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Copy Link to download https://greatfull.fileoz.club/3815423147 Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, da; alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung ber die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren. Fr den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer fr die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so da; der Chip sich autonom, ohne teure externe Ger;te testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, da; viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur ku
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