INTRODUZIONE -EFFETTO PIEZOELETTRICO ... - ArchiMeDes
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<strong>INTRODUZIONE</strong> -<strong>EFFETTO</strong> <strong>PIEZOELETTRICO</strong><br />
L’effetto piezoelettrico fu scoperto da Jaques e Pierre Curie<br />
nel 1880 ed è una caratteristica di certi cristalli naturali<br />
(quarzo, tormalina…) o sintetici (solfato di litio, ammonio diidrogenato<br />
fosfato…), di ceramiche ferroelettriche<br />
polarizzate (titanato di bario…) e di particolari film di<br />
polimeri, che permette loro di sviluppare una carica quando<br />
vengono deformati elasticamente.<br />
In un cristallo, questa carica si manifesta quando un’azione<br />
meccanica provoca la comparsa di un dipolo elettrico in<br />
ciascuna molecola, spostando il centro delle cariche positive e<br />
negative. La rottura dell’equilibrio elettrostatico produce la<br />
polarizzazione.<br />
<strong>INTRODUZIONE</strong> -<strong>EFFETTO</strong> <strong>PIEZOELETTRICO</strong><br />
Inoltre gli stessi materiali si deformano meccanicamente se<br />
sottoposti ad un campo elettrico esterno, fenomeno noto come<br />
effetto piezoelettrico inverso.<br />
L’assenza di un centro simmetria è condizione necessaria<br />
affinché si manifesti la piezoelettricità, assente in materiali<br />
conduttori e strutturalmente simmetrici.<br />
A causa delle loro naturale struttura asimmetrica, materiali<br />
cristallini, come il quarzo, presentano l’effetto piezoelettrico<br />
senza la necessità di alcun tipo di trattamento, mentre le<br />
ceramiche piezoelettriche (come ad esempio il titanato di<br />
bario o lo zirconato titanato di piombo-PZT) devono essere<br />
artificialmente polarizzate per mezzo di un intenso campo<br />
elettrico esterno, il cui valore ne influenza fortemente la<br />
sensibilità.
MATERIALI PIEZOELETTRICI<br />
Si definisce piezoelettricità una polarizzazione elettrica prodotta<br />
da sforzi meccanici in determinate classi di cristalli, che è<br />
proporzionale allo sforzo stesso ed ha un segno direttamente o<br />
inversamente variabile con essi. Tale effetto è definito come<br />
effetto piezoelettrico diretto .<br />
Viceversa, gli stessi materiali devono rispondere con la<br />
produzione di uno sforzo, che si palesa con una variazione<br />
dimensionale, quando vengono sottoposti ad una polarizzazione<br />
elettrica. In questo caso si parla di effetto piezoelettrico inverso ed<br />
è un secondo aspetto della stessa proprietà del materiale (esempi<br />
applicativi: sistemi sonar per l’esplorazione attraverso rilievi<br />
acustici, strumenti di prova industriali non distruttivi di tipo<br />
ultrasonico, microattuatori…) .<br />
Si può rappresentare l’ampiezza dell’effetto piezoelettrico<br />
tramite il vettore di polarizzazione P=P xx +P yy +P zz, dove x, y e z<br />
si riferiscono ad un sistema di riferimento solidale agli assi del<br />
cristallo. In ciascun comportamento piezoelettrico, sia diretto<br />
sia inverso, gli sforzi e le deformazioni sono correlati ai<br />
parametri elettrici per mezzo di costanti, che assumono valori<br />
diversi per le diverse direzioni all’interno del materiale. A loro<br />
volta, sforzi e deformazioni sono correlati tra loro dalle<br />
costanti elastiche del materiale, anch’esse diverse nelle diverse<br />
direzioni spaziali.<br />
In termini di sforzi assiali σ e sforzi di taglio τ si possono<br />
scrivere le equazioni:<br />
P =<br />
d σ + d σ + d σ + d τ + d τ + d τ<br />
P<br />
xx<br />
yy<br />
zz<br />
11<br />
xx<br />
xx<br />
xx<br />
yy<br />
yy<br />
P = d σ + d σ + d σ + d τ + d τ + d τ<br />
yy<br />
zz<br />
= d σ + d σ + d σ + d τ + d τ + d τ<br />
21<br />
31<br />
12<br />
22<br />
32<br />
13<br />
23<br />
33<br />
zz<br />
zz<br />
14<br />
24<br />
34<br />
yz<br />
yz<br />
yz<br />
15<br />
