SŁOWNIK TERMINÓW KRYSTALOGRAFICZNYCH 2003

SIRAS (Single Isomorphous Replacement
Anomalous Scattering)
SIRSAS (Single Isomorphous
Replacement with Single Anomalous
Scattering)
73
anomalne rozpraszanie (dla)
pojedynczego podstawienia
izomorficznego
pojedyncze podstawienie
izomorficzne wspomagane
rozpraszaniem anomalnym
s.o.f.( site-occupation-factor) współczynnik obsadzenia
SPR (Structure-Property Relationship) zależność pomiędzy strukturą a
właściwościami
SRMO (Short-Range Magnetic Order) magnetyczne uporządkowanie
bliskiego zasięgu
SRS (Synchrotron Source) Źródło Synchrotronowe [w
Daresbury, UK]
SRXF (Scanning X-Ray Fluorescence) skaningowa fluorescencja
STEM (Scanning-Transmission Electron
rentgenowska
skaningowo-transmisyjna
Microscopy)
mikroskopia elektronowa
STM (Scanning Transmission
Microscopy)
skaningowy mikroskop transmisyjny
s.u. (standard uncertainty) standardowa niepewność
SXR (Synchrotron X-Ray ) synchrotronowe promieniowanie X
SXRD (Scanning X-Ray Diffraction) skaningowa dyfrakcja rentgenowska
SXRD (Synchrotron X-Ray Diffraction) dyfrakcja synchrotronowego
promieniowania X
SXRPD (Synchrotron X-Ray Powder proszkowa dyfrakcja
Diffraction)
synchrotronowego
promieniowania X
T
TB (Twin Boundary) granica bliźniaczenia
TEM (Transmission Electron Microscopy) transmisyjna mikroskopia
elektronowa
TF (Time of Flight) czas przelotu
TLS (Twin-Lattice Symmetry) symetria sieci bliźniaczej
TLQS (Twin-Lattice Quasi-Symmetry) kwazisymetria sieci bliźniaczej
TTT (Time, Temperature,
krzywe TTT
Transformation) curves
W
WAXS (Wide-Angle X-Ray Scattering) rentgenowskie rozpraszanie
szerokokątowe
WB (Weak Beam) słaba [mało intensywna] wiązka