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INTRODUZIONE -EFFETTO PIEZOELETTRICO ... - ArchiMeDes

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<strong>INTRODUZIONE</strong> -<strong>EFFETTO</strong> <strong>PIEZOELETTRICO</strong><br />

L’effetto piezoelettrico fu scoperto da Jaques e Pierre Curie<br />

nel 1880 ed è una caratteristica di certi cristalli naturali<br />

(quarzo, tormalina…) o sintetici (solfato di litio, ammonio diidrogenato<br />

fosfato…), di ceramiche ferroelettriche<br />

polarizzate (titanato di bario…) e di particolari film di<br />

polimeri, che permette loro di sviluppare una carica quando<br />

vengono deformati elasticamente.<br />

In un cristallo, questa carica si manifesta quando un’azione<br />

meccanica provoca la comparsa di un dipolo elettrico in<br />

ciascuna molecola, spostando il centro delle cariche positive e<br />

negative. La rottura dell’equilibrio elettrostatico produce la<br />

polarizzazione.<br />

<strong>INTRODUZIONE</strong> -<strong>EFFETTO</strong> <strong>PIEZOELETTRICO</strong><br />

Inoltre gli stessi materiali si deformano meccanicamente se<br />

sottoposti ad un campo elettrico esterno, fenomeno noto come<br />

effetto piezoelettrico inverso.<br />

L’assenza di un centro simmetria è condizione necessaria<br />

affinché si manifesti la piezoelettricità, assente in materiali<br />

conduttori e strutturalmente simmetrici.<br />

A causa delle loro naturale struttura asimmetrica, materiali<br />

cristallini, come il quarzo, presentano l’effetto piezoelettrico<br />

senza la necessità di alcun tipo di trattamento, mentre le<br />

ceramiche piezoelettriche (come ad esempio il titanato di<br />

bario o lo zirconato titanato di piombo-PZT) devono essere<br />

artificialmente polarizzate per mezzo di un intenso campo<br />

elettrico esterno, il cui valore ne influenza fortemente la<br />

sensibilità.