25<br />
35<br />
zx<br />
zx<br />
zx<br />
16<br />
26<br />
36<br />
xy<br />
xy<br />
xy
dove dmn sono i coefficienti piezoelettrici e dimensionalmente<br />
hanno il significato di carica prodotta per unità di forza,<br />
espressa in Coulomb/Newton, per quanto riguarda l’effetto<br />
diretto e di deformazione per unità di tensione applicata,<br />
espressa in metri/Volt per quanto concerne l’effetto inverso. Il<br />
primo pedice si riferisce alla carica generata all’interno del<br />
materiale (effetto diretto) o alla tensione applicata (effetto<br />
inverso), il secondo pedice, rispettivamente, alla direzione delle<br />
forze applicate o delle deformazioni indotte.<br />
Ulteriori parametri di utilità pratica, ai fini dello studio delle<br />
proprietà piezoelettriche, sono i coefficienti gmn e hmn . I primi si<br />
ottengono dal rapporto dei corrispondenti coefficienti dmn e della<br />
costante dielettrica assoluta e rappresentano il gradiente di<br />
tensione (campo prodotto) per unità di pressione (sforzo). I<br />
secondi si ricavano dal prodotto tra i valori di gmn e del modulo<br />
di Young (E) relativo all’orientazione spaziale del cristallo (circa<br />
86GPa per il quarzo e 120 GPa per il titanato di bario) e si<br />
utilizzano per il calcolo della variazione di tensione per unità di<br />
spostamento.<br />
Infine, l’efficienza di conversione meccano-elettrica, alle frequenze<br />
nell’intorno della frequenza di risonanza, è espressa dai coefficienti<br />
k mn , ossia dalla radice quadrata del rapporto tra l’energia elettrica<br />
in uscita e quella meccanica in entrata (per l’effetto diretto) e vale la<br />
relazione:<br />
mn<br />
1<br />
( dmn<br />
hmn<br />
)2<br />
k = ⋅<br />
Come si è già visto i materiali che possiedono queste<br />
proprietà sono divisibili in due categorie principali: i cristalli<br />
naturali e le ceramiche piezoelettriche polarizzate. Dei primi<br />
sono ben conosciuti i valori delle costanti piezoelettriche,<br />
mentre dei secondi ancora molto si può scoprire<br />
relativamente alla dipendenza di tali costanti da spessori del<br />
materiale, tensioni e temperature di polarizzazione ed<br />
esercizio.
I CRISTALLI NATURALI-IL QUARZO<br />
I cristalli naturali con proprietà piezoelettriche sono il quarzo, la<br />
tormalina e i sali di Rochelle. Il quarzo è un monocristallo di<br />
biossido di silicio con una cella elementare costituita da tre<br />
molecole di SiO 2 , posizionate in modo da costituire un cristallo di<br />
forma esagonale. Ogni cristallo presenta i seguenti assi di<br />
simmetria:<br />
a) un asse z, detto asse ottico, il quale attraversa il cristallo in<br />
tutta la sua lunghezza; la sezione normale all’asse z è un esagono<br />
regolare;<br />
b) tre assi meccanici y normali all’asse z e normali, ciascuno, a<br />
due facce laterali opposte del cristallo;<br />
c) tre assi elettrici x normali ognuno all’asse z e ad un asse y.<br />
a) un asse z, detto asse<br />
ottico, che attraversa il<br />
cristallo in tutta la sua<br />
lunghezza; la sezione<br />
normale all’asse z èun<br />
esagono regolare;<br />
b) tre assi meccanici y,<br />
normali all’asse z e<br />
normali, ciascuno, a<br />
due facce laterali<br />
opposte del cristallo;<br />
c) tre assi elettrici x,<br />
normali ognuno all’asse<br />
z e ad un asse y.<br />
Se si taglia un elemento di<br />
quarzo, in modo tale che le<br />
facce maggiori dell’elemento<br />
risultino perpendicolari ad un<br />
asse elettrico, e si<br />
sottopongono tali facce ad<br />
una compressione meccanica,<br />
su di esse si manifestano<br />
cariche elettriche di segno<br />
opposto e la quantità di carica<br />
presente è proporzionale alla<br />
forza applicata. Se la forza<br />
applicata è di trazione la<br />
polarità delle cariche<br />
elettriche si inverte.
