stejnosměrné předmagnetizace. ST, 1961, č. 10, s. 368 - - 370.<br />
[107] FAKTOR, Z. a j.: Výkonové transformátorky s jádry C. ST, 1980, č. 3, s. 87 - 91.<br />
[108] SVOZIL, M.: Návrh předmagnetovaných indukčností na jádrech C. ST, 1962, č. 4, s. 133 - 137.<br />
[109] KOPŘIVA, J.: Napájecí transformátory vyšších technických kmitočtù s jádry C. ST, 1960, č. 7, s. 242 - 243.<br />
[110] ŽEŽULKA, R.: Držáky jader C a jejich vlastnosti. ST, 1961, č. 8, s. 283 - 284.<br />
[111] HROMÁDKA, L.: Jednoduchá <strong>konstrukce</strong> držáku jader C. ST, 1963, č. 1, s. 25.<br />
[112] KABEŠ, K.: Transformátorové plechy s řezem MD. ST, 1963, č. 3, s. 100 - 101.<br />
[113] ŠEBOR, M.: Malé napájecí transformátory. ST, 1979, č. 2, s. 67 - 71.<br />
[114] PRÙCHA, S.: Výpočet sdělovacích transformátorù. ST, 1956, č. 5, s. 150 - 153.<br />
[115] REJMÁNEK, M.: Řada miniaturních nízkofrekvenčních transformátorù. ST, 1959, č. 12, s. 442 - 447.<br />
[116] FIALA, V.: Výstupní transformátory pro kvalitní reprodukci. ST, 1958, č. 2, s. 64.<br />
[117] K výpočtu nízkofrekvenčních sdělovacích transformátorù. ST, 1960, č. 7, s. 252 - 254.<br />
[118] FAKTOR, Z. - ŠÁLEK, V.: Feritová jádra E. ST, 1962, č. 11, s. 402 - 408.<br />
[119] FAKTOR, Z.: K návrhu miniaturních sdělovacích transformátorù. ST, 1958, č. 12, s. 446 - 449.<br />
[120] Výpočet převodního transformátoru. ST, 1953, č. 9, s. 272.<br />
[121] SVITOK, P.: Ako dimenzova malý regulačný autotransformátor? ST, 1954, č. 11, s. 332 - 334.<br />
[122] ŠTOČEK, F.: Výpočet elektrických vinutí. ST, 1954, č. 11, s. 327 - 332.<br />
[123] Určení teploty transformátorù měřením odporu vinutí. ST, 1971, č. 1, s. 31.<br />
[124] Kam s ním? ST, 1977, č. 7, s. 268.<br />
[125] MIHÁLKA, P.: Ako opravi partiové transformátory. AR, 1969, č. 5 s. 187 - 188.<br />
[126] LUKOVSKÝ, M.: Přibližné určení parametrù neznámého transformátoru. AR-A, 1976, č. 5, s. 170.<br />
[127] KURKA, P.: Určení jmenovitého napětí a jmenovitého výkonu neznámého síového transformátoru. AR, 1970, č. 6, s. 205.<br />
[128] KABEŠ, K.: Výpočet tlumivek s normalizovanými plechy řezu EI a M. ST, 1956, č. 12, s. 370 - 374.<br />
[129] KOLOUCH, J.: Jednoduchý návrh tlumivky se stejnosměrnou předmagnetizací. ST, 1975, č. 1, s. 14 - - 15.<br />
[130] KUNA, M. - DVOŘÁK, S.: Návrh vzduchové tlumivky s optimální geometrií. ST, 1977, č. 7, s. 242 - 244.<br />
[131] KABEŠ, K.: Nomogram pro návrh tlumivek se stejnosměrnou předmagnetizací s normalizovaným jádrem. ST, 1963, č. 1, s. 38 - 40.<br />
[132] TLAMSA, J.: Jazýčkové kontakty a relé. AR, 1966, č. 11, s. 20 - 21.<br />
[133] ZÁCHEJ, K.: Výpočet vinutia relé. AR-A, 1979, č. 1, s. 25.<br />
[134] KUCHTA, K.: Grafický návrh vinutí relé. AR-A, 1979, č. 2, s. 55 - 56.<br />
[135] MAYER, A.: Solid state relay. ST, 1976, č. 5, s. 187 - 188.<br />
[136] Relé a jejich použití. AR, 1968, č. 10, s. 375 - 382.<br />
[137] ZELENKA, J.: Piezoelektrické rezonátory. SO, 23, 1962, č. 12, s. P73 - P80.<br />
[138] HAVELKA, V.: Nízkofrekvenční piezoelektrické rezonátory. ST, 1961, č. 11, s. 409 - 414.<br />
[139] ŠOLC, I.: Co všechno nás zajímá na piezoelektrickém krystalu. ST, 1953, č. 7 - 8, s. 221 - 222.<br />
[140] OBRAZ, J.: Zpùsob měření veličin náhradního obvodu piezoelektrických a elektrostrikčních látek. ST, 1956, č. 5, s. 145 - 146.<br />
[141] HOFMANN, A.: Stanovení prvkù náhradního zapojení piezokeramických rezonátorù měřičem impedance. ST, 1982, č. 1, s. 13 - 15.<br />
[142] NOSEK, J.: Nelineární elektrický náhradní obvod piezoelektrického rezonátoru. SO, 45, 1984, č. 3, s. 133 - 137.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 373<br />
[143] PROCHÁZKA, J.: Chemická úprava krystalových výbrusù. AR, 1963, č. 12, s. 352 - 354.<br />
[144] ERBEN, J.: Úprava krystalù nizkých kmitočtù. AR, 1970, č. 7, s. 76.<br />
[145] MIKULASCHEK, A.: Problémy kalibrace a dlouhodobé frekvenční stability křemenných oscilátorù. ST, 1957, č. 10, s. 290 - 295.<br />
[146] SOBOTKA, Z.: Přeladitelný krystalový oscilátor. ST, 1961, č. 1, s. 15 - 17.<br />
[147] PAVLOVEC, J.: Frekvenční rozlaïování krystalových oscilátorù. SO, 42, 1981, č. 8, s. 378 - 384.<br />
[148] PÁTÝ, J.: Rozbor některých typù krystalových oscilátorù. SO, 19, 1958, č. 3, s. 157 - 166.<br />
[149] PAVLOVEC, J. - ŠRAMAR, J.: Krystalové jednotky a oscilátory. AR-B, 1987, č. 2, s. 42 - 61.<br />
[150] DOČEKAL, J. - MACÙREK, I.: Piezokeramické filtry - moderní prvky soustředěné selektivity. ST, 1966, č. 7, s. 242 - 245.<br />
[151] Krystalové oscilátory s invertory TTL. ST, 1984, č. 5, s. 167 - 168.<br />
[152] HÁJEK, J.: Krystalové oscilátory s obvody TTL. ST, 1975, č. 11, s. 426 - 427.<br />
[153] VACHALA, V.: Krystalové oscilátory s unipolárními integrovanými obvody. ST, 1986, č. 2, s. 44 - 46.<br />
[154] Krystalové oscilátory. AR, 1974, č. 11, s. 435 - 437.<br />
[155] ČERNOHLÁVEK, D. - STEFAN, O.: Keramická feroelektrika a jejich užití v systémech piezoelektrických filtrù. ST, 1966, č. 5, s.<br />
168 - 170.<br />
[156] KOLLMANN, M.: Širokopásmový krystalový filtr. ST, 1977, č. 3, s. 99 - 103.<br />
[157] POMICHÁLEK, J.: Piezoelektrické rezonátory v syntéze aktivních filtrù RC. SO, 45, 1984, č. 12, s. 570 - 573.<br />
[158] STEFAN, O.: Keramické monolitické piezoelektrické filtry. ST, 1970, č. 12, s. 366 - 368.<br />
[159] BÉM, J. a kol.: Československé polovodičové součástky. Praha, SNTL 1971.<br />
[160] BÉM, J a kol.: Československé polovodičové součástky II. Praha, SNTL 1979.<br />
[161] STACH, J. a kol.: Československé integrované obvody. Praha, SNTL 1975.<br />
[162] KARLOVSKÝ, J.: Zenerovy diody - historický omyl. ST, 1968, č. 10 - 11, s. 394 - 395.<br />
[163] MATULÍK, F.: Nové stabilizačné diody KZ140 a KZ141. ST, 1974, č. 5, s. 173 - 174.<br />
[164] TOMEŠ, M.: Šum zenerových diod. ST, 1965, č. 3, s. 82 - 84.<br />
[165] Integrované Zenerovy diody. ST, 1982, č. 3, s. 89 - - 90.<br />
[166] MATULÍK, F.: Schottkyho diódy a rýchle usmeròovacie diódy pre impulzové napájacie zdroje. ST, 1984, č. 8, s. 284 - 286.<br />
[167] Schottkyho hradlové diody. ST, 1984, č.2, s. 54 - 56.<br />
[168] DUDÍK, M. - MATULÍK, F.: Velmi rýchle výkonové diódy pre impulzné napájacie zdroje. ST, 1982, č. 1, s. 17 - - 20.<br />
[169] KRUTÍLEK, F. - TRHLÍK, J.: Difusní výkonové diody TESLA. ST, 1966, č. 12, s. 452 - 459.<br />
[170] KRUTÍLEK, F.: Kapacitní diody - varikapy. ST, 1966, č. 9, s. 332 - 334.<br />
[171] BÍLÝ, K. - KRUPA, K.: Ladicí varaktory. ST, 1982, č. 2, s. 55 - 58.<br />
[172] SVOBODA, V.: Varaktorové násobiče kmitočtu. AR, 1967, č. 10, s. 312.<br />
[173] VRBA, J.: Celková a náhradní kapacita varaktoru. SO, 38, 1977, č. 10, s. 464 - 470.<br />
[174] BÍLÝ, K.: Dioda PIN - princip a použití. ST, 1973, č. 10, s. 362 - 365.<br />
[175] ŽALUD, V.: Útlumové články s diodami PIN. ST, 1976, č. 6, s. 226 - 227.<br />
[176] ŽALUD, V.: Diodové fázové demodulátory. SO, 44, 1983, č. 10, s. 503 - 508.<br />
[177] ŽALUD, V.: Diodové směšovače. ST, 1979, č. 8, s. 307 - 310.<br />
[178] ČERVENÁK, J.: Fotoelektrické ovládacie a ochranné obvody so selénovými fotónkami. ST, 1961, č. 1, s. 2 - - 5.<br />
[179] ČERVENÁK, J.: Selénové fotónky československej výroby. ST, 1960, č. 4, s. 139 - 144.<br />
[180] VČELAŘ, J.: Vlastnosti křemíkových fotonek TESLA 1PP75. ST, 1964, č. 9, s. 323 - 325.<br />
[181] BÉM, J.: Křemíková fotonka KP101. ST, 1970, č. 3 - 4, s. 93 - 94.<br />
[182] Nové značení světelných diod SIEMENS. ST, 1986, č. 4, s. 138 - 140.<br />
[183] ŠEVČÍK, B.: Nový germaniový tranzistor GS507. ST, 1968, č. 6, s. 202 - 204.<br />
[184] KOUTNÍK, Z.: Nízkošumové tranzistory TESLA KC507 - KC509. ST, 1969, č. 8, s. 226 - 230.<br />
[185] HÙLKA, Z.: Vlastnosti tranzistorù KC507 v oblasti malých kolektorových proudù. ST, 1971, č. 9, s. 281 - - 283.<br />
