instrumentalna analiza - Akademija likovnih umjetnosti - Sveučilište ...
instrumentalna analiza - Akademija likovnih umjetnosti - Sveučilište ...
instrumentalna analiza - Akademija likovnih umjetnosti - Sveučilište ...
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
• Implantacija (dodavanje atoma)<br />
• Promjene pozicija atoma<br />
• Ionizacija i pobuda (elektronski omotač)<br />
• Pobuda (atomska jezgra)<br />
Prilikom interakcije iona s materijalom uočavamo sljedede:<br />
• dubina prodiranja: u području µm (do ca. 100 µm)<br />
(ovisno o energiji, ionu, materijalu)<br />
Dakle, možemo redi da su metode površinske!<br />
• interakcija: - emisija zračenja<br />
(rentgensko i gama zračenje)<br />
- emisija čestica<br />
• oštedivanje: u pravilu nepostojede (ovisno o materijalu i parametrima<br />
snopa)<br />
Dakle, možemo redi da su metode nedestruktivne!<br />
10.1. PIXE – Protonima inducirana emisija rentgenskog zračenja (Proton Induced X-ray<br />
Emission)<br />
• Kao i XRF, PIXE daje elementni sastav materijala<br />
• Uzorak ili mikro-uzorak bombardirani su fokusiranim snopom protona koji ionizira<br />
atome unutar mete<br />
• Pobuđeni elementi emitiraju karakteristično rentgensko zračenje<br />
• Zračenje detektirano raznim detektorima, ovisno o aplikaciji i omoguduje<br />
identifikaciju elemenata u materijalu<br />
Slika 10.2. Procesi prilikom PIXE mjerenja: prodiranje (širenje) iona u površinske slojeve<br />
materijala (gubitak energije); ionizacija atoma i stvaranje slobodnih mjesta u jednoj od<br />
unutarnjih ljuski; prijelaz elektrona iz vanjskih ljuski i popunjavanje šupljina; oslobađanje<br />
energije kroz emisiju rentgenskog zračenja karakterističnog za atome unutar mete<br />
(karakteristično (fluorescentno zračenje); detekcija zračenja<br />
42
Change language