Qualora venga<br />
applicata all’elemento<br />
una forza meccanica in<br />
direzione dell’asse<br />
meccanico (quindi in<br />
direzione normale alla<br />
precedente), sulle facce<br />
perpendicolari all’asse<br />
elettrico si generano<br />
ancora delle cariche<br />
elettriche, con la<br />
differenza che una<br />
compressione lungo<br />
l’asse elettrico produce<br />
una trazione lungo<br />
l’asse meccanico<br />
(Poisson). Questi<br />
comportamenti hanno<br />
il nome di effetto<br />
piezoelettrico diretto.<br />
Se la sollecitazione avviene<br />
nella direzione dell’asse<br />
ottico, non si produce alcuna<br />
polarizzazione elettrica. Se,<br />
invece, si sottopone<br />
l’elemento di quarzo ad un<br />
campo elettrico avente la<br />
direzione dell’asse elettrico,<br />
si verifica una dilatazione in<br />
questa direzione (oppure una<br />
contrazione, in funzione del<br />
segno della polarizzazione)<br />
proporzionale all’intensità<br />
del campo. A questo effetto<br />
longitudinale se ne associa<br />
uno trasversale di<br />
contrazione (o dilatazione)<br />
lungo la direzione dell’asse<br />
meccanico, indicato come<br />
effetto trasversale. Si tratta<br />
dell’effetto piezoelettrico<br />
inverso.<br />
I coefficienti piezoelettrici d mn per il quarzo sono:<br />
d<br />
11<br />
0<br />
0<br />
− d<br />
0<br />
0<br />
11<br />
0<br />
0<br />
0<br />
d<br />
14<br />
0<br />
0<br />
0<br />
− d<br />
0<br />
14<br />
0<br />
− 2d<br />
ed i loro valori numerici, riportati in letteratura sono:<br />
d 11 =2.03×10 -12 C/N;<br />
d 14 =0.67×10 -12 C/N.<br />
0<br />
11
Scegliendo la direzione di taglio nel monocristallo con una certa<br />
oculatezza, l’effetto piezoelettrico dei quarzi viene largamente<br />
sfruttato nella realizzazione di trasduttori di forza e pressione.<br />
In particolare, questo materiale presenta caratteristiche<br />
vantaggiose quali:<br />
- elevata rigidezza e resistenza meccanica, che garantiscono<br />
piccole deformazioni elastiche durante la compressione;<br />
- eccellente linearità a fronte di un ampio range di carico;<br />
- piccola dipendenza dalla costante piezoelettrica della<br />
temperatura;<br />
- nessun effetto piroelettrico.<br />
In base a queste proprietà risulta motivata la larga diffusione di<br />
trasduttori piezoelettrici al quarzo per la misura di alte<br />
pressioni, anche in ambienti sottoposti ad elevate temperature.<br />
I CRISTALLI NATURALI-LA TORMALINA<br />
La tormalina, a differenza del quarzo, è caratterizzata da range<br />
di temperatura più ampi, nonché da un costo elevato ed una<br />
bassa sensibilità e, per questo motivo, viene scarsamente<br />
utilizzata nella realizzazione di sensori. I coefficienti<br />
piezoelettrici per la tormalina sono:<br />
0 0 0 0 d15<br />
− 2d22<br />
− d22<br />
d22<br />
0 d15<br />
0 0<br />
d d d 0 0 0<br />
d 33 =1.9×10 -12 C/N;<br />
31<br />
31<br />
33<br />
I valori numerici disponibili in letteratura sono:<br />
d h =2.4×10 -12 C/N (coefficiente piezoelettrico di carica derivante da<br />
sollecitazione idraulica);<br />
La distribuzione dei suoi coefficienti piezoelettrici la rende<br />
particolarmente adatta per la misura della pressione idrostatica.