MATERIALI PIEZOELETTRICI<br />

Si definisce piezoelettricità una polarizzazione elettrica prodotta<br />

da sforzi meccanici in determinate classi di cristalli, che è<br />

proporzionale allo sforzo stesso ed ha un segno direttamente o<br />

inversamente variabile con essi. Tale effetto è definito come<br />

effetto piezoelettrico diretto .<br />

Viceversa, gli stessi materiali devono rispondere con la<br />

produzione di uno sforzo, che si palesa con una variazione<br />

dimensionale, quando vengono sottoposti ad una polarizzazione<br />

elettrica. In questo caso si parla di effetto piezoelettrico inverso ed<br />

è un secondo aspetto della stessa proprietà del materiale (esempi<br />

applicativi: sistemi sonar per l’esplorazione attraverso rilievi<br />

acustici, strumenti di prova industriali non distruttivi di tipo<br />

ultrasonico, microattuatori…) .<br />

Si può rappresentare l’ampiezza dell’effetto piezoelettrico<br />

tramite il vettore di polarizzazione P=P xx +P yy +P zz, dove x, y e z<br />

si riferiscono ad un sistema di riferimento solidale agli assi del<br />

cristallo. In ciascun comportamento piezoelettrico, sia diretto<br />

sia inverso, gli sforzi e le deformazioni sono correlati ai<br />

parametri elettrici per mezzo di costanti, che assumono valori<br />

diversi per le diverse direzioni all’interno del materiale. A loro<br />

volta, sforzi e deformazioni sono correlati tra loro dalle<br />

costanti elastiche del materiale, anch’esse diverse nelle diverse<br />

direzioni spaziali.<br />

In termini di sforzi assiali σ e sforzi di taglio τ si possono<br />

scrivere le equazioni:<br />

P =<br />

d σ + d σ + d σ + d τ + d τ + d τ<br />

P<br />

xx<br />

yy<br />

zz<br />

11<br />

xx<br />

xx<br />

xx<br />

yy<br />

yy<br />

P = d σ + d σ + d σ + d τ + d τ + d τ<br />

yy<br />

zz<br />

= d σ + d σ + d σ + d τ + d τ + d τ<br />

21<br />

31<br />

12<br />

22<br />

32<br />

13<br />

23<br />

33<br />

zz<br />

zz<br />

14<br />

24<br />

34<br />

yz<br />

yz<br />

yz<br />

15<br />

25<br />

35<br />

zx<br />

zx<br />

zx<br />

16<br />

26<br />

36<br />

xy<br />

xy<br />

xy


dove dmn sono i coefficienti piezoelettrici e dimensionalmente<br />

hanno il significato di carica prodotta per unità di forza,<br />

espressa in Coulomb/Newton, per quanto riguarda l’effetto<br />

diretto e di deformazione per unità di tensione applicata,<br />

espressa in metri/Volt per quanto concerne l’effetto inverso. Il<br />

primo pedice si riferisce alla carica generata all’interno del<br />

materiale (effetto diretto) o alla tensione applicata (effetto<br />

inverso), il secondo pedice, rispettivamente, alla direzione delle<br />

forze applicate o delle deformazioni indotte.<br />

Ulteriori parametri di utilità pratica, ai fini dello studio delle<br />

proprietà piezoelettriche, sono i coefficienti gmn e hmn . I primi si<br />

ottengono dal rapporto dei corrispondenti coefficienti dmn e della<br />

costante dielettrica assoluta e rappresentano il gradiente di<br />

tensione (campo prodotto) per unità di pressione (sforzo). I<br />

secondi si ricavano dal prodotto tra i valori di gmn e del modulo<br />

di Young (E) relativo all’orientazione spaziale del cristallo (circa<br />

86GPa per il quarzo e 120 GPa per il titanato di bario) e si<br />

utilizzano per il calcolo della variazione di tensione per unità di<br />

spostamento.<br />

Infine, l’efficienza di conversione meccano-elettrica, alle frequenze<br />

nell’intorno della frequenza di risonanza, è espressa dai coefficienti<br />

k mn , ossia dalla radice quadrata del rapporto tra l’energia elettrica<br />

in uscita e quella meccanica in entrata (per l’effetto diretto) e vale la<br />

relazione:<br />

mn<br />

1<br />

( dmn<br />

hmn<br />

)2<br />

k = ⋅<br />

Come si è già visto i materiali che possiedono queste<br />

proprietà sono divisibili in due categorie principali: i cristalli<br />

naturali e le ceramiche piezoelettriche polarizzate. Dei primi<br />

sono ben conosciuti i valori delle costanti piezoelettriche,<br />

mentre dei secondi ancora molto si può scoprire<br />

relativamente alla dipendenza di tali costanti da spessori del<br />

materiale, tensioni e temperature di polarizzazione ed<br />

esercizio.


I CRISTALLI NATURALI-IL QUARZO<br />

I cristalli naturali con proprietà piezoelettriche sono il quarzo, la<br />

tormalina e i sali di Rochelle. Il quarzo è un monocristallo di<br />

biossido di silicio con una cella elementare costituita da tre<br />

molecole di SiO 2 , posizionate in modo da costituire un cristallo di<br />

forma esagonale. Ogni cristallo presenta i seguenti assi di<br />

simmetria:<br />

a) un asse z, detto asse ottico, il quale attraversa il cristallo in<br />

tutta la sua lunghezza; la sezione normale all’asse z è un esagono<br />

regolare;<br />

b) tre assi meccanici y normali all’asse z e normali, ciascuno, a<br />

due facce laterali opposte del cristallo;<br />

c) tre assi elettrici x normali ognuno all’asse z e ad un asse y.<br />

a) un asse z, detto asse<br />

ottico, che attraversa il<br />

cristallo in tutta la sua<br />

lunghezza; la sezione<br />

normale all’asse z èun<br />

esagono regolare;<br />

b) tre assi meccanici y,<br />

normali all’asse z e<br />

normali, ciascuno, a<br />

due facce laterali<br />

opposte del cristallo;<br />

c) tre assi elettrici x,<br />

normali ognuno all’asse<br />

z e ad un asse y.<br />

Se si taglia un elemento di<br />

quarzo, in modo tale che le<br />

facce maggiori dell’elemento<br />

risultino perpendicolari ad un<br />

asse elettrico, e si<br />

sottopongono tali facce ad<br />

una compressione meccanica,<br />

su di esse si manifestano<br />

cariche elettriche di segno<br />

opposto e la quantità di carica<br />

presente è proporzionale alla<br />

forza applicata. Se la forza<br />

applicata è di trazione la<br />

polarità delle cariche<br />

elettriche si inverte.