[186] Tranzistor KC147 jako spínač. ST, 1973, č.12, s. 466.<br />
[187] BÉM, J.: Křemíkové spínací tranzistory KSY62 a KSY63. ST, 1969, č. 1, s. 4 - 7.<br />
[188] FOLVARČNÝ, R.: Vysokofrekvenční tranzistory TESLA KF167, KF173. ST, 1970, č. 12, s. 358 - 361.<br />
[189] JUREČKA, J.: Vysokofrekvenční tranzistory TESLA KF257, KF258. ST, 1974, č. 4, s. 127 - 130.<br />
[190] HÁJEK, J.: Vícenásobné tranzistory. ST, 1974, č. 1, s. 21 - 23.<br />
[191] MACHALÍK, L. - KRYŠKE, M.: Integrované dvojice bipolárních tranzistorù NPN pro rozdílové zesilovače. ST, 1978, č. 5, s. 162 -<br />
166.<br />
[192] SLÍŽEK, R.: Nový typ tranzistorù TESLA - KD601. ST, 1969, č. 12, s. 359 - 360.<br />
[193] MIKULENKA, F.: KD270, KD271 - Komplementární dvojice výkonových tranzistorù. ST, 1989, č. 8, s. 305 - 306.<br />
[194] NEUMANN, P. - SPRINGER, V.: Sériové řazení tranzistorù. ST, 1963, č. 8, s. 295 - 299.<br />
[195] KADLEC, V.: Paralelní řazení tranzistorù. ST, 1987, č. 5, s. 177 - 178.<br />
[196] BUDÍNSKÝ, J.: Statické vlastnosti plošných tranzistorù v impulsovém provozu. SO, 20, 1959, č. 9, s. 570 - 577.<br />
[197] HAVLÍK, L.: Spínací vlastnosti polovodičových součástek. ST, 1967, č. 5, s. 162 - 167.<br />
[198] HÁJEK, J.: Tranzistor v obvodu střídavého proudu. ST, 1973, č. 2, s. 67.<br />
[199] TRHLÍK, J.: Přetěžovací charakteristiky tranzistorù TESLA. ST, 1967, č. 9, s. 329 - 332.<br />
[200] STACH, J.: Nepřímé hodnocení saturační časové konstanty tranzistorù. ST, 1968, č. 12, s. 433 - 435.<br />
[201] STACH, J.: Mezní hodnoty tranzistorù. AR, 1967, č. 1, s. 8 - 11.<br />
[202] STACH, J.: Jak používat údajù o zatížitelnosti výkonových tranzistorù. ST, 1973, č. 3, s. 205 - 208.<br />
[203] HOTMAR, Z.: Možnosti a užití tranzistorù pracujících v lavinové oblasti charakteristiky. AR-R, 1981, č. 5, s. 24 - 26.<br />
[204] HAVLÍK, L.: Lavinové generátory. Konstrukční příloha časopisu AR, 1982, s. 42 - 51.<br />
[205] ŽALUD, V.: Tranzistory řízené elektrickým polem typu MOS. AR, 1968, č. 3, s. 104 - 105, č. 4, s. 136 - 137.<br />
[206] BALÁŠ, J.: Výstupní charakteristiky MOS tranzistoru KF520 TESLA. ST, 1968, č. 10 - 11, s. 372 - 373.<br />
[207] HRUBÝ, F.: Vlastnosti tranzistorù MOS TESLA - KF521. ST, 1970, č. 11, s. 325 - 329.<br />
[208] PUČELÍK, J.: Nelineární převodník obdélníkového napětí na sinusové s tranzistorem MOS KF521. ST, 1974, č. 1, s. 3 - 4.<br />
[209] HRUBÝ, F.: Dvojice tranzistorù MOS - KF552. ST, 1971, č. 10, s. 319 - 325.<br />
[210] PELIKÁN, L.: Teplotní stabilizace obvodù s tranzistory MOS. ST, 1971, č. 9, s. 284 - 286.<br />
[211] FADRHONS, J.: Kaskodový zesilovač pro KV s tranzistory MOSFET TESLA KF521. ST, 1971, č. 2, s. 44 - - 46.<br />
[212] ŽALUD, V.: Tranzistory řízené elektrickým polem ve vstupních obvodech přijímačù. ST, 1969, č. 8, s. 241 - - 243.<br />
[213] KIPNICH, H.D.: Tranzistory řízené polem MOS a PLL v přijímačích VKV. AR-A, 1983, č. 10, s. 373 - 375, č. 11, s. 429 - 431.<br />
[214] PACÁK, M.: Polovodičový elektrometr. ST, 1971, č. 8, s. 249 - 252.<br />
[215] ŽALUD, V.: FET v nízkofrekvenční technice. ST, 1970, č. 2, s. 41 - 44.<br />
[216] MELÍŠEK, T.: Náhrada výkonového MOS FET. AR-A, 1984, č. 9, s. 336.
374 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
[217] ŽALUD, V.: Tranzistory V-MOS a jejich použití v lineárních obvodech. ST, 1980, č. 8, s. 301.<br />
[218] Řízení výkonových tranzistorù MOS. ST, 1983, č. 5, s. 171 - 172.<br />
[219] PARKAN, P. - PATÁK, Z.: Použití výkonových tranzistorù MOS u zdrojù a měničù elektrického napájení s impulsní regulací. ST,<br />
1985, č. 6, s. 207 - 211.<br />
[220] Další aplikace výkonových tranzistorù MOS. ST, 1985, č. 7, s. 261 - 264.<br />
[221] Zacházení s elektrostaticky citlivými součástkami. AR-A, 1988, č. 7, s. 268 - 269.<br />
[222] KOZA, V.: Ochrana tranzistoru MOSFET. AR-A, 1979, č. 10, s. 369.<br />
[223] ŽALUD, V.: Tranzistor MESFET. ST, 1975, č. 10, s. 379 - 380.<br />
[224] ŽALUD, V.: Mikrovlnné tranzistory. ST, 1977, č. 12, s. 471 - 473.<br />
[225] ŽALUD, V.: Mikrovlnné tranzistory HEMT. ST, 1990, č. 1, s. 7 - 9.<br />
[226] BUDĚJICKÝ, J. - KLÍMA, F.: Šum elektronických obvodù. Praha, SNTL 1962.<br />
[227] ŽALUD, V. - KULEŠOV, V.N.: Polovodičové obvody s malým šumem. Praha, SNTL 1980.<br />
[228] HORNA, O.A.: Šumové vlastnosti tranzistorù. ST, 1964, č. 9, s. 326 - 329.<br />
[229] OCÁSEK, L. - ŠENFLUK, J.: Nízkofrekvenční šum tranzistorù. ST, 1978, č. 4, s. 131 - 136.<br />
[230] ŽALUD, V.: Šum bipolárních tranzistorù při vyšších kmitočtech. ST, 1971, č. 8, s. 245 - 247.<br />
[231] ŽALUD, V.: Co je to 'praskavý' šum a jak se měří. ST, 1975, č. 3, s. 107 - 108.<br />
[232] ŽALUD, V.: Termický šum tranzistoru MOS. ST, 1968, č. 12, s. 436 - 438.<br />
[233] ŽALUD, V.: Souhrnný pohled na vf šumové vlastnosti tranzistoru FET. ST, 1971, č. 3 - 4, s. 86 - 89.<br />
[234] PLZÁK, J.: Program výpočtu vlastností zesilovače pomocí parametrù SsS. ST, 1978, č. 8, s. 307 - 309.<br />
[235] ŽALUD, V.: Parametry Ss Sa jejich použití. ST, 1977, č. 11, s. 409 - 412.<br />
[236] REGNARD, F.: Šumové parametry vybraných modifikovaných dvojbranù. SO, 45, 1984, č. 10, s. 490 - - 493.<br />
[237] ŽALUD, V.: Nový princip optimalizace vstupních zesilovačù. SO, 40, 1979, č. 6, s. 291 - 293.<br />
[238] HAVLÍK, L.: Stav měřící techniky tranzistorù ve světě. SO, 21, 1960, s. 89 - 96.<br />
[239] HAVLÍK, L.: Některé metody měření vysokofrekvenčních tranzistorù. ST, 1958, č. 11, s. 424 - 426.<br />
[240] HEJSEK, F. a j.: Statické spínací parametry tranzistorù a jejich měření. ST, 1968, č.2, s. 42 - 45.<br />
[241] HAVLÍK, L.: Měření spínacích vlastností polovodičových diod. ST, 1969, č. 11, s. 325.<br />
[242] HAVLÍK, L.: Měření spínacích dob tranzistorù bez osciloskopu. ST, 1970, č. 5, s. 130 - 133.<br />
[243] BÉDA, A.Š.: Určenie parametrov u tranzistorov neznámeho typu. AR, 1972, č. 3, s. 98 - 99.<br />
[244] Nejjednodušší měřiče tranzistorù a diod zapojených v obvodech. ST, 1968, č. 6, s. 226.<br />
[245] MACH, J.: Vlastnosti triaku, zpùsoby řízení a ochrany. ST, 1973, č. 6, s. 209 - 212.<br />
[246] PELIKÁN, L.: Polovodičové prvky dinistor, tyristor, diak, triak a kvadrak. ST, 1971, č. 11, s. 357 - 360.<br />
[247] KRUTÍLEK, F.: Křemíkové tyristory. ST, 1967, č. 8, s. 282 - 286.<br />
[248] RUČKA, M. - ARENDÁŠ, M.: Diac a triac. AR, 1972, č. 3, s. 108 - 109.<br />
[249] HRUBÝ, F.: Zpùsoby řízení tyristorù a triakù. ST, 1974, č. 11, s. 407 - 410.<br />
[250] HRUBÝ, F.: Integrovaný obvod pro fázové řízení triakù a tyristorù MAA436. ST, 1974, č. 12, s. 449 - 454.<br />
[251] Měřič prùrazného napětí tyristorù. AR, 1973, č. 5, s. 178.<br />
[252] Měřič prùrazného napětí diod. AR, 1968, č. 6, s. 228. [253] KELLNER, L.: Měřič prùrazného napětí tranzistorù. AR, 1971, č. 12, s.<br />
450 - 451.<br />
[254] ARENDÁŠ, M.: Jednoduchý zkoušeč tyristorù. AR-A, 1976, č. 3, s. 94.<br />
[255] ČECH, K. - MACH, J.: Obvod RC jako ochranný článek polovodičových spínačù v obvodech s odporovou nebo mírně induktivní<br />
zátěží. SO, 38, 1977, č. 5, s. 215 - - 225.<br />
[256] ŽALUD, V.: Obvody s tranzistory UJT. AR, 1969, č. 12, s. 465 - 467.<br />
[257] MACH, J.: Komplementární tranzistory jako řízený spínač. AR, 1975, č. 1, s. 20 - 22.<br />
[258] HRUBÝ, F.: Polovodičové snímače tlaku. ST, 1979, č. 2, s. 49 - 53.<br />
[259] PUNČOCHÁŘ, J.: Jeden symbol - tři rozdílné struktury. ST, 1990, č. 4, s. 131 - 134, č. 5, s. 169 - 171.<br />
[260] PŘÍHODA, K.: Monolitické operační zesilovače I. ST, 1971, č. 9, s. 287 - 290.<br />
[261] ZÍMA, J.: Monolitický operační zesilovač µA740. AR, 1971, č. 10, s. 384 - 387.<br />
[262] HRUBÝ, F.: Vlastnosti operačních zesilovačù MAA741 a MAA741C. ST, 1978, č. 3, s. 82 - 86.<br />
[263] Operační zesilovače MAA748 a MAA748C. ST, 1978, č. 6, s. 215 - 219.<br />