I CRISTALLI NATURALI-I SALI DI ROCHELLE<br />
I sali di Rochelle sono il solo materiale piezoelettrico che ha<br />
avuto uno sviluppo su scala industriale, per il fatto che giocano<br />
un ruolo fondamentale in applicazioni come microfoni e<br />
altoparlanti. In queste applicazioni risulta importante l’elevata<br />
sensibilità rispetto agli sforzi di taglio. Tuttavia i suoi limiti in<br />
termini di robustezza, isteresi e ridotto range di temperatura e<br />
umidità, li rendono poco adatti ad applicazioni sensoristiche per<br />
pressioni e temperature elevate.<br />
I valori disponibili in letteratura sono, in questo caso, forniti a<br />
30°C e relativi a sollecitazioni di taglio:<br />
d 14 =27÷550×10 -12 C/N (in funzione del piano di taglio del<br />
cristallo e del tipo di sollecitazione applicata).<br />
Le ceramiche<br />
piezoelettriche sono<br />
sostanze policristalline<br />
con proprietà<br />
ferroelettriche che, a<br />
seguito di una<br />
polarizzazione, possono<br />
presentare<br />
caratteristiche<br />
piezoelettriche.<br />
Per comprendere<br />
l’effetto piezoelettrico<br />
nelle ceramiche è<br />
conveniente considerare<br />
prima il comportamento<br />
di questi materiali a<br />
livello microscopico.<br />
LE CERAMICHE PIEZOELETTRICHE<br />
- Cella elementare<br />
di ceramica<br />
piezoelettrica:<br />
a) configurazione<br />
cubica al di sopra<br />
della temperatura<br />
di Curie;<br />
b) configurazione<br />
tetraedrica al di<br />
sotto della<br />
temperatura di<br />
Curie
Come già detto, affinché un materiale esibisca proprietà piezoelettriche, la sua<br />
struttura cristallina non deve possedere un centro di simmetria, ossia ci deve essere<br />
almeno un asse nel cristallo tale che la disposizione atomica appaia differente se si<br />
procede in direzioni opposte lungo di esso. Al di sopra di una certa temperatura,<br />
chiamata temperatura di Curie, la struttura del cristallo possiede un centro di<br />
simmetria e perciò non ha momento di dipolo elettrico. Al di sotto di questa<br />
temperatura esso subisce un cambiamento di fase ed evolve verso una struttura più<br />
complessa che non è centrosimmetrica.<br />
Configurazione dei domini dei momenti di<br />
dipolo elettrico:<br />
a) prima della polarizzazione; b) durante la<br />
polarizzazione; c) dopo la polarizzazione<br />
In particolare, queste ceramiche presentano, in<br />
modo analogo ai materiali ferromagnetici, la<br />
possibilità di essere polarizzate permanentemente.<br />
In sostanza esse si possono schematizzare come<br />
costituite da zone aventi polarizzazione spontanea,<br />
che possono essere parzialmente orientate tramite<br />
l’applicazione di un campo elettrico esterno. Se si<br />
graficizza la polarizzazione elettrica del materiale<br />
in funzione di un campo elettrico variabile si<br />
ottiene un ciclo di isteresi completo. Quello che<br />
conta ai fini della piezoelettricità è la<br />
polarizzazione residua che si ha alla rimozione del<br />
campo elettrico esterno.<br />
In questa fase il cristallo ha un<br />
dipolo elettrico bloccato, che può<br />
essere invertito o disposto in<br />
direzioni diverse. Ci si riferisce a<br />
tali materiali con il termine<br />
ferroelettrici, poiché questo<br />
comportamento elettrico<br />
presenta un’analogia fisica con il<br />
comportamento dei materiali<br />
ferromagnetici.<br />
Attraverso un processo di<br />
miscelazione di materiali<br />
ferroelettrici si ottengono delle<br />
paste in cui i singoli<br />
microcristalli sono ferroelettrici<br />
e possiedono una spontanea<br />
polarizzazione. Tuttavia la<br />
combinazione disordinata di<br />
questi microcristalli in una<br />
polvere di varia composizione e<br />
granulometria non possiede un<br />
momento di dipolo elettrico<br />
rilevabile a livello macroscopico.
Condizione necessaria affinché la polarizzazione abbia successo, è il<br />
raggiungimento della temperatura di Curie durante il processo di<br />
esposizione al campo elettrico e il successivo raffreddamento del materiale,<br />
sempre in presenza del campo. Così facendo, i domini tendono ad allinearsi<br />
nella direzione più vicina a quella del campo, producendo un momento di<br />
dipolo risultante ed un allungamento del pezzo nella stessa direzione.<br />
Dopo la rimozione del campo esterno, i dipoli non sono più in grado di<br />
tornare nella originaria posizione casuale, ma risultano come congelati in<br />
una direzione preferenziale. Se viene applicata una forza esterna di<br />
trazione o compressione in grado deformare elasticamente il pezzo, si<br />
ottiene una variazione nel momento di dipolo, che induce una tensione tra<br />
gli elettrodi, opportunamente realizzati sulle superfici normali all’asse di<br />
polarizzazione.<br />
La temperatura di Curie è la temperatura sopra la quale un materiale<br />
perde le sue proprietà ferroelettriche, quindi questo limita la temperatura<br />
massima alla quale questo materiale può essere utilizzato.<br />
Se la polarizzazione avviene lungo l’asse z i coefficienti d mn si<br />
riducono a tre e sono rappresentabili secondo lo schema:<br />