Qualora venga<br />

applicata all’elemento<br />

una forza meccanica in<br />

direzione dell’asse<br />

meccanico (quindi in<br />

direzione normale alla<br />

precedente), sulle facce<br />

perpendicolari all’asse<br />

elettrico si generano<br />

ancora delle cariche<br />

elettriche, con la<br />

differenza che una<br />

compressione lungo<br />

l’asse elettrico produce<br />

una trazione lungo<br />

l’asse meccanico<br />

(Poisson). Questi<br />

comportamenti hanno<br />

il nome di effetto<br />

piezoelettrico diretto.<br />

Se la sollecitazione avviene<br />

nella direzione dell’asse<br />

ottico, non si produce alcuna<br />

polarizzazione elettrica. Se,<br />

invece, si sottopone<br />

l’elemento di quarzo ad un<br />

campo elettrico avente la<br />

direzione dell’asse elettrico,<br />

si verifica una dilatazione in<br />

questa direzione (oppure una<br />

contrazione, in funzione del<br />

segno della polarizzazione)<br />

proporzionale all’intensità<br />

del campo. A questo effetto<br />

longitudinale se ne associa<br />

uno trasversale di<br />

contrazione (o dilatazione)<br />

lungo la direzione dell’asse<br />

meccanico, indicato come<br />

effetto trasversale. Si tratta<br />

dell’effetto piezoelettrico<br />

inverso.<br />

I coefficienti piezoelettrici d mn per il quarzo sono:<br />

d<br />

11<br />

0<br />

0<br />

− d<br />

0<br />

0<br />

11<br />

0<br />

0<br />

0<br />

d<br />

14<br />

0<br />

0<br />

0<br />

− d<br />

0<br />

14<br />

0<br />

− 2d<br />

ed i loro valori numerici, riportati in letteratura sono:<br />

d 11 =2.03×10 -12 C/N;<br />

d 14 =0.67×10 -12 C/N.<br />

0<br />

11


Scegliendo la direzione di taglio nel monocristallo con una certa<br />

oculatezza, l’effetto piezoelettrico dei quarzi viene largamente<br />

sfruttato nella realizzazione di trasduttori di forza e pressione.<br />

In particolare, questo materiale presenta caratteristiche<br />

vantaggiose quali:<br />

- elevata rigidezza e resistenza meccanica, che garantiscono<br />

piccole deformazioni elastiche durante la compressione;<br />

- eccellente linearità a fronte di un ampio range di carico;<br />

- piccola dipendenza dalla costante piezoelettrica della<br />

temperatura;<br />

- nessun effetto piroelettrico.<br />

In base a queste proprietà risulta motivata la larga diffusione di<br />

trasduttori piezoelettrici al quarzo per la misura di alte<br />

pressioni, anche in ambienti sottoposti ad elevate temperature.<br />

I CRISTALLI NATURALI-LA TORMALINA<br />

La tormalina, a differenza del quarzo, è caratterizzata da range<br />

di temperatura più ampi, nonché da un costo elevato ed una<br />

bassa sensibilità e, per questo motivo, viene scarsamente<br />

utilizzata nella realizzazione di sensori. I coefficienti<br />

piezoelettrici per la tormalina sono:<br />

0 0 0 0 d15<br />

− 2d22<br />

− d22<br />

d22<br />

0 d15<br />

0 0<br />

d d d 0 0 0<br />

d 33 =1.9×10 -12 C/N;<br />

31<br />

31<br />

33<br />

I valori numerici disponibili in letteratura sono:<br />

d h =2.4×10 -12 C/N (coefficiente piezoelettrico di carica derivante da<br />

sollecitazione idraulica);<br />

La distribuzione dei suoi coefficienti piezoelettrici la rende<br />

particolarmente adatta per la misura della pressione idrostatica.


I CRISTALLI NATURALI-I SALI DI ROCHELLE<br />

I sali di Rochelle sono il solo materiale piezoelettrico che ha<br />

avuto uno sviluppo su scala industriale, per il fatto che giocano<br />

un ruolo fondamentale in applicazioni come microfoni e<br />

altoparlanti. In queste applicazioni risulta importante l’elevata<br />

sensibilità rispetto agli sforzi di taglio. Tuttavia i suoi limiti in<br />

termini di robustezza, isteresi e ridotto range di temperatura e<br />

umidità, li rendono poco adatti ad applicazioni sensoristiche per<br />

pressioni e temperature elevate.<br />

I valori disponibili in letteratura sono, in questo caso, forniti a<br />

30°C e relativi a sollecitazioni di taglio:<br />

d 14 =27÷550×10 -12 C/N (in funzione del piano di taglio del<br />

cristallo e del tipo di sollecitazione applicata).<br />

Le ceramiche<br />

piezoelettriche sono<br />

sostanze policristalline<br />

con proprietà<br />

ferroelettriche che, a<br />

seguito di una<br />

polarizzazione, possono<br />

presentare<br />

caratteristiche<br />

piezoelettriche.<br />

Per comprendere<br />

l’effetto piezoelettrico<br />

nelle ceramiche è<br />

conveniente considerare<br />

prima il comportamento<br />

di questi materiali a<br />

livello microscopico.<br />

LE CERAMICHE PIEZOELETTRICHE<br />

- Cella elementare<br />

di ceramica<br />

piezoelettrica:<br />

a) configurazione<br />

cubica al di sopra<br />

della temperatura<br />

di Curie;<br />

b) configurazione<br />

tetraedrica al di<br />

sotto della<br />

temperatura di<br />

Curie


Come già detto, affinché un materiale esibisca proprietà piezoelettriche, la sua<br />