[264] ZÍMA, J.: Monolitický operační zesilovač µA725. AR, 1971, č. 4 a 5, s. 330 - 332.<br />
[265] STEHNO, I.: Operační zesilovače řady MAA725 Tesly Rožnov. ST, 1975, č. 6, s. 202 - 210.<br />
[266] KABEŠ, K.: Použití operačních zesilovačù při vyšších kmitočtech. ST, 1978, č. 7, s. 247.<br />
[267] MACHALÍK, L. - SLÍŽEK, R.: Vlastnosti a parametry integrovaných obvodù MDA2020 a MDA2010. ST, 1978, č. 4, s. 125 - 129.<br />
[268] Integrovaný výkonový nízkofrekvenční zesilovač MDA2005. ST, 1991, č. 4, 5, 6.<br />
[269] STRIČEK, F.: Vysokofrekvenčné lineárne obvody MA3005, MA3006. ST, 1971, č. 10, s. 314 - 318.<br />
[270] KALVODA, R.: Offset a drift u operačních zesilovačù. ST, 1971, č. 10, s. 328 - 330.<br />
[271] DOSTÁL, J.: Operační zesilovač. ST, 1969, č. 3 - 4, s. 84 - 88.<br />
[272] DOSTÁL, J.: Operační zesilovač ve zpětnovazební síti. ST, 1969, č. 9 - 10, s. 265 - 272.<br />
[273] DOSTÁL, J.: Operační zesilovač: zdroje, omezovače, boostery. ST, 1969, č. 12, s. 366 - 370.<br />
[274] DOSTÁL, J.: Operační zesilovače. ST, 1970, č. 3 - 4, s. 76 - 82.<br />
[275] ZÁBRANSKÝ, J.: Parametry nízkofrekvenčního zesilovače MDA2020 ve funkci výkonového operačního zesilovače. ST, 1985, č. 12,<br />
s. 446 - 449.<br />
[276] LOJEK, B.: Korekční obvody a jejich vliv na rychlost operačního zesilovače. ST, 1985, č. 8, s. 303 - 304.<br />
[277] MOHAMED, Y.T.: Korekční obvody operačních zesilovačù. ST, 1973, č. 10, s. 366 - 368.<br />
[278] PLZÁK, J.: Vyšetřování stability Bodovou metodou. ST, 1974, č. 5, s. 163 - 166.<br />
[279] PUNČOCHÁŘ, J.: Souvislost mezi rychlostí přeběhu a činitelem nelineárního zkreslení u operačních zesilovačù. ST, 1980, č. 11, s.<br />
417 - 420.<br />
[280] PUNČOCHÁŘ, J.: Rozšíření pracovní oblasti operačního zesilovače. ST, 1988, č. 11, s. 423 - 424.<br />
[281] PUNČOCHÁŘ, J.: Dynamické vlastnosti operačních zesilovačù a jejich orientační určení z katalogových údajù. ST, 1982, č. 4, s. 123 -<br />
127.<br />
[282] ŠVEC, A.: Jeden zpôsob frekvenčnej kompenzácie operačného zosilòovača MAA725 pre velké signály. ST, 1985, č. 7, s. 267 - 268.<br />
[283] STŘÍŽ, V.: Značení integrovaných obvodù RFT z NDR. ST, 1989, č. 11, s. 422.<br />
[284] Značení sovětských polovodičových součástek a integrovaných obvodù. ST, 1988, č. 2, s. 65 - 67.<br />
[285] TUČEK, Z.: Normalizace schematických značek. ST, 1955, č. 3, s. 80 - 82.<br />
[286] TUČEK, Z.: O dalším vývoji schematických značek pro elektroniku. ST, 1955, č. 4, s. 106 - 108.<br />
[287] TUČEK, Z.: Nové normalizované schematické značky pro elektroniku. ST, 1962, č. 2, s. 42 - 46.
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 375<br />
[288] TUČEK, Z.: Normalizace - typisace - unifikace - specializace. ST, 1962, č. 7, s. 242.<br />
[289] TUČEK, Z.: Označování odporù a kondenzátorù. st, 1970, č. 6, s. 172 - 175.<br />
[290] TUČEK, Z.: Kódové značení a označování odporù a kondenzátorù. ST, 1980, č. 6, s. 219 - 221.<br />
[291] TUČEK, Z.: Kódové označování jmenovitých hodnot odporù a kapacit a jejich dovolených úchylek. SO, 40, 1979, č. 2, s. 94 - 96.<br />
[292] TUČEK, Z.: K popisu schémat. AR-A, 1985, č. 10, s. 391 - 392, č. 11, s. 428.<br />
[293] TUČEK, Z.: Normalizovaná čísla. SO, 46, 1985, č. 8, s. 400 - 402.<br />
[294] TUČEK, Z.: Normalizované schématické značky odporù a kondenzátorù. SO, 42, 1981, č. 8, s. 409 - 410.<br />
[295] TUČEK, Z.: Normalizované schématické značky pro lasery a masery. SO, 44, 1983, č. 5, s. 256 - 257.<br />
[296] TUČEK, Z.: Normalizované schématické značky pro vlnovody. SO, 41, 1983, č. 6, s. 304 - 306.<br />
[297] TUČEK, Z.: Normalizované schématické značky rádiových stanic. SO, 40, 1979, č. 6, s. 302 - 303.<br />
[298] TUČEK, Z.: Sdělovací zásuvky a vidlice. ST, 1984, č. 1, s. 7 - 10.<br />
[299] TUČEK, Z.: Schématické značky pro teorii elektrických obvodù. SO, 46, 1985, č. 5, s. 237 - 246.<br />
[300] ČAJKA, J. - POSPÍŠIL, J.: K návrhu schématických značek pro teorii elektrických obvodù. SO, 48, 1987, č. 3, s. 146 - 147.<br />
[301] TUREK, K. - ANDRLE, C.: K otázkám názvosloví a normalizace v oblasti přenosu světlovody. SO, 43, 1982, č. 7, s. 355 - 360.<br />
[302] TUČEK, Z.: Značky nahrazující nápisy na přístrojích. ST, 1974, č. 7, s. 249 - 252.<br />
[303] POHNER, B.: Normalizace odborného názvosloví. SO, 19, 1958, č. 6, s. 411.<br />
[304] FOREJT, Z.: Základy tvoření odborných názvù. ST, 1961, č. 9, s. 344 - 345.<br />
ULiteratura k elektromagnetické kompatibilitě<br />
[305] SVOBODA, J. - VACULÍKOVÁ, P. - VONDRÁK, M. - ZEMAN, T.: Základy elektromagnetické kompatibility. Skriptum ČVUT<br />
FEL. Praha, vydavatelství ČVUT 1993.<br />
[306] SVOBODA, J.: Elektromagnetická kompatibilita-nutná podmínka k elektronizaci. ST, 1985, č. 10, s. 361 - 364.<br />
[307] KARLOVSKÝ, J.: Elektromagnetická slučitelnost. ST, 1991, č. 6, s. 203 - 205.<br />
[308] HAVLÍK, L.: Elektromagnetická kompatibilita. AR-A, 1992, č. 11, s. 527 - 529.<br />
[309] Největší a nejmodernější evropská zkušebna EMK. ST, 1990, č. 8, s. 301.<br />
[310] VOLIN, M. L.: Parazitní vazby a přenosy. Praha, SNTL 1970.<br />
[311] TORNAU, F.: Elektrické rušivé vlivy v zařízení pro automatizaci a zpracování dat. Praha, SNTL 1978.<br />
[312] SKÁLA, J.: Rušení a odrušování. AR-B, 1980, č. 2, s. 42 - 78.<br />
[313] SKÁLA, J. - SKÁLOVÁ, A.: Rádiové (kmitočtové) spektrum a jeho ochrana. AR-B, 1992, č. 4, s. 123 - 151.<br />
[...] VÁÒA, V. - HALAČKA, F.: Elektromagnetická kompatibilita v praxi. ST, 1993, č. 10, s. 390-392.<br />
[314] Elektrické rušení a jeho vliv na citlivé obvody. ST, 1976, č. 8, s. 311.<br />
[315] TUPTA, L.: Význam a podmienky tienenia a uzemnenia v meracej technike. ST, 1974, č. 10, s. 381 -382.<br />
[316] TUPTA, L.: Závislost tienenia od uzemnenia. ST, 1969, č. 8, s. 238 - 240.<br />
[317] TUPTA, L.: Tienenie z hladiska možnosti praktického využívania. SO, 35, 1974, č. 1, s. 28 - 31.<br />
[318] KABEŠ, K.: Příčiny brumu nízkofrekvenčních zesilovačù. ST, 1957, č. 8, s. 244 - 247.<br />
[319] KABEŠ, K.: Stínění magnetických polí. ST, 1957, č. 10, s. 295 - 299.<br />
[320] STÁREK, J.: Střídávé relé jako zdroj řízení. SO, 38, 1977, č. 11, s. 531 - 533.<br />
[321] SELLNER, V.: Stresy - příčina poškozování polovodičù a špatné činnosti elektronických přístrojù. ST, 1985, č. 10, s. 365 - 367.<br />
[322] KUBEŠ, J.: Nebezpečí ze statické elektřiny. ST, 1965, č. 8, s. 294 - 296.<br />
[323] ROUS, Z.: Kysličníkové varistory pro přípěovou ochranu zdělovacích zařízení. ST, 1985, č. 5, s. 185 - 186.<br />
[324] ROUS, Z.: Užití miniaturních bleskojistek TESLA. ST, 1984, č. 11, s. 413 - 416.<br />
[325] ROUS, Z.: Optoelektrické vazební členy jako ochrana sdělovacích zařízení proti vnějším elektrickým vlivùm. ST, 42, 1981, č. 5, s. 251<br />
- 252.<br />
[326] KLIKOŠ, M. - MOROZOVIČ, K. - ROUS, Z.: Pracoviště pro zkoušky odolnosti sdělovacích zařízení proti přepětí a nadproudu podle<br />
ČSN 33 4000. ST, 1984, č. 7, s. 261 - 262.<br />
[327] Přepěová ochrana přenosových zařízení. ST, 1978, č. 4, s. 143 - 144.<br />
[328] KARLOVSKÝ, J.: Odrušovací kondenzátory TESKA. ST, 1992, č. 4, s. 137 - 139.<br />
[329] JANSA, J.: Dvojité proudově kompenzované odrušovací tlumivky. AR-A, 1992, č. 7, s. 315 -316.<br />
[330] ANDRAS, J.: Vysokofrekvenční filtry pro odrušovací účely. ST, 1968, č. 9, s. 332 - 336.<br />
[331] PEŠTA, J.: Filtry proti rušení televize. AR, 1969, č. 4, s. 151 - 152.<br />
[332] PRCHAL, J.: Triekové zdroje rušivých napětí. AR-A, 1977, č. 6, s. 223.<br />
[333] VONDRÁK, J.: Filtry pro triakové regulátory. AR-A, 1977, č. 7 a 8.<br />
[334] MRÁZ, A.: Rušenie rozhlasu, televízie a nf zosilòovačov amatérskymi vysielačmi a zposoby odstranenia. AR-A, 1977, č. 8, 9, 10.<br />
[335] Marshman, C.: The Guide to the EMC Directive 89/336/EEC.<br />
