Скачать статью в формате pdf - Силовая электроника
Скачать статью в формате pdf - Силовая электроника
Скачать статью в формате pdf - Силовая электроника
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
Сило<strong>в</strong>ая Электроника, № 5’2010<br />
Сило<strong>в</strong>ая элементная база<br />
по току имеют низкое напряжение насыщения,<br />
но худшую стойкость к перегрузкам, чем<br />
транзисторы с бóльшим значением V CE(sat) .<br />
Рис. 2. Испытания сборки IGBT при «полумягком» КЗ каждого ключа ин<strong>в</strong>ертора<br />
IGBT <strong>в</strong> состояние самоограничения (линейный<br />
режим) напряжение на коллекторе <strong>в</strong>озрастает,<br />
что при<strong>в</strong>одит к рассеянию очень<br />
большой мощности <strong>в</strong> кристаллах (график<br />
P V на рис. 1). В нашем «тесто<strong>в</strong>ом» случае отключение<br />
IGBT происходит примерно через<br />
10 мкс, хотя нормиро<strong>в</strong>анное <strong>в</strong>ремя КЗ для<br />
модулей данного типа соста<strong>в</strong>ляет 6 мкс. В реальных<br />
применениях защита со<strong>в</strong>ременных<br />
драй<strong>в</strong>еро<strong>в</strong> срабаты<strong>в</strong>ает через 2–3 мкс после<br />
индикации <strong>в</strong>ыхода IGBT из насыщения.<br />
На рис. 2 показаны эпюры тока I C и напряжения<br />
V CE при поочередном <strong>в</strong>ключении модулей<br />
SKiiP испытуемого 3-фазного ин<strong>в</strong>ертора<br />
на кабель длиной 1 м (L S ≈ 1 мкГн). Подобные<br />
испытания я<strong>в</strong>ляются обязательными для <strong>в</strong>сех<br />
IGBT-сборок, произ<strong>в</strong>одимых дизайн-центром<br />
компании SEMIKRON <strong>в</strong>о Франции. Уро<strong>в</strong>ень<br />
перенапряжения при отключении служит интегральной<br />
оценкой <strong>в</strong>еличины распределенной<br />
индукти<strong>в</strong>ности ЗПТ, поз<strong>в</strong>оляющей оценить<br />
качест<strong>в</strong>о DC-шины. Для модулей 12 класса напряжение<br />
DC-шины при подобных испытаниях<br />
соста<strong>в</strong>ляет 900 В, что на 50–100 В пре<strong>в</strong>ышает<br />
предельно допустимое значение.<br />
Короткое замыкание нагрузки<br />
<strong>в</strong>ключенного транзистора<br />
Этот режим я<strong>в</strong>ляется гораздо более жестким,<br />
чем <strong>в</strong> предыдущем случае, и он также наблюдается<br />
на практике. При замыкании плеча, я<strong>в</strong>ляющегося<br />
оппозитным уже открытому транзистору,<br />
у последнего происходит скачкообразный<br />
рост напряжения «коллектор–эмиттер» (V CE/SC<br />
на рис. 3<strong>в</strong>), при<strong>в</strong>одящий к у<strong>в</strong>еличению напряжения<br />
на зат<strong>в</strong>оре V GE <strong>в</strong>следст<strong>в</strong>ие эффекта Миллера<br />
(<strong>в</strong>ерхний график на рис. 3а). В результате этого<br />
ток КЗ <strong>в</strong>озрастает до аномального уро<strong>в</strong>ня I C/SCM<br />
(рис. 3б), и нахождение транзистора при такой<br />
нагрузке может оказаться фатальным даже при<br />
быстрой реакции схемы защиты. Для предот<strong>в</strong>ращения<br />
данной ситуации <strong>в</strong> некоторых схемах<br />
упра<strong>в</strong>ления предусмотрено ограничение напряжения<br />
на зат<strong>в</strong>оре. Например, <strong>в</strong> но<strong>в</strong>ейшем<br />
драй<strong>в</strong>ере SKYPER 52 для этой цели используется<br />
диод Шоттки между зат<strong>в</strong>ором и питанием<br />
(+15 В) <strong>в</strong>ыходного каскада.<br />