struttura cristallina non deve possedere un centro di simmetria, ossia ci deve essere<br />

almeno un asse nel cristallo tale che la disposizione atomica appaia differente se si<br />

procede in direzioni opposte lungo di esso. Al di sopra di una certa temperatura,<br />

chiamata temperatura di Curie, la struttura del cristallo possiede un centro di<br />

simmetria e perciò non ha momento di dipolo elettrico. Al di sotto di questa<br />

temperatura esso subisce un cambiamento di fase ed evolve verso una struttura più<br />

complessa che non è centrosimmetrica.<br />

Configurazione dei domini dei momenti di<br />

dipolo elettrico:<br />

a) prima della polarizzazione; b) durante la<br />

polarizzazione; c) dopo la polarizzazione<br />

In particolare, queste ceramiche presentano, in<br />

modo analogo ai materiali ferromagnetici, la<br />

possibilità di essere polarizzate permanentemente.<br />

In sostanza esse si possono schematizzare come<br />

costituite da zone aventi polarizzazione spontanea,<br />

che possono essere parzialmente orientate tramite<br />

l’applicazione di un campo elettrico esterno. Se si<br />

graficizza la polarizzazione elettrica del materiale<br />

in funzione di un campo elettrico variabile si<br />

ottiene un ciclo di isteresi completo. Quello che<br />

conta ai fini della piezoelettricità è la<br />

polarizzazione residua che si ha alla rimozione del<br />

campo elettrico esterno.<br />

In questa fase il cristallo ha un<br />

dipolo elettrico bloccato, che può<br />

essere invertito o disposto in<br />

direzioni diverse. Ci si riferisce a<br />

tali materiali con il termine<br />

ferroelettrici, poiché questo<br />

comportamento elettrico<br />

presenta un’analogia fisica con il<br />

comportamento dei materiali<br />

ferromagnetici.<br />

Attraverso un processo di<br />

miscelazione di materiali<br />

ferroelettrici si ottengono delle<br />

paste in cui i singoli<br />

microcristalli sono ferroelettrici<br />

e possiedono una spontanea<br />

polarizzazione. Tuttavia la<br />

combinazione disordinata di<br />

questi microcristalli in una<br />

polvere di varia composizione e<br />

granulometria non possiede un<br />

momento di dipolo elettrico<br />

rilevabile a livello macroscopico.


Condizione necessaria affinché la polarizzazione abbia successo, è il<br />

raggiungimento della temperatura di Curie durante il processo di<br />

esposizione al campo elettrico e il successivo raffreddamento del materiale,<br />

sempre in presenza del campo. Così facendo, i domini tendono ad allinearsi<br />

nella direzione più vicina a quella del campo, producendo un momento di<br />

dipolo risultante ed un allungamento del pezzo nella stessa direzione.<br />

Dopo la rimozione del campo esterno, i dipoli non sono più in grado di<br />

tornare nella originaria posizione casuale, ma risultano come congelati in<br />

una direzione preferenziale. Se viene applicata una forza esterna di<br />

trazione o compressione in grado deformare elasticamente il pezzo, si<br />

ottiene una variazione nel momento di dipolo, che induce una tensione tra<br />

gli elettrodi, opportunamente realizzati sulle superfici normali all’asse di<br />

polarizzazione.<br />

La temperatura di Curie è la temperatura sopra la quale un materiale<br />

perde le sue proprietà ferroelettriche, quindi questo limita la temperatura<br />

