Karakterisering af overflader
Karakterisering af overflader
Karakterisering af overflader
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
Figur 11. Principskitse <strong>af</strong> et Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer<br />
(TOF-SIMS) (venstre side). En puls <strong>af</strong> energirige ladede partikler rammer<br />
emnets overflade og får dele <strong>af</strong> overfladen til at løsrive sig. Nogle få <strong>af</strong> disse<br />
overfladefragmenter får en elektrisk ladning under løsrivelsen, som kan bruges<br />
til at ”veje” dem i en flyvetids-masseanalysator. Højre del <strong>af</strong> figuren viser en<br />
computersimulering <strong>af</strong> de første 500 femtosekunder efter en energirig partikel<br />
(lyserød) rammer ind i en krystal <strong>af</strong> kobberatomer. Alle atomernes placeringer<br />
er blevet lagt oven på hinanden for hver 20 femtosekund, der går. Alle<br />
kobberatomer, der var i det øverste lag i kobberkrystallen ved simuleringens<br />
begyndelse er farvet grå, mens alle underliggende atomer er farvet grønne. Det<br />
ses tydeligt, at det stort set kun er de atomer fra det yderste lag, der undslipper<br />
materialet. Det kan endvidere bemærkes, at den enlige primære ion har givet<br />
anledning til markant forstyrrelse <strong>af</strong> kobber-atomernes placering i et større<br />
område (”impact zone”) <strong>af</strong> den velordnede krystalstruktur. Det er derfor<br />
vigtigt at undgå at analysere samme ”impact zone” flere gange under SIMS<br />
målingen, hvis man vil være sikker på at undersøge den oprindelige<br />
overfladekemi.<br />
15
Change language