Как было отмечено <strong>в</strong>ыше, устано<strong>в</strong>и<strong>в</strong>шееся<br />
значение тока КЗ определяется напряжением<br />
на зат<strong>в</strong>оре. В то же <strong>в</strong>ремя уменьшение<br />
этого напряжения при<strong>в</strong>одит к по<strong>в</strong>ышению<br />
напряжения насыщения и, следо<strong>в</strong>ательно,<br />
к росту потерь про<strong>в</strong>одимости. Устойчи<strong>в</strong>ость<br />
к КЗ тесно с<strong>в</strong>язана и с крутизной транзистора:<br />
IGBT с <strong>в</strong>ысоким коэффициентом усиления<br />
Рис. 3. «Жесткий» режим короткого<br />
замыкания (КЗ <strong>в</strong>ключенного IGBT)<br />
а<br />
б<br />
<strong>в</strong><br />
Ск<strong>в</strong>озное короткое замыкание<br />
транзисторо<strong>в</strong> полумоста<br />
Усло<strong>в</strong>ия и результаты испытаний:<br />
• температура кристалла Tj = +150 °C;<br />
• напряжение на DC-шине V CC = 600 В;<br />
• перенапряжение на терминалах модуля<br />
V CEM = 960 В;<br />
• пико<strong>в</strong>ый ток I CM = 1265 A;<br />
• длительность импульса КЗ t pulse = 10 мкс;<br />
• номинальный ток коллектора I Cnom = 300 A.<br />
Ситуация, описанная <strong>в</strong> данном разделе,<br />
я<strong>в</strong>ляется наиболее стрессо<strong>в</strong>ой для сило<strong>в</strong>ых<br />
ключей, и она должна быть полностью исключена<br />
<strong>в</strong> реальных усло<strong>в</strong>иях работы. Подобный<br />
режим, как пра<strong>в</strong>ило, используется для оценки<br />
стойкости IGBT к предельным состояниям<br />
(рис. 4). Для имитации режима ск<strong>в</strong>озного<br />
КЗ применяются специальные тесто<strong>в</strong>ые драй<strong>в</strong>еры<br />
с отключенной опцией INTERLOCK (запрет<br />
одно<strong>в</strong>ременного <strong>в</strong>ключения транзисторо<strong>в</strong><br />
полумоста).<br />
Рис. 4. «Ск<strong>в</strong>озной» режим короткого замыкания:<br />
зеленый — ток коллектора I C ; бирюзо<strong>в</strong>ый —<br />
напряжение «коллектор-эмиттер» V CE ;<br />
коричне<strong>в</strong>ый — мощность потерь P V<br />
Защитные функции драй<strong>в</strong>еро<strong>в</strong><br />
К наиболее опасным неиспра<strong>в</strong>ностям сило<strong>в</strong>ых<br />
преобразо<strong>в</strong>ательных устройст<strong>в</strong>, требующим<br />
мгно<strong>в</strong>енной реакции схемы защиты,<br />
относятся короткое замыкание и перенапряжение,<br />
на<strong>в</strong>одимое при отключении тока перегрузки.<br />
При <strong>в</strong>озникно<strong>в</strong>ении состояния КЗ <strong>в</strong> цепи<br />
нагрузки или пробое одного из ключей моста<br />
происходит ла<strong>в</strong>инообразный рост тока<br />
коллектора испра<strong>в</strong>ного IGBT, при<strong>в</strong>одящий<br />
к его <strong>в</strong>ыходу из насыщения. В этом состоянии<br />
транзистор может находиться только<br />
очень непродолжительное <strong>в</strong>ремя (10 мкс<br />
для IGBT прежних поколений и 6 мкс для<br />
но<strong>в</strong>ых тонкопленочных чипо<strong>в</strong>), что с<strong>в</strong>язано<br />
с рассеянием большой <strong>в</strong>еличины энергии<br />
<strong>в</strong> кристаллах. Чтобы предот<strong>в</strong>ратить разрушение<br />
модуля <strong>в</strong>следст<strong>в</strong>ие тепло<strong>в</strong>ого удара,<br />
состояние перегрузки должно быть <strong>в</strong>ыя<strong>в</strong>лено<br />
и прекращено <strong>в</strong> течение короткого <strong>в</strong>ремени.<br />
Мониторинг режима КЗ произ<strong>в</strong>одится с по-<br />
42 www.power-e.ru