massima alla quale questo materiale può essere utilizzato.<br />

Se la polarizzazione avviene lungo l’asse z i coefficienti d mn si<br />

riducono a tre e sono rappresentabili secondo lo schema:<br />

d<br />

0<br />

0<br />

31<br />

d<br />

0<br />

0<br />

31<br />

d<br />

0<br />

0<br />

33<br />

d<br />

0<br />

15<br />

0<br />

In genere, poi, per uno studio semplificato della risposta di un<br />

trasduttore di questo tipo, si ipotizza che il sistema sia ad un solo<br />

grado di libertà, ossia se assoggettato ad una sollecitazione in<br />

un’unica direzione avrà un solo movimento, per quanto piccolo,<br />

nella direzione di applicazione della forza. Ciò significa che si<br />

considera un solo modo di vibrare, per lo più nella direzione dello<br />

spessore. In questo caso le costanti piezoelettriche rilevanti, che<br />

descrivono l’accoppiamento elettro-meccanico, saranno, in base<br />

alla convenzione, d 33 e g 33 .<br />

d<br />

15<br />

0<br />

0<br />

0<br />

0<br />

0


Il primo coefficiente rappresenterà, quindi, la carica indotta per<br />

unità di forza applicata nella direzione 3, il secondo il gradiente di<br />

tensione (campo) per unità di sforzo (pressione) sempre nella<br />

direzione 3. I due valori sono legati dalla costante dielettrica<br />

assoluta:<br />

d = ε ⋅ g<br />

33<br />

In letteratura si trovano valori delle costanti piezoelettriche, per<br />

le ceramiche, che dipendono dalla tensione di polarizzazione. Il<br />

valore della costante d 33 varia tra 15 e 580pC/N e può essere<br />

verificato sperimentalmente.<br />

Le applicazioni fondamentali dei cristalli piezoelettrici sono:<br />

Sfruttando sollecitazioni di<br />

tipo diverso per ottenere<br />

diverse misure.<br />

33<br />

Trasduttori di pressione<br />

Trasduttori di accelerazione<br />

Trasduttori di forza


TRASDUTTORI DI PRESSIONE PIEZOELETTRICI<br />

Sono adatti alla misura di pressioni dinamiche.<br />

Ambiti in cui si registra maggior interesse nella rilevazione di alte<br />

pressioni impulsive (turbolenze, blast, camere di scoppio balistiche<br />

e motoristiche)<br />

Caratteristiche<br />

Velocità di risposta (prontezza),<br />

resistenza meccanica, rigidezza,<br />

range esteso, ottima linearità<br />

con cristallo montato precompresso,<br />

resistenza allo shock<br />

termico (con opportune<br />

protezioni).<br />

Pressioni sviluppate:<br />

50÷500MPa<br />

Durata dell’impulso:<br />

Qualche millisecondo<br />

CALIBRAZIONE DINAMICA di TRASDUTTORI di<br />

PRESSIONE PIEZOELETTRICI<br />

Strumenti di misura assoluti e relativi<br />

Per definizione, la risposta di strumenti di<br />

misura assoluti può essere rappresentata da<br />

un’espressione matematica che descriva<br />

esattamente il fenomeno fisico. Tale<br />

espressione matematica, basata sui principi<br />

fisici che regolano il funzionamento<br />

dell’apparato di misura è, spesso, difficile o<br />

impossibile da formulare.<br />

Anche nei casi in cui è conosciuta una<br />

espressione matematica approssimata,<br />

ricavata tramite semplificazioni più o meno<br />

giustificabili, è necessario effettuare una<br />

determinazione sperimentale della relazione<br />

s=f(p)<br />

che viene indicata come calibrazione.


