EQUIPO DE LABORATORIO - CNyN - UNAM

UNIVERSIDAD NACIONAL AUTÓNOMA DE MÉXICOCENTRO DE NANOCIENCIAS Y NANOTECNOLOGÍADEPARTAMENTO DE BIENES Y SUMINISTROSLICITACIÓN PÚBLICA INTERNACIONALNo. CNyN-LPI-001/2010ANEXO 1RELACIÓN Y DESCRIPCIÓN DE EQUIPO DE LABORATORIOPARA EL CENTRO DE NANOCIENCIAS Y NANOTECNOLOGÍAPART CANT UNIDAD DESCRIPCIÓN DEL ARTÍCULO TIEMPO DE ENTREGA1 1 EQUIPO MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE TRANSMISIÓNHRTEMVOLTAJE DE ACELERACIÓN: 200 O 300 KVTIPO DE FUENTE DE ILUMINACIÓN: EMISIÓN DE CAMPO (FEG).TIEMPO DE VIDA ÚTIL DEL CRISTAL: APROXIMADAMENTE 25,000HRS.AUTO LIMPIEZA DE CONTAMINANTES EN LA PUNTA DEL CRISTAL:SIESTABILIDAD EN LA CORRIENTE DE EMISIÓN: ≤ 1% DESPUÉS DE24 HRS. DE SU INSTALACIÓN.SISTEMA DE VACÍO: AL MENOS 1 X 10 -8 TORR.DIÁMETRO MÍNIMO DEL HAZ PARA TEM: 0.5NM O MEJOR.RESOLUCIÓN DE LA PIEZA POLAR OBJETIVA: 0.19NM PUNTO APUNTO O MEJOR.COEFICIENTE DE ABERRACIÓN CROMÁTICO: ≤ 1.00mmCOEFICIENTE DE ABERRACIÓN ESFÉRICO: ≤ 0.5mmCONTROL INDEPENDIENTE DE TODAS LAS LENTES: SIRANGO DE AMPLIFICACIÓN: DESDE 50X HASTA 1,500,000X OMAYOR.ÁNGULO SÓLIDO DE COLECCIÓN PARA EDS: 0.13 RAD PARA UNAINCLINACION DE LA MUESTRA DE 25°SISTEMA DE APERTURAS DE LA LENTE CONDENSADORA: ALMENOS CON 4 TAMAÑOS DE APERTURAS DIFERENTES.SISTEMA DE APERTURAS DE ALTO CONTRASTE DE LA LENTEOBJETIVA: AL MENOS CON 4 TAMAÑOS DE DIFERENTES.APERTURA DE REDUCCIÓN DE RAYOS-X SOBRE LA MUESTRA:INCLUIDA.SISTEMA DE APERTURAS DE ÁREA SELECTA: AL MENOS CON 4TAMAÑOS DIFERENTES.20-Ene-2011DESPLAZAMIENTO ELECTROMAGNÉTICO DE LA IMAGEN:INCLUIDOSISTEMA DE DOSIFICACIÓN DE ENERGÍA PARA LA MUESTRA (LOWDOSE ENERGY): INCLUIDOCOMPENSADOR PARA MANTENER ESTACIONARIO EL HAZ:INCLUIDOPOSIBILIDAD DE LIMPIEZA DE LA COLUMNA Y BOMBA IÓNICA PORCALENTAMIENTO EXTERNO (BAKE OUT): INCLUIDO.DEDO FRÍO (TRAMPA ANTICONTAMINANTE):INCLUIDO.ÁNGULO DE INCLINACIÓN DEL GONIÓMETRO: DE +/- 30 GRADOSEN LOS EJES X y Y O MEJOR.SENSIBILIDAD DEL GIRO EN EL GONIÓMETRO: 0.1° O MENOR.PORTAMUESTRAS DE DOBLE INCLINACIÓN CONVENCIONAL:INCLUIDO.PORTAMUESTRAS DE BERILIO DE DOBLE INCLINACIÓN:INCLUIDO.ESTABILIDAD EN LOS PORTAMUESTRAS: DESPLAZAMIENTOSMENORES A 0.5nm/minNANOPOSICIONADOR EN X y Y: DESPLAZAMIENTOS DE 0.05 nm OCNyN-LPI-001/2010 Equipo de Laboratorio 1