PTB, F. Thiel, U. Grottker and D. Richter November 19th ... - WELMEC

PTB, F. Thiel, U. Grottker and D. Richter November 19 th 2010
Summary
International workshop on “Operating systems in measuring instruments and
other software problems in legal metrology”, November 17 th and 18 th , 2010 at
PTB in Berlin, Germany
PTB’s department “Metrological Information Technology” organised this international
workshop mainly related to the use of operating systems embedded in measuring
instruments.
With an increasing tendency, standard operating systems are embedded in
measuring instruments. This is advantageous for manufactures und users of the
instruments, on the one hand, but raises questions with respect to the assurance of
legal metrology requirements, on the other hand (see also[1]). The aim of the
workshop was to bring together experts from different disciplines and to discuss
challenges, approaches and solutions.
A total of 13 key lectures were offered, approaching the topic of this workshop from
different perspectives. The organisers managed to arrange a well balanced
programme that included presentations from IT service companies, from the German
national security agency, and from several NMIs, which provided their experience
and solutions for different applications.
About 100 attendees from all over Europe, from America and Asia including USA,
Canada, Brazil, Mexico Japan and China took part. The majority of attendees
belongs to NMIs, Notified Bodies and verification authorities, however, about a third
of the delegates came from industry. The workshop further attracted delegates from
research institutes.
The workshop was supported by Helmholtz-Fonds e.V. and WELMEC.
The presentations of the workshop are available under
http://ib.ptb.de/8/85/_indexe.htm
[1] F. Thiel, U. Grottker, and D. Richter The challenge for legal metrology of operating systems
embedded in measuring instruments, accepted for OIML BULLETIN, Vol. LII, Nr.1, pp. 5-15, (2011)
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PTB organisiert einen internationalen Zweitages Workshop zum Thema :
“Operating systems in measuring instruments and other software problems in
legal metrology”.
Der Fachbereich 8.5 Metrologische Informationstechnik der PTB führte am 17. und
18. November im Institut Berlin einen internationalen Workshop durch, der sich der
zunehmenden Komplexität von Messgeräten im Gesetzlichen Messwesen aufgrund
der Verwendung von Betriebssystemen beschäftigte [1].
Das Ziel des Workshops war es Experten unterschiedlicher Disziplinen zusammen zu
bringen um Herausforderungen, Ansätze und Lösungen zu diskutieren.
An die 100 Spezialisten aus ganz Europa, von Nord- und Süd-Amerika und dem
Fernen Osten namen an dem Workshop teil. Darunter Teilnehmer aus den USA,
Canada, Brasilien, Japan und China.
Insgesamt wurde 13 Schwerpunktsthemen in einem angemessenen zeitlichen
Rahmen (40 min.) behandelt, die das Thema des Workshops aus unterschiedlichen
Perspektiven angingen. Wir sind Stolz, das wir ein ausgewogenes Programm
anbieten konnten, das Beiträge aus der IT-Industrie (z.B. KPMG AG, atsec
information security GmbH), vom Bundesamtes für Sicherheit in der
Informationstechnik (BSI), und verschiedenen NMIs - die ihre Erfahrungen und
Lösungen in unterschiedlichen Anwendungen mit uns teilten - anbieten konnten.
Nahezu ein drittel der Teilnehmer setzte sich aus Spezialisten der Messgeräte- und
IT- Industrie zusammen, z.B. Infineon Technologies AG, Siemens AG, Verbundnetzs
Gas AG, KPMG AG, FMC Technologies, Inc. USA, um nur einige zu nennen. Der
größte Teil der Teilnehmer waren Abgeordnete der verschiedenen nationalen
Metrologie Institute, wie beispielsweise aus Canada, China, Japan, und UK, von
Zertifizierungs-Stellen, z.B. Verispect (Niederlande), deutsch Eichdirektionen. Der
Wissenschaftsbereich war durch das Karlsruhe Institute of Technology (KIT), das
Fraunhofer IWES, und die University of Siegen vertreten.
Der Workshop wurde von der WELMEC und dem Helmholtz-Fond e.V. unterstützt.
[1] F. Thiel, U. Grottker, and D. Richter The challenge for legal metrology of operating
systems embedded in measuring instruments, accepted for OIML BULLETIN, Vol. LII, Nr.1,
pp. 5-15, (2011)
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