Calibrazione statica<br />

La calibrazione ‘quasi’ statica è effettuata a temperatura costante e<br />

compara la risposta del traduttore con uno strumento assoluto<br />

chiamato manometro campione o di riferimento. Gli apparecchi di<br />

calibrazione sono, a seconda della gamma della pressione di<br />

misura, o manometri a liquido o bilance manometriche.<br />

La calibrazione statica dei trasduttori di pressione è, quindi, una<br />

determinazione sperimentale approssimata della funzione di<br />

trasferimento del trasduttore, nell’ipotesi semplificativa che la<br />

funzione in uscita sia una relazione di proporzionalità tra<br />

pressione applicata e carica (o in alcuni casi tensione) fornita,<br />

indipendentemente dalla velocità con la quale viene applicata la<br />

pressione.<br />

In genere tale calibrazione avviene tramite l’utilizzo di strumenti<br />

detti bilance manometriche, che permettono di assoggettare il<br />

trasduttore a pressioni comprese tra 10Pa e 103MPa, con<br />

accuratezza nella quantificazione della pressione applicata tra 0.1 e<br />

0.01% della gamma di misura. Per il metodo impiegato, che si<br />

riferisce a grandezze fisiche assolute, la calibrazione statica è da<br />

considerarsi un metodo assoluto.<br />

Risposta dinamica<br />

La risposta dinamica è definita dalla relazione<br />

s(t,p) ≅ f{p(t)}<br />

In generale non è possibile conoscere un’espressione matematica<br />

rigorosa per questa legge e, d’altra parte, non esiste un metodo<br />

assoluto di misura dinamica della pressione, che permetta di<br />

effettuare la calibrazione per comparazione. Inoltre, non risulta<br />

che sia possibile generare una pressione avente un legge di<br />

variazione perfettamente conosciuta. Quello che si può fare è la<br />

determinazione della risposta di un sistema, tramite una pseudo<br />

calibrazione dinamica. Questo tipo di calibrazione viene<br />

effettuata tramite un dispositivo che genera una pressione con<br />

andamento approssimativamente conosciuto e la risposta s(t) di<br />

un trasduttore da calibrare viene comparata con quella di un<br />

altro trasduttore preso come riferimento.


Gerarchia degli standard di calibrazione<br />

Per evitare la necessità di dar corso a calibrazione assolute per<br />

ogni trasduttore è possibile stabilire una gerarchia degli standard<br />

di calibrazione:<br />

Quantità fisiche fondamentali<br />

Lunghezza, Massa, Tempo, Corrente…<br />

Istituti Nazionali ed Internazionali per la<br />

determinazione degli standard a partire da<br />

quantità fisiche fondamentali<br />

Trasduttori Transfert Standard<br />

Trasduttori di riferimento<br />

Trasduttore<br />

piezo in<br />

sezione<br />

I trasduttori standard sono riuniti in tre gruppi:<br />

- Trasduttori Standard Primari (primary standard transducers)<br />

Un metodo di calibrazione in grado di stabilire la sensibilità di un<br />

trasduttore in relazione a grandezze fisiche fondamentali (espresse<br />

nel SI) è noto come assoluto. Un trasduttore calibrato con questo<br />

metodo viene detto Trasduttore Standard Primario e collocato in<br />

cima alla gerarchia. Trasduttori di questo tipo sono presenti negli<br />

Istituti Nazionali ed Internazionali per il gli Standard, o presso i<br />

Laboratori dove sono stati calibrati.


- Trasduttori per il trasferimento dello Standard (transfert standard<br />

transducers)<br />

Questi trasduttori vengono calibrati per comparazione dagli<br />

Istituti o dai Laboratori di Standardizzazione usando Standard di<br />

Riferimento Primari, oppure con metodi assoluti. I trasduttori per<br />

il trasferimento dello Standard vengono scambiati e ricalibrati tra<br />

gli Istituti in modo da stabilire la conformità delle diverse<br />

calibrazioni effettuate. Tramite questo processo di scambio, è<br />

possibile affermare la conformità dei metodi e delle<br />

apparecchiature usate dai diversi Laboratori. In questo modo si<br />

stabilisce anche la riferibilità (traceability). Essa definisce quale<br />

Istituto di Standardizzazione è responsabile per la definizione della<br />

conformità della calibrazione effettuata nello specifico<br />

Laboratorio. Perciò, un trasduttore calibrato dal Laboratorio di<br />

Calibrazione è definito riferibile (traceable) all’Istituto di<br />

Standardizzazione indicato<br />

- Trasduttori Standard d’uso (working reference standard<br />

transducers)<br />

Questi trasduttori vengono utilizzati per la calibrazione per<br />

comparazione dei trasduttori d’uso corrente. Essi vengono<br />

calibrati dagli Istituti o dai Laboratori usando metodi assoluti o<br />

comparativi. In questo modo si mantiene la riferibilità<br />

(traceability) della calibrazione.<br />

Ogni Laboratorio deve possedere trasduttori standard d’uso<br />

(working standard) per poter effettuare la calibrazione per<br />

comparazione, ma deve possedere anche almeno un trasduttore<br />

per il trasferimento dello standard (transfert standard) per<br />

poter garantire la riferibilità dei sensori impiegati.


