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Rauigkeit und Topografie – ein Vergleich unterschiedlicher ... - Alicona

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MESSTECHNIK<br />

Abb. 9: Korrelationsmatrix<br />

4.3 Korrelationsmatrix<br />

Die in Abb. 9 dargestellte Korrelationsmatrix, in der die Korrelationkoeffizienten<br />

R <strong>ein</strong>getragen sind, basiert auf den Messungen des<br />

Farbfokusses mit dem 10-fach-Objektiv. Die <strong>Topografie</strong>daten wurden<br />

anschließend ausgerichtet <strong>und</strong> mit <strong>ein</strong>em Hochpassfilter mit<br />

<strong>ein</strong>er Wellenlänge von 1,8 mm gefiltert.<br />

Anmerkung: die Korrelation mit Bekk ist aufgr<strong>und</strong> der durch die<br />

Korrelationsanalyse bedingten Annahme <strong>ein</strong>es linearen Zusammenhangs<br />

(y = kx +d) gering. Die auf y ∼1/x basierenden Korrelationskoeffizienten<br />

sind größer, aber werden hier nicht angeführt.<br />

Literaturhinweise<br />

[1] Bristow, A., J.: The Paper Surface in Relation to the Network. In Bristow, A., J.: Paper<br />

structure an properties, S. 169–182, New York. Dekker, 1986, ISBN 0-8247-7560-0<br />

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16), S. 99–109, Jyväskylä (Fin):Fapet Oy, 1999, ISBN 952-5216-16-0<br />

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[6] Proksch, A.: Bestimmung der Glätte nach Bendtsen. Allgem<strong>ein</strong>e Papier R<strong>und</strong>schau<br />

46(4), 1969, 1654–1655<br />

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1999, 6–9<br />

[8] Gold, M., A., Schuster, H., K.: Papier-Topographie mit dem Laser-Scanner. Wochenblatt<br />

für Papierfabrikation 7, 1989, 271–274<br />

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4/02<br />

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(S. 16–19), Erlangen: Druck <strong>und</strong> Digital Roland Heßler, ISSN 1618-1565<br />

[11] Yamauchi, T., Kishimoto, S.: Application of vertical scannino interferometric profiler<br />

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[12] Enomae, T. Fumihiko, O., Usuda, M.: Application of new profilometry using topographic<br />

scanning electron microscope to paper surface topography. Tappi Journal 76<br />

(1), 1993, 85–90<br />

[13] Wagberg, P., Johansson P.A.: Surface profilometry - a comparison between optical<br />

and mechanical sensing on printing papers. Tappi Journal 76 (12), Dez. 1993, 115–121<br />

[14] Mattsson, L., Wagberg, P.: Assessment of surface finish on bulk scattering materials:<br />

a comparison between optical laser stylus an mechanical stylus profilometers. Precision<br />

Engineering 15 (3), 1993, 141–149<br />

[15] Enomae, T., Onabe, F.: Characteristics of Parker Print-Surf roughness as compared<br />

with Bekk smoothness. Sen-I Gakkaishi 53 (3), Mar. 1997, 86–95<br />

[16] Blunt L., Jiang, X.Q.: Numerical Parameters for Characterisation of Topography. In<br />

Blunt L., Jiang, X.Q., Advanced Techniques for Assessment Surface Topography (S.<br />

17– 41), London, Kogan Page Science, ISBN 1-9039-9611-2<br />

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1234 WOCHENBLATT FÜR PAPIERFABRIKATION 21 · 2006

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