E.P.A Press, Wendens Ambo, Essex, 1992, ISBN 0 9517362 3X<br />
[336] Paul, C.R.: Introduction to Electromagnetic Compatibility. J. Wiley, 1992, ISBN 0 471 54927 4, hbk L64<br />
[337] Ott, H.W.: Noise Reduction Techniques in Electronic Systems. J. Wiley, 2nd ed., 1988.<br />
[338] Goedbloed, J.: Electromagnetic Compatibility. Prentice Hall, 1992, ISBN 0 13 249293 8, hbk, 381 pp.<br />
[339] Williams, T.: EMC for Product Designers. Meeting the European EMC Directive. Newnes, 1992, ISBN 0 7506 1264 9, 255 pp. pbk<br />
L25.45<br />
[340] Williams, T.: The Circuit Designer's Companion. Butterworth Heinemann, 1991, ISBN 0 7506 1142 1, hbk L25<br />
[341] Benda, S.: Interference-free Electronics. Design and Applications. Studentlitteratur and Chartwell-Bratt, 1991, ISBN 0 86238 255 6,<br />
pbk, 403 pp.<br />
[342] Chatterton, P.A. - Houlden, M.A.: EMC: Electromagnetic Theory to Practical Design. J. Wiley, Chichester, 1992, ISBN 0 471 92878X<br />
[343] Keiser, B.: Principles of Electromagnetic Compatibility. Artech House, 1987, ISBN 0 89006 206 4, 383pp. hbk L56-61<br />
[344] Weston, D.A.: Electromagnetic Compatibility. Principles and Applications. Marcel Dekker, New York, 1991, ISBN 0 8247 8507 X,<br />
686 pp., USD 132<br />
[345] Clayton, R.R.: Introduction to Electromagnetic Compatibility. J. Wiley, New York, 1992, ISBN 0 471 54927 4<br />
[346] Mills, J.P.: Electro-magnetic Interference. Reduction in Electronic Systems. Prentice Hall, Englewood Cliffs (NJ), 1993, ISBN 0 13<br />
463902 2, hbk L37.50<br />
[347] Morrison, R.: Noise and Other Interfering Signals. J.Wiley, New York, 1992, ISBN 0 471 54288 1, hbk, 143 pp, L35<br />
[348] Morrison, R. - Lewis, W.H.: Grounding and Shielding in Facilities.J. Wiley, New York, 1990, ISBN 0 471 83807 1, hbk 40.50<br />
[349] Morrison, R.: Grounding and Shielding in Instrumentation.J. Wiley, 3rd ed., 1986<br />
[350] White, D.R.J.:EMI Control in the Design of Printed Circuit Boards and Backplanes. Don White Consultants, 1984, hbk<br />
[351] Mardiguian, M.: Interference Control in Computers and Microprocessor-Based Equipment.DonWhite Consultants, 1984, hbk<br />
[352] McAteer, O.J.: Electrostatic Discharge Control. McGraw-Hill, 1990, ISBN 0 07 044838 8, hbk L49.95<br />
[353] Violette, N. - White, D.R.J. - Violette, M.: Electromagnetic Compatibility Handbook. Van Nostrand Reinhold, 1987
376 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
[354] Barnes, J.R.: Electronic System Design: Interference and Noise Control Techniques. Prentice-Hall, 1987.<br />
[355] Fluke, J.C.: Controlling Conducted Emissions by Design. Van Nostrand Reinhold, 1991<br />
[356] Nave, M.J.: Power Line Filter Design for Switched-Mode Power Supplies. Van Nostrand Reinhold, 1991<br />
[357] Kolyer, J.M. - Watson, D.E.: ESD from A to Z. Electrostatic Discharge Control for Electronics.Van Nostrand Reinhold, New York,<br />
1990, ISBN 0 442 00347 1, hbk L30.50<br />
[358] Greason, W.D.:Electrostatic Damage in Electronics. Devices and Systems. Research Studies Press and J. Wiley, 1989, hbk L40ISBN 0<br />
471 91539 4 (J. Wiley), 0 86380 053x (RSP)<br />
[359] Boxleiter, W.: Electrostatic Discharge and Electronic Equipment: A Practical Guide for Designing to prevent ESD Problems.IEEE<br />
Press, 1989<br />
[360] Mardiguian, M.: Electrostatic Discharge: Understand, Stimulate, and Fix ESD Problems. Interface Control Technologies, 1986<br />
[361] Bakoglu, H.B.: Circuits, Interconnections, and Packaging for VLSI. Addison-Wesley, 1990, ISBN 0 201 06008 6<br />
[362] Goel, A.K.: High-Speed VLSI Interconnection Modelling, Analysis, and Simulation. J. Wiley, 1994, ISBN 0471 57122-9, USD 80<br />
[363] PROCHÁZKA, M.: Měření konstant vysokofrekvenčních kabelù. ST, 1955, č. 9, s. 271 - 272.<br />
[364] JELÍNEK, M.: Volba charakteristické impedance souosého vedení. ST, 1968, č. 1, s. 20 - 21.<br />
[365] ČALFA, P.: Základní vlastnosti páskových vedení a ich aplikácia. ST, 1981, č. 3, s. 101.<br />
[366] KUBÍČEK, Z.: Pásková vedení. ST, 1958, č. 4, s. 147 - 148.<br />
[367] KLÍMA, F.: Několik poznámek ke koaxiálním kabelùm. ST, 1955, č. 9, s. 273.<br />
[368] VEBRICH, O.: Príspevok k problematike tlmenia koaxiálnych káblov. SO, 47, 1986, č. 3, s. 274 - 278.<br />
[369] SLANINKA, P.: Dielektrický model vysokofrekvenčního páskového káblu. SO, 46, 1985, č. 5, s. 223 - 228.<br />
[370] Určení místa přerušení souosého kabelu. AR, 1966, č. 7, s. 24.<br />
[371] AKSENOV, A. I. - GLUŠKOVA, D. N. - IVANOV, V. I.: Chlazení polovodičových součástek. Praha, SNTL 1975.<br />
[372] ELBERG, S. - MATHONNET, P.: Odvod tepla s elektronických zařízení. Praha, SNTL 1983.<br />
[373] KABEŠ, K.: Oteplování a chlazení elektronických přístrojù. ST, 1957, č. 4, s. 104 - 107.<br />
[374] KUDLÁČEK, J.: Chlazení výkonových tranzistorù. ST, 1964, č. 3, s. 86 - 88.<br />
[375] STACH, J.: Chlazení výkonových tranzistorù. AR, 1965, č. 10, s. 16 - 18.<br />
[376] SLAVÍČEK, I.: Chlazení výkonových transistorù. ST, 1966, č. 10, s. 385 - 386.<br />
[377] TESKA, V.: Chladiče pro polovodiče. AR, 1974, č. 9, s. 338 - 342.<br />
[378] FOIT, J.: Určení tepelných odporù chladicích žeber. ST, 1976, č. 4, s. 135 - 136.<br />
[379] BUDÍNSKÝ, J.: Odvádění tepla v elektronických zařízeních konvekcí. SO, 48, 1987, č. 5, s. 240 - 244.<br />
[380] ŽILKA, Z.: Odhad teploty součástek při návrhu elektronického zařízení. SO, 51, 1990, č. 6, s. 244 - 248.<br />
[381] HONOMICHL, V.: Jakost montáže vysokofrekvenčních tranzistorù na chladiče a její vliv na odvod tepla. SO, 46, 1985, č. 10, s. 486 -<br />
487.<br />
[382] HONOMICHL, V.: Vliv rovinnosti, drsnosti a plošného obsahu stykové plochy na tepelný styk tranzistoru s chladičem. SO, 47, 1986,<br />
č. 8, s. 399 - 401.<br />
[383] HONOMICHL, V.: Chlazení moderních elektronických počítačù. Automatizace, 29, 1986, č. 1, s. 20 - 22.<br />
[384] HONOMICHL, V.: Rozbor odvodu tepla z integrovaných obvodù velké integrace. SO, 46, 1985, č. 8, s. 388 - 389.<br />
[385] HONOMICHL, V.: Integrální chlazení integrovaných obvodù s velkým ztrátovým výkonem. SO, 46, 1985, č. 12, s. 596 - 598.<br />
[386] FEJFAR, K.: Vliv utěsnění skříòových van na zvýšení účinnosti nuceného vzduchového chlazení elektronických součástek. SO, 46,<br />
1985, č. 3, s. 150 - 152.<br />
[387] FEJFAR, K.: Chlazení výkonového tranzistoru KD 503 ve stísněných prostorových podmínkách. ST, 1986, č. 10 - 11, s. 386 - 387.<br />
[388] PŘIBYL, P.: Využití tepelných trubic v elektroakustice. ST, 1989, č. 5, s. 169 - 172.<br />
[389] KABEŠ, K.: Účinné chlazení bez ventilátoru. ST, 1992, č. 8, s. 311.<br />
[390] SCARLETT, J. A.: Plošné spoje pro mikroelektroniku. Praha, SNTL 1977.<br />
[391] KLABAL, J.: Desky s plošnými spoji a jejich výroba. ELECTUS 91. Příloha časopisu amatérské rádio, s. 58 - 65.<br />
[392] JELÍNEK, V. - HAVRÁNEK, M.: Pokovování otvorù v plošných spojích. Jemná mechanika a optika, 1974, č. 3, s. 79 - 84.<br />
[393] PLENERT, O.: Seminář o vrtání plošných spojù číslicově řízenými vrtačkami. SO, 35, 1974, č. 4, s. 197 - 199.<br />
[394] Plošné spoje u nás. ST, 1982, č. 3, s. 81 - 84.<br />
[395] KOVÁČIKOVÁ, M.: Samozhášové vrstvené izolanty pre plošné spoje. ST, 1983, č. 11, s. 419 - 422.<br />
[396] HOVORKOVÁ, K.: Spájkovanie a úprava zostavených dosiek s plošnými spojmi. ST, 1989, č. 6, s. 209 - 210.<br />
[397] MUNZ, V.: Perspektivní pouzdra integrovaných obvodù pro telekomunikační zařízení. SO, 44, 1983, č. 12, s. 595 - 596.<br />
[398] NOVOTNÝ, J.: Technologie povrchové montáže součástek bez vývodù. SO, 47, 1986, č. 8, s. 391 - 399.<br />
[399] MACH, Z.: Technologie čipové montáže na desky plošných spojù. ST, 1990, č. 5, s. 167 - 168.<br />
[400] CIPROVÁ, R.: Některé zkušenosti s pájením v povrchové montáži. SO, 49, 1988, č. 3, s. 146 - 148.<br />