d<br />
0<br />
0<br />
31<br />
d<br />
0<br />
0<br />
31<br />
d<br />
0<br />
0<br />
33<br />
d<br />
0<br />
15<br />
0<br />
In genere, poi, per uno studio semplificato della risposta di un<br />
trasduttore di questo tipo, si ipotizza che il sistema sia ad un solo<br />
grado di libertà, ossia se assoggettato ad una sollecitazione in<br />
un’unica direzione avrà un solo movimento, per quanto piccolo,<br />
nella direzione di applicazione della forza. Ciò significa che si<br />
considera un solo modo di vibrare, per lo più nella direzione dello<br />
spessore. In questo caso le costanti piezoelettriche rilevanti, che<br />
descrivono l’accoppiamento elettro-meccanico, saranno, in base<br />
alla convenzione, d 33 e g 33 .<br />
d<br />
15<br />
0<br />
0<br />
0<br />
0<br />
0
Il primo coefficiente rappresenterà, quindi, la carica indotta per<br />
unità di forza applicata nella direzione 3, il secondo il gradiente di<br />
tensione (campo) per unità di sforzo (pressione) sempre nella<br />
direzione 3. I due valori sono legati dalla costante dielettrica<br />
assoluta:<br />
d = ε ⋅ g<br />
33<br />
In letteratura si trovano valori delle costanti piezoelettriche, per<br />
le ceramiche, che dipendono dalla tensione di polarizzazione. Il<br />
valore della costante d 33 varia tra 15 e 580pC/N e può essere<br />
verificato sperimentalmente.<br />
Le applicazioni fondamentali dei cristalli piezoelettrici sono:<br />
Sfruttando sollecitazioni di<br />
tipo diverso per ottenere<br />
diverse misure.<br />
33<br />
Trasduttori di pressione<br />
Trasduttori di accelerazione<br />
Trasduttori di forza
TRASDUTTORI DI PRESSIONE PIEZOELETTRICI<br />
Sono adatti alla misura di pressioni dinamiche.<br />
Ambiti in cui si registra maggior interesse nella rilevazione di alte<br />
pressioni impulsive (turbolenze, blast, camere di scoppio balistiche<br />
e motoristiche)<br />
Caratteristiche<br />
Velocità di risposta (prontezza),<br />
resistenza meccanica, rigidezza,<br />
range esteso, ottima linearità<br />
con cristallo montato precompresso,<br />
resistenza allo shock<br />
termico (con opportune<br />
protezioni).<br />
Pressioni sviluppate:<br />
50÷500MPa<br />
Durata dell’impulso:<br />
Qualche millisecondo<br />
CALIBRAZIONE DINAMICA di TRASDUTTORI di<br />
PRESSIONE PIEZOELETTRICI<br />
Strumenti di misura assoluti e relativi<br />
Per definizione, la risposta di strumenti di<br />
misura assoluti può essere rappresentata da<br />
un’espressione matematica che descriva<br />
esattamente il fenomeno fisico. Tale<br />
espressione matematica, basata sui principi<br />
fisici che regolano il funzionamento<br />
dell’apparato di misura è, spesso, difficile o<br />
impossibile da formulare.<br />
Anche nei casi in cui è conosciuta una<br />
espressione matematica approssimata,<br />
ricavata tramite semplificazioni più o meno<br />
giustificabili, è necessario effettuare una<br />
determinazione sperimentale della relazione<br />
s=f(p)<br />
che viene indicata come calibrazione.
Calibrazione statica<br />
La calibrazione ‘quasi’ statica è effettuata a temperatura costante e<br />
compara la risposta del traduttore con uno strumento assoluto<br />
chiamato manometro campione o di riferimento. Gli apparecchi di<br />
calibrazione sono, a seconda della gamma della pressione di<br />
misura, o manometri a liquido o bilance manometriche.<br />
La calibrazione statica dei trasduttori di pressione è, quindi, una<br />
determinazione sperimentale approssimata della funzione di<br />
trasferimento del trasduttore, nell’ipotesi semplificativa che la<br />
funzione in uscita sia una relazione di proporzionalità tra<br />
pressione applicata e carica (o in alcuni casi tensione) fornita,<br />
indipendentemente dalla velocità con la quale viene applicata la<br />
pressione.<br />
In genere tale calibrazione avviene tramite l’utilizzo di strumenti<br />
detti bilance manometriche, che permettono di assoggettare il<br />
trasduttore a pressioni comprese tra 10Pa e 103MPa, con<br />
accuratezza nella quantificazione della pressione applicata tra 0.1 e<br />
0.01% della gamma di misura. Per il metodo impiegato, che si<br />
riferisce a grandezze fisiche assolute, la calibrazione statica è da<br />
considerarsi un metodo assoluto.<br />
Risposta dinamica<br />
La risposta dinamica è definita dalla relazione<br />
s(t,p) ≅ f{p(t)}<br />
In generale non è possibile conoscere un’espressione matematica<br />
rigorosa per questa legge e, d’altra parte, non esiste un metodo<br />
assoluto di misura dinamica della pressione, che permetta di<br />
effettuare la calibrazione per comparazione. Inoltre, non risulta<br />
che sia possibile generare una pressione avente un legge di<br />
variazione perfettamente conosciuta. Quello che si può fare è la<br />
determinazione della risposta di un sistema, tramite una pseudo<br />
calibrazione dinamica. Questo tipo di calibrazione viene<br />
effettuata tramite un dispositivo che genera una pressione con<br />
andamento approssimativamente conosciuto e la risposta s(t) di<br />
un trasduttore da calibrare viene comparata con quella di un<br />
altro trasduttore preso come riferimento.