Calibrazione dinamica per comparazione<br />

Generalmente per la calibrazione dei sensori piezoelettrici viene<br />

utilizzato il metodo per comparazione, che viene attuato<br />

assogettando due trasduttori (un working standard ed un transfert<br />

standard) alla stessa sollecitazione e comparandone le uscite. Così<br />

facendo si può ricavare la sensibilità di uno a partire da quella,<br />

nota, dell’altro.<br />

Principio del metodo di calibrazione dinamica<br />

Una massa di peso noto viene lasciata cadere da un'altezza<br />

misurabile su di un dispositivo di pressurizzazione, che<br />

converte l'energia d'impatto in un impulso di pressione<br />

idraulica.<br />

La pressione applicata simultaneamente al trasduttore di<br />

riferimento ed al trasduttore in calibrazione produce segnali<br />

espressi in carica e/o in tensione, proporzionali alla pressione<br />

stessa.<br />

L’incertezza con cui si ottiene il valore di sensibilità dipende<br />

dalla:<br />

- incertezza con la quale è nota la caratteristica sensibilitàpressione<br />

del trasduttore considerato di riferimento<br />

(normalmente migliore dello 0.5% del fondo scala);<br />

- incertezza correlata la calibrazione degli amplificatori di<br />

carica (normalmente migliore dello 0.1% del fondo scala);<br />

- linearità degli amplificatori di carica (normalmente migliore<br />

dello 0.05% del fondo scala);<br />

- incertezza del sistema di rilevazione e misura (normalmente<br />

migliore dello 0.1% del fondo scala).


Al fine di compensare gli errori di linearità del trasduttore di<br />

riferimento, a partire dai dati sensibilità-pressione ricavati dal<br />

certificato di calibrazione, si ottiene l'equazione della polinominale<br />

che, con il metodo dei minimi quadrati, meglio approssima la risposta<br />

del trasduttore.<br />

Tale equazione viene impiegata come curva di correzione dei valori di<br />

carica forniti dal trasduttore di riferimento, permettendo una<br />

migliore l’accuratezza nella misura della pressione.<br />

La calibrazione degli amplificatori di carica impiegati, effettuata<br />

prima d'ogni prova mediante l'uso del dispositivo di calibrazione<br />

(calibratore di carica), permette di verificare ed eventualmente<br />

correggere, gli scarti di lettura derivanti dagli amplificatori di carica<br />

e di ridurre quindi l'errore reciproco a valori migliori dello 0.1%.<br />

Supporto e massa battente<br />

L’unità di pressurizzazione è alloggiata all’interno di un<br />

supporto, che funziona da guida per la massa battente. Grazie<br />

ad esso è possibile regolare l’altezza di caduta, in modo da<br />

ottenere il fondo scala della misura desiderato.<br />

Risulta, perciò, possibile sottoporre il trasduttore in prova a<br />

diversi cicli di sollecitazioni, variando l’energia potenziale legata<br />

alla massa, prima della caduta, e variando, di conseguenza,<br />

l’energia dell’impulso idraulico.<br />

Unità di<br />

pressurizzazione


Durata impulso: 3.5ms circa<br />

~1.2ms di rise time<br />

Rise time del piezo 2µs<br />

ANDAMENTO<br />

DELL’ERRORE IN<br />

FUNZIONE DELLA<br />

PRESSIONE<br />

I trasduttori piezo sono<br />

sistemi del secondo<br />

ordine<br />

Supporto e massa battente<br />

Con frequenza di risonanza<br />

ad altissima frequenza circa<br />

100-200KHz<br />

RISPOSTA DEI DUE<br />

TRASDUTTORI A<br />

CONFRONTO


RISULTATO:<br />

ERRORE PERCENTUALE<br />

IN FUNZIONE DELLA<br />

PRESSIONE<br />

CURVE-FITTING DI ORDINE<br />

n-ESIMO<br />

EQUAZIONE DELLA<br />

CURVA CHE MEGLIO<br />

APPROSSIMA<br />

L’ANDAMENTO<br />

SENSIBILITA’-<br />

PRESSIONE<br />

UTILZZATA<br />

DURANTE LA<br />

MISURA PER<br />

COMPENSARE<br />

EVENTUALI ERRORI ╔[ Bar ]═══[ pC/Bar ]═╗ ╔[ Bar ]══ ═[ pC/Bar ]═╗ ╔[ Bar ]═══[ pC/Bar ]<br />