[401] ČSN 34 5770 Zkouška pájitelnosti a odolnosti při pájení. SO, 38, 1977, č. 8, s. 393.<br />
[402] TESAŘÍK, B.: Účinnost leptání amoniakálních lázní. SO, 40, 1979, č. 3, s. 155 - 156.<br />
[403] TESAŘÍK, B.: Amoniakální lázeò na leptání mědi. SO, 39, 1978, č. 7, s. 334 - 336.<br />
[404] TESAŘÍK, B.: Metody zkoušení lázní na leptání mědi. SO, 45, 1984, č. 9, s. 441 - 442.<br />
[405] VLK, M.: Ovíjené spoje. ST, 1965, č. 4, s. 127 - 129.<br />
[406] NOVOTNÝ, J.: Technologie ovíjení spojù. ST, 1967, č. 5, s. 172 - 177.<br />
[407] VACHEK, V.: Frézované plošné spoje. ST, 1968, č. 6, s. 225.<br />
[408] Bosshart, W.C. Printed Circuit Boards Design and Technology Tato McGraw-Hill, New Delhi 1992, ISBN 0 07 451549 7, pbk L8.95<br />
[409] Matisoff, B.S. Handbook of Electronics Packaging Design and Engineering Van Nostrad Reinhold, New York 1990, ISBN 0 442<br />
26502 6, hbk L49<br />
[401] Lund, P. Printed Circuit Board Precision Artwork Generation and Manufacturing Methods. Bishop Graphics (Cal.), 1986, ISBN 0 13<br />
709601 1, hbk L45.65<br />
[411] Lindsey, D. Digital Printed Circuit Design & Drafting. Bishop Graphics (Cal.), 1986, ISBN 0 13 214009 8, hbk L57.05<br />
[412] Ginsberg, G.L. Printed Circuit Design McGraw-Hill, New York, 1991, ISBN 0 07 023309 8, hbk L 37.95<br />
[413] Haskard, M.R. Electronic Circuit Card and Surface Mount Technology Prentice-Hall, 1992, ISBN 0 13 249988 6, pbk L16.95<br />
[414] Scarlett, J.A. An Introduction to Printed Circuit Board Technology Electrochemical Publications, Ayr, 1984, ISBN 0 901150 16 9<br />
[415] Scarlett, J.A. Printed Circuit Boards for Microelectronics Electrochemical Publications, Ayr, 1984, ISBN 0 901150 08 8<br />
[416] Scarlett, J.A. The Multilayer Printed Circuit Board Handbook Electrochemical Publications, Ayr, 1984<br />
[417] Leonida, G. Handbook of Printed Circuit Design, Manufacture, Components and AssemblyElectrotechnical Publications, Ayr, 1981,<br />
ISBN 0 901150 09 6<br />
[418] Noble, P.J.W.: Printed Circuit Board Assembly. Halsted Press (J. Wiley), New York, 1989, ISBN 0 335 15418 2<br />
[419] Hamilton, G. A Guide to Printed Circuit Board Design Butterworths, London, 1984, ISBN 0 408 01398 2<br />
[420] Sikonowitz, W. Designing and Creating Printed Circuits Hayden Book Comp., Rochelle Park (NJ), 1981, ISBN 0 8104 0964 X
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 377<br />
[421] Combs, C.F. (ed.) Printed Circuits Handbook McGraw-Hill, New York, 3rd ed., 1988, ISBN 0 07 012609 7<br />
[422] Kear, F.W. Printed Circuit Assembly Manufacturing Marcel Dekker, New York, 1987, ISBN 0 8247 7675 5<br />
[423] Pawling, J.F. Surface Mounted Assemblies Electochemical Publications, Ayr, 1987, ISBN 0 901150 21 5<br />
[424] Kirkpatrick, J.M Electronic Drafting and Printed Circuit Board Design Delmar Publishers, 1985, ISBN 0 8273 2315 8<br />
[425] Hughes, F.W. Electronic Assembly Regents/Prentice Hall, 1992, ISBN 0 13 249731 X<br />
[426] Seraphim, D.P. - Lasky, R. - Che, Yu Li Principles of Electronic PackagingMcGraw-Hill, New York, 1989, ISBN 0 07 056306 3, hbk<br />
962p.<br />
[427] Harper, C.A. Electronic Packaging and Interconnection Handbook McGraw-Hill, New York, 1991, ISBN 0 07 026684 0, hbk cca<br />
1000p.<br />
[428] Ginsberg, G.L. Electronic Equipment Packaging Technology Van Nostrand Reinhold, New York, 1992, ISBN 0 442 23818 5, hbk,<br />
279p.<br />
[429] Brindley, K. Electronics Assembly Newnes<br />
[430] Clark, R.H. Printed Circuit Engineering. Optimizing for Manufacturability VanNostrand Reinhold, New York, 1989, ISBN 0 422<br />
21115 5, hbk L41.50<br />
[431] Hymes, L. (ed.) Clearing Printed Wiring Assemblies in Today's Environment VanNostrand Reinhold, 1991, ISBN 0 442 00275 0, hbk<br />
L32.50<br />
[432] Lea, C. A Scientific Guide to Surface Mount Technology. Electrochemical Publications, Ayr, 1988, ISBN 0 981150 22 3<br />
[433] Starý, I. Teorie spolehlivosti Skriptum ČVUT FEL. Praha, Ed. stř. ČVUT 1990.<br />
[434] Hlavička, J. Diagnostika a spolehlivost číslicových systémù (doplòkové skriptum) Skriptum ČVUT FEL. Praha, Ed. stř. ČVUT 1983.<br />
[435] Hlavička, J. Diagnostika a spolehlivost číslicových systémù. Skriptum ČVUT FEL. Praha, Ed. stř. ČVUT 1989.<br />
[436] Drábek, V. Spolehlivost a diagnostika. Skriptum VUT FE. Praha, SNTL 1986.<br />
[437] Bednařík, J. a kol. Technika spolehlivosti v elektronické praxi. Praha, SNTL 1990.<br />
[438] Ušakov, I.A. Příručka spolehlivosti v radioelektronice a automatizační technice. Praha, SNTL 1989.<br />
[439] Leitl, R. Spolehlivost elektrotechnických systémù. Praha, SNTL 1990.<br />
[440] Calabro, S.R. Základy spolehlivosti a jejich využití v praxi. Praha, SNTL 1965.<br />
[441] UHLÍŘ, K. - KOLLINER, R.: Testování v elektronice - současné možnosti a směry vývoje. ST, 1984, č. 2, s. 41 - 45.<br />
[442] UHLÍŘ, K. - KOLLINER, R.: Testování v elektronice - propojovací sí. ST, 1984, č. 3, s. 81 - 85.<br />
[443] KRATOCHVÍL, J.: Testování v elektronice - kabeláž a propojovací desky. ST, 1988, č. 2, s. 43 - 45.<br />
[444] KRATOCHVÍL, J. - BACHURA, V.: Testování kabeláží a propojovacích desek při výrobě RLK. SO, 50, 1989, č. 8, s. 401 - 402.<br />
[445] UHLÍŘ, K. - KOLLINER, R.: Testování v elektronice - sazená deska. ST, 1984, č. 9, s. 339 - 343.<br />
[446] UHLÍŘ, K.: Testery desek historie a perspektiva. In: Diagnostika mikroprocesorù IX, 1988, s. 37 - 47.<br />
[447] SLAČÁLEK, Z. - LAUDA, J.: Automatický systém ke zkoušení vsazených desek s plošnými spoji. ST, 1985, č. 6, s. 227 - 229.<br />
[448] TÙMA, J.: Automatický systém ZDK 201/211 - ADT pro testování desek osazených logickými integrovanými obvody. ST, 1985, č. 3,<br />
s. 91 - 94.<br />
[449] UHLÍŘ, K.: Zkoušení prvkù v obvodu. In: Diagnostika mikroprocesorù 1981, s. 159 - 162.<br />
[450] COL, K. - ŽILKA, Z.: Testování pasivních prvkù v obvodu. ST, 1988, č. 3, s. 83 - 86.<br />
[451] COL, K.: Testování diod a tranzistorù v analogových obvodech. ST, 1989, č. 8, s. 293 - 294.<br />
[452] KREJČÍ, O.: Testování v elektronice - zkušenosti a poznatky z měření a testování elektronických součástek. ST , 1984, č. 5, s. 165 -<br />
167.<br />
[453] DOLEŽAL, V.: Testování osazených plošných spojù v praxi. SO, 50, 1989, č. 2, s. 75 - 77.<br />
[454] SVOBODA, J. - DOLEŽAL, V.: Testování jednotek plošných spojù metodou in - circuit. SO, 48, č. 7, s. 301 - 310.<br />
[455] DOLEŽAL, V.: Přesnost tříbodové měřící metody in - circuit. SO, 49, 1988, č. 2, s. 86 - 87.<br />
[456] RUTRLE, T.: Zkušenosti z používáním vnitroobvodového zkoušeče DIGITEST 100 AD. In: Diagnostika v elektronice 1990, s. 31 -<br />
34.<br />
[457] KVAPIL, B.: Úvod do servisního testování. ST, 1992, č. 4, s. 146.<br />
[458] SELLNER, V.: Nové pohledy na spolehlivost výrobkù. ST, 1987, č. 2, s. 41 - 43.<br />
[459] SELLNER, V.: Problémy spolehlivosti elektronických přístrojù. Technické příručky, sv. 28, Praha, TESLA VÚST 1988.<br />
[460] DRAŠNAR, M.: K problému zrychlených zkoušek spolehlivosti. ST, 1968, č. 10 - 11, s. 362 - 364.<br />
[461] HOFF, F.: Matematické metody v teorii zrychlených zkoušek života. ST, 42, 1981, č. 8, s. 397 - 398.<br />
[462] HODER, K.: Příspěvek k analýze časných poruch. ST, 1986, č. 3, s. 104.<br />
[463] KOLOMAZNÍK, Z.: Racionální využití intenzity poruch pro výpočty spolehlivosti. ST, 1990, č. 2, s. 55 - 57.<br />
[464] BERÁNEK, M.: Plánování a kontrola spolehlivosti zařízení. SO, 40, 1979, č. 4, s. 185 - 187.<br />
[465] BUDÍNSKÝ, J.: Zvyšování spolehlivosti ve vývojové a výrobní fázi. SO, 45, 1984, č. 12, s. 581 - 588.<br />
[466] HOFF, F.: Význam zkoušení a třídění elektronických součástek a zařízení. SO, 43, 1982, č. 1, s. 42 - 44.<br />
[467] HONOMICHL, V.: Předcházení poruch vyvolaných údržbou elektronických zařízení. SO, 48, 1987, č. 7, s. 344 - 346.<br />