Gerarchia degli standard di calibrazione<br />
Per evitare la necessità di dar corso a calibrazione assolute per<br />
ogni trasduttore è possibile stabilire una gerarchia degli standard<br />
di calibrazione:<br />
Quantità fisiche fondamentali<br />
Lunghezza, Massa, Tempo, Corrente…<br />
Istituti Nazionali ed Internazionali per la<br />
determinazione degli standard a partire da<br />
quantità fisiche fondamentali<br />
Trasduttori Transfert Standard<br />
Trasduttori di riferimento<br />
Trasduttore<br />
piezo in<br />
sezione<br />
I trasduttori standard sono riuniti in tre gruppi:<br />
- Trasduttori Standard Primari (primary standard transducers)<br />
Un metodo di calibrazione in grado di stabilire la sensibilità di un<br />
trasduttore in relazione a grandezze fisiche fondamentali (espresse<br />
nel SI) è noto come assoluto. Un trasduttore calibrato con questo<br />
metodo viene detto Trasduttore Standard Primario e collocato in<br />
cima alla gerarchia. Trasduttori di questo tipo sono presenti negli<br />
Istituti Nazionali ed Internazionali per il gli Standard, o presso i<br />
Laboratori dove sono stati calibrati.
- Trasduttori per il trasferimento dello Standard (transfert standard<br />
transducers)<br />
Questi trasduttori vengono calibrati per comparazione dagli<br />
Istituti o dai Laboratori di Standardizzazione usando Standard di<br />
Riferimento Primari, oppure con metodi assoluti. I trasduttori per<br />
il trasferimento dello Standard vengono scambiati e ricalibrati tra<br />
gli Istituti in modo da stabilire la conformità delle diverse<br />
calibrazioni effettuate. Tramite questo processo di scambio, è<br />
possibile affermare la conformità dei metodi e delle<br />
apparecchiature usate dai diversi Laboratori. In questo modo si<br />
stabilisce anche la riferibilità (traceability). Essa definisce quale<br />
Istituto di Standardizzazione è responsabile per la definizione della<br />
conformità della calibrazione effettuata nello specifico<br />
Laboratorio. Perciò, un trasduttore calibrato dal Laboratorio di<br />
Calibrazione è definito riferibile (traceable) all’Istituto di<br />
Standardizzazione indicato<br />
- Trasduttori Standard d’uso (working reference standard<br />
transducers)<br />
Questi trasduttori vengono utilizzati per la calibrazione per<br />
comparazione dei trasduttori d’uso corrente. Essi vengono<br />
calibrati dagli Istituti o dai Laboratori usando metodi assoluti o<br />
comparativi. In questo modo si mantiene la riferibilità<br />
(traceability) della calibrazione.<br />
Ogni Laboratorio deve possedere trasduttori standard d’uso<br />
(working standard) per poter effettuare la calibrazione per<br />
comparazione, ma deve possedere anche almeno un trasduttore<br />
per il trasferimento dello standard (transfert standard) per<br />
poter garantire la riferibilità dei sensori impiegati.
