S m t - UMEL

More documents

Recommendations

Info

Měření tloušťky vrstev Metody založené na přírůstku hmotnostiMikrováhyt =mS.ρVacuum Technology J.Šandera, FEEC, TU Brno 12
Měření tloušťky vrstev - Metody založené na změně elektrických veličinZměna elektrického odporu- vhodné pro vodivé,odporové a polovodivé materiály – nepřesnosti, pro tenkouvrstvu jiná měrná resistivita, současně se za stejných podmínek nanáší měřícívrstva – namalovat obrázek-přesnost měření -+ 0.01% měření odporu, -+ 5% měření odporuZměna kapacity – napařování mezi hřebenový systém elektrodZměna jakosti cívky – měří se tlumení a rozladění resonančníhoobvoduVacuum Technology J.Šandera, FEEC, TU Brno 13
Page 1 and 2: Vakuové napařování- uvést podm
Page 3 and 4: Vakuové napařováníVacuum Techno
Page 5 and 6: Výroba metalizovaných fólií (na
Page 7 and 8: Katodové naprašováníV prostoru
Page 9 and 10: Katodové naprašování - plastov
Page 11: Měření tlouštěk vrstvy Metody
Page 15: Měření tloušťky vrstev - optic

S m t - UMEL

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

Delete template?

Save as template?