[468] ROUS, B.: Příčiny poruch elektronických zařízení v klimaticky ztížených prostředích. SO, 42, 1981, č. 6, s. 272 - 275.<br />
[469] STUPKA, J.: Poruchy přijímačù dříve a nyní. ST, 1975, č. 4, s. 145 - 146.<br />
[470] HOFF, F.: Doba života optoelektronických prvkù. SO, 43, 1982, č. 11, s. 538 - 544.<br />
[471] HOFF, F.: Kombinované lineární modely chování optoelektronických součástek za provozu a jejich užití. SO, 42, 1981, č. 10, s. 480 -<br />
484.<br />
[472] HLAVÁČEK, I.: Některé ověřené modely rùstu spolehlivosti programového vybavení. ST, 1985, č. 3, s. 87 - 88.<br />
[473] KOTTEK, E. - TOMANOVÁ, B.: Testy integrovaných obvodù řady MH74 a MH74S vycházejí ze struktury. ST, 1976, č. 5, s. 163 -<br />
164.<br />
[474] KOTTEK, E. - JAKL, M. - TOMANOVÁ, B.: Testy integrovaných obvodù řady MH74 vycházející z logické struktury. ST, 1977, č. 5,<br />
s. 163 - 166.<br />
[475] KOTTEK, E.: Testy dovážených integrovaných obvodù řady 74 vycházejí z logické struktury. ST, 1981, č. 8, s. 282 - 284.<br />
[476] RITSCHEL, M. - OVSÍK, V.: Logická sonda a co s ní. ST, 1981, č. 1, s. 23 -<br />
[477] Čtyři generace logických analyzátorù. ST, 1991, č. 7, s. 264- 265.<br />
[478] CHYBA, P.: Příznaková analýza. ST, 1982, č. 1, s. 3 - 4.<br />
[479] GOLAN, P.: Trendy v diagnostice a zabezpečení obvodù VLSI. In: Diagnostika mikroprocesorù XIII, 1987, s. 8 - 17.<br />
[480] Návrh digitálních integrovaných obvodù s ohledem na možnost jejich testování. ST, 1992, č. 8, s. 296 - 298 a č. 9, s. 329 - 332.<br />
[481] HRUŠKA, J.: Testovací prvky na čipech integrovaných obvodù. ST, 1989, č. 8, s. 281 - 285.<br />
[482] HONOMICHL, V.: Modelování intenzit poruch integrovaných obvodù. SO, 50, 1989, č. 4, s. 184 - 187.<br />
[483] HONOMICHL, V.: Vliv velmi velké integrace na znaky spolehlivosti budoucích číslicových zařízení. SO, 50, 1989, č. 12, s. 584 - 586.<br />
[484] ŠTELLA, J.: Návrh mikroprocesorových systémù z hlediska spolehlivosti. SO, 41, 1980, č. 11, s. 517 - 523.<br />
[485] SELLNER, V.: Destrukční účinky statické elektřiny na polovodiče. ST, 1982, č. 7, s. 255 - 258.
378 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
[486] CETKOVSKÝ, J.: Spolehlivost inegrovaných obvodù typu MOS. ST, 1987, č. 11, s. 415 -416.<br />
[487] HONOMICHL, V.: Zabezpečení odolnosti družicové elektroniky proti účinkùm kosmického záření. SO, 49, 1988, č. 12, s. 598 - 600.<br />
[488] HONOMICHL, V.: Výběr integrovaných obvodù pro radiační vnější prostředí. SO, 50, 1989, č. 12, s. 590 - 592.<br />
[489] HLAVIČKA, J. - KOTTEK, E. - ZELENÝ, J.: Diagnostika elektronických číslicových obvodù. SNTL, Praha 1982.<br />
[490] HORSKÝ, J. - ZEMAN, p. - ŠKAPA, L.: Měřící přístroje a měření. AR B, 1984, č. 6, s. 202 - 240; 1985, č. 1, s. 2 - 40.<br />
[491] MAJOR, L. - POLÁČEK, D.: Stavebnicové <strong>konstrukce</strong> pro elektroniku. ST, 1990, č. 11, s. 418 - 421.<br />
[492] NOVOTNÝ, O.: Přístrojové pojistky. ST, 1968, č. 6, s. 220 - 222.<br />
[493] HAMMEL, J.: Skor, něž odovzdáte konštrukčný návrh... ST, 1980, č. 1, s. 7 - 8.<br />
[494] MACKÙ, J. - DUŠEK, J.: Návod na návod. ST, 1987, č. 11, s. 428.<br />
[495] TOMAN, J.: Jak sbírat vědomosti. Praha, Orbis 1961.<br />
[496] TOMAN, J.: Metody a technika informační činnosti. Praha, SNTL 1970.<br />
[497] TOMAN, J.: Organizace a technika duševní práce. Praha, Svoboda 1970.<br />
[498] TOMAN, J.: Jak dobře mluvit. Praha, Svoboda 1981.<br />
[499] TOMAN, J.: Jak zlepšit organizaci a techniku duševní práce. Praha, Svoboda 1984.<br />
[500] REINEKE, W.: Jak vést úspěšně jednání. Praha, Svoboda 1991.<br />
[501] ZIELKE, W.: Jak racionálně studovat. Praha, Svoboda 1977.<br />
13.1 Výsledky testů<br />
13.1.1 Vstupní test<br />
1. TNakreslete základní strukturu bipolárního tranzistoru a vysvětlete<br />
podstatu tranzistorového jevu.<br />
Je možné i uspořádání s vodivostí p-n-p,<br />
které je z hlediska principu ekvivalentní<br />
uvedené struktuře n-p-n .<br />
Bipolární tranzistor sestává ze tří částí navazujících na sebe prostřednictvím dvou přechodů<br />
PN.<br />
V základní zapojení tranzistoru, které je znázorněno na obrázku je jeden přechod PN<br />
pólován vzhledem ke střední části – bázi (B) - v propustném směru a druhý v závěrném<br />
směru. Krajní elektrody tranzistoru jsou označovány v souvislosti s jejich funkcí jako emitor<br />
(E) a kolektor (C). Na obrázku je tranzistor nakreslen jako symetrický, v praxi bývá plocha
je<br />
je<br />
a<br />
splňovat<br />
může<br />
emitorový<br />
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 379<br />
kolektoru podstatně větší, než plocha emitoru, dotace emitoru příměsemi bývá vyšší a dotace<br />
kolektoru nižší.<br />
Při pólování přechodu emitor-báze v propustném směru dochází injekci majoritních<br />
nosičů z emitoru do báze. U struktury n-p-n jsou elektrony jako majoritní nosiče v emitoru<br />
injekovány do báze a v blízkosti přechodu emitor-báze se tedy v bázi vytváří zvýšená<br />
koncentrace elektronů. Vzniká gradient koncentrace elektronů v bázi tak, že směrem ke<br />
kolektorovému přechodu elektronů v bázi ubývá. Gradient koncentrace elektronů v bázi je<br />
důvodem pro difuzi elektronů skrz bázi ve směru klesajícího gradientu, tedy směrem ke<br />
kolektorovému přechodu. Cestou přes bázi řada elektronů zrekombinuje, neboť majoritními<br />
nosiči v bázi jsou díry a tak pravděpodobnost rekombinace je vysoká, avšak vzhledem k<br />
tomu, že tloušťka báze je malá ve srovnání s difuzní délkou, velké procento elektronů se<br />
dostane do bezprostřední blízkosti přechodu báze-kolektor. Tento přechod je pólován v<br />
závěrném směru, ale pro majoritní nosiče v bázi, tedy díry. Pro elektrony, které<br />
prodifundovaly bází ke kolektorovému přechodu představuje blízkost kladného kolektoru<br />
urychlující potenciálový skok a tak elektrony, které se dostaly do blízkosti kolektorového<br />
přechodu (do oblasti dané šířkou přechodu báze-kolektor), budou tímto potenciálovým<br />
skokem vtaženy do kolektoru.<br />
Teče-li bází elektronový proud, je nutné do báze dodávat díry na rekombinaci těch<br />
elektronů, které v bázi rekombinují; tento děrový proud tedy tvoří proud báze. Vzhledem k<br />
tomu, že v bázi zrekombinuje jen malé procento z celkového proudu elektronů, je bázový<br />
proud malý ve srovnání s proudem, který teče cestou emitor-báze-kolektor. Kromě složky<br />
kolektorového proudu tvořené elektrony, které prošly bází od emitoru existuje ještě jedna<br />
složka a to závěrný proud kolektorové diody, tvořený minoritními nosiči v bázi a v kolektoru.<br />
Pro kolektorový proud můžeme tedy napsat rovnici, kterou nazýváme základní rovnicí<br />
tranzistoru<br />
IBkB=IBk0B+αIBeB,<br />
kde IBkB celkový proud kolektoru, IBk0B zbytkový proud diody báze-kolektor, proudové<br />
zesílení tranzistoru v zapojení se společnou bází a IBeB proud. Kromě této rovnice<br />
musí proudy IBkB, IBbB IBeB 1. Kirchhoffův zákon, tedy<br />
IBeB=IBbB+IBkB,<br />
kde IBbB proud bází. Zdálo by se, že proud IBk0B bychom mohli zanedbat vzhledem ke složce od<br />
emitoru, ale nejde to, neboť jednak IBeB být rovno nule a pak IBk0B tvoří jedinou složku<br />
kolektorového proudu, jednak při překročení maximálního závěrného napětí diody kolektorbáze<br />
dojde k průrazu kolektorové diody (nemusí být nutně destruktivní) a ”zbytkový” proud<br />
IBk0B pak bude tvořit převažující složku kolektorového proudu. Koeficient proudového zesílení<br />
tranzistoru v zapojení se společnou bází α, je sice menší než jedna, ale v tomto zapojení se<br />
tranzistor užívá je pro některé aplikace. Ve většině aplikací, kde se vyžaduje zesílení se užívá<br />
zapojení se společným kolektrorem u kterého je proudové zesílení β mnohem větší než jedna.