Calibrazione dinamica per comparazione<br />
Generalmente per la calibrazione dei sensori piezoelettrici viene<br />
utilizzato il metodo per comparazione, che viene attuato<br />
assogettando due trasduttori (un working standard ed un transfert<br />
standard) alla stessa sollecitazione e comparandone le uscite. Così<br />
facendo si può ricavare la sensibilità di uno a partire da quella,<br />
nota, dell’altro.<br />
Principio del metodo di calibrazione dinamica<br />
Una massa di peso noto viene lasciata cadere da un'altezza<br />
misurabile su di un dispositivo di pressurizzazione, che<br />
converte l'energia d'impatto in un impulso di pressione<br />
idraulica.<br />
La pressione applicata simultaneamente al trasduttore di<br />
riferimento ed al trasduttore in calibrazione produce segnali<br />
espressi in carica e/o in tensione, proporzionali alla pressione<br />
stessa.<br />
L’incertezza con cui si ottiene il valore di sensibilità dipende<br />
dalla:<br />
- incertezza con la quale è nota la caratteristica sensibilitàpressione<br />
del trasduttore considerato di riferimento<br />
(normalmente migliore dello 0.5% del fondo scala);<br />
- incertezza correlata la calibrazione degli amplificatori di<br />
carica (normalmente migliore dello 0.1% del fondo scala);<br />
- linearità degli amplificatori di carica (normalmente migliore<br />
dello 0.05% del fondo scala);<br />
- incertezza del sistema di rilevazione e misura (normalmente<br />
migliore dello 0.1% del fondo scala).
Al fine di compensare gli errori di linearità del trasduttore di<br />
riferimento, a partire dai dati sensibilità-pressione ricavati dal<br />
certificato di calibrazione, si ottiene l'equazione della polinominale<br />
che, con il metodo dei minimi quadrati, meglio approssima la risposta<br />
del trasduttore.<br />
Tale equazione viene impiegata come curva di correzione dei valori di<br />
carica forniti dal trasduttore di riferimento, permettendo una<br />
migliore l’accuratezza nella misura della pressione.<br />
La calibrazione degli amplificatori di carica impiegati, effettuata<br />
prima d'ogni prova mediante l'uso del dispositivo di calibrazione<br />
(calibratore di carica), permette di verificare ed eventualmente<br />
correggere, gli scarti di lettura derivanti dagli amplificatori di carica<br />
e di ridurre quindi l'errore reciproco a valori migliori dello 0.1%.<br />
Supporto e massa battente<br />
L’unità di pressurizzazione è alloggiata all’interno di un<br />
supporto, che funziona da guida per la massa battente. Grazie<br />
ad esso è possibile regolare l’altezza di caduta, in modo da<br />
ottenere il fondo scala della misura desiderato.<br />
Risulta, perciò, possibile sottoporre il trasduttore in prova a<br />
diversi cicli di sollecitazioni, variando l’energia potenziale legata<br />
alla massa, prima della caduta, e variando, di conseguenza,<br />
l’energia dell’impulso idraulico.<br />
Unità di<br />
pressurizzazione
Durata impulso: 3.5ms circa<br />
~1.2ms di rise time<br />
Rise time del piezo 2µs<br />
ANDAMENTO<br />
DELL’ERRORE IN<br />
FUNZIONE DELLA<br />
PRESSIONE<br />
I trasduttori piezo sono<br />
sistemi del secondo<br />
ordine<br />
Supporto e massa battente<br />
Con frequenza di risonanza<br />
ad altissima frequenza circa<br />
100-200KHz<br />
RISPOSTA DEI DUE<br />
TRASDUTTORI A<br />
CONFRONTO
RISULTATO:<br />
ERRORE PERCENTUALE<br />
IN FUNZIONE DELLA<br />
PRESSIONE<br />
CURVE-FITTING DI ORDINE<br />
n-ESIMO<br />
EQUAZIONE DELLA<br />
CURVA CHE MEGLIO<br />
APPROSSIMA<br />
L’ANDAMENTO<br />
SENSIBILITA’-<br />
PRESSIONE<br />
UTILZZATA<br />
DURANTE LA<br />
MISURA PER<br />
COMPENSARE<br />
EVENTUALI ERRORI ╔[ Bar ]═══[ pC/Bar ]═╗ ╔[ Bar ]══ ═[ pC/Bar ]═╗ ╔[ Bar ]═══[ pC/Bar ]<br />
║ 400 2.315 ║ ║ 1000 2.333 ║ ║ 1600 2.351 ║<br />
║ 500 2.317 ║ ║ 1100 2.336 ║ ║ 1700 2.353 ║<br />
║ 600 2.319 ║ ║ 1200 3.340 ║ ║ 1800 2.356 ║<br />
║ 700 2.322 ║ ║ 1300 2.343 ║ ║ 1900 2.358 ║<br />
║ 800 2.326 ║ ║ 1400 2.346 ║ ║ 2000 2.360 ║<br />
║ 900 2.329 ║ ║ 1500 2.349 ║ ║ pC/Bar 2.344 ║
ACCELEROMENTRI PIEZOELETTRICI a deflessione<br />
Tipico strumento del secondo ordine.<br />
