Karakterisering af overflader
Karakterisering af overflader
Karakterisering af overflader
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
Figur 10. Oxidationstrinsanalyse med XPS: Højopløst carbon spektrum målt på<br />
en prøve <strong>af</strong> poly(methyl methacrylate) (PMMA). Carbon sidder i fire<br />
forskellige kemiske miljøer i MMA enheden, hvilket <strong>af</strong>spejler sig ved fire lidt<br />
forskellige bindingsenergier <strong>af</strong> elektroner fra de forskellige carbon-atomer. De<br />
to carbon-atomer mærket ”A” er tilstrækkelig ens i bindingsforhold til ikke at<br />
kunne skelnes i spektret.<br />
2.1.3 Kemisk sammensætning: SIMS (Secondary Ion Mass<br />
Spectroscopy)<br />
SIMS teknikken er baseret på at bestråle en prøves overflade med høj-energetiske ioner, som slår<br />
hele molekyler, fragmenter <strong>af</strong> molekyler eller enkeltatomer ud <strong>af</strong> de første lag <strong>af</strong> atomer eller<br />
molekyler i overfladen. Ca. 1 % <strong>af</strong> de udsendte partikler er elektrisk ladede, hvilket gør det muligt<br />
at analyse deres masse med stor præcision (se Figur 11). SIMS giver dermed et detaljeret<br />
"finger<strong>af</strong>tryk" <strong>af</strong> den molekylære (og atomare) sammensætning i form <strong>af</strong> et højopløst<br />
massespektrum (se Figur 12), hvor XPS til sammenligning hovedsageligt beskriver<br />
sammensætningen <strong>af</strong> grundstoffer. SIMS målingen er til gengæld sjældent kvantitativ, hvilket<br />
betyder at SIMS og XPS metoderne ofte komplementerer hinanden ved avancerede<br />
analyseopgaver. SIMS udstyr kræver ligesom XPS at prøven analyseres under højvacuum<br />
forhold.<br />
14
Change language