IBCB [mA]<br />
380 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
2. Uveďte složky proudu v bipolárním tranzistoru typu NPN<br />
přechod emitor-báze<br />
zapojen v propustném směru<br />
přechod kolektor-báze<br />
zapojen v závěrném směru<br />
zpětná injekce děr<br />
z báze do emitoru –<br />
děrová složka<br />
proudu emitorového<br />
přechodu<br />
rekombinace<br />
elektronů a děr<br />
v bázi<br />
elektronová a děrová<br />
složka proudu<br />
kolektorového<br />
přechodu<br />
injekce elektronů<br />
z emitoru do báze<br />
– elektronová<br />
složka proudu<br />
emitorového<br />
přechodu<br />
difúze<br />
elektronů v bázi<br />
elektrony<br />
extrahované<br />
kolektorovým<br />
přechodem –<br />
elektronová složka<br />
kolektorového proudu<br />
3. Do čtyř kvadrantů souřadného systému zakreslete základní<br />
charakteristiky bipolárního tranzistoru.<br />
převodní<br />
= f I )<br />
UBCEB > 0,5 V<br />
výstupní<br />
= f ( U )<br />
I<br />
C<br />
(<br />
B<br />
I<br />
U = konst<br />
C<br />
CE I = konst<br />
CE<br />
Charakteristiky<br />
IBCkB<br />
B<br />
I<br />
BB [µA]<br />
P<br />
I<br />
BB<br />
[µA]<br />
UBC<br />
UBCEB [V]<br />
I<br />
BB<br />
UBCEB > 5 V<br />
UBCEB = 0<br />
vstupní<br />
= f U )<br />
zpětné<br />
= f ( U )<br />
U BEB<br />
I [mV]<br />
B<br />
( U<br />
BE<br />
CE<br />
BE<br />
I konst<br />
U CE = konst<br />
B =
IBCB<br />
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 381<br />
4. Uveďte používané pracovní režimy tranzistoru.<br />
režim saturace<br />
U BEB > 0, U BCB > 0<br />
U BCB = 0<br />
hranice režimu<br />
saturace<br />
režim aktivní normální<br />
U BEB > 0, U BCB < 0<br />
I<br />
BB<br />
I<br />
BB =<br />
0<br />
režim závěrný<br />
U BEB < 0, U BCB < 0<br />
UBCEB<br />
U BEB = 0<br />
hranice závěrného<br />
režimu<br />
5. Uveďte tři základní zapojení bipolárního tranzistoru a jejich vlastnosti.<br />
zapojení se společným<br />
(uzemněným) emitorem - SE<br />
zapojení se společnou<br />
(uzemněnou) bází - SB<br />
zapojení se společným<br />
(uzemněným) kolektorem - SC
382 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
CBEB …<br />
…<br />
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 383<br />
6. Jak jsou vyjádřeny zesilovací schopnosti tranzistoru ?<br />
h-parametry v pracovním<br />
bodě:<br />
Funkce součástek:<br />
R BB, RBCB, RBEB nastavení<br />
pracovního bodu tranzistoru<br />
a jeho stabilizace<br />
zavedením emitorové<br />
zpětné vazby (RBEB)<br />
CBVB…vazební (oddělovací)<br />
kondenzátory – oddělují<br />
stejnosměrnou a střídavou<br />
složku; 1/ωCBVB je velmi<br />
malé<br />
přemostění<br />
emitorového odporu RE pro<br />
střídavou složku a její<br />
uzemnění; 1/ωCBEB
βBNB desítky<br />
<<br />
384 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
7. Nakreslete Ebersův-Mollův model tranzistoru a uveďte význam jeho<br />
jednotlivých prvků<br />
Ebersův-Mollův model bipolárního tranzistoru nelineární statický model pro malé signály:<br />
Vystihuje velmi názorně princip tranzistoru<br />
Princip: Přechody EB, CB jsou modelovány jako samostatné diody, jejich vzájemné<br />
působení je modelováno proudovými zdroji řízenými proudem diody druhého přechodu.<br />
Parametry modelu: αBNB, αBIB, IBENB, IBCI<br />
Zesilovací činitelé α, β se definují pro aktivní normální (αBNB, βBNB) a pro aktivní inverzní režim<br />
(αBIB,βBIB):<br />
až stovky; βBIB<br />
βBN<br />
B<br />
Proud přechodem B-E<br />
Proud přechodem B-C<br />
Závěrný proud přechodu B-E<br />
Základní rovnice Ebersova-Mollova modelu<br />
závěrný proud přechodu B-C
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 385<br />
8. Co je to bezpečná pracovní oblast tranzistoru – jak ji lze vyjádřit ve<br />
výstupních charakteristikách ?<br />
První průraz<br />
9. Za jakých okolností dochází k průrazům tranzistorové struktury<br />
Druhý průraz<br />
Tepelný druhý průraz je<br />
lokální tepelný průraz, k němuž dojde v<br />
místě vyšší proudové hustoty (může<br />
souviset s geometrií struktury nebo<br />
s nehomogenitou struktury).<br />
Zvýšení proudu vede ke zvýšení<br />
teploty, to opět ke zvýšení proudu<br />
atd. (kladná zpětná vazba), vzniká<br />
horké místo, do něhož se soustřeďuje proud.<br />
Proudový druhý průraz vzniká při vypínání tranzistoru v obvodu s indukční zátěží:<br />
napětí UCE vlivem indukčnosti zátěže vzroste při velkém IC , dochází k nárazové ionizaci a k<br />
náhlému zvýšení proudové hustoty.
=<br />
uB1B –<br />
v<br />
–<br />
=<br />
=<br />
=<br />
=<br />
,<br />
pomocí<br />
386 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
10. Co je to Earlyho jev ?<br />
11. Co jsou linearizované modely tranzistoru a jaký mají vztah k parametrům<br />
dvojbranu ?<br />
Vytvoříme náhradní lineární dvojbran, sestavený na základě linearizace charakteristik<br />
v okolí klidového pracovního bodu PBoB Taylorova rozvoje se zanedbáním druhé<br />
derivace a vyšších.<br />
Při vytváření náhradního lineárního dvojbranu pro bipolární tranzistor je vhodné<br />
použít charakteristické rovnice dvojbranu a to tzv. rovnice hybridní příp. admitanční.<br />
Pro hybridní rovnice jsou výsledkem linearizace následující rovnice pro celkové<br />
hodnoty elektrických veličin:<br />
B hB11B.(iB1B UB1Po – IB1PoB) + hB12B.(uB2 B- UB2PoB) (1)<br />
B IB2PoB iB2 = hB21B.(iB1B – IB1PoB) + hB22B.(uB2B – UB2PoB) (2)<br />
(Index Po označuje hodnoty ve zvoleném klidovém pracovním bodě)<br />
Rovnice pro změny elektrických veličin pak mají následující tvar:<br />
B hB11B.∆iB1B ∆uB1 + hB12B.∆uB2<br />
B(3)<br />
B hB21B.∆iB1B ∆iB2 + hB22B.∆uB2<br />
B(4)<br />
Fyzikální význam jednotlivých parametrů h získáme následujícím způsobem:<br />
položíme-li v rovnici (3) U∆uUBU2UBU potom<br />
0U<br />
h<br />
∆u2=<br />
0<br />
⎛ ∆u2<br />
⎞<br />
11 = ⎜<br />
i<br />
⎟ [Ω]<br />
⎝ ∆ 1 ⎠Po<br />
Pro U∆iUBU1UBU<br />
0U<br />
(3) dostaneme<br />
rovnici<br />
je vstupní diferenciální odpor při výstupu z hlediska<br />
střídavého signálu nakrátko (∆uB2B = 0), tj. při konstantním<br />
výstupním napětí<br />
h<br />
12<br />
∆i2=<br />
0<br />
⎛ ∆u1<br />
⎞<br />
= ⎜<br />
u<br />
⎟ [bez rozměru]<br />
⎝ ∆ 2 ⎠Po<br />
je zpětný diferenciální přenos napětí při vstupu<br />
hlediska střídavého signálu naprázdno (∆iB1B = 0), tj. při<br />
konstantním vstupním proudu<br />
Analogickým způsobem dostaneme z rovnice (4) parametry hB21B a hB22 B.<br />
∆u2=<br />
0<br />
⎛ ∆i<br />
2 ⎞<br />
h21<br />
= ⎜<br />
i<br />
⎟ [bez<br />
⎝ ∆ 1 ⎠Po<br />
rozměru]<br />
je proudový diferenciální přenos při výstupu nakrátko (∆uB2B = 0),<br />
tj. při konstantním výstupním napětí
uB1B =<br />
iB2B =<br />
(5)<br />
(6)<br />
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 387<br />
h<br />
22<br />
∆i1=<br />
0<br />
⎛ ∆i<br />
2 ⎞<br />
= ⎜<br />
u<br />
⎟ [S]<br />
⎝ ∆ 2 ⎠Po<br />
je výstupní diferenciální vodivost při vstupu naprázdno (∆iB1B = 0),<br />
tj. při konstantním vstupním proudu<br />
Náhradní lineární obvod v analogii s obecným schematem dvojbranu může vypadat<br />
následovně:<br />
podle<br />
rov.<br />
podle<br />
rov.<br />
obr. 1<br />
podle<br />
rov.<br />
obr. 2<br />
podle<br />
rov.<br />
Výsledkem jsou pak rovnice<br />
hB11B.iB1B + hB12B.uB2B + UB1B<br />
hB21B.iB1B + hB22B.uB2B + B IB2<br />
které již umožňují sestavení nábradniho obvodu podle obr.1. Náhradní lineární obvod pro změny<br />
elektrických veličin pak dostaneme přímým překreslením rovnic (5) a (6) tak, jak je uvedeno na obr. 2.<br />
Uvedené náhradní obvody jsou zhlediska použitých prvků totožné pro všechny<br />
dvojbrany, a tedy i pro všechny typy tranzistorů a jejich obvodové konfigurace jako je<br />
zapojení se společným emitorem SE, kolektorem SC a bázi SB. Velké rozdíly ale existují pro<br />
tyto případy v hodnotách jednotlivých h parametrů, a proto je odlišujeme třetím indexem e, r<br />