║ 400 2.315 ║ ║ 1000 2.333 ║ ║ 1600 2.351 ║<br />

║ 500 2.317 ║ ║ 1100 2.336 ║ ║ 1700 2.353 ║<br />

║ 600 2.319 ║ ║ 1200 3.340 ║ ║ 1800 2.356 ║<br />

║ 700 2.322 ║ ║ 1300 2.343 ║ ║ 1900 2.358 ║<br />

║ 800 2.326 ║ ║ 1400 2.346 ║ ║ 2000 2.360 ║<br />

║ 900 2.329 ║ ║ 1500 2.349 ║ ║ pC/Bar 2.344 ║


ACCELEROMENTRI PIEZOELETTRICI a deflessione<br />

Tipico strumento del secondo ordine.<br />

Sensibilità K=1/ω 2<br />

n . (C/m/s2 o C/g)<br />

Quindi la risposta alle alte frequenze è<br />

frutto di un compromesso con la<br />

sensibilità.<br />

Hanno ampia applicazione nella misura<br />

di urti e vibrazioni, ma non forniscono<br />

alcuna uscita in risposta ad accelerazioni<br />

costanti.<br />

Presentano ampi segnali di tensione in uscita a fronte di ridotte<br />

deformazioni, piccole dimensioni, ottima linearità, ampia dinamica<br />

di lavoro e frequenze proprie molto alte (caratteristica necessaria<br />

per ottenere misure accurate di fenomeni impulsivi).<br />

In genere non è previsto alcuno smorzamento (il fabbricante non lo<br />

riporta nelle caratteristiche tecniche e viene considerato nullo al<br />

più pari a 0.01), fatto accettabile in quanto la frequenza propria è<br />

molto elevata.<br />

Il range di lavoro è circa: 3/τ


Flessione<br />

In commercio si trova un’ampia<br />

varietà di accelerometri piezo<br />

Compressione<br />

inversa<br />

Compressione<br />

Taglio<br />

Elemento sensibile: quarzo (stabile, ripetibile, con basso effetto<br />

piroelettrico) o ceramiche .<br />

Il compromesso tra sensibilità e risposta in frequenza è evidente nelle<br />

specifiche comuni dello strumento.<br />

Esempio:<br />

-Accelerometro per urti: K=0.004pC/g ωn=250000 Hz<br />

-Accelerometro per misurazioni sismiche: K=1000pC/g ωn=7000 Hz<br />

Sensibilità trasversale contenuta (2-4%)<br />

Criticità nel montaggio:<br />

- secondo le specifiche tecniche del costruttore (perni filettati, colla, cera,<br />

fissaggi magnetici…) per assicurare che le prestazioni ottenute<br />

dall'accelerometro siano conformi alle caratteristiche tecniche pubblicate<br />

- gli accelerometri per shock siano montati preferibilmente con una vite<br />

(stud), secondo le caratteristiche costruttive, su una superficie piana,<br />

pulita e con buona finitura superficiale.


La frequenza propria dell’accelerometro montato vale circa il<br />

60% di quella del dispositivo non montato (dichiarata dal<br />

costruttore)!!!!<br />

Sono disponibili modelli con microelettronica incorporata, ossia con<br />

amplificatori di carica montati all’interno dell’involucro del sensore,<br />

detti IC (Integrated Circuit) che devono essere alimentati (tramite<br />

cavo opportuno).<br />

In questo modo il segnale di uscita viene fornito direttamente in Volt<br />

e può essere collegato direttamente ad un oscilloscopio oppure ad un<br />

analizzatore di segnale.<br />

Vantaggi:<br />

-Trasmissione a bassa impedenza<br />

-Sensibilità più elevate<br />

-Riduzione del rumore generato dal cavo<br />

-Costi più bassi<br />

Svantaggi:<br />

-Ridotto campo di temperature di utilizzo (elettronica microcircuitale<br />

soffre la T più del solo accelerometro)<br />

-Condizionamento del segnale meno versatile


TRASDUTTORI DI FORZA PIEZOELETTRICI<br />

Vengono utilizzati per misure di forze oscillanti, impatti ad alta<br />

velocità…<br />

Hanno una fdt con la stessa forma degli accelerometri e possono essere<br />

utilizzati quasi solo per misure di forza dinamiche.<br />

Sono disponibili con o senza microelettronica incorporata. (ICP)<br />

Non linearità ≤1%; Rigidezza da 1.75 10 5 N/mm a 1.75 10 7 N/mm<br />

Frequenza propria elevata: da 10kHz a 300 kHz (ridotta al<br />

montaggio)<br />

Montaggio con precarico (fisso o regolabile) dell’elemento<br />

piezoelettrico per ottenere range di lavoro sia a trazione sia a<br />

compressione.<br />

Sensibilità al carico laterale che dipende dal modello e dal montaggio.<br />

Sensibilità alla temperatura che dipende dal materiale piezo utilizzato<br />

e dalla presenza di microelettronica integrata<br />

Per minimizzare la presenza di shock<br />

meccanici ad alta frequenza dovuti<br />

all’urto diretto metallo su<br />

metallo,talvolta si introduce tra le due<br />

parti uno strato di materiale più<br />

soffice che funge da smorzatore ma<br />

che può falsare la misura.<br />

Si può montare la cella di carico a<br />

sandwich tra due parti della struttura<br />

da testare, utilizzando una vite di rameberilio<br />

o acciaio, che viene anche<br />

utilizzata per pre-caricare l’anello di<br />

forza.

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