Sensibilità K=1/ω 2<br />
n . (C/m/s2 o C/g)<br />
Quindi la risposta alle alte frequenze è<br />
frutto di un compromesso con la<br />
sensibilità.<br />
Hanno ampia applicazione nella misura<br />
di urti e vibrazioni, ma non forniscono<br />
alcuna uscita in risposta ad accelerazioni<br />
costanti.<br />
Presentano ampi segnali di tensione in uscita a fronte di ridotte<br />
deformazioni, piccole dimensioni, ottima linearità, ampia dinamica<br />
di lavoro e frequenze proprie molto alte (caratteristica necessaria<br />
per ottenere misure accurate di fenomeni impulsivi).<br />
In genere non è previsto alcuno smorzamento (il fabbricante non lo<br />
riporta nelle caratteristiche tecniche e viene considerato nullo al<br />
più pari a 0.01), fatto accettabile in quanto la frequenza propria è<br />
molto elevata.<br />
Il range di lavoro è circa: 3/τ
Flessione<br />
In commercio si trova un’ampia<br />
varietà di accelerometri piezo<br />
Compressione<br />
inversa<br />
Compressione<br />
Taglio<br />
Elemento sensibile: quarzo (stabile, ripetibile, con basso effetto<br />
piroelettrico) o ceramiche .<br />
Il compromesso tra sensibilità e risposta in frequenza è evidente nelle<br />
specifiche comuni dello strumento.<br />
Esempio:<br />
-Accelerometro per urti: K=0.004pC/g ωn=250000 Hz<br />
-Accelerometro per misurazioni sismiche: K=1000pC/g ωn=7000 Hz<br />
Sensibilità trasversale contenuta (2-4%)<br />
Criticità nel montaggio:<br />
- secondo le specifiche tecniche del costruttore (perni filettati, colla, cera,<br />
fissaggi magnetici…) per assicurare che le prestazioni ottenute<br />
dall'accelerometro siano conformi alle caratteristiche tecniche pubblicate<br />
- gli accelerometri per shock siano montati preferibilmente con una vite<br />
(stud), secondo le caratteristiche costruttive, su una superficie piana,<br />
pulita e con buona finitura superficiale.
La frequenza propria dell’accelerometro montato vale circa il<br />
60% di quella del dispositivo non montato (dichiarata dal<br />
costruttore)!!!!<br />
Sono disponibili modelli con microelettronica incorporata, ossia con<br />
amplificatori di carica montati all’interno dell’involucro del sensore,<br />
detti IC (Integrated Circuit) che devono essere alimentati (tramite<br />
cavo opportuno).<br />
In questo modo il segnale di uscita viene fornito direttamente in Volt<br />
e può essere collegato direttamente ad un oscilloscopio oppure ad un<br />
analizzatore di segnale.<br />
Vantaggi:<br />
-Trasmissione a bassa impedenza<br />
-Sensibilità più elevate<br />
-Riduzione del rumore generato dal cavo<br />
-Costi più bassi<br />
Svantaggi:<br />
-Ridotto campo di temperature di utilizzo (elettronica microcircuitale<br />
soffre la T più del solo accelerometro)<br />
-Condizionamento del segnale meno versatile
TRASDUTTORI DI FORZA PIEZOELETTRICI<br />
Vengono utilizzati per misure di forze oscillanti, impatti ad alta<br />
velocità…<br />
Hanno una fdt con la stessa forma degli accelerometri e possono essere<br />
utilizzati quasi solo per misure di forza dinamiche.<br />
Sono disponibili con o senza microelettronica incorporata. (ICP)<br />
Non linearità ≤1%; Rigidezza da 1.75 10 5 N/mm a 1.75 10 7 N/mm<br />
Frequenza propria elevata: da 10kHz a 300 kHz (ridotta al<br />
montaggio)<br />
Montaggio con precarico (fisso o regolabile) dell’elemento<br />
piezoelettrico per ottenere range di lavoro sia a trazione sia a<br />
compressione.<br />
Sensibilità al carico laterale che dipende dal modello e dal montaggio.<br />
Sensibilità alla temperatura che dipende dal materiale piezo utilizzato<br />
e dalla presenza di microelettronica integrata<br />
Per minimizzare la presenza di shock<br />
meccanici ad alta frequenza dovuti<br />
all’urto diretto metallo su<br />
metallo,talvolta si introduce tra le due<br />
parti uno strato di materiale più<br />
soffice che funge da smorzatore ma<br />
che può falsare la misura.<br />
Si può montare la cella di carico a<br />
sandwich tra due parti della struttura<br />
da testare, utilizzando una vite di rameberilio<br />
o acciaio, che viene anche<br />
utilizzata per pre-caricare l’anello di<br />
forza.