nebo b, který označuje zapojení SE, SC nebo SB, např. hB21eB, hB21bB .<br />
12. Jak jsou vyjádřeny mezní kmitočty bipolárního tranzistoru ?
388 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
13. Jak pracuje bipolární tranzistor ve funkci spínače ?<br />
Principiální zapojení spínacího obvodu s tranzistorem<br />
je na obrázku. Obvykle se používají tranzistory v zapojení se<br />
společným emitorem, protože k ovládání stačí menší výkon<br />
než např. v zapojení se společnou bází.<br />
Základními stavy tranzistoru jako spínače jsou :<br />
Uotevřený stavU odpovídající sepnutí jakéhokoliv spínače a<br />
Uuzavřený stavU odpovídající rozepnutí spínače.<br />
Jak je zřejmé z grafu výstupních charakteristik tranzistoru, když tranzistor simuluje<br />
rozepnutý stav spínače, teče obvodem kolektor - emitor jen zbytkový proud kolektoru IBCE0B. V<br />
této oblasti je tranzistor uzavřený a přechody B-E a B-C jsou polarizovány v závěrném směru.<br />
Při spínání přechází pracovní bod tranzistoru aktivní oblastí. V ní je přechod B-E polarizován<br />
v propustném směru a přechod B-C v závěrném směru. Tranzistor simuluje sepnutý stav<br />
spínače, když je jeho pracovní bod v oblasti nasycení - saturace. Tato oblast je oddělená od<br />
aktivní oblasti hraniční křivkou oblasti saturace. Tato křivka je charakteristická tím, že body<br />
ležící na ní splňují podmínku U BEB = UBCEB tedy :<br />
UBCEB - U BEB = UBCBB = 0<br />
Když se pracovní bod nachází v oblasti nasycení , přechody B-E a B-C jsou<br />
polarizovány v propustném směru.<br />
Bipolární tranzistor v otevřeném stavu je řízený proudem vtékajícím do báze, protože<br />
jeho vstupní odpor je ve stavu saturace výstupu mnohem menší než výstupní odpor zdroje
RB1B<br />
RBCB<br />
IBCB<br />
IBEB<br />
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 389<br />
budícího signálu. Naopak ve stavu uzavřeném (nevodivém) je bipolární tranzistor řízen<br />
napětím na bázi, protože jeho vstupní odpor je v tomto stavu mnohem větší než výstupní<br />
odpor zdroje budícího signálu.<br />
14. Jak se provede volba a nastavení pracovního bodu zesilovače s bipolárním<br />
tranzistorem.<br />
Tranzistor je zesilovacím prvkem, proto nachází nejčastější použití v zesilovačích. Pro<br />
spolehlivou funkci tranzistorů je nutné nastavit určité pracovní podmínky. Hovoříme o nastavení<br />
pracovního režimu nebo pracovního bodu. Teprve vhodný pracovní režim zesilovací<br />
součástky dává předpoklad k její řádné funkci, ke zpracování střídavého signálu.<br />
Na elektrody tranzistoru musíme připojit stejnosměrná napětí tak, aby emitorová dioda<br />
byla zapojena v propustném, kolektorová v nepropustném směru. Velikostí stejnosměrných<br />
napětí a proudů je určen pracovní bod tranzistoru.<br />
Základní nastavení pracovního bodu není nijak složité. Obvody pro nastavení<br />
pracovního bodu se stávají složitějšími jen vlivem opatření, kterými zajišťujeme stabilitu<br />
pracovního bodu, tj. neměnnost nastaveného pracovního režimu.<br />
Teplotní nestálost polovodičů způsobuje určité kolísání nastavených pracovních<br />
parametrů - pracovního bodu. Toto kolísání může způsobit velmi nepříjemné jevy. Zvýšení<br />
teploty vyvolá zvýšení kolektorového proudu, zejména zbytkového proudu IBK0B. Pokud se<br />
tranzistor napájí přes větší rezistor v obvodu kolektoru, zvětšuje se při stoupání kolektorového<br />
proudu úbytek napětí na kolektorovém rezistoru, potřebné napětí na kolektoru tranzistoru se<br />
zmenšuje. Zmenšuje se zesílení i výstupní výkon tranzistoru. Kolektorové napětí může<br />
poklesnout natolik, že stupeň s tranzistorem přestane pracovat. Pokud se tranzistor napájí přes<br />
malý kolektorový rezistor, může se zvýšit teplota tranzistoru tak, až dojde ke zničení<br />
tranzistoru. Zvětšení kolektorového proudu vlivem zvýšení teploty zvětšuje kolektorový<br />
ztrátový výkon. Tím se dále zvětšuje teplota tranzistoru a kolektorový proud dále narůstá a<br />
může tedy vést až k destrukci.<br />
U přístrojů s tranzistory, které budou pracovat v prostředí s proměnlivou teplotou (a to<br />
je většina praktických případů), musíme v napájecích obvodech tranzistorů učinit opatření pro<br />
teplotní stabilizaci pracovního režimu. U tranzistorů je rozdíl mezi provozní teplotou<br />
vlastního tranzistorového systému a teplotou okolí malý. Změny teploty prostředí proto značně<br />
ovlivňuji pracovní režim tranzistorů. Množství nosičů proudu v polovodičovém materiálu<br />
se při vzrůstání teploty zvětšuje. Zvětšují se tedy i proudy protékající tranzistorem. Tak např.<br />
zvýšení teploty o každých 10 °C odpovídá vzrůst proudu<br />
přibližně na dvojnásobek.<br />
+<br />
Ta) Nastavení pracovního bodu tranzistoru<br />
UBRcB<br />
Základní zapojeni pro nastavení pracovního bodu<br />
UBCCB<br />
tranzistoru je na obr. VI-3. Je to zapojení pro nastaveni<br />
pracovního bodu pomoci předřadného rezistoru Rl.<br />
UBCEB<br />
Emitor se v tomto zapojení připojuje přímo na záporný U BEB<br />
pól stejnosměrného zdroje UBCCB (pokud jde o tranzistor<br />
typu NPN; pro tranzistory typu PNP je zapojení<br />
-<br />
úplně shodné, jen polarita zdroje UBCCB je obrácená). Báze<br />
Obr. 1<br />
tranzistoru se připojuje na kladný pól zdroje přes<br />
předřadný rezistor RBlB. Emitor je tedy polarizován proti bázi kladně - je splněn jeden<br />
I<br />
BB
z<br />
-<br />
a<br />
je<br />
na<br />
RB1B<br />
CB1B<br />
RB1B<br />
CB1B<br />
RB2B<br />
RBCB<br />
IBEB<br />
IBCB<br />
RBEB<br />
RBCB<br />
IBEB<br />
IBCB<br />
RBEB<br />
CBVB<br />
UBREB<br />
CBVB<br />
UBREB<br />
na<br />
na<br />
390 Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně<br />
požadavek: emitorová dioda je zapojena v<br />
propustném směru. Kolektor se připojuje na kladný<br />
pól zdroje. Má-li být splněn druhý požadavek, tj.<br />
zapojení kolektorové diody v nepropustném směru,<br />
musí být kolektor proti bázi kladnější. Toho dosahujeme<br />
vhodnou volbou předřadného rezistoru RB1B.<br />
Musí na něm vznikat větší úbytek napětí než na<br />
kolektorovém rezistoru RBKB. Tím bude potenciál báze<br />
tranzistoru méně kladný než potenciál kolektoru.<br />
Kolektor bude tedy proti bázi tranzistoru kladnější -<br />
kolektorová dioda bude zapojena v nepropustném<br />
směru.<br />
Tímto zapojením byl jen nastaven pracovní bod. Pro<br />
stabilizací pracovního bodu zatím nebylo uděláno<br />
nic.<br />
~<br />
U BEB<br />
I<br />
BB<br />
Obr. 2<br />
UBRcB<br />
UBCEB<br />
~<br />
+<br />
UBCCB<br />
-<br />
b) Stabilizace pracovního bodu<br />
Stabilizace pracovního bodu při kolísání teploty se dosáhne tím, že se proti narůstání<br />
kolektorového proudu (způsobeného vzrůstem teploty ) působí změnou potenciálu báze<br />
tranzistoru.<br />
Jednoduché zapojení pro nastavení pracovního bodu tranzistoru i s jeho stabilizací je na<br />
obr. VI-4. Od základního zapojeni na obr.VI-3 se liší tím, že mezi emitor a kladny pól zdroje<br />
je zapojen rezistor RBEB emitorový stabilizační rezistor. V čem spočívá stabilizační účinek<br />
tohoto rezistoru. Napětí na předřadném rezistoru Rl je v daném zapojení dáno rozdílem mezi<br />
napájecím napětím UB0B úbytkem napětí na emitorovém rezistoru RBEB.<br />
Zvětší-li se proud kolektoru (např. zvýšením teploty), zvětší se úbytek napětí UBEB<br />
emitorovém rezistoru. Tím se zmenší napětí UB1B rezistoru RBlB, klesne proud báze a výsledkem<br />
je zmenšení proudu kolektoru, tedy částečná kompenzace jeho původního narůstání.<br />
Zapojení na obr. VI-4 je vlastně základním zapojením jednoho stupně tranzistorového<br />
zesilovače. Střídavý signál, který má tranzistor zesílit, se dostává přes kondenzátor CB1B bázi<br />
tranzistoru, výstupní střídavý signál se odebírá přes<br />
kondenzátor CBVB kolektoru.<br />
+<br />
V zásadě platí, že stabilizační účinek obvodu je<br />
UBRcB<br />
tím lepší, čím větší je rezistor v obvodu emitoru a<br />
čím menší je rezistor RB1 Bv obvodu báze. Zvětšování<br />
emitorového rezistoru RBEB nevýhodné (zejména u<br />
výkonových tranzistorů), na velkém emitorovém<br />
rezistoru se objeví značná část napětí napájecího -<br />
zdroje. Je zde však určitá možnost sníženi odporu<br />
rezistoru v obvodu báze. Této možnosti je využito v<br />
zapojení na obr. VI-5.<br />
Pracovní bod není nastaven pomocí<br />
předřadného rezistoru, ale pomocí děliče napětí RB1B,<br />
RB2B, připojeného na zdroj UBCCB. Potenciál báze<br />
tranzistoru je určen napětím na odbočce děliče, na<br />
~<br />
I<br />
BB<br />
U BEB<br />
Obr. VI - 5<br />
UBCEB<br />
~<br />
UBCCB<br />
-
ývá<br />
zvětší<br />
(obr.<br />
Návrh a <strong>konstrukce</strong> elektronických přístrojů 391<br />
kterou je báze připojena. Jak lze z obr. VI-5 snadno vyčíst, jsou rezistory děliče (přes malý<br />
vnitřní odpor napájecího zdroje) zapojeny vlastně paralelně. Jako odpor v obvodu báze se<br />
uplatňuje odpor paralelní dvojice RB1B, RB2B, který je menší než samotný odpor rezistoru B RB1<br />
VI-3 a 4).<br />
Stabilizační účinek zapojení podle obr. VI-5 je dobrý. Kompenzace změn kolektorového<br />
proudu je účinná, při zvýšení IBKB se napětí na emitorovém rezistoru, napětí mezi bází a<br />
emitorem se zmenší a výsledkem je zmenšení kolektorového proudu.<br />
Zapojeni na obr.VI-5 je jedním z nejpoužívanějších. Představuje opět základní zapojení<br />
jednoho tranzistorového zesilovacího stupně. Střídavý signál se přivádí do obvodu báze přes<br />
kondenzátor CBlB, zesílený signál se odebírá z kolektoru přes kondenzátor CBVB. Děličem napětí<br />
RB1B, RB2B v praxi často potenciometrický trimr. Pracovní bod se nastaví přesně podle<br />
žádané velikostí kolektorového proudu (měřidlo se zapojí do série s kolektorem) natáčením<br />
běžce potenciometrického trimru.<br />
Kromě popsaných způsobů jsou ještě jiné možnosti nastavení a zejména stabilizace<br />
pracovního bodu, které jsou však složitější.